JP2020021450A - In-vehicle detection system - Google Patents
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Abstract
Description
本開示は、システムオンチップを備えた車載検知システムに関する。 The present disclosure relates to a vehicle-mounted detection system including a system-on-chip.
自動運転等の様々なアプリケーションの実現を目的として、カメラ等により検知した情報を処理するためのシステムオンチップ(SoC)を備えた車載検知システムの開発が進められている。 For the purpose of realizing various applications such as automatic driving and the like, development of an in-vehicle detection system provided with a system-on-chip (SoC) for processing information detected by a camera or the like is under way.
従来の車載検知システムにおいては、SoCのワークエリアとして機能するメモリとして、高速アクセス可能なDRAM(Dynamic Random Access Memory)が実装されてきた。また、DRAMは揮発性メモリであることから、SoCで実行されるプログラム等を格納するために、従来の車載検知システムにおいては、DRAMに加えて、DRAMと同じメモリ容量を持つROM(Read Only Memory)も実装する必要があった(特許文献1)。 In a conventional vehicle-mounted detection system, a DRAM (Dynamic Random Access Memory) that can be accessed at high speed has been mounted as a memory that functions as a work area of the SoC. In addition, since the DRAM is a volatile memory, in order to store programs executed by the SoC, in a conventional vehicle-mounted detection system, in addition to the DRAM, a ROM (Read Only Memory) having the same memory capacity as the DRAM is used. ) Also had to be implemented (Patent Document 1).
しかしながら、今後の自動運転の実現に向けたカメラ用センサー(撮像センサー)の高精度化、大容量化に加えて、車両におけるアプリケーションのさらなる増加に伴って、従来の車載検知システムにおいては、DRAM及びROMを合わせたメモリ容量が増大してしまう。メモリ容量、つまり、実装基板に占めるDRAM及びROMの面積比率が増大すると、基板面積を増加させなければならなくなるので、システムの車両への搭載自由度が制約されるという問題が生じる。 However, along with the increase in the accuracy and capacity of camera sensors (imaging sensors) for the realization of automatic driving in the future, along with the further increase in applications in vehicles, conventional in-vehicle detection systems require DRAM and The memory capacity including the ROM increases. When the memory capacity, that is, the ratio of the area of the DRAM and the ROM to the mounting substrate increases, the substrate area must be increased, which causes a problem that the degree of freedom of mounting the system on the vehicle is restricted.
また、従来の車載検知システムにおいては、電源投入時にROMからDRAMへデータ転送を行う必要がある。このため、システム規模が大きくなってメモリ容量が増大すると、システムがスタンバイ状態になるまでに要する時間が長くなる。すなわち、システムの起動から車両を発進させるまでに要する時間が長くなるという実用上の問題も生じる。 Further, in the conventional vehicle-mounted detection system, it is necessary to transfer data from the ROM to the DRAM when the power is turned on. Therefore, as the system scale increases and the memory capacity increases, the time required for the system to enter the standby state becomes longer. That is, there is a practical problem that the time required from the start of the system to the start of the vehicle becomes long.
本開示は、以上に述べた課題を解決するものであって、車両搭載センサーの高精度化、大容量化や車両におけるアプリケーションの増加に対してメモリ容量の増大を抑制できる車載検知システムを提供することを目的とする。 The present disclosure solves the problems described above, and provides an in-vehicle detection system that can suppress an increase in memory capacity in response to an increase in the accuracy and capacity of a vehicle-mounted sensor and an increase in applications in a vehicle. The purpose is to:
前記の目的を達成するために、本開示に係る車載検知システムの一の態様は、不揮発性メモリと、不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップと、システムオンチップに検知情報を出力する検知部とを備え、システムオンチップは、検知部の出力に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリの書込時間を変化させると共に、不揮発性メモリのクロック周期を書込時間の最大値よりも長く設定することによって、不揮発性メモリのクロック周期を一定に保持する。 In order to achieve the above object, one embodiment of the on-vehicle detection system according to the present disclosure includes a nonvolatile memory, a system-on-chip that reads and writes data from and to the nonvolatile memory, and a system-on-chip A detection unit that outputs information, and the system-on-chip changes a write time of the nonvolatile memory by changing a control signal of the nonvolatile memory in accordance with an output of the detection unit, and changes a writing time of the nonvolatile memory. By setting the clock cycle longer than the maximum value of the writing time, the clock cycle of the nonvolatile memory is kept constant.
また、本開示に係る車載検知システムの他の態様は、不揮発性メモリと、不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップと、システムオンチップに検知情報を出力する検知部とを備え、システムオンチップは、検知部の出力に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリの書込時間を変化させると共に、不揮発性メモリの書込時間の変化に合わせて不揮発性メモリのクロック周期を変化させる。 Another embodiment of the in-vehicle detection system according to the present disclosure includes a nonvolatile memory, a system-on-chip that reads and writes data from and to the nonvolatile memory, and a detection unit that outputs detection information to the system-on-chip. The system-on-chip changes the write time of the nonvolatile memory by changing the control signal of the nonvolatile memory according to the output of the detection unit, and adjusts the write time of the nonvolatile memory according to the change. To change the clock cycle of the nonvolatile memory.
本開示に係る車載検知システムによると、検知部の出力に応じてシステムオンチップは不揮発性メモリの制御信号を変化させる。このため、厳しい車載環境においても不揮発性メモリの性能を向上させることができる。例えば、高温下ではリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリを使用するのであれば、不揮発性メモリの周囲温度が例えば50℃以上になった場合に、不揮発性メモリの書込時間が長くなるように制御信号を変化させることによって、不揮発性メモリのリテンション性能を維持することができる。 According to the vehicle-mounted detection system according to the present disclosure, the system-on-chip changes the control signal of the nonvolatile memory according to the output of the detection unit. Therefore, the performance of the nonvolatile memory can be improved even in a severe vehicle environment. For example, if a type of non-volatile memory whose retention performance is degraded at high temperatures is used, when the ambient temperature of the non-volatile memory becomes, for example, 50 ° C. or more, the writing time of the non-volatile memory becomes longer. The retention performance of the nonvolatile memory can be maintained by changing the control signal.
以上のように、本開示に係る車載検知システムによると、不揮発性メモリの性能向上を実現できるので、不揮発性メモリに記憶されるデータの少なくとも一部については、ワークエリアとして機能するDRAM等のRAMを別途設けることなく、システムオンチップから不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを直接行うことができる。従って、メモリ容量やメモリデバイス数の増大、つまり基板面積の増大を抑制できるため、システムの車両への搭載自由度を確保することができる。また、システムを低消費電力化できるため、筐体サイズの縮小や部品の最適化も可能となるので、コスト削減を図ることもできる。 As described above, according to the in-vehicle detection system according to the present disclosure, the performance of the nonvolatile memory can be improved, so that at least a part of the data stored in the nonvolatile memory is a RAM such as a DRAM that functions as a work area. Can be directly read and written from the system-on-chip to the non-volatile memory without separately providing a memory. Therefore, an increase in the memory capacity and the number of memory devices, that is, an increase in the board area can be suppressed, so that the degree of freedom in mounting the system on the vehicle can be ensured. Further, since the power consumption of the system can be reduced, the size of the housing can be reduced and the components can be optimized, so that the cost can be reduced.
また、本開示に係る車載検知システムによると、不揮発性メモリの性能向上により、使用メモリを不揮発性メモリのみとする構成や、ワークエリアとして機能するDRAM等の容量を小さくした構成を採用できる。このため、電源遮断時に不揮発性メモリによりデータ保持できるだけではなく、電源投入時における不揮発性メモリからDRAM等へのデータ転送を不要にしたり、当該データ転送に要する時間を短縮することができる。従って、システムを高速でスタンバイ状態にすることが可能となる。 Further, according to the on-vehicle detection system according to the present disclosure, by improving the performance of the nonvolatile memory, a configuration in which only the nonvolatile memory is used and a configuration in which the capacity of a DRAM or the like functioning as a work area is reduced can be adopted. Therefore, not only can the data be retained by the non-volatile memory when the power is turned off, but also the data transfer from the non-volatile memory to the DRAM or the like when the power is turned on becomes unnecessary, and the time required for the data transfer can be shortened. Therefore, it is possible to put the system in a standby state at high speed.
本開示によれば、車両搭載センサーの高精度化、大容量化や車両におけるアプリケーションの増加に対してメモリ容量の増大を抑制できる車載検知システムを提供することができる。すなわち、システムの車両への搭載自由度が確保され且つスタンバイまでの待ち時間が短い車載検知システムを実現することができる。 According to the present disclosure, it is possible to provide an in-vehicle detection system capable of suppressing an increase in memory capacity in response to an increase in the accuracy and capacity of a vehicle-mounted sensor and an increase in applications in a vehicle. That is, it is possible to realize an in-vehicle detection system in which the degree of freedom of mounting the system on the vehicle is ensured and the waiting time until standby is short.
以下、本開示の実施形態に係る車載検知システムについて、図面を参照しながら説明する。 Hereinafter, a vehicle-mounted detection system according to an embodiment of the present disclosure will be described with reference to the drawings.
図1は、本実施形態に係る車載検知システムのブロック図である。図1に示すように、車載検知システム100は、不揮発性メモリ101と、不揮発性メモリ101に対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップ(SoC)102と、SoC102に検知情報を出力する検知部103とを備え、SoC102は、検知部103の出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させる。
FIG. 1 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, a vehicle-mounted detection system 100 includes a
不揮発性メモリ101としては、ランダムアクセス可能な不揮発性メモリを用いてもよく、例えば、抵抗変化型メモリ(Resistance RAM)、強誘電体メモリ(Ferroelectric RAM)、磁気抵抗型メモリ(Magnetic RAM)、相変化メモリ(Phase Change Memory)等を用いてもよい。
As the
SoC102は、不揮発性メモリ101に記憶されているプログラムに従って動作するプロセッサを主なハードウェア構成として備えている。プロセッサは、プログラムを実行することによって機能を実現することができれば、その種類は問わないが、例えば半導体集積回路(IC)又はLSI(large scale integration)を含む一つ又は複数の電子回路により構成されていてもよい。複数の電子回路は、一つのチップに集積されていてもよいし、複数のチップに設けられていてもよい。複数のチップは一つの装置に集約されていてもよいし、複数の装置に備えられていてもよい。
The SoC 102 includes a processor that operates according to a program stored in the
検知部103は、不揮発性メモリ101の性能や動作等に関連する情報、例えば、不揮発性メモリ101の周囲温度や書換頻度等を検知する。
The
車載検知システム100は、例えば車外の様子を撮影するためのカメラ用センサー(撮像センサー)等のセンサー104をさらに備えている。センサー104により取得された情報はSoC102に出力され、SoC102は、センサー104からの出力情報を、例えば不揮発性メモリ101から読み出したプログラムを用いて処理する。
The on-vehicle detection system 100 further includes a
また、車載検知システム100は、車両に搭載された複数の制御ユニットを相互に接続する通信ネットワークであるCAN(Controller Area Network)200に接続されていてもよい。CAN200は、例えばバスを介して、車両に搭載される複数の制御ユニット、各種車載センサ、スイッチ装置等を相互に接続するものであり、これによって、制御ユニット間でデータの共有が図られる。ここで、車載検知システム100は、SoC102とCAN200との間で通信を行うためのCANマイコン105と、CANマイコン105用のメモリであるEEPROM106とをさらに備えていてもよい。
Further, the on-vehicle detection system 100 may be connected to a CAN (Controller Area Network) 200 which is a communication network for interconnecting a plurality of control units mounted on the vehicle. The CAN 200 interconnects a plurality of control units mounted on the vehicle, various in-vehicle sensors, a switch device, and the like via, for example, a bus, thereby sharing data between the control units. Here, the in-vehicle detection system 100 may further include a
また、車載検知システム100は、不揮発性メモリ101、SoC102、検知部103、CANマイコン105及びEEPROM106にそれぞれ所定の電圧を供給するための電源回路107をさらに備えていてもよい。電源回路107には、外部電源300から電力が供給されてもよい。
The vehicle-mounted detection system 100 may further include a
以上に説明した本実施形態によると、検知部103の出力に応じてSoC102は不揮発性メモリ101の制御信号を変化させる。このため、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。例えば、高温下ではリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を使用するのであれば、不揮発性メモリ101の周囲温度が例えば50℃以上になった場合に、不揮発性メモリ101の書込時間が長くなるように制御信号を変化させることによって、不揮発性メモリ101のリテンション性能の変動を補償することができる。
According to the present embodiment described above, the
このように本実施形態によると、不揮発性メモリ101の性能向上を図れるので、ワークエリアとして機能するDRAM等を別途設けることなく、SoC102から不揮発性メモリ101に対して直接データの読出し及び書込みを行うことができる。従って、メモリ容量やメモリデバイス数の増大、つまり基板面積の増大を抑制できるため、システムの車両への搭載自由度を確保することができる。また、システムを低消費電力化できるため、筐体サイズの縮小や部品の最適化も可能となるので、コスト削減を図ることもできる。
As described above, according to the present embodiment, since the performance of the
また、本実施形態によると、不揮発性メモリ101の性能を向上させることができるので、SoC102が使用するメモリを不揮発性メモリ101のみとする構成を採用できる。言い換えると、SoC102のワークエリアとして機能するDRAM等を設けなくてもよい。このため、電源遮断時に不揮発性メモリ101によりデータ保持できるだけではなく、電源投入時における不揮発性メモリ101からDRAM等へのデータ転送を不要にできるので、システムを高速でスタンバイ状態にすることが可能となる。
Further, according to the present embodiment, since the performance of the
尚、本実施形態において、不揮発性メモリ101の周囲温度が例えば50℃以上になった場合に、不揮発性メモリ101の書込時間が長くなるように制御信号を変化させると、車載検知システム100から外部機器への応答が遅くなることがある。そこで、車載検知システム100は、例えば不揮発性メモリ101の書込時間が長くなるように制御していることを、CAN経由で外部機器に知らせる信号を出力するようにしてもよい。
In the present embodiment, if the control signal is changed so that the writing time of the
図2は、比較例に係る車載検知システムのブロック図である。図2に示すように、車載検知システム150は、フラッシュメモリ等のROM151と、SoC152と、高速アクセス可能なDRAM等のRAM153とを備えている。ROM151には、SoC152で実行されるプログラム等が格納されており、電源投入時にROM151からRAM153へデータ転送が行われる。このため、ROM151とRAM153とは同じメモリ容量を持つ。また、システム稼働時にはSoC152はRAM153に対してデータの読出し及び書込みを行う。その他、車載検知システム150は、図1に示す車載検知システム100と同様に、センサー154、CANマイコン155、EEPROM156を備えている。また、車載検知システム150は、ROM151、SoC152、RAM153、CANマイコン155及びEEPROM156にそれぞれ所定の電圧を供給するための電源回路157を備えている。
FIG. 2 is a block diagram of a vehicle-mounted detection system according to a comparative example. As shown in FIG. 2, the on-
比較例の車載検知システム150によると、車両におけるアプリケーションのさらなる増加や搭載センサーの高精度化、大容量化に伴って、ROM151とRAM153とを合わせたメモリ容量が増大してしまう。すなわち、実装基板に占めるROM151及びRAM153の面積比率が増大する結果、基板面積を増加させなければならなくなるので、システムの車両への搭載自由度が制約されてしまう。
According to the in-
また、比較例の車載検知システム150によると、電源投入時にROM151からRAM153へデータ転送を行う必要がある。このため、システム規模が大きくなってメモリ容量が増大すると、システムがスタンバイ状態になるまでに要する時間が長くなる。すなわち、システムの起動から車両を発進させるまでに要する時間が長くなるという実用上の問題が生じる。
According to the vehicle-mounted
(実施例1)
図3は、実施例1に係る車載検知システムのブロック図である。尚、図3において、図1に示す車載検知システム100と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(Example 1)
FIG. 3 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment. In FIG. 3, the same components as those in the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG.
図3に示す実施例1の車載検知システム100Aは、検知部103として、不揮発性メモリ101のリテンション性能に影響を及ぼす不揮発性メモリ101の周囲温度を検知する温度検知回路103Aを備えている。温度検知回路103Aは、不揮発性メモリ101の内部又は近傍に配置されてもよい。実施例1では、SoC102は、温度検知回路103Aの出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させるため、不揮発性メモリ101の周囲温度がリテンション性能に及ぼす影響度合いに応じて、不揮発性メモリ101の書込時間を調整できる。従って、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償することができるので、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。
The in-
図4は、実施例1の車載検知システム100Aにおける不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。図4において、「TEMP」は温度検知回路103Aの出力(不揮発性メモリ101の周囲温度)、「CK」はクロック信号、「/WE」は書込信号、「アドレス」はアドレス信号、「データ」はデータ信号、「書込」は不揮発性メモリ101の書込時間をそれぞれ表す(図5〜図7においても同じ)。尚、本例では、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。
FIG. 4 is an example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the
図4に示すように、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。本例では、SoC102は、周囲温度TEMPに応じた書込時間情報をアドレス信号に付与する。具体的には、図4に示すように、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、通常の書込時間(書込時間1:例えば1マイクロ秒)で書込を行うことをアドレス信号に設定し、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、通常よりも長い書込時間(書込時間2:例えば100マイクロ秒)で書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102がクロック信号CKの周期を「書込時間2」(つまり書込時間の最大値)よりも長く設定することにより、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。
As shown in FIG. 4, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the ambient temperature TEMP. Further, when the clock signal CK rises to high, the
尚、以上の説明においては、「書込時間1」は、例えば1マイクロ秒であり、「書込時間2」は、例えば100マイクロ秒であるので、両者には100倍の違いがあるが、図4のタイミング図では、説明を分かりやすくするために、「書込時間2」の幅を実際よりも小さく表現している。このような表現は、以下に説明する他のタイミング図においても同様である。 In the above description, "writing time 1" is, for example, 1 microsecond, and "writing time 2" is, for example, 100 microseconds. In the timing chart of FIG. 4, the width of “writing time 2” is expressed smaller than the actual one for easy understanding. Such an expression is the same in other timing diagrams described below.
図5は、実施例1の車載検知システム100Aにおける不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。
FIG. 5 is another example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the
図5に示すように、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。また、本例でも、SoC102は、周囲温度TEMPに応じた書込時間情報をアドレス信号に付与しておく。具体的には、図5に示すように、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、通常の書込時間(書込時間1)で書込を行うことをアドレス信号に設定し、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、通常よりも長い書込時間(書込時間2)で書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、書込終了(書込時間2の経過)後にクロック信号CKをhighに立上げることにより、言い換えると、書込終了まではクロック信号CKをlowのままにしておくことにより、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合と比べてクロック信号CKの周期を長くしている。
As shown in FIG. 5, when the clock signal CK rises to a high level, the write signal / WE and a new address and data start to be fetched by the
図6は、実施例1の車載検知システム100Aにおける不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。
FIG. 6 is another example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the
図6に示すように、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。本例では、SoC102は、書込信号/WEがhighに立上がるタイミングで不揮発性メモリ101への書込を終了する。具体的には、SoC102は、図6に示すように、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、書込信号/WEを通常のタイミングでhighに立上げることにより、通常の書込時間(書込時間1)を設定する。一方、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、SoC102は、書込信号/WEを通常よりも遅いタイミングでhighに立上げることにより、通常よりも長い書込時間(書込時間2)を設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102がクロック信号CKの周期を「書込時間2」(つまり書込時間の最大値)よりも長く設定することにより、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。
As shown in FIG. 6, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the ambient temperature TEMP. Further, when the clock signal CK rises to high, the
図7は、実施例1の車載検知システム100Aにおける不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。
FIG. 7 is another example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the
図7に示すように、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。また、本例でも、SoC102は、書込信号/WEがhighに立上がるタイミングで不揮発性メモリ101への書込を終了する。具体的には、図7に示すように、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、書込信号/WEを通常のタイミングでhighに立上げることにより、通常の書込時間(書込時間1)を設定する。一方、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、書込信号/WEを通常よりも遅いタイミングでhighに立上げることにより、通常よりも長い書込時間(書込時間2)を設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、書込終了(書込時間2の経過)後にクロック信号CKをhighに立上げることにより、言い換えると、書込終了まではクロック信号CKをlowのままにしておくことにより、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合と比べてクロック信号CKの周期を長くしている。
As shown in FIG. 7, when the clock signal CK rises to a high level, the write signal / WE and a new address and data are started to be fetched by the
尚、実施例1において、不揮発性メモリ101の書込時間を変化させる周囲温度の閾値は、50℃であるとして説明したが、特に限定されるものではなく、メモリ特性等に応じて50℃よりも高く又は低く設定してもよい。また、必要に応じて周囲温度の閾値を多段階に設定してもよい。また、周囲温度の閾値における範囲、すなわち、精度は、例えば±10%(閾値が50℃なら、45℃から55℃までの範囲)としてもよい。この範囲についてもメモリ特性等に応じて適宜設定可能である。
In the first embodiment, the threshold value of the ambient temperature at which the write time of the
また、実施例1において、高温下でリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としたが、これに代えて、高温下でリテンション性能が改善するタイプの不揮発性メモリを使用する場合は、SoC102は、周囲温度が閾値以上になった場合に、通常よりも短い書込時間で書込を行えばよい。
In the first embodiment, the
また、実施例1において、「書込時間1」が1マイクロ秒であり、「書込時間2」が100マイクロ秒である場合を例示したが、「書込時間1」及び「書込時間2」は特に限定されるものではなく、メモリ特性等に応じて適宜設定可能である。例えば、使用する不揮発性メモリ101が抵抗変化型メモリであれば、前述のように、「書込時間1」を1マイクロ秒、「書込時間2」を100マイクロ秒とし、使用する不揮発性メモリ101が磁気抵抗型メモリであれば、「書込時間1」を例えば10ナノ秒〜100ナノ秒程度とし、「書込時間2」を100マイクロ秒としてもよい。このような「書込時間1」及び「書込時間2」についての説明は、下記の実施例2においても同様である。
Further, in the first embodiment, the case where the “write time 1” is 1 microsecond and the “write time 2” is 100 microseconds is illustrated, but “write time 1” and “write time 2” are used. Is not particularly limited and can be set as appropriate according to memory characteristics and the like. For example, if the
(実施例2)
図8は、実施例2に係る車載検知システムのブロック図である。尚、図8において、図1に示す車載検知システム100と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(Example 2)
FIG. 8 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the second embodiment. In FIG. 8, the same components as those in the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.
図8に示す実施例2の車載検知システム100Bは、検知部103として、不揮発性メモリ101のリテンション性能に影響を及ぼす不揮発性メモリ101の書換頻度(単位時間当たりの書換回数)を検知する書換頻度検知回路103Bを備えている。書換頻度検知回路103Bは、不揮発性メモリ101の内部又は近傍に配置されてもよい。実施例2では、SoC102は、書換頻度検知回路103Bの出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させるため、不揮発性メモリ101の書換頻度がリテンション性能に及ぼす影響度合いに応じて、不揮発性メモリ101の書込時間を調整できる。従って、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償することができるので、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。
The in-
図9は、実施例2の車載検知システム100Bにおける不揮発性メモリ101の書換頻度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。図9において、「DET」は書換頻度検知回路103Bの出力(不揮発性メモリ101の書換頻度(単位時間当たりの書換回数))、「CK」はクロック信号、「/WE」は書込信号、「アドレス」はアドレス信号、「データ」はデータ信号、「書込」は不揮発性メモリ101の書込時間をそれぞれ表す(図10〜図12においても同じ)。尚、本例では、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。
FIG. 9 is an example of a timing chart showing the relationship between the rewriting frequency of the
図9に示すように、クロック信号CKの周期は書換頻度DETに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。本例では、SoC102は、書換頻度DETに応じた書込時間情報をアドレス信号に付与する。具体的には、図9に示すように、SoC102は、書換頻度DET(単位時間当たりの書換回数)が1000回よりも少ない場合には、通常の書込時間(書込時間1)で書込を行うことをアドレス信号に設定し、書換頻度DETが1000回以上の場合には、通常よりも長い書込時間(書込時間2)で書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102がクロック信号CKの周期を「書込時間2」(つまり書込時間の最大値)よりも長く設定することにより、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。
As shown in FIG. 9, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the rewriting frequency DET. Further, when the clock signal CK rises to high, the
図10は、実施例2の車載検知システム100Bにおける不揮発性メモリ101の書換頻度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。
FIG. 10 is another example of a timing chart showing the relationship between the rewriting frequency of the
図10に示すように、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。また、本例でも、SoC102は、書換頻度DETに応じた書込時間情報をアドレス信号に付与しておく。具体的には、SoC102は、書換頻度DET(単位時間当たりの書換回数)が1000回よりも少ない場合には、通常の書込時間(書込時間1)で書込を行うことをアドレス信号に設定し、書換頻度DETが1000回以上の場合には、通常よりも長い書込時間(書込時間2)で書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、書換頻度DETが1000回以上の場合には、SoC102は、書込終了(書込時間2の経過)後にクロック信号CKをhighに立上げることにより、言い換えると、書込終了まではクロック信号CKをlowのままにしておくことにより、書換頻度DETが1000回よりも少ない場合と比べてクロック信号CKの周期を長くしている。
As shown in FIG. 10, when the clock signal CK rises to a high level, the write signal / WE and a new address and data start to be fetched by the
図11は、実施例2の車載検知システム100Bにおける不揮発性メモリ101の書換頻度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としている。
FIG. 11 is another example of a timing chart showing the relationship between the rewrite frequency of the
図11に示すように、クロック信号CKの周期は書換頻度DETに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。本例では、SoC102は、書込信号/WEがhighに立上がるタイミングで不揮発性メモリ101への書込を終了する。具体的には、図11に示すように、SoC102は、書換頻度DET(単位時間当たりの書換回数)が1000回よりも少ない場合には、書込信号/WEを通常のタイミングでhighに立上げることにより、通常の書込時間(書込時間1)を設定する。一方、SoC102は、書換頻度DETが1000回以上の場合には、書込信号/WEを通常よりも遅いタイミングでhighに立上げることにより、通常よりも長い書込時間(書込時間2)を設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、SoC102がクロック信号CKの周期を「書込時間2」(つまり書込時間の最大値)よりも長く設定することにより、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。
As shown in FIG. 11, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the rewriting frequency DET. Further, when the clock signal CK rises to high, the
図12は、実施例2の車載検知システム100Bにおける不揮発性メモリ101の書換頻度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の他の一例である。本例でも、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象している。
FIG. 12 is another example of a timing chart showing the relationship between the rewrite frequency of the
図12に示すように、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。また、本例でも、SoC102は、書込信号/WEがhighに立上がるタイミングで不揮発性メモリ101への書込を終了する。具体的には、図12に示すように、SoC102は、書換頻度DET(単位時間当たりの書換回数)が1000回よりも少ない場合には、書込信号/WEを通常のタイミングでhighに立上げることにより、通常の書込時間(書込時間1)を設定する。一方、SoC102は、書換頻度DETが1000回以上の場合には、書込信号/WEを通常よりも遅いタイミングでhighに立上げることにより、通常よりも長い書込時間(書込時間2)を設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償する。尚、本例では、書換頻度DETが1000回以上の場合には、SoC102は、書込終了(書込時間2の経過)後にクロック信号CKをhighに立上げることにより、言い換えると、書込終了まではクロック信号CKをlowのままにしておくことにより、書換頻度DETが1000回よりも少ない場合と比べてクロック信号CKの周期を長くしている。
As shown in FIG. 12, when the clock signal CK rises to a high level, the write signal / WE and a new address and data start to be fetched by the
尚、実施例2において、不揮発性メモリ101の書込時間を変化させる書換頻度の閾値は、1000回であるとして説明したが、特に限定されるものではなく、メモリ特性等に応じて1000回よりも多く(但し1000万回程度まで)又は少なく(但し100回程度まで)設定してもよい。つまり、不揮発性メモリ101の種類に応じて書換頻度の閾値は100回程度から1000万回程度までの幅を持つので、メモリ特性等に適宜設定すればよい。また、必要に応じて書換頻度の閾値を多段階に設定してもよい。また、書換頻度の閾値における範囲、すなわち、精度は、例えば±10%(閾値が1000回なら、900回から1100回までの範囲)としてもよい。この範囲についてもメモリ特性等に応じて適宜設定可能である。
In the second embodiment, the threshold value of the rewriting frequency for changing the writing time of the
また、実施例2において、書換頻度が多くなるとリテンション性能が劣化するタイプの不揮発性メモリ101を対象としたが、これに代えて、書換頻度が多くなるとリテンション性能が改善するタイプの不揮発性メモリを使用する場合は、SoC102は、書換頻度が閾値以上になった場合に、通常よりも短い書込時間で書込を行えばよい。
In the second embodiment, the
また、実施例1、2では不揮発性メモリの周囲温度や書換頻度に応じて、不揮発性メモリの制御信号を変化させたが、これに代えて、不揮発性メモリの性能や動作等に関連するその他の情報を検知して、当該検知情報に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させてもよい。 In the first and second embodiments, the control signal of the non-volatile memory is changed according to the ambient temperature and the rewriting frequency of the non-volatile memory. May be detected, and the control signal of the nonvolatile memory may be changed according to the detected information.
(変形例1)
前述の実施例1、2では、SoC102が、検知部103(温度検知回路103Aや書換頻度検知回路103B)の出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリ101の書込時間を変化させた。
(Modification 1)
In the first and second embodiments, the
それに対して、変形例1では、不揮発性メモリ101は複数のメモリアレイを有しており、SoC102は、検知部103の出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリ101の書込対象メモリアレイを変える。
On the other hand, in the first modification, the
図13は、変形例1の不揮発性メモリ101の構成の一例を示す模式図である。図13に示すように、変形例1の不揮発性メモリ101は、高温下でのリテンション性能が通常のメモリアレイ101a(メモリアレイ1)と、高温下でのリテンション性能が優れたメモリアレイ101b(メモリアレイ2)とを有している。
FIG. 13 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of the
以下、変形例1に係る車載検知システムが、不揮発性メモリ101を除き、図3に示す実施例1に係る車載検知システムと同様の構成を有している場合について説明する。 Hereinafter, a case will be described in which the vehicle-mounted detection system according to the first modification has the same configuration as the vehicle-mounted detection system according to the first embodiment illustrated in FIG.
変形例1によると、SoC102は、温度検知回路103Aの出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることによって、不揮発性メモリ101の周囲温度に応じて、不揮発性メモリ101の書込対象メモリアレイを変えることができる。従って、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償することができるので、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。
According to the first modification, the
図14は、変形例1における不揮発性メモリ101の周囲温度とSoC102の制御信号との関係を示すタイミング図の一例である。図14において、「TEMP」は温度検知回路103Aの出力(不揮発性メモリ101の周囲温度)、「CK」はクロック信号、「/WE」は書込信号、「アドレス」はアドレス信号、「データ」はデータ信号、「書込」は不揮発性メモリ101の書込時間をそれぞれ表す。
FIG. 14 is an example of a timing chart showing the relationship between the ambient temperature of the
図14に示すように、クロック信号CKの周期は周囲温度TEMPに関係なく一定に保持されている。また、クロック信号CKがhighに立上がるときに、書込信号/WEと新たなアドレス及びデータを不揮発性メモリ101が取り込み始めることにより、不揮発性メモリ101への書込が開始される。変形例1では、SoC102は、周囲温度TEMPに応じた書込対象メモリアレイ情報をアドレス信号に付与する。具体的には、図14に示すように、SoC102は、周囲温度TEMPが50℃よりも低い場合には、高温下でのリテンション性能が通常のメモリアレイ1に書込を行うことをアドレス信号に設定し、周囲温度TEMPが50℃以上の場合には、高温下でのリテンション性能が優れたメモリアレイ2に書込を行うことをアドレス信号に設定する。これにより、SoC102は、不揮発性メモリ101の周囲温度に起因するリテンション性能の変動を補償する。
As shown in FIG. 14, the cycle of the clock signal CK is kept constant regardless of the ambient temperature TEMP. Further, when the clock signal CK rises to high, the
以上、変形例1に係る車載検知システムが、図3に示す実施例1に係る車載検知システム100Aと同様の構成を有している場合について説明したが、変形例1は、図8に示す実施例2の車載検知システム100Bにも適用可能である。
As described above, the case where the in-vehicle detection system according to the first modification has the same configuration as the in-
すなわち、不揮発性メモリ101は、書換頻度が高いときのリテンション性能が通常のメモリアレイ(メモリアレイ1)と、書換頻度が高いときのリテンション性能が優れたメモリアレイ(メモリアレイ2)とを有し、SoC102は、書換頻度検知回路103Bの出力に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることによって、不揮発性メモリ101の書換頻度に応じて、不揮発性メモリ101の書込対象メモリアレイを変えてもよい。これにより、不揮発性メモリ101の書換頻度に起因するリテンション性能の変動を補償することができるので、厳しい車載環境においても不揮発性メモリ101の性能を向上させることができる。
That is, the
この場合の不揮発性メモリ101の制御は、例えば、書換頻度が閾値よりも低い場合、書換頻度が高いときのリテンション性能が通常のメモリアレイ1に書込を行うことをアドレス信号に設定し、書換頻度が閾値以上の場合、書換頻度が高いときのリテンション性能が優れたメモリアレイ2に書込を行うことをアドレス信号に設定してもよい。
In this case, the
尚、変形例1において、不揮発性メモリ101の書込対象メモリアレイを変える周囲温度や書換頻度の閾値は、特に限定されるものではなく、メモリ特性等に応じて任意に設定でき、また、必要に応じて閾値を多段階に設定してもよい。
In the first modification, the ambient temperature and the threshold value of the rewriting frequency for changing the memory array to be written into the
また、変形例1では不揮発性メモリ101の周囲温度や書換頻度に応じて、不揮発性メモリ101の制御信号を変化させたが、これに代えて、不揮発性メモリ101の性能や動作等に関連するその他の情報を検知して、当該検知情報に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させてもよい。
Further, in the first modification, the control signal of the
(変形例2)
図15は、変形例2に係る車載検知システムのブロック図である。尚、図15において、図1に示す車載検知システム100と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(Modification 2)
FIG. 15 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the second modification. In FIG. 15, the same components as those in the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the duplicate description will be omitted.
前述の実施例1、2では、検知部103として、温度検知回路103Aや書換頻度検知回路103Bを設けて、温度検知回路103Aや書換頻度検知回路103Bの出力に応じてSoC102は不揮発性メモリ101の制御信号を変化させた。
In the first and second embodiments, the
それに対して、図15に示す変形例2の車載検知システム100Cでは、例えば車外の様子を撮影するためのカメラ用センサー(撮像センサー)等のセンサー104Cを用い、当該センサー104Cの出力に応じてSoC102は不揮発性メモリ101の制御信号を変化させる。すなわち、変形例2では、図1に示す車載検知システム100の検知部103がセンサー104Cで構成されている。
On the other hand, in the vehicle-mounted
センサー104Cが撮像センサーであれば、例えば、撮像情報の重要度に応じて不揮発性メモリ101の制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリ101の書込時間や書込対象メモリアレイを変化させてもよい。
If the
尚、変形例2は、センサー104Cが撮像センサー以外のセンサーである場合にも適用可能である。
Note that Modification 2 is also applicable when the
また、実施例1の温度検知回路103Aや実施例2の書換頻度検知回路103B等の検知部103と、変形例2のセンサー104Cとを併用して、これらの出力の組み合わせに応じてSoC102は不揮発性メモリ101の制御信号を変化させてもよい。
In addition, the
(変形例3)
図16は、変形例3に係る車載検知システムのブロック図である。尚、図16において、図1に示す車載検知システム100と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
(Modification 3)
FIG. 16 is a block diagram of the vehicle-mounted detection system according to the third modification. In FIG. 16, the same components as those in the vehicle-mounted detection system 100 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and overlapping description will be omitted.
図1に示す車載検知システム100では、検知部103は検知した情報をSoC102に直接出力した。
In the on-vehicle detection system 100 shown in FIG. 1, the
それに対して、図16に示す変形例3の車載検知システム100Dでは、検知部103Dで検知された情報は、CAN(Controller Area Network)200D及びCANマイコン105を経由してSoC102に出力される。
On the other hand, in the vehicle-mounted
尚、変形例3において、SoC102は、CAN200Dに接続された車両CPUの1つであってもよい。
In the third modification, the
また、変形例3において、検知部103Dに代えて、変形例2のセンサー104Cが設けられていてもよい。
In the third modification, the
以上に述べた実施形態(各実施例、変形例を含む。以下同じ。)の説明は、本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物又はその用途を制限することを意図するものではなく、発明の範囲内で種々の変更が可能である。例えば、実施例、変形例の任意の組み合わせが可能である。 The description of the above-described embodiments (including each example and modified examples; the same applies hereinafter) is merely an example in nature, and is not intended to limit the present invention, its application, or its use. Instead, various modifications are possible within the scope of the invention. For example, any combination of the embodiment and the modified example is possible.
また、以上に述べた実施形態では、SoCによって不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、不揮発性メモリの書込時間又は書込対象メモリアレイを変化させたが、不揮発性メモリの制御対象は、これらに限られるものではない。 Further, in the above-described embodiment, the write time of the nonvolatile memory or the memory array to be written is changed by changing the control signal of the nonvolatile memory by the SoC. However, the present invention is not limited to these.
また、以上に述べた実施形態では、SoCに用いられるメモリとして不揮発性メモリのみを設けたが、車両におけるアプリケーションによっては、不揮発性メモリに記憶されるデータの少なくとも一部については、ワークエリアとして機能するDRAM等を別途設けてもよい。この場合にも、同じメモリ容量のROMとDRAMとが実装された従来の車載検知システムと比較して、DRAM等の容量を小さくすることができるので、システムの車両への搭載自由度を確保することができる。また、電源投入時における不揮発性メモリからDRAM等へのデータ転送に要する時間を短縮することができる。 In the embodiment described above, only the nonvolatile memory is provided as the memory used for the SoC. However, depending on the application in the vehicle, at least a part of the data stored in the nonvolatile memory functions as a work area. DRAM or the like may be separately provided. Also in this case, the capacity of the DRAM and the like can be reduced as compared with a conventional in-vehicle detection system in which a ROM and a DRAM having the same memory capacity are mounted, so that the degree of freedom of mounting the system on a vehicle is ensured. be able to. Further, the time required for data transfer from the nonvolatile memory to the DRAM or the like when the power is turned on can be reduced.
また、以上に述べた実施形態では、いずれもセンサーが設けられた構成について説明したが、センサーが設けられない構成であってもよい。例えば、車載検知システムは、検知部として温度検出回路を内蔵したECU(Electronic Control Unit )であってもよい。この場合、車載検知システムは、検出された温度に応じて不揮発性メモリの制御信号を変化させると共に、検出された温度を例えばCAN経由で外部機器に出力してもよい。このようにすると、ECUの温度を出力するための車載検知システムが構成される。 Further, in the above-described embodiments, the configuration in which the sensor is provided is described, but the configuration in which the sensor is not provided may be employed. For example, the in-vehicle detection system may be an ECU (Electronic Control Unit) having a built-in temperature detection circuit as a detection unit. In this case, the in-vehicle detection system may change the control signal of the nonvolatile memory according to the detected temperature and output the detected temperature to an external device via, for example, the CAN. In this way, a vehicle-mounted detection system for outputting the temperature of the ECU is configured.
本開示は、システムオンチップを備えた車載検知システムとして有用である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present disclosure is useful as a vehicle-mounted detection system including a system-on-chip.
100、100A、100B、100C、100D 車載検知システム
101 不揮発性メモリ
101a メモリアレイ1
101b メモリアレイ2
102 SoC
103、103D 検知部
103A 温度検知回路
103B 書換頻度検知回路
104、104C センサー
105 CANマイコン
106 EEPROM
107 電源回路
200、200D CAN
300 外部電源
100, 100A, 100B, 100C, 100D In-
101b Memory array 2
102 SoC
103,
107
300 external power supply
Claims (11)
前記不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップと、
前記システムオンチップに検知情報を出力する検知部とを備え、
前記システムオンチップは、前記検知部の出力に応じて前記不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、前記不揮発性メモリの書込時間を変化させると共に、前記不揮発性メモリのクロック周期を前記書込時間の最大値よりも長く設定することによって、前記不揮発性メモリのクロック周期を一定に保持する、
車載検知システム。 A non-volatile memory;
A system-on-chip that reads and writes data from and to the nonvolatile memory;
A detection unit that outputs detection information to the system-on-chip,
The system-on-chip changes a write time of the nonvolatile memory by changing a control signal of the nonvolatile memory according to an output of the detection unit, and changes a clock cycle of the nonvolatile memory to the write cycle. Setting the clock cycle of the nonvolatile memory to be constant,
In-vehicle detection system.
前記不揮発性メモリに対してデータの読出し及び書込みを行うシステムオンチップと、
前記システムオンチップに検知情報を出力する検知部とを備え、
前記システムオンチップは、前記検知部の出力に応じて前記不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、前記不揮発性メモリの書込時間を変化させると共に、前記不揮発性メモリの書込時間の変化に合わせて前記不揮発性メモリのクロック周期を変化させる、
車載検知システム。 A non-volatile memory;
A system-on-chip that reads and writes data from and to the nonvolatile memory;
A detection unit that outputs detection information to the system-on-chip,
The system-on-chip changes a write time of the non-volatile memory by changing a control signal of the non-volatile memory according to an output of the detection unit, and changes a write time of the non-volatile memory. Changing the clock cycle of the nonvolatile memory in accordance with
In-vehicle detection system.
前記不揮発性メモリは複数のメモリアレイを有し、
前記システムオンチップは、前記不揮発性メモリの制御信号を変化させることにより、前記不揮発性メモリの書込対象メモリアレイを変える、
車載検知システム。 The in-vehicle detection system according to claim 1 or 2,
The non-volatile memory has a plurality of memory arrays,
The system-on-chip changes a write target memory array of the nonvolatile memory by changing a control signal of the nonvolatile memory.
In-vehicle detection system.
前記検知部は、前記不揮発性メモリの周囲温度を検知する検知回路である、
車載検知システム。 The in-vehicle detection system according to claim 1 or 2,
The detection unit is a detection circuit that detects an ambient temperature of the nonvolatile memory,
In-vehicle detection system.
前記検知部は、前記不揮発性メモリの書換頻度を検知する検知回路である、
車載検知システム。 The in-vehicle detection system according to claim 1 or 2,
The detection unit is a detection circuit that detects a rewrite frequency of the nonvolatile memory,
In-vehicle detection system.
前記検知回路は、前記不揮発性メモリの内部又は近傍に配置されている、
車載検知システム。 In claim 4 or 5,
The detection circuit is disposed inside or near the nonvolatile memory,
In-vehicle detection system.
前記検知部は、センサーで構成されている、
車載検知システム。 The in-vehicle detection system according to any one of claims 1 to 3,
The detection unit is configured by a sensor,
In-vehicle detection system.
前記センサーは撮像センサーである、
車載検知システム。 The in-vehicle detection system according to claim 7,
The sensor is an image sensor,
In-vehicle detection system.
前記検知部と前記システムオンチップとの間に介在するCAN(Controller Area Network)をさらに備えている、
車載検知システム。 The in-vehicle detection system according to any one of claims 1 to 3, 7, and 8,
The apparatus further includes a CAN (Controller Area Network) interposed between the detection unit and the system-on-chip.
In-vehicle detection system.
前記不揮発性メモリは、ランダムアクセス可能なメモリである、
車載検知システム。 The in-vehicle detection system according to any one of claims 1 to 9,
The non-volatile memory is a randomly accessible memory,
In-vehicle detection system.
前記不揮発性メモリは、抵抗変化型メモリ(Resistance RAM)、強誘電体メモリ(Ferroelectric RAM)、磁気抵抗型メモリ(Magnetic RAM)又は相変化メモリ(Phase Change Memory)である、
車載検知システム。 The in-vehicle detection system according to claim 10,
The nonvolatile memory is a resistance change memory (Resistance RAM), a ferroelectric memory (Ferroelectric RAM), a magnetoresistive memory (Magnetic RAM), or a phase change memory (Phase Change Memory).
In-vehicle detection system.
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