JP2022120452A - resin composition - Google Patents

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Mizuki Saito
一郎 大浦
Ichiro Oura
達也 本間
Tatsuya Homma
秀樹 大山
Hideki Oyama
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Abstract

To provide a resin composition that can give a magnetic material that can be readily made into paste or a film and also has excellent relative permeability.SOLUTION: A resin composition contains (A) magnetic powder and (B) thermosetting resin. The component (A) includes (A-1) flat magnetic powder and (A-2) spherical magnetic powder, the (A-1) component having an average minor axis length of 1 μm or more.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、磁性粉体を含む樹脂組成物に関する。さらには、当該樹脂組成物を用いて得られる硬化物、樹脂シート、回路基板、及びインダクタ基板に関する。 The present invention relates to a resin composition containing magnetic powder. Furthermore, it relates to a cured product, a resin sheet, a circuit board, and an inductor board obtained using the resin composition.

近年の電子機器の小型化、薄型化に伴い、プリント配線板やプリント配線板に搭載されるインダクタ部品(コイル)についても、小型化、薄型化の要求が高まっている。チップ部品としてインダクタ部品を搭載した場合、プリント配線板の薄型化に限界が生じる。 2. Description of the Related Art As electronic devices have become smaller and thinner in recent years, there is an increasing demand for smaller and thinner printed wiring boards and inductor components (coils) mounted on printed wiring boards. When an inductor component is mounted as a chip component, there is a limit to how thin the printed wiring board can be made.

これに対し、例えば、磁性粉体を樹脂組成物層に含有する樹脂シートを用いて、プリント基板に磁性層を形成することで、プリント配線板内層にインダクタを形成する方法が知られている(特許文献1)。また、例えば、磁性粉体を含有するペースト材料を、配線を含む基板上にスクリーン印刷して磁性層を形成する方法が知られている(特許文献2)。 On the other hand, for example, a method of forming an inductor in the inner layer of a printed wiring board by forming a magnetic layer on the printed board using a resin sheet containing magnetic powder in a resin composition layer is known ( Patent document 1). Further, for example, there is known a method of forming a magnetic layer by screen-printing a paste material containing magnetic powder onto a substrate including wiring (Patent Document 2).

これらの態様においては、磁気損失をより低く抑える観点や、粘度、弾性率等の観点から、磁性粉体としては球状のものが好適に使用されてきた。 In these embodiments, spherical magnetic powders have been preferably used from the viewpoints of lowering magnetic loss, viscosity, elastic modulus, and the like.

一方、インダクタの高機能化の要求から、磁性粉体含有するペーストやフィルムにおいても、より高い透磁率を有するものが求められている。 On the other hand, due to the demand for higher performance of inductors, pastes and films containing magnetic powder are also required to have higher magnetic permeability.

国際公開第2018/194099号WO2018/194099 特開2020-087939号公報JP 2020-087939 A

高透磁率化のために扁平状の磁性粉体を使用することが考えられるが、扁平状の磁性粉体は樹脂中に分散し難く、磁性粉体が均一に分散したペースト状樹脂組成物を得ることが難しいという課題がある。また、扁平状の磁性粉体を含む樹脂組成物を塗工してフィルム化する際には、フィルム表面に小さな穴が多数発生するなど、均一なフィルムの作製が難しいという課題がある。 It is conceivable to use flat magnetic powder to increase the magnetic permeability, but the flat magnetic powder is difficult to disperse in the resin, and a paste-like resin composition in which the magnetic powder is uniformly dispersed is used. The problem is that it is difficult to obtain In addition, when a resin composition containing flat magnetic powder is applied to form a film, there is a problem that it is difficult to produce a uniform film, such as many small holes appearing on the film surface.

本発明の課題は、ペースト化及びフィルム化が容易であり且つ比透磁率に優れた磁性材料を得ることができる樹脂組成物を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a resin composition that can be easily formed into a paste or a film and that can be used to obtain a magnetic material with excellent relative magnetic permeability.

本発明者は、上記目的を達成すべく鋭意研究をした結果、特定の(A-1)扁平状の磁性粉体、及び(A-2)球状の磁性粉体を共に用いた場合に、意外にも、容易にペースト化及びフィルム化が可能であると共に、優れた比透磁率を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of intensive research to achieve the above object, the present inventors have unexpectedly found that when specific (A-1) flat magnetic powder and (A-2) spherical magnetic powder are used together, In addition, the present inventors have found that it is possible to easily form a paste and a film, and that excellent relative magnetic permeability can be achieved, and have completed the present invention.

すなわち、本発明は以下の内容を含む。
[1] (A)磁性粉体、及び(B)熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物であって、
(A)成分が、(A-1)扁平状の磁性粉体、及び(A-2)球状の磁性粉体を含み、
(A-1)成分の平均短軸長が1μm以上である、樹脂組成物。
[2] (A-1)成分の扁平率が2以上であり、且つ(A-2)成分の扁平率が2未満である、上記[1]に記載の樹脂組成物。
[3] (A-1)成分の平均粒径が、10μm~100μmである、上記[1]又は[2]に記載の樹脂組成物。
[4] (A-2)成分の平均粒径が、0.1μm~40μmである、上記[1]~[3]の何れかに記載の樹脂組成物。
[5] (A-2)成分に対する(A-1)成分の質量比((A-1)成分/(A-2)成分)が、0.4~2.3である、上記[1]~[4]の何れかに記載の樹脂組成物。
[6] (A)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、25体積%~75体積%である、上記[1]~[5]の何れかに記載の樹脂組成物。
[7] (A)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、70質量%~96質量%である、上記[1]~[6]の何れかに記載の樹脂組成物。
[8] (B)成分が、(B-1)エポキシ樹脂を含む、上記[1]~[7]の何れかに記載の樹脂組成物。
[9] (C)硬化促進剤をさらに含む、上記[1]~[8]の何れかに記載の樹脂組成物。
[10] 樹脂組成物の硬化物の比透磁率(μ’)が、測定周波数10MHz、23℃で測定した場合、11以上である、上記[1]~[9]の何れかに記載の樹脂組成物。
[11] 25℃における粘度が0.05Pa・s~1500Pa・sである、上記[1]~[10]の何れかに記載の樹脂組成物。
[12] 支持体と、該支持体上に設けられた上記[1]~[11]の何れかに記載の樹脂組成物で形成された樹脂組成物層とを含む、樹脂シート。
[13] 上記[1]~[11]の何れかに記載の樹脂組成物の硬化物。
[14] スルーホールを有する基板と、前記スルーホールに充填した上記[1]~[11]の何れかに記載の樹脂組成物の硬化物と、を備える回路基板。
[15] 上記[1]~[11]の何れかに記載の樹脂組成物の硬化物である硬化物層を含む、回路基板。
[16] 上記[14]又は[15]に記載の回路基板を含む、インダクタ基板。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] A resin composition containing (A) a magnetic powder and (B) a thermosetting resin,
(A) component contains (A-1) flat magnetic powder and (A-2) spherical magnetic powder,
(A-1) The resin composition, wherein the component has an average minor axis length of 1 μm or more.
[2] The resin composition according to [1] above, wherein component (A-1) has an oblateness of 2 or more and component (A-2) has an oblateness of less than 2.
[3] The resin composition according to [1] or [2] above, wherein component (A-1) has an average particle size of 10 μm to 100 μm.
[4] The resin composition according to any one of [1] to [3] above, wherein component (A-2) has an average particle size of 0.1 μm to 40 μm.
[5] The above [1], wherein the mass ratio of component (A-1) to component (A-2) ((A-1) component/(A-2) component) is 0.4 to 2.3 The resin composition according to any one of -[4].
[6] Any one of [1] to [5] above, wherein the content of component (A) is 25% by volume to 75% by volume when the non-volatile component in the resin composition is 100% by volume. of the resin composition.
[7] Any one of [1] to [6] above, wherein the content of component (A) is 70% by mass to 96% by mass when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. of the resin composition.
[8] The resin composition according to any one of [1] to [7] above, wherein component (B) contains (B-1) an epoxy resin.
[9] The resin composition according to any one of [1] to [8] above, further comprising (C) a curing accelerator.
[10] The resin according to any one of [1] to [9] above, wherein the cured product of the resin composition has a relative magnetic permeability (μ') of 11 or more when measured at a measurement frequency of 10 MHz and 23°C. Composition.
[11] The resin composition according to any one of [1] to [10] above, which has a viscosity of 0.05 Pa·s to 1500 Pa·s at 25°C.
[12] A resin sheet comprising a support and a resin composition layer formed of the resin composition according to any one of [1] to [11] provided on the support.
[13] A cured product of the resin composition according to any one of [1] to [11] above.
[14] A circuit board comprising a substrate having through holes, and a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [11] filled in the through holes.
[15] A circuit board comprising a cured product layer which is a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [11] above.
[16] An inductor substrate including the circuit substrate according to [14] or [15] above.

本発明の樹脂組成物によれば、ペースト化及びフィルム化が容易であり且つ比透磁率に優れた磁性材料を得ることができる。 According to the resin composition of the present invention, it is possible to obtain a magnetic material that can be easily made into a paste or a film and has excellent relative magnetic permeability.

図1は、第1実施形態の回路基板の製造方法の一例としてのコア基板の模式的な断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a core board as an example of the method for manufacturing a circuit board according to the first embodiment. 図2は、第1実施形態の回路基板の製造方法の一例としてのスルーホールを形成したコア基板の模式的な断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of a core substrate having through holes formed thereon as an example of the method of manufacturing a circuit board according to the first embodiment. 図3は、第1実施形態の回路基板の製造方法の一例としてのスルーホール内にめっき層を形成したコア基板の様子を示す模式的な断面図である。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a state of a core substrate having a plated layer formed in a through hole as an example of the method of manufacturing a circuit board according to the first embodiment. 図4は、第1実施形態の回路基板の製造方法の一例としてのスルーホール内に樹脂組成物を充填させたコア基板の様子を示す模式的な断面図である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a state of a core substrate in which through holes are filled with a resin composition as an example of the method for manufacturing a circuit board according to the first embodiment. 図5は、第1実施形態の回路基板の製造方法の一例としての充填させた樹脂組成物を熱硬化させたコア基板の様子を示す模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a state of a core substrate obtained by thermally curing the filled resin composition as an example of the method for manufacturing a circuit board according to the first embodiment. 図6は、第1実施形態の回路基板の製造方法の一例としての硬化物を研磨した後のコア基板の様子を示す模式的な断面図である。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a state of a core substrate after polishing a cured product as an example of the method for manufacturing a circuit board according to the first embodiment. 図7は、第1実施形態の回路基板の製造方法の一例としての研磨した面上に導体層を形成したコア基板の様子を示す模式的な断面図である。FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a state of a core substrate in which a conductor layer is formed on a polished surface as an example of the method of manufacturing a circuit board according to the first embodiment. 図8は、第1実施形態の回路基板の製造方法の一例としてのパターン導体層を形成したコア基板の様子を示す模式的な断面図である。FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a state of a core substrate on which a pattern conductor layer is formed as an example of the method of manufacturing a circuit board according to the first embodiment. 図9は、第2実施形態の回路基板の製造方法の一例に含まれる(A)工程を説明するための模式的な断面図である。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view for explaining the step (A) included in one example of the method for manufacturing a circuit board according to the second embodiment. 図10は、第2実施形態の回路基板の製造方法の一例に含まれる(A)工程を説明するための模式的な断面図である。FIG. 10 is a schematic cross-sectional view for explaining the step (A) included in one example of the method for manufacturing a circuit board according to the second embodiment. 図11は、第2実施形態の回路基板の製造方法の一例に含まれる(B)工程を説明するための模式的な断面図である。FIG. 11 is a schematic cross-sectional view for explaining the step (B) included in one example of the method for manufacturing a circuit board according to the second embodiment. 図12は、第2実施形態の回路基板の製造方法の一例に含まれる(D)工程を説明するための模式的な断面図である。FIG. 12 is a schematic cross-sectional view for explaining the step (D) included in one example of the method for manufacturing a circuit board according to the second embodiment. 図13は、一例としての第2実施形態の回路基板の製造方法により得た回路基板を含むインダクタ部品をその厚さ方向の一方からみた模式的な平面図である。FIG. 13 is a schematic plan view of an inductor component including a circuit board obtained by the circuit board manufacturing method of the second embodiment as an example, viewed from one of its thickness directions. 図14は、一例としての図13に示すII-II一点鎖線で示した位置で切断した第2実施形態の回路基板の製造方法により得た回路基板を含むインダクタ部品の切断端面を示す模式的な図である。FIG. 14 is a schematic diagram showing a cut end surface of an inductor component including a circuit board obtained by the circuit board manufacturing method of the second embodiment cut at the position indicated by the dashed-dotted line II-II shown in FIG. 13 as an example. It is a diagram. 図15は、一例としての第2実施形態の回路基板の製造方法により得た回路基板を含むインダクタ部品のうちの第1導体層の構成を説明するための模式的な平面図である。FIG. 15 is a schematic plan view for explaining the configuration of the first conductor layer of the inductor component including the circuit board obtained by the circuit board manufacturing method of the second embodiment as an example. 図16は、磁性粉体の厚み、磁性粉体の短軸長、及び磁性粉体の長軸長の関係を説明するための磁性粉体粒子の模式的な図である。FIG. 16 is a schematic diagram of magnetic powder particles for explaining the relationship between the thickness of the magnetic powder, the minor axis length of the magnetic powder, and the major axis length of the magnetic powder.

以下、本発明をその好適な実施形態に即して詳細に説明する。ただし、本発明は、下記実施形態及び例示物に限定されるものではなく、本発明の特許請求の範囲及びその均等の範囲を逸脱しない範囲において任意に変更して実施され得る。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will now be described in detail with reference to its preferred embodiments. However, the present invention is not limited to the following embodiments and examples, and can be arbitrarily modified without departing from the scope of the claims of the present invention and their equivalents.

<樹脂組成物>
本発明の樹脂組成物は、(A)磁性粉体、及び(B)熱硬化性樹脂を含み、(A)磁性粉体が、(A-1)扁平状の磁性粉体、及び(A-2)球状の磁性粉体を含み、(A-1)扁平状の磁性粉体の平均短軸長が1μm以上である。このような樹脂組成物を用いることにより、ペースト化及びフィルム化が容易であり且つ比透磁率に優れた磁性材料を得ることができる。
<Resin composition>
The resin composition of the present invention comprises (A) magnetic powder and (B) a thermosetting resin, wherein (A) magnetic powder comprises (A-1) flat magnetic powder and (A- 2) It contains spherical magnetic powder, and (A-1) the flat magnetic powder has an average minor axis length of 1 μm or more. By using such a resin composition, it is possible to obtain a magnetic material that can be easily formed into a paste or a film and has excellent relative magnetic permeability.

本発明の樹脂組成物は、(A)磁性粉体、及び(B)熱硬化性樹脂の他に、さらに任意の成分を含んでいてもよい。任意の成分としては、例えば、(C)硬化促進剤、(D)熱可塑性樹脂、(E)分散剤、(F)その他の添加剤、及び(G)有機溶剤が挙げられる。以下、樹脂組成物に含まれる各成分について詳細に説明する。 The resin composition of the present invention may further contain optional components in addition to (A) the magnetic powder and (B) the thermosetting resin. Examples of optional components include (C) a curing accelerator, (D) a thermoplastic resin, (E) a dispersant, (F) other additives, and (G) an organic solvent. Each component contained in the resin composition will be described in detail below.

<(A)磁性粉体>
本発明の樹脂組成物は、(A)磁性粉体を含有する。(A)磁性粉体は、樹脂組成物に磁性を付与し得る。(A)磁性粉体は、本発明の樹脂組成物に粒子の形態で含まれる。本発明の樹脂組成物において、(A)磁性粉体は、(A-1)扁平状の磁性粉体と(A-2)球状の磁性粉体の両方を含む。
<(A) Magnetic powder>
The resin composition of the present invention contains (A) magnetic powder. (A) The magnetic powder can impart magnetism to the resin composition. (A) The magnetic powder is contained in the form of particles in the resin composition of the present invention. In the resin composition of the present invention, (A) magnetic powder includes both (A-1) flat magnetic powder and (A-2) spherical magnetic powder.

<(A-1)扁平状の磁性粉体>
本発明の樹脂組成物において、(A)磁性粉体は、(A-1)扁平状の磁性粉体を含む。(A-1)扁平状の磁性粉体の磁性粉体は、1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。
<(A-1) Flat magnetic powder>
In the resin composition of the present invention, (A) magnetic powder includes (A-1) flat magnetic powder. (A-1) Flat magnetic powder The magnetic powder may be used singly or in combination of two or more.

(A-1)扁平状の磁性粉体は、軟磁性粉体、硬磁性粉体のいずれであってもよいが、一実施形態において、本発明の効果を顕著に得る観点から、軟磁性粉体であることが好ましい。(A-1)扁平状の磁性粉体は、例えば、磁性金属粉体、磁性金属酸化物粉体等であり得る。 (A-1) The flat magnetic powder may be soft magnetic powder or hard magnetic powder. A body is preferred. (A-1) The flat magnetic powder may be, for example, magnetic metal powder, magnetic metal oxide powder, or the like.

磁性金属酸化物粉体としては、例えば、フェライト粉体、酸化鉄粉体等が挙げられる。 Examples of magnetic metal oxide powder include ferrite powder and iron oxide powder.

フェライト粉体は、ハードフェライト粉体、ソフトフェライト粉体のいずれであってもよいが、一実施形態において、比透磁率を高くする観点から、ソフトフェライト粉体であることが好ましい。フェライト粉体は、スピネルフェライト粉体、六方晶フェライト粉体、ガーネットフェライト粉体のいずれであってもよいが、一実施形態において、比透磁率を高くする観点から、スピネルフェライト粉体であることが好ましい。フェライト粉体は、単結晶のフェライト粉体であっても、多結晶のフェライト粉体であってもよい。 The ferrite powder may be hard ferrite powder or soft ferrite powder, but in one embodiment, soft ferrite powder is preferable from the viewpoint of increasing the relative magnetic permeability. The ferrite powder may be spinel ferrite powder, hexagonal ferrite powder, or garnet ferrite powder. is preferred. The ferrite powder may be single crystal ferrite powder or polycrystalline ferrite powder.

フェライト粉体は、Feに加えて、例えば、Mn、Zn、Mg、Sr、Ni、Cu、Ba、Co、Ca、Al、Li、Ti、Pb、Cd等から選ばれる少なくとも1種の元素を含み得る。フェライト粉体は、一実施形態において、Feに加えて、Mn、Zn、Mg、Sr、及びNiから選ばれる少なくとも1種の元素を含むフェライト粉体を含むことが好ましい。 The ferrite powder contains at least one element selected from, for example, Mn, Zn, Mg, Sr, Ni, Cu, Ba, Co, Ca, Al, Li, Ti, Pb, Cd, etc., in addition to Fe. obtain. In one embodiment, the ferrite powder preferably contains Fe and at least one element selected from Mn, Zn, Mg, Sr, and Ni.

フェライト粉体としては、例えば、Fe-Mn系フェライト粉体、Mg-Zn系フェライト粉体、Mn系フェライト粉体、Mn-Zn系フェライト粉体、Mn-Mg系フェライト粉体、Cu-Zn系フェライト粉体、Mg-Sr系フェライト粉体、Mn-Mg-Sr系フェライト粉体、Ni-Zn系フェライト粉体、Ni-Zn-Cu系フェライト粉体、Ba-Zn系フェライト粉体、Ba-Mg系フェライト粉体、Ba-Ni系フェライト粉体、Ba-Co系フェライト粉体、Ba-Ni-Co系フェライト粉体、Y系フェライト粉体等が挙げられる。 Examples of ferrite powder include Fe—Mn ferrite powder, Mg—Zn ferrite powder, Mn ferrite powder, Mn—Zn ferrite powder, Mn—Mg ferrite powder, and Cu—Zn ferrite powder. Ferrite powder, Mg-Sr ferrite powder, Mn-Mg-Sr ferrite powder, Ni-Zn ferrite powder, Ni-Zn-Cu ferrite powder, Ba-Zn ferrite powder, Ba- Mg-based ferrite powder, Ba--Ni-based ferrite powder, Ba--Co-based ferrite powder, Ba--Ni--Co-based ferrite powder, Y-based ferrite powder, and the like can be mentioned.

酸化鉄粉体としては、特に限定されるものではないが、例えば、酸化鉄(III)粉体、四酸化三鉄粉体等が挙げられる。 Examples of the iron oxide powder include, but are not particularly limited to, iron (III) oxide powder, triiron tetraoxide powder, and the like.

磁性金属粉体は、Fe、Co、及びNiから選ばれる少なくとも1種の元素を含んでいることが好ましい。磁性金属粉体におけるFe、Co、及びNiの含有量は、好ましくは50質量%以上、より好ましくは60質量%以上、さらに好ましくは70質量%以上であり得る。磁性金属粉体は、Fe、Co、及びNiから選ばれる元素に加えて、例えば、Si、Al、Cr、Mo、Cu等から選ばれる元素を含んでいることが好ましい。 The magnetic metal powder preferably contains at least one element selected from Fe, Co, and Ni. The content of Fe, Co, and Ni in the magnetic metal powder can be preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, and still more preferably 70% by mass or more. The magnetic metal powder preferably contains an element selected from, for example, Si, Al, Cr, Mo, Cu, etc. in addition to the element selected from Fe, Co, and Ni.

磁性金属粉体としては、特に限定されるものではないが、例えば、純鉄粉体;Fe-Si系合金粉体、Fe-Si-Al系合金粉体、Fe-Cr系合金粉体、Fe-Si-Cr系合金粉体、Fe-Ni-Cr系合金粉体、Fe-Cr-Al系合金粉体、Fe-Ni系合金粉体、Fe-Ni-Mo系合金粉体、Fe-Ni-Mo-Cu系合金粉体、Fe-Co系合金粉体、Fe-Ni-Co系合金粉体、Co基アモルファス合金粉体等の結晶質又は非晶質の磁性合金粉体等が挙げられる。 The magnetic metal powder is not particularly limited, but for example, pure iron powder; Fe—Si alloy powder, Fe—Si—Al alloy powder, Fe—Cr alloy powder, Fe -Si--Cr alloy powder, Fe--Ni--Cr alloy powder, Fe--Cr--Al alloy powder, Fe--Ni alloy powder, Fe--Ni--Mo alloy powder, Fe--Ni -Crystalline or amorphous magnetic alloy powder such as Mo-Cu alloy powder, Fe-Co alloy powder, Fe-Ni-Co alloy powder, Co-based amorphous alloy powder, etc. .

(A-1)扁平状の磁性粉体は、磁性金属粉体を含むことが好ましく、磁性合金粉体を含むことがより好ましく、Fe-Si-Al系合金粉体及びFe-Si-Cr系合金粉体から選ばれる磁性合金粉体を含むことがさらに好ましく、Fe-Si-Al系合金粉体を含むことが特に好ましい。 (A-1) The flat magnetic powder preferably contains magnetic metal powder, more preferably magnetic alloy powder, and Fe--Si--Al alloy powder and Fe--Si--Cr-based powder. It is more preferable to contain magnetic alloy powder selected from alloy powders, and it is particularly preferable to contain Fe--Si--Al alloy powder.

(A-1)扁平状の磁性粉体の10%粒径(D10)は、特に限定されるものではないが、好ましくは0.5μm~50μm、より好ましくは1~40μm、さらに好ましくは2~35μm、特に好ましくは3~30μmであり得る。 (A-1) The 10% particle size (D 10 ) of the flat magnetic powder is not particularly limited, but is preferably 0.5 μm to 50 μm, more preferably 1 to 40 μm, and still more preferably 2 μm. to 35 μm, particularly preferably 3 to 30 μm.

(A-1)扁平状の磁性粉体の平均粒径(D50)は、磁性損失をより低く抑える観点から、好ましくは100μm以下、より好ましくは60μm以下、さらに好ましくは50μm以下、特に好ましくは40μm以下である。(A-1)扁平状の磁性粉体の平均粒径(D50)の下限は、発明の効果をより顕著に得る観点から、好ましくは10μm以上、より好ましくは20μm以上、さらに好ましくは25μm以上、特に好ましくは30μm以上であり得る。 (A-1) The average particle diameter (D 50 ) of the flat magnetic powder is preferably 100 μm or less, more preferably 60 μm or less, even more preferably 50 μm or less, and particularly preferably 40 μm or less. (A-1) The lower limit of the average particle size (D 50 ) of the flat magnetic powder is preferably 10 μm or more, more preferably 20 μm or more, and still more preferably 25 μm or more, from the viewpoint of obtaining the effects of the invention more remarkably. , particularly preferably 30 μm or more.

(A-1)扁平状の磁性粉体の90%粒径(D90)は、特に限定されるものではないが、好ましくは30μm~200μm、より好ましくは40~150μm、さらに好ましくは50~140μm、特に好ましくは60~130μmであり得る。 (A-1) The 90% particle size (D 90 ) of the flat magnetic powder is not particularly limited, but is preferably 30 μm to 200 μm, more preferably 40 to 150 μm, still more preferably 50 to 140 μm. , particularly preferably from 60 to 130 μm.

磁性粉体の10%粒径(D10)、平均粒径(D50)、及び90%粒径(D90)は、それぞれ、ミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定及び算出することができる。具体的にはレーザー回折散乱式粒径分布測定装置により、磁性粉体の粒径分布を体積基準で作成し、10%粒径(D10)、50%粒径(平均粒径)(D50)、及び90%粒径(D90)を算出することができる。測定サンプルは、磁性粉体を超音波により純水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折散乱式粒径分布測定装置としては、マイクロトラックベル社製「MT3000II」、堀場製作所社製「LA-960」、島津製作所社製「SALD-2200」等を使用することができる。 The 10% particle size (D 10 ), average particle size (D 50 ), and 90% particle size (D 90 ) of the magnetic powder were each measured and measured by a laser diffraction/scattering method based on Mie scattering theory. can be calculated. Specifically, the particle size distribution of the magnetic powder was created on a volume basis using a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and the 10% particle size (D 10 ), 50% particle size (average particle size) (D 50 ), and the 90% particle size (D 90 ) can be calculated. As a measurement sample, a magnetic powder dispersed in pure water by ultrasonic waves can be preferably used. As the laser diffraction/scattering type particle size distribution analyzer, “MT3000II” manufactured by Microtrack Bell, “LA-960” manufactured by Horiba, “SALD-2200” manufactured by Shimadzu, etc. can be used.

(A-1)扁平状の磁性粉体の平均厚みは、透磁率をより向上させる観点から、好ましくは0.05μm以上、より好ましくは0.1μm以上、さらに好ましくは0.5μm以上である。その上限は、充填性をより向上させる観点から、好ましくは40μm以下、より好ましくは30μm以下、さらに好ましくは20μm以下である。磁性粉体の平均厚みとは、磁性粉体の厚みの平均値である。磁性粉体の厚みの平均値は、例えば、走査型電子顕微鏡像に基づいて、例えば50個の磁性粉体の厚みを測定し、その最大値Ymと最小値Yn基づき、(Ym+Yn)/2により算出される値とすることができる。磁性粉体の厚みとは、磁性粉体粒子Aの外部表面上の任意の2点のうち相互間の距離が最長となる2点間を結ぶ線分を最長軸とした場合、最長軸と同一長の最長軸に平行な最長辺Xを有する直方体Bであって、磁性粉体粒子Aの外部表面に外接する最小体積の直方体Bを描いたときの直方体Bにおける最長辺Xに垂直な最短辺Yの長さをいう(図16参照)。 (A-1) The average thickness of the flat magnetic powder is preferably 0.05 μm or more, more preferably 0.1 μm or more, and still more preferably 0.5 μm or more, from the viewpoint of further improving magnetic permeability. The upper limit is preferably 40 µm or less, more preferably 30 µm or less, and even more preferably 20 µm or less, from the viewpoint of further improving the filling property. The average thickness of the magnetic powder is the average thickness of the magnetic powder. The average value of the thickness of the magnetic powder is obtained by measuring the thickness of, for example, 50 magnetic powders based on a scanning electron microscope image, and based on the maximum value Ym and the minimum value Yn, (Ym + Yn) / 2. It can be a calculated value. The thickness of the magnetic powder is the same as the longest axis when a line segment connecting two points having the longest distance between each other among arbitrary two points on the outer surface of the magnetic powder particle A is taken as the longest axis. A rectangular parallelepiped B having the longest side X parallel to the longest longitudinal axis, and the shortest side perpendicular to the longest side X in the rectangular parallelepiped B when drawing the rectangular parallelepiped B with the smallest volume circumscribing the outer surface of the magnetic powder particles A It refers to the length of Y (see FIG. 16).

(A-1)扁平状の磁性粉体の平均短軸長は、樹脂組成物をペースト状としたりフィルム化のためのワニスを調製する際に、粘度を低く抑える観点、及び所望の透磁率を得る観点から、1μm以上であり、透磁率をより向上させる観点から、好ましくは3μm以上、より好ましくは5μm以上、さらに好ましくは8μm以上、特に好ましくは10μm以上であり、その上限は、充填性をより向上させる観点から、好ましくは100μm以下、より好ましくは50μm以下、さらに好ましくは30μm以下である。磁性粉体の平均短軸長とは、磁性粉体の短軸長の平均値である。磁性粉体の短軸長の平均値は、例えば、走査型電子顕微鏡像に基づいて、例えば50個の磁性粉体の短軸長を測定した場合の数平均であり得る。磁性粉体の短軸長とは、磁性粉体粒子Aの外部表面上の任意の2点のうち相互間の距離が最長となる2点間を結ぶ線分を最長軸とした場合、最長軸と同一長の最長軸に平行な最長辺Xを有する直方体Bであって、磁性粉体粒子Aの外部表面に外接する最小体積の直方体Bを描いたときの直方体Bにおける最長辺Xと最長辺Xに垂直な最短辺Yとの両方に対して垂直な第3の辺Zの長さをいう(図16参照)。 (A-1) The average minor axis length of the flat magnetic powder is determined from the viewpoint of keeping the viscosity low and the desired magnetic permeability when making the resin composition into a paste or preparing a varnish for film formation. From the standpoint of obtaining a better magnetic permeability, it is preferably 3 µm or more, more preferably 5 µm or more, even more preferably 8 µm or more, and particularly preferably 10 µm or more, from the viewpoint of further improving the magnetic permeability. From the viewpoint of further improvement, the thickness is preferably 100 μm or less, more preferably 50 μm or less, and even more preferably 30 μm or less. The average minor axis length of the magnetic powder is the average value of the minor axis lengths of the magnetic powder. The average value of the minor axis lengths of the magnetic powder can be, for example, the number average when measuring the minor axis lengths of, for example, 50 magnetic particles based on scanning electron microscope images. The minor axis length of the magnetic powder is defined as the longest axis when a line segment connecting two points having the longest distance between each other among arbitrary two points on the outer surface of the magnetic powder particle A is taken as the longest axis. A rectangular parallelepiped B having a longest side X parallel to the longest axis of the same length as the longest side X and the longest side of the rectangular parallelepiped B when drawing a rectangular parallelepiped B with a minimum volume that circumscribes the outer surface of the magnetic powder particle A It refers to the length of the shortest side Y perpendicular to X and the length of the third side Z perpendicular to both (see FIG. 16).

(A-1)扁平状の磁性粉体の扁平率は、透磁率をより向上させる観点から、好ましくは2以上、より好ましくは3以上、さらに好ましくは5以上、特に好ましくは15以上であり、その上限は、充填性をより向上させる観点から、好ましくは1000以下、より好ましくは650以下、さらに好ましくは600以下、特に好ましくは550以下である。磁性粉体の扁平率は、「磁性粉体の平均長軸長(μm)」を「磁性粉体の平均厚み(μm)」で除して算出される値である。磁性粉体の平均長軸長とは、磁性粉体の長軸長の平均値である。磁性粉体の長軸長の平均値は、例えば、走査型電子顕微鏡像に基づいて、例えば50個の磁性粉体の長軸長を測定した場合の数平均であり得る。磁性粉体の長軸長とは、磁性粉体粒子Aの外部表面上の任意の2点のうち相互間の距離が最長となる2点間を結ぶ線分の長さ(すなわち、図16に示される直方体Bにおける最長辺Xの長さ)をいう。 (A-1) The oblateness of the flat magnetic powder is preferably 2 or more, more preferably 3 or more, still more preferably 5 or more, and particularly preferably 15 or more, from the viewpoint of further improving magnetic permeability, The upper limit is preferably 1,000 or less, more preferably 650 or less, even more preferably 600 or less, and particularly preferably 550 or less, from the viewpoint of further improving filling properties. The oblateness of the magnetic powder is a value calculated by dividing the "average major axis length (μm) of the magnetic powder" by the "average thickness (μm) of the magnetic powder". The average major axis length of the magnetic powder is the average value of the major axis lengths of the magnetic powder. The average value of the major axis lengths of the magnetic powder can be, for example, the number average when the major axis lengths of 50 magnetic powders are measured based on scanning electron microscope images. The major axis length of the magnetic powder is the length of the line segment connecting two points with the longest mutual distance among arbitrary two points on the outer surface of the magnetic powder particle A (that is, The length of the longest side X in the illustrated rectangular parallelepiped B).

(A-1)扁平状の磁性粉体のアスペクト比は、透磁率をより向上させる観点から、好ましくは1.0以上、より好ましくは1.2以上、さらに好ましくは1.5以上であり、その上限は、充填性をより向上させる観点から、好ましくは6.0以下、より好ましくは5.0以下、さらに好ましくは4.0以下、さらにより好ましくは3.5以下、特に好ましくは3.0以下である。磁性粉体のアスペクト比は、「磁性粉体の平均長軸長(μm)」を「磁性粉体の平均短軸長(μm)」で除して算出される値である。 (A-1) The aspect ratio of the flat magnetic powder is preferably 1.0 or more, more preferably 1.2 or more, and still more preferably 1.5 or more, from the viewpoint of further improving magnetic permeability, The upper limit is preferably 6.0 or less, more preferably 5.0 or less, still more preferably 4.0 or less, still more preferably 3.5 or less, and particularly preferably 3.5 or less, from the viewpoint of further improving filling properties. 0 or less. The aspect ratio of the magnetic powder is a value calculated by dividing the "average major axis length (μm) of the magnetic powder" by the "average minor axis length (μm) of the magnetic powder".

(A-1)扁平状の磁性粉体のタップ密度は、充填性をより向上させる観点から、好ましくは0.5~4.0g/cm、より好ましくは0.8~4.0g/cm、さらに好ましくは1.0~4.0g/cm、さらにより好ましくは1.5~4.0g/cm、特に好ましくは1.7~4.0g/cmである。タップ密度はJIS Z2512により測定して得られる値であり得る。 (A-1) The tap density of the flat magnetic powder is preferably 0.5 to 4.0 g/cm 3 , more preferably 0.8 to 4.0 g/cm, from the viewpoint of further improving the filling property. 3 , more preferably 1.0 to 4.0 g/cm 3 , still more preferably 1.5 to 4.0 g/cm 3 , particularly preferably 1.7 to 4.0 g/cm 3 . The tap density may be a value obtained by measuring according to JIS Z2512.

(A-1)扁平状の磁性粉体の真比重は、特に限定されるものではないが、例えば、4~10g/cmであり得る。 (A-1) The true specific gravity of the flat magnetic powder is not particularly limited, but can be, for example, 4 to 10 g/cm 3 .

(A-1)扁平状の磁性粉体としては、市販の磁性粉体を用いることができる。(A-1)扁平状の磁性粉体の市販品の具体例としては、山陽特殊製鋼社製「PST-4」、「FME3D-AH」、キンセイマテック製の「JEMK S」、「JEMK H」等が挙げられる。これらは1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。 (A-1) As the flat magnetic powder, commercially available magnetic powder can be used. (A-1) Specific examples of commercial products of flat magnetic powder include “PST-4” and “FME3D-AH” manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd., and “JEMK S” and “JEMK H” manufactured by Kinseimatec. etc. These may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

(A-1)扁平状の磁性粉体の含有量(体積%)は、透磁率をより向上させ、(A-1)扁平状の磁性粉体と(A-2)球状の磁性粉体との混じりをより向上させ、粘度をより低く抑える観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、好ましくは1体積%以上、より好ましくは5体積%以上、さらに好ましくは10体積%以上、さらにより好ましくは12体積%以上、特に好ましくは15体積%以上であり、その上限は、好ましくは70体積%以下、より好ましくは60体積%以下、さらに好ましくは55体積%以下、さらにより好ましくは50体積%以下、特に好ましくは45体積%以下である。 The content (% by volume) of the flat magnetic powder (A-1) further improves the magnetic permeability, and (A-1) the flat magnetic powder and (A-2) the spherical magnetic powder From the viewpoint of further improving the mixing of and keeping the viscosity lower, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by volume, it is preferably 1% by volume or more, more preferably 5% by volume or more, and still more preferably 10% by volume. % or more, still more preferably 12% by volume or more, particularly preferably 15% by volume or more, and the upper limit is preferably 70% by volume or less, more preferably 60% by volume or less, further preferably 55% by volume or less, and further More preferably 50% by volume or less, particularly preferably 45% by volume or less.

(A-1)扁平状の磁性粉体の含有量(質量%)は、透磁率をより向上させ、(A-1)扁平状の磁性粉体と(A-2)球状の磁性粉体との混じりをより向上させ、粘度をより低く抑える観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは10質量%以上、より好ましくは20質量%以上、さらに好ましくは25質量%以上、特に好ましくは30質量%以上であり、その上限は、好ましくは80質量%以下、より好ましくは70質量%以下、さらに好ましくは65質量%以下、特に好ましくは60質量%以下である。 (A-1) The content (% by mass) of the flat magnetic powder further improves the magnetic permeability, and (A-1) the flat magnetic powder and (A-2) the spherical magnetic powder From the viewpoint of further improving the mixing of and keeping the viscosity lower, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 10% by mass or more, more preferably 20% by mass or more, and still more preferably 25% by mass. % or more, particularly preferably 30 mass % or more, and the upper limit is preferably 80 mass % or less, more preferably 70 mass % or less, still more preferably 65 mass % or less, and particularly preferably 60 mass % or less.

<(A-2)球状の磁性粉体>
本発明の樹脂組成物において、(A)磁性粉体は、(A-2)球状の磁性粉体を含む。(A-2)球状の磁性粉体は、1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。
<(A-2) Spherical magnetic powder>
In the resin composition of the present invention, (A) magnetic powder includes (A-2) spherical magnetic powder. (A-2) The spherical magnetic powder may be used singly or in combination of two or more.

(A-2)球状の磁性粉体は、軟磁性粉体、硬磁性粉体のいずれであってもよいが、一実施形態において、本発明の効果を顕著に得る観点から、軟磁性粉体であることが好ましい。(A-2)球状の磁性粉体は、例えば、磁性金属酸化物粉体、磁性金属粉体等であり得る。磁性金属粉体及び磁性金属酸化物粉体の例としては、それぞれ、粉体の外観形状が相違する点を除いて、(A-1)扁平状の磁性粉体の説明で挙げたものと同様のものが挙げられる。 (A-2) The spherical magnetic powder may be either soft magnetic powder or hard magnetic powder. is preferably (A-2) The spherical magnetic powder may be, for example, magnetic metal oxide powder, magnetic metal powder, or the like. Examples of the magnetic metal powder and the magnetic metal oxide powder are the same as those given in the description of (A-1) flat magnetic powder, except that the external shape of each powder is different. are listed.

(A-2)球状の磁性粉体は、一実施形態において、磁性金属粉体を含むことが好ましく、磁性合金粉体を含むことがより好ましく、Fe-Si-Al系合金粉体及びFe-Si-Cr系合金粉体から選ばれる磁性合金粉体を含むことがさらに好ましく、Fe-Si-Cr系合金粉体を含むことが特に好ましい。 (A-2) In one embodiment, the spherical magnetic powder preferably contains magnetic metal powder, more preferably magnetic alloy powder, Fe—Si—Al alloy powder and Fe— It is more preferable to contain magnetic alloy powder selected from Si--Cr alloy powders, and it is particularly preferable to contain Fe--Si--Cr alloy powder.

Fe-Si-Cr系合金粉体は、Fe、Si及びCrを含有する。Fe-Si-Cr系合金粉体におけるFeの量は、好ましくは75質量%~99質量%、より好ましくは80質量%~97質量%、特に好ましくは85質量%~95質量%である。Fe-Si-Cr系合金粉体におけるSiの量は、好ましくは2.0質量%~15.0質量%、より好ましくは3.5質量%~11.0質量%、特に好ましくは5.0質量%~9.5質量%である。Fe-Si-Cr系合金粉体におけるCrの量は、好ましくは0.1質量%~10.0質量%、より好ましくは0.5質量%~8.0質量%、特に好ましくは1.0質量%~6.0質量%である。Fe-Si-Cr系合金粉体は、Fe、Si及びCr以外の金属元素及び半金属元素も含有する場合がある。 The Fe--Si--Cr alloy powder contains Fe, Si and Cr. The amount of Fe in the Fe—Si—Cr alloy powder is preferably 75% to 99% by mass, more preferably 80% to 97% by mass, and particularly preferably 85% to 95% by mass. The amount of Si in the Fe—Si—Cr alloy powder is preferably 2.0% by mass to 15.0% by mass, more preferably 3.5% by mass to 11.0% by mass, and particularly preferably 5.0% by mass. % to 9.5% by mass. The amount of Cr in the Fe—Si—Cr alloy powder is preferably 0.1% by mass to 10.0% by mass, more preferably 0.5% by mass to 8.0% by mass, and particularly preferably 1.0% by mass. % to 6.0% by mass. The Fe--Si--Cr alloy powder may contain metallic elements and semi-metallic elements other than Fe, Si and Cr.

(A-2)球状の磁性粉体は、一実施形態において、磁性金属酸化物粉体を含むことが好ましく、フェライト粉体を含むことがより好ましく、Mn系フェライト粉体、及びMn-Zn系フェライト粉体から選ばれるフェライト粉体を含むことがさらに好ましく、Mn系フェライト粉体を含むことが特に好ましい。 (A-2) In one embodiment, the spherical magnetic powder preferably contains magnetic metal oxide powder, more preferably ferrite powder, Mn-based ferrite powder, and Mn—Zn-based It is more preferable to contain ferrite powder selected from ferrite powder, and it is particularly preferable to contain Mn-based ferrite powder.

Mn系フェライト粉体は、Fe及びMnを含有する。Mn系フェライト粉体におけるFeの量は、フェライト中に含まれるO(酸素)を含む全元素を100質量%とした場合、好ましくは40質量%以上、より好ましくは45質量%以上、特に好ましくは50質量%以上であり、また、好ましくは75質量%以下、より好ましくは70質量%以下、特に好ましくは65質量%以下である。単結晶のMn系フェライト粉体におけるMnの量は、フェライト中に含まれるOを含む全元素を100質量%とした場合、好ましくは3質量%以上、より好ましくは5量%以上、特に好ましくは7質量%以上であり、また、好ましくは40質量%以下、より好ましくは35質量%以下、特に好ましくは30質量%以下である。Mn系フェライト粉体は、Fe及びMn以外の金属元素、半金属元素等の元素も含有する場合がある。Mn系フェライト粉体におけるFe及びMn以外の金属元素及び半金属元素の量は、フェライト中に含まれるOを含む全元素を100質量%とした場合、好ましくは1質量%未満、より好ましくは0.7質量%未満、特に好ましくは0.5質量%未満である。 Mn-based ferrite powder contains Fe and Mn. The amount of Fe in the Mn-based ferrite powder is preferably 40% by mass or more, more preferably 45% by mass or more, and particularly preferably It is 50% by mass or more, preferably 75% by mass or less, more preferably 70% by mass or less, and particularly preferably 65% by mass or less. The amount of Mn in the single crystal Mn-based ferrite powder is preferably 3% by mass or more, more preferably 5% by mass or more, and particularly preferably It is 7% by mass or more, preferably 40% by mass or less, more preferably 35% by mass or less, and particularly preferably 30% by mass or less. The Mn-based ferrite powder may contain elements other than Fe and Mn, such as metal elements and metalloid elements. The amount of metal elements and metalloid elements other than Fe and Mn in the Mn-based ferrite powder is preferably less than 1% by mass, more preferably 0%, when all elements including O contained in the ferrite are taken as 100% by mass. less than 0.7% by weight, particularly preferably less than 0.5% by weight.

(A-2)球状の磁性粉体は、一実施形態において、磁性金属粉体及び磁性金属酸化物粉体を含むことが好ましく、磁性合金粉体及びフェライト粉体を含むことがより好ましく、Fe-Si-Al系合金粉体及びFe-Si-Cr系合金粉体から選ばれる磁性合金粉体、並びにMn系フェライト粉体、及びMn-Zn系フェライト粉体から選ばれるフェライト粉体を含むことがさらに好ましく、Fe-Si-Cr系合金粉体、及びMn系フェライト粉体を含むことが特に好ましい。 (A-2) In one embodiment, the spherical magnetic powder preferably contains magnetic metal powder and magnetic metal oxide powder, more preferably magnetic alloy powder and ferrite powder, and Fe - magnetic alloy powder selected from Si-Al alloy powder and Fe-Si-Cr alloy powder, and ferrite powder selected from Mn-based ferrite powder and Mn-Zn-based ferrite powder is more preferable, and it is particularly preferable to contain Fe—Si—Cr alloy powder and Mn-based ferrite powder.

(A-2)球状の磁性粉体の10%粒径(D10)は、特に限定されるものではないが、好ましくは0.005μm~25μm、より好ましくは0.01~20μm、特に好ましくは0.03~15μmであり得る。 (A-2) The 10% particle diameter (D 10 ) of the spherical magnetic powder is not particularly limited, but is preferably 0.005 μm to 25 μm, more preferably 0.01 to 20 μm, and particularly preferably It can be from 0.03 to 15 μm.

(A-2)球状の磁性粉体の平均粒径(D50)は、磁性損失をより低く抑える観点から、好ましくは40μm以下、より好ましくは30μm以下、さらに好ましくは20μm以下、特に好ましくは12μm以下であり、その下限は、特に限定されるものではないが、好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.05μm以上、さらに好ましくは0.08μm以上、特に好ましくは0.1μm以上であり得る。 (A-2) The average particle size (D 50 ) of the spherical magnetic powder is preferably 40 μm or less, more preferably 30 μm or less, even more preferably 20 μm or less, and particularly preferably 12 μm, from the viewpoint of keeping the magnetic loss lower. Although the lower limit is not particularly limited, it is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.05 μm or more, still more preferably 0.08 μm or more, and particularly preferably 0.1 μm or more. .

(A-2)球状の磁性粉体の90%粒径(D90)は、特に限定されるものではないが、好ましくは0.1μm~50μm、より好ましくは0.5~30μm、さらに好ましくは0.8~25μm、特に好ましくは1~20μmであり得る。 (A-2) The 90% particle diameter (D 90 ) of the spherical magnetic powder is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm to 50 μm, more preferably 0.5 to 30 μm, and still more preferably It can be from 0.8 to 25 μm, particularly preferably from 1 to 20 μm.

(A-2)球状の磁性粉体の平均厚みは、磁性損失をより低く抑える観点から、好ましくは40μm以下、より好ましくは30μm以下、さらに好ましくは20μm以下、特に好ましくは12μm以下であり、その下限は、特に限定されるものではないが、好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.05μm以上、さらに好ましくは0.08μm以上、特に好ましくは0.10μm以上であり得る。 (A-2) The average thickness of the spherical magnetic powder is preferably 40 μm or less, more preferably 30 μm or less, even more preferably 20 μm or less, and particularly preferably 12 μm or less, from the viewpoint of keeping the magnetic loss lower. Although the lower limit is not particularly limited, it is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.05 μm or more, still more preferably 0.08 μm or more, and particularly preferably 0.10 μm or more.

(A-2)球状の磁性粉体の扁平率は、好ましくは2未満、より好ましくは1.5以下、さらに好ましくは1.3以下、特に好ましくは1.2以下であり、下限は、例えば、1等とし得る。 (A-2) The oblateness of the spherical magnetic powder is preferably less than 2, more preferably 1.5 or less, still more preferably 1.3 or less, and particularly preferably 1.2 or less. , 1, etc.

(A-2)球状の磁性粉体のアスペクト比は、好ましくは2以下、より好ましくは1.5以下、さらに好ましくは1.3以下、特に好ましくは1.2以下であり、下限は、例えば、1等とし得る。 (A-2) The aspect ratio of the spherical magnetic powder is preferably 2 or less, more preferably 1.5 or less, still more preferably 1.3 or less, and particularly preferably 1.2 or less. , 1, etc.

(A-2)球状の磁性粉体の真比重は、例えば、4~10g/cmであり得る。 (A-2) The true specific gravity of the spherical magnetic powder can be, for example, 4 to 10 g/cm 3 .

(A-2)球状の磁性粉体の比表面積は、特に限定されるものではないが、好ましくは0.05m/g以上、より好ましくは0.1m/g以上、さらに好ましくは0.3m/g以上である。また、好ましくは30m/g以下、より好ましくは20m/g以下、さらに好ましくは15m/g以下である。磁性粉体の比表面積は、BET法によって測定できる。 (A-2) The specific surface area of the spherical magnetic powder is not particularly limited, but is preferably 0.05 m 2 /g or more, more preferably 0.1 m 2 /g or more, and still more preferably 0.1 m 2 /g or more. 3 m 2 /g or more. Also, it is preferably 30 m 2 /g or less, more preferably 20 m 2 /g or less, still more preferably 15 m 2 /g or less. The specific surface area of magnetic powder can be measured by the BET method.

(A-2)球状の磁性粉体としては、市販品を用いることができる。(A-2)球状の磁性粉体の市販品としては、例えば、パウダーテック社製「M05S」、「M001」;山陽特殊製鋼社製「PST-S」;エプソンアトミックス社製「AW2-08」、「AW2-08PF20F」、「AW2-08PF10F」、「AW2-08PF3F」、「Fe-3.5Si-4.5CrPF20F」、「Fe-50NiPF20F」、「Fe-80Ni-4MoPF20F」;JFEケミカル社製「LD-M」、「LD-MH」、「KNI-106」、「KNI-106GSM」、「KNI-106GS」、「KNI-109」、「KNI-109GSM」、「KNI-109GS」;戸田工業社製「KNS-415」、「BSF-547」、「BSF-029」、「BSN-125」、「BSN-125」、「BSN-714」、「BSN-828」、「S-1281」、「S-1641」、「S-1651」、「S-1470」、「S-1511」、「S-2430」;日本重化学工業社製「JR09P2」;CIKナノテック社製「Nanotek」;キンセイマテック社製「JEMK-S」、「JEMK-H」:ALDRICH社製「Yttrium iron oxide」等が挙げられる。(A-2)球状の磁性粉体は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。 (A-2) A commercially available product can be used as the spherical magnetic powder. (A-2) Commercial products of spherical magnetic powder include, for example, "M05S" and "M001" manufactured by Powdertech; "PST-S" manufactured by Sanyo Special Steel; and "AW2-08" manufactured by Epson Atmix. ”, “AW2-08PF20F”, “AW2-08PF10F”, “AW2-08PF3F”, “Fe-3.5Si-4.5CrPF20F”, “Fe-50NiPF20F”, “Fe-80Ni-4MoPF20F”; manufactured by JFE Chemical Co., Ltd. "LD-M", "LD-MH", "KNI-106", "KNI-106GSM", "KNI-106GS", "KNI-109", "KNI-109GSM", "KNI-109GS"; Company "KNS-415", "BSF-547", "BSF-029", "BSN-125", "BSN-125", "BSN-714", "BSN-828", "S-1281", "S-1641", "S-1651", "S-1470", "S-1511", "S-2430"; "JR09P2" manufactured by Japan Heavy Chemical Industries, Ltd.; "Nanotek" manufactured by CIK Nanotech; "JEMK-S", "JEMK-H" manufactured by ALDRICH Co., Ltd. "Yttrium iron oxide". (A-2) The spherical magnetic powder may be used singly or in combination of two or more.

(A-2)球状の磁性粉体の含有量(体積%)は、(A-1)扁平状の磁性粉体と(A-2)球状の磁性粉体との混じりをより向上させ、粘度をより低く抑える観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、好ましくは1体積%以上、より好ましくは5体積%以上、さらに好ましくは10体積%以上、特に好ましくは15体積%以上、20体積%以上、又は25体積%以上であり、その上限は、好ましくは70体積%以下、より好ましくは60体積%以下、さらに好ましくは55体積%以下、特に好ましくは50体積%以下である。 (A-2) The content (% by volume) of the spherical magnetic powder improves the mixing of the (A-1) flat magnetic powder and (A-2) the spherical magnetic powder, and increases the viscosity. From the viewpoint of keeping the vol. % or more, 20 volume % or more, or 25 volume % or more, and the upper limit is preferably 70 volume % or less, more preferably 60 volume % or less, even more preferably 55 volume % or less, and particularly preferably 50 volume % or less. is.

(A-2)球状の磁性粉体の含有量(質量%)は、(A-1)扁平状の磁性粉体と(A-2)球状の磁性粉体との混じりをより向上させ、粘度をより低く抑える観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは10質量%以上、より好ましくは20質量%以上、さらに好ましくは30質量%以上、さらにより好ましくは40質量%以上、特に好ましくは50質量%以上であり、その上限は、好ましくは85質量%以下、より好ましくは80質量%以下、さらに好ましくは75質量%以下、さらにより好ましくは70質量%以下、特に好ましくは65質量%以下である。 (A-2) The content (% by mass) of the spherical magnetic powder improves the mixing of (A-1) the flat magnetic powder and (A-2) the spherical magnetic powder, and increases the viscosity. from the viewpoint of lowering the non-volatile component in the resin composition to 100% by mass, preferably 10% by mass or more, more preferably 20% by mass or more, even more preferably 30% by mass or more, and even more preferably 40% by mass. % by mass or more, particularly preferably 50% by mass or more, and the upper limit is preferably 85% by mass or less, more preferably 80% by mass or less, even more preferably 75% by mass or less, and even more preferably 70% by mass or less, Especially preferably, it is 65% by mass or less.

(A-2)球状の磁性粉体に対する(A-1)扁平状の磁性粉体の質量比((A-1)成分/(A-2)成分)は、例えば0.05以上、0.1以上であり得、透磁率をより向上させる観点から、好ましくは0.2以上、より好ましくは0.3以上、さらに好ましくは0.4以上、特に好ましくは0.5以上である。また、その上限は、例えば50.0以下、10.0以下等であり得、粘度をより低く抑える観点から、好ましくは3.0以下、より好ましくは2.7以下、さらに好ましくは2.5以下、さらにより好ましくは2.3以下、特に好ましくは2.2以下である。 The mass ratio of (A-1) flat magnetic powder to (A-2) spherical magnetic powder ((A-1) component/(A-2) component) is, for example, 0.05 or more, 0.05 or more. It can be 1 or more, and from the viewpoint of further improving magnetic permeability, it is preferably 0.2 or more, more preferably 0.3 or more, still more preferably 0.4 or more, and particularly preferably 0.5 or more. In addition, the upper limit may be, for example, 50.0 or less, 10.0 or less, etc. From the viewpoint of keeping the viscosity lower, it is preferably 3.0 or less, more preferably 2.7 or less, and still more preferably 2.5. Below, more preferably 2.3 or less, particularly preferably 2.2 or less.

(A)磁性粉体の含有量(体積%)は、特に限定されるものではないが、透磁率をより向上させる観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、好ましくは20体積%以上、より好ましくは25体積%以上、さらに好ましくは30体積%以上、さらにより好ましくは40体積%以上、特に好ましくは45体積%以上である。また、その上限は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、好ましくは85体積%以下、より好ましくは82体積%以下、さらに好ましくは79体積%以下、特に好ましくは75体積%以下である。 (A) The content (% by volume) of the magnetic powder is not particularly limited, but from the viewpoint of further improving the magnetic permeability, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by volume, preferably It is 20% by volume or more, more preferably 25% by volume or more, still more preferably 30% by volume or more, even more preferably 40% by volume or more, and particularly preferably 45% by volume or more. The upper limit is not particularly limited, but when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by volume, it is preferably 85% by volume or less, more preferably 82% by volume or less, and still more preferably 79% by volume. % or less, particularly preferably 75 volume % or less.

(A)磁性粉体の含有量(質量%)は、特に限定されるものではないが、透磁率をより向上させる観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは50質量%以上、より好ましくは60質量%以上、70質量%以上、さらに好ましくは75質量%以上、80質量%以上、特に好ましくは85質量%以上、88質量%以上である。また、その上限は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは97質量%以下、より好ましくは96質量%以下、特に好ましくは95質量%以下である。 (A) The content (% by mass) of the magnetic powder is not particularly limited, but from the viewpoint of further improving the magnetic permeability, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more and 70% by mass or more, still more preferably 75% by mass or more and 80% by mass or more, and particularly preferably 85% by mass or more and 88% by mass or more. The upper limit is not particularly limited, but when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 97% by mass or less, more preferably 96% by mass or less, and particularly preferably 95% by mass. % or less.

<(B)熱硬化性樹脂>
本発明の樹脂組成物は、(B)熱硬化性樹脂を含有する。(B)熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、エポキシアクリレート樹脂、ウレタンアクリレート樹脂、ウレタン樹脂、シアネート樹脂、ポリイミド樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、シリコーン樹脂等が挙げられ、それらと反応する硬化剤(例えばエポキシ硬化剤)等も含む。
<(B) Thermosetting resin>
The resin composition of the present invention contains (B) a thermosetting resin. (B) Thermosetting resins include, for example, epoxy resins, epoxy acrylate resins, urethane acrylate resins, urethane resins, cyanate resins, polyimide resins, benzoxazine resins, unsaturated polyester resins, phenol resins, melamine resins, silicone resins, etc. and includes curing agents (eg, epoxy curing agents) that react with them.

(B)熱硬化性樹脂の含有量(質量%)は、特に限定されるものではないが、発明の効果をより顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは1質量%以上、さらに好ましくは3質量%以上、特に好ましくは4質量%以上である。また、その上限は、発明の効果をより顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは50質量%以下、より好ましくは30質量%以下、さらに好ましくは20質量%以下、特に好ましくは17質量%以下である。 (B) The content (% by mass) of the thermosetting resin is not particularly limited, but from the viewpoint of obtaining the effect of the invention more remarkably, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass , preferably 0.1% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, still more preferably 3% by mass or more, and particularly preferably 4% by mass or more. In addition, from the viewpoint of obtaining the effect of the invention more remarkably, the upper limit is preferably 50% by mass or less, more preferably 30% by mass or less, and even more preferably 100% by mass of nonvolatile components in the resin composition. 20% by mass or less, particularly preferably 17% by mass or less.

<(B-1)エポキシ樹脂>
本発明の樹脂組成物は、(B)熱硬化性樹脂として、(B-1)エポキシ樹脂を含むことが好ましい。(B-1)エポキシ樹脂とは、エポキシ基を有する樹脂を意味する。
<(B-1) Epoxy resin>
The resin composition of the present invention preferably contains (B-1) epoxy resin as (B) thermosetting resin. (B-1) Epoxy resin means a resin having an epoxy group.

(B-1)エポキシ樹脂としては、例えば、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert-ブチル-カテコール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサン型エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂、イソシアヌラート型エポキシ樹脂、フェノールフタルイミジン型エポキシ樹脂、フェノールフタレイン型エポキシ樹脂等が挙げられる。(B-1)エポキシ樹脂は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 (B-1) Epoxy resins include, for example, bixylenol type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, tris Phenol type epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type Epoxy resins, cresol novolak type epoxy resins, phenol aralkyl type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, linear aliphatic epoxy resins, epoxy resins having a butadiene structure, alicyclic epoxy resins, heterocyclic epoxy resins, spirocyclic epoxy resins Resin, cyclohexane-type epoxy resin, cyclohexanedimethanol-type epoxy resin, naphthylene ether-type epoxy resin, trimethylol-type epoxy resin, tetraphenylethane-type epoxy resin, isocyanurate-type epoxy resin, phenolphthalimidine-type epoxy resin, phenol phthalein-type epoxy resin and the like. (B-1) Epoxy resins may be used singly or in combination of two or more.

樹脂組成物は、(B-1)エポキシ樹脂として、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。(B-1)エポキシ樹脂の不揮発成分100質量%に対して、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂の割合は、好ましくは50質量%以上、より好ましくは60質量%以上、特に好ましくは70質量%以上である。 The resin composition preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule as the (B-1) epoxy resin. (B-1) The ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, relative to 100% by mass of the non-volatile components of the epoxy resin, Particularly preferably, it is 70% by mass or more.

エポキシ樹脂には、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下「液状エポキシ樹脂」ということがある。)と、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂(以下「固体状エポキシ樹脂」ということがある。)とがある。本発明の樹脂組成物は、エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂のみを含んでいてもよく、或いは固体状エポキシ樹脂のみを含んでいてもよく、或いは液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて含んでいてもよい。本発明の樹脂組成物は、エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂を含むことが好ましい。 Epoxy resins include liquid epoxy resins at a temperature of 20° C. (hereinafter sometimes referred to as “liquid epoxy resins”) and solid epoxy resins at a temperature of 20° C. (hereinafter sometimes referred to as “solid epoxy resins”). ). As the epoxy resin, the resin composition of the present invention may contain only a liquid epoxy resin, may contain only a solid epoxy resin, or may contain a combination of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin. You can stay. The resin composition of the present invention preferably contains a liquid epoxy resin as the epoxy resin.

液状エポキシ樹脂としては、1分子中に2個以上のエポキシ基を有する液状エポキシ樹脂が好ましい。 A liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is preferable as the liquid epoxy resin.

液状エポキシ樹脂としては、グリシロール型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、環状脂肪族グリシジルエーテル、及びブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましく、グリシロール型エポキシ樹脂、環状脂肪族グリシジルエーテル、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、及びビスフェノールF型エポキシ樹脂がより好ましい。 Liquid epoxy resins include glycyrrol type epoxy resins, bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, glycidyl ester type epoxy resins, glycidyl amine type epoxy resins, phenol novolac type epoxy resins. Resins, alicyclic epoxy resins having an ester skeleton, cyclohexanedimethanol-type epoxy resins, cycloaliphatic glycidyl ethers, and epoxy resins having a butadiene structure are preferred, and glycyrrol-type epoxy resins, cycloaliphatic glycidyl ethers, bisphenol A-type epoxy resins are preferred. Resins and bisphenol F type epoxy resins are more preferred.

液状エポキシ樹脂の具体例としては、ナガセケムテックス社製の「EX-992L」、三菱ケミカル社製の「YX7400」、DIC社製の「HP4032」、「HP4032D」、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「828US」、「828EL」、「jER828EL」、「825」、「エピコート828EL」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER807」、「1750」(ビスフェノールF型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER152」(フェノールノボラック型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「630」、「630LSD」、「604」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂);ADEKA社製の「ED-523T」(グリシロール型エポキシ樹脂);ADEKA社製の「EP-3950L」、「EP-3980S」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂);ADEKA社製の「EP-4088S」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品);ナガセケムテックス社製の「EX-721」(グリシジルエステル型エポキシ樹脂);ナガセケムテックス社製の「EX-991L」(アルキレンオキシ骨格及びブタジエン骨格含有エポキシ樹脂);ダイセル社製の「セロキサイド2021P」(エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂);ダイセル社製の「PB-3600」、日本曹達社製の「JP-100」、「JP-200」(ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ZX1658」、「ZX1658GS」(液状1,4-グリシジルシクロヘキサン型エポキシ樹脂);大阪ガスケミカル社製の「EG-280」(フルオレン構造含有エポキシ樹脂);ナガセケムテックス社製「EX-201」(環状脂肪族グリシジルエーテル)等が挙げられる。 Specific examples of liquid epoxy resins include "EX-992L" manufactured by Nagase ChemteX Corporation, "YX7400" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, "HP4032", "HP4032D", and "HP4032SS" manufactured by DIC Corporation (naphthalene type epoxy resin ); Mitsubishi Chemical "828US", "828EL", "jER828EL", "825", "Epicoat 828EL" (bisphenol A type epoxy resin); Mitsubishi Chemical "jER807", "1750" (bisphenol F type epoxy resin); "jER152" (phenol novolak type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical; "630", "630LSD", "604" (glycidylamine type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical; ED-523T” (glycirrol type epoxy resin); ADEKA “EP-3950L”, “EP-3980S” (glycidylamine type epoxy resin); ADEKA “EP-4088S” (dicyclopentadiene type epoxy resin ); "ZX1059" manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd. (mixture of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin); "EX-721" manufactured by Nagase ChemteX Corporation (glycidyl ester type epoxy resin); Nagase "EX-991L" manufactured by Chemtex (epoxy resin containing alkyleneoxy skeleton and butadiene skeleton); "Celoxide 2021P" manufactured by Daicel (alicyclic epoxy resin having an ester skeleton); "PB-3600" manufactured by Daicel ”, “JP-100” and “JP-200” manufactured by Nippon Soda Co., Ltd. (epoxy resin having a butadiene structure); epoxy resin); "EG-280" (fluorene structure-containing epoxy resin) manufactured by Osaka Gas Chemicals; "EX-201" (cycloaliphatic glycidyl ether) manufactured by Nagase ChemteX.

固体状エポキシ樹脂としては、1分子中に3個以上のエポキシ基を有する固体状エポキシ樹脂が好ましく、1分子中に3個以上のエポキシ基を有する芳香族系の固体状エポキシ樹脂がより好ましい。 The solid epoxy resin is preferably a solid epoxy resin having 3 or more epoxy groups per molecule, more preferably an aromatic solid epoxy resin having 3 or more epoxy groups per molecule.

固体状エポキシ樹脂としては、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂、フェノールフタルイミジン型エポキシ樹脂、フェノールフタレイン型エポキシ樹脂が好ましい。 Solid epoxy resins include bixylenol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, Naphthol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, phenol phthaloid A mijin-type epoxy resin and a phenolphthalein-type epoxy resin are preferred.

固体状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC社製の「HP4032H」(ナフタレン型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP-4700」、「HP-4710」(ナフタレン型4官能エポキシ樹脂);DIC社製の「N-690」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂);DIC社製の「N-695」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP-7200」、「HP-7200HH」、「HP-7200H」、「HP-7200L」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂);DIC社製の「EXA-7311」、「EXA-7311-G3」、「EXA-7311-G4」、「EXA-7311-G4S」、「HP6000」(ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「EPPN-502H」(トリスフェノール型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「NC7000L」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「NC3000H」、「NC3000」、「NC3000L」、「NC3000FH」、「NC3100」(ビフェニル型エポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ESN475V」、「ESN4100V」(ナフタレン型エポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ESN485」(ナフトール型エポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ESN375」(ジヒドロキシナフタレン型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX4000H」、「YX4000」、「YX4000HK」、「YL7890」(ビキシレノール型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YL6121」(ビフェニル型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX8800」(アントラセン型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX7700」(フェノールアラルキル型エポキシ樹脂);大阪ガスケミカル社製の「PG-100」、「CG-500」;三菱ケミカル社製の「YL7760」(ビスフェノールAF型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YL7800」(フルオレン型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER1010」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER1031S」(テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「WHR991S」(フェノールフタルイミジン型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of solid epoxy resins include "HP4032H" (naphthalene-type epoxy resin) manufactured by DIC; "HP-4700" and "HP-4710" (naphthalene-type tetrafunctional epoxy resin) manufactured by DIC; "N-690" (cresol novolac type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "N-695" (cresol novolak type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "HP-7200", "HP-7200HH", "HP -7200H", "HP-7200L" (dicyclopentadiene type epoxy resin); DIC's "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S" ", "HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin); Nippon Kayaku "EPPN-502H" (trisphenol type epoxy resin); Nippon Kayaku "NC7000L" (naphthol novolac type epoxy resin); "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3000FH", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku; epoxy resin); "ESN485" (naphthol type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel Chemical &Materials; "ESN375" (dihydroxynaphthalene type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel Chemical &Materials; "YX4000H" manufactured by Mitsubishi Chemical, "YX4000", "YX4000HK", "YL7890" (bixylenol type epoxy resin); "YL6121" (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "YX8800" (anthracene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; Mitsubishi "YX7700" (phenol aralkyl epoxy resin) manufactured by Chemical Company; "PG-100" and "CG-500" manufactured by Osaka Gas Chemicals; "YL7760" manufactured by Mitsubishi Chemical (bisphenol AF type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Company "YL7800" (fluorene type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Corporation "jER1010" (bisphenol A type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Corporation "jER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin); Nippon Kayaku "WHR991S" (phenol phthalimidine type epoxy resin) manufactured by Co., Ltd., and the like. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

(B-1)エポキシ樹脂のエポキシ当量は、好ましくは50g/eq.~5,000g/eq.、より好ましくは60g/eq.~2,000g/eq.、さらに好ましくは70g/eq.~1,000g/eq.、さらにより好ましくは80g/eq.~500g/eq.である。エポキシ当量は、エポキシ基1当量あたりの樹脂の質量である。このエポキシ当量は、JIS K7236に従って測定することができる。 (B-1) The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 g/eq. ~5,000g/eq. , more preferably 60 g/eq. ~2,000 g/eq. , more preferably 70 g/eq. ~1,000g/eq. , even more preferably 80 g/eq. ~500 g/eq. is. Epoxy equivalent weight is the mass of resin per equivalent of epoxy groups. This epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236.

(B-1)エポキシ樹脂の重量平均分子量(Mw)は、好ましくは100~5,000、より好ましくは250~3,000、さらに好ましくは400~1,500である。樹脂の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により、ポリスチレン換算の値として測定できる。 (B-1) The weight average molecular weight (Mw) of the epoxy resin is preferably 100 to 5,000, more preferably 250 to 3,000, still more preferably 400 to 1,500. The weight average molecular weight of the resin can be measured as a polystyrene-equivalent value by a gel permeation chromatography (GPC) method.

(B-1)エポキシ樹脂の含有量(質量%)は、特に限定されるものではないが、発明の効果をより顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは1質量%以上、さらに好ましくは2質量%以上、特に好ましくは3質量%以上である。また、その上限は、発明の効果をより顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは50質量%以下、より好ましくは30質量%以下、さらに好ましくは20質量%以下、特に好ましくは15質量%以下である。 (B-1) The content (% by mass) of the epoxy resin is not particularly limited, but from the viewpoint of obtaining the effect of the invention more remarkably, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. , preferably 0.1% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, still more preferably 2% by mass or more, and particularly preferably 3% by mass or more. In addition, from the viewpoint of obtaining the effect of the invention more remarkably, the upper limit is preferably 50% by mass or less, more preferably 30% by mass or less, and even more preferably 100% by mass of nonvolatile components in the resin composition. 20% by mass or less, particularly preferably 15% by mass or less.

<(B-2)エポキシ硬化剤>
本発明の樹脂組成物は、(B)熱硬化性樹脂として(B-1)エポキシ樹脂を含む場合、任意成分として(B-2)エポキシ硬化剤を含む場合がある。(B-2)エポキシ硬化剤は、(B-1)エポキシ樹脂と反応して樹脂組成物を硬化させる機能を有する。
<(B-2) Epoxy curing agent>
When the resin composition of the present invention contains (B-1) epoxy resin as (B) thermosetting resin, it may contain (B-2) epoxy curing agent as an optional component. (B-2) Epoxy curing agent has a function of reacting with (B-1) epoxy resin to cure the resin composition.

(B-2)エポキシ硬化剤としては、特に限定されるものではないが、例えば、活性エステル系硬化剤、フェノール系硬化剤、カルボジイミド系硬化剤、酸無水物系硬化剤、アミン系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、及びチオール系硬化剤等が挙げられる。(B-2)エポキシ硬化剤は、フェノール系硬化剤及び活性エステル系硬化剤から選ばれるエポキシ硬化剤を含むことが好ましく、フェノール系硬化剤を含むことが特に好ましい。 (B-2) Epoxy curing agents are not particularly limited, but examples include active ester curing agents, phenol curing agents, carbodiimide curing agents, acid anhydride curing agents, amine curing agents, Examples include benzoxazine-based curing agents, cyanate ester-based curing agents, and thiol-based curing agents. (B-2) The epoxy curing agent preferably contains an epoxy curing agent selected from phenolic curing agents and active ester curing agents, and particularly preferably contains a phenolic curing agent.

活性エステル系硬化剤としては、一般にフェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N-ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の、反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましく用いられる。当該活性エステル化合物は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル化合物が好ましく、カルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル化合物がより好ましい。カルボン酸化合物としては、例えば安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。フェノール化合物又はナフトール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o-クレゾール、m-クレゾール、p-クレゾール、カテコール、α-ナフトール、β-ナフトール、1,5-ジヒドロキシナフタレン、1,6-ジヒドロキシナフタレン、2,6-ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物、フェノールノボラック等が挙げられる。ここで、「ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物」とは、ジシクロペンタジエン1分子にフェノール2分子が縮合して得られるジフェノール化合物をいう。 Active ester curing agents generally have two or more highly reactive ester groups per molecule, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds. A compound is preferably used. The active ester compound is preferably obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and/or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester compound obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferred, and an active ester compound obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and/or a naphthol compound is more preferred. Examples of carboxylic acid compounds include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. Examples of phenol compounds or naphthol compounds include hydroquinone, resorcinol, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucine, Benzenetriol, dicyclopentadiene-type diphenol compound, phenol novolak, and the like. Here, the term "dicyclopentadiene-type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing one molecule of dicyclopentadiene with two molecules of phenol.

活性エステル系硬化剤としては、具体的には、ジシクロペンタジエン型活性エステル化合物、ナフタレン構造を含むナフタレン型活性エステル化合物、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物が好ましく、中でもジシクロペンタジエン型活性エステル化合物、及びナフタレン型活性エステル化合物から選ばれる少なくとも1種であることがより好ましく、ジシクロペンタジエン型活性エステル化合物がさらに好ましい。ジシクロペンタジエン型活性エステル化合物としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物が好ましい。 Specific examples of active ester curing agents include dicyclopentadiene-type active ester compounds, naphthalene-type active ester compounds containing a naphthalene structure, active ester compounds containing acetylated phenol novolacs, and active ester compounds containing benzoylated phenol novolacs. Ester compounds are preferred, among which at least one selected from dicyclopentadiene-type active ester compounds and naphthalene-type active ester compounds is more preferred, and dicyclopentadiene-type active ester compounds are even more preferred. As the dicyclopentadiene-type active ester compound, an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure is preferable.

活性エステル系硬化剤の市販品としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物として、「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「EXB-8000L」、「EXB-8000L-65M」、「EXB-8000L-65TM」、「HPC-8000L-65TM」、「HPC-8000」、「HPC-8000-65T」、「HPC-8000H」、「HPC-8000H-65TM」(DIC社製);ナフタレン構造を含む活性エステル化合物として「HP-B-8151-62T」、「EXB-8100L-65T」、「EXB-8150-60T」、「EXB-8150-62T」、「EXB-9416-70BK」、「HPC-8150-60T」、「HPC-8150-62T」、「EXB-8」(DIC社製);りん含有活性エステル化合物として、「EXB9401」(DIC社製)、フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル化合物として「DC808」(三菱ケミカル社製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル化合物として「YLH1026」、「YLH1030」、「YLH1048」(三菱ケミカル社製)、スチリル基及びナフタレン構造を含む活性エステル化合物として「PC1300-02-65MA」(エア・ウォーター社製)等が挙げられる。 Commercially available active ester curing agents include "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "EXB-8000L", and "EXB-8000L-65M" as active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol structure. , "EXB-8000L-65TM", "HPC-8000L-65TM", "HPC-8000", "HPC-8000-65T", "HPC-8000H", "HPC-8000H-65TM" (manufactured by DIC); "HP-B-8151-62T", "EXB-8100L-65T", "EXB-8150-60T", "EXB-8150-62T", "EXB-9416-70BK" as active ester compounds containing a naphthalene structure, "HPC-8150-60T", "HPC-8150-62T", "EXB-8" (manufactured by DIC Corporation); "EXB9401" (manufactured by DIC Corporation) as a phosphorus-containing active ester compound, which is an acetylated product of phenol novolac "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester compound, "YLH1026", "YLH1030" and "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as active ester compounds that are benzoyl compounds of phenol novolak, styryl groups and naphthalene structures. Examples of active ester compounds include "PC1300-02-65MA" (manufactured by Air Water).

フェノール系硬化剤としては、耐熱性及び耐水性の観点から、ノボラック構造を有するフェノール系硬化剤が好ましい。また、被着体に対する密着性の観点から、含窒素フェノール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤がより好ましい。中でも、耐熱性、耐水性、及び密着性を高度に満足させる観点から、トリアジン骨格含有フェノールノボラック樹脂が好ましい。フェノール系硬化剤の具体例としては、例えば、明和化成社製の「MEH-7700」、「MEH-7810」、「MEH-7851」、日本化薬社製の「NHN」、「CBN」、「GPH」、日鉄ケミカル&マテリアル社製の「SN-170」、「SN-180」、「SN-190」、「SN-475」、「SN-485」、「SN-495」、「SN-375」、「SN-395」、DIC社製の「LA-7052」、「LA-7054」、「LA-3018」、「LA-3018-50P」、「LA-1356」、「TD2090」、「TD-2090-60M」等が挙げられる。 As the phenolic curing agent, a phenolic curing agent having a novolac structure is preferable from the viewpoint of heat resistance and water resistance. From the viewpoint of adhesion to adherends, a nitrogen-containing phenolic curing agent is preferred, and a triazine skeleton-containing phenolic curing agent is more preferred. Among them, a triazine skeleton-containing phenol novolak resin is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion. Specific examples of the phenol-based curing agent include, for example, Meiwa Chemical Co., Ltd. "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851", Nippon Kayaku Co., Ltd. "NHN", "CBN", " GPH", "SN-170", "SN-180", "SN-190", "SN-475", "SN-485", "SN-495", "SN- 375", "SN-395", DIC's "LA-7052", "LA-7054", "LA-3018", "LA-3018-50P", "LA-1356", "TD2090", " TD-2090-60M" and the like.

カルボジイミド系硬化剤としては、1分子内中に1個以上、好ましくは2個以上のカルボジイミド構造を有する硬化剤が挙げられ、例えば、テトラメチレン-ビス(t-ブチルカルボジイミド)、シクロヘキサンビス(メチレン-t-ブチルカルボジイミド)等の脂肪族ビスカルボジイミド;フェニレン-ビス(キシリルカルボジイミド)等の芳香族ビスカルボジイミド等のビスカルボジイミド;ポリヘキサメチレンカルボジイミド、ポリトリメチルヘキサメチレンカルボジイミド、ポリシクロヘキシレンカルボジイミド、ポリ(メチレンビスシクロヘキシレンカルボジイミド)、ポリ(イソホロンカルボジイミド)等の脂肪族ポリカルボジイミド;ポリ(フェニレンカルボジイミド)、ポリ(ナフチレンカルボジイミド)、ポリ(トリレンカルボジイミド)、ポリ(メチルジイソプロピルフェニレンカルボジイミド)、ポリ(トリエチルフェニレンカルボジイミド)、ポリ(ジエチルフェニレンカルボジイミド)、ポリ(トリイソプロピルフェニレンカルボジイミド)、ポリ(ジイソプロピルフェニレンカルボジイミド)、ポリ(キシリレンカルボジイミド)、ポリ(テトラメチルキシリレンカルボジイミド)、ポリ(メチレンジフェニレンカルボジイミド)、ポリ[メチレンビス(メチルフェニレン)カルボジイミド]等の芳香族ポリカルボジイミド等のポリカルボジイミドが挙げられる。 Examples of carbodiimide-based curing agents include curing agents having one or more, preferably two or more carbodiimide structures in one molecule. biscarbodiimides such as aromatic biscarbodiimides such as phenylene-bis(xylylcarbodiimide); polyhexamethylenecarbodiimide, polytrimethylhexamethylenecarbodiimide, polycyclohexylenecarbodiimide, poly(methylene biscyclohexylenecarbodiimide), poly(isophoronecarbodiimide) and other aliphatic polycarbodiimides; poly(phenylenecarbodiimide), poly(naphthylenecarbodiimide), poly(tylenecarbodiimide), poly(methyldiisopropylphenylenecarbodiimide), poly(triethylphenylene carbodiimide), poly(diethylphenylenecarbodiimide), poly(triisopropylphenylenecarbodiimide), poly(diisopropylphenylenecarbodiimide), poly(xylylenecarbodiimide), poly(tetramethylxylylenecarbodiimide), poly(methylenediphenylenecarbodiimide), poly Examples include polycarbodiimides such as aromatic polycarbodiimides such as [methylenebis(methylphenylene)carbodiimide].

カルボジイミド系硬化剤の市販品としては、例えば、日清紡ケミカル社製の「カルボジライトV-02B」、「カルボジライトV-03」、「カルボジライトV-04K」、「カルボジライトV-07」及び「カルボジライトV-09」;ラインケミー社製の「スタバクゾールP」、「スタバクゾールP400」、「ハイカジル510」等が挙げられる。 Examples of commercially available carbodiimide curing agents include "Carbodilite V-02B", "Carbodilite V-03", "Carbodilite V-04K", "Carbodilite V-07" and "Carbodilite V-09" manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd. "Stabaxol P", "Stabaxol P400", and "Hykasil 510" manufactured by Rhein Chemie.

酸無水物系硬化剤としては、1分子内中に1個以上の酸無水物基を有する硬化剤が挙げられ、1分子内中に2個以上の酸無水物基を有する硬化剤が好ましい。酸無水物系硬化剤の具体例としては、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、5-(2,5-ジオキソテトラヒドロ-3-フラニル)-3-メチル-3-シクロヘキセン-1,2-ジカルボン酸無水物、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ベンソフェノンテトラカルボン酸二無水物、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、オキシジフタル酸二無水物、3,3’-4,4’-ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,3,3a,4,5,9b-ヘキサヒドロ-5-(テトラヒドロ-2,5-ジオキソ-3-フラニル)-ナフト[1,2-C]フラン-1,3-ジオン、エチレングリコールビス(アンヒドロトリメリテート)、スチレンとマレイン酸とが共重合したスチレン・マレイン酸樹脂などのポリマー型の酸無水物などが挙げられる。酸無水物系硬化剤の市販品としては、新日本理化社製の「HNA-100」、「MH-700」、「MTA-15」、「DDSA」、「OSA」、三菱ケミカル社製の「YH-306」、「YH-307」、日立化成社製の「HN-2200」、「HN-5500」、クレイバレイ社製「EF-30」、「EF-40」「EF-60」、「EF-80」等が挙げられる。 Acid anhydride curing agents include curing agents having one or more acid anhydride groups in one molecule, and curing agents having two or more acid anhydride groups in one molecule are preferred. Specific examples of acid anhydride curing agents include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, and hydrogenated methylnadic acid. anhydride, trialkyltetrahydrophthalic anhydride, dodecenylsuccinic anhydride, 5-(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic anhydride, trianhydride mellitic acid, pyromellitic anhydride, benzophenonetetracarboxylic dianhydride, biphenyltetracarboxylic dianhydride, naphthalenetetracarboxylic dianhydride, oxydiphthalic dianhydride, 3,3'-4,4'- Diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, 1,3,3a,4,5,9b-hexahydro-5-(tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl)-naphtho[1,2-C]furan-1 , 3-dione, ethylene glycol bis(anhydrotrimellitate), polymer-type acid anhydrides such as styrene/maleic acid resin obtained by copolymerizing styrene and maleic acid. Commercially available acid anhydride-based curing agents include "HNA-100", "MH-700", "MTA-15", "DDSA" and "OSA" manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd., and " YH-306", "YH-307", Hitachi Chemical "HN-2200", "HN-5500", Clay Valley "EF-30", "EF-40" "EF-60", "EF -80” and the like.

アミン系硬化剤としては、1分子内中に1個以上、好ましくは2個以上のアミノ基を有する硬化剤が挙げられ、例えば、脂肪族アミン類、ポリエーテルアミン類、脂環式アミン類、芳香族アミン類等が挙げられ、中でも、本発明の所望の効果を奏する観点から、芳香族アミン類が好ましい。アミン系硬化剤は、第1級アミン又は第2級アミンが好ましく、第1級アミンがより好ましい。アミン系硬化剤の具体例としては、4,4’-メチレンビス(2,6-ジメチルアニリン)、4,4’-ジアミノジフェニルメタン、4,4’-ジアミノジフェニルスルホン、3,3’-ジアミノジフェニルスルホン、m-フェニレンジアミン、m-キシリレンジアミン、ジエチルトルエンジアミン、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、3,3’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、3,3’-ジヒドロキシベンジジン、2,2-ビス(3-アミノ-4-ヒドロキシフェニル)プロパン、3,3-ジメチル-5,5-ジエチル-4,4-ジフェニルメタンジアミン、2,2-ビス(4-アミノフェニル)プロパン、2,2-ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、ビス(4-(3-アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、等が挙げられる。アミン系硬化剤は市販品を用いてもよく、例えば、セイカ社製「SEIKACURE-S」、日本化薬社製の「KAYABOND C-200S」、「KAYABOND C-100」、「カヤハードA-A」、「カヤハードA-B」、「カヤハードA-S」、三菱ケミカル社製の「エピキュアW」等が挙げられる。 Amine-based curing agents include curing agents having one or more, preferably two or more amino groups in one molecule. Examples include aliphatic amines, polyether amines, alicyclic amines, Aromatic amines and the like can be mentioned, and among them, aromatic amines are preferable from the viewpoint of achieving the desired effects of the present invention. Amine-based curing agents are preferably primary amines or secondary amines, more preferably primary amines. Specific examples of amine curing agents include 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylaniline), 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, and 3,3'-diaminodiphenylsulfone. , m-phenylenediamine, m-xylylenediamine, diethyltoluenediamine, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 3,3′-dimethyl-4,4′-diaminobiphenyl, 2,2′-dimethyl-4,4′ -diaminobiphenyl, 3,3′-dihydroxybenzidine, 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)propane, 3,3-dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethanediamine, 2, 2-bis(4-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)propane, 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene, 1,3-bis(4- aminophenoxy)benzene, 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene, 4,4'-bis(4-aminophenoxy)biphenyl, bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)sulfone, bis(4- (3-aminophenoxy)phenyl)sulfone, and the like. Commercially available amine-based curing agents may be used, for example, Seika "SEIKACURE-S", Nippon Kayaku "KAYABOND C-200S", "KAYABOND C-100", "KAYAHARD AA". , “Kayahard AB”, “Kayahard AS”, “Epicure W” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, and the like.

ベンゾオキサジン系硬化剤の具体例としては、JFEケミカル社製の「JBZ-OP100D」、「ODA-BOZ」;昭和高分子社製の「HFB2006M」;四国化成工業社製の「P-d」、「F-a」などが挙げられる。 Specific examples of benzoxazine-based curing agents include "JBZ-OP100D" and "ODA-BOZ" manufactured by JFE Chemical Co., Ltd.; "HFB2006M" manufactured by Showa Polymer Co., Ltd.; Examples include "Fa".

シアネートエステル系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート(オリゴ(3-メチレン-1,5-フェニレンシアネート))、4,4’-メチレンビス(2,6-ジメチルフェニルシアネート)、4,4’-エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2-ビス(4-シアネート)フェニルプロパン、1,1-ビス(4-シアネートフェニルメタン)、ビス(4-シアネート-3,5-ジメチルフェニル)メタン、1,3-ビス(4-シアネートフェニル-1-(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4-シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4-シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル系硬化剤の具体例としては、ロンザジャパン社製の「PT30」及び「PT60」(いずれもフェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」、「BA230S75」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)等が挙げられる。 Examples of cyanate ester curing agents include bisphenol A dicyanate, polyphenolcyanate (oligo(3-methylene-1,5-phenylenecyanate)), 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylphenylcyanate), 4, 4′-ethylidene diphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4-cyanatophenylmethane), bis(4-cyanate-3,5- Difunctional cyanate resins such as dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatophenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4-cyanatophenyl)thioether, and bis(4-cyanatophenyl)ether, Polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolak, cresol novolak, etc., and prepolymers obtained by partially triazine-forming these cyanate resins. Specific examples of cyanate ester curing agents include "PT30" and "PT60" (both phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resins), "BA230" and "BA230S75" (part of bisphenol A dicyanate) manufactured by Lonza Japan Co., Ltd. or a prepolymer that is entirely triazined to form a trimer), and the like.

チオール系硬化剤としては、例えば、トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトプロピオネート)、ペンタエリスリトールテトラキス(3-メルカプトブチレート)、トリス(3-メルカプトプロピル)イソシアヌレート等が挙げられる。 Examples of thiol curing agents include trimethylolpropane tris(3-mercaptopropionate), pentaerythritol tetrakis(3-mercaptobutyrate), tris(3-mercaptopropyl)isocyanurate and the like.

(B-2)エポキシ硬化剤の反応基当量は、好ましくは50g/eq.~3000g/eq.、より好ましくは100g/eq.~1000g/eq.、さらに好ましくは100g/eq.~500g/eq.、特に好ましくは100g/eq.~300g/eq.である。反応基当量は、反応基1当量あたりの(B-2)エポキシ硬化剤の質量である。 (B-2) The reactive group equivalent of the epoxy curing agent is preferably 50 g/eq. ~3000g/eq. , more preferably 100 g/eq. ~1000g/eq. , more preferably 100 g/eq. ~500 g/eq. , particularly preferably 100 g/eq. ~300 g/eq. is. The reactive group equivalent is the mass of (B-2) epoxy curing agent per equivalent of reactive group.

(B-2)エポキシ硬化剤の含有量(質量%)は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは50質量%以下、より好ましくは30質量%以下、さらに好ましくは20質量%以下、特に好ましくは10質量%以下である。また、その下限は、例えば、0質量%以上、0.05質量%以上、0.1質量%以上等であり得る。 (B-2) The content (% by mass) of the epoxy curing agent is not particularly limited, but is preferably 50% by mass or less, more preferably 50% by mass or less, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. is 30% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, and particularly preferably 10% by mass or less. Moreover, the lower limit may be, for example, 0% by mass or more, 0.05% by mass or more, or 0.1% by mass or more.

<(C)硬化促進剤>
本発明の樹脂組成物は、(B)熱硬化性樹脂として(B-1)エポキシ樹脂を含む場合、任意成分として(C)硬化促進剤を含む場合がある。(C)硬化促進剤は、(B-1)エポキシ樹脂の硬化を促進させる機能を有する。
<(C) Curing accelerator>
When the resin composition of the present invention contains (B-1) epoxy resin as (B) thermosetting resin, it may contain (C) curing accelerator as an optional component. (C) Curing accelerator has a function of accelerating curing of (B-1) epoxy resin.

(C)硬化促進剤としては、例えば、イミダゾール系硬化促進剤、リン系硬化促進剤、ウレア系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、金属系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤等が挙げられる。一実施形態において、(C)硬化促進剤は、イミダゾール系硬化促進剤及びリン系硬化促進剤から選ばれる硬化促進剤を含むことが好ましい。(C)硬化促進剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 (C) Curing accelerators include, for example, imidazole-based curing accelerators, phosphorus-based curing accelerators, urea-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, and amine-based curing accelerators. . In one embodiment, (C) the curing accelerator preferably contains a curing accelerator selected from imidazole-based curing accelerators and phosphorus-based curing accelerators. (C) A hardening accelerator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

イミダゾール系硬化促進剤としては、例えば、2-メチルイミダゾール、2-ウンデシルイミダゾール、2-ヘプタデシルイミダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、2-フェニルイミダゾール、2-フェニル-4-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール、1-シアノエチル-2-エチル-4-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-ウンデシルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-エチル-4’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジンイソシアヌル酸付加物、2-フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2-フェニル-4,5-ジヒドロキシメチルイミダゾール、2-フェニル-4-メチル-5-ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3-ジヒドロ-1H-ピロロ[1,2-a]ベンズイミダゾール、1-ドデシル-2-メチル-3-ベンジルイミダゾリウムクロライド、2-メチルイミダゾリン、2-フェニルイミダゾリン等のイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられる。 Examples of imidazole curing accelerators include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl- 2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-undecyl imidazolyl-(1′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2′-ethyl-4′-methylimidazolyl-(1′)]-ethyl-s-triazine, 2,4- Diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanurate, 2-phenylimidazole isocyanurate, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2- Phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1,2-a]benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline , 2-phenylimidazoline and other imidazole compounds, and adducts of imidazole compounds and epoxy resins.

イミダゾール系硬化促進剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、四国化成工業社製の「1B2PZ」、「2MZA-PW」、「2PHZ-PW」、三菱ケミカル社製の「P200-H50」等が挙げられる。 As the imidazole-based curing accelerator, a commercially available product may be used, for example, "1B2PZ", "2MZA-PW", "2PHZ-PW" manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. etc.

リン系硬化促進剤としては、例えば、テトラブチルホスホニウムブロマイド、テトラブチルホスホニウムクロライド、テトラブチルホスホニウムアセテート、テトラブチルホスホニウムデカノエート、テトラブチルホスホニウムラウレート、ビス(テトラブチルホスホニウム)ピロメリテート、テトラブチルホスホニウムハイドロジェンヘキサヒドロフタレート、テトラブチルホスホニウム2,6-ビス[(2-ヒドロキシ-5-メチルフェニル)メチル]-4-メチルフェノラート、ジ-tert-ブチルメチルホスホニウムテトラフェニルボレート等の脂肪族ホスホニウム塩;メチルトリフェニルホスホニウムブロマイド、エチルトリフェニルホスホニウムブロマイド、プロピルトリフェニルホスホニウムブロマイド、ブチルトリフェニルホスホニウムブロマイド、ベンジルトリフェニルホスホニウムクロライド、テトラフェニルホスホニウムブロマイド、p-トリルトリフェニルホスホニウムテトラ-p-トリルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラp-トリルボレート、トリフェニルエチルホスホニウムテトラフェニルボレート、トリス(3-メチルフェニル)エチルホスホニウムテトラフェニルボレート、トリス(2-メトキシフェニル)エチルホスホニウムテトラフェニルボレート、(4-メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、ブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネート等の芳香族ホスホニウム塩;トリフェニルホスフィン・トリフェニルボラン等の芳香族ホスフィン・ボラン複合体;トリフェニルホスフィン・p-ベンゾキノン付加反応物等の芳香族ホスフィン・キノン付加反応物;トリブチルホスフィン、トリ-tert-ブチルホスフィン、トリオクチルホスフィン、ジ-tert-ブチル(2-ブテニル)ホスフィン、ジ-tert-ブチル(3-メチル-2-ブテニル)ホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィン等の脂肪族ホスフィン;ジブチルフェニルホスフィン、ジ-tert-ブチルフェニルホスフィン、メチルジフェニルホスフィン、エチルジフェニルホスフィン、ブチルジフェニルホスフィン、ジフェニルシクロヘキシルホスフィン、トリフェニルホスフィン、トリ-o-トリルホスフィン、トリ-m-トリルホスフィン、トリ-p-トリルホスフィン、トリス(4-エチルフェニル)ホスフィン、トリス(4-プロピルフェニル)ホスフィン、トリス(4-イソプロピルフェニル)ホスフィン、トリス(4-ブチルフェニル)ホスフィン、トリス(4-tert-ブチルフェニル)ホスフィン、トリス(2,4-ジメチルフェニル)ホスフィン、トリス(2,5-ジメチルフェニル)ホスフィン、トリス(2,6-ジメチルフェニル)ホスフィン、トリス(3,5-ジメチルフェニル)ホスフィン、トリス(2,4,6-トリメチルフェニル)ホスフィン、トリス(2,6-ジメチル-4-エトキシフェニル)ホスフィン、トリス(2-メトキシフェニル)ホスフィン、トリス(4-メトキシフェニル)ホスフィン、トリス(4-エトキシフェニル)ホスフィン、トリス(4-tert-ブトキシフェニル)ホスフィン、ジフェニル-2-ピリジルホスフィン、1,2-ビス(ジフェニルホスフィノ)エタン、1,3-ビス(ジフェニルホスフィノ)プロパン、1,4-ビス(ジフェニルホスフィノ)ブタン、1,2-ビス(ジフェニルホスフィノ)アセチレン、2,2’-ビス(ジフェニルホスフィノ)ジフェニルエーテル等の芳香族ホスフィン等が挙げられる。 Phosphorus curing accelerators include, for example, tetrabutylphosphonium bromide, tetrabutylphosphonium chloride, tetrabutylphosphonium acetate, tetrabutylphosphonium decanoate, tetrabutylphosphonium laurate, bis(tetrabutylphosphonium) pyromellitate, tetrabutylphosphonium hydro Aliphatic phosphonium salts such as genhexahydrophthalate, tetrabutylphosphonium 2,6-bis[(2-hydroxy-5-methylphenyl)methyl]-4-methylphenolate, di-tert-butylmethylphosphonium tetraphenylborate; methyltriphenylphosphonium bromide, ethyltriphenylphosphonium bromide, propyltriphenylphosphonium bromide, butyltriphenylphosphonium bromide, benzyltriphenylphosphonium chloride, tetraphenylphosphonium bromide, p-tolyltriphenylphosphonium tetra-p-tolylborate, tetraphenyl phosphonium tetraphenylborate, tetraphenylphosphonium tetra-p-tolylborate, triphenylethylphosphonium tetraphenylborate, tris(3-methylphenyl)ethylphosphonium tetraphenylborate, tris(2-methoxyphenyl)ethylphosphonium tetraphenylborate, (4 -methylphenyl)triphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, aromatic phosphonium salts such as butyltriphenylphosphonium thiocyanate; aromatic phosphine/borane complexes such as triphenylphosphine/triphenylborane; triphenylphosphine/p-benzoquinone Aromatic phosphine/quinone addition reaction products such as addition reaction products; 2-butenyl)phosphine, aliphatic phosphines such as tricyclohexylphosphine; - tolylphosphine, tri-m-tolylphosphine, tri-p-tolylphosphine Sphines, Tris(4-ethylphenyl)phosphine, Tris(4-propylphenyl)phosphine, Tris(4-isopropylphenyl)phosphine, Tris(4-butylphenyl)phosphine, Tris(4-tert-butylphenyl)phosphine, Tris (2,4-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,5-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,6-dimethylphenyl)phosphine, tris(3,5-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,4,6 -trimethylphenyl)phosphine, tris(2,6-dimethyl-4-ethoxyphenyl)phosphine, tris(2-methoxyphenyl)phosphine, tris(4-methoxyphenyl)phosphine, tris(4-ethoxyphenyl)phosphine, tris( 4-tert-butoxyphenyl)phosphine, diphenyl-2-pyridylphosphine, 1,2-bis(diphenylphosphino)ethane, 1,3-bis(diphenylphosphino)propane, 1,4-bis(diphenylphosphino) Aromatic phosphines such as butane, 1,2-bis(diphenylphosphino)acetylene, 2,2'-bis(diphenylphosphino)diphenyl ether, and the like can be mentioned.

ウレア系硬化促進剤としては、例えば、1,1-ジメチル尿素;1,1,3-トリメチル尿素、3-エチル-1,1-ジメチル尿素、3-シクロヘキシル-1,1-ジメチル尿素、3-シクロオクチル-1,1-ジメチル尿素等の脂肪族ジメチルウレア;3-フェニル-1,1-ジメチル尿素、3-(4-クロロフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(3,4-ジクロロフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(3-クロロ-4-メチルフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(2-メチルフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(4-メチルフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(3,4-ジメチルフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(4-イソプロピルフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(4-メトキシフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(4-ニトロフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-[4-(4-メトキシフェノキシ)フェニル]-1,1-ジメチル尿素、3-[4-(4-クロロフェノキシ)フェニル]-1,1-ジメチル尿素、3-[3-(トリフルオロメチル)フェニル]-1,1-ジメチル尿素、N,N-(1,4-フェニレン)ビス(N’,N’-ジメチル尿素)、N,N-(4-メチル-1,3-フェニレン)ビス(N’,N’-ジメチル尿素)〔トルエンビスジメチルウレア〕等の芳香族ジメチルウレア等が挙げられる。 Urea-based curing accelerators include, for example, 1,1-dimethylurea; 1,1,3-trimethylurea, 3-ethyl-1,1-dimethylurea, 3-cyclohexyl-1,1-dimethylurea, 3- Aliphatic dimethylurea such as cyclooctyl-1,1-dimethylurea; 3-phenyl-1,1-dimethylurea, 3-(4-chlorophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3,4-dichlorophenyl )-1,1-dimethylurea, 3-(3-chloro-4-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(2-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4- methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3,4-dimethylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-isopropylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4- methoxyphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-nitrophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-[4-(4-methoxyphenoxy)phenyl]-1,1-dimethylurea, 3- [4-(4-chlorophenoxy)phenyl]-1,1-dimethylurea, 3-[3-(trifluoromethyl)phenyl]-1,1-dimethylurea, N,N-(1,4-phenylene) Aromatic dimethylurea such as bis(N',N'-dimethylurea), N,N-(4-methyl-1,3-phenylene)bis(N',N'-dimethylurea) [toluenebisdimethylurea] etc.

グアニジン系硬化促進剤としては、例えば、ジシアンジアミド、1-メチルグアニジン、1-エチルグアニジン、1-シクロヘキシルグアニジン、1-フェニルグアニジン、1-(o-トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エン、7-メチル-1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エン、1-メチルビグアニド、1-エチルビグアニド、1-n-ブチルビグアニド、1-n-オクタデシルビグアニド、1,1-ジメチルビグアニド、1,1-ジエチルビグアニド、1-シクロヘキシルビグアニド、1-アリルビグアニド、1-フェニルビグアニド、1-(o-トリル)ビグアニド等が挙げられる。 Guanidine curing accelerators include, for example, dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, trimethylguanidine, Tetramethylguanidine, Pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]dec-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0] Dec-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1,1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1 -allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1-(o-tolyl)biguanide and the like.

金属系硬化促進剤としては、例えば、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体等が挙げられる。有機金属塩としては、例えば、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛等が挙げられる。 Metal-based curing accelerators include, for example, organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Specific examples of organometallic complexes include organocobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organocopper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. organic zinc complexes such as iron (III) acetylacetonate; organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate; organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate; Examples of organic metal salts include zinc octoate, tin octoate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.

アミン系硬化促進剤としては、例えば、トリエチルアミン、トリブチルアミン等のトリアルキルアミン、4-ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6,-トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8-ジアザビシクロ(5,4,0)-ウンデセン等が挙げられる。 Examples of amine curing accelerators include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris(dimethylaminomethyl)phenol, 1,8-diazabicyclo (5,4,0)-undecene and the like.

アミン系硬化促進剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、味の素ファインテクノ社製の「MY-25」等が挙げられる。 As the amine-based curing accelerator, a commercially available product may be used, such as "MY-25" manufactured by Ajinomoto Fine-Techno Co., Ltd., and the like.

(C)硬化促進剤の含有量(質量%)は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは10質量%以下、より好ましくは5質量%以下、さらに好ましくは3質量%以下、特に好ましくは2質量%以下である。また、その下限は、例えば、0質量%以上、0.001質量%以上、0.01質量%以上等であり得る。 (C) The content (% by mass) of the curing accelerator is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 10% by mass or less, more preferably 5% by mass. % by mass or less, more preferably 3% by mass or less, particularly preferably 2% by mass or less. Moreover, the lower limit may be, for example, 0% by mass or more, 0.001% by mass or more, or 0.01% by mass or more.

<(D)熱可塑性樹脂>
本発明の樹脂組成物は、任意成分として(D)熱可塑性樹脂を含んでいていてもよい。ここで説明する(D)熱可塑性樹脂は、上記で説明した(B)熱硬化性樹脂には該当しない成分である。
<(D) Thermoplastic resin>
The resin composition of the present invention may contain (D) a thermoplastic resin as an optional component. The (D) thermoplastic resin described here is a component that does not correspond to the (B) thermosetting resin described above.

(D)熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂等が挙げられる。中でも、フェノキシ樹脂が好ましい。また、熱可塑性樹脂は、1種類単独で用いてもよく、又は2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 (D) Thermoplastic resins include, for example, phenoxy resins, polyvinyl acetal resins, polyolefin resins, polybutadiene resins, polyimide resins, polyamideimide resins, polyetherimide resins, polysulfone resins, polyethersulfone resins, polyphenylene ether resins, and polycarbonate resins. , polyether ether ketone resin, polyester resin, and the like. Among them, phenoxy resin is preferable. Further, the thermoplastic resin may be used singly or in combination of two or more.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、及びトリメチルシクロヘキサン骨格からなる群から選択される1種類以上の骨格を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。フェノキシ樹脂の末端は、フェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。 Examples of phenoxy resins include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenolacetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantane skeleton, and terpene. Examples include phenoxy resins having one or more skeletons selected from the group consisting of skeletons and trimethylcyclohexane skeletons. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group.

フェノキシ樹脂の具体例としては、三菱ケミカル社製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「FX280」及び「FX293」;三菱ケミカル社製の「YL7500BH30」、「YX6954BH30」、「YX7553」、「YX7553BH30」、「YL7769BH30」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」、「YL7482」及び「YL7891BH30」;等が挙げられる。 Specific examples of the phenoxy resin include Mitsubishi Chemical's "1256" and "4250" (both bisphenol A skeleton-containing phenoxy resins); Mitsubishi Chemical's "YX8100" (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin); Mitsubishi Chemical "YX6954" (bisphenolacetophenone skeleton-containing phenoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.; "FX280" and "FX293" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.; "YL7769BH30", "YL6794", "YL7213", "YL7290", "YL7482" and "YL7891BH30";

ポリビニルアセタール樹脂としては、例えば、ポリビニルホルマール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂が挙げられ、ポリビニルブチラール樹脂が好ましい。ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、電気化学工業社製の「電化ブチラール4000-2」、「電化ブチラール5000-A」、「電化ブチラール6000-C」、「電化ブチラール6000-EP」;積水化学工業社製のエスレックBHシリーズ、BXシリーズ(例えばBX-5Z)、KSシリーズ(例えばKS-1)、BLシリーズ、BMシリーズ;等が挙げられる。 Examples of polyvinyl acetal resins include polyvinyl formal resins and polyvinyl butyral resins, and polyvinyl butyral resins are preferred. Specific examples of polyvinyl acetal resins include Denka Butyral 4000-2, Denka Butyral 5000-A, Denka Butyral 6000-C, and Denka Butyral 6000-EP manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd. S-LEC BH series, BX series (eg BX-5Z), KS series (eg KS-1), BL series, BM series;

ポリオレフィン樹脂としては、例えば低密度ポリエチレン、超低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、エチレン-酢酸ビニル共重合体、エチレン-アクリル酸エチル共重合体、エチレン-アクリル酸メチル共重合体等のエチレン系共重合樹脂;ポリプロピレン、エチレン-プロピレンブロック共重合体等のポリオレフィン系重合体等が挙げられる。 Examples of polyolefin resins include ethylene-based copolymers such as low-density polyethylene, ultra-low-density polyethylene, high-density polyethylene, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-ethyl acrylate copolymer, and ethylene-methyl acrylate copolymer. Resin: polyolefin polymers such as polypropylene and ethylene-propylene block copolymers.

ポリイミド樹脂の具体例としては、新日本理化社製の「リカコートSN20」及び「リカコートPN20」が挙げられる。 Specific examples of the polyimide resin include "Ricacoat SN20" and "Ricacoat PN20" manufactured by Shin Nippon Rika.

ポリアミドイミド樹脂の具体例としては、東洋紡社製の「バイロマックスHR11NN」及び「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。ポリアミドイミド樹脂の具体例としてはまた、日立化成社製の「KS9100」、「KS9300」(ポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド)等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。 Specific examples of polyamide-imide resins include "VYLOMAX HR11NN" and "VYLOMAX HR16NN" manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of polyamideimide resins include modified polyamideimides such as "KS9100" and "KS9300" (polysiloxane skeleton-containing polyamideimides) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

ポリエーテルスルホン樹脂の具体例としては、住友化学社製の「PES5003P」等が挙げられる。 Specific examples of the polyethersulfone resin include "PES5003P" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., and the like.

ポリスルホン樹脂の具体例としては、ソルベイアドバンストポリマーズ社製のポリスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。 Specific examples of the polysulfone resin include polysulfone "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers.

ポリエステル樹脂としては、例えばポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂、ポリブチレンナフタレート樹脂、ポリトリメチレンテレフタレート樹脂、ポリトリメチレンナフタレート樹脂、ポリシクロヘキサンジメチルテレフタレート樹脂等が挙げられる。 Examples of polyester resins include polyethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, polybutylene terephthalate resin, polybutylene naphthalate resin, polytrimethylene terephthalate resin, polytrimethylene naphthalate resin, polycyclohexanedimethyl terephthalate resin, and the like.

(D)熱可塑性樹脂の重量平均分子量(Mw)は、本発明の効果を顕著に得る観点から、好ましくは8,000以上、より好ましくは10,000以上、特に好ましくは20,000以上であり、好ましくは70,000以下、より好ましくは60,000以下、特に好ましくは50,000以下である。 (D) The weight average molecular weight (Mw) of the thermoplastic resin is preferably 8,000 or more, more preferably 10,000 or more, and particularly preferably 20,000 or more, from the viewpoint of significantly obtaining the effects of the present invention. , preferably 70,000 or less, more preferably 60,000 or less, and particularly preferably 50,000 or less.

(D)熱可塑性樹脂の含有量(質量%)は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは50質量%以下、より好ましくは20質量%以下、さらに好ましくは10質量%以下、特に好ましくは6質量%以下である。また、その下限は、例えば、0質量%以上、0.01質量%以上、0.1質量%以上、1質量%以上等であり得る。 (D) The content (% by mass) of the thermoplastic resin is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 50% by mass or less, more preferably 20% by mass. % by mass or less, more preferably 10% by mass or less, particularly preferably 6% by mass or less. Moreover, the lower limit may be, for example, 0% by mass or more, 0.01% by mass or more, 0.1% by mass or more, or 1% by mass or more.

<(E)分散剤>
本発明の樹脂組成物は、任意成分として(E)分散剤を含む場合がある。
<(E) Dispersant>
The resin composition of the present invention may contain (E) a dispersant as an optional component.

(E)分散剤としては、例えば、ポリオキシエチレンアルキルエーテルリン酸等のリン酸エステル系分散剤;ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルアミン、ポリオキシエチレンアルキルアミド等のポリオキシアルキレン系分散剤;アセチレングリコール等のアセチレン系分散剤;ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン、ポリエーテル変性シロキサン、ポリエステル変性ポリジメチルシロキサン等のシリコーン系分散剤;ポリアクリル酸ナトリウム、ドデシルベンゼルスルホン酸ナトリウム、ラウリル酸ナトリウム、ポリオキシエチレンアルキルエーテルサルフェートアンモニウム、カルボキシメチルセルロースナトリウム塩等のアニオン性分散剤;アミノ基含有ポリアクリレート系樹脂、アミノ基含有ポリスチレン系樹脂等のカチオン性分散剤等が挙げられる。(E)分散剤は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。 (E) Dispersants include, for example, phosphate-based dispersants such as polyoxyethylene alkyl ether phosphoric acid; polyoxyethylene alkyl ethers, polyoxyethylene alkyl esters, polyoxyethylene sorbitan fatty acid esters, polyoxyethylene alkylphenyls polyoxyalkylene-based dispersants such as ethers, polyoxyethylene alkylamines, and polyoxyethylene alkylamides; acetylene-based dispersants such as acetylene glycol; polyether-modified polydimethylsiloxane, polyether-modified siloxane, polyester-modified polydimethylsiloxane, etc. Silicone dispersants; Anionic dispersants such as sodium polyacrylate, sodium dodecylbenzene sulfonate, sodium laurate, polyoxyethylene alkyl ether sulfate ammonium, carboxymethylcellulose sodium salt; amino group-containing polyacrylate resins, amino groups Cationic dispersants such as contained polystyrene resins and the like can be mentioned. (E) Dispersants may be used singly or in combination of two or more.

リン酸エステル系分散剤の市販品としては、東邦化学工業社製「フォスファノール」シリーズの「RS-410」、「RS-610」、「RS-710」等が挙げられる。 Commercially available phosphate ester dispersants include "RS-410", "RS-610", and "RS-710" of the "Phosphanol" series manufactured by Toho Chemical Industry Co., Ltd.

ポリオキシアルキレン系分散剤の市販品としては、日油社製「マリアリム」シリーズの「AKM-0531」、「AFB-1521」、「SC-0505K」、「SC-1015F」及び「SC-0708A」、並びに「HKM-50A」等が挙げられる。 Commercially available polyoxyalkylene dispersants include NOF's "MALIALIM" series "AKM-0531", "AFB-1521", "SC-0505K", "SC-1015F" and "SC-0708A". , and “HKM-50A”.

アセチレン系分散剤の市販品としては、Air Products and Chemicals Inc.製「サーフィノール」シリーズの「82」、「104」、「440」、「465」及び「485」、並びに「オレフィンY」等が挙げられる。 Commercially available acetylene-based dispersants are available from Air Products and Chemicals Inc.; "Surfinol" series "82", "104", "440", "465" and "485", and "Olefin Y".

シリコーン系分散剤の市販品の市販品としては、ビックケミー社製「BYK347」、「BYK348」等が挙げられる。 Examples of commercially available silicone-based dispersants include "BYK347" and "BYK348" manufactured by BYK-Chemie.

アニオン性分散剤の市販品としては、味の素ファインテクノ社製「PN-411」、「PA-111」;ライオン社製「A-550」、「PS-1900」等が挙げられる。 Commercially available anionic dispersants include "PN-411" and "PA-111" manufactured by Ajinomoto Fine-Techno Co., Ltd.; "A-550" and "PS-1900" manufactured by Lion Corporation.

カチオン性分散剤の市販品としては、ビックケミー社製「161」、「162」、「164」、「182」、「2000」、「2001」;味の素ファインテクノ社製「PB-821」、「PB-822」、「PB-824」;アイエスピー・ジャパン社製「V-216」、「V-220」;ルーブリゾール社製「ソルスパース13940」「ソルスパース24000」「ソルスパース32000」等が挙げられる。 Commercially available cationic dispersants include "161", "162", "164", "182", "2000" and "2001" manufactured by BYK Chemie; "PB-821" and "PB" manufactured by Ajinomoto Fine-Techno Co. -822", "PB-824"; "V-216", "V-220" manufactured by ISP Japan;

(E)分散剤の含有量(質量%)は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは20質量%以下、より好ましくは15質量%以下、さらに好ましくは10質量%以下、特に好ましくは7質量%以下である。また、その下限は、例えば、0質量%以上、0.01質量%以上、0.1質量%以上、1質量%以上等であり得る。 (E) The content (% by mass) of the dispersant is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 20% by mass or less, more preferably 15% by mass. % or less, more preferably 10 mass % or less, particularly preferably 7 mass % or less. Moreover, the lower limit may be, for example, 0% by mass or more, 0.01% by mass or more, 0.1% by mass or more, or 1% by mass or more.

<(F)その他の添加剤>
本発明の樹脂組成物は、不揮発成分として、さらに任意の添加剤を含んでいてもよい。このような添加剤としては、例えば、マレイミド系ラジカル重合性化合物、ビニルフェニル系ラジカル重合性化合物、(メタ)アクリル系ラジカル重合性化合物、アリル系ラジカル重合性化合物、ポリブタジエン系ラジカル重合性化合物等のラジカル重合性化合物;過酸化物系ラジカル重合開始剤、アゾ系ラジカル重合開始剤等のラジカル重合開始剤;ゴム粒子等の有機充填材;有機銅化合物、有機亜鉛化合物等の有機金属化合物;ハイドロキノン、カテコール、ピロガロール、フェノチアジン等の重合禁止剤;シリコーン系レベリング剤、アクリルポリマー系レベリング剤等のレベリング剤;ベントン、モンモリロナイト等の増粘剤;シリコーン系消泡剤、アクリル系消泡剤、フッ素系消泡剤、ビニル樹脂系消泡剤等の消泡剤;ベンゾトリアゾール系紫外線吸収剤等の紫外線吸収剤;尿素シラン等の接着性向上剤;トリアゾール系密着性付与剤、テトラゾール系密着性付与剤、トリアジン系密着性付与剤等の密着性付与剤;ヒンダードフェノール系酸化防止剤等の酸化防止剤;フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤等の界面活性剤;リン系難燃剤(例えばリン酸エステル化合物、ホスファゼン化合物、ホスフィン酸化合物、赤リン)、窒素系難燃剤(例えば硫酸メラミン)、ハロゲン系難燃剤、無機系難燃剤(例えば三酸化アンチモン)等の難燃剤;ボレート系安定剤、チタネート系安定剤、アルミネート系安定剤、ジルコネート系安定剤、イソシアネート系安定剤、カルボン酸系安定剤、カルボン酸無水物系安定剤等の安定剤等が挙げられる。(F)その他の添加剤は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。(F)その他の添加剤の含有量は当業者であれば適宜設定できる。
<(F) Other additives>
The resin composition of the present invention may further contain optional additives as non-volatile components. Examples of such additives include maleimide radically polymerizable compounds, vinylphenyl radically polymerizable compounds, (meth)acrylic radically polymerizable compounds, allyl radically polymerizable compounds, polybutadiene radically polymerizable compounds, and the like. Radical polymerizable compounds; radical polymerization initiators such as peroxide radical polymerization initiators and azo radical polymerization initiators; organic fillers such as rubber particles; organic metal compounds such as organic copper compounds and organic zinc compounds; Polymerization inhibitors such as catechol, pyrogallol, and phenothiazine; leveling agents such as silicone leveling agents and acrylic polymer leveling agents; thickeners such as bentone and montmorillonite; Antifoaming agents such as foaming agents and vinyl resin antifoaming agents; UV absorbers such as benzotriazole UV absorbers; Adhesion improvers such as urea silane; adhesion-imparting agents such as triazine-based adhesion-imparting agents; antioxidants such as hindered phenol-based antioxidants; surfactants such as fluorine-based surfactants and silicone-based surfactants; flame retardants such as acid ester compounds, phosphazene compounds, phosphinic acid compounds, red phosphorus), nitrogen flame retardants (e.g. melamine sulfate), halogen flame retardants, inorganic flame retardants (e.g. antimony trioxide); borate stabilizers, Stabilizers such as titanate-based stabilizers, aluminate-based stabilizers, zirconate-based stabilizers, isocyanate-based stabilizers, carboxylic acid-based stabilizers, and carboxylic acid anhydride-based stabilizers are included. (F) Other additives may be used singly or in combination of two or more at any ratio. (F) The content of other additives can be appropriately set by those skilled in the art.

<(G)有機溶剤>
本発明の樹脂組成物は、上述した不揮発性成分以外に、揮発性成分として、さらに任意の有機溶剤を含有する場合がある。例えば、樹脂組成物によりフィルムを作製する場合、有機溶媒によりワニス状とし、支持体上に樹脂組成物のワニスを塗工し、乾燥させて樹脂組成物層を形成することができるが、その場合、樹脂組成物層に残留溶剤として溶剤が含まれることがある。(G)有機溶剤としては、不揮発性成分の少なくとも一部を溶解可能なものである限り、公知のものを適宜用いることができ、その種類は特に限定されるものではない。(G)有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸イソアミル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチル、γ-ブチロラクトン等のエステル系溶剤;テトラヒドロピラン、テトラヒドロフラン、1,4-ジオキサン、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、ジブチルエーテル、ジフェニルエーテル等のエーテル系溶剤;メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、エチレングリコール等のアルコール系溶剤;酢酸2-エトキシエチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセタート、エチルジグリコールアセテート、γ-ブチロラクトン、メトキシプロピオン酸メチル等のエーテルエステル系溶剤;乳酸メチル、乳酸エチル、2-ヒドロキシイソ酪酸メチル等のエステルアルコール系溶剤;2-メトキシプロパノール、2-メトキシエタノール、2-エトキシエタノール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル(ブチルカルビトール)等のエーテルアルコール系溶剤;N,N-ジメチルホルムアミド、N,N-ジメチルアセトアミド、N-メチル-2-ピロリドン等のアミド系溶剤;ジメチルスルホキシド等のスルホキシド系溶剤;アセトニトリル、プロピオニトリル等のニトリル系溶剤;ヘキサン、シクロペンタン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶剤;ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、トリメチルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶剤等を挙げることができる。(G)有機溶剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。(G)有機溶剤は、使用する場合、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。
<(G) Organic solvent>
The resin composition of the present invention may further contain an arbitrary organic solvent as a volatile component in addition to the non-volatile component described above. For example, when producing a film from a resin composition, it is possible to form a resin composition layer by forming a varnish with an organic solvent, applying the varnish of the resin composition onto a support, and drying the varnish. , the resin composition layer may contain a solvent as a residual solvent. As the organic solvent (G), as long as it is capable of dissolving at least part of the non-volatile components, any known organic solvent can be appropriately used, and the type thereof is not particularly limited. Examples of (G) organic solvents include ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone; methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, isobutyl acetate, isoamyl acetate, methyl propionate, ethyl propionate, γ- ester solvents such as butyrolactone; ether solvents such as tetrahydropyran, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, diethyl ether, diisopropyl ether, dibutyl ether, and diphenyl ether; alcohol solvents such as methanol, ethanol, propanol, butanol, and ethylene glycol; Ether ester solvents such as 2-ethoxyethyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, ethyl diglycol acetate, γ-butyrolactone, methyl methoxypropionate; methyl lactate, ethyl lactate, 2-hydroxyisobutyric acid ester alcohol solvents such as methyl; ether alcohol solvents such as 2-methoxypropanol, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, propylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether (butyl carbitol); N,N-dimethylformamide, Amide solvents such as N,N-dimethylacetamide and N-methyl-2-pyrrolidone; sulfoxide solvents such as dimethylsulfoxide; nitrile solvents such as acetonitrile and propionitrile; hexane, cyclopentane, cyclohexane, methylcyclohexane and the like Aliphatic hydrocarbon solvents; aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, trimethylbenzene, and the like can be mentioned. (G) The organic solvent may be used singly or in combination of two or more at any ratio. (G) The organic solvent may be used singly or in combination of two or more at any ratio.

(G)有機溶剤の含有量は、印刷用や穴埋め用等に用いるため、ペースト状の樹脂組成物とする場合には、有機溶剤の含有量は少ないほど好ましく、樹脂組成物中の全成分を100質量%とした場合、好ましく1質量%以下、より好ましくは0.8質量%以下、さらに好ましくは0.5質量%以下、特に好ましくは0.1質量%以下である。下限は特に制限はなく、例えば0.001質量%とすることができるが、理想的には0質量%である。フィルム作成用のワニスを樹脂組成物とする場合には、有機溶剤の含有量は樹脂組成物中の全成分を100質量%とした場合、好ましく20質量%以下、より好ましくは10質量%以下、さらに好ましくは8質量%以下、特に好ましくは6質量%以下である。下限は特に制限はなく、例えば0.001質量%以上であり得る。フィルム中の残留溶媒としては、好ましく5質量%以下、より好ましくは3質量%以下、さらに好ましくは2質量%以下、特に好ましくは1質量%以下である。下限は特に制限はなく、例えば0.001質量%以上であり得る。(G)有機溶剤の含有量をより少なく抑えると、有機溶剤の揮発によるボイドの発生を抑制することができ、さらに取扱い性、作業性にも優れたものとすることができる。 (G) The content of the organic solvent is used for printing, hole-filling, etc., so when making a paste-like resin composition, the lower the content of the organic solvent, the better. When 100% by mass, it is preferably 1% by mass or less, more preferably 0.8% by mass or less, even more preferably 0.5% by mass or less, and particularly preferably 0.1% by mass or less. The lower limit is not particularly limited, and can be, for example, 0.001% by mass, but ideally it is 0% by mass. When the varnish for film preparation is a resin composition, the content of the organic solvent is preferably 20% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, when all components in the resin composition are 100% by mass. More preferably 8% by mass or less, particularly preferably 6% by mass or less. The lower limit is not particularly limited, and may be, for example, 0.001% by mass or more. The residual solvent content in the film is preferably 5% by mass or less, more preferably 3% by mass or less, still more preferably 2% by mass or less, and particularly preferably 1% by mass or less. The lower limit is not particularly limited, and may be, for example, 0.001% by mass or more. (G) If the content of the organic solvent is reduced, the generation of voids due to volatilization of the organic solvent can be suppressed, and the handleability and workability can be improved.

<樹脂組成物の特性>
本発明の樹脂組成物は、(A)磁性粉体、及び(B)熱硬化性樹脂を含み、(A)磁性粉体が、(A-1)扁平状の磁性粉体、及び(A-2)球状の磁性粉体を含み、(A-1)扁平状の磁性粉体の平均短軸長が1μm以上である。このような樹脂組成物を用いることにより、ペースト化及びフィルム化が容易であり且つ比透磁率に優れた磁性材料を得ることができる。
<Characteristics of resin composition>
The resin composition of the present invention comprises (A) magnetic powder and (B) a thermosetting resin, wherein (A) magnetic powder comprises (A-1) flat magnetic powder and (A- 2) It contains spherical magnetic powder, and (A-1) the flat magnetic powder has an average minor axis length of 1 μm or more. By using such a resin composition, it is possible to obtain a magnetic material that can be easily formed into a paste or a film and has excellent relative magnetic permeability.

本発明の樹脂組成物の硬化物は、優れた比透磁率(μ’)を有し得る。したがって、一実施形態において、下記試験例2のように測定周波数10MHz、23℃で測定した場合の樹脂組成物の硬化物の比透磁率(μ’)は、好ましくは4以上、6以上、より好ましくは8以上、10以上、11以上、さらに好ましくは12以上、13以上、特に好ましくは14以上、15以上となり得る。 A cured product of the resin composition of the present invention can have an excellent relative magnetic permeability (μ′). Therefore, in one embodiment, the relative magnetic permeability (μ′) of the cured product of the resin composition when measured at a measurement frequency of 10 MHz and 23° C. as in Test Example 2 below is preferably 4 or more, 6 or more, or more. It can be preferably 8 or more, 10 or more, 11 or more, more preferably 12 or more, 13 or more, and particularly preferably 14 or more, 15 or more.

本発明の樹脂組成物は、一実施形態において、適度な粘度を有し得る。したがって、一実施形態において、穴埋め用等のペーストとする場合には、下記試験例3のようにE型粘度計を用いて測定した25℃(±2℃)における粘度は、好ましくは0.05Pa・s以上、より好ましくは0.1Pa・s以上、さらに好ましくは0.5Pa・s以上、特に好ましくは1Pa・s以上であり、上限は、好ましくは1500Pa・s以下、より好ましくは1200Pa・s以下、さらに好ましくは1000Pa・s以下、特に好ましくは800Pa・s以下である。 The resin composition of the present invention may have moderate viscosity in one embodiment. Therefore, in one embodiment, when a paste for filling holes or the like is used, the viscosity at 25 ° C. (±2 ° C.) measured using an E-type viscometer as in Test Example 3 below is preferably 0.05 Pa s or more, more preferably 0.1 Pa s or more, more preferably 0.5 Pa s or more, particularly preferably 1 Pa s or more, and the upper limit is preferably 1500 Pa s or less, more preferably 1200 Pa s. Below, it is more preferably 1000 Pa·s or less, and particularly preferably 800 Pa·s or less.

フィルム作成用のペースト(ワニス)とする場合には、下記試験例3のようにE型粘度計を用いて測定した25℃(±2℃)における粘度は、好ましくは0.05Pa・s以上、より好ましくは0.1Pa・s以上、さらに好ましくは0.5Pa・s以上、特に好ましくは1Pa・s以上であり、上限は、好ましくは200Pa・s以下、より好ましくは100Pa・s以下、さらに好ましくは80Pa・s以下、特に好ましくは50Pa・s以下である。 When used as a paste (varnish) for film preparation, the viscosity at 25° C. (±2° C.) measured using an E-type viscometer as in Test Example 3 below is preferably 0.05 Pa s or more, It is more preferably 0.1 Pa·s or more, still more preferably 0.5 Pa·s or more, and particularly preferably 1 Pa·s or more, and the upper limit is preferably 200 Pa·s or less, more preferably 100 Pa·s or less, and still more preferably. is 80 Pa·s or less, particularly preferably 50 Pa·s or less.

<樹脂組成物の製造方法>
本発明の樹脂組成物は、例えば、任意の調製容器に(A)磁性粉体、(B)熱硬化性樹脂、必要に応じて(C)硬化促進剤、必要に応じて(D)熱可塑性樹脂、必要に応じて(E)分散剤、必要に応じて(F)その他の添加剤、及び必要に応じて(G)有機溶剤を、任意の順で及び/又は一部若しくは全部同時に加えて混合することによって、製造することができる。また、各成分を加えて混合する過程で、温度を適宜設定することができ、一時的に又は終始にわたって、加熱及び/又は冷却してもよい。また、各成分を加えて混合する過程において、撹拌又は振盪を行ってもよい。また、加えて混合する際に又はその後に、樹脂組成物を、例えば、ミキサーなどの撹拌装置又は振盪装置を用いて撹拌又は振盪し、均一に分散させてもよい。また、撹拌又は振盪と同時に、真空下等の低圧条件下で脱泡を行ってもよい。
<Method for producing resin composition>
The resin composition of the present invention can be, for example, placed in any preparation container (A) magnetic powder, (B) thermosetting resin, optionally (C) curing accelerator, and optionally (D) thermoplastic A resin, optionally (E) a dispersant, optionally (F) other additives, and optionally (G) an organic solvent are added in any order and/or partly or wholly at the same time. It can be manufactured by mixing. Also, during the process of adding and mixing each component, the temperature can be set appropriately, and heating and/or cooling may be performed temporarily or over time. Moreover, you may stir or shake in the process of adding and mixing each component. In addition, during or after the addition and mixing, the resin composition may be stirred or shaken, for example, using a stirring device or shaking device such as a mixer to uniformly disperse. Moreover, simultaneously with stirring or shaking, defoaming may be performed under low pressure conditions such as vacuum.

<樹脂組成物の形態>
基板の磁性硬化物を形成するにあたって、樹脂組成物は、常温(25℃(±2℃))でペースト状の樹脂組成物の形態で用いてもよく、該樹脂組成物の層を含む樹脂シートの形態で用いてもよい。ペースト状の樹脂組成物とは、例えば、下記試験例3のようにE型粘度計を用いて測定した常温(25℃(±2℃))における粘度が0.05Pa・s~1500Pa・sの範囲内の樹脂組成物であり得る。
<Form of resin composition>
In forming the magnetic cured product of the substrate, the resin composition may be used in the form of a paste-like resin composition at room temperature (25° C. (±2° C.)), and a resin sheet containing a layer of the resin composition may be used. may be used in the form of The pasty resin composition is, for example, a viscosity of 0.05 Pa s to 1500 Pa s at normal temperature (25 ° C. (±2 ° C.)) measured using an E-type viscometer as in Test Example 3 below. It can be a resin composition within the range.

樹脂組成物は、一実施形態において、有機溶剤を用いて、ペースト状の樹脂組成物としてもよいし、液状のエポキシ樹脂等の液状熱硬化性樹脂を使用することにより、有機溶剤を含まないペースト状の樹脂組成物としてもよい。 In one embodiment, the resin composition may be a paste resin composition using an organic solvent, or a paste containing no organic solvent by using a liquid thermosetting resin such as a liquid epoxy resin. It is good also as a resin composition of shape.

樹脂組成物は、一実施形態において、スルーホール充填用の樹脂組成物として好適に使用することができる。また、樹脂組成物は、一実施形態において、インダクタ素子を製造するためのインダクタ基素子形成用の樹脂組成物として好適に使用することができる。 In one embodiment, the resin composition can be suitably used as a resin composition for filling through holes. Moreover, in one embodiment, the resin composition can be suitably used as a resin composition for forming an inductor-based element for manufacturing an inductor element.

<樹脂シート>
樹脂シートは、支持体と、該支持体上に設けられた、本発明の樹脂組成物で形成された樹脂組成物層とを含む。
<Resin sheet>
The resin sheet includes a support and a resin composition layer formed of the resin composition of the present invention provided on the support.

樹脂組成物層の厚さは、薄型化の観点から、好ましくは250μm以下、より好ましくは200μm以下である。樹脂組成物層の厚さの下限は、特に限定されないが、通常、5μm以上、10μm以上等とし得る。 The thickness of the resin composition layer is preferably 250 µm or less, more preferably 200 µm or less, from the viewpoint of thinning. Although the lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, it can be usually 5 μm or more, 10 μm or more, or the like.

支持体としては、例えば、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔、離型紙が挙げられ、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔が好ましい。 Examples of the support include a film made of a plastic material, a metal foil, and a release paper, and a film made of a plastic material and a metal foil are preferable.

支持体としてプラスチック材料からなるフィルムを使用する場合、プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート(以下「PEN」と略称することがある。)等のポリエステル、ポリカーボネート(以下「PC」と略称することがある。)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリルポリマー、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミド等が挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。 When a film made of a plastic material is used as the support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET") and polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PEN"). ), polyesters such as polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as "PC"), acrylic polymers such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefins, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), poly Ether ketone, polyimide and the like can be mentioned. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

支持体として金属箔を使用する場合、金属箔としては、例えば、銅箔、アルミニウム箔等が挙げられ、銅箔が好ましい。銅箔としては、銅の単金属からなる箔を用いてもよく、銅と他の金属(例えば、スズ、クロム、銀、マグネシウム、ニッケル、ジルコニウム、ケイ素、チタン等)との合金からなる箔を用いてもよい。 When a metal foil is used as the support, examples of the metal foil include copper foil and aluminum foil, with copper foil being preferred. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, and a foil made of an alloy of copper and other metals (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. may be used.

支持体は、樹脂組成物層と接合する面にマット処理、コロナ処理を施してあってもよい。 The support may be subjected to matte treatment or corona treatment on the surface to be bonded to the resin composition layer.

また、支持体としては、樹脂組成物層と接合する面に離型層を有する離型層付き支持体を使用してもよい。離型層付き支持体の離型層に使用する離型剤としては、例えば、アルキド系離型剤、ポリオレフィン系離型剤、ウレタン系離型剤、及びシリコーン系離型剤からなる群から選択される1種以上の離型剤が挙げられる。離型層付き支持体は、市販品を用いてもよく、例えば、シリコーン系離型剤又はアルキド樹脂系離型剤を主成分とする離型層を有するPETフィルムである、リンテック社製の「PET501010」、「SK-1」、「AL-5」、「AL-7」;東レ社製の「ルミラーT60」;帝人社製の「ピューレックス」;ユニチカ社製の「ユニピール」等が挙げられる。 Further, as the support, a support with a release layer having a release layer on the surface to be bonded to the resin composition layer may be used. The release agent used in the release layer of the support with a release layer is selected from the group consisting of, for example, alkyd release agents, polyolefin release agents, urethane release agents, and silicone release agents. and one or more mold release agents. The support with a release layer may be a commercially available product, for example, a PET film having a release layer mainly composed of a silicone-based release agent or an alkyd resin-based release agent. PET501010", "SK-1", "AL-5", "AL-7"; "Lumirror T60" manufactured by Toray Industries, Inc.; "Purex" manufactured by Teijin; and "Unipeel" manufactured by Unitika. .

支持体の厚みとしては、特に限定されないが、5μm~75μmの範囲が好ましく、10μm~60μmの範囲がより好ましい。なお、離型層付き支持体を使用する場合、離型層付き支持体全体の厚さが上記範囲であることが好ましい。 The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 μm to 75 μm, more preferably in the range of 10 μm to 60 μm. When a release layer-attached support is used, the thickness of the release layer-attached support as a whole is preferably within the above range.

樹脂シートにおいて、樹脂組成物層の支持体と接合していない面(即ち、支持体とは反対側の面)には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚さは、特に限定されるものではないが、例えば、1μm~40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを抑制することができる。樹脂シートは、ロール状に巻きとって保存することが可能である。樹脂シートが保護フィルムを有する場合、保護フィルムを剥がすことによって使用可能となる。 In the resin sheet, a protective film conforming to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer that is not bonded to the support (that is, the surface opposite to the support). Although the thickness of the protective film is not particularly limited, it is, for example, 1 μm to 40 μm. By laminating the protective film, the surface of the resin composition layer can be prevented from being dusted or scratched. The resin sheet can be wound into a roll and stored. When the resin sheet has a protective film, it can be used by peeling off the protective film.

樹脂シートは、例えば、樹脂組成物を、ダイコーター等を用いて支持体上に塗布し、樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。必要に応じて樹脂組成物に有機溶剤を混合してから支持体上に塗布してもよい。有機溶剤を用いる場合、必要に応じて塗布後に乾燥を行ってもよい。 A resin sheet can be produced, for example, by coating a resin composition on a support using a die coater or the like to form a resin composition layer. If necessary, the resin composition may be mixed with an organic solvent and then applied onto the support. When an organic solvent is used, drying may be performed after application, if necessary.

乾燥は、加熱、熱風吹きつけ等の方法により実施してよい。乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層中の有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。樹脂組成物中に含まれる成分によっても異なるが、50℃~150℃で3分間~10分間乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。 Drying may be carried out by a method such as heating or blowing hot air. The drying conditions are not particularly limited, but the resin composition layer is dried so that the content of the organic solvent is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. The resin composition layer can be formed by drying at 50° C. to 150° C. for 3 to 10 minutes, depending on the components contained in the resin composition.

樹脂シートは、ロール状に巻きとって保存することが可能である。樹脂シートが保護フィルムを有する場合、保護フィルムを剥がすことによって使用可能となる。 The resin sheet can be wound into a roll and stored. When the resin sheet has a protective film, it can be used by peeling off the protective film.

<回路基板及びその製造方法>
本発明の回路基板は、樹脂組成物の硬化物を含む。第1実施形態の回路基板は、スルーホールを有する基板と、前記スルーホールに充填した、本発明の樹脂組成物の硬化物とを含む。また、第2実施形態の回路基板は、樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物により形成された硬化物層を含む。以下、回路基板の製造方法の第1実施形態及び第2実施形態について説明する。但し、本発明に係る回路基板の製造方法は、以下に例示する第1及び第2実施形態に限定されない。
<Circuit board and its manufacturing method>
The circuit board of the present invention contains a cured product of the resin composition. The circuit board of the first embodiment includes a substrate having through holes and a cured resin composition of the present invention filling the through holes. Moreover, the circuit board of the second embodiment includes a cured product layer formed from a cured product of the resin composition layer of the resin sheet. A first embodiment and a second embodiment of a method for manufacturing a circuit board will be described below. However, the method for manufacturing a circuit board according to the present invention is not limited to the first and second embodiments illustrated below.

<第1実施形態>
第1実施形態の回路基板は、例えば、下記の工程(1)~(5)を含む製造方法によって製造する。第1実施形態では、樹脂組成物を用いて硬化物を形成することが好ましく、ペースト状の樹脂組成物を用いて硬化物を形成することがより好ましい。
(1)スルーホールを有する基板のスルーホールに樹脂組成物を充填する工程、
(2)該樹脂組成物を熱硬化させ、硬化物を得る工程、
(3)硬化物又は樹脂組成物の表面を研磨する工程、
(4)硬化物を粗化処理する工程、及び
(5)硬化物を粗化処理した面に導体層を形成する工程、を含む。
本発明の回路基板の製造方法は、工程(1)~(5)の順で行ってもよく、工程(3)の後に工程(2)を行ってもよい。
<First embodiment>
The circuit board of the first embodiment is manufactured, for example, by a manufacturing method including the following steps (1) to (5). In the first embodiment, it is preferable to form the cured product using the resin composition, and it is more preferable to form the cured product using a pasty resin composition.
(1) a step of filling a through-hole of a substrate having a through-hole with a resin composition;
(2) a step of thermally curing the resin composition to obtain a cured product;
(3) polishing the surface of the cured product or resin composition;
(4) a step of roughening the cured product; and (5) a step of forming a conductor layer on the roughened surface of the cured product.
In the method for manufacturing a circuit board of the present invention, steps (1) to (5) may be performed in order, or step (2) may be performed after step (3).

<工程(1)>
工程(1)を行うにあたって、樹脂組成物を準備する工程を含んでいてもよい。樹脂組成物は、上記において説明したとおりである。
<Step (1)>
In carrying out the step (1), a step of preparing a resin composition may be included. The resin composition is as described above.

また、工程(1)を行うにあたって、図1に一例を示すように、支持基板11、並びに該支持基板11の両表面に設けられた銅箔等の金属からなる第1金属層12、及び第2金属層13を備えるコア基板10を準備する工程を含んでいてもよい。支持基板11の材料の例としては、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の絶縁性基材が挙げられる。第1及び第2金属層の材料の例としては、キャリア付銅箔、後述する導体層の材料等が挙げられる。 Further, in performing the step (1), as shown in FIG. 1, a supporting substrate 11, first metal layers 12 made of metal such as copper foil provided on both surfaces of the supporting substrate 11, and first A step of preparing a core substrate 10 with two metal layers 13 may be included. Examples of materials for the support substrate 11 include insulating substrates such as glass epoxy substrates, metal substrates, polyester substrates, polyimide substrates, BT resin substrates, and thermosetting polyphenylene ether substrates. Examples of materials for the first and second metal layers include carrier-attached copper foils and materials for the conductor layers described later.

また、図2に一例を示すように、コア基板10にスルーホール14を形成する工程を含んでいてもよい。スルーホール14は、例えば、ドリル、レーザー照射、プラズマ照射等により形成することができる。具体的には、ドリル等を用いてコア基板10に貫通穴を形成することにより、スルーホール14を形成することができる。 Moreover, as an example is shown in FIG. 2, a step of forming through holes 14 in the core substrate 10 may be included. The through holes 14 can be formed by drilling, laser irradiation, plasma irradiation, or the like, for example. Specifically, the through hole 14 can be formed by forming a through hole in the core substrate 10 using a drill or the like.

スルーホール14の形成は、市販されているドリル装置を用いて実施することができる。市販されているドリル装置としては、例えば、日立ビアメカニクス社製「ND-1S211」等が挙げられる。 Formation of the through holes 14 can be carried out using commercially available drilling equipment. Examples of commercially available drilling devices include "ND-1S211" manufactured by Hitachi Via Mechanics.

コア基板10にスルーホール14を形成した後、図3に一例を示すように、コア基板10の粗化処理を行い、スルーホール14内、第1金属層12の表面上、及び第2金属層13の表面上にめっき層20を形成する工程を含んでいてもよい。 After the through-holes 14 are formed in the core substrate 10, the core substrate 10 is roughened as shown in FIG. A step of forming a plating layer 20 on the surface of 13 may be included.

前記の粗化処理としては、乾式及び湿式のいずれの粗化処理を行ってもよい。乾式の粗化処理の例としては、プラズマ処理等が挙げられる。また、湿式の粗化処理の例としては、膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理、及び、中和液による中和処理をこの順に行う方法が挙げられる。 As the roughening treatment, either dry or wet roughening treatment may be performed. Examples of dry roughening treatment include plasma treatment and the like. Moreover, examples of wet roughening treatment include a method in which swelling treatment with a swelling liquid, roughening treatment with an oxidizing agent, and neutralization treatment with a neutralizing liquid are performed in this order.

めっき層20は、めっき法により形成され、めっき法によりめっき層20が形成される手順は、後述する工程(5)における導体層の形成と同様である。 The plating layer 20 is formed by the plating method, and the procedure for forming the plating layer 20 by the plating method is the same as the formation of the conductor layer in step (5) described later.

コア基板10を用意した後で、図4に一例を示すように、樹脂組成物30aをスルーホール14へ充填する。充填は、例えば印刷法で行い得る。印刷法としては、例えば、スキージを介してスルーホール14へ樹脂組成物30aを印刷する方法、カートリッジを介して樹脂組成物30aを印刷する方法、マスク印刷して樹脂組成物30aを印刷する方法、ロールコート法、インクジェット法等が挙げられる。 After the core substrate 10 is prepared, the through holes 14 are filled with the resin composition 30a as shown in FIG. Filling can be done, for example, by a printing method. The printing method includes, for example, a method of printing the resin composition 30a onto the through holes 14 via a squeegee, a method of printing the resin composition 30a via a cartridge, a method of printing the resin composition 30a by mask printing, A roll coating method, an inkjet method, and the like can be mentioned.

<工程(2)>
工程(2)では、スルーホール14内に樹脂組成物30aを充填後、樹脂組成物30aを熱硬化して、図5に一例を示すように、スルーホール14内に硬化物30を形成する。樹脂組成物30aの熱硬化条件は、樹脂組成物30aの組成や種類によっても異なるが、硬化温度は好ましくは120℃以上、より好ましくは130℃以上、さらに好ましくは150℃以上であり、好ましくは245℃以下、より好ましくは220℃以下、さらに好ましくは200℃以下である。樹脂組成物30aの硬化時間は、好ましくは5分以上、より好ましくは10分以上、さらに好ましくは15分以上であり、好ましくは120分以下、より好ましくは110分以下、さらに好ましくは100分以下である。
<Step (2)>
In step (2), after filling the through holes 14 with the resin composition 30a, the resin composition 30a is thermally cured to form a cured product 30 inside the through holes 14, as an example is shown in FIG. The thermosetting conditions for the resin composition 30a vary depending on the composition and type of the resin composition 30a. It is 245° C. or lower, more preferably 220° C. or lower, and still more preferably 200° C. or lower. The curing time of the resin composition 30a is preferably 5 minutes or longer, more preferably 10 minutes or longer, still more preferably 15 minutes or longer, and preferably 120 minutes or shorter, more preferably 110 minutes or shorter, still more preferably 100 minutes or shorter. is.

工程(2)における硬化物30の硬化度としては、好ましくは80%以上、より好ましくは85%以上、さらに好ましくは90%以上である。硬化度は、例えば示差走査熱量測定装置を用いて測定することができる。 The degree of cure of the cured product 30 in step (2) is preferably 80% or higher, more preferably 85% or higher, and even more preferably 90% or higher. The degree of cure can be measured, for example, using a differential scanning calorimeter.

樹脂組成物30aを熱硬化させる前に、樹脂組成物30aに対して、硬化温度よりも低い温度で加熱する予備加熱処理を施してもよい。例えば、樹脂組成物30aを熱硬化させるのに先立ち、通常50℃以上120℃未満(好ましくは60℃以上110℃以下、より好ましくは70℃以上100℃以下)の温度にて、樹脂組成物30aを、通常5分間以上(好ましくは5分間~150分間、より好ましくは15分間~120分間)、予備加熱してもよい。 Before thermally curing the resin composition 30a, the resin composition 30a may be subjected to a preheating treatment in which the resin composition 30a is heated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition 30a, the resin composition 30a is usually heated at a temperature of 50° C. or higher and lower than 120° C. (preferably 60° C. or higher and 110° C. or lower, more preferably 70° C. or higher and 100° C. or lower). may be preheated for usually 5 minutes or more (preferably 5 minutes to 150 minutes, more preferably 15 minutes to 120 minutes).

<工程(3)>
工程(3)では、図6に一例を示すように、コア基板10から突出又は付着している余剰の硬化物30を研磨することにより除去し、平坦化する。研磨方法としては、コア基板10から突出又は付着している余剰の硬化物30を研磨することができる方法を用いることができる。このような研磨方法としては、例えば、バフ研磨、ベルト研磨等が挙げられる。市販されているバフ研磨装置としては石井表記社製「NT-700IM」等が挙げられる。
<Step (3)>
In step (3), as an example is shown in FIG. 6, excess hardened material 30 protruding from or adhering to the core substrate 10 is removed by polishing and planarized. As a polishing method, a method capable of polishing the excessive cured product 30 protruding from or adhering to the core substrate 10 can be used. Examples of such a polishing method include buffing and belt polishing. Commercially available buffing devices include "NT-700IM" manufactured by Ishii Hokumon Co., Ltd., and the like.

硬化物30の研磨面(硬化物層の熱硬化後)の算術平均粗さ(Ra)としては、めっきとの間の密着性を向上させる観点から、好ましくは300nm以上、より好ましくは350nm以上、さらに好ましくは400nm以上である。上限は、好ましくは1000nm以下、より好ましくは900nm以下、さらに好ましくは800nm以下である。表面粗さ(Ra)は、例えば、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。 The arithmetic mean roughness (Ra) of the polished surface of the cured product 30 (after thermal curing of the cured product layer) is preferably 300 nm or more, more preferably 350 nm or more, from the viewpoint of improving the adhesion between the plating. More preferably, it is 400 nm or more. The upper limit is preferably 1000 nm or less, more preferably 900 nm or less, still more preferably 800 nm or less. The surface roughness (Ra) can be measured using, for example, a non-contact surface roughness meter.

工程(2)の後に工程(3)を行う場合、工程(2)後工程(3)前に、硬化物30の硬化度をさらに高める等の目的で、必要により熱処理を施してもよい。前記熱処理における温度は上記した硬化温度に準じて行えばよく、好ましくは120℃以上、より好ましくは130℃以上、さらに好ましくは150℃以上であり、好ましくは245℃以下、より好ましくは220℃以下、さらに好ましくは200℃以下である。熱処理時間は、好ましくは5分以上、より好ましくは10分以上、さらに好ましくは15分以上であり、好ましくは90分以下、より好ましくは70分以下、さらに好ましくは60分以下である。 When step (3) is performed after step (2), heat treatment may be performed as necessary after step (2) and before step (3) for the purpose of further increasing the degree of hardening of the cured product 30 . The temperature in the heat treatment may be carried out according to the curing temperature described above, preferably 120° C. or higher, more preferably 130° C. or higher, still more preferably 150° C. or higher, preferably 245° C. or lower, more preferably 220° C. or lower. , and more preferably 200° C. or less. The heat treatment time is preferably 5 minutes or longer, more preferably 10 minutes or longer, still more preferably 15 minutes or longer, and preferably 90 minutes or shorter, more preferably 70 minutes or shorter, still more preferably 60 minutes or shorter.

また、工程(2)の前に工程(3)を行う場合、工程(3)の前に、樹脂組成物の硬化温度よりも低い温度で加熱する予備加熱処理を施してもよい。前記予備加熱処理における温度は、好ましくは100℃以上、より好ましくは110℃以上、さらに好ましくは120℃以上であり、好ましくは245℃以下、より好ましくは220℃以下、さらに好ましくは200℃以下である。熱処理時間は、好ましくは5分以上、より好ましくは10分以上、さらに好ましくは15分以上であり、好ましくは90分以下、より好ましくは70分以下、さらに好ましくは60分以下である。 Moreover, when performing the step (3) before the step (2), a preheating treatment of heating at a temperature lower than the curing temperature of the resin composition may be performed before the step (3). The temperature in the preliminary heat treatment is preferably 100° C. or higher, more preferably 110° C. or higher, still more preferably 120° C. or higher, and preferably 245° C. or lower, more preferably 220° C. or lower, and still more preferably 200° C. or lower. be. The heat treatment time is preferably 5 minutes or longer, more preferably 10 minutes or longer, still more preferably 15 minutes or longer, and preferably 90 minutes or shorter, more preferably 70 minutes or shorter, still more preferably 60 minutes or shorter.

<工程(4)>
工程(4)では、工程(3)にて研磨した面を粗化処理(デスミア処理)する。粗化工程の手順、条件は特に限定されず、多層プリント配線板の製造方法に際して通常使用される公知の手順、条件を採用することができる。粗化工程として、例えば、膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理、中和液による中和処理をこの順に実施することにより硬化物30を粗化処理することができる。
<Step (4)>
In step (4), the surface polished in step (3) is roughened (desmeared). The procedure and conditions of the roughening step are not particularly limited, and known procedures and conditions that are commonly used in the production of multilayer printed wiring boards can be employed. As the roughening step, for example, the cured product 30 can be roughened by performing swelling treatment with a swelling liquid, roughening treatment with an oxidizing agent, and neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order.

粗化工程に用いられ得る膨潤液としては特に限定されないが、アルカリ溶液、界面活性剤溶液等が挙げられ、好ましくはアルカリ溶液である。膨潤液であるアルカリ溶液としては、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液がより好ましい。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン社製「スウェリング・ディップ・セキュリガンスP」、「スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU」等が挙げられる。 The swelling liquid that can be used in the roughening step is not particularly limited, but includes alkaline solutions, surfactant solutions, etc., preferably alkaline solutions. A sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution are more preferable as the alkaline solution that is the swelling liquid. Examples of commercially available swelling liquids include "Swelling Dip Securigans P" and "Swelling Dip Securigans SBU" manufactured by Atotech Japan.

膨潤液による膨潤処理は、特に限定されないが、例えば、30℃~90℃の膨潤液に硬化物30が設けられたコア基材20を1分間~20分間浸漬することにより行うことができる。硬化物30を構成する樹脂の膨潤を適度なレベルに抑える観点から、40℃~80℃の膨潤液に硬化物30を5分間~15分間浸漬させることが好ましい。 The swelling treatment with the swelling liquid is not particularly limited, but can be performed, for example, by immersing the core substrate 20 provided with the cured product 30 in the swelling liquid at 30° C. to 90° C. for 1 minute to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin constituting the cured product 30 to an appropriate level, it is preferable to immerse the cured product 30 in the swelling liquid at 40° C. to 80° C. for 5 minutes to 15 minutes.

酸化剤による粗化処理に用いられ得る酸化剤としては、特に限定されないが、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。アルカリ性過マンガン酸溶液等の酸化剤による粗化処理は、60℃~80℃に加熱した酸化剤の溶液に硬化物30を10分間~30分間浸漬させることにより行うことが好ましい。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5質量%~10質量%とすることが好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン社製「コンセントレート・コンパクトP」、「ドージングソリューション・セキュリガンスP」等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。 The oxidizing agent that can be used for the roughening treatment with an oxidizing agent is not particularly limited, but examples thereof include an alkaline permanganate solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganate solution is preferably performed by immersing the cured product 30 in an oxidizing agent solution heated to 60° C. to 80° C. for 10 to 30 minutes. Further, the permanganate concentration in the alkaline permanganate solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganate solutions such as "Concentrate Compact P" and "Dosing Solution Security P" manufactured by Atotech Japan.

中和処理に用いられ得る中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、例えば、アトテックジャパン社製「リダクションソリューション・セキュリガンスP」が挙げられる。中和液による中和処理は、酸化剤溶液による粗化処理がなされた処理面を30℃~80℃の中和液に5分間~30分間浸漬させることにより行うことができる。作業性等の点から、酸化剤溶液による粗化処理がなされた硬化物30を、40℃~70℃の中和液に5分間~20分間浸漬する方法が好ましい。 As a neutralizing solution that can be used for the neutralization treatment, an acidic aqueous solution is preferable, and commercially available products include, for example, "Reduction Solution Security P" manufactured by Atotech Japan. The neutralization treatment with the neutralizing solution can be carried out by immersing the treated surface roughened with the oxidant solution in the neutralizing solution at 30° C. to 80° C. for 5 to 30 minutes. From the viewpoint of workability, etc., a method of immersing the cured product 30 roughened with an oxidizing agent solution in a neutralizing solution at 40° C. to 70° C. for 5 to 20 minutes is preferable.

硬化物30の粗化処理後の算術平均粗さ(Ra)としては、めっきとの間の密着性を向上させる観点から、好ましくは300nm以上、より好ましくは350nm以上、さらに好ましくは400nm以上である。上限は、好ましくは1500nm以下、より好ましくは1200nm以下、さらに好ましくは1000nm以下である。表面粗さ(Ra)は、例えば、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。 The arithmetic mean roughness (Ra) of the cured product 30 after the roughening treatment is preferably 300 nm or more, more preferably 350 nm or more, and still more preferably 400 nm or more, from the viewpoint of improving the adhesion to the plating. . The upper limit is preferably 1500 nm or less, more preferably 1200 nm or less, and even more preferably 1000 nm or less. The surface roughness (Ra) can be measured using, for example, a non-contact surface roughness meter.

<工程(5)>
工程(5)では、図7に一例を示すように、硬化物30の研磨面、及びコア基板上に導体層40を形成する。さらに、導体層40を形成後、図8に一例を示すように、エッチング等の処理により導体層40、第1金属層12、第2金属層13、及びめっき層20の一部を除去してパターン導体層41を形成してもよい。図7では、導体層40はコア基板10の両面に形成されているが、導体層40は、コア基板10の一方の面のみに形成してもよい。
<Step (5)>
In step (5), as an example is shown in FIG. 7, a conductor layer 40 is formed on the polished surface of the cured product 30 and on the core substrate. Further, after the conductor layer 40 is formed, as shown in FIG. 8, the conductor layer 40, the first metal layer 12, the second metal layer 13, and the plating layer 20 are partially removed by etching or the like. A pattern conductor layer 41 may be formed. Although the conductor layer 40 is formed on both surfaces of the core substrate 10 in FIG. 7 , the conductor layer 40 may be formed on only one surface of the core substrate 10 .

導体層40の形成方法は、例えば、めっき法、スパッタ法、蒸着法などが挙げられ、中でもめっき法が好ましい。好適な実施形態では、セミアディティブ法、フルアディティブ法等の適切な方法によって硬化物30(及びめっき層20)の表面にめっきして、所望の配線パターンを有するパターン導体層41を形成する。導体層40の材料としては、例えば、金、白金、パラジウム、銀、銅、アルミニウム、コバルト、クロム、亜鉛、ニッケル、チタン、タングステン、鉄、スズ、インジウム等の単金属;金、白金、パラジウム、銀、銅、アルミニウム、コバルト、クロム、亜鉛、ニッケル、チタン、タングステン、鉄、スズ及びインジウムの群から選択される2種以上の金属の合金が挙げられる。中でも、汎用性、コスト、パターニングの容易性等の観点から、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅、又はニッケルクロム合金、銅ニッケル合金、銅チタン合金を用いることが好ましく、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅、又はニッケルクロム合金を用いることがより好ましく、銅を用いることがさらに好ましい。 The method of forming the conductor layer 40 includes, for example, a plating method, a sputtering method, a vapor deposition method, etc. Among them, the plating method is preferable. In a preferred embodiment, the surface of the cured product 30 (and the plating layer 20) is plated by an appropriate method such as a semi-additive method or a full-additive method to form a patterned conductor layer 41 having a desired wiring pattern. Materials for the conductor layer 40 include, for example, single metals such as gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin, and indium; gold, platinum, palladium, Alloys of two or more metals selected from the group of silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium are included. Among them, chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or nickel-chromium alloys, copper-nickel alloys, and copper-titanium alloys can be used from the viewpoint of versatility, cost, ease of patterning, and the like. Chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or nickel-chromium alloys are preferably used, and copper is even more preferred.

ここで、硬化物30を研磨した面上にパターン導体層41を形成する実施形態の例を、詳細に説明する。硬化物30を研磨した面に、無電解めっきにより、めっきシード層を形成する。次いで、形成されためっきシード層上に、電解めっきにより電解めっき層を形成し、必要に応じて、不要なめっきシード層をエッチング等の処理により除去して、所望の配線パターンを有する導体層40を形成できる。導体層40形成後、導体層40のピール強度を向上させる等の目的で、必要によりアニール処理を行ってもよい。アニール処理は、例えば、回路基板を150~200℃で20~90分間加熱することにより行うことができる。 Here, an example of an embodiment in which the pattern conductor layer 41 is formed on the polished surface of the cured product 30 will be described in detail. A plating seed layer is formed by electroless plating on the polished surface of the cured product 30 . Next, an electroplating layer is formed on the formed plating seed layer by electroplating, and if necessary, an unnecessary plating seed layer is removed by a treatment such as etching, and a conductor layer 40 having a desired wiring pattern is formed. can be formed. After the conductor layer 40 is formed, annealing treatment may be performed as necessary for the purpose of improving the peel strength of the conductor layer 40 . Annealing treatment can be performed, for example, by heating the circuit board at 150 to 200° C. for 20 to 90 minutes.

パターン導体層の厚さは、薄型化の観点から、好ましくは70μm以下であり、より好ましくは60μm以下であり、さらに好ましくは50μm以下、さらにより好ましくは40μm以下、特に好ましくは30μm以下、20μm以下、15μm以下又は10μm以下である。下限は好ましくは1μm以上、より好ましくは3μm以上、さらに好ましくは5μm以上である。 The thickness of the pattern conductor layer is preferably 70 μm or less, more preferably 60 μm or less, even more preferably 50 μm or less, even more preferably 40 μm or less, and particularly preferably 30 μm or less and 20 μm or less, from the viewpoint of thinning. , 15 μm or less, or 10 μm or less. The lower limit is preferably 1 µm or more, more preferably 3 µm or more, and still more preferably 5 µm or more.

<第2実施形態>
第2実施形態の回路基板は、樹脂組成物の硬化物により形成された硬化物層を含む。第2実施形態では、樹脂シートを用いて硬化物層を形成することが好ましい。以下、製品基板の製造方法の第2実施形態について説明する。第1実施形態と説明が重複する箇所は適宜説明を省略する。
<Second embodiment>
The circuit board of the second embodiment includes a cured product layer formed from a cured resin composition. In the second embodiment, it is preferable to form the cured material layer using a resin sheet. A second embodiment of the method for manufacturing a product substrate will be described below. Descriptions of portions that overlap with the first embodiment will be omitted as appropriate.

第2実施形態の回路基板は、例えば、下記の工程(A)~(D)を含む製造方法によって製造する。
(A)樹脂シートを、樹脂組成物層が内層基板と接合するように内層基板に積層し、硬化物層を形成する工程、
(B)硬化物層に穴あけ加工を行う工程、
(C)硬化物層の表面を粗化処理する工程、及び
(D)硬化物層の研磨した面に導体層を形成する工程、を含む。
The circuit board of the second embodiment is manufactured, for example, by a manufacturing method including the following steps (A) to (D).
(A) a step of laminating the resin sheet on the inner layer substrate so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate to form a cured product layer;
(B) a step of perforating the cured material layer;
(C) a step of roughening the surface of the cured layer; and (D) a step of forming a conductor layer on the polished surface of the cured layer.

以下、回路基板を製造するにあたっての上記の工程(A)~(D)について詳細に説明する。 The above steps (A) to (D) for manufacturing the circuit board will be described in detail below.

<工程(A)>
工程(A)は、樹脂シートを、樹脂組成物層が内層基板と接合するように内層基板に積層し、硬化物層を形成する工程である。工程(A)の一実施形態として、樹脂シートを、樹脂組成物層が内層基板と接合するように内層基板に積層し、樹脂組成物層を熱硬化して硬化物層を形成する。
<Step (A)>
Step (A) is a step of laminating the resin sheet on the inner layer substrate so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate to form a cured product layer. As one embodiment of step (A), the resin sheet is laminated on the inner layer substrate so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate, and the resin composition layer is thermally cured to form a cured material layer.

工程(A)において、図9に一例を示すように、支持体330と、該支持体330上に設けられた樹脂組成物層320aとを含む樹脂シート310を、樹脂組成物層320aが内層基板200と接合するように、内層基板200に積層させる。 In step (A), as shown in an example in FIG. 9, a resin sheet 310 including a support 330 and a resin composition layer 320a provided on the support 330 is placed on the inner layer substrate. 200 is laminated on the inner layer substrate 200 .

内層基板200は、絶縁性の基板である。内層基板200の材料としては、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の絶縁性基材が挙げられる。内層基板200は、その厚さ内に配線等が作り込まれた内層回路基板であってもよい。 The inner layer substrate 200 is an insulating substrate. Examples of materials for the inner layer substrate 200 include insulating substrates such as glass epoxy substrates, metal substrates, polyester substrates, polyimide substrates, BT resin substrates, and thermosetting polyphenylene ether substrates. The inner layer board 200 may be an inner layer circuit board in which wiring and the like are formed within its thickness.

図9に一例を示すように、内層基板200は、第1主表面200a上に設けられる第1導体層420と、第2主表面200b上に設けられる外部端子240とを有している。第1導体層420は、複数の配線を含んでいてもよい。図示例ではインダクタ素子のコイル状導電性構造体400を構成する配線のみが示されている。外部端子240は図示されていない外部の装置等と電気的に接続するための端子である。外部端子240は、第2主表面200bに設けられる導体層の一部として構成することができる。 As an example is shown in FIG. 9, the inner substrate 200 has a first conductor layer 420 provided on the first main surface 200a and an external terminal 240 provided on the second main surface 200b. The first conductor layer 420 may include multiple wires. In the illustrated example, only the wiring forming the coiled conductive structure 400 of the inductor element is shown. The external terminal 240 is a terminal for electrically connecting to an external device or the like (not shown). The external terminals 240 can be configured as part of a conductor layer provided on the second main surface 200b.

第1導体層420、及び外部端子240を構成し得る導体材料としては、第1実施形態の「<工程(5)>」欄において説明した導体層の材料と同様である。 The conductor material that can form the first conductor layer 420 and the external terminal 240 is the same as the material of the conductor layer described in the "<Step (5)>" section of the first embodiment.

第1導体層420、及び外部端子240は、単層構造であっても、異なる種類の金属若しくは合金からなる単金属層又は合金層が2層以上積層した複層構造であってもよい。また、第1導体層420、外部端子240の厚さは、後述する第2導体層440と同様である。 The first conductor layer 420 and the external terminal 240 may have a single layer structure or a multi-layer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different kinds of metals or alloys are laminated. Also, the thicknesses of the first conductor layer 420 and the external terminals 240 are the same as those of the second conductor layer 440 described later.

第1導体層420及び外部端子240のライン(L)/スペース(S)比は特に制限されないが、表面の凹凸を減少させて平滑性に優れる硬化物層を得る観点から、通常、900/900μm以下、好ましくは700/700μm以下、より好ましくは500/500μm以下、さらに好ましくは300/300μm以下、さらにより好ましくは200/200μm以下である。ライン/スペース比の下限は特に制限されないが、スペースへの樹脂組成物層の埋め込みを良好にする観点から、好ましくは1/1μm以上である。 Although the line (L)/space (S) ratio of the first conductor layer 420 and the external terminal 240 is not particularly limited, it is usually 900/900 μm from the viewpoint of obtaining a cured product layer with excellent smoothness by reducing the unevenness of the surface. Below, it is preferably 700/700 μm or less, more preferably 500/500 μm or less, even more preferably 300/300 μm or less, and even more preferably 200/200 μm or less. Although the lower limit of the line/space ratio is not particularly limited, it is preferably 1/1 μm or more from the viewpoint of better embedding of the resin composition layer into the space.

内層基板200は第1主表面200aから第2主表面200bに至るように内層基板200を貫通する複数のスルーホール220を有していてもよい。スルーホール220にはスルーホール内配線220aが設けられている。スルーホール内配線220aは、第1導体層420と外部端子240とを電気的に接続している。 Inner layer substrate 200 may have a plurality of through holes 220 penetrating through inner layer substrate 200 from first main surface 200a to second main surface 200b. Through-hole 220 is provided with in-through-hole wiring 220a. Through-hole wiring 220 a electrically connects first conductor layer 420 and external terminal 240 .

樹脂組成物層320aと内層基板200との接合は、例えば、支持体330側から、樹脂シート310を内層基板200に加熱圧着することにより行うことができる。樹脂シート310を内層基板200に加熱圧着する部材(以下、「加熱圧着部材」ともいう。)としては、例えば、加熱された金属板(ステンレス(SUS)鏡板等)又は金属ロール(SUSロール)等が挙げられる。なお、加熱圧着部材を樹脂シート310に直接的に接触させてプレスするのではなく、内層基板200の表面の凹凸に樹脂シート310が十分に追随するよう、耐熱ゴム等の弾性材からなるシート等を介してプレスするのが好ましい。 The bonding between the resin composition layer 320a and the inner substrate 200 can be performed, for example, by thermocompression bonding the resin sheet 310 to the inner substrate 200 from the support 330 side. A member for thermocompression bonding the resin sheet 310 to the inner layer substrate 200 (hereinafter also referred to as a “thermocompression member”) may be, for example, a heated metal plate (stainless steel (SUS) end plate, etc.) or a metal roll (SUS roll). is mentioned. Instead of pressing the resin sheet 310 by directly contacting the thermocompression member, a sheet made of an elastic material such as heat-resistant rubber is used so that the resin sheet 310 can sufficiently follow the irregularities on the surface of the inner layer substrate 200 . It is preferable to press through

加熱圧着する際の温度は、好ましくは80℃~160℃、より好ましくは90℃~140℃、さらに好ましくは100℃~120℃の範囲であり、加熱圧着する際の圧力は、好ましくは0.098MPa~1.77MPa、より好ましくは0.29MPa~1.47MPaの範囲であり、加熱圧着する際の時間は、好ましくは20秒間~400秒間、より好ましくは30秒間~300秒間の範囲である。樹脂シートと内層基板との接合は、圧力26.7hPa以下の減圧条件下で実施することが好ましい。 The temperature during thermocompression bonding is preferably in the range of 80° C. to 160° C., more preferably 90° C. to 140° C., still more preferably 100° C. to 120° C., and the pressure during thermocompression bonding is preferably 0.5° C. It is in the range of 098 MPa to 1.77 MPa, more preferably 0.29 MPa to 1.47 MPa, and the time for thermocompression bonding is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably 30 seconds to 300 seconds. Bonding of the resin sheet and the inner layer substrate is preferably performed under reduced pressure conditions of 26.7 hPa or less.

樹脂シート310の樹脂組成物層320aと内層基板200との接合は、市販の真空ラミネーターによって行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、名機製作所社製の真空加圧式ラミネーター、ニッコー・マテリアルズ社製のバキュームアプリケーター等が挙げられる。 Bonding between the resin composition layer 320a of the resin sheet 310 and the inner layer substrate 200 can be performed using a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., and a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials.

樹脂シート310と内層基板200との接合の後に、常圧下(大気圧下)、例えば、加熱圧着部材を支持体330側からプレスすることにより、積層された樹脂シート310の平滑化処理を行ってもよい。平滑化処理のプレス条件は、上記積層の加熱圧着条件と同様の条件とすることができる。平滑化処理は、市販のラミネーターによって行うことができる。なお、積層と平滑化処理とは、上記の市販の真空ラミネーターを用いて連続的に行ってもよい。 After the bonding of the resin sheet 310 and the inner layer substrate 200, the stacked resin sheets 310 are smoothed under normal pressure (atmospheric pressure), for example, by pressing a thermocompression member from the support 330 side. good too. The pressing conditions for the smoothing treatment may be the same as the thermocompression bonding conditions for the lamination described above. Smoothing treatment can be performed with a commercially available laminator. Note that the lamination and the smoothing treatment may be performed continuously using the above-mentioned commercially available vacuum laminator.

樹脂シート310を内層基板200に積層した後、樹脂組成物層320aを熱硬化して硬化物層を形成する。図10に一例を示すように、内層基板200に接合させた樹脂組成物層320aを熱硬化し第1硬化物層320を形成する。 After laminating the resin sheet 310 on the inner substrate 200, the resin composition layer 320a is thermally cured to form a cured material layer. As an example is shown in FIG. 10, the resin composition layer 320a bonded to the inner substrate 200 is thermally cured to form the first cured material layer 320. As shown in FIG.

樹脂組成物層320aの熱硬化条件は、樹脂組成物の組成や種類によっても異なるが、硬化温度は好ましくは120℃以上、より好ましくは130℃以上、さらに好ましくは150℃以上であり、好ましくは245℃以下、より好ましくは220℃以下、さらに好ましくは200℃以下である。樹脂組成物層320aの硬化時間は、好ましくは5分以上、より好ましくは10分以上、さらに好ましくは15分以上であり、好ましくは120分以下、より好ましくは110分以下、さらに好ましくは100分以下である。 The thermosetting conditions for the resin composition layer 320a vary depending on the composition and type of the resin composition, but the curing temperature is preferably 120° C. or higher, more preferably 130° C. or higher, and still more preferably 150° C. or higher. It is 245° C. or lower, more preferably 220° C. or lower, and still more preferably 200° C. or lower. The curing time of the resin composition layer 320a is preferably 5 minutes or more, more preferably 10 minutes or more, still more preferably 15 minutes or more, preferably 120 minutes or less, more preferably 110 minutes or less, and even more preferably 100 minutes. It is below.

支持体330は、工程(A)の熱硬化後と工程(B)との間に除去してもよく、工程(B)の後に剥離してもよい。 The support 330 may be removed between step (A) after thermal curing and step (B), or may be peeled off after step (B).

硬化物層の粗化処理前の算術平均粗さ(Ra)としては、めっきとの間の密着性を向上させる観点から、好ましくは300nm以上、より好ましくは350nm以上、さらに好ましくは400nm以上である。上限は、好ましくは1000nm以下、より好ましくは900nm以下、さらに好ましくは800nm以下である。表面粗さ(Ra)は、例えば、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。 The arithmetic mean roughness (Ra) of the cured product layer before roughening treatment is preferably 300 nm or more, more preferably 350 nm or more, and still more preferably 400 nm or more, from the viewpoint of improving the adhesion to the plating. . The upper limit is preferably 1000 nm or less, more preferably 900 nm or less, still more preferably 800 nm or less. The surface roughness (Ra) can be measured using, for example, a non-contact surface roughness meter.

工程(A)は、樹脂シートの代わりに樹脂組成物を、ダイコーター等を用いて内層基板200上に塗布し、熱硬化させることで硬化物層を形成してもよい。 In the step (A), instead of the resin sheet, a resin composition may be applied onto the inner layer substrate 200 using a die coater or the like and thermally cured to form a cured material layer.

<工程(B)>
工程(B)において、図11に一例を示すように、第1硬化物層320に穴あけ加工をし、ビアホール360を形成する。ビアホール360は、第1導体層420と、後述する第2導体層440とを電気的に接続するための経路となる。ビアホール360の形成は、硬化物層の形成に使用した樹脂組成物の組成等に応じて、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等を使用して実施してよい。ホールの寸法や形状は、プリント配線板のデザインに応じて適宜決定してよい。
<Step (B)>
In step (B), as an example is shown in FIG. 11, the first cured material layer 320 is perforated to form via holes 360 . The via hole 360 serves as a path for electrically connecting the first conductor layer 420 and a second conductor layer 440, which will be described later. Formation of the via hole 360 may be performed using, for example, a drill, laser, plasma, or the like, depending on the composition of the resin composition used to form the cured material layer. The dimensions and shape of the holes may be appropriately determined according to the design of the printed wiring board.

<工程(C)>
工程(C)において、ビアホールを形成した硬化物層の表面を粗化処理する。工程(C)における粗化処理としては、第1実施形態の「<工程(4)>」欄において説明したとおりである。
<Step (C)>
In step (C), the surface of the cured material layer having via holes is roughened. The roughening treatment in step (C) is as described in the “<step (4)>” section of the first embodiment.

硬化物層の粗化処理後の算術平均粗さ(Ra)としては、めっきとの間の密着性を向上させる観点から、好ましくは300nm以上、より好ましくは350nm以上、さらに好ましくは400nm以上である。上限は、好ましくは1500nm以下、より好ましくは1200nm以下、さらに好ましくは1000nm以下である。表面粗さ(Ra)は、例えば、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。 The arithmetic mean roughness (Ra) of the cured product layer after the roughening treatment is preferably 300 nm or more, more preferably 350 nm or more, and still more preferably 400 nm or more, from the viewpoint of improving the adhesion to the plating. . The upper limit is preferably 1500 nm or less, more preferably 1200 nm or less, still more preferably 1000 nm or less. The surface roughness (Ra) can be measured using, for example, a non-contact surface roughness meter.

<工程(D)>
工程(D)では、図12に一例を示すように、第1硬化物層320上に、第2導体層440を形成する。
<Step (D)>
In step (D), the second conductor layer 440 is formed on the first cured material layer 320 as shown in FIG. 12 .

第2導体層440を構成し得る導体材料としては、第1実施形態の「<工程(5)>」欄において説明した導体層の材料と同様である。 The conductor material that can form the second conductor layer 440 is the same as the conductor layer material described in the section “<Step (5)>” of the first embodiment.

第2導体層440の厚さは、薄型化の観点から、好ましくは70μm以下であり、より好ましくは60μm以下であり、さらに好ましくは50μm以下、さらにより好ましくは40μm以下、特に好ましくは30μm以下、20μm以下、15μm以下又は10μm以下である。下限は好ましくは1μm以上、より好ましくは3μm以上、さらに好ましくは5μm以上である。 The thickness of the second conductor layer 440 is preferably 70 μm or less, more preferably 60 μm or less, even more preferably 50 μm or less, even more preferably 40 μm or less, and particularly preferably 30 μm or less, from the viewpoint of thinning. 20 μm or less, 15 μm or less, or 10 μm or less. The lower limit is preferably 1 µm or more, more preferably 3 µm or more, and still more preferably 5 µm or more.

第2導体層440は、めっきにより形成することができる。第2導体層440は、例えば、無電解めっき工程、マスクパターン形成工程、電解めっき工程、フラッシュエッチング工程を含むセミアディティブ法、フルアディティブ法等の湿式めっき法により形成されることが好ましい。湿式めっき法を用いて第2導体層440を形成することにより、所望の配線パターンを含む第2導体層440として形成することができる。なお、この工程により、ビアホール360内にビアホール内配線360aが併せて形成される。 The second conductor layer 440 can be formed by plating. The second conductor layer 440 is preferably formed by a wet plating method such as a semi-additive method or a full-additive method including an electroless plating process, a mask pattern forming process, an electrolytic plating process, and a flash etching process. By forming the second conductor layer 440 using a wet plating method, it is possible to form the second conductor layer 440 including a desired wiring pattern. In this process, via-hole wiring 360a is also formed in the via-hole 360. Next, as shown in FIG.

第1導体層420及び第2導体層440は、例えば後述する図13~15に一例を示すように、渦巻状に設けられていてもよい。一例において、第2導体層440の渦巻状の配線部のうちの中心側の一端はビアホール内配線360aにより第1導体層420の渦巻状の配線部のうちの中心側の一端に電気的に接続されている。第2導体層440の渦巻状の配線部のうちの外周側の他端はビアホール内配線360aにより第1導体層42のランド420aに電気的に接続されている。よって第2導体層440の渦巻状の配線部のうちの外周側の他端はビアホール内配線360a、ランド420a、スルーホール内配線220aを経て外部端子240に電気的に接続される。 The first conductor layer 420 and the second conductor layer 440 may be spirally provided, for example, as shown in FIGS. 13 to 15, which will be described later. In one example, one end of the spiral wiring portion of the second conductor layer 440 on the center side is electrically connected to one end of the spiral wiring portion of the first conductor layer 420 on the center side by the in-via-hole wiring 360a. It is The other end on the outer peripheral side of the spiral wiring portion of the second conductor layer 440 is electrically connected to the land 420a of the first conductor layer 42 by the in-via-hole wiring 360a. Therefore, the other end of the spiral wiring portion of the second conductor layer 440 on the outer peripheral side is electrically connected to the external terminal 240 via the via-hole wiring 360a, the land 420a, and the through-hole wiring 220a.

コイル状導電性構造体400は、第1導体層420の一部分である渦巻状の配線部、第2導体層440の一部分である渦巻状の配線部、第1導体層420の渦巻状の配線部と第2導体層440の渦巻状の配線部とを電気的に接続しているビアホール内配線360aにより構成されている。 The coil-shaped conductive structure 400 includes a spiral wiring portion that is a portion of the first conductor layer 420, a spiral wiring portion that is a portion of the second conductor layer 440, and a spiral wiring portion of the first conductor layer 420. and the spiral wiring portion of the second conductor layer 440.

工程(D)後、さらに導体層上に硬化物層を形成する工程を行ってもよい。詳細は、図14に一例を示すように、第2導体層440及びビアホール内配線360aが形成された第1硬化物層320上に第2硬化物層340を形成する。第2硬化物層は既に説明した工程と同様の工程により形成してもよい。 After the step (D), a step of forming a cured material layer on the conductor layer may be performed. Specifically, as shown in an example in FIG. 14, the second cured layer 340 is formed on the first cured layer 320 on which the second conductor layer 440 and the in-via-hole wiring 360a are formed. The second cured material layer may be formed by the same steps as those already described.

<インダクタ基板>
インダクタ基板は、本発明の回路基板を含む。このようなインダクタ基板は、第1実施形態の回路基板の製造方法により得られた回路基板を含む場合、前記の樹脂組成物の硬化物の周囲の少なくとも一部に導体によって形成されたインダクタパターンを有する。このようなインダクタ基板は、例えば特開2016-197624号公報に記載のものを適用できる。
<Inductor substrate>
The inductor substrate includes the circuit substrate of the present invention. When such an inductor board includes a circuit board obtained by the circuit board manufacturing method of the first embodiment, an inductor pattern formed by a conductor is formed at least partially around the cured product of the resin composition. have. As such an inductor substrate, for example, the one disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-197624 can be applied.

また、第2実施形態の回路基板の製造方法により得られた回路基板を含む場合、インダクタ基板は、硬化物層と、この硬化物層に少なくとも一部分が埋め込まれた導電性構造体とを有しており、この導電性構造体と、硬化物層の厚さ方向に延在し、かつ導電性構造体に囲まれた硬化物層のうちの一部分によって構成されるインダクタ素子を含んでいる。ここで図13は、インダクタ素子を内蔵するインダクタ基板をその厚さ方向の一方からみた模式的な平面図である。図14は、図13に示すII-II一点鎖線で示した位置で切断したインダクタ基板の切断端面を示す模式的な図である。図15は、インダクタ基板のうちの第1導体層の構成を説明するための模式的な平面図である。 Further, when the circuit board includes the circuit board obtained by the circuit board manufacturing method of the second embodiment, the inductor board has a cured material layer and a conductive structure having at least a portion embedded in the cured material layer. and an inductor element extending in the thickness direction of the cured layer and formed by a portion of the cured layer surrounded by the conductive structure. Here, FIG. 13 is a schematic plan view of the inductor substrate containing the inductor element as viewed from one of its thickness directions. FIG. 14 is a schematic diagram showing a cut end surface of the inductor substrate cut at the position indicated by the dashed-dotted line II-II shown in FIG. FIG. 15 is a schematic plan view for explaining the configuration of the first conductor layer of the inductor substrate.

回路基板100は、図13及び図14に一例として示されるように、複数の硬化物層(第1硬化物層320、第2硬化物層340)及び複数の導体層(第1導体層420、第2導体層440)を有する、即ちビルドアップ硬化物層及びビルドアップ導体層を有するビルドアップ配線板である。また、インダクタ基板100は、内層基板200を備えている。 As shown in FIGS. 13 and 14, the circuit board 100 includes a plurality of cured material layers (first cured material layer 320, second cured material layer 340) and a plurality of conductor layers (first conductor layer 420, It is a buildup wiring board having a second conductor layer 440), that is, having a buildup cured material layer and a buildup conductor layer. The inductor substrate 100 also includes an inner layer substrate 200 .

図14より、第1硬化物層320及び第2硬化物層340は一体的な硬化物層としてみることができる磁性部300を構成している。よってコイル状導電性構造体400は、磁性部300に少なくとも一部分が埋め込まれるように設けられている。すなわち、本実施形態のインダクタ基板100において、インダクタ素子はコイル状導電性構造体400と、磁性部300の厚さ方向に延在し、かつコイル状導電性構造体400に囲まれた磁性部300のうちの一部分である芯部によって構成されている。 As shown in FIG. 14, the first cured layer 320 and the second cured layer 340 constitute the magnetic part 300 which can be viewed as an integrated cured layer. Therefore, the coil-shaped conductive structure 400 is provided so that at least a portion thereof is embedded in the magnetic portion 300 . That is, in the inductor substrate 100 of the present embodiment, the inductor element includes the coil-shaped conductive structure 400 and the magnetic portion 300 extending in the thickness direction of the magnetic portion 300 and surrounded by the coil-shaped conductive structure 400. It is composed of a core part which is a part of the

図15に一例として示されるように、第1導体層420はコイル状導電性構造体400を構成するための渦巻状の配線部と、スルーホール内配線220aと電気的に接続される矩形状のランド420aとを含んでいる。図示例では渦巻状の配線部は直線状部と直角に屈曲する屈曲部とランド420aを迂回する迂回部を含んでいる。図示例では第1導体層420の渦巻状の配線部は全体の輪郭が略矩形状であって、中心側からその外側に向かうにあたり反時計回りに巻いている形状を有している。 As shown in FIG. 15 as an example, the first conductor layer 420 has a spiral wiring portion for forming the coil-shaped conductive structure 400 and a rectangular wiring portion electrically connected to the through-hole wiring 220a. land 420a. In the illustrated example, the spiral wiring portion includes a bent portion that bends at right angles to the straight portion and a bypass portion that bypasses the land 420a. In the illustrated example, the spiral wiring portion of the first conductor layer 420 has a substantially rectangular outline as a whole, and has a shape that is wound counterclockwise from the center toward the outside.

同様に、第1硬化物層320上には第2導体層440が設けられている。第2導体層440はコイル状導電性構造体400を構成するための渦巻状の配線部を含んでいる。図13又は図14では渦巻状の配線部は直線状部と直角に屈曲する屈曲部とを含んでいる。図13又は図14では第2導体層44の渦巻状の配線部は全体の輪郭が略矩形状であって、中心側からその外側に向かうにあたり時計回りに巻いている形状を有している。 Similarly, a second conductor layer 440 is provided on the first cured material layer 320 . The second conductor layer 440 includes a spiral wiring portion for forming the coil-shaped conductive structure 400 . In FIG. 13 or FIG. 14, the spiral wiring portion includes a linear portion and a bent portion bent at right angles. In FIG. 13 or FIG. 14, the spiral wiring portion of the second conductor layer 44 has a generally rectangular outline as a whole, and has a shape that is wound clockwise from the center toward the outside.

このようなインダクタ基板は、半導体チップ等の電子部品を搭載するための配線板として用いることができ、かかる配線板を内層基板として使用した(多層)プリント配線板として用いることもできる。また、かかる配線板を個片化したチップインダクタ部品として用いることもでき、該チップインダクタ部品を表面実装したプリント配線板として用いることもできる。 Such an inductor substrate can be used as a wiring board for mounting electronic components such as semiconductor chips, and can also be used as a (multilayer) printed wiring board using such a wiring board as an inner layer substrate. Also, such a wiring board can be used as chip inductor components obtained by individualizing, and can also be used as a printed wiring board in which the chip inductor components are surface-mounted.

またかかる配線板を用いて、種々の態様の半導体装置を製造することができる。かかる配線板を含む半導体装置は、電気製品(例えば、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラおよびテレビ等)および乗物(例えば、自動二輪車、自動車、電車、船舶および航空機等)等に好適に用いることができる。 Moreover, using such a wiring board, various types of semiconductor devices can be manufactured. A semiconductor device containing such a wiring board can be suitably used for electrical appliances (eg, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (eg, motorcycles, automobiles, trains, ships, aircraft, etc.). .

以下、本発明を実施例により具体的に説明する。本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下において、量を表す「%」は、別途明示のない限り、「質量%」を意味する。特に温度の指定が無い場合の温度条件は、室温(23℃)である。特に圧力の指定が無い場合の圧力条件は、常圧(1atm)である。 EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples. The invention is not limited to these examples. In the following, "%" representing the amount means "% by mass" unless otherwise specified. Unless otherwise specified, the temperature condition is room temperature (23° C.). Unless otherwise specified, the pressure condition is normal pressure (1 atm).

<実施例1>
扁平状の磁性粉体a(山陽特殊製鋼社製「PST-4」、Fe-Si-Al合金粉、10%粒径(D10)5.8μm、平均粒径(D50)37μm、90%粒径(D90)75μm、アスペクト比2.0、平均厚み1.7μm、扁平率22、平均短軸長21μm、タップ密度2.56g/cm)を50質量部、球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」、Fe-Si-Cr合金粉、10%粒径(D10)1.7μm、平均粒径(D50)3.1μm、90%粒径(D90)5.2μm、アスペクト比1.1、平均厚み3.1μm、扁平率1.1)を39質量部、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001」、Mnフェライト粉、10%粒径(D10)0.05μm、平均粒径(D50)0.12μm、90%粒径(D90)1.1μm、アスペクト比1.1、平均厚み0.1μm、扁平率1.1)を39質量部、エポキシ樹脂(新日鉄住金化学社製「ZX-1059」、ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品)を13質量部、フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」、メラミン変性フェノールノボラック樹脂、不揮発成分60%のMEK溶液)を14質量部、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YX7553BH30」、不揮発成分30%のメチルエチルケトン:シクロヘキサノン=1:1の溶液、特殊骨格フェノキシ樹脂)を12質量部、及び硬化促進剤a(北興化学工業社製「TBP-DA」、リン系硬化促進剤)を0.1質量部加え、高速回転ミキサーで均一に分散し、樹脂組成物を調製した。
<Example 1>
Flat magnetic powder a (“PST-4” manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd., Fe—Si—Al alloy powder, 10% particle size (D 10 ) 5.8 μm, average particle size (D 50 ) 37 μm, 90% Particle diameter (D 90 ) 75 μm, aspect ratio 2.0, average thickness 1.7 μm, oblateness 22, average minor axis length 21 μm, tap density 2.56 g/cm 3 ) is 50 parts by mass, spherical magnetic powder a (“AW2-08PF3” manufactured by Epson Atmix, Fe—Si—Cr alloy powder, 10% particle size (D 10 ) 1.7 μm, average particle size (D 50 ) 3.1 μm, 90% particle size (D 90 ) 5.2 μm, aspect ratio 1.1, average thickness 3.1 μm, oblateness 1.1) 39 parts by mass, spherical magnetic powder b (“M001” manufactured by Powdertech Co., Ltd., Mn ferrite powder, 10% grain Diameter (D 10 ) 0.05 μm, average particle size (D 50 ) 0.12 μm, 90% particle size (D 90 ) 1.1 μm, aspect ratio 1.1, average thickness 0.1 μm, oblateness 1.1) 39 parts by mass of epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., a mixture of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin) 13 parts by mass, phenol resin (DIC “LA-7054” , melamine-modified phenolic novolac resin, MEK solution with 60% non-volatile components) 14 parts by mass, phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, methyl ethyl ketone with 30% non-volatile components: cyclohexanone = 1: 1 solution, special skeleton phenoxy resin ) and 0.1 parts by mass of curing accelerator a (“TBP-DA” manufactured by Hokko Chemical Industry Co., Ltd., phosphorus-based curing accelerator), and dispersed uniformly with a high-speed rotating mixer to form a resin composition. prepared.

<実施例2>
扁平状の磁性粉体a(山陽特殊製鋼社製「PST-4」)の使用量を50質量部から79質量部に変更し、球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」)の使用量を39質量部から61質量部に変更し、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001」)の使用量を39質量部から79質量部に変更した以外は、実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した。
<Example 2>
The amount of flat magnetic powder a ("PST-4" manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd.) was changed from 50 parts by mass to 79 parts by mass, and spherical magnetic powder a ("AW2-08PF3" manufactured by Epson Atmix Co., Ltd. ”) was changed from 39 parts by mass to 61 parts by mass, and the amount of spherical magnetic powder b (“M001” manufactured by Powdertech Co., Ltd.) was changed from 39 parts by mass to 79 parts by mass. A resin composition was prepared in the same manner as in Example 1.

<実施例3>
扁平状の磁性粉体a(山陽特殊製鋼社製「PST-4」)の使用量を50質量部から87質量部に変更し、球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」)の使用量を39質量部から67質量部に変更し、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001」)の使用量を39質量部から87質量部に変更した以外は、実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した。
<Example 3>
The amount of flat magnetic powder a ("PST-4" manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd.) was changed from 50 parts by mass to 87 parts by mass, and spherical magnetic powder a ("AW2-08PF3" manufactured by Epson Atmix Co., Ltd. ”) was changed from 39 parts by mass to 67 parts by mass, and the amount of spherical magnetic powder b (“M001” manufactured by Powdertech Co., Ltd.) was changed from 39 parts by mass to 87 parts by mass. A resin composition was prepared in the same manner as in Example 1.

<実施例4>
扁平状の磁性粉体a(山陽特殊製鋼社製「PST-4」)50質量部の代わりに扁平状の磁性粉体b(山陽特殊製鋼社製「FME3D-AH」、Fe-Si-Al合金粉、10%粒径(D10)15μm、平均粒径(D50)42μm、90%粒径(D90)107μm、アスペクト比2.0、厚み0.1μm、扁平率480、平均短軸長18μm、タップ密度0.73g/cm)を70質量部使用し、球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」)の使用量を39質量部から58質量部に変更し、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001」)の使用量を39質量部から73質量部に変更した以外は、実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した。
<Example 4>
Instead of 50 parts by mass of flat magnetic powder a ("PST-4" manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd.), flat magnetic powder b ("FME3D-AH" manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd., Fe-Si-Al alloy Powder, 10% particle size (D 10 ) 15 μm, average particle size (D 50 ) 42 μm, 90% particle size (D 90 ) 107 μm, aspect ratio 2.0, thickness 0.1 μm, oblateness 480, average minor axis length 18 μm, tap density 0.73 g/cm 3 ) is used, and the amount of spherical magnetic powder a ("AW2-08PF3" manufactured by Epson Atmix) is changed from 39 parts by mass to 58 parts by mass. A resin composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that the amount of spherical magnetic powder b ("M001" manufactured by Powdertech Co., Ltd.) was changed from 39 parts by mass to 73 parts by mass.

<実施例5>
扁平状の磁性粉体a(山陽特殊製鋼社製「PST-4」)の使用量を50質量部から34質量部に変更し、球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」)の使用量を39質量部から26質量部に変更し、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001」)の使用量を39質量部から26質量部に変更し、エポキシ樹脂(新日鉄住金化学社製「ZX-1059」)の使用量を13質量部から7質量部に変更し、硬化促進剤a(北興化学工業社製「TBP-DA」)0.1質量部の代わりに硬化促進剤b(四国化成社製「2MZA-PW」、イミダゾール系硬化促進剤)を1質量部使用し、フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」)14質量部を使用せず、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YX7553BH30」)12質量部を使用しなかった以外は、実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した。
<Example 5>
The amount of flat magnetic powder a (manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd. "PST-4") was changed from 50 parts by mass to 34 parts by mass, and spherical magnetic powder a (manufactured by Epson Atmix Co., Ltd. "AW2-08PF3 ”) was changed from 39 parts by mass to 26 parts by mass, the amount of spherical magnetic powder b (“M001” manufactured by Powdertech Co., Ltd.) was changed from 39 parts by mass to 26 parts by mass, and epoxy resin ( "ZX-1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) was changed from 13 parts by mass to 7 parts by mass, and instead of 0.1 parts by mass of curing accelerator a ("TBP-DA" manufactured by Hokko Chemical Industry Co., Ltd.) Using 1 part by mass of curing accelerator b ("2MZA-PW" manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., imidazole-based curing accelerator), 14 parts by mass of phenolic resin ("LA-7054" manufactured by DIC) without using phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) A resin composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that 12 parts by mass was not used.

<実施例6>
球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」)の使用量を39質量部から38質量部に変更し、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001」)の使用量を39質量部から38質量部に変更し、エポキシ樹脂(新日鉄住金化学社製「ZX-1059」)の使用量を13質量部から7質量部に変更し、硬化促進剤a(北興化学工業社製「TBP-DA」)0.1質量部の代わりに硬化促進剤b(四国化成社製「2MZA-PW」、イミダゾール系硬化促進剤)を1質量部使用し、フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」)14質量部を使用せず、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YX7553BH30」)12質量部を使用しなかった以外は、実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した。
<Example 6>
The amount of spherical magnetic powder a (“AW2-08PF3” manufactured by Epson Atmix) was changed from 39 parts by mass to 38 parts by mass, and spherical magnetic powder b (“M001” manufactured by Powdertech) was used. The amount was changed from 39 parts by mass to 38 parts by mass, the amount of epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) was changed from 13 parts by mass to 7 parts by mass, and the curing accelerator a (Hokko Chemical Industry "TBP-DA" manufactured by Co., Ltd.) Instead of 0.1 part by mass of curing accelerator b ("2MZA-PW" manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., imidazole curing accelerator) 1 part by mass, phenol resin (manufactured by DIC A resin composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that 14 parts by mass of "LA-7054") was not used and 12 parts by mass of phenoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation "YX7553BH30") was not used. .

<実施例7>
扁平状の磁性粉体a(山陽特殊製鋼社製「PST-4」)の使用量を50質量部から40質量部に変更し、球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」)の使用量を39質量部から20質量部に変更し、エポキシ樹脂(新日鉄住金化学社製「ZX-1059」)の使用量を13質量部から5質量部に変更し、硬化促進剤a(北興化学工業社製「TBP-DA」)0.1質量部の代わりに硬化促進剤b(四国化成社製「2MZA-PW」、イミダゾール系硬化促進剤)を0.4質量部使用し、分散剤(日油社製「SC-1015F」、ポリオキシアルキレン系分散剤)2質量部、及び環状ケトン溶剤(純正化学社製「シクロヘキサノン」)2質量部をさらに加え、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001」)39質量部を使用せず、フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」)14質量部を使用せず、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YX7553BH30」)12質量部を使用しなかった以外は、実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した。
<Example 7>
The amount of flat magnetic powder a ("PST-4" manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd.) was changed from 50 parts by mass to 40 parts by mass, and spherical magnetic powder a ("AW2-08PF3" manufactured by Epson Atmix Co., Ltd. ”) was changed from 39 parts by mass to 20 parts by mass, the amount of epoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd. “ZX-1059”) was changed from 13 parts by mass to 5 parts by mass, and the curing accelerator a ("TBP-DA" manufactured by Hokko Chemical Industry Co., Ltd.) Instead of 0.1 parts by mass of curing accelerator b ("2MZA-PW" manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., imidazole curing accelerator) 0.4 parts by mass, 2 parts by mass of a dispersant ("SC-1015F", polyoxyalkylene dispersant manufactured by NOF CORPORATION) and 2 parts by mass of a cyclic ketone solvent ("Cyclohexanone" manufactured by Junsei Chemical Co., Ltd.) are further added to form a spherical magnetic powder b. ("M001" manufactured by Powdertech) 39 parts by mass are not used, phenol resin ("LA-7054" manufactured by DIC) 14 parts by mass are not used, and phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) 12 parts by mass A resin composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that parts were not used.

<比較例1>
扁平状の磁性粉体a(山陽特殊製鋼社製「PST-4」)の使用量を50質量部から55質量部に変更し、エポキシ樹脂(新日鉄住金化学社製「ZX-1059」)の使用量を13質量部から3質量部に変更し、フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」)の使用量を14質量部から4質量部に変更し、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YX7553BH30」)の使用量を12質量部から3質量部に変更し、球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」)39質量部を使用せず、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001」)39質量部を使用しなかった以外は、実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した。
<Comparative Example 1>
The amount of flat magnetic powder a ("PST-4" manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd.) was changed from 50 parts by mass to 55 parts by mass, and epoxy resin ("ZX-1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) was used. The amount was changed from 13 parts by mass to 3 parts by mass, the amount of phenolic resin ("LA-7054" manufactured by DIC) was changed from 14 parts by mass to 4 parts by mass, and the phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ) was changed from 12 parts by mass to 3 parts by mass, and 39 parts by mass of spherical magnetic powder a (“AW2-08PF3” manufactured by Epson Atmix) was not used, and spherical magnetic powder b (powder A resin composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that 39 parts by mass of "M001" manufactured by TEC Co., Ltd. was not used.

<比較例2>
球状の磁性粉体a(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3」)39質量部から65質量部に変更し、エポキシ樹脂(新日鉄住金化学社製「ZX-1059」)13質量部から3質量部に変更し、フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」)の使用量を14質量部から4質量部に変更し、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YX7553BH30」)の使用量を12質量部から3質量部に変更し、環状ケトン溶剤(純正化学社製「シクロヘキサノン」)2質量部をさらに加え、扁平状の磁性粉体a(山陽特殊製鋼社製「PST-4」)50質量部を使用せず、球状の磁性粉体b(パウダーテック社製「M001)39質量部を使用しなかった以外は、実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した。
<Comparative Example 2>
Spherical magnetic powder a ("AW2-08PF3" manufactured by Epson Atmix) was changed from 39 parts by weight to 65 parts by weight, and epoxy resin ("ZX-1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) was added from 13 parts by weight to 3 parts by weight. , the amount of phenol resin ("LA-7054" manufactured by DIC) was changed from 14 parts by mass to 4 parts by mass, and the amount of phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) was changed from 12 parts by mass. Change to 3 parts by mass, add 2 parts by mass of cyclic ketone solvent (“Cyclohexanone” manufactured by Junsei Chemical Co., Ltd.), and use 50 parts by mass of flat magnetic powder a (“PST-4” manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd.) A resin composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that 39 parts by mass of spherical magnetic powder b ("M001" manufactured by Powdertech Co., Ltd.) was not used.

<扁平率の算出>
走査型電子顕微鏡による観察において、磁性粉体を無作為に50個抽出し、平面視においてその粒子の輪郭上の最長となる2点間を結ぶ最長線分の長さを測定し、その平均値(数平均)から平均長軸長を算出した。また磁性粉体をポリエステル系樹脂(JP-21111001、不飽和ポリエステル、丸本ストルアス社製)に埋め込み、80℃、30分で硬化後、研磨琢磨装置(STRUERS-S5629B、Struers社製)を用いて研磨(SiC-研磨紙#4000、Struers社製)し、研磨面を走査型電子顕微鏡で観察した。磁性粉体から無作為に抽出した50個の粒子に関し、走査型電子顕微鏡像に基づいて、磁性粉体の厚さ方向の厚みYを測定し、その最大値Ym及び最小値Ynから、平均厚み((Ym+Yn)/2)を算出し、さらに、扁平率(平均長軸長/平均厚み)を算出した。
<Calculation of oblateness>
In observation with a scanning electron microscope, randomly select 50 magnetic powders, measure the length of the longest line segment connecting the longest two points on the contour of the particles in plan view, and average the length The average long axis length was calculated from (number average). In addition, the magnetic powder is embedded in a polyester resin (JP-21111001, unsaturated polyester, manufactured by Marumoto Struers Co., Ltd.), cured at 80° C. for 30 minutes, and then polished using a polishing device (STRUERS-S5629B, manufactured by Struers Co., Ltd.). It was polished (SiC-sanding paper #4000, manufactured by Struers), and the polished surface was observed with a scanning electron microscope. For 50 particles randomly extracted from the magnetic powder, the thickness Y in the thickness direction of the magnetic powder was measured based on the scanning electron microscope image, and the average thickness was calculated from the maximum value Ym and minimum value Yn. ((Ym+Yn)/2) was calculated, and the flattening ratio (average major axis length/average thickness) was calculated.

<アスペクト比の算出>
走査型電子顕微鏡による観察において、磁性粉体を無作為に50個抽出し、平面視においてその粒子の輪郭上の最長となる2点間を結ぶ最長線分の長さを測定し、その平均値(数平均)から平均長軸長を算出した。また、同時に、その粒子の輪郭に外接し且つ最長線分に平行な長辺を有する最小面積の長方形を描いたときの短辺の長さを測定し、その平均値から平均短軸長を算出した。平均長軸長を平均短軸長で除した値に基づいてアスペクト比を算出した。
<Calculation of aspect ratio>
In observation with a scanning electron microscope, randomly select 50 magnetic powders, measure the length of the longest line segment connecting the longest two points on the contour of the particles in plan view, and average the length The average long axis length was calculated from (number average). At the same time, the length of the short side of a rectangle with the smallest area circumscribing the contour of the particle and having the long side parallel to the longest line segment is drawn, and the average length of the short axis is calculated from the average value. did. The aspect ratio was calculated based on the value obtained by dividing the average long axis length by the average short axis length.

<10%粒径(D10)、平均粒径(D50)、及び90%粒径(D90)の算出>
磁性粉体を超音波により純水中に分散させたものを測定サンプルとし、レーザー回折散乱式粒径分布測定装置(堀場製作所社製「LA-960」)により、磁性粉体の粒径分布を体積基準で作成し、10%粒径(D10)、50%粒径(平均粒径)(D50)、及び90%粒径(D90)を算出した。
<Calculation of 10% particle size (D 10 ), average particle size (D 50 ), and 90% particle size (D 90 )>
A measurement sample was obtained by dispersing magnetic powder in pure water using ultrasonic waves. 10% particle size (D 10 ), 50% particle size (average particle size) (D 50 ), and 90% particle size (D 90 ) were calculated on a volume basis.

<試験例1:ペースト化及びフィルム化の評価>
実施例及び比較例で調製した樹脂組成物について、流動性を確認し、塗工性があるペースト状である実施例1~7及び比較例2の樹脂組成物について、フィルム化を行った。支持体として、シリコーン系離型剤処理を施したポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(リンテック社製「PET501010」、厚さ50μm)を用意した。各樹脂組成物を上記PETフィルムの離型面上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚みが100μmとなるよう、ドクターブレードにて均一に塗布し、樹脂シートを得た。樹脂組成物のペースト化及びフィルム化について、以下の評価基準で評価した。
<Test Example 1: Evaluation of pasting and filming>
The fluidity of the resin compositions prepared in Examples and Comparative Examples was confirmed, and the resin compositions of Examples 1 to 7 and Comparative Example 2, which were pasty and had coatability, were formed into films. As a support, a polyethylene terephthalate (PET) film (“PET501010” manufactured by Lintec Corporation, thickness 50 μm) treated with a silicone release agent was prepared. Each resin composition was uniformly coated on the release surface of the PET film with a doctor blade so that the thickness of the resin composition layer after drying was 100 μm, to obtain a resin sheet. Pasting and filming of the resin composition were evaluated according to the following evaluation criteria.

(ペースト化の評価基準)
「〇」:流動性を有するペースト状で、塗工性あり。
「×」:流動性がなく、塗工不可。
(Evaluation criteria for pasting)
"Good": Fluid pasty with coatability.
"X": No fluidity, coating not possible.

(フィルム化の評価基準)
「〇」:穴がなく、フィルムの膜厚が均等である。
「×」:穴が開き、フィルムの膜厚が不均一である。または、流動性がなくフィルム化不可。
(Evaluation criteria for film formation)
"Good": No holes, film thickness is uniform.
"Poor": Holes are formed and the thickness of the film is non-uniform. Or, it has no fluidity and cannot be made into a film.

<試験例2:比透磁率の測定及び評価>
試験例1で得た樹脂シートを190℃で90分間加熱することにより樹脂組成物層を熱硬化し、支持体を剥離することによりシート状の硬化物を得た。得られた硬化物を、幅5mm、長さ18mmの試験片に切断し、評価サンプルとした。この評価サンプルを、アジレントテクノロジーズ(Agilent Technologies社製、「HP8362B」)を用いて、3ターンコイル法にて測定周波数を10MHzとし、室温23℃にて比透磁率(μ’)を測定した。比透磁率を以下の評価基準で評価した。
<Test Example 2: Measurement and Evaluation of Relative Permeability>
The resin sheet obtained in Test Example 1 was heated at 190° C. for 90 minutes to thermally cure the resin composition layer, and the support was peeled off to obtain a sheet-like cured product. The obtained cured product was cut into a test piece having a width of 5 mm and a length of 18 mm to obtain an evaluation sample. The relative magnetic permeability (μ') of this evaluation sample was measured at a room temperature of 23° C. at a measurement frequency of 10 MHz by the 3-turn coil method using Agilent Technologies (manufactured by Agilent Technologies, "HP8362B"). The relative magnetic permeability was evaluated according to the following evaluation criteria.

(比透磁率の評価基準)
「〇」:比透磁率が11以上。
「×」:比透磁率が11未満。
「無記載」:フィルム化できず測定不可。
(Evaluation criteria for relative magnetic permeability)
"◯": Relative permeability is 11 or more.
"x": Relative permeability is less than 11.
"No description": Cannot be made into a film and cannot be measured.

<試験例3:粘度の測定>
実施例及び比較例で得られた樹脂組成物のうちペースト状である実施例1~7及び比較例2の樹脂組成物について、温度を25±2℃に保ち、E型粘度計(東機産業社製「RE-80U」、3°×R9.7コーン、回転数は5rpm)を用いて粘度測定(Pa・s)を行った。
<Test Example 3: Measurement of Viscosity>
Among the resin compositions obtained in Examples and Comparative Examples, the pasty resin compositions of Examples 1 to 7 and Comparative Example 2 were kept at a temperature of 25 ± 2 ° C. and measured with an E-type viscometer (Toki Sangyo Viscosity measurement (Pa·s) was performed using “RE-80U” manufactured by Co., Ltd., 3°×R9.7 cone, rotation speed 5 rpm).

実施例及び比較例の樹脂組成物の不揮発成分及びその含有量、並びに試験例の測定結果及び評価結果を下記表1に示す。 Table 1 below shows the non-volatile components and their contents of the resin compositions of Examples and Comparative Examples, and the measurement results and evaluation results of Test Examples.

Figure 2022120452000001
Figure 2022120452000001

以上から、(A)磁性粉体、及び(B)熱硬化性樹脂を含み、(A)成分が、(A-1)扁平状の磁性粉体、及び(A-2)球状の磁性粉体を含み、(A-1)扁平状の磁性粉体の平均短軸長が1μm以上である樹脂組成物を用いることにより、ペースト化及びフィルム化が容易であり且つ比透磁率に優れた磁性材料が得られることがわかった。 From the above, (A) magnetic powder and (B) thermosetting resin are included, and component (A) is (A-1) flat magnetic powder and (A-2) spherical magnetic powder. (A-1) A magnetic material that can be easily made into a paste or a film and has excellent relative magnetic permeability by using a resin composition in which flat magnetic powder has an average minor axis length of 1 μm or more. was found to be obtained.

10 コア基板
11 支持基板
12 第1金属層
13 第2金属層
14 スルーホール
20 めっき層
30a 樹脂組成物
30 硬化物
40 導体層
41 パターン導体層
100 回路基板
200 内層基板
200a 第1主表面
200b 第2主表面
220 スルーホール
220a スルーホール内配線
240 外部端子
300 磁性部
310 樹脂シート
320a 樹脂組成物層
320 第1硬化物層
330 支持体
340 第2硬化物層
360 ビアホール
360a ビアホール内配線
400 コイル状導電性構造体
420 第1導体層
420a ランド
440 第2導体層
10 core substrate 11 support substrate 12 first metal layer 13 second metal layer 14 through hole 20 plating layer 30a resin composition 30 cured product 40 conductor layer 41 pattern conductor layer 100 circuit board 200 inner layer substrate 200a first main surface 200b second second Main surface 220 through hole 220a through hole wiring 240 external terminal 300 magnetic part 310 resin sheet 320a resin composition layer 320 first cured layer 330 support 340 second cured layer 360 via hole 360a via hole wiring 400 coil-like conductivity Structure 420 First conductor layer 420a Land 440 Second conductor layer

Claims (16)

(A)磁性粉体、及び(B)熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物であって、
(A)成分が、(A-1)扁平状の磁性粉体、及び(A-2)球状の磁性粉体を含み、
(A-1)成分の平均短軸長が1μm以上である、樹脂組成物。
A resin composition containing (A) a magnetic powder and (B) a thermosetting resin,
(A) component contains (A-1) flat magnetic powder and (A-2) spherical magnetic powder,
(A-1) The resin composition, wherein the component has an average minor axis length of 1 μm or more.
(A-1)成分の扁平率が2以上であり、且つ(A-2)成分の扁平率が2未満である、請求項1に記載の樹脂組成物。 2. The resin composition according to claim 1, wherein component (A-1) has an oblateness of 2 or more and component (A-2) has an oblateness of less than 2. (A-1)成分の平均粒径が、10μm~100μmである、請求項1又は2に記載の樹脂組成物。 3. The resin composition according to claim 1, wherein component (A-1) has an average particle size of 10 μm to 100 μm. (A-2)成分の平均粒径が、0.1μm~40μmである、請求項1~3の何れか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 3, wherein component (A-2) has an average particle size of 0.1 µm to 40 µm. (A-2)成分に対する(A-1)成分の質量比((A-1)成分/(A-2)成分)が、0.4~2.3である、請求項1~4の何れか1項に記載の樹脂組成物。 Any one of claims 1 to 4, wherein the mass ratio of component (A-1) to component (A-2) (component (A-1)/component (A-2)) is 0.4 to 2.3. 1. The resin composition according to claim 1. (A)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、25体積%~75体積%である、請求項1~5の何れか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 5, wherein the content of component (A) is 25% by volume to 75% by volume when the non-volatile component in the resin composition is 100% by volume. . (A)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、70質量%~96質量%である、請求項1~6の何れか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 6, wherein the content of component (A) is 70% by mass to 96% by mass when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. . (B)成分が、(B-1)エポキシ樹脂を含む、請求項1~7の何れか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 7, wherein component (B) comprises (B-1) an epoxy resin. (C)硬化促進剤をさらに含む、請求項1~8の何れか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 8, further comprising (C) a curing accelerator. 樹脂組成物の硬化物の比透磁率(μ’)が、測定周波数10MHz、23℃で測定した場合、11以上である、請求項1~9の何れか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 9, wherein the cured product of the resin composition has a relative magnetic permeability (μ') of 11 or more when measured at a measurement frequency of 10 MHz and 23°C. 25℃における粘度が0.05Pa・s~1500Pa・sである、請求項1~10の何れか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 10, which has a viscosity of 0.05 Pa·s to 1500 Pa·s at 25°C. 支持体と、該支持体上に設けられた請求項1~11の何れか1項に記載の樹脂組成物で形成された樹脂組成物層とを含む、樹脂シート。 A resin sheet comprising a support and a resin composition layer formed of the resin composition according to any one of claims 1 to 11 provided on the support. 請求項1~11の何れか1項に記載の樹脂組成物の硬化物。 A cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 11. スルーホールを有する基板と、前記スルーホールに充填した請求項1~11の何れか1項に記載の樹脂組成物の硬化物と、を備える回路基板。 A circuit board comprising a substrate having through holes and a cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 11 filled in the through holes. 請求項1~11の何れか1項に記載の樹脂組成物の硬化物である硬化物層を含む、回路基板。 A circuit board comprising a cured product layer which is a cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 11. 請求項14又は15に記載の回路基板を含む、インダクタ基板。 An inductor substrate comprising the circuit substrate according to claim 14 or 15.
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