JP2022089789A - 内蔵型試験アクチュエータを有するmems振動ビーム加速度計 - Google Patents

内蔵型試験アクチュエータを有するmems振動ビーム加速度計 Download PDF

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Abstract

【課題】内蔵型試験アクチュエータを有するMEMS振動ビーム加速度計と、その試験方法を提供する。【解決手段】共振器18A及び18Bを共振周波数で励起し、外部加速度の存在下で、プルーフマス12は、共振器18A及び18Bの共振器ビーム19A及び19Bに軸力を印加する。プルーフマス12からのこの軸力は、MEMS振動ビーム加速度計10上の外部加速度を測定するために周波数変化が使用され得るように、駆動された共振周波数の変化を引き起こす。【選択図】図1

Description

本開示は、振動ビーム加速度計に関する。
加速度計は、慣性力下でのプルーフマスの変位を検出することによって機能する。一例では、加速度計は、プルーフマスと支持ベースとの間に接続された共振器の周波数の変化によって、プルーフマスの変位を検出することができる。共振器は、加速下でプルーフマスによって共振器に印加される負荷に比例して周波数を変更するように設計されてもよい。共振器は、その共振周波数で共振器を振動させる発振器、又は他の信号生成回路に電気的に結合されてもよい。
パッケージング前のウエハレベルプローブ試験におけるプルーフマス運動の測定のためのシステム及び技術が記載される。いくつかの例では、微小電気機械システム(MEMS)振動ビーム加速度計(VBA)の内蔵型試験アクチュエータが開示される。
一例では、本開示は、プルーフマス、及びプルーフマスに機械的に結合された第1の共振器を備える微小電気機械システム(MEMS)振動ビーム加速度計(VBA)と、プルーフマスに力を印加するように構成された第1の電極とを備えるシステムを記載する。
別の例では、本開示は、微小電気機械システム(MEMS)振動ビーム加速度計(VBA)の試験の方法であって、第1の電極を介してMEMS VBAのプルーフマスに力を印加することと、第2の電極及び第1の共振器のいずれかによって、印加された力に起因するプルーフマスの運動を検出することであって、第1の共振器はプルーフマスに機械的に結合されている、こととを含む方法を記載する。
別の例では、本開示は、プルーフマス、プルーフマスに機械的に結合された第1の共振器、プルーフマスに機械的に結合された第2の共振器であって、第1の共振器及び第2の共振器は対向するスケール係数で配置されている、第2の共振器を備える微小電気機械システム(MEMS)振動ビーム加速度計(VBA)と、プルーフマスに力を印加するように構成された第1の電極と、プルーフマスの運動を感知し、プルーフマスの感知された運動に対応する信号を出力するように構成された、第2の電極と、処理回路であって、第1の電極に、力をプルーフマスに対して印加させ、第2の電極によって感知された印加された力に応答してプルーフマスの運動に対応する信号を受信し、受信した信号に基づいてプルーフマスの運動を決定するように構成された、処理回路とを備えるシステムを記載する。
1つ以上の例の詳細を添付図面及び以下の明細書に記載する。他の特徴、目的、及び利点は、明細書、図面、及び特許請求の範囲から明らかとなるであろう。
1つ以上の例の詳細を添付図面及び以下の明細書に記載する。他の特徴、目的、及び利点は、明細書、図面、及び特許請求の範囲から明らかとなるであろう。
図1は、本開示の1つ以上の技術による、X方向共振器及びプルーフマスアクチュエータ電極を有するMEMS VBAを示す概念図である。
図2は、本開示の1つ以上の技術による、MEMS VBAを含むシステムを示す機能ブロック図である。
図3は、本開示の1つ以上の技術による、MEMS VBAの例示的な試験の方法を示すフロー図である。
図4は、本開示の1つ以上の技術による、MEMS VBAの別の例示的な試験の方法を示すフロー図である。
本開示は、1つ以上の内蔵型試験アクチュエータを含むMEMS VBAを対象とする。VBAは、印加された加速度が(1つ又は複数の)振動ビームの共振周波数の変化として測定され得るように、1つ以上の振動ビーム、又は共振器に慣性力を印加するためにプルーフマスを使用することによって機能する。制御エレクトロニクスは、(1つ又は複数の)振動ビームの運動を維持するために、共振器駆動及び感知電極とインターフェースする。典型的には、2つの振動ビームは、差動周波数(f-f)が測定された加速度を表すように、ヘルツ/g(Hz/g、ここでgは、地面付近の重力に起因する加速度を表す)の対向するスケール係数で配置される。この差動周波数出力は、以下で更に記載されるように、共通モード誤差源を拒絶するのに役立つ。
いくつかの例では、1つ以上の内蔵型試験アクチュエータを含むことで、故障した装置が製造プロセスにおいて早期に、例えばパッケージング前に選別され得るように、ウエハレベルプローブ試験でのプルーフマス運動の測定を可能にする。典型的には、ウエハレベルプローブ試験は2つの共振器が正常に機能していることのみを検証する。通常、プルーフマスの運動を誘発するためにウエハレベルプローブテスタを振盪又は傾斜させることはできない。その後、屈曲の破損又は装置の詰まりなど、プルーフマス運動に関連する故障は、目視検査によって、又は装置が例えば+/-1gで転倒するパッケージングの後にのみ検出されることが可能であり、ここでgは、地面又はその付近の重力によって生じる加速度に等しい加速度を示す。
いくつかの例では、1つ以上の内蔵型試験アクチュエータを介したプルーフマス運動の測定は、プルーフマス固有周波数に関連する品質係数(Q)のより良い特性評価を可能にすることができる。例えば、典型的な試験設定に必要とされる取り付け具が予想外の機械的共振(kHz程度の周波数を有する)を追加することが多いため、振盪機ではQを正確に測定することは困難であるが、このような機械的共振は、内蔵型試験アクチュエータを介してQを測定するときには存在しない。
図1は、X方向共振器及びプルーフマスアクチュエータ電極を有するMEMS VBAを示す概念図である。図1は、支持ベースへのアンカー14を示すMEMS VBA 10の上面図であるが、支持ベースは示されていない。
MEMS VBA 10は、ヒンジ屈曲22で剛性共振器接続構造16に接続された振り子式プルーフマス12と、共振器18A及び18Bとを含む。本開示による振り子式MEMS VBAでは、プルーフマス12は、支持ベース(図1には図示せず)の平面と平行な平面内を移動することができる。支持ベースは、例えば、ガラス又はシリコンウエハの基板であってもよい。MEMS VBA 10の共振器18A及び18Bは、加速下のプルーフマス12の慣性力を、駆動された共振周波数の変化に変換する。MEMS VBAは、加速の量の指標として各共振器の共振周波数の変化を出力する。いくつかの例では、共振器は、てこの作用を通じて増幅されたプルーフマス力を共振器が受信するように、プルーフマスに隣接して配置されてもよい。図1に示される例は2つの共振器を含むが、いくつかの例では、MEMS VBA 10は、より少ないか又は多い共振器、例えば1つの共振器、又は3つ以上の共振器を含んでもよい。
MEMS VBA 10は、特定のアンカー領域、例えばアンカー14で下部及び上部ガラス基板(図1には図示せず)に繋留されたシリコン機械構造体としてMEMS VBA 10を生成する溶解ウエハプロセスから作製されてもよい。ガラス基板は、MEMS VBA 10の解放領域を画定するために他の領域がエッチングされてもよく、これは、プルーフマス12などのシリコン部分が基板に対して自由に移動できるようにする空隙を含む。エッチングされない領域は、機械アンカーを画定するために、シリコンに接合される。シリコン機構及びアンカー領域の両方の形状は、フォトリソグラフィによって画定されてもよい。
シリコンMEMS VBA及びガラス基板を作製するための溶解ウエハプロセスは、本開示のMEMS VBAを作製する技術の単なる一例である。MEMS VBA 10の形状を作製するために、他の技術が使用されてもよい。他のいくつかの例は石英(SiO2)、圧電材料、及び同様の材料などの材料を含むことができる。他のプロセスは、等方性エッチング、化学エッチング、深掘り反応性イオンエッチング(DRIE)、及び同様のプロセスを含むことができる。図1の例では、プルーフマス12、共振器接続構造16、ヒンジ屈曲22、共振器18A、18Bはモノリシック材料で構成されてもよく、その結果、MEMS VBA 10の構成要素は全て同じ熱膨張係数(CTE)となる。MEMS VBA 10の構成要素は全て、図1に示されるX-Y平面と平行な、同じ平面内にある。
プルーフマス12は、ヒンジ屈曲22によってアンカー14で共振器接続構造16に接続する。ヒンジ屈曲22がアンカー14に接続する点は、プルーフマス12の回転中心である。左右の共振器18A及び18Bは、剛性共振器接続構造16によって同じ主要アンカー14に接続する。共振器18A及び18Bは、プルーフマス12の回転中心から距離rでプルーフマス12に接続する。プルーフマス12の重心24は、プルーフマス12の回転中心から距離rである。この結果、プルーフマス12の慣性力は、r/rのてこ率で増幅される。
言い換えると、ヒンジ屈曲22は、プルーフマス12を共振器接続構造16に柔軟に接続するように構成され得る。ヒンジ屈曲22は、アンカー14で支持ベース(図1には図示せず)と平行なプルーフマス12を懸架する。MEMS VBA 10の加速に応答して、プルーフマス12は、X-Y平面と平行で支持ベース(図1には図示せず)の平面と平行なその平面内で、ヒンジ屈曲22の周りを回転する。本開示の支持ベースは、上述のエッチングプロセスを使用して基板から形成されてもよい。
図1の例の共振器18A及び18Bは、固定コームと、解放コームを有する共振器ビームとを含む。共振器18Aは、解放コーム及び固定コーム26A~26Cを有する共振器ビーム19Aを含み、共振器18Bは、解放コーム及び固定コーム20A~20Cを有する共振器ビーム19Bを含む。いくつかの例では、固定コームはステータコームと呼ばれ得る。共振器18A及び18Bは、振り子式プルーフマス12を共振器ビーム19A及び19Bの共振器接続構造16に柔軟に接続し、ヒンジ屈曲22の周りのプルーフマス12の回転に基づいてプルーフマス12の平面内で屈曲するように構成されている。
2つの共振器18A及び18Bの各々はそれぞれの共振周波数で共振し、これは、いくつかの例では、ほぼ同じ周波数であってもよい。MEMS VBA 10は、ガラス基板(図1には図示せず上に堆積された金属層を含む。これらの金属層は、シリコン電極をボンドパッドに接続する電線を画定する。ボンドパッドは、MEMS VBA 10の外部にあってもよく、例えば電荷を印加することによって、静電駆動を通じて各共振器18A及び18Bの共振周波数で機械運動を励起及び維持する外部回路に電気的に接続するために使用されてもよい。外部加速度の存在下で、プルーフマス12は、軸力を偏向し、共振器18A及び18Bの共振器ビーム19A及び19Bに印加する。プルーフマス12からのこの軸力は、MEMS VBA 10上の外部加速度を測定するために周波数変化が使用され得るように、駆動された共振周波数の変化を引き起こす。
共振器ビーム19A~19Bの解放コーム並びに固定コーム20A~20C及び26A~26Cの歯は、共振周波数の変化の検出を可能にすることができるが、これは力の量(例えば、力の増加又は減少)として解釈され、更にMEMS VBA 10上の加速の量として解釈され得る。例えば、較正中、周波数の変化は、共振器ビーム上の力にマッピングされてもよく、これはMEMS VBA 10上の加速の量に更にマッピングされてもよい。図1の例では、2つの共振器18A及び18Bは、プルーフマス12の回転によって2つの共振器ビーム19A~19Bに力(例えば、圧縮又は引っ張り)がかかったときの周波数の変化からの差動周波数測定結果を可能にする。
MEMS VBA 10からの感知信号によって出力された差動周波数測定値は、両方の共振器に共通の誤差の発生源を拒絶するために使用される。一例は、温度変化を含むことができる。つまり、温度変化などの動作条件の変化は、両方の共振器に同じように影響を及ぼす可能性がある。第2の例は、両方の共振器に印加される電圧の任意のシフトである。差動周波数測定値は、共通誤差を減算し、ほぼMEMS VBA 10の加速によって引き起こされる信号のみを残すことによって、両方の共振器に適用された共通誤差の発生源を減じることができる。その後、差動周波数測定値は最終的に、加速度計の改善されたバイアス再現性をもたらすことができる。
いくつかの例では、共振器は異なる共振周波数を有してもよく、例えば、共振器18Aは、共振器18Bとは異なる周波数で共振するように構成されてもよい。いくつかの例では、1つの共振器の質量は、1つ以上の他の共振器とは異なるように構成されてもよい。異なる共振周波数を有する共振器を有するMEMS VBAは利点を提供することができ、例えば、MEMS VBAがゼロg(例えば、実質的にMEMS VBAが受ける加速がない)であるとき、共振器は、全く同じ周波数では共振しない可能性がある。ゼロgにおける異なる周波数は、MEMS VBAに意図的なオフセットを引き起こし、検出可能性及び性能の改善をもたらすことができる。
図1の例では、差動周波数測定値を提供するために、2つの共振器が使用される。別の例では、本開示の技術は、より多いか又は少ない共振器を有するMEMS VBAにも適用され得る。別の例では、1つ以上の共振器は、依然として本開示の技術を使用しながら、x及びyのみならず、いずれの角度に配向されてもよい。図1の例には双音叉(DETF:double-ended tuning fork)コーム共振器として示されているが、別の例では、共振器18A及び18Bは、他のタイプの共振器として構成されてもよい。例えば、DETFの代わりに、共振器18A及び18Bは、単一の共振器ビーム、又はより複雑な共振器形状であってもよい。又、共振器ビーム19A及び1Bは、圧電材料を備えてもよく、櫛歯を含まなくてもよい。
MEMS VBA 10の例では、共振器18A~18Bは、共振器接続構造16の長軸と実質的に平行な方向に屈曲するように構成されている。共振器接続構造16の長軸は、図1の例のX軸と平行である。共振器18A~18Bは、MEMS VBA 10の例では、X軸に沿って配向されている。本開示では、実質的に平行とは、構造又は平面が、製造及び測定公差内で平行であることを意味する。
共振器接続構造16は、プルーフマス12が共振器ビームに軸力を加えることを可能にするのに十分な剛性の接続を通じて、共振器18A~18Bを主要アンカー14に接続する。共振器接続構造16は、共振器の軸方向ばね定数よりも堅くなるようなサイズである。共振器接続構造16及び共振器18A~18Bの形状は、本開示の技術によれば、アンカー14の単一の領域によって支持ベースに接続されるように、プルーフマス12、共振器ビーム19A~19B、及び共振器接続構造16を構成する。共振器接続構造16は、ガラス基板(支持ベース)とシリコン機構(例えば、振り子式プルーフマス12)との間の熱膨張の不一致から生じる可能性のあるバイアス誤差を低減又は防止することができる。言い換えると、シリコン及びガラスマスクの設計は、プルーフマス12及び共振器18A~18Bの両方が、主に単一の領域、例えばアンカー14に固定されるようになっている。
本開示のMEMS VBAの形状の利点は、熱膨張の不一致、並びに基板にかかる他の力が共振器18A~18Bに到達して共振器ビームを著しく歪ませることを低減又は防止することを含み得る。本開示の形状は、異なる形状を有するMEMS VBAと比較したときに、外部加速度のより正確な測定値を最終的に提供するという利点を有し得る。言い換えると、アンカー14は、第1の熱膨張が第2の熱膨張とは異なる例において、支持ベースの第1の熱膨張、並びに共振器18A~18B及び共振器接続構造16のモノリシック材料の第2の熱膨張を可能にするように構成されてもよい。共振器接続構造16の形状は、支持ベースに印加される他の力が、振り子式プルーフマス12又は少なくとも2つの共振器のいずれかに伝達するのを実質的に防止するように構成されている。他の力のいくつかの例は、MEMS VBA 10が実装されている、回路基板、又はその他の構造によってMEMS VBA 10に印加される力を含むことができる。回路基板は、MEMS VBA 10を含む、回路基板上の構成要素に伝達され得る圧迫又は捻れなどの力を受ける可能性がある。
図1の例では、MEMS VBA 10は、ウエハ(図示せず)上の複数のMEMS VBA 10のうちの1つとして作製され得る。ウエハは、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bを含むことができる。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bは、MEMS VBA 10に含まれてもよい。いくつかの例では、ウエハ及び/又はMEMS VBA 10は、1つのプルーフマスアクチュエータ電極、例えば1つ又はいずれかのプルーフマスアクチュエータ30A又は30Bを含んでもよい。いくつかの例では、ウエハ及び/又はMEMS VBA 10は、3つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極、例えば3つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極を含んでもよい。プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bは、上述のものなど、ボンドパッドに接続されたシリコン電極であってもよく、これは、例えばプルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bに電荷、電流信号、及び/又は電圧信号を印加することによって、静電駆動を通じてプルーフマス12の1つ以上の所定の周波数で機械運動を励起する外部回路に接続されてもよい。図示される例では、各プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bとプルーフマス12との間に小さな空隙がある。プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bは、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bの容量変化(ΔC)に応答してプルーフマス12の変位(dx)を引き起こす平行平板電極として構成されてもよい。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bは、プルーフマス12を所定の距離だけ変位させるように構成されてもよい。
いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bのどちらかは、プルーフマス12を駆動するように構成されてもよく、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bの他方は、プルーフマス12の運動を感知するように構成されてもよく、信号回路を読み出すために接続されてもよい。いくつかの例では、一方のプルーフマスアクチュエータ電極、30A又は30Bのいずれかが、プルーフマス12を駆動し、プルーフマス12の運動を感知するように構成されてもよく、読み出し回路に接続されてもよい。いくつかの例では、両方のプルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bがプルーフマス12を駆動するように構成されてもよく、共振器18A及び18Bの一方又は両方が、プルーフマス12の運動を感知するように構成されてもよく、読み出し回路に接続されてもよい。
いくつかの例では、共振器電極(図示せず)は、閉ループ振動で共振器18A及び18Bを駆動するように構成されてもよい。静電力を生成するために、直流(DC)又は低速変動電圧信号が各プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bに印加されてもよく、Hz/gのスケール係数を評価するために、共振器18A及び18Bの周波数変化が観察されてもよい。閉ループ振動で共振器18A及び18Bを駆動し、共振器18A及び18Bの周波数変化を観察することで、期待される周波数シフトを引き起こすためにプルーフマス12が共振器18A及び18Bに正しく接続されていることの検証を可能にすることができる。
いくつかの例では、1つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bは、線形容量対変位の関係を有するコームフィンガとして構成されてもよい。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bは、プルーフマス12内に埋め込まれてもよい。2つのプルーフマスアクチュエータ電極が示されているが、より多いか又は少ないプルーフマスアクチュエータ電極が含まれ、及び/又は使用されてもよい。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bを使用する暫定試験の後、例えばウエハレベルプローブ試験及びパッケージ試験の間、共振器18A及び18Bを制御する回路基板(図示せず)は、例えば使用時にプルーフマス12に対して慣性力のみが作用するように、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bを接地に接続することができる。
図2は、本開示の1つ以上の技術による、MEMS VBA 110を含むシステム100を示す機能ブロック図である。システム100の機能ブロックは、本開示によるMEMS VBAを含み得るシステムの単なる一例である。別の例では、機能ブロックは組み合わせられてもよく、又は機能は、図2に示されるものとは異なる方法でグループ化されてもよい。いくつかの例では、図2に関して図示及び記載された機能ブロックのいずれか又は全てはMEMS VBA 110に含まれてもよく、例えば、機能ブロックのいずれか又は全てはMEMS VBA 110の一部であってもよい。他の回路112は、電源回路、及び様々な機能、例えば慣性航法及び運動感知を実行するためにMEMS VBA 110の出力を使用し得るその他の処理回路を含むことができる。
システム100は、処理回路102、共振器駆動回路104A及び104B、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114B、並びにMEMS VBA 110を含むことができる。MEMS VBA 110は、図1に関連して上述された振り子式プルーフマスMEMS VBAを含む、任意のVBAを含むことができる。
図2の例では、共振器駆動回路104A及び104Bは、MEMS VBA 110に動作可能に接続されており、共振器駆動信号106A及び106BをMEMS VBA 110に送信すると共に、MEMS VBA 110から共振器感知信号108A及び108Bを受信することができる。図2の例では、共振器駆動回路104Aは、1つの共振器、例えば図1に示される共振器18Aに結合されてもよく、共振器駆動回路104Bは、第2の共振器、例えば共振器18Bに結合されてもよい。共振器駆動回路104A及び104Bは、MEMS VBA 110の共振器を共振器の各々のそれぞれの共振周波数で振動させる信号を出力するように構成されてもよい。いくつかの例では、振動は、静電駆動を通じて各共振器の機械運動を励起及び維持することを意味する。いくつかの例では、共振器駆動回路104A及び104Bは、1つ以上の発振器回路を含むことができる。いくつかの例では、MEMS VBA 110への信号波、加速度計の支持ベースに沿った、又はこの中の導電経路に沿って移動することができる。共振器駆動回路104A及び104Bからの信号は、MEMS VBA 110の共振器に共振を維持させるために、パターン化電界を提供することができる。
共振器駆動回路104Aは、共振器駆動回路104Bからの駆動信号106Bとは異なる周波数で駆動信号106Aを出力することができる。図2の例は、共振器感知信号108A及び108Bに基づいて作動周波数信号を決定するように構成されてもよい。共振器駆動回路104A及び104Bは、例えば共振器をそれぞれの共振周波数で維持するために、共振器感知信号108A及び108Bからのフィードバックループに基づいて、共振器駆動信号106A及び106Bからの出力を調整することができる。上述のように、本開示によるMEMS VBAは、1つの共振器、又は3つ以上の共振器を含んでもよく、より少ないか又は追加の共振器駆動回路を含んでもよい。
図1に関連して上述されたように、例えば、プルーフマスの平面と実質的に平行な、振り子式質量MEMS VBAの加速は、プルーフマスの平面と平行なヒンジ屈曲の周りの振り子式プルーフマスの回転を引き起こすことができる。MEMS VBA 110の共振器は、力が少なくとも1つの共振器の共振周波数のそれぞれの変化を引き起こすように、プルーフマスの回転に応答して、力を受けるように構成されてもよい。
処理回路102は、共振器駆動回路104A及び104Bと通信し得る。処理回路102は、フィルタリング、増幅、及びアナログデジタル変換(ADC)など、様々な信号処理機能を含むことができる。フィルタリング機能は、ハイパス、バンドパス、又はその他のタイプの信号フィルタリングを含むことができる。いくつかの例では、共振器駆動回路104A及び104Bも又、増幅及びフィルタリングなどの信号処理機能を含むことができる。処理回路102は、MEMS VBA 110から受信した処理済み信号を、アナログ又はデジタル信号として他の回路112に出力することができる。処理回路102は又、コマンド信号、較正信号、及び同様の信号など、他の回路112から信号を受信することもできる。
処理回路102は、例えば共振器駆動回路104A及び104Bを介して、MEMS VBA 110に動作可能に接続され得る。処理回路102は、MEMS VBA 110から信号を受信するように構成されてもよく、これは、MEMS VBA 110の少なくとも1つの共振器の共振周波数のそれぞれの変化を示すことができる。共振周波数のそれぞれの変化に基づいて、処理回路102は、加速度測定値を決定してもよく、又はプルーフマス12の運動及び/又は変位を別途決定してもよい。別の例(図2には図示せず)では、処理回路102は、MEMS VBA 110からのフィードバックループの一部であってもよく、共振器をそれらの共振周波数で維持するように共振器駆動信号106A及び106Bを制御してもよい。
図2の例では、電極駆動回路114A及び114Bは、MEMS VBA 110と動作可能に接続されてもよく、プルーフマスアクチュエータ電極駆動信号116A及び116BをMEMS VBA 110に送信すると共に、MEMS VBA 110からプルーフマスアクチュエータ電極感知信号118A及び118Bを受信してもよい。図2の例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114Aは、1つの電極、例えば図1に示されるプルーフマスアクチュエータ電極30Aに結合されてもよく、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114Bは、第2の電極、例えばプルーフマスアクチュエータ電極30Bに結合されてもよい。或いは、MEMS VBA 110は、複数の加速度計を含むウエハの一部として作製されてもよく、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bは、MEMS VBA 110ではなくウエハに含まれ得るプルーフマス電極30A及び30Bなど、MEMS VBA 110が取り付けられ得るウエハの構成要素に動作可能に接続されてもよい。プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bは、1つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極に力をプルーフマスに対して印加させる信号を出力するように構成されてもよく、これによりプルーフマスを加速、変位、振動、及び/又は別途動かす。いくつかの例では、振動は、静電駆動を通じてプルーフマスの機械運動を励起及び維持することを意味する。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bは、1つ以上の発振器回路を含むことができる。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bからの信号は、MEMS VBA 110のプルーフマス12に共振を維持させるためのパターン化電界を提供することができる。
いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bは、例えば、プルーフマス12を共振周波数で維持するために、プルーフマスアクチュエータ電極感知信号118A及び118Bからのフィードバックループに基づいて、プルーフマスアクチュエータ電極駆動信号116A及び116Bの出力を調整するように構成されてもよい。MEMS VBA、及び/又は本開示による複数のMEMS VBAを含むウエハは、1つのプルーフマスアクチュエータ電極、又は3つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極を含んでもよく、より少ないか又は追加のプルーフマスアクチュエータ電極駆動回路を含んでもよい。
図1に関連して上述されたように、1つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極は、MEMS VBAのプルーフマスに、プルーフマスの平面と実質的に平行な方向に加速、変位、振動、及び/又は別途動かすことができ、プルーフマスの平面と平行なヒンジ屈曲の周りの振り子式プルーフマスの回転を引き起こすことができる。1つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極は、プルーフマスの加速、変位、振動、及び/又は運動を感知するように構成されてもよい。追加的又は代替的に、プルーフマスに結合された1つ以上の共振器は、上述のように、プルーフマスの加速、変位、振動、及び/又は運動を感知するように構成されてもよく、例えばプルーフマスは、慣性又は他の力ではなく、1つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極によって駆動される。
例えば、プルーフマスアクチュエータ電極、例えばプルーフマスアクチュエータ電極30Aは、プルーフマスを感知するように構成されてもよく、1つ以上の他のプルーフマスアクチュエータ電極、例えばプルーフマスアクチュエータ電極30Bは、プルーフマスの運動を感知するように構成されてもよい。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114Aは、1つ以上の周波数を含む正弦波電圧駆動信号などの振動駆動信号を出力することができる。プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114Aは、プルーフマスアクチュエータ電極30Aに正弦振動力をプルーフマス12に対して印加させる正弦振動プルーフマスアクチュエータ電極駆動信号116Aを出力するように構成されてもよい。正弦振動力は、プルーフマス12を発振及び/又は振動させることができ、プルーフマスアクチュエータ電極30Bは、例えば、電界におけるプルーフマス12の運動に比例するプルーフマスアクチュエータ電極30Bの誘導電流を介して、プルーフマス12の発振及び/又は振動を感知することができる。
プルーフマス電極駆動回路114Aは、複数の周波数で発信するプルーフマスアクチュエータ電極駆動信号116Aを出力するように構成されてもよい。いくつかの例では、複数の周波数が同時に印加されてもよく、例えば、電極に印加されるプルーフマスアクチュエータ電極駆動信号118Aは、複数の周波数成分を含むことができる。別の例では、ある期間、例えば周波数掃引駆動信号にわたって、複数の周波数が印加されてもよい。プルーフマス12に対する結果的な静電力は、プルーフマスアクチュエータ電極駆動信号に対応する複数の周波数を含むことができ、プルーフマス12は、複数の周波数を含む印加された振動静電力に応答して、運動及び/又は振動することができる。いくつかの例では、プルーフマス12は、複数の周波数のうちの1つ以上と共振して運動及び/又は振動してもよく、例えばプルーフマス12は、1つ以上の共振周波数、例えば1つ以上のプルーフマス固有周波数で振幅を増加させて振動してもよい。
いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30Bは、プルーフマス12の感知された運動に比例するプルーフマスアクチュエータ電極感知信号118Bを出力することができる。プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114B及び処理回路102の一方又は両方は、プルーフマスアクチュエータ電極感知信号118Bを受信し、プルーフマス12の運動を決定するように構成されてもよい。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114Bは、プルーフマス12を駆動するように構成されてもよく、プルーフマスアクチュエータ電極30Aは、プルーフマス12の運動を感知するように構成されてもよい。
いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114B並びに処理回路102のいずれか又は全ては、感知されたプルーフマス固有周波数に関連する品質係数(Q)を決定するように構成されてもよい。
いくつかの例では、共振器駆動回路104a及び104B、及び/又は処理回路102は、共振器感知信号108A及び108Bの一方又は両方に基づいてプルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bの一方又は両方によって引き起こされるプルーフマス12の加速、変位、及び/又は運動を決定するように構成されてもよい。
例えば、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bの一方又は両方は、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bの一方又は両方にプルーフマス12に対する静電力を生成させる低速変動及び/又はDC信号を出力するように構成されてもよい。プルーフマス12は、印加された静電力に応答して変位してもよく、差動周波数測定値は、例えば、共振器感知信号108A及び108Bに基づいて共振器駆動回路104A及び104B並びに処理回路102のいずれかによって、決定されてもよい。追加的又は代替的に、Hz/gのスケール係数を決定するために、共振器18A及び18Bの一方又は両方の周波数変化が観察されてもよい。例えば、共振器駆動回路104A及び104B並びに処理回路102のいずれかは、共振器18A及び18Bの一方又は両方において、共振器感知信号108A及び108Bに基づいて、周波数変化を決定してもよく、共振器駆動回路104A及び104B並びに処理回路102のいずれかは、決定された周波数変化に基づいてスケール係数を決定してもよい。
処理回路102は、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bと通信することができる。処理回路102は、フィルタリング、増幅、及びアナログデジタル変換(ADC)など、様々な信号処理機能を含むことができる。フィルタリング機能は、ハイパス、バンドパス、又はその他のタイプの信号フィルタリングを含むことができる。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bも又、増幅及びフィルタリングなどの信号処理機能を含むことができる。処理回路102は、MEMS VBA 110及び/又はプルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bから受信した処理済み信号を、アナログ又はデジタル信号として他の回路112に出力することができる。処理回路102は又、コマンド信号、較正信号、及び同様の信号など、他の回路112から信号を受信することもできる。
処理回路102は、例えばプルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bを介して、MEMS VBA 110、及び/又は複数のMEMS VBA 110を含むウエハに動作可能に接続することができる。処理回路102は、MEMS VBA 110、及び/又は複数のMEMS VBA 110を含むウエハから信号を受信するように構成されてもよく、これは、少なくとも1つのMEMS VBA 110の少なくとも1つのプルーフマスの加速、運動、固有周波数、及び/又はQを示すことができ、加速に起因する期待される周波数シフトを引き起こすために、少なくとも1つのMEMS VBAの少なくとも1つのプルーフマスが正しく機能しているか、及び/又は共振器に正しく接続されているかを示すことができる。
いくつかの例では、電極駆動回路114A及び114B、共振器駆動回路104A及び104B、並びに処理回路102のいずれか又は全ては、プルーフマスアクチュエータ電極感知信号118A及び118B並びに共振器感知信号108A及び108Bのいずれか又は全てに基づいて、プルーフマス12が詰まっているか又は正しく機能しているか、及びプルーフマス12が共振器、例えば共振器18A及び18Bに正しく接続されているかを判定するように構成されてもよい。いくつかの例では、電極駆動回路114A及び114B、共振器駆動回路104A及び104B、並びに処理回路102のいずれか又は全ては、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bに周波数掃引駆動信号を印加することによって、プルーフマス特性、例えば1つ以上のプルーフマス共振及び/又は固有周波数を決定するように構成されてもよい。
いくつかの例では、電極駆動回路114A及び114B、共振器駆動回路104A及び104B、並びに処理回路102のいずれか又は全ては、パワーオン時、又は動作中の任意の時点でMEMS VBA 110を較正するように構成されてもよい。例えば、電極駆動回路114A及び/又は114Bは、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bにそれぞれ、プルーフマス12に力を印加させてプルーフマス12を動かす信号を出力してもよい。プルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30B並びに共振器18A及び/又は18Bは、プルーフマス12の運動を感知し、プルーフマスアクチュエータ電極感知信号118A及び/又は118B、及び/又は共振器感知信号108A及び/又は108Bをそれぞれ出力する。次いで、電極駆動回路114A及び/又は114B、又は共振器駆動回路104A及び/又は104B、若しくは処理回路102は、必要に応じて、共振器18A及び/又は18Bのバイアス及び/又はスケール係数、及び/又はMEMS VBA 110の1つ以上の較正パラメータを決定することができる。別の例では、電極駆動回路114A及び114B、共振器駆動回路104A及び104B、並びに処理回路102のいずれか又は全ては、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bに印加された周波数掃引駆動信号を介してMEMS VBA 110を較正するように構成されてもよい。いくつかの例では、電極駆動回路114A及び114B、共振器駆動回路104A及び104B、並びに処理回路102のいずれか又は全ては、定期的に及び/又は連続的にMEMS VBA 110を較正するように構成されてもよい。
いくつかの例では、電極駆動回路114A及び114B、共振器駆動回路104A及び104B、並びに処理回路102のいずれか又は全ては、動作のリバランス又は力対リバランスモードを強制するように構成されてもよい。例えば、電極駆動回路114A及び/又は114Bは、例えば、デフォルト位置からのプルーフマス12の運動に抵抗し、これにより、デフォルト位置からプルーフマス12を変位及び/又は移動させるのに必要な力を大きくする(例えば、MEMS VBA 110の加速に起因して)力を、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bを介して印加することによって、プルーフマス12をデフォルト位置に戻すため、及び/又はプルーフマス12をデフォルト位置に「保持」するために、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bに力をプルーフマス12に対して印加させるDC又は低速変動バイアス電圧信号をプルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bに印加するように構成されてもよい。いくつかの例では、システム100は、閉ループ及び/又はフィードバックループモードで動作してもよい。例えば、力はプルーフマス12を加速、変位、振動、又は別途動かすことができ、共振器18A及び/又は18B、及び/又はプルーフマス電極30A及び/又は30Bは、プルーフマス12の運動を感知することができる。電極駆動回路114A及び/又は114B、若しくは共振器駆動回路104A及び/又は104B、若しくは処理回路102のいずれかは、デフォルト位置、例えばゼロg又はゼロ外力位置にプルーフマス12を戻すためにプルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bに印加する信号を決定することができ、電極駆動回路114A及び/又は114Bに、この信号をプルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bに対して印加させることができる。いくつかの例では、共振器駆動回路104A及び/又は104B、若しくは処理回路102は、共振器18A及び18Bの差周波数、共振器18A及び18Bの重み付け及び/又はスケーリングされた差周波数、共振器18A及び18Bの二乗重み付け及びスケーリングされた差周波数などに基づいて、デフォルト位置にプルーフマス12を戻すプルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bに印加される信号を決定することができる。いくつかの例では、力リバランス又は力対リバランスは、システム100及び/又はMEMS VBA 110の動作を改善することができ、例えばシステム100は、別途プルーフマス12を変位限界に到達させ、及び/又は共振器18A及び/又は18B、及び/又はプルーフマスアクチュエータ電極30A及び/又は30Bを感知限界に到達させることができるより大きな力を感知するために、向上した感度及び/又は拡張されたダイナミックレンジを有することができる。
図3は、本開示の1つ以上の技術による、MEMS VBAを試験する例示的な方法300を示すフロー図である。方法300は、MEMS VBA 110、及び/又は複数のMEMS VBA 110及び電極30A及び30Bを含むウエハを参照して記載されるが、方法300は、他のセンサと共に使用されてもよい。
プルーフマスアクチュエータ電極は、1つ以上の周波数を含む駆動信号を用いてプルーフマスに力を印加することができる(302)。いくつかの例では、MEMS VBAのプルーフマスは、MEMS VBAに含まれる、又はMEMS VBAを含むウエハに含まれるプルーフマスアクチュエータ電極によって駆動されてもよい。例えば、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114Aは、プルーフマスアクチュエータ電極30Aに正弦振動力をプルーフマス12に対して印加させる1つ以上の周波数を含む正弦波駆動信号などのプルーフマスアクチュエータ電極駆動信号116Aを出力してもよい。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30Aは、複数の周波数を含む力をプルーフマス12に同時に印加してもよく、例えば、プルーフマスアクチュエータ電極駆動信号118Aは複数の周波数成分を含むことができる。別の例では、プルーフマスアクチュエータ電極30Aは、ある期間、例えば周波数掃引駆動信号にわたって、複数の周波数を含む力をプルーフマス12に同時に印加してもよい。プルーフマス12に対する結果的な静電力は、プルーフマスアクチュエータ電極駆動信号に対応する複数の周波数を含むことができ、プルーフマス12は、複数の周波数を含む印加された振動静電力に応答して、運動及び/又は振動することができる。いくつかの例では、プルーフマス12は、複数の周波数のうちの1つ以上と共振して運動及び/又は振動してもよく、及び/又はプルーフマス12は、1つ以上の共振周波数、例えば1つ以上のプルーフマス固有周波数で振幅を増加させて振動してもよい。
プルーフマスアクチュエータ電極は、駆動力に応答してプルーフマスの運動を感知及び/又は検出することができる(304)。例えば、プルーフマスアクチュエータ電極30Bは、プルーフマス12の発振及び/又は振動を感知することができる。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30Bは、プルーフマス12の感知された運動に比例するプルーフマスアクチュエータ電極感知信号118Bを出力することができる。プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114B及び処理回路102の一方又は両方は、プルーフマスアクチュエータ電極感知信号118Bを受信し、プルーフマス12の運動を決定するように構成されてもよい。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114Bは、プルーフマス12を駆動するように構成されてもよく、プルーフマスアクチュエータ電極30Aは、プルーフマス12の運動を感知するように構成されてもよい。
いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114B並びに処理回路102のいずれか又は全ては、感知されたプルーフマス固有周波数に関連する品質係数(Q)を決定するように構成されてもよい。
1つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極は、接地に接続されてもよい(306)。例えば、プルーフマスアクチュエータ電極は、ウエハレベルプローブ試験及びパッケージ試験などの暫定試験の間のみの使用を意図してもよい。例えば、電極駆動回路114A及び114B、共振器駆動回路104A及び104B、処理回路102、並びに他の処理回路112のいずれか又は全てを含む回路基板(図示せず)は、プルーフマスに対して慣性力のみが作用するように、試験の後に、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bを接地に接続してもよい。言い換えると、MEMS VBA 110が試験後に使用されるとき、電極30A及び30Bは接地され、プルーフマス12に対して作用すること又は力を印加することが防止され得る。
図4は、本開示の1つ以上の技術による、MEMS VBAを試験する別の例示的な方法400を示すフロー図である。方法400は、MEMS VBA 110、及び/又は複数のMEMS VBA 110及び電極30A及び30Bを含むウエハを参照して記載されるが、方法400は、他のセンサと共に使用されてもよい。
プルーフマスアクチュエータ電極は、DC、低速変動、駆動信号を用いてプルーフマスに力を印加することができる(402)。いくつかの例では、MEMS VBAのプルーフマスは、MEMS VBAに含まれる、又はMEMS VBAを含むウエハに含まれるプルーフマスアクチュエータ電極によって駆動されてもよい。例えば、プルーフマスアクチュエータ電極駆動回路114A及び114Bは、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bの一方又は両方にプルーフマス12に対する静電力を生成させるプルーフマスアクチュエータ電極駆動信号116A及び116B、低速変動、及び/又はDC電圧信号を出力してもよい。プルーフマス12は、印加された静電力に応答して、加速、変位、又は別途移動することができる。いくつかの例では、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bの一方又は両方は、プルーフマス12に対する静電力を生成することによって、プルーフマス12を所定の距離だけ変位させることができる。
共振器は、駆動力に応答して、プルーフマスの加速、変位、及び/又は運動を感知及び/又は検出することができる(404)。例えば、共振器駆動回路104A及び104B並びに処理回路102のいずれかは、共振器感知信号108A及び108Bに基づいて差動周波数を決定することができる。追加的又は代替的に、共振器駆動回路104A及び104B並びに処理回路102のいずれかは、共振器18A及び18Bの一方又は両方の周波数変化を決定し、周波数変化に基づいてHz/gのスケール係数を決定してもよい。
1つ以上のプルーフマスアクチュエータ電極は、例えば、上述の(306)と同様に、接地に接続されてもよい(406)。例えば、プルーフマスアクチュエータ電極は、ウエハレベルプローブ試験及びパッケージ試験などの暫定試験の間のみの使用を意図してもよい。例えば、電極駆動回路114A及び114B、共振器駆動回路104A及び104B、処理回路102、並びに他の処理回路112のいずれか又は全てを含む回路基板(図示せず)は、プルーフマスに対して慣性力のみが作用するように、試験の後に、プルーフマスアクチュエータ電極30A及び30Bを接地に接続してもよい。言い換えると、MEMS VBA 110が試験後に使用されるとき、電極30A及び30Bは接地され、プルーフマス12に対して作用すること又は力を印加することが防止され得る。
本開示に記載される技術は、少なくとも部分的に、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、又はこれらの任意の組み合わせで実行され得る。例えば、記載される技術の様々な態様は、1つ以上のマイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ(DSP)、特定用途向け集積回路(ASIC)、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)、又は任意の他の等価な集積若しくは個別の論理回路、並びにこのような構成要素の任意の組み合わせを含む、1つ以上のプロセッサ内で実行され得る。用語「プロセッサ」又は「処理回路」は、一般に、前述の論理回路のうちのいずれかを単独で、又は他の論理回路と組み合わせて、又は任意の他の等価回路を指すことができる。ハードウェアを含む制御ユニットも、本開示の技術のうちの1つ以上を実施することができる。
このようなハードウェア、ソフトウェア、及びファームウェアは、本開示に記載される様々な技術をサポートするために、同じデバイス内又は別個のデバイス内に実装されてもよい。加えて、記載されたユニット、モジュール、又は構成要素のいずれも、個別であるが相互運用可能な論理デバイスとして、一緒に又は別個に実装されてもよい。モジュール又はユニットとしての異なる特徴の描写は、異なる機能的態様を強調することを意図しており、そのようなモジュール又はユニットが別個のハードウェア、ファームウェア、又はソフトウェアの構成要素によって実現されなければならないことを必ずしも意味するものではない。むしろ、1つ以上のモジュール又はユニットと関連付けられた機能は、別個のハードウェア、ファームウェア、若しくはソフトウェアの構成要素によって実施されてもよく、又は共通の若しくは別個のハードウェア、ファームウェア、若しくはソフトウェアの構成要素内に統合されてもよい。
本開示に記載の技術は又、命令で符号化されたコンピュータ可読記憶媒体を含む製品において具現化又は符号化されてもよい。コンピュータ可読記憶媒体を含む製品に埋め込まれた又は符号化された命令は、例えば、コンピュータ可読記憶媒体に含まれるか又は符号化された命令が1つ以上のプロセッサによって実行されるときなどに、1つ以上のプログラム可能なプロセッサ又は他のプロセッサに、本明細書に記載の技術のうちの1つ以上を実行させることができる。コンピュータ可読記憶媒体としては、ランダムアクセスメモリ(RAM)、読み取り専用メモリ(ROM)、プログラム可能読み取り専用メモリ(PROM)、消去可能プログラム可能読み取り専用メモリ(EPROM)、電子的消去可能プログラム可能読み取り専用メモリ(EEPROM)、フラッシュメモリ、ハードディスク、コンパクトディスクROM(CD-ROM)、フロッピーディスク、カセット、磁気媒体、光学媒体、又は他のコンピュータ可読媒体を挙げることができる。いくつかの例では、製品は、1つ以上のコンピュータ可読記憶媒体を含み得る。
いくつかの例では、コンピュータ可読記憶媒体は、非一時的媒体を含み得る。用語「非一時的」は、記憶媒体が搬送波又は伝播信号で具現化されていないことを示してもよい。いくつかの実施例では、非一時的記憶媒体は、経時的に(例えば、RAM又はキャッシュ内で)変化することができるデータを記憶してもよい。
様々な実施例が記載されている。これら及び他の実施例は、以下の特許請求の範囲の範疇内である。

Claims (3)

  1. システムであって、
    プルーフマス、
    前記プルーフマスに機械的に結合された第1の共振器、
    前記プルーフマスに機械的に結合された第2の共振器であって、前記第1の共振器及び前記第2の共振器は対向するスケール係数で配置されている、第2の共振器
    を備える微小電気機械システム(MEMS)振動ビーム加速度計(VBA)と、
    前記プルーフマスに力を印加するように構成された第1の電極と、
    前記プルーフマスの運動を感知し、前記プルーフマスの前記感知された運動に対応する信号を出力するように構成された、第2の電極と、
    処理回路であって、
    前記第1の電極に、前記力を前記プルーフマスに対して印加させ、
    前記第2の電極によって感知された前記印加された力に応答して前記プルーフマスの運動に対応する信号を受信し、
    前記受信した信号に基づいて前記プルーフマスの運動を決定する
    ように構成された、処理回路と
    を備えるシステム。
  2. 前記処理回路は、
    複数の周波数の正弦波力を前記プルーフマスに印加するために、前記複数の周波数の正弦波電圧信号を前記第1の電極に対して印加させ、
    前記受信した信号に基づいて、前記プルーフマスの1つ以上の共振周波数を決定する
    ように更に構成されている、請求項1に記載のシステム。
  3. 微小電気機械システム(MEMS)振動ビーム加速度計(VBA)の試験の方法であって、
    第1の電極を介してMEMS VBAのプルーフマスに力を印加することと、
    第2の電極及び第1の共振器のいずれかによって、前記印加された力に起因するプルーフマスの運動を検出することであって、前記第1の共振器は前記プルーフマスに機械的に結合されている、ことと
    を備える方法。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11879906B2 (en) * 2021-11-18 2024-01-23 Invensense, Inc. Inertial sensor sensing of vibration frequency

Family Cites Families (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5501103B1 (en) * 1994-02-15 1998-08-04 Allied Signal Inc Two-port electromagnetic drive for a double-ended tuning fork
US6316796B1 (en) * 1995-05-24 2001-11-13 Lucas Novasensor Single crystal silicon sensor with high aspect ratio and curvilinear structures
WO1997047977A1 (en) * 1996-06-11 1997-12-18 Alliedsignal Inc. Compensation of second-order non-linearity in sensors employing double-ended tuning forks
US5969249A (en) * 1997-05-07 1999-10-19 The Regents Of The University Of California Resonant accelerometer with flexural lever leverage system
US6938334B2 (en) * 2003-10-31 2005-09-06 Honeywell International, Inc. Vibrating beam accelerometer two-wafer fabrication process
US7578189B1 (en) 2006-05-10 2009-08-25 Qualtre, Inc. Three-axis accelerometers
EP2616772B1 (en) 2010-09-18 2016-06-22 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined monolithic 3-axis gyroscope with single drive
WO2012040043A1 (en) * 2010-09-20 2012-03-29 Sand9, Inc. Resonant sensing using extensional modes of a plate
WO2012153335A1 (en) * 2011-05-09 2012-11-15 Ramot At Tel-Aviv University Ltd. Bistable force and/or acceleration sensor
US8875578B2 (en) 2011-10-26 2014-11-04 Silicon Laboratories Inc. Electronic damper circuit for MEMS sensors and resonators
GB2505875A (en) * 2012-09-04 2014-03-19 Cambridge Entpr Ltd Dual and triple axis inertial sensors and methods of inertial sensing
US9000833B2 (en) 2013-03-06 2015-04-07 Silicon Laboratories Inc. Compensation of changes in MEMS capacitive transduction
US9297826B2 (en) 2013-03-08 2016-03-29 Freescale Semiconductor Inc. System and method for monitoring an accelerometer
US9442131B2 (en) 2013-03-13 2016-09-13 Analog Devices, Inc. System and method for run-time hermeticity detection of a capped MEMS device
EP3019881A4 (en) * 2013-04-14 2017-04-19 Purdue Research Foundation Performance improvement of mems devices
US9733268B2 (en) 2013-10-07 2017-08-15 Hanking Electronics Ltd. Systems and methods to determine stiction failures in MEMS devices
GB201410038D0 (en) 2014-06-06 2014-07-16 Atlantic Inertial Systems Ltd Accelerometers
US10823754B2 (en) * 2014-11-14 2020-11-03 Honeywell International Inc. Accelerometer with strain compensation
US9689888B2 (en) * 2014-11-14 2017-06-27 Honeywell International Inc. In-plane vibrating beam accelerometer
WO2017030620A1 (en) * 2015-05-29 2017-02-23 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus and methods for photonic integrated resonant accelerometers
US9720012B2 (en) 2015-07-21 2017-08-01 Nxp Usa, Inc. Multi-axis inertial sensor with dual mass and integrated damping structure
US10236858B1 (en) 2015-08-26 2019-03-19 Hrl Laboratories, Llc Differential split-electrode feedthrough cancellation mechanism
US10352960B1 (en) * 2015-10-30 2019-07-16 Garmin International, Inc. Free mass MEMS accelerometer
US10564179B2 (en) 2015-12-10 2020-02-18 Panasonic Corporation Residual voltage self test
US10379137B2 (en) * 2015-12-15 2019-08-13 Panasonic Corporation Accelerometer sense path self-test
US20170205440A1 (en) 2016-01-19 2017-07-20 Rosemount Aerospace Inc. Mems peizoelectric accelerometer with built-in self test
US10393618B2 (en) 2016-06-22 2019-08-27 Nxp Usa, Inc. Controlled pulse generation methods and apparatuses for evaluating stiction in microelectromechanical systems devices
CN107179046B (zh) * 2017-04-10 2020-03-17 西安交通大学 一种基于谐振器同步振荡的频率检测方法及其倾角传感器
GB2561886B (en) * 2017-04-27 2022-10-19 Cambridge Entpr Ltd High performance micro-electro-mechanical systems accelerometer
GB2561889B (en) * 2017-04-27 2022-10-12 Cambridge Entpr Ltd High performance micro-electro-mechanical systems accelerometer with electrostatic control of proof mass
TWI668412B (zh) 2017-05-08 2019-08-11 日商村田製作所股份有限公司 電容式微機電加速度計及相關方法
CN110221098A (zh) 2018-03-01 2019-09-10 中国科学院微电子研究所 硅微谐振式加速度计及其自测试方法
US11287442B2 (en) 2018-03-06 2022-03-29 Apple Inc. Continuous calibration of accelerometer sensitivity by proof-mass dithering
US11112269B2 (en) 2018-07-09 2021-09-07 Analog Devices, Inc. Methods and systems for self-testing MEMS inertial sensors
US10866258B2 (en) 2018-07-20 2020-12-15 Honeywell International Inc. In-plane translational vibrating beam accelerometer with mechanical isolation and 4-fold symmetry
US10859596B2 (en) 2018-07-20 2020-12-08 Honeywell International Inc. Mechanically-isolated in-plane pendulous vibrating beam accelerometer
US11119115B2 (en) 2018-08-27 2021-09-14 Honeywell International Inc. Vibrating beam accelerometer
US11287441B2 (en) 2019-11-07 2022-03-29 Honeywell International Inc. Resonator including one or more mechanical beams with added mass
US11567100B2 (en) 2019-11-07 2023-01-31 Honeywell International Inc. Vibrating beam accelerometer with additional support flexures to avoid nonlinear mechanical coupling

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