JP2020092361A - Radiation imaging apparatus and control method therefor - Google Patents

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Abstract

To provide a technique which is advantageous to reduce a time fluctuation from the start of irradiation of a radioactive ray to the sample hold of a signal.SOLUTION: A radiation imaging apparatus includes: a pixel array having a plurality of pixels including a conversion element, which converts a radioactive ray into an electric signal, and a sample hold circuit which, according to the radioactive ray, performs the sample hold of a signal from the conversion element for a plurality of times; a readout circuit which reads out a signal from the pixel array; a processing unit which, based on the signal read out by the readout circuit, performs the processing of determining a plurality of times of sample hold timing, based on information of the time change of acquired radiation energy; and a control unit which controls the sample hold circuit to perform a plurality of times of sample hold at the determined timing. Based on the signal obtained from the pixel array by the readout of only a part of pixel signals in the pixel array by the readout circuit, the processing unit determines the plurality of times of sample hold timing.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、放射線撮像装置および放射線撮像装置の制御方法に関する。 The present invention relates to a radiation imaging apparatus and a method for controlling the radiation imaging apparatus.

放射線撮像装置を応用した撮影方法としてエネルギーサブトラクション法がある。エネルギーサブトラクション法は、被検体に照射する放射線のエネルギーを異ならせて複数回にわたって撮像して得た複数の画像を処理することによって新たな画像(例えば、骨画像および軟部組織画像)を得る方法である。複数の放射線画像を撮像する時間間隔は、例えば、静止画撮像用の放射線撮像装置では数秒以上、通常の動画用の放射線撮像装置では100ミリ秒程度であり、高速の動画用の放射線撮像装置でも10ミリ秒程度である。この時間間隔において被検体が動くと、その動きによるアーチファクトが生じてしまう。したがって、心臓などのように動きが速い被検体の放射線画像をエネルギーサブトラクション法によって得ることは困難であった。 An energy subtraction method is an imaging method using a radiation imaging apparatus. The energy subtraction method is a method of obtaining a new image (for example, a bone image and a soft tissue image) by processing a plurality of images obtained by imaging a plurality of times by changing the energy of radiation applied to a subject. is there. The time interval for capturing a plurality of radiation images is, for example, several seconds or more in a radiation imaging apparatus for still image capturing, about 100 milliseconds in a normal radiation imaging apparatus for moving images, and even in a radiation imaging apparatus for high-speed moving images. It is about 10 milliseconds. When the subject moves during this time interval, artifacts due to the movement occur. Therefore, it has been difficult to obtain a radiation image of a subject such as a heart whose movement is fast by the energy subtraction method.

特許文献1には、デュアルエネルギー撮影を行うシステムが記載されている。このシステムでは、撮影の際にX線源の管電圧が第1kV値にされた後に第2kV値に変更される。そして、管電圧が第1kV値であるときに第1副画像に対応する第1信号が積分され、積分された信号がサンプル・ホールドノードに転送された後に、積分がリセットされる。その後、管電圧が第2kV値であるときに第2副画像に対応する第2信号が積分される。これにより、積分された第1信号の読み出しと第2信号の積分が並行して行われる。 Patent Document 1 describes a system for performing dual energy imaging. In this system, the tube voltage of the X-ray source is set to the first kV value and then changed to the second kV value during imaging. Then, when the tube voltage has the first kV value, the first signal corresponding to the first sub-image is integrated, and after the integrated signal is transferred to the sample and hold node, the integration is reset. Then, when the tube voltage has the second kV value, the second signal corresponding to the second sub-image is integrated. As a result, reading of the integrated first signal and integration of the second signal are performed in parallel.

特表2009−504221号公報Japanese Patent Publication No. 2009-504221

特許文献1の方法で複数回にわたってX線を曝射して複数フレームの動画撮像を行う場合、X線を曝射してからサンプル・ホールドノードへの信号の転送を行うまでの時間がフレームごとに異なる可能性がある。これによって、フレーム間で第1副画像のエネルギーおよび線量が互いに異なり、またフレーム間で第2副画像のエネルギーおよび線量が互いに異なることになり、エネルギーサブトラクションの精度が低下しうる。本発明は、放射線の照射開始から信号のサンプルホールドまでの時間の変動を低減するために有利な技術を提供することを目的とする。 When X-rays are radiated a plurality of times according to the method of Patent Document 1 to capture a moving image of a plurality of frames, the time from the exposure of the X-rays to the transfer of the signal to the sample and hold node is frame by frame. May be different. As a result, the energy and the dose of the first sub-image are different from each other between the frames, and the energy and the dose of the second sub-image are different from each other between the frames, which may reduce the accuracy of the energy subtraction. It is an object of the present invention to provide an advantageous technique for reducing the fluctuation in the time from the start of radiation irradiation to the sample and hold of signals.

本発明の1つの側面は、複数の画素を有する画素アレイと、前記画素アレイから信号を読み出す読出回路と、を備える放射線撮像装置であって、前記複数の画素の各々は、放射線を電気信号に変換する変換素子と、前記放射線に応じて前記変換素子からの信号を複数回にわたってサンプルホールドするサンプルホールド回路と、を含み、前記読出回路によって読み出された信号に基づいて取得された前記放射線の放射線エネルギーの時間変化に関する情報に基づいて、前記複数回のサンプルホールドのタイミングを決定する処理を行う処理部と、前記処理部によって決定された前記タイミングで前記サンプルホールド回路による前記複数回のサンプルホールドを行うように制御する制御部と、を更に備え、前記処理部は、前記読出回路が前記画素アレイのうちの一部の画素の信号のみを読み出しすることによって前記画素アレイから得られた信号に基づいて、前記複数回のサンプルホールドのタイミングを決定することを特徴とする。 One aspect of the present invention is a radiation imaging apparatus including a pixel array having a plurality of pixels and a readout circuit that reads out signals from the pixel array, each of the plurality of pixels converting radiation into an electrical signal. A conversion element for converting; and a sample-hold circuit for sampling and holding a signal from the conversion element a plurality of times according to the radiation, the radiation of the radiation acquired based on the signal read by the readout circuit. A processing unit that performs a process of determining the timing of the plurality of times of sample and hold based on information about a time change of radiation energy, and the plurality of times of sample and hold by the sample and hold circuit at the timing determined by the processing unit. And a control unit that controls to perform the above-mentioned processing, wherein the processing unit converts the signals obtained from the pixel array by the readout circuit reading out only the signals of some pixels of the pixel array. Based on the above, the timings of the plurality of sample-holds are determined.

本発明によれば、放射線の照射開始から信号のサンプルホールドまでの時間の変動を低減するために有利な技術が提供される。 According to the present invention, an advantageous technique is provided for reducing the fluctuation in the time from the start of radiation irradiation to the sample hold of a signal.

本発明の第1実施形態の放射線撮像装置の構成を示す図。The figure which shows the structure of the radiation imaging device of 1st Embodiment of this invention. 撮像部の構成例を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a configuration example of an imaging unit. 1つの画素の構成例を示す図。The figure which shows the structural example of one pixel. 拡張モード1(比較例)における放射線撮像装置の動作を示す図。The figure which shows operation|movement of the radiation imaging device in the expansion mode 1 (comparative example). 拡張モード1(比較例)における課題を説明する図。The figure explaining the subject in expansion mode 1 (comparative example). 拡張モード2における放射線撮像装置の動作を示す図。The figure which shows operation|movement of the radiation imaging device in the expansion mode 2. 本発明の第1実施形態を示す図。The figure which shows 1st Embodiment of this invention. 検出部が放射線源からの放射線の照射の開始を検出する方法を示す図。The figure which shows the method of a detection part detecting the start of irradiation of the radiation from a radiation source. サンプルホールドが3系統の画素の構成例を示す図。The figure which shows the structural example of the pixel of sample hold 3 system. 本発明の第2実施形態を示す図。The figure which shows 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態を示す図。The figure which shows 3rd Embodiment of this invention.

[実施例1]
以下、添付図面を参照しながら本発明をその例示的な実施形態を通して説明する。
[Example 1]
Hereinafter, the present invention will be described through exemplary embodiments thereof with reference to the accompanying drawings.

図1には、本発明の第1実施形態の放射線撮像装置1の構成が示されている。放射線撮像装置1は、複数の画素を有する画素アレイ110を2次元状に複数配列させたパネル105を含む撮像部100と、撮像部100からの信号を処理する信号処理部352とを備えうる。 FIG. 1 shows the configuration of a radiation imaging apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention. The radiation imaging apparatus 1 may include an imaging unit 100 including a panel 105 in which a plurality of pixel arrays 110 having a plurality of pixels are two-dimensionally arranged, and a signal processing unit 352 that processes a signal from the imaging unit 100.

撮像部100は、例えば、パネル形状を有しうる。図1に例示されるパネル105は、28枚の画素アレイが2次元的に配列されている。信号処理部352は、図1に例示されるように、制御装置350の一部として構成されてもよいし、撮像部100と同一筺体に収められてもよいし、撮像部100および制御装置350とは異なる筺体に収められてもよい。放射線撮像装置1は、エネルギーサブトラクション法によって放射線画像を得るための装置である。エネルギーサブトラクション法は、被検体に照射する放射線のエネルギーを異ならせて複数回にわたって撮像して得た複数の画像を処理することによって新たな放射線画像(例えば、骨画像および軟部組織画像)を得る方法である。放射線という用語は、例えば、X線の他、α線、β線、γ線、粒子線、宇宙線を含みうる。 The imaging unit 100 may have a panel shape, for example. In the panel 105 illustrated in FIG. 1, 28 pixel arrays are two-dimensionally arranged. The signal processing unit 352 may be configured as a part of the control device 350 as illustrated in FIG. 1, may be housed in the same housing as the imaging unit 100, or the imaging unit 100 and the control device 350. It may be housed in a housing different from. The radiation imaging apparatus 1 is an apparatus for obtaining a radiation image by the energy subtraction method. The energy subtraction method is a method of obtaining a new radiation image (for example, a bone image and a soft tissue image) by processing a plurality of images obtained by imaging a plurality of times by changing the energy of radiation applied to a subject. Is. The term radiation can include, for example, X-rays as well as α-rays, β-rays, γ-rays, particle beams and cosmic rays.

放射線撮像装置1は、放射線を発生する放射線源400、放射線源400を制御する曝射制御装置300、および、曝射制御装置300(放射線源400)および撮像部100を制御する制御装置350を備えうる。制御装置350は、前述のように、撮像部100から供給される信号を処理する信号処理部352を含みうる。制御装置350の機能の全部または一部は、撮像部100に組み込まれうる。あるいは、撮像部100の機能の一部は、制御装置350に組み込まれうる。制御装置350は、コンピュータ(プロセッサ)と、該コンピュータに提供するプログラムを格納したメモリとによって構成されうる。信号処理部352は、該プログラムの一部によって構成されうる。あるいは、信号処理部352は、コンピュータ(プロセッサ)と、該コンピュータに提供するプログラムを格納したメモリとによって構成されうる。制御装置350の全部または一部は、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)、または、プログラマブルロジックアレイ(PLA)によって構成されてもよい。制御装置350および信号処理部352は、その動作を記述したファイルに基づいて論理合成ツールによって設計され製造されてもよい。 The radiation imaging apparatus 1 includes a radiation source 400 that generates radiation, an exposure control device 300 that controls the radiation source 400, and a control device 350 that controls the exposure control device 300 (radiation source 400) and the imaging unit 100. sell. The control device 350 may include the signal processing unit 352 that processes the signal supplied from the imaging unit 100, as described above. All or part of the functions of the control device 350 may be incorporated in the imaging unit 100. Alternatively, some of the functions of the image capturing unit 100 may be incorporated in the control device 350. The control device 350 may be configured by a computer (processor) and a memory that stores a program provided to the computer. The signal processing unit 352 can be configured by a part of the program. Alternatively, the signal processing unit 352 may be configured by a computer (processor) and a memory that stores a program provided to the computer. All or part of the controller 350 may be configured by a digital signal processor (DSP) or a programmable logic array (PLA). The control device 350 and the signal processing unit 352 may be designed and manufactured by a logic synthesis tool based on a file describing the operation thereof.

制御装置350は、放射線源400による放射線の放射(曝射)を許可する場合に、曝射制御装置300に対して曝射許可信号を送信する。曝射制御装置300は、制御装置350から曝射許可信号を受信すると、曝射許可信号の受信に応答して、放射線源400に放射線を放射(曝射)させる。動画を撮像する場合は、制御装置350は、曝射制御装置300に対して複数回にわたって曝射許可信号を送信する。この場合において、制御装置350は、曝射制御装置300に対して所定の周期で複数回にわたって曝射許可信号を送信してもよいし、撮像部100による次のフレームの撮像が可能になる度に曝射制御装置300に対して曝射許可信号を送信してもよい。また、放射線源400と撮像部100を不図示の装置で同心円上を回転させて、その時の回転に同期して、曝射制御装置300に対して曝射許可信号を送信してもよい。 The control device 350 transmits an exposure permission signal to the exposure control device 300 when permitting radiation (exposure) of radiation by the radiation source 400. Upon receiving the exposure permission signal from the control device 350, the exposure control device 300 causes the radiation source 400 to emit (exposure) radiation in response to the reception of the exposure permission signal. When capturing a moving image, the control device 350 transmits an exposure permission signal to the exposure control device 300 multiple times. In this case, the control device 350 may transmit the exposure permission signal to the exposure control device 300 a plurality of times at a predetermined cycle, or every time the imaging unit 100 can image the next frame. The exposure permission signal may be transmitted to the exposure control device 300. Further, the radiation source 400 and the imaging unit 100 may be rotated on a concentric circle by a device (not shown), and an exposure permission signal may be transmitted to the exposure control device 300 in synchronization with the rotation at that time.

放射線源400は、放射線の連続的な放射期間(照射期間)においてエネルギー(波長)が変化する放射線を放射しうる。このような放射線を用いて、互いに異なる複数のエネルギーのそれぞれにおける放射線画像を得て、これらの放射線画像をエネルギーサブトラクション法によって処理することによって1つの新たな放射線画像を得ることができる。 The radiation source 400 can emit radiation whose energy (wavelength) changes during continuous radiation periods (irradiation periods) of radiation. By using such radiation, a radiation image at each of a plurality of energies different from each other can be obtained, and these radiation images can be processed by the energy subtraction method to obtain one new radiation image.

あるいは、放射線源400は、放射線のエネルギー(波長)を変更する機能を有してもよい。放射線源400は、例えば、管電圧(放射線源400の陰極と陽極との間に印加する電圧)を変更することによって放射線のエネルギーを変更する機能を有しうる。 Alternatively, the radiation source 400 may have a function of changing the energy (wavelength) of radiation. The radiation source 400 can have a function of changing the energy of radiation by changing the tube voltage (voltage applied between the cathode and the anode of the radiation source 400), for example.

撮像部100の画素アレイ110を構成する複数の画素の各々は、放射線を電気信号(例えば、電荷)に変換する変換素子と、該変換素子をリセットするリセット部とを含む。各画素は、放射線を直接に電気信号に変換するように構成されてもよいし、放射線を可視光等の光に変換した後に該光を電気信号に変換するように構成されてもよい。後者においては、放射線を光に変換するためのシンチレータが利用されうる。シンチレータは、画素アレイ110を構成する複数の画素によって共有されうる。 Each of the plurality of pixels forming the pixel array 110 of the imaging unit 100 includes a conversion element that converts radiation into an electric signal (for example, electric charge), and a reset unit that resets the conversion element. Each pixel may be configured to directly convert radiation into an electrical signal, or may be configured to convert radiation into light such as visible light and then convert the light into an electrical signal. In the latter, a scintillator for converting radiation into light can be used. The scintillator can be shared by a plurality of pixels forming the pixel array 110.

図2には、各画素アレイ110から信号を読み出すための構成例が示されている。複数の画素112を有する画素アレイ110および画素アレイ110の複数の画素112から信号を読み出すための読出回路RCを含む。複数の画素112は、複数の行および複数の列を構成するように配列されうる。読出回路RCは、行選択回路120、制御部130、バッファ回路140、列選択回路150、増幅部160、AD変換器170および検出部190を含みうる。 FIG. 2 shows a configuration example for reading a signal from each pixel array 110. It includes a pixel array 110 having a plurality of pixels 112 and a read circuit RC for reading signals from the plurality of pixels 112 of the pixel array 110. The plurality of pixels 112 may be arranged to form a plurality of rows and a plurality of columns. The read circuit RC may include a row selection circuit 120, a control unit 130, a buffer circuit 140, a column selection circuit 150, an amplification unit 160, an AD converter 170, and a detection unit 190.

行選択回路120は、画素アレイ110の行を選択する。行選択回路120は、行制御信号122を駆動することによって行を選択するように構成されうる。バッファ回路140は、画素アレイ110の複数の行のうち行選択回路120によって選択された行の画素112から信号をバッファリングする。バッファ回路140は、画素アレイ110の複数の列信号伝送路114に出力される複数列分の信号をバッファリングする。各列の列信号伝送路114は、列信号線対を構成する第1信号線および第2列信号線を含む。第1列信号線には、画素112のノイズレベル(後述の通常モード時)、または、画素112で検出された放射線に応じた放射線信号(後述の拡張モード時)が出力されうる。第2列信号線には、画素112で検出された放射線に応じた放射線信号が出力されうる。バッファ回路140は、増幅回路を含みうる。 The row selection circuit 120 selects a row of the pixel array 110. The row selection circuit 120 may be configured to select a row by driving the row control signal 122. The buffer circuit 140 buffers signals from the pixels 112 of the row selected by the row selection circuit 120 among the plurality of rows of the pixel array 110. The buffer circuit 140 buffers signals for a plurality of columns output to the plurality of column signal transmission lines 114 of the pixel array 110. The column signal transmission line 114 of each column includes a first signal line and a second column signal line that form a column signal line pair. A noise level of the pixel 112 (in a normal mode described later) or a radiation signal according to the radiation detected by the pixel 112 (in an expanded mode described later) can be output to the first column signal line. A radiation signal corresponding to the radiation detected by the pixel 112 can be output to the second column signal line. The buffer circuit 140 may include an amplifier circuit.

列選択回路150は、バッファ回路140によってバッファリングされた1行分の信号対を所定の順に選択する。増幅部160は、列選択回路150によって選択された信号対を増幅する。ここで、増幅部160は、信号対(2つの信号)の差分を増幅する差動増幅器として構成されうる。AD変換器170は、増幅部160から出力される信号OUTをAD変換してデジタル信号DOUT(放射線画像信号)を出力するAD変換器170を備えうる。図1の撮像部100では、28個の増幅部160とAD変換器170を備える。 The column selection circuit 150 selects one row of signal pairs buffered by the buffer circuit 140 in a predetermined order. The amplification unit 160 amplifies the signal pair selected by the column selection circuit 150. Here, the amplification unit 160 may be configured as a differential amplifier that amplifies the difference between the signal pair (two signals). The AD converter 170 may include an AD converter 170 that AD-converts the signal OUT output from the amplification unit 160 and outputs a digital signal DOUT (radiation image signal). The imaging unit 100 of FIG. 1 includes 28 amplification units 160 and AD converters 170.

検出部190は、放射線源400によって画素アレイ110に照射される放射線を画素アレイ110から読出回路RCによって読み出される信号に基づいて検出することによって、放射線源400による放射線の照射の開始を検出しうる。図1の撮像部100では、検出部190に、28個のAD変換器170から出力されるデジタル信号DOUTが入力されている。検出部190は、放射線源400による放射線の照射の開始を検出すると、それを示す同期信号を発生し制御部130に供給しうる。 The detection unit 190 may detect the start of irradiation of the radiation by the radiation source 400 by detecting the radiation irradiated by the radiation source 400 onto the pixel array 110 based on the signal read from the pixel array 110 by the readout circuit RC. .. In the imaging unit 100 of FIG. 1, the digital signal DOUT output from the 28 AD converters 170 is input to the detection unit 190. When the detection unit 190 detects the start of irradiation of radiation by the radiation source 400, the detection unit 190 may generate a synchronization signal indicating the start and supply the synchronization signal to the control unit 130.

図3には、1つの画素112の構成例が示されている。画素112は、例えば、変換素子210、リセットスイッチ220(リセット部)、増幅回路230、感度変更部240、クランプ回路260、サンプルホールド回路(保持部)270、280、出力回路310を含む。画素112は、撮像方式に関するモードとして、通常モードおよび拡張モードを有しうる。拡張モードは、エネルギーサブトラクション法によって放射線画像を得るためのモードである。 FIG. 3 shows a configuration example of one pixel 112. The pixel 112 includes, for example, a conversion element 210, a reset switch 220 (reset unit), an amplification circuit 230, a sensitivity changing unit 240, a clamp circuit 260, sample hold circuits (holding units) 270 and 280, and an output circuit 310. The pixel 112 can have a normal mode and an extended mode as modes related to the imaging method. The extended mode is a mode for obtaining a radiation image by the energy subtraction method.

変換素子210は、放射線を電気信号に変換する。変換素子210は、例えば、複数の画素で共有されうるシンチレータと、光電変換素子とで構成されうる。変換素子210は、変換された電気信号(電荷)、即ち放射線に応じた電気信号を蓄積する電荷蓄積部211を有し、電荷蓄積部211は、増幅回路230の入力端子に接続されている。 The conversion element 210 converts radiation into an electric signal. The conversion element 210 can be composed of, for example, a scintillator that can be shared by a plurality of pixels, and a photoelectric conversion element. The conversion element 210 has a charge storage unit 211 that stores a converted electric signal (charge), that is, an electric signal according to radiation, and the charge storage unit 211 is connected to an input terminal of an amplifier circuit 230.

増幅回路230は、MOSトランジスタ235、236、電流源237を含みうる。MOSトランジスタ235は、MOSトランジスタ236を介して電流源237に接続されている。MOSトランジスタ235および電流源237によってソースフォロア回路が構成される。MOSトランジスタ236は、イネーブル信号ENが活性化されることによってオンして、MOSトランジスタ235および電流源237によって構成されるソースフォロア回路を動作状態にするイネーブルスイッチである。 The amplifier circuit 230 may include MOS transistors 235 and 236 and a current source 237. The MOS transistor 235 is connected to the current source 237 via the MOS transistor 236. The MOS transistor 235 and the current source 237 form a source follower circuit. The MOS transistor 236 is an enable switch that is turned on when the enable signal EN is activated to turn on the source follower circuit configured by the MOS transistor 235 and the current source 237.

変換素子210の電荷蓄積部211およびMOSトランジスタ235のゲートは、電荷蓄積部211に蓄積された電荷を電圧に変換する電荷電圧変換部CVCとして機能する。即ち、電荷電圧変換部CVCには、電荷蓄積部211に蓄積された電荷Qと電荷電圧変換部が有する容量値Cとによって定まる電圧V(=Q/C)が現れる。電荷電圧変換部CVCは、リセットスイッチ220を介してリセット電位Vresに接続されている。リセット信号PRESが活性化されるとリセットスイッチ220がオンして、電荷電圧変換部の電位がリセット電位Vresにリセットされる。リセットスイッチ220は、変換素子210の電荷蓄積部211に接続された第1主電極(ドレイン)と、リセット電位Vresが与えられる第2主電極(ソース)と、制御電極(ゲート)とを有するトランジスタを含みうる。該トランジスタは、該制御電極にオン電圧が与えられることによって該第1主電極と該第2主電極とを導通させて変換素子210の電荷蓄積部211をリセットする。 The charge storage unit 211 of the conversion element 210 and the gate of the MOS transistor 235 function as a charge-voltage conversion unit CVC that converts the charges stored in the charge storage unit 211 into a voltage. That is, the voltage V (=Q/C) determined by the charge Q accumulated in the charge accumulator 211 and the capacitance value C of the charge-voltage converter appears in the charge-voltage converter CVC. The charge-voltage converter CVC is connected to the reset potential Vres via the reset switch 220. When the reset signal PRES is activated, the reset switch 220 is turned on, and the potential of the charge-voltage converter is reset to the reset potential Vres. The reset switch 220 is a transistor having a first main electrode (drain) connected to the charge storage unit 211 of the conversion element 210, a second main electrode (source) to which a reset potential Vres is applied, and a control electrode (gate). Can be included. The transistor makes the first main electrode and the second main electrode conductive by applying an ON voltage to the control electrode and resets the charge storage unit 211 of the conversion element 210.

クランプ回路260は、リセットされた電荷電圧変換部CVCの電位に応じて増幅回路230から出力されるリセットノイズレベルをクランプ容量261によってクランプする。クランプ回路260は、変換素子210で変換された電荷(電気信号)に応じて増幅回路230から出力される信号(放射線信号)からリセットノイズレベルをキャンセルするための回路である。リセットノイズベルは、電荷電圧変換部CVCのリセット時のkTCノイズを含む。クランプ動作は、クランプ信号PCLを活性化することによってMOSトランジスタ262をオンさせた後に、クランプ信号PCLを非活性化することによってMOSトランジスタ262をオフさせることによってなされる。 The clamp circuit 260 clamps the reset noise level output from the amplifier circuit 230 according to the reset potential of the charge-voltage converter CVC by the clamp capacitor 261. The clamp circuit 260 is a circuit for canceling the reset noise level from the signal (radiation signal) output from the amplification circuit 230 according to the electric charge (electrical signal) converted by the conversion element 210. The reset noise bell includes kTC noise when the charge-voltage converter CVC is reset. The clamp operation is performed by turning on the MOS transistor 262 by activating the clamp signal PCL and then turning off the MOS transistor 262 by deactivating the clamp signal PCL.

クランプ容量261の出力側は、MOSトランジスタ263のゲートに接続されている。MOSトランジスタ263のソースは、MOSトランジスタ264を介して電流源265に接続されている。MOSトランジスタ263と電流源265とによってソースフォロア回路が構成されている。MOSトランジスタ264は、そのゲートに供給されるイネーブル信号ENが活性化されることによってオンして、MOSトランジスタ263と電流源265とによって構成されるソースフォロア回路を動作状態にするイネーブルスイッチである。 The output side of the clamp capacitor 261 is connected to the gate of the MOS transistor 263. The source of the MOS transistor 263 is connected to the current source 265 via the MOS transistor 264. The MOS transistor 263 and the current source 265 form a source follower circuit. The MOS transistor 264 is an enable switch that is turned on when the enable signal EN supplied to its gate is activated to turn on the source follower circuit configured by the MOS transistor 263 and the current source 265.

出力回路310は、MOSトランジスタ311、313、行選択スイッチ312、314を含む。MOSトランジスタ311、313は、それぞれ、列信号線321、322に接続された不図示の電流源とともにソースフォロア回路を構成する。 The output circuit 310 includes MOS transistors 311, 313 and row selection switches 312, 314. The MOS transistors 311 and 313 form a source follower circuit together with current sources (not shown) connected to the column signal lines 321 and 322, respectively.

変換素子210で発生した電荷に応じてクランプ回路260から出力される信号である放射線信号は、サンプルホールド回路280によってサンプルホールド(保持)されうる。サンプルホールド回路280は、スイッチ281および容量282を有しうる。スイッチ281は、行選択回路120によってサンプルホールド信号TS1が活性化されることによってオンする。クランプ回路260から出力される放射線信号は、サンプルホールド信号TS1が活性化されることによって、スイッチ281を介して容量282に書き込まれる。 The radiation signal, which is a signal output from the clamp circuit 260 according to the charge generated in the conversion element 210, can be sample-held (held) by the sample-hold circuit 280. The sample hold circuit 280 can include a switch 281 and a capacitor 282. The switch 281 is turned on when the row selection circuit 120 activates the sample hold signal TS1. The radiation signal output from the clamp circuit 260 is written in the capacitor 282 via the switch 281 when the sample hold signal TS1 is activated.

通常モードでは、リセットスイッチ220によって電荷電圧変換部CVCの電位がリセットされ、MOSトランジスタ262がオンした状態では、クランプ回路260からは、クランプ回路260のノイズレベル(オフセット成分)が出力される。クランプ回路260のノイズレベルは、サンプルホールド回路270によってサンプルホールド(保持)されうる。サンプルホールド回路270は、スイッチ271および容量272を有しうる。スイッチ271は、行選択回路120によってサンプルホールド信号TNが活性化されることによってオンする。クランプ回路260から出力されるノイズレベルは、サンプルホールド信号TNが活性化されることによって、スイッチ271を介して容量272に書き込まれる。また、拡張モードでは、サンプルホールド回路270は、変換素子210で発生した電荷に応じてクランプ回路260から出力される信号である放射線信号を保持するために使用されうる。 In the normal mode, the reset switch 220 resets the potential of the charge-voltage converter CVC, and when the MOS transistor 262 is turned on, the clamp circuit 260 outputs the noise level (offset component) of the clamp circuit 260. The noise level of the clamp circuit 260 can be sampled and held (held) by the sample and hold circuit 270. The sample hold circuit 270 can include a switch 271 and a capacitor 272. The switch 271 is turned on when the row selection circuit 120 activates the sample hold signal TN. The noise level output from the clamp circuit 260 is written in the capacitor 272 via the switch 271 when the sample hold signal TN is activated. Further, in the extended mode, the sample hold circuit 270 can be used to hold the radiation signal which is the signal output from the clamp circuit 260 according to the charge generated in the conversion element 210.

行選択信号VSTが活性化されると、サンプルホールド回路270、280に保持されている信号に応じた信号が列信号伝送路114を構成する第1列信号線321、第2列信号線322に出力される。具体的には、サンプルホールド回路270によって保持されている信号(ノイズレベルまたは放射線信号)に応じた信号NがMOSトランジスタ311および行選択スイッチ312を介して列信号線321に出力される。また、サンプルホールド回路280によって保持されている信号に応じた信号S1がMOSトランジスタ313および行選択スイッチ314を介して列信号線322に出力される。 When the row selection signal VST is activated, signals corresponding to the signals held in the sample and hold circuits 270 and 280 are applied to the first column signal line 321 and the second column signal line 322 which form the column signal transmission path 114. Is output. Specifically, the signal N corresponding to the signal (noise level or radiation signal) held by the sample hold circuit 270 is output to the column signal line 321 via the MOS transistor 311 and the row selection switch 312. Further, the signal S1 corresponding to the signal held by the sample hold circuit 280 is output to the column signal line 322 via the MOS transistor 313 and the row selection switch 314.

画素112は、複数の画素112の信号を加算するための加算スイッチ301、302を含んでもよい。加算モード時は、加算モード信号ADDN、ADDSが活性化される。加算モード信号ADDNの活性化により複数の画素112の容量272同士が接続され、信号(ノイズレベルまたは放射線信号)が平均化される。加算モード信号ADDSの活性化により複数の画素112の容量282同士が接続され、放射線信号が平均化される。 The pixel 112 may include addition switches 301 and 302 for adding the signals of the plurality of pixels 112. In the addition mode, the addition mode signals ADDN and ADDS are activated. The activation of the addition mode signal ADDN connects the capacitors 272 of the plurality of pixels 112 to each other, and averages the signal (noise level or radiation signal). The activation of the addition mode signal ADDS connects the capacitors 282 of the plurality of pixels 112 to each other, and the radiation signals are averaged.

画素112は、感度変更部240を含みうる。感度変更部240は、スイッチ241、容量243を含みうる。第1変更信号WIDEが活性化されると、スイッチ241がオンして、電荷電圧変換部CVCの容量値に第1付加容量243の容量値が付加される。これによって、画素112の感度が低下する。画素112の感度を低下させる機能を追加することによって、ダイナミックレンジを広げることができる。なお、感度変更部240のスイッチ241がオンしたとき、電荷再分配によって変換素子210の電荷蓄積部211の電位が変化しうる。これにより、信号の一部が破壊されうる。 The pixel 112 may include the sensitivity changing unit 240. The sensitivity changing unit 240 may include a switch 241 and a capacitor 243. When the first change signal WIDE is activated, the switch 241 is turned on, and the capacitance value of the first additional capacitance 243 is added to the capacitance value of the charge-voltage converter CVC. This reduces the sensitivity of the pixel 112. The dynamic range can be expanded by adding a function of lowering the sensitivity of the pixel 112. When the switch 241 of the sensitivity changing unit 240 is turned on, the potential of the charge storage unit 211 of the conversion element 210 may change due to charge redistribution. This can destroy some of the signal.

上記のリセット信号PRES、イネーブル信号EN、クランプ信号PCL、サンプルホールド信号TN、TS1、行選択信号VSTは、図2の行選択回路120によって制御(駆動)される制御信号であり、図2の行制御信号122に対応する。また、行選択回路120は、制御部130から供給されるタイミング信号に従って、リセット信号PRES、イネーブル信号EN、クランプ信号PCL、サンプルホールド信号TN、TS1、行選択信号VSTを発生する。 The reset signal PRES, the enable signal EN, the clamp signal PCL, the sample hold signals TN and TS1, and the row selection signal VST are control signals controlled (driven) by the row selection circuit 120 in FIG. It corresponds to the control signal 122. Further, the row selection circuit 120 generates a reset signal PRES, an enable signal EN, a clamp signal PCL, sample hold signals TN and TS1, and a row selection signal VST according to a timing signal supplied from the control unit 130.

図3に示されたような構成の画素112では、サンプルホールドの際に変換素子210の電荷蓄積部211等で信号の破壊が起こらない。即ち、図3に示されたような構成の画素112では、放射線信号を非破壊で読み出すことができる。このような構成は、以下で説明するエネルギーサブトラクション法を適用した放射線撮像に有利である。 In the pixel 112 configured as shown in FIG. 3, signal destruction does not occur in the charge storage unit 211 or the like of the conversion element 210 during sample hold. That is, in the pixel 112 configured as shown in FIG. 3, the radiation signal can be read nondestructively. Such a configuration is advantageous for radiation imaging to which the energy subtraction method described below is applied.

以下、エネルギーサブトラクション法によって放射線画像を得る拡張モードについて説明する。拡張モード1は比較例であり、拡張モード2は比較例1の改良例である。 The extended mode for obtaining a radiation image by the energy subtraction method will be described below. Extended mode 1 is a comparative example, and extended mode 2 is an improved example of comparative example 1.

図4には、拡張モード1(比較例)における放射線撮像装置1の動作が示されている。図4において、横軸は時間である。「放射線エネルギー」は、放射線源400から放射され撮像部100に照射される放射線のエネルギーである。「PRES」は、リセット信号RRESである。「TS1」は、サンプルホールド信号TS1である。「DOUT」は、AD変換器170の出力である。放射線源400からの放射線の放射および撮像部100の動作の同期は、曝射許可信号を発生する制御装置350によって制御されうる。撮像部100における動作制御は、制御部130によってなされる。リセット信号PRESが活性化される期間にクランプ信号PCLも所定期間にわたって活性化されて、クランプ回路260にノイズレベルがクランプされる。 FIG. 4 shows the operation of the radiation imaging apparatus 1 in the extended mode 1 (comparative example). In FIG. 4, the horizontal axis represents time. “Radiation energy” is energy of radiation emitted from the radiation source 400 and applied to the imaging unit 100. “PRES” is the reset signal RRES. “TS1” is the sample hold signal TS1. “DOUT” is the output of the AD converter 170. The synchronization of the radiation of the radiation from the radiation source 400 and the operation of the imaging unit 100 can be controlled by the control device 350 that generates the exposure permission signal. The operation control in the image pickup unit 100 is performed by the control unit 130. The clamp signal PCL is also activated for a predetermined period while the reset signal PRES is activated, and the noise level is clamped in the clamp circuit 260.

図4に例示されるように、放射線源400から放射される放射線800のエネルギー(波長)は、放射線の放射期間において変化する。これは、放射線源400の管電圧の立ち上がり、および、立ち下がりが鈍っていることに起因しうる。そこで、放射線800が、立ち上がり期間における放射線801、安定期間における放射線802、および、立ち下がり期間における放射線803からなるものとして考える。放射線801のエネルギーE1、放射線802のエネルギーE2、放射線803のエネルギーE3は、互いに異なりうる。これを利用してエネルギーサブトラクションン法による放射線画像を得ることができる。 As illustrated in FIG. 4, the energy (wavelength) of the radiation 800 emitted from the radiation source 400 changes during the radiation emission period. This may be due to the rise and fall of the tube voltage of the radiation source 400 being dull. Therefore, it is considered that the radiation 800 includes radiation 801 in the rising period, radiation 802 in the stable period, and radiation 803 in the falling period. The energy E1 of the radiation 801, the energy E2 of the radiation 802, and the energy E3 of the radiation 803 may be different from each other. Utilizing this, a radiation image by the energy subtraction method can be obtained.

制御部130は、以下の第1期間T1、第2期間T2、第3期間T3が、それぞれ、立ち上がり期間、安定期間、立ち下がり期間に対応するように、第1期間T1、第2期間T2および第3期間T3を規定する。各画素112は、第1期間T1において変換素子210で発生した電気信号に応じた第1信号を出力する動作を実行する。また、各画素112は、第1期間T1および第2期間T2において変換素子210で発生した電気信号に応じた第2信号を出力する動作を実行する。また、各画素112は、第1期間T1、第2期間T2および第3期間T3において変換素子210で発生した電気信号に応じた第3信号を出力する動作を実行する。第1期間T1、第2期間T2および第3期間T3は、互いに異なる期間である。第1期間T1において、第1エネルギーE1を有する放射線が照射され、第2期間T2において第2エネルギーE2を有する放射線が照射され、第3期間T3において第2エネルギーE3を有する放射線が照射される。 The control unit 130 sets the first period T1, the second period T2, and the second period T2 so that the following first period T1, second period T2, and third period T3 correspond to the rising period, the stable period, and the falling period, respectively. The third period T3 is defined. Each pixel 112 performs an operation of outputting a first signal according to the electric signal generated in the conversion element 210 in the first period T1. In addition, each pixel 112 performs an operation of outputting a second signal corresponding to the electric signal generated in the conversion element 210 in the first period T1 and the second period T2. In addition, each pixel 112 performs an operation of outputting a third signal according to an electric signal generated in the conversion element 210 in the first period T1, the second period T2, and the third period T3. The first period T1, the second period T2, and the third period T3 are different periods. Radiation having the first energy E1 is irradiated in the first period T1, radiation having the second energy E2 is irradiated in the second period T2, and radiation having the second energy E3 is irradiated in the third period T3.

拡張モード1では、放射線800が照射される照射期間TTにおいて、画素112の変換素子210がリセットされない(リセット信号PRESが活性化されない)。よって、放射線800が照射される照射期間TTでは、入射した放射線に応じた電気信号(電荷)が変換素子210に蓄積され続ける。放射線800が照射される照射期間TTにおいて、画素112の変換素子210がリセットされないことは、撮像に寄与しない放射線の照射を減らしつつ、より短時間でエネルギーサブトラクション法のための放射線画像を得るために有利である。 In the extended mode 1, the conversion element 210 of the pixel 112 is not reset (the reset signal PRES is not activated) in the irradiation period TT in which the radiation 800 is irradiated. Therefore, in the irradiation period TT in which the radiation 800 is irradiated, the electric signal (charge) according to the incident radiation continues to be accumulated in the conversion element 210. In the irradiation period TT in which the radiation 800 is irradiated, the conversion element 210 of the pixel 112 is not reset, so that the irradiation of the radiation that does not contribute to imaging can be reduced and a radiation image for the energy subtraction method can be obtained in a shorter time. It is advantageous.

放射線800の放射(撮像部100への照射)前に、リセット信号PRESが所定期間にわたって活性化され、これによって変換素子210がリセットされる。この際に、クランプ信号PCLも所定期間にわたって活性化されて、クランプ回路260にリセットレベル(ノイズレベル)がクランプされる。 Before the radiation 800 is emitted (irradiation to the imaging unit 100), the reset signal PRES is activated for a predetermined period, whereby the conversion element 210 is reset. At this time, the clamp signal PCL is also activated for a predetermined period, and the reset level (noise level) is clamped in the clamp circuit 260.

リセット信号PRESが所定期間にわたって活性化された後に、曝射制御装置300から放射線源400に対して曝射許可信号が送信され、この曝射許可信号に応答して放射線源400から放射線が放射される。リセット信号PRESが所定期間にわたって活性化されてから所定期間が経過した後に、サンプルホールド信号TNが所定期間にわたって活性化される。これによって、エネルギーE1の放射線801の照射を受けて画素アレイ110の画素112の変換素子210が発生した電気信号に応じた信号(E1)がサンプルホールド回路270によってサンプルホールドされる。 After the reset signal PRES is activated for a predetermined period, the exposure control device 300 transmits an exposure permission signal to the radiation source 400, and the radiation source 400 emits radiation in response to the exposure permission signal. It The sample hold signal TN is activated for a predetermined period after a predetermined period has elapsed since the reset signal PRES was activated for a predetermined period. As a result, the sample-hold circuit 270 samples and holds the signal (E1) corresponding to the electric signal generated by the conversion element 210 of the pixel 112 of the pixel array 110 in response to the irradiation of the radiation 801 of the energy E1.

サンプルホールド信号TNが所定期間にわたって活性されてから所定期間が経過した後に、サンプルホールド信号TS1が所定期間にわたって活性される。これによって、エネルギーE1の放射線801およびエネルギーE2の放射線802の照射を受けて画素アレイ110の画素112の変換素子210が発生した電気信号に応じた信号(E1+E2)がサンプルホールド回路280によってサンプルホールドされる。 The sample hold signal TS1 is activated for a predetermined period after a predetermined period has elapsed since the sample hold signal TN was activated for the predetermined period. As a result, the sample hold circuit 280 samples and holds the signal (E1+E2) corresponding to the electric signal generated by the conversion element 210 of the pixel 112 of the pixel array 110 in response to the irradiation of the radiation 801 of energy E1 and the radiation 802 of energy E2. It

次いで、サンプルホールド回路270でサンプルホールドされた信号(E1)とサンプルホールド回路280でサンプルホールドされた信号(E1+E2)との差分に相当する信号が第1信号805として読出回路RCから出力される。なお、図4において、”N”は、サンプルホールド回路270によってサンプルホールドされ、第1列信号線321に出力される信号を示し、”S1”は、サンプルホールド回路280によってサンプルホールドされ、第2列信号線322に出力される信号を示す。 Next, a signal corresponding to the difference between the signal (E1) sampled and held by the sample and hold circuit 270 and the signal (E1+E2) sampled and held by the sample and hold circuit 280 is output from the read circuit RC as the first signal 805. In FIG. 4, “N” indicates a signal sample-held by the sample-hold circuit 270 and output to the first column signal line 321, and “S1” is sample-held by the sample-hold circuit 280 and the second signal is output. The signals output to the column signal line 322 are shown.

次いで、サンプルホールド信号TS1が所定期間にわたって活性されてから所定期間が経過した後(エネルギーE3の放射線803の照射(放射線800の照射)が終了した後)に、サンプルホールド信号TS1が所定期間にわたって再び活性化される。これによって、エネルギーE1、E2、E3の放射線801、802、803の照射を受けて画素アレイ110の画素112の変換素子210が発生した電気信号に応じた信号(E1+E2+E3)がサンプルホールド回路280によってサンプルホールドされる。 Next, after a predetermined period has elapsed since the sample hold signal TS1 was activated for a predetermined period (after the irradiation of the radiation 803 with the energy E3 (the irradiation of the radiation 800) is completed), the sample hold signal TS1 is again output for the predetermined period. Activated. As a result, the sample hold circuit 280 samples the signal (E1+E2+E3) corresponding to the electric signal generated by the conversion element 210 of the pixel 112 of the pixel array 110 in response to the irradiation of the radiations 801, 802, 803 of the energies E1, E2, E3. To be held.

次いで、サンプルホールド回路270によってサンプルホールドされた信号(E1)とサンプルホールド回路280によってサンプルホールドされた信号(E1+E2+E3)との差分に相当する信号が第2信号806として読出回路RCから出力される。 Then, a signal corresponding to the difference between the signal (E1) sampled and held by the sample and hold circuit 270 and the signal (E1+E2+E3) sampled and held by the sample and hold circuit 280 is output from the read circuit RC as the second signal 806.

次いで、リセット信号PRESが所定期間にわたって活性化され、更に、サンプルホールド信号TNが所定期間にわたって活性される。これによって、サンプルホールド回路270によってリセットレベル(0)がサンプルホールドされる。次いで、サンプルホールド回路270によってサンプルホールドされた信号(0)とサンプルホールド回路280によってサンプルホールドされた信号(E1+E2+E3)との差分に相当する信号が第3信号807として読出回路RCから出力される。 Next, the reset signal PRES is activated for a predetermined period, and the sample hold signal TN is activated for a predetermined period. As a result, the sample-hold circuit 270 samples and holds the reset level (0). Then, a signal corresponding to the difference between the signal (0) sampled and held by the sample hold circuit 270 and the signal (E1+E2+E3) sampled and held by the sample hold circuit 280 is output from the read circuit RC as the third signal 807.

以上のような動作を複数回にわたって繰り返すことによって、複数フレームの放射線画像(即ち、動画)を得ることができる。 By repeating the above operation a plurality of times, it is possible to obtain a radiation image (that is, a moving image) of a plurality of frames.

信号処理部352は、以上のようにして、第1信号805(E2)、第2信号806(E2+E3)、第3信号807(E1+E2+E3)を得ることができる。信号処理部352は、第1信号805、第2信号806、第3信号807に基づいて、エネルギーE1の放射線801の照射量e1、エネルギーE2の放射線802の照射量e2、エネルギーE3の放射線803の照射量e3を得ることができる。具体的には、信号処理部352は、第1信号805(E2)と第2信号(E2+E3)との差分((E2+E3)−E2)を演算することによって、エネルギーE3の放射線803の照射量e3を得ることができる。また、信号処理部352は、第2信号806(E2+E3)と第3信号(E1+E2+E3)との差分((E1+E2+E3)−(E2+E3))を演算することによって、エネルギーE1の放射線801の照射量e1を得ることができる。また、第1信号805(E2)は、エネルギーE2の放射線802の照射量e2を示している。 The signal processing unit 352 can obtain the first signal 805 (E2), the second signal 806 (E2+E3), and the third signal 807 (E1+E2+E3) as described above. Based on the first signal 805, the second signal 806, and the third signal 807, the signal processing unit 352 calculates the dose e1 of the radiation 801 of energy E1, the dose e2 of the radiation 802 of energy E2, and the radiation 803 of energy E3. The irradiation amount e3 can be obtained. Specifically, the signal processing unit 352 calculates the difference ((E2+E3)−E2) between the first signal 805 (E2) and the second signal (E2+E3) to obtain the irradiation amount e3 of the radiation 803 having the energy E3. Can be obtained. Further, the signal processing unit 352 calculates the difference ((E1+E2+E3)-(E2+E3)) between the second signal 806 (E2+E3) and the third signal (E1+E2+E3) to calculate the irradiation amount e1 of the radiation 801 having the energy E1. Obtainable. Further, the first signal 805 (E2) indicates the irradiation amount e2 of the radiation 802 having the energy E2.

したがって、信号処理部352は、エネルギーE1の放射線801の照射量e1、エネルギーE2の放射線802の照射量e2、エネルギーE3の放射線803の照射量e3に基づいて、エネルギーサブトラクション法によって放射線画像を得ることができる。エネルギーサブトラクション法としては、種々の方法から選択される方法を採用することができる。例えば、第1エネルギーの放射線画像と第2エネルギーの放射線画像との差分を演算することによって骨画像と軟部組織画像とを得ることができる。また、第1エネルギーの放射線画像と第2エネルギーの放射線画像に基づいて非線形連立方程式を解くことによって骨画像と軟部組織画像とを生成してもよい。また、第1エネルギーの放射線画像と第2エネルギーの放射線画像とに基づいて造影剤画像と軟部組織画像とを得ることもできる。また、第1エネルギーの放射線画像と第2エネルギーの放射線画像とに基づいて電子密度画像と実効原子番号画像とを得ることもできる。 Therefore, the signal processing unit 352 obtains a radiation image by the energy subtraction method based on the dose e1 of the radiation 801 of the energy E1, the dose e2 of the radiation 802 of the energy E2, and the dose e3 of the radiation 803 of the energy E3. You can As the energy subtraction method, a method selected from various methods can be adopted. For example, the bone image and the soft tissue image can be obtained by calculating the difference between the radiation image of the first energy and the radiation image of the second energy. Further, the bone image and the soft tissue image may be generated by solving the non-linear simultaneous equations based on the radiation image of the first energy and the radiation image of the second energy. It is also possible to obtain a contrast agent image and a soft tissue image based on the first energy radiation image and the second energy radiation image. It is also possible to obtain an electron density image and an effective atomic number image based on the first energy radiation image and the second energy radiation image.

図5を参照しながら拡張モード1(比較例)における課題を説明する。図5に例示されるように、制御装置350が曝射制御装置300に対して曝射許可信号を送信してから、放射線源400が放射線の放射(曝射)を開始するまでの時間(これを「曝射ディレイ」と呼ぶ)は、フレームごとに異なりうる。図5の例では、第(n+1)フレームにおける曝射ディレイが第nフレームにおける曝射ディレイより大きい。曝射ディレイがフレームごとに異なることは、図4を参照して説明すると、放射線800の照射が開始されてからサンプルホールド回路270、280がサンプルホールドを完了するまでの期間T1、T2がばらつくことを意味する。したがって、第1信号805、第2信号806、第3信号807として検出される放射線のエネルギーおよび照射量(線量)がフレーム間で変化しうる。これは、照射量e1、照射量e2、照射量e3として検出される放射線のエネルギーおよび照射量(線量)がフレーム間で変化し、照射量e1、照射量e2、照射量e3に基づくエネルギーサブトラクションの精度が低下しうることを意味する。これによって、動画にアーチファクトおよび/または明滅が生じうる。 Problems in the extended mode 1 (comparative example) will be described with reference to FIG. As illustrated in FIG. 5, the time from when the control device 350 transmits the exposure permission signal to the exposure control device 300 to when the radiation source 400 starts emitting radiation (exposure) (this Is referred to as an “exposure delay”) can vary from frame to frame. In the example of FIG. 5, the exposure delay in the (n+1)th frame is larger than the exposure delay in the nth frame. Explaining with reference to FIG. 4 that the exposure delay differs for each frame, the periods T1 and T2 from the start of the irradiation of the radiation 800 to the completion of the sample hold of the sample hold circuits 270 and 280 vary. Means Therefore, the energy and the irradiation amount (dose) of the radiation detected as the first signal 805, the second signal 806, and the third signal 807 may change between frames. This is because the energy of the radiation detected as the dose e1, the dose e2, and the dose e3 and the dose (dose) change from frame to frame, and the energy subtraction based on the dose e1, the dose e2, and the dose e3 It means that accuracy may be reduced. This can cause artifacts and/or flickering in the video.

図6には、拡張モード2における放射線撮像装置1の動作が示されている。拡張モード2として言及しない事項は、拡張モード1に従いうる。拡張モード1(比較例)における課題を解決するためには、曝射許可信号ではなく、放射線源400から実際に放射された放射線に同期して、画素112のサンプルホールド回路270、280にサンプルホールドを行わせる必要がある。そこで、制御部130が曝射許可信号を受信することに応じて、読出回路RCはサンプルホールド回路270、280の少なくとも一方の信号を非破壊で複数回読み出す。そして、図7に示すように、パネル105の各画素アレイの全ての画素のうちの一部の画素(例えば所定の行の画素)の信号のみを繰り返し非破壊で読み出す。それによって、検出部190が読出回路RCによって複数回読み出された信号に基づいて、放射線源400から放射された放射線エネルギーの時間変化(波形)に関する情報を取得することができる。それに応じて検出部190が、同期信号を制御部130に出力し、画素112のサンプルホールド回路270、280にサンプルホールドを行わせる。ここで、制御部130は、検出部190から同期信号501を受信することに応じて、画素アレイ110の複数の画素112の各々における複数回のサンプルホールドSH1、SH2、SH3のタイミングを決定する。換言すると、制御部130は、検出部190によって放射線の照射の開始が検出される度に、画素アレイ110の複数の画素112の各々における複数回のサンプルホールドSH1、SH2、SH3のタイミングを決定する。すなわち、取得された放射線エネルギーの時間変化に関する情報に基づいて、画素アレイ110の複数の画素112の各々における複数回のサンプルホールドSH1、SH2、SH3のタイミングを決定することができる。好ましくは読出回路RCが、サンプルホールド回路270、280の少なくとも一方にて複数回サンプルホールドを行い、サンプルホールド回路270、280の少なくとも一方にサンプルホールドされた信号を非破壊で複数回読み出す。そして、信号処理部352は複数回読み出された信号の時間変化量(微分値)に基づいて画素アレイ110の複数の画素112の各々における複数回のサンプルホールドSH1、SH2、SH3のタイミングを決定する。すなわち、放射線エネルギーの時間変化(波形)に関する情報として信号の時間変化量(微分値)を用いて、画素アレイ110の複数の画素112の各々における複数回のサンプルホールドSH1、SH2、SH3のタイミングを決定することができる。なお、複数回のサンプルホールドSH1、SH2、SH3のうちの最初のサンプルホールドSH1と最後のサンプルホールドSH3との間の期間中は、リセットスイッチ220が変換素子210をリセットしない。 FIG. 6 shows the operation of the radiation imaging apparatus 1 in the extended mode 2. Items that are not referred to as the extended mode 2 may be according to the extended mode 1. In order to solve the problem in the extended mode 1 (comparative example), the sample hold circuits 270 and 280 of the pixel 112 are sample-held in synchronization with the radiation actually emitted from the radiation source 400 instead of the exposure permission signal. Need to be done. Therefore, in response to the control unit 130 receiving the exposure permission signal, the read circuit RC nondestructively reads the signal of at least one of the sample hold circuits 270 and 280 a plurality of times. Then, as shown in FIG. 7, only signals of some pixels (for example, pixels in a predetermined row) of all the pixels of each pixel array of the panel 105 are repeatedly read nondestructively. As a result, the detection unit 190 can acquire information regarding a temporal change (waveform) of the radiation energy emitted from the radiation source 400, based on the signal read by the reading circuit RC multiple times. In response to this, the detection unit 190 outputs a synchronization signal to the control unit 130 and causes the sample hold circuits 270 and 280 of the pixel 112 to perform sample hold. Here, the control unit 130 determines the timing of a plurality of times of sample and hold SH1, SH2, SH3 in each of the plurality of pixels 112 of the pixel array 110 in response to receiving the synchronization signal 501 from the detection unit 190. In other words, the control unit 130 determines the timing of the sample-holds SH1, SH2, SH3 in each of the plurality of pixels 112 of the pixel array 110 each time the detection unit 190 detects the start of radiation irradiation. .. That is, the timings of the sample-holds SH1, SH2, SH3 in each of the plurality of pixels 112 of the pixel array 110 can be determined based on the acquired information regarding the temporal change of the radiation energy. Preferably, the read circuit RC performs sample-and-hold a plurality of times by at least one of the sample-and-hold circuits 270 and 280, and reads the signal sampled and held by at least one of the sample-and-hold circuits 270 and 280 a plurality of times nondestructively. Then, the signal processing unit 352 determines the timing of the sample hold SH1, SH2, SH3 in each of the plurality of pixels 112 of the pixel array 110 based on the time change amount (differential value) of the signals read out a plurality of times. To do. That is, by using the time change amount (differential value) of the signal as the information regarding the time change (waveform) of the radiation energy, the timing of the sample hold SH1, SH2, SH3 in each of the plurality of pixels 112 of the pixel array 110 is determined. You can decide. Note that the reset switch 220 does not reset the conversion element 210 during the period between the first sample hold SH1 and the last sample hold SH3 of the plurality of sample holds SH1, SH2, SH3.

ここで、エネルギーサブトラクション法によって放射線画像を得るために、複数回のサンプルホールドのタイミングSH1、SH2、SH3における少なくとも1回のサンプルホールドのタイミングは、放射線の照射期間TTにおけるタイミングである。第1実施形態では、3回のサンプルホールドのタイミングSH1、SH2、SH3における2回のサンプルホールドSH1、SH2のタイミングは、放射線の照射期間TTにおけるタイミングである。複数回のサンプルホールドSH1、SH2のタイミングは、それぞれ、信号処理部352によって複数回読み出された信号の時間変化量に従って決定されうる。すなわち、フレーム間において、低エネルギー放射線801から高エネルギー放射線802に変わるタイミングt1でサンプルホールドSH1が、高エネルギー放射線802から立下り期間放射線803に変わるタイミングt2でサンプルホールドSH2が行われる。ここで、放射線源400から照射される放射線は波形が一定であれば、サンプルホールドSH1からサンプルホールドSH2の終了までの期間が一定にされる。なお、サンプルホールドSH3のタイミングはSH2以降で読み出しが次のフレームに間に合うタイミングにおいて一意に決定し得る。また、サンプルホールド回路270によってリセットレベル(0)がサンプルホールドされるタイミングも、SH2以降で第3信号807の読み出しの後で一意に決定し得る。これにより、エネルギーサブトラクションの精度の低下を抑制し、これにより、動画におけるアーチファクトおよび/または明滅を低減することができる。 Here, in order to obtain a radiation image by the energy subtraction method, at least one sample-hold timing in the sample-hold timings SH1, SH2, and SH3 is a timing in the radiation irradiation period TT. In the first embodiment, the timings of the two sample-holds SH1, SH2 in the three sample-hold timings SH1, SH2, SH3 are the timings in the radiation irradiation period TT. The timings of the sample-and-hold SH1 and SH2 a plurality of times can be determined according to the time change amounts of the signals read a plurality of times by the signal processing unit 352, respectively. That is, between frames, the sample hold SH1 is performed at the timing t1 when the low energy radiation 801 changes to the high energy radiation 802, and the sample hold SH2 is performed at the timing t2 when the high energy radiation 802 changes to the falling period radiation 803. Here, if the radiation emitted from the radiation source 400 has a constant waveform, the period from the sample hold SH1 to the end of the sample hold SH2 is made constant. It should be noted that the timing of the sample hold SH3 can be uniquely determined at the timing when the reading is in time for the next frame after SH2. The timing at which the reset level (0) is sampled and held by the sample and hold circuit 270 can also be uniquely determined after the reading of the third signal 807 after SH2. As a result, it is possible to suppress a decrease in the accuracy of the energy subtraction, thereby reducing artifacts and/or blinking in the moving image.

図8には、検出部190が放射線源400からの放射線の照射の開始を検出する方法が例示されている。リセット信号PRESの活性化によってリセットスイッチ220がオンし、変換素子210の電荷蓄積部211の「リセット」の後に、図6のt0で曝射許可信号を検出する。すると、図7の所定の行(mライン)の画素を選択し、曝射検出駆動がなされ、曝射検出駆動において放射線の照射の開始が検出されると、エネルギーサブトラクション駆動に移行する。リセットRDでは、曝射許可信号の受信に応じて、リセット信号PRESが所定期間にわたって活性化され、これによって変換素子210がリセットされる。この際に、クランプ信号PCLも所定期間にわたって活性化されて、クランプ回路260にリセットレベル(ノイズレベル)がクランプされる。また、この期間に、サンプルホールド信号TNおよびサンプルホールド信号TSも所定期間にわたって活性化されることによって、サンプルホールド回路270の容量272、サンプルホールド回路280の容量282がリセットレベルになる。これにより、サンプルホールド回路270及びサンプルホールド回路280がリセットされる。リセットRDの際に、感度変更部240の第1変更信号WIDEおよび第2変更信号WIDE2が所定期間にわたって活性化されると、第1付加容量243および第2付加容量244もリセットされる。このため、必要に応じて付加容量のリセットを行うことが望ましい。以上のように、リセットRDでは、変換素子210をリセットすると共に、クランプ回路260のkTCノイズや第1増幅トランジスタのオフセットに起因するノイズ成分がクランプ容量261に保持され、また、容量272および282が初期化される。特に、リセットRDによってサンプルホールド回路270の容量272、サンプルホールド回路280の容量282がリセットレベルになることにより、曝射検出駆動での微小な信号の変化を精度よく検出することが可能となる。リセットRDの後に、曝射検出駆動が行われる。すなわち、放射線の照射の開始を検出する前にリセットRDが行われることとなる。曝射検出駆動は、図7の所定のmラインの画素112のサンプルホールド回路270、280による「サンプルホールド」および読出回路RCによる画素112からの信号の「非破壊読出」の繰り返しを含む。曝射検出駆動およびエネルギーサブトラクション駆動は、制御部130によって制御される。なお、検出部190が、読出回路RCによって画素112から読み出された信号が閾値を越えると、放射線源400による放射線の照射が開始されたと判断して同期信号501を発生してもよい。また、これに応答して、制御部130は、エネルギーサブトラクション駆動を開始してもよい。ただし、図7に示す方法では、当該同期信号の発生及び同期信号に応じた制御を行わなくても、エネルギーサブトラクション駆動の制御を行うことができる。エネルギーサブトラクション駆動は、複数の画素112のサンプルホールド回路270、280による複数回のサンプルホールドSH1、SH2、SH3および読出回路RCによる読出動作を含む。ここで、読出回路RCによる読出動作は、第1信号805、第2信号806、第3信号807を出力する動作を含む。 FIG. 8 illustrates a method in which the detection unit 190 detects the start of irradiation of the radiation from the radiation source 400. The reset switch 220 is turned on by the activation of the reset signal PRES, and after the “reset” of the charge storage unit 211 of the conversion element 210, the exposure permission signal is detected at t0 in FIG. Then, the pixels in a predetermined row (m line) in FIG. 7 are selected, the exposure detection drive is performed, and when the start of irradiation of the radiation is detected in the exposure detection drive, the energy subtraction drive is performed. In the reset RD, the reset signal PRES is activated for a predetermined period in response to the reception of the exposure permission signal, whereby the conversion element 210 is reset. At this time, the clamp signal PCL is also activated for a predetermined period, and the reset level (noise level) is clamped in the clamp circuit 260. Further, during this period, the sample hold signal TN and the sample hold signal TS are also activated for a predetermined period, so that the capacitance 272 of the sample hold circuit 270 and the capacitance 282 of the sample hold circuit 280 become reset levels. As a result, the sample hold circuit 270 and the sample hold circuit 280 are reset. During the reset RD, if the first change signal WIDE and the second change signal WIDE2 of the sensitivity changing section 240 are activated for a predetermined period, the first additional capacitance 243 and the second additional capacitance 244 are also reset. Therefore, it is desirable to reset the additional capacitance as necessary. As described above, in the reset RD, the conversion element 210 is reset, the kTC noise of the clamp circuit 260 and the noise component due to the offset of the first amplification transistor are held in the clamp capacitor 261, and the capacitors 272 and 282 are It is initialized. In particular, the reset RD causes the capacitance 272 of the sample-hold circuit 270 and the capacitance 282 of the sample-hold circuit 280 to reach the reset level, so that it is possible to accurately detect a minute signal change in the exposure detection drive. The exposure detection drive is performed after the reset RD. That is, the reset RD is performed before the start of radiation irradiation is detected. The exposure detection drive includes repetition of “sample and hold” by the sample and hold circuits 270 and 280 of the pixel 112 on the predetermined m line in FIG. 7 and “non-destructive read” of the signal from the pixel 112 by the read circuit RC. The exposure detection drive and the energy subtraction drive are controlled by the control unit 130. The detection unit 190 may generate the synchronization signal 501 when the signal read from the pixel 112 by the read circuit RC exceeds a threshold value and determines that the radiation source 400 has started irradiation of radiation. In response to this, the control unit 130 may start the energy subtraction drive. However, in the method shown in FIG. 7, it is possible to control the energy subtraction drive without performing the generation of the synchronization signal and the control according to the synchronization signal. The energy subtraction drive includes a plurality of sample-and-hold circuits SH1, SH2, SH3 by the sample-and-hold circuits 270 and 280 of the plurality of pixels 112 and a read operation by the read circuit RC. Here, the read operation by the read circuit RC includes an operation of outputting the first signal 805, the second signal 806, and the third signal 807.

曝射検出駆動における「サンプルホールド」と「読出」の繰り返しは、放射線画像取得の際の「サンプルホールド」と「読出」の繰り返しよりも高速(例えば、μsオーダー)で行われることが好ましい。これは、「サンプルホールド」および「読出」に要する時間分だけ、放射線の照射の開始が検出されるタイミングが遅れるためである。本実施例では、所定のラインのみを繰り返し非破壊で読み出すので、たとえば、画素信号の読み出しクロックを25MHzとすると、一つの画素アレイの1ラインの画素数が128画素の場合は、40ns×128画素=5.12usで読み出しが可能である。この5.12usにサンプルホールドの時間を加えた時間が遅延時間に相当する。さらに、高速化のために、曝射検出駆動の期間中は、読出の際のビニング(画素の加算数)を変更してもよい。ビニング2×2、4×4、8×8、・・・のように加算数が増加するほど、読出時間を短縮することができる。曝射検出駆動において読み出しによって得られる信号は、放射線の照射の開始を判定するためにあるため、画像信号の読み出しの際のように解像度を考慮する必要はない。したがって、32×32ビニングのように解像度を大きく下げ、読み出しに要する時間を短縮してもよい。画素からの信号の読み出しクロックを25MHz、一つの画素アレイの1ラインの画素数が128画素とすると、読み出し時間は40ns×4画素=0.2usと超高速で読み出すことが可能となる。 The repetition of “sample hold” and “readout” in the exposure detection drive is preferably performed at a higher speed (for example, μs order) than the repetition of “sample hold” and “readout” at the time of acquiring a radiation image. This is because the timing at which the start of irradiation of radiation is detected is delayed by the time required for “sample hold” and “read”. In the present embodiment, since only a predetermined line is repeatedly read nondestructively, if the pixel signal read clock is 25 MHz, for example, when the number of pixels in one line of one pixel array is 128 pixels, 40 ns×128 pixels =5.12 us can be read. The time obtained by adding the sample hold time to this 5.12 us corresponds to the delay time. Furthermore, in order to increase the speed, the binning (the number of pixels added) at the time of reading may be changed during the exposure detection driving period. The read time can be shortened as the number of additions increases like binning 2×2, 4×4, 8×8,.... Since the signal obtained by reading in the exposure detection drive is for determining the start of radiation irradiation, it is not necessary to consider the resolution as in reading the image signal. Therefore, the resolution may be greatly reduced as in 32×32 binning to shorten the time required for reading. When the clock for reading a signal from a pixel is 25 MHz and the number of pixels in one line of one pixel array is 128 pixels, the reading time is 40 ns×4 pixels=0.2 us, which enables ultra-high-speed reading.

検出部190が同期信号501を出力したら、もしくは、信号処理部352がSH2のサンプルホールドタイミングを決定したら、曝射検知動作からエネルギーサブトラクション駆動に移行する。それに応じて、ビニング等の設定は、エネルギーサブトラクション駆動に変更される。 When the detection unit 190 outputs the synchronization signal 501 or when the signal processing unit 352 determines the sample hold timing of SH2, the exposure detection operation shifts to the energy subtraction drive. Accordingly, the setting such as binning is changed to energy subtraction drive.

上記の説明では、エネルギーが互いに異なる3種類の画像を取得する形態を説明した。しかしながら、本発明はこのような形態に限定されない。例えば、図9に示す画素構成のようにサンプルホールドの数を3系統に増やし、エネルギーが互いに異なる4種類の画像を取得してもよい。図9のサンプルホールド回路290は、スイッチ291および容量292を有しうる。スイッチ291は、行選択回路120によってサンプルホールド信号TS2が活性化されることによってオンする。クランプ回路260から出力される放射線信号は、サンプルホールド信号TS2が活性化されることによって、スイッチ291を介して容量292に書き込まれる。そして、サンプルホールド回路290によって保持されている信号に応じた信号S2がMOSトランジスタ315および行選択スイッチ316を介して列信号線323に出力される。 In the above description, the form in which three types of images having different energies are acquired has been described. However, the present invention is not limited to such a form. For example, as in the pixel configuration shown in FIG. 9, the number of sample and hold may be increased to three, and four types of images having different energies may be acquired. The sample hold circuit 290 in FIG. 9 can include a switch 291 and a capacitor 292. The switch 291 is turned on when the sample hold signal TS2 is activated by the row selection circuit 120. The radiation signal output from the clamp circuit 260 is written in the capacitor 292 via the switch 291 when the sample hold signal TS2 is activated. Then, the signal S2 corresponding to the signal held by the sample hold circuit 290 is output to the column signal line 323 via the MOS transistor 315 and the row selection switch 316.

上記の例では、放射線源400の管電圧の立ち上がり、立ち下がりが鈍っていることを利用して互いにエネルギーが異なる複数の画像を得て、該複数の画像に基づいて新たな放射線画像を形成する。互いにエネルギーが異なる複数の画像は、放射線源400の管電圧の波形を意図的に調整することによってもなされうる。あるいは、エネルギー帯域(波長帯域)が広い放射線を放射線源400から放射させ、複数のフィルタの切り替えによって放射線のエネルギーを変更してもよい。 In the above example, the rise and fall of the tube voltage of the radiation source 400 are blunted to obtain a plurality of images having different energies, and a new radiation image is formed based on the plurality of images. .. Images having different energies from each other can also be obtained by intentionally adjusting the waveform of the tube voltage of the radiation source 400. Alternatively, radiation having a wide energy band (wavelength band) may be emitted from the radiation source 400, and the energy of the radiation may be changed by switching a plurality of filters.

第1実施形態では、パネル105のすべての画素アレイで同じラインを繰り返し読み出し出すことによって、放射線の照射の開始を検出し、画素112のサンプルホールド回路270、280にサンプルホールドを行わせた。一方、第2実施形態では、パネル105の各画素アレイで異なるラインを繰り返し読み出し出すことによって、放射線の照射の開始を検出する。図10は、本発明の第2実施形態のパネル100を構成する各画素アレイの読み出し位置を示す。図8のライン選択で、制御部130は、画素アレイ110−1、110−14、110−15およびは110−28はaライン、画素アレイ110−2、110−13、110−16およびは110−27はa+bラインを選択するように制御する。また、制御部130は、画素アレイ110−3、110−12、110−17およびは110−26はa+2×bライン、・・・画素アレイ110−7、110−8、110−21およびは110−22はa+5×bラインを選択するように制御する。このライン選択は、各画素アレイの任意のラインにジャンプする機能を用いてもよい。そして、各画素アレイで選択されたラインに対して非破壊読出を繰り返し、曝射検出駆動を行う。検出部190は、読出回路RCによって画素112から読み出された信号が閾値を越えると、放射線源400による放射線の照射が開始されたと判断して同期信号501を発生する。これに応答して、制御部130は、エネルギーサブトラクション駆動を開始する。第1実施形態のようにチップ毎に同じラインを選択すると、たとえば、被写体が肺部である場合は、選択したラインと肋骨が重なってしまうと、放射線が肋骨で遮蔽されるため、放射線の検出感度が低下してしまう。そこで、第2実施形態のように画素アレイ毎に異なるラインを選択することにより、被写体が胸部の場合でも、肋骨と重ならないラインを設定できるので、放射線の検出感度を上げることができる。さらに、高速化のために、曝射検出駆動の期間中は、読出の際のビニング(画素の加算数)を変更してもよい。ビニング2×2、4×4、8×8、・・・のように加算数が増加するほど、読出時間を短縮することができる。第2実施形態として言及しない事項は、第1実施形態に従いうる。 In the first embodiment, the same line is repeatedly read out from all the pixel arrays of the panel 105 to detect the start of radiation irradiation, and the sample and hold circuits 270 and 280 of the pixel 112 are caused to perform sample and hold. On the other hand, in the second embodiment, the start of radiation irradiation is detected by repeatedly reading out different lines in each pixel array of the panel 105. FIG. 10 shows the readout position of each pixel array that constitutes the panel 100 according to the second embodiment of the present invention. In the line selection of FIG. 8, the control unit 130 controls the pixel arrays 110-1, 110-14, 110-15, and 110-28 to be the a line, and the pixel arrays 110-2, 110-13, 110-16, and 110 to be 110. -27 controls to select the a+b line. Further, the control unit 130 controls the pixel arrays 110-3, 110-12, 110-17 and 110-26 to be a+2×b lines,... Pixel arrays 110-7, 110-8, 110-21 and 110. -22 controls to select the a+5×b line. This line selection may use a function of jumping to an arbitrary line of each pixel array. Then, non-destructive reading is repeated for the line selected in each pixel array to perform exposure detection driving. When the signal read from the pixel 112 by the read circuit RC exceeds the threshold value, the detection unit 190 determines that the radiation irradiation by the radiation source 400 has started, and generates the synchronization signal 501. In response to this, the control unit 130 starts the energy subtraction drive. When the same line is selected for each chip as in the first embodiment, for example, when the subject is a lung, if the selected line overlaps the ribs, the radiation is shielded by the ribs, so that the radiation is detected. The sensitivity will decrease. Therefore, by selecting a different line for each pixel array as in the second embodiment, it is possible to set a line that does not overlap the ribs even when the subject is the chest, and thus it is possible to increase the radiation detection sensitivity. Furthermore, in order to increase the speed, the binning (the number of pixels added) at the time of reading may be changed during the exposure detection driving period. The read time can be shortened as the number of additions increases like binning 2×2, 4×4, 8×8,.... Matters not mentioned in the second embodiment can comply with the first embodiment.

図11は、本発明の第3実施形態のパネル100を構成する各画素アレイの読み出し位置を示す。図8のライン選択で、制御部130は画素アレイ110−1、110−14、110−15およびは110−28はaライン、画素アレイ110−2、110−13、110−16およびは110−27はa+bラインを選択するように制御する。また、制御部130は、画素アレイ110−3、110−12、110−17およびは110−26はa+2×bライン、・・・画素アレイ110−7、110−8、110−21およびは110−22はa+5×bラインを選択するように制御する。このライン選択は、行選択回路120による各画素アレイの任意のラインにジャンプして選択する機能を用いてもよい。そして、各画素アレイで選択されたラインに対して所定の画素数のみ非破壊読み出しを繰り返し、曝射検出駆動を行う。この所定の画素数は、ライン上の画素数より小さい数である。 FIG. 11 shows the read position of each pixel array that constitutes the panel 100 according to the third embodiment of the present invention. In the line selection of FIG. 8, the control unit 130 controls the pixel arrays 110-1, 110-14, 110-15, and 110-28 to the a line, and the pixel arrays 110-2, 110-13, 110-16, and 110-. 27 controls to select the a+b line. Further, the control unit 130 controls the pixel arrays 110-3, 110-12, 110-17 and 110-26 to be a+2×b lines,... Pixel arrays 110-7, 110-8, 110-21 and 110. -22 controls to select the a+5×b line. For this line selection, the function of jumping to an arbitrary line of each pixel array by the row selection circuit 120 and selecting it may be used. Then, non-destructive reading is repeated for a predetermined number of pixels on the line selected in each pixel array, and the exposure detection drive is performed. This predetermined number of pixels is smaller than the number of pixels on the line.

これにより、非破壊読み出し時間が、短縮され、さらに高速に放射線の照射を検出することができる。さらに、高速化のために、読出の際のビニング(画素の加算数)を変更してもよい。ビニング2×2、4×4、8×8、・・・のように加算数が増加するほど、読出時間を短縮することができる。第3実施形態として言及しない事項は、第1実施形態に従いうる。 As a result, the nondestructive read time is shortened, and the irradiation of radiation can be detected at higher speed. Further, binning (the number of added pixels) at the time of reading may be changed for speeding up. The read time can be shortened as the number of additions increases like binning 2×2, 4×4, 8×8,.... Matters not mentioned in the third embodiment can comply with the first embodiment.

上記の実施例では、各画素アレイに対して、1ラインを選択し、非破壊読出しを繰り返すようにしたが、これに限らず、各画素アレイに対して、複数ラインを選択し、非破壊読出しを繰り返すようにしてもよい。この場合、1ラインの非破壊読み出しより、遅延が大きくなるが、上記実施例のように、読み出す画素を減らしたり、ビニングをすれば、遅延は大きくならない。 In the above embodiment, one line is selected for each pixel array and non-destructive reading is repeated. However, the present invention is not limited to this, and a plurality of lines are selected for each pixel array and non-destructive reading is performed. May be repeated. In this case, the delay becomes larger than that of the non-destructive read of one line, but if the number of read pixels is reduced or the binning is performed as in the above-described embodiment, the delay does not increase.

1 放射線撮像装置
105 パネル
110 画素アレイ
RC 読出回路
190 検出部
130 制御部
210 変換素子
270、280 サンプルホールド回路
1 Radiation Imaging Device 105 Panel 110 Pixel Array RC Readout Circuit 190 Detection Unit 130 Control Unit 210 Conversion Element 270, 280 Sample and Hold Circuit

Claims (12)

複数の画素を有する画素アレイと、前記画素アレイから信号を読み出す読出回路と、を備える放射線撮像装置であって、
前記複数の画素の各々は、放射線を電気信号に変換する変換素子と、前記放射線に応じて前記変換素子からの信号を複数回にわたってサンプルホールドするサンプルホールド回路と、を含み、
前記読出回路によって読み出された信号に基づいて取得された前記放射線の放射線エネルギーの時間変化に関する情報に基づいて、前記複数回のサンプルホールドのタイミングを決定する処理を行う処理部と、
前記処理部によって決定された前記タイミングで前記サンプルホールド回路による前記複数回のサンプルホールドを行うように制御する制御部と、を更に備え、
前記処理部は、前記読出回路が前記画素アレイのうちの一部の画素の信号のみを読み出しすることによって前記画素アレイから得られた信号に基づいて、前記複数回のサンプルホールドのタイミングを決定することを特徴とする放射線撮像装置。
A radiation imaging apparatus comprising: a pixel array having a plurality of pixels; and a readout circuit that reads out signals from the pixel array,
Each of the plurality of pixels includes a conversion element that converts radiation into an electric signal, and a sample hold circuit that samples and holds the signal from the conversion element a plurality of times according to the radiation,
A processing unit that performs a process of determining timings of the plurality of times of sample and hold, based on information about a temporal change of radiation energy of the radiation acquired based on a signal read by the reading circuit,
And a control unit that controls the sample and hold circuit to perform the plurality of times of sample and hold at the timing determined by the processing unit.
The processing section determines timings of the plurality of sample-holds based on a signal obtained from the pixel array by the readout circuit reading out only signals of some pixels of the pixel array. A radiation imaging apparatus characterized by the above.
前記画素アレイが2次元状に複数配列されており、
前記一部の画素は、複数の前記画素アレイ毎に異なることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
The plurality of pixel arrays are arranged two-dimensionally,
The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein the some pixels are different for each of the plurality of pixel arrays.
前記一部の画素は、所定の行の画素のみが信号を非破壊で読み出されることを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置。 The radiation image pickup apparatus according to claim 2, wherein only some of the pixels in a predetermined row of the partial pixels are read out in a nondestructive manner. 前記一部の画素は、所定の行の画素のみがビニングされた信号を読み出されることを特徴とする請求項2又は3に記載の放射線撮像装置。 The radiation image pickup apparatus according to claim 2, wherein a signal obtained by binning only pixels in a predetermined row is read out from the partial pixels. 前記複数の画素のうち任意の行の画素にジャンプして選択を行う行選択回路を更に備えることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。 The radiation imaging apparatus according to claim 1, further comprising a row selection circuit that jumps to a pixel in an arbitrary row of the plurality of pixels to perform selection. 前記制御部は、互いに異なる複数のエネルギーにおける放射線画像が得られるように前記複数回のサンプルホールドのタイミングを決定する、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
The control unit determines timings of the plurality of times of sample hold so that radiographic images at a plurality of different energies are obtained.
The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein the radiation imaging apparatus is a radiation imaging apparatus.
前記変換素子をリセットするリセット部を更に備え、
前記複数の画素の各々において、前記複数回のサンプルホールドのうち最初のサンプルホールドと前記複数回のサンプルホールドのうち最後のサンプルホールドとの間の期間中は、前記リセット部が前記変換素子をリセットしない、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
Further comprising a reset unit for resetting the conversion element,
In each of the plurality of pixels, the reset unit resets the conversion element during a period between the first sample hold of the plurality of sample and hold and the last sample hold of the plurality of sample and hold. do not do,
The radiation imaging apparatus according to any one of claims 1 to 6, characterized in that.
前記制御部は、前記読出回路によって読み出された信号に基づいて前記放射線エネルギーの時間変化に関する情報が取得されるように、前記読出回路及び前記サンプルホールド回路を制御する、
ことを特徴とする請求項7に記載の放射線撮像装置。
The control unit controls the read circuit and the sample hold circuit so that information regarding a temporal change of the radiation energy is acquired based on a signal read by the read circuit.
The radiation imaging apparatus according to claim 7, wherein the radiation imaging apparatus is a radiation imaging apparatus.
前記処理部は、前記読出回路によって読み出された信号に基づいて前記放射線の照射の開始を検出する処理を更に行い、
前記制御部は、前記複数のエネルギーにおける放射線画像を取得する際の前記読出回路による読出の繰り返しよりも前記放射線の照射の開始を検出する際の前記読出回路による読出の繰り返しの方が高速で行われるように、前記読出回路を制御する、
ことを特徴とする請求項8に記載の放射線撮像装置。
The processing unit further performs a process of detecting the start of irradiation of the radiation based on the signal read by the reading circuit,
The control unit performs the reading operation by the reading circuit at the time of detecting the start of irradiation of the radiation at a higher speed than the reading operation by the reading circuit at the time of acquiring the radiation images at the plurality of energies. Controlling the readout circuit,
The radiation imaging apparatus according to claim 8, wherein:
前記制御部は、前記放射線の照射の開始を検出する前に前記リセット部による前記変換素子のリセットを行うように制御する、
ことを特徴とする請求項9に記載の放射線撮像装置。
The control unit controls to reset the conversion element by the reset unit before detecting the start of irradiation of the radiation,
The radiation imaging apparatus according to claim 9, wherein:
前記処理部は、前記読出回路によって読み出された信号の時間変化量に基づいて前記複数回のサンプルホールドのタイミングを決定する、
ことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
The processing section determines timings of the plurality of times of sample hold based on a time change amount of a signal read by the read circuit.
The radiation imaging apparatus according to any one of claims 1 to 10, characterized in that.
複数の画素を有する画素アレイと、前記画素アレイから信号を読み出す読出回路とを備える放射線撮像装置の制御方法であって、
前記複数の画素の各々は、放射線を電気信号に変換する変換素子と、前記放射線に応じて前記変換素子からの信号を複数回にわたってサンプルホールドするサンプルホールド回路とを含み、
前記読出回路によって前記画素アレイのうちの一部の画素の信号のみを読み出しすることによって前記画素アレイから得られた信号に基づいて取得された前記放射線の放射線エネルギーの時間変化に関する情報に基づいて決定された前記複数回のサンプルホールドのタイミングで前記サンプルホールド回路による前記複数回のサンプルホールドを行う、
ことを特徴とする放射線撮像装置の制御方法。
A method for controlling a radiation imaging apparatus, comprising: a pixel array having a plurality of pixels; and a readout circuit that reads out a signal from the pixel array,
Each of the plurality of pixels includes a conversion element that converts radiation into an electric signal, and a sample hold circuit that samples and holds a signal from the conversion element a plurality of times according to the radiation,
The readout circuit reads out only the signals of some pixels of the pixel array, and determines based on the information about the temporal change of the radiation energy of the radiation acquired based on the signals obtained from the pixel array. The sample-and-hold circuit performs the sample-and-hold operations a plurality of times at the plurality of sample-and-hold timings.
A method for controlling a radiation imaging apparatus, comprising:
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