JP2020503118A5 - - Google Patents
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- 230000003287 optical Effects 0.000 claims 6
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- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
Claims (14)
- 対象の組織のレーザ誘起光学破壊によって前記組織を処置するための装置であって、前記装置は、
パルス光ビームを供給するための光源と、
前記パルス光ビームを、前記組織内に位置決めすることができる焦点に集束させるための集束システムと、
フィードバックシステムとを備え、
前記フィードバックシステムは、
前記パルス光ビームによって生成される光及び/又は音声を含む、前記組織からのフィードバック信号を検出することと、
前記光及び/又は音声に基づいて、前記焦点が前記パルス光ビームのパルス期間の間に前記組織内にあったか否かを決定することと
を行う、装置。 - 前記組織からフィードバック信号を検出することは、前記焦点からフィードバック信号を検出することを含む、又は、前記焦点からフィードバック信号を検出することから成る、請求項1に記載の装置。
- 前記フィードバックシステムはさらに、前記フィードバック信号に基づいて、レーザ誘起光学破壊が前記パルス光ビームのパルスにわたって発生したか否かを決定する、請求項1又は2に記載の装置。
- 対象の組織のレーザ誘起光学破壊によって前記組織を処置するための装置であって、前記装置は、
パルス光ビームを供給するための光源と、
前記パルス光ビームを、前記組織内に位置決めすることができる焦点に集束させるための集束システムと、
前記焦点に達する前に、前記パルス光ビームが前記装置から出射することを可能にする光出射窓であって、前記組織に接触するための接触面を有する、光出射窓と、
フィードバックシステムとを備え、
前記フィードバックシステムは、
前記装置、前記光出射窓、及び/又は前記接触面に加えられる接触力又は接触圧力を含む、フィードバック信号を前記組織から検出することと、
前記接触力又は接触圧力に基づいて、前記焦点が前記パルス光ビームのパルス期間の間に前記組織内にあったか否かを決定することと
を行う、装置。 - 前記フィードバックシステムはさらに、
前記パルス光ビームの所定のパルス数についての有効パルスの数をカウントすることであって、前記有効パルスは、
前記焦点が前記組織内にあると決定されたパルス、
前記組織のレーザ誘起光学破壊を引き起こしたと決定されたパルス、及び/又は
前記パルス期間の間に接触圧力が閾値圧力を上回ったパルス
を含む、カウントすることと、
前記有効パルスの数を、前記所定のパルス数と比較することと
を行う、請求項1から4のいずれか一項に記載の装置。 - 前記有効パルスの数を比較することは、前記有効パルスの数と前記所定のパルス数との比を決定することを含む、請求項5に記載の装置。
- 有効性及び/又は処置効率を表す指標を前記装置のユーザに与えるためのユーザインターフェースをさらに備える、請求項5又は6のいずれか一項に記載の装置。
- 前記音声を決定するためのハイドロフォンを備え、前記フィードバックシステムはさらに、レーザ誘起光学破壊が行われた物質の指標を与える前記ハイドロフォンの出力内のスペクトルピークを識別する、請求項1から7のいずれか一項に記載の装置。
- 前記光を検出するためのセンサと、前記フィードバック信号を処理するためのプロセッサとを備える、請求項1から8のいずれか一項に記載の装置。
- 画像センサ及び画像プロセッサを備え、前記画像プロセッサは、レーザ誘起光学破壊が行われた物質の指標を与える前記光の中のスペクトルピークを識別する、請求項1から9のいずれか一項に記載の装置。
- 前記画像プロセッサは、前記組織の彩色のレベルを決定するために、前記画像センサによって検出される光又はキャプチャされる画像を分析する、請求項10に記載の装置。
- 接触力又は接触圧力を決定するためのフィードバックシステムをさらに備える、請求項1から11のいずれか一項に記載の装置。
- 基準圧力を超える前記接触力又は接触圧力が加えられているか否かに関する指標をユーザに与えるための出力システムをさらに備える、請求項12に記載の装置。
- 前記焦点が前記組織内にないとき、又は、前記基準圧力が加えられていないときに、前記パルス光ビームの供給を終了するステップをさらに有する、請求項13に記載の装置。
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