JP2021021639A - Information processing apparatus, information processing method, program, recording medium, and detection system - Google Patents

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JP2021021639A JP2019138468A JP2019138468A JP2021021639A JP 2021021639 A JP2021021639 A JP 2021021639A JP 2019138468 A JP2019138468 A JP 2019138468A JP 2019138468 A JP2019138468 A JP 2019138468A JP 2021021639 A JP2021021639 A JP 2021021639A
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誠 倉橋
Makoto Kurahashi
誠 倉橋
康夫 城▲崎▼
Yasuo Shirosaki
康夫 城▲崎▼
清水 晃
Akira Shimizu
清水  晃
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Abstract

To detect an object located near a reflector in a new method.SOLUTION: An acquisition unit 210 acquires information on a location of a reflector 300. A specifying unit 220 specifies a first signal indicating electromagnetic waves emitted from a detection apparatus 100 to at least one of an object O and a background section 310 through reflection of the reflector 300 and reflected by at least one of the object O and the background section 310, by use of the information on the location of the reflector 300, and specifies a second signal indicating electromagnetic waves emitted from the detection apparatus 100 to at least one of the object O and the background section 310 without reflection of the reflector 300 and reflected by at least one of the object O and the background section 310. A generation unit 230 processes the first signal by use of the information on the location of the reflector 300, and processes the second signal, to generate information on at least one of the object O and the background section 310.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、情報処理装置、情報処理方法、プログラム、記録媒体及び検出システムに関する。 The present invention relates to an information processing device, an information processing method, a program, a recording medium, and a detection system.

近年、光を用いた検出装置によって、人等の物体を検出するための検出システムが開発されている。検出装置は、送信部及び受信部を備えている。送信部から送信された光は、検出装置の外部の物体によって反射されて、受信部に戻る。検出装置は、TOF(Time Of Flight)に基づいて、検出装置から物体までの距離を測定する。 In recent years, a detection system for detecting an object such as a person has been developed by a detection device using light. The detection device includes a transmission unit and a reception unit. The light transmitted from the transmitter is reflected by an object outside the detector and returns to the receiver. The detection device measures the distance from the detection device to the object based on TOF (Time Of Flight).

特許文献1には、検出システムの一例について記載されている。この検出システムは、物体(例えば、人)が通過する領域の背後に配置されたリフレクタを備えている。検出装置は、物体からの反射光だけでなく、リフレクタからの反射光も用いることで、物体の有無を検出する。 Patent Document 1 describes an example of a detection system. The detection system includes a reflector located behind an area through which an object (eg, a person) passes. The detection device detects the presence or absence of an object by using not only the reflected light from the object but also the reflected light from the reflector.

特開2018−44919号公報JP-A-2018-44919

本発明者は、ワックス等によって鏡面反射を有する床上に存在する人等、反射体の近傍に存在する物体を、光等の電磁波を用いた検出装置によって検出する新規な方法を検討した。 The present inventor has investigated a novel method for detecting an object existing in the vicinity of a reflector, such as a person existing on a floor having specular reflection by wax or the like, by a detection device using electromagnetic waves such as light.

本発明が解決しようとする課題としては、反射体の近傍に存在する物体を新規な方法で検出することが一例として挙げられる。 One example of the problem to be solved by the present invention is to detect an object existing in the vicinity of the reflector by a novel method.

請求項1に記載の発明は、
反射体の位置に関する情報を取得する取得部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する特定部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する生成部と、
を備える情報処理装置である。
The invention according to claim 1
An acquisition unit that acquires information about the position of the reflector,
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A specific unit that identifies a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and is reflected by the object.
A generation unit that processes the first signal using the information about the position of the reflector and generates information about the object by processing the second signal.
It is an information processing device provided with.

請求項12に記載の発明は、
コンピュータが、
反射体の位置に関する情報を取得する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する工程と、
を含む情報処理方法である。
The invention according to claim 12
The computer
The process of acquiring information about the position of the reflector and
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A step of identifying a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and reflected by the object.
A step of processing the first signal using the information about the position of the reflector and generating information about the object by processing the second signal.
It is an information processing method including.

請求項13に記載の発明は、
コンピュータに、
反射体の位置に関する情報を取得する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する工程と、
を実行させるためのプログラムである。
The invention according to claim 13
On the computer
The process of acquiring information about the position of the reflector and
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A step of identifying a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and reflected by the object.
A step of processing the first signal using the information about the position of the reflector and generating information about the object by processing the second signal.
It is a program to execute.

請求項14に記載の発明は、
請求項13に記載のプログラムを格納した、コンピュータが読み取り可能な記録媒体である。
The invention according to claim 14
A computer-readable recording medium containing the program according to claim 13.

請求項15に記載の発明は、
検出装置と、
情報処理装置と、
を備え、
前記情報処理装置は、
反射体の位置に関する情報を取得する取得部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する特定部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する生成部と、
を備える、検出システムである。
The invention according to claim 15
With the detector
Information processing device and
With
The information processing device
An acquisition unit that acquires information about the position of the reflector,
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the above. A specific unit that identifies a second signal that indicates an electromagnetic wave that is emitted from the detection device and is emitted from the object without being reflected by the reflector and is reflected by the object.
A generation unit that processes the first signal using the information about the position of the reflector and generates information about the object by processing the second signal.
It is a detection system including.

実施形態に係る検出システムを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the detection system which concerns on embodiment. 実施形態に係る情報処理方法を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the information processing method which concerns on embodiment. 実施例1において、反射体の位置に関する情報の取得方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the acquisition method of the information about the position of the reflector in Example 1. FIG. 図3に示す方法において検出装置によって検出された点群の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the point group detected by the detection apparatus in the method shown in FIG. 実施例2に係る検出装置を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the detection apparatus which concerns on Example 2. FIG. 実施例3に係る情報処理装置のハードウエア構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the hardware configuration of the information processing apparatus which concerns on Example 3. FIG.

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In all drawings, similar components are designated by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.

図1は、実施形態に係る検出システム10を説明するための図である。図2は、実施形態に係る情報処理方法を説明するためのフローチャートである。 FIG. 1 is a diagram for explaining the detection system 10 according to the embodiment. FIG. 2 is a flowchart for explaining an information processing method according to an embodiment.

図1及び図2を用いて、検出システム10の概要を説明する。検出システム10は、検出装置100及び情報処理装置200を備えている。情報処理装置200は、取得部210、特定部220及び生成部230を備えている。取得部210は、反射体300の位置に関する情報を取得する(ステップS10)。特定部220は、反射体300の位置に関する情報を用いて、検出装置100から照射されて反射体300による反射を経て物体O及び背景部310の少なくとも一方に照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波3)を示す第1信号を特定するとともに、検出装置100から照射されて反射体300による反射を経ないで物体O及び背景部310の少なくとも一方に照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波(図1に示す例では、電磁波4から電磁波8)を示す第2信号を特定する(ステップS20)。生成部230は、反射体300の位置に関する情報を用いて第1信号を処理するとともに、第2信号を処理することにより、物体O及び背景部310の少なくとも一方に関する情報を生成する(ステップS30)。 The outline of the detection system 10 will be described with reference to FIGS. 1 and 2. The detection system 10 includes a detection device 100 and an information processing device 200. The information processing device 200 includes an acquisition unit 210, a specific unit 220, and a generation unit 230. The acquisition unit 210 acquires information regarding the position of the reflector 300 (step S10). Using the information regarding the position of the reflector 300, the specific portion 220 is irradiated from the detection device 100, reflected by the reflector 300, and then irradiated to at least one of the object O and the background portion 310, and the object O and the background portion 310 are irradiated. The first signal indicating the electromagnetic wave reflected by at least one of them (in the example shown in FIG. 1, the electromagnetic wave 1 to the electromagnetic wave 3) is specified, and the object O and the object O and the object O and the object O are irradiated from the detection device 100 and are not reflected by the reflector 300. A second signal indicating an electromagnetic wave (in the example shown in FIG. 1, electromagnetic waves 4 to 8) that is irradiated to at least one of the background portions 310 and reflected by the object O and at least one of the background portions 310 is specified (step S20). .. The generation unit 230 processes the first signal using the information regarding the position of the reflector 300, and generates information regarding at least one of the object O and the background unit 310 by processing the second signal (step S30). ..

本実施形態によれば、反射体300の近傍に存在する物体O及び背景部310の少なくとも一方が新規な方法で検出される。具体的には、本実施形態においては、物体O及び背景部310の少なくとも一方に直接照射された電磁波だけでなく、反射体300による反射を経て物体O及び背景部310の少なくとも一方に照射された電磁波も用いて、物体O及び背景部310の少なくとも一方が検知されている。 According to the present embodiment, at least one of the object O and the background portion 310 existing in the vicinity of the reflector 300 is detected by a novel method. Specifically, in the present embodiment, not only the electromagnetic wave directly irradiated to at least one of the object O and the background portion 310, but also at least one of the object O and the background portion 310 is irradiated through reflection by the reflector 300. At least one of the object O and the background portion 310 is detected by using electromagnetic waves.

図1を用いて、検出システム10の詳細を説明する。 The details of the detection system 10 will be described with reference to FIG.

検出装置100は、例えば、LiDAR(Light Detector And Ranginig)である。この例において、検出装置100は、光、例えば、赤外線を照射する。その他の例として、検出装置100は、RADAR(RAdio And Detector And Ranging)であってもよい。この例において、検出装置100は、電波を照射する。 The detection device 100 is, for example, LiDAR (Light Detector And Ranging). In this example, the detection device 100 irradiates light, for example, infrared rays. As another example, the detection device 100 may be RADAR (Radio And Detector And Ringing). In this example, the detection device 100 irradiates radio waves.

図1では、検出装置100は、模式的に、8つの電磁波、すなわち、電磁波1から電磁波8を照射している。電磁波1から電磁波3は、反射体300による反射を経て物体Oに照射されている。電磁波4から電磁波6は、反射体300による反射を経ないで物体Oに直接照射されている。電磁波7及び電磁波8は、反射体300による反射及び物体Oへの照射を経ないで背景部310に照射されている。各電磁波は、検出装置100から、図1の実線で示された経路を経由して、図1の実線丸で示された被照射位置まで達し、当該被照射位置から当該経路を経由して検出装置100に戻る。検出装置100は、検出装置100から電磁波が照射された時間から検出装置100に電磁波が戻った時間までの時間差に基づいて、電磁波の経路の距離をTOF(Time Of Flight)にしたがって算出する。 In FIG. 1, the detection device 100 schematically irradiates eight electromagnetic waves, that is, electromagnetic waves 1 to electromagnetic waves 8. The electromagnetic waves 1 to 3 are reflected on the object O by the reflector 300. The electromagnetic waves 4 to 6 are directly applied to the object O without being reflected by the reflector 300. The electromagnetic wave 7 and the electromagnetic wave 8 irradiate the background portion 310 without being reflected by the reflector 300 and irradiating the object O. Each electromagnetic wave reaches the irradiated position indicated by the solid line circle in FIG. 1 from the detection device 100 via the path shown by the solid line in FIG. 1, and is detected from the irradiated position via the path. Return to device 100. The detection device 100 calculates the distance of the electromagnetic wave path according to TOF (Time Of Flight) based on the time difference from the time when the electromagnetic wave is irradiated from the detection device 100 to the time when the electromagnetic wave returns to the detection device 100.

電磁波1から電磁波3については、検出装置100から物体Oまでの電磁波の実際の経路の長さは、検出装置100から、図1の実線及び破線で示された経路を経由して、図1の破線丸で示された擬似的被照射位置までの擬似的経路の長さと等しくなる。図1の破線丸で示された擬似的被照射位置は、反射体300に関して、電磁波の実際の被照射位置と鏡像対称の位置にある。反射体300による電磁波の反射を考慮せずに電磁波1から電磁波3の上記時間差を用いて検出される物体Oは、あたかも、擬似的被照射位置に存在するように検出される。本実施形態においては、反射体300の位置に関する情報を用いて第1信号を処理することによって、物体Oの実際の位置が検出される。 For electromagnetic waves 1 to 3, the actual length of the electromagnetic wave path from the detection device 100 to the object O is determined in FIG. 1 from the detection device 100 via the path shown by the solid line and the broken line in FIG. It is equal to the length of the pseudo-path to the pseudo-irradiated position indicated by the dashed circle. The pseudo-irradiated position indicated by the broken line circle in FIG. 1 is a position symmetrical with respect to the actual irradiated position of the electromagnetic wave with respect to the reflector 300. The object O detected by using the time difference between the electromagnetic wave 1 and the electromagnetic wave 3 without considering the reflection of the electromagnetic wave by the reflector 300 is detected as if it exists at a pseudo-irradiated position. In the present embodiment, the actual position of the object O is detected by processing the first signal using the information about the position of the reflector 300.

電磁波4から電磁波6は、物体Oが存在しない場合、図1の破線で示された経路を辿り得る。物体Oが存在しない場合、電磁波4は、反射体300(反射体300と背景部310との間の境界)に到達し、電磁波5及び電磁波6は、背景部310に到達する。 The electromagnetic waves 4 to 6 can follow the path shown by the broken line in FIG. 1 in the absence of the object O. In the absence of the object O, the electromagnetic wave 4 reaches the reflector 300 (the boundary between the reflector 300 and the background 310), and the electromagnetic waves 5 and 6 reach the background 310.

図1に示す例において、反射体300は床であり、物体Oは人であり、背景部310は、壁である。検出装置100は、例えば、建物の部屋の内部に設けられる。反射体300としての床は、検出装置100から照射される電磁波をワックス等によって鏡面反射する。すなわち、反射体300は、検出装置100から照射される電磁波に対して実質的に鏡面として機能する。本実施形態は、床とは異なる反射体300にも適用可能であり、人とは異なる物体Oにも適用可能である。本実施形態は、背景部310が存在しない場合にも適用可能であり、壁とは異なる背景部310にも適用可能である。本実施形態では、反射体300による反射を経た電磁波及び反射体300による反射を経ない電磁波を用いて物体O及び背景部310の双方を検出することができる。しかしながら、本実施形態は、反射体300による反射を経た電磁波及び反射体300による反射を経ない電磁波を用いて、物体O及び背景部310のうちの一方のみを検出する場合にも適用可能である。 In the example shown in FIG. 1, the reflector 300 is a floor, the object O is a person, and the background portion 310 is a wall. The detection device 100 is provided, for example, inside a room of a building. The floor as the reflector 300 mirror-reflects the electromagnetic waves emitted from the detection device 100 by wax or the like. That is, the reflector 300 substantially functions as a mirror surface with respect to the electromagnetic wave emitted from the detection device 100. This embodiment can be applied to a reflector 300 different from the floor, and can be applied to an object O different from a human. This embodiment can be applied even when the background portion 310 does not exist, and can also be applied to the background portion 310 different from the wall. In the present embodiment, both the object O and the background portion 310 can be detected by using the electromagnetic wave reflected by the reflector 300 and the electromagnetic wave not reflected by the reflector 300. However, this embodiment is also applicable to the case where only one of the object O and the background portion 310 is detected by using the electromagnetic wave reflected by the reflector 300 and the electromagnetic wave not reflected by the reflector 300. ..

次に、図2のステップS10からステップS30を順に詳細に説明する。 Next, steps S10 to S30 of FIG. 2 will be described in detail in order.

ステップS10において、反射体300の位置に関する情報は、例えば、反射体300を含む領域(例えば、反射体300及び背景部310)内における電磁波の到達位置を示す情報と、反射体300の各到達位置における向きを示す情報と、を含んでいる。これらの情報は、例えば、後述するように、物体Oが存在しない状態での検出装置100のキャリブレーションによって取得される。その他の例として、反射体300を含む領域(例えば、反射体300及び背景部310)に対する検出装置100の相対的位置と、検出装置100からの電磁波の照射方向と、が既知のときは、上記情報を情報処理装置200に予め読み込ませていてもよい。 In step S10, the information regarding the position of the reflector 300 includes, for example, information indicating the arrival position of the electromagnetic wave in the region including the reflector 300 (for example, the reflector 300 and the background portion 310) and each arrival position of the reflector 300. Includes information indicating the orientation in. This information is acquired, for example, by calibrating the detection device 100 in the absence of the object O, as will be described later. As another example, when the relative position of the detection device 100 with respect to the region including the reflector 300 (for example, the reflector 300 and the background portion 310) and the irradiation direction of the electromagnetic wave from the detection device 100 are known, the above The information may be read in advance by the information processing apparatus 200.

反射体300を含む領域(例えば、反射体300及び背景部310)内における電磁波の到達位置を示す情報を用いることで、検出装置100から照射される電磁波を、検出装置100から反射体300に向けて照射される電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波4)と、検出装置100から反射体300とは異なる領域(例えば、背景部310)に向けて照射される電磁波(図1に示す例では、電磁波5から電磁波8)と、に分類することができる。 By using the information indicating the arrival position of the electromagnetic wave in the region including the reflector 300 (for example, the reflector 300 and the background 310), the electromagnetic wave emitted from the detection device 100 is directed from the detection device 100 toward the reflector 300. (In the example shown in FIG. 1, electromagnetic waves 1 to 4) and electromagnetic waves emitted from the detection device 100 toward a region different from the reflector 300 (for example, the background portion 310) (in FIG. 1). In the example shown, it can be classified into electromagnetic waves 5 to 8).

反射体300の各到達位置における向きを示す情報を用いることで、反射体300による電磁波の反射方向を算出することができる。図1では、説明の簡易のため、反射体300は、水平面となっており、反射体300内の位置によらず上方を向いている。しかしながら、反射体300は、例えば、凹凸を有する面であってもよいし、又は反射体300内の位置に応じて異なる方向を向いていてもよい。反射体300が凹凸を有する面であり、かつ反射体300内の位置に応じて異なる方向を向いていても、上記情報を用いることで、反射体300による電磁波の反射方向を各到達位置について算出することができる。 By using the information indicating the direction of the reflector 300 at each arrival position, the direction of reflection of the electromagnetic wave by the reflector 300 can be calculated. In FIG. 1, for the sake of simplicity, the reflector 300 is in a horizontal plane and faces upward regardless of its position in the reflector 300. However, the reflector 300 may be, for example, a surface having irregularities, or may be oriented in a different direction depending on the position in the reflector 300. Even if the reflector 300 is a surface having irregularities and faces different directions depending on the position in the reflector 300, the reflection direction of the electromagnetic wave by the reflector 300 is calculated for each arrival position by using the above information. can do.

ステップS20において、特定部220は、検出装置100から照射される電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波8)を、次のようにして、第1信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波3)及び第2信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波4から電磁波8)に分類する。 In step S20, the identification unit 220 uses the electromagnetic waves emitted from the detection device 100 (electromagnetic waves 1 to 8 in the example shown in FIG. 1) as follows, and the electromagnetic waves of the first signal (example shown in FIG. 1). Then, it is classified into electromagnetic wave 1 to electromagnetic wave 3) and electromagnetic wave of the second signal (in the example shown in FIG. 1, electromagnetic wave 4 to electromagnetic wave 8).

特定部220は、検出装置100から反射体300に向けて照射されて物体Oによって反射された電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波4)を、検出装置100の照射から物体Oへの照射までのこの電磁波の経路(図1に示す例では、検出装置100から物体Oまで延伸する実線)の長さが、検出装置100の照射から反射体300への到達までのこの電磁波の経路(図1に示す例では、検出装置100から反射体300まで延伸する実線)の長さより長い場合、第1信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波3)に分類する。検出装置100の照射から物体Oへの照射までの電磁波の経路の長さは、例えば、検出装置100の検出結果を用いて算出される。検出装置100の照射から反射体300への到達までの電磁波の経路の長さは、例えば、ステップS10における反射体300の位置に関する情報を用いて算出される。 The identification unit 220 transmits an electromagnetic wave (from electromagnetic wave 1 to electromagnetic wave 4 in the example shown in FIG. 1) emitted from the detection device 100 toward the reflector 300 and reflected by the object O from the irradiation of the detection device 100 to the object O. The length of the path of this electromagnetic wave from the irradiation of the detection device 100 (in the example shown in FIG. 1, the solid line extending from the detection device 100 to the object O) is the path of this electromagnetic wave from the irradiation of the detection device 100 to the arrival at the reflector 300. When it is longer than the length of (the solid line extending from the detection device 100 to the reflector 300 in the example shown in FIG. 1), it is classified into the electromagnetic wave of the first signal (in the example shown in FIG. 1, electromagnetic waves 1 to 3). The length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device 100 to the irradiation of the object O is calculated using, for example, the detection result of the detection device 100. The length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device 100 to the arrival at the reflector 300 is calculated by using, for example, the information regarding the position of the reflector 300 in step S10.

特定部220は、検出装置100から反射体300に向けて照射されて物体Oによって反射された電磁波(図1に示す例では、電磁波1から電磁波4)を、検出装置100の照射から物体Oへの照射までのこの電磁波の経路(図1に示す例では、検出装置100から物体Oまで延伸する実線)の長さが、検出装置100の照射から反射体300への到達までのこの電磁波の経路(図1に示す例では、検出装置100から物体Oまで延伸する実線と、物体Oから反射体300まで延びる破線)の長さより短い場合、第2信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波4)に分類する。検出装置100の照射から物体Oへの照射までの電磁波の経路の長さは、例えば、検出装置100の検出結果を用いて算出される。検出装置100の照射から反射体300への到達までの電磁波の経路の長さは、例えば、ステップS10における反射体300の位置に関する情報を用いて算出される。 The identification unit 220 transmits an electromagnetic wave (from electromagnetic wave 1 to electromagnetic wave 4 in the example shown in FIG. 1) emitted from the detection device 100 toward the reflector 300 and reflected by the object O from the irradiation of the detection device 100 to the object O. The length of the path of this electromagnetic wave from the irradiation of the detection device 100 (in the example shown in FIG. 1, the solid line extending from the detection device 100 to the object O) is the path of this electromagnetic wave from the irradiation of the detection device 100 to the arrival at the reflector 300. (In the example shown in FIG. 1, if it is shorter than the length of the solid line extending from the detection device 100 to the object O and the broken line extending from the object O to the reflector 300), the electromagnetic wave of the second signal (in the example shown in FIG. 1, the electromagnetic wave Classify into 4). The length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device 100 to the irradiation of the object O is calculated using, for example, the detection result of the detection device 100. The length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device 100 to the arrival at the reflector 300 is calculated by using, for example, the information regarding the position of the reflector 300 in step S10.

特定部220は、検出装置100から反射体300とは異なる領域(例えば、背景部310)に向けて照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波を第2信号の電磁波(図1に示す例では、電磁波5から電磁波8)に分類する。電磁波が反射体300とは異なる領域に向けて照射されているか否かは、例えば、ステップS10における反射体300の位置に関する情報を用いて判定される。 The identification unit 220 emits an electromagnetic wave emitted from the detection device 100 toward a region different from the reflector 300 (for example, the background unit 310) and reflected by at least one of the object O and the background unit 310 as the electromagnetic wave of the second signal (for example, the electromagnetic wave of the second signal). In the example shown in FIG. 1, it is classified into electromagnetic waves 5 to 8). Whether or not the electromagnetic wave is emitted toward a region different from the reflector 300 is determined by using, for example, information regarding the position of the reflector 300 in step S10.

第1信号の電磁波及び第2信号の電磁波を分類する方法は、上述した例に限定されない。例えば、反射体300による反射によって電磁波の強度が減衰する場合、特定部220は、電磁波の強度に基づいて、第1信号の電磁波及び第2信号の電磁波を分類してもよい。具体的には、第1信号の電磁波の強度は、反射体300による反射によって、第2信号の電磁波の強度より低くなりやすい。したがって、特定部220は、検出装置100から照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波を、検出装置100によって検出されたこの電磁波の強度が基準強度以下であるとき、第1信号の電磁波に分類する。さらに、特定部220は、検出装置100から照射されて物体O及び背景部310の少なくとも一方によって反射された電磁波を、検出装置100によって検出されたこの電磁波の強度が基準強度超であるとき、第2信号の電磁波に分類する。 The method of classifying the electromagnetic wave of the first signal and the electromagnetic wave of the second signal is not limited to the above-mentioned example. For example, when the intensity of the electromagnetic wave is attenuated by the reflection by the reflector 300, the specific unit 220 may classify the electromagnetic wave of the first signal and the electromagnetic wave of the second signal based on the intensity of the electromagnetic wave. Specifically, the intensity of the electromagnetic wave of the first signal tends to be lower than the intensity of the electromagnetic wave of the second signal due to the reflection by the reflector 300. Therefore, when the electromagnetic wave emitted from the detection device 100 and reflected by at least one of the object O and the background unit 310 is equal to or less than the reference intensity of the electromagnetic wave detected by the detection device 100, the specific unit 220 is the first. Classify as one signal electromagnetic wave. Further, the specific unit 220 receives an electromagnetic wave emitted from the detection device 100 and reflected by at least one of the object O and the background unit 310 when the intensity of the electromagnetic wave detected by the detection device 100 exceeds the reference intensity. Classify as electromagnetic waves of 2 signals.

第1信号及び第2信号は、検出装置100によって検出される電磁波の生データであってもよいし、又は生データを処理することで生成されるデータであってもよい。第1信号及び第2信号のデータ形式は、出力された信号によって示される電磁波が、反射体300による反射を経ているか、又は反射体300による反射を経ていないかを特定することができるものであれば、特定の形式に限定されない。第1信号及び第2信号は、検出装置100から、例えば、電気信号として出力される。 The first signal and the second signal may be the raw data of the electromagnetic wave detected by the detection device 100, or may be the data generated by processing the raw data. The data format of the first signal and the second signal can specify whether the electromagnetic wave indicated by the output signal has been reflected by the reflector 300 or has not been reflected by the reflector 300. For example, it is not limited to a specific format. The first signal and the second signal are output from the detection device 100 as, for example, an electric signal.

ステップS30において、物体に関する情報は、例えば、物体のプロファイル又は物体のプロファイルから推定される物体の種類である。その他の例として、物体に関する情報は、物体の有無であってもよい。 In step S30, the information about the object is, for example, the profile of the object or the type of object estimated from the profile of the object. As another example, the information about the object may be the presence or absence of the object.

生成部230は、反射体300による第1信号の電磁波の反射方向を算出する。さらに、生成部230は、この反射方向を用いて物体O及び背景部310の少なくとも一方のうちの第1信号の電磁波の被照射位置を算出する。反射体300による第1信号の電磁波の反射方向は、例えば、ステップS10における反射体300の位置に関する情報を用いて算出される。生成部230は、物体O及び背景部310の少なくとも一方のうちの第1信号の電磁波の被照射位置から、物体O及び背景部310の少なくとも一方のプロファイルを推定することができる。 The generation unit 230 calculates the reflection direction of the electromagnetic wave of the first signal by the reflector 300. Further, the generation unit 230 calculates the irradiation position of the electromagnetic wave of the first signal of at least one of the object O and the background unit 310 using this reflection direction. The reflection direction of the electromagnetic wave of the first signal by the reflector 300 is calculated by using, for example, the information regarding the position of the reflector 300 in step S10. The generation unit 230 can estimate the profile of at least one of the object O and the background unit 310 from the irradiation position of the electromagnetic wave of the first signal of at least one of the object O and the background unit 310.

生成部230は、電磁波の複数の被照射位置によって形成されるクラスタを用いて、物体O及び背景部310の少なくとも一方の種類を推定してもよい。生成部230は、電磁波の複数の被照射位置(物体O及び背景部310に形成される複数の被照射位置)を、隣り合う被照射位置の間隔に応じて、物体Oに形成されるクラスタ(図1に示す例では、電磁波1から電磁波6によって形成されるクラスタ)と、物体Oとは異なる領域(背景部310)に形成されるクラスタ(図1に示す例では、電磁波7及び電磁波8によって形成されるクラスタ)と、に分類する。生成部230は、物体Oに形成されるクラスタから、物体Oのプロファイルを推定することができる。同様にして、生成部230は、背景部310に形成されるクラスタから、背景部310のプロファイルを推定することができる。生成部230は、例えば人工知能(例えば、ニュートラルネットワーク)を用いて、物体O及び背景部310の少なくとも一方に形成されるクラスタ(物体O及び背景部310の少なくとも一方のプロファイル)から物体O及び背景部310の少なくとも一方の種類を推定する。本実施形態においては、物体O及び背景部310の少なくとも一方に直接照射された電磁波だけでなく、反射体300による反射を経て物体O及び背景部310の少なくとも一方に照射された電磁波も用いているため、物体O及び背景部310の少なくとも一方の検出に用いられる電磁波の数が多くなっている。したがって、物体O及び背景部310の少なくとも一方の推定の精度を向上させることができる。 The generation unit 230 may estimate at least one type of the object O and the background unit 310 by using a cluster formed by a plurality of irradiation positions of electromagnetic waves. The generation unit 230 is a cluster (a cluster) in which a plurality of irradiated positions of electromagnetic waves (a plurality of irradiated positions formed on the object O and the background portion 310) are formed on the object O according to the distance between adjacent irradiation positions. In the example shown in FIG. 1, a cluster formed by electromagnetic waves 1 to 6 and a cluster formed in a region (background portion 310) different from the object O (in the example shown in FIG. 1, by electromagnetic waves 7 and 8). It is classified into (clusters formed) and. The generation unit 230 can estimate the profile of the object O from the cluster formed on the object O. Similarly, the generation unit 230 can estimate the profile of the background unit 310 from the cluster formed in the background unit 310. The generation unit 230 uses artificial intelligence (for example, a neutral network) to generate an object O and a background from a cluster (at least one profile of the object O and the background unit 310) formed on the object O and the background unit 310. Estimate at least one type of part 310. In the present embodiment, not only the electromagnetic wave directly radiated to at least one of the object O and the background portion 310, but also the electromagnetic wave radiated to at least one of the object O and the background portion 310 through reflection by the reflector 300 is used. Therefore, the number of electromagnetic waves used for detecting at least one of the object O and the background portion 310 is increasing. Therefore, the accuracy of estimation of at least one of the object O and the background portion 310 can be improved.

反射体300による反射によって電磁波の強度が減衰する場合、生成部230は、反射体300の反射による電磁波の強度の減衰に応じて、検出装置100によって検出される第1信号の電磁波の強度を補正してもよい。例えば、生成部230は、第1信号の電磁波の強度が第2信号の電磁波の強度とほぼ等しくなるように、第1信号の電磁波の強度を補正する。 When the intensity of the electromagnetic wave is attenuated by the reflection by the reflector 300, the generation unit 230 corrects the intensity of the electromagnetic wave of the first signal detected by the detection device 100 according to the attenuation of the intensity of the electromagnetic wave by the reflection of the reflector 300. You may. For example, the generation unit 230 corrects the intensity of the electromagnetic wave of the first signal so that the intensity of the electromagnetic wave of the first signal is substantially equal to the intensity of the electromagnetic wave of the second signal.

(実施例1)
図3は、実施例1において、反射体300の位置に関する情報の取得方法を説明するための図である。図4は、図3に示す方法において検出装置100によって検出された点群の一例を示す図である。
(Example 1)
FIG. 3 is a diagram for explaining a method of acquiring information regarding the position of the reflector 300 in the first embodiment. FIG. 4 is a diagram showing an example of a point cloud detected by the detection device 100 in the method shown in FIG.

本実施例においては、以下のようにして、取得部210は、検出装置100から反射体300を含む領域(反射体300及び背景部310)に向けて照射された電磁波によって生成された点群の強度分布を用いて、反射体300の位置に関する情報を取得する。 In this embodiment, as follows, the acquisition unit 210 is a group of points generated by electromagnetic waves emitted from the detection device 100 toward the region including the reflector 300 (reflector 300 and background unit 310). The intensity distribution is used to obtain information about the position of the reflector 300.

図3においては、図1に示した物体Oが存在しない状態で検出装置100から電磁波が照射されている。電磁波1から電磁波3は、反射体300による反射を経て背景部310に照射されている。電磁波4から電磁波8は、反射体300による反射を経ないで背景部310に直接照射されている(電磁波4は、反射体300と背景部310との間の境界に照射されている。)。 In FIG. 3, an electromagnetic wave is irradiated from the detection device 100 in a state where the object O shown in FIG. 1 does not exist. The electromagnetic waves 1 to 3 are reflected by the reflector 300 and irradiated to the background portion 310. The electromagnetic waves 4 to 8 are directly applied to the background portion 310 without being reflected by the reflector 300 (the electromagnetic wave 4 is applied to the boundary between the reflector 300 and the background portion 310).

電磁波1から電磁波3については、検出装置100から背景部310までの電磁波の実際の経路(図1の実線)の長さは、検出装置100から、図1の実線及び破線で示された経路を経由して、図1の破線丸で示された擬似的被照射位置までの擬似的経路の長さと等しくなる。図1の破線丸で示された擬似的被照射位置は、反射体300に関して、電磁波の実際の被照射位置と鏡像対称の位置にある。反射体300による電磁波の反射を考慮しないとき、反射体300による反射を経た電磁波によって検出される背景部310は、あたかも、擬似的被照射位置に存在するように検出される。 For electromagnetic waves 1 to 3, the length of the actual path of the electromagnetic wave (solid line in FIG. 1) from the detection device 100 to the background portion 310 is the path shown by the solid line and the broken line in FIG. 1 from the detection device 100. Via, it becomes equal to the length of the pseudo path to the pseudo-irradiated position indicated by the broken line circle in FIG. The pseudo-irradiated position indicated by the broken line circle in FIG. 1 is a position symmetrical with respect to the actual irradiated position of the electromagnetic wave with respect to the reflector 300. When the reflection of the electromagnetic wave by the reflector 300 is not taken into consideration, the background portion 310 detected by the electromagnetic wave reflected by the reflector 300 is detected as if it exists at a pseudo-irradiated position.

図4において、破線丸は、反射体300による反射を経て背景部310に照射された電磁波の点群を示しており、実線丸は、反射体300による反射を経ないで背景部310に直接照射された電磁波の点群を示している。上述したように、反射体300による反射を考慮しないとき、破線丸によって示される点群及び実線丸によって示される点群は、あたかも、同一平面上に存在するように見える。しかしながら、反射体300による反射によって電磁波の強度が減衰する場合、破線丸によって示される点群の電磁波の強度は、実線丸によって示される点群の電磁波の強度より弱くなる。したがって、点群の電磁波の強度分布に基づいて、図4の破線で示されるように、反射体300による反射を経ないで背景部310に直接照射された電磁波の点群の位置と、反射体300による反射を経て背景部310に照射された電磁波の点群の位置と、を互いに隔てる境界、すなわち、反射体300と背景部310とを互いに隔てる境界が画定される。さらに、反射体300と背景部310とが互いに直交していることが既知のときは、上記境界を挟んで互いに隔てられている領域は、互いに直交しているものと判断することができる。このようにして、取得部210は、反射体300の位置に関する情報を取得する。 In FIG. 4, the broken line circles indicate a point cloud of electromagnetic waves radiated to the background portion 310 after being reflected by the reflector 300, and the solid line circles directly irradiate the background portion 310 without being reflected by the reflector 300. It shows a point cloud of electromagnetic waves. As described above, when the reflection by the reflector 300 is not taken into consideration, the point cloud indicated by the broken line circle and the point cloud indicated by the solid line circle appear to exist on the same plane. However, when the intensity of the electromagnetic wave is attenuated by the reflection by the reflector 300, the intensity of the electromagnetic wave of the point group indicated by the broken line circle is weaker than the intensity of the electromagnetic wave of the point group indicated by the solid line circle. Therefore, based on the intensity distribution of the electromagnetic wave of the point group, as shown by the broken line in FIG. 4, the position of the point group of the electromagnetic wave directly irradiated to the background portion 310 without being reflected by the reflector 300 and the reflector. A boundary that separates the position of the point group of the electromagnetic wave irradiated to the background portion 310 through reflection by the 300 and the boundary that separates the reflector 300 and the background portion 310 from each other is defined. Further, when it is known that the reflector 300 and the background portion 310 are orthogonal to each other, it can be determined that the regions separated from each other with the boundary thereof are orthogonal to each other. In this way, the acquisition unit 210 acquires information regarding the position of the reflector 300.

(実施例2)
図5は、実施例2に係る検出装置100を説明するための図である。
(Example 2)
FIG. 5 is a diagram for explaining the detection device 100 according to the second embodiment.

検出装置100は、送信部110、受信部120、可動反射部130及びビームスプリッタ140を備えている。送信部110は、電磁波、例えば、光又は電波を照射する。送信部110は、例えば、レーザダイオード(LD)である。受信部120は、例えば、アバランシェフォトダイオード(APD)である。可動反射部130は、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラー又はポリゴンミラーである。 The detection device 100 includes a transmission unit 110, a reception unit 120, a movable reflection unit 130, and a beam splitter 140. The transmission unit 110 irradiates an electromagnetic wave, for example, light or a radio wave. The transmission unit 110 is, for example, a laser diode (LD). The receiving unit 120 is, for example, an avalanche photodiode (APD). The movable reflection unit 130 is, for example, a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirror or a polygon mirror.

送信部110から送信された電磁波は、ビームスプリッタ140によって可動反射部130に向けて反射され、可動反射部130によって検出装置100の外部に向けて反射される。検出装置100の外部に向かった電磁波は、検出装置100の外部の物体(例えば、物体O又は背景部200)によって反射されて、検出装置100に向けて戻る。検出装置100に戻った光は、可動反射部130によってビームスプリッタ140に向けて反射され、ビームスプリッタ140を透過して受信部120によって受信される。検出装置100は、TOF(Time Of Flight)に基づいて、検出装置100から検出装置100の外部の物体(例えば、物体O又は背景部200)までの距離を測定することができる。具体的には、検出装置100は、送信部110による電磁波の送信から受信部120による電磁波の受信までの時間に基づいて、上記距離を測定する。 The electromagnetic wave transmitted from the transmission unit 110 is reflected by the beam splitter 140 toward the movable reflection unit 130, and is reflected by the movable reflection unit 130 toward the outside of the detection device 100. The electromagnetic wave directed to the outside of the detection device 100 is reflected by an object (for example, the object O or the background portion 200) outside the detection device 100 and returns to the detection device 100. The light returned to the detection device 100 is reflected by the movable reflecting unit 130 toward the beam splitter 140, passes through the beam splitter 140, and is received by the receiving unit 120. The detection device 100 can measure the distance from the detection device 100 to an object (for example, the object O or the background portion 200) outside the detection device 100 based on the TOF (Time Of Flight). Specifically, the detection device 100 measures the distance based on the time from the transmission of the electromagnetic wave by the transmitting unit 110 to the reception of the electromagnetic wave by the receiving unit 120.

(実施例3)
図6は、実施例3に係る情報処理装置200のハードウエア構成の一例を示す図である。
(Example 3)
FIG. 6 is a diagram showing an example of the hardware configuration of the information processing apparatus 200 according to the third embodiment.

情報処理装置200の主な構成は、集積回路を用いて実現される。この集積回路は、バス201、プロセッサ202、メモリ203、ストレージデバイス204、入出力インタフェース205及びネットワークインタフェース206を有する。 The main configuration of the information processing apparatus 200 is realized by using an integrated circuit. This integrated circuit includes a bus 201, a processor 202, a memory 203, a storage device 204, an input / output interface 205, and a network interface 206.

バス201は、プロセッサ202、メモリ203、ストレージデバイス204、入出力インタフェース205、及びネットワークインタフェース206が、相互にデータを送受信するためのデータ伝送路である。ただし、プロセッサ202などを互いに接続する方法は、バス接続に限定されない。 The bus 201 is a data transmission line for the processor 202, the memory 203, the storage device 204, the input / output interface 205, and the network interface 206 to transmit and receive data to and from each other. However, the method of connecting the processors 202 and the like to each other is not limited to the bus connection.

プロセッサ202は、マイクロプロセッサなどを用いて実現される演算処理装置である。 The processor 202 is an arithmetic processing unit realized by using a microprocessor or the like.

メモリ203は、RAM(Random Access Memory)などを用いて実現されるメモリである。 The memory 203 is a memory realized by using a RAM (Random Access Memory) or the like.

ストレージデバイス204は、ROM(Read Only Memory)やフラッシュメモリなどを用いて実現されるストレージデバイスである。 The storage device 204 is a storage device realized by using a ROM (Read Only Memory), a flash memory, or the like.

入出力インタフェース205は、情報処理装置200を周辺デバイスと接続するためのインタフェースである。 The input / output interface 205 is an interface for connecting the information processing device 200 to peripheral devices.

ネットワークインタフェース206は、情報処理装置200を通信網に接続するためのインタフェースである。ネットワークインタフェース206が通信網に接続する方法は、無線接続であってもよいし、又は有線接続であってもよい。情報処理装置200は、ネットワークインタフェース206を介して、情報処理装置200に接続される。 The network interface 206 is an interface for connecting the information processing apparatus 200 to the communication network. The method of connecting the network interface 206 to the communication network may be a wireless connection or a wired connection. The information processing device 200 is connected to the information processing device 200 via the network interface 206.

ストレージデバイス204は、情報処理装置200の各機能要素を実現するためのプログラムを記憶している。プロセッサ202は、このプログラムをメモリ203に読み出して実行することで、情報処理装置200の各機能を実現する。 The storage device 204 stores a program for realizing each functional element of the information processing device 200. The processor 202 realizes each function of the information processing apparatus 200 by reading this program into the memory 203 and executing it.

なお、上記した集積回路のハードウエア構成は図6に示した構成に限定されない。例えば、プログラムはメモリ203に格納されてもよい。この場合、集積回路は、ストレージデバイス204を備えていなくてもよい。 The hardware configuration of the integrated circuit described above is not limited to the configuration shown in FIG. For example, the program may be stored in memory 203. In this case, the integrated circuit may not include the storage device 204.

本実施例に係るプログラムは、コンピュータに読み取り可能な記録媒体に記録されていてもよい。記録媒体は、特定の態様に限定されず、例えば、光ディスク又はハードディスクにしてもよい。 The program according to this embodiment may be recorded on a computer-readable recording medium. The recording medium is not limited to a specific aspect, and may be, for example, an optical disk or a hard disk.

以上、図面を参照して実施形態及び実施例について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。 Although the embodiments and examples have been described above with reference to the drawings, these are examples of the present invention, and various configurations other than the above can be adopted.

10 検出システム
100 検出装置
110 送信部
120 受信部
130 可動反射部
140 ビームスプリッタ
200 情報処理装置
200 背景部
201 バス
202 プロセッサ
203 メモリ
204 ストレージデバイス
205 入出力インタフェース
206 ネットワークインタフェース
210 取得部
220 特定部
230 生成部
300 反射体
310 背景部
O 物体
10 Detection system 100 Detection device 110 Transmission unit 120 Reception unit 130 Movable reflection unit 140 Beam splitter 200 Information processing device 200 Background unit 201 Bus 202 Processor 203 Memory 204 Storage device 205 Input / output interface 206 Network interface 210 Acquisition unit 220 Specific unit 230 Generation Part 300 Reflector 310 Background part O Object

Claims (15)

反射体の位置に関する情報を取得する取得部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する特定部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する生成部と、
を備える情報処理装置。
An acquisition unit that acquires information about the position of the reflector,
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A specific unit that identifies a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and is reflected by the object.
A generation unit that processes the first signal using the information about the position of the reflector and generates information about the object by processing the second signal.
Information processing device equipped with.
請求項1に記載の情報処理装置において、
前記特定部は、前記検出装置から前記反射体に向けて照射されて前記物体によって反射された電磁波を、
前記検出装置の照射から前記物体への照射までの前記電磁波の経路の長さが、前記検出装置の照射から前記反射体への到達までの前記電磁波の経路の長さより長い場合、前記第1信号の電磁波に、
前記検出装置の照射から前記物体への照射までの前記電磁波の経路の長さが、前記検出装置の照射から前記反射体への到達までの前記電磁波の経路の長さより短い場合、前記第2信号の電磁波に、
分類する、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to claim 1,
The specific unit emits electromagnetic waves emitted from the detection device toward the reflector and reflected by the object.
When the length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device to the irradiation of the object is longer than the length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device to the arrival at the reflector, the first signal To the electromagnetic waves of
When the length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device to the irradiation of the object is shorter than the length of the path of the electromagnetic wave from the irradiation of the detection device to the arrival at the reflector, the second signal. To the electromagnetic waves of
Information processing device to classify.
請求項1又は2に記載の情報処理装置において、
前記特定部は、前記検出装置から前記反射体とは異なる領域に向けて照射されて前記物体によって反射された電磁波を前記第2信号の前記電磁波に分類する、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to claim 1 or 2.
The specific unit is an information processing device that classifies an electromagnetic wave that is emitted from the detection device toward a region different from the reflector and is reflected by the object into the electromagnetic wave of the second signal.
請求項1から3までのいずれか一項に記載の情報処理装置において、
前記生成部は、前記反射体による前記第1信号の前記電磁波の反射方向を算出し、前記反射方向を用いて前記物体のうちの前記第1信号の前記電磁波の被照射位置を算出する、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The generation unit calculates the reflection direction of the electromagnetic wave of the first signal by the reflector, and calculates the irradiation position of the electromagnetic wave of the first signal in the object using the reflection direction. Processing equipment.
請求項1から4までのいずれか一項に記載の情報処理装置において、
前記生成部は、前記物体のうちの前記電磁波の複数の被照射位置によって形成されるクラスタを用いて、前記物体の種類を推定する、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 4,
The generation unit is an information processing device that estimates the type of the object by using a cluster formed by a plurality of irradiated positions of the electromagnetic wave in the object.
請求項1から5までのいずれか一項に記載の情報処理装置において、
前記生成部は、前記反射体の前記反射による電磁波の強度の減衰に応じて、前記検出装置によって検出される前記第1信号の前記電磁波の強度を補正する、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 5,
The generation unit is an information processing device that corrects the intensity of the electromagnetic wave of the first signal detected by the detection device according to the attenuation of the intensity of the electromagnetic wave due to the reflection of the reflector.
請求項1から6までのいずれか一項に記載の情報処理装置において、
前記取得部は、前記検出装置から前記反射体を含む領域に向けて照射された電磁波によって生成された点群の強度分布を用いて、前記反射体の前記位置に関する前記情報を取得する、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 6,
The information processing unit acquires the information regarding the position of the reflector by using the intensity distribution of the point cloud generated by the electromagnetic wave emitted from the detection device toward the region including the reflector. apparatus.
請求項1から7までのいずれか一項に記載の情報処理装置において、
前記反射体の前記位置に関する前記情報は、前記反射体を含む領域内における電磁波の到達位置を示す情報と、前記反射体の各到達位置における向きを示す情報と、を含む、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 7.
The information processing device including the information indicating the arrival position of the electromagnetic wave in the region including the reflector and the information indicating the direction of the reflector at each arrival position, the information regarding the position of the reflector.
請求項1から8までのいずれか一項に記載の情報処理装置において、
前記検出装置はLiDARである、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 8.
The detection device is an information processing device that is LiDAR.
請求項1から9までのいずれか一項に記載の情報処理装置において、
前記反射体は床である、情報処理装置。
In the information processing device according to any one of claims 1 to 9.
An information processing device in which the reflector is a floor.
請求項1から10までのいずれか一項に記載の情報処理装置において、
前記物体は人である、情報処理装置。
In the information processing apparatus according to any one of claims 1 to 10.
An information processing device in which the object is a person.
コンピュータが、
反射体の位置に関する情報を取得する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する工程と、
を含む情報処理方法。
The computer
The process of acquiring information about the position of the reflector and
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A step of identifying a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and reflected by the object.
A step of processing the first signal using the information about the position of the reflector and generating information about the object by processing the second signal.
Information processing methods including.
コンピュータに、
反射体の位置に関する情報を取得する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する工程と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する工程と、
を実行させるためのプログラム。
On the computer
The process of acquiring information about the position of the reflector and
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the detection is performed. A step of identifying a second signal that indicates an electromagnetic wave that is irradiated from the device and is irradiated to the object without being reflected by the reflector and reflected by the object.
A step of processing the first signal using the information about the position of the reflector and generating information about the object by processing the second signal.
A program to execute.
請求項13に記載のプログラムを格納した、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。 A computer-readable recording medium containing the program according to claim 13. 検出装置と、
情報処理装置と、
を備え、
前記情報処理装置は、
反射体の位置に関する情報を取得する取得部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経て物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第1信号を特定するとともに、前記検出装置から照射されて前記反射体による反射を経ないで前記物体に照射されて前記物体によって反射された電磁波を示す第2信号を特定する特定部と、
前記反射体の前記位置に関する前記情報を用いて前記第1信号を処理するとともに、前記第2信号を処理することにより、前記物体に関する情報を生成する生成部と、
を備える、検出システム。
With the detector
Information processing device and
With
The information processing device
An acquisition unit that acquires information about the position of the reflector,
Using the information about the position of the reflector, the first signal indicating an electromagnetic wave emitted from the detection device, reflected by the reflector, irradiated to the object, and reflected by the object is specified, and the above-mentioned A specific unit that identifies a second signal that indicates an electromagnetic wave that is emitted from the detection device and is emitted from the object without being reflected by the reflector and is reflected by the object.
A generation unit that processes the first signal using the information about the position of the reflector and generates information about the object by processing the second signal.
A detection system.
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