JP2021060565A - Scanning optical device - Google Patents

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Abstract

To reduce the displacement of focal positions among a plurality of light sources when there is a change in environment temperature.SOLUTION: A scanning optical device according to one aspect of the present invention includes: a first light source including a first semiconductor laser, a first coupling lens, and a first holder; a second light source including a second semiconductor laser, a second coupling lens, a second holder holding the second semiconductor laser, and a third holder fixed to the second holder and holding the second coupling lens; and a frame. The first light source includes a first substrate fixed to the frame, and the second light source includes a second substrate that is not in contact with the frame. The first holder and the third holder are different in thermal expansion rate.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、レーザプリンタなどに設けられる走査光学装置に関する。 The present invention relates to a scanning optical device provided in a laser printer or the like.

特許文献1には、複数の光源を備える走査光学装置(スキャナとも称する)が開示されている。特許文献1の走査光学装置では、各光源は、半導体レーザと、当該半導体レーザから出射された光をビームに変換するカップリングレンズとを備える。このような走査光学装置では、走査光学装置を小型化するために、各光源が互いに異なる方式で設置されることがある。例えば、走査光学装置が、光源が備える半導体レーザを支持する基板がフレームに固定されている光源と、基板がフレームに非接触な光源とを備える場合がある。 Patent Document 1 discloses a scanning optical device (also referred to as a scanner) including a plurality of light sources. In the scanning optical device of Patent Document 1, each light source includes a semiconductor laser and a coupling lens that converts the light emitted from the semiconductor laser into a beam. In such a scanning optical device, each light source may be installed in a different manner from each other in order to reduce the size of the scanning optical device. For example, a scanning optical device may include a light source in which a substrate supporting a semiconductor laser included in the light source is fixed to a frame, and a light source in which the substrate is non-contact with the frame.

特開2009−3944号公報JP-A-2009-3944

環境温度が上昇した場合、半導体レーザとカップリングレンズとを接続する部材が膨張する。基板がフレームに固定されていない光源では、環境温度が上昇した場合、半導体レーザとカップリングレンズとの距離は、半導体レーザとカップリングレンズとを接続する部材の膨張のみに依存して変化する。一方で、基板がフレームに固定されている光源では、環境温度が上昇した場合、半導体レーザとカップリングレンズとの距離は、半導体レーザとカップリングレンズとを接続する部材の膨張だけではなく、フレームの膨張にも依存して変化する。そのため、特許文献1に記載の技術のように複数の光源が同一の構成である場合、環境温度が上昇したときに、基板がフレームに固定されている光源と、基板がフレームに固定されていない光源とで、半導体レーザとカップリングレンズとの距離が互いに異なってしまい、その結果、各光源の焦点位置が互いに異なってしまうという問題があった。 When the environmental temperature rises, the member connecting the semiconductor laser and the coupling lens expands. In a light source in which the substrate is not fixed to the frame, the distance between the semiconductor laser and the coupling lens changes depending only on the expansion of the member connecting the semiconductor laser and the coupling lens when the ambient temperature rises. On the other hand, in a light source in which the substrate is fixed to the frame, when the ambient temperature rises, the distance between the semiconductor laser and the coupling lens is not only the expansion of the member connecting the semiconductor laser and the coupling lens, but also the frame. It also changes depending on the expansion of the lens. Therefore, when a plurality of light sources have the same configuration as in the technique described in Patent Document 1, when the ambient temperature rises, the light source in which the substrate is fixed to the frame and the light source in which the substrate is not fixed to the frame are not fixed. There is a problem that the distances between the semiconductor laser and the coupling lens are different from each other depending on the light source, and as a result, the focal positions of the respective light sources are different from each other.

本発明の一態様は、環境温度が変化した場合において、複数の光源間の焦点位置のずれを軽減することができる走査光学装置を実現することを目的とする。 One aspect of the present invention is to realize a scanning optical device capable of reducing the deviation of the focal position between a plurality of light sources when the environmental temperature changes.

上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る走査光学装置は、第1半導体レーザ、当該第1半導体レーザから出射された光をビームに変換する第1カップリングレンズ、および、前記第1半導体レーザと前記第1カップリングレンズとを保持する第1ホルダを有する第1光源と、第2半導体レーザ、当該第2半導体レーザから出射された光をビームに変換する第2カップリングレンズ、前記第2半導体レーザを保持する第2ホルダ、および、前記第2ホルダに固定され前記第2カップリングレンズを保持する第3ホルダを有する第2光源と、前記第1光源および前記第2光源からの光を偏向する偏向器と、前記第1光源から出射され前記偏向器によって偏向された光を、第1像面に結像させる第1走査光学系と、前記第2光源から出射され前記偏向器によって偏向された光を、第2像面に結像させる第2走査光学系と、前記第1光源と、前記第2光源と、前記偏向器と、前記第1走査光学系と、前記第2走査光学系とを保持するフレームとを備え、前記第1光源は、前記第1半導体レーザを保持するとともに、前記フレームに固定された第1基板を備え、前記第2光源は、前記第2半導体レーザを保持するとともに、前記フレームに非接触の第2基板を備え、前記第1ホルダと前記第3ホルダとは、熱膨張率が異なる。 In order to solve the above problems, the scanning optical device according to one aspect of the present invention includes a first semiconductor laser, a first coupling lens that converts light emitted from the first semiconductor laser into a beam, and the above. A first light source having a first holder that holds the first semiconductor laser and the first coupling lens, a second semiconductor laser, and a second coupling lens that converts light emitted from the second semiconductor laser into a beam. A second light source having a second holder holding the second semiconductor laser and a third holder fixed to the second holder and holding the second coupling lens, the first light source, and the second light source. A deflector that deflects light from the light source, a first scanning optical system that forms an image of light emitted from the first light source and deflected by the deflector on a first image plane, and emitted from the second light source. A second scanning optical system that forms an image of light deflected by a deflector on a second image plane, the first light source, the second light source, the deflector, the first scanning optical system, and the above. The first light source includes a frame that holds the second scanning optical system, the first light source holds the first semiconductor laser, and includes a first substrate fixed to the frame, and the second light source is the second light source. The frame is provided with a second substrate that holds two semiconductor lasers and is not in contact with the frame, and the first holder and the third holder have different thermal expansion rates.

上記の構成によれば、第1ホルダの熱膨張率と第3ホルダの熱膨張率とが異なっているため、環境温度が変化した場合に、第1ホルダと第3ホルダとで膨張率する寸法が異なる。その結果、環境温度が変化した場合に、第1ホルダの熱膨張による第1半導体レーザと第1カップリングレンズとの距離の変化と、第3ホルダによる第2半導体レーザと第2カップリングレンズとの距離の変化とを異ならせることができる。当該距離の変化の違いによって、第1基板がフレームに固定されていることに起因する、第1半導体レーザと第1カップリングレンズとの距離の変化を相殺することができる。その結果、環境温度が変化した場合において、第1光源と第2光源との焦点位置のずれを軽減することができる。 According to the above configuration, since the coefficient of thermal expansion of the first holder and the coefficient of thermal expansion of the third holder are different, the dimensions at which the first holder and the third holder expand when the environmental temperature changes. Is different. As a result, when the environmental temperature changes, the distance between the first semiconductor laser and the first coupling lens changes due to the thermal expansion of the first holder, and the second semiconductor laser and the second coupling lens by the third holder. Can be different from the change in distance. The difference in the change in the distance can offset the change in the distance between the first semiconductor laser and the first coupling lens due to the first substrate being fixed to the frame. As a result, it is possible to reduce the deviation of the focal position between the first light source and the second light source when the environmental temperature changes.

また、本発明の一態様に係る走査光学装置は、前記第1ホルダおよび前記第2ホルダは、金属であり、前記第3ホルダは、樹脂である。 Further, in the scanning optical device according to one aspect of the present invention, the first holder and the second holder are made of metal, and the third holder is made of resin.

上記の構成によれば、第1ホルダの熱膨張率と第2ホルダの熱膨張率を異ならせることができる。 According to the above configuration, the coefficient of thermal expansion of the first holder and the coefficient of thermal expansion of the second holder can be made different.

また、本発明の一態様に係る走査光学装置は、前記第1走査光学系および前記第2走査光学系は、前記第1光源からの光と、前記第2光源からの光とがともに入射するレンズを備え、前記レンズは、樹脂からなる。 Further, in the scanning optical device according to one aspect of the present invention, the light from the first light source and the light from the second light source are incident on the first scanning optical system and the second scanning optical system. A lens is provided, and the lens is made of resin.

第1光源および第2光源は、環境温度が上昇すると、第1半導体レーザおよび第2半導体レーザと、第1カップリングレンズおよび第2カップリングレンズとの間の距離がそれぞれ大きくなり、焦点が手前にずれる。上記の構成によれば、上記レンズが樹脂ならなっているため、環境温度が上昇すると膨張し、焦点が奥にずれる。これにより、焦点位置の変動を小さくすることができる。 When the ambient temperature of the first light source and the second light source rises, the distances between the first semiconductor laser and the second semiconductor laser and the first coupling lens and the second coupling lens increase, respectively, and the focus is brought to the front. It shifts. According to the above configuration, since the lens is made of resin, it expands when the environmental temperature rises and the focus shifts to the back. As a result, the fluctuation of the focal position can be reduced.

また、本発明の一態様に係る走査光学装置は、前記第2ホルダは、前記第2半導体レーザの出射方向に直交する第1平面部を有し、前記第3ホルダは、前記第1平面部に接触する第2平面部を有する。 Further, in the scanning optical device according to one aspect of the present invention, the second holder has a first plane portion orthogonal to the emission direction of the second semiconductor laser, and the third holder has the first plane portion. Has a second plane portion in contact with.

上記の構成によれば、第2半導体レーザを保持する第2ホルダの第1平面部を基準にして、第3ホルダが熱膨張したときの、第2半導体レーザと第2カップリングレンズとの距離の変動を規定することができる。 According to the above configuration, the distance between the second semiconductor laser and the second coupling lens when the third holder is thermally expanded with reference to the first plane portion of the second holder holding the second semiconductor laser. Fluctuations can be specified.

また、本発明の一態様に係る走査光学装置は、前記第1平面部は、前記第2平面部と対向し合う平面内において露出している。 Further, in the scanning optical device according to one aspect of the present invention, the first plane portion is exposed in a plane facing the second plane portion.

上記の構成によれば、第2半導体の温度が上昇したときに、第1平面部を介して第2半導体から放熱させることができる。 According to the above configuration, when the temperature of the second semiconductor rises, heat can be dissipated from the second semiconductor via the first plane portion.

また、本発明の一態様に係る走査光学装置は、前記フレームは、前記第1半導体レーザの出射方向に直交する側壁を有し、前記第1基板は、前記側壁に固定されている。 Further, in the scanning optical device according to one aspect of the present invention, the frame has a side wall orthogonal to the emission direction of the first semiconductor laser, and the first substrate is fixed to the side wall.

本発明の一態様によれば、環境温度が変化した場合において、複数の光源間の焦点位置のずれを軽減することができる。 According to one aspect of the present invention, it is possible to reduce the deviation of the focal position between a plurality of light sources when the environmental temperature changes.

本発明の一実施形態に係る本実施形態におけるカラーレーザプリンタの構成を示す側断面図である。It is a side sectional view which shows the structure of the color laser printer in this Embodiment which concerns on one Embodiment of this invention. 走査光学装置を側方から見た側断面図である。It is a side sectional view which looked at the scanning optical apparatus from the side. 走査光学装置を上方から見た図である。It is a figure which looked at the scanning optical apparatus from above. 走査光学装置における光源が配置されている領域周辺の拡大図である。It is an enlarged view around the region where a light source is arranged in a scanning optical apparatus. 第1光源の一例としての光源の斜視図である。It is a perspective view of the light source as an example of a 1st light source. 第2光源の一例としての光源の斜視図である。It is a perspective view of the light source as an example of the 2nd light source. 半導体レーザの構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of a semiconductor laser. 光源から出射される光ビーム群の走査レンズにおける入射位置を表す図である。It is a figure which shows the incident position in the scanning lens of the light beam group emitted from the light source. 走査光学装置におけるインタレース走査を説明する図である。It is a figure explaining the interlaced scanning in a scanning optical apparatus. 上記走査光学装置の変形例としての走査光学装置が備える第1ホルダを示す図である。It is a figure which shows the 1st holder provided in the scanning optical apparatus as a modification of the said scanning optical apparatus.

以下、本発明の一実施形態について、詳細に説明する。図1は、本実施形態におけるカラーレーザプリンタ1の構成を示す側断面図である。なお、以下の説明では、後述する感光体ドラム51K・51C・51M・51Yが配列する方向を前後方向とし、図1における右側を前側、左側を後側として説明する。 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail. FIG. 1 is a side sectional view showing the configuration of the color laser printer 1 in the present embodiment. In the following description, the direction in which the photoconductor drums 51K, 51C, 51M, and 51Y, which will be described later, are arranged is the front-rear direction, the right side in FIG. 1 is the front side, and the left side is the rear side.

カラーレーザプリンタ1は、複数のプロセス部13が水平方向に沿って並列的に配置される、横置きタイプのタンデム型のカラーレーザプリンタである。カラーレーザプリンタ1は、ボックス形状の本体ケーシング2内に、シート3を給紙するための給紙部4と、給紙されたシート3に画像を形成するための画像形成部5と、画像が形成されたシート3を排紙するためのシート排出部6とを備えている。 The color laser printer 1 is a horizontal tandem type color laser printer in which a plurality of process units 13 are arranged in parallel along the horizontal direction. In the color laser printer 1, the image is formed in a box-shaped main body casing 2 by a paper feeding unit 4 for feeding the sheet 3, an image forming unit 5 for forming an image on the fed sheet 3, and an image. It is provided with a sheet discharging unit 6 for discharging the formed sheet 3.

給紙部4は、本体ケーシング2内の底部に設けられるシートカセット7と、シートカセット7の前側上方に設けられる給紙ローラ8と、給紙ローラ8の前側上方に設けられる給紙パス9と、給紙パス9の途中に設けられる1対の搬送ローラ10と、給紙パス9の下流側端部に設けられる1対のレジストレーションローラ11とを備えている。シートカセット7内には、シート3がスタックされており、その最上位にあるシート3は、給紙ローラ8の回転によって給紙パス9に送り出される。 The paper feed unit 4 includes a sheet cassette 7 provided at the bottom of the main body casing 2, a paper feed roller 8 provided above the front side of the sheet cassette 7, and a paper feed path 9 provided above the front side of the paper feed roller 8. A pair of transport rollers 10 provided in the middle of the paper feed path 9 and a pair of registration rollers 11 provided at the downstream end of the paper feed path 9 are provided. Sheets 3 are stacked in the sheet cassette 7, and the sheet 3 at the top thereof is sent out to the paper feed path 9 by the rotation of the paper feed roller 8.

給紙パス9は、上流側端部が、下方において給紙ローラ8に隣接し、シート3が前方に向かって給紙されるように、また、下流側端部が、上方において後述する搬送ベルト61に隣接し、シート3が後方に向かって排紙されるような、略U字形状の搬送経路として形成されている。給紙パス9に送り出されたシート3は、給紙パス9内において、搬送ローラ10により搬送され、搬送方向が前後反転された後、レジストレーションローラ11によるレジスト後に、レジストレーションローラ11によって、後方に向かって排紙される。 In the paper feed path 9, the upstream end is adjacent to the paper feed roller 8 at the bottom so that the sheet 3 is fed forward, and the downstream end is at the top of the transport belt described later. Adjacent to 61, the sheet 3 is formed as a substantially U-shaped transport path such that paper is discharged toward the rear. The sheet 3 sent out to the paper feed path 9 is conveyed by the transfer roller 10 in the paper feed path 9, the transfer direction is reversed in the front-rear direction, and after registration by the registration roller 11, the sheet 3 is rearward by the registration roller 11. The paper is discharged toward.

画像形成部5は、走査光学装置12、プロセス部13、転写部14および定着部15を備えている。 The image forming unit 5 includes a scanning optical device 12, a process unit 13, a transfer unit 14, and a fixing unit 15.

<走査光学装置の構成>
次に、走査光学装置12の構成について図面を参照しながら説明する。走査光学装置12は、本体ケーシング2内の上部において、後述する複数のプロセス部13の上方にわたって配置されている。図2は、走査光学装置12を側方から見た側断面図である。図3は、走査光学装置12を上方から見た図である。
<Structure of scanning optical device>
Next, the configuration of the scanning optical device 12 will be described with reference to the drawings. The scanning optical device 12 is arranged above the plurality of process units 13 described later in the upper part of the main body casing 2. FIG. 2 is a side sectional view of the scanning optical device 12 as viewed from the side. FIG. 3 is a view of the scanning optical device 12 as viewed from above.

走査光学装置12は、図2および図3に示すように、フレーム16と、4つの光源81M・81K・81Y・81Cと、入射光学系18と、偏向器の一例としてのポリゴンミラー17と、4つの走査光学系80とを備えている。 As shown in FIGS. 2 and 3, the scanning optical device 12 includes a frame 16, four light sources 81M / 81K / 81Y / 81C, an incident optical system 18, a polygon mirror 17 as an example of a deflector, and 4 It includes two scanning optical systems 80.

フレーム16は、図2に示すように、ボックス形状をなしており、樹脂からなっている。フレーム16は、ポリゴンミラー17と、4つの光源81M・81K・81Y・81Cと、入射光学系18と、走査光学系80とを保持する。フレーム16の底壁43には、各色に対応する出射窓21が形成されている。各出射窓21は、前後方向の異なる位置に互いに間隔を隔てて設けられており、前方から後方に向かって、各色に対応して、順次、イエロー出射窓21Y、マゼンタ出射窓21M、シアン出射窓21C、ブラック出射窓21Kとして形成されている。以降では、図2における右方向を前方向、左方向を後方向として説明する。フレーム16は、底壁43と、底壁43の四方の周部から底壁43に垂直な方向に延びる側壁44とを備えている。フレーム16は、プロセス部13とは反対側の上部が開口した箱形形状となっている。なお、図示はしていないが、フレーム16はの上部は、別体であるカバーにより覆われている。 As shown in FIG. 2, the frame 16 has a box shape and is made of resin. The frame 16 holds a polygon mirror 17, four light sources 81M / 81K / 81Y / 81C, an incident optical system 18, and a scanning optical system 80. An exit window 21 corresponding to each color is formed on the bottom wall 43 of the frame 16. The exit windows 21 are provided at different positions in the front-rear direction at different positions at intervals from each other, and from the front to the rear, the yellow exit window 21Y, the magenta exit window 21M, and the cyan exit window sequentially correspond to each color. It is formed as 21C and a black exit window 21K. Hereinafter, the right direction in FIG. 2 will be described as the front direction, and the left direction will be described as the rear direction. The frame 16 includes a bottom wall 43 and a side wall 44 extending from the four peripheral portions of the bottom wall 43 in a direction perpendicular to the bottom wall 43. The frame 16 has a box shape with an open upper portion on the side opposite to the process portion 13. Although not shown, the upper portion of the frame 16 is covered with a separate cover.

ポリゴンミラー17は、フレーム16内の前後方向中央部において、モータ基板22上に、後述する4個の光源81に対して、1つ設けられている。ポリゴンミラー17は、図3に示すように、複数のビーム偏向面17aを有する多面体(本実施形態では6面体)に形成されており、その中心に設けられる回転軸23を中心として、モータ基板22内に収容されているスキャナモータの動力によって、高速で回転駆動される。 One polygon mirror 17 is provided on the motor substrate 22 at the center of the frame 16 in the front-rear direction with respect to the four light sources 81 described later. As shown in FIG. 3, the polygon mirror 17 is formed on a polyhedron having a plurality of beam deflection surfaces 17a (a hexahedron in the present embodiment), and the motor substrate 22 is centered on a rotation shaft 23 provided at the center thereof. It is rotationally driven at high speed by the power of the scanner motor housed inside.

本実施形態における走査光学装置12は、4つの光源81を備えている。以降の説明では、4つの光源を区別する場合には、光源81を光源81M、光源81K、光源81Y、光源81Cと呼称する。光源81Mおよび光源81Kは、第1光源の一例であり、光源81Yおよび光源81Cは、第2光源の一例である。 The scanning optical device 12 in this embodiment includes four light sources 81. In the following description, when the four light sources are distinguished, the light source 81 is referred to as a light source 81M, a light source 81K, a light source 81Y, and a light source 81C. The light source 81M and the light source 81K are examples of the first light source, and the light source 81Y and the light source 81C are examples of the second light source.

光源81Mおよび光源81Kは、本体ケーシング2の前後方向において並んで配置されている。光源81Yおよび光源81Cは、本体ケーシング2の前後方向において互いに向かい合った状態で配置されている。光源81Mおよび光源81Kから出射されるビームは、光源81Yおよび光源81Cから出射されるビームに対して略直交する。4つの光源81は、ポリゴンミラー17に向けてビームを出射する。 The light source 81M and the light source 81K are arranged side by side in the front-rear direction of the main body casing 2. The light source 81Y and the light source 81C are arranged so as to face each other in the front-rear direction of the main body casing 2. The beams emitted from the light source 81M and the light source 81K are substantially orthogonal to the beams emitted from the light source 81Y and the light source 81C. The four light sources 81 emit beams toward the polygon mirror 17.

図4は、走査光学装置12における光源81が配置されている領域周辺の拡大図である。図5は、光源81Mの斜視図である。光源81Mは、図4および図5に示すように、第1半導体レーザの一例としての半導体レーザ101Mと、第1カップリングレンズの一例としてのカップリングレンズ102と、第1ホルダの一例としてのホルダ103と、第1基板の一例としての基板104とを備えている。光源81Mでは、ホルダ103によって半導体レーザ101Mとカップリングレンズ102とが保持されている。光源81Mでは、半導体レーザ101Mから出射されたレーザ光を、カップリングレンズ102によりビームに変換する。 FIG. 4 is an enlarged view of the periphery of the region where the light source 81 is arranged in the scanning optical device 12. FIG. 5 is a perspective view of the light source 81M. As shown in FIGS. 4 and 5, the light source 81M includes a semiconductor laser 101M as an example of a first semiconductor laser, a coupling lens 102 as an example of a first coupling lens, and a holder as an example of a first holder. A 103 and a substrate 104 as an example of the first substrate are provided. In the light source 81M, the semiconductor laser 101M and the coupling lens 102 are held by the holder 103. The light source 81M converts the laser light emitted from the semiconductor laser 101M into a beam by the coupling lens 102.

ホルダ103は、アルミニウム合金からなる板材を板金加工してなる部材である。図5に示すように、ホルダ103は、半導体レーザ101Mが固定されるレーザ保持壁111と、カップリングレンズ102が固定される台状のレンズ保持部112と、レーザ保持壁111とレンズ保持部112とをつなぐ接続部113とを備えている。 The holder 103 is a member formed by sheet metal processing of a plate material made of an aluminum alloy. As shown in FIG. 5, the holder 103 includes a laser holding wall 111 to which the semiconductor laser 101M is fixed, a trapezoidal lens holding portion 112 to which the coupling lens 102 is fixed, and a laser holding wall 111 and a lens holding portion 112. It is provided with a connecting portion 113 for connecting to and.

レーザ保持壁111は、その中央に半導体レーザ101Mが嵌合されるべく貫通して形成された円形の取付穴が形成されている。当該取付穴の縁には半導体レーザ101Mのレーザ光が出射される方向に向かって突出した縁取り114が形成されている。この縁取り114が、半導体レーザ101Mと嵌合する筒部を形成している。また、レーザ保持壁111には、半導体レーザ101Mを後述する基板104に固定するための2つのネジ穴115が設けられている。 The laser holding wall 111 is formed with a circular mounting hole formed through the center of the laser holding wall 111 so that the semiconductor laser 101M can be fitted. A edging 114 is formed on the edge of the mounting hole so as to project in the direction in which the laser beam of the semiconductor laser 101M is emitted. The edging 114 forms a tubular portion that fits with the semiconductor laser 101M. Further, the laser holding wall 111 is provided with two screw holes 115 for fixing the semiconductor laser 101M to the substrate 104 described later.

レンズ保持部112は、レーザ保持壁111の前方に所定距離離れて配置されている。レンズ保持部112の上面、すなわちカップリングレンズ102が取り付けられる面には、半導体レーザ101Mのレーザ光が出射される方向に延びた溝112aが形成されている。この溝112aは、カップリングレンズ102をレンズ保持部112に固定する接着剤である光硬化性樹脂135を配置する部分となる。すなわち、溝112aに光硬化性樹脂135が溜まる形で塗布されることにより、樹脂がレンズの周囲に流れるのを防止することができるとともに、光硬化性樹脂135を塗布する位置の基準とすることができる。 The lens holding portion 112 is arranged in front of the laser holding wall 111 at a predetermined distance. A groove 112a extending in the direction in which the laser beam of the semiconductor laser 101M is emitted is formed on the upper surface of the lens holding portion 112, that is, the surface on which the coupling lens 102 is attached. The groove 112a serves as a portion for arranging the photocurable resin 135, which is an adhesive for fixing the coupling lens 102 to the lens holding portion 112. That is, by applying the photocurable resin 135 in a form in which the photocurable resin 135 is accumulated in the groove 112a, it is possible to prevent the resin from flowing around the lens and to use it as a reference for the position where the photocurable resin 135 is applied. Can be done.

接続部113は、レーザ保持壁111の下端から前方に延びる下壁113aと、下壁113aの前端とレンズ保持部112の後端をつなぐように上下に延びる前壁113bとを有して構成されている。下壁113aには、ホルダ103をフレーム16に固定するためのネジ穴116が形成されている。 The connecting portion 113 includes a lower wall 113a extending forward from the lower end of the laser holding wall 111, and a front wall 113b extending vertically so as to connect the front end of the lower wall 113a and the rear end of the lens holding portion 112. ing. The lower wall 113a is formed with screw holes 116 for fixing the holder 103 to the frame 16.

基板104は、半導体レーザ101Mの動作を制御するためのプリント基板である。基板104は、半導体レーザ101Mおよび半導体レーザ101Kを保持している。基板104は、図4に示すように、フレーム16の側壁44の外側に固定されている。なお、側壁44は、半導体レーザ101Mの出射方向に直交している。 The substrate 104 is a printed circuit board for controlling the operation of the semiconductor laser 101M. The substrate 104 holds the semiconductor laser 101M and the semiconductor laser 101K. As shown in FIG. 4, the substrate 104 is fixed to the outside of the side wall 44 of the frame 16. The side wall 44 is orthogonal to the emission direction of the semiconductor laser 101M.

光源81Kは、半導体レーザ101Mに代えて半導体レーザ101Kを備える点を除いて、光源81Mと同一の構成である。半導体レーザ101Mと半導体レーザ101Kとの違いについては後述する。 The light source 81K has the same configuration as the light source 81M except that the semiconductor laser 101K is provided in place of the semiconductor laser 101M. The difference between the semiconductor laser 101M and the semiconductor laser 101K will be described later.

図6は、光源81Cの斜視図である。なお、図6では、後述するカップリングレンズ105の図示を省略している。光源81Cは、図4および図6に示すように、第2半導体レーザの一例としての半導体レーザ101Cと、第2カップリングレンズの一例としてのカップリングレンズ105と、第2ホルダの一例としてのホルダ106と、第3ホルダの一例としてのホルダ107と、第2基板の一例としての基板108とを備えている。光源81Cでは、ホルダ106によって半導体レーザ101Mが保持されており、ホルダ107によってカップリングレンズ105が保持されている。光源81Cでは、半導体レーザ101Cから出射されたレーザ光を、カップリングレンズ105によりビームに変換する。 FIG. 6 is a perspective view of the light source 81C. In FIG. 6, the coupling lens 105, which will be described later, is not shown. As shown in FIGS. 4 and 6, the light source 81C includes a semiconductor laser 101C as an example of a second semiconductor laser, a coupling lens 105 as an example of a second coupling lens, and a holder as an example of a second holder. It includes 106, a holder 107 as an example of a third holder, and a substrate 108 as an example of a second substrate. In the light source 81C, the semiconductor laser 101M is held by the holder 106, and the coupling lens 105 is held by the holder 107. The light source 81C converts the laser light emitted from the semiconductor laser 101C into a beam by the coupling lens 105.

ホルダ106は、半導体レーザ101Cを保持する。ホルダ106は、アルミニウム合金からなる平板となっている。ホルダ106には、その中央に半導体レーザ101Cが嵌合されるべく貫通して形成された円形の取付穴(不図示)が形成されている。当該取付穴の縁には半導体レーザ101Cのレーザ光が出射される方向に向かって突出した縁取り120が形成されている。この縁取り120が、半導体レーザ101Cと嵌合する筒部を形成している。また、ホルダ106には、半導体レーザ101Cを後述する基板108に固定するための2つのネジ穴(不図示)が設けられている。ホルダ106は、ホルダ107側に、半導体レーザ101Cの出射方向に直交する第1平面部106aを有している。 The holder 106 holds the semiconductor laser 101C. The holder 106 is a flat plate made of an aluminum alloy. The holder 106 is formed with a circular mounting hole (not shown) formed through the holder 106 so as to fit the semiconductor laser 101C in the center thereof. A edging 120 is formed on the edge of the mounting hole so as to project in the direction in which the laser beam of the semiconductor laser 101C is emitted. The edging 120 forms a tubular portion that fits with the semiconductor laser 101C. Further, the holder 106 is provided with two screw holes (not shown) for fixing the semiconductor laser 101C to the substrate 108 described later. The holder 106 has a first plane portion 106a orthogonal to the emission direction of the semiconductor laser 101C on the holder 107 side.

ホルダ107は、カップリングレンズ105を保持する。ホルダ107は、レンズ保持部121と、平板部122と、接続部123とを備えている。レンズ保持部121、平板部122および接続部123は、樹脂からなっている。 The holder 107 holds the coupling lens 105. The holder 107 includes a lens holding portion 121, a flat plate portion 122, and a connecting portion 123. The lens holding portion 121, the flat plate portion 122, and the connecting portion 123 are made of resin.

レンズ保持部121は、カップリングレンズ105が固定される台状をなしている。レンズ保持部121は、ホルダ106の前方に所定距離離れて配置されている。レンズ保持部121の上面、すなわちカップリングレンズ105が取り付けられる面には、半導体レーザ101Cのレーザ光が出射される方向に延びた溝121aが形成されている。 The lens holding portion 121 has a trapezoidal shape to which the coupling lens 105 is fixed. The lens holding portion 121 is arranged in front of the holder 106 at a predetermined distance. A groove 121a extending in the direction in which the laser beam of the semiconductor laser 101C is emitted is formed on the upper surface of the lens holding portion 121, that is, the surface on which the coupling lens 105 is attached.

平板部122は、ホルダ106の第1平面部106aに接触する第2平面部122aを有している。平板部122には、平板部122とホルダ106とを接続するためのネジ穴(不図示)が形成されており、平板部122とホルダ106とがネジにより締結されている。 The flat plate portion 122 has a second flat surface portion 122a that contacts the first flat surface portion 106a of the holder 106. The flat plate portion 122 is formed with screw holes (not shown) for connecting the flat plate portion 122 and the holder 106, and the flat plate portion 122 and the holder 106 are fastened with screws.

第2平面部122aは、半導体レーザ101Cの出射方向から見たときに、上部の一部に切欠きを有している。これにより、ホルダ106の第1平面部106aの一部は、第2平面部122aと対向し合う平面内において外部に露出した状態にすることができる。その結果、第1平面部106aを介した半導体レーザ101Cの放熱効果を向上させることができる。なお、本実施形態では、第1平面部106aを有するホルダ106が金属からなっているため、放熱性が高くなっている。 The second plane portion 122a has a notch in a part of the upper portion when viewed from the emission direction of the semiconductor laser 101C. As a result, a part of the first plane portion 106a of the holder 106 can be exposed to the outside in the plane facing the second plane portion 122a. As a result, the heat dissipation effect of the semiconductor laser 101C via the first flat surface portion 106a can be improved. In this embodiment, since the holder 106 having the first flat surface portion 106a is made of metal, the heat dissipation is high.

接続部123は、レンズ保持部121と平板部122とを接続している。接続部123の下壁には、ホルダ107をフレーム16に固定するためのネジ穴123aが形成されている。 The connecting portion 123 connects the lens holding portion 121 and the flat plate portion 122. A screw hole 123a for fixing the holder 107 to the frame 16 is formed on the lower wall of the connecting portion 123.

基板108は、半導体レーザ101Cの動作を制御するためのプリント基板である。基板108は、半導体レーザ101Cを保持している。基板108は、フレーム16とは非接触となっている。 The substrate 108 is a printed circuit board for controlling the operation of the semiconductor laser 101C. The substrate 108 holds the semiconductor laser 101C. The substrate 108 is in non-contact with the frame 16.

光源81Yは、半導体レーザ101Cに代えて半導体レーザ101Yを備える点を除いて、光源81Cと同一の構成である。半導体レーザ101Cと半導体レーザ101Yとの違いについては後述する。 The light source 81Y has the same configuration as the light source 81C except that the semiconductor laser 101Y is provided instead of the semiconductor laser 101C. The difference between the semiconductor laser 101C and the semiconductor laser 101Y will be described later.

入射光学系18は、図4に示すように、スリット板26と、反射ミラー27と、シリンドリカルレンズ29とを備えている。スリット板26は、2枚の平板が略直角方向に連続する略L字形状のプレートからなり、各平板には、スリットがそれぞれ開口されている。各スリットは、主走査方向に延びる長孔形状に形成されており、副走査方向において、各光源81に対応する間隔で、互いに間隔を隔てて配置されている。そして、このスリット板26は、各スリットが、レーザ光の通過方向において、各カップリングレンズ102・105の下流側に配置され、各カップリングレンズ102・105とそれぞれ対向するように配置されている。 As shown in FIG. 4, the incident optical system 18 includes a slit plate 26, a reflection mirror 27, and a cylindrical lens 29. The slit plate 26 is formed of a substantially L-shaped plate in which two flat plates are continuous in a substantially right angle direction, and each flat plate has a slit. Each slit is formed in an elongated hole shape extending in the main scanning direction, and is arranged at intervals corresponding to each light source 81 in the sub-scanning direction. The slit plate 26 is arranged so that each slit is arranged on the downstream side of each of the coupling lenses 102 and 105 in the passing direction of the laser beam and faces each of the coupling lenses 102 and 105, respectively. ..

各カップリングレンズ102・105を通過した各レーザ光は、スリット板26の各スリットによって、レーザ光の通過方向に直交する断面形状が制限され、これによって、各光源81から発光されるレーザ光の迷光が防止される。 Each laser beam that has passed through the coupling lenses 102 and 105 is restricted in cross-sectional shape orthogonal to the passing direction of the laser beam by each slit of the slit plate 26, whereby the laser beam emitted from each light source 81 is lightened. Stray light is prevented.

反射ミラー27は、レーザ光の通過方向において、上記各スリットの下流側に配置されており、略L字形状のスリット板26の各平板に対して、略45°に傾斜するように設けられている。この反射ミラー27は、光源81Kおよび光源81Mから出射されたレーザ光が、上側において、そのまま直線的に通過し、光源81Yおよび光源81Cから出射されたレーザ光が、下側において、略90°反射するように形成されている。これによって、2個の光源81から互いに直交する方向に発光された2本のレーザ光の光路が、主走査方向において一致するように合成される。 The reflection mirror 27 is arranged on the downstream side of each of the slits in the passing direction of the laser beam, and is provided so as to be inclined at approximately 45 ° with respect to each flat plate of the substantially L-shaped slit plate 26. There is. In this reflection mirror 27, the laser light emitted from the light source 81K and the light source 81M passes linearly on the upper side as it is, and the laser light emitted from the light source 81Y and the light source 81C is reflected by approximately 90 ° on the lower side. It is formed to do. As a result, the optical paths of the two laser beams emitted from the two light sources 81 in the directions orthogonal to each other are combined so as to coincide with each other in the main scanning direction.

シリンドリカルレンズ29は、樹脂材料を用いた射出成形によって形成される樹脂製レンズであり、レーザ光の通過方向において、スリット板26の下流側であって、ポリゴンミラー17の上流側に、スリット板26と所定間隔を隔てて対向配置されている。このシリンドリカルレンズ29は、スリット板26と対向する面が、スリット板26を通過したレーザ光が入射する円筒状の入射面となっており、ポリゴンミラー17と対向する面が、上記入射面から入射したレーザ光を出射する平面状の出射面となっている。 The cylindrical lens 29 is a resin lens formed by injection molding using a resin material, and is a slit plate 26 on the downstream side of the slit plate 26 and on the upstream side of the polygon mirror 17 in the passing direction of the laser beam. And are arranged facing each other at a predetermined interval. In this cylindrical lens 29, the surface facing the slit plate 26 is a cylindrical incident surface on which the laser light passing through the slit plate 26 is incident, and the surface facing the polygon mirror 17 is incident from the incident surface. It is a flat exit surface that emits the laser light.

ポリゴンミラー17は、高速回転によって、互いに反対側から入射される2組(4本)のレーザ光を、それぞれ偏向し、主走査方向に走査する。各組における2本のレーザ光は、ポリゴンミラー17の反射面に対してそれぞれ異なる角度で入射するため、ビーム偏向面17aからは、次第に副走査方向において互いに離間する角度で反射される。 The polygon mirror 17 deflects two sets (four) of laser beams incident from opposite sides by high-speed rotation, and scans them in the main scanning direction. Since the two laser beams in each set are incident on the reflection surface of the polygon mirror 17 at different angles, they are gradually reflected from the beam deflection surface 17a at angles separated from each other in the sub-scanning direction.

走査光学装置12では、図2各色に対応して4つの走査光学系80M・80K・80Y・80Cが設けられている。各走査光学系80は、レンズの一例としての走査レンズ19と、複数のミラーとを備えている。各色における走査光学系80の詳細については、後述する。走査光学系80では、走査レンズ19によって、ポリゴンミラー17によって等角速度で偏向されたビームを、像面において等速度で走査するよう変換し、主走査方向に結像する。また、走査光学系80は、走査レンズ19によって、ポリゴンミラー17のビーム偏向面17aを像面に副走査方向に結像し、ポリゴンミラー17の回転軸に対するミラー面の平行度の誤差(すなわち、偏向器の面倒れ)を補正する。走査レンズ19は、入射光学系18からポリゴンミラー17に入射し、ポリゴンミラー17によって主走査方向に等角速度で偏向された2本のレーザ光を、像面において等速度で走査するように変換するfθ特性を有するレンズである。走査レンズ19は、樹脂からなっている。 In the scanning optical device 12, four scanning optical systems 80M, 80K, 80Y, and 80C are provided corresponding to each color in FIG. 2. Each scanning optical system 80 includes a scanning lens 19 as an example of a lens and a plurality of mirrors. Details of the scanning optical system 80 for each color will be described later. In the scanning optical system 80, the scanning lens 19 converts the beam deflected by the polygon mirror 17 at a constant angular velocity so as to scan the image plane at a constant velocity, and forms an image in the main scanning direction. Further, in the scanning optical system 80, the beam deflection surface 17a of the polygon mirror 17 is imaged on the image surface in the sub-scanning direction by the scanning lens 19, and an error in the parallelism of the mirror surface with respect to the rotation axis of the polygon mirror 17 (that is, that is). Correct the trouble of the deflector). The scanning lens 19 converts two laser beams incident on the polygon mirror 17 from the incident optical system 18 and deflected by the polygon mirror 17 at a constant angular velocity in the main scanning direction so as to scan the image plane at a constant velocity. It is a lens having fθ characteristics. The scanning lens 19 is made of resin.

イエローに対応する走査光学系80Yは、光源81Yから出射されポリゴンミラー17によって偏向された光を、第2像面の一例としての感光ドラム51Yに結像させる。走査光学系80Yは、第2走査光学系の一例である。走査光学系80Yは、前後方向最前方に配置されており、一方の走査レンズ19と、当該走査レンズ19の上側を通過したレーザ光を反射させるミラー35aと、ミラー35aで反射されたレーザ光を第2像面の一例としての感光ドラム51Yへ向けて反射するミラー35bとを備えている。 The scanning optical system 80Y corresponding to yellow forms an image of the light emitted from the light source 81Y and deflected by the polygon mirror 17 on the photosensitive drum 51Y as an example of the second image plane. The scanning optical system 80Y is an example of the second scanning optical system. The scanning optical system 80Y is arranged at the foremost position in the front-rear direction, and combines one scanning lens 19, a mirror 35a that reflects the laser beam that has passed above the scanning lens 19, and the laser beam that is reflected by the mirror 35a. As an example of the second image plane, a mirror 35b that reflects toward the photosensitive drum 51Y is provided.

走査光学系80Yでは、レーザ光は、一方の走査レンズ19の上側を通過し、ミラー35aにおいて斜め後側上方に反射され、ミラー35bにおいて鉛直方向下方に反射されイエロー出射窓21Yから出射される。 In the scanning optical system 80Y, the laser beam passes above the one scanning lens 19 and is reflected obliquely rearward and upward by the mirror 35a, and is reflected downward in the vertical direction by the mirror 35b and emitted from the yellow exit window 21Y.

マゼンタに対応する走査光学系80Mは、光源81Mから出射されポリゴンミラー17によって偏向された光を、第1像面の一例としての感光ドラム51Mに結像させる。走査光学系80Mは、第1走査光学系の一例である。走査光学系80Mは、ポリゴンミラー17と走査光学系80Yとの間に配置されており、一方の走査レンズ19と、当該走査レンズ19の下側を通過したレーザ光を反射させる2つのミラー37aおよび37bと、ミラー37bで反射されたレーザ光を感光ドラム51Mへ向けて反射するミラー37cとを備えている。 The scanning optical system 80M corresponding to magenta forms an image of the light emitted from the light source 81M and deflected by the polygon mirror 17 on the photosensitive drum 51M as an example of the first image plane. The scanning optical system 80M is an example of the first scanning optical system. The scanning optical system 80M is arranged between the polygon mirror 17 and the scanning optical system 80Y, and includes one scanning lens 19 and two mirrors 37a that reflect the laser light that has passed under the scanning lens 19. It includes a 37b and a mirror 37c that reflects the laser beam reflected by the mirror 37b toward the photosensitive drum 51M.

走査光学系80Mでは、レーザ光は、一方の走査レンズ19の下側を通過し、ミラー37aにおいて上方に反射され、次いで、ミラー37bにおいて後方に反射され、ミラー37cにおいて鉛直方向下方に反射されマゼンタ出射窓21Mから出射される。 In the scanning optical system 80M, the laser beam passes under one of the scanning lenses 19 and is reflected upward at the mirror 37a, then backward at the mirror 37b, and reflected downward at the mirror 37c in the vertical direction. It is emitted from the exit window 21M.

シアンに対応する走査光学系80Cは、光源81Cから出射されポリゴンミラー17によって偏向された光を、第2像面の一例としての感光ドラム51Cに結像させる。走査光学系80Cは、第2走査光学系の一例である。走査光学系80Cは、ポリゴンミラー17と後述するブラックに対応する走査光学系80Kとの間に配置されており、他方の走査レンズ19と、当該走査レンズ19の下側を通過したレーザ光を反射させる2つのミラー39aおよび39bと、ミラー39bで反射されたレーザ光を感光ドラム51Cへ向けて反射するミラー39cとを備えている。 The scanning optical system 80C corresponding to cyan images the light emitted from the light source 81C and deflected by the polygon mirror 17 on the photosensitive drum 51C as an example of the second image plane. The scanning optical system 80C is an example of the second scanning optical system. The scanning optical system 80C is arranged between the polygon mirror 17 and the scanning optical system 80K corresponding to black, which will be described later, and reflects the other scanning lens 19 and the laser light that has passed under the scanning lens 19. The two mirrors 39a and 39b are provided, and the mirror 39c that reflects the laser light reflected by the mirror 39b toward the photosensitive drum 51C is provided.

走査光学系80Cでは、レーザ光は、他方の走査レンズ19の下側を通過し、ミラー39aにおいて上方に反射され、次いで、ミラー39bにおいて前方に反射され、その後、ミラー39cにおいて鉛直方向下方に反射されシアン出射窓21Cから出射される。 In the scanning optical system 80C, the laser beam passes under the other scanning lens 19 and is reflected upward at the mirror 39a, then forward at the mirror 39b, and then vertically downward at the mirror 39c. It is emitted from the cyan emission window 21C.

ブラックに対応する走査光学系80Kは、光源81Kから出射されポリゴンミラー17によって偏向された光を、第1像面の一例としての感光ドラム51Kに結像させる。走査光学系80Kは、第1走査光学系の一例である。走査光学系80Kは、前後方向最後方に配置されており、他方の走査レンズ19と、当該走査レンズ19の上側を通過したレーザ光を反射させるミラー41aと、ミラー41aで反射されたレーザ光を感光ドラム51Kへ向けて反射するミラー41bとを備えている。 The scanning optical system 80K corresponding to black forms an image of the light emitted from the light source 81K and deflected by the polygon mirror 17 on the photosensitive drum 51K as an example of the first image plane. The scanning optical system 80K is an example of the first scanning optical system. The scanning optical system 80K is arranged at the rearmost position in the front-rear direction, and combines the other scanning lens 19, the mirror 41a that reflects the laser light that has passed above the scanning lens 19, and the laser light that is reflected by the mirror 41a. It is provided with a mirror 41b that reflects toward the photosensitive drum 51K.

走査光学系80Kでは、レーザ光は、他方の走査レンズ19の上側を通過し、ミラー41aにおいて斜め前側上方に反射され、ミラー41bにおいて鉛直方向下方に反射されブラック出射窓21Kから出射される。 In the scanning optical system 80K, the laser beam passes above the other scanning lens 19, is reflected obliquely forward and upward by the mirror 41a, is reflected downward in the vertical direction by the mirror 41b, and is emitted from the black exit window 21K.

ここで、本実施形態における走査光学装置12では、光源81Kおよび光源81Mにおいて基板104がフレーム16の側壁44に固定されている。そのため、環境温度が上昇した場合、半導体レーザ101K・101Mとカップリングレンズ102との距離は、半導体レーザ101K・101Mとカップリングレンズ102とを接続するホルダ103の膨張だけではなく、フレーム16の膨張にも依存して変化する。具体的には、環境温度が上昇した場合、図4に示すように、フレーム16は、ホルダ103におけるフレーム16への固定部であるネジ穴116と、基板104との距離が大きくなるように膨張する。これにより、半導体101レーザK・101Mとカップリングレンズ102との距離Dが大きくなる。 Here, in the scanning optical device 12 of the present embodiment, the substrate 104 is fixed to the side wall 44 of the frame 16 in the light source 81K and the light source 81M. Therefore, when the environmental temperature rises, the distance between the semiconductor laser 101K / 101M and the coupling lens 102 is not only the expansion of the holder 103 connecting the semiconductor laser 101K / 101M and the coupling lens 102, but also the expansion of the frame 16. It also depends on. Specifically, when the environmental temperature rises, as shown in FIG. 4, the frame 16 expands so that the distance between the screw hole 116, which is the fixing portion of the holder 103 to the frame 16, and the substrate 104 increases. To do. As a result, the distance D between the semiconductor 101 laser K / 101M and the coupling lens 102 becomes large.

一方、光源81Cおよび光源81Yでは、基板108がフレーム16に固定されていない。そのため、環境温度が上昇した場合、半導体レーザ101C・101Yとカップリングレンズ105との距離は、半導体レーザ101C・101Yとカップリングレンズ105とを接続するホルダ107の膨張のみに依存して変化する。 On the other hand, in the light source 81C and the light source 81Y, the substrate 108 is not fixed to the frame 16. Therefore, when the environmental temperature rises, the distance between the semiconductor lasers 101C / 101Y and the coupling lens 105 changes depending only on the expansion of the holder 107 connecting the semiconductor lasers 101C / 101Y and the coupling lens 105.

したがって、従来のように、すべての光源において、半導体レーザとカップリングレンズとを接続するホルダが同じ材料で形成されている場合には、基板が樹脂からなるフレームに固定されている光源における半導体レーザとカップリングレンズとの距離が、基板がフレームに固定されていない光源における半導体レーザとカップリングレンズとの距離よりも大きくなってしまう。その結果、フレームに固定されている光源と、基板がフレームに固定されていない光源とで焦点位置が互いに異なってしまう。 Therefore, as in the conventional case, when the holder connecting the semiconductor laser and the coupling lens is made of the same material in all the light sources, the semiconductor laser in the light source in which the substrate is fixed to the frame made of resin. The distance between the semiconductor laser and the coupling lens becomes larger than the distance between the semiconductor laser and the coupling lens in a light source in which the substrate is not fixed to the frame. As a result, the focal positions of the light source fixed to the frame and the light source whose substrate is not fixed to the frame are different from each other.

これに対して、本実施形態における走査光学装置12では、光源81Kおよび光源81Mにおけるホルダ103が金属からなっているとともに、光源81Yおよび光源81Cにおけるホルダ107が樹脂からなっている。そのため、ホルダ107の熱膨張率が、ホルダ103の熱膨張率よりも高くなっている。その結果、環境温度が上昇した場合に、ホルダ107がホルダ103よりも大きく膨張させることができる。換言すれば、環境温度が変化した際の、ホルダ103の熱膨張による半導体レーザ101K・101Mとカップリングレンズ102との距離の変化と、ホルダ107の熱膨張による半導体レーザ101Y・101Cとカップリングレンズ105との距離の変化とを異ならせることができる。当該距離の変化の違いによって、基板104がフレーム16に固定されていることに起因する、半導体レーザとカップリングレンズとの距離の変化を相殺することができる。その結果、環境温度が変化した場合において、光源81K・81Mと光源81C・81Yとの焦点位置のずれを軽減することができる。 On the other hand, in the scanning optical device 12 of the present embodiment, the holder 103 of the light source 81K and the light source 81M is made of metal, and the holder 107 of the light source 81Y and the light source 81C is made of resin. Therefore, the coefficient of thermal expansion of the holder 107 is higher than the coefficient of thermal expansion of the holder 103. As a result, when the environmental temperature rises, the holder 107 can be expanded more than the holder 103. In other words, when the environmental temperature changes, the distance between the semiconductor lasers 101K / 101M and the coupling lens 102 changes due to the thermal expansion of the holder 103, and the semiconductor lasers 101Y / 101C and the coupling lens due to the thermal expansion of the holder 107. The change in distance from 105 can be different. The difference in the change in the distance can offset the change in the distance between the semiconductor laser and the coupling lens due to the substrate 104 being fixed to the frame 16. As a result, it is possible to reduce the deviation of the focal position between the light sources 81K / 81M and the light sources 81C / 81Y when the environmental temperature changes.

ここで、光源81は、環境温度が上昇すると、半導体レーザとカップリングレンズとの間の距離がそれぞれ大きくなり、焦点が手前にずれる。走査光学装置12では、走査光学系80が、光源81K・81Mからの光と、光源81C・81Yからの光とがともに入射する、樹脂からなる走査レンズ19を備えている。その結果、環境温度が上昇したときに、樹脂からなる走査レンズ19が膨張し、焦点が奥側にずれることにより、焦点位置の変動を小さくすることができる。 Here, when the environmental temperature of the light source 81 rises, the distance between the semiconductor laser and the coupling lens increases, and the focus shifts toward the front. In the scanning optical device 12, the scanning optical system 80 includes a scanning lens 19 made of resin, in which light from light sources 81K / 81M and light from light sources 81C / 81Y are both incident. As a result, when the environmental temperature rises, the scanning lens 19 made of resin expands and the focal point shifts to the back side, so that the fluctuation of the focal position can be reduced.

また、走査光学装置12では、ホルダ106は、半導体レーザ101C・101Yの出射方向に直交する第1平面部106aを有し、ホルダ107は、第1平面部106aに接触する第2平面部122aを有する。 Further, in the scanning optical device 12, the holder 106 has a first plane portion 106a orthogonal to the emission direction of the semiconductor lasers 101C / 101Y, and the holder 107 has a second plane portion 122a in contact with the first plane portion 106a. Have.

これにより、半導体レーザ101C・101Yを保持するホルダ106の第1平面部106aを基準にして、ホルダ107が熱膨張したときの、半導体レーザ101C・101Yとカップリングレンズ105との距離の変動を規定することができる。 Thereby, the fluctuation of the distance between the semiconductor laser 101C / 101Y and the coupling lens 105 when the holder 107 is thermally expanded is defined with reference to the first plane portion 106a of the holder 106 holding the semiconductor laser 101C / 101Y. can do.

次に、本実施形態における半導体レーザ101K・101M・101C・101Yの詳細について説明する。 Next, the details of the semiconductor lasers 101K / 101M / 101C / 101Y in this embodiment will be described.

本実施形態における走査光学装置12では、1回の走査ごとにインタレース操作を行う。そのため、半導体レーザ101K・101M・101C・101Yは、それぞれ複数、本実施形態では2つの発光部を備えている。 In the scanning optical device 12 of the present embodiment, an interlacing operation is performed for each scanning. Therefore, the semiconductor lasers 101K, 101M, 101C, and 101Y each include a plurality of light emitting units, and in the present embodiment, two light emitting units.

ここではまず、半導体レーザ101Mについて説明する。図7は、半導体レーザ101Mの構成を示す図である。図7に示すように、半導体レーザ101Mは、2つの発光部E1・E2を有している。発光部E1・E2は、距離Soだけ離間して配置されている。本実施形態における半導体レーザ101Mでは、2つの発光部E1・E2が距離So=30μmだけ離間している。 Here, first, the semiconductor laser 101M will be described. FIG. 7 is a diagram showing the configuration of the semiconductor laser 101M. As shown in FIG. 7, the semiconductor laser 101M has two light emitting units E1 and E2. The light emitting units E1 and E2 are arranged so as to be separated by a distance So. In the semiconductor laser 101M of the present embodiment, the two light emitting units E1 and E2 are separated by a distance So = 30 μm.

2つの発光部E1・E2を結ぶ線L1は、主走査方向に対して斜めになっている。この例では、線L1と主走査方向とのなす角θは78.85°である。これにより、発光部E1・E2の副走査方向の間隔Poは、Po=So×sinθ=29.43μmとなる。また、発光部E1・E2の主走査方向の間隔Qoは、Qo=So×cosθ=5.80μmとなる。走査光学系80Mの副走査方向における結像倍率は4.3倍であるため、感光ドラム51Mに結像される2つのビームスポットの副走査方向の間隔Pは、P=Po×βs=127μmとなる。 The line L1 connecting the two light emitting portions E1 and E2 is oblique with respect to the main scanning direction. In this example, the angle θ formed by the line L1 and the main scanning direction is 78.85 °. As a result, the distance Po in the sub-scanning direction of the light emitting units E1 and E2 becomes Po = So × sinθ = 29.43 μm. Further, the interval Qo of the light emitting units E1 and E2 in the main scanning direction is Qo = So × cos θ = 5.80 μm. Since the imaging magnification of the scanning optical system 80M in the sub-scanning direction is 4.3 times, the distance P between the two beam spots imaged on the photosensitive drum 51M in the sub-scanning direction is P = Po × βs = 127 μm. Become.

走査光学装置12では、半導体レーザ101M・101Cにおける、2つの発光部を結ぶ線と主走査方向とのなす角度が78.85となっている。また、半導体レーザ101K・101Yにおける、2つの発光部を結ぶ線と主走査方向とのなす角度が−78.85となっている。 In the scanning optical device 12, the angle formed by the line connecting the two light emitting portions and the main scanning direction in the semiconductor lasers 101M and 101C is 78.85. Further, in the semiconductor lasers 101K and 101Y, the angle formed by the line connecting the two light emitting portions and the main scanning direction is −78.85.

図8は、光源81Kから出射される光ビーム群の走査レンズ19における入射位置を表す図である。図中左右方向が主走査方向、図中上下方向が副走査方向を表している。また、図中「SOS」が走査開始位置、「COS」が走査中央位置、「EOS」が走査終了位置をそれぞれ表している。 FIG. 8 is a diagram showing an incident position of the light beam group emitted from the light source 81K in the scanning lens 19. The left-right direction in the figure represents the main scanning direction, and the vertical direction in the figure represents the sub-scanning direction. Further, in the figure, "SOS" represents the scanning start position, "COS" represents the scanning center position, and "EOS" represents the scanning end position.

図8に示すように、COS位置における、光ビーム群のうち実線で示す発光部E1から の光ビームの主光線の入射高さH1と、破線で示す発光部E2からの光ビームの主光線の 入射高さH2との比は約1.32:1となっている。 As shown in FIG. 8, at the COS position, the incident height H1 of the main ray of the light beam from the light emitting portion E1 shown by the solid line in the light beam group and the main ray of the light beam from the light emitting portion E2 shown by the broken line. The ratio to the incident height H2 is about 1.32: 1.

なお、光源81Kおよび光源81Yにおける半導体レーザ101K・101Yは、2つの発光部を結ぶ線と主走査方向とのなす角度が−78.85°と半導体レーザ101Mとは逆になっているため、発光点の位置関係が逆になる。なお、光源81Cにおける半導体レーザ101Cは、2つの発光部を結ぶ線と主走査方向とのなす角度が半導体レーザ101Mと同様であるため、発光点の位置関係も光源81Mと同様になる。 The semiconductor lasers 101K and 101Y in the light source 81K and the light source 81Y emit light because the angle formed by the line connecting the two light emitting portions and the main scanning direction is −78.85 °, which is opposite to that of the semiconductor laser 101M. The positional relationship of the points is reversed. Since the angle formed by the line connecting the two light emitting portions and the main scanning direction of the semiconductor laser 101C in the light source 81C is the same as that of the semiconductor laser 101M, the positional relationship of the light emitting points is also the same as that of the light source 81M.

図9は、走査光学装置12におけるインタレース走査を説明する図であり、感光ドラム51Kの被走査面における発光部E1・E2の像IE1・IE2の移動をそれぞれ示している。図示の例では、前述の発光部E1・E2からのレーザ光に基づく、副走査方向に互いに離れた複数の走査線が露光されている。 FIG. 9 is a diagram illustrating interlaced scanning in the scanning optical device 12, and shows the movement of the images IE1 and IE2 of the light emitting portions E1 and E2 on the scanned surface of the photosensitive drum 51K, respectively. In the illustrated example, a plurality of scanning lines separated from each other in the sub-scanning direction based on the laser light from the light emitting units E1 and E2 described above are exposed.

具体的には、例えばあるタイミングで、発光部E1の像IE1と発光部E2の像IE2 とが、それぞれ、走査線S11及び走査線S14に沿って主走査方向に走査される。この 例では、像IE1と像IE2との副走査方向における中心間距離は、光源81Kから照射された光ビーム群のピッチPに相当し、各走査線S11,S12,S13・・・の中心間距離Piの3倍となる。 Specifically, for example, at a certain timing, the image IE1 of the light emitting unit E1 and the image IE2 of the light emitting unit E2 are scanned in the main scanning direction along the scanning lines S11 and S14, respectively. In this example, the distance between the centers of the image IE1 and the image IE2 in the sub-scanning direction corresponds to the pitch P of the light beam group irradiated from the light source 81K, and is between the centers of the scanning lines S11, S12, S13 ... It is 3 times the distance Pi.

一方、感光ドラム51Kは、図示しないモータにより回転駆動される。上記光ビーム群が走査される感光ドラム51Kの被走査面は、上記のように像IE1・IE2が主走査方向に一回の走査をされる間に、副走査方向にPmだけ移動する。この距離Pmは、距離Piの2倍である。このため、例えば、図示のタイミングで示すように像IE1・IE2が走査線S11,S14を走査した後は、二点鎖線に示すように、像IE1・IE2は2本ずれた走査線S13,S16を走査する。そして、その次のタイミングでは、像IE1・IE2はさらに2本ずれた走査線S15,S18を走査する。以降、同様の走査態様が繰り 返される。 On the other hand, the photosensitive drum 51K is rotationally driven by a motor (not shown). The surface to be scanned of the photosensitive drum 51K on which the light beam group is scanned moves by Pm in the sub-scanning direction while the images IE1 and IE2 are scanned once in the main scanning direction as described above. This distance Pm is twice the distance Pi. Therefore, for example, after the images IE1 and IE2 scan the scanning lines S11 and S14 as shown at the timing shown in the figure, the images IE1 and IE2 are displaced by two scanning lines S13 and S16 as shown by the alternate long and short dash line. To scan. Then, at the next timing, the images IE1 and IE2 scan the scanning lines S15 and S18 which are further displaced by two lines. After that, the same scanning mode is repeated.

本実施形態では、上記のようにして、光ビーム群による1回の走査ごとに、副走査方向にn番目の走査線Snとn+3番目の走査線Sn+3(但しnは自然数)との走査が実行される。これによって、被走査面61aの全走査線Sに沿って順次露光が行われる。 In the present embodiment, as described above, scanning with the nth scanning line Sn and n + third scanning line Sn + 3 (where n is a natural number) is executed for each scan by the light beam group in the sub-scanning direction. Will be done. As a result, exposure is sequentially performed along all the scanning lines S of the surface to be scanned 61a.

<変形例>
上記の実施形態では、光源81Mおよび光源81Kに対してそれぞれホルダ103が設けられる態様であったが、本発明の走査光学装置はこれに限られない。図10は、本変形例における走査光学装置が備えるホルダ103Aを示す図である。図10に示すように、本変形例における走査光学装置では、上記の実施形態における、光源81Mのホルダ103と、光源81Kにおけるホルダ103とが一体として形成されているホルダ103Aを備えている。ホルダ103Aは、第1ホルダの一例である。
<Modification example>
In the above embodiment, the holder 103 is provided for each of the light source 81M and the light source 81K, but the scanning optical device of the present invention is not limited to this. FIG. 10 is a diagram showing a holder 103A included in the scanning optical device in this modified example. As shown in FIG. 10, the scanning optical device in this modification includes a holder 103A in which the holder 103 of the light source 81M and the holder 103 of the light source 81K are integrally formed in the above embodiment. Holder 103A is an example of the first holder.

ホルダ103Aは、金属で形成されている。ホルダ103Aは、半導体レーザ101Mと、半導体レーザ101Kと、半導体レーザ101Mおよび半導体レーザ101Kにそれぞれ対応するカップリングレンズ(図10では図示を省略している)を保持する。 The holder 103A is made of metal. The holder 103A holds a semiconductor laser 101M, a semiconductor laser 101K, and a coupling lens (not shown in FIG. 10) corresponding to the semiconductor laser 101M and the semiconductor laser 101K, respectively.

<画像形成部の構成>
プロセス部13は、図1に示すように、複数色のトナーに対応して複数設けられている。すなわち、プロセス部13は、イエロープロセス部13Y、マゼンタプロセス部13M、シアンプロセス部13Cおよびブラックプロセス部13Kの4つからなる。これらプロセス部13は、前方から後方に向かって互いに間隔を隔てて、順次、並列配置されている。各プロセス部13は、感光ドラム51、帯電器52および現像カートリッジ53を備えている。
<Structure of image forming part>
As shown in FIG. 1, a plurality of process units 13 are provided corresponding to toners of a plurality of colors. That is, the process unit 13 is composed of four parts: a yellow process unit 13Y, a magenta process unit 13M, a cyan process unit 13C, and a black process unit 13K. These process units 13 are sequentially arranged in parallel from the front to the rear with a distance from each other. Each process unit 13 includes a photosensitive drum 51, a charger 52, and a developing cartridge 53.

感光ドラム51は、円筒形状をなし、最表層がポリカーボネートなどからなる正帯電性の感光層により形成され、像面が形成されるドラム本体と、このドラム本体の軸心において、ドラム本体の軸方向に沿って延びるドラム軸とを備えている。 The photosensitive drum 51 has a cylindrical shape, and the outermost surface layer is formed of a positively charged photosensitive layer made of polycarbonate or the like to form an image plane. It has a drum shaft that extends along.

帯電器52は、ワイヤおよびグリッドを備え、帯電バイアスの印加により、コロナ放電を発生させる正帯電型のスコロトロン型帯電器を用いることができ、感光ドラム51の後方において、感光ドラム51と接触しないように間隔を隔てて対向配置されている。 The charger 52 includes a wire and a grid, and a positively charged scorotron type charger that generates a corona discharge by applying a charging bias can be used so as not to come into contact with the photosensitive drum 51 behind the photosensitive drum 51. They are arranged facing each other at intervals.

現像カートリッジ53は、その筐体内に、現像ローラ56、供給ローラ57および層厚規制ブレード58を備えている。現像カートリッジ53の筐体の上側部分は、トナーを収容するトナー収容室55として形成されており、各色のトナーが収容されている。 The developing cartridge 53 includes a developing roller 56, a supply roller 57, and a layer thickness regulating blade 58 in its housing. The upper portion of the housing of the developing cartridge 53 is formed as a toner accommodating chamber 55 for accommodating toner, and toner of each color is accommodating.

各プロセス部13では、画像形成時に、各トナー収容室55に収容されている各色のトナーが、供給ローラ57に供給され、この供給ローラ57の回転により現像ローラ56に供給される。このとき、トナーは、供給ローラ57と、現像バイアスが印加されている現像ローラ56との間で正に摩擦帯電される。現像ローラ56上に供給されたトナーは、現像ローラ56の回転に伴って、層厚規制ブレード58と現像ローラ56との間に進入し、一定厚さの薄層となって、現像ローラ56上に担持される。 At the time of image formation, each process unit 13 supplies toner of each color stored in each toner storage chamber 55 to the supply roller 57, and is supplied to the developing roller 56 by rotation of the supply roller 57. At this time, the toner is positively triboelectrically charged between the supply roller 57 and the developing roller 56 to which the developing bias is applied. The toner supplied onto the developing roller 56 enters between the layer thickness regulating blade 58 and the developing roller 56 as the developing roller 56 rotates, and becomes a thin layer having a constant thickness on the developing roller 56. It is carried on.

一方、帯電器52は、帯電バイアスの印加により、コロナ放電を発生させて、感光ドラム51の表面を一様に正帯電させている。感光ドラム51の表面は、感光ドラム51の回転に伴って、帯電器52により一様に正帯電された後、走査光学装置12の出射窓21から出射されたレーザ光の高速走査により露光され、シート3に形成すべき画像に対応した各色の静電潜像が形成される。 On the other hand, the charger 52 generates a corona discharge by applying a charging bias to uniformly positively charge the surface of the photosensitive drum 51. The surface of the photosensitive drum 51 is uniformly positively charged by the charger 52 as the photosensitive drum 51 rotates, and then exposed by high-speed scanning of the laser beam emitted from the exit window 21 of the scanning optical device 12. Electrostatic latent images of each color corresponding to the image to be formed on the sheet 3 are formed.

さらに感光ドラム51が回転すると、次いで、現像ローラ56の表面に担持されかつ正帯電されているトナーが、現像ローラ56の回転により、感光ドラム51に対向して接触するときに、感光ドラム51の表面に形成されている静電潜像、すなわち、一様に正帯電されている感光ドラム51の表面のうち、レーザ光によって露光され電位が下がっている露光部分に供給される。これにより、感光ドラム51の静電潜像は、可視像化され、感光ドラム51の表面には、各色に対応して、反転現像によるトナー像が担持される。 Further rotation of the photosensitive drum 51 causes the toner carried on the surface of the developing roller 56 and to be positively charged to come into contact with the photosensitive drum 51 due to the rotation of the developing roller 56. The electrostatic latent image formed on the surface, that is, the surface of the photosensitive drum 51 that is uniformly positively charged, is supplied to the exposed portion exposed by the laser beam and whose potential is lowered. As a result, the electrostatic latent image of the photosensitive drum 51 is visualized, and a toner image by reverse development is supported on the surface of the photosensitive drum 51 corresponding to each color.

転写部14は、本体ケーシング2内において、シートカセット7の上方であって、プロセス部13の下方において、前後方向に沿って配置されている。転写部14は、駆動ローラ59、従動ローラ60、搬送ベルト61、転写ローラ62およびベルトクリーニング部63を備えている。 The transfer unit 14 is arranged in the main body casing 2 above the sheet cassette 7 and below the process unit 13 along the front-rear direction. The transfer unit 14 includes a drive roller 59, a driven roller 60, a conveyor belt 61, a transfer roller 62, and a belt cleaning unit 63.

ベルトクリーニング部63は、搬送ベルト61の下方であって、ブラックプロセス部1
3Kと搬送ベルト61を挟んで対向配置されている。ベルトクリーニング部63は、1次クリーニングローラ64と、2次クリーニングローラ65と、掻取ブレード66と、クリーニングボックス67とを備えている。
The belt cleaning unit 63 is below the transport belt 61 and is the black process unit 1.
They are arranged so as to face each other with the transport belt 61 sandwiched between 3K. The belt cleaning unit 63 includes a primary cleaning roller 64, a secondary cleaning roller 65, a scraping blade 66, and a cleaning box 67.

シート排出部6は、排紙パス71、排紙ローラ72および排紙トレイ73を備えている。排紙パス71は、上流側端部が、下方において搬送ローラ70に隣接し、シート3が後方に向かって給紙されるように、また、下流側端部が、上方において排紙ローラ72に隣接し、シート3が前方に向かって排紙されるような、略U字形状のシート3の搬送経路として形成されている。排紙ローラ72は、排紙パス71の下流側端部に、1対のローラとして設けられている。排紙トレイ73は、本体ケーシング2の上面に、前方から後方に向かって下方に傾斜する傾斜壁として形成されている。 The sheet ejection unit 6 includes a paper ejection pass 71, a paper ejection roller 72, and a paper ejection tray 73. In the paper ejection path 71, the upstream end is adjacent to the transport roller 70 at the bottom so that the sheet 3 is fed backward, and the downstream end is at the paper ejection roller 72 at the top. Adjacent to each other, the sheet 3 is formed as a transport path for the substantially U-shaped sheet 3 so that the sheet 3 is discharged toward the front. The paper ejection rollers 72 are provided as a pair of rollers at the downstream end of the paper ejection path 71. The output tray 73 is formed on the upper surface of the main body casing 2 as an inclined wall that inclines downward from the front to the rear.

搬送ローラ70から送られたシート3は、排紙パス71内において、搬送方向が前後反転された後、排紙ローラ72によって、前方に向かって排紙される。排紙されたシート3は、排紙トレイ73上に載置される。 The sheet 3 sent from the transport roller 70 is ejected forward by the paper eject roller 72 after the conveying direction is reversed in the paper ejection path 71. The ejected sheet 3 is placed on the output tray 73.

本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made within the scope of the claims, and the embodiments obtained by appropriately combining the technical means disclosed in the different embodiments. Is also included in the technical scope of the present invention.

12 走査光学装置
16 フレーム
17 ポリゴンミラー(偏向器)
19 走査レンズ(レンズ)
44 側壁
80M、80K 走査光学系(第1走査光学系)
80C、80Y 走査光学系(第2走査光学系)
81M、81K 光源(第1光源)
81C、81Y 光源(第2光源)
101M、101K 半導体レーザ(第1半導体レーザ)
101C、101Y 半導体レーザ(第2半導体レーザ)
102 カップリングレンズ(第1カップリングレンズ)
104 基板(第1基板)
103、103A ホルダ(第1ホルダ)
105 カップリングレンズ(第2カップリングレンズ)
106 ホルダ(第2ホルダ)
106a 第1平面部
107 ホルダ(第3ホルダ)
108 基板(第2基板)
122a 第2平面部
12 Scanning optics 16 frames 17 Polygon mirror (deflector)
19 Scanning lens (lens)
44 Side wall 80M, 80K scanning optical system (first scanning optical system)
80C, 80Y scanning optical system (second scanning optical system)
81M, 81K light source (first light source)
81C, 81Y light source (second light source)
101M, 101K semiconductor laser (first semiconductor laser)
101C, 101Y semiconductor laser (second semiconductor laser)
102 Coupling lens (1st coupling lens)
104 board (first board)
103, 103A holder (first holder)
105 Coupling Lens (2nd Coupling Lens)
106 holder (second holder)
106a First flat surface 107 holder (third holder)
108 board (second board)
122a 2nd plane

Claims (6)

第1半導体レーザ、当該第1半導体レーザから出射された光をビームに変換する第1カップリングレンズ、および、前記第1半導体レーザと前記第1カップリングレンズとを保持する第1ホルダを有する第1光源と、
第2半導体レーザ、当該第2半導体レーザから出射された光をビームに変換する第2カップリングレンズ、前記第2半導体レーザを保持する第2ホルダ、および、前記第2ホルダに固定され前記第2カップリングレンズを保持する第3ホルダを有する第2光源と、
前記第1光源および前記第2光源からの光を偏向する偏向器と、
前記第1光源から出射され前記偏向器によって偏向された光を、第1像面に結像させる第1走査光学系と、
前記第2光源から出射され前記偏向器によって偏向された光を、第2像面に結像させる第2走査光学系と、
前記第1光源と、前記第2光源と、前記偏向器と、前記第1走査光学系と、前記第2走査光学系とを保持するフレームとを備え、
前記第1光源は、前記第1半導体レーザを保持するとともに、前記フレームに固定された第1基板を備え、
前記第2光源は、前記第2半導体レーザを保持するとともに、前記フレームに非接触の第2基板を備え、
前記第1ホルダと前記第3ホルダとは、熱膨張率が異なる、走査光学装置。
A first holder having a first semiconductor laser, a first coupling lens that converts light emitted from the first semiconductor laser into a beam, and a first holder that holds the first semiconductor laser and the first coupling lens. 1 light source and
The second semiconductor laser, the second coupling lens that converts the light emitted from the second semiconductor laser into a beam, the second holder that holds the second semiconductor laser, and the second holder that is fixed to the second holder. A second light source with a third holder that holds the coupling lens,
A deflector that deflects light from the first light source and the second light source,
A first scanning optical system that forms an image of light emitted from the first light source and deflected by the deflector on a first image plane.
A second scanning optical system that forms an image of the light emitted from the second light source and deflected by the deflector on the second image plane.
A frame that holds the first light source, the second light source, the deflector, the first scanning optical system, and the second scanning optical system is provided.
The first light source holds the first semiconductor laser and includes a first substrate fixed to the frame.
The second light source holds the second semiconductor laser and includes a second substrate that does not contact the frame.
A scanning optical device in which the first holder and the third holder have different coefficients of thermal expansion.
前記第1ホルダおよび前記第2ホルダは、金属であり、
前記第3ホルダは、樹脂である、請求項1に記載の走査光学装置。
The first holder and the second holder are made of metal.
The scanning optical device according to claim 1, wherein the third holder is a resin.
前記第1走査光学系および前記第2走査光学系は、前記第1光源からの光と、前記第2光源からの光とがともに入射するレンズを備え、
前記レンズは、樹脂からなる、請求項1または2に記載の走査光学装置。
The first scanning optical system and the second scanning optical system include a lens in which both the light from the first light source and the light from the second light source are incident.
The scanning optical device according to claim 1 or 2, wherein the lens is made of a resin.
前記第2ホルダは、前記第2半導体レーザの出射方向に直交する第1平面部を有し、
前記第3ホルダは、前記第1平面部に接触する第2平面部を有する、請求項1から3のいずれか1項に記載の走査光学装置。
The second holder has a first plane portion orthogonal to the emission direction of the second semiconductor laser.
The scanning optical device according to any one of claims 1 to 3, wherein the third holder has a second flat surface portion in contact with the first flat surface portion.
前記第1平面部は、前記第2平面部と対向し合う平面内において露出している、請求項4に記載の走査光学装置。 The scanning optical device according to claim 4, wherein the first flat surface portion is exposed in a plane facing the second flat surface portion. 前記フレームは、前記第1半導体レーザの出射方向に直交する側壁を有し、
前記第1基板は、前記側壁に固定されている、請求項1から5のいずれか1項に記載の走査光学装置。
The frame has a side wall orthogonal to the emission direction of the first semiconductor laser.
The scanning optical device according to any one of claims 1 to 5, wherein the first substrate is fixed to the side wall.
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