JP2023047634A - Test system and test method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態は、試験システム及び試験方法に関する。 Embodiments of the present invention relate to test systems and test methods.
一般に、ビルや工場のような大量の電気を使用する施設内には、発電設備等から受け取られた高圧の電気を実際に使用することができる低圧の電気に変換するための電力設備（以下、受変電設備と表記）が配置されている。 In general, facilities that use a large amount of electricity, such as buildings and factories, are equipped with electric power equipment (hereafter referred to as power receiving and transforming facilities) are installed.
このような受変電設備には当該受変電設備の運用を監視するための監視計測盤が備えられており、当該監視計測盤には、受変電設備の運用状態に関する入力値（例えば、電圧値または電流値等）を計測するように構成された計測装置が実装されている。計測装置は、このような入力値の計測結果に基づいて受変電設備の運用を監視するために必要な処理（例えば、異常の検出等）を実行する。 Such power receiving and transforming equipment is equipped with a monitoring and measuring panel for monitoring the operation of the power receiving and transforming equipment. A measuring device configured to measure a current value, etc., is implemented. The measuring device executes processing (for example, detection of abnormality, etc.) necessary for monitoring the operation of the power receiving and transforming equipment based on the measurement results of such input values.
ここで、上記した計測装置は、受変電設備を長期間安定して運用するために必要な設備の１つである。このため、例えば計測装置の試験を行い、当該計測装置が正しく設計されているか（つまり、正しく動作するか）否かを確認することが行われている。この計測装置の試験は、例えば試験用の入力値を出力するように構成された試験器と当該計測装置との間を配線を介して接続し、当該試験器から出力された入力値を計測装置に入力することによって行われる。 Here, the above-described measuring device is one of the facilities necessary for stably operating power receiving and transforming facilities for a long period of time. For this reason, for example, a measurement device is tested to confirm whether the measurement device is correctly designed (that is, whether it operates correctly). For example, a tester configured to output an input value for testing and the measuring device are connected via wiring, and the input value output from the testing device is transferred to the measuring device. This is done by entering
しかしながら、計測装置には例えば種別の異なる入力値を計測するための複数の計測モジュールが備えられてため、当該種別の異なる入力値を計測装置に入力する（つまり、試験内容が変更される）場合には、上記した試験器を別の計測モジュールと接続するように配線を変更しなければならず、当該計測装置の試験を行うための作業に時間がかかる。 However, since the measuring device is provided with a plurality of measuring modules for measuring input values of different types, for example, when input values of different types are input to the measuring device (i.e., test content is changed) In this case, the wiring must be changed to connect the above-described tester to another measurement module, and it takes time to test the measurement device.
また、上記したように試験内容が変更される度に配線を変更しなければならないとすると、試験担当者（試験員）は試験器が配置される試験場で計測装置の試験を行う必要があり、効率的な試験を行うことができない。 In addition, if the wiring must be changed every time the test content is changed as described above, the person in charge of the test (tester) must test the measuring device at the test site where the tester is placed. Efficient testing is not possible.
そこで、本発明が解決しようとする課題は、電力設備に備えられる計測装置の試験を容易に行うことが可能な試験システム及び方法を提供することにある。 Therefore, the problem to be solved by the present invention is to provide a test system and method that can easily test a measuring device installed in power equipment.
実施形態によれば、試験担当者によって使用される端末装置と、当該端末装置と無線通信を実行することが可能に接続される試験装置と、電力設備の運用状態に関する入力値を計測するように構成された計測装置とを備え、前記計測装置の試験を行うために用いられる試験システムが提供される。前記端末装置は、前記試験担当者の操作に応じて、前記計測装置の第１試験内容が設定された第１試験設定ファイルを作成する作成手段と、前記作成された第１試験設定ファイルを、前記無線通信により前記試験装置に送信する送信手段とを含む。前記試験装置は、前記送信された第１試験設定ファイルに基づいて、前記試験装置と前記計測装置とを接続する複数の配線のうちの第１配線を介して第１試験用入力値を出力する出力手段を含む。前記計測装置は、前記出力された第１試験用入力値を入力して当該第１試験用入力値を計測する計測手段と、前記計測された第１試験用入力値に基づく処理を実行する処理手段と、前記第１試験用入力値の計測結果と前記処理結果とを含む第１試験結果を格納する格納手段とを含む。 According to the embodiment, a terminal device used by a person in charge of testing, a test device connected to the terminal device so as to be able to perform wireless communication, and an input value related to the operation state of power equipment are measured. A test system is provided comprising a configured metrology device and used to test the metrology device. The terminal device includes creating means for creating a first test setting file in which the first test content of the measuring device is set according to the operation of the person in charge of testing, and the created first test setting file, and transmission means for transmitting to the test apparatus by the wireless communication. The testing device outputs a first test input value through a first wiring among a plurality of wirings connecting the testing device and the measuring device based on the transmitted first test setting file. Including output means. The measuring device includes measuring means for inputting the output first test input value and measuring the first test input value, and a process for executing a process based on the measured first test input value. and storage means for storing a first test result including the measurement result of the input value for the first test and the processing result.
以下、図面を参照して、実施形態について説明する。
本実施形態に係る試験システムは、受変電設備のような電力設備の運用を監視するために必要な設備である計測装置の試験を行う（つまり、当該計測装置が正しく動作するか否かを確認する）ために用いられる。
Embodiments will be described below with reference to the drawings.
The test system according to the present embodiment tests a measuring device that is necessary for monitoring the operation of power equipment such as power receiving and transforming equipment (that is, confirms whether the measuring device operates correctly). to do).
図１は、本実施形態に係る試験システムの構成の一例を示す。図１に示すように、試験システム１０は、端末装置２０、試験装置３０及び計測装置４０を備える。
FIG. 1 shows an example of the configuration of a test system according to this embodiment. As shown in FIG. 1, the
端末装置２０は、計測装置４０の試験を行う試験担当者によって使用される電子機器であり、例えばＣＰＵ、メモリ、入力デバイス及び表示デバイス等から構成されるパーソナルコンピュータを含む。
The
試験装置３０は、マイクロコンピュータ（マイクロコントローラ）を搭載し、計測装置４０の試験を行う際に、当該計測装置４０に対して試験用の入力値（以下、単に試験用入力値と表記）を出力するように動作する。また、試験装置３０は、試験用入力値に対する計測装置４０からの出力値を入力するように構成されていてもよい。
The
なお、本実施形態において、入力値とは計測装置４０に入力されるアナログ値及びデジタル値等をいい、出力値とは計測装置４０から出力されるデジタル値等をいうものとする。すなわち、本実施形態において、試験装置３０は、アナログ値及びデジタル値の入出力の制御を行うことが可能なように構成されている。
In this embodiment, an input value means an analog value, a digital value, or the like input to the
計測装置４０は、例えば受変電設備に備えられる監視計測盤に実装されており、当該受変電設備の運用に応じて当該計測装置４０に入力されるアナログ値またはデジタル値（つまり、受変電設備の運用状態に関する入力値）を計測するように構成されている。
The
なお、計測装置４０によって例えば電圧値または電流値のようなアナログ値が計測された場合には、当該計測結果に基づいて、当該アナログ値が異常値であるか否かを判定し、当該アナログ値が異常値である場合に警報を出力するようなことが可能である。更に、計測装置４０によって例えば受変電設備を構成する遮断器の開閉を示す０または１のようなデジタル値が計測された場合、当該計測結果に基づいて、当該遮断器の動作回数を更新（カウント）するようなことが可能となる。この遮断器の動作回数は、例えば遮断器を交換する時期を判断するための目安として利用することができる。
In addition, when an analog value such as a voltage value or a current value is measured by the
本実施形態においては、上記した端末装置２０及び試験装置３０（試験システム１０）を用いて、上記した計測装置４０の試験を行うものとする。
In this embodiment, the
なお、計測装置４０は、例えばＣＰＵ及びメモリ等を備える電子機器であることを想定しているが、上記した入力値を計測可能に構成された機器であればよい。
It is assumed that the
ここで、試験装置３０は複数の入力端子及び出力端子を含む入出力端子群３０ａを備え、計測装置４０は複数の計測モジュールを含む計測モジュール群４０ａを備える。本実施形態において、計測装置４０の試験は、試験装置３０に備えられる入出力端子群３０ａと計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａとを複数の配線を含む配線群１００を介して接続した状態で行われる。
Here, the
具体的には、図１に示す計測モジュール群４０ａに含まれる計測モジュールＡＩ＃１～＃３は、アナログ値を入力する（つまり、アナログ入力を計測する）ように構成されている計測モジュール（以下、アナログ入力モジュールと表記）である。計測モジュールＡＩ＃１～＃３は、試験装置３０に含まれる入出力端子群３０ａに含まれるアナログ出力端子（アナログ値を出力する出力端子）と配線を介して接続されている。なお、計測モジュールＡＩ＃１～＃３は、それぞれ異なるアナログ出力端子と接続されている。
Specifically, the measurement
また、計測モジュール群４０ａに含まれる計測モジュールＤＩ＃１～＃４は、デジタル値を入力する（つまり、デジタル入力を計測する）ように構成されている計測モジュール（以下、デジタル入力モジュールと表記）である。計測モジュールＤＩ＃１～＃４は、試験装置３０に含まれる入出力端子群３０ａに含まれるデジタル出力端子（デジタル値を出力する出力端子）と配線を介して接続されている。なお、計測モジュールＤＩ＃１～＃４は、それぞれ異なるデジタル出力端子と接続されている。
The measurement
更に、計測モジュール群４０ａに含まれる計測モジュールＤＯ＃１は、デジタル値を出力する（つまり、デジタル出力を計測する）ように構成されている計測モジュール（以下、デジタル出力モジュールと表記）である。計測モジュールＤＯ＃１は、試験装置３０に含まれる入出力端子群３０ａに含まれるデジタル入力端子（デジタル値を入力する入力端子）と配線を介して接続されている。
Furthermore, the measurement
本実施形態において、計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａに含まれる計測モジュールの各々は配線群１００に含まれるそれぞれ異なる配線を介して異なる出力端子または入力端子に接続される。このため、本実施形態における試験装置３０には、少なくとも計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａに含まれる計測モジュールの数と同数の入出力端子が備えられているものとする。
In this embodiment, each of the measurement modules included in the
なお、図１に示すアナログ入力モジュール（ＡＩ＃１～ＡＩ＃３）、デジタル入力モジュール（ＤＩ＃１～ＤＩ＃４）及びデジタル出力モジュール（ＤＯ＃１）の数は、一例であり、適宜、変更されてもよい。
The numbers of analog input modules (
また、本実施形態において、試験システム１０に備えられる端末装置２０、試験装置３０及び計測装置４０は、無線通信を実行する無線通信デバイスを備えているものとする。これにより、端末装置２０は、試験装置３０及び計測装置４０と無線通信を実行することが可能に接続される。
Also, in this embodiment, the
次に、図２を参照して、図１に示す試験システム１０（端末装置２０、試験装置３０及び計測装置４０）の機能構成の一例について説明する。
Next, an example of the functional configuration of the test system 10 (the
なお、図２においては、簡易的に示されているが、試験装置３０（入出力端子群３０ａ）と計測装置４０（計測モジュール群４０ａ）とは、図１に示す配線群１００を介して接続されているものとする。また、端末装置２０と試験装置３０との間及び端末装置２０と計測装置４０との間は、それぞれ無線通信を実行することが可能に接続されているものとする。
2, the test device 30 (input/
図２に示すように、端末装置２０は、試験設定ファイル作成部２１、通信処理部２２及び表示処理部２３を含む。なお、試験設定ファイル作成部２１及び表示処理部２３は、例えば端末装置２０に備えられるＣＰＵが所定のプログラムを実行すること（つまり、ソフトウェア）によって実現されるものとする。また、通信処理部２２は、端末装置２０に備えられる無線通信デバイスによって実現されるものとする。
As shown in FIG. 2 , the
試験設定ファイル作成部２１は、端末装置２０を使用する試験担当者の操作（入力デバイスを用いた操作）に応じて、計測装置４０の試験に関する試験設定ファイルを作成する。試験設定ファイル作成部２１によって作成される試験設定ファイルには上記した試験担当者によって指定された試験内容が設定されており、当該試験設定ファイルは、計測装置４０の試験を行う際の試験装置３０と計測装置４０との間のアナログまたはデジタル入出力に関する設定値等を含む。
The test setting
通信処理部２２は、試験設定ファイル作成部２１によって作成された試験設定ファイルを、無線通信により試験装置３０に送信する。また、通信処理部２２は、計測装置４０の試験結果を当該計測装置４０から受信する。
The
表示処理部２３は、通信処理部２２によって受信された試験結果を、端末装置２０に備えられる表示デバイス（ディスプレイ等）に表示する。
The display processing unit 23 displays the test results received by the
試験装置３０は、通信処理部３１、解析部３２、設定部３３及び格納部３４を含む。なお、通信処理部３１は、試験装置３０に備えられる無線通信デバイスによって実現されるものとする。また、解析部３２及び設定部３３は、試験装置３０に搭載されているマイクロコンピュータが所定のプログラムを実行すること（つまり、ソフトウェア）によって実現されるものとする。また、格納部３４は、試験装置３０に搭載されているマイクロコンピュータに内蔵されているメモリによって実現されるものとする。
The
通信処理部３１は、無線通信により端末装置２０（通信処理部２２）から送信された試験設定ファイルを受信する。
The
解析部３２は、通信処理部３１によって受信された試験設定ファイル（において設定されている試験内容）を解析する。これにより、解析部３２（試験装置３０）は、計測装置４０の試験内容を把握する。
The
設定部３３は、解析部３２による試験設定ファイルの解析結果に基づいて、試験用入力値（計測装置４０の試験のために当該計測装置４０に入力させるアナログ値またはデジタル値）及び当該試験用入力値を試験装置３０から出力するための出力端子を設定する。設定部３３によって試験用入力値及び出力端子が設定された場合、当該試験用入力値が当該出力端子から出力される。
Based on the analysis result of the test setting file by the
格納部３４には、上記した設定部３３によって設定された試験用入力値、当該設定部３３によって設定された出力端子に割り当てられている端子番号及び当該試験用入力値が当該出力端子から出力されたタイミング（例えば、日時）等を含む試験用入力値の出力結果が格納される。
In the
計測装置４０は、処理部４１、格納部４２及び通信処理部４３を含む。なお、処理部４１は、例えば計測装置４０に備えられるＣＰＵが所定のプログラムを実行すること（つまり、ソフトウェア）によって実現されるものとする。また、格納部４２は、計測装置４０に備えられるメモリによって実現されるものとする。また、通信処理部４３は、計測装置４０に備えられる無線通信デバイスによって実現されるものとする。
The measuring
ここで、上記したように試験装置３０に備えられている出力端子から試験用入力値が出力された場合、当該試験用入力値は、当該出力端子に接続されている配線を介して計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａに含まれる１つの計測モジュールに入力される。計測モジュールに入力された試験用入力値は、当該計測モジュールによって計測され、処理部４１に渡される。
Here, when the test input value is output from the output terminal provided in the
処理部４１は、計測モジュールによって計測された試験用入力値を取得し、当該試験用入力値（の計測結果）に基づく処理を実行する。
The
格納部４２には、計測モジュールが試験用入力値を入力したタイミング（例えば、日時）、当該計測モジュールに割り当てられているモジュール番号、当該計測モジュールによって計測された試験用入力値及び処理部４１による処理結果を含む試験結果が格納される。
The
通信処理部４３は、格納部４２に格納された試験結果を、無線通信により端末装置２０に送信する。
The
以下、図３のシーケンスチャートを参照して、本実施形態に係る試験システム１０の処理手順の一例について説明する。
An example of the processing procedure of the
まず、計測装置４０の試験を行うための前処理として、端末装置２０と試験装置３０との間で無線通信を実行するための無線接続に関する設定（試験装置３０との無線通信設定）が当該端末装置２０において実施される（ステップＳ１）。この無線通信設定は、例えば端末装置２０に対する試験担当者の操作に応じて実施される。なお、端末装置２０と試験装置３０との間で既に無線通信を実行することが可能であれば、ステップＳ１の処理は省略されても構わない。
First, as preprocessing for testing the measuring
ここでは試験装置３０との無線通信設定が実施されるものとして説明したが、本実施形態においては端末装置２０と計測装置４０との間でも無線通信が実行されるため、計測装置４０との無線通信設定がステップＳ１において更に実施されてもよい。
Although the wireless communication setting with the
次に、端末装置２０に含まれる試験設定ファイル作成部２１は、端末装置２０に対する試験担当者の操作に応じて、当該試験担当者によって指定された計測装置４０の試験内容を示す試験設定情報を取得する。試験設定ファイル作成部２１は、取得された試験設定情報によって示される試験内容が設定された試験設定ファイルを作成する（ステップＳ２）。
Next, the test setting
ステップＳ２において作成される試験設定ファイルにおいては、計測装置４０の試験内容として、例えば試験対象の計測モジュール（つまり、計測装置４０の試験において試験用入力値を入力させる計測モジュール）に割り当てられているモジュール番号、試験用入力値（設定値）及び当該試験用入力値を計測装置４０に入力するタイミング（入力タイミング）等が設定されている。
In the test setting file created in step S2, the test contents of the measuring
なお、本実施形態において試験用入力値には例えばアナログ値及びデジタル値が含まれるが、当該試験用入力値がアナログ値（例えば、電圧値または電流値）である場合には、試験設定ファイルにおいては、アナログ入力モジュールに割り当てられているモジュール番号が設定される。 In this embodiment, the test input value includes, for example, an analog value and a digital value. If the test input value is an analog value (for example, voltage value or current value), is set to the module number assigned to the analog input module.
一方、試験用入力値がデジタル値（例えば、遮断器の開閉を示す０または１の値）である場合には、試験設定ファイルにおいては、デジタル入力モジュールに割り当てられているモジュール番号が設定される。 On the other hand, if the test input value is a digital value (for example, a value of 0 or 1 indicating whether the circuit breaker is open or closed), the module number assigned to the digital input module is set in the test setting file. .
なお、例えばアナログ値が電圧値である場合に設定されるモジュール番号と、当該アナログ値が電流値である場合に設定されるモジュール番号とは異なるものとする。すなわち、試験用入力値がアナログ値であっても、当該試験用入力値の種別が異なる場合には異なるアナログ入力モジュールに試験用入力値が入力されるものとする。ここでは試験用入力値がアナログ値である場合について説明したが、当該試験用入力値がデジタル値である場合についても同様である。 For example, the module number set when the analog value is a voltage value is different from the module number set when the analog value is a current value. That is, even if the test input value is an analog value, if the type of the test input value is different, the test input value is input to a different analog input module. Although the case where the test input value is an analog value has been described here, the same applies to the case where the test input value is a digital value.
また、計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａに含まれる計測モジュールの各々は複数のピン（アナログピンまたはデジタルピン）を有している。この場合、上記した試験設定ファイルには、試験用入力値を入力するピンに割り当てられているピン番号（入力番号）が更に設定されていてもよい。
Each measurement module included in the
ステップＳ２の処理が実行されると、当該ステップＳ２において作成された試験設定ファイルは、無線通信により試験装置３０に送信される（ステップＳ３）。
When the process of step S2 is executed, the test setting file created in step S2 is transmitted to the
ステップＳ３において端末装置２０から送信された試験設定ファイルは、試験装置３０に含まれる通信処理部３１によって受信される。
The test setting file transmitted from the
試験設定ファイルが受信されると、解析部３２は、当該試験設定ファイルを解析する（ステップＳ４）。なお、ステップＳ４においては、例えば試験設定ファイルに設定されている試験内容（モジュール番号、入力番号、試験用入力値及び入力タイミング等）を抽出するような処理が実行される。
When the test setting file is received, the
次に、設定部３３は、解析部３２による試験設定ファイルの解析結果（つまり、当該試験設定ファイルに設定されている試験内容）に基づいて、試験用入力値の出力設定を実施する（ステップＳ５）。この場合、設定部３３は、試験装置３０から計測装置４０に出力される試験用入力値及び当該試験用入力値を出力するための出力端子等を設定する。なお、ステップＳ５においては試験設定ファイルに設定されているモジュール番号が割り当てられている計測モジュールと配線を介して接続されている出力端子から試験用入力が出力されるような出力設定が実施されるが、計測モジュールと出力端子との接続関係（対応関係）は、予め試験装置３０（設定部３３）において管理されているものとする。
Next, the setting unit 33 sets the output of the test input value based on the analysis result of the test setting file by the analysis unit 32 (that is, the test content set in the test setting file) (step S5 ). In this case, the setting unit 33 sets a test input value to be output from the
ステップＳ５の処理が実行されると、設定部３３によって実施された試験用入力値の出力設定に基づいて、試験用入力値が出力端子から出力される（ステップＳ６）。ステップＳ６においては、上記した試験設定ファイルにおいて設定されている入力タイミングで計測装置４０（計測モジュール）に試験用入力値が入力されるように、試験装置３０（出力端子）から当該試験用入力値が出力される。 When the processing of step S5 is executed, the test input value is output from the output terminal based on the output setting of the test input value performed by the setting unit 33 (step S6). In step S6, the test input value is input from the test device 30 (output terminal) so that the test input value is input to the measurement device 40 (measurement module) at the input timing set in the test setting file. is output.
ステップＳ６の処理が実行されると、当該ステップＳ６において出力された試験用入力値、当該試験用入力値が出力された出力端子に割り当てられている端子番号及び当該試験用入力値が出力されたタイミング（試験用入力値の出力タイミング）を含む試験用入力値の出力結果が格納部３４に格納される（ステップＳ７）。なお、試験用入力値の出力結果は、試験用入力値が出力されたことを示す情報であればよい。このため、試験用入力後の出力結果には、例えば試験設定ファイルにおいて設定されているモジュール番号（つまり、試験用入力値の出力先である計測モジュールに割り当てられているモジュール番号）等の他の情報が含まれていてもよい。また、上記した試験用入力値の出力結果に含まれる試験用入力値、端子番号及び試験用入力値の出力タイミングのうちの一部の情報は、省略されていてもよい。 When the process of step S6 is executed, the test input value output in step S6, the terminal number assigned to the output terminal to which the test input value is output, and the test input value are output. The output result of the test input value including the timing (the output timing of the test input value) is stored in the storage unit 34 (step S7). Note that the output result of the test input value may be information indicating that the test input value has been output. For this reason, the output result after the test input value includes other information such as the module number set in the test setting file (that is, the module number assigned to the measurement module that is the output destination of the test input value). Information may be included. Further, part of the information of the test input value, the terminal number, and the output timing of the test input value included in the output result of the test input value may be omitted.
ステップＳ７において格納部３４に格納された試験用入力値の出力結果は、無線通信により端末装置２０に送信される（ステップＳ８）。
The output result of the test input values stored in the
一方、上記したステップＳ６において試験装置３０（出力端子）から出力された試験用入力値は、計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａのうちの当該出力端子と配線を介して接続されている計測モジュールに入力され、当該計測モジュールによって計測される。
On the other hand, the test input value output from the test device 30 (output terminal) in step S6 described above is the measurement data connected to the output terminal of the
この場合、計測装置４０に含まれる処理部４１は、計測モジュールによって計測された試験用入力値に応じて動作し、当該試験用入力値に基づく処理を実行する（ステップＳ９）。
In this case, the
ステップＳ９の処理が実行されると、処理部４１は、計測装置４０の試験結果を作成し、当該試験結果を格納部４２に格納する（ステップＳ１０）。なお、ステップＳ１０において格納部４２に格納される試験結果には、計測モジュールが試験用入力値を入力したタイミング（試験用入力値の入力タイミング）、当該計測モジュールに割り当てられているモジュール番号、当該計測モジュールによって計測された試験用入力値（つまり、試験用入力値の計測結果）及び処理部４１による処理結果が含まれる。
When the process of step S9 is executed, the
ここで、上記したステップＳ９及びＳ１０の処理について具体的に説明する。例えば上記した試験用入力値がアナログ値（例えば、電圧値または電流値を示すアナログ値）である場合、ステップＳ９においては、当該アナログ値が異常値である（例えば、電圧値または電流値が基準値未満である）か否かを判定し、当該アナログ値が異常値である場合に警報を出力するような処理が実行される。この場合、ステップＳ１０においては、例えばアナログ値が異常値であり、警報を出力したことを処理結果として含む試験結果が格納部４２に格納される。
Here, the processing of steps S9 and S10 described above will be specifically described. For example, if the above test input value is an analog value (for example, an analog value indicating a voltage value or a current value), in step S9, the analog value is an abnormal value (for example, a voltage value or a current value is a reference value). value), and if the analog value is an abnormal value, processing is executed to output an alarm. In this case, in step S10, for example, the analog value is an abnormal value, and the test result is stored in the
一方、例えば上記した試験用入力値がデジタル値（例えば遮断器の開閉を示すデジタル値）である場合、ステップＳ９においては、当該遮断器の動作回数を更新するような処理が実行される。この場合、ステップＳ１０においては、例えば更新された遮断器の動作回数を処理結果として含む試験結果が格納部４２に格納される。
On the other hand, for example, if the test input value described above is a digital value (for example, a digital value indicating opening/closing of the circuit breaker), in step S9, a process for updating the number of operations of the circuit breaker is executed. In this case, in step S<b>10 , the
なお、ここで説明したステップＳ９及びＳ１０の処理は一例であり、当該ステップＳ９及びＳ１０の処理は、試験用入力値に基づいて実行される処理であれば、他の処理であってもよい。 Note that the processes of steps S9 and S10 described here are examples, and the processes of steps S9 and S10 may be other processes as long as they are processes executed based on test input values.
また、ここでは格納部４２に格納される試験結果が試験用入力値の入力タイミング、モジュール番号、試験用入力値（つまり、試験用入力値の計測結果）及び処理結果を含むものとして説明したが、当該試験結果にはこれら以外の情報が含まれていてもよいし、当該試験結果はこれらのうちの少なくとも一部が省略されたものであってもよい。
Further, here, the test results stored in the
ステップＳ１０の処理が実行されると、通信処理部４３は、当該ステップＳ１０において格納部４２に格納された試験結果を、無線通信により端末装置２０に送信する（ステップＳ１１）。
When the process of step S10 is executed, the
ステップＳ１１において計測装置４０から送信された試験結果は、端末装置２０に含まれる通信処理部２２によって受信される。
The test result transmitted from the measuring
表示処理部２３は、通信処理部２２によって受信された試験結果を表示する（ステップＳ１２）。この場合、表示処理部２３は、ステップＳ８において試験装置３０から送信された試験用入力値の出力結果を更に表示してもよい。
The display processing unit 23 displays the test results received by the communication processing unit 22 (step S12). In this case, the display processing unit 23 may further display the output result of the test input value transmitted from the
なお、図３においては、便宜的に、ステップＳ２において作成された１つの試験設定ファイルに基づいて計測装置４０の試験が行われる場合について説明したが、例えば試験内容が変更される場合には、ステップＳ２以降の処理が再度実行されればよい。また、順次行われる複数の試験に関する試験設定ファイル（つまり、複数の試験内容が設定された試験設定ファイル）がステップＳ２において作成された場合には、当該試験内容の各々についてステップＳ４～Ｓ１０の処理が繰り返し実行された後に、ステップＳ１１及びＳ１２の処理が実行されるような構成とすることも可能である。
In FIG. 3, for the sake of convenience, the case where the test of the measuring
上記したように本実施形態において、端末装置２０は、試験担当者の操作に応じて計測装置４０の試験内容（第１試験内容）が設定された試験設定ファイル（第１試験設定ファイル）を作成し、当該作成された試験設定ファイルを無線通信により試験装置３０に送信する。また、試験装置３０は、無線通信により端末装置２０から送信された試験設定ファイルを受信し、当該受信された試験設定ファイルに基づいて、試験装置３０と計測装置４０とを接続する配線群１００（複数の配線）のうちの１つの配線（第１配線）を介して試験用入力値を出力する。計測装置４０は、試験装置３０から出力された試験用入力値を入力して当該試験用入力値を計測し、当該計測された試験用入力値に基づく処理を実行し、当該試験用入力値の計測結果と当該処理結果とを含む試験結果（第１試験結果）を格納部４２に格納する。
As described above, in the present embodiment, the
なお、試験内容が変更される場合には、例えば当該変更された試験内容が設定された試験設定ファイル（第２試験設定ファイル）が端末装置２０において作成され、当該試験設定ファイルが無線通信により端末装置２０から試験装置３０に送信され、当該試験設定ファイルに基づく試験用入力値（第２試験用入力値）が配線（第２配線）を介して試験装置３０から出力されればよい。
When the test content is changed, for example, a test setting file (second test setting file) in which the changed test content is set is created in the
上記した構成によれば、試験装置３０（に備えられている入出力端子群３０ａ）と計測装置４０（に備えられる計測モジュール群４０ａ）とが配線群１００を介して接続されており、上記した試験設定ファイルに基づく試験用入力値が当該配線群１００のうちの１つの配線を介して選択的に計測装置４０（モジュール）に出力されるため、試験担当者は、例えば試験内容が変更される度に配線を変更するような作業を行う必要がない。
According to the above configuration, the test device 30 (the input/
また、本実施形態においては、無線通信を使用して計測装置４０の試験を行う（つまり、試験担当者の操作に応じて端末装置２０において作成された試験設定ファイルに基づいて試験が行われる）構成であるため、試験担当者は例えば試験装置３０（試験器）を操作するために試験場に行くことなく、遠隔からの計測装置４０の試験を実現することができる。
Further, in the present embodiment, the
したがって、本実施形態においては、受変電設備のような電力設備に備えられる計測装置４０の試験を容易に行うことができる。
Therefore, in this embodiment, it is possible to easily test the measuring
また、本実施形態においては、計測装置４０に含まれる格納部４２に格納された試験結果を端末装置２０に送信し、当該試験結果を端末装置２０において表示することができるため、試験担当者は、当該試験担当者によって指定された計測装置４０の試験内容に基づく試験結果を、端末装置２０で容易に確認することができる。
Further, in the present embodiment, the test results stored in the
ここで、試験装置３０（出力端子）と計測装置４０（計測モジュール）とを接続する配線（つまり、配線の接続先）に誤りがある場合には誤った試験結果が得られる場合があるが、このような誤りの原因を特定するためには配線の接続先を１つずつ確認する必要があり、当該原因の特定に時間がかかることが考えられる。この場合、本実施形態において、端末装置２０（表示処理部２３）は、無線通信により試験装置３０から送信された試験用入力値の出力結果を試験結果とともに表示するものとする。このような構成によれば、試験担当者は、試験用入力値の出力結果（に含まれる端子番号）と試験結果（に含まれるモジュール番号）との対応関係を参照することによって、試験装置３０に備えられている出力端子と計測装置４０に備えられているモジュールとを接続する配線の誤りを容易に発見することができる。
Here, if there is an error in the wiring (that is, the connection destination of the wiring) that connects the test device 30 (output terminal) and the measurement device 40 (measurement module), an erroneous test result may be obtained. In order to identify the cause of such an error, it is necessary to check the connection destinations of the wirings one by one, and it may take time to identify the cause. In this case, in the present embodiment, the terminal device 20 (display processing unit 23) displays the output result of the test input value transmitted from the
また、試験装置３０（または計測装置４０）に不具合が生じている場合においても同様に誤った試験結果が得られるため、上記したように試験装置３０から送信された試験用入力値の出力結果を試験結果とともに表示する構成とした場合には、試験担当者は、例えば試験用入力値の出力結果と試験結果との間に矛盾等が生じていることを確認することにより、試験装置３０（または計測装置４０）に不具合が生じていることを容易に発見することができる。 In addition, even if the test device 30 (or the measurement device 40) has a problem, an erroneous test result is similarly obtained. In the case where the test result is displayed together with the test result, the person in charge of the test confirms, for example, that there is a contradiction between the output result of the test input value and the test result, and the test device 30 (or It is possible to easily discover that the measuring device 40) is malfunctioning.
なお、端末装置２０は、正しい出力端子と計測モジュールとの対応関係（つまり、当該出力端子と接続されるべき計測モジュールを示す情報）を予め管理しておくことによって、試験用入力値の出力結果（端子番号）と試験結果（モジュール番号）とに基づいて上記した配線の誤りを自動的に検出する機能を有していてもよい。また、端末装置２０は、試験用入力値の出力結果と試験結果とを比較することによって、上記した試験装置３０（または計測装置４０）の不具合を自動的に検出する機能を有していてもよい。
Note that the
すなわち、本実施形態においては、試験装置３０から送信された試験用入力値の出力結果及び計測装置４０から送信された試験結果を、計測装置４０の試験が正しく行われたか否かを確認するために使用してもよい。
That is, in the present embodiment, the output result of the test input value transmitted from the
また、試験装置３０から送信された試験用入力値の出力結果及び計測装置４０から送信された試験結果は、例えば端末装置２０に備えられるメモリに格納されてもよい。このような構成によれば、試験担当者は、端末装置２０に備えられるメモリに格納されている試験用入力値の出力結果及び試験結果及びを利用して、過去の計測装置４０の試験を解析するようなことが可能となる。なお、本実施形態に係る試験システム１０は、過去の計測装置４０の試験を解析する際に、例えば試験装置３０に含まれる格納部３４から過去の試験用入力値の出力結果を読み出し、計測装置４０に含まれる格納部４２から過去の試験結果を読み出すことが可能なように構成されていてもよい。
Further, the output result of the test input value transmitted from the
また、本実施形態において計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａはアナログ値を入力するアナログ入力モジュール（第１計測モジュール）及びデジタル値を入力するデジタル入力モジュール（第２計測モジュール）を含み、試験装置３０は、試験設定ファイルに設定されているアナログ入力モジュールまたはデジタル入力モジュールに配線を介して接続されている出力端子から試験用入力値を出力する。このような構成によれば、アナログ値及びデジタル値の両方を試験用入力値として用いて計測装置４０の試験を行うことができる。
Further, in the present embodiment, the
ところで、本実施形態においては例えば１つの試験用入力値が計測装置４０に入力されることによって計測装置４０の試験が行われるものとして主に説明したが、本実施形態は、より複雑な計測装置４０の試験を行うことも可能である。
By the way, in the present embodiment, for example, the test of the measuring
具体的には、上記したように計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａにはアナログ入力モジュール、デジタル入力モジュール及びデジタル出力モジュールが含まれているため、例えば電圧値または電流値（アナログ値）が計測装置４０のアナログ入力モジュールに入力されることによって計測装置４０において所定の処理が実行され、当該電圧値または電流値が異常である（警報を出力した）ことを示すデジタル値が計測装置４０のデジタル出力モジュールから出力された場合に、電流を遮断するように遮断器を動作させることを示すデジタル値がデジタル入力モジュールに入力されるといった場合に計測装置４０が正しく動作するか否かの試験を行うことができる。
Specifically, as described above, the
また、例えば一般的な試験器を操作しながらアナログ値及びデジタル値を組み合わせた入力値で試験を行う（つまり、複数の試験用入力値の入力タイミングを把握して手作業で試験を行う）ことは熟練した試験担当者でなければ難しいが、本実施形態においては、適切な試験設定ファイルを作成しておけば、経験が少ない試験担当者であっても熟練した試験担当者と差異のない定量的な試験を実現することができる。 In addition, for example, while operating a general tester, testing with input values that combine analog values and digital values (that is, manually performing tests by grasping the input timing of multiple test input values) However, in this embodiment, if an appropriate test setting file is created, even an inexperienced tester can perform quantification without any difference from an experienced tester. test can be realized.
更に、実際の受変電設備が運用される環境においては計測装置４０に複数の値が同時に入力される場合があるが、本実施形態においては、試験装置３０に備えられる入出力端子群３０ａに含まれる出力端子の各々と計測装置４０に備えられる計測モジュール群４０ａに含まれる計測モジュールの各々とが配線群１００に含まれる配線の各々によって接続された状態である（つまり、各計測モジュールに対する試験用入力値の出力が試験装置３０において一元化されている）ため、例えば複数の試験用入力値を計測装置４０（複数の計測モジュール）に入力するようなことも可能である。これによれば、実際の受変電設備の運用時に近い環境を再現して計測装置４０の試験を行うことができる。
Furthermore, in the environment where the actual power receiving and transforming equipment is operated, there are cases where a plurality of values are input to the measuring
なお、本実施形態においては、モジュール番号、入力番号、試験用入力値及び入力タイミング（試験用入力値の時間遅れまたは同期等）を含む試験内容が設定された試験設定ファイルが端末装置２０に対する試験担当者の操作に応じて作成されることにより、上記したような様々な試験を容易に行うことができる。
Note that in the present embodiment, a test setting file in which test contents including module numbers, input numbers, test input values, and input timing (time delay or synchronization of test input values, etc.) is set is used to test the
また、本実施形態は、試験装置３０と無線通信可能に接続される端末装置２０において試験設定ファイルを作成し、当該試験設定ファイルに基づいて試験装置３０から出力される試験用入力値が計測装置４０において入力されることによって当該計測装置４０の試験が行われる構成であればよい。この場合、図３においてはステップＳ１～Ｓ１２の処理が実行されるものとして説明したが、実施形態に係る試験システム１０は、例えば少なくともステップＳ１～Ｓ６、Ｓ９及びＳ１０の処理を実行し、当該ステップＳ１０において計測装置４０に含まれる格納部４２に格納された試験結果を試験担当者が確認するように構成されていてもよい。
Further, in this embodiment, a test setting file is created in the
また、本実施形態においては試験装置３０から送信された試験用入力値の出力結果及び計測装置４０から送信された試験結果が端末装置２０において表示される構成について説明したが、当該試験結果が表示され、試験用入力値の出力結果が表示されない構成である場合には、上記した図３に示すステップＳ７及びＳ８の処理は省略されてもよい。
Further, in the present embodiment, the configuration in which the output result of the test input value transmitted from the
また、本実施形態に係る試験システム１０は受変電設備に備えられている監視計測盤に実装されている計測装置４０の試験を行うために用いられることを想定しているが、本実施形態は、例えば受変電設備以外の電力設備（の監視）に用いられる計測装置に適用されても構わない。
In addition, it is assumed that the
更に、本実施形態においては１つの計測装置４０の試験を行う場合について説明したが、例えば十分な数の端子（入出力端子）を備える試験装置３０を用意することによって、複数の計測装置の試験を同時に行うような構成とすることも可能である。
Furthermore, in the present embodiment, the case of testing one
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 While several embodiments of the invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and spirit of the invention, as well as the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.
１０…試験システム、２０…端末装置、２１…試験設定ファイル作成部、２２…通信処理部、２３…表示処理部、３０…試験装置、３０ａ…入出力端子群、３１…通信処理部、３２…解析部、３３…設定部、３４…格納部、４０…計測装置、４０ａ…計測モジュール群、４１…処理部、４２…格納部、４３…通信処理部。
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記端末装置は、
前記試験担当者の操作に応じて、前記計測装置の第１試験内容が設定された第１試験設定ファイルを作成する作成手段と、
前記作成された第１試験設定ファイルを、前記無線通信により前記試験装置に送信する送信手段と
を含み、
前記試験装置は、前記送信された第１試験設定ファイルに基づいて、前記試験装置と前記計測装置とを接続する複数の配線のうちの第１配線を介して第１試験用入力値を出力する出力手段を含み、
前記計測装置は、
前記出力された第１試験用入力値を入力して当該第１試験用入力値を計測する計測手段と、
前記計測された第１試験用入力値に基づく処理を実行する処理手段と、
前記第１試験用入力値の計測結果と前記処理結果とを含む第１試験結果を格納する格納手段と
を含む
試験システム。 A terminal device used by a person in charge of testing, a test device connected to the terminal device so as to be able to perform wireless communication, and a measuring device configured to measure an input value related to the operation state of power equipment. In a test system used to test the measurement device,
The terminal device
creating means for creating a first test setting file in which the first test contents of the measuring device are set according to the operation of the person in charge of the test;
transmitting means for transmitting the created first test setting file to the test device via the wireless communication;
The testing device outputs a first test input value through a first wiring among a plurality of wirings connecting the testing device and the measuring device based on the transmitted first test setting file. including an output means;
The measuring device
measuring means for inputting the output first test input value and measuring the first test input value;
a processing means for executing a process based on the measured first test input value;
and storage means for storing a first test result including the measurement result of the input value for the first test and the processing result.
前記計測装置は、前記格納手段に格納された第１試験結果を、前記無線通信により前記端末装置に送信する送信手段を更に含み、
前記端末装置は、前記送信された第１試験結果を表示する表示処理手段を更に含む
請求項１記載の試験システム。 The measuring device is connected to the terminal device so as to be able to perform wireless communication,
The measurement device further includes transmission means for transmitting the first test result stored in the storage means to the terminal device via the wireless communication,
2. The test system according to claim 1, wherein said terminal device further includes display processing means for displaying said transmitted first test result.
前記表示処理手段は、前記送信された第１試験用入力値の出力結果を表示する
請求項２記載の試験システム。 The test device further includes transmission means for transmitting the output result of the first test input value to the terminal device via the wireless communication,
3. The test system according to claim 2, wherein said display processing means displays the output result of said transmitted first test input value.
前記計測装置は、前記格納手段に格納された第１試験結果を、前記無線通信により前記端末装置に送信する送信手段を更に含み、
前記試験装置は、前記第１試験用入力値の出力結果を、前記無線通信により前記端末装置に送信する送信手段を更に含み、
前記端末装置は、前記計測装置から送信された第１試験結果と、前記試験装置から送信された第１試験用入力値の出力結果とに基づいて、前記試験装置と前記計測装置とを接続する配線の誤りを検出する検出手段を含む
請求項１記載の試験システム。 The measuring device is connected to the terminal device so as to be able to perform wireless communication,
The measurement device further includes transmission means for transmitting the first test result stored in the storage means to the terminal device via the wireless communication,
The test device further includes transmission means for transmitting the output result of the first test input value to the terminal device via the wireless communication,
The terminal device connects the test device and the measurement device based on the first test result transmitted from the measurement device and the output result of the first test input value transmitted from the test device. 2. The test system of claim 1, including detection means for detecting wiring errors.
前記計測手段は、アナログ値を入力する第１計測手段及びデジタル値を入力する第２計測手段を含み、
前記複数の配線は、前記複数の出力端子と前記第１及び第２計測手段とを接続し、
前記出力手段は、前記第１試験設定ファイルに設定されている第１または第２計測手段に前記配線を介して接続されている出力端子から前記第１試験用入力値を出力する
請求項１～４のいずれか一項に記載の試験システム。 The test device includes a plurality of output terminals,
The measuring means includes a first measuring means for inputting an analog value and a second measuring means for inputting a digital value,
The plurality of wirings connect the plurality of output terminals and the first and second measuring means,
The output means outputs the first test input value from an output terminal connected via the wiring to the first or second measurement means set in the first test setting file. 5. The test system according to any one of clauses 4-4.
前記端末装置に含まれる送信手段は、前記作成された第２試験設定ファイルを、前記無線通信により前記試験装置に送信し、
前記試験装置に含まれる出力手段は、前記送信された第２試験設定ファイルに基づいて、前記複数の配線のうちの第２配線を介して第２試験用入力値を出力する
請求項１記載の試験システム。 creating means included in the terminal device creates a second test setting file in which second test content of the measuring device is set;
transmitting means included in the terminal device transmits the created second test setting file to the test device via the wireless communication;
2. The output device according to claim 1, wherein the output means included in the test apparatus outputs the input value for the second test through the second wiring among the plurality of wirings based on the transmitted second test setting file. test system.
前記端末装置が、前記試験担当者の操作に応じて、前記計測装置の第１試験内容が設定された第１試験設定ファイルを作成するステップと、
前記端末装置が、前記作成された第１試験設定ファイルを、前記無線通信により前記試験装置に送信するステップと、
前記試験装置が、前記送信された第１試験設定ファイルに基づいて、前記試験装置と前記計測装置とを接続する複数の配線のうちの第１配線を介して第１試験用入力値を出力するステップと、
前記計測装置が、前記出力された第１試験用入力値を入力して当該第１試験用入力値を計測するステップと、
前記計測装置が、前記計測された第１試験用入力値に基づく処理を実行するステップと、
前記計測装置が、前記第１試験用入力値の計測結果と前記処理結果とを含む第１試験結果を格納手段に格納するステップと
を具備する試験方法。 A terminal device used by a person in charge of testing, a test device connected to the terminal device so as to be able to perform wireless communication, and a measuring device configured to measure an input value related to the operation state of power equipment. A test method for testing the measuring device by a test system comprising
a step in which the terminal device creates a first test setting file in which the content of the first test of the measuring device is set according to the operation of the person in charge of the test;
a step in which the terminal device transmits the created first test setting file to the test device via the wireless communication;
The testing device outputs a first test input value through a first wiring among a plurality of wirings connecting the testing device and the measuring device based on the transmitted first test setting file. a step;
the measuring device inputting the output first test input value and measuring the first test input value;
the measuring device performing a process based on the measured first test input value;
A testing method comprising: storing a first test result including the measurement result of the input value for the first test and the processing result by the measuring device in a storage means.
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