JP2022019650A - 検査室試料分配システムおよびその操作方法 - Google Patents

Abstract

【課題】検査室試料分配システムを開示する。【解決手段】システム１００は、各々１つ以上の試料容器１３２を搬送するように適合され、少なくとも１つの磁気的能動素子１３４および少なくとも１つの導電性部材１３６を備える、複数の試料容器キャリア１３０と、試料容器キャリア１３０を支持する移送面１１０と、移送面１１０の下方に固定的に配置され、試料容器キャリア１３０に磁力を印加することによって移送面１１０の上部で試料容器キャリア１３０を移動させる、複数の電磁アクチュエータ１２０と、移送面１１０にわたって分散された複数の誘導センサ１４０と、試料容器キャリア１３０の移動を制御する制御ユニット１６０と、誘導センサ１４０から受信された出力信号を線形化し、線形化された出力信号値の出力信号値に基づいて、試料容器キャリア１３０と誘導センサ１４０との間の距離を決定するように構成された、評価ユニット１７０と、を備える。【選択図】図１

Description

本発明は、検査室試料分配システムに関する。本発明は、さらに、検査室試料分配システムを操作するための方法に関する。

検査室試料分配システムは、多数の検査室ステーション、例えば分析前、分析および／または分析後ステーションを含む検査室自動化システムにおいて使用される。検査室試料分配システムは、検査室ステーションと他の機器との間で試料容器を分配するために使用されることができる。試料容器は、典型的には、透明なプラスチック材料またはガラス材料から作製され、上側に開口部を有する。試料容器は、血液試料または他の医療試料などの試料を収容することができる。

典型的な検査室試料分配システム、較正装置、および磁気センサを較正する方法は、国際公開第２０１１／１３８４４８号パンフレットまたは米国特許出願公開第２０１６／００６９７１５号明細書に開示されている。開示されるように、試料容器キャリアは、移送面上を移動し、試料容器キャリアを駆動するために、いくつかの電磁アクチュエータが移送面の下方に配置されている。試料容器キャリアのそれぞれの位置を検出するために、いくつかの磁気センサ、例えばホールセンサが移送面上に分散される。試料容器キャリアの位置検出は、搬送タスクが正しく実行されることを保証するためのみならず、駆動ロジックの低レベルの実施形態にとっても重要である。

しかしながら、ホールセンサは、アクチュエータコイルの磁場の影響を大きく受け、操作するために過剰な電力を必要とし、過剰な熱を発生させる。ホールセンサを備えた位置検出の精度は、試料分配システムの移送面の表面に不感帯が存在するために不足している。ホールセンサの別の欠点は、それぞれが駆動面内にセンサを収容するための機械的溝の構造を必要とする多数のセンサを含むことの高コストである。

したがって、誘導センサは、位置検知のための代替技術として機能する。誘導センサは、導電性表面からの誘導渦電流に基づいて出力信号を生成する検知コイルとして機能するインダクタに基づいている。具体的には、誘導検知技術は、Ｌ－Ｃタンク回路とも呼ばれるＬ－Ｃ共振器を形成するためにキャパシタおよびインダクタを利用する。この回路は、交流電磁場内の導電性物体の存在を検出するために使用されることができる。導体が交流磁場と相互作用するときはいつでも、導体の表面に渦電流が誘導される。レンツの法則は、誘導電流が磁場に対抗するように流れ、測定可能な方法で元の発生磁場を弱めると述べている。これは、共振回路のインダクタンスを効果的に低減し、結果として、インダクタンスが影響を受けるときはいつでも共振周波数も変化するため、共振周波数も同様に変化する。この変化は、検知コイル（アンテナ）に対する金属表面ターゲットの距離に比例する。

しかしながら、この出力信号は、ＬＣ共振回路からの距離が測定されるのではなく、移送面に平行な平面内で測定されるため、非線形である。したがって、信号強度は検知コイルの中心の周りで対称であるため、アンテナとターゲットとの間の距離に関する情報のみを与え、相対位置に関する情報は与えない。また、信号の強度は、移送面に沿った移動中に金属表面がコイルの中心に近付くにつれて増加するが、金属表面とセンサコイルとの間の移送面に垂直な垂直距離も摩耗および／または製造公差のために減少するにつれて増加する。

開示された試料分配システムおよびこれを操作するための方法の実施形態は、上記欠点を解消し、特に試料キャリアの移動の位置および方向の適切な決定を提供することを目的とする。換言すれば、開示された試料分配システムおよびこれを操作するための方法は、誘導センサの非線形で対称的な挙動に関する問題を解消することを目的とする。

この問題は、独立請求項の特徴を有する試料分配システムおよび試料分配システムを操作するための方法によって対処される。単独で、または任意の組み合わせで実現され得る有利な実施形態は、従属請求項ならびに明細書全体に記載されている。

以下において使用されるように、用語「有する」、「備える」もしくは「含む」またはそれらの任意の文法上の変形は、非排他的な方法で使用される。したがって、これらの用語は、これらの用語によって導入される特徴に加えて、この文脈で説明されているエンティティにさらなる特徴が存在しない状況と、１つ以上の追加の特徴が存在する状況との双方を指す場合がある。例として、「ＡはＢを有する」、「ＡはＢを備える」および「ＡはＢを含む」という表現は、双方とも、Ｂ以外に、他の要素がＡに存在しない状況（すなわち、Ａが単独で且つ排他的にＢからなる状況）、および、Ｂ以外に、要素Ｃ、要素ＣおよびＤ、さらにはさらなる要素など、１つ以上のさらなる要素がエンティティＡに存在する状況を指す場合がある。

さらに、特徴または要素が１回以上存在することができることを示す「少なくとも１つ」、「１つ以上」という用語または同様の表現は、通常、それぞれの特徴または要素を導入するときに一度だけ使用されることに留意されたい。以下では、ほとんどの場合、それぞれの特徴または要素を指すとき、それぞれの特徴または要素が１回または１回以上存在することができるという事実にもかかわらず、「少なくとも１つ」または「１つ以上」という表現は繰り返されない。

さらに、以下において使用されるように、用語「好ましくは」、「より好ましくは」、「特に」、「より特に」、「具体的に」、「より具体的に」または同様の用語は、代替の可能性を制限することなく、任意の特徴と併せて使用される。したがって、これらの用語によって導入される特徴は、任意の特徴であり、決して特許請求の範囲を制限することを意図したものではない。本発明は、当業者が認識するように、代替の特徴を使用することによって実施されることができる。同様に、「本発明の実施形態において」または同様の表現によって導入される特徴は、本発明の代替の実施形態に関する制限がなく、本発明の範囲に関する制限がなく、およびそのような方法で導入された特徴を、本発明の他の任意または非任意の特徴と組み合わせる可能性に関する制限がない任意の特徴であることを意図する。

第１の態様によれば、本開示は、検査室試料分配システムを提供する。試料分配システムは、複数の試料容器キャリアを備える。各試料容器キャリアは、１つ以上の試料容器を搬送するように適合されている。さらに、各試料容器キャリアは、少なくとも１つの磁気的能動素子および少なくとも１つの導電性部材を備える。試料分配システムは、試料容器キャリアを支持するように適合された移送面をさらに備える。試料分配システムは、移送面の下方に固定的に配置された複数の電磁アクチュエータをさらに備える。電磁アクチュエータは、試料容器キャリアに磁力を加えることにより、移送面の上部において試料容器キャリアを移動させるように適合されている。試料分配システムは、移送面にわたって分配された複数の誘導センサをさらに備える。試料分配システムは、試料容器キャリアが対応する移送経路に沿って移動するように電磁アクチュエータを駆動することによって誘導センサによって提供される信号を使用して移送面の上部における試料容器キャリアの移動を制御するように構成された制御ユニットをさらに備える。試料分配システムは、線形化アルゴリズムによって少なくとも１つの誘導センサから受信された出力信号を線形化するように構成された評価ユニットをさらに備える。評価ユニットは、線形化された出力信号の出力信号値に基づいて、試料容器キャリアの少なくとも１つと誘導センサの少なくとも１つとの間の少なくとも距離を決定するようにさらに構成されている。

試料容器キャリアは、移送面上を移動しながら試料容器を搬送することを可能にする。試料容器キャリアの移動は、制御ユニットの制御下で移送面の下方に固定的に配置された電磁アクチュエータを駆動することによって引き起こされる。それぞれの試料容器キャリアの位置は、誘導センサによって検出されることができる。移送面および電磁アクチュエータによって提供される磁気移送システムの操作中の誘導センサの非直線的且つ対称的な挙動に関する問題を解消するために、線形化アルゴリズムが評価ユニットによって使用される。線形化アルゴリズムは、非線形信号を、試料容器キャリアが水平面に沿って移動するときのターゲットとそのコイルまたはインダクタによって表される誘導センサの中心との間の距離を示す線形信号またはグラフに変換する。この線形化アルゴリズムはまた、コイル中心の周りの信号対称性を考慮する。したがって、本明細書で使用される「距離」という用語は、特に明記しない限り、水平距離を指す。本明細書で使用される「水平」という用語は、移送面に平行な方向の指示を指し、本明細書で使用される「垂直」という用語は、移送面に垂直な方向の指示を指す。したがって、距離は、本明細書で特に指定されない限り、水平距離とすることができる。

評価ユニットは、少なくとも１つの試料容器キャリアと少なくとも１つの誘導センサとの間の２つの異なる距離を示す線形化された出力信号の少なくとも２つの異なる出力信号値に基づいて、少なくとも１つの試料容器キャリアおよび少なくとも１つの誘導センサの移動方向を決定するようにさらに構成されることができる。したがって、線形化アルゴリズムは、評価ユニットが試料容器キャリアの移動方向を確実に監視することを可能にする。

評価ユニットは、少なくとも１つの試料容器キャリアによる誘導センサのうちの１つの検知領域から離れていること、および少なくとも１つの試料容器キャリアが近傍の誘導センサの検知領域に接近していることを決定するようにさらに構成されることができる。したがって、線形化アルゴリズムは、試料容器キャリアが誘導センサのうちの１つのコイルの検知領域を離れるとき、および隣接するまたは近隣の誘導センサのコイルの検知領域に接近するときを評価ユニットが確実に監視することを可能にする。

評価ユニットは、移送面上の開始位置から移送面上の最終移送先までの少なくとも１つの試料容器キャリアの移動を追跡するようにさらに構成されることができる。したがって、線形化アルゴリズムは、評価ユニットが、その開始位置から最終移送先までの各論理位置移動に沿って各試料容器キャリアの移動方向を追跡することを可能にする。

誘導センサは、それぞれ、タンク回路として配置された少なくとも１つのインダクタおよび少なくとも１つのキャパシタを備えることができる。この回路は、交流電磁場内の導電性物体の存在を検出することができる。導体が交流磁場と相互作用するときはいつでも、導体の表面に渦電流が誘導される。レンツの法則は、誘導電流が磁場に対抗するように流れ、測定可能な方法で元の発生磁場を弱めると述べている。これは、共振回路のインダクタンスを効果的に低減し、結果として、インダクタンスが影響を受けるときはいつでも共振周波数も変化するため、共振周波数も同様に変化する。この変化は、アンテナとして機能する検知コイルに対する導電性物体の距離に比例する。

インダクタは、移送面の下方に配置されることができる。したがって、インダクタは、試料容器キャリアの移動を妨げない。

インダクタは、移送面に平行に配置されることができる。したがって、誘導センサによって生成される電磁場は、インダクタの中心の周りの移送面内で対称である。

線形化アルゴリズムは、ルックアップテーブルを含むことができる。したがって、計算労力が節約されることができる。特に、ルックアップテーブルは、メモリからの値の検索が通常は計算または入力／出力操作を受けるよりも速いため、処理時間の観点からの節約を可能にする。特に、線形化アルゴリズムは、単一のルックアップテーブルを含むことができる。特に、線形化アルゴリズムは、コイルの形状および構造が一貫していない限り、単一のルックアップテーブルを含むことができる。

ルックアップテーブルは、各誘導センサの出力信号の強度を、基準物体とそれぞれの誘導センサとの間の移送面に平行な水平距離の関数として記述することができる。したがって、水平距離が減少するにつれて試料容器キャリアが誘導センサに近付くと出力信号は増加するが、移送面に垂直な垂直距離は一定のままであると仮定されることができる。

評価ユニットは、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在を補償するようにさらに構成されることができる。操作中、誘導センサは、固定導電性物体などのそのアンテナの近傍の導電性物体と協働することを必要とされることができる。アンテナからの出力値を測定することにより、アンテナの読み取りに影響を与える物体の存在が検出および定量化されることができる。

評価ユニットは、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間にそれぞれの誘導センサの出力信号を測定することによって、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在を補償するように構成されることができる。表面上に試料容器キャリア（ターゲット）が存在しない間にアンテナからの出力値を測定することによって、アンテナの読み取りに影響を与える物体の存在が検出および定量化されることができる。

評価ユニットは、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間のそれぞれの誘導センサの測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を下回る場合、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在をオフセットとして補償するように構成されることができる。測定値が高すぎない場合、非線形であるが決定論的なオフセットとして扱うことによって補償されることができる。

評価ユニットは、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間のそれぞれの誘導センサの測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を上回る場合、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在をエラーとして補償するように構成されることができる。一方、測定された乱れが高すぎて処理することができない場合、システムは、仕様外で操作しているため、エラーを発生させ、外乱を受けたアンテナの使用を回避することができる。

評価ユニットは、誘導センサの出力信号の最大出力信号値を周期的に測定することによって、試料容器キャリアの導電特性の変化を検出するようにさらに構成されることができる。較正は、基準物体の最大値を測定することによって行われるため、アンテナは、最大信号強度を周期的に測定することによって、摩耗または損傷によって引き起こされる単一のホルダターゲットに対する変化を検出することができる。導電性ターゲットが仕様外の最大値を発生させる場合（ターゲットに欠陥があるか、または摩耗／公差によってアンテナまでの距離が仕様外である）、エラーが検出されることができる。周期的にチェックを行うことにより、システムは、検知ターゲットの測定値の経時的な変化を監視することができる。故障が実際に発生する前に、センサ読み取りの失敗につながるパターンを観測することによって、予測保守が達成されることができる。

試料容器キャリアは、単一の試料容器キャリアとすることができる。
第２の態様によれば、本開示は、上記詳細にかかる検査室試料分配システムを操作するための方法を提供する。本方法は、
－移送面上に複数の試料容器キャリアを設けることと、
－対応する移送経路に沿って試料容器キャリアを移動させることと、
－少なくとも１つの誘導センサから出力信号を受信することと、
－線形化アルゴリズムによって出力信号を線形化することと、
－線形化された出力信号値の出力信号値に基づいて、少なくとも１つの試料容器キャリアと少なくとも１つの誘導センサとの間の少なくとも距離を決定することと、を含む。

本方法は、少なくとも１つの試料容器キャリアと少なくとも１つの誘導センサとの間の２つの異なる距離を示す線形化された出力信号の少なくとも２つの異なる出力信号値に基づいて、少なくとも１つの試料容器キャリアおよび少なくとも１つの誘導センサの移動方向を決定することをさらに含むことができる。

本方法は、少なくとも１つの試料容器キャリアによる少なくとも１つの誘導センサの検知領域から離れていること、および少なくとも１つの試料容器キャリアが近傍の誘導センサの検知領域に接近していることを決定することをさらに含むことができる。

本方法は、移送面上の開始位置から移送面上の最終移送先までの少なくとも１つの試料容器キャリアの移動を追跡することをさらに含むことができる。

本方法は、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在を補償することをさらに含むことができる。

本方法は、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間にそれぞれの誘導センサの出力信号を測定することによって、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在を補償することをさらに含むことができる。

本方法は、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間のそれぞれの誘導センサの測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を下回る場合、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在をオフセットとして補償することをさらに含むことができる。

本方法は、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間のそれぞれの誘導センサの測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を上回る場合、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在をエラーとして補償することをさらに含むことができる。

本方法は、誘導センサの出力信号の最大出力信号値を周期的に測定することによって、試料容器キャリアの導電特性の変化を検出することをさらに含むことができる。

本明細書で使用される「検査室試料分配システム」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、検査室自動化システム内のターゲット目的地に試料容器キャリアを分配することを可能にする検査室自動化システムの一部または装置を指すことができる。検査室試料分配システムは、多数の検査室ステーション、例えば分析前、分析および／または分析後ステーションを含む検査室自動化システムにおいて使用される。検査室試料分配システムは、検査室ステーションと他の機器との間で試料容器を分配するために使用されることができる。

したがって、本明細書で使用される「試料容器キャリア」という用語は、広義の用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されないが、１つ以上の検査室診断容器または器を保持し、搬送または搬送ラインを介して供給されるように構成された任意の装置を指すことができる。したがって、試料容器キャリアは、単一の検査室診断容器を受け入れるのに適した単一の容器キャリアまたは複数の容器を受け入れるのに適したラックとして構成されることができる。いかなる制限もなく、特定の実施形態は、いわゆる試験管ホルダを参照して説明される。そのような試験管ホルダは、試料または試薬を含む１つの単一の試験管を保持し、コンベアまたは搬送ラインを介して自動試料試験システムなどの自動検査室システムの異なるモジュールに試験管を搬送することができる。試験管ホルダは、試験管を固定するためのバネ付きハウジングと、試験管ホルダ本体ハウジングと、底蓋ハウジングとを備える。この試験管固定用のバネ付きハウジングは、その中心部が試験管の挿入を許容するように丸みを帯びて穿設された円柱状の構造を有しており、上方に向けて延在する凸部の内側にバネ部が設けられている。なお、バネ付きハウジングは、通常、円柱状を有するが、ハウジングが等距離または等角度に設けられたバネ部によって試験管を垂直に保持することができる限り任意の形状を有することができ、ハウジングの外形は、多角柱状とすることができることに留意されたい。試験管ホルダ本体ハウジングは、円筒状を有し、内部に空洞部を有することが望ましい。空洞部には、ユニークなＩＤ番号のタグ、試験管を安定して搬送するための重りなどが収容されている。また、試験管ホルダ本体ハウジングおよび底蓋ハウジングの外径は、搬送される試験管よりも大きく、コンベアラインの幅よりも小さい。なお、試験管ホルダ本体ハウジングおよび底蓋ハウジングの形状は、例えば多角形状であってもよいことに留意されたい。その場合でも、断面方向の最大長さは、コンベアや搬送ラインの幅よりも小さいことが望ましい。本発明とともに使用されることができる特定の試験管ホルダは、欧州特許出願公開第２９０２７９０号明細書に記載されており、容器キャリアの設計または構造に関するその内容は、参照により本出願に組み込まれる。試料容器は、典型的には、透明なプラスチック材料またはガラス材料から作製され、上側に開口部を有する。試料容器は、血液試料または他の医療試料などの試料を収容することができる。

本明細書で使用される「磁気的能動素子」という用語は広義の用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、磁気特性を含む任意の装置、要素または部材を指すことができる。磁気的能動素子は、永久磁石などの磁石とすることができる。

本明細書で使用される「導電性部材」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、導電特性を備える任意の装置、要素、または部材を指すことができる。導電率または比コンダクタンスは、電気抵抗率の逆数である。これは、電流を伝導する材料の能力を表す。高い導電率は、電流を容易に許容する材料を示す。導電性部材は、銅箔などの金属部材とすることができる。

本明細書で使用される「移送面」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、特に、限定されるものではないが、試料容器キャリアを支持するように構成された任意の平面を指すことができる。平面は、平坦な２次元表面である。平面は、点（０次元）、線（１次元）、および３次元空間の２次元アナログである。

本明細書で使用される「電磁アクチュエータ」という用語は、広義の用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、電磁石を有する任意のアクチュエータを指すことができる。アクチュエータは、例えば弁を開くことによって機構またはシステムを移動および制御することに関与する機械の構成要素である。簡単に言えば、それは「可動子」である。この場合、アクチュエータは、試料容器キャリアに磁力を加えることによって、試料容器キャリアを移送面の上部において移動させることができる。アクチュエータは、制御信号およびエネルギー源を必要とする。制御信号は、比較的低いエネルギーであり、電圧もしくは電流、空気圧もしくは液圧、さらには人力とすることができる。その主なエネルギー源は、電流、油圧、または空気圧とすることができる。制御信号を受信すると、アクチュエータは、供給源のエネルギーを機械的運動に変換することによって応答する。電磁石は、電流によって磁場が生成される磁石の一種である。電磁石は、通常、コイルに巻回されたワイヤからなる。ワイヤを通る電流は、コイルの中心を示す孔に集中する磁場を生成する。磁場は、電流がオフになると消滅する。ワイヤ巻線は、多くの場合、鉄などの強磁性または強磁性材料から作製された磁気コアに巻回される。磁気コアは、磁束を集中させ、より強力な磁石とする。永久磁石に勝る電磁石の主な利点は、巻線の電流量を制御することによって磁場が迅速に変化されることができるということである。

本明細書で使用される「誘導センサ」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、導電性表面からの誘導渦電流に基づいて出力信号を生成する検知コイルとして機能するインダクタに基づくセンサを指すことができる。具体的には、誘導検知技術は、Ｌ－Ｃタンク回路とも呼ばれるＬ－Ｃ共振器を形成するためにキャパシタおよびインダクタを利用する。この回路は、交流電磁場内の導電性物体の存在を検出するために使用されることができる。導体が交流磁場と相互作用するときはいつでも、導体の表面に渦電流が誘導される。レンツの法則は、誘導電流が磁場に対抗するように流れ、測定可能な方法で元の発生磁場を弱めると述べている。これは、共振回路のインダクタンスを効果的に低減し、結果として、インダクタンスが影響を受けるときはいつでも共振周波数も変化するため、共振周波数も同様に変化する。この変化は、検知コイル（アンテナ）に対する金属表面ターゲットの距離に比例する。

本明細書で使用される「制御ユニット」という用語は、広義の用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、検査室試料分配システムの部品を制御するように構成された任意の装置を指すことができる。この用語は、具体的には、その中の電気部品またはモジュールのうちの１つ以上を制御する検査室試料分配システム内の任意の埋め込みシステムを指すことができる。

本明細書で使用される「評価ユニット」という用語は、広義の用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、特に、限定されないが、周波数フィルタまたは計算機能などの追加の機能を提供するように構成された任意の装置を指すことができる。したがって、評価ユニットは、コンピュータまたは論理モジュールなどの追加のハードウェアを使用する必要性を排除することができる。典型的には、複数のセンサを単一の評価ユニットに接続することが可能である。

本明細書で使用される「線形化する」または「線形化」という用語は、広義の用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、所与の点における関数に対する線形近似を見つけることを指すことができる。線形化は、線形システムを研究するためのツールを使用して、所与の点の近くの非線形関数の挙動を解析することを可能にする。関数の線形近似は、関心点の周りの一次テイラー展開である。特に、この用語は、非線形関数またはグラフの線形関数またはグラフへの変換を指すことができる。

本明細書で使用される「アルゴリズム」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、典型的には問題のクラスを解決するため、または計算を実行するための、明確に定義されたコンピュータ実行可能命令の有限シーケンスを指すことができる。アルゴリズムは、常に明確であり、計算、データ処理、自動推論、および他のタスクを実行するための仕様として使用される。有効な方法として、有限の空間および時間内で、関数を計算するための明確に定義された形式言語でアルゴリズムを表現することができる。初期状態および初期入力（おそらく空）から開始して、命令は、実行されると、有限数の明確に定義された連続状態を通って進み、最終的に「出力」を生成し、最終的な終了状態で終了する計算を記述する。ある状態から次の状態への遷移は、必ずしも決定論的ではない。ランダム化アルゴリズムとして知られるいくつかのアルゴリズムは、ランダム入力を組み込んでいる。

本明細書で使用される「出力信号」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、電子システムから出る信号を指すことができる。

本明細書で使用される「検知領域」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、センサが何かを効果的に検知または検出することができる空間範囲を指すことができる。

本明細書で使用される「インダクタ」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、電流が流れるときに磁場にエネルギーを貯蔵する受動的な２端子電気部品を指すことができる。インダクタは、典型的には、コアの周りにコイルに巻回された絶縁ワイヤからなる。インダクタを流れる電流が変化すると、時変磁場は、ファラデーの誘導の法則によって説明されるように、導体に起電力（ｅ．ｍ．ｆ．）（電圧）を誘導する。レンツの法則によれば、誘導電圧は、それを生じさせた電流の変化に対抗する極性（方向）を有する。結果として、インダクタは、インダクタを通る電流の任意の変化に対抗する。インダクタは、電流の変化率に対する電圧の比であるインダクタンスによって特徴付けられる。インダクタは、コイル、チョーク、またはリアクトルとも呼ばれる。

本明細書で使用される「キャパシタ」という用語は、広義な用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、電界内に電気エネルギーを貯蔵する装置を指すことができる。それは、２つの端子を有する受動電子部品である。キャパシタの効果は、容量として知られている。回路内の近接する任意の２つの導電体の間にはいくらかの静電容量が存在するが、キャパシタは、回路に静電容量を付加するように設計された構成要素である。抵抗器とは異なり、理想的なキャパシタは、エネルギーを放散しないが、実際のキャパシタは、少量放散する。（非理想的な挙動を参照）キャパシタの端子間に電圧である電位が印加されると、例えば、キャパシタが電池の両端に接続されると、誘電体の両端に電界が発生し、正味の正電荷が一方の板に集まり、正味の負電荷が他方の板に集まる。実際には、誘電体に電流は流れない。しかしながら、ソース回路を通る電荷の流れが存在する。状態が十分に長く維持される場合、ソース回路を通る電流は停止する。時変電圧がキャパシタのリード線にわたって印加される場合、キャパシタの充電および放電サイクルに起因してソースは継続電流を受ける。

本明細書で使用される「ルックアップテーブル」という用語は、広義の用語であり、当業者にその通常の慣習的な意味を与えられるべきであり、特別なまたはカスタマイズされた意味に限定されるべきではない。この用語は、具体的には、限定されるものではないが、ランタイム計算をより単純な配列インデックス付け操作に置き換える配列を指すことができる。メモリから値を取得することは、「高価な」計算または入力／出力操作を受けるよりも速いことが多いため、処理時間の観点での節約は顕著であり得る。［１］テーブルは、事前に計算されて静的プログラム記憶装置に記憶されてもよく、プログラムの初期化段階（メモリ化）の一部として計算（または「先取り」）されてもよく、または特定用途向けプラットフォームのハードウェアに記憶されてもよい。ルックアップテーブルはまた、配列内の有効な（または無効な）項目のリストと照合することによって入力値を検証するために広く使用され、いくつかのプログラミング言語では、照合入力を処理するためのポインタ関数（またはラベルへのオフセット）を含むことができる。ＦＰＧＡはまた、プログラム可能なハードウェア機能を提供するために、再構成可能なハードウェア実装ルックアップテーブルを広範に利用する。

プログラムがコンピュータまたはコンピュータネットワーク上で実行されるときに、本明細書に含まれる１つ以上の実施形態において、本開示にかかる方法を実行するためのコンピュータ実行可能命令を含むコンピュータプログラムがさらに開示および提案される。具体的には、コンピュータプログラムは、コンピュータ可読データキャリアまたはサーバコンピュータに記憶されることができる。

本明細書で使用される場合、「コンピュータ可読データキャリア」および「コンピュータ可読記憶媒体」という用語は、具体的には、コンピュータ実行可能命令が記憶されたハードウェア記憶媒体などの非一時的データ記憶手段を指すことができる。コンピュータ可読データキャリアまたは記憶媒体は、具体的には、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）および／または読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）などの記憶媒体とすることができるか、またはそれを含むことができる。

したがって、具体的には、上述したような方法ステップａ）からｄ）の１つ、２つ以上、または全ては、コンピュータまたはコンピュータネットワークを使用して、好ましくはコンピュータプログラムを使用して実行されることができる。

プログラムがコンピュータまたはコンピュータネットワーク上で実行されるときに、本明細書に含まれる１つまたは複数の実施形態において、本開示にかかる方法を実行するために、プログラムコードを有するコンピュータプログラム製品が本明細書にさらに開示および提案される。具体的には、プログラムコード手段は、コンピュータ可読データキャリアおよび／またはコンピュータ可読記憶媒体に記憶されることができる。

データ構造が記憶されたデータキャリアが本明細書にさらに開示および提案されており、これは、コンピュータまたはコンピュータネットワークのワーキングメモリまたはメインメモリなどのコンピュータまたはコンピュータネットワークにロードした後、本明細書に開示される１つ以上の実施形態にかかる方法を実行することができる。

プログラムがコンピュータまたはコンピュータネットワーク上で実行されるときに、本明細書に含まれる１つまたは複数の実施形態による方法を実行するために、マシン可読キャリアに格納されたプログラムコードを有するコンピュータプログラム製品が本明細書にさらに開示および提案される。本明細書で使用される場合、コンピュータプログラム製品は、取引可能な製品としてのプログラムを指す。製品は、一般に、紙のフォーマットなどの任意のフォーマットで、またはコンピュータ可読データキャリア上に存在する。具体的には、コンピュータプログラム製品は、データネットワークを介して配布されることができる。

最後に、本明細書に開示される１つ以上の実施形態にかかる方法を実行するための、コンピュータシステムまたはコンピュータネットワークによって読み取り可能な命令を含む変調データ信号が本明細書にさらに開示および提案される。

本開示のコンピュータ実施態様を参照すると、本明細書に開示される実施形態の１つ以上にかかる方法のうちの１つ以上の方法ステップまたは全ての方法ステップは、コンピュータまたはコンピュータネットワークを使用することによって実行されることができる。したがって、一般に、データの提供および／または操作を含む方法ステップのいずれかは、コンピュータまたはコンピュータネットワークを使用することによって実行されることができる。一般に、これらの方法ステップは、試料の提供および／または実際の測定を実行する特定の態様などの手作業を必要とする方法ステップを通常除いて、任意の方法ステップを含むことができる。

具体的には、本明細書では、さらに以下が開示される：
－プロセッサが、この記述で説明される実施形態のうちの１つにかかる方法を実行するように適合された少なくとも１つのプロセッサを備えるコンピュータまたはコンピュータネットワーク。
－データ構造がコンピュータ上で実行されている間に、本明細書に記載された実施形態のうちの１つにかかる方法を実行するように適合されたコンピュータロード可能データ構造。
－プログラムがコンピュータ上で実行されている間に、この説明に記載された実施形態のうちの１つにかかる方法を実行するように適合されたコンピュータプログラム。
－コンピュータプログラムがコンピュータ上またはコンピュータネットワーク上で実行されている間に、この説明に記載された実施形態のうちの１つにかかる方法を実行するためのプログラム手段を備えるコンピュータプログラム。
－プログラム手段がコンピュータが読み取り可能な記憶媒体上に記憶された、先行する実施形態にかかるプログラム手段を備えるコンピュータプログラム。
－データ構造が記憶媒体に記憶され、データ構造がコンピュータまたはコンピュータネットワークのメイン記憶部および／またはワーキング記憶部にロードされた後、本明細書に記載された実施形態のうちの１つにかかる方法を実行するように適合された、記憶媒体。
－コンピュータまたはコンピュータネットワーク上でプログラムコード手段が実行された場合に、この説明に記載された実施形態のうちの１つにかかる方法を実行するために、プログラムコード手段が記憶されることができる、または記憶媒体上に記憶されることができる、プログラムコード手段を有するコンピュータプログラム製品。

要約すると、さらに可能な実施形態を除外することなく、以下の実施形態が想定されることができる：
実施形態１：検査室試料分配システムであって、
－それぞれが１つ以上の試料容器を搬送するように適合された複数の試料容器キャリアであって、各試料容器キャリアが、少なくとも１つの磁気的能動素子および少なくとも１つの導電性部材を備える、複数の試料容器キャリアと、
－試料容器キャリアを支持するように適合された移送面と、
－移送面の下方に固定的に配置された複数の電磁アクチュエータであって、電磁アクチュエータが、試料容器キャリアに磁力を印加することによって移送面の上部で試料容器キャリアを移動させるように適合された、複数の電磁アクチュエータと、
－移送面にわたって分散された複数の誘導センサと、
－試料容器キャリアが対応する移送経路に沿って移動するように電磁アクチュエータを駆動することによって誘導センサによって提供される信号を使用して移送面の上部における試料容器キャリアの移動を制御するように構成された制御ユニットと、
－線形化アルゴリズムによって少なくとも１つの誘導センサから受信された出力信号を線形化するように構成された評価ユニットであって、評価ユニットが、線形化された出力信号の出力信号値に基づいて、少なくとも１つの試料容器キャリアと少なくとも１つの誘導センサとの間の少なくとも距離、特に水平距離を決定するようにさらに構成された、評価ユニットと、を備える、検査室試料分配システム。

実施形態２：評価ユニットが、少なくとも１つの試料容器キャリアと少なくとも１つの誘導センサとの間の２つの異なる距離を示す線形化された出力信号の少なくとも２つの異なる出力信号値に基づいて、少なくとも１つの試料容器キャリアおよび少なくとも１つの誘導センサの移動方向を決定するようにさらに構成されている、先行する実施形態に記載の検査室試料分配システム。

実施形態３：評価ユニットが、少なくとも１つの試料容器キャリアによる誘導センサのうちの１つの検知領域から離れていること、および少なくとも１つの試料容器キャリアが近傍の誘導センサの検知領域に接近していることを決定するようにさらに構成されている、先行する実施形態のいずれかに記載の検査室試料分配システム。

実施形態４：評価ユニットが、移送面上の開始位置から移送面上の最終移送先までの少なくとも１つの試料容器キャリアの移動を追跡するようにさらに構成されている、先行する実施形態のいずれかに記載の検査室試料分配システム。

実施形態５：誘導センサが、それぞれ、タンク回路として配置された少なくとも１つのインダクタおよび少なくとも１つのキャパシタを備える、先行する実施形態のいずれかに記載の検査室試料分配システム。

実施形態６：インダクタが、移送面の下方に配置される、先行する実施形態に記載の検査室試料分配システム。

実施形態７：インダクタが、移送面に並行に配置される、先行する実施形態に記載の検査室試料分配システム。

実施形態８：線形化アルゴリズムが、ルックアップテーブルを含む、先行する実施形態のいずれかに記載の検査室試料分配システム。

実施形態９：ルックアップテーブルが、各誘導センサの出力信号の強度を、基準物体とそれぞれの誘導センサとの間の移送面に平行な水平距離の関数として記述する、先行する実施形態に記載の検査室試料分配システム。

実施形態１０：評価ユニットが、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在を補償するようにさらに構成されている、先行する実施形態のいずれかに記載の検査室試料分配システム。

実施形態１１：評価ユニットが、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間にそれぞれの誘導センサの出力信号を測定することによって、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在を補償するように構成されている、先行する実施形態に記載の検査室試料分配システム。

実施形態１２：評価ユニットが、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間のそれぞれの誘導センサの測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を下回る場合、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在をオフセットとして補償するように構成されている、先行する実施形態に記載の検査室試料分配システム。

実施形態１３：評価ユニットが、検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間のそれぞれの誘導センサの測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を上回る場合、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在をエラーとして補償するように構成されている、実施形態１１に記載の検査室試料分配システム。

実施形態１４：評価ユニットが、誘導センサの出力信号の最大出力信号値を周期的に測定することによって、試料容器キャリアの導電特性の変化を検出するようにさらに構成されている、先行する実施形態のいずれかに記載の検査室試料分配システム。

実施形態１５：試料容器キャリアが単一の試料容器キャリアである、先行する実施形態のいずれかに記載の検査室試料分配システム。
実施形態１６：先行する実施形態のいずれかに記載の検査室試料分配システムを操作するための方法であって、
－移送面上に複数の試料容器キャリアを設けることと、
－対応する移送経路に沿って試料容器キャリアを移動させることと、
－少なくとも１つの誘導センサから出力信号を受信することと、
－線形化アルゴリズムによって出力信号を線形化することと、
－線形化された出力信号値の出力信号値に基づいて、少なくとも１つの試料容器キャリアと少なくとも１つの誘導センサとの間の少なくとも距離を決定することと、を含む、方法。

実施形態１７：少なくとも１つの試料容器キャリアと少なくとも１つの誘導センサとの間の２つの異なる距離を示す線形化された出力信号の少なくとも２つの異なる出力信号値に基づいて、少なくとも１つの試料容器キャリアおよび少なくとも１つの誘導センサの移動方向を決定することをさらに含む、先行する実施形態に記載の方法。

実施形態１８：少なくとも１つの試料容器キャリアによる少なくとも１つの誘導センサの検知領域から離れていること、および少なくとも１つの試料容器キャリアが近傍の誘導センサの検知領域に接近していることを決定することをさらに含む、実施形態１６または１７に記載の方法。

実施形態１９：移送面上の開始位置から移送面上の最終移送先までの少なくとも１つの試料容器キャリアの移動を追跡することをさらに含む、実施形態１６から１８のいずれか１つに記載の方法。

実施形態２０：少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在を補償することをさらに含む、実施形態１６から１９のいずれか１つに記載の方法。

実施形態２１：検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間にそれぞれの誘導センサの出力信号を測定することによって、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在を補償することをさらに含む、先行する実施形態に記載の方法。

実施形態２２：検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間のそれぞれの誘導センサの測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を下回る場合、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在をオフセットとして補償することをさらに含む、先行する実施形態に記載の方法。

実施形態２３：検知領域内に試料容器キャリアが存在しない間のそれぞれの誘導センサの測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を上回る場合、少なくとも１つの誘導センサの検知領域内の導電性物体の存在をエラーとして補償することをさらに含む、実施形態２１に記載の方法。

実施形態２４：誘導センサの出力信号の最大出力信号値を周期的に測定することによって、試料容器キャリアの導電特性の変化を検出することをさらに含む、実施形態１６から２３のいずれか１つに記載の方法。

さらなる任意の特徴および実施形態は、好ましくは従属請求項と併せて、実施形態の後続の説明においてより詳細に開示される。その中で、それぞれの任意の特徴は、当業者が理解するように、独立した方法で、ならびに任意の実行可能な組み合わせで実現されることができる。本発明の範囲は、好ましい実施形態によって制限されない。実施形態は、図に概略的に示されている。その中で、これらの図の同一の参照符号は、同一または機能的に匹敵する要素を指す。
図では以下のとおりである：

検査室試料分配システムを示している。 誘導センサの要素を示している。 誘導センサの操作原理を示している。 試料容器キャリアの動きを検出するための方法のフローチャートを示している。 誘導センサを較正するための方法を示している。 誘導センサの検知領域内の導電性物体を補償するための方法を示している。 誘導センサの検知領域内の導電性物体を補償するための別の方法を示している。 誘導センサの検知領域内の導電性物体の導電特性の変化を補償するための方法を示している。 移送面の１つの軸に沿った６つの誘導センサのコイルの例の出力信号の断面を示す図である。 オフセット較正後の移送面の１つの軸に沿った６つの誘導センサのコイルの例の出力信号の断面を示す図である。 スケーリング較正後の移送面の１つの軸に沿った６つの誘導センサのコイルの例の出力信号の断面を示す図である。 基準ルックアップテーブルを示す図である。 スケーリング較正後の移送面の１つの軸に沿った誘導センサのコイルまたはインダクタの例の出力信号および線形化された距離を示す図である。 スケーリング較正後の移送面の１つの軸に沿った誘導センサのコイルまたはインダクタの例の出力信号および線形化された距離を示す図である。 スケーリング較正後の移送面の１つの軸に沿った誘導センサのコイルまたはインダクタの例の出力信号および線形化された距離を示す図である。

図１は、検査室試料分配システム１００を示している。検査室試料分配システム１００は、１つ以上の検査室ステーションを備える検査室自動化システム（詳細には図示せず）の一部とすることができる。そのような検査室ステーションは、例えば、前分析、分析および／または後分析ステーションとすることができる。それらは、例えば、試料の分析、試料の遠心分離などの作業を行うことができる。

検査室試料分配システム１００は、その下方に複数の電磁アクチュエータ１２０が配置される移送面１１０を備える。各電磁アクチュエータ１２０は、対応する強磁性磁気コア１２２を有する。電磁アクチュエータ１２０は、横線または横列を含むグリッドと同様に配置されることができる。

検査室試料分配システム１００は、複数の試料容器キャリア１３０をさらに備える。明確にするために、図１には１つの例示的な試料容器キャリア１３０のみが示されていることに留意されたい。試料容器キャリア１３０は、管として具現化されることができる試料容器１３２を搬送するように構成されている。各試料容器キャリア１３０は、永久磁石などの磁気的能動素子１３４を備える。これらの永久磁石は、試料容器キャリア１３０の内部に収容されている。各試料容器キャリア１３０は、少なくとも１つの導電性部材１３６をさらに備える。導電性部材１３６は、試料容器キャリア１３０の底部にまたはそれに隣接して配置されることができる。導電性部材１３６は、金属製とすることができる。例えば、導電性部材１３６は、試料容器キャリア１３０の底部にまたはそれに隣接して配置された銅箔として具現化される。

検査室試料分配システム１００は、移送面１１０にわたって分配される複数の誘導センサ１４０をさらに備える。図１に示されるように、誘導センサ１４０は、電磁アクチュエータ１２０の交点によって画定される論理位置に配置される。図２は、誘導センサ１４０の要素を示している。誘導センサ１４０は、検出器コイルとして機能する少なくとも１つのインダクタ１４２と、発振器１４６の一部である少なくとも１つのキャパシタ１４４とを備える。さらに、誘導センサ１４０は、復調器１４８と、フリップフロップ１５０と、出力部１５２とを備える。

図３は、誘導センサ１４０の操作原理を示している。インダクタ１４２は、フェライトセラミックロッドまたはコイル形態などの高透磁率コアに巻回された多数の巻数の絶縁マグネットワイヤとすることができ、巻線は、全巻線の一端からいくつかの巻数のフィードバックタップを有してもよくまたは有しなくてもよい。それは、キャパシタ１４４に接続されてタンク回路を形成する。明確にするために、キャパシタ１４４は、図３には示されていないことに留意されたい。これは、トランジスタまたは演算増幅器のような電圧または電流利得装置とともに、同調周波数発振器として発振器１４６を形成する。電力が印加されると、結果として生じる振動は、試料容器キャリア１３０の導電性部材１３６などの近位（ターゲット）導体に渦電流１５６を誘導することができる絶えず変化する磁場１５４を有するインダクタ１４２の高周波交流電流である。ターゲットが近く、その導電率が大きいほど（例えば、金属は良好な導体である）、誘導渦電流１５６は大きくなり、それらの結果として生じる対向する磁場１５８が振動の大きさおよび周波数に与える影響が大きくなる。その大きさは、ターゲット内の誘導磁界がソース誘導磁界に対抗し、正味の誘導インピーダンスを低下させ、したがって同時に発振周波数をより高く同調させるため、アルミニウムのような非磁性導体において負荷が増加するにつれて減少する。しかしながら、ターゲットが鉄のような高透磁率材料である場合、その高透磁率はコイルインダクタンスを増加させ、振動の周波数を低下させるため、その大きさはあまり影響を受けない。振動の大きさの変化は、ピーク電圧値を小さいフィルタに通して反射ＤＣ電圧値を生成するダイオードのような単純な振幅変調検出器によって検出されることができる一方で、周波数変化は、位相ロックループ検出器のようないくつかの種類の周波数弁別回路のうちの１つによって検出されて、周波数がどの方向にどの程度シフトするかを見ることができる。大きさの変化または周波数の変化量のいずれかは、センサがオンからオフに、またはその逆になる近接距離を定義するのに役立つことができる。換言すれば、タンク回路が使用されて、生成された交流電磁場１５４内の導電性部材１３６などの導電性物体の存在を検出することができる。導体が発生した交流磁場１５４と相互作用するときはいつでも、導体の表面に渦電流１５６が誘導される。レンツの法則は、誘導電流が磁場に対抗するように流れ、測定可能な方法で元の発生磁場１５４を弱めると述べている。これは、共振回路のインダクタンス、ひいては共振周波数を効果的に低減する。この変化は、検知コイルまたはアンテナとして機能するインダクタ１４２に対する金属面（ターゲット）の距離に比例する。インダクタ１４２は、移送面１１０の下方に配置されている。特に、インダクタ１４２は、移送面１１０に平行に配置されている。換言すれば、インダクタ１４２のワイヤまたはコイルが巻回される中心軸は、移送面１１０に対して垂直に配置されている。

図１にさらに示されるように、検査室試料分配システム１００は、試料容器キャリア１３０がそれぞれの移送経路に沿って移動するように電磁アクチュエータ１２０を駆動するように適合された制御ユニット１６０をさらに備える。その目的のために、各試料容器キャリア１３０は、永久磁石などの磁気的能動素子１３２を備える。制御ユニット１６０は、誘導センサ１４０によって提供される出力信号を使用して、移送面１１０の上部における試料容器キャリア１３０の移動を制御する。制御ユニット１６０は、誘導センサ１４０からの出力信号を受信して、移送面上の試料容器キャリア１３０の位置を決定する。誘導センサ１４０は、生成された磁場の変動を検知する。

検査室試料分配システム１００は、評価ユニット１７０をさらに備える。評価ユニット１７０は、線形化アルゴリズムによって少なくとも１つの誘導センサ１４０から受信された出力信号を線形化するように構成されている。評価ユニット１７０は、線形化された出力信号値の出力信号値に基づいて、試料容器キャリア１３０の少なくとも一方と誘導センサ１４０の少なくとも一方との間の少なくとも距離を決定するようにさらに構成されている。もちろん、制御ユニット１６０は、線形化された出力信号値に基づいて、移送面上における試料容器キャリア１３０の位置を決定してもよい。線形化アルゴリズムは、ルックアップテーブルを含む。ルックアップテーブルは、以下にさらに詳細に説明するように、各誘導センサ１４０の出力信号の強度を、基準物体とそれぞれの誘導センサ１４０との間の移送面１１０に平行な水平距離の関数として記述する。

評価ユニット１７０は、少なくとも１つの試料容器キャリア１３０と少なくとも１つの誘導センサ１４０との間の２つの異なる距離を示す線形化された出力信号の少なくとも２つの異なる出力信号値に基づいて、少なくとも１つの試料容器キャリア１３０および少なくとも１つの誘導センサ１４０の移動方向を決定するようにさらに構成されている。評価ユニット１７０は、少なくとも１つの試料容器キャリア１３０による少なくとも１つの誘導センサ１４０の検知領域から離れていること、および少なくとも１つの試料容器キャリア１３０が近傍の誘導センサ１４０の検知領域に接近していることを決定するようにさらに構成されている。評価ユニット１７０は、移送面１１０上の開始位置から移送面１１０上の最終移送先までの少なくとも１つの試料容器キャリア１３０の移動を追跡するようにさらに構成されている。この点に関して、開始位置および／または最終移送先は、制御ユニット１６０によって定義されることができることに留意されたい。評価ユニット１７０および制御ユニット１６０は、互いに通信を行う。

図４は、試料容器キャリア１３０の動きを検出するための方法のフローチャートを示している。この方法は、以下にさらに詳細に説明するように、誘導センサ１４０の出力信号の線形化を含む。ステップＳ１０の最初に、誘導センサ１４０が初期化され、評価ユニット１７０がセンサ値を取得する。続くステップＳ１２において、誘導センサ１４０は、非線形センサ値を出力信号として提供する。続くステップＳ１４において、評価ユニット１７０は、線形化アルゴリズムの一部として、ルックアップテーブルによってセンサ値を線形化する。続くステップＳ１６において、評価ユニット１７０は、試料容器キャリア１３０の方向および初期位置を決定および／または提供する。続くステップＳ１８において、制御ユニット１６０は、試料容器搬送車１３０に適した経路を選択し、評価ユニット１７０は、現在位置に基づいてセンサ値を設定する。続くステップＳ２０において、評価ユニット１７０は、電流誘導センサ１４０からの線形化された距離の値を加算する。続くステップＳ２２において、評価ユニットは、電流誘導センサ１４０の線形化値が１８ｍｍなどの閾値を超えているかどうかを決定する。電流誘導センサ１４０の線形化値が閾値を超える場合、方法は、ステップＳ２４に進む。ステップＳ２４において、評価ユニット１７０は、次のまたは隣接する誘導センサ１４０のコイルまたはインダクタ１４２に変更または切り替える。その後、方法は、ステップＳ２０に戻る。ステップＳ２２において、電流誘導センサ１４０の線形化値が閾値を超えていない場合、方法は、ステップＳ２６に進む。ステップＳ２６において、評価ユニットは、電流誘導センサ１４０の線形化値が５ｍｍなどのさらなる閾値を超えているかどうか、および、新たなまたは現在のセンサ値が以前のまたは古いセンサ値よりも小さいかどうかを決定する。電流誘導センサ１４０の線形化値がさらなる閾値よりも小さくなく、新たなまたは現在のセンサ値が以前のまたは古いセンサ値よりも小さくない場合、方法は、ステップＳ２０に戻る。電流誘導センサ１４０の線形化値がさらなる閾値よりも小さく、新たなまたは現在のセンサ値が以前のまたは古いセンサ値よりも小さい場合、方法は、ステップＳ２８に進む。ステップＳ２８において、評価ユニット１７０は、誘導センサ１４０のコイルまたはインダクタ１４２の対称性の他方側に変更する。その後、方法は、ステップＳ２０に戻る。

図５は、誘導センサ１４０を較正するための方法を示している。単なる一例として、４つの誘導センサ１４０が示されている。各誘導コイルまたはインダクタ１４２は、異なる挙動を有し、図５の左側部分に示されるように、同じ距離にある同じ導電性ターゲットに対して異なる信号を生成する。この問題は、ターゲットがアンテナとして機能する異なるインダクタ１４２上を移動しているシステムにおいて情報を相関させ、統合することを困難にする。移送面１１０の製造中、全ての誘導センサ１４０は、基準物体１８０を使用して較正され、図５の中央部分に示されるように、基準物体１８０と各センサコイルまたはインダクタ１４２との間の所定の垂直距離１８２に特定の出力信号を定義する。垂直距離１８２は、移送面１１０に対して垂直な距離であり、適宜調整されることができる。製造中のこの較正により、基準物体１８０と検知コイルまたはインダクタ１４２との間の移送面１１０に平行な水平距離の関数として位置信号の強度を記述するルックアップテーブルが得られる。較正は、図５の右側部分に示されるように、誘導センサ１４０の標準化された共通の挙動をもたらす。特に、図５に示す較正は、垂直距離を考慮して、国際公開第２０１１／１３８４４８号パンフレットまたは米国特許出願公開第２０１６／００６９７１５号明細書に記載されている較正とは対照的に、水平距離に関して実行される。特に、以下にさらに詳細に説明するように、全てのセンサコイル１４２に適用可能な単一のルックアップテーブルが作成されることができる。

図６は、誘導センサ１４０の検知領域内の導電性物体１９０を補償するための方法を示している。単なる一例として、４つの誘導センサ１４０が示されている。操作中、誘導センサ１４０は、図６の左側部分に示されるように、インダクタの近傍に存在する１９０の導電性物体と協働することを必要とされることができる。移送面１１０上に試料容器キャリア１３０が存在しない間にインダクタ１４０からの出力値を測定することによって、図６の中央部分に示されるように、インダクタ１４２の読み取りに影響を与える導電性物体１９０の存在が検出および定量化されることができる。評価ユニット１７０は、図６の右側部分に示されるように、検知領域内に試料容器キャリア１３０が存在しない間のそれぞれの誘導センサ１４０の測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を下回る場合、少なくとも１つの誘導センサ１４０の検知領域内の導電性物体１９０の存在をオフセットとして補償するように構成されている。換言すれば、測定値が高すぎない場合、非線形であるが決定論的なオフセットとして扱うことによって補償されることができる。

図７は、誘導センサ１４０の検知領域内の導電性物体１９０を補償するための別の方法を示している。以下では、図６との相違点についてのみ説明し、同様の構造部材は、同様の参照符号によって示されている。操作中、誘導センサ１４０は、図７の左側部分に示されるように、インダクタの近傍に存在する１９０の導電性物体と協働することを必要とされることができる。移送面１１０上に試料容器キャリア１３０が存在しない間にインダクタ１４０からの出力値を測定することによって、図７の中央部分に示されるように、インダクタ１４２の読み取りに影響を与える導電性物体１９０の存在が検出および定量化されることができる。評価ユニット１７０は、検知領域内に試料容器キャリア１３０が存在しない間のそれぞれの誘導センサ１４０の測定された出力信号の出力信号値が所定の閾値を上回る場合、少なくとも１つの誘導センサ１４０の検知領域内の導電性物体１９０の存在をエラーとして補償するように構成されている。換言すれば、図６と比較すると、一方では、測定された乱れが高すぎて処理することができない場合、評価ユニット１７０は、それぞれの誘導センサ１４０が仕様外で操作していることを検出し、エラーを発生させ、外乱を受けた誘導センサ１４０の使用を回避することができる。

図８は、誘導センサ１４０の検知領域内の導電性物体１９０の導電特性の変化を補償するための方法を示している。単なる一例として、単一の誘導センサ１４０が示されている。評価ユニット１７０は、誘導センサ１４０の出力信号の最大出力信号値を周期的に測定することによって、試料容器キャリア１３０の導電特性の変化を検出するようにさらに構成されている。上述したような較正は、基準物体の最大値を測定することによって行われるため、誘導センサ１４０は、最大信号強度を周期的に測定することによって、摩耗または損傷によって引き起こされる試料容器キャリア１３０の変化を検出することができる。試料容器キャリア１３０が仕様外の最大値を生成する場合、試料容器キャリア１３０は、図８の右下部分に示されるように欠陥があるか、または摩耗／公差によって誘導センサ１４０のインダクタ１４２までの距離が図８の右上部分に示されるように仕様外であるかのいずれかであり、エラーが検出されることができる。周期的にチェックを行うことにより、評価ユニット１７０は、試料容器キャリア１３０の測定値の経時的な変化を監視することができる。故障が実際に発生する前に、センサ読み取りの失敗につながるパターンを観測することによって、予測保守が達成されることができる。

以下、誘導センサ１４０の出力信号の線形化およびルックアップテーブルの作成について、さらに詳細に説明する。図９から図１１はまた、較正プロセスの詳細も示すことに留意されたい。

上述したように、移送面１１０は、複数の誘導センサ１４０を含む。したがって、移送面１１０はまた、センサ基板とも呼ばれることができる。移送面１１０は、以下ではＸ－Ｙ平面とも呼ばれる２次元平面を画定する。誘導センサ１４０の配列は、本発明によって適用される較正および線形化アルゴリズムなしでＸ－Ｙ平面内の正確な距離を得るための問題を含み、各誘導センサ１４０は、実際の同一の水平距離に対して異なる出力信号を提供する。この問題を解決するために、３６個の検知コイル（Ｘ軸に沿って６個、Ｙ軸に沿って６個）を有する２５ｃｍ×２５ｃｍのセンサ基板上で１／１０ｍｍの解像度などの改善された解像度を提供するように電流システムを導くいくつかのステップが含まれる。

図９は、移送面１１０の１つの軸に沿った６つの誘導センサ１４０のコイルの例の出力信号の断面図を示している。Ｘ軸は、断面の軸に沿った移送面１１０またはセンサ基板の長さを表す。Ｙ軸は、インダクタ１４２またはセンサコイルのＬＤＣ（インダクタンスカウント）を表す。さらに、グラフとして示されるインダクタ１４２または誘導センサ１４０のコイルの出力信号１９２が示されており、基準物体１８０または検査室試料キャリア１３０などの円形金属ターゲットがそれらの上を移動するときに得られる。出力信号１９２のピーク１９４は、金属ターゲットがインダクタ１４２またはコイルの中心上に存在することを示す。理解を容易にするために、金属ターゲットは、センサ基板のＸ－Ｙ平面上の各コイル上に配置され、移動されると仮定されることができる。図９に見られるように、各インダクタ１４２の出力信号１９２は、異なる最小値にあり、それぞれの出力信号の評価を困難にする。このため、いわゆるオフセット較正が行われる。

図１０は、オフセット較正後の移送面１１０の１つの軸に沿った６つの誘導センサ１４０のコイルの例の出力信号１９２の断面図を示している。以下では、図９との相違点についてのみ説明し、同様の構造部材または特徴は、同様の参照符号によって示されている。インダクタ１４２またはコイルから任意の測定値を得るために、インダクタ１４２またはコイルは、全てのコイルが同じ最小値を示すように較正される。示された例では、選択された最小ＬＤＣ値は１００であったが、信号ノイズによって引き起こされる問題を回避するために、基本的に０よりも大きい任意の値が良好である。したがって、図１０では、インダクタ１４２またはコイルのオフセット１９６を見ることができ、出力信号１９２は、全て同じベースレベルにある。全てのインダクタ１４２またはコイルに対して単一のルックアップテーブルを作成するために、その後、いわゆるスケーリング較正が行われる。

図１１は、スケーリング較正後の移送面１１０の１つの軸に沿った６つの誘導センサ１４０のコイルの例の出力信号１９２の断面を示している。以下では、図１０との相違点についてのみ説明し、同様の構造部材または特徴は、同様の参照符号によって示されている。全てのコイルの出力信号１９２が同じベースレベルにある図１０から開始して、移送面１１０の外部または内部とすることができる基準コイルの測定に基づいて、各コイルの出力信号１９２を基準値にスケーリングすることができる各コイルの出力信号１９２に倍率が適用される。図示の例では、倍率は８６９であるが、基本的に基準として使用されるコイルの特性（例えば、コイルの形状）に基づく任意の数とすることができる。基準ルックアップテーブルもこの基準コイルから作成されるため、この基準は重要である。倍率は、製造時の較正プロセスの際に、センサ基板のＥＥＰＲＯＭなどのメモリに保存される。図１１は、スケーリング較正後の金属ターゲットの動きに応答する正規化されたコイル挙動を示している。このステップの後、コイルの出力信号１９２は、同じ基準オフセットおよびスケールにあり、基準ルックアップテーブルは、非線形コイル応答を線形化するために使用される。この基準ルックアップテーブルは、上述した基準コイルの測定値に基づいて作成される。

図１２は、基準ルックアップテーブルを示している。テーブルのＸ軸は、ＬＤＣカウントを示し、Ｙ軸は、０．１ｍｍ刻みで与えられるインダクタ１４２またはコイルの中心からの距離値を示している。グラフ１９８は、基準コイルの測定結果を示している。０．１ｍｍの距離値は、オフセット較正およびスケーリング較正されたコイルについてこのルックアップテーブルから計算されるまたは調べられることができる。これは、同様の周波数特性を有する任意のセンサ基板に対して有効である。キャパシタまたはコイル設計の変更など、ハードウェアが大幅に変更されない限り、ルックアップテーブルは、公差内で作製された全てのハードウェアに対して有効である。コイルの出力信号１９２の非線形性は、精度にいくらかの影響を与えるが、０．１ｍｍの解像度をはるかに下回ることが分かった。ルックアップテーブルによって、インダクタ１４２の非線形出力信号は、線形化される、すなわち、線形グラフに変換されることができる。

図１３および図１４は、スケーリング較正後の移送面１１０の１つの軸に沿った誘導センサ１４０のコイルまたはインダクタ１４２の例の出力信号１９２および線形化された距離２００を示している。以下では、図１０との相違点についてのみ説明し、同様の構造部材または特徴は、同様の参照符号によって示されている。Ｘ軸は、移送面１１０の軸に沿った移送面１１０またはセンサ基板の長さを表す。左側のＹ軸は、インダクタ１４２またはセンサコイルのＬＤＣ（インダクタンスカウント）を表す。右側のＹ軸は、センサ基板または移送面１１０の軸に沿った線形化された距離を示す。図１３および図１４から分かるように、金属ターゲットがゼロクロスの領域を表すコイルまたはインダクタ１４２の中心にあるとき、出力信号１９２は、それらの最大値にある。さらに、線形化された距離２００の最大値は、コイル間交差の領域を表す２つの隣接するコイルまたはインダクタ１４２の中心の中間にある。

図１３および図１４から分かるように、誘導センサ１４０に関する問題の１つは、マルチコイルシステムにおけるＸ－Ｙ平面上のコイルの対称応答である。それは、そのようなセンサの使用を複雑にし、本発明は、最小変数を有する新規な解決策を提供する。この問題を解決するために、出力信号１９２を評価するためのアルゴリズムは、センサ基板上のコイルの位置またはセンサ基板の表面上の金属ターゲットの移動方向などの既知の情報を使用する。

図１５は、スケーリング較正後の移送面１１０の１つの軸に沿った誘導センサ１４０のコイルまたはインダクタ１４２の例の出力信号１９２および線形化された距離２００を示している。以下では、図１３および図１４との相違点についてのみ説明し、同様の構造部材または特徴は、同様の参照符号によって示されている。線形化アルゴリズムをさらに詳細に説明するために、一方の軸（Ｘ軸またはＹ軸）に沿って配置された２つのコイルまたはインダクタ１４２の例が仮定されることができる。金属ターゲットは、図１５に示されるように、コイル１の中心にあり、コイル２に向かって移動する。移動の方向または方法は、制御ユニット１６０によって与えられることに留意されたい。換言すれば、制御ユニット１６０は、金属ターゲットの目標移動経路を画定する。コイル１は、センサ基板上の境界から３０ｍｍの位置にある。したがって、開始位置（ＳＰ）は、３０ｍｍであり、金属ターゲットがさらに移動すると、ＬＤＣ値（ＬＴ［ＬＤＣ_(コイルx)］）に基づいて、図１２に示されるようなルックアップテーブルから、コイル１の中心からの距離がＣＰ（中心位置）に加算される。もちろん、金属ターゲットが他のコイルから出発するとＣＰが変化する。検知解決策の現在の設計では、コイル１（すなわち、検知基板の境界の外側コイル）は、基板の縁部から３０ｍｍに等しい開始位置にあり、距離は、コイル番号にしたがって加算される（すなわち、境界までの所与のコイル中心の距離＝センサ境界からの外側コイルの中心の距離＋（コイル番号－１）＊２つのコイルの中心間距離）。隣接するコイル間の距離が現在の設計検知解決策では４０ｍｍであるため、上記式を使用して、コイル番号２の中心から境界までの距離を以下のように計算することができる。

３０ｍｍ＋（２－１）＊４０ｍｍ＝７０ｍｍ

開始位置から金属ターゲットがコイル１の中心から移動している場合、センサ基板の境界からの距離は、Ｄ＝ＣＰ_(コイル1)＋ＬＴ［ＬＤＣ_(コイル1)］と計算される。この計算は、コイル１からコイル６に向かう方向への金属ターゲットの移動を正の移動とみなすことに基づいていることに留意されたい。金属ターゲットがコイル間交差のためのゾーンを横切るとき（別のコイルにジャンプするのに十分な第２のコイルからの信号が利用可能であることが判明した実験から得られた１８ｍｍ）、アルゴリズムは、金属ターゲットがコイル１からコイル２を横切るときの点をチェックする。アルゴリズムは、金属ターゲットが別のコイルに交差したことを検出すると、この別のコイル、すなわち、この例示的なコイル番号２のＬＤＣ値の使用を開始する。アルゴリズムがルックアップテーブルからコイル２のＬＤＣ値を使用し始めると、センサの境界からの距離を計算するための式は、Ｄ＝ＣＰ_(コイル2)－ＬＴ［ＬＤＣ_(コイル2)］に変わる。ここで、金属ターゲットがコイルの中央であるゼロクロスの領域に近付くと、アルゴリズムは、ゼロ交差点を予測する。ターゲットがコイル２のゼロクロス上を移動すると、アルゴリズムは、ルックアップテーブルの入力としてコイル２の出力信号１９２の右側を使用して距離を計算するために再びＤ＝ＣＰ_(コイル2)＋ＬＴ［ＬＤＣ_(コイル2)］に式を修正する。このサイクルは、コイル３からコイル６のような他のコイルについても継続することができる。同じアルゴリズムは、Ｘ－Ｙ平面に沿った全てのコイル対に対して機能する。これは、全てのコイルに対して単一のルックアップテーブルを有する方法である。図１５は、よりよく理解するためにグラフ形式として線形化アルゴリズムを示している。コイル座標が固定されていることも注目に値する。また、多くのフィルタリングステップは、明確化のためにここでは言及されない。

本発明にかかる線形化アルゴリズムは、金属ターゲットの移動の方向が既知であるという事実に対処する。さらに、移動の開始位置および長さ（論理位置ではないという観点で）は既知である。駆動の方向、初期位置および長さは、駆動面上のターゲットのルーティングも担当する制御ユニット１６０の制御ソフトウェアによって制御される。特に、初期位置は既知であり、金属ターゲットの存在は、コイルのＬＤＣ値をチェックすることによって検出されることができ、すなわち、コイルのＬＤＣ値が特定の値を上回る場合、これは、金属ターゲットがそのコイルの論理位置に存在することを意味する。ここで、ターゲットは、論理位置を盲目的に中心に置くことにより、論理位置の中心に移動されることができる。ここで、ターゲットは論理位置を中心とする。ターゲットの駆動の方向および長さは、上述したアルゴリズムにおいて使用される。アルゴリズムは、入力として移動の開始位置がゼロクロス（対称性の頂点）上にあるか否かに関する情報のみを必要とする。

１００ 検査室試料分配システム
１１０ 移送面
１２０ 電磁アクチュエータ
１２２ 強磁性磁気コア
１３０ 試料容器キャリア
１３２ 試料容器
１３４ 磁気的能動素子
１３６ 導電性部材
１４０ 誘導センサ
１４２ インダクタ
１４４ キャパシタ
１４６ 発振器
１４８ 復調器
１５０ フリップフロップ
１５２ 出力部
１５４ 電磁場
１５６ 渦電流
１５８ 磁場
１６０ 制御ユニット
１７０ 評価ユニット
１８０ 基準物体
１８２ 垂直距離
１９０ 導電性物体
１９２ 出力信号
１９４ ピーク
１９６ オフセット
１９８ グラフ
２００ 線形化距離
Ｓ１０ センサを初期化してセンサ値を取得する
Ｓ１２ 非線形センサ値
Ｓ１４ ルックアップテーブルを用いてセンサ値を線形化する
Ｓ１６ 方向および初期位置を決定／提供する
Ｓ１８ 適切な経路を選択し、現在位置に基づいて値を設定する
Ｓ２０ 電流センサからの線形化された距離の値を加算する
Ｓ２２ 閾値／距離よりも大きい線形化されたセンサ値である
Ｓ２４ 次のセンサ誘導コイルに変更する
Ｓ２６ 閾値／距離よりも小さい線形化されたセンサ値であり、古い値よりも小さい新たな値である
Ｓ２８ 対称性の他方側に変更する

Claims (15)

1. 検査室試料分配システム（１００）であって、
   それぞれが１つまたは複数の試料容器（１３２）を搬送するように適合された複数の試料容器キャリア（１３０）であって、各試料容器キャリア（１３０）が、少なくとも１つの磁気的能動素子（１３４）および少なくとも１つの導電性部材（１３６）を備える、複数の試料容器キャリアと、
   前記試料容器キャリア（１３０）を支持するように適合された移送面（１１０）と、
   前記移送面（１１０）の下方に固定的に配置された複数の電磁アクチュエータ（１２０）であって、前記電磁アクチュエータ（１２０）が、前記試料容器キャリア（１３０）に磁力を印加することによって前記移送面（１１０）の上部で前記試料容器キャリア（１３０）を移動させるように適合された複数の電磁アクチュエータ（１２０）と、
   前記移送面（１１０）にわたって分散された複数の誘導センサ（１４０）と、
   前記試料容器キャリア（１３０）が対応する移送経路に沿って移動するように、前記電磁アクチュエータ（１２０）を駆動することによって、前記誘導センサ（１４０）によって提供される出力信号を使用して、前記移送面（１１０）上部での前記試料容器キャリア（１３０）の移動を制御するように構成された制御ユニット（１６０）と、
   線形化アルゴリズムによって少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）から受信された前記出力信号を線形化するように構成された評価ユニット（１７０）であって、前記評価ユニット（１７０）が、線形化された前記出力信号の出力信号値に基づいて、少なくとも１つの前記試料容器キャリア（１３０）と前記少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）との間の少なくとも距離、特に水平距離を決定するようにさらに構成された、評価ユニットと、を備える、検査室試料分配システム。
2. 前記評価ユニット（１７０）が、前記少なくとも１つの前記試料容器キャリア（１３０）と前記少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）との間の２つの異なる距離を示す前記線形化された出力信号の少なくとも２つの異なる出力信号値に基づいて、前記少なくとも１つの前記試料容器キャリア（１３０）および前記少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）の移動方向を決定するようにさらに構成されている、請求項１に記載の検査室試料分配システム（１００）。
3. 前記評価ユニット（１７０）が、前記少なくとも１つの前記試料容器キャリア（１３０）が前記誘導センサ（１４０）のうちの１つの検知領域から離れていること、および前記少なくとも１つの前記試料容器キャリア（１３０）が近傍の誘導センサ（１４０）の検知領域に接近していることを決定するようにさらに構成されている、請求項１または２に記載の検査室試料分配システム（１００）。
4. 前記評価ユニット（１７０）が、前記移送面（１１０）上の開始位置から前記移送面（１１０）上の最終移送先までの前記少なくとも１つの前記試料容器キャリア（１３０）の移動を追跡するようにさらに構成されている、請求項１から３のいずれか一項に記載の検査室試料分配システム（１００）。
5. 前記誘導センサ（１４０）が、それぞれ、タンク回路として配置された少なくとも１つのインダクタ（１４２）および少なくとも１つのキャパシタ（１４４）を備える、請求項１から４のいずれか一項に記載の検査室試料分配システム（１００）。
6. 前記インダクタ（１４２）が、前記移送面（１１０）の下方に配置される、請求項５に記載の検査室試料分配システム（１００）。
7. 前記インダクタ（１４２）が、前記移送面（１１０）に平行に配置される、請求項６に記載の検査室試料分配システム（１００）。
8. 前記線形化アルゴリズムが、ルックアップテーブルを含む、請求項１から７のいずれか一項に記載の検査室試料分配システム（１００）。
9. 前記ルックアップテーブルが、各誘導センサ（１４０）の前記出力信号の強度を、基準物体（１８０）とそれぞれの誘導センサ（１４０）との間の前記移送面（１１０）に平行な水平距離の関数として記述する、請求項８に記載の検査室試料分配システム（１００）。
10. 前記評価ユニット（１７０）が、少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）の検知領域内の導電性物体（１９０）の存在を補償するようにさらに構成されている、請求項１から９のいずれか一項に記載の検査室試料分配システム（１００）。
11. 前記評価ユニット（１７０）が、前記検知領域内に試料容器キャリア（１３０）が存在しない間にそれぞれの誘導センサ（１４０）の前記出力信号を測定することによって、少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）の検知領域内の導電性物体（１９０）の存在を補償するように構成されている、請求項１０に記載の検査室試料分配システム（１００）。
12. 前記評価ユニット（１７０）が、前記検知領域内に試料容器キャリア（１３０）が存在しない間の前記それぞれの誘導センサ（１４０）の測定された前記出力信号の出力信号値が所定の閾値を下回る場合、少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）の前記検知領域内の前記導電性物体（１９０）の存在をオフセットとして補償するように構成されている、請求項１１に記載の検査室試料分配システム（１００）。
13. 前記評価ユニット（１７０）が、前記検知領域内に試料容器キャリア（１３０）が存在しない間の前記それぞれの誘導センサ（１４０）の測定された前記出力信号の出力信号値が所定の閾値を上回る場合、少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）の前記検知領域内の前記導電性物体（１９０）の存在をエラーとして補償するように構成されている、請求項１１に記載の検査室試料分配システム（１００）。
14. 前記評価ユニット（１７０）が、前記誘導センサ（１４０）の前記出力信号の最大出力信号値を周期的に測定することによって、前記試料容器キャリア（１３０）の導電特性の変化を検出するようにさらに構成されている、請求項１から１３のいずれか一項に記載の検査室試料分配システム（１００）。
15. 請求項１から１４のいずれか一項に記載の検査室試料分配システム（１００）を操作するための方法であって、
    前記移送面（１１０）上に複数の試料容器キャリア（１３０）を設けることと、
    対応する移送経路に沿って前記試料容器キャリア（１３０）を移動させることと、
    少なくとも１つの前記誘導センサから出力信号を受信することと、
    線形化アルゴリズムによって前記出力信号を線形化することと、
    線形化された前記出力信号の出力信号値に基づいて、少なくとも１つの前記試料容器キャリア（１３０）と前記少なくとも１つの前記誘導センサ（１４０）との間の少なくとも距離を決定することと、を含む、方法。

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