JP2021023662A - X-ray ct apparatus - Google Patents

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Abstract

To prevent deterioration of image quality of a scan image due to noise with power supply.SOLUTION: An X-ray CT apparatus includes an X-ray tube, an X-ray detector, a data processing section, a power source, a battery, a rotor, and a control section. The X-ray detector detects an X-ray to be output by the X-ray tube. The data processing section processes a signal to be output by the X-ray detector. The power source supplies power to the data processing section. The battery supplies power to the data processing section. The rotor rotatably supports the X-ray tube and the X-ray detector by facing and also rotatably supports the data processing section and the battery. The control section performs changeover control between the power source and the battery based on prior information of scan, so as to control power supply to the data processing section.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明の実施形態は、X線CT装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to an X-ray CT apparatus.

従来、X線CT(Computed Tomography:コンピュータ断層診断)装置では、被検体にX線を照射することにより得られたデータを収集および処理するためにデータ収集システム(以下、DAS:Data Acquisition System)が利用されている。このDASは大容量の電源を必要とするため、その電源として、例えば、商用の200Vの交流電圧を直流電圧に変換するスイッチング電源が用いられている。 Conventionally, in an X-ray CT (Computed Tomography) device, a data acquisition system (hereinafter, DAS: Data Acquisition System) is used to collect and process data obtained by irradiating a subject with X-rays. It's being used. Since this DAS requires a large-capacity power supply, for example, a switching power supply that converts a commercial 200V AC voltage into a DC voltage is used as the power supply.

しかしながら、スイッチング電源は動作時に高周波のノイズを発生するため、特に、低カウント領域での撮影においてはノイズの影響が支配的となり、画質が低下するとともに、被検体の被ばく増加に繋がる場合があった。このようなノイズの影響を回避するためには、ノイズ低減が可能な高性能なスイッチング電源、リニアレギュレータ(LDO:Low Dropout)、ノイズフィルタ等を用いることが考えられるが、回路構成が複雑化するとともに、コスト増となることが懸念されていた。その他、電池等に代表されるノイズレス電源という選択肢もあるが、臨床に耐えうる容量を持つ電池はまだ存在していない。 However, since the switching power supply generates high-frequency noise during operation, the influence of noise becomes dominant especially in shooting in a low count region, which may lead to deterioration of image quality and an increase in radiation exposure of the subject. .. In order to avoid the influence of such noise, it is conceivable to use a high-performance switching power supply capable of reducing noise, a linear regulator (LDO: Low Dropout), a noise filter, etc., but the circuit configuration becomes complicated. At the same time, there was concern that the cost would increase. In addition, there is an option of a noiseless power supply typified by a battery, but a battery having a capacity that can withstand clinical practice does not yet exist.

特開2010−284221号公報JP-A-2010-284221 米国特許出願公開第2013/0306877号明細書U.S. Patent Application Publication No. 2013/0386877

本発明が解決しようとする課題は、給電に伴うノイズに起因したスキャン画像の画質低下を防ぐことである。 An object to be solved by the present invention is to prevent deterioration of the image quality of the scanned image due to noise caused by power supply.

実施形態のX線CT装置は、X線管と、X線検出器と、データ処理部と、電源と、電池と、回転体と、制御部とを備える。X線検出器は、前記X線管により出力されるX線を検出する。データ処理部は、前記X線検出器により出力される信号を処理する。電源は、前記データ処理部に電力を供給する。電池は、前記データ処理部に電力を供給する。回転体は、前記X線管と前記X線検出器とを対向して回転可能に支持し、前記データ処理部と前記電池とを更に回転可能に支持する。制御部は、スキャンの事前情報に基づいて、前記電源と前記電池との間の切替制御を実行し、前記データ処理部への給電を制御する。 The X-ray CT apparatus of the embodiment includes an X-ray tube, an X-ray detector, a data processing unit, a power supply, a battery, a rotating body, and a control unit. The X-ray detector detects the X-rays output by the X-ray tube. The data processing unit processes the signal output by the X-ray detector. The power supply supplies electric power to the data processing unit. The battery supplies electric power to the data processing unit. The rotating body rotatably supports the X-ray tube and the X-ray detector so as to face each other, and further rotatably supports the data processing unit and the battery. The control unit executes switching control between the power supply and the battery based on the prior information of the scan, and controls the power supply to the data processing unit.

第1の実施形態に係るX線CT装置1の構成図。The block diagram of the X-ray CT apparatus 1 which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る回転フレーム17にX線検出器15およびDAS16が支持される様子を示す図。The figure which shows how the X-ray detector 15 and DAS 16 are supported by the rotating frame 17 which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係るDAS16に対する給電方式の一例を説明する図。The figure explaining an example of the power supply system for DAS16 which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係るコンソール装置40の処理回路50の処理の一例を示すフローチャート。The flowchart which shows an example of the processing of the processing circuit 50 of the console device 40 which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係るコンソール装置40の処理回路50の処理の他の例を示すフローチャート。FIG. 5 is a flowchart showing another example of processing of the processing circuit 50 of the console device 40 according to the first embodiment. 第1の実施形態に係る処理回路50の電源切替機能57による電源切替制御を説明する図。The figure explaining the power supply switching control by the power supply switching function 57 of the processing circuit 50 which concerns on 1st Embodiment. 第2の実施形態に係るDAS16Aに対する給電方式の一例を説明する図。The figure explaining an example of the power feeding system for DAS16A which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施形態に係るDAS16Bに対する給電方式の一例を説明する図。The figure explaining an example of the power feeding system for DAS16B which concerns on 2nd Embodiment.

以下、実施形態のX線CT装置を、図面を参照して説明する。実施形態のX線CT装置においては、X線データの処理を行うDASに対して、DAS電源による給電と、電池による給電とが切り替え可能に実行される。給電時に発生するノイズの影響が懸念される場合に電池による給電を利用することで、ノイズに起因するスキャン画像の画質低下を防ぐことができる。 Hereinafter, the X-ray CT apparatus of the embodiment will be described with reference to the drawings. In the X-ray CT apparatus of the embodiment, the DAS that processes the X-ray data is switched between power supply by the DAS power supply and power supply by the battery. When there is concern about the influence of noise generated during power supply, it is possible to prevent deterioration of the image quality of the scanned image due to noise by using battery power supply.

(第1の実施形態)
[全体構成]
図1は、第1の実施形態に係るX線CT装置1の構成図である。X線CT装置1は、例えば、架台装置10と、寝台装置30と、コンソール装置40とを備える。図1では、説明の都合上、架台装置10をZ軸方向から見た図とX軸方向から見た図の双方を掲載しているが、実際には、架台装置10は一つである。本実施形態では、非チルト状態での回転フレーム17の回転軸または寝台装置30の天板33の長手方向をZ軸方向、Z軸方向に直交し、床面に対して水平である軸をX軸方向、Z軸方向に直交し、床面に対して垂直である方向をY軸方向とそれぞれ定義する。
(First Embodiment)
[overall structure]
FIG. 1 is a block diagram of the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment. The X-ray CT device 1 includes, for example, a gantry device 10, a bed device 30, and a console device 40. In FIG. 1, for convenience of explanation, both a view of the gantry device 10 from the Z-axis direction and a view from the X-axis direction are shown, but in reality, the gantry device 10 is one. In the present embodiment, the rotation axis of the rotation frame 17 in the non-tilt state or the longitudinal direction of the top plate 33 of the sleeper device 30 is orthogonal to the Z-axis direction and the Z-axis direction, and the axis horizontal to the floor surface is X. The directions orthogonal to the axial direction and the Z-axis direction and perpendicular to the floor surface are defined as the Y-axis directions, respectively.

架台装置10は、例えば、X線管11と、ウェッジ12と、コリメータ13と、X線高電圧装置14と、X線検出器15と、DAS16(データ処理部の一例)と、回転フレーム17(回転体の一例)と、制御装置18(制御部の一例)とを備える。 The gantry device 10 includes, for example, an X-ray tube 11, a wedge 12, a collimator 13, an X-ray high voltage device 14, an X-ray detector 15, a DAS 16 (an example of a data processing unit), and a rotating frame 17 (an example of a data processing unit). An example of a rotating body) and a control device 18 (an example of a control unit) are provided.

X線管11は、X線高電圧装置14からの高電圧の印加により、陰極(フィラメント)から陽極(ターゲット)に向けて熱電子を照射することでX線を発生させる。X線管11は、真空管を含む。例えば、X線管11は、回転する陽極に熱電子を照射することでX線を発生させる回転陽極型のX線管である。 The X-ray tube 11 generates X-rays by irradiating thermoelectrons from the cathode (filament) toward the anode (target) by applying a high voltage from the X-ray high voltage device 14. The X-ray tube 11 includes a vacuum tube. For example, the X-ray tube 11 is a rotating anode type X-ray tube that generates X-rays by irradiating a rotating anode with thermoelectrons.

ウェッジ12は、X線管11から被検体Pに照射されるX線量を調節するためのフィルタである。ウェッジ12は、X線管11から被検体Pに照射されるX線量の分布が予め定められた分布になるように、自身を透過するX線を減衰させる。ウェッジ12は、ウェッジフィルタ(wedge filter)、ボウタイフィルタ(bow-tie filter)とも呼ばれる。ウェッジ12は、例えば、所定のターゲット角度や所定の厚みとなるようにアルミニウムを加工したものである。 The wedge 12 is a filter for adjusting the X-ray dose applied to the subject P from the X-ray tube 11. The wedge 12 attenuates the X-rays that pass through itself so that the distribution of the X-ray dose radiated from the X-ray tube 11 to the subject P becomes a predetermined distribution. The wedge 12 is also called a wedge filter or a bow-tie filter. The wedge 12 is, for example, a product obtained by processing aluminum so as to have a predetermined target angle and a predetermined thickness.

コリメータ13は、ウェッジ12を透過したX線の照射範囲を絞り込むための機構である。コリメータ13は、例えば、複数の鉛板の組み合わせによってスリットを形成することで、X線の照射範囲(FOV:Field of View)を絞り込む。コリメータ13は、X線絞りと呼ばれる場合もある。 The collimator 13 is a mechanism for narrowing down the irradiation range of X-rays transmitted through the wedge 12. The collimator 13 narrows down the X-ray irradiation range (FOV: Field of View) by forming a slit, for example, by combining a plurality of lead plates. The collimator 13 is sometimes called an X-ray diaphragm.

X線高電圧装置14は、例えば、高電圧発生装置と、X線制御装置とを有する。高電圧発生装置は、変圧器(トランス)および整流器等を含む電気回路を有する。高電圧発生装置は、X線管11に印加する高電圧を発生させる。X線制御装置は、X線管11に発生させるべきX線量に応じて高電圧発生装置の出力電圧を制御する。高電圧発生装置は、上述した変圧器によって昇圧を行うものであってもよいし、インバータによって昇圧を行うものであってもよい。X線高電圧装置14は、回転フレーム17に設けられてもよいし、架台装置10の固定フレーム(不図示)の側に設けられてもよい。 The X-ray high voltage device 14 includes, for example, a high voltage generator and an X-ray control device. The high voltage generator has an electric circuit including a transformer, a rectifier, and the like. The high voltage generator generates a high voltage applied to the X-ray tube 11. The X-ray control device controls the output voltage of the high voltage generator according to the X-ray dose to be generated in the X-ray tube 11. The high voltage generator may be one that boosts the voltage by the transformer described above, or may be one that boosts the voltage by an inverter. The X-ray high-voltage device 14 may be provided on the rotating frame 17, or may be provided on the side of the fixed frame (not shown) of the gantry device 10.

X線検出器15は、X線管11が発生させ、被検体Pを通過して入射したX線の強度を検出する。X線検出器15は、検出したX線の強度に応じた電気信号(光信号等でもよい)をDAS16に出力する。X線検出器15は、例えば、複数のX線検出素子列を有する。複数のX線検出素子列のそれぞれは、X線管11の焦点を中心とした円弧に沿ってチャネル方向に複数のX線検出素子が配列されたものである。複数のX線検出素子列は、スライス方向(列方向、row方向)に配列される。 The X-ray detector 15 detects the intensity of X-rays generated by the X-ray tube 11 and passed through the subject P to be incident. The X-ray detector 15 outputs an electric signal (or an optical signal or the like) corresponding to the intensity of the detected X-ray to the DAS 16. The X-ray detector 15 has, for example, a plurality of X-ray detection element sequences. Each of the plurality of X-ray detection element sequences is an array of a plurality of X-ray detection elements in the channel direction along an arc centered on the focal point of the X-ray tube 11. The plurality of X-ray detection element sequences are arranged in the slice direction (column direction, row direction).

X線検出器15は、例えば、グリッドと、シンチレータアレイと、光センサアレイとを有する間接型の検出器である。シンチレータアレイは、複数のシンチレータを有する。それぞれのシンチレータは、シンチレータ結晶を有する。シンチレータ結晶は、入射するX線の強度に応じた光量の光を発する。グリッドは、シンチレータアレイのX線が入射する面に配置され、散乱X線を吸収する機能を有するX線遮蔽板を有する。なお、グリッドは、コリメータ(一次元コリメータまたは二次元コリメータ)と呼ばれる場合もある。光センサアレイは、例えば、光電子増倍管(フォトマルチプライヤー:PMT)等の光センサを有する。光センサアレイは、シンチレータにより発せられる光の光量に応じた電気信号を出力する。X線検出器15は、入射したX線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であってもよい。 The X-ray detector 15 is, for example, an indirect detector having a grid, a scintillator array, and an optical sensor array. The scintillator array has a plurality of scintillators. Each scintillator has a scintillator crystal. The scintillator crystal emits an amount of light according to the intensity of the incident X-rays. The grid is arranged on the surface of the scintillator array where X-rays are incident, and has an X-ray shielding plate having a function of absorbing scattered X-rays. The grid may also be called a collimator (one-dimensional collimator or two-dimensional collimator). The optical sensor array includes, for example, an optical sensor such as a photomultiplier tube (PMT). The optical sensor array outputs an electric signal according to the amount of light emitted by the scintillator. The X-ray detector 15 may be a direct conversion type detector having a semiconductor element that converts incident X-rays into an electric signal.

DAS16は、例えば、増幅器と、積分器と、A/D変換器とを有する。増幅器は、X線検出器15の各X線検出素子により出力される電気信号に対して増幅処理を行う。積分器は、増幅処理が行われた電気信号をビュー期間に亘って積分する。A/D変換器は、積分結果を示す電気信号をデジタル信号に変換する。DAS16は、デジタル信号に基づく検出データをコンソール装置40に出力する。検出データは、生成元のX線検出素子のチャンネル番号、列番号、及び収集されたビューを示すビュー番号により識別されたX線強度のデジタル値である。ビュー番号は、回転フレーム17の回転に応じて変化する番号であり、例えば、回転フレーム17の回転に応じてインクリメントされる番号である。従って、ビュー番号は、X線管11の回転角度を示す情報である。ビュー期間とは、あるビュー番号に対応する回転角度から、次のビュー番号に対応する回転角度に到達するまでの間に収まる期間である。DAS16は、ビューの切り替わりを、制御装置18から入力されるタイミング信号によって検知してもよいし、内部のタイマーによって検知してもよいし、図示しないセンサから取得される信号によって検知してもよい。フルスキャンを行う場合においてX線管11によりX線が連続曝射されている場合、DAS16は、全周囲分(360度分)の検出データ群を収集する。ハーフスキャンを行う場合においてX線管11によりX線が連続曝射されている場合、DAS16は、半周囲分(180度分)の検出データを収集する。 The DAS 16 has, for example, an amplifier, an integrator, and an A / D converter. The amplifier performs amplification processing on the electric signal output by each X-ray detection element of the X-ray detector 15. The integrator integrates the amplified electrical signal over the view period. The A / D converter converts an electric signal indicating the integration result into a digital signal. The DAS 16 outputs the detection data based on the digital signal to the console device 40. The detection data is a digital value of the X-ray intensity identified by the channel number, the column number, and the view number indicating the collected view of the X-ray detection element of the generation source. The view number is a number that changes according to the rotation of the rotation frame 17, for example, a number that is incremented according to the rotation of the rotation frame 17. Therefore, the view number is information indicating the rotation angle of the X-ray tube 11. The view period is a period within a period from the rotation angle corresponding to a certain view number to the rotation angle corresponding to the next view number. The DAS 16 may detect the change of view by a timing signal input from the control device 18, an internal timer, or a signal acquired from a sensor (not shown). .. When X-rays are continuously exposed by the X-ray tube 11 in the case of performing a full scan, the DAS 16 collects a detection data group for the entire circumference (360 degrees). When X-rays are continuously exposed by the X-ray tube 11 in the case of performing a half scan, the DAS 16 collects detection data for a half circumference (180 degrees).

回転フレーム17は、X線管11、ウェッジ12、およびコリメータ13と、X線検出器15とを対向して回転可能に支持する円環状の部材である。回転フレーム17は、固定フレームによって、内部に導入された被検体Pを中心として回転自在に支持される。回転フレーム17は、更にDAS16を回転可能に支持する。DAS16が出力する検出データは、回転フレーム17に設けられた発光ダイオード(LED)を有する送信機から、光通信によって、架台装置10の非回転部分(例えば固定フレーム)に設けられたフォトダイオードを有する受信機に送信され、受信機によってコンソール装置40に転送される。なお、回転フレーム17から非回転部分への検出データの送信方法として、前述の光通信を用いた方法に限らず、非接触型の任意の送信方法を採用してよい。回転フレーム17は、X線管11等を支持して回転させることができるものであれば、円環状の部材に限らず、アームのような部材であってもよい。 The rotating frame 17 is an annular member that rotatably supports the X-ray tube 11, the wedge 12, the collimator 13, and the X-ray detector 15 so as to face each other. The rotating frame 17 is rotatably supported by the fixed frame around the subject P introduced inside. The rotating frame 17 further rotatably supports the DAS 16. The detection data output by the DAS 16 has a photodiode provided in a non-rotating portion (for example, a fixed frame) of the gantry device 10 by optical communication from a transmitter having a light emitting diode (LED) provided in the rotating frame 17. It is transmitted to the receiver and transferred to the console device 40 by the receiver. The method of transmitting the detection data from the rotating frame 17 to the non-rotating portion is not limited to the method using the above-mentioned optical communication, and any non-contact type transmitting method may be adopted. The rotating frame 17 is not limited to an annular member as long as it can support and rotate the X-ray tube 11 and the like, and may be a member such as an arm.

X線CT装置1は、例えば、X線管11とX線検出器15の双方が回転フレーム17によって支持されて被検体Pの周囲を回転するRotate/Rotate−TypeのX線CT装置(第3世代CT)であるが、これに限らず、円環状に配列された複数のX線検出素子が固定フレームに固定され、X線管11が被検体Pの周囲を回転するStationary/Rotate−TypeのX線CT装置(第4世代CT)であってもよい。 The X-ray CT apparatus 1 is, for example, a Rotate / Rotate-Type X-ray CT apparatus (third) in which both the X-ray tube 11 and the X-ray detector 15 are supported by the rotating frame 17 and rotate around the subject P. Generation CT), but not limited to this, in Stationary / Rotate-Type in which a plurality of X-ray detection elements arranged in an annular shape are fixed to a fixed frame and the X-ray tube 11 rotates around the subject P. It may be an X-ray CT apparatus (4th generation CT).

図2は、回転フレーム17にX線検出器15およびDAS16が支持される様子を示す図である。図2に示されるように、X線検出器15は、複数のX線検出素子20−1〜20−5を備えている。DAS16は、複数のDAS基板21−1〜21−5(基板の一例)を備えている。X線検出素子20−1〜20−5は、X線管11により出力され、被検体Pを通過したX線を検出する。DAS基板21−1〜21−5の各々は、上述したように、増幅器と、積分器と、A/D変換器とを備えている。DAS基板21−1〜21−5の各々は、X線検出素子20−1〜20−5の各々から出力される電気信号に対する処理を行い、処理結果である検出データをコンソール装置40に出力する。DAS基板21−1〜21−5は、回転フレーム17に設けられたスロットに挿入されることで支持される。尚、図5においては、5つのX線検出素子20−1〜20−5と、5つのDAS基板21−1〜21−5を示しているが、これらの数は任意である。また、以下において、X線検出素子20−1〜20−5を互いに区別しない場合には、単に「X線検出素子20」と呼ぶ。また、以下において、DAS基板21−1〜21−5を互いに区別しない場合には、単に「DAS基板21」と呼ぶ。 FIG. 2 is a diagram showing how the X-ray detector 15 and the DAS 16 are supported by the rotating frame 17. As shown in FIG. 2, the X-ray detector 15 includes a plurality of X-ray detection elements 20-1 to 20-5. The DAS 16 includes a plurality of DAS substrates 21-1 to 21-5 (an example of the substrate). The X-ray detection elements 20-1 to 20-5 detect X-rays that are output by the X-ray tube 11 and have passed through the subject P. Each of the DAS substrates 21-1 to 21-5 includes an amplifier, an integrator, and an A / D converter as described above. Each of the DAS boards 21-1 to 21-5 processes the electric signals output from each of the X-ray detection elements 20-1 to 20-5, and outputs the detection data as the processing result to the console device 40. .. The DAS substrates 21-1 to 21-5 are supported by being inserted into a slot provided in the rotating frame 17. In FIG. 5, five X-ray detection elements 20-1 to 20-5 and five DAS substrates 21-1 to 21-5 are shown, but the number of these elements is arbitrary. Further, in the following, when the X-ray detection elements 20-1 to 20-5 are not distinguished from each other, they are simply referred to as "X-ray detection element 20". Further, in the following, when the DAS substrates 21-1 to 21-5 are not distinguished from each other, they are simply referred to as "DAS substrate 21".

図1に戻り、制御装置18は、例えば、CPU(Central Processing Unit)等のプロセッサを有する処理回路と、モータやアクチュエータ等を含む駆動機構とを有する。制御装置18は、コンソール装置40または架台装置10に取り付けられた入力インターフェース43からの入力信号を受け付けて、架台装置10および寝台装置30の動作を制御する。 Returning to FIG. 1, the control device 18 includes, for example, a processing circuit having a processor such as a CPU (Central Processing Unit) and a drive mechanism including a motor, an actuator, and the like. The control device 18 receives an input signal from the input interface 43 attached to the console device 40 or the gantry device 10 and controls the operation of the gantry device 10 and the bed device 30.

制御装置18は、例えば、回転フレーム17を回転させたり、架台装置10をチルトさせたり、寝台装置30の天板33を移動させたりする。架台装置10をチルトさせる場合、制御装置18は、入力インターフェース43に入力された傾斜角度(チルト角度)に基づいて、Z軸方向に平行な軸を中心に回転フレーム17を回転させる。制御装置18は、図示しないセンサの出力等によって回転フレーム17の回転角度を把握している。また、制御装置18は、回転フレーム17の回転角度を随時、処理回路50(制御部の一例)に提供する。制御装置18は、架台装置10に設けられてもよいし、コンソール装置40に設けられてもよい。 The control device 18 rotates, for example, the rotating frame 17, tilts the gantry device 10, and moves the top plate 33 of the bed device 30. When tilting the gantry device 10, the control device 18 rotates the rotating frame 17 around an axis parallel to the Z-axis direction based on the tilt angle (tilt angle) input to the input interface 43. The control device 18 grasps the rotation angle of the rotation frame 17 by the output of a sensor (not shown) or the like. Further, the control device 18 provides the rotation angle of the rotation frame 17 to the processing circuit 50 (an example of the control unit) at any time. The control device 18 may be provided in the gantry device 10 or in the console device 40.

寝台装置30は、スキャン対象の被検体Pを載置して移動させ、架台装置10の回転フレーム17の内部に導入する装置である。寝台装置30は、例えば、基台31と、寝台駆動装置32と、天板33と、支持フレーム34とを有する。基台31は、支持フレーム34を鉛直方向(Y軸方向)に移動可能に支持する筐体を含む。寝台駆動装置32は、モータやアクチュエータを含む。寝台駆動装置32は、被検体Pが載置された天板33を、支持フレーム34に沿って、天板33の長手方向(Z軸方向)に移動させる。天板33は、被検体Pが載置される板状の部材である。 The bed device 30 is a device on which the subject P to be scanned is placed, moved, and introduced into the rotating frame 17 of the gantry device 10. The bed device 30 has, for example, a base 31, a bed drive device 32, a top plate 33, and a support frame 34. The base 31 includes a housing that movably supports the support frame 34 in the vertical direction (Y-axis direction). The bed drive device 32 includes a motor and an actuator. The bed driving device 32 moves the top plate 33 on which the subject P is placed in the longitudinal direction (Z-axis direction) of the top plate 33 along the support frame 34. The top plate 33 is a plate-shaped member on which the subject P is placed.

寝台駆動装置32は、天板33だけでなく、支持フレーム34を天板33の長手方向に移動させてもよい。また、上記とは逆に、架台装置10がZ軸方向に移動可能であり、架台装置10の移動によって回転フレーム17が被検体Pの周囲に来るように制御されてもよい。また、架台装置10と天板33の双方が移動可能な構成であってもよい。また、X線CT装置1は、被検体Pが立位または座位でスキャンされる方式の装置であってもよい。この場合、X線CT装置1は、寝台装置30に代えて被検体支持機構を有し、架台装置10は、回転フレーム17を、床面に垂直な軸方向を中心に回転させる。 The bed drive device 32 may move not only the top plate 33 but also the support frame 34 in the longitudinal direction of the top plate 33. Further, contrary to the above, the gantry device 10 may be movable in the Z-axis direction, and the rotation frame 17 may be controlled to come around the subject P by the movement of the gantry device 10. Further, both the gantry device 10 and the top plate 33 may be movable. Further, the X-ray CT device 1 may be a device in which the subject P is scanned in a standing or sitting position. In this case, the X-ray CT device 1 has a subject support mechanism instead of the bed device 30, and the gantry device 10 rotates the rotating frame 17 about an axial direction perpendicular to the floor surface.

コンソール装置40は、例えば、メモリ41と、ディスプレイ42と、入力インターフェース43と、ネットワーク接続回路44と、処理回路50とを有する。第1の実施形態では、コンソール装置40は架台装置10とは別体として説明するが、架台装置10にコンソール装置40の各構成要素の一部または全部が含まれてもよい。 The console device 40 has, for example, a memory 41, a display 42, an input interface 43, a network connection circuit 44, and a processing circuit 50. In the first embodiment, the console device 40 will be described as a separate body from the gantry device 10, but the gantry device 10 may include a part or all of each component of the console device 40.

メモリ41は、例えば、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。メモリ41は、例えば、検出データや投影データ、再構成画像(CT画像)、スキャンプラン、スキャノ画像等を記憶する。これらのデータは、メモリ41ではなく(或いはメモリ41に加えて)、X線CT装置1が通信可能な外部メモリに記憶されてもよい。外部メモリは、例えば、外部メモリを管理するクラウドサーバが読み書きの要求を受け付けることで、クラウドサーバによって制御されるものである。外部メモリは、例えば、PACS(Picture Archiving and Communication Systems)と称されるシステムにより実現される。PACSとは、各種画像診断装置によって撮影された画像等を体系的に記憶するシステムである。 The memory 41 is realized by, for example, a RAM (Random Access Memory), a semiconductor memory element such as a flash memory, a hard disk, an optical disk, or the like. The memory 41 stores, for example, detection data, projection data, a reconstructed image (CT image), a scan plan, a scanno image, and the like. These data may be stored in an external memory with which the X-ray CT apparatus 1 can communicate, instead of the memory 41 (or in addition to the memory 41). The external memory is controlled by the cloud server, for example, when the cloud server that manages the external memory receives a read / write request. The external memory is realized by, for example, a system called PACS (Picture Archiving and Communication Systems). PACS is a system that systematically stores images and the like taken by various diagnostic imaging devices.

ディスプレイ42は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ42は、処理回路50によって生成された医用画像(CT画像)や、操作者による各種操作を受け付けるGUI(Graphical User Interface)画像等を表示する。ディスプレイ42は、例えば、液晶ディスプレイやCRT(Cathode Ray Tube)、有機EL(Electroluminescence)ディスプレイ等である。ディスプレイ42は、架台装置10に設けられてもよい。ディスプレイ42は、デスクトップ型でもよいし、コンソール装置40の本体部と無線通信可能な表示装置(例えば、タブレット端末)であってもよい。 The display 42 displays various information. For example, the display 42 displays a medical image (CT image) generated by the processing circuit 50, a GUI (Graphical User Interface) image that accepts various operations by the operator, and the like. The display 42 is, for example, a liquid crystal display, a CRT (Cathode Ray Tube), an organic EL (Electroluminescence) display, or the like. The display 42 may be provided on the gantry device 10. The display 42 may be a desktop type or a display device (for example, a tablet terminal) capable of wirelessly communicating with the main body of the console device 40.

入力インターフェース43は、操作者による各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作の内容を示す電気信号を処理回路50に出力する。例えば、入力インターフェース43は、検出データまたは投影データを収集する際の収集条件、CT画像を再構成する際の再構成条件、CT画像から後処理画像を生成する際の画像処理条件等の入力操作を受け付ける。例えば、入力インターフェース43は、マウスやキーボード、タッチパネル、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、カメラ、赤外線センサ、マイク等により実現される。入力インターフェース43は、架台装置10に設けられてもよい。また、入力インターフェース43は、コンソール装置40の本体部と無線通信可能な表示装置(例えば、タブレット端末)により実現されてもよい。 The input interface 43 accepts various input operations by the operator and outputs an electric signal indicating the contents of the received input operations to the processing circuit 50. For example, the input interface 43 is an input operation such as a collection condition when collecting detection data or projection data, a reconstruction condition when reconstructing a CT image, and an image processing condition when generating a post-processed image from a CT image. Accept. For example, the input interface 43 is realized by a mouse, a keyboard, a touch panel, a trackball, a switch, a button, a joystick, a camera, an infrared sensor, a microphone, and the like. The input interface 43 may be provided on the gantry device 10. Further, the input interface 43 may be realized by a display device (for example, a tablet terminal) capable of wireless communication with the main body of the console device 40.

ネットワーク接続回路44は、例えば、プリント回路基板を有するネットワークカード、或いは無線通信モジュール等を含む。ネットワーク接続回路44は、接続する対象のネットワークの形態に応じた情報通信用プロトコルを実装する。ネットワークは、例えば、LAN(Local Area Network)やWAN(Wide Area Network)、インターネット、セルラー網、専用回線等を含む。 The network connection circuit 44 includes, for example, a network card having a printed circuit board, a wireless communication module, and the like. The network connection circuit 44 implements an information communication protocol according to the form of the network to be connected. The network includes, for example, a LAN (Local Area Network), a WAN (Wide Area Network), the Internet, a cellular network, a dedicated line, and the like.

処理回路50は、X線CT装置1の全体の動作を制御する。処理回路50は、例えば、システム制御機能51、前処理機能52、再構成処理機能53、画像処理機能54、スキャン制御機能55、表示制御機能56、電源切替機能57等を実行する。処理回路50は、例えば、ハードウェアプロセッサがメモリ41に記憶されたプログラムを実行することにより、これらの機能を実現するものである。 The processing circuit 50 controls the overall operation of the X-ray CT apparatus 1. The processing circuit 50 executes, for example, a system control function 51, a preprocessing function 52, a reconstruction processing function 53, an image processing function 54, a scan control function 55, a display control function 56, a power supply switching function 57, and the like. The processing circuit 50 realizes these functions by, for example, the hardware processor executing a program stored in the memory 41.

ハードウェアプロセッサとは、例えば、CPU、GPU(Graphics Processing Unit)、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit; ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device; SPLD)または複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device; CPLD)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array; FPGA))等の回路(circuitry)を意味する。メモリ41にプログラムを記憶させる代わりに、ハードウェアプロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。この場合、ハードウェアプロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。ハードウェアプロセッサは、単一の回路として構成されるものに限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのハードウェアプロセッサとして構成され、各機能を実現するようにしてもよい。また、複数の構成要素を1つのハードウェアプロセッサに統合して各機能を実現するようにしてもよい。 The hardware processor is, for example, a CPU, GPU (Graphics Processing Unit), application specific integrated circuit (ASIC), programmable logic device (for example, Simple Programmable Logic Device (SPLD)) or It means a circuit (circuitry) such as a complex programmable logic device (CPLD) and a field programmable gate array (FPGA). Instead of storing the program in the memory 41, the program may be configured to be directly embedded in the circuit of the hardware processor. In this case, the hardware processor realizes the function by reading and executing the program embedded in the circuit. The hardware processor is not limited to one configured as a single circuit, and a plurality of independent circuits may be combined to be configured as one hardware processor to realize each function. Further, a plurality of components may be integrated into one hardware processor to realize each function.

コンソール装置40または処理回路50が有する各構成要素は、分散化されて複数のハードウェアにより実現されてもよい。処理回路50は、コンソール装置40が有する構成ではなく、コンソール装置40と通信可能な処理装置によって実現されてもよい。処理装置は、例えば、一つのX線CT装置と接続されたワークステーション、あるいは複数のX線CT装置に接続され、以下に説明する処理回路50と同等の処理を一括して実行する装置(例えば、クラウドサーバ)である。すわなち、本実施形態の構成を、X線CT装置と、他の処理装置とがネットワークを介して接続されたX線CTシステム(医用診断システム)として実現することも可能である。 Each component of the console device 40 or the processing circuit 50 may be distributed and implemented by a plurality of hardware. The processing circuit 50 may be realized not by the configuration of the console device 40 but by a processing device capable of communicating with the console device 40. The processing device is, for example, a workstation connected to one X-ray CT device, or a device connected to a plurality of X-ray CT devices and collectively executing processing equivalent to the processing circuit 50 described below (for example,). , Cloud server). That is, it is also possible to realize the configuration of the present embodiment as an X-ray CT system (medical diagnostic system) in which an X-ray CT apparatus and another processing apparatus are connected via a network.

システム制御機能51は、例えば、入力インターフェース43により受け付けられた入力操作に基づいて、処理回路50の各種機能を制御する。 The system control function 51 controls various functions of the processing circuit 50, for example, based on the input operation received by the input interface 43.

前処理機能52は、DAS16により出力された検出データに対して対数変換処理やオフセット補正処理、チャネル間の感度補正処理、ビームハードニング補正、キャリブレーションデータを用いた補正処理等の前処理を行って投影データを生成し、生成した投影データをメモリ41に記憶させる。キャリブレーションデータを用いた補正処理は、再構成処理機能53により行われてもよい。 The preprocessing function 52 performs preprocessing such as logarithmic conversion processing, offset correction processing, sensitivity correction processing between channels, beam hardening correction, and correction processing using calibration data for the detection data output by DAS16. Projection data is generated, and the generated projection data is stored in the memory 41. The correction process using the calibration data may be performed by the reconstruction process function 53.

再構成処理機能53は、前処理機能52により生成された投影データに対して、フィルタ補正逆投影法や逐次近似再構成法等による再構成処理を行って再構成画像を生成し、生成した再構成画像をメモリ41に記憶させる。 The reconstruction processing function 53 performs reconstruction processing by a filter correction back projection method, a successive approximation reconstruction method, or the like on the projection data generated by the preprocessing function 52 to generate a reconstruction image, and the generated reconstruction. The configuration image is stored in the memory 41.

画像処理機能54は、入力インターフェース43により受け付けられた入力操作に基づいて、再構成画像を公知の方法により、三次元画像や任意断面の断面像データに変換する。三次元画像への変換は、前処理機能52によって行われてもよい。 The image processing function 54 converts the reconstructed image into a three-dimensional image or cross-sectional image data of an arbitrary cross section by a known method based on the input operation received by the input interface 43. The conversion to a three-dimensional image may be performed by the preprocessing function 52.

スキャン制御機能55は、X線高電圧装置14、DAS16、制御装置18、および寝台駆動装置32に指示することで、架台装置10における検出データの収集処理を制御する。スキャン制御機能55は、位置合わせ画像、本撮影画像、および診断に用いる画像を撮影する際、キャリブレーションデータを収集する撮影の際の各部の動作をそれぞれ制御する。 The scan control function 55 controls the collection process of the detection data in the gantry device 10 by instructing the X-ray high voltage device 14, the DAS 16, the control device 18, and the bed drive device 32. The scan control function 55 controls the operation of each part at the time of capturing the alignment data, the main captured image, and the image used for diagnosis, and collecting the calibration data.

表示制御機能56は、ディスプレイ42の表示態様を制御する。例えば、表示制御機能56は、ディスプレイ42を制御して、処理回路50によって生成されたCT画像や、操作者による各種操作を受け付けるGUI画像等を表示させる。 The display control function 56 controls the display mode of the display 42. For example, the display control function 56 controls the display 42 to display a CT image generated by the processing circuit 50, a GUI image that accepts various operations by the operator, and the like.

電源切替機能57は、DAS16に対する給電を制御する。電源切替機能57は、DAS16に対して、商用電源等から供給される電源(DAS電源)による給電と、電池による給電との2通りの給電方式間で切り替える制御を行う。電源切替機能57は、スキャンの事前情報に基づいて、DAS電源と電池との間の切替制御を実行し、DAS16への給電を制御する。電源切替機能57の詳細については、後述する。 The power switching function 57 controls the power supply to the DAS 16. The power supply switching function 57 controls the DAS 16 to switch between two power supply methods, that is, power supply by a power supply (DAS power supply) supplied from a commercial power source or the like and power supply by a battery. The power switching function 57 executes switching control between the DAS power supply and the battery based on the advance information of the scan, and controls the power supply to the DAS 16. Details of the power switching function 57 will be described later.

上記構成により、X線CT装置1は、ヘリカルスキャン、コンベンショナルスキャン、ステップアンドシュート等の態様で被検体Pのスキャンを行う。ヘリカルスキャンとは、天板33を移動させながら回転フレーム17を回転させて被検体Pをらせん状にスキャンする態様である。コンベンショナルスキャンとは、天板33を静止させた状態で回転フレーム17を回転させて被検体Pを円軌道でスキャンする態様である。コンベンショナルスキャンを実行する。ステップアンドシュートとは、天板33の位置を一定間隔で移動させてコンベンショナルスキャンを複数のスキャンエリアで行う態様である。 With the above configuration, the X-ray CT apparatus 1 scans the subject P in a manner such as a helical scan, a conventional scan, and a step-and-shoot. The helical scan is a mode in which the rotating frame 17 is rotated while the top plate 33 is moved to spirally scan the subject P. The conventional scan is a mode in which the rotating frame 17 is rotated while the top plate 33 is stationary to scan the subject P in a circular orbit. Perform a conventional scan. The step-and-shoot is a mode in which the position of the top plate 33 is moved at regular intervals to perform a conventional scan in a plurality of scan areas.

[DASへの給電方式]
図3は、DAS16に対する給電方式の一例を説明する図である。DAS16は、例えば、複数のDAS基板21と、切替スイッチ22と、DAS電源23(電源の一例)と、電池25とを備える。複数のDAS基板21の各々は、複数のX線検出素子20の各々と接続されており、X線検出素子20−1〜20−5の各々から出力される電気信号の処理を行う。
[Power supply method to DAS]
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a power feeding method for the DAS 16. The DAS 16 includes, for example, a plurality of DAS boards 21, a changeover switch 22, a DAS power supply 23 (an example of a power supply), and a battery 25. Each of the plurality of DAS substrates 21 is connected to each of the plurality of X-ray detection elements 20, and processes the electric signals output from each of the X-ray detection elements 20-1 to 20-5.

DAS電源23は、例えば、スイッチング電源である。DAS電源23は、例えば、AC/DCコンバータ24を備える。DAS電源23は、AC/DCコンバータ24により、商用電源Eから供給される交流電力を直流電力に変換してDAS基板21に供給する。 The DAS power supply 23 is, for example, a switching power supply. The DAS power supply 23 includes, for example, an AC / DC converter 24. The DAS power supply 23 converts the AC power supplied from the commercial power supply E into DC power by the AC / DC converter 24 and supplies it to the DAS substrate 21.

電池25は、例えば、リチウムイオン電池、全個体電池等の大容量電池である。電池25は、内部に蓄積された電力を、DAS基板21に供給する。電源切替機能57の制御下において、電池25は、例えば、X線CT装置1のアイドリング時などのスキャンを実行していない間に、DAS電源23からの電力供給を受けて、充電される。尚、電池25は、X線CT装置1のアイドリング時などに、DAS電源23ではなく、商用電源Eからの電力供給を受けて、充電されるようにしてもよい。また、電池25は、スリップリング経由で、電源供給を受けて、充電されるようにしてもよい。また、電池25は、回転フレーム17の回転停止時の回生エネルギーを用いて、充電されるようにしてもよい。 The battery 25 is a large-capacity battery such as a lithium ion battery or an all-solid-state battery. The battery 25 supplies the electric power stored inside to the DAS substrate 21. Under the control of the power switching function 57, the battery 25 is charged by receiving power supplied from the DAS power supply 23 while not performing a scan such as when the X-ray CT device 1 is idling. The battery 25 may be charged by receiving power supplied from the commercial power source E instead of the DAS power source 23 when the X-ray CT device 1 is idling. Further, the battery 25 may be charged by receiving power supply via the slip ring. Further, the battery 25 may be charged by using the regenerative energy when the rotation of the rotating frame 17 is stopped.

切替スイッチ22は、DAS基板21に対する給電(DAS基板21の駆動源)を、DAS電源23と、電池25との間で切り替える。切替スイッチ22は、DAS基板21とDAS電源23との間の導通/遮断状態、および、DAS基板21と電池25との間の導通/遮断状態を制御する。切替スイッチ22は、例えば、MOSFET、バイポーラトランジスタ等の半導体スイッチ、MEMSスイッチ、その他のスイッチである。切替スイッチ22は、コンソール装置40により送信される切替信号に基づいて、切替制御を行う。 The changeover switch 22 switches the power supply to the DAS board 21 (the drive source of the DAS board 21) between the DAS power supply 23 and the battery 25. The changeover switch 22 controls the continuity / cutoff state between the DAS board 21 and the DAS power supply 23 and the continuity / cutoff state between the DAS board 21 and the battery 25. The changeover switch 22 is, for example, a semiconductor switch such as a MOSFET or a bipolar transistor, a MEMS switch, or another switch. The changeover switch 22 performs changeover control based on the changeover signal transmitted by the console device 40.

[処理フロー(スキャン開始前における電源切替)]
以下、コンソール装置40の処理回路50の処理フローについて説明する。図4は、コンソール装置40の処理回路50の処理の一例を示すフローチャートである。X線CT装置1により被検体Pのスキャンが実行される場合には、X線CT装置1の操作者により、これから実施するスキャンの計画(スキャンプラン、事前情報の一例)の作成が行われる。スキャンプランは、被検体Pに照射されるX線の線量情報に関するスキャンプロトコルの情報を含む。スキャンプランは、操作者が入力インターフェース43を介して、被検体Pの体重、身長等の身体情報や、スキャン部位を入力することで作成される。スキャンプランは、これらの被検体Pの情報と、被検体Pに照射されるX線の線量との関係が定義された参照テーブル等を利用することで作成されてよい。以下においては、このスキャンプランが作成されて、メモリ41に記憶されているものとして説明する。
[Processing flow (power switching before scanning starts)]
Hereinafter, the processing flow of the processing circuit 50 of the console device 40 will be described. FIG. 4 is a flowchart showing an example of processing of the processing circuit 50 of the console device 40. When the X-ray CT apparatus 1 scans the subject P, the operator of the X-ray CT apparatus 1 creates a scan plan (scan plan, an example of prior information) to be executed. The scan plan includes scan protocol information regarding the dose information of the X-rays applied to the subject P. The scan plan is created by the operator inputting physical information such as the weight and height of the subject P and the scan site via the input interface 43. The scan plan may be created by using a reference table or the like in which the relationship between the information of the subject P and the dose of X-rays irradiated to the subject P is defined. In the following, it is assumed that this scan plan is created and stored in the memory 41.

まず、処理回路50の電源切替機能57は、メモリ41に記憶されたスキャンプランを読み出す(ステップS101)。次に、電源切替機能57は、読み出されたスキャンプランが、X線の線量(mAs)の小さいスキャンプランであるか否かを判定する(ステップS103)。電源切替機能57は、事前情報であるスキャンプロトコルに含まれるX線の線量情報に基づいて、切替制御を実行する。 First, the power switching function 57 of the processing circuit 50 reads out the scan plan stored in the memory 41 (step S101). Next, the power switching function 57 determines whether or not the read scan plan is a scan plan having a small X-ray dose (mAs) (step S103). The power switching function 57 executes switching control based on the X-ray dose information included in the scan protocol, which is prior information.

電源切替機能57は、読み出されたスキャンプランが、X線の線量の小さいスキャンプランであると判定した場合、DAS16に対して、電池25を駆動源とすることを指示する信号(電池駆動信号)を出力する(S105)。この電池駆動信号を受信したDAS16の切替スイッチ22は、DAS基板21とDAS電源23との間を遮断状態とし、DAS基板21と電池25との間を導通状態とするように切替を行う。次に、スキャン制御機能55は、スキャン制御を実行する(ステップS109)。これにより、架台装置10では、電池25を駆動源とするスキャンが実行される。電池25を駆動源とした場合、給電に起因するノイズが発生しない。このため、被検体Pに照射されるX線の線量が小さく、X線検出器15により検出されるカウント値が小さい場合(低カウントである場合)であっても、スキャン画像の画質低下を防ぐことができる。尚、電源切替機能57は、読み出されたスキャンプランが、スキャン時間の短いスキャンプランであると判定した場合に、DAS16に対して、電池25を駆動源とすることを指示する電池駆動信号を出力するようにしてもよい。 When the power switching function 57 determines that the read scan plan is a scan plan with a small X-ray dose, the power switching function 57 instructs DAS 16 to use the battery 25 as a drive source (battery drive signal). ) Is output (S105). The changeover switch 22 of the DAS 16 that has received the battery drive signal switches between the DAS board 21 and the DAS power supply 23 so as to be in a cutoff state and between the DAS board 21 and the battery 25 in a conductive state. Next, the scan control function 55 executes scan control (step S109). As a result, the gantry device 10 executes a scan using the battery 25 as a drive source. When the battery 25 is used as the drive source, noise due to power supply does not occur. Therefore, even when the dose of X-rays irradiated to the subject P is small and the count value detected by the X-ray detector 15 is small (when the count is low), deterioration of the image quality of the scanned image is prevented. be able to. When the power switching function 57 determines that the read scan plan is a scan plan having a short scan time, the power switching function 57 sends a battery drive signal instructing the DAS 16 to use the battery 25 as a drive source. It may be output.

尚、電源切替時にノイズが発生する場合がある。このため、後の再構成処理機能53における再構成処理において、電源切替の直後に検出されたデータは、スキャン画像の生成に使用されないようにしてもよい。また、電源切替機能57は、電池25の残容量を監視し、残容量が所定の閾値よりも少なくなった場合には、電池25による給電からDAS電源23による給電に切り替えるようにしてもよい。 Noise may occur when switching the power supply. Therefore, in the subsequent reconstruction process in the reconstruction process function 53, the data detected immediately after the power supply switching may not be used for generating the scanned image. Further, the power supply switching function 57 monitors the remaining capacity of the battery 25, and when the remaining capacity becomes less than a predetermined threshold value, the power supply by the battery 25 may be switched to the power supply by the DAS power supply 23.

一方、電源切替機能57は、読み出されたスキャンプランがX線の線量の小さいスキャンプランではないと判定した場合、DAS16に対して、DAS電源23を駆動源とすることを指示する信号(DAS電源駆動信号)を出力する(S107)。このDAS電源駆動信号を受信したDAS16の切替スイッチ22は、DAS基板21とDAS電源23との間を導通状態とし、DAS基板21と電池25との間を遮断状態とするように切替を行う。次に、スキャン制御機能55は、スキャン制御を実行する(ステップS109)。これにより、架台装置10では、DAS電源23を駆動源とするスキャンが実行される。DAS電源23を駆動源とした場合、給電に起因するノイズが発生する。しかしながら、被検体Pに照射されるX線の線量が大きく、X線検出器15により検出されるカウント値が大きい場合には、ノイズの影響が支配的とはならないため、スキャン画像の画質を保つことができる。 On the other hand, when the power switching function 57 determines that the read scan plan is not a scan plan with a small X-ray dose, the power switching function 57 instructs DAS 16 to use the DAS power supply 23 as a drive source (DAS). Power supply drive signal) is output (S107). The changeover switch 22 of the DAS 16 that has received the DAS power supply drive signal switches so that the DAS board 21 and the DAS power supply 23 are in a conductive state and the DAS board 21 and the battery 25 are in a cutoff state. Next, the scan control function 55 executes scan control (step S109). As a result, the gantry device 10 executes a scan using the DAS power supply 23 as a drive source. When the DAS power supply 23 is used as the drive source, noise due to power supply is generated. However, when the dose of X-rays applied to the subject P is large and the count value detected by the X-ray detector 15 is large, the influence of noise does not become dominant, so that the image quality of the scanned image is maintained. be able to.

すなわち、電源切替機能57は、線量情報によって示されるX線の線量が増大するにつれてDAS電源23による給電の頻度を増大させ、X線の線量が減少するにつれて電池25による給電の頻度を増大させるように、切替制御を実行する。 That is, the power supply switching function 57 increases the frequency of power supply by the DAS power supply 23 as the dose of X-rays indicated by the dose information increases, and increases the frequency of power supply by the battery 25 as the dose of X-rays decreases. In addition, switching control is executed.

[処理フロー(スキャン実行中における電源切替)]
図5は、コンソール装置40の処理回路50の処理の他の例を示すフローチャートである。X線CT装置1により被検体Pのスキャンが実施される場合には、診断に使用される本撮影画像(スキャン画像)の撮影に先立って、本撮影前の位置決め等に使用される調整用画像(以下、「スキャノ画像」)の撮影が行われる。
[Processing flow (power switching during scan execution)]
FIG. 5 is a flowchart showing another example of processing of the processing circuit 50 of the console device 40. When the X-ray CT apparatus 1 scans the subject P, the adjustment image used for positioning before the main imaging, etc., prior to the imaging of the main captured image (scanned image) used for diagnosis. (Hereinafter, "scano image") is taken.

一般的に、X線が被検体Pを通過する部位の減衰率が高いほど(透過率が低いほど)、被検体Pを通過してX線検出器15により検出されるX線出力の大きさ(カウント値)が小さくなり、一方、X線が被検体Pを通過する部位の減衰率が低いほど(透過率が高いほど)、被検体Pを通過してX線検出器15により検出されるX線出力の大きさが大きくなる傾向がある。例えば、頭部、脚部などは、減衰率が低い(透過率が高い)ため、X線出力の大きさが増大し、肩部・腹部などは、減衰率が高い(透過率が低い)ため、X線出力の大きさが減少する傾向がある。以下の処理では、このようなスキャン部位に関する情報をスキャノ画像から予め取得して、切替制御に利用する。 In general, the higher the attenuation rate of the part where X-rays pass through the subject P (the lower the transmission rate), the greater the magnitude of the X-ray output that passes through the subject P and is detected by the X-ray detector 15. (Count value) becomes smaller, while the lower the attenuation rate of the part where X-rays pass through the subject P (the higher the transmission rate), the more the X-rays pass through the subject P and are detected by the X-ray detector 15. The magnitude of the X-ray output tends to be large. For example, the head and legs have low attenuation (high transmittance), so the magnitude of X-ray output increases, and the shoulders and abdomen have high attenuation (low transmittance). , The magnitude of the X-ray output tends to decrease. In the following processing, information on such a scan site is acquired in advance from the scanno image and used for switching control.

以下においては、このようなスキャノ画像が撮影されて、メモリ41に記憶されているものとして説明する。また、スキャン開始時において、切替スイッチ22は、DAS基板21とDAS電源23との間を導通状態とし、DAS基板21と電池25との間を遮断状態とするように設定されているものとして説明する。 In the following, it is assumed that such a scanno image is taken and stored in the memory 41. Further, it is assumed that the changeover switch 22 is set so that the DAS board 21 and the DAS power supply 23 are in a conductive state and the DAS board 21 and the battery 25 are in a cutoff state at the start of scanning. To do.

まず、処理回路50の電源切替機能57は、メモリ41に記憶されたスキャノ画像を読み出す(ステップS201)。電源切替機能57は、このスキャノ画像に基づいて、スキャン対象部位に関する情報を取得する。次に、スキャン制御機能55は、スキャン制御を開始する(ステップS203)。これにより、架台装置10では、DAS電源23を駆動源とするスキャンが開始される。尚、電源切替機能57は、スキャノ画像に代えて或いは加えて、被検体Pを撮影した光学画像に基づいて、スキャン対象部位に関する情報を取得してもよい。 First, the power switching function 57 of the processing circuit 50 reads out the scanno image stored in the memory 41 (step S201). The power switching function 57 acquires information about the scan target portion based on the scanno image. Next, the scan control function 55 starts scan control (step S203). As a result, the gantry device 10 starts scanning with the DAS power supply 23 as the drive source. The power switching function 57 may acquire information about the scan target portion based on the optical image obtained by photographing the subject P in place of or in addition to the scanno image.

次に、電源切替機能57は、読み出されたスキャノ画像から取得されたスキャン対象部位に関する情報を参照しながら、その後にスキャンを行う被検体Pの体の部位が、低カウントになる部位であるか否かを判定する(ステップS205)。例えば、電源切替機能57は、DAS16から受信した検出データに基づいて、被検体Pに対する1スキャンの進行状況を取得する。続いて、電源切替機能57は、取得された進行状況と、スキャノ画像から取得されたスキャン対象部位に関する情報とに基づいて、その後にスキャンを行う被検体Pの体の部位が、低カウントになる部位であるか否かを判定する。 Next, the power switching function 57 is a portion where the body portion of the subject P to be scanned thereafter becomes a low count while referring to the information regarding the scan target portion acquired from the read scanno image. Whether or not it is determined (step S205). For example, the power switching function 57 acquires the progress of one scan for the subject P based on the detection data received from the DAS 16. Subsequently, the power switching function 57 counts the body part of the subject P to be subsequently scanned based on the acquired progress status and the information about the scan target part acquired from the scanno image. Determine if it is a site.

電源切替機能57は、その後にスキャンを行う被検体Pの体の部位が低カウントになる部位であると判定した場合、DAS16に対して、DAS電源23を駆動源とすることを指示する電池駆動信号を出力する(S207)。この電池駆動信号を受信したDAS16の切替スイッチ22は、DAS基板21とDAS電源23との間を遮断状態とし、DAS基板21と電池25との間を導通状態とするように切替を行う。次に、スキャン制御機能55は、スキャン制御を実行する(ステップS211)。これにより、架台装置10では、電池25を駆動源とするスキャンが実行される。電池25を駆動源とした場合、給電に起因するノイズが発生しない。このため、低カウントとなる場合であっても、スキャン画像の画質低下を防ぐことができる。 When the power switching function 57 determines that the body part of the subject P to be scanned thereafter is a part having a low count, the battery drive instructing the DAS 16 to use the DAS power supply 23 as a drive source. A signal is output (S207). The changeover switch 22 of the DAS 16 that has received the battery drive signal switches between the DAS board 21 and the DAS power supply 23 so as to be in a cutoff state and between the DAS board 21 and the battery 25 in a conductive state. Next, the scan control function 55 executes scan control (step S211). As a result, the gantry device 10 executes a scan using the battery 25 as a drive source. When the battery 25 is used as the drive source, noise due to power supply does not occur. Therefore, even when the count is low, it is possible to prevent deterioration of the image quality of the scanned image.

一方、電源切替機能57は、その後にスキャンを行う被検体Pの体の部位が低カウントになる部位ではないと判定した場合、DAS16に対して、DAS電源23を駆動源とすることを指示するDAS電源駆動信号を出力する(S209)。このDAS電源駆動信号を受信したDAS16の切替スイッチ22は、DAS基板21とDAS電源23との間を導通状態とし、DAS基板21と電池25との間を遮断状態とするように切替を行う。次に、スキャン制御機能55は、スキャン制御を実行する(ステップS211)。これにより、架台装置10では、DAS電源23を駆動源とするスキャンが実行される。DAS電源23を駆動源とした場合、給電に起因するノイズが発生する。しかしながら、低カウントとならない場合には、ノイズの影響が支配的とはならないため、スキャン画像の画質を保つことができる。 On the other hand, the power switching function 57 instructs the DAS 16 to use the DAS power supply 23 as the drive source when it is determined that the body part of the subject P to be scanned thereafter is not a part having a low count. The DAS power supply drive signal is output (S209). The changeover switch 22 of the DAS 16 that has received the DAS power supply drive signal switches so that the DAS board 21 and the DAS power supply 23 are in a conductive state and the DAS board 21 and the battery 25 are in a cutoff state. Next, the scan control function 55 executes scan control (step S211). As a result, the gantry device 10 executes a scan using the DAS power supply 23 as a drive source. When the DAS power supply 23 is used as the drive source, noise due to power supply is generated. However, if the count is not low, the influence of noise is not dominant, so that the image quality of the scanned image can be maintained.

図6は、処理回路50の電源切替機能57による電源切替制御を説明する図である。図6では、被検体Pに対して全身スキャンを実行する場合を示している。この全身スキャンでは、頭部、肩部、腹部、脚部の順にスキャンが実行される。この例では、時刻t0のスキャン開始後に頭部のスキャンが実行されるが、頭部は低カウントになる部位ではないことがスキャノ画像に基づいて判断できる。このため、時刻t0において、電源切替機能57は、その後にスキャンを行う被検体Pの体の部位が低カウントになる部位ではないと判定し、DAS16に対して、DAS電源駆動信号を出力する。このDAS電源駆動信号を受信したDAS16の切替スイッチ22は、DAS基板21とDAS電源23との間を導通状態とし、DAS基板21と電池25との間を遮断状態とするように切替を行う。これにより、架台装置10では、DAS電源23を駆動源とするスキャンが実行される。 FIG. 6 is a diagram illustrating power switching control by the power switching function 57 of the processing circuit 50. FIG. 6 shows a case where a whole body scan is performed on the subject P. In this whole body scan, the scan is performed in the order of head, shoulders, abdomen, and legs. In this example, the head scan is executed after the start of the scan at time t0, but it can be determined from the scanno image that the head is not a low-count portion. Therefore, at time t0, the power switching function 57 determines that the body part of the subject P to be scanned thereafter is not a part where the count is low, and outputs a DAS power supply drive signal to the DAS 16. The changeover switch 22 of the DAS 16 that has received the DAS power supply drive signal switches so that the DAS board 21 and the DAS power supply 23 are in a conductive state and the DAS board 21 and the battery 25 are in a cutoff state. As a result, the gantry device 10 executes a scan using the DAS power supply 23 as a drive source.

次に、時刻t1から肩部のスキャンが実行されるが、肩部は低カウントになる部位であることがスキャノ画像に基づいて判断できる。このため、時刻t1において、電源切替機能57は、その後にスキャンを行う被検体Pの体の部位が低カウントになる部位であると判定し、DAS16に対して、電池駆動信号を出力する。この電池駆動信号を受信したDAS16の切替スイッチ22は、DAS基板21とDAS電源23との間を遮断状態とし、DAS基板21と電池25との間を導通状態とするように切替を行う。これにより、架台装置10では、電池25を駆動源とするスキャンが実行される。以後、腹部のスキャンが開始される時刻t2、脚部のスキャンが開始される時刻t3においても、電源切替機能57による切替判断が行われて、電源の切替制御が実行される。 Next, the shoulder scan is executed from time t1, and it can be determined from the scanno image that the shoulder is a low-count portion. Therefore, at time t1, the power switching function 57 determines that the body part of the subject P to be scanned thereafter is a part having a low count, and outputs a battery drive signal to the DAS 16. The changeover switch 22 of the DAS 16 that has received the battery drive signal switches between the DAS board 21 and the DAS power supply 23 so as to be in a cutoff state and between the DAS board 21 and the battery 25 in a conductive state. As a result, the gantry device 10 executes a scan using the battery 25 as a drive source. After that, at the time t2 when the scan of the abdomen is started and the time t3 when the scan of the legs is started, the switching determination is performed by the power switching function 57, and the power switching control is executed.

すなわち、電源切替機能57、スキャン対象部位に関する情報に基づいて、切替制御を実行する。電源切替機能57は、スキャン対象部位におけるX線の減衰率が増大するにつれて電池25による給電の頻度を増大させ、スキャン対象部位におけるX線の減衰率が減少するにつれてDAS電源23による給電の頻度を増大させるように、切替制御を実行する。 That is, the switching control is executed based on the information regarding the power supply switching function 57 and the scan target portion. The power switching function 57 increases the frequency of power supply by the battery 25 as the X-ray attenuation rate at the scan target site increases, and increases the frequency of power supply by the DAS power supply 23 as the X-ray attenuation rate at the scan target site decreases. The switching control is executed so as to increase.

以上、説明した第1の実施形態のX線CT装置1によれば、給電時に発生するノイズに起因したスキャン画像の画質低下を防ぐとともに、被検体の被ばく量を低減することができる。被検体Pに照射されるX線の線量が小さいスキャン実行時や低カウントとなることが想定される部位のスキャン実行時には、電池25を駆動源とすることで、ノイズの発生を防止する。これにより、X線の線量が小さい場合や低カウントの場合であっても、スキャン画像の画質低下を防ぐことができる。 According to the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment described above, it is possible to prevent deterioration of the image quality of the scanned image due to noise generated during power supply and reduce the exposure dose of the subject. When a scan is executed in which the dose of X-rays irradiated to the subject P is small or a portion where a low count is expected is executed, the battery 25 is used as a drive source to prevent the generation of noise. This makes it possible to prevent deterioration of the image quality of the scanned image even when the X-ray dose is small or the count is low.

一方、被検体Pに照射されるX線の線量が大きいスキャン実行時や低カウントとなることが想定されない部位のスキャン実行時には、DAS電源23を駆動源とする。この場合、ノイズが発生するが、ノイズの影響が支配的とはならないため、スキャン画像の画質を保つことができる。また、容量に制限がある電池の使用を限定し、DAS電源23と電池25とを切り替えて使用することで、安定した電力供給を実現することができる。 On the other hand, the DAS power supply 23 is used as a drive source when executing a scan in which the dose of X-rays irradiated to the subject P is large or when scanning a portion where a low count is not expected. In this case, noise is generated, but the influence of the noise is not dominant, so that the image quality of the scanned image can be maintained. Further, by limiting the use of a battery having a limited capacity and switching between the DAS power supply 23 and the battery 25, a stable power supply can be realized.

また、ノイズ低減が可能な高性能なスイッチング電源、リニアレギュレータ、ノイズフィルタ等を用いる必要がなくなり、回路設計難易度を下げ、製造コストを低減することができる。 In addition, it is not necessary to use a high-performance switching power supply, a linear regulator, a noise filter, or the like capable of reducing noise, which reduces the difficulty of circuit design and the manufacturing cost.

尚、上記の実施形態では、コンソール装置40の処理回路50が電源切替制御を行う場合を例に挙げて説明したが、これに限られない。例えば、電源切替制御は、架台装置10に設けられた制御装置18が行ってもよいし、DAS16のDAS基板21上に設けられた制御部が行ってもよい。 In the above embodiment, the case where the processing circuit 50 of the console device 40 performs power supply switching control has been described as an example, but the present invention is not limited to this. For example, the power switching control may be performed by the control device 18 provided on the gantry device 10 or by the control unit provided on the DAS board 21 of the DAS 16.

(第2の実施形態)
以下、第2の実施形態について説明する。第2実施形態では、DAS基板21の各々が、電池25と、切替スイッチとを備えている点が、第1実施形態と異なる。このため、構成などについては第1の実施形態で説明した図および関連する記載を援用し、詳細な説明を省略する。
(Second Embodiment)
Hereinafter, the second embodiment will be described. The second embodiment is different from the first embodiment in that each of the DAS substrates 21 includes a battery 25 and a changeover switch. Therefore, for the configuration and the like, the drawings and related descriptions described in the first embodiment will be referred to, and detailed description will be omitted.

図7は、第2の実施形態に係るDAS16Aに対する給電方式の一例を説明する図である。DAS16Aは、例えば、複数のDAS基板21と、DAS電源23とを備える。複数のDAS基板21の各々は、例えば、第1切替スイッチ22−1と、第2切替スイッチ22−2と、電池25とを備える。 FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a power feeding method for the DAS 16A according to the second embodiment. The DAS 16A includes, for example, a plurality of DAS substrates 21 and a DAS power supply 23. Each of the plurality of DAS substrates 21 includes, for example, a first changeover switch 22-1, a second changeover switch 22-2, and a battery 25.

第1切替スイッチ22−1および第2切替スイッチ22−2は、DAS基板21に対する給電(DAS基板21の駆動源)を、DAS電源23と、電池25との間で切り替える。第1切替スイッチ22−1および第2切替スイッチ22−2は、DAS基板21とDAS電源23との間の導通/遮断状態、および、DAS基板21と電池25との間の導通/遮断状態を制御する。第1切替スイッチ22−1および第2切替スイッチ22−2は、例えば、MOSFET、バイポーラトランジスタ等の半導体スイッチ、MEMSスイッチ、その他のスイッチである。切替スイッチ22は、コンソール装置40により送信される切替信号に基づいて、切替を行う。 The first changeover switch 22-1 and the second changeover switch 22-2 switch the power supply to the DAS board 21 (the drive source of the DAS board 21) between the DAS power supply 23 and the battery 25. The first changeover switch 22-1 and the second changeover switch 22-2 determine the continuity / cutoff state between the DAS board 21 and the DAS power supply 23 and the continuity / cutoff state between the DAS board 21 and the battery 25. Control. The first changeover switch 22-1 and the second changeover switch 22-2 are, for example, semiconductor switches such as MOSFETs and bipolar transistors, MEMS switches, and other switches. The changeover switch 22 switches based on the changeover signal transmitted by the console device 40.

DAS16Aでは、DAS基板21の各々において、電源の切替制御が行われる。切替制御の処理については、第1実施形態において説明した処理(「スキャン開始前における電源切替)」、「スキャン実行中における電源切替」)と同様であるため、詳細な説明を省略する。 In the DAS 16A, switching control of the power supply is performed on each of the DAS boards 21. Since the switching control process is the same as the process described in the first embodiment (“power supply switching before the start of scanning” and “power switching during scanning execution”), detailed description thereof will be omitted.

以上、説明した第2の実施形態のX線CT装置1によれば、給電時に発生するノイズに起因したスキャン画像の画質低下を防ぐとともに、被検体の被ばく量を低減することができる。また、電池25をDAS基板21上に設けることで、GND経路がシンプルになり、コモンモードノイズを抑制することができる。 According to the X-ray CT apparatus 1 of the second embodiment described above, it is possible to prevent deterioration of the image quality of the scanned image due to noise generated during power supply and reduce the exposure dose of the subject. Further, by providing the battery 25 on the DAS substrate 21, the GND path is simplified and common mode noise can be suppressed.

尚、上記の実施形態では、コンソール装置40の処理回路50が電源切替制御を行う場合を例に挙げて説明したが、これに限られない。図8は、DAS16Bに対する給電方式の一例を説明する図である。図8に示される例において、複数のDAS基板21の各々は、第1切替スイッチ22−1、第2切替スイッチ22−2、および電池25に加えて、DAS制御部26(制御部の一例)を備える。このDAS制御部26は、例えば、コンソール装置40から、スキャンプランの情報、スキャノ画像等を取得し、処理回路50と同様な電源切替制御を行う。尚、電源切替制御は、架台装置10に設けられた制御装置18が行ってもよい。 In the above embodiment, the case where the processing circuit 50 of the console device 40 performs power supply switching control has been described as an example, but the present invention is not limited to this. FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a power feeding method for the DAS 16B. In the example shown in FIG. 8, each of the plurality of DAS boards 21 has a DAS control unit 26 (an example of a control unit) in addition to the first changeover switch 22-1, the second changeover switch 22-2, and the battery 25. To be equipped. The DAS control unit 26 acquires scan plan information, scanno images, and the like from the console device 40, and performs power supply switching control similar to that of the processing circuit 50. The power supply switching control may be performed by the control device 18 provided in the gantry device 10.

尚、上記の実施形態では、スキャンプランやスキャノ画像に基づいて、電源切替制御を行う場合を例に挙げて説明したが、これに限られない。X線CT装置が、高精細CT装置である場合には、高空間分解能が必要な撮影時(例えば、複数の画素の各々を制御してスキャン画像を生成する場合)には、ノイズが発生しない電池を駆動源として使用し、高空間分解能がそれほど必要ではない撮影時(例えば、複数の画素をいくつかのグループに分け、グループ毎に束ねてスキャン画像を生成する場合)には、電源を駆動源として使用するようにしてもよい。すなわち、処理回路50の電源切替機能57は、X線検出器15における検出データの束ねの単位に基づいて、切替制御を実行してよい。 In the above embodiment, the case where the power supply switching control is performed based on the scan plan or the scanno image has been described as an example, but the present invention is not limited to this. When the X-ray CT apparatus is a high-definition CT apparatus, noise does not occur during imaging that requires high spatial resolution (for example, when each of a plurality of pixels is controlled to generate a scanned image). When shooting using a battery as the drive source and not requiring high spatial resolution (for example, when dividing multiple pixels into several groups and bundling them into groups to generate a scanned image), the power supply is driven. It may be used as a source. That is, the power switching function 57 of the processing circuit 50 may execute the switching control based on the unit of the bundle of detection data in the X-ray detector 15.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の軽減、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other embodiments, and various mitigations, replacements, and modifications can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, as well as in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.

1…X線CT装置,10…架台装置,11…X線管,12…ウェッジ,13…コリメータ,14…X線高電圧装置,15…X線検出器,16…データ収集システム,17…回転フレーム,18…制御装置,30…寝台装置,31…基台,32…寝台駆動装置,33…天板,34…支持フレーム,40…コンソール装置,50…処理回路,51…システム制御機能,52…前処理機能,53…再構成処理機能,54…画像処理機能,55…スキャン制御機能,56…表示制御機能,57…電源切替機能 1 ... X-ray CT device, 10 ... gantry device, 11 ... X-ray tube, 12 ... wedge, 13 ... collimeter, 14 ... X-ray high voltage device, 15 ... X-ray detector, 16 ... data acquisition system, 17 ... rotation Frame, 18 ... Control device, 30 ... Sleep device, 31 ... Base, 32 ... Sleep drive device, 33 ... Top plate, 34 ... Support frame, 40 ... Console device, 50 ... Processing circuit, 51 ... System control function, 52 ... pre-processing function, 53 ... reconstruction processing function, 54 ... image processing function, 55 ... scan control function, 56 ... display control function, 57 ... power switching function

Claims (11)

X線管と、
前記X線管により出力されるX線を検出するX線検出器と、
前記X線検出器により出力される信号を処理するデータ処理部と、
前記データ処理部に電力を供給する電源と、
前記データ処理部に電力を供給する電池と、
前記X線管と前記X線検出器とを対向して回転可能に支持し、前記データ処理部と前記電池とを更に回転可能に支持する回転体と、
スキャンの事前情報に基づいて、前記電源と前記電池との間の切替制御を実行し、前記データ処理部への給電を制御する制御部と、
を備える、X線CT装置。
X-ray tube and
An X-ray detector that detects the X-rays output by the X-ray tube, and
A data processing unit that processes the signal output by the X-ray detector,
A power supply that supplies power to the data processing unit and
A battery that supplies power to the data processing unit
A rotating body that rotatably supports the X-ray tube and the X-ray detector so as to face each other and further rotatably supports the data processing unit and the battery.
A control unit that executes switching control between the power supply and the battery based on prior information of scanning and controls power supply to the data processing unit.
An X-ray CT apparatus.
前記制御部は、前記事前情報であるスキャンプロトコルに含まれる前記X線の線量情報に基づいて、前記切替制御を実行する、
請求項1に記載のX線CT装置。
The control unit executes the switching control based on the X-ray dose information included in the scan protocol which is the prior information.
The X-ray CT apparatus according to claim 1.
前記制御部は、
前記線量情報によって示される前記X線の線量が減少するにつれて前記電池による給電の頻度を増大させ、前記X線の線量が増大するにつれて前記電源による給電の頻度を増大させるように、前記切替制御を実行する、
請求項2に記載のX線CT装置。
The control unit
The switching control is performed so that the frequency of power supply by the battery increases as the dose of the X-ray indicated by the dose information decreases, and the frequency of power supply by the power supply increases as the dose of the X-ray increases. Execute,
The X-ray CT apparatus according to claim 2.
前記制御部は、スキャン対象部位に関する情報に基づいて、前記切替制御を実行する、
請求項1から3のいずれか一項に記載のX線CT装置。
The control unit executes the switching control based on the information regarding the scan target portion.
The X-ray CT apparatus according to any one of claims 1 to 3.
前記制御部は、前記スキャン対象部位における前記X線の減衰率が増大するにつれて前記電池による給電の頻度を増大させ、前記スキャン対象部位における前記X線の減衰率が減少するにつれて前記電源による給電の頻度を増大させるように、前記切替制御を実行する、
請求項4に記載のX線CT装置。
The control unit increases the frequency of power supply by the battery as the attenuation rate of the X-rays at the scan target site increases, and supplies power from the power supply as the attenuation rate of the X-rays at the scan target site decreases. The switching control is executed so as to increase the frequency.
The X-ray CT apparatus according to claim 4.
前記制御部は、スキャン実行中に前記切替制御を実行する、
請求項4または5に記載のX線CT装置。
The control unit executes the switching control during scan execution.
The X-ray CT apparatus according to claim 4 or 5.
前記制御部は、被検体を撮影したスキャノ画像に基づいて、前記スキャン対象部位に関する情報を取得する、
請求項4から6のいずれか一項に記載のX線CT装置。
The control unit acquires information about the scan target site based on a scanno image of the subject.
The X-ray CT apparatus according to any one of claims 4 to 6.
前記制御部は、被検体を撮影した光学画像に基づいて、前記スキャン対象部位に関する情報を取得する、
請求項4から6のいずれか一項に記載のX線CT装置。
The control unit acquires information about the scan target site based on an optical image of the subject.
The X-ray CT apparatus according to any one of claims 4 to 6.
前記電池および前記制御部の少なくとも一方は、前記データ処理部の基板上に設けられる、
請求項1から8のいずれか一項に記載のX線CT装置。
At least one of the battery and the control unit is provided on the substrate of the data processing unit.
The X-ray CT apparatus according to any one of claims 1 to 8.
前記制御部は、スキャンを実行していない間、前記電源の電力を前記電池に供給して前記電池を充電させる制御を行う、
請求項1から9のいずれか一項に記載のX線CT装置。
The control unit controls to supply the power of the power source to the battery to charge the battery while the scan is not being executed.
The X-ray CT apparatus according to any one of claims 1 to 9.
前記制御部は、前記X線検出器における検出データの束ねの単位に基づいて、前記切替制御を実行する、
請求項1から10のいずれか一項に記載のX線CT装置。
The control unit executes the switching control based on the unit of the bundle of detection data in the X-ray detector.
The X-ray CT apparatus according to any one of claims 1 to 10.
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