JP2020156570A - Optical interference tomographic imaging apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被検眼の検査を行う光干渉断層撮像装置に関するものである。 The present invention relates to an optical interference tomographic imaging device that inspects an eye to be inspected.
近年、眼科装置として、非侵襲で被検眼の眼底や前眼部の断層を観察/計測できる光干渉断層撮像(Optical Coherence Tomography:OCT)装置が普及しており、医療において研究から臨床まで広く使われている。このOCT装置は、タイムドメインOCT装置とフーリエドメインOCT装置の2種に大別されている。さらに、フーリエドメインOCT装置には、スペクトラルドメインOCT(SD−OCT)装置とスウェプトソースOCT(SS−OCT)装置とがある。これらのフーリエドメインOCT装置は、広い波長帯域を有する光源を使用し、光を分光して信号の取得を行うものであり、分光器によって空間的に分光するものがSD−OCT装置、時間的に異なる波長の光を発する光源を用いて時間的に分光するものがSS−OCT装置とされている。 In recent years, as an ophthalmic device, an optical coherence tomography (OCT) device that can observe / measure tomography of the fundus and anterior segment of the eye to be invaded has become widespread, and is widely used in medicine from research to clinical practice. It has been This OCT apparatus is roughly classified into two types, a time domain OCT apparatus and a Fourier domain OCT apparatus. Further, the Fourier domain OCT apparatus includes a spectral domain OCT (SD-OCT) apparatus and a Swept source OCT (SS-OCT) apparatus. These Fourier domain OCT devices use a light source having a wide wavelength band to disperse light to acquire a signal, and the SD-OCT device is temporally separated by a spectroscope. An SS-OCT device is a device that disperses in time using light sources that emit light of different wavelengths.
例えば、非特許文献1には、SS−OCT装置の一例として、ライン走査型のSS−OCT装置が紹介されている。具体的に、非特許文献1には、スウェプトソース光源(SS光源)から射出した光を測定光と参照光とに分岐し、測定光学系においてライン状の測定光を被検眼に導くOCT装置が記載されている。 For example, Non-Patent Document 1 introduces a line scanning type SS-OCT device as an example of the SS-OCT device. Specifically, Non-Patent Document 1 describes an OCT device that splits the light emitted from a swept source light source (SS light source) into a measurement light and a reference light, and guides a line-shaped measurement light to the eye to be inspected in the measurement optical system. Are listed.
しかしながら、非特許文献1に記載のライン走査型のOCT装置では、被検眼に対してライン状の測定光を走査する際に、被検眼におけるライン状の測定光を所望の方向(向き)に調整する場合、測定光学系を含むOCT装置全体を傾ける(回転させる)か、或いは、被検眼自体を傾ける(回転させる)必要がある。臨床では、例えば、被検眼の視神経乳頭の中心から黄斑の中心を結ぶ直線にライン状の測定光を照射して視神経乳頭から黄斑に至る断層画像を取得する場合もあれば、任意の方向(向き)にライン状の測定光を照射して例えば血管部の断層画像を取得する場合もある。 However, in the line scanning type OCT apparatus described in Non-Patent Document 1, when scanning the line-shaped measurement light with respect to the eye to be inspected, the line-shaped measurement light in the eye to be inspected is adjusted in a desired direction (direction). In this case, it is necessary to tilt (rotate) the entire OCT device including the measurement optical system, or tilt (rotate) the eye to be inspected itself. In clinical practice, for example, a straight line connecting the center of the optic disc to the center of the macula of the eye to be inspected may be irradiated with a line-shaped measurement light to obtain a tomographic image from the optic disc to the macula, or in any direction (direction). ) May be irradiated with a line-shaped measurement light to obtain, for example, a tomographic image of a blood vessel.
即ち、非特許文献1に記載のライン走査型のOCT装置では、被検眼に対するライン状の測定光を所望の方向(向き)に調整する必要がある場合に、OCT装置全体を傾ける必要性に基づく装置の大型化や、或いは、被検眼自体を傾ける必要性に基づく被検者の負担の増加を招くという問題があった。 That is, in the line scanning type OCT device described in Non-Patent Document 1, it is based on the necessity of tilting the entire OCT device when it is necessary to adjust the line-shaped measurement light with respect to the eye to be inspected in a desired direction (direction). There is a problem that the size of the device is increased or the burden on the subject is increased due to the necessity of tilting the eye to be inspected itself.
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、装置の大型化を回避するとともに被検者の負担を増加させることなく、被検眼に対するライン状の測定光を所望の方向(向き)に調整できる光干渉断層撮像装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such a problem, and the line-shaped measurement light for the eye to be examined is directed in a desired direction (without increasing the size of the apparatus and increasing the burden on the subject). It is an object of the present invention to provide an optical interference tomographic imaging apparatus that can be adjusted in orientation).
本発明の光干渉断層撮像装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分岐する光分岐手段と、前記測定光を被検眼に導く測定光学系と、前記参照光を伝搬させる参照光学系と、前記測定光学系を伝搬した前記測定光の前記被検眼からの戻り光と前記参照光学系を伝搬した前記参照光とを合波させる合波手段と、前記合波により得られた前記戻り光と前記参照光との干渉光を干渉信号として検出する検出手段と、を有し、前記測定光学系は、前記被検眼に対してライン状の前記測定光を照射する際に前記被検眼に対する前記ライン状の測定光における向きの調整を行うイメージローテータを含み構成されている。 The optical interference tomographic imaging apparatus of the present invention includes an optical branching means for branching light from a light source into measurement light and reference light, a measurement optical system for guiding the measurement light to an eye to be inspected, and reference optics for propagating the reference light. A wave combining means for combining the system, the return light of the measurement light propagating in the measurement optical system from the eye to be inspected, and the reference light propagating in the reference optical system, and the wave combination obtained by the wave combination. The measurement optical system includes a detection means for detecting the interference light between the return light and the reference light as an interference signal, and the measurement optical system irradiates the test eye with the line-shaped measurement light. It is configured to include an image rotator that adjusts the direction of the line-shaped measurement light with respect to the light.
本発明によれば、装置の大型化を回避するとともに被検者の負担を増加させることなく、被検眼に対するライン状の測定光を所望の方向(向き)に調整することができる。 According to the present invention, it is possible to adjust the line-shaped measurement light with respect to the eye to be inspected in a desired direction (direction) without avoiding an increase in size of the apparatus and increasing the burden on the subject.
以下に、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態(実施形態)について説明する。なお、以下に記載する本発明の実施形態では、本発明に係る光干渉断層撮像装置(OCT装置)として、ライン走査型のマイケルソン式SS−OCT装置を適用した例について説明を行うが、本発明においてはこの装置に限定されるものではない。本発明においては、例えば、被検眼に対してライン状の測定光を照射する光干渉断層撮像装置(OCT装置)であれば、上述したライン走査型のマイケルソン式SS−OCT装置以外の他の光干渉断層撮像装置(OCT装置)も適用可能である。 Hereinafter, embodiments (embodiments) for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings. In the embodiment of the present invention described below, an example in which a line scanning type Michelson SS-OCT apparatus is applied as the optical interference tomographic imaging apparatus (OCT apparatus) according to the present invention will be described. The invention is not limited to this device. In the present invention, for example, if it is an optical coherence tomography apparatus (OCT apparatus) that irradiates the eye to be inspected with line-shaped measurement light, other than the above-mentioned line scanning type Michelson SS-OCT apparatus An optical coherence tomography apparatus (OCT apparatus) is also applicable.
(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態について説明する。
(First Embodiment)
First, the first embodiment of the present invention will be described.
図1は、本発明の第1の実施形態に係る光干渉断層撮像装置に含まれるライン走査型OCT光学系100の概略構成の一例を示す図である。ここで、図1に示す第1の実施形態におけるライン走査型OCT光学系100を、「ライン走査型OCT光学系100−1」として記載する。また、図1では、被検眼Eの前眼部から眼底Efに向かう被検眼Eの深さ方向をZ方向とし、Z方向と直交する2方向をX方向及びY方向とするXYZ座標系を記載している。 FIG. 1 is a diagram showing an example of a schematic configuration of a line scanning OCT optical system 100 included in the optical coherence tomography imaging device according to the first embodiment of the present invention. Here, the line scanning OCT optical system 100 according to the first embodiment shown in FIG. 1 is described as "line scanning OCT optical system 100-1". Further, FIG. 1 describes an XYZ coordinate system in which the depth direction of the eye E to be inspected from the anterior eye portion of the eye E to be inspected toward the fundus Ef is the Z direction, and the two directions orthogonal to the Z direction are the X direction and the Y direction. are doing.
ライン走査型OCT光学系100−1は、図1に示すように、スウェプトソース光源(以下、「SS光源」と記載する)110、カプラ120、測定光学系130、参照光学系140、ビームスプリッタ150、撮影光学系160、フォーカス駆動部171、ガルバノ駆動部172、イメージローテータ駆動部173、リフレクタ駆動部174、及び、偏光調整駆動部175を有して構成されている。 As shown in FIG. 1, the line scanning OCT optical system 100-1 includes a swept source light source (hereinafter referred to as “SS light source”) 110, a coupler 120, a measurement optical system 130, a reference optical system 140, and a beam splitter 150. The camera includes a photographing optical system 160, a focus drive unit 171, a galvano drive unit 172, an image rotator drive unit 173, a reflector drive unit 174, and a polarization adjustment drive unit 175.
SS光源110は、時間的に異なる波長の光を発する波長掃引光源である。 The SS light source 110 is a wavelength sweep light source that emits light having wavelengths different in time.
カプラ120は、所望の分岐比で、SS光源110からの光を測定光と参照光とに分岐する光分岐手段である。 The coupler 120 is an optical branching means that splits the light from the SS light source 110 into the measurement light and the reference light at a desired branching ratio.
次に、測定光学系130について、以下に詳しく説明する。
測定光学系130は、カプラ120で分岐された測定光を被検眼Eに導く光学系である。この測定光学系130は、図1に示すように、ライン像形成光学系131、レンズ132、フォーカスレンズ133、ガルバノメトリックミラー134、イメージローテータ135、レンズ136、及び、対物レンズ137を含み構成されている。
Next, the measurement optical system 130 will be described in detail below.
The measurement optical system 130 is an optical system that guides the measurement light branched by the coupler 120 to the eye E to be inspected. As shown in FIG. 1, the measurement optical system 130 includes a line image forming optical system 131, a lens 132, a focus lens 133, a galvanometric mirror 134, an image rotator 135, a lens 136, and an objective lens 137. There is.
ライン像形成光学系131は、ライン状の測定光であるライン像を形成する光学系である。このライン像形成光学系131は、コリメータレンズ1311、シリンドリカルレンズ1312、及び、レンズ1313を含み構成されている。このライン像形成光学系131では、カプラ120から射出した測定光をコリメータレンズ1311でコリメートした後、シリンドリカルレンズ1312及びレンズ1313によって、所定視度(例えば0ディオプタ)の被検眼Eの眼底Efと共役な位置でライン像を形成する。例えば、ライン像形成光学系131は、平面1314上にライン像を形成する。 The line image forming optical system 131 is an optical system that forms a line image which is a line-shaped measurement light. The line image forming optical system 131 includes a collimator lens 1311, a cylindrical lens 1312, and a lens 1313. In this line image forming optical system 131, the measurement light emitted from the coupler 120 is collimated by the collimator lens 1311, and then coupled to the fundus Ef of the eye to be inspected E having a predetermined diopter (for example, 0 diopter) by the cylindrical lens 1312 and the lens 1313. A line image is formed at various positions. For example, the line image forming optical system 131 forms a line image on the plane 1314.
ライン像形成光学系131で形成されたライン像であるライン状の測定光は、ビームスプリッタ150を通過して、レンズ132に入射し、その後、フォーカスレンズ133、ガルバノメトリックミラー134、イメージローテータ135、レンズ136及び対物レンズ137を介して、被検眼Eの眼底Efに導かれる。これにより、被検眼Eの眼底Ef上に、ライン状の測定光であるライン像が照射される。 The line-shaped measurement light, which is a line image formed by the line image forming optical system 131, passes through the beam splitter 150 and enters the lens 132, and then the focus lens 133, the galvanometric mirror 134, the image rotator 135, and the like. It is guided to the fundus Ef of the eye E to be inspected via the lens 136 and the objective lens 137. As a result, a line image, which is a line-shaped measurement light, is irradiated on the fundus Ef of the eye E to be inspected.
ここで、本実施形態においては、平面1314と被検眼Eの眼底Efとが光学的に共役になるように、フォーカスレンズ133は、フォーカス駆動部171によって、測定光学系130の光軸上を、例えばX方向に移動する。また、ガルバノメトリックミラー134は、ガルバノ駆動部172によって、被検眼Eの眼底Efに対してライン状の測定光を走査する。このガルバノメトリックミラー134は、例えば被検眼Eの前眼部と略共役な位置に配置された向き(角度)が可変に構成されたミラーである。 Here, in the present embodiment, the focus lens 133 is moved on the optical axis of the measurement optical system 130 by the focus drive unit 171 so that the plane 1314 and the fundus Ef of the eye E to be inspected are optically coupled. For example, it moves in the X direction. Further, the galvanometric mirror 134 scans the line-shaped measurement light with respect to the fundus Ef of the eye E to be inspected by the galvano driving unit 172. The galvanometric mirror 134 is, for example, a mirror arranged at a position substantially conjugated with the anterior segment of the eye E to be inspected and having a variable orientation (angle).
イメージローテータ135は、被検眼E(より詳細に、本実施形態の例では、被検眼Eの眼底Ef)に対してライン状の測定光を走査するガルバノメトリックミラー134と、被検眼Eに対向する位置に配置される対物レンズ137との間に設けられている。そして、イメージローテータ135は、被検眼E(被検眼Eの眼底Ef)に対してライン状の測定光を照射する際に被検眼Eに対するライン状の測定光における向き(方向)の調整を行う。具体的に、イメージローテータ135は、イメージローテータ駆動部173により、例えば、測定光学系130の光軸の方向(図1に示す例では、Z方向)を中心として回転することによって、被検眼Eに対するライン状の測定光における向きの調整を行う。 The image rotator 135 faces the galvanometric mirror 134 that scans the line-shaped measurement light with respect to the eye E (more specifically, in the example of the present embodiment, the fundus Ef of the eye E) and the eye E. It is provided between the objective lens 137 arranged at the position. Then, the image rotator 135 adjusts the direction (direction) of the line-shaped measurement light with respect to the eye E to be examined when irradiating the eye E (the fundus Ef of the eye E to be examined) with the line-shaped measurement light. Specifically, the image rotator 135 is rotated by the image rotator drive unit 173 around the direction of the optical axis of the measurement optical system 130 (Z direction in the example shown in FIG. 1) with respect to the eye E to be inspected. Adjust the direction of the line-shaped measurement light.
そして、被検眼Eの眼底Efで反射・散乱したライン状の測定光は、戻り光となって測定光学系130の対物レンズ137からレンズ132を通過して、ビームスプリッタ150で反射されて、撮影光学系160に導かれる。このライン状の測定光の被検眼Eからの戻り光は、撮影光学系160の平面163上に測定光に係るライン像を形成する。 Then, the line-shaped measurement light reflected / scattered by the fundus Ef of the eye E to be inspected becomes return light, passes through the lens 132 from the objective lens 137 of the measurement optical system 130, is reflected by the beam splitter 150, and is photographed. It is guided by the optical system 160. The return light of the line-shaped measurement light from the eye E to be inspected forms a line image related to the measurement light on the plane 163 of the photographing optical system 160.
次に、参照光学系140について、以下に詳しく説明する。
参照光学系140は、カプラ120で分岐された参照光を伝搬させる光学系である。参照光学系140は、図1に示すように、偏光調整用パドル141、コリメータレンズ142、NDフィルター143、ミラー144、ミラー145、レトロリフレクタ146、ミラー147、ミラー148、及び、ライン像形成光学系149を含み構成されている。
Next, the reference optical system 140 will be described in detail below.
The reference optical system 140 is an optical system that propagates the reference light branched by the coupler 120. As shown in FIG. 1, the reference optical system 140 includes a polarization adjusting paddle 141, a collimator lens 142, an ND filter 143, a mirror 144, a mirror 145, a retroreflector 146, a mirror 147, a mirror 148, and a line image forming optical system. It is configured to include 149.
参照光学系140に導かれた参照光は、コリメータレンズ142によってコリメートされ、NDフィルター143を通過して所定光量に減衰された後、ミラー144及びミラー145で所定方向に反射され、光軸の方向(図1に示す例では、Z方向)に移動可能であって測定光学系130の測定光の光路との光路長差を補正するためのレトロリフレクタ146で折り返される。ここで、本実施形態においては、レトロリフレクタ146は、リフレクタ駆動部174によって、参照光学系140を伝搬する参照光と測定光学系130を伝搬する測定光との光路長差を補正(例えば、参照光の光路長と測定光の光路長が等しくなるように補正)する形態を採る。レトロリフレクタ146で折り返された参照光は、ミラー145、ミラー144、ミラー147及びミラー148においてそれぞれ所定方向に反射されて、シリンドリカルレンズ1491とレンズ1492を含み構成されるライン像形成光学系149に入射する。ライン像形成光学系149は、ライン状の参照光であるライン像を形成する。ライン像形成光学系149で形成されたライン状の参照光は、ビームスプリッタ150を透過して、撮影光学系160の平面163上に参照光に係るライン像を形成する。 The reference light guided to the reference optical system 140 is collimated by the collimator lens 142, passes through the ND filter 143, is attenuated to a predetermined amount of light, and then is reflected in a predetermined direction by the mirror 144 and the mirror 145 to be reflected in a predetermined direction, and the direction of the optical axis. It is movable in the (Z direction in the example shown in FIG. 1) and is folded back by the retroreflector 146 for correcting the difference in optical path length from the optical path of the measurement light of the measurement optical system 130. Here, in the present embodiment, the retroreflector 146 corrects the optical path length difference between the reference light propagating in the reference optical system 140 and the measurement light propagating in the measurement optical system 130 by the reflector drive unit 174 (for example, referencing). The optical path length of the light and the optical path length of the measured light are corrected so as to be equal to each other). The reference light folded back by the retroreflector 146 is reflected in a predetermined direction by the mirror 145, the mirror 144, the mirror 147, and the mirror 148, and is incident on the line image forming optical system 149 including the cylindrical lens 1491 and the lens 1492. To do. The line image forming optical system 149 forms a line image which is a line-shaped reference light. The line-shaped reference light formed by the line image forming optical system 149 passes through the beam splitter 150 and forms a line image related to the reference light on the plane 163 of the photographing optical system 160.
また、図1に示す例では、参照光学系140において、偏光調整用パドル141は、光ファイバを複数の環状に束ねて構成されている。この偏光調整用パドル141は、偏光調整駆動部175によって、測定光と参照光との干渉状態が良くなるように、測定光の偏光状態に対する参照光の偏光状態を調整できるようになっている。この偏光調整用パドル141及び偏光調整駆動部175を設けることによって、偏光状態の調整が可能となるため、シンプルな構成で被検眼Eの良好な断層画像を取得することができる。 Further, in the example shown in FIG. 1, in the reference optical system 140, the polarization adjusting paddle 141 is configured by bundling optical fibers in a plurality of annular rings. In the polarization adjusting paddle 141, the polarization state of the reference light with respect to the polarization state of the measurement light can be adjusted by the polarization adjustment drive unit 175 so that the interference state between the measurement light and the reference light is improved. By providing the polarization adjusting paddle 141 and the polarization adjusting driving unit 175, it is possible to adjust the polarization state, so that a good tomographic image of the eye E to be inspected can be acquired with a simple configuration.
ビームスプリッタ150は、測定光学系130を伝搬したライン状の測定光の被検眼Eからの戻り光と参照光学系140を伝搬したライン状の参照光とを合波させる合波手段である。このビームスプリッタ150による合波によって、撮影光学系160の平面163上では、測定光に係るライン像と参照光に係るライン像とが干渉する。 The beam splitter 150 is a wave combining means for combining the return light of the line-shaped measurement light propagating through the measurement optical system 130 from the eye E to be inspected with the line-shaped reference light propagating through the reference optical system 140. Due to the wave splitting by the beam splitter 150, the line image related to the measurement light and the line image related to the reference light interfere with each other on the plane 163 of the photographing optical system 160.
撮影光学系160は、被検眼E(より詳細に、本実施形態の例では、被検眼Eの眼底Ef)における断層画像を撮影する光学系である。この撮影光学系160は、レンズ群161、及び、ラインセンサ162を含み構成されている。ラインセンサ162は、ビームスプリッタ150による合波により得られた、ライン状の測定光における戻り光(測定光に係るライン像)とライン状の参照光(参照光に係るライン像)との干渉光を干渉信号として検出する検出手段である。撮影光学系160において、平面163は、例えば被検眼Eの眼底Ef及び平面1314と光学的に共役な平面である。さらに、平面163は、レンズ群161を介してラインセンサ162の受光面とも共役となっているため、被検眼Eの眼底Rfから反射・散乱されたライン状の測定光がラインセンサ162へと達することになる。 The photographing optical system 160 is an optical system that captures a tomographic image of the eye E (more specifically, in the example of the present embodiment, the fundus Ef of the eye E). The photographing optical system 160 includes a lens group 161 and a line sensor 162. The line sensor 162 is an interference light between the return light (line image related to the measurement light) and the line-shaped reference light (line image related to the reference light) in the line-shaped measurement light obtained by the combined wave of the beam splitter 150. Is a detection means for detecting as an interference signal. In the photographing optical system 160, the plane 163 is, for example, a plane optically conjugate with the fundus Ef and the plane 1314 of the eye E to be inspected. Further, since the plane 163 is also conjugated with the light receiving surface of the line sensor 162 via the lens group 161, the line-shaped measurement light reflected / scattered from the fundus Rf of the eye E to be inspected reaches the line sensor 162. It will be.
図2は、本発明の第1の実施形態に係る光干渉断層撮像装置10の概略構成の一例を示す図である。この図2では、図1に示すライン走査型OCT光学系100−1を、「ライン走査型OCT光学系100」として記載している。 FIG. 2 is a diagram showing an example of a schematic configuration of the optical interference tomographic imaging apparatus 10 according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 2, the line scanning OCT optical system 100-1 shown in FIG. 1 is described as “line scanning OCT optical system 100”.
光干渉断層撮像装置10は、図2に示すように、ライン走査型OCT光学系100、制御部200、サンプリング部300、メモリ400、信号処理部500、操作入力部600、及び、表示部700を有して構成されている。ここで、図2に示すライン走査型OCT光学系100では、図1に示すSS光源110、ラインセンサ162、フォーカス駆動部171、ガルバノ駆動部172、イメージローテータ駆動部173、リフレクタ駆動部174及び偏光調整駆動部175のみを図示し、他の構成の記載は省略している。 As shown in FIG. 2, the optical coherence tomography apparatus 10 includes a line scanning OCT optical system 100, a control unit 200, a sampling unit 300, a memory 400, a signal processing unit 500, an operation input unit 600, and a display unit 700. It is configured to have. Here, in the line scanning OCT optical system 100 shown in FIG. 2, the SS light source 110, the line sensor 162, the focus drive unit 171 and the galvano drive unit 172, the image rotator drive unit 173, the reflector drive unit 174, and the polarized light shown in FIG. Only the adjustment drive unit 175 is shown, and the description of other configurations is omitted.
フォーカス駆動部171は、制御部200の制御に基づいて、フォーカスレンズ133を駆動させる。ガルバノ駆動部172は、制御部200の制御に基づいて、ガルバノメトリックミラー134を駆動させる。イメージローテータ駆動部173は、制御部200の制御に基づいて、イメージローテータ135を駆動させる。リフレクタ駆動部174は、制御部200の制御に基づいて、レトロリフレクタ146を駆動させる。偏光調整駆動部175は、制御部200の制御に基づいて、偏光調整用パドル141を駆動させて、参照光の偏光状態を調整する。 The focus drive unit 171 drives the focus lens 133 based on the control of the control unit 200. The galvano drive unit 172 drives the galvanometric mirror 134 under the control of the control unit 200. The image rotator drive unit 173 drives the image rotator 135 based on the control of the control unit 200. The reflector drive unit 174 drives the retroreflector 146 under the control of the control unit 200. The polarization adjustment drive unit 175 drives the polarization adjustment paddle 141 based on the control of the control unit 200 to adjust the polarization state of the reference light.
制御部200は、例えば操作入力部600から入力された情報に基づいて、光干渉断層撮像装置10の各構成部の制御を行うとともに、各種の処理を行う。 The control unit 200 controls each component of the optical interference tomographic imaging apparatus 10 based on the information input from the operation input unit 600, for example, and performs various processes.
サンプリング部300は、ラインセンサ162からの干渉信号をサンプリングする構成部である。具体的に、サンプリング部300は、ガルバノ駆動部172によるガルバノメトリックミラー134の駆動位置における各画素ごとに、SS光源110による1回の波長掃引に対応して1つの干渉信号をサンプリングする。次いで、サンプリング部300は、ガルバノ駆動部172によるガルバノメトリックミラー134の次の駆動位置における各画素ごとに、SS光源110による次の波長掃引に対応して次の干渉信号をサンプリングする。以降、サンプリング部300は、この繰り返しにより、ラインセンサ162からの干渉信号を次々にサンプリングする。サンプリング部300でサンプリングされた干渉信号は、制御部200の処理によって、メモリ400に、その際のガルバノメトリックミラー134の駆動位置の情報とともに記憶される。信号処理部500は、メモリ400に記憶された干渉信号に対して、周波数解析等を含む信号処理を施して、被検眼Eの眼底Efの断層画像を生成する。そして、制御部200は、信号処理部500で生成された断層画像を表示部700に表示する制御や、メモリ400に記憶する制御を行う。なお、本実施形態では、例えば信号処理部500において、ガルバノメトリックミラー134の駆動位置の情報を用いて、三次元の眼底ボリューム画像を生成し、制御部200がこの三次元の眼底ボリューム画像を表示部700に表示する制御等を行ってもよい。 The sampling unit 300 is a component unit that samples the interference signal from the line sensor 162. Specifically, the sampling unit 300 samples one interference signal for each pixel at the drive position of the galvanometric mirror 134 by the galvano drive unit 172 in response to one wavelength sweep by the SS light source 110. Next, the sampling unit 300 samples the next interference signal corresponding to the next wavelength sweep by the SS light source 110 for each pixel at the next drive position of the galvanometric mirror 134 by the galvano drive unit 172. After that, the sampling unit 300 samples the interference signals from the line sensor 162 one after another by repeating this process. The interference signal sampled by the sampling unit 300 is stored in the memory 400 together with the information on the drive position of the galvanometric mirror 134 at that time by the processing of the control unit 200. The signal processing unit 500 performs signal processing including frequency analysis on the interference signal stored in the memory 400 to generate a tomographic image of the fundus Ef of the eye E to be inspected. Then, the control unit 200 controls to display the tomographic image generated by the signal processing unit 500 on the display unit 700 and controls to store the tomographic image in the memory 400. In the present embodiment, for example, the signal processing unit 500 generates a three-dimensional fundus volume image using the information on the drive position of the galvanometric mirror 134, and the control unit 200 displays the three-dimensional fundus volume image. Control or the like displayed on the unit 700 may be performed.
次に、図1に示すイメージローテータ135について、詳細に説明する。
図3は、図1に示すイメージローテータ135の駆動状態の一例を示す図である。イメージローテータ135は、図1に示すように、ガルバノメトリックミラー134と対物レンズ137(より詳細には、レンズ136)との間に設けられており、また、イメージローテータ駆動部173によって駆動可能に構成されている。
Next, the image rotator 135 shown in FIG. 1 will be described in detail.
FIG. 3 is a diagram showing an example of a driving state of the image rotator 135 shown in FIG. As shown in FIG. 1, the image rotator 135 is provided between the galvanometric mirror 134 and the objective lens 137 (more specifically, the lens 136), and can be driven by the image rotator drive unit 173. Has been done.
イメージローテータ135は、上述したように、イメージローテータ駆動部173により、例えば、測定光学系130の光軸の方向(図1に示す例では、Z方向)を中心として回転することによって、被検眼Eに対するライン状の測定光における向きの調整を行う。この様子を、図3(a)と図3(b−1)及び図3(b−2)を用いて説明する。 As described above, the image rotator 135 is rotated by the image rotator drive unit 173 around the direction of the optical axis of the measurement optical system 130 (Z direction in the example shown in FIG. 1), so that the eye to be inspected E The direction of the line-shaped measurement light is adjusted. This situation will be described with reference to FIGS. 3 (a), 3 (b-1), and 3 (b-2).
図3(a)は、調整前の状態1におけるイメージローテータ135を、「イメージローテータ135−1」として図示している。この図3(a)には、イメージローテータ135−1に入射し且つ出射するライン状の測定光310を図示している。 FIG. 3A illustrates the image rotator 135 in the state 1 before adjustment as “image rotator 135-1”. FIG. 3A illustrates a line-shaped measurement light 310 that enters and exits the image rotator 135-1.
図3(b−1)は、イメージローテータ駆動部173によって、図3(a)に示すイメージローテータ135−1を、測定光学系130の光軸311を中心として回転312させて、被検眼Eに対するライン状の測定光における向きの調整を行う様子を示している。図3(b−1)では、調整後の状態2におけるイメージローテータ135を、「イメージローテータ135−2」として図示している。図3(b−2)は、図3(b−1)に示すイメージローテータ135−2を、図3(a)に示すイメージローテータ135−1の向きで配置し、状態2においてイメージローテータ135−2に入射し且つ出射するライン状の測定光320を図示している。即ち、ライン状の測定光320は、被検眼Eに対する向きを調整した後のライン状の測定光を示している。例えば、図3(a)に示す状態1のライン像回転角度を0°とし、図3(b−1)及び図3(b−2)に示す状態2において例えばイメージローテータ135を45°回転させると、この場合のライン像回転角度は90°となる。 In FIG. 3B-1, the image rotator drive unit 173 rotates the image rotator 135-1 shown in FIG. 3A about the optical axis 311 of the measurement optical system 130 to rotate 312 with respect to the eye E to be inspected. It shows how to adjust the direction of the line-shaped measurement light. In FIG. 3 (b-1), the image rotator 135 in the adjusted state 2 is illustrated as an “image rotator 135-2”. In FIG. 3 (b-2), the image rotator 135-2 shown in FIG. 3 (b-1) is arranged in the direction of the image rotator 135-1 shown in FIG. 3 (a), and in the state 2, the image rotator 135- The line-shaped measurement light 320 incident on and emitted from No. 2 is shown in the figure. That is, the line-shaped measurement light 320 indicates the line-shaped measurement light after adjusting the direction with respect to the eye E to be inspected. For example, the line image rotation angle of the state 1 shown in FIG. 3 (a) is set to 0 °, and the image rotator 135 is rotated by 45 ° in the state 2 shown in FIGS. 3 (b-1) and 3 (b-2). In this case, the rotation angle of the line image is 90 °.
図4は、図1に示すイメージローテータ135によって行われる、被検眼Eに対するライン状の測定光における向きの調整を説明する図である。この図4には、被検眼Eの眼底Efにおける眼底平面領域40を図示しており、また、図1に示すXYZ座標系に対応するXYZ座標系の一例も記載している。 FIG. 4 is a diagram illustrating the adjustment of the orientation of the line-shaped measurement light with respect to the eye E to be inspected, which is performed by the image rotator 135 shown in FIG. FIG. 4 shows a fundus plane region 40 in the fundus Ef of the eye E to be inspected, and also shows an example of the XYZ coordinate system corresponding to the XYZ coordinate system shown in FIG.
眼底平面領域40には、X方向に沿った線410と、Y方向に沿った線420を図示している。例えば図3(a)に示す状態1では、イメージローテータ135を介して、被検眼Eの眼底Efに対して線410に沿ったライン状の測定光310が照射されるものとする。そして、図4では、この状態1から、被検眼Eの視神経乳頭401から黄斑402に至る断層画像を取得するべく、図3(b−1)及び図3(b−2)に示す状態2において、イメージローテータ135を測定光学系130の光軸311の方向であるZ軸を中心として回転312させることにより、被検眼Eに対する向きが調整されたライン状の測定光320を示している。 In the fundus plane region 40, a line 410 along the X direction and a line 420 along the Y direction are illustrated. For example, in the state 1 shown in FIG. 3A, it is assumed that the fundus Ef of the eye E to be inspected is irradiated with the line-shaped measurement light 310 along the line 410 via the image rotator 135. Then, in FIG. 4, in order to acquire a tomographic image from this state 1 to the optic disc 401 to the macula 402 of the eye E to be inspected, in the state 2 shown in FIGS. 3 (b-1) and 3 (b-2). , The image rotator 135 is rotated around the Z axis, which is the direction of the optical axis 311 of the measurement optical system 130, to show a line-shaped measurement light 320 whose orientation with respect to the eye E to be inspected is adjusted.
上述した第1の実施形態に係る光干渉断層撮像装置10では、測定光学系130に、被検眼Eに対するライン状の測定光における向きの調整を行うイメージローテータ135を設けるように構成している。
かかる構成によれば、被検眼Eに対するライン状の測定光を所望の向きに調整する場合に、測定光学系130に設けたイメージローテータ135によって当該調整を行うことができるため、光干渉断層撮像装置全体を傾けたり被検眼自体を傾けたりすることを回避できる。これにより、光干渉断層撮像装置全体を傾ける必要性に基づく装置の大型化を回避するとともに被検者の負担を増加させることなく、被検眼に対するライン状の測定光を所望の向きに調整することができる。さらに、例えば、装置の大型化を回避できることにより、装置の煩雑化も回避でき、また、被検眼自体を傾けることを回避できることにより、被検眼に対するライン状の測定光の向き調整にかかる時間を短くすることも可能になる。
In the optical interference tomographic imaging apparatus 10 according to the first embodiment described above, the measurement optical system 130 is configured to be provided with an image rotator 135 for adjusting the direction of the line-shaped measurement light with respect to the eye E to be inspected.
According to this configuration, when the line-shaped measurement light with respect to the eye E to be inspected is adjusted in a desired direction, the adjustment can be performed by the image rotator 135 provided in the measurement optical system 130, and thus the optical interference tomographic imaging apparatus. It is possible to avoid tilting the whole or tilting the eye to be inspected itself. As a result, it is possible to adjust the line-shaped measurement light for the eye to be examined in a desired direction without increasing the size of the device due to the need to tilt the entire optical interference tomographic imaging device and without increasing the burden on the subject. Can be done. Further, for example, by avoiding the increase in size of the device, the complexity of the device can be avoided, and by avoiding tilting the eye to be inspected, the time required for adjusting the direction of the line-shaped measurement light with respect to the eye to be inspected can be shortened. It will also be possible to do.
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。なお、以下に記載する第2の実施形態の説明においては、上述した第1の実施形態と共通する事項については説明を省略し、上述した第1の実施形態と異なる事項について説明を行う。具体的に、第2の実施形態は、光干渉断層撮像装置に含まれるライン走査型OCT光学系100が、図1に示す構成と異なる形態である。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the description of the second embodiment described below, the matters common to the above-mentioned first embodiment will be omitted, and the matters different from the above-mentioned first embodiment will be described. Specifically, in the second embodiment, the line scanning OCT optical system 100 included in the optical coherence tomography imaging device has a configuration different from that shown in FIG.
図5は、本発明の第2の実施形態に係る光干渉断層撮像装置に含まれるライン走査型OCT光学系100の概略構成の一例を示す図である。ここで、図5に示す第2の実施形態におけるライン走査型OCT光学系100を、「ライン走査型OCT光学系100−2」として記載する。なお、この図5において、図1に示す構成と同様の構成については同じ符号を付しており、その詳細な説明は省略する。 FIG. 5 is a diagram showing an example of a schematic configuration of a line scanning OCT optical system 100 included in the optical coherence tomography imaging device according to the second embodiment of the present invention. Here, the line scanning OCT optical system 100 in the second embodiment shown in FIG. 5 is described as "line scanning OCT optical system 100-2". In FIG. 5, the same reference numerals are given to the configurations similar to those shown in FIG. 1, and detailed description thereof will be omitted.
ライン走査型OCT光学系100−2は、図5に示すように、SS光源110、コリメータレンズ210、ビームスプリッタ220、測定光学系230、参照光学系240、ビームスプリッタ150、撮影光学系160、フォーカス駆動部171、ガルバノ駆動部172、イメージローテータ駆動部173、及び、リフレクタ駆動部174を有して構成されている。 As shown in FIG. 5, the line scanning OCT optical system 100-2 includes an SS light source 110, a collimator lens 210, a beam splitter 220, a measurement optical system 230, a reference optical system 240, a beam splitter 150, a photographing optical system 160, and a focus. It includes a drive unit 171, a galvano drive unit 172, an image rotator drive unit 173, and a reflector drive unit 174.
コリメータレンズ210は、SS光源110からの光をコリメートする光学系である。即ち、コリメータレンズ210は、コリメート光を出射する。 The collimator lens 210 is an optical system that collimates the light from the SS light source 110. That is, the collimator lens 210 emits collimator light.
ビームスプリッタ220は、所望の分岐比で、コリメータレンズ210を介して入射したSS光源110からの光を測定光と参照光とに分岐する光分岐手段である。 The beam splitter 220 is an optical branching means that splits the light from the SS light source 110 incident through the collimator lens 210 into the measurement light and the reference light at a desired branching ratio.
次に、測定光学系230について、以下に詳しく説明する。
測定光学系230は、ビームスプリッタ220で分岐された測定光を被検眼Eに導く光学系である。この測定光学系230は、図5に示すように、ライン像形成光学系231、レンズ132、フォーカスレンズ133、ガルバノメトリックミラー134、イメージローテータ135、レンズ136、及び、対物レンズ137を含み構成されている。
Next, the measurement optical system 230 will be described in detail below.
The measurement optical system 230 is an optical system that guides the measurement light branched by the beam splitter 220 to the eye E to be inspected. As shown in FIG. 5, the measurement optical system 230 includes a line image forming optical system 231, a lens 132, a focus lens 133, a galvanometric mirror 134, an image rotator 135, a lens 136, and an objective lens 137. There is.
ライン像形成光学系231は、ライン状の測定光であるライン像を形成する光学系である。このライン像形成光学系231は、シリンドリカルレンズ1312、及び、レンズ1313を含み構成されている。このライン像形成光学系231では、シリンドリカルレンズ1312及びレンズ1313によって、所定視度(例えば0ディオプタ)の被検眼Eの眼底Efと共役な位置でライン状の測定光であるライン像を形成する。例えば、ライン像形成光学系231は、平面1314上にライン像を形成する。 The line image forming optical system 231 is an optical system that forms a line image which is a line-shaped measurement light. The line image forming optical system 231 includes a cylindrical lens 1312 and a lens 1313. In this line image forming optical system 231, the cylindrical lens 1312 and the lens 1313 form a line image which is a line-shaped measurement light at a position conjugate with the fundus Ef of the eye E to be inspected having a predetermined diopter (for example, 0 diopter). For example, the line image forming optical system 231 forms a line image on the plane 1314.
ライン像形成光学系231で形成されたライン像であるライン状の測定光は、第1の実施形態と同様に、ビームスプリッタ150を通過して、レンズ132に入射し、その後、フォーカスレンズ133、ガルバノメトリックミラー134、イメージローテータ135、レンズ136及び対物レンズ137を介して、被検眼Eの眼底Efに導かれる。これにより、被検眼Eの眼底Ef上に、ライン状の測定光であるライン像が照射される。 The line-shaped measurement light, which is a line image formed by the line image forming optical system 231, passes through the beam splitter 150 and is incident on the lens 132, and then, as in the first embodiment, the focus lens 133, It is guided to the fundus Ef of the eye E to be inspected via the galvanometric mirror 134, the image rotator 135, the lens 136, and the objective lens 137. As a result, a line image, which is a line-shaped measurement light, is irradiated on the fundus Ef of the eye E to be inspected.
イメージローテータ135は、第1の実施形態と同様に、被検眼E(より詳細には、被検眼Eの眼底Ef)に対してライン状の測定光を走査するガルバノメトリックミラー134と、被検眼Eに対向する位置に配置される対物レンズ137との間に設けられている。そして、イメージローテータ135は、被検眼E(被検眼Eの眼底Ef)に対してライン状の測定光を照射する際に被検眼Eに対するライン状の測定光における向き(方向)の調整を行う。具体的に、イメージローテータ135は、イメージローテータ駆動部173により、例えば、測定光学系130の光軸の方向(図5に示す例では、Z方向)を中心として回転することによって、被検眼Eに対するライン状の測定光における向きの調整を行う。 Similar to the first embodiment, the image rotator 135 includes a galvanometric mirror 134 that scans a line-shaped measurement light with respect to the eye E (more specifically, the fundus Ef of the eye E), and the eye E. It is provided between the objective lens 137 and the objective lens 137 arranged at a position facing the lens. Then, the image rotator 135 adjusts the direction (direction) of the line-shaped measurement light with respect to the eye E to be examined when irradiating the eye E (the fundus Ef of the eye E to be examined) with the line-shaped measurement light. Specifically, the image rotator 135 is rotated by the image rotator drive unit 173 around the direction of the optical axis of the measurement optical system 130 (Z direction in the example shown in FIG. 5) with respect to the eye E to be inspected. Adjust the direction of the line-shaped measurement light.
そして、被検眼Eの眼底Efで反射・散乱したライン状の測定光は、戻り光となって測定光学系230の対物レンズ137からレンズ132を通過して、ビームスプリッタ150で反射されて、撮影光学系160に導かれる。このライン状の測定光の被検眼Eからの戻り光は、撮影光学系160の平面163上に測定光に係るライン像を形成する。 Then, the line-shaped measurement light reflected / scattered by the fundus Ef of the eye E to be inspected becomes return light, passes through the lens 132 from the objective lens 137 of the measurement optical system 230, is reflected by the beam splitter 150, and is photographed. It is guided by the optical system 160. The return light of the line-shaped measurement light from the eye E to be inspected forms a line image related to the measurement light on the plane 163 of the photographing optical system 160.
次に、参照光学系240について、以下に詳しく説明する。
参照光学系240は、ビームスプリッタ220で分岐された参照光を伝搬させる光学系である。参照光学系240は、図5に示すように、ミラー241、コリメータレンズ242、ミラー243、NDフィルター143、ミラー144、ミラー145、レトロリフレクタ146、ミラー147、ミラー148、及び、ライン像形成光学系149を含み構成されている。
Next, the reference optical system 240 will be described in detail below.
The reference optical system 240 is an optical system that propagates the reference light branched by the beam splitter 220. As shown in FIG. 5, the reference optical system 240 includes a mirror 241, a collimator lens 242, a mirror 243, an ND filter 143, a mirror 144, a mirror 145, a retroreflector 146, a mirror 147, a mirror 148, and a line image forming optical system. It is configured to include 149.
参照光学系240に導かれた参照光は、ミラー241で所定方向に反射された後、コリメータレンズ242を介してミラー243で所定方向に反射され、NDフィルター143を通過して所定光量に減衰される。その後、参照光は、ミラー144及びミラー145で所定方向に反射され、光軸の方向(図5に示す例では、Z方向)に移動可能であって測定光学系230の測定光の光路との光路長差を補正するためのレトロリフレクタ146で折り返される。ここで、本実施形態においては、レトロリフレクタ146は、リフレクタ駆動部174によって、参照光学系240を伝搬する参照光と測定光学系230を伝搬する測定光との光路長差を補正(例えば、参照光の光路長と測定光の光路長が等しくなるように補正)する形態を採る。レトロリフレクタ146で折り返された参照光は、ミラー145、ミラー144、ミラー147及びミラー148においてそれぞれ所定方向に反射されて、シリンドリカルレンズ1491とレンズ1492を含み構成されるライン像形成光学系149に入射する。ライン像形成光学系149は、ライン状の参照光であるライン像を形成する。ライン像形成光学系149で形成されたライン状の参照光は、ビームスプリッタ150を透過して、撮影光学系160の平面163上に参照光に係るライン像を形成する。 The reference light guided to the reference optical system 240 is reflected by the mirror 241 in a predetermined direction, then reflected by the mirror 243 through the collimator lens 242 in a predetermined direction, passes through the ND filter 143, and is attenuated to a predetermined amount of light. To. After that, the reference light is reflected by the mirror 144 and the mirror 145 in a predetermined direction, is movable in the direction of the optical axis (Z direction in the example shown in FIG. 5), and is connected to the optical path of the measurement light of the measurement optical system 230. It is folded back by a retroreflector 146 for correcting the optical path length difference. Here, in the present embodiment, the retroreflector 146 corrects the optical path length difference between the reference light propagating in the reference optical system 240 and the measurement light propagating in the measurement optical system 230 by the reflector drive unit 174 (see, for example). The optical path length of the light and the optical path length of the measured light are corrected so as to be equal to each other). The reference light folded back by the retroreflector 146 is reflected in a predetermined direction by the mirror 145, the mirror 144, the mirror 147, and the mirror 148, respectively, and is incident on the line image forming optical system 149 including the cylindrical lens 1491 and the lens 1492. To do. The line image forming optical system 149 forms a line image which is a line-shaped reference light. The line-shaped reference light formed by the line image forming optical system 149 passes through the beam splitter 150 and forms a line image related to the reference light on the plane 163 of the photographing optical system 160.
ビームスプリッタ150は、測定光学系230を伝搬したライン状の測定光の被検眼Eからの戻り光と参照光学系240を伝搬したライン状の参照光とを合波させる合波手段である。このビームスプリッタ150による合波によって、撮影光学系160の平面163上では、測定光に係るライン像と参照光に係るライン像とが干渉する。 The beam splitter 150 is a wave combining means for combining the return light of the line-shaped measurement light propagating in the measurement optical system 230 from the eye E to be inspected with the line-shaped reference light propagating in the reference optical system 240. Due to the wave splitting by the beam splitter 150, the line image related to the measurement light and the line image related to the reference light interfere with each other on the plane 163 of the photographing optical system 160.
撮影光学系160は、被検眼E(より詳細に、本実施形態の例では、被検眼Eの眼底Ef)における断層画像を撮影する光学系である。この撮影光学系160は、レンズ群161、及び、ラインセンサ162を含み構成されている。ラインセンサ162は、ビームスプリッタ150による合波により得られた、ライン状の測定光における戻り光(測定光に係るライン像)とライン状の参照光(参照光に係るライン像)との干渉光を干渉信号として検出する検出手段である。撮影光学系160において、平面163は、例えば被検眼Eの眼底Ef及び平面1314と光学的に共役な平面である。さらに、平面163は、レンズ群161を介してラインセンサ162の受光面とも共役となっているため、被検眼Eの眼底Rfから反射・散乱されたライン状の測定光がラインセンサ162へと達することになる。 The photographing optical system 160 is an optical system that captures a tomographic image of the eye E (more specifically, in the example of the present embodiment, the fundus Ef of the eye E). The photographing optical system 160 includes a lens group 161 and a line sensor 162. The line sensor 162 is an interference light between the return light (line image related to the measurement light) and the line-shaped reference light (line image related to the reference light) in the line-shaped measurement light obtained by the combined wave of the beam splitter 150. Is a detection means for detecting as an interference signal. In the photographing optical system 160, the plane 163 is, for example, a plane optically conjugate with the fundus Ef and the plane 1314 of the eye E to be inspected. Further, since the plane 163 is also conjugated with the light receiving surface of the line sensor 162 via the lens group 161, the line-shaped measurement light reflected / scattered from the fundus Rf of the eye E to be inspected reaches the line sensor 162. It will be.
第2の実施形態に係る光干渉断層撮像装置の概略構成は、基本的には、図2に示す第1の実施形態に係る光干渉断層撮像装置10の概略構成と同様である。但し、図5に示すライン走査型OCT光学系100−2では、図1に示す偏光調整用パドル141は構成されないため、第2の実施形態に係る光干渉断層撮像装置10の概略構成は、図2に示す概略構成のうち、偏光調整駆動部175は具備しない形態を採る。 The schematic configuration of the optical interference tomographic imaging apparatus according to the second embodiment is basically the same as the schematic configuration of the optical interference tomographic imaging apparatus 10 according to the first embodiment shown in FIG. However, in the line scanning OCT optical system 100-2 shown in FIG. 5, the polarization adjusting paddle 141 shown in FIG. 1 is not configured. Therefore, the schematic configuration of the optical coherence tomography apparatus 10 according to the second embodiment is shown in FIG. Of the schematic configurations shown in 2, the polarization adjusting drive unit 175 is not provided.
上述した第2の実施形態に係る光干渉断層撮像装置10では、測定光学系230に、被検眼Eに対するライン状の測定光における向きの調整を行うイメージローテータ135を設けるように構成している。
かかる構成によれば、被検眼Eに対するライン状の測定光を所望の向きに調整する場合に、測定光学系230に設けたイメージローテータ135によって当該調整を行うことができるため、光干渉断層撮像装置全体を傾けたり被検眼自体を傾けたりすることを回避できる。これにより、光干渉断層撮像装置全体を傾ける必要性に基づく装置の大型化を回避するとともに被検者の負担を増加させることなく、被検眼に対するライン状の測定光を所望の向きに調整することができる。さらに、例えば、装置の大型化を回避できることにより、装置の煩雑化も回避でき、また、被検眼自体を傾けることを回避できることにより、被検眼に対するライン状の測定光の向き調整にかかる時間を短くすることも可能になる。
In the optical interference tomographic imaging apparatus 10 according to the second embodiment described above, the measurement optical system 230 is configured to be provided with an image rotator 135 for adjusting the direction of the line-shaped measurement light with respect to the eye E to be inspected.
According to this configuration, when the line-shaped measurement light with respect to the eye E to be inspected is adjusted in a desired direction, the adjustment can be performed by the image rotator 135 provided in the measurement optical system 230, and thus the optical interference tomographic imaging apparatus. It is possible to avoid tilting the whole or tilting the eye to be inspected itself. As a result, it is possible to adjust the line-shaped measurement light for the eye to be examined in a desired direction without increasing the size of the device due to the need to tilt the entire optical interference tomographic imaging device and without increasing the burden on the subject. Can be done. Further, for example, by avoiding the increase in size of the device, the complexity of the device can be avoided, and by avoiding tilting the eye to be inspected, the time required for adjusting the direction of the line-shaped measurement light with respect to the eye to be inspected can be shortened. It will also be possible to do.
(その他の実施形態)
上述した本発明の実施形態では、検査対象の部位として被検眼Eの眼底Efを適用した例について説明したが、本発明においてはこれに限定されるものではなく、例えば被検眼Eの前眼部を検査対象の部位として適用してもよい。
(Other embodiments)
In the above-described embodiment of the present invention, an example in which the fundus Ef of the eye to be inspected E is applied as a site to be inspected has been described, but the present invention is not limited to this, for example, the anterior segment of the eye to be inspected E. May be applied as the site to be inspected.
なお、上述した本発明の実施形態は、いずれも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。即ち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。 It should be noted that the above-described embodiments of the present invention merely show examples of implementation of the present invention, and the technical scope of the present invention should not be construed in a limited manner by these. Is. That is, the present invention can be implemented in various forms without departing from the technical idea or its main features.
10:光干渉断層撮像装置、100:ライン走査型OCT光学系、110:SS光源、120:カプラ、130:測定光学系、131:ライン像形成光学系、132:レンズ、133:フォーカスレンズ、134:ガルバノメトリックミラー、135:イメージローテータ、136:レンズ、137:対物レンズ、140:参照光学系、141:偏光調整用パドル、142:コリメータレンズ、143:NDフィルター、144:ミラー、145:ミラー、146:レトロリフレクタ、147:ミラー、148:ミラー、149:ライン像形成光学系、150:ビームスプリッタ、160撮影光学系、171:フォーカス駆動部、172:ガルバノ駆動部、173:イメージローテータ駆動部、174:リフレクタ駆動部、175:偏光調整駆動部、200:制御部、300:サンプリング部、400:メモリ、500:信号処理部、600:操作入力部、700:表示部 10: Optical interference tomographic imaging device, 100: Line scanning OCT optical system, 110: SS light source, 120: Coupler, 130: Measurement optical system, 131: Line image formation optical system, 132: Lens, 133: Focus lens, 134 : Galvanometric mirror, 135: Image rotator, 136: Lens, 137: Objective lens, 140: Reference optical system, 141: Polarity adjustment paddle, 142: Collimeter lens, 143: ND filter, 144: Mirror, 145: Mirror, 146: Retroreflector, 147: Mirror, 148: Mirror, 149: Line image forming optical system, 150: Beam splitter, 160 photographing optical system, 171: Focus drive unit, 172: Galvano drive unit, 173: Image rotator drive unit, 174: Reflector drive unit, 175: Polarization adjustment drive unit, 200: Control unit, 300: Sampling unit, 400: Memory, 500: Signal processing unit, 600: Operation input unit, 700: Display unit
Claims (5)
前記測定光を被検眼に導く測定光学系と、
前記参照光を伝搬させる参照光学系と、
前記測定光学系を伝搬した前記測定光の前記被検眼からの戻り光と前記参照光学系を伝搬した前記参照光とを合波させる合波手段と、
前記合波により得られた前記戻り光と前記参照光との干渉光を干渉信号として検出する検出手段と、
を有し、
前記測定光学系は、前記被検眼に対してライン状の前記測定光を照射する際に前記被検眼に対する前記ライン状の測定光における向きの調整を行うイメージローテータを含み構成されていることを特徴とする光干渉断層撮像装置。 An optical branching means that splits the light from the light source into measurement light and reference light,
A measurement optical system that guides the measurement light to the eye to be inspected,
The reference optical system that propagates the reference light and
A wave combining means for combining the return light of the measurement light propagating in the measurement optical system from the eye to be inspected and the reference light propagating in the reference optical system.
A detection means for detecting the interference light between the return light and the reference light obtained by the combined wave as an interference signal.
Have,
The measurement optical system is characterized by including an image rotator that adjusts the direction of the line-shaped measurement light with respect to the eye to be inspected when irradiating the eye to be inspected with the line-shaped measurement light. Optical interference tomographic imaging device.
前記イメージローテータは、前記ガルバノメトリックミラーと前記対物レンズとの間に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮像装置。 The measurement optical system further includes a galvanometric mirror that scans the line-shaped measurement light with respect to the eye to be inspected, and an objective lens arranged at a position facing the eye to be inspected.
The optical interference tomographic imaging apparatus according to claim 1, wherein the image rotator is provided between the galvanometric mirror and the objective lens.
前記参照光学系は、ライン状の前記参照光を伝搬させる光学系であり、
前記合波手段は、前記測定光学系を伝搬した前記ライン状の測定光の前記被検眼からの戻り光と前記参照光学系を伝搬した前記ライン状の参照光とを合波させ、
前記検出手段は、前記合波により得られた前記戻り光と前記ライン状の参照光との干渉光を前記干渉信号として検出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置。 The measurement optical system is an optical system that irradiates the eye to be inspected with the line-shaped measurement light.
The reference optical system is an optical system that propagates the reference light in a line shape.
The wave combining means combines the return light of the line-shaped measurement light propagating in the measurement optical system from the eye to be inspected with the line-shaped reference light propagating in the reference optical system.
The method according to any one of claims 1 to 3, wherein the detection means detects the interference light between the return light and the line-shaped reference light obtained by the combined wave as the interference signal. Optical interference tomography imaging device.
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