JP2024076639A - Standby Control Device - Google Patents

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Abstract

【課題】分析装置の制御装置が故障した場合における分析装置の安全状態を担保できる予備制御装置を提供することである。【解決手段】予備制御装置(予備制御装置1)は、真空制御部(真空制御部52)が実行する制御に対応する第1制御を実行可能な第1制御部(第1制御部81)と、移動制御部(移動制御部53)が実行する制御に対応する第2制御を実行可能な第2制御部(第2制御部82)とを備え、第1制御部(第1制御部81)と真空装置(真空装置9)とが第1制御配線(制御配線71,72)で接続され、第2制御部(第2制御部82)と移動装置(移動装置10)とが第2制御配線(制御配線73,74)で接続された場合に、第1制御部(第1制御部81)が真空制御部(真空制御部52)の代わりに真空装置(真空装置9)を制御可能となり、第2制御部(第2制御部82)が移動制御部(移動制御部53)の代わりに移動装置(移動装置10)を制御可能となる。【選択図】図6[Problem] To provide a standby control device that can ensure the safety of an analytical device when a control device of the analytical device breaks down. [Solution] The standby control device (standby control device 1) includes a first control unit (first control unit 81) capable of executing a first control corresponding to a control executed by a vacuum control unit (vacuum control unit 52), and a second control unit (second control unit 82) capable of executing a second control corresponding to a control executed by a movement control unit (movement control unit 53). When the first control unit (first control unit 81) and a vacuum device (vacuum device 9) are connected by first control wiring (control wirings 71, 72), and the second control unit (second control unit 82) and a movement device (movement device 10) are connected by second control wiring (control wirings 73, 74), the first control unit (first control unit 81) can control the vacuum device (vacuum device 9) instead of the vacuum control unit (vacuum control unit 52), and the second control unit (second control unit 82) can control the movement device (movement device 10) instead of the movement control unit (movement control unit 53). [Selected Figure] FIG.

Description

本発明は、予備制御装置に関する。 The present invention relates to a standby control device.

EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)等のような試料を分析する分析装置においては、試料を搭載するステージ、電子線の照射装置、および、特性X線の検出器等が真空チャンバ内に設けられ、分析対象の試料が試料搬送装置により、真空チャンバ内に搬入される。 In analytical instruments for analyzing samples, such as EPMA (Electron Probe Micro Analyzer), a stage for mounting the sample, an electron beam irradiation device, and a characteristic X-ray detector are installed in a vacuum chamber, and the sample to be analyzed is transported into the vacuum chamber by a sample transport device.

このような分析装置は、例えば放射性物質のように安全管理が必要な試料を分析する場合がある。その場合、分析装置は、真空チャンバおよび試料搬送装置が、人の立入が制限される管理区域内に設置される。一方、このような分析装置に含まれる制御装置は、人による保守管理が容易になるように、管理区域外に設置される。 Such analytical equipment may analyze samples that require safety management, such as radioactive materials. In such cases, the analytical equipment, including the vacuum chamber and sample transport device, is installed in a controlled area where human access is restricted. On the other hand, the control device included in such analytical equipment is installed outside the controlled area to facilitate manual maintenance.

このような安全管理が必要な試料を分析する分析装置では、例えば制御装置が故障した場合のような緊急時において、安全管理が保たれるようにすることが求められる。 In analytical devices that analyze samples that require such safety management, it is necessary to ensure that safety management is maintained in the event of an emergency, such as when the control device breaks down.

安全管理が必要な試料は、分析装置での分析を受ける場合以外は、安全管理がされた保管庫内に保管される。分析装置では、制御装置が故障すると、真空チャンバの真空制御および試料搬送装置の搬送制御が正常に実行できずに、例えば真空チャンバ内から試料が長期間にわたり取り出せなくなる等、安全状態が保てなくなるおそれがある。 Samples that require safety management are stored in a safe storage facility unless they are being analyzed by analytical equipment. If the control device of an analytical equipment breaks down, the vacuum control of the vacuum chamber and the transport control of the sample transport device cannot be performed normally, and there is a risk that a safe state will not be maintained, for example, samples will not be able to be removed from the vacuum chamber for a long period of time.

緊急時において安全管理をすることが可能な分析装置としては、予備電源、主電源給電経路と予備電源給電回路とを切り替えるスイッチ手段、主電源の停電を検知する停電検知手段、および、停電検知手段の検知結果に応じて、上記スイッチ手段が動作し、給電経路を切り替えるように構成された磁気共鳴イメージング装置(MRI装置)がある(特許文献1)。 An analytical device capable of managing safety in an emergency is a magnetic resonance imaging device (MRI device) that is configured to have a backup power source, a switch means for switching between a main power supply path and a backup power supply circuit, a power failure detection means for detecting a power failure in the main power source, and the switch means operates to switch the power supply path depending on the detection result of the power failure detection means (Patent Document 1).

特開2003-204948号公報JP 2003-204948 A

しかし、例えば特許文献1のような従来の技術は、停電が検知されると給電経路を切り替える技術に留まるものであり、制御装置が故障した場合における分析装置の安全状態を担保することが可能となるものではなかった。 However, conventional technologies such as those described in Patent Document 1 only switch the power supply path when a power outage is detected, and do not ensure the safety of the analytical device in the event of a failure of the control device.

この発明は、かかる問題を解決するためになされたものであり、分析装置の制御装置が故障した場合における分析装置の安全状態を担保できる予備制御装置を提供することである。 This invention was made to solve this problem by providing a standby control device that can ensure the safety of the analytical device in the event that the control device of the analytical device fails.

この発明のある局面に従う予備制御装置は、分析対象の試料に電子線を照射する空間を真空にする真空装置、および、空間の内部と空間の外部との間で試料を移動させる移動装置を有する駆動装置と、移動装置を制御する移動制御部、および、真空装置を制御する真空制御部を有する制御装置とを含む分析装置に接続可能な予備制御装置であって、真空制御部が実行する制御に対応する第1制御を実行可能な第1制御部と、移動制御部が実行する制御に対応する第2制御を実行可能な第2制御部とを備え、第1制御部と真空装置とが第1制御配線で接続され、第2制御部と移動装置とが第2制御配線で接続された場合に、第1制御部が真空制御部の代わりに真空装置を制御可能となり、第2制御部が真空制御部の代わりに移動装置を制御可能となる。 A backup control device according to one aspect of the present invention is a backup control device connectable to an analytical device including a vacuum device that evacuates a space in which an electron beam is irradiated onto a sample to be analyzed, a drive device having a moving device that moves the sample between the inside and outside of the space, a moving control unit that controls the moving device, and a control device having a vacuum control unit that controls the vacuum device, and includes a first control unit capable of executing a first control corresponding to the control executed by the vacuum control unit, and a second control unit capable of executing a second control corresponding to the control executed by the moving control unit, and when the first control unit and the vacuum device are connected by a first control wiring and the second control unit and the moving device are connected by a second control wiring, the first control unit can control the vacuum device in place of the vacuum control unit, and the second control unit can control the moving device in place of the vacuum control unit.

第1制御部と真空装置とが第1制御配線で接続され、第2制御部と移動装置とが第2制御配線で接続された場合に、第1制御部が真空制御部の代わりに真空装置を制御可能となり、第2制御部が移動制御部の代わりに移動装置を制御可能となるので、分析装置の制御装置が故障した場合における分析装置の安全状態を担保できる。 When the first control unit and the vacuum device are connected by a first control wiring and the second control unit and the moving device are connected by a second control wiring, the first control unit can control the vacuum device instead of the vacuum control unit, and the second control unit can control the moving device instead of the moving control unit, thereby ensuring the safety of the analytical device in the event that the control device of the analytical device fails.

分析装置が設けられた領域における構成要素の配置を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the arrangement of components in an area where an analysis device is provided. 分析装置における測定チャンバおよび試料導入チャンバ内の構成を示す断面図である。3 is a cross-sectional view showing the internal configuration of a measurement chamber and a sample introduction chamber in the analysis device. FIG. コンピュータシステムと制御装置との関係を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing the relationship between a computer system and a control device. 制御装置が故障していない場合の制御装置と駆動装置との関係を示すブロック図である。4 is a block diagram showing the relationship between the control device and the drive device when the control device is not malfunctioning. FIG. 予備制御装置の外観を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the appearance of the standby control device. 制御装置が故障した場合の予備制御装置と駆動装置との関係を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing the relationship between a standby control device and a drive device in the event that a control device fails.

以下に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、以下では図中の同一または相当部分には同一の符号を付して、その説明は原則的に繰返さないものとする。以下では、実施の形態について複数種類の構成を説明するが、各構成を適宜組み合わせることは出願当初から予定されている。 Below, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that, below, the same or corresponding parts in the drawings will be given the same reference numerals, and in principle, their description will not be repeated. Below, several types of configurations will be described for the embodiment, but it is intended from the beginning of the application that each configuration will be appropriately combined.

以下の実施の形態では、図1~図6を用いて、分析装置3(図1)の制御装置5(図1)が故障した場合に各種の制御を行なう予備制御装置1(図1)を説明する。図4に示す予備制御装置1は、分析対象の試料8(図2)に電子線を照射する空間を真空にする真空装置9(図4)、および、当該空間の内部と当該空間の外部との間で試料を移動させる移動装置10(図4)を有する駆動装置7(図4)と、真空装置9(図4)を制御する真空制御部52(図4)、および、移動装置10(図4)を制御する移動制御部53(図4)を有する制御装置5(図4)とを含む分析装置3(図4)に接続可能な予備制御装置1(図4)であって、制御装置5(図4)が故障した場合に、図6に示すように、制御装置5(図6)の代わりに真空装置9(図6)および移動装置10(図6)を制御する。 In the following embodiment, a standby control device 1 (FIG. 1) that performs various controls when the control device 5 (FIG. 1) of the analysis device 3 (FIG. 1) fails will be described with reference to FIGS. 1 to 6. The standby control device 1 shown in FIG. 4 is a standby control device 1 (FIG. 4) that can be connected to an analysis device 3 (FIG. 4) that includes a vacuum device 9 (FIG. 4) that evacuates the space in which the sample 8 (FIG. 2) to be analyzed is irradiated with an electron beam, a driving device 7 (FIG. 4) having a moving device 10 (FIG. 4) that moves the sample between the inside and outside of the space, a vacuum control unit 52 (FIG. 4) that controls the vacuum device 9 (FIG. 4), and a moving control unit 53 (FIG. 4) that controls the moving device 10 (FIG. 4). When the control device 5 (FIG. 4) fails, the standby control device 1 (FIG. 4) controls the vacuum device 9 (FIG. 6) and the moving device 10 (FIG. 6) instead of the control device 5 (FIG. 6) as shown in FIG. 6.

[分析装置3の構成要素の配置]
図1は、分析装置3が設けられた領域における構成要素の配置を示す平面図である。図2は、分析装置3における測定チャンバ11および試料導入チャンバ12内の構成を示す断面図である。
[Layout of components of analysis device 3]
Fig. 1 is a plan view showing the arrangement of components in an area where an analysis device 3 is provided. Fig. 2 is a cross-sectional view showing the internal configuration of a measurement chamber 11 and a sample introduction chamber 12 in the analysis device 3.

この実施の形態では、試料を分析する分析装置3の一例として、EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)を一例として示すが、分析装置3は、SEM(Scanning Electron Microscope)-EDS(Energy Dispersive x-ray Spectroscopy)等のその他の種類の分析装置であってもよい。 In this embodiment, an EPMA (Electron Probe Micro Analyzer) is shown as an example of the analytical device 3 that analyzes the sample, but the analytical device 3 may be other types of analytical devices such as a SEM (Scanning Electron Microscope)-EDS (Energy Dispersive x-ray Spectroscopy).

図1および図2を参照して、分析装置3は、主な構成要素として、測定チャンバ11、試料導入チャンバ12、蓋体13、試料搬送装置2、試料ホルダ40、ステージ30、電子銃31、検出器32、ゲートドア15、コンピュータシステム4、および、制御装置5を含む。分析装置3の分析対象である試料8は、放射物質よりなる試料である。 Referring to Figures 1 and 2, the main components of the analytical device 3 include a measurement chamber 11, a sample introduction chamber 12, a lid 13, a sample transport device 2, a sample holder 40, a stage 30, an electron gun 31, a detector 32, a gate door 15, a computer system 4, and a control device 5. The sample 8 to be analyzed by the analytical device 3 is a sample made of a radioactive material.

図1に示すように、放射線を遮蔽する壁部によって内部空間が外部空間から隔離された遮蔽施設である鉄セル6の内部に、測定チャンバ11および試料導入チャンバ12が設けられる。 As shown in FIG. 1, a measurement chamber 11 and a sample introduction chamber 12 are provided inside an iron cell 6, which is a shielded facility whose internal space is isolated from the external space by walls that block radiation.

図1に示すように、鉄セル6の周囲には、管理区域100が設定されている。管理区域100の外側においては、一定領域が準管理区域101として設定されている。このような管理区域100および準管理区域101は、試料8からの放射線が人に影響を与えないように管理するために設けられる。 As shown in FIG. 1, a controlled area 100 is set up around the iron cell 6. Outside the controlled area 100, a certain area is set up as a semi-controlled area 101. Such controlled areas 100 and semi-controlled areas 101 are established to ensure that radiation from the sample 8 does not affect people.

管理区域100は、放射線を遮蔽する壁部により周囲が囲まれた施設であり、基本的に、人の立入りが禁止されている領域である。準管理区域101は、許可された人のみが規定の放射線防護対策を施した状態で一定時間に限り立入ることが可能な領域である。準管理区域101は、放射線を遮蔽する壁部により周囲が囲まれた施設である。 The controlled area 100 is a facility surrounded by walls that shield against radiation, and is basically an area where people are prohibited from entering. The semi-controlled area 101 is an area where only authorized people can enter for a certain period of time, with prescribed radiation protection measures in place. The semi-controlled area 101 is a facility surrounded by walls that shield against radiation.

準管理区域101には、分析装置3を制御する制御装置5が設けられる。制御装置5は、矩形の筐体内にコンピュータおよびドライバ等の各種の電子部品が収納されている。準管理区域101の外側には、分析装置3での各種制御の統括的な管理処理、および、元素分析の処理等の各種の演算処理を実行するコンピュータシステム4が設けられる。 A control device 5 that controls the analytical device 3 is provided in the semi-managed area 101. The control device 5 contains various electronic components such as a computer and drivers in a rectangular housing. Outside the semi-managed area 101, a computer system 4 is provided that performs overall management processing of various controls in the analytical device 3 and various calculation processing such as elemental analysis processing.

鉄セル6の外側には、試料8からの放射線を遮蔽した状態で試料8を安全に保管可能な構成を有する保管庫66が設けられる。保管庫66は、例えば放射線を遮蔽する機能に加えて、地震等により物理的な力が作用した場合でも試料8が安全に保持可能な構成を有する。鉄セル6の側部において、保管庫66に対応する位置には、試料8を保管庫66から取出して鉄セル6の内部に取入れたり、試料8を鉄セル6の内部から外部に取出して保管庫66に収容したりするために開閉可能なシャッタ装置65が設けられる。 A storage cabinet 66 is provided outside the iron cell 6, and has a configuration capable of safely storing the sample 8 while shielding it from radiation from the sample 8. The storage cabinet 66 has a configuration capable of safely holding the sample 8 even when a physical force is applied thereto, such as an earthquake, in addition to having a function of shielding radiation. On the side of the iron cell 6, at a position corresponding to the storage cabinet 66, a shutter device 65 is provided that can be opened and closed to remove the sample 8 from the storage cabinet 66 and bring it into the interior of the iron cell 6, or to remove the sample 8 from the interior of the iron cell 6 to the outside and store it in the storage cabinet 66.

準管理区域101には、予備制御装置1が移動可能に設けられる。例えば、予備制御装置1は、人が運搬することにより移動可能である。予備制御装置1は、制御装置5が故障等の不具合により正常に動作しなくなった場合に、制御装置5の代わりに、制御装置5が実行する制御のうちの一部の制御を代替制御として実行する装置である。予備制御装置1は、例えば図1のように制御装置5の上部に載置される。なお、予備制御装置1は、準管理区域101内のどこに置かれてもよい。 A standby control device 1 is provided in the semi-managed area 101 so as to be movable. For example, the standby control device 1 can be moved by being carried by a person. The standby control device 1 is a device that performs some of the controls performed by the control device 5 as alternative control in place of the control device 5 when the control device 5 no longer operates normally due to a malfunction such as a breakdown. The standby control device 1 is placed on top of the control device 5, for example, as shown in FIG. 1. The standby control device 1 may be placed anywhere in the semi-managed area 101.

制御装置5は、分析装置3に含まれる各種機器と配線で接続されている。制御装置5が配線で接続された各種機器には、コンピュータシステム4、真空ポンプおよび真空排気バルブを含む真空装置、試料搬送装置2およびステージ30を含む試料の移動装置、ならびに、電子銃31および検出器32を含む測定装置が含まれる。 The control device 5 is connected by wiring to various devices included in the analysis device 3. The various devices to which the control device 5 is connected by wiring include a computer system 4, a vacuum device including a vacuum pump and a vacuum exhaust valve, a sample moving device including a sample transport device 2 and a stage 30, and a measuring device including an electron gun 31 and a detector 32.

[測定チャンバ11および試料導入チャンバ12の内部の構成]
図2を参照して、測定チャンバ11と試料導入チャンバ12とが隣接して設けられる。測定チャンバ11の内部空間と試料導入チャンバ12の内部空間とは、搬送口16を介して連通している。搬送口16は、モータ等の駆動源により駆動されるゲートドア15により開閉することが可能である。例えば、ゲートドア15は、モータによって駆動されることにより水平方向に移動する扉を備え、その扉が搬送口16を気密的に閉鎖することにより搬送口16を閉状態とし、その閉鎖状態を解除することにより搬送口16を開状態とする。
[Internal configuration of measurement chamber 11 and sample introduction chamber 12]
2, a measurement chamber 11 and a sample introduction chamber 12 are provided adjacent to each other. The internal space of the measurement chamber 11 and the internal space of the sample introduction chamber 12 are in communication with each other via a transfer port 16. The transfer port 16 can be opened and closed by a gate door 15 driven by a driving source such as a motor. For example, the gate door 15 includes a door that moves horizontally when driven by a motor, and the door airtightly closes the transfer port 16 to close the transfer port 16, and releases the closed state to open the transfer port 16.

測定チャンバ11内には、電子銃31、検出器32、および、ステージ30が設けられる。検出器32は、図1に示すように、ステージ30の周囲において、放射状に分配する態様で複数配置される。測定チャンバ11内および試料導入チャンバ12内には、搬送口16を介して、試料搬送装置2が延在する態様で設けられる。 In the measurement chamber 11, an electron gun 31, a detector 32, and a stage 30 are provided. As shown in FIG. 1, a plurality of detectors 32 are arranged in a radially distributed manner around the stage 30. In the measurement chamber 11 and the sample introduction chamber 12, a sample transport device 2 is provided extending through a transport port 16.

試料導入チャンバ12の上部壁には、試料導入チャンバ12の外部から内部への試料8の導入、および、試料導入チャンバ12の内部から外部への試料8の導出をすることが可能な開口17が設けられる。試料導入チャンバ12において、開口17の上部には、開口17を開状態または閉状態とするために開口17に取付けられる蓋体13が設けられる。蓋体13は、気密性の蓋体である。開口17の上側に蓋体13が取付けられると、開口17は閉状態となり、試料導入チャンバ12の内部と外部との間の通気が遮断される。 The upper wall of the sample introduction chamber 12 is provided with an opening 17 that allows the introduction of sample 8 from the outside to the inside of the sample introduction chamber 12 and the withdrawal of sample 8 from the inside of the sample introduction chamber 12 to the outside. In the sample introduction chamber 12, a lid 13 is provided above the opening 17 to open or close the opening 17. The lid 13 is an airtight lid. When the lid 13 is attached to the top of the opening 17, the opening 17 is closed and ventilation between the inside and outside of the sample introduction chamber 12 is blocked.

試料導入チャンバ12の上部壁には、試料導入チャンバ12の外部から内部への試料8の導入、および、試料導入チャンバ12の内部から外部への試料8の導出をすることが可能な開口17が設けられる。試料導入チャンバ12において、開口17の上部には、開口17を開状態または閉状態とするために開口17に取付けおよび取外しが可能な蓋体13が設けられる。 The upper wall of the sample introduction chamber 12 is provided with an opening 17 that allows the introduction of sample 8 from the outside to the inside of the sample introduction chamber 12 and the withdrawal of sample 8 from the inside to the outside of the sample introduction chamber 12. In the sample introduction chamber 12, a cover 13 that can be attached and detached to the opening 17 is provided above the opening 17 to open or close the opening 17.

蓋体13は、気密性の蓋体であり、鉄セル6の外側に設けられたマニピュレータまたはグローブボックス等を用いて、開口17の上側に取付けられたり、開口17の上側から取外されたりされる。開口17の上側に蓋体13が取付けられると、開口17は閉状態となり、試料導入チャンバ12の内部と外部との間の通気が遮断される。 The lid 13 is an airtight lid, and is attached to or removed from the upper side of the opening 17 using a manipulator or a glove box provided outside the iron cell 6. When the lid 13 is attached to the upper side of the opening 17, the opening 17 is closed, and ventilation between the inside and outside of the sample introduction chamber 12 is blocked.

試料搬送装置2は、レール上に設けられた皿状の試料ホルダ40上に試料8を載置し、レールに沿って試料ホルダ40を移動させることにより、試料8を試料導入チャンバ12の内部空間と測定チャンバ11の内部空間との間で試料を搬送する構成を有する。試料搬送装置2は、試料導入チャンバ12内に設けられた搬送モータの駆動力により、試料ホルダ40上に載置された試料8を搬送する。 The sample transport device 2 is configured to transport the sample 8 between the internal space of the sample introduction chamber 12 and the internal space of the measurement chamber 11 by placing the sample 8 on a dish-shaped sample holder 40 provided on rails and moving the sample holder 40 along the rails. The sample transport device 2 transports the sample 8 placed on the sample holder 40 by the driving force of a transport motor provided in the sample introduction chamber 12.

試料搬送装置2は、一方端部が試料導入チャンバ12の内部にあり、他方端部が測定チャンバ11の内部にある。試料ホルダ40が試料導入チャンバ12の内部にある場合には、マニピュレータまたはグローブボックス等を用いて蓋体13を外し、開口17を介して試料ホルダ40上に試料8を載置することが可能である。試料ホルダ40上に試料8が載置されて測定チャンバ11の内部まで搬送され、試料ホルダ40が試料搬送装置2の他方端部に到達すると、試料8が載置された試料ホルダ40がステージ30上に配置される。これにより、測定チャンバ11の内部に搬送された試料8は、ステージ30によりX,Y,Z方向(水平方向および垂直方向)に移動させられる。 One end of the sample transport device 2 is inside the sample introduction chamber 12, and the other end is inside the measurement chamber 11. When the sample holder 40 is inside the sample introduction chamber 12, it is possible to remove the lid 13 using a manipulator or a glove box, and place the sample 8 on the sample holder 40 through the opening 17. The sample 8 is placed on the sample holder 40 and transported to the inside of the measurement chamber 11. When the sample holder 40 reaches the other end of the sample transport device 2, the sample holder 40 on which the sample 8 is placed is placed on the stage 30. As a result, the sample 8 transported inside the measurement chamber 11 is moved in the X, Y, and Z directions (horizontal and vertical directions) by the stage 30.

測定チャンバ11の内部は、基本的に真空状態に保持される。ステージ30により試料8の位置が調整された後、試料8に対して、上方の電子銃31から電子線が照射される。電子線の照射に応じて、試料8は、特性X線を放射する。試料8から放射された特性X線は、検出器32により検出される。このような電子線の照射および特性X線の放射は、測定チャンバ11の内部が真空状態となっている状態で行なわれる。コンピュータシステム4では、分析プログラムを実行し、検出器32による特性X線の検出データに基づいて、試料8の元素分析処理等の各種の分析処理を実行する。 The inside of the measurement chamber 11 is basically kept in a vacuum state. After the position of the sample 8 is adjusted by the stage 30, the sample 8 is irradiated with an electron beam from the electron gun 31 above. In response to the irradiation of the electron beam, the sample 8 emits characteristic X-rays. The characteristic X-rays emitted from the sample 8 are detected by the detector 32. Such irradiation of the electron beam and emission of the characteristic X-rays are performed while the inside of the measurement chamber 11 is in a vacuum state. The computer system 4 executes an analysis program and performs various analysis processes, such as elemental analysis process of the sample 8, based on the detection data of the characteristic X-rays by the detector 32.

[試料分析前の試料導入から試料分析後の試料導出までの分析装置3の動作の流れ]
次に、図2を参照して、試料分析前の試料導入時から試料分析後の試料導出時までの間における分析装置3の動作の流れの概要を説明する。
[Operation flow of the analysis device 3 from sample introduction before sample analysis to sample extraction after sample analysis]
Next, an outline of the flow of operations of the analysis device 3 from the time of sample introduction before sample analysis to the time of sample discharge after sample analysis will be described with reference to FIG.

分析装置3により試料8の分析をする場合、試料8を試料導入チャンバ12の外部から内部に導入する必要がある。その場合は、ゲートドア15が閉じることにより搬送口16が閉状態にされ、測定チャンバ11内は真空ポンプおよび真空排気バルブの制御により真空状態とされる。そして、試料導入チャンバ12の内部は、圧力が大気圧状態となるようにベントされる。そのような状態で、蓋体13が取外されることにより開口17が開状態とされた後、試料8が、試料導入チャンバ12の外部から内部に導入され、試料ホルダ40上に載せられる。その場合、試料導入チャンバ12内は、開口17が開状態であるので、大気圧状態である。 When analyzing the sample 8 using the analysis device 3, it is necessary to introduce the sample 8 from the outside into the sample introduction chamber 12. In this case, the gate door 15 is closed to close the transfer port 16, and the inside of the measurement chamber 11 is placed in a vacuum state by controlling the vacuum pump and the vacuum exhaust valve. The inside of the sample introduction chamber 12 is then vented so that the pressure is atmospheric. In this state, the lid 13 is removed to open the opening 17, and then the sample 8 is introduced from the outside into the sample introduction chamber 12 and placed on the sample holder 40. In this case, the inside of the sample introduction chamber 12 is at atmospheric pressure because the opening 17 is open.

その後、蓋体13が取付けられて開口17が閉状態とされ、真空ポンプおよび真空排気弁の制御により試料導入チャンバ12内が真空状態とされる。そして、ゲートドア15により搬送口16が開状態にされ、試料搬送装置2が駆動されることにより、試料8が試料ホルダ40上に載せられた状態で測定チャンバ11内まで搬送される。このように測定チャンバ11内および試料導入チャンバ12内が真空状態となった状態では、ゲートドア15により搬送口16を開状態にしても、測定チャンバ11内の真空状態は保持される。 Then, the lid 13 is attached to close the opening 17, and the sample introduction chamber 12 is placed in a vacuum state by controlling the vacuum pump and vacuum exhaust valve. The transfer port 16 is then opened by the gate door 15, and the sample transfer device 2 is driven to transfer the sample 8 placed on the sample holder 40 into the measurement chamber 11. With the measurement chamber 11 and the sample introduction chamber 12 in a vacuum state in this way, the vacuum state in the measurement chamber 11 is maintained even if the transfer port 16 is opened by the gate door 15.

試料導入チャンバ12内に搬送された試料8は、試料ホルダ40上に載せられた状態でステージ30上にセットされる。そして、ステージ30が動作されることに応じて、試料8の位置が調整された後、電子銃31から試料8への電子線の照射、および、試料8から放射される特性X線の検出器32による検出が行なわれる。 The sample 8 transported into the sample introduction chamber 12 is placed on the sample holder 40 and set on the stage 30. Then, the position of the sample 8 is adjusted in response to the operation of the stage 30, after which the electron gun 31 irradiates the sample 8 with an electron beam, and the detector 32 detects the characteristic X-rays emitted from the sample 8.

検出器32の検出データに基づく分析処理が終了すると、次のように、試料8が測定チャンバ11内から試料導入チャンバ12内に搬送された後、試料導入チャンバ12の内部から外部に導出される。 When the analysis process based on the detection data of the detector 32 is completed, the sample 8 is transported from the measurement chamber 11 into the sample introduction chamber 12, and then discharged from the inside of the sample introduction chamber 12 to the outside, as follows:

試料8が試料ホルダ40上に載せられた状態でステージ30上から試料搬送装置2上に移動し、ゲートドア15が動作することにより搬送口16が開状態にされる。検出器32の検出データに基づく分析処理が終了した状態では、測定チャンバ11内および試料導入チャンバ12内が真空状態であるので、ゲートドア15により搬送口16を開状態にしても、測定チャンバ11内の真空状態は保持される。そして、試料搬送装置2が駆動されることにより、試料8が試料ホルダ40上に載せられた状態で、試料8が測定チャンバ11内から試料導入チャンバ12内まで搬送される。 With the sample 8 placed on the sample holder 40, it is moved from the stage 30 onto the sample transport device 2, and the gate door 15 is operated to open the transport port 16. When the analysis process based on the detection data of the detector 32 is completed, the measurement chamber 11 and the sample introduction chamber 12 are in a vacuum state, so even if the gate door 15 opens the transport port 16, the vacuum state in the measurement chamber 11 is maintained. Then, with the sample 8 placed on the sample holder 40, the sample 8 is transported from the measurement chamber 11 to the sample introduction chamber 12 by driving the sample transport device 2.

分析装置3により試料8の分析が終了した場合、試料8を試料導入チャンバ12の内部から外部に導出する必要がある。その場合は、測定チャンバ11内の真空状態を保持するために、ゲートドア15が動作することにより搬送口16が閉状態にされる。そのような状態で、試料導入チャンバ12内の圧力を大気圧に戻した後、蓋体13が取外される。蓋体13が取外されることにより開口17が開状態とされた後、試料8が、試料導入チャンバ12の内部から外部に導出される。その後、蓋体13が取付けられて、開口17が閉状態とされる。 When the analysis of the sample 8 by the analysis device 3 is completed, it is necessary to evacuate the sample 8 from inside the sample introduction chamber 12 to the outside. In this case, in order to maintain the vacuum state in the measurement chamber 11, the gate door 15 operates to close the transfer port 16. In this state, the pressure in the sample introduction chamber 12 is returned to atmospheric pressure, and then the lid 13 is removed. After the lid 13 is removed to open the opening 17, the sample 8 is evacuated from inside the sample introduction chamber 12 to the outside. The lid 13 is then attached, and the opening 17 is closed.

試料導入チャンバ12の内部から外部に導出された試料8は、分析装置3に設けられた制御装置5とは別の制御装置、または、鉄セル6の外側に設けられたマニピュレータ等を用いて、シャッタ装置65が開状態とされ、鉄セル6の内部から外部に導出され、保管庫66の内部に収納される。試料8が保管庫66の内部に収納されると、シャッタ装置65は閉状態とされる。 The sample 8 introduced from inside the sample introduction chamber 12 to the outside is introduced from inside the iron cell 6 to the outside by opening the shutter device 65 using a control device other than the control device 5 provided in the analysis device 3 or a manipulator provided outside the iron cell 6, and stored inside the storage 66. When the sample 8 is stored inside the storage 66, the shutter device 65 is closed.

[コンピュータシステム4と制御装置5との関係]
図3は、コンピュータシステム4と制御装置5との関係を示すブロック図である。
[Relationship between computer system 4 and control device 5]
FIG. 3 is a block diagram showing the relationship between the computer system 4 and the control device 5.

図3を参照して、コンピュータシステム4は、コンピュータ41、入力部42、および、表示部43を含む。コンピュータ41は、CPU(Central Processing Unit)41A、メモリ41B(ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory、および、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ等を含む各種記憶装置)、および、各種信号を入出力するための入出力バッファ(図示せず)等を含む。 Referring to FIG. 3, the computer system 4 includes a computer 41, an input unit 42, and a display unit 43. The computer 41 includes a CPU (Central Processing Unit) 41A, memory 41B (various storage devices including ROM (Read Only Memory), RAM (Random Access Memory, and non-volatile memory such as flash memory), and an input/output buffer (not shown) for inputting and outputting various signals.

CPU41Aは、メモリ41Bにおいて、ROMに格納されているソフトウェアプログラムをRAM等に展開して実行する。メモリ41Bにおいて、ROMには、CPU41Aでの分析装置3の各種制御に関する制御手順が示されたプログラム、および、分析に関する処理手順が示されたプログラム等の各種プログラムが記憶されている。コンピュータ41は、このようなプログラムに従って動作し、分析装置3の各種制御、および、検出器32の検出データに基づく分析処理等の各種の処理を実行する。 The CPU 41A loads software programs stored in the ROM in the memory 41B into the RAM or the like and executes them. In the memory 41B, the ROM stores various programs, such as a program showing control procedures for various controls of the analysis device 3 by the CPU 41A and a program showing processing procedures related to analysis. The computer 41 operates according to such programs and executes various processes, such as various controls of the analysis device 3 and analysis processing based on detection data from the detector 32.

制御装置5は、制御コンピュータ51、真空制御部52、移動制御部53、電子源制御部55、電子ビーム制御部56、電子ビーム走査制御部57、および、検出器制御部58を含む。 The control device 5 includes a control computer 51, a vacuum control unit 52, a movement control unit 53, an electron source control unit 55, an electron beam control unit 56, an electron beam scanning control unit 57, and a detector control unit 58.

真空制御部52は、真空ポンプおよび真空排気バルブ等を含む真空装置9を制御する制御回路である。真空ポンプは、測定チャンバ11用の真空ポンプと、試料導入チャンバ12用の真空ポンプとを含む。真空排気バルブは、測定チャンバ11用の真空排気バルブと、試料導入チャンバ12用の真空排気バルブとを含む。 The vacuum control unit 52 is a control circuit that controls the vacuum device 9, which includes a vacuum pump and a vacuum exhaust valve. The vacuum pump includes a vacuum pump for the measurement chamber 11 and a vacuum pump for the sample introduction chamber 12. The vacuum exhaust valve includes a vacuum exhaust valve for the measurement chamber 11 and a vacuum exhaust valve for the sample introduction chamber 12.

移動制御部53は、ステージ30および試料搬送装置2等を含む試料8の移動装置10を制御する制御回路である。電子源制御部55は、電子銃31において、電子を発生させる電子源を制御する制御回路である。電子ビーム制御部56は、電子源から発生した電子による電子線を収束させる等、電子銃31から照射する電子ビームを制御する制御回路である。電子ビーム走査制御部57は、電子銃31から照射する電子ビームの走査を制御する制御回路である。検出器制御部58は、検出器32の状態を制御する制御回路である。 The movement control unit 53 is a control circuit that controls the movement device 10 for the sample 8, which includes the stage 30 and the sample transport device 2. The electron source control unit 55 is a control circuit that controls the electron source that generates electrons in the electron gun 31. The electron beam control unit 56 is a control circuit that controls the electron beam emitted from the electron gun 31, such as converging the electron beam produced by the electrons generated from the electron source. The electron beam scanning control unit 57 is a control circuit that controls the scanning of the electron beam emitted from the electron gun 31. The detector control unit 58 is a control circuit that controls the state of the detector 32.

制御コンピュータ51は、CPU51A、メモリ51B(ROM、RAM、および、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ等を含む各種記憶装置)、および、各種信号を入出力するための入出力バッファ(図示せず)等を含む。メモリ51Bにおいて、ROMには、CPU51Aでの分析装置3の各種制御に関する制御手順が示されたプログラムが記憶されている。制御コンピュータ51は、このようなプログラムに従って動作する。 The control computer 51 includes a CPU 51A, memory 51B (various storage devices including ROM, RAM, and non-volatile memory such as flash memory), and an input/output buffer (not shown) for inputting and outputting various signals. In the memory 51B, the ROM stores a program that describes the control procedures for the various controls of the analysis device 3 by the CPU 51A. The control computer 51 operates according to such a program.

制御コンピュータ51は、コンピュータ41からコマンドを受信し、受信したコマンドに応じて、真空制御部52、移動制御部53、電子源制御部55、電子ビーム制御部56、電子ビーム走査制御部57、および、検出器制御部58に制御信号を送り、これらの制御部により、各種の制御を実行させる。 The control computer 51 receives commands from the computer 41 and, in response to the received commands, sends control signals to the vacuum control unit 52, the movement control unit 53, the electron source control unit 55, the electron beam control unit 56, the electron beam scanning control unit 57, and the detector control unit 58, causing these control units to carry out various types of control.

[制御装置5が故障していない場合の制御装置5と駆動装置7との関係]
図4は、制御装置5が故障していない場合の制御装置5と駆動装置7との関係を示すブロック図である。図4においては、制御装置5に含まれる制御部として、図3に示された制御部のうち、真空制御部52と移動制御部53とが示され、それ以外の制御部については図示が省略されている。
[Relationship between the control device 5 and the drive device 7 when the control device 5 is not malfunctioning]
Fig. 4 is a block diagram showing the relationship between the control device 5 and the drive device 7 when the control device 5 is not broken. In Fig. 4, of the control devices shown in Fig. 3, the vacuum control device 52 and the movement control device 53 are shown as control devices included in the control device 5, and the other control devices are omitted from the illustration.

図4を参照して、分析装置3において制御装置5が故障していない場合は、以下のように、制御装置5が各種の駆動装置7と配線により接続されている。 Referring to FIG. 4, when the control device 5 in the analysis device 3 is not malfunctioning, the control device 5 is connected to the various driving devices 7 by wiring as follows.

制御装置5において、制御コンピュータ51は、コンピュータシステム4から真空制御に関する制御コマンド等の制御コマンドを受信し、その制御コマンドに応じた制御を実行させるために、真空制御部52に動作指令信号を送る。 In the control device 5, the control computer 51 receives control commands, such as control commands related to vacuum control, from the computer system 4, and sends an operation command signal to the vacuum control unit 52 to execute control according to the control command.

真空制御部52は、制御コンピュータ51から送られてきた動作指令信号に応じて、制御装置5に設けられた中継パネル50および鉄セル6内に設けられた中継パネル60を介し、鉄セル6内に設けられた真空排気バルブ61等(ゲートドア15の駆動装置を含む)の真空機器に駆動信号を送る。さらに、真空制御部52は、制御コンピュータ51から送られてきた制御信号に応じて、制御装置5に設けられた中継パネル50を介し、鉄セル6外に設けられた真空ポンプ90に駆動信号を送る。真空制御部52は、制御装置5に設けられた中継パネル50を介し、真空ポンプ90に電力を供給する。このような真空排気バルブ61等の真空機器、および、真空ポンプ90により、分析対象の試料に電子線を照射する空間を真空にする真空装置9が構成されている。 The vacuum control unit 52 sends a drive signal to vacuum equipment such as the vacuum exhaust valve 61 (including the gate door 15 drive device) provided in the iron cell 6 via the relay panel 50 provided in the control device 5 and the relay panel 60 provided in the iron cell 6 in response to the operation command signal sent from the control computer 51. Furthermore, the vacuum control unit 52 sends a drive signal to the vacuum pump 90 provided outside the iron cell 6 via the relay panel 50 provided in the control device 5 in response to the control signal sent from the control computer 51. The vacuum control unit 52 supplies power to the vacuum pump 90 via the relay panel 50 provided in the control device 5. The vacuum equipment such as the vacuum exhaust valve 61 and the vacuum pump 90 constitute the vacuum device 9 that evacuates the space in which the sample to be analyzed is irradiated with the electron beam.

また、真空装置9には、測定チャンバ11の真空度(圧力)を検出するセンサ、および、試料導入チャンバ12内の真空度(圧力)を検出するセンサが含まれており、これらセンサの検出信号が中継パネル60および中継パネル50を介して、真空制御部52に入力される。これにより、真空制御部52では、測定チャンバ11の真空度および試料導入チャンバ12内の真空度を認識することができる。 The vacuum device 9 also includes a sensor that detects the degree of vacuum (pressure) in the measurement chamber 11 and a sensor that detects the degree of vacuum (pressure) in the sample introduction chamber 12, and the detection signals of these sensors are input to the vacuum control unit 52 via the relay panel 60 and the relay panel 50. This allows the vacuum control unit 52 to recognize the degree of vacuum in the measurement chamber 11 and the degree of vacuum in the sample introduction chamber 12.

真空制御部52と、真空排気バルブ61等の真空機器との間では、制御配線71により駆動信号が送られる。真空制御部52と、真空ポンプ90との間では、制御配線72により駆動信号が送られる。これにより、真空制御部52と、真空装置9(真空排気バルブ61,真空ポンプ90)との間では、制御配線71および制御配線72により駆動信号が送られる。 A drive signal is sent between the vacuum control unit 52 and vacuum equipment such as the vacuum exhaust valve 61 via control wiring 71. A drive signal is sent between the vacuum control unit 52 and the vacuum pump 90 via control wiring 72. As a result, a drive signal is sent between the vacuum control unit 52 and the vacuum device 9 (vacuum exhaust valve 61, vacuum pump 90) via the control wiring 71 and control wiring 72.

試料搬送装置2およびステージ30は、試料8を移動させる移動装置10であることで共通する。このような試料搬送装置2およびステージ30により、試料を移動させる装置である移動装置10が構成されている。このような試料を移動させる装置である移動装置10と、前述した真空ポンプおよび真空排気バルブ等を含む真空装置9とは、制御装置5により駆動制御がされる装置であり、駆動装置7と呼ばれる。 The sample transport device 2 and the stage 30 have in common that they are both moving devices 10 that move the sample 8. The sample transport device 2 and the stage 30 constitute the moving device 10 that moves the sample. The moving device 10 that moves the sample and the vacuum device 9 that includes the vacuum pump and vacuum exhaust valve described above are devices that are driven and controlled by the control device 5, and are called the driving device 7.

制御装置5において、制御コンピュータ51は、コンピュータシステム4から、試料搬送装置2の制御(以下、搬送制御という)に関する制御コマンド、および、ステージ30の制御(以下、ステージ制御という)に関する制御コマンド等の制御コマンドを受信し、その制御コマンドに応じた制御を実行させるために、動作指令信号を移動制御部53に送る。 In the control device 5, the control computer 51 receives control commands from the computer system 4, such as control commands for controlling the sample transport device 2 (hereinafter referred to as transport control) and control commands for controlling the stage 30 (hereinafter referred to as stage control), and sends an operation command signal to the movement control unit 53 to execute control according to the control commands.

移動制御部53は、送られてきた動作指令信号に応じて、モータドライバ54に、制御信号を送る。モータドライバ54では、送られてきた制御信号に応じて、ステージ30を駆動するステージモータ62等、および、試料搬送装置2を駆動する搬送モータ63等に駆動信号を、中継パネル50および中継パネル60を介して送る。 The movement control unit 53 sends a control signal to the motor driver 54 in response to the received operation command signal. The motor driver 54 sends drive signals to the stage motor 62 that drives the stage 30 and the transport motor 63 that drives the sample transport device 2 in response to the received control signal via the relay panel 50 and the relay panel 60.

移動制御部53(モータドライバ54を含む)と、ステージモータ62等のステージ30との間では、制御配線73により駆動信号が送られる。移動制御部53と、搬送モータ63等の試料搬送装置2との間では、制御配線74により駆動信号が送られる。移動制御部53と、移動装置10(試料搬送装置2,ステージ30)との間では、制御配線73および制御配線74により駆動信号が送られる。 A drive signal is sent between the movement control unit 53 (including the motor driver 54) and the stage 30 such as the stage motor 62 via the control wiring 73. A drive signal is sent between the movement control unit 53 and the sample transport device 2 such as the transport motor 63 via the control wiring 74. A drive signal is sent between the movement control unit 53 and the transport device 10 (sample transport device 2, stage 30) via the control wiring 73 and control wiring 74.

真空制御部52から真空ポンプ90には、電源線75を介して電力が供給される。
図4には、予備制御装置1が示されている。予備制御装置1は、制御装置5が故障した場合に、分析装置3に接続され、制御装置5の代わりに、駆動装置7における真空装置9(真空排気バルブ61および真空ポンプ90)、および、移動装置10(試料搬送装置2,ステージ30)を制御するために設けられた予備の制御装置である。図4に示すように、制御装置5が故障していない状態において、予備制御装置1は、分析装置3に接続されない。
Electric power is supplied from the vacuum control unit 52 to the vacuum pump 90 via a power line 75 .
Fig. 4 shows the standby control device 1. The standby control device 1 is a standby control device that is connected to the analysis device 3 in the event of a failure of the control device 5, and is provided to control the vacuum device 9 (vacuum exhaust valve 61 and vacuum pump 90) in the drive device 7 and the movement device 10 (sample transport device 2, stage 30) in place of the control device 5. As shown in Fig. 4, when the control device 5 is not in failure, the standby control device 1 is not connected to the analysis device 3.

[予備制御装置1の構成]
図5は、予備制御装置1の外観を示す平面図である。図5においては、予備制御装置1において、操作部83、および、表示部84が設けられた面の平面図が示されている。
[Configuration of standby control device 1]
Fig. 5 is a plan view showing the external appearance of the standby control device 1. Fig. 5 shows a plan view of the surface of the standby control device 1 on which an operation unit 83 and a display unit 84 are provided.

以下に、図4および図5を用いて、予備制御装置1の構成を説明する。図4を参照して、予備制御装置1は、予備電源92から電力の供給を受けて動作することが可能である。予備制御装置1は、コンピュータ80、第1制御部81、第2制御部82、操作部83、および、表示部84を含む。 The configuration of the standby control device 1 will be described below with reference to Figures 4 and 5. Referring to Figure 4, the standby control device 1 can operate by receiving power from a standby power source 92. The standby control device 1 includes a computer 80, a first control unit 81, a second control unit 82, an operation unit 83, and a display unit 84.

図5を参照して、操作部83は、人が操作可能なスイッチ85等の複数の操作装置を含み、第1制御部81が実行可能な制御に関する操作、および、第2制御部82が実行可能な制御に関する操作が実行可能である。表示部84は、第1制御部81および第2制御部82が実行する制御における各種制御パラメータの状態等、各種の情報を表示する表示装置であり、例えば、液晶表示装置等の画像表示装置により構成される。 Referring to FIG. 5, the operation unit 83 includes a plurality of operation devices such as switches 85 that can be operated by a person, and is capable of performing operations related to the control that can be executed by the first control unit 81 and operations related to the control that can be executed by the second control unit 82. The display unit 84 is a display device that displays various information such as the status of various control parameters in the control executed by the first control unit 81 and the second control unit 82, and is configured, for example, by an image display device such as a liquid crystal display device.

コンピュータ80は、CPU80A、メモリ80B(ROM、RAM、および、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ等を含む各種記憶装置)、および、各種信号を入出力するための入出力バッファ(図示せず)等を含む。メモリ80Bにおいて、ROMには、CPU80Aで実行する各種制御に関する制御手順が示されたプログラムが記憶されている。コンピュータ80は、このようなプログラムに従って動作する。 The computer 80 includes a CPU 80A, memory 80B (various storage devices including ROM, RAM, and non-volatile memory such as flash memory), and an input/output buffer (not shown) for inputting and outputting various signals. In the memory 80B, the ROM stores a program that describes the control procedures for the various controls executed by the CPU 80A. The computer 80 operates according to such a program.

第1制御部81は、真空制御部52が実行する制御に対応する第1制御を実行することが可能である。具体的に、第1制御部81は、真空ポンプ90および真空排気バルブ61等を含む真空装置について、真空制御部52と同様の第1制御を実行可能である。第2制御部82は、移動制御部53が実行する制御に対応する第2制御を実行可能である。具体的に、第2制御部82は、ステージ30および試料搬送装置2等を含む試料8の移動装置について、移動制御部53と同様の第2制御を実行可能である。 The first control unit 81 can execute a first control corresponding to the control executed by the vacuum control unit 52. Specifically, the first control unit 81 can execute a first control similar to that executed by the vacuum control unit 52 for a vacuum device including a vacuum pump 90 and a vacuum exhaust valve 61, etc. The second control unit 82 can execute a second control corresponding to the control executed by the movement control unit 53. Specifically, the second control unit 82 can execute a second control similar to that executed by the movement control unit 53 for a sample 8 movement device including a stage 30 and a sample transport device 2, etc.

コンピュータ80は、操作部83が操作された場合に、操作部83から操作信号を受け、その操作信号に応じて、第1制御および第2制御を実行させることが可能である。第1制御および第2制御を実行する場合に、コンピュータ80は、表示部84に表示信号を送り、表示部84において、実行されている制御における各種制御パラメータの状態等、各種の情報を表示する表示制御を実行することが可能である。 When the operation unit 83 is operated, the computer 80 receives an operation signal from the operation unit 83, and is capable of executing the first control and the second control in response to the operation signal. When executing the first control and the second control, the computer 80 sends a display signal to the display unit 84, and is capable of executing display control that displays various information on the display unit 84, such as the status of various control parameters in the control being executed.

[制御装置5が故障した場合の予備制御装置1と駆動装置7との関係]
図6は、制御装置5が故障した場合の予備制御装置1と駆動装置7との関係を示すブロック図である。
[Relationship between the standby control device 1 and the drive device 7 when the control device 5 fails]
FIG. 6 is a block diagram showing the relationship between the standby control device 1 and the drive device 7 when the control device 5 fails.

分析装置3の制御装置5において例えば電気系統等に故障が生じた場合は、図3に示すような各種の制御部が正常に動作しなくなる。その場合には、分析対象の試料8が測定チャンバ11の内部から外部に搬出することができなくなるという問題が生じ得る。 If a failure occurs in the control device 5 of the analysis device 3, for example in the electrical system, the various control units as shown in FIG. 3 will not operate normally. In that case, a problem may occur in which the sample 8 to be analyzed cannot be transported from inside the measurement chamber 11 to the outside.

このような場合は、たとえば、準管理区域101内に人が入って制御装置5の故障箇所の特定および修理をし、その修理が完了するまでの期間において、試料8が測定チャンバ11および試料導入チャンバ12の内部に放置されることとなる。 In such a case, for example, someone would enter the semi-controlled area 101 to identify and repair the faulty part of the control device 5, and the sample 8 would be left inside the measurement chamber 11 and the sample introduction chamber 12 until the repair was completed.

試料8は、放射性物質であるため、分析装置3での分析が実行されない状態では、危険な状態が生じないようにするための安全管理がされた保管庫66において保管される必要がある。しかし、制御装置5が故障すると、試料8が測定チャンバ11の内部に長期間放置されるおそれがあり、その期間中は試料8の安全管理ができていない危険な状態が継続することになる。 Because the sample 8 is a radioactive material, it needs to be stored in a safe storage facility 66 that is safely managed to prevent dangerous situations from occurring when analysis is not being performed by the analysis device 3. However, if the control device 5 breaks down, there is a risk that the sample 8 will be left inside the measurement chamber 11 for a long period of time, during which time the sample 8 will be in a dangerous state where it cannot be safely managed.

予備制御装置1は、制御装置5の故障に起因する試料8の安全管理ができていない危険な状態が継続する期間を可能な限り短くすること等を目的として設けられる。予備制御装置1の主な機能は、制御装置5が故障した場合に、人が制御配線71~74を制御装置5から予備制御装置1に繋ぎ換えることを可能とし、第1制御部81が真空制御部52の代わりに真空装置9を制御し、第2制御部82が移動制御部53の代わりに移動装置10を制御することである。 The standby control device 1 is provided for the purpose of shortening as much as possible the period during which a dangerous state in which the safety of the sample 8 cannot be managed due to a failure of the control device 5 continues. The main function of the standby control device 1 is to enable a person to reconnect the control wiring 71-74 from the control device 5 to the standby control device 1 in the event of a failure of the control device 5, and for the first control unit 81 to control the vacuum device 9 in place of the vacuum control unit 52, and for the second control unit 82 to control the movement device 10 in place of the movement control unit 53.

図6を参照して、分析装置3において制御装置5が故障した場合は、人が、管理区域100内に入り、制御装置5から制御配線71~74を取外し、取外した制御配線71~74を予備制御装置1に付けることにより、予備制御装置1と駆動装置7を制御配線71~74により接続する作業を行なう。 Referring to FIG. 6, if the control device 5 in the analysis device 3 fails, a person enters the managed area 100, removes the control wires 71-74 from the control device 5, and attaches the removed control wires 71-74 to the standby control device 1, thereby connecting the standby control device 1 and the drive device 7 via the control wires 71-74.

具体的に、制御配線71,72は、第1制御部81に接続される。制御配線73,74は、第2制御部82に接続される。これにより、第1制御部81から真空排気バルブ61等には、真空排気バルブ61等を駆動するための駆動信号が制御配線71により送信可能となる。第1制御部81から真空ポンプ90には、真空ポンプ90を駆動するための駆動信号が制御配線72により送信可能となる。 Specifically, the control wires 71 and 72 are connected to the first control unit 81. The control wires 73 and 74 are connected to the second control unit 82. This allows the first control unit 81 to transmit a drive signal for driving the vacuum exhaust valve 61, etc. to the vacuum exhaust valve 61, etc. via the control wire 71. The first control unit 81 can transmit a drive signal for driving the vacuum pump 90 to the vacuum pump 90 via the control wire 72.

また、第2制御部82からステージモータ62には、ステージモータ62を駆動するための駆動信号が制御配線73により送信可能となる。第2制御部82から搬送モータ63等には、搬送モータ63等を駆動するための駆動信号が制御配線72により送信可能となる。 In addition, a drive signal for driving the stage motor 62 can be transmitted from the second control unit 82 to the stage motor 62 via the control wiring 73. A drive signal for driving the transport motor 63, etc. can be transmitted from the second control unit 82 to the transport motor 63, etc. via the control wiring 72.

真空ポンプ90は、制御装置5から電源線75を取外し、取外した電源線75を予備制御装置1に接続することにより、予備電源92から予備制御装置1に供給される電力の一部を、電源線75により受けることにより、予備電源92から供給される電力で動作することが可能となる。 By removing the power line 75 from the control device 5 and connecting the removed power line 75 to the standby control device 1, the vacuum pump 90 can receive a portion of the power supplied from the standby power source 92 to the standby control device 1 via the power line 75, thereby enabling the vacuum pump 90 to operate using power supplied from the standby power source 92.

このように制御装置5が故障した場合には、制御装置5から制御配線71~74が取外され、取外された制御配線71~74により予備制御装置1と駆動装置7とが接続されるように、制御配線71~74の接続対象を変更することが可能である。 In this way, if the control device 5 fails, the control wiring 71 to 74 can be removed from the control device 5, and the connection target of the control wiring 71 to 74 can be changed so that the standby control device 1 and the drive device 7 are connected via the removed control wiring 71 to 74.

そして、人が、操作部83において、真空装置9を動作させるための操作をすると、その操作に応じて、手動操作による真空装置9の制御が実行される。また、人が、操作部83において、移動装置10を動作させるための操作をすると、その操作に応じて、手動操作による移動装置10の制御が実行される。移動装置10の制御については、操作部83において、移動装置10を自動的に動作させるための操作をすると、移動装置10の自動制御が実行可能である。この場合の自動制御とは、予め定められた制御シーケンスに従って移動装置10を動作させる処理である。このような手動操作による真空装置9の制御および手動操作による移動装置10の制御は、分析装置3のメンテナンスを行なう場合に実行するようにしてもよい。 When a person operates the operation unit 83 to operate the vacuum device 9, manual control of the vacuum device 9 is performed in response to the operation. When a person operates the operation unit 83 to operate the moving device 10, manual control of the moving device 10 is performed in response to the operation. Regarding the control of the moving device 10, automatic control of the moving device 10 can be performed by operating the operation unit 83 to automatically operate the moving device 10. In this case, automatic control is a process of operating the moving device 10 according to a predetermined control sequence. Such manual control of the vacuum device 9 and manual control of the moving device 10 may be performed when maintenance of the analysis device 3 is performed.

[予備制御装置1における手動制御の一例]
次に、予備制御装置1における手動制御の一例を説明する。まず、操作部83におけるスイッチ85には、真空装置9の制御用の複数のスイッチと、移動装置10の制御用の複数のスイッチとが含まれる。
[An example of manual control in the standby control device 1]
Next, a description will be given of an example of manual control in the standby control device 1. First, the switches 85 in the operation unit 83 include a plurality of switches for controlling the vacuum device 9 and a plurality of switches for controlling the moving device 10.

真空装置9の制御用のスイッチとしては、真空排気バルブ61を開閉するためのスイッチ、ゲートドア15を開閉するためのスイッチ、真空ポンプ90を起動させるためのスイッチ、真空ポンプ90を停止させるためのスイッチ、および、ゲートドア15を駆動するためのスイッチが含まれる。 Switches for controlling the vacuum device 9 include a switch for opening and closing the vacuum exhaust valve 61, a switch for opening and closing the gate door 15, a switch for starting the vacuum pump 90, a switch for stopping the vacuum pump 90, and a switch for driving the gate door 15.

移動装置10の制御用のスイッチとしては、試料搬送装置2により試料8を試料導入チャンバ12から測定チャンバ11に搬送する動作をさせるためのスイッチ、試料搬送装置2により試料8を測定チャンバ11から試料導入チャンバ12に搬送する動作をさせるためのスイッチ、試料搬送装置2による搬送速度を変化させるためのスイッチ、ステージ30上での試料8の座標位置を初期化するためのスイッチ、および、ステージ30の位置を変更するためのスイッチが含まれる。なお、ゲートドア15を駆動するためのスイッチは、移動装置10の制御用のスイッチとして設けられてもよい。 The switches for controlling the moving device 10 include a switch for causing the sample transport device 2 to transport the sample 8 from the sample introduction chamber 12 to the measurement chamber 11, a switch for causing the sample transport device 2 to transport the sample 8 from the measurement chamber 11 to the sample introduction chamber 12, a switch for changing the transport speed of the sample transport device 2, a switch for initializing the coordinate position of the sample 8 on the stage 30, and a switch for changing the position of the stage 30. Note that the switch for driving the gate door 15 may be provided as a switch for controlling the moving device 10.

表示部84には、真空装置9の制御用の画像として、真空排気バルブ61の開閉状態、真空ポンプ90の動作状態、および、真空度の検出値を示す画像等が表示される。表示部84には、移動装置10の制御用の画像として、移動装置10の制御に用いられる各種スイッチの操作状態、試料搬送装置2の動作状態、ステージ30の動作状態、および、ゲートドア15の開閉状態を示す画像等が表示される。 The display unit 84 displays images for controlling the vacuum device 9, such as the open/closed state of the vacuum exhaust valve 61, the operating state of the vacuum pump 90, and an image showing the detected value of the degree of vacuum. The display unit 84 displays images for controlling the moving device 10, such as the operating state of the various switches used to control the moving device 10, the operating state of the sample transport device 2, the operating state of the stage 30, and an image showing the open/closed state of the gate door 15.

人が、このような操作部83におけるスイッチ85を操作するとともに、表示部84の表示を視認することにより、予備制御装置1により、真空装置9の制御および移動装置10の制御を実行させることが可能である。 By a person operating the switch 85 in the operation unit 83 and visually checking the display on the display unit 84, the backup control device 1 can control the vacuum device 9 and the moving device 10.

例えば、制御装置5の故障により試料8が測定チャンバ11内に残された場合には、予備制御装置1により次のような制御が実行されることにより、試料8を測定チャンバ11内から試料導入チャンバ12内に搬送することが可能となり、試料導入チャンバ12内から試料8を取出して、試料8を保管庫66に移動させることが可能となる。 For example, if the sample 8 is left in the measurement chamber 11 due to a failure of the control device 5, the following control is executed by the standby control device 1, making it possible to transport the sample 8 from the measurement chamber 11 into the sample introduction chamber 12, and to remove the sample 8 from the sample introduction chamber 12 and move it to the storage unit 66.

まず、試料導入チャンバ12内が真空状態でない場合は、真空ポンプ90および真空排気バルブ61を動作させることにより、試料導入チャンバ12内が真空状態となるように、真空装置9の制御用のスイッチを人が操作する。そして、表示部84に表示される真空度の検出値により真空状態となったことを人が確認した場合に、ゲートドア15が開放状態となるように、真空装置9の制御用のスイッチを人が操作する。 First, if the sample introduction chamber 12 is not in a vacuum state, a person operates the switch for controlling the vacuum device 9 so that the sample introduction chamber 12 is in a vacuum state by operating the vacuum pump 90 and the vacuum exhaust valve 61. Then, when a person confirms that a vacuum state has been achieved based on the detected vacuum level value displayed on the display unit 84, a person operates the switch for controlling the vacuum device 9 so that the gate door 15 is in an open state.

そして、測定チャンバ11内において、ステージ30から試料搬送装置2に試料ホルダ40が移動し、試料搬送装置2によって測定チャンバ11内から試料導入チャンバ12内に試料8が搬送されるように、移動装置10の制御用のスイッチを人が操作する。そして、試料8が試料導入チャンバ12内に搬送された後、ゲートドア15が閉鎖状態となるように、真空装置9の制御用のスイッチを人が操作する。 Then, in the measurement chamber 11, the sample holder 40 moves from the stage 30 to the sample transport device 2, and a person operates the switch for controlling the movement device 10 so that the sample transport device 2 transports the sample 8 from the measurement chamber 11 into the sample introduction chamber 12. After the sample 8 has been transported into the sample introduction chamber 12, a person operates the switch for controlling the vacuum device 9 so that the gate door 15 is in the closed state.

このような操作をすることにより、制御装置5が故障した場合に、試料8を測定チャンバ11内から試料導入チャンバ12内に搬送することが可能となり、試料導入チャンバ12内の圧力を大気圧に戻した後、マニピュレータ等により、試料導入チャンバ12内から試料8を取出して、試料8を保管庫66に移動させることが可能となる。 By performing such operations, if the control device 5 fails, it becomes possible to transport the sample 8 from the measurement chamber 11 into the sample introduction chamber 12, and after the pressure in the sample introduction chamber 12 is returned to atmospheric pressure, the sample 8 can be removed from the sample introduction chamber 12 using a manipulator or the like, and the sample 8 can be moved to the storage cabinet 66.

このような実施の形態によれば、第1制御部81と真空装置9とが制御配線71,72で接続され、第2制御部82と移動装置10とが制御配線73,74で接続された場合に、第1制御部81が真空制御部52の代わりに真空装置9を制御可能となり、第2制御部82が移動制御部53の代わりに移動装置10を制御可能となるので、分析装置3の制御装置5が故障した場合における分析装置3の安全状態を担保できる。 According to this embodiment, when the first control unit 81 and the vacuum device 9 are connected by the control wiring 71, 72, and the second control unit 82 and the moving device 10 are connected by the control wiring 73, 74, the first control unit 81 can control the vacuum device 9 in place of the vacuum control unit 52, and the second control unit 82 can control the moving device 10 in place of the moving control unit 53, so that the safety of the analyzing device 3 can be ensured in the event that the control device 5 of the analyzing device 3 fails.

[実施の形態の変形例]
(1) 前述の実施形態では、予備制御装置1において、制御装置5に設けられた制御部のうち、真空制御部52に対応する制御を実行可能な第1制御部81と、移動制御部53に対応する制御を実行可能な第2制御部82とを設ける例を示した。しかし、これに限らず、予備制御装置1においては、電子源制御部55、電子ビーム制御部56、電子ビーム走査制御部57、および、検出器制御部58のうち、いずれかの制御部に対応する制御を実行可能な制御部をさらに設けてもよい。その場合には、制御装置5が故障したときの安全性を確保するために必要となる制御部に対応する制御部を予備制御装置1において設けることが好ましい。
[Modification of the embodiment]
(1) In the above embodiment, an example was shown in which the standby control device 1 is provided with a first control unit 81 capable of executing control corresponding to the vacuum control unit 52 and a second control unit 82 capable of executing control corresponding to the movement control unit 53, among the control units provided in the control device 5. However, this is not limited to the above, and the standby control device 1 may further be provided with a control unit capable of executing control corresponding to any of the electron source control unit 55, the electron beam control unit 56, the electron beam scanning control unit 57, and the detector control unit 58. In that case, it is preferable to provide in the standby control device 1 a control unit corresponding to a control unit required to ensure safety when the control device 5 fails.

(2) 前述の実施形態では、試料搬送装置2として、レールに沿って試料ホルダ40を移動させる構成を一例として説明した。しかし、これに限らず、試料搬送装置2としては、ベルト上に試料ホルダ40を載せてベルトを送ることにより試料8を搬送する装置、または、試料8をアームで把持して搬送する装置等、その他の構成よりなる搬送装置が設けられてもよい。 (2) In the above embodiment, the sample transport device 2 has been described as being configured to move the sample holder 40 along a rail. However, the sample transport device 2 is not limited to this. The sample transport device 2 may be configured as a transport device having other configurations, such as a device that transports the sample 8 by placing the sample holder 40 on a belt and moving the belt, or a device that grasps and transports the sample 8 with an arm.

(3) 前述の実施形態では、予備制御装置1は、制御装置5の上部に載せた態様で分析装置3の近傍に設けられた例を示した。しかし、これに限らず、予備制御装置1は、制御装置5の上部にネジ止めにより取付けられ、制御装置5が故障した場合に、人がネジを外すことにより、制御装置5から分離できるようにしてもよい。 (3) In the above embodiment, the standby control device 1 is provided near the analysis device 3 by being placed on top of the control device 5. However, this is not limited to the above, and the standby control device 1 may be attached to the top of the control device 5 by screws so that if the control device 5 breaks down, the standby control device 1 can be separated from the control device 5 by a person by removing the screws.

(4) 前述の実施形態では、予備制御装置1において、表示部84として、画像表示装置を設ける例を示した。しかし、これに限らず、表示部84としては、LED(Light Emitting Diode)等の発光体を設けてもよい。例えば、発光体は、真空排気バルブ61の開閉状態、真空ポンプ90の動作状態等を発光状態で示したり、スイッチ85の操作状態を発光状態で示したり、真空度を発光状態で示したりしてもよい。 (4) In the above embodiment, an example was shown in which an image display device was provided as the display unit 84 in the standby control device 1. However, this is not limited to the above, and the display unit 84 may be provided with an illuminant such as an LED (Light Emitting Diode). For example, the illuminant may indicate, by illuminating, the open/closed state of the vacuum exhaust valve 61, the operating state of the vacuum pump 90, etc., the operating state of the switch 85, or the degree of vacuum.

(5) 前述の実施形態に示した予備制御装置1においては、人が持ち運ぶことを容易にするために、取っ手となる構造物を取付けてもよい。 (5) In the backup control device 1 shown in the above embodiment, a handle structure may be attached to make it easier for people to carry it.

(6) 前述の実施形態に示した予備制御装置1においては、測定チャンバ11内および試料導入チャンバ12内に設けられたセンサにより検出された真空度を、予備制御装置1の外部に設けられたテスタにより読取ることを可能とするために、このようなセンサにより検出された真空度をアナログ信号により出力可能な出力端子を設けてもよい。 (6) In the preliminary control device 1 shown in the above embodiment, in order to enable the degree of vacuum detected by the sensors provided in the measurement chamber 11 and the sample introduction chamber 12 to be read by a tester provided outside the preliminary control device 1, an output terminal may be provided that can output the degree of vacuum detected by such sensors as an analog signal.

(7) 前述の実施形態に示した予備制御装置1において、操作部83および表示部84は、タッチパネルで構成され、当該タッチパネルを用いて、前述のような各種操作および各種情報表示が実行されるようにしてもよい。 (7) In the standby control device 1 shown in the above embodiment, the operation unit 83 and the display unit 84 may be configured as a touch panel, and the various operations and information displays described above may be performed using the touch panel.

(8) 前述の実施形態に示した分析装置3の分析対象の試料8は、放射物質である場合を説明したが、放射物質以外の物質であってもよい。 (8) In the above embodiment, the sample 8 to be analyzed by the analysis device 3 is described as being a radioactive material, but it may be a material other than a radioactive material.

[付記]
以上のように、本実施形態は以下のような開示を含む。
[Additional Notes]
As described above, the present embodiment includes the following disclosure.

[構成1]
分析対象の試料に電子線を照射する空間(測定チャンバ11内の空間)を真空にする真空装置(真空ポンプ90および真空排気バルブ61を含む真空装置9)、および、前記空間の内部と前記空間の外部との間で前記試料を移動させる移動装置(試料搬送装置2およびステージ30を含む移動装置10)を有する駆動装置(駆動装置7)と、前記真空装置(真空装置9)を制御する真空制御部(真空制御部52)、および、前記移動装置(移動装置10)を制御する移動制御部(移動制御部53)を有する制御装置(制御装置5)とを含む分析装置(分析装置3)に接続可能な予備制御装置(予備制御装置1)であって、
前記真空制御部(真空制御部52)が実行する制御に対応する第1制御を実行可能な第1制御部(第1制御部81)と、
前記移動制御部(移動制御部53)が実行する制御に対応する第2制御を実行可能な第2制御部(第2制御部82)とを備え、
前記第1制御部(第1制御部81)と前記真空装置(真空装置9)とが第1制御配線(制御配線71,72)で接続され、前記第2制御部(第2制御部82)と前記移動装置(移動装置10)とが第2制御配線(制御配線73,74)で接続された場合に、前記第1制御部(第1制御部81)が前記真空制御部(真空制御部52)の代わりに前記真空装置(真空装置9)を制御可能となり、前記第2制御部(第2制御部82)が前記移動制御部(移動制御部53)の代わりに前記移動装置(移動装置10)を制御可能となる、予備制御装置(予備制御装置1)。
[Configuration 1]
a vacuum device (vacuum device 9 including a vacuum pump 90 and a vacuum exhaust valve 61) for evacuating a space (space within a measurement chamber 11) in which an electron beam is irradiated onto a sample to be analyzed; a drive device (drive device 7) having a moving device (moving device 10 including a sample transport device 2 and a stage 30) for moving the sample between the inside of the space and the outside of the space; and a control device (control device 5) having a vacuum control unit (vacuum control unit 52) for controlling the vacuum device (vacuum device 9) and a movement control unit (moving control unit 53) for controlling the movement device (moving device 10),
A first control unit (first control unit 81) capable of executing a first control corresponding to a control executed by the vacuum control unit (vacuum control unit 52);
A second control unit (second control unit 82) capable of executing a second control corresponding to the control executed by the movement control unit (movement control unit 53),
A standby control device (standby control device 1) in which, when the first control unit (first control unit 81) and the vacuum device (vacuum device 9) are connected by a first control wiring (control wirings 71, 72) and the second control unit (second control unit 82) and the moving device (moving device 10) are connected by a second control wiring (control wirings 73, 74), the first control unit (first control unit 81) is able to control the vacuum device (vacuum device 9) in place of the vacuum control unit (vacuum control unit 52), and the second control unit (second control unit 82) is able to control the moving device (moving device 10) in place of the moving control unit (moving control unit 53).

このような構成によれば、第1制御部と真空装置とが第1制御配線で接続され、第2制御部と移動装置とが第2制御配線で接続された場合に、第1制御部が真空制御部の代わりに真空装置を制御可能となり、第2制御部が移動制御部の代わりに移動装置を制御可能となるので、分析装置の制御装置が故障した場合における分析装置の安全状態を担保できる。 With this configuration, when the first control unit and the vacuum device are connected by a first control wiring and the second control unit and the moving device are connected by a second control wiring, the first control unit can control the vacuum device instead of the vacuum control unit, and the second control unit can control the moving device instead of the moving control unit, thereby ensuring the safety of the analytical device in the event that the control device of the analytical device fails.

[構成2]
前記制御装置(制御装置5)が故障していない状態では、前記真空制御部(真空制御部52)と前記真空装置(真空装置9)とが前記第1制御配線(制御配線71,72)で接続され、前記移動制御部(移動制御部53)と前記移動装置(移動装置10)とが前記第2制御配線(制御配線73,74)で接続されており、
前記(真空装置9)制御装置(制御装置5)が故障した場合に、前記第1制御部(第1制御部81)と前記真空装置(真空装置9)とが前記第1制御配線(制御配線71,72)で接続され、前記第2制御部(第2制御部82)と前記移動装置(移動装置10)とが前記第2制御配線(制御配線73,74)で接続されるように、前記第1制御配線(制御配線71,72)および前記第2制御配線(制御配線73,74)の接続対象を変更することが可能である、構成1に記載の予備制御装置(予備制御装置1)。
[Configuration 2]
When the control device (control device 5) is not malfunctioning, the vacuum control unit (vacuum control unit 52) and the vacuum device (vacuum device 9) are connected by the first control wiring (control wirings 71, 72), and the movement control unit (movement control unit 53) and the movement device (movement device 10) are connected by the second control wiring (control wirings 73, 74),
A standby control device (standby control device 1) as described in configuration 1, in which, in the event of a failure of the (vacuum device 9) control device (control device 5), it is possible to change the connection targets of the first control wiring (control wirings 71, 72) and the second control wiring (control wirings 73, 74) so that the first control unit (first control unit 81) and the vacuum device (vacuum device 9) are connected by the first control wiring (control wirings 71, 72) and the second control unit (second control unit 82) and the moving device (moving device 10) are connected by the second control wiring (control wirings 73, 74).

このような構成によれば、制御装置が故障した場合に、第1制御部と真空装置とが第1制御配線で接続され、第2制御部と移動装置とが第2制御配線で接続されるように、第1制御配線および第2制御配線の接続対象を変更することが可能であるので、第1制御配線および第2制御配線の接続対象を変更することにより、分析装置の制御装置が故障した場合における分析装置の安全状態を、第1制御部による制御および第2制御部による制御によって担保できる。 With this configuration, if the control device fails, it is possible to change the connection targets of the first control wiring and the second control wiring so that the first control unit and the vacuum device are connected by the first control wiring and the second control unit and the moving device are connected by the second control wiring. By changing the connection targets of the first control wiring and the second control wiring, the safety state of the analysis device in the event of a failure of the control device of the analysis device can be ensured by control by the first control unit and control by the second control unit.

[構成3]
前記第1制御部(第1制御部81)および前記第2制御部(第2制御部82)は、前記分析装置(分析装置3)とは別体で形成された筐体内に設けられる、構成1または構成2に記載の予備制御装置(予備制御装置1)。
[Configuration 3]
A standby control device (standby control device 1) described in configuration 1 or configuration 2, wherein the first control unit (first control unit 81) and the second control unit (second control unit 82) are provided within a housing formed separately from the analysis device (analysis device 3).

このような構成によれば、第1制御部および第2制御部が分析装置とは別体で形成された筐体内に設けられるので、第1制御部および第2制御部を含む予備制御装置を分析装置に対して容易に移動させることができる。 With this configuration, the first control unit and the second control unit are provided in a housing formed separately from the analysis device, so that the standby control device including the first control unit and the second control unit can be easily moved relative to the analysis device.

[構成4]
前記第1制御および前記第2制御を実行するための操作をすることが可能な操作部(操作部83)と、
前記第1制御および前記第2制御を実行する場合における制御状態を表示可能な表示部(表示部84)とをさらに備える、構成1から構成3のいずれかに記載の予備制御装置(予備制御装置1)。
[Configuration 4]
an operation unit (operation unit 83) capable of performing an operation for executing the first control and the second control;
A standby control device (standby control device 1) according to any one of configurations 1 to 3, further comprising a display unit (display unit 84) capable of displaying a control state when the first control and the second control are executed.

このような構成によれば、操作部の操作に応じて、第1制御および第2制御を実行することが可能となり、表示部により、第1制御および第2制御を実行する場合における制御状態を確認することができる。 With this configuration, it is possible to execute the first control and the second control in response to the operation of the operation unit, and the control state when executing the first control and the second control can be confirmed by the display unit.

[構成5]
前記第1制御部は、前記操作部(操作部83)が操作されることに応じて、前記第1制御を手動制御のみで実行可能である、構成4に記載の予備制御装置(予備制御装置1)。
[Configuration 5]
The standby control device (standby control device 1) of configuration 4, wherein the first control unit is capable of executing the first control only by manual control in response to operation of the operation unit (operation unit 83).

このような構成によれば、操作部が操作されることに応じて、真空装置を制御する第1制御を手動制御のみで実行可能であるので、真空装置の制御を操作に応じて確実に実行することができる。 With this configuration, the first control that controls the vacuum device in response to the operation of the operating unit can be performed only by manual control, so that the control of the vacuum device can be reliably performed in response to the operation.

[構成6]
前記第2制御部は、前記操作部(操作部83)が操作されることに応じて、前記第2制御を自動制御または手動制御で実行可能である、構成4または構成5に記載の予備制御装置(予備制御装置1)。
[Configuration 6]
A standby control device (standby control device 1) described in configuration 4 or configuration 5, wherein the second control unit is capable of performing the second control by automatic control or manual control in response to the operation of the operation unit (operation unit 83).

このような構成によれば、操作部が操作されることに応じて、移動装置を制御する第2制御を自動制御または手動制御で実行可能であるので、制御装置の故障状態に応じて自動または手動により移動装置の制御を実行することができる。 With this configuration, the second control that controls the moving device can be executed automatically or manually in response to the operation of the operating unit, so that the moving device can be controlled automatically or manually depending on the failure state of the control device.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 The embodiments disclosed herein should be considered to be illustrative and not restrictive in all respects. The scope of the present invention is indicated by the claims, not by the above description, and is intended to include all modifications within the meaning and scope of the claims.

11 測定チャンバ、90 真空ポンプ、61 真空排気バルブ、2 試料搬送装置、30 ステージ、10 移動装置、7 駆動装置、52 真空制御部、53 移動制御部、5 制御装置、3 分析装置、1 予備制御装置、81 第1制御部、82 第2制御部、71~74 制御配線、83 操作部、84 表示部。 11 Measurement chamber, 90 Vacuum pump, 61 Vacuum exhaust valve, 2 Sample transport device, 30 Stage, 10 Movement device, 7 Drive device, 52 Vacuum control unit, 53 Movement control unit, 5 Control device, 3 Analysis device, 1 Backup control device, 81 First control unit, 82 Second control unit, 71-74 Control wiring, 83 Operation unit, 84 Display unit.

Claims (6)

分析対象の試料に電子線を照射する空間を真空にする真空装置、および、前記空間の内部と前記空間の外部との間で前記試料を移動させる移動装置を有する駆動装置と、前記真空装置を制御する真空制御部、および、前記移動装置を制御する移動制御部を有する制御装置とを含む分析装置に接続可能な予備制御装置であって、
前記真空制御部が実行する制御に対応する第1制御を実行可能な第1制御部と、
前記移動制御部が実行する制御に対応する第2制御を実行可能な第2制御部とを備え、
前記第1制御部と前記真空装置とが第1制御配線で接続され、前記第2制御部と前記移動装置とが第2制御配線で接続された場合に、前記第1制御部が前記真空制御部の代わりに前記真空装置を制御可能となり、前記第2制御部が前記移動制御部の代わりに前記移動装置を制御可能となる、予備制御装置。
A spare control device connectable to an analytical device including a vacuum device that evacuates a space in which an electron beam is irradiated onto a sample to be analyzed, a drive device having a movement device that moves the sample between the inside of the space and the outside of the space, a vacuum control unit that controls the vacuum device, and a control device having a movement control unit that controls the movement device,
A first control unit capable of executing a first control corresponding to the control executed by the vacuum control unit;
a second control unit capable of executing a second control corresponding to the control executed by the movement control unit;
A standby control device, wherein when the first control unit and the vacuum device are connected by a first control wiring and the second control unit and the moving device are connected by a second control wiring, the first control unit is capable of controlling the vacuum device in place of the vacuum control unit and the second control unit is capable of controlling the moving device in place of the moving control unit.
前記制御装置が故障していない状態では、前記真空制御部と前記真空装置とが前記第1制御配線で接続され、前記移動制御部と前記移動装置とが前記第2制御配線で接続されており、
前記制御装置が故障した場合に、前記第1制御部と前記真空装置とが前記第1制御配線で接続され、前記第2制御部と前記移動装置とが前記第2制御配線で接続されるように、前記第1制御配線および前記第2制御配線の接続対象を変更することが可能である、請求項1に記載の予備制御装置。
When the control device is not malfunctioning, the vacuum control unit and the vacuum device are connected by the first control wiring, and the movement control unit and the movement device are connected by the second control wiring,
2. The standby control device according to claim 1, wherein, in the event of a failure of the control device, it is possible to change the connection targets of the first control wiring and the second control wiring so that the first control unit and the vacuum device are connected by the first control wiring, and the second control unit and the moving device are connected by the second control wiring.
前記第1制御部および前記第2制御部は、前記分析装置とは別体で形成された筐体内に設けられる、請求項1または請求項2に記載の予備制御装置。 The standby control device according to claim 1 or 2, wherein the first control unit and the second control unit are provided in a housing formed separately from the analysis device. 前記第1制御および前記第2制御を実行するための操作をすることが可能な操作部と、
前記第1制御および前記第2制御を実行する場合における制御状態を表示可能な表示部とをさらに備える、請求項1または請求項2に記載の予備制御装置。
an operation unit capable of performing an operation for executing the first control and the second control;
3. The standby control device according to claim 1, further comprising a display unit capable of displaying a control state when the first control and the second control are executed.
前記第1制御部は、前記操作部が操作されることに応じて、前記第1制御を手動制御のみで実行可能である、請求項4に記載の予備制御装置。 The auxiliary control device according to claim 4, wherein the first control unit is capable of performing the first control only by manual control in response to the operation of the operation unit. 前記第2制御部は、前記操作部が操作されることに応じて、前記第2制御を自動制御または手動制御で実行可能である、請求項4に記載の予備制御装置。
The standby control device according to claim 4 , wherein the second control unit is capable of performing the second control in an automatic control or a manual control in response to the operation of the operation unit.
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