JP2020086245A - Light emitting device, display system, imaging system, electronic apparatus, and movable body - Google Patents

Light emitting device, display system, imaging system, electronic apparatus, and movable body Download PDF

Info

Publication number
JP2020086245A
JP2020086245A JP2018222798A JP2018222798A JP2020086245A JP 2020086245 A JP2020086245 A JP 2020086245A JP 2018222798 A JP2018222798 A JP 2018222798A JP 2018222798 A JP2018222798 A JP 2018222798A JP 2020086245 A JP2020086245 A JP 2020086245A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
pixel
electrode
inspection
dummy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018222798A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
宏政 坪井
Hiromasa Tsuboi
宏政 坪井
岳彦 曽田
Takehiko Soda
岳彦 曽田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2018222798A priority Critical patent/JP2020086245A/en
Publication of JP2020086245A publication Critical patent/JP2020086245A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

To provide a suitable arrangement of an inspection pixel in a light emitting device including the inspection pixel.SOLUTION: In a light emitting device in which a plurality of pixels each including at least one light emitting element are arranged, the plurality of pixels include a light emitting pixel in which light emission or non-light emission can be selected, an inspection pixel in which light emission or non-light emission can be selected, and a dummy pixel that is arranged adjacent to the inspection pixel and performs a non-light emitting operation when the inspection pixel performs a light emitting operation.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、発光装置、表示システム、撮像システム、電子機器、および移動体に関する。 The present invention relates to a light emitting device, a display system, an imaging system, an electronic device, and a moving body.

発光装置の検査工程において、検査画素を発光させ、有機ＥＬ素子の発光特性を検査する。そして、検査画素の検査結果に基づき、表示画素へ入力する信号を補正することによって、均一な表示を実現することを可能にしている。特許文献１には、発光素子を有する画素と、複数の画素が配された画素領域の周囲に、ダミー領域が配された領域が開示されている。ダミー領域の中には、検査のための検査画素が含まれている。 In the inspection process of the light emitting device, the inspection pixel is caused to emit light and the emission characteristics of the organic EL element are inspected. Then, by correcting the signal input to the display pixel based on the inspection result of the inspection pixel, it is possible to realize uniform display. Patent Document 1 discloses a pixel having a light emitting element and a region in which a dummy region is arranged around a pixel region in which a plurality of pixels are arranged. An inspection pixel for inspection is included in the dummy area.

特開２００５−３１０７０８JP 2005-310708 A

特許文献１では、検査画素の周囲の構造については、詳細に検討がなされていない。そのため、検査画素の結果が表示画素の値と大きく異なる場合が生じうる。そこで、本発明では、検査画素を有する発光装置における好適な検査画素の配置や構造を提供する。 In Patent Document 1, the structure around the inspection pixel is not examined in detail. Therefore, the result of the inspection pixel may be significantly different from the value of the display pixel. Therefore, the present invention provides a suitable arrangement and structure of inspection pixels in a light emitting device having inspection pixels.

本発明の発光装置の一側面は、少なくとも１つの発光素子をそれぞれが含む複数の画素が配され、前記複数の画素は、発光または非発光が選択可能である発光画素と、発光または非発光が選択可能である検査画素と、前記検査画素の隣に配され、前記検査画素が発光動作を行うときに非発光動作を行うダミー画素とを有することを特徴とする。 An aspect of the light emitting device of the present invention is that a plurality of pixels, each of which includes at least one light emitting element, are arranged, and the plurality of pixels include a light emitting pixel that can select emission or non-emission and a pixel that emits light or not. It is characterized by having a selectable inspection pixel and a dummy pixel arranged next to the inspection pixel and performing a non-light emitting operation when the inspection pixel performs a light emitting operation.

本発明によって、検査の精度が向上し、高品質な発光装置を提供することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to improve the inspection accuracy and provide a high quality light emitting device.

実施例１に係る発光装置の模式図Schematic diagram of the light-emitting device according to Example 1. 実施例１に係る発光装置の模式図Schematic diagram of the light-emitting device according to Example 1. （ａ）実施例１に係る発光画素の回路図、（ｂ）実施例１に係る検査画素の回路図、（ｃ）実施例１に係るダミー画素の回路図(A) Circuit diagram of a light emitting pixel according to Example 1, (b) Circuit diagram of an inspection pixel according to Example 1, (c) Circuit diagram of a dummy pixel according to Example 1 （ａ）実施例２に係る検査画素の回路図、（ｂ）実施例２に係るダミー画素の回路図(A) Circuit diagram of the inspection pixel according to the second embodiment, (b) Circuit diagram of the dummy pixel according to the second embodiment （ａ）実施例３に係る発光装置の模式図、（ｂ）実施例３に係るダミー画素の回路図(A) A schematic diagram of a light emitting device according to a third embodiment, and (b) a circuit diagram of a dummy pixel according to the third embodiment. 実施例３に係る発光装置の断面模式図Schematic cross-sectional view of the light-emitting device according to Example 3. 実施例４に係る発光装置の検査画素の回路図Circuit diagram of an inspection pixel of the light emitting device according to Example 4. 実施例４に係る発光装置の断面模式図Schematic cross-sectional view of the light-emitting device according to Example 4. 実施例５に係る発光装置の模式図Schematic diagram of a light-emitting device according to Example 5. 実施例５に係る発光装置の断面模式図Schematic cross-sectional view of the light-emitting device according to Example 5. （ａ）表示システムの一例を表す模式図、（ｂ）電子機器の一例を表す模式図(A) A schematic diagram showing an example of a display system, (b) A schematic diagram showing an example of an electronic device （ａ）撮像システムの一例を表す模式図、（ｂ）移動体の一例を表す模式図(A) A schematic diagram showing an example of an imaging system, (b) A schematic diagram showing an example of a moving body

図面を参照しながら本発明に係る発光装置について説明する。各実施例は、いずれも本発明の一例を示すのであり、数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置および接続などは、本発明を限定するものではない。例えば、各実施例では、発光素子の第１電極に駆動トランジスタが接続され、画素内のトランジスタが全てＰ型トランジスタである場合について説明するが、本発明の発光装置はこれに限定されない。例えば、駆動トランジスタはＰ型トランジスタであり、他のトランジスタはＮ型トランジスタであってもよく、適宜、導電型と極性に合わせて、供給される電位や接続を変更すれば良い。また、トランジスタと容量素子の総数や、トランジスタの導電型の組み合わせに関しては、あくまで一例に過ぎず、本構成に限定されるものではない。 A light emitting device according to the present invention will be described with reference to the drawings. Each of the embodiments shows one example of the present invention, and numerical values, shapes, materials, constituent elements, arrangement and connection of constituent elements, etc. do not limit the present invention. For example, in each of the embodiments, the case where the driving transistor is connected to the first electrode of the light emitting element and all the transistors in the pixel are P-type transistors will be described, but the light emitting device of the present invention is not limited to this. For example, the drive transistor may be a P-type transistor, and the other transistors may be N-type transistors, and the supplied potential or connection may be changed as appropriate according to the conductivity type and the polarity. Further, the total number of transistors and capacitive elements and the combination of conductivity types of transistors are merely examples, and the present invention is not limited to this configuration.

各図面において同じ符号が付されている構成は、同等の構成を指すものとして説明を省略する。また、繰り返しパターンや同一の構成物と理解できるものについては、符号を省略する場合がある。 The configurations denoted by the same reference numerals in the respective drawings refer to equivalent configurations, and description thereof will be omitted. Further, reference numerals may be omitted for those that can be understood as a repeating pattern or the same component.

（実施例１）
本実施例において発光装置１００は、アクティブマトリックス型の有機ＥＬ発光装置であるものとする。発光装置１００は、半導体チップによって構成されている。 (Example 1)
In the present embodiment, the light emitting device 100 is assumed to be an active matrix type organic EL light emitting device. The light emitting device 100 is composed of a semiconductor chip.

図１は、実施例１に係る発光装置１００の概略を示す模式図である。図１は、Ｘ方向と、Ｘ方向と直行するＹ方向を含む面における各構成の配置を示している。この面は、発光装置１００が有する半導体基板の任意の面ともいえる。以下の説明において、面への投影図を平面視とも称し、Ｘ方向を行方向とも称し、Ｙ方向を列方向とも称する。 FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an outline of the light emitting device 100 according to the first embodiment. FIG. 1 shows an arrangement of each component on a plane including the X direction and the Y direction orthogonal to the X direction. It can be said that this surface is an arbitrary surface of the semiconductor substrate included in the light emitting device 100. In the following description, a projection view on a plane is also referred to as a plan view, the X direction is also referred to as a row direction, and the Y direction is also referred to as a column direction.

発光装置１００は、複数の画素領域ＰＡと、駆動回路領域ＤＡとを有する。複数の画素領域ＰＡは、複数の画素が配されている。駆動回路領域ＤＡは、駆動回路が配されている。複数の画素のそれぞれは、少なくとも１つの発光素子を有する。発光素子の構成については、後述する。駆動回路は、垂直駆動回路１０４と水平駆動回路１０５とを含む。駆動回路からの制御信号によって、各画素の動作が制御される。具体的には、垂直駆動回路１０４と水平駆動回路１０５からの信号によって、各画素が有する発光素子の発光、非発光が制御される。 The light emitting device 100 has a plurality of pixel areas PA and a drive circuit area DA. A plurality of pixels are arranged in the plurality of pixel areas PA. A drive circuit is arranged in the drive circuit area DA. Each of the plurality of pixels has at least one light emitting element. The configuration of the light emitting element will be described later. The drive circuit includes a vertical drive circuit 104 and a horizontal drive circuit 105. The operation of each pixel is controlled by the control signal from the drive circuit. Specifically, the light emission and non-light emission of the light emitting element included in each pixel are controlled by signals from the vertical drive circuit 104 and the horizontal drive circuit 105.

複数の画素領域ＰＡは、発光画素領域１０１と、検査画素領域１０２と、ダミー画素領域１０３とを含む。本実施例において、発光画素領域１０１は複数の発光画素が配され、検査画素領域１０２は複数の検査画素が配され、ダミー画素領域１０３は複数のダミー画素が配される。発光画素は、発光または非発光が選択可能な画素であり、発光あるいは表示に用いられる画素である。検査画素は、発光または非発光が選択可能な画素であり、検査の際に用いられる画素である。ダミー画素は、非発光の画素であり、発光画素と検査画素のために設けられている。また、ダミー画素は、発光画素と異なるタイミングで非発光動作を行おうことができる。 The plurality of pixel areas PA includes a light emitting pixel area 101, an inspection pixel area 102, and a dummy pixel area 103. In this embodiment, a plurality of light emitting pixels are arranged in the light emitting pixel area 101, a plurality of inspection pixels are arranged in the inspection pixel area 102, and a plurality of dummy pixels are arranged in the dummy pixel area 103. The light emitting pixel is a pixel for which light emission or non-light emission can be selected, and is a pixel used for light emission or display. The inspection pixel is a pixel for which light emission or non-light emission can be selected, and is a pixel used at the time of inspection. The dummy pixel is a non-light emitting pixel and is provided for the light emitting pixel and the inspection pixel. Further, the dummy pixel can perform a non-light emitting operation at a timing different from that of the light emitting pixel.

図１における各画素領域の形状について説明する。発光画素領域１０１の外縁１１１は、Ｘ方向に沿った２辺とＹ方向に沿った２辺とからなる矩形である。外縁１１１のＸ方向に沿った２辺は、Ｙ方向に沿った２辺よりも長い。よって、外縁１１１はＸ方向に長い長方形とも言える。すなわち、発光画素領域１０１は長方形である。ここで、発光画素領域１０１は長方形の場合を示しているが、ある方向と、ある方向と交差する別の方向とに沿って配されていてもよい。発光画素領域１０１は、例えば、ひし形やハニカム形状でもありうる。 The shape of each pixel area in FIG. 1 will be described. The outer edge 111 of the light emitting pixel region 101 is a rectangle having two sides along the X direction and two sides along the Y direction. The two sides of the outer edge 111 along the X direction are longer than the two sides along the Y direction. Therefore, it can be said that the outer edge 111 is a rectangle long in the X direction. That is, the light emitting pixel region 101 has a rectangular shape. Here, although the light emitting pixel region 101 has a rectangular shape, it may be arranged along a certain direction and another direction intersecting with the certain direction. The light emitting pixel region 101 may have, for example, a diamond shape or a honeycomb shape.

検査画素領域１０２の外縁１１２も、発光画素領域１０１と同様に、Ｘ方向に沿った２辺とＹ方向に沿った２辺とからなる矩形である。外縁１１２のＸ方向に沿った２辺は、Ｙ方向に沿った２辺よりも短い。よって、外縁１１２はＹ方向に長い長方形とも言える。すなわち、検査画素領域１０２は長方形である。また、検査画素領域１０２は、発光画素領域１０１の少なくとも一辺に沿って設けられている。発光画素領域１０１と検査画素領域１０２は互いに隣接しており、外縁１１１の１辺と外縁１１２の１辺が重なっている。ここで、検査画素領域１０２は、二辺に沿って設けられていてもよく、さらに、発光画素領域１０１の外縁の１つの角を構成する二辺に沿って設けられていてもよい。すなわち、検査画素領域１０２はＬ字型やコの字型や環状であってもよい。 The outer edge 112 of the inspection pixel region 102 is also a rectangle having two sides along the X direction and two sides along the Y direction, like the light emitting pixel region 101. The two sides of the outer edge 112 along the X direction are shorter than the two sides along the Y direction. Therefore, it can be said that the outer edge 112 is a rectangle long in the Y direction. That is, the inspection pixel area 102 is rectangular. The inspection pixel area 102 is provided along at least one side of the light emitting pixel area 101. The light emitting pixel region 101 and the inspection pixel region 102 are adjacent to each other, and one side of the outer edge 111 and one side of the outer edge 112 overlap each other. Here, the inspection pixel region 102 may be provided along two sides, and further may be provided along two sides forming one corner of the outer edge of the light emitting pixel region 101. That is, the inspection pixel region 102 may be L-shaped, U-shaped, or annular.

ダミー画素領域１０３の外縁１１３も、発光画素領域１０１と同様に、Ｘ方向に沿った２辺とＹ方向に沿った２辺とからなる矩形である。外縁１１３のＸ方向に沿った２辺は、Ｙ方向に沿った２辺よりも長い。よって、外縁１１３はＸ方向に長い長方形とも言える。ダミー画素領域１０３は、発光画素領域１０１の四方を囲む。また、ダミー画素領域１０３は、発光画素領域１０１と検査画素領域１０２を囲むため、内縁１１４を有する。内縁１１４は、外縁１１１の一部と外縁１１２の一部と重なっている。つまり、ダミー画素領域１０３の形状は環状である。 The outer edge 113 of the dummy pixel region 103 is also a rectangle having two sides along the X direction and two sides along the Y direction, as in the light emitting pixel region 101. The two sides of the outer edge 113 along the X direction are longer than the two sides along the Y direction. Therefore, it can be said that the outer edge 113 is a rectangle long in the X direction. The dummy pixel region 103 surrounds the light emitting pixel region 101 on all sides. Further, the dummy pixel region 103 has an inner edge 114 to surround the light emitting pixel region 101 and the inspection pixel region 102. The inner edge 114 overlaps a part of the outer edge 111 and a part of the outer edge 112. That is, the dummy pixel region 103 has a ring shape.

図１における各画素領域の配置について説明する。検査画素領域１０２は、発光画素領域１０１とダミー画素領域１０３との間に位置する。このような配置によって、検査画素の構造や電気的特性が、発光画素のそれらと同等となる。よって、検査画素にて検出される検査値がより発光画素がとりうる値に近づくため、精度の高い検査結果を得ることができる。その検査結果に基づき、発光画素の信号の調整などを行うことで、より精度の高い、高品位な発光装置を提供することができる。 The arrangement of each pixel area in FIG. 1 will be described. The inspection pixel area 102 is located between the light emitting pixel area 101 and the dummy pixel area 103. With such an arrangement, the structure and electrical characteristics of the inspection pixel become equivalent to those of the light emitting pixel. Therefore, the inspection value detected by the inspection pixel is closer to the value that can be taken by the light emitting pixel, and a highly accurate inspection result can be obtained. By adjusting the signal of the light emitting pixel based on the inspection result, it is possible to provide a light emitting device with higher accuracy and higher quality.

図１において、ダミー画素領域１０３は、発光画素領域１０１を囲んでいる。このような配置によって、発光画素領域１０１の外縁近くに位置する発光画素の構造や電気的特性が発光画素領域１０１の中央近くに位置する発光画素と同等となる。よって、発光画素領域１０１の位置におけるばらつきを低減することが可能となる。更に、ダミー画素領域１０３は、発光画素領域１０１と検査画素領域１０２を囲んでいる。このような配置によって、検査画素領域１０２の構造の構造や電気的特性が、発光画素のそれらと同等にすることができ、精度の高い検査結果を得ることができる。 In FIG. 1, the dummy pixel area 103 surrounds the light emitting pixel area 101. With such an arrangement, the structure and electrical characteristics of the light emitting pixel located near the outer edge of the light emitting pixel area 101 are the same as those of the light emitting pixel located near the center of the light emitting pixel area 101. Therefore, it is possible to reduce the variation in the position of the light emitting pixel region 101. Further, the dummy pixel area 103 surrounds the light emitting pixel area 101 and the inspection pixel area 102. With such an arrangement, the structure and electrical characteristics of the structure of the inspection pixel region 102 can be made equal to those of the light emitting pixel, and highly accurate inspection results can be obtained.

図１の構成について、図２および図３を用いて詳細に説明する。図２は、図１の領域２００に相当する部分の模式図である。図２では、画素領域毎に４行２列の画素のみを示している。発光画素領域１０１には、複数の発光画素２０１がＸ方向とＹ方向に沿って２次元に配されている。検査画素領域１０２には、複数の検査画素２０２がＸ方向とＹ方向に沿って２次元に配されている。ダミー画素領域１０３は、複数のダミー画素２０３がＸ方向とＹ方向に沿って２次元に配されている。図２において、発光画素２０１、検査画素２０２、ダミー画素２０３は、互いに等しい間隔で配されている。また、いずれの画素においても、図２ではある画素と隣接する別の画素とは離間して示されているが、実際には、ある画素と隣接する別の画素が接しているものとする。次に、図２に示される信号線について説明する。 The configuration of FIG. 1 will be described in detail with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. 2 is a schematic diagram of a portion corresponding to the area 200 in FIG. In FIG. 2, only pixels in 4 rows and 2 columns are shown for each pixel area. In the light emitting pixel area 101, a plurality of light emitting pixels 201 are two-dimensionally arranged along the X direction and the Y direction. In the inspection pixel area 102, a plurality of inspection pixels 202 are two-dimensionally arranged along the X direction and the Y direction. In the dummy pixel area 103, a plurality of dummy pixels 203 are two-dimensionally arranged along the X direction and the Y direction. In FIG. 2, the light emitting pixel 201, the inspection pixel 202, and the dummy pixel 203 are arranged at equal intervals. In addition, in any of the pixels, in FIG. 2, the pixel is illustrated as being separated from another pixel adjacent to the certain pixel, but in reality, it is assumed that another pixel adjacent to the certain pixel is in contact. Next, the signal lines shown in FIG. 2 will be described.

信号線２３１は、発光画素２０１と検査画素２０２とダミー画素２０３のそれぞれに電気的に接続している。信号線２３１は、Ｘ方向に沿って延びている。図２において、信号線２３１は、４本示されている。この４本の信号線２３１のそれぞれは、簡略して示されたものであり、実際には複数の信号線を含む。図２において、各信号線２３１は、垂直駆動回路１０４が有する走査回路２２１からの複数の制御信号を伝達する。複数の制御信号とは、発光画素２０１へ発光用の輝度信号を書き込むタイミングを制御する制御信号と、発光させるタイミングを制御する制御信号と、発光素子をリセットするための制御信号とを含む。信号線２３１は、図２において検査画素２０２とダミー画素２０３にも電気的に接続している例を示しているが、検査画素２０２とダミー画素２０３に接続していなくてもよい。 The signal line 231 is electrically connected to each of the light emitting pixel 201, the inspection pixel 202, and the dummy pixel 203. The signal line 231 extends along the X direction. In FIG. 2, four signal lines 231 are shown. Each of the four signal lines 231 is simply shown, and actually includes a plurality of signal lines. In FIG. 2, each signal line 231 transmits a plurality of control signals from the scanning circuit 221 included in the vertical drive circuit 104. The plurality of control signals include a control signal for controlling the timing of writing the luminance signal for light emission to the light emitting pixel 201, a control signal for controlling the timing of light emission, and a control signal for resetting the light emitting element. Although the signal line 231 shows an example in which it is electrically connected to the inspection pixel 202 and the dummy pixel 203 in FIG. 2, it may not be connected to the inspection pixel 202 and the dummy pixel 203.

信号線２３２は、発光画素２０１と検査画素２０２とダミー画素２０３のそれぞれに電気的に接続している。信号線２３２は、Ｘ方向に沿って伸びている。信号線２３２は、垂直駆動回路１０４が有する電位供給部２１１からの信号を伝達する。この電位供給部２１１からの信号は、任意の電圧であり、電源電圧Ｖ１とする。電源電圧Ｖ１は、例えば０Ｖ、すなわちグランド電圧ＧＮＤである。 The signal line 232 is electrically connected to each of the light emitting pixel 201, the inspection pixel 202, and the dummy pixel 203. The signal line 232 extends along the X direction. The signal line 232 transmits a signal from the potential supply portion 211 included in the vertical drive circuit 104. The signal from the potential supply unit 211 is an arbitrary voltage and is the power supply voltage V1. The power supply voltage V1 is, for example, 0 V, that is, the ground voltage GND.

信号線２４１は、発光画素２０１と検査画素２０２のそれぞれに電気的に接続している。信号線２４１は、Ｙ方向に沿って延びている。図２において、信号線２４１は、４本示されており、発光画素２０１と検査画素２０２の各列に対して１本が配されている。信号線２４１は、水平駆動回路１０５が有する走査回路２２２から出力される発光用の輝度信号を伝達する。信号線２４１は、図２において検査画素２０２に対して配されている構成を示しているが、検査画素２０２に設けられていなくてもよい。 The signal line 241 is electrically connected to each of the light emitting pixel 201 and the inspection pixel 202. The signal line 241 extends along the Y direction. In FIG. 2, four signal lines 241 are shown, and one signal line 241 is provided for each column of the light emitting pixel 201 and the inspection pixel 202. The signal line 241 transmits a luminance signal for light emission output from the scan circuit 222 included in the horizontal drive circuit 105. Although the signal line 241 is shown to be arranged for the inspection pixel 202 in FIG. 2, it does not have to be provided for the inspection pixel 202.

信号線２４２は、発光画素２０１のそれぞれに電気的に接続している。信号線２４２は、Ｙ方向に沿って延びている。図２において、信号線２４２は、２本示されており、発光画素２０１の各列に対して１本が配されている。信号線２４２は、水平駆動回路１０５が有する電位供給部２１２からの信号を伝達する。この電位供給部２１２からの信号は、任意の電圧であり、電源電圧Ｖ２とする。電源電圧Ｖ２は、少なくとも１つの値と有していればよいが、本実施例においては１０Ｖ、すなわちハイレベルの電圧を有する。また、電源電圧Ｖ２は、ハイレベルとローレベルの電圧を有してもよい。 The signal line 242 is electrically connected to each of the light emitting pixels 201. The signal line 242 extends along the Y direction. In FIG. 2, two signal lines 242 are shown, one for each column of the light emitting pixels 201. The signal line 242 transmits a signal from the potential supply portion 212 included in the horizontal drive circuit 105. The signal from the potential supply unit 212 is an arbitrary voltage and is the power supply voltage V2. The power supply voltage V2 may have at least one value, but in the present embodiment, it has a voltage of 10V, that is, a high level voltage. Further, the power supply voltage V2 may have a high level voltage and a low level voltage.

信号線２４３は、検査画素２０２のそれぞれに電気的に接続している。信号線２４３は、Ｙ方向に沿って延びている。図２において、信号線２４３は２本示されており、検査画素２０２の各列に対して１本が配されている。信号線２４３は、水平駆動回路１０５が有する電位供給部２１３からの信号を伝達する。この電位供給部２１３からの信号は、任意の電圧であり、電源電圧Ｖ３とする。電源電圧Ｖ３は、検査画素２０２の発光素子を発光させる場合にはハイレベルとローレベルを有する。検査を行わない場合には、発光素子が発光する発光閾値よりも低いローレベルの電圧を有する。ローレベルの電圧とは、例えば０Ｖ、グランド電圧ＧＮＤである。例えば、電源電圧Ｖ３のローレベルは、電源電圧Ｖ１と等しいか、電源電圧Ｖ１よりも大きくてもよく、発光閾値よりも低ければよい。すなわち、発光閾値＞電源電圧Ｖ３のローレベル≧電源電圧Ｖ１であってもよい。 The signal line 243 is electrically connected to each of the inspection pixels 202. The signal line 243 extends along the Y direction. In FIG. 2, two signal lines 243 are shown, one for each column of the inspection pixels 202. The signal line 243 transmits a signal from the potential supply portion 213 included in the horizontal drive circuit 105. The signal from the potential supply unit 213 is an arbitrary voltage, which is the power supply voltage V3. The power supply voltage V3 has a high level and a low level when the light emitting element of the inspection pixel 202 is caused to emit light. When the inspection is not performed, the light emitting element has a low level voltage lower than the light emission threshold. The low-level voltage is, for example, 0V and the ground voltage GND. For example, the low level of the power supply voltage V3 may be equal to or larger than the power supply voltage V1 and may be lower than the light emission threshold. That is, light emission threshold>low level of power supply voltage V3≧power supply voltage V1.

なお、ダミー画素領域１０３には、Ｙ方向に沿って伸びる信号線が配されておらず、ダミー画素２０３には、水平駆動回路１０５からの信号が伝達されていない。 It should be noted that no signal line extending along the Y direction is arranged in the dummy pixel region 103, and no signal from the horizontal drive circuit 105 is transmitted to the dummy pixel 203.

図２に示すように、検査画素２０２は、発光画素２０１とダミー画素２０３との間に位置する。つまり、Ｘ方向に沿って、発光画素２０１、検査画素２０２、ダミー画素２０３の順に並んで配されている。よって、検査画素２０２における各構造の製造時の誤差や配線などの電気的影響が発光画素２０１とほぼ等しい状態にすることができる。従って、精度の高い検査情報を得ることができ、より高品位な発光装置を得ることができる。 As shown in FIG. 2, the inspection pixel 202 is located between the light emitting pixel 201 and the dummy pixel 203. That is, the light emitting pixel 201, the inspection pixel 202, and the dummy pixel 203 are arranged in this order along the X direction. Therefore, an error in manufacturing each structure of the inspection pixel 202 and an electrical influence of wiring or the like can be made substantially equal to those of the light emitting pixel 201. Therefore, highly accurate inspection information can be obtained, and a higher quality light emitting device can be obtained.

更に、発光画素２０１と検査画素２０２の間に、ダミー画素２０３が配されていても良い。 Further, a dummy pixel 203 may be arranged between the light emitting pixel 201 and the inspection pixel 202.

図１および図２に示すように、本実施例においては、発光画素領域１０１の発光画素２０１の行数と、検査画素領域１０２の検査画素２０２の行数が等しい。このような構成によって、発光素子の輝度の検査において、Ｙ方向での情報が得られるため、より精度の高い検査情報を得ることができる。 As shown in FIGS. 1 and 2, in this embodiment, the number of rows of the light emitting pixels 201 in the light emitting pixel area 101 is equal to the number of rows of the inspection pixels 202 in the inspection pixel area 102. With such a configuration, since information in the Y direction can be obtained in the inspection of the luminance of the light emitting element, more accurate inspection information can be obtained.

また、ダミー画素領域１０３のダミー画素２０３の行数は検査画素２０２の行数より多くなっている。このような構成によって、検査画素２０２の隣接する画素の状態が発光画素２０１とほぼ等しくなるため、精度の高い検査情報を得ることができる。 Further, the number of rows of the dummy pixels 203 in the dummy pixel area 103 is larger than the number of rows of the inspection pixels 202. With such a configuration, the states of the pixels adjacent to the inspection pixel 202 become substantially the same as those of the light emitting pixel 201, so that highly accurate inspection information can be obtained.

次に、図３を用いて、発光画素２０１、検査画素２０２、ダミー画素２０３の回路を説明する。図３（ａ）は、発光画素２０１の回路を示している。発光画素２０１は、少なくとも１つの発光素子３０１を有する。発光画素２０１は、駆動トランジスタ３０２、書き込みトランジスタ３０３、発光制御トランジスタ３０４、リセットトランジスタ３０５、第１容量素子３０６、および第２容量素子３０７を有する。本実施例において、発光画素２０１が有する４つのトランジスタはＰ型である。ここで、単位セルＵＣ２０１は、発光素子３０１、駆動トランジスタ３０２、書き込みトランジスタ３０３、発光制御トランジスタ３０４、リセットトランジスタ３０５、第１容量素子３０６、および第２容量素子３０７を含む。そして、発光画素２０１は、少なくとも１つの単位セルＵＣ２０１を含むともいえる。なお、書き込みトランジスタ３０３は選択トランジスタともいえる。 Next, the circuits of the light emitting pixel 201, the inspection pixel 202, and the dummy pixel 203 will be described with reference to FIG. FIG. 3A shows a circuit of the light emitting pixel 201. The light emitting pixel 201 has at least one light emitting element 301. The light emitting pixel 201 includes a driving transistor 302, a writing transistor 303, a light emission control transistor 304, a reset transistor 305, a first capacitor element 306, and a second capacitor element 307. In this embodiment, the four transistors included in the light emitting pixel 201 are P-type. Here, the unit cell UC201 includes a light emitting element 301, a drive transistor 302, a writing transistor 303, a light emission control transistor 304, a reset transistor 305, a first capacitance element 306, and a second capacitance element 307. It can be said that the light emitting pixel 201 includes at least one unit cell UC201. Note that the writing transistor 303 can also be referred to as a selection transistor.

発光素子３０１は、第１電極と、第２電極と、両電極間に位置する発光部を有する。本実施例では、第１電極が陽極であり、第２電極が陰極であり、発光部は、少なくとも有機材料からなる発光層を有する。発光部は、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層の１つまたは複数を適宜有していてもよい。発光素子３０１の第１電極は、駆動トランジスタ３０２のソースおよびドレインの一方に電気的に接続されている。発光素子３０１の第２電極は、信号線２３２と電気的に接続し、すなわち電源電圧Ｖ１に電気的に接続されている。 The light emitting element 301 has a first electrode, a second electrode, and a light emitting portion located between both electrodes. In this embodiment, the first electrode is an anode, the second electrode is a cathode, and the light emitting portion has a light emitting layer made of at least an organic material. The light emitting unit may appropriately include one or more of a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, and an electron transport layer. The first electrode of the light emitting element 301 is electrically connected to one of the source and the drain of the driving transistor 302. The second electrode of the light emitting element 301 is electrically connected to the signal line 232, that is, electrically connected to the power supply voltage V1.

駆動トランジスタ３０２のソースおよびドレインの一方は、発光素子３０１の第１電極に電気的に接続し、駆動トランジスタ３０２のソースおよびドレインの他方は、発光制御トランジスタ３０４のソースおよびドレインの一方と電気的に接続する。駆動トランジスタ３０２のゲートは、書き込みトランジスタ３０３のソースおよびドレインの一方と、第１容量素子３０６の一端子と、電気的に接続する。書き込みトランジスタ３０３のソースおよびドレインの一方は、駆動トランジスタ３０２のゲートに電気的に接続され、書き込みトランジスタ３０３のソースおよびドレインの他方は、信号線２４１に電気的に接続される。書き込みトランジスタ３０３のゲートは、信号線２３１の１つである２３１Ａに電気的に接続されている。発光制御トランジスタ３０４のソースおよびドレインの一方は、駆動トランジスタ３０２のソースおよびドレインの他方に電気的に接続される。また、発光制御トランジスタ３０４のソースおよびドレインの一方は、第１容量素子３０６の他端子と電気的に接続され、第２容量素子３０７の一端子と接続される。発光制御トランジスタ３０４のソースドレインの他方は、信号線２４２に電気的に接続され、第２容量素子３０７の他端子と電気的に接続される。すなわち、発光制御トランジスタ３０４のソースおよびドレインの他方には、電源電圧Ｖ２と電気的に接続される。発光制御トランジスタ３０４のゲートは、信号線２３１の１つである２３１Ｂに電気的に接続されている。リセットトランジスタ３０５のソースおよびドレインの一方は、駆動トランジスタ３０２のソースおよびドレインの一方に電気的に接続される。リセットトランジスタ３０５のソースおよびドレインの他方は、信号線２３２に電気的に接続される。つまり、リセットトランジスタ３０５のソースおよびドレインの他方は、電源電圧Ｖ３に電気的に接続されている。リセットトランジスタ３０５のゲートは、信号線２３１の１つである２３１Ｃに電気的に接続される。ここで、いずれのトランジスタにおいても、バックゲートは、電源電圧Ｖ２に電気的に接続されている。 One of the source and the drain of the driving transistor 302 is electrically connected to the first electrode of the light emitting element 301, and the other of the source and the drain of the driving transistor 302 is electrically connected to one of the source and the drain of the emission control transistor 304. Connecting. The gate of the driving transistor 302 is electrically connected to one of a source and a drain of the writing transistor 303 and one terminal of the first capacitor 306. One of a source and a drain of the writing transistor 303 is electrically connected to the gate of the driving transistor 302, and the other of the source and the drain of the writing transistor 303 is electrically connected to the signal line 241. The gate of the writing transistor 303 is electrically connected to 231A which is one of the signal lines 231. One of the source and the drain of the emission control transistor 304 is electrically connected to the other of the source and the drain of the drive transistor 302. One of a source and a drain of the light emission control transistor 304 is electrically connected to the other terminal of the first capacitor 306 and one terminal of the second capacitor 307. The other of the source and the drain of the emission control transistor 304 is electrically connected to the signal line 242 and electrically connected to the other terminal of the second capacitor 307. That is, the other of the source and the drain of the emission control transistor 304 is electrically connected to the power supply voltage V2. The gate of the light emission control transistor 304 is electrically connected to 231B which is one of the signal lines 231. One of a source and a drain of the reset transistor 305 is electrically connected to one of a source and a drain of the driving transistor 302. The other of the source and the drain of the reset transistor 305 is electrically connected to the signal line 232. That is, the other of the source and the drain of the reset transistor 305 is electrically connected to the power supply voltage V3. The gate of the reset transistor 305 is electrically connected to 231C which is one of the signal lines 231. Here, in any of the transistors, the back gate is electrically connected to the power supply voltage V2.

第１容量素子３０６は、駆動トランジスタ３０２のゲートと、駆動トランジスタ３０２のソースおよびドレインの他方、ここではソースとの間に接続されている。第２容量素子３０７は、駆動トランジスタ３０２のソースおよびドレインの他方、ここではソースと信号線２４２との間に接続されている。 The first capacitor 306 is connected between the gate of the driving transistor 302 and the other of the source and the drain of the driving transistor 302, which is the source here. The second capacitor 307 is connected between the other of the source and the drain of the driving transistor 302, here, the source and the signal line 242.

駆動トランジスタ３０２は、電源電圧Ｖ２から発光制御トランジスタ３０４を介して発光素子３０１に電流を供給し、発光させる。より具体的には、駆動トランジスタ３０２は、第１容量素子３０６に保持された輝度信号の信号電圧に応じた電流を発光素子３０１に供給する。発光素子３０１に電流が供給されることで、発光素子３０１が発光する。 The drive transistor 302 supplies a current from the power supply voltage V2 to the light emitting element 301 via the light emission control transistor 304 to emit light. More specifically, the driving transistor 302 supplies the light emitting element 301 with a current corresponding to the signal voltage of the luminance signal held in the first capacitor element 306. When the current is supplied to the light emitting element 301, the light emitting element 301 emits light.

書き込みトランジスタ３０２は、そのゲートに垂直駆動回路１０４から信号線２３１Ａによって制御信号が供給され、信号線２４１と第１容量素子３０６の一端子との間の電気的接続を制御する。これにより、書き込みトランジスタ３０３は、水平駆動回路１０５から信号線２４１を介して供給される輝度情報に応じた映像信号の信号電圧または基準電圧を保持、すなわち書き込む動作を行うことができる。この書き込まれた信号電圧または基準電圧は、駆動トランジスタ３０２のゲートに印加されるとともに第１容量素子３０６に保持、書き込まれる。信号線２４１は、輝度情報に応じた信号を供給するため、データ線とも称される。 A control signal is supplied to the gate of the writing transistor 302 from the vertical driving circuit 104 by the signal line 231A, and controls the electrical connection between the signal line 241 and one terminal of the first capacitor 306. As a result, the writing transistor 303 can hold, that is, perform an operation of holding the signal voltage or the reference voltage of the video signal according to the luminance information supplied from the horizontal drive circuit 105 via the signal line 241. The written signal voltage or reference voltage is applied to the gate of the driving transistor 302 and is held and written in the first capacitor 306. The signal line 241 supplies a signal corresponding to luminance information, and thus is also referred to as a data line.

発光制御トランジスタ３０４は、そのゲートに垂直駆動回路１０４から信号線２３１Ｂによって制御信号が供給され、信号線２４２と駆動トランジスタのソースおよびドレインの他端子との間の電気的接続を制御する。すなわち、発光制御トランジスタ３０４は、電源電圧Ｖ２から駆動トランジスタ３０２へ電流を供給することを制御することができる。これにより、上述したように、駆動トランジスタ３０２による発光素子３０１の発光が可能になる。すなわち、発光制御トランジスタ３０４は、発光素子３０１の発光／非発光を制御するスイッチとしての機能を持っている。 A control signal is supplied to the gate of the light emission control transistor 304 from the vertical drive circuit 104 by a signal line 231B, and controls the electrical connection between the signal line 242 and the other terminals of the source and the drain of the drive transistor. That is, the emission control transistor 304 can control the supply of current from the power supply voltage V2 to the drive transistor 302. As a result, as described above, the drive transistor 302 enables the light emitting element 301 to emit light. That is, the light emission control transistor 304 has a function as a switch for controlling light emission/non-light emission of the light emitting element 301.

リセットトランジスタ３０５は、そのゲートに垂直駆動回路１０４から信号線２３１Ｃによって制御信号が供給され、信号線２３２と駆動トランジスタのソースおよびドレインの一端子との間の電気的接続を制御する。リセットトランジスタ３０５は、非発光期間において、発光素子３０１の第１電極と電源電圧Ｖ３とを電気的に接続し、発光素子３０１を非発光状態とすることができる。これにより、高コントラストな発光装置を実現することができる。 The control signal is supplied to the gate of the reset transistor 305 from the vertical drive circuit 104 by the signal line 231C, and controls the electrical connection between the signal line 232 and one terminal of the source and the drain of the drive transistor. The reset transistor 305 can electrically connect the first electrode of the light emitting element 301 and the power supply voltage V3 in the non-light emitting period to put the light emitting element 301 into a non-light emitting state. Thereby, a high-contrast light emitting device can be realized.

このような回路において、発光制御トランジスタ３０４の動作により、発光素子３０１が非発光状態となる期間（非発光期間）を設けることができ、発光期間と非発光期間との割合を制御する、いわゆるデューティ制御を行うことができる。このデューティ制御により、１フレーム期間に亘って発光画素２０１が発光することに伴う残像ボケを低減でき、特に動画の画質をより優れたものとすることができる。 In such a circuit, a period in which the light-emitting element 301 is in a non-light-emitting state (non-light-emitting period) can be provided by operation of the light-emission control transistor 304 and a ratio between the light-emitting period and the non-light-emitting period is controlled, so-called duty. Control can be performed. By this duty control, it is possible to reduce the afterimage blur caused by the light emitting pixels 201 emitting light over one frame period, and it is possible to improve the image quality of a moving image in particular.

ここで、発光素子３０１である有機ＥＬ（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ）素子の発光時には、駆動トランジスタ３０２に流れる電流量を輝度に応じて変化させることで、発光素子３０１が所定の輝度で発光することができる。例えば、発光素子３０１の第１電極と第２電極の間に容量を有する構成の場合には、任意の期間で該電流によって容量を充電することで所定の電位が保持される。その後、保持された電位に応じた電流を発光素子３０１に供給することで、発光素子３０１が所定の輝度で発光する。 Here, at the time of light emission of the organic EL (Organic Electroluminescence) element which is the light emitting element 301, the light emitting element 301 can emit light with a predetermined luminance by changing the amount of current flowing through the drive transistor 302 according to the luminance. For example, in the case of a structure in which a capacitor is provided between the first electrode and the second electrode of the light emitting element 301, the capacitor is charged with the current in an arbitrary period, so that a predetermined potential is held. After that, by supplying a current corresponding to the held potential to the light emitting element 301, the light emitting element 301 emits light with a predetermined luminance.

図３（ｂ）は、検査画素２０２の回路を示している。検査画素２０２は、少なくとも１つの発光素子３０１を有する。ここで、単位セルＵＣ２０２は発光素子３０１を含み、検査画素２０２は少なくとも１つの単位セルＵＣ２０２を含むともいえる。検査画素２０２の発光素子３０１は、発光画素２０１の発光素子３０１と同等の構成を有する。発光素子３０１は、第１電極と、第２電極と、両電極間に位置する発光部を有する。本実施例では、第１電極が陽極であり、第２電極が陰極であり、発光部は、少なくとも有機材料からなる発光層を有する。発光部は、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層の１つまたは複数を適宜有していてもよい。発光素子３０１の第１電極は、信号線２４３に電気的に接続されている。すなわち、第１電極は電源電圧Ｖ３に電気的に接続されている。発光素子３０１の第２電極は、信号線２３２、すなわち電源電圧Ｖ１に電気的に接続されている。検査画素２０２においては、電源電圧Ｖ３の電圧を変化させることによって、検査画素の２０２の発光素子３０１の発光、非発光を制御し、発光素子３０１の特性を検査することができる。 FIG. 3B shows a circuit of the inspection pixel 202. The inspection pixel 202 has at least one light emitting element 301. Here, it can be said that the unit cell UC202 includes the light emitting element 301, and the inspection pixel 202 includes at least one unit cell UC202. The light emitting element 301 of the inspection pixel 202 has the same configuration as the light emitting element 301 of the light emitting pixel 201. The light emitting element 301 has a first electrode, a second electrode, and a light emitting portion located between both electrodes. In this embodiment, the first electrode is an anode, the second electrode is a cathode, and the light emitting portion has a light emitting layer made of at least an organic material. The light emitting unit may appropriately include one or more of a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, and an electron transport layer. The first electrode of the light emitting element 301 is electrically connected to the signal line 243. That is, the first electrode is electrically connected to the power supply voltage V3. The second electrode of the light emitting element 301 is electrically connected to the signal line 232, that is, the power supply voltage V1. In the inspection pixel 202, by changing the voltage of the power supply voltage V3, it is possible to control the emission and non-emission of the light emitting element 301 of the inspection pixel 202, and inspect the characteristics of the light emitting element 301.

図３（ｃ）は、ダミー画素２０３の回路を示している。ダミー画素２０３は少なくとも１つの発光素子３０１を有する。ここで、単位セルＵＣ２０３は発光素子３０１を含み、ダミー画素２０３は少なくとも１つの単位セルＵＣ２０３を含むともいえる。ダミー画素２０３の発光素子３０１は、発光画素２０１の発光素子３０１と同等の構成を有する。発光素子３０１は、第１電極と、第２電極と、両電極間に位置する発光部を有する。本実施例では、第１電極が陽極であり、第２電極が陰極であり、発光部は、少なくとも有機材料からなる発光層を有する。発光部は、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層の１つまたは複数を適宜有していてもよい。発光素子３０１の第１電極は、信号線２３２、すなわち電源電圧Ｖ１に電気的に接続されている。発光素子３０１の第２電極は、信号線２３２、すなわち電源電圧Ｖ１に電気的に接続されている。つまり、発光素子３０１の第１電極と第２電極とが同一ノードに電気的に接続されている。よって、ダミー画素２０３の発光素子３０１は発光しない。ここで、発光素子３０１の第１電極は、発光素子３０１の発光閾値を越えないような他の電源電圧に接続されていても良く、必ずしも第２電極に接続されていなくても良い。第１電極が固定されていることで、ダミー画素２０３が発光してしまう誤動作を低減できる。また、発光閾値を越えない限りは、フローティング状態であっても良く、この場合には第１電極への接続のための配線などが削減できるため、設計自由度が向上する。 FIG. 3C shows a circuit of the dummy pixel 203. The dummy pixel 203 has at least one light emitting element 301. Here, it can be said that the unit cell UC203 includes the light emitting element 301, and the dummy pixel 203 includes at least one unit cell UC203. The light emitting element 301 of the dummy pixel 203 has the same configuration as the light emitting element 301 of the light emitting pixel 201. The light emitting element 301 has a first electrode, a second electrode, and a light emitting portion located between both electrodes. In this embodiment, the first electrode is an anode, the second electrode is a cathode, and the light emitting portion has a light emitting layer made of at least an organic material. The light emitting unit may appropriately include one or more of a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, and an electron transport layer. The first electrode of the light emitting element 301 is electrically connected to the signal line 232, that is, the power supply voltage V1. The second electrode of the light emitting element 301 is electrically connected to the signal line 232, that is, the power supply voltage V1. That is, the first electrode and the second electrode of the light emitting element 301 are electrically connected to the same node. Therefore, the light emitting element 301 of the dummy pixel 203 does not emit light. Here, the first electrode of the light emitting element 301 may be connected to another power supply voltage that does not exceed the light emission threshold of the light emitting element 301, and may not necessarily be connected to the second electrode. Since the first electrode is fixed, it is possible to reduce malfunctions in which the dummy pixel 203 emits light. Further, as long as it does not exceed the light emission threshold, it may be in a floating state. In this case, wiring for connecting to the first electrode and the like can be reduced, so that the degree of freedom in design is improved.

ここで、ダミー画素２０３は、発光画素２０１と同等の構成の発光素子３０１が形成されている。また、検査画素２０２はダミー画素２０３と発光画素２０１との間に位置する。よって、第１電極材料のパターニングや発光部の形成などにおける外縁が発光画素２０１や検査画素２０２に含まれることがない。このような構成によって、検査画素２０２を発光画素２０１と同様の条件で形成することが可能となるため、検査時の精度を向上させることが可能となる。 Here, in the dummy pixel 203, the light emitting element 301 having the same structure as the light emitting pixel 201 is formed. The inspection pixel 202 is located between the dummy pixel 203 and the light emitting pixel 201. Therefore, the outer edge of the patterning of the first electrode material or the formation of the light emitting portion is not included in the light emitting pixel 201 or the inspection pixel 202. With such a configuration, the inspection pixel 202 can be formed under the same condition as that of the light emitting pixel 201, so that the accuracy at the time of inspection can be improved.

以上述べてきたように、本実施例の発光装置によれば、検査時の精度が向上するため、高品位な発光装置を提供することが可能となる。 As described above, according to the light emitting device of this embodiment, the accuracy at the time of inspection is improved, so that it is possible to provide a high quality light emitting device.

なお、電位供給部２１３は、水平駆動回路１０５から離れて、発光装置の外縁の近く、すなわちチップ外縁の近くに設けられていてもよい。更に、電位供給部２１３には外部装置との電気的接続のためのパッドを有していてもよい。このような構成によって、検査の際に、検査装置のプローブを電位供給部２１３に接続することができ、簡易に検査を行うことが可能である。 The potential supply unit 213 may be provided apart from the horizontal drive circuit 105 and near the outer edge of the light emitting device, that is, near the outer edge of the chip. Further, the potential supply unit 213 may have a pad for electrical connection with an external device. With such a configuration, the probe of the inspection device can be connected to the potential supply unit 213 during the inspection, and the inspection can be easily performed.

（実施例２）
本実施例について、図４（ａ）および図４（ｂ）を用いて説明する。図４（ａ）は本実施例の検査画素２０２の回路図であり、図４（ｂ）は本実施例のダミー画素２０３の回路図である。本実施例は、実施例１の図３（ｂ）および図３（ｃ）に示した回路と比較して、検査画素２０２およびダミー画素２０３は、発光素子に加えて少なくとも複数のトランジスタを有する点が異なる。以下、実施例１と異なる構成を中心に説明する。 (Example 2)
This embodiment will be described with reference to FIGS. 4(a) and 4(b). 4A is a circuit diagram of the inspection pixel 202 of this embodiment, and FIG. 4B is a circuit diagram of the dummy pixel 203 of this embodiment. In this embodiment, the inspection pixel 202 and the dummy pixel 203 have at least a plurality of transistors in addition to the light emitting element, as compared with the circuits shown in FIGS. 3B and 3C of the first embodiment. Is different. Hereinafter, the configuration different from that of the first embodiment will be mainly described.

図４（ａ）に示す検査画素２０２は、図３（ａ）に示す発光画素２０１と同様に、駆動トランジスタ３０２、書き込みトランジスタ３０３、発光制御トランジスタ３０４、およびリセットトランジスタ３０５を有する。更に、検査画素２０２は、第１容量素子３０６と、第２容量素子３０７とを有する。つまり、本実施例の検査画素２０２は発光画素２０１と同一の素子を有する。そして、検査画素２０２では、図３（ａ）に示す発光画素２０１と異なり、駆動トランジスタ３０２とリセットトランジスタ３０５が発光素子３０１と電気的に接続していない。検査画素２０２の発光素子３０１は、図３（ｂ）に示した状態となっている。このような構成を有することで、検査画素２０２と発光画素２０１との製造誤差による構造ばらつきや配線などによる電気的影響の違いが小さくなり、検査の精度を向上させることができる。本実施例の単位セルＵＣ２０２は、発光素子３０１、駆動トランジスタ３０２、書き込みトランジスタ３０３、発光制御トランジスタ３０４、リセットトランジスタ３０５、第１容量素子３０６、および第２容量素子３０７を含む。そして、検査画素２０２は、少なくとも１つの単位セルＵＣ２０２を含むともいえる。 The inspection pixel 202 shown in FIG. 4A includes a drive transistor 302, a writing transistor 303, a light emission control transistor 304, and a reset transistor 305, similarly to the light emitting pixel 201 shown in FIG. Furthermore, the inspection pixel 202 has a first capacitive element 306 and a second capacitive element 307. That is, the inspection pixel 202 of this embodiment has the same element as the light emitting pixel 201. In the inspection pixel 202, unlike the light emitting pixel 201 shown in FIG. 3A, the drive transistor 302 and the reset transistor 305 are not electrically connected to the light emitting element 301. The light emitting element 301 of the inspection pixel 202 is in the state shown in FIG. With such a configuration, it is possible to reduce the structural variation due to the manufacturing error between the inspection pixel 202 and the light emitting pixel 201 and the difference in the electrical influence due to the wiring, and to improve the inspection accuracy. The unit cell UC202 of this embodiment includes a light emitting element 301, a drive transistor 302, a writing transistor 303, a light emission control transistor 304, a reset transistor 305, a first capacitance element 306, and a second capacitance element 307. It can also be said that the inspection pixel 202 includes at least one unit cell UC202.

図４（ｂ）に示すダミー画素２０３は、図３（ａ）に示す発光画素２０１と同様に、駆動トランジスタ３０２、書き込みトランジスタ３０３、発光制御トランジスタ３０４、およびリセットトランジスタ３０５を有する。更に、ダミー画素２０３は、第１容量素子３０６と、第２容量素子３０７とを有する。つまり、本実施例のダミー画素２０３は発光画素２０１と同一の素子を有する。そして、ダミー画素２０３では、図３（ａ）に示す発光画素２０１と異なり、駆動トランジスタ３０２とリセットトランジスタ３０５が発光素子３０１と電気的に接続していない。ダミー画素２０３の発光素子３０１は、図３（ｃ）に示した状態となっている。このような構成を有することで、検査画素２０２と発光画素２０１の製造誤差による構造ばらつきや配線などによる電気的影響の違いをより低減すること可能となる。よって、検査の精度を向上させることができる。本実施例の単位セルＵＣ２０３は、発光素子３０１、駆動トランジスタ３０２、書き込みトランジスタ３０３、発光制御トランジスタ３０４、リセットトランジスタ３０５、第１容量素子３０６、および第２容量素子３０７を含む。そして、ダミー画素２０３は、少なくとも１つの単位セルＵＣ２０３を含むともいえる。 The dummy pixel 203 shown in FIG. 4B has a drive transistor 302, a writing transistor 303, a light emission control transistor 304, and a reset transistor 305, similarly to the light emitting pixel 201 shown in FIG. Further, the dummy pixel 203 has a first capacitance element 306 and a second capacitance element 307. That is, the dummy pixel 203 of this embodiment has the same elements as the light emitting pixel 201. In the dummy pixel 203, unlike the light emitting pixel 201 shown in FIG. 3A, the drive transistor 302 and the reset transistor 305 are not electrically connected to the light emitting element 301. The light emitting element 301 of the dummy pixel 203 is in the state shown in FIG. With such a configuration, it is possible to further reduce the structural variation due to the manufacturing error between the inspection pixel 202 and the light emitting pixel 201 and the difference in electrical influence due to wiring or the like. Therefore, the accuracy of inspection can be improved. The unit cell UC203 of this embodiment includes a light emitting element 301, a driving transistor 302, a writing transistor 303, a light emission control transistor 304, a reset transistor 305, a first capacitance element 306, and a second capacitance element 307. It can also be said that the dummy pixel 203 includes at least one unit cell UC203.

このような構成によって、発光画素２０１と検査画素２０２との間の画素の構造や、製造誤差によるばらつきや、周りの画素の配置に起因する電気的特性の差を低減することが可能となる。よって、高品位な発光装置が実現できる。 With such a configuration, it is possible to reduce the pixel structure between the light emitting pixel 201 and the inspection pixel 202, variations due to manufacturing errors, and differences in electrical characteristics due to the arrangement of surrounding pixels. Therefore, a high-quality light emitting device can be realized.

なお、本実施例において、検査画素２０２とダミー画素２０３の各トランジスタは、発光画素２０１と同様に駆動してもよく、駆動しなくてもよい。これらの動作については、適宜、変更可能である。 In this embodiment, each transistor of the inspection pixel 202 and the dummy pixel 203 may or may not be driven similarly to the light emitting pixel 201. These operations can be changed as appropriate.

（実施例３）
本実施例の発光装置について、図５と図６を用いて説明する。図５（ａ）は、本実施例の発光装置５００の模式図である。図５（ａ）は、図１と対応した図面である。図５（ａ）における図１との差異は、発光装置５００がダミー画素領域１０３に加えてダミー画素領域５０１を有する点である。ダミー画素領域５０１は、ダミー画素領域１０３を囲んで設けられている。ダミー画素領域５０１の形状は、外縁５１１と内縁５１２を有する環状である。そして、発光画素領域１０１から発光装置５００の外縁に向かう方向において、ダミー画素領域１０３は発光画素領域１０１とダミー画素領域５０１との間に位置する。ダミー画素領域１０３があることによって、発光画素領域１０１の各画素の形状が位置によらず均一に形成することが可能となる。更に、ダミー画素領域５０１を有することで、発光画素領域１０１や検査画素領域１０２の周りに配された駆動回路などへの迷光を低減することができ、駆動回路の誤作動を低減することができる。 (Example 3)
The light emitting device of this embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 5A is a schematic diagram of the light emitting device 500 of this embodiment. FIG. 5A is a drawing corresponding to FIG. 1. The difference between FIG. 5A and FIG. 1 is that the light emitting device 500 has a dummy pixel region 501 in addition to the dummy pixel region 103. The dummy pixel area 501 is provided so as to surround the dummy pixel area 103. The shape of the dummy pixel region 501 is an annular shape having an outer edge 511 and an inner edge 512. The dummy pixel region 103 is located between the light emitting pixel region 101 and the dummy pixel region 501 in the direction from the light emitting pixel region 101 toward the outer edge of the light emitting device 500. Since the dummy pixel region 103 is provided, the shape of each pixel in the light emitting pixel region 101 can be formed uniformly regardless of the position. Furthermore, by having the dummy pixel region 501, stray light to the drive circuit and the like arranged around the light emitting pixel region 101 and the inspection pixel region 102 can be reduced, and malfunction of the drive circuit can be reduced. .

更に、図５（ａ）において、ダミー画素領域５０１の少なくとも一部は、垂直駆動回路１０４や水平駆動回路１０５の少なくとも一部と重畳している。この構成について、詳細に説明する。 Further, in FIG. 5A, at least a part of the dummy pixel region 501 overlaps with at least a part of the vertical drive circuit 104 and the horizontal drive circuit 105. This configuration will be described in detail.

まず、ダミー画素領域５０１に配されたダミー画素の回路を説明する。図５（ｂ）は、図５（ａ）のダミー画素領域５０１に配されたダミー画素５０２の回路を示している。ダミー画素５０２は、少なくとも発光素子３０１を有する。発光素子３０１の第２電極は信号線２３２、すなわち電源電圧Ｖ１に電気的に接続されている。一方、第１電極は電気的に浮遊（フローティング）の状態となっている。このような構成を有することで、第１電極に接続する配線などの構造を設ける必要がないため、レイアウトの自由度が高い。ダミー画素５０２の断面構造について、次に説明する。 First, the circuit of the dummy pixels arranged in the dummy pixel region 501 will be described. FIG. 5B shows a circuit of the dummy pixel 502 arranged in the dummy pixel region 501 of FIG. 5A. The dummy pixel 502 includes at least the light emitting element 301. The second electrode of the light emitting element 301 is electrically connected to the signal line 232, that is, the power supply voltage V1. On the other hand, the first electrode is in an electrically floating state. With such a structure, it is not necessary to provide a structure such as a wiring connected to the first electrode, and thus the degree of freedom of layout is high. The cross-sectional structure of the dummy pixel 502 will be described next.

図６は、本実施例の発光装置５００の断面模式図である。図６は、図５（ａ）のＡＢ線に沿った部分を適宜抽出して示したものである。図６において、点Ａから点Ｂへ向かって、発光画素領域１０１と、検査画素領域１０２と、ダミー画素領域１０３と、ダミー画素領域５０１とがこの順に並んで示されている。ダミー画素領域５０１の一部には、水平駆動回路１０５が配されている。図６において、発光画素領域１０１と、検査画素領域１０２と、ダミー画素領域１０３では、各領域に配された１つの発光画素２０１と検査画素２０２とダミー画素２０３の発光素子３０１と駆動トランジスタの断面が示されている。ダミー画素領域５０１では、２つのダミー画素５０２の発光素子３０１が示されている。更に、２つのダミー画素５０２のうち、水平駆動回路１０５が重畳する画素では、水平駆動回路１０５が有する１つのトランジスタの断面が示されている。つまり、ダミー画素領域５０１の発光素子３０１が、水平駆動回路１０５に重なる。このような構成によって、発光素子３０１によって、水平駆動回路１０５などに外光が入射することを低減することができる。従って、外光が入射することで生じる光電流によって、水平駆動回路１０５や垂直駆動回路１０４が誤作動することを低減することができる。 FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of the light emitting device 500 of this example. FIG. 6 shows the portion along the line AB of FIG. In FIG. 6, from the point A to the point B, the light emitting pixel region 101, the inspection pixel region 102, the dummy pixel region 103, and the dummy pixel region 501 are shown side by side in this order. The horizontal drive circuit 105 is arranged in a part of the dummy pixel region 501. In FIG. 6, in the light emitting pixel area 101, the inspection pixel area 102, and the dummy pixel area 103, a cross section of one light emitting pixel 201, each inspection pixel 202, each light emitting element 301 of the dummy pixel 203, and the driving transistor arranged in each area. It is shown. In the dummy pixel region 501, the light emitting elements 301 of the two dummy pixels 502 are shown. Further, among the two dummy pixels 502, in the pixel where the horizontal drive circuit 105 overlaps, the cross section of one transistor included in the horizontal drive circuit 105 is shown. That is, the light emitting element 301 in the dummy pixel region 501 overlaps with the horizontal drive circuit 105. With such a structure, the light emitting element 301 can reduce the incidence of external light on the horizontal drive circuit 105 and the like. Therefore, it is possible to reduce the malfunction of the horizontal drive circuit 105 and the vertical drive circuit 104 due to the photocurrent generated by the incident external light.

図６において、各画素２０１、２０２、２０３、５０２は、同一の発光素子３０１の構造を有する。発光素子３０１は、第１電極１００１と、第２電極１００２と、発光部１００３とを有する。更に、発光素子３０１は、第１電極１００１の端部を覆うバンク部１００４が設けられている。バンク部１００４は、第１電極１００１と第２電極１００２の間を流れる電流が、隣接する画素の第１電極１００１や第２電極１００２へ漏れることを低減する機能を有する。バンク部１００４は、第１電極１００１の外縁を覆うように設けられている。ここで、第１電極１００１の下面を含む面を面Ｐ３とする。 In FIG. 6, each pixel 201, 202, 203, 502 has the same structure of the light emitting element 301. The light emitting element 301 has a first electrode 1001, a second electrode 1002, and a light emitting unit 1003. Further, the light emitting element 301 is provided with a bank portion 1004 that covers an end portion of the first electrode 1001. The bank portion 1004 has a function of reducing leakage of current flowing between the first electrode 1001 and the second electrode 1002 to the first electrode 1001 and the second electrode 1002 of adjacent pixels. The bank portion 1004 is provided so as to cover the outer edge of the first electrode 1001. Here, a surface including the lower surface of the first electrode 1001 is referred to as a surface P3.

図６において、基板６００は、面Ｐ１と、面Ｐ１と反対側の面Ｐ２とを有する。平面視における面とは、面Ｐ２とすることができる。基板６００は、Ｐ型の半導体領域６０１と、Ｎ型の半導体領域６０２と、Ｐ型の半導体領域６０１と、複数の素子分離部６０４とを有する。発光画素２０１と検査画素２０２とダミー画素２０３における基板６００には、駆動トランジスタのゲート６０５と、ソースおよびドレイン６０６が示されている。ソースおよびドレイン６０６は、Ｐ型の半導体領域である。ダミー画素２０３の隣に示されたダミー画素５０２における基板６００には、素子分離部６０４が設けられている。水平駆動回路１０５と重畳するダミー画素５０２における基板６００には、ゲート６０７とソースおよびドレイン６０８を有するＮ型のトランジスタが示されている。ソースおよびドレイン６０８はＮ型の半導体領域である。 In FIG. 6, the substrate 600 has a surface P1 and a surface P2 opposite to the surface P1. The plane in plan view can be the plane P2. The substrate 600 has a P-type semiconductor region 601, an N-type semiconductor region 602, a P-type semiconductor region 601, and a plurality of element isolation portions 604. On the substrate 600 in the light emitting pixel 201, the inspection pixel 202 and the dummy pixel 203, the gate 605 and the source and drain 606 of the driving transistor are shown. The source and drain 606 are P-type semiconductor regions. An element isolation unit 604 is provided on the substrate 600 in the dummy pixel 502 shown next to the dummy pixel 203. An N-type transistor having a gate 607 and a source/drain 608 is shown on a substrate 600 in the dummy pixel 502 which overlaps with the horizontal drive circuit 105. The source and drain 608 are N-type semiconductor regions.

各画素の発光素子３０１と基板６００との間には、配線構造体６２０が設けられている。配線構造体６２０は、面Ｐ２と面Ｐ３との間に位置する。配線構造体６２０は、少なくとも１つの絶縁層と、少なくとも１つの配線層とを含む。絶縁層は多層膜で構成されていてもよい。配線構造体６２０は、例えば、４つの配線層６１１、６１２、６１３、６１４を有する。各配線層は複数の配線を有し、基板と配線層の間と、各配線層の間と、配線層と第１電極１００１の間にはプラグ６２１〜６２５が設けられている。なお、発光素子３０１よりもＺ方向に上にはカラーフィルタやガラス基板など任意の構成が設けられているが省略している。 A wiring structure 620 is provided between the light emitting element 301 of each pixel and the substrate 600. The wiring structure 620 is located between the plane P2 and the plane P3. The wiring structure 620 includes at least one insulating layer and at least one wiring layer. The insulating layer may be composed of a multilayer film. The wiring structure 620 has, for example, four wiring layers 611, 612, 613, and 614. Each wiring layer has a plurality of wirings, and plugs 621 to 625 are provided between the substrate and the wiring layer, between the wiring layers, and between the wiring layer and the first electrode 1001. An arbitrary structure such as a color filter or a glass substrate is provided above the light emitting element 301 in the Z direction, but it is omitted.

発光画素２０１において、発光画素２０１の駆動トランジスタのソースおよびドレイン６０６は、プラグ６２１〜６２５と配線層６１１〜６１４の配線によって、発光画素２０１の第１電極１００１と電気的に接続されている。検査画素２０２においては、発光画素２０１のプラグ６２４に相当するプラグが設けられていないため、検査画素２０２の駆動トランジスタのソースおよびドレイン６０６と、検査画素２０２の第１電極１００１とが電気的に接続していない。検査画素２０２の第１電極１００１は配線層６１４の配線によって、電源電圧Ｖ３と電気的に接続している。ダミー画素２０３においては、発光画素２０１のプラグ６２４に相当するプラグが設けられていないため、ダミー画素２０３の駆動トランジスタのソースおよびドレイン６０６と、ダミー画素２０３の第１電極１００１とが電気的に接続していない。ダミー画素２０３の第１電極１００１は配線層６１４の配線によって、電源電圧Ｖ２と電気的に接続している。ダミー画素５０２においては、発光画素２０１の駆動トランジスタに対応するトランジスタや、配線層６１１〜６１４に相当する配線や、プラグ６２１〜６２５に相当するプラグが設けられていない。ダミー画素５０２の第１電極１００１はフローティングの状態となっている。 In the light emitting pixel 201, the source and drain 606 of the driving transistor of the light emitting pixel 201 are electrically connected to the first electrode 1001 of the light emitting pixel 201 by the plugs 621 to 625 and the wirings of the wiring layers 611 to 614. Since the plug corresponding to the plug 624 of the light emitting pixel 201 is not provided in the inspection pixel 202, the source and drain 606 of the drive transistor of the inspection pixel 202 and the first electrode 1001 of the inspection pixel 202 are electrically connected. I haven't. The first electrode 1001 of the inspection pixel 202 is electrically connected to the power supply voltage V3 by the wiring of the wiring layer 614. Since the plug corresponding to the plug 624 of the light emitting pixel 201 is not provided in the dummy pixel 203, the source and drain 606 of the driving transistor of the dummy pixel 203 and the first electrode 1001 of the dummy pixel 203 are electrically connected. I haven't. The first electrode 1001 of the dummy pixel 203 is electrically connected to the power supply voltage V2 by the wiring of the wiring layer 614. The dummy pixel 502 is not provided with a transistor corresponding to the drive transistor of the light emitting pixel 201, a wiring corresponding to the wiring layers 611 to 614, or a plug corresponding to the plugs 621 to 625. The first electrode 1001 of the dummy pixel 502 is in a floating state.

ダミー画素５０２の構成によって、ダミー画素５０２の発光素子３０１の下、面Ｐ３と面Ｐ１との間に水平駆動回路１０５などの回路を設けることが可能である。発光素子３０１が配されていることによって、特に、外光が第１電極１００１によって反射するため、外光が基板６００に入射することを低減することができる。ここで、外光とは発光装置外部から入射する光のことであり、発光画素２０１にて発された光が外部で反射して入射する光も含む。 With the configuration of the dummy pixel 502, a circuit such as the horizontal drive circuit 105 can be provided between the surface P3 and the surface P1 below the light emitting element 301 of the dummy pixel 502. By disposing the light emitting element 301, in particular, external light is reflected by the first electrode 1001, so that the external light can be prevented from entering the substrate 600. Here, external light is light that is incident from the outside of the light emitting device, and also includes light that is emitted from the light emitting pixel 201 and is reflected by the outside and enters.

ダミー画素２０３において、その動作においては、配線層６１１〜６１３と、プラグ６２１〜６２３は設ける必要がない部分である。しかし、ダミー画素２０３にこれらを設けることによって、これらの製造時のばらつきを低減することができ検査画素２０２の構造を発光画素２０１の構造に近づけることができる。また、電気的な特性においても、検査画素２０２の構造を発光画素２０１の構造に近づけることができる。 In the operation of the dummy pixel 203, the wiring layers 611 to 613 and the plugs 621 to 623 do not need to be provided. However, by providing these in the dummy pixel 203, it is possible to reduce variations in manufacturing these and to make the structure of the inspection pixel 202 closer to the structure of the light emitting pixel 201. Also, in terms of electrical characteristics, the structure of the inspection pixel 202 can be made closer to the structure of the light emitting pixel 201.

図６において、素子分離部６０４は、ＳＴＩ（Ｓｈａｌｌｏｗ Ｔｒｅｎｃｈ Ｉｓｏｌａｔｉｏｎ）分離、ＬＯＣＯＳ（Ｌｏｃａｌ Ｏｘｉｄａｔｉｏｎ Ｏｆ Ｓｉｌｉｃｏｎ）分離、Ｎ型の半導体領域によるポテンシャル分離のいずれでも良い。発光素子３０１のバンク部１００４の材料は、例えば、酸化シリコンや窒化シリコンなど酸素や窒素を含む材料など、絶縁体材料である。また、第１電極１００１や配線層６１１〜６１４の材料は、アルミニウムを主成分とする合金や、銅を主成分とする合金などの導電体から適宜選択できる。配線構造体６２０の絶縁層６３０の材料は、例えば、酸化シリコンや窒化シリコンなど酸素や窒素を含む材料など、絶縁体材料である。配線構造体６２０のプラグ６２１〜６２５の材料は、タングステンやチタンなどの導電体から適宜選択できる。 In FIG. 6, the element isolation portion 604 may be any of STI (Shallow Trench Isolation) isolation, LOCOS (Local Oxidation Of Silicon) isolation, and potential isolation by an N-type semiconductor region. The material of the bank portion 1004 of the light emitting element 301 is an insulator material such as a material containing oxygen or nitrogen such as silicon oxide or silicon nitride. The material of the first electrode 1001 and the wiring layers 611 to 614 can be appropriately selected from conductors such as an alloy containing aluminum as a main component and an alloy containing copper as a main component. The material of the insulating layer 630 of the wiring structure 620 is an insulating material such as a material containing oxygen or nitrogen such as silicon oxide or silicon nitride. The material of the plugs 621 to 625 of the wiring structure 620 can be appropriately selected from conductors such as tungsten and titanium.

（実施例４）
本実施例の発光装置について、図７および図８を用いて説明する。本実施例では、Ｒｅｄ（赤）、Ｇｒｅｅｎ（緑）、およびＢｌｕｅ（青）のカラーフィルタを設けた構成を説明する。図７は、本実施例にかかる検査画素１１００を示す回路図である。検査画素１１００は、少なくとも３つの発光素子３０１を有する。つまり、検査画素１１００は、ＵＣ１１０１、ＵＣ１１０２、ＵＣ１１０３を有する。単位セルＵＣ１１０１は緑、単位セルＵＣ１１０２は赤、単位セルＵＣ１１０３は青と対応する回路である。単位セルＵＣ１１０１、１１０２、１１０３のそれぞれは、基本的には図４（ａ）に示す単位セルＵＣ２０２と等しい回路を有する。しかし、図７の回路は、図４（ａ）の回路とは、各単位セルの発光素子３０１の第１電極が異なる信号線に電気的に接続する点で異なる。単位セルＵＣ１１０１の第１電極は信号線２４３Ａと電気的に接続し、単位セルＵＣ１１０２の第１電極は信号線２４３Ｂと電気的に接続し、単位セルＵＣ１１０３の第１電極は信号線２４３Ｃと電気的に接続する。このような構成によって、検査工程において、各信号線２４３Ａ〜２４３Ｃが伝達する電圧を異ならせることができるため、各色の発光特性を独立に検査することが可能となる。 (Example 4)
The light emitting device of this embodiment will be described with reference to FIGS. In this embodiment, a configuration in which Red (red), Green (green), and Blue (blue) color filters are provided will be described. FIG. 7 is a circuit diagram showing the inspection pixel 1100 according to this embodiment. The inspection pixel 1100 has at least three light emitting elements 301. That is, the inspection pixel 1100 has UC1101, UC1102, and UC1103. The unit cell UC1101 is a circuit corresponding to green, the unit cell UC1102 is red, and the unit cell UC1103 is blue. Each of the unit cells UC1101, 1102, 1103 has basically the same circuit as the unit cell UC202 shown in FIG. However, the circuit of FIG. 7 is different from the circuit of FIG. 4A in that the first electrode of the light emitting element 301 of each unit cell is electrically connected to a different signal line. The first electrode of the unit cell UC1101 is electrically connected to the signal line 243A, the first electrode of the unit cell UC1102 is electrically connected to the signal line 243B, and the first electrode of the unit cell UC1103 is electrically connected to the signal line 243C. Connect to. With such a configuration, the voltages transmitted by the signal lines 243A to 243C can be made different in the inspection process, so that the emission characteristics of each color can be independently inspected.

なお、発光画素２０１やダミー画素２０３も同様に複数の発光素子を有しうる。例えば、発光画素２０１は、図３（ａ）に示した単位セルＵＣ２０１を複数含み、ダミー画素２０３は図４（ｂ）に示した単位セルＵＣ２０３を複数含む。 The light emitting pixel 201 and the dummy pixel 203 may also have a plurality of light emitting elements. For example, the light emitting pixel 201 includes a plurality of unit cells UC201 shown in FIG. 3A, and the dummy pixel 203 includes a plurality of unit cells UC203 shown in FIG. 4B.

図８は、図７に対応した検査画素２０２、すなわち単位セルＵＣ１１０１〜１１０３の断面模式図である。図８は、各単位セルＵＣ１１０１〜１１０３の駆動トランジスタの断面を示している。図８において、発光素子３０１までの構成は図６の検査画素２０２の断面と等しい構成を有している。但し、上述したように単位セルＵＣ１１０１〜１１０３の配線層６１４の配線のそれぞれは、対応する信号線２４３Ａ〜２４３Ｃのそれぞれに電気的に接続している。 FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of the inspection pixel 202 corresponding to FIG. 7, that is, the unit cells UC1101 to 1103. FIG. 8 shows a cross section of the drive transistor of each of the unit cells UC1101 to 1103. In FIG. 8, the structure up to the light emitting element 301 has the same structure as the cross section of the inspection pixel 202 in FIG. However, as described above, each of the wirings of the wiring layer 614 of the unit cells UC1101 to 1103 is electrically connected to each of the corresponding signal lines 243A to 243C.

また、発光素子３０１の発光素子３０１の第２電極１００２の第１電極側ではない面を面Ｐ４とすると、面Ｐ４からＺ方向に、絶縁膜１２００と、カラーフィルタ１２０１〜１２０３と、絶縁膜１２０４と、ガラス基板１２０５とがこの順に配されている。絶縁膜１２００は、例えば、感光性の有機材料からなり、平坦化の機能を有する。絶縁膜１２００の材料は、無機材料であってもよく、無機材料からなる層と有機材料からなる層の多層からなってもよい。また、絶縁膜１２００は、平坦化の機能だけでなく、防湿や保護の機能を有していてもよい。カラーフィルタ１２０１〜１２０３は、複数の色のフィルタを有し、本実施例では、緑のカラーフィルタ１２０１と、赤のカラーフィルタ１２０２と、青のカラーフィルタ１２０３とを有する。カラーフィルタ１２０１〜１２０３は、平面視したときに、発光素子３０１の形状と対応した、例えば相似の形状を有していることが好ましい。カラーフィルタ１２０１〜１２０３の膜厚は、互いに異なり、本実施例では赤のカラーフィルタ１２０２が最も厚くなっている。絶縁膜１２０４は、例えば、感光性の有機材料からなり、平坦化の機能を有する。絶縁膜１２０４の材料は、無機材料であってもよく、無機材料からなる層と有機材料からなる層の多層からなってもよい。また、絶縁膜１２０４は、平坦化の機能だけでなく、防湿や保護や接着の機能を有していてもよい。本実施例では、厚みが異なるカラーフィルタ１２０１〜１２０３の絶縁膜１２００と反対側の面を平坦化している。ガラス基板１２０５は絶縁膜１２０４と接着しており、発光装置の最外面となっている。なお、モノクロの発光装置の場合には、カラーフィルタ１２０１〜１２０３などを設けない構成とすればよい。 When the surface of the second electrode 1002 of the light emitting element 301 which is not the first electrode side is the surface P4, the insulating film 1200, the color filters 1201 to 1203, and the insulating film 1204 are arranged in the Z direction from the surface P4. And a glass substrate 1205 are arranged in this order. The insulating film 1200 is made of, for example, a photosensitive organic material and has a planarizing function. The material of the insulating film 1200 may be an inorganic material, or may be a multilayer including a layer made of an inorganic material and a layer made of an organic material. Further, the insulating film 1200 may have a moisture-proof or protective function as well as a planarizing function. The color filters 1201 to 1203 have filters of a plurality of colors, and in this embodiment, have a green color filter 1201, a red color filter 1202, and a blue color filter 1203. The color filters 1201 to 1203 preferably have, for example, similar shapes to the shape of the light emitting element 301 when viewed in a plan view. The film thicknesses of the color filters 1201 to 1203 are different from each other, and in this embodiment, the red color filter 1202 is the thickest. The insulating film 1204 is made of, for example, a photosensitive organic material and has a planarizing function. The material of the insulating film 1204 may be an inorganic material, or may be a multilayer including a layer made of an inorganic material and a layer made of an organic material. Further, the insulating film 1204 may have a function of preventing moisture, protecting, or adhering as well as a function of flattening. In this embodiment, the surfaces of the color filters 1201 to 1203 having different thicknesses opposite to the insulating film 1200 are flattened. The glass substrate 1205 is bonded to the insulating film 1204 and is the outermost surface of the light emitting device. In the case of a monochrome light emitting device, the color filters 1201 to 1203 may not be provided.

（実施例５）
本実施例の発光装置について、図９と図１０を用いて説明する。本実施例は、外光減衰領域を有する。以下、実施例３と異なる構成を中心に説明する。 (Example 5)
The light emitting device of this embodiment will be described with reference to FIGS. 9 and 10. This embodiment has an outside light attenuation region. Hereinafter, the configuration different from that of the third embodiment will be mainly described.

図９は、本実施例の発光装置９００の模式図である。図９は、図５（ａ）と対応した図面である。図９における図５（ａ）との差異は、発光装置９００が更に別の検査画素領域１０２を有する点と、外光減衰領域９０１と有する点である。Ｘ方向において、別の検査画素領域１０２と、発光画素領域１０１と、検査画素領域１０２とがこの順に配されている。検査画素領域１０２は、このように任意の位置に配置可能であり、Ｘ軸に沿って配置することもできる。 FIG. 9 is a schematic view of the light emitting device 900 of this embodiment. FIG. 9 is a drawing corresponding to FIG. The difference from FIG. 5A in FIG. 9 is that the light emitting device 900 further includes another inspection pixel region 102 and an outside light attenuation region 901. In the X direction, another inspection pixel region 102, a light emitting pixel region 101, and an inspection pixel region 102 are arranged in this order. The inspection pixel region 102 can be arranged at any position as described above, and can also be arranged along the X axis.

外光減衰領域９０１は、ダミー画素領域５０１を囲むように配されている。外光減衰領域９０１は、内縁９０２と外縁９０３とを有する枠状の形状を有する。外光減衰領域９０１は、ダミー画素領域５０１の一部、または全部と重畳している。外光減衰領域９０１は、垂直駆動回路１０４や水平駆動回路１０５の一部、または全部と重畳している。 The external light attenuation region 901 is arranged so as to surround the dummy pixel region 501. The outside light attenuation region 901 has a frame-like shape having an inner edge 902 and an outer edge 903. The external light attenuation region 901 overlaps with a part or the whole of the dummy pixel region 501. The outside light attenuation region 901 overlaps with part or all of the vertical drive circuit 104 and the horizontal drive circuit 105.

図１０は、図９のＣＤ線の断面模式図である。図１０は図６と類似した断面模式図である。図１０は、ダミー画素領域５０１に配された水平駆動回路１０５のＮ型のトランジスタが垂直駆動回路１０４のＮ型トランジスタである点と、外光減衰領域９０１まで示されている点と、カラーフィルタ１２０１〜１２０３が記載されている点で図６と異なる。図１０の発光画素２０１、検査画素２０２、ダミー画素２０３の面Ｐ１から面Ｐ４までの構造は、図６のそれらと等しいため説明を省略する。等しいため説明を省略する。 FIG. 10 is a schematic sectional view taken along the line CD in FIG. FIG. 10 is a schematic sectional view similar to FIG. FIG. 10 shows that the N-type transistor of the horizontal drive circuit 105 arranged in the dummy pixel region 501 is the N-type transistor of the vertical drive circuit 104, that the external light attenuation region 901 is shown, and that the color filter is used. 6 in that 1201 to 1203 are described. Since the structures of the light emitting pixel 201, the inspection pixel 202, and the dummy pixel 203 from the surface P1 to the surface P4 in FIG. 10 are the same as those in FIG. 6, description thereof will be omitted. Since they are the same, description will be omitted.

図１０において、発光画素領域１０１と、検査画素領域１０２と、ダミー画素領域１０３には、３色のカラーフィルタが配されている。図１０では、発光画素２０１は緑のカラーフィルタ１２０１が配され、検査画素２０２は赤のカラーフィルタ１２０２が配され、ダミー画素２０３は青のカラーフィルタ１２０３が配されている。図１０では、各画素領域には１色のカラーフィルタのみが示されているが、発光画素領域１０１と検査画素領域１０２の画素には、それぞれ赤、緑、青のカラーフィルタが配されている。ダミー画素領域１０３においても、同様に赤、緑、青のカラーフィルタが配されている。ダミー画素領域１０３に同様にカラーフィルを配することで、検査画素領域１０２のカラーフィルタのパターンが発光画素領域１０１と同等の条件で形成される。従って、検査の精度が向上する。 In FIG. 10, color filters of three colors are arranged in the light emitting pixel area 101, the inspection pixel area 102, and the dummy pixel area 103. In FIG. 10, the light emitting pixel 201 is provided with a green color filter 1201, the inspection pixel 202 is provided with a red color filter 1202, and the dummy pixel 203 is provided with a blue color filter 1203. In FIG. 10, only one color filter is shown in each pixel area, but red, green, and blue color filters are arranged in the pixels of the light emitting pixel area 101 and the inspection pixel area 102, respectively. .. Also in the dummy pixel region 103, red, green, and blue color filters are similarly arranged. By similarly disposing the color fill in the dummy pixel region 103, the color filter pattern of the inspection pixel region 102 is formed under the same condition as that of the light emitting pixel region 101. Therefore, the accuracy of inspection is improved.

そして、ダミー画素５０２には緑のカラーフィルタ１２０１が配され、垂直駆動回路１０４が重畳したダミー画素５０２には赤のカラーフィルタ１２０２が配されている。ダミー画素領域５０１には、カラーフィルタが配されていなくてもよいが、少なくとも１色のカラーフィルタが配することで、迷光を低減することができる。本実施例では、ダミー画素領域５０１には赤、緑、青のカラーフィルタが配されている。 A green color filter 1201 is arranged in the dummy pixel 502, and a red color filter 1202 is arranged in the dummy pixel 502 overlapped with the vertical drive circuit 104. The dummy pixel region 501 may not be provided with a color filter, but by providing at least one color filter, stray light can be reduced. In this embodiment, red, green, and blue color filters are arranged in the dummy pixel region 501.

外光減衰領域９０１では、発光素子３０１の第１電極１００１が配されていない。そして、外光減衰領域９０１には、単色、例えば、青のカラーフィルタ１２０３が配されている。このような構成によって、外光を減衰し、第１電極１００１が無くても、光電流を抑制することが可能となる。また、外光減衰領域９０１が有するカラーフィルタ１２０３は、他の色であっても良い。 In the outside light attenuation region 901, the first electrode 1001 of the light emitting element 301 is not arranged. A color filter 1203 of a single color, for example, blue is arranged in the outside light attenuation region 901. With such a configuration, it is possible to attenuate the external light and suppress the photocurrent without the first electrode 1001. Further, the color filter 1203 included in the outside light attenuation region 901 may have another color.

（実施例６）
本実施例では、実施例１〜５にて説明してきた発光装置の用途について説明する。本実施例の発光装置は、表示装置としてはもちろん、照明装置や液晶表示装置の光源や、撮像システムや電子機器や移動体などの表示部として用いることができる。移動体とは、自動車、船舶、航空機、ドローン等であってよい。また、本実施例の発光装置は、エリアＣＣＤ、リニアＣＣＤ、メモリーカード等からの画像情報を入力する画像入力部を有し、入力された情報を処理する情報処理部を有し、入力された画像を表示部に表示する画像情報処理装置でもよい。また、表示部は、発光装置とともにタッチパネル機能を有していてもよい。このタッチパネル機能の駆動方式は、赤外線方式でも、静電容量方式でも、抵抗膜方式であっても、電磁誘導方式であってもよく、特に限定されない。 (Example 6)
In this example, applications of the light emitting device described in Examples 1 to 5 will be described. The light emitting device of this embodiment can be used not only as a display device but also as a light source of a lighting device or a liquid crystal display device, or a display unit of an imaging system, an electronic device, a moving body, or the like. The moving body may be an automobile, a ship, an aircraft, a drone, or the like. In addition, the light emitting device of this embodiment has an image input unit for inputting image information from an area CCD, a linear CCD, a memory card, etc., and an information processing unit for processing the input information. An image information processing apparatus that displays an image on the display unit may be used. In addition, the display unit may have a touch panel function together with the light emitting device. The drive system of the touch panel function may be an infrared system, an electrostatic capacity system, a resistive film system, or an electromagnetic induction system, and is not particularly limited.

図１１（ａ）は、本実施例に係る表示システムの一例を表す模式図である。表示システム２０００は、上部カバー２００１と、下部カバー２００９と、の間に、タッチパネル２００３、表示パネル２００５、フレーム２００６、回路基板２００７、バッテリー２００８、を有してよい。本実施例の発光装置は表示パネル２００５に相当する。タッチパネル２００３および表示パネル２００５は、フレキシブルプリント回路ＦＰＣ２００２、２００４が接続されている。回路基板２００７は、プリント基板であり、トランジスタがプリントされている。バッテリー２００８は、表示システムが携帯機器でなければ、設けなくてよいし、携帯機器であっても、この位置に設ける必要はない。 FIG. 11A is a schematic diagram showing an example of the display system according to the present embodiment. The display system 2000 may include a touch panel 2003, a display panel 2005, a frame 2006, a circuit board 2007, and a battery 2008 between the upper cover 2001 and the lower cover 2009. The light emitting device of this embodiment corresponds to the display panel 2005. Flexible touch circuits FPC 2002 and 2004 are connected to the touch panel 2003 and the display panel 2005. The circuit board 2007 is a printed board on which transistors are printed. The battery 2008 need not be provided unless the display system is a portable device, and even if it is a portable device, it need not be provided at this position.

本実施例に係る発光装置は、電子機器の表示部に用いられてもよい。その際には、表示機能と操作機能との双方を有してもよい。電子機器としては、スマートフォン等の携帯電話、タブレット、ヘッドマウントディスプレイ等が挙げられる。図１１（ｂ）は、本実施例に係る電子機器の一例を表す模式図である。電子機器２１００は、表示部２１０１と、操作部２１０２と、筐体２１０３を有する。本実施例の発光装置は表示部２１０１として適用できる。筐体２１０３には、回路、当該回路を有するプリント基板、バッテリー、通信部、を有してよい。操作部２１０２は、ボタンであってもよいし、タッチパネル方式の反応部であってもよい。操作部は、指紋を認識してロックの解除等を行う、生体認識部であってもよい。通信部を有する電子機器は通信機器ということもできる。携帯電話等であれば、携帯機器ということもできる。 The light emitting device according to this example may be used in a display unit of an electronic device. In that case, you may have both a display function and an operation function. Examples of electronic devices include mobile phones such as smartphones, tablets, and head-mounted displays. FIG. 11B is a schematic diagram illustrating an example of the electronic device according to the present embodiment. The electronic device 2100 includes a display portion 2101, an operation portion 2102, and a housing 2103. The light emitting device of this embodiment can be applied as the display portion 2101. The housing 2103 may include a circuit, a printed circuit board including the circuit, a battery, and a communication portion. The operation unit 2102 may be a button or a touch panel type reaction unit. The operation unit may be a biometric recognition unit that recognizes a fingerprint and unlocks the lock. The electronic device having the communication unit can also be referred to as a communication device. If it is a mobile phone or the like, it can be called a mobile device.

発光装置は、複数のレンズを有する光学部と、当該光学部を通過した光を受光する撮像装置とを有する撮像システムの表示部に用いられてよい。撮像システムは、撮像装置が取得した情報を表示する表示部を有してよい。また、表示部は、撮像システムの外部に露出した表示部であっても、ファインダ内に配置された表示部であってもよい。撮像システムは、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラであってよい。図１２（ａ）を用いて説明する。 The light emitting device may be used as a display unit of an imaging system including an optical unit having a plurality of lenses and an imaging device that receives light that has passed through the optical unit. The imaging system may include a display unit that displays information acquired by the imaging device. Further, the display unit may be a display unit exposed to the outside of the imaging system or a display unit arranged in the finder. The imaging system may be a digital camera or a digital video camera. This will be described with reference to FIG.

図１２（ａ）は、撮像システムの一例を表す模式図である。撮像システム２２００は、ビューファインダー２２０１、背面ディスプレイ２２０２、筐体２２０３、操作部２２０４を有してよい。ビューファインダー２２０１は、本実施例の表示装置が適用可能である。その場合、発光装置は、撮像する画像のみならず、環境情報、撮像指示等を表示してよい。環境情報には、外光の強度、外光の向き、被写体の動く速度、被写体が遮蔽物に遮蔽される可能性等であってよい。撮像システム２２００は、不図示の光学部を有する。光学部は複数のレンズを有し、筐体２２０３内に収容されている撮像素子に結像する。複数のレンズは、その相対位置を調整することで、焦点を調整することができる。この操作を自動で行うこともできる。 FIG. 12A is a schematic diagram illustrating an example of the imaging system. The imaging system 2200 may include a viewfinder 2201, a rear display 2202, a housing 2203, and an operation unit 2204. The display device of this embodiment can be applied to the viewfinder 2201. In that case, the light emitting device may display not only the image to be captured but also environmental information, an image capturing instruction, and the like. The environmental information may include the intensity of external light, the direction of external light, the moving speed of the subject, the possibility of the subject being shielded by a shield, and the like. The imaging system 2200 has an optical unit (not shown). The optical unit has a plurality of lenses and forms an image on the image pickup element housed in the housing 2203. The focus of the plurality of lenses can be adjusted by adjusting their relative positions. This operation can be performed automatically.

図１２（ｂ）は、本実施例に係る移動体の一例を表す模式図である。移動体としては自動車を例とする。当該自動車は灯具の一例であるテールランプを有する。自動車２３００は、テールランプ２３０１を有し、ブレーキ操作等を行った際に、テールランプを点灯する形態であってよい。 FIG. 12B is a schematic diagram showing an example of the moving body according to the present embodiment. An example of the moving body is a car. The automobile has a tail lamp which is an example of a lamp. The automobile 2300 may have a tail lamp 2301 and may be configured to light the tail lamp when a brake operation or the like is performed.

テールランプ２３０１は、本実施例の発光装置であってもよい。テールランプは、発光装置を保護する保護部材を有してよい。保護部材はある程度高い強度を有し、透明であれば材料は問わないが、ポリカーボネート等で構成されることが好ましい。ポリカーボネートにフランジカルボン酸誘導体、アクリロニトリル誘導体等を混ぜてよい。 The tail lamp 2301 may be the light emitting device of this embodiment. The tail lamp may have a protection member that protects the light emitting device. The protective member has a certain degree of high strength and may be made of any material as long as it is transparent. You may mix a furandicarboxylic acid derivative, an acrylonitrile derivative, etc. with polycarbonate.

自動車２３００は、車体２３０３、それに取り付けられている窓２３０２を有してよい。窓は、自動車の前後を確認するための窓でなければ、透明なディスプレイであってもよい。当該透明なディスプレイとして、本実施例の発光装置を適用してもよい。この場合、発光素子が有する電極等の構成材料は透明な部材で構成される。また、自動車２３００の内部には、自動車２３００の状態や自動車２３００の周囲の状況を示す表示部が設けられていてもよい。表示部には、本実施例の発光装置が適用可能である。 The automobile 2300 may have a vehicle body 2303 and a window 2302 attached to it. The window may be a transparent display as long as it is not a window for checking the front and rear of the vehicle. The light emitting device of this embodiment may be applied as the transparent display. In this case, the constituent material of the light emitting element, such as the electrode, is composed of a transparent member. Further, inside the automobile 2300, a display unit showing the state of the automobile 2300 and the situation around the automobile 2300 may be provided. The light emitting device of this embodiment can be applied to the display unit.

上述の実施例において、発光装置は、単結晶シリコンウエハを用いたトランジスタの場合について説明を行ったが、それには限定されず、基板の絶縁性表面上に活性層を有する薄膜トランジスタでもよい。半導体基板として、単結晶シリコン、アモルファスシリコン、微結晶シリコンなどの非単結晶シリコン、インジウム亜鉛酸化物、インジウムガリウム亜鉛酸化物等の非単結晶酸化物半導体が挙げられる。尚、トランジスタは、薄膜トランジスタであってもよく、薄膜トランジスタはＴＦＴ素子とも呼ばれる。 In the above embodiments, the light emitting device is described as a transistor using a single crystal silicon wafer, but the invention is not limited to this, and a thin film transistor having an active layer on the insulating surface of the substrate may be used. Examples of the semiconductor substrate include non-single crystal silicon such as single crystal silicon, amorphous silicon, and microcrystalline silicon, and non-single crystal oxide semiconductors such as indium zinc oxide and indium gallium zinc oxide. The transistor may be a thin film transistor, and the thin film transistor is also called a TFT element.

なお、上記実施例において説明した単位セルのことを副画素と称する場合もありうる。また、平面視において、発光素子が有する第１電極の外縁が示す形状と、基板に配されたトランジスタのレイアウトの外縁が示す形状が一致する場合について説明してきたが、それに限定されず、本発明は適用可能である。 The unit cell described in the above embodiment may be referred to as a subpixel. Further, although the case where the shape indicated by the outer edge of the first electrode included in the light emitting element and the shape indicated by the outer edge of the layout of the transistors arranged on the substrate match with each other in a plan view has been described, the present invention is not limited thereto. Is applicable.

以上のように、本発明によれば、検査の精度が向上し、より高性能な発光装置を提供することが可能となる。 As described above, according to the present invention, it is possible to improve the accuracy of inspection and provide a higher performance light emitting device.

１００ 発光装置
１０１ 発光画素領域
１０２ 検査画素領域
１０３ ダミー画素領域
１０４ 垂直駆動回路
１０５ 水平駆動回路
ＰＡ 画素領域
ＤＡ 駆動回路領域 100 light emitting device 101 light emitting pixel area 102 inspection pixel area 103 dummy pixel area 104 vertical drive circuit 105 horizontal drive circuit PA pixel area DA drive circuit area

Claims (21)

少なくとも１つの発光素子をそれぞれが含む複数の画素が配され、
前記複数の画素は、発光または非発光が選択可能である発光画素と、発光または非発光が選択可能である検査画素と、前記検査画素の隣に配され、前記検査画素が発光動作を行うときに非発光動作を行うダミー画素とを有することを特徴とする発光装置。 A plurality of pixels each of which includes at least one light emitting element,
The plurality of pixels are arranged next to the inspection pixel, a light-emitting pixel capable of selecting emission or non-emission, an inspection pixel capable of selecting emission or non-emission, and when the inspection pixel performs an emission operation. And a dummy pixel for performing non-light emitting operation. 前記発光素子のそれぞれは、第１電極と、第２電極と、有機材料を含む発光部とを有することを特徴とする請求項１に記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 1, wherein each of the light emitting elements includes a first electrode, a second electrode, and a light emitting portion containing an organic material. 前記発光画素の前記発光素子の前記第１電極は、前記発光素子が発光する第１電位と前記発光素子が非発光となる第２電位を含む第１制御信号が供給され、
前記検査画素の前記発光素子の前記第１電極は、前記発光素子が発光する第３電位と前記発光素子が非発光となる第４電位を含む第２制御信号が供給され、
前記ダミー画素の前記発光素子の前記第１電極は、前記発光素子が非発光となる第５電位と電気的に接続される、前記ダミー画素の前記発光素子の前記第２電極と電気的に接続される、あるいはフローティング状態であることを特徴とする請求項２に記載の発光装置。 A first control signal including a first potential at which the light emitting element emits light and a second potential at which the light emitting element does not emit light is supplied to the first electrode of the light emitting element of the light emitting pixel,
A second control signal including a third potential at which the light emitting element emits light and a fourth potential at which the light emitting element does not emit light is supplied to the first electrode of the light emitting element of the inspection pixel,
The first electrode of the light emitting element of the dummy pixel is electrically connected to the second electrode of the light emitting element of the dummy pixel, which is electrically connected to a fifth potential at which the light emitting element does not emit light. The light emitting device according to claim 2, wherein the light emitting device is in a closed state or in a floating state. 前記検査画素の前記第１電極は、前記第２電極とは別の電位供給部のノードに電気的に接続され、
前記ダミー画素の前記第１電極は、前記第２電極と同一のノードに電気的に接続されることを特徴とする請求項３に記載の発光装置。 The first electrode of the inspection pixel is electrically connected to a node of a potential supply unit different from the second electrode,
The light emitting device of claim 3, wherein the first electrode of the dummy pixel is electrically connected to the same node as the second electrode. 前記複数の画素のそれぞれは、第１トランジスタと、前記第１トランジスタを介して輝度信号を供給する回路に電気的に接続されるゲートを有する第２トランジスタと、を有し、
前記検査画素は、前記第２トランジスタと前記第１電極とが電気的に接続し、
前記ダミー画素は、前記第２トランジスタと前記第１電極とが電気的に接続されないことを特徴とする請求項２に記載の発光装置。 Each of the plurality of pixels includes a first transistor, and a second transistor having a gate electrically connected to a circuit that supplies a luminance signal via the first transistor,
In the inspection pixel, the second transistor and the first electrode are electrically connected,
The light emitting device of claim 2, wherein the second pixel and the first electrode of the dummy pixel are not electrically connected to each other. 前記発光画素が有するトランジスタの数と、前記検査画素が有するトランジスタの数と、前記ダミー画素が有するトランジスタの数が等しいことを特徴とする請求項５に記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 5, wherein the number of transistors included in the light emitting pixel is equal to the number of transistors included in the inspection pixel, and the number of transistors included in the dummy pixel is equal. 前記検査画素は、前記発光画素と前記ダミー画素との間に配されていることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の発光装置。 7. The light emitting device according to claim 1, wherein the inspection pixel is arranged between the light emitting pixel and the dummy pixel. 前記複数の画素のそれぞれは、複数の前記発光素子を有し、
前記複数の発光画素のそれぞれは、互いに異なる色の複数のカラーフィルタを有していることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の発光装置。 Each of the plurality of pixels has a plurality of the light emitting elements,
8. The light emitting device according to claim 1, wherein each of the plurality of light emitting pixels has a plurality of color filters of different colors. 複数の前記発光画素は、第１方向と前記第１方向に交わる第２方向とに沿って配されており、
複数の前記検査画素は、少なくとも前記第１方向または前記第２方向に沿って配されており、
複数の前記ダミー画素は、少なくとも前記複数の検査画素に沿って配されていることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の発光装置。 The plurality of light emitting pixels are arranged along a first direction and a second direction intersecting with the first direction,
A plurality of the inspection pixels are arranged at least along the first direction or the second direction,
9. The light emitting device according to claim 1, wherein the plurality of dummy pixels are arranged along at least the plurality of inspection pixels. 前記複数の画素は、前記検査画素が発光動作を行う際に非発光動作を行うことが可能な第２ダミー画素を有し、
前記ダミー画素は、前記第２ダミー画素と前記検査画素との間に位置することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の発光装置。 Each of the plurality of pixels has a second dummy pixel capable of performing a non-light emitting operation when the inspection pixel performs a light emitting operation,
10. The light emitting device according to claim 1, wherein the dummy pixel is located between the second dummy pixel and the inspection pixel. 前記ダミー画素と前記第２ダミー画素の前記発光素子は、第１電極と、第２電極と、発光部とを有し、
前記ダミー画素の前記発光素子の前記第１電極は、前記発光素子が非発光となる第５電位と電気的に接続され、
前記第２ダミー画素の前記発光素子の前記第１電極は、フローティング状態であることを特徴とする請求項１０に記載の発光装置。 The light emitting elements of the dummy pixel and the second dummy pixel have a first electrode, a second electrode, and a light emitting portion,
The first electrode of the light emitting element of the dummy pixel is electrically connected to a fifth potential at which the light emitting element does not emit light,
The light emitting device according to claim 10, wherein the first electrode of the light emitting element of the second dummy pixel is in a floating state. 前記発光装置は、前記発光画素を駆動するための駆動回路を有し、
複数の前記第２ダミー画素が配された第２ダミー画素領域の少なくとも一部と、前記駆動回路の少なくとも一部とが重畳することを特徴とする請求項１０または１１に記載の発光装置。 The light emitting device has a drive circuit for driving the light emitting pixel,
12. The light emitting device according to claim 10, wherein at least a part of a second dummy pixel area in which a plurality of the second dummy pixels are arranged and at least a part of the drive circuit overlap each other. 複数の前記発光画素が配された発光画素領域と、複数の前記検査画素が配された検査画素領域のそれぞれには、複数の色のカラーフィルタが配されており、
複数の前記第２ダミー画素が配された第２ダミー画素領域には、単色のカラーフィルタが配されていることを特徴とする請求項１０乃至１２のいずれか１項に記載の発光装置。 Color filters of a plurality of colors are arranged in each of the light emitting pixel area in which the plurality of light emitting pixels are arranged and the inspection pixel area in which the plurality of inspection pixels are arranged,
13. The light emitting device according to claim 10, wherein a monochromatic color filter is arranged in the second dummy pixel region in which the plurality of second dummy pixels are arranged. 前記複数の画素は、前記検査画素とは異なるタイミングで非発光動作を行う第２ダミー画素を有し、
複数の前記第２ダミー画素が配された第２ダミー画素領域は、複数の前記発光画素が配された発光画素領域を囲み、
複数の前記ダミー画素が配されたダミー画素領域は、前記第２ダミー画素領域と前記発光画素領域の間に配されていることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の発光装置。 Each of the plurality of pixels has a second dummy pixel that performs a non-light emitting operation at a timing different from that of the inspection pixel,
A second dummy pixel area in which the plurality of second dummy pixels are arranged surrounds a light emitting pixel area in which the plurality of light emitting pixels are arranged;
10. The dummy pixel area in which a plurality of the dummy pixels are arranged is arranged between the second dummy pixel area and the light emitting pixel area, according to any one of claims 1 to 9. Light emitting device. 前記発光画素と前記検査画素との間に、前記検査画素が発光動作を行う際に非発光動作を行うことが可能な第３ダミー画素が配されていることを特徴とする請求項１乃至１４のいずれか１項に記載の発光装置。 The third dummy pixel capable of performing a non-light emitting operation when the inspection pixel performs a light emitting operation is arranged between the light emitting pixel and the inspection pixel. The light-emitting device according to claim 1. 前記複数の画素は、前記検査画素が発光動作を行う際に非発光動作を行うことが可能な第２ダミー画素および第３ダミー画素を有し、
前記ダミー画素は、前記第２ダミー画素と前記検査画素との間に位置し、
前記第３ダミー画素は、前記発光画素と前記検査画素との間に位置し、
前記ダミー画素と前記第２ダミー画素と前記第３ダミー画素の前記発光素子は、第１電極と、第２電極と、発光部とを有し、
前記ダミー画素と前記第３ダミー画素の前記発光素子の前記第１電極は、前記発光素子が非発光となる第５電位と電気的に接続され、
前記第２ダミー画素の前記発光素子の前記第１電極は、フローティング状態であることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の発光装置。 Each of the plurality of pixels includes a second dummy pixel and a third dummy pixel capable of performing a non-light emitting operation when the inspection pixel performs a light emitting operation,
The dummy pixel is located between the second dummy pixel and the inspection pixel,
The third dummy pixel is located between the light emitting pixel and the inspection pixel,
The light emitting elements of the dummy pixel, the second dummy pixel, and the third dummy pixel have a first electrode, a second electrode, and a light emitting portion,
The first electrodes of the light emitting elements of the dummy pixel and the third dummy pixel are electrically connected to a fifth potential at which the light emitting element does not emit light,
10. The light emitting device according to claim 1, wherein the first electrode of the light emitting element of the second dummy pixel is in a floating state. 複数の画素が配され、
前記複数の画素のそれぞれは、第１電極と第２電極と発光部を含む発光素子と、第１トランジスタと有し、
前記第１電極が前記第１トランジスタに接続された前記発光素子を含む第１画素と、
前記第１電極が前記第２電極とは異なる電位供給部に接続された前記発光素子を含む第２画素と、
前記第２画素の隣にあって、前記第１電極が前記第２電極と同一のノードに接続された前記発光素子を含む第３画素とを有する発光装置。 Multiple pixels are arranged,
Each of the plurality of pixels has a first electrode, a second electrode, a light emitting element including a light emitting portion, and a first transistor,
A first pixel including the light emitting element in which the first electrode is connected to the first transistor;
A second pixel including the light emitting element in which the first electrode is connected to a potential supply section different from the second electrode;
A light emitting device having a third pixel including the light emitting element, which is adjacent to the second pixel and in which the first electrode is connected to the same node as the second electrode. 請求項１乃至１７のいずれか１項に記載の発光装置と、
前記発光装置が配された筐体と、を有する表示システム。 A light emitting device according to any one of claims 1 to 17,
A display system comprising: a housing in which the light emitting device is arranged. 請求項１乃至１７のいずれか１項に記載の発光装置と、
レンズを有する光学部と、
前記光学部を通過した光を受光する撮像装置と、を有する撮像システムであって、
前記発光装置は、前記撮像装置で取得した情報に基づく画像を表示することを特徴とする撮像システム。 A light emitting device according to any one of claims 1 to 17,
An optical section having a lens,
An imaging system comprising: an imaging device that receives light that has passed through the optical unit,
The imaging system, wherein the light emitting device displays an image based on the information acquired by the imaging device. 請求項１乃至１７のいずれか１項に記載の発光装置と、
筐体と、
外部と通信する通信部と、を有し、
前記発光装置は、前記通信部からの信号に基づく画像を表示することを特徴とする電子機器。 A light emitting device according to any one of claims 1 to 17,
Housing and
A communication unit that communicates with the outside,
The electronic device, wherein the light emitting device displays an image based on a signal from the communication unit. 請求項１乃至１７のいずれか１項に記載の発光装置と、
移動体を制御する制御装置と、を有し、
前記発光装置は、前記制御装置から伝達された情報を表示することを特徴とする移動体。 A light emitting device according to any one of claims 1 to 17,
A control device for controlling the moving body,
The moving body, wherein the light emitting device displays the information transmitted from the control device.
JP2018222798A 2018-11-28 2018-11-28 Light emitting device, display system, imaging system, electronic apparatus, and movable body Pending JP2020086245A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018222798A JP2020086245A (en) 2018-11-28 2018-11-28 Light emitting device, display system, imaging system, electronic apparatus, and movable body

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018222798A JP2020086245A (en) 2018-11-28 2018-11-28 Light emitting device, display system, imaging system, electronic apparatus, and movable body

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2020086245A true JP2020086245A (en) 2020-06-04

Family

ID=70907832

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018222798A Pending JP2020086245A (en) 2018-11-28 2018-11-28 Light emitting device, display system, imaging system, electronic apparatus, and movable body

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2020086245A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9786728B2 (en) Organic light emitting display device
US11087680B2 (en) Display device, image capturing device, illumination device, mobile body, and electronic apparatus
US11282453B2 (en) Display device and electronic device
US11527591B2 (en) Light emitting device for display device miniaturizing pixels and suppressing degradation in image quality
US11889722B2 (en) Display device and electronic apparatus with contact electrode
CN111223450B (en) Display device, image capture device, illumination device, moving object, and electronic apparatus
CN114930544A (en) Display panel, display device and terminal equipment
US11527595B2 (en) Light emitting apparatus, imaging apparatus, electronic apparatus, illumination apparatus, and mobile apparatus
US11737329B2 (en) Display apparatus having column spacer between emission panel and color panel
WO2021195974A1 (en) Display substrate and testing method therefor
US11683970B2 (en) Display device
US20230012412A1 (en) Display substrate and method of manufacturing the same, and display device
JP2020086245A (en) Light emitting device, display system, imaging system, electronic apparatus, and movable body
CN111954900B (en) Display device and electronic device
JP2023032244A (en) Display apparatus, photoelectric conversion apparatus, electronic apparatus, illumination apparatus, moving body, and wearable device
KR102419781B1 (en) Display apparatus and imaging apparatus
CN114651331A (en) Display substrate and display device
JP7475413B2 (en) Display device and display panel
US20230047907A1 (en) Light emitting device, photoelectric conversion device, electronic equipment, illumination device, and moving body
US20230389373A1 (en) Light emitting device, image capturing device, electronic apparatus, and moving body
JP2023074474A (en) Display device and display panel
JP2023016484A (en) Display and electronic apparatus
CN117652225A (en) Display panel and display device
CN116386539A (en) Display device
CN117915725A (en) Display device and display panel