JP2021153138A - Upper electrode assembly and substrate processing device - Google Patents

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悦治 伊藤
Etsuji Ito
悦治 伊藤
直一 古谷
Naoichi Furuya
直一 古谷
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Abstract

To provide an upper electrode assembly and a substrate processing device for improving maintainability.SOLUTION: An upper electrode assembly includes: an upper electrode; a protective member covering the upper electrode; and a fixing member fixing the protective member to the upper electrode by an elastic force of the elastic member.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本開示は、上部電極アセンブリ及び基板処理装置に関する。 The present disclosure relates to an upper electrode assembly and a substrate processing apparatus.

特許文献1には、下端が開放された中空状のシャワーヘッド本体と、シャワーヘッド本体の下端の開放部を閉じるように設けられるシャワーヘッド蓋体と、シャワーヘッド本体の下端部に設けられて前記シャワーヘッド蓋体を保持するカラー部材と、を備え、カラー部材は、シャワーヘッド本体の下端部にボルトにより固定される、熱処理装置のシャワーヘッド構造が開示されている。 Patent Document 1 describes a hollow shower head body having an open lower end, a shower head lid provided so as to close the open portion at the lower end of the shower head body, and a shower head lid provided at the lower end of the shower head body. A shower head structure of a heat treatment apparatus is disclosed, which includes a collar member for holding a shower head lid, and the collar member is fixed to a lower end of a shower head body with a bolt.

特開平11−111626号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 11-11626

一の側面では、本開示は、メンテナンス性を向上する上部電極アセンブリ及び基板処理装置を提供する。 On one side, the present disclosure provides top electrode assemblies and substrate processing devices that improve maintainability.

上記課題を解決するために、一の態様によれば、上部電極と、前記上部電極を覆う保護部材と、伸縮性部材の弾性力により、前記保護部材を前記上部電極に固定する固定部材と、を備える、上部電極アセンブリが提供される。 In order to solve the above problems, according to one embodiment, an upper electrode, a protective member that covers the upper electrode, and a fixing member that fixes the protective member to the upper electrode by the elastic force of the elastic member. An upper electrode assembly is provided.

一の側面によれば、メンテナンス性を向上する上部電極アセンブリ及び基板処理装置を提供することができる。 According to one aspect, it is possible to provide an upper electrode assembly and a substrate processing apparatus that improve maintainability.

本実施形態に係る基板処理装置の構成を示す概略断面図。The schematic cross-sectional view which shows the structure of the substrate processing apparatus which concerns on this embodiment. 上部電極アセンブリの一例の底面図。Bottom view of an example of an upper electrode assembly. 固定部材の一例の分解斜視図。An exploded perspective view of an example of a fixing member. 他の方向から見たフック部材の一例の斜視図。A perspective view of an example of a hook member viewed from another direction. 第1状態の固定部材の一例の斜視図。The perspective view of an example of the fixing member of the 1st state. 第2状態の固定部材の一例の斜視図。The perspective view of an example of the fixing member of the 2nd state. 第3状態の固定部材の一例の斜視図。The perspective view of an example of the fixing member of the 3rd state.

以下、図面を参照して本開示を実施するための形態について説明する。各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を省略する場合がある。 Hereinafter, embodiments for carrying out the present disclosure will be described with reference to the drawings. In each drawing, the same components may be designated by the same reference numerals and duplicate description may be omitted.

[基板処理装置]
図1は、本実施形態に係る基板処理装置100の構成を示す概略断面図である。基板処理装置100は、気密に構成され、電気的に接地電位とされたチャンバ1を有する。チャンバ1は、円筒形状であり、例えばアルミニウムから構成される。チャンバ1内には、基板Wを載置する載置台STが設けられている。載置台STは、基台6、下部電極4及び静電チャック5を有する。基台6及び下部電極4は、導電性の金属、例えばアルミニウムから構成される。基台6は下部電極4及び載置台STを支持する。ウエハは基板Wの一例である。
[Board processing equipment]
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the substrate processing apparatus 100 according to the present embodiment. The substrate processing apparatus 100 has a chamber 1 that is airtightly configured and has an electrically ground potential. The chamber 1 has a cylindrical shape and is made of, for example, aluminum. A mounting table ST on which the substrate W is mounted is provided in the chamber 1. The mounting base ST has a base 6, a lower electrode 4, and an electrostatic chuck 5. The base 6 and the lower electrode 4 are made of a conductive metal such as aluminum. The base 6 supports the lower electrode 4 and the mounting base ST. The wafer is an example of the substrate W.

基板Wの周囲には、例えばシリコンで形成されたエッジリング7が設けられている。エッジリング7は、フォーカスリングともいう。エッジリング7、下部電極4及び基台6の周囲には、例えば石英の円筒形状の内壁部材9aが設けられている。載置台STは、内壁部材9aと、例えば石英により形成された支持部材9とを介してチャンバ1の底部に配置される。 An edge ring 7 made of, for example, silicon is provided around the substrate W. The edge ring 7 is also referred to as a focus ring. Around the edge ring 7, the lower electrode 4, and the base 6, for example, a quartz cylindrical inner wall member 9a is provided. The mounting table ST is arranged at the bottom of the chamber 1 via an inner wall member 9a and a support member 9 formed of, for example, quartz.

静電チャック5内の電極5cは、誘電体5bの間に挟まれ、電源12と接続する。電源12から電極5cに電圧が印加されると、クーロン力により基板Wが静電チャック5に静電吸着される。 The electrode 5c in the electrostatic chuck 5 is sandwiched between the dielectrics 5b and connected to the power supply 12. When a voltage is applied from the power supply 12 to the electrode 5c, the substrate W is electrostatically attracted to the electrostatic chuck 5 by Coulomb force.

載置台STは、内部に流路2dを有する。チラーユニットから供給される熱媒体、例えば水は、入口配管2b、流路2d、出口配管2cを循環する。載置台STの内部には伝熱ガス供給路16及び共通ガス供給路17が形成されている。伝熱ガスソース19は、伝熱ガス供給路16に伝熱ガスを供給し、基板Wの下面と静電チャック5の載置面の間の空間に伝熱ガスを導入する。導入される伝熱ガスは、ヘリウム(He)ガスやアルゴン(Ar)ガス等の不活性ガスでもよい。実施形態では、ヘリウムガスを導入する例を挙げて説明する。なお、伝熱ガスだけでなくプロセスに使用するガスも適用できる。プロセスに使用するガスの一例としては、酸素ガス(O)、窒素ガス(N)が挙げられる。 The mounting table ST has a flow path 2d inside. The heat medium supplied from the chiller unit, for example, water, circulates in the inlet pipe 2b, the flow path 2d, and the outlet pipe 2c. A heat transfer gas supply path 16 and a common gas supply path 17 are formed inside the mounting table ST. The heat transfer gas source 19 supplies the heat transfer gas to the heat transfer gas supply path 16, and introduces the heat transfer gas into the space between the lower surface of the substrate W and the mounting surface of the electrostatic chuck 5. The heat transfer gas to be introduced may be an inert gas such as helium (He) gas or argon (Ar) gas. In the embodiment, an example of introducing helium gas will be described. Not only the heat transfer gas but also the gas used in the process can be applied. Examples of the gas used in the process include oxygen gas (O 2 ) and nitrogen gas (N 2 ).

載置台STには、複数、例えば3本のリフターピン13(図1では、1本のリフターピン13のみ図示)が貫通している。載置台STにはピン挿通路14が設けられる。ピン挿通路14を挿通するリフターピン13は、昇降機構62に接続され、昇降機構62の駆動により上下動する。 A plurality of, for example, three lifter pins 13 (in FIG. 1, only one lifter pin 13 is shown) penetrate the mounting table ST. The mounting table ST is provided with a pin insertion passage 14. The lifter pin 13 through which the pin insertion passage 14 is inserted is connected to the elevating mechanism 62 and moves up and down by the drive of the elevating mechanism 62.

基台には、第1の整合器11aを介して第1のRF電源10aが接続され、第2の整合器11bを介して第2のRF電源10bが接続されている。第1のRF電源10aは、所定の周波数のプラズマ発生用の高周波電力を下部電極4に印加する。第2のRF電源10bは、プラズマ発生用の高周波電力の周波数よりも低い周波数であって、イオンを引き込むためのバイアス電圧用の高周波電力を下部電極4に印加する。ただし、第2のRF電源10bから供給された高周波電力が、プラズマ発生用に用いられる場合もある。載置台STの上方には、載置台STに対向する上部電極アセンブリ3が設けられている。上部電極アセンブリ3と載置台STは、一対の電極(上部電極と下部電極)として機能する。上部電極アセンブリ3は、ガスシャワーヘッドとしても機能する。 A first RF power supply 10a is connected to the base via a first matching unit 11a, and a second RF power supply 10b is connected via a second matching unit 11b. The first RF power source 10a applies high-frequency power for generating plasma of a predetermined frequency to the lower electrode 4. The second RF power source 10b has a frequency lower than the frequency of the high frequency power for plasma generation, and applies the high frequency power for the bias voltage for attracting ions to the lower electrode 4. However, the high frequency power supplied from the second RF power supply 10b may be used for plasma generation. Above the mounting table ST, an upper electrode assembly 3 facing the mounting table ST is provided. The upper electrode assembly 3 and the mounting table ST function as a pair of electrodes (upper electrode and lower electrode). The upper electrode assembly 3 also functions as a gas shower head.

上部電極アセンブリ3は、上部電極3aと保護部材3bとを有する。上部電極アセンブリ3の周囲には上部電極アセンブリ3を支持する絶縁性の環状部材89が設けられ、上部電極アセンブリ3と環状部材89とによりチャンバ1の上部開口が閉塞される。上部電極3aは、導電性材料、例えば表面が陽極酸化処理されたアルミニウムからなり、その下部に保護部材3bを着脱自在に支持する。 The upper electrode assembly 3 has an upper electrode 3a and a protective member 3b. An insulating annular member 89 that supports the upper electrode assembly 3 is provided around the upper electrode assembly 3, and the upper opening of the chamber 1 is closed by the upper electrode assembly 3 and the annular member 89. The upper electrode 3a is made of a conductive material, for example, aluminum whose surface has been anodized, and a protective member 3b is detachably supported under the conductive material.

保護部材3bは、上部電極3aの下面に配置され、上部電極3aの下面を覆う。これにより、上部電極3aの下面は、チャンバ1内の空間(処理空間)に露出しないように保護されている。保護部材3bは、例えば、石英等で構成される。 The protective member 3b is arranged on the lower surface of the upper electrode 3a and covers the lower surface of the upper electrode 3a. As a result, the lower surface of the upper electrode 3a is protected from being exposed to the space (processing space) in the chamber 1. The protective member 3b is made of, for example, quartz or the like.

また、上部電極アセンブリ3は、保護部材3bを着脱自在に上部電極3aに固定する固定部材3cを有する。また、上部電極アセンブリ3は、固定部材3cを覆うカバー部材3dを有する。これにより、固定部材3cは、チャンバ1内の空間(処理空間)に露出しないように保護されている。カバー部材3dは、基板処理装置100の処理に応じて、例えば、石英、シリコン等から選択される。 Further, the upper electrode assembly 3 has a fixing member 3c that detachably fixes the protective member 3b to the upper electrode 3a. Further, the upper electrode assembly 3 has a cover member 3d that covers the fixing member 3c. As a result, the fixing member 3c is protected from being exposed to the space (processing space) in the chamber 1. The cover member 3d is selected from, for example, quartz, silicon, etc., depending on the processing of the substrate processing apparatus 100.

上部電極3aには、ガス拡散室3eと、ガス拡散室3eへ処理ガスを導入するためのガス導入口3hとが形成されている。ガス導入口3hには、ガス供給配管15aが接続されている。ガス供給配管15aには、ガス供給部15、マスフローコントローラ(MFC)15b及び開閉弁15c順に接続され、ガス供給配管15aを介してガス供給部15から上部電極3a内に処理ガスが供給される。開閉弁15c及びマスフローコントローラ(MFC)15bは、ガスのオン・オフ及び流量を制御する。 The upper electrode 3a is formed with a gas diffusion chamber 3e and a gas introduction port 3h for introducing the processing gas into the gas diffusion chamber 3e. A gas supply pipe 15a is connected to the gas introduction port 3h. The gas supply pipe 15a is connected to the gas supply unit 15, the mass flow controller (MFC) 15b, and the on-off valve 15c in this order, and the processing gas is supplied from the gas supply unit 15 into the upper electrode 3a via the gas supply pipe 15a. The on-off valve 15c and the mass flow controller (MFC) 15b control gas on / off and flow rate.

ガス拡散室3eの下部にはチャンバ1内に向けて多数のガス通流孔3fが形成され、保護部材3bを貫通する。ガス通流孔3fの先端はガス導入孔3gとなっている。処理ガスは、ガス拡散室3e、ガス通流孔3fを通ってガス導入孔3gからチャンバ1内にシャワー状に供給される。 A large number of gas passage holes 3f are formed in the lower part of the gas diffusion chamber 3e toward the inside of the chamber 1 and penetrate the protective member 3b. The tip of the gas flow hole 3f is a gas introduction hole 3g. The processing gas is supplied in a shower shape from the gas introduction hole 3g through the gas diffusion chamber 3e and the gas flow hole 3f into the chamber 1.

上部電極3aには、ローパスフィルタ(LPF)71を介して可変直流電源72が接続され、スイッチ73により可変直流電源72から出力される直流電圧の給電がオン・オフされる。可変直流電源72からの直流電圧ならびにスイッチ73のオン・オフは、制御部90によって制御される。第1のRF電源10a、第2のRF電源10bから高周波電力が載置台STに印加されて処理ガスがプラズマ化する際には、必要に応じて制御部90によりスイッチ73がオンされ、上部電極3aに所定の直流電圧が印加される。 A variable DC power supply 72 is connected to the upper electrode 3a via a low-pass filter (LPF) 71, and a switch 73 turns on / off the power supply of the DC voltage output from the variable DC power supply 72. The DC voltage from the variable DC power supply 72 and the on / off of the switch 73 are controlled by the control unit 90. When high-frequency power is applied to the mounting table ST from the first RF power supply 10a and the second RF power supply 10b to turn the processing gas into plasma, the control unit 90 turns on the switch 73 as necessary, and the upper electrode A predetermined DC voltage is applied to 3a.

チャンバ1の側壁から上部電極アセンブリ3の高さ位置よりも上方に延びるように円筒形状の接地導体1aが設けられている。この円筒形状の接地導体1aは、その上部に天壁を有している。 A cylindrical ground conductor 1a is provided so as to extend above the height position of the upper electrode assembly 3 from the side wall of the chamber 1. The cylindrical ground conductor 1a has a top wall above it.

チャンバ1の底部には排気口81が形成され、排気口81には排気管82を介して排気装置83が接続されている。排気装置83は真空ポンプを有し、真空ポンプを作動することによりチャンバ1内を所定の真空度まで減圧する。チャンバ1内の側壁には、基板Wの搬入出口84が設けられ、搬入出口84はゲートバルブ85により開閉可能となっている。 An exhaust port 81 is formed at the bottom of the chamber 1, and an exhaust device 83 is connected to the exhaust port 81 via an exhaust pipe 82. The exhaust device 83 has a vacuum pump, and by operating the vacuum pump, the inside of the chamber 1 is depressurized to a predetermined degree of vacuum. A carry-in outlet 84 for the substrate W is provided on the side wall in the chamber 1, and the carry-in outlet 84 can be opened and closed by a gate valve 85.

チャンバ1の側部内側には、内壁面に沿ってデポシールド86が設けられている。また、内壁部材9aに沿ってデポシールド87が着脱自在に設けられている。デポシールド86、87は、チャンバ1の内壁及び内壁部材9aにエッチング副生成物(デポ)が付着することを防止する。デポシールド86の基板Wと略同じ高さ位置には、グランドに対する電位が制御可能に接続された導電性部材(GNDブロック)88が設けられ、これにより異常放電が防止される。 A depot shield 86 is provided along the inner wall surface inside the side portion of the chamber 1. Further, a depot shield 87 is detachably provided along the inner wall member 9a. The depot shields 86 and 87 prevent the etching by-products (depots) from adhering to the inner wall and the inner wall member 9a of the chamber 1. At a position substantially the same height as the substrate W of the depot shield 86, a conductive member (GND block) 88 to which the potential with respect to the ground is connected in a controllable manner is provided, whereby abnormal discharge is prevented.

基板処理装置100は、制御部90によって統括的に制御される。制御部90には、基板処理装置100の各部を制御するプロセスコントローラ91と、ユーザインターフェース92と、記憶部93とが設けられている。 The substrate processing device 100 is collectively controlled by the control unit 90. The control unit 90 is provided with a process controller 91 that controls each unit of the substrate processing device 100, a user interface 92, and a storage unit 93.

ユーザインターフェース92は、工程管理者が基板処理装置100を管理するためにコマンドの入力操作を行うキーボードや、基板処理装置100の稼働状況を可視化して表示するディスプレイ等を有する。 The user interface 92 includes a keyboard for the process manager to input commands for managing the board processing device 100, a display for visualizing and displaying the operating status of the board processing device 100, and the like.

記憶部93には、基板処理装置100で実行される各種処理をプロセスコントローラ91に実行させる制御プログラム(ソフトウェア)や処理条件データ等が記憶されたレシピが格納されている。そして、必要に応じて、ユーザインターフェース92からの指示等にて任意のレシピを記憶部93から呼び出してプロセスコントローラ91に実行させることで、プロセスコントローラ91の制御下で、基板処理装置100にて所望の処理が行われる。また、制御プログラムや処理条件データ等のレシピは、コンピュータで読取り可能なコンピュータ記憶媒体等に格納された状態のものを利用したり、又は、他の装置から、例えば専用回線を介して随時伝送させてオンラインで使用したりすることも可能である。記憶媒体としては、例えば、ハードディスク、CD、フレキシブルディスク、半導体メモリ等が挙げられる。 The storage unit 93 stores a recipe in which a control program (software) for causing the process controller 91 to execute various processes executed by the board processing device 100, processing condition data, and the like are stored. Then, if necessary, an arbitrary recipe is called from the storage unit 93 by an instruction from the user interface 92 or the like and executed by the process controller 91, so that the substrate processing device 100 desires the recipe under the control of the process controller 91. Is processed. In addition, recipes such as control programs and processing condition data may be stored in a computer-readable computer storage medium or the like, or may be transmitted from another device at any time via, for example, a dedicated line. It is also possible to use it online. Examples of the storage medium include hard disks, CDs, flexible disks, semiconductor memories, and the like.

[上部電極アセンブリ]
次に、上部電極アセンブリ3について、図2を用いて更に説明する。図2は、上部電極アセンブリ3の一例の底面図である。なお、図2(及び、後述する図5から図7)において、上部電極アセンブリ3は、カバー部材3dを取り外した状態で図示している。
[Upper electrode assembly]
Next, the upper electrode assembly 3 will be further described with reference to FIG. FIG. 2 is a bottom view of an example of the upper electrode assembly 3. Note that, in FIG. 2 (and FIGS. 5 to 7 described later), the upper electrode assembly 3 is shown with the cover member 3d removed.

上部電極アセンブリ3は、上部電極3aと、保護部材3bと、固定部材3cと、カバー部材3d(図1参照)と、を有する。 The upper electrode assembly 3 has an upper electrode 3a, a protective member 3b, a fixing member 3c, and a cover member 3d (see FIG. 1).

保護部材3bは、天面部3b1と、掘下部3b2と、外縁部3b3と、を有する。天面部3b1には、ガス導入孔3g(図1参照。図2において図示せず。)が設けられる。掘下部3b2は、天面部3b1の外周側に円環状に設けられ、天面部3b1よりも掘り下げて形成される。掘下部3b2には、カバー部材3d(図1参照)の内周側が配置される。外縁部3b3は、掘下部3b2の外周側に円環状に設けられる。外縁部3b3には、固定部材3cによって支持される被支持部3b4が形成されている。図2に示す例において、被支持部3b4は、外縁部3b3よりも一段掘り下げて形成されている。保護部材3bは、被支持部3b4で固定部材3cによって支持される。 The protective member 3b has a top surface portion 3b1, a digging lower portion 3b2, and an outer edge portion 3b3. The top surface portion 3b1 is provided with a gas introduction hole 3g (see FIG. 1, not shown in FIG. 2). The digging lower portion 3b2 is provided in an annular shape on the outer peripheral side of the top surface portion 3b1 and is formed by digging down from the top surface portion 3b1. The inner peripheral side of the cover member 3d (see FIG. 1) is arranged in the digging lower portion 3b2. The outer edge portion 3b3 is provided in an annular shape on the outer peripheral side of the digging lower portion 3b2. A supported portion 3b4 supported by a fixing member 3c is formed on the outer edge portion 3b3. In the example shown in FIG. 2, the supported portion 3b4 is formed by digging one step further than the outer edge portion 3b3. The protective member 3b is supported by the fixed member 3c at the supported portion 3b4.

上部電極3aは、天面部3a1と、立設部3a2と、段部3a3と、外縁部3a4と、を有する。天面部3a1には、ガス通流孔3f(図1参照。図2において図示せず。)が設けられる。また、天面部3a1は、保護部材3bで覆われる。立設部3a2は、天面部3a1の外周側に円環状に設けられ、天面部3a1よりも突出して形成される。段部3a3は、立設部3a2の外周側に円環状に設けられる。段部3a3には、カバー部材3d(図1参照。図2において図示せず。)の外周側が配置される。外縁部3a4は、段部3a3の外周側に円環状に設けられる。上部電極3aは、外縁部3a4で環状部材89によって支持される。 The upper electrode 3a has a top surface portion 3a1, an upright portion 3a2, a step portion 3a3, and an outer edge portion 3a4. The top surface portion 3a1 is provided with a gas flow hole 3f (see FIG. 1, not shown in FIG. 2). Further, the top surface portion 3a1 is covered with the protective member 3b. The upright portion 3a2 is provided in an annular shape on the outer peripheral side of the top surface portion 3a1 and is formed so as to project from the top surface portion 3a1. The step portion 3a3 is provided in an annular shape on the outer peripheral side of the vertical portion 3a2. The outer peripheral side of the cover member 3d (see FIG. 1, not shown in FIG. 2) is arranged on the step portion 3a3. The outer edge portion 3a4 is provided in an annular shape on the outer peripheral side of the step portion 3a3. The upper electrode 3a is supported by the annular member 89 at the outer edge portion 3a4.

また、立設部3a2には、切欠き部3a5が形成される。切欠き部3a5には、固定部材3cが配置される。 Further, a notch portion 3a5 is formed in the upright portion 3a2. A fixing member 3c is arranged in the notch 3a5.

カバー部材3dは、保護部材3bの掘下部3b2から上部電極3aの段部3a3に渡って配置される。これにより、被支持部3b4が形成される外縁部3b3、立設部3a2、及び、切欠き部3a5に配置される固定部材3cは、カバー部材3dによって覆われる。 The cover member 3d is arranged from the digging lower portion 3b2 of the protective member 3b to the step portion 3a3 of the upper electrode 3a. As a result, the outer edge portion 3b3 on which the supported portion 3b4 is formed, the upright portion 3a2, and the fixing member 3c arranged in the notch portion 3a5 are covered with the cover member 3d.

[固定部材]
次に、固定部材3cについて、図3及び図4を用いて更に説明する。図3は、固定部材3cの一例の分解斜視図である。図4は、他の方向から見たフック部材240の一例の斜視図である。
[Fixing member]
Next, the fixing member 3c will be further described with reference to FIGS. 3 and 4. FIG. 3 is an exploded perspective view of an example of the fixing member 3c. FIG. 4 is a perspective view of an example of the hook member 240 viewed from another direction.

固定部材3cは、基部材210と、軸部材220と、バネ(伸縮性部材)230と、フック部材240と、ボルト251〜253と、を備える。 The fixing member 3c includes a base member 210, a shaft member 220, a spring (stretchable member) 230, a hook member 240, and bolts 251 to 253.

基部材210は、軸部材220の軸部221が挿通する軸穴211を有する。基部材210の裏面側の軸穴211の周囲には、バネ230を受けるバネ受け部212が形成されている。 The base member 210 has a shaft hole 211 through which the shaft portion 221 of the shaft member 220 is inserted. A spring receiving portion 212 for receiving the spring 230 is formed around the shaft hole 211 on the back surface side of the base member 210.

また、基部材210の表面側である第1面216には、フック部材240のキー244と嵌合するキー溝213が形成されている。また、基部材210の表面側には、キー244がキー溝213に嵌合した際にフック部材240の係止部245と基部材210との干渉を防ぐための逃げ部214が形成されている。また、基部材210の表面側には、フック部材240の係止部245と係合する係止部215が設けられている。 Further, a key groove 213 that fits with the key 244 of the hook member 240 is formed on the first surface 216 on the surface side of the base member 210. Further, on the surface side of the base member 210, a relief portion 214 is formed to prevent interference between the locking portion 245 of the hook member 240 and the base member 210 when the key 244 is fitted into the key groove 213. .. Further, on the surface side of the base member 210, a locking portion 215 that engages with the locking portion 245 of the hook member 240 is provided.

また、フック部材240の引き下げを容易にするために、基部材210には、第1面216よりも掘り下げられた掘り下げ部217が形成されている。 Further, in order to facilitate the pulling down of the hook member 240, the base member 210 is formed with a digging portion 217 that is dug down from the first surface 216.

基部材210は、上部電極3aに固定される。具体的には、基部材210には、貫通穴218,219が設けられている。貫通穴218,219には、ボルト252,253が挿通される。ボルト252,253が上部電極3aの切欠き部3a5に形成されたねじ穴(図示せず)と螺合することにより、基部材210が上部電極3aに固定される。 The base member 210 is fixed to the upper electrode 3a. Specifically, the base member 210 is provided with through holes 218 and 219. Bolts 252 and 253 are inserted into the through holes 218 and 219. The base member 210 is fixed to the upper electrode 3a by screwing the bolts 252 and 253 into the screw holes (not shown) formed in the notch 3a5 of the upper electrode 3a.

軸部材220は、軸部221と、フランジ部222と、を有する。軸部221は、軸穴211に挿通される。これにより、軸部材220は、軸穴211に対して、挿抜方向に移動可能、かつ、回転可能に構成されている。軸部221の一方の端部には、軸部221よりも拡径したフランジ部222が形成されている。軸部221の他方の端部には、ねじ穴223が形成され、フック部材240とボルト251で固定される。これにより、フック部材240は、基部材210に対して、上下方向に可動可能かつ、回転方向に可動可能に構成されている。 The shaft member 220 has a shaft portion 221 and a flange portion 222. The shaft portion 221 is inserted into the shaft hole 211. As a result, the shaft member 220 is configured to be movable and rotatable with respect to the shaft hole 211 in the insertion / removal direction. A flange portion 222 having a diameter larger than that of the shaft portion 221 is formed at one end of the shaft portion 221. A screw hole 223 is formed at the other end of the shaft portion 221 and is fixed by the hook member 240 and the bolt 251. As a result, the hook member 240 is configured to be movable in the vertical direction and in the rotational direction with respect to the base member 210.

バネ230は、コイルばねであり、その中心に軸部221が挿入される。バネ230は、基部材210のバネ受け部212と軸部材220のフランジ部222との間に挟まれている圧縮ばねである。これにより、バネ230は、軸部材220を持ち上げる方向(基部材210の軸穴211から軸部材220を引き抜く方向)に付勢する。即ち、バネ230は、軸部材220と固定されるフック部材240を持ち上げる方向(フック部材240を保護部材3bに向かって押し付ける方向)に付勢する。 The spring 230 is a coil spring, and the shaft portion 221 is inserted into the center thereof. The spring 230 is a compression spring sandwiched between the spring receiving portion 212 of the base member 210 and the flange portion 222 of the shaft member 220. As a result, the spring 230 is urged in the direction of lifting the shaft member 220 (the direction of pulling out the shaft member 220 from the shaft hole 211 of the base member 210). That is, the spring 230 is urged in the direction of lifting the hook member 240 fixed to the shaft member 220 (the direction of pressing the hook member 240 toward the protective member 3b).

なお、上部電極3aの切欠き部3a5には、軸部材220及びバネ230が配置される有底穴(図示せず)が設けられている。これにより、軸部材220は、上部電極3aと干渉せず、挿抜方向に移動可能、かつ、回転可能に構成されている。 The notch 3a5 of the upper electrode 3a is provided with a bottomed hole (not shown) in which the shaft member 220 and the spring 230 are arranged. As a result, the shaft member 220 is configured to be movable and rotatable in the insertion / extraction direction without interfering with the upper electrode 3a.

フック部材240は、基部241と、支持部242と、を有する。フック部材240の基部241には、ざぐり穴243が設けられている。ざぐり穴243には、ボルト251が挿通される。ボルト251が軸部材220の軸部221に形成されたねじ穴223と螺合することにより、フック部材240が軸部材220と固定される。支持部242は、ざぐり穴243の軸から離れる方向にむかって、基部241から延出して形成されている。 The hook member 240 has a base portion 241 and a support portion 242. A counterbore 243 is provided in the base 241 of the hook member 240. A bolt 251 is inserted into the counterbore 243. The hook member 240 is fixed to the shaft member 220 by screwing the bolt 251 into the screw hole 223 formed in the shaft portion 221 of the shaft member 220. The support portion 242 is formed so as to extend from the base portion 241 toward the direction away from the axis of the counterbore 243.

また、図4に示すように、フック部材240の基部241の裏面側である第2面246には、キー244が設けられている。キー244は、第2面246から突出して形成される。また、フック部材240の裏面側には、係止部245が設けられている。係止部245は、第2面246から突出して形成される。また、フック部材240の支持部242の裏面側には、保護部材3bを固定する際に当接する第3面247を有する。 Further, as shown in FIG. 4, a key 244 is provided on the second surface 246, which is the back surface side of the base portion 241 of the hook member 240. The key 244 is formed so as to project from the second surface 246. Further, a locking portion 245 is provided on the back surface side of the hook member 240. The locking portion 245 is formed so as to project from the second surface 246. Further, the back surface side of the support portion 242 of the hook member 240 has a third surface 247 that comes into contact with the protective member 3b when it is fixed.

次に、固定部材3cの動作について、図5から図7を用いて更に説明する。ここでは、保護部材3bが上部電極3aに固定された状態から、固定を解除して上部電極3aから保護部材3bがを着脱可能な状態とするまでの固定部材3cの動作を例に説明する。 Next, the operation of the fixing member 3c will be further described with reference to FIGS. 5 to 7. Here, the operation of the fixing member 3c from the state in which the protective member 3b is fixed to the upper electrode 3a to the state in which the protective member 3b is detachable from the upper electrode 3a by releasing the fixing will be described as an example.

図5は、第1状態の固定部材3cの一例の斜視図である。ここで、第1状態とは、固定部材3cによって上部電極3aに保護部材3bを固定する固定状態をいう。 FIG. 5 is a perspective view of an example of the fixing member 3c in the first state. Here, the first state means a fixed state in which the protective member 3b is fixed to the upper electrode 3a by the fixing member 3c.

第1状態では、フック部材240の支持部242が保護部材3bに向かって配置されている。また、平面視して、支持部242が保護部材3bの被支持部3b4と重なるように配置されている。また、フック部材240のキー244は、基部材210のキー溝213と嵌合する。即ち、キー溝213を有する基部材210は、フック部材240の位置を、保護部材3bを上部電極3aに固定する第1の位置(固定位置)に位置合わせする位置合わせ部材として機能する。また、基部材210のキー溝213とフック部材240のキー244は、第1状態でのフック部材240の回転を規制する回転規制部を構成する。即ち、バネ230の付勢力によりキー244がキー溝213に挿入され、キー244がキー溝213と嵌合することで、フック部材240の回転を規制する。 In the first state, the support portion 242 of the hook member 240 is arranged toward the protective member 3b. Further, in a plan view, the support portion 242 is arranged so as to overlap the supported portion 3b4 of the protective member 3b. Further, the key 244 of the hook member 240 fits with the key groove 213 of the base member 210. That is, the base member 210 having the key groove 213 functions as an alignment member that aligns the position of the hook member 240 with the first position (fixed position) for fixing the protective member 3b to the upper electrode 3a. Further, the key groove 213 of the base member 210 and the key 244 of the hook member 240 form a rotation regulation unit that regulates the rotation of the hook member 240 in the first state. That is, the key 244 is inserted into the key groove 213 by the urging force of the spring 230, and the key 244 fits into the key groove 213 to regulate the rotation of the hook member 240.

また、バネ230によって、フック部材240を押し付ける方向に付勢している。ここで、第2面246は第1面216と離間しており、第3面247で被支持部3b4を押し付けている。これにより、固定部材3cは、フック部材240の第3面247で保護部材3bの被支持部3b4を押し付けることにより、保護部材3bを上部電極3aの天面部3a1に押し付けて、保護部材3bを上部電極3aに固定することができる。 Further, the spring 230 urges the hook member 240 in the pressing direction. Here, the second surface 246 is separated from the first surface 216, and the supported portion 3b4 is pressed by the third surface 247. As a result, the fixing member 3c presses the supported portion 3b4 of the protective member 3b on the third surface 247 of the hook member 240, thereby pressing the protective member 3b against the top surface portion 3a1 of the upper electrode 3a and pushing the protective member 3b upward. It can be fixed to the electrode 3a.

図6は、第2状態の固定部材3cの一例の斜視図である。ここで、第2状態とは、固定部材3cによる保護部材3bの固定が解除された状態をいう。 FIG. 6 is a perspective view of an example of the fixing member 3c in the second state. Here, the second state means a state in which the protection member 3b is released from being fixed by the fixing member 3c.

ここでは、メンテナンス作業者がバネ230の付勢力に逆らって、フック部材240を引き下げる。この際、基部材210には掘り下げ部217が設けられていることにより、フック部材240を容易に把持することができ、作業性が向上する。フック部材240を引き下げることにより、キー244とキー溝213の嵌合が解除され、軸部221を回転軸とするフック部材240の回転が可能となる。これにより、フック部材240を回転させることで、支持部242を保護部材3bの径方向外側へと退避する。 Here, the maintenance worker pulls down the hook member 240 against the urging force of the spring 230. At this time, since the base member 210 is provided with the digging portion 217, the hook member 240 can be easily gripped and the workability is improved. By pulling down the hook member 240, the key 244 and the key groove 213 are released from the fitting, and the hook member 240 can be rotated with the shaft portion 221 as the rotation axis. As a result, by rotating the hook member 240, the support portion 242 is retracted to the outside in the radial direction of the protective member 3b.

また、第2状態において、キー244が第1面216と当接しており、第3面247と被支持部3b4とは離間している。これにより、メンテナンス作業者は、固定部材3cが固定状態(第1状態)であるか否かを容易に判断することができる。 Further, in the second state, the key 244 is in contact with the first surface 216, and the third surface 247 and the supported portion 3b4 are separated from each other. As a result, the maintenance worker can easily determine whether or not the fixing member 3c is in the fixed state (first state).

図7は、第3状態の固定部材3cの一例の斜視図である。ここで、第3状態とは、メンテナンス作業者がフック部材240の支持部242が保護部材3b上から退避した退避状態をいう。換言すれば、第3状態とは、上部電極3aから保護部材3bを取り外す際の状態をいう。 FIG. 7 is a perspective view of an example of the fixing member 3c in the third state. Here, the third state means a retracted state in which the support portion 242 of the hook member 240 is retracted from the protective member 3b by the maintenance worker. In other words, the third state means a state when the protective member 3b is removed from the upper electrode 3a.

フック部材240の係止部245は、基部材210の係止部215と当接している。即ち、係止部215を有する基部材210は、フック部材240の位置を、フック部材240の支持部242が保護部材3b上から退避する第2の位置(退避位置)に位置合わせする位置合わせ部材として機能する。また、基部材210の係止部215とフック部材240の係止部245は、フック部材240の回転を制限する回転制限部を構成する。ここでは、メンテナンス作業者がフック部材240を更に回転させることにより、フック部材240の係止部245が基部材210の係止部215と当接して、固定部材3cを第3状態とすることができる。この状態において、フック部材240の支持部242は、保護部材3b上から退避している。これにより、メンテナンス作業者は、係止部245を係止部215に当接させることにより、フック部材240が退避状態にあるか否かを容易に判断することができる。 The locking portion 245 of the hook member 240 is in contact with the locking portion 215 of the base member 210. That is, the base member 210 having the locking portion 215 aligns the position of the hook member 240 with the second position (retracted position) where the support portion 242 of the hook member 240 retracts from the protective member 3b. Functions as. Further, the locking portion 215 of the base member 210 and the locking portion 245 of the hook member 240 form a rotation limiting portion that limits the rotation of the hook member 240. Here, when the maintenance worker further rotates the hook member 240, the locking portion 245 of the hook member 240 comes into contact with the locking portion 215 of the base member 210, and the fixing member 3c is brought into the third state. can. In this state, the support portion 242 of the hook member 240 is retracted from the protective member 3b. As a result, the maintenance worker can easily determine whether or not the hook member 240 is in the retracted state by bringing the locking portion 245 into contact with the locking portion 215.

なお、第3状態(退避状態)から第1状態(固定状態)とする際は、フック部材240を回転させ、フック部材240の支持部242が保護部材3bに向かう向きとする。これにより、バネ230の付勢力によって、キー244がキー溝213に挿入され、フック部材240の回転が規制される。また、バネ230の付勢力によって、フック部材240の第3面247で保護部材3bの被支持部3b4を押し付けることにより、保護部材3bを上部電極3aの天面部3a1に押し付けて、保護部材3bを上部電極3aに固定する。 When changing from the third state (retracted state) to the first state (fixed state), the hook member 240 is rotated so that the support portion 242 of the hook member 240 faces the protective member 3b. As a result, the key 244 is inserted into the key groove 213 by the urging force of the spring 230, and the rotation of the hook member 240 is restricted. Further, by pressing the supported portion 3b4 of the protective member 3b on the third surface 247 of the hook member 240 by the urging force of the spring 230, the protective member 3b is pressed against the top surface portion 3a1 of the upper electrode 3a, and the protective member 3b is pressed. It is fixed to the upper electrode 3a.

本実施形態に係る基板処理装置100の上部電極アセンブリ3によれば、上部電極3aに保護部材3bを取り付ける、または、上部電極3aから保護部材3bを取り外す際の上部電極3aと保護部材3bとの固定、または、固定解除を容易に行うことができる。また、上部電極3aに保護部材3bをボルト止めする場合と比較して、作業時間を短縮することができる。換言すれば、基板処理装置100の非稼働時間を短縮して、稼働時間を延ばすことができるので、基板処理装置100の生産性を向上させることができる。 According to the upper electrode assembly 3 of the substrate processing apparatus 100 according to the present embodiment, the upper electrode 3a and the protective member 3b when the protective member 3b is attached to the upper electrode 3a or the protective member 3b is removed from the upper electrode 3a. It can be easily fixed or released. Further, the working time can be shortened as compared with the case where the protective member 3b is bolted to the upper electrode 3a. In other words, the non-operating time of the substrate processing apparatus 100 can be shortened and the operating time can be extended, so that the productivity of the substrate processing apparatus 100 can be improved.

また、固定部材3cが固定状態(第1状態)では、フック部材240が回転不能となっている。また、非固定状態(第2状態、第3状態)では、フック部材240が回転可能であり、支持部242が保護部材3bの被支持部3b4から浮き上がっている。これにより、メンテナンス作業者は、固定部材3cが固定状態(第1状態)であるか非固定状態(第2状態、第3状態)であるかを容易に判断することができる。 Further, when the fixing member 3c is in the fixed state (first state), the hook member 240 cannot rotate. Further, in the non-fixed state (second state, third state), the hook member 240 is rotatable, and the support portion 242 is raised from the supported portion 3b4 of the protective member 3b. Thereby, the maintenance worker can easily determine whether the fixing member 3c is in the fixed state (first state) or the non-fixed state (second state, third state).

以上、基板処理装置100の実施形態等について説明したが、本開示は上記実施形態等に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本開示の要旨の範囲内において、種々の変形、改良が可能である。 Although the embodiments of the substrate processing apparatus 100 have been described above, the present disclosure is not limited to the above embodiments and the like, and various modifications are made within the scope of the gist of the present disclosure described in the claims. , Improvement is possible.

なお、第2状態及び第3状態において、フック部材240が上部電極3aの立設部3a2よりも突き出されて位置するように構成されていてもよい。これにより、カバー部材3dを取り付ける際、カバー部材3dは、第2状態または第3状態のフック部材240と干渉する。これにより、メンテナンス作業者は、固定部材3cが固定状態(第1状態)であるか否かを容易に判断することができる。 In the second and third states, the hook member 240 may be configured to be positioned so as to protrude from the standing portion 3a2 of the upper electrode 3a. As a result, when the cover member 3d is attached, the cover member 3d interferes with the hook member 240 in the second or third state. As a result, the maintenance worker can easily determine whether or not the fixing member 3c is in the fixed state (first state).

基部材210は、フック部材240を第1の位置に位置合わせするためのキー溝213を有するものとして説明したが、これに限られるものではない。基部材210は、複数のキー溝(図示せず)を有していてもよい。例えば、基部材210は、フック部材240を第2の位置(退避位置)に位置合わせするためのキー溝を有していてもよい。これにより、フック部材240を退避位置で静止させることができるので、上部電極3aから保護部材3bを着脱する際の作業性が向上する。また、フック部材240は、1つのキー244を有するものとして説明したが、これに限られるものではない。フック部材240は、複数のキー(図示せず)を有していてもよい。また、基部材210にキー溝213を設け、フック部材240にキー244を設けるものとして説明したが、これに限られるものではなく、基部材210にキーを設け、フック部材240にキー溝を設ける構成であってもよい。 The base member 210 has been described as having a keyway 213 for aligning the hook member 240 with the first position, but the present invention is not limited to this. The base member 210 may have a plurality of keyways (not shown). For example, the base member 210 may have a keyway for aligning the hook member 240 with the second position (retracted position). As a result, the hook member 240 can be stopped at the retracted position, so that workability when attaching / detaching the protective member 3b from the upper electrode 3a is improved. Further, although the hook member 240 has been described as having one key 244, the present invention is not limited to this. The hook member 240 may have a plurality of keys (not shown). Further, although the description has been made assuming that the base member 210 is provided with the key groove 213 and the hook member 240 is provided with the key 244, the present invention is not limited to this, and the base member 210 is provided with the key and the hook member 240 is provided with the key groove. It may be a configuration.

3 上部電極アセンブリ
3a 上部電極
3b 保護部材
3c 固定部材
3d カバー部材
3a1 天面部
3a2 立設部
3a3 段部
3a4 外縁部
3a5 切欠き部
3b1 天面部
3b2 掘下部
3b3 外縁部
3b4 被支持部
100 基板処理装置
210 基部材(位置合わせ部材)
211 軸穴
212 バネ受け部
213 キー溝(溝)
214 逃げ部
215 係止部
216 第1面
217 掘り下げ部
218,219 貫通穴
220 軸部材
221 軸部
222 フランジ部
223 ねじ穴
230 バネ(伸縮性部材)
240 フック部材
241 基部
242 支持部
243 ざぐり穴
244 キー(突出部)
245 係止部
246 第2面
247 第3面
251〜253 ボルト
3 Upper electrode assembly 3a Upper electrode 3b Protective member 3c Fixing member 3d Cover member 3a1 Top surface part 3a2 Standing part 3a3 Step part 3a4 Outer edge part 3a5 Notch part 3b1 Top surface part 3b2 Excavation lower part 3b3 Outer edge part 3b4 Supported part 100 Substrate processing device 210 Base member (alignment member)
211 Shaft hole 212 Spring receiving part 213 Key groove (groove)
214 Relief part 215 Locking part 216 First surface 217 Digging part 218, 219 Through hole 220 Shaft member 221 Shaft part 222 Flange part 223 Screw hole 230 Spring (stretchable member)
240 Hook member 241 Base 242 Support 243 Counterbore 244 Key (protruding part)
245 Locking part 246 2nd surface 247 3rd surface 251 to 253 bolts

Claims (10)

上部電極と、
前記上部電極を覆う保護部材と、
伸縮性部材の弾性力により、前記保護部材を前記上部電極に固定する固定部材と、を備える、上部電極アセンブリ。
With the upper electrode
A protective member that covers the upper electrode and
An upper electrode assembly comprising a fixing member that fixes the protective member to the upper electrode by the elastic force of the elastic member.
前記固定部材は、
前記保護部材を固定するフック部材と、
前記フック部材の位置を、前記保護部材を前記上部電極に固定する第1の位置に位置合わせする位置合わせ部材と、を有する、
請求項1に記載の上部電極アセンブリ。
The fixing member is
A hook member for fixing the protective member and
It has a positioning member for aligning the position of the hook member with a first position for fixing the protective member to the upper electrode.
The upper electrode assembly according to claim 1.
前記位置合わせ部材は、溝を有し、
前記フック部材は、突出部を有し、
前記位置合わせ部材は、前記突出部が前記溝に嵌合することで、前記フック部材の位置を前記第1の位置に位置合わせする、
請求項2に記載の上部電極アセンブリ。
The alignment member has a groove and has a groove.
The hook member has a protruding portion and has a protruding portion.
The alignment member aligns the position of the hook member with the first position by fitting the protruding portion into the groove.
The upper electrode assembly according to claim 2.
前記固定部材は、
前記フック部材と固定され、前記位置合わせ部材の軸穴に挿通する軸部材を有し、
前記フック部材は、前記軸部材の挿抜方向及び回転方向に移動可能に構成され、
前記位置合わせ部材は、前記フック部材が前記第1の位置に位置する際に、前記フック部材の回転方向の移動を規制する、
請求項2または請求項3に記載の上部電極アセンブリ。
The fixing member is
It has a shaft member that is fixed to the hook member and is inserted into the shaft hole of the alignment member.
The hook member is configured to be movable in the insertion / removal direction and the rotation direction of the shaft member.
The alignment member regulates the movement of the hook member in the rotational direction when the hook member is located at the first position.
The upper electrode assembly according to claim 2 or 3.
前記伸縮性部材は、前記フック部材を前記軸部材の挿抜方向に付勢する、
請求項4に記載の上部電極アセンブリ。
The elastic member urges the hook member in the insertion / removal direction of the shaft member.
The upper electrode assembly according to claim 4.
前記位置合わせ部材は、
前記フック部材の位置を、前記保護部材から退避する第2の位置に位置合わせする、
請求項2乃至請求項5のいずれか1項に記載の上部電極アセンブリ。
The alignment member is
Align the position of the hook member with the second position retracted from the protective member.
The upper electrode assembly according to any one of claims 2 to 5.
前記伸縮性部材は、ばねである、
請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の上部電極アセンブリ。
The elastic member is a spring.
The upper electrode assembly according to any one of claims 1 to 6.
前記保護部材は、石英である、
請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の上部電極アセンブリ。
The protective member is quartz.
The upper electrode assembly according to any one of claims 1 to 7.
前記固定部材を覆うカバー部材を更に備える、
請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の上部電極アセンブリ。
A cover member that covers the fixing member is further provided.
The upper electrode assembly according to any one of claims 1 to 8.
請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の上部電極アセンブリを備える、基板処理装置。 A substrate processing apparatus comprising the upper electrode assembly according to any one of claims 1 to 9.
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