JP2021002137A - 欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出プログラム - Google Patents
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- ソースコードの欠陥箇所候補を検出する欠陥検出装置であって、
前記ソースコードにおける欠陥箇所候補を静的解析により検出する静的解析部と、
前記静的解析部により検出された欠陥箇所候補について具体的処理があるものに対する具体的処理を生成する処理内容生成部と、
前記欠陥箇所候補に対して生成された具体的処理を表示させる表示制御部と、
具体的処理を欠陥箇所候補から除外対象とする指示を受け付け、前記指示を受けた具体的処理を前記欠陥箇所候補の除外対象とすることを示す除外対象情報を記憶させる除外対象追加部と、
を備える欠陥検出装置。 - 前記処理内容生成部により生成された具体的処理が、前記除外対象情報が示す除外対象の具体的処理に対応するか否かを判定する除外判定部をさらに備え、
前記表示制御部は、前記除外判定部により前記除外対象情報が示す除外対象の具体的処理と対応しないと判定された具体的処理について、前記除外対象ではないことを識別可能な態様で表示させる
請求項1に記載の欠陥検出装置。 - 前記除外判定部は、前記除外対象情報が示す除外対象の具体的処理と、生成された具体的処理との等価性をSMTソルバ(Satisfiability Modulo Theories Solver)により判定し、等価性がある場合に、前記具体的処理が、前記除外対象情報が示す除外対象の具体的処理に対応すると判定する
請求項2に記載の欠陥検出装置。 - 前記表示制御部は、前記具体的処理についての実行条件を前記具体的処理と対応付けて表示させる
請求項1に記載の欠陥検出装置。 - 前記表示制御部は、前記除外対象情報が示す除外対象の具体的処理に対応する具体的処理を表示させない、又は除外対象情報が示す除外対象の具体的処理に対応する具体的処理については、除外対象情報が示す除外対象の具体的処理に対応することを識別可能に表示させることにより、具体的処理が前記除外対象ではないことを識別可能な態様で表示させる
請求項2に記載の欠陥検出装置。 - 前記欠陥箇所候補は、変数を含む式であり、前記欠陥箇所候補に対応する具体的処理は、前記変数をより具体的な変数で表した式または、前記変数を具体的な値で表した式又は値である
請求項1に記載の欠陥検出装置。 - 前記処理内容生成部は、前記欠陥箇所候補について記号実行を行うことにより、前記具体的処理を生成する
請求項6に記載の欠陥検出装置。 - 一の欠陥箇所候補から複数の具体的処理を生成した場合に、前記除外対象追加部は、前記具体的処理毎に除外対象とするかの指定を受け付け可能である
請求項1に記載の欠陥検出装置。 - ソースコードの欠陥箇所を検出する欠陥検出装置による欠陥検出方法であって、
前記ソースコードにおける欠陥箇所候補を静的解析により検出し、
検出された欠陥箇所候補について具体的処理があるものに対する具体的処理を生成し、
前記欠陥箇所候補に対応する具体的処理を表示させ、
具体的処理を欠陥箇所候補の除外対象とする指示を受け付け、前記指示を受けた具体的処理を前記欠陥箇所候補の除外対象とすることを示す除外対象情報を記憶させる、
欠陥検出方法。 - ソースコードの欠陥箇所を検出する処理を計算機に実行させる欠陥検出プログラムであって、
前記計算機を
前記ソースコードにおける欠陥箇所候補を静的解析により検出する静的解析部と、
前記静的解析部により検出された欠陥箇所候補について具体的処理があるものに対する具体的処理を生成する処理内容生成部と、
前記欠陥箇所候補に対応する具体的処理を表示させる表示制御部と、
具体的処理を欠陥箇所候補から除外対象とする指示を受け付け、前記指示を受けた具体的処理を前記欠陥箇所候補の除外対象とすることを示す除外対象情報を記憶させる除外対象追加部と、
して機能させる欠陥検出プログラム。
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JP2006092475A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Hitachi Software Eng Co Ltd | ソースコードインスペクションシステム |
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JP2016018307A (ja) * | 2014-07-07 | 2016-02-01 | 富士通株式会社 | 開発支援プログラム,開発支援方法及び開発支援装置 |
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