JP2020075129A - Magnetic resonance imaging apparatus - Google Patents

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Abstract

To determine an interlock value related to an SAR in accordance with a peripheral temperature.SOLUTION: A magnetic resonance imaging apparatus includes an acquisition unit and a determination unit. The acquisition unit acquires a peripheral temperature related to magnetic resonance imaging inspection. The determination unit determines an interlock value of an SAR (Specific Absorption Rate) in accordance with peripheral temperature.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明の実施形態は、磁気共鳴イメージング装置に関する。   Embodiments of the present invention relate to a magnetic resonance imaging apparatus.

磁気共鳴イメージング(Magnetic Resonance Imaging:MRI)装置は、磁気共鳴画像を得るため、高周波磁場であるRF(Radio Frequency)パルスを被検体の撮影部位に照射する。このRFパルスは、被検体の生体組織に吸収され、被検体の体温を上昇させる。被検体の生体組織に吸収されるRFパルスのエネルギーの指標はSAR(Specific Absorption Rate:比吸収率)と呼ばれる。   A magnetic resonance imaging (MRI) apparatus irradiates an imaging site of a subject with an RF (Radio Frequency) pulse, which is a high-frequency magnetic field, in order to obtain a magnetic resonance image. The RF pulse is absorbed by the living tissue of the subject and raises the body temperature of the subject. The index of the energy of the RF pulse absorbed by the biological tissue of the subject is called SAR (Specific Absorption Rate).

SARの値は、IEC(International Electrotechnical Commission)による規格などによって定められた上限値として制限されている。よって、従来のMRI装置では、周辺温度にかかわらず、SARの上限値よりも十分に低いインタロック値が設定されている。   The value of SAR is limited as an upper limit value defined by a standard based on IEC (International Electrotechnical Commission). Therefore, in the conventional MRI apparatus, an interlock value that is sufficiently lower than the upper limit value of SAR is set regardless of the ambient temperature.

IEC 60601−2−33:Medical electrical equipment − Part 2−33: Particular requirements for the basic safety and essential performance of magnetic resonance equipment for medical diagnosisIEC 60601-2-33: Medical electrical equipment-Part 2-33: Partial requirement for the basics of the affirmation of the perfume ancessssssss.

本発明が解決しようとする課題は、周辺温度に応じてSARに関するインタロック値を決定することである。   The problem to be solved by the present invention is to determine the interlock value for the SAR depending on the ambient temperature.

実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置は、取得部と、決定部とを備える。取得部は、磁気共鳴イメージング検査に関する周辺温度を取得する。決定部は、周辺温度に応じてSARのインタロック値を決定する。   The magnetic resonance imaging apparatus according to the embodiment includes an acquisition unit and a determination unit. The acquisition unit acquires the ambient temperature related to the magnetic resonance imaging examination. The determination unit determines the SAR interlock value according to the ambient temperature.

図1は、第1の実施形態に係るMRI装置の構成例を示す図。FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of an MRI apparatus according to the first embodiment. 図2は、第1の実施形態において、温度とインタロック値との関係を例示するグラフ。FIG. 2 is a graph illustrating the relationship between temperature and interlock value in the first embodiment. 図3は、第1の実施形態において、温度とインタロック値との関係を例示するグラフ。FIG. 3 is a graph illustrating the relationship between the temperature and the interlock value in the first embodiment. 図4は、第1の実施形態における処理回路にて実行される処理を例示するフローチャート。FIG. 4 is a flowchart illustrating processing executed by the processing circuit according to the first embodiment. 図5は、第1の実施形態における処理回路にて実行される別の処理を例示するフローチャート。FIG. 5 is a flowchart illustrating another process executed by the processing circuit according to the first embodiment. 図6は、第2の実施形態に係るMRI装置の処理回路の構成例を示す図。FIG. 6 is a diagram showing a configuration example of a processing circuit of the MRI apparatus according to the second embodiment. 図7は、第2の実施形態における処理回路にて実行される処理を例示するフローチャート。FIG. 7 is a flowchart illustrating the processing executed by the processing circuit according to the second embodiment.

以下、図面を参照しながら、磁気共鳴イメージング装置の実施形態について、詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of a magnetic resonance imaging apparatus will be described in detail with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係るMRI装置の構成例を示す図である。例えば、図1に示すように、一実施形態に係るMRI装置100は、静磁場磁石101と、傾斜磁場コイル103と、傾斜磁場電源105と、寝台107と、寝台制御回路109と、送信回路113と、送信コイル115と、受信コイル117と、受信回路119と、撮像制御回路121と、インタフェース123と、ディスプレイ125と、記憶装置127と、温度センサ129と、処理回路131とを備える。尚、MRI装置100は、静磁場磁石101と傾斜磁場コイル103との間に、中空の円筒形状のシムコイルを有していてもよい。
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of the MRI apparatus according to the first embodiment. For example, as shown in FIG. 1, an MRI apparatus 100 according to an embodiment includes a static magnetic field magnet 101, a gradient magnetic field coil 103, a gradient magnetic field power supply 105, a bed 107, a bed control circuit 109, and a transmission circuit 113. The transmitter coil 115, the receiver coil 117, the receiver circuit 119, the imaging control circuit 121, the interface 123, the display 125, the storage device 127, the temperature sensor 129, and the processing circuit 131. The MRI apparatus 100 may have a hollow cylindrical shim coil between the static magnetic field magnet 101 and the gradient magnetic field coil 103.

静磁場磁石101は、例えば中空の略円筒形状に形成された磁石である。静磁場磁石101は、被検体Pが挿入される空間であるボア111に一様な静磁場を発生する。静磁場磁石101としては、例えば、超伝導磁石などが使用される。   The static magnetic field magnet 101 is, for example, a magnet formed in a hollow, substantially cylindrical shape. The static magnetic field magnet 101 generates a uniform static magnetic field in the bore 111 which is a space into which the subject P is inserted. As the static magnetic field magnet 101, for example, a superconducting magnet or the like is used.

傾斜磁場コイル103は、例えば中空の略円筒形状に形成されたコイルである。傾斜磁場コイル103は、静磁場磁石101の内側に配置される。傾斜磁場コイル103は、互いに直交するX、Y、Zの各軸に対応する3つのコイルが組み合わされて形成される。Z軸方向は、静磁場の方向と同方向であるとする。また、Y軸方向は、鉛直方向とし、X軸方向は、Z軸およびY軸に垂直な方向とする。傾斜磁場コイル103は、静磁場に重畳させる傾斜磁場を発生する。具体的には、傾斜磁場コイル103における3つのコイルは、傾斜磁場電源105から個別に電流供給を受けて、X、Y、Zの各軸に沿って磁場強度が変化する傾斜磁場を発生させる。   The gradient magnetic field coil 103 is, for example, a coil formed in a hollow and substantially cylindrical shape. The gradient magnetic field coil 103 is arranged inside the static magnetic field magnet 101. The gradient magnetic field coil 103 is formed by combining three coils corresponding to the X, Y, and Z axes that are orthogonal to each other. The Z-axis direction is the same as the direction of the static magnetic field. The Y-axis direction is the vertical direction, and the X-axis direction is the direction perpendicular to the Z-axis and the Y-axis. The gradient magnetic field coil 103 generates a gradient magnetic field to be superimposed on the static magnetic field. Specifically, the three coils in the gradient magnetic field coil 103 are individually supplied with current from the gradient magnetic field power supply 105 to generate a gradient magnetic field whose magnetic field strength changes along each of the X, Y, and Z axes.

傾斜磁場コイル103によって発生するX、Y、Z各軸の傾斜磁場は、例えば、周波数エンコード用傾斜磁場(リードアウト傾斜磁場ともいう)、位相エンコード用傾斜磁場、およびスライス選択用傾斜磁場を形成する。周波数エンコード用傾斜磁場は、空間的位置に応じて磁気共鳴(Magnetic Resonance:以下、MRと呼ぶ)信号の周波数を変化させるために利用される。位相エンコード用傾斜磁場は、空間的位置に応じてMR信号の位相を変化させるために利用される。スライス選択用傾斜磁場は、撮像断面を決めるために利用される。   The X, Y, and Z axis gradient magnetic fields generated by the gradient magnetic field coil 103 form, for example, a frequency encoding gradient magnetic field (also referred to as a readout gradient magnetic field), a phase encoding gradient magnetic field, and a slice selection gradient magnetic field. .. The frequency encoding gradient magnetic field is used to change the frequency of a magnetic resonance (Magnetic Resonance: MR) signal according to a spatial position. The phase-encoding gradient magnetic field is used to change the phase of the MR signal according to the spatial position. The slice selection gradient magnetic field is used to determine an imaging cross section.

傾斜磁場電源105は、撮像制御回路121の制御により、傾斜磁場コイル103に電流を供給する電源装置である。   The gradient magnetic field power supply 105 is a power supply device that supplies a current to the gradient magnetic field coil 103 under the control of the imaging control circuit 121.

寝台107は、被検体Pが載置される天板107aを備えた装置である。寝台107は、寝台制御回路109による制御のもと、被検体Pが載置された天板107aを、ボア111内へ挿入する。寝台107は、例えば、長手方向が静磁場磁石101の中心軸と平行になるように、MRI装置100が設置された検査室内に設置される。検査室には、例えば電波シールドや磁気シールドが設けられることからシールドルームとも称される。   The bed 107 is a device including a top plate 107a on which the subject P is placed. Under the control of the bed control circuit 109, the bed 107 inserts the top 107a on which the subject P is placed into the bore 111. The bed 107 is installed, for example, in an examination room in which the MRI apparatus 100 is installed so that the longitudinal direction is parallel to the central axis of the static magnetic field magnet 101. Since the examination room is provided with, for example, a radio wave shield or a magnetic shield, it is also called a shield room.

寝台制御回路109は、寝台107を制御する回路である。寝台制御回路109は、インタフェース123を介したユーザの指示により寝台107を駆動することで、天板107aを長手方向および上下方向、場合によっては左右方向へ移動させる。   The bed control circuit 109 is a circuit that controls the bed 107. The couch control circuit 109 drives the couch 107 according to a user's instruction via the interface 123, thereby moving the couchtop 107a in the longitudinal direction and the vertical direction, and in some cases, the lateral direction.

送信回路113は、撮像制御回路121の制御により、ラーモア周波数などに対応する高周波パルスを送信コイル115に供給する。   The transmission circuit 113 supplies a high frequency pulse corresponding to the Larmor frequency or the like to the transmission coil 115 under the control of the imaging control circuit 121.

送信コイル115は、傾斜磁場コイル103の内側に配置されたRF(Radio Frequency)コイルである。送信コイル115は、送信回路113から高周波パルスの供給を受けて、高周波磁場を発生する。送信コイルは、例えば、全身用コイル(whole body coil:WBコイル)である。WBコイルは、送受信コイルとして使用されてもよい。   The transmission coil 115 is an RF (Radio Frequency) coil arranged inside the gradient magnetic field coil 103. The transmission coil 115 receives the high frequency pulse supplied from the transmission circuit 113 and generates a high frequency magnetic field. The transmission coil is, for example, a whole body coil (WB coil). The WB coil may be used as a transmission / reception coil.

受信コイル117は、傾斜磁場コイル103の内側に配置されたRFコイルである。受信コイル117は、高周波磁場によって被検体Pから放射されたMR信号を受信する。受信コイル117は、受信されたMR信号を受信回路119へ出力する。受信コイル117は、例えば、1以上のコイルであり、典型的には複数のコイルエレメントを有するコイルアレイである。なお、図1において送信コイル115と受信コイル117とは別個のRFコイルとして記載されているが、送信コイル115と受信コイル117とは、一体化された送受信コイルとして実施されてもよい。送受信コイルは、例えば、頭部コイルのような局所的な送受信RFコイルである。   The receiving coil 117 is an RF coil arranged inside the gradient magnetic field coil 103. The receiving coil 117 receives the MR signal emitted from the subject P by the high frequency magnetic field. The receiving coil 117 outputs the received MR signal to the receiving circuit 119. The receiving coil 117 is, for example, one or more coils, and is typically a coil array having a plurality of coil elements. Although the transmission coil 115 and the reception coil 117 are described as separate RF coils in FIG. 1, the transmission coil 115 and the reception coil 117 may be implemented as an integrated transmission / reception coil. The transmit / receive coil is, for example, a local transmit / receive RF coil such as a head coil.

受信回路119は、撮像制御回路121の制御により、受信コイル117から出力されたMR信号に基づいて、デジタル化された複素数データであるデジタルのMR信号を生成する。具体的には、受信回路119は、受信コイル117から出力されたMR信号に対して各種信号処理を施した後、各種信号処理が施されたデータに対してアナログ/デジタル(A/D(Analog to Digital))変換を実行する。受信回路119は、A/D変換されたデータを標本化(サンプリング)することにより、デジタルのMR信号(以下、MRデータと呼ぶ)を生成する。受信回路119は、生成されたMRデータを、撮像制御回路121に出力する。   Under the control of the imaging control circuit 121, the reception circuit 119 generates a digital MR signal that is digitized complex number data based on the MR signal output from the reception coil 117. Specifically, the receiving circuit 119 performs various signal processing on the MR signal output from the receiving coil 117, and then performs analog / digital (A / D (Analog) on the data subjected to various signal processing. to Digital)) Perform the conversion. The receiving circuit 119 generates a digital MR signal (hereinafter referred to as MR data) by sampling (sampling) the A / D converted data. The reception circuit 119 outputs the generated MR data to the imaging control circuit 121.

撮像制御回路121は、処理回路131から出力された撮像プロトコルに従って、傾斜磁場電源105、送信回路113および受信回路119などを制御し、被検体Pに対する撮像を行う。撮像プロトコルは、検査に応じた各種パルスシーケンスを有する。撮像プロトコルには、傾斜磁場電源105により傾斜磁場コイル103に供給される電流の大きさ、傾斜磁場電源105により電流が傾斜磁場コイル103に供給されるタイミング、送信回路113により送信コイル115に供給される高周波パルスの大きさ、送信回路113により送信コイル115に高周波パルスが供給されるタイミング、受信コイル117によりMR信号が受信されるタイミングなどが予め設定されている。撮像制御回路121は、撮像部の一例である。   The imaging control circuit 121 controls the gradient magnetic field power supply 105, the transmission circuit 113, the reception circuit 119, and the like according to the imaging protocol output from the processing circuit 131, and performs imaging on the subject P. The imaging protocol has various pulse sequences according to the examination. The imaging protocol includes the magnitude of the current supplied by the gradient magnetic field power supply 105 to the gradient magnetic field coil 103, the timing at which the gradient magnetic field power supply 105 supplies the current to the gradient magnetic field coil 103, and the transmission circuit 113 supplies the current to the transmission coil 115. The magnitude of the high frequency pulse to be supplied, the timing at which the transmission circuit 113 supplies the high frequency pulse to the transmission coil 115, the timing at which the reception coil 117 receives the MR signal, and the like are set in advance. The imaging control circuit 121 is an example of an imaging unit.

インタフェース123は、ユーザからの各種指示や情報入力を受け付ける回路を有する。インタフェース123は、例えば、マウスなどのポインティングデバイス、あるいはキーボードなどの入力デバイスに関する回路を有する。なお、インタフェース123が有する回路は、マウス、キーボードなどの物理的な操作部品に関する回路に限定されない。例えば、インタフェース123は、MRI装置100とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、受け取った電気信号を種々の回路へ出力するような電気信号の処理回路を有していてもよい。   The interface 123 has a circuit that receives various instructions and information inputs from the user. The interface 123 has a circuit related to a pointing device such as a mouse or an input device such as a keyboard, for example. The circuit included in the interface 123 is not limited to the circuit related to physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, the interface 123 receives an electric signal corresponding to an input operation from an external input device provided separately from the MRI apparatus 100, and outputs the received electric signal to various circuits. May have.

ディスプレイ125は、後述する処理回路131におけるシステム制御機能131aによる制御のもとで、画像生成機能131bにより生成された各種MR画像、撮像および画像処理に関する各種情報などを表示する。ディスプレイ125は、例えば、CRTディスプレイや液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、LEDディスプレイ、プラズマディスプレイ、または当技術分野で知られている他の任意のディスプレイ、モニタなどの表示デバイスである。   The display 125 displays various MR images generated by the image generation function 131b, various information regarding imaging and image processing, etc. under the control of the system control function 131a in the processing circuit 131 described later. The display 125 is a display device such as, for example, a CRT display, a liquid crystal display, an organic EL display, an LED display, a plasma display, or any other display known in the art, a monitor, or the like.

記憶装置127は、画像生成機能131bを介してk空間に充填されたMRデータ、画像生成機能131bにより生成された画像データなどを記憶する。記憶装置127は、各種撮像プロトコル、撮像プロトコルを規定する複数の撮像パラメータを含む撮像条件などを記憶する。撮像条件は、例えば、撮像部位およびシーケンス種などを含む。撮像部位は、例えば、頭、心臓、脊椎(例えば胸腰椎および全脊椎など)、関節(肩、膝、手および足など)である。シーケンス種は、例えば、スピンエコー(Spin Echo)法、グラディエントエコー(Gradient Echo)法、高速スピンエコー法、高速グラディエントエコー法、Echo Planar Imaging(EPI)などである。記憶装置127は、処理回路131で実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。   The storage device 127 stores the MR data filled in the k space via the image generation function 131b, the image data generated by the image generation function 131b, and the like. The storage device 127 stores various imaging protocols, imaging conditions including a plurality of imaging parameters that define the imaging protocols, and the like. The imaging conditions include, for example, an imaging site and sequence type. The imaging site is, for example, the head, the heart, the spine (for example, the thoracolumbar spine and the whole spine), and the joints (shoulders, knees, hands and feet, etc.). The sequence species are, for example, a spin echo (Spin Echo) method, a gradient echo (Gradient Echo) method, a fast spin echo method, a fast gradient echo method, and Echo Planar Imaging (EPI). The storage device 127 stores programs corresponding to various functions executed by the processing circuit 131.

また、記憶装置127は、後述するMRI検査に関する温度と、MRI装置100のインタロック値との関係を示す対応表を記憶する。インタロック値として、例えばSARの値(W/kg)が用いられる。SARの値として、例えば全身SARに関する値が用いられてもよいし、例えば頭部および身体部分などの人体の任意の部分のSARに関する値が用いられてもよい。さらに例えば、SARの値が上昇しやすい特定の位置または領域のSARに関する値が用いられてもよい。また、インタロック値として、SARに関連のある撮像パラメータ(例えば、SARの値に基づくRFパルスに関するパラメータなど)を設定するための上限値(以下、設定上限値と呼ぶ)が用いられてもよい。インタロック値が設定上限値である場合、対応表は、温度と設定上限値とが対応付けられる。尚、対応表として、ルックアップテーブル(Look Up Table)が用いられてもよい。また、記憶装置127は、対応表の代わりに、温度を変数としてインタロック値を決定する関数を示す計算式を記憶してもよい。また、本明細書において、「SARに関するインタロック値」は、「SARのインタロック値」に読み替えてられてもよい。   Further, the storage device 127 stores a correspondence table showing a relationship between a temperature related to an MRI examination described later and an interlock value of the MRI apparatus 100. As the interlock value, for example, a SAR value (W / kg) is used. As the SAR value, for example, a value regarding the whole body SAR may be used, or a value regarding the SAR of any part of the human body such as the head and the body part may be used. Further, for example, a value relating to the SAR of a specific position or area where the value of the SAR tends to increase may be used. Further, as the interlock value, an upper limit value (hereinafter, referred to as a set upper limit value) for setting an imaging parameter related to SAR (for example, a parameter regarding an RF pulse based on the value of SAR) may be used. .. When the interlock value is the set upper limit value, the correspondence table associates the temperature with the set upper limit value. A lookup table (Look Up Table) may be used as the correspondence table. Further, the storage device 127 may store, instead of the correspondence table, a calculation formula indicating a function that determines the interlock value using temperature as a variable. Further, in the present specification, the “interlock value regarding SAR” may be replaced with the “interlock value of SAR”.

また、SARの値は、予測値および実測値のいずれでもよい。予測値は、例えばパルスシーケンスの情報に基づいて処理回路131により算出される値である。具体的には、あるプロトコルにおけるシーケンス毎のSARの合計を平均したプロトコル平均がある。また、実測値は、例えば送信回路113から送信コイル115(例えば、WBコイル)に出力された高周波パルスのうち、WBコイルの出力端で反射された反射波に基づいて算出される値である。具体的には、10秒平均の値、6分平均の値、およびリアルタイムで算出された値を任意の時間長(例えば、10秒および6分など)で平均した値が用いられてもよい。   Further, the SAR value may be either a predicted value or an actual measured value. The predicted value is a value calculated by the processing circuit 131 based on, for example, pulse sequence information. Specifically, there is a protocol average that averages the sum of SARs for each sequence in a certain protocol. The actual measurement value is, for example, a value calculated based on the reflected wave reflected at the output end of the WB coil among the high frequency pulses output from the transmission circuit 113 to the transmission coil 115 (for example, the WB coil). Specifically, an average value of 10 seconds, an average value of 6 minutes, and an average value of values calculated in real time over an arbitrary time length (for example, 10 seconds and 6 minutes) may be used.

図2は、第1の実施形態において、温度とインタロック値との関係を例示するグラフである。図2に示すように、グラフ200の横軸は温度T[℃]を表し、グラフ200の縦軸はインタロック値IL[W/kg]を表す。グラフ200は、例えば、温度Tから温度Tまでの間において、インタロック値ILからインタロック値ILまで略線形に減少する。そして、グラフ200は、温度T以上の場合、インタロック値ILで一定となる。尚、温度Tから温度Tまでの間に温度Tが設定される場合、グラフ200は、温度Tから温度Tまで間におけるインタロック値の変化量の割合と、温度Tから温度Tまでの間におけるインタロック値の変化量の割合とをそれぞれ異ならせてもよい。 FIG. 2 is a graph illustrating the relationship between the temperature and the interlock value in the first embodiment. As shown in FIG. 2, the horizontal axis of the graph 200 represents the temperature T [° C.], and the vertical axis of the graph 200 represents the interlock value IL [W / kg]. The graph 200 decreases substantially linearly from the interlock value IL 3 to the interlock value IL 1 between the temperature T 0 and the temperature T 2 , for example. Then, the graph 200 becomes constant at the interlock value IL 1 when the temperature is equal to or higher than T 2 . Incidentally, if the temperature T 1 of between a temperature T 0 to the temperature T 2 is set, the graph 200 includes a rate of change of interlock value between the temperature T 0 to the temperature T 1 of, from temperatures T 1 The rate of change in the interlock value up to the temperature T 2 may be different.

換言すると、グラフ200は、任意の温度以下の範囲において、インタロック値が温度に依存して変化するグラフである。具体的には、グラフ200では、任意の温度以下の範囲において、温度の低下に伴って、インタロック値が上昇する。   In other words, the graph 200 is a graph in which the interlock value changes depending on the temperature in the range below the arbitrary temperature. Specifically, in the graph 200, the interlock value increases as the temperature decreases in the range of an arbitrary temperature or lower.

以下、グラフ200の横軸および縦軸の数値を具体的に示して説明する。グラフ200は、例えば横軸の値を{T,T,T}={20,25,32}とし、縦軸の値を{IL,IL,IL,IL}={0,2.0,4.0,5.4}とする。グラフ200は、20℃から32℃までの間において、5.4W/kgから2.0W/kgまで略線形に減少する。具体的には、グラフ200は、20℃から25℃までの間において、5.4W/kgから4.0W/kgまで線形に減少し、25℃から32℃までの間において、4.0W/kgから2.0W/kgまで線形に減少する。そして、グラフ200は、32℃以上の場合、2.0W/kgで一定となる。尚、グラフ200は、T以下について、TからTまでの線形関係を維持したグラフが続いてもよい。 The numerical values on the horizontal axis and the vertical axis of the graph 200 will be specifically described below. In the graph 200, for example, the values on the horizontal axis are {T 0 , T 1 , T 2 } = {20, 25, 32} and the values on the vertical axis are {IL 0 , IL 1 , IL 2 , IL 3 } = {. 0, 2.0, 4.0, 5.4}. The graph 200 decreases substantially linearly from 5.4 W / kg to 2.0 W / kg between 20 ° C and 32 ° C. Specifically, the graph 200 shows a linear decrease from 5.4 W / kg to 4.0 W / kg between 20 ° C. and 25 ° C., and 4.0 W / kg between 25 ° C. and 32 ° C. It decreases linearly from kg to 2.0 W / kg. Then, the graph 200 is constant at 2.0 W / kg at 32 ° C. or higher. The graph 200 may be followed by a graph in which the linear relationship from T 0 to T 1 is maintained for T 0 or less.

換言すると、グラフ200は、25℃以下の範囲において、インタロック値が温度に依存して変化するグラフである。または、グラフ200は、25℃以下の範囲において、温度の低下に伴って、インタロック値が上昇するグラフである。または、グラフ200は、25℃以下の範囲において、温度の低下に比例して、インタロック値が上昇するグラフである。   In other words, the graph 200 is a graph in which the interlock value changes depending on the temperature in the range of 25 ° C. or lower. Alternatively, the graph 200 is a graph in which the interlock value increases as the temperature decreases in the range of 25 ° C. or lower. Alternatively, the graph 200 is a graph in which the interlock value increases in proportion to the temperature decrease in the range of 25 ° C. or less.

図3は、第1の実施形態において、温度とインタロック値との関係を例示するグラフである。図3に示すように、グラフ300の横軸は温度[℃]を表し、グラフ300の縦軸はインタロック値[W/kg]を表す。グラフ300は、温度Tから温度Tまでの間におけるインタロック値が線形に変化していない点において、グラフ200と異なる。グラフ300は、例えば、温度Tから温度Tまでの間において、インタロック値ILからインタロック値ILまで上に凸の曲線である。 FIG. 3 is a graph illustrating the relationship between the temperature and the interlock value in the first embodiment. As shown in FIG. 3, the horizontal axis of the graph 300 represents temperature [° C.], and the vertical axis of the graph 300 represents interlock value [W / kg]. The graph 300 differs from the graph 200 in that the interlock value does not change linearly between the temperature T 0 and the temperature T 1 . The graph 300 is, for example, a curve that is convex upward from the interlock value IL 4 to the interlock value IL 2 between the temperature T 0 and the temperature T 1 .

なお、記憶装置127に記憶される対応表は、例えば図2のグラフまたは図3のグラフに基づいて作成されてもよい。または、記憶装置127に記憶される計算式は、例えば図2のグラフまたは図3のグラフを満たすように定式化されてもよい。   The correspondence table stored in the storage device 127 may be created based on the graph of FIG. 2 or the graph of FIG. 3, for example. Alternatively, the calculation formula stored in the storage device 127 may be formulated so as to satisfy the graph of FIG. 2 or the graph of FIG. 3, for example.

記憶装置127は、例えば、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリなどの半導体メモリ素子、ハードディスクドライブ(hard disk drive)、ソリッドステートドライブ(solid state drive)、光ディスクなどである。また、記憶装置127は、CD−ROMドライブやDVDドライブ、フラッシュメモリなどの可搬性記憶媒体との間で種々の情報を読み書きする駆動装置などであってもよい。   The storage device 127 is, for example, a RAM (Random Access Memory), a semiconductor memory device such as a flash memory, a hard disk drive, a solid state drive, an optical disk, or the like. Further, the storage device 127 may be a drive device that reads and writes various information from and to a portable storage medium such as a CD-ROM drive, a DVD drive, or a flash memory.

温度センサ129は、例えば温度を計測する温度計である。温度センサ129は、MRI検査に関する温度を計測する。温度センサ129は、計測した温度を温度情報として処理回路131へと出力する。温度センサ129は、例えばサーミスタ温度計および熱電対温度計などの接触式の温度計でもよく、赤外線放射温度計および光ファイバー温度計などの非接触式の温度計でもよい。尚、「MRI検査に関する」は、少なくとも「MRI検査前」という意味を含み、「MRI検査中」という意味を含んでもよい。また、計測された温度は、「周辺温度」と読み替えられてもよい。   The temperature sensor 129 is, for example, a thermometer that measures temperature. The temperature sensor 129 measures the temperature related to the MRI examination. The temperature sensor 129 outputs the measured temperature as temperature information to the processing circuit 131. The temperature sensor 129 may be a contact type thermometer such as a thermistor thermometer and a thermocouple thermometer, or may be a non-contact type thermometer such as an infrared radiation thermometer and an optical fiber thermometer. It should be noted that “related to MRI examination” includes at least the meaning of “before MRI examination” and may include the meaning of “during MRI examination”. Further, the measured temperature may be read as "ambient temperature".

温度センサ129は、例えばMRI装置100における発熱部品が集まっている場所に配置される。発熱部品は、例えば、送信コイル115の内部回路が有するバランおよびデカップリングスイッチなどである。温度センサ129は、例えば、送信コイル115の内部に配置される。送信コイル115がWBコイルである場合、温度センサ129は、例えば、WBコイル内における、傾斜磁場コイル103の渦巻き状のコイルパターンにおける渦中心に近い位置に配置される。傾斜磁場コイル103の渦中心は、発熱量が多く、温度上昇しやすいため、上記位置は、測定点として適している。   The temperature sensor 129 is arranged, for example, in a place where heat-generating components in the MRI apparatus 100 are gathered. The heat generating component is, for example, a balun and a decoupling switch included in the internal circuit of the transmission coil 115. The temperature sensor 129 is arranged inside the transmission coil 115, for example. When the transmission coil 115 is a WB coil, the temperature sensor 129 is arranged, for example, in the WB coil at a position close to the center of the vortex in the spiral coil pattern of the gradient magnetic field coil 103. Since the vortex center of the gradient magnetic field coil 103 has a large amount of heat generation and the temperature easily rises, the above position is suitable as a measurement point.

また、温度センサ129は、例えばMRI検査中に被検体が載置される空間(患者空間)に配置されてもよい。具体的には、温度センサ129は、ボア111を形成する壁面における任意の位置に配置される。例えば、温度センサ129は、天板107aを案内するレールの下に配置される。尚、温度センサ129は、ボア111の開口端付近に配置されてもよい。   Further, the temperature sensor 129 may be arranged, for example, in a space (patient space) in which the subject is placed during the MRI examination. Specifically, the temperature sensor 129 is arranged at an arbitrary position on the wall surface forming the bore 111. For example, the temperature sensor 129 is arranged below a rail that guides the top plate 107a. The temperature sensor 129 may be arranged near the opening end of the bore 111.

また、温度センサ129は、例えばMRI検査を行うためのシールドルーム内に配置されてもよい。具体的には、温度センサ129は、MRI装置100の任意の表面、MRI装置100の周囲、或いはシールドルームの外壁に配置される。   Further, the temperature sensor 129 may be arranged, for example, in a shielded room for performing an MRI examination. Specifically, the temperature sensor 129 is arranged on an arbitrary surface of the MRI apparatus 100, around the MRI apparatus 100, or on the outer wall of the shield room.

以上のことから、温度センサ129は、MRI装置100内外問わず、MRI検査を行うためのシールドルーム内であれば、MRI検査に支障がない範囲でいずれの場所に配置されてよい。また、温度センサ129は、複数の位置に配置されてもよい。複数の位置に温度センサ129が配置される場合、複数の温度センサ129は、測定手法が同じ種類の温度計が用いられてもよいし、測定手法が異なる種類の温度計が用いられてもよい。   From the above, the temperature sensor 129 may be arranged in any place within the shield room for performing the MRI examination, as long as it is inside or outside the MRI apparatus 100, as long as the MRI examination is not hindered. Further, the temperature sensor 129 may be arranged at a plurality of positions. When the temperature sensors 129 are arranged at a plurality of positions, as the plurality of temperature sensors 129, thermometers of the same measurement method may be used, or thermometers of different measurement methods may be used. ..

処理回路131は、ハードウェア資源として、図示していないプロセッサ、ROM(Read−Only Memory)やRAMなどのメモリなどを有し、MRI装置100を制御する。処理回路131は、システム制御機能131a、画像生成機能131b、温度取得機能131c、インタロック値決定機能131dおよびパラメータ調整機能131eを有する。システム制御機能131a、画像生成機能131b、温度取得機能131c、インタロック値決定機能131dおよびパラメータ調整機能131eなどの機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶装置127へ記憶されている。処理回路131は、これら各種機能に対応するプログラムを記憶装置127から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路131は、図1の処理回路131内に示された複数の機能などを有することになる。   The processing circuit 131 has, as hardware resources, a processor (not shown), a memory such as a ROM (Read-Only Memory), a RAM, and the like, and controls the MRI apparatus 100. The processing circuit 131 has a system control function 131a, an image generation function 131b, a temperature acquisition function 131c, an interlock value determination function 131d, and a parameter adjustment function 131e. Functions such as the system control function 131a, the image generation function 131b, the temperature acquisition function 131c, the interlock value determination function 131d, and the parameter adjustment function 131e are stored in the storage device 127 in the form of a program executable by a computer. The processing circuit 131 is a processor that realizes a function corresponding to each program by reading a program corresponding to these various functions from the storage device 127 and executing the program. In other words, the processing circuit 131 in the state where each program is read out has the plurality of functions shown in the processing circuit 131 of FIG.

なお、図1においては単一の処理回路131にて前述の各種機能が実現されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとして構わない。換言すると、前述の各種機能がプログラムとして構成され、一つの処理回路が各プログラムを実行する場合であってもよいし、特定の機能が専用の独立したプログラム実行回路に実装される場合であってもよい。   In addition, in FIG. 1, the above-described various functions are realized by the single processing circuit 131, but the functions may be realized by a plurality of independent processors executing programs. In other words, the various functions described above may be configured as a program, and one processing circuit may execute each program, or a specific function may be implemented in a dedicated independent program execution circuit. Good.

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、およびフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))などの回路を意味する。   The word "processor" used in the above description is, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), or an application-specific integrated circuit (ASIC), a programmable logic device (for example, a simple logic device). A programmable programmable logic device (SPLD), a complex programmable logic device (Complex Programmable Logic Device: CPLD), and a field programmable gate array (Field Programmable Gate Array: FPGA), such as a circuit.

プロセッサは、記憶装置127に保存されたプログラムを読み出し実行することで各種機能を実現する。なお、記憶装置127にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、寝台制御回路109、送信回路113、受信回路119、撮像制御回路121なども同様に、上記プロセッサなどの電子回路により構成される。また、処理回路131が有するシステム制御機能131a、画像生成機能131b、温度取得機能131c、インタロック値決定機能131dおよびパラメータ調整機能131eは、それぞれシステム制御部、画像生成部、取得部、決定部および調整部の一例である。   The processor realizes various functions by reading and executing the program stored in the storage device 127. Instead of storing the program in the storage device 127, the program may be directly incorporated in the circuit of the processor. In this case, the processor realizes the function by reading and executing the program incorporated in the circuit. Note that the bed control circuit 109, the transmission circuit 113, the reception circuit 119, the imaging control circuit 121, and the like are similarly configured by electronic circuits such as the processor. The system control function 131a, the image generation function 131b, the temperature acquisition function 131c, the interlock value determination function 131d, and the parameter adjustment function 131e included in the processing circuit 131 respectively include a system control unit, an image generation unit, an acquisition unit, a determination unit, and a It is an example of an adjustment unit.

処理回路131は、システム制御機能131aにより、MRI装置を制御する。具体的には、処理回路131は、記憶装置127に記憶されているシステム制御プログラムを読み出してメモリ上に展開し、展開されたシステム制御プログラムに従ってMRI装置100の各回路を制御する。例えば、処理回路131は、システム制御機能131aにより、インタフェース123を介してユーザから入力される撮像条件に基づいて、撮像プロトコルを記憶装置127から読み出す。なお、処理回路131は、撮像条件に基づいて、撮像プロトコルを生成してもよい。処理回路131は、撮像プロトコルを撮像制御回路121に送信し、被検体Pに対する撮像を制御する。   The processing circuit 131 controls the MRI apparatus by the system control function 131a. Specifically, the processing circuit 131 reads the system control program stored in the storage device 127, expands it on the memory, and controls each circuit of the MRI apparatus 100 according to the expanded system control program. For example, the processing circuit 131 reads the imaging protocol from the storage device 127 based on the imaging condition input by the user via the interface 123 by the system control function 131a. The processing circuit 131 may generate the imaging protocol based on the imaging conditions. The processing circuit 131 transmits the imaging protocol to the imaging control circuit 121 and controls the imaging of the subject P.

処理回路131は、画像生成機能131bにより、MRデータをk空間に充填する。処理回路131は、k空間に充填されたMRデータに対して例えばフーリエ変換などを行うことにより、MR画像を生成する。MR画像は、例えば、被検体Pに関する形態画像に対応する。処理回路131は、MR画像を、ディスプレイ125や記憶装置127に出力する。   The processing circuit 131 fills the k space with the MR data by the image generation function 131b. The processing circuit 131 generates an MR image by performing, for example, Fourier transform on the MR data filled in the k space. The MR image corresponds to, for example, a morphological image regarding the subject P. The processing circuit 131 outputs the MR image to the display 125 and the storage device 127.

処理回路131は、温度取得機能131cにより、磁気共鳴イメージング検査に関する周辺温度を取得する。具体的には、処理回路131は、温度センサ129から出力された温度情報を取得する。尚、処理回路131は、MRI検査中およびMRIの撮像中などの温度がリアルタイムに変化する場合、周辺温度をリアルタイムに取得してもよい。   The processing circuit 131 uses the temperature acquisition function 131c to acquire the ambient temperature related to the magnetic resonance imaging examination. Specifically, the processing circuit 131 acquires the temperature information output from the temperature sensor 129. The processing circuit 131 may acquire the ambient temperature in real time when the temperature changes in real time during the MRI examination, the imaging of the MRI, or the like.

処理回路131は、インタロック値決定機能131dにより、取得された周辺温度に応じてSARのインタロック値を決定する。具体的には、処理回路131は、記憶装置127から読み出された対応表を用いて、取得された温度に対応するインタロック値を決定する。または、処理回路131は、記憶装置127から読み出された数式を用いて、取得された温度に対するインタロック値を決定(算出)する。尚、処理回路131は、周辺温度がリアルタイムに取得された場合、リアルタイムに取得された周辺温度に応じてSARに関するインタロック値をリアルタイムに決定してもよい。   The processing circuit 131 uses the interlock value determination function 131d to determine the SAR interlock value according to the acquired ambient temperature. Specifically, the processing circuit 131 uses the correspondence table read from the storage device 127 to determine the interlock value corresponding to the acquired temperature. Alternatively, the processing circuit 131 determines (calculates) the interlock value for the acquired temperature using the mathematical formula read from the storage device 127. When the ambient temperature is acquired in real time, the processing circuit 131 may determine the interlock value regarding the SAR in real time according to the ambient temperature acquired in real time.

例えば、インタロック値の決定において記憶装置127から読み出された数式を用いた場合、処理回路131は、インタロック値決定機能131dにより、周辺温度がT(例えば25℃)以下の範囲において、当該周辺温度の関数を用いてインタロック値を決定してもよい。 For example, when the mathematical formula read from the storage device 127 is used in the determination of the interlock value, the processing circuit 131 uses the interlock value determination function 131d in the range where the ambient temperature is T 2 (for example, 25 ° C.) or less, The interlock value may be determined using a function of the ambient temperature.

例えば、インタロック値の決定において図2などのグラフに基づく対応表を用いた場合、処理回路131は、インタロック値決定機能131dにより、周辺温度がT(例えば25℃)以下の範囲において、当該周辺温度の低下に伴って、インタロック値が上昇するように決定してもよい。または、処理回路131は、周辺温度がT(例えば25℃)以下の範囲において、当該周辺温度の低下に比例して、インタロック値が上昇するように決定してもよい。 For example, when the correspondence table based on the graph of FIG. 2 or the like is used in the determination of the interlock value, the processing circuit 131 uses the interlock value determination function 131d in the range where the ambient temperature is T 2 (for example, 25 ° C.) or less, The interlock value may be determined to increase as the ambient temperature decreases. Alternatively, the processing circuit 131 may determine that the interlock value increases in proportion to the decrease in the ambient temperature in the range where the ambient temperature is T 2 (for example, 25 ° C.) or lower.

処理回路131は、パラメータ調整機能131eにより、決定されたインタロック値に基づいて撮像パラメータの上限値を調整する。具体的には、MRI検査前の場合、処理回路131は、SARに関連のある撮像パラメータの上限値を、決定されたインタロック値に基づいて調整する。または、MRI検査中の場合、処理回路131は、SARに関連のある撮像パラメータの上限値を、決定されるインタロック値に基づいてリアルタイムに調整する。さらに、MRI検査中の場合において、処理回路131は、決定されたインタロック値よりも設定されているパラメータの値が上回った際に、当該パラメータの値をインタロック値へと強制的に調整してもよいし、MRI検査自体を強制的に終了させてもよい。   The processing circuit 131 adjusts the upper limit value of the imaging parameter based on the determined interlock value by the parameter adjustment function 131e. Specifically, before the MRI examination, the processing circuit 131 adjusts the upper limit value of the imaging parameter related to the SAR based on the determined interlock value. Alternatively, during the MRI examination, the processing circuit 131 adjusts the upper limit value of the imaging parameter related to the SAR in real time based on the determined interlock value. Further, during the MRI examination, the processing circuit 131 forcibly adjusts the value of the parameter to the interlock value when the value of the set parameter exceeds the determined interlock value. Alternatively, the MRI examination itself may be forcibly terminated.

(第1の処理例)
図4は、第1の実施形態における処理回路にて実行される処理を例示するフローチャートである。図4の処理は、例えば、MRI検査前において、操作者などによりインタフェース123から撮像パラメータが設定される前に、処理回路131がSARに関するインタロック値の決定に関するプログラムを実行することにより開始される。
(First processing example)
FIG. 4 is a flowchart illustrating the processing executed by the processing circuit according to the first embodiment. The process of FIG. 4 is started, for example, before the MRI examination and before the imaging parameter is set from the interface 123 by the operator or the like, by the processing circuit 131 executing a program regarding determination of an interlock value regarding SAR. ..

(ステップS410)
処理回路131は、温度取得機能131cにより、MRI検査に関する温度を取得する。例えば、処理回路131は、WBコイル内に設けられた温度センサから温度Tの温度情報を取得する。
(Step S410)
The processing circuit 131 uses the temperature acquisition function 131c to acquire the temperature related to the MRI examination. For example, the processing circuit 131 acquires the temperature information of the temperature T 1 from the temperature sensor provided in the WB coil.

(ステップS420)
処理回路131は、インタロック値決定機能131dにより、取得された温度に応じてSARのインタロック値を決定する。例えば、処理回路131は、図2のグラフに基づく対応表を用いて、温度Tに対応するインタロック値ILを決定する。
(Step S420)
The processing circuit 131 uses the interlock value determination function 131d to determine the SAR interlock value according to the acquired temperature. For example, the processing circuit 131 uses the correspondence table based on the graph of FIG. 2 to determine the interlock value IL 2 corresponding to the temperature T 1 .

(ステップS430)
処理回路131は、パラメータ調整機能131eにより、決定されたインタロック値に基づいて撮像パラメータの上限値を調整する。例えば、処理回路131は、インタロック値ILに基づいてRFパルスに関するパラメータの上限値を調整する。
(Step S430)
The processing circuit 131 adjusts the upper limit value of the imaging parameter based on the determined interlock value by the parameter adjustment function 131e. For example, the processing circuit 131 adjusts the upper limit value of the parameter related to the RF pulse based on the interlock value IL 2 .

(第2の処理例)
図5は、第1の実施形態における処理回路にて実行される別の処理を例示するフローチャートである。図5の処理は、例えば、図4の処理のタイミングで開始され、MRI検査中において、処理回路131がSARに関するインタロック値の決定に関するプログラムを、撮像が終わるまで実行し続ける。尚、ステップS510、ステップS520およびステップS530の処理は、それぞれステップS410、ステップS420およびステップS430の処理と同様のため、説明を省略する。
(Second processing example)
FIG. 5 is a flowchart illustrating another process executed by the processing circuit according to the first embodiment. The process of FIG. 5 is started, for example, at the timing of the process of FIG. 4, and during the MRI examination, the processing circuit 131 continues to execute the program regarding the determination of the interlock value regarding the SAR until the end of imaging. Note that the processing of steps S510, S520, and S530 is the same as the processing of steps S410, S420, and S430, respectively, and thus description thereof will be omitted.

(ステップS540)
撮像中である場合、処理はステップS510へと戻る。撮影中でない場合、処理は終了する。
(Step S540)
If the image is being captured, the process returns to step S510. If not being photographed, the process ends.

即ち、図5の処理は、撮影中において、常に温度を取得し、取得された温度に応じてインタロック値を決定する。   That is, in the process of FIG. 5, the temperature is always acquired during shooting, and the interlock value is determined according to the acquired temperature.

以上説明したように第1の実施形態によれば、MRI装置100は、周辺温度を取得し、取得された周辺温度に応じてSARのインタロック値を決定する。   As described above, according to the first embodiment, the MRI apparatus 100 acquires the ambient temperature and determines the SAR interlock value according to the acquired ambient temperature.

また、第1の実施形態によれば、MRI装置100は、周辺温度に応じて異なるインタロック値を決定することができる。   Moreover, according to the first embodiment, the MRI apparatus 100 can determine different interlock values depending on the ambient temperature.

また、第1の実施形態によれば、MRI装置100は、任意の温度以下の範囲において、温度に依存して変化するインタロック値を決定することができる。   Further, according to the first embodiment, the MRI apparatus 100 can determine the interlock value that changes depending on the temperature in the range of an arbitrary temperature or lower.

また、第1の実施形態によれば、MRI装置100は、周辺温度をリアルタイムに取得し、リアルタイムに取得された周辺温度に応じてインタロック値をリアルタイムに決定することができる。   Further, according to the first embodiment, the MRI apparatus 100 can acquire the ambient temperature in real time and determine the interlock value in real time according to the ambient temperature acquired in real time.

また、第1の実施形態によれば、MRI装置100は、周辺温度が25℃以下の範囲において、周辺温度の関数を用いてインタロック値を決定することができる。   Further, according to the first embodiment, the MRI apparatus 100 can determine the interlock value by using the function of the ambient temperature in the ambient temperature range of 25 ° C. or less.

また、第1の実施形態によれば、MRI装置100は、周辺温度が25℃以下の範囲において、周辺温度の低下に伴って、インタロック値が上昇するように決定することができる。   Further, according to the first embodiment, the MRI apparatus 100 can determine that the interlock value increases as the ambient temperature decreases in the ambient temperature range of 25 ° C. or less.

また、第1の実施形態によれば、MRI装置100は、周辺温度が25℃以下の範囲において、周辺温度の低下に比例して、インタロック値が上昇するように決定することができる。   Further, according to the first embodiment, the MRI apparatus 100 can determine that the interlock value increases in proportion to the decrease of the ambient temperature in the range of the ambient temperature of 25 ° C. or less.

従って、MRI装置100は、周辺温度に応じたSARに関するインタロック値を決定できるため、IEC規格に準じた安全性を確保しつつ、より柔軟に撮像条件を決めることができる。例えば、決定されたインタロック値によって従来よりも強いRFパルスが利用可能であれば、従来よりもコントラストの強い画像を得ることができる。また、決定されたインタロック値が従来のインタロック値よりも高い場合、フリップアングルが同じ条件であれば、従来よりも撮像時間を短縮することができる。結果として、従来よりもTR時間を短くすることができるため、例えば、T1画像の画質(例えば、コントラスト)を向上させることができる。一方で、従来と同じ強度のRFパルスおよび従来と同じ撮像時間であれば、MRI装置100は、より多くのRFパルスの種類およびRFパルスのパルス数を照射可能であり、従来のSARの基準では利用することができなかったパルスシーケンスを用いることができる。   Therefore, the MRI apparatus 100 can determine the interlock value regarding the SAR according to the ambient temperature, so that it is possible to more flexibly determine the imaging condition while ensuring the safety according to the IEC standard. For example, if an RF pulse stronger than before can be used according to the determined interlock value, an image with higher contrast than before can be obtained. Further, when the determined interlock value is higher than the conventional interlock value, if the flip angle is the same, the imaging time can be shortened as compared with the conventional case. As a result, the TR time can be shortened as compared with the related art, so that the image quality (for example, contrast) of the T1 image can be improved. On the other hand, if the RF pulse has the same intensity as the conventional one and the imaging time is the same as the conventional one, the MRI apparatus 100 can emit more types of RF pulses and the number of RF pulses, and according to the conventional SAR standard. It is possible to use pulse sequences that were not available.

(第2の実施形態)
図6は、第2の実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置の処理回路の構成例を示す図である。第2の実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置は、第1の実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置とは、処理回路の構成が異なる。具体的には、第2の実施形態に係る処理回路は、複数の周辺温度を取得し、取得された複数の周辺温度のうち最も高い温度に応じてインタロック値を決定する。
(Second embodiment)
FIG. 6 is a diagram showing a configuration example of a processing circuit of the magnetic resonance imaging apparatus according to the second embodiment. The magnetic resonance imaging apparatus according to the second embodiment has a processing circuit configuration different from that of the magnetic resonance imaging apparatus according to the first embodiment. Specifically, the processing circuit according to the second embodiment acquires a plurality of ambient temperatures and determines the interlock value according to the highest temperature among the plurality of acquired ambient temperatures.

図6の処理回路600は、ハードウェア資源として、図示していないプロセッサ、ROM(Read−Only Memory)やRAMなどのメモリなどを有し、MRI装置100を制御する。処理回路600は、システム制御機能600a、画像生成機能600b、温度取得機能600c、温度選択機能600d、インタロック値決定機能600eおよびパラメータ調整機能600fを有する。システム制御機能600a、画像生成機能600b、温度取得機能600c、温度選択機能600d、インタロック値決定機能600eおよびパラメータ調整機能600fにて行われる各種機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶装置127へ記憶されている。処理回路600は、これら各種機能に対応するプログラムを記憶装置127から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路600は、図6の処理回路600内に示された複数の機能などを有することになる。   The processing circuit 600 of FIG. 6 has a processor (not shown), a memory such as a ROM (Read-Only Memory), a RAM, and the like as hardware resources, and controls the MRI apparatus 100. The processing circuit 600 has a system control function 600a, an image generation function 600b, a temperature acquisition function 600c, a temperature selection function 600d, an interlock value determination function 600e, and a parameter adjustment function 600f. Various functions performed by the system control function 600a, the image generation function 600b, the temperature acquisition function 600c, the temperature selection function 600d, the interlock value determination function 600e, and the parameter adjustment function 600f are storage devices in the form of programs executable by a computer. It is stored in 127. The processing circuit 600 is a processor that realizes a function corresponding to each program by reading a program corresponding to these various functions from the storage device 127 and executing the program. In other words, the processing circuit 600 in the state where each program is read out has the plurality of functions shown in the processing circuit 600 of FIG.

なお、処理回路600が有するシステム制御機能600a、画像生成機能600b、温度取得機能600c、温度選択機能600d、インタロック値決定機能600eおよびパラメータ調整機能600fは、それぞれシステム制御部、画像生成部、取得部、選択部、決定部および調整部の一例である。また、システム制御機能600a、画像生成機能600b、およびパラメータ調整機能600fは、それぞれシステム制御機能131a、画像生成機能131bおよびパラメータ調整機能131eと同様の機能を有するため、説明を省略する。   The system control function 600a, the image generation function 600b, the temperature acquisition function 600c, the temperature selection function 600d, the interlock value determination function 600e, and the parameter adjustment function 600f included in the processing circuit 600 are respectively a system control unit, an image generation unit, and an acquisition unit. It is an example of a unit, a selection unit, a determination unit and an adjustment unit. Further, the system control function 600a, the image generation function 600b, and the parameter adjustment function 600f have the same functions as the system control function 131a, the image generation function 131b, and the parameter adjustment function 131e, respectively, and thus description thereof will be omitted.

処理回路600は、温度取得機能600cにより、複数の周辺温度を取得する。具体的には、処理回路131は、温度取得機能600cにより、複数の温度センサ129からそれぞれ出力された複数の温度情報を取得する。   The processing circuit 600 acquires a plurality of ambient temperatures by the temperature acquisition function 600c. Specifically, the processing circuit 131 uses the temperature acquisition function 600c to acquire a plurality of pieces of temperature information respectively output from the plurality of temperature sensors 129.

処理回路600は、温度選択機能600dにより、取得された複数の周辺温度のうち最も高い温度を選択温度として選択する。   The processing circuit 600 uses the temperature selection function 600d to select the highest temperature among the plurality of acquired ambient temperatures as the selected temperature.

処理回路600は、インタロック値決定機能600eにより、選択された選択温度に基づいて、SARに関するインタロック値を決定する。インタロック値を決定するための手法は、処理回路131のインタロック値決定機能131dと同様のため、説明を省略する。   The processing circuit 600 determines the interlock value regarding the SAR based on the selected temperature selected by the interlock value determination function 600e. The method for determining the interlock value is the same as that of the interlock value determining function 131d of the processing circuit 131, and the description thereof will be omitted.

図7は、第2の実施形態における処理回路にて実行される処理を例示するフローチャートである。図7の処理は、例えば、MRI検査前において、操作者などによりインタフェース123から撮像パラメータが設定される前に、処理回路600がSARに関するインタロック値の決定に関するプログラムを実行することにより開始される。   FIG. 7 is a flowchart illustrating a process executed by the processing circuit according to the second embodiment. The process of FIG. 7 is started, for example, before the MRI examination and before the imaging parameter is set from the interface 123 by the operator or the like, by the processing circuit 600 executing a program regarding determination of an interlock value regarding SAR. ..

図7の処理の具体例として、例えば、複数の温度センサ129が、送信コイルの内部、ボア111内およびシールドルーム内などにそれぞれ配置されているものとして説明を行う。   As a specific example of the process of FIG. 7, a description will be given assuming that a plurality of temperature sensors 129 are arranged inside the transmission coil, inside the bore 111, inside the shield room, and the like.

(ステップS710)
処理回路600は、温度取得機能600cにより、MRI検査に関する複数の温度を取得する。複数の温度情報は、例えば、送信コイルの内部、ボア111内およびシールドルーム内などにそれぞれ配置された複数の温度センサ129から出力された温度情報である。
(Step S710)
The processing circuit 600 uses the temperature acquisition function 600c to acquire a plurality of temperatures related to the MRI examination. The plurality of temperature information is, for example, temperature information output from a plurality of temperature sensors 129 arranged inside the transmission coil, inside the bore 111, inside the shield room, and the like.

(ステップS720)
処理回路600は、温度選択機能600dにより、取得された複数の温度のうち最も高い温度を選択する。例えば、処理回路600は、最も高い温度として送信コイルの内部の温度を選択する。
(Step S720)
The processing circuit 600 uses the temperature selection function 600d to select the highest temperature among the plurality of acquired temperatures. For example, the processing circuit 600 selects the temperature inside the transmitter coil as the highest temperature.

(ステップS730)
処理回路600は、インタロック値決定機能600eにより、選択された温度に応じてSARのインタロック値を決定する。
(Step S730)
The processing circuit 600 determines the interlock value of the SAR according to the selected temperature by the interlock value determination function 600e.

(ステップS740)
処理回路600は、パラメータ調整機能600fにより、決定されたインタロック値に基づいて撮像パラメータの上限値を調整する。
(Step S740)
The processing circuit 600 uses the parameter adjustment function 600f to adjust the upper limit value of the imaging parameter based on the determined interlock value.

以上説明したように第2の実施形態に係るMRI装置は、複数の周辺温度を取得し、取得された複数の周辺温度のうち最も高い温度を選択し、選択された温度に応じてSARのインタロック値を決定することができる。   As described above, the MRI apparatus according to the second embodiment acquires a plurality of ambient temperatures, selects the highest temperature among the acquired plurality of ambient temperatures, and selects the SAR interface according to the selected temperature. The lock value can be determined.

従って、第2の実施形態に係るMRI装置は、複数の周辺温度を考慮してインタロック値を決定することができるため、安全性をより向上させることができる。   Therefore, the MRI apparatus according to the second embodiment can determine the interlock value in consideration of a plurality of ambient temperatures, and thus can further improve safety.

(応用例)
第1の実施形態および第2の実施形態に係るMRI装置では、周辺温度に応じてSARに関するインタロック値を決定する際に、温度とインタロック値とがそれぞれ対応している場合について説明した。他方、本応用例では、予め設定された基準値に対して、温度に応じた補正値を加えることによってインタロック値を決定する場合について説明する。尚、以降では、「処理回路およびインタロック値決定機能」は、「処理回路131およびインタロック値決定機能131d」、或いは「処理回路600およびインタロック値決定機能600e」に相当する。上記以外の構成は、第1の実施形態および第2の実施形態に係るMRI装置と略同様である。
(Application example)
In the MRI apparatus according to the first embodiment and the second embodiment, the case where the temperature and the interlock value correspond to each other when the interlock value regarding the SAR is determined according to the ambient temperature has been described. On the other hand, in this application example, a case will be described in which the interlock value is determined by adding a correction value according to temperature to a preset reference value. In the following, the "processing circuit and interlock value determining function" corresponds to the "processing circuit 131 and interlock value determining function 131d" or the "processing circuit 600 and interlock value determining function 600e". The configuration other than the above is substantially the same as the MRI apparatus according to the first and second embodiments.

応用例において、処理回路は、インタロック値決定機能により、取得された周辺温度に応じてSARのインタロック値を決定する。具体的には、処理回路は、記憶装置127から読み出された計算式を用いて、取得された温度に対するインタロック値を決定する。当該計算式は、例えば、以下の数式(1)である。   In the application example, the processing circuit uses the interlock value determination function to determine the interlock value of the SAR according to the acquired ambient temperature. Specifically, the processing circuit determines the interlock value for the acquired temperature using the calculation formula read from the storage device 127. The calculation formula is, for example, the following formula (1).

IL=V+f(T) ・・・(1) IL C = V S + f (T M ) ... (1)

ILはインタロック値、Vは予め設定された基準値、Tは周辺温度(取得された温度)、f(T)は取得された温度に依存する関数をそれぞれ表す。予め設定された基準値とは、例えば、IECによる規格などによって定められた上限値である。関数f(T)は、例えば、以下の数式(2)である。 IL C is an interlock value, V S is a preset reference value, T M is an ambient temperature (obtained temperature), and f (T M ) is a function that depends on the obtained temperature. The reference value set in advance is, for example, an upper limit value defined by the IEC standard. The function f (T M ) is, for example, the following mathematical expression (2).

f(T)=(T−T)×α ・・・(2) f (T M ) = (T B −T M ) × α (2)

は被検体の体温、αは装置毎にキャリブレーションできる据え付け値(装置の係数)をそれぞれ表す。関数f(T)の値は、数式(1)において基準値Vとインタロック値ILとの関係から、補正値と呼ばれてもよい。尚、Tは、例えば、被検体の平均的な体温を固定値(例えば、36℃)として用いてもよい。 T B represents the body temperature of the subject, and α represents an installation value (coefficient of the device) that can be calibrated for each device. The value of the function f (T M ) may be called a correction value from the relationship between the reference value V S and the interlock value IL C in Expression (1). Note that, for T B , for example, the average body temperature of the subject may be used as a fixed value (for example, 36 ° C.).

上記を概説すると、処理回路は、予め設定された基準値に周辺温度に基づく補正値を加えることによってインタロック値を決定する。   Outlined above, the processing circuit determines the interlock value by adding a correction value based on the ambient temperature to a preset reference value.

以上説明したように応用例に係るMRI装置は、予め設定された基準値に周辺温度に基づく補正値を加えることによってインタロック値を決定することができる。   As described above, the MRI apparatus according to the application example can determine the interlock value by adding the correction value based on the ambient temperature to the preset reference value.

従って、応用例に係るMRI装置は、例えば、既存のシステムのインタロック方式設定されている基準値に対して補正値を加えればよいため、既存システムへの適用が可能であり、適用先のシステムのキャリブレーションも容易に行うことができる。   Therefore, the MRI apparatus according to the application example can be applied to the existing system because it is only necessary to add the correction value to the reference value set in the interlock method of the existing system. Can be easily calibrated.

以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、周辺温度に応じてSARに関するインタロック値を決定することができる。   According to at least one embodiment described above, the interlock value regarding the SAR can be determined according to the ambient temperature.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and gist of the invention, and are also included in the invention described in the claims and the scope equivalent thereto.

100 磁気共鳴イメージング装置(MRI装置)
101 静磁場磁石
103 傾斜磁場コイル
107 寝台
107a 天板
111 ボア
115 送信コイル
117 受信コイル
200,300 グラフ
100 Magnetic Resonance Imaging System (MRI System)
101 static magnetic field magnet 103 gradient magnetic field coil 107 bed 107a top plate 111 bore 115 transmission coil 117 reception coil 200, 300 graph

Claims (14)

磁気共鳴イメージング検査に関する周辺温度を取得する取得部と、
前記周辺温度に応じてSAR(Specific Absorption Rate)のインタロック値を決定する決定部と
を具備する、磁気共鳴イメージング装置。
An acquisition unit that acquires the ambient temperature related to the magnetic resonance imaging test,
A magnetic resonance imaging apparatus comprising: a determination unit that determines an interlock value of SAR (Specific Absorption Rate) according to the ambient temperature.
前記決定部は、前記周辺温度に応じて異なる前記インタロック値を決定する、
請求項1に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The determination unit determines the interlock value that differs depending on the ambient temperature,
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1.
前記インタロック値は、任意の温度以下の範囲において、温度に依存して変化する、
請求項1または請求項2に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The interlock value changes depending on the temperature in a range below an arbitrary temperature,
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1 or 2.
前記取得部は、前記周辺温度をリアルタイムに取得し、
前記決定部は、リアルタイムに取得された前記周辺温度に応じて前記インタロック値をリアルタイムに決定する、
請求項1から請求項3までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The acquisition unit acquires the ambient temperature in real time,
The determining unit determines the interlock value in real time according to the ambient temperature acquired in real time,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 3.
前記決定部は、予め設定された基準値に前記周辺温度に基づく補正値を加えることで、前記インタロック値を決定する、
請求項1から請求項4までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The determination unit determines the interlock value by adding a correction value based on the ambient temperature to a preset reference value,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 4.
RFパルスを送信する送信コイル
を更に具備し、
前記取得部は、前記周辺温度として、前記送信コイルの内部の温度を取得する、
請求項1から請求項5までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
Further comprising a transmitter coil for transmitting an RF pulse,
The acquisition unit acquires the temperature inside the transmission coil as the ambient temperature,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 5.
前記送信コイルは、全身用コイルである、
請求項6に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The transmission coil is a whole body coil,
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 6.
前記取得部は、前記周辺温度として、被検体が挿入される空間であるボア内の温度を取得する、
請求項1から請求項5までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The acquisition unit acquires, as the ambient temperature, a temperature in a bore, which is a space into which a subject is inserted,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 5.
前記取得部は、前記周辺温度として、シールドルーム内の温度を取得する、
請求項1から請求項5までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The acquisition unit acquires the temperature in the shielded room as the ambient temperature,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 5.
前記周辺温度は、送信コイルの内部の温度、被検体が挿入される空間であるボア内の温度およびシールドルーム内の温度の複数の周辺温度のうち最も高い温度である、
請求項1から請求項5までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The ambient temperature is the highest temperature among the plurality of ambient temperatures of the temperature inside the transmission coil, the temperature inside the bore that is the space into which the subject is inserted, and the temperature inside the shield room.
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 5.
前記取得部は、前記複数の周辺温度を取得し、
前記複数の周辺温度のうち最も高い温度を選択温度として選択する選択部
を更に具備し、
前記決定部は、前記選択温度に応じて前記インタロック値を決定する、
請求項10に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The acquisition unit acquires the plurality of ambient temperatures,
Further comprising a selection unit for selecting the highest temperature among the plurality of ambient temperatures as a selection temperature,
The determination unit determines the interlock value according to the selected temperature,
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 10.
前記周辺温度が25℃以下の範囲において、
前記決定部は、前記周辺温度の関数を用いて前記インタロック値を決定する、
請求項1から請求項11までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
In the range where the ambient temperature is 25 ° C. or lower,
The determining unit determines the interlock value using a function of the ambient temperature,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 11.
前記周辺温度が25℃以下の範囲において、
前記決定部は、前記周辺温度の低下に伴って、前記インタロック値が上昇するように決定する、
請求項1から請求項11までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
In the range where the ambient temperature is 25 ° C. or lower,
The determining unit determines so that the interlock value increases as the ambient temperature decreases.
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 11.
前記周辺温度が25℃以下の範囲において、
前記決定部は、前記周辺温度の低下に比例して、前記インタロック値が上昇するように決定する、
請求項1から請求項11までのいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
In the range where the ambient temperature is 25 ° C. or lower,
The determination unit determines to increase the interlock value in proportion to the decrease in the ambient temperature.
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 11.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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