JP2023097573A - Servo amplifier and open-phase determination method - Google Patents

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昂樹 林
Koki Hayashi
浩幸 望月
Hiroyuki Mochizuki
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Abstract

To surely avoid a malfunction of a servo amplifier even when fluctuations of an input power source exist.SOLUTION: A master open-phase waveform analysis unit 113 analyzes whether or not power from an input power source 200 is deviated from a first allowable value based on a sampled value, and a master open-phase waveform determination unit 114 samples power and determines a master open-phase waveform when analysis results of the master open-phase waveform analysis unit 113 is normal. A polling open-phase waveform analysis unit 115 compares a polling open-phase waveform obtained from a value sampled after determination of the master open-phase waveform with the master open-phase waveform, and a main control unit 110 notifies an error each of when the master open-phase waveform determination unit 114 is determined to be abnormal and when a polling open-phase waveform determination unit 116 is abnormal.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、入力電源の変動に伴うサーボアンプの動作不良の回避等に適したサーボアンプ及び欠相判定方法に関する。 The present invention relates to a servo amplifier and an open-phase determination method suitable for avoiding malfunction of a servo amplifier due to fluctuations in input power.

ロボットや工作機械等の対象装置にサーボ系のモータを装着する際、サーボアンプのゲインを負荷イナーシャに応じて調整する必要がある。このようなサーボアンプのゲイン調整は、手動又は自動によるパラメータの設定によって行われる。 When a servo system motor is attached to a target device such as a robot or a machine tool, it is necessary to adjust the gain of the servo amplifier according to the load inertia. Such servo amplifier gain adjustment is performed by manually or automatically setting parameters.

ところで、サーボアンプに供給される入力電源からの電力が変動してしまうと、ゲイン調整のやり直しが必要となってしまうばかりか、サーボアンプが動作不良を生じてしまうこともある。 By the way, if the power from the input power supply supplied to the servo amplifier fluctuates, not only will gain adjustment have to be redone, but the servo amplifier may malfunction.

このような電力変動に対処するものとして、特許文献1に示されているようなサーボアンプの制御ゲイン設定方法が知られている。この制御ゲイン設定方法は、サーボアンプによって駆動されるサーボモータにおいて、電流ループにステップ状の無効電流成分を供給し、電流ループから得られるステップ応答を求め、ステップ応答によりサーボアンプに入力される電圧を測定し、測定した電源電圧に対応する予め設定しておいた制御パラメータを用いることで、制御ゲインを設定する。 A control gain setting method for a servo amplifier as disclosed in Patent Document 1 is known as a method for coping with such power fluctuations. In this control gain setting method, in a servo motor driven by a servo amplifier, a step-like reactive current component is supplied to a current loop, a step response obtained from the current loop is obtained, and the voltage input to the servo amplifier is calculated based on the step response. is measured, and the control gain is set by using a preset control parameter corresponding to the measured power supply voltage.

特開平08-205569号公報JP-A-08-205569

ところが、特許文献1の制御ゲイン設定方法では、サーボアンプの稼働中において、電流ループにステップ状の無効電流成分を供給し、ステップ応答によりサーボアンプに入力される電圧を測定する必要がある。このため、サーボアンプの稼働開始前に、サーボアンプへの電力がサーボアンプの動作不良を起こさない状態にあるかどうかを確認できない。 However, in the control gain setting method of Patent Document 1, it is necessary to supply a step-like reactive current component to the current loop while the servo amplifier is in operation, and measure the voltage input to the servo amplifier based on the step response. Therefore, it cannot be confirmed whether the power to the servo amplifier is in a state that does not cause malfunction of the servo amplifier before the servo amplifier starts operating.

また、たとえばサーボアンプへの電力を、変圧器を介して供給するようにした場合、変圧器の変圧精度にバラツキ等があると、サーボアンプに供給される電力が変動してしまうこともある。 Further, for example, when power is supplied to a servo amplifier via a transformer, the power supplied to the servo amplifier may fluctuate if there is variation in the transformation accuracy of the transformer.

この場合、特許文献1の制御ゲイン設定方法のように、測定した電源電圧に対応する予め設定しておいた制御パラメータを用いることで、制御ゲインを適切に設定できるものと考えられる。ところが、変圧器の変圧精度のバラツキ等に対応した制御パラメータが予め設定されていなければ制御ゲインの設定を適切に行うことができず、制御パラメータの設定のし直しが必要となる。 In this case, it is considered that the control gain can be appropriately set by using a preset control parameter corresponding to the measured power supply voltage as in the control gain setting method of Patent Document 1. However, unless control parameters corresponding to variations in transformation accuracy of the transformer are set in advance, the control gain cannot be appropriately set, and the control parameters must be set again.

しかも、制御パラメータの設定のし直しを忘れたり、設定間違いを生じると、サーボアンプの動作不良が生じてしまうおそれがある。 In addition, if the control parameters are forgotten to be set again or are set incorrectly, the servo amplifier may malfunction.

本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、上記問題点を解消することができるサーボアンプ及び欠相判定方法を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a servo amplifier and an open phase determination method that can solve the above problems.

本発明のサーボアンプは、入力電源からの電力が一定の条件でサンプリングされた値を元に、第1の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する第1の解析部と、前記電力を前記一定の条件でサンプリングし、前記第1の解析部による解析結果が正常である場合は前記サンプリングした値から得られる第1の特性を含む第1の欠相波形を決定する欠相波形決定部と、前記第1の特性と、前記第1の欠相波形の決定後に前記一定の条件でサンプリングされた値から得られる第2の欠相波形の第2の特性とを比較し、前記第2の特性が前記第1の特性に対して第2の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する第2の解析部と、前記第1の欠相波形の決定後、前記電力を一定の条件でサンプリングし、前記第2の解析部による解析結果が前記第2の許容値からズレていない場合は正常と判定する欠相波形判定部と、前記欠相波形決定部が前記第1の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判断した場合と、前記欠相波形判定部が前記第2の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判定した場合とのそれぞれにおいて、エラーを報知するメイン制御部とを備えることを特徴とする。
また、前記一定の条件は、一定の閾値と一定のサンプリング周期とを含み、前記第1の特性は、第1の周波数及び第1のDutyを含み、前記第2の特性は、第2の周波数及び第2のDutyを含み、前記第1の許容値は、手動又は自動で設定された第3の周波数及び第3のDutyを含み、前記第2の許容値は、手動又は自動で設定された第4の周波数及び第4のDutyを含み、前記欠相波形決定部は、前記一定の閾値と前記一定のサンプリング周期とを用いて前記電力を2値化し、前記第1の解析部は、前記サンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの時間差に基づき、前記第1の周波数及び第1のDutyを求め、前記第1の周波数と第1のDutyの何れか又は全てが前記第3の周波数と第3のDutyの何れか又は全てからズレていないかどうかを解析し、前記欠相波形判定部は、前記一定の閾値と前記一定のサンプリング周期とを用いて前記電力を2値化し、前記第2の解析部は、前記サンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの時間差に基づき、前記第2の周波数及び第2のDutyを求め、前記の第2の周波数と第2のDutyの何れか又は全てが前記第4の周波数と第4のDutyの何れか又は全てからズレていないかどうかを解析することを特徴とする。
また、前記第3の周波数及び第3のDutyは、一定の範囲の値を有し、前記第4の周波数及び第4のDutyは、一定の範囲の値を有していることを特徴とする。
本発明の欠相判定方法は、第1の解析部により、入力電源からの電力が一定の条件でサンプリングされた値を元に、第1の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する工程と、欠相波形決定部により、前記電力を前記一定の条件でサンプリングし、前記第1の解析部による解析結果が正常である場合は前記サンプリングした値から得られる第1の特性を含む第1の欠相波形を決定する工程と、第2の解析部により、前記第1の特性と、前記第1の欠相波形の決定後に前記一定の条件でサンプリングされた値から得られる第2の欠相波形の第2の特性とを比較し、前記第2の特性が前記第1の特性に対して第2の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する工程と、欠相波形判定部により、前記第1の欠相波形の決定後、前記電力を一定の条件でサンプリングし、前記第2の解析部による解析結果が前記第2の許容値からズレていない場合は正常と判定する工程と、メイン制御部により、前記欠相波形決定部が前記第1の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判断した場合と、前記欠相波形判定部が前記第2の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判定した場合とのそれぞれにおいて、エラーを報知する工程とを有することを特徴とする。
また、前記一定の条件は、一定の閾値と一定のサンプリング周期とを含み、前記第1の特性は、第1の周波数及び第1のDutyを含み、前記第2の特性は、第2の周波数及び第2のDutyを含み、前記第1の許容値は、手動又は自動で設定された第3の周波数及び第3のDutyを含み、前記第2の許容値は、手動又は自動で設定された第4の周波数及び第4のDutyを含み、前記欠相波形決定部により、前記一定の閾値と前記一定のサンプリング周期とを用いて前記電力を2値化する工程と、前記第1の解析部により、前記サンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの間の時間に基づき、前記第1の周波数及び第1のDutyを求め、前記第1の周波数と第1のDutyの何れか又は全てが前記第3の周波数と第3のDutyの何れか又は全てからズレていないかどうかを解析する工程と、前記欠相波形判定部により、前記一定の閾値と前記一定のサンプリング周期とを用いて前記電力を2値化する工程と、前記第2の解析部により、前記サンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの間の時間に基づき、前記第2の周波数及び第2のDutyを求め、前記の第2の周波数と第2のDutyの何れか又は全てが前記第4の周波数と第4のDutyの何れか又は全てからズレていないかどうかを解析する工程とを含むことを特徴とする。
また、前記第3の周波数及び第3のDutyは、一定の範囲の値を有し、前記第4の周波数及び第4のDutyは、一定の範囲の値を有していることを特徴とする。
本発明のサーボアンプ及び欠相判定方法では、電力を一定の条件でサンプリングする欠相波形決定部が、第1の許容値に基づく第1の解析部の解析結果から、第1の欠相波形を決定する。また、欠電力を一定の条件でサンプリングする相波形判定部が、第1の欠相波形の決定後、第2の許容値に基づき、第1の欠相波形の第1の特性と第2の欠相波形の第2の特性とを比較する第2の解析部から、第2の欠相波形の正常又は異常を判定する。そして、メイン制御部が、欠相波形決定部が第1の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判断した場合と、欠相波形判定部が第2の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判定した場合とのそれぞれにおいて、エラーを報知する。
The servo amplifier of the present invention analyzes whether or not the power from the input power supply deviates from the first allowable value based on the values sampled under constant conditions, and outputs an error if it deviates. and a first open phase including a first characteristic obtained from the sampled value when the power is sampled under the constant condition and the analysis result by the first analysis unit is normal. A second open-phase waveform determination unit for determining a waveform, the first characteristic, and a second open-phase waveform obtained from values sampled under the constant condition after determination of the first open-phase waveform. a second analysis unit that compares the characteristics and analyzes whether the second characteristic deviates from the second allowable value with respect to the first characteristic, and outputs an error if deviated; , after determining the first open-phase waveform, the power is sampled under a certain condition, and if the analysis result by the second analysis unit does not deviate from the second allowable value, the open-phase is determined to be normal. When the waveform determination unit and the open phase waveform determination unit determine that there is an abnormality based on the error output from the first analysis unit, and the error output by the open phase waveform determination unit from the second analysis unit and a main control unit that notifies an error in each of the cases where it is determined that there is an abnormality based on the above.
Further, the constant condition includes a constant threshold value and a constant sampling period, the first characteristic includes a first frequency and a first duty, the second characteristic includes a second frequency and a second Duty, the first tolerance includes a manually or automatically set third frequency and a third Duty, the second tolerance is manually or automatically set Including a fourth frequency and a fourth duty, the open phase waveform determination unit binarizes the power using the constant threshold value and the constant sampling period, and the first analysis unit is the Based on the time difference between the timing at which the sampled value switches from LOW to HIGH and the timing at which it switches from HIGH to LOW, the first frequency and the first duty are obtained, and any one of the first frequency and the first duty Or analyze whether it is not shifted from any or all of the third frequency and the third Duty, and the open phase waveform determination unit uses the constant threshold value and the constant sampling period and the second analysis unit converts the second frequency and the second It is characterized by analyzing whether any or all of the second frequency and the second duty are deviated from any or all of the fourth frequency and the fourth duty do.
Further, the third frequency and the third duty have values within a certain range, and the fourth frequency and the fourth duty have values within a certain range. .
In the open phase determination method of the present invention, the first analysis unit analyzes whether or not the power from the input power supply deviates from the first allowable value based on the value sampled under constant conditions, a step of outputting an error if it is, and sampling the power under the constant condition by the open phase waveform determination unit, and obtaining from the sampled value when the analysis result by the first analysis unit is normal. a step of determining a first open-phase waveform including a first characteristic that is obtained; and a second analysis unit sampled under the constant condition after determining the first characteristic and the first open-phase waveform Compare with the second characteristic of the second open phase waveform obtained from the value obtained, and analyze whether the second characteristic deviates from the second allowable value with respect to the first characteristic, A step of outputting an error if there is a deviation, and after the first open-phase waveform is determined by the open-phase waveform determination unit, the power is sampled under a certain condition, and the analysis result by the second analysis unit is A step of determining that it is normal if it does not deviate from the second allowable value; and when the open-phase waveform determination unit determines that there is an abnormality based on the error output from the second analysis unit, the error is notified.
Further, the constant condition includes a constant threshold value and a constant sampling period, the first characteristic includes a first frequency and a first duty, the second characteristic includes a second frequency and a second Duty, the first tolerance includes a manually or automatically set third frequency and a third Duty, the second tolerance is manually or automatically set A step of binarizing the power using the constant threshold value and the constant sampling period by the open phase waveform determination unit, including a fourth frequency and a fourth duty, and the first analysis unit obtains the first frequency and the first duty based on the time between the timing at which the sampled value switches from LOW to HIGH and the timing at which the sampled value switches from HIGH to LOW; A step of analyzing whether any or all of the 1 Duty does not deviate from any or all of the third frequency and the third Duty, and by the open phase waveform determination unit, the constant threshold value and the a step of binarizing the power using a constant sampling period; Based on time, the second frequency and the second duty are obtained, and any or all of the second frequency and the second duty are from any or all of the fourth frequency and the fourth duty and a step of analyzing whether there is any deviation.
Further, the third frequency and the third duty have values within a certain range, and the fourth frequency and the fourth duty have values within a certain range. .
In the servo amplifier and the open phase determination method of the present invention, the open phase waveform determination unit that samples the power under a constant condition determines the first open phase waveform from the analysis result of the first analysis unit based on the first allowable value to decide. Further, the phase waveform determination unit that samples the missing power under a certain condition determines the first characteristic of the first missing phase waveform and the second characteristic of the first missing phase waveform based on the second allowable value after determining the first missing phase waveform. Normality or abnormality of the second open-phase waveform is determined from a second analysis unit that compares the second characteristic of the open-phase waveform. Then, the main control unit determines that the open phase waveform determination unit is abnormal based on the error output from the first analysis unit, and the open phase waveform determination unit based on the error output from the second analysis unit An error is reported in each of the cases where it is determined that there is an abnormality.

本発明のサーボアンプ及び欠相判定方法によれば、最初にサーボアンプの動作安定の指標となる第1の欠相波形を決定できるので、サーボアンプの稼働開始前に、サーボアンプの動作不良を起こさない状態にあるかどうかを確認できる。
また、手動又は自動で設定される、第1の許容値に基づき第1の欠相波形が決定され、第2の許容値に基づき第1の欠相波形と比較される第2の欠相波形の正常又は異常が判定されるので、サーボアンプのパラメータの設定を容易とすることができる。
また、第1の欠相波形の正常又は異常が判断され、第2の欠相波形の正常又は異常が判定されるので、パラメータの設定のし忘れを防止でき、さらには入力電源の変動に伴うサーボアンプの動作不良を確実に回避することができる。
According to the servo amplifier and the open-phase determination method of the present invention, the first open-phase waveform, which serves as an index of the stability of the operation of the servo amplifier, can be determined first. You can check whether it is in a state where it does not wake up.
A second open-phase waveform is determined based on a first tolerance set manually or automatically and is compared with the first open-phase waveform based on a second tolerance. is determined to be normal or abnormal, it is possible to easily set the parameters of the servo amplifier.
In addition, the normality or abnormality of the first open-phase waveform is determined, and the normality or abnormality of the second open-phase waveform is determined. Malfunction of the servo amplifier can be reliably avoided.

本発明のサーボアンプの一実施形態を説明するための図である。1 is a diagram for explaining an embodiment of a servo amplifier of the present invention; FIG. 図1のサーボアンプによる単相の入力電圧に対する波形解析の一例について説明するためのものであり、図2(a)は整流前の入力電圧を示す図であり、図2(b)は入力電圧の全波整流を示す図であり、図2(c)は図2(b)の入力電圧に対するサンプリング波形を示す図である。It is for explaining an example of waveform analysis for a single-phase input voltage by the servo amplifier of FIG. 1, FIG. 2(a) is a diagram showing the input voltage before rectification, and FIG. 2(c) is a diagram showing a sampling waveform for the input voltage of FIG. 2(b). 図1のサーボアンプによる三相の入力電圧に対する波形解析の一例について説明するためのものであり、図3(a)は入力電圧の全波整流を示す図であり、図3(b)はL1相のサンプリング波形を示す図であり、図3(c)はL2相のサンプリング波形を示す図であり、図3(d)はL3相のサンプリング波形を示す図であり、図3(e)はL1~L3相を合成したサンプリング波形を示す図である。It is for explaining an example of waveform analysis for a three-phase input voltage by the servo amplifier of FIG. 1, FIG. Fig. 3(c) is a diagram showing a sampling waveform of the L2 phase; Fig. 3(d) is a diagram showing a sampling waveform of the L3 phase; FIG. 4 is a diagram showing sampling waveforms obtained by synthesizing L1 to L3 phases; 図1の入力電源からの電力の変動の具体的な事象の一例について説明するものであり、図4(a)は正常波形を示す図であり、図4(b)は周波数がズレた波形の一例を示す図であり、図4(c)は振幅がズレた波形の一例を示す図である。An example of a specific event of power fluctuation from the input power supply in FIG. 1 will be described. FIG. 4A is a diagram showing a normal waveform, and FIG. It is a figure which shows an example, and FIG.4(c) is a figure which shows an example of the waveform which amplitude shifted. 図1のサーボアンプによるマスタ欠相波形決定処理の一例について説明するためのフローチャートである。2 is a flowchart for explaining an example of master open-phase waveform determination processing by the servo amplifier of FIG. 1; 図1のサーボアンプによるマスタ欠相波形解析処理の一例について説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining an example of master open-phase waveform analysis processing by the servo amplifier of FIG. 1; 図1のサーボアンプによるポーリング欠相波形判定処理の一例について説明するためのフローチャートである。2 is a flowchart for explaining an example of polling open-phase waveform determination processing by the servo amplifier of FIG. 1; 図1のサーボアンプによるポーリング欠相波形解析処理の一例について説明するためのフローチャートである。2 is a flowchart for explaining an example of polling open-phase waveform analysis processing by the servo amplifier of FIG. 1;

以下、本発明のサーボアンプの一実施形態を、図1~図8を参照しながら説明する。なお、以下の説明において、マスタ欠相波形とは、たとえば後述のサーボアンプ100の稼働開始前に、後述のマスタ欠相波形決定部114によって決定される波形であり、サーボアンプ100の動作安定の指標となるものである。このマスタ欠相波形が決定されることで、サーボアンプ100の稼働開始前に、入力電源200がサーボアンプ100の動作不良を起こさない状態にあるかどうかを確認できる。また、ポーリング欠相波形とは、マスタ欠相波形決定部114によるマスタ欠相波形の決定後である、サーボアンプ100の稼働開始後に、後述のポーリング欠相波形判定部116により、マスタ欠相波形との比較に用いられるための波形である。 An embodiment of the servo amplifier of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 8. FIG. In the following description, the master open-phase waveform is a waveform determined by a master open-phase waveform determination unit 114 described later, for example, before the start of operation of the servo amplifier 100 described later. It is an index. By determining this master open-phase waveform, it is possible to confirm whether or not the input power supply 200 is in a state that does not cause malfunction of the servo amplifier 100 before the servo amplifier 100 starts operating. Further, the polling open phase waveform refers to the master open phase waveform determined by the polling open phase waveform determination unit 116 described later after the start of operation of the servo amplifier 100, which is after the master open phase waveform is determined by the master open phase waveform determination unit 114. It is a waveform for use in comparison with .

また、以下の説明において、
(第1の欠相波形)・・・マスタ欠相波形
(第2の欠相波形)・・・ポーリング欠相波形
(第1の特性)・・・マスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)及びパルス幅(第1のDuty)を含む(単相及び三相共通)。
(第2の特性)・・・ポーリング欠相波形の周波数(第2の周波数)及びパルス幅(第2のDuty)を含む(単相及び三相共通)。
(第1の許容値)・・・サーボアンプ100の稼働開始前に、手動又は自動で設定される周波数(第3の周波数)及びDuty(第3のDuty)を含む(単相及び三相共通)。
(第2の許容値)・・・サーボアンプ100の稼働開始後に、手動又は自動で設定される周波数(第4の周波数)及びDuty(第4のDuty)を含む(単相及び三相共通)。
となっている。
Also, in the following description,
(first open-phase waveform) ... master open-phase waveform (second open-phase waveform) ... polling open-phase waveform (first characteristic) ... frequency of master open-phase waveform (first frequency ) and pulse width (first duty) (single-phase and three-phase common).
(Second characteristic) . . . includes frequency (second frequency) and pulse width (second duty) of polling open-phase waveform (single-phase and three-phase common).
(First permissible value) . ).
(Second allowable value) . . . including the frequency (fourth frequency) and duty (fourth duty) set manually or automatically after the servo amplifier 100 starts operating (single-phase and three-phase common) .
It has become.

まず、図1に示すように、サーボアンプ100は、メイン制御部110を有している。メイン制御部110には、データバス等の信号線111を介し、単相/三相設定部112、マスタ欠相波形解析部113、マスタ欠相波形決定部114、ポーリング欠相波形解析部115、ポーリング欠相波形判定部116、モニター制御部117が接続されている。また、サーボアンプ100には、入力電源200(たとえば200V)に接続される端子L1、端子L2、端子L3と、モータ300に接続される端子U、端子V、端子Wを有している。なお、入力電源200としては、商用電源であってもよいし、商用電源とサーボアンプ100との間に介在され、商用電源からの電力を変圧する変圧器であってもよい。 First, as shown in FIG. 1, the servo amplifier 100 has a main control section 110 . The main control unit 110 includes a single-phase/three-phase setting unit 112, a master open-phase waveform analysis unit 113, a master open-phase waveform determination unit 114, a polling open-phase waveform analysis unit 115, and a A polling open phase waveform determination unit 116 and a monitor control unit 117 are connected. The servo amplifier 100 also has terminals L 1 , L 2 , and L 3 connected to an input power source 200 (for example, 200 V), and terminals U, V, and W connected to the motor 300 . The input power supply 200 may be a commercial power supply, or may be a transformer interposed between the commercial power supply and the servo amplifier 100 to transform power from the commercial power supply.

メイン制御部110は、各部の連携動作を制御する。また、メイン制御部110は、マスタ欠相波形決定部114がマスタ欠相波形解析部113より出力されたエラーに基づき異常と判断した場合と、ポーリング欠相波形判定部116がポーリング欠相波形解析部115より出力されたエラーに基づき異常と判定した場合とのそれぞれにおいて、モニター制御部117に対してエラー報知を指示する。 The main control unit 110 controls cooperative operations of each unit. Further, the main control unit 110 determines that the master open phase waveform determination unit 114 is abnormal based on the error output from the master open phase waveform analysis unit 113, and the polling open phase waveform determination unit 116 analyzes the polling open phase waveform. The monitor control unit 117 is instructed to notify the error in each of the cases where it is determined that there is an abnormality based on the error output from the unit 115 .

単相/三相設定部112は、端子L1、端子L2、端子L3の何れか又は全ての端子L1~L3を介して得られる入力電圧を検知し、入力電圧が単相であるか三相であるかを設定する。なお、単相/三相設定部112は、入力電圧に限らず、入力電流を検知し、単相か三相かを設定してもよい。 The single-phase/three-phase setting unit 112 detects the input voltage obtained via any one of the terminals L1, L2, and L3 or all of the terminals L1 to L3, and determines whether the input voltage is single-phase or three-phase. set whether Note that the single-phase/three-phase setting unit 112 may detect the input current instead of the input voltage and set single-phase or three-phase.

マスタ欠相波形解析部113は、サーボアンプ100の稼働開始前に、入力電源200からの電力である交流電圧に対し、後述のマスタ欠相波形決定部114により一定の条件でサンプリングされた値を元に、第1の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する。なお、マスタ欠相波形解析部113による解析においては、後述のマスタ欠相波形決定部114によってサンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの時間差に基づき、マスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)及びパルス幅(第1のDuty)を求める。そして、マスタ欠相波形解析部113は、求めた第1の周波数と第1のDutyの何れか又は全てがサーボアンプ100の稼働開始前に、手動又は自動で設定される周波数(第3の周波数)及びDuty(第3のDuty)の何れか又は全てからズレていないかどうかを解析する。 Before the start of operation of the servo amplifier 100, the master open-phase waveform analysis unit 113 obtains a value sampled under certain conditions by the master open-phase waveform determination unit 114, which will be described later, from the AC voltage, which is the power from the input power supply 200. Based on this, it is analyzed whether or not there is a deviation from the first allowable value, and if there is a deviation, an error is output. In the analysis by the master open phase waveform analysis unit 113, the master A frequency (first frequency) and a pulse width (first duty) of an open-phase waveform are obtained. Then, the master open-phase waveform analysis unit 113 determines whether one or all of the obtained first frequency and first duty is a manually or automatically set frequency (third frequency ) and Duty (third duty), or whether there is any deviation from all or not.

なお、入力電源200との間に図示しない変圧器を介在させた場合は、変圧器からの交流電圧に対し、同様に、マスタ欠相波形決定部114により一定の条件でサンプリングされた値を元に、第1の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する。 When a transformer (not shown) is interposed between the input power supply 200 and the AC voltage from the transformer, similarly, the value sampled under a certain condition by the master open-phase waveform determination unit 114 is used as the basis. Then, it analyzes whether it deviates from the first allowable value, and outputs an error if it deviates.

ここで、一定の条件とは、一定の閾値(たとえば100V)と一定のサンプリング周期(たとえば400usec)とを含む。一定の閾値と一定のサンプリング周期とは、適宜変更可能である。また、第1の許容値とは、サーボアンプ100の稼働開始前に、手動又は自動で設定された周波数(第3の周波数)及びDuty(第3のDuty)を含む。なお、ここでは、サンプリングされた値が交流電圧を元にしているが、交流電圧に限らず交流電流を元にしてもよい。また、一定の閾値(たとえば100V)は、100Vに限らず、任意に設定してもよい。また、サンプリング周期(たとえば400usec)は、400usecに限らず交流電流を元にしてもよい。 Here, the constant conditions include a constant threshold value (eg, 100 V) and a constant sampling period (eg, 400 usec). The fixed threshold value and the fixed sampling period can be changed as appropriate. Also, the first allowable value includes the frequency (third frequency) and duty (third duty) manually or automatically set before the servo amplifier 100 starts operating. Although the sampled values are based on the AC voltage here, they may be based on the AC current instead of the AC voltage. Also, the constant threshold value (for example, 100V) is not limited to 100V and may be set arbitrarily. Also, the sampling period (for example, 400 usec) is not limited to 400 usec, and may be based on alternating current.

また、第1の許容値は、サーボアンプ100の稼働開始前に、手動又は自動で設定された周波数(第3の周波数)及びDuty(第3のDuty)を含む。ここでの周波数(第3の周波数)は、マスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)に対する許容ズレ量をパーセンテージで表したものである。また、Duty(第3のDuty)は、マスタ欠相波形のパルス幅(第1のDuty)に対する許容ズレ量をパーセンテージで表したものである。すなわち、第1の許容値は、後述のマスタ欠相波形決定部114が一定のサンプリングしたパルス波形に対して許容するズレ量(たとえば10%)を意味する。 Also, the first allowable value includes a frequency (third frequency) and a duty (third duty) manually or automatically set before the servo amplifier 100 starts operating. Here, the frequency (third frequency) represents the allowable deviation amount with respect to the frequency (first frequency) of the master open-phase waveform in percentage. Duty (third duty) is a percentage of the allowable shift amount with respect to the pulse width (first duty) of the master open-phase waveform. That is, the first allowable value means an amount of deviation (for example, 10%) that the master open-phase waveform determining unit 114 (to be described later) allows for a constant sampled pulse waveform.

なお、第1の許容値は、一定の範囲を持たせた値(たとえば10~20%)であってもよいし、一定の範囲を持たない値であってもよい。一定の範囲を持たない値の場合は、周波数及びDutyの許容値の最大値(たとえば20%)、最小値(たとえば10%)、平均値(たとえば15%)のいずれかであってもよい。 The first allowable value may be a value with a certain range (for example, 10 to 20%), or may be a value without a certain range. If the value does not have a fixed range, it may be the maximum value (eg 20%), the minimum value (eg 10%) or the average value (eg 15%) of the allowable values of the frequency and duty.

また、マスタ欠相波形解析部113による解析において、入力電源200からの電力の変動にあっては、落雷や台風等の自然災害が考えられる。一方、図示しない変圧器からの電力の変動にあっては、変圧器の変圧精度のバラツキ等が考えられる。これらの電力の変動の具体的な事象の一例としては、図4(a)に示す正常波形に対し、図4(b)に示すような周波数のズレや、図4(c)に示すような振幅のズレが考えられる。 In addition, in the analysis by the master open-phase waveform analysis unit 113, fluctuations in power from the input power supply 200 can be caused by natural disasters such as lightning strikes and typhoons. On the other hand, fluctuations in power from a transformer (not shown) may be due to variations in the transformer's transformation precision. As a specific example of these power fluctuations, there is a frequency deviation as shown in FIG. 4(b) with respect to the normal waveform shown in FIG. Amplitude deviation is considered.

マスタ欠相波形決定部114は、サーボアンプ100の稼働開始前に、単相を示す図2(b)、三相を示す図3(a)のように、入力電源200からの交流電圧を全波整流し、上述した一定の条件でサンプリングして2値化し、図2(c)、図3(e)のようなパルス波形を出力する。なお、パルス波形の電圧は、たとえば5Vとなっている。また、図2(c)に示すa~eは、マスタ欠相波形決定部114のサンプリングによって得られるパルスの立ち上がりと立ち下りに相当する変化点を示すものであるが、その詳細については後述する。 Before the start of operation of the servo amplifier 100, the master open-phase waveform determining unit 114 completely removes the AC voltage from the input power supply 200 as shown in FIG. 2B showing a single phase and FIG. Wave rectification is performed, sampling is performed under the constant conditions described above, binarization is performed, and pulse waveforms such as those shown in FIGS. 2(c) and 3(e) are output. Note that the voltage of the pulse waveform is, for example, 5V. In addition, a to e shown in FIG. 2(c) show change points corresponding to the rise and fall of the pulse obtained by sampling of the master open phase waveform determination unit 114, the details of which will be described later. .

また、マスタ欠相波形決定部114は、マスタ欠相波形解析部113による解析結果が正常である場合、サンプリングした値から得られる第1の特性を含むマスタ欠相波形を決定する。第1の特性は、マスタ欠相波形決定部114がサンプリングした値から得られるマスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)及びパルス幅(第1のDuty)を含む。 Further, when the analysis result by the master open phase waveform analysis unit 113 is normal, the master open phase waveform determination unit 114 determines the master open phase waveform including the first characteristic obtained from the sampled values. The first characteristic includes the frequency (first frequency) and pulse width (first duty) of the master open-phase waveform obtained from the values sampled by the master open-phase waveform determination unit 114 .

ここで、マスタ欠相波形決定部114は、交流電圧がたとえば図2(a)に示すような単相である場合、図2(b)に示すように、交流電圧を全波整流する。また、マスタ欠相波形決定部114は、上述した一定の閾値(たとえば100V)と一定のサンプリング周期(たとえば400usec)とを含む一定の条件でサンプリングすることで、図2(c)に示すようなパルス波形を得る。 Here, when the AC voltage is single-phase as shown in FIG. 2(a), the master open-phase waveform determining unit 114 performs full-wave rectification of the AC voltage as shown in FIG. 2(b). Further, the master open-phase waveform determining unit 114 performs sampling under certain conditions including the above-mentioned certain threshold value (for example, 100 V) and a certain sampling period (for example, 400 usec), as shown in FIG. Get the pulse waveform.

また、マスタ欠相波形決定部114は、交流電圧が三相である場合、図3(a)に示すように、交流電圧を全波整流する。また、マスタ欠相波形決定部114は、上述した一定の条件でサンプリングすることで、図3(e)に示すパルス波形を得る。このパルス波形は、図3(b)に示すL1相のパルス波形と、図3(c)に示すL2相のパルス波形と、図3(d)に示すL3相のパルス波形とを含む。なお、マスタ欠相波形決定部114は、交流電圧を全波整流しているが、交流電流を全波整流してもよい。また、マスタ欠相波形決定部114は、交流電圧を全波整流しているが、交流電圧を半波整流してもよい。 Further, when the AC voltage is three-phase, the master open-phase waveform determining unit 114 performs full-wave rectification of the AC voltage as shown in FIG. 3(a). Moreover, the master open-phase waveform determining unit 114 obtains the pulse waveform shown in FIG. The pulse waveforms include the L1-phase pulse waveform shown in FIG. 3(b), the L2-phase pulse waveform shown in FIG. 3(c), and the L3-phase pulse waveform shown in FIG. 3(d). Note that the master open-phase waveform determining unit 114 performs full-wave rectification of the AC voltage, but may also perform full-wave rectification of the AC current. Further, the master open-phase waveform determination unit 114 performs full-wave rectification of the AC voltage, but may also perform half-wave rectification of the AC voltage.

ポーリング欠相波形解析部115は、上記のマスタ欠相波形(第1の欠相波形)が決定された後(サーボアンプ100の稼働開始後)、上記のマスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)及びパルス幅(第1のDuty)を含む第1の特性と、上記の一定のサンプリング周期(たとえば400usec)とを含む一定の条件を元に、後述のポーリング欠相波形判定部116によってサンプリングされた値から得られるポーリング欠相波形の周波数(第2の周波数)及びパルス幅(第2のDuty)を含む第2の特性とを比較する。 After the master open-phase waveform (first open-phase waveform) is determined (after the servo amplifier 100 starts operating), the polling open-phase waveform analysis unit 115 determines the frequency of the master open-phase waveform (first frequency) and pulse width (first duty), and the above constant sampling period (for example, 400 usec), based on certain conditions including the above-mentioned constant sampling period Sampling by the polling open phase waveform determination unit 116 described later The second characteristics including the frequency (second frequency) and pulse width (second duty) of the poling open-phase waveform obtained from the obtained values are compared.

なお、ポーリング欠相波形解析部115による解析においては、後述のポーリング欠相波形判定部116によってサンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの時間差に基づき、ポーリング欠相波形の周波数(第2の周波数)及びパルス幅(第2のDuty)を求める。そして、ポーリング欠相波形解析部115は、求めた第2の周波数と第2のDutyの何れか又は全てがサーボアンプ100の稼働開始後に、手動又は自動で設定される周波数(第4の周波数)及びDuty(第4のDuty)の何れか又は全てからズレていないかどうかを解析する。 In addition, in the analysis by the polling open phase waveform analysis unit 115, based on the time difference between the timing at which the value sampled by the polling open phase waveform determination unit 116 (to be described later) switches from LOW to HIGH and the timing at which it switches from HIGH to LOW, polling The frequency (second frequency) and pulse width (second duty) of the open-phase waveform are obtained. Then, the polling open-phase waveform analysis unit 115 determines that one or all of the obtained second frequency and second duty is a frequency (fourth frequency) that is manually or automatically set after the servo amplifier 100 starts operating. and duty (fourth duty).

また、ポーリング欠相波形解析部115は、第1の特性に対しての第2の特性のズレ量が第2の許容値内であるかどうかを解析し、第2の許容値内でなければエラーを出力する。なお、エラーの出力は、マスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)に対するポーリング欠相波形の周波数(第2の周波数)の比較結果が第2の許容値内でない場合、マスタ欠相波形のパルス幅(第1のDuty)に対するポーリング欠相波形のパルス幅(第2のDuty)の比較結果が第2の許容値内でない場合の何れか又は両方となっている。 In addition, the polling open phase waveform analysis unit 115 analyzes whether the amount of deviation of the second characteristic with respect to the first characteristic is within the second allowable value, and if it is not within the second allowable value Output an error. If the comparison result of the frequency (second frequency) of the polling open-phase waveform with respect to the frequency (first frequency) of the master open-phase waveform is not within the second allowable value, the error output is the master open-phase waveform Either or both of the cases where the comparison result of the pulse width (second duty) of the polling open-phase waveform with respect to the pulse width (first duty) is not within the second allowable value.

なお、第2の許容値は、サーボアンプ100の稼働開始後に、手動又は自動で設定された周波数(第3の周波数)及びDuty(第3のDuty)を含む。ここでの周波数(第3の周波数)は、上記同様に、マスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)に対する許容ズレ量をパーセンテージで表したものである。また、Duty(第3のDuty)は、マスタ欠相波形のパルス幅(第1のDuty)に対する許容ズレ量をパーセンテージで表したものである。 The second allowable value includes the frequency (third frequency) and duty (third duty) manually or automatically set after the servo amplifier 100 starts operating. Here, the frequency (third frequency) is, similarly to the above, the permissible amount of deviation with respect to the frequency (first frequency) of the master open-phase waveform expressed in percentage. Duty (third duty) is a percentage of the allowable shift amount with respect to the pulse width (first duty) of the master open-phase waveform.

周波数(第3の周波数)及びDuty(第3のDuty)においては、上記同様に、一定の範囲を持たせた値であってもよいし、一定の範囲を持たない値であってもよい。一定の範囲を持たない値の場合は、周波数及びDutyの最大値、最小値、平均値のいずれかであってもよい The frequency (third frequency) and duty (third duty) may be values with a certain range or values without a certain range, as described above. If the value does not have a fixed range, it may be either the maximum value, minimum value, or average value of frequency and duty.

ポーリング欠相波形判定部116は、上記のマスタ欠相波形が決定された後である、サーボアンプ100の稼働開始中に、上記の交流電圧を上記の一定の条件でサンプリングして2値化し、ポーリング欠相波形解析部115による解析結果が第2の許容値からズレていない場合は波形正常と判定する。 The polling open-phase waveform determination unit 116 samples and binarizes the AC voltage under the above-described constant conditions during the start of operation of the servo amplifier 100 after the master open-phase waveform is determined, If the analysis result by the polling open phase waveform analysis unit 115 does not deviate from the second allowable value, the waveform is determined to be normal.

モニター制御部117には、モニター120が接続されている。モニター制御部117は、メイン制御部110からエラー報知の指示を受け取ると、モニター120にエラーを報知する。報知内容としては、たとえば電圧変動により、サーボアンプ100の動作不良が発生するおそれがある、といったような表示であってもよい。いずれにしても、報知内容は、ユーザーにサーボアンプ100の動作不良が発生するおそれがあることを知らせることができればよい。また、エラーの報知にあっては、ブザーによる警告音によってユーザーに知らせるようにしてもよい。 A monitor 120 is connected to the monitor control unit 117 . When the monitor control unit 117 receives an error notification instruction from the main control unit 110, the monitor control unit 117 notifies the monitor 120 of the error. The content of the notification may be, for example, an indication that the servo amplifier 100 may malfunction due to voltage fluctuation. In any case, the content of the notification should be able to inform the user that there is a possibility that the servo amplifier 100 may malfunction. In addition, when an error is notified, the user may be informed of the error by a warning sound generated by a buzzer.

次に、図5を参照し、マスタ欠相波形決定処理について説明する。なお、以下の説明において、2値化した値に基づく判断は、説明の都合上、負論理に基づくものとなっている。 Next, with reference to FIG. 5, the master open-phase waveform determination process will be described. In the following explanation, the judgment based on the binarized value is based on negative logic for convenience of explanation.

(ステップS101)
マスタ欠相波形決定部114は、サーボアンプ100の電源が投入されると、メイン制御部110の指示により、図示しないメモリにセットされているN(サンプリングによる単相の変化を示す値)と、M(サンプリングによる三相の変化を示す値)とをそれぞれ初期化する。
(Step S101)
When the power supply of the servo amplifier 100 is turned on, the master open-phase waveform determination unit 114, according to the instruction of the main control unit 110, N set in a memory (not shown) (a value indicating a single phase change by sampling), and M (values indicating changes in three phases by sampling) are initialized.

(ステップS102)
マスタ欠相波形決定部114は、各相電圧を全波整流し、2値化した値を図示しないメモリにセットする。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、交流電圧が図2(a)のような単相の場合、入力電源200からの交流電圧を図2(b)に示したように全波整流し、上述した一定の閾値(たとえば100V)を元に、一定のサンプリング周期(たとえば400usec)でサンプリングし、2値化した値を図示しないメモリにセットする。
また、マスタ欠相波形決定部114は、三相の場合、入力電源200からの交流電圧を図3(a)に示したように全波整流し、上述した一定の閾値(たとえば100V)を元に、一定のサンプリング周期(たとえば400usec)でサンプリングし、2値化した値を図示しないメモリにセットする。
(Step S102)
The master open-phase waveform determining unit 114 full-wave rectifies each phase voltage and sets the binarized value in a memory (not shown).
In this case, if the AC voltage is single-phase as shown in FIG. , sampling is performed at a constant sampling period (eg, 400 usec) based on the aforementioned constant threshold value (eg, 100 V), and the binarized value is set in a memory (not shown).
In the case of three phases, the master open-phase waveform determination unit 114 performs full-wave rectification of the AC voltage from the input power supply 200 as shown in FIG. Then, sampling is performed at a constant sampling period (for example, 400 usec), and the binarized value is set in a memory (not shown).

(ステップS103)
マスタ欠相波形決定部114は、前回と今回の電圧レベルに変化があるかどうかを判断する。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、たとえばサンプリングした値が0で、この次にサンプリングした値が1あれば、電圧レベルに変化があると判断し(ステップS103:Yes)、ステップS104に移行する。
これに対し、マスタ欠相波形決定部114は、たとえばサンプリングした値が0で、この次にサンプリングした値が0あれば、電圧レベルに変化がないと判断し(ステップS103:No)、ステップS110に移行する。
なお、マスタ欠相波形決定部114は、サンプリングした値が1で、この次にサンプリングした値が1あれば、同様に、電圧レベルに変化がないと判断する。
(Step S103)
The master open-phase waveform determination unit 114 determines whether there is a change in voltage level between the previous time and this time.
In this case, the master open phase waveform determination unit 114, for example, if the sampled value is 0 and the next sampled value is 1, it determines that there is a change in the voltage level (step S103: Yes), and proceeds to step S104. Transition.
On the other hand, if the sampled value is 0 and the next sampled value is 0, for example, the master open phase waveform determination unit 114 determines that the voltage level does not change (step S103: No), and step S110. transition to
Note that if the sampled value is 1 and the next sampled value is 1, the master open phase waveform determination unit 114 similarly determines that the voltage level has not changed.

(ステップS104)
マスタ欠相波形決定部114は、図示しないリングバッファの配列において、単相の変化を示すNに1を記録する(N=1とする)。
(Step S104)
The master open-phase waveform determination unit 114 records 1 in N, which indicates a single-phase change, in the arrangement of a ring buffer (not shown) (N=1).

(ステップS105)
マスタ欠相波形決定部114は、N≧5であるかどうかを判断する。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、Nが5未満である場合、N≧5ではないと判断し(ステップS105:No)、ステップS102に移行する。
これに対し、マスタ欠相波形決定部114は、Nが5以上の場合、N≧5であると判断し(ステップS105:Yes)、ステップS106に移行する。
ここで、Nが5とは、図2(c)に示したように、たとえばマスタ欠相波形決定部114のサンプリングによって得られるパルスの立ち上がりと立ち下りとを示す5個のa~e(変化点)に相当する。なお、マスタ欠相波形決定部114は、Nが5以上かどうかを判断しているが、Nが5を上回る値以上で判断してもよい。
(Step S105)
The master open phase waveform determining unit 114 determines whether N≧5.
In this case, when N is less than 5, the master open-phase waveform determining unit 114 determines that N≧5 is not true (step S105: No), and proceeds to step S102.
On the other hand, when N is 5 or more, the master open-phase waveform determining unit 114 determines that N≧5 (step S105: Yes), and proceeds to step S106.
Here, when N is 5, as shown in FIG. 2(c), five a to e (variation point). Note that the master open-phase waveform determining unit 114 determines whether N is 5 or more, but may also determine if N exceeds 5 or more.

(ステップS106)
マスタ欠相波形解析部113は、マスタ欠相波形を解析する。
なお、マスタ欠相波形解析部113によるマスタ欠相波形の解析の詳細については、後述の図6で説明する。
(Step S106)
The master open-phase waveform analysis unit 113 analyzes the master open-phase waveform.
The details of the analysis of the master open-phase waveform by the master open-phase waveform analysis unit 113 will be described later with reference to FIG.

(ステップS107)
マスタ欠相波形決定部114は、マスタ欠相波形の解析結果が正常であるかどうかを判断する。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、後述するマスタ欠相波形解析部113が一定の条件でサンプリングした値から得られる周波数及びDutyが共に許容値内であると解析すると、マスタ欠相波形の解析結果が正常であると判断し(ステップS107:Yes)、ステップS108に移行する。
これに対し、マスタ欠相波形決定部114は、後述するマスタ欠相波形解析部113が一定の条件でサンプリングした値から得られる周波数及びDutyの何れか一方又は全てが許容値内ではないと解析し、エラーを出力すると、マスタ欠相波形の解析結果が正常ではないと判断し(ステップS107:No)、ステップS109に移行する。
(Step S107)
The master open-phase waveform determination unit 114 determines whether the analysis result of the master open-phase waveform is normal.
In this case, the master open phase waveform determination unit 114 analyzes that both the frequency and the duty obtained from the values sampled under certain conditions by the master open phase waveform analysis unit 113 described later are within the allowable value, the master open phase waveform is normal (step S107: Yes), and the process proceeds to step S108.
On the other hand, the master open phase waveform determination unit 114 analyzes that one or all of the frequency and duty obtained from the values sampled under certain conditions by the master open phase waveform analysis unit 113, which will be described later, is not within the allowable value. If an error is output, it is determined that the analysis result of the master open phase waveform is not normal (step S107: No), and the process proceeds to step S109.

(ステップS108)
マスタ欠相波形決定部114は、単相のマスタ欠相波形を決定する。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、一定の条件でサンプリングした値から得られる周波数及びDutyを有する波形を単相のマスタ欠相波形として決定し、後述するマスタ欠相波形解析部113が決定したマスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)及びパルス幅(第1のDuty)を第1の特性として図示しないメモリに記憶する。
(Step S108)
The master open-phase waveform determining unit 114 determines a single-phase master open-phase waveform.
In this case, the master open-phase waveform determination unit 114 determines a waveform having a frequency and duty obtained from values sampled under certain conditions as a single-phase master open-phase waveform, and the master open-phase waveform analysis unit 113 described later The determined frequency (first frequency) and pulse width (first duty) of the master open-phase waveform are stored in a memory (not shown) as first characteristics.

(ステップS109)
メイン制御部110は、ステップS107において、マスタ欠相波形決定部114が後述するマスタ欠相波形解析部113が周波数及びDutyの何れか一方又は全てが許容値内ではないと解析した場合に出力するエラーを元にマスタ欠相波形の解析結果が正常ではないと判断すると、モニター制御部117を介し、モニター120にエラーを報知させる。
(Step S109)
In step S107, the main control unit 110 outputs when the master open phase waveform determination unit 114 analyzes that the master open phase waveform analysis unit 113 described later does not have one or all of the frequency and duty within the allowable value When it is determined that the analysis result of the master open-phase waveform is not normal based on the error, the monitor 120 is made to report the error via the monitor control unit 117 .

(ステップS110)
マスタ欠相波形決定部114は、電圧レベルがLOWかどうかを判断する。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、図3(e)に示したように、サンプリングした値が全て1である場合、負論理により電圧レベルがLOWであると判断し(ステップS110:Yes)、ステップS111に移行する。
これに対し、マスタ欠相波形決定部114は、ステップS103において、サンプリングした値が0で、この次にサンプリングした値が0あれば、負論理により電圧レベルがHIGHであると判断し(ステップS110:No)、ステップS112に移行する。
(Step S110)
The master open phase waveform determination unit 114 determines whether the voltage level is LOW.
In this case, as shown in FIG. 3E, the master open phase waveform determination unit 114 determines that the voltage level is LOW by negative logic when all the sampled values are 1 (step S110: Yes ), the process proceeds to step S111.
On the other hand, if the sampled value is 0 in step S103 and the next sampled value is 0, the master open phase waveform determining unit 114 determines that the voltage level is HIGH by negative logic (step S110 : No), the process proceeds to step S112.

(ステップS111)
マスタ欠相波形決定部114は、LOWをカウントする。
(Step S111)
The master open phase waveform determination unit 114 counts LOW.

(ステップS112)
マスタ欠相波形決定部114は、HIGHをカウントする。
(Step S112)
The master open phase waveform determination unit 114 counts HIGH.

(ステップS113)
マスタ欠相波形決定部114は、LOWカウント値とHIGHカウント値の合計数であるMが規定回数(たとえば200)より大きいかどうかを判断する。なお、規定回数は、200に限定されるものではなく、任意に変更可能である。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、LOWカウント値とHIGHカウント値の合計数であるMが規定回数より大きいと判断すると(ステップS113:Yes)、ステップS114に移行する。
これに対し、マスタ欠相波形決定部114は、LOWカウント値とHIGHカウント値の合計数であるMが規定回数より大きくない判断すると(ステップS113:No)、ステップS102に移行する。
(Step S113)
The master open-phase waveform determining unit 114 determines whether M, which is the total number of LOW count values and HIGH count values, is greater than a specified number of times (eg, 200). Note that the specified number of times is not limited to 200, and can be changed arbitrarily.
In this case, when the master open phase waveform determination unit 114 determines that M, which is the total number of the LOW count value and the HIGH count value, is larger than the specified number of times (step S113: Yes), the process proceeds to step S114.
On the other hand, when the master open-phase waveform determining unit 114 determines that M, which is the total number of the LOW count value and the HIGH count value, is not larger than the specified number of times (step S113: No), the process proceeds to step S102.

(ステップS114)
マスタ欠相波形決定部114は、LOWカウント値がHIGHカウント値より大きいかどうかを判断する。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、LOWカウント値がHIGHカウント値より大きいと判断すると(ステップS114:Yes)、ステップS115に移行する。
これに対し、マスタ欠相波形決定部114は、LOWカウント値がHIGHカウント値より大きくないと判断すると(ステップS114:No)、ステップS116に移行する。
LOWカウント値がHIGHカウント値より大きくない場合とは、欠相が生じていることを意味している。
(Step S114)
The master open-phase waveform determination unit 114 determines whether the LOW count value is greater than the HIGH count value.
In this case, when the master open-phase waveform determination unit 114 determines that the LOW count value is greater than the HIGH count value (step S114: Yes), the process proceeds to step S115.
On the other hand, when the master open-phase waveform determination unit 114 determines that the LOW count value is not greater than the HIGH count value (step S114: No), the process proceeds to step S116.
If the LOW count value is not greater than the HIGH count value, it means that an open phase has occurred.

(ステップS115)
マスタ欠相波形決定部114は、三相のマスタ欠相波形を決定する。
この場合、マスタ欠相波形決定部114は、一定の条件でサンプリングした値から得られる周波数及びDutyを有する波形を三相のマスタ欠相波形として決定し、後述するマスタ欠相波形解析部113が決定したマスタ欠相波形の周波数(第1の周波数)及びパルス幅(第1のDuty)を第1の特性として図示しないメモリに記憶する。
(Step S115)
The master open-phase waveform determining unit 114 determines a three-phase master open-phase waveform.
In this case, the master open-phase waveform determination unit 114 determines a waveform having a frequency and duty obtained from values sampled under certain conditions as a three-phase master open-phase waveform, and the master open-phase waveform analysis unit 113 described later The determined frequency (first frequency) and pulse width (first duty) of the master open-phase waveform are stored in a memory (not shown) as first characteristics.

(ステップS116)
メイン制御部110は、ステップS114において、マスタ欠相波形決定部114がHIGHカウント値よりLOWカウント値が大きくないと判断すると、モニター制御部117を介し、モニター120にエラーを報知させる。
(Step S116)
When the master open-phase waveform determination unit 114 determines that the LOW count value is not larger than the HIGH count value in step S114, the main control unit 110 causes the monitor 120 to report an error via the monitor control unit 117.

次に、図6を参照し、マスタ欠相波形解析処理について説明する。なお、以下に説明する第1の許容値である周波数とDutyの許容値は、共に一定の範囲の値を有しているものとする。 Next, the master open-phase waveform analysis process will be described with reference to FIG. It is assumed that both the frequency and duty tolerance values, which are the first tolerance values described below, have values within a certain range.

(ステップS201)
マスタ欠相波形解析部113は、変化点の時間差を元に周波数を求める。
ここで、たとえば図2(c)に示したパルス波形において、1周期当たり、4つの変化点a~dが得られたとする。この場合、たとえばa~bの時間差を求め、さらに求めた時間差の逆数を求めることで、マスタ欠相波形の周波数を求めることができる。
(Step S201)
The master open phase waveform analysis unit 113 obtains the frequency based on the time difference between the change points.
Here, for example, in the pulse waveform shown in FIG. 2(c), it is assumed that four change points a to d are obtained per cycle. In this case, the frequency of the master open-phase waveform can be obtained by obtaining the time difference between a and b, for example, and then obtaining the reciprocal of the obtained time difference.

(ステップS202)
マスタ欠相波形解析部113は、第1の許容値である周波数(第3の周波数)とDuty(第3のDuty)の許容値を図示しないメモリにセットする。
この場合、マスタ欠相波形解析部113は、ユーザーによって設定された周波数とDutyの許容値を受け付けてセットしてもよいし、プリセットされている周波数とDutyの許容値を自動的に取得してセットしてもよい。
なお、ここでの許容値は、上記同様に、マスタ欠相波形決定部114がサンプリングによって取得した周波数とDutyに対する許容ズレ量をパーセンテージで表したものである。
(Step S202)
The master open phase waveform analysis unit 113 sets the allowable values of the frequency (third frequency) and Duty (third duty), which are the first allowable values, in a memory (not shown).
In this case, the master open phase waveform analysis unit 113 may accept and set the frequency and duty tolerance values set by the user, or automatically acquire the preset frequency and duty tolerance values. May be set.
Note that the allowable value here is the allowable deviation amount between the frequency and the duty obtained by sampling by the master open-phase waveform determining unit 114, which is expressed in percentage, as described above.

(ステップS203)
マスタ欠相波形解析部113は、周波数が許容値内かどうかを判断する。
この場合、マスタ欠相波形解析部113は、ステップS201で求めた周波数がステップS202でセットした一定の範囲の周波数の許容値内であると判断すると(ステップS203:Yes)、ステップS204に移行する。
これに対し、マスタ欠相波形解析部113は、ステップS201で求めた周波数がステップS202でセットした一定の範囲の周波数の許容値内でないと判断すると(ステップS203:No)、ステップS207に移行する。
なお、マスタ欠相波形解析部113は、ステップS201で求めた周波数のズレ量が許容値のパーセンテージ内であるかどうかを確認することで、求めた周波数が許容値内かどうかを判断できる。
(Step S203)
The master open phase waveform analysis unit 113 determines whether the frequency is within the allowable range.
In this case, when the master open phase waveform analysis unit 113 determines that the frequency obtained in step S201 is within the allowable range of frequencies set in step S202 (step S203: Yes), the process proceeds to step S204. .
On the other hand, when the master open phase waveform analysis unit 113 determines that the frequency obtained in step S201 is not within the allowable frequency range set in step S202 (step S203: No), the process proceeds to step S207. .
Note that the master open phase waveform analysis unit 113 can determine whether the obtained frequency is within the allowable value by confirming whether the frequency deviation amount obtained in step S201 is within the percentage of the allowable value.

(ステップS204)
マスタ欠相波形解析部113は、Dutyを求める。
この場合、マスタ欠相波形解析部113は、上記同様に、たとえば図2(c)に示したパルス波形において、たとえばa~bの時間差を求めることで、パルス幅であるDutyを求めることができる。
(Step S204)
The master open phase waveform analysis unit 113 obtains the duty.
In this case, the master open phase waveform analysis unit 113, in the same manner as described above, for example, in the pulse waveform shown in FIG. .

(ステップS205)
マスタ欠相波形解析部113は、求めたDutyが許容値内かどうかを判断する。
この場合、マスタ欠相波形解析部113は、ステップS204で求めたDutyがステップS202でセットした一定の範囲のDutyの許容値内であると判断すると(ステップS205:Yes)、ステップS206に移行する。
これに対し、マスタ欠相波形解析部113は、ステップS204で求めたDutyがステップS202でセットした一定の範囲のDutyの許容値内でないと判断すると(ステップS205:No)、ステップS207に移行する。
なお、ここでの許容値は、手動又は自動で設定されたDuty(第3のDuty)である。Duty(第3のDuty)は、上記同様に、マスタ欠相波形のパルス幅(第1のDuty)に対する許容ズレ量をパーセンテージで表したものであり、ステップS204で求めたDutyのズレ量が許容値のパーセンテージ内であるかどうかを確認することで、求めたDutyが許容値内かどうかを判断できる。
(Step S205)
The master open phase waveform analysis unit 113 determines whether the obtained Duty is within the allowable value.
In this case, when the master open phase waveform analysis unit 113 determines that the Duty obtained in step S204 is within the allowable value of the duty within a certain range set in step S202 (step S205: Yes), the process proceeds to step S206 .
On the other hand, when the master open phase waveform analysis unit 113 determines that the Duty obtained in step S204 is not within the allowable value of the duty within the certain range set in step S202 (step S205: No), the process proceeds to step S207 .
Note that the allowable value here is a manually or automatically set duty (third duty). Duty (3rd Duty) is, similarly to the above, the allowable deviation amount with respect to the pulse width (first Duty) of the master open phase waveform expressed in percentage, and the deviation amount of Duty obtained in step S204 is allowed By checking whether it is within the percentage of the value, it can be determined whether the obtained duty is within the allowable value.

(ステップS206)
マスタ欠相波形解析部113は、第1の特性である周波数(第1の周波数)とDuty(第1のDuty)とを決定する。
(Step S206)
The master open phase waveform analysis unit 113 determines the frequency (first frequency) and the duty (first duty) that are the first characteristics.

(ステップS207)
マスタ欠相波形解析部113は、エラーを出力する。
(Step S207)
The master open phase waveform analysis unit 113 outputs an error.

次に、図7を参照し、ポーリング欠相波形判定処理について説明する。なお、以下の説明において、2値化した値に基づく判断は、上記同様に、 負論理に基づくものとなっている。 Next, referring to FIG. 7, the polling open-phase waveform determination process will be described. In the following explanation, the judgment based on the binarized value is based on negative logic as in the above.

(ステップS301)
ポーリング欠相波形判定部116は、各相電圧を全波整流し、2値化した値を図示しないメモリにセットする。
この場合、ポーリング欠相波形判定部116は、交流電圧が図2(a)のような単相の場合、入力電源200からの交流電圧を図2(b)に示したように全波整流し、上述した一定の閾値(たとえば100V)を元に、一定のサンプリング周期(たとえば400usec)でサンプリングし、2値化した値を図示しないメモリにセットする。
また、ポーリング欠相波形判定部116は、三相の場合、入力電源200からの交流電圧を図3(a)に示したように全波整流し、上述した一定の閾値(たとえば100V)を元に、一定のサンプリング周期(たとえば400usec)でサンプリングし、2値化した値を図示しないメモリにセットする。
(Step S301)
The polling open-phase waveform determination unit 116 performs full-wave rectification on each phase voltage and sets the binarized value in a memory (not shown).
In this case, when the AC voltage is single-phase as shown in FIG. 2(a), the polling open-phase waveform determining unit 116 performs full-wave rectification of the AC voltage from the input power supply 200 as shown in FIG. 2(b). , sampling is performed at a constant sampling period (eg, 400 usec) based on the aforementioned constant threshold value (eg, 100 V), and the binarized value is set in a memory (not shown).
In the case of three-phase, the polling open-phase waveform determination unit 116 performs full-wave rectification of the AC voltage from the input power supply 200 as shown in FIG. Then, sampling is performed at a constant sampling period (for example, 400 usec), and the binarized value is set in a memory (not shown).

(ステップS302)
ポーリング欠相波形判定部116は、前回と今回の電圧レベルに変化があるかどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形判定部116は、上記同様に、サンプリングした値が0で、この次にサンプリングした値が1あれば、電圧レベルに変化があると判断し(ステップS302:Yes)、ステップS303に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形判定部116は、サンプリングした値が0で、この次にサンプリングした値が0あれば、電圧レベルに変化がないと判断し(ステップS302:No)、ステップS308に移行する。
(Step S302)
The polling open-phase waveform determination unit 116 determines whether or not there is a change in voltage level between the previous time and this time.
In this case, if the sampled value is 0 and the next sampled value is 1, the polling open phase waveform determination unit 116 determines that there is a change in the voltage level (step S302: Yes). The process proceeds to step S303.
On the other hand, if the sampled value is 0 and the next sampled value is 0, the polling open phase waveform determination unit 116 determines that the voltage level does not change (step S302: No), and proceeds to step S308. Transition.

(ステップS303)
ポーリング欠相波形判定部116は、図示しないリングバッファの配列において、単相の変化を示すNに1を記録する(N=1とする)。
(Step S303)
The polling open-phase waveform determining unit 116 records 1 in N indicating a single-phase change (N=1) in the arrangement of a ring buffer (not shown).

(ステップS304)
ポーリング欠相波形判定部116は、N≧5であるかどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形判定部116は、Nが5未満である場合、N≧5ではないと判断し(ステップS304:No)、ステップS301に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形判定部116は、Nが5以上の場合、N≧5であると判断し(ステップS304:Yes)、ステップS305に移行する。
ここで、Nが5とは、上記同様に、たとえばポーリング欠相波形判定部116のサンプリングによって得られるパルスの立ち上がりと立ち下りとを示す5個のa~e(変化点)に相当する。
(Step S304)
The polling open phase waveform determination unit 116 determines whether N≧5.
In this case, when N is less than 5, the polling open-phase waveform determination unit 116 determines that N≧5 is not true (step S304: No), and proceeds to step S301.
On the other hand, when N is 5 or more, the polling open-phase waveform determining unit 116 determines that N≧5 (step S304: Yes), and proceeds to step S305.
Here, N being 5 corresponds to five points a to e (change points) indicating the rise and fall of the pulse obtained by sampling of the polling open phase waveform determination unit 116, for example, as described above.

(ステップS305)
ポーリング欠相波形解析部115は、ポーリング欠相波形を解析する。
なお、ポーリング欠相波形解析部115によるポーリング欠相波形の解析において、周波数とDutyの何れか又は全てが許容値内ではないとき、エラーを出力するが、その詳細については、後述の図8で説明する。
(Step S305)
The polling open-phase waveform analysis unit 115 analyzes the polling open-phase waveform.
In the analysis of the polling open-phase waveform by the polling open-phase waveform analysis unit 115, when either or all of the frequency and duty are not within the allowable value, an error is output. explain.

(ステップS306)
ポーリング欠相波形判定部116は、ポーリング欠相波形の解析結果が正常であるかどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形判定部116は、後述するポーリング欠相波形解析部115が周波数及びDutyがともに許容値内であると解析すると、ポーリング欠相波形の解析結果が正常であると判断し(ステップS306:Yes)、ステップS301に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形判定部116は、ポーリング欠相波形解析部115が周波数及びDutyの何れか一方又は全てが許容値内ではないと解析すると、ポーリング欠相波形の解析結果が正常ではないと判断し(ステップS306:No)、ステップS307に移行する。
(Step S306)
The polling open-phase waveform determination unit 116 determines whether the analysis result of the polling open-phase waveform is normal.
In this case, when the polling open-phase waveform analysis unit 115, which will be described later, analyzes that both the frequency and the duty are within the allowable values, the polling open-phase waveform determination unit 116 determines that the analysis result of the polling open-phase waveform is normal. (Step S306: Yes), the process proceeds to step S301.
On the other hand, when the polling open phase waveform analysis unit 115 analyzes that one or all of the frequency and duty are not within the allowable value, the polling open phase waveform determination unit 116 determines that the analysis result of the polling open phase waveform is normal. It is determined that there is no (step S306: No), and the process proceeds to step S307.

(ステップS307)
メイン制御部110は、ステップS406において、ポーリング欠相波形判定部116が後述のポーリング欠相波形解析部115による周波数及びDutyの何れか一方又は全てが許容値内ではないと解析した場合に出力するエラーを元に、マスタ欠相波形の解析結果が正常ではないと判断すると、モニター制御部117を介し、モニター120にエラーを報知させる。
(Step S307)
In step S406, the main control unit 110 outputs when the polling open-phase waveform determination unit 116 analyzes that one or all of the frequency and duty are not within the allowable value by the polling open-phase waveform analysis unit 115 described later. If it is determined that the analysis result of the master open phase waveform is not normal based on the error, the monitor 120 is caused to report the error via the monitor control unit 117 .

(ステップS308)
ポーリング欠相波形判定部116は、電圧レベルがLOWかどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形判定部116は、図3(e)に示したように、サンプリングした値が全て1である場合、負論理により電圧レベルがLOWであると判断し(ステップS308:Yes)、ステップS309に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形判定部116は、ステップS302において、サンプリングした値が0で、この次にサンプリングした値が0あれば、負論理により電圧レベルがHIGHであると判断し(ステップS308:No)、ステップS310に移行する。
(Step S308)
The polling open phase waveform determination unit 116 determines whether the voltage level is LOW.
In this case, as shown in FIG. 3E, the polling open-phase waveform determination unit 116 determines that the voltage level is LOW by negative logic when all the sampled values are 1 (step S308: Yes ), and the process proceeds to step S309.
On the other hand, if the sampled value is 0 in step S302 and the next sampled value is 0, the polling open phase waveform determination unit 116 determines that the voltage level is HIGH by negative logic (step S308). : No), the process proceeds to step S310.

(ステップS309)
ポーリング欠相波形判定部116は、LOWをカウントする。
(Step S309)
The polling open phase waveform determination unit 116 counts LOW.

(ステップS310)
ポーリング欠相波形判定部116は、HIGHをカウントする。
(Step S310)
The polling open phase waveform determination unit 116 counts HIGH.

(ステップS311)
ポーリング欠相波形判定部116は、LOWカウント値とHIGHカウント値の合計数であるMが規定回数(たとえば200)より大きいかどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形判定部116は、LOWカウント値とHIGHカウント値の合計数であるMが規定回数より大きいと判断すると(ステップS311:Yes)、ステップS312に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形判定部116は、LOWカウント値とHIGHカウント値の合計数であるMが規定回数より大きくない判断すると(ステップS311:No)、ステップS301に移行する。
(Step S311)
The polling open-phase waveform determining unit 116 determines whether M, which is the total number of the LOW count value and the HIGH count value, is greater than a specified number of times (eg, 200).
In this case, when the polling open phase waveform determination unit 116 determines that M, which is the total number of the LOW count value and the HIGH count value, is greater than the specified number of times (step S311: Yes), the process proceeds to step S312.
On the other hand, when the polling open phase waveform determination unit 116 determines that M, which is the total number of the LOW count value and the HIGH count value, is not greater than the specified number of times (step S311: No), the process proceeds to step S301.

(ステップS312)
ポーリング欠相波形判定部116は、LOWカウント値がHIGHカウント値より大きいかどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形判定部116は、LOWカウント値がHIGHカウント値より大きいと判断すると(ステップS312:Yes)、ステップS313に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形判定部116は、LOWカウント値がHIGHカウント値より大きくないと判断すると(ステップS312:No)、ステップS307に移行する。
(Step S312)
The polling open phase waveform determination unit 116 determines whether the LOW count value is greater than the HIGH count value.
In this case, when the polling open phase waveform determining unit 116 determines that the LOW count value is larger than the HIGH count value (step S312: Yes), the process proceeds to step S313.
On the other hand, when the polling open phase waveform determining unit 116 determines that the LOW count value is not larger than the HIGH count value (step S312: No), the process proceeds to step S307.

(ステップS313)
ポーリング欠相波形判定部116は、マスタ欠相波形が三相かどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形判定部116は、単相/三相設定部112が設定した入力電圧が三相であるとき、マスタ欠相波形が三相であると判断し(ステップS313:Yes)、ステップS301に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形判定部116は、単相/三相設定部112が設定した入力電圧が単相であるとき、マスタ欠相波形が三相でないと判断し(ステップS313:No)、ステップS307に移行する。
(Step S313)
The polling open-phase waveform determination unit 116 determines whether the master open-phase waveform is three-phase.
In this case, when the input voltage set by the single-phase/three-phase setting unit 112 is three-phase, the polling open-phase waveform determination unit 116 determines that the master open-phase waveform is three-phase (step S313: Yes). , the process proceeds to step S301.
On the other hand, when the input voltage set by the single-phase/three-phase setting unit 112 is single-phase, the polling open-phase waveform determining unit 116 determines that the master open-phase waveform is not three-phase (step S313: No). , the process proceeds to step S307.

次に、図8を参照し、ポーリング欠相波形解析処理について説明する。なお、以下に説明する第2の許容値である周波数とDutyの許容値は、上記同様に、共に一定の範囲の値を有しているものとする。 Next, referring to FIG. 8, polling open phase waveform analysis processing will be described. Note that the frequency and duty tolerance values, which are the second tolerance values described below, both have values within a certain range, as in the case described above.

(ステップS401)
ポーリング欠相波形解析部115は、変化点の時間差を元に周波数を求める。
ここで、上記同様に、たとえば図2(c)に示したパルス波形において、1周期当たり、4つの変化点a~dが得られる。この場合、上記同様に、たとえばa~bの時間差を求め、さらに求めた時間差の逆数を求めることで、ポーリング欠相波形の周波数を求めることができる。
(Step S401)
The polling open-phase waveform analysis unit 115 obtains the frequency based on the time difference between the changing points.
Here, in the same manner as described above, for example, in the pulse waveform shown in FIG. 2(c), four change points a to d are obtained per cycle. In this case, the frequency of the poling open-phase waveform can be obtained in the same manner as described above by obtaining the time difference between a and b, for example, and obtaining the reciprocal of the obtained time difference.

(ステップS402)
ポーリング欠相波形解析部115は、第2の許容値である周波数(第4の周波数)とDuty(第4のDuty)の許容値を図示しないメモリにセットする。
この場合、ポーリング欠相波形解析部115は、ユーザーによって設定された周波数とDutyの許容値を受け付けてセットしてもよいし、プリセットされている周波数とDutyの許容値を自動的に受け付けてセットしてもよい。
(Step S402)
The polling open phase waveform analysis unit 115 sets the allowable values of the frequency (fourth frequency) and duty (fourth duty), which are the second allowable values, in a memory (not shown).
In this case, the polling open phase waveform analysis unit 115 may accept and set the allowable values of the frequency and duty set by the user, or automatically accept and set the allowable values of the preset frequency and duty. You may

(ステップS403)
ポーリング欠相波形解析部115は、周波数が許容値内かどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形解析部115は、ステップS401で求めた周波数がステップS402でセットした一定の範囲の周波数の許容値内であると判断すると(ステップS403:Yes)、ステップS404に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形解析部115は、ステップS401で求めた周波数がステップS402でセットした一定の範囲の周波数の許容値内でないと判断すると(ステップS403:No)、ステップS407に移行する。
なお、ポーリング欠相波形解析部115は、ステップS401で求めた周波数のズレ量が許容値のパーセンテージ内であるかどうかを確認することで、求めた周波数が許容値内かどうかを判断できる。
(Step S403)
The polling open phase waveform analysis unit 115 determines whether the frequency is within the allowable range.
In this case, when the polling open phase waveform analysis unit 115 determines that the frequency obtained in step S401 is within the allowable range of frequencies set in step S402 (step S403: Yes), the process proceeds to step S404. .
On the other hand, when the polling open phase waveform analysis unit 115 determines that the frequency obtained in step S401 is not within the allowable range of frequencies set in step S402 (step S403: No), the process proceeds to step S407. .
The polling open phase waveform analysis unit 115 can determine whether the frequency obtained in step S401 is within the allowable value by confirming whether the frequency deviation amount obtained in step S401 is within the allowable percentage.

(ステップS404)
ポーリング欠相波形解析部115は、Dutyを求める。
この場合、ポーリング欠相波形解析部115は、上記同様に、たとえば図2(c)に示したパルス波形において、たとえばa~bの時間差を求めることで、パルス幅であるDutyを求めることができる。
(Step S404)
The polling open phase waveform analysis unit 115 obtains Duty.
In this case, the polling open phase waveform analysis unit 115 can obtain Duty, which is the pulse width, by obtaining, for example, the time difference between a and b in the pulse waveform shown in FIG. .

(ステップS405)
ポーリング欠相波形解析部115は、求めたDutyが許容値内かどうかを判断する。
この場合、ポーリング欠相波形解析部115は、ステップS404で求めたDutyがステップS402でセットした一定の範囲のDutyの許容値内であると判断すると(ステップS405:Yes)、ステップS406に移行する。
これに対し、ポーリング欠相波形解析部115は、ステップS404で求めたDutyがステップS402でセットした一定の範囲のDutyの許容値内でないと判断すると(ステップS405:No)、ステップS407に移行する。
なお、ポーリング欠相波形解析部115は、ステップS404で求めたDutyのズレ量が許容値のパーセンテージ内であるかどうかを確認することで、求めたDutyが許容値内かどうかを判断できる。
(Step S405)
The polling open phase waveform analysis unit 115 determines whether the obtained Duty is within the allowable value.
In this case, when the polling open phase waveform analysis unit 115 determines that the Duty obtained in step S404 is within the allowable value of the duty within the certain range set in step S402 (step S405: Yes), the process proceeds to step S406. .
On the other hand, when the polling open phase waveform analysis unit 115 determines that the Duty obtained in step S404 is not within the allowable value of the duty within the certain range set in step S402 (step S405: No), the process proceeds to step S407. .
Note that the polling open-phase waveform analysis unit 115 can determine whether the obtained Duty is within the allowable value by confirming whether the deviation amount of the Duty obtained in step S404 is within the percentage of the allowable value.

(ステップS406)
ポーリング欠相波形解析部115は、波形正常とした解析結果を出力する。
(Step S406)
The polling open-phase waveform analysis unit 115 outputs an analysis result indicating that the waveform is normal.

(ステップS407)
ポーリング欠相波形解析部115は、エラーを出力する。
(Step S407)
The polling open phase waveform analysis unit 115 outputs an error.

このように、本実施形態では、マスタ欠相波形解析部113(第1の解析部)が入力電源200からの電力が一定の条件でサンプリングされた値を元に、第1の許容値からズレていないかどうかを解析し、マスタ欠相波形決定部114(欠相波形決定部)が、電力を一定の条件でサンプリングし、マスタ欠相波形解析部113(第1の解析部)による解析結果が正常である場合はサンプリングした値から得られる第1の特性を含むマスタ欠相波形(第1の欠相波形)を決定する。また、ポーリング欠相波形解析部115(第2の解析部)が、第1の特性と、マスタ欠相波形(第1の欠相波形)の決定後に一定の条件でサンプリングされた値から得られるポーリング欠相波形(第2の欠相波形)の第2の特性とを比較し、第2の特性が第1の特性に対して第2の許容値からズレていないかどうかを解析し、ポーリング欠相波形判定部116(欠相波形判定部)が、マスタ欠相波形(第1の欠相波形)の決定後、電力を一定の条件でサンプリングし、ポーリング欠相波形解析部115(第2の解析部)による解析結果が第2の許容値からズレていない場合は正常と判定し、メイン制御部110が、マスタ欠相波形決定部114(欠相波形決定部)が異常と判断した場合と、ポーリング欠相波形判定部116(欠相波形判定部)が異常と判定した場合とのそれぞれにおいて、エラーを報知する。 As described above, in the present embodiment, the master open phase waveform analysis unit 113 (first analysis unit) determines that the power from the input power source 200 is sampled under certain conditions, and the deviation from the first allowable value is calculated. The master open phase waveform determination unit 114 (open phase waveform determination unit) samples the power under a certain condition, and the analysis result by the master open phase waveform analysis unit 113 (first analysis unit) is normal, a master open-phase waveform (first open-phase waveform) including the first characteristics obtained from the sampled values is determined. Further, the polling open-phase waveform analysis unit 115 (second analysis unit) is obtained from the first characteristic and the value sampled under a certain condition after the determination of the master open-phase waveform (first open-phase waveform) The polling open-phase waveform (second open-phase waveform) is compared with the second characteristic, and it is analyzed whether or not the second characteristic deviates from the second allowable value with respect to the first characteristic. After the master open-phase waveform (first open-phase waveform) is determined, the open-phase waveform determination unit 116 (open-phase waveform determination unit) samples the power under certain conditions, and the polling open-phase waveform analysis unit 115 (second If the analysis result by the analysis unit) does not deviate from the second allowable value, it is determined to be normal, and the main control unit 110 determines that the master open phase waveform determination unit 114 (open phase waveform determination unit) is abnormal. , and when the polling open-phase waveform determination unit 116 (open-phase waveform determination unit) determines that there is an abnormality, an error is notified.

これにより、最初にサーボアンプ100の動作安定の指標となる第1の欠相波形を決定できるので、サーボアンプ100の稼働開始前に、サーボアンプ100の動作不良を起こさない状態にあるかどうかを確認できる。 As a result, it is possible to first determine the first open-phase waveform that serves as an index of the stability of the operation of the servo amplifier 100. Therefore, before starting the operation of the servo amplifier 100, it is possible to determine whether or not the servo amplifier 100 is in a state in which malfunction will not occur. I can confirm.

また、手動又は自動で設定される、第1の許容値に基づきマスタ欠相波形が決定され、第2の許容値に基づき第1の欠相波形と比較されるポーリング欠相波形の正常又は異常が判定されるので、サーボアンプ100のパラメータの設定を容易とすることができる。また、マスタ欠相波形の正常又は異常が判断され、ポーリング欠相波形の正常又は異常が判定されるので、パラメータの設定のし忘れを防止でき、さらには、入力電源200の変動に伴うサーボアンプ100の動作不良を確実に回避することができる。特に、変圧精度にバラツキ等がある変圧器を用いた場合、サーボアンプ100の動作不良の回避に対して有効である。 Also, a master open phase waveform is determined based on a manually or automatically set first tolerance, and a polled open phase waveform is normal or abnormal that is compared to the first open phase waveform based on a second tolerance. is determined, the parameter setting of the servo amplifier 100 can be facilitated. In addition, the normality or abnormality of the master phase-loss waveform is determined, and the normality or abnormality of the polling phase-loss waveform is determined. 100 malfunctions can be reliably avoided. In particular, this is effective for avoiding malfunction of the servo amplifier 100 when using a transformer having variations in transformation accuracy.

100 サーボアンプ
110 メイン制御部
111 信号線
112 単相/三相設定部
113 マスタ欠相波形解析部
114 マスタ欠相波形決定部
115 ポーリング欠相波形解析部
116 ポーリング欠相波形判定部
117 モニター制御部
120 モニター
200 入力電源
300 モータ
L1、L2、L3、U、V、W 端子
a~e 変化点
100 Servo amplifier 110 Main control unit 111 Signal line 112 Single-phase/three-phase setting unit 113 Master open-phase waveform analysis unit 114 Master open-phase waveform determination unit 115 Polling open-phase waveform analysis unit 116 Polling open-phase waveform determination unit 117 Monitor control unit 120 Monitor 200 Input power supply 300 Motor L1, L2, L3, U, V, W Terminals a to e Change point

Claims (6)

入力電源からの電力が一定の条件でサンプリングされた値を元に、第1の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する第1の解析部と、
前記電力を前記一定の条件でサンプリングし、前記第1の解析部による解析結果が正常である場合は前記サンプリングした値から得られる第1の特性を含む第1の欠相波形を決定する欠相波形決定部と、
前記第1の特性と、前記第1の欠相波形の決定後に前記一定の条件でサンプリングされた値から得られる第2の欠相波形の第2の特性とを比較し、前記第2の特性が前記第1の特性に対して第2の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する第2の解析部と、
前記第1の欠相波形の決定後、前記電力を一定の条件でサンプリングし、前記第2の解析部による解析結果が前記第2の許容値からズレていない場合は正常と判定する欠相波形判定部と、
前記欠相波形決定部が前記第1の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判断した場合と、前記欠相波形判定部が前記第2の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判定した場合とのそれぞれにおいて、エラーを報知するメイン制御部とを備える
ことを特徴とするサーボアンプ。
a first analysis unit that analyzes whether or not the power from the input power supply deviates from a first allowable value based on values sampled under certain conditions, and outputs an error if it deviates;
The power is sampled under the constant condition, and if the analysis result by the first analysis unit is normal, a phase loss that determines a first phase loss waveform including a first characteristic obtained from the sampled value. a waveform determination unit;
The first characteristic is compared with a second characteristic of a second open-phase waveform obtained from values sampled under the constant condition after the determination of the first open-phase waveform, and the second characteristic is obtained. a second analysis unit that analyzes whether the first characteristic deviates from a second allowable value, and outputs an error if it deviates;
After determining the first open-phase waveform, the power is sampled under a certain condition, and if the analysis result by the second analysis unit does not deviate from the second allowable value, the open-phase waveform is determined to be normal. a determination unit;
When the open phase waveform determination unit determines that there is an abnormality based on the error output from the first analysis unit, and when the open phase waveform determination unit determines that it is abnormal based on the error output from the second analysis unit and a main control unit that notifies an error in each of the cases of
前記一定の条件は、一定の閾値と一定のサンプリング周期とを含み、
前記第1の特性は、第1の周波数及び第1のDutyを含み、
前記第2の特性は、第2の周波数及び第2のDutyを含み、
前記第1の許容値は、手動又は自動で設定された第3の周波数及び第3のDutyを含み、
前記第2の許容値は、手動又は自動で設定された第4の周波数及び第4のDutyを含み、
前記欠相波形決定部は、前記一定の閾値と前記一定のサンプリング周期とを用いて前記電力を2値化し、
前記第1の解析部は、前記サンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの時間差に基づき、前記第1の周波数及び第1のDutyを求め、前記第1の周波数と第1のDutyの何れか又は全てが前記第3の周波数と第3のDutyの何れか又は全てからズレていないかどうかを解析し、
前記欠相波形判定部は、前記一定の閾値と前記一定のサンプリング周期とを用いて前記電力を2値化し、
前記第2の解析部は、前記サンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの時間差に基づき、前記第2の周波数及び第2のDutyを求め、前記の第2の周波数と第2のDutyの何れか又は全てが前記第4の周波数と第4のDutyの何れか又は全てからズレていないかどうかを解析する
ことを特徴とする請求項1に記載のサーボアンプ。
The constant condition includes a constant threshold and a constant sampling period,
The first characteristic includes a first frequency and a first duty,
The second characteristic includes a second frequency and a second duty,
The first allowable value includes a manually or automatically set third frequency and third Duty,
The second allowable value includes a manually or automatically set fourth frequency and fourth Duty,
The open phase waveform determination unit binarizes the power using the constant threshold value and the constant sampling period,
The first analysis unit obtains the first frequency and the first duty based on the time difference between the timing at which the sampled value switches from LOW to HIGH and the timing at which the sampled value switches from HIGH to LOW. Analyze whether any or all of the frequency and the first duty are not deviated from any or all of the third frequency and the third duty,
The open phase waveform determination unit binarizes the power using the constant threshold value and the constant sampling period,
The second analysis unit obtains the second frequency and the second duty based on the time difference between the timing at which the sampled value switches from LOW to HIGH and the timing at which the sampled value switches from HIGH to LOW. The servo according to claim 1, characterized by analyzing whether or not any or all of the second frequency and the second duty deviate from any or all of the fourth frequency and the fourth duty. Amplifier.
前記第3の周波数及び第3のDutyは、一定の範囲の値を有し、
前記第4の周波数及び第4のDutyは、一定の範囲の値を有している
ことを特徴とする請求項2に記載のサーボアンプ。
The third frequency and the third duty have values within a certain range,
3. The servo amplifier according to claim 2, wherein the fourth frequency and the fourth duty have values within a certain range.
第1の解析部により、入力電源からの電力が一定の条件でサンプリングされた値を元に、第1の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する工程と、
欠相波形決定部により、前記電力を前記一定の条件でサンプリングし、前記第1の解析部による解析結果が正常である場合は前記サンプリングした値から得られる第1の特性を含む第1の欠相波形を決定する工程と、
第2の解析部により、前記第1の特性と、前記第1の欠相波形の決定後に前記一定の条件でサンプリングされた値から得られる第2の欠相波形の第2の特性とを比較し、前記第2の特性が前記第1の特性に対して第2の許容値からズレていないかどうかを解析し、ズレている場合はエラーを出力する工程と、
欠相波形判定部により、前記第1の欠相波形の決定後、前記電力を一定の条件でサンプリングし、前記第2の解析部による解析結果が前記第2の許容値からズレていない場合は正常と判定する工程と、
メイン制御部により、前記欠相波形決定部が前記第1の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判断した場合と、前記欠相波形判定部が前記第2の解析部より出力されたエラーに基づき異常と判定した場合とのそれぞれにおいて、エラーを報知する工程とを有する
ことを特徴とする欠相判定方法。
A step of analyzing whether or not the power from the input power supply deviates from the first allowable value based on the values sampled under certain conditions by the first analysis unit, and outputting an error if it deviates. and,
The open-phase waveform determination unit samples the power under the constant condition, and if the analysis result by the first analysis unit is normal, a first missing phase including the first characteristic obtained from the sampled value. determining a phase waveform;
A second analysis unit compares the first characteristic with the second characteristic of the second open-phase waveform obtained from the values sampled under the constant condition after the determination of the first open-phase waveform. and analyzing whether the second characteristic deviates from the second allowable value with respect to the first characteristic, and outputting an error if deviated;
After the first open-phase waveform is determined by the open-phase waveform determination unit, the power is sampled under certain conditions, and if the analysis result by the second analysis unit does not deviate from the second allowable value, a step of determining normal;
When the main control unit determines that the open phase waveform determination unit is abnormal based on the error output from the first analysis unit, and the open phase waveform determination unit outputs the error output from the second analysis unit and a step of notifying an error in each of the cases where an abnormality is determined based on the open phase determination method.
前記一定の条件は、一定の閾値と一定のサンプリング周期とを含み、
前記第1の特性は、第1の周波数及び第1のDutyを含み、
前記第2の特性は、第2の周波数及び第2のDutyを含み、
前記第1の許容値は、手動又は自動で設定された第3の周波数及び第3のDutyを含み、
前記第2の許容値は、手動又は自動で設定された第4の周波数及び第4のDutyを含み、
前記欠相波形決定部により、前記一定の閾値と前記一定のサンプリング周期とを用いて前記電力を2値化する工程と、
前記第1の解析部により、前記サンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの間の時間に基づき、前記第1の周波数及び第1のDutyを求め、前記第1の周波数と第1のDutyの何れか又は全てが前記第3の周波数と第3のDutyの何れか又は全てからズレていないかどうかを解析する工程と、
前記欠相波形判定部により、前記一定の閾値と前記一定のサンプリング周期とを用いて前記電力を2値化する工程と、
前記第2の解析部により、前記サンプリングされた値がLOWからHIGHに切り替わるタイミングと、HIGHからLOWに切り替わるタイミングとの間の時間に基づき、前記第2の周波数及び第2のDutyを求め、前記の第2の周波数と第2のDutyの何れか又は全てが前記第4の周波数と第4のDutyの何れか又は全てからズレていないかどうかを解析する工程とを含む
ことを特徴とする請求項4に記載の欠相判定方法。
The constant condition includes a constant threshold and a constant sampling period,
The first characteristic includes a first frequency and a first duty,
The second characteristic includes a second frequency and a second duty,
The first allowable value includes a manually or automatically set third frequency and third Duty,
The second allowable value includes a manually or automatically set fourth frequency and fourth Duty,
A step of binarizing the power using the constant threshold value and the constant sampling period by the open phase waveform determination unit;
The first analysis unit obtains the first frequency and the first duty based on the time between the timing at which the sampled value switches from LOW to HIGH and the timing at which the sampled value switches from HIGH to LOW, A step of analyzing whether any or all of the first frequency and the first duty are deviated from any or all of the third frequency and the third duty;
A step of binarizing the power using the constant threshold value and the constant sampling period by the open phase waveform determination unit;
The second analysis unit obtains the second frequency and the second duty based on the time between the timing at which the sampled value switches from LOW to HIGH and the timing at which the sampled value switches from HIGH to LOW, The step of analyzing whether any or all of the second frequency and the second duty are not deviated from any or all of the fourth frequency and the fourth duty. Item 5. The open phase determination method according to Item 4.
前記第3の周波数及び第3のDutyは、一定の範囲の値を有し、
前記第4の周波数及び第4のDutyは、一定の範囲の値を有している
ことを特徴とする請求項5に記載の欠相判定方法。
The third frequency and the third duty have values within a certain range,
The open phase determination method according to claim 5, wherein the fourth frequency and the fourth duty have values within a certain range.
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