JP2024091146A - Chip Resistors - Google Patents
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Abstract
【課題】耐電圧が高いチップ抵抗器を提供する。【解決手段】チップ抵抗器1の抵抗体5は、絶縁基板2の表面21において第1接続部31及び第2接続部32の間に設けられた抵抗値調整部12、を有している。抵抗値調整部12には、抵抗値調整部12を蛇行形状とするための蛇行形成部15が形成されている。蛇行形成部15は、3本以上の奇数本のトリミング溝(16、17、18)を有している。トリミング溝(16、17、18)の各々は、抵抗値調整部12の第2縁14から第1接続部31及び第2接続部32が並ぶ第1方向に直交する第2方向に沿って延びる直線部を有している。3本以上の奇数本のトリミング溝(16、17、18)のうちの第1方向の中央にあるトリミング溝(16)以外のトリミング溝(17、18)が第1方向の中央側にある隣のトリミング溝(16)よりも短い。【選択図】図2[Problem] To provide a chip resistor with high withstand voltage. [Solution] A resistor 5 of a chip resistor 1 has a resistance value adjustment section 12 provided between a first connection section 31 and a second connection section 32 on a surface 21 of an insulating substrate 2. A meandering forming section 15 is formed in the resistance value adjustment section 12 to make the resistance value adjustment section 12 into a meandering shape. The meandering forming section 15 has three or more odd number of trimming grooves (16, 17, 18). Each of the trimming grooves (16, 17, 18) has a straight line portion extending from a second edge 14 of the resistance value adjustment section 12 along a second direction perpendicular to a first direction in which the first connection section 31 and the second connection section 32 are aligned. Of the three or more odd number of trimming grooves (16, 17, 18), the trimming grooves (17, 18) other than the trimming groove (16) located at the center in the first direction are shorter than the adjacent trimming groove (16) located at the center in the first direction. [Selected figure] Figure 2
Description
本開示は、一般にチップ抵抗器に関し、より詳細には、一対の電極と抵抗体とを備えるチップ抵抗器に関する。 The present disclosure relates generally to chip resistors, and more specifically to chip resistors having a pair of electrodes and a resistor body.
特許文献1には、絶縁基板に形成された抵抗体において、抵抗体矩形部に直線状のトリミング溝が形成されたチップ抵抗器が開示されている。
特許文献1に記載のチップ抵抗器では、トリミング溝は抵抗体の矩形部に蛇行パターンを形成している。トリミング溝は、例えば、レーザを用いて形成される。また、特許文献1に記載のチップ抵抗器では、抵抗値の微調整を行うために、2本の互いに平行なトリミング溝が形成されている。
In the chip resistor described in
一方、トリミング溝を形成するのにレーザを用いる場合は、トリミング溝の溝幅を広げることには技術的制約がある。したがって、トリミング溝の耐電圧を高くすることは難しく、そのためトリミング溝の耐電圧がチップ抵抗器の電圧限界となることがある。 On the other hand, when a laser is used to form the trimming groove, there are technical limitations to widening the width of the trimming groove. Therefore, it is difficult to increase the voltage resistance of the trimming groove, and as a result, the voltage resistance of the trimming groove may become the voltage limit of the chip resistor.
本開示の目的は、耐電圧が高いチップ抵抗器を提供することにある。 The objective of this disclosure is to provide a chip resistor with high voltage resistance.
本開示の一態様に係るチップ抵抗器は、基板と、一対の電極と、抵抗体と、を備えている。前記一対の電極は、前記基板の一面の両端に設けられている。前記抵抗体は、前記基板の前記一面において前記一対の電極の間に設けられている。前記抵抗体は、前記一対の電極にそれぞれ接続された一対の接続部と、前記一対の接続部の間に設けられた抵抗値調整部と、を有している。前記抵抗値調整部には、前記抵抗値調整部を蛇行形状とするための蛇行形成部が形成されている。前記蛇行形成部は、3本以上の奇数本のトリミング溝を有している。前記3本以上の奇数本のトリミング溝の各々は、前記抵抗値調整部の溝開始縁から前記一対の接続部が並ぶ第1方向に直交する第2方向に沿って延びる直線部を有している。前記3本以上の奇数本のトリミング溝のうちの前記第1方向の中央にあるトリミング溝以外のトリミング溝は、前記第1方向の中央側にある隣のトリミング溝よりも短い。 A chip resistor according to one aspect of the present disclosure includes a substrate, a pair of electrodes, and a resistor. The pair of electrodes are provided on both ends of one surface of the substrate. The resistor is provided between the pair of electrodes on the one surface of the substrate. The resistor has a pair of connection parts respectively connected to the pair of electrodes, and a resistance value adjustment part provided between the pair of connection parts. The resistance value adjustment part has a meandering forming part for forming the resistance value adjustment part into a meandering shape. The meandering forming part has three or more odd number of trimming grooves. Each of the three or more odd number of trimming grooves has a straight line part extending from the groove starting edge of the resistance value adjustment part along a second direction perpendicular to the first direction in which the pair of connection parts are arranged. The three or more odd number of trimming grooves, other than the trimming groove at the center in the first direction, are shorter than the adjacent trimming groove at the center side in the first direction.
本開示によれば、耐電圧が高いチップ抵抗器が得られる。 This disclosure provides a chip resistor with high voltage resistance.
以下、実施形態に係るチップ抵抗器について、図面を参照して説明する。下記の実施形態において説明する各図は模式的な図であり、各構成要素の大きさや厚さそれぞれの比が必ずしも実際の寸法比を反映しているとは限らない。また、下記の実施形態で説明する構成は本開示の一例にすぎない。本開示は、下記の実施形態に限定されず、本開示の効果を奏することができれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。 The chip resistor according to the embodiment will be described below with reference to the drawings. Each figure described in the following embodiment is a schematic diagram, and the ratio of the size and thickness of each component does not necessarily reflect the actual dimensional ratio. Furthermore, the configuration described in the following embodiment is merely one example of the present disclosure. The present disclosure is not limited to the following embodiment, and various modifications are possible depending on the design, etc., as long as the effects of the present disclosure can be achieved.
(第1実施形態)
(1)チップ抵抗器の基本構成
以下、図1及び図2を参照しながら、第1実施形態を説明する。第1実施形態は、蛇行形成溝が抵抗体に形成されているチップ抵抗器1を開示している。
First Embodiment
(1) Basic Configuration of Chip Resistor A first embodiment will be described below with reference to Fig. 1 and Fig. 2. The first embodiment discloses a
チップ抵抗器1は、例えば、表面実装機(マウンタ)を用いて、プリント基板の表面(実装面)に実装される表面実装(SMT:Surface Mount Technology)用のチップ抵抗器である。本実施形態では一例として、チップ抵抗器1は厚膜チップ抵抗器である。
The
チップ抵抗器1は、図1及び図2に示すように、絶縁基板2と、第1上面電極3と、第2上面電極4と、抵抗体5とを有している。また、チップ抵抗器1は、図1に示すように、第1下面電極と33と、第2下面電極34と、第1端面電極35と、第2端面電極36と、一対の第1めっき層37と、一対の第2めっき層38と、を更に有する。チップ抵抗器1は、図1に示すように、ガラス保護膜41と、樹脂保護膜42と、を更に有する。
As shown in Figures 1 and 2, the
(2)絶縁基板
絶縁基板2は、例えばAl2O3を96%含有するアルミナで構成され、その形状は矩形状(上面視にて長方形)となっている。以後、図1及び図2の左右方向を長手方向D1(第1方向の一例)とし、図2の上下方向を短手方向D2(第2方向の一例)とする。さらに、図1及び図2の右側を長手方向第1側とし、図1及び図2の左側を長手方向第2側とし、図2の上側を短手方向第1側とし、図2の下側を短手方向第2側とする。
(2) Insulating Substrate The
なお、長手方向D1と短手方向D2は直交している。なお、ここでの直交とは、略直交を含む概念であり、90°±10°の範囲を含む。 The longitudinal direction D1 and the lateral direction D2 are perpendicular to each other. Note that the concept of perpendicular here includes approximately perpendicular, and includes the range of 90°±10°.
(3)上面電極、下面電極及び側面電極
第1上面電極3及び第2上面電極4は、絶縁基板2の表面21の長手方向両端部に各々設けられ、銀等の金属を有する厚膜材料を印刷、焼成することによって形成されている。
(3) Top Electrode, Bottom Electrode and Side Electrode The first
第1下面電極33及び第2下面電極34は、絶縁基板2の裏面22の長手方向両端部に各々設けられ、銀等の金属を有する厚膜材料を印刷、焼成することによって形成されている。第1下面電極33及び第2下面電極34は、第1上面電極3及び第2上面電極4にそれぞれ対応している。
The first
第1端面電極35及び第2端面電極36は、絶縁基板2の長手方向両側の一対の端面23にそれぞれ設けられている。第1端面電極35及び第2端面電極36は、例えば、NiCrからなるスパッタ膜である。すなわち、第1端面電極35及び第2端面電極36は、スパッタリングによって絶縁基板2の左右方向の端面23に形成(成膜)される。第1端面電極35は、第1上面電極3と第1下面電極33とを電気的に接続している。第2端面電極36は、第2上面電極4と第2下面電極34とを電気的に接続している。
The first
(4)抵抗体
(4-1)抵抗体の概要
抵抗体5は、絶縁基板2の表面21において第1上面電極3と第2上面電極4の間に形成され、第1上面電極3及び第2上面電極4に接続されている。抵抗体5は、例えばルテニウム酸鉛約10wt%、ガラス約53wt%、溶剤約37wt%からなる厚膜材料を絶縁基板2の表面21に印刷した後、焼成することによって形成される。
(4) Resistor (4-1) Overview of Resistor The
抵抗体5は、抵抗値調整部12と、第1接続部31と、第2接続部32と、を有している。
The
抵抗値調整部12は、絶縁基板2の表面21の長手方向中間、つまり第1上面電極3と第2上面電極4の間に離れて配置されている。さらに具体的には、抵抗値調整部12は、第1接続部31と第2接続部32との間に設けられている。抵抗値調整部12は、後述するようにレーザトリミングによって抵抗体5の抵抗値が調整される部分である。なお、抵抗値調整部12の短手方向第1側の縁を第1縁13として、短手方向第2側の縁を第2縁14(溝開始縁の一例)とする。
The resistance
第1接続部31と第2接続部32は、長手方向D1(第1方向)に並んでいる。第1接続部31は、第1矩形部6と、第2矩形部7と、第3矩形部8(接続部分の一例)と、を含んでいる。第1矩形部6は、第1上面電極3の短手方向第1側部分に接続され長手方向第1側に延びる。第2矩形部7は、第1矩形部6の先端から短手方向第2側に延びる。第3矩形部8は、第2矩形部7の先端から長手方向第1側に延びて抵抗値調整部12の短手方向第2側の端部(第2縁14側の端部)に接続されている。第3矩形部8は、短手方向第1側の縁49(縁の一例)を有している。縁49は、短手方向D2において、第2縁14と反対側の縁である。
The
第2接続部32は、第4矩形部9と、第5矩形部10と、第6矩形部11(接続部分の一例)と、を含む。第4矩形部9は、第2上面電極4の短手方向第1側部分に接続され長手方向第2側に延びる。第5矩形部10は、第4矩形部9の先端から短手方向第2側に延びる。第6矩形部11は、第5矩形部10の先端から長手方向第2側に延びて抵抗値調整部12の短手方向第2側の端部(第2縁14側の端部)に接続されている。上述の構成において、第6矩形部11は、抵抗値調整部12の第2縁14の近傍に設けられている。第6矩形部11は、短手方向第1側の縁50(縁の一例)を有している。縁50は、短手方向D2において、第2縁14と反対側の縁である。なお、第3矩形部8の縁49と第6矩形部11の縁50の短手方向位置を、電圧基準位置51とする。
The
(4-2)抵抗値調整部
抵抗値調整部12には、抵抗値調整部12を蛇行形状とするための蛇行形成部15が形成されている。抵抗体5は、絶縁基板2の短手方向D2と平行な方向に3回折り返された蛇行形状を有している。具体的には、第1矩形部6、第2矩形部7、第3矩形部8及び抵抗値調整部12によって、短手方向第1側に折り返す第1ターンが形成されている。また、第4矩形部9、第5矩形部10、第6矩形部11及び抵抗値調整部12によって、短手方向第1側に折り返す第2ターンが形成されている。さらに、抵抗値調整部12によって、後述するように、短手方向第2側に折り返す第3ターンが形成されている。
(4-2) Resistance Adjustment Section The
蛇行形成部15は、3本のトリミング溝を有している。具体的には、蛇行形成部15は、第1トリミング溝16(中央溝)と、第2トリミング溝17(両側溝の一例)と、第3トリミング溝18(両側溝の一例)とを有している。第1トリミング溝16と、第2トリミング溝17と、第3トリミング溝18とは、抵抗値調整部の第2縁14から短手方向D2(第2方向の一例)に平行に延びており、直線部を構成している。
The meandering
第1トリミング溝16は、3本のトリミング溝の長手方向中央に配置されている。第2トリミング溝17は、第1トリミング溝16の長手方向第2側に配置されている。第3トリミング溝18は、第1トリミング溝16の長手方向第1側に配置されている。
The
第1トリミング溝16は、第2トリミング溝17及び第3トリミング溝18より短手方向D2に長く延びている。つまり、第1トリミング溝16の延伸方向の最も先の部分(先端面)は、第2トリミング溝17及び第3トリミング溝18の延伸方向の最も先の部分(先端面)よりも短手方向第1側にある。
The
第2トリミング溝17と第3トリミング溝18の短手方向長さは同じであり、つまり、両者の延伸方向の最も先の部分(先端面)は短手方向D2において同じ位置にある。
The
上記の構成によって、蛇行形成部15の各トリミング溝の溝両側電位差を、1本のトリミング溝の場合の1/2以下に低減できる。したがって、高い電位差に耐えられる蛇行パターンを形成できる。なお、溝本数を3本以上に増やしても、全ての溝の長さが同じであれば、各溝の両側電位差は変化が少なく、したがって耐電圧は改善されない。
The above configuration allows the potential difference on both sides of each trimming groove in the
図2に示すように、電圧基準位置51から第1トリミング溝16の先端までの第2方向長さをa1とし、電圧基準位置51から第2トリミング溝17及び第3トリミング溝18の先端までの第2方向長さをb1とした場合、0.42≦b1/a1<1.00が成立する。この場合、従来のトリミング溝2本の例に比べて各トリミング溝の溝両側電位差を低減できるので、溝部分の電圧破壊が生じにくく、そのため特性異常を抑制できる。
As shown in FIG. 2, if the second direction length from the
なお、本実施形態では、b1=(2×a1)/3が成立することが好ましい。この条件は、b1=(2n×a1)/(2n+1)の式から得られる。上記式において、2n+1(nは正の整数)は、トリミング溝の本数である。上記の式が成立する場合、トリミング溝の溝両側電位差を、トリミング溝2本の場合に比べてほぼ1/(2n+1)に低減できる。 In this embodiment, it is preferable that b1 = (2 x a1) / 3 is satisfied. This condition is obtained from the formula b1 = (2n x a1) / (2n + 1). In the above formula, 2n + 1 (n is a positive integer) is the number of trimming grooves. When the above formula is satisfied, the potential difference on both sides of the trimming groove can be reduced to approximately 1/(2n + 1) compared to the case of two trimming grooves.
(5)ガラス保護膜
ガラス保護膜41は、抵抗体5を保護するための膜である。ガラス保護膜41は、図1に示すように、抵抗体5の全域(全体)を覆っている。ガラス保護膜41は、例えば、酸化鉛ガラスからなる。ガラス保護膜41は、例えば、スクリーン印刷によって形成(成膜)される。なお、ガラス保護膜41は、酸化鉛ガラスに限らず、例えば、ケイ酸化ガラスであってもよい。
(5) Glass Protective Film Glass
(6)樹脂保護膜
樹脂保護膜42は、例えば、エポキシ樹脂からなり、ガラス保護膜41の全域(全体)を覆っている。そして、樹脂保護膜42は、第1トリミング溝16、第2トリミング溝17、及び第3トリミング溝18内に入り込んでいる。樹脂保護膜42は、例えば、スクリーン印刷にてエポキシ樹脂を塗布した後、エポキシ樹脂を熱硬化させることにより形成(成膜)される。
(6) Resin Protective Film Resin
(7)第1めっき層
一対の第1めっき層37は、例えば、ニッケル(Ni)めっきからなる。一対の第1めっき層37は、絶縁基板2の長手方向両端部において、第1端面電極35及び第2端面電極36をそれぞれ覆っている。
(7) First Plating Layer The pair of first plating layers 37 is made of, for example, nickel (Ni) plating. The pair of first plating layers 37 cover the first
(8)第2めっき層
一対の第2めっき層38は、例えば、スズ(Sn)めっきからなる。一対の第2めっき層38は、絶縁基板2の長手方向両端部において、一対の第1めっき層37を覆っている。
(8) Second Plating Layer The pair of second plating layers 38 is made of, for example, tin (Sn) plating. The pair of second plating layers 38 covers the pair of first plating layers 37 at both longitudinal ends of the insulating
(9)特性
図3を用いて、中央溝である第1トリミング溝16の長さに対する両側溝である第2トリミング溝17及び第3トリミング溝18の長さの割合(%)の変化に対する、各溝の溝両側電位差の変化を説明する。この結果は、抵抗体5に800Vを印加した場合のシミュレーションにより得られた。ここで、溝両側電位差とは、各トリミング溝の両側にある導体部分間の電位差を意味する。なお、従来の2本のトリミング溝の場合は、溝両側電位差の最低値は176Vであった。
(9) Characteristics Using Fig. 3, the change in the potential difference on both sides of each groove with respect to the change in the ratio (%) of the length of the
図3において、複数の点(△)を結んだ線は第1トリミング溝16の溝両側電位差を示しており、複数の点(〇)を結んだ線は第2トリミング溝17及び第3トリミング溝18溝の各々の両側電位差を示している。さらに、直線61は、従来の溝両側電位差の最低値である176Vを示している。図3から明らかなように、上記割合が小さいときには第1トリミング溝16の溝両側電位差は176V以上であるが、上記割合が大きくなるにつれて第1トリミング溝16の溝両側電位差は小さくなっていき、上記割合が42%以上になると、溝両側電位差は176V未満になる。また、上記割合が小さいときには第2トリミング溝17の溝両側電位差及び第3トリミング溝18の溝両側電位差は小さいが、上記割合が大きくなるにつれて第2トリミング溝17の溝両側電位差及び第3トリミング溝18の溝両側電位差は大きくなっていく。ただし、上記割合が100%に近づいても、第2トリミング溝17の溝両側電位差及び第3トリミング溝18の溝両側電位差は176V未満である。
In FIG. 3, the line connecting multiple points (△) indicates the potential difference on both sides of the
以上より、上記割合が42%以上100%未満であれば、従来の最低の溝両側電位差よりもさらに小さい電位差が得られることが分かった。さらに、上記割合が60~80%の範囲であることが好ましく、さらには65~75%の範囲にあることが好ましい。その場合、全てのトリミング溝の溝両側電位差を120Vより低くできるからである。 From the above, it was found that if the above ratio is 42% or more but less than 100%, a potential difference even smaller than the conventional minimum potential difference between both sides of the groove can be obtained. Furthermore, it is preferable that the above ratio is in the range of 60 to 80%, and more preferably in the range of 65 to 75%. In that case, the potential difference between both sides of the groove for all trimming grooves can be made lower than 120 V.
(10)チップ抵抗器の製造方法
以下、チップ抵抗器1の製造方法を説明する。ただし、説明の簡略化のために、第1上面電極3、第2上面電極4及び抵抗体5の形成のみを説明する。
(10) Manufacturing Method of Chip Resistor Hereinafter, a manufacturing method of the
最初に、アルミナからなる絶縁基板2の長手方向両端部に電極ペーストをスクリーン印刷し、これを850℃で焼成して第1上面電極3及び第2上面電極4を形成する。
First, electrode paste is screen-printed on both longitudinal ends of an insulating
次に、第1上面電極3と第2上面電極4との間に抵抗ペーストをスクリーン印刷し、これを850℃で焼成して抵抗体5を形成する。
Next, a resistive paste is screen-printed between the first
次に、レーザトリミングにより抵抗値調整部12を蛇行形状にするために、蛇行形成部15を形成する。これにより、抵抗体5は3ターンを有する蛇行形状になる。
Next, the meandering forming
(第2実施形態)
図4を用いて、第2実施形態に係るチップ抵抗器1Aを説明する。なお、チップ抵抗器1Aの基本的構成は第1実施形態に係るチップ抵抗器1と同じなので、異なる点を中心に説明する。
Second Embodiment
A chip resistor 1A according to the second embodiment will be described with reference to Fig. 4. Note that the basic configuration of the chip resistor 1A is the same as that of the
抵抗体5Aの抵抗値調整部12Aには、蛇行形成部15Aが形成されている。蛇行形成部15Aは、抵抗値調整部12Aを蛇行形状とするためのトリミング溝を有している。具体的には、蛇行形成部15Aは、第1トリミング溝16A(中央溝の一例)と、第2トリミング溝17A(両側溝の一例)と、第3トリミング溝18A(両側溝の一例)とを有している。第1トリミング溝16Aと、第2トリミング溝17Aと、第3トリミング溝18Aとは、抵抗値調整部12Aの第2縁14A(溝開始縁の一例)から短手方向D2に平行に延びており、直線状である。第2トリミング溝17Aは、第1トリミング溝16Aの長手方向第2側に配置されている。第3トリミング溝18Aは、第1トリミング溝16Aの長手方向第1側に配置されている。
A meandering forming
第1トリミング溝16Aは、抵抗値調整部12Aの第2縁14Aから短手方向第1側に延びる直線部16A1と、直線部16A1の短手方向第1側の先端から折返し方向(第2縁14に向く方向)に曲げられて延びる折返し部16A2とを有している。折返し部16A2は、絶縁基板2Aの厚さ方向からの平面視において半円弧形状である折曲げ部分と、直線部16A1に対して折返して直線部16A1と平行に延びる先端直線部とを有している。
The
第2トリミング溝17Aは、抵抗値調整部12の第2縁14Aから短手方向第1側に延びる直線部17A1と、直線部17A1の短手方向第1側の先端から折返し方向に向くように曲げられて延びる折返し部17A2とを有している。折返し部17A2は、絶縁基板2Aの厚さ方向からの平面視において半円弧形状である折曲げ部分と、直線部17A1に対して折返して直線部17A1と平行に延びる先端直線部とを有している。
The
第3トリミング溝18Aは、抵抗値調整部12の第2縁14Aから短手方向第1側に延びる直線部18A1と、直線部18A1の短手方向第1側の先端から折返し方向に曲げられて延びる折返し部18A2とを有している。折返し部18A2は、絶縁基板2の厚さ方向からの平面視において半円弧形状である折曲げ部分と、直線部18A1に対して折返して直線部18A1と平行に延びる先端直線部とを有している。
The
以上に述べたように、第2トリミング溝17の折返し部17A2と第3トリミング溝18Aの折返し部18A2の折曲げ方向は第1トリミング溝16A側であって、各溝は互いに交差していない。
As described above, the folding direction of the folded portion 17A2 of the
第1トリミング溝16Aは、第2トリミング溝17A及び第3トリミング溝18Aより短手方向D2に長く延びている。つまり、第1トリミング溝16Aの延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)は、第2トリミング溝17A及び第3トリミング溝18Aの延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)よりも短手方向第1側にある。
The
第2トリミング溝17Aと第3トリミング溝18Aの短手方向長さは同じであり、つまり、両者の延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)は短手方向D2において同じ位置にある。
The short-side lengths of the
上記の構成によって、蛇行形成部15の各トリミング溝の両側電位差を、1本のトリミング溝の場合の1/2以下に低減できる。したがって、高い電位差に耐えられる蛇行パターンを形成できる。
The above configuration allows the potential difference between both sides of each trimming groove in the
上記の構成では、各トリミング溝は折返し部を有しているので、トリミング溝の延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)にマイクロクラックが発生しにくい。特に、各折返し部が少なくとも一部に円弧部を有しているので、折返し部先端のコーナ部への電流集中を緩和することができ、負荷特性が向上する。 In the above configuration, since each trimming groove has a folded portion, microcracks are unlikely to occur at the tip end of the trimming groove in the extension direction (the apex of the folded portion). In particular, since each folded portion has at least a part of a circular arc portion, current concentration at the corner portion at the tip of the folded portion can be alleviated, improving load characteristics.
より具体的には、第1トリミング溝16Aの先端のマイクロクラックが電流経路と同じ向きになるので、マイクロクラックが成長しても抵抗値がほとんど変化しない、すなわち、抵抗値精度と信頼性が向上する。さらに、第2トリミング溝17A及び第3トリミング溝18Aの先端のマイクロクラックが成長した時の抵抗値変動を小さくできるので、抵抗値精度と信頼性が向上する。
More specifically, because the microcracks at the tip of the
さらに、第2トリミング溝17Aの折返し部17A2及び第3トリミング溝18の折返し部18A2が、長手方向D1において、第1トリミング溝16側に折曲げられているので、第2トリミング溝17A及び第3トリミング溝18Aの先端のマイクロクラックの発生場所を、電流のほとんど流れない場所に配置できる。その結果、抵抗値精度と信頼性がさらに向上する。
Furthermore, since the folded portion 17A2 of the
上記の第2実施形態では、全てのトリミング溝が折返し部を有していたが、変形例では一部のトリミング溝のみが折返し部を有していてもよい。具体的には、中央溝は折返し部を有していることが好ましいが、他のトリミング溝は折返し部を有していなくてもよい。 In the second embodiment described above, all trimming grooves have turned-up portions, but in a modified example, only some of the trimming grooves may have turned-up portions. Specifically, it is preferable that the central groove has a turned-up portion, but the other trimming grooves do not have to have turned-up portions.
(第3実施形態)
図5を用いて、第3実施形態に係るチップ抵抗器1Bを説明する。なお、チップ抵抗器1Bの基本的構成は第1実施形態に係るチップ抵抗器1と同じなので、異なる点を中心に説明する。
Third Embodiment
A
抵抗体5Bは、抵抗値調整部12Bと、第1接続部6Bと、第2接続部9Bと、を有している。
The resistor 5B has a resistance
抵抗値調整部12Bは、絶縁基板2Bの表面21Bの長手方向中間、つまり第1上面電極3Bと第2上面電極4Bとの間に離れて配置されている。抵抗値調整部12Bは、レーザトリミングによって抵抗体5Bの抵抗値が調整される部分である。なお、抵抗値調整部12Bの長手方向第1側の縁を第1縁13Bとして、長手方向第2側の縁を第2縁14B(溝開始縁の一例)とする。
The
第1接続部6Bと第2接続部9Bは、短手方向D2(第1方向の一例)に並んでいる。第1接続部6Bは、第1上面電極3Bの短手方向第1側部分に接続され、長手方向第1側に延びて抵抗値調整部12Bに接続されている。第2接続部9Bは、第2上面電極4の短手方向第2側部分に接続され長手方向第2側に延びている。第2接続部9Bの長手方向第2側の端は、接続部分11Bを介して、抵抗値調整部12Bに接続されている。
The
抵抗値調整部12Bには、蛇行形成部15Bが形成されている。蛇行形成部15Bは、抵抗値調整部12Bを蛇行形状とするためのトリミング溝を有している。具体的には、蛇行形成部15Bは、第1トリミング溝16B(中央溝の一例)と、第2トリミング溝17B(両側溝の一例)と、第3トリミング溝18B(両側溝の一例)とを有している。第1トリミング溝16Bと、第2トリミング溝17Bと、第3トリミング溝18Bとは、抵抗値調整部12Bの第2縁14Bから長手方向D1(第2方向の一例)に平行に延びており、直線部を構成している。第2トリミング溝17Bは、第1トリミング溝16Bの短手方向第1側に配置されている。第3トリミング溝18Bは、第1トリミング溝16Bの短手方向第2側に配置されている。
The resistance
抵抗体5Bは、絶縁基板2Bの長手方向D1と平行な方向に折り返された蛇行形状を有している。具体的には、第1接続部6B及び蛇行形成部15Bによって、長手方向第2側に折り返す第1ターンが形成されている。さらに、蛇行形成部15B、接続部分11B及び第2接続部9Bによって、長手方向第1側に折り返す第2ターンが形成されている。
The resistor 5B has a serpentine shape folded back in a direction parallel to the longitudinal direction D1 of the insulating
第1トリミング溝16Bは、第2トリミング溝17B及び第3トリミング溝18Bより長手方向D1に長く延びている。つまり、第1トリミング溝16Bの延伸方向の最も先の部分(先端面)は、第2トリミング溝17B及び第3トリミング溝18Bの延伸方向の最も先の部分(先端面)よりも長手方向第1側にある。
The
第2トリミング溝17Bと第3トリミング溝18Bの長手方向長さは同じであり、つまり、両者の延伸方向の最も先の部分(先端面)は長手方向D1において同じ位置にある。
The longitudinal lengths of the
上記の構成によって、蛇行形成部15Bの各トリミング溝の両側電位差を、1本のトリミング溝の場合の1/2以下に低減できる。したがって、高い電位差に耐えられる蛇行パターンを形成できる。
The above configuration allows the potential difference between both sides of each trimming groove in the meandering forming
(第4実施形態)
図6を用いて、第4実施形態に係るチップ抵抗器1Cを説明する。なお、チップ抵抗器1Cの基本的構成は第3実施形態に係るチップ抵抗器1Bと同じなので、異なる点を中心に説明する。
Fourth Embodiment
A
抵抗体5Cの抵抗値調整部12Cには、蛇行形成部15Cが形成されている。蛇行形成部15Cは、抵抗値調整部12Cを蛇行形状とするためのトリミング溝を有している。具体的には、蛇行形成部15Cは、第1トリミング溝16C(中央溝の一例)と、第2トリミング溝17C(両側溝の一例)と、第3トリミング溝18C(両側溝の一例)とを有している。第1トリミング溝16Cと、第2トリミング溝17Cと、第3トリミング溝18Cとは、長手方向D1(第2方向の一例)に平行に延びており、直線状である。第2トリミング溝17Cは、第1トリミング溝16Cの短手方向第1側に配置されている。第3トリミング溝18Cは、第1トリミング溝16Cの短手方向第2側に配置されている。
A meandering forming
第1トリミング溝16Cは、抵抗値調整部12Cの第2縁14C(溝開始縁の一例)から長手方向第1側に延びる直線部16C1と、直線部16C1の長手方向第1側の端に形成された折返し部16C2とを有している。折返し部16C2は、絶縁基板2Cの厚さ方向からの平面視において半円弧形状である折曲げ部分と、直線部16C1に対して折返して直線部16C1と平行に延びる先端直線部とを有している。
The
第2トリミング溝17Cは、抵抗値調整部12の第2縁14Cから長手方向第1側に延びる直線部17C1と、直線部17C1の長手方向第1側の端に形成された折返し部17C2とを有している。折返し部17C2は、絶縁基板2Cの厚さ方向からの平面視において半円弧形状である折曲げ部分と、直線部17C1に対して折返して直線部17C1と平行に延びる先端直線部とを有している。
The
第3トリミング溝18Cは、抵抗値調整部12の第2縁14Cから長手方向第1側に延びる直線部18C1と、直線部18C1の長手方向第1側の端に形成された折返し部18C2とを有している。折返し部18C2は、絶縁基板2の厚さ方向からの平面視において半円弧形状である折曲げ部分と、直線部18C1に対して折返して直線部18C1と平行に延びる先端直線部とを有している。
The
以上に述べたように、第2トリミング溝17Cの折返し部17C2と第3トリミング溝18Cの折返し部18C2の折曲げ方向は第1トリミング溝16C側であって、各溝は互いに交差していない。
As described above, the folding direction of the folded portion 17C2 of the
第1トリミング溝16Cは、第2トリミング溝17C及び第3トリミング溝18Cより長手方向D1に長く延びている。つまり、第1トリミング溝16Cの延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)は、第2トリミング溝17C及び第3トリミング溝18Cの延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)よりも長手方向第1側にある。
The
第2トリミング溝17Cと第3トリミング溝18Cの長手向長さは同じである。つまり、両者の延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)は長手方向D1において同じ位置にある。
The longitudinal lengths of the
上記の構成によって、蛇行形成部15Cの各トリミング溝の両側電位差を、1本のトリミング溝の場合の1/2以下に低減できる。したがって、高い電位差に耐えられる蛇行パターンを形成できる。
The above configuration allows the potential difference between both sides of each trimming groove in the
上記の構成では、各トリミング溝は折返し部を有しているので、トリミング溝の延伸方向の最も先の部分にマイクロクラックが発生しにくい。特に、各折返し部が少なくとも一部に円弧部を有しているので、折返し部先端のコーナ部への電流集中を緩和することができ、負荷特性が向上する。 In the above configuration, since each trimming groove has a folded portion, microcracks are unlikely to occur at the tip end of the trimming groove in the extension direction. In particular, since each folded portion has at least a part of a circular arc portion, current concentration at the corner portion at the tip of the folded portion can be mitigated, improving load characteristics.
より具体的には、第1トリミング溝16Cの先端のマイクロクラックが電流経路と同じ向きになるので、マイクロクラックが成長しても抵抗値がほとんど変化しない、すなわち、抵抗値精度と信頼性が向上する。さらに、第2トリミング溝17C及び第3トリミング溝18Cの先端のマイクロクラックが成長した時の抵抗値変動を小さくできるので、抵抗値精度と信頼性が向上する。
More specifically, because the microcracks at the tip of the
さらに、第2トリミング溝17Cの折返し部17C2及び第3トリミング溝18の折返し部18C2は、短手方向D2において、第1トリミング溝16C側に折返されているので、第2トリミング溝17C及び第3トリミング溝18Cの先端のマイクロクラックの発生場所を、電流のほとんど流れない場所に配置できる。その結果、抵抗値精度と信頼性がさらに向上する。
Furthermore, the folded portion 17C2 of the
上記の第4実施形態では、全てのトリミング溝が折返し部を有していたが、変形例では一部のトリミング溝のみが折返し部を有していてもよい。具体的には、中央溝は折返し部を有していることが好ましいが、他のトリミング溝は折返し部を有していなくてもよい。 In the fourth embodiment described above, all trimming grooves have turned-up portions, but in a modified example, only some of the trimming grooves may have turned-up portions. Specifically, it is preferable that the central groove has a turned-up portion, but the other trimming grooves do not have to have turned-up portions.
(第5実施形態)
上記の第1実施形態及び第2実施形態ではトリミング溝の本数は3本であったが、トリミング溝の本数は奇数であればよいので、第1実施形態及び第2実施形態には限定されない。第5実施形態では、トリミング溝の本数が5本の例を説明する。
Fifth Embodiment
In the above-described first and second embodiments, the number of trimming grooves is three, but the number of trimming grooves may be any odd number, and is not limited to the first and second embodiments. In the fifth embodiment, an example in which the number of trimming grooves is five will be described.
図7を用いて、第5実施形態に係るチップ抵抗器1Dを説明する。なお、チップ抵抗器1Dの基本的構成は第1実施形態に係るチップ抵抗器1と同じなので、異なる点を中心に説明する。
The
抵抗体5Dは、抵抗値調整部12Dと、第1接続部31Dと、第2接続部32Dと、を有している。
The
抵抗値調整部12Dは、絶縁基板2Dの表面21Dの長手方向中間、つまり第1上面電極3Dと第2上面電極4Dの間に離れて配置されている。抵抗値調整部12Dは、後述するようにレーザトリミングによって抵抗体5Dの抵抗値が調整される部分である。なお、抵抗値調整部12Dの短手方向第1側の縁を第1縁13Dとして、短手方向第2側の縁を第2縁14D(溝開始縁の一例)とする。
The resistance
第1接続部31Dと第2接続部32Dは、長手方向D1(第1方向の一例)に並んでいる。第1接続部31Dは、第1矩形部6Dと、第2矩形部7Dと、第3矩形部8D(接続部分の一例)と、を含んでいる。第1矩形部6Dは、第1上面電極3Dの短手方向第1側部分に接続され長手方向第1側に延びる。第2矩形部7Dは、第1矩形部6Dの先端から短手方向第2側に延びる。第3矩形部8Dは、第2矩形部7Dの先端から長手方向第1側に延びて抵抗値調整部12Dの短手方向第2側の端部(第2縁14D側の端部)に接続されている。第3矩形部8Dは、短手方向第1側の縁49D(縁の一例)を有している。
The
第2接続部32Dは、第4矩形部9Dと、第5矩形部10Dと、第6矩形部11D(接続部分の一例)と、を含む。第4矩形部9Dは、第2上面電極4Dの短手方向第1側部分に接続され長手方向第2側に延びる。第5矩形部10Dは、第4矩形部9Dの先端から短手方向第2側に延びる。第6矩形部11Dは、第5矩形部10Dの先端から長手方向第2側に延びて抵抗値調整部12Dの短手方向第2側の端部(第2縁14D側の端部)に接続されている。上述の構成において、第6矩形部11Dは、抵抗値調整部12Dの第2縁14Dの近傍に設けられている。第6矩形部11Dは、短手方向第1側の縁50D(縁の一例)を有している。なお、第3矩形部8Dの縁49Dと第6矩形部11Dの縁50Dの短手方向位置を、電圧基準位置51Dとする。
The
抵抗値調整部12Dには、蛇行形成部15Dが形成されている。蛇行形成部15Dは、抵抗値調整部12Dを蛇行形状とするためのトリミング溝を有している。具体的には、蛇行形成部15Dは、第1トリミング溝16D(中央溝の一例)と、第2トリミング溝17D(両側溝の一例)と、第3トリミング溝18D(両側溝の一例)と、第4トリミング溝19Dと、第5トリミング溝20Dと、を有している。第1トリミング溝16Dと、第2トリミング溝17Dと、第3トリミング溝18Dと、第4トリミング溝19Dと、第5トリミング溝20Dとは、抵抗値調整部12Bの第2縁14Dから短手方向D2(第2方向の一例)に平行に延びており、直線状である。第2トリミング溝17Dは、第1トリミング溝16Dの長手方向第2側に配置されている。第3トリミング溝18Dは、第1トリミング溝16Dの長手方向第1側に配置されている。第4トリミング溝19Dは、第2トリミング溝17Dの長手方向第2側に配置されている。第5トリミング溝20Dは、第3トリミング溝18Dの長手方向第1側に配置されている。
The resistance
第1トリミング溝16Dは、第2トリミング溝17及び第3トリミング溝18より短手方向D2に長く延びている。つまり、第1トリミング溝16Dの延伸方向の最も先の部分(先端面)は、第2トリミング溝17D及び第3トリミング溝18Dの延伸方向の最も先の部分(先端面)よりも短手方向第1側にある。
The
第2トリミング溝17D及び第3トリミング溝18Dは、第4トリミング溝19D及び第5トリミング溝20Dより短手方向D2に長く延びている。第2トリミング溝17Dと第3トリミング溝18Dの短手方向長さは同じである。つまり、両者の延伸方向の最も先の部分(先端面)は短手方向D2において同じ位置にある。
The
第4トリミング溝19Dと第5トリミング溝20Dの短手方向長さは同じであり、つまり、両者の延伸方向の最も先の部分(先端面)は短手方向D2において同じ位置にある。
The short-side lengths of the
以上の構成を別の表現を用いて説明すれば、第2トリミング溝17Dと第3トリミング溝18Dは第1トリミング溝16Dより短く、第4トリミング溝19D及び第5トリミング溝20Dは第2トリミング溝17Dと第3トリミング溝18Dよりも短い。これにより、3本以上の奇数本のトリミング溝のうちの第1方向の中央にあるトリミング溝以外のトリミング溝が第1方向の中央側にある隣のトリミング溝よりも短い構成が実現されている。
To explain the above configuration in another way, the
上記の構成によって、蛇行形成部15Dの各トリミング溝の両側電位差を、1本のトリミング溝の場合の1/2以下に低減できる。したがって、高い電位差に耐えられる蛇行パターンを形成できる。
The above configuration allows the potential difference between both sides of each trimming groove in the meandering forming
電圧基準位置51Dから第1トリミング溝16Dの先端までの短手方向長さをa1とし、電圧基準位置51Dから第2トリミング溝17D及び第3トリミング溝18Dの先端までの短手方向長さをb1とした場合、b1/a1≧0.42かつb1/a1<1.00が成立する。この場合、従来のトリミング溝2本の例に比べて各トリミング溝の溝両側電位差を低減できるので、溝部分の電圧破壊が生じにくく、そのため特性異常を抑制できる。
If the short-side length from the
なお、本実施形態では、b1=(4×a1)/5が成立することが好ましい。この条件は、b1=(2n×a1)/(2n+1)の式から得られる。上記式において、トリミング溝の本数が2n+1(nは正の整数)である。上記の式が成立する場合、各溝の両側電位差を、従来の溝1本の場合に比べてほぼ1/(2n+1)に低減できる。 In this embodiment, it is preferable that b1 = (4 x a1)/5 holds. This condition can be obtained from the formula b1 = (2n x a1)/(2n+1). In the above formula, the number of trimming grooves is 2n+1 (n is a positive integer). When the above formula holds, the potential difference between both sides of each groove can be reduced to approximately 1/(2n+1) compared to the conventional case of a single groove.
さらに、電圧基準位置51Dから第4トリミング溝19D及び第5トリミング溝20Dの先端までの短手方向長さをb2とした場合、b2=(2×a1)/5が成立することが好ましい。この条件は、b2={2×(n―1)×a1}/(2n+1)の式から得られる。
Furthermore, if the short-side length from the
(第6実施形態)
図8を用いて、第6実施形態に係るチップ抵抗器1Eを説明する。なお、チップ抵抗器1Eの基本的構成は第5実施形態に係るチップ抵抗器1Eと同じなので、異なる点を中心に説明する。また、この実施形態では各トリミング溝は折返し部を有しているので、第2実施形態に記載の効果と同じ効果が得られる。ただし、この実施形態では折り返し部の構成及び効果の説明は省略される。
Sixth Embodiment
A
抵抗値調整部12Eには、蛇行形成部15Eが形成されている。蛇行形成部15Eは、抵抗値調整部12Eを蛇行形状とするためのトリミング溝を有している。具体的には、蛇行形成部15Eは、第1トリミング溝16E(中央溝の一例)と、第2トリミング溝17E(両側溝の一例)と、第3トリミング溝18E(両側溝の一例)と、第4トリミング溝19Eと、第5トリミング溝20Eと、を有している。第1トリミング溝16Eと、第2トリミング溝17Eと、第3トリミング溝18Eと、第4トリミング溝19Eと、第5トリミング溝20Eとは、抵抗値調整部12Eの第2縁14E(溝開始縁の一例)から短手方向D2(第2方向)に平行に延びており、直線状である。第2トリミング溝17Eは、第1トリミング溝16Eの長手方向第2側に配置されている。第3トリミング溝18Eは、第1トリミング溝16Eの長手方向第1側に配置されている。第4トリミング溝19Eは、第2トリミング溝17Eの長手方向第2側に配置されている。第5トリミング溝20Eは、第3トリミング溝18Eの長手方向第1側に配置されている。
The resistance
第1トリミング溝16Eは、第2トリミング溝17E及び第3トリミング溝18Eより短手方向D2に長く延びている。つまり、第1トリミング溝16Eの延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)は、第2トリミング溝17E及び第3トリミング溝18Eの延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)よりも短手方向第1側にある。
The
第2トリミング溝17E及び第3トリミング溝18Eは、第4トリミング溝19E及び第5トリミング溝20Eより短手方向D2に長く延びている。第2トリミング溝17Eと第3トリミング溝18Eの短手方向長さは同じであり、つまり、両者の延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)は短手方向D2において同じ位置にある。
The
第4トリミング溝19Eと第5トリミング溝20Eの短手方向長さは同じであり、つまり、両者の延伸方向の最も先の部分(折返し部の頂点)は短手方向D2において同じ位置にある。
The short-side lengths of the
上記の構成によって、蛇行形成部15Eの各トリミング溝の両側電位差を、1本のトリミング溝の場合の1/2以下に低減できる。したがって、高い電位差に耐えられる蛇行パターンを形成できる。
The above configuration allows the potential difference between both sides of each trimming groove in the meandering forming
(変形例)
上述の各実施形態は、本開示の様々な実施形態の一つに過ぎない。上述の実施形態は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。以下、上述の実施形態の変形例を列挙する。以下に説明する変形例は、適宜組み合わせて適用可能である。
(Modification)
The above-described embodiments are merely one of various embodiments of the present disclosure. The above-described embodiments can be modified in various ways depending on the design and the like as long as the object of the present disclosure can be achieved. Below, modified examples of the above-described embodiments are listed. The modified examples described below can be applied in appropriate combination.
トリミング溝の本数は、7本以上の奇数であってもよい。 The number of trimming grooves may be an odd number greater than or equal to seven.
第2トリミング溝と第3トリミング溝の長さは異なっていてもよく、例えば±5%の差があってもよい。 The lengths of the second and third trimming grooves may differ, for example by ±5%.
第4トリミング溝と第5トリミングの長さは異なっていてもよく、例えば±5%の差があってもよい。 The lengths of the fourth and fifth trimming grooves may differ, for example by ±5%.
チップ抵抗器1は薄膜チップ抵抗器であってもよい。
The
トリミング溝の折返し部は半円弧形状である折曲げ部と先端直線部の組み合わせに限定されない。ただし、折返し部は、角が無くつまり滑らかであることが好ましい。 The folded portion of the trimming groove is not limited to a combination of a semicircular arc-shaped folded portion and a straight tip portion. However, it is preferable that the folded portion be smooth, i.e., without corners.
トリミング溝の折返し部は、溝開始縁側に向かって延びていなくてもよい。例えば、折り返し部は直線部に交差する方向に延びていてもよい。 The folded portion of the trimming groove does not have to extend toward the groove starting edge. For example, the folded portion may extend in a direction that intersects with the straight portion.
(態様)
本明細書には、以下の態様が開示されている。
(Aspects)
The present specification discloses the following aspects.
第1の態様に係るチップ抵抗器(1、1A、1B、1C、1D、1E)は、基板(2、2A、2B、2C、2D)と、一対の電極(3、3B、3D、4、4B、4D)と、抵抗体(5、5A、5B、5C、5D)とを備えている。一対の電極(3、3B、3D、4、4B、4D)は、基板(2、2A、2B、2C、2D)の一面(21、21B、21D)の両端に設けられている。抵抗体(5、5A、5B、5C、5D)は、基板(2、2A、2B、2C、2D)の一面(21)において一対の電極(3、3B、3D、4、4B、4D)の間に設けられている。抵抗体(5、5A、5B、5C、5D)は、一対の電極(3、3B、3D、4、4B、4D)にそれぞれ接続された一対の接続部(31、31D、32、32D)と、一対の接続部(31、31D、32、32D)の間に設けられた抵抗値調整部(12、12A、12B、12C、12D、12E)と、を有している。抵抗値調整部(12、12A、12B、12C、12D、12E)には、抵抗値調整部(12、12A、12B、12C、12D、12E)を蛇行形状とするための蛇行形成部(15、15A、15B、15C、15D、15E)が形成されている。蛇行形成部(15、15A、15B、15C、15D、15E)は、3本以上の奇数本のトリミング溝(16、16A、16B、16C、16D、16E、17、17A、17B、17C、17D、17E、18、18A、18B、18C、18D、18E)を有している。3本以上の奇数本のトリミング溝(16、16A、16B、16C、16D、16E、17、17A、17B、17C、17D、17E、18、18A、18B、18C、18D、18E)の各々は、抵抗値調整部(12、12A、12B、12C、12D、12E)の溝開始縁(14、14A、14B、14C、14D、14E)から一対の接続部(31、31D、32、32D)が並ぶ第1方向に直交する第2方向に沿って延びる直線部を有している。3本以上の奇数本のトリミング溝(16、16A、16B、16C、16D、16E、17、17A、17B、17C、17D、17E、18、18A、18B、18C、18D、18E)のうちの第1方向の中央にあるトリミング溝以外のトリミング溝が第1方向の中央側にある隣のトリミング溝よりも短い。 The chip resistor (1, 1A, 1B, 1C, 1D, 1E) according to the first aspect comprises a substrate (2, 2A, 2B, 2C, 2D), a pair of electrodes (3, 3B, 3D, 4, 4B, 4D), and a resistor (5, 5A, 5B, 5C, 5D). The pair of electrodes (3, 3B, 3D, 4, 4B, 4D) are provided at both ends of one surface (21, 21B, 21D) of the substrate (2, 2A, 2B, 2C, 2D). The resistor (5, 5A, 5B, 5C, 5D) is provided between the pair of electrodes (3, 3B, 3D, 4, 4B, 4D) on one surface (21) of the substrate (2, 2A, 2B, 2C, 2D). The resistor (5, 5A, 5B, 5C, 5D) has a pair of connection parts (31, 31D, 32, 32D) respectively connected to a pair of electrodes (3, 3B, 3D, 4, 4B, 4D) and a resistance value adjustment part (12, 12A, 12B, 12C, 12D, 12E) provided between the pair of connection parts (31, 31D, 32, 32D). The resistance value adjustment part (12, 12A, 12B, 12C, 12D, 12E) has a meandering forming part (15, 15A, 15B, 15C, 15D, 15E) formed therein for forming the resistance value adjustment part (12, 12A, 12B, 12C, 12D, 12E) into a meandering shape. The meandering forming portion (15, 15A, 15B, 15C, 15D, 15E) has three or more odd number of trimming grooves (16, 16A, 16B, 16C, 16D, 16E, 17, 17A, 17B, 17C, 17D, 17E, 18, 18A, 18B, 18C, 18D, 18E). Each of the three or more odd-numbered trimming grooves (16, 16A, 16B, 16C, 16D, 16E, 17, 17A, 17B, 17C, 17D, 17E, 18, 18A, 18B, 18C, 18D, 18E) has a straight portion extending from the groove starting edge (14, 14A, 14B, 14C, 14D, 14E) of the resistance value adjustment portion (12, 12A, 12B, 12C, 12D, 12E) along a second direction perpendicular to the first direction in which the pair of connection portions (31, 31D, 32, 32D) are aligned. Of the three or more odd number of trimming grooves (16, 16A, 16B, 16C, 16D, 16E, 17, 17A, 17B, 17C, 17D, 17E, 18, 18A, 18B, 18C, 18D, 18E), the trimming grooves other than the one located in the center in the first direction are shorter than the adjacent trimming groove located toward the center in the first direction.
この態様によれば、蛇行形成部の各トリミング溝の溝両側電位差を、1本のトリミング溝の場合の1/2以下に低減できる。したがって、高い電位差に耐えられる蛇行パターンを形成できる。 According to this aspect, the potential difference between both sides of each trimming groove in the meandering formation section can be reduced to less than half that of a single trimming groove. Therefore, a meandering pattern that can withstand a high potential difference can be formed.
第2の態様に係るチップ抵抗器では、第1の態様において、一対の接続部(31、31D、32、32D)の少なくとも一方は、抵抗値調整部(12)の溝開始縁側の端部に接続された接続部分を有している。接続部分(6、11)の溝開始縁(14、14A、14B、14C、14D、14E)と反対側の縁(49、50)から3本以上の奇数本のトリミング溝(16、17、18)のうちの中央溝(16)の先端までの第2方向長さをa1とし、接続部分(6、11)の縁(49、50)から中央溝(16)の両側にある両側溝(17、18)の先端までの第2方向長さをb1とした場合、0.4≦b1/a1<1.00が成立する。 In the chip resistor according to the second aspect, in the first aspect, at least one of the pair of connection parts (31, 31D, 32, 32D) has a connection part connected to the end of the resistance value adjustment part (12) on the groove starting edge side. If the second direction length from the edge (49, 50) of the connection part (6, 11) opposite the groove starting edge (14, 14A, 14B, 14C, 14D, 14E) to the tip of the central groove (16) of the three or more odd number of trimming grooves (16, 17, 18) is a1, and the second direction length from the edge (49, 50) of the connection part (6, 11) to the tips of the side grooves (17, 18) on both sides of the central groove (16) is b1, then 0.4≦b1/a1<1.00 is satisfied.
この態様によれば、従来のトリミング溝2本の例に比べて各トリミング溝両岸の電位差を低減できるので、溝部分の電圧破壊が生じにくく、そのため特性異常を抑制できる。 According to this embodiment, the potential difference between both sides of each trimming groove can be reduced compared to the conventional example with two trimming grooves, making it less likely that voltage breakdown will occur in the groove portion, and therefore suppressing characteristic abnormalities.
第3の態様に係るチップ抵抗器では、第1又は第2の態様において、トリミング溝(16、17、18)の本数が2n+1(nは正の整数)の場合、両側溝(17、18)については、b1=(2n×a1)/(2n+1)が成立する。 In the chip resistor according to the third aspect, in the first or second aspect, when the number of trimming grooves (16, 17, 18) is 2n+1 (n is a positive integer), b1 = (2n x a1)/(2n+1) holds for the side grooves (17, 18).
この態様によれば、従来のトリミング溝2本の例に比べて各トリミング溝の溝両側電位差を低減できるので、溝部分の電圧破壊が生じにくく、そのため特性異常を抑制できる。 According to this embodiment, the potential difference on both sides of each trimming groove can be reduced compared to the conventional example of two trimming grooves, making it less likely that voltage breakdown will occur in the groove portion, and therefore suppressing characteristic abnormalities.
第4の態様に係るチップ抵抗器(1D)では、第1~第3の態様のいずれかにおいて、トリミング溝の本数が5本の場合、接続部分(8D、11D)の縁(49D、50D)から両側溝(16D、17D)の中央溝(16D)と反対側にある溝(19D、20D)の先端までの第2方向長さをb2とした場合、b2={2×(n―1)×a1}/(2n+1)が成立する。 In the chip resistor (1D) according to the fourth aspect, in any of the first to third aspects, when the number of trimming grooves is five, if the second direction length from the edge (49D, 50D) of the connection portion (8D, 11D) to the tip of the groove (19D, 20D) on the opposite side of the central groove (16D) of the side grooves (16D, 17D) is b2, then b2 = {2 x (n-1) x a1}/(2n+1) holds.
この態様によれば、従来のトリミング溝2本の例に比べて各トリミング溝の溝両側電位差を低減できるので、溝部分の電圧破壊が生じにくく、そのため特性異常を抑制できる。 According to this embodiment, the potential difference on both sides of each trimming groove can be reduced compared to the conventional example of two trimming grooves, making it less likely that voltage breakdown will occur in the groove portion, and therefore suppressing characteristic abnormalities.
第5の態様に係るチップ抵抗器(1A、1C、1E)では、第1~第4の態様のいずれかにおいて、中央溝(16A、16C、16E)は、直線部(16A1、16C1)の先端から折返し方向に曲げられて延びる折返し部(16A2、16C2)を更に有している。 In the chip resistor (1A, 1C, 1E) according to the fifth aspect, in any of the first to fourth aspects, the central groove (16A, 16C, 16E) further has a folded portion (16A2, 16C2) that extends from the tip of the straight portion (16A1, 16C1) and is bent in the folded direction.
この態様によれば、中央溝が折返し部を有しているので、中央溝の延伸方向の最も先の部分にマイクロクラックが発生しにくい。 According to this embodiment, since the central groove has a folded portion, microcracks are less likely to occur at the most distal part of the central groove in the extension direction.
第6の態様に係るチップ抵抗器(1A、1C、1E)では、第5の態様において、全てのトリミング溝(16A、17A、18A、16C、17C、18C、16E、17E、18E、19E、20E)は、前記直線部(17A1、18A1、17C1、18C1)の先端から折返し方向に曲げられて延びる折返し部(17A2、18A2、17C2、18C2)を有している。 In the chip resistor (1A, 1C, 1E) according to the sixth aspect, in the fifth aspect, all trimming grooves (16A, 17A, 18A, 16C, 17C, 18C, 16E, 17E, 18E, 19E, 20E) have folded portions (17A2, 18A2, 17C2, 18C2) that extend from the tip of the straight portion (17A1, 18A1, 17C1, 18C1) in a folded direction.
この態様によれば、すべてのトリミング溝が折返し部を有しているので、すべてのトリミング溝の延伸方向の最も先の部分にマイクロクラックが発生しにくい。 According to this aspect, since all trimming grooves have a folded portion, microcracks are unlikely to occur at the most distal part of each trimming groove in the extension direction.
第7の態様に係るチップ抵抗器(1A、1C、1E)では、第6の態様において、中央溝(16A、16C、17C)以外のトリミング溝(17A、18A、17C、18C、17E,18E、19E、20E)の折返し部(17A2、18A2、17C2、18C2)は、中央溝(16A、16C、16E)側に曲げられている。 In the chip resistor (1A, 1C, 1E) according to the seventh aspect, in the sixth aspect, the folded portions (17A2, 18A2, 17C2, 18C2) of the trimming grooves (17A, 18A, 17C, 18C, 17E, 18E, 19E, 20E) other than the central groove (16A, 16C, 17C) are bent toward the central groove (16A, 16C, 16E).
この態様によれば、中央溝以外のトリミング溝の先端のマイクロクラックの発生場所を、電流のほとんど流れない場所に配置できる。その結果、抵抗値精度と信頼性がさらに向上する。 According to this embodiment, the location where microcracks occur at the tip of the trimming groove other than the central groove can be located in a location where almost no current flows. As a result, the resistance value precision and reliability are further improved.
第8の態様に係るチップ抵抗器(1A、1C、1E)では、第7の態様において、トリミング溝の折返し部(16A2、17A2、18A2、17C2、18C2)は、少なくとも一部に円弧部を有している。 In the chip resistor (1A, 1C, 1E) according to the eighth aspect, in the seventh aspect, the folded portion (16A2, 17A2, 18A2, 17C2, 18C2) of the trimming groove has at least a part of an arcuate portion.
この態様によれば、折返し部が一部に円弧部を有しているので、トリミング溝の延伸方向の最も先の部分にマイクロクラックが発生しにくい。 According to this embodiment, since the folded portion has an arcuate portion in part, microcracks are less likely to occur at the tip end of the trimming groove in the extension direction.
1、1A、1B、1C、1D、1E:チップ抵抗器
2、2A、2B、2C、2D:絶縁基板(基板)
3、3B、3D:第1上面電極(電極)
4、4B、4D:第2上面電極(電極)
5、5A、5B、5C、5D:抵抗体
12、12A、12B、12C、12D、12E:抵抗値調整部
14、14A、14B、14C、14D、14E:第2縁(溝開始縁)
15、15A、15B、15C、15D、15E:蛇行形成部
16、16A、16B、16C、16D、16E:第1トリミング溝(中央溝)
17、17A、17B、17C、17D、17E:第2トリミング溝
18、18A、18B、18C、18D、18E:第3トリミング溝
16A1、16C1、17A1、17C1、18A1、18C1:直線部
16A2、16C2、17A2、17C2、18A2、18C2:折返し部
21、21B、21D:表面
31、31D:第1接続部
32、32D:第2接続部
1, 1A, 1B, 1C, 1D, 1E:
3, 3B, 3D: First upper electrode (electrode)
4, 4B, 4D: Second upper surface electrode (electrode)
5, 5A, 5B, 5C, 5D:
15, 15A, 15B, 15C, 15D, 15E: meandering forming
17, 17A, 17B, 17C, 17D, 17E: second trimming
Claims (8)
前記基板の一面の両端に設けられた一対の電極と、
前記基板の前記一面において前記一対の電極の間に設けられた抵抗体と、を備え、
前記抵抗体は、
前記一対の電極にそれぞれ接続された一対の接続部と、
前記一対の接続部の間に設けられた抵抗値調整部と、を有しており、
前記抵抗値調整部には、前記抵抗値調整部を蛇行形状とするための蛇行形成部が形成されており、
前記蛇行形成部は、3本以上の奇数本のトリミング溝を有しており、
前記3本以上の奇数本のトリミング溝の各々は、前記抵抗値調整部の溝開始縁から前記一対の接続部が並ぶ第1方向に直交する第2方向に沿って延びる直線部を有しており、
前記3本以上の奇数本のトリミング溝のうちの前記第1方向の中央にあるトリミング溝以外のトリミング溝が前記第1方向の中央側にある隣のトリミング溝よりも短い、
チップ抵抗器。 A substrate;
A pair of electrodes provided on both ends of one surface of the substrate;
a resistor provided between the pair of electrodes on the one surface of the substrate,
The resistor is
A pair of connection parts respectively connected to the pair of electrodes;
a resistance value adjusting portion provided between the pair of connection portions,
a meandering forming portion for forming the resistance value adjustment portion into a meandering shape is formed in the resistance value adjustment portion,
The meandering forming portion has an odd number of trimming grooves, which is three or more;
each of the three or more odd number of trimming grooves has a straight line portion extending from a groove starting edge of the resistance value adjustment portion along a second direction perpendicular to a first direction in which the pair of connection portions are aligned,
Among the three or more odd number of trimming grooves, a trimming groove other than the trimming groove located at the center in the first direction is shorter than an adjacent trimming groove located at the center in the first direction.
Chip resistors.
前記接続部分の前記溝開始縁と反対側の縁から前記3本以上の奇数本のトリミング溝のうちの中央溝の先端までの第2方向長さをa1とし、前記接続部分の前記縁から前記中央溝の両側にある両側溝の先端までの第2方向長さをb1とした場合、0.42≦b1/a1<1.00が成立する、
請求項1に記載のチップ抵抗器。 At least one of the pair of connection parts has a connection part connected to an end part of the resistance value adjustment part on the groove starting edge side,
When a1 is a second direction length from an edge of the connecting portion opposite to the groove start edge to a tip of a central groove among the three or more odd number of trimming grooves, and b1 is a second direction length from the edge of the connecting portion to tips of both side grooves on both sides of the central groove, 0.42≦b1/a1<1.00 is satisfied.
The chip resistor according to claim 1 .
請求項2に記載のチップ抵抗器。 When the number of the trimming grooves is 2n+1 (n is a positive integer), the relationship b1=(2n×a1)/(2n+1) is satisfied for the side grooves.
The chip resistor according to claim 2 .
請求項3に記載のチップ抵抗器。 When the number of the trimming grooves is five, if the length in the second direction from the edge of the connection portion to the tip of the groove on the opposite side to the central groove of the side grooves is b2, then b2 = {2 × (n-1) × a1} / (2n + 1) is satisfied.
The chip resistor according to claim 3 .
請求項2~4のいずれかに記載のチップ抵抗器。 The central groove further has a folded portion that is bent and extends from a tip of the straight portion in a folded direction.
The chip resistor according to any one of claims 2 to 4.
請求項5に記載のチップ抵抗器。 All of the trimming grooves have a folded portion that extends from a tip of the straight portion in a folded direction.
The chip resistor according to claim 5 .
請求項6に記載のチップ抵抗器。 The folded portion of the trimming groove other than the central groove is bent toward the central groove.
The chip resistor according to claim 6 .
請求項7に記載のチップ抵抗器。 The folded portion of the trimming groove has at least a part of an arcuate portion.
The chip resistor according to claim 7.
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