JP2021131831A - 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム - Google Patents
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- 230000010365 information processing Effects 0.000 title claims abstract description 99
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims abstract description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 460
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 81
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 69
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 20
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 43
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 16
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 15
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 12
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 238000012549 training Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 5
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 4
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- Image Analysis (AREA)
Abstract
Description
図1は、第1実施形態に係る情報処理システムの構成を示す図である。第1実施形態では、2つの工場A及びBにおいて、製品が生産されているものとする。それぞれの工場には生産された製品(「検査対象物」又は「ワーク」ともいう。)を検査するための検査ラインが複数配置されている。生産された製品は、その画像に基づき検査ラインにおいて検査される。検査結果及び画像データなどの検査に関わるデータがクラウドCに集約されているものとする。なお、検査結果及び画像データなどの検査に関わるデータが保存される場所は、クラウドに限定されるものではない。また、図1には、2つの工場が示されているが、工場の数は1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。
第2実施形態では第1実施形態と共通の事柄についての記述を省略し、異なる点についてのみ説明する。
検査対象物の画像データを取得する画像取得部(310)と、
前記検査対象物の検査モデルに前記画像データを入力することで得られる前記検査対象物の検査結果を取得する結果取得部(320)と、
前記画像データ及び前記検査結果の少なくともいずれかに前記検査モデルを関連付け、前記画像データ、前記検査結果及び前記検査モデルを記憶部に記憶させる処理部(330)と、
を備える、情報処理装置(20)。
Claims (10)
- 検査対象物の画像データを取得する画像取得部と、
前記検査対象物の検査モデルに前記画像データを入力することで得られる前記検査対象物の検査結果を取得する結果取得部と、
前記画像データ及び前記検査結果の少なくともいずれかに前記検査モデルを関連付け、前記画像データ、前記検査結果及び前記検査モデルを記憶部に記憶させる処理部と、
を備える、情報処理装置。 - 前記処理部が前記記憶部に記憶させた前記画像データ、前記検査結果及び前記検査モデルに基づき、新たな検査モデルを生成する学習処理を行う学習部、
をさらに備える、請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記検査対象物の検査に関わる情報に基づき、前記処理部が前記記憶部に記憶させた前記画像データ、前記検査結果及び前記検査モデルから、前記学習処理のための学習データを選択し、選択した学習データを取得する学習データ取得部を、さらに備え、
前記学習部は、前記学習データを用いて前記学習処理を行う、
請求項2に記載の情報処理装置。 - 前記検査結果を修正するユーザによる操作に基づき、前記検査結果を修正する修正部を、さらに備え、
前記学習部は、前記修正部により修正された検査結果を含む学習データを用いて前記学習処理を行うことにより新たな検査モデルを生成し、
前記処理部は、前記修正された検査結果を、対応する画像データ及び前記新たな検査モデルに関連付け、前記修正された検査結果、前記対応する画像データ及び前記新たな検査モデルを前記記憶部に記憶させる、
請求項3に記載の情報処理装置。 - 前記学習部により生成された前記新たな検査モデルは、他の情報処理装置と共有される、
請求項2から4のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 前記処理部は、前記画像データ、前記検査結果及び前記検査モデルの少なくともいずれかの信頼性に関わるデータを取得し、取得した信頼性に関わるデータを対応するデータに関連付け、
前記学習部は、前記信頼性に関わるデータを用いて重みづけられた前記画像データ、前記検査結果及び前記検査モデルの少なくともいずれかに基づいて前記学習処理を行う、
請求項2から5のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 前記処理部は、複数の検査モデルによる検査に用いられた画像データに対して、前記複数の検査モデル及び前記複数の検査モデルの各々に対応する検査結果を関連付けて、前記複数の検査モデルによる検査に用いられた画像データ、前記複数の検査モデル及び前記複数の検査モデルの各々に対応する検査結果を前記記憶部に記憶させる、
請求項1から6のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 新たな検査モデルが生成されるに際して、前記新たな検査モデルの学習履歴を生成する学習履歴生成部を、さらに備える、
請求項2から7のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 検査対象物の画像データを取得することと、
前記検査対象物の検査モデルに前記画像データを入力することで得られる前記検査対象物の検査結果を取得することと、
前記画像データ及び前記検査結果の少なくともいずれかに前記検査モデルを関連付け、前記画像データ、前記検査結果及び前記検査モデルを記憶部に記憶させることと、
を含む、情報処理方法。 - コンピュータに、
検査対象物の画像データを取得することと、
前記検査対象物の検査モデルに前記画像データを入力することで得られる前記検査対象物の検査結果を取得することと、
前記画像データ及び前記検査結果の少なくともいずれかに前記検査モデルを関連付け、前記画像データ、前記検査結果及び前記検査モデルを記憶部に記憶させることと、
を実行させるためのプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020028364A JP7440823B2 (ja) | 2020-02-21 | 2020-02-21 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020028364A JP7440823B2 (ja) | 2020-02-21 | 2020-02-21 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021131831A true JP2021131831A (ja) | 2021-09-09 |
JP7440823B2 JP7440823B2 (ja) | 2024-02-29 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2020028364A Active JP7440823B2 (ja) | 2020-02-21 | 2020-02-21 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
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