JP2502227Y2 - connector - Google Patents
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Description
【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本考案はコネクタに関し、特に、
プリント基板等の配線部とケーブルとを直接接続するコ
ネクタに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a connector, and in particular,
The present invention relates to a connector for directly connecting a wiring portion such as a printed circuit board and a cable.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、コネクタとして電子機器内のプ
リント基板とFPC又はFFC等のケーブルとを接続す
るコネクタ(例えば、FPC接続用コネクタ)が知られ
ている。図6を参照して、FPC接続用コネクタ11は
ベースインシュレータ12を備えており、このベースイ
ンシュレータ12にはコンタクト(図6には示さず)が
保持されている。そして、コンタクトはFPC接続端及
びプリント基板接続端を備えている。さらに、ベースイ
ンシュレータ12には補強板(図6には示さず)が保持
されており、補強板によってプリント基板(図示せず)
がプリント基板接続端に固定される。FPC接続端側に
はスライドインシュレータ13が配設され、このスライ
ドインシュレータ13はベースインシュレータ12に対
して実線矢印で示す方向に摺動可能となっている。FP
C14はその一端部に所定の銅箔パターン15が形成さ
れており、他端部にコンタクト接触部16を備えてい
る。2. Description of the Related Art Generally, as a connector, a connector (for example, an FPC connecting connector) for connecting a printed circuit board in an electronic device and a cable such as FPC or FFC is known. With reference to FIG. 6, the FPC connection connector 11 includes a base insulator 12, and the base insulator 12 holds contacts (not shown in FIG. 6). The contact has an FPC connection end and a printed circuit board connection end. Further, a reinforcing plate (not shown in FIG. 6) is held by the base insulator 12, and the printed board (not shown) is held by the reinforcing plate.
Is fixed to the printed circuit board connection end. A slide insulator 13 is arranged on the FPC connection end side, and the slide insulator 13 is slidable with respect to the base insulator 12 in a direction indicated by a solid arrow. FP
The C14 has a predetermined copper foil pattern 15 formed at one end thereof and a contact contact portion 16 at the other end.
【0003】ところで、一般に、FPC接続用コネクタ
を用いた際には、FPC接続用コネクタとプリント基板
との間の電気的検査を行う必要がある。図7を参照し
て、FPC接続用コネクタとプリント基板との間の電気
的検査を行う際には、まず、FPC14をコネクタ11
に接続する。つまり、コンタクト接触部16をFPC接
続端に挿入した後、スライドインシュレータ13を実線
矢印で示す方向に摺動させて、FPC14をコネクタ1
1に接続する。次に図8を参照して、電気的検査用プロ
ーブピン17を有する検査治具18を用いて電気的検査
を実行する。検査に当たっては、銅箔パターン15に電
気的検査用プローブピン17を当接する。By the way, generally, when the FPC connecting connector is used, it is necessary to perform an electrical inspection between the FPC connecting connector and the printed circuit board. Referring to FIG. 7, when performing an electrical inspection between the FPC connection connector and the printed circuit board, first, the FPC 14 is connected to the connector 11
Connect to. That is, after inserting the contact contact portion 16 into the FPC connection end, the slide insulator 13 is slid in the direction indicated by the solid line arrow to move the FPC 14 into the connector 1.
Connect to 1. Next, with reference to FIG. 8, an electrical inspection is performed using the inspection jig 18 having the electrical inspection probe pin 17. In the inspection, the probe pin 17 for electrical inspection is brought into contact with the copper foil pattern 15.
【0004】[0004]
【考案が解決しようとする課題】上述のように、従来の
FPC接続用コネクタでは、FPC接続用コネクタとプ
リント基板間の電気的検査を行う際、FPC14がFP
C接続用コネクタ11に接続された状態で行う必要があ
る。つまり、スライドインシュレータ13を開放して、
FPC接続端にFPC14を差込み、この後、スライド
インシュレータ13をロックする必要がある。そして、
FPC14をコネクタ11に接続した後、銅箔パターン
15に検査用プローブピン17を当接させている。従っ
て、検査終了後の検査用プローブピン17を銅箔パター
ン71から離す際、銅箔パターン17上の軟らかい半田
メッキが傷つくことが多い。この結果、銅箔パターン1
7においてヒゲバリ状のごとくメッキが剥がれ(つまり
剥離部が生じ)、この剥離部が隣のパターンと接触し、
短絡してしまうという問題点がある。本考案の目的は検
査工程の簡略化及び銅箔パターンへの傷つけを防止する
ことのできるコネクタを提供することにある。As described above, in the conventional FPC connecting connector, when the FPC 14 is electrically tested between the FPC connecting connector and the printed circuit board,
It is necessary to perform the operation while being connected to the C connection connector 11. In other words, open the slide insulator 13,
It is necessary to insert the FPC 14 into the FPC connection end and then lock the slide insulator 13. And
After connecting the FPC 14 to the connector 11, the inspection probe pin 17 is brought into contact with the copper foil pattern 15. Therefore, when the probe pin 17 for inspection after the inspection is separated from the copper foil pattern 71, the soft solder plating on the copper foil pattern 17 is often damaged. As a result, copper foil pattern 1
In 7, the plating was peeled off like a whiskers (that is, a peeling portion was generated), and this peeling portion contacted the adjacent pattern,
There is a problem of short circuit. An object of the present invention is to provide a connector that can simplify the inspection process and prevent damage to the copper foil pattern.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本考案によれば、第1の
接続端部及び第2の接続端部を備えるベースインシュレ
ータと、該ベースインシュレータに保持され、前記第1
の接続端部及び前記第2の接続端部に延在する複数のコ
ンタクト体を有するコンタクトとを有するコネクタにお
いて、前記ベースインシュレータは前記第1の接続端部
と前記第2の接続端部との間に延在し前記コンタクト体
のおのおのが圧入される収納室を複数形成するための隔
壁部を有し、さらに、前記ベースインシュレータには前
記第1の接続端部側で前記複数のコンタクト体を横断す
る方向に延び前記コンタクト体を露出部として露出させ
るための切欠き部が形成されており、前記露出部には溝
部が形成されていることを特徴とするコネクタが得られ
る。According to the present invention, a base insulator having a first connecting end portion and a second connecting end portion, and a base insulator held by the base insulator,
And a contact having a plurality of contact bodies extending to the second connection end portion, the base insulator includes the first connection end portion and the second connection end portion. The base insulator has partition walls for forming a plurality of accommodating chambers that extend in between and into which the respective contact bodies are press-fitted, and further, the base insulator has the plurality of contact bodies on the first connection end side. A connector is obtained, which has a notch portion extending in a transverse direction to expose the contact body as an exposed portion, and a groove portion is formed in the exposed portion.
【0006】[0006]
【作用】本考案では、第1の接続端部側においてコンタ
クト体の一部が露出部として露出するように、複数のコ
ンタクト体を横断する方向に延びる切欠き部をベースイ
ンシュレータに形成するとともにこの露出部に溝部を形
成するようにしたから、プリント基板とコネクタ間の電
気的検査を行う際に、プローブピンを露出部に当接する
だけでプローブピンが溝部に案内されて、電気的検査の
最中においても溝部にプローブピンが確実に保持された
状態を維持できる。さらに、本考案では、各コンタクト
体は隔壁部で規定される収納室に圧入されているから、
電気的検査を行う際、例えば、隣接するコンタクト体と
の短絡等を防止することができる。According to the present invention, the base insulator is formed with a notch extending in a direction traversing the plurality of contact bodies so that a part of the contact body is exposed as an exposed portion on the first connection end side. Since the groove is formed in the exposed part, when performing the electrical inspection between the printed circuit board and the connector, the probe pin is guided into the groove by simply abutting the probe pin on the exposed part, and the electrical inspection is not performed. Even in the inside, the state in which the probe pin is securely held in the groove can be maintained. Further, in the present invention, since each contact body is press-fitted into the storage chamber defined by the partition wall,
When performing an electrical inspection, for example, a short circuit with an adjacent contact body or the like can be prevented.
【0007】[0007]
【実施例】以下本発明について実施例によって説明す
る。まず、図1を参照して、ここでは、図6と同様の構
成要素については同一の参照番号を付し説明を省略す
る。図1に示すコネクタ20ではFPC14を接続する
際には(つまり、FPC14を装着する際には)、ま
ず、スライドインシュレータ13を図2に示すように開
放状態としてFPC接続端にFPC14(つまり、コン
タクト接触部)を挿入する。その後、スライドインシュ
レータ13を実線矢印で示す方向に摺動させてFPC1
4をコネクタ20に接続する。コネクタ20では、図1
に示すように、プリント基板接続端側において、ベース
インシュレータ12には長手方向に延びる切欠き部(切
欠き溝)12aが形成されている。この結果、図中上側
からプリント基板接続端を見た際、プリント基板接続端
においてコンタクト21は露出することになる。EXAMPLES The present invention will be described below with reference to examples. First, with reference to FIG. 1, the same components as those in FIG. 6 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. When connecting the FPC 14 (that is, when mounting the FPC 14) with the connector 20 shown in FIG. 1, first, the slide insulator 13 is opened as shown in FIG. Insert the contact part). After that, slide the slide insulator 13 in the direction indicated by the solid arrow to move the FPC 1
4 to the connector 20. In the connector 20, FIG.
As shown in, the base insulator 12 is formed with a notch portion (notch groove) 12a extending in the longitudinal direction on the printed circuit board connection end side. As a result, when the printed circuit board connecting end is viewed from the upper side in the figure, the contact 21 is exposed at the printed circuit board connecting end.
【0008】ここで、図3及び図4も参照して、ベース
インシュレータ12内にはプリント基板接続端からFP
C接続端に延びるコンタクト収納室が形成されており、
この収納部は等間隔に配設された複数の隔壁12bによ
って複数のコンタクト収納部に区画されている。各コン
タクト収納部にそれぞれコンタクト体22が圧入されて
おり、各コンタクト体22はプリント基板接続端からF
PC接続端まで延びている。そして、これらコンタクト
体22によってコンタクトが形成されている。Here, referring also to FIGS. 3 and 4, in the base insulator 12, from the printed circuit board connecting end to the FP.
A contact storage chamber extending to the C connection end is formed,
The storage section is divided into a plurality of contact storage sections by a plurality of partition walls 12b arranged at equal intervals. A contact body 22 is press-fitted into each contact storage portion, and each contact body 22 is connected to the printed circuit board connecting end by F
It extends to the PC connection end. A contact is formed by these contact bodies 22.
【0009】図3に示すように、本発明では、各コンタ
クト体22の上面は隔壁12bの上面より上方に位置し
ており、各コンタクト体22の上面には下方に延びるV
字状の溝部22aが形成されている。そして、各V字状
溝部22aの底面は隔壁12bの上面より下方に位置し
ている。As shown in FIG. 3, in the present invention, the upper surface of each contact member 22 is located above the upper surface of the partition wall 12b, and the upper surface of each contact member 22 extends downward.
A V-shaped groove portion 22a is formed. The bottom surface of each V-shaped groove portion 22a is located below the top surface of the partition wall 12b.
【0010】コネクタとプリント基板間の電気的検査を
行う際には、図4に示すように、プローブピン17を切
欠き溝12aを通して各コンタクト体22の上面に当接
させる。この際、各コンタクト体22の上面にV字状の
溝部22aが形成されているから、プローブピン17は
V字状溝部22aに挿入されることになる。しかも、各
V字状溝部22aは隔壁12bによって隔絶(絶縁)さ
れているから、全てのコンタクト体22aを同時にプロ
ーブピン17に接触させても、短絡等が生じることがな
い。When conducting an electrical inspection between the connector and the printed circuit board, as shown in FIG. 4, the probe pin 17 is brought into contact with the upper surface of each contact body 22 through the notch groove 12a. At this time, since the V-shaped groove portion 22a is formed on the upper surface of each contact body 22, the probe pin 17 is inserted into the V-shaped groove portion 22a. Moreover, since each V-shaped groove portion 22a is isolated (insulated) by the partition wall 12b, even if all the contact bodies 22a are brought into contact with the probe pins 17 at the same time, a short circuit or the like does not occur.
【0011】ところで、図5に示すように、各コンタク
ト体22の上面が隔壁12bの上面の下方に位置するよ
うに、各コンタクト体22をコンタクト収納室に圧入す
るようにしてもよい。この場合には、上側から見た際、
コンタクト体22は完全に隔壁12bに潜り込んでいる
ため、互いに隣合うコンタクト体22と確実に絶縁する
ことができる。この結果、誤ってプローブピン23が目
的とするコンタクト体22a以外に接触することを確実
に防止できる。By the way, as shown in FIG. 5, each contact body 22 may be press-fitted into the contact storage chamber so that the upper surface of each contact body 22 is located below the upper surface of the partition wall 12b. In this case, when viewed from above,
Since the contact body 22 is completely embedded in the partition wall 12b, the contact body 22 can be reliably insulated from the adjacent contact bodies 22. As a result, it is possible to reliably prevent the probe pin 23 from accidentally coming into contact with other than the intended contact body 22a.
【0012】[0012]
【考案の効果】以上説明したように、本考案では配線部
(例えば、プリント基板)接続端側において、コンタク
ト体の一部が露出部として露出するように、複数のコン
タクト体を横断する方向に延びる切欠き部をベースイン
シュレータに形成するとともにこの露出部に溝部を形成
するようにしたから、プリント基板とコネクタ間の電気
的検査を行う際に、プローブピンを露出部に当接するだ
けでプローブピンが溝部に案内されて、電気的検査の最
中においても溝部にプローブピンが確実に保持された状
態を維持できるという効果がある。さらに、直接プロー
ブピンをコンタクトに当接することができるから、銅箔
パターンを剥がしてしまうといった不都合が生じること
がない。また、FPC等のケーブルを接続する必要がな
いから検査を容易に行うことができる。加えて、各コン
タクト体は隔壁部で規定される収納室に圧入されている
から、電気的検査を行う際、例えば、隣接するコンタク
ト体との短絡等を防止することができるという効果もあ
る。As described above, according to the present invention, in the connecting portion side of the wiring portion (for example, the printed circuit board), a plurality of contact bodies are crossed so that a part of the contact body is exposed as an exposed portion. Since the notch that extends is formed in the base insulator and the groove is formed in this exposed part, when the electrical inspection between the printed circuit board and the connector is performed, the probe pin can be simply contacted with the exposed part. Is guided to the groove portion, and there is an effect that the state in which the probe pin is securely held in the groove portion can be maintained even during the electrical inspection. Further, since the probe pin can be directly brought into contact with the contact, the inconvenience of peeling off the copper foil pattern does not occur. Further, since it is not necessary to connect a cable such as an FPC, the inspection can be easily performed. In addition, since each contact body is press-fitted into the storage chamber defined by the partition wall, there is an effect that, for example, a short circuit with an adjacent contact body can be prevented when performing an electrical inspection.
【図1】本考案のコネクタの外観であって、スライドイ
ンシュレータの接触状態を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an external appearance of a connector of the present invention, showing a contact state of a slide insulator.
【図2】本考案のコネクタの外観であって、スライドイ
ンシュレータを開放状態にした斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing the appearance of the connector of the present invention with the slide insulator in an open state.
【図3】図1に示すコネクタにおいて破線で示すB部を
拡大して示す図である。FIG. 3 is an enlarged view of a portion B indicated by a broken line in the connector shown in FIG.
【図4】図1に示すコネクタおいてのA−A線断面を示
す図である。4 is a view showing a cross section taken along the line AA in the connector shown in FIG.
【図5】本考案によるコネクタの他の実施例を説明する
ための図である。FIG. 5 is a view for explaining another embodiment of the connector according to the present invention.
【図6】従来のコネクタをFPC(FFC)取付前の状
態で示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a conventional connector before being attached to an FPC (FFC).
【図7】従来のコネクタをFPC(FFC)取付状態で
示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a conventional connector in an FPC (FFC) mounted state.
【図8】従来のコネクタにおける電気的検査を説明する
ための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining an electrical inspection in a conventional connector.
11 FPC接続用コネクタ 12 ベースインシュレータ 12a 切欠き部 12b 隔壁 13 スライドインシュレータ 14 FPC 15 銅箔パターン 16 コンタクト接触部 17 電気的検査用プローブピン 18 検査治具 20 コネクタ 21 コンタクト 22 コンタクト体 22a V字状溝部 11 FPC Connection Connector 12 Base Insulator 12a Notch 12b Partition 13 Slide Insulator 14 FPC 15 Copper Foil Pattern 16 Contact Contact 17 Electrical Probe Pin 18 Inspection Jig 20 Connector 21 Contact 22 Contact 22a V-shaped Groove
Claims (1)
えるベースインシュレータと、該ベースインシュレータ
に保持され、前記第1の接続端部及び前記第2の接続端
部に延在する複数のコンタクト体を有するコンタクトと
を有するコネクタにおいて、前記ベースインシュレータ
は前記第1の接続端部と前記第2の接続端部との間に延
在し前記コンタクト体のおのおのが圧入される収納室を
複数形成するための隔壁部を有し、さらに、前記ベース
インシュレータには前記第1の接続端部側で前記複数の
コンタクト体を横断する方向に延び前記コンタクト体を
露出部として露出させるための切欠き部が形成されてお
り、前記露出部には溝部が形成されていることを特徴と
するコネクタ。1. A base insulator having a first connecting end and a second connecting end, and a base insulator held by the base insulator and extending to the first connecting end and the second connecting end. In a connector having a contact having a plurality of contact bodies, the base insulator extends between the first connection end portion and the second connection end portion, and each of the contact bodies is press-fitted into the storage chamber. A plurality of partition walls for forming a plurality of contact bodies, and further, the base insulator extends in a direction traversing the plurality of contact bodies on the side of the first connection end so as to expose the contact bodies as exposed portions. A notch portion is formed, and a groove portion is formed in the exposed portion.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1991081892U JP2502227Y2 (en) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | connector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1991081892U JP2502227Y2 (en) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | connector |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0525685U JPH0525685U (en) | 1993-04-02 |
JP2502227Y2 true JP2502227Y2 (en) | 1996-06-19 |
Family
ID=13759099
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1991081892U Expired - Lifetime JP2502227Y2 (en) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | connector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2502227Y2 (en) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6010281Y2 (en) * | 1981-08-31 | 1985-04-09 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | Connector with inspection part |
JPS62177460A (en) * | 1986-01-31 | 1987-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Connector connecting device |
JPH02123081U (en) * | 1989-03-18 | 1990-10-09 | ||
JP3058883U (en) * | 1998-11-04 | 1999-06-22 | 東豊工業株式会社 | Rotary disk cleaner |
-
1991
- 1991-09-13 JP JP1991081892U patent/JP2502227Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPH0525685U (en) | 1993-04-02 |
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Legal Events
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