JP2021189570A - Scenario generation program, test management device, scenario generation method, and system - Google Patents

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朋和 鈴木
Tomokazu Suzuki
彰 島元
Akira Shimamoto
隆人 森山
Takato Moriyama
和哉 小林
Kazuya Kobayashi
保幸 大野
Yasuyuki Ono
元章 下山
Motoaki Shimoyama
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Abstract

To reduce man-hours for creating a test scenario when specification of a target system to be tested changes.SOLUTION: A test management device 10 detects a specification item that is inconsistent with a target system, and extracts a function of the detected specification item from hierarchical structure data in which the specification items are classified based on hierarchically structured functions. The test management device 10 acquires a scenario pattern corresponding to the function of the extracted specification item from pattern data associated with the scenario pattern required for a test for each function. The test management device 10 generates a test scenario of the detected specification item based on the acquired scenario pattern.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、シナリオ生成プログラム、試験管理装置、シナリオ生成方法およびシステム
に関する。
The present invention relates to a scenario generation program, a test management device, a scenario generation method and a system.

試験システムと試験対象のターゲットシステムとで構成される試験環境において、試験システムがターゲットシステムに対して、試験を実施する場合がある。かかる場合に、試験システムは、試験シナリオに基づいて、ターゲットシステムの試験を実施する。ターゲットシステムの仕様が変更されると、試験システムは、仕様の変更に合わせて試験シナリオを変更する必要がある。試験システムでは、試験シナリオを手作業により反映することが知られている。 In a test environment consisting of a test system and a target system to be tested, the test system may perform tests on the target system. In such cases, the test system will test the target system based on the test scenario. When the specifications of the target system change, the test system needs to change the test scenario according to the changes in the specifications. Test systems are known to manually reflect test scenarios.

特開2017−107265号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2017-107265 特開平07−093185号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 07-073185

しかしながら、試験対象のターゲットシステムの仕様が変更されたときに、試験システムにおいて試験シナリオを手作業により反映することは、稼働工数がかかるという問題がある。 However, when the specifications of the target system to be tested are changed, manually reflecting the test scenario in the test system has a problem that it takes a lot of man-hours to operate.

仮に、試験システムが人手を介さないで対応するためには、ターゲットシステムとの間で、仕様変更の対応に必要な差分を抽出し、抽出した差分から仕様変更部分を試験するシナリオを生成する必要がある。ところが、試験システムは、単純に差分を抽出しただけでは、仕様変更に対応する機能の差分を把握できず、仕様変更された機能に対応した試験シナリオを生成することができない。 In order for the test system to respond without human intervention, it is necessary to extract the difference necessary for responding to the specification change with the target system and generate a scenario to test the specification change part from the extracted difference. There is. However, the test system cannot grasp the difference of the function corresponding to the specification change by simply extracting the difference, and cannot generate the test scenario corresponding to the function whose specification has been changed.

本発明は、1つの側面では、試験対象のターゲットシステムの仕様が変更されたときに、試験シナリオの作成の工数を削減することを目的とする。 One aspect of the present invention is to reduce the man-hours for creating a test scenario when the specifications of the target system to be tested are changed.

1つの態様では、シナリオ生成プログラムは、被試験システムと整合がとれていない仕様項目を検出し、階層構造化された機能に基づき仕様項目を分類した階層構造データから、検出した仕様項目の機能を抽出し、機能ごとに試験に必要なシナリオのパターンを対応付けたパターンデータから、抽出した仕様項目の機能に対応するシナリオのパターンを取得し、取得したシナリオのパターンに基づいて、検出した仕様項目の試験のシナリオを生成する、処理をコンピュータに実行させる。 In one embodiment, the scenario generation program detects the specification items that are inconsistent with the system under test, and classifies the specification items based on the hierarchically structured functions from the detected specification item functions from the hierarchical structure data. From the pattern data that is extracted and associated with the pattern of the scenario required for the test for each function, the pattern of the scenario corresponding to the function of the extracted specification item is acquired, and the detected specification item is detected based on the pattern of the acquired scenario. Have the computer perform the process, generating the test scenario for.

1実施態様によれば、試験対象のターゲットシステムの仕様が変更されたときに、試験シナリオの作成の工数を削減することができる。 According to one embodiment, the man-hours for creating a test scenario can be reduced when the specifications of the target system to be tested are changed.

図1は、実施例1に係るシステムの機能構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of the system according to the first embodiment. 図2は、実施例1に係るシナリオ生成処理の流れの一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an example of the flow of the scenario generation process according to the first embodiment. 図3は、実施例1に係る試験システムの機能構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a functional configuration of the test system according to the first embodiment. 図4は、実施例1に係る警報定義ファイルの一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example of the alarm definition file according to the first embodiment. 図5は、実施例1に係る試験パターンテーブルの一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an example of a test pattern table according to the first embodiment. 図6は、実施例1に係る差分抽出の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of difference extraction according to the first embodiment. 図7は、実施例1に係る試験パターン抽出の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an example of test pattern extraction according to Example 1. 図8は、実施例1に係る試験テンプレート取得の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of acquiring a test template according to the first embodiment. 図9は、実施例1に係る試験シナリオ生成の一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of test scenario generation according to the first embodiment. 図10は、実施例1に係るシナリオ生成処理のシーケンスの一例を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an example of the sequence of the scenario generation process according to the first embodiment. 図11は、実施例1に係る試験パターン抽出処理のフローチャートの一例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing an example of a flowchart of the test pattern extraction process according to the first embodiment. 図12は、実施例2に係る差分抽出の一例を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing an example of difference extraction according to the second embodiment. 図13は、実施例2に係るシナリオ生成処理のシーケンスの一例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing an example of the sequence of the scenario generation process according to the second embodiment. 図14は、実施例2に係る差分抽出処理のフローチャートの一例を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing an example of a flowchart of the difference extraction process according to the second embodiment. 図15は、シナリオ生成プログラムを実行するコンピュータの一例を示す図である。FIG. 15 is a diagram showing an example of a computer that executes a scenario generation program.

以下に、本願の開示するシナリオ生成プログラム、試験管理装置、シナリオ生成方法およびシステムの実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は、実施例により限定されるものではない。 Hereinafter, examples of the scenario generation program, the test management device, the scenario generation method, and the system disclosed in the present application will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the examples.

[試験システムの機能構成]
図1は、実施例1に係るシステムの機能構成を示すブロック図である。実施例1に係るシステムは、試験端末3と接続する試験システム1と、ターゲットシステム5とを有する。ターゲットシステム5は、試験対象のシステムである。試験システム1は、ターゲットシステム5の試験を管理するとともに、試験を実施する。
[Functional configuration of test system]
FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of the system according to the first embodiment. The system according to the first embodiment has a test system 1 connected to the test terminal 3 and a target system 5. The target system 5 is a system to be tested. The test system 1 manages the test of the target system 5 and carries out the test.

試験システム1は、試験管理装置10を含む。試験管理装置10は、ターゲットシステム5と整合がとれていない仕様項目を検出すると、機能ごとに試験シナリオのパターンを対応付けた情報から、検出された仕様項目に対応する機能に対応するシナリオのパターンを取得する。そして、試験管理装置10は、取得したシナリオのパターンに基づいて、検出した仕様項目の試験シナリオを生成する。ここでいう機能は、階層構造に基づいて分類される。ここでいう仕様項目は、階層構造に基づいて定義される機能を示す数列と機能の中で一意に表すことが可能な数値とから規定される。なお、試験管理装置10を含む試験システム1の機能構成は、後述する。 The test system 1 includes a test management device 10. When the test management device 10 detects a specification item that is inconsistent with the target system 5, the scenario pattern corresponding to the function corresponding to the detected specification item is obtained from the information associated with the test scenario pattern for each function. To get. Then, the test management device 10 generates a test scenario of the detected specification item based on the acquired scenario pattern. The functions referred to here are classified based on the hierarchical structure. The specification items referred to here are defined by a sequence indicating a function defined based on a hierarchical structure and a numerical value that can be uniquely represented in the function. The functional configuration of the test system 1 including the test management device 10 will be described later.

[シナリオ生成処理の流れの一例]
ここで、試験シナリオの生成処理のイメージを、図2を参照して説明する。図2は、実施例1に係るシナリオ生成処理の流れの一例を示す図である。なお、以降では、階層構造に分類できる警報機能を例として説明する。
[Example of scenario generation process flow]
Here, an image of the test scenario generation process will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a diagram showing an example of the flow of the scenario generation process according to the first embodiment. In the following, an alarm function that can be classified into a hierarchical structure will be described as an example.

図2に示すように、階層構造化された警報機能ツリーが表わされている。かかる警報機能ツリーは、階層構造に基づき分類される警報機能と、警報機能に対する警報が対応付けられている。各警報が仕様項目に対応する。そして、試験パターンテーブルが表わされている。試験パターンテーブルは、警報機能ごとに試験シナリオのパターンを対応付けている。 As shown in FIG. 2, a hierarchically structured alarm function tree is represented. In such an alarm function tree, an alarm function classified based on a hierarchical structure and an alarm for the alarm function are associated with each other. Each alarm corresponds to a specification item. And the test pattern table is shown. The test pattern table associates test scenario patterns with each alarm function.

ターゲットシステム5の仕様項目が更新されたとする。すると、試験管理装置10は、ターゲットシステム5と試験システム1との警報機能ツリーの整合がとれていないので、それぞれの警報機能ツリーから、差分となる仕様項目としての警報の機能を抽出する(<1>)。ここでは、更新された警報機能の仕様項目が、「機能b」の「警報F」であるとする。 It is assumed that the specification items of the target system 5 have been updated. Then, since the test management device 10 does not match the alarm function tree between the target system 5 and the test system 1, the alarm function as a specification item to be a difference is extracted from each alarm function tree (<. 1>). Here, it is assumed that the updated specification item of the alarm function is "alarm F" of "function b".

そして、試験管理装置10は、試験パターンテーブルに含まれる機能と、抽出した機能とを照合し、該当する機能を検索し、試験パターンを抽出する(<2>)。ここでは、「機能b」に対応する試験パターンとしてp1,p2が抽出される。 Then, the test management device 10 collates the function included in the test pattern table with the extracted function, searches for the corresponding function, and extracts the test pattern (<2>). Here, p1 and p2 are extracted as test patterns corresponding to "function b".

そして、試験管理装置10は、試験パターンに対応する試験シナリオのテンプレートを取得する(<3>)。ここでは、試験パターンp1,p2に対するそれぞれの試験シナリオのテンプレートが取得される。 Then, the test management device 10 acquires a template of the test scenario corresponding to the test pattern (<3>). Here, templates for each test scenario for test patterns p1 and p2 are acquired.

そして、試験管理装置10は、差分となる仕様項目としての警報の名称と、取得された試験シナリオのテンプレートとから、試験シナリオを生成する(<4>)。ここでは、試験パターンp1に対する試験シナリオのテンプレートと警報名とから、試験シナリオが生成される。試験パターンp2に対する試験シナリオのテンプレートと警報名とから、試験シナリオが生成される。 Then, the test management device 10 generates a test scenario from the name of the alarm as a specification item to be a difference and the template of the acquired test scenario (<4>). Here, the test scenario is generated from the template of the test scenario for the test pattern p1 and the alarm name. A test scenario is generated from the template of the test scenario for the test pattern p2 and the alarm name.

このようにして、試験管理装置10は、試験対象のターゲットシステム5の仕様が変更されたときに、試験シナリオの作成の工数を削減することができる。 In this way, the test management device 10 can reduce the man-hours for creating the test scenario when the specifications of the target system 5 to be tested are changed.

[試験システムの機能構成]
図3は、実施例1に係る試験システムの機能構成を示すブロック図である。図3に示すように、試験システム1は、試験管理装置10と試験実施装置20とを有する。
[Functional configuration of test system]
FIG. 3 is a block diagram showing a functional configuration of the test system according to the first embodiment. As shown in FIG. 3, the test system 1 includes a test management device 10 and a test execution device 20.

試験実施装置20は、ターゲットシステム5の試験を実施する。試験実施装置20は、警報定義ファイル21を記憶する。 The test execution device 20 carries out the test of the target system 5. The test execution device 20 stores the alarm definition file 21.

警報定義ファイル21は、機能定義と試験項目である警報ID(IDentifier)とを対応付けた情報である。機能は、階層構造に基づき定義される。警報IDは、仕様項目としての警報を示すIDである。警報IDは、例えば、階層構造に基づき定義される機能を示す数列と機能の中での具体的な警報を特定する数値とから規定される。そして、警報IDは、固定の桁数を有するものとする。なお、警報定義ファイル21は、ターゲットシステム5の警報定義ファイル51と同じ構造である。また、警報定義ファイル21の一例は、後述する。 The alarm definition file 21 is information in which the function definition and the alarm ID (IDentifier), which is a test item, are associated with each other. Functions are defined based on a hierarchical structure. The alarm ID is an ID indicating an alarm as a specification item. The alarm ID is defined, for example, from a sequence indicating a function defined based on a hierarchical structure and a numerical value specifying a specific alarm in the function. The alarm ID has a fixed number of digits. The alarm definition file 21 has the same structure as the alarm definition file 51 of the target system 5. An example of the alarm definition file 21 will be described later.

試験管理装置10は、ターゲットシステム5の試験を管理する。試験管理装置10は、差分抽出部11、試験パターン抽出部12、試験テンプレート取得部13および試験シナリオ生成部14を有する。加えて、試験管理装置10は、試験パターンテーブル15および試験テンプレートDB(DataBase)16を記憶する。なお、差分抽出部11は、検出部の一例である。試験パターン抽出部12は、抽出部および取得部の一例である。試験テンプレート取得部13および試験シナリオ生成部14は、生成部の一例である。 The test management device 10 manages the test of the target system 5. The test management device 10 has a difference extraction unit 11, a test pattern extraction unit 12, a test template acquisition unit 13, and a test scenario generation unit 14. In addition, the test management device 10 stores the test pattern table 15 and the test template DB (DataBase) 16. The difference extraction unit 11 is an example of a detection unit. The test pattern extraction unit 12 is an example of an extraction unit and an acquisition unit. The test template acquisition unit 13 and the test scenario generation unit 14 are examples of the generation unit.

試験パターンテーブル15は、機能レベルごとに、試験パターンを対応付けた情報を記憶する。試験パターンテーブル15は、予め用意される。なお、試験パターンテーブル15の一例は、後述する。 The test pattern table 15 stores information associated with the test pattern for each functional level. The test pattern table 15 is prepared in advance. An example of the test pattern table 15 will be described later.

試験テンプレートDB16は、試験パターンごとに、試験シナリオのテンプレートを対応付けて記憶する。試験テンプレートDB16に記憶された試験シナリオのテンプレートは、予め用意される。 The test template DB 16 stores the test scenario templates in association with each other for each test pattern. The test scenario template stored in the test template DB 16 is prepared in advance.

差分抽出部11は、ターゲットシステム5と整合がとれていない仕様項目の差分を抽出する。例えば、差分抽出部11は、ターゲットシステム5から警報定義ファイル51を読み出す。また、差分抽出部11は、試験実施装置20から警報定義ファイル21を読み出す。そして、差分抽出部11は、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51と、試験実施装置20から読み出された警報定義ファイル21とを比較して、差分をチェックする。そして、差分抽出部11は、差分があれば、差分となる警報IDを試験パターン抽出部12に出力する。 The difference extraction unit 11 extracts the differences of the specification items that are not consistent with the target system 5. For example, the difference extraction unit 11 reads the alarm definition file 51 from the target system 5. Further, the difference extraction unit 11 reads the alarm definition file 21 from the test execution device 20. Then, the difference extraction unit 11 compares the alarm definition file 51 read from the target system 5 with the alarm definition file 21 read from the test execution device 20 to check the difference. Then, if there is a difference, the difference extraction unit 11 outputs the alarm ID, which is the difference, to the test pattern extraction unit 12.

試験パターン抽出部12は、差分抽出部11によって抽出された差分に対応する試験パターンを抽出する。例えば、試験パターン抽出部12は、試験パターンテーブル15の機能レベルに対応する機能IDと、差分抽出部11によって抽出された差分となる警報IDの機能IDとを照合し、合致する機能IDを検索する。そして、試験パターン抽出部12は、検索できた機能IDに対応する試験パターンを抽出する。なお、機能IDとは、例えば、階層構造に基づき定義される機能を示すIDのことをいう。 The test pattern extraction unit 12 extracts a test pattern corresponding to the difference extracted by the difference extraction unit 11. For example, the test pattern extraction unit 12 collates the function ID corresponding to the function level of the test pattern table 15 with the function ID of the alarm ID which is the difference extracted by the difference extraction unit 11, and searches for a matching function ID. do. Then, the test pattern extraction unit 12 extracts the test pattern corresponding to the searched function ID. The function ID is, for example, an ID indicating a function defined based on a hierarchical structure.

試験テンプレート取得部13は、試験パターン抽出部12によって抽出された試験パターンに対応する試験シナリオのテンプレートを、試験テンプレートDB16から取得する。 The test template acquisition unit 13 acquires a template of the test scenario corresponding to the test pattern extracted by the test pattern extraction unit 12 from the test template DB 16.

試験シナリオ生成部14は、試験テンプレート取得部13によって取得された試験シナリオのテンプレートを用いて、整合がとれていない仕様項目の試験のシナリオを生成する。例えば、試験シナリオ生成部14は、試験テンプレート取得部13によって取得された試験シナリオのテンプレートと、差分となる警報IDの警報名とから、差分となる警報IDの試験のシナリオを生成する。 The test scenario generation unit 14 generates a test scenario of inconsistent specification items by using the test scenario template acquired by the test template acquisition unit 13. For example, the test scenario generation unit 14 generates a test scenario of the alarm ID to be the difference from the template of the test scenario acquired by the test template acquisition unit 13 and the alarm name of the alarm ID to be the difference.

[警報定義ファイルの一例]
図4は、実施例1に係る警報定義ファイルの一例を示す図である。図4に示すように、警報定義ファイル21は、機能定義と警報名と警報IDとを含む。機能定義は、ターゲットシステム5において仕様で定められた機能を定義したものである。実施例では、機能定義は、ターゲットシステム5において仕様で定められた警報機能を定義したものである。機能定義の機能は、階層構造に基づき定義される。警報名は、警報IDが示す警報の名称である。警報IDは、仕様項目としての警報を示すIDである。警報IDは、階層構造に基づき定義される機能を示す数列(機能ID)と、機能の中で一意に表すことが可能な数値とから規定される。例えば、警報IDは、rootから機能を示す各ノードの数字を順番に辿って生成される。各ノードの数字は、ドットで区切られる。
[Example of alarm definition file]
FIG. 4 is a diagram showing an example of the alarm definition file according to the first embodiment. As shown in FIG. 4, the alarm definition file 21 includes a function definition, an alarm name, and an alarm ID. The function definition defines the function defined in the specifications in the target system 5. In the embodiment, the function definition defines the alarm function defined in the specifications in the target system 5. Functions in the function definition are defined based on the hierarchical structure. The alarm name is the name of the alarm indicated by the alarm ID. The alarm ID is an ID indicating an alarm as a specification item. The alarm ID is defined by a sequence (function ID) indicating a function defined based on a hierarchical structure and a numerical value that can be uniquely represented in the function. For example, the alarm ID is generated by sequentially tracing the numbers of each node indicating the function from the root. The numbers for each node are separated by dots.

一例として、機能定義は、「Alarm」の機能の下層に「SC」の機能があり、「SC」の機能の下層に、「COM」の機能、「Domain」の機能、「ELP」の機能がある。そして、「COM」の機能の下層に「COM」の機能がある。同様に、「Domain」の機能の下層に「Domain」の機能がある。「ELP」の機能の下層に「ELP」の機能がある。機能定義が「Alarm」である場合に、警報IDは「1.2.3.4.5.6.789.・・・1.3.1」を示す。機能定義が「Alarm/SC」である場合に、警報IDは「1.2.3.4.5.6.789.・・・1.3.1.1」を示す。機能定義が「Alarm/SC/COM」である場合に、警報IDは「1.2.3.4.5.6.789.・・・1.3.1.1.1」を示す。機能定義が「Alarm/SC/COM/COM」である場合に、警報IDは「1.2.3.4.5.6.789.・・・1.3.1.1.1.1」を示す。そして、機能定義が「Alarm/SC/COM/COM」である場合に、警報名に対応する3つの警報IDが定義されている。3つの警報IDは、機能「Alarm/SC/COM/COM」の中で一意に表すことが可能な数値を持つ。ここでは、3つの警報IDは、「1.2.3.4.5.6.789.・・・1.3.1.1.1.1.1」、「1.2.3.4.5.6.789.・・・1.3.1.1.1.1.2」、「1.2.3.4.5.6.789.・・・1.3.1.1.1.1.3」を示す。すなわち、警報IDとして、「Alarm/SC/COM/COM」の警報IDの下の桁に具体的な警報を特定する値が設定されている。そして、警報名が警報IDに対応付けて定義されている。 As an example, in the function definition, the "SC" function is in the lower layer of the "Alarm" function, and the "COM" function, "Domain" function, and "ELP" function are in the lower layer of the "SC" function. be. And there is a function of "COM" in the lower layer of the function of "COM". Similarly, there is a "Domain" function below the "Domain" function. Below the "ELP" function is the "ELP" function. When the function definition is "Alarm", the alarm ID indicates "1.2.3.4.5.6.789 .... 1.3.1". When the function definition is "Alarm / SC", the alarm ID indicates "1.2.3.4.5.6.789 .... 1.3.1.1". When the function definition is "Alarm / SC / COM", the alarm ID indicates "1.2.3.4.5.6.789 .... 1.3.1.1.1". When the function definition is "Alarm / SC / COM / COM", the alarm ID indicates "1.2.3.4.5.6.789 .... 1.3.1.1.1.1". Then, when the function definition is "Alarm / SC / COM / COM", three alarm IDs corresponding to the alarm names are defined. The three alarm IDs have numerical values that can be uniquely represented in the function "Alarm / SC / COM / COM". Here, the three alarm IDs are "1.2.3.4.5.6.789 .... 1.3.1.1.1.1.1" and "1.2.3.4.5.6.789 .... 1.3.1.1.1.1.2". , "1.2.3.4.5.6.789 .... 1.3.1.1.1.1.3" is shown. That is, as the alarm ID, a value for specifying a specific alarm is set in the lower digit of the alarm ID of "Alarm / SC / COM / COM". The alarm name is defined in association with the alarm ID.

[試験パターンテーブルの一例]
図5は、実施例1に係る試験パターンテーブルの一例を示す図である。図5に示すように、試験パターンテーブル15は、警報ID(機能レベル)と試験パターンとを対応付けて記憶する。警報ID(機能レベル)は、警報IDの機能レベルに対応する機能IDを示す。機能IDは、例えば、階層構造に基づき定義される機能を示す数列からなる。試験パターンは、例えば、後述する試験シナリオのテンプレートに対応する。試験パターンテーブル15は、予め用意されている。
[Example of test pattern table]
FIG. 5 is a diagram showing an example of a test pattern table according to the first embodiment. As shown in FIG. 5, the test pattern table 15 stores the alarm ID (functional level) and the test pattern in association with each other. The alarm ID (function level) indicates a function ID corresponding to the function level of the alarm ID. The function ID consists of, for example, a sequence indicating a function defined based on a hierarchical structure. The test pattern corresponds to, for example, a template of a test scenario described later. The test pattern table 15 is prepared in advance.

一例として、警報IDの機能IDが「SC/ELP/ELP(…1.3.1.1.3.1)」である場合には、試験パターンとして「p1」,「p9」,「p10」,「p13」,「p14」が設定されている。 As an example, when the function ID of the alarm ID is "SC / ELP / ELP (... 1.3.1.1.3.1)", the test patterns are "p1", "p9", "p10", "p13", "p13". "p14" is set.

[差分抽出の一例]
図6は、実施例に係る差分抽出の一例を示す図である。図6に示すように、試験システム1から読み出された警報定義ファイル21と、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51とが、表わされている。
[Example of difference extraction]
FIG. 6 is a diagram showing an example of difference extraction according to an embodiment. As shown in FIG. 6, the alarm definition file 21 read from the test system 1 and the alarm definition file 51 read from the target system 5 are represented.

差分抽出部11は、試験システム1から読み出された警報定義ファイル21と、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51とを比較して、差分を抽出する。ここでは、差分として「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.3.1.4」の警報IDが抽出されている。この警報IDの警報名は、「manualSw」である。 The difference extraction unit 11 compares the alarm definition file 21 read from the test system 1 with the alarm definition file 51 read from the target system 5, and extracts the difference. Here, the alarm ID of "1.2.3.4.5.6.789 ... 1.3.1.1.3.1.4" is extracted as the difference. The alarm name of this alarm ID is "manualSw".

[試験パターン抽出の一例]
図7は、実施例1に係る試験パターン抽出の一例を示す図である。図7に示すように、試験パターンテーブル15が表わされている。ここでは、図6で抽出された差分となる警報ID「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.3.1.4」から、試験パターンを抽出する場合を説明する。
[Example of test pattern extraction]
FIG. 7 is a diagram showing an example of test pattern extraction according to Example 1. As shown in FIG. 7, the test pattern table 15 is represented. Here, a case where a test pattern is extracted from the alarm ID “1.2.3.4.5.6.789… 1.3.1.1.3.1.4”, which is the difference extracted in FIG. 6, will be described.

まず、試験パターン抽出部12は、差分となる警報IDから機能IDを取得する。ここでは、試験パターン抽出部12は、差分となる警報ID「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.3.1.4」から、警報IDの末尾の数値を除いた数列「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.3.1」を機能IDとして取得する。 First, the test pattern extraction unit 12 acquires the function ID from the alarm ID that is the difference. Here, the test pattern extraction unit 12 is a sequence "1.2.3.4.5.6" excluding the numerical value at the end of the alarm ID from the alarm ID "1.2.3.4.5.6.789 ... 1.3.1.1.3.1.4" which is the difference. .789… 1.3.1.1.3.1 ”is acquired as the function ID.

そして、試験パターン抽出部12は、試験パターンテーブル15の機能レベルに対応する機能IDと、差分となる警報IDの機能を示す機能IDとを照合し、合致する機能IDを検索する。ここでは、「ELP(…1.3.1.1.3.1)」の機能IDが検索される。そして、試験パターン抽出部12は、検索できた機能IDに対応する試験パターンを抽出する。ここでは、試験パターンとして「p1」,「p9」,「p10」,「p13」,「p14」が抽出される。 Then, the test pattern extraction unit 12 collates the function ID corresponding to the function level of the test pattern table 15 with the function ID indicating the function of the alarm ID to be the difference, and searches for a matching function ID. Here, the function ID of "ELP (... 1.3.1.1.3.1)" is searched. Then, the test pattern extraction unit 12 extracts the test pattern corresponding to the searched function ID. Here, "p1", "p9", "p10", "p13", and "p14" are extracted as test patterns.

[試験テンプレート取得の一例]
図8は、実施例1に係る試験テンプレート取得の一例を示す図である。図8に示すように、試験シナリオのテンプレートが表わされている。ここでは、図7で抽出された試験パターンから、試験シナリオのテンプレートを取得する場合を説明する。
[Example of test template acquisition]
FIG. 8 is a diagram showing an example of acquiring a test template according to the first embodiment. As shown in FIG. 8, a template of the test scenario is shown. Here, a case where a template of a test scenario is acquired from the test pattern extracted in FIG. 7 will be described.

試験テンプレート取得部13は、抽出された試験パターンに対応する試験シナリオのテンプレートを、試験テンプレートDB16から取得する。なお、試験テンプレートDB16に記憶された試験シナリオのテンプレートは、予め用意されている。ここでは、抽出された試験パターンが「p1」,「p9」,「p10」,「p13」,「p14」である。したがって、試験テンプレート取得部13は、試験テンプレートDB16から、抽出された試験パターンに対応する、試験シナリオのテンプレート1,9,10,13,14を取得する。試験シナリオのテンプレートには、それぞれ「<警報名>」という文字列変数が設定されている。 The test template acquisition unit 13 acquires a template of the test scenario corresponding to the extracted test pattern from the test template DB 16. The test scenario template stored in the test template DB 16 is prepared in advance. Here, the extracted test patterns are "p1", "p9", "p10", "p13", and "p14". Therefore, the test template acquisition unit 13 acquires the test scenario templates 1, 9, 10, 13, and 14 corresponding to the extracted test patterns from the test template DB 16. A character string variable "<alarm name>" is set in each of the test scenario templates.

[試験シナリオ生成の一例]
図9は、実施例1に係る試験シナリオ生成の一例を示す図である。図9に示すように、試験シナリオが表わされている。ここでは、図7で抽出された警報IDの警報名「manualSw」と、図8で取得された試験シナリオのテンプレートとから、試験シナリオを生成する場合を説明する。
[Example of test scenario generation]
FIG. 9 is a diagram showing an example of test scenario generation according to the first embodiment. As shown in FIG. 9, a test scenario is represented. Here, a case where a test scenario is generated from the alarm name “manualSw” of the alarm ID extracted in FIG. 7 and the template of the test scenario acquired in FIG. 8 will be described.

試験シナリオ生成部14は、取得された試験シナリオのテンプレートと、差分となる警報IDの警報名とから、差分となる警報IDの試験シナリオを生成する。ここでは、取得された試験シナリオのテンプレートが1,9,10,13,14である。したがって、試験シナリオ生成部14は、それぞれのテンプレートの文字列変数「<警報名>」に警報名「manualSw」を代入して、それぞれの試験シナリオ1,9,10,13,14を生成する。 The test scenario generation unit 14 generates a test scenario of the alarm ID to be the difference from the acquired test scenario template and the alarm name of the alarm ID to be the difference. Here, the templates of the acquired test scenarios are 1, 9, 10, 13, and 14. Therefore, the test scenario generation unit 14 substitutes the alarm name “manualSw” into the character string variable “<alarm name>” of each template to generate the test scenarios 1, 9, 10, 13, and 14, respectively.

[シナリオ生成処理のシーケンスの一例]
図10は、実施例1に係るシナリオ生成処理のシーケンスの一例を示す図である。なお、図10に示す試験実施機能は、試験実施装置20に対応する。試験管理機能は、試験管理装置10に対応する。
[Example of scenario generation processing sequence]
FIG. 10 is a diagram showing an example of the sequence of the scenario generation process according to the first embodiment. The test execution function shown in FIG. 10 corresponds to the test execution device 20. The test management function corresponds to the test management device 10.

図10に示すように、試験端末3は、試験開始を試験システム1に通知する(S11)。試験システム1では、試験開始を受け付けた差分抽出部11が、ターゲットシステム5から警報定義ファイル51を読み出す(S12,S13)。また、差分抽出部11は、試験実施装置20から警報定義ファイル21を読み出す(S14,S15)。 As shown in FIG. 10, the test terminal 3 notifies the test system 1 of the start of the test (S11). In the test system 1, the difference extraction unit 11 that has received the start of the test reads out the alarm definition file 51 from the target system 5 (S12, S13). Further, the difference extraction unit 11 reads out the alarm definition file 21 from the test execution device 20 (S14, S15).

差分抽出部11は、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51と、試験実施装置20から読み出された警報定義ファイル21との差分をチェックする(S16)。差分抽出部11は、チェックの結果、差分がある場合には、差分となる警報IDを試験パターン抽出部12に出力する(S17)。 The difference extraction unit 11 checks the difference between the alarm definition file 51 read from the target system 5 and the alarm definition file 21 read from the test execution device 20 (S16). If there is a difference as a result of the check, the difference extraction unit 11 outputs the alarm ID, which is the difference, to the test pattern extraction unit 12 (S17).

試験パターン抽出部12は、受け付けた警報IDの機能IDと、試験パターンテーブル15の機能レベルに基づく機能IDとを照合し、合致する機能IDに対応する試験パターンNoを抽出する(S18)。なお、試験パターンの抽出処理のフローチャートは、後述する。そして、試験パターン抽出部12は、抽出した試験パターンNoを試験テンプレート取得部13に出力する(S19)。 The test pattern extraction unit 12 collates the function ID of the received alarm ID with the function ID based on the function level of the test pattern table 15, and extracts the test pattern No. corresponding to the matching function ID (S18). The flowchart of the test pattern extraction process will be described later. Then, the test pattern extraction unit 12 outputs the extracted test pattern No. to the test template acquisition unit 13 (S19).

試験テンプレート取得部13は、受け付けた試験パターンNoに対応する試験シナリオのテンプレートを、試験テンプレートDB16から取得する(S20,S21)。そして、試験テンプレート取得部13は、取得した試験シナリオのテンプレートを試験パターン抽出部12に出力する(S22)。そして、試験パターン抽出部12は、受け付けた警報IDの警報名、試験シナリオのテンプレートを試験シナリオ生成部14に出力する(S23)。 The test template acquisition unit 13 acquires a template of the test scenario corresponding to the received test pattern No. from the test template DB 16 (S20, S21). Then, the test template acquisition unit 13 outputs the acquired test scenario template to the test pattern extraction unit 12 (S22). Then, the test pattern extraction unit 12 outputs the alarm name of the received alarm ID and the template of the test scenario to the test scenario generation unit 14 (S23).

試験シナリオ生成部14は、警報IDの警報名、試験シナリオのテンプレートを用いて、試験シナリオを生成する(S24)。そして、試験シナリオ生成部14は、差分となる警報IDについて、新規の試験シナリオを追加すべく、新規の試験シナリオを試験実施装置20に出力する。(S25)。試験実施装置20は、受け付けた新規の試験シナリオを追加する。 The test scenario generation unit 14 generates a test scenario using the alarm name of the alarm ID and the template of the test scenario (S24). Then, the test scenario generation unit 14 outputs a new test scenario to the test execution device 20 in order to add a new test scenario for the alarm ID that is the difference. (S25). The test execution device 20 adds a new received test scenario.

加えて、試験シナリオ生成部14は、試験シナリオ生成完了を、差分抽出部11に対して通知する(S26)。ここで、差分抽出部11は、試験実施装置20に対して、試験シナリオの開始を要求したとする(S27)。すると、試験実施装置20は、試験シナリオに基づいて、ターゲットシステム5に対する試験を実施する(S28)。そして、試験実施装置20は、ターゲットシステム5から試験結果を受け付け、自動で試験結果を生成する(S29,S30)。 In addition, the test scenario generation unit 14 notifies the difference extraction unit 11 of the completion of the test scenario generation (S26). Here, it is assumed that the difference extraction unit 11 requests the test execution device 20 to start the test scenario (S27). Then, the test execution device 20 performs a test on the target system 5 based on the test scenario (S28). Then, the test executing device 20 receives the test result from the target system 5 and automatically generates the test result (S29, S30).

試験端末3が、何らかのタイミングで、自動で生成された試験結果を、試験実施装置20から取得する(S31,S32)。そして、試験端末3は、取得した試験結果を確認する(S33)。 The test terminal 3 acquires the automatically generated test result from the test executing device 20 at some timing (S31, S32). Then, the test terminal 3 confirms the acquired test result (S33).

[試験パターン抽出処理のフローチャートの一例]
図11は、実施例1に係る試験パターン抽出処理のフローチャートの一例を示す図である。なお、差分抽出部11が、差分となる警報IDを試験パターン抽出部12に出力したとする。
[Example of flowchart of test pattern extraction process]
FIG. 11 is a diagram showing an example of a flowchart of the test pattern extraction process according to the first embodiment. It is assumed that the difference extraction unit 11 outputs the alarm ID to be the difference to the test pattern extraction unit 12.

図11に示すように、試験パターン抽出部12は、差分となる警報IDを取得する(S41)。試験パターン抽出部12は、取得した警報IDについて末尾の数値を除いた数列(機能ID)に対応する試験パターンを、試験パターンテーブル15から抽出する(S42)。そして、試験パターン抽出部12は、試験パターン抽出処理を終了する。 As shown in FIG. 11, the test pattern extraction unit 12 acquires an alarm ID that is a difference (S41). The test pattern extraction unit 12 extracts a test pattern corresponding to a sequence (function ID) of the acquired alarm ID excluding the numerical value at the end from the test pattern table 15 (S42). Then, the test pattern extraction unit 12 ends the test pattern extraction process.

[実施例1の効果]
このようにして、上記実施例1では、試験管理装置10は、被試験システムと整合がとれていない仕様項目を検出する。試験管理装置10は、階層構造化された機能に基づき仕様項目を分類した階層構造データから、検出した仕様項目の機能を抽出する。試験管理装置10は、機能ごとに試験に必要なシナリオのパターンを対応付けたパターンデータから、抽出した仕様項目の機能に対応するシナリオのパターンを取得する。試験管理装置10は、取得したシナリオのパターンに基づいて、検出した仕様項目の試験のシナリオを生成する。かかる構成によれば、試験管理装置10は、被試験(ターゲット)システムの仕様が変更されたときに、試験シナリオの作成の工数を削減することができる。
[Effect of Example 1]
In this way, in the first embodiment, the test management device 10 detects the specification items that are not consistent with the system under test. The test management device 10 extracts the functions of the detected specification items from the hierarchical structure data in which the specification items are classified based on the hierarchically structured functions. The test management device 10 acquires a scenario pattern corresponding to the function of the extracted specification item from the pattern data associated with the scenario pattern required for the test for each function. The test management device 10 generates a test scenario of the detected specification item based on the acquired scenario pattern. According to such a configuration, the test management device 10 can reduce the man-hours for creating a test scenario when the specifications of the test (target) system are changed.

また、上記実施例1では、仕様項目は、階層構造化された機能を示す識別子と、当該機能の中で一意に表すことが可能な識別子とから規定される。これにより、試験管理装置10は、変更された仕様項目を機能により特定できるので、機能に応じた試験シナリオの作成を自動的に行うことが可能となる。また、試験管理装置10は、階層構造化された機能に基づき表わした仕様項目を用いることで、仕様項目の機能分類を一目で把握させることができる。 Further, in the first embodiment, the specification item is defined by an identifier indicating a hierarchically structured function and an identifier that can be uniquely represented within the function. As a result, the test management device 10 can specify the changed specification item by the function, so that the test scenario can be automatically created according to the function. Further, the test management device 10 can grasp the functional classification of the specification items at a glance by using the specification items represented based on the hierarchically structured functions.

また、上記実施例1では、試験管理装置10は、被試験システムに記憶された階層構造データと、試験を実施する装置に記憶された階層構造データとを照合し、整合がとれていない仕様項目を検出する。かかる構成によれば、試験管理装置10は、変更された仕様項目を容易に把握することができる。 Further, in the first embodiment, the test management device 10 collates the hierarchical structure data stored in the system under test with the hierarchical structure data stored in the device for performing the test, and the specification items are not matched. Is detected. According to such a configuration, the test management device 10 can easily grasp the changed specification items.

また、上記実施例1では、試験管理装置10は、シナリオのパターンから得られるシナリオのテンプレートと、仕様項目の項目名とから仕様項目の試験のシナリオを生成する。かかる構成によれば、試験管理装置10は、変更された仕様項目の試験のシナリオを自動的に生成できる。 Further, in the first embodiment, the test management device 10 generates a scenario for testing the specification item from the template of the scenario obtained from the pattern of the scenario and the item name of the specification item. According to such a configuration, the test management device 10 can automatically generate a test scenario of the changed specification item.

ところで、実施例1では、試験システム1が、ターゲットシステム5と整合がとれていない差分となる警報IDを抽出し、抽出した警報IDの機能を示す機能IDを用いて試験パターンを抽出すると説明した。しかしながら、試験システム1は、これに限定されず、差分となる警報IDの機能を示す機能IDを用いて試験パターンを抽出できない場合には、試験端末3に対して試験パターンの見直しについて警告しても良い。 By the way, in Example 1, it has been described that the test system 1 extracts an alarm ID that is inconsistent with the target system 5, and extracts a test pattern using a function ID indicating the function of the extracted alarm ID. .. However, the test system 1 is not limited to this, and if the test pattern cannot be extracted using the function ID indicating the function of the alarm ID that is the difference, the test system 1 warns the test terminal 3 about the review of the test pattern. Is also good.

そこで、実施例2では、試験システム1の差分抽出部11が、差分となる警報IDの機能を示す機能IDを用いて試験パターンを抽出できない場合には、試験端末3に対して試験パターンの見直しについて警告する場合について説明する。 Therefore, in the second embodiment, when the difference extraction unit 11 of the test system 1 cannot extract the test pattern by using the function ID indicating the function of the alarm ID which is the difference, the test pattern is reviewed for the test terminal 3. This section describes the case of warning about.

差分抽出部11は、ターゲットシステム5と整合がとれていない仕様項目の差分を抽出する。例えば、差分抽出部11は、ターゲットシステム5から警報定義ファイル51を読み出す。また、差分抽出部11は、試験実施装置20から警報定義ファイル21を読み出す。そして、差分抽出部11は、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51と、試験実施装置20から読み出された警報定義ファイル21とを比較して、差分をチェックする。 The difference extraction unit 11 extracts the differences of the specification items that are not consistent with the target system 5. For example, the difference extraction unit 11 reads the alarm definition file 51 from the target system 5. Further, the difference extraction unit 11 reads the alarm definition file 21 from the test execution device 20. Then, the difference extraction unit 11 compares the alarm definition file 51 read from the target system 5 with the alarm definition file 21 read from the test execution device 20 to check the difference.

加えて、差分抽出部11は、差分があれば、差分となる警報IDの差分のレベルをさらに抽出する。例えば、差分抽出部11は、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51を参照して、差分となる警報IDについて末尾から他の警報IDとの重複があるかをチェックする。 In addition, if there is a difference, the difference extraction unit 11 further extracts the difference level of the alarm ID that becomes the difference. For example, the difference extraction unit 11 refers to the alarm definition file 51 read from the target system 5 and checks whether the alarm ID to be the difference overlaps with other alarm IDs from the end.

そして、差分抽出部11は、末尾のみ一致していない場合には、その後の処理を継続すべく、差分となる警報IDを試験パターン抽出部12に出力する。これは、同じ機能レベルの機能IDが存在するため、試験パターンテーブル15の試験パターンを見直す必要がないからである。また、差分抽出部11は、末尾二桁目までが一致していない(が、末尾三桁目までは一致する)場合には、追加された機能の試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知する。これは、追加された機能について、既存の試験パターンとの対応が必要であるか否かを見直す必要があるからである。また、差分抽出部11は、末尾三桁までが一致していない(が、末尾四桁目までは一致する)場合には、追加された機能のみならず全体的な試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知する。これは、新たな機能レベルに対応する試験パターンの追加が必要であると考えられるからである。 Then, when the difference extraction unit 11 does not match only at the end, the difference extraction unit 11 outputs an alarm ID as a difference to the test pattern extraction unit 12 in order to continue the subsequent processing. This is because there is no need to review the test pattern of the test pattern table 15 because the function IDs of the same function level exist. Further, when the difference extraction unit 11 does not match up to the last two digits (but matches up to the last third digit), the test terminal indicates that the test pattern of the added function needs to be reviewed. Notify 3. This is because it is necessary to review whether or not the added function needs to correspond to the existing test pattern. Further, when the difference extraction unit 11 does not match up to the last three digits (but matches up to the last four digits), it is necessary to review not only the added function but also the overall test pattern. Notify the test terminal 3 to that effect. This is because it is considered necessary to add test patterns corresponding to new functional levels.

[差分抽出の一例]
図12は、実施例2に係る差分抽出の一例を示す図である。図12に示すように、試験システム1から読み出された警報定義ファイル21と、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51とが、表わされている。なお、警報IDは、固定の桁数を有しているとする。
[Example of difference extraction]
FIG. 12 is a diagram showing an example of difference extraction according to the second embodiment. As shown in FIG. 12, the alarm definition file 21 read from the test system 1 and the alarm definition file 51 read from the target system 5 are represented. It is assumed that the alarm ID has a fixed number of digits.

差分抽出部11は、試験システム1から読み出された警報定義ファイル21と、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51とを比較して、差分を抽出する。ここでは、差分として「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.3.1.4」の警報IDが抽出されている。この警報IDの警報名は、「manualSw」である。また、差分として「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.3.2」の警報IDが抽出されている。この警報IDの警報名は、「Group−ELP」である。また、差分として「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.4」の警報IDが抽出されている。この警報IDの警報名は、「EQPT」である。 The difference extraction unit 11 compares the alarm definition file 21 read from the test system 1 with the alarm definition file 51 read from the target system 5, and extracts the difference. Here, the alarm ID of "1.2.3.4.5.6.789 ... 1.3.1.1.3.1.4" is extracted as the difference. The alarm name of this alarm ID is "manualSw". In addition, the alarm ID of "1.2.3.4.5.6.789 ... 1.3.1.1.3.2" is extracted as the difference. The alarm name of this alarm ID is "Group-ELP". In addition, the alarm ID of "1.2.3.4.5.6.789 ... 1.3.1.1.4" is extracted as the difference. The alarm name of this alarm ID is "EQPT".

加えて、差分抽出部11は、差分となる警報IDについて末尾から他の警報IDとの重複があるかをチェックする。一例として、差分となる警報IDが「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.3.1.4」である場合には、他の警報IDと末尾の「4」のみが一致していない。このため、差分抽出部11は、差分となる警報IDを試験パターン抽出部12に出力する。 In addition, the difference extraction unit 11 checks whether the alarm ID that is the difference overlaps with other alarm IDs from the end. As an example, when the alarm ID to be the difference is "1.2.3.4.5.6.789 ... 1.3.1.1.3.1.4", only the "4" at the end does not match the other alarm IDs. Therefore, the difference extraction unit 11 outputs the alarm ID, which is the difference, to the test pattern extraction unit 12.

別の例として、差分となる警報IDが「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.3.2」である場合には、他の警報IDと末尾二桁「2 」までが一致していない。このため、差分抽出部11は、追加された機能の試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知する。 As another example, when the alarm ID to be the difference is "1.2.3.4.5.6.789 ... 1.3.1.1.3.2", the last two digits "2" do not match with the other alarm IDs. Therefore, the difference extraction unit 11 notifies the test terminal 3 that the test pattern of the added function needs to be reviewed.

別の例として、差分となる警報IDが「1.2.3.4.5.6.789…1.3.1.1.4」である場合には、他の警報IDと末尾三桁「4 」までが一致していない。このため、差分抽出部11は、追加された機能のみならず全体的な試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知する。 As another example, when the alarm ID to be the difference is "1.2.3.4.5.6.789 ... 1.3.1.1.4", the last three digits "4" do not match with the other alarm IDs. Therefore, the difference extraction unit 11 notifies the test terminal 3 that not only the added function but also the overall test pattern needs to be reviewed.

[シナリオ生成処理のシーケンスの一例]
図13は、実施例2に係るシナリオ生成処理のシーケンスの一例を示す図である。なお、図13に示す試験実施機能は、試験実施装置20に対応する。試験管理機能は、試験管理装置10に対応する。また、実施例2に係るシナリオ生成処理のシーケンスのS11〜S16は、実施例1に係るシナリオ生成処理のシーケンスと同じであるので、同一符号で表わす。
[Example of scenario generation processing sequence]
FIG. 13 is a diagram showing an example of the sequence of the scenario generation process according to the second embodiment. The test execution function shown in FIG. 13 corresponds to the test execution device 20. The test management function corresponds to the test management device 10. Further, since S11 to S16 of the scenario generation processing sequence according to the second embodiment are the same as the scenario generation processing sequence according to the first embodiment, they are represented by the same reference numerals.

図13に示すように、試験端末3は、試験開始を試験システム1に通知する(S11)。試験システム1では、試験開始を受け付けた差分抽出部11が、ターゲットシステム5から警報定義ファイル51を読み出す(S12,S13)。また、差分抽出部11は、試験実施装置20から警報定義ファイル21を読み出す(S14,S15)。 As shown in FIG. 13, the test terminal 3 notifies the test system 1 of the start of the test (S11). In the test system 1, the difference extraction unit 11 that has received the start of the test reads out the alarm definition file 51 from the target system 5 (S12, S13). Further, the difference extraction unit 11 reads out the alarm definition file 21 from the test execution device 20 (S14, S15).

差分抽出部11は、ターゲットシステム5から読み出された警報定義ファイル51と、試験実施装置20から読み出された警報定義ファイル21との差分をチェックする(S16)。そして、差分抽出部11は、チェックの結果、差分がある場合には、差分となる警報IDを用いて警報定義ファイル51を探索する(S51)。すなわち、差分抽出部11は、差分となる警報IDについて末尾から他の警報IDとの重複があるかをチェックする。 The difference extraction unit 11 checks the difference between the alarm definition file 51 read from the target system 5 and the alarm definition file 21 read from the test execution device 20 (S16). Then, if there is a difference as a result of the check, the difference extraction unit 11 searches for the alarm definition file 51 using the alarm ID that is the difference (S51). That is, the difference extraction unit 11 checks whether the alarm IDs that are the differences overlap with other alarm IDs from the end.

一例として、差分抽出部11は、チェックの結果、差分となる警報IDについて末尾二桁目まで一致する他の警報IDはない(が、末尾三桁目までは一致する他の警報IDが存在する)場合には、以下の処理を行う。差分抽出部11は、差分となる警報IDについて、試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知する(S52)。そして、差分抽出部11は、終了する。 As an example, as a result of the check, the difference extraction unit 11 has no other alarm ID that matches up to the last two digits of the alarm ID that is the difference (although there is another alarm ID that matches up to the last third digit). ) In that case, perform the following processing. The difference extraction unit 11 notifies the test terminal 3 that the test pattern needs to be reviewed for the alarm ID that is the difference (S52). Then, the difference extraction unit 11 ends.

別の例として、差分抽出部11は、チェックの結果、差分となる警報IDについて末尾三桁目まで一致する他の警報IDはない(が、末尾四桁目までは一致する他の警報IDが存在する)場合には、以下の処理を行う。差分抽出部11は、全体的な試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知する(S53)。そして、差分抽出部11は、終了する。 As another example, as a result of the check, the difference extraction unit 11 has no other alarm IDs that match up to the last three digits of the alarm ID that is the difference (although there are other alarm IDs that match up to the last four digits). If it exists), perform the following processing. The difference extraction unit 11 notifies the test terminal 3 that the overall test pattern needs to be reviewed (S53). Then, the difference extraction unit 11 ends.

[差分抽出処理のフローチャート]
図14は、実施例2に係る差分抽出処理のフローチャートの一例を示す図である。なお、警報IDは、固定の桁数を有しているとする。
[Flowchart of difference extraction process]
FIG. 14 is a diagram showing an example of a flowchart of the difference extraction process according to the second embodiment. It is assumed that the alarm ID has a fixed number of digits.

図14に示すように、差分抽出部11は、差分となる警報IDを抽出する(S61)。差分抽出部11は、抽出した警報IDについて末尾から他の警報IDとの重複があるかをチェックする(S62)。差分抽出部11は、末尾の数値のみが一致なしであるか否かを判定する(S63)。末尾の数値のみが一致なしであると判定した場合には(S63;Yes)、差分抽出部11は、その後の処理を継続すべく、差分抽出処理を終了する。これは、同じ機能レベルの機能IDが存在するため、試験パターンテーブル15の試験パターンを見直す必要がないからである。 As shown in FIG. 14, the difference extraction unit 11 extracts the alarm ID to be the difference (S61). The difference extraction unit 11 checks whether the extracted alarm IDs overlap with other alarm IDs from the end (S62). The difference extraction unit 11 determines whether or not only the last numerical value does not match (S63). If it is determined that only the last numerical value does not match (S63; Yes), the difference extraction unit 11 ends the difference extraction process in order to continue the subsequent process. This is because there is no need to review the test pattern of the test pattern table 15 because the function IDs of the same function level exist.

一方、末尾の数値以外でも一致なしであると判定した場合には(S63;No)、差分抽出部11は、末尾から一つ遡った桁(末尾二桁目)までが一致なしであるか否かを判定する(S64)。末尾から一つ遡った桁(末尾二桁目)までが一致なしであると判定した場合には(S64;Yes)、差分抽出部11は、該当機能の試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知する(S65)。これは、追加された機能について、既存の試験パターンとの対応が必要であるか否かを見直す必要があるからである。そして、差分抽出部11は、差分抽出処理を終了する。 On the other hand, when it is determined that there is no match other than the numerical value at the end (S63; No), the difference extraction unit 11 determines whether or not there is no match up to the digit one step back from the end (the second digit at the end). Is determined (S64). When it is determined that there is no match up to the digit one step back from the end (the second digit at the end) (S64; Yes), the difference extraction unit 11 tests that the test pattern of the corresponding function needs to be reviewed. Notify the terminal 3 (S65). This is because it is necessary to review whether or not the added function needs to correspond to the existing test pattern. Then, the difference extraction unit 11 ends the difference extraction process.

一方、末尾から一つ遡った桁(末尾二桁目)以外でも一致なしであると判定した場合には(S64;No)、差分抽出部11は、末尾からさらに一つ遡った桁(末尾三桁目)までが一致なしであるか否かを判定する(S66)。末尾からさらに一つ遡った桁(末尾三桁目)までが一致なしであると判定した場合には(S66;Yes)。差分抽出部11は、全体的な試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知する(S67)。これは、新たな機能レベルに対応する試験パターンの追加が必要であると考えられるからである。そして、差分抽出部11は、差分抽出処理を終了する。 On the other hand, if it is determined that there is no match other than the digit one traced back from the end (second last digit) (S64; No), the difference extraction unit 11 further traces one digit from the end (three at the end). It is determined whether or not there is no match up to the digit) (S66). When it is determined that there is no match up to the digit further traced back from the end (the third digit at the end) (S66; Yes). The difference extraction unit 11 notifies the test terminal 3 that the overall test pattern needs to be reviewed (S67). This is because it is considered necessary to add test patterns corresponding to new functional levels. Then, the difference extraction unit 11 ends the difference extraction process.

一方、末尾からさらに一つ遡った桁(末尾三桁目)以外でも一致なしであると判定した場合には(S66;No)。差分抽出部11は、エラーを試験端末3に通知する(S68)。なお、かかる場合には、差分抽出部11は、例えば、警報IDおよび全体的な試験パターンの見直しが必要な旨を試験端末3に通知しても良い。そして、差分抽出部11は、差分抽出処理を終了する。 On the other hand, when it is determined that there is no match other than the digit further traced back from the end (the third digit at the end), (S66; No). The difference extraction unit 11 notifies the test terminal 3 of the error (S68). In such a case, the difference extraction unit 11 may notify the test terminal 3, for example, that the alarm ID and the overall test pattern need to be reviewed. Then, the difference extraction unit 11 ends the difference extraction process.

[実施例2の効果]
このようにして、上記実施例2では、試験管理装置10は、検出した仕様項目の機能について、階層構造データ(警報定義ファイル51)に含まれる他の仕様項目の機能との不一致の度合いに基づいて、試験パターンテーブル15の更新の必要性を通知する。かかる構成によれば、試験管理装置10は、差分のある仕様項目の機能を用いて、試験パターンの更新の要否の見直しを促すことができる。
[Effect of Example 2]
In this way, in the second embodiment, the test management device 10 is based on the degree of inconsistency between the detected functions of the specification items and the functions of the other specification items included in the hierarchical structure data (alarm definition file 51). The test pattern table 15 needs to be updated. According to such a configuration, the test management device 10 can urge the review of the necessity of updating the test pattern by using the function of the specification item having a difference.

[その他]
なお、実施例1,2に係る警報IDは、例えば、階層構造に基づき定義される機能を示す数列と機能の中での具体的な警報を特定する数値とから規定されると説明した。しかしながら、警報IDは、数値に限定されず、文字を用いても良い。例えば、警報IDは、階層構造に基づき定義される機能を示す文字列と機能の中での具体的な警報を特定する文字とから規定されても良い。すなわち、警報IDは、階層構造化された機能を示す識別子と、当該機能の中で一意に表すことが可能な識別子とから規定されれば良い。
[others]
It was explained that the alarm ID according to the first and second embodiments is defined by, for example, a sequence indicating a function defined based on a hierarchical structure and a numerical value specifying a specific alarm in the function. However, the alarm ID is not limited to a numerical value, and characters may be used. For example, the alarm ID may be defined by a character string indicating a function defined based on a hierarchical structure and a character specifying a specific alarm in the function. That is, the alarm ID may be defined from an identifier indicating a hierarchically structured function and an identifier that can be uniquely represented within the function.

また、実施例1,2では、試験管理装置10が、機能を階層構造で表現することができる警報IDについて、試験シナリオを生成する場合を説明した。しかしながら、試験管理装置10は、警報IDに限定されず、機能を階層構造で表現することができる試験項目について、試験シナリオの生成を適用しても良い。また、試験管理装置10は、階層構造で表現することができるインタフェースMIB(Management Information Base)について、試験シナリオの生成を適用しても良い。 Further, in Examples 1 and 2, a case where the test management device 10 generates a test scenario for an alarm ID capable of expressing a function in a hierarchical structure has been described. However, the test management device 10 is not limited to the alarm ID, and the generation of the test scenario may be applied to the test items whose functions can be expressed in a hierarchical structure. Further, the test management device 10 may apply the generation of a test scenario to the interface MIB (Management Information Base) that can be represented by a hierarchical structure.

また、図示した試験システム1の各装置の各構成要素は、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的態様は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。差分抽出部11と試験パターン抽出部12とを1つの部として統合しても良い。また、試験パターンテーブル15および試験テンプレートDB16を記憶する記憶部を試験管理装置10の外部装置としてネットワーク経由で接続するようにしても良い。警報定義ファイル21を記憶する記憶部を試験実施装置20の外部装置としてネットワーク経由で接続するようにしても良い。 Further, each component of each device of the illustrated test system 1 does not necessarily have to be physically configured as shown in the figure. That is, the specific modes of distribution / integration of each device are not limited to those shown in the figure, and all or part of them may be functionally or physically distributed / physically in arbitrary units according to various loads and usage conditions. Can be integrated and configured. The difference extraction unit 11 and the test pattern extraction unit 12 may be integrated as one unit. Further, the storage unit that stores the test pattern table 15 and the test template DB 16 may be connected via a network as an external device of the test management device 10. The storage unit that stores the alarm definition file 21 may be connected via a network as an external device of the test execution device 20.

また、上記実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、図3に示した試験管理装置10と同様の機能を実現するシナリオ生成プログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図15は、シナリオ生成プログラムを実行するコンピュータの一例を示す図である。 Further, the various processes described in the above embodiment can be realized by executing a program prepared in advance on a computer such as a personal computer or a workstation. Therefore, in the following, an example of a computer that executes a scenario generation program that realizes the same functions as the test management device 10 shown in FIG. 3 will be described. FIG. 15 is a diagram showing an example of a computer that executes a scenario generation program.

図15に示すように、コンピュータ200は、各種演算処理を実行するCPU203と、ユーザからのデータの入力を受け付ける入力装置215と、表示装置209を制御する表示制御部207とを有する。また、コンピュータ200は、記憶媒体からプログラムなどを読取るドライブ装置213と、ネットワークを介して他のコンピュータとの間でデータの授受を行う通信制御部217とを有する。また、コンピュータ200は、各種情報を一時記憶するメモリ201と、HDD(Hard Disk Drive)205を有する。そして、メモリ201、CPU203、HDD205、表示制御部207、ドライブ装置213、入力装置215、通信制御部217は、バス219で接続されている。 As shown in FIG. 15, the computer 200 has a CPU 203 that executes various arithmetic processes, an input device 215 that receives data input from a user, and a display control unit 207 that controls the display device 209. Further, the computer 200 has a drive device 213 for reading a program or the like from a storage medium, and a communication control unit 217 for exchanging data with another computer via a network. Further, the computer 200 has a memory 201 for temporarily storing various information and an HDD (Hard Disk Drive) 205. The memory 201, CPU 203, HDD 205, display control unit 207, drive device 213, input device 215, and communication control unit 217 are connected by a bus 219.

ドライブ装置213は、例えばリムーバブルディスク211用の装置である。HDD205は、シナリオ生成プログラム205aおよびシナリオ生成処理関連情報205bを記憶する。 The drive device 213 is, for example, a device for the removable disk 211. The HDD 205 stores the scenario generation program 205a and the scenario generation processing-related information 205b.

CPU203は、シナリオ生成プログラム205aを読み出して、メモリ201に展開し、プロセスとして実行する。かかるプロセスは試験管理装置10の各機能部に対応する。シナリオ生成処理関連情報205bは、試験パターンテーブル15および試験テンプレートDB16などに対応する。そして、例えばリムーバブルディスク211が、シナリオ生成プログラム205aなどの各情報を記憶する。 The CPU 203 reads the scenario generation program 205a, expands it into the memory 201, and executes it as a process. Such a process corresponds to each functional part of the test management device 10. The scenario generation processing related information 205b corresponds to the test pattern table 15, the test template DB 16, and the like. Then, for example, the removable disk 211 stores each information such as the scenario generation program 205a.

なお、シナリオ生成プログラム205aについては、必ずしも最初からHDD205に記憶させておかなくても良い。例えば、コンピュータ200に挿入されるフレキシブルディスク(FD)、CD−ROM、DVDディスク、光磁気ディスク、ICカードなどの「可搬用の物理媒体」に当該プログラムを記憶させておく。そして、コンピュータ200がこれらからシナリオ生成プログラム205aを読み出して実行するようにしても良い。 The scenario generation program 205a does not necessarily have to be stored in the HDD 205 from the beginning. For example, the program is stored in a "portable physical medium" such as a flexible disk (FD), a CD-ROM, a DVD disk, a magneto-optical disk, or an IC card inserted in the computer 200. Then, the computer 200 may read the scenario generation program 205a from these and execute it.

1 試験システム
10 試験管理装置
11 差分抽出部
12 試験パターン抽出部
13 試験テンプレート取得部
14 試験シナリオ生成部
15 試験パターンテーブル
16 試験テンプレートDB
20 試験実施装置
21 警報定義ファイル
3 試験端末
5 ターゲットシステム
51 警報定義ファイル
1 Test system 10 Test management device 11 Difference extraction unit 12 Test pattern extraction unit 13 Test template acquisition unit 14 Test scenario generation unit 15 Test pattern table 16 Test template DB
20 Test execution device 21 Alarm definition file 3 Test terminal 5 Target system 51 Alarm definition file

Claims (8)

被試験システムと整合がとれていない仕様項目を検出し、
階層構造化された機能に基づき仕様項目を分類した階層構造データから、検出した仕様項目の機能を抽出し、
機能ごとに試験に必要なシナリオのパターンを対応付けたパターンデータから、抽出した仕様項目の機能に対応するシナリオのパターンを取得し、
取得したシナリオのパターンに基づいて、検出した仕様項目の試験のシナリオを生成する
処理をコンピュータに実行させることを特徴とするシナリオ生成プログラム。
Detects specification items that are inconsistent with the system under test,
The detected function of the specification item is extracted from the hierarchical structure data in which the specification item is classified based on the hierarchically structured function.
Obtain the scenario pattern corresponding to the extracted specification item function from the pattern data associated with the scenario pattern required for the test for each function.
A scenario generation program characterized by having a computer execute a process of generating a test scenario of a detected specification item based on the acquired scenario pattern.
前記仕様項目は、階層構造化された機能を示す識別子と、当該機能の中で一意に表すことが可能な識別子とから規定される
ことを特徴とする請求項1に記載のシナリオ生成プログラム。
The scenario generation program according to claim 1, wherein the specification item is defined by an identifier indicating a hierarchically structured function and an identifier that can be uniquely represented within the function.
前記仕様項目を検出する処理は、前記被試験システムに記憶された前記階層構造データと、試験を実施する装置に記憶された前記階層構造データとを照合し、整合がとれていない仕様項目を検出する
ことを特徴とする請求項1に記載のシナリオ生成プログラム。
In the process of detecting the specification items, the hierarchical structure data stored in the system under test is collated with the hierarchical structure data stored in the apparatus for performing the test, and the inconsistent specification items are detected. The scenario generation program according to claim 1, wherein the scenario is generated.
前記仕様項目の試験のシナリオを生成する処理は、前記シナリオのパターンから得られるシナリオのテンプレートと、前記仕様項目の項目名とから前記仕様項目の試験のシナリオを生成する
ことを特徴とする請求項1に記載のシナリオ生成プログラム。
The process of generating the test scenario of the specification item is characterized in that the scenario of the test of the specification item is generated from the template of the scenario obtained from the pattern of the scenario and the item name of the specification item. The scenario generation program according to 1.
前記仕様項目を検出する処理は、さらに、検出した仕様項目の機能について、前記被試験システムに記憶された前記階層構造データに含まれる他の仕様項目の機能との不一致の度合いに基づいて、前記パターンデータの更新の必要性を通知する
ことを特徴とする請求項3に記載のシナリオ生成プログラム。
The process of detecting the specification item further describes the function of the detected specification item based on the degree of discrepancy between the function of the detected specification item and the function of the other specification item included in the hierarchical structure data stored in the test system. The scenario generation program according to claim 3, further comprising notifying the necessity of updating the pattern data.
被試験システムと整合がとれていない仕様項目を検出する検出部と、
階層構造化された機能に基づき仕様項目を分類した階層構造データから、前記検出部によって検出された仕様項目の機能を抽出する抽出部と、
機能ごとに試験に必要なシナリオのパターンを対応付けたパターンデータから、前記抽出部によって抽出された仕様項目の機能に対応するシナリオのパターンを取得する取得部と、
前記取得部によって取得されたシナリオのパターンに基づいて、検出した仕様項目の試験のシナリオを生成する生成部と、
を有することを特徴とする試験管理装置。
A detector that detects specification items that are inconsistent with the system under test,
An extraction unit that extracts the functions of the specification items detected by the detection unit from the hierarchical structure data that classifies the specification items based on the hierarchically structured functions.
An acquisition unit that acquires a scenario pattern corresponding to the function of the specification item extracted by the extraction unit from the pattern data associated with the scenario pattern required for the test for each function, and an acquisition unit.
A generation unit that generates a test scenario for the detected specification items based on the scenario pattern acquired by the acquisition unit, and a generation unit.
A test management device characterized by having.
被試験システムと整合がとれていない仕様項目を検出し、
階層構造化された機能に基づき仕様項目を分類した階層構造データから、検出した仕様項目の機能を抽出し、
機能ごとに試験に必要なシナリオのパターンを対応付けたパターンデータから、抽出した仕様項目の機能に対応するシナリオのパターンを取得し、
取得したシナリオのパターンに基づいて、検出した仕様項目の試験のシナリオを生成する
処理をコンピュータが実行することを特徴とするシナリオ生成方法。
Detects specification items that are inconsistent with the system under test,
The detected function of the specification item is extracted from the hierarchical structure data in which the specification item is classified based on the hierarchically structured function.
Obtain the scenario pattern corresponding to the extracted specification item function from the pattern data associated with the scenario pattern required for the test for each function.
A scenario generation method characterized in that a computer executes a process of generating a test scenario of a detected specification item based on the acquired scenario pattern.
試験システムと、被試験システムとを有するシステムであって、
前記被試験システムは、
階層構造化された機能に基づき仕様項目を分類した第1の階層構造データを記憶する記憶部を有し、
前記試験システムは、
階層構造化された機能に基づき仕様項目を分類した第2の階層構造データを記憶する記憶部と、
前記被試験システムに記憶された前記第1の階層構造データと、前記記憶部に記憶された前記第2の階層構造データと、を照合し、整合がとれていない仕様項目を検出する検出部と、
前記被試験システムに記憶された前記第1の階層構造データから、前記検出部によって検出された仕様項目の機能を抽出する抽出部と、
機能ごとに試験に必要なシナリオのパターンを対応付けたパターンデータから、前記抽出部によって抽出された仕様項目の機能に対応するシナリオのパターンを取得する取得部と、
前記取得部によって取得されたシナリオのパターンに基づいて、検出された仕様項目の試験のシナリオを生成する生成部と、
を有することを特徴とするシステム。
A system having a test system and a system under test,
The system under test is
It has a storage unit that stores the first hierarchical structure data in which specification items are classified based on the hierarchically structured function.
The test system is
A storage unit that stores second hierarchical structure data that classifies specification items based on hierarchically structured functions, and
A detection unit that collates the first hierarchical structure data stored in the test system with the second hierarchical structure data stored in the storage unit and detects inconsistent specification items. ,
An extraction unit that extracts the function of the specification item detected by the detection unit from the first hierarchical structure data stored in the test system, and an extraction unit.
An acquisition unit that acquires a scenario pattern corresponding to the function of the specification item extracted by the extraction unit from the pattern data associated with the scenario pattern required for the test for each function, and an acquisition unit.
A generation unit that generates a test scenario for the detected specification items based on the scenario pattern acquired by the acquisition unit, and a generation unit.
A system characterized by having.
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