JP2021118003A - 加工品検査方法、装置、及びコンピュータが読み取り可能な記憶媒体 - Google Patents
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Abstract
Description
加工品検査方法を提供しており、それは、
検査対象である、リングライトに向かって円弧状の曲面を有している加工品に対して、前記加工品に近い方から遠い方へ順に配置された複数のリングサブライトを備えており、異なるリングサブライトから異なる色の光線が出されるリングライトを照射して、前記加工品の画像を採取することと、
採取した前記画像に対して処理を行って、異なる画像領域は色が異なっており、且つ前記画像領域の色と前記リングサブライトから出される光線の色とが1対1で対応する、複数の画像領域を得ることと、
前記複数の画像領域の画像特徴パラメータを取得し、該取得した画像特徴パラメータを所定の加工品品質検査モデルへ入力して、前記加工品の品質検査結果を得ることと、
を含む。
赤の光線を出す第一リングサブライトと、
緑の光線を出す第二リングサブライトと、
青の光線を出す第三リングサブライトと、
を含む。
採取した前記画像を、赤と緑と青の3つのチャンネル画像に分離することと、
線形関数または非線形関数を用いて前記3つのチャンネル画像を組み合わせて、3つの画像領域を得ること、
を含む。
以下の式を用いて前記3つのチャンネル画像を組み合わせて、3つの画像領域を得る。
I2=f2(IR,IG,IB)
I3=f3(IR,IG,IB)
式中、I1は第一画像領域であり、I2は第二画像領域であり、I3は第三画像領域であり、IRは赤チャンネル画像であり、IBは青チャンネル画像であり、IGは緑チャンネル画像であり、f1、f2、f3はそれぞれ線形関数または非線形関数である。
前記複数の画像領域により確定される、前記加工品の実際の重心と理論上の重心との間の距離Dと、
前記複数の画像領域により確定される、前記画像中で前記加工品の占める面積Aと、
前記複数の画像領域における、任意の2つの画像領域の中心の間の距離dと、
前記複数の画像領域における、任意の2つの画像領域の面積の比率ratioと、
を含む。
前記画像領域の真円度と、
前記複数の画像領域の二値画像の充填率と、
のうちの少なくとも一つを含む。
画像特徴パラメータと対応する重みパラメータを含む、最初の加工品品質検査モデルを構築することと、
サンプル加工品の品質検査結果と、前記サンプル加工品にリングライトを照射して採取した画像に対して処理をして得たサンプル加工品の複数の画像領域の画像特徴パラメータと、を含む訓練データを取得することと、
前記訓練データを用いて前記最初の加工品品質検査モデルの訓練を行って、前記加工品品質検査モデルを得ること、
を含む。
検査対象である、リングライトに向かって円弧状の曲面を有している加工品に対して、前記加工品に近い方から遠い方へ順に配置された複数のリングサブライトを備えており、異なるリングサブライトから異なる色の光線が出されるリングライトを照射して、前記加工品の画像を採取する、採取ユニットと、
採取した前記画像に対して処理を行って、異なる画像領域は色が異なっており、且つ前記画像領域の色と前記リングサブライトから出される光線の色とが1対1で対応する、複数の画像領域を得る、画像処理ユニットと、
前記複数の画像領域の画像特徴パラメータを取得し、該取得した画像特徴パラメータを所定の加工品品質検査モデルへ入力して、前記加工品の品質検査結果を得る、入力ユニットと、
を含む。
所定の加工品品質検査モデルを取得するための取得ユニットをさらに備え、
前記取得ユニットが、
画像特徴パラメータと対応する重みパラメータを含む、最初の加工品品質検査モデルを構築するための、モデル構築サブユニットと、
サンプル加工品の品質検査結果と、前記サンプル加工品にリングライトを照射して採取した画像に対して処理をして得たサンプル加工品の複数の画像領域の画像特徴パラメータと、を含む訓練データを取得するための、取得サブユニットと、
前記訓練データを用いて前記最初の加工品品質検査モデルの訓練を行って、前記加工品品質検査モデルを得るための、訓練サブユニットと、
を含む。
前記複数の画像領域により確定される、前記加工品の実際の重心と理論上の重心との間の距離D;
前記複数の画像領域により確定される、前記画像中で前記加工品の占める面積A;
前記複数の画像領域における、任意の2つの画像領域の中心の間の距離d;
前記複数の画像領域における、任意の2つの画像領域の面積の比率ratio;
前記画像領域の真円度;及び
前記複数の画像領域の二値画像の充填率である。
式中、Aは画像領域の面積を表し、Lは画像領域の周長を表す。
其中,Avoidは二値画像中の黒色画素の総面積を表し、Aは二値画像の総面積を表す(画素で表すことができる)。
I2=f2(IR,IG,IB)
I3=f3(IR,IG,IB)
式中、I1は第一画像領域であり、I2は第二画像領域であり、I3は第三画像領域であり、IRは赤チャンネル画像であり、IBは青チャンネル画像であり、IGは緑チャンネル画像であり、f1、f2、f3はそれぞれ線形関数または非線形関数である。
I2=max(IR,IB)−IR
I3=IR+IG+IB
画像領域I1、I2、I3を得た後で、画像領域I1、I2、I3に基づいて、画像特徴パラメータの取得を行う。
ratio2=Area1:Area3
ratio3=Area2:Area3
式中、Area1は第一画像領域の面積であり、Area2は第二画像領域の面積であり、Area3は第三画像領域の面積である。
式中、Aは各画像領域の面積であり、Lは各画像領域の周長である。
式中、Avoidは画像領域の二値画像中の空隙領域の面積であり、Aは前画像領域の面積である。
画像特徴パラメータと対応する重みパラメータを含む、最初の加工品品質検査モデルを構築するための、モデル構築サブユニット241と、
サンプル加工品の品質検査結果と、前記サンプル加工品にリングライトを照射して採取した画像に対して処理をして得たサンプル加工品の複数の画像領域の画像特徴パラメータと、を含む訓練データを取得するための、取得サブユニット242と、
前記訓練データを用いて前記最初の加工品品質検査モデルの訓練を行って、前記加工品品質検査モデルを得るための、訓練サブユニット243と、
を含む。
プロセッサ32と、
コンピュータプログラムが記憶されているメモリ34と、を含む。
検査対象である、リングライトに向かって円弧状の曲面を有している加工品に対して、前記加工品に近い方から遠い方へ順に配置された複数のリングサブライトを備えており、異なるリングサブライトから異なる色の光線が出されるリングライトを照射して、前記加工品の画像を採取するステップと、
採取した前記画像に対して処理を行って、異なる画像領域は色が異なっており、且つ前記画像領域の色と前記リングサブライトから出される光線の色とが1対1で対応する、複数の画像領域を得るステップと、
前記複数の画像領域の画像特徴パラメータを、所定の加工品品質検査モデルへ入力して、前記加工品の品質検査結果を得るステップと、
を実行する。
I2=f2(IR,IG,IB)
I3=f3(IR,IG,IB)
式中、I1は第一画像領域であり、I2は第二画像領域であり、I3は第三画像領域であり、IRは赤チャンネル画像であり、IBは青チャンネル画像であり、IGは緑チャンネル画像であり、f1、f2、f3はそれぞれ線形関数または非線形関数である。
前記複数の画像領域により確定される、前記加工品の実際の重心と理論上の重心との間の距離Dと、
前記複数の画像領域により確定される、前記画像中で前記加工品の占める面積Aと、
前記複数の画像領域における、任意の2つの画像領域の中心の間の距離dと、
前記複数の画像領域における、任意の2つの画像領域の面積の比率ratioと、
を含む。
前記画像領域の真円度と、
前記複数の画像領域の二値画像の充填率と、
のうちの少なくとも一つを含む。
検査対象である、リングライトに向かって円弧状の曲面を有している加工品に対して、前記加工品に近い方から遠い方へ順に配置された複数のリングサブライトを備えており、異なるリングサブライトから異なる色の光線が出されるリングライトを照射して、前記加工品の画像を採取するステップと、
採取した前記画像に対して処理を行って、異なる画像領域は色が異なっており、且つ前記画像領域の色と前記リングサブライトから出される光線の色とが1対1で対応する、複数の画像領域を得るステップと、
前記複数の画像領域の画像特徴パラメータを、所定の加工品品質検査モデルへ入力して、前記加工品の品質検査結果を得るステップと、
を実行させる。
Claims (12)
- 検査対象である、リングライトに向かって円弧状の曲面を有している加工品に対して、前記加工品に近い方から遠い方へ順に配置された複数のリングサブライトを備えており、異なるリングサブライトから異なる色の光線が出されるリングライトを照射して、前記加工品の画像を採取することと、
採取した前記画像に対して処理を行って、異なる画像領域は色が異なっており、且つ前記画像領域の色と前記リングサブライトから出される光線の色とが1対1で対応する、複数の画像領域を得ることと、
前記複数の画像領域の画像特徴パラメータを取得し、該取得した画像特徴パラメータを所定の加工品品質検査モデルへ入力して、前記加工品の品質検査結果を得ることと、
を含む、ことを特徴とする加工品検査方法。 - 前記リングライトが、
赤の光線を出す第一リングサブライトと、
緑の光線を出す第二リングサブライトと、
青の光線を出す第三リングサブライトと、
を含む、ことを特徴とする請求項1に記載の加工品検査方法。 - 前記の採取した前記画像に対して処理を行って複数の画像領域を得ることが、
採取した前記画像を、赤と緑と青の3つのチャンネル画像に分離することと、
線形関数または非線形関数を用いて前記3つのチャンネル画像を組み合わせて、3つの画像領域を得ること、
を含む、ことを特徴とする請求項2に記載の加工品検査方法。 - 以下の式を用いて前記3つのチャンネル画像を組み合わせて、3つの画像領域を取得し、
I1=f1(IR,IG,IB)
I2=f2(IR,IG,IB)
I3=f3(IR,IG,IB)
式中、I1は第一画像領域であり、I2は第二画像領域であり、I3は第三画像領域であり、IRは赤チャンネル画像であり、IBは青チャンネル画像であり、IGは緑チャンネル画像であり、f1、f2、f3はそれぞれ線形関数または非線形関数である、ことを特徴とする請求項3に記載の加工品検査方法。 - 前記複数の画像領域の画像特徴パラメータが、
前記複数の画像領域により確定される、前記加工品の実際の重心と理論上の重心との間の距離と、
前記複数の画像領域により確定される、前記画像中で前記加工品の占める面積と、
前記複数の画像領域における、任意の2つの画像領域の中心の間の距離と、
前記複数の画像領域における、任意の2つの画像領域の面積の比率と、
を含む、ことを特徴とする請求項1に記載の加工品検査方法。 - 前記複数の画像領域の画像特徴パラメータが、さらに、
前記画像領域の真円度と、
前記複数の画像領域の二値画像の充填率と、
のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項5に記載の加工品検査方法。 - 前記方法が、所定の加工品品質検査モデルを取得するステップをさらに含み、前記ステップが、
画像特徴パラメータと対応する重みパラメータを含む、最初の加工品品質検査モデルを構築することと、
サンプル加工品の品質検査結果と、前記サンプル加工品にリングライトを照射して採取した画像に対して処理をして得たサンプル加工品の複数の画像領域の画像特徴パラメータと、を含む訓練データを取得することと、
前記訓練データを用いて前記最初の加工品品質検査モデルの訓練を行って、前記加工品品質検査モデルを得ること、
を含む、ことを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の加工品検査方法。 - 検査対象である、リングライトに向かって円弧状の曲面を有している加工品に対して、前記加工品に近い方から遠い方へ順に配置された複数のリングサブライトを備えており、異なるリングサブライトから異なる色の光線が出されるリングライトを照射して、前記加工品の画像を採取する、採取ユニットと、
採取した前記画像に対して処理を行って、異なる画像領域は色が異なっており、且つ前記画像領域の色と前記リングサブライトから出される光線の色とが1対1で対応する、複数の画像領域を得る、画像処理ユニットと、
前記複数の画像領域の画像特徴パラメータを取得し、該取得した画像特徴パラメータを所定の加工品品質検査モデルへ入力して、前記加工品の品質検査結果を得る、入力ユニットと、
を含む、ことを特徴とする加工品検査装置。 - 所定の加工品品質検査モデルを取得するための取得ユニットをさらに備え、
前記取得ユニットが、
画像特徴パラメータと対応する重みパラメータを含む、最初の加工品品質検査モデルを構築するための、モデル構築サブユニットと、
サンプル加工品の品質検査結果と、前記サンプル加工品にリングライトを照射して採取した画像に対して処理をして得たサンプル加工品の複数の画像領域の画像特徴パラメータと、を含む訓練データを取得するための、取得サブユニットと、
前記訓練データを用いて前記最初の加工品品質検査モデルの訓練を行って、前記加工品品質検査モデルを得るための、訓練サブユニットと、
を含む、ことを特徴とする請求項8に記載の加工品検査装置。 - コンピュータに、請求項1乃至7のうちのいずれか1項に記載の加工品検査方法を実行させるためのプログラム。
- 請求項10に記載のプログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
- コンピュータプログラムが記憶されているメモリと、
前記メモリに接続されるプロセッサと、を含み、
前記プロセッサは、前記コンピュータプログラムを実行することにより、請求項1乃至7のうちのいずれか1項に記載の加工品検査方法を実現するように構成される、加工品検査装置。
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D.W. CAPSON ET AL.: "A tiered-color illumination approach for machine inspection of solder joints", IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE, vol. 10, no. 3, JPN6022000451, May 1988 (1988-05-01), pages 387 - 393, XP002243987, ISSN: 0004754183, DOI: 10.1109/34.3902 * |
FUPEI WU ET AL.: "An AOI algorithm for PCB based on feature extraction", 2008 7TH WORLD CONGRESS ON INTELLIGENT CONTROL AND AUTOMATION, JPN6022000449, 25 July 2008 (2008-07-25), CN, pages 240 - 247, ISSN: 0004754184 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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EP3855176A1 (en) | 2021-07-28 |
CN113240618A (zh) | 2021-08-10 |
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