JP2023052884A - 適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体 - Google Patents

Abstract

【課題】本願の実施形態は、適合性試験方法等を提供する。【解決手段】方法は、光信号で試験シンボルパターンを取得することと、試験シンボルパターンにイコライゼーション補償を実行することと、試験アイパターンを生成することと、試験アイパターン及びノイズエンハンスメント係数とに基づき第１パラメータの値を計算することとを含み、第１パラメータは、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用され、方法は、第１パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功したと決定することを含む。【選択図】図２

Description

本願の実施形態は、通信技術に、特に、適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体に関係がある。

データ通信ネットワークにおける物理レイヤデバイスは、光送信器、チャネル（ケーブル又はファイバ）、及び光受信器のようなコンポーネントを含む。現在、光送信器を供給する前に、光送信器の製造者は、光送信器に対して適合性試験を実行する。適合性試験を通じて、光送信器が他の製造者によって供給されるチャネル及び／又は光受信器と適合することができるかどうかが正確に決定され得る。

現在、非ゼロ復帰パルス振幅変調２レベル（non-return to zero pulse amplitude modulation 2-level，ＮＲＺ－ＰＡＭ２）スキームを使用して光信号を変更する光送信器の場合に、適合性試験は、試験パラメータ“送信器分散アイ閉塞（transmitter dispersion eye closure，ＴＤＥＣ）”及びその適合性試験方法を使用して光送信器に対して実行される。伝送レートの一定した増大とともに、伝送されるデータ信号の品質に対する符号間干渉（inter-symbol interference，ＩＳＩ）の影響はますます深刻である。そのため、フィード・フォワード・イコライゼーション（feed forward equalization，ＦＦＥ）、判定帰還イコライゼーション（decision feedback equalization，ＤＦＥ）、及び最尤系列推定（maximum likelihood sequence estimation，ＭＬＳＥ）のようなイコライゼーション受信技術が、直接変調及び直接検出に基づく光リンクに次第に導入されている。具体的に言えば、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を受信する場合に、光受信器は、光信号に対してイコライゼーション処理を実行する。

しかし、光受信器のイコライゼーション受信によって引き起こされる光信号品質の変化が既存の適合性試験ソリューションでは考慮されていないので、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかをどのように判定すべきかは、至急解決されるべき問題である。

本願の実施形態は、光受信器が、イコライゼーション受信方法で、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を受信する場合に、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得ない他のアプローチでの技術的問題を解決すべく、適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体を提供する。

第１の態様に従って、本願の実施形態は、適合性試験方法であって、
光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得することであり、光信号は、非ゼロ復帰パルス振幅変調２レベルスキームを使用して変調を通じて光送信器によって生成される、ことと、
試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて試験アイパターンを生成することと、
試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、第１パラメータの値を計算することであり、第１パラメータは、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される、ことと、
第１パラメータの値がもってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定することと
を有する方法を提供する。

第１の態様で提供される適合性試験方法に従って、イコライゼーション補償は、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号に含まれる試験シンボルパターンに対して実行され、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第１パラメータの値は、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数と、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて取得される試験アイパターンとに基づいて計算され、それにより、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、第１パラメータの値に基づいて、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得る。

可能な実施で、光信号が最も高い相対強度ノイズの下で光送信器によって送信される場合に、光信号に対する適合性試験が成功することは、光送信器に対する適合性試験が成功することを表すために使用される。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって、最も高い相対強度ノイズの下で、送信された光信号に含まれる試験シンボルパターンが取得され、イコライゼーション補償は、その試験シンボルパターンに対して実行され、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第１パラメータの値は、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数と、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて取得される試験アイパターンとに基づいて計算され、それにより、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、第１パラメータの値に基づいて、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを使用する光送信器に対する適合性試験が成功するかどうかが判定され得る。

可能な実施で、試験アイパターン及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第１パラメータの値を計算することは、
試験アイパターンに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第４サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成することであり、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布する、ことと、
第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第１標準偏差を決定することであり、第１標準偏差は第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値であり、第２標準偏差は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第３標準偏差は、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である、ことと、
第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと、
目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第１パラメータの値を決定することと
を含む。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、試験アイパターンは、光送信器の性能のような要因により水平方向に対称でないことがあり、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、試験アイパターンの左部分及び右部分に配置されたサンプリングウィンドウを使用して正確に取得可能である。更には、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第１標準偏差を決定することは、
第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第２標準偏差を決定することと、
第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第３標準偏差を決定することと、
第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値を第１標準偏差として使用することと
を含む。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、より小さい標準偏差は、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得るより悪い最も高い相加性ノイズを示すので、第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値が第１標準偏差として使用される。そのようなものとして、より悪い最も高い相加性ノイズを使用して、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすかどうかが決定可能であり、決定結果は、より正確でありかつ信頼できる。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低く、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第２標準偏差を決定することは、
第１サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第２サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定することと、
第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて第２標準偏差を決定することであり、正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第２標準偏差に基づいて決定される、ことと
を含む。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用され、正規分布曲線関数は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用されるので、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、ヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数を参照して正確に決定され得る。

可能な実施で、正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第２標準偏差に基づいて決定されることは、
正規分布曲線関数が、

に従って決定されることを含み、
Ｑ（ｘ）は、正規分布曲線関数であり、ｘ＝（ｙ－Ｐ_ａｖｅ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙは、ｘの独立変数であり、ｙの値範囲は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Ｐ_ａｖｅは、試験アイパターンの平均光パワーであり、σ_Ｌは、第２標準偏差であり、Ｃ_ｅｑは、ノイズエンハンスメント係数であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第２標準偏差を参照して取得される正規分布曲線関数は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を正確に反映することができる。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて第２標準偏差を決定することは、
数値シミュレーションを通じて、第１式を満足する第２標準偏差を決定することを含み、
第１式は、

であり、ｆ_ｕｌ（ｙ）は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Ｑ（ｘ）は、正規分布曲線関数であり、ｆ_ｌｌ（ｙ）は、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}は、目標ビット誤り率である。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ヒストグラム分布関数及び正規分布曲線関数に対して乗算及び積分を実行した結果をヒストグラム分布関数の積分で割ることは、ノイズがσ_Ｌであるときに光受信器が光信号を誤って決定する確率（すなわち、ビット誤り率（ＢＥＲ））を正規化された様態で表し得る。従って、目標ビット誤り率に対応するσ_Ｌが計算される。そのようなものとして、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、正確に推定され得る。

可能な実施で、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第１パラメータの値を決定することは、
Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（（ＯＭＡ／２Ｑ）×（１／Ｒ））＋Ｍに従って第１パラメータの値を決定することを含み、
Ｔは、第１パラメータであり、ＯＭＡは、光変調振幅であり、Ｑは、前もってセットされたＱ係数であり、Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｍは、第１補償係数であり、Ｍは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、前もってセットされたＱ係数に対するＯＭＡの比は、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を表し得るので、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に対する、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差の比は、前もってセットされたＱ係数に対するＯＭＡの比を、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒで割ることによって、取得され得る。その比を使用して、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。

可能な実施で、前もってセットされたＱ係数は、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのＱ係数であり、前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのＱ係数が、前もってセットされたＱ係数として使用される。そのようなものとして、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、光変調振幅と前もってセットされたＱ係数との比を使用して取得され得る。

可能な実施で、第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
第１標準偏差及び第４標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することを含み、
第４標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、試験アイパターンを構成するために又はサンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を取り出すために必要なデータは、受信端のベースノイズを含み、受信端のベースノイズは、実際の伝送シナリオでは存在しないので、受信端のベースノイズは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの、第１標準偏差によって表されるより小さい標準偏差をもたらす。従って、受信端のベースノイズ及び第１標準偏差は組み合わされ、それにより、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの取得された標準偏差の正確さは、確かにされ得る。

可能な実施で、第１標準偏差及び第４標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を得るよう、第１標準偏差の二乗と第４標準偏差の二乗との和の平方根を計算することを含む。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低く、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第２標準偏差を決定することは、
第１サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第２サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定することと、
第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて第２標準偏差を決定することと
を含み、
第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第２標準偏差、及び第２補償係数に基づいて決定され、第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第２標準偏差に基づいて決定され、第２補償係数は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用され、正規分布曲線関数は、サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされる最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用されるので、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、ヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数を参照して正確に決定され得る。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第２標準偏差、及び第２補償係数に基づいて決定されることは、
第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、

に従って決定されることを含み、
第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第２標準偏差に基づいて決定されることは、
第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、

に従って決定されることを含み、
Ｑ（ｘ_ｕｌ）は、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、ｘ_ｕｌ＝（ｙ－Ｐ_ｔｈ）／（Ｃ_ｅｑ・Ｍ_１・σ_Ｌ）であり、Ｑ（ｘ_ｌｌ）は、第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、ｘ_ｌｌ＝（Ｐ_ｔｈ－ｙ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙは、ｘ_ｕｌ及びｘ_ｌｌの独立変数であり、ｙの値範囲は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Ｐ_ｔｈは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σ_Ｌは、第２標準偏差であり、Ｃ_ｅｑは、ノイズエンハンスメント係数であり、Ｍ_１は、第２補償係数であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、試験アイパターンの上眼瞼及びした眼瞼が目標ビット誤り率に達するときにサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差がアイパターンの消光比とともに変化するという特徴に関して、試験アイパターン上の異なる位置でのサンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定された第２補償係数を使用して、差別化した方法で決定され、それにより、各サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布は、正確に反映され得る。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて第２標準偏差を決定することは、
数値シミュレーションを通じて、第２式を満足する第２標準偏差を決定することを含み、
第２式は、

であり、ｆ_ｕｌ（ｙ）は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ｆ_ｌｌ（ｙ）は、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}は、目標ビット誤り率である。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ヒストグラム分布関数及び正規分布曲線関数に対する乗算及び積分を実行した結果をヒストグラム分布関数の積分で割ることは、ノイズがσ_Ｌであるときに光受信器が光信号を誤って決定する確率（すなわち、ビット誤り率）を正規化された様態で表し得る。従って、目標ビット誤り率に対応するσ_Ｌが計算され、それにより、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、正確に推定され得る。

可能な実施で、第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
第１標準偏差、第２補償係数、及び第４標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することを含み、
第４標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、試験アイパターンを構成するために又はサンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を取り出すために必要なデータは、受信端のベースノイズを含み、受信端のベースノイズは、実際の伝送シナリオでは存在しないので、受信端のベースノイズは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの、第１標準偏差によって表されるより小さい標準偏差をもたらす。従って、受信端のベースノイズ、第２補償係数、及び第１標準偏差は組み合わされ、それにより、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの取得された標準偏差の正確さは、確かにされ得る。

可能な実施で、第１標準偏差、第２補償係数、及び第４標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
Ｒ＝√（［（１＋Ｍ_１）σ_Ｇ］^２＋σ_Ｓ ^２）に従って、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することを含み、
Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｍ_１は、第２補償係数であり、σ_Ｇは、第１標準偏差であり、σ_Ｓは、第４標準偏差である。

可能な実施で、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第１パラメータの値を決定することは、
Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}／Ｒ）に従って第１パラメータの値を決定することを含み、
Ｔは、第１パラメータであり、Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}は、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない。

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}は、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を表し得るので、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に対する、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差の比は、Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}を、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒで割ることによって、取得され得る。その比を使用して、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。

可能な実施で、方法は、
前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを得ることと、
前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び目標ビット誤り率に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと
を更に含む。

可能な実施で、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び目標ビット誤り率に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
数値シミュレーションを通じて、第３式を満足しかつ前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差を決定することと、
前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと
を含み、
第３式は、（１／２）［Ｑ（ｘ_ｕ）＋Ｑ（ｘ_ｌ）］＝ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}であり、
Ｑ（ｘ_ｕ）は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数であり、

であり、ｘ_ｕ＝（Ｐｕ_{ｉｄｅａｌ}－Ｐ_ｔｈ）／（Ｍ_２・σ_{ｉｄｅａｌ}）であり、Ｑ（ｘ_ｌ）は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数であり、

であり、ｘ_ｌ＝（Ｐ_ｔｈ－Ｐｌ_{ｉｄｅａｌ}）／σ_{ｉｄｅａｌ}であり、Ｐｕ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Ｐｌ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Ｐ_ｔｈは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数であり、Ｍ_２は、第３補償係数であり、第３補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定される。

可能な実施で、ノイズエンハンスメント係数は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定される。

可能な実施で、ノイズエンハンスメント係数が、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定されることは、
ノイズエンハンスメント係数が、Ｃ_ｅｑ＝√（∫_ｆＮ（ｆ）×Ｈ_ｅｑ（ｆ）ｄｆ）に従って決定されること、又は
ノイズエンハンスメント係数が、Ｃ_ｅｑ＝√（∫_ｆＮ（ｆ）×｜Ｈ_ｅｑ（ｆ）｜^２ｄｆ）に従って決定されることを含み、
ｆは周波数であり、Ｎ（ｆ）は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルであり、Ｈ_ｅｑ（ｆ）は、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答であり、∫_ｆＮ（ｆ）ｄｆは１に等しく、Ｈ_ｅｑ（ｆ）は、ｆが０に等しいときに１に等しい。

第２の態様に従って、本願の実施形態は、適合性試験装置であって、
光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得するよう構成される取得モジュールであり、光信号は、非ゼロ復帰パルス振幅変調２レベルスキームを使用して変調を通じて光送信器によって生成される、取得モジュールと、
試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて試験アイパターンを生成し、試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第１パラメータの値を計算するよう構成される処理モジュールと、
第１パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定するよう構成される決定モジュールと
を有する装置を提供する。

可能な実施で、光信号が最も高い相対強度ノイズの下で光送信器によって送信される場合に、光信号に対する適合性試験が成功することは、光送信器に対する適合性試験が成功することを表すために使用される。

可能な実施で、処理モジュールは、試験アイパターンに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第４サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第１標準偏差を決定し、第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定し、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第１パラメータの値を決定するよう構成され、
第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布し、第１標準偏差は、第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値であり、第２標準偏差は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第３標準偏差は、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。

可能な実施で、処理モジュールは、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第２標準偏差を決定し、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第３標準偏差を決定し、第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値を第１標準偏差として使用するよう構成される。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低く、
処理モジュールは、第１サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第２サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて第２標準偏差を決定するよう構成され、正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第２標準偏差に基づいて決定される。

可能な実施で、正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第２標準偏差に基づいて決定されることは、
正規分布曲線関数が、

に従って決定されることを含み、
Ｑ（ｘ）は、正規分布曲線関数であり、ｘ＝（ｙ－Ｐ_ａｖｅ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙは、ｘの独立変数であり、ｙの値範囲は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Ｐ_ａｖｅは、試験アイパターンの平均光パワーであり、σ_Ｌは、第２標準偏差であり、Ｃ_ｅｑは、ノイズエンハンスメント係数であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

可能な実施で、処理モジュールは、数値シミュレーションを通じて、第１式を満足する第２標準偏差を決定するよう構成され、第１式は、

であり、ｆ_ｕｌ（ｙ）は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Ｑ（ｘ）は、正規分布曲線関数であり、ｆ_ｌｌ（ｙ）は、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}は、目標ビット誤り率である。

可能な実施で、処理モジュールは、Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（（ＯＭＡ／２Ｑ）×（１／Ｒ））＋Ｍに従って第１パラメータの値を決定するよう構成され、
Ｔは、第１パラメータであり、ＯＭＡは、光変調振幅であり、Ｑは、前もってセットされたＱ係数であり、Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｍは、第１補償係数であり、Ｍは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。

可能な実施で、前もってセットされたＱ係数は、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのＱ係数であり、前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである。

可能な実施で、処理モジュールは、第１標準偏差及び第４標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう構成され、第４標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。

可能な実施で、処理モジュールは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を得るよう、第１標準偏差の二乗と第４標準偏差の二乗との和の平方根を計算するよう構成される。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低く、
処理モジュールは、第１サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第２サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて第２標準偏差を決定するよう構成され、
第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第２標準偏差、及び第２補償係数に基づいて決定され、第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第２標準偏差に基づいて決定され、第２補償係数は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。

可能な実施で、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第２標準偏差、及び第２補償係数に基づいて決定されることは、
第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、

に従って決定されることを含み、
第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第２標準偏差に基づいて決定されることは、
第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、

に従って決定されることを含み、
Ｑ（ｘ_ｕｌ）は、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、ｘ_ｕｌ＝（ｙ－Ｐ_ｔｈ）／（Ｃ_ｅｑ・Ｍ_１・σ_Ｌ）であり、Ｑ（ｘ_ｌｌ）は、第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、ｘ_ｌｌ＝（Ｐ_ｔｈ－ｙ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙは、ｘ_ｕｌ及びｘ_ｌｌの独立変数であり、ｙの値範囲は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Ｐ_ｔｈは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σ_Ｌは、第２標準偏差であり、Ｃ_ｅｑは、ノイズエンハンスメント係数であり、Ｍ_１は、第２補償係数であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

可能な実施で、処理モジュールは、数値シミュレーションを通じて、第２式を満足する第２標準偏差を決定するよう構成され、
第２式は、

であり、ｆ_ｕｌ（ｙ）は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ｆ_ｌｌ（ｙ）は、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}は、目標ビット誤り率である。

可能な実施で、処理モジュールは、第１標準偏差、第２補償係数、及び第４標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう構成され、第４標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。

可能な実施で、処理モジュールは、Ｒ＝√（［（１＋Ｍ_１）σ_Ｇ］^２＋σ_Ｓ ^２）に従って、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう構成され、
Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｍ_１は、第２補償係数であり、σ_Ｇは、第１標準偏差であり、σ_Ｓは、第４標準偏差である。

可能な実施で、処理モジュールは、Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}／Ｒ）に従って第１パラメータの値を決定するよう構成され、
Ｔは、第１パラメータであり、Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}は、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない。

可能な実施で、処理モジュールは、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを取得し、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び目標ビット誤り率に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう更に構成される。

可能な実施で、処理モジュールは、数値シミュレーションを通じて、第３式を満足しかつ前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差を決定し、前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう構成され、第３式は、

（１／２）［Ｑ（ｘ_ｕ）＋Ｑ（ｘ_ｌ）］＝ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}

であり、Ｑ（ｘ_ｕ）は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数であり、

であり、ｘ_ｕ＝（Ｐｕ_{ｉｄｅａｌ}－Ｐ_ｔｈ）／（Ｍ_２・σ_{ｉｄｅａｌ}）であり、Ｑ（ｘ_ｌ）は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数であり、

であり、ｘ_ｌ＝（Ｐ_ｔｈ－Ｐｌ_{ｉｄｅａｌ}）／σ_{ｉｄｅａｌ}であり、Ｐｕ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Ｐｌ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Ｐ_ｔｈは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数であり、Ｍ_２は、第３補償係数であり、第３補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定される。

可能な実施で、ノイズエンハンスメント係数は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定される。

可能な実施で、ノイズエンハンスメント係数が、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定されることは、
ノイズエンハンスメント係数が、Ｃ_ｅｑ＝√（∫_ｆＮ（ｆ）×Ｈ_ｅｑ（ｆ）ｄｆ）に従って決定されること、又は
ノイズエンハンスメント係数が、Ｃ_ｅｑ＝√（∫_ｆＮ（ｆ）×｜Ｈ_ｅｑ（ｆ）｜^２ｄｆ）に従って決定されることを含み、
ｆは周波数であり、Ｎ（ｆ）は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルであり、Ｈ_ｅｑ（ｆ）は、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答であり、∫_ｆＮ（ｆ）ｄｆは１に等しく、Ｈ_ｅｑ（ｆ）は、ｆが０に等しいときに１に等しい。

第２の態様及び第２の態様の可能な実施のうちのいずれか１つで提供される適合性試験装置の有利な効果については、第１の態様及び第１の態様の可能な実施のうちのいずれか１つの有利な効果を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

第３の態様に従って、本願の実施形態は、適合性試験装置であって、プロセッサ及びメモリを含み、
メモリは、コンピュータ実行可能なプログラムコードを記憶するよう構成され、プログラムコードは、命令を含み、プロセッサが命令を実行する場合に、命令は、適合性試験装置が第１の態様及び第１の態様の可能な実施のうちのいずれか１つで提供される適合性試験方法を実行することを可能にする、
適合性試験装置を提供する。

第４の態様に従って、本願の実施形態は、第１の態様及び第１の態様の可能な実施のうちのいずれか１つで提供される適合性試験方法を実行するよう構成されたユニット、モジュール、又は回路を含む適合性試験装置を提供する。適合性試験装置は、処理デバイスであってよく、あるいは、処理デバイスで使用されるモジュール、例えば、オシロスコープで使用されるチップであってよい。

第５の態様に従って、本願の実施形態は、命令を含むコンピュータプログラム製品を提供する。コンピュータプログラム製品がコンピュータで実行される場合に、コンピュータは、第１の態様及び第１の態様の可能な実施のうちのいずれか１つで提供される方法を実行することを可能にされる。

第６の態様に従って、本願の実施形態は、コンピュータ可読記憶媒体を提供する。コンピュータ可読記憶媒体は、命令を記憶しており、命令がコンピュータで実行される場合に、コンピュータは、第１の態様及び第１の態様の可能な実施のうちのいずれか１つで提供される方法を実行することを可能にされる。

本願の実施形態で提供される適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体に従って、イコライゼーション補償は、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号に含まれる試験シンボルパターンに対して実行され、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第１パラメータの値は、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数と、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて取得される試験アイパターンとに基づいて計算される。そのようなものとして、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、第１パラメータの値に基づいて、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得る。

本願の実施形態に従う試験システムの概略図である。 本願の実施形態に従う適合性試験方法の略フローチャートである。 本願の実施形態に従う試験アイパターンの概略図である。 本願の実施形態に従う他の適合性試験方法の略フローチャートである。 本願の実施形態に従う更なる他の適合性試験方法の略フローチャートである。 本願の実施形態に従う適合性試験装置の略構造図である。 本願の実施形態に従う他の適合性試験装置の略構造図である。

データ通信ネットワークにおける物理レイヤデバイスは、光送信器、チャネル（ケーブル又はファイバ）、及び光受信器のようなコンポーネントを含む。現在、光送信器を供給する前に、光送信器の製造者は、光送信器に対して適合性試験を実行する。適合性試験を通じて、光送信器が他の製造者によって供給されるチャネル及び／又は光受信器と適合することができるかどうかが正確に決定され得る。

現在、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを使用して光信号を変更する光送信器の場合に、適合性試験は、ＴＤＥＣ試験パラメータ及びその適合性試験方法を使用して、そのようなタイプの光送信器に対して実行される。伝送レートの一定した増大とともに、伝送されるデータ信号の品質に対するＩＳＩの影響はますます深刻である。そのため、ＦＦＥ、ＤＦＥ、及びＭＬＳＥのようなイコライゼーション受信技術が、直接変調及び直接検出に基づく光リンクに次第に導入されている。更に具体的に言えば、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を受信する場合に、光受信器は、光信号に対してイコライゼーション処理を実行する。

しかし、光受信器のイコライゼーション受信によって引き起こされる光信号品質の変化が既存の適合性試験ソリューションでは考慮されていないので、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかをどのように判定すべきかは、至急解決される必要がある問題である。

上記の問題を鑑みて、本願の実施形態は、光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかを判定するために、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を試験する適合性試験方法を提供する。

本願の実施形態を理解することを容易にするよう、本願の実施形態で使用される試験システムが、以下で記載及び紹介される。図１は、本願の実施形態に従う試験システムの概略図である。図１に示されるように、試験システムは、送信端に配置される偏光回転子（polarization rotator）、光学スプリッタ（optical splitter）、及び光学リフレクタ（optical reflector）（例えば、可変リフレクタ）と、受信端に配置される光－電気（optics to electrics，Ｏ／Ｅ）変換器、クロック回復ユニット（clock recovery unit，ＣＲＵ）、オシロスコープ、及びイコライザと、送信端及び受信端を接続する伝送媒体とを含んでよい。ここでの伝送媒体は、例えば、ファイバ、又はファイバのそれと等しい分散値を有している分散媒体であってよい。

偏光回転子は、試験されるべき光送信器（すなわち、以下で光送信器と簡単に呼ばれる、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを使用する光送信器）の相対強度ノイズを変化させるように、偏光回転子を通過する光信号の偏光方向を調整するよう構成される。従って、異なる相対強度ノイズの下で試験されるべき光送信器によって送信される光信号の間の適合性は、試験システムを使用して試験され得る。本願のこの実施形態で、偏光回転子は、光送信器と光学スプリッタとの間に配置されてよく、あるいは、光学スプリッタと光学リフレクタとの間に配置されてよい。これは制限されない。図１は、偏光回転子が光送信器と光学スプリッタとの間に配置される試験システムを示す。

光学リフレクタは、光学スプリッタを使用して光リンクへ接続され、そして、光送信器によって送信される光信号の、実際の伝送プロセスでの反射現象をシミュレーションするように、光リンク内の光信号を反射するよう構成される。本願のこの実施形態で、光学リフレクタのバンド幅は、受信端にある光－電気変換器のバンド幅と等しい。

光－電気変換器、クロック回復ユニット、及びイコライザは、光受信器（すなわち、イコライゼーション受信方法で光信号を受信する光受信器）の挙動をシミュレーションするよう構成される。光－電気変換器は、受信された光信号を電気信号に変換するよう構成される。クロック回復ユニットは、光送信器によって送信された光信号においてクロックを取り出すよう構成される。オシロスコープは、光－電気変換器及びクロック回復ユニットによって処理された電気信号内のシンボルパターンをシーケンスの形で収集するよう構成される。光変調振幅（optical modulation amplitude，ＯＭＡ）、平均光パワー、及び消光比のような、光送信器によって送信される光信号の光学パラメータは、電気信号内の収集されたシンボルパターンを使用して算定され得る。イコライザは、収集されたシンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行するよう構成される。任意に、オシロスコープは、シンボルパターンによってトリガされるオシロスコープであってよく、あるいは、実時間収集を実行するオシロスコープであってよい。シンボルパターンによってトリガされるオシロスコープは、前もってセットされたシンボルパターンの信号オシロスコープが検出した後で、オシロスコープが収集を開始するようトリガされる、ことを意味する。実時間収集を実行するオシロスコープは、オシロスコープが常に信号収集状態にある、ことを意味する。

光－電気変換器、クロック回復ユニット、及びイコライザは、オシロスコープから独立してよく、あるいは、オシロスコープに組み込まれてもよい、ことが留意されるべきである。図１に示される試験システムでは、光－電気変換器及びクロック回復ユニットは、オシロスコープから独立しており、イコライザは、オシロスコープに組み込まれている。

本願のこの実施形態で、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすかどうかが判定される場合に、最初に、光送信器によって送信された光信号は、試験システムを使用して受信端で収集されてよい。

テスターは、光送信器を起動し、前もってセットされたシンボルパターンの試験シーケンス（試験シーケンスと簡単に呼ばれる）を光送信器にロードする。ここでの試験シーケンスは、固定長さを有するシーケンスであってよい。シーケンスは、実際の伝送シナリオで送信されるデータをシミュレーションするよう、十分なランダム性を備えている。シーケンスのスペクトル成分（又は時間領域ランダム性）は、実際の伝送シナリオで送信されるデータのそれと類似し得る。光送信器は、光信号を生成するためにＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを使用して試験シーケンスを変調し、光信号を光リンクへ送る。テスターは、光信号の偏光方向を変えるよう、試験要件に従って偏光回転子を回転させてよい。次いで、試験システムのオシロスコープは、受信端で光信号内の試験シンボルパターンを収集してよい。試験シーケンスは固定長を有しているので、オシロスコープは、試験シーケンスの長さに基づいて光信号から試験シーケンスの完全なシンボルパターン（すなわち、試験シンボルパターン）を収集することができる。

任意に、オシロスコープは、非平均モードで試験シンボルパターンを収集してよく、あるいは、等価時間モードで試験シンボルパターンを収集してよい。試験シンボルパターンが光信号に対する５回の収集を通じて取得される例が、使用される。試験シンボルパターンが非平均モードで収集される場合に、オシロスコープは、異なるサンプリングパラメータの５つのグループを使用して、光信号に対して収集を５回実行してよい。ここでのサンプリングパラメータは、例えば、サンプリング開始点及びサンプリングインターバルを含んでよい。試験シンボルパターンが等価時間モードで収集される場合に、オシロスコープは、同じグループのサンプリングパラメータを使用して一度だけ光信号に対して収集を実行し、それから、収集されたシンボルパターンを４回繰り返す必要があり得る。

オシロスコープが光信号内の試験シンボルパターンを収集した後、本願のこの実施形態で、試験シンボルパターンは、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかを判定するために、処理及び解析されてよい。本願の実施形態における方法の実行主体は、プロセッシング機能を備えた処理デバイス、例えば、試験システムから独立したコンピュータ、サーバ、など、又は試験システム内のオシロスコープであってよい。本願の実施形態の実行主体が試験システムから独立した処理デバイスである場合に、イコライザは、試験システムにおいて独立して存在してよく、あるいは、試験システム内のオシロスコープに組み込まれてよく、あるいは、処理デバイスに組み込まれてよい。

イコライザが処理デバイス（例えば、試験システムから独立した処理デバイス、又は試験システム内のオシロスコープ）に組み込まれる場合に、イコライザは、ハードウェア及び／又はソフトウェアを使用して実施されてよい。例えば、イコライザは、処理デバイスにおいてイコライザモデルを構成することによって、実施されてよい。

実施形態は、本願の技術的解決について詳細に記載するために、以下で使用される。以下のいくつかの実施形態は、互いに組み合わされてよく、同じ又は類似した概念又はプロセスは、いくつかの実施形態で繰り返し記載されないことがある。

図２は、本願の実施形態に従う適合性試験方法の略フローチャートである。図２に示されるように、方法は、次のステップを含む：

Ｓ１０１．光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得する。

Ｓ１０２．試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて試験アイパターンを生成する。

Ｓ１０３．試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第１パラメータの値を計算する。

Ｓ１０４．第１パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定する。

例えば、オシロスコープによって収集された試験シンボルパターンを取得した後、処理デバイスは、実際の伝送プロセスでの光受信器のイコライゼーション受信をシミュレーションするように、イコライザを使用して試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行してよい。実施中、イコライザを使用して試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行する場合に、処理デバイスは、実際の伝送シナリオでの光受信器のイコライゼーション受信をシミュレーションするために、イコライザがイコライゼーション補償を実行した試験シンボルパターンについて、信号対ノイズ比が最適であり、ビット誤り率が最低であり、光信号の品質が最適であるように、イコライザのタップ係数を最良に最適化してよい。このようにして、ＩＳＩは、光送信器が許容可能な最も高い相加性ノイズを解析することの正確さを確かにするよう、補償され得る。この場合に、イコライザのタップ係数の和は、１に等しい。

図３は、本願の実施形態に従う試験アイパターンの概略図である。イコライザが収集された試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行した後、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて処理デバイスによって取得される試験アイパターンは、図３に示され得る。試験システムは、イコライゼーション受信方法で光受信器が光信号を受信するようなシミュレーションを行うので、合成を通じて試験アイパターンを取得する必要があるときに、処理デバイスは、イコライザによって出力されたノイズの振幅の正確さを確かにするために、収集プロセスにおいて、送信器でイコライザによって引き起こされたノイズの影響を補償する。

イコライザがイコライゼーション補償を実行する場合に、光信号のノイズも増強される。増強されたノイズは光信号の品質に影響を与えるので、本願のこの実施形態で、光送信器によって送信された光信号の品質を正確に推定するために、処理デバイスは、合成を通じて得られた試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑとに基づいて、第１パラメータ（光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすかどうかを推定するために使用されるパラメータ）の値を計算する。ここでのノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑは、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルＮ（ｆ）（すなわち、イコライザの入力端の正規化されたノイズパワースペクトル密度）と、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答Ｈ_ｅｑ（ｆ）（すなわち、イコライザの正規化された周波数応答）とに基づいて、決定されてよい。

例えば、ノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑは、次の式（０）又は式（１）に従って決定されてよい。式（０）及び式（１）は、次の通りである：

Ｃ_ｅｑ＝√（∫_ｆＮ（ｆ）×Ｈ_ｅｑ（ｆ）ｄｆ） （０）；及び

Ｃ_ｅｑ＝√（∫_ｆＮ（ｆ）×｜Ｈ_ｅｑ（ｆ）｜^２ｄｆ） （１）

ここで、ｆは周波数であり、Ｎ（ｆ）は、０．７５×ボーレートを有する４次ベッセル－トムソン応答フィルタのフィルタリング後に取得されるホワイトノイズパワースペクトル密度に等しく、∫_ｆＮ（ｆ）ｄｆは１に等しく、Ｈ_ｅｑ（ｆ）は、ｆが０に等しいときに１に等しい。

以下は、図３に示される試験アイパターンを参照して、処理デバイスによって、試験アイパターン及びノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑに基づいて第１パラメータの値を計算する具体的なステップについて記載する。

図４は、本願の実施形態に従う他の適合性試験方法の略フローチャートである。図４に示されるように、方法は、次のステップを含む：

Ｓ２０１．試験アイパターンに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第４サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、このとき、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布する。

Ｓ２０２．第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第１標準偏差を決定すし、このとき、第１標準偏差は第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値であり、第２標準偏差は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第３標準偏差は、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。

Ｓ２０３．第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定する。

Ｓ２０４．目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第１パラメータの値を決定する。

イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて試験アイパターンを取得した後、処理デバイスは、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅ（光送信器によって送信された光信号の平均光パワーに等しい）を計算してよい。詳細は、次の式（２）に示され得る：

Ｐ_ａｖｅ＝（Ｐ_ｕ＋Ｐ_ｌ）／２ （２）

ここで、Ｐ_ｕは、試験アイパターンの上眼瞼の平均光パワーであり、Ｐ_ｌは、試験アイパターンの下眼瞼の平均光パワーである。

試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅを計算した後、処理デバイスは、平均光パワーＰ_ａｖｅの値に基づいて、試験アイパターン上の平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線の位置を決定してよい。次いで、処理デバイスは、時間軸の方向において試験アイパターンを正規化するために、試験アイパターン上の平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線の位置と、試験アイパターン上の交差の位置とに基づいて、試験アイパターン上の０単位区間（unit interval，ＵＩ）の位置及び１ＵＩの位置を決定してよい。試験アイパターン上の０ＵＩの位置、１ＵＩの位置、及び平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線の位置は、図３に示され得る。処理デバイスによって時間軸の方向において試験アイパターンを正規化する方法については、他のアプローチを参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

時間軸の方向において試験アイパターンを正規化した後、処理デバイスは、試験アイパターン上の０ＵＩの位置、１ＵＥの位置、及び平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線の位置に基づいて、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第４サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成してよい。第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左半分部分において垂直方向に対称に分布し、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右半分部分において垂直方向に対称に分布する。

試験アイパターン上のサンプリングウィンドウの位置は、この実施形態で制限されない。例えば、サンプリングウィンドウは、アイが最大限に開いている位置の近くで分割されてよい。サンプリングウィンドウの幅は、試験要件に従って決定されてよい。例えば、サンプリングウィンドウの幅は、０．０４ＵＩであってよい。サンプリングウィンドウの高さは、サンプリング点の脱漏を回避するために、サンプリングウィンドウが、平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線に最も近い全てのサンプリング点と、平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線から最も離されている全てのサンプリング点とをカバーすることができるように、試験アイパターンに基づいて決定されてよい。サンプリングウィンドウは、サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいてその後に取得されるヒストグラム分布関数の正確さが、ヒストグラム分布関数に基づいて計算される第２標準偏差及び第３標準偏差の正確さを確かにするよう確かにされ得るように、このようにして分割される。詳細については、続く記載を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

例えば、平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線の近くにあるサンプリングウィンドウの境界は、平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線に可能な限り近づくことを可能にされてよく、平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線から遠くにあるサンプリングウィンドウの境界は、アイが最大限に開いている位置を越えることを可能にされてよい。このようにして、サンプリングウィンドウの境界が更に外へ広げられる場合に、余分のサンプリング点はサンプリングウィンドウに入らない。

例えば、図３は、０．４ＵＩの位置及び０．６ＵＩ後でサンプリングウィンドウを構成する概略図である．各サンプリングウィンドウの幅は０．０４ＵＩであると仮定される。更に具体的に言えば、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウは、０．３８ＵＩから０．４２ＵＩの間に位置し、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウは、０．５８から０．６２ＵＩの間に位置する。第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点及び第３サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点及び第４サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置する例が、使用される。それから、第１サンプリングウィンドウは、０．３８ＵＩから０．４２ＵＩの間にあって、試験アイパターン上の平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高い全てのサンプリング点を含んでよく、第２サンプリングウィンドウは、０．３８ＵＩから０．４２ＵＩの間にあって、試験アイパターン上の平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低い全てのサンプリング点を含んでよく、第３サンプリングウィンドウは、０．５８から０．６２ＵＩの間にあって、試験アイパターン上の平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高い全てのサンプリング点を含んでよく、第４サンプリングウィンドウは、０．５８から０．６２ＵＩの間にあって、試験アイパターン上の平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低い全てのサンプリング点を含んでよい。

試験アイパターンにおいて第１サンプリングウィンドウ、第２サンプリングウィンドウ、第３サンプリングウィンドウ、及び第４サンプリングウィンドウを分けた後、処理デバイスは、第１サンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、第２サンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、第３サンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいて第３サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、第４サンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいて第４サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成してよい。処理デバイスがサンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいてサンプリングウィンドウのヒストグラムをどのように構成するかについては、他のアプローチの説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第４サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し終えた後、処理デバイスは、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑに基づいて第２標準偏差σ_Ｌを決定し、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑに基づいて第３標準偏差σ_Ｒを決定してよい。更に、処理デバイスは、第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒのうちの小さい方の値を第１標準偏差σ_Ｇとして使用してよい。

以下は、図３に示される第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウを例として使用して、処理デバイスが第２標準偏差σ_Ｌをどのように決定するかについて記載する。言い換えれば、第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低い、と考えられる。

処理デバイスは、第１サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ｆ_ｕｌ（ｙ）を決定し、第２サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ｆ_ｌｌ（ｙ）を決定してよい。ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウ内のサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用される。

それから、処理デバイスは、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ｆ_ｕｌ（ｙ）、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ｆ_ｌｌ（ｙ）、目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}、及び正規分布曲線関数Ｑ（ｘ）に基づいて第２標準偏差σ_Ｌを決定してよい。実施中に、処理デバイスは、第１式を使用して第２標準偏差σ_Ｌを決定してよい。第１式は、次の式（３）に示されてよい：

ここで、正規分布曲線関数Ｑ（ｘ）は、正規分布曲線においてｘよりも大きい値を有する領域であってよく、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用され、ｙは、ｘの独立変数であり、第２標準偏差σ_Ｌが決定される場合に、正規分布曲線関数Ｑ（ｘ）は、ノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑ、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅ、及び第２標準偏差σ_Ｌに基づいて決定され得る。

詳細は、次の式（４）に示される：

ここで、ｘ＝（ｙ－Ｐ_ａｖｅ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙの値範囲は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウ内のサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用され、Ｑ（ｘ）は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用されるから、それら２つに対して乗算及び積分を実行した結果をヒストグラム分布関数の積分で割ることは、ノイズがσ_Ｌであるときに光受信器が光信号を誤って決定する確率（すなわち、ビット誤り率）を、正規化された様態で表し得る。例えば、第１式の式の左側にある第１項は、光信号１が誤って０と決定される確率を計算するために使用され、式の左側にある第２項は、光信号０が誤って１と決定される確率を計算するために使用される。それら２つの項の夫々の２分の１が求められ、そして、２分の１どうしが足し合わされて、σ_Ｌの値の下での試験アイパターンに対応するビット誤り率が得られる。

本願のこの実施形態で、目標ビット誤り率は、前方誤り訂正（forward error correction，ＦＥＣ）の閾値である。更に具体的に言えば、第１式中の目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}に対応するσ_Ｌの値は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。更に具体的に言えば、σ_Ｌの値により、第１式の式の左側にある２つの項を加算することによって得られるビット誤り率が目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}よりも大きくなることが可能である場合に、光受信器は、ＦＥＣを通じて、光送信器によって送信された光信号を正確に受信することができない。従って、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、統計解析法において第１式を使用して推定され得る。

第２標準偏差σ_Ｌが第１式を使用して計算される場合に、処理デバイスは、第１式をパースすることによって第２標準偏差σ_Ｌの値を取得することができないので、処理デバイスは、数値シミュレーションを通じて、第１式を満足する第２標準偏差σ_Ｌを決定してよい。

図５は、本願の実施形態に従う更なる他の適合性試験方法の略フローチャートである。図５に示されるように、方法は、次のステップを含む。

Ｓ３０１．第２標準偏差の値として初期値を使用し、値を第１式に代入して初期ビット誤り率を得る。

Ｓ３０２．初期ビット誤り率が目標ビット誤り率に等しいかどうかを判定し、初期ビット誤り率が目標ビット誤り率に等しい場合には、ステップＳ３０３を実行し、あるいは、初期ビット誤り率が目標ビット誤り率に等しくない場合には、ステップＳ３０４を実行する。

Ｓ３０３．初期ビット誤り率に対応する初期値を第２標準偏差として使用する。

Ｓ３０４．初期ビット誤り率が目標ビット誤り率よりも大きいかどうかを判定し、初期ビット誤り率が目標ビット誤り率よりも大きい場合には、Ｓ３０５を実行し、あるいは、初期ビット誤り率が目標ビット誤り率よりも大きくない場合には、Ｓ３０６を実行する。

Ｓ３０５．初期値を減らす。

Ｓ３０５が実行された後、Ｓ３０１が実行される。

Ｓ３０６．初期値を増やす。

Ｓ３０６が実行された後、Ｓ３０１が実行される。

図５に示される方法に従って、処理デバイスは、数値シミュレーションを通じて、第１式を満足する第２標準偏差σ_Ｌを決定し得る。

処理デバイスが第２標準偏差σ_Ｌをどのように決定するかは、第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低い例を使用して、記載及び紹介されることが理解され得る。当業者であれば、第２標準偏差σ_Ｌは、第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高い場合に上記方法で依然として決定され得る、と理解し得る。詳細は、ここで再び記載されない。

相応して、処理デバイスはまた、第２標準偏差σ_Ｌを決定する方法において依然として、第３標準偏差σ_Ｒを決定し得る。第３サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高く、第４サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低い、と考えられる。処理デバイスが第１式を使用して第３標準偏差σ_Ｒを決定する場合に、第１式は、次の式（５）に示され得る：

ここで、ｆ_ｕｒ（ｙ）は、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ｆ_ｌｒ（ｙ）は、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、正規分布曲線関数Ｑ（ｘ）は、正規分布曲線においてｘよりも大きい値を有する領域であってよく、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用され、ｙは、ｘの独立変数である。第３標準偏差σ_Ｒが決定される場合に、正規分布曲線関数Ｑ（ｘ）は、ノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑ、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅ、及び第３標準偏差σ_Ｒに基づいて決定され得る。詳細は、次の式（６）に示される：

ここで、ｘ＝（ｙ－Ｐ_ａｖｅ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｒ）であり、ｙの値範囲は、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

上記の式（５）及び（６）によって表される意味については、第２標準偏差を計算する式（３）及び（４）の説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。その上、処理デバイスが、数値シミュレーションを通じて、第１式を満足する第３標準偏差σ_Ｒをどのように決定するかについては、処理デバイスによって数値シミュレーションを通じて、第１式を満足する第２標準偏差σ_Ｌを決定することの説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

処理デバイスが第３標準偏差σ_Ｒをどのように決定するかは、第３サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高く、第４サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低い例を使用して、記載及び紹介されることが理解され得る。当業者であれば、第３標準偏差σ_Ｒは、第３サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低く、第４サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高い場合に上記方法で依然として決定され得る、と理解し得る。詳細は、ここで再び記載されない。

上記の方法で第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒを決定した後、処理デバイスは、第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒのうちの小さい方の値を第１標準偏差σ_Ｇとして使用してよい。試験アイパターンが水平方向に対称である場合に、第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒは等しいはずであることが留意されるべきである。しかし、試験アイパターンは、光送信器の性能要因などにより、水平方向に対称であり得ないので、より小さい標準偏差を有している試験アイパターンの側が、第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒを計算する方法において取得され得る。より小さい標準偏差は、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得るより悪い最も高い相加性ノイズを示すので、その後の計算及び処理は、２つの側の標準偏差のうちの小さい方の標準偏差を使用して実行され、それにより、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすかどうかは、正確に決定され得る。

受信端に位置するオシロスコープ、光－電気変換器、などのベースノイズは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差が計算されるときに考慮されない。しかし、試験アイパターンを構成するために又はサンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を取り出すために必要なデータは、受信端のベースノイズを含む。受信端のベースノイズは、実際の伝送シナリオでは存在しないので、受信端のベースノイズは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズのより小さい計算された標準偏差をもたらす。従って、処理デバイスは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの取得された標準偏差Ｒの正確さを確かにするよう、第１標準偏差σ_Ｇを取得した後に受信端のベースノイズを加えてよい。

実施中に、処理デバイスは、第１標準偏差σ_Ｇ及び第４標準偏差σ_Ｓに基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒを決定してよい。詳細は、次の式（７）に示される：

Ｒ＝√（σ_Ｇ ^２＋σ_Ｓ ^２） （７）

ここでの第４標準偏差σ_Ｓは、光受信器側のベースノイズ和の分散である。図１に示される試験システムに対応して、光受信器側のベースノイズは、受信端での光－電気変換器のベースノイズ及びオシロスコープのベースノイズを含む。従って、試験シンボルパターンが図１に示される試験システムを使用して収集される場合に、第４標準偏差σ_Ｓは、受信端での光－電気変換器のベースノイズ和及びオシロスコープのベースノイズ和の標準偏差である。

目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒを決定した後、処理デバイスは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒに基づいて第１パラメータＴの値を決定してよい。詳細は、次の式（８）に示される：

Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（（ＯＭＡ／２Ｑ）×（１／Ｒ））＋Ｍ （８）

ここで、ＯＭＡは、試験アイパターンの光変調振幅であり、Ｑは、前もってセットされたＱ係数であり、Ｍは、第１補償係数である。

前もってセットされたＱ係数は、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのＱ係数であり、ここでの前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである。試験シンボルパターンの光変調振幅ＯＭＡは、次の式（９）に示され得る：

ＯＭＡ＝Ｐ_ｕ－Ｐ_ｌ （９）

ここで、Ｐ_ｕは、試験アイパターンの上眼瞼の平均光パワーであり、Ｐ_ｌは、試験アイパターンの下眼瞼の平均光パワーである。

上記の式（７）に対応して、実際のリンクで光受信器によって使用される光電子検出器がポジティブ・イントリンシック・ネガティブ（positive-intrinsic-negative，ＰＩＮ）フォトダイオード（ＰＩＮ光受信器とも呼ばれる）である場合に、Ｍの値は０であり得る。実際のリンクで光受信器によって使用される光電子検出器が他のタイプの光電子検出器（非ＰＩＮ光受信器）である場合に、第１補償係数Ｍは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定され得る。更に具体的に言えば、Ｍは、独立変数として試験アイパターンの消光比を使用する経験的関数である。経験的関数は、光受信器モデルを構成し、シミュレーションを実行することによって、決定され得る。ここでの消光比は、次の式（１０）に示され得る：

ＥＲ＝Ｐ_ｕ／Ｐ_ｌ （１０）

前もってセットされたＱ係数に対するＯＭＡの比は、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を表し得るので、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に対する、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差の比は、前もってセットされたＱ係数に対するＯＭＡの比を、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒで割ることによって、取得され得る。その比を使用して、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。例えば、第１パラメータＴの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光送信器によって送信された光信号に対する適合性試験は成功する、と決定される。言い換えれば、光送信器によって送信された光信号は、光受信器の使用要件を満たすことができる。第１パラメータＴの値が前もってセットされた閾値よりも大きい場合に、光送信器によって送信された光信号に対する適合性試験は失敗する、と決定される。言い換えれば、光送信器によって送信された光信号は、光受信器の使用要件を満たすことができない。

上記の実施形態で記載されたように、実際のリンクでの光受信器は、ＰＩＮ光受信器及び非ＰＩＮ光受信器を含む。非ＰＩＮ光受信器の場合に、非ＰＩＮの総ノイズは、主に相互インピーダンス増幅器（transimpedance amplifier，ＴＩＡ）の熱ノイズを含まない。このシナリオでは、光送信器が光信号を非ＰＩＮ光受信器へ送信する場合に、イコライゼーション受信方法で非ＰＩＮ光受信器によって受信される光信号に基づいて合成を通じて取得されるアイパターンにおいて、アイパターンの上眼瞼が目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差と、アイパターンの下眼瞼が目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差とは、もはや等しくなく、アイパターンの消光比とともに変化する。従って、第１パラメータＴの値を計算するときに、処理デバイスは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される第２補償係数Ｍ_１によって引き起こされる影響を考慮する必要がある。

実施中、第２補償係数Ｍ１と消光比との間の関係は、消光比と補償係数との間のチェックリスト、又は消光比と補償係数との間の関数関係を使用して表され得る。チェックリスト又は関数関係は、前もってセットされた光受信器（標準光受信器と代替的に呼ばれ得る）のモデルを構成することによって決定されてよい。次の２つの方法が含まれてよい。

第１の方法で、前もってセットされた光受信器のモデルを構成した後、処理デバイスは、各消光比の下での前もってセットされた光受信器の第５標準偏差及び第６標準偏差を取得してよい。第５標準偏差は、各消光比の下で前もってセットされた光受信器によって受信される光信号に対応するアイパターンの上眼瞼が目標ビット誤り率に達するときにサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第６標準偏差は、各消光比の下で前もってセットされた光受信器によって受信される光信号に対応するアイパターンの下眼瞼が目標ビット誤り率に達するときにサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。

次いで、処理デバイスは、各消光比に対応する補償係数を取得するよう、第５標準偏差を各消光比の下での第６標準偏差で割り算してよく、各消光比に対応する補償係数に基づいて消光比と補償係数との間のチェックリスト又は消光比と補償係数との間の関数関係を更に確立してよい。

任意に、各消光比の下での前もってセットされた光受信器の取得された第５標準偏差及び第６標準偏差は、前もってセットされた決定レベルにおけるかつ各消光比の下での前もってセットされた光受信器の第５標準偏差及び第６標準偏差であってよい。前もってセットされた決定レベルは、例えば、Ｒ_{ｒｅｓｐｏｎｓｉｖｉｔｙ}（Ｐ_０＋Ｐ_１）／２又はＲ_{ｒｅｓｐｏｎｓｉｖｉｔｙ}（σ_１Ｐ_０＋σ_０Ｐ_１）／（σ_１＋σ_０）に等しくなり得る。Ｒ_{ｒｅｓｐｏｎｓｉｖｉｔｙ}は、前もってセットされた光受信器の応答速度であり、Ｐ_０は、各消光比の下で前もってセットされた光受信器によって受信される光信号に対応するアイパターンの上眼瞼の平均光パワーであり、Ｐ_１は、各消光比の下で前もってセットされた光受信器によって受信される光信号に対応するアイパターンの下眼瞼の平均光パワーであり、σ_１は、第５標準偏差であり、σ_０は、第６標準偏差である。

前もってセットされた光受信器は、前もってセットされたバンド幅、応答速度、熱ノイズ、ショットノイズ、及び自然放射ビートノイズのような光受信器のパラメータに基づいて決定されてよいことが理解され得る。パラメータの値は、光受信器の製造者のシミュレーション、製造、及び試験プロセスにおいて典型的な値を使用して決定されてよい。

第２の方法で、前もってセットされた光受信器のモデルを構成した後、処理デバイスは、各消光比の下での前もってセットされた光受信器の各感度値に対応する第５標準偏差及び第６標準偏差を取得してよい。ここでの感度値は、目標ビット誤り率が到達されるときに各消光比の下での前もってセットされた光受信器の感度値である。

次いで、処理デバイスは、各消光比の下での各感度値に対応する補償係数を取得するよう、各消光比の下での各感度値に対応する第５標準偏差を第６標準偏差で割り、各消光比の下での各感度値に対応する補償係数に基づいて、消光比、感度、及び補償係数の間のチェックリスト、又は消光比、感度、及び補償係数の間の関数関係を確立してよい。

任意に、各消光比の下での前もってセットされた光受信器の各感度値に対応する取得された第５標準偏差及び第６標準偏差は、前もってセットされた決定レベルにおけるかつ各消光比の下での前もってセットされた光受信器の各感度値に対応する第５標準偏差及び第６標準偏差であってよい。前もってセットされた決定レベル及び前もってセットされた光受信器の説明については、上記の説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

実際のリンクで光受信器が非ＰＩＮ光受信器である場合に、第２補償係数Ｍ_１の値は、試験アイパターンの消光比、又は上記の方法のうちのどちらか一方で決定される、消光比と補償係数との間のチェックリスト、又は上記の方法のうちのどちらか一方で決定される、消光比と補償係数との間の関数関係に基づいて、決定されてよいことが留意されるべきである。第２補償係数Ｍ_１の値が第２の方法で決定される場合に、光受信器の感度が更に考慮される必要があることが理解され得る。詳細は、ここでは記載されない。実際のリンクで光受信器がＰＩＮ光受信器である場合に、第２補償係数Ｍ_１の値は、１であってよく、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される必要がない。

以下は、処理デバイスが第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、ノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑ、及び試験アイパターンの消光比に基づいて決定される第２補償係数Ｍ_１に基づいて、どのように第１パラメータの値を計算するかについて記載される。

第１に、処理デバイスが第２標準偏差σ_Ｌをどのように決定するかが、依然として例として図３に示される第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウを使用して記載される。言い換えれば、第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低い、と考えられる。

処理デバイスは、第１サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ｆ_ｕｌ（ｙ）を決定し、第２サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ｆ_ｌｌ（ｙ）を決定してよい。ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用される。

それから、処理デバイスは、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ｆ_ｕｌ（ｙ）、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ｆ_ｌｌ（ｙ）、目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}、及び第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｕｌ）、第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｌｌ）に基づいて第２標準偏差σ_Ｌを決定してよい。実施中に、処理デバイスは、第２式を使用して第２標準偏差σ_Ｌを決定してよい。第２式は、次の式（１１）に示されてよい：

第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｕｌ）は、正規分布曲線においてｘ_ｕｌよりも大きい値を有する領域であってよく、第１サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用される。第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｌｌ）は、正規分布曲線においてｘ_ｌｌよりも大きい値を有する領域であってよく、第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用される。ｙは、ｘ_ｕｌ及びｘ_ｌｌの独立変数である。

第２標準偏差σ_Ｌが決定される場合に、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｕｌ）は、ノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑ、前もってセットされた光パワー閾値Ｐ_ｔｈ、第２標準偏差σ_Ｌ、及び第２補償係数Ｍ_１に基づいて決定され得る。詳細は、次の式（１２）に示される：

第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｌｌ）は、ノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑ、前もってセットされた光パワー閾値Ｐ_ｔｈ、及び第２標準偏差σ_Ｌに基づいて決定され得る。詳細は、次の式（１３）に示される：

ここで、ｘ_ｕｌ＝（ｙ－Ｐ_ｔｈ）／（Ｃ_ｅｑ・Ｍ_１・σ_Ｌ）であり、ｘ_ｌｌ＝（Ｐ_ｔｈ－ｙ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙの値範囲は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

前もってセットされた光パワー閾値Ｐ_ｔｈの値は、光受信器によって実際の適用シナリオでの光信号を決定する閾値に基づいて、決定されてよい。例えば、Ｐ_ｔｈ＝Ｐ_ａｖｅ±ａ又はＰ_ｔｈ＝（σ_{ｉｄｅａｌ}Ｐ_１＋Ｍ_２・σ_{ｉｄｅａｌ}Ｐ_０）／（（Ｍ_２＋１）・σ_{ｉｄｅａｌ}）±ｂである。σ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差である。前もってセットされた光送信器は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない光信号を送信する光送信器である。前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得されるアイパターンは、前もってセットされたアイパターンと呼ばれる。Ｐ_１は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワーであり、Ｐ_０は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワーであり、Ｍ_２は、第３補償係数であり、第３補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比と、上記の方法のうちのどちらか一方で決定される、消光比と補償係数との間のチェックリスト、又は上記の方法のうちのどちらか一方で決定される、消光比と補償係数との間の関数関係とに基づいて決定される。ａ及びｂは両方とも、０以上であり、試験要件に従ってセットされてよい。

サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウ内のサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用され、サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用されるから、それら２つに対して乗算及び積分を実行した結果をヒストグラム分布関数の積分で割ることは、ノイズがσ_Ｌであるときに光受信器が光信号を誤って決定する確率（すなわち、ビット誤り率）を、正規化された様態で表し得る。例えば、第２式の式の左側にある第１項は、光信号１が誤って０と決定される確率を計算するために使用され、式の左側にある第２項は、光信号０が誤って１と決定される確率を計算するために使用される。それら２つの項の夫々の２分の１が求められ、そして、２分の１どうしが足し合わされて、σ_Ｌの値の下での試験アイパターンに対応するビット誤り率が得られる。

本願のこの実施形態で、目標ビット誤り率は、前方誤り訂正（forward error correction，ＦＥＣ）の閾値である。更に具体的に言えば、第１式中の目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}に対応するσ_Ｌの値は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。更に具体的に言えば、σ_Ｌの値により、第２式の式の左側にある２つの項を加算することによって得られるビット誤り率が目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}よりも大きくなることが可能である場合に、光受信器は、ＦＥＣを通じて、光送信器によって送信された光信号を正確に受信することができない。従って、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、統計解析法において第２式を使用して推定され得る。

第２標準偏差σ_Ｌが上記の第２式を使用して計算される場合に、処理デバイスは、第２式をパースすることによって第２標準偏差σ_Ｌの値を取得することができないので、処理デバイスは、数値シミュレーションを通じて、第２式を満足する第２標準偏差σ_Ｌを決定してよい。処理デバイスが、数値シミュレーションを通じて、第２式を満足する第２標準偏差σ_Ｌをどのように決定するかについては、処理デバイスによって、数値シミュレーションを通じて、第１式を満足する第２標準偏差σ_Ｌを決定することの説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

相応して、処理デバイスまた、第２標準偏差σ_Ｌを決定する方法において依然として、第３標準偏差σ_Ｒを決定し得る。第３サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも高く、第４サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーＰ_ａｖｅの概略線よりも低い、と考えられる。処理デバイスが第２式を使用することによって第３標準偏差σ_Ｒを決定する場合に、第２式は、次の式（１４）に示され得る：

ここで、ｆ_ｕｒ（ｙ）は、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ｆ_ｌｒ（ｙ）は、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Ｑ（ｘ_ｕｒ）は、第３サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、Ｑ（ｘ_ｕｒ）は、正規分布曲線においてｘ_ｕｒよりも大きい値を有する領域であってよく、第３サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用され、Ｑ（ｘ_ｌｒ）は、第４サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、Ｑ（ｘ_ｌｒ）は、正規分布曲線においてｘ_ｌｒよりも大きい値を有する領域であってよく、第４サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用され、ｙは、ｘ_ｕｒ及びｘ_ｌｒの独立変数である。

第３標準偏差σ_Ｒが決定される場合に、第３サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｕｒ）は、ノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑ、前もってセットされた光パワー閾値Ｐ_ｔｈ、第３標準偏差σ_Ｒ、及び第２補償係数Ｍ_１に基づいて決定され得る。詳細は、次の式（１５）に示される：

第４サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｌｒ）は、ノイズエンハンスメント係数Ｃ_ｅｑ、前もってセットされた光パワー閾値Ｐ_ｔｈ、及び第３標準偏差σ_Ｒに基づいて決定され得る。詳細は、次の式（１６）に示される：

ここで、ｘ_ｕｒ＝（ｙ－Ｐ_ｔｈ）／（Ｃ_ｅｑ・Ｍ_１・σ_Ｒ）であり、ｘ_ｌｒ＝（Ｐ_ｔｈ－ｙ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｒ）であり、ｙの値範囲は、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Ｍ_１は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定され、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

上記の式（１５）及び（１６）によって表される意味については、第２標準偏差を計算する式（１２）及び（１３）の説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。その上、処理デバイスが、数値シミュレーションを通じて、第２式を満足する第３標準偏差σ_Ｒをどのように決定するかについては、処理デバイスによって数値シミュレーションを通じて、第２式を満足する第２標準偏差σ_Ｌを決定することの説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

上記の方法で第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒを決定した後、処理デバイスは、第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒのうちの小さい方の値を第１標準偏差σ_Ｇとして使用してよい。第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒのうちの小さい方の値を第１標準偏差σ_Ｇとして使用する技術的な効果については、“第２標準偏差σ_Ｌ及び第３標準偏差σ_Ｒのうちの小さい方の値を第１標準偏差σ_Ｇとして使用すること”の説明を参照されたい。

相応して、処理デバイスは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの取得された標準偏差Ｒの正確さを確かにするよう、第１標準偏差σ_Ｇを取得した後に受信端のベースノイズを加えてよい。

実施中に、処理デバイスは、第１標準偏差σ_Ｇ、第２補償係数Ｍ_１、及び第４標準偏差σ_Ｓに基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒを決定してよい。詳細は、次の式（１７）に示される：

Ｒ＝√（［（１＋Ｍ_１）σ_Ｇ］^２＋σ_Ｓ ^２） （１７）

ここでの第４標準偏差σ_Ｓは、光受信器側のベースノイズ和の分散である。図１に示される試験システムに対応して、光受信器側のベースノイズは、受信端での光－電気変換器のベースノイズ及びオシロスコープのベースノイズを含む。従って、試験シンボルパターンが図１に示される試験システムを使用して収集される場合に、第４標準偏差σ_Ｓは、受信端での光－電気変換器のベースノイズ和及びオシロスコープのベースノイズ和の標準偏差である。

目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒを決定した後、処理デバイスは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒに基づいて第１パラメータＴの値を決定してよい。詳細は、次の式（１８）に示される：

Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}／Ｒ） （１８）

ここで、Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}は、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｒｐｒｅｓｅｔは、次の方法で取得されてよい。

処理デバイスは、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを取得してよく、更には、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｕ）、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数Ｑ（ｘ_ｌ）、及び目標ビット誤り率ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}を決定してよい。

実施中に、処理デバイスは、第３式を使用して、前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差σ_{ｉｄｅａｌ}を決定してよい。第３式は、次の式（１９）に示され得る：

（１／２）［Ｑ（ｘ_ｕ）＋Ｑ（ｘ_ｌ）］＝ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ} （１９）

ここで、

であり、ｘ_ｕ＝（Ｐｕ_{ｉｄｅａｌ}－Ｐ_ｔｈ）／（Ｍ_２・σ_{ｉｄｅａｌ}）であり、

であり、ｘ_ｌ＝（Ｐ_ｔｈ－Ｐｌ_{ｉｄｅａｌ}）／σ_{ｉｄｅａｌ}であり、Ｐｕ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Ｐｌ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Ｐ_ｔｈは、前もってセットされた光パワー閾値であり、Ｍ_２は、第３補償係数であり、第３補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定され得る。

前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差σ_{ｉｄｅａｌ}が取得された後、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}は、σ_{ｉｄｅａｌ}に基づいて決定されてよい。実施中に、処理デバイスは、前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差σ_{ｉｄｅａｌ}及び第３補償係数Ｍ_２に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}を決定してよい。詳細は、次の式（２０）に示される：

Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}＝（１＋Ｍ_２）σ_{ｉｄｅａｌ} （２０）

Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}は、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を表し得るので、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に対する、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差の比は、Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}を、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Ｒで割ることによって、取得され得る。その比を使用して、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。例えば、第１パラメータＴの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光送信器によって送信された光信号に対する適合性試験は成功する、と決定される。言い換えれば、光送信器によって送信された光信号は、光受信器の使用要件を満たすことができる。第１パラメータＴの値が前もってセットされた閾値よりも大きい場合に、光送信器によって送信された光信号に対する適合性試験は失敗する、と決定される。言い換えれば、光送信器によって送信された光信号は、光受信器の使用要件を満たすことができない。

光送信器によって送信される光信号内の試験シンボルパターンが試験システムを使用して受信端で収集される場合に、テスターが、偏光回転子を回転させることによって、検出されるべき光送信器の相対強度ノイズを最大に調整し、それにより、光送信器によって送信される光信号が、光送信器の相対強度ノイズが最も高いときに送信されるならば、このシナリオで、相対強度ノイズが最も高いときに光送信器によって送信された光信号を収集し、上記の方法実施形態のうちのいずれか１つで適合性試験方法を実行することによって取得される光信号の適合性試験結果は、光送信器の適合性試験結果を表すことができる。言い換えれば、第１パラメータＴの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光送信器に対する適合性試験は成功する、と決定される。第１パラメータＴの値が前もってセットされた閾値よりも大きい場合に、光送信器に対する適合性試験は失敗する、と決定される。

本願の実施形態で提供される適合性試験方法に従って、イコライゼーション補償は、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号に含まれる試験シンボルパターンに対して実行され、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第１パラメータの値は、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数と、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用してて合成を通じて取得される試験アイパターンとに基づいて計算される。そのようなものとして、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、第１パラメータの値に基づいて、ＮＲＺ－ＰＡＭ２スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得る。

図６は、本願の実施形態に従う適合性試験装置の略構造図である。この実施形態における適合性試験装置は、上記の処理デバイスであってよく、あるいは、処理デバイスに適用されるチップであってよい。適合性試験装置は、上記の方法実施形態における処理デバイスの動作を実行するよう構成されてよい。図６に示されるように、適合性試験装置は、取得モジュール１１、処理モジュール１２、及び決定モジュール１３を含んでよい。

取得モジュール１１は、光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得するよう構成され、このとき、光信号は、非ゼロ復帰パルス振幅変調２レベルスキームを使用して変調を通じて光送信器によって生成される。

処理モジュール１２は、試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用して合成を通じて試験アイパターンを生成し；試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、第１パラメータの値を計算するよう構成され、第１パラメータは、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される。ここで記載されるイコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数は、例えば、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定される。例えば、ノイズエンハンスメント係数は、Ｃ_ｅｑ＝√（∫_ｆＮ（ｆ）×Ｈ_ｅｑ（ｆ）ｄｆ）に従って決定されるか、あるいは、ノイズエンハンスメント係数は、Ｃ_ｅｑ＝√（∫_ｆＮ（ｆ）×｜Ｈ_ｅｑ（ｆ）｜^２ｄｆ）に従って決定され、ここで、ｆは周波数であり、Ｎ（ｆ）は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルであり、Ｈ_ｅｑ（ｆ）は、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答であり、∫_ｆＮ（ｆ）ｄｆは１に等しく、Ｈ_ｅｑ（ｆ）は、ｆが０に等しいときに１に等しい。

決定モジュール１３は、第１パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定モジュール１３が決定するように、構成される。

可能な実施で、光信号が最も高い相対強度ノイズの下で光送信器によって送信される場合に、光信号に対する適合性試験が成功することは、光送信器に対する適合性試験が成功することを表すために使用される。

可能な実施で、処理モジュール１２は、試験アイパターンに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第４サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し；第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第１標準偏差を決定し；第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定し；目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第１パラメータの値を決定するよう構成される。第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布し、第１標準偏差は、第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値であり、第２標準偏差は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第３標準偏差は、第３サンプリングウィンドウ及び第４サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。

例えば、処理モジュール１２は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第２標準偏差を決定し；第３サンプリングウィンドウのヒストグラム、第４サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第３標準偏差を決定し；第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値を第１標準偏差として使用するよう構成される。

第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低い、と考えられる。処理モジュール１２は、次の２つの方法で第１パラメータの値を決定してよい。詳細は、次の通りである。

方法１：処理モジュール１２は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第２サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて第２標準偏差を決定するよう特に構成される。

正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第２標準偏差に基づいて決定される。例えば、正規分布曲線関数は、

に従って決定される。Ｑ（ｘ）は、正規分布曲線関数であり、ｘ＝（ｙ－Ｐ_ａｖｅ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙは、ｘの独立変数であり、ｙの値範囲は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Ｐ_ａｖｅは、試験アイパターンの平均光パワーであり、σ_Ｌは、第２標準偏差であり、Ｃ_ｅｑは、ノイズエンハンスメント係数であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

この方法で、処理モジュール１２は、数値シミュレーションを通じて、第１式を満足する第２標準偏差を決定してよい。第１式は：

である。ｆ_ｕｌ（ｙ）は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Ｑ（ｘ）は、正規分布曲線関数であり、ｆ_ｌｌ（ｙ）は、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}は、目標ビット誤り率である。

この方法で、処理モジュール１２は、第１標準偏差及び第４標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定してよく、第４標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。例えば、処理モジュール１２は、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を得るよう、第１標準偏差の二乗と第４標準偏差の二乗との和の平方根を計算するよう構成される。

この方法で、処理モジュール１２は、Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（（ＯＭＡ／２Ｑ）×（１／Ｒ））＋Ｍに従って第１パラメータの値を決定してよい。Ｔは、第１パラメータであり、ＯＭＡは、光変調振幅であり、Ｑは、前もってセットされたＱ係数であり、Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｍは、第１補償係数であり、Ｍは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。前もってセットされたＱ係数は、例えば、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのＱ係数であり、前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである。

方法２：処理モジュール１２は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第２サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて第２標準偏差を決定してよい。

第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第２標準偏差、及び第２補償係数に基づいて決定される。第２補償係数は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。例えば、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、

に従って決定される。第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第２標準偏差に基づいて決定される。例えば、第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、

に従って決定される。

Ｑ（ｘ_ｕｌ）は、第１サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、ｘ_ｕｌ＝（ｙ－Ｐ_ｔｈ）／（Ｃ_ｅｑ・Ｍ_１・σ_Ｌ）であり、Ｑ（ｘ_ｌｌ）は、第２サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、ｘ_ｌｌ＝（Ｐ_ｔｈ－ｙ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙは、ｘ_ｕｌ及びｘ_ｌｌの独立変数であり、ｙの値範囲は、第１サンプリングウィンドウ及び第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Ｐ_ｔｈは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σ_Ｌは、第２標準偏差であり、Ｃ_ｅｑは、ノイズエンハンスメント係数であり、Ｍ_１は、第２補償係数であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数である。

この方法で、処理モジュール１２は、数値シミュレーションを通じて、第２式を満足する第２標準偏差を決定してよく、第２式は、

である。ｆ_ｕｌ（ｙ）は、第１サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ｆ_ｌｌ（ｙ）は、第２サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}は、目標ビット誤り率である。

この方法で、処理モジュール１２は、第１標準偏差、第２補償係数、及び第４標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定してよく、第４標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。例えば、処理モジュール１２は、Ｒ＝√（［（１＋Ｍ_１）σ_Ｇ］^２＋σ_Ｓ ^２）に従って、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう構成され、ここで、Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｍ_１は、第２補償係数であり、σ_Ｇは、第１標準偏差であり、σ_Ｓは、第４標準偏差である。

この方法で、処理モジュール１２は、Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}／Ｒ）に従って第１パラメータの値を決定してよい。Ｔは、第１パラメータであり、Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}は、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Ｒは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない。

この方法で、処理モジュール１２は、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを取得し、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び目標ビット誤り率に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう更に構成される。例えば、処理モジュール１２は、数値シミュレーションを通じて、第３式を満足しかつ前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差を決定し、前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう構成され、このとき、第３式は：

（１／２）［Ｑ（ｘ_ｕ）＋Ｑ（ｘ_ｌ）］＝ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}

である。

Ｑ（ｘ_ｕ）は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数であり、

であり、ｘ_ｕ＝（Ｐｕ_{ｉｄｅａｌ}－Ｐ_ｔｈ）／（Ｍ_２・σ_{ｉｄｅａｌ}）であり、Ｑ（ｘ_ｌ）は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数であり、

であり、ｘ_ｌ＝（Ｐ_ｔｈ－Ｐｌ_{ｉｄｅａｌ}）／σ_{ｉｄｅａｌ}であり、Ｐｕ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Ｐｌ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Ｐ_ｔｈは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σ_{ｉｄｅａｌ}は、前もってセットされた光送信器に対応する第１標準偏差であり、ｚは、正規分布曲線関数の積分変数であり、Ｍ_２は、第３補償係数であり、第３補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定される。

本願のこの実施形態で提供される適合性試験装置は、上記の方法実施形態における処理デバイスの動作を実行してよく、実施原理及び技術的な効果は同様である。詳細は、ここで再び記載されない。

上記のモジュールは、処理要素によって呼び出されるソフトウェアの形で実施されてよく、あるいは、ハードウェアの形で実施されてよい、ことが留意されるべきである。例えば、処理モジュールは、別に配置された処理要素であってよく、あるいは、実施のために上記の装置のチップに組み込まれてよい。更に、処理モジュールは、プログラムコードの形で上記の装置のメモリに記憶されてよく、処理ユニットの機能を実行するよう上記の装置の処理要素によって呼び出される。更に、ユニットの一部又は全ては、一体化されてよく、あるいは、ユニットは、独立して実施されてよい。処理要素は、集積回路であってよく、信号処理能力を備えている。実施プロセスにおいて、上記の方法のステップ又は上記のユニットは、処理要素内のハードウェア集積論理回路を使用して、又はソフトウェアの形をとる命令を使用して、実施可能である。

例えば、上記のユニットは、１つ以上の特定用途向け集積回路（application specific integrated circuit，ＡＳＩＣ）、１つ以上のデジタル信号プロセッサ（digital signal processor，ＤＳＰ）、又は１つ以上のフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（field programmable gate array，ＦＰＧＡ）のような、方法を実施するための１つ以上の集積回路として構成されてよい。他の例として、ユニットが処理コンポーネントによってプログラムコードをスケジューリングすることによって実施される場合に、処理コンポーネントは、汎用プロセッサ、例えば、中東演算処理装置（Central Processing Unit，ＣＰＵ）又はプログラムコードを呼び出すことができる他のプロセッサであってよい。更なる他の例として、ユニットは、システム・オン・ア・チップ（system-on-a-chip，ＳＯＣ）の形で一体化され実施されてよい。

図７は、本願の実施形態に従う他の適合性試験装置の略構造図である。図７に示されるように、適合性試験装置は、少なくとも１つのプロセッサ２１、メモリ２２、などを含んでよい。図７は、１つのプロセッサを含む適合性試験装置の例を示す。更に、当業者であれば、図７に示される適合性試験装置の構造が適合性試験装置に対する制限を構成せず、適合性試験装置が図示されるよりも多い又は少ないコンポーネントを含んでよく、あるいは、いくつかのコンポーネントが組み合わされてよく、あるいは、異なるコンポーネント配置が使用されてよい、と理解し得る。

プロセッサ２１は、ＣＰＵ、又はＡＳＩＣ、又は本願のこの実施形態を実施するよう構成された１つ以上の集積回路であってよい。メモリ２２は、高速ランダム・アクセス・メモリ（rando-access memory，ＲＡＭ）を含んでよく、あるいは、不揮発性メモリ（non-volatile memory，ＮＶＭ）、例えば、少なくとも１つの磁気ディスクストレージを更に含んでもよい。メモリ２２は、様々な処理機能を達成しかつ本願の方法ステップを実施するよう、様々な命令を記憶してよい。

本願のこの実施形態で、メモリ２２は、コンピュータ実行可能なプログラムコードを記憶するよう構成され、プログラムコードは命令を含む。プロセッサ２１が命令を実行する場合に、命令は、適合性試験装置のプロセッサ２１が、上記の方法実施形態における処理デバイスの動作を実行することを可能にする。その実施原理及び技術的な効果は同様であり、詳細はここで再び記載されない。

実施中に、メモリ２２及びプロセッサ２１が独立して実施される場合に、メモリ２２及びプロセッサ２１は、互いに接続され、バスを通じて互いと通信してよい。バスは、工業標準アーキテクチャ（Industry Standard Architecture，ＩＳＡ）バス、周辺機器相互接続（Peripheral Component Interconnect，ＰＣＩ）バス、拡張工業標準アーキテクチャ（Extended Industry Standard Architecture，ＥＩＳＡ）バス、などであってよい。バスは、アドレスバス、データバス、コントロールバス、などに分類され得るが、それは、ただ１つのバス又はただ１つのタイプのバスしか存在しないことを示すものではない。メモリ２２及びプロセッサ２１が実施のための１つのチップに組み込まれる場合に、メモリ２２及びプロセッサ２１は、内部インターフェースを通じて互いと通信してよい。

本願の実施形態は、コンピュータ可読記憶媒体を更に提供する。コンピュータ可読記憶媒体は、ユニバーサル・シリアル・バス（Universal Serial Bus，ＵＳＢ）フラッシュドライブ、リムーバブル・ハード・ディスク、リード・オンリー・メモリ（Read-Only Memory，ＲＯＭ）、ランダム・アクセス・メモリ（Random Access Memory，ＲＡＭ）、磁気ディスク、又は光ディスクのような、プログラムコードを記憶することができる様々な媒体を含んでよい。例えば、コンピュータ可読記憶媒体は、プログラム命令を記憶し、プログラム命令は、上記の実施形態における方法で使用されてよい。

上記の実施形態の一部又は全ては、ソフトウェア、ハードウェア、ファームウェア、又はそれらの任意の組み合わせを使用して実施されてよい。ソフトウェアが実施形態を実施するために使用される場合に、実施形態は、コンピュータプログラム製品の形で完全に又は部分的に実施されてよい。コンピュータプログラム製品は、１つ以上のコンピュータ命令を含む。コンピュータプログラム命令がコンピュータでロードされ実行される場合に、本願の実施形態に従うプロシージャ又は機能は、全て又は部分的に生成される。コンピュータは、汎用コンピュータ、専用コンピュータ、コンピュータネットワーク、又は他のプログラム可能な装置であってよい。コンピュータ命令は、コンピュータ可読記憶媒体に記憶されてよく、あるいは、コンピュータ可読記憶媒体から他のコンピュータ可読記憶媒体へ伝送されてよい。例えば、コンピュータ命令は、ウェブサイト、コンピュータ、サーバ、又はデータセンターから他のウェブサイト、コンピュータ、サーバ、又はデータセンターへ有線（例えば、赤外線、同軸ケーブル、光ファイバ、若しくはデジタル加入者回線（ＤＳＬ））又は無線（例えば、赤外線、電波、若しくはマイクロ波）で伝送されてよい。コンピュータ記憶媒体は、コンピュータによってアクセス可能な任意の使用可能な媒体、又は１つ以上の使用可能な媒体を組み込む、サーバ若しくはデータセンターのようなデータ記憶デバイスであってよい。使用可能な媒体は、磁気媒体（例えば、フロッピーディスク、ハードディスク、又は磁気テープ）、光学媒体（例えば、ＤＶＤ）、半導体媒体（例えば、ソリッド・ステート・ドライブSolid State Disk（ＳＳＤ））、などであってよい。

本願における「複数の～」は、２又は２よりも多いことを指す。本明細書中の「及び／又は」という語は、関連するオブジェクトについて記載するための関連付け関係を単に記載し、３つの関係が存在する可能性があることを表す。例えば、Ａ及び／又はＢは、次の３つの場合：Ａのみが存在する、Ａ及びＢの両方が存在する、Ｂのみが存在する、を表し得る。更に、「／」の文字は、関連するオブジェクトの間の“論理和”関係を通常は示す。式中、「／」の文字は、関連するオブジェクトの間の“除算”関係を示す。

本願の実施形態で使用される数符号は、説明を容易にするために区別されるにすぎず、本願の実施形態の範囲を制限するために使用されないことが理解され得る。

上記のプロセスのシーケンス番号は、本願の実施形態における実行順序を意味しないことが理解されるべきである。プロセスの実行順序は、プロセッサの機能及び内部ロジックに従って決定されるべきであり、本願の実施形態の実施プロセスに対する如何なる制限としても解釈されるべきではない。

Claims (20)

1. 光送信器から光信号で試験シンボルパターンを取得することと、
   前記試験シンボルパターンにイコライゼーション補償を実行して、等化試験シンボルパターンを取得することと、
   前記等化試験シンボルパターンを用いて合成により試験アイパターンを生成することと、
   前記試験アイパターンと、前記イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づき、第１パラメータの値を計算することであり、前記第１パラメータは、前記光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するためのものである、前記計算することと
   を有する送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
2. 最も高い相対強度ノイズの下で前記光信号が前記光送信器によって送信され、かつ、前記第１パラメータの前記値が前もってセットされた閾値以下である場合に、前記光送信器に対する適合性試験は成功する、
   請求項１に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
3. 前記第１パラメータの前記値を計算することは、
   前記試験アイパターンに基づき、第１サンプリングウィンドウの第１ヒストグラム、第２サンプリングウィンドウの第２ヒストグラム、第３サンプリングウィンドウの第３ヒストグラム、及び第４サンプリングウィンドウの第４ヒストグラムを構成することであり、前記第１サンプリングウィンドウ及び前記第２サンプリングウィンドウは、前記試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、前記第３サンプリングウィンドウ及び前記第４サンプリングウィンドウは、前記試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布する、前記構成することと、
   前記第１ヒストグラム、前記第２ヒストグラム、前記第３ヒストグラム、前記第４ヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づき、第１標準偏差を決定することであり、前記第１標準偏差は第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値であり、前記第２標準偏差は、前記第１サンプリングウィンドウ及び前記第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに前記光送信器によってサポートされ得る第２の最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前記第３標準偏差は、前記第３サンプリングウィンドウ及び前記第４サンプリングウィンドウが前記目標ビット誤り率に達するときに前記光送信器によってサポートされ得る第３の最も高い相加性ノイズの標準偏差である、前記決定することと、
   前記第１標準偏差に基づき、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る第１の最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと、
   前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差に基づき前記第１パラメータの前記値を決定することと
   を有する、
   請求項１に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
4. 前記第１標準偏差を決定することは、
   前記第１ヒストグラム、前記第２ヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づき、前記第２標準偏差を決定することと、
   前記第３ヒストグラム、前記第４ヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づき、前記第３標準偏差を決定することと、
   前記第２標準偏差及び前記第３標準偏差のうちの前記小さい方の値を前記第１標準偏差として使用することと
   を有する、
   請求項３に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
5. 前記第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、前記試験アイパターンの上眼瞼に位置し、前記試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、前記第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、前記試験アイパターンの下眼瞼に位置し、前記試験アイパターンの前記平均光パワーよりも低く、前記第２標準偏差を決定することは、
   前記第１ヒストグラムに基づき前記第１サンプリングウィンドウの第１ヒストグラム分布関数を決定することと、
   前記第２ヒストグラムに基づき前記第２サンプリングウィンドウの第２ヒストグラム分布関数を決定することと、
   前記第１ヒストグラム分布関数、前記第２ヒストグラム分布関数、前記目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づき、前記第２標準偏差を決定することと
   を有し、
   前記正規分布曲線関数は、前記ノイズエンハンスメント係数、前記試験アイパターンの前記平均光パワー、及び前記第２標準偏差に基づく、
   請求項４に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
6. 前記正規分布曲線関数を、
   

   

   に従って決定することを更に有し、
   Ｑ（ｘ）は、前記正規分布曲線関数であり、ｘ＝（ｙ－Ｐ_ａｖｅ）／（Ｃ_ｅｑ・σ_Ｌ）であり、ｙは、ｘの独立変数であり、ｙの値範囲は、前記第１サンプリングウィンドウ及び前記第２サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Ｐ_ａｖｅは、前記試験アイパターンの前記平均光パワーであり、σ_Ｌは、前記第２標準偏差であり、Ｃ_ｅｑは、前記ノイズエンハンスメント係数であり、ｚは、前記正規分布曲線関数の積分変数である、
   請求項５に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
7. 前記第２標準偏差を決定することは、数値シミュレーションを通じて、前記第２標準偏差が、
   

   

   を有する第１式を満足することを決定することを有し、
   ｆ_ｕｌ（ｙ）は、前記第１ヒストグラム分布関数であり、Ｑ（ｘ）は、前記正規分布曲線関数であり、ｆ_ｌｌ（ｙ）は、前記第２ヒストグラム分布関数であり、ＢＥＲ_{ｔａｒｇｅｔ}は、前記目標ビット誤り率である、
   請求項６に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
8. 前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差に基づき前記第１パラメータの前記値を決定することは、
   Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（（ＯＭＡ／２Ｑ）×（１／Ｒ））＋Ｍを有する式に従って前記第１パラメータの前記値を決定することを有し、
   Ｔは、前記第１パラメータであり、ＯＭＡは、光変調振幅であり、Ｑは、前もってセットされたＱ係数であり、Ｒは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差であり、Ｍは、前記試験アイパターンの消光比に基づき決定される第１補償係数である、
   請求項３に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
9. 前記前もってセットされたＱ係数は、前記目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのＱ係数であり、前記前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである、
   請求項８に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
10. 前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することは、前記第１標準偏差及び第４標準偏差に基づき、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することを有し、
    前記第４標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の標準偏差である、
    請求項３に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
11. 前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を得るよう、前記第１標準偏差の第１の二乗と前記第４標準偏差の第４の二乗との和の平方根を計算することを更に有する、
    請求項１０に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
12. 前記第１サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、前記試験アイパターンの上眼瞼に位置し、前記試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、前記第２サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、前記試験アイパターンの下眼瞼に位置し、前記試験アイパターンの前記平均光パワーよりも低く、前記第２標準偏差を決定することは、
    前記第１ヒストグラムに基づき前記第１サンプリングウィンドウの第１ヒストグラム分布関数を決定することと、
    前記第２ヒストグラムに基づき前記第２サンプリングウィンドウの第２ヒストグラム分布関数を決定することと、
    前記第１ヒストグラム分布関数、前記第２ヒストグラム分布関数、前記目標ビット誤り率、前記第１サンプリングウィンドウの第１正規分布曲線関数、及び前記第２サンプリングウィンドウの第２正規分布曲線関数に基づき、前記第２標準偏差を決定することと
    を有し、
    前記第１正規分布曲線関数は、前記ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、前記第２標準偏差、及び第２補償係数に基づき、
    前記第２正規分布曲線関数は、前記ノイズエンハンスメント係数、前記前もってセットされた光パワー閾値、及び前記第２標準偏差に基づき、
    前記第２補償係数は、前記試験アイパターンの消光比に基づく、
    請求項４に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
13. 前記第１の最も高い相加ノイズの前記標準偏差を決定することは、前記第１標準偏差、前記第２補償係数、及び第４標準偏差に基づき、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加ノイズの前記標準偏差を決定することを有し、
    前記第４標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の標準偏差である、
    請求項１２に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
14. 前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することは、Ｒ＝√（［（１＋Ｍ_１）σ_Ｇ］^２＋σ_Ｓ ^２）に従って、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することを有し、
    Ｒは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差であり、Ｍ_１は、前記第２補償係数であり、σ_Ｇは、前記第１標準偏差であり、σ_Ｓは、前記第４標準偏差である、
    請求項１３に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験方法。
15. 送信器分散アイパターン閉塞度試験装置であって、
    命令を記憶するよう構成されるメモリと、
    前記メモリへ結合され、前記命令を実行して、当該送信器分散アイパターン閉塞度試験装置に、
    光送信器から光信号で試験シンボルパターンを取得することと、
    前記試験シンボルパターンにイコライゼーション補償を実行して、等化試験シンボルパターンを取得することと、
    前記等化試験シンボルパターンを用いて合成により試験アイパターンを生成することと、
    前記試験アイパターンと、前記イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づき、第１パラメータの値を計算することであり、前記第１パラメータは、前記光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するためのものである、前記計算することと
    を実行させるプロセッサと
    を有する送信器分散アイパターン閉塞度試験装置。
16. 最も高い相対強度ノイズの下で前記光信号が前記光送信器によって送信され、かつ、前記第１パラメータの前記値が前もってセットされた閾値以下である場合に、前記光送信器に対する適合性試験は成功する、
    請求項１５に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験装置。
17. 前記プロセッサは更に、前記命令を実行して、当該送信器分散アイパターン閉塞度試験装置に、
    前記試験アイパターンに基づき、第１サンプリングウィンドウの第１ヒストグラム、第２サンプリングウィンドウの第２ヒストグラム、第３サンプリングウィンドウの第３ヒストグラム、及び第４サンプリングウィンドウの第４ヒストグラムを構成することと、
    前記第１ヒストグラム、前記第２ヒストグラム、前記第３ヒストグラム、前記第４ヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づき、第１標準偏差を決定することと、
    前記第１標準偏差に基づき、目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る第１の最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと、
    前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差に基づき、前記第１パラメータの前記値を決定することと
    を実行させ、
    前記第１サンプリングウィンドウ及び前記第２サンプリングウィンドウは、前記試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、前記第３サンプリングウィンドウ及び前記第４サンプリングウィンドウは、前記試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布し、
    前記第１標準偏差は第２標準偏差及び第３標準偏差のうちの小さい方の値であり、前記第２標準偏差は、前記第１サンプリングウィンドウ及び前記第２サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに前記光送信器によってサポートされ得る第２の最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前記第３標準偏差は、前記第３サンプリングウィンドウ及び前記第４サンプリングウィンドウが前記目標ビット誤り率に達するときに前記光送信器によってサポートされ得る第３の最も高い相加性ノイズの標準偏差である、
    請求項１５に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験装置。
18. 前記プロセッサは更に、前記命令を実行して、当該送信器分散アイパターン閉塞度試験装置に、
    Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（（ＯＭＡ／２Ｑ）×（１／Ｒ））＋Ｍを有する式に従って前記第１パラメータの前記値を決定させ、
    Ｔは、前記第１パラメータであり、ＯＭＡは、光変調振幅であり、Ｑは、前もってセットされたＱ係数であり、Ｒは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差であり、Ｍは、前記試験アイパターンの消光比に基づき決定される第１補償係数である、
    請求項１７に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験装置。
19. 前記プロセッサは更に、前記命令を実行して、当該送信器分散アイパターン閉塞度試験装置に、
    Ｔ＝１０ｌｏｇ_１０（Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}／Ｒ）を有する式に従って前記第１パラメータの前記値を決定させ、
    Ｔは、前記第１パラメータであり、Ｒ_{ｐｒｅｓｅｔ}は、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの第４標準偏差であり、Ｒは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記第１の最も高い相加性ノイズの前記標準偏差であり、前記前もってセットされた光送信器によって送信される第２光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない、
    請求項１７に記載の送信器分散アイパターン閉塞度試験装置。
20. 光送信器から光信号で試験シンボルパターンを取得することと、
    前記試験シンボルパターンにイコライゼーション補償を実行して、等化試験シンボルパターンを取得することと、
    前記等化試験シンボルパターンを用いて合成により試験アイパターンを生成することと、
    前記試験アイパターンと、前記イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づき、第１パラメータの値を計算することであり、前記第１パラメータは、前記光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するためのものである、前記計算することと
    を有する方法を実施するようコンピュータによって実行可能な命令を記憶するよう構成される非一時的なコンピュータ可読媒体。

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