JP2020158779A - Method for producing fluorine-containing ether compound and method for producing article - Google Patents

Method for producing fluorine-containing ether compound and method for producing article Download PDF

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勇佑 冨依
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Abstract

To provide a method for producing a fluorine-containing ether compound capable of forming a surface layer having excellent initial water repellency even under any production condition of dry-coating and wet-coating.SOLUTION: There is provided a method for producing a fluorine-containing ether compound in which a fluorine-containing ether compound having either one or both of a hydrolyzable group bonded to a poly (oxyperfluoroalkylene) chain and a silicon atom and a hydroxyl group bonded to a silicon atom is obtained by reacting a compound having a poly (oxyperfluoroalkylene) chain and an ω-alkenyl group and a compound having either one or both of a hydrolyzable group bonded to a hydrogen atom bonded to a silicon atom and a silicon atom and a hydroxyl group bonded to a silicon atom in the presence of a hydrosilylation catalyst and then the fluorine-containing ether compound is filtered using a filter having a water content of 2.5 g/m2 or less.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、含フッ素エーテル化合物の製造方法および物品の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for producing a fluorine-containing ether compound and a method for producing an article.

含フッ素化合物は、高い潤滑性、撥水撥油性等を示すため、表面処理剤に好適に用いられる。表面処理剤によって基材の表面に撥水撥油性を付与すると、基材の表面の汚れを拭き取りやすくなり、汚れの除去性が向上する。上記含フッ素化合物の中でも、ペルフルオロアルキレン鎖の途中にエーテル結合(−O−)が存在するポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖を有する含フッ素エーテル化合物は、柔軟性に優れる化合物であり、特に油脂等の汚れの除去性に優れる。 Fluorine-containing compounds are preferably used as surface treatment agents because they exhibit high lubricity, water and oil repellency, and the like. When water and oil repellency is imparted to the surface of the base material by the surface treatment agent, it becomes easy to wipe off the dirt on the surface of the base material, and the dirt removal property is improved. Among the above-mentioned fluorine-containing compounds, the fluorine-containing ether compound having a poly (oxyperfluoroalkylene) chain in which an ether bond (-O-) is present in the middle of the perfluoroalkylene chain is a compound having excellent flexibility, and particularly, such as fats and oils. Excellent in removing dirt.

上記含フッ素エーテル化合物を含む表面処理剤は、指で繰り返し摩擦されても撥水撥油性が低下しにくい性能(耐摩擦性)および拭き取りによって表面に付着した指紋を容易に除去できる性能(指紋汚れ除去性)が長時間維持されるのが求められる用途、たとえば、タッチパネルの指で触れる面を構成する部材の表面処理剤として用いられる。
上記含フッ素エーテル化合物の製造方法としては、ヒドロシリル化触媒としての白金錯体の存在下、ポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖を有する化合物およびアセトキシシラン等を反応させる方法が知られている(特許文献1)。
The surface treatment agent containing the fluorine-containing ether compound has a performance that the water and oil repellency does not easily decrease even if it is repeatedly rubbed with a finger (friction resistance) and a performance that can easily remove fingerprints adhering to the surface by wiping (fingerprint stains). (Removability) is required to be maintained for a long time, for example, it is used as a surface treatment agent for a member constituting a surface touched by a finger of a touch panel.
As a method for producing the above-mentioned fluorine-containing ether compound, a method of reacting a compound having a poly (oxyperfluoroalkylene) chain with acetoxysilane or the like in the presence of a platinum complex as a hydrosilylation catalyst is known (Patent Document 1). ..

国際公開第2017/022437号公報International Publication No. 2017/022437

近年、含フッ素エーテル化合物を含む表面処理剤を用いて形成されてなる表面層に求められる物性はさらに向上しており、具体的には、初期の撥水性に優れた表面層が求められている。
本発明者らが、特許文献1に記載の製造方法により得られた含フッ素エーテル化合物を用いて基材の表面に表面層を形成したところ、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれかの製造条件で表面層の初期の撥水性が不充分になる場合があるのを知見した。
In recent years, the physical properties required for a surface layer formed by using a surface treatment agent containing a fluorine-containing ether compound have been further improved, and specifically, a surface layer having excellent initial water repellency is required. ..
When the present inventors formed a surface layer on the surface of the base material using the fluorine-containing ether compound obtained by the production method described in Patent Document 1, the surface was subjected to either dry coating or wet coating production conditions. It was found that the initial water repellency of the layer may be insufficient.

本発明は、上記課題に鑑みて、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれの製造条件でも初期の撥水性に優れた表面層を形成できる含フッ素エーテル化合物の製造方法および物品の製造方法の提供を目的とする。 In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a method for producing a fluorine-containing ether compound and a method for producing an article, which can form a surface layer having excellent initial water repellency under any production conditions of dry coating and wet coating. To do.

本発明は、下記[1]〜[8]の構成を有する含フッ素エーテル化合物の製造方法および物品の製造方法を提供する。
[1] ヒドロシリル化触媒の存在下、ポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖およびω−アルケニル基を有する化合物と、ケイ素原子に結合した水素原子ならびにケイ素原子に結合した加水分解性基およびケイ素原子に結合した水酸基のいずれか一方または両方を有する化合物とを反応させて、ポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖ならびにケイ素原子に結合した加水分解性基およびケイ素原子に結合した水酸基のいずれか一方または両方を有する含フッ素エーテル化合物を得た後、含水量2.5g/m以下のフィルタを用いて上記含フッ素エーテル化合物を濾過することを特徴とする含フッ素エーテル化合物の製造方法。
[2] 上記フィルタを構成する材料が、ポリテトラフルオロエチレンである、[1]の製造方法。
[3] 上記フィルタは乾燥処理が施されたフィルタである、[1]または[2]の製造方法。
[4] 上記乾燥処理が、窒素ガスを通過させる処理を含む、[1]〜[3]のいずれかの製造方法。
[5] 上記乾燥処理が、加熱する処理を含む、[1]〜[4]のいずれかの製造方法。
[6] 上記フィルタの含水量が、1.5g/m以下である、[1]〜[5]のいずれかの製造方法。
[7] 上記フィルタの含水量が、1.0g/m以下である、[1]〜[6]のいずれかの製造方法。
[8] 上記[1]〜[7]のいずれかの含フッ素エーテル化合物の製造方法によって得られた含フッ素エーテル化合物を用いて、基材の表面に表面層を形成することを特徴とする物品の製造方法。
The present invention provides a method for producing a fluorine-containing ether compound having the following configurations [1] to [8] and a method for producing an article.
[1] In the presence of a hydrosilylation catalyst, a compound having a poly (oxyperfluoroalkylene) chain and an ω-alkenyl group was bonded to a hydrogen atom bonded to a silicon atom, a hydrolyzable group bonded to the silicon atom, and a silicon atom. By reacting with a compound having either one or both of the hydroxyl groups, a poly (oxyperfluoroalkylene) chain and a hydrolyzable group bonded to a silicon atom and a fluorine-containing compound having one or both of the hydroxyl groups bonded to a silicon atom A method for producing a fluorine-containing ether compound, which comprises filtering the fluorine-containing ether compound using a filter having a water content of 2.5 g / m 2 or less after obtaining the ether compound.
[2] The production method of [1], wherein the material constituting the filter is polytetrafluoroethylene.
[3] The production method of [1] or [2], wherein the filter is a filter that has been subjected to a drying treatment.
[4] The production method according to any one of [1] to [3], wherein the drying treatment includes a treatment for passing nitrogen gas.
[5] The production method according to any one of [1] to [4], wherein the drying treatment includes a heating treatment.
[6] The production method according to any one of [1] to [5], wherein the water content of the filter is 1.5 g / m 2 or less.
[7] The production method according to any one of [1] to [6], wherein the water content of the filter is 1.0 g / m 2 or less.
[8] An article characterized in that a surface layer is formed on the surface of a base material using the fluorine-containing ether compound obtained by the method for producing a fluorine-containing ether compound according to any one of the above [1] to [7]. Manufacturing method.

本発明によれば、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれの製造条件でも初期の撥水性に優れた表面層を形成できる含フッ素エーテル化合物の製造方法および物品の製造方法を提供できる。 According to the present invention, it is possible to provide a method for producing a fluorine-containing ether compound and a method for producing an article, which can form an initial surface layer having excellent water repellency under any production conditions of dry coating and wet coating.

本明細書において、式(1)で表される化合物を化合物1と記す。他の式で表される化合物も同様に記す。式(1)で表される基を基1と記す。他の式で表される基も同様に記す。
本明細書において、「アルキレン基がA基を有していてもよい」、「A基を有していてもよいアルキレン基」とは、アルキレン基中の炭素原子−炭素原子間にA基を有していてもよいし、アルキレン基−A基−のように末端にA基を有していてもよいことを意味する。
本発明における用語の意味は以下の通りである。
「エーテル性酸素原子」とは、炭素原子−炭素原子間においてエーテル結合(−O−)を形成する酸素原子を意味する。
「2価のオルガノポリシロキサン残基」とは、下式で表される基である。下式におけるRは、アルキル基(好ましくは炭素数1〜10)、または、フェニル基である。また、g1は、1以上の整数であり、1〜9の整数が好ましく、1〜4の整数が特に好ましい。
In the present specification, the compound represented by the formula (1) is referred to as compound 1. Compounds represented by other formulas are also described in the same manner. The group represented by the formula (1) is referred to as group 1. The groups represented by other formulas are also described in the same manner.
In the present specification, "the alkylene group may have an A group" and "the alkylene group which may have an A group" means an A group between carbon atoms in the alkylene group. It may have, or may have an A group at the end such as an alkylene group-A group.
The meanings of the terms in the present invention are as follows.
The "ethery oxygen atom" means an oxygen atom that forms an ether bond (-O-) between carbon atoms.
The "divalent organopolysiloxane residue" is a group represented by the following formula. Ra in the following formula is an alkyl group (preferably 1 to 10 carbon atoms) or a phenyl group. Further, g1 is an integer of 1 or more, preferably an integer of 1 to 9, and particularly preferably an integer of 1 to 4.

「シルフェニレン骨格基」とは、−Si(RPhSi(R−(ただし、Phはフェニレン基であり、Rは1価の有機基である。)で表される基である。Rとしては、アルキル基(好ましくは炭素数1〜10)が好ましい。
「ジアルキルシリレン基」は、−Si(R−(ただし、Rはアルキル基(好ましくは炭素数1〜10)である。)で表される基である。
「表面層」とは、基材の表面に形成される層を意味する。
含フッ素エーテル化合物の「数平均分子量」は、NMR分析法を用い、下記の方法で算出される。
H−NMRおよび19F−NMRによって、末端基を基準にしてオキシペルフルオロアルキレン基の数(平均値)を求めることによって算出される。
The “silphenylene skeleton group” is a group represented by −Si (R b ) 2 PhSi (R b ) 2- (where Ph is a phenylene group and R b is a monovalent organic group). Is. As R b , an alkyl group (preferably 1 to 10 carbon atoms) is preferable.
A "dialkylsilylene group" is a group represented by −Si (R c ) 2- (where R c is an alkyl group (preferably having 1 to 10 carbon atoms)).
"Surface layer" means a layer formed on the surface of a substrate.
The "number average molecular weight" of the fluorine-containing ether compound is calculated by the following method using an NMR analysis method.
1 Calculated by 1 H-NMR and 19 F-NMR by determining the number (average value) of oxyperfluoroalkylene groups with reference to the terminal groups.

本発明の含フッ素エーテル化合物の製造方法(以下、「本製造方法」ともいう。)は、ヒドロシリル化触媒の存在下、ポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖およびω−アルケニル基を有する化合物(以下、「化合物A」ともいう。)と、ケイ素原子に結合した水素原子ならびにケイ素原子に結合した加水分解性基およびケイ素原子に結合した水酸基のいずれか一方または両方を有する化合物(以下、「化合物B」ともいう。)とを反応させて、ポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖ならびにケイ素原子に結合した加水分解性基およびケイ素原子に結合した水酸基のいずれか一方または両方を有する含フッ素エーテル化合物(以下、「化合物C」ともいう。)を得た後、含水量2.5g/m以下のフィルタを用いて化合物Cを濾過する。
本明細書において、ヒドロシリル化触媒の存在下、化合物Aと化合物Bとを反応させて、化合物Cを得る工程を「合成工程」という。また、含水量2.5g/m以下の上記フィルタを用いて化合物Cを濾過する工程を「濾過工程」という。
The method for producing a fluorine-containing ether compound of the present invention (hereinafter, also referred to as “the present production method”) is a compound having a poly (oxyperfluoroalkylene) chain and an ω-alkenyl group in the presence of a hydrosilylation catalyst (hereinafter, “the production method”). (Also also referred to as “Compound A”) and a compound having either or both of a hydrogen atom bonded to a silicon atom, a hydrolyzable group bonded to the silicon atom, and a hydroxyl group bonded to the silicon atom (hereinafter, also referred to as “Compound B”). A fluorine-containing ether compound having one or both of a poly (oxyperfluoroalkylene) chain, a hydrolyzable group bonded to a silicon atom, and a hydroxyl group bonded to a silicon atom (hereinafter, "compound"). After obtaining (also referred to as C ”), compound C is filtered using a filter having a water content of 2.5 g / m 2 or less.
In the present specification, the step of reacting compound A with compound B in the presence of a hydrosilylation catalyst to obtain compound C is referred to as a "synthesis step". Further, a step of filtering compound C using the above filter having a water content of 2.5 g / m 2 or less is referred to as a “filtration step”.

本製造方法によって得られる濾過後の化合物Cによれば、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれの製造条件でも初期の撥水性に優れた表面層を形成できる。この理由の詳細は、未だ明らかになっていないが概ね以下の理由によると推測される。
化合物Cの製造において、不純物を目的生成物(含フッ素エーテル化合物)から除去するために活性炭等の吸着材が用いられる場合がある。また、塵や埃等のゴミが化合物Cの製造時に混入する場合がある。このような吸着材やゴミを除去するために、フィルタを用いた目的生成物の濾過が行われる。
ここで、フィルタから持ち込まれる水分によって化合物Cの加水分解反応が進行して、化合物Cから生じたケイ素原子に結合した水酸基が、分子間で脱水縮合してSi−O−Si結合を形成する場合がある。そうすると、化合物Cの加水分解によって生じるケイ素原子に結合した水酸基が基材の表面処理を実施する前に消費されているので、化合物Cと基材との反応点が減少して、表面層と基材との密着性が低下すると推測される。これにより、表面層が基材の表面を充分に被覆できなくなった結果、初期の撥水性が低下したと推測される。
この問題に対して、本製造方法によれば、含水量が所定値以下のフィルタを用いるので、化合物Cの加水分解を抑制できる。その結果、本製造方法によって得られる濾過後の化合物Cを用いて、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれの製造条件でも初期の撥水性に優れる表面層が形成できたと考えられる。
According to the filtered compound C obtained by this production method, a surface layer having excellent initial water repellency can be formed under any production conditions of dry coating and wet coating. The details of this reason have not been clarified yet, but it is presumed that it is due to the following reasons.
In the production of compound C, an adsorbent such as activated carbon may be used to remove impurities from the target product (fluorine-containing ether compound). In addition, dust, dust, and other dust may be mixed in during the production of compound C. In order to remove such adsorbents and dust, the target product is filtered using a filter.
Here, when the hydrolysis reaction of compound C proceeds due to the water brought in from the filter, and the hydroxyl groups bonded to the silicon atoms generated from compound C are dehydrated and condensed between the molecules to form a Si—O—Si bond. There is. Then, since the hydroxyl group bonded to the silicon atom generated by the hydrolysis of the compound C is consumed before the surface treatment of the base material is performed, the reaction points between the compound C and the base material are reduced, and the surface layer and the base are reduced. It is presumed that the adhesion with the material is reduced. As a result, it is presumed that the initial water repellency was lowered as a result of the surface layer not being able to sufficiently cover the surface of the base material.
In response to this problem, according to this production method, since a filter having a water content of a predetermined value or less is used, hydrolysis of compound C can be suppressed. As a result, it is considered that the surface layer having excellent initial water repellency could be formed under both the dry coating and wet coating production conditions by using the filtered compound C obtained by this production method.

〔合成工程〕
(化合物A)
化合物Aが有するポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖としては、表面層の撥水撥油性がより優れる点から、(RO)(ただし、Rはペルフルオロアルキレン基であり、mは2〜200の整数であり、炭素数の異なる2種以上のROからなるものであってもよい。)が好ましい。
(RO)の定義は、後段で詳述する。
[Synthesis process]
(Compound A)
As the poly (oxyperfluoroalkylene) chain contained in compound A, (R f O) m (where R f is a perfluoroalkylene group and m is 2 to 200) because the surface layer has more excellent water and oil repellency. It is an integer of, and may consist of two or more types of R f O having different carbon atoms.) Is preferable.
The definition of (R f O) m will be described in detail later.

化合物Aはω−アルケニル基を複数有していてもよい。化合物A中のω−アルケニル基の数は、1〜10が好ましく、1〜6がより好ましく、1〜3が特に好ましい。
ω−アルケニル基としては、アリル基、ビニル基、3−ブテニル基が挙げられる。
Compound A may have a plurality of ω-alkenyl groups. The number of ω-alkenyl groups in compound A is preferably 1 to 10, more preferably 1 to 6, and particularly preferably 1 to 3.
Examples of the ω-alkenyl group include an allyl group, a vinyl group and a 3-butenyl group.

化合物Aとしては、表面層の撥水撥油性がより優れる点で、化合物1が好ましい。
[A−O−Z−(RO)−][−CH=CH (1)
As the compound A, the compound 1 is preferable because the surface layer has more excellent water and oil repellency.
[A 1 −O −Z 1 − (R f O) m −] j Z 2 [−CH = CH 2 ] q (1)

は、ペルフルオロアルキル基または−Q[−CH=CHである。
ペルフルオロアルキル基中の炭素数は、表面層の耐摩擦性がより優れる点から、1〜20が好ましく、1〜10がより好ましく、1〜6がさらに好ましく、1〜3が特に好ましい。
ペルフルオロアルキル基は、直鎖状であっても分岐鎖状であってもよい。
ただし、Aが−Q[−CH=CHである場合、jは1である。
A 1 is a perfluoroalkyl group or −Q [−CH = CH 2 ] k .
The number of carbon atoms in the perfluoroalkyl group is preferably 1 to 20, more preferably 1 to 10, further preferably 1 to 6, and particularly preferably 1 to 3 from the viewpoint of more excellent abrasion resistance of the surface layer.
The perfluoroalkyl group may be linear or branched.
However, when A 1 is −Q [−CH = CH 2 ] k , j is 1.

ペルフルオロアルキル基としては、CF−、CFCF−、CFCFCF−、CFCFCFCF−、CFCFCFCFCF−、CFCFCFCFCFCF−、CFCF(CF)−等が挙げられる。
ペルフルオロアルキル基としては、表面層の撥水撥油性がより優れる点から、CF−、CFCF−、CFCFCF−が好ましい。
Perfluoroalkyl groups include CF 3- , CF 3 CF 2- , CF 3 CF 2 CF 2- , CF 3 CF 2 CF 2 CF 2- , CF 3 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2- , CF 3 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2- , CF 3 CF (CF 3 )-etc.
As the perfluoroalkyl group, CF 3 −, CF 3 CF 2 −, and CF 3 CF 2 CF 2 − are preferable because the surface layer has more excellent water and oil repellency.

Qは、(k+1)価の連結基である。後述するように、kは1〜10の整数である。よって、Qとしては、2〜11価の連結基が挙げられる。
Qとしては、たとえば、エーテル性酸素原子または2価のオルガノポリシロキサン残基を有していてもよいアルキレン基、炭素原子、窒素原子、ケイ素原子、2〜8価のオルガノポリシロキサン残基、および、後述する式(2−1)、式(2−2)、式(2−1−1)〜(2−1−6)から−CH=CHを除いた基が挙げられる。
Q is a linking group of (k + 1) valence. As will be described later, k is an integer of 1 to 10. Therefore, as Q, a linking group having a valence of 2 to 11 can be mentioned.
Q includes, for example, an alkylene group which may have an ethereal oxygen atom or a divalent organopolysiloxane residue, a carbon atom, a nitrogen atom, a silicon atom, a 2-8 valent organopolysiloxane residue, and , A group obtained by removing −CH = CH 2 from the formulas (2-1), formula (2-2), and formulas (2-1-1) to (2-1-6) described later.

は、単結合、1個以上の水素原子がフッ素原子に置換された炭素数1〜20のオキシフルオロアルキレン基(ただし、オキシペルフルオロアルキレン基を除く。上記オキシフルオロアルキレン基中の酸素原子は、(RO)に結合する。)、または、1個以上の水素原子がフッ素原子に置換された炭素数1〜20のポリ(オキシフルオロアルキレン)基((RO)に結合するオキシフルオロアルキレン基中の酸素原子は、(RO)に結合する。(RO)に結合するオキシフルオロアルキレン基は、1個以上の水素原子を含む。ポリ(オキシフルオロアルキレン)基には、全ての水素原子がフッ素原子に置換されたオキシペルフルオロアルキレン基と、1個以上の水素原子を含むオキシフルオロアルキレン基との両方が含まれていてもよい。)である。オキシフルオロアルキレン基またはポリ(オキシフルオロアルキレン)基の炭素数は1〜10が好ましい。 Z 1 is a single bond, an oxyfluoroalkylene group having 1 to 20 carbon atoms in which one or more hydrogen atoms are replaced with a fluorine atom (however, the oxyperfluoroalkylene group is excluded. The oxygen atom in the oxyfluoroalkylene group is , (R f O) m ), or a poly (oxyfluoroalkylene) group having 1 to 20 carbon atoms in which one or more hydrogen atoms are substituted with fluorine atoms (bonded to (R f O) m ). oxygen atoms in the oxy-fluoroalkylene group is (R f O) binds to m. oxyfluoroalkylene group bonded to (R f O) m is. poly (oxy-fluoroalkylene comprising one or more hydrogen atoms ) The group may contain both an oxyperfluoroalkylene group in which all hydrogen atoms are substituted with fluorine atoms and an oxyfluoroalkylene group containing one or more hydrogen atoms.) The oxyfluoroalkylene group or poly (oxyfluoroalkylene) group preferably has 1 to 10 carbon atoms.

としては、化合物を製造しやすい点から、単結合、−CHFCFOCHCFO−、−CFCHFCFOCHCFCFO−、−CFCFCHFCFOCHCFO−、−CFCFOCHFCFOCHCFO−、−CFCFOCFCFOCHFCFOCHCFO−、−CFCHOCHCFO−、−CFCFOCFCHOCHCFO−が好ましい(なお、上記式中、左側がA−Oに結合する。)。Zとしては、単結合、−CHFCFOCHCFO−が特に好ましい。 As Z 1 , single bond, -CHFCF 2 OCH 2 CF 2 O-, -CF 2 CHFCF 2 OCH 2 CF 2 CF 2 O-, -CF 2 CF 2 CHFCF 2 OCH 2 CF, from the viewpoint of easy production of compounds. 2 O-, -CF 2 CF 2 OCHFCF 2 OCH 2 CF 2 O-, -CF 2 CF 2 OCF 2 CF 2 OCHFCF 2 OCH 2 CF 2 O-, -CF 2 CH 2 OCH 2 CF 2 O-, -CF 2 CF 2 OCF 2 CH 2 OCH 2 CF 2 O- are preferred (in the formula, the left side is bound to a 1 -O.). As Z 1 , a single bond, −CHFCF 2 OCH 2 CF 2 O−, is particularly preferable.

は、ペルフルオロアルキレン基である。
ペルフルオロアルキレン基の炭素数は、表面層の撥水撥油性がより優れる点から、1〜6が好ましい。
ペルフルオロアルキレン基は、直鎖状であっても分岐鎖状であってもよいが、表面層の撥水撥油性により優れる点から、直鎖状が好ましい。
なお、複数のRは、同一であっても異なっていてもよい。つまり、(RO)は、炭素数の異なる2種以上のROから構成されていてもよい。
R f is a perfluoroalkylene group.
The number of carbon atoms of the perfluoroalkylene group is preferably 1 to 6 from the viewpoint of more excellent water and oil repellency of the surface layer.
The perfluoroalkylene group may be linear or branched, but is preferably linear because it is more excellent in water and oil repellency of the surface layer.
The plurality of R fs may be the same or different. That is, (R f O) m may be composed of two or more types of R f O having different carbon atoms.

mは、2〜200の整数であり、5〜150の整数が好ましく、10〜100の整数が特に好ましい。mが上記範囲の下限値以上であれば、表面層の撥水撥油性がより優れる。mが上記範囲の上限値以下であれば、表面層の耐摩擦性がより優れる。 m is an integer of 2 to 200, preferably an integer of 5 to 150, and particularly preferably an integer of 10 to 100. When m is equal to or more than the lower limit of the above range, the water and oil repellency of the surface layer is more excellent. When m is not more than the upper limit of the above range, the friction resistance of the surface layer is more excellent.

(RO)において、炭素数の異なる2種以上のROが存在する場合、各ROの結合順序は限定されない。たとえば、2種のROが存在する場合、2種のROがランダム、交互、ブロックに配置されてもよい。
(RO)としては、表面層の撥水撥油性がより優れる点から、{(CFO)m11(CFCFO)m12(CFCFCFO)m13(CFCFCFCFO)m14}、(CFCFO)m16、(CFCFCFO)m17、(CFCFO−CFCFCFCFO)m15(CFCFO)、(CFO−CFCFCFCFCFO)m18(CFO)または(CFCFO−CFCFCFCFCFCFO)m19(CFCFO)が好ましく、{(CFO)m11(CFCFO)m12(CFCFCFO)m13(CFCFCFCFO)m14}、(CFCFO−CFCFCFCFO)m15(CFCFO)、(CFO−CFCFCFCFCFO)m18(CFO)、(CFCFO−CFCFCFCFCFCFO)m19(CFCFO)特に好ましい。
ただし、m11およびm12は、それぞれ1以上の整数であり、m13およびm14は、それぞれ0または1以上の整数であり、m11+m12+m13+m14は2〜200の整数であり、m11個のCFO、m12個のCFCFO、m13個のCFCFCFO、m14個のCFCFCFCFOの結合順序は限定されない。m16およびm17は、それぞれ2〜200の整数であり、m15、m18およびm19は、1〜99の整数である。
When two or more kinds of R f O having different carbon atoms are present in (R f O) m , the bonding order of each R f O is not limited. For example, when two types of R f O are present, the two types of R f O may be randomly, alternately, or arranged in blocks.
As (R f O) m , {(CF 2 O) m11 (CF 2 CF 2 O) m12 (CF 2 CF 2 CF 2 O) m13 (CF 2 ) because the surface layer has more excellent water and oil repellency. CF 2 CF 2 CF 2 O) m14 }, (CF 2 CF 2 O) m16, (CF 2 CF 2 CF 2 O) m17 , (CF 2 CF 2 O-CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O) m15 ( CF 2 CF 2 O), (CF 2 O-CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O) m18 (CF 2 O) or (CF 2 CF 2 O-CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O) m19 (CF 2 CF 2 O) is preferable, {(CF 2 O) m11 (CF 2 CF 2 O) m12 (CF 2 CF 2 CF 2 O) m13 (CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O) m14 }, (CF 2 CF 2 O-CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O) m15 (CF 2 CF 2 O), (CF 2 O-CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O) m18 (CF 2 O) ), (CF 2 CF 2 O-CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O) m19 (CF 2 CF 2 O) is particularly preferable.
However, m11 and m12, each an integer of 1 or more, m13 and m14 are each 0 or an integer of 1 or more, m11 + m12 + m13 + m14 is an integer of 2 to 200, m11 amino CF 2 O, m12 amino The bonding order of CF 2 CF 2 O, m13 CF 2 CF 2 CF 2 O, and m14 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O is not limited. m16 and m17 are integers of 2 to 200, respectively, and m15, m18 and m19 are integers of 1 to 99, respectively.

は、(j+q)価の連結基である。
は、たとえば、エーテル性酸素原子または2価のオルガノポリシロキサン残基を有していてもよいアルキレン基、炭素原子、窒素原子、ケイ素原子、2〜8価のオルガノポリシロキサン残基、および、後述する式(2−1)、式(2−2)、式(2−1−1)〜(2−1−6)から−CH=CHを除いた基が挙げられる。
Z 2 is a (j + q) valence linking group.
Z 2 may have, for example, an etheric oxygen atom or a divalent organopolysiloxane residue, an alkylene group, a carbon atom, a nitrogen atom, a silicon atom, a 2-8 valent organopolysiloxane residue, and , A group obtained by removing −CH = CH 2 from the formulas (2-1), formula (2-2), and formulas (2-1-1) to (2-1-6) described later.

jは、1以上の整数であり、表面層の撥水撥油性がより優れる点から、1〜5の整数が好ましく、化合物を製造しやすい点から、1が特に好ましい。
qは、1以上の整数であり、表面層の撥水撥油性がより優れる点から、2〜4の整数が好ましく、2または3がより好ましく、3が特に好ましい。
j is an integer of 1 or more, and an integer of 1 to 5 is preferable from the viewpoint of more excellent water and oil repellency of the surface layer, and 1 is particularly preferable from the viewpoint of easy production of a compound.
q is an integer of 1 or more, and an integer of 2 to 4 is preferable, 2 or 3 is more preferable, and 3 is particularly preferable, from the viewpoint that the water and oil repellency of the surface layer is more excellent.

化合物1としては、表面層の撥水撥油性がより優れる点から、化合物1−1が好ましい。
−O−Z−(RO)−Z (1−1)
式(1−1)中、A、Z、Rおよびmの定義は、式(1)中の各基の定義と同義である。
As the compound 1, the compound 1-1 is preferable because the surface layer has more excellent water and oil repellency.
A 1- O-Z 1- (R f O) m- Z 3 (1-1)
In formula (1-1), the definitions of A 1 , Z 1 , R f and m are synonymous with the definitions of each group in formula (1).

は、基2−1または基2−2である。
−Rf7−Q−X(−Q−CH=CH(−R (2−1)
−Rf7−Q71−[CHC(R71)(−Q72−CH=CH)]−R72 (2−2)
Z 3 is group 2-1 or group 2-2.
−R f7 −Q a −X (−Q b −CH = CH 2 ) h (−R 7 ) i (2-1)
−R f7 −Q 71 − [CH 2 C (R 71 ) (−Q 72 −CH = CH 2 )] y −R 72 (2-2)

f7は、ペルフルオロアルキレン基である。
ペルフルオロアルキレン基の炭素数は、1〜30が好ましく、1〜6が特に好ましい。
ペルフルオロアルキレン基は、直鎖状であっても分岐鎖状であってもよい。
f7としては、化合物を製造しやすい点から、−CFCFCFCF−または−CFCFCFCFCF−が好ましい。
R f7 is a perfluoroalkylene group.
The number of carbon atoms of the perfluoroalkylene group is preferably 1 to 30, and particularly preferably 1 to 6.
The perfluoroalkylene group may be linear or branched.
The R f7, from the viewpoint of easily producing the compound, -CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 - or -CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 - is preferred.

は、単結合または2価の連結基である。
2価の連結基としては、たとえば、2価の炭化水素基(2価の飽和炭化水素基、2価の芳香族炭化水素基、アルケニレン基、アルキニレン基であってもよい。2価の飽和炭化水素基は、直鎖状、分岐鎖状または環状であってもよく、たとえば、アルキレン基が挙げられる。炭素数は1〜20が好ましい。また、2価の芳香族炭化水素基は、炭素数5〜20が好ましく、たとえば、フェニレン基が挙げられる。それ以外にも、炭素数2〜20のアルケニレン基、炭素数2〜20のアルキニレン基であってもよい。)、2価の複素環基、−O−、−S−、−SO−、−N(R)−、−C(O)−、−Si(R−および、これらを2種以上組み合わせた基が挙げられる。ここで、Rは、アルキル基(好ましくは炭素数1〜10)、または、フェニル基である。Rは、水素原子またはアルキル基(好ましくは炭素数1〜10)である。
なお、上記これらを2種以上組み合わせた基としては、たとえば、−OC(O)−、−C(O)N(R)−、エーテル性酸素原子を有するアルキレン基、−OC(O)−を有するアルキレン基、アルキレン基−Si(R−フェニレン基−Si(Rが挙げられる。
Q a is a single bond or divalent linking group.
The divalent linking group may be, for example, a divalent hydrocarbon group (a divalent saturated hydrocarbon group, a divalent aromatic hydrocarbon group, an alkenylene group, or an alkynylene group. Divalent saturated hydrocarbon group. The hydrogen group may be linear, branched or cyclic, and examples thereof include an alkylene group. The carbon number is preferably 1 to 20, and the divalent aromatic hydrocarbon group has a carbon number of carbon. 5 to 20 is preferable, and examples thereof include a phenylene group. In addition, an alkenylene group having 2 to 20 carbon atoms and an alkynylene group having 2 to 20 carbon atoms may be used.) A divalent heterocyclic group. , -O-, -S-, -SO 2- , -N (R d )-, -C (O)-, -Si ( Ra ) 2-, and a group combining two or more of these. .. Here, Ra is an alkyl group (preferably 1 to 10 carbon atoms) or a phenyl group. R d is a hydrogen atom or an alkyl group (preferably having 1 to 10 carbon atoms).
Examples of the group in which two or more of these are combined include -OC (O)-, -C (O) N (R d )-, an alkylene group having an etheric oxygen atom, and -OC (O)-. Examples thereof include an alkylene group having an alkylene group, an alkylene group-Si ( Ra ) 2 -phenylene group-Si ( Ra ) 2 .

Xは、単結合、アルキレン基、炭素原子、窒素原子、ケイ素原子または2〜8価のオルガノポリシロキサン残基である。
なお、上記アルキレン基は、−O−、シルフェニレン骨格基、2価のオルガノポリシロキサン残基またはジアルキルシリレン基を有していてもよい。アルキレン基は、−O−、シルフェニレン骨格基、2価のオルガノポリシロキサン残基およびジアルキルシリレン基からなる群から選択される基を複数有していてもよい。
Xで表されるアルキレン基の炭素数は、1〜20が好ましく、1〜10が特に好ましい。
2〜8価のオルガノポリシロキサン残基としては、2価のオルガノポリシロキサン残基、および、後述する(w+1)価のオルガノポリシロキサン残基が挙げられる。
X is a single bond, an alkylene group, a carbon atom, a nitrogen atom, a silicon atom or a 2-8 valent organopolysiloxane residue.
The alkylene group may have an —O—, a silphenylene skeleton group, a divalent organopolysiloxane residue or a dialkylsilylene group. The alkylene group may have a plurality of groups selected from the group consisting of -O-, a silphenylene skeleton group, a divalent organopolysiloxane residue and a dialkylsilylene group.
The carbon number of the alkylene group represented by X is preferably 1 to 20, and particularly preferably 1 to 10.
Examples of the 2 to 8-valent organopolysiloxane residue include a divalent organopolysiloxane residue and a (w + 1) -valent organopolysiloxane residue described later.

は、単結合または2価の連結基である。
2価の連結基の定義は、上述したQで説明した定義と同義である。
Q b is a single bond or divalent linking group.
Definition of the divalent linking group are the same as those defined as described in the above-described Q a.

は、水酸基またはアルキル基である。
アルキル基の炭素数は、1〜5が好ましく、1〜3がより好ましく、1が特に好ましい。
R 7 is a hydroxyl group or an alkyl group.
The number of carbon atoms of the alkyl group is preferably 1 to 5, more preferably 1 to 3, and particularly preferably 1.

Xが単結合またはアルキレン基の場合、hは1、iは0であり、
Xが窒素原子の場合、hは1〜2の整数であり、iは0〜1の整数であり、h+i=2を満たし、
Xが炭素原子またはケイ素原子の場合、hは1〜3の整数であり、iは0〜2の整数であり、h+i=3を満たし、
Xが2〜8価のオルガノポリシロキサン残基の場合、hは1〜7の整数であり、iは0〜6の整数であり、h+i=1〜7を満たす。
(−Q−CH=CH)が2個以上ある場合は、2個以上の(−Q−CH=CH)は、同一であっても異なっていてもよい。Rが2個以上ある場合は、2個以上の(−R)は、同一であっても異なっていてもよい。
When X is a single bond or an alkylene group, h is 1 and i is 0.
When X is a nitrogen atom, h is an integer of 1 to 2, i is an integer of 0 to 1, and h + i = 2 is satisfied.
When X is a carbon atom or a silicon atom, h is an integer of 1 to 3, i is an integer of 0 to 2, and h + i = 3 is satisfied.
When X is a 2-8 valent organopolysiloxane residue, h is an integer of 1 to 7, i is an integer of 0 to 6, and h + i = 1 to 7 is satisfied.
If (-Q b -CH = CH 2) there are two or more, two or more (-Q b -CH = CH 2) may be be the same or different. If R 7 is two or more, two or more (-R 7) may be be the same or different.

71は、単結合、または、エーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基であり、化合物を製造しやすい点から、単結合が好ましい。
エーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、2〜6が特に好ましい。
Q 71 is a single bond or an alkylene group which may have an ethereal oxygen atom, and a single bond is preferable from the viewpoint of easy production of a compound.
The number of carbon atoms of the alkylene group which may have an ethereal oxygen atom is preferably 1 to 10, and particularly preferably 2 to 6.

71は、水素原子または炭素数1〜10のアルキル基であり、化合物を製造しやすい点から、水素原子が好ましい。
アルキル基としては、メチル基が好ましい。
R 71 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and a hydrogen atom is preferable from the viewpoint of easy production of a compound.
As the alkyl group, a methyl group is preferable.

72は、単結合またはアルキレン基である。アルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。化合物を製造しやすい点から、Q72は、単結合または−CH−が好ましい。 Q 72 is a single bond or an alkylene group. The alkylene group preferably has 1 to 10 carbon atoms, and particularly preferably 1 to 6 carbon atoms. From the viewpoint of easy production of a compound, Q 72 is preferably a single bond or −CH 2− .

72は、水素原子またはハロゲン原子であり、化合物を製造しやすい点から、水素原子が好ましい。 R 72 is a hydrogen atom or a halogen atom, and a hydrogen atom is preferable because it is easy to produce a compound.

yは、1〜10の整数であり、1〜6の整数が好ましい。
2個以上の[CHC(R71)(−Q72−CH=CH)]は、同一であっても異なっていてもよい。
y is an integer of 1 to 10, and an integer of 1 to 6 is preferable.
Two or more [CH 2 C (R 71 ) (−Q 72 −CH = CH 2 )] may be the same or different.

基2−1としては、基2−1−1〜2−1−6が好ましい。
−Rf7−(X−Q−CH=CH (2−1−1)
−Rf7−(Xr1−Q21−N[−(Q22r2−CH=CH (2−1−2)
−Rf7−Q31−G(R)[−(Q32−CH=CH (2−1−3)
−Rf7−[C(O)N(R)]−Q41−(O)−C[−(O)u1−(Q42u2−CH=CH (2−1−4)
−Rf7−Q51−Si[−(Q52−CH=CH (2−1−5)
−Rf7−[C(O)N(R)]v1−Q61−Z[−(Q62v2−CH=CH (2−1−6)
なお、式(2−1−1)〜(2−1−6)中のRf7の定義は、上述した通りである。
The group 2-1 is preferably a group 2-1 to 2-1-6.
−R f7 − (X 1 ) p −Q 1 −CH = CH 2 (2-1-1)
−R f7 − (X 2 ) r1 −Q 21 −N [− (Q 22 ) r2 −CH = CH 2 ] 2 (2-1-2)
−R f7 −Q 31 −G (R 3 ) [-(Q 32 ) c −CH = CH 2 ] 2 (2-1-3)
-R f7 - [C (O) N (R d)] s -Q 41 - (O) t -C [- (O) u1 - (Q 42) u2 -CH = CH 2] 3 (2-1- 4)
−R f7 −Q 51 −Si [− (Q 52 ) e −CH = CH 2 ] 3 (2-1-5)
−R f7 − [C (O) N (R d )] v1 −Q 61 −Z 3 [− (Q 62 ) v2 −CH = CH 2 ] w (2-1-6)
The definition of R f7 in the formulas (2-1-1) to (2-1-6) is as described above.

は、−O−、または、−C(O)N(R)−である(ただし、式中のNはQに結合する)。
の定義は、上述した通りである。
pは、0または1である。
X 1 is -O- or -C (O) N (R d )-(where N in the equation is bound to Q 1 ).
The definition of R d is as described above.
p is 0 or 1.

は、単結合、または、アルキレン基である。なお、アルキレン基は、−O−、シルフェニレン骨格基、2価のオルガノポリシロキサン残基またはジアルキルシリレン基を有していてもよい。アルキレン基は、−O−、シルフェニレン骨格基、2価のオルガノポリシロキサン残基およびジアルキルシリレン基からなる群から選択される基を複数有していてもよい。
なお、アルキレン基が−O−を有する場合、炭素原子−炭素原子間に−O−を有することが好ましい。また、アルキレン基が、シルフェニレン骨格基、2価のオルガノポリシロキサン残基またはジアルキルシリレン基を有する場合、炭素原子−炭素原子間または(Xと結合する側とは反対側の末端にこれらの基を有することが好ましい。
Q 1 is a single bond or an alkylene group. The alkylene group may have an —O—, a silphenylene skeleton group, a divalent organopolysiloxane residue or a dialkylsilylene group. The alkylene group may have a plurality of groups selected from the group consisting of -O-, a silphenylene skeleton group, a divalent organopolysiloxane residue and a dialkylsilylene group.
When the alkylene group has -O-, it is preferable to have -O- between carbon atoms. When the alkylene group has a silphenylene skeleton group, a divalent organopolysiloxane residue or a dialkylsilylene group, it is located between carbon atoms or at the end opposite to the side bonded to (X 1 ) p. It is preferable to have these groups.

で表されるアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。 The alkylene group represented by Q 1 is 1 to 10 are preferred, 1-6 being particularly preferred.

としては、pが0の場合は、単結合、−CHOCH−、−CHOCHCHOCH−、−CHCH−、−CH−、−CHOCHCHCHSi(CHOSi(CH−が好ましい。(Xp1がエーテル性酸素原子の場合は、−CH−、−CHCHOCH−が好ましい。(Xp1が−C(O)N(R)−の場合は、炭素数1〜6のアルキレン基が好ましい(ただし、式中のNはQに結合する)。Qがこれらの基であると化合物が製造しやすい。 The Q 1, if p is 0, a single bond, -CH 2 OCH 2 -, - CH 2 OCH 2 CH 2 OCH 2 -, - CH 2 CH 2 -, - CH 2 -, - CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 Si (CH 3 ) 2 OSI (CH 3 ) 2 -is preferable. (X 1 ) When p1 is an etheric oxygen atom, −CH 2 − and −CH 2 CH 2 OCH 2 − are preferable. (X 1) p1 is -C (O) N (R d ) - in the case of, preferably an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms (provided that, N in the formula is bound to Q 1). If Q 1 is these groups, the compound can be easily produced.

基2−1−1の具体例としては、以下の基が挙げられる。 Specific examples of the group 2-1-1 include the following groups.

は、−O−、−NH−、または、−C(O)N(R)−である。
の定義は、上述した通りである。
X 2 is -O-, -NH-, or -C (O) N (R d )-.
The definition of R d is as described above.

21は、単結合、または、エーテル性酸素原子、−C(O)−、−C(O)O−、−OC(O)−、もしくは−NH−を有していてもよいアルキレン基である。
21で表されるエーテル性酸素原子、−C(O)−、−C(O)O−、−OC(O)−、または−NH−を有していてもよいアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。
Q 21 is an alkylene group which may have a single bond or an ethereal oxygen atom, -C (O)-, -C (O) O-, -OC (O)-, or -NH-. is there.
Etheric oxygen atom represented by Q 21, -C (O) - , - C (O) O -, - OC (O) -, or the number of carbon atoms of the alkylene group which may have a -NH- in 1 to 10 are preferable, and 1 to 6 are particularly preferable.

21としては、化合物を製造しやすい点から、−CH−、−CHCH−、−CHCHCH−、−CHOCHCH−、−CHNHCHCH−、−CHCHOC(O)CHCH−が好ましい(ただし、右側がNに結合する。)。 The Q 21, from the viewpoint of easily producing the compound, -CH 2 -, - CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH 2 OCH 2 CH 2 -, - CH 2 NHCH 2 CH 2 −, −CH 2 CH 2 OC (O) CH 2 CH 2 − is preferable (however, the right side binds to N).

r1は、0または1(ただし、Q21が単結合の場合は0である。)である。化合物を製造しやすい点から、0が好ましい。
r2は、0または1である。
r1 is 0 or 1 (however, 0 when Q 21 is a single bond). 0 is preferable from the viewpoint that the compound can be easily produced.
r2 is 0 or 1.

22は、2価のオルガノポリシロキサン残基、エーテル性酸素原子または−NH−を有していてもよいアルキレン基である。
なお、アルキレン基が2価のオルガノポリシロキサン残基を有する場合、炭素原子−炭素原子間またはNと結合する側とは反対側の末端にこの基を有することが好ましい。
22で表される2価のオルガノポリシロキサン残基、エーテル性酸素原子または−NH−を有していてもよいアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。
Q 22 is an alkylene group that may have a divalent organopolysiloxane residue, an ethereal oxygen atom or -NH-.
When the alkylene group has a divalent organopolysiloxane residue, it is preferable to have this group between carbon atoms or at the end opposite to the side where N is bonded.
Divalent organopolysiloxane residue represented by Q 22, the carbon number of etheric oxygen atom or an alkylene group which may -NH- a have the 1 to 10 preferably 1 to 6 is particularly preferred.

22としては、化合物を製造しやすい点から、−CH−、−CHCHOCH−が好ましい(ただし、右側が−CH=CHに結合する。)。 The Q 22, from the viewpoint of easily producing the compound, -CH 2 -, - CH 2 CH 2 OCH 2 - is preferred (but the right side is attached to the -CH = CH 2.).

2個の[−(Q22r2−CH=CH]は、同一であっても異なっていてもよい。 The two [-(Q 22 ) r2 -CH = CH 2 ] may be the same or different.

基2−1−2の具体例としては、以下の基が挙げられる。 Specific examples of the group 2-1-2 include the following groups.

31は、単結合、または、エーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基であり、化合物を製造しやすい点から、単結合が好ましい。
31で表されるエーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、2〜6が特に好ましい。
Q 31 is a single bond or an alkylene group which may have an ethereal oxygen atom, and a single bond is preferable from the viewpoint of easy production of a compound.
The number of carbon atoms of the alkylene group which may have an etheric oxygen atom represented by Q 31 is 1 to 10 preferably 2 to 6 is particularly preferred.

Gは、炭素原子またはケイ素原子である。
は、水酸基またはアルキル基である。Rで表されるアルキル基の炭素数は、1〜4が好ましい。
cは、0または1である。
G(R)としては、化合物を製造しやすい点から、C(OH)またはSi(R3a)(ただし、R3aはアルキル基である。アルキル基の炭素数は1〜10が好ましく、メチル基が特に好ましい。)が好ましい。
G is a carbon atom or a silicon atom.
R 3 is a hydroxyl group or an alkyl group. The alkyl group represented by R 3 preferably has 1 to 4 carbon atoms.
c is 0 or 1.
As G (R 3 ), C (OH) or Si (R 3a ) (however, R 3a is an alkyl group. The alkyl group preferably has 1 to 10 carbon atoms, preferably methyl, from the viewpoint of easy production of a compound. The group is particularly preferable.) Is preferable.

32は、2価のオルガノポリシロキサン残基を有していてもよいアルキレン基、または、炭素数2以上のアルキレン基の炭素原子−炭素原子間にエーテル性酸素原子を有する基である。
なお、アルキレン基が2価のオルガノポリシロキサン残基を有する場合、炭素原子−炭素原子間またはGと結合する側とは反対側の末端にこの基を有することが好ましい。
32で表される2価のオルガノポリシロキサン残基を有していてもよいアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。
32で表される炭素数2以上のアルキレン基の炭素原子−炭素原子間にエーテル性酸素原子を有する基の炭素数は、2〜10が好ましく、2〜6が特に好ましい。
32としては、化合物を製造しやすい点から、−CH−、−CHCHCHCHCHCH−が好ましい。
Q 32 is a divalent organopolysiloxane residue alkylene group which may have, or the carbon atoms of the alkylene group having 2 or more carbon atoms - a group having an etheric oxygen atom between carbon atoms.
When the alkylene group has a divalent organopolysiloxane residue, it is preferable to have this group at the end between carbon atoms or the side opposite to the side where G is bonded.
Q 32 2 divalent carbon number of an alkylene group which may contain an organopolysiloxane residue represented by the 1-10 preferably 1-6 being particularly preferred.
Carbon atom of the alkylene group having 2 or more carbon atoms represented by Q 32 - number of carbon atoms of the group having an etheric oxygen atom between carbon atoms, preferably 2 to 10, 2 to 6 is particularly preferred.
The Q 32, from the viewpoint of easily producing the compound, -CH 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 - is preferred.

2個の[−(Q32−CH=CH]は、同一であっても異なっていてもよい。 The two [-(Q 32 ) c -CH = CH 2 ] may be the same or different.

基2−1−3の具体例としては、以下の基が挙げられる。 Specific examples of the group 2-1-3 include the following groups.

式(2−1−4)中のRの定義は、上述した通りである。
sは、0または1である。
41は、単結合、または、エーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基である。
41で表されるエーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、2〜6が特に好ましい。
tは、0または1(ただし、Q41が単結合の場合は0である。)である。
−Q41−(O)−としては、化合物を製造しやすい点から、sが0の場合は、単結合、−CHO−、−CHOCH−、−CHOCHCHO−、−CHOCHCHOCH−、−CHOCHCHCHCHOCH−が好ましく(ただし、左側がRf7に結合する。)、sが1の場合は、単結合、−CH−、−CHCH−が好ましい。
The definition of R d in the formula (2-1-4) is as described above.
s is 0 or 1.
Q 41 is an alkylene group which may have a single bond or an ethereal oxygen atom.
The number of carbon atoms of the alkylene group which may have an etheric oxygen atom represented by Q 41 is 1 to 10 preferably 2 to 6 is particularly preferred.
t is 0 or 1 (however, 0 when Q 41 is a single bond).
As for −Q 41 − (O) t −, when s is 0, it is a single bond, −CH 2 O−, −CH 2 OCH 2 −, −CH 2 OCH 2 CH 2 because it is easy to produce a compound. O-, -CH 2 OCH 2 CH 2 OCH 2- , -CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 CH 2 OCH 2- is preferable (however, the left side is bound to R f7 ), and when s is 1, single bond, -CH 2 -, - CH 2 CH 2 - is preferred.

42は、アルキレン基、2価のオルガノポリシロキサン残基またはジアルキルシリレン基であり、上記アルキレン基は−O−、−C(O)N(R)−〔Rの定義は、上述した通りである。〕、シルフェニレン骨格基、2価のオルガノポリシロキサン残基またはジアルキルシリレン基を有していてもよい。
なお、アルキレン基が−O−を有する場合、炭素原子−炭素原子間に−O−を有することが好ましい。また、アルキレン基が−C(O)N(R)−、ジアルキルシリレン基または2価のオルガノポリシロキサン残基を有する場合、炭素原子−炭素原子間または(O)u1と結合する側の末端にこれらの基を有することが好ましい。また、アルキレン基がシルフェニレン骨格基を有する場合、炭素原子−炭素原子間または(O)u1と結合する側とは反対側の末端にこれらの基を有することが好ましい。
42で表されるアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。
Q 42 is an alkylene group, a divalent organopolysiloxane residue or dialkyl silylene group, the alkylene group -O -, - C (O) N (R d) - [in R d definition described above It's a street. ], It may have a silphenylene skeleton group, a divalent organopolysiloxane residue or a dialkylsilylene group.
When the alkylene group has -O-, it is preferable to have -O- between carbon atoms. When the alkylene group has a -C (O) N (R d )-, dialkylsilylene group or a divalent organopolysiloxane residue, it is between carbon atoms or the end on the side that bonds with (O) u1. It is preferable to have these groups in. When the alkylene group has a silphenylene skeleton group, it is preferable to have these groups between carbon atoms or at the end opposite to the side bonded to (O) u1 .
The alkylene group represented by Q 42 is 1 to 10 preferably 1 to 6 is particularly preferred.

u1は、0または1である。
u2は、0または1である。
−(O)u1−(Q42u2−としては、化合物を製造しやすい点から、単結合、−CH−、−CHOCH−、−CHOCHCHCH−、−OCH−、−OSi(CHCH−、−OSi(CHOSi(CHCH−、−CHCHCHSi(CHPhSi(CH−が好ましい(ただし、右側が−CH=CHに結合する。)
u1 is 0 or 1.
u2 is 0 or 1.
-(O) u1- (Q 42 ) u2- is a single bond, -CH 2- , -CH 2 OCH 2- , -CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 -,-, because it is easy to produce a compound. OCH 2- , -OSi (CH 3 ) 2 CH 2- , -OSi (CH 3 ) 2 OSi (CH 3 ) 2 CH 2- , -CH 2 CH 2 CH 2 Si (CH 3 ) 2 PhSi (CH 3 ) 2 -is preferable (however, the right side binds to -CH = CH 2 ).

3個の[−(O)u1−(Q42u2−CH=CH]は、同一であっても異なっていてもよい。 The three [-(O) u1- (Q 42 ) u2 -CH = CH 2 ] may be the same or different.

基2−1−4の具体例としては、以下の基が挙げられる。 Specific examples of the group 2-1-4 include the following groups.

51は、エーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基である。
51で表されるエーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。
51としては、化合物を製造しやすい点から、−CHOCHCHCH−、−CHOCHCHOCHCHCH−、−CHCH−、−CHCHCH−が好ましい(ただし、右側がSiに結合する。)。
Q 51 is an alkylene group which may have an ethereal oxygen atom.
The number of carbon atoms of the alkylene group which may have an etheric oxygen atom represented by Q 51 is 1 to 10 preferably 1 to 6 is particularly preferred.
The Q 51, from the viewpoint of easily producing the compound, -CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 -, - CH 2 OCH 2 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 -is preferable (however, the right side is bonded to Si).

eは、0または1である。 e is 0 or 1.

52は、2価のオルガノポリシロキサン残基を有していてもよいアルキレン基、または、炭素数2以上のアルキレン基の炭素原子−炭素原子間にエーテル性酸素原子を有する基である。
なお、アルキレン基が2価のオルガノポリシロキサン残基を有する場合、炭素原子−炭素原子間またはSiと結合する側とは反対側の末端にこの基を有することが好ましい。
52で表されるアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。
52で表される炭素数2以上のアルキレン基の炭素原子−炭素原子間にエーテル性酸素原子を有する基の炭素数は、2〜10が好ましく、2〜6が特に好ましい。
52としては、化合物を製造しやすい点から、−CH−、−CHCHOCH−が好ましい(ただし、右側が−CH=CHに結合する。)。
Q 52 is a divalent organopolysiloxane residue alkylene group which may have, or the carbon atoms of the alkylene group having 2 or more carbon atoms - a group having an etheric oxygen atom between carbon atoms.
When the alkylene group has a divalent organopolysiloxane residue, it is preferable to have this group at the end between carbon atoms or the side opposite to the side where Si is bonded.
The carbon number of the alkylene group represented by Q 52 is preferably 1 to 10, and particularly preferably 1 to 6.
Carbon atom of the alkylene group having 2 or more carbon atoms represented by Q 52 - number of carbon atoms of the group having an etheric oxygen atom between carbon atoms, preferably 2 to 10, 2 to 6 is particularly preferred.
The Q 52, from the viewpoint of easily producing the compound, -CH 2 -, - CH 2 CH 2 OCH 2 - is preferred (but the right side is attached to the -CH = CH 2.).

3個の[−(Q52−CH=CH]は、同一であっても異なっていてもよい。 The three [-(Q 52 ) e -CH = CH 2 ] may be the same or different.

基2−1−5の具体例としては、以下の基が挙げられる。 Specific examples of the groups 2-1-5 include the following groups.

式(2−1−6)中のRの定義は、上述の通りである。
v1は、0または1である。
The definition of R d in the formula (2-1-6) is as described above.
v1 is 0 or 1.

61は、エーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基である。
61で表されるエーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、2〜6が特に好ましい。
61としては、化合物を製造しやすい点から、−CHOCHCHCH−、−CHOCHCHOCHCHCH−、−CHCH−、−CHCHCH−が好ましい(ただし、右側がZに結合する。)。
Q 61 is a alkylene group which may have an etheric oxygen atom.
The number of carbon atoms of the alkylene group which may have an etheric oxygen atom represented by Q 61 is 1 to 10 preferably 2 to 6 is particularly preferred.
The Q 61, from the viewpoint of easily producing the compound, -CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 -, - CH 2 OCH 2 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 -is preferred (however, the right side binds to Z 3 ).

は、(w+1)価のオルガノポリシロキサン残基である。
wは、2〜7の整数である。
(w+1)価のオルガノポリシロキサン残基としては、下記の基が挙げられる。ただし、下式におけるRは、上述の通りである。
Z 3 is a (w + 1) -valent organopolysiloxane residue.
w is an integer of 2 to 7.
Examples of the (w + 1) -valent organopolysiloxane residue include the following groups. However, Ra in the following equation is as described above.

v2は、0または1である。 v2 is 0 or 1.

62は、2価のオルガノポリシロキサン残基、または、エーテル性酸素原子を有していてもよいアルキレン基である。
なお、アルキレン基が2価のオルガノポリシロキサン残基を有する場合、炭素原子−炭素原子間またはZと結合する側とは反対側の末端にこの基を有することが好ましい。
62で表されるアルキレン基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6が特に好ましい。
62としては、化合物を製造しやすい点から、−CH−が好ましい。
Q 62 is a divalent organopolysiloxane residue, or a alkylene group which may have an etheric oxygen atom.
In the case where the alkylene group having a divalent organopolysiloxane residue, carbon atoms - preferably has the group at the opposite side to the side to be bonded to a carbon atom or between Z 3.
The alkylene group represented by Q 62 is 1 to 10 preferably 1 to 6 is particularly preferred.
The Q 62, from the viewpoint of easily producing the compound, -CH 2 - are preferred.

w個の[−(Q62v2−CH=CH]は、同一であっても異なっていてもよい。 The w [-(Q 62 ) v2 -CH = CH 2 ] may be the same or different.

(化合物B)
化合物B中におけるケイ素原子に結合した水素原子の数は、1〜3が好ましく、1が特に好ましい。
(Compound B)
The number of hydrogen atoms bonded to silicon atoms in compound B is preferably 1 to 3, particularly preferably 1.

化合物Bとしては、化合物3が好ましい。
H−SiR3−n (3)
Compound B is preferably compound 3.
H-SiR n L 3-n (3)

Rは、1価の炭化水素基であり、1価の飽和炭化水素基が好ましい。炭素数は、1〜6が好ましく、1〜3がより好ましく、1〜2が特に好ましい。 R is a monovalent hydrocarbon group, and a monovalent saturated hydrocarbon group is preferable. The number of carbon atoms is preferably 1 to 6, more preferably 1 to 3, and particularly preferably 1 to 2.

Lは、加水分解性基または水酸基である。
Lの加水分解性基は、加水分解反応により水酸基となる基である。すなわち、加水分解性基は、加水分解反応により水酸基となる。ケイ素原子に結合した水酸基は、さらにケイ素原子に結合した水酸基間で反応してSi−O−Si結合を形成する。また、ケイ素原子に結合した水酸基は、基材の表面の水酸基(基材−OH)と脱水縮合反応して、化学結合(基材−O−Si)を形成できる。
L is a hydrolyzable group or a hydroxyl group.
The hydrolyzable group of L is a group that becomes a hydroxyl group by the hydrolysis reaction. That is, the hydrolyzable group becomes a hydroxyl group by the hydrolysis reaction. The hydroxyl groups bonded to the silicon atom further react between the hydroxyl groups bonded to the silicon atom to form a Si—O—Si bond. Further, the hydroxyl group bonded to the silicon atom can form a chemical bond (base material-O-Si) by dehydration condensation reaction with the hydroxyl group (base material-OH) on the surface of the base material.

Lとしては、アルコキシ基、ハロゲン原子、アシル基、イソシアナート基(−NCO)等が挙げられる。アルコキシ基としては、炭素数1〜4のアルコキシ基が好ましい。ハロゲン原子としては、塩素原子が好ましい。
Lとしては、工業的な製造が容易な点から、炭素数1〜4のアルコキシ基またはハロゲン原子が好ましい。Lとしては、塗布時のアウトガスが少なく、化合物3の保存安定性がより優れる点から、炭素数1〜4のアルコキシ基が好ましく、化合物3の長期の保存安定性が必要な場合にはエトキシ基が特に好ましく、塗布後の反応時間を短時間とする場合にはメトキシ基が特に好ましい。
Examples of L include an alkoxy group, a halogen atom, an acyl group, an isocyanate group (-NCO) and the like. As the alkoxy group, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms is preferable. As the halogen atom, a chlorine atom is preferable.
As L, an alkoxy group or a halogen atom having 1 to 4 carbon atoms is preferable from the viewpoint of easy industrial production. As L, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms is preferable, and an ethoxy group is required when long-term storage stability of compound 3 is required, because there is little outgassing during coating and the storage stability of compound 3 is more excellent. Is particularly preferable, and a methoxy group is particularly preferable when the reaction time after coating is short.

nは、0〜2の整数である。
nは、0または1が好ましく、0が特に好ましい。Lが複数存在することによって、表面層の基材への密着性がより強固になる。
nが1以下である場合、1分子中に存在する複数のLは互いに同じであっても異なっていてもよい。原料の入手容易性や製造容易性の点からは、互いに同じであることが好ましい。
n is an integer from 0 to 2.
n is preferably 0 or 1, and 0 is particularly preferable. The presence of a plurality of L makes the adhesion of the surface layer to the base material stronger.
When n is 1 or less, the plurality of Ls present in one molecule may be the same or different from each other. From the viewpoint of availability of raw materials and ease of production, they are preferably the same.

化合物3としては、H−Si(OCH、H−SiCH(OCH、H−Si(OCHCH、H−SiCl、H−Si(OC(O)CH、H−Si(NCO)が好ましい。 Compound 3 includes H-Si (OCH 3 ) 3 , H-SiCH 3 (OCH 3 ) 2 , H-Si (OCH 2 CH 3 ) 3 , H-SiCl 3 , H-Si (OC (O) CH 3 ). ) 3 , H-Si (NCO) 3 is preferable.

(化合物C)
化合物Cは、化合物の保存安定性がより優れる点から、ケイ素原子に結合した加水分解性基を有することが好ましい。
(Compound C)
Compound C preferably has a hydrolyzable group bonded to a silicon atom because the storage stability of the compound is more excellent.

化合物Cの数平均分子量は、500〜20,000が好ましく、800〜10,000がより好ましく、1,000〜8,000が特に好ましい。数平均分子量が該範囲内であれば、表面層の耐摩擦性に優れる。 The number average molecular weight of Compound C is preferably 500 to 20,000, more preferably 800 to 10,000, and particularly preferably 1,000 to 8,000. When the number average molecular weight is within this range, the surface layer has excellent abrasion resistance.

化合物Cとしては、化合物4が好ましい。
[A−O−Z−(RO)−][−C−SiR3−n (4)
式(4)中、Aは、ペルフルオロアルキル基または−Q[−C−SiR3−nである。
ただし、Aが−Q[−C−SiR3−nである場合、jは1である。
他の各基の定義は、上述した通りである。
As compound C, compound 4 is preferable.
[A 2- O-Z 1- (R f O) m- ] j Z 2 [-C 2 H 4- SiR n L 3-n ] q (4)
In formula (4), A 2 is a perfluoroalkyl group or −Q [−C 2 H 4- SiR n L 3-n ] k .
However, when A 2 is −Q [−C 2 H 4 − SiR n L 3-n ] k , j is 1.
The definitions of the other groups are as described above.

化合物4としては、化合物4−1が好ましい。
−O−Z−(RO)−Z (4−1)
式(4−1)中、A、Z、R、および、mの定義は、上述した通りである。
As the compound 4, compound 4-1 is preferable.
A 2- O-Z 1- (R f O) m- Z 4 (4-1)
In formula (4-1), the definitions of A 2 , Z 1 , R f , and m are as described above.

は、基5−1または基5−2である。
−Rf7−Q−X(−Q−C−SiR3−n(−R (5−1)
−Rf7−Q71−[CHC(R71)(−Q72−C−SiR3−n)]−R72 (5−2)
なお、式(5−1)および(5−2)中の各基の定義は、上述した通りである。
Z 4 is a group 5-1 or a group 5-2.
−R f7 −Q a −X (−Q b −C 2 H 4 −SiR n L 3-n ) h (−R 7 ) i (5-1)
−R f7 −Q 71 − [CH 2 C (R 71 ) (−Q 72 −C 2 H 4 −SiR n L 3-n )] y −R 72 (5-2)
The definitions of each group in the formulas (5-1) and (5-2) are as described above.

さらに、基5−1としては、基5−1−1〜5−1−6が好ましい。
−Rf7−(X−Q−C−SiR3−n (5−1−1)
−Rf7−(Xr1−Q21−N[−(Q22r2−C−SiR3−n (5−1−2)
−Rf7−Q31−G(R)[−(Q32−C−SiR3−n (5−1−3)
−Rf7−[C(O)N(R)]−Q41−(O)−C[−(O)u1−(Q42u2−C−SiR3−n (5−1−4)
−Rf7−Q51−Si[−(Q52−C−SiR3−n (5−1−5)
−Rf7−[C(O)N(R)]v1−Q61−Z[−(Q62v2−C−SiR3−n (5−1−6)
なお、式(5−1−1)および(5−1−6)中の各基の定義は、上述した通りである。
Further, as the group 5-1, groups 5-1-1 to 5-1-6 are preferable.
−R f7 − (X 1 ) p −Q 1 −C 2 H 4- SiR n L 3-n (5-1-1)
−R f7 − (X 2 ) r1 −Q 21 −N [− (Q 22 ) r2 −C 2 H 4 −SiR n L 3-n ] 2 (5-1-2)
−R f7 −Q 31 −G (R 3 ) [-(Q 32 ) c −C 2 H 4- SiR n L 3-n ] 2 (5-1-3)
−R f7 − [C (O) N (R d )] s −Q 41 − (O) t −C [− (O) u1- (Q 42 ) u2 −C 2 H 4 −SiR n L 3-n ] 3 (5-1-4)
−R f7 −Q 51 −Si [− (Q 52 ) e −C 2 H 4 −SiR n L 3-n ] 3 (5-1-5)
−R f7 − [C (O) N (R d )] v1 −Q 61 −Z 3 [− (Q 62 ) v2 −C 2 H 4 −SiR n L 3-n ] w (5-1-6)
The definitions of each group in the formulas (5-1-1) and (5-1-6) are as described above.

(ヒドロシリル化触媒)
ヒドロシリル化触媒は、遷移金属触媒が好ましく、第8族〜第10族遷移金属触媒がより好ましく、白金(Pt)触媒、ルテニウム(Ru)触媒、ロジウム(Rh)触媒、鉄(Fe)触媒がさらに好ましく、ヒドロシリル化反応がより進行する点から、白金触媒および鉄触媒が特に好ましい。なお、第8族〜第10族とは、IUPAC無機化学命名法改訂版(1989年)による族番号である。
白金触媒の具体例としては、1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサンのPt錯体、ジビニルテトラメチルジシロキサンのPt錯体、テトラメチルテトラビニルシクロテトラシロキサンのPt錯体、塩化白金酸、酸化白金が挙げられる。
鉄触媒の具体例としては、国際公開第2016/027819号公報に記載のヒドロシリル化鉄触媒が挙げられる。
ヒドロシリル化触媒の使用量としては、化合物Aおよび化合物Bの合計量に対して、0.00001〜0.1質量%が好ましく、0.001〜0.02質量%が特に好ましい。
(Hydrosilylation catalyst)
As the hydrosilylation catalyst, a transition metal catalyst is preferable, a group 8 to group 10 transition metal catalyst is more preferable, and a platinum (Pt) catalyst, a ruthenium (Ru) catalyst, a rhodium (Rh) catalyst, and an iron (Fe) catalyst are further preferable. Platinum catalysts and iron catalysts are particularly preferred, preferably because the hydrosilylation reaction proceeds more. The 8th to 10th groups are group numbers according to the revised version of the IUPAC Inorganic Chemical Nomenclature (1989).
Specific examples of the platinum catalyst include a Pt complex of 1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisiloxane, a Pt complex of divinyltetramethyldisiloxane, and a Pt complex of tetramethyltetravinylcyclotetrasiloxane. Examples thereof include platinum chloride acid and platinum oxide.
Specific examples of the iron catalyst include the hydrosilylated iron catalyst described in International Publication No. 2016/027819.
The amount of the hydrosilylation catalyst used is preferably 0.00001 to 0.1% by mass, particularly preferably 0.001 to 0.02% by mass, based on the total amount of Compound A and Compound B.

(その他の成分)
合成工程においては、上述した成分以外の成分を用いてもよい。
たとえば、合成工程においては、液状媒体を用いてもよい。つまり、液状媒体の存在下にて、化合物Aと化合物Bとの反応を実施してもよい。
液状媒体としては、水、有機溶媒が挙げられる。有機溶媒の具体例としては、フッ素系有機溶媒および非フッ素系有機溶媒が挙げられる。
有機溶媒は、1種単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
(Other ingredients)
In the synthesis step, components other than the above-mentioned components may be used.
For example, a liquid medium may be used in the synthesis step. That is, the reaction of compound A and compound B may be carried out in the presence of a liquid medium.
Examples of the liquid medium include water and an organic solvent. Specific examples of the organic solvent include a fluorine-based organic solvent and a non-fluorine-based organic solvent.
The organic solvent may be used alone or in combination of two or more.

フッ素系有機溶媒の具体例としては、フッ素化アルカン、フッ素化芳香族化合物、フルオロアルキルエーテル、フッ素化アルキルアミン、フルオロアルコールが挙げられる。
フッ素化アルカンは、炭素数4〜8の化合物が好ましく、たとえば、C13H(AC−2000:製品名、旭硝子社製)、C13(AC−6000:製品名、旭硝子社製)、CCHFCHFCF(バートレル:製品名、デュポン社製)が挙げられる。
フッ素化芳香族化合物の具体例としては、ヘキサフルオロベンゼン、トリフルオロメチルベンゼン、ペルフルオロトルエン、1,3−ビス(トリフルオロメチル)ベンゼン、1,4−ビス(トリフルオロメチル)ベンゼンが挙げられる。
フルオロアルキルエーテルは、炭素数4〜12の化合物が好ましく、たとえば、CFCHOCFCFH(AE−3000:製品名、旭硝子社製)、COCH(ノベック−7100:製品名、3M社製)、COC(ノベック−7200:製品名、3M社製)、CCF(OCH)C(ノベック−7300:製品名、3M社製)が挙げられる。
フッ素化アルキルアミンの具体例としては、ペルフルオロトリプロピルアミン、ペルフルオロトリブチルアミンが挙げられる。
フルオロアルコールの具体例としては、2,2,3,3−テトラフルオロプロパノール、2,2,2−トリフルオロエタノール、ヘキサフルオロイソプロパノールが挙げられる。
Specific examples of the fluorinated organic solvent include fluorinated alkanes, fluorinated aromatic compounds, fluoroalkyl ethers, fluorinated alkylamines, and fluoroalcohols.
The fluorinated alkane is preferably a compound having 4 to 8 carbon atoms, for example, C 6 F 13 H (AC-2000: product name, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.), C 6 F 13 C 2 H 5 (AC-6000: product name). , Asahi Glass Co., Ltd.), C 2 F 5 CHFCHFCF 3 (Bertrel: product name, manufactured by DuPont).
Specific examples of the fluorinated aromatic compound include hexafluorobenzene, trifluoromethylbenzene, perfluorotoluene, 1,3-bis (trifluoromethyl) benzene, and 1,4-bis (trifluoromethyl) benzene.
The fluoroalkyl ether is preferably a compound having 4 to 12 carbon atoms, for example, CF 3 CH 2 OCF 2 CF 2 H (AE-3000: product name, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.), C 4 F 9 OCH 3 (Novec-7100:). Product name, C 4 F 9 OC 2 H 5 (Novec-7200: Product name, manufactured by 3M), C 2 F 5 CF (OCH 3 ) C 3 F 7 (Novec-7300: Product name, (Made by 3M).
Specific examples of the fluorinated alkylamine include perfluorotripropylamine and perfluorotributylamine.
Specific examples of fluoroalcohols include 2,2,3,3-tetrafluoropropanol, 2,2,2-trifluoroethanol, and hexafluoroisopropanol.

非フッ素系有機溶媒としては、水素原子および炭素原子のみからなる化合物、および、水素原子、炭素原子および酸素原子のみからなる化合物が好ましく、具体的には、炭化水素系有機溶媒、ケトン系有機溶媒、エーテル系有機溶媒、エステル系有機溶媒が挙げられる。
炭化水素系有機溶媒としては、ヘキサン、へプタン、シクロヘキサン等が好ましい。
ケトン系有機溶媒としては、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等が好ましい。
エーテル系有機溶媒としては、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、テトラエチレングリコールジメチルエーテル等が好ましい。
エステル系有機溶媒としては、酢酸エチル、酢酸ブチル等が好ましい。
As the non-fluorine-based organic solvent, a compound consisting of only hydrogen atoms and carbon atoms and a compound consisting of only hydrogen atoms, carbon atoms and oxygen atoms are preferable, and specifically, a hydrocarbon-based organic solvent and a ketone-based organic solvent are used. , Ether-based organic solvent, ester-based organic solvent can be mentioned.
As the hydrocarbon-based organic solvent, hexane, heptane, cyclohexane and the like are preferable.
As the ketone-based organic solvent, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and the like are preferable.
As the ether-based organic solvent, diethyl ether, tetrahydrofuran, tetraethylene glycol dimethyl ether and the like are preferable.
As the ester-based organic solvent, ethyl acetate, butyl acetate and the like are preferable.

また、合成工程においては、転位防止剤を用いてもよい。つまり、転位防止剤の存在下にて、化合物Aと化合物Bとの反応を実施してもよい。転位防止剤としては、WO2014/069592号の段落0115に記載の化合物が挙げられる。 In addition, a dislocation inhibitor may be used in the synthesis step. That is, the reaction of compound A and compound B may be carried out in the presence of a dislocation inhibitor. Examples of the dislocation inhibitor include the compounds described in paragraph 0115 of WO2014 / 069592.

〔濾過工程〕
(フィルタ)
フィルタの含水量は、2.5g/m以下であり、表面層の初期の撥水性がより向上する観点から、1.5g/m以下が好ましく、1.0g/m以下がより好ましく、0.5g/m以下がさらに好ましく、0g/mが特に好ましい。
[Filtration process]
(filter)
The water content of the filter is a 2.5 g / m 2 or less, from the viewpoint of the initial water repellency of the surface layer is further improved, preferably 1.5 g / m 2 or less, more preferably 1.0 g / m 2 or less , 0.5 g / m 2 or less is more preferable, and 0 g / m 2 is particularly preferable.

本発明におけるフィルタの含水量(g/m)は、以下の含水量測定処理を実施する前後のフィルタ質量に基づいて算出される。
まず、本製造方法における濾過に用いるフィルタ(以下、「フィルタA」ともいう。)を準備する。次に、フィルタAに窒素ガスを通過させて、フィルタAに保持されていた気体を窒素ガスに置き換えた後、気体検知管(ガステック社製、製品名「No.6L」)から水蒸気が検知されなくなるまで、フィルタAを100℃で加熱して(含水量測定処理)、フィルタBを得る。
そして、フィルタAおよびフィルタBの質量に基づいて、以下の式によってフィルタの含水量を算出する。なお、以下の式において、「濾過面積」とは、濾過時において、濾過対象物がフィルタに接触する部分のフィルタの表面積を意味する。また、フィルタAおよびフィルタBの質量は、各フィルタを3回ずつ秤量した値の算術平均値である。
フィルタの含水量(g/m)=[{フィルタAの質量(g)}−{フィルタBの質量(g)}]/濾過面積(m
なお、乾燥途中のフィルタの含水量は、フィルタAの質量および含水量、ならびに、フィルタBの質量に基づいて算出できる。
The water content (g / m 2 ) of the filter in the present invention is calculated based on the filter mass before and after the following water content measurement process is performed.
First, a filter used for filtration in this production method (hereinafter, also referred to as “filter A”) is prepared. Next, after passing nitrogen gas through the filter A and replacing the gas held in the filter A with nitrogen gas, water vapor is detected from the gas detector tube (manufactured by Gastec, product name "No. 6L"). Filter A is heated at 100 ° C. (water content measurement treatment) until no more, and filter B is obtained.
Then, based on the masses of the filter A and the filter B, the water content of the filter is calculated by the following formula. In the following equation, the “filtration area” means the surface area of the filter at the portion where the object to be filtered comes into contact with the filter during filtration. The masses of the filter A and the filter B are arithmetic mean values obtained by weighing each filter three times.
Water content of filter (g / m 2 ) = [{mass of filter A (g)}-{mass of filter B (g)}] / filtration area (m 2 )
The water content of the filter during drying can be calculated based on the mass and water content of the filter A and the mass of the filter B.

フィルタを構成する材料の具体例としては、金属、カーボン、ガラス、セルロース、ポリアミド、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリオレフィン(たとえば、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP))、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリビニリデンフロライド(PVDF)、ポリクロロトリフルオロエチレン(PCTFE)が挙げられる。後述する加熱処理および窒素置換処理等の処理を実施しなくても含水量が低い点から、PTFE、PVDFが好ましく、化合物Cや液状媒体に接触しても劣化しにくく、不純物の除去性能にも優れる点から、PTFEが特に好ましい。
フィルタの具体例としては、紙、布(たとえば、不織布、織物、編物)、金属フィルタ、焼結フィルタ、メンブレン(膜)、中空糸膜が挙げられ、不純物の除去性能に優れる点から、紙、メンブレン、中空糸膜が好ましい。
フィルタの孔径(開口径)は、不純物の除去性能と濾過効率とのバランスに優れる点から、0.01〜1,000μmが好ましく、0.05〜100μmがより好ましく、0.1〜10μmが特に好ましい。
Specific examples of the materials constituting the filter include metal, carbon, glass, cellulose, polyamide, polyester, polycarbonate, polyolefin (for example, polyethylene (PE), polypropylene (PP)), polytetrafluoroethylene (PTFE), and polyvinylidene fluoride. Includes floride (PVDF) and polychlorotrifluoroethylene (PCTFE). PTFE and PVDF are preferable because they have a low water content without performing treatments such as heat treatment and nitrogen substitution treatment, which will be described later, and they are not easily deteriorated even when they come into contact with compound C or a liquid medium, and also have an impurity removal performance. PTFE is particularly preferred because of its superiority.
Specific examples of the filter include paper, cloth (for example, non-woven fabric, woven fabric, knitted fabric), metal filter, sintered filter, membrane (membrane), hollow fiber membrane, and paper, which is excellent in removing impurities. Membranes and hollow fiber membranes are preferable.
The pore diameter (opening diameter) of the filter is preferably 0.01 to 1,000 μm, more preferably 0.05 to 100 μm, and particularly 0.1 to 10 μm, from the viewpoint of excellent balance between impurity removal performance and filtration efficiency. preferable.

濾過圧力は、生産性やハンドリングに優れる点から、0〜2.0MPaが好ましく、0.05〜0.5MPaが特に好ましい。 The filtration pressure is preferably 0 to 2.0 MPa, particularly preferably 0.05 to 0.5 MPa, from the viewpoint of excellent productivity and handling.

フィルタは、本製造方法の使用時に上記含水量の範囲を満たしていればよく、保管時等の使用前においては、フィルタの含水量が上記範囲外であってもよい。
フィルタの含水量を上記範囲内に調整する方法としては、たとえば、フィルタに乾燥処理を施す方法が挙げられる。フィルタの乾燥処理は、フィルタの含水量が上記範囲外である場合に実施されるのが好ましいが、フィルタの含水量をさらに低減させる目的で、フィルタの含水量が上記範囲内にある場合でも実施されてもよい。
乾燥処理は、濾過工程前に実施されればよく、具体的には、上記合成工程前、上記合成工程時、上記合成工程後のいずれのタイミングで実施されてもよい。
乾燥処理の具体例としては、フィルタに窒素ガスを通過させる窒素置換処理、および、フィルタを加熱する加熱処理が挙げられる。これにより、フィルタの含水量を低減できるので、表面層の初期の撥水性がより向上する。
具体的には、フィルタの窒素置換処理を実施すれば、フィルタに保持されていた気体(たとえば、水蒸気を含む空気)が窒素ガスに置換されるので、フィルタの含水量を低減できる。また、窒素置換処理によって、フィルタ中に保持されていたゴミを除去できるので、フィルタの濾過効率が向上する。
また、フィルタの加熱処理を実施すれば、フィルタに保持されていた水分が蒸発するので、フィルタの含水量を低減できる。
本発明の効果がより発揮される点から、乾燥処理後のフィルタは、直ちに(たとえば、窒素置換処理前後のフィルタの含水量の差が、1.5g/mになるまでの間に)、化合物Cの濾過に用いるのが好ましい。
The filter may satisfy the above range of water content when the present production method is used, and the water content of the filter may be outside the above range before use such as during storage.
As a method of adjusting the water content of the filter within the above range, for example, a method of subjecting the filter to a drying treatment can be mentioned. The drying treatment of the filter is preferably carried out when the water content of the filter is outside the above range, but is carried out even when the water content of the filter is within the above range for the purpose of further reducing the water content of the filter. May be done.
The drying treatment may be carried out before the filtration step, and specifically, it may be carried out at any timing before the synthesis step, during the synthesis step, or after the synthesis step.
Specific examples of the drying treatment include a nitrogen substitution treatment in which nitrogen gas is passed through the filter and a heat treatment in which the filter is heated. As a result, the water content of the filter can be reduced, so that the initial water repellency of the surface layer is further improved.
Specifically, if the nitrogen substitution treatment of the filter is carried out, the gas held in the filter (for example, air containing water vapor) is replaced with nitrogen gas, so that the water content of the filter can be reduced. Further, the nitrogen substitution treatment can remove the dust held in the filter, so that the filtration efficiency of the filter is improved.
Further, if the heat treatment of the filter is carried out, the water content retained in the filter evaporates, so that the water content of the filter can be reduced.
From the viewpoint that the effect of the present invention is more exerted, the filter after the drying treatment is immediately (for example, until the difference in water content of the filter before and after the nitrogen substitution treatment becomes 1.5 g / m 2 ). It is preferably used for filtration of compound C.

窒素置換処理および加熱処理は、いずれか一方を実施してもよいし、両方を実施してもよいが、本発明の効果がより発揮される点から、両方を実施するのが好ましい。
両方の処理を実施する場合、窒素置換処理および加熱処理の実施順序は特に限定されず、窒素置換処理後に加熱処理を実施してもよいし、加熱処理後に窒素置換処理を実施してもよいし、両処理を同時に実施してもよい。
Either one of the nitrogen substitution treatment and the heat treatment may be carried out, or both may be carried out, but it is preferable to carry out both treatments from the viewpoint of more exerting the effects of the present invention.
When both treatments are carried out, the order of carrying out the nitrogen substitution treatment and the heat treatment is not particularly limited, and the heat treatment may be carried out after the nitrogen substitution treatment, or the nitrogen substitution treatment may be carried out after the heat treatment. , Both processes may be carried out at the same time.

濾過工程で使用する化合物Cは、化合物Cを含む濾過用溶液として使用してもよい。
濾過用溶液は、化合物Cの合成工程において、液状媒体を用いる場合には、合成あがりの化合物Cと液状媒体を含む混合液をそのまま使用してもよい。該混合液にさらに液状媒体を加えて使用してもよい。化合物Cの合成工程において、液状媒体を用いない場合には、合成あがりの化合物Cを含む混合物に液状媒体を加えて使用してもよい。
液状媒体の具体例としては、上記合成工程における液状媒体と同様であるので、その説明を省略する。液状媒体は、1種単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
Compound C used in the filtration step may be used as a filtration solution containing compound C.
When a liquid medium is used in the step of synthesizing compound C, the filtration solution may be a mixed solution containing the synthesized compound C and the liquid medium as it is. A liquid medium may be further added to the mixed solution for use. When a liquid medium is not used in the step of synthesizing compound C, the liquid medium may be added to the mixture containing the compound C after synthesis.
Specific examples of the liquid medium are the same as those of the liquid medium in the above synthesis step, and thus the description thereof will be omitted. The liquid medium may be used alone or in combination of two or more.

液状媒体の含有量は、濾過用溶液の全質量に対して、30〜99質量%が好ましく、40〜95質量%が特に好ましい。
化合物Cの含有量は、濾過用溶液の全質量に対して、1〜70質量%が好ましく、5〜60質量%が特に好ましい。
The content of the liquid medium is preferably 30 to 99% by mass, particularly preferably 40 to 95% by mass, based on the total mass of the filtration solution.
The content of compound C is preferably 1 to 70% by mass, particularly preferably 5 to 60% by mass, based on the total mass of the filtration solution.

〔他の工程〕
本製造方法では、化合物Cの合成工程後、濾過工程前に、化合物Cと吸着材とを接触させてもよい。吸着によって、化合物Cとともに存在する触媒等を除去できる。
吸着材の具体例としては、活性炭、モレキュラーシーブ、ゼオライトが挙げられる。
[Other processes]
In the present production method, the compound C may be brought into contact with the adsorbent after the synthesis step of the compound C and before the filtration step. By adsorption, the catalyst and the like present together with compound C can be removed.
Specific examples of the adsorbent include activated carbon, molecular sieve, and zeolite.

〔物品の製造方法〕
本製造方法によって得られた化合物C(すなわち、濾過後の化合物C)を用いて、基材の表面に表面層を形成できる。
より具体的には、上記化合物Cまたは化合物Cと液状媒体とを含む組成物(以下、「組成物」ともいう。)を用いることにより、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれの製造条件でも、基材の表面に初期の撥水性に優れる表面層を形成できる。つまり、基材と、基材の表面に配置された上記化合物Cまたは組成物から形成されてなる表面層と、を有する物品を製造できる。
なお、組成物中の化合物Cの含有量は、組成物の全質量に対して、0.01〜50.00質量%が好ましく、1.0〜30.00質量が特に好ましい。
組成物中の液状媒体の含有量は、組成物の全質量に対して、50.00〜99.99質量%が好ましく、70.00〜99.00質量%が特に好ましい。
[Manufacturing method of goods]
Compound C obtained by this production method (that is, compound C after filtration) can be used to form a surface layer on the surface of the substrate.
More specifically, by using the above-mentioned compound C or a composition containing the compound C and a liquid medium (hereinafter, also referred to as “composition”), the base material can be used under any production conditions of dry coating and wet coating. A surface layer having excellent initial water repellency can be formed on the surface of the surface. That is, an article having a base material and a surface layer formed from the compound C or the composition arranged on the surface of the base material can be produced.
The content of compound C in the composition is preferably 0.01 to 50.00% by mass, particularly preferably 1.0 to 30.00% by mass, based on the total mass of the composition.
The content of the liquid medium in the composition is preferably 50.00 to 99.99% by mass, particularly preferably 70.00 to 99.00% by mass, based on the total mass of the composition.

基材は、撥水撥油性の付与が求められている基材であれば特に限定されない。基材の材料の具体例としては、金属、樹脂、ガラス、サファイア、セラミック、石、および、これらの複合材料が挙げられる。ガラスは化学強化されていてもよい。基材は、SiO等で表面処理されていてもよい。
基材としては、タッチパネル用基材およびディスプレイ基材が好ましく、タッチパネル用基材がより好ましい。タッチパネル用基材は、透光性を有するのが好ましい。「透光性を有する」とは、JIS R3106:1998(ISO 9050:1990)に準じた垂直入射型可視光透過率が25%以上であるのを意味する。タッチパネル用基材の材料としては、ガラスまたは透明樹脂が好ましい。
The base material is not particularly limited as long as it is a base material that is required to be provided with water and oil repellency. Specific examples of the material of the base material include metal, resin, glass, sapphire, ceramic, stone, and composite materials thereof. The glass may be chemically strengthened. The base material may be surface-treated with SiO 2 or the like.
As the base material, a touch panel base material and a display base material are preferable, and a touch panel base material is more preferable. The base material for the touch panel preferably has translucency. “Having translucency” means that the vertically incident visible light transmittance according to JIS R3106: 1998 (ISO 9050: 1990) is 25% or more. As the material of the base material for the touch panel, glass or a transparent resin is preferable.

上記物品は、たとえば、下記の方法で製造できる。
・化合物Cまたは組成物を用いたドライコーティング法によって基材の表面を処理して、上記物品を得る方法。
・ウェットコーティング法によって組成物を基材の表面に塗布し、乾燥させて、上記物品を得る方法。
The article can be manufactured, for example, by the following method.
A method for obtaining the above-mentioned article by treating the surface of a base material by a dry coating method using compound C or a composition.
-A method in which the composition is applied to the surface of a base material by a wet coating method and dried to obtain the above-mentioned article.

ドライコーティング法の具体例としては、真空蒸着法、CVD法、スパッタリング法が挙げられる。これらの中でも、化合物Cの分解を抑える点、および、装置の簡便さの点から、真空蒸着法が好適である。真空蒸着時には、鉄や鋼等の金属多孔体に化合物Cまたは組成物を含浸させたペレット状物質を使用してもよい。
ウェットコーティング法の具体例としては、スピンコート法、ワイプコート法、スプレーコート法、スキージーコート法、ディップコート法、ダイコート法、インクジェット法、フローコート法、ロールコート法、キャスト法、ラングミュア・ブロジェット法、グラビアコート法が挙げられる。
Specific examples of the dry coating method include a vacuum deposition method, a CVD method, and a sputtering method. Among these, the vacuum vapor deposition method is preferable from the viewpoint of suppressing the decomposition of compound C and the simplicity of the apparatus. At the time of vacuum deposition, a pellet-like substance obtained by impregnating a metal porous body such as iron or steel with compound C or a composition may be used.
Specific examples of the wet coating method include spin coating method, wipe coating method, spray coating method, squeegee coating method, dip coating method, die coating method, inkjet method, flow coating method, roll coating method, casting method, Langmuir Brodget. The method and the gravure coat method can be mentioned.

上記手順によって形成される表面層には、化合物Cの加水分解反応および縮合反応を介して得られる化合物が含まれる。
表面層の膜厚は、1〜100nmが好ましく、1〜50nmが特に好ましい。表面層の膜厚は、薄膜解析用X線回折計(RIGAKU社製、ATX−G)を用いて、X線反射率法によって反射X線の干渉パターンを得て、この干渉パターンの振動周期から算出できる。
The surface layer formed by the above procedure contains a compound obtained through a hydrolysis reaction and a condensation reaction of compound C.
The film thickness of the surface layer is preferably 1 to 100 nm, particularly preferably 1 to 50 nm. The thickness of the surface layer is determined by obtaining an interference pattern of reflected X-rays by the X-ray reflectivity method using an X-ray diffractometer for thin film analysis (ATX-G manufactured by RIGAKU), and from the vibration cycle of this interference pattern. Can be calculated.

以下、実施例を挙げて本発明を詳細に説明する。ただし本発明はこれらの実施例に限定されない。なお、各成分の配合量は、質量基準を示す。例1〜8のうち、例3〜8が実施例、例1〜2が比較例である。また、例9A、9B、10A、10B、11A、11B、12Aおよび12Bのうち、例9B、10B、11Bおよび12Bが実施例、例9A、10A、11Aおよび12Aが比較例である。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples. However, the present invention is not limited to these examples. The blending amount of each component indicates the mass standard. Of Examples 1 to 8, Examples 3 to 8 are Examples, and Examples 1 to 2 are Comparative Examples. Further, among Examples 9A, 9B, 10A, 10B, 11A, 11B, 12A and 12B, Examples 9B, 10B, 11B and 12B are Examples, and Examples 9A, 10A, 11A and 12A are Comparative Examples.

〔評価方法〕
(接触角の測定方法)
表面層の表面に置いた約2μLの蒸留水またはn−ヘキサデカンの接触角を、接触角測定装置(協和界面科学社製、製品名「DM−500」)を用いて測定した。表面層の表面における異なる5箇所で測定し、その平均値を算出した。接触角の算出には2θ法を用いた。
〔Evaluation method〕
(Measurement method of contact angle)
The contact angle of about 2 μL of distilled water or n-hexadecane placed on the surface of the surface layer was measured using a contact angle measuring device (manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd., product name “DM-500”). Measurements were made at five different points on the surface of the surface layer, and the average value was calculated. The 2θ method was used to calculate the contact angle.

<初期接触角>
表面層について、水およびn−ヘキサデカンの初期接触角を上記測定方法で測定した。評価基準は以下の通りである。
<<水の初期接触角>>
◎(優) :115度以上
○(良) :110度以上115度未満
△(可) :100度以上110度未満
×(不可):100度未満
<<n−ヘキサデカンの初期接触角>>
◎(優) :66度以上
○(良) :65度以上66度未満
△(可) :63度以上65度未満
×(不可):63度未満
<Initial contact angle>
For the surface layer, the initial contact angles of water and n-hexadecane were measured by the above measuring method. The evaluation criteria are as follows.
<< Initial contact angle of water >>
◎ (excellent): 115 degrees or more ○ (good): 110 degrees or more and less than 115 degrees △ (possible): 100 degrees or more and less than 110 degrees × (impossible): less than 100 degrees << initial contact angle of n-hexadecane >>
◎ (excellent): 66 degrees or more ○ (good): 65 degrees or more and less than 66 degrees △ (possible): 63 degrees or more and less than 65 degrees × (impossible): less than 63 degrees

(耐摩擦性)
表面層について、JIS L0849:2013(ISO 105−X12:2001)に準拠して往復式トラバース試験機(ケイエヌテー社製)を用い、スチールウールボンスター(#0000)を圧力:98.07kPa、速度:320cm/分で1万回往復させた後、水の接触角を測定した。摩擦後における水の接触角の低下が小さいほど、摩擦による性能の低下が小さく、耐摩擦性に優れる。
◎(優) :1万回往復後の水接触角度の変化が5度以下
○(良) :1万回往復後の水接触角度の変化が5度超10度以下
△(可) :1万回往復後の水接触角度の変化が10度超20度以下
×(不可):1万回往復後の水接触角度の変化が20度超
(Abrasion resistance)
For the surface layer, use a reciprocating traverse tester (manufactured by KNT) in accordance with JIS L0849: 2013 (ISO 105-X12: 2001), and use a steel wool bonster (# 0000) with a pressure of 98.07 kPa and a speed of 320 cm. After reciprocating 10,000 times at / minute, the contact angle of water was measured. The smaller the decrease in the contact angle of water after rubbing, the smaller the decrease in performance due to friction, and the better the friction resistance.
◎ (Excellent): Change in water contact angle after 10,000 round trips is 5 degrees or less ○ (Good): Change in water contact angle after 10,000 round trips is more than 5 degrees and 10 degrees or less △ (Yes): 10,000 Change in water contact angle after round trip is more than 10 degrees and less than 20 degrees × (impossible): Change in water contact angle after 10,000 round trips is more than 20 degrees

(耐薬品性)
<耐アルカリ性>
物品を、1規定NaOH水溶液(pH=14)に5時間浸漬した後、水洗、風乾し、上記方法により水接触角を測定した。試験後における水接触角の低下が小さいほどアルカリによる性能の低下が小さく、耐アルカリ性に優れる。評価基準は下記のとおりである。
◎(優) :耐アルカリ性試験後の水接触角の変化が5度以下
〇(良) :耐アルカリ性試験後の水接触角の変化が5度超10度以下
△(可) :耐アルカリ性試験後の水接触角の変化が10度超20度以下
×(不可):耐アルカリ性試験後の水接触角の変化が20度超
<耐塩水性>
JIS H 8502に準拠して塩水噴霧試験を行った。すなわち、物品を、塩水噴霧試験機(スガ試験機社製)内で300時間塩水雰囲気に暴露した後、上記方法により水接触角を測定した。試験後における水接触角の低下が小さいほど塩水による性能の低下が小さく、耐塩水性に優れる。評価基準は下記のとおりである。
◎(優) :塩水噴霧試験後の水接触角の変化が5度以下
○(良) :塩水噴霧試験後の水接触角の変化が5度超10度以下
△(可) :塩水噴霧試験後の水接触角の変化が10度超20度以下
×(不可):塩水噴霧試験後の水接触角の変化が20度超
(chemical resistance)
<Alkali resistance>
The article was immersed in a 1N aqueous NaOH solution (pH = 14) for 5 hours, washed with water, air-dried, and the water contact angle was measured by the above method. The smaller the decrease in water contact angle after the test, the smaller the decrease in performance due to alkali, and the better the alkali resistance. The evaluation criteria are as follows.
◎ (Excellent): Change in water contact angle after alkali resistance test is 5 degrees or less 〇 (Good): Change in water contact angle after alkali resistance test is more than 5 degrees and 10 degrees or less △ (Yes): After alkali resistance test The change in water contact angle is more than 10 degrees and less than 20 degrees × (impossible): The change in water contact angle after alkali resistance test is more than 20 degrees <salt water resistance>
A salt spray test was conducted in accordance with JIS H8502. That is, after the article was exposed to a salt water atmosphere in a salt spray tester (manufactured by Suga Test Instruments Co., Ltd.) for 300 hours, the water contact angle was measured by the above method. The smaller the decrease in the water contact angle after the test, the smaller the decrease in performance due to salt water, and the better the salt water resistance. The evaluation criteria are as follows.
◎ (Excellent): Change in water contact angle after salt spray test is 5 degrees or less ○ (Good): Change in water contact angle after salt spray test is more than 5 degrees and 10 degrees or less △ (Yes): After salt spray test Change in water contact angle is more than 10 degrees and less than 20 degrees × (impossible): Change in water contact angle after salt spray test is more than 20 degrees

(指紋汚れ除去性)
人工指紋液(オレイン酸とスクアレンとからなる液)を、シリコンゴム栓の平坦面に付着させた後、余分な油分を不織布(旭化成社製、ベンコット(登録商標)M−3)にて拭き取り、指紋のスタンプを準備した。該指紋スタンプを、表面層上に乗せ、荷重9.8Nにて10秒間押しつけた。指紋が付着した箇所のヘーズをヘーズメータにて測定し、初期値とした。次に、指紋が付着した箇所について、ティッシュペーパを取り付けた往復式トラバース試験機(ケイエヌテー社製)を用い、荷重4.9Nにて拭き取りを行った。拭き取り一往復毎にヘーズの値を測定し、ヘーズが初期値から10%以下になる拭き取り回数を測定した。拭き取り回数が少ないほど指紋汚れを容易に除去でき、指紋汚れ拭き取り性能に優れる。評価基準は以下の通りである。
◎(優) :拭き取り回数が3回以下
○(良) :拭き取り回数が4〜5回
△(可) :拭き取り回数が6〜8回
×(不可):拭き取り回数が9回以上
(Fingerprint stain removal property)
After adhering an artificial fingerprint liquid (a liquid consisting of oleic acid and squalene) to the flat surface of a silicon rubber stopper, wipe off excess oil with a non-woven fabric (Bencot (registered trademark) M-3 manufactured by Asahi Kasei Corporation). I prepared a fingerprint stamp. The fingerprint stamp was placed on the surface layer and pressed under a load of 9.8 N for 10 seconds. The haze at the place where the fingerprint was attached was measured with a haze meter and used as the initial value. Next, the portion to which the fingerprint was attached was wiped off with a load of 4.9 N using a reciprocating traverse tester (manufactured by KNT) equipped with tissue paper. The value of haze was measured for each round trip of wiping, and the number of times of wiping that haze became 10% or less from the initial value was measured. The smaller the number of wipes, the easier it is to remove fingerprint stains, and the better the fingerprint stain wiping performance. The evaluation criteria are as follows.
◎ (Excellent): The number of wipes is 3 or less ○ (Good): The number of wipes is 4 to 5 △ (Yes): The number of wipes is 6 to 8 × (No): The number of wipes is 9 or more

〔例1〕
WO2017/022437号の合成例3に記載の方法に従って、化合物C−1を合成した。具体的には、ポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖およびω−アルケニル基を有する化合物(以下のパーフルオロポリエーテル基含有アリルオキシ体(B))と、ケイ素原子に結合した加水分解性基を有する化合物であるトリクロロシランとを、ヒドロシリル化触媒である1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサンのPt錯体存在下で反応させ、次いで得られた化合物の塩素原子をメトキシ基に置換させて化合物C−1を得た。得られた化合物C−1を、濃度10質量%になるように、ノベック−7200(スリーエム社製)に溶解させて、濾過用溶液の100gを調製した。
[Example 1]
Compound C-1 was synthesized according to the method described in Synthesis Example 3 of WO2017 / 022437. Specifically, it is a compound having a poly (oxyperfluoroalkylene) chain and an ω-alkenyl group (the following perfluoropolyether group-containing allyloxy compound (B)) and a compound having a hydrolyzable group bonded to a silicon atom. A certain trichlorosilane was reacted in the presence of a Pt complex of 1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisiloxane, which is a hydrosilylation catalyst, and then the chlorine atom of the obtained compound was used as a methoxy group. Substitution gave compound C-1. The obtained compound C-1 was dissolved in Novell 7200 (manufactured by 3M Ltd.) so as to have a concentration of 10% by mass to prepare 100 g of a filtration solution.

次に、未処理の濾紙(アドバンテック社製、製品名「No.5C」)を用いて濾過用溶液を濾過して、濾過後の化合物C−1とノベック−7200を含む濾液を得た。このようにして、例1に係る化合物C−1(濾過後)を得た。
なお、濾紙の濾過面積は13.84cmであり、未処理の濾紙の含水量を上述した方法に従って算出したところ、5.8g/mであった。
Next, the filtration solution was filtered using an untreated filter paper (manufactured by Advantech, product name "No. 5C") to obtain a filtrate containing the filtered compound C-1 and Novec-7200. In this way, compound C-1 (after filtration) according to Example 1 was obtained.
The filtration area of the filter paper was 13.84 cm 2 , and the water content of the untreated filter paper was calculated according to the above method and found to be 5.8 g / m 2 .

〔例2〜5〕
例1で使用した未処理の濾紙に窒素ガスを通過させて(窒素置換処理)、含水量がそれぞれ2.8g/m、1.5g/m、0.7g/m、0g/mの濾紙を準備した。このように含水量を調整した濾紙を用いた以外は、例1と同様の方法にて、化合物C−1(濾過後)をそれぞれ得た。
なお、例2〜5で使用した濾紙の濾過面積は例1と同様であり、窒素置換処理における窒素ガスの供給量は0.42m/時間であり、窒素ガスの露点は−55℃である。
ここで、例2〜5で使用した濾紙の含水量は、以下の式にしたがって算出した。以下の式中、フィルタAとは、未処理の濾紙を意味する。また、フィルタBとは、完全乾燥した濾紙を意味し、具体的には上述した気体検知管で水蒸気が検出されなくなるまで乾燥した濾紙を意味する。また、フィルタCとは、窒素置換処理を施して一部乾燥させた濾紙(すなわち、例2〜5で使用した濾紙)を意味する。
フィルタCの含水量(g/cm)={フィルタAの含水量(g/cm)}×[{フィルタCの質量(g)}−{フィルタBの質量(g)}]/[{フィルタAの質量(g)}−{フィルタBの質量(g)}]
[Examples 2 to 5]
Nitrogen gas was passed through the untreated filter paper used in Example 1 (nitrogen substitution treatment), and the water content was 2.8 g / m 2 , 1.5 g / m 2 , 0.7 g / m 2 , and 0 g / m, respectively. 2 filter papers were prepared. Compound C-1 (after filtration) was obtained in the same manner as in Example 1 except that the filter paper having the adjusted water content was used.
The filtration area of the filter paper used in Examples 2 to 5 is the same as that of Example 1, the supply amount of nitrogen gas in the nitrogen substitution treatment is 0.42 m 3 / hour, and the dew point of nitrogen gas is −55 ° C. ..
Here, the water content of the filter paper used in Examples 2 to 5 was calculated according to the following formula. In the following formula, the filter A means untreated filter paper. Further, the filter B means a completely dried filter paper, and specifically, a filter paper dried until water vapor is no longer detected by the gas detector tube described above. Further, the filter C means a filter paper that has been subjected to a nitrogen substitution treatment and partially dried (that is, the filter paper used in Examples 2 to 5).
Water content of filter C (g / cm 2 ) = {Water content of filter A (g / cm 2 )} × [{Mass of filter C (g)}-{Mass of filter B (g)}] / [{ Filter A mass (g)}-{Filter B mass (g)}]

〔例6〜8〕
まず、未処理のPTFEメンブレンフィルタ(アドバンテック社製、商品名「T050A」、孔径0.5μm)、未処理のPTFE濾紙(アドバンテック社製、商品名「PF050」、孔径0.5μm)、未処理のPP濾布(フィリス社製、商品名「フィルタクロス」)を準備した。
次に、各フィルタに窒素ガスを通過させて(窒素置換処理)、含水量がいずれも0g/mである各フィルタ(完全乾燥したフィルタを意味し、具体的には上述した気体検知管で水蒸気が検出されなくなるまで乾燥したフィルタ)を得た。
このように含水量を調整した各フィルタを用いた以外は、例1と同様の方法にて、化合物C−1(濾過後)をそれぞれ得た。
[Examples 6 to 8]
First, untreated PTFE membrane filter (manufactured by Advantech, trade name "T050A", pore diameter 0.5 μm), untreated PTFE filter paper (manufactured by Advantech, trade name "PF050", pore diameter 0.5 μm), untreated. A PP filter cloth (manufactured by Philis, trade name "filter cloth") was prepared.
Next, nitrogen gas is passed through each filter (nitrogen substitution treatment), and each filter having a water content of 0 g / m 2 (meaning a completely dried filter, specifically the above-mentioned gas detector tube). A filter that was dried until no water vapor was detected) was obtained.
Compound C-1 (after filtration) was obtained in the same manner as in Example 1 except that each filter having an adjusted water content was used.

〔評価サンプルの作製〕
各例により得られた化合物C−1(濾過後)を用いて、以下のドライコーティング法またはウェットコーティング法にて基材の表面処理を行い、基材(化学強化ガラス)の表面に表面層が形成されてなる評価サンプルを得た。
得られた評価サンプルを用いて、下記の評価試験を実施し、結果を表1に示す。
[Preparation of evaluation sample]
Using the compound C-1 (after filtration) obtained in each example, the surface treatment of the base material was performed by the following dry coating method or wet coating method, and a surface layer was formed on the surface of the base material (chemically tempered glass). An evaluation sample formed was obtained.
The following evaluation test was carried out using the obtained evaluation sample, and the results are shown in Table 1.

(ドライコーティング法)
基材に対するドライコーティングは、真空蒸着装置(ULVAC社製、VTR−350M)を用いて行った。具体的には、まず、各例により得られた化合物C−1(濾過後)の0.5gを真空蒸着装置内のモリブデン性ボートに充填し、真空蒸着装置内を1×10−3Pa以下に排気した。化合物C−1を配置したボートを昇温速度10℃/分以下の速度で加熱し、水晶発振式膜厚計による蒸着速度が1nm/秒を超えた時点でシャッターを開けて基材の表面への成膜を開始した。膜厚が約50nmとなった時点でシャッターを閉じて基材表面への成膜を終了した。化合物C−1が堆積した基材を、200℃で30分間加熱処理した後、アサヒクリンAK−225(商品名、旭硝子社製)にて洗浄して、基材の表面に表面層を有する評価サンプル(物品)を得た。
(Dry coating method)
Dry coating on the substrate was performed using a vacuum vapor deposition apparatus (VTR-350M, manufactured by ULVAC, Inc.). Specifically, first, 0.5 g of the compound C-1 (after filtration) obtained in each example was filled in a molybdenum-based boat in the vacuum vapor deposition apparatus, and the inside of the vacuum vapor deposition apparatus was 1 × 10 -3 Pa or less. Exhausted to. The boat on which compound C-1 is placed is heated at a heating rate of 10 ° C./min or less, and when the vapor deposition rate by the crystal oscillation type film thickness meter exceeds 1 nm / sec, the shutter is opened to the surface of the substrate. Film formation was started. When the film thickness reached about 50 nm, the shutter was closed to complete the film formation on the surface of the substrate. The base material on which compound C-1 is deposited is heat-treated at 200 ° C. for 30 minutes and then washed with Asahiclean AK-225 (trade name, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) to evaluate having a surface layer on the surface of the base material. A sample (article) was obtained.

(ウェットコーティング法)
実施例の濾液と、ノベック−7200とを混合して、化合物C−1の濃度が0.05質量%であるウェットコーティング用の組成物を得た。
各組成物に基材をディッピングし、30分間放置後、基材を引き上げた(ディップコート法)。塗膜を200℃で30分間乾燥させ、AK−225にて洗浄することによって、基材の表面に表面層を有する評価サンプル(物品)を得た。
(Wet coating method)
The filtrate of the example was mixed with Novec-7200 to obtain a composition for wet coating in which the concentration of compound C-1 was 0.05% by mass.
The base material was dipped into each composition, left for 30 minutes, and then the base material was pulled up (dip coating method). The coating film was dried at 200 ° C. for 30 minutes and washed with AK-225 to obtain an evaluation sample (article) having a surface layer on the surface of the substrate.

表1の通り、含水量2.5g/m以下のフィルタを用いて濾過した含フッ素エーテル化合物を用いれば、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれの製造条件でも、初期の撥水性に優れた表面層を形成できるのが示された(例3〜8)。
一方、含水量2.5g/m超のフィルタを用いて濾過した含フッ素エーテル化合物を用いると、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれかの製造条件で得られる表面層の初期の撥水性が劣るのが示された(例1および2)。
As shown in Table 1, by using a fluorine-containing ether compound filtered using a filter having a water content of 2.5 g / m 2 or less, a surface layer having excellent initial water repellency under both dry coating and wet coating production conditions. Was shown to be able to form (Examples 3-8).
On the other hand, when a fluorine-containing ether compound filtered using a filter having a water content of more than 2.5 g / m 2 is used, the initial water repellency of the surface layer obtained under either the dry coating or wet coating production condition is inferior. Was shown (Examples 1 and 2).

〔例9〕
WO2017/038832の例3に記載の手法に従い、以下の化合物C−2を合成した。ただし単位数x3の平均値は13であり、化合物C−2の数平均分子量は4,780であった。
C−2 : CF−O−(CFCFO−CFCFCFCFO)x3(CFCFO)−CFCFCFCH−N[CHCHCH−Si(OCH
得られた化合物C−2を、濃度10質量%になるように、ノベック−7200(スリーエム社製)に溶解させて、濾過用溶液の100gを調製した。
例1と同様に、未処理の濾紙(アドバンテック社製、製品名「No.5C」)を用いて濾過用溶液を濾過して、濾過後の化合物C−2とノベック−7200を含む濾液を得た。このようにして、例9Aに係る化合物C−2(濾過後)を得た。なお濾紙の含水量は、8.2g/mであった。
また、未処理のPTFEメンブレンフィルタ(アドバンテック社製、商品名「T050A」、孔径0.5μm)に窒素ガスを通過させて、含水量が0g/mであるフィルタを得た。この含水量を調整したフィルタを用いた以外は、例9Aと同様の方法にて、例9Bに係る化合物C−2(濾過後)を得た。
[Example 9]
The following compound C-2 was synthesized according to the method described in Example 3 of WO2017 / 038832. However, the average value of the number of units x3 was 13, and the number average molecular weight of compound C-2 was 4,780.
C-2: CF 3- O- (CF 2 CF 2 O-CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 O) x3 (CF 2 CF 2 O) -CF 2 CF 2 CF 2 CH 2- N [CH 2 CH 2 CH 2- Si (OCH 3 ) 3 ] 2
The obtained compound C-2 was dissolved in Novell 7200 (manufactured by 3M Ltd.) so as to have a concentration of 10% by mass to prepare 100 g of a filtration solution.
Similar to Example 1, the filtration solution is filtered using untreated filter paper (manufactured by Advantech, product name “No. 5C”) to obtain a filtrate containing the filtered compound C-2 and Novec-7200. It was. In this way, compound C-2 (after filtration) according to Example 9A was obtained. The water content of the filter paper was 8.2 g / m 2 .
Further, nitrogen gas was passed through an untreated PTFE membrane filter (manufactured by Advantech, trade name "T050A", pore size 0.5 μm) to obtain a filter having a water content of 0 g / m 2 . Compound C-2 (after filtration) according to Example 9B was obtained in the same manner as in Example 9A except that a filter having an adjusted water content was used.

〔例10〕
特許第5761305号公報の合成例2及び合成例4に記載の手法に従い、以下の化合物C−3を合成した。
C−3 : CFCFCF−O−(CFCFCFO)20−CFCFCHOCHCHCH−Si[CHCHCH−Si(OCH
得られた化合物C−3を、濃度10質量%になるように、ノベック−7200(スリーエム社製)に溶解させて、濾過用溶液の100gを調製した。
例1と同様に、未処理の濾紙(アドバンテック社製、製品名「No.5C」)を用いて濾過用溶液を濾過して、濾過後の化合物C−3とノベック−7200を含む濾液を得た。このようにして、例10Aに係る化合物C−3(濾過後)を得た。なお濾紙の含水量は、5.5g/mであった。
また、未処理のPTFEメンブレンフィルタ(アドバンテック社製、商品名「T050A」、孔径0.5μm)に窒素ガスを通過させて、含水量が0g/mであるフィルタを得た。この含水量を調整したフィルタを用いた以外は、例10Aと同様の方法にて、例10Bに係る化合物C−3(濾過後)を得た。
[Example 10]
The following compound C-3 was synthesized according to the methods described in Synthesis Example 2 and Synthesis Example 4 of Japanese Patent No. 5761305.
C-3: CF 3 CF 2 CF 2 -O- (CF 2 CF 2 CF 2 O) 20 -CF 2 CF 2 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 -Si [CH 2 CH 2 CH 2 -Si (OCH 3 ) 3 ] 3
The obtained compound C-3 was dissolved in Novell 7200 (manufactured by 3M Ltd.) so as to have a concentration of 10% by mass to prepare 100 g of a filtration solution.
As in Example 1, the filtration solution is filtered using untreated filter paper (manufactured by Advantech, product name “No. 5C”) to obtain a filtrate containing the filtered compound C-3 and Novec-7200. It was. In this way, compound C-3 (after filtration) according to Example 10A was obtained. The water content of the filter paper was 5.5 g / m 2 .
Further, nitrogen gas was passed through an untreated PTFE membrane filter (manufactured by Advantech, trade name "T050A", pore size 0.5 μm) to obtain a filter having a water content of 0 g / m 2 . Compound C-3 (after filtration) according to Example 10B was obtained in the same manner as in Example 10A except that a filter having an adjusted water content was used.

〔例11〕
特開2015−199906号公報の実施例1に記載の手法に従い、以下の化合物C−4を合成した。ただし、p1:q1=47:53であり、p1+q1は約43であった。
C−4 : CFO−(CFO)p1−(CFCFO)q1−CFC(OH)[CHCHCH−Si(OCH
得られた化合物C−4を、濃度10質量%になるように、ノベック−7200(スリーエム社製)に溶解させて、濾過用溶液の100gを調製した。
例1と同様に、未処理の濾紙(アドバンテック社製、製品名「No.5C」)を用いて濾過用溶液を濾過して、濾過後の化合物C−4とノベック−7200を含む濾液を得た。このようにして、例11Aに係る化合物C−4(濾過後)を得た。なお濾紙の含水量は、4.5g/mであった。
また、未処理のPTFEメンブレンフィルタ(アドバンテック社製、商品名「T050A」、孔径0.5μm)に窒素ガスを通過させて、含水量が0g/mであるフィルタを得た。この含水量を調整したフィルタを用いた以外は、例11Aと同様の方法にて、例11Bに係る化合物C−4(濾過後)を得た。
[Example 11]
The following compound C-4 was synthesized according to the method described in Example 1 of JP-A-2015-199906. However, p1: q1 = 47: 53, and p1 + q1 was about 43.
C-4: CF 3 O- (CF 2 O) p1- (CF 2 CF 2 O) q1- CF 2 C (OH) [CH 2 CH 2 CH 2- Si (OCH 3 ) 3 ] 2
The obtained compound C-4 was dissolved in Novell 7200 (manufactured by 3M Ltd.) so as to have a concentration of 10% by mass to prepare 100 g of a filtration solution.
As in Example 1, the filtration solution is filtered using untreated filter paper (manufactured by Advantech, product name “No. 5C”) to obtain a filtrate containing the filtered compound C-4 and Novec-7200. It was. In this way, compound C-4 (after filtration) according to Example 11A was obtained. The water content of the filter paper was 4.5 g / m 2 .
Further, nitrogen gas was passed through an untreated PTFE membrane filter (manufactured by Advantech, trade name "T050A", pore size 0.5 μm) to obtain a filter having a water content of 0 g / m 2 . Compound C-4 (after filtration) according to Example 11B was obtained in the same manner as in Example 11A except that a filter having an adjusted water content was used.

〔例12〕
WO2017/038832の例7に記載の手法に従い、以下の化合物C−5を合成した。ただし単位数x1の平均値は21であり、単位数x2の平均値は20であった。
C−5 : [(CHO)Si−CHCHCHN−CH−(CFO){(CFO)X1(CFCFO)X2}CF−CH−N[CHCHCH−Si(OCH
得られた化合物C−5を、濃度10質量%になるように、ノベック−7200(スリーエム社製)に溶解させて、濾過用溶液の100gを調製した。
例1と同様に、未処理の濾紙(アドバンテック社製、製品名「No.5C」)を用いて濾過用溶液を濾過して、濾過後の化合物C−5とノベック−7200を含む濾液を得た。このようにして、例12Aに係る化合物C−5(濾過後)を得た。なお濾紙の含水量は、6.0g/mであった。
また、未処理のPTFEメンブレンフィルタ(アドバンテック社製、商品名「T050A」、孔径0.5μm)に窒素ガスを通過させて、含水量が0g/mであるフィルタを得た。この含水量を調整したフィルタを用いた以外は、例12Aと同様の方法にて、例12Bに係る化合物C−5(濾過後)を得た。
[Example 12]
The following compound C-5 was synthesized according to the method described in Example 7 of WO2017 / 038832. However, the average value of the number of units x1 was 21, and the average value of the number of units x2 was 20.
C-5: [(CH 3 O) 3 Si-CH 2 CH 2 CH 2 ] 2 N-CH 2- (CF 2 O) {(CF 2 O) X 1 (CF 2 CF 2 O) X 2 } CF 2 − CH 2- N [CH 2 CH 2 CH 2- Si (OCH 3 ) 3 ] 2
The obtained compound C-5 was dissolved in Novell 7200 (manufactured by 3M Ltd.) so as to have a concentration of 10% by mass to prepare 100 g of a filtration solution.
As in Example 1, the filtration solution is filtered using untreated filter paper (manufactured by Advantech, product name “No. 5C”) to obtain a filtrate containing the filtered compound C-5 and Novec-7200. It was. In this way, compound C-5 (after filtration) according to Example 12A was obtained. The water content of the filter paper was 6.0 g / m 2 .
Further, nitrogen gas was passed through an untreated PTFE membrane filter (manufactured by Advantech, trade name "T050A", pore size 0.5 μm) to obtain a filter having a water content of 0 g / m 2 . Compound C-5 (after filtration) according to Example 12B was obtained in the same manner as in Example 12A except that a filter having an adjusted water content was used.

〔評価サンプルの作製〕
各例により得られた化合物C−2〜5(濾過後)を用いて、実施例1と同様にドライコーティング法またはウェットコーティング法にて基材の表面処理を行い、基材(化学強化ガラス)の表面に表面層が形成されてなる評価サンプルを得た。得られた評価サンプルを用いて、評価試験を実施した。結果を表2に示す。
[Preparation of evaluation sample]
Using the compounds C-2 to 5 (after filtration) obtained in each example, the surface treatment of the base material was performed by the dry coating method or the wet coating method in the same manner as in Example 1, and the base material (chemically tempered glass) was subjected to surface treatment. An evaluation sample was obtained in which a surface layer was formed on the surface of the glass. An evaluation test was carried out using the obtained evaluation sample. The results are shown in Table 2.

表2の通り、含水量2.5g/m以下のフィルタを用いて濾過した含フッ素エーテル化合物を用いれば、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれの製造条件でも、初期の撥水性に優れた表面層を形成できるのが示された(例9B、10B、11B、12B)。
一方、含水量2.5g/m超のフィルタを用いて濾過した含フッ素エーテル化合物を用いると、ドライコーティングおよびウェットコーティングのいずれかの製造条件で得られる表面層の初期の撥水性が劣るのが示された(例9A、10A、11A、12A)。
As shown in Table 2, by using a fluorine-containing ether compound filtered using a filter having a water content of 2.5 g / m 2 or less, a surface layer having excellent initial water repellency under both dry coating and wet coating production conditions. Was shown to be able to form (Examples 9B, 10B, 11B, 12B).
On the other hand, when a fluorine-containing ether compound filtered using a filter having a water content of more than 2.5 g / m 2 is used, the initial water repellency of the surface layer obtained under either the dry coating or wet coating production condition is inferior. Was shown (Examples 9A, 10A, 11A, 12A).

本製造方法で得られた含フッ素エーテル化合物は、潤滑性や撥水撥油性の付与が求められている各種の用途に用いることができる。たとえば、タッチパネル等の表示入力装置のコート;透明なガラス製または透明なプラスチック製部材の表面保護コート、キッチン用防汚コート;電子機器、熱交換器、電池等の撥水防湿コートや防汚コート;トイレタリー用防汚コート;導通しながら撥液が必要な部材へのコート;熱交換機の撥水・防水・滑水コート;振動ふるいやシリンダ内部等の表面低摩擦コート等に用いることができる。より具体的な使用例としては、ディスプレイの前面保護板、反射防止板、偏光板、アンチグレア板、あるいはそれらの表面に反射防止膜処理を施したもの、携帯電話、携帯情報端末等の機器のタッチパネルシートやタッチパネルディスプレイ等の人の指または手のひらで画面上の操作を行う表示入力装置を有する各種機器のコート、トイレ、風呂、洗面所、キッチン等の水周りの装飾建材のコート、配線板用防水コーティング、熱交換機の撥水・防水・滑水コート、太陽電池の撥水コート、プリント配線板の防水・撥水コート、電子機器筐体や電子部品用の防水・撥水コート、送電線の絶縁性向上コート、各種フィルタの防水・撥水コート、電波吸収材や吸音材の防水性コート、風呂、厨房機器、トイレタリー用防汚コート、振動ふるいやシリンダ内部等の表面低摩擦コート、機械部品、真空機器部品、ベアリング部品、自動車部品、工具等の表面保護コート等が挙げられる。 The fluorine-containing ether compound obtained by this production method can be used in various applications in which lubricity and water / oil repellency are required. For example, a coat for display input devices such as touch panels; a surface protective coat for transparent glass or transparent plastic members, an antifouling coat for kitchens; a water-repellent and moisture-proof coat for electronic devices, heat exchangers, batteries, etc. Antifouling coat for toiletries; Coat for members that require liquid repellency while conducting; Water-repellent / waterproof / water-sliding coat for heat exchangers; Can be used for vibration sieving, low-friction coating on the surface of cylinders, etc. More specific examples of use include a display front protective plate, an antireflection plate, a polarizing plate, an antiglare plate, or a surface of which an antireflection film treatment is applied, and a touch panel of a device such as a mobile phone or a mobile information terminal. Coats of various devices that have display input devices such as sheets and touch panel displays that operate on the screen with human fingers or palms, coats of decorative building materials around water such as toilets, baths, washrooms, kitchens, waterproofing for wiring boards Coating, water-repellent / waterproof / sliding coat for heat exchangers, water-repellent coat for solar cells, waterproof / water-repellent coat for printed wiring boards, waterproof / water-repellent coat for electronic device housings and electronic parts, insulation of power transmission lines Performance improvement coat, waterproof / water repellent coat for various filters, waterproof coat for radio wave absorbers and sound absorbing materials, antifouling coat for baths, kitchen equipment, toiletries, surface low friction coat for vibration sieves and cylinder interiors, mechanical parts, etc. Examples include surface protective coatings for vacuum equipment parts, bearing parts, automobile parts, tools and the like.

Claims (8)

ヒドロシリル化触媒の存在下、ポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖およびω−アルケニル基を有する化合物と、ケイ素原子に結合した水素原子ならびにケイ素原子に結合した加水分解性基およびケイ素原子に結合した水酸基のいずれか一方または両方を有する化合物とを反応させて、ポリ(オキシペルフルオロアルキレン)鎖ならびにケイ素原子に結合した加水分解性基およびケイ素原子に結合した水酸基のいずれか一方または両方を有する含フッ素エーテル化合物を得た後、含水量2.5g/m以下のフィルタを用いて前記含フッ素エーテル化合物を濾過することを特徴とする含フッ素エーテル化合物の製造方法。 Either a compound having a poly (oxyperfluoroalkylene) chain and an ω-alkenyl group, a hydrogen atom bonded to a silicon atom, a hydrolyzable group bonded to a silicon atom, or a hydroxyl group bonded to a silicon atom in the presence of a hydrosilylation catalyst. By reacting with a compound having one or both, a fluorine-containing ether compound having either one or both of a poly (oxyperfluoroalkylene) chain and a hydrolyzable group bonded to a silicon atom and a hydroxyl group bonded to a silicon atom is obtained. A method for producing a fluorine-containing ether compound, which comprises filtering the fluorine-containing ether compound using a filter having a water content of 2.5 g / m 2 or less after obtaining the compound. 前記フィルタを構成する材料が、ポリテトラフルオロエチレンである、請求項1に記載の製造方法。 The production method according to claim 1, wherein the material constituting the filter is polytetrafluoroethylene. 前記フィルタは乾燥処理が施されたフィルタである、請求項1または2に記載の製造方法。 The manufacturing method according to claim 1 or 2, wherein the filter is a filter that has been subjected to a drying treatment. 前記乾燥処理が、窒素ガスを通過させる処理を含む、請求項3に記載の製造方法。 The production method according to claim 3, wherein the drying treatment includes a treatment for passing nitrogen gas. 前記乾燥処理が、加熱する処理を含む、請求項3または4に記載の製造方法。 The production method according to claim 3 or 4, wherein the drying treatment includes a heating treatment. 前記フィルタの含水量が、1.5g/m以下である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の製造方法。 The production method according to any one of claims 1 to 5, wherein the water content of the filter is 1.5 g / m 2 or less. 前記フィルタの含水量が、1.0g/m以下である、請求項1〜6のいずれか1項に記載の製造方法。 The production method according to any one of claims 1 to 6, wherein the water content of the filter is 1.0 g / m 2 or less. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の含フッ素エーテル化合物の製造方法によって得られた含フッ素エーテル化合物を用いて、基材の表面に表面層を形成することを特徴とする物品の製造方法。 Production of an article characterized by forming a surface layer on the surface of a substrate by using the fluorine-containing ether compound obtained by the method for producing a fluorine-containing ether compound according to any one of claims 1 to 7. Method.
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