JP2019211297A - System and method for specifying noise immunity vulnerable point on circuit board - Google Patents

System and method for specifying noise immunity vulnerable point on circuit board Download PDF

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Abstract

To provide a system and method for specifying a noise immunity vulnerable point, with which it is possible to easily specify a noise immunity vulnerable point on a circuit board by a simple configuration, as well as monitor the state of the circuit board before a false operation occurs.SOLUTION: An FG 3 generates a GSM signal as noise and applies it to a probe 4. The probe 4 is scanned by a probe scanning device 5, and applies noise to multiple points on a circuit board 2. An electronic component 7 on the circuit board 2 has a speaker 8 connected thereto via a signal line 9. An SPA 11 is connected to the signal line 9, and a PC 6 is connected to the SPA 11. The PC 6 constitutes a comparison device and an analysis device. The comparison device compares the noise level of measured noise with the permissible level of noise permitted for the signal line 9. The analysis device specifies a noise immunity vulnerable point on the circuit board 2 on the basis of a plurality of comparison results obtained by the comparison device with regard to multiple points on the circuit board 2.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、回路基板におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定するノイズ耐性脆弱箇所特定システムおよびノイズ耐性脆弱箇所特定方法に関するものである。   The present invention relates to a noise resistant weak spot specifying system and a noise resistant weak spot specifying method for specifying a noise resistant weak spot on a circuit board.

従来、回路基板におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定するこの種のシステムおよび方法としては、例えば、特許文献1に開示された誤動作箇所特定方法および誤動作箇所特定システムがある。   Conventionally, as this type of system and method for specifying a noise-resistant weak spot on a circuit board, for example, there is a malfunction spot identification method and a malfunction spot identification system disclosed in Patent Document 1.

この誤動作箇所特定方法およびシステムでは、位置コントローラによってプローブが走査されて、回路基板の予め設定された複数のポイントにプローブから放射ノイズが印加されると共に、第2伝導ノイズが回路基板に注入される。パーソナルコンピュータは、回路基板におけるジャイロセンサの出力信号をマイコンを通じてCAN信号として取得し、誤動作の有無を判断する。この誤動作の有無の判断は、CAN信号が予め決められた所定のしきい値を超えるか否かでなされ、CAN信号が所定のしきい値を超える場合に誤動作が有ったと判断され、しきい値を超えるポイントが誤動作箇所として特定される。   In this malfunction location identification method and system, the probe is scanned by the position controller, and radiation noise is applied from the probe to a plurality of preset points on the circuit board, and second conduction noise is injected into the circuit board. . The personal computer acquires the output signal of the gyro sensor on the circuit board as a CAN signal through the microcomputer, and determines whether there is a malfunction. The determination of whether or not there is a malfunction is made based on whether or not the CAN signal exceeds a predetermined threshold value. If the CAN signal exceeds a predetermined threshold value, it is determined that a malfunction has occurred, and the threshold is exceeded. Points that exceed the value are identified as malfunctioning locations.

特開2014−21013号公報JP 201421013 A

しかしながら、特許文献1に開示された従来の誤動作箇所特定方法およびシステムでは、回路基板において実際に誤動作が有ったか否かを判断して、誤動作箇所を特定することはできるが、誤動作が実際に発生する前における回路基板の状態をモニタリングすることができない。また、誤動作の有無を判断するのに、ジャイロセンサの出力信号をマイコンに与えて、CAN信号を得る必要がある。このため、誤動作箇所を特定するのに、ジャイロセンサの出力信号がマイコンの制御信号として必要になって、ジャイロセンサやマイコンの存在が必要になる。   However, in the conventional malfunction location identification method and system disclosed in Patent Document 1, it is possible to determine whether a malfunction has actually occurred in the circuit board and identify the malfunction location. The state of the circuit board before it occurs cannot be monitored. Further, in order to determine the presence or absence of malfunction, it is necessary to obtain the CAN signal by giving the output signal of the gyro sensor to the microcomputer. For this reason, in order to specify the malfunctioning portion, the output signal of the gyro sensor is required as a control signal for the microcomputer, and the presence of the gyro sensor and the microcomputer is required.

本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、
ノイズを発生するノイズ源と、回路基板の複数の箇所にノイズを印加するノイズ印加手段と、回路基板の所定箇所に伝わるノイズを測定する測定装置と、測定装置によって測定されるノイズのノイズレベルを所定箇所において許容されるノイズの許容レベルと比較する比較装置と、回路基板の複数箇所について比較装置によって得られる複数の比較結果に基づいて回路基板におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定する解析装置とを備え、回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システムを構成した。
The present invention has been made to solve such problems,
A noise source that generates noise, a noise applying means that applies noise to a plurality of locations on the circuit board, a measuring device that measures noise transmitted to a predetermined location on the circuit board, and a noise level of noise measured by the measuring device A comparison device that compares the allowable level of noise allowed at a predetermined location, and an analysis device that identifies a vulnerable portion of noise resistance on the circuit board based on a plurality of comparison results obtained by the comparison device for a plurality of locations on the circuit board. Equipped with, and configured a noise resistant weak spot identification system on the circuit board.

また、本発明は、ノイズ源で発生するノイズを回路基板の複数の箇所にノイズ印加手段によって印加する第1ステップと、回路基板の所定箇所に伝わるノイズを測定装置によって測定する第2ステップと、測定装置によって測定されるノイズのノイズレベルを所定箇所において許容されるノイズの許容レベルと比較する第3ステップと、回路基板の複数箇所について得られる複数の比較結果に基づいて回路基板におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定する第4ステップとを備え、回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定方法を構成した。   The present invention also includes a first step of applying noise generated by a noise source to a plurality of locations on the circuit board by a noise applying means, a second step of measuring noise transmitted to a predetermined location on the circuit board by a measuring device, The third step of comparing the noise level of the noise measured by the measuring device with the allowable noise level allowed at a predetermined location, and the noise resistance of the circuit substrate based on a plurality of comparison results obtained for a plurality of locations on the circuit substrate And a fourth step of specifying a vulnerable part, and configured a noise-resistant vulnerable part specifying method for a circuit board.

本発明によれば、誤動作が発生する前における回路基板の状態をモニタリングすることが可能になると共に、簡単な構成で容易に、回路基板におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定することが可能なノイズ耐性脆弱箇所特定システムおよびノイズ耐性脆弱箇所特定方法を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to monitor the state of a circuit board before a malfunction occurs, and it is possible to easily identify a weak point of noise resistance in a circuit board with a simple configuration. A weak spot identifying system and a noise resistant weak spot identifying method can be provided.

本発明の第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システムの概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the noise tolerance weak location identification system in the circuit board by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定方法を表すフローチャートである。It is a flowchart showing the noise tolerance weak location identification method in the circuit board by the 1st Embodiment of this invention. 第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システムを構成する測定装置によって回路基板の所定箇所で測定される各信号の周波数スペクトラムを示すグラフである。It is a graph which shows the frequency spectrum of each signal measured in the predetermined location of a circuit board by the measuring apparatus which comprises the noise tolerance weak location specific system in the circuit board by 1st Embodiment. 本発明の第1の実施形態の変形例による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システムの概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the noise tolerance weak location identification system in the circuit board by the modification of the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システムの概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the noise tolerance weak location identification system in the circuit board by the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システムの概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the noise tolerance weak location identification system in the circuit board by the 3rd Embodiment of this invention.

次に、本発明による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システムおよびノイズ耐性脆弱箇所特定方法を実施するための形態について、説明する。   Next, the form for implementing the noise tolerance weak location identification system and noise tolerance weak location identification method in the circuit board by this invention is demonstrated.

図1は、本発明の第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1の概略構成を示す図である。   FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a noise resistant weak spot identifying system 1 in a circuit board according to the first embodiment of the present invention.

ノイズ耐性脆弱箇所特定システム1は、回路基板2におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定するため、ノイズを発生するノイズ源としてファンクションジェネレーター(以下、FGと記す)3を備える。FG3は、デジタル携帯電話の通話に用いられる所定のデジタル通信規格、本実施形態ではGSM(Global System for Mobile Communication(登録商標))規格にしたがった通信方式のGSM信号をノイズとして発生する。FG3で発生させられるGSM信号はプローブ4に与えられる。   The noise resistant weak spot identifying system 1 includes a function generator (hereinafter referred to as FG) 3 as a noise source that generates noise in order to identify a noise resistant weak spot in the circuit board 2. The FG 3 generates, as noise, a GSM signal of a communication system according to a predetermined digital communication standard used for a call of a digital mobile phone, in this embodiment, a GSM (Global System for Mobile Communication (registered trademark)) standard. The GSM signal generated by the FG 3 is given to the probe 4.

プローブ4は入力するGSM信号を回路基板2に放射または伝導のいずれかによって与える。プローブ4は、プローブ走査装置5によって回路基板2に対する3次元位置が機械的に走査され、回路基板2の全面の予め定められた複数箇所にノイズを印加する。プローブ走査装置5は、x軸方向、y軸方向およびz軸方向の3軸方向にスライダーを有し、パーソナルコンピュータ(以下、PCと記す)6からの制御信号にしたがい、プローブ4を3軸方向に駆動する。プローブ4およびプローブ走査装置5は、回路基板2の複数の箇所にGSM信号をノイズとして印加するノイズ印加手段を構成する。プローブ4から回路基板2に放射によって、例えば、GSM信号が与えられるときは、プローブ4の先端と回路基板2との間に空間が設けられ、プローブ4から回路基板2に伝導によってGSM信号が与えられるときは、プローブ4の先端が回路基板2に接触させられる。   The probe 4 gives the input GSM signal to the circuit board 2 by either radiation or conduction. The probe 4 mechanically scans the three-dimensional position with respect to the circuit board 2 by the probe scanning device 5, and applies noise to a plurality of predetermined positions on the entire surface of the circuit board 2. The probe scanning device 5 has sliders in the three axis directions of the x-axis direction, the y-axis direction, and the z-axis direction. The probe scanning device 5 moves the probe 4 in the three-axis direction according to a control signal from a personal computer (hereinafter referred to as PC) 6. To drive. The probe 4 and the probe scanning device 5 constitute noise applying means for applying a GSM signal as noise to a plurality of locations on the circuit board 2. For example, when a GSM signal is given from the probe 4 to the circuit board 2 by radiation, a space is provided between the tip of the probe 4 and the circuit board 2, and the GSM signal is given by conduction from the probe 4 to the circuit board 2. When being done, the tip of the probe 4 is brought into contact with the circuit board 2.

回路基板2には、図示しない複数の電子部品が実装されて、図示しない配線パターンによって接続されている。図示する電子部品7にはスピーカ8が一対の信号線9を介して接続されている。スピーカ8は、一対の信号線9を伝搬する音声信号にしたがって音声を出力する。信号線9には増幅器(以下、AMPと記す)10を介してスペクトラムアナライザ(以下、SPAと記す)11が接続されている。SPA11は、回路基板2にプローブ4によって印加されて、回路基板2の所定箇所、本実施形態では音声信号を出力する信号線9に伝わるノイズを測定する測定装置を構成する。SPA11にはPC6が接続されており、SPA11は測定したノイズをPC6へ出力する。   A plurality of electronic components (not shown) are mounted on the circuit board 2 and connected by a wiring pattern (not shown). A speaker 8 is connected to the illustrated electronic component 7 via a pair of signal lines 9. The speaker 8 outputs sound according to the sound signal propagating through the pair of signal lines 9. A spectrum analyzer (hereinafter referred to as SPA) 11 is connected to the signal line 9 via an amplifier (hereinafter referred to as AMP) 10. The SPA 11 is applied to the circuit board 2 by the probe 4 and constitutes a measuring device that measures noise transmitted to a predetermined portion of the circuit board 2, that is, a signal line 9 that outputs an audio signal in the present embodiment. A PC 6 is connected to the SPA 11, and the SPA 11 outputs the measured noise to the PC 6.

PC6はCPU(中央演算装置)、ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory)を備え、ROMに記憶されたコンピュータプログラムにしたがってRAMを一時記憶作業領域とし、CPUによって所定の処理を実行する。本実施形態においては、PC6に備えられるCPU、ROMおよびRAMは比較装置および解析装置を構成する。比較装置は、ROMに記憶されたコンピュータプログラムにしたがってCPUが実行する処理により、SPA11によって測定されるノイズのノイズレベルを、信号線9において許容されるノイズの許容レベルと比較する。解析装置は、ROMに記憶されたコンピュータプログラムにしたがってCPUが実行する処理により、回路基板2の複数箇所について比較装置によって得られる複数の比較結果に基づいて、回路基板2におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定する。   The PC 6 includes a central processing unit (CPU), a read only memory (ROM), and a random access memory (RAM). The RAM is used as a temporary storage work area in accordance with a computer program stored in the ROM, and predetermined processing is executed by the CPU. . In the present embodiment, the CPU, ROM, and RAM provided in the PC 6 constitute a comparison device and an analysis device. The comparison device compares the noise level of the noise measured by the SPA 11 with the allowable noise level allowed on the signal line 9 by the process executed by the CPU according to the computer program stored in the ROM. The analysis apparatus determines a vulnerable part of noise resistance in the circuit board 2 based on a plurality of comparison results obtained by the comparison apparatus for a plurality of places on the circuit board 2 by processing executed by the CPU according to the computer program stored in the ROM. Identify.

具体的には、SPA11によって測定されるノイズのノイズレベルが許容レベル以下である比較結果が複数箇所の全てについて、比較装置において得られる場合には、解析装置は、許容レベルに最も近いレベルのノイズが測定される箇所を、ノイズ耐性の最も脆弱な脆弱箇所として特定する。また、SPA11によって測定されるノイズレベルが許容レベルを超える比較結果が複数箇所のいずれかについて、比較装置において得られる場合には、解析装置は、許容レベルを最も大きく超えるレベルのノイズが測定される箇所を、ノイズ耐性の最も脆弱な脆弱箇所として特定する。   Specifically, in the case where the comparison results obtained for all of a plurality of locations at which the noise level of noise measured by the SPA 11 is less than or equal to the allowable level are obtained by the comparison device, the analysis device determines that the noise level closest to the allowable level is the noise level. The location where the noise is measured is identified as the weakest vulnerable portion of noise resistance. Further, when a comparison result in which the noise level measured by the SPA 11 exceeds the permissible level is obtained at any of the plurality of locations in the comparison device, the analysis device measures the noise having a level that greatly exceeds the permissible level. The location is identified as the most vulnerable location with noise resistance.

なお、比較装置および解析装置は、本実施形態においてはPC6におけるコンピュータプログラムのソフトウエアによって構成しているが、これに限定されることはない。例えば、同様な機能を果たす電子回路を形成して、ハードウエアによって構成するようにしてもよい。   The comparison device and the analysis device are configured by software of a computer program in the PC 6 in the present embodiment, but are not limited to this. For example, an electronic circuit that performs the same function may be formed and configured by hardware.

図2は、PC6におけるコンピュータプログラムによって行われる本発明の一第1の実施形態よる回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定方法を表すフローチャートである。   FIG. 2 is a flowchart showing a noise resistant weak spot identifying method for a circuit board according to the first embodiment of the present invention performed by a computer program in the PC 6.

このノイズ耐性脆弱箇所特定方法では、まず、第1ステップS1において、FG3で発生するGSM信号がノイズとして回路基板2の複数の箇所にノイズ印加手段によって印加される。この際、PC6の制御により、プローブ4がプローブ走査装置5によって自動的に3軸方向に走査され、プローブ4から回路基板2の全体の予め決められた複数箇所にGSM信号が与えられて、回路基板2の全体がノイズ耐性の評価対象とされる。次に、第2ステップS2において、回路基板2の信号線9に伝わるノイズがSPA11によって測定される。次に、第3ステップS3において、SPA11によって測定されるノイズのノイズレベルが、比較装置により、信号線9において許容されるノイズの許容レベルと比較される。次に、第4ステップS4において、回路基板2の複数箇所について比較装置で得られる複数の比較結果に基づいて、回路基板2におけるノイズ耐性の脆弱箇所が特定される。   In this noise resistant weak spot identifying method, first, in a first step S1, a GSM signal generated in the FG 3 is applied as noise to a plurality of spots on the circuit board 2 by a noise applying means. At this time, the probe 6 is automatically scanned in three axial directions by the probe scanning device 5 under the control of the PC 6, and GSM signals are given from the probe 4 to a plurality of predetermined positions on the entire circuit board 2. The entire substrate 2 is an object to be evaluated for noise resistance. Next, in the second step S2, the noise transmitted to the signal line 9 of the circuit board 2 is measured by the SPA 11. Next, in the third step S3, the noise level of the noise measured by the SPA 11 is compared with the allowable noise level allowed in the signal line 9 by the comparison device. Next, in 4th step S4, the weak place of the noise tolerance in the circuit board 2 is specified based on the several comparison result obtained with a comparison apparatus about the several places of the circuit board 2. FIG.

本実施形態では、第4ステップS4において、SPA11によって測定されるノイズのノイズレベルが許容レベル以下である比較結果が複数箇所の全てについて、比較装置において得られる場合、および、ノイズレベルが許容レベルを超える比較結果が複数箇所のいずれかについて、比較装置において得られる場合には、解析装置により、前記したようにノイズ耐性の最も脆弱な脆弱箇所が特定される。   In the present embodiment, in the fourth step S4, when the comparison result in which the noise level of the noise measured by the SPA 11 is equal to or lower than the allowable level is obtained by the comparison apparatus for all of a plurality of locations, and the noise level is set to the allowable level. In the case where the comparison result exceeding one of the plurality of places is obtained in the comparison device, the analysis device identifies the vulnerable portion having the weakest noise resistance as described above.

本実施形態では、第4ステップS4において、SPA11によって測定されるノイズのノイズレベルが許容レベル以下である比較結果が複数箇所の全てについて、比較装置において得られる場合には、解析装置により、許容レベルに最も近いレベルのノイズが測定される箇所が、ノイズ耐性の最も脆弱な脆弱箇所として特定される。また、SPA11によって測定されるノイズレベルが許容レベルを超える比較結果が複数箇所のいずれかについて、比較装置において得られる場合には、解析装置により、許容レベルを最も大きく超えるレベルのノイズが測定される箇所が、ノイズ耐性の最も脆弱な脆弱箇所として特定される。   In the present embodiment, in the fourth step S4, in the case where the comparison results in which the noise level of the noise measured by the SPA 11 is equal to or lower than the allowable level are obtained in all of the plurality of locations by the comparison device, the analysis device sets the allowable level. The location where the noise level closest to is measured is identified as the weakest vulnerable location with noise resistance. In addition, when a comparison result in which the noise level measured by the SPA 11 exceeds the allowable level is obtained in any one of a plurality of locations in the comparison device, the noise having a level that greatly exceeds the allowable level is measured by the analysis device. The location is identified as the weakest vulnerable location with noise tolerance.

このような本実施形態による回路基板2におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1およびノイズ耐性脆弱箇所特定方法によれば、回路基板2の複数箇所にGSM信号をノイズとして印加し、回路基板2の信号線9に伝わるノイズをSPA11によって測定して、測定されるノイズのレベルと信号線9において許容されるノイズの許容レベルとの比較結果を回路基板2の複数箇所について得ることで、回路基板2の複数箇所に印加される各GSM信号が、どの程度の大きさで回路基板2の信号線9のノイズ耐性に影響を与えるかを把握することができる。   According to the noise resistant weak spot specifying system 1 and the noise resistant weak spot specifying method in the circuit board 2 according to the present embodiment, a GSM signal is applied as noise to a plurality of locations on the circuit board 2, and the signal line of the circuit board 2 is The noise transmitted to 9 is measured by the SPA 11, and a comparison result between the measured noise level and the allowable noise level allowed in the signal line 9 is obtained at a plurality of locations on the circuit board 2. It can be grasped how much each GSM signal applied to the location affects the noise resistance of the signal line 9 of the circuit board 2.

このため、従来行えなかった、誤動作が発生する前における回路基板2の状態をモニタリングすることが可能になる。また、従来の誤動作箇所特定方法および誤動作箇所特定システムのように、誤動作の有無を確認する必要がないので、ジャイロセンサの出力信号をマイコンに与えて得るCAN信号をモニタリングする必要がない。このため、ジャイロセンサやマイコンの存在が不要になり、簡単な構成で容易に、回路基板2におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定することが可能になる。   For this reason, it becomes possible to monitor the state of the circuit board 2 before a malfunction occurs, which could not be performed conventionally. Further, unlike the conventional malfunction location identification method and malfunction location identification system, it is not necessary to confirm the presence or absence of malfunction, and therefore it is not necessary to monitor the CAN signal obtained by giving the output signal of the gyro sensor to the microcomputer. For this reason, the presence of a gyro sensor or a microcomputer is no longer necessary, and it is possible to easily identify a weak point of noise resistance in the circuit board 2 with a simple configuration.

また、本実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1およびノイズ耐性脆弱箇所特定方法によれば、回路基板2におけるノイズ耐性の最も脆弱な脆弱箇所を特定できる。また、その脆弱箇所のノイズ耐性が許容レベルに収まっているか否か、把握することができる。また、その脆弱箇所のノイズ耐性がどの程度脆弱であるかを、測定されるノイズレベルと許容レベルとのレベル差によって定量的に把握することができる。   Further, according to the noise resistant weak spot identifying system 1 and the noise resistant vulnerable spot identifying method in the circuit board according to the present embodiment, the weakest vulnerable spot in the circuit board 2 can be identified. In addition, it is possible to grasp whether or not the noise tolerance of the vulnerable part is within an allowable level. In addition, it is possible to quantitatively grasp how weak the noise tolerance of the vulnerable portion is based on the level difference between the measured noise level and the allowable level.

また、本実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1およびノイズ耐性脆弱箇所特定方法によれば、デジタル携帯電話の通話に用いられるGSM信号が、回路基板2の音声信号を出力する信号線9にノイズとして与える影響を把握することができる。また、回路基板2の音声信号を出力する信号線9に伝わるノイズをSPA11によって測定することで、デジタル携帯電話の通話に用いられるGSM信号が、どの周波数帯にノイズとして影響を与えるかを把握することができる。   In addition, according to the noise resistant weak spot identifying system 1 and the noise resistant vulnerable spot identifying method in the circuit board according to the present embodiment, the GSM signal used for the call of the digital cellular phone outputs the audio signal of the circuit board 2. 9 can be grasped as noise. In addition, by measuring the noise transmitted to the signal line 9 for outputting the audio signal of the circuit board 2 by the SPA 11, it is possible to grasp which frequency band the GSM signal used for the call of the digital cellular phone affects as noise. be able to.

図3は、SPA11によって測定される信号線9における信号の周波数スペクトラムのグラフを示し、同図(a)および同図(b)に示す各グラフの横軸は信号周波数(frequency)[HZ]、縦軸は信号強度を表す電界(Field Strength)[dBμV]である。横軸の信号周波数は、音声が認識される20[HZ]〜20k[HZ]の範囲になっている。   FIG. 3 shows a graph of the frequency spectrum of the signal on the signal line 9 measured by the SPA 11, and the horizontal axis of each graph shown in FIG. 3 (a) and FIG. 3 (b) is the signal frequency (HZ), The vertical axis represents an electric field (Field Strength) [dBμV] representing signal strength. The signal frequency on the horizontal axis is in the range of 20 [HZ] to 20 k [HZ] where speech is recognized.

同図(a)は、回路基板2の特定箇所にGSM信号を与えた場合と与えない場合とにおける信号線9の各信号の周波数スペクトラムを、信号線9における許容ノイズレベルと比較して示すグラフである。同グラフにおいて、黒色の信号の周波数スペクトラム21は回路基板2の特定箇所にGSM信号を与えた場合(GSM信号あり)の周波数スペクトラム、灰色の信号の周波数スペクトラム22は回路基板2にGSM信号を与えない場合(GSM信号なし)の周波数スペクトラム、灰色の線23は信号線9における許容ノイズレベル(限度値)である。   FIG. 5A is a graph showing the frequency spectrum of each signal on the signal line 9 with and without the GSM signal applied to a specific location on the circuit board 2 compared to the allowable noise level on the signal line 9. It is. In the graph, the frequency spectrum 21 of the black signal gives the GSM signal to the circuit board 2 and the frequency spectrum 22 of the gray signal gives the GSM signal to the circuit board 2 when the GSM signal is given to a specific part of the circuit board 2 (with the GSM signal). The frequency spectrum in the absence (no GSM signal), the gray line 23 is the allowable noise level (limit value) in the signal line 9.

同グラフから、回路基板2の特定箇所にGSM信号を与えると、信号線9において、信号強度の小さかった信号の周波数スペクトラム22が信号強度の大きな信号の周波数スペクトラム21になってノイズが乗ることが理解される。また、約4.5k[HZ]以下の周波数範囲で信号線9における信号の周波数スペクトラム21の強度が限度値を超え、スピーカ8から異音(サウンドノイズ)が聞こえる。この周波数範囲において、信号の周波数スペクトラム21の強度が限度値を超える大きさから、サウンドノイズを生じさせるノイズレベルを定量的に周波数毎に把握することができる。また、約4.5k[HZ]を超える周波数範囲における信号の周波数スペクトラム21の強度と限度値とのレベル差から、信号線9におけるノイズ耐性の余裕度を周波数毎に把握することができる。   From the graph, when a GSM signal is given to a specific portion of the circuit board 2, the frequency spectrum 22 of the signal having a low signal intensity becomes the frequency spectrum 21 of the signal having a high signal intensity on the signal line 9. Understood. In addition, the intensity of the frequency spectrum 21 of the signal on the signal line 9 exceeds the limit value in a frequency range of about 4.5 k [HZ] or less, and abnormal noise (sound noise) is heard from the speaker 8. In this frequency range, the noise level causing the sound noise can be quantitatively grasped for each frequency from the magnitude of the intensity of the frequency spectrum 21 of the signal exceeding the limit value. Further, the noise tolerance margin in the signal line 9 can be grasped for each frequency from the level difference between the intensity and limit value of the frequency spectrum 21 of the signal in the frequency range exceeding about 4.5 k [HZ].

同図(b)は、回路基板2にノイズ対策を施さないで回路基板2の特定箇所にGSM信号を与えた場合と、回路基板2にノイズ対策を施したうえで回路基板2の特定箇所にGSM信号を与えた場合とにおける信号線9の各信号の周波数スペクトラムを、信号線9における許容ノイズレベルと比較して示すグラフである。ノイズ対策は、本実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1およびノイズ耐性脆弱箇所特定方法により特定された最も脆弱な脆弱箇所に対して行った。同グラフにおいて、黒色の信号の周波数スペクトラム24は回路基板2にノイズ対策を施さないでGSM信号を与えた場合(GSM信号あり)の周波数スペクトラムであり、同図(a)に示す「GSM信号あり」の信号の周波数スペクトラム21と同じである。また、灰色の信号の周波数スペクトラム25は回路基板2にノイズ対策を施したうえで回路基板2の特定箇所にGSM信号を与えた場合(対策あり)の周波数スペクトラム、灰色の線23は信号線9における許容ノイズレベル(限度値)である。   FIG. 4B shows a case where a GSM signal is given to a specific part of the circuit board 2 without taking noise countermeasures on the circuit board 2 and a case where the circuit board 2 is given noise countermeasures and then applied to the specific part of the circuit board 2. It is a graph which compares the frequency spectrum of each signal of the signal line 9 in the case of giving a GSM signal with the allowable noise level in the signal line 9. The noise countermeasure was performed on the most vulnerable vulnerable location specified by the noise resistant vulnerable location specifying system 1 and the noise resistant vulnerable location specifying method on the circuit board according to the present embodiment. In the graph, the frequency spectrum 24 of the black signal is a frequency spectrum when the GSM signal is given to the circuit board 2 without taking noise countermeasures (there is a GSM signal), and the “GSM signal present” shown in FIG. It is the same as the frequency spectrum 21 of the signal “”. The frequency spectrum 25 of the gray signal is a frequency spectrum when a GSM signal is given to a specific part of the circuit board 2 after taking a noise countermeasure on the circuit board 2 (with a countermeasure), and the gray line 23 is the signal line 9. Is an allowable noise level (limit value).

同グラフから、本実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1およびノイズ耐性脆弱箇所特定方法により特定された最も脆弱な脆弱箇所に対してノイズ対策を行うことで、「対策有り」の信号の周波数スペクトラム25は、約4.5k[HZ]以下の周波数範囲で信号線9における信号の周波数スペクトラム25の強度が限度値以下に抑えられることが理解される。このため、ノイズ対策効果を確認することができ、さらに、その対策効果を定量的に測ることができる。   From the graph, a signal “with countermeasures” is obtained by performing noise countermeasures on the most vulnerable vulnerable part identified by the noise resistant vulnerable part identifying system 1 and the noise resistant vulnerable part identifying method on the circuit board according to the present embodiment. It is understood that the intensity of the frequency spectrum 25 of the signal on the signal line 9 is suppressed to a limit value or less in a frequency range of about 4.5 k [HZ] or less. For this reason, the noise countermeasure effect can be confirmed, and further, the countermeasure effect can be measured quantitatively.

また、本実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1およびノイズ耐性脆弱箇所特定方法によれば、プローブ4の3次元位置がプローブ走査装置5によって機械的に走査されて、回路基板2の全面の予め定められた複数箇所にプローブ4からGSM信号が印加される。このため、プローブ4を手動で走査する手間が省け、ノイズ耐性の脆弱箇所の特定作業が容易化する。   In addition, according to the noise resistant weak spot specifying system 1 and the noise resistant weak spot specifying method in the circuit board according to the present embodiment, the three-dimensional position of the probe 4 is mechanically scanned by the probe scanning device 5, and A GSM signal is applied from the probe 4 to a plurality of predetermined positions on the entire surface. For this reason, the trouble of manually scanning the probe 4 can be saved, and the identification work of the vulnerable part with noise resistance is facilitated.

なお、第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1では、PC6の制御により、プローブ4がプローブ走査装置5によって自動的に3軸方向に走査され、プローブ4から回路基板2の全体の予め決められた複数箇所にGSM信号が与えられた。しかし、限られた範囲でプローブ4を移動させることができ、回路基板2の限定された領域における任意の複数箇所にGSM信号を印加するように構成してもよい。   In the noise resistant weak spot identifying system 1 on the circuit board according to the first embodiment, the probe 4 is automatically scanned in the three axis directions by the probe scanning device 5 under the control of the PC 6, and the probe board 4 GSM signals were given to a plurality of predetermined locations throughout. However, the probe 4 can be moved within a limited range, and the GSM signal may be applied to a plurality of arbitrary locations in a limited area of the circuit board 2.

このような第1の実施形態の変形例による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Aは、図4に概略構成が示され、ノイズ印加手段が、ノイズであるGSM信号を回路基板2に与えるプローブ4とプローブ位置可変装置41とから構成される。同図において図1と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。プローブ位置可変装置41は、x軸方向、y軸方向およびz軸方向に限られた範囲でプローブ4を移動させることができるスライダーから構成される。プローブ位置可変装置41は、PC6のキーボードから入力される操作信号にしたがい、プローブ4の回路基板2に対する3次元位置を任意に可変して、回路基板2の限定された領域における任意の複数箇所にGSM信号を印加する。   The noise resistant weak spot identifying system 1A on the circuit board according to the modified example of the first embodiment is schematically shown in FIG. 4, and the noise applying means supplies the GSM signal, which is noise, to the circuit board 2. 4 and a probe position varying device 41. In the figure, the same or corresponding parts as in FIG. The probe position varying device 41 is composed of a slider that can move the probe 4 within a limited range in the x-axis direction, the y-axis direction, and the z-axis direction. The probe position changing device 41 arbitrarily changes the three-dimensional position of the probe 4 with respect to the circuit board 2 in accordance with an operation signal input from the keyboard of the PC 6, so that the probe position changing device 41 can be placed at any plurality of locations in a limited area of the circuit board 2. Apply GSM signal.

第1の実施形態の変形例による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Aは、上記点以外は、第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1と同様である。また、この第1の実施形態の変形例による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Aを使ったノイズ耐性脆弱箇所特定方法は、図2に示すフローチャートの第1ステップS1で、PC6のキーボードが操作されて、回路基板2の限定された領域にGSM信号が印加される点だけが、上述した第1の実施形態によるノイズ耐性脆弱箇所特定方法と異なる。   The noise resistant weak spot identifying system 1A in the circuit board according to the modification of the first embodiment is the same as the noise resistant weak spot identifying system 1 in the circuit board according to the first embodiment except for the above points. Further, in the noise resistant weak spot identifying method using the noise resistant weak spot specifying system 1A on the circuit board according to the modification of the first embodiment, the keyboard of the PC 6 is operated in the first step S1 of the flowchart shown in FIG. Thus, only the point where the GSM signal is applied to a limited area of the circuit board 2 is different from the noise-resistant weak spot identifying method according to the first embodiment described above.

このような第1の実施形態の変形例による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Aおよびノイズ耐性脆弱箇所特定方法によれば、回路基板2におけるノイズ耐性の評価対象領域が限られている場合、プローブ4の回路基板2に対する3次元位置をプローブ位置可変装置41によって回路基板2の限定された領域において任意に可変することで、回路基板2の任意の複数箇所にプローブ4からGSM信号をノイズとして印加することができる。このため、回路基板2におけるノイズの影響を受けやすい箇所、例えば、回路基板2における信号線42を任意に選んで、その信号線42にプローブ4からGSM信号を印加することで、ノイズ耐性の脆弱箇所の特定を精度高く行える。   According to the noise resistant weak spot specifying system 1A and the noise resistant weak spot specifying method in the circuit board according to the modification of the first embodiment, when the noise resistance evaluation target area in the circuit board 2 is limited, By arbitrarily changing the three-dimensional position of the probe 4 with respect to the circuit board 2 in a limited region of the circuit board 2 by the probe position changing device 41, the GSM signal from the probe 4 as noise at any plurality of locations on the circuit board 2 Can be applied. For this reason, the noise resistance weakness is obtained by arbitrarily selecting a signal line 42 on the circuit board 2, for example, a signal line 42 on the circuit board 2 and applying a GSM signal from the probe 4 to the signal line 42. The location can be identified with high accuracy.

なお、第1の実施形態では回路基板2の予め定められた複数箇所、上記の変形例では回路基板2の限定された領域における任意の複数箇所にノイズを印加していたが、プローブ4を回路基板2の少なくとも限定された領域または基板全面において網羅的に走査して、回路基板2の少なくとも限定された領域または基板全面に網羅的にノイズを印加してもよい。   In the first embodiment, noise is applied to a plurality of predetermined locations on the circuit board 2, and in the above-described modification, noise is applied to any plurality of locations in a limited area of the circuit board 2. The noise may be comprehensively applied to at least the limited region of the circuit board 2 or the entire surface of the circuit board 2 by scanning the entire surface of the substrate 2 or the entire surface of the substrate.

図5は、本発明の第2の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Bの概略構成を示す図である。同図において図1と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。   FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a noise resistant weak spot identifying system 1B on the circuit board according to the second embodiment of the present invention. In the figure, the same or corresponding parts as in FIG.

第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1は、ノイズ印加手段がプローブ4とプローブ走査装置5から構成されたが、第2の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Bは、ノイズ印加手段がアレイアンテナ31とアンテナ選択手段とから構成される。PC6は、第1の実施形態のようにプローブ走査装置5を制御してプローブ4の位置を制御せず、アンテナ選択手段を構成するスイッチ32の開閉を制御する。   In the noise resistant weak spot identifying system 1 in the circuit board according to the first embodiment, the noise applying means is composed of the probe 4 and the probe scanning device 5, but the noise resistant weak spot identifying system in the circuit board according to the second embodiment. In 1B, the noise applying means includes an array antenna 31 and an antenna selecting means. The PC 6 controls the probe scanning device 5 as in the first embodiment and does not control the position of the probe 4 but controls the opening and closing of the switch 32 constituting the antenna selection means.

アレイアンテナ31は、ノイズ耐性の評価対象となる領域の回路基板2の裏面に面して、複数個のアンテナ31aがx方向およびy方向に並べられて構成される。本実施形態では、回路基板2の全面がノイズ耐性の評価対象になっているが、一部の回路領域だけがノイズ耐性の評価対象になる場合には、その一部の回路領域だけに面して、アレイアンテナ31が設置される。複数個の各アンテナ31aには、同図に一部拡大して示すアレイアンテナ31のようにスイッチ32が複数設けられている。各スイッチ32の開閉はPC6によって制御され、アレイアンテナ31を構成する複数のアンテナ31aの中から、FG3から出力されるGSM信号を放射させるアンテナ31aが、いずれかのスイッチ32がオンされることで選択される。PC6によるこのスイッチ32の選択で、回路基板2の全面の予め決められた複数箇所にGSM信号が1箇所ずつ印加される。   The array antenna 31 is configured such that a plurality of antennas 31a are arranged in the x direction and the y direction so as to face the back surface of the circuit board 2 in a region to be evaluated for noise resistance. In the present embodiment, the entire surface of the circuit board 2 is an object to be evaluated for noise resistance, but when only a part of the circuit area is to be evaluated for noise resistance, only the part of the circuit area is faced. The array antenna 31 is installed. Each of the plurality of antennas 31a is provided with a plurality of switches 32 like the array antenna 31 partially enlarged in FIG. The opening / closing of each switch 32 is controlled by the PC 6, and the antenna 31 a that radiates the GSM signal output from the FG 3 among the plurality of antennas 31 a configuring the array antenna 31 is turned on. Selected. By selecting this switch 32 by the PC 6, GSM signals are applied to a plurality of predetermined positions on the entire surface of the circuit board 2 one by one.

第2の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Bは、上記点以外は、第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1と同様である。また、この第2の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Bを使ったノイズ耐性脆弱箇所特定方法は、図2に示すフローチャートの第1ステップS1で、各スイッチ32の開閉がPC6によって制御されることで、アレイアンテナ31を構成する複数のアンテナ31aの中からGSM信号を放射させるアンテナ31aが選択されて、回路基板2にGSM信号が印加される点だけが、上述した第1の実施形態によるノイズ耐性脆弱箇所特定方法と異なる。   Except for the above points, the noise resistant weak spot identifying system 1B in the circuit board according to the second embodiment is the same as the noise resistant weak spot identifying system 1 in the circuit board according to the first embodiment. Further, the noise resistant weak spot specifying method using the noise resistant weak spot specifying system 1B on the circuit board according to the second embodiment is the first step S1 of the flowchart shown in FIG. By being controlled, the antenna 31a that radiates the GSM signal is selected from the plurality of antennas 31a constituting the array antenna 31, and the GSM signal is applied to the circuit board 2 only as described above. This is different from the noise resistant weak spot identification method according to the embodiment.

このような第2の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Bおよびノイズ耐性脆弱箇所特定方法によれば、アレイアンテナ31を構成する複数のアンテナ31aの中からGSM信号を放射させるアンテナ31aをスイッチ32によって選択することで、アレイアンテナ31から回路基板2の複数箇所にGSM信号を放射することができる。このため、回路基板2の複数箇所にGSM信号を印加できるため、回路基板2の複数箇所から回路基板2の信号線9に伝わるノイズを測定する時間が短縮化され、ノイズ耐性の脆弱箇所の特定作業が迅速に行える。   According to the noise resistant weak spot specifying system 1B and the noise resistant weak spot specifying method on the circuit board according to the second embodiment, the antenna 31a that radiates the GSM signal from among the plurality of antennas 31a configuring the array antenna 31. Is selected by the switch 32, GSM signals can be radiated from the array antenna 31 to a plurality of locations on the circuit board 2. For this reason, since the GSM signal can be applied to a plurality of locations on the circuit board 2, the time required to measure noise transmitted from the plurality of locations on the circuit board 2 to the signal line 9 on the circuit board 2 is shortened, and the location where noise resistance is vulnerable is identified. Work can be done quickly.

図6は、本発明の第3の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Cの概略構成を示す図である。同図において図1と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。   FIG. 6 is a diagram showing a schematic configuration of a noise resistant weak spot identifying system 1C on a circuit board according to the third embodiment of the present invention. In the figure, the same or corresponding parts as in FIG.

第3の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Cは、ノイズ印加手段が、回路基板2の任意の箇所にGSM信号をノイズとして手動で与えるプローブ4から構成される。   The noise resistant weak spot identifying system 1C on the circuit board according to the third embodiment is configured by a probe 4 whose noise applying means manually applies a GSM signal as noise to an arbitrary spot on the circuit board 2.

第3の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Cは、上記点以外は、第1の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1と同様である。また、この第3の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Cを使ったノイズ耐性脆弱箇所特定方法は、図2に示すフローチャートの第1ステップS1で、回路基板2の限定された領域に手動でプローブ4からGSM信号が印加される点だけが、上述した第1の実施形態によるノイズ耐性脆弱箇所特定方法と異なる。   The noise resistant weak spot identifying system 1C in the circuit board according to the third embodiment is the same as the noise resistant weak spot identifying system 1 in the circuit board according to the first embodiment except for the above points. Further, the noise resistant weak spot specifying method using the noise resistant weak spot specifying system 1C in the circuit board according to the third embodiment is a limited area of the circuit board 2 in the first step S1 of the flowchart shown in FIG. The only difference is that the GSM signal is manually applied from the probe 4 to the noise-resistant weak spot identifying method according to the first embodiment described above.

このような第3の実施形態による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Cおよびノイズ耐性脆弱箇所特定方法によれば、回路基板2におけるノイズ耐性の評価対象領域が限られている場合、プローブ4の回路基板2に対する3次元位置を手動で任意に移動させることで、回路基板2の任意の複数箇所にプローブ4からGSM信号をノイズとして印加することができる。このため、第3の実施形態においても、第1の実施形態の変形例による回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム1Aと同様に、回路基板2におけるノイズの影響を受けやすい箇所、例えば、回路基板2における信号線42を任意に選んで、その信号線42にプローブ4からGSM信号を印加することで、ノイズ耐性の脆弱箇所の特定を精度高く行える。   According to the noise resistant weak spot specifying system 1C and the noise resistant weak spot specifying method in the circuit board according to the third embodiment, when the noise resistance evaluation target area in the circuit board 2 is limited, the probe 4 By manually moving the three-dimensional position with respect to the circuit board 2 manually, the GSM signal can be applied as noise from the probe 4 to any plurality of locations on the circuit board 2. For this reason, also in the third embodiment, as in the noise resistant weak spot identifying system 1A in the circuit board according to the modification of the first embodiment, the circuit board 2 is susceptible to noise, for example, the circuit board. By arbitrarily selecting the signal line 42 in 2 and applying the GSM signal from the probe 4 to the signal line 42, it is possible to specify the weak point of noise resistance with high accuracy.

なお、上記の各実施形態および変形例においては、SPA11によってノイズを測定する回路基板2の所定箇所が、音声信号を出力する信号線9であった場合について説明した。しかし、ノイズを測定する回路基板2の所定箇所はこれに限定されることはなく、例えば、回路基板2へ電源を供給する電源ラインや制御信号を伝搬する制御ライン等の電圧レベル変動が小さい箇所でもよい。また、上記の各実施形態および変形例においては、デジタル携帯電話の通話に用いられる所定のデジタル通信規格としてGSM規格を例に挙げて説明したが、必ずしもこの通信方式に限定されることはなく、他の通信方式でもよい。他の通信方式としては、例えば、セルラー方式(GSM(登録商標)、WCDMA(登録商標)、LTE等)及び、近距離無線通信(Wi−Fi(登録商標)、Bluetooth(登録商標)等)が挙げられる。また、ノイズも、デジタル携帯電話の通話に用いられる所定のデジタル通信規格にしたがった信号に限られない。また、上記の各実施形態および変形例においては、ノイズ源をFG3によって構成した場合について説明したが、携帯電話器そのものをノイズ源としてもよい。また、上記の各実施形態および変形例においては、ノイズを測定する測定装置が、周波数軸に沿って信号を測定するSPA11である場合について説明したが、時間軸に沿って信号を測定するオシロスコープであってもよい。   In each of the above embodiments and modifications, the case where the predetermined portion of the circuit board 2 that measures noise by the SPA 11 is the signal line 9 that outputs an audio signal has been described. However, the predetermined location of the circuit board 2 for measuring noise is not limited to this, and for example, a location where the voltage level fluctuation is small such as a power supply line for supplying power to the circuit board 2 or a control line for propagating control signals. But you can. In each of the above embodiments and modifications, the GSM standard has been described as an example of a predetermined digital communication standard used for a digital mobile phone call. However, the present invention is not necessarily limited to this communication method. Other communication methods may be used. Other communication methods include, for example, cellular methods (GSM (registered trademark), WCDMA (registered trademark), LTE, etc.) and short-range wireless communication (Wi-Fi (registered trademark), Bluetooth (registered trademark), etc.). Can be mentioned. Further, the noise is not limited to a signal conforming to a predetermined digital communication standard used for a digital mobile phone call. In each of the above embodiments and modifications, the case where the noise source is configured by FG3 has been described, but the mobile phone itself may be used as the noise source. In each of the above embodiments and modifications, the case where the measurement device that measures noise is the SPA 11 that measures a signal along the frequency axis has been described. However, an oscilloscope that measures the signal along the time axis is described. There may be.

1,1A,1B,1C…ノイズ耐性脆弱箇所特定システム
2…回路基板
3…ファンクションジェネレーター(FG:ノイズ源)
4…プローブ
5…プローブ走査装置
6…パーソナルコンピュータ(PC:比較装置・解析装置)
7…電子部品
8…スピーカ
9…信号線(所定箇所)
10…増幅器(AMP)
11…スペクトラムアナライザ(SPA:測定装置)
31…アンテナアレイ
31a…アンテナ
32…スイッチ(アンテナ選択手段)
41…プローブ位置可変装置
1, 1A, 1B, 1C ... Noise resistant weak spot identification system 2 ... Circuit board 3 ... Function generator (FG: noise source)
4 ... probe 5 ... probe scanning device 6 ... personal computer (PC: comparison device / analysis device)
7 ... electronic component 8 ... speaker 9 ... signal line (predetermined location)
10 ... Amplifier (AMP)
11 ... Spectrum analyzer (SPA: measuring device)
31 ... Antenna array 31a ... Antenna 32 ... Switch (antenna selection means)
41 ... Probe position varying device

Claims (10)

ノイズを発生するノイズ源と、回路基板の複数の箇所に前記ノイズを印加するノイズ印加手段と、前記回路基板の所定箇所に伝わる前記ノイズを測定する測定装置と、前記測定装置によって測定される前記ノイズのノイズレベルを前記所定箇所において許容されるノイズの許容レベルと比較する比較装置と、前記回路基板の複数箇所について前記比較装置によって得られる複数の比較結果に基づいて前記回路基板におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定する解析装置とを備える回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定システム。   A noise source that generates noise, a noise applying unit that applies the noise to a plurality of locations on the circuit board, a measurement device that measures the noise transmitted to a predetermined location on the circuit board, and the measurement device that measures the noise A comparison device that compares the noise level of the noise with an allowable noise level that is allowed at the predetermined location, and the noise tolerance of the circuit substrate based on a plurality of comparison results obtained by the comparison device at a plurality of locations on the circuit substrate. A noise resistant weak spot identifying system on a circuit board comprising an analysis device for identifying a vulnerable spot. 前記解析装置は、前記ノイズレベルが前記許容レベル以下である前記比較結果が複数箇所の全てについて得られる場合には前記許容レベルに最も近いレベルの信号が測定される箇所、前記ノイズレベルが前記許容レベルを超える前記比較結果が複数箇所のいずれかについて得られる場合には前記許容レベルを最も大きく超えるレベルの信号が測定される箇所をノイズ耐性の最も脆弱な脆弱箇所として特定することを特徴とする請求項1に記載のノイズ耐性脆弱箇所特定システム。   When the comparison result in which the noise level is less than or equal to the allowable level is obtained for all of a plurality of locations, the analysis device may be configured such that a signal at a level closest to the allowable level is measured, and the noise level is the allowable level. When the comparison result exceeding the level is obtained for any one of a plurality of locations, the location where the signal with the level that greatly exceeds the allowable level is measured is identified as the weakest vulnerable location with noise resistance. The noise-resistant weak spot specific system of Claim 1. 前記ノイズ源で発生するノイズは、デジタル携帯電話の通話に用いられる所定のデジタル通信規格にしたがった信号であり、前記回路基板の所定箇所は音声信号を出力する信号線であり、前記測定装置はスペクトラムアナライザであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のノイズ耐性脆弱箇所特定システム。   The noise generated in the noise source is a signal according to a predetermined digital communication standard used for a call of a digital mobile phone, the predetermined portion of the circuit board is a signal line for outputting an audio signal, and the measuring device is The noise resistant weak spot identifying system according to claim 1 or 2, wherein the system is a spectrum analyzer. 前記ノイズ印加手段は、前記ノイズを前記回路基板に与えるプローブと、前記プローブの前記回路基板に対する3次元位置を機械的に走査して前記回路基板の全面の予め定められた複数箇所に前記ノイズを印加するプローブ走査装置とから構成されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のノイズ耐性脆弱箇所特定システム。   The noise applying means mechanically scans a probe that gives the noise to the circuit board, and a three-dimensional position of the probe with respect to the circuit board, and applies the noise to a plurality of predetermined positions on the entire surface of the circuit board. The noise resistant weak spot identifying system according to any one of claims 1 to 3, wherein the system is configured with an applied probe scanning device. 前記ノイズ印加手段は、ノイズ耐性の評価の対象となる領域の前記回路基板に面して前記ノイズを放射するアレイアンテナと、前記アレイアンテナを構成する複数のアンテナの中から前記ノイズを放射させるアンテナを選択するアンテナ選択手段とから構成されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のノイズ耐性脆弱箇所特定システム。   The noise applying means includes an array antenna that emits the noise facing the circuit board in a region to be evaluated for noise resistance, and an antenna that emits the noise from among a plurality of antennas constituting the array antenna The noise-resistant weak spot identifying system according to any one of claims 1 to 3, characterized by comprising an antenna selection means for selecting 前記ノイズ印加手段は、前記ノイズを前記回路基板に与えるプローブと、前記プローブの前記回路基板に対する3次元位置を任意に可変して前記回路基板の限定された領域における任意の複数箇所に前記ノイズを印加するプローブ位置可変装置とから構成されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のノイズ耐性脆弱箇所特定システム。   The noise applying means includes: a probe that applies the noise to the circuit board; and a three-dimensional position of the probe with respect to the circuit board that is arbitrarily changed, and the noise is applied to a plurality of locations in a limited region of the circuit board. 4. The noise-resistant weak spot identifying system according to claim 1, comprising a probe position varying device to be applied. 5. 前記ノイズ印加手段は、前記回路基板の任意の箇所に前記ノイズを手動で与えるプローブから構成されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のノイズ耐性脆弱箇所特定システム。   4. The noise-resistant weak point identification according to claim 1, wherein the noise applying unit includes a probe that manually applies the noise to an arbitrary part of the circuit board. 5. system. ノイズ源で発生するノイズを回路基板の複数の箇所にノイズ印加手段によって印加する第1ステップと、前記回路基板の所定箇所に伝わる前記ノイズを測定装置によって測定する第2ステップと、前記測定装置によって測定される前記ノイズのノイズレベルを前記所定箇所において許容されるノイズの許容レベルと比較する第3ステップと、前記回路基板の複数箇所について得られる複数の比較結果に基づいて前記回路基板におけるノイズ耐性の脆弱箇所を特定する第4ステップとを備える回路基板におけるノイズ耐性脆弱箇所特定方法。   A first step of applying noise generated by a noise source to a plurality of locations on the circuit board by a noise applying means; a second step of measuring the noise transmitted to a predetermined location of the circuit board by a measuring device; and the measuring device. A third step of comparing a noise level of the measured noise with an allowable level of noise allowed at the predetermined location, and noise resistance in the circuit board based on a plurality of comparison results obtained at a plurality of locations on the circuit board A method for identifying a noise-resistant weak spot on a circuit board, comprising: 前記第4ステップにおいて、前記ノイズレベルが前記許容レベル以下である前記比較結果が複数箇所の全てについて得られる場合には前記許容レベルに最も近いレベルの前記ノイズが測定される箇所、前記ノイズレベルが前記許容レベルを超える前記比較結果が複数箇所のいずれかについて得られる場合には前記許容レベルを最も大きく超えるレベルの前記ノイズが測定される箇所をノイズ耐性の最も脆弱な脆弱箇所として特定することを特徴とする請求項8に記載のノイズ耐性脆弱箇所特定方法。   In the fourth step, when the comparison result in which the noise level is equal to or lower than the allowable level is obtained for all of a plurality of locations, the noise level at the level closest to the allowable level is measured, and the noise level is When the comparison result that exceeds the allowable level is obtained for any of a plurality of locations, the location where the noise at the level that greatly exceeds the allowable level is measured is identified as the weakest vulnerable portion of noise resistance. The method for identifying a noise-resistant weak point according to claim 8, characterized in that: 前記第1ステップにおいて、デジタル携帯電話の通話に用いられる所定のデジタル通信規格にしたがった信号を前記ノイズとして回路基板の複数の箇所に印加し、
前記第2ステップにおいて、前記回路基板の音声信号を出力する信号線に伝わる前記ノイズをスペクトラムアナライザによって測定することを特徴とする請求項8または請求項9に記載のノイズ耐性脆弱箇所特定方法。
In the first step, a signal according to a predetermined digital communication standard used for a call of a digital mobile phone is applied to the plurality of locations on the circuit board as the noise,
10. The noise resistant weak spot identifying method according to claim 8 or 9, wherein, in the second step, the noise transmitted to a signal line for outputting an audio signal of the circuit board is measured by a spectrum analyzer.
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