JP2023517830A - 深度画像生成方法及び装置、基準画像生成方法及び装置、電子機器、ならびにコンピュータプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
本出願の例示的な実施形態で提供された深度画像生成方法によれば、基準画像生成のプロセスにおいて、第1の有効画素を使用するとともに、従来技術で使用されない第2の有効画素を使用し、このようにすれば、生成された基準画像のサイズを大きくすることができる。基準画像においてターゲット画像エッジの画素に対応する画素が存在しないことは黒エッジ現象の発生の要因となり、本出願の例示的な実施形態で提供された深度画像生成方法では、基準画像のサイズを大きくするため、基準画像において、ターゲット画像エッジの一部又は全ての画素を対応する画素にマッチングさせることでき、深度画像での黒エッジ現象の発生をある程度で減少又は回避することができる。
ステップS410において、構造化光を基準平面に放射し、画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることで、基準画像を取得する。
ステップS710において、前記ターゲット画像中のターゲット画素に対して、前記基準画像においてマッチングを行う。
例えば、本例示的な実施形態において、ターゲット画像を取得した後、ターゲット画像でのターゲットオブジェクトの位置は左であると、深度画像の左エッジに黒エッジ現象が発生した場合、より大きな影響を与え、他の位置に黒エッジが発生しても、その影響が小さい可能性があり、それに基づいて、上記第1の基準画像を被選択基準画像として決定できる。同様に、ターゲット画像でのターゲットオブジェクトの位置は右であると、上記第2の基準画像を被選択基準画像として決定でき、ターゲット画像でのターゲットオブジェクトの位置は上であると、上記第3の基準画像を被選択基準画像として決定でき、ターゲット画像でのターゲットオブジェクトの位置は下であると、上記第4の基準画像を被選択基準画像として決定できる。全部で最大サイズの基準画像を使用することに対して、サイズが小さい第1~第4の基準画像を使用すると、同様に、マッチングの際のアルゴリズムの複雑さを効果的に低減させ、計算量を減少させることができる。
ステップS1110において、構造化光をターゲットオブジェクトに放射し、画像センサーの第1の有効画素を使用して前記ターゲットオブジェクトに対してイメージングすることで、ターゲット画像を取得する。
ステップS1120において、前記ターゲット画像及び基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得し、前記基準画像は、前記画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して基準平面に対してイメージングすることで、取得される。
基準画像生成モジュール1201は、構造化光を基準平面に放射し、画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることで、基準画像を取得するために用いられ得る。ターゲット画像取得モジュール1220は、前記構造化光をターゲットオブジェクトに放射し、前記第1の有効画素を使用して前記ターゲットオブジェクトに対してイメージングすることで、ターゲット画像を取得するために用いられ得る。深度画像生成モジュール1230は、前記ターゲット画像及び前記基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するために用いられ得る。
Claims (20)
- 電子機器が実行する深度画像生成方法であって、
構造化光を基準平面に放射し、画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることで、基準画像を取得するステップと、
前記構造化光をターゲットオブジェクトに放射し、前記第1の有効画素を使用して前記ターゲットオブジェクトに対してイメージングすることで、ターゲット画像を取得するステップと、
前記ターゲット画像及び前記基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するステップとを含み、
前記第1の有効画素は前記画像センサーの指定された領域にある有効画素であり、前記第2の有効画素は前記指定された領域外にある有効画素である、
ことを特徴とする方法。 - 前記指定された領域は前記画像センサーの画像ウィンドウ領域である、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることは、
前記画像センサーの前記第1の有効画素、及び全ての前記第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングするステップを含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることは、
前記画像センサーの前記第1の有効画素、及び異なる数の前記第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることで、サイズが異なる少なくとも2つの基準画像を取得するステップを含み、
前記ターゲット画像及び前記基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するステップは、
前記サイズが異なる少なくとも2つの基準画像から被選択基準画像を決定するステップと、前記ターゲット画像及び前記被選択基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するステップとを含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記サイズが異なる少なくとも2つの基準画像から被選択基準画像を決定するステップは、
前記ターゲットオブジェクトから前記基準平面までの距離を取得するステップと、
前記ターゲットオブジェクトから前記基準平面までの距離に基づいて、前記サイズが異なる少なくとも2つの基準画像から前記被選択基準画像を決定するステップとを含む、
ことを特徴とする請求項4に記載の方法。 - 前記被選択基準画像の前記サイズは、前記ターゲットオブジェクトから前記基準平面までの距離と正の相関関係にある、
ことを特徴とする請求項5に記載の方法。 - 前記サイズが異なる少なくとも2つの基準画像から前記被選択基準画像を決定するステップは、
前記ターゲット画像での前記ターゲットオブジェクトの位置を決定するステップと、
前記ターゲット画像での前記ターゲットオブジェクトの位置に基づいて、前記サイズが異なる少なくとも2つの基準画像から前記被選択基準画像を決定するステップとを含む、
ことを特徴とする請求項4に記載の方法。 - 前記基準画像を指定された記憶位置に予め記憶するステップをさらに含み、
前記ターゲット画像及び前記基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するステップは、
前記指定された記憶位置から前記基準画像を読み取るステップと、前記ターゲット画像、及び読み取られた前記基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するステップとを含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記ターゲット画像及び前記基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するステップは、
前記ターゲット画像中のターゲット画素に対して、前記基準画像においてマッチングを行うステップと、
前記基準画像でのマッチングされた画素の位置に基づいて、前記ターゲット画素のオフセット量を決定するステップと、
前記ターゲット画素のオフセット量に基づいて、前記ターゲット画素に対応する深度情報を計算するステップと、
各前記ターゲット画素に対応する深度情報を使用して前記深度画像を生成するステップとを含む、
ことを特徴とする請求項1~7の何れか1項に記載の方法。 - 前記ターゲット画像中のターゲット画素に対して、前記基準画像においてマッチングを行う前に、
前記基準画像及び前記ターゲット画像に対して2値化処理を行うステップをさらに含む、
ことを特徴とする請求項8に記載の方法。 - 深度画像生成方法であって、
構造化光をターゲットオブジェクトに放射し、画像センサーの第1の有効画素を使用して前記ターゲットオブジェクトに対してイメージングすることで、ターゲット画像を取得するステップと、
前記ターゲット画像及び基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するステップとを含み、
前記基準画像は、前記画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して基準平面に対してイメージングすることで取得される、
ことを特徴とする方法。 - 基準画像生成方法であって、
構造化光を基準平面に放射し、画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して前記基準平面をイメージングすることで、基準画像を取得するステップを含み、
前記第1の有効画素は、ターゲットオブジェクトに対して深度イメージングを行う際に使用される有効画素である、
ことを特徴とする方法。 - 深度画像生成装置であって、
構造化光を基準平面に放射し、画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることで、基準画像を取得するための基準画像生成モジュールと、
前記構造化光をターゲットオブジェクトに放射し、前記第1の有効画素を使用して前記ターゲットオブジェクトに対してイメージングすることで、ターゲット画像を取得するためのターゲット画像取得モジュールと、
前記ターゲット画像及び前記基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得するための深度画像生成モジュールとを含む、
ことを特徴とする装置。 - 前記第1の有効画素は前記画像センサーの指定された領域にある有効画素であり、前記第2の有効画素は前記画像センサーの指定された領域外にある有効画素である、
ことを特徴とする請求項13に記載の装置。 - 前記基準画像生成モジュールは、前記画像センサーの前記第1の有効画素及び全ての前記第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングする、
ことを特徴とする請求項13に記載の装置。 - 前記基準画像生成モジュールは、前記画像センサーの前記第1の有効画素及び異なる数の前記第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることで、サイズが異なる少なくとも2つの基準画像を取得し、
前記深度画像生成モジュールは、前記サイズが異なる少なくとも2つの基準画像から被選択基準画像を決定し、及び、前記ターゲット画像及び前記被選択基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得する、
ことを特徴とする請求項13に記載の装置。 - 深度画像生成装置であって、
構造化光をターゲットオブジェクトに放射し、画像センサーの第1の有効画素を使用して前記ターゲットオブジェクトに対してイメージングすることで、ターゲット画像を取得するためのターゲット画像取得モジュールと、
前記ターゲット画像及び基準画像に基づいて、前記ターゲットオブジェクトの深度画像を取得ための深度画像生成モジュールとを含み、
前記基準画像は、前記画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して基準平面に対してイメージングすることで、取得される、
ことを特徴とする装置。 - 基準画像生成装置であって、
構造化光を基準平面に放射し、画像センサーの第1の有効画素及び第2の有効画素を使用して前記基準平面に対してイメージングすることで、基準画像を取得するための基準画像生成モジュールを含み、
前記第1の有効画素は、ターゲットオブジェクトに対して深度イメージングを行う際に使用される有効画素である、
ことを特徴とする装置。 - プロセッサーにより実行される場合、請求項1~12の何れか1項に記載の方法を実現させる、
ことを特徴とするコンピュータプログラム。 - プロセッサーと、
前記プロセッサーの実行可能な命令を記憶するためのメモリとを含む電子機器であって、
前記プロセッサーは、前記実行可能な命令を実行することで、請求項1~12の何れか1項に記載の方法を実行させるように構成される、
ことを特徴とする電子機器。
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