JP2020021450A - In-vehicle detection system - Google Patents

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JP2020021450A JP2019022644A JP2019022644A JP2020021450A JP 2020021450 A JP2020021450 A JP 2020021450A JP 2019022644 A JP2019022644 A JP 2019022644A JP 2019022644 A JP2019022644 A JP 2019022644A JP 2020021450 A JP2020021450 A JP 2020021450A
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Abstract

To provide an in-vehicle detection system capable of increasing the accuracy of onboard sensors while suppressing the increase of memory capacity for larger capacity and more applications in the vehicle.SOLUTION: An in-vehicle detection system 100 includes: a non-volatile memory 101; a system-on-chip (SoC) 102 for reading and writing data to and from the non-volatile memory 101; and a detector 103 that outputs detection information to the SoC102. The SoC 102 changes the control signal of the non-volatile memory 101 according to the output of the detection unit 103.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本開示は、システムオンチップを備えた車載検知システムに関する。   The present disclosure relates to a vehicle-mounted detection system including a system-on-chip.

自動運転等の様々なアプリケーションの実現を目的として、カメラ等により検知した情報を処理するためのシステムオンチップ(SoC)を備えた車載検知システムの開発が進められている。   For the purpose of realizing various applications such as automatic driving and the like, development of an in-vehicle detection system provided with a system-on-chip (SoC) for processing information detected by a camera or the like is under way.

従来の車載検知システムにおいては、SoCのワークエリアとして機能するメモリとして、高速アクセス可能なDRAM(Dynamic Random Access Memory)が実装されてきた。また、DRAMは揮発性メモリであることから、SoCで実行されるプログラム等を格納するために、従来の車載検知システムにおいては、DRAMに加えて、DRAMと同じメモリ容量を持つROM(Read Only Memory)も実装する必要があった(特許文献1)。   In a conventional vehicle-mounted detection system, a DRAM (Dynamic Random Access Memory) that can be accessed at high speed has been mounted as a memory that functions as a work area of the SoC. In addition, since the DRAM is a volatile memory, in order to store programs executed by the SoC, in a conventional vehicle-mounted detection system, in addition to the DRAM, a ROM (Read Only Memory) having the same memory capacity as the DRAM is used. ) Also had to be implemented (Patent Document 1).

特許4739870号公報Japanese Patent No. 4739870

しかしながら、今後の自動運転の実現に向けたカメラ用センサー(撮像センサー)の高精度化、大容量化に加えて、車両におけるアプリケーションのさらなる増加に伴って、従来の車載検知システムにおいては、DRAM及びROMを合わせたメモリ容量が増大してしまう。メモリ容量、つまり、実装基板に占めるDRAM及びROMの面積比率が増大すると、基板面積を増加させなければならなくなるので、システムの車両への搭載自由度が制約されるという問題が生じる。   However, along with the increase in the accuracy and capacity of camera sensors (imaging sensors) for the realization of automatic driving in the future, along with the further increase in applications in vehicles, conventional in-vehicle detection systems require DRAM and The memory capacity including the ROM increases. When the memory capacity, that is, the ratio of the area of the DRAM and the ROM to the mounting substrate increases, the substrate area must be increased, which causes a problem that the degree of freedom of mounting the system on the vehicle is restricted.

また、従来の車載検知システムにおいては、電源投入時にROMからDRAMへデータ転送を行う必要がある。このため、システム規模が大きくなってメモリ容量が増大すると、システムがスタンバイ状態になるまでに要する時間が長くなる。すなわち、システムの起動から車両を発進させるまでに要する時間が長くなるという実用上の問題も生じる。   Further, in the conventional vehicle-mounted detection system, it is necessary to transfer data from the ROM to the DRAM when the power is turned on. Therefore, as the system scale increases and the memory capacity increases, the time required for the system to enter the standby state becomes longer. That is, there is a practical problem that the time required from the start of the system to the start of the vehicle becomes long.

本開示は、以上に述べた課題を解決するものであって、車両搭載センサーの高精度化、大容量化や車両におけるアプリケーションの増加に対してメモリ容量の増大を抑制できる車載検知システムを提供することを目的とする。   The present disclosure solves the problems described above, and provides an in-vehicle detection system that can suppress an increase in memory capacity in response to an increase in the accuracy and capacity of a vehicle-mounted sensor and an increase in applications in a vehicle. The purpose is to:

前記の目的を達成するために、本開示に係る車載検知システムの一の態様は、不揮発性メモリと、不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップと、システムオンチップに検知情報を出力する検知部とを備え、システムオンチップは、検知部の出力に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリの書込時間を変化させると共に、不揮発性メモリのクロック周期を書込時間の最大値よりも長く設定することによって、不揮発性メモリのクロック周期を一定に保持する。   In order to achieve the above object, one embodiment of the on-vehicle detection system according to the present disclosure includes a nonvolatile memory, a system-on-chip that reads and writes data from and to the nonvolatile memory, and a system-on-chip A detection unit that outputs information, and the system-on-chip changes a write time of the nonvolatile memory by changing a control signal of the nonvolatile memory in accordance with an output of the detection unit, and changes a writing time of the nonvolatile memory. By setting the clock cycle longer than the maximum value of the writing time, the clock cycle of the nonvolatile memory is kept constant.

また、本開示に係る車載検知システムの他の態様は、不揮発性メモリと、不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップと、システムオンチップに検知情報を出力する検知部とを備え、システムオンチップは、検知部の出力に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリの書込時間を変化させると共に、不揮発性メモリの書込時間の変化に合わせて不揮発性メモリのクロック周期を変化させる。   Another embodiment of the in-vehicle detection system according to the present disclosure includes a nonvolatile memory, a system-on-chip that reads and writes data from and to the nonvolatile memory, and a detection unit that outputs detection information to the system-on-chip. The system-on-chip changes the write time of the nonvolatile memory by changing the control signal of the nonvolatile memory according to the output of the detection unit, and adjusts the write time of the nonvolatile memory according to the change. To change the clock cycle of the nonvolatile memory.

本開示に係る車載検知システムによると、検知部の出力に応じてシステムオンチップは不揮発性メモリの制御信号を変化させる。このため、厳しい車載環境においても不揮発性メモリの性能を向上させることができる。例えば、高温下ではリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリを使用するのであれば、不揮発性メモリの周囲温度が例えば50℃以上になった場合に、不揮発性メモリの書込時間が長くなるように制御信号を変化させることによって、不揮発性メモリのリテンション性能を維持することができる。   According to the vehicle-mounted detection system according to the present disclosure, the system-on-chip changes the control signal of the nonvolatile memory according to the output of the detection unit. Therefore, the performance of the nonvolatile memory can be improved even in a severe vehicle environment. For example, if a type of non-volatile memory whose retention performance is degraded at high temperatures is used, when the ambient temperature of the non-volatile memory becomes, for example, 50 ° C. or more, the writing time of the non-volatile memory becomes longer. The retention performance of the nonvolatile memory can be maintained by changing the control signal.

以上のように、本開示に係る車載検知システムによると、不揮発性メモリの性能向上を実現できるので、不揮発性メモリに記憶されるデータの少なくとも一部については、ワークエリアとして機能するDRAM等のRAMを別途設けることなく、システムオンチップから不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを直接行うことができる。従って、メモリ容量やメモリデバイス数の増大、つまり基板面積の増大を抑制できるため、システムの車両への搭載自由度を確保することができる。また、システムを低消費電力化できるため、筐体サイズの縮小や部品の最適化も可能となるので、コスト削減を図ることもできる。   As described above, according to the in-vehicle detection system according to the present disclosure, the performance of the nonvolatile memory can be improved, so that at least a part of the data stored in the nonvolatile memory is a RAM such as a DRAM that functions as a work area. Can be directly read and written from the system-on-chip to the non-volatile memory without separately providing a memory. Therefore, an increase in the memory capacity and the number of memory devices, that is, an increase in the board area can be suppressed, so that the degree of freedom in mounting the system on the vehicle can be ensured. Further, since the power consumption of the system can be reduced, the size of the housing can be reduced and the components can be optimized, so that the cost can be reduced.

また、本開示に係る車載検知システムによると、不揮発性メモリの性能向上により、使用メモリを不揮発性メモリのみとする構成や、ワークエリアとして機能するDRAM等の容量を小さくした構成を採用できる。このため、電源遮断時に不揮発性メモリによりデータ保持できるだけではなく、電源投入時における不揮発性メモリからDRAM等へのデータ転送を不要にしたり、当該データ転送に要する時間を短縮することができる。従って、システムを高速でスタンバイ状態にすることが可能となる。   Further, according to the on-vehicle detection system according to the present disclosure, by improving the performance of the nonvolatile memory, a configuration in which only the nonvolatile memory is used and a configuration in which the capacity of a DRAM or the like functioning as a work area is reduced can be adopted. Therefore, not only can the data be retained by the non-volatile memory when the power is turned off, but also the data transfer from the non-volatile memory to the DRAM or the like when the power is turned on becomes unnecessary, and the time required for the data transfer can be shortened. Therefore, it is possible to put the system in a standby state at high speed.

本開示によれば、車両搭載センサーの高精度化、大容量化や車両におけるアプリケーションの増加に対してメモリ容量の増大を抑制できる車載検知システムを提供することができる。すなわち、システムの車両への搭載自由度が確保され且つスタンバイまでの待ち時間が短い車載検知システムを実現することができる。   According to the present disclosure, it is possible to provide an in-vehicle detection system capable of suppressing an increase in memory capacity in response to an increase in the accuracy and capacity of a vehicle-mounted sensor and an increase in applications in a vehicle. That is, it is possible to realize an in-vehicle detection system in which the degree of freedom of mounting the system on the vehicle is ensured and the waiting time until standby is short.

図1は、実施形態に係る車載検知システムのブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the embodiment. 図2は、比較例に係る車載検知システムのブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a vehicle-mounted detection system according to a comparative example. 図3は、実施例1に係る車載検知システムのブロック図である。FIG. 3 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment. 図4は、実施例1に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの周囲温度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 4 is an example of a timing diagram illustrating a relationship between an ambient temperature of a nonvolatile memory and a control signal in the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment. 図5は、実施例1に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの周囲温度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 5 is an example of a timing chart illustrating a relationship between an ambient temperature of a nonvolatile memory and a control signal in the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment. 図6は、実施例1に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの周囲温度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 6 is an example of a timing chart illustrating a relationship between an ambient temperature of a nonvolatile memory and a control signal in the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment. 図7は、実施例1に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの周囲温度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 7 is an example of a timing chart illustrating a relationship between an ambient temperature of a nonvolatile memory and a control signal in the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment. 図8は、実施例2に係る車載検知システムのブロック図である。FIG. 8 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the second embodiment. 図9は、実施例2に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの書換頻度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 9 is an example of a timing diagram illustrating a relationship between a control signal and a rewrite frequency of a nonvolatile memory in the vehicle-mounted detection system according to the second embodiment. 図10は、実施例2に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの書換頻度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 10 is an example of a timing chart illustrating a relationship between a rewrite frequency of a nonvolatile memory and a control signal in the vehicle-mounted detection system according to the second embodiment. 図11は、実施例2に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの書換頻度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 11 is an example of a timing chart illustrating a relationship between a rewriting frequency of a nonvolatile memory and a control signal in the vehicle-mounted detection system according to the second embodiment. 図12は、実施例2に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの書換頻度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 12 is an example of a timing chart illustrating a relationship between a rewrite frequency of a nonvolatile memory and a control signal in the vehicle-mounted detection system according to the second embodiment. 図13は、変形例1に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの構成図である。FIG. 13 is a configuration diagram of the nonvolatile memory in the vehicle-mounted detection system according to the first modification. 図14は、変形例1に係る車載検知システムにおける不揮発性メモリの周囲温度と制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。FIG. 14 is an example of a timing chart showing a relationship between an ambient temperature of a nonvolatile memory and a control signal in the vehicle-mounted detection system according to the first modification. 図15は、変形例2に係る車載検知システムのブロック図である。FIG. 15 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the second modification. 図16は、変形例3に係る車載検知システムのブロック図である。FIG. 16 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the third modification.

以下、本開示の実施形態に係る車載検知システムについて、図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, a vehicle-mounted detection system according to an embodiment of the present disclosure will be described with reference to the drawings.

図1は、本実施形態に係る車載検知システムのブロック図である。図1に示すように、車載検知システム100は、不揮発性メモリ101と、不揮発性メモリ101に対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップ(SoC)102と、SoC102に検知情報を出力する検知部103とを備え、SoC102は、検知部103の出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させる。   FIG. 1 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, a vehicle-mounted detection system 100 includes a nonvolatile memory 101, a system-on-chip (SoC) 102 that reads and writes data from and to the nonvolatile memory 101, and a detection that outputs detection information to the SoC 102. The SoC 102 changes the control signal of the nonvolatile memory 101 according to the output of the detection unit 103.

不揮発性メモリ101としては、ランダムアクセス可能な不揮発性メモリを用いてもよく、例えば、抵抗変化型メモリ(Resistance RAM)、強誘電体メモリ(Ferroelectric RAM)、磁気抵抗型メモリ(Magnetic RAM)、相変化メモリ(Phase Change Memory)等を用いてもよい。   As the nonvolatile memory 101, a nonvolatile memory that can be randomly accessed may be used. For example, a resistance change memory (Resistance RAM), a ferroelectric memory (Ferroelectric RAM), a magnetoresistive memory (Magnetic RAM), A change memory (Phase Change Memory) or the like may be used.

SoC102は、不揮発性メモリ101に記憶されているプログラムに従って動作するプロセッサを主なハードウェア構成として備えている。プロセッサは、プログラムを実行することによって機能を実現することができれば、その種類は問わないが、例えば半導体集積回路(IC)又はLSI(large scale integration)を含む一つ又は複数の電子回路により構成されていてもよい。複数の電子回路は、一つのチップに集積されていてもよいし、複数のチップに設けられていてもよい。複数のチップは一つの装置に集約されていてもよいし、複数の装置に備えられていてもよい。   The SoC 102 includes a processor that operates according to a program stored in the nonvolatile memory 101 as a main hardware configuration. The processor is not limited to a particular type as long as the function can be realized by executing a program. For example, the processor includes one or more electronic circuits including a semiconductor integrated circuit (IC) or an LSI (large scale integration). May be. The plurality of electronic circuits may be integrated on one chip, or may be provided on a plurality of chips. A plurality of chips may be integrated in one device, or may be provided in a plurality of devices.

検知部103は、不揮発性メモリ101の性能や動作等に関連する情報、例えば、不揮発性メモリ101の周囲温度や書換頻度等を検知する。   The detection unit 103 detects information related to the performance, operation, and the like of the nonvolatile memory 101, such as the ambient temperature and the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101.

車載検知システム100は、例えば車外の様子を撮影するためのカメラ用センサー(撮像センサー)等のセンサー104をさらに備えている。センサー104により取得された情報はSoC102に出力され、SoC102は、センサー104からの出力情報を、例えば不揮発性メモリ101から読み出したプログラムを用いて処理する。   The on-vehicle detection system 100 further includes a sensor 104 such as a camera sensor (imaging sensor) for photographing the outside of the vehicle. The information obtained by the sensor 104 is output to the SoC 102, and the SoC 102 processes the output information from the sensor 104 using, for example, a program read from the nonvolatile memory 101.

また、車載検知システム100は、車両に搭載された複数の制御ユニットを相互に接続する通信ネットワークであるCAN(Controller Area Network)200に接続されていてもよい。CAN200は、例えばバスを介して、車両に搭載される複数の制御ユニット、各種車載センサ、スイッチ装置等を相互に接続するものであり、これによって、制御ユニット間でデータの共有が図られる。ここで、車載検知システム100は、SoC102とCAN200との間で通信を行うためのCANマイコン105と、CANマイコン105用のメモリであるEEPROM106とをさらに備えていてもよい。   Further, the on-vehicle detection system 100 may be connected to a CAN (Controller Area Network) 200 which is a communication network for interconnecting a plurality of control units mounted on the vehicle. The CAN 200 interconnects a plurality of control units mounted on the vehicle, various in-vehicle sensors, a switch device, and the like via, for example, a bus, thereby sharing data between the control units. Here, the in-vehicle detection system 100 may further include a CAN microcomputer 105 for performing communication between the SoC 102 and the CAN 200, and an EEPROM 106 that is a memory for the CAN microcomputer 105.

また、車載検知システム100は、不揮発性メモリ101、SoC102、検知部103、CANマイコン105及びEEPROM106にそれぞれ所定の電圧を供給するための電源回路107をさらに備えていてもよい。電源回路107には、外部電源300から電力が供給されてもよい。   The vehicle-mounted detection system 100 may further include a power supply circuit 107 for supplying a predetermined voltage to each of the nonvolatile memory 101, the SoC 102, the detection unit 103, the CAN microcomputer 105, and the EEPROM 106. The power supply circuit 107 may be supplied with power from an external power supply 300.

以上に説明した本実施形態によると、検知部103の出力に応じてSoC102は不揮発性メモリ101の制御信号を変化させる。このため、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。例えば、高温下ではリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を使用するのであれば、不揮発性メモリ101の周囲温度が例えば50℃以上になった場合に、不揮発性メモリ101の書込時間が長くなるように制御信号を変化させることによって、不揮発性メモリ101のリテンション性能の変動を補償することができる。   According to the present embodiment described above, the SoC 102 changes the control signal of the nonvolatile memory 101 according to the output of the detection unit 103. Therefore, the performance of the nonvolatile memory 101 can be improved even in a severe vehicle environment. For example, if the non-volatile memory 101 whose retention performance is degraded at high temperatures is used, when the ambient temperature of the non-volatile memory 101 becomes, for example, 50 ° C. or more, the writing time of the non-volatile memory 101 is reduced. By changing the control signal so as to be longer, it is possible to compensate for a change in the retention performance of the nonvolatile memory 101.

このように本実施形態によると、不揮発性メモリ101の性能向上を図れるので、ワークエリアとして機能するDRAM等を別途設けることなく、SoC102から不揮発性メモリ101に対して直接データの読出し及び書込みを行うことができる。従って、メモリ容量やメモリデバイス数の増大、つまり基板面積の増大を抑制できるため、システムの車両への搭載自由度を確保することができる。また、システムを低消費電力化できるため、筐体サイズの縮小や部品の最適化も可能となるので、コスト削減を図ることもできる。   As described above, according to the present embodiment, since the performance of the nonvolatile memory 101 can be improved, data can be directly read and written from the SoC 102 to the nonvolatile memory 101 without separately providing a DRAM or the like functioning as a work area. be able to. Therefore, an increase in the memory capacity and the number of memory devices, that is, an increase in the board area can be suppressed, so that the degree of freedom in mounting the system on the vehicle can be ensured. Further, since the power consumption of the system can be reduced, the size of the housing can be reduced and the components can be optimized, so that the cost can be reduced.

また、本実施形態によると、不揮発性メモリ101の性能を向上させることができるので、SoC102が使用するメモリを不揮発性メモリ101のみとする構成を採用できる。言い換えると、SoC102のワークエリアとして機能するDRAM等を設けなくてもよい。このため、電源遮断時に不揮発性メモリ101によりデータ保持できるだけではなく、電源投入時における不揮発性メモリ101からDRAM等へのデータ転送を不要にできるので、システムを高速でスタンバイ状態にすることが可能となる。   Further, according to the present embodiment, since the performance of the nonvolatile memory 101 can be improved, a configuration in which the SoC 102 uses only the nonvolatile memory 101 can be adopted. In other words, a DRAM or the like functioning as a work area of the SoC 102 may not be provided. For this reason, not only can the data be retained by the nonvolatile memory 101 when the power is turned off, but also the data transfer from the nonvolatile memory 101 to the DRAM or the like when the power is turned on can be eliminated, so that the system can be brought into a standby state at high speed. Become.

尚、本実施形態において、不揮発性メモリ101の周囲温度が例えば50℃以上になった場合に、不揮発性メモリ101の書込時間が長くなるように制御信号を変化させると、車載検知システム100から外部機器への応答が遅くなることがある。そこで、車載検知システム100は、例えば不揮発性メモリ101の書込時間が長くなるように制御していることを、CAN経由で外部機器に知らせる信号を出力するようにしてもよい。   In the present embodiment, if the control signal is changed so that the writing time of the nonvolatile memory 101 becomes longer when the ambient temperature of the nonvolatile memory 101 becomes, for example, 50 ° C. or more, the on-board detection system 100 Response to external devices may be slow. Therefore, the in-vehicle detection system 100 may output a signal to notify an external device via the CAN that the writing time of the nonvolatile memory 101 is controlled to be longer, for example.

図2は、比較例に係る車載検知システムのブロック図である。図2に示すように、車載検知システム150は、フラッシュメモリ等のROM151と、SoC152と、高速アクセス可能なDRAM等のRAM153とを備えている。ROM151には、SoC152で実行されるプログラム等が格納されており、電源投入時にROM151からRAM153へデータ転送が行われる。このため、ROM151とRAM153とは同じメモリ容量を持つ。また、システム稼働時にはSoC152はRAM153に対してデータの読出し及び書込みを行う。その他、車載検知システム150は、図1に示す車載検知システム100と同様に、センサー154、CANマイコン155、EEPROM156を備えている。また、車載検知システム150は、ROM151、SoC152、RAM153、CANマイコン155及びEEPROM156にそれぞれ所定の電圧を供給するための電源回路157を備えている。   FIG. 2 is a block diagram of a vehicle-mounted detection system according to a comparative example. As shown in FIG. 2, the on-vehicle detection system 150 includes a ROM 151 such as a flash memory, an SoC 152, and a RAM 153 such as a DRAM that can be accessed at high speed. The ROM 151 stores programs executed by the SoC 152 and the like, and data is transferred from the ROM 151 to the RAM 153 when the power is turned on. Therefore, the ROM 151 and the RAM 153 have the same memory capacity. When the system is operating, the SoC 152 reads and writes data from and to the RAM 153. In addition, the vehicle-mounted detection system 150 includes a sensor 154, a CAN microcomputer 155, and an EEPROM 156, similarly to the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG. Further, the vehicle-mounted detection system 150 includes a power supply circuit 157 for supplying a predetermined voltage to the ROM 151, the SoC 152, the RAM 153, the CAN microcomputer 155, and the EEPROM 156, respectively.

比較例の車載検知システム150によると、車両におけるアプリケーションのさらなる増加や搭載センサーの高精度化、大容量化に伴って、ROM151とRAM153とを合わせたメモリ容量が増大してしまう。すなわち、実装基板に占めるROM151及びRAM153の面積比率が増大する結果、基板面積を増加させなければならなくなるので、システムの車両への搭載自由度が制約されてしまう。   According to the in-vehicle detection system 150 of the comparative example, the memory capacity of the ROM 151 and the RAM 153 increases as the number of applications in the vehicle further increases, the accuracy of the mounted sensor increases, and the capacity increases. That is, as the area ratio of the ROM 151 and the RAM 153 to the mounting board increases, the board area must be increased, so that the degree of freedom of mounting the system on the vehicle is restricted.

また、比較例の車載検知システム150によると、電源投入時にROM151からRAM153へデータ転送を行う必要がある。このため、システム規模が大きくなってメモリ容量が増大すると、システムがスタンバイ状態になるまでに要する時間が長くなる。すなわち、システムの起動から車両を発進させるまでに要する時間が長くなるという実用上の問題が生じる。   According to the vehicle-mounted detection system 150 of the comparative example, it is necessary to transfer data from the ROM 151 to the RAM 153 when the power is turned on. Therefore, as the system scale increases and the memory capacity increases, the time required for the system to enter the standby state becomes longer. That is, there is a practical problem that the time required from the start of the system to the start of the vehicle becomes long.

(実施例1)
図3は、実施例1に係る車載検知システムのブロック図である。尚、図3において、図1に示す車載検知システム100と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(Example 1)
FIG. 3 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment. In FIG. 3, the same components as those in the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG.

図3に示す実施例1の車載検知システム100Aは、検知部103として、不揮発性メモリ101のリテンション性能に影響を及ぼす不揮発性メモリ101の周囲温度を検知する温度検知回路103Aを備えている。温度検知回路103Aは、不揮発性メモリ101の内部又は近傍に配置されてもよい。実施例1では、SoC102は、温度検知回路103Aの出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させるため、不揮発性メモリ101の周囲温度がリテンション性能に及ぼす影響度合いに応じて、不揮発性メモリ101の書込時間を調整できる。従って、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償することができるので、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。   The in-vehicle detection system 100A according to the first embodiment illustrated in FIG. 3 includes, as the detection unit 103, a temperature detection circuit 103A that detects an ambient temperature of the nonvolatile memory 101 that affects the retention performance of the nonvolatile memory 101. The temperature detection circuit 103A may be arranged inside or near the nonvolatile memory 101. In the first embodiment, the SoC 102 changes the control signal of the non-volatile memory 101 according to the output of the temperature detection circuit 103A. The writing time of 101 can be adjusted. Therefore, since the fluctuation of the retention performance due to the ambient temperature of the nonvolatile memory 101 can be compensated, the performance of the nonvolatile memory 101 can be improved even in a severe vehicle environment.

図4は、実施例1の車載検知システム100Aにおける不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。図4において、「TEMP」は温度検知回路103Aの出力(不揮発性メモリ101の周囲温度)、「CK」はクロック信号、「/WE」は書込信号、「アドレス」はアドレス信号、「データ」はデータ信号、「書込」は不揮発性メモリ101の書込時間をそれぞれ表す(図5〜図7においても同じ)。尚、本例では、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。   FIG. 4 is an example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the vehicle-mounted detection system 100A according to the first embodiment. In FIG. 4, “TEMP” is the output of the temperature detection circuit 103A (the ambient temperature of the nonvolatile memory 101), “CK” is a clock signal, “/ WE” is a write signal, “address” is an address signal, and “data”. Represents a data signal, and “write” represents a write time of the nonvolatile memory 101 (the same applies to FIGS. 5 to 7). In this example, the non-volatile memory 101 whose retention performance deteriorates at high temperatures is targeted.

図4に示すように、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。本例では、SoC102は、周囲温度TEMPに応じた書込時間情報をアドレス信号に付与する。具体的には、図4に示すように、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、通常の書込時間(書込時間1:例えば1マイクロ秒)で書込を行うことをアドレス信号に設定し、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、通常よりも長い書込時間(書込時間2:例えば100マイクロ秒)で書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102がクロック信号CKの周期を「書込時間2」(つまり書込時間の最大値)よりも長く設定することにより、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。   As shown in FIG. 4, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the ambient temperature TEMP. Further, when the clock signal CK rises to high, the nonvolatile memory 101 starts to take in the write signal / WE and a new address and data, so that writing to the nonvolatile memory 101 is started. In this example, the SoC 102 gives write time information according to the ambient temperature TEMP to the address signal. Specifically, as shown in FIG. 4, when the ambient temperature TEMP is lower than 50 ° C., the SoC 102 performs writing in a normal writing time (writing time 1: for example, 1 microsecond). Is set in the address signal, and when the ambient temperature TEMP is equal to or higher than 50 ° C., it is set in the address signal that writing is performed in a longer writing time than usual (writing time 2: for example, 100 μsec). As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in retention performance due to the ambient temperature of the nonvolatile memory 101. In this example, the SoC 102 sets the cycle of the clock signal CK longer than “write time 2” (that is, the maximum value of the write time) so that the cycle of the clock signal CK is constant regardless of the ambient temperature TEMP. Is held in.

尚、以上の説明においては、「書込時間1」は、例えば1マイクロ秒であり、「書込時間2」は、例えば100マイクロ秒であるので、両者には100倍の違いがあるが、図4のタイミング図では、説明を分かりやすくするために、「書込時間2」の幅を実際よりも小さく表現している。このような表現は、以下に説明する他のタイミング図においても同様である。   In the above description, "writing time 1" is, for example, 1 microsecond, and "writing time 2" is, for example, 100 microseconds. In the timing chart of FIG. 4, the width of “writing time 2” is expressed smaller than the actual one for easy understanding. Such an expression is the same in other timing diagrams described below.

図5は、実施例1の車載検知システム100Aにおける不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。   FIG. 5 is another example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the vehicle-mounted detection system 100A of the first embodiment. In this example, too, the non-volatile memory 101 whose retention performance deteriorates at high temperatures is targeted.

図5に示すように、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。また、本例でも、SoC102は、周囲温度TEMPに応じた書込時間情報をアドレス信号に付与しておく。具体的には、図5に示すように、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、通常の書込時間(書込時間1)で書込を行うことをアドレス信号に設定し、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、通常よりも長い書込時間(書込時間2)で書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、書込終了(書込時間2の経過)後にクロック信号CKをhighに立上げることにより、言い換えると、書込終了まではクロック信号CKをlowのままにしておくことにより、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合と比べてクロック信号CKの周期を長くしている。   As shown in FIG. 5, when the clock signal CK rises to a high level, the write signal / WE and a new address and data start to be fetched by the nonvolatile memory 101, so that writing to the nonvolatile memory 101 starts. Is done. Also in this example, the SoC 102 adds write time information corresponding to the ambient temperature TEMP to the address signal. Specifically, as shown in FIG. 5, when the ambient temperature TEMP is lower than 50 ° C., the SoC 102 sets the address signal to perform writing in a normal writing time (writing time 1). When the ambient temperature TEMP is equal to or higher than 50 ° C., it is set in the address signal that writing is performed for a writing time longer than usual (writing time 2). As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in retention performance due to the ambient temperature of the nonvolatile memory 101. In this example, when the ambient temperature TEMP is equal to or higher than 50 ° C., the SoC 102 raises the clock signal CK to high after the end of the writing (elapse of the writing time 2). Until the clock signal CK is kept low, the cycle of the clock signal CK is made longer than in the case where the ambient temperature TEMP is lower than 50 ° C.

図6は、実施例1の車載検知システム100Aにおける不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。   FIG. 6 is another example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the vehicle-mounted detection system 100A according to the first embodiment. In this example, too, the non-volatile memory 101 whose retention performance deteriorates at high temperatures is targeted.

図6に示すように、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。本例では、SoC102は、書込信号/WEがhighに立上がるタイミングで不揮発性メモリ101への書込を終了する。具体的には、SoC102は、図6に示すように、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、書込信号/WEを通常のタイミングでhighに立上げることにより、通常の書込時間(書込時間1)を設定する。一方、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、SoC102は、書込信号/WEを通常よりも遅いタイミングでhighに立上げることにより、通常よりも長い書込時間(書込時間2)を設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102がクロック信号CKの周期を「書込時間2」(つまり書込時間の最大値)よりも長く設定することにより、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。   As shown in FIG. 6, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the ambient temperature TEMP. Further, when the clock signal CK rises to high, the nonvolatile memory 101 starts to take in the write signal / WE and a new address and data, so that writing to the nonvolatile memory 101 is started. In this example, the SoC 102 ends the writing to the nonvolatile memory 101 at the timing when the write signal / WE rises to high. Specifically, as shown in FIG. 6, when the ambient temperature TEMP is lower than 50 ° C., the SoC 102 raises the write signal / WE to high at a normal timing, thereby setting a normal write time. (Write time 1) is set. On the other hand, when the ambient temperature TEMP is equal to or higher than 50 ° C., the SoC 102 raises the write signal / WE to high at a timing later than usual, thereby increasing the write time longer than usual (write time 2). Set. As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in retention performance due to the ambient temperature of the nonvolatile memory 101. In this example, the SoC 102 sets the cycle of the clock signal CK longer than “write time 2” (that is, the maximum value of the write time) so that the cycle of the clock signal CK is constant regardless of the ambient temperature TEMP. Is held in.

図7は、実施例1の車載検知システム100Aにおける不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。   FIG. 7 is another example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the vehicle-mounted detection system 100A of the first embodiment. In this example, too, the non-volatile memory 101 whose retention performance deteriorates at high temperatures is targeted.

図7に示すように、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。また、本例でも、SoC102は、書込信号/WEがhighに立上がるタイミングで不揮発性メモリ101への書込を終了する。具体的には、図7に示すように、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、書込信号/WEを通常のタイミングでhighに立上げることにより、通常の書込時間(書込時間1)を設定する。一方、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、書込信号/WEを通常よりも遅いタイミングでhighに立上げることにより、通常よりも長い書込時間(書込時間2)を設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、書込終了(書込時間2の経過)後にクロック信号CKをhighに立上げることにより、言い換えると、書込終了まではクロック信号CKをlowのままにしておくことにより、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合と比べてクロック信号CKの周期を長くしている。   As shown in FIG. 7, when the clock signal CK rises to a high level, the write signal / WE and a new address and data are started to be fetched by the nonvolatile memory 101, so that writing to the nonvolatile memory 101 starts. Is done. Also in this example, the SoC 102 ends the writing to the nonvolatile memory 101 at the timing when the write signal / WE rises to high. More specifically, as shown in FIG. 7, when the ambient temperature TEMP is lower than 50 ° C., the SoC 102 raises the write signal / WE to high at normal timing, thereby increasing the normal write time. (Write time 1) is set. On the other hand, when the ambient temperature TEMP is equal to or higher than 50 ° C., the SoC 102 raises the write signal / WE to high at a timing later than usual, thereby increasing the write time longer than usual (write time 2). Set. As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in retention performance due to the ambient temperature of the nonvolatile memory 101. In this example, when the ambient temperature TEMP is equal to or higher than 50 ° C., the SoC 102 raises the clock signal CK to high after the end of the writing (elapse of the writing time 2). Until the clock signal CK is kept low, the cycle of the clock signal CK is made longer than in the case where the ambient temperature TEMP is lower than 50 ° C.

尚、実施例1において、不揮発性メモリ101の書込時間を変化させる周囲温度の閾値は、50℃であるとして説明したが、特に限定されるものではなく、メモリ特性等に応じて50℃よりも高く又は低く設定してもよい。また、必要に応じて周囲温度の閾値を多段階に設定してもよい。また、周囲温度の閾値における範囲、すなわち、精度は、例えば±10%(閾値が50℃なら、45℃から55℃までの範囲)としてもよい。この範囲についてもメモリ特性等に応じて適宜設定可能である。   In the first embodiment, the threshold value of the ambient temperature at which the write time of the nonvolatile memory 101 is changed is described as 50 ° C., but is not particularly limited. May be set higher or lower. Further, the threshold value of the ambient temperature may be set in multiple stages as needed. The range of the threshold value of the ambient temperature, that is, the accuracy may be, for example, ± 10% (if the threshold value is 50 ° C., the range is from 45 ° C. to 55 ° C.). This range can also be set as appropriate according to the memory characteristics and the like.

また、実施例1において、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としたが、これに代えて、高温下でリテンション性能が改善するタイプの不揮発性メモリを使用する場合は、SoC102は、周囲温度が閾値以上になった場合に、通常よりも短い書込時間で書込を行えばよい。   In the first embodiment, the non-volatile memory 101 whose retention performance is degraded at high temperatures is targeted. Alternatively, a non-volatile memory whose retention performance is improved at high temperatures is used. , SoC 102 may perform writing in a writing time shorter than usual when the ambient temperature becomes equal to or higher than the threshold.

また、実施例1において、「書込時間1」が1マイクロ秒であり、「書込時間2」が100マイクロ秒である場合を例示したが、「書込時間1」及び「書込時間2」は特に限定されるものではなく、メモリ特性等に応じて適宜設定可能である。例えば、使用する不揮発性メモリ101が抵抗変化型メモリであれば、前述のように、「書込時間1」を1マイクロ秒、「書込時間2」を100マイクロ秒とし、使用する不揮発性メモリ101が磁気抵抗型メモリであれば、「書込時間1」を例えば10ナノ秒〜100ナノ秒程度とし、「書込時間2」を100マイクロ秒としてもよい。このような「書込時間1」及び「書込時間2」についての説明は、下記の実施例2においても同様である。   Further, in the first embodiment, the case where the “write time 1” is 1 microsecond and the “write time 2” is 100 microseconds is illustrated, but “write time 1” and “write time 2” are used. Is not particularly limited and can be set as appropriate according to memory characteristics and the like. For example, if the nonvolatile memory 101 to be used is a resistance change type memory, as described above, the “write time 1” is 1 microsecond, the “write time 2” is 100 microseconds, and the nonvolatile memory to be used is If 101 is a magnetoresistive memory, “writing time 1” may be, for example, about 10 nanoseconds to 100 nanoseconds, and “writing time 2” may be 100 microseconds. The description of such “writing time 1” and “writing time 2” is the same in the following Example 2.

(実施例2)
図8は、実施例2に係る車載検知システムのブロック図である。尚、図8において、図1に示す車載検知システム100と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(Example 2)
FIG. 8 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the second embodiment. In FIG. 8, the same components as those in the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

図8に示す実施例2の車載検知システム100Bは、検知部103として、不揮発性メモリ101のリテンション性能に影響を及ぼす不揮発性メモリ101の書換頻度(単位時間当たりの書換回数)を検知する書換頻度検知回路103Bを備えている。書換頻度検知回路103Bは、不揮発性メモリ101の内部又は近傍に配置されてもよい。実施例2では、SoC102は、書換頻度検知回路103Bの出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させるため、不揮発性メモリ101の書換頻度がリテンション性能に及ぼす影響度合いに応じて、不揮発性メモリ101の書込時間を調整できる。従って、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償することができるので、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。   The in-vehicle detection system 100B according to the second embodiment illustrated in FIG. 8 includes, as the detection unit 103, a rewrite frequency that detects the rewrite frequency (the number of rewrites per unit time) of the nonvolatile memory 101 that affects the retention performance of the nonvolatile memory 101. The detection circuit 103B is provided. The rewrite frequency detection circuit 103B may be arranged inside or near the nonvolatile memory 101. In the second embodiment, the SoC 102 changes the control signal of the non-volatile memory 101 according to the output of the rewrite frequency detection circuit 103B. The writing time of the memory 101 can be adjusted. Therefore, since the fluctuation of the retention performance due to the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101 can be compensated, the performance of the nonvolatile memory 101 can be improved even in a severe vehicle environment.

図9は、実施例2の車載検知システム100Bにおける不揮発性メモリ101の書換頻度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。図9において、「DET」は書換頻度検知回路103Bの出力(不揮発性メモリ101の書換頻度(単位時間当たりの書換回数))、「CK」はクロック信号、「/WE」は書込信号、「アドレス」はアドレス信号、「データ」はデータ信号、「書込」は不揮発性メモリ101の書込時間をそれぞれ表す(図10〜図12においても同じ)。尚、本例では、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。   FIG. 9 is an example of a timing chart showing the relationship between the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the vehicle-mounted detection system 100B of the second embodiment. In FIG. 9, “DET” is the output of the rewrite frequency detection circuit 103B (the rewrite frequency of the nonvolatile memory 101 (the number of rewrites per unit time)), “CK” is a clock signal, “/ WE” is a write signal, and “/ WE” is a write signal. “Address” indicates an address signal, “Data” indicates a data signal, and “Write” indicates a writing time of the nonvolatile memory 101 (the same applies to FIGS. 10 to 12). In this example, the non-volatile memory 101 is of a type in which the retention performance deteriorates as the rewriting frequency increases.

図9に示すように、クロック信号CKの周期は書換頻度DETに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。本例では、SoC102は、書換頻度DETに応じた書込時間情報をアドレス信号に付与する。具体的には、図9に示すように、SoC102は、書換頻度DET(単位時間当たりの書換回数)が1000回よりも少ない場合には、通常の書込時間(書込時間1)で書込を行うことをアドレス信号に設定し、書換頻度DETが1000回以上の場合には、通常よりも長い書込時間(書込時間2)で書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102がクロック信号CKの周期を「書込時間2」(つまり書込時間の最大値)よりも長く設定することにより、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。   As shown in FIG. 9, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the rewriting frequency DET. Further, when the clock signal CK rises to high, the nonvolatile memory 101 starts to take in the write signal / WE and a new address and data, so that writing to the nonvolatile memory 101 is started. In this example, the SoC 102 adds write time information according to the rewrite frequency DET to the address signal. Specifically, as shown in FIG. 9, when the rewriting frequency DET (the number of rewritings per unit time) is less than 1000, the SoC 102 performs writing in the normal writing time (writing time 1). Is set in the address signal, and when the rewriting frequency DET is 1000 times or more, writing in a longer writing time (writing time 2) than usual is set in the address signal. As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in the retention performance due to the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101. In this example, the SoC 102 sets the cycle of the clock signal CK longer than “write time 2” (that is, the maximum value of the write time) so that the cycle of the clock signal CK is constant regardless of the ambient temperature TEMP. Is held in.

図10は、実施例2の車載検知システム100Bにおける不揮発性メモリ101の書換頻度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。   FIG. 10 is another example of a timing chart showing the relationship between the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the vehicle-mounted detection system 100B of the second embodiment. This example also targets the nonvolatile memory 101 of the type in which the retention performance deteriorates as the rewriting frequency increases.

図10に示すように、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。また、本例でも、SoC102は、書換頻度DETに応じた書込時間情報をアドレス信号に付与しておく。具体的には、SoC102は、書換頻度DET(単位時間当たりの書換回数)が1000回よりも少ない場合には、通常の書込時間(書込時間1)で書込を行うことをアドレス信号に設定し、書換頻度DETが1000回以上の場合には、通常よりも長い書込時間(書込時間2)で書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、書換頻度DETが1000回以上の場合には、SoC102は、書込終了(書込時間2の経過)後にクロック信号CKをhighに立上げることにより、言い換えると、書込終了まではクロック信号CKをlowのままにしておくことにより、書換頻度DETが1000回よりも少ない場合と比べてクロック信号CKの周期を長くしている。   As shown in FIG. 10, when the clock signal CK rises to a high level, the write signal / WE and a new address and data start to be fetched by the nonvolatile memory 101, so that writing to the nonvolatile memory 101 starts. Is done. Also in this example, the SoC 102 adds write time information according to the rewrite frequency DET to the address signal. Specifically, when the rewriting frequency DET (the number of rewritings per unit time) is less than 1000 times, the SoC 102 informs the address signal that writing is performed in the normal writing time (writing time 1). When the rewriting frequency DET is 1000 times or more, it is set in the address signal that writing is performed with a longer writing time (writing time 2) than usual. As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in the retention performance due to the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101. In this example, when the rewriting frequency DET is 1000 times or more, the SoC 102 raises the clock signal CK to high after the end of writing (elapse of the writing time 2), in other words, the end of writing. Until the clock signal CK is kept low, the cycle of the clock signal CK is made longer than in the case where the rewrite frequency DET is less than 1000 times.

図11は、実施例2の車載検知システム100Bにおける不揮発性メモリ101の書換頻度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。   FIG. 11 is another example of a timing chart showing the relationship between the rewrite frequency of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the vehicle-mounted detection system 100B of the second embodiment. This example also targets the nonvolatile memory 101 of the type in which the retention performance deteriorates as the rewriting frequency increases.

図11に示すように、クロック信号CKの周期は書換頻度DETに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。本例では、SoC102は、書込信号/WEがhighに立上がるタイミングで不揮発性メモリ101への書込を終了する。具体的には、図11に示すように、SoC102は、書換頻度DET(単位時間当たりの書換回数)が1000回よりも少ない場合には、書込信号/WEを通常のタイミングでhighに立上げることにより、通常の書込時間(書込時間1)を設定する。一方、SoC102は、書換頻度DETが1000回以上の場合には、書込信号/WEを通常よりも遅いタイミングでhighに立上げることにより、通常よりも長い書込時間(書込時間2)を設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102がクロック信号CKの周期を「書込時間2」(つまり書込時間の最大値)よりも長く設定することにより、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。   As shown in FIG. 11, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the rewriting frequency DET. Further, when the clock signal CK rises to high, the nonvolatile memory 101 starts to take in the write signal / WE and a new address and data, so that writing to the nonvolatile memory 101 is started. In this example, the SoC 102 ends the writing to the nonvolatile memory 101 at the timing when the write signal / WE rises to high. Specifically, as shown in FIG. 11, when the rewriting frequency DET (the number of rewritings per unit time) is less than 1,000, the SoC 102 raises the write signal / WE to high at normal timing. Thus, a normal writing time (writing time 1) is set. On the other hand, when the rewriting frequency DET is 1000 times or more, the SoC 102 raises the write signal / WE to high at a timing later than usual, thereby increasing the write time longer than usual (write time 2). Set. As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in the retention performance due to the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101. In this example, the SoC 102 sets the cycle of the clock signal CK longer than “write time 2” (that is, the maximum value of the write time) so that the cycle of the clock signal CK is constant regardless of the ambient temperature TEMP. Is held in.

図12は、実施例2の車載検知システム100Bにおける不揮発性メモリ101の書換頻度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象している。   FIG. 12 is another example of a timing chart showing the relationship between the rewrite frequency of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the vehicle-mounted detection system 100B of the second embodiment. This example also targets the nonvolatile memory 101 of the type in which the retention performance deteriorates as the rewriting frequency increases.

図12に示すように、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。また、本例でも、SoC102は、書込信号/WEがhighに立上がるタイミングで不揮発性メモリ101への書込を終了する。具体的には、図12に示すように、SoC102は、書換頻度DET(単位時間当たりの書換回数)が1000回よりも少ない場合には、書込信号/WEを通常のタイミングでhighに立上げることにより、通常の書込時間(書込時間1)を設定する。一方、SoC102は、書換頻度DETが1000回以上の場合には、書込信号/WEを通常よりも遅いタイミングでhighに立上げることにより、通常よりも長い書込時間(書込時間2)を設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、書換頻度DETが1000回以上の場合には、SoC102は、書込終了(書込時間2の経過)後にクロック信号CKをhighに立上げることにより、言い換えると、書込終了まではクロック信号CKをlowのままにしておくことにより、書換頻度DETが1000回よりも少ない場合と比べてクロック信号CKの周期を長くしている。   As shown in FIG. 12, when the clock signal CK rises to a high level, the write signal / WE and a new address and data start to be fetched by the nonvolatile memory 101, so that writing to the nonvolatile memory 101 starts. Is done. Also in this example, the SoC 102 ends the writing to the nonvolatile memory 101 at the timing when the write signal / WE rises to high. Specifically, as shown in FIG. 12, when the rewriting frequency DET (the number of rewritings per unit time) is less than 1000, the SoC 102 raises the write signal / WE to high at normal timing. Thus, a normal writing time (writing time 1) is set. On the other hand, when the rewriting frequency DET is 1000 times or more, the SoC 102 raises the write signal / WE to high at a timing later than usual, thereby increasing the write time longer than usual (write time 2). Set. As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in the retention performance due to the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101. In this example, when the rewriting frequency DET is 1000 times or more, the SoC 102 raises the clock signal CK to high after the end of writing (elapse of the writing time 2), in other words, the end of writing. Until the clock signal CK is kept low, the cycle of the clock signal CK is made longer than in the case where the rewrite frequency DET is less than 1000 times.

尚、実施例2において、不揮発性メモリ101の書込時間を変化させる書換頻度の閾値は、1000回であるとして説明したが、特に限定されるものではなく、メモリ特性等に応じて1000回よりも多く(但し1000万回程度まで)又は少なく(但し100回程度まで)設定してもよい。つまり、不揮発性メモリ101の種類に応じて書換頻度の閾値は100回程度から1000万回程度までの幅を持つので、メモリ特性等に適宜設定すればよい。また、必要に応じて書換頻度の閾値を多段階に設定してもよい。また、書換頻度の閾値における範囲、すなわち、精度は、例えば±10%(閾値が1000回なら、900回から1100回までの範囲)としてもよい。この範囲についてもメモリ特性等に応じて適宜設定可能である。   In the second embodiment, the threshold value of the rewriting frequency for changing the writing time of the nonvolatile memory 101 has been described as being 1000 times, but is not particularly limited. May be set to be large (however, up to about 10 million times) or small (but up to about 100 times). That is, the threshold value of the rewriting frequency has a range from about 100 times to about 10 million times depending on the type of the nonvolatile memory 101, and thus may be appropriately set to memory characteristics or the like. Further, the threshold value of the rewriting frequency may be set in multiple stages as needed. Further, the range of the threshold value of the rewriting frequency, that is, the accuracy may be, for example, ± 10% (if the threshold value is 1000 times, the range from 900 times to 1100 times). This range can also be set as appropriate according to the memory characteristics and the like.

また、実施例2において、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としたが、これに代えて、書換頻度が多くなるとリテンション性能が改善するタイプの不揮発性メモリを使用する場合は、SoC102は、書換頻度が閾値以上になった場合に、通常よりも短い書込時間で書込を行えばよい。   In the second embodiment, the non-volatile memory 101 whose retention performance is deteriorated when the rewriting frequency is increased is targeted. Alternatively, a non-volatile memory in which the retention performance is improved when the rewriting frequency is increased is used. When used, the SoC 102 may perform writing with a shorter writing time than usual when the rewriting frequency becomes equal to or higher than the threshold.

また、実施例1、2では不揮発性メモリの周囲温度や書換頻度に応じて、不揮発性メモリの制御信号を変化させたが、これに代えて、不揮発性メモリの性能や動作等に関連するその他の情報を検知して、当該検知情報に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させてもよい。   In the first and second embodiments, the control signal of the non-volatile memory is changed according to the ambient temperature and the rewriting frequency of the non-volatile memory. May be detected, and the control signal of the nonvolatile memory may be changed according to the detected information.

(変形例1)
前述の実施例1、2では、SoC102が、検知部103(温度検知回路103Aや書換頻度検知回路103B)の出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリ101の書込時間を変化させた。
(Modification 1)
In the first and second embodiments, the SoC 102 changes the control signal of the non-volatile memory 101 according to the output of the detection unit 103 (the temperature detection circuit 103A and the rewrite frequency detection circuit 103B), so that the non-volatile memory 101 The writing time was changed.

それに対して、変形例1では、不揮発性メモリ101は複数のメモリアレイを有しており、SoC102は、検知部103の出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリ101の書込対象メモリアレイを変える。   On the other hand, in the first modification, the non-volatile memory 101 has a plurality of memory arrays, and the SoC 102 changes the control signal of the non-volatile memory 101 in accordance with the output of the detection unit 103, so that the non-volatile memory 101 The write target memory array of the memory 101 is changed.

図13は、変形例1の不揮発性メモリ101の構成の一例を示す模式図である。図13に示すように、変形例1の不揮発性メモリ101は、高温下でのリテンション性能が通常のメモリアレイ101a(メモリアレイ1)と、高温下でのリテンション性能が優れたメモリアレイ101b(メモリアレイ2)とを有している。   FIG. 13 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of the nonvolatile memory 101 according to the first modification. As shown in FIG. 13, the nonvolatile memory 101 according to the first modification includes a memory array 101a (memory array 1) having a normal retention performance at a high temperature and a memory array 101b (memory) having an excellent retention performance at a high temperature. Array 2).

以下、変形例1に係る車載検知システムが、不揮発性メモリ101を除き、図3に示す実施例1に係る車載検知システムと同様の構成を有している場合について説明する。   Hereinafter, a case will be described in which the vehicle-mounted detection system according to the first modification has the same configuration as the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment illustrated in FIG.

変形例1によると、SoC102は、温度検知回路103Aの出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることによって、不揮発性メモリ101の周囲温度に応じて、不揮発性メモリ101の書込対象メモリアレイを変えることができる。従って、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償することができるので、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。   According to the first modification, the SoC 102 changes the control signal of the non-volatile memory 101 in accordance with the output of the temperature detection circuit 103A, so that the writing target of the non-volatile memory 101 is changed in accordance with the ambient temperature of the non-volatile memory 101. The memory array can be changed. Therefore, since the fluctuation of the retention performance due to the ambient temperature of the nonvolatile memory 101 can be compensated, the performance of the nonvolatile memory 101 can be improved even in a severe vehicle environment.

図14は、変形例1における不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。図14において、「TEMP」は温度検知回路103Aの出力(不揮発性メモリ101の周囲温度)、「CK」はクロック信号、「/WE」は書込信号、「アドレス」はアドレス信号、「データ」はデータ信号、「書込」は不揮発性メモリ101の書込時間をそれぞれ表す。   FIG. 14 is an example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the nonvolatile memory 101 and the control signal of the SoC 102 in the first modification. In FIG. 14, “TEMP” is the output of the temperature detection circuit 103A (the ambient temperature of the nonvolatile memory 101), “CK” is a clock signal, “/ WE” is a write signal, “address” is an address signal, and “data”. Represents a data signal, and “write” represents a write time of the nonvolatile memory 101, respectively.

図14に示すように、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。変形例1では、SoC102は、周囲温度TEMPに応じた書込対象メモリアレイ情報をアドレス信号に付与する。具体的には、図14に示すように、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、高温下でのリテンション性能が通常のメモリアレイ1に書込を行うことをアドレス信号に設定し、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、高温下でのリテンション性能が優れたメモリアレイ2に書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。   As shown in FIG. 14, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the ambient temperature TEMP. Further, when the clock signal CK rises to high, the nonvolatile memory 101 starts to take in the write signal / WE and a new address and data, so that writing to the nonvolatile memory 101 is started. In the first modification, the SoC 102 adds the write target memory array information corresponding to the ambient temperature TEMP to the address signal. More specifically, as shown in FIG. 14, when the ambient temperature TEMP is lower than 50 ° C., the SoC 102 uses an address signal indicating that the retention performance at a high temperature is to be written to the normal memory array 1. When the ambient temperature TEMP is equal to or higher than 50 ° C., writing to the memory array 2 having excellent retention performance at high temperatures is set in the address signal. As a result, the SoC 102 compensates for fluctuations in retention performance due to the ambient temperature of the nonvolatile memory 101.

以上、変形例1に係る車載検知システムが、図3に示す実施例1に係る車載検知システム100Aと同様の構成を有している場合について説明したが、変形例1は、図8に示す実施例2の車載検知システム100Bにも適用可能である。   As described above, the case where the in-vehicle detection system according to the first modification has the same configuration as the in-vehicle detection system 100A according to the first embodiment shown in FIG. 3 has been described. The present invention is also applicable to the vehicle-mounted detection system 100B of Example 2.

すなわち、不揮発性メモリ101は、書換頻度が高いときのリテンション性能が通常のメモリアレイ(メモリアレイ1)と、書換頻度が高いときのリテンション性能が優れたメモリアレイ(メモリアレイ2)とを有し、SoC102は、書換頻度検知回路103Bの出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることによって、不揮発性メモリ101の書換頻度に応じて、不揮発性メモリ101の書込対象メモリアレイを変えてもよい。これにより、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償することができるので、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。   That is, the non-volatile memory 101 has a memory array (memory array 1) having a normal retention performance when the rewriting frequency is high, and a memory array (memory array 2) having an excellent retention performance when the rewriting frequency is high. , The SoC 102 changes the control signal of the non-volatile memory 101 according to the output of the rewriting frequency detection circuit 103B, thereby changing the memory array to be written to the non-volatile memory 101 according to the rewriting frequency of the non-volatile memory 101. You may. This makes it possible to compensate for fluctuations in the retention performance due to the frequency of rewriting of the nonvolatile memory 101, so that the performance of the nonvolatile memory 101 can be improved even in a severe vehicle environment.

この場合の不揮発性メモリ101の制御は、例えば、書換頻度が閾値よりも低い場合、書換頻度が高いときのリテンション性能が通常のメモリアレイ1に書込を行うことをアドレス信号に設定し、書換頻度が閾値以上の場合、書換頻度が高いときのリテンション性能が優れたメモリアレイ2に書込を行うことをアドレス信号に設定してもよい。   In this case, the non-volatile memory 101 is controlled, for example, by setting an address signal to perform writing to the memory array 1 with a normal retention performance when the rewriting frequency is high when the rewriting frequency is lower than a threshold value, and When the frequency is equal to or higher than the threshold, writing to the memory array 2 having excellent retention performance when the rewriting frequency is high may be set in the address signal.

尚、変形例1において、不揮発性メモリ101の書込対象メモリアレイを変える周囲温度や書換頻度の閾値は、特に限定されるものではなく、メモリ特性等に応じて任意に設定でき、また、必要に応じて閾値を多段階に設定してもよい。   In the first modification, the ambient temperature and the threshold value of the rewriting frequency for changing the memory array to be written into the nonvolatile memory 101 are not particularly limited, and can be arbitrarily set according to the memory characteristics and the like. May be set in multiple stages in accordance with.

また、変形例1では不揮発性メモリ101の周囲温度や書換頻度に応じて、不揮発性メモリ101の制御信号を変化させたが、これに代えて、不揮発性メモリ101の性能や動作等に関連するその他の情報を検知して、当該検知情報に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させてもよい。   Further, in the first modification, the control signal of the nonvolatile memory 101 is changed according to the ambient temperature and the rewriting frequency of the nonvolatile memory 101, but instead, the control signal related to the performance and operation of the nonvolatile memory 101 is changed. Other information may be detected, and the control signal of the nonvolatile memory may be changed according to the detected information.

(変形例2)
図15は、変形例2に係る車載検知システムのブロック図である。尚、図15において、図1に示す車載検知システム100と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(Modification 2)
FIG. 15 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the second modification. In FIG. 15, the same components as those in the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the duplicate description will be omitted.

前述の実施例1、2では、検知部103として、温度検知回路103Aや書換頻度検知回路103Bを設けて、温度検知回路103Aや書換頻度検知回路103Bの出力に応じてSoC102は不揮発性メモリ101の制御信号を変化させた。   In the first and second embodiments, the temperature detection circuit 103A and the rewrite frequency detection circuit 103B are provided as the detection unit 103, and the SoC 102 stores the non-volatile memory 101 according to the output of the temperature detection circuit 103A and the rewrite frequency detection circuit 103B. The control signal was changed.

それに対して、図15に示す変形例2の車載検知システム100Cでは、例えば車外の様子を撮影するためのカメラ用センサー(撮像センサー)等のセンサー104Cを用い、当該センサー104Cの出力に応じてSoC102は不揮発性メモリ101の制御信号を変化させる。すなわち、変形例2では、図1に示す車載検知システム100の検知部103がセンサー104Cで構成されている。   On the other hand, in the vehicle-mounted detection system 100C of the second modification shown in FIG. 15, for example, a sensor 104C such as a camera sensor (image sensor) for photographing the outside of the vehicle is used, and the SoC 102 according to the output of the sensor 104C. Changes the control signal of the nonvolatile memory 101. That is, in the second modification, the detection unit 103 of the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG. 1 is configured by the sensor 104C.

センサー104Cが撮像センサーであれば、例えば、撮像情報の重要度に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリ101の書込時間や書込対象メモリアレイを変化させてもよい。   If the sensor 104C is an imaging sensor, for example, by changing the control signal of the nonvolatile memory 101 according to the importance of the imaging information, the writing time of the nonvolatile memory 101 and the memory array to be written are changed. Is also good.

尚、変形例2は、センサー104Cが撮像センサー以外のセンサーである場合にも適用可能である。   Note that Modification 2 is also applicable when the sensor 104C is a sensor other than the image sensor.

また、実施例1の温度検知回路103Aや実施例2の書換頻度検知回路103B等の検知部103と、変形例2のセンサー104Cとを併用して、これらの出力の組み合わせに応じてSoC102は不揮発性メモリ101の制御信号を変化させてもよい。   In addition, the detection unit 103 such as the temperature detection circuit 103A according to the first embodiment or the rewrite frequency detection circuit 103B according to the second embodiment, and the sensor 104C according to the second modification are used in combination, and the SoC 102 is nonvolatile depending on the combination of these outputs. The control signal of the volatile memory 101 may be changed.

(変形例3)
図16は、変形例3に係る車載検知システムのブロック図である。尚、図16において、図1に示す車載検知システム100と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(Modification 3)
FIG. 16 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the third modification. In FIG. 16, the same components as those in the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and overlapping description will be omitted.

図1に示す車載検知システム100では、検知部103は検知した情報をSoC102に直接出力した。   In the on-vehicle detection system 100 shown in FIG. 1, the detection unit 103 directly outputs the detected information to the SoC 102.

それに対して、図16に示す変形例3の車載検知システム100Dでは、検知部103Dで検知された情報は、CAN(Controller Area Network)200D及びCANマイコン105を経由してSoC102に出力される。   On the other hand, in the vehicle-mounted detection system 100D of the third modification shown in FIG. 16, the information detected by the detection unit 103D is output to the SoC 102 via the CAN (Controller Area Network) 200D and the CAN microcomputer 105.

尚、変形例3において、SoC102は、CAN200Dに接続された車両CPUの1つであってもよい。   In the third modification, the SoC 102 may be one of the vehicle CPUs connected to the CAN 200D.

また、変形例3において、検知部103Dに代えて、変形例2のセンサー104Cが設けられていてもよい。   In the third modification, the sensor 104C of the second modification may be provided instead of the detection unit 103D.

以上に述べた実施形態(各実施例、変形例を含む。以下同じ。)の説明は、本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物又はその用途を制限することを意図するものではなく、発明の範囲内で種々の変更が可能である。例えば、実施例、変形例の任意の組み合わせが可能である。   The description of the above-described embodiments (including each example and modified examples; the same applies hereinafter) is merely an example in nature, and is not intended to limit the present invention, its application, or its use. Instead, various modifications are possible within the scope of the invention. For example, any combination of the embodiment and the modified example is possible.

また、以上に述べた実施形態では、SoCによって不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリの書込時間又は書込対象メモリアレイを変化させたが、不揮発性メモリの制御対象は、これらに限られるものではない。   Further, in the above-described embodiment, the write time of the nonvolatile memory or the memory array to be written is changed by changing the control signal of the nonvolatile memory by the SoC. However, the present invention is not limited to these.

また、以上に述べた実施形態では、SoCに用いられるメモリとして不揮発性メモリのみを設けたが、車両におけるアプリケーションによっては、不揮発性メモリに記憶されるデータの少なくとも一部については、ワークエリアとして機能するDRAM等を別途設けてもよい。この場合にも、同じメモリ容量のROMとDRAMとが実装された従来の車載検知システムと比較して、DRAM等の容量を小さくすることができるので、システムの車両への搭載自由度を確保することができる。また、電源投入時における不揮発性メモリからDRAM等へのデータ転送に要する時間を短縮することができる。   In the embodiment described above, only the nonvolatile memory is provided as the memory used for the SoC. However, depending on the application in the vehicle, at least a part of the data stored in the nonvolatile memory functions as a work area. DRAM or the like may be separately provided. Also in this case, the capacity of the DRAM and the like can be reduced as compared with a conventional in-vehicle detection system in which a ROM and a DRAM having the same memory capacity are mounted, so that the degree of freedom of mounting the system on a vehicle is ensured. be able to. Further, the time required for data transfer from the nonvolatile memory to the DRAM or the like when the power is turned on can be reduced.

また、以上に述べた実施形態では、いずれもセンサーが設けられた構成について説明したが、センサーが設けられない構成であってもよい。例えば、車載検知システムは、検知部として温度検出回路を内蔵したECU(Electronic Control Unit )であってもよい。この場合、車載検知システムは、検出された温度に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させると共に、検出された温度を例えばCAN経由で外部機器に出力してもよい。このようにすると、ECUの温度を出力するための車載検知システムが構成される。   Further, in the above-described embodiments, the configuration in which the sensor is provided is described, but the configuration in which the sensor is not provided may be employed. For example, the in-vehicle detection system may be an ECU (Electronic Control Unit) having a built-in temperature detection circuit as a detection unit. In this case, the in-vehicle detection system may change the control signal of the nonvolatile memory according to the detected temperature and output the detected temperature to an external device via, for example, the CAN. In this way, a vehicle-mounted detection system for outputting the temperature of the ECU is configured.

本開示は、システムオンチップを備えた車載検知システムとして有用である。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present disclosure is useful as a vehicle-mounted detection system including a system-on-chip.

100、100A、100B、100C、100D 車載検知システム
101 不揮発性メモリ
101a メモリアレイ1
101b メモリアレイ2
102 SoC
103、103D 検知部
103A 温度検知回路
103B 書換頻度検知回路
104、104C センサー
105 CANマイコン
106 EEPROM
107 電源回路
200、200D CAN
300 外部電源
100, 100A, 100B, 100C, 100D In-vehicle detection system 101 Non-volatile memory 101a Memory array 1
101b Memory array 2
102 SoC
103, 103D detection unit 103A temperature detection circuit 103B rewrite frequency detection circuit 104, 104C sensor 105 CAN microcomputer 106 EEPROM
107 power supply circuit 200, 200D CAN
300 external power supply

Claims (11)

不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップと、
前記システムオンチップに検知情報を出力する検知部とを備え、
前記システムオンチップは、前記検知部の出力に応じて前記不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、前記不揮発性メモリの書込時間を変化させると共に、前記不揮発性メモリのクロック周期を前記書込時間の最大値よりも長く設定することによって、前記不揮発性メモリのクロック周期を一定に保持する、
車載検知システム。
A non-volatile memory;
A system-on-chip that reads and writes data from and to the nonvolatile memory;
A detection unit that outputs detection information to the system-on-chip,
The system-on-chip changes a write time of the nonvolatile memory by changing a control signal of the nonvolatile memory according to an output of the detection unit, and changes a clock cycle of the nonvolatile memory to the write cycle. Setting the clock cycle of the nonvolatile memory to be constant,
In-vehicle detection system.
不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップと、
前記システムオンチップに検知情報を出力する検知部とを備え、
前記システムオンチップは、前記検知部の出力に応じて前記不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、前記不揮発性メモリの書込時間を変化させると共に、前記不揮発性メモリの書込時間の変化に合わせて前記不揮発性メモリのクロック周期を変化させる、
車載検知システム。
A non-volatile memory;
A system-on-chip that reads and writes data from and to the nonvolatile memory;
A detection unit that outputs detection information to the system-on-chip,
The system-on-chip changes a write time of the non-volatile memory by changing a control signal of the non-volatile memory according to an output of the detection unit, and changes a write time of the non-volatile memory. Changing the clock cycle of the nonvolatile memory in accordance with
In-vehicle detection system.
請求項1又は2に記載の車載検知システムにおいて、
前記不揮発性メモリは複数のメモリアレイを有し、
前記システムオンチップは、前記不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、前記不揮発性メモリの書込対象メモリアレイを変える、
車載検知システム。
The in-vehicle detection system according to claim 1 or 2,
The non-volatile memory has a plurality of memory arrays,
The system-on-chip changes a write target memory array of the nonvolatile memory by changing a control signal of the nonvolatile memory.
In-vehicle detection system.
請求項1又は2に記載の車載検知システムにおいて、
前記検知部は、前記不揮発性メモリの周囲温度を検知する検知回路である、
車載検知システム。
The in-vehicle detection system according to claim 1 or 2,
The detection unit is a detection circuit that detects an ambient temperature of the nonvolatile memory,
In-vehicle detection system.
請求項1又は2に記載の車載検知システムにおいて、
前記検知部は、前記不揮発性メモリの書換頻度を検知する検知回路である、
車載検知システム。
The in-vehicle detection system according to claim 1 or 2,
The detection unit is a detection circuit that detects a rewrite frequency of the nonvolatile memory,
In-vehicle detection system.
請求項4又は5において、
前記検知回路は、前記不揮発性メモリの内部又は近傍に配置されている、
車載検知システム。
In claim 4 or 5,
The detection circuit is disposed inside or near the nonvolatile memory,
In-vehicle detection system.
請求項1〜3のいずれか1項に記載の車載検知システムにおいて、
前記検知部は、センサーで構成されている、
車載検知システム。
The in-vehicle detection system according to any one of claims 1 to 3,
The detection unit is configured by a sensor,
In-vehicle detection system.
請求項7に記載の車載検知システムにおいて、
前記センサーは撮像センサーである、
車載検知システム。
The in-vehicle detection system according to claim 7,
The sensor is an image sensor,
In-vehicle detection system.
請求項1〜3、7、8のいずれか1項に記載の車載検知システムにおいて、
前記検知部と前記システムオンチップとの間に介在するCAN(Controller Area Network)をさらに備えている、
車載検知システム。
The in-vehicle detection system according to any one of claims 1 to 3, 7, and 8,
The apparatus further includes a CAN (Controller Area Network) interposed between the detection unit and the system-on-chip.
In-vehicle detection system.
請求項1〜9のいずれか1項に記載の車載検知システムにおいて、
前記不揮発性メモリは、ランダムアクセス可能なメモリである、
車載検知システム。
The in-vehicle detection system according to any one of claims 1 to 9,
The non-volatile memory is a randomly accessible memory,
In-vehicle detection system.
請求項10に記載の車載検知システムにおいて、
前記不揮発性メモリは、抵抗変化型メモリ(Resistance RAM)、強誘電体メモリ(Ferroelectric RAM)、磁気抵抗型メモリ(Magnetic RAM)又は相変化メモリ(Phase Change Memory)である、
車載検知システム。
The in-vehicle detection system according to claim 10,
The nonvolatile memory is a resistance change memory (Resistance RAM), a ferroelectric memory (Ferroelectric RAM), a magnetoresistive memory (Magnetic RAM), or a phase change memory (Phase Change Memory).
In-vehicle detection system.
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