JP2020167882A - Power distribution device and power supply system - Google Patents

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広樹 新田
Hiroki Nitta
広樹 新田
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Abstract

To provide a power distribution device capable of supplying power to a load depending on a peripheral environment.SOLUTION: A power distribution device 50 for distributing power of a power supply 1 to a plurality of loads 21 to 23 comprises: a fuse unit 20 including a semiconductor switch 2a connectable with the power supply 1; a distribution unit 10 including a plurality of semiconductor switches 11a, 12a, 13a corresponding to the plurality of loads 21, 22, 23; a wire harness 3 connecting the fuse unit 20 with the distribution unit 10; a control unit 40 for controlling ON/OFF of the semiconductor switches 11a, 12a, 13a; a current sensor 2c for detecting current flowing through the wire harness 3; and voltage sensors 2d, 11d for detecting voltage at both ends of the wire harness. The control unit 40 determines a state of the wire harness 3 on the basis of detection results of the current sensor and the voltage sensors and, depending on the state of the wire harness 3, controls the semiconductor switches 11a, 12a, 13a.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、電力分配装置及び電力供給システムに関するものである。 The present invention relates to a power distribution device and a power supply system.

電源から複数の負荷へ給電するための給電経路にそれぞれ設けられ、電源から各負荷への給電状態制御する複数の半導体リレーを有するリレーユニットと、リレーユニットの過熱を検出する過熱検出手段と、各半導体リレーを制御して各負荷への給電状態を制御する制御手段と、を備える車載電源制御装置が知られている(例えば特許文献1参照)。 A relay unit having a plurality of semiconductor relays provided in each of the power supply paths for supplying power from the power supply to a plurality of loads and controlling the power supply state from the power supply to each load, and an overheat detection means for detecting overheating of the relay unit, respectively. An in-vehicle power supply control device including a control means for controlling a semiconductor relay to control a power supply state to each load is known (see, for example, Patent Document 1).

この車載電源制御装置において、上記の制御手段は、各半導体リレーを制御して各負荷への給電状態を制御する一方、過熱検出手段により過熱が検出された場合には、複数の負荷のうちの、予め定められた条件に従って決定される駆動中の少なくとも一部の負荷への給電をオフする。 In this in-vehicle power supply control device, the above-mentioned control means controls each semiconductor relay to control the power supply state to each load, and when overheat is detected by the overheat detecting means, among a plurality of loads. , Turn off the power supply to at least a part of the load during driving, which is determined according to the predetermined conditions.

特開2003−72487号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-72487

しかしながら、上記従来技術では、リレーユニットの周囲温度等の周辺環境と関係なく、リレーユニットの過熱を検出しただけで、負荷への給電をオフしてしまう。このため、周辺環境に応じて適切に負荷への電力を供給することができない、という問題がある。 However, in the above-mentioned conventional technique, the power supply to the load is turned off only by detecting the overheating of the relay unit regardless of the surrounding environment such as the ambient temperature of the relay unit. Therefore, there is a problem that the electric power to the load cannot be appropriately supplied according to the surrounding environment.

本発明が解決しようとする課題は、周囲温度等の周辺環境に応じて適切に負荷へ電力を供給することができる電力分配装置、及びこの電力分配装置を備える電力供給システムを提供することである。 An object to be solved by the present invention is to provide a power distribution device capable of appropriately supplying power to a load according to an ambient environment such as an ambient temperature, and a power supply system including the power distribution device. ..

[1]本発明に係る電力分配装置は、電源の電力を複数の負荷に分配する電力分配装置であって、前記電源と電気的に接続可能な第1の半導体スイッチを含む第1の半導体ユニットと、前記複数の負荷に対応する複数の第2の半導体スイッチを含む第2の半導体ユニットと、一端が前記第1の半導体ユニットに接続され、他端が前記第2の半導体ユニットに接続されたワイヤーハーネスと、前記第1の半導体スイッチのオン及びオフと、前記複数の第2の半導体スイッチのオン及びオフを制御する制御ユニットと、前記ワイヤーハーネスに流れる電流を検出する電流センサと、前記ワイヤーハーネスの両端の電圧を検出する電圧センサと、を備え、前記制御ユニットは、前記電流センサの検出結果及び前記電圧センサの検出結果に基づいて、前記ワイヤーハーネスの状態を判定し、前記ワイヤーハーネスの状態に応じて前記複数の第2の半導体スイッチを制御する電力分配装置である。 [1] The power distribution device according to the present invention is a power distribution device that distributes the power of a power source to a plurality of loads, and is a first semiconductor unit including a first semiconductor switch that can be electrically connected to the power source. A second semiconductor unit including a plurality of second semiconductor switches corresponding to the plurality of loads, one end of which is connected to the first semiconductor unit, and the other end of which is connected to the second semiconductor unit. A wire harness, a control unit that controls on / off of the first semiconductor switch, on / off of the plurality of second semiconductor switches, a current sensor that detects a current flowing through the wire harness, and the wire. A voltage sensor for detecting the voltage across the harness is provided, and the control unit determines the state of the wire harness based on the detection result of the current sensor and the detection result of the voltage sensor, and determines the state of the wire harness. It is a power distribution device that controls the plurality of second semiconductor switches according to a state.

[2]上記発明において、前記制御ユニットは、前記ワイヤーハーネスの抵抗値を算出し、算出した前記抵抗値と予め定められた基準値との比較結果に応じて前記ワイヤーハーネスの状態を判定してもよい。 [2] In the above invention, the control unit calculates a resistance value of the wire harness and determines the state of the wire harness according to a comparison result between the calculated resistance value and a predetermined reference value. May be good.

[3]上記発明において、前記制御ユニットは、前記電流センサの検出結果及び前記電圧センサの検出結果を継続的に取得し、前記ワイヤーハーネスの抵抗値を継続的に算出してもよい。 [3] In the above invention, the control unit may continuously acquire the detection result of the current sensor and the detection result of the voltage sensor, and continuously calculate the resistance value of the wire harness.

[4]上記発明において、前記電圧センサは、前記第1の半導体スイッチの高電位側の電圧を検出する第1の電圧センサと、前記複数の第2の半導体スイッチそれぞれの高電位側の電圧を検出する複数の第2の電圧センサを含み、前記制御ユニットは、前記第1の電圧センサの検出結果と前記複数の第2の電圧センサの検出結果を取得し、前記ワイヤーハーネスの両端の電圧を算出してもよい。 [4] In the above invention, the voltage sensor uses a first voltage sensor that detects a voltage on the high potential side of the first semiconductor switch and a voltage on the high potential side of each of the plurality of second semiconductor switches. The control unit includes a plurality of second voltage sensors to be detected, and the control unit acquires the detection result of the first voltage sensor and the detection result of the plurality of second voltage sensors, and obtains the voltage across the wire harness. It may be calculated.

[5]本発明に係る電力供給システムは、電源と、複数の負荷と、上記の電力分配装置を備え、前記電源は、前記第1の半導体スイッチと電気的に接続されており、前記複数の負荷は、前記複数の第2の半導体スイッチとそれぞれ電気的に接続されている電力供給システム。 [5] The power supply system according to the present invention includes a power supply, a plurality of loads, and the power distribution device, and the power supply is electrically connected to the first semiconductor switch, and the plurality of power supplies are electrically connected to the first semiconductor switch. The load is a power supply system that is electrically connected to each of the plurality of second semiconductor switches.

本発明によれば、ワイヤーハーネスの状態に応じて、複数の半導体スイッチをオン又はオフさせるため、周辺環境によりワイヤーハーネスの状態が変化しても、適切に負荷へ電力を供給することができる。 According to the present invention, since a plurality of semiconductor switches are turned on or off according to the state of the wire harness, electric power can be appropriately supplied to the load even if the state of the wire harness changes due to the surrounding environment.

図1は、本発明の第1実施形態における電力分配装置を備える電力供給システムを示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a power supply system including a power distribution device according to the first embodiment of the present invention. 図2は、本発明の第2実施形態における電力分配装置を備える電力供給システムを示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a power supply system including the power distribution device according to the second embodiment of the present invention.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

本実施形態における電力供給システム100は、バッテリなどの電源から出力される電力を、複数の負荷に供給するシステムである。電力供給システム100は、例えば電気自動車等の車両に搭載されており、車両に設けられたバッテリの電力を、パワーウィンド、電動チルトテレスコピックステアリング、パワーシート、電動サンシェード、ランプ、ナビゲーションシステム、又は、エアーコンデョナ等の負荷に供給する。この電力供給システム100は、図1に示すように、電源1、負荷21〜23、上位コントローラ30、及び電力分配装置50を備えている。 The power supply system 100 in this embodiment is a system that supplies power output from a power source such as a battery to a plurality of loads. The power supply system 100 is mounted on a vehicle such as an electric vehicle, and uses the power of a battery provided in the vehicle as a power window, an electric tilt telescopic steering wheel, a power seat, an electric sunshade, a lamp, a navigation system, or an air conditioner. Supply to loads such as. As shown in FIG. 1, the power supply system 100 includes a power supply 1, loads 21 to 23, a host controller 30, and a power distribution device 50.

電源1は、例えば、車両に搭載される直流電源である。このような電源1としては、鉛電池、ニッケル水素電池、リチウムイオン電池等の2次電池(バッテリ)や、電気二重層キャパシタ等を用いることができる。 The power supply 1 is, for example, a DC power supply mounted on a vehicle. As such a power source 1, a secondary battery (battery) such as a lead battery, a nickel hydrogen battery, or a lithium ion battery, an electric double layer capacitor, or the like can be used.

電源1は、電力分配装置50を介して負荷21〜23に対して電力を供給している。負荷21〜23の具体例としては、上述したパワーウィンド、電動チルトテレスコピックステアリング、パワーシート、電動サンシェード等が挙げられる。負荷21〜23には、車両に搭載されたその他の電装部品を含めてもよい。負荷21〜23は、電力分配装置50が備える分配ユニット10と接続している。具体的には、負荷21の一端は分配ユニット10に設けられた半導体デバイス11と接続し、負荷22の一端は分配ユニット10に設けられた半導体デバイス12と接続し、負荷23の一端は分配ユニット10に設けられた半導体デバイス13と接続している。また、負荷21〜23の他端は、グランドと接続している。なお、図1では、負荷21〜23の他端をグランドと接続しているが、これに限定されない。 The power source 1 supplies electric power to the loads 21 to 23 via the electric power distribution device 50. Specific examples of the loads 21 to 23 include the power window, electric tilt telescopic steering, power seat, electric sunshade and the like described above. The loads 21 to 23 may include other electrical components mounted on the vehicle. The loads 21 to 23 are connected to the distribution unit 10 included in the power distribution device 50. Specifically, one end of the load 21 is connected to the semiconductor device 11 provided in the distribution unit 10, one end of the load 22 is connected to the semiconductor device 12 provided in the distribution unit 10, and one end of the load 23 is the distribution unit. It is connected to the semiconductor device 13 provided in 10. The other end of the loads 21 to 23 is connected to the ground. In FIG. 1, the other ends of the loads 21 to 23 are connected to the ground, but the present invention is not limited to this.

電力分配装置50は、電源1と負荷21〜23の間に設けられ、電源1の電力を負荷21〜23に分配するための装置である。電力分配装置50は、ヒューズユニット20、ワイヤーハーネス3、分配ユニット10、及び制御ユニット40を備えている。 The power distribution device 50 is provided between the power source 1 and the loads 21 to 23, and is a device for distributing the power of the power source 1 to the loads 21 to 23. The power distribution device 50 includes a fuse unit 20, a wire harness 3, a distribution unit 10, and a control unit 40.

ヒューズユニット20には、電源線4を介して電源1の電力が供給される。ヒューズユニット20は半導体デバイス2を備えており、ワイヤーハーネス3を介して分配ユニット10と接続されている。そして、半導体デバイス2は、電源1と分配ユニット10の間に設けられ、メインヒューズとして機能する。半導体デバイス2としては、例えば、後述する半導体スイッチ2a、還流ダイオード2b、電流センサ2c、電圧センサ2d、及びマルチプレクサ(Multiplexer:MUX)2eを含むIPD(Intelligent Power Device)等のICが挙げられる。また、このIPD等のICは、図1に示す回路の他にも、温度検出回路、半導体スイッチの異常を診断する自己診断機能を備えた制御回路(いずれも図示略)を有している。この制御回路は、電流センサ2c、電圧センサ2d、又は温度検出回路の検出結果から、半導体スイッチの異常を検出すると、自己診断機能により半導体スイッチをオフするように構成されている。これにより、IPD等のICは、過電流、過電圧、又は温度異常から保護される。 The power of the power supply 1 is supplied to the fuse unit 20 via the power supply line 4. The fuse unit 20 includes a semiconductor device 2 and is connected to the distribution unit 10 via a wire harness 3. The semiconductor device 2 is provided between the power supply 1 and the distribution unit 10 and functions as a main fuse. Examples of the semiconductor device 2 include ICs such as an IPD (Intelligent Power Device) including a semiconductor switch 2a, a freewheeling diode 2b, a current sensor 2c, a voltage sensor 2d, and a multiplexer (Multiplexer: MUX) 2e, which will be described later. In addition to the circuit shown in FIG. 1, the IC such as the IPD has a temperature detection circuit and a control circuit (both not shown) having a self-diagnosis function for diagnosing an abnormality of a semiconductor switch. This control circuit is configured to turn off the semiconductor switch by a self-diagnosis function when an abnormality of the semiconductor switch is detected from the detection result of the current sensor 2c, the voltage sensor 2d, or the temperature detection circuit. Thereby, the IC such as IPD is protected from overcurrent, overvoltage, or temperature abnormality.

ヒューズユニット20は、ワイヤーハーネス3を接続可能な出力部20aを有している。そして、半導体デバイス2は出力部20aと電気的に接続されている。例えば、半導体デバイス2は、所定の配線パターンが施された基板に他のデバイス又は部品等と一緒に実装され、基板上の配線パターンを介して、半導体デバイス2の出力端子が出力部20aに接続されている。ヒューズユニット20として、例えば、ECU(Electronic Control Unit)等が挙げられる。 The fuse unit 20 has an output unit 20a to which the wire harness 3 can be connected. The semiconductor device 2 is electrically connected to the output unit 20a. For example, the semiconductor device 2 is mounted on a substrate having a predetermined wiring pattern together with other devices or components, and the output terminal of the semiconductor device 2 is connected to the output unit 20a via the wiring pattern on the substrate. Has been done. Examples of the fuse unit 20 include an ECU (Electronic Control Unit) and the like.

半導体デバイス2は、半導体スイッチ2aと当該半導体スイッチ2aと並列に接続された還流ダイオード2bを含んでいる。還流ダイオード2bは、電流が負荷21〜23から電源1の方向に流れるのを防止するために設けられている。具体的に、還流ダイオード2bのカソード電極は、電源線4を介して電源1の正極と接続し、還流ダイオード2bのカソード電極は、電流センサ2cを介して出力部20a(ワイヤーハーネス3の一端のコネクタ3a)と接続している。 The semiconductor device 2 includes a semiconductor switch 2a and a freewheeling diode 2b connected in parallel with the semiconductor switch 2a. The freewheeling diode 2b is provided to prevent current from flowing from the loads 21 to 23 in the direction of the power supply 1. Specifically, the cathode electrode of the freewheeling diode 2b is connected to the positive electrode of the power supply 1 via the power supply line 4, and the cathode electrode of the freewheeling diode 2b is connected to the output unit 20a (one end of the wire harness 3) via the current sensor 2c. It is connected to the connector 3a).

半導体スイッチ2aとしては、例えば、MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)やIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等の電圧制御型の半導体素子を用いることができる。本実施形態では、nチャネルのMOSFETを用いているが、pチャネルのMOSFETでもよい。 As the semiconductor switch 2a, for example, a voltage-controlled semiconductor element such as a MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor) or an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) can be used. In this embodiment, an n-channel MOSFET is used, but a p-channel MOSFET may also be used.

半導体スイッチ2aは、ドレイン電極と、ソース電極と、ゲート電極と、を有している。半導体スイッチ2aのドレイン電極は、電源線4を介して、電源1の正極と接続し、半導体スイッチ2aのソース電極は、電流センサ2cを介して、出力部20a(ワイヤーハーネス3の一端のコネクタ3a)と接続している。また、半導体スイッチ2aのゲート電極は、配線6を介して、制御ユニット40の駆動部43と接続している。配線6は、後述する配線7a〜7cと独立した配線である。半導体スイッチ2aのゲート電極は、駆動部43から出力される駆動信号により制御される。 The semiconductor switch 2a has a drain electrode, a source electrode, and a gate electrode. The drain electrode of the semiconductor switch 2a is connected to the positive electrode of the power supply 1 via the power supply line 4, and the source electrode of the semiconductor switch 2a is connected to the output unit 20a (connector 3a at one end of the wire harness 3) via the current sensor 2c. ) Is connected. Further, the gate electrode of the semiconductor switch 2a is connected to the drive unit 43 of the control unit 40 via the wiring 6. The wiring 6 is a wiring independent of the wirings 7a to 7c described later. The gate electrode of the semiconductor switch 2a is controlled by a drive signal output from the drive unit 43.

半導体スイッチ2aは、制御部44から駆動部43を介してゲート電極に出力される駆動信号によりオン又はオフに切替えられる。半導体スイッチ2aは、駆動信号の電圧がゲート電極−ソース電極間の閾値電圧(Vgs)よりも高い場合に、ドレイン電極とソース電極の間が電気的に導通し、オン状態となる。反対に、半導体スイッチ2aは、駆動信号の電圧がゲート電極−ソース電極間の閾値電圧よりも低い場合に、ドレイン電極とソース電極の間が電気的に遮断し、オフ状態となる。なお、この閾値電圧は、半導体スイッチ2aの製造プロセスや材料に応じて異なる電圧だが、特に限定されるものではない。 The semiconductor switch 2a is switched on or off by a drive signal output from the control unit 44 to the gate electrode via the drive unit 43. When the voltage of the drive signal of the semiconductor switch 2a is higher than the threshold voltage ( Vgs ) between the gate electrode and the source electrode, the drain electrode and the source electrode are electrically conductive and turned on. On the contrary, when the voltage of the drive signal of the semiconductor switch 2a is lower than the threshold voltage between the gate electrode and the source electrode, the drain electrode and the source electrode are electrically cut off and turned off. The threshold voltage is a voltage that differs depending on the manufacturing process and material of the semiconductor switch 2a, but is not particularly limited.

半導体スイッチ2aのオン状態では、ドレイン電極とソース電極の間は導通しているため、電源1と分配ユニット10は、電源線4、半導体スイッチ2a、電流センサ2c、及びワイヤーハーネス3を介して、電気的に接続された状態になる。そのため、電源1からの電流は、電源線4、半導体スイッチ2a、電流センサ2c、及びワイヤーハーネス3を介して、分配ユニット10に向かって流れる。 Since the drain electrode and the source electrode are conducting in the ON state of the semiconductor switch 2a, the power supply 1 and the distribution unit 10 are connected to the power supply line 4, the semiconductor switch 2a, the current sensor 2c, and the wire harness 3 via the power supply line 4. It will be electrically connected. Therefore, the current from the power supply 1 flows toward the distribution unit 10 via the power supply line 4, the semiconductor switch 2a, the current sensor 2c, and the wire harness 3.

反対に、半導体スイッチ2aのオフ状態では、ドレイン電極とソース電極の間は遮断しているため、電源1と分配ユニット10は、電気的に遮断された状態になる。そのため、半導体スイッチ2aのオフ状態では、電源1から分配ユニット10の方向に電流が流れない。つまり、何らかの原因で過電流が電源1から半導体デバイス2に流れ込んだとしても、半導体スイッチ2aをオフすることで、過電流が分配ユニット10に流れ込むことを防ぐことができる。上述したように、分配ユニット10には、負荷21〜23が接続されているため、半導体スイッチ2aをオフにすることは、電源1からの電流を負荷21〜23へ流れるのを防ぐことと等しい。つまり、半導体デバイス2は、電源1からの電流に応じて電源1と分配ユニット10の間を遮断することで、メインヒューズとして機能している。 On the contrary, in the off state of the semiconductor switch 2a, since the drain electrode and the source electrode are cut off, the power supply 1 and the distribution unit 10 are electrically cut off. Therefore, when the semiconductor switch 2a is off, no current flows from the power supply 1 in the direction of the distribution unit 10. That is, even if an overcurrent flows from the power supply 1 to the semiconductor device 2 for some reason, it is possible to prevent the overcurrent from flowing into the distribution unit 10 by turning off the semiconductor switch 2a. As described above, since the loads 21 to 23 are connected to the distribution unit 10, turning off the semiconductor switch 2a is equivalent to preventing the current from the power supply 1 from flowing to the loads 21 to 23. .. That is, the semiconductor device 2 functions as a main fuse by cutting off between the power supply 1 and the distribution unit 10 according to the current from the power supply 1.

電流センサ2cは、半導体スイッチ2aのソース電極と出力部20aの間に直列挿入されており、電源1から分配ユニット10の方向に流れる電流を検出する。電流センサ2cは、検出結果をマルチプレクサ2eに出力する。電圧センサ2dは、半導体スイッチ2aのドレイン電極の電圧を検出する。電圧センサ2dは、検出結果をマルチプレクサ2eに出力する。 The current sensor 2c is inserted in series between the source electrode of the semiconductor switch 2a and the output unit 20a, and detects the current flowing from the power supply 1 in the direction of the distribution unit 10. The current sensor 2c outputs the detection result to the multiplexer 2e. The voltage sensor 2d detects the voltage of the drain electrode of the semiconductor switch 2a. The voltage sensor 2d outputs the detection result to the multiplexer 2e.

マルチプレクサ2eは、2入力1出力のマルチプレクサである。マルチプレクサ2eの一方の入力端子は、電流センサ2cと接続し、他方の入力端子は電圧センサ2dと接続している。マルチプレクサ2eの出力端子は、制御ユニット40が備える制御部44と接続している。また、マルチプレクサ2eは、図1に示す以外の端子としてセレクト端子を有している。このセレクト端子は、制御ユニット40の制御部44と接続しており、セレクト端子には、制御ユニット40から選択信号が入力される。マルチプレクサ2eは、制御ユニット40からの選択信号に応じて、電流センサ2cの検出結果又は電圧センサ2dの検出結果のうちいずれかを出力するかを切り替える。 The multiplexer 2e is a 2-input 1-output multiplexer. One input terminal of the multiplexer 2e is connected to the current sensor 2c, and the other input terminal is connected to the voltage sensor 2d. The output terminal of the multiplexer 2e is connected to the control unit 44 included in the control unit 40. Further, the multiplexer 2e has a select terminal as a terminal other than that shown in FIG. This select terminal is connected to the control unit 44 of the control unit 40, and a selection signal is input from the control unit 40 to the select terminal. The multiplexer 2e switches whether to output either the detection result of the current sensor 2c or the detection result of the voltage sensor 2d according to the selection signal from the control unit 40.

なお、半導体デバイス2は、マルチプレクサ2eを備えることに限定されず、例えば、半導体デバイス2として、マルチプレクサ2eを設けずに、電流センサ2cの検出結果と電圧センサ2dの検出結果が独立して出力されるタイプのものでもよい。以降の説明においては、半導体デバイス2はオン状態とし、電源1の電力が分配ユニット10に対して供給されているものとする。 The semiconductor device 2 is not limited to including the multiplexer 2e. For example, the detection result of the current sensor 2c and the detection result of the voltage sensor 2d are independently output as the semiconductor device 2 without providing the multiplexer 2e. It may be of the type. In the following description, it is assumed that the semiconductor device 2 is turned on and the electric power of the power source 1 is supplied to the distribution unit 10.

ワイヤーハーネス3は、ヒューズユニット20と分配ユニット10の間を接続しており、電源1の電力を分配ユニット10へ供給するための電力供給ラインとして機能する。ワイヤーハーネス3は、ワイヤーハーネス本体(電線部)の両端に接続されたコネクタ3a、3bを有している。そして、ワイヤーハーネス3の一端のコネクタ3aは、ヒューズユニット20が備える出力部20aと接続され、ワイヤーハーネス3の他端のコネクタ3bは、分配ユニット10が備える入力部10aと接続されている。 The wire harness 3 connects between the fuse unit 20 and the distribution unit 10, and functions as a power supply line for supplying the power of the power supply 1 to the distribution unit 10. The wire harness 3 has connectors 3a and 3b connected to both ends of the wire harness main body (electric wire portion). The connector 3a at one end of the wire harness 3 is connected to the output unit 20a included in the fuse unit 20, and the connector 3b at the other end of the wire harness 3 is connected to the input unit 10a included in the distribution unit 10.

ワイヤーハーネス3には、電線の規格上流すことのできる最大電流として、許容電流が規定されている。例えば、図1に示すように、電源1と分配ユニット10の間を接続する電源供給ラインとしてワイヤーハーネス3を用いる場合、分配ユニット10に接続された負荷21〜23の消費電流の合計よりも大きい許容電流を有するワイヤーハーネス3が選定される。なお、許容電流が大きなワイヤーハーネスほど、電線径が大きいワイヤーハーネスとなってしまう。そのため、ワイヤーハーネス3の大型化抑制の観点からは、余剰に許容電流が大きいワイヤーハーネスを選択できない。 In the wire harness 3, an allowable current is defined as the maximum current that can be upstream of the standard of the electric wire. For example, as shown in FIG. 1, when the wire harness 3 is used as the power supply line connecting the power supply 1 and the distribution unit 10, it is larger than the total current consumption of the loads 21 to 23 connected to the distribution unit 10. A wire harness 3 having an allowable current is selected. The larger the allowable current, the larger the wire diameter. Therefore, from the viewpoint of suppressing the increase in size of the wire harness 3, it is not possible to select a wire harness having an excessively large allowable current.

ワイヤーハーネス3の許容電流は、周囲温度や経年劣化に応じて変化するものである。具体的には、ワイヤーハーネス3の許容電流は、周囲温度が上がるにつれて減少し、反対に、周囲温度が下がるにつれて増加する。また、ワイヤーハーネス3の許容電流は、経年劣化が進むにつれて減少する。このワイヤーハーネス3の許容電流の変化は、ワイヤーハーネス3の抵抗値の変化に依存し、ワイヤーハーネス3の抵抗値が増大すると許容電流が減少する。 The permissible current of the wire harness 3 changes according to the ambient temperature and aging deterioration. Specifically, the permissible current of the wire harness 3 decreases as the ambient temperature rises, and conversely increases as the ambient temperature decreases. Further, the allowable current of the wire harness 3 decreases as the deterioration over time progresses. The change in the allowable current of the wire harness 3 depends on the change in the resistance value of the wire harness 3, and the allowable current decreases as the resistance value of the wire harness 3 increases.

ワイヤーハーネス3の抵抗値は、ワイヤーハーネス3の周辺環境によって変化する。例えば、ワイヤーハーネス3の周囲温度の上昇に伴ってワイヤーハーネス3の抵抗値は上昇する。また例えば、ワイヤーハーネス3の経年劣化(材料劣化や振動劣化)によって、ワイヤーハーネス3の抵抗値は上昇する。また例えば、ワイヤーハーネスの経年劣化によって、ワイヤーハーネス本体である電線と、両端のコネクタ3a、3bとの接触抵抗が上昇し、ワイヤーハーネス3の抵抗値は上昇する。 The resistance value of the wire harness 3 changes depending on the surrounding environment of the wire harness 3. For example, the resistance value of the wire harness 3 increases as the ambient temperature of the wire harness 3 increases. Further, for example, the resistance value of the wire harness 3 increases due to aged deterioration (material deterioration or vibration deterioration) of the wire harness 3. Further, for example, due to aged deterioration of the wire harness, the contact resistance between the electric wire which is the main body of the wire harness and the connectors 3a and 3b at both ends increases, and the resistance value of the wire harness 3 increases.

ここで、ワイヤーハーネス3に流れる電流と周囲温度との関係を考えると、ワイヤーハーネス3に流れる電流が一定の場合には、周囲温度が上がり続けると、ワイヤーハーネス3の抵抗値の上昇に伴って許容電流は減少し続け、やがてワイヤーハーネス3の許容電流がワイヤーハーネス3に流れる電流を下回る恐れがある。そのため、周囲温度が所定の温度を超えた場合に、ワイヤーハーネス3に流れる電流をワイヤーハーネス3の許容電流の範囲内の電流まで制限させる必要がある。同様に、ワイヤーハーネス3の経年劣化が進んだ場合も、ワイヤーハーネス3の許容電流は減少するため、ワイヤーハーネス3に流れる電流をワイヤーハーネス3の許容電流の範囲内の電流まで制限させる必要がある。 Here, considering the relationship between the current flowing through the wire harness 3 and the ambient temperature, if the current flowing through the wire harness 3 is constant and the ambient temperature continues to rise, the resistance value of the wire harness 3 increases. The permissible current continues to decrease, and the permissible current of the wire harness 3 may eventually fall below the current flowing through the wire harness 3. Therefore, when the ambient temperature exceeds a predetermined temperature, it is necessary to limit the current flowing through the wire harness 3 to a current within the allowable current range of the wire harness 3. Similarly, even if the wire harness 3 deteriorates over time, the allowable current of the wire harness 3 decreases. Therefore, it is necessary to limit the current flowing through the wire harness 3 to a current within the allowable current range of the wire harness 3. ..

そこで、本実施形態の電力分配装置50では、ワイヤーハーネス3の抵抗値に基づいて、ワイヤーハーネス3の状態(ワイヤーハーネス3の周囲温度が所定の温度を超えたか否か、又はワイヤーハーネス3が所定の経年劣化を超えたか否か)が判定され、ワイヤーハーネス3の状態に応じてワイヤーハーネス3に流れる電流が制御されている。 Therefore, in the power distribution device 50 of the present embodiment, the state of the wire harness 3 (whether or not the ambient temperature of the wire harness 3 exceeds a predetermined temperature, or the wire harness 3 is predetermined based on the resistance value of the wire harness 3). It is determined whether or not the aged deterioration has been exceeded), and the current flowing through the wire harness 3 is controlled according to the state of the wire harness 3.

具体的には、後述する制御ユニット40が、半導体デバイス2、11〜13からの出力結果に基づいて、ワイヤーハーネス3の抵抗値を算出し、算出した抵抗値が予め定めた参照抵抗値を超えた場合に、周囲温度が所定の温度を超えたもの又はワイヤーハーネス3の経年劣化が進んだものと、ワイヤーハーネス3の状態を判定する。そして、制御ユニット40は、判定したワイヤーハーネス3の状態に応じてワイヤーハーネス3に流れる電流を制限する。制御ユニット40が実行する具体的な動作については、後述する。 Specifically, the control unit 40, which will be described later, calculates the resistance value of the wire harness 3 based on the output results from the semiconductor devices 2 and 11 to 13, and the calculated resistance value exceeds a predetermined reference resistance value. In this case, the state of the wire harness 3 is determined as the one in which the ambient temperature exceeds a predetermined temperature or the one in which the wire harness 3 has deteriorated over time. Then, the control unit 40 limits the current flowing through the wire harness 3 according to the determined state of the wire harness 3. The specific operation executed by the control unit 40 will be described later.

分配ユニット10は、図1に示すように、ワイヤーハーネス3の他端のコネクタ3bが接続可能な入力部10aと、半導体デバイス11〜13とを備えている。分配ユニット10には、電源1の電力が電源線4、ヒューズユニット20、及びワイヤーハーネス3を介して供給される。図1の例では、分配ユニット10には、入力部10aが設けられており、入力部10aはワイヤーハーネス3のコネクタ3bと接続している。分配ユニット10としては、例えば、複数の半導体デバイス11〜13を基板に搭載したECU等が挙げられる。 As shown in FIG. 1, the distribution unit 10 includes an input unit 10a to which a connector 3b at the other end of the wire harness 3 can be connected, and semiconductor devices 11 to 13. The power of the power supply 1 is supplied to the distribution unit 10 via the power supply line 4, the fuse unit 20, and the wire harness 3. In the example of FIG. 1, the distribution unit 10 is provided with an input unit 10a, and the input unit 10a is connected to the connector 3b of the wire harness 3. Examples of the distribution unit 10 include an ECU in which a plurality of semiconductor devices 11 to 13 are mounted on a substrate.

図1の例では、入力部10aは電力線5と接続しており、電力線5は分配ユニット10の中で電力線5a〜5cの3本に分岐している。電力線5aは半導体デバイス11と接続され、電力線5bは半導体デバイス12と接続され、電力線5cは半導体デバイス13と接続されている。これにより、電源1と半導体デバイス11〜13は、電源線4、ヒューズユニット20(半導体デバイス2)、ワイヤーハーネス3、及び電力線5を介して電気的に接続され、電源1の電力は、半導体デバイス11〜13それぞれに分配される。 In the example of FIG. 1, the input unit 10a is connected to the power line 5, and the power line 5 is branched into three power lines 5a to 5c in the distribution unit 10. The power line 5a is connected to the semiconductor device 11, the power line 5b is connected to the semiconductor device 12, and the power line 5c is connected to the semiconductor device 13. As a result, the power supply 1 and the semiconductor devices 11 to 13 are electrically connected via the power supply line 4, the fuse unit 20 (semiconductor device 2), the wire harness 3, and the power line 5, and the power of the power supply 1 is the semiconductor device. It is distributed to each of 11 to 13.

分配ユニット10は、半導体デバイス11〜13の動作に応じて、電源1の電力を負荷21〜23へ供給又は遮断する。半導体デバイス11〜13としては、後述する半導体スイッチ11a、12a、13a、還流ダイオード11b、12b、13b、電流センサ11c、12c、13c、電圧センサ11d、12d、13d、及びマルチプレクサ11e、12e、13eを含むIPD等のICが挙げられる。このIPD等のICは、温度検出回路、制御回路(いずれも図示略)を有しており、制御回路の自己診断機能により、過電流、過電圧、又は温度異常から保護される。なお、半導体デバイス11〜13の例として、半導体デバイス2と同様に、IPD等のICを挙げたが、半導体デバイス2で用いるIPD等のICと異なる仕様のものでもよい。例えば、半導体デバイス2は、電源1の電力に応じて決定されたIPD等のICが用いられるのに対して、半導体デバイス11〜13は、負荷21〜23の消費電力等に応じて決定されたIPD等のICが用いられる。 The distribution unit 10 supplies or cuts off the electric power of the power source 1 to the loads 21 to 23 according to the operation of the semiconductor devices 11 to 13. Examples of the semiconductor devices 11 to 13 include semiconductor switches 11a, 12a, 13a, freewheeling diodes 11b, 12b, 13b, current sensors 11c, 12c, 13c, voltage sensors 11d, 12d, 13d, and multiplexers 11e, 12e, 13e, which will be described later. Examples include ICs such as IPDs. This IC such as IPD has a temperature detection circuit and a control circuit (both are not shown), and is protected from overcurrent, overvoltage, or temperature abnormality by the self-diagnosis function of the control circuit. As an example of the semiconductor devices 11 to 13, an IC such as an IPD is mentioned as in the semiconductor device 2, but an IC having a specification different from that of the IC such as the IPD used in the semiconductor device 2 may be used. For example, the semiconductor device 2 uses an IC such as an IPD determined according to the power of the power source 1, whereas the semiconductor devices 11 to 13 are determined according to the power consumption of the loads 21 to 23 and the like. An IC such as IPD is used.

半導体デバイス11は、半導体スイッチ11aと当該半導体スイッチ11aと並列に接続された還流ダイオード11bを含んでいる。同様に、半導体デバイス12は、半導体スイッチ12aと当該半導体スイッチ12aと並列に接続された還流ダイオード12bを含み、半導体デバイス13は、半導体スイッチ13aと当該半導体スイッチ13aと並列に接続された還流ダイオード13bを含んでいる。還流ダイオード11b、12b、13bは、電流が負荷21、22、又は23から電源1の方向に流れるのを防止するために設けられている。具体的に、還流ダイオード11bのカソード電極は、電力線5aにより入力部10a(ワイヤーハーネス3の他端のコネクタ3b)と接続し、還流ダイオード11bのアノード電極は、電流センサ11cを介して負荷21と接続している。同様に、還流ダイオード12bのカソード電極は、電力線5bにより入力部10a(ワイヤーハーネス3の他端のコネクタ3b)と接続し、還流ダイオード12bのアノード電極は、電流センサ12cを介して負荷22と接続している。また、還流ダイオード13bのカソード電極は、電力線5cにより入力部10a(ワイヤーハーネス3の他端のコネクタ3b)と接続し、還流ダイオード13bのアノード電極は、電流センサ13cを介して負荷23と接続している。 The semiconductor device 11 includes a semiconductor switch 11a and a freewheeling diode 11b connected in parallel with the semiconductor switch 11a. Similarly, the semiconductor device 12 includes a semiconductor switch 12a and a freewheeling diode 12b connected in parallel with the semiconductor switch 12a, and the semiconductor device 13 includes a freewheeling diode 13b connected in parallel with the semiconductor switch 13a and the semiconductor switch 13a. Includes. The freewheeling diodes 11b, 12b, 13b are provided to prevent current from flowing from the load 21, 22, or 23 in the direction of the power supply 1. Specifically, the cathode electrode of the freewheeling diode 11b is connected to the input portion 10a (the connector 3b at the other end of the wire harness 3) by the power line 5a, and the anode electrode of the freewheeling diode 11b is connected to the load 21 via the current sensor 11c. You are connected. Similarly, the cathode electrode of the freewheeling diode 12b is connected to the input portion 10a (the connector 3b at the other end of the wire harness 3) by the power line 5b, and the anode electrode of the freewheeling diode 12b is connected to the load 22 via the current sensor 12c. are doing. Further, the cathode electrode of the freewheeling diode 13b is connected to the input portion 10a (connector 3b at the other end of the wire harness 3) by the power line 5c, and the anode electrode of the freewheeling diode 13b is connected to the load 23 via the current sensor 13c. ing.

半導体スイッチ11a、12a、13aとしては、例えば、MOSFETやIGBT等の電圧制御型の半導体素子を用いることができる。本実施形態では、nチャネルのMOSFETを用いているが、pチャネルのMOSFETでもよい。 As the semiconductor switches 11a, 12a, 13a, for example, voltage-controlled semiconductor elements such as MOSFETs and IGBTs can be used. In this embodiment, an n-channel MOSFET is used, but a p-channel MOSFET may also be used.

半導体スイッチ11a、12a、13aは、ドレイン電極と、ソース電極と、ゲート電極と、を有している。半導体スイッチ11aのドレイン電極、半導体スイッチ12aのドレイン電極、及び半導体スイッチ13aのドレイン電極は、それぞれ電力線5a、5b、5cを介して、入力部10a(ワイヤーハーネス3の他端のコネクタ3b)と接続している。半導体スイッチ11aのソース電極は電流センサ11cを介して負荷21と接続し、半導体スイッチ12aのソース電極は電流センサ12cを介して負荷22と接続し、半導体スイッチ13aのソース電極は電流センサ13cを介して負荷23と接続している。また、半導体スイッチ11aのゲート電極、半導体スイッチ12aのゲート電極、及び半導体スイッチ13aのゲート電極は、それぞれ配線7a、7b、7cを介して、制御ユニット40の駆動部43と接続している。配線7a〜7cはそれぞれ独立した配線である。半導体スイッチ11a、12a、13aのゲート電極は、駆動部43から出力される駆動信号により、それぞれ独立に制御される。 The semiconductor switches 11a, 12a, and 13a have a drain electrode, a source electrode, and a gate electrode. The drain electrode of the semiconductor switch 11a, the drain electrode of the semiconductor switch 12a, and the drain electrode of the semiconductor switch 13a are connected to the input portion 10a (the connector 3b at the other end of the wire harness 3) via the power lines 5a, 5b, and 5c, respectively. are doing. The source electrode of the semiconductor switch 11a is connected to the load 21 via the current sensor 11c, the source electrode of the semiconductor switch 12a is connected to the load 22 via the current sensor 12c, and the source electrode of the semiconductor switch 13a is connected to the load 22 via the current sensor 13c. Is connected to the load 23. Further, the gate electrode of the semiconductor switch 11a, the gate electrode of the semiconductor switch 12a, and the gate electrode of the semiconductor switch 13a are connected to the drive unit 43 of the control unit 40 via wirings 7a, 7b, and 7c, respectively. Wiring 7a to 7c are independent wirings. The gate electrodes of the semiconductor switches 11a, 12a, and 13a are independently controlled by the drive signals output from the drive unit 43.

半導体スイッチ11a、12a、13aは、制御部44からゲート電極に出力される駆動信号によりオン又はオフに切替えられる。半導体スイッチ11aの動作を例に挙げて説明する。 The semiconductor switches 11a, 12a, and 13a are switched on or off by a drive signal output from the control unit 44 to the gate electrode. The operation of the semiconductor switch 11a will be described as an example.

半導体スイッチ11aは、駆動信号の電圧がゲート電極−ソース電極間の閾値電圧(Vgs)よりも高い場合に、ドレイン電極とソース電極の間が電気的に導通し、オン状態となる。反対に、半導体スイッチ11aは、駆動信号の電圧がゲート電極−ソース電極間の閾値電圧よりも低い場合に、ドレイン電極とソース電極の間が電気的に遮断し、オフ状態となる。なお、この閾値電圧は、半導体スイッチ11aの製造プロセスや材料に応じて異なる電圧だが、特に限定されるものではない。 When the voltage of the drive signal of the semiconductor switch 11a is higher than the threshold voltage ( Vgs ) between the gate electrode and the source electrode, the drain electrode and the source electrode are electrically conductive and turned on. On the contrary, when the voltage of the drive signal of the semiconductor switch 11a is lower than the threshold voltage between the gate electrode and the source electrode, the drain electrode and the source electrode are electrically cut off and turned off. The threshold voltage is a voltage that differs depending on the manufacturing process and material of the semiconductor switch 11a, but is not particularly limited.

半導体スイッチ11aのオン状態では、ドレイン電極とソース電極の間は導通しているため、電源1と負荷21は、電源線4、半導体デバイス2、ワイヤーハーネス3、及び半導体スイッチ11a、電流センサ11cを介して電気的に接続された状態になる。そのため、半導体スイッチ11aのオン状態では、電源1から負荷21の方向に電流が流れ、電源1の電力は負荷21に供給される。 Since the drain electrode and the source electrode are conducting in the on state of the semiconductor switch 11a, the power supply 1 and the load 21 use the power supply line 4, the semiconductor device 2, the wire harness 3, the semiconductor switch 11a, and the current sensor 11c. It becomes electrically connected via. Therefore, when the semiconductor switch 11a is on, a current flows from the power source 1 in the direction of the load 21, and the power of the power source 1 is supplied to the load 21.

反対に、半導体スイッチ11aのオフ状態では、ドレイン電極とソース電極の間は遮断しているため、電源1と負荷21は、電気的に遮断された状態になる。そのため、半導体スイッチ11aのオフ状態では、電源1から負荷21の方向に電流が流れず、電源1の電力は負荷21へ供給されない。つまり、半導体スイッチ11aのオン及びオフを制御することで、電源1の電力を負荷21へ供給又は遮断することができる。 On the contrary, in the off state of the semiconductor switch 11a, since the drain electrode and the source electrode are cut off, the power supply 1 and the load 21 are electrically cut off. Therefore, when the semiconductor switch 11a is off, no current flows from the power source 1 in the direction of the load 21, and the power of the power source 1 is not supplied to the load 21. That is, by controlling the on and off of the semiconductor switch 11a, the power of the power supply 1 can be supplied or cut off to the load 21.

また、図1に示すように、半導体デバイス11は負荷21に対応し、半導体デバイス12は負荷22に対応し、半導体デバイス13は負荷23に対応している。半導体スイッチ12a、13aについても、半導体スイッチ11aと同様の動作をするため、半導体スイッチ12aのオン及びオフを制御することで、電源1の電力を負荷22へ供給又は遮断することができる。また、半導体スイッチ13aのオン及びオフを制御することで、電源1の電力を負荷23へ供給又は遮断することができる。つまり、各負荷に対応している半導体デバイスの制御をすることで、具体的には、半導体スイッチのオン及びオフを制御することで、電源1の電力を各負荷へ供給又は遮断をすることができる。 Further, as shown in FIG. 1, the semiconductor device 11 corresponds to the load 21, the semiconductor device 12 corresponds to the load 22, and the semiconductor device 13 corresponds to the load 23. Since the semiconductor switches 12a and 13a also operate in the same manner as the semiconductor switch 11a, the power of the power supply 1 can be supplied or cut off to the load 22 by controlling the on and off of the semiconductor switch 12a. Further, by controlling the on and off of the semiconductor switch 13a, the electric power of the power source 1 can be supplied or cut off to the load 23. That is, by controlling the semiconductor device corresponding to each load, specifically, by controlling the on and off of the semiconductor switch, the power of the power supply 1 can be supplied or cut off to each load. it can.

電流センサ11cは、半導体スイッチ11aのソース電極と負荷21の間に直列挿入されており、電源1から負荷21の方向に流れる電流を検出する。電流センサ11cは、検出結果をマルチプレクサ11eに出力する。電圧センサ11dは、半導体スイッチ11aのドレイン電極の電圧を検出する。電圧センサ11dは、検出結果をマルチプレクサ11eに出力する。 The current sensor 11c is inserted in series between the source electrode of the semiconductor switch 11a and the load 21, and detects the current flowing in the direction from the power source 1 to the load 21. The current sensor 11c outputs the detection result to the multiplexer 11e. The voltage sensor 11d detects the voltage of the drain electrode of the semiconductor switch 11a. The voltage sensor 11d outputs the detection result to the multiplexer 11e.

電流センサ12cは、半導体スイッチ12aのソース電極と負荷22の間に直列挿入されており、電源1から負荷22の方向に流れる電流を検出する。電流センサ12cは、検出結果をマルチプレクサ12eに出力する。電圧センサ12dは、半導体スイッチ12aのドレイン電極の電圧を検出する。電圧センサ12dは、検出結果をマルチプレクサ12eに出力する。 The current sensor 12c is inserted in series between the source electrode of the semiconductor switch 12a and the load 22, and detects the current flowing in the direction from the power source 1 to the load 22. The current sensor 12c outputs the detection result to the multiplexer 12e. The voltage sensor 12d detects the voltage of the drain electrode of the semiconductor switch 12a. The voltage sensor 12d outputs the detection result to the multiplexer 12e.

電流センサ13cは、半導体スイッチ13aのソース電極と負荷23の間に直列挿入されており、電源1から負荷23の方向に流れる電流を検出する。電流センサ13cは、検出結果をマルチプレクサ13eに出力する。電圧センサ13dは、半導体スイッチ13aのドレイン電極の電圧を検出する。電圧センサ13dは、検出結果をマルチプレクサ13eに出力する。 The current sensor 13c is inserted in series between the source electrode of the semiconductor switch 13a and the load 23, and detects the current flowing in the direction from the power supply 1 to the load 23. The current sensor 13c outputs the detection result to the multiplexer 13e. The voltage sensor 13d detects the voltage of the drain electrode of the semiconductor switch 13a. The voltage sensor 13d outputs the detection result to the multiplexer 13e.

マルチプレクサ11e、12e、13eは、マルチプレクサ2eと同様に、2入力1出力のマルチプレクサである。マルチプレクサ11eの一方の入力端子は、電流センサ11cと接続し、他方の入力端子は電圧センサ11dと接続している。マルチプレクサ11eの出力端子は、制御ユニット40が備える制御部44と接続している。また、マルチプレクサ11eは、図1に示す以外の端子としてセレクト端子を有している。このセレクト端子は、制御ユニット40の制御部44と接続しており、セレクト端子には、制御ユニット40から選択信号が入力される。マルチプレクサ11eは、制御ユニット40からの選択信号に応じて、電流センサ11cの検出結果又は電圧センサ11dの検出結果のうちいずれかを出力するかを切り替える。 The multiplexers 11e, 12e, and 13e are 2-input, 1-output multiplexers, like the multiplexer 2e. One input terminal of the multiplexer 11e is connected to the current sensor 11c, and the other input terminal is connected to the voltage sensor 11d. The output terminal of the multiplexer 11e is connected to the control unit 44 included in the control unit 40. Further, the multiplexer 11e has a select terminal as a terminal other than that shown in FIG. This select terminal is connected to the control unit 44 of the control unit 40, and a selection signal is input from the control unit 40 to the select terminal. The multiplexer 11e switches whether to output either the detection result of the current sensor 11c or the detection result of the voltage sensor 11d according to the selection signal from the control unit 40.

また、マルチプレクサ12e、13eの入力端子について、マルチプレクサ11eと同様に、一方の入力端子には電流センサ12c、13cが接続され、他方の入力端子には電圧センサ12d、13dが接続されている。また、マルチプレクサ12eの出力端子及びマルチプレクサ13eの出力端子は、それぞれ制御ユニット40の制御部44と接続している。マルチプレクサ12e及びマルチプレクサ13eは、マルチプレクサ11eと同様に、それぞれセレクト端子を有しており、各セレクト端子は制御ユニット40の制御部44と接続しており、各セレクト端子には、制御ユニット40から選択信号が入力される。マルチプレクサ12eは、制御ユニット40からの選択信号に応じて、電流センサ12cの検出結果又は電圧センサ12dの検出結果のうちいずれかを出力するかを切り替える。マルチプレクサ13eは、制御ユニット40からの選択信号に応じて、電流センサ13cの検出結果又は電圧センサ13dの検出結果のうちいずれかを出力するかを切り替える。なお、半導体デバイス11〜13は、半導体デバイス2と同様に、マルチプレクサ11e、12e、13eを備えるタイプに限られない。 As for the input terminals of the multiplexers 12e and 13e, the current sensors 12c and 13c are connected to one input terminal and the voltage sensors 12d and 13d are connected to the other input terminals, similarly to the multiplexer 11e. Further, the output terminal of the multiplexer 12e and the output terminal of the multiplexer 13e are connected to the control unit 44 of the control unit 40, respectively. Like the multiplexer 11e, the multiplexer 12e and the multiplexer 13e each have a select terminal, each select terminal is connected to the control unit 44 of the control unit 40, and each select terminal is selected from the control unit 40. The signal is input. The multiplexer 12e switches whether to output either the detection result of the current sensor 12c or the detection result of the voltage sensor 12d according to the selection signal from the control unit 40. The multiplexer 13e switches whether to output either the detection result of the current sensor 13c or the detection result of the voltage sensor 13d according to the selection signal from the control unit 40. The semiconductor devices 11 to 13 are not limited to the types including the multiplexers 11e, 12e, and 13e, like the semiconductor device 2.

図1では、マルチプレクサ11e、12e、13eと制御ユニット40が接続している配線は、それぞれ独立している。そのため、制御ユニット40は、半導体デバイス11〜13の状態をそれぞれ独立したものとして検出する。 In FIG. 1, the wirings connecting the multiplexers 11e, 12e, 13e and the control unit 40 are independent of each other. Therefore, the control unit 40 detects the states of the semiconductor devices 11 to 13 as independent ones.

なお、図1では、3つの負荷21〜23に対応するように、分配ユニット10は3つの半導体デバイス11〜13を設ける構成を例示したが、これに限定されるものではない。分配ユニット10は、負荷の数に対応した数の半導体デバイスを設けることができる。例えば、n個の負荷に対して電源1の電力を供給する場合には、分配ユニット10は、n個の半導体デバイスを設ける。nは1以上の自然数である。このとき、電力線5は分配ユニット10の中でn本に分岐され、n本の電力線はn個の半導体デバイスと接続する。これにより、n個の負荷と電源1との間の電気的な導通及び遮断を、それぞれ独立して切り替えることができる。 Note that FIG. 1 illustrates a configuration in which the distribution unit 10 is provided with three semiconductor devices 11 to 13 so as to correspond to the three loads 21 to 23, but the present invention is not limited to this. The distribution unit 10 can be provided with a number of semiconductor devices corresponding to the number of loads. For example, when supplying the power of the power source 1 to n loads, the distribution unit 10 is provided with n semiconductor devices. n is a natural number of 1 or more. At this time, the power lines 5 are branched into n lines in the distribution unit 10, and the n power lines are connected to n semiconductor devices. As a result, the electrical continuity and disconnection between the n loads and the power supply 1 can be switched independently.

上位コントローラ30は、車両に設けられた各種装置の情報を管理するコントローラである。本実施形態の上位コントローラ30は、電源1の電力を負荷21〜23に対してどのように分配させるかを管理する。上位コントローラ30は、半導体スイッチ11a、12a、13aのオン及びオフの指示として指示信号を制御ユニット40の受信部41に出力する。この指示信号には、半導体スイッチ11a、12a、13aのオン及びオフのタイミングに関する情報が含まれている。上位コントローラ30は、例えば、運転者が全ての電装部品を操作可能な状態、いわゆる、イグニッションオン状態になると、制御ユニット40に指示信号を出力する。 The host controller 30 is a controller that manages information on various devices provided in the vehicle. The host controller 30 of the present embodiment manages how the power of the power source 1 is distributed to the loads 21 to 23. The host controller 30 outputs an instruction signal to the receiving unit 41 of the control unit 40 as an instruction to turn on and off the semiconductor switches 11a, 12a, and 13a. This instruction signal includes information regarding the on and off timings of the semiconductor switches 11a, 12a, and 13a. The host controller 30 outputs an instruction signal to the control unit 40, for example, when the driver can operate all the electrical components, that is, the ignition on state.

制御ユニット40は、上位コントローラ30からの指示信号に基づいて、半導体スイッチ11a、12a、13aのオン及びオフを制御する制御ユニットである。例えば、制御ユニット40には、CPU、ROM、RAM等を含んで構成されるマイクロコンピュータが挙げられる。 The control unit 40 is a control unit that controls on and off of the semiconductor switches 11a, 12a, and 13a based on an instruction signal from the host controller 30. For example, the control unit 40 includes a microcomputer including a CPU, a ROM, a RAM, and the like.

制御ユニット40は、図1に示すように、受信部41、記憶部42、駆動部43、及び制御部44を有している。受信部41は、上位コントローラ30と通信可能な装置である。上位コントローラ30との通信手段は特に限定されない。受信部41は、上位コントローラ30から、半導体スイッチ11a、12a、13aのオン及びオフの指示信号を受け、受信した指示信号を制御部44へ出力する。 As shown in FIG. 1, the control unit 40 includes a receiving unit 41, a storage unit 42, a driving unit 43, and a control unit 44. The receiving unit 41 is a device capable of communicating with the host controller 30. The means of communication with the host controller 30 is not particularly limited. The receiving unit 41 receives on and off instruction signals of the semiconductor switches 11a, 12a, and 13a from the host controller 30, and outputs the received instruction signals to the control unit 44.

記憶部42は、ROM、RAM等のような情報を記憶する記憶媒体で構成されている。記憶部42は、制御部44が実行する、半導体スイッチ11a、12a、13aのオン及びオフを制御するプログラムを記憶している。 The storage unit 42 is composed of a storage medium for storing information such as a ROM and a RAM. The storage unit 42 stores a program executed by the control unit 44 to control the on and off of the semiconductor switches 11a, 12a, 13a.

また、記憶部42は、電源1から負荷21〜23へ電力を供給する優先順位を記憶している。この優先順位は、負荷21〜23に対する電力供給の序列を示している(以降、負荷の優先順位とも称する)。なお、この優先順位は、負荷の種類や、負荷としての機器又はシステムの動作シーケンスに応じて予め決定される。 Further, the storage unit 42 stores the priority of supplying electric power from the power source 1 to the loads 21 to 23. This priority indicates the order of power supply to the loads 21 to 23 (hereinafter, also referred to as the load priority). The priority order is determined in advance according to the type of load and the operation sequence of the device or system as the load.

さらに、記憶部42は、ワイヤーハーネス3に流れる電流を制限するか否かを判断するための基準値として、ワイヤーハーネス3の参照抵抗値を記憶している。参照抵抗値は、ワイヤーハーネス3を構成する電線の標準的な抵抗値であって、予め定められた値である。参照抵抗値は、電線の単位長さ当たりの抵抗値、電線の線径、電線の材質、電力供給システム100が搭載される環境の周囲温度に応じて実験的に求められた値である。 Further, the storage unit 42 stores the reference resistance value of the wire harness 3 as a reference value for determining whether or not to limit the current flowing through the wire harness 3. The reference resistance value is a standard resistance value of the electric wire constituting the wire harness 3, and is a predetermined value. The reference resistance value is a value experimentally obtained according to the resistance value per unit length of the electric wire, the wire diameter of the electric wire, the material of the electric wire, and the ambient temperature of the environment in which the power supply system 100 is mounted.

駆動部43には、制御部44から半導体スイッチ11a、12a、13aをオン及びオフする制御信号が入力される。駆動部43は、これらの制御信号の電圧を、半導体スイッチ11a、12a、13aの動作電圧までレベルシフトさせて、半導体デバイス11〜13へ出力する駆動回路である。なお、本実施形態では、制御ユニット40に駆動部43を設けているが、半導体スイッチの動作電圧の範囲と制御部44が出力する制御信号の電圧範囲が同じ範囲であれば、駆動部43を設ける必要はない。また、駆動部43を設ける位置は特に限定されず、駆動部43を分配ユニット10の中に設けてもよい。 A control signal for turning on and off the semiconductor switches 11a, 12a, and 13a is input from the control unit 44 to the drive unit 43. The drive unit 43 is a drive circuit that shifts the voltage of these control signals to the operating voltage of the semiconductor switches 11a, 12a, 13a and outputs the voltage to the semiconductor devices 11 to 13. In the present embodiment, the control unit 40 is provided with the drive unit 43. However, if the operating voltage range of the semiconductor switch and the voltage range of the control signal output by the control unit 44 are in the same range, the drive unit 43 is used. There is no need to provide it. Further, the position where the drive unit 43 is provided is not particularly limited, and the drive unit 43 may be provided in the distribution unit 10.

制御部44は、記憶部42に記憶されたプログラムを実行することで、制御ユニット40の機能を実現させる動作回路としてのCPUで構成される。なお、動作回路として、MPU(Micro Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、FPGA(Field Programmable Gate Array)等を用いてもよい。 The control unit 44 is composed of a CPU as an operation circuit that realizes the functions of the control unit 40 by executing a program stored in the storage unit 42. As the operating circuit, an MPU (Micro Processing Unit), an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), an FPGA (Field Programmable Gate Array), or the like may be used.

制御部44には、受信部41を介して上位コントローラ30から指示信号が入力される。制御部44は、この指示信号に応じて、半導体スイッチ11a、12a、13aをオン及びオフさせる制御信号をそれぞれ生成し、生成した複数の制御信号を駆動部43に出力する。 An instruction signal is input to the control unit 44 from the host controller 30 via the reception unit 41. The control unit 44 generates control signals for turning on and off the semiconductor switches 11a, 12a, and 13a in response to the instruction signal, and outputs the generated plurality of control signals to the drive unit 43.

また、制御部44には、半導体デバイス2、11〜13から、各デバイスで検出された電圧値又は電流値が入力される。制御部44は、半導体デバイス2が備えるマルチプレクサ2eに対して選択信号を出力することで、半導体デバイス2から入力される信号を、電流センサ2cの検出結果又は電圧センサ2dの検出結果に切替えることができる。同様に、制御部44は、半導体デバイス11が備えるマルチプレクサ11eに対して選択信号を出力することで、半導体デバイス11から入力される信号を、電流センサ11cの検出結果又は電圧センサ11dの検出結果に切替えることができる。制御部44は、半導体デバイス12、13に対しても、半導体デバイス11と同様の制御をすることができる。 Further, the voltage value or the current value detected by each device is input to the control unit 44 from the semiconductor devices 2, 11 to 13. The control unit 44 can switch the signal input from the semiconductor device 2 to the detection result of the current sensor 2c or the detection result of the voltage sensor 2d by outputting the selection signal to the multiplexer 2e included in the semiconductor device 2. it can. Similarly, the control unit 44 outputs a selection signal to the multiplexer 11e included in the semiconductor device 11 to convert the signal input from the semiconductor device 11 into the detection result of the current sensor 11c or the detection result of the voltage sensor 11d. It can be switched. The control unit 44 can control the semiconductor devices 12 and 13 in the same manner as the semiconductor device 11.

さらに、制御部44は、記憶部42にアクセスすることができ、記憶部42に記憶されている、負荷の優先順位及び参照抵抗値を読み出す。 Further, the control unit 44 can access the storage unit 42 and reads out the load priority and the reference resistance value stored in the storage unit 42.

次に、制御部44が実現する機能について説明する。制御部44は、上位コントローラ30の指示信号に基づいて、半導体デバイス11〜13を制御する半導体デバイス制御機能と、ワイヤーハーネス3の抵抗値を算出する抵抗値算出機能と、算出した抵抗値に応じてワイヤーハーネス3に流れる電流を制限する電流制限機能とを有する。 Next, the function realized by the control unit 44 will be described. The control unit 44 responds to the semiconductor device control function that controls the semiconductor devices 11 to 13 based on the instruction signal of the host controller 30, the resistance value calculation function that calculates the resistance value of the wire harness 3, and the calculated resistance value. It also has a current limiting function that limits the current flowing through the wire harness 3.

まず、半導体デバイス制御機能について説明する。制御部44は、上位コントローラ30の指示信号に基づいて、半導体デバイス11〜13を制御する。例えば、上位コントローラ30は、電力供給システム100の電源投入シーケンスに従って、負荷21〜23に電源1の電力を供給する指示信号を制御ユニット40に出力する。制御部44は、上位コントローラ30からの指示信号が受信部31を介して入力されると、指示信号に応じて半導体スイッチ2a、11a〜13aをオン又はオフさせて、電源1からの電力を負荷21〜23へ供給又は遮断する。これにより、負荷21〜23は、上位コントローラ30の指示信号に従って駆動することができる。 First, the semiconductor device control function will be described. The control unit 44 controls the semiconductor devices 11 to 13 based on the instruction signal of the host controller 30. For example, the host controller 30 outputs an instruction signal for supplying the power of the power supply 1 to the loads 21 to 23 to the control unit 40 according to the power-on sequence of the power supply system 100. When the instruction signal from the host controller 30 is input via the reception unit 31, the control unit 44 turns on or off the semiconductor switches 2a, 11a to 13a in response to the instruction signal, and loads the power from the power supply 1. Supply or shut off to 21-23. As a result, the loads 21 to 23 can be driven according to the instruction signal of the host controller 30.

次に、抵抗値算出機能について説明する。制御部44は、半導体デバイス制御機能により、負荷21〜23が駆動すると、ワイヤーハーネス3の抵抗値を算出する。本実施形態の制御部44は、ワイヤーハーネス3の両端の電圧のうち高電位側に設けられた半導体デバイス2からの出力結果と、ワイヤーハーネス3の両端の電圧のうち低電位側に設けられた半導体デバイス11〜13からの出力結果に基づいて、ワイヤーハーネス3の抵抗値を算出する。ワイヤーハーネス3の抵抗値を算出する具体的な方法について説明する。 Next, the resistance value calculation function will be described. The control unit 44 calculates the resistance value of the wire harness 3 when the loads 21 to 23 are driven by the semiconductor device control function. The control unit 44 of the present embodiment is provided on the low potential side of the voltage across the wire harness 3 and the output result from the semiconductor device 2 provided on the high potential side of the voltage across the wire harness 3. The resistance value of the wire harness 3 is calculated based on the output results from the semiconductor devices 11 to 13. A specific method for calculating the resistance value of the wire harness 3 will be described.

まず、制御部44は、半導体デバイス制御機能により、上位コントローラ30からの指示信号に基づいて、駆動部43を介して、半導体スイッチ2a、11a〜13aをオンさせる。半導体スイッチ2a、11a〜13aがオン状態となると、電源1と各負荷21〜23の間が導通し、ワイヤーハーネス3には、電源1から負荷21〜23の方向に向かって、各負荷が駆動するのに必要な電流が流れる。また、ワイヤーハーネス3は、上述した通り、所定の抵抗値を有しているため、ワイヤーハーネス3に電流が流れると、ワイヤーハーネス3の両端には、電源1から負荷21〜23への方向の電流によって、電位差が発生している。 First, the control unit 44 turns on the semiconductor switches 2a, 11a to 13a via the drive unit 43 based on the instruction signal from the host controller 30 by the semiconductor device control function. When the semiconductor switches 2a and 11a to 13a are turned on, the power supply 1 and the loads 21 to 23 are electrically connected, and the wire harness 3 is driven by each load in the direction from the power supply 1 to the loads 21 to 23. The current required to do this flows. Further, since the wire harness 3 has a predetermined resistance value as described above, when a current flows through the wire harness 3, both ends of the wire harness 3 are in the direction from the power supply 1 to the loads 21 to 23. A potential difference is generated by the current.

次に、制御部44は、半導体デバイス2、11〜13が備える各センサから検出結果を取得する。本実施形態では、制御部44は、半導体デバイス2から電流及び電圧の検出結果を取得し、半導体デバイス11から電圧の検出結果を取得する。例えば、制御部44は、半導体デバイス2のマルチプレクサ2eを制御して、電流センサ2cの検出結果(半導体スイッチ2aのソース電極−ドレイン電極の間に流れる電流)を取得する。また、制御部44は、半導体デバイス2のマルチプレクサ2eを制御して、電圧センサ2dの検出結果(半導体スイッチ2aのドレイン電極の電圧)を取得するとともに、半導体デバイス11のマルチプレクサ11eを制御して、電圧センサ11dの検出結果(半導体スイッチ11aのドレイン電極の電圧)を取得する。 Next, the control unit 44 acquires the detection result from each sensor included in the semiconductor devices 2, 11 to 13. In the present embodiment, the control unit 44 acquires the current and voltage detection results from the semiconductor device 2, and acquires the voltage detection results from the semiconductor device 11. For example, the control unit 44 controls the multiplexer 2e of the semiconductor device 2 to acquire the detection result of the current sensor 2c (current flowing between the source electrode and the drain electrode of the semiconductor switch 2a). Further, the control unit 44 controls the multiplexer 2e of the semiconductor device 2 to acquire the detection result of the voltage sensor 2d (voltage of the drain electrode of the semiconductor switch 2a), and also controls the multiplexer 11e of the semiconductor device 11. The detection result of the voltage sensor 11d (voltage of the drain electrode of the semiconductor switch 11a) is acquired.

本実施形態では、制御部44は、メインヒューズとして機能する半導体デバイス2の電流センサ2cの検出結果を、ワイヤーハーネス3に流れる電流と略同一の電流とする。また、制御部44は、半導体デバイス2の電圧センサ2dの検出結果を、ワイヤーハーネス3の両端の電圧のうち高電位側の電圧と略同一の電圧とする。さらには、制御部44は、半導体デバイス11の電圧センサ11dの検出結果を、ワイヤーハーネス3の両端の電圧のうち低電位側の電圧と略同一の電圧とする。 In the present embodiment, the control unit 44 sets the detection result of the current sensor 2c of the semiconductor device 2 functioning as the main fuse to be substantially the same as the current flowing through the wire harness 3. Further, the control unit 44 sets the detection result of the voltage sensor 2d of the semiconductor device 2 to be substantially the same as the voltage on the high potential side of the voltages across the wire harness 3. Further, the control unit 44 sets the detection result of the voltage sensor 11d of the semiconductor device 11 to be substantially the same as the voltage on the low potential side of the voltages across the wire harness 3.

そして、制御部44は、取得した電流値及び電圧値を用いて、オームの法則により、ワイヤーハーネス3の抵抗値を算出する。具体的には、制御部44は、半導体スイッチ2aのドレイン電極の電圧値と半導体スイッチ11aのドレイン電極の電圧値との差分を、半導体スイッチ2aのソース電極−ドレイン電極の間に流れる電流値で除算することで、ワイヤーハーネス3の抵抗値を算出する。なお、制御部44は、半導体スイッチ2aのオン抵抗、出力部20aとコネクタ3aとの接触抵抗、入力部10aとコネクタ3bとの接触抵抗、電力線5の配線抵抗を考慮して、算出した抵抗値を補正してもよい。また、制御部44は、上述した接触抵抗等だけでなく、電流センサ及び電圧センサの測定誤差も考慮して補正してもよい。本実施形態の制御部44は、電流値及び電圧値を継続的に取得し、上述したようなワイヤーハーネス3の抵抗値の算出を継続的に実行する。 Then, the control unit 44 calculates the resistance value of the wire harness 3 by using the acquired current value and voltage value according to Ohm's law. Specifically, the control unit 44 sets the difference between the voltage value of the drain electrode of the semiconductor switch 2a and the voltage value of the drain electrode of the semiconductor switch 11a as the current value flowing between the source electrode and the drain electrode of the semiconductor switch 2a. The resistance value of the wire harness 3 is calculated by dividing. The control unit 44 has a resistance value calculated in consideration of the on-resistance of the semiconductor switch 2a, the contact resistance between the output unit 20a and the connector 3a, the contact resistance between the input unit 10a and the connector 3b, and the wiring resistance of the power line 5. May be corrected. Further, the control unit 44 may correct not only the contact resistance described above but also the measurement error of the current sensor and the voltage sensor. The control unit 44 of the present embodiment continuously acquires the current value and the voltage value, and continuously executes the calculation of the resistance value of the wire harness 3 as described above.

次に、電流制限機能について説明する。制御部44は、算出した抵抗値に基づいて、半導体デバイス11〜13を制御して、ワイヤーハーネス3に流れる電流を制限する。電流を制限するか否かの判定方法と、電流制限の方法について説明する。まず、制御部44は、抵抗値算出機能により算出した抵抗値と、記憶部42から読み出した参照抵抗値を比較する。そして、制御部44は、算出した抵抗値が参照抵抗値よりも大きい場合には、ワイヤーハーネス3に流れる電流を制限する必要があると判定する。反対に、制御部44は、算出した抵抗値が参照抵抗値以下の場合には、ワイヤーハーネス3に流れる電流を制限する必要がないと判定する。ワイヤーハーネス3の抵抗値の上昇には、上述した通り、周囲温度によりワイヤーハーネス3そのものの温度が上昇した場合と、ワイヤーハーネス3の経年劣化が進んだ場合とが該当する。本実施形態の制御部44は、算出した抵抗値と参照抵抗値を比較することで、ワイヤーハーネス3の状態を判定している。すなわち、このワイヤーハーネス3の状態は、上述した周囲温度に起因したワイヤーハーネス3の温度上昇、及び、ワイヤーハーネス3の経年劣化を含む。 Next, the current limiting function will be described. The control unit 44 controls the semiconductor devices 11 to 13 based on the calculated resistance value to limit the current flowing through the wire harness 3. A method of determining whether or not to limit the current and a method of limiting the current will be described. First, the control unit 44 compares the resistance value calculated by the resistance value calculation function with the reference resistance value read from the storage unit 42. Then, when the calculated resistance value is larger than the reference resistance value, the control unit 44 determines that it is necessary to limit the current flowing through the wire harness 3. On the contrary, when the calculated resistance value is equal to or less than the reference resistance value, the control unit 44 determines that it is not necessary to limit the current flowing through the wire harness 3. As described above, the increase in the resistance value of the wire harness 3 corresponds to the case where the temperature of the wire harness 3 itself rises due to the ambient temperature and the case where the wire harness 3 deteriorates over time. The control unit 44 of the present embodiment determines the state of the wire harness 3 by comparing the calculated resistance value with the reference resistance value. That is, the state of the wire harness 3 includes a temperature rise of the wire harness 3 due to the above-mentioned ambient temperature and aged deterioration of the wire harness 3.

そして、本実施形態では、制御部44は、ワイヤーハーネス3に流れる電流について電流制限が必要と判定すると、すなわち、算出した抵抗値が参照抵抗値よりも大きい場合に、半導体スイッチ11a〜13aの一部の半導体スイッチをオフさせて、ワイヤーハーネス3に流れる電流を制限する。具体的には、制御部44は、記憶部42から負荷の優先順位を読み出し、この優先順位に基づいて、半導体スイッチ11a〜13aのオン及びオフを制御する。例えば、負荷の優先順位が、負荷21、負荷22、負荷23の順で高い場合に、制御部44は、優先順位の低い負荷22、23に対応する、半導体スイッチ12a、13aをオフさせて、負荷22、23への電力供給を停止させる。また、制御部44は、優先順位の高い負荷21に対応する、半導体スイッチ11aのオンを継続させて、負荷21への電力供給を継続させる。半導体スイッチ12a、13aがオン状態からオフ状態に変わることで、負荷22、23への電力供給は停止されるため、半導体スイッチ11a〜13aがオン状態の時に比べて、ワイヤーハーネス3に流れる電流は負荷22、23が駆動するのに必要な電流の分だけ減少する。 Then, in the present embodiment, the control unit 44 determines that the current flowing through the wire harness 3 needs to be limited, that is, when the calculated resistance value is larger than the reference resistance value, one of the semiconductor switches 11a to 13a. The semiconductor switch of the unit is turned off to limit the current flowing through the wire harness 3. Specifically, the control unit 44 reads the priority of the load from the storage unit 42, and controls the on and off of the semiconductor switches 11a to 13a based on the priority. For example, when the load priority is higher in the order of load 21, load 22, and load 23, the control unit 44 turns off the semiconductor switches 12a and 13a corresponding to the lower priority loads 22 and 23. The power supply to the loads 22 and 23 is stopped. Further, the control unit 44 keeps the semiconductor switch 11a on, which corresponds to the load 21 having a high priority, and keeps supplying electric power to the load 21. Since the power supply to the loads 22 and 23 is stopped by changing the semiconductor switches 12a and 13a from the on state to the off state, the current flowing through the wire harness 3 is smaller than that when the semiconductor switches 11a to 13a are in the on state. It is reduced by the amount of current required to drive the loads 22 and 23.

このように、本実施形態では、制御ユニット40は、メインヒューズとして機能し、電源1と接続可能な半導体デバイス2と、負荷21〜23と接続可能な半導体デバイス11〜13のそれぞれが備える各センサの結果を取得し、取得した各センサの検出結果に基づいて、ワイヤーハーネス3の状態を判定し、判定したワイヤーハーネス3の状態に応じて半導体スイッチ11a〜13aを制御する。これにより、周囲温度の上昇に起因してワイヤーハーネス3の温度が上昇して、ワイヤーハーネス3の許容電流が半導体スイッチ11a〜13aのオン状態の時に流れる電流よりも低くなる前に、予め半導体スイッチ12a、13aをオフさせてワイヤーハーネス3に流れる電流を減少させることができる。また、周囲環境の変化に起因してワイヤーハーネス3の経年劣化が進んだとしても、ワイヤーハーネス3に流れる電流を減少させることができる。その結果、周辺環境に応じて適切に負荷へ電力を供給することができる。 As described above, in the present embodiment, the control unit 40 functions as a main fuse, and each sensor included in the semiconductor device 2 that can be connected to the power supply 1 and the semiconductor devices 11 to 13 that can be connected to the loads 21 to 23. The state of the wire harness 3 is determined based on the detection result of each of the acquired sensors, and the semiconductor switches 11a to 13a are controlled according to the determined state of the wire harness 3. As a result, the temperature of the wire harness 3 rises due to the rise in the ambient temperature, and the allowable current of the wire harness 3 becomes lower than the current flowing when the semiconductor switches 11a to 13a are in the ON state. 12a and 13a can be turned off to reduce the current flowing through the wire harness 3. Further, even if the wire harness 3 deteriorates over time due to a change in the surrounding environment, the current flowing through the wire harness 3 can be reduced. As a result, electric power can be appropriately supplied to the load according to the surrounding environment.

また、本実施形態では、制御ユニット40は、ワイヤーハーネス3の抵抗値を算出する。そして、制御ユニット40は、算出したワイヤーハーネス3が予め定められた参照抵抗値よりも大きい場合には、ワイヤーハーネス3に流す電流を制限する必要があると判定する。これにより、周囲温度の上昇に起因したワイヤーハーネス3の温度上昇を検出することができる。また、ワイヤーハーネス3の経年劣化を検出することができる。その結果、ワイヤーハーネス3の温度上昇又は経年劣化によって、電力分配装置に異常が発生することを予め防ぐことができる。 Further, in the present embodiment, the control unit 40 calculates the resistance value of the wire harness 3. Then, the control unit 40 determines that it is necessary to limit the current flowing through the wire harness 3 when the calculated wire harness 3 is larger than the predetermined reference resistance value. Thereby, the temperature rise of the wire harness 3 due to the rise of the ambient temperature can be detected. In addition, aged deterioration of the wire harness 3 can be detected. As a result, it is possible to prevent an abnormality from occurring in the power distribution device in advance due to a temperature rise or aged deterioration of the wire harness 3.

さらに、本実施形態では、制御ユニット40は、半導体デバイス2の電流センサ2cの検出結果及び電圧センサ2dの検出結果、半導体デバイス11の電圧センサ11dの検出結果を継続的に取得し、ワイヤーハーネス3の抵抗値を継続的に算出する。これにより、負荷21〜23を駆動させている最中に周囲温度が上昇又は下降しても、周囲温度に応じて適切に半導体スイッチ11a〜13aのオン又はオフさせることができ、その結果、周囲温度が過度に変化する環境においても、各負荷に適切に電力を供給することができる。 Further, in the present embodiment, the control unit 40 continuously acquires the detection result of the current sensor 2c of the semiconductor device 2, the detection result of the voltage sensor 2d, and the detection result of the voltage sensor 11d of the semiconductor device 11, and the wire harness 3 The resistance value of is continuously calculated. As a result, even if the ambient temperature rises or falls while the loads 21 to 23 are being driven, the semiconductor switches 11a to 13a can be appropriately turned on or off according to the ambient temperature, and as a result, the ambient temperature can be turned on or off. Even in an environment where the temperature changes excessively, it is possible to appropriately supply electric power to each load.

また、本実施形態では、制御ユニット40は、半導体スイッチ2aの高電位側の電圧を検出する電圧センサ2dと、半導体スイッチ11aの高電位側の電圧を検出する電圧センサ11dからそれぞれ検出結果を取得し、2つの電圧値の差分をワイヤーハーネス3の両端の電圧とする。電圧センサ2dはもともと半導体スイッチ2aの異常を検出するために半導体デバイス2に設けられ、また、電圧センサ11dはもともと半導体スイッチ11aの異常を検出するために半導体デバイス11に設けられたものである。つまり、本実施形態では、電圧センサ2d、11dは、半導体スイッチ2a、11aの異常を検出する役割と、ワイヤーハーネス3の両端の電圧を検出するための役割を兼ねている。これにより、ワイヤーハーネス3の両端の電圧を検出するための電圧センサを新たに設ける必要はなく、電力分配装置50の軽量化、小型化を図ることができる。 Further, in the present embodiment, the control unit 40 acquires detection results from the voltage sensor 2d that detects the voltage on the high potential side of the semiconductor switch 2a and the voltage sensor 11d that detects the voltage on the high potential side of the semiconductor switch 11a, respectively. Then, the difference between the two voltage values is the voltage across the wire harness 3. The voltage sensor 2d was originally provided in the semiconductor device 2 to detect an abnormality in the semiconductor switch 2a, and the voltage sensor 11d was originally provided in the semiconductor device 11 in order to detect an abnormality in the semiconductor switch 11a. That is, in the present embodiment, the voltage sensors 2d and 11d have a role of detecting an abnormality of the semiconductor switches 2a and 11a and a role of detecting the voltage across the wire harness 3. As a result, it is not necessary to newly provide a voltage sensor for detecting the voltage across the wire harness 3, and the power distribution device 50 can be reduced in weight and size.

本実施形態における「電源1」は本発明における「電源」の一例に相当し、本実施形態における「負荷21〜23」は本発明における「複数の負荷」の一例に相当する。本実施形態における「半導体スイッチ2a」は本発明における「第1の半導体スイッチ」の一例に相当し、本実施形態における「ヒューズユニット20」は本発明における「第1の半導体ユニット」の一例に相当する。本実施形態における「ワイヤーハーネス3」は本発明における「ワイヤーハーネス」の一例に相当する。本実施形態における「半導体スイッチ11a〜13a」は本発明における「複数の第2の半導体スイッチ」の一例に相当し、本実施形態における「分配ユニット10」は本発明における「第2の半導体ユニット」に相当する。本実施形態における「制御ユニット40」は本発明における「制御ユニット」の一例に相当する。本実施形態における「電流センサ2c」は本発明における「電流センサ」の一例に相当し、本実施形態における「電圧センサ2d」、「電圧センサ11d」は本発明における「電圧センサ」の一例に相当する。本実施形態における「電力分配装置50」は本発明における「電力分配装置」の一例に相当する。本実施形態における「参照抵抗値」は本発明における「予め定められた基準値」の一例に相当する。本実施形態における「電圧センサ2d」は本発明における「第1の電圧センサ」の一例に相当し、本実施形態における「電圧センサ11d、12d、13d」は本発明における「複数の第2の電圧センサ」の一例に相当する。 The "power source 1" in the present embodiment corresponds to an example of the "power source" in the present invention, and the "loads 21 to 23" in the present embodiment correspond to an example of the "plurality of loads" in the present invention. The "semiconductor switch 2a" in the present embodiment corresponds to an example of the "first semiconductor switch" in the present invention, and the "fuse unit 20" in the present embodiment corresponds to an example of the "first semiconductor unit" in the present invention. To do. The "wire harness 3" in the present embodiment corresponds to an example of the "wire harness" in the present invention. The "semiconductor switches 11a to 13a" in the present embodiment correspond to an example of the "plurality of second semiconductor switches" in the present invention, and the "distribution unit 10" in the present embodiment is the "second semiconductor unit" in the present invention. Corresponds to. The "control unit 40" in the present embodiment corresponds to an example of the "control unit" in the present invention. The "current sensor 2c" in the present embodiment corresponds to an example of the "current sensor" in the present invention, and the "voltage sensor 2d" and "voltage sensor 11d" in the present embodiment correspond to an example of the "voltage sensor" in the present invention. To do. The "power distribution device 50" in the present embodiment corresponds to an example of the "power distribution device" in the present invention. The “reference resistance value” in the present embodiment corresponds to an example of the “predetermined reference value” in the present invention. The "voltage sensor 2d" in the present embodiment corresponds to an example of the "first voltage sensor" in the present invention, and the "voltage sensors 11d, 12d, 13d" in the present embodiment correspond to the "plurality of second voltage" in the present invention. It corresponds to an example of "sensor".

次に、上述した実施形態と異なる電力分配装置150を備える電力供給システム200の一例について、図2を参照しながら説明する。図2は、本発明の第2実施形態に係る電力分配装置150を備える電力供給システム200を示す概要図である。なお、上述の実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、繰り返しの説明は省略して、上述の実施形態においてした説明を援用する。 Next, an example of the power supply system 200 including the power distribution device 150 different from the above-described embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a schematic view showing a power supply system 200 including a power distribution device 150 according to a second embodiment of the present invention. The same reference numerals are given to the same configurations as those in the above-described embodiment, the repeated description is omitted, and the description in the above-described embodiment is incorporated.

本実施形態では、上述の実施形態と比べて、ヒューズユニット60が、メインヒューズとして機能する半導体デバイス2の代わりに、FET61、電流センサ62、電圧センサ63の3つの部品で構成されている点で異なる。FET61は、半導体スイッチ61aと還流ダイオード61bを備えており、それぞれは半導体デバイス2が備える半導体スイッチ2a及び還流ダイオード2bに対応する。電流センサ62は、半導体デバイス2が備える電流センサ2cに対応し、電圧センサ63は、半導体デバイス2が備える電圧センサ2dに対応する。FET61としては、例えば、ディスクリート半導体製品が挙げられる。 In the present embodiment, as compared with the above-described embodiment, the fuse unit 60 is composed of three parts, an FET 61, a current sensor 62, and a voltage sensor 63, instead of the semiconductor device 2 that functions as the main fuse. different. The FET 61 includes a semiconductor switch 61a and a freewheeling diode 61b, which correspond to the semiconductor switch 2a and the freewheeling diode 2b included in the semiconductor device 2, respectively. The current sensor 62 corresponds to the current sensor 2c included in the semiconductor device 2, and the voltage sensor 63 corresponds to the voltage sensor 2d included in the semiconductor device 2. Examples of the FET 61 include discrete semiconductor products.

電流センサ62は、制御ユニット40の制御部44と接続しており、検出結果を制御部44に出力する。電圧センサ63は、制御ユニット40の制御部44と接続しており、検出結果を制御部44に出力する。 The current sensor 62 is connected to the control unit 44 of the control unit 40, and outputs the detection result to the control unit 44. The voltage sensor 63 is connected to the control unit 44 of the control unit 40, and outputs the detection result to the control unit 44.

また、本実施形態では、上述の実施形態と比べて、分配ユニット10が備える半導体デバイス11〜13が以下の点で異なる。上述の実施形態の半導体デバイス11に対応する構成を一例に挙げて説明するが、上述した実施形態の半導体デバイス12、13についても同様とする。 Further, in the present embodiment, the semiconductor devices 11 to 13 included in the distribution unit 10 are different from the above-described embodiment in the following points. The configuration corresponding to the semiconductor device 11 of the above-described embodiment will be described as an example, but the same applies to the semiconductor devices 12 and 13 of the above-described embodiment.

本実施形態では、上述の実施形態と比べて、分配ユニット70が、半導体デバイス11の代わりに、FET71、電流センサ81、電圧センサ91の3つの部品で構成する点で異なる。FET71は、半導体スイッチ71aと還流ダイオード71bを備えており、それぞれは半導体デバイス11が備える半導体スイッチ11a及び還流ダイオード11bに対応する。電流センサ81は、半導体デバイス11が備える電流センサ11cに対応し、電圧センサ91は、半導体デバイス11が備える電圧センサ11dに対応する。 The present embodiment is different from the above-described embodiment in that the distribution unit 70 is composed of three components, the FET 71, the current sensor 81, and the voltage sensor 91, instead of the semiconductor device 11. The FET 71 includes a semiconductor switch 71a and a freewheeling diode 71b, which correspond to the semiconductor switch 11a and the freewheeling diode 11b included in the semiconductor device 11, respectively. The current sensor 81 corresponds to the current sensor 11c included in the semiconductor device 11, and the voltage sensor 91 corresponds to the voltage sensor 11d included in the semiconductor device 11.

電流センサ81は、制御ユニット40の制御部44と接続しており、検出結果を制御部44に出力する。電圧センサ91は、制御ユニット40の制御部44と接続しており、検出結果を制御部44に出力する。 The current sensor 81 is connected to the control unit 44 of the control unit 40, and outputs the detection result to the control unit 44. The voltage sensor 91 is connected to the control unit 44 of the control unit 40, and outputs the detection result to the control unit 44.

なお、本実施形態の半導体スイッチと、上述の実施形態の半導体スイッチは同様の機能を有し、本実施形態の電流センサ及び電圧センサは、上述の実施形態の電圧センサ及び電流センサと同様の機能を有している。 The semiconductor switch of the present embodiment and the semiconductor switch of the above-described embodiment have the same functions, and the current sensor and the voltage sensor of the present embodiment have the same functions as the voltage sensor and the current sensor of the above-described embodiment. have.

制御ユニット40の制御部44は、半導体デバイス制御機能により、半導体スイッチ61a、71a、72a、73aのオン及びオフを制御する。例えば、制御部44は、上位コントローラ30の指示信号に基づいて、半導体スイッチ61a、71a、72a、73aをオンさせる。また制御部44は、抵抗値算出機能により、電流センサ62の検出結果、電圧センサ63の検出結果、電圧センサ91の検出結果を継続的に取得し、取得した電流値及び電圧値に基づいて、ワイヤーハーネス3の抵抗値を継続的に算出する。例えば、制御部44は、電圧センサ63の検出結果と電圧センサ91の検出結果の差分を、電流センサ62の検出結果で除算することで、ワイヤーハーネス3の抵抗を算出する。さらに制御部44は、電流制限機能により、算出した抵抗値が記憶部42に記憶された参照抵抗値よりも大きい場合には、記憶部42に記憶された負荷の優先順位に基づいて、半導体スイッチ71a、72a、73aを制御する。例えば、負荷の優先順位が負荷23、22、21の順で高い場合には、制御部44は、優先順位の低い負荷21、22に対応する、半導体スイッチ71a、72aをオフにする。 The control unit 44 of the control unit 40 controls the on and off of the semiconductor switches 61a, 71a, 72a, 73a by the semiconductor device control function. For example, the control unit 44 turns on the semiconductor switches 61a, 71a, 72a, 73a based on the instruction signal of the host controller 30. Further, the control unit 44 continuously acquires the detection result of the current sensor 62, the detection result of the voltage sensor 63, and the detection result of the voltage sensor 91 by the resistance value calculation function, and based on the acquired current value and voltage value, The resistance value of the wire harness 3 is continuously calculated. For example, the control unit 44 calculates the resistance of the wire harness 3 by dividing the difference between the detection result of the voltage sensor 63 and the detection result of the voltage sensor 91 by the detection result of the current sensor 62. Further, the control unit 44 uses the current limiting function to switch the semiconductor switch based on the priority of the load stored in the storage unit 42 when the calculated resistance value is larger than the reference resistance value stored in the storage unit 42. It controls 71a, 72a, and 73a. For example, when the load priority is higher in the order of loads 23, 22, 21, the control unit 44 turns off the semiconductor switches 71a, 72a corresponding to the lower priority loads 21, 22.

このように、本実施形態の電力分配装置150は、半導体デバイスの代わりに、FET、電流センサ、電圧センサの3つの部品で構成して、上述した電力分配装置50と同様に、ワイヤーハーネス3の抵抗値に応じて分配ユニット70が備える半導体スイッチ71a、72a、73aを制御する。一般的には、半導体デバイスは、自己診断機能等の機能を有する制御ユニットを備えているため、FET、電流センサ、電圧センサ等のディスクリート部品よりも高価である。これに対して、本実施形態では、図2に示すような構成にすることで、費用を抑えつつ、周辺環境に応じて適切に負荷へ電力を供給する電力分配装置を提供することができる。 As described above, the power distribution device 150 of the present embodiment is composed of three parts of the FET, the current sensor, and the voltage sensor instead of the semiconductor device, and like the power distribution device 50 described above, the wire harness 3 The semiconductor switches 71a, 72a, 73a included in the distribution unit 70 are controlled according to the resistance value. In general, a semiconductor device is more expensive than discrete components such as FETs, current sensors, and voltage sensors because it includes a control unit having a function such as a self-diagnosis function. On the other hand, in the present embodiment, by configuring as shown in FIG. 2, it is possible to provide a power distribution device that appropriately supplies power to a load according to the surrounding environment while suppressing costs.

本実施形態における「半導体スイッチ61a」は本発明における「第1の半導体スイッチ」の一例に相当し、本実施形態における「ヒューズユニット60」は本発明における「第1の半導体ユニット」の一例に相当する。また、本実施形態における「半導体スイッチ71a、72a、73a」は本発明における「複数の第2の半導体スイッチ」の一例に相当し、本実施形態における「分配ユニット70」は本発明における「第2の半導体ユニット」の一例に相当する。本実施形態における「電流センサ62」は本発明における「電流センサ」の一例に相当し、本実施形態における「電圧センサ63」、「電圧センサ91」は本発明における「電圧センサ」の一例に相当する。本実施形態における「電力分配装置150」は本発明における「電力分配装置」の一例に相当する。本実施形態における「電圧センサ63」は本発明における「第1の電圧センサ」の一例に相当し、本実施形態における「電圧センサ91、92、93」は本発明における「複数の第2の電圧センサ」の一例に相当する。 The "semiconductor switch 61a" in the present embodiment corresponds to an example of the "first semiconductor switch" in the present invention, and the "fuse unit 60" in the present embodiment corresponds to an example of the "first semiconductor unit" in the present invention. To do. Further, the "semiconductor switches 71a, 72a, 73a" in the present embodiment correspond to an example of the "plurality of second semiconductor switches" in the present invention, and the "distribution unit 70" in the present embodiment corresponds to the "second" in the present invention. Corresponds to an example of "semiconductor unit". The "current sensor 62" in the present embodiment corresponds to an example of the "current sensor" in the present invention, and the "voltage sensor 63" and "voltage sensor 91" in the present embodiment correspond to an example of the "voltage sensor" in the present invention. To do. The "power distribution device 150" in the present embodiment corresponds to an example of the "power distribution device" in the present invention. The "voltage sensor 63" in the present embodiment corresponds to an example of the "first voltage sensor" in the present invention, and the "voltage sensors 91, 92, 93" in the present embodiment correspond to the "plurality of second voltage" in the present invention. It corresponds to an example of "sensor".

なお、以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。 It should be noted that the embodiments described above are described for facilitating the understanding of the present invention, and are not described for limiting the present invention. Therefore, each element disclosed in the above embodiment is intended to include all design changes and equivalents belonging to the technical scope of the present invention.

例えば、上述の実施形態では、ワイヤーハーネス3に流れる電流を制限する方法として、制御ユニット40が、電力制限機能により、記憶部42に記憶された負荷の優先順位に基づいて、複数の半導体スイッチのうち一部の半導体スイッチをオフにする構成について説明したが、ワイヤーハーネス3に流れる電流を制限する方法はこれに限られない。 For example, in the above-described embodiment, as a method of limiting the current flowing through the wire harness 3, the control unit 40 uses the power limiting function to control a plurality of semiconductor switches based on the priority of the load stored in the storage unit 42. Although the configuration for turning off some of the semiconductor switches has been described, the method for limiting the current flowing through the wire harness 3 is not limited to this.

上述の実施形態では、制御ユニット40が電力制限機能により複数の負荷のうち一部の負荷への電力供給を停止させる構成であったが、複数の負荷への電力をそれぞれ減少させてワイヤーハーネス3に流れる電流を制限させてもよい。例えば、制御ユニット40は、ワイヤーハーネス3の抵抗値が参照抵抗値よりも大きい場合に、複数の半導体スイッチに対してPWM(Pulse Width Modulation)制御を実行してもよい。この場合に、記憶部42には、図1に示す負荷21〜23の優先順位に対応したデューティ比が予め記憶されており、制御ユニット40は、記憶部42から各負荷に対応するデューティ比を取得する。そして、制御ユニット40は、各負荷に対応するデューティ比に従ったパルス状の駆動信号を生成して、各負荷に対応する半導体スイッチそれぞれにパルス状の駆動信号を出力する。制御ユニット40によりPWM制御が実行されると、図1に示す半導体スイッチ11a〜13aは、スイッチング動作を行う。これにより、各負荷への電流は供給又は遮断を繰り返すため、各負荷へ流れる電流は実質的に減少することとなり、ワイヤーハーネス3に流れる電流も減少する。 In the above-described embodiment, the control unit 40 is configured to stop the power supply to some of the plurality of loads by the power limiting function, but the power to each of the plurality of loads is reduced to reduce the power to the plurality of loads, respectively, and the wire harness 3 You may limit the current flowing through. For example, the control unit 40 may execute PWM (Pulse Width Modulation) control on a plurality of semiconductor switches when the resistance value of the wire harness 3 is larger than the reference resistance value. In this case, the storage unit 42 stores in advance the duty ratios corresponding to the priorities of the loads 21 to 23 shown in FIG. 1, and the control unit 40 stores the duty ratios corresponding to each load from the storage unit 42. get. Then, the control unit 40 generates a pulse-shaped drive signal according to the duty ratio corresponding to each load, and outputs the pulse-shaped drive signal to each of the semiconductor switches corresponding to each load. When the PWM control is executed by the control unit 40, the semiconductor switches 11a to 13a shown in FIG. 1 perform a switching operation. As a result, the current flowing to each load is repeatedly supplied or cut off, so that the current flowing through each load is substantially reduced, and the current flowing through the wire harness 3 is also reduced.

また、例えば、上述の実施形態では、ワイヤーハーネス3に流れる電流を検出する方法として、ワイヤーハーネス3の高電位側に設けられた、半導体デバイス2の電流センサ2c(図1参照)の検出結果、又は電流センサ62(図2参照)の検出結果を取得する構成について説明したが、ワイヤーハーネス3に流れる電流を検出する方法はこれに限られない。 Further, for example, in the above-described embodiment, as a method of detecting the current flowing through the wire harness 3, the detection result of the current sensor 2c (see FIG. 1) of the semiconductor device 2 provided on the high potential side of the wire harness 3 Alternatively, although the configuration for acquiring the detection result of the current sensor 62 (see FIG. 2) has been described, the method for detecting the current flowing through the wire harness 3 is not limited to this.

図1を用いて説明すると、例えば、制御ユニット40は、半導体スイッチ11a〜13aをオンさせた状態において、ワイヤーハーネス3の低電位側に設けられた半導体デバイス11の電流センサ11c、半導体デバイス12の電流センサ12c、半導体デバイス13の電流センサ13cのそれぞれから検出結果を取得する。そして、制御ユニット40は、取得した各電流センサの検出結果の総和を、ワイヤーハーネス3に流れる電流とする。これにより、ワイヤーハーネス3の高電位側には、電流センサを設ける必要がなくなり、電力分配装置50、150の軽量化、小型化を図ることができる。また、半導体デバイスの代わりに、FET、電圧センサの構成で代用することができるため、費用を抑えることができる。 Explaining with reference to FIG. 1, for example, in a state where the semiconductor switches 11a to 13a are turned on, the control unit 40 is a current sensor 11c of the semiconductor device 11 and a semiconductor device 12 provided on the low potential side of the wire harness 3. The detection results are acquired from each of the current sensor 12c and the current sensor 13c of the semiconductor device 13. Then, the control unit 40 sets the sum of the detected detection results of the acquired current sensors as the current flowing through the wire harness 3. As a result, it is not necessary to provide a current sensor on the high potential side of the wire harness 3, and the power distribution devices 50 and 150 can be reduced in weight and size. Further, since the configuration of the FET and the voltage sensor can be substituted instead of the semiconductor device, the cost can be suppressed.

また、例えば、上述の実施形態では、ワイヤーハーネス3の両端の電圧のうち低電位側の電圧を検出する方法として、特定の半導体デバイスの電圧センサの検出結果(例えば、図1に示す半導体デバイス11の電圧センサ11dの検出結果)、又は特定の電圧センサの検出結果(例えば、図2に示す電圧センサ91の検出結果)を取得する構成について説明したが、ワイヤーハーネス3の両端のうち低電位側の電圧を検出する方法はこれに限られない。 Further, for example, in the above-described embodiment, as a method of detecting the voltage on the low potential side among the voltages across the wire harness 3, the detection result of the voltage sensor of a specific semiconductor device (for example, the semiconductor device 11 shown in FIG. 1). The configuration for acquiring the detection result of the voltage sensor 11d) or the detection result of a specific voltage sensor (for example, the detection result of the voltage sensor 91 shown in FIG. 2) has been described, but the low potential side of both ends of the wire harness 3 has been described. The method of detecting the voltage of is not limited to this.

図1を用いて説明すると、例えば、制御ユニット40は、半導体デバイス12の電圧センサ12dの検出結果又は半導体デバイス13の電圧センサ13dの検出結果を取得してもよい。また、制御ユニット40は、半導体デバイス11の電圧センサ11d、半導体デバイス12の電圧センサ12d、半導体デバイス13の電圧センサ13dのそれぞれから検出結果を取得し、各電圧センサの検出結果の平均値を、ワイヤーハーネス3の両端の電圧のうち低電位側の電圧と略同一の電圧としてもよい。 Explaining with reference to FIG. 1, for example, the control unit 40 may acquire the detection result of the voltage sensor 12d of the semiconductor device 12 or the detection result of the voltage sensor 13d of the semiconductor device 13. Further, the control unit 40 acquires detection results from each of the voltage sensor 11d of the semiconductor device 11, the voltage sensor 12d of the semiconductor device 12, and the voltage sensor 13d of the semiconductor device 13, and obtains the average value of the detection results of each voltage sensor. Of the voltages across the wire harness 3, the voltage may be substantially the same as the voltage on the low potential side.

1…電源
20…ヒューズユニット(第1の半導体ユニット)
2…半導体デバイス
2a…半導体スイッチ
2b…還流ダイオード
2c…電流センサ
2d…電圧センサ
3…ワイヤーハーネス
4…電源線
5…電力線
6…配線
7…配線
10…分配ユニット(第2の半導体ユニット)
11…半導体デバイス
11a…半導体スイッチ
11b…還流ダイオード
11c…電流センサ
11d…電圧センサ
12…半導体デバイス
12a…半導体スイッチ
12b…還流ダイオード
12c…電流センサ
12d…電圧センサ
13…半導体デバイス
13a…半導体スイッチ
13b…還流ダイオード
13c…電流センサ
13d…電圧センサ
21…負荷
22…負荷
23…負荷
30…上位コントローラ
40…制御ユニット
41…受信部
42…記憶部
43…駆動部
44…制御部
1 ... Power supply 20 ... Fuse unit (first semiconductor unit)
2 ... Semiconductor device 2a ... Semiconductor switch 2b ... Reflux diode 2c ... Current sensor 2d ... Voltage sensor 3 ... Wire harness 4 ... Power line 5 ... Power line 6 ... Wiring 7 ... Wiring 10 ... Distribution unit (second semiconductor unit)
11 ... Semiconductor device 11a ... Semiconductor switch 11b ... Refluxing diode 11c ... Current sensor 11d ... Voltage sensor 12 ... Semiconductor device 12a ... Semiconductor switch 12b ... Refluxing diode 12c ... Current sensor 12d ... Voltage sensor 13 ... Semiconductor device 13a ... Semiconductor switch 13b ... Refluxing diode 13c ... Current sensor 13d ... Voltage sensor 21 ... Load 22 ... Load 23 ... Load 30 ... Upper controller 40 ... Control unit 41 ... Receiver 42 ... Storage unit 43 ... Drive unit 44 ... Control unit

Claims (5)

電源の電力を複数の負荷に分配する電力分配装置であって、
前記電源と電気的に接続可能な第1の半導体スイッチを含む第1の半導体ユニットと、
前記複数の負荷に対応する複数の第2の半導体スイッチを含む第2の半導体ユニットと、
一端が前記第1の半導体ユニットに接続され、他端が前記第2の半導体ユニットに接続されたワイヤーハーネスと、
前記第1の半導体スイッチのオン及びオフと、前記複数の第2の半導体スイッチのオン及びオフを制御する制御ユニットと、
前記ワイヤーハーネスに流れる電流を検出する電流センサと、
前記ワイヤーハーネスの両端の電圧を検出する電圧センサと、を備え、
前記制御ユニットは、前記電流センサの検出結果及び前記電圧センサの検出結果に基づいて、前記ワイヤーハーネスの状態を判定し、前記ワイヤーハーネスの状態に応じて前記複数の第2の半導体スイッチを制御する電力分配装置。
A power distribution device that distributes the power of the power supply to multiple loads.
A first semiconductor unit including a first semiconductor switch that can be electrically connected to the power supply,
A second semiconductor unit including a plurality of second semiconductor switches corresponding to the plurality of loads, and a second semiconductor unit.
A wire harness having one end connected to the first semiconductor unit and the other end connected to the second semiconductor unit.
A control unit that controls the on / off of the first semiconductor switch and the on / off of the plurality of second semiconductor switches.
A current sensor that detects the current flowing through the wire harness,
A voltage sensor for detecting the voltage across the wire harness is provided.
The control unit determines the state of the wire harness based on the detection result of the current sensor and the detection result of the voltage sensor, and controls the plurality of second semiconductor switches according to the state of the wire harness. Power distribution device.
請求項1に記載の電力分配装置であって、
前記制御ユニットは、前記ワイヤーハーネスの抵抗値を算出し、算出した前記抵抗値と予め定められた基準値との比較結果に応じて前記ワイヤーハーネスの状態を判定する電力分配装置。
The power distribution device according to claim 1.
The control unit is a power distribution device that calculates a resistance value of the wire harness and determines the state of the wire harness according to a comparison result between the calculated resistance value and a predetermined reference value.
請求項1又は2に記載の電力分配装置であって、
前記制御ユニットは、前記電流センサの検出結果及び前記電圧センサの検出結果を継続的に取得し、前記ワイヤーハーネスの抵抗値を継続的に算出する電力分配装置。
The power distribution device according to claim 1 or 2.
The control unit is a power distribution device that continuously acquires the detection result of the current sensor and the detection result of the voltage sensor, and continuously calculates the resistance value of the wire harness.
請求項1〜3の何れか一項に記載の電力分配装置であって、
前記電圧センサは、前記第1の半導体スイッチの高電位側の電圧を検出する第1の電圧センサと、前記複数の第2の半導体スイッチそれぞれの高電位側の電圧を検出する複数の第2の電圧センサを含み、
前記制御ユニットは、前記第1の電圧センサの検出結果と前記複数の第2の電圧センサの検出結果を取得し、前記ワイヤーハーネスの両端の電圧を算出する電力分配装置。
The power distribution device according to any one of claims 1 to 3.
The voltage sensor includes a first voltage sensor that detects a voltage on the high potential side of the first semiconductor switch, and a plurality of second voltages that detect a voltage on the high potential side of each of the plurality of second semiconductor switches. Including voltage sensor
The control unit is a power distribution device that acquires the detection results of the first voltage sensor and the detection results of the plurality of second voltage sensors and calculates the voltage across the wire harness.
電源と、複数の負荷と、請求項1〜4の何れか一項に記載の電力分配装置を備え、
前記電源は、前記第1の半導体スイッチと電気的に接続されており、
前記複数の負荷は、前記複数の第2の半導体スイッチとそれぞれ電気的に接続されている電力供給システム。
A power supply, a plurality of loads, and a power distribution device according to any one of claims 1 to 4 are provided.
The power supply is electrically connected to the first semiconductor switch, and is connected to the first semiconductor switch.
The plurality of loads are power supply systems that are electrically connected to the plurality of second semiconductor switches.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023026684A1 (en) * 2021-08-25 2023-03-02 株式会社オートネットワーク技術研究所 Power supply control device, power supply control method, and computer program

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