JP2023129868A - Light-emitting device, projector, display, and head-mounted display - Google Patents

Light-emitting device, projector, display, and head-mounted display Download PDF

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JP2023129868A JP2022034184A JP2022034184A JP2023129868A JP 2023129868 A JP2023129868 A JP 2023129868A JP 2022034184 A JP2022034184 A JP 2022034184A JP 2022034184 A JP2022034184 A JP 2022034184A JP 2023129868 A JP2023129868 A JP 2023129868A
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幸一 小林
Koichi Kobayashi
崇 宮田
Takashi Miyata
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Abstract

To provide a light-emitting device that can reduce a stress generated in a second semiconductor layer due to the difference in coefficient of thermal expansion between the second semiconductor and a conductive layer.SOLUTION: A light-emitting device has: a substrate; columnar parts that each have a first semiconductor layer of a first conductivity type, a second semiconductor layer of a second conductivity type different from the first conductivity type, and a luminous layer provided between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer; and an electrode that is provided on the opposite side of the columnar parts with respect to the substrate, and includes a conductive layer including metal and an organic conductive layer including organic material and provided between the columnar parts and the conductive layer. The coefficient of thermal expansion of the conductive layer is different from the coefficient of thermal expansion of the second semiconductor layer. The Young's modulus of the organic conductive layer is smaller than the Young's modulus of the second semiconductor layer and the Young's modulus of the conductive layer.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、発光装置、プロジェクター、ディスプレイ、およびヘッドマウントディスプレイに関する。 The present invention relates to a light emitting device, a projector, a display, and a head mounted display.

半導体レーザーは、高輝度の次世代光源として期待されている。中でも、ナノコラムを適用した半導体レーザーは、ナノコラムによるフォトニック結晶の効果によって、狭放射角で高出力の発光が実現できると期待されている。 Semiconductor lasers are expected to be the next generation of high-intensity light sources. Among these, semiconductor lasers using nanocolumns are expected to be able to emit high-output light with a narrow radiation angle due to the photonic crystal effect of the nanocolumns.

例えば特許文献1には、n型GaN層、発光層、p型GaN層が順次積層されたナノコラムと、Ni/Auから成り、ナノコラムの先端のp型GaN層とオーミックコンタクトすることができるp型電極と、を含む半導体発光素子が記載されている。 For example, Patent Document 1 describes a nanocolumn in which an n-type GaN layer, a light-emitting layer, and a p-type GaN layer are sequentially laminated, and a p-type nanocolumn made of Ni/Au that can make ohmic contact with the p-type GaN layer at the tip of the nanocolumn. A semiconductor light emitting device is described that includes an electrode.

特開2010-135858号公報Japanese Patent Application Publication No. 2010-135858

上記のような半導体発光素子において、p型電極の熱膨張係数は、p型GaN層の熱膨張係数と異なる。そのため、例えば半導体発光素子が加熱されると、p型電極とp型GaN層の熱膨張係数の差に起因して、p型GaN層に応力が発生する。 In the semiconductor light emitting device as described above, the thermal expansion coefficient of the p-type electrode is different from that of the p-type GaN layer. Therefore, for example, when a semiconductor light emitting device is heated, stress is generated in the p-type GaN layer due to the difference in thermal expansion coefficient between the p-type electrode and the p-type GaN layer.

本発明に係る発光装置の一態様は、
基板と、
第1導電型の第1半導体層、前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層を有する柱状部と、
前記柱状部の前記基板とは反対側に設けられ、金属を含む導電層と、有機材料を含み、前記柱状部と前記導電層との間に設けられた有機導電層と、を有する電極と、
を有し、
前記導電層の熱膨張係数は、前記第2半導体層の熱膨張係数と異なり、
前記有機導電層のヤング率は、前記第2半導体層のヤング率および前記導電層のヤング率よりも小さい。
One embodiment of the light emitting device according to the present invention is
A substrate and
A columnar shape having a first semiconductor layer of a first conductivity type, a second semiconductor layer of a second conductivity type different from the first conductivity type, and a light emitting layer provided between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer. Department and
an electrode provided on the opposite side of the columnar part from the substrate and including a conductive layer containing metal; and an organic conductive layer containing an organic material and provided between the columnar part and the conductive layer;
has
The thermal expansion coefficient of the conductive layer is different from the thermal expansion coefficient of the second semiconductor layer,
The Young's modulus of the organic conductive layer is smaller than the Young's modulus of the second semiconductor layer and the Young's modulus of the conductive layer.

本発明に係るプロジェクターの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
One aspect of the projector according to the present invention is
This embodiment has one embodiment of the light-emitting device.

本発明に係るディスプレイの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
One aspect of the display according to the present invention is
This embodiment has one embodiment of the light-emitting device.

本発明に係るヘッドマウントディスプレイの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
One aspect of the head mounted display according to the present invention is
This embodiment has one embodiment of the light-emitting device.

本実施形態に係る発光装置を模式的に示す断面図。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device according to the present embodiment. 本実施形態に係る発光装置を模式的に示す断面図。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device according to the present embodiment. 本実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the manufacturing process of the light emitting device according to the present embodiment. 本実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the manufacturing process of the light emitting device according to the present embodiment. 本実施形態の第1変形例に係る発光装置を模式的に示す断面図。FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device according to a first modified example of the present embodiment. 本実施形態の第2変形例に係る発光装置を模式的に示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device according to a second modified example of the present embodiment. 本実施形態の第3変形例に係る発光装置を模式的に示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device according to a third modification of the present embodiment. 本実施形態の第3変形例に係る発光装置を模式的に示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device according to a third modification of the present embodiment. 本実施形態の第4変形例に係る発光装置を模式的に示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device according to a fourth modification of the present embodiment. 本実施形態に係るプロジェクターを模式的に示す図。FIG. 1 is a diagram schematically showing a projector according to the present embodiment. 本実施形態に係るディスプレイを模式的に示す平面図。FIG. 1 is a plan view schematically showing a display according to the present embodiment. 本実施形態に係るディスプレイを模式的に示す断面図。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a display according to the present embodiment. 本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイを模式的に示す斜視図。FIG. 1 is a perspective view schematically showing a head mounted display according to the present embodiment. 本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイの像形成装置および導光装置を模式的に示す図。FIG. 1 is a diagram schematically showing an image forming device and a light guide device of a head mounted display according to the present embodiment.

以下、本発明の好適な実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail using the drawings. Note that the embodiments described below do not unduly limit the content of the present invention described in the claims. Furthermore, not all of the configurations described below are essential components of the present invention.

1. 発光装置
1.1. 全体の構成
まず、本実施形態に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る発光装置100を模式的に示す断面図である。
1. Light emitting device 1.1. Overall Configuration First, a light emitting device according to this embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device 100 according to this embodiment.

発光装置100は、図1に示すように、例えば、基板10と、積層体20と、第1電極50と、第2電極52と、を有している。発光装置100は、例えば、半導体レーザーである。 As shown in FIG. 1, the light emitting device 100 includes, for example, a substrate 10, a laminate 20, a first electrode 50, and a second electrode 52. The light emitting device 100 is, for example, a semiconductor laser.

基板10は、例えば、Si基板、GaN基板、サファイア基板、SiC基板などである。 The substrate 10 is, for example, a Si substrate, a GaN substrate, a sapphire substrate, a SiC substrate, or the like.

積層体20は、基板10に設けられている。図示の例では、積層体20は、基板10上に設けられている。積層体20は、例えば、バッファー層22と、柱状部30と、絶縁層40と、を有している。 The laminate 20 is provided on the substrate 10. In the illustrated example, the laminate 20 is provided on the substrate 10. The laminate 20 includes, for example, a buffer layer 22, a columnar portion 30, and an insulating layer 40.

なお、本明細書では、積層体20の積層方向(以下、単に「積層方向」ともいう)において、柱状部30の発光層34を基準とした場合、発光層34から柱状部30の第2半導体層36に向かう方向を「上」とし、発光層34から柱状部30の第1半導体層32に向かう方向を「下」として説明する。また、積層方向と直交する方向を「面内方向」ともいう。「積層体20の積層方向」とは、第1半導体層32と発光層34との積層方向のことである。 In this specification, in the stacking direction of the stacked body 20 (hereinafter also simply referred to as "stacking direction"), when the light emitting layer 34 of the columnar section 30 is used as a reference, the second semiconductor of the columnar section 30 is transferred from the light emitting layer 34. The direction toward the layer 36 will be referred to as "up", and the direction from the light emitting layer 34 toward the first semiconductor layer 32 of the columnar section 30 will be referred to as "down". Further, the direction perpendicular to the stacking direction is also referred to as the "in-plane direction." “The stacking direction of the stacked body 20” refers to the stacking direction of the first semiconductor layer 32 and the light emitting layer 34.

バッファー層22は、基板10上に設けられている。バッファー層22は、例えば、半導体層であり、Siがドープされたn型のGaN層である。なお、図示はしないが、バッファー層22上には、柱状部30を成長させるためのマスク層が設けられていてもよい。マスク層は、例えば、チタン層、酸化シリコン層、酸化チタン層、酸化アルミニウム層などである。 Buffer layer 22 is provided on substrate 10 . The buffer layer 22 is, for example, a semiconductor layer, and is an n-type GaN layer doped with Si. Although not shown, a mask layer for growing the columnar portions 30 may be provided on the buffer layer 22. The mask layer is, for example, a titanium layer, a silicon oxide layer, a titanium oxide layer, an aluminum oxide layer, or the like.

柱状部30は、バッファー層22上に設けられている。柱状部30は、バッファー層22を介して、基板10に設けられている。柱状部30は、バッファー層22から上方に突出した柱状の形状を有している。言い換えれば、柱状部30は、バッファー層22を介して、基板10から上方に突出している。柱状部30は、例えば、ナノコラム、ナノワイヤー、ナノロッド、ナノピラーとも呼ばれる。柱状部30の平面形状は、例えば、正六角形などの多角形、円である。 The columnar portion 30 is provided on the buffer layer 22. The columnar portion 30 is provided on the substrate 10 with the buffer layer 22 interposed therebetween. The columnar portion 30 has a columnar shape that projects upward from the buffer layer 22 . In other words, the columnar portions 30 protrude upward from the substrate 10 with the buffer layer 22 interposed therebetween. The columnar part 30 is also called, for example, a nanocolumn, a nanowire, a nanorod, or a nanopillar. The planar shape of the columnar portion 30 is, for example, a polygon such as a regular hexagon, or a circle.

柱状部30の径は、例えば、50nm以上500nm以下である。柱状部30の径を500nm以下とすることによって、高品質な結晶の発光層34を得ることができ、かつ、発光層34に内在する歪を低減することができる。これにより、発光層34で発生する光を高い効率で増幅することができる。 The diameter of the columnar portion 30 is, for example, 50 nm or more and 500 nm or less. By setting the diameter of the columnar portion 30 to 500 nm or less, a high-quality crystalline light emitting layer 34 can be obtained, and the strain inherent in the light emitting layer 34 can be reduced. Thereby, the light generated in the light emitting layer 34 can be amplified with high efficiency.

なお、「柱状部30の径」とは、柱状部30の平面形状が円の場合は、直径であり、柱状部30の平面形状が円ではない形状の場合は、最小包含円の直径である。例えば、柱状部30の径は、柱状部30の平面形状が多角形の場合、該多角形を内部に含む最小の円の直径であり、柱状部30の平面形状が楕円の場合、該楕円を内部に含む最小の円の直径である。 In addition, the "diameter of the columnar part 30" is the diameter when the planar shape of the columnar part 30 is a circle, and when the planar shape of the columnar part 30 is a shape other than a circle, it is the diameter of the minimum enclosing circle. . For example, when the planar shape of the columnar portion 30 is a polygon, the diameter of the columnar portion 30 is the diameter of the smallest circle that includes the polygon, and when the planar shape of the columnar portion 30 is an ellipse, the diameter of the ellipse is the diameter of the smallest circle that includes the polygon. It is the diameter of the smallest circle contained inside.

柱状部30は、複数設けられている。複数の柱状部30は、互いに離隔している。図示の例では、隣り合う柱状部30の間は、空隙である。隣り合う柱状部30の間隔は、例えば、1nm以上500nm以下である。複数の柱状部30は、積層方向からみて、所定の方向に所定のピッチで配列されている。複数の柱状部30は、例えば、正三角格子状、正方格子状に配列されている。複数の柱状部30は、フォトニック結晶の効果を発現することができる。 A plurality of columnar parts 30 are provided. The plurality of columnar parts 30 are spaced apart from each other. In the illustrated example, there is a gap between adjacent columnar parts 30. The interval between adjacent columnar parts 30 is, for example, 1 nm or more and 500 nm or less. The plurality of columnar parts 30 are arranged in a predetermined direction at a predetermined pitch when viewed from the stacking direction. The plurality of columnar parts 30 are arranged in, for example, a regular triangular lattice shape or a square lattice shape. The plurality of columnar parts 30 can exhibit the effect of a photonic crystal.

なお、「柱状部30のピッチ」とは、所定の方向に隣り合う柱状部30の中心間の距離である。「柱状部30の中心」とは、柱状部30の平面形状が円の場合は、該円の中心であり、柱状部30の平面形状が円ではない形状の場合は、最小包含円の中心である。例えば、柱状部30の中心は、柱状部30の平面形状が多角形の場合、該多角形を内部に含む最小の円の中心であり、柱状部30の平面形状が楕円の場合、該楕円を内部に含む最小の円の中心である。 Note that the "pitch of the columnar sections 30" is the distance between the centers of the columnar sections 30 adjacent to each other in a predetermined direction. "The center of the columnar section 30" means the center of the circle when the planar shape of the columnar section 30 is a circle, and the center of the minimum enclosing circle when the planar shape of the columnar section 30 is not a circle. be. For example, if the planar shape of the columnar portion 30 is a polygon, the center of the columnar portion 30 is the center of the smallest circle that includes the polygon, and if the planar shape of the columnar portion 30 is an ellipse, the center of the ellipse is the center of the smallest circle that includes the polygon. It is the center of the smallest circle contained inside.

柱状部30は、第1半導体層32と、発光層34と、第2半導体層36と、を有している。第1半導体層32、発光層34、および第2半導体層36は、例えば、III族窒化物半導体であり、ウルツ鉱型結晶構造を有している。 The columnar portion 30 includes a first semiconductor layer 32, a light emitting layer 34, and a second semiconductor layer 36. The first semiconductor layer 32, the light emitting layer 34, and the second semiconductor layer 36 are, for example, group III nitride semiconductors and have a wurtzite crystal structure.

第1半導体層32は、バッファー層22上に設けられている。第1半導体層32は、基板10と発光層34との間に設けられている。第1半導体層32は、第1導電型の半導体層である。第1導電型は、例えば、n型である。第1半導体層32は、例えば、Siがドープされたn型のGaN層である。言い換えると、第1半導体層32は、バッファー層22から上方に突出している。 The first semiconductor layer 32 is provided on the buffer layer 22. The first semiconductor layer 32 is provided between the substrate 10 and the light emitting layer 34. The first semiconductor layer 32 is a first conductivity type semiconductor layer. The first conductivity type is, for example, n-type. The first semiconductor layer 32 is, for example, an n-type GaN layer doped with Si. In other words, the first semiconductor layer 32 protrudes upward from the buffer layer 22.

発光層34は、第1半導体層32上に設けられている。発光層34は、第1半導体層32と第2半導体層36との間に設けられている。発光層34は、電流が注入されることで光を発生させる。発光層34は、例えば、ウェル層と、バリア層と、を有している。ウェル層およびバリア層は、不純物が意図的にドープされていないi型の半導体層である。ウェル層は、例えば、InGaN層である。バリア層は、例えば、GaN層である。発光層34は、ウェル層とバリア層とから構成されたMQW(Multiple Quantum Well)構造を有している。 The light emitting layer 34 is provided on the first semiconductor layer 32. The light emitting layer 34 is provided between the first semiconductor layer 32 and the second semiconductor layer 36. The light emitting layer 34 generates light when current is injected thereto. The light emitting layer 34 includes, for example, a well layer and a barrier layer. The well layer and barrier layer are i-type semiconductor layers that are not intentionally doped with impurities. The well layer is, for example, an InGaN layer. The barrier layer is, for example, a GaN layer. The light emitting layer 34 has an MQW (Multiple Quantum Well) structure composed of a well layer and a barrier layer.

なお、発光層34を構成するウェル層およびバリア層の数は、特に限定されない。例えば、ウェル層は、1層だけ設けられていてもよく、この場合、発光層34は、SQW(Single Quantum Well)構造を有している。 Note that the number of well layers and barrier layers that constitute the light emitting layer 34 is not particularly limited. For example, only one well layer may be provided, and in this case, the light emitting layer 34 has an SQW (Single Quantum Well) structure.

第2半導体層36は、発光層34上に設けられている。第2半導体層36は、発光層34と第2電極52との間に設けられている。第2半導体層36は、第1導電型と異なる第2導電型の半導体層である。第2導電型は、例えば、p型である。第2半導体層36は、例えば、Mgがドープされたp型のGaN層である。第1半導体層32および第2半導体層36は、発光層34に光を閉じ込める機能を有するクラッド層である。 The second semiconductor layer 36 is provided on the light emitting layer 34. The second semiconductor layer 36 is provided between the light emitting layer 34 and the second electrode 52. The second semiconductor layer 36 is a semiconductor layer of a second conductivity type different from the first conductivity type. The second conductivity type is, for example, p-type. The second semiconductor layer 36 is, for example, a p-type GaN layer doped with Mg. The first semiconductor layer 32 and the second semiconductor layer 36 are cladding layers that have the function of confining light in the light emitting layer 34.

なお、図示はしないが、第1半導体層32と発光層34との間、および発光層34と第2半導体層36との間の少なくとも一方に、i型のInGaN層およびGaN層からなるOCL(Optical Confinement Layer)が設けられていてもよい。また、第2半導体層36は、p型のAlGaN層からなるEBL(Electron Blocking Layer)を有してもよい。 Although not shown, an OCL (OCL) consisting of an i-type InGaN layer and a GaN layer is provided between the first semiconductor layer 32 and the light emitting layer 34 and between the light emitting layer 34 and the second semiconductor layer 36. Optical Confinement Layer) may be provided. Further, the second semiconductor layer 36 may include an EBL (Electron Blocking Layer) made of a p-type AlGaN layer.

発光装置100では、p型の第2半導体層36、不純物が意図的にドープされていないi型の発光層34、およびn型の第1半導体層32により、pinダイオードが構成される。発光装置100では、第1電極50と第2電極52との間に、pinダイオードの順バイアス電圧を印加すると、発光層34に電流が注入されて発光層34において電子と正孔との再結合が起こる。この再結合により発光が生じる。発光層34で発生した光は、面内方向に伝搬し、複数の柱状部30によるフォトニック結晶の効果により定在波を形成して、発光層34で利得を受けてレーザー発振する。そして、発光装置100は、+1次回折光および-1次回折光をレーザー光として、積層方向に出射する。 In the light emitting device 100, a pin diode is configured by the p-type second semiconductor layer 36, the i-type light emitting layer 34 not intentionally doped with impurities, and the n-type first semiconductor layer 32. In the light emitting device 100, when a forward bias voltage of a pin diode is applied between the first electrode 50 and the second electrode 52, a current is injected into the light emitting layer 34, and electrons and holes are recombined in the light emitting layer 34. happens. This recombination produces light emission. The light generated in the light emitting layer 34 propagates in the in-plane direction, forms a standing wave due to the photonic crystal effect of the plurality of columnar parts 30, receives gain in the light emitting layer 34, and oscillates as a laser. Then, the light emitting device 100 emits the +1st-order diffracted light and the -1st-order diffracted light as laser beams in the stacking direction.

なお、図示はしないが、基板10とバッファー層22との間、または基板10の下に反射層が設けられていてもよい。該反射層は、例えば、DBR(Distributed Bragg Reflector)層である。該反射層によって、発光層34において発生した光を反射させることができ、発光装置100は、第2電極52側からのみ光を出射することができる。 Although not shown, a reflective layer may be provided between the substrate 10 and the buffer layer 22 or under the substrate 10. The reflective layer is, for example, a DBR (Distributed Bragg Reflector) layer. The reflective layer can reflect the light generated in the light emitting layer 34, and the light emitting device 100 can emit light only from the second electrode 52 side.

絶縁層40は、例えば、バッファー層22上、ならびに第2電極52の有機導電層54上および金属層56上に設けられている。絶縁層40は、積層方向からみて、複数の柱状部30を囲んでいる。絶縁層40には、コンタクトホール42が設けられている。コンタクトホール42は、絶縁層40を積層方向に貫通している。絶縁層40は、例えば、酸化シリコン層、窒化シリコン層、酸化窒化シリコン層、ポリイミド層などである。 The insulating layer 40 is provided, for example, on the buffer layer 22, and on the organic conductive layer 54 and metal layer 56 of the second electrode 52. The insulating layer 40 surrounds the plurality of columnar parts 30 when viewed from the stacking direction. A contact hole 42 is provided in the insulating layer 40 . The contact hole 42 penetrates the insulating layer 40 in the stacking direction. The insulating layer 40 is, for example, a silicon oxide layer, a silicon nitride layer, a silicon oxynitride layer, a polyimide layer, or the like.

第1電極50は、バッファー層22上に設けられている。図示の例では、バッファー層22の一部が掘り込まれ、バッファー層22の掘り込まれた部分に第1電極50が設けられている。バッファー層22は、第1電極50とオーミックコンタクトしていてもよい。第1電極50は、第1半導体層32と電気的に接続されている。図示の例では、第1電極50は、バッファー層22を介して、第1半導体層32と電気的に接続されている。第1電極50としては、例えば、バッファー層22側から、Cr層、Ni層、Au層の順序で積層されたものなどを用いる。第1電極50は、発光層34に電流を注入するための一方の電極である。 The first electrode 50 is provided on the buffer layer 22. In the illustrated example, a portion of the buffer layer 22 is dug, and the first electrode 50 is provided in the dug portion of the buffer layer 22. The buffer layer 22 may be in ohmic contact with the first electrode 50. The first electrode 50 is electrically connected to the first semiconductor layer 32. In the illustrated example, the first electrode 50 is electrically connected to the first semiconductor layer 32 via the buffer layer 22. As the first electrode 50, for example, a layer formed by laminating a Cr layer, a Ni layer, and an Au layer in this order from the buffer layer 22 side is used. The first electrode 50 is one electrode for injecting current into the light emitting layer 34.

第2電極52は、第2半導体層36上に設けられている。第2電極52は、発光層34に電流を注入するための他方の電極である。第2電極52の詳細については、後述する。 The second electrode 52 is provided on the second semiconductor layer 36. The second electrode 52 is the other electrode for injecting current into the light emitting layer 34. Details of the second electrode 52 will be described later.

なお、上記では、InGaN系の発光層34について説明したが、発光層34としては、出射される光の波長に応じて、電流が注入されることで発光可能な様々な材料系を用いることができる。例えば、AlGaN系、AlGaAs系、InGaAs系、InGaAsP系、InP系、GaP系、AlGaP系などの半導体材料を用いることができる。 Note that although the InGaN-based light emitting layer 34 has been described above, the light emitting layer 34 may be made of various materials that can emit light when a current is injected, depending on the wavelength of the emitted light. can. For example, semiconductor materials such as AlGaN-based, AlGaAs-based, InGaAs-based, InGaAsP-based, InP-based, GaP-based, and AlGaP-based can be used.

また、発光装置100は、レーザーに限らず、LED(Light Emitting Diode)であってもよい。 Further, the light emitting device 100 is not limited to a laser, and may be an LED (Light Emitting Diode).

1.2. 第2電極
図2は、本実施形態に係る発光装置100を模式的に示す断面図であり、図1の領域Aの拡大図である。
1.2. Second Electrode FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the light emitting device 100 according to this embodiment, and is an enlarged view of region A in FIG.

第2電極52は、図1および図2に示すように、柱状部30の基板10とは反対側に設けられている。第2電極52は、例えば、有機導電層54と、金属層56と、透明電極層58と、を有している。 The second electrode 52 is provided on the opposite side of the columnar section 30 from the substrate 10, as shown in FIGS. 1 and 2. The second electrode 52 includes, for example, an organic conductive layer 54, a metal layer 56, and a transparent electrode layer 58.

有機導電層54は、第2半導体層36上に設けられている。有機導電層54は、第2半導体層36と金属層56との間に設けられている。有機導電層54は、複数の柱状部30にわたって設けられている。有機導電層54は、隣り合う柱状部30の間の空隙の上方に設けられている。図示の例では、柱状部30の上面は、ファセット面で構成され、有機導電層54は、ファセット面に設けられている。なお、図示はしないが、柱状部30の上面は、c面を有し、有機導電層54は、c面に設けられていてもよい。 The organic conductive layer 54 is provided on the second semiconductor layer 36. The organic conductive layer 54 is provided between the second semiconductor layer 36 and the metal layer 56. The organic conductive layer 54 is provided over the plurality of columnar parts 30. The organic conductive layer 54 is provided above the gap between the adjacent columnar parts 30. In the illustrated example, the upper surface of the columnar portion 30 is configured with a facet surface, and the organic conductive layer 54 is provided on the facet surface. Although not shown, the upper surface of the columnar portion 30 may have a c-plane, and the organic conductive layer 54 may be provided on the c-plane.

有機導電層54は、柱状部30の第2半導体層36の側面37に設けられていない。そのため、例えば側面に有機導電層が設けられている場合に比べて、積層体20の側面37が露出している部分における面内方向の平均屈折率と、積層体20の発光層34が設けられている部分における面内方向の平均屈折率と、の差を大きくすることができる。これにより、発光装置100の光閉じ込め係数を高めることができる。側面37は、例えば、m面で構成されている。図示の例では、側面37は、積層方向と平行である。 The organic conductive layer 54 is not provided on the side surface 37 of the second semiconductor layer 36 of the columnar section 30 . Therefore, compared to, for example, a case where an organic conductive layer is provided on the side surface, the average refractive index in the in-plane direction at the exposed side surface 37 of the laminate 20 and the light emitting layer 34 of the laminate 20 are reduced. It is possible to increase the difference between the average refractive index in the in-plane direction in the portion where the Thereby, the optical confinement coefficient of the light emitting device 100 can be increased. The side surface 37 is formed of, for example, an m-plane. In the illustrated example, the side surface 37 is parallel to the stacking direction.

有機導電層54の厚さT1は、例えば、金属層56の厚さT2よりも大きい。有機導電層54の厚さT1とは、有機導電層54の積層方向における最大の大きさのことである。金属層56の厚さT2とは、金属層56の積層方向における最大の大きさのことである。有機導電層54の厚さT1は、透明電極層58の厚さよりも大きくてもよいし、小さくてもよいし、同じであってもよい。 The thickness T1 of the organic conductive layer 54 is, for example, larger than the thickness T2 of the metal layer 56. The thickness T1 of the organic conductive layer 54 is the maximum size of the organic conductive layer 54 in the stacking direction. The thickness T2 of the metal layer 56 is the maximum size of the metal layer 56 in the stacking direction. The thickness T1 of the organic conductive layer 54 may be larger than, smaller than, or the same as the thickness of the transparent electrode layer 58.

有機導電層54の厚さT1は、例えば、5nm以上30nm以下である。厚さT1が5nm以上であれば、第2半導体層36と金属層56との熱膨張係数の差に起因して第2半導体層36に発生する応力を、より確実に小さくすることができる。厚さT1が30nm以下であれば、第2電極52の電気抵抗を低くすることができる。 The thickness T1 of the organic conductive layer 54 is, for example, 5 nm or more and 30 nm or less. If the thickness T1 is 5 nm or more, the stress generated in the second semiconductor layer 36 due to the difference in coefficient of thermal expansion between the second semiconductor layer 36 and the metal layer 56 can be more reliably reduced. If the thickness T1 is 30 nm or less, the electrical resistance of the second electrode 52 can be lowered.

有機導電層54のヤング率は、第2半導体層36のヤング率よりも小さい。有機導電層54のヤング率は、金属層56のヤング率よりも小さい。有機導電層54のヤング率は、例えば、透明電極層58のヤング率よりも小さい。ヤング率は、例えば、共振法、超音波パルス法などによって測定される。 The Young's modulus of the organic conductive layer 54 is smaller than the Young's modulus of the second semiconductor layer 36. The Young's modulus of the organic conductive layer 54 is smaller than that of the metal layer 56. The Young's modulus of the organic conductive layer 54 is smaller than that of the transparent electrode layer 58, for example. Young's modulus is measured, for example, by a resonance method, an ultrasonic pulse method, or the like.

有機導電層54の仕事関数と第2半導体層36の仕事関数との差は、例えば、金属層56の仕事関数と第2半導体層36の仕事関数との差よりも小さい。有機導電層54の仕事関数は、例えば、第2半導体層36の仕事関数よりも小さい。金属層56の仕事関数は、例えば、有機導電層54の仕事関数よりも小さい。透明電極層58の仕事関数は、例えば、金属層56の仕事関数よりも小さい。有機導電層54の電気抵抗率は、例えば、透明電極層58の電気抵抗率よりも小さい。 For example, the difference between the work function of the organic conductive layer 54 and the work function of the second semiconductor layer 36 is smaller than the difference between the work function of the metal layer 56 and the work function of the second semiconductor layer 36. The work function of the organic conductive layer 54 is, for example, smaller than the work function of the second semiconductor layer 36. The work function of the metal layer 56 is, for example, smaller than the work function of the organic conductive layer 54. The work function of the transparent electrode layer 58 is smaller than that of the metal layer 56, for example. The electrical resistivity of the organic conductive layer 54 is smaller than that of the transparent electrode layer 58, for example.

有機導電層54は、有機材料を含む。有機導電層54は、例えば、有機材料からなる。有機導電層54の材質は、導電性の高分子である。有機導電層54は、例えば、PEDOT(ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン))を含む。さらに、有機導電層54は、例えば、ドーパントとしてPSS(ポリスチレンスルホン酸)を含む。有機導電層54は、例えば、PEDOTおよびドーパントしてのPSSを水や有機溶剤に分散してPEDOT/PSS液を調製し、調整したPEDOT/PSS液を塗布および加熱することによって形成されたPEDOT/PSS層である。 Organic conductive layer 54 includes an organic material. The organic conductive layer 54 is made of, for example, an organic material. The material of the organic conductive layer 54 is a conductive polymer. The organic conductive layer 54 includes, for example, PEDOT (poly(3,4-ethylenedioxythiophene)). Further, the organic conductive layer 54 contains, for example, PSS (polystyrene sulfonic acid) as a dopant. The organic conductive layer 54 is formed by, for example, dispersing PEDOT and PSS as a dopant in water or an organic solvent to prepare a PEDOT/PSS liquid, and applying and heating the prepared PEDOT/PSS liquid. This is the PSS layer.

金属層56は、有機導電層54上に設けられている。金属層56は、有機導電層54と透明電極層58との間に設けられている。金属層56は、コンタクトホール42の底面を規定している。積層方向からみて、金属層56の面積は、例えば、有機導電層54の面積よりも小さい。 A metal layer 56 is provided on the organic conductive layer 54. A metal layer 56 is provided between the organic conductive layer 54 and the transparent electrode layer 58. Metal layer 56 defines the bottom surface of contact hole 42 . Seen from the stacking direction, the area of the metal layer 56 is smaller than the area of the organic conductive layer 54, for example.

金属層56の厚さT2は、透明電極層58の厚さよりも小さい。金属層56の電気抵抗率は、例えば、有機導電層54の電気抵抗率、および透明電極層58の電気抵抗率よりも小さい。金属層56の熱膨張係数は、第2半導体層36の熱膨張係数と異なる。金属層56の熱膨張係数は、第2半導体層36の熱膨張係数よりも大きい。 The thickness T2 of the metal layer 56 is smaller than the thickness of the transparent electrode layer 58. The electrical resistivity of the metal layer 56 is, for example, smaller than the electrical resistivity of the organic conductive layer 54 and the electrical resistivity of the transparent electrode layer 58. The coefficient of thermal expansion of the metal layer 56 is different from the coefficient of thermal expansion of the second semiconductor layer 36. The thermal expansion coefficient of the metal layer 56 is larger than that of the second semiconductor layer 36.

金属層56は、金属を含む導電層である。金属層56は、無機材料からなる。具体的には、金属層56は、金属からなる。金属層56は、例えば、Pd層、Pt層、Ni層、Au層の順序で積層されたものである。 The metal layer 56 is a conductive layer containing metal. The metal layer 56 is made of an inorganic material. Specifically, the metal layer 56 is made of metal. The metal layer 56 is, for example, a Pd layer, a Pt layer, a Ni layer, and an Au layer stacked in this order.

透明電極層58は、金属層56上に設けられている。さらに、透明電極層58は、コンタクトホール42を規定する絶縁層40の側面、および絶縁層40の上面に設けられている。 A transparent electrode layer 58 is provided on the metal layer 56. Furthermore, the transparent electrode layer 58 is provided on the side surface of the insulating layer 40 that defines the contact hole 42 and on the top surface of the insulating layer 40 .

透明電極層58は、発光層34で発生する光に対して、金属層56よりも高い透光性を有する。透明電極層58は、無機材料からなる。具体的には、透明電極層58は、透明電極材料からなる。透明電極層58は、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)層、ZnO層などである。 The transparent electrode layer 58 has higher translucency than the metal layer 56 with respect to the light generated in the light emitting layer 34 . The transparent electrode layer 58 is made of an inorganic material. Specifically, the transparent electrode layer 58 is made of a transparent electrode material. The transparent electrode layer 58 is, for example, an ITO (Indium Tin Oxide) layer, a ZnO layer, or the like.

1.3. 作用効果
発光装置100では、金属を含む導電層としての金属層56と、有機材料を含み、柱状部30と金属層56との間に設けられた有機導電層54を有する。金属層56の熱膨張係数は、第2半導体層36の熱膨張係数と異なり、有機導電層54のヤング率は、第2半導体層36のヤング率および金属層56のヤング率よりも小さい。
1.3. Effects The light emitting device 100 includes a metal layer 56 as a conductive layer containing metal, and an organic conductive layer 54 containing an organic material and provided between the columnar portion 30 and the metal layer 56. The thermal expansion coefficient of the metal layer 56 is different from that of the second semiconductor layer 36, and the Young's modulus of the organic conductive layer 54 is smaller than the Young's modulus of the second semiconductor layer 36 and the Young's modulus of the metal layer 56.

そのため、発光装置100では、例えば発光装置100が加熱されたとしても、第2半導体層36と金属層56との熱膨張係数の差に起因して第2半導体層36に発生する応力を、有機導電層54によって小さくすることができる。例えば、発光装置100が加熱されることによって、積層方向からみて、第2半導体層36が第1寸法だけ膨張する場合、有機導電層54の第2半導体層36側の部分は、第2半導体層36の膨張に伴って第1寸法だけ膨張することができる。さらに、例えば、金属層56が第1寸法よりも大きい第2寸法だけ膨張する場合、有機導電層54の金属層56側の部分は、金属層56の膨張に伴って第2寸法だけ膨張することができる。このように有機導電層54は、第2半導体層36と金属層56との熱膨張係数の差を緩衝する機能を有する。熱膨張に限らず、熱収縮の場合にも、同様のことが言える。これにより、第2半導体層36に結晶欠陥などの欠陥が発生する可能性を小さくすることができる。その結果、第2半導体層36と第2電極52との接触抵抗の上昇やリークパスを抑制することができ、良好は発光特性を有することができる。さらに、例えば、第2半導体層36と金属層56との熱膨張係数の差に起因して金属層56にクラックが発生する可能性を小さくすることができる。 Therefore, in the light emitting device 100, even if the light emitting device 100 is heated, for example, the stress generated in the second semiconductor layer 36 due to the difference in thermal expansion coefficients between the second semiconductor layer 36 and the metal layer 56 can be absorbed by the organic The conductive layer 54 can reduce the size. For example, when the second semiconductor layer 36 expands by the first dimension when viewed from the stacking direction due to heating of the light emitting device 100, the portion of the organic conductive layer 54 on the second semiconductor layer 36 side is expanded by the second semiconductor layer 36. 36 can be expanded by a first dimension. Further, for example, when the metal layer 56 expands by a second dimension larger than the first dimension, the portion of the organic conductive layer 54 on the metal layer 56 side expands by the second dimension as the metal layer 56 expands. I can do it. In this way, the organic conductive layer 54 has a function of buffering the difference in thermal expansion coefficient between the second semiconductor layer 36 and the metal layer 56. The same thing can be said not only in the case of thermal expansion but also in the case of thermal contraction. This can reduce the possibility that defects such as crystal defects will occur in the second semiconductor layer 36. As a result, an increase in contact resistance and a leak path between the second semiconductor layer 36 and the second electrode 52 can be suppressed, and good light-emitting characteristics can be obtained. Furthermore, for example, the possibility that cracks will occur in the metal layer 56 due to the difference in thermal expansion coefficients between the second semiconductor layer 36 and the metal layer 56 can be reduced.

発光装置100では、有機導電層54の厚さT1は、金属層56の厚さT2よりも大きい。そのため、発光装置100では、例えば厚さT1が厚さT2よりも小さい場合に比べて、第2半導体層36と金属層56との熱膨張係数の差に起因して第2半導体層36に発生する応力を、より確実に小さくすることができる。 In the light emitting device 100, the thickness T1 of the organic conductive layer 54 is greater than the thickness T2 of the metal layer 56. Therefore, in the light emitting device 100, compared to the case where the thickness T1 is smaller than the thickness T2, for example, generation of heat in the second semiconductor layer 36 due to the difference in coefficient of thermal expansion between the second semiconductor layer 36 and the metal layer 56 occurs. The stress caused by this can be more reliably reduced.

発光装置100では、有機導電層54は、PEDOT/PSS層である。PEDOT/PSS層は、例えば、スピンコート法やインクジェット法などのウェットプロセスによって形成される。そのため、有機導電層が形成されず第2半導体層に直接金属層がスパッタ法や蒸着法によって形成される場合に比べて、第2電極52を形成することに起因する第2半導体層36へのダメージを小さくすることができる。当該ダメージとしては、結晶欠陥が挙げられる。結晶欠陥は、キャリア損失を生じさせる。 In the light emitting device 100, the organic conductive layer 54 is a PEDOT/PSS layer. The PEDOT/PSS layer is formed, for example, by a wet process such as a spin coating method or an inkjet method. Therefore, compared to the case where no organic conductive layer is formed and a metal layer is directly formed on the second semiconductor layer by sputtering or vapor deposition, the amount of damage to the second semiconductor layer 36 caused by forming the second electrode 52 increases. Damage can be reduced. The damage includes crystal defects. Crystal defects cause carrier loss.

発光装置100では、第2電極52は、透明電極層58を有し、金属層56は、有機導電層54と透明電極層58との間に設けられている。そのため、発光装置100では、透明電極層の代わりに金属からなる層が設けられている場合に比べて、発光層34で発生した光に対する第2電極52の透過率を高くすることができる。 In the light emitting device 100, the second electrode 52 has a transparent electrode layer 58, and the metal layer 56 is provided between the organic conductive layer 54 and the transparent electrode layer 58. Therefore, in the light emitting device 100, the transmittance of the second electrode 52 for light generated in the light emitting layer 34 can be made higher than in the case where a layer made of metal is provided instead of the transparent electrode layer.

2. 発光装置の製造方法
次に、本実施形態に係る発光装置100の製造方法について、図面を参照しながら説明する。図3および図4は、本実施形態に係る発光装置100の製造工程を模式的に示す断面図である。
2. Method for Manufacturing Light-Emitting Device Next, a method for manufacturing the light-emitting device 100 according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. 3 and 4 are cross-sectional views schematically showing the manufacturing process of the light emitting device 100 according to this embodiment.

図3に示すように、基板10上に、バッファー層22をエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法、MBE(Molecular Beam Epitaxy)法などが挙げられる。 As shown in FIG. 3, a buffer layer 22 is epitaxially grown on the substrate 10. Examples of epitaxial growth methods include MOCVD (Metal Organic Chemical Vapor Deposition) and MBE (Molecular Beam Epitaxy).

次に、バッファー層22上に、図示しないマスク層を形成する。マスク層は、例えば、電子ビーム蒸着法やスパッタ法などによって形成される。 Next, a mask layer (not shown) is formed on the buffer layer 22. The mask layer is formed by, for example, an electron beam evaporation method or a sputtering method.

次に、マスク層をマスクとしてバッファー層22上に、第1半導体層32、発光層34、および第2半導体層36を、この順でエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD法、MBE法などが挙げられる。本工程により、複数の柱状部30を形成することができる。なお、複数の柱状部30を形成した後に、エッチングによって、バッファー層22の一部を掘り込んでもよい。 Next, the first semiconductor layer 32, the light emitting layer 34, and the second semiconductor layer 36 are epitaxially grown in this order on the buffer layer 22 using the mask layer as a mask. Examples of epitaxial growth methods include MOCVD, MBE, and the like. Through this step, a plurality of columnar parts 30 can be formed. Note that after forming the plurality of columnar portions 30, a portion of the buffer layer 22 may be etched.

図4に示すように、複数の柱状部30上に有機導電層54を形成する。有機導電層54は、例えば、スピンコート法やインクジェット法によってPEDOT/PSS液を塗布し、塗布されたPEDOT/PSS液を加熱して焼成することによって形成される。なお、有機導電層54は、真空蒸着法によって形成されてもよい。 As shown in FIG. 4, an organic conductive layer 54 is formed on the plurality of columnar parts 30. The organic conductive layer 54 is formed by, for example, applying a PEDOT/PSS liquid by a spin coating method or an inkjet method, and heating and baking the applied PEDOT/PSS liquid. Note that the organic conductive layer 54 may be formed by a vacuum evaporation method.

次に、有機導電層54上に金属層56を形成する。金属層56は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法によって形成される。 Next, a metal layer 56 is formed on the organic conductive layer 54. The metal layer 56 is formed by, for example, a sputtering method or a vacuum evaporation method.

次に、バッファー層22、有機導電層54、および金属層56を覆うように、絶縁層40を形成する。絶縁層40は、例えば、スピンコート法によって前駆体液を塗布し、塗布された前駆体液を加熱して焼成することによって形成される。前駆体液の加熱の際に、第2半導体層36と金属層56との熱膨張係数の差に起因して第2半導体層36に発生する応力を、有機導電層54によって小さくすることができる。なお、絶縁層40は、CVD(Chemical Vapor Deposition)法によって形成されてもよい。 Next, an insulating layer 40 is formed to cover the buffer layer 22, the organic conductive layer 54, and the metal layer 56. The insulating layer 40 is formed, for example, by applying a precursor liquid using a spin coating method and heating and baking the applied precursor liquid. The organic conductive layer 54 can reduce the stress generated in the second semiconductor layer 36 due to the difference in thermal expansion coefficient between the second semiconductor layer 36 and the metal layer 56 when the precursor liquid is heated. Note that the insulating layer 40 may be formed by a CVD (Chemical Vapor Deposition) method.

図1に示すように、絶縁層40をパターニングして、絶縁層40にコンタクトホール42を形成する。パターニングは、例えば、フォトリソグラフィーおよびエッチングによって行われる。なお、図示はしないが、パターニングの際にオーバーエッチングを行うことにより、金属層56の一部が掘り込まれてもよい。 As shown in FIG. 1, the insulating layer 40 is patterned to form a contact hole 42 in the insulating layer 40. As shown in FIG. Patterning is performed, for example, by photolithography and etching. Although not shown, a portion of the metal layer 56 may be etched by over-etching during patterning.

次に、金属層56上および絶縁層40上に透明電極層58を形成する。透明電極層58は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。本工程により、有機導電層54、金属層56、および透明電極層58を有する第2電極52を形成することができる。 Next, a transparent electrode layer 58 is formed on the metal layer 56 and the insulating layer 40. The transparent electrode layer 58 is formed by, for example, a sputtering method, a vacuum evaporation method, or the like. Through this step, the second electrode 52 having the organic conductive layer 54, the metal layer 56, and the transparent electrode layer 58 can be formed.

次に、バッファー層22上に、第1電極50を形成する。第1電極50は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。なお、第1電極50を形成する工程と、透明電極層58を形成する工程と、の順序は、特に限定されない。 Next, a first electrode 50 is formed on the buffer layer 22. The first electrode 50 is formed by, for example, a sputtering method, a vacuum evaporation method, or the like. Note that the order of the step of forming the first electrode 50 and the step of forming the transparent electrode layer 58 is not particularly limited.

以上の工程により、発光装置100を製造することができる。 Through the above steps, the light emitting device 100 can be manufactured.

3. 発光装置の変形例
3.1. 第1変形例
次に、本実施形態の第1変形例に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図5は、本実施形態の第1変形例に係る発光装置200を模式的に示す断面図である。
3. Modifications of light emitting device 3.1. First Modification Next, a light emitting device according to a first modification of the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device 200 according to a first modification of the present embodiment.

以下、本実施形態の第1変形例に係る発光装置200において、上述した本実施形態に係る発光装置100の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。このことは、後述する本実施形態の第2~第4変形例に係る発光装置において同様である。 Hereinafter, in the light emitting device 200 according to the first modification of the present embodiment, members having the same functions as the constituent members of the light emitting device 100 according to the present embodiment described above will be denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be given. omitted. This also applies to light emitting devices according to second to fourth modified examples of the present embodiment, which will be described later.

上述した発光装置100では、図2に示すように、柱状部30の第2半導体層36の側面37には、有機導電層54が設けられていなかった。 In the light emitting device 100 described above, as shown in FIG. 2, the organic conductive layer 54 was not provided on the side surface 37 of the second semiconductor layer 36 of the columnar section 30.

これに対し、発光装置200では、図5に示すように、有機導電層54は、柱状部30の第2半導体層36の側面37に設けられている。有機導電層54は、隣り合う柱状部30の間に設けられている。例えば、隣り合う柱状部30の間隔を調製することや、有機導電層54の成膜条件を調製するにより、柱状部30の第2半導体層36の側面37に有機導電層54を形成することができる。有機導電層54は、柱状部30の発光層34の側面には、設けられていない。有機導電層54は、柱状部30の第1半導体層32の側面には、設けられていない。 On the other hand, in the light emitting device 200, as shown in FIG. 5, the organic conductive layer 54 is provided on the side surface 37 of the second semiconductor layer 36 of the columnar section 30. The organic conductive layer 54 is provided between adjacent columnar parts 30. For example, the organic conductive layer 54 can be formed on the side surface 37 of the second semiconductor layer 36 of the columnar part 30 by adjusting the interval between adjacent columnar parts 30 or by adjusting the film formation conditions of the organic conductive layer 54. can. The organic conductive layer 54 is not provided on the side surface of the light emitting layer 34 of the columnar section 30. The organic conductive layer 54 is not provided on the side surface of the first semiconductor layer 32 of the columnar section 30.

発光装置200では、有機導電層54は、さらに、柱状部30の第2半導体層36の側面37に設けられている。そのため、発光装置200では、柱状部の第2半導体層の側面に有機導電層が設けられていない場合に比べて、有機導電層54と第2半導体層36との接触面積を大きくすることができる。これにより、有機導電層54と第2半導体層36との接触抵抗を低くすることができる。 In the light emitting device 200, the organic conductive layer 54 is further provided on the side surface 37 of the second semiconductor layer 36 of the columnar section 30. Therefore, in the light emitting device 200, the contact area between the organic conductive layer 54 and the second semiconductor layer 36 can be increased compared to a case where an organic conductive layer is not provided on the side surface of the second semiconductor layer of the columnar part. . Thereby, the contact resistance between the organic conductive layer 54 and the second semiconductor layer 36 can be lowered.

3.2. 第2変形例
次に、本実施形態の第2変形例に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図6は、本実施形態の第2変形例に係る発光装置300を模式的に示す断面図である。
3.2. Second Modification Next, a light emitting device according to a second modification of the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device 300 according to a second modification of the present embodiment.

上述した発光装置100では、図1に示すように、積層体20は、複数の柱状部30を有していた。 In the light emitting device 100 described above, the laminate 20 had a plurality of columnar parts 30, as shown in FIG.

これに対し、発光装置300では、図6に示すように、積層体20は、柱状部30を1つだけ有している。発光装置300は、LEDである。第1半導体層32は、例えば、膜状である。発光層34は、例えば、膜状である。第2半導体層36は、例えば、膜状である。 On the other hand, in the light emitting device 300, the stacked body 20 has only one columnar part 30, as shown in FIG. Light emitting device 300 is an LED. The first semiconductor layer 32 has a film shape, for example. The light emitting layer 34 is, for example, in the form of a film. The second semiconductor layer 36 has a film shape, for example.

3.3. 第3変形例
次に、本実施形態の第3変形例に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図7は、本実施形態の第3変形例に係る発光装置400を模式的に示す断面図である。
3.3. Third Modification Next, a light emitting device according to a third modification of the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device 400 according to a third modification of the present embodiment.

発光装置400では、図7に示すように、壁部材60を有する点において、上述した発光装置100と異なる。 As shown in FIG. 7, the light emitting device 400 differs from the light emitting device 100 described above in that it includes a wall member 60.

壁部材60は、柱状部30上に設けられている。壁部材60の厚さは、有機導電層54の厚さよりも大きい。壁部材60の厚さとは、壁部材60の積層方向における最大の大きさのことである。図示の例では、壁部材60の厚さは、有機導電層54の厚さと金属層56の厚さとの合計よりも大きい。 The wall member 60 is provided on the columnar part 30. The thickness of wall member 60 is greater than the thickness of organic conductive layer 54. The thickness of the wall member 60 is the maximum size of the wall member 60 in the stacking direction. In the illustrated example, the thickness of wall member 60 is greater than the sum of the thickness of organic conductive layer 54 and the thickness of metal layer 56.

壁部材60は、積層方向からみて、有機導電層54を囲んでいる。壁部材60の平面形状は、例えば、リング状である。壁部材60は、有機導電層54の側面と接している。図示の例では、壁部材60は、金属層56の側面と離隔している。なお、壁部材60は、図8に示すように、金属層56の側面と接していてもよい。壁部材60の材質は、例えば、アクリル樹脂などの有機材料、酸化シリコンなどの無機材料である。 The wall member 60 surrounds the organic conductive layer 54 when viewed from the stacking direction. The planar shape of the wall member 60 is, for example, a ring shape. The wall member 60 is in contact with the side surface of the organic conductive layer 54. In the illustrated example, the wall member 60 is spaced apart from the side surface of the metal layer 56. Note that the wall member 60 may be in contact with the side surface of the metal layer 56, as shown in FIG. The material of the wall member 60 is, for example, an organic material such as acrylic resin, or an inorganic material such as silicon oxide.

壁部材60は、柱状部30を形成した後であって、有機導電層54を形成する前に柱状部30上に形成される。壁部材60は、例えば、CVD法、スピンコート法などによって形成される。 The wall member 60 is formed on the columnar section 30 after the columnar section 30 is formed and before the organic conductive layer 54 is formed. The wall member 60 is formed by, for example, a CVD method, a spin coating method, or the like.

壁部材60を形成した後に、積層方向からみて、壁部材60の内側に、有機導電層54となるPEDOT/PSS液を塗布する。PEDOT/PSS液は、例えば、インクジェット法によって塗布される。壁部材60は、積層方向からみて、壁部材60の外にPEDOT/PSS液が漏れることを抑制することができる。これにより、所望の位置に、有機導電層54を形成することができる。さらに、厚さの均一性が高い有機導電層54を形成することができる。 After forming the wall member 60, a PEDOT/PSS liquid that will become the organic conductive layer 54 is applied to the inside of the wall member 60 when viewed from the stacking direction. The PEDOT/PSS liquid is applied by, for example, an inkjet method. The wall member 60 can suppress leakage of the PEDOT/PSS liquid to the outside of the wall member 60 when viewed from the stacking direction. Thereby, the organic conductive layer 54 can be formed at a desired position. Furthermore, the organic conductive layer 54 can be formed with high uniformity in thickness.

3.4. 第4変形例
次に、本実施形態の第4変形例に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図9は、本実施形態の第4変形例に係る発光装置500を模式的に示す断面図である。
3.4. Fourth Modification Next, a light emitting device according to a fourth modification of the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 9 is a cross-sectional view schematically showing a light emitting device 500 according to a fourth modification of the present embodiment.

上述した発光装置100では、図1に示すように、金属層56が設けられていた。 In the light emitting device 100 described above, the metal layer 56 was provided as shown in FIG.

これに対し、発光装置500では、図9に示すように、金属層56は、設けられていない。図示の例では、透明電極層58は、有機導電層54上に設けられている。透明電極層58は、金属を含む導電層である。 In contrast, in the light emitting device 500, as shown in FIG. 9, the metal layer 56 is not provided. In the illustrated example, the transparent electrode layer 58 is provided on the organic conductive layer 54. The transparent electrode layer 58 is a conductive layer containing metal.

4. プロジェクター
次に、本実施形態に係るプロジェクターについて、図面を参照しながら説明する。図10は、本実施形態に係るプロジェクター700を模式的に示す図である。
4. Projector Next, a projector according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 10 is a diagram schematically showing a projector 700 according to this embodiment.

プロジェクター700は、例えば、光源として、発光装置100を有している。 The projector 700 includes, for example, a light emitting device 100 as a light source.

プロジェクター700は、図示しない筐体と、筐体内に設けられている赤色光、緑色光、青色光をそれぞれ出射する赤色光源100R、緑色光源100G、青色光源100Bと、を有している。なお、便宜上、図10では、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bを簡略化している。 The projector 700 includes a casing (not shown), and a red light source 100R, a green light source 100G, and a blue light source 100B that are provided inside the casing and emit red, green, and blue light, respectively. Note that, for convenience, the red light source 100R, green light source 100G, and blue light source 100B are simplified in FIG.

プロジェクター700は、さらに、筐体内に設けられた、第1光学素子702Rと、第2光学素子702Gと、第3光学素子702Bと、第1光変調装置704Rと、第2光変調装置704Gと、第3光変調装置704Bと、投射装置708と、を有している。第1光変調装置704R、第2光変調装置704G、および第3光変調装置704Bは、例えば、透過型の液晶ライトバルブである。投射装置708は、例えば、投射レンズである。 The projector 700 further includes a first optical element 702R, a second optical element 702G, a third optical element 702B, a first light modulation device 704R, and a second light modulation device 704G, which are provided inside the housing. It has a third light modulation device 704B and a projection device 708. The first light modulator 704R, the second light modulator 704G, and the third light modulator 704B are, for example, transmissive liquid crystal light valves. Projection device 708 is, for example, a projection lens.

赤色光源100Rから出射された光は、第1光学素子702Rに入射する。赤色光源100Rから出射された光は、第1光学素子702Rによって集光される。なお、第1光学素子702Rは、集光以外の機能を有していてもよい。後述する第2光学素子702Gおよび第3光学素子702Bについても同様である。 The light emitted from the red light source 100R enters the first optical element 702R. The light emitted from the red light source 100R is focused by the first optical element 702R. Note that the first optical element 702R may have a function other than focusing. The same applies to a second optical element 702G and a third optical element 702B, which will be described later.

第1光学素子702Rによって集光された光は、第1光変調装置704Rに入射する。第1光変調装置704Rは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置708は、第1光変調装置704Rによって形成された像を拡大してスクリーン710に投射する。 The light focused by the first optical element 702R enters the first light modulation device 704R. The first light modulator 704R modulates the incident light according to image information. Then, the projection device 708 magnifies the image formed by the first light modulation device 704R and projects it onto the screen 710.

緑色光源100Gから出射された光は、第2光学素子702Gに入射する。緑色光源100Gから出射された光は、第2光学素子702Gによって集光される。 The light emitted from the green light source 100G enters the second optical element 702G. The light emitted from the green light source 100G is collected by the second optical element 702G.

第2光学素子702Gによって集光された光は、第2光変調装置704Gに入射する。第2光変調装置704Gは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置708は、第2光変調装置704Gによって形成された像を拡大してスクリーン710に投射する。 The light focused by the second optical element 702G enters the second light modulation device 704G. The second light modulation device 704G modulates the incident light according to image information. Then, the projection device 708 magnifies the image formed by the second light modulation device 704G and projects it onto the screen 710.

青色光源100Bから出射された光は、第3光学素子702Bに入射する。青色光源100Bから出射された光は、第3光学素子702Bによって集光される。 The light emitted from the blue light source 100B enters the third optical element 702B. The light emitted from the blue light source 100B is focused by the third optical element 702B.

第3光学素子702Bによって集光された光は、第3光変調装置704Bに入射する。第3光変調装置704Bは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置708は、第3光変調装置704Bによって形成された像を拡大してスクリーン710に投射する。 The light focused by the third optical element 702B enters the third light modulation device 704B. The third light modulator 704B modulates the incident light according to image information. Then, the projection device 708 magnifies the image formed by the third light modulation device 704B and projects it onto the screen 710.

プロジェクター700は、さらに、第1光変調装置704R、第2光変調装置704G、および第3光変調装置704Bから出射された光を合成して投射装置708に導くクロスダイクロイックプリズム706を有している。 The projector 700 further includes a cross dichroic prism 706 that combines the light emitted from the first light modulation device 704R, the second light modulation device 704G, and the third light modulation device 704B and guides it to the projection device 708. .

第1光変調装置704R、第2光変調装置704G、および第3光変調装置704Bによって変調された3つの色光は、クロスダイクロイックプリズム706に入射する。クロスダイクロイックプリズム706は、4つの直角プリズムを貼り合わせて形成され、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜とが配置されている。これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成され、カラー画像を表す光が形成される。そして、合成された光は、投射装置708によりスクリーン710上に投射され、拡大された画像が表示される。 The three colored lights modulated by the first light modulator 704R, the second light modulator 704G, and the third light modulator 704B enter the cross dichroic prism 706. The cross dichroic prism 706 is formed by bonding four right-angled prisms together, and has a dielectric multilayer film that reflects red light and a dielectric multilayer film that reflects blue light arranged on its inner surface. These dielectric multilayer films combine three colored lights to form light representing a color image. The combined light is then projected onto a screen 710 by a projection device 708, and an enlarged image is displayed.

なお、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bは、発光装置100を映像の画素として画像情報に応じて制御することで、第1光変調装置704R、第2光変調装置704G、および第3光変調装置704Bを用いずに、直接的に映像を形成してもよい。そして、投射装置708は、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bによって形成された映像を、拡大してスクリーン710に投射してもよい。 Note that the red light source 100R, the green light source 100G, and the blue light source 100B are controlled according to image information using the light emitting device 100 as a pixel of an image, thereby controlling the first light modulation device 704R, the second light modulation device 704G, and the second light modulation device 704G. An image may be directly formed without using the three-light modulator 704B. Then, the projection device 708 may enlarge and project the image formed by the red light source 100R, the green light source 100G, and the blue light source 100B onto the screen 710.

また、上記の例では、光変調装置として透過型の液晶ライトバルブを用いたが、液晶以外のライトバルブを用いてもよいし、反射型のライトバルブを用いてもよい。このようなライトバルブとしては、例えば、反射型の液晶ライトバルブや、デジタルマイクロミラーデバイス(Digital Micro Mirror Device)が挙げられる。また、投射装置の構成は、使用されるライトバルブの種類によって適宜変更される。 Further, in the above example, a transmissive liquid crystal light valve is used as the light modulation device, but a light valve other than liquid crystal may be used, or a reflective light valve may be used. Examples of such light valves include reflective liquid crystal light valves and digital micro mirror devices. Further, the configuration of the projection device is changed as appropriate depending on the type of light valve used.

また、光源を、光源からの光をスクリーン上で走査させることにより、表示面に所望の大きさの画像を表示させる画像形成装置である走査手段を有するような走査型の画像表示装置の光源装置にも適用することが可能である。 Further, a light source device of a scanning type image display device having a scanning means, which is an image forming device that displays an image of a desired size on a display surface by scanning the light from the light source on a screen. It can also be applied to

5. ディスプレイ
次に、本実施形態に係るディスプレイについて、図面を参照しながら説明する。図11は、本実施形態に係るディスプレイ800を模式的に示す平面図である。図12は、本実施形態に係るディスプレイ800を模式的に示す断面図である。なお、図11では、互いに直交する2つの軸として、X軸およびY軸を図示している。
5. Display Next, the display according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 11 is a plan view schematically showing a display 800 according to this embodiment. FIG. 12 is a cross-sectional view schematically showing a display 800 according to this embodiment. Note that in FIG. 11, the X axis and the Y axis are illustrated as two axes that are orthogonal to each other.

ディスプレイ800は、例えば、光源として、発光装置100を有している。 The display 800 includes, for example, a light emitting device 100 as a light source.

ディスプレイ800は、画像を表示する表示装置である。画像には、文字情報のみを表示するものが含まれる。ディスプレイ800は、自発光型のディスプレイである。ディスプレイ800は、図11および図12に示すように、例えば、回路基板810と、レンズアレイ820と、ヒートシンク830と、を有している。 Display 800 is a display device that displays images. Images include those that display only text information. Display 800 is a self-luminous display. The display 800 includes, for example, a circuit board 810, a lens array 820, and a heat sink 830, as shown in FIGS. 11 and 12.

回路基板810には、発光装置100を駆動させるための駆動回路が搭載されている。駆動回路は、例えば、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などを含む回路である。駆動回路は、例えば、入力された画像情報に基づいて、発光装置100を駆動させる。図示はしないが、回路基板810上には、回路基板810を保護するための透光性の基板が配置されている。 A drive circuit for driving the light emitting device 100 is mounted on the circuit board 810. The drive circuit is, for example, a circuit including a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor). The drive circuit drives the light emitting device 100 based on input image information, for example. Although not shown, a light-transmitting substrate for protecting the circuit board 810 is arranged on the circuit board 810.

回路基板810は、例えば、表示領域812と、データ線駆動回路814と、走査線駆動回路816と、制御回路818と、を有している。 The circuit board 810 includes, for example, a display area 812, a data line drive circuit 814, a scanning line drive circuit 816, and a control circuit 818.

表示領域812は、複数の画素Pで構成されている。画素Pは、図示の例では、X軸およびY軸に沿って配列されている。 The display area 812 is composed of a plurality of pixels P. In the illustrated example, the pixels P are arranged along the X axis and the Y axis.

図示はしないが、回路基板810には、複数の走査線と複数のデータ線が設けられている。例えば、走査線はX軸に沿って延び、データ線はY軸に沿って延びている。走査線は、走査線駆動回路816に接続されている。データ線は、データ線駆動回路814に接続されている。走査線とデータ線の交点に対応して画素Pが設けられている。 Although not shown, the circuit board 810 is provided with a plurality of scanning lines and a plurality of data lines. For example, scan lines run along the X-axis and data lines run along the Y-axis. The scan lines are connected to a scan line drive circuit 816. The data line is connected to a data line drive circuit 814. Pixels P are provided corresponding to intersections of scanning lines and data lines.

1つの画素Pは、例えば、1つの発光装置100と、1つのレンズ822と、図示しない画素回路と、を有している。画素回路は、画素Pのスイッチとして機能するスイッチング用トランジスターを有し、スイッチング用トランジスターのゲートが走査線に接続され、ソースまたはドレインの一方がデータ線に接続されている。 One pixel P includes, for example, one light emitting device 100, one lens 822, and a pixel circuit (not shown). The pixel circuit has a switching transistor that functions as a switch for the pixel P, the gate of the switching transistor is connected to the scanning line, and one of the source or drain is connected to the data line.

データ線駆動回路814および走査線駆動回路816は、画素Pを構成する発光装置100の駆動を制御する回路である。制御回路818は、画像の表示を制御する。 The data line drive circuit 814 and the scanning line drive circuit 816 are circuits that control driving of the light emitting device 100 that constitutes the pixel P. Control circuit 818 controls the display of images.

制御回路818には、上位回路から画像データが供給される。制御回路818は、当該画像データに基づく各種信号をデータ線駆動回路814および走査線駆動回路816に供給する。 Image data is supplied to the control circuit 818 from a higher-level circuit. The control circuit 818 supplies various signals based on the image data to the data line drive circuit 814 and the scanning line drive circuit 816.

走査線駆動回路816が走査信号をアクティブにすることで走査線が選択されると、選択された画素Pのスイッチング用トランジスターがオンになる。このとき、データ線駆動回路814が、選択された画素Pにデータ線からデータ信号を供給することで、選択された画素Pの発光装置100がデータ信号に応じて発光する。 When a scanning line is selected by the scanning line drive circuit 816 activating a scanning signal, the switching transistor of the selected pixel P is turned on. At this time, the data line drive circuit 814 supplies the selected pixel P with a data signal from the data line, so that the light emitting device 100 of the selected pixel P emits light in accordance with the data signal.

レンズアレイ820は、複数のレンズ822を有している。レンズ822は、例えば、1つの発光装置100に対して、1つ設けられている。発光装置100から出射された光は、1つのレンズ822に入射する。 Lens array 820 has a plurality of lenses 822. For example, one lens 822 is provided for one light emitting device 100. Light emitted from the light emitting device 100 enters one lens 822.

ヒートシンク830は、回路基板810に接触している。ヒートシンク830の材質は、例えば、銅、アルミニウムなどの金属である。ヒートシンク830は、発光装置100で発生した熱を、放熱する。 Heat sink 830 is in contact with circuit board 810. The material of the heat sink 830 is, for example, metal such as copper or aluminum. The heat sink 830 radiates heat generated by the light emitting device 100.

6. ヘッドマウントディスプレイ
6.1. 全体の構成
次に、本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイについて、図面を参照しながら説明する。図13は、本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイ900を模式的に示す斜視図である。なお、図13では、互いに直交する3つの軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を図示している。
6. Head-mounted display 6.1. Overall Configuration Next, a head-mounted display according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 13 is a perspective view schematically showing a head mounted display 900 according to this embodiment. Note that in FIG. 13, the X-axis, Y-axis, and Z-axis are illustrated as three axes that are orthogonal to each other.

ヘッドマウントディスプレイ900は、図13に示すように、眼鏡のような外見を有する頭部装着型の表示装置である。ヘッドマウントディスプレイ900は、観察者の頭部に装着される。観察者とは、ヘッドマウントディスプレイ900を使用する使用者のことである。ヘッドマウントディスプレイ900は、観察者に対して虚像による映像光を視認させることができるとともに、外界像をシースルーで視認させることができる。ヘッドマウントディスプレイ900は、虚像表示装置ともいえる。 The head-mounted display 900, as shown in FIG. 13, is a head-mounted display device that looks like glasses. Head-mounted display 900 is mounted on the viewer's head. An observer is a user who uses head-mounted display 900. The head-mounted display 900 allows the viewer to view image light from a virtual image, and also allows the viewer to view an external image in a see-through manner. Head mounted display 900 can also be called a virtual image display device.

ヘッドマウントディスプレイ900は、例えば、第1表示部910aと、第2表示部910bと、フレーム920と、第1テンプル930aと、第2テンプル930bと、を有している。 The head mounted display 900 includes, for example, a first display section 910a, a second display section 910b, a frame 920, a first temple 930a, and a second temple 930b.

第1表示部910aおよび第2表示部910bは、画像を表示する。具体的には、第1表示部910aは、観察者の右眼用の虚像を表示する。第2表示部910bは、観察者の左眼用の虚像を表示する。図示の例では、第1表示部910aは、第2表示部910bの-X軸方向に設けられている。表示部910a,910b、例えば、像形成装置911と、導光装置915と、を有している。 The first display section 910a and the second display section 910b display images. Specifically, the first display section 910a displays a virtual image for the observer's right eye. The second display section 910b displays a virtual image for the observer's left eye. In the illustrated example, the first display section 910a is provided in the -X axis direction of the second display section 910b. Display portions 910a and 910b include, for example, an image forming device 911 and a light guide device 915.

像形成装置911は、画像光を形成する。像形成装置911は、例えば、光源や投射装置などの光学系と、外部部材912と、を有している。外部部材912は、光源および投射装置を収容している。 Image forming device 911 forms image light. The image forming device 911 includes, for example, an optical system such as a light source and a projection device, and an external member 912. External member 912 houses the light source and projection device.

導光装置915は、観察者の眼前を覆う。導光装置915は、像形成装置911で形成された映像光を導光させるとともに、外界光と映像光とを重複して観察者に視認させる。なお、像形成装置911および導光装置915の詳細については、後述する。 The light guiding device 915 covers the area in front of the observer's eyes. The light guide device 915 guides the image light formed by the image forming device 911, and allows the observer to see the external world light and the image light in an overlapping manner. Note that details of the image forming device 911 and the light guiding device 915 will be described later.

フレーム920は、第1表示部910aおよび第2表示部910bを支持している。フレーム920は、例えば、Y軸方向からみて、表示部910a,910bを囲んでいる。図示の例では、第1表示部910aの像形成装置911は、フレーム920の-X軸方向の端部に取り付けられている。第2表示部910bの像形成装置911は、フレーム920の+X軸方向の端部に取り付けられている。 The frame 920 supports a first display section 910a and a second display section 910b. For example, the frame 920 surrounds the display sections 910a and 910b when viewed from the Y-axis direction. In the illustrated example, the image forming device 911 of the first display section 910a is attached to the end of the frame 920 in the −X-axis direction. The image forming device 911 of the second display section 910b is attached to the end of the frame 920 in the +X-axis direction.

第1テンプル930aおよび第2テンプル930bは、フレーム920から延出している。図示の例では、第1テンプル930aは、フレーム920の-X軸方向の端部から+Y軸方向に延出している。第2テンプル930bは、フレーム920の+X軸方向の端部から+Y軸方向に延出している。 A first temple 930a and a second temple 930b extend from frame 920. In the illustrated example, the first temple 930a extends from the end of the frame 920 in the −X-axis direction in the +Y-axis direction. The second temple 930b extends from the end of the frame 920 in the +X-axis direction in the +Y-axis direction.

第1テンプル930aおよび第2テンプル930bは、ヘッドマウントディスプレイ900が観察者に装着された場合に、観察者の耳に懸架される。テンプル930a,930b間に、観察者の頭部が位置する。 The first temple 930a and the second temple 930b are suspended from the viewer's ears when the head mounted display 900 is worn by the viewer. The observer's head is located between temples 930a and 930b.

6.2. 像形成装置および導光装置
図14は、本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイ900の第1表示部910aの像形成装置911および導光装置915を模式的に示す図である。なお、第1表示部910aと第2表示部910bとは、基本的に同じ構成を有している。したがって、以下の第1表示部910aの説明は、第2表示部910bに適用することができる。
6.2. Image Forming Device and Light Guide Device FIG. 14 is a diagram schematically showing an image forming device 911 and a light guide device 915 of the first display section 910a of the head mounted display 900 according to the present embodiment. Note that the first display section 910a and the second display section 910b have basically the same configuration. Therefore, the following description of the first display section 910a can be applied to the second display section 910b.

像形成装置911は、図14に示すように、例えば、光源としての発光装置100と、光変調装置913と、結像用の投射装置914と、を有している。 As shown in FIG. 14, the image forming device 911 includes, for example, a light emitting device 100 as a light source, a light modulation device 913, and a projection device 914 for image formation.

光変調装置913は、発光装置100から入射した光を、画像情報に応じて変調して、映像光を出射する。光変調装置913は、透過型の液晶ライトバルブである。なお、発光装置100は、入力された画像情報に応じて発光する自発光型の発光装置であってもよい。この場合、光変調装置913は、設けられない。 The light modulation device 913 modulates the light incident from the light emitting device 100 according to image information, and emits image light. The light modulator 913 is a transmissive liquid crystal light valve. Note that the light emitting device 100 may be a self-luminous type light emitting device that emits light according to input image information. In this case, the light modulation device 913 is not provided.

投射装置914は、光変調装置913から出射された映像光を、導光装置915に向けて投射する。投射装置914は、例えば、投射レンズである。投射装置914を構成するレンズとして、軸対称面をレンズ面とするものを用いてもよい。 Projection device 914 projects the image light emitted from light modulation device 913 toward light guide device 915 . The projection device 914 is, for example, a projection lens. As the lens constituting the projection device 914, a lens whose lens surface is an axially symmetrical surface may be used.

導光装置915は、例えば、投射装置914の鏡筒にねじ止めされることにより、投射装置914に対して精度よく位置決めされている。導光装置915は、例えば、映像光を導光する映像光導光部材916と、透視用の透視部材918と、を有している。 The light guide device 915 is precisely positioned with respect to the projection device 914 by being screwed to the lens barrel of the projection device 914, for example. The light guide device 915 includes, for example, an image light guide member 916 that guides image light, and a see-through member 918 for see-through.

映像光導光部材916には、投射装置914から出射された映像光が入射する。映像光導光部材916は、映像光を、観察者の眼に向けて導光するプリズムである。映像光導光部材916に入射した映像光は、映像光導光部材916の内面において反射を繰り返した後、反射層917で反射されて映像光導光部材916から出射される。映像光導光部材916から出射された映像光は、観察者の眼に至る。図示の例では、反射層917は、映像光を+Y軸方向に反射させる。反射層917は、例えば、金属や、誘電体多層膜で構成されている。反射層917は、ハーフミラーであってもよい。 The image light emitted from the projection device 914 enters the image light guide member 916 . The image light guide member 916 is a prism that guides the image light toward the viewer's eyes. The image light that has entered the image light guide member 916 is repeatedly reflected on the inner surface of the image light guide member 916, is reflected by the reflective layer 917, and is emitted from the image light guide member 916. The image light emitted from the image light guide member 916 reaches the observer's eyes. In the illustrated example, the reflective layer 917 reflects the image light in the +Y-axis direction. The reflective layer 917 is made of, for example, metal or a dielectric multilayer film. The reflective layer 917 may be a half mirror.

透視部材918は、映像光導光部材916に隣接している。透視部材918は、映像光導光部材916に固定されている。透視部材918の外表面は、例えば、映像光導光部材916の外表面と連続している。透視部材918は、観察者に、外界光を透視させる。なお、映像光導光部材916についても、映像光を導光する機能の他に、観察者に外界光を透視させる機能を有している。 Transparent member 918 is adjacent to image light guide member 916 . The transparent member 918 is fixed to the image light guide member 916. The outer surface of the transparent member 918 is continuous with the outer surface of the image light guide member 916, for example. The transparent member 918 allows the observer to see through the external light. Note that the image light guide member 916 also has a function of allowing the observer to see through external light in addition to the function of guiding the image light.

上述した実施形態に係る発光装置は、プロジェクター、ディスプレイ、およびヘッドマウントディスプレイ以外にも用いられることが可能である。上述した実施形態に係る発光装置は、例えば、屋内外の照明、レーザープリンター、スキャナー、車載用ライト、光を用いるセンシング機器、通信機器等の光源に用いられる。 The light emitting device according to the embodiments described above can be used for things other than projectors, displays, and head-mounted displays. The light emitting device according to the embodiment described above is used, for example, as a light source for indoor and outdoor lighting, laser printers, scanners, vehicle lights, sensing devices that use light, communication devices, and the like.

上述した実施形態および変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば、各実施形態および各変形例を適宜組み合わせることも可能である。 The above-described embodiments and modifications are merely examples, and the present invention is not limited thereto. For example, it is also possible to combine each embodiment and each modification as appropriate.

本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成、例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的および効果が同一の構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成または同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。 The present invention includes a configuration that is substantially the same as the configuration described in the embodiment, for example, a configuration that has the same function, method, and result, or a configuration that has the same purpose and effect. Further, the present invention includes a configuration in which non-essential parts of the configuration described in the embodiments are replaced. Further, the present invention includes a configuration that has the same effects or a configuration that can achieve the same objective as the configuration described in the embodiment. Further, the present invention includes a configuration in which a known technique is added to the configuration described in the embodiment.

上述した実施形態および変形例から以下の内容が導き出される。 The following content is derived from the above-described embodiment and modification.

発光装置の一態様は、
基板と、
第1導電型の第1半導体層、前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層を有する柱状部と、
前記柱状部の前記基板とは反対側に設けられ、金属を含む導電層と、有機材料を含み、前記柱状部と前記導電層との間に設けられた有機導電層と、を有する電極と、
を有し、
前記導電層の熱膨張係数は、前記第2半導体層の熱膨張係数と異なり、
前記有機導電層のヤング率は、前記第2半導体層のヤング率および前記導電層のヤング率よりも小さい。
One aspect of the light emitting device is
A substrate and
A columnar shape having a first semiconductor layer of a first conductivity type, a second semiconductor layer of a second conductivity type different from the first conductivity type, and a light emitting layer provided between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer. Department and
an electrode provided on the opposite side of the columnar part from the substrate and including a conductive layer containing metal; and an organic conductive layer containing an organic material and provided between the columnar part and the conductive layer;
has
The thermal expansion coefficient of the conductive layer is different from the thermal expansion coefficient of the second semiconductor layer,
The Young's modulus of the organic conductive layer is smaller than the Young's modulus of the second semiconductor layer and the Young's modulus of the conductive layer.

このような発光装置によれば、第2半導体層と導電層との熱膨張係数の差に起因して第2半導体層に発生する応力を小さくすることができる。 According to such a light emitting device, stress generated in the second semiconductor layer due to the difference in thermal expansion coefficient between the second semiconductor layer and the conductive layer can be reduced.

発光装置の一態様において、
前記有機導電層は、さらに、前記柱状部の前記第2半導体層の側面に設けられていてもよい。
In one embodiment of the light emitting device,
The organic conductive layer may further be provided on a side surface of the second semiconductor layer of the columnar portion.

このような発光装置によれば、有機導電層と第2半導体層との接触抵抗を低くすることができる。 According to such a light emitting device, the contact resistance between the organic conductive layer and the second semiconductor layer can be reduced.

発光装置の一態様において、
前記有機導電層の厚さは、前記導電層の厚さよりも大きくてもよい。
In one embodiment of the light emitting device,
The thickness of the organic conductive layer may be greater than the thickness of the conductive layer.

このような発光装置によれば、第2半導体層と導電層との熱膨張係数の差に起因して第2半導体層に発生する応力を、より確実に小さくすることができる。 According to such a light emitting device, the stress generated in the second semiconductor layer due to the difference in thermal expansion coefficient between the second semiconductor layer and the conductive layer can be more reliably reduced.

発光装置の一態様において、
前記有機導電層は、PEDOT/PSS層であってもよい。
In one embodiment of the light emitting device,
The organic conductive layer may be a PEDOT/PSS layer.

このような発光装置によれば、電極を形成することに起因する第2半導体層へのダメージを小さくすることができる。 According to such a light emitting device, damage to the second semiconductor layer caused by forming the electrode can be reduced.

発光装置の一態様において、
前記導電層は、金属層であり、
前記電極は、透明電極層を有し、
前記金属層は、前記有機導電層と前記透明電極層との間に設けられていてもよい。
In one embodiment of the light emitting device,
The conductive layer is a metal layer,
The electrode has a transparent electrode layer,
The metal layer may be provided between the organic conductive layer and the transparent electrode layer.

このような発光装置によれば、発光層で発生した光に対する電極の透過率を高くすることができる。 According to such a light emitting device, the transmittance of the electrode to light generated in the light emitting layer can be increased.

プロジェクターの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
One aspect of the projector is
This embodiment has one embodiment of the light-emitting device.

ディスプレイの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
One aspect of the display is
This embodiment has one embodiment of the light-emitting device.

ヘッドマウントディスプレイの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
One aspect of the head-mounted display is
This embodiment has one embodiment of the light-emitting device.

10…基板、20…積層体、22…バッファー層、30…柱状部、32…第1半導体層、34…発光層、36…第2半導体層、37…側面、40…絶縁層、42…コンタクトホール、50…第1電極、52…第2電極、54…有機導電層、56…金属層、58…透明電極層、60…壁部材、100,200,300,400,500…発光装置、700…プロジェクター、702R…第1光学素子、702G…第2光学素子、702B…第3光学素子、704R…第1光変調装置、704G…第2光変調装置、704B…第3光変調装置、706…クロスダイクロイックプリズム、708…投射装置、710…スクリーン、800…ディスプレイ、810…回路基板、812…表示領域、814…データ線駆動回路、816…走査線駆動回路、818…制御回路、820…レンズアレイ、822…レンズ、830…ヒートシンク、900…ヘッドマウントディスプレイ、910a…第1表示部、910b…第2表示部、911…像形成装置、912…外部部材、913…光変調装置、914…投射装置、915…導光装置、916…映像光導光部材、917…反射層、918…透視部材、920…フレーム、930a…第1テンプル、930b…第2テンプル DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Substrate, 20... Laminated body, 22... Buffer layer, 30... Columnar part, 32... First semiconductor layer, 34... Light emitting layer, 36... Second semiconductor layer, 37... Side surface, 40... Insulating layer, 42... Contact Hole, 50... First electrode, 52... Second electrode, 54... Organic conductive layer, 56... Metal layer, 58... Transparent electrode layer, 60... Wall member, 100, 200, 300, 400, 500... Light emitting device, 700 ...Projector, 702R...First optical element, 702G...Second optical element, 702B...Third optical element, 704R...First light modulator, 704G...Second light modulator, 704B...Third light modulator, 706... Cross dichroic prism, 708... Projection device, 710... Screen, 800... Display, 810... Circuit board, 812... Display area, 814... Data line drive circuit, 816... Scanning line drive circuit, 818... Control circuit, 820... Lens array , 822... Lens, 830... Heat sink, 900... Head mounted display, 910a... First display section, 910b... Second display section, 911... Image forming device, 912... External member, 913... Light modulation device, 914... Projection device , 915... Light guide device, 916... Image light guide member, 917... Reflective layer, 918... Transparent member, 920... Frame, 930a... First temple, 930b... Second temple

Claims (8)

基板と、
第1導電型の第1半導体層、前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層を有する柱状部と、
前記柱状部の前記基板とは反対側に設けられ、金属を含む導電層と、有機材料を含み、前記柱状部と前記導電層との間に設けられた有機導電層と、を有する電極と、
を有し、
前記導電層の熱膨張係数は、前記第2半導体層の熱膨張係数と異なり、
前記有機導電層のヤング率は、前記第2半導体層のヤング率および前記導電層のヤング率よりも小さい、発光装置。
A substrate and
A columnar shape having a first semiconductor layer of a first conductivity type, a second semiconductor layer of a second conductivity type different from the first conductivity type, and a light emitting layer provided between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer. Department and
an electrode provided on the opposite side of the columnar part from the substrate and including a conductive layer containing metal; and an organic conductive layer containing an organic material and provided between the columnar part and the conductive layer;
has
The thermal expansion coefficient of the conductive layer is different from the thermal expansion coefficient of the second semiconductor layer,
The light emitting device, wherein the Young's modulus of the organic conductive layer is smaller than the Young's modulus of the second semiconductor layer and the Young's modulus of the conductive layer.
請求項1において、
前記有機導電層は、さらに、前記柱状部の前記第2半導体層の側面に設けられている、発光装置。
In claim 1,
In the light emitting device, the organic conductive layer is further provided on a side surface of the second semiconductor layer of the columnar portion.
請求項1または2において、
前記有機導電層の厚さは、前記導電層の厚さよりも大きい、発光装置。
In claim 1 or 2,
The light emitting device, wherein the thickness of the organic conductive layer is greater than the thickness of the conductive layer.
請求項1ないし3のいずれか1項において、
前記有機導電層は、PEDOT/PSS層である、発光装置。
In any one of claims 1 to 3,
The light emitting device, wherein the organic conductive layer is a PEDOT/PSS layer.
請求項1ないし4のいずれか1項において、
前記導電層は、金属層であり、
前記電極は、透明電極層を有し、
前記金属層は、前記有機導電層と前記透明電極層との間に設けられている、発光装置。
In any one of claims 1 to 4,
The conductive layer is a metal layer,
The electrode has a transparent electrode layer,
The light emitting device, wherein the metal layer is provided between the organic conductive layer and the transparent electrode layer.
請求項1ないし5のいずれか1項に記載の発光装置を有する、プロジェクター。 A projector comprising the light emitting device according to claim 1. 請求項1ないし5のいずれか1項に記載の発光装置を有する、ディスプレイ。 A display comprising the light emitting device according to any one of claims 1 to 5. 請求項1ないし5のいずれか1項に記載の発光装置を有する、ヘッドマウントディスプレイ。 A head mounted display comprising the light emitting device according to any one of claims 1 to 5.
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