JP2019145689A - Abrasive pad laminate - Google Patents

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Abstract

To provide an abrasive pad laminate in which occurrence of exfoliation of abrasive pad is restrained, even if acidic oxidant solution is used as polishing liquid in polish processing of CMP method.SOLUTION: Since adhesive 16b composed of silicone-based resin adhesive where high polymer material having, as a main chain, concatenation of binding energy of 100 kcal/mol or more, i.e., polymer having siloxane bond as main skeleton, and excellent in chemical resistance and tackiness, is located on the underside of an abrasive pad 14, the abrasive pad is chemically stable and does not deteriorate even if acidic oxidant solution is used as the polishing liquid, and thereby exfoliation is restrained suitably on the interface of the abrasive pad 14 and a double-sided adhesive sheet 16.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、半導体ウェハの面取りや表面に対するCMP法による研磨加工などに好適に用いられる研磨パッド積層体に関するものである。   The present invention relates to a polishing pad laminate suitably used for chamfering a semiconductor wafer or polishing the surface by a CMP method.

SiやSiC等の半導体ウェハの表面を平坦化且つ平滑化する研磨として、CMP(化学的機械研磨)法が知られている。CMP法とは、研磨定盤上に貼り着けられた樹脂製の研磨パッド上に半導体ウェハを押し当て、そこに微細な研磨粒子を含むスラリーを供給しつつ研磨定盤と半導体ウェハとを相対回転させることにより、半導体ウェハの研磨を行なうものである。このCMP法によれば、定常的なスラリーの供給下で研磨加工が行なわれるので、スラリーに含まれる高価な研磨粒子が多量に消費されるという問題があった。   A CMP (Chemical Mechanical Polishing) method is known as polishing for flattening and smoothing the surface of a semiconductor wafer such as Si or SiC. The CMP method is a method in which a semiconductor wafer is pressed against a resin polishing pad affixed on a polishing surface plate, and the polishing surface plate and the semiconductor wafer are relatively rotated while supplying a slurry containing fine abrasive particles. By doing so, the semiconductor wafer is polished. According to this CMP method, the polishing process is performed under a constant supply of slurry, so that a large amount of expensive abrasive particles contained in the slurry is consumed.

これに対して、スラリーを用いないでCMP法により研磨加工を行なうための研磨粒子内包型の研磨パッドが提案されている。たとえば、特許文献1および特許文献2に記載の研磨パッドがそれである。この研磨パッドはポリフッ化ビニルなどの母材樹脂に形成された連通気孔内に研磨粒子が内包されているので、スラリーによらず十分な研磨効率および研磨性能が得られるとともに、半導体ウェハの研磨に寄与する研磨粒子の割合が飛躍的に高められる。   On the other hand, there has been proposed an abrasive particle-encapsulated type polishing pad for performing polishing by a CMP method without using a slurry. For example, the polishing pads described in Patent Document 1 and Patent Document 2 are examples thereof. Since this polishing pad contains abrasive particles in continuous air holes formed in a matrix resin such as polyvinyl fluoride, sufficient polishing efficiency and polishing performance can be obtained regardless of slurry, and for polishing semiconductor wafers. The proportion of abrasive particles that contribute is dramatically increased.

ところで、研磨パッドとそれを支持する支持体との間を接着するために、基材シートの両面に接着剤が塗布された両面接着シートを用いることが提案されている。たとえば、特許文献3および特許文献4に記載の研磨パッドがそれである。   By the way, in order to adhere | attach between a polishing pad and the support body which supports it, it is proposed to use the double-sided adhesive sheet by which the adhesive agent was apply | coated to both surfaces of the base material sheet. For example, the polishing pads described in Patent Document 3 and Patent Document 4 are examples thereof.

特許第4266579号公報Japanese Patent No. 4266579 特許第5511266号公報Japanese Patent No. 5511266 特開2016−066781号公報JP 2006-066781 A 特開2017−119313号公報JP 2017-119313 A

しかしながら、上記の研磨パッドを用いて繰り返し半導体ウェハを研磨する場合に、研磨加工時の研磨液として酸性酸化剤水溶液を用いると、その酸性酸化剤水溶液が、研磨パッドの連通気孔を透過して研磨パッドとそれを支持する支持体との張り合わせに使用されている両面接着シートの接着能力を劣化させ、支持体と両面接着シートとの界面で剥離が発生するという問題があった。   However, when a semiconductor wafer is repeatedly polished using the above polishing pad, if an acidic oxidant aqueous solution is used as a polishing liquid during polishing, the acidic oxidant aqueous solution permeates through the continuous vents of the polishing pad and polishes. There was a problem that the adhesive ability of the double-sided adhesive sheet used for bonding the pad and the support supporting the pad deteriorates, and peeling occurs at the interface between the support and the double-sided adhesive sheet.

本発明は、以上の事情を背景として為されたものであり、その目的とするところは、CMP法の研磨加工に酸性酸化剤水溶液を研磨液として用いても、研磨パッドの剥離が発生が抑制される研磨パッド積層体を提供することにある。   The present invention has been made against the background of the above circumstances, and its purpose is to suppress the occurrence of peeling of the polishing pad even when an acidic oxidizer aqueous solution is used as a polishing liquid for polishing by the CMP method. An object of the present invention is to provide a polishing pad laminate.

本発明者は、かかる研磨体パッド積層体を開発すべく鋭意研究を継続した結果、基材シートの両面に塗布される接着剤について、結合エネルギが100kcal/mol以上の連鎖を主骨格とする粘着剤を用いると、酸性酸化剤水溶液の存在下でも接着能力が劣化しない両面接着シートが得られることを見出した。本発明は、かかる着想に基づいて為されたものである。   As a result of continual research to develop such an abrasive pad laminate, the present inventor has found that an adhesive applied to both surfaces of a base sheet is an adhesive having a main skeleton of a chain having a binding energy of 100 kcal / mol or more. It has been found that when an agent is used, a double-sided adhesive sheet is obtained in which the adhesive ability is not deteriorated even in the presence of an acidic oxidizing agent aqueous solution. The present invention has been made based on such an idea.

第1発明の要旨とするところは、(a)母材樹脂内の連通気孔内に多数の研磨粒子が内包された研磨パッドを最上層として含む複数の層が複数の接着層を介して積層されて研磨定盤上に接着される研磨パッド積層体であって、(b)前記複数の接着層のうち前記研磨パッドと接触する接着層に用いられる接着剤は、100kcal/mol以上の結合エネルギを有する連鎖を主鎖とする高分子材料を主成分として含むことにある。   The gist of the first invention is that (a) a plurality of layers including a polishing pad in which a large number of abrasive particles are encapsulated in the continuous air holes in the base material resin are laminated through a plurality of adhesive layers. And (b) an adhesive used for an adhesive layer in contact with the polishing pad among the plurality of adhesive layers has a binding energy of 100 kcal / mol or more. The main component is a polymer material having a chain as a main chain.

また、第2発明の要旨とするところは、第1発明において、前記研磨パッドと接触する接着層に用いられる接着剤は、シロキサン結合が主鎖である高分子材料を主成分として構成されたものである。   Further, the gist of the second invention is that, in the first invention, the adhesive used for the adhesive layer in contact with the polishing pad is composed mainly of a polymer material having a siloxane bond as a main chain. It is.

第3発明の要旨するところは、第1発明または第2発明において、前記研磨パッドと接触する接着層に用いられる接着剤は、シリコーン系樹脂接着剤から構成されたものである。   The gist of the third invention is that, in the first invention or the second invention, the adhesive used for the adhesive layer in contact with the polishing pad is composed of a silicone resin adhesive.

第4発明の要旨とするところは、第1発明から第3発明のいずれか1の発明において、研磨定盤上に接着される研磨パッド積層体を用いた研磨加工に際しては、酸性酸化剤水溶液が前記研磨パッド上に供給されることにある。   The gist of the fourth invention is that in any one of the first to third inventions, an acidic oxidizer aqueous solution is used in polishing using the polishing pad laminate bonded to the polishing platen. It is to be supplied onto the polishing pad.

第5発明の要旨とするところは、第1発明から第4発明のいずれか1の発明において、前記研磨パッド積層体は、第2基材シートと前記第2基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第2両面接着シートと、クッション層と、第1基材シートと前記第1基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第1両面接着シートと、前記研磨パッドとが、前記研磨定盤の上に順に積層されたものであり、前記第1基材シートの両面のうち前記研磨パッド側の面に塗布された接着剤が、前記研磨パッドと接触する接着層であることにある。   The gist of the fifth invention is that, in any one of the first to fourth inventions, the polishing pad laminate is applied to both surfaces of the second substrate sheet and the second substrate sheet. A second double-sided adhesive sheet having an adhesive, a cushion layer, a first base sheet and a first double-sided adhesive sheet having an adhesive applied to both sides of the first base sheet; and the polishing pad Are laminated in order on the polishing surface plate, and the adhesive applied to the surface on the polishing pad side of both surfaces of the first base sheet is an adhesive layer in contact with the polishing pad. There is to be.

第6発明の要旨とするところは、第1発明から第4発明のいずれか1の発明において、前記研磨パッド積層体は、第2基材シートと前記第2基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第2両面接着シートと、クッション層と、第1基材シートと前記第1基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第1両面接着シートと、第3基材シートと前記第3基材シートの前記研磨パッド側の片面に塗布された接着剤とを有する片面接着シートと、前記研磨パッドとが、前記研磨定盤の上に順に積層されたものであり、前記第3基材シートの前記研磨パッド側の片面に塗布された接着剤が、前記研磨パッドと接触する接着層であることにある。   The gist of the sixth invention is that, in any one of the first to fourth inventions, the polishing pad laminate is applied to both surfaces of the second substrate sheet and the second substrate sheet. A second double-sided adhesive sheet having an adhesive, a cushion layer, a first base sheet and a first double-sided adhesive sheet having an adhesive applied to both sides of the first base sheet, and a third base A single-sided adhesive sheet having a sheet and an adhesive applied to one side of the polishing pad side of the third base sheet, and the polishing pad are sequentially laminated on the polishing surface plate, The adhesive applied to one surface of the third base sheet on the polishing pad side is an adhesive layer that contacts the polishing pad.

第1発明によれば、母材樹脂内の連通気孔内に多数の研磨粒子が内包された研磨パッドが、基材シートの両面のうちの少なくとも前記研磨パッド側に接着剤が塗布された両面接着シートを介して支持体に接着された研磨パッド積層体であって、前記基材シートの両面のうちの前記研磨パッド側に塗布された接着剤は、100kcal/mol以上の結合エネルギを有する連鎖を主鎖とする高分子材料が主成分として構成されていることから、その高分子材料は耐薬品性およびタック性に優れており、その高分子材料を主成分として構成された接着剤は、研磨液として酸性酸化剤水溶液が用いられても化学的に安定していて劣化しないので、研磨パッドと両面接着シートとの界面で剥離が好適に抑制される。   According to the first invention, the polishing pad in which a large number of abrasive particles are encapsulated in the continuous air holes in the base material resin is a double-sided adhesive in which an adhesive is applied to at least the polishing pad side of both surfaces of the base sheet. A polishing pad laminate bonded to a support through a sheet, wherein the adhesive applied to the polishing pad side of both surfaces of the base sheet has a chain having a binding energy of 100 kcal / mol or more. Since the main chain is composed of a polymer material as a main component, the polymer material is excellent in chemical resistance and tackiness, and an adhesive composed of the polymer material as a main component is polished. Even if an acidic oxidizer aqueous solution is used as the liquid, it is chemically stable and does not deteriorate, and therefore peeling is suitably suppressed at the interface between the polishing pad and the double-sided adhesive sheet.

第2発明によれば、前記面接着シートの前記研磨パッド側に塗布された接着剤は、シロキサン結合が主鎖である高分子材料を主成分として構成されたものであることから、100kcal以上の結合エネルギを有する連鎖を主骨格とする高分子材料を主成分として構成されていて、研磨液として酸性酸化剤水溶液が用いられても化学的に安定していて劣化しないので、研磨パッドと両面接着シートとの界面で剥離が好適に抑制される。   According to the second invention, since the adhesive applied to the polishing pad side of the surface adhesive sheet is composed mainly of a polymer material having a siloxane bond as a main chain, it is 100 kcal or more. It is composed mainly of a polymer material whose main skeleton is a chain with binding energy, and even when an acidic oxidizer aqueous solution is used as the polishing liquid, it is chemically stable and does not deteriorate. Peeling is suitably suppressed at the interface with the sheet.

第3発明の要旨するところは、前記面接着シートの前記研磨パッド側に塗布された接着剤は、シリコーン系樹脂接着剤であることから、研磨液として酸性酸化剤水溶液が用いられても化学的に安定していて劣化しないので、研磨パッドと両面接着シートとの界面で剥離が好適に抑制される。   The gist of the third invention is that the adhesive applied to the polishing pad side of the surface adhesive sheet is a silicone-based resin adhesive, so that even if an acidic oxidizing agent aqueous solution is used as a polishing liquid, Therefore, peeling is preferably suppressed at the interface between the polishing pad and the double-sided adhesive sheet.

第4発明の要旨とするところは、研磨定盤上に接着される研磨パッド積層体を用いた研磨加工に際しては、酸性酸化剤水溶液が前記研磨パッド上に供給されるとき、前記面接着シートの前記研磨パッド側に塗布された接着剤は化学的に安定していて、酸性酸化剤水溶液に接触しても劣化しないので、研磨パッドと両面接着シートとの界面で剥離が好適に抑制される。   The gist of the fourth invention is that, in the polishing process using the polishing pad laminate bonded onto the polishing surface plate, when the acidic oxidizing agent aqueous solution is supplied onto the polishing pad, the surface adhesive sheet Since the adhesive applied to the polishing pad side is chemically stable and does not deteriorate even when contacted with the aqueous acidic oxidizer solution, peeling is suitably suppressed at the interface between the polishing pad and the double-sided adhesive sheet.

第5発明の要旨とするところは、前記研磨パッド積層体は、第2基材シートと前記第2基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第2両面接着シートと、クッション層と、第1基材シートと前記第1基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第1両面接着シートと、前記研磨パッドとが、前記研磨定盤の上に順に積層されたものであり、前記第1基材シートの両面のうち前記研磨パッド側の面に塗布された接着剤が、前記研磨パッドと接触する接着層である。このことから、第2両面接着シートおよび第1両面接着シートを用いることで、容易に研磨パッド積層体の組み立てを行なうことができる。また、第2両面接着シートと第1両面接着シートとの間にクッション層を介在させることで、研磨面の平坦化および表面平滑化を両立させることができる。   According to a fifth aspect of the present invention, the polishing pad laminate includes a second double-sided adhesive sheet having a second base material sheet and an adhesive applied to both surfaces of the second base material sheet, and a cushion layer. The first double-sided adhesive sheet having the first base material sheet and the adhesive applied to both surfaces of the first base material sheet, and the polishing pad are sequentially laminated on the polishing surface plate. Yes, the adhesive applied to the surface on the polishing pad side of both surfaces of the first base sheet is an adhesive layer that comes into contact with the polishing pad. Accordingly, the polishing pad laminate can be easily assembled by using the second double-sided adhesive sheet and the first double-sided adhesive sheet. Further, by interposing a cushion layer between the second double-sided adhesive sheet and the first double-sided adhesive sheet, it is possible to achieve both flattening and smoothing of the polished surface.

第6発明の要旨とするところは、前記研磨パッド積層体は、第2基材シートと前記第2基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第2両面接着シートと、クッション層と、第1基材シートと前記第1基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第1両面接着シートと、第3基材シートと前記第3基材シートの前記研磨パッド側の片面に塗布された接着剤とを有する片面接着シートと、前記研磨パッドとが、前記研磨定盤の上に順に積層されたものであり、前記第3基材シートの前記研磨パッド側の片面に塗布された接着剤が、前記研磨パッドと接触する接着層であることにある。このことから、第2両面接着シート、第1両面接着シート、および片面接着シートを用いることで、容易に研磨パッド積層体の組み立てを行なうことができる。また、第2両面接着シートと第1両面接着シートとの間にクッション層を介在させることで、研磨面の平坦化および表面平滑化を両立させることができる。   The gist of the sixth invention is that the polishing pad laminate includes a second base sheet and a second double-sided adhesive sheet having an adhesive applied to both sides of the second base sheet, a cushion layer, A first double-sided adhesive sheet having a first base sheet and an adhesive applied to both sides of the first base sheet; a third base sheet and one side of the third base sheet on the polishing pad side A single-sided adhesive sheet having an adhesive applied to the surface and the polishing pad are sequentially laminated on the polishing surface plate, and applied to one side of the third base sheet on the polishing pad side. The adhesive thus formed is an adhesive layer in contact with the polishing pad. Accordingly, the polishing pad laminate can be easily assembled by using the second double-sided adhesive sheet, the first double-sided adhesive sheet, and the single-sided adhesive sheet. Further, by interposing a cushion layer between the second double-sided adhesive sheet and the first double-sided adhesive sheet, it is possible to achieve both flattening and smoothing of the polished surface.

本発明の一実施例の研磨パッド積層体が研磨定盤の上に固着された状態を模式的に説明する断面図である。It is sectional drawing which illustrates typically the state by which the polishing pad laminated body of one Example of this invention was fixed on the polishing surface plate. 図1に示す研磨パッド積層体の最上段に位置する研磨パッドの断面を拡大して示すSEM写真である。It is a SEM photograph which expands and shows the cross section of the polishing pad located in the uppermost stage of the polishing pad laminated body shown in FIG. 図1に示す研磨パッド積層体を用いたCMP法による研磨加工装置の構成を説明する図である。It is a figure explaining the structure of the polishing processing apparatus by CMP method using the polishing pad laminated body shown in FIG. 本発明の他の実施例の研磨パッド積層体が研磨定盤の上に固着された状態を模式的に示す図であって、図1に相当する図である。It is a figure which shows typically the state by which the polishing pad laminated body of the other Example of this invention was fixed on the polishing surface plate, Comprising: It is a figure equivalent to FIG. 従来の研磨パッド積層体が研磨定盤の上に固着された状態を模式的に示す図であって、図1に相当する図である。It is a figure which shows typically the state by which the conventional polishing pad laminated body was fixed on the polishing surface plate, Comprising: It is a figure corresponded in FIG. 従来の研磨パッド積層体が研磨定盤の上に固着された状態を模式的に示す図であって、図1に相当する図である。It is a figure which shows typically the state by which the conventional polishing pad laminated body was fixed on the polishing surface plate, Comprising: It is a figure corresponded in FIG. 従来の研磨パッド積層体が研磨定盤の上に固着された状態を模式的に示す図であって、図1に相当する図である。It is a figure which shows typically the state by which the conventional polishing pad laminated body was fixed on the polishing surface plate, Comprising: It is a figure corresponded in FIG.

(実施例1)
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明する。なお、以下の実施例において図は適宜簡略化或いは変形されており、各部の寸法比および形状等は必ずしも正確に描かれていない。
(Example 1)
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the following embodiments, the drawings are appropriately simplified or modified, and the dimensional ratios, shapes, and the like of the respective parts are not necessarily drawn accurately.

図1は、本発明の一実施例であるの研磨パッド積層体10が研磨定盤12の上に固着された状態を模式的に説明する断面図である。図1において、研磨定盤12の上に固着された研磨パッド積層体10は、研磨パッド14、第1両面接着シート16、クッション層18、および第2両面接着シート20を備え、専らCMP(Chemical Mechanical Polishing:化学的機械研磨)法による研磨加工に用いられる後述する研磨加工装置の研磨定盤12の上に接着されている。   FIG. 1 is a cross-sectional view schematically illustrating a state in which a polishing pad laminate 10 according to an embodiment of the present invention is fixed on a polishing surface plate 12. In FIG. 1, a polishing pad laminate 10 fixed on a polishing surface plate 12 includes a polishing pad 14, a first double-sided adhesive sheet 16, a cushion layer 18, and a second double-sided adhesive sheet 20, and is exclusively CMP (Chemical). It is adhered on a polishing surface plate 12 of a polishing apparatus described later used for polishing by a mechanical polishing (chemical mechanical polishing) method.

研磨パッド積層体10の表面(最上層)に位置する研磨パッド14は、Si、SiC(結晶材料)等のウェハなどの半導体ウェハに摺接してそれを研磨する研磨体として機能している。また、第1両面接着シート16、クッション層18、および第2両面接着シート20は、研磨パッド14を支持する支持体22として機能している。すなわち、研磨パッド14は、支持体22を介して研磨定盤12に固着されている。   The polishing pad 14 located on the surface (uppermost layer) of the polishing pad laminate 10 functions as a polishing body that slides on and polishes a semiconductor wafer such as a wafer of Si, SiC (crystalline material) or the like. Further, the first double-sided adhesive sheet 16, the cushion layer 18, and the second double-sided adhesive sheet 20 function as a support 22 that supports the polishing pad 14. That is, the polishing pad 14 is fixed to the polishing surface plate 12 via the support 22.

研磨パッド14は、母材樹脂14aと、母材樹脂14a内に形成された連通気孔14b内に内包された多数の研磨粒子14cを備えて円板状に形成されたものであり、たとえば外径1000(mmφ)×厚み2(mm)程度の寸法を備えている。母材樹脂14aには、たとえばポリスルホン系の樹脂が用いられるが、その他の樹脂たとえばポリアミド、ポリアミドイミド、ポリイミド、ポリアクリロニトリル、ポリフッ化ビニリデン、酢酸セルロース、ポリビニルアルコール、およびポリウレタンの内の少なくとも1つを含むものであってもよい。研磨粒子14cは、好適には、シリカが用いられるが、その他の研磨粒子たとえばセリア、アルミナ、ジルコニア、チタニア、マンガン酸化物、炭酸バリウム、酸化クロム、および酸化鉄の内の少なくとも1つを含むものが用いられてもよい。上記シリカとしては、たとえばヒュームドシリカ(四塩化ケイ素、クロロシランなどを水素および酸素の存在のもとで高温燃焼させて得られるシリカ微粒子)などが好適に用いられる。研磨粒子14cの平均粒径は、好ましくは、0.005〜3.0(μm)である。   The polishing pad 14 is formed in a disk shape with a base resin 14a and a large number of abrasive particles 14c enclosed in a continuous vent 14b formed in the base resin 14a. It has dimensions of about 1000 (mmφ) × thickness 2 (mm). As the base material resin 14a, for example, a polysulfone-based resin is used, but at least one of other resins such as polyamide, polyamideimide, polyimide, polyacrylonitrile, polyvinylidene fluoride, cellulose acetate, polyvinyl alcohol, and polyurethane is used. It may be included. As the abrasive particles 14c, silica is preferably used, but other abrasive particles such as ceria, alumina, zirconia, titania, manganese oxide, barium carbonate, chromium oxide, and iron oxide are included. May be used. As the silica, for example, fumed silica (silica fine particles obtained by high-temperature combustion of silicon tetrachloride, chlorosilane, etc. in the presence of hydrogen and oxygen) and the like are preferably used. The average particle diameter of the abrasive particles 14c is preferably 0.005 to 3.0 (μm).

図2は、研磨パッド14の断面の一例を1000倍に拡大して示すSEM写真である。図2において、母材樹脂14aは立体的な編み目状に連続しており、連通気孔14bはその編み目状に連なる母材樹脂14a間の隙間内に示されている。その空間内に存在する多数の小球が研磨粒子14cを示している。   FIG. 2 is an SEM photograph showing an example of a cross section of the polishing pad 14 magnified 1000 times. In FIG. 2, the base material resin 14a is continuous in a three-dimensional stitch shape, and the continuous air holes 14b are shown in the gaps between the base material resins 14a continuous in the stitch shape. A large number of small spheres existing in the space indicate the abrasive particles 14c.

図1に戻って、第1両面接着シート16は、第1基材シート16aと、その第1基材シート16aの両面に塗布された接着剤16bおよび16cとを備えている。研磨パッド14側の面に塗布された接着剤16bは、100kcal/mol以上の結合エネルギを有する連鎖を主鎖とする高分子材料たとえばシロキサン結合(−Si−Si−Si−)が主鎖であるシリコーン樹脂を主成分としたシリコーン系樹脂接着剤である。研磨定盤12側の接着剤16cは、たとえばアクリル樹脂を主成分としたアクリル系樹脂接着剤である。このアクリル樹脂は、炭素結合(−C−C−C−)を主鎖としていて、その結合エネルギは85kcal/molである。また、ゴム系接着剤を構成するジエン系高分子の主鎖(CH2=CH−CH−H)の結合エネルギは77kcal/molである。一般に、結合エネルギは耐薬品性の指標として用いられていることから明らかなように、主鎖の結合エネルギの高いほど、耐薬品性に優れている。これにより、アクリル系樹脂接着剤はゴム系接着剤よりも耐薬品性に優れ、シリコーン系樹脂接着剤はアクリル系樹脂接着剤よりも耐薬品性に優れている。また、シリコーン系樹脂接着剤は、接着剤としての機能を有するだけでなく、タック性にも優れている。   Returning to FIG. 1, the first double-sided adhesive sheet 16 includes a first base sheet 16a and adhesives 16b and 16c applied to both sides of the first base sheet 16a. The adhesive 16b applied to the surface on the polishing pad 14 side is a polymer material having a chain having a bond energy of 100 kcal / mol or more, for example, a siloxane bond (-Si-Si-Si-) as the main chain. This is a silicone resin adhesive mainly composed of a silicone resin. The adhesive 16c on the polishing surface plate 12 side is, for example, an acrylic resin adhesive mainly composed of an acrylic resin. This acrylic resin has a carbon bond (—C—C—C—) as the main chain, and its bond energy is 85 kcal / mol. The bond energy of the main chain (CH2 = CH-CH-H) of the diene polymer constituting the rubber-based adhesive is 77 kcal / mol. In general, the bond energy is used as an indicator of chemical resistance, and as the bond energy of the main chain is higher, the chemical resistance is better. Thereby, the acrylic resin adhesive has better chemical resistance than the rubber adhesive, and the silicone resin adhesive has better chemical resistance than the acrylic resin adhesive. The silicone resin adhesive not only has a function as an adhesive, but also has excellent tackiness.

第1両面接着シート16の第1基材シート16aは、たとえばPET樹脂フィルムから構成される。また、第1両面接着シート16の研磨パッド14とは反対側の面に塗布された接着剤16cはアクリル樹脂を主成分とするアクリル系樹脂接着剤である。   The first base sheet 16a of the first double-sided adhesive sheet 16 is made of, for example, a PET resin film. The adhesive 16c applied to the surface of the first double-sided adhesive sheet 16 opposite to the polishing pad 14 is an acrylic resin adhesive mainly composed of an acrylic resin.

クッション層18は、たとえば表面をバフがけし、コロナ処理をしたポリウレタンフォームから成り、たとえば0.8mm程度の厚みを有する。   The cushion layer 18 is made of, for example, a polyurethane foam whose surface is buffed and subjected to corona treatment, and has a thickness of about 0.8 mm, for example.

第2両面接着シート20は、第2基材シート20aと、その第2基材シート20aの両面に塗布された接着剤20bおよび20cとを備えている。第2基材シート20aは、第1両面接着シート16の第1基材シート16aと同様に、たとえばPET樹脂フィルムから構成される。また、接着剤20bおよび20cは、第1両面接着シート16の接着剤16cと同様に、アクリル樹脂を主成分とするアクリル系樹脂接着剤である。   The second double-sided adhesive sheet 20 includes a second base sheet 20a and adhesives 20b and 20c applied to both sides of the second base sheet 20a. The 2nd base material sheet 20a is comprised from the PET resin film, for example like the 1st base material sheet 16a of the 1st double-sided adhesive sheet 16. FIG. The adhesives 20b and 20c are acrylic resin adhesives mainly composed of an acrylic resin, like the adhesive 16c of the first double-sided adhesive sheet 16.

以上のように構成された研磨定盤12の上に固着された研磨パッド積層体10は、図3に示すように、CMP法による研磨加工装置30の研磨定盤12の上に接着された状態で、被研磨体である半導体ウェハ34の研磨に用いられるとき、たとえばpHが5以下の酸性酸化剤水溶液が供給される。図3において、研磨加工装置30には、研磨定盤12がその垂直な軸心C1まわりに回転可能に支持された状態で設けられており、その研磨定盤12は、定盤駆動モータ32により、図に矢印で示す1回転方向へ回転駆動されるようになっている。この研磨定盤12の上面すなわち半導体ウェハ34が押しつけられる面には、本実施例の研磨パッド積層体10が貼り着けられている。   As shown in FIG. 3, the polishing pad laminate 10 fixed on the polishing surface plate 12 configured as described above is bonded to the polishing surface plate 12 of the polishing apparatus 30 by the CMP method. Thus, when used for polishing the semiconductor wafer 34 which is the object to be polished, for example, an acidic oxidizing agent aqueous solution having a pH of 5 or less is supplied. In FIG. 3, the polishing apparatus 30 is provided with a polishing surface plate 12 rotatably supported around a vertical axis C <b> 1, and the polishing surface plate 12 is driven by a surface plate driving motor 32. , And is driven to rotate in one rotation direction indicated by an arrow in the figure. The polishing pad laminate 10 of this embodiment is attached to the upper surface of the polishing surface plate 12, that is, the surface to which the semiconductor wafer 34 is pressed.

一方、研磨定盤12上の軸心C1から偏心した位置には、SiCウェハ等の半導体ウェハ34を吸着或いは保持枠等を用いて下面において保持するワーク保持部材36がその軸心C2まわりに回転可能、その軸心C2方向に移動可能に支持された状態で配置されており、そのワーク保持部材36は、図示しないワーク駆動モータにより或いは研磨定盤12から受ける回転モーメントにより図3の矢印で示す回転方向へ回転させられるようになっている。   On the other hand, at a position eccentric from the axis C1 on the polishing surface plate 12, a workpiece holding member 36 that holds a semiconductor wafer 34 such as an SiC wafer on the lower surface by suction or using a holding frame or the like rotates around the axis C2. The workpiece holding member 36 is arranged so as to be movable in the direction of the axis C2. The workpiece holding member 36 is indicated by an arrow in FIG. 3 by a workpiece driving motor (not shown) or a rotational moment received from the polishing surface plate 12. It can be rotated in the direction of rotation.

ワーク保持部材36の下面すなわち研磨パッド積層体10と対向する面には半導体ウェハ34が保持され、半導体ウェハ34が所定の荷重で研磨パッド積層体10に押圧されるようになっている。また、研磨加工装置30のワーク保持部材36の近傍には、滴下ノズル38および/またはスプレーノズル40が設けられており、図示しないタンクから送出された酸化性水溶液である研磨液42が研磨定盤12上に供給されるようになっている。   The semiconductor wafer 34 is held on the lower surface of the work holding member 36, that is, the surface facing the polishing pad stack 10, and the semiconductor wafer 34 is pressed against the polishing pad stack 10 with a predetermined load. Further, a dripping nozzle 38 and / or a spray nozzle 40 are provided in the vicinity of the work holding member 36 of the polishing apparatus 30, and the polishing liquid 42, which is an oxidizing aqueous solution sent from a tank (not shown), is supplied to the polishing surface plate. 12 is supplied.

なお、図3では、研磨定盤12の軸心C1に平行な軸心まわりに回転可能、その軸心の方向および研磨定盤12の径方向に移動可能に配置された図示しない調整工具保持部材と、その調整工具保持部材の下面すなわち研磨パッド積層体10と対向する面に取り付けられた図示しないダイヤモンドホイールのような研磨体調整工具(コンディショナー)とが省略されている。   In FIG. 3, an adjustment tool holding member (not shown) arranged so as to be rotatable about an axis parallel to the axis C <b> 1 of the polishing surface plate 12 and movable in the direction of the axis and the radial direction of the polishing surface plate 12. Also, a polishing body adjusting tool (conditioner) such as a diamond wheel (not shown) attached to the lower surface of the adjusting tool holding member, that is, the surface facing the polishing pad laminate 10 is omitted.

研磨加工装置30によるCMP法の研磨加工に際しては、研磨定盤12およびそれに貼り着けられた研磨パッド積層体10と、ワーク保持部材36およびその下面に保持された半導体ウェハ34とが、定盤駆動モータ32およびワーク駆動モータによりそれぞれの軸心まわりに回転駆動された状態で、滴下ノズル38および/またはスプレーノズル40から研磨液42が研磨パッド14の表面上に供給されつつ、ワーク保持部材36に保持された半導体ウェハ34がその研磨パッド積層体10に押しつけられる。そうすることにより、半導体ウェハ34の被研磨面すなわち研磨パッド積層体10に対向する面が、研磨液42による化学的研磨作用と、研磨パッド14内に内包されてその研磨パッド14から自己供給された研磨粒子による機械的研磨作用とによって平坦に研磨される。この研磨粒子には、たとえば平均粒径80nm程度のシリカが用いられる。また、研磨液42には、たとえば酸化還元電位が500〜1020(Eh)、水素イオン濃度pHが4.5〜5.5程度のものが用いられる。   When polishing by the CMP method by the polishing apparatus 30, the polishing surface plate 12, the polishing pad laminate 10 attached thereto, the work holding member 36 and the semiconductor wafer 34 held on the lower surface thereof are driven by a surface plate. The polishing liquid 42 is supplied onto the surface of the polishing pad 14 from the dropping nozzle 38 and / or the spray nozzle 40 while being rotated around the respective axis centers by the motor 32 and the work drive motor, while being applied to the work holding member 36. The held semiconductor wafer 34 is pressed against the polishing pad laminate 10. By doing so, the surface to be polished of the semiconductor wafer 34, that is, the surface facing the polishing pad laminate 10, is chemically supplied by the polishing liquid 42, and is contained in the polishing pad 14 and supplied from the polishing pad 14. It is polished flat by the mechanical polishing action by the abrasive particles. For example, silica having an average particle diameter of about 80 nm is used for the abrasive particles. Further, as the polishing liquid 42, for example, one having an oxidation-reduction potential of 500 to 1020 (Eh) and a hydrogen ion concentration pH of about 4.5 to 5.5 is used.

本実施例の研磨パッド積層体10によれば、母材樹脂内の連通気孔内に多数の研磨粒子が内包された研磨パッド14が、第1基材シート(基材シート)16aの両面のうちの少なくとも研磨パッド14側に接着剤が塗布された第1両面シート(面接着シート)16を介して支持体22に接着されており、第1基材シート16aの両面のうちの研磨パッド14側に塗布された接着剤16bは、100kcal/mol以上の結合エネルギを有する連鎖を主鎖とする高分子材料が主成分として構成されている。これにより、研磨パッド14の下側には、100kcal/mol以上の結合エネルギを有する連鎖を主鎖とする高分子材料が主成分として構成され、耐薬品性およびタック性に優れている接着剤16bが、位置していることから、研磨液42として酸性酸化剤水溶液が用いられても化学的に安定していて劣化しないので、研磨パッド14と第1両面接着シート16との界面で剥離が好適に抑制される。   According to the polishing pad laminate 10 of the present embodiment, the polishing pad 14 in which a large number of abrasive particles are included in the continuous air holes in the base resin is formed on both surfaces of the first base sheet (base sheet) 16a. Is bonded to the support 22 via a first double-sided sheet (surface adhesive sheet) 16 coated with an adhesive on at least the polishing pad 14 side, and the polishing pad 14 side of both surfaces of the first base sheet 16a. The adhesive 16b applied to is composed mainly of a polymer material whose main chain is a chain having a binding energy of 100 kcal / mol or more. As a result, the adhesive 16b is formed under the polishing pad 14 as a main component of a polymer material having a chain having a binding energy of 100 kcal / mol or more as a main chain, and having excellent chemical resistance and tackiness. However, even if an acidic oxidizing agent aqueous solution is used as the polishing liquid 42, it is chemically stable and does not deteriorate. Therefore, peeling is preferable at the interface between the polishing pad 14 and the first double-sided adhesive sheet 16. To be suppressed.

また、本実施例の研磨パッド積層体10によれば、第1基材シート16aの研磨パッド14側に塗布された接着剤16bは、シロキサン結合が主鎖である高分子材料を主成分として構成されたものであることから、100kcal以上の結合エネルギを有する連鎖を主骨格とする高分子材料を主成分として構成されていて、研磨液として酸性酸化剤水溶液が用いられても化学的に安定していて劣化しないので、研磨パッド14と第1両面接着シート16との界面で剥離が好適に抑制される。   Further, according to the polishing pad laminate 10 of the present example, the adhesive 16b applied to the polishing pad 14 side of the first base sheet 16a is composed mainly of a polymer material having a siloxane bond as the main chain. Therefore, it is composed mainly of a polymer material having a main skeleton of a chain having a binding energy of 100 kcal or more, and is chemically stable even when an acidic oxidizer aqueous solution is used as a polishing liquid. Therefore, the peeling is preferably suppressed at the interface between the polishing pad 14 and the first double-sided adhesive sheet 16.

また、本実施例の研磨パッド積層体10によれば、第1両面接着シート16の研磨パッド14側に塗布された接着剤16bは、シリコーン系樹脂接着剤であることから、研磨液として酸性酸化剤水溶液が用いられても化学的に安定していて劣化しないので、研磨パッド14と第1両面接着シート16との界面で剥離が好適に抑制される。   Further, according to the polishing pad laminate 10 of the present embodiment, the adhesive 16b applied to the polishing pad 14 side of the first double-sided adhesive sheet 16 is a silicone resin adhesive, so that it is acidic oxidized as a polishing liquid. Even if an aqueous solution of the agent is used, it is chemically stable and does not deteriorate, so that peeling is suitably suppressed at the interface between the polishing pad 14 and the first double-sided adhesive sheet 16.

また、本実施例の研磨パッド積層体10によれば、研磨定盤12上に接着される研磨パッド積層体10を用いた研磨加工に際しては、研磨液42として酸性酸化剤水溶液が研磨パッド14上に供給されるが、第1両面接着シート16の研磨パッド14側に塗布された接着剤16bは化学的に安定していて劣化しないので、研磨パッド14と第1両面接着シート16との界面で剥離が好適に抑制される。   Further, according to the polishing pad laminate 10 of the present embodiment, an acidic oxidizer aqueous solution is used as the polishing liquid 42 on the polishing pad 14 during polishing using the polishing pad laminate 10 bonded to the polishing surface plate 12. However, since the adhesive 16b applied to the polishing pad 14 side of the first double-sided adhesive sheet 16 is chemically stable and does not deteriorate, at the interface between the polishing pad 14 and the first double-sided adhesive sheet 16 Peeling is suitably suppressed.

また、本実施例の研磨パッド積層体10は、第1基材シート16aの両面のうちの少なくとも研磨パッド14側に接着剤16bが塗布された第1両面接着シート(面接着シート)16を含み、第1基材シート16aの両面のうちの研磨パッド14側に塗布された接着剤16bが研磨パッド14に接触する接着層であることから、第1両面接着シート16を用いることで、容易に研磨パッド積層体10の組み立てを行なうことができる。   Further, the polishing pad laminate 10 of the present embodiment includes a first double-sided adhesive sheet (surface adhesive sheet) 16 in which an adhesive 16b is applied to at least the polishing pad 14 side of both surfaces of the first base material sheet 16a. Since the adhesive 16b applied to the polishing pad 14 side of both surfaces of the first base sheet 16a is an adhesive layer that contacts the polishing pad 14, the first double-sided adhesive sheet 16 can be used easily. The polishing pad laminate 10 can be assembled.

また、本実施例の研磨パッド積層体10は、研磨定盤12の上に接着される、第2基材シート20aの両面に塗布された接着剤20bおよび20cと第2基材シート20aとを有する第2両面接着シート20と、クッション層18と、第1基材シート16aの両面に塗布された接着剤16bおよび16cと第1基材シート16aとを有する第1両面接着シート16と、研磨パッド14とが、順に積層されたものであり、第1基材シート16aの両面のうち研磨パッド14側の面に塗布された接着剤16bが、研磨パッド14と接触する接着層である。このことから、第2両面接着シート20および第1両面接着シート16を用いることで、容易に研磨パッド積層体10の組み立てを行なうことができる。また、第2両面接着シート20と第1両面接着シート26との間にクッション層18を介在させることで、研磨面の平坦化および表面平滑化を両立させることができる。   In addition, the polishing pad laminate 10 of this example includes the adhesives 20b and 20c applied to both surfaces of the second base sheet 20a and the second base sheet 20a, which are bonded onto the polishing surface plate 12. A first double-sided adhesive sheet 16 having a second double-sided adhesive sheet 20, a cushion layer 18, adhesives 16b and 16c applied to both sides of the first base sheet 16a, and a first base sheet 16a, and polishing The pad 14 is laminated in order, and the adhesive 16b applied to the surface on the polishing pad 14 side of both surfaces of the first base material sheet 16a is an adhesive layer in contact with the polishing pad 14. Accordingly, the polishing pad laminate 10 can be easily assembled by using the second double-sided adhesive sheet 20 and the first double-sided adhesive sheet 16. Further, by interposing the cushion layer 18 between the second double-sided adhesive sheet 20 and the first double-sided adhesive sheet 26, it is possible to achieve both flattening and smoothing of the polished surface.

以下において、本発明の他の実施例を説明する。なお、以下の説明において前述の実施例と共通する部分には同一の符号を付して説明を省略する。   In the following, another embodiment of the present invention will be described. In the following description, parts common to those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

(実施例2)
図4は、他の実施例の研磨パッド積層体50の断面構成を説明する概略部である。図4において、研磨パッド積層体50は、第2基材シート20aの両面に塗布された接着剤20bおよび20cが塗布された第2両面接着シート20と、クッション層18と、第1基材シート16aの両面に塗布された接着剤16cおよび16dと第1基材シート16aとを有する第1両面接着シート16と、第3基材シート52aの研磨パッド14側の片面に塗布された接着剤52bと第3基材シート52aとを有する片面接着シート52と、研磨パッド14とが、研磨定盤12の上に順に接着されて積層されたものである。本実施例では、第3基材シート52aの研磨パッド14側の片面に塗布された接着剤52bが、研磨パッド14と接触する接着層であるので、実施例1の研磨パッド積層体10における第1両面接着シート16の接着剤16bと同様に、シリコーン系樹脂接着剤から構成されている。また、第3基材シート52aは、たとえばPETフィルムから構成されている。また、本実施例の研磨パッド積層体50では、第1両面接着シート16の第1基材シート16aの研磨パッド14の面に塗布された接着剤16dは、接着剤16cと同様のアクリル系樹脂接着剤である。
(Example 2)
FIG. 4 is a schematic view illustrating a cross-sectional configuration of a polishing pad laminate 50 according to another embodiment. 4, the polishing pad laminate 50 includes a second double-sided adhesive sheet 20 coated with adhesives 20b and 20c applied on both sides of the second base sheet 20a, a cushion layer 18, and a first base sheet. A first double-sided adhesive sheet 16 having adhesives 16c and 16d applied to both sides of 16a and a first base sheet 16a, and an adhesive 52b applied to one side of the third base sheet 52a on the polishing pad 14 side The single-sided adhesive sheet 52 having the third base material sheet 52a and the polishing pad 14 are sequentially bonded and laminated on the polishing surface plate 12. In the present embodiment, since the adhesive 52b applied to one surface of the third base sheet 52a on the polishing pad 14 side is an adhesive layer that comes into contact with the polishing pad 14, the second adhesive in the polishing pad laminate 10 of the first embodiment. Similar to the adhesive 16b of the one-sided adhesive sheet 16, it is made of a silicone resin adhesive. Moreover, the 3rd base material sheet 52a is comprised, for example from the PET film. In the polishing pad laminate 50 of the present embodiment, the adhesive 16d applied to the surface of the polishing pad 14 of the first base sheet 16a of the first double-sided adhesive sheet 16 is the same acrylic resin as the adhesive 16c. It is an adhesive.

本実施例の研磨パッド積層体50によれば、研磨パッド14の下側には、100kcal/mol以上の結合エネルギを有する連鎖を主鎖とする高分子材料すなわちシロキサン結合を主骨格とする高分子が主成分とするシリコーン系樹脂接着剤から構成され、耐薬品性およびタック性に優れている接着剤52bが、位置していることから、前述の実施例と同様に、研磨液42として酸性酸化剤水溶液が用いられても化学的に安定していて劣化しないので、研磨パッド14と第1両面接着シート16との界面で剥離が好適に抑制される。   According to the polishing pad laminate 50 of this example, a polymer material having a chain having a bond energy of 100 kcal / mol or more, that is, a polymer having a siloxane bond as a main skeleton, below the polishing pad 14. Since the adhesive 52b, which is composed of a silicone resin adhesive having a main component and is excellent in chemical resistance and tackiness, is located, as in the above-described embodiment, the acidic oxidation is used as the polishing liquid 42. Even if an aqueous solution of the agent is used, it is chemically stable and does not deteriorate, so that peeling is suitably suppressed at the interface between the polishing pad 14 and the first double-sided adhesive sheet 16.

因みに、図5、図6、図7は、従来の研磨パッド積層体60、70、80を示している。図5に示す研磨パッド積層体60は、第1基材シート16aの両面に接着剤16cおよび16dが塗布された第1両面接着シート16と、研磨パッド14とが、研磨定盤12の上に順に接着されて積層されたものである。この研磨パッド積層体60では、第1両面接着シート16の第1基材シート16aの研磨パッド14の面に塗布された接着剤16dは、接着剤16cと同様のアクリル系樹脂接着剤である。   5, 6, and 7 show conventional polishing pad laminates 60, 70, and 80. In the polishing pad laminate 60 shown in FIG. 5, the first double-sided adhesive sheet 16 in which adhesives 16 c and 16 d are applied to both surfaces of the first base sheet 16 a and the polishing pad 14 are disposed on the polishing surface plate 12. They are bonded and laminated in order. In this polishing pad laminate 60, the adhesive 16d applied to the surface of the polishing pad 14 of the first base sheet 16a of the first double-sided adhesive sheet 16 is an acrylic resin adhesive similar to the adhesive 16c.

図6に示す研磨パッド積層体70は、第2基材シート20aの両面に接着剤20bおよび20cが塗布された第2両面接着シート20と、クッション層18と、第1基材シート16aの両面に接着剤16cおよび16dが塗布された第1両面接着シート16と、研磨パッド14とが、研磨定盤12の上に順に接着されて積層されたものである。この研磨パッド積層体70においても、第1両面接着シート16の第1基材シート16aの研磨パッド14の面に塗布された接着剤16dは、接着剤16cと同様のアクリル系樹脂接着剤である。   The polishing pad laminate 70 shown in FIG. 6 includes a second double-sided adhesive sheet 20 in which adhesives 20b and 20c are applied to both sides of the second base sheet 20a, the cushion layer 18, and both sides of the first base sheet 16a. A first double-sided adhesive sheet 16 coated with adhesives 16c and 16d and a polishing pad 14 are sequentially bonded and laminated on the polishing surface plate 12. Also in this polishing pad laminate 70, the adhesive 16d applied to the surface of the polishing pad 14 of the first base sheet 16a of the first double-sided adhesive sheet 16 is an acrylic resin adhesive similar to the adhesive 16c. .

図7に示す研磨パッド積層体80は、第2基材シート20aの両面に接着剤20bおよび20cが塗布された第2両面接着シート20と、クッション層18と、第1基材シート16aの両面に接着剤16cおよび16dが塗布された第1両面接着シート16と、ウレタン系シート状ホットメルト接着剤82とが、研磨定盤12の上に順に接着されて積層されたものである。   The polishing pad laminate 80 shown in FIG. 7 includes a second double-sided adhesive sheet 20 in which adhesives 20b and 20c are applied to both sides of the second base sheet 20a, a cushion layer 18, and both sides of the first base sheet 16a. The first double-sided adhesive sheet 16 coated with the adhesives 16c and 16d and the urethane-based hot melt adhesive 82 are sequentially adhered and laminated on the polishing surface plate 12.

上記従来の研磨パッド積層体60、70、80は、いずれも、研磨パッド14の下側には、100kcal/mol以上の結合エネルギを有する連鎖を主鎖とする高分子材料すなわちシロキサン結合を主骨格とする高分子が主成分とするシリコーン系樹脂接着剤から構成され、耐薬品性およびタック性に優れている接着剤層が設けられていないので、酸性酸化剤水溶液を研磨液42として用いるCMP法の研磨加工において、研磨パッド14の剥離の発生が避けられなかった。   Each of the conventional polishing pad laminates 60, 70, 80 has a polymer structure having a chain having a bond energy of 100 kcal / mol or more, that is, a siloxane bond as a main skeleton on the lower side of the polishing pad 14. CMP method using an aqueous solution of an acidic oxidant as the polishing liquid 42 because an adhesive layer having a high chemical resistance and tackiness is not provided. In this polishing process, the occurrence of peeling of the polishing pad 14 was inevitable.

以上、本発明の好適な実施例を図面に基づいて詳細に説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、更に別の態様においても実施される。   The preferred embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to these embodiments, and may be implemented in other modes.

たとえば、前述の実施例では、研磨パッド14の下側には、シリコーン系樹脂接着剤16b、52bが第1両面接着シート16、片面接着シート52の一部として配置されていたが、単独の層として配置されていてもよい。   For example, in the above-described embodiment, the silicone-based resin adhesives 16b and 52b are disposed as a part of the first double-sided adhesive sheet 16 and the single-sided adhesive sheet 52 on the lower side of the polishing pad 14. It may be arranged as.

また、前述の実施例においては、研磨パッド積層体10、50は、被研磨体であるSiウェハ、SiCウェハなどの半導体ウェハ34の一面全体の研磨加工に用いられていたが、本発明の研磨パッド積層体10、50は、たとえば半導体ウェハ34の外周端面、パターン付き半導体ウェハの裏面、各種電子デバイス用ガラス基板の研磨加工などに用いられてもよい。すなわち、このような被研磨体であっても本発明の効果を享受し得るものであれば被研磨体の種類は問わない。   In the above-described embodiment, the polishing pad laminates 10 and 50 are used for polishing the entire surface of the semiconductor wafer 34 such as a Si wafer or a SiC wafer, which is the object to be polished. Pad laminates 10 and 50 may be used, for example, for polishing the outer peripheral end surface of semiconductor wafer 34, the back surface of a semiconductor wafer with a pattern, and glass substrates for various electronic devices. That is, even if it is such a to-be-polished object, the kind of to-be-polished object will not be ask | required if the effect of this invention can be enjoyed.

なお、上述したのはあくまでも一実施形態であり、その他一々例示はしないが、本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で当業者の知識に基づいて種々変更、改良を加えた態様で実施することができる。   It should be noted that the above description is merely an embodiment, and other examples are not illustrated. However, the present invention is implemented in variously modified and improved modes based on the knowledge of those skilled in the art without departing from the spirit of the present invention. Can do.

10、50:研磨パッド積層体
12 :研磨定盤
14 :研磨パッド
14a:母材樹脂
14b:連通気孔
14c:研磨粒子
16 :第1両面接着シート
16b、52b:シリコーン系樹脂接着剤(接着剤、接着層)
18 :クッション層
20 :第2両面接着シート
42 :酸性酸化剤水溶液
52 :片面接着シート
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10, 50: Polishing pad laminated body 12: Polishing surface plate 14: Polishing pad 14a: Base material resin 14b: Continuous ventilation hole 14c: Polishing particle 16: 1st double-sided adhesive sheet 16b, 52b: Silicone resin adhesive (adhesive, Adhesive layer)
18: Cushion layer 20: Second double-sided adhesive sheet 42: Acidic oxidizer aqueous solution 52: Single-sided adhesive sheet

Claims (6)

母材樹脂内の連通気孔内に多数の研磨粒子が内包された研磨パッドを最上層として含む複数の層が複数の接着層を介して積層されて研磨定盤上に接着される研磨パッド積層体であって、
前記複数の接着層のうち前記研磨パッドと接触する接着層に用いられる接着剤は、100kcal/mol以上の結合エネルギを有する連鎖を主鎖とする高分子材料を主成分として含む
ことを特徴とする研磨パッド積層体。
A polishing pad laminate in which a plurality of layers including a polishing pad containing a large number of abrasive particles in a continuous vent hole in a base material resin as the uppermost layer are laminated via a plurality of adhesive layers and adhered onto a polishing surface plate Because
The adhesive used for the adhesive layer in contact with the polishing pad among the plurality of adhesive layers contains, as a main component, a polymer material having a chain having a binding energy of 100 kcal / mol or more as a main chain. Polishing pad laminate.
前記研磨パッドと接触する接着層に用いられる接着剤は、シロキサン結合が主鎖である高分子材料を主成分として構成されたものである
ことを特徴とする請求項1の研磨パッド積層体。
The polishing pad laminate according to claim 1, wherein the adhesive used for the adhesive layer in contact with the polishing pad is composed mainly of a polymer material having a siloxane bond as a main chain.
前記研磨パッドと接触する接着層に用いられる接着剤は、シリコーン系樹脂接着剤から構成されたものである
ことを特徴とする請求項1または2の研磨パッド積層体。
3. The polishing pad laminate according to claim 1, wherein the adhesive used for the adhesive layer in contact with the polishing pad is composed of a silicone-based resin adhesive.
前記研磨定盤上に接着される前記研磨パッド積層体を用いた研磨加工に際しては、酸性酸化剤水溶液が前記研磨パッド上に供給される
ことを特徴とする請求項1から3のいずれか1の研磨パッド積層体。
The acidic oxidizer aqueous solution is supplied onto the polishing pad during polishing using the polishing pad laminate bonded onto the polishing surface plate. 4. Polishing pad laminate.
前記研磨パッド積層体は、第2基材シートと前記第2基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第2両面接着シートと、クッション層と、第1基材シートと前記第1基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第1両面接着シートと、前記研磨パッドとが、前記研磨定盤の上に順に積層されたものであり、
前記第1基材シートの両面のうち前記研磨パッド側の面に塗布された接着剤が、前記研磨パッドと接触する接着層である
ことを特徴とする請求項1から4のいずれか1の研磨パッド積層体。
The polishing pad laminate includes a second double-sided adhesive sheet having a second base material sheet and an adhesive applied to both surfaces of the second base material sheet, a cushion layer, a first base material sheet, and the first base material sheet. A first double-sided adhesive sheet having an adhesive applied to both sides of a base sheet, and the polishing pad are sequentially laminated on the polishing surface plate;
The polishing according to any one of claims 1 to 4, wherein the adhesive applied to the surface on the polishing pad side of both surfaces of the first base sheet is an adhesive layer in contact with the polishing pad. Pad laminate.
前記研磨パッド積層体は、第2基材シートと前記第2基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第2両面接着シートと、クッション層と、第1基材シートと前記第1基材シートの両面に塗布された接着剤とを有する第1両面接着シートと、第3基材シートと前記第3基材シートの前記研磨パッド側の片面に塗布された接着剤とを有する片面接着シートと、前記研磨パッドとが、前記研磨定盤の上に順に積層されたものであり、
前記第3基材シートの前記研磨パッド側の片面に塗布された接着剤が、前記研磨パッドと接触する接着層である
ことを特徴とする請求項1から4のいずれか1の研磨パッド積層体。
The polishing pad laminate includes a second double-sided adhesive sheet having a second base material sheet and an adhesive applied to both surfaces of the second base material sheet, a cushion layer, a first base material sheet, and the first base material sheet. One side having a first double-sided adhesive sheet having an adhesive applied to both sides of the base sheet, a third base sheet and an adhesive applied to one side of the third base sheet on the polishing pad side The adhesive sheet and the polishing pad are laminated in order on the polishing surface plate,
The polishing pad laminate according to any one of claims 1 to 4, wherein the adhesive applied to one surface of the third base sheet on the polishing pad side is an adhesive layer in contact with the polishing pad. .
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