JP2020017119A - Resistance generation device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、任意の抵抗値の抵抗を発生させ得る抵抗発生装置に関するものである。 The present invention relates to a resistance generator that can generate a resistance having an arbitrary resistance value.
この種の抵抗発生装置の基本的なものとして、下記特許文献1において従来の技術として開示された抵抗発生装置が知られている。この抵抗発生装置は、抵抗器や測温抵抗体などの抵抗値を測定するデジタルマルチメータの校正や、測温抵抗体をセンサとする各種温度計の校正において、値の既知な標準抵抗を発生させる装置として使用される。
2. Description of the Related Art As a basic type of a resistance generator of this type, a resistance generator disclosed as a conventional technique in
この場合、デジタルマルチメータなどの測定装置として、内部に抵抗測定用の測定電流を発生させるための電流源を備えて、その測定電流を一対の測定端子間に接続された被測定抵抗に流してその際に被測定抵抗に発生する電圧降下の電圧値(以下、単に「電圧降下」ともいう)を計測し、この計測された電圧降下を測定電流の電流値で除算することで、被測定抵抗の抵抗値を求める構成を有する測定装置がある。 In this case, as a measuring device such as a digital multimeter, a current source for internally generating a measuring current for resistance measurement is provided, and the measuring current is supplied to a resistance to be measured connected between a pair of measuring terminals. At this time, the voltage value of the voltage drop generated in the resistance to be measured (hereinafter, also simply referred to as “voltage drop”) is measured, and the measured voltage drop is divided by the current value of the measurement current to obtain the resistance to be measured. There is a measuring device having a configuration for obtaining the resistance value of the measuring device.
この構成の測定装置用の抵抗発生装置は、測定装置の測定端子間から出力される測定電流を吸い込む電流源と、電流源で吸い込む電流の電流値を測定する電流計と、電圧を発生させて測定端子間に印加する電圧源とを内部に有して構成されている。この抵抗発生装置では、測定装置側の電流源から出力される測定電流を抵抗発生装置側の電流源が吸い込むと共に、電流計がこの電流源で吸い込む測定電流の電流値Iを計測する。この計測される電流値Iは、測定装置側の電流源が定電流源(測定電流の電流値Iが既定値)のときにはこの既定値となる。電圧源は、この計測された電流値I(既定値)と抵抗発生装置に設定された抵抗の抵抗値Rとに基づいて算出される電圧値V(=I×R)で電圧を発生させて、測定端子間に印加する。これにより、抵抗発生装置は、設定された抵抗値Rの抵抗を測定端子間に発生させることができる。 The resistance generator for a measuring device having this configuration is configured to generate a voltage by generating a voltage, a current source for drawing a measurement current output from between measurement terminals of the measurement device, an ammeter for measuring a current value of the current drawn by the current source. And a voltage source applied between the measurement terminals. In this resistance generation device, the measurement current output from the current source on the measurement device side is drawn by the current source on the resistance generation device side, and the ammeter measures the current value I of the measurement current drawn by the current source. The measured current value I becomes the default value when the current source on the measuring device side is a constant current source (the current value I of the measurement current is a default value). The voltage source generates a voltage with a voltage value V (= I × R) calculated based on the measured current value I (predetermined value) and the resistance value R of the resistor set in the resistance generator. , Applied between the measurement terminals. Thus, the resistance generator can generate a resistance having the set resistance value R between the measurement terminals.
また、他の測定装置として、図4に示す測定装置(サーミスタ温度測定装置)51が知られている。この測定装置51は、測定端子52a,52b間に接続された抵抗体(サーミスタ)53に、プルアップ抵抗54を介して直流電源55から直流定電圧Vdd(例えば、グランドGの電位を基準とするDC+5V)を印加すると共に、プルアップ抵抗54(抵抗値Rpu)と抵抗体53の直列回路がこの直流定電圧Vddを分圧して得られる電圧(分圧電圧)Vをバッファ(高入力インピーダンスの増幅器)56を介して検出し、この検出した電圧Vの電圧値V1と、抵抗体53についての電圧値V1と温度との関係を示すデータテーブル(図4に示す回路構成で、抵抗体53の温度を徐々に変化させたときの各温度と、各温度において測定される電圧値V1との関係を、実験またはシミュレーションで求めて得られるデータテーブル)とに基づいて、抵抗体53の温度(例えば、抵抗体53が配設された部位の温度)を計測する。
As another measuring device, a measuring device (thermistor temperature measuring device) 51 shown in FIG. 4 is known. In this
一方、この構成の測定装置用の抵抗発生装置41は、図5に示すように、測定装置51の一対の測定端子52a,52bに接続される一対の接続端子42a,42bと、測定装置51の一方の測定端子52aから接続端子42aを経由して電流Iを吸い込むと共に接続端子42bを経由して他方の測定端子52bに出力する(戻す)電流源43と、接続端子42a,42b間の電圧Vを測定する電圧測定部44と、所定の時間間隔で、電流源43に対して吸い込む電流Iの電流値I1を設定しつつ(例えば、初期値をゼロとして電流値I1を増加する設定を実行しつつ)、この電流値I1と電圧測定部44が測定している現在の電圧Vの電圧値V1(=Vdd−Rpu×I)とに基づいて抵抗値R(=V1/I1)を算出し、算出した抵抗値Rと抵抗発生装置41に設定された目標抵抗値Rtgとの差分に基づき、電流源43に対する新たな電流値I1を決定するというフィードバック制御を実行して、算出される抵抗値Rを目標抵抗値Rtgに収束させる処理部45とを備えている。これにより、この抵抗発生装置41は、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を測定端子52a,52b間に発生させることが可能となっている。
On the other hand, as shown in FIG. 5, the
ところが、上記した従来の抵抗発生装置41には、以下のような解決すべき課題が存在している。すなわち、この抵抗発生装置41では、実行するフィードバック制御の安定性や過渡特性(速応性および減衰性)は、測定装置51側のプルアップ抵抗54の抵抗値Rpuおよび直流電源55の測定端子52a,52b間に等価的に存在する容量成分57の容量値Cpdの影響を受ける。このことから、抵抗発生装置41では、抵抗値Rpuおよび容量値Cpdが未知の状況下において、上記の安定性を確実に維持すべく、過渡特性を犠牲にして、フィードバック制御の制御量を小さくしている。つまり、フィードバック制御の入力である電圧値V1に基づいて出力であるところの新たな電流値I1を算出する際のゲインを小さくすると共に、この新たな電流値I1を電流源43に設定するまでの間に、電流源43が直前に設定された電流値I1で電流Iを吸い込む状態に移行し得るようにしている。
However, the above-described
したがって、この抵抗発生装置41には、過渡特性を犠牲にした関係上、目標抵抗値Rtgの抵抗を発生させるまでに要する時間が長くなるという解決すべき課題が存在している。
Therefore, the
本発明は、かかる課題を改善すべくなされたものであり、所望の抵抗値(目標抵抗値)を発生させるまでに要する時間を短縮し得る抵抗発生装置を提供することを主目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and has as its main object to provide a resistance generator capable of shortening the time required to generate a desired resistance value (target resistance value).
上記目的を達成すべく請求項1記載の抵抗発生装置は、一対の測定端子のうちの一方の測定端子に接続されたプルアップ抵抗を介して直流定電圧を当該一対の測定端子のうちの他方の測定端子の電位を基準として当該一対の測定端子間に接続される抵抗体に印加すると共に、前記抵抗体と前記プルアップ抵抗とで測定定電圧が分圧されて得られる分圧電圧を検出する機能を有する測定装置の当該一対の測定端子間に当該抵抗体に代えて接続されて、設定された目標抵抗値の抵抗を当該一対の測定端子間に発生させる抵抗発生処理を実行する抵抗発生装置であって、前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧と前記目標抵抗値とに基づいて前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記プルアップ抵抗の抵抗値を測定する値測定処理を実行して、前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記抵抗値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくする。
In order to achieve the above object, the resistance generator according to
また、請求項2記載の抵抗発生装置は、一対の測定端子のうちの一方の測定端子に接続されたプルアップ抵抗を介して直流定電圧を当該一対の測定端子のうちの他方の測定端子の電位を基準として当該一対の測定端子間に接続される抵抗体に印加すると共に、前記抵抗体と前記プルアップ抵抗とで測定定電圧が分圧されて得られる分圧電圧を検出する機能を有する測定装置の当該一対の測定端子間に当該抵抗体に代えて接続されて、設定された目標抵抗値の抵抗を当該一対の測定端子間に発生させる抵抗発生処理を実行する抵抗発生装置であって、前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧と前記目標抵抗値とに基づいて前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記一対の測定端子間に存在する容量成分の容量値を測定する値測定処理を実行して、前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記容量値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくする。 In addition, the resistance generator according to claim 2 applies a constant DC voltage to the other measurement terminal of the pair of measurement terminals through a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals. It has a function of applying a voltage to a resistor connected between the pair of measurement terminals with reference to the potential, and detecting a divided voltage obtained by dividing a measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor. A resistance generating device that is connected between the pair of measuring terminals of the measuring device in place of the resistor and performs a resistance generating process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measuring terminals. Is connected between the pair of measurement terminals, and a current having a set current value is sucked from the measurement device via the one measurement terminal and output to the measurement device via the other measurement terminal. Current A voltage measuring unit that measures a voltage between terminals between the pair of measuring terminals, and the current that is set in the current source based on the terminal voltage and the target resistance value measured by the voltage measuring unit. A processing unit that performs the resistance generation processing for feedback-controlling the value, wherein the processing unit measures a capacitance value of a capacitance component existing between the pair of measurement terminals before performing the resistance generation processing. A measurement process is executed, and in the resistance generation process, the gain of the feedback control is reduced as the capacitance value measured in the value measurement process increases.
また、請求項3記載の抵抗発生装置は、一対の測定端子のうちの一方の測定端子に接続されたプルアップ抵抗を介して直流定電圧を当該一対の測定端子のうちの他方の測定端子の電位を基準として当該一対の測定端子間に接続される抵抗体に印加すると共に、前記抵抗体と前記プルアップ抵抗とで測定定電圧が分圧されて得られる分圧電圧を検出する機能を有する測定装置の当該一対の測定端子間に当該抵抗体に代えて接続されて、設定された目標抵抗値の抵抗を当該一対の測定端子間に発生させる抵抗発生処理を実行する抵抗発生装置であって、前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧と前記目標抵抗値とに基づいて前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記プルアップ抵抗の抵抗値および前記一対の測定端子間に存在する容量成分の容量値を測定する値測定処理を実行して、前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記抵抗値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくし、かつ前記値測定処理で測定された前記容量値が大きいほど前記ゲインを小さくする。 The resistance generator according to claim 3 applies a constant DC voltage to the other of the pair of measurement terminals via a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals. It has a function of applying a voltage to a resistor connected between the pair of measurement terminals with reference to the potential, and detecting a divided voltage obtained by dividing a measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor. A resistance generating device that is connected between the pair of measuring terminals of the measuring device in place of the resistor and performs a resistance generating process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measuring terminals. Is connected between the pair of measurement terminals, and a current having a set current value is sucked from the measurement device via the one measurement terminal and output to the measurement device via the other measurement terminal. Current A voltage measuring unit that measures a voltage between terminals between the pair of measuring terminals, and the current that is set in the current source based on the terminal voltage and the target resistance value measured by the voltage measuring unit. A processing unit for performing the resistance generation processing for feedback-controlling the value, wherein the processing unit performs, prior to the execution of the resistance generation processing, a resistance value of the pull-up resistor and a capacitance existing between the pair of measurement terminals. A value measurement process for measuring the capacitance value of the component is performed, and in the resistance generation process, the gain of the feedback control is reduced as the resistance value measured in the value measurement process is increased, and the value measurement process is performed. The gain decreases as the measured capacitance value increases.
また、請求項4記載の抵抗発生装置は、一対の測定端子のうちの一方の測定端子に接続されたプルアップ抵抗を介して直流定電圧を当該一対の測定端子のうちの他方の測定端子の電位を基準として当該一対の測定端子間に接続される抵抗体に印加すると共に、前記抵抗体と前記プルアップ抵抗とで測定定電圧が分圧されて得られる分圧電圧を検出する機能を有する測定装置の当該一対の測定端子間に当該抵抗体に代えて接続されて、設定された目標抵抗値の抵抗を当該一対の測定端子間に発生させる抵抗発生処理を実行する抵抗発生装置であって、前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込まれる前記電流の電流値を測定する電流測定部と、前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、前記電流測定部で測定されている前記電流値と前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧とに基づいて前記一対の測定端子間に発生させている抵抗の抵抗値を算出すると共に、当該算出した抵抗値と前記目標抵抗値との差分がゼロに近づくように前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記プルアップ抵抗の抵抗値を測定する値測定処理を実行して、前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記抵抗値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくする。 In addition, the resistance generator according to claim 4 applies a constant DC voltage to the other measurement terminal of the pair of measurement terminals through a pull-up resistor connected to one measurement terminal of the pair of measurement terminals. It has a function of applying a voltage to a resistor connected between the pair of measurement terminals with reference to the potential, and detecting a divided voltage obtained by dividing a measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor. A resistance generating device that is connected between the pair of measuring terminals of the measuring device in place of the resistor and performs a resistance generating process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measuring terminals. Is connected between the pair of measurement terminals, and a current having a set current value is sucked from the measurement device via the one measurement terminal and output to the measurement device via the other measurement terminal. Current A current measurement unit that measures a current value of the current sucked from the measurement device via the one measurement terminal; a voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals; and the current measurement Calculating the resistance value of the resistor generated between the pair of measurement terminals based on the current value measured by the unit and the inter-terminal voltage measured by the voltage measurement unit, and calculating the calculated value. A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control on the current value set in the current source so that the difference between the resistance value and the target resistance value approaches zero, wherein the processing unit includes the resistance generation unit. Prior to execution of the process, a value measurement process for measuring a resistance value of the pull-up resistor is performed, and in the resistance generation process, the larger the resistance value measured in the value measurement process is, the more the fee is measured. To reduce the gain of the back control.
また、請求項5記載の抵抗発生装置は、一対の測定端子のうちの一方の測定端子に接続されたプルアップ抵抗を介して直流定電圧を当該一対の測定端子のうちの他方の測定端子の電位を基準として当該一対の測定端子間に接続される抵抗体に印加すると共に、前記抵抗体と前記プルアップ抵抗とで測定定電圧が分圧されて得られる分圧電圧を検出する機能を有する測定装置の当該一対の測定端子間に当該抵抗体に代えて接続されて、設定された目標抵抗値の抵抗を当該一対の測定端子間に発生させる抵抗発生処理を実行する抵抗発生装置であって、前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込まれる前記電流の電流値を測定する電流測定部と、前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、前記電流測定部で測定されている前記電流値と前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧とに基づいて前記一対の測定端子間に発生させている抵抗の抵抗値を算出すると共に、当該算出した抵抗値と前記目標抵抗値との差分がゼロに近づくように前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記一対の測定端子間に存在する容量成分の容量値を測定する値測定処理を実行して、前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記容量値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくする。 Further, the resistance generator according to claim 5 is configured to apply a DC constant voltage to the other of the pair of measurement terminals through a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals. It has a function of applying a voltage to a resistor connected between the pair of measurement terminals with reference to the potential, and detecting a divided voltage obtained by dividing a measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor. A resistance generating device that is connected between the pair of measuring terminals of the measuring device in place of the resistor and performs a resistance generating process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measuring terminals. Is connected between the pair of measurement terminals, and a current having a set current value is sucked from the measurement device via the one measurement terminal and output to the measurement device via the other measurement terminal. Current A current measurement unit that measures a current value of the current sucked from the measurement device via the one measurement terminal; a voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals; and the current measurement Calculating the resistance value of the resistor generated between the pair of measurement terminals based on the current value measured by the unit and the inter-terminal voltage measured by the voltage measurement unit, and calculating the calculated value. A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control on the current value set in the current source so that the difference between the resistance value and the target resistance value approaches zero, wherein the processing unit includes the resistance generation unit. Prior to the execution of the process, a value measurement process of measuring a capacitance value of a capacitance component existing between the pair of measurement terminals is performed, and in the resistance generation process, the capacitance value measured in the value measurement process is More listening to reduce the gain of the feedback control.
また、請求項6記載の抵抗発生装置は、一対の測定端子のうちの一方の測定端子に接続されたプルアップ抵抗を介して直流定電圧を当該一対の測定端子のうちの他方の測定端子の電位を基準として当該一対の測定端子間に接続される抵抗体に印加すると共に、前記抵抗体と前記プルアップ抵抗とで測定定電圧が分圧されて得られる分圧電圧を検出する機能を有する測定装置の当該一対の測定端子間に当該抵抗体に代えて接続されて、設定された目標抵抗値の抵抗を当該一対の測定端子間に発生させる抵抗発生処理を実行する抵抗発生装置であって、前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込まれる前記電流の電流値を測定する電流測定部と、前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、前記電流測定部で測定されている前記電流値と前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧とに基づいて前記一対の測定端子間に発生させている抵抗の抵抗値を算出すると共に、当該算出した抵抗値と前記目標抵抗値との差分がゼロに近づくように前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記プルアップ抵抗の抵抗値および前記一対の測定端子間に存在する容量成分の容量値を測定する値測定処理を実行して、前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記抵抗値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくし、かつ前記値測定処理で測定された前記容量値が大きいほど前記ゲインを小さくする。 In addition, the resistance generator according to claim 6 applies a constant DC voltage to the other measurement terminal of the pair of measurement terminals through a pull-up resistor connected to one measurement terminal of the pair of measurement terminals. It has a function of applying a voltage to a resistor connected between the pair of measurement terminals with reference to the potential, and detecting a divided voltage obtained by dividing a measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor. A resistance generating device that is connected between the pair of measuring terminals of the measuring device in place of the resistor and performs a resistance generating process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measuring terminals. Is connected between the pair of measurement terminals, and a current having a set current value is sucked from the measurement device via the one measurement terminal and output to the measurement device via the other measurement terminal. Current A current measurement unit that measures a current value of the current sucked from the measurement device via the one measurement terminal; a voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals; and the current measurement Calculating the resistance value of the resistor generated between the pair of measurement terminals based on the current value measured by the unit and the inter-terminal voltage measured by the voltage measurement unit, and calculating the calculated value. A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control on the current value set in the current source so that the difference between the resistance value and the target resistance value approaches zero, wherein the processing unit includes the resistance generation unit. Prior to execution of the processing, a value measurement process of measuring a resistance value of the pull-up resistor and a capacitance value of a capacitance component existing between the pair of measurement terminals is performed. To reduce the gain of the feedback control as the resistance value measured at a constant process is large, and to reduce the gain larger the the capacitance value measured by the measuring process.
また、請求項7記載の抵抗発生装置は、請求項1,3,4,6のいずれかに記載の抵抗発生装置において、前記処理部は、前記値測定処理において前記直流定電圧の電圧値を測定すると共に、前記フィードバック制御における前記電流源に設定する前記電流値の初期値として、測定した前記プルアップ抵抗の抵抗値および測定した当該直流定電圧の電圧値に基づいて算出される電流値を使用する。
The resistance generator according to
また、請求項8記載の抵抗発生装置は、請求項2または5記載の抵抗発生装置において、前記処理部は、前記値測定処理において前記直流定電圧の電圧値および前記プルアップ抵抗の抵抗値を測定すると共に、前記フィードバック制御における前記電流源に設定する前記電流値の初期値として、測定した前記プルアップ抵抗の抵抗値および測定した当該直流定電圧の電圧値に基づいて算出される電流値を使用する。 The resistance generator according to claim 8 is the resistance generator according to claim 2 or 5, wherein the processing unit determines the voltage value of the DC constant voltage and the resistance value of the pull-up resistor in the value measurement process. While measuring, as the initial value of the current value set in the current source in the feedback control, a current value calculated based on the measured resistance value of the pull-up resistor and the measured voltage value of the DC constant voltage. use.
請求項1,4記載の抵抗発生装置では、処理部は、プルアップ抵抗の抵抗値が大きいほどフィードバック制御(ループ)のゲインを小さくしてフィードバック制御する。この場合、プルアップ抵抗の抵抗値が大きいほど、電流源で吸い込む電流の電流値の変化分によるプルアップ抵抗で生じる電圧降下の変化分が大きくなる(つまり、発生させる抵抗の抵抗値の変化分が大きくなる)。したがって、この抵抗発生装置によれば、抵抗値が大きいほどフィードバック制御のゲインを小さくして、電流値の変化分が大きくなり過ぎないようにするフィードバック制御を実行することができるため、設定された目標抵抗値の抵抗を、安定した状態で(リンギングの少ない状態)で、かつ高速に(短時間に)発生させることができる。 In the resistance generation device according to the first and fourth aspects, the processing unit performs the feedback control by decreasing the gain of the feedback control (loop) as the resistance value of the pull-up resistor increases. In this case, the larger the resistance value of the pull-up resistor, the larger the change in the voltage drop caused by the pull-up resistor due to the change in the current value of the current drawn by the current source (that is, the change in the resistance value of the generated resistor). Becomes larger). Therefore, according to this resistance generator, since the gain of the feedback control can be reduced as the resistance value increases, the feedback control can be performed so that the change in the current value does not become too large. The resistance of the target resistance value can be generated in a stable state (a state with little ringing) and at a high speed (in a short time).
請求項2,5記載の抵抗発生装置では、処理部は、容量成分の容量値が大きいほどフィードバック制御(ループ)のゲインを小さくしてフィードバック制御する。この場合、容量成分の容量値が大きいほど、処理部からの電流源への電流値の設定のタイミングを基準(始期)としたときのプルアップ抵抗で生じる電圧降下の変化の遅れが大きくなる(つまり、発生させる抵抗の抵抗値の変化の遅れが大きくなる)。したがって、この抵抗発生装置によれば、容量値が大きいほどフィードバック制御のゲインを小さくして、抵抗値の変化の遅れに起因したリンギングの発生を回避しつつフィードバック制御を実行することができるため、設定された目標抵抗値の抵抗を、安定した状態で、かつ高速に発生させることができる。 In the resistance generation device according to the second and fifth aspects, the processing unit performs the feedback control by reducing the gain of the feedback control (loop) as the capacitance value of the capacitance component is larger. In this case, the larger the capacitance value of the capacitance component, the greater the delay in the change in the voltage drop caused by the pull-up resistor when the timing of setting the current value from the processing unit to the current source is set as a reference (start) ( In other words, the delay in the change in the resistance value of the generated resistance increases.) Therefore, according to this resistance generating device, the feedback control can be performed while reducing the gain of the feedback control as the capacitance value increases, thereby avoiding the occurrence of ringing due to the delay in the change in the resistance value. The resistance of the set target resistance value can be generated at a high speed in a stable state.
請求項3,6記載の抵抗発生装置では、処理部は、プルアップ抵抗の抵抗値が大きいほどのゲインを小さくしてフィードバック制御すると共に、容量成分の容量値が大きいほどゲインを小さくしてフィードバック制御する。したがって、この抵抗発生装置によれば、この抵抗値が大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、電流値の変化分が大きくなり過ぎないようにするフィードバック制御を実行したり、この容量値が大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、抵抗値の変化の遅れに起因したリンギングの発生を回避しつつフィードバック制御を実行したりすることができるため、設定された目標抵抗値の抵抗を、一層安定した状態で、かつ高速に発生させることができる。 In the resistance generating device according to the third and sixth aspects, the processing unit performs feedback control by reducing the gain as the resistance value of the pull-up resistor increases, and reduces the gain as the capacitance value of the capacitance component increases. Control. Therefore, according to this resistance generator, as the resistance value is larger, the gain of the feedback loop is made smaller, so that feedback control is performed so that the amount of change in the current value is not too large, or the capacitance value is larger. As the gain of the feedback loop becomes smaller, feedback control can be performed while avoiding the occurrence of ringing due to a delay in the change of the resistance value, so that the resistance of the set target resistance value is further stabilized. And can be generated at high speed.
請求項7,8記載の抵抗発生装置では、処理部は、フィードバック制御における電流源に設定する電流値の初期値として、測定したプルアップ抵抗の抵抗値および測定した直流定電圧の電圧値に基づいて算出される電流値を使用する。したがって、この抵抗測定装置によれば、電流源に対して設定する電流値の初期値をゼロアンペアとする構成と比較して、設定された目標抵抗値の抵抗をさらに短時間に発生させることができる。 In the resistance generation device according to the seventh and eighth aspects, the processing unit is configured to determine the initial value of the current value set in the current source in the feedback control based on the measured resistance value of the pull-up resistor and the measured DC constant voltage. Use the current value calculated by Therefore, according to this resistance measuring device, the resistance of the set target resistance value can be generated in a shorter time as compared with the configuration in which the initial value of the current value set for the current source is set to zero amperes. it can.
以下、添付図面を参照して、抵抗発生装置の実施の形態について説明する。 Hereinafter, an embodiment of a resistance generator will be described with reference to the accompanying drawings.
まず、抵抗発生装置としての抵抗発生装置1の構成について、図1を参照して説明する。
First, the configuration of the
抵抗発生装置1は、図4に示す測定装置51用の抵抗発生装置であって、図1に示すように、測定装置51の一対の測定端子52a,52bに接続される一対の接続端子2a,2bと、電流源3、電圧検出部4、スイッチ5、電流検出部6、基準抵抗7、操作部8、処理部9および出力部10を備えて、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を一対の測定端子52a,52bに接続された一対の接続端子2a,2b間に発生させることが可能に構成されている。なお、測定装置51については、背景技術で説明した構成、つまり、一方の測定端子52aに接続されたプルアップ抵抗54を介して直流定電圧Vddを他方の測定端子52bの電位(グランドGの電位)を基準として一対の測定端子52a,52b間に印加すると共に、一対の測定端子52a,52b間に接続された抵抗体(サーミスタや抵抗発生装置1)とプルアップ抵抗54とで測定定電圧Vddが分圧されて得られる電圧(分圧電圧)Vを検出する構成と同一であるため、同一の符号を付して重複する説明を省略する。
The
具体的には、抵抗発生装置1では、接続端子2aは、接続ケーブルCB1を介して測定端子52aに接続可能に構成され、また接続端子2bは、接続ケーブルCB2を介して測定端子52bに接続可能に構成されている。電流源3は、接続端子2a,2b間に接続されて、処理部9から設定された電流値Isの電流Iを接続端子2a側から吸い込むと共に、吸い込んだ電流Iを接続端子2b側へ出力可能に構成されている。電圧検出部4は、接続端子2a,2b間の電圧(端子間電圧)Vを検出すると共に、この電圧Vの電圧値V1に応じて電圧値が変化する電圧信号Vvに変換して処理部9に出力する。
Specifically, in the
スイッチ5および基準抵抗7は、直列に接続された状態で、電流源3および電圧検出部4と並列になる状態で接続端子2a,2b間に接続されている。また、スイッチ5は、例えば、バイポーラトランジスタや電界効果型トランジスタなどの半導体スイッチで構成されると共に処理部9によって制御されて、オン状態およびオフ状態のうちの任意の一方の状態に移行する。また、基準抵抗7は、既知の抵抗値Rrの固定抵抗で構成されている。
The switch 5 and the
電流検出部6は、本例では一例として、スイッチ5および基準抵抗7の直列回路における接続端子2a側の一端(この直列回路と並列接続された電流源3および電圧検出部4のそれぞれにおける接続端子2a側の一端でもある)と接続端子2aとの間に接続されている。なお、図示はしないが、電流検出部6は、スイッチ5および基準抵抗7の直列回路における接続端子2b側の他端(この直列回路と並列接続された電流源3および電圧検出部4のそれぞれにおける接続端子2b側の他端でもある)と接続端子2bとの間に接続される構成であってもよい。この構成により、電流検出部6は、測定装置51の測定端子52aから接続端子2aに流入する電流I(接続端子2bから測定装置51の測定端子52bに流出する電流でもある)を電圧信号Vi(この流入または流出する電流の電流値に比例して電圧値が変化する電圧信号)に変換して処理部9に出力する。
In the present embodiment, the current detection unit 6 is, as an example, one end of the series circuit of the switch 5 and the
操作部8は、例えば、抵抗発生装置1の不図示のパネル面に配置されたテンキーを含む操作スイッチや、抵抗発生装置1に接続されたキーボードなどで構成されている。また、操作部8は、抵抗発生装置1の使用者によって操作されることにより、目標抵抗値Rtgを示す抵抗値データを処理部9に出力可能に構成されている。
The operation unit 8 includes, for example, an operation switch including a numeric keypad disposed on a panel surface (not shown) of the
処理部9は、A/D変換器、CPUおよびメモリ(いずれも図示せず)を備えて構成されて、電流源3およびスイッチ5に対する制御処理、電圧測定処理、電流測定処理、値測定処理20(図3参照)、および抵抗発生処理を実行する。この場合、電圧測定処理では、処理部9は、電圧検出部4から出力される電圧信号VvをA/D変換器でサンプリング(サンプリング周波数fs)することにより、電圧信号Vvの瞬時値データ(上記した電圧Vの瞬時値を示すデータでもある)に変換して、メモリに記憶する。また、処理部9は、この瞬時値データに基づいて、接続端子2a,2b間の電圧Vの現在の電圧値V1を測定する。つまり、処理部9は、電圧検出部4と共に電圧測定部を構成して、接続端子2a,2b間(測定端子52a,52b間)の電圧(端子間電圧)Vの現在の電圧値V1を測定する。
The
また、電流測定処理では、処理部9は、電流検出部6から出力される電圧信号ViをA/D変換器でサンプリング(電圧信号Vv用のA/D変換器と同期してサンプリング)することにより、電圧信号Viの瞬時値データ(上記した接続端子2aに流入する電流Iの瞬時値を示すデータでもある)に変換して、メモリに記憶する。また、処理部9は、この瞬時値データに基づいて、接続端子2aに流入する電流Iの現在の電流値I1を測定する。つまり、処理部9は、電流検出部6と共に電流測定部を構成して、測定装置51から接続端子2aに流入する電流Iの現在の電流値I1を測定する。
In the current measurement process, the
また、抵抗発生処理では、処理部9は、電圧検出部4で測定されている電圧Vの電圧値V1と目標抵抗値Rtgとに基づいて、電流源3に設定する電流値Isをフィードバック制御する。
In the resistance generation processing, the
このフィードバック制御のフィードバックループには、測定装置51側のプルアップ抵抗54と容量成分57とで構成される1次遅れ要素(LPF)と、処理部9でのA/D変換処理および抵抗値Rの算出処理によるむだ時間要素とが含まれており、これらの要素はいずれもこのフィードバック制御の安定性を乱す要素となっている。このため、本例では、処理部9は、このフィードバック制御の安定性を確保しつつ、発生させる抵抗の抵抗値Rを高速に目標抵抗値Rtgに収束させるべく、電圧信号Vvの瞬時値データに対してデジタルフィルタ処理(フィードバックループでの発振を抑えるために、高周波帯域での利得を抑えつつ、瞬時値データにゲインを与える処理)を実行すると共に、このデジタルフィルタ処理で得られた電圧信号Vvの瞬時値データに基づいて、電流源3に設定する電流Iの電流値Isを算出する。つまり、本例のフィードバックループには、このデジタルフィルタ処理に対応するデジタルフィルタが補償用の要素として含まれている。本例ではデジタルフィルタとしてIIR(Infinite Impulse Response )型デジタルフィルタを使用するものとする。
The feedback loop of this feedback control includes a first-order lag element (LPF) composed of a pull-up
このIIR型デジタルフィルタは、図2に示すブロック線図で表されることから、その伝達関数は下記の式(1)で表される。これにより、このIIR型デジタルフィルタを含む本例の抵抗発生装置1でのフィードバックループのゲインは、パラメータkが、大きいときには大きくなり、小さいときには小さくなる。
H(z)=k/(1−(1−k)z−1) ・・・ (1)
Since the IIR digital filter is represented by the block diagram shown in FIG. 2, its transfer function is represented by the following equation (1). As a result, the gain of the feedback loop in the
H (z) = k / (1− (1−k) z −1 ) (1)
また、このIIR型デジタルフィルタは、このパラメータkに応じてカットオフ周波数fcが変化し、またナイキスト周波数(サンプリング周波数fsの1/2の周波数)よりも十分に低い周波数領域において、このフィルタの利得特性を1次のLPF(ローパスフィルタ)に近似することができる。この利得特性を1次のLPFに近似したときの、このフィルタのカットオフ周波数fcは、下記の式(2)で表される。
fc=k×fs/(2π×(1−k)) ・・・ (2)
Further, the cutoff frequency fc of the IIR digital filter changes in accordance with the parameter k, and the gain of the filter in a frequency region sufficiently lower than the Nyquist frequency (a half of the sampling frequency fs). The characteristic can be approximated to a first-order LPF (low-pass filter). The cutoff frequency fc of this filter when this gain characteristic is approximated to a first-order LPF is expressed by the following equation (2).
fc = k × fs / (2π × (1-k)) (2)
また、抵抗発生装置1では、処理部9が、値測定処理20において、後述するように、測定装置51側のプルアップ抵抗54の抵抗値Rpuおよび容量成分57の容量値Cpdを測定すると共に、測定した抵抗値Rpuおよび容量値Cpdを考慮して算出されるパラメータkをIIR型デジタルフィルタに適用することで、IIR型デジタルフィルタによる補償を最適化する構成を採用している。このため、抵抗発生装置1では、IIR型デジタルフィルタによる補償を最適化し得るパラメータkの算出式(後述の式(6))を処理部9に予め記憶しておき、処理部9は、この算出式に基づいてパラメータkを求めて、IIR型デジタルフィルタに適用して、上記のフィードバック制御を実行する。以下、パラメータkを求める式の算出手順について説明する。
In the
IIR型デジタルフィルタの利得AIIRと、目標抵抗値Rtgに対する抵抗値Rpuの比率と、利得余裕GMとの関係は、位相が180°遅れる周波数fにて、下記の式(3)を満たすように設定される。
AIIR×(Rpu/Rtg)×GM=1 ・・・ (3)
この場合、IIR型デジタルフィルタ自身で位相が90°遅れるため、位相が180°遅れる周波数fとは、1次遅れ要素(LPF)と処理部9での上記の算出処理とによるむだ時間要素(1次遅れ要素をむだ時間要素に換算したときのむだ時間をTRCとし、算出処理でのむだ時間をTとしたときに、この2つのむだ時間の合計(TRC+T))で位相が90°遅れる周波数fである。したがって、この周波数fは、1/{4×(TRC+T)}と表される。なお、1次遅れ要素での一次遅れをむだ時間に換算した上記のTRCは、抵抗値Rpuと容量値Cpdとを用いて、π/3√3×Rpu×Cpdの式で表される。
The relationship between the gain A IIR of the IIR digital filter, the ratio of the resistance value Rpu to the target resistance value Rtg, and the gain margin GM is such that the following equation (3) is satisfied at a frequency f where the phase is delayed by 180 °. Is set.
A IIR × (Rpu / Rtg) × GM = 1 (3)
In this case, since the phase of the IIR digital filter is delayed by 90 °, the frequency f at which the phase is delayed by 180 ° is the dead time element (1) obtained by the first-order delay element (LPF) and the above-described calculation processing in the
また、利得特性を1次のLPFに近似したときの周波数f(=ω/2π)におけるIIR型デジタルフィルタの利得AIIRは、下記の式(4)で表される。
AIIR=|1/(1+jωτ)|
=1/√(1+4π2f2τ2)
ここで、τ=1/(2π×fc)であるから、これを代入して、
AIIR=1/√(1+f2/fc2) ・・・ (4)
Further, the gain A IIR of the IIR digital filter at the frequency f (= ω / 2π) when the gain characteristic is approximated to the first-order LPF is expressed by the following equation (4).
A IIR = | 1 / (1 + jωτ) |
= 1 / √ (1 + 4π 2 f 2 τ 2 )
Here, since τ = 1 / (2π × fc), this is substituted, and
A IIR = 1 / √ (1 + f 2 / fc 2 ) (4)
また、この式(4)で表される利得AIIRを上記式(3)に代入して、fcを求めると、fcは下記の式(5)で表される。
fc=f/√{(Rpu×GM/Rtg)2−1} ・・・ (5)
このfcは、所定の周波数fで利得余裕GMを得るために必要なカットオフ周波数fcを示している。
Further, when fc is obtained by substituting the gain A IIR expressed by the equation (4) into the above equation (3), fc is expressed by the following equation (5).
fc = f / {(Rpu × GM / Rtg) 2 -1} (5)
This fc indicates a cutoff frequency fc necessary for obtaining the gain margin GM at a predetermined frequency f.
また、上記式(2)からパラメータkを求めると、
k=1/(fs/(2π×fc)+1)
となり、この式に上記式(5)を代入すると、
k=1/(fs/(2π×f)×√{(Rpu×GM/Rtg)2−1}+1)
となる。また、この式に、上記式(3)を満たす周波数f(=1/{4×(TRC+T)})を代入することで、パラメータkについての最終的な下記の式(6)が算出される。
k=1/(2fs×(TRC+T)/π×√{(Rpu×GM/Rtg)2−1}+1)
・・・ (6)
Further, when the parameter k is obtained from the above equation (2),
k = 1 / (fs / (2π × fc) +1)
Substituting the above equation (5) into this equation gives
k = 1 / (fs / (2π × f) × {(Rpu × GM / Rtg) 2 −1} +1)
Becomes Further, by substituting the frequency f (= 1 / {4 × ( TRC + T)}) satisfying the above equation (3) into this equation, the following equation (6) for the parameter k is finally calculated. Is done.
k = 1 / (2fs × ( T RC + T) / π × √ {(Rpu × GM / Rtg) 2 -1} +1)
... (6)
出力部10は、一例として、ディスプレイ装置や発光ダイオードなどの表示装置で構成されている。処理部9は、操作部8から目標抵抗値Rtgを示す抵抗値データを入力したときには、この抵抗値データで示される目標抵抗値Rtgを出力部10に表示させたり、また値測定処理20の実行中を示す旨を出力部10に表示させたり、抵抗発生処理の実行の結果、発生させている抵抗が目標抵抗値Rtgで安定したとき(発生させている抵抗が目標抵抗値Rtgに収束したとき)には、その旨を出力部10に表示させたりする出力処理を実行する。
The
次に、抵抗発生装置1の動作について図面を参照して説明する。なお、抵抗発生装置1は、図1に示すように、接続端子2aが接続ケーブルCB1を介して測定装置51の測定端子52aに接続され、かつ接続端子2bが接続ケーブルCB2を介して測定装置51の測定端子52bに接続されているものとする。
Next, the operation of the
抵抗発生装置1では、初期状態(電源投入直後)において、処理部9は、電流源3およびスイッチ5に対する制御処理を実行して、吸い込む電流Iの電流値I1の初期値をゼロアンペアに設定して電流源3を動作させると共に、スイッチ5をオフ状態に移行させる。電流源3は、電流値I1の初期値がゼロアンペアに設定されることにより、実質的にオープン状態に移行する。
In the
この状態において、操作部8に対する操作(目標抵抗値Rtgの設定操作)が行われて、操作部8が目標抵抗値Rtgを示す抵抗値データを出力したときには、処理部9は、この抵抗値データを取得して記憶すると共に、値測定処理20を開始する。
In this state, when an operation is performed on the operation unit 8 (an operation of setting the target resistance value Rtg) and the operation unit 8 outputs resistance value data indicating the target resistance value Rtg, the
この値測定処理20では、まず、測定装置51の直流定電圧Vddを測定する(ステップ21)。この場合、上記したように、スイッチ5がオフ状態で、かつ電流源3がオープン状態のため、電圧検出部4が検出する接続端子2a,2b間の電圧Vの電圧値V1は、直流定電圧Vddの電圧値(理解の容易のため、電圧値Vddともいう)そのものとなっている。したがって、処理部9は、電圧測定処理を実行して、接続端子2a,2b間の電圧Vについての電圧値V1を測定すると共に、この測定した電圧値V1を直流定電圧Vddの電圧値Vddとして記憶する。なお、この状態において測定装置51では、容量成分57は、プルアップ抵抗54を介して電圧値Vddに充電された状態となっている。
In the
次いで、処理部9は、測定装置51のプルアップ抵抗54の抵抗値Rpuと容量成分57の容量値Cpdとを測定する(ステップ22)。この場合、処理部9は、電流測定処理を実行して、電流検出部6から出力される電圧信号Viについての瞬時値データのメモリへの記憶を開始すると共に、スイッチ5に対する制御処理を実行してオフ状態からオン状態に移行させる。これにより、測定装置51側の容量成分57の基準抵抗7による放電が開始されて、メモリには、この放電開始からの電圧信号Viの瞬時値データ(容量成分57からの放電電流としての電流Iの瞬時値を示すデータ)が記憶される。
Next, the
また、容量成分57からの放電は、容量成分57の電圧(つまり、電圧検出部4が検出している接続端子2a,2b間の電圧Vの電圧値V1が電圧値(Vdd×Rr/(Rr+Rpu))になった時点で完了する。したがって、処理部9は、電圧測定処理を実行して測定している電圧値V1が一定となったことを検出したときに、電圧信号Viについての瞬時値データのメモリへの記憶を終了させると共に、スイッチ5に対する制御処理を実行してオン状態からオフ状態に移行させる。
In addition, the discharge from the
処理部9は、メモリに記憶されている電圧信号Viについての瞬時値データのうちの電圧値V1が一定となったときの瞬時値データに基づいて、容量成分57の放電が完了した状態での電流Iの電流値I1(つまり、測定装置51側の直流電源55から、プルアップ抵抗54、接続端子2a、スイッチ5、基準抵抗7および接続端子2bを経由して測定装置51側に戻る電流の電流値)を測定する。また、この測定した電流値I1、測定した電圧値V1、および測定した電圧値Vddに基づいて、プルアップ抵抗54の抵抗値Rpu(=(Vdd−V1)/I1)を算出(測定)して記憶する。また、処理部9は、メモリに記憶されている電圧信号Viについての瞬時値データのうちの放電状態のときの瞬時値データに基づいて、放電電流についての時定数(Cpd×Rr)を算出すると共に、算出した時定数と既知の抵抗値Rrとから容量成分57の容量値Cpdを算出(測定)して記憶する。
The
続いて、処理部9は、IIR型デジタルフィルタについてのパラメータkを決定する(ステップ23)。具体的には、処理部9は、メモリに予め記憶されている上記の式(6)に、算出した抵抗値Rpuおよび容量値Cpdから算出される上記のTRC(=π/3√3×Rpu×Cpd)、処理部9の算出処理での既知のむだ時間T(サンプリング周期:1/fs)、既知のサンプリング周波数fs、抵抗値Rpu、設定された目標抵抗値Rtg、および予め規定されたGM(例えば、14dB)を代入することにより、パラメータkを算出(決定)して記憶する。これにより、値測定処理20が完了する。
Subsequently, the
次いで、処理部9は、抵抗発生処理を実行することにより、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を、接続端子2a,2b間(つまり、測定装置51の測定端子52a,52b間)に発生させる。
Next, the
具体的には、処理部9は、まず、スイッチ5に対する制御処理を実行してオフ状態に移行させることで、接続端子2a,2b間から基準抵抗7を切り離す。
Specifically, the
次いで、処理部9は、電流源3に対する制御処理を実行して、吸い込む電流Iの電流値Isを初期値(例えば、ゼロアンペア)から所定の時間間隔(例えば、A/D変換器のサンプリング周期:1/fs)でステップ的に変化(後述するようにして算出される抵抗値Rが目標抵抗値Rtgに達するまでは増加)させる。電流源3は、新たに設定された電流値Isに向けて、吸い込んでいる電流Iの電流値I1を変化させる。この電流源3の動作に対応して、測定装置51側から接続端子2aを経由して流入する電流Iの電流値I1、および接続端子2a,2b間に生じる電圧Vの電圧値V1が変化する。
Next, the
処理部9は、電流源3に新たな電流値Isを設定した後、上記の所定の時間が経過する直前に、電圧検出部4から入力した電圧信号Vvを瞬時値データにA/D変換すると共に、この瞬時値データをデジタルフィルタで処理(フィルタリング処理)して、パラメータkを用いて補償された瞬時値データを算出する。また、処理部9は、電圧測定処理を実行して、この補償された電圧信号Vvの瞬時値データに基づいて、現在の電圧Vの電圧値V1を測定する。また、処理部9は、測定した電圧値V1と目標抵抗値Rtgとに基づいて、電流源3に対して設定する次の新たな電流値Isを算出する。つまり、処理部9は、測定された電圧値V1に基づいて新たな電流値Isを算出して電流源3に対して設定するというフィードバック制御を、測定装置51側の回路要素の値(プルアップ抵抗54の抵抗値Rpu)を考慮して決定したパラメータkに応じたゲインで実行する。
After setting the new current value Is in the current source 3, the processing unit 9 A / D-converts the voltage signal Vv input from the voltage detection unit 4 into instantaneous value data immediately before the predetermined time has elapsed. At the same time, the instantaneous value data is processed by a digital filter (filtering process) to calculate compensated instantaneous value data using the parameter k. Further, the
本例のように、電流源3に対して設定する電流値Isを初期値のゼロからステップ的に変化させる抵抗発生処理では、電流源3が実際に吸い込む電流Iの電流値I1が初期値のゼロから徐々に増加することから、この電流Iによって測定装置51側のプルアップ抵抗54で生じる電圧降下は、ゼロボルトから徐々に増加する。これにより、処理部9が、電圧測定処理において測定する電圧値V1は電圧値Vddから徐々に減少する。したがって、抵抗発生処理で発生させている抵抗の抵抗値Rは、目標抵抗値Rtgよりも大きな値から、目標抵抗値Rtgに向けて徐々に低下するように変化する。
In the resistance generation process in which the current value Is set for the current source 3 is changed stepwise from the initial value of zero as in the present example, the current value I1 of the current I actually drawn by the current source 3 is the initial value. Since the voltage gradually increases from zero, the voltage drop caused by the current I in the pull-up
この新たな電流値Isは、上記したように、測定装置51側の回路要素の値(プルアップ抵抗54の抵抗値Rpuおよび容量成分57の容量値Cpd)を考慮して決定したパラメータkが反映された電圧信号Vvの瞬時値データに基づいて算出されたものであることから、抵抗発生装置1が発生する抵抗の抵抗値Rを、リンギングの少ない状態で、かつ高速に目標抵抗値Rtgに収束させ得るものとなっている。
As described above, this new current value Is reflects the parameter k determined in consideration of the values of the circuit elements on the measuring
したがって、抵抗発生装置1は、電流源3に対する制御処理を実行して、吸い込む電流Iの電流値Isをステップ的に変化させる処理を、上記したように電流値Isを算出しつつ実行することで、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を、リンギングの少ない状態で、かつ高速に(短時間に)発生させる。また、処理部9は、現在のステップで新たに測定した電圧値V1と直前のステップで測定した電圧値V1との差分が予め規定された誤差範囲内に収まったときに、現在発生させている抵抗の抵抗値Rが目標抵抗値Rtgに収束したと判別する。また、処理部9は、現在発生させている抵抗の抵抗値Rが目標抵抗値Rtgに収束したときには、出力処理を実行して、出力部10にその旨(発生させている抵抗が目標抵抗値Rtgに収束したこと)を表示させる。これにより、抵抗発生装置1の使用者は、測定装置51の校正を開始することが可能となる。
Accordingly, the
このように、この抵抗発生装置1では、処理部9が、測定装置51側の回路要素の値(プルアップ抵抗54の抵抗値Rpu)を考慮して決定したパラメータkに応じたゲインでフィードバック制御する。具体的には、処理部9は、抵抗値Rpuが大きいほどパラメータkが小さくなることから、抵抗値Rpuが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくしてフィードバック制御する。
As described above, in the
この場合、プルアップ抵抗54の抵抗値Rpuが大きいほど、電流源3で吸い込む電流Iの電流値I1の変化分によるプルアップ抵抗54で生じる電圧降下の変化分が大きくなる(つまり、発生させる抵抗の抵抗値Rの変化分が大きくなる)。したがって、この抵抗発生装置1によれば、抵抗値Rpuが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、電流値I1の変化分が大きくなり過ぎないようにするフィードバック制御を実行することができるため、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を、安定した状態で(リンギングの少ない状態)で、かつ高速に(短時間に)発生させることができる。
In this case, the larger the resistance value Rpu of the pull-up
また、この抵抗発生装置1では、処理部9が、測定装置51側の回路要素の値(容量成分57の容量値Cpd)を考慮して決定したパラメータkに応じたゲインでフィードバック制御する。具体的には、処理部9は、容量値Cpdが大きいほどパラメータkが小さくなることから、容量値Cpdが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくしてフィードバック制御する。
Further, in the
この場合、容量成分57の容量値Cpdが大きいほど、処理部9からの電流源3への電流値I1の設定のタイミングを基準(始期)としたときのプルアップ抵抗54で生じる電圧降下の変化の遅れが大きくなる(つまり、発生させる抵抗の抵抗値Rの変化の遅れが大きくなる)。したがって、この抵抗発生装置1によれば、容量値Cpdが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、抵抗値Rの変化の遅れに起因したリンギングの発生を回避しつつフィードバック制御を実行することができるため、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を、安定した状態で、かつ高速に発生させることができる。
In this case, as the capacitance value Cpd of the
また、この抵抗発生装置1では、処理部9が、測定装置51側の回路要素の値(プルアップ抵抗54の抵抗値Rpuおよび容量成分57の容量値Cpd)を考慮して決定したパラメータkに応じたゲインでフィードバック制御する。具体的には、処理部9は、抵抗値Rpuが大きいほどパラメータkが小さくなることから、抵抗値Rpuが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくしてフィードバック制御すると共に、容量値Cpdが大きいほどパラメータkが小さくなることから、容量値Cpdが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくしてフィードバック制御する。したがって、この抵抗発生装置1によれば、抵抗値Rpuが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、電流値I1の変化分が大きくなり過ぎないようにするフィードバック制御を実行したり、容量値Cpdが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、抵抗値Rの変化の遅れに起因したリンギングの発生を回避しつつフィードバック制御を実行したりすることができるため、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を、一層安定した状態で、かつ高速に発生させることができる。
Further, in the
また、上記の例では、抵抗発生処理において、電流源3に対して設定する電流値Isの初期値をゼロアンペアとしているが、この構成に限定されない。例えば、処理部9は、値測定処理20において、プルアップ抵抗54の抵抗値Rpuと直流定電圧Vddの電圧値Vddとを測定している。また、目標抵抗値Rtgの抵抗を発生させている抵抗発生装置1は、プルアップ抵抗54と直列接続された状態で、直流定電圧Vddが印加される。このため、抵抗発生装置1が目標抵抗値Rtgの抵抗を発生させているときに、電流源3が吸い込む電流Iの電流値I1は、Vdd/(Rpu+Rtg)と算出される。したがって、処理部9は、抵抗発生処理において、電流源3に対して設定する電流値Isの初期値として、値測定処理20において測定したプルアップ抵抗54の抵抗値Rpuおよび直流定電圧Vddの電圧値Vddに基づいて算出される電流値(Vdd/(Rpu+Rtg))を使用することもできる。
Further, in the above example, in the resistance generation processing, the initial value of the current value Is set for the current source 3 is zero ampere, but the present invention is not limited to this configuration. For example, in the
この構成を採用した抵抗発生装置1によれば、電流源3に対して設定する電流値Isの初期値をゼロアンペアとする構成と比較して、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗をさらに短時間に発生させることができる。
According to the
また、上記の抵抗発生装置1では、現在発生させている抵抗の抵抗値Rを処理部9が算出せずに、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を発生させる構成を採用しているが、この構成に限定されない。例えば、処理部9が、抵抗発生処理において、現在発生させている抵抗の抵抗値Rを算出すると共に、算出した抵抗値Rと目標抵抗値Rtgとの差分に基づいて、電流源3に対して設定する次の新たな電流値Isを算出することで、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を発生させるという構成を採用することもできる。この構成の抵抗発生装置1では、処理部9は、抵抗発生処理において、電流源3が吸い込んでいる電流Iの電流値I1を電流検出部6から出力される電圧信号Viに基づいて測定すると共に、この測定した電流値I1と電圧値V1とに基づいて、接続端子2a,2b間に現在発生させている抵抗の現在の抵抗値R(=V1/I1)を算出する。また、処理部9は、算出した現在の抵抗値Rと目標抵抗値Rtgとの差分に基づいて、電流源3に対して設定する次の新たな電流値Isを算出する。なお、他の動作については、上記した抵抗発生装置1と同じであるため、説明を省略する。
Further, the above-described
この構成の抵抗発生装置1においても、処理部9が、測定装置51側の回路要素の値(プルアップ抵抗54の抵抗値Rpu)を考慮して決定したパラメータkに応じたゲインでフィードバック制御する。具体的には、処理部9は、抵抗値Rpuが大きいほどパラメータkが小さくなることから、抵抗値Rpuが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくしてフィードバック制御する。
Also in the
したがって、この抵抗発生装置1によっても、抵抗値Rpuが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、電流値I1の変化分が大きくなり過ぎないようにするフィードバック制御を実行することができるため、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を、安定した状態で(リンギングの少ない状態)で、かつ高速に(短時間に)発生させることができる。
Therefore, the
また、この抵抗発生装置1では、処理部9が、測定装置51側の回路要素の値(容量成分57の容量値Cpd)を考慮して決定したパラメータkに応じたゲインでフィードバック制御する。具体的には、処理部9は、容量値Cpdが大きいほどパラメータkが小さくなることから、容量値Cpdが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくしてフィードバック制御する。
Further, in the
したがって、この抵抗発生装置1によっても、容量値Cpdが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、抵抗値Rの変化の遅れに起因したリンギングの発生を回避しつつフィードバック制御を実行することができるため、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を、安定した状態で、かつ高速に発生させることができる。
Therefore, even with this
また、この抵抗発生装置1においても、処理部9が、測定装置51側の回路要素の値(プルアップ抵抗54の抵抗値Rpuおよび容量成分57の容量値Cpd)を考慮して決定したパラメータkに応じたゲインでフィードバック制御する。具体的には、処理部9は、抵抗値Rpuが大きいほどパラメータkが小さくなることから、抵抗値Rpuが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくしてフィードバック制御すると共に、容量値Cpdが大きいほどパラメータkが小さくなることから、容量値Cpdが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくしてフィードバック制御する。したがって、この抵抗発生装置1によれば、抵抗値Rpuが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、電流値I1の変化分が大きくなり過ぎないようにするフィードバック制御を実行したり、容量値Cpdが大きいほどフィードバックループのゲインを小さくして、抵抗値Rの変化の遅れに起因したリンギングの発生を回避しつつフィードバック制御を実行したりすることができるため、設定された目標抵抗値Rtgの抵抗を、一層安定した状態で、かつ高速に発生させることができる。
Also in the
また、処理部9が、現在発生させている抵抗の抵抗値Rを抵抗発生処理において算出する構成の抵抗発生装置1においても、抵抗発生処理において、電流源3に対して設定する電流値Isの初期値について、ゼロアンペアとすることもできるし、設定された目標抵抗値Rtgと、値測定処理20において測定したプルアップ抵抗54の抵抗値Rpuおよび直流定電圧Vddの電圧値Vddとに基づいて算出される電流値(Vdd/(Rpu+Rtg))とすることもできる。
Also, in the
1 抵抗発生装置
3 電流源
4 電圧検出部
6 電流検出部
9 処理部
51 測定装置
52a,52b 測定端子
54 プルアップ抵抗
55 直流電源
I 測定電流
I1 電流値
Rtg 目標抵抗値
V1 端子間電圧
Vdd 直流定電圧
1 Resistance generator
3 Current source
4 Voltage detector
6 Current detector
9 Processing
I Measurement current I1 Current value Rtg Target resistance value V1 Terminal voltage Vdd DC constant voltage
Claims (8)
前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、
前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧と前記目標抵抗値とに基づいて前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記プルアップ抵抗の抵抗値を測定する値測定処理を実行して、
前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記抵抗値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくする抵抗発生装置。 A DC constant voltage is connected between the pair of measurement terminals via a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals with reference to the potential of the other measurement terminal of the pair of measurement terminals. The resistance is applied between the pair of measurement terminals of the measurement device having a function of detecting the divided voltage obtained by dividing the measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor while applying the voltage to the resistor. A resistance generator that is connected in place of the body and performs a resistance generation process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measurement terminals,
A current connected between the pair of measurement terminals, a current having a set current value is drawn from the measurement device via the one measurement terminal, and is output to the measurement device via the other measurement terminal. Source
A voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals,
A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control on the current value set in the current source based on the inter-terminal voltage and the target resistance value measured by the voltage measurement unit,
The processing unit performs a value measurement process of measuring a resistance value of the pull-up resistor before performing the resistance generation process,
In the resistance generation processing, a resistance generation device that reduces the gain of the feedback control as the resistance value measured in the value measurement processing increases.
前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、
前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧と前記目標抵抗値とに基づいて前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記一対の測定端子間に存在する容量成分の容量値を測定する値測定処理を実行して、
前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記容量値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくする抵抗発生装置。 A DC constant voltage is connected between the pair of measurement terminals via a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals with reference to the potential of the other measurement terminal of the pair of measurement terminals. The resistance is applied between the pair of measurement terminals of the measurement device having a function of detecting the divided voltage obtained by dividing the measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor while applying the voltage to the resistor. A resistance generator that is connected in place of the body and performs a resistance generation process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measurement terminals,
A current connected between the pair of measurement terminals, a current having a set current value is drawn from the measurement device via the one measurement terminal, and is output to the measurement device via the other measurement terminal. Source
A voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals,
A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control on the current value set in the current source based on the inter-terminal voltage and the target resistance value measured by the voltage measurement unit,
Prior to performing the resistance generation process, the processing unit performs a value measurement process of measuring a capacitance value of a capacitance component existing between the pair of measurement terminals,
In the resistance generation processing, a resistance generation device that reduces the gain of the feedback control as the capacitance value measured in the value measurement processing increases.
前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、
前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧と前記目標抵抗値とに基づいて前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記プルアップ抵抗の抵抗値および前記一対の測定端子間に存在する容量成分の容量値を測定する値測定処理を実行して、
前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記抵抗値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくし、かつ前記値測定処理で測定された前記容量値が大きいほど前記ゲインを小さくする抵抗発生装置。 A DC constant voltage is connected between the pair of measurement terminals via a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals with reference to the potential of the other measurement terminal of the pair of measurement terminals. The resistance is applied between the pair of measurement terminals of the measurement device having a function of detecting the divided voltage obtained by dividing the measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor while applying the voltage to the resistor. A resistance generator that is connected in place of the body and performs a resistance generation process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measurement terminals,
A current connected between the pair of measurement terminals, a current having a set current value is drawn from the measurement device via the one measurement terminal, and is output to the measurement device via the other measurement terminal. Source
A voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals,
A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control on the current value set in the current source based on the inter-terminal voltage and the target resistance value measured by the voltage measurement unit,
Prior to execution of the resistance generation process, the processing unit performs a value measurement process of measuring a resistance value of the pull-up resistor and a capacitance value of a capacitance component existing between the pair of measurement terminals,
In the resistance generation processing, a resistance that decreases the gain of the feedback control as the resistance value measured in the value measurement processing increases, and decreases the gain as the capacitance value measured in the value measurement processing increases. Generator.
前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、
前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込まれる前記電流の電流値を測定する電流測定部と、
前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、
前記電流測定部で測定されている前記電流値と前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧とに基づいて前記一対の測定端子間に発生させている抵抗の抵抗値を算出すると共に、当該算出した抵抗値と前記目標抵抗値との差分がゼロに近づくように前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記プルアップ抵抗の抵抗値を測定する値測定処理を実行して、
前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記抵抗値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくする抵抗発生装置。 A DC constant voltage is connected between the pair of measurement terminals via a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals with reference to the potential of the other measurement terminal of the pair of measurement terminals. The resistance is applied between the pair of measurement terminals of the measurement device having a function of detecting the divided voltage obtained by dividing the measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor while applying the voltage to the resistor. A resistance generator that is connected in place of the body and performs a resistance generation process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measurement terminals,
A current connected between the pair of measurement terminals, a current having a set current value is drawn from the measurement device via the one measurement terminal, and is output to the measurement device via the other measurement terminal. Source
A current measurement unit that measures a current value of the current sucked from the measurement device through the one measurement terminal;
A voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals,
Calculating a resistance value of a resistor generated between the pair of measurement terminals based on the current value measured by the current measurement unit and the inter-terminal voltage measured by the voltage measurement unit; A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control of the current value set in the current source so that the difference between the calculated resistance value and the target resistance value approaches zero,
The processing unit performs a value measurement process of measuring a resistance value of the pull-up resistor before performing the resistance generation process,
In the resistance generation processing, a resistance generation device that reduces the gain of the feedback control as the resistance value measured in the value measurement processing increases.
前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、
前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込まれる前記電流の電流値を測定する電流測定部と、
前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、
前記電流測定部で測定されている前記電流値と前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧とに基づいて前記一対の測定端子間に発生させている抵抗の抵抗値を算出すると共に、当該算出した抵抗値と前記目標抵抗値との差分がゼロに近づくように前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記一対の測定端子間に存在する容量成分の容量値を測定する値測定処理を実行して、
前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記容量値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくする抵抗発生装置。 A DC constant voltage is connected between the pair of measurement terminals via a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals with reference to the potential of the other measurement terminal of the pair of measurement terminals. The resistance is applied between the pair of measurement terminals of the measurement device having a function of detecting the divided voltage obtained by dividing the measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor while applying the voltage to the resistor. A resistance generator that is connected in place of the body and performs a resistance generation process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measurement terminals,
A current connected between the pair of measurement terminals, a current having a set current value is drawn from the measurement device via the one measurement terminal, and is output to the measurement device via the other measurement terminal. Source
A current measurement unit that measures a current value of the current sucked from the measurement device through the one measurement terminal;
A voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals,
Calculating a resistance value of a resistor generated between the pair of measurement terminals based on the current value measured by the current measurement unit and the inter-terminal voltage measured by the voltage measurement unit; A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control of the current value set in the current source so that the difference between the calculated resistance value and the target resistance value approaches zero,
Prior to performing the resistance generation process, the processing unit performs a value measurement process of measuring a capacitance value of a capacitance component existing between the pair of measurement terminals,
In the resistance generation processing, a resistance generation device that reduces the gain of the feedback control as the capacitance value measured in the value measurement processing increases.
前記一対の測定端子間に接続されると共に、設定された電流値の電流を、前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込むと共に前記他方の測定端子を介して当該測定装置に出力する電流源と、
前記一方の測定端子を介して前記測定装置から吸い込まれる前記電流の電流値を測定する電流測定部と、
前記一対の測定端子間の端子間電圧を測定する電圧測定部と、
前記電流測定部で測定されている前記電流値と前記電圧測定部で測定されている前記端子間電圧とに基づいて前記一対の測定端子間に発生させている抵抗の抵抗値を算出すると共に、当該算出した抵抗値と前記目標抵抗値との差分がゼロに近づくように前記電流源に設定する前記電流値をフィードバック制御する前記抵抗発生処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記抵抗発生処理の実行に先立ち、前記プルアップ抵抗の抵抗値および前記一対の測定端子間に存在する容量成分の容量値を測定する値測定処理を実行して、
前記抵抗発生処理において、前記値測定処理で測定された前記抵抗値が大きいほど前記フィードバック制御のゲインを小さくし、かつ前記値測定処理で測定された前記容量値が大きいほど前記ゲインを小さくする抵抗発生装置。 A DC constant voltage is connected between the pair of measurement terminals via a pull-up resistor connected to one of the pair of measurement terminals with reference to the potential of the other measurement terminal of the pair of measurement terminals. The resistance is applied between the pair of measurement terminals of the measurement device having a function of detecting the divided voltage obtained by dividing the measured constant voltage by the resistor and the pull-up resistor while applying the voltage to the resistor. A resistance generator that is connected in place of the body and performs a resistance generation process of generating a resistance having a set target resistance value between the pair of measurement terminals,
A current connected between the pair of measurement terminals, a current having a set current value is drawn from the measurement device via the one measurement terminal, and is output to the measurement device via the other measurement terminal. Source
A current measurement unit that measures a current value of the current sucked from the measurement device through the one measurement terminal;
A voltage measurement unit that measures a terminal voltage between the pair of measurement terminals,
Calculating a resistance value of a resistor generated between the pair of measurement terminals based on the current value measured by the current measurement unit and the inter-terminal voltage measured by the voltage measurement unit; A processing unit that performs the resistance generation process of performing feedback control of the current value set in the current source so that the difference between the calculated resistance value and the target resistance value approaches zero,
Prior to execution of the resistance generation process, the processing unit performs a value measurement process of measuring a resistance value of the pull-up resistor and a capacitance value of a capacitance component existing between the pair of measurement terminals,
In the resistance generation processing, a resistance that decreases the gain of the feedback control as the resistance value measured in the value measurement processing increases, and decreases the gain as the capacitance value measured in the value measurement processing increases. Generator.
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