JP2023041065A - 誤検知を減少させた分光学的定量化のための識別 - Google Patents
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Abstract
【課題】装置は、未知試料に対して実行された分光測定の結果を識別する情報を受信することができる。【解決手段】定量化モデルの複数の第１の訓練セット試料が決定境界内にあり、かつ、定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料が決定境界外にあるように、装置は、構成可能なパラメータに基づいて定量化モデルのための決定境界を決定することができる。装置は、決定境界に関連する、未知試料に対して実行された分光測定のための距離メトリックを決定することができる。装置は、決定境界に関連する、定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料のための複数の距離メトリックを決定することができる。装置は、未知試料に対して実行された分光測定が定量化モデルに対応するか否かを示す情報を提供することができる。【選択図】図７Ｂ
Description
原料識別は、医薬品の品質制御に利用することができる。例えば、原料識別は医用材料
に実行して、その医用材料の含有成分がその医用材料と関連するパッケージラベルに一致
するか否かを判定することができる。同様に、原料の定量化を実行して、特定の試料の特
定の成分の濃度を判定することができる。例えば、原料の定量化を実行して、薬品内の有
効成分の濃度を判定することができる。分光法は、他の化学的技法と比較して少ない準備
および短いデータ収集時間で非破壊原料識別および／または定量化を容易にする。
に実行して、その医用材料の含有成分がその医用材料と関連するパッケージラベルに一致
するか否かを判定することができる。同様に、原料の定量化を実行して、特定の試料の特
定の成分の濃度を判定することができる。例えば、原料の定量化を実行して、薬品内の有
効成分の濃度を判定することができる。分光法は、他の化学的技法と比較して少ない準備
および短いデータ収集時間で非破壊原料識別および／または定量化を容易にする。
いくつかの可能な実施形態によれば、装置は一以上のプロセッサに通信可能に連結され
た一以上のメモリを含み得る。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサは、未知試料に
対して実行された分光測定の結果を識別する情報を受信するように構成することができる
。定量化モデルの複数の第１の訓練セット試料が決定境界内にあり、かつ定量化モデルの
複数の第２の訓練セット試料が決定境界外にあるように、一以上のメモリおよび一以上の
プロセッサは、構成可能なパラメータに基づいて定量化モデルのための決定境界を決定す
るように構成することができる。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサは、決定境界
に関連する、未知試料に対して実行された分光測定のための距離メトリックを決定するよ
うに構成することができる。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサは、決定境界に関
連する、定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料のための複数の距離メトリックを決
定するように構成することができる。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサは、未知
試料に対して実行された分光測定が、分光測定のための距離メトリックおよび複数の第２
の訓練セット試料のための複数の距離メトリックに基づいて、定量化モデルに対応するか
否かを判定するように構成することができる。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサ
は、未知試料に対して実行された分光測定が定量化モデルに対応しているか否かを示す情
報を提供するように構成することができる。
た一以上のメモリを含み得る。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサは、未知試料に
対して実行された分光測定の結果を識別する情報を受信するように構成することができる
。定量化モデルの複数の第１の訓練セット試料が決定境界内にあり、かつ定量化モデルの
複数の第２の訓練セット試料が決定境界外にあるように、一以上のメモリおよび一以上の
プロセッサは、構成可能なパラメータに基づいて定量化モデルのための決定境界を決定す
るように構成することができる。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサは、決定境界
に関連する、未知試料に対して実行された分光測定のための距離メトリックを決定するよ
うに構成することができる。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサは、決定境界に関
連する、定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料のための複数の距離メトリックを決
定するように構成することができる。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサは、未知
試料に対して実行された分光測定が、分光測定のための距離メトリックおよび複数の第２
の訓練セット試料のための複数の距離メトリックに基づいて、定量化モデルに対応するか
否かを判定するように構成することができる。一以上のメモリおよび一以上のプロセッサ
は、未知試料に対して実行された分光測定が定量化モデルに対応しているか否かを示す情
報を提供するように構成することができる。
いくつかの可能な実施形態によれば、非一時的コンピュータ可読媒体は、一以上の命令
を格納することができる。この一以上の命令は、一以上のプロセッサにより実行されると
き、一以上のプロセッサに、特定の種類の対象材料に関連する定量化モデルを取得させる
ことができる。定量化モデルは、特定の種類の対象材料の試料における特定の成分の濃度
を判定するように構成することができる。一以上の命令は、一以上のプロセッサにより実
行されるとき、一以上のプロセッサに、未知試料に対して実行された特定の分光測定の結
果を識別する情報を受信させることができる。一以上の命令は、一以上のプロセッサによ
り実行されるとき、一以上のプロセッサに、定量化モデルの訓練セット試料の別の分光測
定を定量化モデルのための単一クラスに集約させることができる。一以上の命令は、一以
上のプロセッサにより実行されるとき、一以上のプロセッサに、訓練セット試料の別の分
光測定を第１のグループおよび第２のグループに細分させることができる。別の分光測定
の第１のグループは、決定境界内に含まれ得る。別の分光測定の第２のグループは、決定
境界内に含まれなくてもよい。一以上の命令は、一以上のプロセッサにより実行されると
き、一以上のプロセッサに、別の分光測定の第２のグループのための対応するメトリック
に関連して、未知試料に対して実行された特定の分光測定のためのメトリックが閾値を満
足すると判定させることができる。一以上の命令は、一以上のプロセッサにより実行され
るとき、一以上のプロセッサに、未知試料が特定の種類の対象材料ではないことを示す情
報を提供させることができる。
を格納することができる。この一以上の命令は、一以上のプロセッサにより実行されると
き、一以上のプロセッサに、特定の種類の対象材料に関連する定量化モデルを取得させる
ことができる。定量化モデルは、特定の種類の対象材料の試料における特定の成分の濃度
を判定するように構成することができる。一以上の命令は、一以上のプロセッサにより実
行されるとき、一以上のプロセッサに、未知試料に対して実行された特定の分光測定の結
果を識別する情報を受信させることができる。一以上の命令は、一以上のプロセッサによ
り実行されるとき、一以上のプロセッサに、定量化モデルの訓練セット試料の別の分光測
定を定量化モデルのための単一クラスに集約させることができる。一以上の命令は、一以
上のプロセッサにより実行されるとき、一以上のプロセッサに、訓練セット試料の別の分
光測定を第１のグループおよび第２のグループに細分させることができる。別の分光測定
の第１のグループは、決定境界内に含まれ得る。別の分光測定の第２のグループは、決定
境界内に含まれなくてもよい。一以上の命令は、一以上のプロセッサにより実行されると
き、一以上のプロセッサに、別の分光測定の第２のグループのための対応するメトリック
に関連して、未知試料に対して実行された特定の分光測定のためのメトリックが閾値を満
足すると判定させることができる。一以上の命令は、一以上のプロセッサにより実行され
るとき、一以上のプロセッサに、未知試料が特定の種類の対象材料ではないことを示す情
報を提供させることができる。
いくつかの可能な実施形態によれば、方法は、装置によって、未知試料に対して実行さ
れた近赤外（ＮＩＲ）分光測定の結果を識別する情報を受信するステップを含み得る。方
法は、装置によって、定量化モデルのための決定境界を決定するステップを含んでよく、
ここで、決定境界は、定量化モデルの単一クラスを、決定境界内の定量化モデルの複数の
第１の訓練セット試料と、決定境界外の定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料とに
分割する。方法は、装置によって、未知試料に対して実行されたＮＩＲ分光測定のための
特定の距離メトリックが、複数の第２の訓練セット試料のための別の距離メトリックに関
連する閾値を満足すると判定するステップを含み得る。方法は、装置によって、未知試料
に対して実行されたＮＩＲ分光測定のための特定の距離メトリックが、複数の第２の訓練
セット試料のための別の距離メトリックに関連する閾値を満足するとの判定に基づいて、
未知試料に対して実行されたＮＩＲ分光測定が定量化モデルに対応しないことを示す情報
を提供するステップを含み得る。
れた近赤外（ＮＩＲ）分光測定の結果を識別する情報を受信するステップを含み得る。方
法は、装置によって、定量化モデルのための決定境界を決定するステップを含んでよく、
ここで、決定境界は、定量化モデルの単一クラスを、決定境界内の定量化モデルの複数の
第１の訓練セット試料と、決定境界外の定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料とに
分割する。方法は、装置によって、未知試料に対して実行されたＮＩＲ分光測定のための
特定の距離メトリックが、複数の第２の訓練セット試料のための別の距離メトリックに関
連する閾値を満足すると判定するステップを含み得る。方法は、装置によって、未知試料
に対して実行されたＮＩＲ分光測定のための特定の距離メトリックが、複数の第２の訓練
セット試料のための別の距離メトリックに関連する閾値を満足するとの判定に基づいて、
未知試料に対して実行されたＮＩＲ分光測定が定量化モデルに対応しないことを示す情報
を提供するステップを含み得る。
以下の例示的な実施形態の詳細な説明は、添付図面に関する。異なる図面中の同じ参照
番号は、同じまたは類似の要素を示す。
番号は、同じまたは類似の要素を示す。
原料識別（ＲＭＩＤ）は、識別、検証等のために特定の試料の成分（例えば、含有成分
）を識別するために使用される技術である。例えば、ＲＭＩＤは、医薬品の含有成分がラ
ベルで確認される一組の含有成分に一致するかを確認するために利用される。同様に、原
料の定量化は、特定の試料における特定の成分材料の濃度を判定する等、特定の試料の定
量分析を実行するために利用される技術である。スペクトロメータを使用して、試料（例
えば、医薬品）の分光測定を実行し、試料の成分や、試料の成分濃度等を判定することが
できる。スペクトロメータにより、試料の一組の測定を判定し、分光学的判定のための一
組の測定結果を提供することができる。分光学的分類技術（例えば、クラシファイア）は
、試料の一組の測定に基づく試料の成分または試料の成分の濃度の判定を容易にすること
ができる。
）を識別するために使用される技術である。例えば、ＲＭＩＤは、医薬品の含有成分がラ
ベルで確認される一組の含有成分に一致するかを確認するために利用される。同様に、原
料の定量化は、特定の試料における特定の成分材料の濃度を判定する等、特定の試料の定
量分析を実行するために利用される技術である。スペクトロメータを使用して、試料（例
えば、医薬品）の分光測定を実行し、試料の成分や、試料の成分濃度等を判定することが
できる。スペクトロメータにより、試料の一組の測定を判定し、分光学的判定のための一
組の測定結果を提供することができる。分光学的分類技術（例えば、クラシファイア）は
、試料の一組の測定に基づく試料の成分または試料の成分の濃度の判定を容易にすること
ができる。
しかしながら、分光学的定量化の対象となる未知試料の一部は、実際には、定量化する
ために定量化モデルを構成した材料のクラスに含まれていない。例えば、魚の試料におけ
る特定の種類のタンパク質の濃度を判定するように訓練された定量化モデルについて、ユ
ーザは、定量化するために誤って牛肉の試料を提供し得る。この場合、制御装置は牛肉の
試料の分光学的定量化を実行して、牛肉の試料を特定の種類のタンパク質の特定の濃度を
有するものとして識別し得る。しかしながら、牛肉と魚との間の分光学的シグネチャおよ
びそれらのタンパク質の違いにより、識別は不正確となり、誤検知識別と呼ばれ得る。
ために定量化モデルを構成した材料のクラスに含まれていない。例えば、魚の試料におけ
る特定の種類のタンパク質の濃度を判定するように訓練された定量化モデルについて、ユ
ーザは、定量化するために誤って牛肉の試料を提供し得る。この場合、制御装置は牛肉の
試料の分光学的定量化を実行して、牛肉の試料を特定の種類のタンパク質の特定の濃度を
有するものとして識別し得る。しかしながら、牛肉と魚との間の分光学的シグネチャおよ
びそれらのタンパク質の違いにより、識別は不正確となり、誤検知識別と呼ばれ得る。
別の実施例として、定量化モデルにより、未知試料における異なる種類の砂糖（例えば
、グルコース、フルクトース、ガラクトース等）の相対濃度を定量化するように訓練する
ことができる。しかしながら、スペクトロメータおよび制御装置のユーザは、誤って、ス
ペクトロメータを不正確に使用して測定を実施することにより、未知試料である砂糖の分
類を試みる可能性がある。例えば、ユーザは、未知試料から不正確な距離にて、また、定
量化モデルを訓練するために分光法を実行した校正条件とは異なる環境条件等にて、スペ
クトロメータを操作し、その結果として不正確に取得された測定値となり得る。この場合
、制御装置は、未知試料に対して不正確なスペクトルを受信し、その結果、未知試料が実
際には第２の濃度の第２の種類の砂糖を含んでいても、第１の濃度の第１の種類の砂糖を
有するものとして、未知試料の識別を誤検知し得る。
、グルコース、フルクトース、ガラクトース等）の相対濃度を定量化するように訓練する
ことができる。しかしながら、スペクトロメータおよび制御装置のユーザは、誤って、ス
ペクトロメータを不正確に使用して測定を実施することにより、未知試料である砂糖の分
類を試みる可能性がある。例えば、ユーザは、未知試料から不正確な距離にて、また、定
量化モデルを訓練するために分光法を実行した校正条件とは異なる環境条件等にて、スペ
クトロメータを操作し、その結果として不正確に取得された測定値となり得る。この場合
、制御装置は、未知試料に対して不正確なスペクトルを受信し、その結果、未知試料が実
際には第２の濃度の第２の種類の砂糖を含んでいても、第１の濃度の第１の種類の砂糖を
有するものとして、未知試料の識別を誤検知し得る。
本明細書に記載のいくつかの実施形態では、単一クラスサポートベクトルマシン（ＳＣ
－ＳＶＭ）技術を利用して、分光学的定量化における識別時の誤検知の可能性を減少させ
ることができる。例えば、未知試料の分光測定結果を受信する制御装置は、未知試料の分
光測定結果が、定量化するために分光モデルを構成した材料のクラスに対応するか否かを
判定することができる。いくつかの実施形態では、制御装置により、未知試料が定量化す
るために分光モデルを構成した材料のクラスに関連しないと判定し、未知試料が材料のク
ラスに関連しないことを示す情報を提供することによって、未知試料の識別における誤検
知を回避することができる。あるいは、未知試料が、定量化するために分光モデルを構成
した材料のクラスに関連するとの判定に基づいて、制御装置により未知試料のスペクトル
を分析して、濃度や分類等の分光学的判定を提供することができる。更に、制御装置は、
識別時の誤検知を除外するために、確率推定値、決定値等の信頼メトリックを利用するこ
とができる。
－ＳＶＭ）技術を利用して、分光学的定量化における識別時の誤検知の可能性を減少させ
ることができる。例えば、未知試料の分光測定結果を受信する制御装置は、未知試料の分
光測定結果が、定量化するために分光モデルを構成した材料のクラスに対応するか否かを
判定することができる。いくつかの実施形態では、制御装置により、未知試料が定量化す
るために分光モデルを構成した材料のクラスに関連しないと判定し、未知試料が材料のク
ラスに関連しないことを示す情報を提供することによって、未知試料の識別における誤検
知を回避することができる。あるいは、未知試料が、定量化するために分光モデルを構成
した材料のクラスに関連するとの判定に基づいて、制御装置により未知試料のスペクトル
を分析して、濃度や分類等の分光学的判定を提供することができる。更に、制御装置は、
識別時の誤検知を除外するために、確率推定値、決定値等の信頼メトリックを利用するこ
とができる。
このようにして、潜在的なエラー試料（例えば、分光モデルが構成されていない材料の
クラスに関連付けられる試料または分光測定が不正確に取得された試料）を識別せずに、
および／または信頼メトリックなしに実施される分光法と比較して、分光法の精度を改善
することができる。更に、既知の分光試料の訓練セットに基づいて定量化モデルを生成す
るとき、材料が分光モデルを構成したクラスに関連付けられるか否かの判定を利用するこ
とができる。例えば、制御装置は、（例えば、人的エラーの結果、不正確な試料が訓練セ
ットに導入されることによって）訓練セットの試料が残りの訓練セットに対応する種類で
はないと判定し、定量化モデルの生成時に、その試料に関連するデータを含まないように
決定することができる。このようにして、制御装置により、分光法のための定量化モデル
の精度を改善する。
クラスに関連付けられる試料または分光測定が不正確に取得された試料）を識別せずに、
および／または信頼メトリックなしに実施される分光法と比較して、分光法の精度を改善
することができる。更に、既知の分光試料の訓練セットに基づいて定量化モデルを生成す
るとき、材料が分光モデルを構成したクラスに関連付けられるか否かの判定を利用するこ
とができる。例えば、制御装置は、（例えば、人的エラーの結果、不正確な試料が訓練セ
ットに導入されることによって）訓練セットの試料が残りの訓練セットに対応する種類で
はないと判定し、定量化モデルの生成時に、その試料に関連するデータを含まないように
決定することができる。このようにして、制御装置により、分光法のための定量化モデル
の精度を改善する。
図１Ａおよび図１Ｂは、本明細書に記載する例示的な実施形態１００の概略図である。
図１Ａに示すように、例示的な実施形態１００は、制御装置およびスペクトロメータを含
み得る。
図１Ａに示すように、例示的な実施形態１００は、制御装置およびスペクトロメータを含
み得る。
図１Ａに更に示すように、制御装置は、スペクトロメータに、訓練セットおよび検証セ
ット（例えば、分類モデルを訓練し、検証するために使用される一組の既知試料）に対し
て一組の分光測定を実行させ得る。訓練セットおよび検証セットは、定量化モデルを訓練
した成分のための閾量の試料を含むように選択され得る。成分が発生し、定量化モデルを
訓練するために使用され得る材料は、対象材料と称される。この場合、訓練セットおよび
検証セットは、例えば、第１の濃度の対象材料を代表する第１のグループの試料、第２の
濃度の対象材料を代表する第２のグループの試料等を含むことで、定量化モデルの訓練を
可能にし、未知試料における対象材料の濃度を識別することができる。
ット（例えば、分類モデルを訓練し、検証するために使用される一組の既知試料）に対し
て一組の分光測定を実行させ得る。訓練セットおよび検証セットは、定量化モデルを訓練
した成分のための閾量の試料を含むように選択され得る。成分が発生し、定量化モデルを
訓練するために使用され得る材料は、対象材料と称される。この場合、訓練セットおよび
検証セットは、例えば、第１の濃度の対象材料を代表する第１のグループの試料、第２の
濃度の対象材料を代表する第２のグループの試料等を含むことで、定量化モデルの訓練を
可能にし、未知試料における対象材料の濃度を識別することができる。
図１Ａに更に示すように、スペクトロメータは、制御装置からの命令の受信に基づいて
訓練セットおよび検証セットに対して一組の分光測定を実行することができる。例えば、
スペクトロメータは、訓練セットおよび検証セットの各試料に対するスペクトルを判定す
ることにより、制御装置に、未知試料を定量化モデルのための対象材料のうちの一つとし
て分類するための一組のクラスを生成させることができる。
訓練セットおよび検証セットに対して一組の分光測定を実行することができる。例えば、
スペクトロメータは、訓練セットおよび検証セットの各試料に対するスペクトルを判定す
ることにより、制御装置に、未知試料を定量化モデルのための対象材料のうちの一つとし
て分類するための一組のクラスを生成させることができる。
スペクトロメータは、一組の分光測定結果を制御装置に供給することができる。制御装
置は、特定の判定技術を用いて、一組の分光測定結果に基づいて定量化モデルを生成する
ことができる。例えば、制御装置は、サポートベクトルマシン（ＳＶＭ）技術（例えば、
情報を判定するための機械学習技術）、例えば単一クラスＳＶＭ（ＳＣ－ＳＶＭ）技術を
用いて定量化モデルを生成することができる。定量化モデルは、特定のスペクトルを対象
材料における特定の濃度の成分（例えば、対象材料における特定のレベルの濃度の成分）
に割り当てることに関連する情報を含むことができる。このようにして、制御装置は、未
知試料のスペクトルを、特定の濃度に対応する、定量化モデルの濃度の特定のクラスに割
り当てることに基づいて、未知試料の成分の濃度を識別する情報を提供することができる
。
置は、特定の判定技術を用いて、一組の分光測定結果に基づいて定量化モデルを生成する
ことができる。例えば、制御装置は、サポートベクトルマシン（ＳＶＭ）技術（例えば、
情報を判定するための機械学習技術）、例えば単一クラスＳＶＭ（ＳＣ－ＳＶＭ）技術を
用いて定量化モデルを生成することができる。定量化モデルは、特定のスペクトルを対象
材料における特定の濃度の成分（例えば、対象材料における特定のレベルの濃度の成分）
に割り当てることに関連する情報を含むことができる。このようにして、制御装置は、未
知試料のスペクトルを、特定の濃度に対応する、定量化モデルの濃度の特定のクラスに割
り当てることに基づいて、未知試料の成分の濃度を識別する情報を提供することができる
。
図１Ｂに示すように、制御装置は（例えば、ストレージや、定量化モデルを生成した別
の制御装置等から）定量化モデルを受信することができる。制御装置は、スペクトロメー
タに、未知試料（例えば、分類または定量化を実行する未知試料）に対して一組の分光測
定を実行させることができる。スペクトロメータは、制御装置からの命令の受信に基づい
て一組の分光測定を実行することができる。例えば、スペクトロメータは、未知試料に対
するスペクトルを判定することができる。スペクトロメータは、一組の分光測定結果を制
御装置に供給することができる。制御装置は、定量化モデルに基づいて、未知試料の定量
化を試みることができる（例えば、未知試料を未知試料における特定の濃度または特定量
の特定の成分に関連する特定のクラスに分類する）。例えば、制御装置は、未知試料内の
（例えば、錠剤の）特定の濃度のイブプロフェンや、未知試料内の特定量のグルコースの
単位（例えば、砂糖ベースの製品）等の判定を試みることができる。
の制御装置等から）定量化モデルを受信することができる。制御装置は、スペクトロメー
タに、未知試料（例えば、分類または定量化を実行する未知試料）に対して一組の分光測
定を実行させることができる。スペクトロメータは、制御装置からの命令の受信に基づい
て一組の分光測定を実行することができる。例えば、スペクトロメータは、未知試料に対
するスペクトルを判定することができる。スペクトロメータは、一組の分光測定結果を制
御装置に供給することができる。制御装置は、定量化モデルに基づいて、未知試料の定量
化を試みることができる（例えば、未知試料を未知試料における特定の濃度または特定量
の特定の成分に関連する特定のクラスに分類する）。例えば、制御装置は、未知試料内の
（例えば、錠剤の）特定の濃度のイブプロフェンや、未知試料内の特定量のグルコースの
単位（例えば、砂糖ベースの製品）等の判定を試みることができる。
図１Ｂに関して、制御装置は、未知試料が定量化モデルに対応するか否かの判定を試み
てもよい。例えば、制御装置は、未知試料が（例えば、訓練セットおよび検証セットを使
用して定量化モデルを構成した一組の濃度のうちの任意の濃度の）対象材料に属する可能
性に対応する信頼メトリックを判定することができる。イブプロフェン錠剤の試料内のイ
ブプロフェンの濃度を識別するように構成された定量化モデルに対する一例として、制御
装置は、未知試料が（アセトアミノフェン錠剤、アセチルサリチル酸錠剤等の別の種類の
錠剤ではなく）イブプロフェン錠剤であるか否かを判定することができる。別の例として
、魚肉における塩分濃度を識別するように構成された定量化モデルにおいて、制御装置は
、未知試料が（鶏肉、牛肉、豚肉等ではなく）魚肉であるか否かを判定することができる
。
てもよい。例えば、制御装置は、未知試料が（例えば、訓練セットおよび検証セットを使
用して定量化モデルを構成した一組の濃度のうちの任意の濃度の）対象材料に属する可能
性に対応する信頼メトリックを判定することができる。イブプロフェン錠剤の試料内のイ
ブプロフェンの濃度を識別するように構成された定量化モデルに対する一例として、制御
装置は、未知試料が（アセトアミノフェン錠剤、アセチルサリチル酸錠剤等の別の種類の
錠剤ではなく）イブプロフェン錠剤であるか否かを判定することができる。別の例として
、魚肉における塩分濃度を識別するように構成された定量化モデルにおいて、制御装置は
、未知試料が（鶏肉、牛肉、豚肉等ではなく）魚肉であるか否かを判定することができる
。
この場合、確率推定値やサポートベクトルマシンの決定値出力等の信頼メトリックが閾
値（例えば、本明細書に記載のように標準偏差閾値）を満足するとの制御装置による判定
に基づいて、制御装置は、未知試料が（例えば、異なる材料である未知試料や、不正確に
実行された未知試料の分光測定に対応し得る）非対象材料であると判定し得る。この場合
、制御装置は、定量化モデルを使用した未知試料の正確な定量化が不可能であることを報
告することによって、未知試料が対象材料における特定の濃度の成分に属するものとして
、未知試料の識別時に誤検知する可能性を低減させることができる。
値（例えば、本明細書に記載のように標準偏差閾値）を満足するとの制御装置による判定
に基づいて、制御装置は、未知試料が（例えば、異なる材料である未知試料や、不正確に
実行された未知試料の分光測定に対応し得る）非対象材料であると判定し得る。この場合
、制御装置は、定量化モデルを使用した未知試料の正確な定量化が不可能であることを報
告することによって、未知試料が対象材料における特定の濃度の成分に属するものとして
、未知試料の識別時に誤検知する可能性を低減させることができる。
こうして、制御装置により、未知試料を対象材料における特定の濃度の成分として識別
時に誤検知して報告する可能性を減少させることによって、他の定量化モデルと比較して
、未知試料に対して向上した精度で分光法を実行することが可能となる。
時に誤検知して報告する可能性を減少させることによって、他の定量化モデルと比較して
、未知試料に対して向上した精度で分光法を実行することが可能となる。
上述したように、図１Ａおよび図１Ｂは、単なる例示である。他の実施例も可能であり
、図１Ａおよび図１Ｂに関連して記載した内容とは異なってもよい。
、図１Ａおよび図１Ｂに関連して記載した内容とは異なってもよい。
図２は、本明細書に記載するシステムおよび／または方法を実施し得る例示的環境２０
０を示す。図２に示すように、環境２００は、制御装置２１０、スペクトロメータ２２０
、およびネットワーク２３０を含み得る。環境２００の装置は、有線接続、無線接続、ま
たは有線および無線接続の組み合わせを介して相互接続し得る。
０を示す。図２に示すように、環境２００は、制御装置２１０、スペクトロメータ２２０
、およびネットワーク２３０を含み得る。環境２００の装置は、有線接続、無線接続、ま
たは有線および無線接続の組み合わせを介して相互接続し得る。
制御装置２１０は、分光学的定量化に関連する情報を格納し、処理し、および／または
ルーティングし得る一以上の装置を含む。例えば、制御装置２１０は、訓練セットの一組
の測定値に基づいて定量化モデルを生成し、検証セットの一組の測定値に基づいて定量化
モデルを検証し、および／または、その定量化モデルを利用して、未知セットの一組の測
定値に基づいて分光学的定量化を実行する、サーバ、コンピュータ、ウェアラブルデバイ
ス、クラウドコンピューティングデバイス等を含み得る。いくつかの実施形態では、制御
装置２１０は、機械学習技術を利用して、本明細書に記載のように、未知試料の分光測定
値が、定量化モデルに対する対象材料に対応しないものとして分類可能か否かを判定する
ことができる。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、特定のスペクトロメータ２
２０と関連し得る。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、複数のスペクトロメー
タ２２０と関連し得る。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、情報を環境２００
内の別の装置、例えばスペクトロメータ２２０から受信および／またはスペクトロメータ
２２０へ送信し得る。
ルーティングし得る一以上の装置を含む。例えば、制御装置２１０は、訓練セットの一組
の測定値に基づいて定量化モデルを生成し、検証セットの一組の測定値に基づいて定量化
モデルを検証し、および／または、その定量化モデルを利用して、未知セットの一組の測
定値に基づいて分光学的定量化を実行する、サーバ、コンピュータ、ウェアラブルデバイ
ス、クラウドコンピューティングデバイス等を含み得る。いくつかの実施形態では、制御
装置２１０は、機械学習技術を利用して、本明細書に記載のように、未知試料の分光測定
値が、定量化モデルに対する対象材料に対応しないものとして分類可能か否かを判定する
ことができる。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、特定のスペクトロメータ２
２０と関連し得る。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、複数のスペクトロメー
タ２２０と関連し得る。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、情報を環境２００
内の別の装置、例えばスペクトロメータ２２０から受信および／またはスペクトロメータ
２２０へ送信し得る。
スペクトロメータ２２０は、試料に分光測定を実行し得る一以上の装置を含む。例えば
、スペクトロメータ２２０は、スペクトロスコピー（例えば、振動スペクトロスコピー、
例えば近赤外（ＮＩＲ）スペクトロメータ、中赤外スペクトロスコピー（ｍｉｄ－ＩＲ）
、ラマンスペクトロスコピー等）を実行するスペクトロメータ装置を含んでよい。いくつ
かの実施形態では、スペクトロメータ２２０は、ウェアラブルデバイス、例えばウェアラ
ブルスペクトロメータ等に組み込んでよい。いくつかの実施形態では、スペクトロメータ
２２０は、情報を環境２００内の別の装置、例えば制御装置２１０から受信および／また
は制御装置２１０へ送信してもよい。
、スペクトロメータ２２０は、スペクトロスコピー（例えば、振動スペクトロスコピー、
例えば近赤外（ＮＩＲ）スペクトロメータ、中赤外スペクトロスコピー（ｍｉｄ－ＩＲ）
、ラマンスペクトロスコピー等）を実行するスペクトロメータ装置を含んでよい。いくつ
かの実施形態では、スペクトロメータ２２０は、ウェアラブルデバイス、例えばウェアラ
ブルスペクトロメータ等に組み込んでよい。いくつかの実施形態では、スペクトロメータ
２２０は、情報を環境２００内の別の装置、例えば制御装置２１０から受信および／また
は制御装置２１０へ送信してもよい。
ネットワーク２３０は、一以上の有線および／または無線ネットワークを含んでよい。
例えば、ネットワーク２３０は、セルラーネットワーク（例えば、ロングタームエボリュ
ーション（ＬＴＥ）ネットワーク、３Ｇネットワーク、符号分割多元接続（ＣＤＭＡ）ネ
ットワーク等）、地上波公共移動通信ネットワーク（ＰＬＭＮ）、ローカルエリアネット
ワーク（ＬＡＮ）、ワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）、メトロポリタンエリアネット
ワーク（ＭＡＮ）、電話網（例えば、公衆交換電話網（ＰＳＴＮ））、プライベートネッ
トワーク、アドホックネットワーク、イントラネット、インターネット、光ファイバネッ
トワーク、クラウドコンピューティングネットワーク等および／またはこれらのまたは他
のタイプのネットワークの組み合わせを含んでよい。
例えば、ネットワーク２３０は、セルラーネットワーク（例えば、ロングタームエボリュ
ーション（ＬＴＥ）ネットワーク、３Ｇネットワーク、符号分割多元接続（ＣＤＭＡ）ネ
ットワーク等）、地上波公共移動通信ネットワーク（ＰＬＭＮ）、ローカルエリアネット
ワーク（ＬＡＮ）、ワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）、メトロポリタンエリアネット
ワーク（ＭＡＮ）、電話網（例えば、公衆交換電話網（ＰＳＴＮ））、プライベートネッ
トワーク、アドホックネットワーク、イントラネット、インターネット、光ファイバネッ
トワーク、クラウドコンピューティングネットワーク等および／またはこれらのまたは他
のタイプのネットワークの組み合わせを含んでよい。
図２に示す装置およびネットワークの数および配置は一例として与えられている。実際
には、より多くの装置および／またはネットワークにしても、より少数の装置および／ま
たはネットワークにしても、異なる装置および／またはネットワークにしても、図２に示
す例と異なる配置の装置および／またはネットワークにしてもよい。更に、図２に示す二
以上の装置を単一装置に実装しても、あるいは図２に示す単一装置を複数の分散された装
置として実装してもよい。例えば、制御装置２１０とスペクトロメータ２２０は、本明細
書では２つの別個の装置として記載されているが、制御装置２１０とスペクトロメータ２
２０は単一装置に実装してもよい。付加的または代替的に、環境２００の一組の装置（例
えば、一以上の装置）は、環境２００の別の組の装置により実行される旨記載されている
一以上の機能を実行してもよい。
には、より多くの装置および／またはネットワークにしても、より少数の装置および／ま
たはネットワークにしても、異なる装置および／またはネットワークにしても、図２に示
す例と異なる配置の装置および／またはネットワークにしてもよい。更に、図２に示す二
以上の装置を単一装置に実装しても、あるいは図２に示す単一装置を複数の分散された装
置として実装してもよい。例えば、制御装置２１０とスペクトロメータ２２０は、本明細
書では２つの別個の装置として記載されているが、制御装置２１０とスペクトロメータ２
２０は単一装置に実装してもよい。付加的または代替的に、環境２００の一組の装置（例
えば、一以上の装置）は、環境２００の別の組の装置により実行される旨記載されている
一以上の機能を実行してもよい。
図３は、装置３００の例示的なコンポーネントの図である。装置３００は、制御装置２
１０および／またはスペクトロメータ２２０に相当し得る。いくつかの実施形態では、制
御装置２１０および／またはスペクトロメータ２２０は、一以上の装置３００および／ま
たは装置３００の一以上のコンポーネントを含み得る。図３に示すように、装置３００は
、バス３１０、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０、入力コン
ポーネント３５０、出力コンポーネント３６０、および通信インタフェース３７０を含み
得る。
１０および／またはスペクトロメータ２２０に相当し得る。いくつかの実施形態では、制
御装置２１０および／またはスペクトロメータ２２０は、一以上の装置３００および／ま
たは装置３００の一以上のコンポーネントを含み得る。図３に示すように、装置３００は
、バス３１０、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０、入力コン
ポーネント３５０、出力コンポーネント３６０、および通信インタフェース３７０を含み
得る。
バス３１０は、装置３００のコンポーネントの間の通信を可能にするコンポーネントを
含み得る。プロセッサ３２０は、ハードウェア、ファームウェア、またはハードウェアと
ソフトウェアの組み合わせで実装される。プロセッサ３２０は、中央処理装置（ＣＰＵ）
、グラフィック処理装置（ＧＰＵ）、アクセラレーテッド処理装置（ＡＰＵ）、マイクロ
プロセッサ、マイクロコントローラ、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）、フィール
ドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、また
は他のタイプの処理コンポーネントを含み得る。いくつかの実施形態では、プロセッサ３
２０は、機能を実行するようにプログラムすることができる一以上のプロセッサを含み得
る。メモリ３３０は、プロセッサ３２０で使用する情報および／または命令を記憶するラ
ンダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）、および／または別の
タイプのダイナミックまたはスタティック記憶装置（例えば、フラッシュメモリ、磁気メ
モリ、および／または光メモリ）を含み得る。
含み得る。プロセッサ３２０は、ハードウェア、ファームウェア、またはハードウェアと
ソフトウェアの組み合わせで実装される。プロセッサ３２０は、中央処理装置（ＣＰＵ）
、グラフィック処理装置（ＧＰＵ）、アクセラレーテッド処理装置（ＡＰＵ）、マイクロ
プロセッサ、マイクロコントローラ、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）、フィール
ドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、また
は他のタイプの処理コンポーネントを含み得る。いくつかの実施形態では、プロセッサ３
２０は、機能を実行するようにプログラムすることができる一以上のプロセッサを含み得
る。メモリ３３０は、プロセッサ３２０で使用する情報および／または命令を記憶するラ
ンダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）、および／または別の
タイプのダイナミックまたはスタティック記憶装置（例えば、フラッシュメモリ、磁気メ
モリ、および／または光メモリ）を含み得る。
記憶コンポーネント３４０は、装置３００の動作および使用に関する情報および／また
はソフトウェアを記憶し得る。例えば、記憶コンポーネント３４０は、ハードディスク（
例えば、磁気ディスク、光ディスク、磁気光学ディスク、および／またはソリッドステー
トディスク）、コンパクトディスク（ＣＤ）、ディジタルヴァーサタイルディスク（ＤＶ
Ｄ）、フロッピーディスク、カートリッジ、磁気テープ、および／または別のタイプの非
一時的コンピュータ可読媒体（対応するドライバと共に）を含み得る。
はソフトウェアを記憶し得る。例えば、記憶コンポーネント３４０は、ハードディスク（
例えば、磁気ディスク、光ディスク、磁気光学ディスク、および／またはソリッドステー
トディスク）、コンパクトディスク（ＣＤ）、ディジタルヴァーサタイルディスク（ＤＶ
Ｄ）、フロッピーディスク、カートリッジ、磁気テープ、および／または別のタイプの非
一時的コンピュータ可読媒体（対応するドライバと共に）を含み得る。
入力コンポーネント３５０は、装置３００が例えばユーザ入力（例えば、タッチスクリ
ーンディスプレイ、キーボード、キーパッド、マウス、ボタン、スイッチ、および／また
はマイクロフォン）による情報を受信可能にするコンポーネントを含み得る。付加的また
は代替的に、入力コンポーネント３５０は、情報を検出するセンサ（例えば、グローバル
ポジショニングシステム（ＧＰＳ）コンポーネント、加速度計、ジャイロスコープ、およ
び／またはアクチュエータ）を含んでもよい。出力コンポーネント３６０は、装置３００
からの出力情報を提供するコンポーネント（例えば、ディスプレイ、スピーカ、および／
または一以上の発光ダイオード（ＬＥＤ））を含んでもよい。
ーンディスプレイ、キーボード、キーパッド、マウス、ボタン、スイッチ、および／また
はマイクロフォン）による情報を受信可能にするコンポーネントを含み得る。付加的また
は代替的に、入力コンポーネント３５０は、情報を検出するセンサ（例えば、グローバル
ポジショニングシステム（ＧＰＳ）コンポーネント、加速度計、ジャイロスコープ、およ
び／またはアクチュエータ）を含んでもよい。出力コンポーネント３６０は、装置３００
からの出力情報を提供するコンポーネント（例えば、ディスプレイ、スピーカ、および／
または一以上の発光ダイオード（ＬＥＤ））を含んでもよい。
通信インタフェース３７０は、装置３００が他の装置と、例えば有線接続、無線接続、
または有線接続と無線接続の組み合わせを介して、通信することを可能にするトランシー
バのようなコンポーネント（例えば、トランシーバおよび／または別々の受信機および送
信機）を含み得る。通信インタフェース３７０は、装置３００が別の装置からの情報を受
信すること、および／または別の装置へ情報を送信することを可能にし得る。例えば、通
信インタフェース３７０は、イーサネット(登録商標）インタフェース、光インタフェー
ス、同軸インタフェース、赤外インタフェース、無線周波数（ＲＦ）インタフェース、ユ
ニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）インタフェース、無線ＬＡＮインタフェース、セルラ
ーネットワークインタフェース等を含み得る。
または有線接続と無線接続の組み合わせを介して、通信することを可能にするトランシー
バのようなコンポーネント（例えば、トランシーバおよび／または別々の受信機および送
信機）を含み得る。通信インタフェース３７０は、装置３００が別の装置からの情報を受
信すること、および／または別の装置へ情報を送信することを可能にし得る。例えば、通
信インタフェース３７０は、イーサネット(登録商標）インタフェース、光インタフェー
ス、同軸インタフェース、赤外インタフェース、無線周波数（ＲＦ）インタフェース、ユ
ニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）インタフェース、無線ＬＡＮインタフェース、セルラ
ーネットワークインタフェース等を含み得る。
装置３００は、本明細書に記載する一以上のプロセスを実行し得る。装置３００は、メ
モリ３３０および／または記憶コンポーネント３４０等の非一時的コンピュータ可読媒体
により記憶されたソフトウェア命令を実行するプロセッサ３２０に応答して、これらのプ
ロセスを実行し得る。コンピュータ可読媒体は、本明細書では非一時的メモリ装置として
定義される。メモリ装置は、単一の物理記憶装置内のメモリ空間または複数の物理記憶装
置に亘って広がるメモリ空間を含む。
モリ３３０および／または記憶コンポーネント３４０等の非一時的コンピュータ可読媒体
により記憶されたソフトウェア命令を実行するプロセッサ３２０に応答して、これらのプ
ロセスを実行し得る。コンピュータ可読媒体は、本明細書では非一時的メモリ装置として
定義される。メモリ装置は、単一の物理記憶装置内のメモリ空間または複数の物理記憶装
置に亘って広がるメモリ空間を含む。
ソフトウェア命令は、別のコンピュータ可読媒体または別の装置から通信インタフェー
ス３７０を介してメモリ３３０および／または記憶コンポーネント３４０に読み込んでよ
い。メモリ３３０および／または記憶コンポーネント３４０に記憶されたソフトウェア命
令は、実行時に、プロセッサ３２０に本明細書に記載する一以上のプロセスを実行させる
ことができる。付加的または代替的に、本明細書に記載する一以上のプロセスを実行する
ためにソフトウェア命令の代わりに、またはそれと組み合わせてハードウェア回路を使用
してもよい。従って、本明細書に記載する実施形態は、ハードウェア回路とソフトウェア
の任意の特定の組み合わせに限定されない。
ス３７０を介してメモリ３３０および／または記憶コンポーネント３４０に読み込んでよ
い。メモリ３３０および／または記憶コンポーネント３４０に記憶されたソフトウェア命
令は、実行時に、プロセッサ３２０に本明細書に記載する一以上のプロセスを実行させる
ことができる。付加的または代替的に、本明細書に記載する一以上のプロセスを実行する
ためにソフトウェア命令の代わりに、またはそれと組み合わせてハードウェア回路を使用
してもよい。従って、本明細書に記載する実施形態は、ハードウェア回路とソフトウェア
の任意の特定の組み合わせに限定されない。
図３に示すコンポーネントの数および配置は一例にすぎない。実際には、装置３００は
、追加のコンポーネント、より少数のコンポーネント、異なるコンポーネント、または図
３に示す例と異なる配置のコンポーネントを含んでもよい。付加的または代替的に、装置
３００の一組のコンポーネント（例えば一以上のコンポーネント）は、装置３００の別の
組のコンポーネントにより実行される旨記載される一以上の機能を実行してもよい。
、追加のコンポーネント、より少数のコンポーネント、異なるコンポーネント、または図
３に示す例と異なる配置のコンポーネントを含んでもよい。付加的または代替的に、装置
３００の一組のコンポーネント（例えば一以上のコンポーネント）は、装置３００の別の
組のコンポーネントにより実行される旨記載される一以上の機能を実行してもよい。
図４は、分光学的定量化のための定量化モデルを生成する例示的プロセス４００のフロ
ーチャートである。いくつかの実施形態では、図４の一以上のプロセスブロックは、制御
装置２１０によって実行され得る。いくつかの実施形態では、図４の一以上のプロセスブ
ロックは、制御装置２１０とは別の、または制御装置を含む別の装置あるいは装置群、例
えばスペクトロメータ２２０によって実行され得る。
ーチャートである。いくつかの実施形態では、図４の一以上のプロセスブロックは、制御
装置２１０によって実行され得る。いくつかの実施形態では、図４の一以上のプロセスブ
ロックは、制御装置２１０とは別の、または制御装置を含む別の装置あるいは装置群、例
えばスペクトロメータ２２０によって実行され得る。
図４に示すように、プロセス４００は、訓練セットおよび／または検証セットに一組の
分光測定を実行させるステップを含み得る（ブロック４１０）。例えば、制御装置２１０
は、（例えば、プロセッサ３２０、通信インタフェース３７０等を使用して）スペクトロ
メータ２２０に、試料の訓練セットおよび／または検証セットに一組の分光測定を実行さ
せて、訓練セットおよび／または検証セットの各試料に対するスペクトルを決定すること
ができる。訓練セットは、成分のための定量化モデルを生成するために利用される、一組
の成分の濃度を有する一以上の既知材料の一組の試料ということができる。同様に、検証
セットは、定量化モデルの精度を検証するために利用される、一組の成分の濃度を有する
一以上の既知材料の一組の試料ということができる。例えば、訓練セットおよび／または
検証セットは、一組の異なる濃度における特定の材料の一以上のバージョン（例えば、製
造差を制御するために様々な製造業者により製造される一以上のバージョン）を含み得る
。
分光測定を実行させるステップを含み得る（ブロック４１０）。例えば、制御装置２１０
は、（例えば、プロセッサ３２０、通信インタフェース３７０等を使用して）スペクトロ
メータ２２０に、試料の訓練セットおよび／または検証セットに一組の分光測定を実行さ
せて、訓練セットおよび／または検証セットの各試料に対するスペクトルを決定すること
ができる。訓練セットは、成分のための定量化モデルを生成するために利用される、一組
の成分の濃度を有する一以上の既知材料の一組の試料ということができる。同様に、検証
セットは、定量化モデルの精度を検証するために利用される、一組の成分の濃度を有する
一以上の既知材料の一組の試料ということができる。例えば、訓練セットおよび／または
検証セットは、一組の異なる濃度における特定の材料の一以上のバージョン（例えば、製
造差を制御するために様々な製造業者により製造される一以上のバージョン）を含み得る
。
いくつかの実施形態では、訓練セットおよび／または検証セットは、定量化モデルを使
用して分光学的定量化が実行される対象材料の予想セットに基づいて選択され得る。例え
ば、医薬品の特定の成分の濃度を判定するために医薬品に対して分光学的定量化が実行さ
れることが想定される場合、訓練セットおよび／または検証セットは、特定の成分の存在
を検査すべき一組の医薬品において一組の異なる可能な濃度で特定の成分の一組の試料を
含み得る。
用して分光学的定量化が実行される対象材料の予想セットに基づいて選択され得る。例え
ば、医薬品の特定の成分の濃度を判定するために医薬品に対して分光学的定量化が実行さ
れることが想定される場合、訓練セットおよび／または検証セットは、特定の成分の存在
を検査すべき一組の医薬品において一組の異なる可能な濃度で特定の成分の一組の試料を
含み得る。
いくつかの実施形態では、訓練セットおよび／または検証セットは、各濃度の材料に対
して特定量の試料を含むように選択することができる。例えば、訓練セットおよび／また
は検証セットは、特定の濃度の複数の試料（例えば、５試料、１０試料、１５試料、５０
試料等）を含むように選択することができる。こうして、制御装置２１０は、特定の種類
の材料に関連する閾量のスペクトルを提供されることによって、（例えば、特定の濃度の
成分を有する未知試料に基づいて）未知試料を正確に割り当てることができる定量化モデ
ルのためのクラス（例えば、特定の濃度の成分に対応するサンプル群）の生成および／ま
たは検証が容易になる。
して特定量の試料を含むように選択することができる。例えば、訓練セットおよび／また
は検証セットは、特定の濃度の複数の試料（例えば、５試料、１０試料、１５試料、５０
試料等）を含むように選択することができる。こうして、制御装置２１０は、特定の種類
の材料に関連する閾量のスペクトルを提供されることによって、（例えば、特定の濃度の
成分を有する未知試料に基づいて）未知試料を正確に割り当てることができる定量化モデ
ルのためのクラス（例えば、特定の濃度の成分に対応するサンプル群）の生成および／ま
たは検証が容易になる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、一以上の物理的条件を考慮するために複
数のスペクトロメータ２２０に一組の分光測定を実行させ得る。例えば、制御装置２１０
は、第１のスペクトロメータ２２０および第２のスペクトロメータ２２０に、ＮＩＲ分光
法を用いて一組の振動分光測定を実行させ得る。付加的または代替的に、制御装置２１０
は、一組の分光測定を複数回、複数の位置で、複数の異なる実験室条件下等で実行させて
もよい。こうして、制御装置２１０は、一組の分光測定を単一のスペクトロメータ２２０
で実行させる場合に比較して、物理的条件の結果として分光測定が不正確になる可能性を
低減する。
数のスペクトロメータ２２０に一組の分光測定を実行させ得る。例えば、制御装置２１０
は、第１のスペクトロメータ２２０および第２のスペクトロメータ２２０に、ＮＩＲ分光
法を用いて一組の振動分光測定を実行させ得る。付加的または代替的に、制御装置２１０
は、一組の分光測定を複数回、複数の位置で、複数の異なる実験室条件下等で実行させて
もよい。こうして、制御装置２１０は、一組の分光測定を単一のスペクトロメータ２２０
で実行させる場合に比較して、物理的条件の結果として分光測定が不正確になる可能性を
低減する。
こうして、制御装置２１０は、訓練セットおよび／または検証セットに一組の分光測定
を実行させる。
を実行させる。
図４に更に示すように、プロセス４００は、一組の分光測定の結果を識別する情報を受
信するステップを含み得る（ブロック４２０）。例えば、制御装置２１０は、（例えば、
プロセッサ３２０、通信インタフェース３７０等を使用して）一組の分光測定の結果を識
別する情報を受信することができる。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、訓練
セットおよび／または検証セットの試料に対応する一組のスペクトルを識別する情報を受
信することができる。例えば、制御装置２１０は、スペクトロメータ２２０が訓練セット
に分光法を実行する際に観測される特定のスペクトルを識別する情報を受信することがで
きる。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、訓練セット試料および検証セット試
料のためのスペクトルを識別する情報を同時に受信することができる。いくつかの実施形
態では、制御装置２１０は、訓練セット試料のためのスペクトルを識別する情報を受信し
、定量化モデルを生成し、定量化モデルの生成後に、定量化モデルのテストを可能とする
ために検証セット試料のためのスペクトルを識別する情報を受信することができる。
信するステップを含み得る（ブロック４２０）。例えば、制御装置２１０は、（例えば、
プロセッサ３２０、通信インタフェース３７０等を使用して）一組の分光測定の結果を識
別する情報を受信することができる。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、訓練
セットおよび／または検証セットの試料に対応する一組のスペクトルを識別する情報を受
信することができる。例えば、制御装置２１０は、スペクトロメータ２２０が訓練セット
に分光法を実行する際に観測される特定のスペクトルを識別する情報を受信することがで
きる。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、訓練セット試料および検証セット試
料のためのスペクトルを識別する情報を同時に受信することができる。いくつかの実施形
態では、制御装置２１０は、訓練セット試料のためのスペクトルを識別する情報を受信し
、定量化モデルを生成し、定量化モデルの生成後に、定量化モデルのテストを可能とする
ために検証セット試料のためのスペクトルを識別する情報を受信することができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、複数のスペクトロメータ２２０からの一
組の分光測定の結果を識別する情報を受信し得る。例えば、制御装置２１０は、複数のス
ペクトロメータ２２０によって複数の異なる時間、異なる位置等で実行された分光測定を
受信することによって物理的状態、例えば複数のスペクトロメータ２２０間の差、実験室
条件の潜在的な差を制御し得る。
組の分光測定の結果を識別する情報を受信し得る。例えば、制御装置２１０は、複数のス
ペクトロメータ２２０によって複数の異なる時間、異なる位置等で実行された分光測定を
受信することによって物理的状態、例えば複数のスペクトロメータ２２０間の差、実験室
条件の潜在的な差を制御し得る。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、定量化モデルの生成において利用する際
に一以上のスペクトルを取り除くことができる。例えば、制御装置２１０は、分光学的定
量化を実行し、スペクトルが、定量化するために定量化モデルを構成したある種の材料に
対応しないと判定し、（例えば、分光法を正確に実行する上での人的エラーや、訓練セッ
トのスペクトルを識別する情報におけるエラー等に基づいて）スペクトルに対応する試料
が誤って非対象の材料であったと判定し得る。この場合、制御装置２１０は、訓練セット
からスペクトルを除去するよう決定することができる。こうして、制御装置２１０により
、定量化モデルが、訓練セットまたは検証セットに関する不正確または不精確な情報を使
用して生成される可能性を低減させることによって、定量化モデルの精度を改善すること
ができる。
に一以上のスペクトルを取り除くことができる。例えば、制御装置２１０は、分光学的定
量化を実行し、スペクトルが、定量化するために定量化モデルを構成したある種の材料に
対応しないと判定し、（例えば、分光法を正確に実行する上での人的エラーや、訓練セッ
トのスペクトルを識別する情報におけるエラー等に基づいて）スペクトルに対応する試料
が誤って非対象の材料であったと判定し得る。この場合、制御装置２１０は、訓練セット
からスペクトルを除去するよう決定することができる。こうして、制御装置２１０により
、定量化モデルが、訓練セットまたは検証セットに関する不正確または不精確な情報を使
用して生成される可能性を低減させることによって、定量化モデルの精度を改善すること
ができる。
こうして、制御装置２１０は、一組の分光測定の結果を識別する情報を受信する。
図４に更に示すように、プロセス４００は、一組の分光測定の結果を識別する情報に基
づいて定量化モデルを生成するステップを含み得る（ブロック４３０）。例えば、制御装
置２１０は、（例えば、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０等
を使用して）一組の分光測定の結果を識別する情報に基づいて、ＳＶＭクラシファイア技
術と関連する定量化モデルを生成し得る。
づいて定量化モデルを生成するステップを含み得る（ブロック４３０）。例えば、制御装
置２１０は、（例えば、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０等
を使用して）一組の分光測定の結果を識別する情報に基づいて、ＳＶＭクラシファイア技
術と関連する定量化モデルを生成し得る。
ＳＶＭは、定量化のためのパターン認識を実行し、定量化のための信頼メトリックを使
用する監視学習モデルと言える。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、ＳＶＭ技
術を用いて定量化モデルを生成する際に、特定のタイプのカーネル関数を利用して、二以
上のインプット（例えば、スペクトル）の類似性を判定し得る。例えば、制御装置２１０
は、ラジアル基底関数（ＲＢＦ）（例えば、いわゆるＳＶＭ－ｒｂｆ）型のカーネル関数
（スペクトルｘおよびｙについてk(x,y)=exp(-||x-y||^2)として示され得る）、線形関数
（例えば、多段分類技術に利用される、いわゆるＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒおよびいわゆるｈ
ｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒ）型のカーネル関数（k(x,y)=<x・y>として示され得る）
、シグモイド関数型のカーネル関数、多項式関数型のカーネル関数、指数関数型のカーネ
ル関数等を利用し得る。いくつかの実施形態は、制御装置２１０は、単一クラスＳＶＭ（
ＳＣ－ＳＶＭ）クラシフィア技術を使用して定量化モデルを生成することができる。例え
ば、制御装置２１０は、訓練セットにおける複数の濃度の成分に対応する複数のクラスを
集約して、定量化モデルを代表する単一クラスを生成することができる。この場合、制御
装置２１０は信頼メトリックを利用して、未知試料が、本明細書に記載のように、分析す
るために定量化モデルを構成した種類である可能性を判定する。
用する監視学習モデルと言える。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、ＳＶＭ技
術を用いて定量化モデルを生成する際に、特定のタイプのカーネル関数を利用して、二以
上のインプット（例えば、スペクトル）の類似性を判定し得る。例えば、制御装置２１０
は、ラジアル基底関数（ＲＢＦ）（例えば、いわゆるＳＶＭ－ｒｂｆ）型のカーネル関数
（スペクトルｘおよびｙについてk(x,y)=exp(-||x-y||^2)として示され得る）、線形関数
（例えば、多段分類技術に利用される、いわゆるＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒおよびいわゆるｈ
ｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒ）型のカーネル関数（k(x,y)=<x・y>として示され得る）
、シグモイド関数型のカーネル関数、多項式関数型のカーネル関数、指数関数型のカーネ
ル関数等を利用し得る。いくつかの実施形態は、制御装置２１０は、単一クラスＳＶＭ（
ＳＣ－ＳＶＭ）クラシフィア技術を使用して定量化モデルを生成することができる。例え
ば、制御装置２１０は、訓練セットにおける複数の濃度の成分に対応する複数のクラスを
集約して、定量化モデルを代表する単一クラスを生成することができる。この場合、制御
装置２１０は信頼メトリックを利用して、未知試料が、本明細書に記載のように、分析す
るために定量化モデルを構成した種類である可能性を判定する。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、ＳＶＭのための特定のタイプの信頼メト
リック、例えば確率値ベースのＳＶＭ（例えば、試料が（可能な濃度の）一組のクラスの
（濃度の）あるクラスのメンバーである確率の決定に基づく判定）、決定値ベースのＳＶ
Ｍ（例えば、決定関数を利用して、試料が一組のクラスのどのクラスのメンバーであるか
得票で決定する判定）等を利用し得る。例えば、決定値ベースのＳＶＭによる定量化モデ
ルの使用中、制御装置２１０は、未知試料が未知試料のスペクトルのプロッティングに基
づいて、成分クラス（例えば、未知試料の成分の特定の量または濃度）の境界内に位置付
けられるか否かを判定し、未知試料が成分クラスの境界内に位置付けられるか否かに基づ
いて、試料をクラスに割り当てることができる。こうして、制御装置２１０は、定量化す
るために未知スペクトルを特定のクラスに割り当てるか否かを判定することができる。
リック、例えば確率値ベースのＳＶＭ（例えば、試料が（可能な濃度の）一組のクラスの
（濃度の）あるクラスのメンバーである確率の決定に基づく判定）、決定値ベースのＳＶ
Ｍ（例えば、決定関数を利用して、試料が一組のクラスのどのクラスのメンバーであるか
得票で決定する判定）等を利用し得る。例えば、決定値ベースのＳＶＭによる定量化モデ
ルの使用中、制御装置２１０は、未知試料が未知試料のスペクトルのプロッティングに基
づいて、成分クラス（例えば、未知試料の成分の特定の量または濃度）の境界内に位置付
けられるか否かを判定し、未知試料が成分クラスの境界内に位置付けられるか否かに基づ
いて、試料をクラスに割り当てることができる。こうして、制御装置２１０は、定量化す
るために未知スペクトルを特定のクラスに割り当てるか否かを判定することができる。
本明細書に記載のいくつかの実施形態は、特定の機械学習技術のセットについて記載し
ているが、未知スペクトルに関する情報を決定するのに、例えば材料の分類等の他の技術
も可能である。
ているが、未知スペクトルに関する情報を決定するのに、例えば材料の分類等の他の技術
も可能である。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、定量化モデルを生成するために利用する
特定のクラシファイアを一組の定量化技術から選択し得る。例えば、制御装置２１０は、
複数のクラシファイアに対応する複数の定量化モデルを生成し、例えば各モデルのトラン
スフェラビリティ（例えば、第１のスペクトロメータ２２０で実行された分光測定に基づ
いて生成された定量化モデルが、第２のスペクトロメータ２２０で実行された分光測定に
適用される際に正確である程度）、大規模解析精度（例えば、閾値を満足するある量の試
料の濃度を同時に識別するために定量化モデルを使用することができる精度）等を決定す
ることによって、複数の定量化モデルを試験することができる。この場合には、制御装置
２１０は、ＳＶＭクラシファイア（例えば、ｈｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒクラシフィ
ア、ＳＣ－ＳＶＭクラシフィア等）を、そのクラシファイアが他のクラシファイアに比較
して優れたトランスフェラビリティおよび／または大規模解析精度と関連するという決定
に基づいて、選択することができる。
特定のクラシファイアを一組の定量化技術から選択し得る。例えば、制御装置２１０は、
複数のクラシファイアに対応する複数の定量化モデルを生成し、例えば各モデルのトラン
スフェラビリティ（例えば、第１のスペクトロメータ２２０で実行された分光測定に基づ
いて生成された定量化モデルが、第２のスペクトロメータ２２０で実行された分光測定に
適用される際に正確である程度）、大規模解析精度（例えば、閾値を満足するある量の試
料の濃度を同時に識別するために定量化モデルを使用することができる精度）等を決定す
ることによって、複数の定量化モデルを試験することができる。この場合には、制御装置
２１０は、ＳＶＭクラシファイア（例えば、ｈｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒクラシフィ
ア、ＳＣ－ＳＶＭクラシフィア等）を、そのクラシファイアが他のクラシファイアに比較
して優れたトランスフェラビリティおよび／または大規模解析精度と関連するという決定
に基づいて、選択することができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、訓練セットの試料を識別する情報に基づ
いて定量化モデルを生成し得る。例えば、制御装置２１０は、スペクトルのクラスを材料
の種類または濃度で識別するために、訓練セットの試料で表される材料の種類または濃度
を識別する情報を利用し得る。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、定量化モデ
ルを生成する際に定量化モデルを訓練し得る。例えば、制御装置２１０は、一組の分光測
定の一部分（例えば、訓練セットに関連する側定値）を用いて定量化モデルを訓練させる
ことができる。付加的または代替的に、制御装置２１０は、定量化モデルの評価を実行し
てもよい。例えば、制御装置２１０は、一組の分光測定の別の部分（例えば、検証セット
）を用いて定量化モデルを（例えば、予測強度について）評価することができる。
いて定量化モデルを生成し得る。例えば、制御装置２１０は、スペクトルのクラスを材料
の種類または濃度で識別するために、訓練セットの試料で表される材料の種類または濃度
を識別する情報を利用し得る。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、定量化モデ
ルを生成する際に定量化モデルを訓練し得る。例えば、制御装置２１０は、一組の分光測
定の一部分（例えば、訓練セットに関連する側定値）を用いて定量化モデルを訓練させる
ことができる。付加的または代替的に、制御装置２１０は、定量化モデルの評価を実行し
てもよい。例えば、制御装置２１０は、一組の分光測定の別の部分（例えば、検証セット
）を用いて定量化モデルを（例えば、予測強度について）評価することができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、多段分類技術を用いて定量化モデルを検
証することができる。例えば、定量化に基づくインサイチュローカルモデリングにおいて
、制御装置２１０は、定量化モデルが一以上のローカル定量化モデルと関連して利用され
る際に正確であることを判定することができる。こうして、制御装置２１０は、例えば、
制御装置２１０によって、または他のスペクトロメータ２２０と関連する他の制御装置２
１０等によって利用するための定量化モデルを供給する前に、定量化モデルを閾値精度で
確実に生成する。
証することができる。例えば、定量化に基づくインサイチュローカルモデリングにおいて
、制御装置２１０は、定量化モデルが一以上のローカル定量化モデルと関連して利用され
る際に正確であることを判定することができる。こうして、制御装置２１０は、例えば、
制御装置２１０によって、または他のスペクトロメータ２２０と関連する他の制御装置２
１０等によって利用するための定量化モデルを供給する前に、定量化モデルを閾値精度で
確実に生成する。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、定量化モデルの生成後、定量化モデルを
他のスペクトロメータ２２０と関連する他の制御装置２１０に供給し得る。例えば、第１
の制御装置２１０は定量化モデルを生成し、その定量化モデルを利用するために第２の制
御装置２１０に供給し得る。この場合、インサイチュローカルモデリングベースの定量化
において、第２の制御装置２１０は定量化モデル（例えば、グローバル定量化モデル）を
格納し、未知セットの一以上の試料における材料の成分濃度を判定するために、一以上の
インサイチュローカル定量化モデルを生成するのに定量化モデルを利用することができる
。付加的または代替的に、制御装置２１０は、制御装置２１０で定量化を実行し、（例え
ば、インサイチュローカルモデリングベースの定量化のための）一以上のローカル定量化
モデルを生成する際等に利用するために、定量化モデルを格納してもよい。このように、
制御装置２１０は、未知試料の分光学的定量化にて利用するための定量化モデルを提供す
る。
他のスペクトロメータ２２０と関連する他の制御装置２１０に供給し得る。例えば、第１
の制御装置２１０は定量化モデルを生成し、その定量化モデルを利用するために第２の制
御装置２１０に供給し得る。この場合、インサイチュローカルモデリングベースの定量化
において、第２の制御装置２１０は定量化モデル（例えば、グローバル定量化モデル）を
格納し、未知セットの一以上の試料における材料の成分濃度を判定するために、一以上の
インサイチュローカル定量化モデルを生成するのに定量化モデルを利用することができる
。付加的または代替的に、制御装置２１０は、制御装置２１０で定量化を実行し、（例え
ば、インサイチュローカルモデリングベースの定量化のための）一以上のローカル定量化
モデルを生成する際等に利用するために、定量化モデルを格納してもよい。このように、
制御装置２１０は、未知試料の分光学的定量化にて利用するための定量化モデルを提供す
る。
こうして、制御装置２１０は、一組の分光測定の結果を識別する情報に基づいて定量化
モデルを生成することができる。
モデルを生成することができる。
図４はプロセス４００の例示的ブロックを示し、いくつかの実施形態では、プロセス４
００は追加のブロック、より少数のブロック、異なるブロック、または図４に示す例と異
なる配置のブロックを含んでもよい。付加的または代替的に、プロセス４００の二以上の
ブロックは並列に実行してもよい。
００は追加のブロック、より少数のブロック、異なるブロック、または図４に示す例と異
なる配置のブロックを含んでもよい。付加的または代替的に、プロセス４００の二以上の
ブロックは並列に実行してもよい。
図５は、図４に示す例示的プロセス４００に関連する例示的な実施形態５００の図であ
る。図５は、定量化モデルを生成する一例を示す。
る。図５は、定量化モデルを生成する一例を示す。
図５に参照番号５０５によって示すように、制御装置２１０－１は情報をスペクトロメ
ータ２２０－１に送信し、スペクトロメータ２２０－１に一組の分光測定を訓練セットお
よび検証セット５１０に実行するよう命令する。訓練セットおよび検証セット５１０は、
第１セットの訓練試料（例えば、それらの測定は定量化モデルを訓練するために利用され
る）と、第２セットの検証試料（例えば、それらの測定は定量化モデルの精度を検証する
ために利用される）とを含むと仮定する。参照番号５１５によって示すように、スペクト
ロメータ２２０－１は、受信した命令に基づいて、一組の分光測定を実行する。参照番号
５２０によって示すように、制御装置２１０－１は、訓練試料に対する第１セットのスペ
クトルと、検証試料に対する第２セットのスペクトルとを受信する。この場合、訓練試料
および検証試料は、定量化のための対象材料のグループに複数の濃度の成分の試料を含み
得る。例えば、制御装置２１０－１は、グローバルモデル（例えば、グローバル分類モデ
ルまたは定量化モデル）の生成に関連するスペクトルを受信し、グローバルモデルおよび
（ローカル分類モデルまたは定量化モデル等のローカルモデルを生成するために）インサ
イチュローカルモデリング技術を使用して肉の種類を識別し、肉の種類における特定のタ
ンパク質の濃度を定量化することができる。この場合、制御装置２１０－１は、複数のロ
ーカル定量化モデル（例えば、インサイチュローカルモデリングを使用して識別された第
１の種類の肉における特定のタンパク質の濃度を判定するための第１の定量化モデルや、
インサイチュローカルモデリングを使用して識別された第２の種類の肉における特定のタ
ンパク質の濃度を判定するための第２の定量化モデル等）を生成するように構成すること
ができる。制御装置２１０－１は、訓練セットおよび検証セット５１０の各試料を識別す
る情報を格納すると仮定する。
ータ２２０－１に送信し、スペクトロメータ２２０－１に一組の分光測定を訓練セットお
よび検証セット５１０に実行するよう命令する。訓練セットおよび検証セット５１０は、
第１セットの訓練試料（例えば、それらの測定は定量化モデルを訓練するために利用され
る）と、第２セットの検証試料（例えば、それらの測定は定量化モデルの精度を検証する
ために利用される）とを含むと仮定する。参照番号５１５によって示すように、スペクト
ロメータ２２０－１は、受信した命令に基づいて、一組の分光測定を実行する。参照番号
５２０によって示すように、制御装置２１０－１は、訓練試料に対する第１セットのスペ
クトルと、検証試料に対する第２セットのスペクトルとを受信する。この場合、訓練試料
および検証試料は、定量化のための対象材料のグループに複数の濃度の成分の試料を含み
得る。例えば、制御装置２１０－１は、グローバルモデル（例えば、グローバル分類モデ
ルまたは定量化モデル）の生成に関連するスペクトルを受信し、グローバルモデルおよび
（ローカル分類モデルまたは定量化モデル等のローカルモデルを生成するために）インサ
イチュローカルモデリング技術を使用して肉の種類を識別し、肉の種類における特定のタ
ンパク質の濃度を定量化することができる。この場合、制御装置２１０－１は、複数のロ
ーカル定量化モデル（例えば、インサイチュローカルモデリングを使用して識別された第
１の種類の肉における特定のタンパク質の濃度を判定するための第１の定量化モデルや、
インサイチュローカルモデリングを使用して識別された第２の種類の肉における特定のタ
ンパク質の濃度を判定するための第２の定量化モデル等）を生成するように構成すること
ができる。制御装置２１０－１は、訓練セットおよび検証セット５１０の各試料を識別す
る情報を格納すると仮定する。
図５に関して、制御装置２１０－１は、分類モデルを生成するためにｈｉｅｒ－ＳＶＭ
－ｌｉｎｅａｒクラシファイアおよび複数の定量化モデルのためのＳＣ－ＳＶＭクラシフ
ィアを利用するように選択していると仮定する。参照番号５２５で示すように、制御装置
２１０－１は、ｈｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒクラシファイアおよび第１セットのスペ
クトルを用いてグローバル分類モデルを訓練し、ｈｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒクラシ
ファイアおよび第２セットのスペクトルを用いてグローバル分類モデルを検証する。更に
、制御装置２１０－１は、複数のローカル定量化モデル（例えば、グローバル分類モデル
の各クラスおよび／またはグローバル分類モデルに基づいて生成されたローカル分類モデ
ルの各クラスに対応するローカル定量化モデル）を訓練および検証する。制御装置２１０
－１は、定量化モデルが検証閾値を満足している（例えば、検証閾値を超える正確性を有
する）と判定すると仮定する。参照番号５３０によって示されるように、制御装置２１０
－１は、制御装置２１０－２に（例えば、スペクトロメータ２２０－２によって実行され
る分光測定に定量化を実行するときに利用するために）、および制御装置２１０－３に（
例えば、スペクトロメータ２２０－３によって実行される分光測定に定量化を実行すると
きに利用するために）、定量化モデルを提供する。
－ｌｉｎｅａｒクラシファイアおよび複数の定量化モデルのためのＳＣ－ＳＶＭクラシフ
ィアを利用するように選択していると仮定する。参照番号５２５で示すように、制御装置
２１０－１は、ｈｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒクラシファイアおよび第１セットのスペ
クトルを用いてグローバル分類モデルを訓練し、ｈｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒクラシ
ファイアおよび第２セットのスペクトルを用いてグローバル分類モデルを検証する。更に
、制御装置２１０－１は、複数のローカル定量化モデル（例えば、グローバル分類モデル
の各クラスおよび／またはグローバル分類モデルに基づいて生成されたローカル分類モデ
ルの各クラスに対応するローカル定量化モデル）を訓練および検証する。制御装置２１０
－１は、定量化モデルが検証閾値を満足している（例えば、検証閾値を超える正確性を有
する）と判定すると仮定する。参照番号５３０によって示されるように、制御装置２１０
－１は、制御装置２１０－２に（例えば、スペクトロメータ２２０－２によって実行され
る分光測定に定量化を実行するときに利用するために）、および制御装置２１０－３に（
例えば、スペクトロメータ２２０－３によって実行される分光測定に定量化を実行すると
きに利用するために）、定量化モデルを提供する。
上述したように、図５は単なる一例にすぎない。他の例も可能であり、図５に関して記
載した形態とは異なるものとし得る。
載した形態とは異なるものとし得る。
このように、制御装置２１０は、選択された（例えば、モデルトランスフェラビリティ
、大規模定量化精度等に基づいて選択された）分類技術および一以上のスペクトロメータ
２２０と関連する一以上の他の制御装置２１０で利用するための定量化モデルの分配に基
づく定量化モデルの生成を容易にする。
、大規模定量化精度等に基づいて選択された）分類技術および一以上のスペクトロメータ
２２０と関連する一以上の他の制御装置２１０で利用するための定量化モデルの分配に基
づく定量化モデルの生成を容易にする。
図６は、原料の定量化中における誤検知識別を回避するための例示的なプロセス６００
のフローチャートである。いくつかの実施形態では、図６の一以上のプロセスブロックは
、制御装置２１０により実行され得る。いくつかの実施形態では、図６の一以上のプロセ
スブロックは、制御装置２１０とは別の装置または制御装置２１０を含む一群の装置、例
えばスペクトロメータ２２０によって実行されてもよい。
のフローチャートである。いくつかの実施形態では、図６の一以上のプロセスブロックは
、制御装置２１０により実行され得る。いくつかの実施形態では、図６の一以上のプロセ
スブロックは、制御装置２１０とは別の装置または制御装置２１０を含む一群の装置、例
えばスペクトロメータ２２０によって実行されてもよい。
図６に示すように、プロセス６００は、未知試料に実行された一組の分光測定の結果を
識別する情報を受信するステップを含み得る（ブロック６１０）。例えば、制御装置２１
０は、（例えば、プロセッサ３２０、通信インタフェース３７０等を使用して）未知試料
に実行された一組のＮＩＲ分光測定の結果を識別する情報を受信することができる。いく
つかの実施形態では、制御装置２１０は、（例えば、複数試料のうちの）未知セットへの
一組の分光測定の結果を識別する情報を受信することができる。未知セットは、一組の試
料（例えば、未知試料）を含むことができ、その試料のための判定（例えば分光学的定量
化）を実施することができる。例えば、制御装置２１０は、スペクトロメータ２２０に、
一組の未知試料への一組の分光測定を実行させることができ、また、その一組の未知試料
に対応する一組のスペクトルを識別する情報を受信することができる。
識別する情報を受信するステップを含み得る（ブロック６１０）。例えば、制御装置２１
０は、（例えば、プロセッサ３２０、通信インタフェース３７０等を使用して）未知試料
に実行された一組のＮＩＲ分光測定の結果を識別する情報を受信することができる。いく
つかの実施形態では、制御装置２１０は、（例えば、複数試料のうちの）未知セットへの
一組の分光測定の結果を識別する情報を受信することができる。未知セットは、一組の試
料（例えば、未知試料）を含むことができ、その試料のための判定（例えば分光学的定量
化）を実施することができる。例えば、制御装置２１０は、スペクトロメータ２２０に、
一組の未知試料への一組の分光測定を実行させることができ、また、その一組の未知試料
に対応する一組のスペクトルを識別する情報を受信することができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、複数のスペクトロメータ２２０からの結
果を識別する情報を受信することができる。例えば、制御装置２１０は、複数のスペクト
ロメータ２２０に、未知セット（例えば、同じセットの試料）に一組の分光測定を実行さ
せ、未知セットの試料に対応する一組のスペクトルを識別する情報を受信することができ
る。付加的または代替的に、制御装置２１０は、複数回、複数の位置等で実行された一組
の分光測定の結果を識別する情報を受信し、複数回、複数の位置等で実行された一組の分
光測定に基づいて（例えば、一組の分光測定の平均化または別の技術に基づいて）特定の
試料を定量化することができる。こうして、制御装置２１０は、一組の分光測定の結果に
影響を与え得る物理的状態を考慮することができる。
果を識別する情報を受信することができる。例えば、制御装置２１０は、複数のスペクト
ロメータ２２０に、未知セット（例えば、同じセットの試料）に一組の分光測定を実行さ
せ、未知セットの試料に対応する一組のスペクトルを識別する情報を受信することができ
る。付加的または代替的に、制御装置２１０は、複数回、複数の位置等で実行された一組
の分光測定の結果を識別する情報を受信し、複数回、複数の位置等で実行された一組の分
光測定に基づいて（例えば、一組の分光測定の平均化または別の技術に基づいて）特定の
試料を定量化することができる。こうして、制御装置２１０は、一組の分光測定の結果に
影響を与え得る物理的状態を考慮することができる。
付加的または代替的に、制御装置２１０は第１のスペクトロメータ２２０に、未知セッ
トの第１部分に一組の分光測定の第１部分を実行させ、第２のスペクトロメータ２２０に
、未知セットの第２部分に一組の分光測定の第２部分を実行させてもよい。こうすると、
制御装置２１０は、一組の分光測定を実行するのに要する時間量を単一のスペクトロメー
タ２２０で全ての分光測定を実行するのに要する時間量に比べて短縮することができる。
トの第１部分に一組の分光測定の第１部分を実行させ、第２のスペクトロメータ２２０に
、未知セットの第２部分に一組の分光測定の第２部分を実行させてもよい。こうすると、
制御装置２１０は、一組の分光測定を実行するのに要する時間量を単一のスペクトロメー
タ２２０で全ての分光測定を実行するのに要する時間量に比べて短縮することができる。
こうして、制御装置２１０は、未知試料に対して実行された一組の分光測定の結果を識
別する情報を受信する。
別する情報を受信する。
図６に更に示すように、プロセス６００は、未知試料が定量化モデルに対応するか否か
を判定するステップを含み得る（ブロック６２０）。例えば、制御装置２１０は、（例え
ば、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０等を使用して）未知試
料が、定量化するために定量化モデルを構成した材料であるか否か、および／または定量
化するために定量化モデルを構成した成分を材料中に含むか否かの判定を試みる。
を判定するステップを含み得る（ブロック６２０）。例えば、制御装置２１０は、（例え
ば、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０等を使用して）未知試
料が、定量化するために定量化モデルを構成した材料であるか否か、および／または定量
化するために定量化モデルを構成した成分を材料中に含むか否かの判定を試みる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、ＳＣ－ＳＶＭクラシフィア技術を使用し
て、未知スペクトルが定量化モデルに対応するか否かを判定することができる。例えば、
制御装置２１０は、ＳＣ－ＳＶＭ技術を利用するために、構成可能なパラメータ値である
ｎｕを判定することができる。パラメータ値は、決定境界内に含まれないと判定される訓
練セット試料に対する、ＳＣ－ＳＶＭ技術のための決定境界内に含まれると判定される訓
練セット試料の比率に対応し得る。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、パラメ
ータ値に基づいて決定境界を判定することができる。いくつかの実施形態では、制御装置
２１０は、交差検証処置を使用して、複数の可能な決定境界を設定し、複数の可能な決定
境界を使用した結果を（例えば、平均化によって）結合して、未知スペクトルが定量化モ
デルに対応するか否かを判定することができる。
て、未知スペクトルが定量化モデルに対応するか否かを判定することができる。例えば、
制御装置２１０は、ＳＣ－ＳＶＭ技術を利用するために、構成可能なパラメータ値である
ｎｕを判定することができる。パラメータ値は、決定境界内に含まれないと判定される訓
練セット試料に対する、ＳＣ－ＳＶＭ技術のための決定境界内に含まれると判定される訓
練セット試料の比率に対応し得る。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、パラメ
ータ値に基づいて決定境界を判定することができる。いくつかの実施形態では、制御装置
２１０は、交差検証処置を使用して、複数の可能な決定境界を設定し、複数の可能な決定
境界を使用した結果を（例えば、平均化によって）結合して、未知スペクトルが定量化モ
デルに対応するか否かを判定することができる。
いくつかの実施形態では、パラメータ値を満足する決定境界の設定に基づいて（例えば
、０．５のパラメータ値に対して、訓練セットの測定値の半分が決定境界内に位置付けら
れ、かつ訓練セットの測定値の半分が決定境界外に位置付けられるように決定値を設定）
、制御装置２１０は、測定値から決定境界までの距離メトリックに対応し得る決定値を決
定することができる。例えば、制御装置２１０は、未知試料のスペクトルについて一組の
軸上の位置を決定し、その位置と決定境界の最も近い地点との間の距離を判定することが
できる。本明細書に記載のいくつかの実施形態は、グラフまたは一組の軸に関連して記載
されているが、本明細書に記載の実施形態はグラフまたは一組の軸を使用せず、例えば未
知スペクトルに関連する別の代表データを使用して判定することもできる。
、０．５のパラメータ値に対して、訓練セットの測定値の半分が決定境界内に位置付けら
れ、かつ訓練セットの測定値の半分が決定境界外に位置付けられるように決定値を設定）
、制御装置２１０は、測定値から決定境界までの距離メトリックに対応し得る決定値を決
定することができる。例えば、制御装置２１０は、未知試料のスペクトルについて一組の
軸上の位置を決定し、その位置と決定境界の最も近い地点との間の距離を判定することが
できる。本明細書に記載のいくつかの実施形態は、グラフまたは一組の軸に関連して記載
されているが、本明細書に記載の実施形態はグラフまたは一組の軸を使用せず、例えば未
知スペクトルに関連する別の代表データを使用して判定することもできる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、未知スペクトルに対する決定値を判定す
ることができる。例えば、制御装置２１０は、未知スペクトルから決定境界までの距離を
判定することができる。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、決定境界外に位置
付けられた他の測定値に対する決定値を決定することができる。この場合、制御装置２１
０は統計メトリックを判定して、決定境界外の他の測定値に対する決定値に関連する未知
試料の決定値の標準偏差量を表すことができる。例えば、制御装置２１０は、対数正規分
布に基づく対数正規標準偏差を判定し、標準偏差が閾値（例えば、１標準偏差、２標準偏
差、３標準偏差等）を満足するか否かを判定することができる。この場合、未知試料のス
ペクトルの測定値が、決定境界外の他の測定値に対して決定境界からの標準偏差の閾量よ
りも大きいことに基づいて（例えば、決定境界から３標準偏差）、制御装置２１０は、未
知試料が定量化モデルに対応しないと判定することができる（ブロック６２０－いいえ）
。あるいは、測定値が、決定境界から標準偏差の閾量よりも小さいことに基づいて、制御
装置２１０は、未知試料が定量化モデルに対応すると判定することができる（ブロック６
２０－はい）。本明細書には、特定の統計技術および／または標準偏差の特定の閾量に関
して記載されているが、他の統計技術および／または閾値を使用してもよい。
ることができる。例えば、制御装置２１０は、未知スペクトルから決定境界までの距離を
判定することができる。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、決定境界外に位置
付けられた他の測定値に対する決定値を決定することができる。この場合、制御装置２１
０は統計メトリックを判定して、決定境界外の他の測定値に対する決定値に関連する未知
試料の決定値の標準偏差量を表すことができる。例えば、制御装置２１０は、対数正規分
布に基づく対数正規標準偏差を判定し、標準偏差が閾値（例えば、１標準偏差、２標準偏
差、３標準偏差等）を満足するか否かを判定することができる。この場合、未知試料のス
ペクトルの測定値が、決定境界外の他の測定値に対して決定境界からの標準偏差の閾量よ
りも大きいことに基づいて（例えば、決定境界から３標準偏差）、制御装置２１０は、未
知試料が定量化モデルに対応しないと判定することができる（ブロック６２０－いいえ）
。あるいは、測定値が、決定境界から標準偏差の閾量よりも小さいことに基づいて、制御
装置２１０は、未知試料が定量化モデルに対応すると判定することができる（ブロック６
２０－はい）。本明細書には、特定の統計技術および／または標準偏差の特定の閾量に関
して記載されているが、他の統計技術および／または閾値を使用してもよい。
こうして、制御装置２１０は、未知試料に類似する試料を使用して定量化モデルを訓練
させることなく、閾量だけ定量化モデルとは異なる（例えば、閾量だけ対象材料の訓練セ
ット試料とも異なる）未知スペクトルの識別を可能にする。更に、制御装置２１０は、定
量化モデルを生成するために収集される試料の分量を減少させることによって、対象材料
および／またはそれらの濃度とは閾量だけ異なる試料の正確な識別を確実にするために、
他の試料の取得、格納、および処理に比べて、コスト、時間、および計算資源（例えば、
処理資源およびメモリ資源）の利用を減少させることができる。
させることなく、閾量だけ定量化モデルとは異なる（例えば、閾量だけ対象材料の訓練セ
ット試料とも異なる）未知スペクトルの識別を可能にする。更に、制御装置２１０は、定
量化モデルを生成するために収集される試料の分量を減少させることによって、対象材料
および／またはそれらの濃度とは閾量だけ異なる試料の正確な識別を確実にするために、
他の試料の取得、格納、および処理に比べて、コスト、時間、および計算資源（例えば、
処理資源およびメモリ資源）の利用を減少させることができる。
こうして、制御装置２１０は、未知試料が定量化モデルに対応するか否かを判定する。
図６に更に示すように、未知試料が定量化モデルに対応するとの判定に基づいて（ブロ
ック６２０－はい）、プロセス６００は、一組の分光測定の結果に基づいて一以上の分光
学的判定を実行するステップを含み得る（ブロック６３０）。例えば、制御装置２１０は
、（例えば、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０等を使用して
）一組の分光測定の結果に基づいて一以上の分光学的判定を実行することができる。いく
つかの実施形態では、制御装置２１０は、未知試料を（例えば、対象材料における成分の
一組の濃度のうちの特定の濃度を代表する）特定のクラスに割り当てることができる。
ック６２０－はい）、プロセス６００は、一組の分光測定の結果に基づいて一以上の分光
学的判定を実行するステップを含み得る（ブロック６３０）。例えば、制御装置２１０は
、（例えば、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０等を使用して
）一組の分光測定の結果に基づいて一以上の分光学的判定を実行することができる。いく
つかの実施形態では、制御装置２１０は、未知試料を（例えば、対象材料における成分の
一組の濃度のうちの特定の濃度を代表する）特定のクラスに割り当てることができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、信頼メトリックに基づいて特定の試料を
割り当てることができる。例えば、制御装置２１０は、定量化モデルに基づいて、特定の
スペクトルが定量化モデルの各クラス（例えば、候補である各濃度）に関連する確率を判
定することができる。この場合、制御装置２１０は、クラスに関連する他の確率を超える
クラスに対する特定の確率に基づいて、未知試料をクラス（特定の濃度）に割り当てるこ
とができる。こうして、制御装置２１０は、試料が関連する対象材料における成分の濃度
を判定することによって、試料を定量化する。
割り当てることができる。例えば、制御装置２１０は、定量化モデルに基づいて、特定の
スペクトルが定量化モデルの各クラス（例えば、候補である各濃度）に関連する確率を判
定することができる。この場合、制御装置２１０は、クラスに関連する他の確率を超える
クラスに対する特定の確率に基づいて、未知試料をクラス（特定の濃度）に割り当てるこ
とができる。こうして、制御装置２１０は、試料が関連する対象材料における成分の濃度
を判定することによって、試料を定量化する。
いくつかの実施形態では、インサイチュローカルモデリングを実行するために、例えば
、クラスの閾量を超える定量化モデルに対して、制御装置２１０は、第１の判定に基づい
てローカル定量化モデルを生成することができる。ローカル定量化モデルは、ＳＶＭ判定
技術（例えば、ＳＶＭ－ｒｂｆ、ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒ等のカーネル関数、確率値ベース
のＳＶＭ、決定値ベースのＳＶＭ等）を使用して、第１の判定に関連する信頼メトリック
に基づいて生成されたインサイチュ定量化モデルを言う。
、クラスの閾量を超える定量化モデルに対して、制御装置２１０は、第１の判定に基づい
てローカル定量化モデルを生成することができる。ローカル定量化モデルは、ＳＶＭ判定
技術（例えば、ＳＶＭ－ｒｂｆ、ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒ等のカーネル関数、確率値ベース
のＳＶＭ、決定値ベースのＳＶＭ等）を使用して、第１の判定に関連する信頼メトリック
に基づいて生成されたインサイチュ定量化モデルを言う。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、グローバル分類モデルを使用して第１の
判定の実行に基づいてローカル定量化モデルを生成することができる。例えば、制御装置
２１０を使用して未知試料における成分の濃度を判定し、成分の濃度を判定するために複
数の未知試料が異なる定量化モデルに関連する場合、制御装置２１０は第１の判定を利用
して、クラスのサブセットを未知試料のためのローカルクラスとして選択し、未知試料の
ためのローカルクラスに関連付けられたローカル定量化モデルを生成することができる。
こうして、制御装置２１０は、階層的決定および定量化モデルを利用して、分光学的分類
を改善する。この場合、制御装置２１０は、ローカル定量化モデルの他の測定値のサブセ
ットに関連する未知試料に対する距離メトリックの判定に基づいて、未知試料がローカル
定量化モデルに対応するか否かを判定することができる。
判定の実行に基づいてローカル定量化モデルを生成することができる。例えば、制御装置
２１０を使用して未知試料における成分の濃度を判定し、成分の濃度を判定するために複
数の未知試料が異なる定量化モデルに関連する場合、制御装置２１０は第１の判定を利用
して、クラスのサブセットを未知試料のためのローカルクラスとして選択し、未知試料の
ためのローカルクラスに関連付けられたローカル定量化モデルを生成することができる。
こうして、制御装置２１０は、階層的決定および定量化モデルを利用して、分光学的分類
を改善する。この場合、制御装置２１０は、ローカル定量化モデルの他の測定値のサブセ
ットに関連する未知試料に対する距離メトリックの判定に基づいて、未知試料がローカル
定量化モデルに対応するか否かを判定することができる。
一例として、植物材料中の特定の化学物質の濃度を決定するために原料識別を実行する
とき、植物材料が複数の定量化モデルと関連する場合（例えば、植物が屋内または屋外で
、冬または夏等に成長するものであるか否かに関する場合）、制御装置２１０は、特定の
定量化モデルを識別するために一組の分光学的判定を実行することができる。この場合に
は、制御装置２１０は、一組の判定の実行に基づいて、植物は冬に屋内で成長するもので
あると決定することが可能であり、特定の化学物質の濃度を決定するために、冬に屋内で
成長する植物に関する定量化モデルを選択することができる。定量化モデルの選択に基づ
いて、制御装置２１０は、未知試料が定量化モデルに対応すると判定し、定量化モデルを
使用して未知試料を定量化することができる。
とき、植物材料が複数の定量化モデルと関連する場合（例えば、植物が屋内または屋外で
、冬または夏等に成長するものであるか否かに関する場合）、制御装置２１０は、特定の
定量化モデルを識別するために一組の分光学的判定を実行することができる。この場合に
は、制御装置２１０は、一組の判定の実行に基づいて、植物は冬に屋内で成長するもので
あると決定することが可能であり、特定の化学物質の濃度を決定するために、冬に屋内で
成長する植物に関する定量化モデルを選択することができる。定量化モデルの選択に基づ
いて、制御装置２１０は、未知試料が定量化モデルに対応すると判定し、定量化モデルを
使用して未知試料を定量化することができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、定量化モデルを使用した未知試料の定量
化を失敗し得る。例えば、一以上の決定値または他の信頼メトリックが、閾値を満足させ
ないことに基づいて、制御装置２１０は、未知試料が定量化モデルを使用して正確に定量
化することができないと判定し得る（ブロック６３０－Ａ）。あるいは、制御装置２１０
は、一以上の決定値または他の信頼メトリックが閾値を満足することに基づいて、未知試
料の定量化を成功させ得る（ブロック６３０－Ｂ）。
化を失敗し得る。例えば、一以上の決定値または他の信頼メトリックが、閾値を満足させ
ないことに基づいて、制御装置２１０は、未知試料が定量化モデルを使用して正確に定量
化することができないと判定し得る（ブロック６３０－Ａ）。あるいは、制御装置２１０
は、一以上の決定値または他の信頼メトリックが閾値を満足することに基づいて、未知試
料の定量化を成功させ得る（ブロック６３０－Ｂ）。
こうして、制御装置２１０は、一組の分光測定の結果に基づいて、一以上の分光学的判
定を実行する。
定を実行する。
図６に更に示すように、未知試料が定量化モデルに対応しないとの判定に基づいて（ブ
ロック６２０－いいえ）、または、一以上の分光学的判定の実行時における失敗との判定
に基づいて（ブロック６３０－Ａ）、プロセス６００は、未知試料が定量化モデルに対応
しないことを示す出力を提供するステップを含み得る（ブロック６４０）。例えば、制御
装置２１０は、（例えば、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０
、通信インタフェース３７０等を使用して）例えばユーザインタフェースを介して、未知
試料が定量化モデルに対応しないことを示す情報を提供することができる。いくつかの実
施形態では、制御装置２１０は、未知試料の識別に関連する情報を提供し得る。例えば、
特定の植物における特定の化学物質の量の定量化に基づいて、また、未知試料が特定の植
物ではないとの判定（しかしながら、代わりに、例えば人的エラーに基づいて別の植物で
あるとの判定）に基づいて、制御装置２１０は、別の植物を識別する情報を提供し得る。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、別の定量化モデルを取得し、別の定量化モ
デルを使用して、未知試料が定量化モデルに対応しないとの判定に基づいて、未知試料を
識別することができる。
ロック６２０－いいえ）、または、一以上の分光学的判定の実行時における失敗との判定
に基づいて（ブロック６３０－Ａ）、プロセス６００は、未知試料が定量化モデルに対応
しないことを示す出力を提供するステップを含み得る（ブロック６４０）。例えば、制御
装置２１０は、（例えば、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０
、通信インタフェース３７０等を使用して）例えばユーザインタフェースを介して、未知
試料が定量化モデルに対応しないことを示す情報を提供することができる。いくつかの実
施形態では、制御装置２１０は、未知試料の識別に関連する情報を提供し得る。例えば、
特定の植物における特定の化学物質の量の定量化に基づいて、また、未知試料が特定の植
物ではないとの判定（しかしながら、代わりに、例えば人的エラーに基づいて別の植物で
あるとの判定）に基づいて、制御装置２１０は、別の植物を識別する情報を提供し得る。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、別の定量化モデルを取得し、別の定量化モ
デルを使用して、未知試料が定量化モデルに対応しないとの判定に基づいて、未知試料を
識別することができる。
こうして、制御装置２１０は、未知試料の識別時の誤検知に基づく不正確な情報を提供
する可能性を低減させ、未知試料が、例えば特定の植物ではなく別の植物であったとの判
定を支援する情報を提供することによって技術者によるエラー補正を可能にする。
する可能性を低減させ、未知試料が、例えば特定の植物ではなく別の植物であったとの判
定を支援する情報を提供することによって技術者によるエラー補正を可能にする。
こうして、制御装置２１０は、未知試料が定量化モデルに対応しないことを示す出力を
提供する。
提供する。
図６に更に示すように、一以上の分光学的判定を実行したときの分類の成功に基づいて
（ブロック６３０－Ｂ）、プロセス６００は、未知試料に関連する分類を識別する情報を
提供するステップを含み得る（ブロック６５０）。例えば、制御装置２１０は、（例えば
、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０、通信インタフェース３
７０等を使用して）未知試料に関連する定量化を識別する情報を提供することができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、未知試料に対する特定のクラスを識別する
情報を提供することができる。例えば、制御装置２１０は、未知試料と関連する特定のス
ペクトルが、対象材料における成分の特定の濃度に対応する特定のクラスと関連するとい
う判定を示す情報を提供し、それによって未知試料を識別することができる。
（ブロック６３０－Ｂ）、プロセス６００は、未知試料に関連する分類を識別する情報を
提供するステップを含み得る（ブロック６５０）。例えば、制御装置２１０は、（例えば
、プロセッサ３２０、メモリ３３０、記憶コンポーネント３４０、通信インタフェース３
７０等を使用して）未知試料に関連する定量化を識別する情報を提供することができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、未知試料に対する特定のクラスを識別する
情報を提供することができる。例えば、制御装置２１０は、未知試料と関連する特定のス
ペクトルが、対象材料における成分の特定の濃度に対応する特定のクラスと関連するとい
う判定を示す情報を提供し、それによって未知試料を識別することができる。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、未知試料の特定のクラスへの割り当てに
関連する信頼メトリックを示す情報を提供し得る。例えば、制御装置２１０は、未知試料
が特定のクラス等と関連する確率を識別する情報を提供することができる。こうして、制
御装置２１０は、特定のスペクトルが特定のクラスに正確に割り当てられた可能性を示す
情報を提供する。
関連する信頼メトリックを示す情報を提供し得る。例えば、制御装置２１０は、未知試料
が特定のクラス等と関連する確率を識別する情報を提供することができる。こうして、制
御装置２１０は、特定のスペクトルが特定のクラスに正確に割り当てられた可能性を示す
情報を提供する。
いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、一組の分類の実行に基づく定量化を提供
し得る。例えば、未知試料のクラスに関連するローカル定量化モデルの識別に基づいて、
制御装置２１０は、未知試料における物質の濃度を識別する情報を提供することができる
。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、一組の定量化の実行に基づいて、定量化
モデルをアップデートすることができる。例えば、制御装置２１０は、未知試料の定量化
を対象材料における成分の特定の濃度として判定することによって、未知試料を訓練セッ
トの試料として含む新しい定量化モデルを生成することができる。
し得る。例えば、未知試料のクラスに関連するローカル定量化モデルの識別に基づいて、
制御装置２１０は、未知試料における物質の濃度を識別する情報を提供することができる
。いくつかの実施形態では、制御装置２１０は、一組の定量化の実行に基づいて、定量化
モデルをアップデートすることができる。例えば、制御装置２１０は、未知試料の定量化
を対象材料における成分の特定の濃度として判定することによって、未知試料を訓練セッ
トの試料として含む新しい定量化モデルを生成することができる。
こうして、制御装置２１０は、未知試料を識別する情報を提供する。
図６はプロセス６００の例示的ブロックを示すが、いくつかの実施形態では、プロセス
６００は追加のブロック、より少数のブロック、異なるブロック、または図６とは異なる
配置のブロックを含んでよい。付加的または代替的に、プロセス６００の二以上のブロッ
クを並行して実行してもよい。
６００は追加のブロック、より少数のブロック、異なるブロック、または図６とは異なる
配置のブロックを含んでよい。付加的または代替的に、プロセス６００の二以上のブロッ
クを並行して実行してもよい。
図７Ａおよび図７Ｂは、図６に示す例示的プロセス６００と関連する予測成功率に関す
る例示的な実施形態７００を示す。図７Ａおよび図７Ｂは、階層的サポートベクトルマシ
ン（ｈｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒ）ベースの技術を用いた原料識別の例示的な結果を
示す。
る例示的な実施形態７００を示す。図７Ａおよび図７Ｂは、階層的サポートベクトルマシ
ン（ｈｉｅｒ－ＳＶＭ－ｌｉｎｅａｒ）ベースの技術を用いた原料識別の例示的な結果を
示す。
図７Ａに参照番号７０５で示すように、制御装置２１０は、スペクトロメータ２２０に
一組の分光測定を実行させることができる。例えば、制御装置２１０は、スペクトロメー
タ２２０に、未知試料に対するスペクトルを取得させるよう命令して、未知試料における
成分の濃度を判定することができる。参照番号７１０および参照番号７１５によって示す
ように、スペクトロメータ２２０は未知試料を受信し、未知試料に対して一組の分光測定
を実行することができる。参照番号７２０によって示すように、制御装置２１０は、未知
試料に対して一組の分光測定を実行する未知試料ベースのスペクトロメータ２２０に対す
るスペクトルを受信することができる。
一組の分光測定を実行させることができる。例えば、制御装置２１０は、スペクトロメー
タ２２０に、未知試料に対するスペクトルを取得させるよう命令して、未知試料における
成分の濃度を判定することができる。参照番号７１０および参照番号７１５によって示す
ように、スペクトロメータ２２０は未知試料を受信し、未知試料に対して一組の分光測定
を実行することができる。参照番号７２０によって示すように、制御装置２１０は、未知
試料に対して一組の分光測定を実行する未知試料ベースのスペクトロメータ２２０に対す
るスペクトルを受信することができる。
図７Ｂに示すように、制御装置２１０は定量化モデル７２５を使用して、分光学的定量
化を実行することができる。定量化モデル７２５は、単一クラス７３０の決定境界が、結
果的に、決定境界内に含まれない訓練セットの試料に対する、決定境界内の訓練セットの
試料の閾値比になるように、パラメータ値ｎｕに基づいて判定された単一クラス７３０を
含む。この場合、定量化モデル７２５は、訓練セットの試料における成分の複数の異なる
濃度に対応する複数のサブクラスに関連付けられ得る。参照番号７３５および７４０によ
って示されるように、未知試料のスペクトルは、閾値（例えば、３）を満足する決定境界
までの試料の距離に対する標準偏差値（例えば、σ＝３．２）に基づいて定量化モデルに
対応しないと判定される。参照番号７４５によって示すように、制御装置２１０は、未知
試料を対象材料における成分の特定の濃度として誤検知識別を提供するのではなく、クラ
イアント装置７５０に、未知試料が定量化モデルに対応しないことを示す出力を提供する
。
化を実行することができる。定量化モデル７２５は、単一クラス７３０の決定境界が、結
果的に、決定境界内に含まれない訓練セットの試料に対する、決定境界内の訓練セットの
試料の閾値比になるように、パラメータ値ｎｕに基づいて判定された単一クラス７３０を
含む。この場合、定量化モデル７２５は、訓練セットの試料における成分の複数の異なる
濃度に対応する複数のサブクラスに関連付けられ得る。参照番号７３５および７４０によ
って示されるように、未知試料のスペクトルは、閾値（例えば、３）を満足する決定境界
までの試料の距離に対する標準偏差値（例えば、σ＝３．２）に基づいて定量化モデルに
対応しないと判定される。参照番号７４５によって示すように、制御装置２１０は、未知
試料を対象材料における成分の特定の濃度として誤検知識別を提供するのではなく、クラ
イアント装置７５０に、未知試料が定量化モデルに対応しないことを示す出力を提供する
。
上述したように、図７Ａおよび図７Ｂは単なる一例にすぎない。他の例も可能であり、
図７Ａおよび図７Ｂに関して記載したものと相違させてもよい。
図７Ａおよび図７Ｂに関して記載したものと相違させてもよい。
このように、制御装置２１０は、未知試料を、識別するために定量化モデルを訓練した
対象材料における成分の特定の濃度として識別する際の誤検知を回避することにより、分
光法における不正確な結果を供給する可能性を低減させる。
対象材料における成分の特定の濃度として識別する際の誤検知を回避することにより、分
光法における不正確な結果を供給する可能性を低減させる。
以上の開示は描写および記述を提供するが、網羅的であって、実施形態を開示の正確な
形態に限定することを意図するものではない。以上の開示に照らせば修正および変更が可
能であり、実施形態の実施から得ることができる。
形態に限定することを意図するものではない。以上の開示に照らせば修正および変更が可
能であり、実施形態の実施から得ることができる。
いくつかの実施形態が本明細書において閾値と関連して記載されている。本明細書にお
いて、閾値を満足するとは、閾値より大きい、閾値より多い、閾値より高い、閾値より大
きいまたは等しい、閾値より小さい、閾値より少ない、閾値より低い、閾値より小さいま
たは等しい、閾値に等しい等を意味する。
いて、閾値を満足するとは、閾値より大きい、閾値より多い、閾値より高い、閾値より大
きいまたは等しい、閾値より小さい、閾値より少ない、閾値より低い、閾値より小さいま
たは等しい、閾値に等しい等を意味する。
本明細書に記載のシステムおよび／または方法はハードウェア、ファームウェア、また
はハードウェアとソフトウェアの組み合わせの異なる形態で実装してよい。これらのシス
テムおよび／または方法を実施するために使用される実際の専用制御ハードウェアまたは
ソフトウェアコードは実施形態を限定するものではない。従って、システムおよび／また
は方法の動作および挙動は、本明細書においてソフトウェアコードと無関係に記載されて
いるが、これらのシステムおよび／または方法を実施するソフトウェアおよびハードウェ
アは本明細書の記載に基づいて設計することができることは当たり前である。
はハードウェアとソフトウェアの組み合わせの異なる形態で実装してよい。これらのシス
テムおよび／または方法を実施するために使用される実際の専用制御ハードウェアまたは
ソフトウェアコードは実施形態を限定するものではない。従って、システムおよび／また
は方法の動作および挙動は、本明細書においてソフトウェアコードと無関係に記載されて
いるが、これらのシステムおよび／または方法を実施するソフトウェアおよびハードウェ
アは本明細書の記載に基づいて設計することができることは当たり前である。
特徴の特定の組み合わせが請求の範囲および／または明細書に記載されているが、これ
らの組み合わせは可能な実施形態の開示を限定することを意図するものでない。実際、こ
れらの特徴の多くは請求の範囲および／または明細書に明確に記載されない形で組み合わ
せることができる。以下に列記される各従属請求項は一つの請求項にのみ直接従属するが
、可能な実施形態の開示はクレームセットの他の全ての請求項と組み合わせた各従属請求
項を含む。
らの組み合わせは可能な実施形態の開示を限定することを意図するものでない。実際、こ
れらの特徴の多くは請求の範囲および／または明細書に明確に記載されない形で組み合わ
せることができる。以下に列記される各従属請求項は一つの請求項にのみ直接従属するが
、可能な実施形態の開示はクレームセットの他の全ての請求項と組み合わせた各従属請求
項を含む。
本明細書で用いられる素子、動作、または命令はいずれも、そのように明記されない限
り重要なものまたは必須なものと解釈すべきでない。また、本明細書で用いられる、冠詞
「ａ」および「ａｎ」は、１つ以上の項目を含むことが意図され、「１つ以上」と交換可
能に用いられ得る。更に、本明細書で用いられる、用語「組」は、１つ以上の項目（例え
ば、関連項目、非関連項目、関連項目および非関連項目の組み合わせ等）を含むことが意
図され、「１つ以上」と交換可能に用いられ得る。１つの項目のみが意図される場合、用
語「１つ」または同様の文言が用いられる。また、本明細書で用いられる、用語「有する
」等は、オープンエンドな用語であることが意図される。更に、語句「に基づく」は、別
段の明記がない限り、「少なくとも部分的に基づく」を意味することが意図される。
り重要なものまたは必須なものと解釈すべきでない。また、本明細書で用いられる、冠詞
「ａ」および「ａｎ」は、１つ以上の項目を含むことが意図され、「１つ以上」と交換可
能に用いられ得る。更に、本明細書で用いられる、用語「組」は、１つ以上の項目（例え
ば、関連項目、非関連項目、関連項目および非関連項目の組み合わせ等）を含むことが意
図され、「１つ以上」と交換可能に用いられ得る。１つの項目のみが意図される場合、用
語「１つ」または同様の文言が用いられる。また、本明細書で用いられる、用語「有する
」等は、オープンエンドな用語であることが意図される。更に、語句「に基づく」は、別
段の明記がない限り、「少なくとも部分的に基づく」を意味することが意図される。
（特許請求の範囲）
［請求項１］
一以上のメモリと、
前記一以上のメモリに通信可能に連結された一以上のプロセッサと、
を含み、
未知試料に対して実行された分光測定の結果を識別する情報を受信し、
定量化モデルの複数の第１の訓練セット試料が決定境界内にあり、かつ前記定量化モデ
ルの複数の第２の訓練セット試料が前記決定境界外にあるように、構成可能なパラメータ
に基づいて前記定量化モデルのための前記決定境界を決定し、
前記決定境界に関連する、前記未知試料に対して実行された分光測定のための距離メト
リックを決定し、
前記決定距離に関連する、前記定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料のための複
数の距離メトリックを決定し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、分光測定のための前記距離メトリックお
よび前記複数の第２の訓練セット試料のための複数の距離メトリックに基づいて、前記定
量化モデルに対応するか否かを判定し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記定量化モデルに対応しているか否か
を示す情報を提供する、装置。
［請求項２］
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応しないと判定し、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを示す情報を提供するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応しないことを示す情報を提供する、請求項１に
記載の装置。
［請求項３］
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応すると判定し、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを示す情報を提供するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応することを示す情報を提供する、請求項１に記
載の装置。
［請求項４］
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記複数の距離メトリックに対する前記距離メトリックのための統計メトリックを決定
し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記統計メトリックに基づいて前記定量
化モデルに対応するか否かを判定する、請求項１に記載の装置。
［請求項５］
前記統計メトリックは対数正規標準偏差であり、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記統計メ
トリックに基づいて前記定量化モデルに対応するか否かを判定するとき、
前記対数正規標準偏差は閾値を満足すると判定し、かつ、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記対数正規標準偏差が閾値を満足する
との判定に基づいて、前記定量化モデルに対応するか否かを判定する、請求項４に記載の
装置。
［請求項６］
前記定量化モデルは、単一クラスサポートベクトルマシン（ＳＣ－ＳＶＭ）クラシフィ
アに関連付けられている、請求項１に記載の装置。
［請求項７］
前記一以上のプロセッサは、更に、
前記複数の第１の訓練セット試料および前記複数の第２の訓練セット試料に関連する複
数の分光測定を受信し、
前記複数の分光測定に基づいて前記定量化モデルを決定し、
複数の検証セット試料の別の複数の分光測定に基づいて前記定量化モデルを検証し、
前記定量化モデルを格納し、
前記一以上のプロセッサは、前記決定境界を決定するとき、
ストレージから前記定量化モデルを取得し、かつ、
ストレージから前記定量化モデルを取得した後に、前記決定境界を決定する、請求項
１に記載の装置。
［請求項８］
命令を格納する非一時的コンピュータ可読媒体であって、前記命令は、
一以上のプロセッサによって実行されるとき、前記一以上のプロセッサに、
特定の種類の対象材料に関連する定量化モデルを取得させ、
前記定量化モデルは、前記特定の種類の対象材料の試料における特定の成分の濃度
を判定するように構成されており、
未知試料に対して実行された特定の分光測定の結果を識別する情報を受信させ、
前記定量化モデルの訓練セット試料の別の分光測定を前記定量化モデルのための単一
クラスに集約させ、
前記訓練セット試料の別の分光測定を第１のグループおよび第２のグループに細分さ
せ、
前記別の分光測定の第１のグループは決定境界内にあり、
前記別の分光測定の第２のグループは決定境界外にあり、
前記別の分光測定の第２のグループのための対応するメトリックに関連して、前記未
知試料に対して実行された特定の分光測定のためのメトリックが、閾値を満足すると判定
させ、
前記未知試料が前記特定の種類の対象材料ではないことを示す情報を提供させる、
一以上の命令を含む、非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項９］
前記未知試料は、前記特定の種類の対象材料とは異なる種類の材料である、請求項８に
記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１０］
前記未知試料は、前記特定の種類の対象材料であり、かつ、不正確に取得された測定値
である、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１１］
前記メトリックおよび対応するメトリックが決定値である、請求項８に記載の非一時的
コンピュータ可読媒体。
［請求項１２］
前記閾値は、前記対応するメトリックの平均からの前記メトリックの標準偏差の閾量で
ある、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１３］
前記メトリックおよび前記対応するメトリックは、単一クラスサポートベクトルマシン
技術を使用して決定される、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１４］
前記定量化モデルはローカルモデルであり、
前記一以上の命令は、前記一以上のプロセッサによって実行されるとき、更に、前記一
以上のプロセッサに、
前記特定の種類の対象材料に関連するグローバルモデルを使用して、前記未知試料の特
定の分光測定に関連する第１の判定を実行させ、
前記第１の判定の特定の結果に基づいて、インサイチュローカルモデリング技術を使用
して前記ローカルモデルを生成させ、
前記一以上のプロセッサに前記定量化モデルを取得させる前記一以上の命令は、前記一
以上のプロセッサに、
前記ローカルモデルの生成に基づいて前記定量化モデルを取得させる、
請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１５］
装置によって、未知試料に対して実行された近赤外（ＮＩＲ）分光測定の結果を識別す
る情報を受信するステップと、
装置によって、定量化モデルのための決定境界を決定するステップと、
前記決定境界は、前記定量化モデルの単一クラスを、前記決定境界内の定量化モデル
の複数の第１の訓練セット試料と、前記決定境界外の定量化モデルの複数の第２の訓練セ
ット試料とに分割し、
装置によって、前記未知試料に対して実行された前記ＮＩＲ分光測定のための特定の距
離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距離メトリックに関連す
る閾値を満足すると判定するステップと、
装置によって、前記未知試料に対して実行された前記ＮＩＲ分光測定のための前記特定
の距離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距離メトリックに関
連する前記閾値を満足するとの判定に基づいて、前記未知試料に対して実行された前記Ｎ
ＩＲ分光測定が、前記定量化モデルに対応しないことを示す情報を提供するステップと、
を含む、方法。
［請求項１６］
分類モデルを使用する前記ＮＩＲ分光測定に基づいて、かつ、前記未知試料に対して実
行された前記特定の距離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距
離メトリックに関連する前記閾値を満足するとの判定に基づいて、前記未知試料の種類を
判定するステップと、
前記未知試料の種類を識別する情報を提供するステップと、
を更に含む、請求項１５に記載の方法。
［請求項１７］
カーネル関数に基づいて前記決定境界を決定するステップを更に含む、請求項１５に記
載の方法。
［請求項１８］
前記カーネル関数は、
ラジアル基底関数、
多項式関数、
線形関数、または
指数関数、
のうちの少なくとも１つである、請求項１７に記載の方法。
［請求項１９］
前記閾値は、
１標準偏差、
２標準偏差、または
３標準偏差、
のうちの少なくとも１つよりも大きい、請求項１５に記載の方法。
［請求項２０］
前記複数の第１の訓練セット試料および前記複数の第２の訓練セット試料は、成分の一
組の濃度に関連付けられており、
前記成分の一組の濃度のうちの成分の各濃度は、前記複数の第１の訓練セット試料およ
び前記複数の第２の訓練セット試料の訓練セット試料の閾量に関連付けられている、請求
項１５に記載の方法。
［請求項１］
一以上のメモリと、
前記一以上のメモリに通信可能に連結された一以上のプロセッサと、
を含み、
未知試料に対して実行された分光測定の結果を識別する情報を受信し、
定量化モデルの複数の第１の訓練セット試料が決定境界内にあり、かつ前記定量化モデ
ルの複数の第２の訓練セット試料が前記決定境界外にあるように、構成可能なパラメータ
に基づいて前記定量化モデルのための前記決定境界を決定し、
前記決定境界に関連する、前記未知試料に対して実行された分光測定のための距離メト
リックを決定し、
前記決定距離に関連する、前記定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料のための複
数の距離メトリックを決定し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、分光測定のための前記距離メトリックお
よび前記複数の第２の訓練セット試料のための複数の距離メトリックに基づいて、前記定
量化モデルに対応するか否かを判定し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記定量化モデルに対応しているか否か
を示す情報を提供する、装置。
［請求項２］
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応しないと判定し、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを示す情報を提供するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応しないことを示す情報を提供する、請求項１に
記載の装置。
［請求項３］
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応すると判定し、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを示す情報を提供するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応することを示す情報を提供する、請求項１に記
載の装置。
［請求項４］
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記複数の距離メトリックに対する前記距離メトリックのための統計メトリックを決定
し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記統計メトリックに基づいて前記定量
化モデルに対応するか否かを判定する、請求項１に記載の装置。
［請求項５］
前記統計メトリックは対数正規標準偏差であり、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記統計メ
トリックに基づいて前記定量化モデルに対応するか否かを判定するとき、
前記対数正規標準偏差は閾値を満足すると判定し、かつ、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記対数正規標準偏差が閾値を満足する
との判定に基づいて、前記定量化モデルに対応するか否かを判定する、請求項４に記載の
装置。
［請求項６］
前記定量化モデルは、単一クラスサポートベクトルマシン（ＳＣ－ＳＶＭ）クラシフィ
アに関連付けられている、請求項１に記載の装置。
［請求項７］
前記一以上のプロセッサは、更に、
前記複数の第１の訓練セット試料および前記複数の第２の訓練セット試料に関連する複
数の分光測定を受信し、
前記複数の分光測定に基づいて前記定量化モデルを決定し、
複数の検証セット試料の別の複数の分光測定に基づいて前記定量化モデルを検証し、
前記定量化モデルを格納し、
前記一以上のプロセッサは、前記決定境界を決定するとき、
ストレージから前記定量化モデルを取得し、かつ、
ストレージから前記定量化モデルを取得した後に、前記決定境界を決定する、請求項
１に記載の装置。
［請求項８］
命令を格納する非一時的コンピュータ可読媒体であって、前記命令は、
一以上のプロセッサによって実行されるとき、前記一以上のプロセッサに、
特定の種類の対象材料に関連する定量化モデルを取得させ、
前記定量化モデルは、前記特定の種類の対象材料の試料における特定の成分の濃度
を判定するように構成されており、
未知試料に対して実行された特定の分光測定の結果を識別する情報を受信させ、
前記定量化モデルの訓練セット試料の別の分光測定を前記定量化モデルのための単一
クラスに集約させ、
前記訓練セット試料の別の分光測定を第１のグループおよび第２のグループに細分さ
せ、
前記別の分光測定の第１のグループは決定境界内にあり、
前記別の分光測定の第２のグループは決定境界外にあり、
前記別の分光測定の第２のグループのための対応するメトリックに関連して、前記未
知試料に対して実行された特定の分光測定のためのメトリックが、閾値を満足すると判定
させ、
前記未知試料が前記特定の種類の対象材料ではないことを示す情報を提供させる、
一以上の命令を含む、非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項９］
前記未知試料は、前記特定の種類の対象材料とは異なる種類の材料である、請求項８に
記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１０］
前記未知試料は、前記特定の種類の対象材料であり、かつ、不正確に取得された測定値
である、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１１］
前記メトリックおよび対応するメトリックが決定値である、請求項８に記載の非一時的
コンピュータ可読媒体。
［請求項１２］
前記閾値は、前記対応するメトリックの平均からの前記メトリックの標準偏差の閾量で
ある、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１３］
前記メトリックおよび前記対応するメトリックは、単一クラスサポートベクトルマシン
技術を使用して決定される、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１４］
前記定量化モデルはローカルモデルであり、
前記一以上の命令は、前記一以上のプロセッサによって実行されるとき、更に、前記一
以上のプロセッサに、
前記特定の種類の対象材料に関連するグローバルモデルを使用して、前記未知試料の特
定の分光測定に関連する第１の判定を実行させ、
前記第１の判定の特定の結果に基づいて、インサイチュローカルモデリング技術を使用
して前記ローカルモデルを生成させ、
前記一以上のプロセッサに前記定量化モデルを取得させる前記一以上の命令は、前記一
以上のプロセッサに、
前記ローカルモデルの生成に基づいて前記定量化モデルを取得させる、
請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
［請求項１５］
装置によって、未知試料に対して実行された近赤外（ＮＩＲ）分光測定の結果を識別す
る情報を受信するステップと、
装置によって、定量化モデルのための決定境界を決定するステップと、
前記決定境界は、前記定量化モデルの単一クラスを、前記決定境界内の定量化モデル
の複数の第１の訓練セット試料と、前記決定境界外の定量化モデルの複数の第２の訓練セ
ット試料とに分割し、
装置によって、前記未知試料に対して実行された前記ＮＩＲ分光測定のための特定の距
離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距離メトリックに関連す
る閾値を満足すると判定するステップと、
装置によって、前記未知試料に対して実行された前記ＮＩＲ分光測定のための前記特定
の距離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距離メトリックに関
連する前記閾値を満足するとの判定に基づいて、前記未知試料に対して実行された前記Ｎ
ＩＲ分光測定が、前記定量化モデルに対応しないことを示す情報を提供するステップと、
を含む、方法。
［請求項１６］
分類モデルを使用する前記ＮＩＲ分光測定に基づいて、かつ、前記未知試料に対して実
行された前記特定の距離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距
離メトリックに関連する前記閾値を満足するとの判定に基づいて、前記未知試料の種類を
判定するステップと、
前記未知試料の種類を識別する情報を提供するステップと、
を更に含む、請求項１５に記載の方法。
［請求項１７］
カーネル関数に基づいて前記決定境界を決定するステップを更に含む、請求項１５に記
載の方法。
［請求項１８］
前記カーネル関数は、
ラジアル基底関数、
多項式関数、
線形関数、または
指数関数、
のうちの少なくとも１つである、請求項１７に記載の方法。
［請求項１９］
前記閾値は、
１標準偏差、
２標準偏差、または
３標準偏差、
のうちの少なくとも１つよりも大きい、請求項１５に記載の方法。
［請求項２０］
前記複数の第１の訓練セット試料および前記複数の第２の訓練セット試料は、成分の一
組の濃度に関連付けられており、
前記成分の一組の濃度のうちの成分の各濃度は、前記複数の第１の訓練セット試料およ
び前記複数の第２の訓練セット試料の訓練セット試料の閾量に関連付けられている、請求
項１５に記載の方法。
Claims (20)
- 一以上のメモリと、
前記一以上のメモリに通信可能に連結された一以上のプロセッサと、
を含み、
未知試料に対して実行された分光測定の結果を識別する情報を受信し、
定量化モデルの複数の第１の訓練セット試料が決定境界内にあり、かつ前記定量化モデ
ルの複数の第２の訓練セット試料が前記決定境界外にあるように、構成可能なパラメータ
に基づいて前記定量化モデルのための前記決定境界を決定し、
前記決定境界に関連する、前記未知試料に対して実行された分光測定のための距離メト
リックを決定し、
前記決定距離に関連する、前記定量化モデルの複数の第２の訓練セット試料のための複
数の距離メトリックを決定し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、分光測定のための前記距離メトリックお
よび前記複数の第２の訓練セット試料のための複数の距離メトリックに基づいて、前記定
量化モデルに対応するか否かを判定し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記定量化モデルに対応しているか否か
を示す情報を提供する、装置。 - 前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応しないと判定し、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを示す情報を提供するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応しないことを示す情報を提供する、請求項１に
記載の装置。 - 前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応すると判定し、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを示す情報を提供するとき、
前記分光測定が前記定量化モデルに対応することを示す情報を提供する、請求項１に記
載の装置。 - 前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が前記定量化モ
デルに対応するか否かを判定するとき、
前記複数の距離メトリックに対する前記距離メトリックのための統計メトリックを決定
し、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記統計メトリックに基づいて前記定量
化モデルに対応するか否かを判定する、請求項１に記載の装置。 - 前記統計メトリックは対数正規標準偏差であり、
前記一以上のプロセッサは、前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記統計メ
トリックに基づいて前記定量化モデルに対応するか否かを判定するとき、
前記対数正規標準偏差は閾値を満足すると判定し、かつ、
前記未知試料に対して実行された分光測定が、前記対数正規標準偏差が閾値を満足する
との判定に基づいて、前記定量化モデルに対応するか否かを判定する、請求項４に記載の
装置。 - 前記定量化モデルは、単一クラスサポートベクトルマシン（ＳＣ－ＳＶＭ）クラシフィ
アに関連付けられている、請求項１に記載の装置。 - 前記一以上のプロセッサは、更に、
前記複数の第１の訓練セット試料および前記複数の第２の訓練セット試料に関連する複
数の分光測定を受信し、
前記複数の分光測定に基づいて前記定量化モデルを決定し、
複数の検証セット試料の別の複数の分光測定に基づいて前記定量化モデルを検証し、
前記定量化モデルを格納し、
前記一以上のプロセッサは、前記決定境界を決定するとき、
ストレージから前記定量化モデルを取得し、かつ、
ストレージから前記定量化モデルを取得した後に、前記決定境界を決定する、請求項
１に記載の装置。 - 命令を格納する非一時的コンピュータ可読媒体であって、前記命令は、
一以上のプロセッサによって実行されるとき、前記一以上のプロセッサに、
特定の種類の対象材料に関連する定量化モデルを取得させ、
前記定量化モデルは、前記特定の種類の対象材料の試料における特定の成分の濃度
を判定するように構成されており、
未知試料に対して実行された特定の分光測定の結果を識別する情報を受信させ、
前記定量化モデルの訓練セット試料の別の分光測定を前記定量化モデルのための単一
クラスに集約させ、
前記訓練セット試料の別の分光測定を第１のグループおよび第２のグループに細分さ
せ、
前記別の分光測定の第１のグループは決定境界内にあり、
前記別の分光測定の第２のグループは決定境界外にあり、
前記別の分光測定の第２のグループのための対応するメトリックに関連して、前記未
知試料に対して実行された特定の分光測定のためのメトリックが、閾値を満足すると判定
させ、
前記未知試料が前記特定の種類の対象材料ではないことを示す情報を提供させる、
一以上の命令を含む、非一時的コンピュータ可読媒体。 - 前記未知試料は、前記特定の種類の対象材料とは異なる種類の材料である、請求項８に
記載の非一時的コンピュータ可読媒体。 - 前記未知試料は、前記特定の種類の対象材料であり、かつ、不正確に取得された測定値
である、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。 - 前記メトリックおよび対応するメトリックが決定値である、請求項８に記載の非一時的
コンピュータ可読媒体。 - 前記閾値は、前記対応するメトリックの平均からの前記メトリックの標準偏差の閾量で
ある、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。 - 前記メトリックおよび前記対応するメトリックは、単一クラスサポートベクトルマシン
技術を使用して決定される、請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。 - 前記定量化モデルはローカルモデルであり、
前記一以上の命令は、前記一以上のプロセッサによって実行されるとき、更に、前記一
以上のプロセッサに、
前記特定の種類の対象材料に関連するグローバルモデルを使用して、前記未知試料の特
定の分光測定に関連する第１の判定を実行させ、
前記第１の判定の特定の結果に基づいて、インサイチュローカルモデリング技術を使用
して前記ローカルモデルを生成させ、
前記一以上のプロセッサに前記定量化モデルを取得させる前記一以上の命令は、前記一
以上のプロセッサに、
前記ローカルモデルの生成に基づいて前記定量化モデルを取得させる、
請求項８に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。 - 装置によって、未知試料に対して実行された近赤外（ＮＩＲ）分光測定の結果を識別す
る情報を受信するステップと、
装置によって、定量化モデルのための決定境界を決定するステップと、
前記決定境界は、前記定量化モデルの単一クラスを、前記決定境界内の定量化モデル
の複数の第１の訓練セット試料と、前記決定境界外の定量化モデルの複数の第２の訓練セ
ット試料とに分割し、
装置によって、前記未知試料に対して実行された前記ＮＩＲ分光測定のための特定の距
離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距離メトリックに関連す
る閾値を満足すると判定するステップと、
装置によって、前記未知試料に対して実行された前記ＮＩＲ分光測定のための前記特定
の距離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距離メトリックに関
連する前記閾値を満足するとの判定に基づいて、前記未知試料に対して実行された前記Ｎ
ＩＲ分光測定が、前記定量化モデルに対応しないことを示す情報を提供するステップと、
を含む、方法。 - 分類モデルを使用する前記ＮＩＲ分光測定に基づいて、かつ、前記未知試料に対して実
行された前記特定の距離メトリックが、前記複数の第２の訓練セット試料のための別の距
離メトリックに関連する前記閾値を満足するとの判定に基づいて、前記未知試料の種類を
判定するステップと、
前記未知試料の種類を識別する情報を提供するステップと、
を更に含む、請求項１５に記載の方法。 - カーネル関数に基づいて前記決定境界を決定するステップを更に含む、請求項１５に記
載の方法。 - 前記カーネル関数は、
ラジアル基底関数、
多項式関数、
線形関数、または
指数関数、
のうちの少なくとも１つである、請求項１７に記載の方法。 - 前記閾値は、
１標準偏差、
２標準偏差、または
３標準偏差、
のうちの少なくとも１つよりも大きい、請求項１５に記載の方法。 - 前記複数の第１の訓練セット試料および前記複数の第２の訓練セット試料は、成分の一
組の濃度に関連付けられており、
前記成分の一組の濃度のうちの成分の各濃度は、前記複数の第１の訓練セット試料およ
び前記複数の第２の訓練セット試料の訓練セット試料の閾量に関連付けられている、請求
項１５に記載の方法。
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