JP2021081755A - Optical scanning device, and optical scanning method - Google Patents

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Abstract

To improve accuracy of a compensation for a phase deviation in a horizontal scan direction.SOLUTION: A two-dimensional scan type optical scanning device, which oscillates a mirror in a first direction and in a second direction orthogonal to the first direction, has: a temperature detection unit that detects a temperature; a warping state determination unit that determines whether a warping state of second drive beams oscillating the mirror in the second direction is stabilized; a coefficient storage unit that holds a function showing a relationship between a temperature, a drive signal for oscillating the mirror in the first direction, and an amount of deviation of a phase with respect to a signal showing the deviation in the first direction of the mirror; and a phase deviation-amount calculation unit that, when it is determined that the warping state of the second drive beams is stabilized, calculates the amount of deviation of the phase from the temperature detected by the temperature detection unit, and the function.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、光走査装置及び光走査方法に関する。 The present invention relates to an optical scanning apparatus and an optical scanning method.

従来では、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラーを駆動して、レーザ光の反射方向を順次変化させることで、レーザ光を二次元走査して画像を投影させる光走査装置が知られている。 Conventionally, there is known an optical scanning device that drives a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirror to sequentially change the reflection direction of a laser beam to scan the laser beam in two dimensions and project an image.

また、従来では、MEMSミラーを水平駆動において、比較的高速な共振駆動を用いた場合に、駆動信号とMEMSミラーの変位との間に位相差が生じることが知られている。この位相差が生じた場合、投影される画像には、水平走査方向の位相差と対応したずれが生じることとなる。そこで、従来では、このような水平走査方向の位相ずれを解消することができるようにした技術が考案されている(特許文献1)。 Further, conventionally, it is known that when the MEMS mirror is driven horizontally and a relatively high-speed resonance drive is used, a phase difference occurs between the drive signal and the displacement of the MEMS mirror. When this phase difference occurs, the projected image will have a shift corresponding to the phase difference in the horizontal scanning direction. Therefore, conventionally, a technique has been devised that can eliminate such a phase shift in the horizontal scanning direction (Patent Document 1).

特開2002−365568号公報JP-A-2002-365568

水平走査方向の位相ずれは、温度が一定であっても、MEMSミラーを垂直方向に駆動させる垂直梁の反りの変化によって発生することがわかっている。この反りは可逆的なもので、MEMSミラーの駆動が停止すると、再び初期状態に戻ってゆく。そしてこの反りによっても、水平走査方向の位相ずれが生じる。 It is known that the phase shift in the horizontal scanning direction is caused by the change in the warp of the vertical beam that drives the MEMS mirror in the vertical direction even if the temperature is constant. This warp is reversible, and when the drive of the MEMS mirror is stopped, it returns to the initial state again. And this warp also causes a phase shift in the horizontal scanning direction.

しかしながら、特許文献1に開示されている従来の技術では、垂直梁の反りの変化による位相ずれについては考慮されておらず、水平走査方向の位相のずれの補償の精度を向上させることが困難であった。 However, in the conventional technique disclosed in Patent Document 1, the phase shift due to the change in the warp of the vertical beam is not considered, and it is difficult to improve the accuracy of compensating for the phase shift in the horizontal scanning direction. there were.

開示の技術は、上記事情に鑑みてなされたものであり、水平走査方向の位相ずれの補償の精度を向上させることを目的としている。 The disclosed technique has been made in view of the above circumstances, and aims to improve the accuracy of compensation for phase shift in the horizontal scanning direction.

開示の技術は、第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置(1)であって、
温度を検出する温度検出部(51)と、
前記ミラー(110)を前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁(170A、170B)の反りの状態が安定したか否かを判定する反り状態判定部(58)と、
温度と、前記ミラー(110)を前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量と、の関係を示す関数を保持する係数記憶部(53A)と、
前記第2の駆動梁(170A、170B)の反りの状態が安定したと判定された場合、前記温度検出部(51)により検出された温度と、前記関数とから、前記位相のずれ量を算出する位相ずれ算出部(56A)と、を有する光走査装置である。
The technique disclosed is a two-dimensional scanning type optical scanning device (1) that swings a mirror in a first direction and a second direction orthogonal to the first direction.
A temperature detection unit (51) that detects the temperature and
A warp state determination unit (58) for determining whether or not the warp state of the second drive beams (170A, 170B) for swinging the mirror (110) in the second direction is stable, and
Holds a function indicating the relationship between the temperature, the drive signal for swinging the mirror (110) in the first direction, and the amount of phase shift between the signal indicating the displacement of the mirror in the first direction. Coefficient storage unit (53A)
When it is determined that the warped state of the second driving beam (170A, 170B) is stable, the phase shift amount is calculated from the temperature detected by the temperature detecting unit (51) and the function. This is an optical scanning device including a phase shift calculation unit (56A).

なお、上記括弧内の参照符号は、理解を容易にするために付したものであり、一例にすぎず、図示の態様に限定されるものではない。 The reference numerals in parentheses are provided for easy understanding, and are merely examples, and are not limited to the illustrated modes.

水平走査方向の位相ずれの補償の精度を向上させることができる。 The accuracy of compensating for the phase shift in the horizontal scanning direction can be improved.

第一の実施形態の光走査装置の構成を説明するである。The configuration of the optical scanning apparatus of the first embodiment will be described. 第一の実施形態の光走査部を説明する図である。It is a figure explaining the optical scanning part of 1st Embodiment. 第一の実施形態の補償回路の機能を説明する図である。It is a figure explaining the function of the compensation circuit of 1st Embodiment. 第一の実施形態における第2の駆動梁の反り量と、温度との関係を表す図である。It is a figure which shows the relationship between the warp amount of the 2nd drive beam in 1st Embodiment, and temperature. 第一の実施形態の補償回路の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the operation of the compensation circuit of 1st Embodiment. 第一の実施形態の位相補償部の処理を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the process of the phase compensation part of 1st Embodiment. 第二の実施形態の補償回路の機能を説明する図である。It is a figure explaining the function of the compensation circuit of the 2nd Embodiment. タイミングの補償量と温度との関係を説明する図である。It is a figure explaining the relationship between the compensation amount of timing and temperature. 第二の実施形態の補償回路の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the operation of the compensation circuit of the 2nd Embodiment.

(第一の実施形態)
以下に、図面を参照して第一の実施形態について説明する。図1は、第一の実施形態の光走査装置の構成を説明するである。
(First Embodiment)
The first embodiment will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 illustrates the configuration of the optical scanning device of the first embodiment.

本実施形態の光走査装置1は、光走査制御部10、光源部20、温度センサ30、光走査部40を備えている。以下に、各部について説明する。 The optical scanning device 1 of the present embodiment includes an optical scanning control unit 10, a light source unit 20, a temperature sensor 30, and an optical scanning unit 40. Each part will be described below.

本実施形態の光走査制御部10は、光源部20と、光走査部40とを制御する。光走査制御部10は、システムコントローラ11、バッファ回路12、ミラー駆動回路13、レーザ駆動回路14、補償回路15を有する。 The optical scanning control unit 10 of the present embodiment controls the light source unit 20 and the optical scanning unit 40. The optical scanning control unit 10 includes a system controller 11, a buffer circuit 12, a mirror drive circuit 13, a laser drive circuit 14, and a compensation circuit 15.

システムコントローラ11は、ミラー駆動回路13に対し、光走査部40の有するミラーの揺動を制御するための制御信号を供給する。また、システムコントローラ11は、ディジタルの映像信号をレーザ駆動回路14に供給する。 The system controller 11 supplies the mirror drive circuit 13 with a control signal for controlling the swing of the mirror included in the optical scanning unit 40. Further, the system controller 11 supplies a digital video signal to the laser drive circuit 14.

バッファ回路12は、光走査部40から出力されるデータを保持する。具体的には、例えば、バッファ回路12は、光走査部40の有する垂直振角センサや水平振角センサから出力される出力信号等が保持される。 The buffer circuit 12 holds the data output from the optical scanning unit 40. Specifically, for example, the buffer circuit 12 holds an output signal or the like output from the vertical swing angle sensor or the horizontal swing angle sensor of the optical scanning unit 40.

ミラー駆動回路13は、システムコントローラ11からの制御信号に基づいて、光走査部40に対し、後述するミラーを水平方向(第1方向)に揺動(駆動)させるための水平駆動信号と、ミラーを垂直方向(第2方向)に揺動させるための垂直駆動信号とを供給する。 Based on the control signal from the system controller 11, the mirror drive circuit 13 includes a horizontal drive signal for causing the optical scanning unit 40 to swing (drive) the mirror, which will be described later, in the horizontal direction (first direction), and a mirror. Is supplied with a vertical drive signal for swinging in the vertical direction (second direction).

レーザ駆動回路14は、システムコントローラ11からの映像信号に基づいて、光源部20に、レーザを駆動させるためのレーザ駆動信号を供給する。 The laser drive circuit 14 supplies a laser drive signal for driving the laser to the light source unit 20 based on the video signal from the system controller 11.

補償回路15は、光走査部40において、ミラーを垂直方向に駆動させる駆動梁の反りの変化によって発生する水平走査方向(以下、水平方向)の位相のずれを補償する。水平方向の位相のずれとは、光走査部40に供給される水平駆動信号と、ミラーの水平方向の変位を検出する水平振角センサの出力信号との位相差である。補償回路15の詳細は後述する。 The compensation circuit 15 compensates for the phase shift in the horizontal scanning direction (hereinafter referred to as the horizontal direction) caused by the change in the warp of the driving beam that drives the mirror in the vertical direction in the optical scanning unit 40. The horizontal phase shift is the phase difference between the horizontal drive signal supplied to the optical scanning unit 40 and the output signal of the horizontal swing angle sensor that detects the horizontal displacement of the mirror. The details of the compensation circuit 15 will be described later.

本実施形態の光源部20は、LDモジュール21、減光フィルタ22を有する。LDモジュール21は、レーザ21R、レーザ21G、レーザ21Bを有する。 The light source unit 20 of this embodiment has an LD module 21 and a dimming filter 22. The LD module 21 includes a laser 21R, a laser 21G, and a laser 21B.

レーザ21R、21G、21Bは、システムコントローラ11から供給されたレーザ駆動電流に基づいて、レーザ光を出射する。レーザ21Rは、例えば、赤色半導体レーザであり、波長λR(例えば、640nm)の光を出射する。レーザ21Gは、例えば、緑色半導体レーザであり、波長λG(例えば、530nm)の光を出射する。レーザ21Gは、例えば、青色半導体レーザであり、波長λB(例えば、445nm)の光を出射する。レーザ21R、21G、21Bから出射された各波長の光は、ダイクロイックミラー等により合成され、減光フィルタ22により所定の光量に減光されて、光走査部40に入射される。 The lasers 21R, 21G, and 21B emit laser light based on the laser drive current supplied from the system controller 11. The laser 21R is, for example, a red semiconductor laser and emits light having a wavelength of λR (for example, 640 nm). The laser 21G is, for example, a green semiconductor laser and emits light having a wavelength of λG (for example, 530 nm). The laser 21G is, for example, a blue semiconductor laser and emits light having a wavelength of λB (for example, 445 nm). The light of each wavelength emitted from the lasers 21R, 21G, and 21B is synthesized by a dichroic mirror or the like, dimmed to a predetermined amount of light by the dimming filter 22, and incident on the optical scanning unit 40.

温度センサ30は、光走査装置1の周囲の温度を検出するためのセンサであり、例えば、サーミスタ等により実現されても良い。 The temperature sensor 30 is a sensor for detecting the ambient temperature of the optical scanning device 1, and may be realized by, for example, a thermistor or the like.

光走査部40は、ミラー駆動回路13から供給される水平及び垂直駆動信号に応じて、ミラーを水平方向及び垂直方向に駆動させる。光走査部40では、これにより、入射されるレーザ光の反射方向を変更して、レーザ光による光走査を行い、スクリーン等に画像を投影する。 The optical scanning unit 40 drives the mirror in the horizontal and vertical directions according to the horizontal and vertical drive signals supplied from the mirror drive circuit 13. The optical scanning unit 40 changes the reflection direction of the incident laser beam, performs optical scanning with the laser beam, and projects an image on a screen or the like.

以下に、図2を参照して、本実施形態の光走査部40について、さらに説明する。図2は、第一の実施形態の光走査部を説明する図である。 Hereinafter, the optical scanning unit 40 of the present embodiment will be further described with reference to FIG. FIG. 2 is a diagram illustrating an optical scanning unit of the first embodiment.

本実施形態の光走査部40は、例えば圧電素子によりミラー110を駆動させるMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラー等である。 The optical scanning unit 40 of the present embodiment is, for example, a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirror in which the mirror 110 is driven by a piezoelectric element.

光走査部40は、ミラー110と、ミラー支持部120と、捻れ梁130A、130Bと、連結梁140A、140Bと、第1の駆動梁150A、150Bと、可動枠160と、第2の駆動梁170A、170Bと、固定枠180とを有する。また、第1の駆動梁150A、150Bは、それぞれ駆動源151A、151Bを有する。また、第2の駆動梁170A、170Bは、それぞれ駆動源171A、171Bを有する。第1の駆動梁150A、150B、第2の駆動梁170A、170Bは、ミラー110を上下又は左右に揺動してレーザ光を走査するアクチュエータとして機能する。 The optical scanning unit 40 includes a mirror 110, a mirror support portion 120, twisted beams 130A and 130B, connecting beams 140A and 140B, first driving beams 150A and 150B, a movable frame 160, and a second driving beam. It has 170A and 170B and a fixed frame 180. Further, the first drive beams 150A and 150B have drive sources 151A and 151B, respectively. Further, the second drive beams 170A and 170B have drive sources 171A and 171B, respectively. The first drive beams 150A and 150B and the second drive beams 170A and 170B function as actuators that swing the mirror 110 up and down or left and right to scan the laser beam.

ミラー支持部120には、ミラー110の円周に沿うようにスリット122が形成されている。スリット122により、ミラー支持部120を軽量化しつつ捻れ梁130A、130Bによる捻れをミラー110へ伝達することができる。 A slit 122 is formed in the mirror support portion 120 along the circumference of the mirror 110. The slit 122 can transmit the twist caused by the twisted beams 130A and 130B to the mirror 110 while reducing the weight of the mirror support portion 120.

光走査部40において、ミラー支持部120の上面にミラー110が支持され、ミラー支持部120は、両側にある捻れ梁130A、130Bの端部に連結されている。捻れ梁130A、130Bは、揺動軸を構成し、軸方向に延在してミラー支持部120を軸方向両側から支持している。捻れ梁130A、130Bが捻れることにより、ミラー支持部120に支持されたミラー110が揺動し、ミラー110に照射された光の反射光を走査させる動作を行う。捻れ梁130A、130Bは、それぞれが連結梁140A、140Bに連結支持され、第1の駆動梁150A、150Bに連結されている。 In the optical scanning unit 40, the mirror 110 is supported on the upper surface of the mirror support unit 120, and the mirror support unit 120 is connected to the ends of the twisted beams 130A and 130B on both sides. The twisted beams 130A and 130B form a swing shaft and extend in the axial direction to support the mirror support portion 120 from both sides in the axial direction. When the twisted beams 130A and 130B are twisted, the mirror 110 supported by the mirror support portion 120 swings, and the reflected light of the light emitted to the mirror 110 is scanned. The twisted beams 130A and 130B are connected and supported by the connecting beams 140A and 140B, respectively, and are connected to the first driving beams 150A and 150B, respectively.

第1の駆動梁150A、150B、連結梁140A、140B、捻れ梁130A、130B、ミラー支持部120及びミラー110は、可動枠160によって外側から支持されている。第1の駆動梁150A、150Bは、可動枠160にそれぞれの一方の側が支持されている。第1の駆動梁150Aの他方の側は内周側に延びて連結梁140A、140Bと連結している。第1の駆動梁150Bの他方の側も同様に、内周側に延びて連結梁140A、140Bと連結している。 The first driving beams 150A and 150B, connecting beams 140A and 140B, twisted beams 130A and 130B, mirror support portion 120 and mirror 110 are supported from the outside by a movable frame 160. One side of each of the first drive beams 150A and 150B is supported by the movable frame 160. The other side of the first drive beam 150A extends to the inner peripheral side and is connected to the connecting beams 140A and 140B. Similarly, the other side of the first drive beam 150B extends to the inner peripheral side and is connected to the connecting beams 140A and 140B.

第1の駆動梁150A、150Bは、捻れ梁130A、130Bと直交する方向に、ミラー110及びミラー支持部120を挟むように、対をなして設けられている。第1の駆動梁150A、150Bの上面には、駆動源151A、151Bがそれぞれ形成されている。駆動源151A、151Bは、第1の駆動梁150A、150Bの上面の圧電素子の薄膜(以下「圧電薄膜」ともいう。)の上に形成された上部電極と、圧電薄膜の下面に形成された下部電極とを含む。駆動源151A、151Bは、上部電極と下部電極に印加する駆動電圧の極性に応じて伸長したり縮小したりする。 The first drive beams 150A and 150B are provided in pairs so as to sandwich the mirror 110 and the mirror support portion 120 in the direction orthogonal to the twist beams 130A and 130B. Drive sources 151A and 151B are formed on the upper surfaces of the first drive beams 150A and 150B, respectively. The drive sources 151A and 151B are formed on the upper electrode formed on the thin film of the piezoelectric element (hereinafter, also referred to as "piezoelectric thin film") on the upper surface of the first drive beams 150A and 150B, and on the lower surface of the piezoelectric thin film. Includes lower electrode. The drive sources 151A and 151B expand or contract depending on the polarity of the drive voltage applied to the upper electrode and the lower electrode.

このため、第1の駆動梁150Aと第1の駆動梁150Bとで異なる位相の駆動電圧を交互に印加すれば、ミラー110の左側と右側で第1の駆動梁150Aと第1の駆動梁150Bとが上下反対側に交互に振動する。これにより、捻れ梁130A、130Bを揺動軸又は回転軸として、ミラー110を軸周りに揺動させることができる。 Therefore, if drive voltages having different phases are alternately applied to the first drive beam 150A and the first drive beam 150B, the first drive beam 150A and the first drive beam 150B are on the left and right sides of the mirror 110. And vibrate alternately up and down. As a result, the mirror 110 can be swung around the axis with the twisted beams 130A and 130B as the swinging shaft or the rotating shaft.

ミラー110が捻れ梁130A、130Bの軸周りに揺動する方向を、以後、水平方向と呼ぶ。つまり、本実施形態の第1の駆動梁150Aと第1の駆動梁150Bは、捻れ梁130A、130Bの捻れ変形させることで、ミラー110を水平方向(第1方向)に揺動させる。例えば第1の駆動梁150A、150Bによる水平駆動には、共振振動が用いられ、高速にミラー110を揺動駆動することができる。 The direction in which the mirror 110 swings around the axes of the twisted beams 130A and 130B is hereinafter referred to as the horizontal direction. That is, the first drive beam 150A and the first drive beam 150B of the present embodiment swing the mirror 110 in the horizontal direction (first direction) by twisting and deforming the twisted beams 130A and 130B. For example, resonance vibration is used for horizontal drive by the first drive beams 150A and 150B, and the mirror 110 can be oscillated at high speed.

また、可動枠160の外部には、第2の駆動梁170A、170Bの一端が連結されている。第2の駆動梁170A、170Bは、可動枠160を左右両側から挟むように、対をなして設けられている。そして、第2の駆動梁170A、170Bは、可動枠160を両側から支持すると共に、光反射面の中心を通る所定の軸周りに揺動させる。第2の駆動梁170Aは、第1の駆動梁150Aと平行に延在する複数個(例えば偶数個)の矩形梁の各々が、隣接する矩形梁と端部で連結され、全体としてジグザグ状の形状を有する。 Further, one ends of the second drive beams 170A and 170B are connected to the outside of the movable frame 160. The second drive beams 170A and 170B are provided in pairs so as to sandwich the movable frame 160 from both the left and right sides. Then, the second drive beams 170A and 170B support the movable frame 160 from both sides and swing around a predetermined axis passing through the center of the light reflecting surface. In the second drive beam 170A, each of a plurality of (for example, even number) rectangular beams extending in parallel with the first drive beam 150A are connected to the adjacent rectangular beams at the ends, and the second drive beam 170A has a zigzag shape as a whole. Has a shape.

そして、第2の駆動梁170Aの他端は、固定枠180の内側に連結されている。第2の駆動梁170Bも同様に、第1の駆動梁150Bと平行に延在する複数個(例えば偶数個)の矩形梁の各々が、隣接する矩形梁と端部で連結され、全体としてジグザグ状の形状を有する。そして、第2の駆動梁170Bの他端は、固定枠180の内側に連結されている。 The other end of the second drive beam 170A is connected to the inside of the fixed frame 180. Similarly, in the second drive beam 170B, each of a plurality of (for example, even number) rectangular beams extending in parallel with the first drive beam 150B are connected to the adjacent rectangular beams at the ends, and are zigzag as a whole. It has a rectangular shape. The other end of the second drive beam 170B is connected to the inside of the fixed frame 180.

第2の駆動梁170A、170Bの上面には、それぞれ曲線部を含まない矩形単位ごとに駆動源171A、171Bが形成されている。駆動源171Aは、第2の駆動梁170Aの上面の圧電薄膜の上に形成された上部電極と、上部電極の上面に形成された応力カウンター膜8と、圧電薄膜の下面に形成された下部電極とを含む。駆動源171Bは、第2の駆動梁170Bの上面の圧電薄膜の上に形成された上部電極と、上部電極の上面に形成された応力カウンター膜8と、圧電薄膜の下面に形成された下部電極とを含む。 Drive sources 171A and 171B are formed on the upper surfaces of the second drive beams 170A and 170B for each rectangular unit that does not include a curved portion, respectively. The drive source 171A includes an upper electrode formed on the piezoelectric thin film on the upper surface of the second drive beam 170A, a stress counter film 8 formed on the upper surface of the upper electrode, and a lower electrode formed on the lower surface of the piezoelectric thin film. And include. The drive source 171B includes an upper electrode formed on the piezoelectric thin film on the upper surface of the second drive beam 170B, a stress counter film 8 formed on the upper surface of the upper electrode, and a lower electrode formed on the lower surface of the piezoelectric thin film. And include.

尚、応力カウンター膜8は、圧電薄膜が形成されていない領域には形成されていない。これは、圧電薄膜が形成されていない領域に応力カウンター膜8を形成すると、応力カウンター膜8により不必要な箇所に新たな応力が発生し、変形や破損の原因となるためである。 The stress counter film 8 is not formed in the region where the piezoelectric thin film is not formed. This is because when the stress counter film 8 is formed in the region where the piezoelectric thin film is not formed, new stress is generated in unnecessary places by the stress counter film 8 and causes deformation or breakage.

本実施形態では、応力カウンター膜8を形成することにより、初期状態において、例えば図2に示されるように、第2の駆動梁170A、170Bに対して圧縮応力を発生させて、固定枠180に対して下方向に撓んだ状態(下反りの状態)になるようにする。圧縮応力とは、第2の駆動梁170A、170Bを固定枠180に対して下反りにさせる応力である。また、初期状態とは、光走査部40に駆動信号が供給されていない状態を示す。 In the present embodiment, by forming the stress counter film 8, compressive stress is generated on the second driving beams 170A and 170B in the initial state, for example, as shown in FIG. 2, and the fixed frame 180 is formed. On the other hand, it should be in a downwardly bent state (downward warped state). The compressive stress is a stress that causes the second driving beams 170A and 170B to warp downward with respect to the fixed frame 180. Further, the initial state indicates a state in which a drive signal is not supplied to the optical scanning unit 40.

図2に示す光走査部40では、第2の駆動梁170A、170Bは、初期状態において下反りになっているため、第2の駆動梁170A、170Bが上方に反るように動作しても、第2の駆動梁170A、170Bが固定枠180に対して上反りにならない、又は、上反りになりにくい。このため、初期状態において第2の駆動梁170A、170Bに反りがない光走査部よりも破損や材料疲労を低減させることができる。 In the optical scanning unit 40 shown in FIG. 2, since the second drive beams 170A and 170B are warped downward in the initial state, even if the second drive beams 170A and 170B are operated so as to warp upward. , The second drive beams 170A and 170B do not warp upward with respect to the fixed frame 180, or are unlikely to warp upward. Therefore, damage and material fatigue can be reduced as compared with the optical scanning portion in which the second drive beams 170A and 170B are not warped in the initial state.

尚、第2の駆動梁170A、170Bは、駆動源171A、171に電圧が供給されず、ミラー110が静止した初期状態においても、第2の駆動梁170A、170Bに発生させる圧縮応力によって、下方向に撓んだ状態(下反りの状態)となる。 The second drive beams 170A and 170B are lowered by the compressive stress generated in the second drive beams 170A and 170B even in the initial state where the voltage is not supplied to the drive sources 171A and 171 and the mirror 110 is stationary. It becomes a state of bending in the direction (a state of downward warpage).

第2の駆動梁170A、170Bは、矩形単位ごとに隣接している駆動源171A、171B同士で、異なる極性の駆動電圧を印加することにより、隣接する矩形梁を上下反対方向に反らせ、各矩形梁の上下動の蓄積を可動枠160に伝達する。 In the second drive beams 170A and 170B, by applying drive voltages of different polarities between the drive sources 171A and 171B adjacent to each other for each rectangular unit, the adjacent rectangular beams are warped in the opposite directions, and each rectangle is formed. The accumulation of vertical movement of the beam is transmitted to the movable frame 160.

第2の駆動梁170A、170Bは、この動作により、平行方向と直交する方向である垂直方向にミラー110を揺動させる。つまり、第2の駆動梁170A、170Bは、ミラー110を垂直方向に揺動させる垂直梁である。言い換えれば、本実施形態の第2の駆動梁170A、170Bは、自身を曲げて変形させることで、ミラー110を垂直方向(第2方向)に揺動させる。例えば第2の駆動梁170A、170Bによる垂直駆動には、非共振振動を用いることができる。 The second drive beams 170A and 170B swing the mirror 110 in the vertical direction, which is a direction orthogonal to the parallel direction, by this operation. That is, the second drive beams 170A and 170B are vertical beams that swing the mirror 110 in the vertical direction. In other words, the second drive beams 170A and 170B of the present embodiment swing the mirror 110 in the vertical direction (second direction) by bending and deforming themselves. For example, non-resonant vibration can be used for vertical drive by the second drive beams 170A and 170B.

例えば、駆動源171Aを、可動枠160側から右側に向かって並ぶ駆動源171A1、171A2、171A3、171A4、171A5及び171A6を含むものとする。また、駆動源171Bを、可動枠160側から左側に向かって並ぶ駆動源171B1、171B2、171B3、171B4、171B5及び171B6を含むものとする。この場合、駆動源171A1、171B1、171A3、171B3、171A5、171B5を同波形、駆動源171A2、171B2、171A4、171B4、171A6及び171B6を前者と位相の異なる同波形で駆動することで垂直方向へ遥動できる。 For example, the drive source 171A includes drive sources 171A1, 171A2, 171A3, 171A4, 171A5 and 171A6 arranged from the movable frame 160 side to the right side. Further, the drive source 171B includes the drive sources 171B1, 171B2, 171B3, 171B4, 171B5 and 171B6 arranged from the movable frame 160 side toward the left side. In this case, the drive sources 171A1, 171B1, 171A3, 171B3, 171A5, 171B5 are driven by the same waveform, and the drive sources 171A2, 171B2, 171A4, 171B4, 171A6 and 171B6 are driven by the same waveform having a different phase from the former. I can move.

駆動源151Aの上部電極及び下部電極に駆動電圧を印加する駆動配線は、固定枠180に設けられた端子群190Aに含まれる所定の端子と接続されている。また、駆動源151Bの上部電極及び下部電極に駆動電圧を印加する駆動配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。また、駆動源171Aの上部電極及び下部電極に駆動電圧を印加する駆動配線は、固定枠180に設けられた端子群190Aに含まれる所定の端子と接続されている。また、駆動源171Bの上部電極及び下部電極に駆動電圧を印加する駆動配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。 The drive wiring for applying the drive voltage to the upper electrode and the lower electrode of the drive source 151A is connected to a predetermined terminal included in the terminal group 190A provided on the fixed frame 180. Further, the drive wiring for applying the drive voltage to the upper electrode and the lower electrode of the drive source 151B is connected to a predetermined terminal included in the terminal group 190B provided on the fixed frame 180. Further, the drive wiring for applying the drive voltage to the upper electrode and the lower electrode of the drive source 171A is connected to a predetermined terminal included in the terminal group 190A provided on the fixed frame 180. Further, the drive wiring for applying the drive voltage to the upper electrode and the lower electrode of the drive source 171B is connected to a predetermined terminal included in the terminal group 190B provided on the fixed frame 180.

また、光走査部40は、駆動源151A、151Bに駆動電圧が印加されてミラー110が水平方向に遥動している状態におけるミラー110の水平方向の傾き具合(水平方向の振角)を検出する水平振角センサとして圧電センサ191、192を有する。圧電センサ191は連結梁140Aに設けられ、圧電センサ192は連結梁140Bに設けられている。 Further, the optical scanning unit 40 detects the degree of horizontal inclination (horizontal swing angle) of the mirror 110 in a state where the driving voltage is applied to the drive sources 151A and 151B and the mirror 110 is moving far in the horizontal direction. It has piezoelectric sensors 191 and 192 as horizontal vibration angle sensors. The piezoelectric sensor 191 is provided on the connecting beam 140A, and the piezoelectric sensor 192 is provided on the connecting beam 140B.

また、光走査部40は、駆動源171A、171Bに駆動電圧が印加されてミラー110が垂直方向に遥動している状態におけるミラー110の垂直方向の傾き具合(垂直方向の振角)を検出する垂直振角センサとして圧電センサ195、196を有する。圧電センサ195は第2の駆動梁170Aの有する矩形梁の一つに設けられており、圧電センサ196は第2の駆動梁170Bの有する矩形梁の一つに設けられている。 Further, the optical scanning unit 40 detects the degree of vertical inclination (vertical swing angle) of the mirror 110 in a state where the driving voltage is applied to the drive sources 171A and 171B and the mirror 110 is moving far in the vertical direction. It has a piezoelectric sensor 195 and 196 as a vertical swing angle sensor. The piezoelectric sensor 195 is provided on one of the rectangular beams of the second drive beam 170A, and the piezoelectric sensor 196 is provided on one of the rectangular beams of the second drive beam 170B.

圧電センサ191は、ミラー110の水平方向の傾き具合に伴い、捻れ梁130Aから伝達される連結梁140Aの変位に対応する電流値を出力する。圧電センサ192は、ミラー110の水平方向の傾き具合に伴い、捻れ梁130Bから伝達される連結梁140Bの変位に対応する電流値を出力する。圧電センサ195は、ミラー110の垂直方向の傾き具合に伴い、第2の駆動梁170Aのうち圧電センサ195が設けられた矩形梁の変位に対応する電流値を出力する。圧電センサ196は、ミラー110の垂直方向の傾き具合に伴い、第2の駆動梁170Bのうち圧電センサ196が設けられた矩形梁の変位に対応する電流値を出力する。 The piezoelectric sensor 191 outputs a current value corresponding to the displacement of the connecting beam 140A transmitted from the twisted beam 130A according to the degree of horizontal inclination of the mirror 110. The piezoelectric sensor 192 outputs a current value corresponding to the displacement of the connecting beam 140B transmitted from the twisted beam 130B according to the degree of horizontal inclination of the mirror 110. The piezoelectric sensor 195 outputs a current value corresponding to the displacement of the rectangular beam provided with the piezoelectric sensor 195 in the second drive beam 170A according to the degree of inclination of the mirror 110 in the vertical direction. The piezoelectric sensor 196 outputs a current value corresponding to the displacement of the rectangular beam provided with the piezoelectric sensor 196 in the second drive beam 170B according to the degree of inclination of the mirror 110 in the vertical direction.

本実施形態では、圧電センサ195、196の出力を用いてミラー110の垂直方向の傾き具合を検出する。圧電センサ195、196から出力された電圧は、バッファ回路12に保持される。尚、バッファ回路12に保持される電圧は、圧電センサ195、196の何れか一方から出力された電圧であっても良い。 In the present embodiment, the output of the piezoelectric sensors 195 and 196 is used to detect the vertical inclination of the mirror 110. The voltage output from the piezoelectric sensors 195 and 196 is held in the buffer circuit 12. The voltage held in the buffer circuit 12 may be the voltage output from any one of the piezoelectric sensors 195 and 196.

本実施形態では、補償回路15は、バッファ回路12に保持された電圧に基づき、光源部20からのレーザ光の出射のタイミングを補償する。 In the present embodiment, the compensation circuit 15 compensates for the timing of emission of the laser beam from the light source unit 20 based on the voltage held in the buffer circuit 12.

圧電センサ191、192、195、196は、圧電薄膜の上面に形成された上部電極と、圧電薄膜の下面に形成された下部電極とを含む。本実施形態では、各圧電センサの出力は、上部電極と下部電極とに接続されたセンサ配線の電流値となる。 The piezoelectric sensors 191 and 192, 195, 196 include an upper electrode formed on the upper surface of the piezoelectric thin film and a lower electrode formed on the lower surface of the piezoelectric thin film. In the present embodiment, the output of each piezoelectric sensor is the current value of the sensor wiring connected to the upper electrode and the lower electrode.

圧電センサ191の上部電極及び下部電極から引き出されたセンサ配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。また、圧電センサ195の上部電極及び下部電極から引き出されたセンサ配線は、固定枠180に設けられた端子群190Aに含まれる所定の端子と接続されている。また、圧電センサ192の上部電極及び下部電極から引き出されたセンサ配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。また、圧電センサ196の上部電極及び下部電極から引き出されたセンサ配線は、固定枠180に設けられた端子群190Bに含まれる所定の端子と接続されている。 The sensor wiring drawn from the upper electrode and the lower electrode of the piezoelectric sensor 191 is connected to a predetermined terminal included in the terminal group 190B provided on the fixed frame 180. Further, the sensor wiring drawn from the upper electrode and the lower electrode of the piezoelectric sensor 195 is connected to a predetermined terminal included in the terminal group 190A provided on the fixed frame 180. Further, the sensor wiring drawn from the upper electrode and the lower electrode of the piezoelectric sensor 192 is connected to a predetermined terminal included in the terminal group 190B provided on the fixed frame 180. Further, the sensor wiring drawn from the upper electrode and the lower electrode of the piezoelectric sensor 196 is connected to a predetermined terminal included in the terminal group 190B provided on the fixed frame 180.

次に、図3を参照して、本実施形態の補償回路15の機能について説明する。図3は、第一の実施形態の補償回路の機能を説明する図である。 Next, the function of the compensation circuit 15 of the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a diagram illustrating the function of the compensation circuit of the first embodiment.

本実施形態の補償回路15は、温度取得部51、位相補償部52を有する。本実施形態の温度取得部51は、温度センサ30により検出された温度を取得する。 The compensation circuit 15 of the present embodiment has a temperature acquisition unit 51 and a phase compensation unit 52. The temperature acquisition unit 51 of the present embodiment acquires the temperature detected by the temperature sensor 30.

位相補償部52は、係数記憶部53、センサ出力取得部54、差分算出部55、位相ずれ算出部56、タイミング補償部57を有する。 The phase compensation unit 52 includes a coefficient storage unit 53, a sensor output acquisition unit 54, a difference calculation unit 55, a phase shift calculation unit 56, and a timing compensation unit 57.

係数記憶部53は、第2の駆動梁170A、170Bの反り量と、温度との関係を表す関数を示す係数を記憶する。また、係数記憶部53は、反り量の変化と、水平方向の位相のずれ量との関係を示す係数を記憶する。係数記憶部53によって記憶された係数が示す関数の詳細は後述する。 The coefficient storage unit 53 stores a coefficient indicating a function representing the relationship between the amount of warpage of the second drive beams 170A and 170B and the temperature. Further, the coefficient storage unit 53 stores a coefficient indicating the relationship between the change in the amount of warpage and the amount of phase shift in the horizontal direction. The details of the function indicated by the coefficient stored by the coefficient storage unit 53 will be described later.

センサ出力取得部54は、バッファ回路12に保持された電圧を取得する。バッファ回路12に保持される電圧は、圧電センサ191、192、195、196の出力信号である。 The sensor output acquisition unit 54 acquires the voltage held in the buffer circuit 12. The voltage held in the buffer circuit 12 is an output signal of the piezoelectric sensors 191 and 192, 195, and 196.

差分算出部55は、温度取得部51が取得した温度と、係数記憶部53に記憶された係数により表される関数と、センサ出力取得部54が取得した出力信号と、に基づき、第2の駆動梁170A、170Bの初期駆動時における反り量と、現在の駆動梁170A、170Bの反り量との差分を算出する。尚、現在の駆動梁170A、170Bの反り量とは、駆動梁170A、170Bを所定時間駆動させた状態の反り量であり、圧電センサ195、196の出力信号によって示される。 The difference calculation unit 55 is a second based on the temperature acquired by the temperature acquisition unit 51, the function represented by the coefficient stored in the coefficient storage unit 53, and the output signal acquired by the sensor output acquisition unit 54. The difference between the amount of warpage of the drive beams 170A and 170B at the time of initial drive and the amount of warpage of the current drive beams 170A and 170B is calculated. The current warpage amount of the drive beams 170A and 170B is a warp amount in a state where the drive beams 170A and 170B are driven for a predetermined time, and is indicated by an output signal of the piezoelectric sensors 195 and 196.

位相ずれ算出部56は、差分算出部55により算出された差分と、係数記憶部53に記憶された係数と、に基づき、水平方向の位相のずれ量を算出する。水平方向の位相のずれ量は、レーザ光を照射するタイミングの補償量に相当する。タイミングの補償量とは、水平振角センサである圧電センサ191又は圧電センサ192の出力信号の波形におけるゼロクロス点から、レーザ光を照射する時刻までの期間を示す。 The phase shift calculation unit 56 calculates the amount of phase shift in the horizontal direction based on the difference calculated by the difference calculation unit 55 and the coefficient stored in the coefficient storage unit 53. The amount of phase shift in the horizontal direction corresponds to the amount of compensation for the timing of irradiating the laser beam. The timing compensation amount indicates the period from the zero cross point in the waveform of the output signal of the piezoelectric sensor 191 or the piezoelectric sensor 192, which is the horizontal vibration angle sensor, to the time when the laser beam is irradiated.

タイミング補償部57は、タイミングの補償量に基づき、レーザ光の出射のタイミングを補償する。具体的には、タイミング補償部57は、タイミングの補償量が示すタイミングを、システムコントローラ11へ通知し、レーザ光を照射するタイミングを更新させる。 The timing compensation unit 57 compensates for the emission timing of the laser beam based on the timing compensation amount. Specifically, the timing compensation unit 57 notifies the system controller 11 of the timing indicated by the timing compensation amount, and updates the timing of irradiating the laser beam.

以下に、図4を参照して、係数記憶部53に記憶された係数について説明する。 Hereinafter, the coefficient stored in the coefficient storage unit 53 will be described with reference to FIG.

図4は、第一の実施形態における第2の駆動梁の反り量と、温度との関係を表す図である。 FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the amount of warpage of the second drive beam and the temperature in the first embodiment.

図4に示すグラフでは、横軸は温度を示している。また、縦軸は、第2の駆動梁170A、170Bの反り量を示している。本実施形態では、圧電センサ195、196の出力信号(出力電圧)を、第2の駆動梁170A、170Bの反り量として示している。尚、本実施形態では、第2の駆動梁170A、170Bの反り量は同じとし、図4では、縦軸は、圧電センサ195の出力信号によって示されるものとした。 In the graph shown in FIG. 4, the horizontal axis represents temperature. The vertical axis shows the amount of warpage of the second drive beams 170A and 170B. In this embodiment, the output signal (output voltage) of the piezoelectric sensors 195 and 196 is shown as the amount of warpage of the second drive beams 170A and 170B. In the present embodiment, the warpage amounts of the second drive beams 170A and 170B are the same, and in FIG. 4, the vertical axis is indicated by the output signal of the piezoelectric sensor 195.

図4に示すグラフにおいて、曲線L1は、光走査部40の初期駆動時における温度Tと反り量Vinitとの関係を示す関数Vinit(T)である。初期駆動時とは、光走査部40に対して駆動信号の供給を開始した時である。 In the graph shown in FIG. 4, the curve L1 is a function Vinit (T) showing the relationship between the temperature T and the warpage amount Vinit at the time of initial driving of the optical scanning unit 40. The initial drive time is when the supply of the drive signal to the optical scanning unit 40 is started.

また、図4に示すグラフにおいて、曲線L2は、光走査部40が駆動を開始してから所定時間が経過したときの、光走査部40における温度Tと反り量Vsenとの関係を示す関数Vsen(T)である。尚、反り量Vsenは、垂直振角センサである圧電センサ195の出力信号の値(電圧)である。 Further, in the graph shown in FIG. 4, the curve L2 is a function Vsen showing the relationship between the temperature T in the optical scanning unit 40 and the warp amount Vsen when a predetermined time elapses after the optical scanning unit 40 starts driving. (T). The warp amount Vsen is a value (voltage) of the output signal of the piezoelectric sensor 195, which is a vertical vibration angle sensor.

このグラフからわかるように、本実施形態では、第2の駆動梁170Aに反り方が変化すると、温度が一定であっても、圧電センサ195の出力信号の値が変化する。この変化が、水平方向の位相のずれの原因となる。したがって、本実施形態では、温度取得部51が取得した温度Tにおいて、光走査部40の初期駆動時の反り量と、駆動を開始してから所定時間後の反り量との差分αから、水平方向の位相のずれを算出する。 As can be seen from this graph, in the present embodiment, when the warp of the second drive beam 170A changes, the value of the output signal of the piezoelectric sensor 195 changes even if the temperature is constant. This change causes a horizontal phase shift. Therefore, in the present embodiment, at the temperature T acquired by the temperature acquisition unit 51, the difference α between the amount of warpage at the time of initial driving of the optical scanning unit 40 and the amount of warpage after a predetermined time from the start of driving is horizontal. Calculate the phase shift in the direction.

関数Vinit(T)は、以下の式(1)で示される。係数a,b,cは、予め係数記憶部53に記憶されている。 The function Vinit (T) is represented by the following equation (1). The coefficients a, b, and c are stored in the coefficient storage unit 53 in advance.

関数Vinit(T)=aT+bT+c[V] 式(1)
尚、関数Vinit(T)は、例えば、光走査部40の初期駆動時において、複数の異なる温度毎に、温度を一定とし、水平方向の位相のずれを0としたときの圧電センサ195の出力信号を測定することによって、予め求められても良い。また、本実施形態では、差分αから位相ずれ量を求める係数βを求め、係数記憶部53に保持させる。
Function Vinit (T) = aT 2 + bT + c [V] Equation (1)
The function Vinit (T) is, for example, the output of the piezoelectric sensor 195 when the temperature is constant and the horizontal phase shift is 0 at each of a plurality of different temperatures during the initial drive of the optical scanning unit 40. It may be obtained in advance by measuring the signal. Further, in the present embodiment, the coefficient β for obtaining the amount of phase shift is obtained from the difference α, and the coefficient storage unit 53 holds the coefficient β.

尚、水平方向の位相のずれが0となるときとは、光走査部40に供給される水平駆動信号と、ミラーの水平方向の変位を検出する水平振角センサの出力信号との位相差が一定となる場合である。 When the phase shift in the horizontal direction becomes 0, the phase difference between the horizontal drive signal supplied to the optical scanning unit 40 and the output signal of the horizontal swing angle sensor that detects the horizontal displacement of the mirror is This is the case when it becomes constant.

次に、図5を参照して、本実施形態の補償回路15の動作について説明する。図5は、第一の実施形態の補償回路の動作を示すフローチャートである。 Next, the operation of the compensation circuit 15 of the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the compensation circuit of the first embodiment.

本実施形態の補償回路15は、光走査装置1の電源がオンであるか否かを判定する(ステップS51)。ステップS52において、電源がオフとされた場合、補償回路15は、処理を終了する。 The compensation circuit 15 of the present embodiment determines whether or not the power supply of the optical scanning device 1 is on (step S51). When the power is turned off in step S52, the compensation circuit 15 ends the process.

ステップS51において、電源がオンである場合、補償回路15は、温度取得部51により、温度測定間隔が経過したか否かを判定する(ステップS52)。尚、温度測定間隔は、予め温度取得部51に設定されていても良い。ステップS52において、温度測定間隔が経過していない場合、補償回路15は、温度測定間隔が経過するまで待機する。 In step S51, when the power is on, the compensation circuit 15 determines whether or not the temperature measurement interval has elapsed by the temperature acquisition unit 51 (step S52). The temperature measurement interval may be set in advance in the temperature acquisition unit 51. If the temperature measurement interval has not elapsed in step S52, the compensation circuit 15 waits until the temperature measurement interval elapses.

ステップS52において、温度測定間隔が経過すると、温度取得部51は、温度センサ30が検出した温度を取得し、保持する(ステップ53)。 In step S52, when the temperature measurement interval elapses, the temperature acquisition unit 51 acquires and holds the temperature detected by the temperature sensor 30 (step 53).

続いて、補償回路15は、位相補償部52により、位相補償間隔が経過したか否かを判定する(ステップS54)。尚、位相補償間隔は、予め位相補償部52に設定されていても良い。また、位相補償間隔は、温度測定間隔よりも長い間隔であるほうが好ましい。 Subsequently, the compensation circuit 15 determines whether or not the phase compensation interval has elapsed by the phase compensation unit 52 (step S54). The phase compensation interval may be set in advance in the phase compensation unit 52. Further, the phase compensation interval is preferably an interval longer than the temperature measurement interval.

ステップS54において、位相補償間隔が経過していない場合、補償回路15は、位相補償間隔が経過するまで待機する。 If the phase compensation interval has not elapsed in step S54, the compensation circuit 15 waits until the phase compensation interval elapses.

ステップS54において、位相補償間隔が経過すると、補償回路15は、位相補償部52により、水平方向の位相のずれを補償する処理を行い(ステップS55)、ステップS51へ戻る。 In step S54, when the phase compensation interval elapses, the compensation circuit 15 performs a process of compensating for the phase shift in the horizontal direction by the phase compensation unit 52 (step S55), and returns to step S51.

このように、本実施形態では、温度取得部51により温度を取得する処理と、位相補償部52により位相のずれを補償する処理と、をそれぞれ独立して行う。したがって、本実施形態では、温度取得部51により、任意のタイミングで温度の取得することができ、例えば、位相補償部52以外の処理部による処理と同期して温度を取得したりすることもできる。このため、本実施形態によれば、例えば、温度の取得を位相補償部52による処理よりも頻繁に行いたい場合等には、温度測定間隔を位相補償間隔より短くすればよく、補償回路15による処理の負荷の増大を抑制できる。 As described above, in the present embodiment, the process of acquiring the temperature by the temperature acquisition unit 51 and the process of compensating for the phase shift by the phase compensation unit 52 are independently performed. Therefore, in the present embodiment, the temperature acquisition unit 51 can acquire the temperature at an arbitrary timing, and for example, the temperature can be acquired in synchronization with the processing by the processing unit other than the phase compensation unit 52. .. Therefore, according to the present embodiment, for example, when it is desired to acquire the temperature more frequently than the processing by the phase compensation unit 52, the temperature measurement interval may be shorter than the phase compensation interval, and the compensation circuit 15 may be used. It is possible to suppress an increase in processing load.

次に、図6を参照して、本実施形態の位相補償部52の処理について説明する。図6は、第一の実施形態の位相補償部の処理を説明するフローチャートである。 Next, the process of the phase compensation unit 52 of the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a flowchart illustrating the processing of the phase compensation unit of the first embodiment.

本実施形態の位相補償部52は、センサ出力取得部54により、バッファ回路12に保持された圧電センサ195の出力信号を取得する(ステップS61)。続いて、位相補償部52は、差分算出部55により、温度取得部51が保持している温度を参照する(ステップS62)。 The phase compensation unit 52 of the present embodiment acquires the output signal of the piezoelectric sensor 195 held in the buffer circuit 12 by the sensor output acquisition unit 54 (step S61). Subsequently, the phase compensation unit 52 refers to the temperature held by the temperature acquisition unit 51 by the difference calculation unit 55 (step S62).

次に、差分算出部55は、係数記憶部53に記憶されている係数が表す関数Vinit(T)と、参照した温度Tから、温度Tにおける初期駆動時の第2の駆動梁170Aの反り量を算出する。そして、差分算出部55は、初期駆動時の第2の駆動梁170Aの反り量と、センサ出力取得部54により取得した出力信号(反り量)との差分αを算出する(ステップS63)。尚、温度がTのときの差分αは、以下の式(2)から算出される。式(2)のVsen(T)は、温度がTのときの圧電センサ195の出力信号である。 Next, the difference calculation unit 55 uses the function Vinit (T) represented by the coefficient stored in the coefficient storage unit 53 and the warp amount of the second drive beam 170A at the time of initial drive at the temperature T from the referenced temperature T. Is calculated. Then, the difference calculation unit 55 calculates the difference α between the warp amount of the second drive beam 170A at the time of initial driving and the output signal (warp amount) acquired by the sensor output acquisition unit 54 (step S63). The difference α when the temperature is T is calculated from the following equation (2). Vsen (T) of the formula (2) is an output signal of the piezoelectric sensor 195 when the temperature is T.

Vsen(T)=Vinit(T)+α [V] 式(2)
続いて、補償回路15は、位相ずれ算出部56により、差分αに起因する水平方向の位相のずれを算出する(ステップS64)。位相ずれ算出部56は、位相のずれ量をPcompとしたとき、以下の式(3)により、位相のずれ量Pcompを算出する。本実施形態では、式(3)により、差分αが、差分αと対応する位相のずれ量に換算される。
Vsen (T) = Vinit (T) + α [V] Equation (2)
Subsequently, the compensation circuit 15 calculates the phase shift in the horizontal direction due to the difference α by the phase shift calculation unit 56 (step S64). When the phase shift amount is Pcomp, the phase shift calculation unit 56 calculates the phase shift amount Pcomp by the following equation (3). In the present embodiment, the difference α is converted into the amount of phase shift corresponding to the difference α by the equation (3).

Pcomp=α×β[sec] 式(3)
続いて、位相ずれ算出部56は、位相のずれ量Pcompに基づき、タイミングの補償量を算出する(ステップS65)。位相ずれ算出部56は、タイミングの補償量をPoptとしたとき、以下の式(4)により、タイミングの補償量Poptを算出する。尚、式(4)のPiniは、初期駆動時における位相のずれ量を示す。
Pcomp = α × β [sec] equation (3)
Subsequently, the phase shift calculation unit 56 calculates the timing compensation amount based on the phase shift amount Pcomp (step S65). When the timing compensation amount is Popt, the phase shift calculation unit 56 calculates the timing compensation amount Popt by the following equation (4). Note that Pini in the equation (4) indicates the amount of phase shift at the time of initial driving.

Popt=Pcomp+Pini[sec] 式(4)
続いて、補償回路15は、タイミング補償部57により、システムコントローラ11におけるレーザ光の照射のタイミングを、圧電センサ191、192の出力信号の波形のゼロクロス点からPopt[sec]後に更新し(ステップS66)、処理を終了する。
Popt = Pcomp + Pini [sec] Equation (4)
Subsequently, the compensation circuit 15 updates the timing of laser light irradiation in the system controller 11 by the timing compensation unit 57 after Popt [sec] from the zero crossing point of the waveforms of the output signals of the piezoelectric sensors 191 and 192 (step S66). ), End the process.

このように、本実施形態によれば、第2の駆動梁170A、170Bの反りの変化に起因する、水平方向の駆動信号と、圧電センサ191、192からの出力信号との位相のずれを補償できる。よって、本実施形態によれば、水平走査方向の位相ずれの補償の精度を向上させることができる。 As described above, according to the present embodiment, the phase shift between the horizontal drive signal and the output signals from the piezoelectric sensors 191 and 192 due to the change in the warp of the second drive beams 170A and 170B is compensated. it can. Therefore, according to the present embodiment, the accuracy of compensation for the phase shift in the horizontal scanning direction can be improved.

また、本実施形態によれば、位相のずれを補償するための専用のセンサ等を追加することなく、簡素な構成で水平方向の位相のずれを補償することができる。 Further, according to the present embodiment, it is possible to compensate for the phase shift in the horizontal direction with a simple configuration without adding a dedicated sensor or the like for compensating for the phase shift.

このため、本実施形態によれば、水平方向の位相のずれによって、投影される画像が二重に見える等といった画質の低下を抑制することができる。 Therefore, according to the present embodiment, it is possible to suppress deterioration of image quality such that the projected image looks double due to the phase shift in the horizontal direction.

(第二の実施形態)
以下に、第二の実施形態について説明する。第二の実施形態では、ミラーを垂直方向に揺動させる駆動梁の反りの状態が安定したか否かを判定し、安定した場合には、反りの差分を用いずに位相のずれを補償する点が、第一の実施形態と相違する。以下の第二の実施形態の説明では、第一の実施形態との相違点についてのみ説明し、第一の実施形態と同様の機能構成を有するものには、第一の実施形態の説明で用いた符号と同様の符号を付与し、その説明を省略する。
(Second embodiment)
The second embodiment will be described below. In the second embodiment, it is determined whether or not the warp state of the drive beam that swings the mirror in the vertical direction is stable, and if it is stable, the phase shift is compensated without using the warp difference. The point is different from the first embodiment. In the following description of the second embodiment, only the differences from the first embodiment will be described, and those having the same functional configuration as the first embodiment will be referred to in the description of the first embodiment. A code similar to the code used is assigned, and the description thereof will be omitted.

図7は、第二の実施形態の補償回路の機能を説明する図である。本実施形態の補償回路15Aは、温度取得部51と、位相補償部52Aと、を有する。 FIG. 7 is a diagram illustrating the function of the compensation circuit of the second embodiment. The compensation circuit 15A of the present embodiment includes a temperature acquisition unit 51 and a phase compensation unit 52A.

本実施形態の位相補償部52Aは、係数記憶部53A、センサ出力取得部54、差分算出部55、位相ずれ算出部56A、タイミング補償部57、反り状態判定部58を有する。 The phase compensation unit 52A of the present embodiment includes a coefficient storage unit 53A, a sensor output acquisition unit 54, a difference calculation unit 55, a phase shift calculation unit 56A, a timing compensation unit 57, and a warp state determination unit 58.

本実施形態の係数記憶部53Aは、係数a、b、c、βに加え、タイミングの補償量Poptと温度Tとの関係を示す関数を表すための係数e、f、gを保持している。係数e、f、gの詳細は後述する。 In addition to the coefficients a, b, c, and β, the coefficient storage unit 53A of the present embodiment holds the coefficients e, f, and g for expressing a function indicating the relationship between the timing compensation amount Popt and the temperature T. .. Details of the coefficients e, f, and g will be described later.

本実施形態の位相ずれ算出部56Aは、反り状態判定部58により、第2の駆動梁170A、170Bの反りの状態が安定したと判定された場合に、係数e、f、gにより表される関数(式(5))を参照して、タイミングの補償量Poptを算出する。 The phase shift calculation unit 56A of the present embodiment is represented by coefficients e, f, and g when the warp state determination unit 58 determines that the warp states of the second drive beams 170A and 170B are stable. The timing compensation amount Popt is calculated with reference to the function (Equation (5)).

本実施形態の反り状態判定部58は、第2の駆動梁170A、170Bの反りの状態が安定したか否かを判定する。具体的には、反り状態判定部58は、センサ出力取得部54により取得した圧電センサ195の出力信号の値(電圧)と、直前に取得した出力信号の値(電圧)とが一致したとき、安定した状態と判定する。 The warp state determination unit 58 of the present embodiment determines whether or not the warp state of the second drive beams 170A and 170B is stable. Specifically, when the warp state determination unit 58 matches the value (voltage) of the output signal of the piezoelectric sensor 195 acquired by the sensor output acquisition unit 54 and the value (voltage) of the output signal acquired immediately before, Judged as a stable state.

尚、反り状態判定部58による判定の方法は、上述した方法に限定されない。例えば、反り状態判定部58は、センサ出力取得部54により取得した圧電センサ195の出力信号の値(電圧)と、初期駆動時の圧電センサ195の出力信号の値(電圧)と、の差分が、複数回続けて一致したときに、反りの状態が安定したと判定しても良い。 The method of determination by the warp state determination unit 58 is not limited to the above-mentioned method. For example, the warp state determination unit 58 has a difference between the value (voltage) of the output signal of the piezoelectric sensor 195 acquired by the sensor output acquisition unit 54 and the value (voltage) of the output signal of the piezoelectric sensor 195 at the time of initial drive. , It may be determined that the warped state is stable when they match a plurality of times in succession.

以下に、図8を参照して、タイミングの補償量Pと温度Tとの関係について説明する。図8は、タイミングの補償量と温度との関係を説明する図である。図8に示すグラフでは、縦軸をタイミングの補償量Pとし、横軸を温度Tとしている。 Hereinafter, the relationship between the timing compensation amount P and the temperature T will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a diagram for explaining the relationship between the timing compensation amount and the temperature. In the graph shown in FIG. 8, the vertical axis represents the timing compensation amount P, and the horizontal axis represents the temperature T.

図8に示す曲線L3は、光走査部40の初期駆動時におけるタイミングの補償量Piniと温度Tとの関係を示す関数Pini(T)を示す。関数Pini(T)は、以下の式(5)のように示される。 The curve L3 shown in FIG. 8 shows a function Pini (T) showing the relationship between the timing compensation amount Pini and the temperature T at the time of initial driving of the optical scanning unit 40. The function Pini (T) is expressed by the following equation (5).

Pini=eT+fT+g 式(5)
尚、関数Pini(T)は、例えば、複数の異なる温度毎に、光走査部40を所定の期間連続して駆動させ、第2の駆動梁170A、170Bの反りが安定した状態とし、水平方向の位相のずれを0としたときのタイミングの補償量を検出することによって、予め求められても良い。そして、本実施形態では、関数Pini(T)を表すための係数e、f、gを係数記憶部53Aに保持させても良い。
Pini = eT 2 + fT + g equation (5)
In the function Pini (T), for example, the optical scanning unit 40 is continuously driven for a predetermined period at each of a plurality of different temperatures to stabilize the warpage of the second driving beams 170A and 170B in the horizontal direction. It may be obtained in advance by detecting the compensation amount of the timing when the phase shift of the above is set to 0. Then, in the present embodiment, the coefficients e, f, and g for representing the function Pini (T) may be held in the coefficient storage unit 53A.

次に、図9を参照して、本実施形態の補償回路15Aの動作について説明する。図9は、第二の実施形態の補償回路の動作を説明するフローチャートである。 Next, the operation of the compensation circuit 15A of the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a flowchart illustrating the operation of the compensation circuit of the second embodiment.

図9のステップS91とステップS92の処理は、図6のステップS61とステップS62の処理と同様であるから、説明を省略する。 Since the processes of steps S91 and S92 of FIG. 9 are the same as the processes of steps S61 and S62 of FIG. 6, the description thereof will be omitted.

続いて、補償回路15Aは、反り状態判定部58により、第2の駆動梁170A、170Bの反りが安定した状態であるか否かを判定する(ステップS93)。反り状態判定部58による判定の方法は上述した通りである。 Subsequently, the compensation circuit 15A determines whether or not the warpage of the second drive beams 170A and 170B is in a stable state by the warp state determination unit 58 (step S93). The method of determination by the warp state determination unit 58 is as described above.

ステップS93において、反りの状態が安定したと判定された場合、補償回路15Aは、位相ずれ算出部56Aにより、温度取得部51が取得した温度を参照し、 関数Pini(T)から、タイミングの補償量Popt′を算出し(ステップS94)、後述するステップS98へ進む。 When it is determined in step S93 that the warp state is stable, the compensation circuit 15A refers to the temperature acquired by the temperature acquisition unit 51 by the phase shift calculation unit 56A, and compensates for the timing from the function Pini (T). The quantity Popt'is calculated (step S94), and the process proceeds to step S98, which will be described later.

ステップS93において、反りの状態が安定していないと判定された場合、補償回路15Aは、ステップS95へ進む。 If it is determined in step S93 that the warped state is not stable, the compensation circuit 15A proceeds to step S95.

図9のステップS95からステップS98までの処理は、図6のステップS63からステップS66までの処理と同様であるから、説明を省略する。 Since the processes from step S95 to step S98 in FIG. 9 are the same as the processes from steps S63 to S66 in FIG. 6, the description thereof will be omitted.

以上のように、本実施形態によれば、反りが安定した状態であれば、関数Pini(T)から、温度に対応したタイミングの補償量を直接算出することができ、処理の負荷を軽減することができる。 As described above, according to the present embodiment, if the warp is stable, the compensation amount of the timing corresponding to the temperature can be directly calculated from the function Pini (T), and the processing load is reduced. be able to.

また、上述した各実施形態は、例えば、アイウェアやプロジェクタ等の二次元走査型の光走査装置であれば、適用することができる。 Further, each of the above-described embodiments can be applied to, for example, a two-dimensional scanning optical scanning device such as an eyewear or a projector.

以上、各実施形態に基づき本発明の説明を行ってきたが、上記実施形態に示した要件に本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することができ、その応用形態に応じて適切に定めることができる。 Although the present invention has been described above based on each embodiment, the present invention is not limited to the requirements shown in the above embodiments. With respect to these points, the gist of the present invention can be changed without impairing the gist of the present invention, and can be appropriately determined according to the application form thereof.

1 光走査装置
10 光走査制御部
11 システムコントローラ
12 バッファ回路
13 ミラー駆動回路
14 レーザ駆動回路
15、15A 補償回路
20 光源
30 温度センサ
40 光走査部
51 温度取得部
52、52A 位相補償部
53、53A 係数記憶部
54 センサ出力取得部
55 差分算出部
56、56A 位相ずれ算出部
57 タイミング補償部
58 反り状態判定部
1 Optical scanning device 10 Optical scanning control unit 11 System controller 12 Buffer circuit 13 Mirror drive circuit 14 Laser drive circuit 15, 15A Compensation circuit 20 Light source 30 Temperature sensor 40 Optical scanning unit 51 Temperature acquisition unit 52, 52A Phase compensation unit 53, 53A Coefficient storage unit 54 Sensor output acquisition unit 55 Difference calculation unit 56, 56A Phase shift calculation unit 57 Timing compensation unit 58 Warp state determination unit

Claims (5)

第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置であって、
温度を検出する温度検出部と、
前記ミラーを前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁の反りの状態が安定したか否かを判定する反り状態判定部と、
温度と、前記ミラーを前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量と、の関係を示す関数を保持する係数記憶部と、
前記第2の駆動梁の反りの状態が安定したと判定された場合、前記温度検出部により検出された温度と、前記関数とから、前記位相のずれ量を算出する位相ずれ算出部と、を有する光走査装置。
A two-dimensional scanning optical scanning device that swings a mirror in a first direction and a second direction orthogonal to the first direction.
A temperature detector that detects the temperature and
A warp state determination unit that determines whether or not the warp state of the second drive beam that swings the mirror in the second direction is stable, and a warp state determination unit.
Coefficient storage that holds a function indicating the relationship between the temperature, the drive signal for swinging the mirror in the first direction, and the amount of phase shift between the signal indicating the displacement of the mirror in the first direction. Department and
When it is determined that the warp state of the second drive beam is stable, the temperature detected by the temperature detection unit and the phase shift calculation unit that calculates the phase shift amount from the function are used. Optical scanning device to have.
第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置であって、
温度を検出する温度検出部と、
前記ミラーを前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁の反りの状態が安定したか否かを判定する反り状態判定部と、
温度と、前記第2の駆動梁の初期駆動時における反り量との関係を示す関数を保持する係数記憶部と、
前記第2の駆動梁の反りの状態が安定したと判定された場合に、前記温度検出部により検出された温度と、前記関数とから、前記ミラーを前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量を算出する位相ずれ算出部と、を有する光走査装置。
A two-dimensional scanning optical scanning device that swings a mirror in a first direction and a second direction orthogonal to the first direction.
A temperature detector that detects the temperature and
A warp state determination unit that determines whether or not the warp state of the second drive beam that swings the mirror in the second direction is stable, and a warp state determination unit.
A coefficient storage unit that holds a function indicating the relationship between the temperature and the amount of warpage of the second driving beam at the time of initial driving, and
When it is determined that the warped state of the second drive beam is stable, the drive for swinging the mirror in the first direction is based on the temperature detected by the temperature detection unit and the function. An optical scanning device including a phase shift calculation unit for calculating a phase shift amount between a signal and a signal indicating a displacement of the mirror in the first direction.
レーザ光を照射する光源と、
前記位相のずれ量に応じて、前記第1方向の変位を示す信号のゼロクロス点から前記レーザ光を照射するタイミングまでの期間を決定するタイミング補償部と、を有する、請求項1又は2記載の光走査装置。
A light source that irradiates laser light and
The first or second claim, wherein the timing compensating unit determines the period from the zero crossing point of the signal indicating the displacement in the first direction to the timing of irradiating the laser beam according to the amount of the phase shift. Optical scanning device.
第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置による光走査方法であって、
温度検出部により温度を検出し、
前記ミラーを前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁の反りの状態が安定したか否かを判定し、
温度と、前記ミラーを前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量と、の関係を示す関数を係数記憶部に保持し、
前記第2の駆動梁の反りの状態が安定したと判定された場合、前記温度検出部により検出された温度と、前記関数とから、前記位相のずれ量を算出する、光走査方法。
An optical scanning method using a two-dimensional scanning optical scanning device that swings a mirror in a first direction and a second direction orthogonal to the first direction.
The temperature is detected by the temperature detector,
It is determined whether or not the warped state of the second drive beam that swings the mirror in the second direction is stable.
A function indicating the relationship between the temperature, the drive signal for swinging the mirror in the first direction, and the amount of phase shift between the signal indicating the displacement of the mirror in the first direction is stored in the coefficient storage unit. Hold and
An optical scanning method for calculating the amount of phase shift from the temperature detected by the temperature detecting unit and the function when it is determined that the warped state of the second driving beam is stable.
第1方向と前記第1方向と直交する第2方向にミラーを揺動させる二次元走査型の光走査装置による光走査方法であって、
温度検出部により温度を検出し、
前記ミラーを前記第2方向に揺動させる第2の駆動梁の反りの状態が安定したか否かを判定し、
温度と、前記第2の駆動梁の初期駆動時における反り量との関係を示す関数を係数記憶部に保持し、
前記第2の駆動梁の反りの状態が安定したと判定された場合に、前記温度検出部により検出された温度と、前記関数とから、前記ミラーを前記第1方向に揺動させるための駆動信号と、前記ミラーの前記第1方向の変位を示す信号との位相のずれ量を算出する、光走査方法。
An optical scanning method using a two-dimensional scanning optical scanning device that swings a mirror in a first direction and a second direction orthogonal to the first direction.
The temperature is detected by the temperature detector,
It is determined whether or not the warped state of the second drive beam that swings the mirror in the second direction is stable.
A function indicating the relationship between the temperature and the amount of warpage of the second driving beam at the time of initial driving is stored in the coefficient storage unit.
When it is determined that the warped state of the second drive beam is stable, the drive for swinging the mirror in the first direction is based on the temperature detected by the temperature detection unit and the function. An optical scanning method for calculating the amount of phase shift between a signal and a signal indicating a displacement of the mirror in the first direction.
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