JP2024093052A - Data management device and database construction method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、データ管理装置およびデータベース構築方法に関する。 The present invention relates to a data management device and a database construction method.
本技術分野の背景技術として、下記特許文献1の要約には、「[課題]流通後においてもその製造工程に関する情報等を把握することができる熱可塑性プラスチックの製造方法等を提供する。[解決手段]熱可塑性プラスチック90の溶融を伴う複数の製造工程において、各製造工程に関する情報が関連付けられ、特定の波長領域の電磁波の照射に対して蛍光を放射する情報提示物質91を順次添加して分散させる。」と記載されている。また、下記非特許文献1には、使用済み家電混合プラスチックのマテリアルリサイクル技術について記載されている。また、下記非特許文献2には、プラスチックマテリアルのリサイクルに関する技術が記載されている。これら文献の記述は本願明細書の一部として包含される。 As background technology in this technical field, the abstract of the following Patent Document 1 states, "Problem: To provide a manufacturing method for thermoplastic plastics that allows information about the manufacturing process to be obtained even after distribution. Solution: In multiple manufacturing processes involving melting of thermoplastic plastic 90, information about each manufacturing process is associated, and information-presenting substances 91 that emit fluorescence when irradiated with electromagnetic waves in a specific wavelength range are added and dispersed in sequence." In addition, the following Non-Patent Document 1 describes a material recycling technology for mixed plastics from used home appliances. In addition, the following Non-Patent Document 2 describes a technology related to recycling plastic materials. The descriptions in these documents are included as part of the specification of this application.
ところで、上述した技術において、プラスチック等の情報を一層適切に管理したいという要望がある。
この発明は上述した事情に鑑みてなされたものであり、プラスチック等の情報を適切に管理できるデータ管理装置およびデータベース構築方法を提供することを目的とする。
However, in the above-mentioned technology, there is a demand for more appropriate management of information on plastics and the like.
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide a data management device and a database construction method capable of appropriately managing information on plastics and the like.
上記課題を解決するため本発明のデータ管理装置は、プラスチックであるサンプルに対して、指定された識別情報を付与するサンプリング装置と、前記サンプルを、その溶融温度以上に温度制御し、加熱状態における前記サンプルの特性を評価する第1計測処理を行う第1計測装置と、前記第1計測装置による評価が行われ、その後に固化された前記サンプルの特性を評価する第2計測処理を行う第2計測装置と、を備える計測システムに適用されるデータ管理装置であって、前記識別情報を生成する識別情報生成部と、前記第1計測装置における温度条件を含む計測条件と、前記第1計測処理の結果と、前記第2計測装置における計測条件と、前記第2計測処理の結果と、前記サンプリング装置において付与された前記識別情報と、を受信する通信部と、前記識別情報と、前記第1計測処理の結果と、前記第2計測装置における計測条件と、に対応付けて記憶部に記憶させる記憶制御部と、を備えることを特徴とする。 In order to solve the above problem, the data management device of the present invention is a data management device applied to a measurement system including a sampling device that assigns designated identification information to a plastic sample, a first measuring device that performs a first measurement process to control the temperature of the sample to above its melting temperature and evaluate the characteristics of the sample in a heated state, and a second measuring device that performs a second measurement process to evaluate the characteristics of the sample that has been evaluated by the first measuring device and then solidified, and is characterized in that it includes an identification information generation unit that generates the identification information, a communication unit that receives measurement conditions including temperature conditions in the first measuring device, the results of the first measurement process, the measurement conditions in the second measuring device, the results of the second measurement process, and the identification information assigned by the sampling device, and a storage control unit that stores the identification information, the results of the first measurement process, and the measurement conditions in the second measuring device in association with each other in a storage unit.
本発明によれば、プラスチック等の情報を適切に管理できる。 The present invention allows for proper management of information on plastics, etc.
[実施形態の概要]
近年、環境・資源問題から、製品に係る事業者に対してプラスチック等の資源の循環利用に対して取り組むことが求められている。プラスチックは、一般的に加工成形性が良好であり、複合化により機能付与も可能であるため、多種多様な製品に適用されている。このため、プラスチックのリサイクルでは、樹脂の種類・成分と、製品用途と、使用実績などの来歴情報も使用して再資源化している。プラスチック性プラスチックでは、一般に、加熱して溶融させた後に冷却して固化させるという方法、すなわちマテリアルリサイクルにより再資源化して利用される。
[Overview of the embodiment]
In recent years, environmental and resource issues have led to the demand for product-related businesses to address the recycling of resources such as plastics. Plastics are generally easy to process and mold, and can be made functional by compounding, so they are used in a wide variety of products. For this reason, plastic recycling also uses historical information such as the type and composition of the resin, product use, and usage history. Plastics are generally recycled and used by heating to melt them and then cooling and solidifying them, i.e. material recycling.
ここで、後述する実施形態において、原料およびサンプルとして適用されるプラスチックについて説明する。プラスチックは、マテリアルリサイクルできる熱可塑性樹脂が好適であり、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン(PS)、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン共重合合成樹脂(ABS)、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリ塩化ビニル(PVC)、ポリカーボネート(PC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリアミド(PA)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、エチレン酢酸ビニルコポリマー(EVA)、ポリ乳酸(PLA)、ポリブチレンサクシネート(PBS)、ポリブチレンアジペートテレフタレート樹脂(PBAT)、プラスチック性でんぷん、ポリヒドロキシブチレート(PHB)、3-ヒドロキシブチレート-co-3-ヒドロキシヘキサノエート重合体(PHBP)、 ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、エチレン-テトラフルオロエチレン(ETFE)、パーフルオロアルコキシアルカン(PFA)、トリフルオロ酢酸エチル(EFA)、ポリクロロトリフルオロエチレン(PCTFE)、エチレン-クロロトリフロオロエチレンコポリマー(ECTFE)等が母材となり構成されている。なお、後述する実施形態では、上述したプラスチックのうち、性能や用途に対応して多種多様な種類のものが流通している汎用性樹脂のポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン共重合合成樹脂、ポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタレートに適用することが好ましく、特にポリプロピレンのリサイクルプラスチックに適用すると好ましい。 Here, the plastics applied as raw materials and samples in the embodiments described below will be described. The plastics are preferably thermoplastic resins that can be recycled, such as polyethylene (PE), polypropylene (PP), polystyrene (PS), acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer synthetic resin (ABS), polyvinyl alcohol (PVA), polyvinyl chloride (PVC), polycarbonate (PC), polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate (PBT), polyamide (PA), polyether ether ketone (PEEK), ethylene vinyl acetate copolymer (EVA), polylactic acid (PLA), polybutylene succinate (PBS), polybutylene adipate terephthalate resin (PBAT), plastic starch, polyhydroxybutyrate (PHB), 3-hydroxybutyrate-co-3-hydroxyhexanoate polymer (PHBP), It is constructed using polytetrafluoroethylene (PTFE), ethylene-tetrafluoroethylene (ETFE), perfluoroalkoxyalkane (PFA), ethyl trifluoroacetate (EFA), polychlorotrifluoroethylene (PCTFE), ethylene-chlorotrifluoroethylene copolymer (ECTFE), etc. as base materials. In the embodiment described below, it is preferable to apply the above-mentioned plastics to general-purpose resins such as polyethylene, polypropylene, polystyrene, acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer synthetic resin, polyvinyl chloride, and polyethylene terephthalate, which are available in a wide variety of types depending on performance and use, and it is particularly preferable to apply the polypropylene recycled plastic.
材料の技術分野では、材料の物性・特性などに関するデータと機械学習などの情報科学の技術を活用したマテリル・インフォマティクスによる材料の設計開発が普及し始めている。マテリル・インフォマティクス(以下、MIとも記す)で大量のデータを使用するデータ駆動に行う場合には、大量のデータと体系的に集積されたデータベースが必要となる。 In the field of materials technology, the design and development of materials using material informatics, which utilizes data on the physical properties and characteristics of materials and information science techniques such as machine learning, is becoming more widespread. When using material informatics (MI) in a data-driven manner that uses large amounts of data, large amounts of data and systematically accumulated databases are required.
リサイクルプラスチックのデータを収集する場合には、これら材料の種類・成分と、来歴と、マテリアルリサイクルの処理に応じて多種多様なデータを収集する必要が生じる。例えば、非特許文献1によれば、リサイクルされたプラスチックの物性・特性は一定ではなくばらつきを有すると考えられる。また、非特許文献2によれば、マテリアルリサイクルで加熱して溶融する工程における処理方法に応じても、プラスチックの物性・特性が変化すると考えられる。 When collecting data on recycled plastics, it becomes necessary to collect a wide variety of data depending on the type and composition of these materials, their history, and the material recycling process. For example, according to Non-Patent Document 1, it is believed that the physical properties and characteristics of recycled plastics are not constant but vary. Also, according to Non-Patent Document 2, it is believed that the physical properties and characteristics of plastics change depending on the processing method used in the heating and melting process in material recycling.
データベースを構築する方法として、特性・物性データが集積された公開データベースや、文献を使用して収集する方法が考えられる。しかし、プラスチックについてバージン材の公開データベース、文献は存在するが、リサイクルプラスチックではバージン材と同様な公開データベース、文献はほとんど存在しない。 Possible methods for building a database include collecting data on characteristics and physical properties from public databases or literature. However, while there are public databases and literature on virgin plastics, there are almost no similar public databases or literature on recycled plastics.
その他、データベースを構築する方法としては、実際に特性・物性データを計測して収集する方法がある。しかし、リサイクルプラスチックの特性・物性は、種類・成分とその来歴によって異なり、さらにマテリアルリサイクルでの溶融・固化の処理方法などの影響を複合的に受けて変動する。従って、リサイクルプラスチックのデータベースの構築では、原料自体に起因した特性・物性のばらつきを抑え、さらにマテリアルリサイクルでの処理方法による変動の寄与も考慮して特性・物性データを収集することが好ましい。 Another method for constructing a database is to actually measure and collect data on characteristics and physical properties. However, the characteristics and physical properties of recycled plastics vary depending on their type, components and history, and are further influenced by a complex range of factors, such as the melting and solidification processing methods used in material recycling. Therefore, when constructing a database for recycled plastics, it is preferable to collect data on characteristics and physical properties that minimizes variations in characteristics and physical properties caused by the raw materials themselves, and also takes into account the contribution of variations due to processing methods used in material recycling.
また、計測に基づいてデータベースを構築する場合には、サンプルの作製、計測といった作業が必要になる。さらに、効率的な計測データの収集と、様々な用途や目的にも対応できるよう計測の種類を増やす等の拡張も求められる。このとき計測データの種類を増やす場合は、リサイクルプラスチックでは上述した原料自体のばらつきも考慮する必要がある。そのため、例えば、各計測用に同一ロット内でサンプルをそれぞれ作製して各計測を行ったとしても、計測データ間でのサンプルの同一性を確保することは難しい。 In addition, when building a database based on measurements, tasks such as sample preparation and measurement are required. Furthermore, efficient collection of measurement data and expansion, such as increasing the number of types of measurement, are also required to accommodate a variety of uses and purposes. When increasing the types of measurement data at this time, it is necessary to take into account the aforementioned variability in the raw materials themselves in the case of recycled plastics. For this reason, for example, even if samples are prepared within the same lot for each measurement and each measurement is performed, it is difficult to ensure the identity of samples between measurement data.
そこで、後述する実施形態は、マテリアルリサイクルのプラスチックに対して、マテリアルリサイクルの工程を想定し、処理条件を規格化するなど制御して計測用のサンプルを作製と、サンプルの同一性を確保しながら物性・特性データを取得する。これにより、効率的な多種計測データによるデータベースの構築を実現するデータ管理システムを実現するものである。 The embodiment described below assumes the material recycling process for material recycled plastics, standardizes and controls the processing conditions to prepare samples for measurement, and obtains physical property and characteristic data while ensuring the identity of the samples. This realizes a data management system that realizes the efficient construction of a database using a wide variety of measurement data.
[第1実施形態]
〈第1実施形態の構成〉
図1は、第1実施形態による計測システム1のブロック図である。
図1において、計測システム1は、サンプリング装置100と、搬送装置120と、第1計測装置140と、第2計測装置150と、管理サーバ160(データ管理装置)と、これらを接続するネットワーク180と、を備えている。ここで、サンプリング装置100は、通信部102と、測定部104と、加工部106と、付帯情報取得部108と、保管部110と、環境管理部112と、マーキング部114と、読取部116と、制御部118と、を備えている。
[First embodiment]
Configuration of the First Embodiment
FIG. 1 is a block diagram of a measurement system 1 according to the first embodiment.
1, the measurement system 1 includes a sampling device 100, a transport device 120, a first measuring device 140, a second measuring device 150, a management server 160 (data management device), and a network 180 connecting these. Here, the sampling device 100 includes a communication unit 102, a measurement unit 104, a processing unit 106, an auxiliary information acquisition unit 108, a storage unit 110, an environment management unit 112, a marking unit 114, a reading unit 116, and a control unit 118.
また、搬送装置120は、通信部122と、格納部124と、可搬部126と、測定部128と、制御部130と、読取部132と、マーキング部134と、を備えている。また、第1計測装置140は、通信部142と、熱分析部144と、取得部146と、制御部148と、を備えている。 The transport device 120 also includes a communication unit 122, a storage unit 124, a portable unit 126, a measurement unit 128, a control unit 130, a reading unit 132, and a marking unit 134. The first measuring device 140 also includes a communication unit 142, a thermal analysis unit 144, an acquisition unit 146, and a control unit 148.
また、第2計測装置150は、通信部152と、非破壊評価部154(評価部)と、破壊評価部155(評価部)と、取得部156と、制御部158と、を備えている。また、管理サーバ160は、通信部162と、記憶制御部164と、記憶部166と、識別情報生成部168と、工程管理部170と、を備えている。上述した通信部102,122,142,152,162は、ネットワーク180を介して、相互にデータ通信する。 The second measuring device 150 also includes a communication unit 152, a nondestructive evaluation unit 154 (evaluation unit), a destructive evaluation unit 155 (evaluation unit), an acquisition unit 156, and a control unit 158. The management server 160 also includes a communication unit 162, a memory control unit 164, a memory unit 166, an identification information generation unit 168, and a process management unit 170. The communication units 102, 122, 142, 152, and 162 communicate data with each other via a network 180.
(サンプリング装置100)
サンプリング装置100における測定部104は、リサイクルプラスチックの原料20および原料20から切り出したサンプル22に対して、各種特性を測定し、測定情報D104を取得する。ここで、測定情報D104は、例えば以下の項目を含む。
・サンプル22および原料20の形状、重量、色調、外観、臭気、
・サンプル22および原料20の汚れや異物の混入状態
(Sampling device 100)
The measurement unit 104 in the sampling device 100 measures various characteristics of the recycled plastic raw material 20 and the sample 22 cut out from the raw material 20, and obtains measurement information D104. Here, the measurement information D104 includes, for example, the following items:
The shape, weight, color, appearance, and odor of the sample 22 and the raw material 20
-Contamination of the sample 22 and the raw material 20 and contamination with foreign matter
上述した測定情報D104のうち、「形状」は、ノギス、マイクロメータ、厚みゲージ、カメラやレーザ等の光学的な非接触計測、触針式による接触計測等によって取得できる。また、「重量」は電子天秤等で取得できる。また、「外観」および「色調」はCCDカメラ、CMOSカメラ、ハイパースペクトルカメラ等で取得できる。さらに、「色調」については、測色計、分光光度計、色見本等を用いてもよい。また、「臭気」は半導体式臭気センサ、ガスクロマトグラフ、嗅覚測定等で取得できる。また、「汚れや異物」は目視、カメラ、ハイパースペクトルカメラ、透過X線、蛍光X線、X線回折、赤外線分光、FT-IR等で取得できる。 Of the above-mentioned measurement information D104, "shape" can be obtained by non-contact optical measurement using calipers, micrometers, thickness gauges, cameras, lasers, etc., contact measurement using a stylus, etc. "Weight" can be obtained by an electronic balance, etc. "Appearance" and "color tone" can be obtained by a CCD camera, CMOS camera, hyperspectral camera, etc. Furthermore, for "color tone", a colorimeter, spectrophotometer, color sample, etc. may be used. "Odor" can be obtained by a semiconductor odor sensor, gas chromatograph, olfactory measurement, etc. "Dirt and foreign matter" can be obtained by visual inspection, a camera, a hyperspectral camera, transmitted X-rays, fluorescent X-rays, X-ray diffraction, infrared spectroscopy, FT-IR, etc.
加工部106は、サンプル22または原料20に対して各種加工を行う。例えば、加工部106は、サンプル22または原料20の保管に関する仕様、第1計測装置140および第2計測装置150における評価の種類、評価条件等に応じて、原料20からサンプル22を切り分ける。そして、加工部106は、サンプル22を切り分けた残余の原料20を回収する。 The processing unit 106 performs various processes on the sample 22 or raw material 20. For example, the processing unit 106 cuts the sample 22 from the raw material 20 according to the specifications for storing the sample 22 or raw material 20, the type of evaluation in the first measuring device 140 and the second measuring device 150, the evaluation conditions, etc. Then, the processing unit 106 collects the remaining raw material 20 after the sample 22 has been cut.
付帯情報取得部108は、原料20またはその包材に貼付されたラベル等(図示せず)をスキャンすることにより付帯情報D108を取得する。ここで、付帯情報D108とは、原料20の提供者、製造者、製造年月日、取得日、プラスチックの種類、出荷時の検査成績書、来歴を含む。なお、上述した測定情報D104として列挙した項目のうち、付帯情報D108として取得できる項目がある場合には、当該項目について測定部104による測定を省略してもよい。保管部110は、原料20を保管する。環境管理部112は、原料20の保管環境、例えば温度や湿度等を制御する。 The incidental information acquisition unit 108 acquires incidental information D108 by scanning a label or the like (not shown) attached to the raw material 20 or its packaging. Here, incidental information D108 includes the provider, manufacturer, manufacturing date, acquisition date, type of plastic, inspection report at the time of shipment, and history of the raw material 20. Note that, if any of the items listed as the above-mentioned measurement information D104 can be acquired as incidental information D108, the measurement of that item by the measurement unit 104 may be omitted. The storage unit 110 stores the raw material 20. The environment management unit 112 controls the storage environment of the raw material 20, such as temperature and humidity.
マーキング部114は、原料20またはその包材(図示せず)に付与すべき識別情報IDMと、サンプル22に対して付与すべき識別情報IDSと、を管理サーバ160の識別情報生成部168から受信し、これら識別情報IDS,IDMをサンプル22および原料20に付与する。マーキング部114による識別情報IDS,IDMの付与方法は、加工後の原料20またはサンプル22、これらの包装および梱包方法に応じて選択される。識別情報IDS,IDMを印字する場合は、バーコードや二次元バーコードを用いることが好ましい。これにより、印字可能な面積が小さくても多量の情報を付与することができる。 The marking unit 114 receives the identification information IDM to be applied to the raw material 20 or its packaging material (not shown) and the identification information IDS to be applied to the sample 22 from the identification information generation unit 168 of the management server 160, and applies the identification information IDS, IDM to the sample 22 and raw material 20. The method of applying the identification information IDS, IDM by the marking unit 114 is selected depending on the raw material 20 or sample 22 after processing, and the packaging and packing method thereof. When printing the identification information IDS, IDM, it is preferable to use a barcode or two-dimensional barcode. This makes it possible to apply a large amount of information even if the printable area is small.
マーキング部114は、サンプル22および原料20毎に固有の識別情報IDS,IDMを付与するために、オンデマンドで対応できる機器が好ましい。例えばインクジェットプリンタ、サーマルプリンタ、レーザーマーカー、ホットスタンプ、無線型のICタグ(例えばRF-ID)を適用することができる。また、マーキング部114は、識別情報IDS,IDMの発行や入出力する機能を有していてもよい。また、各サンプル22に対して評価データ(詳細は後述する)を取得することを考慮すると、識別情報IDS,IDMの付与に用いた物体の混入を抑制したい場合もある。 The marking unit 114 is preferably an on-demand device that can provide unique identification information IDS, IDM for each sample 22 and raw material 20. For example, an inkjet printer, thermal printer, laser marker, hot stamp, or wireless IC tag (e.g., RF-ID) can be used. The marking unit 114 may also have a function for issuing and inputting/outputting the identification information IDS, IDM. In addition, considering that evaluation data (described in detail below) will be obtained for each sample 22, it may be desirable to prevent the inclusion of objects used to provide the identification information IDS, IDM.
このような場合は、サーマルプリンタ、レーザーマーカー、ホットスタンプを用いて原料に文字列、幾何学模様、2次元コード等の形式で、識別情報IDS,IDMを印刷することが好ましい。識別情報IDS,IDMを付与するために、ある程度のサイズや質量を有する物体を適用し、当該物体を後述する計測処理においてもサンプル22に付与し続ける場合には、当該物体はサンプル22の溶融温度以上、さらに好ましくは分解温度、燃焼温度以上の耐熱性を有し、サンプル22に対して非反応性であることが好ましい。 In such a case, it is preferable to print the identification information IDS, IDM on the raw material in the form of a character string, a geometric pattern, a two-dimensional code, etc., using a thermal printer, a laser marker, or a hot stamp. In order to impart the identification information IDS, IDM, an object having a certain size and mass is applied, and when the object continues to be imparted to the sample 22 even during the measurement process described below, it is preferable that the object has heat resistance above the melting temperature of the sample 22, more preferably above the decomposition temperature or combustion temperature, and is non-reactive with the sample 22.
サンプリング装置100および搬送装置120における読取部116,132は、サンプル22から識別情報IDSを読み取り、その結果を管理サーバ160に送信する。管理サーバ160において、記憶制御部164は、各種情報と識別情報IDSとを対応付けて、データベースを構築し、記憶部166に記憶させる。なお、ここで、「データベース」とは、データベース300(図4、図5参照)、データベース400(図6参照)、およびデータベース500(図7~図9参照)である。これらデータベースの詳細については後述する。 The reading units 116, 132 in the sampling device 100 and the transport device 120 read the identification information IDS from the sample 22 and transmit the results to the management server 160. In the management server 160, the storage control unit 164 associates various information with the identification information IDS to construct a database and stores it in the storage unit 166. Note that the "database" here refers to database 300 (see Figures 4 and 5), database 400 (see Figure 6), and database 500 (see Figures 7 to 9). Details of these databases will be described later.
読取部116は、マーキング部114がサンプル22、原料20またはその包材(図示せず)に対して付与した識別情報IDS,IDMを読み取る。読取部116には、スマートフォンやハンディターミナルなどのカメラ付端末を適用できる。これらによって、変換プログラムを使用することで、識別情報IDS,IDMの内容を確認して管理することができる。制御部118は、サンプリング装置100の各部を制御する。 The reading unit 116 reads the identification information IDS, IDM that the marking unit 114 has assigned to the sample 22, raw material 20 or its packaging (not shown). A camera-equipped terminal such as a smartphone or handheld terminal can be used as the reading unit 116. These can be used to check and manage the contents of the identification information IDS, IDM by using a conversion program. The control unit 118 controls each part of the sampling device 100.
(搬送装置120)
搬送装置120は、サンプル22および原料20を搬送する装置である。なお、計測システム1内の装置の配置や種類に応じて、搬送装置120を複数用いてもよい。搬送装置120における格納部124は、サンプル22および原料20を保管する。格納部124は、ガス、温度、湿度、照度のような環境雰囲気の制御と保持する機能や、原料20およびサンプル22を内包して可搬部126を介して各装置に移送する機能を有しても構わない。また、可搬部126は、サンプリング装置100、第1計測装置140、第2計測装置150およびこれらの構成要素の間で、サンプル22および原料20を搬送する。
(Transportation device 120)
The transport device 120 is a device that transports the sample 22 and the raw material 20. Note that a plurality of transport devices 120 may be used depending on the arrangement and type of devices in the measurement system 1. The storage unit 124 in the transport device 120 stores the sample 22 and the raw material 20. The storage unit 124 may have a function of controlling and maintaining the environmental atmosphere such as gas, temperature, humidity, and illuminance, and a function of containing the raw material 20 and the sample 22 and transporting them to each device via the transport unit 126. In addition, the transport unit 126 transports the sample 22 and the raw material 20 between the sampling device 100, the first measuring device 140, the second measuring device 150, and these components.
測定部128は、各種工程のモニタリングを行う。すなわち、測定部128は、温度、湿度、照度、ガス濃度などの環境雰囲気を計測する機能や、原料およびサンプルの状態を監視する撮像機能を備える。また、測定部128は、サンプリング装置100の測定部104と同様の機能を備えていてもよい。制御部130は、搬送装置120における各部を制御し、通信部122およびネットワーク180を介して、原料20、サンプル22、各工程、モニタリング結果等の情報を入出力する。 The measurement unit 128 monitors various processes. That is, the measurement unit 128 has a function of measuring the environmental atmosphere such as temperature, humidity, illuminance, and gas concentration, and an imaging function of monitoring the state of the raw materials and samples. The measurement unit 128 may also have the same function as the measurement unit 104 of the sampling device 100. The control unit 130 controls each part of the transport device 120, and inputs and outputs information such as the raw materials 20, the sample 22, each process, and monitoring results via the communication unit 122 and the network 180.
読取部132は、サンプリング装置100の読取部116と同様に、原料20およびサンプル22に付与された識別情報IDS,IDMを取得する。マーキング部134は、サンプリング装置100のマーキング部114と同様の機能を有し、原料20およびサンプル22、またはこれらの包材に対して固有の識別情報IDS,IDMを付与する。 The reading unit 132, like the reading unit 116 of the sampling device 100, acquires the identification information IDS, IDM assigned to the raw material 20 and the sample 22. The marking unit 134 has the same function as the marking unit 114 of the sampling device 100, and assigns unique identification information IDS, IDM to the raw material 20 and the sample 22, or their packaging materials.
(第1計測装置140)
第1計測装置140における取得部146は、搬送装置120を介して、サンプリング装置100からサンプル22と原料20とを取得する。熱分析部144は、サンプル22および原料20に対して温度を制御して加熱する機能と、加熱状態におけるサンプル22および原料20の特性・性能を評価する機能と、測定後のサンプル22および原料20を作製する機能と、を有する。
(First Measuring Device 140)
The acquisition unit 146 in the first measuring device 140 acquires the sample 22 and the raw material 20 from the sampling device 100 via the transport device 120. The thermal analysis unit 144 has a function of heating the sample 22 and the raw material 20 while controlling the temperature, a function of evaluating the characteristics and performance of the sample 22 and the raw material 20 in the heated state, and a function of preparing the sample 22 and the raw material 20 after measurement.
さらに、熱分析部144は、示差走査熱量測定、熱重量測定、示差熱分析測定、熱重量測定、乾燥式水分量測定、加熱発生ガス分析、メルトマスフローレイト測定、メルトボリュームレイト測定、スパイラルフロー測定、または成形収縮率測定により、サンプル22の特性・物性を評価する機能を有する。 Furthermore, the thermal analysis unit 144 has the function of evaluating the characteristics and physical properties of the sample 22 by differential scanning calorimetry, thermogravimetry, differential thermal analysis measurement, thermogravimetry, dry moisture content measurement, heated gas analysis, melt mass flow rate measurement, melt volume rate measurement, spiral flow measurement, or molding shrinkage rate measurement.
特に、本実施形態において、熱分析部144は、乾燥式水分計(図示せず)を含んでいる。すなわち、熱分析部144は、加熱温度を酸化や熱分解による化学変性を生じない温度までサンプル22を昇温する。その際、熱分析部144は、昇温速度と保持温度と保持時間とを制御する。 In particular, in this embodiment, the thermal analysis unit 144 includes a dry moisture meter (not shown). That is, the thermal analysis unit 144 heats the sample 22 to a temperature that does not cause chemical denaturation due to oxidation or thermal decomposition. At that time, the thermal analysis unit 144 controls the heating rate, the holding temperature, and the holding time.
さらに、熱分析部144は、冷却時の温度変化もサンプル22に対応付けて取得する。そして、熱分析部144においては、測定後の固化したサンプル22を取得し、固化したサンプル22に対して、上述した識別情報IDSを再び付与する。制御部148は、第1計測装置140における各部を制御し、通信部142およびネットワーク180を介して、原料20、サンプル22、評価条件、評価結果等に関する各種情報を入出力する。 The thermal analysis unit 144 also acquires the temperature change during cooling in association with the sample 22. The thermal analysis unit 144 then acquires the solidified sample 22 after measurement, and again assigns the above-mentioned identification information IDS to the solidified sample 22. The control unit 148 controls each unit in the first measuring device 140, and inputs and outputs various information related to the raw material 20, the sample 22, the evaluation conditions, the evaluation results, etc. via the communication unit 142 and the network 180.
(第2計測装置150)
第2計測装置150における取得部156は、第1計測装置140における取得部146と同様に、搬送装置120を介して、サンプリング装置100からサンプル22と原料20とを取得する。非破壊評価部154は、サンプル22の特性・性能について非破壊評価を行う。また、破壊評価部155は、サンプル22の特性・性能について破壊評価を行う。
(Second Measuring Device 150)
The acquisition unit 156 in the second measuring device 150, like the acquisition unit 146 in the first measuring device 140, acquires the sample 22 and the raw material 20 from the sampling device 100 via the transport device 120. The non-destructive evaluation unit 154 performs non-destructive evaluation of the characteristics and performance of the sample 22. In addition, the destructive evaluation unit 155 performs destructive evaluation of the characteristics and performance of the sample 22.
ここで、「非破壊評価」とは、主として、サンプル22の材質に変質を伴わない評価である。また、「破壊評価」とは、主として、サンプル22の材質に変質を伴う評価であり、サンプル破片を酸化・熱分解温度以上に加熱する評価である。本実施形態においては、サンプル22に対して非破壊評価部154が非破壊評価を行った後、破壊評価部155が破壊評価を行う。また、非破壊評価および破壊評価は、それぞれ複数の評価項目について評価を行ってもよい。 Here, "non-destructive evaluation" refers primarily to evaluation that does not alter the material of sample 22. Also, "destructive evaluation" refers primarily to evaluation that alters the material of sample 22, and is evaluation in which sample fragments are heated to an oxidation/thermal decomposition temperature or higher. In this embodiment, after non-destructive evaluation unit 154 performs non-destructive evaluation on sample 22, destructive evaluation unit 155 performs destructive evaluation. Also, non-destructive evaluation and destructive evaluation may each be performed on multiple evaluation items.
非破壊評価部154が実行する非破壊評価としては、例えば、以下のうち何れか一つまたは複数の項目を適用することができる。
・紫外線、可視光線、赤外線に対する透過率、反射率、吸収率、または屈折率、
・蛍光発光のスペクトル、
・FT-IR(Fourier Transform Infrared Spectroscopy,フーリエ変換赤外分光光度計)による計測
・透過X線測定、蛍光X線測定、XRD(X‐ray diffraction, X線回折)、
・XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy, X線光電子分光)
・色座標、色度(色見本の色票番号およびカラーコード)、
・直流電圧印加時の抵抗値、表面抵抗率、静電容量、または帯電率、
・交流電圧印加時のインピーダンス、または、比誘電率と誘電正接(tanδ)との組合せ、
・比重、重量、形状、
・表面粗さ、接触角
The non-destructive evaluation performed by the non-destructive evaluation unit 154 may, for example, employ one or more of the following items.
- Transmittance, reflectance, absorptance, or refractive index for ultraviolet rays, visible light, and infrared rays,
- Fluorescence emission spectrum,
・Measurement using FT-IR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy) ・Transmission X-ray measurement, fluorescent X-ray measurement, XRD (X-ray diffraction),
・XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
- Color coordinates, chromaticity (color chart number and color code of the color sample),
Resistance value, surface resistivity, electrostatic capacitance, or charge rate when a DC voltage is applied,
- Impedance when AC voltage is applied, or a combination of the dielectric constant and the dielectric tangent (tan δ),
・Specific gravity, weight, shape,
- Surface roughness, contact angle
また、破壊評価部155は、非破壊評価が終了した後に評価方法に合わせてサンプル22を複数の破片に分割し、各破片に対して破壊評価を行ってもかまわない。破壊評価としては、例えば、以下のうち何れか一つまたは複数の項目を適用することができる。
・熱重量分析(TG)、示差熱分析(DTA)、または両者を同時に行うTG-DTA、
・示差走査熱量測定、熱重量測定、または乾燥式水分量測定、
・加熱発生ガス分析、メルトマスフローレイト測定、メルトボリュームレイト測定、スパイラルフロー測定、または軟化点測定、荷重たわみ温度測定、
・加熱分解または溶解による分子量測定、
・ICP(Inductively Coupled Plasma,高周波誘導結合プラズマ)試験
・MS(Mass Spectrometry,質量分析法)試験
・引張、曲げ、衝撃、ナノインデンテーション、クリープ、硬度、粘弾性、引っかき等の機械特性試験、
・加熱による熱分解質量、揮発および発生ガスの分析
・加熱、加湿、紫外線、放射線などの電磁波、ガスなどの制御環境下での曝露、屋外曝露などや圧縮・引張などの繰り返し、摩耗、温度サイクル(冷熱衝撃)などによる負荷、といった老化試験、
・絶縁耐力、耐アーク性試験、
・耐薬品性(酸、アルカリ、溶剤など)、接着性試験、
・溶融粘度(MFR/MFI)、
・難燃性(UI)試験
After the non-destructive evaluation is completed, the destructive evaluation unit 155 may divide the sample 22 into a plurality of fragments in accordance with the evaluation method, and perform destructive evaluation on each fragment. As the destructive evaluation, for example, one or more of the following items may be applied.
Thermogravimetric analysis (TG), differential thermal analysis (DTA), or both simultaneously (TG-DTA),
Differential scanning calorimetry, thermogravimetry, or dry moisture content measurement,
・Gas analysis, melt mass flow rate measurement, melt volume rate measurement, spiral flow measurement, softening point measurement, deflection temperature under load measurement,
Molecular weight measurement by thermal decomposition or dissolution,
・ICP (Inductively Coupled Plasma) testing ・MS (Mass Spectrometry) testing ・Mechanical property testing such as tensile, bending, impact, nanoindentation, creep, hardness, viscoelasticity, scratching, etc.
- Analysis of pyrolysis mass, volatilization and generated gas due to heating - Aging tests such as exposure to heat, humidification, ultraviolet rays, electromagnetic waves such as radiation, gas, etc. in controlled environments, outdoor exposure, repeated compression and tension, abrasion, temperature cycle (cold and hot shock), etc.
・Dielectric strength, arc resistance test,
・Chemical resistance (acid, alkali, solvent, etc.), adhesion testing,
Melt viscosity (MFR/MFI),
・Flame retardancy (UI) test
以上の非破壊評価および破壊評価は、マテリアルリサイクルでの製造、使用、廃棄、再生のライフサイクルの過程を模擬することにも相当し、同サンプルに由来して紐づいた各計測データを効率的に取得する。そして、一つのサンプル22に対して、計測データを増やし、データベース300,400,500(図4~図9参照)の効率的な構築と拡張を実現できる。また、識別情報IDSにより、例えば、サンプル取違えや二重計測を防止する等、サンプル管理を強化することができ、データベース300,400,500への入力ミスを防止できる。制御部158は、第2計測装置150における各部を制御し、通信部152およびネットワーク180を介して、サンプル22、評価条件、評価結果等に関する各種情報を入出力する。 The above non-destructive and destructive evaluations are equivalent to simulating the process of the life cycle of manufacturing, use, disposal, and regeneration in material recycling, and each measurement data derived from and linked to the same sample is efficiently obtained. Then, the measurement data for one sample 22 can be increased, and efficient construction and expansion of databases 300, 400, and 500 (see Figures 4 to 9) can be realized. In addition, the identification information IDS can strengthen sample management, for example, by preventing sample mix-ups and duplicate measurements, and can prevent input errors into databases 300, 400, and 500. The control unit 158 controls each unit in the second measuring device 150, and inputs and outputs various information regarding the sample 22, evaluation conditions, evaluation results, etc. via the communication unit 152 and the network 180.
(管理サーバ160)
管理サーバ160は、通信部162およびネットワーク180を介して、計測システム1における各装置から上述した各種情報を収集する。記憶制御部164は、記憶部166に対して、データベース300,400,500(図4~図9参照)を記憶させる。識別情報生成部168は、サンプリング装置100、搬送装置120または第1計測装置140から供給された識別特徴量、その他各種情報に基づいて、原料20に付与される識別情報IDMと、サンプル22に付与される識別情報IDSと、を生成する。
(Management Server 160)
The management server 160 collects the above-mentioned various information from each device in the measurement system 1 via the communication unit 162 and the network 180. The memory control unit 164 stores the databases 300, 400, and 500 (see FIGS. 4 to 9) in the memory unit 166. The identification information generation unit 168 generates the identification information IDM to be assigned to the raw material 20 and the identification information IDS to be assigned to the sample 22 based on the identification feature amount supplied from the sampling device 100, the transport device 120, or the first measuring device 140, and various other information.
工程管理部170は、計測システム1における各装置での処理工程、評価条件に関する情報を生成する。データ分析部172は、各装置から収集した情報に基づいて、サンプル22の識別特徴量を抽出する。さらに、データ分析部172は、識別情報IDSと、取得した各情報と、抽出した識別特徴量とを統合し、統合結果である情報を表形式やグラフ形式などに体系化する機能を有する。ここで、サンプル22の「識別特徴量」とは、例えば以下に列挙する量である。
・当該サンプル22に係る原料20の識別情報IDM、
・当該サンプル22に係る原料20の付帯情報D108、
・サンプル22の外観情報(例えばサンプル22の形状、重量、色度およびカラーコード、異物の数、または異物の分散状態)、
・サンプル22の加工、計量の処理に関する情報、
・原料20およびサンプル22の保管条件、
・原料20およびサンプル22の移送、格納の工程で取得した情報、
・原料20およびサンプル22の分析および試験の開始前の評価結果。
・その他、原料20およびサンプル22の物性
The process management unit 170 generates information related to the processing steps and evaluation conditions in each device in the measurement system 1. The data analysis unit 172 extracts an identification feature of the sample 22 based on the information collected from each device. Furthermore, the data analysis unit 172 has a function of integrating the identification information IDS, each acquired piece of information, and the extracted identification feature, and systematizing the information resulting from the integration in a table format, a graph format, or the like. Here, the "identification feature" of the sample 22 is, for example, the quantities listed below.
- identification information IDM of the raw material 20 related to the sample 22;
- supplementary information D108 of the raw material 20 related to the sample 22;
Appearance information of the sample 22 (e.g., the shape, weight, chromaticity and color code of the sample 22, the number of foreign objects, or the dispersion state of the foreign objects),
- Information regarding the processing and weighing of sample 22;
Storage conditions of the raw materials 20 and samples 22;
Information obtained during the process of transporting and storing the raw materials 20 and samples 22;
- Pre-commencement evaluation results of the analysis and testing of raw materials 20 and samples 22.
Other physical properties of the raw material 20 and the sample 22
ここで、識別情報生成部168は、上述した識別特徴量と、例えば以下に列挙する情報の一部または全てを含むように、所定の生成アルゴリズムに従い、一意な固有情報として識別情報IDSを生成する。
・サンプリング装置100、搬送装置120、第1計測装置140または第2計測装置150の固有情報、
・測定部104が取得した測定情報D104
・第1計測装置140または第2計測装置150で実行すべき評価の種類および評価条件、
・第1計測装置140で実行された評価の評価結果、
Here, the identification information generating unit 168 generates the identification information IDS as unique information in accordance with a predetermined generation algorithm so as to include the above-mentioned identification features and, for example, some or all of the information listed below.
- Unique information of the sampling device 100, the transport device 120, the first measuring device 140, or the second measuring device 150;
Measurement information D104 acquired by the measurement unit 104
The type and conditions of evaluation to be performed by the first measurement tool 140 or the second measurement tool 150;
The evaluation result of the evaluation performed by the first measuring device 140;
ここで、識別情報IDSの生成にあたって測定情報D104を用いる方法について、さらに詳細を説明する。上述したように、測定部104が取得した測定情報D104には、サンプル22をカメラで撮影した画像データが含まれる。この画像データについて、
・各画素の輝度情報を閾値との比較に基づいて二値データ(例えば“0”および“1”)に変換する、
・各画素の輝度情報をグレースケールによる(例えば、256階調の)信号強度データに変換する、
・各画素を色情報化(例えば、RGBにカラーコーディング)する、
・信号強度分布を数値化する(例えば、二値化した場合には“0”、“1”の比率を求める)、
・空間周波数を取得する、
・パーシテントホモロジーにより別に作成された変換アルゴリズムに従い、機械学習により数値化する、
等の手法を採用し、これらによって得られた結果に基づいて測定情報D104を取得するとよい。例えば、サンプル22の撮像情報を、二値化して行列で記述し、それを規則に従って配列する方法が考えられる。
Here, a method of using the measurement information D104 to generate the identification information IDS will be described in more detail. As described above, the measurement information D104 acquired by the measurement unit 104 includes image data of the sample 22 captured by a camera.
Converting the luminance information of each pixel into binary data (e.g., "0" and "1") based on a comparison with a threshold;
Converting the luminance information of each pixel into grayscale (e.g., 256-level) signal intensity data;
- Converting each pixel into color information (e.g., color coding to RGB),
- Quantifying the signal intensity distribution (for example, in the case of binarization, finding the ratio of "0" and "1")
- Obtaining spatial frequency
- Quantify the data using machine learning according to a transformation algorithm created separately by persistent homology.
It is preferable to adopt a method such as the above and obtain the measurement information D104 based on the results obtained by these methods. For example, a method is considered in which the imaging information of the sample 22 is binarized and described in a matrix, and the matrix is arranged according to a rule.
このように、サンプル22に対して固有の識別情報IDSを付与することで、個々のサンプル22に対してデータ管理することが可能になる。さらに、生成アルゴリズムの逆関数によって、識別情報IDSに基づいてサンプル22に関する各種情報を取得できる。さらに、生成アルゴリズムに暗号化処理を含めることにより、サンプル22に関する各種情報を開示する相手を制限することも可能である。マーキング部114は、サンプル22またはその保管や移送に用いる格納容器に対して、印字、刻印、シールの貼付等の手法によって識別情報IDSを付与する。 In this way, by assigning a unique identification information IDS to the sample 22, it becomes possible to manage data for each individual sample 22. Furthermore, by using the inverse function of the generation algorithm, various information regarding the sample 22 can be obtained based on the identification information IDS. Furthermore, by including an encryption process in the generation algorithm, it is also possible to restrict the parties to whom the various information regarding the sample 22 is disclosed. The marking unit 114 assigns the identification information IDS to the sample 22 or to a storage container used for storing or transporting it by a method such as printing, engraving, or attaching a sticker.
(コンピュータ)
図2は、コンピュータ980のブロック図である。図1に示した制御部118,130,148,158および管理サーバ160は、何れも図2に示すコンピュータ980を、1台または複数台備えている。
図2において、コンピュータ980は、CPU981と、記憶部982と、通信I/F(インタフェース)983と、通信I/F983と、入出力I/F984と、メディアI/F985と、を備える。ここで、記憶部982は、RAM982aと、ROM982bと、HDD982cと、を備える。通信I/F983は、通信回路986に接続される。入出力I/F984は、入出力装置987に接続される。メディアI/F985は、記録媒体988からデータを読み書きする。
(Computer)
2 is a block diagram of the computer 980. Each of the control units 118, 130, 148, 158 and the management server 160 shown in FIG. 1 includes one or more computers 980 shown in FIG.
2, the computer 980 includes a CPU 981, a storage unit 982, a communication I/F (interface) 983, an input/output I/F 984, and a media I/F 985. Here, the storage unit 982 includes a RAM 982a, a ROM 982b, and a HDD 982c. The communication I/F 983 is connected to a communication circuit 986. The input/output I/F 984 is connected to an input/output device 987. The media I/F 985 reads and writes data from a recording medium 988.
ROM982bには、CPUによって実行されるIPL(Initial Program Loader)等が格納されている。HDD982cには、アプリケーションプログラムや各種データ等が記憶されている。CPU981は、HDD982cからRAM982aに読み込んだアプリケーションプログラム等を実行することにより、各種機能を実現する。先に図1に示した、管理サーバ160の内部は、アプリケーションプログラム等によって実現される機能をブロックとして示したものである。 The ROM 982b stores an IPL (Initial Program Loader) executed by the CPU, etc. The HDD 982c stores application programs, various data, etc. The CPU 981 executes application programs, etc. loaded from the HDD 982c to the RAM 982a to realize various functions. The interior of the management server 160 shown in Figure 1 above is a block diagram showing the functions realized by application programs, etc.
〈第1実施形態の動作〉
図3は、計測システム1の動作を示すフローチャートである。
図3において処理がステップS202に進むと、サンプリング装置100は、原料20と、および各種情報を取得する。すなわち、保管部110は、原料20を取得し、付帯情報取得部108は付帯情報D108を取得し、測定部104は測定情報D104を取得する。次に、サンプリング装置100の制御部118は、管理サーバ160に対して、測定情報D104および付帯情報D108を供給する。管理サーバ160の記憶部166は、これらの情報を記憶する。
<Operation of the First Embodiment>
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the measurement system 1.
3, when the process proceeds to step S202, the sampling device 100 acquires the raw material 20 and various information. That is, the storage unit 110 acquires the raw material 20, the incidental information acquisition unit 108 acquires incidental information D108, and the measurement unit 104 acquires measurement information D104. Next, the control unit 118 of the sampling device 100 supplies the measurement information D104 and the incidental information D108 to the management server 160. The memory unit 166 of the management server 160 stores this information.
次に、処理がステップS204(識別情報生成過程)に進むと、管理サーバ160の識別情報生成部168は、測定情報D104および付帯情報D108に基づいて識別特徴量を抽出し、抽出した識別特徴量等の情報に基づいて、識別情報IDS,IDMを生成し、サンプリング装置100に返信する。次に、サンプリング装置100におけるマーキング部114は、原料20またはその包材に対して識別情報IDMを付与し、サンプル22に対して識別情報IDSを付与する。 Next, when the process proceeds to step S204 (identification information generation process), the identification information generation unit 168 of the management server 160 extracts identification features based on the measurement information D104 and the additional information D108, generates identification information IDS, IDM based on the extracted identification features and other information, and returns it to the sampling device 100. Next, the marking unit 114 in the sampling device 100 assigns identification information IDM to the raw material 20 or its packaging material, and assigns identification information IDS to the sample 22.
次に、処理がステップS206に進むと、管理サーバ160は、識別情報IDS,IDM、測定情報D104および付帯情報D108に基づいて、サンプリング装置100において実行すべき工程、処理の内容を決定する。そして、管理サーバ160は、サンプリング装置100に対して、これら工程、処理を特定する工程・処理指令D206を供給する。工程・処理指令D206には、工程・処理を実行すべき日時を含めてもよい。 Next, when the process proceeds to step S206, the management server 160 determines the process and processing content to be executed by the sampling device 100 based on the identification information IDS, IDM, the measurement information D104, and the additional information D108. The management server 160 then supplies the sampling device 100 with a process/processing command D206 that specifies these processes and processing. The process/processing command D206 may include the date and time at which the process/processing is to be executed.
次に、処理がステップS208に進むと、サンプリング装置100は、供給された工程・処理指令D206の内容を実行する。例えば、ステップS208において、サンプリング装置100は、以下に列挙する工程・処理の一部または全てを実行する。
・サンプリング装置100の加工部106において、指定された形状・質量を有するサンプル22を原料20から取得し、加工などして調製する。
・測定部104において、サンプル22の形状、重量、色調を再度測定する。
・サンプル22を作成した後、残った原料20に対して、指定された包装および梱包等を施し、指定された保管場所、環境にて保管する。
Next, when the process proceeds to step S208, the sampling device 100 executes the contents of the supplied process/processing command D206. For example, in step S208, the sampling device 100 executes some or all of the processes/processing listed below.
In the processing section 106 of the sampling device 100, a sample 22 having a specified shape and mass is obtained from the raw material 20 and prepared by processing or the like.
In the measuring section 104, the shape, weight and color of the sample 22 are measured again.
After the sample 22 is created, the remaining raw material 20 is wrapped and packaged as specified, and stored in a specified storage location and environment.
さらに、ステップS208において、サンプリング装置100は、管理サーバ160に対して、工程・処理指令D206を実行した結果報告である工程・処理報告を出力する。工程・処理報告は、例えば、以下に列挙する情報の一部または全てを含む。
・加工者、加工日、加工機器等、加工結果に関する情報、
・加工後のサンプル22の測定データ、測定者、測定装置等、測定結果に関する情報、
・保管場所、保管者、保管期間、温度、湿度、照度等の環境、包装および梱包など、保管に関する情報、
Furthermore, in step S208, the sampling device 100 outputs a process/processing report, which is a result report of the execution of the process/processing command D206, to the management server 160. The process/processing report includes, for example, some or all of the information listed below.
- Information regarding the processor, processing date, processing equipment, etc., and the processing results;
- Information regarding measurement results such as measurement data of the processed sample 22, the person who performed the measurement, the measuring device, etc.
-Information regarding storage, such as storage location, custodian, storage period, temperature, humidity, lighting conditions, packaging, etc.
次に、処理がステップS210(受信過程)に進むと、管理サーバ160は、搬送装置120に対して、搬送指令情報D210を出力する。ここで、搬送指令情報D210は、搬送対象物を搬送元装置から搬送先装置に搬送すべき旨を指令する情報である。ステップS210において、搬送指令情報D210は、搬送対象物であるサンプル22の識別情報IDS、搬送元装置であるサンプリング装置100の識別情報、および搬送先装置である第1計測装置140の識別情報を含む。 Next, when the process proceeds to step S210 (reception process), the management server 160 outputs transport command information D210 to the transport device 120. Here, the transport command information D210 is information that commands the transport of the object to be transported from the source device to the destination device. In step S210, the transport command information D210 includes identification information IDS of the sample 22, which is the object to be transported, identification information of the sampling device 100, which is the source device, and identification information of the first measuring device 140, which is the destination device.
次に、処理がステップS212に進むと、搬送装置120は、搬送処理を行う。すなわち、搬送装置120は、搬送指令情報D210に基づいて、サンプリング装置100から第1計測装置140にサンプル22を搬送する。 Next, when the process proceeds to step S212, the transport device 120 performs a transport process. That is, the transport device 120 transports the sample 22 from the sampling device 100 to the first measuring device 140 based on the transport command information D210.
次に、処理がステップS214に進むと、搬送装置120は、管理サーバ160に対して、搬送結果を報告する搬送報告情報D214を送信する。また、管理サーバ160の記憶制御部164は、当該搬送報告情報D214を、記憶部166に記憶させる。ここで、搬送報告情報D214は、例えば以下に列挙する情報の一部または全てを含む。
・移送者、搬送装置120の識別情報、
・サンプル22、その包装または梱包の状態、
・実際の移送や格納に適用された容器、保管環境
Next, when the process proceeds to step S214, the transport device 120 transmits transport report information D214 reporting the transport result to the management server 160. The storage control unit 164 of the management server 160 stores the transport report information D214 in the storage unit 166. Here, the transport report information D214 includes, for example, some or all of the information listed below.
- Identification of the transporter and the transport device 120;
- Sample 22, its packaging or packaging condition;
- Containers and storage environments applied to actual transport and storage
仮に、サンプル22、その包装または梱包に損傷や欠落が生じると、第1計測装置140においてサンプル22の評価を行うことが不適切または不可能になる場合がある。この場合、管理サーバ160は、本フローチャートによる処理を中止する。または、これに代えて、管理サーバ160は、サンプル22をサンプリング装置100に戻して、サンプル22を再度加工させてもよい。 If the sample 22, its packaging, or wrapping is damaged or missing, it may become inappropriate or impossible to evaluate the sample 22 in the first measuring device 140. In this case, the management server 160 stops the processing according to this flowchart. Alternatively, the management server 160 may return the sample 22 to the sampling device 100 and have the sample 22 processed again.
次に、処理がステップS216に進むと、管理サーバ160は、第1計測装置140に対して、第1評価指令D216を出力する。第1評価指令D216は、例えば、以下に列挙する情報の一部または全てを含む。
・原料20の識別情報IDM、
・サンプル22の識別情報IDS、
・サンプル22の評価を行うべき日時である評価日時。
・サンプル22の評価条件。
Next, when the process proceeds to step S216, the management server 160 outputs a first evaluation command D216 to the first measuring tool 140. The first evaluation command D216 includes, for example, some or all of the information listed below.
- identification information IDM of the raw material 20,
- identification information IDS of sample 22,
An evaluation date and time, which is the date and time when evaluation of sample 22 should take place.
-Evaluation conditions for sample 22.
次に、処理がステップS218に進むと、第1計測装置140は、第1評価指令D216に基づいて、サンプル22に対して熱分析を行う。すなわち、熱分析部144では、サンプル22の温度を制御して、少なくともその溶融温度以上に加熱し、冷却して固化する工程を実行する。そして、熱分析部144は、その工程におけるサンプル22の温度と物性・性能データを取得する。 Next, when the process proceeds to step S218, the first measuring device 140 performs a thermal analysis on the sample 22 based on the first evaluation command D216. That is, the thermal analysis unit 144 controls the temperature of the sample 22, and executes a process of heating it to at least its melting temperature or higher, and then cooling it to solidify it. The thermal analysis unit 144 then acquires the temperature and physical property/performance data of the sample 22 during that process.
次に、処理がステップS220に進むと、第1計測装置140は、第1評価結果D220を管理サーバ160に送信する。ここで、第1評価結果D220は、ステップS218における熱分析の評価者、評価日時、熱分析部144の評価機器、温度履歴、特性・性能の評価結果等の情報が含まれる。管理サーバ160においては、第1評価結果D220を記憶部166に記憶させる。 Next, when the process proceeds to step S220, the first measuring device 140 transmits the first evaluation result D220 to the management server 160. Here, the first evaluation result D220 includes information such as the evaluator of the thermal analysis in step S218, the evaluation date and time, the evaluation equipment of the thermal analysis unit 144, the temperature history, and the evaluation results of the characteristics and performance. In the management server 160, the first evaluation result D220 is stored in the memory unit 166.
熱分析後のサンプル22は、プラスチックのマテリアルリサイクルと類似した工程を経ている。そこで、第1評価結果D220には、その工程における温度と特性・性能のデータも含められる。従って、原料のマテリアルリサイクルを模擬して工程制御と、その工程における物性・性能の評価結果を第1評価結果D220に基づいて取得できる。さらに、第1評価結果D220に紐づくマテリアルリサイクルを模擬したサンプル22を取得できる。この熱分析後のサンプル22は、第2計測装置150における評価に用いられる。 The sample 22 after thermal analysis has undergone a process similar to the material recycling of plastics. Therefore, the first evaluation result D220 also includes data on the temperature and characteristics/performance during that process. Therefore, it is possible to simulate the material recycling of raw materials, and obtain process control and evaluation results of the physical properties/performance during that process based on the first evaluation result D220. Furthermore, it is possible to obtain a sample 22 that simulates material recycling linked to the first evaluation result D220. This sample 22 after thermal analysis is used for evaluation in the second measuring device 150.
次に、処理がステップS222に進むと、管理サーバ160は、搬送装置120に対する搬送指令D222を出力する。ここで、搬送指令D222は、第1計測装置140から第2計測装置150にサンプル22を搬送すべき旨の指令である。 Next, when the process proceeds to step S222, the management server 160 outputs a transport command D222 to the transport device 120. Here, the transport command D222 is a command to transport the sample 22 from the first measuring device 140 to the second measuring device 150.
次に、処理がステップS224に進むと、搬送装置120は、搬送指令D222に基づいて、第1計測装置140からサンプル22を取得し、保管する。搬送装置120の測定部128は、第1計測装置140から取得したサンプル22について、形状、重量、色調、外観に関する情報を取得する。その後、搬送装置120は、移送者、搬送装置120、搬送日、取得したサンプル22の測定結果等の情報を管理サーバ160に出力する。 Next, when the process proceeds to step S224, the transport device 120 acquires and stores the sample 22 from the first measuring device 140 based on the transport command D222. The measurement unit 128 of the transport device 120 acquires information regarding the shape, weight, color, and appearance of the sample 22 acquired from the first measuring device 140. The transport device 120 then outputs information such as the transferee, the transport device 120, the date of transport, and the measurement results of the acquired sample 22 to the management server 160.
管理サーバ160の識別情報生成部168は、原料20の識別情報IDM、第1評価結果D220、サンプル22の測定結果等に基づいて、原料20とサンプル22の情報を紐づけるための識別情報IDSを生成する。管理サーバ160から出力された識別情報IDSと、各種工程、処理内容、処理条件が搬送装置120に再度入力される。そして、入力された情報に従って、搬送装置120は、第1計測装置140からサンプル22を取得し、サンプル22の測定、保管、マーキングを行う。 The identification information generation unit 168 of the management server 160 generates identification information IDS for linking information on the raw material 20 and the sample 22 based on the identification information IDM of the raw material 20, the first evaluation result D220, the measurement results of the sample 22, etc. The identification information IDS output from the management server 160, the various processes, processing contents, and processing conditions are input again to the transport device 120. Then, according to the input information, the transport device 120 obtains the sample 22 from the first measuring device 140, and measures, stores, and marks the sample 22.
次に、処理がステップS226に進むと、管理サーバ160は、サンプル22に対する加工が必要か否かを判定する。すなわち、第1計測装置140から取得したサンプル22の形状、重量が、第2計測装置150において実行すべき評価内容および評価の数に対応しない場合も考えられる。このような場合は、ステップS226において「Yes」(加工が必要)と判定され、処理はステップS230に進む。 Next, when the process proceeds to step S226, the management server 160 determines whether processing of the sample 22 is required. That is, it is possible that the shape and weight of the sample 22 obtained from the first measuring device 140 do not correspond to the evaluation content and number of evaluations to be performed by the second measuring device 150. In such a case, the determination in step S226 is "Yes" (processing is required), and the process proceeds to step S230.
ステップS230において、管理サーバ160は、搬送装置120に対して搬送指令を出力するとともに、サンプリング装置100に対して加工指令を出力する。次に、処理がステップS232に進むと、搬送装置120は、サンプル22をサンプリング装置100に搬送する。 In step S230, the management server 160 outputs a transport command to the transport device 120 and outputs a processing command to the sampling device 100. Next, when the process proceeds to step S232, the transport device 120 transports the sample 22 to the sampling device 100.
サンプリング装置100は、管理サーバ160から指定された加工指令(ここには識別情報IDS、加工日時、処理内容、処理条件等が含まれる)に従って、サンプル22を加工する。換言すれば、サンプリング装置100は、サンプル22が、第2計測装置150における評価に適した指定の形状、重量、数量となるようにサンプル22を分割加工する。そして、サンプリング装置100の測定部104は、加工後のサンプル22の形状、重量、色調等を再度測定する。さらに、サンプリング装置100または搬送装置120は、指定された期間、保管場所、環境、包装および梱包などに従い、分割加工後のサンプル22を保管する。 The sampling device 100 processes the sample 22 according to the processing command specified by the management server 160 (which includes the identification information IDS, processing date and time, processing content, processing conditions, etc.). In other words, the sampling device 100 divides and processes the sample 22 so that the sample 22 has a specified shape, weight, and quantity suitable for evaluation in the second measuring device 150. The measurement unit 104 of the sampling device 100 then remeasures the shape, weight, color, etc. of the sample 22 after processing. Furthermore, the sampling device 100 or the transport device 120 stores the divided sample 22 according to the specified period, storage location, environment, wrapping, packaging, etc.
次に、処理がステップS236に進むと、サンプリング装置100が、管理サーバ160に対して、工程報告を出力する。この工程報告は、実行したステップS234における加工工程の内容を報告するものであり、サンプル22に関する移送者、加工者、実際の移送や加工その際における容器、保管環境、識別情報IDS等の情報が含まれる。管理サーバ160が工程報告を受信すると、記憶制御部164は、その内容を識別情報IDSとともに記憶部166に保存する。 Next, when the process proceeds to step S236, the sampling device 100 outputs a process report to the management server 160. This process report reports the details of the processing process executed in step S234, and includes information on the transporter and processor of the sample 22, the container used during actual transport and processing, the storage environment, the identification information IDS, and the like. When the management server 160 receives the process report, the memory control unit 164 stores the details in the memory unit 166 together with the identification information IDS.
その後、サンプル22を第2計測装置150に搬送すべき日時になると、処理はステップS238に進み、搬送装置120は加工されたサンプル22を取得する。そして、処理はステップS240に進む。なお、上述したステップS226において「No」(加工が不要)と判定された場合には、処理はステップS226からステップS240に進む。 After that, when the date and time arrives when the sample 22 should be transported to the second measuring device 150, the process proceeds to step S238, and the transport device 120 acquires the processed sample 22. Then, the process proceeds to step S240. Note that if the determination in step S226 above is "No" (no processing is required), the process proceeds from step S226 to step S240.
ステップS240において、搬送装置120は、サンプル22を第2計測装置150に搬送する。そして、搬送装置120は、管理サーバ160に対して搬送結果を報告する。次に、処理がステップS242に進むと、管理サーバ160は、第2計測装置150に対して、識別情報IDM、識別情報IDS、評価条件を伴って、第2計測装置150に対して、サンプル22の評価指令を出力する。 In step S240, the transport device 120 transports the sample 22 to the second measuring device 150. The transport device 120 then reports the transport result to the management server 160. Next, when the process proceeds to step S242, the management server 160 outputs an evaluation command for the sample 22 to the second measuring device 150, along with the identification information IDM, the identification information IDS, and the evaluation conditions.
次に、処理がステップS244に進むと、第2計測装置150は、評価指令に従ってサンプル22を評価するとともに、評価結果を取得し、管理サーバ160に対して報告する。そのため、まず、第2計測装置150は、管理サーバ160から識別情報IDSと、評価日程と、評価条件と、を受信する。次に、第2計測装置150は、搬送装置120から取得したサンプル22を、取得部156によって識別確認する。そして、第2計測装置150は、非破壊評価部154、破壊評価部155における評価を行う。識別情報IDS、評価者、評価日時、非破壊評価部154および破壊評価部155における評価機器、評価時のサンプルの環境履歴、特性・性能の評価結果等の情報は、管理サーバ160に出力され、記憶部166に保存される。 Next, when the process proceeds to step S244, the second measuring device 150 evaluates the sample 22 according to the evaluation command, acquires the evaluation results, and reports them to the management server 160. To this end, the second measuring device 150 first receives the identification information IDS, the evaluation schedule, and the evaluation conditions from the management server 160. Next, the second measuring device 150 uses the acquisition unit 156 to identify and confirm the sample 22 acquired from the transport device 120. Then, the second measuring device 150 performs evaluation in the nondestructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155. Information such as the identification information IDS, the evaluator, the evaluation date and time, the evaluation equipment in the nondestructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155, the environmental history of the sample at the time of evaluation, and the evaluation results of the characteristics and performance are output to the management server 160 and stored in the memory unit 166.
次に、処理がステップS246に進むと、搬送装置120は、第2計測装置150からサンプル22の評価後の破片を回収し、保管する。そして、管理サーバ160は、識別情報IDS、評価者、評価日時、非破壊評価部154および破壊評価部155の評価機器、評価時のサンプル22の環境履歴、特性・性能の評価結果等の情報を記憶部166に保存する。 Next, when the process proceeds to step S246, the transport device 120 collects the post-evaluation fragments of the sample 22 from the second measuring device 150 and stores them. The management server 160 then stores in the memory unit 166 information such as the identification information IDS, the evaluator, the evaluation date and time, the evaluation equipment of the non-destructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155, the environmental history of the sample 22 at the time of evaluation, and the evaluation results of the characteristics and performance.
次に、処理がステップS248に進むと、管理サーバ160は、識別情報IDS、識別情報IDM、分析評価フロー、および各種データを統合する。次に、処理がステップS250(記憶制御過程)に進むと、管理サーバ160の記憶制御部164は、統合したデータに基づいて、記憶部166においてデータベース300,400,500(図4~8参照)を構築する。 Next, when the process proceeds to step S248, the management server 160 integrates the identification information IDS, the identification information IDM, the analysis and evaluation flow, and various data. Next, when the process proceeds to step S250 (storage control process), the storage control unit 164 of the management server 160 constructs databases 300, 400, and 500 (see Figures 4 to 8) in the storage unit 166 based on the integrated data.
〈データベースの内容〉
次に、上述したデータベース300,400,500について説明する。
図4および図5は、データベース300の一例を示す図である。該データベース300は、記憶制御部164によって記憶部166に記憶される。
図4および図5における各行は、レコードであり、各レコードは、サンプル22に対して一対一で対応する。図示の例では、データベース300には、3個のレコード301,302,303が含まれている。
<Database Contents>
Next, the above-mentioned databases 300, 400, and 500 will be described.
4 and 5 are diagrams showing an example of the database 300. The database 300 is stored in the storage unit 166 by the storage control unit 164.
4 and 5 is a record, and each record has a one-to-one correspondence with a sample 22. In the illustrated example, the database 300 includes three records 301, 302, and 303.
また、図4および図5における各列は、各サンプル22に対するデータ項目に対応する。図4および図5の例では、データベース300のデータ項目は、サンプル情報群310と、第1サンプリング群320と、熱分析群330と、非破壊評価群340と、第2サンプリング群350と、破壊評価群360と、を含んでいる。 Furthermore, each column in FIG. 4 and FIG. 5 corresponds to a data item for each sample 22. In the example of FIG. 4 and FIG. 5, the data items in the database 300 include a sample information group 310, a first sampling group 320, a thermal analysis group 330, a nondestructive evaluation group 340, a second sampling group 350, and a destructive evaluation group 360.
図4において、サンプル情報群310には、IDS管理情報312と、材料情報314と、が含まれる。IDS管理情報312は、対応するサンプル22の識別情報IDSと、識別情報IDSの付与日と、識別情報IDSの更新日と、が含まれる。また、材料情報314は、対応するサンプル22の製品名と、製造者と、製造年月日と、ロット番号と、材料成分と、が含まれる。 In FIG. 4, the sample information group 310 includes IDS management information 312 and material information 314. The IDS management information 312 includes the identification information IDS of the corresponding sample 22, the date the identification information IDS was assigned, and the date the identification information IDS was updated. The material information 314 includes the product name, manufacturer, manufacturing date, lot number, and material components of the corresponding sample 22.
また、第1サンプリング群320には、サンプリング装置100が最初に行ったサンプリング処理に関するデータが記憶される。そして、図示の例において、第1サンプリング群320には、サンプリング処理情報322と、形状情報324と、識別特徴量情報326と、が含まれる。サンプリング処理情報322には、サンプル22のサイズ、加工法、加工者の情報が含まれる。また、形状情報324には、サンプル22の寸法および重量が含まれる。識別特徴量情報326には、サンプル22の識別特徴量が含まれている。 The first sampling group 320 also stores data related to the first sampling process performed by the sampling device 100. In the illustrated example, the first sampling group 320 includes sampling process information 322, shape information 324, and identification feature information 326. The sampling process information 322 includes the size of the sample 22, the processing method, and information about the processor. The shape information 324 includes the dimensions and weight of the sample 22. The identification feature information 326 includes the identification feature of the sample 22.
また、熱分析群330には、第1計測装置140が行った熱分析に関するデータが記憶される。そして、図示の例において、熱分析群330は、乾燥水分測定情報332と、分析後形状情報334と、識別特徴量情報336と、が含まれる。乾燥水分測定情報332には、乾燥水分測定に適用された装置、測定者、測定日時、温度条件、測定値および物性値が含まれる。また、分析後形状情報334には、熱分析後のサンプル22について、寸法と重量とが含まれている。また、識別特徴量情報336には、熱分析後のサンプル22に基づく識別特徴量が含まれている。 The thermal analysis group 330 also stores data related to the thermal analysis performed by the first measuring device 140. In the illustrated example, the thermal analysis group 330 includes dry moisture measurement information 332, post-analysis shape information 334, and identification feature information 336. The dry moisture measurement information 332 includes the device used in the dry moisture measurement, the person who measured, the measurement date and time, the temperature conditions, the measurement values, and the physical properties. The post-analysis shape information 334 also includes the dimensions and weight of the sample 22 after the thermal analysis. The identification feature information 336 also includes the identification features based on the sample 22 after the thermal analysis.
また、非破壊評価群340には、第2計測装置150が行った非破壊評価に関するデータが記憶される。そして、図示の例において、非破壊評価群340には、FT-IR情報342が含まれている。FT-IR情報342には、FT-IR測定における測定装置、測定者、測定日時、温度条件、測定値および物性値が含まれる。 The nondestructive evaluation group 340 also stores data related to the nondestructive evaluation performed by the second measuring device 150. In the illustrated example, the nondestructive evaluation group 340 includes FT-IR information 342. The FT-IR information 342 includes the measuring device, the person who performed the measurement, the measurement date and time, the temperature conditions, the measurement values, and the physical property values used in the FT-IR measurement.
また、図5において、第2サンプリング群350には、サンプリング装置100が2回目に行ったサンプリング処理、すなわち、第2計測装置150における評価用に分割加工した結果に関するデータが記憶される。第2サンプリング群350の内容について、一部図示を省略するが、第2サンプリング群350には、第1サンプリング群320と同様の項目が含まれている。 In addition, in FIG. 5, the second sampling group 350 stores data related to the results of the second sampling process performed by the sampling device 100, i.e., the division and processing for evaluation by the second measuring device 150. Although some of the contents of the second sampling group 350 are not shown, the second sampling group 350 includes the same items as the first sampling group 320.
また、破壊評価群360には、第2計測装置150が行った破壊評価に関するデータが記憶される。そして、図示の例において、破壊評価群360には、曲げ試験情報362と、硬度試験情報364と、老化試験情報366と、が含まれている。ここで、曲げ試験情報362には、曲げ試験における測定装置、測定者、測定日時、温度条件、測定値および物性値が含まれる。また、硬度試験情報364には、硬度試験における測定装置、測定者、測定日時、温度条件、測定値および物性値が含まれる。また、老化試験情報366には、環境試験装置、作業管理者、試験開始日時、環境条件、測定値および試験環境のモニタリング値、試験停止日時などが含まれる。 The destructive evaluation group 360 stores data related to the destructive evaluation performed by the second measuring device 150. In the illustrated example, the destructive evaluation group 360 includes bending test information 362, hardness test information 364, and aging test information 366. Here, the bending test information 362 includes the measuring device, the measurer, the measurement date and time, the temperature conditions, the measured values, and the physical properties in the bending test. The hardness test information 364 includes the measuring device, the measurer, the measurement date and time, the temperature conditions, the measured values, and the physical properties in the hardness test. The aging test information 366 includes the environmental test device, the work manager, the test start date and time, the environmental conditions, the measured values and the monitoring values of the test environment, the test stop date and time, etc.
図6は、他のデータベース400(グラフ形式データベース)の一例を示す図である。データベース400も、記憶制御部164によって記憶部166に記憶される
データベース400は、グラフ形式のデータベースであり、ノード411~419bと、他の図中の円形によって示されたノード(符号なし)と、図中の直線によって示された複数のエッジ(符号なし)と、が含まれている。これらエッジは、各ノード間を連結する。
6 is a diagram showing an example of another database 400 (a graph-format database). Database 400 is also stored in storage unit 166 by storage control unit 164. Database 400 is a graph-format database, and includes nodes 411 to 419b, nodes (without symbols) represented by circles in the other figures, and a number of edges (without symbols) represented by straight lines in the figure. These edges connect the nodes together.
また、各ノードは、レイヤ410,420,430のうち何れかに属する。レイヤ410(第1レイヤ)においては、各ノードは、工程に対応し、工程の順序が矢印の向きによって示されている。すなわち、レイヤ410においては、工程順に情報がリンクされている。そして、レイヤ410における各ノード411~419bには、サンプリングの工程とその環境情報に関する情報が含まれている。図示の例では、老化試験ノード418bを実行する前の熱分析ノード417aおよび機械特性ノード417bの分析結果と、老化試験ノード418bを実行した後の熱分析ノード419aおよび機械特性ノード419bと、の分析結果と、を比較することにより、劣化特性を評価することができる。 Each node belongs to one of layers 410, 420, or 430. In layer 410 (first layer), each node corresponds to a process, and the order of the processes is indicated by the direction of the arrow. That is, in layer 410, information is linked in the order of the processes. Each node 411 to 419b in layer 410 contains information about the sampling process and its environmental information. In the illustrated example, the degradation characteristics can be evaluated by comparing the analysis results of the thermal analysis node 417a and the mechanical property node 417b before executing the aging test node 418b with the analysis results of the thermal analysis node 419a and the mechanical property node 419b after executing the aging test node 418b.
レイヤ420(第2レイヤ)の各ノードは、レイヤ410のノードに示された計測結果と計測条件とに対応する。また、レイヤ430は、レイヤ420に示された情報を取得する計測装置に対応する。例えば、レイヤ410における「非破壊評価」のノード415は、レイヤ420の複数のノードに連結されている。これは、当該「非破壊評価」の工程において、サンプル22が複数の破片に分割されたことを示している。このように、グラフ形式のデータベース400によれば、各装置による工程の順序や、サンプル22の分割等、サンプル22の来歴も表記することができる。 Each node in layer 420 (second layer) corresponds to the measurement results and measurement conditions shown in the nodes of layer 410. Furthermore, layer 430 corresponds to the measurement equipment that acquires the information shown in layer 420. For example, node 415 of "non-destructive evaluation" in layer 410 is connected to multiple nodes in layer 420. This indicates that sample 22 was divided into multiple pieces in the "non-destructive evaluation" process. In this way, the graph-format database 400 can also indicate the order of processes performed by each device, the division of sample 22, and the history of sample 22.
図7~図9は、さらに他のデータベース500の一例を示す図である。データベース500も、記憶制御部164によって記憶部166に記憶される
図7~図9における各行は、レコードであり、各レコードは、サンプル22に対して一対一で対応する。図示の例では、データベース500には、5個のレコード501,502,503,504が含まれている。
また、図7~図9における各列は、各サンプル22に対するデータ項目に対応する。図7~図9の例では、データベース500のデータ項目は、サンプリング群510,560,590と、熱分析群520と、分析評価群540,580と、を含んでいる。なお、図中において白丸印は、何らかのデータが含まれていることを示す。
7 to 9 are diagrams showing an example of yet another database 500. The database 500 is also stored in the storage unit 166 by the storage control unit 164. Each row in Fig. 7 to 9 is a record, and each record corresponds one-to-one to a sample 22. In the illustrated example, the database 500 includes five records 501, 502, 503, and 504.
7 to 9 correspond to data items for each sample 22. In the example of Fig. 7 to 9, the data items of the database 500 include sampling groups 510, 560, and 590, a thermal analysis group 520, and analysis evaluation groups 540 and 580. Note that white circles in the figures indicate that some data is included.
図7において、サンプリング群510には、付随情報512と、加工形状情報514と、識別特徴量情報516と、が含まれている。付随情報512には、対応するサンプル22の入手元と、材料種と、形状と、が含まれている。また、加工形状情報514には、サイズと、量と、が含まれている。なお、「量」とは、例えば重量である。 In FIG. 7, the sampling group 510 includes associated information 512, processed shape information 514, and identification feature information 516. The associated information 512 includes the source, material type, and shape of the corresponding sample 22. The processed shape information 514 includes the size and amount. The "amount" may refer to weight, for example.
識別特徴量情報516は、熱分析後のサンプル22に基づく識別特徴量を含んでいる。すなわち、識別特徴量情報516は、熱分析による計量結果を識別特徴量に変換したものである。例えば、識別特徴量情報516は、画像解析によって判別できる外観像、各種分析評価装置で事前に取得できる形状データや重量、等に基づいて生成することができる。 The identification feature information 516 includes identification features based on the sample 22 after thermal analysis. In other words, the identification feature information 516 is obtained by converting the measurement results of the thermal analysis into identification features. For example, the identification feature information 516 can be generated based on an appearance image that can be determined by image analysis, shape data and weight that can be obtained in advance by various analysis and evaluation devices, etc.
識別特徴量情報516は、例えば「ID-XXXX-YYYY-ZZZZ-TTTT-DSC」の形式で表現できる。ここで、「XXXX」はサンプル22の長手方向の長さ、「YYYY」はサンプル22の短手方向の長さ、「ZZZZ」はサンプル22の重量、「TTTT」はサンプル22の色度、「DSC」は熱分析の種類コードである。 The identification feature information 516 can be expressed in the format of, for example, "ID-XXXX-YYYY-ZZZZ-TTTT-DSC." Here, "XXXX" is the longitudinal length of the sample 22, "YYYY" is the lateral length of the sample 22, "ZZZZ" is the weight of the sample 22, "TTTT" is the chromaticity of the sample 22, and "DSC" is the type code of the thermal analysis.
熱分析群520は、第1計測装置140における熱分析結果を示すものであり、ここには、装置情報522と、計測データ524と、測定後形状情報526と、測定後重量情報528と、サンプル形状情報530と、識別特徴量情報532と、が含まれている。装置情報522は、第1計測装置140における熱分析に適用された装置名を表す。計測データ524は、該熱分析によって得られた計測データの種別を表す。測定後形状情報526は、該熱分析の終了時におけるサンプル22の形状を表す。 Thermal analysis group 520 indicates the results of the thermal analysis performed by the first measuring device 140, and includes device information 522, measurement data 524, post-measurement shape information 526, post-measurement weight information 528, sample shape information 530, and identification feature information 532. Device information 522 indicates the name of the device used in the thermal analysis performed by the first measuring device 140. Measurement data 524 indicates the type of measurement data obtained by the thermal analysis. Post-measurement shape information 526 indicates the shape of the sample 22 at the end of the thermal analysis.
測定後重量情報528は該熱分析の終了時におけるサンプル22の重量である。サンプル形状情報530は、該熱分析を実行する前のサンプル22の形状を表すものであり、サンプル22のサイズと、量(例えば重量)と、を含んでいる。識別特徴量情報532は、上述した識別特徴量情報516と同様に、熱分析後のサンプル22に基づく識別特徴量を含んでいる。 Post-measurement weight information 528 is the weight of sample 22 at the end of the thermal analysis. Sample shape information 530 represents the shape of sample 22 before the thermal analysis is performed, and includes the size and amount (e.g., weight) of sample 22. Identification feature information 532 includes identification features based on sample 22 after thermal analysis, similar to identification feature information 516 described above.
図8において、分析評価群540は、第2計測装置150における非破壊評価の内容を示すものであり、複数の計測情報542,544,546,548,550が含まれている。これら計測情報には、それぞれ、「計測法」と、「計測データ」と、が含まれている。また、サンプリング群560には、加工・取得部562と、識別特徴量情報564と、が含まれている。加工・取得部562には、サンプル22のサイズと、量と、が含まれている。また、識別特徴量情報564は、上述した識別特徴量情報516と同様に、熱分析後のサンプル22に基づく識別特徴量を含んでいる。 In FIG. 8, the analysis evaluation group 540 indicates the contents of the non-destructive evaluation in the second measuring device 150, and includes multiple pieces of measurement information 542, 544, 546, 548, and 550. Each of these pieces of measurement information includes a "measurement method" and "measurement data." The sampling group 560 includes a processing/acquisition section 562 and identification feature information 564. The processing/acquisition section 562 includes the size and amount of the sample 22. The identification feature information 564 includes identification features based on the sample 22 after thermal analysis, similar to the above-mentioned identification feature information 516.
図9において、分析評価群580は、第2計測装置150における破壊評価の内容を示すものであり、複数の計測情報582,584,586が含まれている。これら計測情報には、分析評価群540(図8参照)と同様に、それぞれ、「計測法」と、「計測データ」と、が含まれている。また、サンプリング群590には、回収サンプル情報592が含まれている。回収サンプル情報592は、回収されたサンプル22のサイズおよび量が含まれている。 In FIG. 9, the analysis and evaluation group 580 indicates the contents of the destructive evaluation in the second measuring device 150, and includes multiple pieces of measurement information 582, 584, and 586. As with the analysis and evaluation group 540 (see FIG. 8), each piece of measurement information includes a "measurement method" and "measurement data." In addition, the sampling group 590 includes recovered sample information 592. The recovered sample information 592 includes the size and amount of the recovered sample 22.
[第2実施形態]
次に、第2実施形態について説明する。なお、以下の説明において、上述した第1実施形態の各部に対応する部分には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
第2実施形態のハードウエア構成は、上述した第1実施形態のもの(図1,図2参照)と同様である。但し、第2計測装置150(図1参照)の非破壊評価部154および破壊評価部155は、それぞれ複数の評価項目に対して破壊評価を行うものである。
[Second embodiment]
Next, a second embodiment will be described. In the following description, parts corresponding to those in the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and the description thereof may be omitted.
The hardware configuration of the second embodiment is similar to that of the first embodiment (see FIGS. 1 and 2), except that the non-destructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155 of the second measuring device 150 (see FIG. 1) each perform destructive evaluation for a plurality of evaluation items.
図10は、第2実施形態における計測システムの動作を示すフローチャートである。
図10において、ステップS202~S242の処理は、第1実施形態のもの(図3参照)と同様である。そこで、両者間のステップについては、図示を省略する。
図10のステップS242においては、図3において説明したように、管理サーバ160は、第2計測装置150に対して、識別情報IDM、識別情報IDSおよび評価条件に関する情報を出力する。そして、本実施形態においては、ステップS242が終了すると、処理はステップS260に進む。
FIG. 10 is a flowchart showing the operation of the measurement system in the second embodiment.
10, the processes in steps S202 to S242 are the same as those in the first embodiment (see FIG. 3), and therefore the steps between the two are not shown.
10, as described in Fig. 3, the management server 160 outputs the identification information IDM, the identification information IDS, and information related to the evaluation conditions to the second measuring device 150. Then, in this embodiment, when step S242 ends, the process proceeds to step S260.
ステップS260において、第2計測装置150は、何れかの未実行の非破壊評価を実行する。また、第2計測装置150は、非破壊評価の結果を管理サーバ160に送信する。そして、管理サーバ160は、非破壊評価の結果を記憶部166に格納する。次に、処理がステップS262に進むと、第2計測装置150は、実行すべき全ての非破壊評価が完了したか否かを判定する。ここで「No」と判定されると、処理はステップS260に戻り、第2計測装置150は、再び、何れかの未実行の非破壊評価を実行する。一方、実行すべき全ての非破壊評価が完了した場合は、ステップS262において「Yes」と判定され、処理はステップS266に進む。 In step S260, the second measuring device 150 performs any nondestructive evaluation that has not been performed. The second measuring device 150 also transmits the results of the nondestructive evaluation to the management server 160. The management server 160 then stores the results of the nondestructive evaluation in the memory unit 166. Next, when the process proceeds to step S262, the second measuring device 150 determines whether or not all nondestructive evaluations to be performed have been completed. If the determination here is "No", the process returns to step S260, and the second measuring device 150 again performs any nondestructive evaluation that has not been performed. On the other hand, if all nondestructive evaluations to be performed have been completed, the determination in step S262 is "Yes", and the process proceeds to step S266.
ステップS266において、第2計測装置150は、何れかの未実行の破壊評価を実行する。また、第2計測装置150は、破壊評価の結果を管理サーバ160に送信する。そして、管理サーバ160は、破壊評価の結果を記憶部166に格納する。次に、処理がステップS268に進むと、第2計測装置150は、実行すべき全ての破壊評価が完了したか否かを判定する。ここで「No」と判定されると、処理はステップS266に戻り、第2計測装置150は、再び、何れかの未実行の破壊評価を実行する。一方、実行すべき全ての破壊評価が完了した場合は、ステップS268において「Yes」と判定され、処理はステップS270に進む。 In step S266, the second measuring device 150 performs any unperformed destructive evaluations. The second measuring device 150 also transmits the results of the destructive evaluations to the management server 160. The management server 160 then stores the results of the destructive evaluations in the memory unit 166. Next, when the process proceeds to step S268, the second measuring device 150 determines whether or not all destructive evaluations to be performed have been completed. If the determination here is "No", the process returns to step S266, and the second measuring device 150 again performs any unperformed destructive evaluations. On the other hand, if all destructive evaluations to be performed have been completed, the determination in step S268 is "Yes", and the process proceeds to step S270.
次に、処理がステップS270に進むと、上述のステップS246(図3参照)と同様に、搬送装置120は、第2計測装置150からサンプル22の評価後の破片を回収し、保管する。そして、管理サーバ160は、識別情報IDS、評価者、評価日時、非破壊評価部154および破壊評価部155の評価機器、評価時のサンプル22の環境履歴、特性・性能の評価結果等の情報を記憶部166に保存する。 Next, when the process proceeds to step S270, similar to step S246 (see FIG. 3) described above, the transport device 120 collects the evaluated fragments of the sample 22 from the second measuring device 150 and stores them. The management server 160 then stores information such as the identification information IDS, the evaluator, the evaluation date and time, the evaluation equipment of the nondestructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155, the environmental history of the sample 22 at the time of evaluation, and the evaluation results of the characteristics and performance in the memory unit 166.
次に、処理がステップS272に進むと、上述のステップS248(図3参照)と同様に、管理サーバ160は、識別情報IDS、識別情報IDM、分析評価フロー、および各種データを統合する。次に、処理がステップS274に進むと、上述のステップS250(図3参照)と同様に、管理サーバ160の記憶制御部164は、統合したデータに基づいて、記憶部166においてデータベース300,400,500を構築する。 Next, when the process proceeds to step S272, the management server 160 integrates the identification information IDS, the identification information IDM, the analysis evaluation flow, and various data, in the same manner as in step S248 (see FIG. 3) described above. Next, when the process proceeds to step S274, the storage control unit 164 of the management server 160 builds databases 300, 400, and 500 in the storage unit 166 based on the integrated data, in the same manner as in step S250 (see FIG. 3) described above.
[第3実施形態]
次に、第3実施形態について説明する。なお、以下の説明において、上述した第1実施形態の各部に対応する部分には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
第3実施形態のハードウエア構成は、上述した第1実施形態のもの(図1,図2参照)と同様である。但し、第2計測装置150(図1参照)の非破壊評価部154および破壊評価部155は、それぞれ複数の評価項目に対して破壊評価を行うものである。
[Third embodiment]
Next, a third embodiment will be described. In the following description, the same reference numerals are used to designate parts corresponding to those in the first embodiment, and the description thereof may be omitted.
The hardware configuration of the third embodiment is similar to that of the first embodiment (see FIGS. 1 and 2), except that the non-destructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155 of the second measuring device 150 (see FIG. 1) each perform destructive evaluation for a plurality of evaluation items.
図11は、第3実施形態における計測システムの動作を示すフローチャートである。
図11において、ステップS202~S242の処理は、第1実施形態のもの(図3参照)と同様である。そこで、両者間のステップについては、図示を省略する。
図11のステップS242においては、図3において説明したように、管理サーバ160は、第2計測装置150に対して、識別情報IDM、識別情報IDSおよび評価条件に関する情報を出力する。そして、本実施形態においては、ステップS242が終了すると、処理はステップS280に進む。
FIG. 11 is a flowchart showing the operation of the measurement system in the third embodiment.
11, the processes in steps S202 to S242 are the same as those in the first embodiment (see FIG. 3), and therefore the steps between the two are not shown.
11, as described in Fig. 3, the management server 160 outputs the identification information IDM, the identification information IDS, and information related to the evaluation conditions to the second measuring device 150. Then, in this embodiment, when step S242 ends, the process proceeds to step S280.
ステップS280において、サンプリング装置100は、上述したステップS234の処理と同様に、管理サーバ160から供給された加工指令に基づいて、サンプル22を分割加工する。以後、第2計測装置150は、非破壊評価(ステップS282,284)と、破壊評価(ステップS286,288)と、を並列して実行する。 In step S280, the sampling device 100 divides and processes the sample 22 based on the processing command supplied from the management server 160, similar to the processing in step S234 described above. Thereafter, the second measuring device 150 performs non-destructive evaluation (steps S282, 284) and destructive evaluation (steps S286, 288) in parallel.
まず、ステップS282において、第2計測装置150は、上述したステップS260(図10参照)と同様に、何れかの未実行の非破壊評価を実行し、管理サーバ160は、非破壊評価の結果を記憶部166に格納する。 First, in step S282, the second measuring device 150 performs any unperformed nondestructive evaluations, similar to step S260 described above (see FIG. 10), and the management server 160 stores the results of the nondestructive evaluations in the memory unit 166.
次に、処理がステップS284に進むと、第2計測装置150は、実行すべき全ての非破壊評価が完了したか否かを判定する。ここで「No」と判定されると、処理はステップS282に戻り、第2計測装置150は、再び、何れかの未実行の非破壊評価を実行する。一方、実行すべき全ての非破壊評価が完了した場合は、ステップS284において「Yes」と判定され、処理はステップS290に進む。 Next, when the process proceeds to step S284, the second measuring device 150 determines whether or not all nondestructive evaluations to be performed have been completed. If the determination here is "No", the process returns to step S282, and the second measuring device 150 again performs any unperformed nondestructive evaluations. On the other hand, if all nondestructive evaluations to be performed have been completed, the determination in step S284 is "Yes", and the process proceeds to step S290.
また、ステップS286においては、第2計測装置150は、上述したステップS266(図10参照)と同様に、何れかの未実行の破壊評価を実行し、管理サーバ160は、破壊評価の結果を記憶部166に格納する。 In addition, in step S286, the second measuring device 150 performs any unperformed destructive evaluations, similar to step S266 described above (see FIG. 10), and the management server 160 stores the results of the destructive evaluations in the memory unit 166.
次に、処理がステップS288に進むと、第2計測装置150は、実行すべき全ての破壊評価が完了したか否かを判定する。ここで「No」と判定されると、処理はステップS286に戻り、第2計測装置150は、再び、何れかの未実行の破壊評価を実行する。一方、実行すべき全ての破壊評価が完了した場合は、ステップS288において「Yes」と判定され、処理はステップS290に進む。 Next, when the process proceeds to step S288, the second measuring device 150 determines whether or not all destructive evaluations to be performed have been completed. If the determination here is "No", the process returns to step S286, and the second measuring device 150 again performs any unperformed destructive evaluations. On the other hand, if all destructive evaluations to be performed have been completed, the determination in step S288 is "Yes", and the process proceeds to step S290.
次に、処理がステップS290に進むと、上述のステップS246(図3参照)と同様に、搬送装置120は、第2計測装置150からサンプル22の評価後の破片を回収し、保管する。そして、管理サーバ160は、識別情報IDS、評価者、評価日時、非破壊評価部154および破壊評価部155の評価機器、評価時のサンプル22の環境履歴、特性・性能の評価結果等の情報を記憶部166に保存する。 Next, when the process proceeds to step S290, similar to step S246 (see FIG. 3) described above, the transport device 120 collects the evaluated fragments of the sample 22 from the second measuring device 150 and stores them. The management server 160 then stores information such as the identification information IDS, the evaluator, the evaluation date and time, the evaluation equipment of the nondestructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155, the environmental history of the sample 22 at the time of evaluation, and the evaluation results of the characteristics and performance in the memory unit 166.
次に、処理がステップS292に進むと、上述のステップS248(図3参照)と同様に、管理サーバ160は、識別情報IDS、識別情報IDM、分析評価フロー、および各種データを統合する。次に、処理がステップS294に進むと、上述のステップS250(図3参照)と同様に、管理サーバ160の記憶制御部164は、統合したデータに基づいて、記憶部166においてデータベースを構築する。 Next, when the process proceeds to step S292, the management server 160 integrates the identification information IDS, the identification information IDM, the analysis evaluation flow, and various data, in the same manner as in step S248 (see FIG. 3) described above. Next, when the process proceeds to step S294, the storage control unit 164 of the management server 160 constructs a database in the storage unit 166 based on the integrated data, in the same manner as in step S250 (see FIG. 3) described above.
[第4実施形態]
次に、第4実施形態について説明する。なお、以下の説明において、上述した第1実施形態の各部に対応する部分には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
第4実施形態のハードウエア構成は、上述した第1実施形態のもの(図1,図2参照)と同様である。但し、第2計測装置150(図1参照)の非破壊評価部154および破壊評価部155は、それぞれ複数の評価項目に対して破壊評価を行うものである。
[Fourth embodiment]
Next, a fourth embodiment will be described. In the following description, the same reference numerals are used to designate parts corresponding to those in the first embodiment, and the description thereof may be omitted.
The hardware configuration of the fourth embodiment is similar to that of the first embodiment (see FIGS. 1 and 2), except that the non-destructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155 of the second measuring device 150 (see FIG. 1) each perform destructive evaluation for a plurality of evaluation items.
図12および図13は、第4実施形態における計測システムの動作を示すフローチャートである。
図12において、処理がステップS302に進むと、サンプリング装置100は、原料20、D104、D108を取得する。次に、処理がステップS304に進むと、管理サーバ160およびサンプリング装置100は、第1実施形態のステップS204と同様の処理を行う。これにより、サンプリング装置100は、原料20またはその包材に対して識別情報IDMを付与し、サンプル22に対して識別情報IDSを付与する。
12 and 13 are flowcharts showing the operation of the measurement system in the fourth embodiment.
12, when the process proceeds to step S302, the sampling device 100 acquires the raw material 20, D104, and D108. Next, when the process proceeds to step S304, the management server 160 and the sampling device 100 perform the same process as step S204 in the first embodiment. As a result, the sampling device 100 assigns identification information IDM to the raw material 20 or its packaging material, and assigns identification information IDS to the sample 22.
次に、処理がステップS306に進むと、管理サーバ160およびサンプリング装置100は、第1実施形態のステップS206,S208と同様の処理を行う。すなわち、管理サーバ160は、サンプリング装置100に対して工程・処理指令D206を供給し、サンプリング装置100は工程・処理指令D206の内容を実行する。次に、処理がステップS308に進むと、サンプリング装置100は、サンプル22の計量処理を行う。すなわち、サンプリング装置100は、サンプル22の重量、寸法等を取得する。 Next, when the process proceeds to step S306, the management server 160 and the sampling device 100 perform the same processes as steps S206 and S208 in the first embodiment. That is, the management server 160 supplies a process/processing command D206 to the sampling device 100, and the sampling device 100 executes the contents of the process/processing command D206. Next, when the process proceeds to step S308, the sampling device 100 performs a weighing process of the sample 22. That is, the sampling device 100 acquires the weight, dimensions, etc. of the sample 22.
次に、処理がステップS310に進むと、管理サーバ160は、サンプリング装置100に対して、サンプル22の識別情報IDSと、水分測定条件と、その他のサンプル22に関する情報と、出力する。次に、処理がステップS312に進むと、第1計測装置140は、サンプル22の水分測定を行う。その際、第1計測装置140は、サンプル22の最高温度を、サンプル22の融点以上であって、酸化温度以下、かつ、熱分解温度以下になるように設定する。 Next, when the process proceeds to step S310, the management server 160 outputs the identification information IDS of the sample 22, the moisture measurement conditions, and other information related to the sample 22 to the sampling device 100. Next, when the process proceeds to step S312, the first measuring device 140 performs moisture measurement of the sample 22. At that time, the first measuring device 140 sets the maximum temperature of the sample 22 to be equal to or higher than the melting point of the sample 22, and equal to or lower than the oxidation temperature and the thermal decomposition temperature.
次に、処理がステップS314に進むと、第1計測装置140は、分析後のサンプル22を取得する。次に、処理がステップS316に進むと、第1計測装置140は、分析後のサンプル22の観察、計量を行う。 Next, when the process proceeds to step S314, the first measuring device 140 acquires the post-analysis sample 22. Next, when the process proceeds to step S316, the first measuring device 140 observes and weighs the post-analysis sample 22.
次に、処理がステップS318に進むと、管理サーバ160は、サンプル22の水分測定の結果と、水分測定条件と、を取得する。次に、管理サーバ160のデータ分析部172は、水分測定の結果に基づいて、サンプル22の識別特徴量を取得し、取得した識別特徴量に基づいて、識別情報IDSを生成する。 Next, when the process proceeds to step S318, the management server 160 acquires the moisture measurement results and moisture measurement conditions of the sample 22. Next, the data analysis unit 172 of the management server 160 acquires an identification feature of the sample 22 based on the moisture measurement results, and generates identification information IDS based on the acquired identification feature.
次に、処理がステップS322に進むと、第1計測装置140は、サンプル22を計測し、識別特徴量および識別情報IDSを確認する。次に、処理がステップS324に進むと、第1計測装置140は、サンプル22の反射吸収スペクトルを測定する。次に、処理がステップS326に進むと、第1計測装置140は、反射吸収スペクトル測定を行った後のサンプル22を取得する。 Next, when the process proceeds to step S322, the first measuring device 140 measures the sample 22 and confirms the identification feature and the identification information IDS. Next, when the process proceeds to step S324, the first measuring device 140 measures the reflection absorption spectrum of the sample 22. Next, when the process proceeds to step S326, the first measuring device 140 acquires the sample 22 after performing the reflection absorption spectrum measurement.
次に、処理がステップS328に進むと、第1計測装置140は、サンプル22に対する反射吸収スペクトル測定の結果と、測定条件と、を管理サーバ160に出力する。次に、処理がステップS329に進むと、第1計測装置140は、ステップS322の処理と同様に、サンプル22を計測し、識別特徴量および識別情報IDSを確認する。 Next, when the process proceeds to step S328, the first measuring device 140 outputs the reflection/absorption spectrum measurement results and the measurement conditions for the sample 22 to the management server 160. Next, when the process proceeds to step S329, the first measuring device 140 measures the sample 22 and confirms the identification feature and the identification information IDS, similar to the process of step S322.
次に、処理がステップS330に進むと、第1計測装置140は、サンプル22に対するXRD測定を行う。次に、処理がステップS332に進むと、第1計測装置140は、XRD測定を行った後のサンプル22を取得する。 Next, when the process proceeds to step S330, the first measuring device 140 performs an XRD measurement on the sample 22. Next, when the process proceeds to step S332, the first measuring device 140 acquires the sample 22 after the XRD measurement.
次に、処理がステップS334に進むと、第1計測装置140は、サンプル22に対するXRD測定の結果と、測定条件と、を管理サーバ160に出力する。次に、処理がステップS334に進むと、第1計測装置140は、ステップS322の処理と同様に、サンプル22を計測し、識別特徴量および識別情報IDSを確認する。 Next, when the process proceeds to step S334, the first measuring device 140 outputs the results of the XRD measurement of the sample 22 and the measurement conditions to the management server 160. Next, when the process proceeds to step S334, the first measuring device 140 measures the sample 22 and confirms the identification feature and the identification information IDS, similar to the process of step S322.
次に、処理がステップS338に進むと、第1計測装置140は、サンプル22に対するFT-IR測定を行う。次に、処理がステップS340に進むと、第1計測装置140は、FT-IR測定を行った後のサンプル22を取得する。 Next, when the process proceeds to step S338, the first measuring device 140 performs FT-IR measurement on the sample 22. Next, when the process proceeds to step S340, the first measuring device 140 acquires the sample 22 after performing the FT-IR measurement.
次に、処理がステップS342に進むと、第1計測装置140は、サンプル22に対するFT-IR測定の結果と、測定条件と、を管理サーバ160に出力する。次に、処理が図13のステップS334に進むと、第1計測装置140は、ステップS322の処理と同様に、サンプル22を計測し、識別特徴量および識別情報IDSを確認する。 Next, when the process proceeds to step S342, the first measuring device 140 outputs the results of the FT-IR measurement of the sample 22 and the measurement conditions to the management server 160. Next, when the process proceeds to step S334 in FIG. 13, the first measuring device 140 measures the sample 22 and confirms the identification feature and identification information IDS, similar to the process of step S322.
次に、処理がステップS346に進むと、第2計測装置150は、サンプル22を加工し、その計量を行う。以降、第2計測装置150は、ステップS350~S354、S360~S364、およびS370~S374の処理を並列して実行する。 Next, when the process proceeds to step S346, the second measuring device 150 processes and weighs the sample 22. Thereafter, the second measuring device 150 executes the processes of steps S350 to S354, S360 to S364, and S370 to S374 in parallel.
まず、ステップS350において、第2計測装置150は、サンプル22の一つの破片に対して、TG-DTA測定を行う。次に、処理がステップS352に進むと、第2計測装置150は、TG-DTA測定の残渣を回収し保管する。次に、処理がステップS354に進むと、第2計測装置150は、サンプル22に対するTG-DTA測定の結果と、測定条件と、を管理サーバ160に出力する。 First, in step S350, the second measuring device 150 performs TG-DTA measurement on one piece of the sample 22. Next, when the process proceeds to step S352, the second measuring device 150 collects and stores the residue from the TG-DTA measurement. Next, when the process proceeds to step S354, the second measuring device 150 outputs the results of the TG-DTA measurement on the sample 22 and the measurement conditions to the management server 160.
一方、ステップS360において、第2計測装置150は、サンプル22の他の一つの破片に対して、曲げ試験を行う。次に、処理がステップS362に進むと、第2計測装置150は、曲げ試験の残渣を回収し保管する。次に、処理がステップS364に進むと、第2計測装置150は、サンプル22に対する曲げ試験の結果と、測定条件と、を管理サーバ160に出力する。 Meanwhile, in step S360, the second measuring device 150 performs a bending test on the other piece of the sample 22. Next, when the process proceeds to step S362, the second measuring device 150 collects and stores the residue from the bending test. Next, when the process proceeds to step S364, the second measuring device 150 outputs the results of the bending test on the sample 22 and the measurement conditions to the management server 160.
一方、ステップS370において、第2計測装置150は、サンプル22の他の一つの破片に対して、MFR(Melt Flow Rate;メルトフローレート)試験を行う。次に、処理がステップS372に進むと、第2計測装置150は、MFR試験の残渣を回収し保管する。次に、処理がステップS374に進むと、第2計測装置150は、サンプル22に対するMFR試験の結果と、測定条件と、を管理サーバ160に出力する。 Meanwhile, in step S370, the second measuring device 150 performs an MFR (Melt Flow Rate) test on another piece of sample 22. Next, when the process proceeds to step S372, the second measuring device 150 collects and stores the residue from the MFR test. Next, when the process proceeds to step S374, the second measuring device 150 outputs the results of the MFR test on sample 22 and the measurement conditions to the management server 160.
次に、処理がステップS380に進むと、上述のステップS248(図3参照)と同様に、管理サーバ160は、識別情報IDS、識別情報IDM、分析評価フロー、および各種データを統合する。次に、処理がステップS382に進むと、上述のステップS250(図3参照)と同様に、管理サーバ160の記憶制御部164は、統合したデータに基づいて、記憶部166においてデータベースを構築する。 Next, when the process proceeds to step S380, the management server 160 integrates the identification information IDS, the identification information IDM, the analysis evaluation flow, and various data, in the same manner as in step S248 (see FIG. 3) described above. Next, when the process proceeds to step S382, the storage control unit 164 of the management server 160 constructs a database in the storage unit 166 based on the integrated data, in the same manner as in step S250 (see FIG. 3) described above.
[第5実施形態]
次に、第5実施形態について説明する。なお、以下の説明において、上述した第1実施形態の各部に対応する部分には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
図14は、第5実施形態による計測システム7のブロック図である。
図14において、計測システム7は、サンプリング装置200と、計測事業者装置220,240と、データ管理装置260と、これらを接続するネットワーク180と、を備えている。計測事業者装置220および計測事業者装置220,240は、それぞれ別の事業者によって管理されている装置である。
[Fifth embodiment]
Next, a fifth embodiment will be described. In the following description, the same reference numerals are used to designate parts corresponding to those in the first embodiment, and the description thereof may be omitted.
FIG. 14 is a block diagram of a measurement system 7 according to the fifth embodiment.
14, the measurement system 7 includes a sampling device 200, measurement provider devices 220 and 240, a data management device 260, and a network 180 connecting these. The measurement provider device 220 and the measurement provider devices 220 and 240 are devices managed by different providers.
サンプリング装置200は、通信部202と、サンプル取得部204と、ID発行部206と、計量部208と、加工部210と、材料・提供者情報取得部212と、を備えている。また、計測事業者装置220は、通信部222と、熱分析部224と、識別用データ取得部226と、サンプル取得部228と、を備えている。 The sampling device 200 includes a communication unit 202, a sample acquisition unit 204, an ID issuing unit 206, a weighing unit 208, a processing unit 210, and a material/provider information acquisition unit 212. The measurement operator device 220 includes a communication unit 222, a thermal analysis unit 224, an identification data acquisition unit 226, and a sample acquisition unit 228.
また、計測事業者装置240は、通信部242と、評価部244と、サンプル取得部246と、を備えている。また、データ管理装置260は、通信部262と、演算部264と、記憶部266と、を備えている。 The measurement provider device 240 also includes a communication unit 242, an evaluation unit 244, and a sample acquisition unit 246. The data management device 260 also includes a communication unit 262, a calculation unit 264, and a storage unit 266.
通信部202,222,242,262は、ネットワーク180を介して、相互にデータ通信する。サンプリング装置200において、サンプル取得部204は、原料20からサンプル22を取得する。ID発行部206は、識別情報IDS,IDMを発行する。計量部208は、原料20およびサンプル22に対して各種計量を行う。さらに、計量部208は、環境の計量も行う。加工部210は、原料20およびサンプル22を加工する。材料・提供者情報取得部212は、原料20の提供者に関する情報を取得する。さらに、サンプリング装置200は、図示は省略するが、第1実施形態のサンプリング装置100(図1参照)と同様の要素を備える。これにより、サンプリング装置200は、サンプリング装置100と同一の機能を実現できる。 The communication units 202, 222, 242, and 262 communicate data with each other via the network 180. In the sampling device 200, the sample acquisition unit 204 acquires the sample 22 from the raw material 20. The ID issuing unit 206 issues identification information IDS and IDM. The weighing unit 208 performs various measurements on the raw material 20 and the sample 22. Furthermore, the weighing unit 208 also performs environmental measurements. The processing unit 210 processes the raw material 20 and the sample 22. The material/provider information acquisition unit 212 acquires information on the provider of the raw material 20. Furthermore, although not shown, the sampling device 200 includes elements similar to those of the sampling device 100 of the first embodiment (see FIG. 1). As a result, the sampling device 200 can achieve the same functions as the sampling device 100.
計測事業者装置220において、熱分析部224は、第1実施形態における熱分析部144(図1参照)と同様の機能を備える。識別用データ取得部226は、識別用の各種データを取得する。サンプル取得部228は、サンプル22を取得する。さらに、図示は省略するが、計測事業者装置220は、第1実施形態の第1計測装置140と同様の要素を備える。これにより、計測事業者装置220は、第1計測装置140と同一の機能を実現できる。 In the measurement provider device 220, the thermal analysis unit 224 has the same functions as the thermal analysis unit 144 in the first embodiment (see FIG. 1). The identification data acquisition unit 226 acquires various data for identification. The sample acquisition unit 228 acquires the sample 22. Furthermore, although not shown, the measurement provider device 220 has elements similar to those of the first measurement device 140 in the first embodiment. This allows the measurement provider device 220 to achieve the same functions as the first measurement device 140.
計測事業者装置240において、評価部244は、第1実施形態における非破壊評価部154および破壊評価部155(図1参照)と同様の機能を備える。サンプル取得部246は、サンプル22を取得する。さらに、図示は省略するが、計測事業者装置240は、第1実施形態の第2計測装置150と同様の要素を備える。これにより、計測事業者装置240は、第2計測装置150と同一の機能を実現できる。 In the measurement provider device 240, the evaluation unit 244 has the same functions as the non-destructive evaluation unit 154 and the destructive evaluation unit 155 (see FIG. 1) in the first embodiment. The sample acquisition unit 246 acquires the sample 22. Furthermore, although not shown, the measurement provider device 240 has elements similar to those of the second measurement device 150 in the first embodiment. This allows the measurement provider device 240 to achieve the same functions as the second measurement device 150.
データ管理装置260において、記憶部266は、第1実施形態における記憶部166(図1参照)と同様の機能を備える。また、演算部264は、第1実施形態における記憶制御部164、識別情報生成部168、工程管理部170およびデータ分析部172と同様の機能を備える。これにより、データ管理装置260は、第1実施形態の管理サーバ160と同一の機能を実現できる。 In the data management device 260, the memory unit 266 has the same functions as the memory unit 166 (see FIG. 1) in the first embodiment. In addition, the calculation unit 264 has the same functions as the memory control unit 164, the identification information generation unit 168, the process management unit 170, and the data analysis unit 172 in the first embodiment. This allows the data management device 260 to realize the same functions as the management server 160 in the first embodiment.
[実施形態の効果]
以上のように上述の実施形態によれば、データ管理装置(160)は、識別情報IDSを生成する識別情報生成部168と、第1計測装置140における温度条件を含む計測条件と、第1計測処理の結果と、第2計測装置150における計測条件と、第2計測処理の結果と、サンプリング装置100において付与された識別情報IDSと、を受信する通信部162と、識別情報IDSと、第1計測処理の結果と、第2計測装置150における計測条件と、に対応付けて記憶部166に記憶させる記憶制御部164と、を備える。
[Effects of the embodiment]
As described above, according to the embodiment, the data management device (160) includes an identification information generation unit 168 that generates identification information IDS, a communication unit 162 that receives measurement conditions including temperature conditions in the first measuring device 140, the results of the first measurement process, the measurement conditions in the second measuring device 150, the results of the second measurement process, and the identification information IDS assigned in the sampling device 100, and a memory control unit 164 that stores the identification information IDS, the results of the first measurement process, and the measurement conditions in the second measuring device 150 in correspondence with each other in the memory unit 166.
これにより、プラスチック等の情報を適切に管理できる。すなわち、上述の実施形態によれば、マテリアルリサイクルを想定した熱処理によるプラスチックのサンプル22の作製とその処理工程と特性・物性の詳細なデータの取得が可能である。 This allows information about plastics and the like to be managed appropriately. In other words, according to the above-described embodiment, it is possible to produce plastic samples 22 through heat treatment with the aim of material recycling, and to obtain detailed data on the processing steps and characteristics/physical properties.
また、第2計測装置150は、サンプル22に対する複数の特性または物性を分析する複数の評価部(154,155)を備えるものであり、通信部162は複数の評価部(154,155)における評価結果を第2計測処理の結果として受信し、記憶制御部164は、複数の評価部(154,155)における評価結果を識別情報IDSと、第1計測処理の結果と、に対応付けて記憶部166に記憶させると一層好ましい。 Moreover, it is more preferable that the second measurement device 150 includes a plurality of evaluation units (154, 155) that analyze a plurality of characteristics or physical properties of the sample 22, the communication unit 162 receives the evaluation results of the plurality of evaluation units (154, 155) as the results of the second measurement process, and the memory control unit 164 stores the evaluation results of the plurality of evaluation units (154, 155) in the memory unit 166 in association with the identification information IDS and the results of the first measurement process.
これにより、作製した同一のサンプル22による異種の計測装置での分析評価に基づいて、複数種類の特性・物性データを取得できる。また、同一のサンプル22に紐づいた各種の特性・物性データを集積することで、サンプリングや作製時の熱処理などによるサンプルに起因した計測データ間のばらつきを抑えて、データベースの構築と拡張を実現することができる。また、取得した特性・物性データを使用した識別情報をサンプル22ごとに生成して付与することで、実空間でのサンプル22の各種取扱いとデジタル空間でのデータ管理での誤りの防止が実現できる。さらに、サンプル22のサンプリングから計測、廃棄といった一連の工程を含む体系手的なデータベースを構築することができる。 This makes it possible to obtain multiple types of characteristic and physical property data based on analysis and evaluation of the same prepared sample 22 using different types of measurement equipment. In addition, by accumulating various types of characteristic and physical property data linked to the same sample 22, it is possible to suppress variation in measurement data caused by samples due to sampling, heat treatment during preparation, etc., and to build and expand a database. In addition, by generating and assigning identification information using the obtained characteristic and physical property data to each sample 22, it is possible to prevent errors in various handling of the sample 22 in real space and in data management in digital space. Furthermore, it is possible to build a systematic database that includes a series of processes such as sampling, measurement, and disposal of the sample 22.
また、複数の評価部(154,155)は、非破壊評価を行う非破壊評価部154と、破壊評価を行う破壊評価部155と、を備え、非破壊評価部154は、破壊評価の前に、非破壊評価を行うものであり、記憶制御部164は、非破壊評価の結果と、破壊評価の結果と、を識別情報IDSに対応付けて記憶部166に記憶させると一層好ましい。これにより、非破壊評価および破壊評価の双方に基づいて、サンプル22の一層精密な評価を実現できる。 Moreover, the multiple evaluation units (154, 155) include a nondestructive evaluation unit 154 that performs nondestructive evaluation and a destructive evaluation unit 155 that performs destructive evaluation, and the nondestructive evaluation unit 154 performs nondestructive evaluation before destructive evaluation, and it is more preferable that the memory control unit 164 stores the results of the nondestructive evaluation and the results of the destructive evaluation in the memory unit 166 in association with the identification information IDS. This allows for a more precise evaluation of the sample 22 based on both the nondestructive evaluation and the destructive evaluation.
また、第1計測装置140は、示差走査熱量測定、熱重量測定、示差熱分析測定、乾燥式水分量測定、加熱発生ガス分析、メルトマスフローレイト測定、メルトボリュームレイト測定、スパイラルフロー測定、または成形収縮率測定によってサンプル22の特性または物性を評価する機能を有すると一層好ましい。これにより、特に加熱状態において、サンプル22の一層精密な評価を実現できる。 Moreover, it is more preferable that the first measuring device 140 has a function of evaluating the characteristics or physical properties of the sample 22 by differential scanning calorimetry, thermogravimetry, differential thermal analysis measurement, dry moisture content measurement, heated gas analysis, melt mass flow rate measurement, melt volume rate measurement, spiral flow measurement, or molding shrinkage rate measurement. This allows for a more precise evaluation of the sample 22, especially in a heated state.
また、非破壊評価部154が実行する非破壊評価は、サンプル22の電磁波特性、直流電圧印加特性、交流電圧印加特性、または外観特性を評価するものであり、電磁波特性は、サンプル22のX線、紫外線、可視光線、赤外線の透過、反射、吸収または蛍光スペクトルの特性であり、直流電圧印加特性は、直流電圧を印加した場合におけるサンプル22の抵抗値、静電容量、または帯電率であり、交流電圧印加特性は、交流電圧を印加した場合におけるサンプル22のインピーダンスであり、外観特性は、サンプル22の接触角、色座標、色度、比重、または重量であると一層好ましい。これにより、特に非破壊評価の側面において、来歴が多様で多成分であることが多いリサイクルプラスチックのサンプル22の計測での入力信号に対して来歴や成分に起因した異なる応答信号を分離、抽出することもでき、一層精密な評価を実現できる。 The nondestructive evaluation performed by the nondestructive evaluation unit 154 evaluates the electromagnetic wave characteristics, DC voltage application characteristics, AC voltage application characteristics, or appearance characteristics of the sample 22, and the electromagnetic wave characteristics are the transmission, reflection, absorption, or fluorescence spectrum characteristics of the sample 22 for X-rays, ultraviolet rays, visible light, and infrared rays, the DC voltage application characteristics are the resistance value, capacitance, or charge rate of the sample 22 when a DC voltage is applied, the AC voltage application characteristics are the impedance of the sample 22 when an AC voltage is applied, and the appearance characteristics are the contact angle, color coordinates, chromaticity, specific gravity, or weight of the sample 22. As a result, particularly in terms of nondestructive evaluation, it is possible to separate and extract different response signals due to the history and components from the input signal in the measurement of the sample 22 of recycled plastics, which often have diverse histories and are multi-component, and to realize even more precise evaluation.
また、破壊評価部155が実行する破壊評価は、示差走査熱量測定、熱重量測定、示差熱分析測定、乾燥式水分量測定、加熱発生ガス分析、メルトマスフローレイト測定、メルトボリュームレイト測定、スパイラルフロー測定、軟化点測定、荷重たわみ温度測定、加熱分解または溶解による分子量測定、ICP測定、機械特性試験、または老化試験であり、機械特性試験は、引張強度、曲げ強度、衝撃強度、クリープ、硬度、粘弾性、引っかきの試験であり、老化試験は、加熱、加湿、放射線、電磁波またはガス、屋外といった環境下での曝露、繰り返しの引張・圧縮による疲労、摩耗、温度サイクルにおける老化試験であると一層好ましい。これにより、特に破壊評価の側面において、サンプル22の一層精密な評価と、製造から使用、再利用および廃棄のライフサイクルの過程に関する物性・特性および性能の計測データの取得を実現できる。 The destructive evaluation performed by the destructive evaluation unit 155 is preferably differential scanning calorimetry, thermogravimetry, differential thermal analysis, dry moisture content measurement, heated gas analysis, melt mass flow rate measurement, melt volume rate measurement, spiral flow measurement, softening point measurement, deflection temperature under load measurement, molecular weight measurement by thermal decomposition or dissolution, ICP measurement, mechanical property test, or aging test, and the mechanical property test is a test of tensile strength, bending strength, impact strength, creep, hardness, viscoelasticity, and scratching, and the aging test is preferably a test of fatigue, wear, and temperature cycle due to exposure to heat, humidity, radiation, electromagnetic waves or gas, outdoors, etc. This makes it possible to achieve a more precise evaluation of the sample 22, particularly in terms of destructive evaluation, and to obtain measurement data on the physical properties, characteristics, and performance of the sample 22 throughout its life cycle from manufacture to use, reuse, and disposal.
また、記憶制御部164は、記憶部166に対してグラフ形式で記述されたグラフ形式データベース(400)を構築するものであり、グラフ形式データベース(400)は、第1計測装置140による計測結果と、第2計測装置150による計測結果と、サンプリング装置100におけるサンプリングの工程およびその環境情報と、に関係する第1レイヤ(410)と、第1計測装置140における計測結果と、サンプル22に対する温度制御条件を含む計測条件と、サンプリング装置100における処理の結果に関する情報と、に関する第2レイヤ(420)と、を含むものであると一層好ましい。これにより、各種計測結果を体系的に記憶部166に記憶させることができる。 Moreover, the memory control unit 164 constructs a graph-format database (400) described in a graph format for the memory unit 166, and it is even more preferable that the graph-format database (400) includes a first layer (410) related to the measurement results by the first measuring device 140, the measurement results by the second measuring device 150, the sampling process in the sampling device 100 and its environmental information, and a second layer (420) related to the measurement results in the first measuring device 140, the measurement conditions including the temperature control conditions for the sample 22, and information related to the results of the processing in the sampling device 100. This makes it possible to systematically store various measurement results in the memory unit 166.
また、第1レイヤ(410)においては、工程順に情報がリンクされていると一層好ましい。これにより、各種計測結果を工程順に従って管理することができる。 It is also preferable that the information in the first layer (410) is linked in the order of the processes. This allows the various measurement results to be managed according to the order of the processes.
[変形例]
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。上述した実施形態は本発明を理解しやすく説明するために例示したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について削除し、もしくは他の構成の追加・置換をすることが可能である。また、図中に示した制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上で必要な全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。上記実施形態に対して可能な変形は、例えば以下のようなものである。
[Modification]
The present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and various modifications are possible. The above-mentioned embodiment is exemplified to explain the present invention in an easy-to-understand manner, and is not necessarily limited to those having all the configurations described. In addition, it is possible to replace a part of the configuration of one embodiment with the configuration of another embodiment, and it is also possible to add the configuration of another embodiment to the configuration of one embodiment. In addition, it is possible to delete a part of the configuration of each embodiment, or to add or replace other configurations. In addition, the control lines and information lines shown in the figure show those that are considered necessary for explanation, and do not necessarily show all control lines and information lines necessary on the product. In reality, it may be considered that almost all configurations are connected to each other. Possible modifications of the above-mentioned embodiment are, for example, as follows.
(1)上記実施形態における管理サーバ160およびデータ管理装置260のハードウエアは一般的なコンピュータによって実現できるため、図3、図10~図13に示したフローチャート、その他上述した各種処理を実行するプログラム等を記憶媒体(プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体)に格納し、または伝送路を介して頒布してもよい。 (1) The hardware of the management server 160 and data management device 260 in the above embodiment can be realized by a general computer, so the flowcharts shown in Figures 3 and 10 to 13 and other programs that execute the various processes described above may be stored on a storage medium (a computer-readable recording medium on which a program is recorded) or distributed via a transmission path.
(2)図3、図10~図13に示した処理、その他上述した各処理は、上記実施形態ではプログラムを用いたソフトウエア的な処理として説明したが、その一部または全部をASIC(Application Specific Integrated Circuit;特定用途向けIC)、あるいはFPGA(Field Programmable Gate Array)等を用いたハードウエア的な処理に置き換えてもよい。 (2) In the above embodiment, the processes shown in Figures 3, 10 to 13, and the other processes described above are described as software processes using a program, but some or all of them may be replaced with hardware processes using an ASIC (Application Specific Integrated Circuit) or an FPGA (Field Programmable Gate Array), etc.
(3)記憶部166は、ネットワーク180に接続された他の記憶装置(図示せず)に置いてもよく、管理サーバ160に含めなくてもよい。 (3) The memory unit 166 may be located in another storage device (not shown) connected to the network 180 and may not be included in the management server 160.
1 計測システム
22 サンプル
100 サンプリング装置
140 第1計測装置
150 第2計測装置
154 非破壊評価部(評価部)
155 破壊評価部(評価部)
160 管理サーバ(データ管理装置)
162 通信部
164 記憶制御部
166 記憶部
168 識別情報生成部
400 データベース(グラフ形式データベース)
410 レイヤ(第1レイヤ)
420 レイヤ(第2レイヤ)
IDS 識別情報
S204 ステップ(識別情報生成過程)
S210 ステップ(受信過程)
S250 ステップ(記憶制御過程)
1 Measurement system 22 Sample 100 Sampling device 140 First measurement device 150 Second measurement device 154 Non-destructive evaluation section (evaluation section)
155 Destruction Evaluation Department (Evaluation Department)
160 Management server (data management device)
162 Communication unit 164 Storage control unit 166 Storage unit 168 Identification information generation unit 400 Database (Graph format database)
410 Layer (First Layer)
420 Layer (Second Layer)
IDS Identification Information S204 Step (Identification Information Generation Process)
Step S210 (receiving process)
Step S250 (Memory Control Process)
Claims (9)
前記サンプルを、その溶融温度以上に温度制御し、加熱状態における前記サンプルの特性を評価する第1計測処理を行う第1計測装置と、
前記第1計測装置による評価が行われ、その後に固化された前記サンプルの特性を評価する第2計測処理を行う第2計測装置と、を備える計測システムに適用されるデータ管理装置であって、
前記識別情報を生成する識別情報生成部と、
前記第1計測装置における温度条件を含む計測条件と、前記第1計測処理の結果と、前記第2計測装置における計測条件と、前記第2計測処理の結果と、前記サンプリング装置において付与された前記識別情報と、を受信する通信部と、
前記識別情報と、前記第1計測処理の結果と、前記第2計測装置における計測条件と、を対応付けて記憶部に記憶させる記憶制御部と、を備える
ことを特徴とするデータ管理装置。 A sampling device that provides a designated identification to a sample that is a plastic;
a first measuring device that performs a first measurement process by controlling the temperature of the sample to a temperature equal to or higher than the melting temperature of the sample and evaluating characteristics of the sample in a heated state;
a second measurement device that performs a second measurement process to evaluate characteristics of the sample that has been evaluated by the first measurement device and then solidified,
an identification information generation unit that generates the identification information;
a communication unit that receives measurement conditions including temperature conditions in the first measuring device, a result of the first measurement process, measurement conditions in the second measuring device, a result of the second measurement process, and the identification information assigned in the sampling device;
a storage control unit that causes a storage unit to store the identification information, a result of the first measurement process, and a measurement condition for the second measurement device in association with each other.
前記通信部は複数の前記評価部における評価結果を前記第2計測処理の結果として受信し、
前記記憶制御部は、複数の前記評価部における評価結果を前記識別情報と、前記第1計測処理の結果と、に対応付けて前記記憶部に記憶させる
ことを特徴とする請求項1に記載のデータ管理装置。 the second measurement device includes a plurality of evaluation units for analyzing a plurality of characteristics or properties of the sample;
the communication unit receives evaluation results from the plurality of evaluation units as a result of the second measurement process;
The data management device according to claim 1 , wherein the storage control unit stores the evaluation results from the plurality of evaluation units in the storage unit in association with the identification information and the result of the first measurement process.
前記記憶制御部は、前記非破壊評価の結果と、前記破壊評価の結果と、を前記識別情報に対応付けて前記記憶部に記憶させる
ことを特徴とする請求項2に記載のデータ管理装置。 The plurality of evaluation units include a nondestructive evaluation unit that performs nondestructive evaluation and a destructive evaluation unit that performs destructive evaluation, and the nondestructive evaluation unit performs the nondestructive evaluation before the destructive evaluation,
3. The data management device according to claim 2, wherein the storage control unit stores the results of the non-destructive evaluation and the results of the destructive evaluation in the storage unit in association with the identification information.
ことを特徴とする請求項1に記載のデータ管理装置。 The data management device according to claim 1, characterized in that the first measuring device has a function of evaluating the characteristics or physical properties of the sample by differential scanning calorimetry, thermogravimetry, differential thermal analysis measurement, dry type moisture content measurement, heated gas analysis, melt mass flow rate measurement, melt volume rate measurement, spiral flow measurement, or molding shrinkage rate measurement.
前記電磁波特性は、前記サンプルのX線、紫外線、可視光線、赤外線の透過、反射、吸収または蛍光スペクトルの特性であり、
前記直流電圧印加特性は、直流電圧を印加した場合における前記サンプルの抵抗値、静電容量、または帯電率であり、
前記交流電圧印加特性は、交流電圧を印加した場合における前記サンプルのインピーダンス、または、比誘電率と誘電正接との組合せ、
前記外観特性は、前記サンプルの接触角、色座標、色度、比重、重量または表面粗さである
ことを特徴とする請求項3に記載のデータ管理装置。 the nondestructive evaluation performed by the nondestructive evaluation unit evaluates electromagnetic wave characteristics, DC voltage application characteristics, AC voltage application characteristics, or appearance characteristics of the sample,
the electromagnetic properties being X-ray, ultraviolet, visible, infrared transmission, reflection, absorption or fluorescence spectral properties of the sample;
the DC voltage application characteristic is a resistance value, a capacitance, or a charge rate of the sample when a DC voltage is applied;
The AC voltage application characteristic is an impedance of the sample when an AC voltage is applied, or a combination of a relative dielectric constant and a dielectric loss tangent;
The data management device according to claim 3 , wherein the appearance characteristics are a contact angle, a color coordinate, a chromaticity, a specific gravity, a weight, or a surface roughness of the sample.
前記機械特性試験は、引張強度、曲げ強度、衝撃強度、クリープ、硬度、粘弾性、または引っ掻きの試験であり、
前記老化試験は、加熱、加湿、放射線、電磁波もしくはガスの制御環境下での曝露、屋外曝露、圧縮、引張の繰り返し、摩耗、または温度サイクルにおける老化試験である
ことを特徴とする請求項3に記載のデータ管理装置。 The destructive evaluation performed by the destructive evaluation unit is differential scanning calorimetry, thermogravimetry, differential thermal analysis, dry type moisture content measurement, softening point measurement, deflection temperature under load measurement, thermal evolved gas analysis, melt mass flow rate measurement, melt volume rate measurement, spiral flow measurement, molecular weight measurement by thermal decomposition or dissolution, ICP measurement, mechanical property test, or aging test,
The mechanical property test is a test of tensile strength, flexural strength, impact strength, creep, hardness, viscoelasticity, or scratch;
4. The data management device according to claim 3, wherein the aging test is an aging test involving exposure to heat, humidity, radiation, electromagnetic waves or gas in a controlled environment, outdoor exposure, repeated compression and tension, abrasion, or temperature cycling.
前記グラフ形式データベースは、
前記第1計測装置による計測結果と、前記第2計測装置による計測結果と、前記サンプリング装置におけるサンプリングの工程およびその環境情報と、に関係する第1レイヤと、
前記第1計測装置における計測結果と、前記サンプルに対する温度制御条件を含む計測条件と、前記サンプリング装置における処理の結果に関する情報と、に関する第2レイヤと、を含むものである
ことを特徴とする請求項1に記載のデータ管理装置。 The storage control unit constructs a graph-format database described in a graph format in the storage unit,
The graph format database includes:
a first layer relating to a measurement result by the first measuring device, a measurement result by the second measuring device, a sampling process in the sampling device, and environmental information thereof;
The data management device according to claim 1, further comprising a second layer relating to measurement results from the first measurement device, measurement conditions including temperature control conditions for the sample, and information relating to processing results from the sampling device.
ことを特徴とする請求項7に記載のデータ管理装置。 8. The data management device according to claim 7, wherein in the first layer, information is linked in the order of processes.
前記識別情報が付与された前記サンプルを、その溶融温度以上に温度制御し、加熱状態における前記サンプルの特性を評価する第1計測処理過程と、
前記第1計測処理過程により固化された前記サンプルの特性を評価する第2計測処理過程と、
前記第1計測処理過程における温度条件を含む計測条件と、前記第1計測処理過程の結果と、前記第2計測処理過程における計測条件と、前記第2計測処理過程の結果と、前記サンプルに付与された前記識別情報と、を受信する受信過程と、
前記識別情報と、前記第1計測処理過程の結果と、前記第2計測処理過程における計測条件と、を対応付けて記憶部に記憶させる記憶制御過程と、を有する
ことを特徴とするデータベース構築方法。 providing designated identification information to a sample of plastic;
a first measurement process for controlling the temperature of the sample to which the identification information has been assigned to be equal to or higher than its melting point and evaluating characteristics of the sample in a heated state;
a second measurement process for evaluating characteristics of the sample solidified by the first measurement process;
a receiving step of receiving measurement conditions including a temperature condition in the first measurement process, a result of the first measurement process, measurement conditions in the second measurement process, a result of the second measurement process, and the identification information assigned to the sample;
a storage control step of causing a storage unit to store the identification information, a result of the first measurement processing step, and a measurement condition in the second measurement processing step in association with each other.
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