JP2021021639A - Information processing apparatus, information processing method, program, recording medium, and detection system - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 117
- 230000010365 information processing Effects 0.000 title claims description 46
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
Description
本発明は、情報処理装置、情報処理方法、プログラム、記録媒体及び検出システムに関する。 The present invention relates to an information processing device, an information processing method, a program, a recording medium, and a detection system.
近年、光を用いた検出装置によって、人等の物体を検出するための検出システムが開発されている。検出装置は、送信部及び受信部を備えている。送信部から送信された光は、検出装置の外部の物体によって反射されて、受信部に戻る。検出装置は、TOF(Time Of Flight)に基づいて、検出装置から物体までの距離を測定する。 In recent years, a detection system for detecting an object such as a person has been developed by a detection device using light. The detection device includes a transmission unit and a reception unit. The light transmitted from the transmitter is reflected by an object outside the detector and returns to the receiver. The detection device measures the distance from the detection device to the object based on TOF (Time Of Flight).
特許文献1には、検出システムの一例について記載されている。この検出システムは、物体(例えば、人)が通過する領域の背後に配置されたリフレクタを備えている。検出装置は、物体からの反射光だけでなく、リフレクタからの反射光も用いることで、物体の有無を検出する。 Patent Document 1 describes an example of a detection system. The detection system includes a reflector located behind an area through which an object (eg, a person) passes. The detection device detects the presence or absence of an object by using not only the reflected light from the object but also the reflected light from the reflector.
本発明者は、ワックス等によって鏡面反射を有する床上に存在する人等、反射体の近傍に存在する物体を、光等の電磁波を用いた検出装置によって検出する新規な方法を検討した。 The present inventor has investigated a novel method for detecting an object existing in the vicinity of a reflector, such as a person existing on a floor having specular reflection by wax or the like, by a detection device using electromagnetic waves such as light.
本発明が解決しようとする課題としては、反射体の近傍に存在する物体を新規な方法で検出することが一例として挙げられる。 One example of the problem to be solved by the present invention is to detect an object existing in the vicinity of the reflector by a novel method.
請求項1に記載の発明は、
反射体の位置に関する情報を取得する取得部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する特定部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する生成部と、
を備える情報処理装置である。
The invention according to claim 1
An acquisition unit that acquires information about the position of the reflector,
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A specific unit that identifies a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and is reflected by the object.
A generation unit that processes the first signal using the information about the position of the reflector and generates information about the object by processing the second signal.
It is an information processing device provided with.
請求項12に記載の発明は、
コンピュータが、
反射体の位置に関する情報を取得する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する工程と、
を含む情報処理方法である。
The invention according to claim 12
The computer
The process of acquiring information about the position of the reflector and
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A step of identifying a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and reflected by the object.
A step of processing the first signal using the information about the position of the reflector and generating information about the object by processing the second signal.
It is an information processing method including.
請求項13に記載の発明は、
コンピュータに、
反射体の位置に関する情報を取得する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する工程と、
を実行させるためのプログラムである。
The invention according to claim 13
On the computer
The process of acquiring information about the position of the reflector and
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A step of identifying a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and reflected by the object.
A step of processing the first signal using the information about the position of the reflector and generating information about the object by processing the second signal.
It is a program to execute.
請求項14に記載の発明は、
請求項13に記載のプログラムを格納した、コンピュータが読み取り可能な記録媒体である。
The invention according to claim 14
A computer-readable recording medium containing the program according to claim 13.
請求項15に記載の発明は、
検出装置と、
情報処理装置と、
を備え、
前記情報処理装置は、
反射体の位置に関する情報を取得する取得部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する特定部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する生成部と、
を備える、検出システムである。
The invention according to claim 15
With the detector
Information processing device and
With
The information processing device
An acquisition unit that acquires information about the position of the reflector,
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the above. A specific unit that identifies a second signal that indicates an electromagnetic wave that is emitted from the detection device and is emitted from the object without being reflected by the reflector and is reflected by the object.
A generation unit that processes the first signal using the information about the position of the reflector and generates information about the object by processing the second signal.
It is a detection system including.
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In all drawings, similar components are designated by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.
図1は、実施形態に係る検出システム10を説明するための図である。図2は、実施形態に係る情報処理方法を説明するためのフローチャートである。
FIG. 1 is a diagram for explaining the
図1及び図2を用いて、検出システム10の概要を説明する。検出システム10は、検出装置100及び情報処理装置200を備えている。情報処理装置200は、取得部210、特定部220及び生成部230を備えている。取得部210は、反射体300の位置に関する情報を取得する(ステップS10)。特定部220は、反射体300の位置に関する情報を用いて、検出装置100から照射されて反射体300による反射を経て物体O及び背景部310の少なくとも一方に照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波3)を示す第1信号を特定するとともに、検出装置100から照射されて反射体300による反射を経ないで物体O及び背景部310の少なくとも一方に照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波(図1に示す例では、電磁波4から電磁波8)を示す第2信号を特定する(ステップS20)。生成部230は、反射体300の位置に関する情報を用いて第1信号を処理するとともに、第2信号を処理することにより、物体O及び背景部310の少なくとも一方に関する情報を生成する(ステップS30)。
The outline of the
本実施形態によれば、反射体300の近傍に存在する物体O及び背景部310の少なくとも一方が新規な方法で検出される。具体的には、本実施形態においては、物体O及び背景部310の少なくとも一方に直接照射された電磁波だけでなく、反射体300による反射を経て物体O及び背景部310の少なくとも一方に照射された電磁波も用いて、物体O及び背景部310の少なくとも一方が検知されている。
According to the present embodiment, at least one of the object O and the
図1を用いて、検出システム10の詳細を説明する。
The details of the
検出装置100は、例えば、LiDAR(Light Detector And Ranginig)である。この例において、検出装置100は、光、例えば、赤外線を照射する。その他の例として、検出装置100は、RADAR(RAdio And Detector And Ranging)であってもよい。この例において、検出装置100は、電波を照射する。
The
図1では、検出装置100は、模式的に、8つの電磁波、すなわち、電磁波1から電磁波8を照射している。電磁波1から電磁波3は、反射体300による反射を経て物体Oに照射されている。電磁波4から電磁波6は、反射体300による反射を経ないで物体Oに直接照射されている。電磁波7及び電磁波8は、反射体300による反射及び物体Oへの照射を経ないで背景部310に照射されている。各電磁波は、検出装置100から、図1の実線で示された経路を経由して、図1の実線丸で示された被照射位置まで達し、当該被照射位置から当該経路を経由して検出装置100に戻る。検出装置100は、検出装置100から電磁波が照射された時間から検出装置100に電磁波が戻った時間までの時間差に基づいて、電磁波の経路の距離をTOF(Time Of Flight)にしたがって算出する。
In FIG. 1, the
電磁波1から電磁波3については、検出装置100から物体Oまでの電磁波の実際の経路の長さは、検出装置100から、図1の実線及び破線で示された経路を経由して、図1の破線丸で示された擬似的被照射位置までの擬似的経路の長さと等しくなる。図1の破線丸で示された擬似的被照射位置は、反射体300に関して、電磁波の実際の被照射位置と鏡像対称の位置にある。反射体300による電磁波の反射を考慮せずに電磁波1から電磁波3の上記時間差を用いて検出される物体Oは、あたかも、擬似的被照射位置に存在するように検出される。本実施形態においては、反射体300の位置に関する情報を用いて第1信号を処理することによって、物体Oの実際の位置が検出される。
For electromagnetic waves 1 to 3, the actual length of the electromagnetic wave path from the
電磁波4から電磁波6は、物体Oが存在しない場合、図1の破線で示された経路を辿り得る。物体Oが存在しない場合、電磁波4は、反射体300(反射体300と背景部310との間の境界)に到達し、電磁波5及び電磁波6は、背景部310に到達する。
The
図1に示す例において、反射体300は床であり、物体Oは人であり、背景部310は、壁である。検出装置100は、例えば、建物の部屋の内部に設けられる。反射体300としての床は、検出装置100から照射される電磁波をワックス等によって鏡面反射する。すなわち、反射体300は、検出装置100から照射される電磁波に対して実質的に鏡面として機能する。本実施形態は、床とは異なる反射体300にも適用可能であり、人とは異なる物体Oにも適用可能である。本実施形態は、背景部310が存在しない場合にも適用可能であり、壁とは異なる背景部310にも適用可能である。本実施形態では、反射体300による反射を経た電磁波及び反射体300による反射を経ない電磁波を用いて物体O及び背景部310の双方を検出することができる。しかしながら、本実施形態は、反射体300による反射を経た電磁波及び反射体300による反射を経ない電磁波を用いて、物体O及び背景部310のうちの一方のみを検出する場合にも適用可能である。
In the example shown in FIG. 1, the
次に、図2のステップS10からステップS30を順に詳細に説明する。 Next, steps S10 to S30 of FIG. 2 will be described in detail in order.
ステップS10において、反射体300の位置に関する情報は、例えば、反射体300を含む領域(例えば、反射体300及び背景部310)内における電磁波の到達位置を示す情報と、反射体300の各到達位置における向きを示す情報と、を含んでいる。これらの情報は、例えば、後述するように、物体Oが存在しない状態での検出装置100のキャリブレーションによって取得される。その他の例として、反射体300を含む領域(例えば、反射体300及び背景部310)に対する検出装置100の相対的位置と、検出装置100からの電磁波の照射方向と、が既知のときは、上記情報を情報処理装置200に予め読み込ませていてもよい。
In step S10, the information regarding the position of the
反射体300を含む領域(例えば、反射体300及び背景部310)内における電磁波の到達位置を示す情報を用いることで、検出装置100から照射される電磁波を、検出装置100から反射体300に向けて照射される電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波4)と、検出装置100から反射体300とは異なる領域(例えば、背景部310)に向けて照射される電磁波(図1に示す例では、電磁波5から電磁波8)と、に分類することができる。
By using the information indicating the arrival position of the electromagnetic wave in the region including the reflector 300 (for example, the
反射体300の各到達位置における向きを示す情報を用いることで、反射体300による電磁波の反射方向を算出することができる。図1では、説明の簡易のため、反射体300は、水平面となっており、反射体300内の位置によらず上方を向いている。しかしながら、反射体300は、例えば、凹凸を有する面であってもよいし、又は反射体300内の位置に応じて異なる方向を向いていてもよい。反射体300が凹凸を有する面であり、かつ反射体300内の位置に応じて異なる方向を向いていても、上記情報を用いることで、反射体300による電磁波の反射方向を各到達位置について算出することができる。
By using the information indicating the direction of the
ステップS20において、特定部220は、検出装置100から照射される電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波8)を、次のようにして、第1信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波3)及び第2信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波4から電磁波8)に分類する。
In step S20, the
特定部220は、検出装置100から反射体300に向けて照射されて物体Oによって反射された電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波4)を、検出装置100の照射から物体Oへの照射までのこの電磁波の経路(図1に示す例では、検出装置100から物体Oまで延伸する実線)の長さが、検出装置100の照射から反射体300への到達までのこの電磁波の経路(図1に示す例では、検出装置100から反射体300まで延伸する実線)の長さより長い場合、第1信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波3)に分類する。検出装置100の照射から物体Oへの照射までの電磁波の経路の長さは、例えば、検出装置100の検出結果を用いて算出される。検出装置100の照射から反射体300への到達までの電磁波の経路の長さは、例えば、ステップS10における反射体300の位置に関する情報を用いて算出される。
The
特定部220は、検出装置100から反射体300に向けて照射されて物体Oによって反射された電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波4)を、検出装置100の照射から物体Oへの照射までのこの電磁波の経路(図1に示す例では、検出装置100から物体Oまで延伸する実線)の長さが、検出装置100の照射から反射体300への到達までのこの電磁波の経路(図1に示す例では、検出装置100から物体Oまで延伸する実線と、物体Oから反射体300まで延びる破線)の長さより短い場合、第2信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波4)に分類する。検出装置100の照射から物体Oへの照射までの電磁波の経路の長さは、例えば、検出装置100の検出結果を用いて算出される。検出装置100の照射から反射体300への到達までの電磁波の経路の長さは、例えば、ステップS10における反射体300の位置に関する情報を用いて算出される。
The
特定部220は、検出装置100から反射体300とは異なる領域(例えば、背景部310)に向けて照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波を第2信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波5から電磁波8)に分類する。電磁波が反射体300とは異なる領域に向けて照射されているか否かは、例えば、ステップS10における反射体300の位置に関する情報を用いて判定される。
The
第1信号の電磁波及び第2信号の電磁波を分類する方法は、上述した例に限定されない。例えば、反射体300による反射によって電磁波の強度が減衰する場合、特定部220は、電磁波の強度に基づいて、第1信号の電磁波及び第2信号の電磁波を分類してもよい。具体的には、第1信号の電磁波の強度は、反射体300による反射によって、第2信号の電磁波の強度より低くなりやすい。したがって、特定部220は、検出装置100から照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波を、検出装置100によって検出されたこの電磁波の強度が基準強度以下であるとき、第1信号の電磁波に分類する。さらに、特定部220は、検出装置100から照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波を、検出装置100によって検出されたこの電磁波の強度が基準強度超であるとき、第2信号の電磁波に分類する。
The method of classifying the electromagnetic wave of the first signal and the electromagnetic wave of the second signal is not limited to the above-mentioned example. For example, when the intensity of the electromagnetic wave is attenuated by the reflection by the
第1信号及び第2信号は、検出装置100によって検出される電磁波の生データであってもよいし、又は生データを処理することで生成されるデータであってもよい。第1信号及び第2信号のデータ形式は、出力された信号によって示される電磁波が、反射体300による反射を経ているか、又は反射体300による反射を経ていないかを特定することができるものであれば、特定の形式に限定されない。第1信号及び第2信号は、検出装置100から、例えば、電気信号として出力される。
The first signal and the second signal may be the raw data of the electromagnetic wave detected by the
ステップS30において、物体に関する情報は、例えば、物体のプロファイル又は物体のプロファイルから推定される物体の種類である。その他の例として、物体に関する情報は、物体の有無であってもよい。 In step S30, the information about the object is, for example, the profile of the object or the type of object estimated from the profile of the object. As another example, the information about the object may be the presence or absence of the object.
生成部230は、反射体300による第1信号の電磁波の反射方向を算出する。さらに、生成部230は、この反射方向を用いて物体O及び背景部310の少なくとも一方のうちの第1信号の電磁波の被照射位置を算出する。反射体300による第1信号の電磁波の反射方向は、例えば、ステップS10における反射体300の位置に関する情報を用いて算出される。生成部230は、物体O及び背景部310の少なくとも一方のうちの第1信号の電磁波の被照射位置から、物体O及び背景部310の少なくとも一方のプロファイルを推定することができる。
The
生成部230は、電磁波の複数の被照射位置によって形成されるクラスタを用いて、物体O及び背景部310の少なくとも一方の種類を推定してもよい。生成部230は、電磁波の複数の被照射位置(物体O及び背景部310に形成される複数の被照射位置)を、隣り合う被照射位置の間隔に応じて、物体Oに形成されるクラスタ(図1に示す例では、電磁波1から電磁波6によって形成されるクラスタ)と、物体Oとは異なる領域(背景部310)に形成されるクラスタ(図1に示す例では、電磁波7及び電磁波8によって形成されるクラスタ)と、に分類する。生成部230は、物体Oに形成されるクラスタから、物体Oのプロファイルを推定することができる。同様にして、生成部230は、背景部310に形成されるクラスタから、背景部310のプロファイルを推定することができる。生成部230は、例えば人工知能(例えば、ニュートラルネットワーク)を用いて、物体O及び背景部310の少なくとも一方に形成されるクラスタ(物体O及び背景部310の少なくとも一方のプロファイル)から物体O及び背景部310の少なくとも一方の種類を推定する。本実施形態においては、物体O及び背景部310の少なくとも一方に直接照射された電磁波だけでなく、反射体300による反射を経て物体O及び背景部310の少なくとも一方に照射された電磁波も用いているため、物体O及び背景部310の少なくとも一方の検出に用いられる電磁波の数が多くなっている。したがって、物体O及び背景部310の少なくとも一方の推定の精度を向上させることができる。
The
反射体300による反射によって電磁波の強度が減衰する場合、生成部230は、反射体300の反射による電磁波の強度の減衰に応じて、検出装置100によって検出される第1信号の電磁波の強度を補正してもよい。例えば、生成部230は、第1信号の電磁波の強度が第2信号の電磁波の強度とほぼ等しくなるように、第1信号の電磁波の強度を補正する。
When the intensity of the electromagnetic wave is attenuated by the reflection by the
(実施例1)
図3は、実施例1において、反射体300の位置に関する情報の取得方法を説明するための図である。図4は、図3に示す方法において検出装置100によって検出された点群の一例を示す図である。
(Example 1)
FIG. 3 is a diagram for explaining a method of acquiring information regarding the position of the
本実施例においては、以下のようにして、取得部210は、検出装置100から反射体300を含む領域(反射体300及び背景部310)に向けて照射された電磁波によって生成された点群の強度分布を用いて、反射体300の位置に関する情報を取得する。
In this embodiment, as follows, the
図3においては、図1に示した物体Oが存在しない状態で検出装置100から電磁波が照射されている。電磁波1から電磁波3は、反射体300による反射を経て背景部310に照射されている。電磁波4から電磁波8は、反射体300による反射を経ないで背景部310に直接照射されている(電磁波4は、反射体300と背景部310との間の境界に照射されている。)。
In FIG. 3, an electromagnetic wave is irradiated from the
電磁波1から電磁波3については、検出装置100から背景部310までの電磁波の実際の経路(図1の実線)の長さは、検出装置100から、図1の実線及び破線で示された経路を経由して、図1の破線丸で示された擬似的被照射位置までの擬似的経路の長さと等しくなる。図1の破線丸で示された擬似的被照射位置は、反射体300に関して、電磁波の実際の被照射位置と鏡像対称の位置にある。反射体300による電磁波の反射を考慮しないとき、反射体300による反射を経た電磁波によって検出される背景部310は、あたかも、擬似的被照射位置に存在するように検出される。
For electromagnetic waves 1 to 3, the length of the actual path of the electromagnetic wave (solid line in FIG. 1) from the
図4において、破線丸は、反射体300による反射を経て背景部310に照射された電磁波の点群を示しており、実線丸は、反射体300による反射を経ないで背景部310に直接照射された電磁波の点群を示している。上述したように、反射体300による反射を考慮しないとき、破線丸によって示される点群及び実線丸によって示される点群は、あたかも、同一平面上に存在するように見える。しかしながら、反射体300による反射によって電磁波の強度が減衰する場合、破線丸によって示される点群の電磁波の強度は、実線丸によって示される点群の電磁波の強度より弱くなる。したがって、点群の電磁波の強度分布に基づいて、図4の破線で示されるように、反射体300による反射を経ないで背景部310に直接照射された電磁波の点群の位置と、反射体300による反射を経て背景部310に照射された電磁波の点群の位置と、を互いに隔てる境界、すなわち、反射体300と背景部310とを互いに隔てる境界が画定される。さらに、反射体300と背景部310とが互いに直交していることが既知のときは、上記境界を挟んで互いに隔てられている領域は、互いに直交しているものと判断することができる。このようにして、取得部210は、反射体300の位置に関する情報を取得する。
In FIG. 4, the broken line circles indicate a point cloud of electromagnetic waves radiated to the
(実施例2)
図5は、実施例2に係る検出装置100を説明するための図である。
(Example 2)
FIG. 5 is a diagram for explaining the
検出装置100は、送信部110、受信部120、可動反射部130及びビームスプリッタ140を備えている。送信部110は、電磁波、例えば、光又は電波を照射する。送信部110は、例えば、レーザダイオード(LD)である。受信部120は、例えば、アバランシェフォトダイオード(APD)である。可動反射部130は、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラー又はポリゴンミラーである。
The
送信部110から送信された電磁波は、ビームスプリッタ140によって可動反射部130に向けて反射され、可動反射部130によって検出装置100の外部に向けて反射される。検出装置100の外部に向かった電磁波は、検出装置100の外部の物体(例えば、物体O又は背景部200)によって反射されて、検出装置100に向けて戻る。検出装置100に戻った光は、可動反射部130によってビームスプリッタ140に向けて反射され、ビームスプリッタ140を透過して受信部120によって受信される。検出装置100は、TOF(Time Of Flight)に基づいて、検出装置100から検出装置100の外部の物体(例えば、物体O又は背景部200)までの距離を測定することができる。具体的には、検出装置100は、送信部110による電磁波の送信から受信部120による電磁波の受信までの時間に基づいて、上記距離を測定する。
The electromagnetic wave transmitted from the
(実施例3)
図6は、実施例3に係る情報処理装置200のハードウエア構成の一例を示す図である。
(Example 3)
FIG. 6 is a diagram showing an example of the hardware configuration of the
情報処理装置200の主な構成は、集積回路を用いて実現される。この集積回路は、バス201、プロセッサ202、メモリ203、ストレージデバイス204、入出力インタフェース205及びネットワークインタフェース206を有する。
The main configuration of the
バス201は、プロセッサ202、メモリ203、ストレージデバイス204、入出力インタフェース205、及びネットワークインタフェース206が、相互にデータを送受信するためのデータ伝送路である。ただし、プロセッサ202などを互いに接続する方法は、バス接続に限定されない。
The
プロセッサ202は、マイクロプロセッサなどを用いて実現される演算処理装置である。
The
メモリ203は、RAM(Random Access Memory)などを用いて実現されるメモリである。
The
ストレージデバイス204は、ROM(Read Only Memory)やフラッシュメモリなどを用いて実現されるストレージデバイスである。
The
入出力インタフェース205は、情報処理装置200を周辺デバイスと接続するためのインタフェースである。
The input /
ネットワークインタフェース206は、情報処理装置200を通信網に接続するためのインタフェースである。ネットワークインタフェース206が通信網に接続する方法は、無線接続であってもよいし、又は有線接続であってもよい。情報処理装置200は、ネットワークインタフェース206を介して、情報処理装置200に接続される。
The
ストレージデバイス204は、情報処理装置200の各機能要素を実現するためのプログラムを記憶している。プロセッサ202は、このプログラムをメモリ203に読み出して実行することで、情報処理装置200の各機能を実現する。
The
なお、上記した集積回路のハードウエア構成は図6に示した構成に限定されない。例えば、プログラムはメモリ203に格納されてもよい。この場合、集積回路は、ストレージデバイス204を備えていなくてもよい。
The hardware configuration of the integrated circuit described above is not limited to the configuration shown in FIG. For example, the program may be stored in
本実施例に係るプログラムは、コンピュータに読み取り可能な記録媒体に記録されていてもよい。記録媒体は、特定の態様に限定されず、例えば、光ディスク又はハードディスクにしてもよい。 The program according to this embodiment may be recorded on a computer-readable recording medium. The recording medium is not limited to a specific aspect, and may be, for example, an optical disk or a hard disk.
以上、図面を参照して実施形態及び実施例について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。 Although the embodiments and examples have been described above with reference to the drawings, these are examples of the present invention, and various configurations other than the above can be adopted.
10 検出システム
100 検出装置
110 送信部
120 受信部
130 可動反射部
140 ビームスプリッタ
200 情報処理装置
200 背景部
201 バス
202 プロセッサ
203 メモリ
204 ストレージデバイス
205 入出力インタフェース
206 ネットワークインタフェース
210 取得部
220 特定部
230 生成部
300 反射体
310 背景部
O 物体
10
Claims (15)
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する特定部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する生成部と、
を備える情報処理装置。 An acquisition unit that acquires information about the position of the reflector,
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A specific unit that identifies a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and is reflected by the object.
A generation unit that processes the first signal using the information about the position of the reflector and generates information about the object by processing the second signal.
Information processing device equipped with.
前記特定部は、前記検出装置から前記反射体に向けて照射されて前記物体によって反射された電磁波を、
前記検出装置の照射から前記物体への照射までの前記電磁波の経路の長さが、前記検出装置の照射から前記反射体への到達までの前記電磁波の経路の長さより長い場合、前記第1信号の電磁波に、
前記検出装置の照射から前記物体への照射までの前記電磁波の経路の長さが、前記検出装置の照射から前記反射体への到達までの前記電磁波の経路の長さより短い場合、前記第2信号の電磁波に、
分類する、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to claim 1,
The specific unit emits electromagnetic waves emitted from the detection device toward the reflector and reflected by the object.
When the length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device to the irradiation of the object is longer than the length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device to the arrival at the reflector, the first signal To the electromagnetic waves of
When the length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device to the irradiation of the object is shorter than the length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device to the arrival at the reflector, the second signal. To the electromagnetic waves of
Information processing device to classify.
前記特定部は、前記検出装置から前記反射体とは異なる領域に向けて照射されて前記物体によって反射された電磁波を前記第2信号の前記電磁波に分類する、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to claim 1 or 2.
The specific unit is an information processing device that classifies an electromagnetic wave that is emitted from the detection device toward a region different from the reflector and is reflected by the object into the electromagnetic wave of the second signal.
前記生成部は、前記反射体による前記第1信号の前記電磁波の反射方向を算出し、前記反射方向を用いて前記物体のうちの前記第1信号の前記電磁波の被照射位置を算出する、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The generation unit calculates the reflection direction of the electromagnetic wave of the first signal by the reflector, and calculates the irradiation position of the electromagnetic wave of the first signal in the object using the reflection direction. Processing equipment.
前記生成部は、前記物体のうちの前記電磁波の複数の被照射位置によって形成されるクラスタを用いて、前記物体の種類を推定する、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 4,
The generation unit is an information processing device that estimates the type of the object by using a cluster formed by a plurality of irradiated positions of the electromagnetic wave in the object.
前記生成部は、前記反射体の前記反射による電磁波の強度の減衰に応じて、前記検出装置によって検出される前記第1信号の前記電磁波の強度を補正する、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 5,
The generation unit is an information processing device that corrects the intensity of the electromagnetic wave of the first signal detected by the detection device according to the attenuation of the intensity of the electromagnetic wave due to the reflection of the reflector.
前記取得部は、前記検出装置から前記反射体を含む領域に向けて照射された電磁波によって生成された点群の強度分布を用いて、前記反射体の前記位置に関する前記情報を取得する、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 6,
The information processing unit acquires the information regarding the position of the reflector by using the intensity distribution of the point cloud generated by the electromagnetic wave emitted from the detection device toward the region including the reflector. apparatus.
前記反射体の前記位置に関する前記情報は、前記反射体を含む領域内における電磁波の到達位置を示す情報と、前記反射体の各到達位置における向きを示す情報と、を含む、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 7.
The information processing device including the information indicating the arrival position of the electromagnetic wave in the region including the reflector and the information indicating the direction of the reflector at each arrival position, the information regarding the position of the reflector.
前記検出装置はLiDARである、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 8.
The detection device is an information processing device that is LiDAR.
前記反射体は床である、情報処理装置。 In the information processing device according to any one of claims 1 to 9.
An information processing device in which the reflector is a floor.
前記物体は人である、情報処理装置。 In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 10.
An information processing device in which the object is a person.
反射体の位置に関する情報を取得する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する工程と、
を含む情報処理方法。 The computer
The process of acquiring information about the position of the reflector and
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A step of identifying a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and reflected by the object.
A step of processing the first signal using the information about the position of the reflector and generating information about the object by processing the second signal.
Information processing methods including.
反射体の位置に関する情報を取得する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する工程と、
を実行させるためのプログラム。 On the computer
The process of acquiring information about the position of the reflector and
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A step of identifying a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and reflected by the object.
A step of processing the first signal using the information about the position of the reflector and generating information about the object by processing the second signal.
A program to execute.
情報処理装置と、
を備え、
前記情報処理装置は、
反射体の位置に関する情報を取得する取得部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する特定部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する生成部と、
を備える、検出システム。 With the detector
Information processing device and
With
The information processing device
An acquisition unit that acquires information about the position of the reflector,
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the above-mentioned A specific unit that identifies a second signal that indicates an electromagnetic wave that is emitted from the detection device and is emitted from the object without being reflected by the reflector and is reflected by the object.
A generation unit that processes the first signal using the information about the position of the reflector and generates information about the object by processing the second signal.
A detection system.
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