JP2024039507A - Inspection method and program - Google Patents

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Abstract

【課題】被検査物のエッジ領域における欠陥を検出する技術を改善する。【解決手段】本開示の検査方法は、検査装置によって実行され、被検査物のエッジを含む所定の領域のうち被検査物が占める領域のサイズを算出すること(S1)と、所定の領域を所定の方向に移動させること(S2)と、所定の領域の移動に伴う当該サイズの変化に基づいて、被検査物のエッジ領域における欠陥の有無を判定すること(S4)とを含む。【選択図】図2[Problem] To improve a technique for detecting defects in an edge region of an object to be inspected. [Solution] The inspection method disclosed herein is executed by an inspection device, and includes calculating (S1) the size of an area that the object to be inspected occupies within a predetermined area that includes the edge of the object to be inspected, moving (S2) the predetermined area in a predetermined direction, and judging the presence or absence of a defect in the edge region of the object to be inspected based on the change in the size accompanying the movement of the predetermined area (S4). [Selected Figure] Figure 2

Description

本開示は、検査方法及びプログラムに関する。 The present disclosure relates to an inspection method and program.

従来、被検査物における欠陥の有無は、被検査物が撮像された画像に対するコントラストを活用することによって判定されてきた。特許文献1には、撮影部により撮影された画像中の注目領域と当該注目領域に対する周辺領域とのコントラストを活用した検査システムが開示されている。 Conventionally, the presence or absence of a defect in an object to be inspected has been determined by utilizing the contrast of an image of the object to be inspected. Patent Document 1 discloses an inspection system that utilizes the contrast between a region of interest in an image photographed by a photographing unit and a surrounding region of the region of interest.

特開2017-111085号公報Japanese Patent Application Publication No. 2017-111085

従来の技術では、被検査物のエッジ領域における欠陥を検出するには改善の余地があった。 Conventional techniques leave room for improvement in detecting defects in edge regions of objects to be inspected.

本開示の目的は、被検査物のエッジ領域における欠陥を検出する技術を改善することにある。 An object of the present disclosure is to improve techniques for detecting defects in edge regions of an inspected object.

本開示に係る検査方法は、検査装置が実行する検査方法であって、被検査物のエッジを含む所定の領域のうち前記被検査物が占める領域のサイズを算出することと、前記所定の領域を所定の方向に移動させることと、前記所定の領域の移動に伴う前記サイズの変化に基づいて、前記被検査物のエッジ領域における欠陥の有無を判定することとを含む。 An inspection method according to the present disclosure is an inspection method executed by an inspection device, which includes calculating the size of an area occupied by the object to be inspected out of a predetermined area including an edge of the object to be inspected; and determining the presence or absence of a defect in the edge region of the object to be inspected based on the change in size accompanying the movement of the predetermined region.

本開示に係るプログラムは、コンピュータに、被検査物のエッジを含む所定の領域のうち前記被検査物が占める領域のサイズを算出することと、前記所定の領域を所定の方向に移動させることと、前記所定の領域の移動に伴う前記サイズの変化に基づいて、前記被検査物のエッジ領域における欠陥の有無を判定することとを実行させる。 A program according to the present disclosure causes a computer to calculate the size of an area occupied by the object to be inspected out of a predetermined area including an edge of the object to be inspected, and to move the predetermined area in a predetermined direction. , determining the presence or absence of a defect in an edge region of the object to be inspected based on the change in size as the predetermined region moves.

本開示によれば、被検査物のエッジ領域における欠陥を検出する技術を改善することができる。 According to the present disclosure, it is possible to improve a technique for detecting defects in an edge region of an object to be inspected.

本開示の一実施形態に係る検査装置の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an inspection device according to an embodiment of the present disclosure. 本開示の一実施形態に係る検査装置の動作を示す図である。It is a figure showing operation of an inspection device concerning one embodiment of this indication. 本開示の一実施形態における特徴量を説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating feature amounts in an embodiment of the present disclosure. 本開示の一実施形態における特徴量の差分の変化を説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a change in a difference in feature amounts in an embodiment of the present disclosure. 本開示の一変形例における特徴量を説明する図である。FIG. 7 is a diagram illustrating feature amounts in a modified example of the present disclosure.

従来の技術では、上述したように、被検査物のエッジ領域における欠陥を検出することが困難であった。これは、被検査物を含む画像において、被検査物のエッジ領域のうち欠陥が存在する領域が非検査領域(背景)として認識されるからである。そこで、本発明者
らは、被検査物のエッジ形状に円弧又は線分といった幾何学的形状を追従させることにより、エッジ領域における欠陥を検出することを試みた。しかしながら、この方法では、製品の形状が製品毎にばらつき、且つばらつきに規則性を見出すことが難しい不定形の被検査物については、当該幾何学的形状を追従させるには限界があった。また、この方法では、被検査物の先端部分における欠陥を検出することが困難であった。そこで、本発明者らは、鋭意検討したところ、被検査物のエッジを含む所定の領域のうち被検査物が占める領域のサイズに着目することにより、不定形の被検査物であってもエッジ領域における欠陥を検出することが可能となることを見出した。
With the conventional technology, as described above, it is difficult to detect defects in the edge region of the object to be inspected. This is because, in an image including the object to be inspected, an area where a defect exists among the edge regions of the object to be inspected is recognized as a non-inspection area (background). Therefore, the present inventors attempted to detect defects in the edge region by following the edge shape of the object to be inspected with a geometric shape such as a circular arc or a line segment. However, with this method, there is a limit to the ability to follow the geometric shape of an irregularly shaped inspected object where the shape of the product varies from product to product and it is difficult to find regularity in the variation. Furthermore, with this method, it is difficult to detect defects at the tip of the object to be inspected. Therefore, the inventors of the present invention have conducted extensive studies and found that by focusing on the size of the area occupied by the object to be inspected out of a predetermined area including the edges of the object to be inspected, the edge of the object to be inspected can be improved even when the object is irregularly shaped. It has been found that it is possible to detect defects in the area.

以下、図面を参照して、本開示の一実施形態を説明する。なお、本実施形態において、不定形の被検査物は、製品の形状又は大きさが製品毎に数ミリ程度又は数十ミリ程度ばらつく製品のみならず、製品に外接する近似図形(例えばバウンディングボックス等の矩形)の形状又は大きさが製品毎に数ミリ程度又は数十ミリ程度ばらつく製品を含んでもよい。このばらつきは、ロット生産における段取り替え時に大きく発生するが、これに限られず、製品が製造される度に発生することもある。製品としては、冷凍食品、菓子類、及びパン類等を含む加工食品が挙げられるが、製品自体が柔らかいもの、或いは原材料が柔らかいために製造工程で多少の変形が見込まれるものであれば、必ずしも加工食品に限られない。また、エッジ領域は、例えば、被検査物のエッジから被検査物の中心又は重心に向けて、被検査物の中心又は重心からエッジまでの距離の少なくとも5%までの、少なくとも10%までの、少なくとも15%までの、又は少なくとも20%までの領域であるが、これらに限られない。 Hereinafter, one embodiment of the present disclosure will be described with reference to the drawings. In this embodiment, the irregular-shaped inspection object includes not only products whose shape or size varies by several millimeters or tens of millimeters, but also approximate figures circumscribing the product (for example, bounding boxes, etc.). The shape or size of the rectangle may vary from product to product by several millimeters or tens of millimeters. This variation largely occurs during setup changes in lot production, but is not limited to this, and may occur every time a product is manufactured. Examples of products include processed foods including frozen foods, confectionery, and breads, but if the product itself is soft or the raw materials are soft and some deformation is expected during the manufacturing process, It's not limited to processed foods. The edge region may be, for example, from the edge of the object to be inspected to the center or center of gravity of the object to be inspected, up to at least 5%, up to at least 10% of the distance from the center or center of gravity of the object to the edge. but not limited to, up to at least 15%, or up to at least 20%.

図1を参照して、本実施形態に係る検査装置10の構成を説明する。 With reference to FIG. 1, the configuration of an inspection apparatus 10 according to this embodiment will be described.

検査装置10は、制御部11と、記憶部12と、撮像部13と、入力部14と、出力部15と、を備える。 The inspection device 10 includes a control section 11, a storage section 12, an imaging section 13, an input section 14, and an output section 15.

制御部11は、1つ以上のプロセッサ、1つ以上のプログラマブル回路、1つ以上の専用回路、又はこれらの組合せを含む。プロセッサは、例えばCPU(Central Processing Unit)若しくはGPU(Graphics Processing Unit)等の汎用プロセッサ、又は特定の処理に特化した専用プロセッサである。プログラマブル回路は、例えばFPGA(Field-Programmable Gate Array)である。専用回路は、例えばASIC(Application Specific Integrated Circuit)である。制御部11は、検査装置10の各部を制御しながら、検査装置10の動作に関わる各種処理を実行する。 Control unit 11 includes one or more processors, one or more programmable circuits, one or more dedicated circuits, or a combination thereof. The processor is a general-purpose processor such as a CPU (Central Processing Unit) or a GPU (Graphics Processing Unit), or a dedicated processor specialized for specific processing. The programmable circuit is, for example, an FPGA (Field-Programmable Gate Array). The dedicated circuit is, for example, an ASIC (Application Specific Integrated Circuit). The control unit 11 executes various processes related to the operation of the inspection apparatus 10 while controlling each part of the inspection apparatus 10.

記憶部12は、1つ以上の半導体メモリ、1つ以上の磁気メモリ、1つ以上の光メモリ、又はこれらの組合せを含む。半導体メモリは、例えばRAM(Random Access Memory)又はROM(Read Only Memory)である。記憶部12は、例えば主記憶装置、補助記憶装置、又はキャッシュメモリとして機能する。記憶部12には、検査装置10の動作に用いられる情報と、検査装置10の動作によって得られた情報とが記憶される。 Storage unit 12 includes one or more semiconductor memories, one or more magnetic memories, one or more optical memories, or a combination thereof. The semiconductor memory is, for example, RAM (Random Access Memory) or ROM (Read Only Memory). The storage unit 12 functions as, for example, a main storage device, an auxiliary storage device, or a cache memory. The storage unit 12 stores information used for the operation of the inspection apparatus 10 and information obtained by the operation of the inspection apparatus 10.

撮像部13は、視野内の被検査物を撮影した画像を生成する任意のカメラを含む。カメラは、可視光領域の波長を検出可能なカメラであってもよく、或いは非可視光領域の波長を検出可能なカメラであってもよい。非可視光領域は、例えば赤外線領域、紫外線領域、又はX線領域である。カメラは、例えばレンズ等の光学系と、CCD(Charge-Coupled Device)イメージセンサ又はCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の撮像素子とを含む。 The imaging unit 13 includes any camera that generates an image of the object to be inspected within its field of view. The camera may be a camera capable of detecting wavelengths in the visible light region, or may be a camera capable of detecting wavelengths in the non-visible light region. The non-visible light region is, for example, an infrared region, an ultraviolet region, or an X-ray region. A camera includes, for example, an optical system such as a lens, and an image sensor such as a CCD (Charge-Coupled Device) image sensor or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor.

入力部14は、1つ以上の入力用インタフェースを含む。入力用インタフェースは、例えば物理キー、静電容量キー、ポインティングデバイス、又はディスプレイと一体的に設けられたタッチスクリーンである。入力部14は、検査装置10の動作に用いられる情報をユーザが入力する操作を受け付ける。入力部14は、検査装置10に備えられる代わりに、例えばUSB(Universal Serial Bus)、HDMI(登録商標)、又はBluetooth(登録商標)等の任意の方式により、PC(Personal Computer)又はタブレット端末等の外部の入力機器として検査装置10に接続されてもよい。 The input unit 14 includes one or more input interfaces. The input interface is, for example, a physical key, a capacitive key, a pointing device, or a touch screen integrated with the display. The input unit 14 accepts a user's operation to input information used for the operation of the inspection device 10. Instead of being included in the inspection device 10, the input unit 14 may be connected to a PC (Personal Computer), a tablet terminal, or the like using any method such as USB (Universal Serial Bus), HDMI (registered trademark), or Bluetooth (registered trademark). may be connected to the inspection device 10 as an external input device.

出力部15は、1つ以上の出力用インタフェースを含む。出力用インタフェースは、例えばディスプレイである。ディスプレイは、例えばLCD(Liquid Crystal Display)又は有機EL(Electro Luminescence)ディスプレイである。出力部15は、検査装置10の動作によって得られる情報を出力する。出力部15は、検査装置10に備えられる代わりに、例えばUSB(Universal
Serial Bus)、HDMI(登録商標)、又はBluetooth(登録商標)等の任意の方式により、PC(Personal Computer)又はタブレット端末等の外部の出力機器として検査装置10に接続されてもよい。
The output unit 15 includes one or more output interfaces. The output interface is, for example, a display. The display is, for example, an LCD (Liquid Crystal Display) or an organic EL (Electro Luminescence) display. The output unit 15 outputs information obtained by the operation of the inspection device 10. The output unit 15 is, for example, a USB (Universal
It may be connected to the inspection apparatus 10 as an external output device such as a PC (Personal Computer) or a tablet terminal by any method such as Serial Bus), HDMI (registered trademark), or Bluetooth (registered trademark).

図2乃至4を参照して、本実施形態に係る検査装置10の動作を説明する。本動作は、本実施形態に係る検査方法に相当する。 The operation of the inspection apparatus 10 according to this embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 4. This operation corresponds to the inspection method according to this embodiment.

ステップS1:検査装置10の制御部11は、被検査物Wのエッジを含む所定の領域のうち被検査物Wが占める領域のサイズを算出する。 Step S1: The control unit 11 of the inspection apparatus 10 calculates the size of the area occupied by the inspection object W out of a predetermined area including the edge of the inspection object W.

具体的には、まず、検査装置10の制御部11は、撮像部13を介して被検査物Wが撮像された画像を取得する。そして、検査装置10の制御部11は、任意の画像認識の技術を用いることにより、取得された画像において、被検査物Wの主表面に外接する近似図形(例えば1つのバウンディングボックス)を特定する。ここで、検査装置10の制御部11は、被検査物Wの主表面に外接する近似図形の全領域が撮像部13の視野内に含まれていない場合、当該近似図形の全領域が撮像部13の視野内に含まれるように、撮像部13を制御することが可能である。そして、検査装置10の制御部11は、任意の画像認識の技術を用いることにより、取得された画像に基づいて、被検査物Wのエッジを特定する。そして、検査装置10の制御部11は、任意の画像認識の技術を用いることにより、特定されたエッジを含む所定の領域のうち被検査物Wが占める領域のサイズを算出する。なお、所定の領域の大きさ及び形状は、検査装置10の入力部14を介してユーザが適宜設定することが可能である。また、検査装置10の制御部11は、撮像部13によって取得された画像を二値化することによって生成された二値画像を用いて、被検査物Wのエッジを含む所定の領域のうち被検査物Wが占める領域のサイズを算出してもよい。 Specifically, first, the control unit 11 of the inspection device 10 acquires an image of the object W to be inspected via the imaging unit 13. Then, the control unit 11 of the inspection device 10 identifies an approximate figure (for example, one bounding box) that circumscribes the main surface of the inspection object W in the acquired image by using any image recognition technique. . Here, when the entire area of the approximate figure circumscribing the main surface of the inspected object W is not included in the field of view of the imaging unit 13, the control unit 11 of the inspection device 10 controls the control unit 11 to control the control unit 11 so that if the entire area of the approximate figure circumscribing the main surface of the inspected object W is not included in the field of view of the imaging unit 13, the entire area of the approximate figure is It is possible to control the imaging unit 13 so that the imaging unit 13 is included in the field of view of the imaging unit 13 . Then, the control unit 11 of the inspection device 10 identifies the edge of the object W to be inspected based on the acquired image by using any image recognition technique. Then, the control unit 11 of the inspection device 10 calculates the size of the area occupied by the inspection object W in the predetermined area including the identified edge by using any image recognition technique. Note that the size and shape of the predetermined area can be appropriately set by the user via the input unit 14 of the inspection device 10. Further, the control unit 11 of the inspection device 10 uses a binary image generated by binarizing the image acquired by the imaging unit 13 to The size of the area occupied by the inspection object W may be calculated.

図3に示される例では、検査装置10の制御部11は、所定の領域に相当する領域Rnのうち、偏平状の加工食品である被検査物Wの短軸方向に沿う長さLnを算出する。ここで、「n」は、ステップS1乃至S3の処理の繰り返し回数を示す。そして、検査装置10の制御部11は、算出された長さLnを記憶部12に記憶する。ここで、領域Rnの、被検査物Wの長軸方向に沿う幅(以下、「領域Rnの幅」)は、例えば1ピクセルであるが、これに限られない。また、領域Rnの、被検査物Wの短軸方向に沿う長さ(以下、「領域Rnの長さ」)は、例えば被検査物Wの主表面に外接する長方形の短辺よりも長く設定されてもよく、或いは当該長方形の短辺の長さと一致してもよいが、これらに限られない。領域Rnの幅及び長さを含む領域Rnの形状は、検査装置10の入力部14を介してユーザが適宜設定することが可能である。また、長さLnに代えて、領域Rnのうち被検
査物Wが占める領域の面積が用いられてもよい。なお、被検査物Wの短軸方向は、例えば被検査物Wに外接する長方形の短辺に沿う方向であるが、これに限られない。被検査物Wの短軸方向は、例えば被検査物Wの主表面の形状を楕円で近似した場合における当該楕円の短軸方向であってもよい。
In the example shown in FIG. 3, the control unit 11 of the inspection device 10 calculates a length Ln along the short axis direction of the test object W, which is a flat processed food, out of a region Rn corresponding to a predetermined region. do. Here, "n" indicates the number of times the processes of steps S1 to S3 are repeated. Then, the control unit 11 of the inspection device 10 stores the calculated length Ln in the storage unit 12. Here, the width of the region Rn along the long axis direction of the object to be inspected W (hereinafter referred to as "width of the region Rn") is, for example, 1 pixel, but is not limited to this. Also, the length of the region Rn along the short axis direction of the object W to be inspected (hereinafter referred to as the "length of the region Rn") is set to be longer than the short side of the rectangle circumscribing the main surface of the object W to be inspected, for example. or may match the length of the short side of the rectangle, but is not limited thereto. The shape of the region Rn, including the width and length of the region Rn, can be appropriately set by the user via the input unit 14 of the inspection device 10. Further, instead of the length Ln, the area of the region occupied by the inspected object W in the region Rn may be used. Note that the short axis direction of the object W to be inspected is, for example, a direction along the short side of a rectangle circumscribing the object W to be inspected, but is not limited thereto. The short axis direction of the object W to be inspected may be, for example, the direction of the short axis of an ellipse when the shape of the main surface of the object W to be inspected is approximated by an ellipse.

ステップS2:検査装置10の制御部11は、ステップS1における所定の領域を移動させる。 Step S2: The control unit 11 of the inspection device 10 moves the predetermined area in step S1.

図3に示される例では、検査装置10の制御部11は、ステップS1において取得された画像上において、ステップS1の算出に用いられた領域Rnの位置とは異なる位置に、領域Rnの大きさ及び形状を維持しながら、被検査物Wの長軸方向に沿って所定の移動幅だけ領域Rnを移動させる。すなわち、被検査物Wに対して領域Rnは相対的に移動し、領域Rnの移動先は領域Rn+1となる。移動幅は、ユーザが検出対象とする欠陥の大きさが5mm以上である場合には例えば8ピクセルであるが、これに限られない。領域Rnの移動方向及び移動幅は、ユーザが検出対象とする欠陥の大きさも考慮して、検査装置10の入力部14を介してユーザが適宜設定することが可能である。なお、被検査物Wの長軸方向は、例えば被検査物Wの主表面に外接する長方形の長辺に沿う方向であるが、これに限られない。被検査物Wの長軸方向は、例えば被検査物Wの主表面の形状を楕円で近似した場合における当該楕円の長軸方向であってもよい。 In the example shown in FIG. 3, the control unit 11 of the inspection apparatus 10 displays the size of the area Rn on the image acquired in step S1 at a position different from the position of the area Rn used for the calculation in step S1. The region Rn is moved by a predetermined movement width along the long axis direction of the object W to be inspected while maintaining the shape. That is, the region Rn moves relative to the inspected object W, and the destination of the region Rn becomes region Rn+1. The movement width is, for example, 8 pixels when the size of the defect that the user wants to detect is 5 mm or more, but is not limited to this. The moving direction and moving width of the region Rn can be set by the user as appropriate via the input unit 14 of the inspection apparatus 10, taking into account the size of the defect that the user wants to detect. Note that the long axis direction of the object W to be inspected is, for example, a direction along the long side of a rectangle circumscribing the main surface of the object W to be inspected, but is not limited thereto. The long axis direction of the object W to be inspected may be, for example, the direction of the long axis of an ellipse when the shape of the main surface of the object W to be inspected is approximated by an ellipse.

ステップS3:検査装置10の制御部11は、ステップS1における算出を続行するか否かを判定する。算出を続行すると判定された場合、プロセスはステップS1に戻る。算出を続行すると判定されなかった場合、プロセスはステップS4に進む。 Step S3: The control unit 11 of the inspection device 10 determines whether to continue the calculation in step S1. If it is determined to continue the calculation, the process returns to step S1. If it is not determined that the calculation should be continued, the process proceeds to step S4.

図3に示される例では、プロセスがステップS1に戻ると、検査装置10の制御部11は、上述した方法と同様にして移動後の所定の領域に相当する領域Rn+1のうち被検査物Wの短軸方向に沿う長さLn+1を算出する。なお、検査装置10の制御部11は、ステップS1において取得された画像の一端(図3において紙面上端)から他端(図3において紙面下端)までの走査(移動)が完了していない場合、算出を続行すると判定してもよい。 In the example shown in FIG. 3, when the process returns to step S1, the control unit 11 of the inspection device 10 controls the inspection target W of the area Rn+1 corresponding to the predetermined area after movement in the same manner as the method described above. A length Ln+1 along the minor axis direction is calculated. In addition, the control unit 11 of the inspection device 10, if the scanning (movement) from one end of the image acquired in step S1 (the upper end of the paper in FIG. 3) to the other end (the lower end of the paper in FIG. 3) is not completed, It may be determined that the calculation is to be continued.

ステップS4:検査装置10の制御部11は、所定の領域の移動に伴うステップS2におけるサイズの変化に基づいて、被検査物Wのエッジ領域における欠陥の有無を判定する。 Step S4: The control unit 11 of the inspection device 10 determines the presence or absence of a defect in the edge region of the object W to be inspected, based on the change in size in step S2 due to movement of the predetermined region.

具体的には、検査装置10の制御部11は、所定の領域から選択された例えば1つの注目領域に対応するステップS1で算出されたサイズと、当該注目領域に対して所定の方向に相当する移動方向の逆方向に位置する領域に対応するステップS1で算出されたサイズと、の第1の差分を算出する。また、検査装置10の制御部11は、当該注目領域に対応するステップS1で算出されたサイズと、当該注目領域に対して所定の方向に相当する移動方向の順方向に位置する領域に対応するステップS1で算出されたサイズと、の第2の差分を算出する。そして、検査装置10の制御部11は、第1の差分及び第2の差分に基づいて、ステップS1で算出されたサイズの移動に伴う変化が極値を伴うか否かを判定するための特徴量を算出する。そして、検査装置10の制御部11は、当該特徴量に基づいて当該変化が極値を伴うと判定され、且つ特徴量が所定の閾値以上である場合、被検査物Wのエッジ領域における欠陥が存在すると判定する。そして、検査装置10の制御部11は、出力部15を介して、判定の結果をユーザに提示する。このように差分が用いられるのは、不定形の被検査物Wについては、被検査物Wの半径等の何らかの基準からのステップS1で算出されたサイズのずれを欠陥の有無の判定基準として用いることが困難であるからである。また、所定の閾値が用いられるのは、特徴量に極値が存在する場合であって
も、欠陥に起因する極値ではなく、被検査物Wのエッジ形状のばらつき(ここでは、個々の被検査物Wにおけるエッジ形状の変動)に起因する極値を取り除くためである。本実施形態によれば、図4に示される例のように、欠陥に関連する差分の立上り及び立下りを容易に認識することができる。
Specifically, the control unit 11 of the inspection device 10 selects the size calculated in step S1 corresponding to, for example, one region of interest selected from a predetermined region, and the size corresponding to a predetermined direction with respect to the region of interest. A first difference between the size and the size calculated in step S1 corresponding to the area located in the opposite direction to the movement direction is calculated. The control unit 11 of the inspection device 10 also determines the size calculated in step S1 corresponding to the region of interest and the region located in the forward direction of the movement direction corresponding to the predetermined direction with respect to the region of interest. A second difference between the size calculated in step S1 and the size calculated in step S1 is calculated. Then, the control unit 11 of the inspection device 10 determines, based on the first difference and the second difference, whether or not the change due to the movement of the size calculated in step S1 is accompanied by an extreme value. Calculate the amount. Then, the control unit 11 of the inspection device 10 determines that the change is accompanied by an extreme value based on the feature amount, and when the feature amount is equal to or greater than a predetermined threshold, the control unit 11 determines that the defect in the edge region of the inspected object W is detected. Determine that it exists. Then, the control unit 11 of the inspection device 10 presents the determination result to the user via the output unit 15. The difference is used in this way because, for an irregularly shaped inspected object W, the size deviation calculated in step S1 from some standard such as the radius of the inspected object W is used as a criterion for determining the presence or absence of a defect. This is because it is difficult to do so. In addition, even if there is an extreme value in the feature amount, the predetermined threshold value is used not for the extreme value caused by a defect, but for the variation in the edge shape of the object W to be inspected (in this case, for each individual object). This is to remove extreme values caused by variations in the edge shape of the inspection object W. According to this embodiment, as in the example shown in FIG. 4, the rise and fall of the difference related to defects can be easily recognized.

より具体的には、図3に示される例では、ステップS1乃至S3の処理が繰り返されることにより、検査装置10の記憶部12には、領域R1に対応する長さL1、領域R2に対応する長さL2、・・・、領域RNに対応する長さLNが記憶されることとなる。ここで、領域R1乃至RNのうち、注目領域をRj(但し、jは2以上(N-1)以下の自然数)とする。また、注目領域Rjに対して、ステップS2における移動方向の逆方向に位置する領域をRi(但し、iは、1以上(N-2)以下であり、且つj未満である自然数)とする。また、注目領域Rjに対して、ステップS2における移動方向の順方向に位置する領域をRk(但し、kは3以上N以下であり、且つj超えである自然数)とする。検査装置10の制御部11は、注目領域Rjに対応する長さLjと領域Riに対応する長さLiとの第1の差分Δji(例えばΔji=Lj-Li)を算出する。また、検査装置10の制御部11は、注目領域Rjに対応する長さLjと領域Rkに対応する長さLkとの第2の差分Δjk(例えばΔjk=Lj-Lk)を算出する。そして、検査装置10の制御部11は、第1の差分Δji及び第2の差分Δjkに基づいて、極値の有無を判定するための特徴量Δ(例えばΔ=Δji×Δjk)を算出する。そして、検査装置10の制御部11は、特徴量Δが0以上である場合、長さLnの移動に伴う変化が極値を伴うと判定する。したがって、i、j、及びkが連続する自然数である場合、例えばL1=100(pix)、L2=120(pix)、及びL3=140(pix)については極値が存在しないのに対して、L4=140(pix)、L5=100(pix)、L6=120(pix)については極値が存在することになる。そして、検査装置10の制御部11は、長さLnの移動に伴う変化が極値を伴い、且つ特徴量Δが所定の閾値以上である場合、被検査物Wのエッジ領域に欠陥が存在すると判定する。ただし、本開示はこれらに限られない。なお、i、j、及びkは、必ずしも連続する自然数でなくてもよく、ユーザが検出対象とする欠陥の大きさ及びステップS2における移動幅に応じて、検査装置10の入力部14を介してユーザが適宜設定することが可能である。また、所定の閾値は、ユーザが検出対象とする欠陥の大きさに応じて、検査装置10の入力部14を介してユーザが適宜設定することが可能である。 More specifically, in the example shown in FIG. 3, by repeating the processes of steps S1 to S3, the length L1 corresponding to the region R1 and the length L1 corresponding to the region R2 are stored in the storage unit 12 of the inspection device 10. Length L2, . . . , length LN corresponding to region RN will be stored. Here, among the regions R1 to RN, the region of interest is Rj (where j is a natural number from 2 to (N-1)). Further, with respect to the region of interest Rj, an area located in the opposite direction to the moving direction in step S2 is defined as Ri (where i is a natural number that is 1 or more and (N-2) or less and less than j). Further, with respect to the region of interest Rj, an area located in the forward direction of the movement direction in step S2 is defined as Rk (where k is a natural number that is 3 or more and N or less and greater than j). The control unit 11 of the inspection device 10 calculates a first difference Δji (for example, Δji=Lj−Li) between the length Lj corresponding to the region of interest Rj and the length Li corresponding to the region Ri. Further, the control unit 11 of the inspection device 10 calculates a second difference Δjk (for example, Δjk=Lj−Lk) between the length Lj corresponding to the region of interest Rj and the length Lk corresponding to the region Rk. Then, the control unit 11 of the inspection device 10 calculates a feature amount Δ (for example, Δ=Δji×Δjk) for determining the presence or absence of an extreme value based on the first difference Δji and the second difference Δjk. Then, when the feature amount Δ is greater than or equal to 0, the control unit 11 of the inspection device 10 determines that the change accompanying the movement of the length Ln is accompanied by an extreme value. Therefore, when i, j, and k are continuous natural numbers, for example, there are no extreme values for L1 = 100 (pix), L2 = 120 (pix), and L3 = 140 (pix), whereas Extreme values exist for L4=140 (pix), L5=100 (pix), and L6=120 (pix). Then, the control unit 11 of the inspection device 10 determines that a defect exists in the edge region of the inspected object W when the change due to the movement of the length Ln is accompanied by an extreme value and the feature amount Δ is greater than or equal to a predetermined threshold. judge. However, the present disclosure is not limited to these. Note that i, j, and k do not necessarily have to be continuous natural numbers; The user can set it as appropriate. Further, the predetermined threshold value can be appropriately set by the user via the input unit 14 of the inspection apparatus 10, depending on the size of the defect that the user wants to detect.

上述のように、本実施形態に係る検査方法は、被検査物Wのエッジを含み且つ所定の方向に相当する被検査物Wの長軸に沿う方向と交差する方向(短軸に沿う方向)に延在する所定の領域のうち、被検査物Wが占める領域のサイズを算出すること(ステップS1)と、所定の領域を所定の方向に相当する被検査物Wの長軸に沿う方向に移動させること(ステップS2)と、所定の領域の移動に伴う当該サイズの変化に基づいて、被検査物Wのエッジ領域における欠陥の有無を判定すること(ステップS4)とを含む。なお、「交差」は、直交であってもよいが、所定の領域の延在方向が移動前後で平行又は略平行であれば(すなわち、実質的に平行であれば)、必ずしも直交でなくてもよい。 As described above, the inspection method according to the present embodiment includes a direction that includes an edge of the inspected object W and intersects with a direction along the long axis of the inspected object W (a direction along the short axis) that corresponds to a predetermined direction. calculating the size of the area occupied by the object W to be inspected out of a predetermined area extending in the area (step S1); It includes moving (step S2) and determining the presence or absence of a defect in the edge area of the inspection object W based on the change in size accompanying the movement of a predetermined area (step S4). Note that "intersection" may be orthogonal, but does not necessarily have to be orthogonal as long as the extending directions of the predetermined regions are parallel or approximately parallel before and after movement (that is, substantially parallel). Good too.

本実施形態によれば、被検査物Wのエッジを含む所定の領域のうち被検査物Wが占める領域のサイズが特徴量として用いられる。そのため、被検査物Wのエッジ形状を幾何学的形状で追従させることに限界がある場合であっても、被検査物Wのエッジ領域における欠陥を検出することが可能となる。また、所定の領域の移動方向を適宜設定することにより、被検査物Wの先端部分における欠陥を検出することが可能となる。したがって、被検査物Wのエッジ領域における欠陥を検出する技術を改善することができる。なお、本実施形態に係る検査方法は、従来の技術のようにコントラストを活用することにより被検査物Wのうちエッジ領域以外に欠陥が存在しないことが判定された後に実施されてもよい。 According to this embodiment, the size of the area occupied by the inspected object W in a predetermined area including the edge of the inspected object W is used as the feature amount. Therefore, even if there is a limit to following the edge shape of the object W to be inspected with a geometric shape, it is possible to detect defects in the edge region of the object W to be inspected. Further, by appropriately setting the movement direction of the predetermined area, it is possible to detect defects in the tip portion of the object W to be inspected. Therefore, the technique for detecting defects in the edge region of the inspected object W can be improved. Note that the inspection method according to the present embodiment may be performed after it is determined that there are no defects in areas other than the edge areas of the object W to be inspected by utilizing contrast as in the conventional technique.

以上、諸図面及び実施例に基づいて本開示を説明してきたが、当業者であれば本開示に基づいて種々の変形及び改変を行ってもよいことに注意されたい。したがって、これらの変形及び改変は、本開示の範囲に含まれることに留意されたい。例えば、各構成部又は各ステップ等に含まれる機能等は、論理的に矛盾しないように再配置可能であり、複数の構成部又はステップ等を1つに組み合わせたり、或いは分割したりすることが可能である。 Although the present disclosure has been described above based on the drawings and examples, it should be noted that those skilled in the art may make various changes and modifications based on the present disclosure. It should therefore be noted that these variations and modifications are included within the scope of this disclosure. For example, the functions included in each component or each step can be rearranged to avoid logical contradictions, and multiple components or steps can be combined into one or divided. It is possible.

一変形例として、所定の方向は、被検査物Wの短軸に沿う方向であり、且つ所定の領域は、被検査物Wの短軸に沿う方向と交差する方向に延在してもよい。すなわち、本変形例は、被検査物Wのエッジを含み且つ所定の方向に相当する被検査物Wの短軸に沿う方向と交差する方向(長軸に沿う方向)に延在する所定の領域のうち、被検査物Wが占める領域のサイズを算出すること(ステップS1)と、所定の領域を所定の方向に相当する被検査物Wの短軸に沿う方向に移動させること(ステップS2)と、所定の領域の移動に伴う当該サイズの変化に基づいて、被検査物Wのエッジ領域における欠陥の有無を判定すること(ステップS4)とを含む。また、被検査物Wの先端部分における欠陥の検出精度を向上させる観点から、本変形例と上述した実施形態とを組み合わせて実施してもよい。なお、所定の領域の延在方向及び移動方向以外については、上述した実施形態と同様であるので、説明を省略する。 As a modified example, the predetermined direction may be a direction along the short axis of the object W to be inspected, and the predetermined region may extend in a direction intersecting the direction along the short axis of the object W to be inspected. . That is, in this modification, a predetermined area that includes an edge of the object W to be inspected and extends in a direction (direction along the long axis) that intersects a direction along the short axis of the object W to be inspected, which corresponds to a predetermined direction. Among these, calculating the size of the area occupied by the inspected object W (step S1), and moving a predetermined area in a direction along the short axis of the inspected object W corresponding to a predetermined direction (step S2). and determining the presence or absence of a defect in the edge region of the object to be inspected W based on the change in size accompanying movement of a predetermined region (step S4). Moreover, from the viewpoint of improving the accuracy of detecting defects in the tip portion of the object W to be inspected, this modification may be implemented in combination with the embodiment described above. Note that other than the direction in which the predetermined region extends and the direction in which it moves, it is the same as in the embodiment described above, and therefore the description thereof will be omitted.

また、一変形例として、図5に示される例のように、所定の方向は、被検査物Wに設定された点Oを中心とする回転方向であり、且つ所定の領域は、点Oから被検査物Wのエッジに向けて延在してもよい。すなわち、本変形例は、被検査物Wのエッジを含み且つ被検査物Wの点Oからエッジに向けて延在する所定の領域のうち、被検査物Wが占める領域のサイズを算出すること(ステップS1)と、所定の領域を所定の方向に相当する被検査物Wの点Oを中心とする回転方向に移動させること(ステップS2)と、所定の領域の移動に伴う当該サイズの変化に基づいて、被検査物Wのエッジ領域における欠陥の有無を判定すること(ステップS4)とを含む。なお、図5に示される例では、回転方向は時計回りであるが、これに限られず、反時計回りであってもよい。また、所定の領域の延在方向及び移動方向以外については、上述した実施形態と同様であるので、説明を省略する。本変形例は、被検査物Wの例えば主表面に外接する近似図形から任意の数学的手法を用いて算出可能な真円度が所定の閾値以上である場合に特に有効である。したがって、被検査物Wの真円度が所定の閾値未満である場合に図3を参照しつつ上述した実施形態に係る検査方法が実施され、被検査物Wの真円度が所定の閾値以上である場合に本変形例に係る検査方法が実施されてもよい。なお、点Oは、上述した実施形態におけるステップS1で撮像された画像のうち被検査物Wが占める領域の面積から、任意の画像認識の技術を用いて算出可能な重心であってもよいが、これに限られない。 In addition, as a modified example, as in the example shown in FIG. It may extend toward the edge of the object W to be inspected. That is, in this modification, the size of the area occupied by the object to be inspected W is calculated out of a predetermined area that includes the edge of the object to be inspected and extends from the point O of the object to be inspected W toward the edge. (Step S1), moving a predetermined area in a rotational direction centering on point O of the object W to be inspected corresponding to a predetermined direction (Step S2), and changing the size of the predetermined area due to movement of the predetermined area. (Step S4). In addition, although the rotation direction is clockwise in the example shown in FIG. 5, it is not limited to this, and may be counterclockwise. Moreover, since it is the same as that of the embodiment mentioned above other than the extending direction and moving direction of the predetermined area, the explanation will be omitted. This modification is particularly effective when the roundness, which can be calculated using any mathematical method from an approximate figure circumscribing the main surface of the object W to be inspected, is greater than or equal to a predetermined threshold. Therefore, when the roundness of the inspected object W is less than a predetermined threshold value, the inspection method according to the embodiment described above with reference to FIG. In this case, the inspection method according to this modification may be implemented. Note that the point O may be a center of gravity that can be calculated using any image recognition technique from the area of the area occupied by the inspected object W in the image captured in step S1 in the above-described embodiment. , but not limited to this.

また、一変形例として、所定の方向は、被検査物Wのエッジ上における各点の法線方向と交差する方向であり、且つ所定の領域は、被検査物Wのエッジ上における各点の法線方向に沿って延在してもよい。すなわち、本変形例は、被検査物Wのエッジを含み且つ被検査物Wのエッジ上における各点の法線方向に沿って延在する所定の領域のうち、被検査物Wが占める領域のサイズを算出すること(ステップS1)と、所定の領域を所定の方向に相当する被検査物Wのエッジ上における各点の法線方向と交差する方向に移動させること(ステップS2)と、所定の領域の移動に伴う当該サイズの変化に基づいて、被検査物Wのエッジ領域における欠陥の有無を判定すること(ステップS4)とを含む。なお、所定の領域の延在方向及び移動方向以外については、上述した実施形態と同様であるので、説明を省略する。 Further, as a modified example, the predetermined direction is a direction that intersects the normal direction of each point on the edge of the object W to be inspected, and the predetermined area is a direction that intersects the normal direction of each point on the edge of the object W to be inspected. It may also extend along the normal direction. That is, in this modification, the area occupied by the inspected object W out of a predetermined area that includes the edge of the inspected object W and extends along the normal direction of each point on the edge of the inspected object W. calculating the size (step S1); moving a predetermined area in a direction intersecting the normal direction of each point on the edge of the object W corresponding to a predetermined direction (step S2); The process also includes determining whether there is a defect in the edge area of the object W to be inspected based on the change in size as the area moves (step S4). Note that other than the direction in which the predetermined region extends and the direction in which it moves, it is the same as in the embodiment described above, and therefore the description thereof will be omitted.

また、一変形例として、例えば汎用のコンピュータを、上述した実施形態に係る検査装置10の全部又は一部(例えば制御部11)として機能させる実施形態を採用することも可能である。具体的には、上述した実施形態に係る検査装置10の全部又は一部の機能を
実現する処理内容を記述したプログラムを、汎用のコンピュータのメモリに格納し、プロセッサによって当該プログラムを読み出して実行させる。したがって、本開示は、プロセッサが実行可能なプログラム、又は当該プログラムを記憶する非一時的なコンピュータ可読媒体としても実現可能である。なお、当該プログラムを実行するコンピュータは、例えば、PC(Personal Computer)、タブレット端末、又はスマートフォン等であるが、これらの例に限られない。
Moreover, as a modified example, it is also possible to adopt an embodiment in which, for example, a general-purpose computer functions as all or a part (for example, the control unit 11) of the inspection apparatus 10 according to the above-described embodiment. Specifically, a program that describes the processing content for realizing all or part of the functions of the inspection device 10 according to the embodiment described above is stored in the memory of a general-purpose computer, and the program is read and executed by a processor. . Therefore, the present disclosure can also be implemented as a program executable by a processor or a non-transitory computer-readable medium storing the program. Note that the computer that executes the program is, for example, a PC (Personal Computer), a tablet terminal, or a smartphone, but is not limited to these examples.

上述した実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載され得るが、本開示はこれらに限られない。
[付記1]
検査装置が実行する検査方法であって、
被検査物のエッジを含む所定の領域のうち前記被検査物が占める領域のサイズを算出することと、
前記所定の領域を所定の方向に移動させることと、
前記所定の領域の移動に伴う前記サイズの変化に基づいて、前記被検査物のエッジ領域における欠陥の有無を判定することと
を含む、検査方法。
[付記2]
付記1に記載の検査方法であって、
前記所定の方向は、前記被検査物の長軸及び/又は短軸に沿う方向であり、且つ前記所定の領域は、前記所定の方向と交差する方向に延在する、検査方法。
[付記3]
付記1又は2に記載の検査方法であって、
前記所定の方向は、前記被検査物に設定された点を中心とする回転方向であり、且つ前記所定の領域は、前記点から前記エッジに向けて延在する、検査方法。
[付記4]
付記1乃至3の何れか一つに記載の検査方法であって、
前記所定の領域から選択された注目領域に対応する前記サイズと、前記注目領域に対して前記所定の方向の逆方向に位置する領域に対応する前記サイズとの第1の差分を算出することと、
前記注目領域に対応する前記サイズと、前記注目領域に対して前記所定の方向の順方向に位置する領域に対応する前記サイズとの第2の差分を算出することと、
前記第1の差分及び前記第2の差分に基づいて、前記変化が極値を伴うか否かを判定するための特徴量を算出することと、
前記特徴量に基づいて前記変化が極値を伴うと判定され、且つ前記特徴量が所定の閾値以上である場合、前記欠陥が存在すると判定することと
を更に含む、検査方法。
[付記5]
付記1乃至4の何れか一つに記載の検査方法であって、
前記被検査物の形状は不定形である、検査方法。
[付記6]
コンピュータに、
被検査物のエッジを含む所定の領域のうち前記被検査物が占める領域のサイズを算出することと、
前記所定の領域を所定の方向に移動させることと、
前記所定の領域の移動に伴う前記サイズの変化に基づいて、前記被検査物のエッジ領域における欠陥の有無を判定することと
を実行させる、プログラム。
[付記7]
付記6に記載のプログラムであって、
前記所定の方向は、前記被検査物の長軸及び/又は短軸に沿う方向であり、且つ前記所定の領域は、前記所定の方向と交差する方向に延在する、プログラム。
[付記8]
付記6又は7に記載のプログラムであって、
前記所定の方向は、前記被検査物に設定された点を中心とする回転方向であり、且つ前記所定の領域は、前記点から前記エッジに向けて延在する、プログラム。
[付記9]
付記6乃至8の何れか一つに記載のプログラムであって、
前記コンピュータに、
前記所定の領域から選択された注目領域に対応する前記サイズと、前記注目領域に対して前記所定の方向の逆方向に位置する領域に対応する前記サイズとの第1の差分を算出することと、
前記注目領域に対応する前記サイズと、前記注目領域に対して前記所定の方向の順方向に位置する領域に対応する前記サイズとの第2の差分を算出することと、
前記第1の差分及び前記第2の差分に基づいて、前記変化が極値を伴うか否かを判定するための特徴量を算出することと、
前記特徴量に基づいて前記変化が極値を伴うと判定され、且つ前記特徴量が所定の閾値以上である場合、前記欠陥が存在すると判定することと
を更に実行させる、プログラム。
[付記10]
付記6乃至9の何れか一つに記載のプログラムであって、
前記被検査物の形状は不定形である、プログラム。
Although some or all of the embodiments described above may be described as in the following additional notes, the present disclosure is not limited thereto.
[Additional note 1]
An inspection method performed by an inspection device, comprising:
Calculating the size of an area occupied by the object to be inspected out of a predetermined area including an edge of the object to be inspected;
moving the predetermined area in a predetermined direction;
An inspection method comprising: determining the presence or absence of a defect in an edge region of the object to be inspected based on the change in size as the predetermined region moves.
[Additional note 2]
The test method described in Appendix 1,
In the inspection method, the predetermined direction is a direction along a long axis and/or a short axis of the object to be inspected, and the predetermined region extends in a direction intersecting the predetermined direction.
[Additional note 3]
The test method described in Supplementary note 1 or 2,
In the inspection method, the predetermined direction is a rotation direction about a point set on the object to be inspected, and the predetermined region extends from the point toward the edge.
[Additional note 4]
The inspection method described in any one of Supplementary Notes 1 to 3,
calculating a first difference between the size corresponding to a region of interest selected from the predetermined region and the size corresponding to a region located in a direction opposite to the predetermined direction with respect to the region of interest; ,
Calculating a second difference between the size corresponding to the attention area and the size corresponding to an area located forward in the predetermined direction with respect to the attention area;
Calculating a feature amount for determining whether the change involves an extreme value based on the first difference and the second difference;
The inspection method further comprises determining that the defect exists if it is determined that the change is accompanied by an extreme value based on the feature amount, and the feature amount is equal to or greater than a predetermined threshold value.
[Additional note 5]
The test method described in any one of Supplementary Notes 1 to 4,
In the inspection method, the shape of the object to be inspected is irregular.
[Additional note 6]
to the computer,
Calculating the size of an area occupied by the object to be inspected out of a predetermined area including an edge of the object to be inspected;
moving the predetermined area in a predetermined direction;
A program for determining the presence or absence of a defect in an edge region of the object to be inspected based on a change in the size as the predetermined region moves.
[Additional note 7]
The program described in Appendix 6,
The program, wherein the predetermined direction is a direction along a long axis and/or a short axis of the object to be inspected, and the predetermined region extends in a direction intersecting the predetermined direction.
[Additional note 8]
The program described in appendix 6 or 7,
The predetermined direction is a rotation direction centered on a point set on the object to be inspected, and the predetermined area extends from the point toward the edge.
[Additional note 9]
The program described in any one of appendices 6 to 8,
to the computer;
calculating a first difference between the size corresponding to a region of interest selected from the predetermined region and the size corresponding to a region located in a direction opposite to the predetermined direction with respect to the region of interest; ,
Calculating a second difference between the size corresponding to the attention area and the size corresponding to an area located forward in the predetermined direction with respect to the attention area;
Calculating a feature amount for determining whether the change involves an extreme value based on the first difference and the second difference;
The program further causes determining that the defect exists when it is determined that the change is accompanied by an extreme value based on the feature amount, and the feature amount is equal to or greater than a predetermined threshold value.
[Additional note 10]
The program described in any one of Supplementary Notes 6 to 9,
A program in which the shape of the object to be inspected is amorphous.

10 検査装置
11 制御部
12 記憶部
13 撮像部
14 入力部
15 出力部
10 Inspection device 11 Control section 12 Storage section 13 Imaging section 14 Input section 15 Output section

Claims (6)

検査装置が実行する検査方法であって、
被検査物のエッジを含む所定の領域のうち前記被検査物が占める領域のサイズを算出することと、
前記所定の領域を所定の方向に移動させることと、
前記所定の領域の移動に伴う前記サイズの変化に基づいて、前記被検査物のエッジ領域における欠陥の有無を判定することと
を含む、検査方法。
An inspection method performed by an inspection device, comprising:
Calculating the size of an area occupied by the object to be inspected out of a predetermined area including an edge of the object to be inspected;
moving the predetermined area in a predetermined direction;
An inspection method comprising: determining the presence or absence of a defect in an edge region of the object to be inspected based on the change in size as the predetermined region moves.
請求項1に記載の検査方法であって、
前記所定の方向は、前記被検査物の長軸及び/又は短軸に沿う方向であり、且つ前記所定の領域は、前記所定の方向と交差する方向に延在する、検査方法。
The testing method according to claim 1,
In the inspection method, the predetermined direction is a direction along a long axis and/or a short axis of the object to be inspected, and the predetermined region extends in a direction intersecting the predetermined direction.
請求項1に記載の検査方法であって、
前記所定の方向は、前記被検査物に設定された点を中心とする回転方向であり、且つ前記所定の領域は、前記点から前記エッジに向けて延在する、検査方法。
The inspection method according to claim 1,
In the inspection method, the predetermined direction is a direction of rotation about a point set on the object to be inspected, and the predetermined region extends from the point toward the edge.
請求項1乃至3の何れか一項に記載の検査方法であって、
前記所定の領域から選択された注目領域に対応する前記サイズと、前記注目領域に対して前記所定の方向の逆方向に位置する領域に対応する前記サイズとの第1の差分を算出することと、
前記注目領域に対応する前記サイズと、前記注目領域に対して前記所定の方向の順方向に位置する領域に対応する前記サイズとの第2の差分を算出することと、
前記第1の差分及び前記第2の差分に基づいて、前記変化が極値を伴うか否かを判定するための特徴量を算出することと、
前記特徴量に基づいて前記変化が極値を伴うと判定され、且つ前記特徴量が所定の閾値以上である場合、前記欠陥が存在すると判定することと
を更に含む、検査方法。
The inspection method according to any one of claims 1 to 3,
calculating a first difference between the size corresponding to a region of interest selected from the predetermined region and the size corresponding to a region located in a direction opposite to the predetermined direction with respect to the region of interest; ,
Calculating a second difference between the size corresponding to the attention area and the size corresponding to an area located forward in the predetermined direction with respect to the attention area;
Calculating a feature quantity for determining whether the change involves an extreme value based on the first difference and the second difference;
The inspection method further comprises determining that the defect exists if it is determined that the change is accompanied by an extreme value based on the feature amount, and the feature amount is equal to or greater than a predetermined threshold value.
請求項1乃至3の何れか一項に記載の検査方法であって、
前記被検査物の形状は不定形である、検査方法。
The inspection method according to any one of claims 1 to 3,
In the inspection method, the shape of the object to be inspected is irregular.
コンピュータに、
被検査物のエッジを含む所定の領域のうち前記被検査物が占める領域のサイズを算出することと、
前記所定の領域を所定の方向に移動させることと、
前記所定の領域の移動に伴う前記サイズの変化に基づいて、前記被検査物のエッジ領域における欠陥の有無を判定することと
を実行させる、プログラム。
to the computer,
Calculating the size of an area occupied by the object to be inspected out of a predetermined area including an edge of the object to be inspected;
moving the predetermined area in a predetermined direction;
A program for determining the presence or absence of a defect in an edge region of the object to be inspected based on a change in the size as the predetermined region moves.
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