JP2019078580A - Transmission light measuring device and optical device - Google Patents
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Abstract
Description
本開示は、可飽和吸収体を透過した透過光を測定する透過光測定装置、および、光学装置に関する。 The present disclosure relates to a transmitted light measurement device that measures transmitted light transmitted through a saturable absorber, and an optical device.
従来、レーザー出力装置によって出力されるレーザー光のパルス幅を短くするために、レーザー出力装置には可飽和吸収体(SA:Saturable Absorber)が設けられている。レーザー出力装置において、可飽和吸収体は、レーザー発振器によって発振されたレーザー光の光路上に配される。可飽和吸収体は、所定の飽和値未満の強度の入射光を吸収するが、飽和値以上の強度の入射光を透過する。したがって、可飽和吸収体は、レーザー発振器によって発振された1パルスのレーザー光のうち、飽和値以上となる中央部分のみを透過し、中央部分以外を吸収して透過させない。このため、可飽和吸収体を透過したレーザー光(透過光)のパルス幅は、入射光より短くなる。可飽和吸収体として、半導体や、カーボンナノチューブ、カーボンナノウォールが用いられている(例えば、非特許文献1)。 Conventionally, in order to shorten the pulse width of the laser beam output by the laser output device, the laser output device is provided with a saturable absorber (SA). In the laser output device, the saturable absorber is disposed on the optical path of the laser beam oscillated by the laser oscillator. The saturable absorber absorbs incident light of intensity less than a predetermined saturation value, but transmits incident light of intensity greater than the saturation value. Therefore, the saturable absorber transmits only the central portion having a saturation value or more of the 1-pulse laser beam oscillated by the laser oscillator, and does not absorb and transmit other than the central portion. Therefore, the pulse width of the laser beam (transmitted light) transmitted through the saturable absorber becomes shorter than the incident light. As the saturable absorber, a semiconductor, a carbon nanotube, or a carbon nanowall is used (for example, Non-Patent Document 1).
可飽和吸収体は、組成や厚み(可飽和吸収体を通過する光の光路長)によって、一義的に飽和値が決定される。このため、レーザー出力装置に組み込まれた可飽和吸収体自体を取り替えない限り、出力されるレーザー光(透過光)のパルス幅を調整することはできない。 The saturation value of the saturable absorber is uniquely determined by the composition and the thickness (optical path length of light passing through the saturable absorber). For this reason, the pulse width of the output laser light (transmitted light) can not be adjusted unless the saturable absorber itself incorporated in the laser output device is replaced.
そこで、可飽和吸収体を三角柱形状とし、可飽和吸収体を光路と直交する方向に一次元的に移動させることで、可飽和吸収体を通過するレーザー光の光路長を変化させてパルス幅を調整するレーザー出力装置が開発されている(例えば、特許文献1)。 Therefore, by making the saturable absorber into a triangular prism shape and moving the saturable absorber one-dimensionally in the direction orthogonal to the optical path, the optical path length of the laser beam passing through the saturable absorber is changed to change the pulse width. Laser output devices for tuning have been developed (e.g., Patent Document 1).
パルスレーザーの透過光を解析する場合、レーザーパワーメーターを用いる。ただし、レーザーパワーメーターの応答時間は数秒程度である。一方、1パルスの透過光の存在時間は1ピコ秒(10−12秒)に満たないため、1パルスの透過光をレーザーパワーメーターで測定することはできない。このため、レーザーパワーメーターにおいては、複数パルス(1011パルス以上)の透過光を積算して、強度、エネルギー密度、波長等の測定を行う。 When analyzing the transmitted light of the pulse laser, a laser power meter is used. However, the response time of the laser power meter is about several seconds. On the other hand, since the presence time of one pulse of transmitted light is less than one picosecond (10 -12 seconds), it is impossible to measure one pulse of transmitted light with a laser power meter. For this reason, in the laser power meter, transmitted light of a plurality of pulses (10 11 pulses or more) is integrated to measure the intensity, energy density, wavelength and the like.
ところで、近年、上記特許文献1のレーザー出力装置のレーザー発振器が発振するレーザー光より高強度であり、可飽和吸収体が破壊される程度のレーザー光を可飽和吸収体に透過させ、透過光で材料を加工したいという要望がある。この場合、材料の加工程度を決定するために、透過光の解析を要する。
By the way, in recent years, the laser light of the laser output device of
しかし、可飽和吸収体におけるレーザー光の照射箇所は、1パルスのレーザー光を照射しただけで破壊されてしまう。このため、次回の照射では、破壊された箇所にレーザー光が照射されるため、可飽和吸収体の透過光ではなく、発振されたレーザー光がそのままレーザーパワーメーターに到達することになる。したがって、レーザーパワーメーターにおいて透過光の積算ができず、透過光のみを測定できないという問題があった。 However, the irradiation point of the laser light in the saturable absorber is destroyed only by irradiation with the laser light of one pulse. Therefore, in the next irradiation, since the laser light is irradiated to the broken portion, the oscillated laser light, not the transmitted light of the saturable absorber, reaches the laser power meter as it is. Therefore, there is a problem that integration of transmitted light can not be performed in the laser power meter, and only transmitted light can not be measured.
本開示は、可飽和吸収体が破壊される程度に高強度のレーザー光を可飽和吸収体に透過させて得られる透過光を適切に測定することが可能な透過光測定装置および光学装置を提供することを目的としている。 The present disclosure provides a transmitted light measurement device and an optical device capable of appropriately measuring the transmitted light obtained by transmitting a laser beam of high intensity to the extent that the saturable absorber is destroyed to the saturable absorber. The purpose is to
上記課題を解決するために、本開示の一態様に係る透過光測定装置は、1013W/cm2以上の強度のレーザー光を発振するレーザー発振器と、可飽和吸収体を含み、前記レーザー発振器から発振されたレーザー光の光路上に位置させる照射面を有する可飽和吸収部と、前記照射面と前記光路とを相対移動させる移動部と、前記可飽和吸収部を透過したレーザー光を測定するレーザーパワーメーターと、を備える。 In order to solve the above problems, a transmitted light measurement device according to an aspect of the present disclosure includes a laser oscillator that oscillates a laser beam with an intensity of 10 13 W / cm 2 or more, and a saturable absorber, Measuring a laser beam transmitted through the saturable absorber, a saturable absorber having an illuminated surface positioned on the optical path of the laser beam oscillated from the light source, a moving unit relatively moving the illuminated surface and the optical path, and And a laser power meter.
また、前記移動部は、前記光路の延在方向と交差する第1の方向と、前記光路の延在方向および前記第1の方向と交差する第2の方向とに、前記照射面と前記光路とを相対移動させてもよい。 Further, the moving portion may have the irradiation surface and the optical path in a first direction intersecting the extending direction of the optical path, and in a second direction intersecting the extending direction of the optical path and the first direction. And relative movement.
また、前記可飽和吸収体は、カーボンナノウォールおよびカーボンナノチューブの一方または両方であり、前記可飽和吸収部は、ポリイミドおよびポリメタクリル酸メチルの一方または両方の樹脂と、前記樹脂中に配された前記可飽和吸収体とを含んでもよい。 Further, the saturable absorber is one or both of carbon nanowall and carbon nanotube, and the saturable absorbing portion is disposed in the resin of one or both of polyimide and poly (methyl methacrylate). And the saturable absorber.
上記課題を解決するために、本開示の一態様に係る光学装置は、可飽和吸収体を含み、1013W/cm2以上の強度のレーザー光の光路上に位置させる照射面を有する可飽和吸収部と、前記照射面と前記光路とを相対移動させる移動部と、を備える。 In order to solve the above problems, an optical device according to an aspect of the present disclosure includes a saturable absorber and has a saturable surface having an irradiation surface positioned on the optical path of laser light with an intensity of 10 13 W / cm 2 or more. An absorbing unit, and a moving unit configured to relatively move the irradiation surface and the optical path.
可飽和吸収体が破壊される程度に高強度のレーザー光を可飽和吸収体に透過させて得られる透過光を適切に測定することが可能となる。 It is possible to appropriately measure the transmitted light obtained by transmitting the laser light of high intensity to the extent that the saturable absorber is destroyed to the saturable absorber.
以下に添付図面を参照しながら、本開示の一実施形態について詳細に説明する。かかる実施形態に示す寸法、材料、その他具体的な数値等は、理解を容易とするための例示にすぎず、特に断る場合を除き、本開示を限定するものではない。なお、本明細書および図面において、実質的に同一の機能、構成を有する要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。また本開示に直接関係のない要素は図示を省略する。 Hereinafter, an embodiment of the present disclosure will be described in detail with reference to the attached drawings. The dimensions, materials, and other specific numerical values and the like shown in this embodiment are merely examples for facilitating understanding and do not limit the present disclosure unless otherwise specified. In the present specification and the drawings, elements having substantially the same functions and configurations will be denoted by the same reference numerals and redundant description will be omitted. Also, elements not directly related to the present disclosure are not shown.
(透過光測定装置100)
図1は、透過光測定装置100を説明する図である。図1に示すように、透過光測定装置100は、レーザー発振器110と、ビームスプリッタ120と、光学装置130と、レーザーパワーメーター140と、制御部150とを含んでいる。なお、図1中、レーザー光を実線の矢印で示し、信号の流れを破線の矢印で示す。
(Transmitted light measuring device 100)
FIG. 1 is a diagram for explaining the transmitted
レーザー発振器110は、1013W/cm2以上の強度のレーザー光を発振する。また、レーザー発振器110は、10−12秒未満のパルス幅でレーザー光(パルスレーザー)を発振する。より好ましくは、レーザー発振器110は、フェムト秒(10−15秒)やアト秒(10−18秒)のパルス幅でレーザー光を発振する。
The
レーザー光の強度(W/cm2)は、下記式(1)から算出することができる。
強度=エネルギー密度(J/cm2)/パルス幅 …式(1)
したがって、レーザー発振器110は、10(J/cm2)以上のエネルギー密度のレーザー光を発振するともいえる。
The intensity (W / cm 2 ) of the laser beam can be calculated from the following equation (1).
Intensity = energy density (J / cm 2 ) / pulse width equation (1)
Therefore, it can be said that the
ビームスプリッタ120は、レーザー発振器110によって発振されたレーザー光を2分割する。以下、分割され、直進する一方のレーザー光をレーザー光LAとし、直進する他方のレーザー光をレーザー光LBとする。レーザー光LAは、後述する可飽和吸収部に導かれ、レーザー光LBは、後述するレーザーパワーメーター140に導かれる。なお、発振されたレーザー光の光量を1とした場合、レーザー光LAの光量とレーザー光LBの光量との和は理論上1となる。
The
光学装置130は、可飽和吸収部を含み、ビームスプリッタ120によって分割されたレーザー光LAの光路上に可飽和吸収部を位置させる。
The
図2は、光学装置130を説明する図である。本実施形態の図2をはじめとする以下の図では、垂直に交わるX軸、Y軸、Z軸を図示の通り定義している。図2に示すように、光学装置130は、集光レンズ132と、可飽和吸収部134と、移動部136とを含んでいる。なお、図2中、レーザー光LAを実線の矢印で示し、信号の流れを破線の矢印で示す。
FIG. 2 is a diagram for explaining the
集光レンズ132は、不図示の固定部によって、レーザー光LAの光路(図2中X軸方向)上に配される。集光レンズ132は、レーザー光LAを集光する。集光レンズ132は、例えば、凸レンズで構成される。
The
可飽和吸収部134は、図2中YZ平面に延在した平板(シート)形状である。可飽和吸収部134は、図2中X軸方向の一方の面(照射面134a)が、集光レンズ132に対向するように後述する移動部136の保持部136aに保持される。つまり、可飽和吸収部134は、照射面134aが、集光レンズ132によって集光されたレーザー光LAの光路上に位置するように移動部136に保持される。
The
図3は、可飽和吸収部134を説明する図である。具体的に説明すると、図3(a)は、可飽和吸収部134の斜視図である。図3(b)は、可飽和吸収部134の断面図である。なお、図3(b)中、レーザー光LAを白抜き矢印で示す。
FIG. 3 is a diagram for explaining the
図3(a)、図3(b)に示すように、可飽和吸収部134は、可飽和吸収体160と、囲繞部162とを含んでいる。可飽和吸収部134の厚み(図3(a)、図3(b)中X軸方向の長さ)は、1μm〜100μm程度である。
As shown in FIGS. 3A and 3B, the
本実施形態において、可飽和吸収体160は、初期透過率が10%未満(例えば、0%)の物質で構成される。可飽和吸収体160は、例えば、複数のカーボンナノウォールで構成される。カーボンナノウォールは、複数のグラフェンが積層されたものである。カーボンナノウォールの厚み(図3(b)中Z軸方向の長さ)は、例えば、1nm以上100nm以下である。また、隣り合うカーボンナノウォール間の距離(図3(b)中Z軸方向の距離)は、例えば、1nm以上10μm以下である。
In the present embodiment, the
囲繞部162は、可飽和吸収体160を囲繞する。つまり、可飽和吸収体160は、囲繞部162に埋め込まれている。囲繞部162は、1013W/cm2以上の強度のレーザー光に対する透過性および耐熱性を有する樹脂である。囲繞部162は、例えば、ポリイミドおよびポリメタクリル酸メチル(PMMA)の一方または両方を含んでいる。囲繞部162がポリイミドを含むことにより、耐熱性を向上させることができる。また、囲繞部162がPMMAを含むことにより、とレーザー光の透過率を向上させることが可能となる。つまり、囲繞部162がポリイミドおよびPMMAを含むことにより、耐熱性および透過率を向上させることが可能となる。また囲繞部162を有することにより、可飽和吸収体160を平板形状に成形することができる。
The surrounding
図2に戻って説明すると、移動部136は、保持部136aと、シャフト136bと、駆動部136cとを含んでいる。保持部136aは、可飽和吸収部134を保持する。保持部136aは、例えば、2つの枠体で構成され、枠体間に可飽和吸収部134が挟持される。シャフト136bは、保持部136aに接続される。駆動部136cは、アクチュエーターで構成される。駆動部136cは、後述する制御部150による制御指令に従って、シャフト136b、保持部136aを介して、可飽和吸収部134を移動させる。
Returning to FIG. 2, the moving
図4は、移動部136による可飽和吸収部134の移動方向を説明する図である。図4中、レーザー光LAの光路の軌跡を破線の矢印で示す。
FIG. 4 is a diagram for explaining the moving direction of the
駆動部136cは、レーザー光LAの光路の延在方向(図4中X軸方向)と直交する第1の方向(図4中Y軸方向)に照射面134aが移動するように(例えば、Y軸方向の負の方に)、可飽和吸収部134を移動させる。また、駆動部136cは、レーザー光LAの光路の延在方向および第1の方向と直交する第2の方向(図4中Z軸方向)に、照射面134aが移動するように、可飽和吸収部134を移動させる。具体的に説明すると、駆動部136cは、まず、可飽和吸収部134の照射面134aの端部に光路が位置するように可飽和吸収部134を保持する(初期位置)。続いて、駆動部136cは、Y軸方向の負の方に、可飽和吸収部134を所定の距離Sa分移動させる。距離Saは、例えば、可飽和吸収部134のY軸方向の幅よりわずかに短い距離である。続いて、駆動部136cは、Z軸方向の正の方に、可飽和吸収部134を所定の距離Sb分移動させる。距離Sbは、例えば、レーザー光LAのビーム径の1倍以上2倍以下の距離である。そして、移動部136は、Y軸方向の正の方に、可飽和吸収部134を所定の距離Sa分移動させる。このようにして、固定されたレーザー光LAの光路に対し、可飽和吸収部134の照射面134aが第1の方向および第2の方向に走査されることになる。
The
図1に戻って説明すると、レーザーパワーメーター140は、可飽和吸収部134の照射面134aの裏面側に配される。レーザーパワーメーター140は、可飽和吸収部134を透過したレーザー光(以下、「透過光」と称する)を測定する。また、レーザーパワーメーター140は、ビームスプリッタ120によって分割されたレーザー光LBを測定する。レーザーパワーメーター140による、透過光の測定結果およびレーザー光LBの測定結果は、制御部150に出力される。なお、可飽和吸収部134を介したレーザー光LAを測定するレーザーパワーメーター140とは異なるパワーメーターが設けられ、このパワーメーターがレーザー光LBを測定してもよい。
Referring back to FIG. 1, the
制御部150は、CPU(中央処理装置)を含む半導体集積回路で構成される。制御部150は、ROMからCPU自体を動作させるためのプログラムやパラメータ等を読み出す。制御部150は、ワークエリアとしてのRAMや他の電子回路と協働して透過光測定装置100全体を管理および制御する。
The
本実施形態において、制御部150は、レーザー発振器110にレーザー光を1パルスずつ所定の発振間隔で発振させる。
In the present embodiment, the
また、制御部150は、レーザー発振器110がレーザー光を1パルス発振してから所定の通過時間が経過したら、第1の方向または第2の方向に可飽和吸収部134を所定の離隔距離分移動させるように移動部136(駆動部136c)を制御する。つまり、制御部150は、可飽和吸収部134が間欠的に移動するように移動部136を制御する。なお、通過時間は、レーザー発振器110から発振されたレーザー光が可飽和吸収部134を通過するまでの時間である。また、離隔距離は、可飽和吸収部134の照射面134aに照射されるレーザー光LA(集光レンズ132によって集光されたレーザー光LA)のビーム径(例えば、10μm程度)によって決定される。離隔距離は、移動部136による移動前と移動後において、レーザー光LAの照射箇所が重ならない距離である。
Further, the
また、制御部150は、レーザーパワーメーター140による、透過光の測定結果およびレーザー光LB(参照光)の測定結果に基づいて、可飽和吸収部134の透過率を算出する。
Further, the
以上説明したように、本実施形態の光学装置130およびこれを備えた透過光測定装置100は、移動部136を備えるため、レーザー光LAの光路に対し、可飽和吸収部134の照射面134aを移動させることができる。また、移動部136は、1パルスのレーザー光が発振される度に、可飽和吸収部134を離隔距離分移動させる。これにより、照射面134aにおけるレーザー光LAが照射される部分を常時変更することができる。つまり、照射面134aにおける破壊されていない箇所にレーザー光LAを照射することが可能となる。換言すれば、照射面134aにおいてすでに破壊された箇所にレーザー光LAが照射される事態を回避することができる。したがって、可飽和吸収部134を透過した透過光を、複数パルス分、レーザーパワーメーター140に到達させることができる。これにより、レーザーパワーメーター140において、透過光を積算することができ、透過光の測定を適切に行うことが可能となる。
As described above, since the
したがって、可飽和吸収部134の評価を行うことができ、所望する透過率の可飽和吸収部134を製造することが可能となる。例えば、可飽和吸収体160がカーボンナノウォールである場合、カーボンナノウォールの高さや密度を調整して、所望する透過率の可飽和吸収部134を製造することができる。
Therefore, the
また、上記したように、移動部136は、第1の方向および第2の方向に二次元的に可飽和吸収部134を移動させる。つまり、移動部136は、可飽和吸収部134の照射面134a全面に亘って満遍なくレーザー光LAが照射されるように、可飽和吸収部134を移動させる。これにより、移動部136が、一方向のみに一次元的に可飽和吸収部134を移動させる構成と比較して、レーザーパワーメーター140で測定できる積算時間を稼ぐために必要な可飽和吸収部134の大きさを小さくすることができる。したがって、レーザー発振器110から照射面134aまでの距離の誤差を小さくすることができ、透過光の測定を高精度に行うことが可能となる。
In addition, as described above, the moving
(変形例)
上記実施形態では、レーザー光LAの光路が固定されており、移動部136が可飽和吸収部134を移動させる構成を例に挙げて説明した。しかし、レーザー光LAの光路と、可飽和吸収部134の照射面134aとが相対的に移動できれば、光路を移動させてもよい。
(Modification)
In the above embodiment, the optical path of the laser light LA is fixed, and the moving
図5は、変形例の光学装置230を説明する図である。図5中、レーザー光LAを実線の矢印で示し、信号の流れを破線の矢印で示す。また、上記光学装置130と実質的に等しい構成要素については、同一の符号を付して説明を省略する。
FIG. 5 is a diagram for explaining an
図5に示すように、光学装置230は、移動部240と、可飽和吸収部134とを含んでいる。光学装置230において、可飽和吸収部134は、不図示の固定部によって固定される。
As shown in FIG. 5, the
移動部240は、ミラー242と、ミラー駆動部244と、Fθレンズ246とを含んでいる。ミラー242は、レーザー光LAをFθレンズ246に導く。
The moving
ミラー駆動部244は、シャフト244aと、駆動部244bとを含んでいる。シャフト244aは、ミラー242に接続される。駆動部244bは、アクチュエーターで構成される。駆動部244bは、制御部150による制御指令に従って、シャフト244aを介して、ミラー242を移動させる。具体的に説明すると、駆動部244bは、ミラー242を移動させて、Fθレンズ246に導くレーザー光LAの光路を移動させる。駆動部244bは、ミラー242を移動させて、レーザー光LAの光路を上記第1の方向と、第2の方向とに移動させる。例えば、駆動部244bは、Fθレンズ246に導くレーザー光LAの光路を、光路KAから光路KBに移動させる。
The
Fθレンズ246は、入射角に拘わらず、出射角を等しくできるレンズである。したがって、駆動部244bがミラー242を移動させて、Fθレンズ246に入射されるレーザー光LAの光路を移動させるだけで、可飽和吸収部134(照射面134a)の異なる位置に垂直にレーザー光LAを導くことが可能となる。
The
以上説明したように、変形例の光学装置230は、移動部240が、固定された可飽和吸収部134の照射面134aに対し、レーザー光LAの光路を移動させることができる。また、移動部240は、1パルスのレーザー光が発振される度に、レーザー光LAの光路を離隔距離分移動させる。これにより、照射面134aにおいてレーザー光LAが照射される部分を常時変更することができる。したがって、可飽和吸収部134を透過した透過光を、複数パルス分、レーザーパワーメーター140に到達させることができる。これにより、レーザーパワーメーター140において、透過光を積算することができ、透過光の測定を行うことが可能となる。
As described above, in the
以上、添付図面を参照しながら一実施形態について説明したが、本開示は上記実施形態に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。 As mentioned above, although one embodiment was described, referring to an accompanying drawing, it goes without saying that this indication is not limited to the above-mentioned embodiment. It is apparent that those skilled in the art can conceive of various modifications and alterations within the scope of the claims, and it is understood that they are naturally within the technical scope of the present disclosure. Be done.
例えば、上述した実施形態および変形例では、第1の方向が、レーザー光LAの光路の延在方向と直交する方向である場合を例に挙げて説明した。しかし、第1の方向は、レーザー光LAの光路の延在方向と交差する方向であればよい。同様に、第2の方向は、レーザー光LAの光路の延在方向および第1の方向と交差する方向であればよい。 For example, in the embodiment and the modification described above, the case where the first direction is a direction orthogonal to the extending direction of the light path of the laser light LA has been described as an example. However, the first direction may be a direction that intersects the extending direction of the light path of the laser light LA. Similarly, the second direction may be a direction intersecting the extending direction of the light path of the laser light LA and the first direction.
また、上記実施形態および変形例では、移動部136、240が、可飽和吸収部134の照射面134aと、レーザー光LAの光路とを二次元的に相対移動させる構成を例に挙げて説明した。しかし、移動部136、240は、可飽和吸収部134の照射面134aと、レーザー光LAの光路とを一次元的に相対移動させてもよい。
Further, in the above embodiment and the modification, the moving
また、上記実施形態において、移動部136が可飽和吸収部134を間欠的に移動させる構成を例に挙げて説明した。しかし、移動部136は、可飽和吸収部134を連続して移動させてもよい。同様に、移動部240は、レーザー光LAの光路を連続して移動させてもよい。
In the above embodiment, the moving
また、上記実施形態において、移動部136が、レーザー光が1パルス発振される度に、可飽和吸収部134を移動させる構成を例に挙げて説明した。しかし、移動部136は、レーザー光が複数パルス(例えば、ダブルパルス)発振される度に、可飽和吸収部134を移動させてもよい。
In the above embodiment, the moving
また、上記実施形態において、可飽和吸収体160がカーボンナノウォールである場合を例に挙げて説明した。しかし、可飽和吸収体160は、カーボンナノチューブであってもよい。可飽和吸収体160がカーボンナノチューブである場合には、カーボンナノチューブとともに、カーボンナノチューブ同士の凝集を抑制する分散剤を樹脂に埋め込むとよい。また、可飽和吸収体160は、二硫化モリブデンで構成されたシートであってもよい。また、可飽和吸収体160は、半導体であってもよい。
Moreover, in the said embodiment, the case where the
本開示は、可飽和吸収体を透過した透過光を測定する透過光測定装置、および、光学装置に利用することができる。 The present disclosure can be used for a transmitted light measurement device that measures transmitted light transmitted through a saturable absorber, and an optical device.
110 レーザー発振器
130 光学装置
134 可飽和吸収部
134a 照射面
136 移動部
140 レーザーパワーメーター
160 可飽和吸収体
230 光学装置
240 移動部
DESCRIPTION OF
Claims (4)
可飽和吸収体を含み、前記レーザー発振器から発振されたレーザー光の光路上に位置させる照射面を有する可飽和吸収部と、
前記照射面と前記光路とを相対移動させる移動部と、
前記可飽和吸収部を透過したレーザー光を測定するレーザーパワーメーターと、
を備える透過光測定装置。 A laser oscillator that oscillates a laser beam having an intensity of 10 13 W / cm 2 or more;
A saturable absorber including a saturable absorber and having an irradiated surface positioned on the optical path of laser light oscillated from the laser oscillator;
A moving unit for relatively moving the irradiation surface and the light path;
A laser power meter for measuring a laser beam transmitted through the saturable absorber;
Transmitted light measuring device comprising:
前記可飽和吸収部は、ポリイミドおよびポリメタクリル酸メチルの一方または両方の樹脂と、前記樹脂中に配された前記可飽和吸収体とを含む請求項1または2に記載の透過光測定装置。 The saturable absorber is one or both of carbon nanowalls and carbon nanotubes,
The transmitted light measuring device according to claim 1 or 2, wherein the saturable absorber includes one or both resins of polyimide and poly (methyl methacrylate), and the saturable absorber disposed in the resin.
前記照射面と前記光路とを相対移動させる移動部と、
を備える光学装置。 A saturable absorber having an irradiation surface including a saturable absorber and positioned on the optical path of a laser beam having an intensity of 10 13 W / cm 2 or more;
A moving unit for relatively moving the irradiation surface and the light path;
An optical device comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2017204210A JP2019078580A (en) | 2017-10-23 | 2017-10-23 | Transmission light measuring device and optical device |
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JP2017204210A Pending JP2019078580A (en) | 2017-10-23 | 2017-10-23 | Transmission light measuring device and optical device |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2019078580A (en) |
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