JP2020049129A - Ophthalmologic device - Google Patents

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JP2020049129A JP2018183780A JP2018183780A JP2020049129A JP 2020049129 A JP2020049129 A JP 2020049129A JP 2018183780 A JP2018183780 A JP 2018183780A JP 2018183780 A JP2018183780 A JP 2018183780A JP 2020049129 A JP2020049129 A JP 2020049129A
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誠二 柵木
Seiji Sakugi
誠二 柵木
真也 岩田
Shinya Iwata
真也 岩田
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Abstract

To provide an ophthalmologic device capable of suitably measuring the shape of a cornea.SOLUTION: The ophthalmologic device for measuring an eye to be inspected comprises: a first projection system for projecting a first pattern index onto the eye to be inspected; a second projection system for projecting a second pattern index through an objective lens to the eye to be inspected; an anterior eye observation system which photographs an anterior eye part of the eye to be inspected through an opening provided in the first projection system; and one or more measurement optical systems which are different from the second projection system and the anterior eye observation system.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本開示は、被検眼の検査を行う眼科装置に関する。   The present disclosure relates to an ophthalmologic apparatus that tests an eye to be inspected.

被検眼の角膜に多数のリングパターンを投影し、角膜に形成された指標像を撮影することで角膜形状を測定する眼科装置が知られている(特許文献1参照)。   2. Description of the Related Art An ophthalmologic apparatus that measures a corneal shape by projecting a large number of ring patterns on a cornea of an eye to be examined and photographing an index image formed on the cornea is known (see Patent Literature 1).

従来の装置において、被検眼角膜へのリングパターンの投影は、例えば、リング形状の透光部と遮光部(マスク部)が交互に同心円状に形成されたプラチド板を複数の光源によって背後から照明することで行われる。   In a conventional apparatus, a ring pattern is projected onto a cornea of a subject by, for example, illuminating a placid plate in which a ring-shaped light-transmitting portion and a light-shielding portion (mask portion) are alternately and concentrically formed by a plurality of light sources from behind. It is done by doing.

特開平7−194550号公報JP-A-7-194550

しかしながら、従来の方法を用いた場合、角膜中心部の形状を測定することが難しかった。   However, when using the conventional method, it was difficult to measure the shape of the central portion of the cornea.

本開示は、従来の問題点に鑑み、好適に角膜形状を測定できる眼科装置を提供することを技術課題とする。   The present disclosure has been made in consideration of the conventional problems, and has as its technical object to provide an ophthalmologic apparatus that can appropriately measure a corneal shape.

上記課題を解決するために、本開示は以下のような構成を備えることを特徴とする。   In order to solve the above problem, the present disclosure is characterized by including the following configuration.

(1) 被検眼を測定する眼科装置であって、前記被検眼に第1パターン指標を投影する第1投影系と、前記被検眼に対物レンズを介して第2パターン指標を投影する第2投影系と、前記第1投影系に設けられた開口部を通して前記被検眼の前眼部を撮影する前眼観察系と、前記第2投影系と前記前眼観察系とは異なる1つ以上の測定光学系と、を備えることを特徴とする。   (1) An ophthalmologic apparatus for measuring an eye to be examined, a first projection system for projecting a first pattern index onto the eye to be inspected, and a second projection for projecting a second pattern index onto the eye to be examined via an objective lens. A system, an anterior eye observation system for photographing the anterior segment of the eye through an opening provided in the first projection system, and one or more different measurements from the second projection system and the anterior eye observation system And an optical system.

第1実施例における眼科装置の内部構成を示す概略図である。FIG. 3 is a schematic diagram illustrating an internal configuration of the ophthalmologic apparatus according to the first embodiment. 内部プラチド光学系の一部を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a part of an internal placid optical system. 外部プラチド光学系の一部を示す図である。It is a figure showing a part of external placido optical system. 前眼部画像の一例を示す図である。It is a figure showing an example of an anterior segment image. 第2実施例のおける眼科装置の内部構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the internal structure of the ophthalmologic apparatus in 2nd Example. 第3実施例のおける眼科装置の内部構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the internal structure of the ophthalmologic apparatus in 3rd Example. 第3実施例の変容例における眼科装置の内部構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the internal structure of the ophthalmologic apparatus in the modification of 3rd Example.

<実施形態>
以下、本開示に係る実施形態について説明する。本実施形態の眼科装置(例えば、眼科装置1〜3)は、被検眼を測定する。眼科装置は、例えば、第1投影系(例えば、外部プラチド光学系50)と、第2投影系(例えば、内部プラチド光学系30)と、前眼観察系(例えば、前眼観察系20)と、測定光学系(例えば、OCT光学系40)を備える。
<Embodiment>
Hereinafter, embodiments according to the present disclosure will be described. The ophthalmologic apparatus of this embodiment (for example, ophthalmologic apparatuses 1 to 3) measures an eye to be examined. The ophthalmologic apparatus includes, for example, a first projection system (for example, the external Placido optical system 50), a second projection system (for example, the internal Placido optical system 30), and an anterior eye observation system (for example, the anterior eye observation system 20). , A measurement optical system (for example, the OCT optical system 40).

第1投影系は、被検眼に第1パターン指標(例えば、パターン指標Q1)を投影する。第1投影系は、例えば、被検眼の角膜に第1パターン指標を投影する。第1パターン指標は、例えば、角膜形状を測定するための指標である。第1投影系は、例えば、角膜中心部(例えば、角膜頂点を含む領域)を除く領域に第1パターン指標を投影する。第2投影系は、被検眼に対物レンズを介して第2パターン指標(例えば、パターン指標Q2)を投影する。第2投影系は、例えば、被検眼の角膜に第2パターン指標を投影する。第2パターン指標は、例えば、角膜形状を測定するための指標である。第2投影系は、例えば、被検眼において第1パターン指標が投影されていない位置に第2パターン指標を投影する。例えば、第2投影系は、角膜中心部に第2パターン指標を投影する。第1パターン指標および第2パターン指標は、例えば、プラチドリングパターンでもよいし、ドットパターンなどであってもよい。前眼観察系は、例えば、第1投影系に設けられた開口部(例えば、開口部55)を通して被検眼の前眼部を撮影する。測定光学系は、第2投影系と前眼観察系とは異なる光学系である。眼科装置は、少なくとも1つの測定光学系を備える。   The first projection system projects a first pattern index (for example, pattern index Q1) onto the eye to be examined. The first projection system projects, for example, a first pattern index on the cornea of the subject's eye. The first pattern index is, for example, an index for measuring a corneal shape. The first projection system projects, for example, the first pattern index onto a region excluding a central portion of the cornea (for example, a region including a vertex of the cornea). The second projection system projects a second pattern index (for example, a pattern index Q2) onto the subject's eye via an objective lens. The second projection system projects, for example, a second pattern index on the cornea of the eye to be inspected. The second pattern index is, for example, an index for measuring a corneal shape. The second projection system projects, for example, the second pattern index at a position where the first pattern index is not projected on the eye to be inspected. For example, the second projection system projects the second pattern index on the central part of the cornea. The first pattern index and the second pattern index may be, for example, a placido ring pattern or a dot pattern. The anterior eye observation system captures an image of the anterior eye of the subject's eye through an opening (for example, the opening 55) provided in the first projection system. The measurement optical system is an optical system different from the second projection system and the anterior eye observation system. The ophthalmic apparatus includes at least one measurement optical system.

なお、眼科装置は、第1分岐ミラー(例えば、分岐ミラー11)をさらに備えてもよい。第1分岐ミラーは、例えば、対物レンズ(例えば、レンズ15)よりも被検眼側(外側)に配置される。第1分岐ミラーは、前眼観察系と、第2投影系および測定光学系と、を分岐してもよい。これによって、第2投影系と前眼観察系でレンズを共有しない光学系となり、レンズ反射由来のゴースト光が前眼部画像に写り込むことを防止できる。また、第2投影系と測定光学系は、一部の光学素子を共有してもよい。これによって、レンズ枚数の削減、または装置のコンパクト化が可能となる。例えば、第2投影系と測定光学系は、両系の分岐前に配置された対物レンズ(例えば、レンズ15)を共有してもよい。これによって、対物レンズ以降の光学系(例えば、後述する第2分岐ミラー)の巨大化を防ぐことができる。また、第2投影系は、より像高の高いパターン指標を投影することができる。   The ophthalmologic apparatus may further include a first split mirror (for example, split mirror 11). The first split mirror is arranged, for example, closer to the subject's eye (outside) than the objective lens (for example, the lens 15). The first split mirror may split the anterior eye observation system and the second projection system and the measurement optical system. Accordingly, the second projection system and the anterior ocular observation system become an optical system that does not share a lens, and it is possible to prevent ghost light derived from lens reflection from being reflected in an anterior ocular segment image. Further, the second projection system and the measurement optical system may share some optical elements. This makes it possible to reduce the number of lenses or to make the apparatus compact. For example, the second projection system and the measurement optical system may share an objective lens (for example, the lens 15) disposed before branching of both systems. This can prevent the optical system after the objective lens (for example, a second branching mirror described later) from being enlarged. The second projection system can project a pattern index having a higher image height.

なお、第1分岐ミラーは、第2投影系と、前眼観察系および測定光学系と、を分岐してもよい。第2投影系を最初に分岐させることで、第2投影系のワーキングディスタンス(作動距離)を短くでき、その後段の光学系サイズを小さくできる。また、前眼観察系とレンズを共有しないため、レンズ反射由来のゴースト光が前眼部画像に写り込むことを防止できる。   The first split mirror may split the second projection system and the anterior eye observation system and the measurement optical system. By branching the second projection system first, the working distance (working distance) of the second projection system can be shortened, and the size of the optical system in the subsequent stage can be reduced. In addition, since the lens is not shared with the anterior ocular observation system, it is possible to prevent ghost light derived from lens reflection from being reflected in the anterior ocular segment image.

なお、第1分岐ミラーは、測定光学系と、前眼観察系および第2投影系と、を分岐してもよい。測定光学系をすぐに分岐することで測定光学系の作動距離を短くすることができる。この場合、眼科装置は、環状レンズ(例えば、環状レンズ16、または環状レンズ17)を備えてもよい。環状レンズは、例えば、穴あきレンズ、リングレンズなどであり、中央に空洞部(空洞部16a,17a)が形成された環状のレンズである。環状レンズは、例えば、第2投影系に配置される。前眼観察系の光路は空洞部を通過するため、第2投影系と前眼観察系はレンズを共有しない光学系となり、レンズ反射由来のゴースト光が前眼部画像に写り込むことを防止できる。   Note that the first split mirror may split the measurement optical system, the anterior eye observation system, and the second projection system. By immediately branching the measuring optical system, the working distance of the measuring optical system can be shortened. In this case, the ophthalmologic apparatus may include an annular lens (for example, the annular lens 16 or the annular lens 17). The annular lens is, for example, a perforated lens, a ring lens, or the like, and is an annular lens having a cavity (cavities 16a and 17a) formed in the center. The annular lens is arranged, for example, in the second projection system. Since the optical path of the anterior eye observation system passes through the cavity, the second projection system and the anterior eye observation system are optical systems that do not share a lens, and ghost light derived from lens reflection can be prevented from being reflected in the anterior eye image. .

なお、眼科装置は、第2分岐ミラー(例えば、分岐ミラー12)をさらに備えてもよい。第2分岐ミラーは、例えば、第1分岐ミラーによって分岐された光学系をさらに分岐する。例えば、第1分岐ミラーによって、測定光学系と、前眼観察系および第2投影系と、が分岐される場合、第2分岐ミラーは、前眼観察系と第2投影系を分岐する。この場合、環状レンズは、第1分岐ミラーと第2分岐ミラーとの間に配置されてもよいし、第1分岐ミラーよりも被検眼側に配置されてもよい。後者の場合、環状レンズのサイズを小さくできる。   The ophthalmologic apparatus may further include a second split mirror (for example, split mirror 12). The second split mirror further splits, for example, the optical system split by the first split mirror. For example, when the measurement optical system and the anterior eye observation system and the second projection system are branched by the first branch mirror, the second branch mirror branches the anterior eye observation system and the second projection system. In this case, the annular lens may be arranged between the first split mirror and the second split mirror, or may be arranged closer to the eye to be examined than the first split mirror. In the latter case, the size of the annular lens can be reduced.

なお、測定光学系は、被検眼によって反射した測定光と、測定光に対応する参照光との干渉状態を検出する干渉光学系(例えば、OCT光学系40)であってもよい。この場合、眼科装置は、角膜形状のみならず、干渉光学系による眼軸長の測定、前眼部断面画像による角膜裏面を含めた詳細な3次元形状解析、または眼底疾患を考慮した眼軸長測定等の解析ができる。なお、測定光学系は、被検眼の収差を測定する収差測定光学系であってもよい。   Note that the measurement optical system may be an interference optical system (for example, the OCT optical system 40) that detects an interference state between the measurement light reflected by the subject's eye and the reference light corresponding to the measurement light. In this case, the ophthalmic apparatus measures not only the corneal shape, but also the measurement of the axial length using an interference optical system, a detailed three-dimensional shape analysis including the back surface of the cornea based on an anterior ocular segment image, or the axial length in consideration of a fundus disease. Analysis such as measurement is possible. Note that the measurement optical system may be an aberration measurement optical system that measures the aberration of the subject's eye.

<実施例>
以下、本開示に係る眼科装置1を図面に基づいて説明する。図1は本実施例に係る眼科装置1の内部構成について示す概略構成図である。なお、以下の光学系は、図示無き筐体に内蔵されている。また、その筐体は、周知のアライメント移動機構の駆動によって、操作部材(例えば、タッチパネル、ジョイスティックなど)を介して被検眼Eに対して3次元的に移動される。なお、以下の説明においては、被検眼Eの光軸方向をZ方向、水平方向をX方向、鉛直方向をY方向として説明する。
<Example>
Hereinafter, an ophthalmologic apparatus 1 according to the present disclosure will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an internal configuration of the ophthalmologic apparatus 1 according to the present embodiment. The following optical system is built in a housing (not shown). In addition, the housing is three-dimensionally moved with respect to the eye E through an operation member (for example, a touch panel, a joystick, or the like) by driving a well-known alignment moving mechanism. In the following description, the direction of the optical axis of the subject's eye E will be described as the Z direction, the horizontal direction as the X direction, and the vertical direction as the Y direction.

本実施例の眼科装置1は、例えば、分岐ミラー11、分岐ミラー12、レンズ15、前眼観察系20、内部プラチド光学系30、OCT光学系40などを主に備える。分岐ミラー11、分岐ミラー12は、各光学系の光路を分岐する。レンズ15は、内部プラチド光学系30とOCT光学系40で共有される。前眼観察系20は、例えば、被検眼の前眼部を撮影する。内部プラチド光学系30は、対物レンズを介して被検眼Eにパターン指標を投影する。OCT光学系40は、被検眼Eの眼軸長の測定などに用いられる。   The ophthalmologic apparatus 1 according to the present embodiment mainly includes, for example, a branch mirror 11, a branch mirror 12, a lens 15, an anterior eye observation system 20, an internal Placid optical system 30, an OCT optical system 40, and the like. The split mirror 11 and the split mirror 12 split the optical path of each optical system. The lens 15 is shared by the internal placid optical system 30 and the OCT optical system 40. The anterior eye observation system 20 captures, for example, the anterior eye part of the subject's eye. The internal placid optical system 30 projects a pattern index onto the eye E through an objective lens. The OCT optical system 40 is used for measuring the axial length of the eye E to be examined.

<前眼観察系>
前眼観察系20は、前眼部正面像を撮影する。前眼観察系20は、レンズ21、レンズ22、および受光素子23などを備える。レンズ21は、前眼観察系20の対物レンズである。受光素子23は、被検眼の前眼部と略共役な位置に配置されている。受光素子23からの出力信号は前眼部の観察、角膜に投影されたパターン指標(例えば、プラチドリングパターンなど)の撮影等に使用される。この場合、被検眼からの反射光は、レンズ21、レンズ22を介して受光素子23に受光される。
<Anterior eye observation system>
The anterior eye observation system 20 captures an anterior eye part front image. The anterior eye observation system 20 includes a lens 21, a lens 22, a light receiving element 23, and the like. The lens 21 is an objective lens of the anterior ocular observation system 20. The light receiving element 23 is disposed at a position substantially conjugate with the anterior segment of the subject's eye. The output signal from the light receiving element 23 is used for observing the anterior segment of the eye, photographing a pattern index (for example, a Placido ring pattern) projected on the cornea, and the like. In this case, the reflected light from the subject's eye is received by the light receiving element 23 via the lens 21 and the lens 22.

<内部プラチド光学系>
内部プラチド光学系30は、レンズ15を介して被検眼の角膜にパターン指標を投影する。内部プラチド光学系30は、例えば、光源31、レンズ32、指標板33、レンズ34、レンズ35を備える。光源31は、例えば、可視光を出射する。指標板33は、光源31からの光をパターン指標光とする。図2に示すように、指標板33には遮光部33aと透光部33bが形成される。遮光部33aは、光源31からの光を遮蔽する。透光部33bは、光源31からの光を透過する。指標板33には、例えば、図2のような同心円状のリングパターン(プラチドリングパターン)が形成される。光源31から光がリング状の透光部33bを通過することによってリング状のパターン指標光となり、被検眼に投影される。
<Internal Placid optical system>
The internal placid optical system 30 projects the pattern index through the lens 15 onto the cornea of the subject's eye. The internal placid optical system 30 includes, for example, a light source 31, a lens 32, an index plate 33, a lens 34, and a lens 35. The light source 31 emits, for example, visible light. The index plate 33 uses light from the light source 31 as pattern index light. As shown in FIG. 2, the index plate 33 is formed with a light shielding portion 33a and a light transmitting portion 33b. The light shielding part 33a shields light from the light source 31. The light transmitting portion 33b transmits light from the light source 31. On the index plate 33, for example, a concentric ring pattern (a placido ring pattern) as shown in FIG. 2 is formed. When light from the light source 31 passes through the ring-shaped light transmitting portion 33b, the light becomes a ring-shaped pattern index light, and is projected onto the eye to be examined.

光源31からの光は、レンズ32、指標板33、レンズ34、レンズ35を通り、分岐ミラー12によって光軸O1方向に反射される。そして、分岐ミラー12での反射光は、レンズ15を通って、分岐ミラー11を透過し、被検眼に向かう。   The light from the light source 31 passes through the lens 32, the index plate 33, the lens 34, and the lens 35, and is reflected by the branch mirror 12 in the direction of the optical axis O1. The light reflected by the split mirror 12 passes through the lens 15 and passes through the split mirror 11, and travels toward the subject's eye.

なお、本実施例の内部プラチド光学系30は、固視標投影光学系を兼ねている。したがって、内部プラチド光学系30は、光源31からの指標光を被検眼に照射することによって、被検者を固視させることができる。なお、固視灯は前眼観察系20で分岐して専用の系を構築してもよいし、同様に内部プラチド光学系30で分岐してもよいし、OCT光学系40で分岐してもよい。   The internal placid optical system 30 of the present embodiment also serves as a fixation target projection optical system. Therefore, the internal platinum optical system 30 can fixate the subject by irradiating the subject with the index light from the light source 31. The fixation lamp may be branched by the anterior eye observation system 20 to form a dedicated system, similarly, may be branched by the internal platinum optical system 30, or may be branched by the OCT optical system 40. Good.

<OCT光学系>
OCT光学系40は、眼Eに測定光を照射する。OCT光学系40は、被検眼の各部(例えば、角膜、水晶体、眼底など)から反射された測定光と,参照光との干渉状態を検出器(受光素子)45によって検出する。
<OCT optical system>
The OCT optical system 40 irradiates the eye E with measurement light. The OCT optical system 40 detects an interference state between the measurement light reflected from each part (for example, cornea, crystalline lens, fundus, etc.) of the eye to be inspected and the reference light by a detector (light receiving element) 45.

OCT光学系40は、いわゆる眼科用光断層干渉計(OCT:Optical coherence tomography)の構成を持つ。OCT光学系40は、光源41から出射された光をカプラ(光分割器)42によって測定光(試料光)と参照光に分割する。そして、OCT光学系40は、測定光を被検眼に導き,また、参照光を参照光学系45に導く。その後、被検眼の各部によって反射された測定光と,参照光との合成による干渉光を検出器46に受光させる。   The OCT optical system 40 has a configuration of a so-called optical coherence tomography (OCT) for ophthalmology. The OCT optical system 40 divides the light emitted from the light source 41 into measurement light (sample light) and reference light by a coupler (light splitter) 42. Then, the OCT optical system 40 guides the measurement light to the subject's eye and guides the reference light to the reference optical system 45. Thereafter, the detector 46 receives the interference light resulting from the synthesis of the measurement light reflected by each part of the eye to be examined and the reference light.

光源41から出射された光は、カプラ42によって測定光束と参照光束に分割される。そして、測定光束は、光ファイバーを通過した後、空気中へ出射される。その光束は、レンズ43、レンズ44、レンズ15などを介して被検眼に照射される。そして、被検眼の各部で反射された光は、同様の光路を経て光ファイバーに戻される。   The light emitted from the light source 41 is split by the coupler 42 into a measurement light beam and a reference light beam. Then, the measurement light beam is emitted into the air after passing through the optical fiber. The luminous flux is applied to the subject's eye via the lens 43, the lens 44, the lens 15, and the like. Then, the light reflected by each part of the eye to be examined returns to the optical fiber via the same optical path.

参照光学系45は、眼Eでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系45は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系45は、例えば、反射光学系(例えば、参照ミラー)によって形成され、カプラ42からの光を反射光学系により反射することにより再度カプラ42に戻し、検出器46に導く。他の例としては、参照光学系45は、透過光学系(例えば、光ファイバー)によって形成され、カプラ42からの光を戻さず透過させることにより検出器46へと導く。   The reference optical system 45 generates reference light that is combined with reflected light obtained by reflection of the measurement light on the eye E. The reference optical system 45 may be a Michelson type or a Mach-Zehnder type. The reference optical system 45 is formed by, for example, a reflection optical system (for example, a reference mirror), reflects light from the coupler 42 back to the coupler 42 by reflecting the light from the reflection optical system, and guides the light to the detector 46. As another example, the reference optical system 45 is formed by a transmission optical system (for example, an optical fiber), and guides the light from the coupler 42 to the detector 46 by transmitting the light without returning it.

参照光学系45は、参照光路中の光学部材を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、参照ミラーが光軸方向に移動される。   The reference optical system 45 has a configuration that changes an optical path length difference between the measurement light and the reference light by moving an optical member in the reference light path. For example, the reference mirror is moved in the optical axis direction.

検出器46は、測定光と参照光との干渉状態を検出する。フーリエドメインOCTの場合では、干渉光のスペクトル強度が検出器46によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイル(Aスキャン信号)が取得される。   The detector 46 detects an interference state between the measurement light and the reference light. In the case of Fourier domain OCT, the spectral intensity of the interference light is detected by the detector 46, and a depth profile (A-scan signal) in a predetermined range is obtained by Fourier transform of the spectral intensity data.

例えば、フーリエドメインOCTとしては、Spectral-domain OCT(SD−OCT)、Swept-source OCT(SS−OCT)が挙げられる。また、Time-domain OCT(TD−OCT)であってもよい。   For example, the Fourier domain OCT includes Spectral-domain OCT (SD-OCT) and Swept-source OCT (SS-OCT). Further, it may be Time-domain OCT (TD-OCT).

SD−OCTの場合、光源41として低コヒーレント光源(広帯域光源)が用いられ、検出器46には、干渉光を各周波数成分(各波長成分)に分光する分光光学系(スペクトルメータ)が設けられる。スペクトルメータは、例えば、回折格子とラインセンサからなる。   In the case of SD-OCT, a low coherent light source (broadband light source) is used as the light source 41, and the detector 46 is provided with a spectral optical system (spectrum meter) that splits the interference light into each frequency component (each wavelength component). . The spectrum meter includes, for example, a diffraction grating and a line sensor.

SS−OCTの場合、光源41として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源(波長可変光源)が用いられ、検出器41として、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源41は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。   In the case of SS-OCT, a wavelength scanning type light source (variable wavelength light source) that changes the emission wavelength at high speed over time is used as the light source 41, and a single light receiving element is provided as the detector 41, for example. The light source 41 includes, for example, a light source, a fiber ring resonator, and a wavelength selection filter. Examples of the wavelength selection filter include a combination of a diffraction grating and a polygon mirror, and a filter using a Fabry-Perot etalon.

<外部プラチド光学系>
外部プラチド光学系50は、被検眼にパターン指標(例えば、プラチドリングパターン)を投影する。外部プラチド光学系50は、例えば、光源51、導光板52、プラチド板53などを備える。外部プラチド光学系50は、光軸O1を中心に配置される。
<External Placid Optical System>
The external placid optical system 50 projects a pattern index (for example, a placido ring pattern) on the eye to be examined. The external Placido optical system 50 includes, for example, a light source 51, a light guide plate 52, a Placido plate 53, and the like. The external placid optical system 50 is disposed around the optical axis O1.

光源51は、例えば、赤外光または可視光を発するLEDである。光源51は、導光板52の後方に複数並べて配置される。つまり、光源51は、導光板52の背後にリング状に配置される。導光板52は、例えば、透光体の板である。材質としては、例えば、アクリル樹脂等の透明樹脂が用いられる。プラチド板53は、導光板52の前面に配置される。プラチド板53は、例えば、透光体の板にプラチドリングパターンが形成されている。例えば、プラチド板53には、図3に示すように、黒塗装された遮光部53aと、塗装されていない透光部53bが、光軸O1を中心として同心円状に交互に多数形成される。   The light source 51 is, for example, an LED that emits infrared light or visible light. A plurality of light sources 51 are arranged behind the light guide plate 52. That is, the light source 51 is arranged in a ring shape behind the light guide plate 52. The light guide plate 52 is, for example, a translucent plate. As the material, for example, a transparent resin such as an acrylic resin is used. The placid plate 53 is arranged on the front surface of the light guide plate 52. The placido plate 53 has, for example, a placido ring pattern formed on a translucent plate. For example, on the placid plate 53, as shown in FIG. 3, a large number of light-shielding portions 53a painted black and light-transmitting portions 53b not painted are alternately formed concentrically around the optical axis O1.

光源51から出射した光は、導光板52の後面から内部に入射し、拡散しながら導光板52の前面から出射する。導光板52から出射した光は、プラチド板53を後方から照明し、透光部53bを透過した光によって、被検眼にプラチドリングパターンが投影される。   Light emitted from the light source 51 enters the inside of the light guide plate 52 from the rear surface, and is emitted from the front surface of the light guide plate 52 while diffusing. The light emitted from the light guide plate 52 illuminates the placid plate 53 from behind, and the light transmitted through the translucent portion 53b projects a placido ring pattern on the subject's eye.

なお、図3に示すように、本実施例の導光板52には開口部55の他に10ヶ所の穴が開いている。水平方向にある2つの長穴54は作動距離検出部40の光路のための穴であり、残りの穴は前眼部照明用のLEDがはめ込まれる。   As shown in FIG. 3, the light guide plate 52 of this embodiment has ten holes in addition to the openings 55. The two elongated holes 54 in the horizontal direction are holes for the optical path of the working distance detector 40, and the remaining holes are fitted with LEDs for anterior ocular segment illumination.

<作動距離検出部>
作動距離検出部60は、例えば、投光系と、受光系を備える。投光系は、赤外光を発する光源61とレンズ62を備える。受光系は、レンズ63と受光素子64を備える。光源61からの光はレンズ62によって略平行光束にされ、導光板52およびプラチド板53に設けられた長穴54を通って被検眼Eの角膜に斜め方向から照射される。受光系の受光光軸は光軸O1に対して投光系の投光光軸と対称となるように設けられており、光源61による角膜反射光は、長穴54、レンズ63を介して受光素子64に入射する。被検眼Eが前後方向(光軸方向)に相対的に移動すると、被検眼角膜に形成された指標像も受光素子上を移動するため、その偏位から被検眼の作動距離方向のアライメント状態を検知することができる。
<Working distance detector>
The working distance detector 60 includes, for example, a light projecting system and a light receiving system. The light projection system includes a light source 61 that emits infrared light and a lens 62. The light receiving system includes a lens 63 and a light receiving element 64. The light from the light source 61 is converted into a substantially parallel light beam by the lens 62, and is emitted from the oblique direction to the cornea of the eye E through a long hole 54 provided in the light guide plate 52 and the platinum plate 53. The light receiving optical axis of the light receiving system is provided so as to be symmetric with respect to the optical axis O1 with respect to the light emitting optical axis of the light projecting system, and the corneal reflection light from the light source 61 is received through the long hole 54 and the lens 63. The light enters the element 64. When the eye E moves relatively in the front-rear direction (optical axis direction), the index image formed on the cornea of the eye also moves on the light receiving element. Can be detected.

<光学配置について>
次に、第1実施例の光学配置について説明する。第1実施例では、図1に示すように、被検眼側に配置された分岐ミラー11によって、前眼観察系20と、内部プラチド光学系30およびOCT光学系40とが分岐される。図1の例では、分岐ミラー11の反射側に前眼観察系20が配置され、透過側に内部プラチド光学系30とOCT光学系40が配置される。また、分岐ミラー11の透過側にレンズ15が配置される。レンズ15は、内部プラチド光学系30とOCT光学系40とで共有される。レンズ15は、内部プラチド光学系30とOCT光学系40の対物レンズとなり、内部プラチド光学系30のフィールドレンズとしての役割を持つ。フィールドレンズとは、例えば、周辺部の視野の主光線角を制御するレンズである。内部プラチド光学系30およびOCT光学系40は、分岐ミラー12によって分岐される。なお、分岐ミラー11を透過した段階で軸上アスが発生するため、分岐ミラー11の透過側にはシリンドリカルレンズを配置するか、分岐ミラー11とは反対方向にチルトさせたウィンドウ(透明板など)を配置することで打ち消してもよい。もちろん、アスの程度が小さければそれらを配置しなくてもよい。例えば、分岐ミラーとしてプリズムを用いれば、アスは軽減される。
<Optical arrangement>
Next, the optical arrangement of the first embodiment will be described. In the first embodiment, as shown in FIG. 1, an anterior eye observation system 20, an internal placid optical system 30, and an OCT optical system 40 are branched by a branch mirror 11 disposed on the side of the eye to be examined. In the example of FIG. 1, the anterior eye observation system 20 is disposed on the reflection side of the split mirror 11, and the internal platinum optical system 30 and the OCT optical system 40 are disposed on the transmission side. Further, a lens 15 is disposed on the transmission side of the split mirror 11. The lens 15 is shared by the internal placid optical system 30 and the OCT optical system 40. The lens 15 serves as an objective lens for the internal platinum optical system 30 and the OCT optical system 40, and has a role as a field lens for the internal platinum optical system 30. The field lens is, for example, a lens that controls the principal ray angle of the peripheral visual field. The internal placid optical system 30 and the OCT optical system 40 are split by the split mirror 12. Since axial astigmatism occurs at the stage of transmission through the branch mirror 11, a cylindrical lens is disposed on the transmission side of the branch mirror 11, or a window (transparent plate or the like) tilted in the direction opposite to the branch mirror 11. May be canceled by arranging. Of course, if the degree of ass is small, it is not necessary to arrange them. For example, if a prism is used as the split mirror, astigmatism is reduced.

<制御部>
続いて、制御系について説明する。制御部70は、装置全体の制御及び測定結果の算出を行う。制御部70は、光学系の各光源および各受光素子、モニタ71、操作部72、メモリ73等と接続されている。なお、メモリ73には、各種制御プログラム、IOL度数算出プログラム等が記憶されている。
<Control unit>
Next, the control system will be described. The control unit 70 controls the entire apparatus and calculates a measurement result. The control unit 70 is connected to each light source and each light receiving element of the optical system, the monitor 71, the operation unit 72, the memory 73, and the like. Note that the memory 73 stores various control programs, an IOL frequency calculation program, and the like.

<制御動作>
以下、本装置の制御動作について説明する。まず、制御部70は、被検眼に対するアライメントを行う。アライメントの際、制御部70は、光源31、光源51及び光源61を点灯する。制御部70は、前眼観察系20によって被検眼の前眼部画像を撮影し、取得された前眼部画像に基づいて、被検眼と装置のXY方向のアライメントを行う。例えば、制御部70は、前眼部画像に写るパターン指標を検出し、パターン指標の中心が前眼部画像の中央にくるようにXY方向のアライメントを行う。また、制御部70は、作動距離検出部60の検出結果に基づいてZ方向のアライメントを行う。
<Control operation>
Hereinafter, the control operation of the present apparatus will be described. First, the control unit 70 performs alignment with respect to the subject's eye. At the time of alignment, the control unit 70 turns on the light source 31, the light source 51, and the light source 61. The control unit 70 captures an anterior eye image of the eye to be inspected by the anterior eye observation system 20 and performs alignment of the apparatus with the eye in the XY directions based on the acquired anterior eye image. For example, the control unit 70 detects a pattern index appearing in the anterior ocular segment image, and performs alignment in the XY directions such that the center of the pattern index is located at the center of the anterior ocular segment image. Further, the control unit 70 performs alignment in the Z direction based on the detection result of the working distance detection unit 60.

前眼部に対するアライメントが完了されると、制御部70は、前眼観察系20によって前眼部画像を撮影する。図4に示すように、前眼部画像Pには、外部プラチド光学系50によって投影されたパターン指標Q1と内部プラチド光学系30によって投影されたパターン指標Q2が写る。また、制御部70は、OCT光学系40によってAスキャン信号を取得する。取得された前眼部画像およびAスキャン信号は、メモリ73等に記憶される。   When the alignment with respect to the anterior segment is completed, the control unit 70 captures an anterior segment image using the anterior segment observation system 20. As shown in FIG. 4, the anterior segment image P includes a pattern index Q1 projected by the external Placido optical system 50 and a pattern index Q2 projected by the internal Placido optical system 30. Further, the control unit 70 acquires an A-scan signal using the OCT optical system 40. The acquired anterior eye image and the A-scan signal are stored in the memory 73 and the like.

続いて、制御部70は、眼形状パラメータを取得する。例えば、制御部70は、メモリ73に記憶された前眼部画像Pにおけるパターン指標Q1,Q2に基づいて被検眼の角膜形状を算出する。また、制御部70は、OCT光学系40を用いて取得されたAスキャン信号を解析する。例えば、制御部70は、Aスキャン信号のピーク位置等に基づいて角膜、水晶体、網膜などの位置を検出し、その位置に基づいて角膜厚、前房深度、水晶体厚、眼軸長などを測定する。取得された眼形状パラメータは、例えば、メモリ73等に記憶され、モニタ71等に表示される。   Subsequently, the control unit 70 acquires eye shape parameters. For example, the control unit 70 calculates the corneal shape of the subject's eye based on the pattern indexes Q1 and Q2 in the anterior segment image P stored in the memory 73. Further, the control unit 70 analyzes the A-scan signal acquired by using the OCT optical system 40. For example, the control unit 70 detects the positions of the cornea, the lens, the retina, and the like based on the peak position of the A-scan signal, and measures the corneal thickness, the anterior chamber depth, the lens thickness, the axial length, and the like based on the positions. I do. The acquired eye shape parameters are stored in, for example, the memory 73 and displayed on the monitor 71 and the like.

以上のように、第1実施例の眼科装置1は、前眼観察系20と、内部プラチド光学系30と、OCT光学系40の各光路を分岐ミラー11および分岐ミラー12によって分岐している。また、前眼観察系20と内部プラチド光学系30は対物レンズを共有せず、それぞれ対物レンズを備える。このような構成によって、対物レンズで反射した内部プラチド光学系30の指標光が、前眼観察系20によって撮影される前眼部画像Pに写り込むことを防止できる。したがって、前眼観察系20は、内部プラチド光学系30によって角膜中心部(光軸O1付近)に投影されたパターン指標を良好に撮影することができる。   As described above, in the ophthalmologic apparatus 1 of the first embodiment, the optical paths of the anterior eye observation system 20, the internal Placido optical system 30, and the OCT optical system 40 are branched by the branch mirror 11 and the branch mirror 12. Further, the anterior eye observation system 20 and the internal placid optical system 30 do not share an objective lens, and each have an objective lens. With such a configuration, it is possible to prevent the index light of the internal placido optical system 30 reflected by the objective lens from being reflected in the anterior ocular segment image P captured by the anterior ocular observation system 20. Therefore, the anterior ocular observation system 20 can satisfactorily photograph the pattern index projected on the central part of the cornea (near the optical axis O1) by the internal placido optical system 30.

また、第1実施例のようにOCT光学系40を備える場合、できるだけ作動距離を短くするため、外部プラチド光学系50によって投影されるパターン指標Q1の像高が高くなり、角膜中心部の形状情報を取得することが困難になる。このような場合であっても、上記実施例のような構成とすることで、対物反射によるゴースト光の発生を抑えた状態で、パターン指標Q2の解析による角膜中心部の形状取得を行うことができる。特に、OCT光学系40が測定光を走査するスキャナ(走査部)を備えておらず、前眼部の2次元断面画像を撮影できない場合であっても、角膜中心部の角膜形状を容易に測定することができる。   In the case where the OCT optical system 40 is provided as in the first embodiment, the image height of the pattern index Q1 projected by the external platinum optical system 50 is increased to shorten the working distance as much as possible, and the shape information of the central portion of the cornea is obtained. It will be difficult to get. Even in such a case, by adopting the configuration as in the above embodiment, it is possible to obtain the shape of the central portion of the cornea by analyzing the pattern index Q2 in a state in which the occurrence of ghost light due to objective reflection is suppressed. it can. In particular, even when the OCT optical system 40 does not include a scanner (scanning unit) that scans the measurement light and cannot capture a two-dimensional cross-sectional image of the anterior eye, the corneal shape at the central portion of the cornea can be easily measured. can do.

また、第1実施例の眼科装置1は、レンズ15を配置することによって内部プラチド光学系30を大型化させることなく、像高の高いパターン指標Q2を角膜に投影できるため、外部プラチド光学系50の開口部55を大きくし、前眼部画像等の視野を広げることができる。   Further, the ophthalmologic apparatus 1 according to the first embodiment can project the pattern index Q2 having a high image height onto the cornea without increasing the size of the internal platinum optical system 30 by arranging the lens 15; Opening 55 can be enlarged to widen the field of view of the anterior segment image and the like.

<第2実施例>
次に、第2実施例について説明する。第2実施例の眼科装置2は、第1実施例と比較して光学配置が異なる。以下、第1実施例と異なる点について主に説明し、同様の構成については同符号を付して説明を省略する。
<Second embodiment>
Next, a second embodiment will be described. The ophthalmologic apparatus 2 of the second embodiment differs from the first embodiment in the optical arrangement. Hereinafter, points different from the first embodiment will be mainly described, and the same components will be denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

第2実施例の眼科装置2では、図5に示すように、被検眼側に配置された分岐ミラー11によって、内部プラチド光学系30と、前眼観察系20およびOCT光学系40とが分岐される。図5の例では、分岐ミラー11の反射側に内部プラチド光学系30が配置され、分岐ミラー11の透過側に前眼観察系20とOCT光学系40が配置される。第2実施例では、内部プラチド光学系30が被検眼の近くに配置されるため、フィールドレンズが不要となり、光学系が簡略化される。なお、分岐ミラー11と分岐ミラー12の間に、前眼観察系20とOCT光学系40とで共有されるレンズを設けてもよい。   In the ophthalmologic apparatus 2 of the second embodiment, as shown in FIG. 5, the internal placid optical system 30 and the anterior ocular observation system 20 and the OCT optical system 40 are branched by the branch mirror 11 arranged on the eye to be examined. You. In the example of FIG. 5, the internal placid optical system 30 is arranged on the reflection side of the branch mirror 11, and the anterior eye observation system 20 and the OCT optical system 40 are arranged on the transmission side of the branch mirror 11. In the second embodiment, since the internal placido optical system 30 is arranged near the eye to be inspected, a field lens becomes unnecessary, and the optical system is simplified. Note that a lens shared by the anterior eye observation system 20 and the OCT optical system 40 may be provided between the branch mirror 11 and the branch mirror 12.

<第3実施例>
第3実施例について説明する。第3実施例の眼科装置3は、第1および第2実施例の眼科装置1,2と比較して光学配置が異なる。以下、第1および第2実施例と異なる点について主に説明し、同様の構成については同符号を付して説明を省略する。
<Third embodiment>
A third embodiment will be described. The ophthalmologic apparatus 3 of the third embodiment differs from the ophthalmic apparatuses 1 and 2 of the first and second embodiments in optical arrangement. Hereinafter, points different from the first and second embodiments will be mainly described, and the same components will be denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

第3実施例の眼科装置3では、図6に示すように、被検眼側に配置された分岐ミラー11によって、OCT光学系40と、前眼観察系20および内部プラチド光学系30とが分岐される。図6の例では、分岐ミラー11の反射側にOCT光学系40が配置され、透過側に前眼観察系20と内部プラチド光学系30が配置される。また、分岐ミラー11の透過側に環状レンズ16が配置される。環状レンズ16は、例えば、中央部分に空洞部16aが形成された穴あきレンズまたはリングレンズなどである。環状レンズ16は内部プラチド光学系30のフィールドレンズとなる。前眼観察系20に受光される光は、穴あきレンズ16の空洞部16aを通り抜けるため、屈折はせずに分岐ミラー12に到達する。このように、先にOCT光学系40から分岐させることによって、OCT光学40の作動距離を短くすることができる。また、環状レンズ16によって、対物反射を生じさせることなく内部プラチド光学系30の指標光を屈折させることができる。   In the ophthalmologic apparatus 3 of the third embodiment, as shown in FIG. 6, the OCT optical system 40, the anterior ocular observation system 20, and the internal Placido optical system 30 are branched by the branch mirror 11 arranged on the side of the subject's eye. You. In the example of FIG. 6, the OCT optical system 40 is arranged on the reflection side of the split mirror 11, and the anterior eye observation system 20 and the internal Placido optical system 30 are arranged on the transmission side. Further, an annular lens 16 is disposed on the transmission side of the split mirror 11. The annular lens 16 is, for example, a perforated lens or a ring lens having a hollow portion 16a formed in a central portion. The annular lens 16 becomes a field lens of the internal platinum optical system 30. The light received by the anterior eye observation system 20 passes through the hollow portion 16a of the perforated lens 16, and reaches the branch mirror 12 without being refracted. As described above, by branching from the OCT optical system 40 first, the working distance of the OCT optical 40 can be shortened. Further, the index light of the internal platinum optical system 30 can be refracted by the annular lens 16 without causing objective reflection.

<変容例>
続いて、第3実施例の変容例について説明する。本変容例の眼科装置3aでは、図7に示すように、第3実施例の環状レンズ16に代わり、環状レンズ17が分岐ミラー11よりも被検眼側(外側)に配置される。環状レンズ17は、内部プラチド光学系30のフィールドレンズとなる。前眼観察系20またはOCT光学系40に受光される光は、環状レンズ17の空洞部17aを通り抜けるため、屈折はせずに分岐ミラー11または分岐ミラー12に到達する。本変容例の眼科装置3aは、第3実施例の効果に加え、環状レンズを被検眼の近くに配置できるため、環状レンズのサイズを小さくすることができる。
<Transformation example>
Next, a modification of the third embodiment will be described. In the ophthalmologic apparatus 3a of this modification, as shown in FIG. 7, an annular lens 17 is arranged on the side of the subject's eye (outside) with respect to the branch mirror 11 instead of the annular lens 16 of the third embodiment. The annular lens 17 serves as a field lens of the internal platinum optical system 30. The light received by the anterior eye observation system 20 or the OCT optical system 40 passes through the cavity 17a of the annular lens 17 and reaches the branch mirror 11 or 12 without being refracted. In the ophthalmologic apparatus 3a of this modification, in addition to the effects of the third embodiment, the size of the annular lens can be reduced because the annular lens can be arranged near the eye to be examined.

なお、以上の第1〜3実施例において、分岐ミラー11および分岐ミラー12の透過側および反射側の光学配置は逆であってもよい。例えば、第1実施例の場合、分岐ミラー11の反射側に内部プラチド光学系30およびOCT光学系40が配置され、透過側に前眼観察系20が配置されてもよい。また、分岐ミラー12の反射側にOCT光学系40が配置され、透過側に内部プラチド光学系30が配置されてもよい。   In the first to third embodiments described above, the optical arrangements of the split mirror 11 and the split mirror 12 on the transmission side and the reflection side may be reversed. For example, in the case of the first embodiment, the internal placid optical system 30 and the OCT optical system 40 may be arranged on the reflection side of the split mirror 11, and the anterior eye observation system 20 may be arranged on the transmission side. Further, the OCT optical system 40 may be arranged on the reflection side of the splitting mirror 12, and the internal Placido optical system 30 may be arranged on the transmission side.

なお、分岐ミラー11,12は板状のミラーであってもよいし、プリズム形状であってもよい。また、分岐ミラー11,12は、ダイクロイックミラーであってもよいし、偏光ビームスプリッタ(PBS)であってもよい。   The split mirrors 11 and 12 may be plate-shaped mirrors or prism-shaped mirrors. Further, the split mirrors 11 and 12 may be dichroic mirrors or polarization beam splitters (PBS).

なお、以上の実施例において、眼科装置1〜3はOCT光学系40を備えたが、シャックハルトマン型の波面センサなどを備えた収差測定光学系、またはその他の光学系を備えてもよい。本開示の技術は、前眼観察系20と内部プラチド光学系30を含めた3つ以上の光学系を備える場合に適用される。   In the above embodiments, the ophthalmologic apparatuses 1 to 3 include the OCT optical system 40, but may include an aberration measuring optical system including a Shack-Hartmann wavefront sensor or the like, or other optical systems. The technology of the present disclosure is applied to a case where three or more optical systems including the anterior eye observation system 20 and the internal placid optical system 30 are provided.

1 眼科装置
2 眼科装置
3 眼科装置
3a 眼科装置
11 分岐ミラー
12 分岐ミラー
15 対物レンズ
16 環状レンズ
16a 空洞部
17 環状レンズ
17a 空洞部
20 前眼観察系
21 レンズ
22 レンズ
23 受光素子
30 内部プラチド光学系
31 光源
32 レンズ
33 指標板
34 レンズ
35 レンズ
40 OCT光学系
41 光源
42 カプラ
43 レンズ
44 レンズ
45 参照光学系
46 検出器
50 外部プラチド光学系
51 光源
52 指標板
55 開口部
60 作動距離検出系
61 光源
62 レンズ
63 レンズ
64 受光素子
70 制御部
P 前眼部画像
Q1 パターン指標
Q2 パターン指標
Reference Signs List 1 ophthalmic apparatus 2 ophthalmic apparatus 3 ophthalmic apparatus 3a ophthalmic apparatus 11 branch mirror 12 branch mirror 15 objective lens 16 annular lens 16a cavity 17 annular lens 17a cavity 20 anterior ocular observation system 21 lens 22 lens 23 light receiving element 30 internal platinum optical system REFERENCE SIGNS LIST 31 light source 32 lens 33 index plate 34 lens 35 lens 40 OCT optical system 41 light source 42 coupler 43 lens 44 lens 45 reference optical system 46 detector 50 external placid optical system 51 light source 52 index plate 55 opening 60 working distance detection system 61 light source 62 lens 63 lens 64 light receiving element 70 control unit P anterior ocular segment image Q1 pattern index Q2 pattern index

Claims (10)

被検眼を測定する眼科装置であって、
前記被検眼に第1パターン指標を投影する第1投影系と、
前記被検眼に対物レンズを介して第2パターン指標を投影する第2投影系と、
前記第1投影系に設けられた開口部を通して前記被検眼の前眼部を撮影する前眼観察系と、
前記第2投影系と前記前眼観察系とは異なる1つ以上の測定光学系と、
を備えることを特徴とする眼科装置。
An ophthalmic apparatus that measures an eye to be examined,
A first projection system that projects a first pattern index onto the subject's eye;
A second projection system that projects a second pattern index onto the eye to be examined via an objective lens;
An anterior eye observation system for photographing an anterior eye of the eye through an opening provided in the first projection system;
One or more measurement optical systems different from the second projection system and the anterior eye observation system,
An ophthalmologic apparatus comprising:
前記測定光学系は、前記被検眼によって反射した測定光と、前記測定光に対応する参照光と、の干渉状態を検出する干渉光学系であることを特徴とする請求項1の眼科装置。   The ophthalmologic apparatus according to claim 1, wherein the measurement optical system is an interference optical system that detects an interference state between the measurement light reflected by the eye to be inspected and a reference light corresponding to the measurement light. 前記対物レンズよりも前記被検眼側に配置された第1分岐ミラーをさらに備え、
前記第1分岐ミラーは、前記前眼観察系と、第2投影系および測定光学系と、を分岐することを特徴とする請求項1または2の眼科装置。
The apparatus further includes a first split mirror disposed closer to the subject's eye than the objective lens,
The ophthalmologic apparatus according to claim 1, wherein the first branch mirror branches the anterior eye observation system, the second projection system, and the measurement optical system.
前記第2投影系と前記測定光学系は、一部の光学素子を共有することを特徴とする請求項1〜3のいずれかの眼科装置。   The ophthalmologic apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the second projection system and the measurement optical system share some optical elements. 前記第2投影系と前記測定光学系は、前記対物レンズを共有することを特徴とする請求項4の眼科装置。   The ophthalmologic apparatus according to claim 4, wherein the second projection system and the measurement optical system share the objective lens. 前記第2投影系と、前記前眼観察系および前記測定光学系と、を分岐する第1分岐ミラーをさらに備えることを特徴とする請求項1または2の眼科装置。   The ophthalmologic apparatus according to claim 1, further comprising a first split mirror that splits the second projection system, the anterior eye observation system, and the measurement optical system. 前記測定光学系と、前記前眼観察系および第2投影系と、を分岐する第1分岐ミラーをさらに備えることを特徴とする請求項1または2の眼科装置。   The ophthalmologic apparatus according to claim 1, further comprising a first branch mirror that branches the measurement optical system, the anterior eye observation system, and the second projection system. 前記第2投影系に配置され、中央に空洞部が形成された環状レンズをさらに備え、
前記前眼観察系の光路は前記空洞部を通過することを特徴とする請求項7の眼科装置。
An annular lens disposed in the second projection system and having a hollow portion formed in the center;
The ophthalmologic apparatus according to claim 7, wherein an optical path of the anterior eye observation system passes through the cavity.
前記前眼観察系と第2投影系を分岐する第2分岐ミラーをさらに備え、
前記環状レンズは、前記第1分岐ミラーと前記第2分岐ミラーとの間に配置されることを特徴とする請求項8の眼科装置。
A second splitting mirror for splitting the anterior eye observation system and the second projection system,
The ophthalmologic apparatus according to claim 8, wherein the annular lens is disposed between the first split mirror and the second split mirror.
前記環状レンズは、前記第1分岐ミラーよりも被検眼側に配置されることを特徴とする請求項8の眼科装置。
The ophthalmologic apparatus according to claim 8, wherein the annular lens is disposed closer to the subject's eye than the first split mirror.
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