JP2022044005A - 制御可能デルタ周波数温度係数を有する多層圧電基板 - Google Patents

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Abstract

【課題】弾性波デバイス及びフィルタに関し、これらにおける帯域幅の温度係数を制御する方法及び構造を提供する。【解決手段】電子デバイス(弾性表面波共振器10)は、キャリア基板22、キャリア基板の表側に配置される圧電材料膜12及びキャリア基板の裏側に配置される裏側材料層を含む多層圧電基板と、多層圧電基板の表側に配置される一以上の弾性波デバイスとを含む。裏側材料層は、当該キャリア基板の熱膨張係数とは異なる熱膨張係数を有し、当該一以上の弾性波デバイスは、当該裏側材料層を欠く実質的に同様のデバイスよりも小さな、共振周波数及び反共振周波数それぞれにおける周波数温度係数の差を示す。【選択図】図2

Description

本開示の実施形態は、弾性波デバイス及びフィルタに関し、これらにおける帯域幅の温度係数を制御する方法及び構造に関する。
弾性波デバイス、例えば弾性表面波(SAW)及びバルク弾性波(BAW)デバイスを、無線周波数電子システムにおけるフィルタのコンポーネントとして利用することができる。例えば、携帯電話機の無線周波数フロントエンドにおけるフィルタは、弾性波フィルタを含み得る。2つの弾性波フィルタをデュプレクサ又はダイプレクサとして配列することができる。
一側面によれば、電子デバイスが与えられる。電子デバイスは、キャリア基板、当該キャリア基板の表側に配置される圧電材料層、及び当該キャリア基板の裏側に配置される裏側材料層を含む多層圧電基板と、当該多層圧電基板の表側に配置される一以上の弾性波デバイスとを含み、当該裏側材料層は、当該キャリア基板の熱膨張係数とは異なる熱膨張係数を有し、当該一以上の弾性波デバイスは、当該裏側材料層を欠く実質的に同様のデバイスよりも小さな、共振周波数及び反共振周波数それぞれにおける周波数温度係数の差を示す。
いくつかの実施形態において、一以上の弾性波デバイスは弾性波フィルタに含まれる。
いくつかの実施形態において、一以上の弾性波デバイスは無線周波数フィルタを形成する。
いくつかの実施形態において、フィルタは、帯域幅のニアゼロ温度係数を有する。
いくつかの実施形態において、一以上の弾性波デバイスの共振周波数における周波数温度係数は、当該一以上の弾性波デバイスの反共振周波数における周波数温度係数に実質的に等しい。
いくつかの実施形態において、一以上の弾性波デバイスは弾性表面波デバイスである。一以上の弾性波デバイスは温度補償弾性表面波デバイスとしてよい。
いくつかの実施形態において、一以上の弾性波デバイスはバルク弾性波デバイスである。
いくつかの実施形態において、裏側材料層は、キャリア基板の周波数温度係数よりも高い周波数温度係数を有する。
いくつかの実施形態において、裏側材料層は、キャリア基板の周波数温度係数よりも低い周波数温度係数を有する。
いくつかの実施形態において、裏側材料層は、誘電体又は金属の一方を含む。
いくつかの実施形態において、裏側材料層は圧電材料を含む。
いくつかの実施形態において、裏側材料層及び圧電材料層は同じ圧電材料を含む。
いくつかの実施形態において、裏側材料層及び圧電材料層は、実質的に同じ厚さを有する。
いくつかの実施形態において、一以上の弾性波デバイスは、ニアゼロデルタ周波数温度係数を有する。
いくつかの実施形態において、電子デバイスは、無線周波数デバイスモジュールに含まれる。
いくつかの実施形態において、無線周波数デバイスモジュールは、無線周波数デバイスに含まれる。
他側面によれば、電子デバイスを形成する方法が与えられる。方法は、キャリア基板の頂面に圧電材料層を形成することと、当該キャリア基板の底面に裏側材料層を形成することと、当該圧電材料層の複数部分を含む一以上の弾性波デバイスを形成することとを含み、当該裏側材料層は、当該キャリア基板の熱膨張係数とは異なる熱膨張係数を有し、当該裏側材料層によって当該一以上の弾性波デバイスは、共振周波数及び反共振周波数それぞれにおける周波数温度係数のニアゼロ差を示す。
いくつかの実施形態において、方法はさらに、一以上の弾性波デバイスから無線周波数フィルタを形成することを含む。
いくつかの実施形態において、方法はさらに、無線周波数フィルタを含む無線周波数デバイスモジュールを形成することを含む。
いくつかの実施形態において、方法はさらに、無線周波数デバイスを含む無線周波数電子デバイスを形成することを含む。
本開示の複数の実施形態が、添付図面を参照する非限定的な例を介して以下に記載される。
弾性表面波共振器の一例の簡単な平面図である。 弾性表面波共振器の他例の簡単な平面図である。 弾性表面波共振器の他例の簡単な平面図である。 多層圧電基板を有する温度補償弾性表面波共振器の一部分の断面図である。 薄膜バルク弾性波共振器の簡略化された断面図である。 ラム波共振器の簡略化された断面図である。 ソリッドマウント共振器の簡略化された断面図である。 無線周波数ラダーフィルタの模式的な図である。 弾性波デバイスのための多層圧電基板の一例を示す。 異なる裏側層が動作温度にある多層圧電基板におけるひずみを示す。 本開示の複数側面に係る一以上の電子デバイスを含み得るフィルタモジュールの一例のブロック図である。 本開示の側面に係る一つ以上のフィルタモジュールを含み得るフロントエンドモジュールの一例のブロック図である。 図10のフロントエンドモジュールを含む無線デバイスの一例のブロック図である。
所定の実施形態の以下の説明は、特定の実施形態の様々な記載を表す。しかしながら、ここに記載のイノベーションは、例えば特許請求の範囲によって画定され及びカバーされる多数の異なる態様で具体化することができる。本記載において、同じ参照番号が同一の又は機能的に類似の要素を示し得る図面が参照される。理解されることだが、図面に示される要素は必ずしも縮尺どおりではない。さらに理解されることだが、所定の実施形態は、図面に示されるよりも多くの要素を含んでよく、及び/又は図面に示される要素の部分集合を含んでよい。さらに、いくつかの実施形態は、2つ以上の図面からの特徴のいずれかの適切な組み合わせを組み入れてよい。
図1Aは、SAWフィルタ、デュプレクサ、バラン等において使用され得るような弾性表面波(SAW)共振器10の平面図である。
弾性波共振器10は、圧電基板、例えばタンタル酸リチウム(LiTaO)又はニオブ酸リチウム(LiNbO)基板12から形成され、インターディジタルトランスデューサ(IDT)電極14及び反射器電極16を含む。使用時、IDT電極14は、圧電基板12の表面沿いに波長λを有する主要弾性波を励起する。反射器電極16はIDT電極14を挟み、主要弾性波を、IDT電極14を往復して通るように反射する。デバイスの主要弾性波は、IDT電極の長さ方向に直交するように進行する。
IDT電極14は、第1バスバー電極18Aと、第1バスバー電極18Aに対向する第2バスバー電極18Bとを含む。バスバー電極18A、18Bはここで、まとめてバスバー電極18と称してよい。IDT電極14はさらに、第1バスバー電極18Aから第2バスバー電極18Bに向かって延びる第1電極指20Aと、第2バスバー電極18Bから第1バスバー電極18Aに向かって延びる第2電極指20Bとを含む。
反射器電極16(反射器グレーティングとも称する)はそれぞれが、第1反射器バスバー電極24A及び第2反射器バスバー電極24B(まとめて反射器バスバー電極24と称する)と、第1バスバー電極24Aと第2バスバー電極24Bとの間に延びて電気的に結合された反射器指26とを含む。
ここに開示される他実施形態において、図1Bに示されるように、反射器バスバー電極24A、24Bを省略してよく、反射器指26を電気的に接続しなくてもよい。さらに、図1Cに示されるように、ここに開示される弾性波共振器は、電極指20A、20Bそれぞれと整列するダミー電極指20Cを含んでよい。各ダミー電極指20Cは、整列された電極指20A、20Bそれぞれに対して反対のバスバー電極18A、18Bから延びる。
図2は、基板12上に配置されるIDT電極14のいくつかを示す図1A~図1Cのいずれかの弾性波共振器10の一部分の部分断面図である。いくつかの実施形態において、弾性波共振器が、圧電基板12と当該圧電基板が配置されるキャリア基板22とを含む多層圧電基板を含んでよい。キャリア基板22は、例えば、シリコン又は誘電性材料、例えば、二酸化ケイ素、酸化アルミニウム若しくはサファイヤから形成されてよい。キャリア基板22は、圧電基板12よりも厚いのが典型的であり、増大した機械的強度を有する弾性波共振器を与える。
IDT電極14は、例えばアルミニウムのような、金属又は金属合金から形成される。いくつかの実施形態において、IDT電極14は、例えばモリブデン及びアルミニウムのような異なる金属の多層を含み得る。誘電材料24、例えば二酸化ケイ素(SiO)は、IDT電極14及び基板12の頂部に配置され得る。誘電材料は有利なことに、弾性波共振器10の動作特性に対する温度変化の効果を低下させることができ、IDT電極14と基板12の表面とを保護することもできる。例えば、SiOが負の熱膨張係数を有する一方、SAWデバイスにおいて圧電基板12のために典型的に使用される材料は、正の熱膨張係数を有する。SiOの層24はそれゆえ、SiOの層24が不在のときに生じ得る温度変化に伴う圧電基板12の寸法変化に抵抗し得る。図2に示されるようにSiOの層を含むSAWデバイスは、温度補償SAWデバイスと称してよく、TC-SAWデバイスと略されることが多い。
ここに開示される複数の側面及び実施形態はまた、バルク弾性波(BAW)共振器にも適用可能である。薄膜バルク弾性波共振器(FBAR)、ラム波共振器及びソリッドマウント共振器が、BAW共振器の例である。
図3は、薄膜バルク弾性波共振器(FBAR)30の簡略化された断面図である。FBAR30は、圧電材料層32、圧電材料層32の上面にある上側電極34、圧電材料層32の下面にある下側電極36を含む。圧電材料層32は薄膜としてよい。圧電材料層32は窒化アルミニウム層としてよい。他例において、圧電材料層32は、任意の適切な圧電材料層としてよい。圧電材料層32は、基板39に配置され、圧電材料層32の下面と基板39との間にキャビティ38を画定する。下側電極36は、キャビティ38の中に配置される。キャビティ38は、空気又は他の気体が充填されてよく、他実施形態では真空キャビティを形成するべく排気が行われてもよい。
図4は、ラム波共振器40の簡略化された断面図である。ラム波共振器40は、SAW共振器及びFBARの特徴を含む。図示のように、ラム波共振器40は、圧電材料層42、圧電材料層42の上面にあるインターディジタルトランスデューサ電極(IDT)44、及び圧電材料層42の下面に配置される下側電極46を含む。圧電材料層42は薄膜としてよい。圧電材料層42は窒化アルミニウム層としてよい。他例において、圧電材料層42は、任意の適切な圧電層としてよい。ラム波共振器の周波数は、IDT44の幾何学的形状に基づき得る。電極46は、所定例において接地してよい。いくつかの他例において、電極46は浮遊としてよい。電極46と基板49との間に、空気キャビティ48が配置される。空気キャビティ48の代わりに、任意の適切なキャビティ、例えば真空キャビティ又は異なる気体が充填されたキャビティ、を実装することができる。
図5は、ソリッドマウント共振器(SMR)50の簡略化された断面図である。図示のように、SMR50は、圧電材料層52、圧電材料層52の頂部に配置される上側電極54、及び圧電材料層52の下面に配置される下側電極56を含む。圧電材料層52は窒化アルミニウム層としてよい。他例において、圧電材料層52は、任意の適切な圧電材料層としてよい。下側電極56は、所定例において接地してよい。いくつかの他例において、下側電極56は浮遊としてよい。ブラッグ反射器58が、下側電極56と半導体基板59との間に配置される。任意の適切なブラッグ反射器を実装することができる。例えば、ブラッグ反射器はSiO/Wとしてよい。
図3~図5における基板39、49、59は、シリコンであるとして示されるが、代替的に、他材料、例えば二酸化ケイ素、酸化アルミニウム又はサファイヤのような誘電性材料、から形成されてよい。
なお、図1A~図5に示される弾性波共振器は、ここに表される他の図面に示されるものと同様、高度に単純化された形態で示される。異なる特徴物の相対的な寸法は、縮尺どおりに示されるわけではない。例えば、典型的な弾性表面波共振器は一般に、図示されるよりもかなり多くの数の電極指及び/又は反射器指を含む。弾性波共振器は、いくつかの例に示されるものとは異なるように構成してよい。例えば、いくつかの実施形態において、弾性表面波共振器は、ダミー電極指、異なる若しくは不均一の長さ若しくは幅寸法を有する電極指、異なる若しくは不均一の間隔を有する電極指若しくは反射器指、又は曲がった若しくは傾斜した部分を含む電極指を含んでよい。典型的な弾性表面波共振器又はフィルタ要素はまた、反射器電極間に挟まれた多数のIDT電極を含み得る。
ここに開示される複数の弾性波共振器は、弾性波フィルタ、例えば無線周波数(RF)弾性波フィルタを形成するように電気的に結合されてよい。フィルタアーキテクチャの一例はラダーフィルタである。RFラダーフィルタの一例が、図6に模式的に示される。RFラダーフィルタは、複数の直列共振器R1、R3、R5、R7及びR9と、複数の並列(又はシャント)共振器R2、R4、R6及びR8とを含む。示されるように、複数の直列共振器R1、R3、R5、R7及びR9は、RFラダーフィルタの入力部と出力部との間に直列に接続され、複数の並列共振器R2、R4、R6及びR8はそれぞれが、直列共振器とグランドとの間にシャント構成で接続される。例えばデュプレクサ、バラン等のような弾性波デバイス又は共振器を含み得る業界周知の他のフィルタ構造及び他の回路構造もまた、ここに開示される弾性波共振器の複数例を含むように形成することができる。
弾性波共振器は、共振周波数(f)において、反共振周波数(f)においてとは異なる周波数温度係数(temperature coefficient of frequency(TCF))を有することが多い。このTCFの差をここでは、デルタTCF(ΔTCF)と称する。これは、ppm/℃で測定されるのが典型的である。fとfとの周波数分離は、弾性波共振器から形成されるフィルタの帯域幅を決定する大きな要因であるから、ΔTCFは、弾性波共振器から形成されるフィルタにとっての帯域幅の温度係数とみなすことができる。さらに、fとfとの分離の変動は、フィルタインピーダンスの変化も引き起こし、潜在的に電圧定在波比(VSWR)の劣化を引き起こし、又は、RFシステム(例えば電力増幅器又は低雑音増幅器)におけるフィルタと他の隣接RFコンポーネントとの相互作用に影響を与える。多層圧電基板(MPS)弾性波共振器を含む弾性波フィルタにおいて、ΔTCF値は特に大きく、問題となり得る。低い又はゼロのΔTCF値を有する弾性波共振器及びフィルタを与えることが望ましい。これにより、当該共振器又はフィルタの動作特性、例えば共振周波数及び反共振周波数又は帯域幅が、動作温度の変化によって有意に影響を受けることがなくなる。
MPS共振器及びこれらから形成されるフィルタ(MPSフィルタ)におけるΔTCFへの大きな寄与因子は、MPS共振器の圧電材料膜における温度依存性応力である。温度依存性応力は、圧電材料膜とその下位のキャリア基板との間、例えば、図2における圧電材料膜12とキャリア基板22との間、図3~図5における圧電材料膜32、42、52と対応キャリア基板39、49、59との間の熱膨張係数(coefficient of thermal expansion(CTE))の不整合によって引き起こされる。
ここに開示される複数の側面及び実施形態は、例えば±2ppm/℃の範囲内のニアゼロΔTCFを有するMPS弾性波共振器及びフィルタを含む。MPSフィルタの共振器は、主要キャリア基板のCTEとは異なるCTEを有する裏側層を含む。主要キャリア基板と裏側層とのCTE不整合は、弾性波共振器にひずみを引き起こす。このひずみによりキャリア基板は、裏側層のCTEが主要キャリア基板のCTEよりも小さいか又は大きいかに応じて上方(凸状)又は下方(凹状)態様でたわむ。裏側層により引き起こされる凸状又は凹状のひずみはそれぞれ、共振器の表面(頂面)側の圧電膜に引張応力又は圧縮応力を与える。温度が変化すると、応力も比例して変化する。引き起こされる(引張又は圧縮)応力の方向は、主要キャリア基板のCTEと比較した裏側層のCTEの大きさによって決定され、変化の感度は、CTE不整合の程度、キャリア基板及び裏側材料のヤング率、並びに裏側層及びキャリア基板の相対厚さによって決定される。膜厚は、最新の作製技術を使用して極めて容易に制御することができるので、これにより、弾性波共振器を製造する自由度又はゼロ若しくはニアゼロのΔTCFを有する自由度が非常に簡単に得られる。
図7は、ここに開示されるゼロ又はニアゼロのΔTCFを有する弾性波共振器700の材料層の断面を模式的に示す。弾性波共振器は圧電材料層705を含み、圧電材料層705上又は圧電材料層705内に、図1A~図5に示される弾性波共振器の、若しくは他の業界周知の弾性波共振器の、又は電極若しくは他の特徴物のいずれかが構成され又は含まれる。これらは、例えば図2に示されるように、上に横たわる一以上の誘電層によって全体的又は部分的に覆われてよい。圧電材料層705は、図1A~図5に示される弾性波共振器の、又は業界周知の弾性波共振器のキャリア基板22、39、49又は59に対応し得るキャリア基板710の表面又は上面に配置される。キャリア基板710のCTEとは異なるCTEを有する裏側層715が、圧電材料層705が配置されるキャリア基板710の表側に対向するキャリア基板710の裏側又は下側に配置される。裏側層は、一以上の材料層から形成されてよく、異なる材料の複数層を含んでよい。いくつかの実施形態において、裏側層715は、キャリア基板710よりも高いCTEを有する。キャリア基板710が、例えば、CTEが約2.6ppm/℃のシリコンから形成される場合、裏側層は、圧電材料(例えばニオブ酸リチウム(結晶方位に応じてCTEが約7.5ppm/℃から約15.4ppm/℃)、タンタル酸リチウム(結晶方位に応じてCTEが約2ppm/℃から約16ppm/℃)若しくは窒化アルミニウム(CTEが約4.6ppm/℃))、誘電体(例えば酸化アルミニウム(CTEが約4.5ppm/℃)、サファイヤ(CTE約5.3ppm/℃)若しくは炭化ケイ素(CTEが約2.8ppm/℃))、又は金属(例えば銅(CTEが約17ppm/℃)若しくはアルミニウム(CTEが約23ppm/℃))の一以上から形成されてよい。いくつかの実施形態において、裏側層715は、圧電材料層705と同じ材料から形成されて実質的に同じ厚さを有してよい。他実施形態において、裏側層715は、キャリア基板710よりも低いCTEを有する。キャリア基板710が、例えば、CTEが約2.6ppm/℃のシリコンから形成される場合、裏側層は、窒化ケイ素(CTEが約1.4ppm/℃)、ダイヤモンド(CTEが約1ppm/℃)、又は二酸化ケイ素(CTEが約0.65ppm/℃)の一以上から形成されてよい。いくつかの実施形態において、裏側層は、主要キャリア基板の厚さの1%から20%の厚さ範囲にある銅若しくはSiNから形成され又はこれらを含んでよい。厚さが50~250μmの範囲にあるキャリア基板に対し、裏側層の厚さの範囲は、例えば0.5μmから50μmとしてよい。
裏側層715は、適切な化学気相堆積又は物理気相堆積プロセス(例えば蒸着又はスパッタリング)を使用して、キャリア基板710の裏側又は下側に直接堆積されてよい。他実施形態において、裏側層715は、適切な接着層を使用して、例えば、二酸化ケイ素、クロム、白金、チタン、二酸化チタン、金、又は任意の他の適切な誘電体若しくは金属の接着層材料の一以上を使用して、キャリア基板710の裏側又は下側に接着されてよい。他実施形態において、金属裏側層を電気めっきによって形成することができる。
図8に示されるように、主要キャリア基板と裏側層とのCTE不整合は、デバイスにひずみをもたらし、裏側層のCTEが主要キャリア基板のCTEよりも小さいか又は大きいかのそれぞれに応じて、デバイスを上方(凸状)又は下方(凹状)態様にたわませる。裏側層により引き起こされる凸状又は凹状のひずみはそれぞれ、デバイスの表面(頂面)側の圧電膜に引張応力又は圧縮応力を与える。温度が変化すると、応力も比例して変化する。引き起こされる応力(引張又は圧縮)の方向は、主要キャリア基板のCTEと比較した裏側層のCTEの大きさによって決定され、変化の感度は、CTE不整合の程度、キャリア基板及び裏側材料の弾性係数、及びキャリア基板と比較した裏側層の相対厚さ、並びに、程度は低いが、圧電材料層の組成及び厚さによって決定される。裏側層の膜厚は、最新の堆積プロセスを使用して容易かつ正確に制御することができるので、これにより、ゼロΔTCF又はニアゼロΔTCFを有するここに開示される弾性波共振器又はフィルタを与える容易に制御可能な方法が得られる。
上述したように、ここに開示される弾性波素子の複数の実施形態は、例えば、フィルタとして構成し、又はフィルタにおいて使用することができる。ここに開示される弾性波素子の実施形態は、例えば、周知の構造及び構成を有するラダーフィルタとして構成してよい。次に、一以上の弾性波素子を使用する弾性波フィルタを、例えば、無線通信デバイスのような電子デバイスに究極的に使用され得るモジュールに組み入れ、当該モジュールとしてパッケージにしてよい。図9は、弾性波フィルタ810を含むモジュール800の一例のブロック図である。フィルタ810は、一以上の接続パッド822を含む一以上のダイ820に実装してよい。例えばフィルタ810は、フィルタ用の入力接点に対応する接続パッド822と、フィルタ用の出力接点に対応する他の接続パッド822とを含み得る。パッケージ状モジュール800は、ダイ820を含む複数のコンポーネントを受容するように構成されるパッケージ基板830を含む。複数の接続パッド832をパッケージ基板830上に配置することができ、フィルタダイ820の様々な接続パッド822を、電気コネクタ834を介してパッケージ基板830上の接続パッド832に接続することができる。電気コネクタ834は、様々な信号のフィルタ810への及びフィルタ810からの通過を許容するべく、例えば、はんだバンプ又はワイヤボンドとしてよい。モジュール800はさらに、オプションとして、ここでの開示に鑑みて半導体製作の当業者に知られるような、例えば一以上の付加フィルタ、増幅器、スイッチ、前置フィルタ、変調器、復調器、ダウンコンバータ等のような他の回路ダイ840を含んでよい。いくつかの実施形態において、モジュール800はまた、例えばモジュール800の保護を与えて容易な扱いを促すための、一以上のパッケージ構造物を含み得る。かかるパッケージ構造物は、パッケージ基板830を覆うように形成されて様々な回路及び部品を実質的に封入する寸法とされたオーバーモールドを含み得る。
フィルタ810の様々な例及び実施形態を、広範な電子デバイスにおいて使用することができる。例えば、フィルタ810は、アンテナデュプレクサにおいて使用することができる。アンテナデュプレクサ自体は、RFフロントエンドモジュール及び通信デバイスのような様々な電子デバイスに組み入れることができる。
図10を参照すると、例えば無線通信デバイス(例えば携帯電話機)のような電子デバイスにおいて使用できるフロントエンドモジュール900の一例のブロック図が例示される。フロントエンドモジュール900は、共通ノード902、入力ノード904及び出力ノード906を有するアンテナデュプレクサ910を含む。アンテナ1010が共通ノード902に接続される。
アンテナデュプレクサ910は、入力ノード904と共通ノード902との間に接続される一以上の送信フィルタ912と、共通ノード902と出力ノード906との間に接続される一以上の受信フィルタ914とを含み得る。送信フィルタの通過帯域は、受信フィルタの通過帯域と異なる。フィルタ810の複数例を、送信フィルタ912及び/又は受信フィルタ914を形成するべく使用することができる。インダクタ又は他の整合若しくは位相合わせコンポーネント920を、共通ノード902に接続してよい。
フロントエンドモジュール900はさらに、デュプレクサ910の入力ノード904に接続される送信器回路932と、デュプレクサ910の出力ノード906に接続される受信器回路934とを含む。送信器回路932は、アンテナ1010を介した送信のための信号を生成することができ、受信器回路934は、アンテナ1010を介して信号を受信し、受信した信号を処理することができる。いくつかの実施形態において、受信器回路及び送信器回路は、図10に示されるように別個のコンポーネントとして実装されるが、他実施形態においてこれらのコンポーネントは、共通送受信器回路又はモジュールに一体化され得る。当業者にわかることだが、フロントエンドモジュール900は、図10に例示されない他のコンポーネント(スイッチ、電磁結合器、増幅器、プロセッサ等を含むがこれらに限られない)を含んでよい。
図11は、図10に示されるアンテナデュプレクサ910を含む無線デバイス1000の一例のブロック図である。無線デバイス1000は、セルラー電話機、スマートフォン、タブレット、モデム、通信ネットワーク、又は音声若しくはデータ通信用に構成された任意の他の携帯若しくは非携帯デバイスとしてよい。無線デバイス1000は、アンテナ1010から信号を受信及び送信することができる。無線デバイスは、図10を参照して上述されたものと同様のフロントエンドモジュール900の一実施形態を含む。フロントエンドモジュール900は、上述したデュプレクサ910を含む。図11に示される例において、フロントエンドモジュール900はさらに、アンテナスイッチ940を含む。アンテナスイッチ940は、例えば送信モード及び受信モードのような、異なる周波数帯域又はモード間の切り替えをするべく構成することができる。図11に示される例において、アンテナスイッチ940は、デュプレクサ910とアンテナ1010との間に位置決めされるが、他例においてデュプレクサ910は、アンテナスイッチ940とアンテナ1010との間に位置決めしてもよい。他例において、アンテナスイッチ940とデュプレクサ910とは一体化して一つのコンポーネントにすることができる。
フロントエンドモジュール900は、送信を目的として信号生成するべく、又は受信した信号を処理するべく構成される送受信器930を含む。送受信器930は、図10の例に示されるように、デュプレクサ910の入力ノード904に接続され得る送信器回路932と、デュプレクサ910の出力ノード906に接続され得る受信器回路934とを含み得る。
送信器回路932による送信のために生成された信号は、送受信器930からの生成信号を増幅する電力増幅器(PA)モジュール950によって受信される。電力増幅器モジュール950は、一以上の電力増幅器を含み得る。電力増幅器モジュール950は、多様なRF又は他の周波数帯域の送信信号を増幅するべく使用することができる。例えば、電力増幅器モジュール950は、無線ローカルエリアネットワーク(WLAN)信号又は任意の他の適切なパルス信号の送信に役立つように電力増幅器の出力をパルスにするべく使用されるイネーブル信号を受信することができる。電力増幅器モジュール950は、例えばGSM(Global System for Mobile)(登録商標)信号、CDMA(code division multiple access)信号、W-CDMA信号、ロングタームエボリューション(LTE)信号、ニューラジオ(NR)信号又はEDGE信号を含む様々なタイプの信号のいずれかを増幅するべく構成することができる。所定の実施形態において、電力増幅器モジュール950及びスイッチ等を含む関連コンポーネントは、例えば高電子移動度トランジスタ(pHEMT)又は絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(BiFET)を使用するヒ化ガリウム(GaAs)基板上に作製し、又は相補型金属酸化物半導体(CMOS)電界効果トランジスタを使用するシリコン基板上に作製することができる。
依然として図11を参照すると、フロントエンドモジュール900はさらに、低雑音増幅器モジュール960を含み得る。これは、アンテナ1010からの受信信号を増幅してその増幅信号を、送受信器930の受信器回路934に与える。
図11の無線デバイス1000はさらに、送受信器930に接続されて無線デバイス1000の動作のために電力を管理する電力管理サブシステム1020を含む。電力管理システム1020はまた、無線デバイス1000のベース帯域サブシステム1030及び様々な他のコンポーネントの動作を制御することもできる。電力管理システム1020は、無線デバイス1000の様々なコンポーネントのために電力を供給する電池(図示せず)を含み、又はこれに接続され得る。電力管理システム1020はさらに、例えば信号の送信を制御することができる一以上のプロセッサ又は制御器を含み得る。一実施形態において、ベース帯域サブシステム1030は、ユーザに与えられ又はユーザから受け取る音声及び/又はデータの様々な入力及び出力を容易にするユーザインタフェイス1040に接続される。ベース帯域サブシステム1030はまた、無線デバイスの動作を容易にし及び/又はユーザのための情報記憶を与えるデータ及び/又は命令を記憶するように構成されるメモリ1050に接続することもできる。上述された実施形態のいずれもが、セルラーハンドセットのような携帯デバイスに関連して実装することができる。実施形態の原理及び利点は、ここに説明される実施形態のいずれかから有益となり得る任意のアップリンク無線通信デバイスのような、任意のシステム又は装置によって使用することができる。ここでの教示は、様々なシステムに適用可能である。本開示がいくつかの実施形態例を含むにもかかわらず、ここに説明される教示は、様々な構造に適用することができる。ここに説明される原理及び利点はいずれも、約450MHz~6GHzの範囲のような、約30kHz~300GHzの範囲にある信号を処理するべく構成されたRF回路に関連して実装することができる。
本開示の複数の側面は、様々な電子デバイスに実装することができる。電子デバイスの例は、消費者用電子製品、パッケージ状無線周波数モジュールのような消費者用電子製品の部品、アップリンク無線通信デバイス、無線通信インフラストラクチャ、電子試験機器等を含むがこれらに限られない。電子デバイスの例は、スマートフォンのような携帯型電話機、スマートウォッチ又はイヤーピースのような装着可能コンピューティングデバイス、電話機、テレビ、コンピュータモニタ、コンピュータ、モデム、ハンドヘルドコンピュータ、ラップトップコンピュータ、タブレットコンピュータ、電子レンジ、冷蔵庫、自動車電子システムのような車載電子システム、ステレオシステム、デジタル音楽プレーヤー、ラジオ、デジタルカメラのようなカメラ、携帯型メモリーチップ、洗濯機、乾燥機、洗濯/乾燥機、コピー機、ファクシミリ装置、スキャナ、多機能周辺デバイス、腕時計、置時計等を含むがこれらに限られない。さらに、電子デバイスは未完成の製品も含んでよい。
本明細書及び特許請求の範囲全体にわたり、文脈上そうでないことが明らかに必要とされない限り、「含む」、「備える」、「包含する」等の単語は一般に、排他的又は網羅的な意味とは反対の包括的意味に、すなわち「~を含むがこれらに限られない」との意味に解釈すべきである。ここで一般に使用される単語「結合」は、直接接続されるか又は一以上の中間要素を介して接続されるかのいずれかとなり得る2以上の要素を言及する。同様に、ここで一般に使用される単語「接続」は、直接接続されるか又は一以上の中間要素を介して接続されるかのいずれかとなり得る2以上の要素を言及する。加えて、単語「ここ」、「上」、「下」及び同様の趣旨の単語は、本願において使用される場合、本願全体を言及し、本願の任意の固有部分を言及するわけではない。文脈が許容する場合、単数又は複数を使用する上述の詳細な説明における用語はそれぞれ、複数又は単数をも含み得る。2つ以上の項目のリストを言及する単語「又は」及び「若しくは」は、当該単語の以下の解釈のすべて、すなわち、当該リストの任意の項目、当該リストのすべての項目、及び当該リストの項目の任意の組み合わせをカバーする。
さらに、とりわけ「できる」、「し得る」、「してよい」、「かもしれない」、「例えば」、「のような」等のようなここに記載の条件付き言語は一般に、特にそうでないことが述べられ、又は使用の文脈上そうでないことが理解される場合を除き、所定の実施形態が所定の特徴、要素及び/又は状態を含む一方で他の実施形態がこれらを含まないことを伝えるように意図される。すなわち、かかる条件的言語は、特徴、要素及び/若しくは状態が一以上の実施形態にとって必要な任意の態様にあること、又は一以上の実施形態が必ず、筆者のインプット若しくは促しありで若しくはなしで、これらの特徴、要素及び/若しくは状態が任意の固有実施形態に含まれ若しくは当該実施形態で行われるか否かを決定するロジックを含むこと、を示唆することを一般には意図しない。
所定の実施形態が記載されてきたが、これらの実施形態は、例示により提示されたにすぎないので、本開示の範囲を制限することを意図しない。実際のところ、ここに記載される新規な方法、装置及びシステムは、様々な他の形態で具体化することができる。さらに、ここに記載される方法及びシステムの形態における様々な省略、置換及び変更が、本開示の要旨から逸脱することなくなし得る。例えば、複数のブロックが所与の配列で提示されるが、代替実施形態は、異なる部品及び/又は回路トポロジで同様の機能を果たすことができ、いくつかのブロックは削除、移動、追加、細分化、結合、及び/又は修正することができる。これらのブロックそれぞれを、様々な異なる態様で実装することができる。上述した様々な実施形態の要素及び工程の任意の適切な組み合わせを、さらなる実施形態を与えるように組み合わせることができる。添付の特許請求の範囲及びその均等物が、本開示の範囲及び要旨に収まるかかる形態又は修正をカバーすることが意図される。

Claims (21)

  1. 電子デバイスであって、
    キャリア基板、前記キャリア基板の表側に配置される圧電材料層、及び前記キャリア基板の裏側に配置される裏側材料層配置を含む多層圧電基板と、
    前記多層圧電基板の表側に配置される一以上の弾性波デバイスと
    を含み、
    前記裏側材料層は、前記キャリア基板の熱膨張係数とは異なる熱膨張係数を有し、
    前記一以上の弾性波デバイスは、前記裏側材料層を欠く実質的に同様のデバイスよりも小さな、共振周波数及び反共振周波数それぞれにおける周波数温度係数の差を示す、電子デバイス。
  2. 前記一以上の弾性波デバイスは弾性波フィルタに含まれる、請求項1の電子デバイス。
  3. 前記一以上の弾性波デバイスは無線周波数フィルタを形成する、請求項1の電子デバイス。
  4. 前記フィルタは、帯域幅のニアゼロ温度係数を有する、請求項2又は3のいずれか一項の電子デバイス。
  5. 前記一以上の弾性波デバイスの共振周波数における周波数温度係数は、前記一以上の弾性波デバイスの反共振周波数における周波数温度係数に実質的に等しい、請求項1の電子デバイス。
  6. 前記一以上の弾性波デバイスは弾性表面波デバイスである、請求項1の電子デバイス。
  7. 前記一以上の弾性波デバイスは温度補償弾性表面波デバイスである、請求項6の電子デバイス。
  8. 前記一以上の弾性波デバイスはバルク弾性波デバイスである、請求項1の電子デバイス。
  9. 前記裏側材料層は、前記キャリア基板の周波数温度係数よりも高い周波数温度係数を有する、請求項1の電子デバイス。
  10. 前記裏側材料層は、前記キャリア基板の周波数温度係数よりも低い周波数温度係数を有する、請求項1の電子デバイス。
  11. 前記裏側材料層は、誘電体又は金属の一方を含む、請求項1から10のいずれか一項の電子デバイス。
  12. 前記裏側材料層は圧電材料を含む、請求項1から10のいずれか一項の電子デバイス。
  13. 前記裏側材料層及び前記圧電材料層は双方が同じ圧電材料を含む、請求項12の電子デバイス。
  14. 前記裏側材料層及び前記圧電材料層は実質的に同じ厚さを有する、請求項13の電子デバイス。
  15. 前記一以上の弾性波デバイスはニアゼロデルタ周波数温度係数を有する、請求項1から14のいずれか一項の電子デバイス。
  16. 請求項1の電子デバイスを含む無線周波数デバイスモジュール。
  17. 請求項15の無線周波数モジュールを含む無線周波数デバイス。
  18. 電子デバイスを形成する方法であって、
    キャリア基板の頂面に圧電材料層を形成することと、
    前記キャリア基板の底面に裏側材料層を形成することであって、前記裏側材料層は、前記キャリア基板の熱膨張係数とは異なる熱膨張係数を有することと、
    前記圧電材料層の複数部分を含む一以上の弾性波デバイスを形成することと
    を含み、
    前記裏側材料層によって前記一以上の弾性波デバイスは、共振周波数及び反共振周波数それぞれにおける周波数温度係数のニアゼロ差を示す、方法。
  19. 前記一以上の弾性波デバイスから無線周波数フィルタを形成することをさらに含む、請求項18の方法。
  20. 請求項19の無線周波数フィルタを含む無線周波数デバイスモジュールを形成することをさらに含む、請求項18の方法。
  21. 請求項20の無線周波数デバイスモジュールを含む無線周波数電子デバイスを形成することをさらに含む、請求項20の方法。
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