JP2024053291A - Inspection module, biological sample analysis system having the same and inspection method of biological sample analysis device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、生体試料分析装置の点検を行う点検用モジュールおよびこれを備えた生体試料分析システム、生体試料分析装置の点検方法に関する。 The present invention relates to an inspection module for inspecting a biological sample analyzer, a biological sample analysis system including the same, and a method for inspecting a biological sample analyzer.
近年、細胞培養等の分野において、生体試料の測定を実施する測定装置が広く用いられている。
例えば、特許文献1には、例えば、血液中の血糖、コレステロールなどを選択的に定量分析することができる電気化学的バイオセンサーテストストリップ及びこのテストストリップを利用する電気化学的バイオセンサー測定器について開示されている。
2. Description of the Related Art In recent years, measuring devices for measuring biological samples have come into widespread use in fields such as cell culture.
For example, Patent Document 1 discloses an electrochemical biosensor test strip capable of selectively quantitatively analyzing, for example, blood glucose, cholesterol, etc. in blood, and an electrochemical biosensor measuring instrument using this test strip.
しかしながら、上記従来の電気化学的バイオセンサーテストストリップでは、以下に示すような問題点を有している。
すなわち、上記公報に開示された電気化学的バイオセンサーテストストリップでは、固定された試薬がどの物質の定量分析のためのものかを示す認識電極を備えており、血糖、コレステロール、GOT、GPT等の様々な血中成分を一つの測定器を用いて定量的に分析することができる。しかし、このテストストリップでは、測定器において接続不良、断線、ICの故障等の測定回路の異常が生じている場合でも、使用者がそれに気付かずに使用してしまい、測定結果を得られない、あるいは誤った測定結果を得てしまうおそれがある。
However, the above-mentioned conventional electrochemical biosensor test strips have the following problems.
That is, the electrochemical biosensor test strip disclosed in the above publication is equipped with a recognition electrode that indicates which substance the immobilized reagent is for quantitatively analyzing, and various blood components such as blood glucose, cholesterol, GOT, GPT, etc. can be quantitatively analyzed using a single measuring device. However, with this test strip, even if there is an abnormality in the measuring circuit of the measuring device, such as a poor connection, a broken wire, or a broken IC, the user may continue to use the test strip without noticing it, and there is a risk that no measurement result or an erroneous measurement result will be obtained.
本発明の課題は、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することが可能な点検用モジュールおよびこれを備えた生体試料分析装置、生体試料分析装置の点検方法を提供することにある。 The objective of the present invention is to provide an inspection module that can easily detect the occurrence of an abnormality in a measurement device that performs various measurements of biological samples, a biological sample analyzer equipped with the same, and an inspection method for the biological sample analyzer.
第1の発明に係る点検用モジュールは、生体試料分析装置にセットされた状態で電圧が印加されることで生体試料分析装置に含まれる測定回路の点検を実施する点検用モジュールであって、基板と、電極部と、抵抗部と、を備えている。基板は、第1面と第1面とは反対側の第2面とを有する。電極部は、基板に設けられており、生体試料分析装置に設けられた電圧印加部と当接し、電圧印加部から所定の電圧が印加される。抵抗部は、基板に設けられており、電極部と電気的に接続され、正常状態において電圧印加部から所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する。 The inspection module according to the first invention is an inspection module that inspects a measurement circuit included in a biological sample analyzer by applying a voltage to the inspection module when the inspection module is set in the biological sample analyzer, and includes a substrate, an electrode section, and a resistance section. The substrate has a first surface and a second surface opposite to the first surface. The electrode section is provided on the substrate and abuts against a voltage application section provided on the biological sample analyzer, and a predetermined voltage is applied from the voltage application section. The resistance section is provided on the substrate and is electrically connected to the electrode section, and has a resistance value that generates a current value in a predetermined range when a predetermined voltage is applied from the voltage application section in a normal state.
ここでは、通常、生体試料の測定を行うセンサを取り付けた状態で実施されていた生体試料分析装置の測定回路の点検を実施するために、電極部と抵抗部とが基板上に設けられた点検用モジュールを用いる。
ここで、抵抗部は、電極部に対して所定の電圧が印加された際に、所定の電流値を生じさせる抵抗値を有する抵抗であって、抵抗部に流れる電流値を測定することで、生体試料分析装置の測定回路の電気的な接続不良の有無、測定回路の不具合の有無等の点検を実施することができる。
Here, an inspection module having an electrode section and a resistor section provided on a substrate is used to perform inspection of the measurement circuit of a biological sample analyzer, which is normally performed with a sensor attached that measures the biological sample.
Here, the resistance portion is a resistor having a resistance value that generates a predetermined current value when a predetermined voltage is applied to the electrode portion, and by measuring the current value flowing through the resistance portion, it is possible to check for poor electrical connection in the measurement circuit of the biological sample analyzer, for malfunctions in the measurement circuit, etc.
これにより、生体試料の測定を行うセンサを用いた点検と比較して、電気化学方式のセンサのように培地等の液体を準備する必要がなく、取り扱いが容易になる。また、センサのように、個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。さらに、センサを用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
この結果、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができる。
This makes it easier to handle than inspections using sensors that measure biological samples, since there is no need to prepare liquids such as culture media as with electrochemical sensors. Also, there is no variation in measurement accuracy due to individual differences, as with sensors, and highly accurate inspections can be performed. Furthermore, compared to inspections using sensors, for example, there is no need to ensure enzyme reaction time during measurement, so the response speed can be significantly improved and inspections can be performed efficiently.
As a result, occurrence of an abnormality in a measuring device that performs various measurements on biological samples can be easily detected.
第2の発明に係る点検用モジュールは、第1の発明に係る点検用モジュールであって、電極部は、基板の第1面に配置されており、抵抗部は、基板の第2面に配置されている。
これにより、基板上に配置された際に凹凸を生じさせる抵抗部を、電極部とは反対側の第2面に配置させることで、電極部が設けられた第1面の清掃を容易に行うことができる。
The inspection module of the second invention is the inspection module of the first invention, wherein the electrode portion is arranged on a first surface of the substrate and the resistance portion is arranged on a second surface of the substrate.
This makes it possible to easily clean the first surface on which the electrode portion is provided by arranging the resistance portion, which creates unevenness when placed on the substrate, on the second surface opposite the electrode portion.
第3の発明に係る点検用モジュールは、第1または第2の発明に係る点検用モジュールであって、抵抗部は3つ設けられている。
これにより、センサを用いた測定時とほぼ同等の状態で、点検を実施することができる。
An inspection module according to a third aspect of the present invention is the inspection module according to the first or second aspect of the present invention, wherein three resistor portions are provided.
This allows inspection to be carried out under conditions almost identical to those when measurements are taken using a sensor.
第4の発明に係る点検用モジュールは、第1または第2の発明に係る点検用モジュールであって、基板には、1つの測定対象に対して用意された電極部および抵抗部を1組として、複数組の電極部および抵抗部が配置されている。
これにより、複数のセンサを用いて同時に測定を行う生体試料分析装置の点検を、1つの点検用モジュールを用いて実施することができる。
The inspection module of the fourth invention is an inspection module of the first or second invention, in which a plurality of sets of electrode parts and resistance parts are arranged on the substrate, with one set of electrode part and resistance part prepared for one measurement object.
This makes it possible to use a single inspection module to inspect a biological sample analyzer that uses multiple sensors to perform measurements simultaneously.
第5の発明に係る生体試料分析システムは、第1または第2の発明に係る点検用モジュールと、点検用モジュールの電極部に対して当接した状態で所定の電圧を印加する電圧印加部と、点検用モジュールの抵抗部に流れる電流を測定する測定装置と、測定装置における測定結果が所定の範囲内であるか否かに応じて、正常であるか否かを判定する制御装置と、を備えている。
これにより、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができるシステムを構築することができる。
The biological sample analysis system of the fifth invention comprises an inspection module of the first or second invention, a voltage application section that applies a predetermined voltage while in contact with an electrode section of the inspection module, a measuring device that measures the current flowing through the resistor section of the inspection module, and a control device that determines whether or not the measurement results of the measuring device are normal depending on whether they are within a predetermined range.
This makes it possible to construct a system that can easily detect the occurrence of an abnormality in a measurement device that performs various measurements on biological samples.
第6の発明に係る生体試料分析システムは、第5の発明に係る生体試料分析システムであって、制御装置は、測定装置における測定結果が所定の範囲外である場合には、接続不良、あるいは測定回路の異常があると判定する。
これにより、抵抗部を流れる電流値が所定の範囲内であるか否かに応じて、接続不要あるいは測定回路の異常の有無を検知することができる。
The biological sample analysis system of the sixth invention is the biological sample analysis system of the fifth invention, in which the control device determines that there is a poor connection or an abnormality in the measurement circuit when the measurement result of the measurement device is outside a predetermined range.
This makes it possible to detect whether a connection is unnecessary or whether there is an abnormality in the measurement circuit depending on whether the value of the current flowing through the resistance portion is within a predetermined range.
第7の発明に係る点検用モジュールは、第1または第2の発明に係る点検用モジュールを用いた生体試料分析装置の点検方法であって、点検用モジュールを生体試料分析装置にセットするステップと、点検用モジュールの電極部に所定の電圧を印加するステップと、点検用モジュールの抵抗部を流れる電流を測定するステップと、電流の値が所定の範囲内であるか否かに応じて、生体試料分析装置に含まれる測定回路が正常であるか否かを判定するステップと、を備えている。 The inspection module of the seventh invention is a method for inspecting a biological sample analyzer using the inspection module of the first or second invention, and includes the steps of setting the inspection module in the biological sample analyzer, applying a predetermined voltage to the electrode portion of the inspection module, measuring the current flowing through the resistor portion of the inspection module, and determining whether the measurement circuit included in the biological sample analyzer is normal or not depending on whether the value of the current is within a predetermined range.
これにより、生体試料の測定を行うセンサを用いた点検と比較して、電気化学方式のセンサのように培地等の液体を準備する必要がなく、取り扱いが容易になる。また、センサのように、個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。さらに、センサを用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
この結果、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができる。
This makes it easier to handle than inspections using sensors that measure biological samples, since there is no need to prepare liquids such as culture media as with electrochemical sensors. Also, there is no variation in measurement accuracy due to individual differences, as with sensors, and highly accurate inspections can be performed. Furthermore, compared to inspections using sensors, for example, there is no need to ensure enzyme reaction time during measurement, so the response speed can be significantly improved and inspections can be performed efficiently.
As a result, occurrence of an abnormality in a measuring device that performs various measurements on biological samples can be easily detected.
本発明に係る点検用モジュールによれば、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができる。 The inspection module of the present invention makes it easy to detect the occurrence of abnormalities in a measurement device that performs various measurements of biological samples.
本発明の一実施形態に係る点検用モジュール10およびこれを備えた細胞培養分析システム(生体試料分析システム)1について、図1~図12を用いて説明すれば以下の通りである。
なお、本実施形態では、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け、当業者の理解を容易にするためである。
An inspection module 10 according to one embodiment of the present invention and a cell culture analysis system (biological sample analysis system) 1 equipped with the same will be described below with reference to Figs. 1 to 12.
In this embodiment, more detailed explanation than necessary may be omitted. For example, detailed explanation of already well-known matters or duplicate explanation of substantially the same configuration may be omitted. This is to avoid the following explanation from becoming unnecessarily redundant and to facilitate understanding by those skilled in the art.
また、出願人は、当業者が本発明を十分に理解するために添付図面および以下の説明を提供するのであって、これらによって特許請求の範囲に記載の主題を限定することを意図するものではない。
本実施形態の細胞培養分析システム(生体試料分析システム)1は、点検用モジュール10と、点検用モジュール10の電極部14に対して当接した状態で所定の電圧を印加するコンタクトプローブ(電圧印加部)32aと、点検用モジュール10の抵抗部15に流れる電流を測定するCPU(測定装置)34と、CPU34における測定結果が所定の範囲内であるか否かに応じて、正常であるか否かを判定するPC(制御装置)37と、を備えている(図11参照)。
Furthermore, the applicant provides the accompanying drawings and the following description so that those skilled in the art can fully understand the present invention, and they are not intended to limit the subject matter described in the claims.
The cell culture analysis system (biological sample analysis system) 1 of this embodiment comprises an inspection module 10, a contact probe (voltage application section) 32a that applies a predetermined voltage while in contact with the electrode section 14 of the inspection module 10, a CPU (measurement device) 34 that measures the current flowing through the resistance section 15 of the inspection module 10, and a PC (control device) 37 that determines whether or not the measurement results of the CPU 34 are normal depending on whether they are within a predetermined range (see Figure 11).
本実施形態に係る点検用モジュール10は、細胞培養分析システム1に含まれ、細胞培養分析装置(生体試料分析装置)30(図5参照)にセットされた状態で電圧が印加されることで細胞培養分析装置30に含まれる測定回路の点検を実施する。点検用モジュール10は、図1に示すように、培地Xに含まれるグルコース等の濃度を測定するセンサ基板50(図7等参照)の代わりに、アダプタ20の本体部20aの上面にセットされた状態で、後述する細胞培養分析装置30(図5参照)内に装填される。点検用モジュール10は、図2(a)~図2(c)および図3に示すように、基板11と、ネジ12と、脚部13と、電極部14と、抵抗部15と、プレート部材16と、を備えている。 The inspection module 10 according to this embodiment is included in the cell culture analysis system 1, and is set in the cell culture analysis device (biological sample analysis device) 30 (see FIG. 5) and a voltage is applied to inspect the measurement circuit included in the cell culture analysis device 30. As shown in FIG. 1, the inspection module 10 is loaded into the cell culture analysis device 30 (see FIG. 5) described below in a state where it is set on the upper surface of the main body 20a of the adapter 20 in place of the sensor board 50 (see FIG. 7, etc.) that measures the concentration of glucose, etc., contained in the culture medium X. As shown in FIGS. 2(a) to 2(c) and 3, the inspection module 10 includes a board 11, a screw 12, a leg 13, an electrode portion 14, a resistor portion 15, and a plate member 16.
基板11は、図2(a)~図2(c)に示すように、略長方形の板状の部材であって、図1に示すアダプタ20の本体部20aの上にセットされた状態において上面に当たる第1面11aと、第1面11aとは反対側の第2面11bとを有している。
第1面11aは、図2(a)に示すように、表面に複数の電極部14が設けられている。
As shown in Figures 2(a) to 2(c), the substrate 11 is a substantially rectangular plate-like member, and has a first surface 11a that comes into contact with the upper surface when set on the main body 20a of the adapter 20 shown in Figure 1, and a second surface 11b opposite the first surface 11a.
As shown in FIG. 2A, the first surface 11a has a plurality of electrode portions 14 provided on the surface.
第2面11bは、図2(b)に示すように、表面に複数の抵抗部15が設けられている。そして、第2面11b上に配置された複数の抵抗部15は、図2(c)に示すように、第2面11bの表面から突出している。
ネジ12は、図3に示すように、略四角形の基板11の4つの角にそれぞれ設けられた貫通穴に挿入され、後述するプレート部材16の4つの角部に設けられたネジ穴に螺合する。これにより、基板11がプレート部材16に対して固定される。
As shown in Fig. 2(b), the second surface 11b has a plurality of resistor portions 15 provided on the surface thereof. The plurality of resistor portions 15 arranged on the second surface 11b protrude from the surface of the second surface 11b as shown in Fig. 2(c).
3, the screws 12 are inserted into through holes provided at the four corners of the substantially rectangular substrate 11 and screwed into screw holes provided at the four corners of a plate member 16, which will be described later. In this way, the substrate 11 is fixed to the plate member 16.
脚部13は、後述する略四角形のプレート部材16の4つの角にそれぞれ下向きに突出するように設けられている。脚部13は、図1に示すように、アダプタ20の本体部20aの4つの角部に設けられた位置決め穴20cの挿入されることで、培養容器25の各ウェル25aに対する点検用モジュール10の位置決めが行われる。
電極部14は、後述する細胞培養分析装置30のコンタクトプローブ(電圧印加部)32aが当接して所定の電圧が印加されることで、細胞培養分析装置30の測定回路の接続不良や不具合の有無を検知する。また、電極部14は、4つの電極部14を1セットとして(図5参照)、後述する培養容器25に含まれる1つのウェル25a(図4参照)に対応している。本実施形態では、24個のウェル25aに対して、電極部14は、基板11の第1面11a上に24セット(4×24=96個)設けられている。
The legs 13 are provided so as to protrude downward from each of the four corners of a substantially rectangular plate member 16 described later. As shown in FIG. 1 , the legs 13 are inserted into positioning holes 20c provided at the four corners of the main body 20a of the adapter 20, thereby positioning the inspection module 10 with respect to each well 25a of the culture vessel 25.
A contact probe (voltage application unit) 32a of the cell culture analyzer 30 described later comes into contact with the electrode unit 14 to apply a predetermined voltage, thereby detecting the presence or absence of a poor connection or malfunction in the measurement circuit of the cell culture analyzer 30. Four electrode units 14 form one set (see FIG. 5 ), and each set corresponds to one well 25a (see FIG. 4 ) included in the culture vessel 25 described later. In this embodiment, 24 sets (4×24=96) of electrode units 14 are provided on the first surface 11a of the substrate 11 for the 24 wells 25a.
抵抗部15は、電極部14と電気的に接続されており、電極部14に所定の電圧が印加されると、細胞培養分析装置30の測定回路が正常であれば、所定の範囲の電流が流れる抵抗値を有している。抵抗部15は、図2(b)に示すように、3つを1セットとして、後述する培養容器25に含まれる1つのウェル25a(図4参照)に対応している。本実施形態では、24個のウェル25aに対して、抵抗部15は、基板11の第2面11b上に24セット(3×24=72個)設けられている。 The resistor portion 15 is electrically connected to the electrode portion 14, and when a predetermined voltage is applied to the electrode portion 14, if the measurement circuit of the cell culture analyzer 30 is normal, the resistor portion 15 has a resistance value that allows a current to flow within a predetermined range. As shown in FIG. 2(b), three resistor portions 15 form one set, and each set corresponds to one well 25a (see FIG. 4) included in the culture vessel 25 described below. In this embodiment, 24 sets (3 x 24 = 72 resistor portions) of resistor portions 15 are provided on the second surface 11b of the substrate 11 for the 24 wells 25a.
プレート部材16は、図2(a)~図2(c)に示す基板11が上面に重ねられた状態で、4つのネジ12を用いて固定される板状の部材であって、上述した脚部13が4つの角部に設けられている。プレート部材16は、図3に示すように、本体部16aと、複数の溝部16bとを有している。
本体部16aは、略長方形の板状部材であって、基板11の第2面11bの表面から突出するように配置された複数の抵抗部15に対向する位置に、複数の溝部16bが形成されている。
2(a) to 2(c) is placed on the upper surface of the plate member 16, which is a plate-like member fixed with four screws 12, and the above-mentioned legs 13 are provided at the four corners. As shown in FIG. 3, the plate member 16 has a main body 16a and a plurality of grooves 16b.
The main body portion 16a is a substantially rectangular plate-like member, and has a plurality of grooves 16b formed in positions facing a plurality of resistor portions 15 arranged to protrude from the surface of the second face 11b of the substrate 11.
溝部16bは、略長方形の本体部16aの長手方向に略平行に形成された凹部であって、基板11とプレート部材16とが重ね合わされた状態で、抵抗部15が配置される。
これにより、抵抗部15の出っ張りを、プレート部材16の溝部16bによって吸収することができる。
培養容器25は、図4に示すように、縦4列横6列の計24個のウェル25aを含むように構成されている。培養容器25は、図1に示すように、アダプタ20とベース部材23との間に配置されている。
The groove portion 16b is a recess formed approximately parallel to the longitudinal direction of the approximately rectangular main body portion 16a, and the resistor portion 15 is disposed in the groove portion 16b when the substrate 11 and the plate member 16 are superimposed on each other.
As a result, the protrusion of the resistor portion 15 can be absorbed by the groove portion 16 b of the plate member 16 .
The culture vessel 25 is configured to include a total of 24 wells 25a in four vertical rows and six horizontal rows, as shown in Fig. 4. The culture vessel 25 is disposed between the adaptor 20 and the base member 23, as shown in Fig. 1.
本実施形態の点検用モジュール10を用いて点検が行われる細胞培養分析装置30は、図5に示すように、筐体部30aと、引き出し部31とを有している。
引き出し部31は、筐体部30aに対して進退することで、筐体部30aの内部空間S1内に、図1に示すアダプタ20上にセットされた点検用モジュール10が装填される。
細胞培養分析装置30の筐体部30aの内部空間S1内に装填された点検用モジュール10は、細胞培養分析装置30のコンタクトプローブ32aが各電極部14に対して当接した状態で、点検用の所定の電圧が印加されることで、細胞培養分析装置30の測定回路の不具合の有無を点検することができる。
The cell culture analyzer 30 that is inspected using the inspection module 10 of this embodiment has a housing section 30a and a drawer section 31, as shown in FIG.
The drawer 31 advances and retreats relative to the housing 30a, whereby the inspection module 10 set on the adapter 20 shown in FIG. 1 is loaded into the internal space S1 of the housing 30a.
The inspection module 10 loaded into the internal space S1 of the housing portion 30a of the cell culture analysis device 30 can check for any malfunctions in the measurement circuit of the cell culture analysis device 30 by applying a predetermined inspection voltage while the contact probe 32a of the cell culture analysis device 30 is abutted against each electrode portion 14.
ここで、本実施形態では、点検用に設けられた4つで1セットの電極部14に対して当接させるコンタクトプローブ32a以外に、点検用モジュール10あるいはセンサ基板50のセットを検知するための2本のコンタクトプローブ32bが設けられている。
コンタクトプローブ32bは、図2(a)に示す2つの検知電極14aに対応する位置に設けられている。コンタクトプローブ32bは、図6に示すように、検知電極14aに対して当接した状態で、2本のうちの一方から電圧を印加することで、点検用モジュール10あるいはセンサ基板50が細胞培養分析装置30の筐体部30a内に装填されているか否かを検知することができる。
Here, in this embodiment, in addition to the contact probe 32a that is brought into contact with a set of four electrode portions 14 provided for inspection purposes, two contact probes 32b are provided for detecting the set of inspection modules 10 or sensor boards 50.
The contact probe 32b is provided at a position corresponding to the two detection electrodes 14a shown in Fig. 2(a). As shown in Fig. 6, the contact probe 32b can detect whether the inspection module 10 or the sensor board 50 is loaded in the housing 30a of the cell culture analyzer 30 by applying a voltage to one of the two probes while in contact with the detection electrode 14a.
なお、図6に示す状態では、点検用モジュール10がセットされ、細胞培養分析装置30の測定回路の点検を実施するため、培養容器25のウェル25aに培地Xが入れられている必要はない。
これにより、図7に示す測定用のセンサ基板50をセットした状態で細胞培養分析装置30の測定回路の点検を実施する場合と比較して、培地Xを用意する必要がなく、点検時における取り扱いが容易になる。また、センサ基板50を用いた場合と比較して、センサ51の個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。さらに、センサ51を用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
In the state shown in FIG. 6, since the inspection module 10 is set and the measurement circuit of the cell culture analyzer 30 is inspected, it is not necessary for the culture medium X to be placed in the well 25a of the culture vessel 25.
As a result, compared to the case where the measurement circuit of the cell culture analyzer 30 is inspected with the sensor substrate 50 for measurement set as shown in Fig. 7, there is no need to prepare the culture medium X, and handling during inspection is easier. Also, compared to the case where the sensor substrate 50 is used, there is no variation in measurement accuracy due to individual differences in the sensor 51, and inspection can be performed with high accuracy. Furthermore, compared to the case where the sensor 51 is used, for example, there is no need to ensure the reaction time of the enzyme during measurement, so the response speed can be significantly improved and inspection can be performed efficiently.
この結果、細胞培養分析装置30の測定回路の異常の発生を容易に検知することができる。
そして、点検用モジュール10を用いて点検が行われた結果、細胞培養分析装置30の測定回路に異常がないと判定されると、培養容器25の各ウェル25aに培地Xが入れられた状態で、図7に示すように、センサ基板50がアダプタ20上にセットされる。
As a result, the occurrence of an abnormality in the measurement circuit of the cell culture analyzer 30 can be easily detected.
Then, when inspection is performed using the inspection module 10 and it is determined that there is no abnormality in the measurement circuit of the cell culture analysis device 30, the sensor board 50 is set on the adapter 20 as shown in Figure 7, with culture medium X placed in each well 25a of the culture container 25.
センサ基板50は、図7に示すように、本体部50aにおける培養容器25の24個のウェル25aに対応する位置にそれぞれ1つずつ配置された24個のセンサ51を含む。
センサ51は、図7に示すように、本体部50aの下面側から、測定電極(電極53a,53b,53c,53d)が下向きに突出している。また、センサ51は、基板52が略L字型に折り曲げられた状態で、センサ基板50に保持されている(図9参照)。
As shown in FIG. 7, the sensor substrate 50 includes 24 sensors 51 arranged at positions corresponding to the 24 wells 25a of the culture vessel 25 in the main body 50a.
As shown in Fig. 7, the sensor 51 has measurement electrodes (electrodes 53a, 53b, 53c, and 53d) protruding downward from the lower surface side of the main body 50a. The sensor 51 is held by the sensor substrate 50 with the substrate 52 bent into a substantially L-shape (see Fig. 9).
電極53a~53dは、センサ51の基板52における先端部に設けられており、上述した培養容器25の各ウェル25aに入れられた培地Xに浸漬された状態で各種測定が行われる。
すなわち、センサ基板50は、図7に示すように、センサ51の電極53a~53d側が下向きに突出した状態でアダプタ20の上面にセットされると、センサ基板50の4つの脚部50bがそれぞれアダプタ20側の4つの位置決め穴20cに挿入されることで、センサ基板50の培養容器25に対する位置決めが行われる。
The electrodes 53a to 53d are provided at the tip of the substrate 52 of the sensor 51, and various measurements are performed while immersed in the culture medium X placed in each well 25a of the culture vessel 25 described above.
That is, when the sensor substrate 50 is set on the upper surface of the adapter 20 with the electrodes 53a to 53d of the sensor 51 protruding downward as shown in FIG. 7, the four legs 50b of the sensor substrate 50 are inserted into the four positioning holes 20c on the adapter 20 side, thereby positioning the sensor substrate 50 with respect to the culture vessel 25.
このとき、下向きに突出したセンサ51の先端部分は、アダプタ20の本体部20aに形成された貫通孔20bを通過して、アダプタ20の下方に設けられた培養容器25のウェル25aに入れられた培地Xに浸漬される。
アダプタ20の上面にセットされたセンサ基板50は、図8に示すように、細胞培養分析装置30の引き出し部31を引き出した状態でセットされ、引き出し部31が筐体部30a内に退避することで、細胞培養分析装置30の筐体部30aの内部空間S1内に装填される。
At this time, the tip portion of the sensor 51 protruding downward passes through the through hole 20b formed in the main body 20a of the adapter 20 and is immersed in the culture medium X contained in the well 25a of the culture vessel 25 provided below the adapter 20.
The sensor substrate 50 set on the upper surface of the adapter 20 is set with the drawer section 31 of the cell culture analysis device 30 pulled out, as shown in Figure 8, and the drawer section 31 is retracted into the housing section 30a, thereby loading it into the internal space S1 of the housing section 30a of the cell culture analysis device 30.
このとき、センサ基板50の上面には、図8に示すように、4つで1セットとなる電極パッド54a,54b,54c,54dが設けられている。
電極パッド54a~54dは、基板52の下端側に設けられた電極53a~53dに電気的に接続された状態で基板52の上端側に設けられており、センサ基板50の上面において露出している。そして、電極パッド54a~54dは、図9に示すように、細胞培養分析装置30内にセンサ基板50が装填されると、コンタクトプローブ32aが当接して、測定用の所定の電圧が印加される。
At this time, as shown in FIG. 8, a set of four electrode pads 54a, 54b, 54c, and 54d are provided on the upper surface of the sensor substrate 50.
The electrode pads 54a to 54d are provided on the upper end side of the substrate 52 in a state of being electrically connected to the electrodes 53a to 53d provided on the lower end side of the substrate 52, and are exposed on the upper surface of the sensor substrate 50. When the sensor substrate 50 is loaded into the cell culture analyzer 30, as shown in Fig. 9, the electrode pads 54a to 54d are brought into contact with the contact probe 32a, and a predetermined voltage for measurement is applied.
これにより、培養容器25の各ウェル25aに入れられた培地Xに浸漬された状態のセンサ51の測定電極(電極53a~53d)において検出される電流値によって、培地Xに含まれる各種成分の濃度等を測定することができる。
ここで、本実施形態の点検用モジュール10は、図10に示すように、コンタクトプローブ32aを介して所定の電圧が印加される。このとき、細胞培養分析装置30は、4つで1セットの電極部14に対してそれぞれ設けられた24個のAFE(Analog Front END)33から、各コンタクトプローブ32aに対して電圧を印加する。
This makes it possible to measure the concentrations of various components contained in the culture medium X based on the current values detected at the measurement electrodes (electrodes 53a to 53d) of the sensor 51 when immersed in the culture medium X contained in each well 25a of the culture vessel 25.
Here, in the inspection module 10 of this embodiment, a predetermined voltage is applied via the contact probes 32a as shown in Fig. 10. At this time, the cell culture analyzer 30 applies a voltage to each of the contact probes 32a from 24 AFEs (Analog Front ENDs) 33 provided for each set of four electrode units 14.
AFE(Analog Front END)33は、信号を検出するセンサ等のデバイスと、デジタル信号処理のデバイスとを結ぶアナログ回路である。
センサ等で検出されたアナログ信号は、微弱であって、雑音成分が多く含まれている場合が多い。このため、検出されたアナログ信号のままでは、A/Dコンバータでデジタル信号に変換することは難しい。そこで、AFE33は、センサ等から出力されたアナログ信号を調整するために設けられており、図11に示すように、オペアンプ33aやA/Dコンバータ33b、D/Aコンバータ33c、フィルタ等の半導体チップを含む。
The AFE (Analog Front END) 33 is an analog circuit that connects devices such as sensors that detect signals and devices that process digital signals.
Analog signals detected by sensors and the like are often weak and contain a large amount of noise components. For this reason, it is difficult to convert the detected analog signals directly into digital signals by an A/D converter. Therefore, the AFE 33 is provided to adjust the analog signals output from sensors and the like, and includes semiconductor chips such as an operational amplifier 33a, an A/D converter 33b, a D/A converter 33c, and a filter, as shown in FIG.
なお、図11では、説明の便宜上、1つのAFE33の構成を拡大して示しているが、他の23個のAFE33についても同様の構成であることは言うまでもない。
また、AFE33は、CPU(Central Processing Unit)34に接続されており、CPU(Central Processing Unit)34によって、コンタクトプローブ32a,32bから印加される電圧が制御される。
For ease of explanation, FIG. 11 shows an enlarged view of the configuration of one AFE 33, but it goes without saying that the other 23 AFEs 33 have the same configuration.
Furthermore, the AFE 33 is connected to a CPU (Central Processing Unit) 34, and the CPU (Central Processing Unit) 34 controls the voltages applied from the contact probes 32a and 32b.
CPU34は、24個のAFE33の制御を行うとともに、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)35に保存された各種データ・プログラム等を用いて、各種処理を実行する。
EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)35は、細胞培養分析装置30の電源を切断して記録された内容が消えない不揮発メモリの一種であって、各種データ・プログラム等を保存している。
The CPU 34 controls the 24 AFEs 33 and executes various processes using various data, programs, etc. stored in an EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory) 35 .
The EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory) 35 is a type of non-volatile memory in which the recorded contents are not erased even when the power to the cell culture analyzer 30 is turned off, and stores various data, programs, etc.
CPU34は、USB(Universal Serial Bus)36を介して、AFE33から出力された出力(例えば、点検用モジュール10の電極部14において検出された電流値等)をPC(Personal Computer)37へ送信する。
PC37は、USB36を介して受信した点検用モジュール10の電極部14において検出された電流値が所定の範囲内であるか否かに応じて、細胞培養分析装置30の測定回路における異常の有無を判定する。
The CPU 34 transmits the output from the AFE 33 (for example, the current value detected at the electrode portion 14 of the inspection module 10 ) to a PC (Personal Computer) 37 via a USB (Universal Serial Bus) 36 .
The PC 37 determines whether or not there is an abnormality in the measurement circuit of the cell culture analyzer 30 depending on whether or not the current value detected at the electrode portion 14 of the inspection module 10 received via the USB 36 is within a predetermined range.
また、図11に示すように、点検用モジュール10には、3つの抵抗部15が含まれている。
これにより、実際にセンサ基板50をセットして培地Xの測定を実施した場合とほぼ同等の状態で、点検用モジュール10を用いた点検を実施することができる。
As shown in FIG. 11, the inspection module 10 includes three resistor portions 15 .
This allows inspection to be performed using the inspection module 10 in a state that is almost the same as when the sensor board 50 is actually set and the culture medium X is measured.
<点検用モジュール10を用いた点検方法>
本実施形態の点検用モジュール10を用いた細胞培養分析装置30の点検方法について、図12のフローチャートを用いて説明すれば以下の通りである。
すなわち、図12に示すように、ステップS11では、細胞培養分析装置30の電源がONされる。
次に、ステップS12では、点検用モジュール10が細胞培養分析装置30にセットされる。
次に、ステップS13では、細胞培養分析装置30の各AFE33に含まれるオペアンプ33aがONされる。
<Inspection method using inspection module 10>
The inspection method for the cell culture analyzer 30 using the inspection module 10 of this embodiment will be described below with reference to the flow chart of FIG.
That is, as shown in FIG. 12, in step S11, the power supply of the cell culture analyzer 30 is turned on.
Next, in step S12, the inspection module 10 is set in the cell culture analyzer 30.
Next, in step S13, the operational amplifier 33a included in each AFE 33 of the cell culture analyzer 30 is turned ON.
次に、ステップS14では、AFE33のオペアンプ33aから、点検用モジュール10の抵抗部15に対して所定の電圧が印加される。
次に、ステップS15では、抵抗部15に所定の電圧が印加された状態で検出された電流値を測定する。電流値に相当する信号は、コンタクトプローブ32aを介してAFE33に入力され、アナログ信号からデジタル信号へ変換された後、CPU34を介して、PC37へ送信される。
Next, in step S14, a predetermined voltage is applied from the operational amplifier 33a of the AFE 33 to the resistor portion 15 of the inspection module 10.
Next, in step S15, a current value detected in a state where a predetermined voltage is applied to the resistor portion 15 is measured. A signal corresponding to the current value is input to the AFE 33 via the contact probe 32a, converted from an analog signal to a digital signal, and then transmitted to the PC 37 via the CPU 34.
次に、ステップS16では、PC37が、検出されたん電流値が所定の範囲内であるか否かを判定する。ここで、所定の範囲内であると判定されると、ステップS17へ進み、所定の範囲内にないと判定されると、ステップS18へ進む。
次に、ステップS17では、ステップS16において、検出された電流値が所定の範囲内であると判定されたため、細胞培養分析装置30の測定回路に異常なしと判定し、PC37の表示画面にその旨を表示させる。
Next, in step S16, the PC 37 judges whether the detected current value is within a predetermined range or not. If it is judged to be within the predetermined range, the process proceeds to step S17, and if it is judged not to be within the predetermined range, the process proceeds to step S18.
Next, in step S17, since it was determined in step S16 that the detected current value is within the predetermined range, it is determined that there is no abnormality in the measurement circuit of the cell culture analysis apparatus 30, and this is displayed on the display screen of the PC 37.
一方、ステップS18では、ステップS16において、検出された電流値が所定の範囲内にないと判定されたため、細胞培養分析装置30の測定回路に電気的接続不良、ICの異常等の異常ありと判定し、PC37の表示画面にその旨を表示させる。
次に、ステップS19では、各AFE37に含まれるオペアンプ33aがOFFされる。
次に、ステップS20では、点検用モジュール10が、細胞培養分析装置30の筐体部30aから取り出される。
On the other hand, in step S18, since it was determined in step S16 that the detected current value is not within the predetermined range, it is determined that there is an abnormality in the measurement circuit of the cell culture analysis device 30, such as a poor electrical connection or an IC abnormality, and this is displayed on the display screen of PC 37.
Next, in step S19, the operational amplifier 33a included in each AFE 37 is turned off.
Next, in step S20, the inspection module 10 is removed from the housing portion 30a of the cell culture analyzer 30.
<主な特徴>
本実施形態の点検用モジュール10は、図6等に示すように、細胞培養分析装置30にセットされた状態で電圧が印加されることで細胞培養分析装置30に含まれる測定回路の点検を実施するモジュールであって、基板11、電極部14、抵抗部15を備える。基板11は、第1面11aと第1面11aとは反対側の第2面11bとを有する。電極部14は、基板11に設けられ、細胞培養分析装置30に設けられたコンタクトプローブ32aと当接し所定の電圧が印加される。抵抗部15は、基板11に設けられ、電極部14と電気的に接続され、正常状態においてコンタクトプローブ32aから所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する。
<Main features>
As shown in Fig. 6 and other figures, the inspection module 10 of this embodiment is a module that inspects a measurement circuit included in a cell culture analyzer 30 by applying a voltage to the module while the module is set in the cell culture analyzer 30, and includes a substrate 11, an electrode section 14, and a resistor section 15. The substrate 11 has a first surface 11a and a second surface 11b opposite to the first surface 11a. The electrode section 14 is provided on the substrate 11, and a predetermined voltage is applied to the electrode section 14 by contacting a contact probe 32a provided on the cell culture analyzer 30. The resistor section 15 is provided on the substrate 11 and electrically connected to the electrode section 14, and has a resistance value that generates a current value in a predetermined range when a predetermined voltage is applied from the contact probe 32a in a normal state.
これにより、測定用のセンサ基板50を用いて細胞培養分析装置30の測定回路の点検を実施する場合と比較して、培地Xを用意する必要がないため、点検時における手間を省くことができる。
また、点検用モジュール10を用いた場合には、抵抗部15を用いた測定であるため、センサ基板50を用いた点検と比較して、センサ51の個体差に起因する測定精度のバラツキがなく、高精度な点検を実施することができる。
This eliminates the need to prepare culture medium X, as compared to when inspecting the measurement circuit of the cell culture analyzer 30 using a measurement sensor board 50, thereby reducing the effort required for inspection.
Furthermore, when using the inspection module 10, measurement is performed using the resistance part 15, so compared to inspection using the sensor board 50, there is no variation in measurement accuracy due to individual differences in the sensor 51, and a highly accurate inspection can be performed.
さらに、点検用モジュール10を用いた場合には、センサ51を用いた点検と比較して、例えば、測定時に酵素の反応時間を確保する必要がないため、応答速度を大幅に向上させて点検を効率よく実施することができる。
この結果、細胞培養分析装置30の測定回路の異常の発生を容易に検知することができる。
Furthermore, when the inspection module 10 is used, compared to an inspection using the sensor 51, for example, there is no need to ensure enzyme reaction time during measurement, so the response speed can be significantly improved and the inspection can be carried out efficiently.
As a result, the occurrence of an abnormality in the measurement circuit of the cell culture analyzer 30 can be easily detected.
[他の実施形態]
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
(A)
上記実施形態では、基板11の表面側に電極部14、裏面側に抵抗部15がそれぞれ配置された点検用モジュール10の構成を例として挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、電極部と抵抗部とがそれぞれ基板の同じ側の面に設けられた構成であってもよい。
[Other embodiments]
Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible without departing from the gist of the invention.
(A)
In the above embodiment, the configuration of the inspection module 10 in which the electrode portion 14 is disposed on the front side of the substrate 11 and the resistor portion 15 is disposed on the back side of the substrate 11 has been described as an example. However, the present invention is not limited to this.
For example, the electrode portion and the resistor portion may be provided on the same surface of the substrate.
(B)
上記実施形態では、1つの測定対象(ウェル25a)に対して抵抗部15が3つずつ配置された例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、1つの測定対象に対して2つの抵抗部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。あるいは、4つ以上の抵抗部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。
(B)
In the above embodiment, an example has been described in which three resistors 15 are arranged for one measurement target (well 25a), but the present invention is not limited to this.
For example, the inspection module may be configured such that two resistor units are provided for one measurement object, or such that four or more resistor units are provided for one measurement object.
(C)
上記実施形態では、1つの測定対象(ウェル25a)に対して電極部14が4つずつ配置された例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、1つの測定対象に対して3つ以下の電極部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。あるいは、5つ以上の電極部が設けられた点検用モジュールの構成であってもよい。
(C)
In the above embodiment, an example has been described in which four electrode units 14 are arranged for one measurement target (well 25a), but the present invention is not limited to this.
For example, the inspection module may be configured with three or less electrode units for one measurement object, or may be configured with five or more electrode units.
(D)
上記実施形態では、24個のウェル25aを含む培養容器25に対してセンサ51を浸漬させて各種測定が行われるセンサ基板50の代わりに、点検用モジュール10が接続されて細胞培養分析装置30の点検が実施される例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、センサ基板に含まれるセンサの数は24個に限定されるものではなく、1個のセンサを用いて各種測定が行われるセンサ基板の代わりに、本発明の点検用モジュールを用いて生体試料分析装置の点検が実施される構成であってもよい。
(D)
In the above embodiment, an example has been described in which the inspection module 10 is connected to inspect the cell culture analyzer 30 instead of the sensor substrate 50 in which the sensor 51 is immersed in the culture vessel 25 including the 24 wells 25a to perform various measurements. However, the present invention is not limited to this.
For example, the number of sensors included in the sensor board is not limited to 24, and instead of a sensor board in which various measurements are performed using a single sensor, the inspection module of the present invention may be used to perform inspection of the biological sample analysis device.
(E)
上記実施形態では、本発明の点検用モジュール10を用いた点検対象となる生体試料分析装置として、細胞培養分析装置30を用いた例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
(E)
In the above embodiment, an example has been described in which the cell culture analyzer 30 is used as the biological sample analyzer to be inspected using the inspection module 10 of the present invention. However, the present invention is not limited to this.
例えば、細胞培養に関連しない他の生体試料分析装置を点検対象としてもよい。 For example, other biological sample analysis devices unrelated to cell culture may also be inspected.
本発明の点検用モジュールは、生体試料の各種測定を実施する測定装置における異常の発生を容易に検知することができるという効果を奏することから、各種生体試料分析装置の検査を行う装置に対して広く適用可能である。 The inspection module of the present invention has the effect of easily detecting the occurrence of abnormalities in a measurement device that performs various measurements of biological samples, and is therefore widely applicable to devices that inspect various biological sample analyzers.
1 細胞培養分析システム(生体試料分析システム)
10 点検用モジュール
11 基板
11a 第1面
11b 第2面
12 ネジ
13 脚部
14 電極部
14a 検知電極
15 抵抗部
16 プレート部材
16a 本体部
16b 溝部
20 アダプタ
20a 本体部
20b 貫通孔
20c 位置決め穴
23 ベース部材
25 培養容器
25a ウェル
30 細胞培養分析装置(生体試料分析装置)
30a 筐体部
31 引き出し部
32a コンタクトプローブ(電圧印加部)
32b コンタクトプローブ
33 AFE(Analog Front END)
33a オペアンプ
33b A/Dコンバータ
33c D/Aコンバータ
34 CPU(Central Processing Unit)(測定装置)
35 EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)
36 USB(Universal Serial Bus)
37 PC(制御装置)
50 センサ基板
50a 本体部
50b 脚部
51 センサ
52 基板
53a,53b,53c,53d 電極
54a,54b,54c,54d 電極パッド
S1 内部空間
X 培地
1. Cell culture analysis system (biological sample analysis system)
10 Inspection module 11 Substrate 11a First surface 11b Second surface 12 Screw 13 Leg 14 Electrode portion 14a Detection electrode 15 Resistor portion 16 Plate member 16a Main body portion 16b Groove portion 20 Adapter 20a Main body portion 20b Through hole 20c Positioning hole 23 Base member 25 Culture container 25a Well 30 Cell culture analyzer (biological sample analyzer)
30a: Housing portion 31: Lead-out portion 32a: Contact probe (voltage application portion)
32b Contact probe 33 AFE (Analog Front END)
33a: operational amplifier 33b: A/D converter 33c: D/A converter 34: CPU (Central Processing Unit) (measuring device)
35 EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)
36 USB (Universal Serial Bus)
37 PC (control device)
50 Sensor substrate 50a Body portion 50b Leg portion 51 Sensor 52 Substrate 53a, 53b, 53c, 53d Electrodes 54a, 54b, 54c, 54d Electrode pad S1 Internal space X Culture medium
Claims (7)
第1面と前記第1面とは反対側の第2面とを有する基板と、
前記基板に設けられており、前記生体試料分析装置に設けられた電圧印加部と当接し、前記電圧印加部から所定の電圧が印加される電極部と、
前記基板に設けられており、前記電極部と電気的に接続され、正常状態において前記電圧印加部から前記所定の電圧が印加されると所定の範囲の電流値を生じさせる抵抗値を有する抵抗部と、
を備えている点検用モジュール。 An inspection module that inspects a measurement circuit included in a biological sample analyzer by applying a voltage to the inspection module when the inspection module is set in the biological sample analyzer,
a substrate having a first surface and a second surface opposite to the first surface;
an electrode section provided on the substrate, in contact with a voltage application section provided on the biological sample analyzer, to which a predetermined voltage is applied from the voltage application section;
a resistor portion provided on the substrate, electrically connected to the electrode portion, and having a resistance value that generates a current value within a predetermined range when the predetermined voltage is applied from the voltage application portion in a normal state;
An inspection module equipped with
前記抵抗部は、前記基板の前記第2面に配置されている、
請求項1に記載の点検用モジュール。 the electrode portion is disposed on the first surface of the substrate,
The resistor portion is disposed on the second surface of the substrate.
2. The inspection module of claim 1.
請求項1または2に記載の点検用モジュール。 The resistor portion is provided in three pieces.
3. An inspection module according to claim 1 or 2.
請求項1または2に記載の点検用モジュール。 a plurality of pairs of the electrode portion and the resistor portion are arranged on the substrate, with one pair of the electrode portion and the resistor portion being prepared for one measurement target;
3. An inspection module according to claim 1 or 2.
前記点検用モジュールの前記電極部に対して当接した状態で所定の電圧を印加する電圧印加部と、
前記点検用モジュールの前記抵抗部に流れる電流を測定する測定装置と、
前記測定装置における測定結果が所定の範囲内であるか否かに応じて、正常であるか否かを判定する制御装置と、
を備えた生体試料分析システム。 An inspection module according to claim 1 or 2;
a voltage application unit that applies a predetermined voltage to the electrode unit of the inspection module while being in contact with the electrode unit;
A measuring device for measuring a current flowing through the resistor of the inspection module;
a control device that judges whether the measurement result of the measuring device is normal or not depending on whether the measurement result is within a predetermined range;
A biological sample analysis system comprising:
請求項5に記載の生体試料分析システム。 The control device determines that there is a connection failure or an abnormality in the measurement circuit when the measurement result of the measurement device is outside a predetermined range.
The biological sample analyzing system according to claim 5 .
前記点検用モジュールを前記生体試料分析装置にセットするステップと、
前記点検用モジュールの前記電極部に所定の電圧を印加するステップと、
前記点検用モジュールの前記抵抗部を流れる電流を測定するステップと、
前記電流の値が所定の範囲内であるか否かに応じて、前記生体試料分析装置に含まれる測定回路が正常であるか否かを判定するステップと、
を備えた点検方法。 A method for inspecting a biological sample analyzer using the inspection module according to claim 1 or 2, comprising the steps of:
a step of setting the inspection module in the biological sample analyzer;
applying a predetermined voltage to the electrode portion of the inspection module;
measuring a current through the resistor of the test module;
determining whether a measurement circuit included in the biological sample analyzer is normal or not depending on whether the value of the current is within a predetermined range;
An inspection method comprising:
Priority Applications (1)
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JP2022159442A JP2024053291A (en) | 2022-10-03 | 2022-10-03 | Inspection module, biological sample analysis system having the same and inspection method of biological sample analysis device |
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2022
- 2022-10-03 JP JP2022159442A patent/JP2024053291A/en active Pending
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