JP2019144138A - Eddy current type metal sensor and method for detecting eddy current - Google Patents

Eddy current type metal sensor and method for detecting eddy current Download PDF

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Abstract

To provide an eddy current type metal sensor which can accurately detect an eddy current of a detection target object of metal and the presence of metal and also can measure the distance to the metal in spite of the small size and the simple configuration of the sensor, and a method for detecting an eddy current which can be used to precisely detect an eddy current of a detection target object of metal.SOLUTION: The present invention includes; a first oscillation circuit 6 for oscillating with a first coil 1 therein; a second oscillation circuit 7 for oscillating with a second coil 2 therein; a measurement unit 41 for measuring the respective oscillation frequencies in the first oscillation circuit 6 and in the second oscillation circuit 7; an adjusting unit for adjusting at least one of the time it takes for the measurement unit to measure the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit and the time it takes for the measurement unit to measure the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit; a calculation unit 43 for calculating the difference between the oscillation frequencies obtained by the measurement unit 41; and a converter 44 for converting the difference calculated by the calculation unit 43 into the eddy current of the detection target object.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、金属からなる被検出物の渦電流を検出する渦電流式金属センサ及び渦電流検出方法に関する。   The present invention relates to an eddy current type metal sensor and an eddy current detection method for detecting an eddy current of a detection object made of metal.

金属からなる被検出物に対して、該被検出物に生じる渦電流を利用して、種々の検出・検知処理を行う装置が提案されている(特許文献1−3)。   There has been proposed an apparatus for performing various detection / detection processes on a detection object made of metal using an eddy current generated in the detection object (Patent Documents 1-3).

特許文献1には、回転体と一体に回転する突起部の通過を検出する渦電流式のセンサを設け、センサのコイルで発生する磁界の変化に基づいて回転体の回転数を検出する装置が開示されている。特許文献2には、コイルに高周波電流を流し、近接する金属に発生する渦電流によるコイルのインピーダンスの変化から、金属の有無を検知する渦電流式変位センサが開示されている。特許文献3には、渦電流センサを用いて、摩擦材に異物として混入されている金属を検知する装置が開示されている。   Patent Document 1 includes an eddy current type sensor that detects the passage of a protrusion that rotates integrally with a rotating body, and an apparatus that detects the number of rotations of the rotating body based on a change in a magnetic field generated by a coil of the sensor. It is disclosed. Patent Document 2 discloses an eddy current type displacement sensor that detects the presence or absence of metal from a change in impedance of a coil caused by an eddy current generated in an adjacent metal by passing a high-frequency current through the coil. Patent Document 3 discloses an apparatus for detecting a metal mixed as a foreign material in a friction material using an eddy current sensor.

特開2016−8929号公報JP 2006-8929 A 特開平8−271204号公報JP-A-8-271204 特開2014−130075号公報JP 2014-130075 A

渦電流式センサにあって、コイルを単体で使用する場合には、渦電流の検出精度が低くなる問題があり、また、温度等の外部環境による検出結果の変動が大きいという問題もある。そして、正確な渦電流が検出できないことにより、検出した渦電流に基づいた金属の検知も精度良く行えなくなる。   In the eddy current sensor, when the coil is used alone, there is a problem that the detection accuracy of the eddy current is lowered, and there is a problem that the detection result varies greatly due to the external environment such as temperature. In addition, since an accurate eddy current cannot be detected, metal detection based on the detected eddy current cannot be performed with high accuracy.

本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、小型かつ簡単な構成であっても、外部環境の影響を受けることなく、金属からなる被検出物の渦電流を正確に検出して、金属の有無の検知、金属までの距離の測定などを高精度に行える渦電流式金属センサ、及び、金属からなる被検出物の渦電流を正確に検出できる渦電流検出方法等を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and even in a small and simple configuration, without being affected by the external environment, accurately detecting the eddy current of a detection object made of metal, To provide an eddy current type metal sensor capable of detecting the presence / absence of metal, measuring the distance to the metal with high accuracy, and an eddy current detection method capable of accurately detecting an eddy current of a detection object made of metal. Objective.

本発明に係る渦電流式金属センサは、金属からなる被検出物の渦電流を検出する渦電流式金属センサにおいて、第1コイルを含んで発振する第1発振回路と、第2コイルを含んで発振する第2発振回路と、前記第1発振回路及び第2発振回路夫々における発振パルス数を計測する計測部と、前記計測部による前記第1発振回路における発振パルス数の計測時間、及び、前記計測部による前記第2発振回路における発振パルス数の計測時間の少なくとも一方を調整する調整部と、該計測部にて計測した発振パルス数の差分を算出する算出部と、該算出部にて算出した差分を前記被検出物の渦電流に変換する変換部とを備えることを特徴とする。   An eddy current type metal sensor according to the present invention includes a first oscillation circuit that oscillates including a first coil and a second coil in an eddy current type metal sensor that detects an eddy current of a detection object made of metal. A second oscillation circuit that oscillates, a measurement unit that measures the number of oscillation pulses in each of the first oscillation circuit and the second oscillation circuit, a measurement time of the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit by the measurement unit, and An adjustment unit that adjusts at least one of the measurement times of the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit by the measurement unit, a calculation unit that calculates a difference in the number of oscillation pulses measured by the measurement unit, and a calculation by the calculation unit And a conversion unit that converts the difference obtained into the eddy current of the object to be detected.

本発明において発振パルス数とは、夫々の発振回路において発振したそれぞれ発振周波数における定められた計測時間内のパルス数を言う。よって計測時間が同じであれば発振パルス数の差は発振周波数の差と同義ととらえることができる。   In the present invention, the number of oscillation pulses means the number of pulses within a predetermined measurement time at each oscillation frequency oscillated in each oscillation circuit. Therefore, if the measurement time is the same, the difference in the number of oscillation pulses can be regarded as synonymous with the difference in oscillation frequency.

本発明の渦電流式金属センサにあっては、被検出物の近傍に配した第1コイルを含む第1発振回路の発振パルス数と、被検出物の近傍に第1コイルとは被検出物への距離を異ならせて配した第2コイルを含む第2発振回路の発振パルス数とを、計測部で計測する。算出部は、計測部が計測した両発振パルスの差分を算出し、変換部は、算出部が算出した差分を被検出物の渦電流に変換する。被検出物の渦電流が大きくなるとコイルのインダクタンスが減って、そのコイルを含む発振回路の発振パルス数は増加する。ここで、被検出物に近い方のコイルは渦電流の変化に応じたインダクタンスの変化量が大きくなるので、発振回路での発振パルス数の変動も大きくなる。よって、被検出物からの距離を異ならせて配した2つのコイルを用いて、夫々の発振回路による発振パルス数の差分から渦電流を検出することができる。また、検出した渦電流に基づいて、被検出物の有無の検知、被検出物までの距離の測定などを行うことができる。   In the eddy current type metal sensor of the present invention, the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit including the first coil arranged in the vicinity of the detected object and the first coil in the vicinity of the detected object are the detected object. The number of oscillation pulses of the second oscillation circuit including the second coil arranged with different distances to is measured by the measurement unit. The calculation unit calculates a difference between both oscillation pulses measured by the measurement unit, and the conversion unit converts the difference calculated by the calculation unit into an eddy current of the detected object. When the eddy current of the object to be detected increases, the inductance of the coil decreases, and the number of oscillation pulses of the oscillation circuit including the coil increases. Here, since the amount of change in inductance corresponding to the change in eddy current increases in the coil closer to the object to be detected, the fluctuation in the number of oscillation pulses in the oscillation circuit also increases. Therefore, the eddy current can be detected from the difference in the number of oscillation pulses by each oscillation circuit using two coils arranged at different distances from the object to be detected. Further, based on the detected eddy current, it is possible to detect the presence or absence of the detection object, measure the distance to the detection object, and the like.

ここで、第1発振回路の発振パルス数を計測した第1計測時間と第2発振回路の発振パルス数を計測した第2計測時間との少なくとも一方を、調整部により調整しておく。具体的には、被検出物からの距離が第2コイルより第1コイルの方が短い場合、第1コイルのインダクタンスは第2コイルのインダクタンスより大きくなって、第1発振回路の発振パルス数が第2発振回路の発振パルス数より小さくなるため、第1計測時間が第2計測時間より相対的に長くなるように調整し発振パルス数が同じになるように調整しておく。このような調整を行っておくことにより、実際の検出時における温度変動の影響が少なくなる。   Here, at least one of the first measurement time for measuring the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit and the second measurement time for measuring the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit is adjusted by the adjustment unit. Specifically, when the distance from the object to be detected is shorter in the first coil than in the second coil, the inductance of the first coil is larger than the inductance of the second coil, and the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit is Since the number is smaller than the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit, the first measurement time is adjusted to be relatively longer than the second measurement time, and the number of oscillation pulses is adjusted to be the same. By performing such adjustment, the influence of temperature fluctuation during actual detection is reduced.

この際、2つのコイルとして、基板へのパターニング印刷により形成されたコイルなどの扁平コイルを使用でき、構成は小型化する。扁平コイル等、インダクタンスが小さいコイルの場合には発振周波数が高い(一定時間内のパルス数が多い)。結果としてコンピュータの一定時間内のクロック数が発振パルス数より少ないので、発振パルス数測定の場合には同じ分解能を得るための測定時間を短くし、さらに測定時間を一定とすることができる。   At this time, a flat coil such as a coil formed by patterning printing on the substrate can be used as the two coils, and the configuration is downsized. In the case of a coil having a small inductance, such as a flat coil, the oscillation frequency is high (the number of pulses in a certain time is large). As a result, since the number of clocks within a certain time of the computer is less than the number of oscillation pulses, in the case of measuring the number of oscillation pulses, the measurement time for obtaining the same resolution can be shortened and the measurement time can be made constant.

また、発振パルス数の計測、発振パルス数の差分の算出、差分から渦電流への変換の一連の処理を、マイクロコンピュータなどを用いてソフトウェアにて行えて部品点数を削減できるとともに、部品における特性のばらつきを受けることが少なく、検出精度は高い。   In addition, a series of processes for measuring the number of oscillation pulses, calculating the difference between the oscillation pulses, and converting the difference to eddy current can be performed by software using a microcomputer, etc., and the number of parts can be reduced. The detection accuracy is high.

本発明に係る渦電流式金属センサは、前記計測部は、前記第1発振回路における発振パルス数と、前記第2発振回路における発振パルス数とを交互に計測するように構成してあることを特徴とする。   In the eddy current type metal sensor according to the present invention, the measurement unit is configured to alternately measure the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit and the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit. Features.

本発明の渦電流式金属センサにあっては、第1発振回路における発振パルス数の計測と、第2発振回路における発振パルス数の計測とを、切り替えながら交互に行う。よって、一方の発振回路における発振パルス数の計測時に、他方の発振回路は発振していないので、一方の発振回路における発振パルス数の計測値は、他方の発振回路の発振の影響を受けない。したがって、両発振回路における正確な発振パルス数を計測でき、渦電流の検出精度は高い。   In the eddy current type metal sensor of the present invention, the measurement of the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit and the measurement of the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit are alternately performed while switching. Therefore, when the number of oscillation pulses in one oscillation circuit is measured, the other oscillation circuit is not oscillating, so the measurement value of the number of oscillation pulses in one oscillation circuit is not affected by the oscillation of the other oscillation circuit. Therefore, the exact number of oscillation pulses in both oscillation circuits can be measured, and the eddy current detection accuracy is high.

本発明に係る渦電流式金属センサは、前記第1コイル及び第2コイルは、同軸状に配されていることを特徴とする。   The eddy current type metal sensor according to the present invention is characterized in that the first coil and the second coil are arranged coaxially.

本発明の渦電流式金属センサにあっては、第1コイル及び第2コイルが同軸状に配されている。よって、コイルの配置に要する面積は小さくて済み、渦電流式金属センサの小型化を図れる。   In the eddy current type metal sensor of the present invention, the first coil and the second coil are arranged coaxially. Therefore, the area required for arranging the coils is small, and the eddy current type metal sensor can be miniaturized.

本発明に係る渦電流式金属センサは、前記第1発振回路及び第2発振回路の構成部材は、前記第1コイル及び第2コイルを除いて共通であることを特徴とする。   The eddy current type metal sensor according to the present invention is characterized in that components of the first oscillation circuit and the second oscillation circuit are common except for the first coil and the second coil.

本発明の渦電流式金属センサにあっては、第1発振回路と第2発振回路とにおいて、第1コイル及び第2コイルを除く他の構成部材は共通としている。よって、第1発振回路及び第2発振回路夫々で計測される発振パルス数は、コイル以外の異なる構成部材による特性のばらつきの影響を受けず、正確な値が計測される。よって、渦電流の検出精度は高い。   In the eddy current type metal sensor of the present invention, in the first oscillation circuit and the second oscillation circuit, the other components except the first coil and the second coil are common. Therefore, the number of oscillation pulses measured by each of the first oscillation circuit and the second oscillation circuit is not affected by characteristic variations caused by different constituent members other than the coil, and an accurate value is measured. Therefore, the detection accuracy of eddy current is high.

本発明に係る渦電流式金属センサは、その一面に前記第1コイルが配され、その他面に前記第2コイルが配されている基板を備えることを特徴とする。   The eddy current type metal sensor according to the present invention includes a substrate on which the first coil is disposed on one surface and the second coil is disposed on the other surface.

本発明の渦電流式金属センサにあっては、基板の一面に第1コイルが形成され、基板の他面に第2コイルが形成されている。よって、簡単な構成にて、第1コイル及び第2コイルの同軸状配置を実現できる。   In the eddy current type metal sensor of the present invention, the first coil is formed on one surface of the substrate, and the second coil is formed on the other surface of the substrate. Therefore, the coaxial arrangement of the first coil and the second coil can be realized with a simple configuration.

本発明に係る渦電流検出方法は、金属からなる被検出物の渦電流を検出する渦電流検出方法において、前記被検出物からの距離が互いに異なる第1コイル及び第2コイルを含む組コイルを配置し、前記第1コイルを含んで発振する第1発振回路の発振パルス数、及び、前記第2コイルを含んで発振する第2発振回路の発振パルス数を夫々計測し、前記第1発振回路の発振パルス数を計測する第1計測時間、及び、前記第2発振回路の発振パルス数を計測する第2計測時間の少なくとも一方を調整し、計測した発振パルス数の差分を算出し、算出した差分を前記被検出物の渦電流に変換することを特徴とする。   An eddy current detection method according to the present invention is an eddy current detection method for detecting an eddy current of an object to be detected made of metal, wherein an assembled coil including a first coil and a second coil having different distances from the object to be detected is provided. The first oscillation circuit is arranged to measure the number of oscillation pulses of a first oscillation circuit that oscillates including the first coil and the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit that oscillates including the second coil. And adjusting at least one of a first measurement time for measuring the number of oscillation pulses and a second measurement time for measuring the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit, and calculating a difference between the measured number of oscillation pulses. The difference is converted into an eddy current of the detected object.

本発明にあっては、2つのコイル(第1コイルと第2コイルと)を用いて、夫々の発振回路による発振パルス数の差分から渦電流を検出し、検出した渦電流に基づいて、被検出物の有無の検知、被検出物までの距離の測定などを行うことができる。   In the present invention, the eddy current is detected from the difference in the number of oscillation pulses by the respective oscillation circuits using the two coils (the first coil and the second coil), and based on the detected eddy current, Detection of the presence or absence of a detection object, measurement of the distance to the detection object, and the like can be performed.

本発明に係る渦電流検出方法は、前記第2コイルの前記被検出物からの距離が前記第1コイルの前記被検出物からの距離より短い場合に、前記第2計測時間が前記第1計測時間より相対的に長くなるように前記第1計測時間及び前記第2計測時間の少なくとも一方を調整することを特徴とする。   In the eddy current detection method according to the present invention, when the distance of the second coil from the object to be detected is shorter than the distance of the first coil from the object to be detected, the second measurement time is the first measurement time. At least one of the first measurement time and the second measurement time is adjusted so as to be relatively longer than the time.

本発明にあっては、第1計測時間が第2計測時間より相対的に長くなるように調整し発振パルス数が同じになるように調整しておく。このような調整を行っておくことにより、実際の検出時における温度変動の影響が少なくなる。   In the present invention, the first measurement time is adjusted to be relatively longer than the second measurement time, and the number of oscillation pulses is adjusted to be the same. By performing such adjustment, the influence of temperature fluctuation during actual detection is reduced.

本発明に係る渦電流式金属センサは、金属からなる被検出物の渦電流を検出する渦電流式金属センサにおいて、前記被検出物の渦電流によりインダクタンスが変化する第1コイルを含んで発振する第1発振回路と、前記被検出物の渦電流によりインダクタンスが変化する第2コイルを含んで発振する第2発振回路と、前記第1発振回路及び第2発振回路夫々における発振パルス数を計測する計測部と、前記計測部による前記第1発振回路における発振パルス数が所定値となるように計測時間を調整する第1調整部と、前記第1調整部で調整した前記第1発振回路における発振パルス数の計測時間、及び、前記第2発振回路における発振パルス数の計測時間の少なくとも一方を、所定の環境下にて計測したそれぞれの発振パルス数に基づいて調整する第2調整部と、前記第1調整部及び前記第2調整部による調整後の計測時間で、前記計測部にて計測した発振パルス数の差分を算出する算出部と、前記算出部にて算出した差分を前記被検出物の渦電流に変換する変換部とを備えることを特徴とする。   An eddy current type metal sensor according to the present invention is an eddy current type metal sensor that detects an eddy current of an object made of metal, and oscillates by including a first coil whose inductance changes due to the eddy current of the object to be detected. The first oscillation circuit, the second oscillation circuit that oscillates including the second coil whose inductance changes due to the eddy current of the object to be detected, and the number of oscillation pulses in each of the first oscillation circuit and the second oscillation circuit are measured. A measurement unit; a first adjustment unit that adjusts a measurement time so that the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit by the measurement unit becomes a predetermined value; and an oscillation in the first oscillation circuit that is adjusted by the first adjustment unit. At least one of the measurement time of the number of pulses and the measurement time of the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit is adjusted based on the number of oscillation pulses measured in a predetermined environment. A calculation unit that calculates a difference between the number of oscillation pulses measured by the measurement unit in a measurement time after adjustment by the first adjustment unit and the second adjustment unit, and a calculation unit And a conversion unit that converts the calculated difference into an eddy current of the detected object.

本発明にあっては、2つのコイル(第1コイルと第2コイルと)を用いて、夫々の発振回路による発振パルス数の差分から渦電流を検出し、検出した渦電流に基づいて、被検出物の有無の検知、被検出物までの距離の測定などを行うことができる。   In the present invention, the eddy current is detected from the difference in the number of oscillation pulses by the respective oscillation circuits using the two coils (the first coil and the second coil), and based on the detected eddy current, Detection of the presence or absence of a detection object, measurement of the distance to the detection object, and the like can be performed.

本発明に係る渦電流式金属センサは、前記第2調整部は前記第2発振回路における発振パルス数の計測時間を調整することを特徴とする。   In the eddy current type metal sensor according to the present invention, the second adjustment unit adjusts a measurement time of the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit.

本発明にあっては、第1発振回路を基準として動作させることが可能となる。   In the present invention, the first oscillation circuit can be operated as a reference.

本発明に係る渦電流式金属センサは、前記算出部は、前記第1調整部及び前記第2調整部による計測時間の調整後、所定の環境下で、前記計測部にて、前記第1調整部及び前記第2調整部による調整後の計測時間で計測した発振パルス数の差分を算出し、前記算出部が算出した差分により、前記第1発振回路における発振パルス数、及び、前記第2発振回路における発振パルス数の少なくとも一方を調整する第3調整部をさらに備えることを特徴とする。   In the eddy current type metal sensor according to the present invention, the calculation unit adjusts the measurement time by the first adjustment unit and the second adjustment unit, and then adjusts the first adjustment in the measurement unit under a predetermined environment. And the difference between the number of oscillation pulses measured in the measurement time after adjustment by the second adjustment unit and the difference calculated by the calculation unit, the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit and the second oscillation A third adjustment unit that adjusts at least one of the number of oscillation pulses in the circuit is further provided.

本発明にあっては、第1調整部及び第2調整部による調整後の計測時間で計測した発振パルス数の差分を算出し、算出した差分により、第1発振回路における発振パルス数、及び、第2発振回路における発振パルス数の少なくとも一方を調整するので、計測中心とすべき所定の環境下で渦電流の差分を0とすることが可能となる。   In the present invention, the difference between the number of oscillation pulses measured in the measurement time after adjustment by the first adjustment unit and the second adjustment unit is calculated, and the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit is calculated based on the calculated difference, and Since at least one of the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit is adjusted, the difference in eddy current can be set to 0 under a predetermined environment that should be the measurement center.

本発明に係る渦電流式金属センサは、前記第3調整部は前記第2発振回路における発振パルス数を調整することを特徴とする。   In the eddy current type metal sensor according to the present invention, the third adjustment unit adjusts the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit.

本発明にあっては、第1発振回路を基準として動作させることが可能となる。   In the present invention, the first oscillation circuit can be operated as a reference.

本発明は、環境下は基準金属板を用いて、実現することを特徴とする。   The present invention is realized by using a reference metal plate in an environment.

本発明にあっては、基準金属板を用いることにより、所定の渦電流を計測範囲の中心とすることが可能となる。   In the present invention, by using the reference metal plate, a predetermined eddy current can be set at the center of the measurement range.

本発明に係る渦電流検出方法は、検知コイル及び基準コイルを同軸上、又は互いの軸が平行でかつ軸方向で重なるようにした組コイルを配置し、前記基準コイルを含んで発振する基準発振回路の発振パルス数を、予め定めた初期計測時間で計測し、計測した発振パルス数が所定値となるように、前記初期計測時間を調整した第1計測時間を求め、求めた前記第1計測時間と同じ時間を第2計測時間に設定し、基準金属板を検知コイル近傍所定位置に配置した後、前記第1計測時間で前記基準発振回路の発振パルス数、及び前記第2計測時間で前記検知コイルを含んで発振する検知発振回路の発振パルス数をそれぞれ計測し、計測した2つの発振パルス数に基づいて、前記第1計測時間及び前記第2計測時間の少なくとも一方を調整し、前記基準金属板が除かれ前記被検出物が存在する環境下で、前記第1計測時間で前記基準発振回路の発振パルス数、及び前記第2計測時間で前記検知発振回路の発振パルス数をそれぞれ計測し、計測した発振パルス数の差分を算出し、算出した差分を前記被検出物の渦電流に変換することを特徴とする渦電流検出方法。   In the eddy current detection method according to the present invention, the reference coil that oscillates including the reference coil by arranging a set coil in which the detection coil and the reference coil are coaxially arranged so that their axes are parallel and overlap in the axial direction. The number of oscillation pulses of the circuit is measured at a predetermined initial measurement time, and a first measurement time obtained by adjusting the initial measurement time is determined so that the measured number of oscillation pulses becomes a predetermined value. The same time as the time is set as the second measurement time, and after the reference metal plate is disposed at a predetermined position near the detection coil, the number of oscillation pulses of the reference oscillation circuit in the first measurement time, and the second measurement time The number of oscillation pulses of the detection oscillation circuit that oscillates including the detection coil is measured, and at least one of the first measurement time and the second measurement time is adjusted based on the two measured oscillation pulse numbers, In an environment where the metal plate is removed and the object to be detected is present, the number of oscillation pulses of the reference oscillation circuit is measured at the first measurement time, and the number of oscillation pulses of the detection oscillation circuit is measured at the second measurement time. An eddy current detection method comprising: calculating a difference in the number of measured oscillation pulses, and converting the calculated difference into an eddy current of the object to be detected.

本発明にあっては、2つのコイル(第1コイルと第2コイルと)を用いて、夫々の発振回路による発振パルス数の差分から渦電流を検出し、検出した渦電流に基づいて、被検出物の有無の検知、被検出物までの距離の測定などを行うことができる。   In the present invention, the eddy current is detected from the difference in the number of oscillation pulses by the respective oscillation circuits using the two coils (the first coil and the second coil), and based on the detected eddy current, Detection of the presence or absence of a detection object, measurement of the distance to the detection object, and the like can be performed.

本発明に係る渦電流検出方法は、前記第2計測時間を調整することを特徴とする。   The eddy current detection method according to the present invention is characterized in that the second measurement time is adjusted.

本発明にあっては、第1発振回路を基準として動作させることが可能となる。   In the present invention, the first oscillation circuit can be operated as a reference.

本発明では、小型かつ簡単な構成であるにもかかわらず、温度等の外部環境の変動があっても正確に被検出物(金属)の渦電流を検出することができ、渦電流の検出結果に基づいて、金属の有無を正しく検知したり、金属までの距離を高精度に測定したりすることが可能である。   In the present invention, the eddy current of the object to be detected (metal) can be accurately detected even if the external environment such as temperature changes, despite the small and simple structure, and the detection result of the eddy current Based on the above, it is possible to correctly detect the presence or absence of a metal or to measure the distance to the metal with high accuracy.

渦電流式金属センサの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of an eddy current type metal sensor. 渦電流式金属センサの構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of an eddy current type metal sensor. 渦電流式金属センサと被検出物である金属との位置関係を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the positional relationship of an eddy current type metal sensor and the metal which is a to-be-detected object. 渦電流式金属センサの機能構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the function structure of an eddy current type metal sensor. 渦電流式金属センサの一構成例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows one structural example of an eddy current type metal sensor. 渦電流式金属センサの動作を説明するためのタイミングチャートである。It is a timing chart for demonstrating operation | movement of an eddy current type metal sensor. 計測時間調整処理の処理手順例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence example of a measurement time adjustment process. 初期補正処理の処理手順例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence example of an initial correction process. 補正処理の処理手順例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process example of a correction process. 強制補正処理の処理手順例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence example of a forced correction process. 補正処理の補正後から強制補正の処理手順例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence example of a forced correction after the correction | amendment of a correction process. 第1変形例における渦電流式金属センサの構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the eddy current type metal sensor in a 1st modification. 第2変形例における渦電流式金属センサの構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the eddy current type metal sensor in a 2nd modification. 第3変形例における渦電流式金属センサの構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the eddy current type metal sensor in a 3rd modification.

以下、実施の形態を図面に基づき具体的に説明する。図1及び図2は、渦電流式金属センサの構成を示す斜視図及び断面図である。   Hereinafter, embodiments will be specifically described with reference to the drawings. 1 and 2 are a perspective view and a cross-sectional view showing a configuration of an eddy current type metal sensor.

図1及び図2において、10は扁平矩形状の基板である。基板10の一端部の一面(上面)には第1コイル1が形成されている。また、基板10の一端部の他面(下面)には、第1コイル1と同軸をなして、第2コイル2が形成されている(図2参照)。これらの第1コイル1及び第2コイル2は、例えば、基板10への銅箔パターンの印刷により形成される。第1コイル1と第2コイル2とで組コイルを構成する。   1 and 2, reference numeral 10 denotes a flat rectangular substrate. A first coil 1 is formed on one surface (upper surface) of one end portion of the substrate 10. A second coil 2 is formed on the other surface (lower surface) of one end of the substrate 10 so as to be coaxial with the first coil 1 (see FIG. 2). The first coil 1 and the second coil 2 are formed, for example, by printing a copper foil pattern on the substrate 10. The first coil 1 and the second coil 2 constitute an assembled coil.

基板10の他端部の上面には、他端から一部を突出させてコネクタ3が実装されている。基板10の中央部の上面には、後述する各種の処理を行うマイクロコンピュータからなる電子チップ4が実装されている。さらに、電子チップ4の近傍には、回路部品5が実装されている。回路部品5は、第1コイル1又は第2コイル2と発振回路を構成するためのコンデンサなどを含んでいる。本実施の形態の渦電流式金属センサ20は、以上のような構成をなす。   A connector 3 is mounted on the upper surface of the other end portion of the substrate 10 with a part protruding from the other end. On the upper surface of the central portion of the substrate 10, an electronic chip 4 composed of a microcomputer for performing various processes described later is mounted. Further, a circuit component 5 is mounted in the vicinity of the electronic chip 4. The circuit component 5 includes a capacitor for forming an oscillation circuit with the first coil 1 or the second coil 2. The eddy current type metal sensor 20 of the present embodiment is configured as described above.

図3は、本実施の形態の渦電流式金属センサ20と被検出物である金属との位置関係を示す断面図である。基板10の一面(下面)側に、渦電流式金属センサ20と対向して検出対象である金属30が配置されている。この配置例では、第2コイル2が第1コイル1よりも、金属30(被検出物)に近い位置に配されることになる。   FIG. 3 is a cross-sectional view showing the positional relationship between the eddy current type metal sensor 20 of the present embodiment and the metal that is the object to be detected. On one surface (lower surface) side of the substrate 10, a metal 30 to be detected is disposed so as to face the eddy current metal sensor 20. In this arrangement example, the second coil 2 is arranged closer to the metal 30 (object to be detected) than the first coil 1 is.

図4は、渦電流式金属センサ20の機能構成を示すブロック図である。図4において、図1及び図2と同一又は同様な部分には同一の符号を付している。   FIG. 4 is a block diagram showing a functional configuration of the eddy current type metal sensor 20. In FIG. 4, the same or similar parts as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals.

第1コイル1と回路部品5の一部とにより、第1発振回路6が構成されており、第2コイル2と回路部品5の一部とにより、第2発振回路7が構成されている。本実施の形態の渦電流式金属センサ20にあっては、第1発振回路6と第2発振回路7とにおいて、第1コイル1及び第2コイル2を除く他の構成部材は共通としている。よって、第1発振回路6及び第2発振回路7夫々で計測される発振パルス数は、異なる構成部材による特性のばらつきの影響を受けず、正確な値が計測される。よって、金属30の渦電流の検出精度は高い。   The first coil 1 and a part of the circuit component 5 constitute a first oscillation circuit 6, and the second coil 2 and a part of the circuit component 5 constitute a second oscillation circuit 7. In the eddy current type metal sensor 20 of the present embodiment, in the first oscillation circuit 6 and the second oscillation circuit 7, the other constituent members except the first coil 1 and the second coil 2 are common. Therefore, the number of oscillation pulses measured by each of the first oscillation circuit 6 and the second oscillation circuit 7 is not affected by variations in characteristics due to different constituent members, and an accurate value is measured. Therefore, the detection accuracy of the eddy current of the metal 30 is high.

また、電子チップ4は、第1発振回路6及び第2発振回路7夫々における発振パルス数を計測する計測部41と、計測部41での第1発振回路6における発振パルス数の計測時間(第1計測時間)及び第2発振回路7における発振パルス数の計測時間(第2計測時間)の少なくとも一方を調整する調整部(第1調整部、第2調整部、第3調整部)42と、計測部41で計測した発振パルス数の差分を算出する算出部43と、算出部43にて算出した差分を金属30(被検出物)の渦電流に変換する変換部44とを機能的に有している。   In addition, the electronic chip 4 includes a measuring unit 41 that measures the number of oscillation pulses in each of the first oscillation circuit 6 and the second oscillation circuit 7, and a measurement time (first time) of the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit 6 in the measurement unit 41. Adjustment unit (first adjustment unit, second adjustment unit, third adjustment unit) 42 for adjusting at least one of the measurement time (second measurement time) of the oscillation pulse number in the second oscillation circuit 7; A calculation unit 43 that calculates the difference in the number of oscillation pulses measured by the measurement unit 41 and a conversion unit 44 that converts the difference calculated by the calculation unit 43 into an eddy current of the metal 30 (detected object) are functionally provided. doing.

図5は、渦電流式金属センサ20の一構成例を示す回路図である。図5において、コイルL1及びコイルL2は夫々、前述した第1コイル1及び第2コイル2に該当する。また、マイクロコンピュータU1は、前述した電子チップ4に相当する。   FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration example of the eddy current type metal sensor 20. In FIG. 5, the coil L1 and the coil L2 correspond to the first coil 1 and the second coil 2 described above, respectively. The microcomputer U1 corresponds to the electronic chip 4 described above.

コイルL1の一端は、マイクロコンピュータU1の第6端子に接続され、コイルL2の一端は、マイクロコンピュータU1の第3端子に接続されている。コイルL1の他端及びコイルL2の他端はコンデンサC1を介してトランジスタQ1のベースに接続されている。トランジスタQ1のベース、コレクタ間には抵抗R2が設けられ、トランジスタQ1のベース、エミッタ間にはコンデンサC2が設けられている。トランジスタQ1のコレクタは、マイクロコンピュータU1の第2端子に接続されているとともに、抵抗R3を介して接地されている。   One end of the coil L1 is connected to the sixth terminal of the microcomputer U1, and one end of the coil L2 is connected to the third terminal of the microcomputer U1. The other end of the coil L1 and the other end of the coil L2 are connected to the base of the transistor Q1 via the capacitor C1. A resistor R2 is provided between the base and collector of the transistor Q1, and a capacitor C2 is provided between the base and emitter of the transistor Q1. The collector of the transistor Q1 is connected to the second terminal of the microcomputer U1 and is grounded through the resistor R3.

マイクロコンピュータU1の第1端子には、電源電圧Vddの入力端子が接続されている。電源電圧Vddの入力端子は、抵抗R1を介してトランジスタQ1のエミッタに接続されている。抵抗R1とトランジスタQ1のエミッタとの間にはコンデンサC3の一端が接続され、コンデンサC3の他端は接地されている。電源電圧Vddの入力端子と前記第1端子との間にはコンデンサC6の一端が接続され、コンデンサC6の他端は接地されている。マイクロコンピュータU1の第8端子には、接地用の端子が接続されている。   The first terminal of the microcomputer U1 is connected to the input terminal for the power supply voltage Vdd. The input terminal of the power supply voltage Vdd is connected to the emitter of the transistor Q1 through the resistor R1. One end of a capacitor C3 is connected between the resistor R1 and the emitter of the transistor Q1, and the other end of the capacitor C3 is grounded. One end of a capacitor C6 is connected between the input terminal of the power supply voltage Vdd and the first terminal, and the other end of the capacitor C6 is grounded. A grounding terminal is connected to the eighth terminal of the microcomputer U1.

マイクロコンピュータU1の第7端子には、抵抗R4を介して、渦電流に相当する検出電圧Voutを出力する出力端子が接続されている。該出力端子と抵抗R4との間にはコンデンサC7の一端が接続され、コンデンサC7の他端は接地されている。マイクロコンピュータU1の第5端子には、抵抗R6を介して、オフセット制御を行うための制御電圧Vcontを入力する入力端子が接続されている。マイクロコンピュータU1の第5端子と抵抗R6との間にはコンデンサC4の一端が接続され、コンデンサC4の他端は接地されている。   An output terminal that outputs a detection voltage Vout corresponding to an eddy current is connected to the seventh terminal of the microcomputer U1 via a resistor R4. One end of a capacitor C7 is connected between the output terminal and the resistor R4, and the other end of the capacitor C7 is grounded. An input terminal for inputting a control voltage Vcont for performing offset control is connected to the fifth terminal of the microcomputer U1 via a resistor R6. One end of a capacitor C4 is connected between the fifth terminal of the microcomputer U1 and the resistor R6, and the other end of the capacitor C4 is grounded.

コイルL1、2個のコンデンサC2及びC3並びにトランジスタQ1にて、前述した第1発振回路6(コルピッツ発振回路)が構成され、コイルL2、2個のコンデンサC2及びC3並びにトランジスタQ1にて、前述した第2発振回路7(コルピッツ発振回路)が構成されている。そして、マイクロコンピュータU1の切り替え動作(マイクロコンピュータU1の第3端子及び第6端子で切り替え動作を行っている)により、第1発振回路6と第2発振回路7とが所定時間ずつ交互に発振するようになっている。   The coil L1, the two capacitors C2 and C3, and the transistor Q1 constitute the first oscillation circuit 6 (Colpitts oscillation circuit). The coil L2, the two capacitors C2 and C3, and the transistor Q1 described above. A second oscillation circuit 7 (Colpitts oscillation circuit) is configured. Then, by the switching operation of the microcomputer U1 (the switching operation is performed at the third terminal and the sixth terminal of the microcomputer U1), the first oscillation circuit 6 and the second oscillation circuit 7 oscillate alternately at predetermined time intervals. It is like that.

次に、本実施の形態の渦電流式金属センサ20の動作について説明する。図6は、本実施の形態の渦電流式金属センサ20の動作を説明するためのタイミングチャートである。図6の横軸は時間である。横軸の単位は例えば秒又はミリ秒である。縦軸は上段では電圧である。上段の単位は例えばミリボルトである。縦軸は下段では渦電流値である。下段の単位は例えばミリアンペアである。   Next, the operation of the eddy current type metal sensor 20 of the present embodiment will be described. FIG. 6 is a timing chart for explaining the operation of the eddy current type metal sensor 20 of the present embodiment. The horizontal axis in FIG. 6 is time. The unit of the horizontal axis is, for example, second or millisecond. The vertical axis represents voltage in the upper stage. The upper unit is, for example, millivolts. The vertical axis represents the eddy current value in the lower stage. The lower unit is, for example, milliamps.

調整部42にて調整された第1計測時間に亘って、第1発振回路6を発振させてその発振パルス数を計測部41にて計測する処理と、調整部42にて調整された第2計測時間に亘って、第2発振回路7を発振させてその発振パルス数を計測部41にて計測する処理とを交互に行う。この際、図6に示すように、第1発振回路6を発振させてその発振パルス数を計測する期間では第2発振回路7を発振させず、また、第2発振回路7を発振させてその発振パルス数を計測する期間では第1発振回路6を発振させない。よって、互いに発振の影響を受けることなく、発振パルス数を計測するので、その計測値は精度が高い。   Over the first measurement time adjusted by the adjusting unit 42, the first oscillation circuit 6 is oscillated and the number of oscillation pulses is measured by the measuring unit 41, and the second adjusted by the adjusting unit 42 Over the measurement time, the process of oscillating the second oscillation circuit 7 and measuring the number of oscillation pulses by the measurement unit 41 is performed alternately. At this time, as shown in FIG. 6, in the period in which the first oscillation circuit 6 is oscillated and the number of oscillation pulses is measured, the second oscillation circuit 7 is not oscillated, and the second oscillation circuit 7 is oscillated. The first oscillation circuit 6 is not oscillated during the period in which the number of oscillation pulses is measured. Therefore, since the number of oscillation pulses is measured without being affected by each other, the measured value is highly accurate.

所定時間(第1計測時間及び第2計測時間)ずつの発振パルス数の計測を終了すると、第1発振回路6における(第1コイル1に由来する)計測された発振パルス数と、第2発振回路7における(第2コイル2に由来する)計測された発振パルス数との差分を、算出部43にて算出する。そして、変換部44により、算出した差分を渦電流に変換し、渦電流の変化量を求める。   When the measurement of the number of oscillation pulses for each predetermined time (first measurement time and second measurement time) is completed, the number of oscillation pulses measured (derived from the first coil 1) in the first oscillation circuit 6 and the second oscillation The calculation unit 43 calculates a difference from the measured number of oscillation pulses (derived from the second coil 2) in the circuit 7. Then, the conversion unit 44 converts the calculated difference into an eddy current, and obtains the amount of change in the eddy current.

また、第1発振回路6を発振させて、その発振パルス数を計測する期間では、それ以前の第1発振回路6と第2発振回路7の計測値(例えばA′とB′)の差分を、算出部43にて算出し、変換部44により、算出した差分を渦電流に変換し、渦電流の変化量を求めるので、各発振回路の発振パルス数の計測開始のタイミングで渦電流の変化量の更新が順次行われる。図6において、時刻0を跨いで、第2発振回路7の計測が行われ、発振パルス数B’が得られている。さらにその前には、第1発振回路6の計測が行われ、発振パルス数A’が得られている。したがって、第2発振回路7の発振パルス数B’が得られた時点以降で、発振パルス数の差分(A’−B’)から渦電流値を算出する。続いて、第1発振回路6の次の計測が行われ、発振パルス数Aが得られている。そして、発振パルス数の差分(B’−A)から渦電流値を算出する。引き続き、第2発振回路7の次の計測が行われ、発振パルス数Bが得られている。そして、発振パルス数の差分(A−B)から渦電流値を算出する。さらに、第1発振回路6の計測が行われ、発振パルス数A*が得られている。そして、発振パルス数の差分(B−A*)から渦電流値を算出する。以上のような計測及び渦電流値の算出を繰り返し行う。   Further, during the period in which the first oscillation circuit 6 is oscillated and the number of oscillation pulses is measured, the difference between the previous measurement values (for example, A ′ and B ′) of the first oscillation circuit 6 and the second oscillation circuit 7 is calculated. The calculation unit 43 calculates the difference, and the conversion unit 44 converts the calculated difference into an eddy current to obtain the amount of change in the eddy current. Therefore, the change in the eddy current at the timing of starting the measurement of the number of oscillation pulses of each oscillation circuit. The quantity is updated sequentially. In FIG. 6, the measurement of the second oscillation circuit 7 is performed across time 0, and the number of oscillation pulses B ′ is obtained. Further, before that, measurement of the first oscillation circuit 6 is performed, and the number of oscillation pulses A ′ is obtained. Therefore, the eddy current value is calculated from the difference (A′−B ′) in the number of oscillation pulses after the time point when the oscillation pulse number B ′ of the second oscillation circuit 7 is obtained. Subsequently, the next measurement of the first oscillation circuit 6 is performed, and the oscillation pulse number A is obtained. Then, an eddy current value is calculated from the difference in the number of oscillation pulses (B′−A). Subsequently, the next measurement of the second oscillation circuit 7 is performed, and the oscillation pulse number B is obtained. Then, an eddy current value is calculated from the difference (A−B) in the number of oscillation pulses. Further, the first oscillation circuit 6 is measured, and the oscillation pulse number A * is obtained. Then, an eddy current value is calculated from the difference in the number of oscillation pulses (B−A *). The above measurement and eddy current value calculation are repeated.

本実施の形態において下記のような利点があげられる。検出対象である金属30の種類に応じて、渦電流の大きさは変化する。この場合、例えばマイクロコンピュータU1の未使用端子を利用して、この未使用端子の電圧レベルを外部から制御することで、感度を調節するオフセット機能を与えることができる。   In this embodiment, there are the following advantages. The magnitude of the eddy current varies depending on the type of metal 30 that is the detection target. In this case, for example, by using an unused terminal of the microcomputer U1 and controlling the voltage level of the unused terminal from the outside, an offset function for adjusting sensitivity can be provided.

なお、図5には一例として端子を8個有するマイクロコンピュータを記載したが、この構成に限定されるものではない。必要な場合には異なる端子数のマイクロコンピュータを使用し渦電流の変化などの情報をシリアル通信などの手段で、上位の制御側に伝達し、また上位側からの制御信号を受けることも可能である。   Note that although FIG. 5 shows a microcomputer having eight terminals as an example, it is not limited to this configuration. If necessary, it is possible to use a microcomputer with a different number of terminals to transmit information such as changes in eddy currents to the upper control side using means such as serial communication, and to receive control signals from the upper side. is there.

以下、上述したような手順により、渦電流を検出できる原理を説明する。また、渦電流の検出結果に基づいて被検出物(金属30)の有無の検知、被検出物(金属30)までの距離の測定を行える。   Hereinafter, the principle that an eddy current can be detected by the procedure as described above will be described. Further, based on the detection result of the eddy current, the presence / absence of the object to be detected (metal 30) can be detected and the distance to the object to be detected (metal 30) can be measured.

被検出物の渦電流が大きくなった場合、被検出物の近傍に配されたコイルのインダクタンスは、この渦電流の変動に応じて低下する。この結果、そのコイルを含む発振回路の発振パルス数は増加する。ここで、被検出物からの距離を異ならせて2個のコイルを配置している場合、いずれのコイルもインダクタンスが低下して、いずれの発振回路も発振パルス数は増加する。但し、被検出物に近い方のコイルは、遠い方のコイルに比べて、渦電流の変化の影響を強く受けるので、上記の場合、インダクタンスの低下量が大きくなり、発振パルス数の増加量も大きくなる。よって、2個のコイル夫々を含む2つの発振回路における発振パルス数には、渦電流の変化の程度に応じた分の差異が生じることになる。このように、両発振パルス数の差分と渦電流との間には相関関係が存在するので、本実施の形態では、両発振回路の発振パルス数の差分に基づいて被検出物の渦電流を検出することが可能である。そして、検出した被検出物の渦電流に基づき、被検出物(金属30)の有無を検知したり、被検出物(金属30)までの距離を測定したりすることが可能である。   When the eddy current of the object to be detected increases, the inductance of the coil disposed in the vicinity of the object to be detected decreases according to the fluctuation of the eddy current. As a result, the number of oscillation pulses of the oscillation circuit including the coil increases. Here, when two coils are arranged at different distances from the object to be detected, the inductance of each coil decreases, and the number of oscillation pulses increases in any oscillation circuit. However, the coil closer to the object to be detected is more affected by the change in eddy current than the coil farther away. Therefore, in the above case, the amount of decrease in inductance increases and the amount of increase in the number of oscillation pulses also increases. growing. Therefore, the number of oscillation pulses in the two oscillation circuits each including the two coils has a difference corresponding to the degree of change in eddy current. Thus, since there is a correlation between the difference between the number of oscillation pulses and the eddy current, in this embodiment, the eddy current of the object to be detected is calculated based on the difference between the oscillation pulse numbers of both oscillation circuits. It is possible to detect. Based on the detected eddy current of the detected object, it is possible to detect the presence or absence of the detected object (metal 30) or measure the distance to the detected object (metal 30).

前述した実施の形態における渦電流式金属センサ20にあっては、第1コイル1が上記の被検出物(金属30)に遠い方のコイルに該当し、第2コイル2が上記の被検出物(金属30)に近い方のコイルに該当する。本実施の形態においては被検出物に近い方のコイルを検知コイル、遠い方のコイルを基準コイルとする。   In the eddy current type metal sensor 20 in the above-described embodiment, the first coil 1 corresponds to a coil farther from the detected object (metal 30), and the second coil 2 corresponds to the detected object. This corresponds to the coil closer to (metal 30). In the present embodiment, a coil closer to the object to be detected is a detection coil, and a coil farther from the object is a reference coil.

本実施の形態に係る渦電流式金属センサ20によれば、金属に発生する渦電流を検知することができる。よって金属の有無を検知する有無センサとして使用することができる。また、金属との距離を測定する距離センサとして使用することができる。また、回転数検出センサ、近接スイッチとしても使用できる。   According to the eddy current type metal sensor 20 according to the present embodiment, an eddy current generated in a metal can be detected. Therefore, it can be used as a presence sensor for detecting the presence or absence of metal. Moreover, it can be used as a distance sensor for measuring a distance from a metal. It can also be used as a rotation speed detection sensor and a proximity switch.

ここで、調整部42における第1計測時間及び第2計測時間の少なくとも一方の調整処理について説明する。   Here, the adjustment process of at least one of the first measurement time and the second measurement time in the adjustment unit 42 will be described.

被検出物に近い第1コイル1と被検出物から遠い第2コイル2とでは使用環境が異なるため、渦電流式金属センサの検出特性は、温度変動の影響を受け易い。また、第1コイル1及び第2コイル2は、前述したように、基板10への銅箔パターンの印刷により形成されるため、形成条件の違いに起因する第1コイル1及び第2コイル2の特性の差異は避けられない。   Since the usage environment differs between the first coil 1 close to the detection object and the second coil 2 far from the detection object, the detection characteristics of the eddy current type metal sensor are easily affected by temperature fluctuations. Moreover, since the 1st coil 1 and the 2nd coil 2 are formed by the printing of the copper foil pattern to the board | substrate 10 as mentioned above, the 1st coil 1 and the 2nd coil 2 resulting from the difference in formation conditions. Differences in characteristics are inevitable.

本実施の形態の渦電流式金属センサ20は、このような課題を解決するために、第1計測時間及び第2計測時間の少なくとも一方の調整を行う。この調整処理は、渦電流式金属センサ20の出荷時、又は渦電流式金属センサ20を備えた距離センサの使用時など、実際の渦電流検出処理が実行される前に行われる。所望の検出範囲の中央値の状況にあって、第1コイル1及び第2コイル2での1回の計測期間内のパルス数に差がないように、これらの計測時間の調整を行う。なお、この検出範囲の中央値の状況を作り出すために、上記中央値とする大きさの金属板を使用する。このときの環境温度については常温とする。   In order to solve such a problem, the eddy current type metal sensor 20 of the present embodiment adjusts at least one of the first measurement time and the second measurement time. This adjustment process is performed before the actual eddy current detection process is executed, such as when the eddy current metal sensor 20 is shipped or when a distance sensor including the eddy current metal sensor 20 is used. These measurement times are adjusted so that there is no difference in the number of pulses in one measurement period in the first coil 1 and the second coil 2 in the situation of the median value of the desired detection range. In addition, in order to create the situation of the median value of the detection range, a metal plate having a size as the median value is used. At this time, the ambient temperature is a room temperature.

被検出物に近い位置に配される第2コイル2は、被検出物の影響を大きく受けてインダクタンスは大きくなる。一方、被検出物から遠い位置に配される第1コイル1は、被検出物の影響をほとんど受けずにインダクタンスもあまり大きくならない。発振周波数はインダクタンスにほぼ反比例するため、第2発振回路7の発振パルス数は第1発振回路6の発振パルス数より少なくなる。そこで、このような被検出物の影響の大小による差を補償する分だけ、第2計測時間が第1計測時間より相対的に長くなるような調整を行っている。具体的には第1発振回路6の発振パルス数と、第2発振回路7の発振パルス数が同じになるように計測時間を調整する。   The second coil 2 disposed at a position close to the detected object is greatly affected by the detected object, and the inductance increases. On the other hand, the first coil 1 arranged at a position far from the object to be detected is hardly affected by the object to be detected and the inductance is not so large. Since the oscillation frequency is almost inversely proportional to the inductance, the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 is smaller than the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6. In view of this, the second measurement time is adjusted to be relatively longer than the first measurement time by compensating for the difference due to the magnitude of the influence of the detected object. Specifically, the measurement time is adjusted so that the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 and the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 are the same.

このような第2計測時間が第1計測時間より相対的に長くなる調整を行う場合、第2計測時間は変更せずに第1計測時間を短くする調整、第1計測時間は変更せずに第2計測時間を長くする調整、第1計測時間を短くして第2計測時間を長くする調整のいずれであっても良い。   When performing the adjustment such that the second measurement time is relatively longer than the first measurement time, the second measurement time is not changed and the first measurement time is not changed, and the first measurement time is not changed. Either the adjustment for increasing the second measurement time or the adjustment for shortening the first measurement time to increase the second measurement time may be used.

計測時間の調整は、計測にあたってはまず、夫々の計測時間は同じとし、第1発振回路6による発振パルス数の計測と第2発振回路7による発振パルス数の計測を行った後、その差分を測定し差分が無くなるようにどちらか一方の計測時間を調整する。この場合、1回の計測時間の調整で同じ発振パルス数にならない場合がありその場合には以下のように調整する。具体的には、調整された計測時間で再度第1発振回路6による発振パルス数と、第2発振回路7による発振パルス数を計測し、発振パルス数の差分を計算し、差分が無くなるようにどちらか一方の計測時間を調整する。最終的には、第1発振回路6による発振パルス数と第2発振回路7による発振パルス数の差が最も小さい状態を初期値と設定し(検出範囲の中央値と設定し)、実際の測定を行っても良い。この補正は後述のステップ2(補正処理)に該当している。   In adjusting the measurement time, first, the measurement time is assumed to be the same. After the measurement of the number of oscillation pulses by the first oscillation circuit 6 and the measurement of the number of oscillation pulses by the second oscillation circuit 7, the difference is calculated. Measure and adjust either measurement time so that the difference disappears. In this case, the same number of oscillation pulses may not be obtained by adjusting the measurement time once. In this case, the adjustment is performed as follows. Specifically, the number of oscillation pulses by the first oscillation circuit 6 and the number of oscillation pulses by the second oscillation circuit 7 are measured again at the adjusted measurement time, and the difference between the oscillation pulse numbers is calculated so that the difference disappears. Adjust the measurement time of either one. Finally, the state where the difference between the number of oscillation pulses by the first oscillation circuit 6 and the number of oscillation pulses by the second oscillation circuit 7 is the smallest is set as the initial value (set as the median value of the detection range), and the actual measurement May be performed. This correction corresponds to Step 2 (correction processing) described later.

以上の計測時間調整の全体について、フローチャートを用いて、説明する。図7は計測時間調整処理の処理手順例を示すフローチャートである。計測時間調整処理は電子チップ4の調整部42が主体となって行う処理である。調整部42は初期補正処理を行う(ステップS1)。初期補正処理は主として電子チップ4のクロックの誤差を補正することを目的とする処理である。調整部42は補正処理を行う(ステップS2)。補正処理は主として測定範囲の中央値と想定する環境で第1発振回路6と第2発振回路7との計測パルス数の差分を最小値(0を含む)にすることを目的とする処理である。調整部42は強制補正処理を行う(ステップS3)。強制補正処理は主として測定範囲の中央値と想定する環境で第1発振回路6と第2発振回路7との計測パルス数の差分を強制的に0にする処理である。強制補正処理は補正処理にて得られた差分の最小値を強制的に0とする処理であり、補正処理にて差分が最小値となったことを確認する意味を含む処理である。調整部42は計測時間調整処理を終了する。
その後、図6に示す手順にて渦電流の測定を繰り返し行う(ステップS4)。
The overall measurement time adjustment will be described using a flowchart. FIG. 7 is a flowchart showing a processing procedure example of the measurement time adjustment processing. The measurement time adjustment process is a process performed mainly by the adjustment unit 42 of the electronic chip 4. The adjustment unit 42 performs an initial correction process (step S1). The initial correction process is a process mainly intended to correct a clock error of the electronic chip 4. The adjustment unit 42 performs correction processing (step S2). The correction process is a process mainly intended to minimize the difference in the number of measurement pulses between the first oscillation circuit 6 and the second oscillation circuit 7 in an environment assumed to be the median value of the measurement range. . The adjustment unit 42 performs a forced correction process (step S3). The forced correction process is a process for forcibly setting the difference in the number of measurement pulses between the first oscillation circuit 6 and the second oscillation circuit 7 to 0 in an environment that is assumed to be the median value of the measurement range. The forcible correction process is a process for forcibly setting the minimum value of the difference obtained in the correction process to 0, and includes the meaning of confirming that the difference has reached the minimum value in the correction process. The adjustment unit 42 ends the measurement time adjustment process.
Thereafter, eddy current measurement is repeatedly performed according to the procedure shown in FIG. 6 (step S4).

図8は初期補正処理の処理手順例を示すフローチャートである。第1発振回路6を構成するコイルを基準コイル、第2発振回路7を構成するコイルを検知コイルとし、また第1発振回路6を基準発振回路、第2発振回路7を検知発振回路とする。調整部42は予め定めた初期計測時間(t0)で第1発振回路6の発振パルス数を、計測部41で計測する(ステップS11)。調整部42は算出部43により計測したパルス数と所定値との差分を算出する(ステップS12)。所定値に基づき、第1発振回路6の発振パルス数が所定値となるように、第1発振回路6の計測時間を補正する(ステップS13)。調整部42は初期補正処理を終了し、処理を呼び出し元に戻す。補正後の計測時間は例えば、t0+αとする。ステップ13で初期補正は完了する。なお、ステップS13の後に、計測時間t0+αで、計測部41により第1発振回路6の発振パルス数を計測し、計測した発振パルス数が所定値となる否かを確認する処理を行う。計測時間t0+αで、第1発振回路6の発振パルス数を計測する(ステップS14)。調整部42は発振パルス数が所定値となったか否かを判定する(ステップS15)。調整部42は発振パルス数が所定値となっていないと判定した場合(ステップS15でNO)、処理をステップS12に戻す。調整部42は発振パルス数が所定値となっていると判定した場合(ステップS15でYES)、処理を終了し呼び出し元に戻す。なお、発振パルス数が所定値とならない場合やαが収束しない場合は、発振パルス数と所定値の差分が最も小さくなる値をαに設定する。なお、処理を簡略化するため、ステップS14、S15の処理を省略してもよい。   FIG. 8 is a flowchart showing an example of the processing procedure of the initial correction process. The coil constituting the first oscillation circuit 6 is a reference coil, the coil constituting the second oscillation circuit 7 is a detection coil, the first oscillation circuit 6 is a reference oscillation circuit, and the second oscillation circuit 7 is a detection oscillation circuit. The adjustment unit 42 measures the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 with the measurement unit 41 during a predetermined initial measurement time (t0) (step S11). The adjustment unit 42 calculates the difference between the number of pulses measured by the calculation unit 43 and a predetermined value (step S12). Based on the predetermined value, the measurement time of the first oscillation circuit 6 is corrected so that the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 becomes a predetermined value (step S13). The adjustment unit 42 ends the initial correction process and returns the process to the caller. The corrected measurement time is, for example, t0 + α. In step 13, the initial correction is completed. Note that after step S13, at the measurement time t0 + α, the measurement unit 41 measures the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6, and performs a process of confirming whether or not the measured number of oscillation pulses becomes a predetermined value. At the measurement time t0 + α, the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 is measured (step S14). The adjustment unit 42 determines whether or not the number of oscillation pulses has reached a predetermined value (step S15). When the adjustment unit 42 determines that the number of oscillation pulses is not the predetermined value (NO in step S15), the process returns to step S12. If the adjustment unit 42 determines that the number of oscillation pulses is a predetermined value (YES in step S15), the adjustment unit 42 ends the process and returns to the caller. When the number of oscillation pulses does not reach a predetermined value or when α does not converge, a value that minimizes the difference between the number of oscillation pulses and the predetermined value is set to α. In addition, in order to simplify a process, you may abbreviate | omit the process of step S14, S15.

例えば、第1発振回路6が10MHzで発振する設計とする。そして、発振パルス数を3万回、計測するものとする。この場合、初期計測時間t0を3msとする。計測部41で3ms間、第1発振回路6の発振パルス数を計測する。計測した発振パルス数が3万を下回る場合は下回るパルス数の分、計測時間を長くする。すなわち、αを正の値とする。計測した発振パルス数が3万を上回る場合は上回るパルス数の分、計測時間を短くする。すなわち、αを負の値とする。計測した発振パルス数が3万となった場合は、αを0とする。   For example, the first oscillation circuit 6 is designed to oscillate at 10 MHz. The number of oscillation pulses is measured 30,000 times. In this case, the initial measurement time t0 is 3 ms. The measurement unit 41 measures the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 for 3 ms. When the measured number of oscillation pulses is less than 30,000, the measurement time is lengthened by the number of pulses below. That is, α is a positive value. When the measured number of oscillation pulses exceeds 30,000, the measurement time is shortened by the number of pulses exceeding the number. That is, α is a negative value. If the measured number of oscillation pulses is 30,000, α is set to zero.

図9は補正処理の処理手順例を示すフローチャートである。補正処理は測定範囲の中心となる渦電流が測定されるような環境で行う。例えば、そのような環境を作り出す基準金属板を用いる。例えば、渦電流式金属センサを距離センサとして使う場合は、想定する金属で作成した基準金属板を測定範囲の中心としたい距離に配置する。調整部42は初期補正処理で求めた計測時間t0+αで、計測部41により第1発振回路6の発振パルス数を計測する(ステップS21)。調整部42は計測した第1発振回路6の発振パルス数を記憶する(ステップS22)。調整部42は初期補正処理で求めた計測時間t0+αで、計測部41により第2発振回路7の発振パルス数を計測する(ステップS23)。調整部42は算出部43により計測した第2発振回路7の発振パルス数と記憶した第1発振回路6の発振パルス数との差分を算出する(ステップS24)。調整部42は補正処理を終了し、処理を呼び出し元に戻す。差分が0となるように、第2発振回路7の計測時間を補正する(ステップS25)。調整部42は補正後の計測時間は例えば、t0+α+βとする。第2発振回路7のパルス数が第1発振回路6の発振パルス数よりも小さい場合は、βを正の値とする。第2発振回路7のパルス数が第1発振回路6の発振パルス数よりも大きい場合は、βを負の値とする。第2発振回路7のパルス数が第1発振回路6の発振パルス数と等しい場合は、βは0とする。ステップS25の後に、計測時間t0+αで第1発振回路6の発振パルス数を計測し、計測時間t0+α+βで第2発振回路7のパルス数を計測し、両パルス数が等しいか否かを確認する処理を行ってもよい。等しくない場合には、再度、βを設定し直す。βが収束しない場合は、発振パルス数と所定値の差分が最も小さくなる値とする。具体的にはステップS25の後に、調整部42は計測した第1発振回路6の発振パルス数と第2発振回路7のパルス数とが一致するかを判定する。調整部42は両パルス数が一致すると判定した場合、補正処理を終了する。調整部42は両パルス数が一致しないと判定した場合、S21へ戻り、ステップS21以降を繰り返す工程となる。この際の計測時間は第1発振回路6ではt0+αであり(ステップS21)、第2発振回路7ではt0+α+βとする(ステップS23)。同様の要領で第2発振回路7の時間を補正しながら発振パルス数が同じになるように補正する。また、第2発振回路7の計測時間を補正するのではなく、第1発振回路6の計測時間を補正してもよい。   FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure of correction processing. The correction process is performed in an environment where an eddy current at the center of the measurement range is measured. For example, a reference metal plate that creates such an environment is used. For example, when using an eddy current type metal sensor as a distance sensor, a reference metal plate made of an assumed metal is arranged at a distance desired to be the center of the measurement range. The adjustment unit 42 measures the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 by the measurement unit 41 at the measurement time t0 + α obtained in the initial correction process (step S21). The adjustment unit 42 stores the measured number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 (step S22). The adjustment unit 42 measures the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 by the measurement unit 41 at the measurement time t0 + α obtained in the initial correction process (step S23). The adjustment unit 42 calculates a difference between the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 measured by the calculation unit 43 and the number of oscillation pulses stored in the first oscillation circuit 6 (step S24). The adjustment unit 42 ends the correction process and returns the process to the caller. The measurement time of the second oscillation circuit 7 is corrected so that the difference becomes 0 (step S25). The adjusting unit 42 sets the corrected measurement time to, for example, t0 + α + β. When the number of pulses of the second oscillation circuit 7 is smaller than the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6, β is set to a positive value. When the number of pulses of the second oscillation circuit 7 is larger than the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6, β is set to a negative value. When the number of pulses of the second oscillation circuit 7 is equal to the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6, β is set to zero. After step S25, the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 is measured at the measurement time t0 + α, the number of pulses of the second oscillation circuit 7 is measured at the measurement time t0 + α + β, and it is confirmed whether or not both pulses are equal. May be performed. If they are not equal, β is set again. If β does not converge, the difference between the number of oscillation pulses and the predetermined value is set to the smallest value. Specifically, after step S <b> 25, the adjustment unit 42 determines whether the measured number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 matches the number of pulses of the second oscillation circuit 7. If the adjustment unit 42 determines that the number of pulses is the same, the adjustment process ends. If it is determined that the number of pulses does not match, the adjustment unit 42 returns to S21 and repeats step S21 and subsequent steps. The measurement time at this time is t0 + α in the first oscillation circuit 6 (step S21), and t0 + α + β in the second oscillation circuit 7 (step S23). In the same manner, the time of the second oscillation circuit 7 is corrected and the number of oscillation pulses is corrected to be the same. Further, instead of correcting the measurement time of the second oscillation circuit 7, the measurement time of the first oscillation circuit 6 may be corrected.

図10は強制補正処理の処理手順例を示すフローチャートである。強制補正処理は補正処理にて設定した計測時間での発振パルス数も差分を最終確認し差分を強制的に0とする処理である。強制補正処理も補正処理と同様に基準金属板を用い測定範囲の中心となる渦電流が測定されるような環境で行う。調整部42はt0+αで、計測部41により第1発振回路6の発振パルス数を計測する(ステップS31)。調整部42は計測した第1発振回路6の発振パルス数を記憶する(ステップS32)。調整部42はt0+α+βで、計測部41により第2発振回路7の発振パルス数を計測する(ステップS33)。調整部42は計測した第2発振回路7の発振パルス数を記憶する(ステップS34)。調整部42は算出部43により、第1発振回路6の発振パルス数と第2発振回路7の発振パルス数との差分を算出する(ステップS35)。その後差分を強制的に0とする。この処理により基準金属板で測定した値を渦電流の中央値と設定することとなる(ステップS36)。この工程は後述のS52からS57を示している。   FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure for forced correction processing. The forcible correction process is a process for finally checking the difference in the number of oscillation pulses at the measurement time set in the correction process and forcing the difference to zero. Similar to the correction process, the forced correction process is performed in an environment where an eddy current at the center of the measurement range is measured using a reference metal plate. The adjustment unit 42 measures the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 by the measurement unit 41 at t0 + α (step S31). The adjustment unit 42 stores the measured number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 (step S32). The adjustment unit 42 measures the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 by the measurement unit 41 at t0 + α + β (step S33). The adjustment unit 42 stores the measured number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 (step S34). The adjustment unit 42 uses the calculation unit 43 to calculate the difference between the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 and the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 (step S35). Thereafter, the difference is forcibly set to 0. With this process, the value measured with the reference metal plate is set as the median value of the eddy current (step S36). This process shows S52 to S57 described later.

補正処理の一連の流れ(補正後から強制補正)について、フローチャートを用いて、説明する。図11は補正処理の補正後から強制補正の処理手順例を示すフローチャートである。調整部42は第1発振回路6の計測時間(第1計測時間t1)をt0+αとする。調整部42は第2発振回路7の計測時間(第2計測時間t2)をt0+α+βとする(ステップS51)。計測部41は第1計測時間t1で第1発振回路6の発振パルス数を計測する(ステップS52)。計測部41は計測した第1発振回路6の発振パルス数を記憶する(ステップS53)。計測部41は第2計測時間t2で第2発振回路7の発振パルス数を計測する(ステップS54)。計測部41は計測した第2発振回路7の発振パルス数を記憶する(ステップS55)。調整部42は強制補正処理で求めた差分(強制差分)で、第1発振回路6の発振パルス数又は第2発振回路7の発振パルス数を補正する。強制補正処理で、第1発振回路6の発振パルス数が第2発振回路7の発振パルス数より大きかった場合、第2発振回路7の発振パルス数の値に強制差分を足す。第1発振回路6の発振パルス数が第2発振回路7の発振パルス数より小さかった場合、第2発振回路7の発振パルス数の値に強制差分を引く(差分を強制的に0とする)ことで補正は完了する(ステップS56、S57)。この処理により、基準金属板での測定値が渦電流の中央値として設定される。   A series of correction processing (forced correction after correction) will be described with reference to a flowchart. FIG. 11 is a flowchart illustrating an example of a forced correction process procedure after the correction process is corrected. The adjustment unit 42 sets the measurement time (first measurement time t1) of the first oscillation circuit 6 to t0 + α. The adjustment unit 42 sets the measurement time (second measurement time t2) of the second oscillation circuit 7 to t0 + α + β (step S51). The measurement unit 41 measures the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 at the first measurement time t1 (step S52). The measuring unit 41 stores the measured number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 (step S53). The measurement unit 41 measures the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 at the second measurement time t2 (step S54). The measuring unit 41 stores the measured number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 (step S55). The adjustment unit 42 corrects the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 or the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 with the difference (forced difference) obtained in the forced correction process. In the forced correction process, when the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 is larger than the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7, the forced difference is added to the value of the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7. When the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit 6 is smaller than the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7, a forced difference is subtracted from the value of the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit 7 (the difference is forcibly set to 0). This completes the correction (steps S56 and S57). By this processing, the measured value at the reference metal plate is set as the median value of the eddy current.

上述したような調整を行っておくことにより、温度変動による検出出力の変動を抑えることができる。また、上述したような形成時における第1コイル1及び第2コイル2の特性の差異分などの補償も結果的に行えていることになる。したがって、本実施の形態の渦電流式金属センサ20では、温度変動の影響を抑制して高精度に渦電流を検出することが可能である。
なおステップS1の初期補正、ステップS3の強制補正は必須ではなく、要求される仕様に応じて適宜組み合わせても良い。
初期補正を行ったのちに補正及び強制補正を行う場合には、基準コイル(本明細書では第1コイル1)の計測時間を一定とし検知コイル(本明細書では第2コイル2)の計測時間を調整するのが望ましい。
By performing the adjustment as described above, fluctuations in the detection output due to temperature fluctuations can be suppressed. In addition, compensation for the difference in characteristics between the first coil 1 and the second coil 2 during the formation as described above can be performed as a result. Therefore, in the eddy current type metal sensor 20 of the present embodiment, it is possible to detect the eddy current with high accuracy while suppressing the influence of temperature fluctuation.
The initial correction in step S1 and the forced correction in step S3 are not essential, and may be combined as appropriate according to the required specifications.
When the correction and the forced correction are performed after the initial correction, the measurement time of the reference coil (first coil 1 in this specification) is constant and the measurement time of the detection coil (second coil 2 in this specification). It is desirable to adjust.

上述した実施の形態では、同軸状に基板10に配した2個のコイル(第1コイル1及び第2コイル2)のインダクタンスの変化を、マイクロコンピュータ(電子チップ4)に内蔵された発振器の正確なクロック信号で駆動される2つの発振回路(第1発振回路6及び第2発振回路7)における発振パルス数の差分として検出し、その差分(発振パルス数の変化量)をマイクロコンピュータにて演算処理して渦電流の変化を検出している。ここで、2個のコイル夫々を交互に発振回路に接続させて、夫々所定時間に亘って交互にマイクロコンピュータにて発振パルス数を計測し、その差分を算出して渦電流の変化を検出している。   In the embodiment described above, the change in inductance of the two coils (the first coil 1 and the second coil 2) coaxially arranged on the substrate 10 is measured with the accuracy of the oscillator built in the microcomputer (electronic chip 4). Is detected as the difference in the number of oscillation pulses in the two oscillation circuits (first oscillation circuit 6 and second oscillation circuit 7) driven by a simple clock signal, and the difference (amount of change in the number of oscillation pulses) is calculated by a microcomputer Processing to detect changes in eddy currents. Here, each of the two coils is alternately connected to the oscillation circuit, and the number of oscillation pulses is alternately measured over a predetermined time by a microcomputer, and the difference is calculated to detect a change in eddy current. ing.

本実施の形態では、第1コイル1及び第2コイル2を基板10の上下面に同軸状に配しているので、コイルの配置に必要な面積を低減でき、水平方向での狭小化を図れる。また、基板10に導体パターンを印刷してコイルを形成するようにしたので、高さ方向における低背化を図れる。さらに、マイクロコンピュータを用いて各種の処理を行うようにしたので、部品点数を低減できて、回路部品を実装する面積は少なくて済む。以上のことから、渦電流式金属センサの大幅な小型化を実現できる。   In the present embodiment, since the first coil 1 and the second coil 2 are coaxially arranged on the upper and lower surfaces of the substrate 10, the area necessary for the arrangement of the coils can be reduced, and the narrowing in the horizontal direction can be achieved. . Further, since the coil is formed by printing the conductor pattern on the substrate 10, the height in the height direction can be reduced. Furthermore, since various processes are performed using a microcomputer, the number of components can be reduced and the area for mounting circuit components can be reduced. From the above, the eddy current type metal sensor can be significantly reduced in size.

2つの発振回路における発振パルス数の計測を交互に行うようにしているので、一方のコイルを含む発振回路の計測が他方のコイルで発生する磁束(他方のコイルでのインダクタンス変化)の影響を受けないため、正確な発振パルス数を計測することができ、この結果、高い精度にて渦電流を検出することが可能である。   Since the measurement of the number of oscillation pulses in the two oscillation circuits is performed alternately, the measurement of the oscillation circuit including one coil is affected by the magnetic flux generated in the other coil (inductance change in the other coil). Therefore, the exact number of oscillation pulses can be measured, and as a result, eddy current can be detected with high accuracy.

本実施の形態では、2つの発振回路を構成するトランジスタとコンデンサを共通とし、コイルを発振回路それぞれに配置したので、部品の数を少なくすることができて、コストダウンが図れる。又部品数が少ないため部品特性のばらつきを低減でき、さらに温度変化、ノイズといった外乱の影響を受け難く、正確な測定が可能となる。   In this embodiment, since the transistors and capacitors constituting the two oscillation circuits are shared, and the coils are arranged in the oscillation circuits, the number of parts can be reduced and the cost can be reduced. In addition, since the number of parts is small, variations in part characteristics can be reduced, and further accurate measurement is possible without being affected by disturbances such as temperature changes and noise.

マイクロコンピュータを用いてソフトウェアにより種々の処理を行うようにしたので、ハードウェアとしての回路部品の点数を減少できて、回路部品における特性のばらつきの影響を受けることが少なくなる。また、ソフトウェアにて処理するので、環境(温度、湿度など)の影響を受けにくくなる。よって、検出される渦電流の精度を高めることができる。   Since various processes are performed by software using a microcomputer, the number of circuit parts as hardware can be reduced and the influence of variations in characteristics of circuit parts is reduced. In addition, since it is processed by software, it is less affected by the environment (temperature, humidity, etc.). Therefore, the accuracy of the detected eddy current can be increased.

また、検出する金属30の種類が異なる場合でも、ソフトウェアの内容を変更するのみで簡単に対応できる。よって、大量生産が容易となって、低コスト化を図ることができる。   Further, even when the type of metal 30 to be detected is different, it can be easily dealt with only by changing the contents of the software. Therefore, mass production becomes easy and cost reduction can be achieved.

上述した実施の形態では、基板10の上面及び下面に夫々導体パターンを印刷して、第1コイル1及び第2コイル2を同軸状に形成するようにしたが、第1コイル1及び第2コイル2の形成手法は、これに限らず、他の手法であっても良い。以下、これらの他の手法について変形例として説明する。   In the above-described embodiment, the first coil 1 and the second coil 2 are formed coaxially by printing conductor patterns on the upper surface and the lower surface of the substrate 10, respectively. The forming method 2 is not limited to this, and may be another method. Hereinafter, these other methods will be described as modified examples.

(第1変形例)
図12は、第1変形例における渦電流式金属センサの構成を示す断面図である。図12において、図1及び図2と同一又は同様な部材には同一番号を付している。第1変形例では、基板10の下面に、例えば銅箔のパターン印刷により、第1コイル1と第2コイル2とを、絶縁層を挟んで同軸状に積層させて形成している。また、基板10の上面には、コイルは形成されておらず、上述した実施の形態と同様な電子チップ4、回路部品5及びコネクタ3が実装されている。第1コイル1及び第2コイル2は、電子チップ4及び回路部品5の実装位置の直下に形成されている。よって、渦電流式金属センサの構成の更なる小型化を図ることができる。
(First modification)
FIG. 12 is a cross-sectional view showing the configuration of the eddy current metal sensor in the first modification. In FIG. 12, the same or similar members as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals. In the first modification, the first coil 1 and the second coil 2 are formed on the lower surface of the substrate 10 by coaxial pattern lamination with an insulating layer interposed therebetween, for example, by pattern printing of copper foil. Further, no coil is formed on the upper surface of the substrate 10, and the electronic chip 4, the circuit component 5, and the connector 3 similar to those of the above-described embodiment are mounted. The first coil 1 and the second coil 2 are formed immediately below the mounting position of the electronic chip 4 and the circuit component 5. Therefore, further downsizing of the configuration of the eddy current type metal sensor can be achieved.

(第2変形例)
図13は、第2変形例における渦電流式金属センサの構成を示す断面図である。図13において、図1及び図2と同一又は同様な部材には同一番号を付している。第2変形例では、基板10の一端部の上面に、別部品の空心コイルを実装して第1コイル1を形成し、基板10の一端部の下面に、第1コイル1と同軸をなして、別部品の空心コイルを実装して第2コイル2を形成している。基板10の上面の残りの領域には、上述した実施の形態と同様な電子チップ4、回路部品5及びコネクタ3が実装されている。
(Second modification)
FIG. 13 is a cross-sectional view illustrating a configuration of an eddy current metal sensor according to a second modification. 13, the same or similar members as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals. In the second modification, a first coil 1 is formed by mounting an air coil as a separate component on the upper surface of one end portion of the substrate 10, and is coaxial with the first coil 1 on the lower surface of one end portion of the substrate 10. The second coil 2 is formed by mounting a separate air core coil. In the remaining area on the upper surface of the substrate 10, the electronic chip 4, the circuit component 5, and the connector 3 similar to those in the above-described embodiment are mounted.

(第3変形例)
図14は、第3変形例における渦電流式金属センサの構成を示す断面図である。図14において、図1及び図2と同一又は同様な部材には同一番号を付している。第3変形例では、基板10の一端部の上面に、別部品の2個の空心コイルを積層実装して第1コイル1及び第2コイル2を形成している。2個の空心コイルは基板上に第2コイル2、第1コイル1の順に積層する。第2コイル2と第1コイル1との間には絶縁層を設ける。基板10の上面の残りの領域には、上述した実施の形態と同様な電子チップ4、回路部品5及びコネクタ3が実装されている。なお、図13に示す構成とは異なり、基板10の下面に、上記のような2個の空心コイルの積層構成をなす第1コイル1及び第2コイル2を形成するようにしても良い。
(Third Modification)
FIG. 14 is a cross-sectional view showing a configuration of an eddy current metal sensor according to a third modification. 14, the same or similar members as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals. In the third modification, the first coil 1 and the second coil 2 are formed by stacking and mounting two air core coils of different parts on the upper surface of one end of the substrate 10. Two air-core coils are laminated on the substrate in the order of the second coil 2 and the first coil 1. An insulating layer is provided between the second coil 2 and the first coil 1. In the remaining area on the upper surface of the substrate 10, the electronic chip 4, the circuit component 5, and the connector 3 similar to those in the above-described embodiment are mounted. Note that, unlike the configuration shown in FIG. 13, the first coil 1 and the second coil 2 that form the stacked configuration of the two air-core coils as described above may be formed on the lower surface of the substrate 10.

なお、開示された実施の形態は、全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上述の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。   The disclosed embodiments should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

1 第1コイル
2 第2コイル
3 コネクタ
4 電子チップ
5 回路部品
6 第1発振回路
7 第2発振回路
10 基板
20 渦電流式金属センサ
30 金属(被検出物)
41 計測部
42 調整部
43 算出部
44 変換部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st coil 2 2nd coil 3 Connector 4 Electronic chip 5 Circuit component 6 1st oscillation circuit 7 2nd oscillation circuit 10 Board | substrate 20 Eddy current type metal sensor 30 Metal (to-be-detected object)
41 Measurement unit 42 Adjustment unit 43 Calculation unit 44 Conversion unit

Claims (14)

金属からなる被検出物の渦電流を検出する渦電流式金属センサにおいて、
第1コイルを含んで発振する第1発振回路と、
第2コイルを含んで発振する第2発振回路と、
前記第1発振回路及び第2発振回路夫々における発振パルス数を計測する計測部と、
前記計測部による前記第1発振回路における発振パルス数の計測時間、及び、前記計測部による前記第2発振回路における発振パルス数の計測時間の少なくとも一方を調整する調整部と、
該計測部にて計測したパルス数の差分を算出する算出部と、
該算出部にて算出した差分を前記被検出物の渦電流に変換する変換部と
を備えることを特徴とする渦電流式金属センサ。
In an eddy current type metal sensor that detects eddy currents of metal objects,
A first oscillation circuit that oscillates including the first coil;
A second oscillation circuit that oscillates including the second coil;
A measurement unit for measuring the number of oscillation pulses in each of the first oscillation circuit and the second oscillation circuit;
An adjustment unit that adjusts at least one of a measurement time of the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit by the measurement unit and a measurement time of the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit by the measurement unit;
A calculation unit for calculating a difference in the number of pulses measured by the measurement unit;
An eddy current type metal sensor comprising: a conversion unit that converts the difference calculated by the calculation unit into an eddy current of the object to be detected.
前記計測部は、前記第1発振回路における発振パルス数と、前記第2発振回路における発振パルス数とを交互に計測するように構成してあることを特徴とする請求項1に記載の渦電流式金属センサ。   2. The eddy current according to claim 1, wherein the measurement unit is configured to alternately measure the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit and the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit. Metal sensor. 前記第1コイル及び第2コイルは、同軸状に配されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の渦電流式金属センサ。   The eddy current metal sensor according to claim 1, wherein the first coil and the second coil are arranged coaxially. 前記第1発振回路及び第2発振回路の構成部材は、前記第1コイル及び第2コイルを除いて共通であることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の渦電流式金属センサ。   The component of the said 1st oscillation circuit and the 2nd oscillation circuit is common except the said 1st coil and the 2nd coil, The eddy current type | formula as described in any one of Claim 1 to 3 characterized by the above-mentioned. Metal sensor. その一面に前記第1コイルが配され、その他面に前記第2コイルが配されている基板を備えることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の渦電流式金属センサ。   The eddy current type metal sensor according to any one of claims 1 to 4, further comprising a substrate on which the first coil is disposed on one surface and the second coil on the other surface. 金属からなる被検出物の渦電流を検出する渦電流検出方法において、
前記被検出物からの距離が互いに異なる第1コイル及び第2コイルを含む組コイルを配置し、
前記第1コイルを含んで発振する第1発振回路の発振パルス数、及び、前記第2コイルを含んで発振する第2発振回路の発振パルス数を夫々計測し、
前記第1発振回路の発振パルス数を計測する第1計測時間、及び、前記第2発振回路の発振パルス数を計測する第2計測時間の少なくとも一方を調整し、
計測した発振パルス数の差分を算出し、
算出した差分を前記被検出物の渦電流に変換することを特徴とする渦電流検出方法。
In an eddy current detection method for detecting an eddy current of a metal object,
Arranging a coil assembly including a first coil and a second coil having different distances from the object to be detected;
Measuring the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit that oscillates including the first coil and the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit that oscillates including the second coil;
Adjusting at least one of a first measurement time for measuring the number of oscillation pulses of the first oscillation circuit and a second measurement time for measuring the number of oscillation pulses of the second oscillation circuit;
Calculate the difference in the number of measured oscillation pulses,
An eddy current detection method comprising converting the calculated difference into an eddy current of the object to be detected.
前記第2コイルの前記被検出物からの距離が前記第1コイルの前記被検出物からの距離より短い場合に、前記第2計測時間が前記第1計測時間より相対的に長くなるように前記第1計測時間及び前記第2計測時間の少なくとも一方を調整することを特徴とする請求項6に記載の渦電流検出方法。   When the distance from the object to be detected of the second coil is shorter than the distance from the object to be detected of the first coil, the second measurement time is relatively longer than the first measurement time. The eddy current detection method according to claim 6, wherein at least one of the first measurement time and the second measurement time is adjusted. 金属からなる被検出物の渦電流を検出する渦電流式金属センサにおいて、
前記被検出物の渦電流によりインダクタンスが変化する第1コイルを含んで発振する第1発振回路と、
前記被検出物の渦電流によりインダクタンスが変化する第2コイルを含んで発振する第2発振回路と、
前記第1発振回路及び第2発振回路夫々における発振パルス数を計測する計測部と、
前記計測部による前記第1発振回路における発振パルス数が所定値となるように計測時間を調整する第1調整部と、
前記第1調整部で調整した前記第1発振回路における発振パルス数の計測時間、及び、前記第2発振回路における発振パルス数の計測時間の少なくとも一方を、所定の環境下にて計測したそれぞれの発振パルス数に基づいて調整する第2調整部と、
前記第1調整部及び前記第2調整部による調整後の計測時間で、前記計測部にて計測した発振パルス数の差分を算出する算出部と、
前記算出部にて算出した差分を前記被検出物の渦電流に変換する変換部と
を備えることを特徴とする渦電流式金属センサ。
In an eddy current type metal sensor that detects eddy currents of metal objects,
A first oscillation circuit that oscillates including a first coil whose inductance changes due to eddy current of the object to be detected;
A second oscillation circuit that oscillates including a second coil whose inductance changes due to the eddy current of the object to be detected;
A measurement unit for measuring the number of oscillation pulses in each of the first oscillation circuit and the second oscillation circuit;
A first adjustment unit for adjusting a measurement time so that the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit by the measurement unit becomes a predetermined value;
At least one of the measurement time of the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit adjusted by the first adjustment unit and the measurement time of the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit is measured under a predetermined environment. A second adjustment unit for adjusting based on the number of oscillation pulses;
A calculation unit that calculates a difference in the number of oscillation pulses measured by the measurement unit in a measurement time after adjustment by the first adjustment unit and the second adjustment unit;
An eddy current type metal sensor comprising: a conversion unit that converts the difference calculated by the calculation unit into an eddy current of the object to be detected.
前記第2調整部は前記第2発振回路における発振パルス数の計測時間を調整することを特徴とする請求項8に記載の渦電流式金属センサ。   The eddy current metal sensor according to claim 8, wherein the second adjustment unit adjusts a measurement time of the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit. 前記算出部は、前記第1調整部及び前記第2調整部による計測時間の調整後、所定の環境下で、前記計測部にて、前記第1調整部及び前記第2調整部による調整後の計測時間で計測した発振パルス数の差分を算出し、
前記算出部が算出した差分により、前記第1発振回路における発振パルス数、及び、前記第2発振回路における発振パルス数の少なくとも一方を調整する第3調整部
をさらに備えることを特徴とする請求項8又は請求項9に記載の渦電流式金属センサ。
After the adjustment of the measurement time by the first adjustment unit and the second adjustment unit, the calculation unit, after the adjustment by the first adjustment unit and the second adjustment unit, in the measurement unit under a predetermined environment Calculate the difference in the number of oscillation pulses measured at the measurement time,
The third adjustment unit that adjusts at least one of the number of oscillation pulses in the first oscillation circuit and the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit based on the difference calculated by the calculation unit. The eddy current type metal sensor according to claim 8 or 9.
前記第3調整部は前記第2発振回路における発振パルス数を調整することを特徴とする請求項10に記載の渦電流式金属センサ。   The eddy current metal sensor according to claim 10, wherein the third adjustment unit adjusts the number of oscillation pulses in the second oscillation circuit. 上記所定の環境下は基準金属板を用いて、実現すること
を特徴とする請求項8から請求項11のいずれか一項に記載の渦電流式金属センサ。
The eddy current metal sensor according to any one of claims 8 to 11, wherein the predetermined environment is realized using a reference metal plate.
金属からなる被検出物の渦電流を検出する渦電流検出方法において、
検知コイル及び基準コイルを同軸上、又は互いの軸が平行でかつ軸方向で重なるようにした組コイルを配置し、
前記基準コイルを含んで発振する基準発振回路の発振パルス数を、予め定めた初期計測時間で計測し、
計測した発振パルス数が所定値となるように、前記初期計測時間を調整した第1計測時間を求め、
求めた前記第1計測時間と同じ時間を第2計測時間に設定し、基準金属板を検知コイル近傍所定位置に配置した後、
前記第1計測時間で前記基準発振回路の発振パルス数、及び前記第2計測時間で前記検知コイルを含んで発振する検知発振回路の発振パルス数をそれぞれ計測し、
計測した2つの発振パルス数に基づいて、前記第1計測時間及び前記第2計測時間の少なくとも一方を調整し、
前記基準金属板が除かれ前記被検出物が存在する環境下で、前記第1計測時間で前記基準発振回路の発振パルス数、及び前記第2計測時間で前記検知発振回路の発振パルス数をそれぞれ計測し、
計測した発振パルス数の差分を算出し、
算出した差分を前記被検出物の渦電流に変換することを特徴とする渦電流検出方法。
In an eddy current detection method for detecting an eddy current of a metal object,
Arrange the coil assembly in which the detection coil and the reference coil are coaxial, or the axes of each other are parallel and overlap in the axial direction.
Measure the number of oscillation pulses of a reference oscillation circuit that oscillates including the reference coil at a predetermined initial measurement time,
Obtaining a first measurement time obtained by adjusting the initial measurement time so that the measured number of oscillation pulses becomes a predetermined value;
After setting the same time as the obtained first measurement time as the second measurement time, and arranging the reference metal plate at a predetermined position near the detection coil,
Measure the number of oscillation pulses of the reference oscillation circuit in the first measurement time and the number of oscillation pulses of the detection oscillation circuit that oscillates including the detection coil in the second measurement time,
Adjusting at least one of the first measurement time and the second measurement time based on the measured two oscillation pulse numbers;
In an environment where the reference metal plate is removed and the object to be detected is present, the number of oscillation pulses of the reference oscillation circuit at the first measurement time and the number of oscillation pulses of the detection oscillation circuit at the second measurement time, respectively. Measure and
Calculate the difference in the number of measured oscillation pulses,
An eddy current detection method comprising converting the calculated difference into an eddy current of the object to be detected.
前記第2計測時間を調整することを特徴とする請求項13に記載の渦電流検出方法。   The eddy current detection method according to claim 13, wherein the second measurement time is adjusted.
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