JP2023104772A - automatic analyzer - Google Patents

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昌造 橋本
Shozo Hashimoto
友弘 杉村
Tomohiro Sugimura
雅浩 増渕
Masahiro Masubuchi
貴士 後藤
Takashi Goto
康雄 秋澤
Yasuo Akisawa
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Abstract

To improve the measurement accuracy of an automatic analyzer.SOLUTION: An automatic analyzer according to an embodiment comprises: a reaction tube installation unit on which reaction tubes are installed; a reaction tube conveying mechanism that conveys the reaction tubes; an imaging unit that is provided on the reaction tube conveying mechanism; and a first control unit that controls the reaction tube conveying mechanism to convey the reaction tubes to the reaction tube installation unit, and causes the imaging unit to pick up images of the reaction tubes.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置に関する。 The embodiments disclosed in the specification and drawings relate to automated analyzers.

自動分析装置は、被検体から採取された血液などの被検試料または各検査項目の標準試料などの試料と、各検査項目に対応する試薬とを混合することで得られる混合液を、例えば光学的に測定することで、各検査項目に対応した被検試料の成分を分析する装置である。 Automated analyzers use a liquid mixture obtained by mixing a test sample such as blood collected from a subject or a sample such as a standard sample for each test item with a reagent corresponding to each test item. It is a device that analyzes the component of a test sample corresponding to each test item by measuring the target.

従来より、自動分析装置において、光学的な測定に用いられる発光部の光量調整は、複数の光量測定用治具を反応管が設置される反応ディスクに挿入して、反応ディスクに設けられた複数の発光部の光量を調整することにより行われている。しかし、複数の光量測定用治具を用いた場合、発光部から得られる光量は、光量測定用治具の個体差の影響を受けるため、調整された光量にバラツキが生じ、混合液の光学的な測定結果にバラツキが生じる可能性がある。このため、1つの光量測定用治具を反応ディスクに搬送し、反応ディスクに設けられた発光部の光量測定を行い、各発光部の光量調整を行うことが望まれている。 Conventionally, in an automatic analyzer, light intensity adjustment of a light emitting unit used for optical measurement is performed by inserting a plurality of light intensity measurement jigs into a reaction disk on which a reaction tube is installed, and is performed by adjusting the amount of light emitted from the light emitting portion. However, when using multiple light intensity measurement jigs, the amount of light obtained from the light emitting part is affected by individual differences in the light intensity measurement jigs. measurement results may vary. Therefore, it is desired to carry one light amount measuring jig to the reaction disk, measure the light amount of the light emitting section provided on the reaction disk, and adjust the light amount of each light emitting section.

また、使い捨て反応管を使用する自動分析装置において、使い捨て反応管を供給する反応管供給部により供給される全ての使い捨て反応管が反応ディスクに設置され、混合液の光学的な測定に使用されている。しかし、反応管供給部により供給される使い捨て反応管によっては、粉塵の混入や欠け及び/又は罅が発生している可能性があり、このような反応管が測定に使用されると、正常な測定結果が得られない可能性がある。このため、粉塵の混入などが発生している反応管が光学的な測定に使用される前に、反応管が光学的な測定に使用できるか否かを判定して、使用できないと判定された反応管を光学的な測定に使用しないことが望まれている。 Also, in an automatic analyzer using disposable reaction tubes, all the disposable reaction tubes supplied by a reaction tube supply unit that supplies disposable reaction tubes are installed on the reaction disk and used for optical measurement of the mixed solution. there is However, depending on the disposable reaction tube supplied by the reaction tube supply unit, there is a possibility that dust may be mixed in, chips and/or cracks may occur, and such a reaction tube may not be normal when used for measurement. Measurement results may not be obtained. For this reason, before using a reaction tube containing dust or the like for optical measurement, it was determined whether or not the reaction tube could be used for optical measurement, and it was determined that the reaction tube could not be used. It is desirable not to use reaction tubes for optical measurements.

特開2014-145621号公報JP 2014-145621 A 特公昭63-21139号公報Japanese Patent Publication No. 63-21139 特開2017-26548号公報JP 2017-26548 A

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、自動分析装置の測定精度を向上させることである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記の課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。 One of the problems to be solved by the embodiments disclosed in the specification and drawings is to improve the measurement accuracy of an automatic analyzer. However, the problems to be solved by the embodiments disclosed in this specification and drawings are not limited to the above problems. A problem corresponding to each effect of each configuration shown in the embodiments described later can be positioned as another problem.

実施形態に係る自動分析装置は、反応管が設置される反応管設置部と、前記反応管を搬送する反応管搬送機構と、前記反応管搬送機構に設けられる撮像部と、前記反応管搬送機構を制御して、前記反応管を前記反応管設置部に搬送させ、前記撮像部に前記反応管を撮像させる、第1制御部と、を備える。 An automatic analyzer according to an embodiment includes a reaction tube installation unit in which a reaction tube is installed, a reaction tube transport mechanism for transporting the reaction tube, an imaging unit provided in the reaction tube transport mechanism, and the reaction tube transport mechanism. and a first control unit that controls to convey the reaction tube to the reaction tube installation unit and causes the imaging unit to image the reaction tube.

第1実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the automatic analyzer according to the first embodiment; FIG. 図1に示す自動分析装置における分析機構の構成の一例を示す図。The figure which shows an example of a structure of the analysis mechanism in the automatic analyzer shown in FIG. 図2に示す分析機構が備える測光ユニットを上面から見た構成図。FIG. 3 is a configuration diagram of a photometry unit included in the analysis mechanism shown in FIG. 2 as viewed from above; 図2に示す分析機構が備える測光ユニットを上面から見た構成図。FIG. 3 is a configuration diagram of a photometry unit included in the analysis mechanism shown in FIG. 2 as viewed from above; 図2に示す分析機構が備える測光ユニットの別の例を上面から見た構成図。FIG. 3 is a configuration diagram of another example of a photometry unit included in the analysis mechanism shown in FIG. 2 as viewed from above; 第1実施形態に係る自動分析装置で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図。FIG. 4 is a flow chart for explaining the content of measurement processing executed by the automatic analyzer according to the first embodiment; 第1実施形態に係る自動分析装置において、撮像部の受光位置と、発光部の光軸高さとの関係の一例を模式的に示す模式図。FIG. 2 is a schematic diagram schematically showing an example of the relationship between the light receiving position of the imaging unit and the optical axis height of the light emitting unit in the automatic analyzer according to the first embodiment; 第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図。FIG. 10 is a flow chart for explaining the details of the measurement process executed by the automatic analyzer according to Modification 1 of the first embodiment; 第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図。FIG. 10 is a flow chart for explaining the details of the measurement process executed by the automatic analyzer according to Modification 1 of the first embodiment; 第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置において、光量測定用治具の降下量と、発光部の光軸高さとの関係の一例を模式的に示す模式図。FIG. 5 is a schematic diagram schematically showing an example of the relationship between the amount of descent of the jig for measuring the amount of light and the height of the optical axis of the light emitting section in the automatic analyzer according to Modification 1 of the first embodiment; 第2実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図。The block diagram which shows the example of a functional structure of the automatic analyzer which concerns on 2nd Embodiment. 図11に示す自動分析装置における分析機構の構成の一例を示す図。The figure which shows an example of a structure of the analysis mechanism in the automatic analyzer shown in FIG. 第2実施形態に係る自動分析装置で実行される反応管撮像処理の内容を説明するフローチャート図。FIG. 10 is a flow chart for explaining the contents of reaction tube imaging processing executed by the automatic analyzer according to the second embodiment; 第2実施形態に係る自動分析装置において、反応管が使用不可能と判定される場合の一例を示す模式図。FIG. 10 is a schematic diagram showing an example of a case where the reaction tube is determined to be unusable in the automatic analyzer according to the second embodiment; 第3実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図。FIG. 11 is a block diagram showing an example of the functional configuration of an automatic analyzer according to the third embodiment; 図15に示ス自動分析装置における分析機構の構成の一例を示す図。The figure which shows an example of a structure of the analysis mechanism in the automatic analyzer shown in FIG. 第3実施形態に係る自動分析装置で実行される使用済み反応管撮像処理の内容を説明するフローチャート図。FIG. 11 is a flow chart for explaining the contents of used reaction tube imaging processing executed by the automatic analyzer according to the third embodiment; 第3実施形態に係る自動分析装置において、使用済み反応管に異常がある場合の一例を示す模式図。FIG. 11 is a schematic diagram showing an example of a case where a used reaction tube has an abnormality in the automatic analyzer according to the third embodiment;

以下、図面を参照しながら、自動分析装置の実施形態について説明する。なお、以下の説明において実質的に同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行うこととする。 Hereinafter, embodiments of an automatic analyzer will be described with reference to the drawings. In the following description, constituent elements having substantially the same functions and configurations are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be given only when necessary.

〔第1実施形態〕
図1は、第1実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図である。本実施形態においては、この自動分析装置は、例えば、血液凝固分析装置である。この図1に示すように、本実施形態に係る自動分析装置1は、分析機構2と、解析回路3と、駆動機構4と、入力インターフェース5と、出力インターフェース6と、通信インターフェース7と、記憶回路8と、制御回路9とを備えて構成されている。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a block diagram showing an example of the functional configuration of an automatic analyzer according to the first embodiment. In this embodiment, this automatic analyzer is, for example, a blood coagulation analyzer. As shown in FIG. 1, the automatic analyzer 1 according to this embodiment includes an analysis mechanism 2, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface 5, an output interface 6, a communication interface 7, a storage It comprises a circuit 8 and a control circuit 9 .

分析機構2は、被検者の検体である血液検体と、各検査項目で用いられる試薬である凝固試薬とを混合した混合液を生成する。また、分析機構2は、検査項目によっては、所定の倍率で希釈した標準液と、この検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構2は、血液検体と試薬との混合液や標準液と試薬との混合液の光学的な物性値を連続的に測定する。この測定により、例えば、透過光強度、吸光度、散乱光強度等で表される標準データ、及び被検データが生成される。 The analysis mechanism 2 generates a mixture of a blood sample, which is a sample of a subject, and a coagulation reagent, which is a reagent used in each test item. Also, depending on the test item, the analysis mechanism 2 mixes the standard solution diluted by a predetermined magnification with the reagent used for this test item. The analysis mechanism 2 continuously measures optical physical property values of a mixed liquid of a blood sample and a reagent or a mixed liquid of a standard liquid and a reagent. By this measurement, standard data and test data, which are represented by, for example, transmitted light intensity, absorbance, scattered light intensity, etc., are generated.

解析回路3は、分析機構2により生成される標準データ、及び被検データを解析することで、血液検体の凝固に関する検量データ、及び分析データを生成するプロセッサである。解析回路3は、例えば、記憶回路8から解析プログラムを読み出し、読み出した解析プログラムに従って標準データ、及び被検データを解析する。なお、解析回路3は、記憶回路8で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。 The analysis circuit 3 is a processor that analyzes standard data and test data generated by the analysis mechanism 2 to generate calibration data and analysis data regarding coagulation of the blood sample. The analysis circuit 3, for example, reads an analysis program from the storage circuit 8, and analyzes the standard data and the test data according to the read analysis program. Note that the analysis circuit 3 may include a storage area for storing at least part of the data stored in the storage circuit 8 .

駆動機構4は、制御回路9の制御に従い、分析機構2を駆動させる。駆動機構4は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。 The drive mechanism 4 drives the analysis mechanism 2 under the control of the control circuit 9 . The drive mechanism 4 is implemented by gears, stepping motors, belt conveyors, lead screws, and the like, for example.

入力インターフェース5は、例えば、ユーザから、又は病院内ネットワークNWを介して測定を依頼された血液検体に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インターフェース5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インターフェース5は、制御回路9に接続され、ユーザから入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路9へ出力する。なお、本明細書において入力インターフェース5はマウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路9へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース5の例に含まれる。 The input interface 5 receives, for example, settings such as analysis parameters for each test item related to a blood sample for which measurement is requested from the user or via the hospital network NW. The input interface 5 is realized by, for example, a mouse, a keyboard, and a touch pad through which instructions are input by touching an operation surface. The input interface 5 is connected to the control circuit 9 , converts an operation instruction input by a user into an electric signal, and outputs the electric signal to the control circuit 9 . It should be noted that the input interface 5 in this specification is not limited to having physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, an electrical signal processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an operation instruction input from an external input device provided separately from the automatic analyzer 1 and outputs this electrical signal to the control circuit 9 is also an input interface. 5 examples.

出力インターフェース6は、制御回路9に接続され、制御回路9から供給される信号を出力する。出力インターフェース6は、例えば、表示回路、印刷回路、及び音声デバイス等により実現される。表示回路には、例えば、CRTディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、LEDディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等が含まれる。なお、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路に含まれる。印刷回路は、例えば、プリンタ等を含む。なお、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路に含まれる。音声デバイスは、例えば、スピーカ等を含む。なお、音声信号を外部へ出力する出力回路も音声デバイスに含まれる。 The output interface 6 is connected to the control circuit 9 and outputs signals supplied from the control circuit 9 . The output interface 6 is implemented by, for example, a display circuit, a printed circuit, an audio device, and the like. Display circuits include, for example, CRT displays, liquid crystal displays, organic EL displays, LED displays, and plasma displays. Note that the display circuit also includes a processing circuit that converts data representing an object to be displayed into a video signal and outputs the video signal to the outside. Printed circuits include, for example, printers and the like. The printed circuit also includes an output circuit for outputting data representing a print target to the outside. Audio devices include, for example, speakers and the like. An output circuit for outputting an audio signal to the outside is also included in the audio device.

通信インターフェース7は、例えば、病院内ネットワークNWと接続する。通信インターフェース7は、病院内ネットワークNWを介してHIS(Hospital Information System)とデータ通信を行う。なお、通信インターフェース7は、病院内ネットワークNWと接続する検査部門システム(Laboratory Information System:LIS)を介してHISとデータ通信を行っても構わない。 The communication interface 7 connects with, for example, an intra-hospital network NW. The communication interface 7 performs data communication with HIS (Hospital Information System) via the hospital network NW. The communication interface 7 may perform data communication with the HIS via a laboratory information system (LIS) connected to the hospital network NW.

記憶回路8は、磁気的、若しくは、光学的記録媒体、又は、半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等により構成されている。なお、記憶回路8は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路8は、複数の記憶装置により実現することもできる。 The storage circuit 8 is composed of a magnetic or optical recording medium, or a processor-readable recording medium such as a semiconductor memory. Note that the memory circuit 8 does not necessarily have to be realized by a single memory device. For example, the memory circuit 8 can also be realized by a plurality of memory devices.

また、記憶回路8は、解析回路3で実行される解析プログラム、及び制御回路9に備わる機能を実現するための制御プログラムを記憶している。記憶回路8は、解析回路3により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路8は、解析回路3により生成される分析データを血液検体毎に記憶する。記憶回路8は、ユーザから入力された検査オーダ、又は通信インターフェース7が病院内ネットワークNWを介して受信した検査オーダを記憶する。 The storage circuit 8 also stores an analysis program to be executed by the analysis circuit 3 and a control program for realizing the functions of the control circuit 9 . The storage circuit 8 stores the calibration data generated by the analysis circuit 3 for each inspection item. The storage circuit 8 stores the analysis data generated by the analysis circuit 3 for each blood sample. The storage circuit 8 stores an examination order input by a user or an examination order received by the communication interface 7 via the intra-hospital network NW.

制御回路9は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路9は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。なお、制御回路9は、記憶回路8で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えていてもよい。 The control circuit 9 is a processor that functions as the core of the automatic analyzer 1 . The control circuit 9 executes the operation program stored in the storage circuit 8 to implement functions corresponding to the operation program. Note that the control circuit 9 may have a storage area for storing at least part of the data stored in the storage circuit 8 .

図2は、図1に示す自動分析装置1における分析機構2の構成の一例を示す図である。この図2に示すように、本実施形態に係る分析機構2は、反応ディスク201と、恒温部202と、ラックサンプラ203と、試薬庫204とを備えて構成されている。 FIG. 2 is a diagram showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2 in the automatic analyzer 1 shown in FIG. 1. As shown in FIG. As shown in FIG. 2, the analysis mechanism 2 according to this embodiment includes a reaction disk 201 , a constant temperature section 202 , a rack sampler 203 and a reagent storage 204 .

反応ディスク201は、複数の反応管(キュベット)2011を、環状に配列させて保持する。反応ディスク201は、反応管2011を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、検体の分析動作中、反応ディスク201は、駆動機構4により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管2011は、例えば、ポリプロピレン(PP)又はアクリルにより形成されている。この反応ディスク201が、本実施形態における反応管設置部を構成している。 The reaction disk 201 holds a plurality of reaction tubes (cuvettes) 2011 arranged in a ring. The reaction disk 201 conveys the reaction tube 2011 along a predetermined route. Specifically, during the sample analysis operation, the reaction disk 201 is alternately rotated and stopped at predetermined time intervals by the driving mechanism 4 . The reaction tube 2011 is made of polypropylene (PP) or acrylic, for example. This reaction disk 201 constitutes a reaction tube installation portion in this embodiment.

恒温部202は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留し、貯留する熱媒体に反応管2011を浸漬させることで、反応管2011に収容される混合液を昇温する。 The constant temperature unit 202 stores a heat medium set to a predetermined temperature, and immerses the reaction tube 2011 in the stored heat medium to raise the temperature of the mixed liquid contained in the reaction tube 2011 .

ラックサンプラ203は、複数の試料容器を保持可能な試料ラック2031を、移動可能に支持しており、これら複数の試料容器には、測定を依頼された検体である血液検体が収容されている。図2に示す例では、5本の試料容器を並列して保持可能な試料ラック2031が示されている。 The rack sampler 203 movably supports a sample rack 2031 capable of holding a plurality of sample containers, and these sample containers contain blood samples, which are samples requested for measurement. The example shown in FIG. 2 shows a sample rack 2031 capable of holding five sample containers in parallel.

ラックサンプラ203には、試料ラック2031を搬送する搬送領域2032が設けられている。すなわち、この搬送領域2032を使用して、試料ラック2031が投入される投入位置から、測定が完了した試料ラック2031を回収する回収位置まで、試料ラック2031が搬送される。搬送領域2032では、長手方向に整列された複数の試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D1へ移動される。 The rack sampler 203 is provided with a transport area 2032 for transporting the sample rack 2031 . That is, using this transport area 2032, the sample rack 2031 is transported from the loading position where the sample rack 2031 is loaded to the collection position where the sample rack 2031 whose measurement has been completed is collected. In the transport area 2032, a plurality of sample racks 2031 aligned in the longitudinal direction are moved in the direction D1 by the drive mechanism 4. FIG.

また、ラックサンプラ203には、試料ラック2031で保持される試料容器を所定のサンプル吸引位置へ移動させるため、試料ラック2031を搬送領域2032から引き込む引き込み領域2033が設けられている。サンプル吸引位置は、例えば、サンプル分注プローブ207の回動軌道と、ラックサンプラ203で支持されて試料ラック2031で保持される試料容器の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。引き込み領域2033では、搬送されてきた試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D2へ移動される。 Further, the rack sampler 203 is provided with a pull-in area 2033 for pulling the sample rack 2031 from the transfer area 2032 in order to move the sample container held by the sample rack 2031 to a predetermined sample suction position. The sample aspiration position is provided, for example, at a position where the rotation track of the sample pipetting probe 207 and the movement track of the opening of the sample container supported by the rack sampler 203 and held by the sample rack 2031 intersect. In the pull-in area 2033, the transported sample rack 2031 is moved in the direction D2 by the driving mechanism 4. As shown in FIG.

また、ラックサンプラ203には、試料が吸引された試料容器を保持する試料ラック2031を搬送領域へ戻すための戻し領域2034が設けられている。戻し領域2034では、試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D3へ移動される。 Further, the rack sampler 203 is provided with a return area 2034 for returning the sample rack 2031 holding the sample container into which the sample has been sucked to the transport area. In the return area 2034, the sample rack 2031 is moved by the drive mechanism 4 in direction D3.

試薬庫204は、標準液、及び血液検体に対して実施される各検査項目で用いられる試薬等を収容する複数の試薬容器100を保冷しながら保持する。試薬庫204内には、回転テーブルが回転自在に設けられている。回転テーブルは、複数の試薬容器100を円環状に載置して保持する。なお、本実施形態において、図2では図示していないが、試薬庫204は、着脱自在な試薬カバーにより覆われている。 The reagent storage 204 retains a plurality of reagent containers 100 containing standard solutions and reagents used in each test item to be performed on blood samples while keeping them cool. A rotary table is rotatably provided in the reagent storage 204 . The rotary table holds and holds a plurality of reagent containers 100 in an annular shape. In this embodiment, although not shown in FIG. 2, the reagent storage 204 is covered with a detachable reagent cover.

また、図2に示す本実施形態に係る分析機構2は、サンプル分注アーム206と、サンプル分注プローブ207と、試薬分注アーム208と、試薬分注プローブ209とを備える。 Also, the analysis mechanism 2 according to the present embodiment shown in FIG.

サンプル分注アーム206は、反応ディスク201とラックサンプラ203との間に設けられている。サンプル分注アーム206は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム206は、一端にサンプル分注プローブ207を保持する。 A sample dispensing arm 206 is provided between the reaction disk 201 and the rack sampler 203 . The sample dispensing arm 206 is vertically movable and horizontally rotatable by the drive mechanism 4 . A sample dispensing arm 206 holds a sample dispensing probe 207 at one end.

サンプル分注プローブ207は、サンプル分注アーム206の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、ラックサンプラ203上の試料ラック2031で保持される試料容器から試料を吸引するためのサンプル吸引位置が設けられている。また、サンプル分注プローブ207の回動軌道上には、サンプル分注プローブ207が吸引した試料を反応管2011へ分注するためのサンプル分注位置が設けられている。サンプル分注位置は、例えば、サンプル分注プローブ207の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌道との交点に相当する。 The sample-dispensing probe 207 rotates along an arc-shaped rotation track as the sample-dispensing arm 206 rotates. A sample aspirating position for aspirating the sample from the sample container held by the sample rack 2031 on the rack sampler 203 is provided on this rotational track. A sample dispensing position for dispensing the sample aspirated by the sample dispensing probe 207 into the reaction tube 2011 is provided on the rotating orbit of the sample dispensing probe 207 . The sample dispensing position corresponds to, for example, the intersection of the rotational trajectory of the sample dispensing probe 207 and the moving trajectory of the reaction tube 2011 held by the reaction disk 201 .

サンプル分注プローブ207は、駆動機構4によって駆動され、サンプル吸引位置、又はサンプル分注位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、サンプル吸引位置の直下に位置する試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、吸引した試料を、サンプル分注位置の直下に位置する反応管2011へ分注する。これらサンプル分注アーム206とサンプル分注プローブ207とにより、本実施形態における分注機構の一例が構成される。 The sample pipetting probe 207 is driven by the driving mechanism 4 to move vertically at the sample aspirating position or the sample pipetting position. Also, the sample pipetting probe 207 aspirates the sample from the sample container located directly below the sample aspirating position under the control of the control circuit 9 . Also, the sample dispensing probe 207 dispenses the aspirated sample into the reaction tube 2011 positioned immediately below the sample dispensing position under the control of the control circuit 9 . The sample pipetting arm 206 and the sample pipetting probe 207 constitute an example of the pipetting mechanism in this embodiment.

試薬分注アーム208は、反応ディスク201と試薬庫204との間に設けられている。試薬分注アーム208は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。試薬分注アーム208は、一端に試薬分注プローブ209を保持する。 A reagent dispensing arm 208 is provided between the reaction disk 201 and the reagent storage 204 . The reagent dispensing arm 208 is vertically movable and horizontally rotatable by the drive mechanism 4 . A reagent dispensing arm 208 holds a reagent dispensing probe 209 at one end.

試薬分注プローブ209は、試薬分注アーム208の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、試薬吸引位置が設けられている。試薬吸引位置は、例えば、試薬分注プローブ209の回動軌道と、試薬庫204の回転テーブルに円環状に載置される試薬容器100の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。また、試薬分注プローブ209の回動軌道上には、試薬分注プローブ209が吸引した試薬を反応管2011へ分注するための試薬分注位置が設定されている。試薬分注位置は、例えば、試薬分注プローブ209の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌道との交点に相当する。 The reagent-dispensing probe 209 rotates along an arc-shaped rotation track as the reagent-dispensing arm 208 rotates. A reagent aspirating position is provided on this rotational track. The reagent aspirating position is provided, for example, at a position where the rotation trajectory of the reagent dispensing probe 209 and the movement trajectory of the opening of the reagent container 100 annularly placed on the turntable of the reagent storage 204 intersect. A reagent dispensing position for dispensing the reagent aspirated by the reagent dispensing probe 209 into the reaction tube 2011 is set on the rotation track of the reagent dispensing probe 209 . The reagent dispensing position corresponds to, for example, the intersection of the rotation trajectory of the reagent dispensing probe 209 and the movement trajectory of the reaction tube 2011 held by the reaction disk 201 .

試薬分注プローブ209は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、又は試薬分注位置において上下方向に移動する。また、試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、試薬吸引位置で停止している試薬容器から試薬を吸引する。また、試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、吸引した試薬を、試薬分注位置の直下に位置する反応管2011へ分注する。 The reagent-dispensing probe 209 is driven by the drive mechanism 4 and moves vertically at the reagent-sucking position or the reagent-dispensing position on the rotation track. Also, the reagent dispensing probe 209 aspirates the reagent from the reagent container stopped at the reagent aspirating position under the control of the control circuit 9 . Further, the reagent dispensing probe 209 dispenses the aspirated reagent into the reaction tube 2011 located directly below the reagent dispensing position under the control of the control circuit 9 .

さらに、本実施形態に係る分析機構2は、反応管搬送アーム210と、反応管供給部211と、光量測定用治具212とを備える。 Furthermore, the analysis mechanism 2 according to this embodiment includes a reaction tube transport arm 210 , a reaction tube supply section 211 , and a jig 212 for measuring the amount of light.

反応管搬送アーム210は、駆動機構4により、反応管供給部211から反応ディスク201に反応管2011を搬送する。例えば、反応管搬送アーム210は、反応管2011を保持するための反応管保持部2101と、反応管保持部2101を回動及び上下動させるための1本の搬送アーム2102とを備える。また、反応管搬送アーム210には、反応管2011を撮像するための撮像部2103が設けられている。反応管保持部2101は、例えば、グリッパである。搬送アーム2102は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。撮像部2103は、制御回路9の制御に従い、反応管2011を撮像する。また、撮像部2103は、例えば、光量などの測定に用いられる撮像センサである。なお、撮像部2103はカメラなどの撮像装置であってもよい。なお、反応管搬送アーム210は反応管搬送機構の一例である。また、反応管搬送アーム210を構成する搬送アーム2102の本数は任意である。例えば、反応管搬送アーム210は、2以上の複数の搬送アームから構成されてもよい。 The reaction tube transport arm 210 transports the reaction tube 2011 from the reaction tube supply unit 211 to the reaction disk 201 by the drive mechanism 4 . For example, the reaction tube transfer arm 210 includes a reaction tube holding portion 2101 for holding the reaction tube 2011 and one transfer arm 2102 for rotating and vertically moving the reaction tube holding portion 2101 . Further, the reaction tube transport arm 210 is provided with an imaging unit 2103 for imaging the reaction tube 2011 . The reaction tube holder 2101 is, for example, a gripper. The transport arm 2102 is vertically movable and horizontally rotatable by the driving mechanism 4 . The imaging unit 2103 images the reaction tube 2011 under the control of the control circuit 9 . Also, the imaging unit 2103 is, for example, an imaging sensor used for measuring the amount of light. Note that the imaging unit 2103 may be an imaging device such as a camera. The reaction tube transfer arm 210 is an example of a reaction tube transfer mechanism. Moreover, the number of transfer arms 2102 constituting the reaction tube transfer arm 210 is arbitrary. For example, the reaction tube transfer arm 210 may be composed of two or more transfer arms.

本実施形態に係る反応管搬送アーム210は、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101、及び、反応管保持部2101に保持された反応管2011又は反応管保持部2101に保持された光量測定用治具212が搬送経路を通るように、反応管供給部211から反応ディスク201の反応管設置位置へ反応管2011を搬送する。また、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101に保持された、反応管2011又は光量測定用治具212の搬送経路は、例えば、搬送アーム2102の一端を中心とする回動に伴う円弧状の回動軌道上に形成される。反応ディスク201の反応管設置位置は、例えば、反応ディスク201における反応管2011の搬送経路である回動軌道と、反応管保持部2101に保持された、反応管2011又は光量測定用治具212の搬送経路である回動軌道とが交差する位置である。反応管搬送アーム210により搬送された反応管2011又は光量測定用治具212は、反応ディスク201の反応管設置位置に設置される。 The reaction tube transport arm 210 according to the present embodiment includes a reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210, a reaction tube 2011 held by the reaction tube holding portion 2101, or a light amount measurement device held by the reaction tube holding portion 2101. The reaction tube 2011 is transported from the reaction tube supply unit 211 to the reaction tube installation position of the reaction disk 201 so that the jig 212 passes through the transport path. In addition, the transport path of the reaction tube 2011 or the light amount measuring jig 212 held by the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 is, for example, an arc shape accompanying rotation about one end of the transport arm 2102. is formed on the rotation orbit of The reaction tube installation positions of the reaction disk 201 are, for example, the rotational trajectory of the reaction disk 201, which is the transport path of the reaction tubes 2011, and the position of the reaction tube 2011 or the light intensity measurement jig 212 held by the reaction tube holding portion 2101. This is the position at which the rotation track, which is the conveying route, intersects. The reaction tube 2011 or the light amount measuring jig 212 transported by the reaction tube transport arm 210 is installed at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 .

なお、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101に保持された、反応管2011又は光量測定用治具212の搬送経路は、任意である。例えば、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101に保持された、反応管2011又は光量測定用治具212の搬送経路は、楕円状の軌道上に形成されてもよく、特定の形状を有しない搬送経路であってもよい。 The transport path of the reaction tube 2011 or the light amount measuring jig 212 held by the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 is arbitrary. For example, the transport path of the reaction tube 2011 or the light intensity measurement jig 212 held by the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 may be formed on an elliptical orbit and have a specific shape. It may be a transport route that does not.

反応管供給部211は、空の反応管2011を供給する。反応管供給部211は、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。反応管供給部211は、例えば、反応管収容部2111と、反応管供給レール2112とを備えて構成されている。反応管収容部2111は、例えば、空の反応管2011を複数収容している。反応管収容部2111は、制御回路9により、空の反応管2011を、反応管供給レール2112に供給する。反応管供給レール2112は、例えば、反応管収容部2111から反応管供給位置に向かって傾斜して設けられている。そのため、反応管2011は、反応管供給レール2112上を、重力により摺動して、反応管供給位置に移動する。反応管供給位置は、例えば、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101の反応管2011の搬送経路である回動軌道と、反応管供給レール2042上における反応管2011の移動軌道とが交差する位置である。 The reaction tube supply unit 211 supplies empty reaction tubes 2011 . The reaction tube supply part 211 is provided near the outer circumference of the reaction disk 201 . The reaction tube supply section 211 includes, for example, a reaction tube housing section 2111 and a reaction tube supply rail 2112 . The reaction tube housing part 2111 houses, for example, a plurality of empty reaction tubes 2011 . The reaction tube accommodating part 2111 supplies empty reaction tubes 2011 to the reaction tube supply rail 2112 by the control circuit 9 . The reaction tube supply rail 2112 is, for example, inclined from the reaction tube housing portion 2111 toward the reaction tube supply position. Therefore, the reaction tube 2011 slides on the reaction tube supply rail 2112 by gravity and moves to the reaction tube supply position. At the reaction tube supply position, for example, the rotation trajectory, which is the transportation path of the reaction tube 2011 of the reaction tube holding portion 2101 in the reaction tube transport arm 210, and the movement trajectory of the reaction tube 2011 on the reaction tube supply rail 2042 intersect. position.

光量測定用治具212は、後述する測光ユニットの発光部の光量や光軸高さの測定を行うために用いられる治具である。光量測定用治具212は、例えば、ミラー2121と、ミラー収容容器2122とを備えて構成されている。ミラー2121は、発光部から照射された光を反射して、反応管搬送アーム210の撮像部2103に導く部材である。なお、発光部から照射された光を反射して、反応管搬送アーム210の撮像部2103に導く部材はミラーに限られず、プリズムなどの光を反射する反射部材であってもよい。ミラー収容容器2122は、ミラー2121を収容するための容器であり、例えば、反応管2011と同じ形状を有している。 The light amount measuring jig 212 is a jig used for measuring the light amount of a light emitting section of a photometry unit, which will be described later, and the height of the optical axis. The light amount measuring jig 212 is configured including, for example, a mirror 2121 and a mirror container 2122 . The mirror 2121 is a member that reflects the light emitted from the light emitting section and guides it to the imaging section 2103 of the reaction tube transport arm 210 . The member that reflects the light emitted from the light emitting unit and guides it to the imaging unit 2103 of the reaction tube transport arm 210 is not limited to the mirror, and may be a reflecting member such as a prism that reflects light. The mirror container 2122 is a container for containing the mirror 2121 and has the same shape as the reaction tube 2011, for example.

本実施形態に係る光量測定用治具212は、例えば、分析機構2の治具設置位置に設置されている。この治具設定位置は、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101の搬送経路である回動軌道上に設けられている。なお、本実施形態において、光量測定用治具212は、分析機構2の治具設置位置に設置されているが、光量測定用治具212は、分析機構2の治具設置位置に設置されていなくてもよい。すなわち、光量測定用治具212の設置場所は任意であり、例えば、自動分析装置1の外部に設置されているなど、自動分析装置1における分析機構2の治具設置位置以外の箇所に設置(保管)されていてもよい。以下、本実施形態においては、光量測定用治具212は、分析機構2の治具設置位置に設置されているものとして説明する。 The light quantity measurement jig 212 according to the present embodiment is installed, for example, at the jig installation position of the analysis mechanism 2 . This jig setting position is provided on the rotation track which is the transport path of the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 . In the present embodiment, the light amount measurement jig 212 is installed at the jig installation position of the analysis mechanism 2, but the light amount measurement jig 212 is installed at the jig installation position of the analysis mechanism 2. It doesn't have to be. That is, the installation location of the light amount measurement jig 212 is arbitrary. storage). In the following description of the present embodiment, the light quantity measurement jig 212 is installed at the jig installation position of the analysis mechanism 2 .

さらに、本実施形態に係る分析機構2においては、その内部に、反応ディスク201に保持可能な反応管2011と同数の測光ユニットが設けられている。この測光ユニットが、本実施形態における測光部を構成する。図3及び図4は、この測光ユニット213の構成例を示す模式図である。図3は、測光ユニット213を、反応ディスク201の上方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表す模式図である。図4は、測光ユニット213を、反応ディスク201の断面方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表す模式図である。 Furthermore, in the analysis mechanism 2 according to this embodiment, the same number of photometry units as the reaction tubes 2011 that can be held in the reaction disk 201 are provided inside. This photometry unit constitutes the photometry section in this embodiment. 3 and 4 are schematic diagrams showing configuration examples of the photometry unit 213. FIG. FIG. 3 is a schematic diagram showing an example of the positional relationship of each component when the photometry unit 213 is viewed from above the reaction disk 201. As shown in FIG. FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of the positional relationship of each component when the photometry unit 213 is viewed from the cross-sectional direction of the reaction disk 201. As shown in FIG.

測光ユニット213は、反応管2011内に分注された試料と試薬との混合液の光学的な物性値を連続的に測定する。本実施形態に係る分析機構2においては、測光ユニット213は、複数設けられている。例えば、測光ユニット213は、反応ディスク201で保持可能な反応管と同数だけ設けられている。すなわち、反応ディスク201で保持される1つの反応管に対して、1つの測光ユニット213が設けられている。それぞれの測光ユニット213の構成は同様であるため、図3及び図4においては、1つの測光ユニット213を代表して図示している。 The photometric unit 213 continuously measures the optical physical properties of the mixed liquid of the sample and the reagent dispensed into the reaction tube 2011 . In the analysis mechanism 2 according to this embodiment, a plurality of photometry units 213 are provided. For example, the photometry units 213 are provided in the same number as the reaction tubes that can be held by the reaction disk 201 . That is, one photometric unit 213 is provided for one reaction tube held by the reaction disk 201 . Since each photometry unit 213 has the same configuration, only one photometry unit 213 is illustrated in FIGS. 3 and 4 as a representative.

図3及び図4に示す測光ユニット213は、例えば、発光部2131と、光検出器2132、2133とを有する。例えば、測光ユニット213は、反応ディスク201で環状に保持される反応管2011の環状中心側に発光部2131を有する。発光部2131は、反応管2011が配列されている環の外側へ向けて光を照射するように設けられている。 The photometry unit 213 shown in FIGS. 3 and 4 has, for example, a light emitter 2131 and photodetectors 2132 and 2133 . For example, the photometry unit 213 has a light-emitting part 2131 on the annular center side of the reaction tube 2011 held annularly by the reaction disk 201 . The light emitting part 2131 is provided so as to emit light toward the outside of the ring in which the reaction tubes 2011 are arranged.

発光部2131は、2種類の波長の光を発生する。発光部2131は、例えば、波長が長い第1の光と、波長が短い第2の光とを発生する。例えば、第1の光の波長は、620~750nmの赤色の波長域に含まれ、第2の光の波長は、380~495nmの紫から青色の波長域に含まれる。なお、第1及び第2の光の波長は、620~750nmの赤色の波長域にそれぞれ含まれていても構わない。発光部2131は、例えば、複数の波長の光を発生可能な多波長LED、所定の波長の光をそれぞれ発生する2つのLED、及び広い波長域の光からフィルタによって所望の波長の光を透過させる光源ユニット等により実現される。 The light emitting section 2131 generates light of two wavelengths. The light emitting unit 2131 generates, for example, first light with a long wavelength and second light with a short wavelength. For example, the wavelength of the first light is in the red wavelength range of 620-750 nm, and the wavelength of the second light is in the violet to blue wavelength range of 380-495 nm. The wavelengths of the first and second lights may each be included in the red wavelength range of 620 to 750 nm. The light emitting unit 2131 includes, for example, a multi-wavelength LED capable of generating light of a plurality of wavelengths, two LEDs each generating light of predetermined wavelengths, and a filter that transmits light of a desired wavelength from light of a wide wavelength range. It is realized by a light source unit or the like.

発光部2131は、制御回路9の制御に従い、第1及び第2の光を発生する。具体的には、例えば、発光部2131は、所定の周期で第1及び第2の光を交互に発生する。このとき、発光部2131は、例えば、第1及び第2の光を、凝固の最小測定単位である、例えば0.1秒の半分である0.05秒周期で交互に光を発生する。発光部2131から照射された光は、反応管2011へ入射される。 The light emitting section 2131 emits first and second lights under the control of the control circuit 9 . Specifically, for example, the light emitting unit 2131 alternately emits the first and second lights at a predetermined cycle. At this time, the light emitting unit 2131 alternately emits the first and second lights, for example, at a cycle of 0.05 seconds, which is half of 0.1 seconds, which is the minimum measurement unit of coagulation. Light emitted from the light emitting part 2131 enters the reaction tube 2011 .

なお、発光部2131は、制御回路9により指定される一方の波長の光を発生するようにしてもよい。また、発光部2131は、第1及び第2の光を同時に発生するようにしてもよい。ただし、このとき、不要な波長の光を除外するためのフィルタを光検出器2132、2133に設ける必要がある。 Note that the light emitting unit 2131 may emit light of one wavelength designated by the control circuit 9 . Also, the light emitting section 2131 may emit the first and second lights at the same time. However, at this time, it is necessary to provide the photodetectors 2132 and 2133 with filters for excluding light of unnecessary wavelengths.

光検出器2132は、反応管2011を挟んで発光部2131と対向する位置に配設される。発光部2131から出射された光は、反応管2011の第1側壁から入射され、第1側壁と対向する第2側壁から出射される。光検出器2132は、反応管2011から出射された光を検出する。 The photodetector 2132 is disposed at a position facing the light emitting section 2131 with the reaction tube 2011 interposed therebetween. The light emitted from the light emitting part 2131 is incident on the first side wall of the reaction tube 2011 and emitted from the second side wall facing the first side wall. A photodetector 2132 detects light emitted from the reaction tube 2011 .

具体的には、例えば、光検出器2132は、反応管2011内の標準液と試薬との混合液を透過した光を検出する。光検出器2132は、検出した光を所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔でサンプリングし、透過光強度、又は吸光度等で表される標準データを生成する。所定の時間間隔は、例えば、第1の光の発生頻度と同期する。なお、光検出器2132は、例えば、第1の光の波長と対応した波長の光のみを検出するようにしてもよい。また、光検出器2132は、反応管2011内の血液検体と試薬との混合液を透過した光を検出する。光検出器2132は、検出した光を所定の時間間隔でサンプリングし、透過光強度、又は吸光度等により表される被検データを生成する。光検出器2132は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路3へ出力する。 Specifically, for example, the photodetector 2132 detects light transmitted through the mixture of the standard solution and the reagent in the reaction tube 2011 . The photodetector 2132 samples the detected light at predetermined time intervals, eg, 0.1 second intervals, and generates standard data represented by transmitted light intensity, absorbance, or the like. The predetermined time interval is, for example, synchronized with the frequency of occurrence of the first light. Note that the photodetector 2132 may, for example, detect only light with a wavelength corresponding to the wavelength of the first light. Also, the photodetector 2132 detects light transmitted through the mixed liquid of the blood sample and the reagent in the reaction tube 2011 . The photodetector 2132 samples the detected light at predetermined time intervals to generate test data represented by transmitted light intensity, absorbance, or the like. The photodetector 2132 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3 .

光検出器2133は、発光部2131の光の照射軸と、光検出器2133の受光軸とが反応管2011内において略90度で交わるように配設される。発光部2131から出射された光は、反応管2011の第1側壁から入射され、混合液内の粒子により散乱された後、第1側壁と90度隔てて隣接する第3側壁から出射される。光検出器2133は、反応管2011から出射された光を検出する。光検出器2133は、例えば、散乱光受光部の一例である。 The photodetector 2133 is arranged such that the light irradiation axis of the light emitting part 2131 and the light receiving axis of the photodetector 2133 intersect at approximately 90 degrees inside the reaction tube 2011 . The light emitted from the light emitting part 2131 is incident from the first side wall of the reaction tube 2011, scattered by particles in the mixed liquid, and then emitted from the third side wall adjacent to the first side wall at 90 degrees. A photodetector 2133 detects light emitted from the reaction tube 2011 . The photodetector 2133 is an example of a scattered light receiver, for example.

具体的には、例えば、光検出器2133は、反応管2011内の標準液と試薬との混合液で散乱された光を検出する。光検出器2133は、検出した光を所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔でサンプリングし、散乱光強度等で表される標準データを生成する。所定の時間間隔は、例えば、第2の光の発生頻度と同期する。なお、光検出器2133は、例えば、第2の光の波長と対応した波長の光のみを検出するようにしてもよい。また、光検出器2133は、反応管2011内の血液検体と試薬との混合液で散乱された光を検出する。光検出器2133は、検出した光を所定の時間間隔でサンプリングし、散乱光強度等により表される被検データを生成する。光検出器2133は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路3へ出力する。 Specifically, for example, the photodetector 2133 detects light scattered by the mixed liquid of the standard liquid and the reagent in the reaction tube 2011 . The photodetector 2133 samples the detected light at predetermined time intervals, eg, 0.1 second intervals, and generates standard data represented by scattered light intensity or the like. The predetermined time interval is, for example, synchronized with the frequency of occurrence of the second light. Note that the photodetector 2133 may, for example, detect only light with a wavelength corresponding to the wavelength of the second light. Also, photodetector 2133 detects light scattered by the mixed liquid of the blood sample and reagent in reaction tube 2011 . The photodetector 2133 samples the detected light at predetermined time intervals to generate test data represented by scattered light intensity and the like. The photodetector 2133 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3 .

なお、光検出器2132、2133は、検出した光の強度を検出信号として解析回路3へ出力しても構わない。このとき、解析回路3が、所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔で検出信号をサンプリングし、標準データ、及び被検データを生成する。 The photodetectors 2132 and 2133 may output the intensity of the detected light to the analysis circuit 3 as a detection signal. At this time, the analysis circuit 3 samples the detection signal at predetermined time intervals, for example, 0.1 second intervals, and generates standard data and test data.

図5は、本実施形態に係る測光ユニット213の別の構成例を表す模式図である。図5は、図3と同様に、測光ユニット213を、反応ディスク201の上方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表している。図5に示される測光ユニット213は、発光部2131として、2つのLED51、52を有している。図5に示される例では、LED52の光の照射軸が、LED51の光の照射軸に対して所定の角度だけ傾けられている。 FIG. 5 is a schematic diagram showing another configuration example of the photometry unit 213 according to this embodiment. Similar to FIG. 3, FIG. 5 shows an example of the positional relationship of each component when the photometry unit 213 is viewed from above the reaction disk 201. In FIG. The photometric unit 213 shown in FIG. 5 has two LEDs 51 and 52 as the light emitting section 2131 . In the example shown in FIG. 5 , the light irradiation axis of the LED 52 is tilted by a predetermined angle with respect to the light irradiation axis of the LED 51 .

光検出器2132は、図3及び図4の例と同様に、反応管2011を挟んでLED51と対向する位置に配設されている。一方、光検出器2133は、LED52の光の照射軸と、光検出器2133の受光軸とが反応管2011内において略90度で交わるように配設されている。 The photodetector 2132 is disposed at a position facing the LED 51 across the reaction tube 2011, as in the examples of FIGS. On the other hand, the photodetector 2133 is arranged such that the light irradiation axis of the LED 52 and the light receiving axis of the photodetector 2133 intersect at approximately 90 degrees inside the reaction tube 2011 .

図1に示される制御回路9は、記憶回路8に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9は、制御プログラムを実行することで、システム制御機能91と、第1制御機能92と、測定機能93と、第1報告機能94とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91と、第1制御機能92と、測定機能93と、第1報告機能94とが実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現しても構わない。 The control circuit 9 shown in FIG. 1 executes a control program stored in the storage circuit 8 to implement functions corresponding to the program. For example, the control circuit 9 has a system control function 91, a first control function 92, a measurement function 93, and a first report function 94 by executing a control program. In this embodiment, the case where the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, and the first report function 94 are realized by a single processor will be described, but it is not limited to this. . For example, a plurality of independent processors may be combined to configure a control circuit, and each processor may execute a control program to realize these various functions.

システム制御機能91は、入力インターフェース5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。例えば、システム制御機能91において制御回路9は、駆動機構4及び分析機構2を制御することにより、サンプル分注アーム206や試薬分注アーム208を制御して、反応管2011に試料や試薬を分注すると共に、検査項目に応じた解析を実施するように解析回路3を制御する。 The system control function 91 is a function that controls all the parts in the automatic analyzer 1 based on input information input from the input interface 5 . For example, in the system control function 91, the control circuit 9 controls the sample dispensing arm 206 and the reagent dispensing arm 208 by controlling the drive mechanism 4 and the analysis mechanism 2 to dispense samples and reagents into the reaction tube 2011. In addition, the analysis circuit 3 is controlled so as to perform analysis corresponding to the inspection item.

第1制御機能92は、分析機構2や駆動機構4を制御することにより、反応管搬送アーム210を制御したり、反応管搬送アーム210に設けられた撮像部2103を制御したりする機能である。具体的には、第1制御機能92は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管2011を反応管供給部211から反応ディスク201に搬送させ、反応管搬送アーム210に設けられた撮像部2103により、反応管2011を撮像させるように制御する機能である。また、第1制御機能92は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201に搬送させる。 The first control function 92 is a function of controlling the reaction tube transport arm 210 and the imaging unit 2103 provided on the reaction tube transport arm 210 by controlling the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4. . Specifically, the first control function 92 controls the reaction tube transfer arm 210 to transfer the reaction tube 2011 from the reaction tube supply unit 211 to the reaction disk 201, and the imaging unit provided on the reaction tube transfer arm 210. 2103 is a function to control so that the reaction tube 2011 is imaged. Further, the first control function 92 controls the reaction tube transfer arm 210 to transfer the light intensity measurement jig 212 to the reaction disk 201 .

測定機能93は、発光部2131の光量や発光部2131の光軸高さを測定する機能である。具体的には、測定機能93は、測光ユニット213などを制御することにより、撮像部2103が光量測定用治具212を介して、受光した発光部2131の光量や、光量測定用治具212の底面から発光部2131の光軸までの高さである発光部2131の光軸高さを測定する機能である。 The measurement function 93 is a function for measuring the light amount of the light emitting section 2131 and the optical axis height of the light emitting section 2131 . Specifically, the measurement function 93 controls the photometric unit 213 and the like to control the amount of light received by the light emitting unit 2131 and the amount of light received by the imaging unit 2103 via the jig 212 for measuring the amount of light. This is a function of measuring the optical axis height of the light emitting section 2131, which is the height from the bottom surface to the optical axis of the light emitting section 2131. FIG.

第1報告機能94は、発光部2131の光量の測定結果や発光部2131の光軸高さの測定結果をユーザに報告する機能である。具体的には、第1報告機能94は、出力インターフェース6を介して、測定機能93により測定された発光部2131の光量の測定結果及び、測定機能93により測定された発光部2131の光軸高さの測定結果の少なくともいずれか一方をユーザに報告する。 The first reporting function 94 is a function for reporting the measurement result of the light amount of the light emitting unit 2131 and the measurement result of the optical axis height of the light emitting unit 2131 to the user. Specifically, the first reporting function 94 reports, via the output interface 6, the measurement result of the light intensity of the light emitting unit 2131 measured by the measuring function 93 and the optical axis height of the light emitting unit 2131 measured by the measuring function 93. report to the user at least one of the tightness measurements;

なお、図1に示したシステム制御機能91、第1制御機能92、測定機能93、及び、第1報告機能94は、それぞれ、本実施形態におけるシステム制御部、第1制御部、測定部、第1報告部を構成している。 Note that the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, and the first report function 94 shown in FIG. 1 reporting department.

図6は、本実施形態に係る自動分析装置1で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図である。この測定処理では、発光部2131の光量や発光部2131の光軸高さを測定したり、光量の測定結果や光軸高さの測定結果をユーザに報告したりする。例えば、この測定処理は、毎朝の装置を使用する前や1週間に1回など、ユーザが指定したタイミングで実行される処理である。 FIG. 6 is a flow chart for explaining the details of the measurement process executed by the automatic analyzer 1 according to this embodiment. In this measurement process, the light amount of the light emitting unit 2131 and the optical axis height of the light emitting unit 2131 are measured, and the measurement results of the light amount and the optical axis height are reported to the user. For example, this measurement process is a process that is executed at a timing specified by the user, such as every morning before using the device or once a week.

図6に示すように、まず、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101を治具設置位置へ移動させる(ステップS11)。この反応管保持部2101を治具設置位置へ移動させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管保持部2101を治具設置位置へ移動させる。 As shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 first moves the reaction tube holder 2101 of the reaction tube transport arm 210 to the jig installation position (step S11). The process of moving the reaction tube holder 2101 to the jig installation position is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to move the reaction tube holder 2101 to the jig installation position.

なお、光量測定用治具212が自動分析装置1の外部に設置(保管)されているなど自動分析装置1における分析機構2の治具設置位置以外の箇所に設置(保管)されている場合、ユーザが治具設置位置に光量測定用治具212を設置して、反応管保持部2101に保持させるようにしてもよく、ユーザが光量測定用治具212を設置箇所から反応管保持部2101まで運び、ユーザが光量測定用治具212を反応管保持部2101に保持させるようにしてもよい。ユーザが光量測定用治具212を設置箇所から反応管保持部2101まで運ぶ場合、反応管搬送アーム210は、移動しなくてもよい。すなわち、光量測定用治具212が自動分析装置1の外部に設置(保管)されているなど、自動分析装置1の分析機構2の治具設置位置以外の箇所に設置(保管)されている場合において、ステップS11は、省略してもよい。 In addition, when the light amount measurement jig 212 is installed (stored) in a place other than the jig installation position of the analysis mechanism 2 in the automatic analyzer 1, such as being installed (stored) outside the automatic analyzer 1, The user may install the light amount measuring jig 212 at the jig installation position and hold it in the reaction tube holding section 2101 , and the user may move the light amount measuring jig 212 from the installation position to the reaction tube holding section 2101 . Alternatively, the user may hold the light quantity measurement jig 212 in the reaction tube holder 2101 . When the user carries the light amount measuring jig 212 from the installation location to the reaction tube holding section 2101, the reaction tube transport arm 210 does not have to be moved. That is, when the light quantity measurement jig 212 is installed (stored) outside the automatic analyzer 1, such as when it is installed (stored) at a location other than the jig installation position of the analysis mechanism 2 of the automatic analyzer 1. , step S11 may be omitted.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を保持させる(ステップS13)。この光量測定用治具212を保持させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、治具設置位置において、反応管保持部2101により、光量測定用治具212を保持させる。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 holds the light amount measuring jig 212 (step S13). The process of holding the light amount measuring jig 212 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to cause the reaction tube holder 2101 to hold the light intensity measurement jig 212 at the jig installation position.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を反応ディスク201へ設置する(ステップS15)。この反応ディスク201へ設置する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201の反応管設置位置に設置する。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 installs the light amount measuring jig 212 on the reaction disk 201 (step S15). The process of setting the reaction disk 201 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to install the light intensity measurement jig 212 at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 .

次に、図6に示すように自動分析装置1は、発光部2131を発光させる(ステップS17)。この発光部2131を発光させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、光量測定用治具212が設置された発光部2131を発光させる。なお、自動分析装置1は、ステップS17において、光量測定用治具212が設置された発光部2131を発光させるとともに、光量測定用治具212が設置されていない発光部2131を発光させるようにしてもよい。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 causes the light emitting section 2131 to emit light (step S17). The process of causing the light emitting section 2131 to emit light is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 causes the light emitting unit 2131 on which the light amount measuring jig 212 is installed to emit light. In step S17, the automatic analyzer 1 causes the light emitting unit 2131 in which the light amount measurement jig 212 is installed to emit light, and causes the light emission unit 2131 in which the light amount measurement jig 212 is not installed to emit light. good too.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、発光部2131の光量を測定する(ステップS19)。この発光部2131の光量を測定する処理は、制御回路9における測定機能93により実現される。具体的には、自動分析装置1は、発光部2131が照射した光を光量測定用治具212のミラー2121を介して、反応管搬送アーム210の撮像部2103が受光することにより、発光部2131の光量を測定する。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 measures the amount of light emitted from the light emitting section 2131 (step S19). The process of measuring the amount of light emitted from the light emitting section 2131 is implemented by the measurement function 93 in the control circuit 9 . Specifically, in the automatic analyzer 1 , the light emitted by the light emitting unit 2131 is received by the imaging unit 2103 of the reaction tube transport arm 210 via the mirror 2121 of the light intensity measurement jig 212 . to measure the amount of light in the

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、発光部2131の光軸高さを測定する(ステップS21)。この発光部2131の光軸高さを測定する処理は、制御回路9における測定機能93により実現される。具体的には、自動分析装置1は、撮像部2103が発光部2131から照射された光を受光した撮像部2103内の位置である受光位置に基づいて、発光部2131の光軸高さを測定する。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 measures the height of the optical axis of the light emitting section 2131 (step S21). The process of measuring the optical axis height of the light emitting section 2131 is implemented by the measurement function 93 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 measures the height of the optical axis of the light emitting unit 2131 based on the light receiving position within the image capturing unit 2103 where the light emitted from the light emitting unit 2131 is received by the image capturing unit 2103. do.

図7は、本実施形態に係る自動分析装置1において、撮像部2103の受光位置と、発光部2131の光軸高さとの関係の一例を模式的に示す模式図である。図7に示すように、反応ディスク201の反応管設置位置に設置された光量測定用治具212は、発光部2131から照射された光をミラー2121により反射させて、撮像部2103に発光部2131から照射された光を受光させる。このとき、図7(a)に示すように、発光部2131がミラー2121へ光を照射した位置が、ミラー2121の高さ方向の下方、すなわち、光軸高さHが低い場合、発光部2131から照射された光は、撮像部2103の中心より左方の位置、すなわち、発光部2131に近い撮像部2103内の位置(近位)に照射されることとなる。 FIG. 7 is a schematic diagram schematically showing an example of the relationship between the light receiving position of the imaging unit 2103 and the optical axis height of the light emitting unit 2131 in the automatic analyzer 1 according to this embodiment. As shown in FIG. 7, the light amount measuring jig 212 installed at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 reflects the light emitted from the light emitting unit 2131 by the mirror 2121, and the light emitted from the light emitting unit 2131 is reflected by the imaging unit 2103. receive the light emitted from At this time, as shown in FIG. 7A, when the position where the light emitting unit 2131 irradiates the mirror 2121 with light is below the mirror 2121 in the height direction, that is, when the optical axis height H is low, the light emitting unit 2131 The light emitted from the illuminating unit 2103 illuminates a position to the left of the center of the imaging unit 2103 , that is, a position (proximal) in the imaging unit 2103 close to the light emitting unit 2131 .

また、図7(b)に示すように、発光部2131がミラー2121へ光を照射した位置が、ミラー2121の高さ方向の中央付近である場合、発光部2131から照射された光は、撮像部2103の中心位置に照射されることとなる。さらに。図7(c)に示すように、発光部2131がミラー2121へ光を照射した位置が、ミラー2121の高さ方向の上方、すなわち、光軸高さHが高い場合、発光部2131から照射された光は、撮像部2103の中心より右方の位置、すなわち、発光部2131から遠い撮像部2103内の位置(遠位)に照射されることとなる。つまり、撮像部2103の受光位置と、発光部2131の光軸高さHには、一定の関係性があるため、図7に示すように自動分析装置1は、撮像部2103の受光位置に基づいて、発光部2131の光軸高さHを測定することができる。なお、図7に示す例では、反応管保持部2101は、光量測定用治具212を保持していないが、自動分析装置1は、光量測定用治具212を保持した状態で、光軸高さHを測定するようにしてもよい。 In addition, as shown in FIG. 7B, when the position where the light emitting unit 2131 irradiates the mirror 2121 with light is near the center of the mirror 2121 in the height direction, the light emitted from the light emitting unit 2131 The center position of the portion 2103 is irradiated. moreover. As shown in FIG. 7C, when the position where the light emitting unit 2131 irradiates the mirror 2121 is above the mirror 2121 in the height direction, that is, when the optical axis height H is high, the light emitted from the light emitting unit 2131 The emitted light is irradiated to a position to the right of the center of the imaging unit 2103 , that is, a position (distal) in the imaging unit 2103 far from the light emitting unit 2131 . That is, since there is a certain relationship between the light receiving position of the imaging unit 2103 and the optical axis height H of the light emitting unit 2131, the automatic analyzer 1 can detect the light receiving position of the imaging unit 2103 as shown in FIG. , the optical axis height H of the light emitting portion 2131 can be measured. In the example shown in FIG. 7, the reaction tube holder 2101 does not hold the light amount measuring jig 212, but the automatic analyzer 1 holds the light amount measuring jig 212 and the optical axis height You may make it measure height H.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光量が所定の範囲外であるか否かを判定する(ステップS23)。この光量が所定の範囲外であるか否かの判定は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS19で測定した光量の測定結果が所定の範囲外であるか否かを判定する。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 determines whether or not the amount of light is outside a predetermined range (step S23). A first reporting function 94 in the control circuit 9 realizes the judgment as to whether or not the amount of light is outside the predetermined range. Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether or not the measurement result of the amount of light measured in step S19 is outside a predetermined range.

そして、光量が所定の範囲外でないと判定する場合(ステップS23:No)、自動分析装置1は、光量の測定結果及び、光量の測定結果が所定の範囲外でないことを報告する(ステップS25)。この報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS19で測定した発光部2131の光量の測定結果及び、ステップS23で判定した発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外でないこと、すなわち、ステップS23で判定した発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲内であることをユーザに報告する。 When determining that the amount of light is not out of the predetermined range (step S23: No), the automatic analyzer 1 reports the measurement result of the amount of light and that the measurement result of the amount of light is not out of the predetermined range (step S25). . This reporting process is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 allows the measurement result of the light intensity of the light emitting unit 2131 measured in step S19 and the measurement result of the light intensity of the light emitting unit 2131 determined in step S23 through the output interface 6 to be within a predetermined range. It is reported to the user that it is not out of range, that is, that the measurement result of the light amount of the light emitting unit 2131 determined in step S23 is within a predetermined range.

一方、光量が所定の範囲外であると判定する場合(ステップS23:Yes)、自動分析装置1は、光量の自動調整を行う(ステップS27)。この光量を自動調整する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、例えば、発光部2131の光量のゲインを自動調整して、自動調整後の発光部2131の光量を測定する。 On the other hand, when determining that the amount of light is outside the predetermined range (step S23: Yes), the automatic analyzer 1 automatically adjusts the amount of light (step S27). This process of automatically adjusting the amount of light is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, for example, the automatic analyzer 1 automatically adjusts the gain of the light intensity of the light emitting unit 2131 and measures the light intensity of the light emitting unit 2131 after automatic adjustment.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、自動調整後の光量が所定の範囲外であるか否かを判定する(ステップS29)。この所定の範囲外であるか否かを判定する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1はステップS27で測定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が、所定の範囲外であるか否かを判定する。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 determines whether or not the amount of light after automatic adjustment is outside a predetermined range (step S29). The process of determining whether or not it is outside the predetermined range is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether the measurement result of the light intensity of the light emitting unit 2131 after automatic adjustment measured in step S27 is outside a predetermined range.

そして、ステップS27における自動調整後の光量が所定の範囲外でない場合(ステップS29:No)、自動分析装置1は、自動調整後の光量の測定結果及び、自動調整後の光量の測定結果が所定の範囲外でないことを報告する(ステップS31)。この報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS27で測定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果及び、ステップS29で判定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外でないこと、すなわち、ステップS29で判定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲内であることをユーザに報告する。 Then, if the light intensity after automatic adjustment in step S27 is not outside the predetermined range (step S29: No), the automatic analyzer 1 determines that the measurement result of the light intensity after automatic adjustment and the measurement result of the light intensity after automatic adjustment are predetermined. is not out of range (step S31). This reporting process is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 outputs the measurement result of the light intensity of the light emitting unit 2131 after automatic adjustment measured in step S27 and the light intensity of the light emitting unit 2131 after automatic adjustment determined in step S29 via the output interface 6. The user is informed that the measurement result of the amount of light is not outside the predetermined range, that is, that the measurement result of the amount of light of the light emitting unit 2131 after automatic adjustment determined in step S29 is within the predetermined range.

一方、自動調整後の光量が所定の範囲外である場合(ステップS29:Yes)、自動分析装置1は、自動調整後の光量の測定結果及び、自動調整後の光量の測定結果が所定の範囲外であることを報告する(ステップS33)。この報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS27で測定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果及び、ステップS39で判定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外であることをユーザに報告する。また、自動分析装置1は、発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外であることをユーザに報告する際に、自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外である当該反応ディスク201の反応管設置位置を使用するか否かをユーザに設定させる設定画面を出力インターフェース6の表示回路に表示するようにしてもよく、自動分析装置1は、自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外である当該反応ディスク201の反応管設置位置を使用しないように自動的に設定するようにしてもよい。 On the other hand, if the amount of light after automatic adjustment is outside the predetermined range (step S29: Yes), the automatic analyzer 1 determines that the measurement result of the amount of light after automatic adjustment and the measurement result of the amount of light after automatic adjustment are within the predetermined range. Report that it is outside (step S33). This reporting process is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 outputs the measurement result of the light intensity of the light emitting unit 2131 after automatic adjustment measured in step S27 and the light intensity of the light emitting unit 2131 after automatic adjustment determined in step S39 via the output interface 6. It reports to the user that the measurement result of the amount of light is out of the predetermined range. Further, when the automatic analyzer 1 reports to the user that the measurement result of the light intensity of the light emitting unit 2131 is out of the predetermined range, the automatic analyzer 1 detects that the measurement result of the light intensity of the light emitting unit 2131 after automatic adjustment is out of the predetermined range. A setting screen may be displayed on the display circuit of the output interface 6 to allow the user to set whether or not to use the reaction tube installation position of a certain reaction disk 201, and the automatic analyzer 1 emits light after automatic adjustment. It may be automatically set not to use the reaction tube installation position of the reaction disk 201 where the measurement result of the light quantity of the part 2131 is out of the predetermined range.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光軸高さHが所定の範囲外であるか否かを判定する(ステップS35)。この所定の範囲外であるか否かの判定は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS21で測定した発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外であるか否かを判定する。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 determines whether or not the optical axis height H is outside a predetermined range (step S35). A first reporting function 94 in the control circuit 9 implements the determination of whether or not it is outside the predetermined range. Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether the measurement result of the optical axis height H of the light emitting unit 2131 measured in step S21 is outside the predetermined range.

そして、光軸高さHが所定の範囲外でない場合(ステップS35:No)、自動分析装置1は、光軸高さHの測定結果及び、光軸高さHの測定結果が所定の範囲外でないことを報告する(ステップS37)。この報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS21で測定した発光部2131の光軸高さHの測定結果及び、ステップS35で判定した発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外でないこと、すなわち、ステップS35で判定した発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲内であることをユーザに報告する。 If the optical axis height H is not out of the predetermined range (step S35: No), the automatic analyzer 1 determines that the measurement result of the optical axis height H and the measurement result of the optical axis height H are out of the predetermined range. It is reported that it is not (step S37). This reporting process is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1, via the output interface 6, the measurement result of the optical axis height H of the light emitting unit 2131 measured in step S21 and the optical axis height of the light emitting unit 2131 determined in step S35 The user is notified that the measurement result of H is not out of the predetermined range, that is, that the measurement result of the optical axis height H of the light emitting unit 2131 determined in step S35 is within the predetermined range.

一方、光軸高さHが所定の範囲外である場合(ステップS35:Yes)、自動分析装置1は、発光部2131の光軸高さHの測定結果及び、発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外であることを報告する(ステップS39)。このユーザに報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS21で測定した発光部2131の光軸高さHの測定結果及び、ステップS35で判定した発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外であることをユーザに報告する。また、自動分析装置1は、発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外であることをユーザに報告する際に、発光部2131の光軸高さHが所定の範囲外である当該反応ディスク201の反応管設置位置を使用するか否かをユーザに設定させる設定画面を出力インターフェース6の表示回路に表示するようにしてもよく、自動分析装置1は、発光部2131の光軸高さHが所定の範囲外である当該反応ディスク201の反応管設置位置を使用しないように自動的に設定するようにしてもよい。 On the other hand, when the optical axis height H is outside the predetermined range (step S35: Yes), the automatic analyzer 1 collects the measurement result of the optical axis height H of the light emitting unit 2131 and the optical axis height of the light emitting unit 2131 Report that the measurement result of H is out of the predetermined range (step S39). This processing of reporting to the user is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1, via the output interface 6, the measurement result of the optical axis height H of the light emitting unit 2131 measured in step S21 and the optical axis height of the light emitting unit 2131 determined in step S35 Report to the user that the measurement result of H is out of the predetermined range. Further, when the automatic analyzer 1 reports to the user that the measurement result of the optical axis height H of the light emitting unit 2131 is out of the predetermined range, the optical axis height H of the light emitting unit 2131 is out of the predetermined range. The display circuit of the output interface 6 may display a setting screen that allows the user to set whether or not to use the reaction tube installation position of the reaction disk 201, and the automatic analyzer 1 uses the light emitting unit 2131 It may be automatically set not to use the reaction tube installation position of the reaction disk 201 whose optical axis height H is out of a predetermined range.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、他の発光部2131の測定が必要か否かを判定する(ステップS41)。この他の発光部2131の測定が必要か否かを判定する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、他の発光部2131の測定が完了したか否かにより、他の発光部2131の測定が必要か否かを判定する。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 determines whether or not other light emitting units 2131 need to be measured (step S41). The process of determining whether or not the measurement of the other light emitting unit 2131 is necessary is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether or not the measurement of the other light-emitting unit 2131 is necessary based on whether the measurement of the other light-emitting unit 2131 has been completed.

そして、他の発光部2131の測定が必要な場合(ステップS41:Yes)、自動分析装置1は、光量測定用治具212を保持する(ステップS43)。この光量測定用治具212を保持する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管保持部2101により、反応ディスク201の反応管設置位置に設置された光量測定用治具212を保持する。 Then, if measurement of another light emitting unit 2131 is required (step S41: Yes), the automatic analyzer 1 holds the light quantity measurement jig 212 (step S43). The process of holding the light amount measuring jig 212 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to hold the light amount measuring jig 212 installed at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 by the reaction tube holding unit 2101 .

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を反応ディスク201に設置する(ステップS45)。この反応ディスク201に設置する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、他の発光部2131を測定するために、光量測定用治具212を搬送して、反応ディスク201の次の反応管設置位置に光量測定用治具212を設置する。そして、ステップS17に戻り、このステップS17からの処理を繰り返す。 Next, as shown in FIG. 6, the automatic analyzer 1 installs the light amount measuring jig 212 on the reaction disk 201 (step S45). The process of setting the reaction disk 201 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light intensity measurement jig 212 to measure the other light emitting part 2131, and the next reaction on the reaction disk 201. A light amount measuring jig 212 is installed at the pipe installation position. Then, the process returns to step S17 to repeat the process from step S17.

一方、他の発光部2131を測定しないと判定された場合(ステップS41:No)、自動分析装置1は、ステップS41を実行することにより、本実施形態に係る測定処理を終了する。 On the other hand, when it is determined not to measure the other light emitting units 2131 (step S41: No), the automatic analyzer 1 ends the measurement process according to this embodiment by executing step S41.

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置1によれば、反応管搬送アーム210を制御して、1つの光量測定用治具212を反応ディスク201に搬送して、反応ディスク201に設けられた複数の発光部2131の光量及び発光部2131の光軸高さHを1つの光量測定用治具212により測定することにしたので、自動分析装置1の測定精度を向上させることができる。すなわち、自動分析装置1は、1つの光量測定用治具212を用いることにより、光量測定用治具の個体差の影響を受けなくなるため、調整された発光部2131の光量にバラツキが生じず、複数の発光部2131の光量の測定結果及び発光部2131の光軸高さHの測定結果にバラツキが生じる可能性を少なくすることができる。 As described above, according to the automatic analyzer 1 according to the present embodiment, the reaction tube transport arm 210 is controlled to transport one light intensity measurement jig 212 to the reaction disk 201 and set it on the reaction disk 201. Since the light amount of the plurality of light emitting units 2131 and the optical axis height H of the light emitting unit 2131 are measured by one light amount measuring jig 212, the measurement accuracy of the automatic analyzer 1 can be improved. That is, since the automatic analyzer 1 is not affected by the individual difference of the light intensity measurement jigs by using one light intensity measurement jig 212, the adjusted light intensity of the light emitting unit 2131 does not vary. It is possible to reduce the possibility of variations occurring in the measurement results of the light amounts of the plurality of light emitting units 2131 and the measurement results of the optical axis height H of the light emitting units 2131 .

〔第1実施形態の変形例1〕
上述した第1実施形態に係る自動分析装置1においては、撮像部2103が発光部2131から照射された光を受光した位置である受光位置に基づいて、発光部2131の光軸高さHを測定することとしたが、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光したときの光量測定用治具212の降下量に基づいて、発光部2131の光軸高さHを測定することも可能である。以下、この変形例を第1実施形態に適用した場合を変形例1として、上述した第1実施形態とは異なる部分を説明する。
[Modification 1 of the first embodiment]
In the automatic analyzer 1 according to the first embodiment described above, the optical axis height H of the light emitting unit 2131 is measured based on the light receiving position, which is the position where the imaging unit 2103 receives the light emitted from the light emitting unit 2131. However, the light from the light emitting unit 2131 is determined based on the amount of descent of the light amount measuring jig 212 when the light emitted from the light emitting unit 2131 is received by the image capturing unit 2103 at a predetermined position in the image capturing unit 2103. It is also possible to measure the axial height H. Hereinafter, a case where this modification is applied to the first embodiment will be referred to as Modification 1, and portions different from the above-described first embodiment will be described.

なお、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1の機能構成は、図1と同等であるので説明を省略する。また、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1における分析機構2の構成は、図2と同等であるので説明を省略する。さらに第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1の測光ユニット213の構成は、図3及び図4と同等であるので説明を省略する。 Note that the functional configuration of the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the first embodiment is the same as that in FIG. 1, so description thereof will be omitted. Also, the configuration of the analysis mechanism 2 in the automatic analyzer 1 according to the modified example 1 of the first embodiment is the same as that of FIG. 2, so the description is omitted. Furthermore, the configuration of the photometry unit 213 of the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the first embodiment is the same as that shown in FIGS. 3 and 4, so the description thereof is omitted.

図8及び図9は、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図であり、上述した第1実施形態における図6に対応する図である。なお、図8に示すステップS11及びステップS13の処理は、上述した第1実施形態における図6と同等であるため説明を省略する。 8 and 9 are flowcharts for explaining the content of the measurement process executed by the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the first embodiment, and correspond to FIG. 6 in the above-described first embodiment. is. It should be noted that the processing of steps S11 and S13 shown in FIG. 8 is the same as that of FIG. 6 in the above-described first embodiment, so the description thereof will be omitted.

次に、図8に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を反応ディスク201の上方に搬送させる(ステップS51)。この反応ディスク201の上方に搬送させる処理は、制御回路9の第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201の反応管設置位置の上方に搬送させる。なお、図8に示すステップS17の処理は、上述した第1実施形態における図6と同等であるため説明を省略する。 Next, as shown in FIG. 8, the automatic analyzer 1 transports the light amount measuring jig 212 above the reaction disk 201 (step S51). The process of transporting the reaction disk 201 upward is realized by the first control function 92 of the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light amount measuring jig 212 above the reaction tube installation position of the reaction disk 201 . Note that the processing of step S17 shown in FIG. 8 is the same as that of FIG. 6 in the above-described first embodiment, so description thereof will be omitted.

次に、図8に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を降下させる(ステップS53)。この光量測定用治具212を降下させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応ディスク201の反応管設置位置において、光量測定用治具212を降下させる。 Next, as shown in FIG. 8, the automatic analyzer 1 lowers the light amount measuring jig 212 (step S53). The process of lowering the light amount measuring jig 212 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to lower the light intensity measurement jig 212 at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 .

次に、図8に示すように、自動分析装置1は、撮像部2103内の所定の位置で受光したか否かを判定する(ステップS55)。この撮像部2103の所定の位置で受光したか否かを判定する処理は、制御回路9における第1制御機能により実現される。具体的には、自動分析装置1は、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光したか否かを判定する。 Next, as shown in FIG. 8, the automatic analyzer 1 determines whether light is received at a predetermined position within the imaging unit 2103 (step S55). The process of determining whether or not light has been received at a predetermined position of the imaging unit 2103 is realized by the first control function of the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether or not the imaging section 2103 has received the light emitted from the light emitting section 2131 at a predetermined position within the imaging section 2103 .

そして、図8に示すように、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光していない場合(ステップS55:No)、上述したステップS53に戻り、このステップS35からの処理を繰り返して待機する。すなわち、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を降下させながら、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光するまで待機する。 Then, as shown in FIG. 8, when the light emitted from the light emitting unit 2131 is not received by the imaging unit 2103 at a predetermined position within the imaging unit 2103 (step S55: No), the process returns to step S53 described above, The process from step S35 is repeated to wait. That is, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to lower the light intensity measurement jig 212 while the imaging unit 2103 directs the light emitted from the light emitting unit 2131 to a predetermined position in the imaging unit 2103 . to wait until it receives light.

一方、ステップS55において、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光した場合(ステップS55:Yes)、自動分析装置1は、光量測定用治具212の降下量を取得する(ステップS57)。この降下量を取得する処置は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光したときの光量測定用治具212の降下量を取得する。なお、ステップS39の後のステップS19は上述した第1実施形態と同様であるため説明を省略する。 On the other hand, in step S55, when the imaging unit 2103 receives the light emitted from the light emitting unit 2131 at a predetermined position in the imaging unit 2103 (step S55: Yes), the automatic analyzer 1 detects the light intensity measurement jig 212. is acquired (step S57). The procedure for obtaining this amount of descent is implemented by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 acquires the amount of descent of the light amount measuring jig 212 when the imaging section 2103 receives the light emitted from the light emitting section 2131 at a predetermined position within the imaging section 2103 . Note that step S19 after step S39 is the same as in the above-described first embodiment, so description thereof will be omitted.

次に、図8に示すように、自動分析装置1は、光軸高さHを測定する(ステップS59)。この光軸高さHを測定する処理は、制御回路9における測定機能93により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS57で取得した光量測定用治具212の降下量に基づいて、光軸高さHを測定する。 Next, as shown in FIG. 8, the automatic analyzer 1 measures the optical axis height H (step S59). The process of measuring the optical axis height H is implemented by the measurement function 93 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 measures the optical axis height H based on the amount of descent of the light amount measuring jig 212 acquired in step S57.

図10は、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1において、光量測定用治具212の降下量と、発光部2131の光軸高さとの関係の一例を模式的に示す模式図である。図10に示す例では、撮像部2103内の所定の位置Pは、撮像部2103の中央付近である。図10(a)に示すように、自動分析装置1は、反応ディスク201の反応管設置位置において、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201に設置するように降下させる。図10(a)に示す例では、撮像部2103は、発光部2131から照射された光を受光していない。すなわち、発光部2131から照射された光は、光量測定用治具212のミラー2121に照射されていない。 FIG. 10 is a schematic diagram schematically showing an example of the relationship between the amount of descent of the light amount measuring jig 212 and the height of the optical axis of the light emitting section 2131 in the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the first embodiment. is. In the example shown in FIG. 10 , the predetermined position P within the imaging unit 2103 is near the center of the imaging unit 2103 . As shown in FIG. 10( a ), the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to install the light quantity measurement jig 212 on the reaction disk 201 at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 . lower to In the example shown in FIG. 10A, the imaging unit 2103 does not receive light emitted from the light emitting unit 2131 . In other words, the light emitted from the light emitting section 2131 is not applied to the mirror 2121 of the light amount measuring jig 212 .

次に、図10(b)に示すように、自動分析装置1は、反応ディスク201の反応管設置位置において、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212をさらに降下させる。図10(b)に示す例では、発光部2131から照射された光は、光量測定用治具212のミラー2121に照射され、ミラー2121は発光部2131から照射された光を撮像部2103に反射する。撮像部2103はミラー2121を介して発光部2131から照射された光を受光している。しかし、撮像部2103が発光部2131から照射された光を受光した位置は、撮像部2103内の所定の位置Pではないため、自動分析装置1は光量測定用治具212をさらに降下させる。 Next, as shown in FIG. 10B, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transfer arm 210 at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 to further lower the light intensity measurement jig 212 . In the example shown in FIG. 10B, the light emitted from the light emitting unit 2131 is applied to the mirror 2121 of the light amount measuring jig 212, and the mirror 2121 reflects the light emitted from the light emitting unit 2131 to the imaging unit 2103. do. The imaging unit 2103 receives light emitted from the light emitting unit 2131 via the mirror 2121 . However, since the position at which the imaging unit 2103 receives the light emitted from the light emitting unit 2131 is not the predetermined position P in the imaging unit 2103, the automatic analyzer 1 further lowers the light amount measuring jig 212.

次に、図10(c)に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212をさらに降下させて、発光部2131から照射された光が、光量測定用治具212のミラー2121を介して、撮像部2103内の所定の位置Pに受光している。このとき、自動分析装置1は、反応ディスク201の反応管設置位置において、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を降下させた量である降下量を取得する。そして、この降下量に基づいて、発光部2131の光軸高さHを測定する。なお、撮像部2103が、撮像部2103内の所定に位置Pで発光部2131から照射された光を受光したとき、光量測定用治具212は反応ディスク201に設置されてもよく、図10(c)に示すように、光量測定用治具212は反応ディスク201に設置されていなくてもよい。 Next, as shown in FIG. 10C, the automatic analyzer 1 further lowers the light amount measuring jig 212 so that the light emitted from the light emitting section 2131 is directed to the mirror 2121 of the light amount measuring jig 212. The light is received at a predetermined position P within the imaging unit 2103 via the . At this time, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transfer arm 210 at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 to obtain the amount of descent that is the amount by which the light intensity measurement jig 212 is lowered. Then, the optical axis height H of the light emitting portion 2131 is measured based on this amount of descent. Note that when the imaging unit 2103 receives light emitted from the light emitting unit 2131 at a predetermined position P in the imaging unit 2103, the light amount measuring jig 212 may be installed on the reaction disk 201, and FIG. As shown in c), the light amount measuring jig 212 may not be installed on the reaction disk 201 .

このステップS59より後の図9に示すステップS23からステップS43までの処理は、上述した第1実施形態における図6と同等であるので説明を省略する。 The processing from step S23 to step S43 shown in FIG. 9 after this step S59 is the same as that in FIG. 6 in the above-described first embodiment, so the description is omitted.

次に、図9に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を反応ディスク201の上方に搬送させる。この反応ディスク201の上方に搬送させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現させる。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を搬送させて、次の発光部2131の反応管設置位置に光量測定用治具212を設置させる。そして、ステップS17に戻り、このステップS17からの処理を繰り返す。 Next, as shown in FIG. 9 , the automatic analyzer 1 transports the light amount measuring jig 212 above the reaction disk 201 . The process of transporting the reaction disk 201 upward is realized by the first control function 92 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light intensity measurement jig 212, and moves the light intensity measurement jig 212 to the reaction tube installation position of the next light emitting unit 2131. let it be installed. Then, the process returns to step S17 to repeat the process from step S17.

一方、他の発光部2131を測定しないと判定された場合(ステップS41:No)、自動分析装置1は、ステップS41を実行することにより、本実施形態の変形例1に係る測定処理を終了する。 On the other hand, when it is determined not to measure the other light emitting units 2131 (step S41: No), the automatic analyzer 1 ends the measurement process according to the first modification of the present embodiment by executing step S41. .

以上のように、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1においても、第1実施形態と同様に、反応管搬送アーム210を制御して、1つの光量測定用治具212を反応ディスク201に搬送して、反応ディスク201に設けられた複数の発光部2131の光量及び発光部2131の光軸高さHを1つの光量測定用治具212により測定することにしたので、自動分析装置1の測定精度を向上させることができる。すなわち、自動分析装置1は、1つの光量測定用治具212を用いることにより、光量測定用治具212の個体差の影響を受けなくなるため、調整された発光部2131の光量にバラツキが生じず、発光部2131の光量の測定結果及び発光部2131の光軸高さHにバラツキが生じる可能性を少なくすることができる。 As described above, in the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the first embodiment, the reaction tube transport arm 210 is controlled to move one light quantity measurement jig 212 to react, as in the first embodiment. Since the reaction disk 201 is transported to the disk 201 and the light intensity of the plurality of light emitting portions 2131 provided on the reaction disk 201 and the optical axis height H of the light emitting portion 2131 are measured by one light intensity measuring jig 212, automatic analysis is performed. The measurement accuracy of the device 1 can be improved. That is, since the automatic analyzer 1 is not affected by the individual difference of the light intensity measurement jig 212 by using one light intensity measurement jig 212, the adjusted light intensity of the light emitting unit 2131 does not vary. , it is possible to reduce the possibility of variations occurring in the measurement result of the light amount of the light emitting unit 2131 and the optical axis height H of the light emitting unit 2131 .

〔第1実施形態の変形例2〕
上述した第1実施形態及び上述した第1実施形態の変形例1において、自動分析装置1は、発光部2131の光量及び発光部2131の光軸高さHの両方を測定して、それらの測定結果をユーザに報告することとしたが、第1実施形態の変形例2に係る自動分析装置1は、発光部2131の光量及び発光部2131の光軸高さHのいずれか一方を測定して、ユーザに報告するようにしてもよい。
[Modification 2 of the first embodiment]
In the above-described first embodiment and modified example 1 of the first embodiment described above, the automatic analyzer 1 measures both the light amount of the light emitting unit 2131 and the optical axis height H of the light emitting unit 2131, The results were reported to the user. The automatic analyzer 1 according to Modification 2 of the first embodiment measures either the light intensity of the light emitting unit 2131 or the optical axis height H of the light emitting unit 2131. , may be reported to the user.

〔第2実施形態〕
上述した第1実施形態においては、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201に搬送して、撮像部2103により、発光部2131の光量や発光部2131の光軸高さHを測定したが、撮像部2103はその他の用途に使用することができる。そこで、第2実施形態に係る自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管供給部により供給される反応管2011を保持し、反応管搬送アーム210が保持した反応管2011が検査に使用可能であるか否かを、撮像部2103により撮像した撮像画像に基づいて判定して、使用不可能な反応管2011を廃棄するようにしたものである。以下、上述した第1実施形態とは異なる部分を説明する。
[Second embodiment]
In the above-described first embodiment, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light amount measuring jig 212 to the reaction disk 201, and the imaging unit 2103 measures the light amount of the light emitting unit 2131. , and the optical axis height H of the light emitting unit 2131 was measured, but the imaging unit 2103 can be used for other purposes. Therefore, the automatic analyzer 1 according to the second embodiment controls the reaction tube transport arm 210 to hold the reaction tube 2011 supplied by the reaction tube supply unit, and the reaction tube 2011 held by the reaction tube transport arm 210 can be used for inspection based on the captured image captured by the imaging unit 2103, and the unusable reaction tube 2011 is discarded. Hereinafter, portions different from the above-described first embodiment will be described.

図11は、第2実施形態に係る自動分析装置1の機能構成の例を示すブロック図であり、上述した第1実施形態における図1に対応する図である。図11に示すように、本実施形態に係る自動分析装置1は、分析機構2Aと、解析回路3と、駆動機構4と、入力インターフェース5と、出力インターフェース6と、通信インターフェース7と、記憶回路8と、制御回路9Aとを備えて構成されている。なお、第2実施形態の解析回路3、駆動機構4、入力インターフェース5、出力インターフェース6、通信インターフェース7、及び記憶回路8の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 FIG. 11 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the automatic analyzer 1 according to the second embodiment, and corresponds to FIG. 1 in the first embodiment described above. As shown in FIG. 11, the automatic analyzer 1 according to this embodiment includes an analysis mechanism 2A, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface 5, an output interface 6, a communication interface 7, and a storage circuit. 8 and a control circuit 9A. The configurations of the analysis circuit 3, the drive mechanism 4, the input interface 5, the output interface 6, the communication interface 7, and the storage circuit 8 of the second embodiment are the same as those of the first embodiment, and thus descriptions thereof are omitted.

図12は、図11に示す自動分析装置1における分析機構2Aの構成の一例を示す図である。この図12に示すように、本実施形態に係る分析機構2Aは、反応ディスク201と、恒温部202と、ラックサンプラ203と、試薬庫204と、サンプル分注アーム206と、サンプル分注プローブ207と、試薬分注アーム208と、試薬分注プローブ209とを備えて構成されている。なお、第2実施形態の反応ディスク201、恒温部202、ラックサンプラ203、試薬庫204、サンプル分注アーム206、サンプル分注プローブ207、試薬分注アーム208、及び試薬分注プローブ209の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 FIG. 12 is a diagram showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2A in the automatic analyzer 1 shown in FIG. 11. As shown in FIG. As shown in FIG. 12, the analysis mechanism 2A according to this embodiment includes a reaction disk 201, a constant temperature section 202, a rack sampler 203, a reagent storage 204, a sample dispensing arm 206, and a sample dispensing probe 207. , a reagent dispensing arm 208 and a reagent dispensing probe 209 . The configuration of the reaction disk 201, constant temperature unit 202, rack sampler 203, reagent storage 204, sample dispensing arm 206, sample dispensing probe 207, reagent dispensing arm 208, and reagent dispensing probe 209 of the second embodiment is , are the same as those of the first embodiment, so the description thereof is omitted.

また、本実施形態に係る分析機構2Aは、反応管搬送アーム210と、反応管供給部211Aと、廃棄ボックス214とを備える。なお、図12においては、光量測定用治具212の図示を省略しているが、上述した第1実施形態と同様に、第2実施形態に係る分析機構2Aは光量測定用治具212を備えてもよい。また、反応管搬送アーム210の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 The analysis mechanism 2A according to this embodiment also includes a reaction tube transport arm 210, a reaction tube supply section 211A, and a disposal box 214. As shown in FIG. Although illustration of the light amount measurement jig 212 is omitted in FIG. 12, the analysis mechanism 2A according to the second embodiment includes the light amount measurement jig 212, as in the first embodiment described above. may Also, the structure of the reaction tube transfer arm 210 is the same as that of the first embodiment, so the explanation is omitted.

反応管供給部211Aは、空の反応管2011を供給する。反応管供給部211Aは、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。本実施形態に係る反応管供給部211Aは、例えば、反応管収容部2111と、反応管供給レール2112と、光源部2113とを備えて構成されている。光源部2113は、反応管2011に異物や罅、欠けなどが無いかを確認するために反応管2011に光を照射する。そのため、光源部2113は、反応管供給位置に供給された反応管2011に光を照射できる位置に配置されている。また、図12に示す例では、光源部2113は、反応管供給レール2112の反応管供給位置の直下に配置され、反応管2011の底面方向から光を照射する。なお、反応管収容部2111と、反応管供給レール2112との構成は、第1実施形態と同等であるため、説明を省略する。 The reaction tube supply unit 211A supplies empty reaction tubes 2011 . The reaction tube supply part 211A is provided near the outer periphery of the reaction disk 201. As shown in FIG. The reaction tube supply section 211A according to this embodiment includes, for example, a reaction tube housing section 2111, a reaction tube supply rail 2112, and a light source section 2113. As shown in FIG. The light source unit 2113 irradiates the reaction tube 2011 with light in order to check whether the reaction tube 2011 has foreign matter, cracks, chips, or the like. Therefore, the light source unit 2113 is arranged at a position where the reaction tube 2011 supplied to the reaction tube supply position can be irradiated with light. In the example shown in FIG. 12, the light source unit 2113 is arranged directly below the reaction tube supply position of the reaction tube supply rail 2112 and irradiates the reaction tube 2011 with light from the bottom surface direction. Since the configurations of the reaction tube housing part 2111 and the reaction tube supply rail 2112 are the same as those of the first embodiment, description thereof will be omitted.

また、本実施形態に係る反応管供給部211Aにおいて、光源部2113は、反応管供給位置に供給された反応管2011に光を照射できる位置に配置されることとしたが、光源部2113の配置位置はこれに限られない。すなわち、光源部2113の配置位置は任意であり、例えば、反応管搬送アーム210の搬送経路である回動軌道上の所定の位置に光源部2113を設置するようにしてもよい。 In addition, in the reaction tube supply unit 211A according to this embodiment, the light source unit 2113 is arranged at a position where the reaction tube 2011 supplied to the reaction tube supply position can be irradiated with light. The position is not limited to this. That is, the light source unit 2113 can be arranged at any position. For example, the light source unit 2113 may be installed at a predetermined position on the rotation track, which is the transport path of the reaction tube transport arm 210 .

また、図12に示す例では、光源部2113は反応管2011の底面方向から光を照射することとしたが、光源部2113が反応管2011に光を照射する方向は底面方向に限られない。すなわち光源部2113が反応管2011に光を照射する方向は任意であり、例えば、光源部2113は、反応管2011の側面方向から光を照射するようにしてもよく、光源部2113は、反応管2011の上面方向から光を照射するようにしてもよい。 In the example shown in FIG. 12, the light source unit 2113 irradiates the reaction tube 2011 with light from the bottom surface direction, but the direction in which the light source unit 2113 irradiates the reaction tube 2011 with light is not limited to the bottom surface direction. That is, the direction in which the light source unit 2113 irradiates the reaction tube 2011 with light is arbitrary. Light may be irradiated from the upper surface direction of 2011 .

廃棄ボックス214は、試料と試薬の混合液が収容された使用済みの反応管2011や使用不可能と判定された反応管2011などの廃棄される反応管2011を格納するためのボックスである。廃棄ボックス214は、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。廃棄される反応管2011は、反応管搬送アーム210等により、反応管を廃棄する位置である廃棄ボックス214の反応管廃棄位置に搬送される。反応管廃棄位置は、例えば、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101に保持された反応管2011の搬送経路である回動軌道と。廃棄ボックス214の開口部が交差する位置である。なお、廃棄ボックス214は、本実施形態における反応管廃棄部を構成している。 The discard box 214 is a box for storing discarded reaction tubes 2011, such as used reaction tubes 2011 containing a sample-reagent mixed solution and reaction tubes 2011 determined to be unusable. A disposal box 214 is provided near the outer circumference of the reaction disk 201 . The reaction tube 2011 to be discarded is transported by the reaction tube transfer arm 210 or the like to the reaction tube disposal position of the disposal box 214, which is the position for discarding the reaction tube. The reaction tube disposal position is, for example, a rotation trajectory that is a transport path of the reaction tube 2011 held by the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 . This is the position where the opening of the waste box 214 intersects. The disposal box 214 constitutes a reaction tube disposal section in this embodiment.

さらに、本実施形態に係る分析機構2Aにおいては、その内部に、反応ディスク201に保持可能な反応管2011と同数の測光ユニット213が設けられている。この測光ユニット213が、本実施形態における測光部を構成する。この測光ユニット213の構成は、第1実施形態と同等であるため、説明を省略する。 Furthermore, in the analysis mechanism 2A according to this embodiment, the same number of photometry units 213 as the reaction tubes 2011 that can be held in the reaction disk 201 are provided inside. The photometry unit 213 constitutes a photometry section in this embodiment. Since the configuration of the photometry unit 213 is the same as that of the first embodiment, the description thereof is omitted.

図11に示される制御回路9Aは、記憶回路8に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9Aは、制御プログラムを実行することで、システム制御機能91と、第1制御機能92と、測定機能93と、第1報告機能94と、第1判定機能95と、第2報告機能96とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91と、第1制御機能92と、測定機能93と、第1報告機能94と、第1判定機能95と、第2報告機能96とが実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現しても構わない。また、本実施形態のシステム制御機能91、第1制御機能92、測定機能93、及び第1報告機能94が有する機能は、図1に示されるシステム制御機能91、第1制御機能92、測定機能93、及び第1報告機能94が有する機能と同等であるため説明を省略する。 The control circuit 9A shown in FIG. 11 executes a control program stored in the storage circuit 8 to implement functions corresponding to the program. For example, the control circuit 9A executes a control program to perform a system control function 91, a first control function 92, a measurement function 93, a first report function 94, a first determination function 95, a second report function 96; In this embodiment, the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, the first report function 94, the first determination function 95, and the second report function 96 are performed by a single processor. is realized, but is not limited to this. For example, a plurality of independent processors may be combined to configure a control circuit, and each processor may execute a control program to realize these various functions. The functions of the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, and the first report function 94 of this embodiment are the system control function 91, the first control function 92, and the measurement function shown in FIG. 93, and the function of the first reporting function 94, so description thereof is omitted.

第1判定機能95は、第1制御機能92が撮像部2103を制御して、撮像させた反応管2011の撮像画像を解析し、反応管2011の使用可能か否かを判定する機能である。具体的には、第1制御機能92が撮像部2103を制御して、撮像させた反応管2011の撮像画像において、反応管2011に異物の混入や罅、欠けなどがあるか否かを解析することにより、反応管2011の使用可能か否かを判定する機能である。 The first determination function 95 is a function in which the first control function 92 controls the imaging unit 2103 to analyze the captured image of the reaction tube 2011 and determines whether or not the reaction tube 2011 can be used. Specifically, the first control function 92 controls the imaging unit 2103 to analyze whether or not the reaction tube 2011 is contaminated with foreign matter, cracked, or chipped in the captured image of the reaction tube 2011 captured. This is a function for determining whether or not the reaction tube 2011 can be used.

第2報告機能96は、第1判定機能95が反応管2011が使用不可能であると判定した場合に、ユーザに反応管2011を廃棄することを報告する。具体的には、第2報告機能96は、第1判定機能95が反応管2011が使用不可能であると判定した場合に、出力インターフェース6を介して、反応管2011が使用不可能であるため、当該反応管2011を廃棄することをユーザに報告する。 The second reporting function 96 reports to the user that the reaction tube 2011 should be discarded when the first determination function 95 determines that the reaction tube 2011 is unusable. Specifically, when the first determination function 95 determines that the reaction tube 2011 is unusable, the second reporting function 96 reports through the output interface 6 that the reaction tube 2011 is unusable. , reports to the user that the reaction tube 2011 will be discarded.

なお、図11に示したシステム制御機能91、第1制御機能92、測定機能93、第1報告機能94、第1判定機能95、及び、第2報告機能96は、それぞれ、本実施形態におけるシステム制御部、第1制御部、測定部、第1報告部、第1判定部、及び、第2報告部を構成している。 Note that the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, the first report function 94, the first determination function 95, and the second report function 96 shown in FIG. It constitutes a control section, a first control section, a measurement section, a first reporting section, a first determination section, and a second reporting section.

図13は、本実施形態に係る自動分析装置1で実行される反応管撮像処理の内容を説明するフローチャート図である。この反応管撮像処理では、反応管2011を撮像したり、撮像画像を解析して、ユーザに報告したり、反応管2011が使用不可能な場合には、反応管を廃棄したりする。例えば、この反応管撮像処理は、反応管供給部211Aに供給された反応管2011を、反応管搬送アーム210が搬送するタイミングで実行される処理である。 FIG. 13 is a flowchart for explaining the content of the reaction tube imaging process executed by the automatic analyzer 1 according to this embodiment. In this reaction tube imaging process, the reaction tube 2011 is imaged, the captured image is analyzed and reported to the user, and if the reaction tube 2011 cannot be used, the reaction tube is discarded. For example, this reaction tube imaging process is a process executed at the timing when the reaction tube transport arm 210 transports the reaction tube 2011 supplied to the reaction tube supply unit 211A.

図13に示すように、まず、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を反応管供給部211Aへ移動させる(ステップS71)。この反応管供給部211Aへ移動させる処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101を反応管供給部211Aの反応管供給位置に移動させる。 As shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 first moves the reaction tube transport arm 210 to the reaction tube supply section 211A (step S71). The process of moving to the reaction tube supply section 211A is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to move the reaction tube holding part 2101 of the reaction tube transport arm 210 to the reaction tube supply position of the reaction tube supply part 211A.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を保持する(ステップS73)。この反応管2011を保持する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101により、反応管供給位置に供給された反応管2011を保持する。 Next, as shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 holds the reaction tube 2011 (step S73). This process of holding the reaction tube 2011 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to hold the reaction tube 2011 supplied to the reaction tube supply position by the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 .

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、光源部2113を発光させる(ステップS75)。この光源部2113を発光させる処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。 Next, as shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 causes the light source section 2113 to emit light (step S75). The processing for causing the light source unit 2113 to emit light is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を撮像する(ステップS77)。この反応管2011を撮像する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210が反応管2011を搬送するときに、撮像部2103が反応管2011を撮像するように、撮像部2103を制御する。より具体的には、光源部2113が配置された反応管供給位置において、第1制御機能92は、反応管搬送アーム210により保持された反応管2011に光源部2113の光を照射して、撮像部2103により、反応管2011を撮像する。 Next, as shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 takes an image of the reaction tube 2011 (step S77). The process of imaging the reaction tube 2011 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the imaging unit 2103 so that the imaging unit 2103 images the reaction tube 2011 when the reaction tube transport arm 210 transports the reaction tube 2011 . More specifically, at the reaction tube supply position where the light source unit 2113 is arranged, the first control function 92 irradiates the reaction tube 2011 held by the reaction tube transport arm 210 with the light of the light source unit 2113 to capture an image. The reaction tube 2011 is imaged by the unit 2103 .

ステップS77において、反応管2011は、反応管供給位置で反応管搬送アーム210に保持されたときに、撮像部2103により撮像されたが、反応管2011を撮像する位置は反応管供給位置に限られない。すなわち、反応管2011を撮像する位置は任意であり、例えば、反応管2011を撮像する位置は、反応管搬送アーム210の回動軌道上に所定の位置に配置された光源部2113の上方の位置であってもよく、光源部2113の光が照射されない位置で撮像してもよい。 In step S77, the reaction tube 2011 was imaged by the imaging unit 2103 when it was held by the reaction tube transport arm 210 at the reaction tube supply position. do not have. That is, the position for imaging the reaction tube 2011 is arbitrary. For example, the position for imaging the reaction tube 2011 is a position above the light source unit 2113 arranged at a predetermined position on the rotation track of the reaction tube transport arm 210. Alternatively, the image may be captured at a position where the light from the light source unit 2113 is not emitted.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011の撮像画像を解析する(ステップS79)。この撮像画像を解析する処理は、制御回路9Aにおける第1判定機能95により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS77で撮像した反応管2011の撮像画像に罅や欠けなどの破損があるかを解析する。 Next, as shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 analyzes the captured image of the reaction tube 2011 (step S79). The process of analyzing the captured image is realized by the first determination function 95 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 analyzes whether the captured image of the reaction tube 2011 captured in step S77 has damage such as a crack or chip.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、ステップS77で撮像された反応管2011が使用可能であるか否かを判定する(ステップS81)。この反応管2011が使用可能であるか否かを判定する処理は、制御回路9における第1判定機能95により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS77で撮像された反応管2011の撮像画像のステップS79における解析結果に基づいて、当該反応管2011が使用可能であるか否かを判定する。 Next, as shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 determines whether the reaction tube 2011 imaged in step S77 is usable (step S81). The process of determining whether or not the reaction tube 2011 is usable is realized by the first determination function 95 in the control circuit 9 . Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether or not the reaction tube 2011 is usable based on the analysis result in step S79 of the captured image of the reaction tube 2011 captured in step S77.

そして、ステップS81において、ステップS77で撮像された反応管2011が使用可能であると判定された場合(ステップS81:Yes)、自動分析装置1は、反応管2011を反応ディスク201に搬送する(ステップS83)。この反応管2011を搬送する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。より具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、ステップS73で保持した反応管2011を反応ディスク201に搬送する。 Then, in step S81, when it is determined that the reaction tube 2011 imaged in step S77 is usable (step S81: Yes), the automatic analyzer 1 transports the reaction tube 2011 to the reaction disk 201 (step S83). The process of transporting the reaction tube 2011 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. More specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transfer arm 210 to transfer the reaction tube 2011 held in step S73 to the reaction disk 201. FIG.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を反応ディスク201に設置する(ステップS85)。この反応ディスク201に設置する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管2011を反応ディスク201の反応管設置位置に設置する。 Next, as shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 installs the reaction tube 2011 on the reaction disk 201 (step S85). The process of setting the reaction disk 201 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transfer arm 210 to install the reaction tube 2011 at the reaction tube installation position of the reaction disk 201 .

一方、ステップS81において、ステップS77で撮像された反応管2011が使用不可能であると判定された場合(ステップS81:No)、自動分析装置1は、反応管2011を廃棄することをユーザに報告する(ステップS87)。このユーザに報告する処理は、制御回路9Aにおける第2報告機能96により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS77で撮像された反応管2011を廃棄することをユーザに報告する。 On the other hand, if it is determined in step S81 that the reaction tube 2011 imaged in step S77 is unusable (step S81: No), the automatic analyzer 1 reports to the user that the reaction tube 2011 will be discarded. (step S87). This processing of reporting to the user is realized by the second reporting function 96 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 reports to the user via the output interface 6 that the reaction tube 2011 imaged in step S77 will be discarded.

図14は、本実施形態に係る自動分析装置1において、反応管2011が使用不可能と判定される場合の一例を示す模式図である。図14に示す例では、反応管2011は反応管搬送アーム210の反応管保持部2101に保持され、光源部2113から照射された光が、反応管2011の底面方向から照射されている。図14(a)に示す例は、反応管2011には異物FMが混入している例と示している。この異物FMは、例えば粉塵や塵、埃などである。このように、反応管2011に異物FMが混入している場合、当該反応管2011は使用不可能であると判定される。また、図14(b)に示す例は、反応管2011に罅や欠けなどの破損CRがある例を示している。このように、反応管2011に破損CRが生じている場合、反応管2011は、使用不可能であると判定される。 FIG. 14 is a schematic diagram showing an example in which the reaction tube 2011 is determined to be unusable in the automatic analyzer 1 according to this embodiment. In the example shown in FIG. 14, the reaction tube 2011 is held by the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transfer arm 210, and the light emitted from the light source portion 2113 is applied from the bottom surface of the reaction tube 2011. In the example shown in FIG. The example shown in FIG. 14A is an example in which the reaction tube 2011 is contaminated with foreign matter FM. This foreign matter FM is, for example, dust, dirt, dust, or the like. In this way, when the reaction tube 2011 contains foreign matter FM, it is determined that the reaction tube 2011 cannot be used. Also, the example shown in FIG. 14(b) shows an example in which the reaction tube 2011 has damage CR such as cracks or chips. In this way, when the reaction tube 2011 is damaged CR, it is determined that the reaction tube 2011 cannot be used.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を反応管廃棄位置に搬送する(ステップS89)。この反応管廃棄位置に反応管の搬送する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、ステップS81において使用不可能と判定された反応管2011を廃棄ボックス214の反応管廃棄位置に搬送する。 Next, as shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 transports the reaction tube 2011 to the reaction tube disposal position (step S89). The process of transporting the reaction tube to the reaction tube disposal position is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the reaction tube 2011 determined to be unusable in step S81 to the reaction tube disposal position of the disposal box 214 .

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を廃棄する(ステップS91)。この反応管2011を廃棄する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管保持部2101に保持された反応管2011を廃棄ボックス214に格納することで、反応管2011を廃棄する。 Next, as shown in FIG. 13, the automatic analyzer 1 discards the reaction tube 2011 (step S91). The process of discarding the reaction tube 2011 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 discards the reaction tube 2011 by controlling the reaction tube transport arm 210 to store the reaction tube 2011 held in the reaction tube holding section 2101 in the disposal box 214 .

このステップS85、またはステップS91を実行することにより、本実施形態に係る反応管撮像処理を終了する。 By executing step S85 or step S91, the reaction tube imaging process according to the present embodiment ends.

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置1によれば、反応管供給部211Aから供給される全ての反応管2011は、反応ディスク201に設置される前に、撮像部2103により撮像され、使用可能であるか否かが判定され、使用不可能である反応管2011は、反応ディスク201に設置されることなく廃棄されることとなるので、自動分析装置1の測定精度が向上する。すなわち、反応管2011に粉塵が混入している場合や反応管2011に罅や欠けが発生している場合、自動分析装置1は、当該反応管2011は使用不可能であると判定して、検査に用いられることなく廃棄されるため、粉塵の混入や欠け及び/又は罅が発生している反応管2011を使用することによる正常な測定結果が得られない可能性が少なくなる。そのため、自動分析装置1の測定精度を向上させることができる。 As described above, according to the automatic analyzer 1 according to the present embodiment, all the reaction tubes 2011 supplied from the reaction tube supply unit 211A are imaged by the imaging unit 2103 before being placed on the reaction disk 201. , it is determined whether or not it can be used, and the unusable reaction tube 2011 is discarded without being placed on the reaction disk 201, so that the measurement accuracy of the automatic analyzer 1 is improved. That is, when dust is mixed in the reaction tube 2011 or when the reaction tube 2011 is cracked or chipped, the automatic analyzer 1 determines that the reaction tube 2011 is unusable, and inspects the reaction tube 2011. Since the reaction tube 2011 is discarded without being used for the purpose, it is less likely that the reaction tube 2011 containing dust or chipped and/or cracked will not give correct measurement results. Therefore, the measurement accuracy of the automatic analyzer 1 can be improved.

〔第3実施形態〕
第3実施形態係る自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、試料と試薬の混合液が収容された使用済みの反応管(以下、使用済みの反応管という)2011を反応管廃棄位置に搬送し、使用済み反応管2011を撮像して、使用済み反応管2011の撮像画像を解析することにより、使用済み反応管2011に異常があるか否かを判定して、異常がある場合にユーザに報告するようにしたものである。この第3実施形態に係る自動分析装置1は、上述した第1実施形態及び/又は第2実施形態に係る自動分析装置1に対して追加的に、或いは、単独で実施することができる。以下、この第3実施形態が上述した第1実施形態及び上述した第2実施形態とは単独で実施するものとして、上述した第1実施形態及び第2実施形態と異なる部分を説明する。
[Third embodiment]
The automatic analyzer 1 according to the third embodiment controls the reaction tube transport arm 210 to transport a used reaction tube (hereinafter referred to as a used reaction tube) 2011 containing a mixture of a sample and a reagent to a reaction tube. The used reaction tube 2011 is transported to the disposal position, the used reaction tube 2011 is imaged, and the captured image of the used reaction tube 2011 is analyzed to determine whether or not there is an abnormality in the used reaction tube 2011. It is designed to report to the user when The automatic analyzer 1 according to the third embodiment can be implemented in addition to or independently of the automatic analyzer 1 according to the first and/or second embodiment described above. Hereinafter, assuming that the third embodiment is implemented independently of the above-described first and second embodiments, portions different from the above-described first and second embodiments will be described.

図15は、第3実施形態に係る自動分析装置1の機能構成の例を示すブロック図であり、上述した第1実施形態における図1に対応する図である。図15に示すように、本実施形態に係る自動分析装置1は、分析機構2Bと、解析回路3と、駆動機構4と、入力インターフェース5と、出力インターフェース6と、通信インターフェース7と、記憶回路8と、制御回路9Bとを備えて構成されている。なお、第2実施形態の解析回路3、駆動機構4、入力インターフェース5、出力インターフェース6、通信インターフェース7、及び記憶回路8の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 FIG. 15 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the automatic analyzer 1 according to the third embodiment, and corresponds to FIG. 1 in the first embodiment described above. As shown in FIG. 15, the automatic analyzer 1 according to this embodiment includes an analysis mechanism 2B, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface 5, an output interface 6, a communication interface 7, a storage circuit 8 and a control circuit 9B. The configurations of the analysis circuit 3, the drive mechanism 4, the input interface 5, the output interface 6, the communication interface 7, and the storage circuit 8 of the second embodiment are the same as those of the first embodiment, and thus descriptions thereof are omitted.

図16は、図15に示す自動分析装置1における分析機構2Bの構成の一例を示す図である。この図16に示すように、本実施形態に係る分析機構2Bは、反応ディスク201と、恒温部202と、ラックサンプラ203と、試薬庫204と、サンプル分注アーム206と、サンプル分注プローブ207と、試薬分注アーム208と、試薬分注プローブ209とを備えて構成されている。なお、第2実施形態の反応ディスク201、恒温部202、ラックサンプラ203、試薬庫204、サンプル分注アーム206、サンプル分注プローブ207、試薬分注アーム208、及び試薬分注プローブ209の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 FIG. 16 is a diagram showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2B in the automatic analyzer 1 shown in FIG. 15. As shown in FIG. As shown in FIG. 16, the analysis mechanism 2B according to this embodiment includes a reaction disk 201, a constant temperature section 202, a rack sampler 203, a reagent storage 204, a sample dispensing arm 206, and a sample dispensing probe 207. , a reagent dispensing arm 208 and a reagent dispensing probe 209 . The configuration of the reaction disk 201, constant temperature unit 202, rack sampler 203, reagent storage 204, sample dispensing arm 206, sample dispensing probe 207, reagent dispensing arm 208, and reagent dispensing probe 209 of the second embodiment is , are the same as those of the first embodiment, so the description thereof is omitted.

また、本実施形態に係る分析機構2Bは、反応管搬送アーム210と、廃棄ボックス214とを備える。なお、図16においては、反応管供給部211及び光量測定用治具212の図示を省略しているが、上述した第1実施形態及び第2実施形態と同様に第3実施形態に係る自動分析装置1の分析機構2Bは、反応管供給部211及び光量測定用治具212を備えてもよい。また、廃棄ボックス214の構成は、第2実施形態と同等であるので説明を省略する。 The analysis mechanism 2B according to this embodiment also includes a reaction tube transfer arm 210 and a disposal box 214 . Although illustration of the reaction tube supply unit 211 and the light quantity measurement jig 212 is omitted in FIG. The analysis mechanism 2B of the apparatus 1 may include a reaction tube supply section 211 and a jig 212 for measuring the amount of light. Also, the configuration of the disposal box 214 is the same as that of the second embodiment, so the description is omitted.

本実施形態に係る反応管搬送アーム210は、反応管搬送アーム210の反応管搬送アーム210の反応管保持部2101、及び、反応管保持部2101に保持された使用済みの反応管2011が搬送経路を通るように、使用済み反応管2011を反応ディスク201の反応管設置位置から廃棄ボックス214の反応管廃棄位置まで搬送する。その他の反応管搬送アーム210の構成は、上述した第1実施形態と同様であるため、説明を省略する。 The reaction tube transport arm 210 according to the present embodiment includes a reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 of the reaction tube transport arm 210 and a used reaction tube 2011 held by the reaction tube holding portion 2101 as a transport path. The used reaction tube 2011 is conveyed from the reaction tube installation position of the reaction disk 201 to the reaction tube disposal position of the disposal box 214 so as to pass through the . Other configurations of the reaction tube transfer arm 210 are the same as those of the above-described first embodiment, and thus description thereof is omitted.

さらに、本実施形態に係る分析機構2Bにおいては、その内部に、反応ディスク201に保持可能な反応管2011と同数の測光ユニット213が設けられている。この測光ユニット213が、本実施形態における測光部を構成する。この測光ユニット213の構成は、第1実施形態と同等であるため、説明を省略する。 Furthermore, in the analysis mechanism 2B according to the present embodiment, the same number of photometry units 213 as the reaction tubes 2011 that can be held in the reaction disk 201 are provided inside. The photometry unit 213 constitutes a photometry section in this embodiment. Since the configuration of the photometry unit 213 is the same as that of the first embodiment, the description thereof is omitted.

図15に示される制御回路9Bは、記憶回路8に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9Bは、制御プログラムを実行することで、システム制御機能91と、第2制御機能97と、第2判定機能98と、第3報告機能99とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91と、第2制御機能97と、第2判定機能98と、第3報告機能99と、が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現しても構わない。また、本実施形態のシステム制御機能91が有する機能は、図1に示されるシステム制御機能91が有する機能と同等であるため説明を省略する。 The control circuit 9B shown in FIG. 15 executes a control program stored in the storage circuit 8, thereby realizing functions corresponding to the program. For example, the control circuit 9B has a system control function 91, a second control function 97, a second determination function 98, and a third reporting function 99 by executing a control program. In this embodiment, the case where the system control function 91, the second control function 97, the second determination function 98, and the third report function 99 are realized by a single processor will be described. is not limited to For example, a plurality of independent processors may be combined to configure a control circuit, and each processor may execute a control program to realize these various functions. Also, the functions of the system control function 91 of the present embodiment are the same as the functions of the system control function 91 shown in FIG. 1, so the description thereof will be omitted.

第2制御機能97は、分析機構2Bや駆動機構を制御することにより、反応管搬送アーム210や反応管搬送アーム210に設けられた撮像部2103を制御する機能である。具体的には、第2制御機能97は、反応管搬送アーム210を制御して、使用済み反応管2011を反応ディスク201から取り出し、廃棄ボックス214の反応管廃棄位置に搬送させ、反応管搬送アーム210の撮像部2103により、使用済み反応管2011を撮像させるように制御する機能である。 The second control function 97 is a function of controlling the reaction tube transfer arm 210 and the imaging section 2103 provided on the reaction tube transfer arm 210 by controlling the analysis mechanism 2B and the drive mechanism. Specifically, the second control function 97 controls the reaction tube transfer arm 210 to take out the used reaction tube 2011 from the reaction disk 201 and transfer it to the reaction tube disposal position of the disposal box 214, and the reaction tube transfer arm 210 is a function of controlling the used reaction tube 2011 to be imaged by the imaging unit 2103 of 210 .

第2判定機能98は、第2制御機能97が撮像部2103を制御して、撮像させた使用済み反応管2011の撮像画像を解析し、使用済み反応管2011に異常があるか否かを判定する機能である。具体的には、第2制御機能97が撮像部2103を制御して、撮像させた使用済み反応管の2011の撮像画像において、使用済み反応管2011の液面に気泡などがある否かを解析して、異常があるか否かを判定する。 The second determination function 98 analyzes the captured image of the used reaction tube 2011 captured by the second control function 97 controlling the imaging unit 2103 and determines whether or not the used reaction tube 2011 has an abnormality. It is a function to Specifically, the second control function 97 controls the imaging unit 2103 to analyze whether or not there are bubbles on the liquid surface of the used reaction tube 2011 in the captured image of the used reaction tube 2011 captured. Then, it is determined whether or not there is an abnormality.

第3報告機能99は、第2判定機能98が使用済み反応管2011に異常があると判定した場合に、ユーザに使用済み反応管2011に異常があることを報告する。具体的には、第3報告機能99は、第2判定機能98が使用済み反応管2011に異常があると判定した場合に、出力インターフェース6を介して、使用済み反応管2011に異常があることをユーザに報告する。 The third reporting function 99 reports to the user that the used reaction tube 2011 is abnormal when the second determining function 98 determines that the used reaction tube 2011 is abnormal. Specifically, when the second determination function 98 determines that the used reaction tube 2011 has an abnormality, the third reporting function 99 reports through the output interface 6 that the used reaction tube 2011 has an abnormality. to the user.

なお、図15に示したシステム制御機能91、第2制御機能97、第2判定機能98、及び、第3報告機能99は、それぞれ、本実施形態におけるシステム制御部、第2制御部、第2判定部、及び、第3報告部を構成している。 Note that the system control function 91, the second control function 97, the second determination function 98, and the third reporting function 99 shown in FIG. It constitutes a determination section and a third reporting section.

図17は、本実施形態に係る自動分析装置1で実行される使用済み反応管撮像処理の内容を説明するフローチャート図である。この使用済み反応管撮像処理では、使用済み反応管2011を撮像したり、撮像画像を解析して、ユーザに報告したりする。例えば、この使用済み反応管撮像処理は、使用済み反応管2011を反応管搬送アーム210が搬送するタイミングで実行される処理である。 FIG. 17 is a flow chart for explaining the contents of the used reaction tube imaging process executed by the automatic analyzer 1 according to this embodiment. In this used reaction tube imaging process, the used reaction tube 2011 is imaged, the captured image is analyzed, and reported to the user. For example, this used reaction tube imaging process is a process executed at the timing when the used reaction tube 2011 is transported by the reaction tube transport arm 210 .

図17に示すように、まず、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を反応ディスク201に移動させる(ステップS101)。この反応管搬送アーム210を反応ディスク201に移動させる処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101を反応ディスク201の反応管設置位置に移動させる。 As shown in FIG. 17, the automatic analyzer 1 first moves the reaction tube transport arm 210 to the reaction disk 201 (step S101). The process of moving the reaction tube transfer arm 210 to the reaction disk 201 is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to move the reaction tube holding part 2101 of the reaction tube transport arm 210 to the reaction tube installation position of the reaction disk 201 .

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011を保持させる(ステップS103)。この使用済み反応管2011を保持させる処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101により、使用済み反応管2011を保持させる。 Next, as shown in FIG. 17, the automatic analyzer 1 holds the used reaction tube 2011 (step S103). The process of holding the used reaction tube 2011 is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 so that the used reaction tube 2011 is held by the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210 .

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011を撮像させる(ステップS105)。この使用済み反応管2011を撮像させる処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210が使用済み反応管2011を搬送するときに、使用済み反応管2011を撮像するように、撮像部2103を制御する。 Next, as shown in FIG. 17, the automatic analyzer 1 captures an image of the used reaction tube 2011 (step S105). The process of imaging the used reaction tube 2011 is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the imaging unit 2103 so as to image the used reaction tube 2011 when the reaction tube transport arm 210 transports the used reaction tube 2011 .

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011の撮像画像を解析する(ステップS107)。この撮像画像を解析する処理は、制御回路9Bにおける第2判定機能98により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS105で撮像した使用済み反応管2011の撮像画像に気泡などの異常があるかを解析する。 Next, as shown in FIG. 17, the automatic analyzer 1 analyzes the captured image of the used reaction tube 2011 (step S107). The process of analyzing the captured image is implemented by the second determination function 98 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 analyzes whether the captured image of the used reaction tube 2011 captured in step S105 has an abnormality such as air bubbles.

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011に異常があるか否かを判定する(ステップS109)。この判定する処理は、制御回路9Bにおける第2判定機能98により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS107における、使用済み反応管2011の撮像画像の解析結果に基づいて、使用済み反応管2011の液面などに異常があるか否かを判定する。 Next, as shown in FIG. 17, the automatic analyzer 1 determines whether or not there is an abnormality in the used reaction tube 2011 (step S109). This determination processing is realized by the second determination function 98 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether or not there is an abnormality in the liquid surface of the used reaction tube 2011 based on the analysis result of the captured image of the used reaction tube 2011 in step S107.

図18は、本実施形態に係る自動分析装置1において、使用済み反応管2011に異常がある場合の一例を示す模式図である。図18に示すように、使用済み反応管2011は反応管搬送アーム210の反応管保持部2101に保持されている。この図18に示す例では、使用済み反応管2011の液面に気泡BUがある例を示している。このように使用済み反応管2011の液面に気泡BUが生じている場合、使用済み反応管2011は異常があると判定される。 FIG. 18 is a schematic diagram showing an example of a case where the used reaction tube 2011 is abnormal in the automatic analyzer 1 according to this embodiment. As shown in FIG. 18, the used reaction tube 2011 is held by the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transfer arm 210 . The example shown in FIG. 18 shows an example in which bubbles BU are present on the liquid surface of the used reaction tube 2011 . When bubbles BU are generated on the liquid surface of the used reaction tube 2011 in this way, it is determined that the used reaction tube 2011 has an abnormality.

そして、ステップS109において、使用済み反応管2011に異常があると判定した場合(ステップS109:Yes)には、自動分析装置1は、使用済み反応管に異常があることをユーザに報告する(ステップS111)。この報告する処理は、制御回路9Bにおける第3報告機能99により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS85で撮像された使用済み反応管2011に異常があることを報告する。 Then, in step S109, when it is determined that the used reaction tube 2011 has an abnormality (step S109: Yes), the automatic analyzer 1 reports to the user that the used reaction tube has an abnormality (step S111). This reporting process is realized by the third reporting function 99 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 reports, via the output interface 6, that the used reaction tube 2011 imaged in step S85 has an abnormality.

このステップS111の処理の後、又は、上述したステップS109において、使用済み反応管2011に異常がないと判定した場合(ステップS109:No)、自動分析装置1は、使用済み反応管2011を反応管廃棄位置に搬送する(ステップS113)。この反応管廃棄位置に搬送する処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、使用済み反応管2011を廃棄ボックス214の反応管廃棄位置に搬送する。 After the processing of this step S111, or when it is determined that there is no abnormality in the used reaction tube 2011 in step S109 described above (step S109: No), the automatic analyzer 1 replaces the used reaction tube 2011 with the reaction tube. It is transported to the disposal position (step S113). The process of transporting the reaction tube to the disposal position is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transfer arm 210 to transfer the used reaction tube 2011 to the reaction tube disposal position of the disposal box 214 .

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011を廃棄する(ステップS115)。この使用済み反応管2011を廃棄する処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管保持部2101に保持された反応管2011を廃棄ボックス214に格納することで、反応管2011を廃棄する。 Next, as shown in FIG. 17, the automatic analyzer 1 discards the used reaction tube 2011 (step S115). The process of discarding the used reaction tube 2011 is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 discards the reaction tube 2011 by controlling the reaction tube transport arm 210 to store the reaction tube 2011 held in the reaction tube holding section 2101 in the disposal box 214 .

このステップS115を実行することにより、本実施形態に係る使用済み反応管撮像処理は終了する。 By executing this step S115, the used reaction tube imaging process according to the present embodiment ends.

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置1によれば、反応管搬送アーム210を制御して、使用済み反応管2011を反応管廃棄位置に搬送する際に、使用済み反応管2011を撮像して、使用済み反応管2011に異常があるか否かを判定することができ、使用済み反応管2011内の液面に気泡などの異常がある場合、ユーザに使用済み反応管2011に異常があることを報告するため、ユーザは、正確な測定結果を得ることが出来たか否かを知ることができる。 As described above, according to the automatic analyzer 1 according to the present embodiment, when the used reaction tube 2011 is transported to the reaction tube disposal position by controlling the reaction tube transport arm 210, the used reaction tube 2011 is It is possible to determine whether or not there is an abnormality in the used reaction tube 2011 by taking an image. Therefore, the user can know whether or not an accurate measurement result can be obtained.

なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及び、フィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは、記憶回路に保存されたプログラムを読み出して実行することにより機能を実現する。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成して構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、プロセッサは、プロセッサ単一の回路として構成されている場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて、1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合して、その機能を実現するようにしてもよい。 In addition, the term "processor" used in the above description includes, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an application specific integrated circuit (ASIC), a programmable logic device ( For example, simple programmable logic device (SPLD), complex programmable logic device (CPLD), and field programmable gate array (FPGA). A processor realizes its functions by reading and executing a program stored in a memory circuit. It should be noted that instead of storing the program in the memory circuit, the program may be configured to be directly embedded in the circuit of the processor. In this case, the processor realizes its function by reading and executing the program embedded in the circuit. Note that the processor is not limited to being configured as a single processor circuit, but may be configured as one processor by combining a plurality of independent circuits to realize its function. Furthermore, multiple components may be integrated into a single processor to achieve its functionality.

以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な装置及び方法は、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した装置及び方法の形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲及びこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。 Although several embodiments have been described above, these embodiments are presented by way of example only and are not intended to limit the scope of the invention. The novel apparatus and methods described herein can be embodied in many other forms. In addition, various omissions, substitutions, and alterations may be made to the forms of the apparatus and methods described herein without departing from the spirit of the invention. The appended claims and their equivalents are intended to cover such forms and modifications as fall within the scope and spirit of the invention.

1…自動分析装置、2、2A、2B…分析機構、3…解析回路、4…駆動機構、5…入力インターフェース、6…出力インターフェース、7…通信インターフェース、8…記憶回路、9、9A、9B…制御回路、91…システム制御機能、92…第1制御機能、93…測定機能、94…第1報告機能、95…第1判定機能、96…第2報告機能、97…第2制御機能、98…第2判定機能、99…第3報告機能、 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Automatic analyzer, 2, 2A, 2B... Analysis mechanism, 3... Analysis circuit, 4... Drive mechanism, 5... Input interface, 6... Output interface, 7... Communication interface, 8... Memory circuit, 9, 9A, 9B ... control circuit, 91 ... system control function, 92 ... first control function, 93 ... measurement function, 94 ... first reporting function, 95 ... first determination function, 96 ... second reporting function, 97 ... second control function, 98... second determination function, 99... third reporting function,

Claims (13)

反応管が設置される反応管設置部と、
前記反応管を搬送する反応管搬送機構と、
前記反応管搬送機構に設けられる撮像部と、
前記反応管搬送機構を制御して、前記反応管を前記反応管設置部に搬送させ、前記撮像部に前記反応管を撮像させる、第1制御部と、
を備える自動分析装置。
a reaction tube installation portion in which the reaction tube is installed;
a reaction tube transport mechanism for transporting the reaction tube;
an imaging unit provided in the reaction tube transport mechanism;
a first control unit that controls the reaction tube transport mechanism to transport the reaction tube to the reaction tube installation unit and causes the imaging unit to image the reaction tube;
Automatic analyzer with
前記反応管に光を照射するように発光する発光部と、
前記発光部の光量の測定を行うために用いられる光量測定用治具と、
前記反応管設置部において、前記撮像部により、前記光量測定用治具を介して受光した前記発光部の光量を測定する測定部と、をさらに備える請求項1に記載の自動分析装置。
a light emitting unit that emits light so as to irradiate the reaction tube with light;
a light amount measuring jig used for measuring the light amount of the light emitting unit;
2. The automatic analyzer according to claim 1, further comprising: a measurement unit in said reaction tube installation unit, which measures the amount of light received by said light emitting unit from said imaging unit via said jig for measuring light amount.
前記測定部は、前記光量測定用治具が前記反応管設置部に設置された状態において、前記撮像部が前記発光部から照射された光を受光した前記撮像部内の位置である受光位置に基づいて、前記光量測定用治具の底面から前記発光部の光軸までの高さである前記発光部の光軸高さを測定する、請求項2に記載の自動分析装置。 The measuring unit measures light intensity based on a light receiving position, which is a position in the imaging unit at which the imaging unit receives light emitted from the light emitting unit in a state in which the jig for measuring the amount of light is installed in the reaction tube installation unit. 3. The automatic analyzer according to claim 2, wherein the height of the optical axis of the light-emitting section, which is the height from the bottom surface of the jig for measuring the amount of light to the optical axis of the light-emitting section, is measured. 前記測定部は、前記光量測定用治具が前記反応管設置部の上方に搬送された状態において、前記第1制御部が、前記反応管搬送機構を制御して、前記光量測定用治具を降下させながら、前記撮像部が前記発光部から照射された光を前記撮像部内の所定の位置で受光したときの前記光量測定用治具の降下量に基づいて、前記光量測定用治具の底面から前記発光部の光軸までの高さである前記発光部の光軸高さを測定する、請求項2に記載の自動分析装置。 In the measurement unit, the first control unit controls the reaction tube transport mechanism to move the light amount measurement jig in a state where the light amount measurement jig is transported above the reaction tube installation unit. While being lowered, the bottom surface of the jig for measuring the amount of light is determined based on the amount of descent of the jig for measuring the amount of light when the imaging unit receives the light emitted from the light emitting unit at a predetermined position within the imaging unit. 3. The automatic analyzer according to claim 2, which measures the height of the optical axis of said light-emitting part, which is the height from the height of said light-emitting part to the optical axis of said light-emitting part. 前記発光部の光量の測定結果及び前記発光部の光軸高さの測定結果の少なくともいずれか一方を報告する第1報告部をさらに備える、請求項3または請求項4に記載の自動分析装置。 5. The automatic analyzer according to claim 3, further comprising a first reporting section that reports at least one of a measurement result of the light amount of said light emitting section and a measurement result of an optical axis height of said light emitting section. 前記第1報告部は、前記発光部の光量の測定結果及び前記発光部の光軸高さの測定結果の少なくともいずれか一方が所定の範囲外であった場合に、前記発光部の光量の測定結果及び前記発光部の光軸高さの測定結果の少なくともいずれか一方が所定の範囲外であることを報告する、請求項5に記載の自動分析装置。 The first reporting unit measures the light intensity of the light emitting unit when at least one of the measurement result of the light intensity of the light emitting unit and the measurement result of the optical axis height of the light emitting unit is outside a predetermined range. 6. The automatic analyzer according to claim 5, which reports that at least one of the result and the measurement result of the optical axis height of the light emitting unit is outside a predetermined range. 前記第1制御部は、前記反応管搬送機構が前記反応管を搬送するときに、前記反応管を撮像するように、前記撮像部を制御する、請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の自動分析装置。 7. The first control unit according to any one of claims 1 to 6, wherein the first control unit controls the imaging unit so as to image the reaction tube when the reaction tube transport mechanism transports the reaction tube. automatic analyzer. 前記第1制御部が、前記撮像部を制御して、撮像させた前記反応管の撮像画像を分析し、当該反応管が使用可能か否かを判定する第1判定部をさらに備える、請求項7に記載の自動分析装置。 The first control unit further comprises a first determination unit that controls the imaging unit, analyzes the captured image of the reaction tube that is captured, and determines whether or not the reaction tube is usable. 7. The automatic analyzer according to 7. 前記第1制御部は、前記第1判定部が前記反応管が使用可能であると判定した場合、前記反応管搬送機構を制御して、当該反応管を前記反応管設置部に搬送させる、請求項8に記載の自動分析装置。 When the first determination unit determines that the reaction tube is usable, the first control unit controls the reaction tube transport mechanism to transport the reaction tube to the reaction tube installation unit. Item 9. The automatic analyzer according to item 8. 前記第1制御部は、前記第1判定部が前記反応管が使用不可能であると判定した場合、前記反応管搬送機構を制御して、当該反応管を廃棄する位置である反応管廃棄位置に搬送させる、請求項8又は請求項9に記載の自動分析装置。 When the first determination unit determines that the reaction tube is unusable, the first control unit controls the reaction tube transport mechanism to discard the reaction tube at a reaction tube disposal position. The automatic analyzer according to claim 8 or 9, which is transported to. 前記第1判定部が前記反応管が使用不可能であると判定した場合に、当該反応管を廃棄することを報告する第2報告部をさらに備える、請求項10に記載の自動分析装置。 11. The automatic analyzer according to claim 10, further comprising a second reporting section that reports that the reaction tube is discarded when the first determination section determines that the reaction tube is unusable. 反応管が設置される反応管設置部と
前記反応管を搬送する反応管搬送機構と、
前記前記反応管搬送機構に保持される撮像部と、
前記反応管搬送機構を制御して、試料と試薬の混合液が収容された使用済みの反応管を、前記反応管設置部から当該反応管を廃棄する位置である反応管廃棄位置に搬送し、当該使用済みの反応管を撮像するように、前記撮像部を制御する、第2制御部と、を備える自動分析装置。
a reaction tube installation unit in which a reaction tube is installed; a reaction tube transport mechanism for transporting the reaction tube;
an imaging unit held by the reaction tube transport mechanism;
controlling the reaction tube transport mechanism to transport the used reaction tube containing the mixed solution of the sample and the reagent from the reaction tube installation unit to a reaction tube disposal position where the reaction tube is discarded; and a second control section that controls the imaging section so as to capture an image of the used reaction tube.
前記使用済みの反応管の撮像画像を分析し、前記使用済みの前記反応管に異常があるか否かを判定する第2判定部と、
前記第2判定部が、前記使用済みの前記反応管に異常があると判定した場合に、前記使用済みの反応管に異常があることを報告する第3報告部と、
をさらに備える、請求項12に記載の自動分析装置。
a second determination unit that analyzes the captured image of the used reaction tube and determines whether or not the used reaction tube has an abnormality;
a third reporting unit that reports that the used reaction tube has an abnormality when the second determination unit determines that the used reaction tube has an abnormality;
13. The automated analyzer of claim 12, further comprising:
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