JP2021089238A - Gyro sensor - Google Patents
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Abstract
Description
本開示は、一般にジャイロセンサに関し、より詳細にはセンサ素子と、センサ素子を支持する基板と、を有するジャイロセンサに関する。 The present disclosure relates generally to a gyro sensor, and more particularly to a gyro sensor having a sensor element and a substrate supporting the sensor element.
従来、容量式バルク超音波ディスクジャイロスコープが知られている(特許文献1参照)。特許文献1の容量式バルク超音波ディスクジャイロスコープは、半導体微小加工技術により形成され、バルク超音波振動する物体に生起されるコリオリ力に関連する物理量を検出することで角速度を検出するものである。
Conventionally, a capacitive bulk ultrasonic disc gyroscope is known (see Patent Document 1). The capacitive bulk ultrasonic disc gyroscope of
特許文献1では、共振素子を囲むように配置された駆動用電極に駆動信号を印加することで、共振素子にバルク超音波振動が励起される。また、コリオリ力に伴う共振素子の変形は、共振素子を囲むように配置された検出用電極により検出することができる。
In
ところで、共振素子駆動の際に発生するバルク超音波が基板の中に散逸し、基板の中で反射することにより、ジャイロセンサの突発変動を起こす要因となっていた。 By the way, bulk ultrasonic waves generated when driving a resonant element are dissipated in the substrate and reflected in the substrate, which causes sudden fluctuations in the gyro sensor.
本開示は上記課題に鑑みてなされ、突発変動が発生する可能性をより低くすることができるジャイロセンサを提供することを目的とする。 The present disclosure has been made in view of the above problems, and an object of the present disclosure is to provide a gyro sensor capable of reducing the possibility of sudden fluctuations occurring.
本開示の一態様に係るジャイロセンサは、バルク超音波共振素子と、基板と、振動減衰部と、を備える。前記基板は、前記バルク超音波共振素子に積層される。前記振動減衰部は、前記バルク超音波共振素子の振動時に前記基板に散逸するバルク超音波の振動を減衰させるように構成される。前記振動減衰部は、空気の音響インピーダンスよりも大きく、かつ前記基板の音響インピーダンスに対して所定の範囲内に属する音響インピーダンスを有し、前記基板の少なくとも一部に接触する。 The gyro sensor according to one aspect of the present disclosure includes a bulk ultrasonic resonance element, a substrate, and a vibration damping unit. The substrate is laminated on the bulk ultrasonic resonance element. The vibration damping unit is configured to attenuate the vibration of the bulk ultrasonic waves dissipated on the substrate when the bulk ultrasonic resonance element vibrates. The vibration damping portion has an acoustic impedance that is larger than the acoustic impedance of air and belongs to a predetermined range with respect to the acoustic impedance of the substrate, and comes into contact with at least a part of the substrate.
本開示によると、突発変動が発生する可能性をより低くすることができるジャイロセンサを提供することができる。 According to the present disclosure, it is possible to provide a gyro sensor capable of reducing the possibility of sudden fluctuations occurring.
以下に説明する各実施形態及び変形例は、本開示の一例に過ぎず、本開示は、各実施形態及び変形例に限定されない。これらの実施形態及び変形例以外であっても、本開示に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。 Each embodiment and modification described below is merely an example of the present disclosure, and the present disclosure is not limited to each embodiment and modification. Other than these embodiments and modifications, various changes can be made according to the design and the like as long as they do not deviate from the technical idea of the present disclosure.
(実施形態1)
以下、本実施形態に係るジャイロセンサ1について、図1〜図4Bを用いて説明する。
(Embodiment 1)
Hereinafter, the
(1)概要
本実施形態に係るジャイロセンサ1の外観を図2に示す。また、図2のジャイロセンサ1のX1−X1断面図を図3に示す。
(1) Outline The appearance of the
本実施形態に係るジャイロセンサ1は、図3に示すように、バルク超音波共振素子2と、基板3と、振動減衰部4と、を備える。
As shown in FIG. 3, the
ジャイロセンサ1は、例えば、回転角速度、回転角及び角加速度等の物理量を、電気信号に変換する。すなわち、ジャイロセンサ1は、物理量を電気信号に変換するトランスデューサとして機能する。ジャイロセンサ1は、例えば、家電機器、携帯端末、カメラ、ウェアラブル端末、ゲーム機、又は車両(自動車及び二輪自動車等を含む)、ドローン、航空機若しくは船舶等の移動体等の、様々な機器に用いられる。
The
(2)構成
以下に、本実施形態に係るジャイロセンサ1の詳細な構成について、図1〜図4を参照して説明する。
(2) Configuration The detailed configuration of the
本実施形態では、ジャイロセンサ1は、角速度を検知対象とする角速度センサである。例えば、車両の自動運転技術のように、比較的、高精度の角速度の検知が要求される場合に、本実施形態に係るジャイロセンサ1は好適である。ただし、高精度の角速度の検知が要求されない場合であっても、本実施形態に係るジャイロセンサ1は採用可能である。
In the present embodiment, the
本実施形態に係るジャイロセンサ1は、図1及び図3に示すように、バルク超音波共振素子2と、基板3と、振動減衰部4と、を備えている。また、ジャイロセンサ1は、支持部材5と、台座6と、ケース8と、を更に備えている。すなわち、ジャイロセンサ1は、バルク超音波共振素子2と、基板3と、振動減衰部4と、支持部材5と、台座6と、ケース8と、を備えている。なお、図2において台座6の下側には補助部材7が設けられている。補助部材7は、複数の配線を樹脂モールドしたもので、ジャイロセンサ1に対して、電極の引き回しや緩衝材として機能する。
As shown in FIGS. 1 and 3, the
バルク超音波共振素子2は、可動部21と、複数の電極22と、多結晶シリコン配線24と、を備える。可動部21は、例えば、共振素子であって、平面視において円形状となる円盤状(ディスク状)に形成されている。ここで、可動部21は、単結晶又は多結晶シリコン等の非圧電性物質であって、圧電性材料から製作されていることを必要としない。可動部21は、例えば、シリコン炭化物、窒化ガリウム、窒化アルミニウム又は石英等の半導体又は金属材料にて構成されていてもよい。
The bulk
複数(ここでは8つ)の電極22は、ディスク状の可動部21の周囲に等間隔に配置されている。それぞれの電極22と可動部21の間には容量性間隙23を有する。複数の電極22は、複数(ここでは4つ)の駆動用電極221と、複数(ここでは4つ)の検知用電極222と、を含んでいる。複数の電極22と可動部21との間には、一定の静電容量が生じている。
A plurality of (eight in this case)
駆動用電極221に駆動信号を印加して可動部21を一定の速度で振動させている状態において、可動部21に加わる角速度に応じてコリオリ力が発生する。コリオリ力が発生した場合、一定であった静電容量に変化が生じる。バルク超音波共振素子2は、検知用電極222において、静電容量の変化を検出することにより、角速度を検知する。
In a state where a drive signal is applied to the
バルク超音波共振素子2の動作について、図4A及び図4Bを参照して説明する。図4A及び図4Bは、バルク超音波共振素子2の動作原理を説明するための概念図である。
The operation of the bulk
本実施形態では、一例として、バルク超音波共振素子2は、高周波(MHz帯域)駆動の容量式バルク超音波ジャイロスコープである。このジャイロスコープは、ベース板、可動部21、及び複数の電極22を含んでいる。
In the present embodiment, as an example, the bulk
可動部21は、コリオリ力により、その中心軸に直交する平面内で、互いに直交する2方向に交互に伸縮する変形を繰り返すように振動する。バルク超音波共振素子2は、可動部21の変形量(移動量)を電気信号として出力する。すなわち、可動部21の変形量は、可動部21と検知用電極222との間の静電容量の変化として現れるため、バルク超音波共振素子2は、この静電容量の変化に応じた電気信号を出力する。
The
バルク超音波共振素子2は、検知対象である物理量に応じた電気信号を出力する素子である。本実施形態では、検知対象は、Z軸周りの角速度であるので、バルク超音波共振素子2は、Z軸周りの角速度に応じた電気信号を出力する。バルク超音波共振素子2は、コリオリ力を利用してZ軸周りの角速度を検知する。本実施形態では、一例として、バルク超音波共振素子2は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術を用いたベアチップ、いわゆるMEMSチップを含んでいる。
The bulk
本実施形態のバルク超音波共振素子2は、図1に示すように、ディスク状の可動部21を有する。バルク超音波共振素子2は、可動部21の中央部と電極22の一つが多結晶シリコン配線24で接続されている。多結晶シリコン配線24は、直流バイアスを可動部21に供給している。
As shown in FIG. 1, the bulk
基板3は、図3に示すように、平板状に形成されており、Z軸方向に厚みを有している。基板3は、基板3の厚み方向L1の両側に、互いに対向する第1面31及び第2面32を有している。基板3の第1面31には絶縁層14をパターンニングしてもよい。基板3の厚み方向L1の第1面31は、絶縁層14を介してバルク超音波共振素子2が積層される。つまり、基板3の積層方向L2にバルク超音波共振素子2は積層される。
As shown in FIG. 3, the
一方、基板3の厚み方向L1において第1面31と対向する第2面32は、振動減衰部4と接触し、振動減衰部4を挟んで、ケース8の天井面11と対向している。
On the other hand, the
本実施形態では、一例として、基板3は、図1に示すバルク超音波共振素子2と同様に平面視において略円形状(ディスク状)である。基板3は、例えば、シリコン基板である。
In the present embodiment, as an example, the
振動減衰部4は、バルク超音波共振素子2の振動時に、基板3に散逸するバルク超音波の振動を減衰させる。振動減衰部4は、ケース8内の少なくとも一部のスペース13に設けられている。振動減衰部4は、少なくとも基板3の一部に接触する。振動減衰部4は、基板3に積層される積層方向L2における基板3の2つの面のうち、バルク超音波共振素子2が配置される第1面31と対向する第2面32に接触する。本実施形態では、基板3の第2面32の全面に接触する。
The
また、振動減衰部4の音響インピーダンスは、空気の音響インピーダンスよりも大きく、かつ基板3の音響インピーダンスに対して所定の範囲内に属する。ここでいう所定の範囲とは、振動減衰部4の音響インピーダンスが、基板の境界面におけるバルク超音波の反射率が80%以下となる範囲のことを意味する。また、この範囲の音響インピーダンスを得るために、振動減衰部4の音響インピーダンスは、基板の音響インピーダンスの1/10倍〜10倍とすることができる。振動減衰部4の材料は、例えば、シリコーンである。
Further, the acoustic impedance of the
本実施形態では、一例として、支持部材5は、平面視において略正方形状である。ここで、支持部材5は、ASIC(Application specific integrated circuit)である。つまり、支持部材5は、電気絶縁性を有する樹脂パッケージ等のパッケージに半導体チップを内蔵した構成である。このため、バルク超音波共振素子2は、支持部材5としてのASICのパッケージの一表面(支持面51)に、実装される。本実施形態では、半導体チップは処理回路52として機能する。
In the present embodiment, as an example, the
支持部材5の支持面51には、バルク超音波共振素子2が固定されている。本開示でいう「固定」は、種々の手段により、一定の位置に留まる状態とされていることを意味する。つまり、バルク超音波共振素子2は、支持部材5の支持面51に対して位置が動かない状態とされていることを意味する。
The bulk
支持部材5の支持面51にバルク超音波共振素子2を固定する手段として、例えば、接着、粘着、ろう付け、溶着又は圧着等の適宜の手段を採用することができる。本実施形態では、一例として、支持面51にバルク超音波共振素子2を固定する手段は、シリコーン系の接着剤による接着である。支持部材5は、センサ素子よりも一回り大きく形成されており、バルク超音波共振素子2は、支持面51の中央部に固定されている。
As a means for fixing the bulk
台座6は、本実施形態では、例えば、セラミックである。台座6は、図中の上側に支持部材5を固定し、支持部材5は及びバルク超音波共振素子2を固定する。本実施形態では、ジャイロセンサ1は、基板3に対してバルク超音波共振素子2を積層し、基板3と一体となったバルク超音波共振素子2の電極面を台座6に固定する構造、いわゆるフェイスダウン構造を有する。台座6は実装基板であり、支持部材5と台座6とは、図3に示すようにボンディングワイヤ12によって接続されている。
In this embodiment, the
ケース8は、図2に示すように、ケース本体81と、フランジ部82と、を有する。ケース本体81は、Z軸方向の一面(フランジ部82の側の一面)を開口面とする、箱状に形成されている。ケース本体81は、各角部が湾曲したアール(R)形状を有している。フランジ部82は、ケース本体81の外周縁から、外側に突出した部位である。ケース8は、このフランジ部82を台座6のリブ61に結合することにより、台座6に対して固定される。台座6に対するケース8の固定手段としては、例えば、接着、粘着、ろう付け、溶着又は圧着等の適宜の手段を採用可能である。本実施形態では、一例として、台座6とケース8との固定手段は、接着である。
As shown in FIG. 2, the
ここで、本実施形態では、ケース8は台座6に対して気密結合されることにより、ケース8と台座6との間には、気密空間が形成される。このため、バルク超音波共振素子2等は、気密空間に収容されることになり、ジャイロセンサ1に対する湿度等の影響を抑制することが可能である。
Here, in the present embodiment, the
本実施形態に係るジャイロセンサ1は、図3に示すように、処理回路52を有している。処理回路52は、本実施形態では、支持部材5としてのASICに設けられている。処理回路52は、バルク超音波共振素子2から出力される電気信号に関する処理を実行する。本実施形態では、処理回路52は、支持部材5に設けられている。言い換えれば、支持部材5は、バルク超音波共振素子2から出力される電気信号に関する処理を実行する処理回路52を含んでいる。
As shown in FIG. 3, the
本実施形態では、処理回路52は、バルク超音波共振素子2から出力されるアナログの電気信号(アナログ信号)を、デジタル信号に変換する。処理回路52は、ノイズ除去及び温度補償等の適宜の処理を実行する。さらに、処理回路52は、バルク超音波共振素子2に対して、バルク超音波共振素子2を駆動するための駆動信号を与える。
In the present embodiment, the
また、処理回路52は、例えば、積分処理又は微分処理といった演算処理を実行してもよい。例えば、処理回路52は、バルク超音波共振素子2から出力される電気信号について積分処理を実行することで、ジャイロセンサ1は、Z軸周りの角速度の積分値、つまりZ軸周りの角速度を求めることが可能である。一方、例えば、処理回路52が、バルク超音波共振素子2から出力される電気信号について微分処理を実行することで、ジャイロセンサ1は、Z軸周りの角速度の微分値、つまりZ軸周りの角加速度を求めることが可能である。
Further, the
次に、振動減衰部4の効果について説明する。ここでは、まず、本実施形態で発生するバルク波の音波反射率について説明する。上述したように、振動減衰部4は、本実施形態では、材料はシリコーンである。振動減衰部4は、具体的には、音響インピーダンスを合わせて、基板3と振動減衰部4との間で発生する音の反射を抑制するものである。振動減衰部4のシリコーンの音響インピーダンスをIsilicon、基板3(シリコン)の音響インピーダンスをIsubとする。また、音速をρ、密度をcとし、シリコーンの音速と密度はそれぞれρsilicon,csilicon、基板3の音速と密度はそれぞれρsub,csubとする。このとき、以下の3つの式が成り立つ。
Next, the effect of the
各材料の音響インピーダンスは、音速と密度の積によって得られる。 The acoustic impedance of each material is obtained by the product of the speed of sound and the density.
以下の2式の基板3のインピーダンスの理論計算値の一例は次の数値である。
An example of the theoretically calculated value of the impedance of the
本実施形態では、振動減衰部4としてシリコーンを導入し、振動減衰部4は、空気の音響インピーダンスよりも大きく、かつ基板3の音響インピーダンスに対して所定の範囲内に属する音響インピーダンスを有する。また、振動減衰部4は基板3の少なくとも一部と接触し、本実施形態では基板3の第2面32の全面に接触している。つまり、振動減衰部4は、ケース8の天井面11を基準面として、図3に示すZ方向の位置9Bまで形成されている。本実施形態では、音波反射率Zsiliconは数2と次式及びシリコーンのインピーダンスの理論計算値の一例を用いて算出される。
In the present embodiment, silicone is introduced as the
数6は、一次元で、まっすぐ入射して透過する振幅と反射する振幅の割合を表している。振動減衰部4を導入することによって、基板3の境界面におけるバルク超音波の反射量は、後述する数10に示す99.99%以上から、数6に示す60%程度にまで低減することができている。つまり、バルク超音波共振素子2の振動時に基板に散逸するバルク超音波は基板3から振動減衰部4に入射し、振動のエネルギーが減衰する。一方、反射波は基板の境界面で反射を繰り返すうちに振動減衰部4に振動のエネルギーが散逸し、減衰する。このため、0点出力の突発的な変動を抑制することができる。
振動減衰部4の音響インピーダンスは、基板3の音響インピーダンスに近い値が好ましい。理論的な反射率を考慮すると、振動減衰部4の音響インピーダンスは1/10倍〜10倍であることが好ましい。振動減衰部4を導入しても、音響インピーダンスに大きな差があれば、基板3の境界面での反射の影響が大きくなってしまうためである。
The acoustic impedance of the
(3)比較例
ここでは、従来のジャイロセンサ(比較例のジャイロセンサ)と、本実施形態1のジャイロセンサ1とを比較する。
(3) Comparative Example Here, the conventional gyro sensor (the gyro sensor of the comparative example) and the
まず、比較例のジャイロセンサで発生するバルク波の音波反射率について説明する。 First, the sound wave reflectance of the bulk wave generated by the gyro sensor of the comparative example will be described.
空気の音響インピーダンスをIairとし、空気の音速と密度はそれぞれρair,cairとすると、次式が成り立つ。 The acoustic impedance of air and I air, respectively the sound velocity and density of air [rho air, when the c air, the following expression holds.
空気の音響インピーダンスは、音速と密度の積によって得られる。振動減衰部4を有しない従来のバルク超音波共振素子2では、基板3の端部(基板3と空気の境界面(第2面32))における音響反射率Zairは以下の式で表わされる。
The acoustic impedance of air is obtained by the product of the speed of sound and the density. In the conventional bulk ultrasonic resonance element 2 having no vibration damping portion 4, the acoustic reflectance Z air at the end portion of the substrate 3 (the boundary surface between the
空気の音響インピーダンスの一例として、次式を用いると、数3と数8によって、振動減衰部4を有しない従来の音波反射率Zairが算出できる。
Using the following equation as an example of the acoustic impedance of air, the conventional sound wave reflectance Z air having no
比較例のジャイロセンサの基板に散逸したバルク超音波の反射率は、99.99%以上であり、反射をし続けて位相や特定の温度条件において、比較例のジャイロセンサのバルク超音波共振素子2に戻ってしまう。このとき、比較例のジャイロセンサのバルク超音波共振素子2に不要信号が発生し、角速度がかかっていないにもかかわらず出力が変動してしまう可能性がある。つまり、0点出力の変動である。バルク超音波共振素子2の駆動の際に発生するバルク超音波が基板3に散逸すると、基板3の中でほぼ全ての超音波が基板3と空気の境界面で反射することを意味している。時間が経過しても反射波が減衰しないために、0点出力の突発的な変動が発生していた。基板3の厚みと比べてバルク超音波の波長は大きく、経路が短い場合には出力変動するような位相で反射しないと考えられる。一方、基板の垂直方向(Z軸)に対して、斜めに出力された超音波は経路が長く、ごく稀に特定の位相を有する超音波が反射してバルク超音波共振素子2に帰ってくると、0点出力の突発的な変動になっていると推定される。
The reflectance of the bulk ultrasonic waves dissipated on the substrate of the gyro sensor of the comparative example is 99.99% or more, and the bulk ultrasonic resonance element of the gyro sensor of the comparative example continues to be reflected under the phase and specific temperature conditions. It will return to 2. At this time, an unnecessary signal may be generated in the bulk
また、温度が変化すると表面状態が変わって反射の状態が変わるので、特定の温度で位相が合ってしまうような状態が発生し、特定の温度で0点出力の突発的な変動が発生していた。 In addition, when the temperature changes, the surface state changes and the reflection state changes, so a state in which the phases match at a specific temperature occurs, and a sudden fluctuation in the 0-point output occurs at a specific temperature. It was.
これに対して、本実施形態では、振動減衰部4を導入することで、基板3と振動減衰部4との境界面である第2面32における反射率は、約60%に低下する。このため、基板3の境界面で反射を繰り返すうちに、基板3に散逸したバルク超音波の振動は減衰する。したがって、基板3の境界面での反射の影響を抑制することができる。
On the other hand, in the present embodiment, by introducing the
(4)利点
基板3に散逸するバルク超音波を減衰する振動減衰部4を導入し、空気よりも基板3に近い音響インピーダンスを有する材料を採用したために、インピーダンスマッチングがとれるようになり、基板3の境界面での反射の影響を抑制することができる。このため、0点出力の突発的な変動が発生する可能性をより低くすることができる。
(4) Advantages Since a
(5)変形例
実施形態1は、本開示の様々な実施形態の一つに過ぎない。実施形態1で参照する図面は、いずれも模式的な図であり、図中の各構成要素の大きさ及び厚さそれぞれの比が、必ずしも実際の寸法比を反映しているとは限らない。実施形態1は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。以下に説明する変形例は、適宜組み合わせて適用可能である。
(5) Modified Example The first embodiment is only one of the various embodiments of the present disclosure. The drawings referred to in the first embodiment are all schematic views, and the ratio of the size and the thickness of each component in the drawing does not necessarily reflect the actual dimensional ratio. The first embodiment can be changed in various ways depending on the design and the like as long as the object of the present disclosure can be achieved. The modifications described below can be applied in combination as appropriate.
(5−1)変形例1
振動減衰部4は、基板3の第2面32の全面において基板3と接触する構成としたがこの構成に限定されない。例えば、図5に示すように、基板3の構造を、第2面32にリブ33を有する構造として、基板3のリブ33と振動減衰部4が接触する構成であってもよい。具体的には、図5に示すように、台座6と対向するケース8の天井面11を基準として、ケース8の天井面11からZ方向の位置9A、つまりリブ33と接触するまで振動減衰部4が設けられている。基板3に散逸したバルク超音波は、基板の第2面32に設けられたリブ33を介して振動減衰部4に入射し、振動のエネルギーが減衰する。
(5-1)
The
また、ケース8の天井面11から図6に示すZ方向の位置9C、すなわち基板3の側面34まで覆うように振動減衰部4が設けられていてもよい。つまり、振動減衰部4は、基板3にバルク超音波共振素子2が積層される方向(積層方向)L2に直交する少なくとも1つの側面34の少なくとも一部と接触する状態である。この場合、基板3に散逸するバルク超音波は、基板3の境界面で振動減衰部4に入射し、振動のエネルギーは減衰し、反射したバルク超音波による0点出力の変動を抑制する。
Further, the
次に、ケース8の天井面11から図7に示すZ方向の位置9D、つまりバルク超音波共振素子2を覆うまで振動減衰部4が設けられていてもよい。このとき、バルク超音波共振素子2は、振動減衰部4に覆われている。バルク超音波の発生源を振動減衰部4が覆うため、ジャイロセンサ1は反射したバルク超音波の影響を受けにくくなる利点がある。
Next, the
さらに、ケース8の空間すべてが振動減衰部4で満たされていてもよい。つまり、ケース8の天井面11から図8に示すZ方向の位置9E、すなわち台座6の表面まで振動減衰部4が満たしている。ジャイロセンサ1の量産を考慮した場合、より生産しやすい利点がある。
Further, the entire space of the
(5−2)その他の変形例
以下、変形例1以外の変形例を列挙する。
(5-2) Other Modified Examples The following are modified examples other than the modified example 1.
実施形態1では、バルク超音波共振素子2はZ軸周りの角速度を検知しているが、この構成に限らず、バルク超音波共振素子2は、例えば、X軸又はY軸周りの角速度を検知してもよい。さらに、バルク超音波共振素子2は、1軸についての角速度に限らず、2軸以上の角速度を検知する構成であってもよい。例えば、バルク超音波共振素子2は、X軸、Y軸及びZ軸の3軸について、各軸周りの角速度を検知する3軸角速度センサであってもよい。つまり、少なくとも1軸についての角速度を検知する構成であればよい。
In the first embodiment, the bulk
また、バルク超音波共振素子2は、角速度以外の物理量を検知する構成であってもよい。例えば、バルク超音波共振素子2は、加速度、角加速度、速度、圧力、重量、長さ(距離)及び温度等の物理量を検知する構成であってもよい。さらに、バルク超音波共振素子2は、1つの物理量に限らず、複数の物理量を検知する構成であってもよい。例えば、バルク超音波共振素子2は、角速度と加速度とを検知してもよい。
Further, the bulk
また、バルク超音波共振素子2は、MEMS技術を用いた素子に限らず、他の素子であってもよい。
Further, the bulk
また、基板3の形状及び材質は、実施形態1で示した例に限らない。例えば、基板3は、平面視において長方形状又は円形状等であってもよい。さらに、基板3は、セラミック製に限らず、例えば、樹脂製又はシリコン製等であってもよい。
Further, the shape and material of the
また、支持部材5が処理回路52を含むASICであることは、ジャイロセンサ1に必須の構成ではなく、支持部材5についても適宜の構成を採用可能である。つまり、支持部材5は、電子部品でなくてもよく、単なる板材等の構造体であってもよい。さらに、支持部材5の形状及び材質は、実施形態1で示した例に限らない。例えば、支持部材5は、平面視において長方形状又は円形状等であってもよい。さらに、支持部材5は、例えば、樹脂製、シリコン製又はセラミック製等の部材であってもよい。なお、支持部材5はジャイロセンサ1の外部部材としてケース8の外部に配置してもよい。
Further, the fact that the
(実施形態2)
実施形態1では、フェイスダウンの素子構造を有するジャイロセンサ1について記載したが、本実施形態では、バルク超音波共振素子2は基板3を挟んで台座6とは反対に位置するように、基板3に対してバルク超音波共振素子2が積層される点が実施形態1とは異なる。つまり、本実施形態のジャイロセンサ1Aは、図9に示すように、バルク超音波共振素子2の電極面が台座6と反対側を向くように配置された、いわゆる、フェイスアップの素子構造を有する。
(Embodiment 2)
In the first embodiment, the
フェイスアップの素子構造を図9に示す。フェイスアップの素子構造を有するジャイロセンサ1Aは、バルク超音波共振素子2と、基板3と、振動減衰部4Aと、支持部材5と、台座6と、を有する。支持部材5は、支持部材5の実装面53が台座6に固定されている。基板3の第2面32と、支持部材5の支持面51が対向するように、基板3と支持部材5とは固定されている。基板3の第1面31に、バルク超音波共振素子2が積層されている。また、バルク超音波共振素子2は、バルク超音波共振素子2を真空封止するために、PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vaper Deposition)酸化物35及び導電性物質36(例えば、アルミニウム)を堆積し、パターンニングしていてもよい。
The face-up element structure is shown in FIG. The
バルク超音波共振素子2から基板3に散逸したバルク超音波は、振動減衰部4Aがなければ、基板3の境界面で反射する点は実施形態1と同様である。図9に示すように、支持部材5の実装面53を基準面として10Bの高さまで振動減衰部4Aで満たすと、基板3の側面34が振動減衰部4Aで覆われる。つまり、振動減衰部4Aは、基板3とバルク超音波共振素子2との積層方向L2に直交する少なくとも1つの側面の少なくとも一部と接触する場合、実施形態1と同様に、基板3に散逸するバルク超音波は振動減衰部4Aに入射し、振動のエネルギーは減衰する。
The point that the bulk ultrasonic waves dissipated from the bulk
(実施形態2の変形例1)
以下に、変形例について列記する。なお、以下に説明する変形例は、上記各実施形態と適宜組み合わせて適用可能である。
(
The modified examples are listed below. The modifications described below can be applied in combination with each of the above embodiments as appropriate.
実施形態2では、支持部材5の実装面53を基準面として、図9に示すZ方向の位置10B、すなわち基板3の側面34を覆うように振動減衰部4Aが設けられている構成としたが、この構成に限定されない。
In the second embodiment, the
振動減衰部4Aは、実装面53を基準面として、図10に示すZ方向の位置10D、すなわちバルク超音波共振素子2を覆う位置まで形成されていてもよい。また、振動減衰部4Aは、実装面53を基準面として、図11に示すZ方向の位置10E、すなわちバルク超音波共振素子2を全て覆うように形成されていてもよい。この場合、基板3に加えて、バルク超音波共振素子2を覆うように振動減衰部4Aは設けられる。
The
さらに、振動減衰部4Aは、実装面53を基準面として、ケース8のスペース13をすべて満たすように設けられていてもよい。この場合、振動減衰部4Aを有するジャイロセンサ1Aの量産を考慮すると、より生産しやすい構成である利点がある。
Further, the
また、フェイスアップの素子構成を有し、ケース8の天井面11を基準面として、図12に示すZ方向の位置10C、すなわち基板3の第1面31に接触するように振動減衰部4Aは設けられていてもよい。この場合、基板3に散逸したバルク超音波は、基板3の境界面(基板3の側面34と振動減衰部4Aとの境界面)において、基板3から振動減衰部4Aに入射し、振動のエネルギーは減衰する。このため、反射した超音波による0点出力の変動を抑制することができる。
Further, the
さらに、フェイスアップの素子構成を有し、ケース8の天井面11を基準面として、図13に示すZ方向の位置10B、すなわち基板3とバルク超音波共振素子2の積層方向L2に直交する少なくとも1つの側面34の少なくとも一部と接触するように振動減衰部4Aを設けてもよい。この場合、基板3の境界面が振動減衰部4に広く覆われるため、振動減衰部4Aを導入した効果が大きくなる。
Further, it has a face-up element configuration, and at least orthogonal to the
また、フェイスアップの素子構成を有し、ケース8の天井面11を基準面として、図14に示すZ方向の位置10A、すなわちケース8内をすべて振動減衰部4Aで満たしてもよい。この場合、振動減衰部4Aにより基板3の境界面において反射が抑制されるとともに、より生産しやすい構成である利点がある。
Further, it has a face-up element configuration, and the
(まとめ)
以上、説明したように、第1の態様のジャイロセンサ(1,1A)は、バルク超音波共振素子(2)と、基板(3)と、振動減衰部(4)と、を備える。基板(3)は、バルク超音波共振素子(2)に積層される。振動減衰部(4,4A)は、バルク超音波共振素子(2)の振動時に基板(3)に散逸するバルク超音波の振動を減衰させるように構成される。振動減衰部(4,4A)は、空気の音響インピーダンスよりも大きく、かつ基板(3)の音響インピーダンスに対して所定の範囲内に属する音響インピーダンスを有し、基板(3)の少なくとも一部に接触する。
(Summary)
As described above, the gyro sensor (1,1A) of the first aspect includes a bulk ultrasonic resonance element (2), a substrate (3), and a vibration damping unit (4). The substrate (3) is laminated on the bulk ultrasonic resonance element (2). The vibration damping section (4, 4A) is configured to attenuate the vibration of the bulk ultrasonic wave dissipated to the substrate (3) when the bulk ultrasonic resonance element (2) vibrates. The vibration damping portion (4, 4A) has an acoustic impedance that is larger than the acoustic impedance of air and belongs to a predetermined range with respect to the acoustic impedance of the substrate (3), and is formed on at least a part of the substrate (3). Contact.
この構成によると、振動減衰部(4,4A)は基板(3)の音響インピーダンスに対して所定の範囲内に属する音響インピーダンスを有するため、基板(3)の少なくとも一部に接触する振動減衰部(4,4A)に振動のエネルギーが入射する。入射したエネルギーは振動減衰部(4,4A)で減衰することから、反射したバルク超音波による0点出力の変動を抑制することができる。 According to this configuration, since the vibration damping unit (4, 4A) has an acoustic impedance belonging to a predetermined range with respect to the acoustic impedance of the substrate (3), the vibration damping unit (4, 4A) comes into contact with at least a part of the substrate (3). Vibration energy is incident on (4,4A). Since the incident energy is attenuated by the vibration damping portion (4, 4A), the fluctuation of the 0-point output due to the reflected bulk ultrasonic waves can be suppressed.
第2の態様のジャイロセンサ(1)では、第1の態様において、台座(6)を更に有する。台座(6)は基板(3)のバルク超音波共振素子(2)が積層された側に配置されている。 The gyro sensor (1) of the second aspect further has a pedestal (6) in the first aspect. The pedestal (6) is arranged on the side of the substrate (3) on which the bulk ultrasonic resonance element (2) is laminated.
この構成によると、ジャイロセンサ(1)は、フェイスダウンの素子構成を有する。この構成によると、バルク超音波が散逸する基板(3)と、振動減衰部(4)とが接触しやすく、バルク超音波の反射による影響を抑制することができる。 According to this configuration, the gyro sensor (1) has a face-down element configuration. According to this configuration, the substrate (3) at which the bulk ultrasonic waves are dissipated and the vibration damping portion (4) are likely to come into contact with each other, and the influence of the reflection of the bulk ultrasonic waves can be suppressed.
第3の態様のジャイロセンサ(1,1A)では、第1の態様において、台座(6)を更に有する。台座(6)は、基板(3)のバルク超音波共振素子(2)が積層された側とは、反対の側に配置されている。 The gyro sensor (1,1A) of the third aspect further has a pedestal (6) in the first aspect. The pedestal (6) is arranged on the side opposite to the side on which the bulk ultrasonic resonance element (2) of the substrate (3) is laminated.
この構成によると、ジャイロセンサ(1A)は、フェイスアップの素子構造を有する。この構成によると、バルク超音波が散逸する基板(3)と振動減衰部(4A)とが接触しやすく、バルク超音波の反射による影響を緩和しやすい。 According to this configuration, the gyro sensor (1A) has a face-up element structure. According to this configuration, the substrate (3) at which the bulk ultrasonic waves are dissipated and the vibration damping portion (4A) are likely to come into contact with each other, and the influence of the reflection of the bulk ultrasonic waves is easily mitigated.
第4の態様のジャイロセンサ(1,1A)では、第1〜第3のいずれかの態様において、振動減衰部(4,4A)の音響インピーダンスは、基板(3)の音響インピーダンスの1/10倍〜10倍である。 In the gyro sensor (1,1A) of the fourth aspect, in any one of the first to third aspects, the acoustic impedance of the vibration damping section (4,4A) is 1/10 of the acoustic impedance of the substrate (3). It is 10 to 10 times.
この構成によると、振動減衰部(4,4A)の音響インピーダンスは、基板(3)の音響インピーダンスの1/10倍〜10倍とすることで、基板(3)と振動減衰部(4,4A)とのインピーダンスマッチングがとりやすくなる。このため、基板(3)に散逸したバルク超音波が、基板(3)の境界面において振動減衰部(4,4A)に入射しやすくなり、バルク超音波の反射による影響を抑制することができる。 According to this configuration, the acoustic impedance of the vibration damping section (4,4A) is 1/10 to 10 times the acoustic impedance of the substrate (3), so that the board (3) and the vibration damping section (4,4A) are set to 1/10 to 10 times. ) And impedance matching becomes easier. Therefore, the bulk ultrasonic waves dissipated on the substrate (3) are likely to be incident on the vibration damping portion (4, 4A) at the boundary surface of the substrate (3), and the influence of the reflection of the bulk ultrasonic waves can be suppressed. ..
第5の態様のジャイロセンサ(1,1A)では、第1〜第4のいずれかの態様において、振動減衰部(4)は、基板(3)にバルク超音波共振素子(2)が積層される積層方向における基板(3)の2つの面のうちバルク超音波共振素子(2)が配置される第1面(31)と反対側の第2面(32)に接触する。 In the gyro sensor (1,1A) of the fifth aspect, in any one of the first to fourth aspects, the vibration damping portion (4) has the bulk ultrasonic resonance element (2) laminated on the substrate (3). Of the two surfaces of the substrate (3) in the stacking direction, the bulk ultrasonic resonance element (2) comes into contact with the second surface (32) opposite to the first surface (31) on which the bulk ultrasonic resonance element (2) is arranged.
この構成によると、第2面(32)に接触することで、基板(3)に散逸したバルク超音波は、第2面(32)を介して振動減衰部(4,4A)に入射される。このため、基板(3)の境界面におけるバルク超音波の反射による影響を抑制することができる。 According to this configuration, the bulk ultrasonic waves dissipated on the substrate (3) by contacting the second surface (32) are incident on the vibration damping portion (4, 4A) via the second surface (32). .. Therefore, the influence of the reflection of bulk ultrasonic waves on the boundary surface of the substrate (3) can be suppressed.
第6の態様のジャイロセンサ(1,1A)では、第5の態様において、振動減衰部(4)は、基板(3)の第2面(32)の全面において基板(3)と接触する。 In the gyro sensor (1,1A) of the sixth aspect, in the fifth aspect, the vibration damping portion (4) comes into contact with the substrate (3) on the entire surface of the second surface (32) of the substrate (3).
この構成によると、第2面(32)の全面において基板(3)と接触するので、広い面積において振動減衰部(4,4A)と基板(3)とが接触し、基板(3)の境界面におけるバルク超音波の反射による影響を抑制することができる。 According to this configuration, since the entire surface of the second surface (32) is in contact with the substrate (3), the vibration damping portion (4, 4A) and the substrate (3) are in contact with each other over a wide area, and the boundary of the substrate (3) is formed. The influence of the reflection of bulk ultrasonic waves on the surface can be suppressed.
第7の態様のジャイロセンサ(1,1A)では、第5又は第6の態様において、振動減衰部(4,4A)は、基板(3)の積層方向(L2)に直交する少なくとも1つの基板(3)の側面(34)の少なくとも一部と接触する。 In the gyro sensor (1,1A) of the seventh aspect, in the fifth or sixth aspect, the vibration damping portion (4,4A) is at least one substrate orthogonal to the stacking direction (L2) of the substrate (3). It comes into contact with at least a part of the side surface (34) of (3).
この構成によると、振動減衰部(4,4A)は、基板(3)の積層方向(L2)に直交する少なくとも1つの基板(3)の側面(34)の少なくとも一部と接触することで、接触する基板(3)の側面(34)においてもバルク超音波の反射の影響を抑制することができる。 According to this configuration, the vibration damping portion (4,4A) comes into contact with at least a part of the side surface (34) of at least one substrate (3) orthogonal to the stacking direction (L2) of the substrate (3). The influence of the reflection of bulk ultrasonic waves can also be suppressed on the side surface (34) of the substrate (3) that comes into contact with the substrate (3).
第8の態様のジャイロセンサ(1,1A)では、第1〜第7のいずれかの態様において、基板(3)とバルク超音波共振素子(2)とを収容するケース(8)を更に有する。振動減衰部(4,4A)は、ケース(8)内の少なくとも一部のスペース(13)に設けられている。 The gyro sensor (1,1A) of the eighth aspect further includes a case (8) accommodating the substrate (3) and the bulk ultrasonic resonance element (2) in any one of the first to seventh aspects. .. The vibration damping portion (4, 4A) is provided in at least a part of the space (13) in the case (8).
この構成によると、ケース(8)の少なくとも一部のスペース(13)に設けられることで、生産時にケース(8)に振動減衰部(4,4A)を設けておいて、そこに基板(3)が接触したり、埋没したりするように組み付けることができ、生産性が高い。 According to this configuration, by providing the case (8) in at least a part of the space (13), the case (8) is provided with the vibration damping part (4, 4A) at the time of production, and the substrate (3) is provided there. ) Can be assembled so that they come into contact with each other or are buried, resulting in high productivity.
1,1A ジャイロセンサ
2 バルク超音波共振素子
3 基板
4,4A 振動減衰部
6 台座
8 ケース
L2 積層方向
31 第1面
32 第2面
34 側面
13 スペース
1,
Claims (8)
前記バルク超音波共振素子に積層される基板と、
前記バルク超音波共振素子の振動時に前記基板に散逸するバルク超音波の振動を減衰させるように構成された振動減衰部と、を備え、
前記振動減衰部は、空気の音響インピーダンスよりも大きく、かつ前記基板の音響インピーダンスに対して所定の範囲内に属する音響インピーダンスを有し、前記基板の少なくとも一部に接触する、
ジャイロセンサ。 Bulk ultrasonic resonance element and
A substrate laminated on the bulk ultrasonic resonance element and
A vibration damping unit configured to attenuate the vibration of the bulk ultrasonic waves dissipated on the substrate when the bulk ultrasonic resonance element vibrates is provided.
The vibration damping portion has an acoustic impedance that is larger than the acoustic impedance of air and belongs to a predetermined range with respect to the acoustic impedance of the substrate, and comes into contact with at least a part of the substrate.
Gyro sensor.
前記台座は、前記基板の前記バルク超音波共振素子が積層された側に配置されている、
請求項1に記載のジャイロセンサ。 Has more pedestals
The pedestal is arranged on the side of the substrate on which the bulk ultrasonic resonance element is laminated.
The gyro sensor according to claim 1.
前記台座は、前記基板の前記バルク超音波共振素子が積層された側とは反対の側に配置されている、
請求項1に記載のジャイロセンサ。 Has more pedestals
The pedestal is arranged on the side of the substrate opposite to the side on which the bulk ultrasonic resonance element is laminated.
The gyro sensor according to claim 1.
請求項1〜3のいずれか1項に記載のジャイロセンサ。 The acoustic impedance of the vibration damping portion is 1/10 to 10 times the acoustic impedance of the substrate.
The gyro sensor according to any one of claims 1 to 3.
請求項1〜4のいずれか1項に記載のジャイロセンサ。 The vibration damping portion is a second surface of the two surfaces of the substrate in the stacking direction in which the bulk ultrasonic resonance element is laminated on the substrate, which is opposite to the first surface on which the bulk ultrasonic resonance element is laminated. Contact,
The gyro sensor according to any one of claims 1 to 4.
請求項5に記載のジャイロセンサ。 The vibration damping portion contacts the substrate on the entire surface of the second surface of the substrate.
The gyro sensor according to claim 5.
請求項5又は6に記載のジャイロセンサ。 The vibration damping portion contacts at least a part of the side surface of at least one substrate orthogonal to the stacking direction.
The gyro sensor according to claim 5 or 6.
前記振動減衰部は、前記ケース内の少なくとも一部のスペースに設けられている、
請求項1〜7のいずれか1項に記載のジャイロセンサ。 Further having a case for accommodating the substrate and the bulk ultrasonic resonance element,
The vibration damping portion is provided in at least a part of the space in the case.
The gyro sensor according to any one of claims 1 to 7.
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2019
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