JP2022048477A

JP2022048477A - Ion analyzer

Info

Publication number: JP2022048477A
Application number: JP2020154311A
Authority: JP
Inventors: 慶小寺; Kei Kodera
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 2020-09-15
Filing date: 2020-09-15
Publication date: 2022-03-28

Abstract

To provide an ion analysis technique capable of dissociating precursor ions derived from a sample component at a lower cost than before.SOLUTION: An ion analyzer 1 that analyzes product ions generated from precursor ions derived from sample components includes a reaction chamber 132 into which precursor ions are introduced, a reaction gas supply unit 4 that supplies reaction gas which is gas having reducing ability at a predetermined temperature or higher or gas having oxidizing ability at a predetermined temperature or higher to the reaction chamber, a heating unit 134 that heats the reaction gas, and a separation detection unit 136 that separates and detects the product ions generated in the reaction chamber according to predetermined physical quantity.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、試料成分由来のイオンを解離させ、プロダクトイオンを生成して分析するイオン分析装置に関する。 The present invention relates to an ion analyzer that dissociates ions derived from sample components to generate and analyze product ions.

高分子化合物であるタンパク質やペプチドの構造解析を行う際には、タンパク質やペプチドを特定の部位で解離させ、その解離によって生成されたイオンからタンパク質やペプチドの部分構造を推定することが有効である。 When analyzing the structure of a protein or peptide that is a polymer compound, it is effective to dissociate the protein or peptide at a specific site and estimate the partial structure of the protein or peptide from the ions generated by the dissociation. ..

特許文献１及び２には、タンパク質やペプチドである試料成分由来のプリカーサイオンにラジカルを照射することによりプロダクトイオンを生成して分析するイオン分析装置が記載されている。このイオン分析装置では、真空排気されたラジカル生成室に原料ガスを導入し、高周波放電により該原料ガスからラジカルを生成する。そして、試料成分由来のプリカーサイオンを捕捉したイオントラップ内に該ラジカルを供給し、該ラジカルを付着させることによってプリカーサイオンを解離させてプロダクトイオンを生成する。特許文献１には、ペプチド由来のプリカーサイオンに対する水素ラジカルの照射により該プリカーサイオンがアミノ酸の結合位置に選択的に付着し、アミノ酸を還元してc系列のプロダクトイオンが生成されることが記載されている。特許文献２には、ペプチド由来のプリカーサイオンに対する酸素ラジカルの照射により該プリカーサイオンがアミノ酸の結合位置に選択的に付着し、アミノ酸を酸化してa系列やy系列のプロダクトイオンが生成されることが記載されている。 Patent Documents 1 and 2 describe an ion analyzer that generates and analyzes product ions by irradiating precursor ions derived from sample components such as proteins and peptides with radicals. In this ion analyzer, a raw material gas is introduced into a vacuum-exhausted radical generation chamber, and radicals are generated from the raw material gas by high-frequency discharge. Then, the radical is supplied into an ion trap that captures the precursor ion derived from the sample component, and the radical is attached to dissociate the precursor ion to generate a product ion. Patent Document 1 describes that irradiation of a peptide-derived precursor ion with a hydrogen radical selectively attaches the precursor ion to the binding position of an amino acid and reduces the amino acid to generate a c-series product ion. ing. Patent Document 2 states that when a peptide-derived precursor ion is irradiated with an oxygen radical, the precursor ion selectively adheres to an amino acid binding position and oxidizes the amino acid to generate a-series or y-series product ions. Is described.

国際公開第２０１５／１３３２５９号International Publication No. 2015/133259 国際公開第２０１８／１８６２８６号International Publication No. 2018/186286

関屋実,"ギ酸による還元反応",有機合成化学,第34巻第2号,1976,p.67-80Minoru Sekiya, "Reduction Reaction with Formic Acid", Synthetic Organic Chemistry, Vol. 34, No. 2, 1976, p.67-80

特許文献１及び２のイオン分析装置においてラジカルを生成するには、例えば50Wという高出力の高周波電力を供給する必要がある。質量分析装置は、イオンガイドや質量分離部を構成する電極に高周波電力を供給するための高周波電源を備えているが、これらに供給される高周波電力の出力は数W程度である。そのため、特許文献１及び２に記載のイオン分析装置ではラジカルを生成するために高出力の高周波電源を追加で備えなければならない。数十Wあるいはそれ以上の高出力の高周波電源は高価であり、こうした高周波電源を備えるとイオン分析装置が高価になる。 In order to generate radicals in the ion analyzers of Patent Documents 1 and 2, it is necessary to supply high frequency power having a high output of, for example, 50 W. The mass spectrometer is equipped with a high-frequency power source for supplying high-frequency power to the electrodes constituting the ion guide and the mass separator, and the output of the high-frequency power supplied to these is about several watts. Therefore, the ion analyzers described in Patent Documents 1 and 2 must be additionally equipped with a high-power high-frequency power source in order to generate radicals. High-frequency power supplies with high output of several tens of watts or more are expensive, and the provision of such high-frequency power supplies makes ion analyzers expensive.

本発明が解決しようとする課題は、従来よりも低コストで試料成分由来のプリカーサイオンを解離させることができるイオン分析技術を提供することである。 An object to be solved by the present invention is to provide an ion analysis technique capable of dissociating precursor ions derived from a sample component at a lower cost than before.

上記課題を解決するために成された本発明に係るイオン分析方法は、
所定の温度以上で還元能を有するガス、又は所定の温度以上で酸化能を有するガスである反応ガスをそれら所定の温度以上に加熱し、
試料成分由来のプリカーサイオンを前記所定の温度以上に加熱された反応ガスと反応させることによりプロダクトイオンを生成し、
前記プロダクトイオンを予め決められた物理量に応じて分離し検出する
ものである。 The ion analysis method according to the present invention, which was made to solve the above problems, is
The reaction gas, which is a gas having a reducing ability at a predetermined temperature or higher or a gas having an oxidizing ability at a predetermined temperature or higher, is heated to a predetermined temperature or higher.
Product ions are generated by reacting the precursor ions derived from the sample components with the reaction gas heated to the predetermined temperature or higher.
The product ion is separated and detected according to a predetermined physical quantity.

また、上記課題を解決するために成された本発明の別の態様は、試料成分由来のプリカーサイオンから生成されるプロダクトイオンを分析するイオン分析装置であって、
前記プリカーサイオンが導入される反応室と、
所定の温度以上で還元能を有するガス、又は所定の温度以上で酸化能を有するガスである反応ガスを前記反応室に供給する反応ガス供給部と、
前記反応ガスを加熱する加熱部と、
前記反応室において生成されたプロダクトイオンを予め決められた物理量に応じて分離して検出する分離検出部と
を備える。 Another aspect of the present invention made to solve the above problems is an ion analyzer that analyzes product ions generated from precursor ions derived from sample components.
The reaction chamber into which the precursor ion is introduced and
A reaction gas supply unit that supplies a reaction gas, which is a gas having a reducing ability above a predetermined temperature or a gas having an oxidizing ability above a predetermined temperature, to the reaction chamber.
A heating unit that heats the reaction gas,
It is provided with a separation detection unit that separates and detects product ions generated in the reaction chamber according to a predetermined physical quantity.

本発明では、所定の温度以上で還元能を有するガス、又は所定の温度以上で酸化能を有するガスである反応ガスを使用し、それらを所定の温度以上に加熱することにより試料成分由来のプリカーサイオンを還元又は酸化して解離させる。本発明ではラジカルを生成する必要がないため、高出力の高周波電源を備える従来のイオン分析装置よりも低コストで試料成分由来のプリカーサイオンを解離させることができる。 In the present invention, a reaction gas which is a gas having a reducing ability at a predetermined temperature or higher or a gas having an oxidizing ability at a predetermined temperature or higher is used, and by heating them to a predetermined temperature or higher, a precursor derived from a sample component is used. The ions are reduced or oxidized to dissociate. Since it is not necessary to generate radicals in the present invention, precursor ions derived from sample components can be dissociated at a lower cost than a conventional ion analyzer equipped with a high-power high-frequency power source.

本発明に係るイオン分析装置の一実施例である質量分析装置の概略構成図。The schematic block diagram of the mass spectrometer which is an Example of the ion analyzer which concerns on this invention. ガス供給部の変形例の概略構成図。Schematic block diagram of the modification of the gas supply part. ガス供給部の別の変形例の概略構成図。The schematic block diagram of another modification of a gas supply part. 本発明に係るイオン分析装置の変形例であるイオン移動度分析装置の概略構成図。The schematic block diagram of the ion mobility analyzer which is a modification of the ion analyzer which concerns on this invention.

本発明に係るイオン分析方法及びイオン分析装置の一実施例について、以下、図面を参照して説明する。本実施例のイオン分析装置は、試料成分由来のプリカーサイオンを解離させて生成したプロダクトイオンを質量電荷比に応じて分離し検出する質量分析装置１である。 An embodiment of the ion analysis method and the ion analyzer according to the present invention will be described below with reference to the drawings. The ion analyzer of this embodiment is a mass spectrometer 1 that separates and detects product ions generated by dissociating precursor ions derived from a sample component according to a mass-to-charge ratio.

図１は本実施例の質量分析装置１の概略構成図である。この質量分析装置１は、大別して質量分析装置本体２と制御・処理部５から構成されている。 FIG. 1 is a schematic configuration diagram of the mass spectrometer 1 of this embodiment. The mass spectrometer 1 is roughly divided into a mass spectrometer main body 2 and a control / processing unit 5.

質量分析装置本体２は、いわゆる三連四重極型の質量分析装置である。この質量分析装置本体２は、略大気圧であるイオン化室１０と真空ポンプ（図示なし）により真空排気された高真空の分析室１３との間に、段階的に真空度が高められた第１中間真空室１１及び第２中間真空室１２を備えた多段差動排気系の構成を有している。イオン化室１０と第１中間真空室１１は脱溶媒管１０２を介して連通している。また、第１中間真空室１１と第２中間真空室１２は、スキマー１１２の頂部に形成された小孔を介して連通している。 The mass spectrometer main body 2 is a so-called triple quadrupole mass spectrometer. In the mass spectrometer main body 2, the degree of vacuum is gradually increased between the ionization chamber 10 having a substantially atmospheric pressure and the high vacuum analysis chamber 13 evacuated by a vacuum pump (not shown). It has a configuration of a multi-stage differential exhaust system including an intermediate vacuum chamber 11 and a second intermediate vacuum chamber 12. The ionization chamber 10 and the first intermediate vacuum chamber 11 communicate with each other via the desolvation tube 102. Further, the first intermediate vacuum chamber 11 and the second intermediate vacuum chamber 12 communicate with each other through a small hole formed in the top of the skimmer 112.

イオン化室１０にはESIプローブ１０１が設置されている。イオンを収束させつつ後段へ輸送するために、第１中間真空室１１にはイオンレンズ１１１が配置されており、また第２中間真空室１２にはイオンガイド１２１が配置されている。 An ESI probe 101 is installed in the ionization chamber 10. An ion lens 111 is arranged in the first intermediate vacuum chamber 11 and an ion guide 121 is arranged in the second intermediate vacuum chamber 12 in order to transport the ions to the subsequent stage while converging them.

分析室１３には、上流側（イオン化室１０の側）から順に、前段四重極マスフィルタ１３１、コリジョンセル１３２、後段四重極マスフィルタ１３５、及びイオン検出器１３６が設置されている。コリジョンセル１３２の内部には四重極イオンガイド１３３が配置されている。また、コリジョンセル１３２の内部にはヒータ１３４が配設されている。ヒータ１３４には直流電源２０が接続されており、該直流電源２０からヒータ１３４に通電することによりコリジョンセル１３２の内部空間を加熱することができる。 In the analysis chamber 13, the front quadrupole mass filter 131, the collision cell 132, the rear quadrupole mass filter 135, and the ion detector 136 are installed in order from the upstream side (the side of the ionization chamber 10). A quadrupole ion guide 133 is arranged inside the collision cell 132. Further, a heater 134 is arranged inside the collision cell 132. A DC power supply 20 is connected to the heater 134, and the internal space of the collision cell 132 can be heated by energizing the heater 134 from the DC power supply 20.

なお、図１には1本のヒータ１３４のみを図示しているが、複数本のヒータ１３４を周方向に等間隔に配置することが好ましい。複数本のヒータ１３４を等間隔に配置することにより、コリジョンセル１３２の内部を均一に加熱することができる。また、図１に示すように、ヒータ１３４はイオンの飛行経路の中心軸（イオン光軸Ｃ）から離れた位置（例えば四重極イオンガイド１３３の内部空間よりも外側の位置）に配置することが好ましい。これにより、ヒータ１３４への衝突によりイオンが消失するのを防止することができる。 Although only one heater 134 is shown in FIG. 1, it is preferable to arrange a plurality of heaters 134 at equal intervals in the circumferential direction. By arranging a plurality of heaters 134 at equal intervals, the inside of the collision cell 132 can be uniformly heated. Further, as shown in FIG. 1, the heater 134 is arranged at a position away from the central axis (ion optical axis C) of the flight path of ions (for example, a position outside the internal space of the quadrupole ion guide 133). Is preferable. This makes it possible to prevent the ions from disappearing due to collision with the heater 134.

前段四重極マスフィルタ１３１と後段四重極マスフィルタ１３５は、それぞれ、図示しない電源から適宜の直流電圧及び／又は高周波電圧を印加することによりイオンを質量分離するメインロッドに加えて、該メインロッドの前段側及び後段側の電場を調整するためのプリロッド及びポストロッドを有している。 The front quadrupole mass filter 131 and the rear quadrupole mass filter 135 are, in addition to the main rod, which separates ions by mass by applying an appropriate DC voltage and / or high frequency voltage from a power source (not shown), respectively. It has a pre-rod and a post-rod for adjusting the electric field on the front side and the rear stage side of the rod.

コリジョンセル１３２にはガス供給部４が接続されている。ガス供給部４は、還元ガスボンベ４１、酸化ガスボンベ４２、及び不活性ガスボンベ４３を有している。また、ガス供給部４は流路切替部４４を備えており、該流路切替部４４を操作することによっていずれかのボンベからガス導入流路４５を介してコリジョンセル１３２へと択一的にガスを供給することができる。また、ガス導入流路４５にはコリジョンセル１３２に供給するガスの流量を調整するバルブ４６が設けられている。本実施例では、還元ガス、酸化ガス、及び不活性ガスを択一的にコリジョンセル１３２に供給可能な構成としたが、これは本発明に必須ではなく、還元ガスのみ、あるいは酸化ガスのみを供給可能な構成としてもよい。また、還元ガスと不活性ガス、あるいは酸化ガスと不活性ガスを供給可能な構成としてもよい。 A gas supply unit 4 is connected to the collision cell 132. The gas supply unit 4 has a reducing gas cylinder 41, an oxidizing gas cylinder 42, and an inert gas cylinder 43. Further, the gas supply unit 4 includes a flow path switching unit 44, and by operating the flow path switching unit 44, the gas supply unit 4 can be selectively moved from any cylinder to the collision cell 132 via the gas introduction flow path 45. Gas can be supplied. Further, the gas introduction flow path 45 is provided with a valve 46 for adjusting the flow rate of the gas supplied to the collision cell 132. In the present embodiment, the reducing gas, the oxidizing gas, and the inert gas can be selectively supplied to the collision cell 132, but this is not essential for the present invention, and only the reducing gas or the oxidizing gas is used. It may be a configuration that can be supplied. Further, the configuration may be such that the reducing gas and the inert gas, or the oxidizing gas and the inert gas can be supplied.

還元ガスは、500℃以下で還元能を有するものであることが好ましい。酸化ガスについても同様に、500℃以下で酸化能を有するものであることが好ましい。コリジョンセル１３２の内部に配置される四重極イオンガイド１３３は多くの場合、ステンレス製であり、コリジョンセル１３２の内部が500℃を超える温度に加熱されると、四重極イオンガイド１３３が膨張するなどして変形する場合があり、それによって、コリジョンセル１３２の内部に所望の電場が形成されなくなる可能性があるためである。 The reducing gas preferably has a reducing ability at 500 ° C. or lower. Similarly, it is preferable that the oxidizing gas has an oxidizing ability at 500 ° C. or lower. The quadrupole ion guide 133 located inside the collision cell 132 is often made of stainless steel, and when the inside of the collision cell 132 is heated to a temperature exceeding 500 ° C., the quadrupole ion guide 133 expands. This is because the desired electric field may not be formed inside the collision cell 132 due to the deformation of the collision cell 132.

また、還元ガスは、300℃以下で還元能を有するものであることがより好ましい。酸化ガスについても同様に、300℃以下で酸化能を有するものであることがより好ましい。コリジョンセル１３２の内部にはプラスチック製の絶縁物が用いられることがあり、コリジョンセル１３２の内部の加熱温度を300℃以下とすることによりこうした絶縁物の損傷を回避することができる。 Further, it is more preferable that the reducing gas has a reducing ability at 300 ° C. or lower. Similarly, it is more preferable that the oxidizing gas has an oxidizing ability at 300 ° C. or lower. A plastic insulator may be used inside the collision cell 132, and damage to the insulator can be avoided by setting the heating temperature inside the collision cell 132 to 300 ° C. or lower.

制御・処理部５は、質量分析装置本体２の動作を制御するとともに、質量分析装置本体２のイオン検出器１３６で得られたデータを保存及び解析する機能を有する。制御・処理部５の実体は一般的なパーソナルコンピュータである。記憶部５１には、分析条件を記載したメソッドファイルや化合物データベースなどが保存されている。記憶部５１には、また、還元ガスボンベ４１から供給される還元ガスの種類及び加熱温度、酸化ガスボンベ４２から供給される酸化ガスの種類及び加熱温度に関する情報も保存されている。 The control / processing unit 5 has a function of controlling the operation of the mass spectrometer main body 2 and storing and analyzing the data obtained by the ion detector 136 of the mass spectrometer main body 2. The substance of the control / processing unit 5 is a general personal computer. A method file describing analysis conditions, a compound database, and the like are stored in the storage unit 51. The storage unit 51 also stores information on the type and heating temperature of the reducing gas supplied from the reducing gas cylinder 41, and the type and heating temperature of the oxidizing gas supplied from the oxidizing gas cylinder 42.

還元ガスの加熱温度は、対象のガスが還元能を有する温度である。また、酸化ガスの加熱温度は、対象のガスが酸化能を有する温度である。この温度はガスの種類毎に少なくとも1つ設定されている。例えばギ酸の場合、40℃以上に加熱すると一部の化合物に対して還元能を有するとされている。また、100℃以上に加熱するとより多くの化合物に対して還元能を有するとされている。さらに、160℃以上に加熱すると、さらに多くの化合物に対して還元能を有するとされている（例えば非特許文献１の表４）。還元ガスや酸化ガスの加熱温度は、こうした情報を参照し、試料分子の特性に応じて予め保存しておけばよい。 The heating temperature of the reducing gas is a temperature at which the target gas has a reducing ability. The heating temperature of the oxidizing gas is a temperature at which the target gas has an oxidizing ability. This temperature is set to at least one for each type of gas. For example, formic acid is said to have a reducing ability for some compounds when heated to 40 ° C or higher. In addition, it is said that when heated to 100 ° C. or higher, it has a reducing ability for more compounds. Further, it is said that when heated to 160 ° C. or higher, it has a reducing ability for more compounds (for example, Table 4 of Non-Patent Document 1). The heating temperature of the reducing gas or the oxidizing gas may be stored in advance according to the characteristics of the sample molecule with reference to such information.

制御・処理部５は、また、機能ブロックとして分析条件設定部５２、分析制御部５３、及び解析処理部５４を備えている。これらの機能ブロックは、予めパーソナルコンピュータにインストールされた所定のプログラムを実行することにより具現化される。さらに、制御・処理部５には入力部５５と表示部５６が接続されている。 The control / processing unit 5 also includes an analysis condition setting unit 52, an analysis control unit 53, and an analysis processing unit 54 as functional blocks. These functional blocks are embodied by executing a predetermined program installed in a personal computer in advance. Further, an input unit 55 and a display unit 56 are connected to the control / processing unit 5.

次に、本実施例の質量分析装置１の動作を説明する。試料を分析する際には分析制御部５３により各部の動作が制御され、以下の測定動作が行われる。分析制御部５３による各部の動作の制御は、記憶部５１に保存されているメソッドファイルに記載された分析条件に従って行われる。 Next, the operation of the mass spectrometer 1 of this embodiment will be described. When analyzing a sample, the operation of each unit is controlled by the analysis control unit 53, and the following measurement operation is performed. The analysis control unit 53 controls the operation of each unit according to the analysis conditions described in the method file stored in the storage unit 51.

試料の分析に先立ち、使用者が分析条件の設定を指示する所定の入力操作を行うと、分析条件設定部５２は記憶部５１に保存されたメソッドファイルの一覧を表示部５６の画面に表示する。予め保存されているメソッドファイルに記載の分析条件をそのまま使用する場合、使用者が選択したメソッドファイルに記載の分析条件がそのまま設定される。また、予め保存されているメソッドファイルに記載の分析条件を一部変更して設定したり、新規に分析条件を設定して新たなメソッドファイルを作成及び保存したりすることもできる。 Prior to the analysis of the sample, when the user performs a predetermined input operation for instructing the setting of the analysis conditions, the analysis condition setting unit 52 displays a list of the method files stored in the storage unit 51 on the screen of the display unit 56. .. When the analysis conditions described in the method file saved in advance are used as they are, the analysis conditions described in the method file selected by the user are set as they are. In addition, the analysis conditions described in the method file saved in advance can be partially changed and set, or new analysis conditions can be set to create and save a new method file.

分析条件には、試料由来のプリカーサイオンの解離方法の選択が含まれる。具体的には、還元反応による解離、酸化反応による解離、及び不活性ガスとの衝突による衝突誘起解離のいずれかを選択する。その他の分析条件については従来同様であるため詳細な説明を省略する。以下では、還元ガスボンベ４１にギ酸が収容されており、加熱温度として40℃が設定されており、ギ酸ガスを用いた還元反応によってプリカーサイオンを解離させる場合を例に説明する。 Analytical conditions include selection of methods for dissociation of sample-derived precursor ions. Specifically, one of dissociation due to a reduction reaction, dissociation due to an oxidation reaction, and collision-induced dissociation due to collision with an inert gas is selected. Since other analysis conditions are the same as in the past, detailed description thereof will be omitted. In the following, a case where formic acid is contained in a reducing gas cylinder 41, a heating temperature of 40 ° C. is set, and precursor ions are dissociated by a reduction reaction using formic acid gas will be described as an example.

分析条件の設定後、使用者が分析開始ボタンを押す等の所定の入力操作を行うと、設定された分析条件に従って分析制御部５３が各部の動作を制御し試料の分析を開始する。はじめに、質量分析装置本体２の第１中間真空室１１、第２中間真空室１２、及び分析室１３の内部をそれぞれ真空ポンプにより所定の真空度まで排気する。続いて、直流電源２０からヒータ１３４に直流電流を供給し、コリジョンセル１３２の内部を上記加熱温度（40℃）まで加熱する。コリジョンセル１３２の内部の温度は図示しないセンサにより計測される。 After setting the analysis conditions, when the user performs a predetermined input operation such as pressing the analysis start button, the analysis control unit 53 controls the operation of each unit according to the set analysis conditions and starts the analysis of the sample. First, the insides of the first intermediate vacuum chamber 11, the second intermediate vacuum chamber 12, and the analysis chamber 13 of the mass spectrometer main body 2 are exhausted to a predetermined degree of vacuum by a vacuum pump. Subsequently, a direct current is supplied from the direct current power source 20 to the heater 134 to heat the inside of the collision cell 132 to the above heating temperature (40 ° C.). The temperature inside the collision cell 132 is measured by a sensor (not shown).

次に、流路切替部４４によって還元ガスボンベ４１からコリジョンセル１３２への流路が接続され、バルブ４６が開放される。これにより、還元ガスボンベ４１からギ酸がコリジョンセル１３２に供給され、該コリジョンセル１３２の内部でギ酸が40℃以上に加熱される。 Next, the flow path from the reducing gas cylinder 41 to the collision cell 132 is connected by the flow path switching unit 44, and the valve 46 is opened. As a result, formic acid is supplied from the reducing gas cylinder 41 to the collision cell 132, and the formic acid is heated to 40 ° C. or higher inside the collision cell 132.

コリジョンセル１３２へのギ酸の供給を開始した後、ESIプローブ１０１に試料を導入してイオンを生成する。これは、試料を直接ESIプローブ１０１に注入することにより行ってもよく、あるいは試料に含まれる複数種類の成分を液体クロマトグラフ等に注入し、液体クロマトグラフのカラム等で成分分離された後の溶出液をESIプローブ１０１に送出することにより行ってもよい。 After starting the supply of formic acid to the collision cell 132, a sample is introduced into the ESI probe 101 to generate ions. This may be performed by directly injecting the sample into the ESI probe 101, or after injecting a plurality of types of components contained in the sample into a liquid chromatograph or the like and separating the components by a column or the like of the liquid chromatograph. This may be done by delivering the eluate to the ESI probe 101.

イオン化室１０で試料成分から生成されたイオンは、イオン化室１０と第１中間真空室１１の圧力差により該第１中間真空室１１に引き込まれ、イオンレンズ１１１によりイオン光軸Ｃ上に収束される。イオン光軸Ｃ上に収束されたイオンは、続いて第１中間真空室１１と第２中間真空室１２の圧力差により該第２中間真空室１２に引き込まれ、イオンガイド１２１によってさらに収束される。その後、分析室１３において前段四重極マスフィルタ１３１により所定の質量電荷比を有するイオンがプリカーサイオンとして選別され、コリジョンセル１３２に進入する。 The ions generated from the sample components in the ionization chamber 10 are drawn into the first intermediate vacuum chamber 11 by the pressure difference between the ionization chamber 10 and the first intermediate vacuum chamber 11, and are converged on the ion optical axis C by the ion lens 111. To. The ions converged on the ion optical axis C are subsequently drawn into the second intermediate vacuum chamber 12 by the pressure difference between the first intermediate vacuum chamber 11 and the second intermediate vacuum chamber 12, and are further converged by the ion guide 121. .. Then, in the analysis chamber 13, ions having a predetermined mass-to-charge ratio are selected as precursor ions by the pre-stage quadrupole mass filter 131 and enter the collision cell 132.

コリジョンセル１３２に進入した試料成分由来のプリカーサイオンは40℃以上に加熱されたギ酸との反応により還元されて解離し、プロダクトイオンが生成される。プリカーサイオンの解離によって生成されたプロダクトイオンはコリジョンセル１３２から出射し、後段四重極マスフィルタ１３５により質量分離されたあとイオン検出器１３６に入射し検出される。イオン検出器１３６からの検出信号は、順次、制御・処理部５に送信され、記憶部５１に保存される。 The precursor ions derived from the sample components that have entered the collision cell 132 are reduced and dissociated by the reaction with formic acid heated to 40 ° C. or higher to generate product ions. The product ions generated by the dissociation of precursor ions are emitted from the collision cell 132, mass-separated by the subsequent quadrupole mass filter 135, and then incident on the ion detector 136 for detection. The detection signals from the ion detector 136 are sequentially transmitted to the control / processing unit 5 and stored in the storage unit 51.

解析処理部５４は、この検出信号に基づいてプロダクトイオンスペクトルを作成し、表示部５６に表示する。解析処理部５４は、このプロダクトイオンスペクトルから得られる情報（質量情報及び強度）に基づく所定の解析処理（記憶部５１に保存された化合物データベースに収録されているマススペクトルデータとの照合等）を行うことで、試料成分の構造を推定する。 The analysis processing unit 54 creates a product ion spectrum based on this detection signal and displays it on the display unit 56. The analysis processing unit 54 performs a predetermined analysis processing (collation with mass spectrum data stored in the compound database stored in the storage unit 51, etc.) based on the information (mass information and intensity) obtained from the product ion spectrum. By doing so, the structure of the sample component is estimated.

上記は、還元ガスであるギ酸との反応により試料成分由来のプリカーサイオンを解離する場合の一例であるが、酸化ガスとの反応により試料成分由来のプリカーサイオンを解離する場合や、不活性ガスとの衝突により試料成分由来のプリカーサイオンを解離する場合も上記同様の手順で行うことができる。但し、不活性ガスとの衝突により試料成分由来のプリカーサイオンを解離する場合には加熱温度を設定せず、その代わりに衝突エネルギー（コリジョンセル１３２にプリカーサイオンを進入させる際に該プリカーサイオンを加速するエネルギー）の大きさ等のパラメータを分析条件として設定する。 The above is an example of the case where the precursor ion derived from the sample component is dissociated by the reaction with the reducing gas formic acid, but the case where the precursor ion derived from the sample component is dissociated by the reaction with the oxidizing gas or with the inert gas. When the precursor ion derived from the sample component is dissociated by the collision of the sample components, the same procedure as described above can be performed. However, when the precursor ion derived from the sample component is dissociated by collision with the inert gas, the heating temperature is not set, and instead, the collision energy (accelerates the precursor ion when it enters the collision cell 132). Parameters such as the magnitude of the energy to be used are set as the analysis conditions.

本実施例の質量分析装置１では、上記のように、所定の温度以上で還元能を有するガス（還元ガス）、又は所定の温度以上で酸化能を有するガス（酸化ガス）を使用し、それらを所定の温度以上に加熱することにより試料成分由来のプリカーサイオンを還元又は酸化して解離させる。この質量分析装置ではラジカルを生成する必要がないため、高出力の高周波電源を備える従来のイオン分析装置よりも低コストで試料成分由来のプリカーサイオンを解離させることができる。コリジョンセル１３２等の反応室を有する従来の質量分析装置の多くは通常、プリカーサイオンを衝突誘起解離させたりプリカーサイオンを冷却したりするための不活性ガス（アルゴン、ヘリウム等）を収容した不活性ガスボンベ４３及びガス導入流路４５を備え、該不活性ガスをコリジョンセル１３２等に導入する構成を備えている。本実施例の質量分析装置１は、そうした従来の質量分析装置における不活性ガスのガス導入流路を分岐させて還元ガスや酸化ガスを導入する流路を追加し、還元ガスや酸化ガスを加熱する機構を追加するという、多少の変更を加えるのみで上記実施例の機能を追加することができる。 In the mass spectrometer 1 of this embodiment, as described above, a gas having a reducing ability at a predetermined temperature or higher (reducing gas) or a gas having an oxidizing ability at a predetermined temperature or higher (oxidizing gas) is used, and they are used. Is heated to a predetermined temperature or higher to reduce or oxidize the precursor ion derived from the sample component and dissociate it. Since it is not necessary to generate radicals in this mass spectrometer, precursor ions derived from sample components can be dissociated at a lower cost than a conventional ion analyzer equipped with a high-power high-frequency power supply. Many conventional mass analyzers having a reaction chamber such as the collision cell 132 usually contain an inert gas (argon, helium, etc.) for collision-induced dissociation of the precursor ion or cooling of the precursor ion. The gas bomb 43 and the gas introduction flow path 45 are provided, and the inert gas is introduced into the collision cell 132 or the like. The mass spectrometer 1 of the present embodiment branches the gas introduction flow path of the inert gas in such a conventional mass spectrometer to add a flow path for introducing the reducing gas or the oxidizing gas, and heats the reducing gas or the oxidizing gas. The function of the above embodiment can be added only by making a slight change such as adding a mechanism for performing the gas.

また、ラジカルを用いて試料成分由来のプリカーサイオンを解離させる質量分析装置では、ラジカル生成室で生成されたラジカル（例えば水素ラジカル）をコリジョンセル１３２に輸送する配管の壁面やコリジョンセル１３２の壁面にラジカルが接触すると、ラジカル温度が室温程度にまで低下して該壁面に付着する。そして、壁面に付着したラジカルは、別のラジカルと結合して非ラジカル（例えば水素分子）になり反応性が失われる。これに対し、本実施例の質量分析装置１では、コリジョンセル１３２の内部で還元ガスや酸化ガスを加熱するため、それらの反応性が失われにくい。また、仮にコリジョンセル１３２の壁面に接触したり中性ガスと衝突したりしてギ酸分子が冷却された場合でも、ヒータ１３４に接触することで再加熱され反応性が回復する。そのため、水素ラジカルを用いる場合と異なり、還元反応が起こるまで何度も反応性が取り戻され、プリカーサイオンとの反応効率の向上や反応時間の短縮が期待できる。 Further, in a mass spectrometer that dissociates precursor ions derived from sample components using radicals, radicals generated in a radical generation chamber (for example, hydrogen radicals) are transported to the collision cell 132 on the wall surface of a pipe or the wall surface of the collision cell 132. When the radicals come into contact with each other, the radical temperature drops to about room temperature and adheres to the wall surface. Then, the radical attached to the wall surface combines with another radical to become a non-radical (for example, a hydrogen molecule), and the reactivity is lost. On the other hand, in the mass spectrometer 1 of the present embodiment, since the reducing gas and the oxidizing gas are heated inside the collision cell 132, their reactivity is not easily lost. Further, even if the formic acid molecule is cooled by contacting the wall surface of the collision cell 132 or colliding with a neutral gas, the formic acid molecule is reheated by contacting the heater 134 and the reactivity is restored. Therefore, unlike the case of using hydrogen radicals, the reactivity is regained many times until the reduction reaction occurs, and it can be expected that the reaction efficiency with precursor ions is improved and the reaction time is shortened.

上記実施例は一例であって、本発明の趣旨に沿って適宜に変更することができる。上記実施例では、1種類の反応ガス（ギ酸）について1つの加熱温度（40℃）のみが設定される場合を説明したが、反応ガスの種類によっては温度によって還元能や酸化能の大きさが変化する場合がある。例えば、非特許文献１によれば、試料成分の種類によっては、ギ酸の温度に応じて反応の形態が変化するものがあり、異なる複数の温度に加熱したギ酸を用いてプリカーサイオンを解離させることにより、異なる種類のプロダクトイオンを生成し、それらを比較することで、より効率よく構造解析を行うことができる。 The above embodiment is an example and can be appropriately modified according to the gist of the present invention. In the above embodiment, the case where only one heating temperature (40 ° C.) is set for one type of reaction gas (formic acid) has been described, but the magnitude of the reducing ability and the oxidizing ability varies depending on the type of reaction gas. May change. For example, according to Non-Patent Document 1, depending on the type of sample component, the reaction form may change depending on the temperature of formic acid, and precursor ions may be dissociated using formic acid heated to a plurality of different temperatures. By generating different types of product ions and comparing them, structural analysis can be performed more efficiently.

また、上記実施例では、コリジョンセル１３２の内部に配設したヒータ１３４への通電によりコリジョンセル１３２の内部を加熱し、それによって還元ガスや酸化ガスを加熱する構成としたが、反応ガスを加熱するための構成は適宜に変更することができる。例えば、図２に示すように、還元ガスボンベ４１（又は酸化ガスボンベ４２）からコリジョンセル１３２に至るガス導入流路４５の外周にヒータ４７を巻回し、該ガス導入流路４５を通過する間に還元ガスや酸化ガスを加熱してコリジョンセル１３２に導入してもよい。あるいは、図３に示すように、ガス導入流路４５に加熱室４８を設け、該加熱室４８において還元ガスや酸化ガスを加熱するようにしても良い。 Further, in the above embodiment, the inside of the collision cell 132 is heated by energizing the heater 134 arranged inside the collision cell 132, thereby heating the reducing gas and the oxidizing gas, but the reaction gas is heated. The configuration for this can be changed as appropriate. For example, as shown in FIG. 2, a heater 47 is wound around the outer periphery of the gas introduction flow path 45 from the reduction gas cylinder 41 (or the oxide gas cylinder 42) to the collision cell 132, and the reduction is performed while passing through the gas introduction flow path 45. The gas or the oxidizing gas may be heated and introduced into the collision cell 132. Alternatively, as shown in FIG. 3, a heating chamber 48 may be provided in the gas introduction flow path 45, and the reducing gas or the oxidizing gas may be heated in the heating chamber 48.

上記実施例は反応室としてコリジョンセル１３２を備えた三連四重極型の質量分析装置としたが、反応室としてイオントラップを有する質量分析装置においても上記同様の構成を採ることができる。イオントラップを用いる場合には、例えば、イオントラップにプリカーサイオンを捕捉し、まず、不活性ガスを導入してプリカーサイオンを冷却した後に、所定の温度以上に加熱した還元ガス又は酸化ガスと反応させることができる。 In the above embodiment, a triple quadrupole mass spectrometer equipped with a collision cell 132 as a reaction chamber is used, but a mass spectrometer having an ion trap as a reaction chamber can also have the same configuration as described above. When an ion trap is used, for example, the precursor ion is captured in the ion trap, an inert gas is first introduced to cool the precursor ion, and then the precursor is reacted with a reducing gas or an oxidizing gas heated to a predetermined temperature or higher. be able to.

上記実施例では液体試料をイオン化するESIプローブ１０１をイオン化源として用いたが、試料の形態や特性に応じたイオン化源を用いればよい。例えば気体試料を分析する場合には電子イオン化源等のイオン化源を用いることができる。また、生体試料等の固体試料を分析する場合にはマトリックス支援レーザ脱離イオン化源（MALDI源）等のイオン化源を用いることができる。 In the above embodiment, the ESI probe 101 that ionizes the liquid sample is used as the ionization source, but an ionization source according to the morphology and characteristics of the sample may be used. For example, when analyzing a gas sample, an ionization source such as an electron ionization source can be used. Further, when analyzing a solid sample such as a biological sample, an ionization source such as a matrix-assisted laser desorption ionization source (MALDI source) can be used.

さらに、上記実施例はいずれもイオンを質量電荷比に応じて分離し測定する質量分析装置であるが、イオン移動度分析装置にも本発明を適用することができる。イオン移動度分析装置では、例えばイオンを移動度に応じて分離するドリフトチューブを上記反応室として使用し、反応室で生成されたプロダクトイオンを該ドリフトチューブの後段に配置したイオン分離部で分離し検出する。 Further, although all of the above examples are mass spectrometers that separate and measure ions according to the mass-to-charge ratio, the present invention can also be applied to an ion mobility analyzer. In the ion mobility analyzer, for example, a drift tube that separates ions according to the mobility is used as the reaction chamber, and product ions generated in the reaction chamber are separated by an ion separation unit arranged in the subsequent stage of the drift tube. To detect.

図４を参照して、イオン移動度分析装置に本発明を適用した変形例を説明する。変形例のイオン移動度分析装置２００は、分析部２０２と制御・処理部５を備える。制御・処理部５等、上記実施例と共通する構成要素については図１と同じ符号を付して、適宜説明を省略する。 A modification in which the present invention is applied to the ion mobility analyzer will be described with reference to FIG. The modified example ion mobility analyzer 200 includes an analysis unit 202 and a control / processing unit 5. Components common to the above embodiment, such as the control / processing unit 5, are designated by the same reference numerals as those in FIG. 1, and description thereof will be omitted as appropriate.

分析部２０２は、イオン移動度分析室２１０と質量分析室２５０に分かれている。イオン移動度分析室２１０には、ESIプローブ２０１、イオン輸送部２１１、シャッターゲート２１２、及びドリフトチューブ２１３が配置されている。ドリフトチューブ２１３の内部には、上記実施例と同様に直流電源２０に接続されたヒータ２３４が配置されている。また、ドリフトチューブ２１３にはガス供給部４が接続されている。ガス供給部４の構成は上記実施例と同様である。 The analysis unit 202 is divided into an ion mobility analysis room 210 and a mass spectrometry room 250. In the ion mobility analysis chamber 210, an ESI probe 201, an ion transport unit 211, a shutter gate 212, and a drift tube 213 are arranged. Inside the drift tube 213, a heater 234 connected to the DC power supply 20 is arranged as in the above embodiment. Further, a gas supply unit 4 is connected to the drift tube 213. The configuration of the gas supply unit 4 is the same as that of the above embodiment.

質量分析室２５０には、直交加速型の飛行時間型質量分析部（TOF-MS部）が配置されている。TOF-MS部は、イオン光軸Ｃを挟んで対向配置された1対の電極からなる直交加速部２５１、該直交加速部２５１から出射するイオンを飛行空間に向かって加速する第２加速部２５２、飛行空間においてイオンの折り返し軌道を形成するリフレクトロン２５３、及び折り返し起動を飛行したイオンを検出する検出器２５４を備えている。 A orthogonal acceleration type time-of-flight mass spectrometric unit (TOF-MS unit) is arranged in the mass spectrometric chamber 250. The TOF-MS unit is a orthogonal acceleration unit 251 composed of a pair of electrodes arranged opposite to each other with the ion optical axis C in between, and a second acceleration unit 252 that accelerates ions emitted from the orthogonal acceleration unit 251 toward the flight space. It is equipped with a reflector 253 that forms a turn-back orbit of ions in the flight space, and a detector 254 that detects the ions that have flown in the turn-back activation.

変形例のイオン移動度分析装置２００を、本来の用途であるイオン移動度分析のために使用する際には、ガス供給部４の不活性ガスボンベ４３から窒素ガス等の不活性ガス（ドリフトガス）を供給し、ドリフトチューブ２１３内でイオンを加速する所定の電圧を印加する。この測定モードでは、ESIプローブ２０１で生成されイオン輸送部２１１により輸送されたイオンが、シャッターゲート２１２の開放と同時にドリフトチューブ２１３内に導入される。これらのイオンはドリフトチューブ２１３内で移動度に応じて分離され、質量分析室２５０で質量電荷比に応じて分離されて検出される。 When the modified example ion mobility analyzer 200 is used for the ion mobility analysis, which is the original application, the inert gas cylinder 43 of the gas supply unit 4 is used for an inert gas (drift gas) such as nitrogen gas. Is supplied, and a predetermined voltage for accelerating the ion in the drift tube 213 is applied. In this measurement mode, the ions generated by the ESI probe 201 and transported by the ion transport unit 211 are introduced into the drift tube 213 at the same time as the shutter gate 212 is opened. These ions are separated in the drift tube 213 according to the mobility, and are separated and detected in the mass spectrometer 250 according to the mass-to-charge ratio.

変形例のイオン移動度分析装置２００は、上記実施例と同様に、試料成分由来のプリカーサイオンからプロダクトイオンを生成して分析するイオン分析装置として用いることもできる。その場合には、ドリフトチューブ２１３を上記実施例のコリジョンセル１３２と同様に機能させる。つまり、ガス供給部４から還元ガス（例えばギ酸）ドリフトチューブ２１３内に供給し、直流電源２０からヒータ２３４に電力を供給して予め決められた温度（例えば40℃）以上に加熱する。これにより、ESIプローブ２０１で生成されイオン輸送部２１１により輸送されたイオン（プリカーサイオン）を還元して解離させてプロダクトイオンを生成し、質量分析室２５０内で質量電荷比に応じて分離し検出することができる。また、ガス供給部４から酸化ガスを供給して予め決められた温度以上に加熱することにより、試料成分由来のプリカーサイオンを酸化して解離させてプロダクトイオンを生成し、質量電荷比に応じて分離し検出することもできる。なお、変形例のイオン移動度分析装置２００では質量分離部をTOF-MSとしたが、四重極マスフィルタやイオントラップ等、他の構成のものを用いてもよい。 The ion mobility analyzer 200 of the modified example can also be used as an ion analyzer that generates and analyzes product ions from precursor ions derived from sample components, as in the above embodiment. In that case, the drift tube 213 is made to function in the same manner as the collision cell 132 of the above embodiment. That is, it is supplied from the gas supply unit 4 into the reducing gas (formic acid) drift tube 213, and electric power is supplied from the DC power source 20 to the heater 234 to heat the heater 234 to a predetermined temperature (for example, 40 ° C.) or higher. As a result, the ions (precursor ions) generated by the ESI probe 201 and transported by the ion transport unit 211 are reduced and dissociated to generate product ions, which are separated and detected according to the mass-to-charge ratio in the mass spectrometer 250. can do. Further, by supplying an oxidizing gas from the gas supply unit 4 and heating it to a temperature higher than a predetermined temperature, the precursor ions derived from the sample components are oxidized and dissociated to generate product ions, depending on the mass-to-charge ratio. It can also be separated and detected. In the modified ion mobility analyzer 200, the mass separation unit is TOF-MS, but other configurations such as a quadrupole mass filter and an ion trap may be used.

［態様］
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。 [Aspect]
It will be understood by those skilled in the art that the plurality of exemplary embodiments described above are specific examples of the following embodiments.

（第１項）
一態様に係るイオン分析装置は、試料成分由来のプリカーサイオンから生成されるプロダクトイオンを分析するイオン分析装置であって、
前記プリカーサイオンが導入される反応室と、
所定の温度以上で還元能を有するガス、又は所定の温度以上で酸化能を有するガスである反応ガスを前記反応室に供給する反応ガス供給部と、
前記反応ガスを加熱する加熱部と、
前記反応室において生成されたプロダクトイオンを予め決められた物理量に応じて分離して検出する分離検出部と
を備える。 (Section 1)
The ion analyzer according to one embodiment is an ion analyzer that analyzes product ions generated from precursor ions derived from a sample component.
The reaction chamber into which the precursor ion is introduced and
A reaction gas supply unit that supplies a reaction gas, which is a gas having a reducing ability above a predetermined temperature or a gas having an oxidizing ability above a predetermined temperature, to the reaction chamber.
A heating unit that heats the reaction gas,
It is provided with a separation detection unit that separates and detects product ions generated in the reaction chamber according to a predetermined physical quantity.

（第７項）
一態様に係るイオン分析方法は、所定の温度以上で還元能を有するガス、又は所定の温度以上で酸化能を有するガスである反応ガスをそれら所定の温度以上に加熱し、
試料成分由来のプリカーサイオンを前記所定の温度以上に加熱された反応ガスと反応させることによりプロダクトイオンを生成し、
前記プロダクトイオンを予め決められた物理量に応じて分離し検出するものである。 (Section 7)
In the ion analysis method according to one embodiment, a reaction gas, which is a gas having a reducing ability at a predetermined temperature or higher or a gas having an oxidizing ability at a predetermined temperature or higher, is heated to a predetermined temperature or higher.
Product ions are generated by reacting the precursor ions derived from the sample components with the reaction gas heated to the predetermined temperature or higher.
The product ion is separated and detected according to a predetermined physical quantity.

第１項に記載のイオン分析装置及び第７項に記載のイオン分析方法では、所定の温度以上で還元能を有するガス、又は所定の温度以上で酸化能を有するガスである反応ガスを使用し、それらを所定の温度以上に加熱することにより試料成分由来のプリカーサイオンを還元又は酸化して解離させる。本発明ではラジカルを生成する必要がないため、高出力の高周波電源を備える従来のイオン分析装置よりも低コストで試料成分由来のプリカーサイオンを解離させることができる。 In the ion analyzer according to the first item and the ion analysis method according to the seventh item, a reaction gas which is a gas having a reducing ability at a predetermined temperature or higher or a gas having an oxidizing ability at a predetermined temperature or higher is used. By heating them to a predetermined temperature or higher, the precursor ions derived from the sample components are reduced or oxidized and dissociated. Since it is not necessary to generate radicals in the present invention, precursor ions derived from sample components can be dissociated at a lower cost than a conventional ion analyzer equipped with a high-power high-frequency power source.

（第２項）
第１項に記載のイオン分析装置において、
前記反応室がコリジョンセルである。 (Section 2)
In the ion analyzer according to paragraph 1,
The reaction chamber is a collision cell.

第２項に記載のイオン分析装置では、コリジョンセルに反応ガスを供給して該コリジョンガスを通過するプリカーサイオンを解離させてプロダクトイオンを生成することができる。 In the ion analyzer according to the second item, a reaction gas can be supplied to the collision cell to dissociate the precursor ions passing through the collision gas to generate product ions.

（第３項）
第１項又は第２項に記載のイオン分析装置において、
前記反応室がイオン移動度分析用のドリフトチューブである。 (Section 3)
In the ion analyzer according to paragraph 1 or 2,
The reaction chamber is a drift tube for ion mobility analysis.

第３項に記載のイオン分析装置では、イオン移動度分析用のドリフトチューブを反応室として用いる。即ち、イオン移動度分析装置を、試料成分由来のプリカーサイオンからプロダクトイオンを生成して分析する装置として動作させることができる。 In the ion analyzer according to the third item, a drift tube for ion mobility analysis is used as a reaction chamber. That is, the ion mobility analyzer can be operated as a device for generating and analyzing product ions from precursor ions derived from sample components.

（第４項）
第１項から第３項に記載のイオン分析装置において、
前記反応ガスがギ酸である。 (Section 4)
In the ion analyzer according to the first to third paragraphs,
The reaction gas is formic acid.

第４項に記載のイオン分析装置では、反応ガスとして還元性を有するギ酸を用い、40℃程度の比較的低温でプリカーサイオンを解離させることができる。 In the ion analyzer according to the fourth item, formic acid having a reducing property is used as a reaction gas, and precursor ions can be dissociated at a relatively low temperature of about 40 ° C.

（第５項）
第１項から第４項に記載のイオン分析装置において、
さらに、
前記反応室に不活性ガスを導入する不活性ガス供給部と、
前記反応ガスと前記不活性ガスを択一的に前記反応室に供給するように、前記反応ガス供給部及び前記不活性ガス供給部を制御する制御部と
を備える。 (Section 5)
In the ion analyzer according to the first to fourth paragraphs,
Moreover,
An inert gas supply unit that introduces the inert gas into the reaction chamber,
The reaction gas supply unit and the control unit that controls the inert gas supply unit are provided so that the reaction gas and the inert gas are selectively supplied to the reaction chamber.

第５項に記載のイオン分析装置では、試料成分の特性等に応じて、反応ガスを用いたプリカーサイオンの還元又は酸化による解離と、不活性ガスとの衝突による解離を選択又は併用することができる。 In the ion analyzer according to the fifth item, dissociation by reduction or oxidation of precursor ions using a reaction gas and dissociation by collision with an inert gas can be selected or used in combination depending on the characteristics of the sample components and the like. can.

（第６項）
第１項から第５項に記載のイオン分析装置において、
前記所定の温度が500℃以下である。 (Section 6)
In the ion analyzer according to the first to fifth paragraphs,
The predetermined temperature is 500 ° C. or lower.

第６項に記載のイオン分析装置では、反応室内に配置される電極が膨張するなどして変形し、反応室内の内部に所望の電場が形成されなくなる可能性を低減することができる。 In the ion analyzer according to item 6, it is possible to reduce the possibility that the electrode arranged in the reaction chamber is deformed due to expansion or the like and a desired electric field is not formed inside the reaction chamber.

１…質量分析装置
１０…イオン化室
１０１…ESIプローブ
１１…第１中間真空室
１２…第２中間真空室
１２１…イオンガイド
１３…分析室
１３１…前段四重極マスフィルタ
１３２…コリジョンセル
１３３…四重極イオンガイド
１３４…ヒータ
１３５…後段四重極マスフィルタ
１３６…イオン検出器
２…質量分析装置本体
２０…直流電源
４…ガス供給部
４１…還元ガスボンベ
４２…酸化ガスボンベ
４３…不活性ガスボンベ
４４…流路切替部
４５…ガス導入流路
４６…バルブ
４７…ヒータ
４８…加熱室
５…制御・処理部
５１…記憶部
５２…分析条件設定部
５３…分析制御部
５４…解析処理部
５５…入力部
５６…表示部
２００…イオン移動度分析装置
２１０…イオン移動度分析室
２０１…ESIプローブ
２１１…イオン輸送部
２１２…シャッターゲート
２１３…ドリフトチューブ
２３４…ヒータ
２５０…質量分析室
２５１…直交加速部
２５２…第２加速部
２５３…リフレクトロン
２５４…検出器
Ｃ…イオン光軸 1 ... Mass spectrometer 10 ... Ionization chamber 101 ... ESI probe 11 ... First intermediate vacuum chamber 12 ... Second intermediate vacuum chamber 121 ... Ion guide 13 ... Analysis chamber 131 ... Previous quadrupole mass filter 132 ... Collision cell 133 ... 4 Heavy pole ion guide 134 ... Heater 135 ... Later quadrupole mass filter 136 ... Ion detector 2 ... Mass spectrometer main body 20 ... DC power supply 4 ... Gas supply unit 41 ... Reduced gas bomb 42 ... Oxidation gas bomb 43 ... Inactive gas bomb 44 ... Flow path switching unit 45 ... Gas introduction flow path 46 ... Valve 47 ... Heater 48 ... Heating chamber 5 ... Control / processing unit 51 ... Storage unit 52 ... Analysis condition setting unit 53 ... Analysis control unit 54 ... Analysis processing unit 55 ... Input unit 56 ... Display unit 200 ... Ion mobility analyzer 210 ... Ion mobility analysis room 201 ... ESI probe 211 ... Ion transport unit 212 ... Shutter gate 213 ... Drift tube 234 ... Heater 250 ... Mass spectrometry room 251 ... Orthogonal acceleration unit 252 ... 2nd Accelerator 253 ... Reflectron 254 ... Detector C ... Ion optical axis

Claims

An ion analyzer that analyzes product ions generated from precursor ions derived from sample components.
The reaction chamber into which the precursor ion is introduced and
A reaction gas supply unit that supplies a reaction gas, which is a gas having a reducing ability above a predetermined temperature or a gas having an oxidizing ability above a predetermined temperature, to the reaction chamber.
A heating unit that heats the reaction gas,
An ion analyzer comprising a separation detection unit for separating and detecting product ions generated in the reaction chamber according to a predetermined physical quantity.

The ion analyzer according to claim 1, wherein the reaction chamber is a collision cell.

The ion analyzer according to claim 1 or 2, wherein the reaction chamber is a drift tube for ion mobility analysis.

The ion analyzer according to any one of claims 1 to 3, wherein the reaction gas is formic acid.

Moreover,
An inert gas supply unit that introduces the inert gas into the reaction chamber,
Any of claims 1 to 4, further comprising a reaction gas supply unit and a control unit that controls the inert gas supply unit so that the reaction gas and the inert gas are selectively supplied to the reaction chamber. The ion analyzer described in the gas.

The ion analyzer according to any one of claims 1 to 5, wherein the predetermined temperature is 500 ° C. or lower.

The reaction gas, which is a gas having a reducing ability at a predetermined temperature or higher or a gas having an oxidizing ability at a predetermined temperature or higher, is heated to a predetermined temperature or higher.
Product ions are generated by reacting the precursor ions derived from the sample components with the reaction gas heated to the predetermined temperature or higher.
An ion analysis method for separating and detecting product ions according to a predetermined physical quantity.