JP2019052054A - Silver coated tin tellurium glass powder, manufacturing method therefor, and conductive paste - Google Patents

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Abstract

To provide a silver coated tin tellurium glass powder capable of enhancing generation efficiency of solar cells when used for an electrode application of the solar cells, a manufacturing method therefor, and a conductive paste containing the silver coated tin tellurium glass powder.SOLUTION: There is provided a silver coated tin tellurium glass powder having a silver coated layer on a surface of a tin tellurium containing tin and tellurium, and further two or more selected from lithium, zinc, silicon, aluminum and bismuth, in which the tin tellurium glass powder has a peak of oxide containing two or more selected from lithium, zinc, silicon, and aluminum or a peak of oxide containing bismuth and no peak of oxide containing tin detected in a powder X ray diffraction.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、太陽電池などの半導体電極用の導電性ペーストに含まれる材料として適した銀被覆鉛テルルガラス粉およびその製造方法、ならびに導電性ペーストに関する。   The present invention relates to a silver-coated lead tellurium glass powder suitable as a material contained in a conductive paste for semiconductor electrodes such as solar cells, a method for producing the same, and a conductive paste.

従来より、銀粉、バインダー、溶剤、ガラスフリットなどを含有する導電性ペーストが太陽電池などの半導体電極用に使用されている。
太陽電池などの半導体の電極用途として、ガラスフリットとして酸化テルルを含む鉛テルルガラスを用いることよって、接触抵抗を下げて良好な太陽電池特性が得られる導電性ペーストが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
また、鉛テルルガラスを用いた厚膜ペーストを太陽電池の電極に用いることにより反射防止コーティングを貫通し、半導体基板との良い電気的接触を得ることが提案されている(例えば、特許文献2参照)。
Conventionally, conductive paste containing silver powder, binder, solvent, glass frit and the like has been used for semiconductor electrodes such as solar cells.
As an electrode for a semiconductor such as a solar cell, a conductive paste has been proposed that uses lead tellurium glass containing tellurium oxide as a glass frit to reduce contact resistance and obtain good solar cell characteristics (for example, patents). Reference 1).
Further, it has been proposed to use a thick film paste made of lead tellurium glass as an electrode of a solar cell to penetrate an antireflection coating and obtain good electrical contact with a semiconductor substrate (see, for example, Patent Document 2). ).

特開2011−96747号公報JP 2011-96747 A 特表2013−533188号公報Special table 2013-533188 gazette

太陽電池の電極用途として、ペースト作製時のペースト粘度を低減させ、接触抵抗を下げて良好な太陽電池特性が得られる太陽電池電極用のペースト材料および導電性ペーストが求められている。   As a solar cell electrode application, there is a need for a paste material and a conductive paste for a solar cell electrode that can reduce paste viscosity during paste preparation and lower contact resistance to obtain good solar cell characteristics.

本発明は、従来における前記諸問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、太陽電池の電極用途に用いた場合に、太陽電池の発電効率(以降、変換効率ともいう)を向上させることが可能な銀被覆鉛テルルガラス粉およびその製造方法、ならびに前記銀被覆鉛テルルガラス粉を含有する導電性ペーストを提供することを目的とする。   An object of the present invention is to solve the above-described problems and achieve the following objects. That is, the present invention is a silver-coated lead tellurium glass powder capable of improving the power generation efficiency (hereinafter also referred to as conversion efficiency) of a solar cell when used for an electrode application of a solar cell, a method for producing the same, and the above-described method An object is to provide a conductive paste containing silver-coated lead tellurium glass powder.

従来、酸やアルカリに溶けやすいテルルを含む鉛テルルガラス粉については、銀被覆処理が可能であるか予測できず、溶け出す恐れのある鉛テルルガラス粉に対しては銀被覆処理を行う動機が無かった。
そこで、本発明者らが前記鉛テルルガラス粉を用いて銀被覆を試みたところ、銀層による鉛テルルガラス粉の銀被覆はできないことがわかった。しかし、特定の粉末X線回折ピークを有する鉛テルルガラス粉に銀被覆することができ、得られた銀被覆鉛テルルガラス粉を評価したところ、太陽電池の発電効率を向上させる効果があることを知見した。
Conventionally, for lead tellurium glass powder containing tellurium that is easily soluble in acids and alkalis, it is impossible to predict whether silver coating treatment is possible, and there is a motive for silver coating treatment for lead tellurium glass powder that may be dissolved. There was no.
Then, when the present inventors tried silver coating using the said lead tellurium glass powder, it turned out that the silver coating of the lead tellurium glass powder by a silver layer cannot be performed. However, lead tellurium glass powder having a specific powder X-ray diffraction peak can be coated with silver, and when the obtained silver-coated lead tellurium glass powder is evaluated, it has the effect of improving the power generation efficiency of the solar cell. I found out.

本発明者らは、前記目的を解決すべく、鋭意検討した結果、鉛、およびテルルを含み、さらに、リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、およびビスマスから選ばれる2つ以上を含む鉛テルルガラス粉の表面に、銀被覆層を有する銀被覆鉛テルルガラス粉であって、前記鉛テルルガラス粉が、粉末X線回折において、リチウム、亜鉛、シリコン、およびアルミニウムから選ばれる2つ以上またはビスマスを含む酸化物のピークが検出され、鉛を含む酸化物のピークが検出されない銀被覆鉛テルルガラス粉が、太陽電池の電極用途として、ペースト作製時のペースト粘度を低減させ、接触抵抗を下げて良好な太陽電池特性が得られることを見出し、本発明の完成に至った。   As a result of intensive studies to solve the above object, the present inventors have found that lead tellurium glass powder contains lead and tellurium, and further contains two or more selected from lithium, zinc, silicon, aluminum, and bismuth. A silver-coated lead tellurium glass powder having a silver coating layer on the surface, wherein the lead tellurium glass powder contains two or more selected from lithium, zinc, silicon, and aluminum or bismuth in powder X-ray diffraction The silver-coated lead tellurium glass powder, in which the peak of the product is detected and the peak of the oxide containing lead is not detected, reduces the paste viscosity at the time of paste preparation and lowers the contact resistance as a good solar The present inventors have found that battery characteristics can be obtained and have completed the present invention.

本発明は、本発明者らによる前記知見に基づくものであり、前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。すなわち、
<1> 鉛、およびテルルを含み、さらに、リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、およびビスマスから選ばれる2つ以上を含む鉛テルルガラス粉の表面に、銀被覆層を有する銀被覆鉛テルルガラス粉であって、
前記鉛テルルガラス粉は、粉末X線回折において、リチウム、亜鉛、シリコン、およびアルミニウムから選ばれる2つ以上を含む酸化物のピークまたはビスマスを含む酸化物のピークが検出され、鉛を含む酸化物のピークが検出されないことを特徴とする銀被覆鉛テルルガラス粉である。
<2> 前記鉛テルルガラス粉が、高周波誘導結合プラズマ(ICP)分析値として、テルルを15質量%〜40質量%、鉛を15質量%〜40質量%含有することを特徴とする前記<1>に記載の銀被覆鉛テルルガラス粉である。
<3> 前記銀被覆層が、テルルを含むことを特徴とする前記<1>または<2>に記載の銀被覆鉛テルルガラス粉である。
<4> 前記<1>から<3>のいずれかに記載の銀被覆鉛テルルガラス粉を含有することを特徴とする導電性ペーストである。
<5> 太陽電池の電極用であることを特徴とする前記<4>に記載の導電性ペーストである。
<6> 鉛、テルルを含み、さらに、リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、ビスマスから選ばれる2つ以上を含み、粉末X線回折において、リチウム、亜鉛、シリコン、およびアルミニウムから選ばれる2つ以上を含む酸化物のピークまたはビスマスを含む酸化物のピークが検出され、鉛を含む酸化物のピークが検出されない鉛テルルガラス粉を、銀錯体溶液に添加した後、還元剤を添加して表面に銀被覆層を形成させることを特徴とする銀被覆鉛テルルガラス粉の製造方法である。
The present invention is based on the above findings by the present inventors, and means for solving the above problems are as follows. That is,
<1> A silver-coated lead tellurium glass powder having a silver coating layer on the surface of a lead tellurium glass powder containing lead and tellurium and further including two or more selected from lithium, zinc, silicon, aluminum, and bismuth. There,
In the lead tellurium glass powder, in powder X-ray diffraction, an oxide peak containing two or more selected from lithium, zinc, silicon, and aluminum or an oxide peak containing bismuth is detected, and an oxide containing lead The silver-coated lead tellurium glass powder is characterized in that no peak is detected.
<2> The above lead tellurium glass powder contains 15% to 40% by mass of tellurium and 15% to 40% by mass of lead as high frequency inductively coupled plasma (ICP) analysis values. > Is a silver-coated lead tellurium glass powder.
<3> The silver-coated lead tellurium glass powder according to <1> or <2>, wherein the silver coating layer contains tellurium.
<4> A conductive paste comprising the silver-coated lead tellurium glass powder according to any one of <1> to <3>.
<5> The conductive paste according to <4>, wherein the conductive paste is used for an electrode of a solar cell.
<6> Including lead and tellurium, and further including two or more selected from lithium, zinc, silicon, aluminum and bismuth. In powder X-ray diffraction, two or more selected from lithium, zinc, silicon and aluminum are included. After adding lead tellurium glass powder in which the peak of oxide containing oxide or the peak of oxide containing bismuth is not detected and the peak of oxide containing lead is not detected to the silver complex solution, a reducing agent is added to the surface to add silver A method for producing a silver-coated lead tellurium glass powder characterized by forming a coating layer.

本発明によると、太陽電池の電極用途に用いた場合に、太陽電池の発電効率を向上させることが可能な銀被覆鉛テルルガラス粉およびその製造方法、ならびに前記銀被覆鉛テルルガラス粉を含有する導電性ペーストおよびその製造方法を提供することができる。   According to the present invention, the silver-coated lead tellurium glass powder capable of improving the power generation efficiency of the solar battery when used for an electrode application of a solar battery, a method for producing the same, and the silver-coated lead tellurium glass powder are contained. A conductive paste and a method for manufacturing the same can be provided.

図1は、実施例1−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によるX線分析データを示す図である。FIG. 1 is a diagram showing X-ray analysis data obtained by powder X-ray diffraction of the lead tellurium glass powder of Example 1-1. 図2は、実施例1−1の銀被覆鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によるX線分析データを示す図である。FIG. 2 is a diagram showing X-ray analysis data by powder X-ray diffraction of the silver-coated lead tellurium glass powder of Example 1-1. 図3は、実施例3−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によるX線分析データを示す図である。FIG. 3 is a diagram showing X-ray analysis data by powder X-ray diffraction of the lead tellurium glass powder of Example 3-1. 図4は、実施例3−1の銀被覆鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によるX線分析データを示す図である。FIG. 4 is a diagram showing X-ray analysis data obtained by powder X-ray diffraction of the silver-coated lead tellurium glass powder of Example 3-1. 図5は、比較例4−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によるX線分析データを示す図である。FIG. 5 is a diagram showing X-ray analysis data by powder X-ray diffraction of the lead tellurium glass powder of Comparative Example 4-1. 図6は、比較例5−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によるX線分析データを示す図である。FIG. 6 is a diagram showing X-ray analysis data by powder X-ray diffraction of the lead tellurium glass powder of Comparative Example 5-1.

(銀被覆鉛テルルガラス粉)
本発明の銀被覆鉛テルルガラス粉は、鉛、およびテルルを含み、さらに、リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、およびビスマスから選ばれる2つ以上を含む鉛テルルガラス粉の表面に、銀被覆層を有する。
(Silver-coated lead tellurium glass powder)
The silver-coated lead tellurium glass powder of the present invention contains lead and tellurium, and further includes a silver coating layer on the surface of the lead tellurium glass powder containing two or more selected from lithium, zinc, silicon, aluminum, and bismuth. Have.

<鉛テルルガラス粉>
前記鉛テルルガラス粉は、粉末X線回折において、リチウム、亜鉛、シリコン、およびアルミニウムから選ばれる2つ以上を含む酸化物のピークまたはビスマスを含む酸化物のピークが検出され、鉛を含む酸化物のピークが検出されないガラス粉である。ガラス粉はガラスフリットともいう。
<Lead tellurium glass powder>
In the lead tellurium glass powder, in powder X-ray diffraction, an oxide peak containing two or more selected from lithium, zinc, silicon, and aluminum or an oxide peak containing bismuth is detected, and an oxide containing lead This is a glass powder in which no peak is detected. Glass powder is also called glass frit.

前記粉末X線回折の方法としては、JIS K 0131のX線回折分析通則に従い、CuKαをX線源として分析を行うことができる。市販のX線回折装置には解析用のソフトウエアが付属しており、前記ソフトウエアと国際回析データセンター(ICDD)のデータベースを用いてピークデータからの結晶性の物質の同定(以下、定性分析ともいう)を行うことができる。前記定性分析としては、統合粉末X線解析ソフトウェア(PDXL、リガク株式会社製)を用いて、平滑化処理(平滑化条件は、平滑化パラメーター:10.0、平滑化点数:11、X閾値:1.50)の後、バックグラウンドの除去(ピーク閾値:1.00、強度閾値:10.0)、Kα2除去(強度比:0.4970)を行った上で、2次微分法(σカット値:4.5)による自動ピークサーチによって得られたピークに対し、ICDDのデータを使用してピーク位置と強度比を元にハナワルト法を用いて行うことができる。   As the method of powder X-ray diffraction, analysis can be performed using CuKα as an X-ray source according to the general rules of X-ray diffraction analysis of JIS K 0131. A commercially available X-ray diffractometer is provided with analysis software, and identification of crystalline substances from peak data (hereinafter qualitative) using the software and the database of the International Diffraction Data Center (ICDD). Analysis). As the qualitative analysis, using an integrated powder X-ray analysis software (PDXL, manufactured by Rigaku Corporation), smoothing processing (smoothing conditions are smoothing parameters: 10.0, smoothing points: 11, X threshold: 1.50) followed by background removal (peak threshold: 1.00, intensity threshold: 10.0) and Kα2 removal (intensity ratio: 0.4970), followed by second-order differential method (σ cut) The peak obtained by the automatic peak search according to the value 4.5) can be performed using the Hanawalt method based on the peak position and the intensity ratio using the ICDD data.

ここで、鉛を含む酸化物のピークが検出されないとは、すなわち、ハナワルト法によってピークが全て同定されたときに、鉛を含む酸化物が同定された物質として選択されていない場合をいう。
なお、テルルは反応性が高いため、前記鉛テルルガラス粉において、ガラスとして含まれる場合と、一部が酸化物として含まれる場合と、いずれの場合もある。
Here, that the peak of the oxide containing lead is not detected, that is, when all the peaks are identified by the Hanawald method, the oxide containing lead is not selected as the identified substance.
In addition, since tellurium is highly reactive, the lead tellurium glass powder may be included as glass or partially as oxide.

なお、前記銀被覆鉛テルルガラス粉の状態においても、前記粉末X線回折を同様に行い、その結果から、銀のピークと前記酸化物のピークと非晶質ガラス部分のプロファイルを測定することができる。後述する実施例1−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回折のデータを図1に、実施例1−1の銀被覆後の銀被覆鉛テルルガラス粉の粉末X線回折のデータを図2に示す。銀被覆後(図2)は銀被覆前(図1)対して銀のピークが追加されている以外は、ピーク位置は変わらない。よって、銀被覆鉛テルルガラス粉のピークから銀のピークを除いたものを、鉛テルルガラス粉のピークであると同定することができる。   In the state of the silver-coated lead tellurium glass powder, the powder X-ray diffraction is performed in the same manner, and from the results, the profile of the silver peak, the oxide peak, and the amorphous glass portion can be measured. it can. The powder X-ray diffraction data of the lead tellurium glass powder of Example 1-1 described later is shown in FIG. 1, and the powder X-ray diffraction data of the silver-coated lead tellurium glass powder of Example 1-1 after silver coating is shown in FIG. Shown in After silver coating (FIG. 2), the peak position remains the same except that a silver peak is added to that before silver coating (FIG. 1). Therefore, what remove | excluded the silver peak from the peak of silver covering lead tellurium glass powder can be identified as the peak of lead tellurium glass powder.

前記鉛テルルガラス粉としては、適宜製造したものを使用してもよいし、市販品を使用してもよい。前記鉛テルルガラス粉としては、例えば、各成分を含む酸化物を混合し、700℃〜1,500℃の温度範囲で溶融し、冷却し、粉砕することにより製造することができる。
前記粉砕の方法としては、特に制限はなく、目的に応じて乾式、湿式を問わず公知の粉砕方法を適宜選択することができる。前記乾式の粉砕方法としては、例えば、ボールミルやジェットミル等を用いる方法などが挙げられ、粉砕助剤を添加することで粉砕効率を向上させることができる。前記湿式の粉砕方法としては、例えば、ボールミルやビーズミル等で溶剤を用いる方法などが挙げられる。前記溶媒としては、例えば、水やアルコールなどの成分が溶出しない溶媒を適宜選択することができる。
As said lead tellurium glass powder, what was manufactured suitably may be used and a commercial item may be used. The lead tellurium glass powder can be produced, for example, by mixing an oxide containing each component, melting in a temperature range of 700 ° C. to 1,500 ° C., cooling, and pulverizing.
There is no restriction | limiting in particular as the said grinding | pulverization method, According to the objective, a well-known grinding | pulverization method can be selected suitably regardless of a dry type and wet type. Examples of the dry pulverization method include a method using a ball mill or a jet mill, and the pulverization efficiency can be improved by adding a pulverization aid. Examples of the wet pulverization method include a method using a solvent in a ball mill or a bead mill. As said solvent, the solvent from which components, such as water and alcohol, do not elute, for example can be selected suitably.

前記鉛テルルガラス粉は、高周波誘導結合プラズマ(ICP)分析値として、テルルを15質量%〜40質量%、鉛を15質量%〜40質量%含有することが好ましい。前記数値範囲を満たすことにより、太陽電池の高い発電効率を得ることができる導電性ペーストを得ることができる。   The lead tellurium glass powder preferably contains 15% to 40% by mass of tellurium and 15% to 40% by mass of lead as high frequency inductively coupled plasma (ICP) analysis values. By satisfy | filling the said numerical range, the electrically conductive paste which can obtain the high electric power generation efficiency of a solar cell can be obtained.

前記鉛テルルガラス粉に含まれる、前記リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、およびビスマスは、ICP分析値として各々0.1質量%以上であれば「含まれる」と判断する。前記リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、およびビスマスの含有量の合計としては、20質量%以下であることが好ましい。
鉛とテルルが、主に、反射防止膜の浸食、および銀拡散の効果があり、リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、およびビスマスは、前記効果以外の副次的効果があると考えられる。前記含有量の合計が20質量%を超えると、相対的に鉛、テルルの含有量が減るため、前記効果が不十分となることがある。
The lithium, zinc, silicon, aluminum, and bismuth contained in the lead tellurium glass powder are determined to be “included” if the ICP analysis value is 0.1% by mass or more. The total content of lithium, zinc, silicon, aluminum, and bismuth is preferably 20% by mass or less.
Lead and tellurium mainly have effects of erosion of the antireflection film and silver diffusion, and lithium, zinc, silicon, aluminum, and bismuth are considered to have secondary effects other than the above effects. When the total content exceeds 20% by mass, the content of lead and tellurium is relatively reduced, and thus the effect may be insufficient.

前記鉛テルルガラス粉に含まれる鉛、テルル、リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、およびビスマス以外の成分としては、例えば、ナトリウム(Na)、カリウム(K)、ホウ素(B)、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)、バナジウム(V)、リン(P)、アンチモン(Sb)、マグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca)、ストロンチウム(Sr)、バリウム(Ba)、チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)、ランタン(La)などが挙げられる。前記成分の含有量としては、ICP分析値として各々0.1質量%以上であれば「含まれる」と判断する。前記成分の含有量の合計としては、10質量%以下であることが好ましい。   Examples of components other than lead, tellurium, lithium, zinc, silicon, aluminum, and bismuth contained in the lead tellurium glass powder include, for example, sodium (Na), potassium (K), boron (B), tungsten (W), Molybdenum (Mo), manganese (Mn), iron (Fe), vanadium (V), phosphorus (P), antimony (Sb), magnesium (Mg), calcium (Ca), strontium (Sr), barium (Ba), Examples include titanium (Ti), zirconium (Zr), and lanthanum (La). The content of the component is determined to be “included” if the ICP analysis value is 0.1% by mass or more. The total content of the components is preferably 10% by mass or less.

前記ICP分析で検出される元素の中で、前記粉末X線回折において結晶性の物質としてピークでの同定ができない元素(鉛など)は、非晶質のガラスとして存在しているものと予想できる。前記粉末X線回折の結果としては、リチウム、亜鉛、シリコン、およびアルミニウムから選ばれる2つ以上を含む酸化物のピークまたはビスマスを含む酸化物のピークと、ガラス(非晶質)に特徴的な干渉性散乱強度曲線(ハロー)とが、共存した結果が得られる。   Among the elements detected by the ICP analysis, an element (such as lead) that cannot be identified at the peak as a crystalline substance in the powder X-ray diffraction can be expected to exist as an amorphous glass. . As a result of the powder X-ray diffraction, an oxide peak containing two or more selected from lithium, zinc, silicon, and aluminum, or an oxide peak containing bismuth, and glass (amorphous) are characteristic. A coexistence result with the coherent scattering intensity curve (halo) is obtained.

前記鉛テルルガラス粉のICP分析の方法としては、例えば、前記鉛テルルガラス粉を完全に溶解させてICP分析を行う方法が挙げられる。前記銀被覆鉛テルルガラス粉のICP分析の方法も同様に行うことができる。
前記鉛テルルガラス粉のICP分析の方法としては、例えば、硝酸を用いて前記鉛テルルガラス粉を加熱溶解し、ろ過して得られたろ液をICP分析し、その後、ろ紙上の残渣を硝酸とは異なる酸(例えば、塩酸や硫酸)を用いて加熱溶解してICP分析し、それぞれのICP分析値を加算する方法が挙げられる。前記ICP分析による各検出元素の質量%の値は、合計で100%にはならない。ガラスが酸化物であるのに対し、ICP分析では酸素を定量できないためである。そのため、ICPによる定量値の合計に対する残部(100−検出元素の質量%の合計値)を、酸素の含有量(質量%)として扱うものとする。また、ICP分析値がそのまま、前記鉛テルルガラス粉または前記銀被覆鉛テルルガラス粉中に含まれる各元素の含有量(質量%)を示す。
Examples of the ICP analysis method for the lead tellurium glass powder include a method in which the lead tellurium glass powder is completely dissolved to perform ICP analysis. The method of ICP analysis of the silver-coated lead tellurium glass powder can be similarly performed.
As a method of ICP analysis of the lead tellurium glass powder, for example, the lead tellurium glass powder is heated and dissolved using nitric acid, and the filtrate obtained by filtration is subjected to ICP analysis. Is a method in which different acids (for example, hydrochloric acid or sulfuric acid) are dissolved by heating and ICP analysis is performed, and the respective ICP analysis values are added. The mass% value of each detection element by the ICP analysis does not become 100% in total. This is because glass is an oxide, whereas oxygen cannot be determined by ICP analysis. Therefore, the remainder (100-total value of mass% of detection elements) with respect to the total of quantitative values by ICP is handled as oxygen content (mass%). Further, the ICP analysis value indicates the content (mass%) of each element contained in the lead tellurium glass powder or the silver-coated lead tellurium glass powder as it is.

前記鉛テルルガラス粉の体積基準の粒度分布としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、得られる銀被覆鉛テルルガラス粉の体積平均粒子径に大きく影響する点から、累積50%粒子径(D50)として、0.1μm以上20μm以下が好ましく、0.3μm以上10μm以下がより好ましく、1μm以上5μm以下が特に好ましい。累積50%粒子径(D50)が、0.1μm未満であるとペーストの粘度が増大して印刷が困難となる場合があり、20μmを超えると微細な配線の形成が困難になる場合がある。
前記鉛テルルガラス粉の粒度分布としては、例えば、レーザー回折式粒度分布測定装置(例えば、日機装株式会社製のマイクロトラック)により測定することができる。
The volume-based particle size distribution of the lead tellurium glass powder is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose. From the point of greatly affecting the volume average particle diameter of the resulting silver-coated lead tellurium glass powder. The cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is preferably from 0.1 μm to 20 μm, more preferably from 0.3 μm to 10 μm, and particularly preferably from 1 μm to 5 μm. If the cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is less than 0.1 μm, the viscosity of the paste may increase and printing may be difficult, and if it exceeds 20 μm, it may be difficult to form fine wiring. .
The particle size distribution of the lead tellurium glass powder can be measured by, for example, a laser diffraction particle size distribution measuring device (for example, Microtrack manufactured by Nikkiso Co., Ltd.).

<銀被覆層>
本発明で銀被覆層とは、前記鉛テルルガラス粉の表面上に形成される銀を主成分とする領域をいう。
前記銀被覆層は、銀以外に、鉛テルルガラス粉中の成分のうち溶出しやすい成分を含有する。前記成分としては、少なくともテルルを含有し、さらに必要に応じてその他の成分を含有する。
前記銀被覆層における、銀の含有量としては、60質量%以上であることが好ましく、銀とテルルの含有量の合計としては、90質量%以上であることが好ましい。
<Silver coating layer>
In this invention, a silver coating layer means the area | region which has silver as a main component formed on the surface of the said lead tellurium glass powder.
In addition to silver, the silver coating layer contains a component that is easily eluted out of the components in the lead tellurium glass powder. The component contains at least tellurium, and further contains other components as necessary.
The silver content in the silver coating layer is preferably 60% by mass or more, and the total content of silver and tellurium is preferably 90% by mass or more.

前記銀被覆層中の銀とテルルなどの成分の含有量は、オージェ分光分析装置を用いて鉛テルルガラス粉表面から粉末中央に向けて深さ方向(深さ:0nmから10nmまで)に定性的および定量的に分析することにより測定することができる。
前記分析の際、有機物などの最表面の付着物に起因すると考えられる炭素や酸素は、前記銀被覆層の成分からは除外する。
前記銀被覆層中のテルルとしては、オージェ分光分析による定性分析で検出されるのに必要な量以上のテルルが含有されていればよい。
Content of components such as silver and tellurium in the silver coating layer is qualitative in the depth direction (depth: 0 nm to 10 nm) from the lead tellurium glass powder surface to the powder center using an Auger spectroscopic analyzer. And can be measured by quantitative analysis.
At the time of the analysis, carbon and oxygen considered to be caused by the outermost surface deposit such as organic matter are excluded from the components of the silver coating layer.
The tellurium in the silver coating layer only needs to contain at least an amount of tellurium necessary for detection by qualitative analysis by Auger spectroscopic analysis.

前記被覆は、鉛テルルガラス粉表面の全部を被覆しても、一部を被覆してもよく、一部を被覆する場合、その被覆率としては、面積で40%以上が好ましく、50%以上がより好ましく、60%以上がさらに好ましく、全部を被覆することが最も好ましい。前記被覆率は、銀被覆鉛テルルガラス粉を例えば、電子線マイクロアナライザ(EPMA)やオージェマップ分析を行うことにより求めることができる。
被覆層は種々の形態をとることができ、一部を被覆する場合は、例えば、銀を主成分とする粒子が鉛テルルガラス粉表面に点在している形態であってもよい。
The coating may cover the entire surface of the lead tellurium glass powder, or may cover a part thereof. In the case of covering a part, the coverage is preferably 40% or more in area, and 50% or more. Is more preferable, 60% or more is more preferable, and it is most preferable to cover the whole. The said coverage can be calculated | required by performing an electron beam microanalyzer (EPMA) and an Auger map analysis, for example with silver covering lead tellurium glass powder.
The coating layer can take various forms. When a part of the coating layer is coated, for example, a form in which particles mainly composed of silver are scattered on the surface of the lead tellurium glass powder may be used.

前記銀被覆層の平均厚みとしては、10nm未満であると太陽電池セルの変換効率が向上せず、10nm以上400nm以下が好ましく、20nm以上300nm以下がより好ましく、200nmを超えて厚くすることによる効果の向上が少ない点から、200nm以下がさらに好ましい。
前記被覆層の平均厚みは、オージェ分光分析装置を用いて銀被覆鉛テルルガラス粉表面から粉末中央に向けて深さ方向分析を行った場合の、銀が主成分となる層の深さによって測定することができる。被覆層と原料の鉛テルルガラス粉からなる深部との境界は、例えば、検出されるAgのIntensityと酸素のIntensityとの強弱関係が逆転する位置とすることができる。
また、被覆層の平均厚み(平均深さ)の値は、SiOに対するエッチングレートを用いて、Arスパッタの時間を厚み(深さ)に換算し、任意の値3点以上を平均することにより求めることができる。
When the average thickness of the silver coating layer is less than 10 nm, the conversion efficiency of the solar battery cell is not improved, preferably 10 nm or more and 400 nm or less, more preferably 20 nm or more and 300 nm or less, and the effect obtained by increasing the thickness beyond 200 nm. 200 nm or less is more preferable from the point that there is little improvement of this.
The average thickness of the coating layer is measured by the depth of the layer mainly composed of silver when the depth direction analysis is performed from the surface of the silver-coated lead tellurium glass powder toward the center of the powder using an Auger spectrometer. can do. The boundary between the coating layer and the deep part made of the raw lead tellurium glass powder can be, for example, a position where the strength relationship between the detected intensity of Ag and the intensity of oxygen is reversed.
Moreover, the value of the average thickness (average depth) of the coating layer is obtained by converting the Ar sputtering time into thickness (depth) using the etching rate for SiO 2 and averaging three or more arbitrary values. Can be sought.

前記銀被覆層を有することにより、ペースト化した際の溶剤や他の銀粉とのなじみがよく、例えば、ペースト化の際に本発明の銀被覆鉛テルルガラス粉を用いると粘度を低くすることができる。太陽電池のフィンガー電極の細線化に伴い、ガラス粉も微細化していくと考えられるが、一般的にガラス粉を微細化していくと増粘する傾向があるため、印刷可能な粘度にするために溶剤の追添加が必要となり、ペースト中の銀含有量は低下し、電極特性やその形状に悪影響を及ぼすと考えられる。一方、本発明の銀被覆鉛テルルガラス粉では、微細化したことによる増粘の影響を低く抑えられるので、溶剤の追添加量を減らすことができて導電性ペースト中の銀含有量の低下を抑制することにより焼成時の密度を上げ、ラインの抵抗等の電極への悪影響を低減することができる。さらに、銀被覆層の存在によりテルルが拡散しやすくなり、太陽電池においてファイヤースルーによるコンタクト抵抗の低減も可能となる。   By having the silver coating layer, familiarity with the solvent and other silver powder at the time of pasting is good, for example, when using the silver-coated lead tellurium glass powder of the present invention at the time of pasting, the viscosity may be lowered. it can. Glass powder is also expected to become finer as the finger electrodes of solar cells become thinner, but generally there is a tendency to increase the viscosity as glass powder is made finer, so that the viscosity can be printed. It is considered that additional addition of a solvent is required, and the silver content in the paste is lowered, which adversely affects the electrode characteristics and its shape. On the other hand, in the silver-coated lead tellurium glass powder of the present invention, the influence of thickening due to miniaturization can be kept low, so the amount of additional solvent can be reduced and the silver content in the conductive paste can be reduced. By suppressing the density, the density during firing can be increased, and adverse effects on the electrode such as line resistance can be reduced. Further, tellurium is easily diffused by the presence of the silver coating layer, and the contact resistance can be reduced by fire-through in the solar cell.

前記銀被覆鉛テルルガラス粉における銀の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、銀被覆鉛テルルガラス粉全量に対して、ICP分析値として、3質量%以上70質量%以下が好ましく、5質量%以上50質量%以下がより好ましく、5質量%以上30質量%以下がさらに好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of silver in the said silver covering lead tellurium glass powder, Although it can select suitably according to the objective, 3 mass as an ICP analysis value with respect to silver covering lead tellurium glass powder whole quantity. % To 70% by mass is preferable, 5% to 50% by mass is more preferable, and 5% to 30% by mass is more preferable.

前記銀被覆鉛テルルガラス粉の体積基準の粒度分布としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、累積50%粒子径(D50)として、0.1μm以上20μm以下が好ましく、0.3μm以上10μm以下がより好ましく、1μm以上5μm以下が特に好ましい。累積50%粒子径(D50)が、0.1μm未満であるとペーストの粘度が増大して印刷が困難となる場合があり、20μmを超えると微細な配線の形成が困難になる場合がある。
前記銀被覆鉛テルルガラス粉の粒度分布としては、例えば、レーザー回折式粒度分布測定装置(例えば、日機装株式会社製のマイクロトラック)により測定することができる。
The volume-based particle size distribution of the silver-coated lead tellurium glass powder is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. The cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is 0.1 μm or more and 20 μm or less. Is preferable, 0.3 to 10 μm is more preferable, and 1 to 5 μm is particularly preferable. If the cumulative 50% particle diameter (D 50 ) is less than 0.1 μm, the viscosity of the paste may increase and printing may be difficult, and if it exceeds 20 μm, it may be difficult to form fine wiring. .
The particle size distribution of the silver-coated lead tellurium glass powder can be measured by, for example, a laser diffraction particle size distribution measuring device (for example, Microtrack manufactured by Nikkiso Co., Ltd.).

前記銀被覆鉛テルルガラス粉のBET比表面積としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、0.1m/g以上70m/g以下が好ましく、0.5m/g以上10m/g以下がより好ましい。前記BET比表面積としては、例えば、市販のBET比表面積測定装置などを用いて測定することができる。 The BET specific surface area of the silver-coated lead telluride glass powder is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose, is preferably from 0.1 m 2 / g or more 70m 2 / g, 0.5m 2 / G or more and 10 m 2 / g or less is more preferable. The BET specific surface area can be measured using, for example, a commercially available BET specific surface area measuring device.

前記銀被覆鉛テルルガラス粉は、脂肪酸などの有機物からなる表面処理剤によって表面が被覆されていてもよい。なお、前記表面処理剤は、前記銀被覆層の成分には含めない。   The silver-coated lead tellurium glass powder may be coated on the surface with a surface treatment agent made of an organic substance such as a fatty acid. In addition, the said surface treating agent is not included in the component of the said silver coating layer.

(銀被覆鉛テルルガラス粉の製造方法)
本発明の銀被覆鉛テルルガラス粉の製造方法は、鉛テルルガラス粉を、銀錯体溶液に添加した後、還元剤を添加し、銀の還元反応により、表面に銀被覆層を形成する。さらに必要に応じて被覆後に、ろ過、洗浄、乾燥、解砕、および分級する工程を含んでいてもよい。
前記鉛テルルガラス粉としては、本発明の銀被覆鉛テルルガラス粉における鉛テルルガラス粉について説明した事項を適宜採用することができる。
(Method for producing silver-coated lead tellurium glass powder)
In the method for producing silver-coated lead tellurium glass powder of the present invention, lead tellurium glass powder is added to a silver complex solution, a reducing agent is added, and a silver coating layer is formed on the surface by a silver reduction reaction. Furthermore, after the coating, a step of filtration, washing, drying, crushing, and classification may be included as necessary.
As said lead tellurium glass powder, the matter demonstrated about the lead tellurium glass powder in the silver covering lead tellurium glass powder of this invention is employable suitably.

前記銀被覆鉛テルルガラス粉の製造方法は、鉛テルルガラス粉を、銀錯体溶液に添加した後、還元剤を添加して表面に銀被覆層を形成させる還元工程を含み、さらに必要に応じて、銀錯体溶液の調液工程、銀被覆鉛テルルガラス粉を回収するろ過工程、洗浄工程、乾燥工程、解砕工程、分級工程などを含む。   The method for producing the silver-coated lead tellurium glass powder includes a reduction step in which the lead tellurium glass powder is added to the silver complex solution, and then a reducing agent is added to form a silver coating layer on the surface. , Including a silver complex solution preparation step, a filtration step for recovering silver-coated lead tellurium glass powder, a washing step, a drying step, a crushing step, a classification step, and the like.

<調液工程>
前記調液工程は、銀錯体溶液を調製する工程である。
前記調液工程としては、例えば、純水が撹拌されている反応槽に、銀化合物を入れて銀含有水溶液を得たのち、銀錯化剤を添加することで銀錯体溶液を得ることができる。
前記銀化合物としては、例えば、硝酸銀、炭酸銀、酢酸銀などが挙げられる。
前記銀錯化剤としては、例えば、アンモニア水、アンモニウム塩、EDTAなどのキレート化合物などが挙げられる。
ここで、前記銀錯体溶液の25℃におけるpHは、9〜13の範囲とすることが好ましい。前記pHは、例えば、25℃において、pHメーター(装置名:PHメータHM−30G、東亜ディーケーケー株式会社製)を用いて測定することができる。
<Preparation process>
The liquid preparation step is a step of preparing a silver complex solution.
As the liquid preparation step, for example, a silver complex solution is obtained by adding a silver compound into a reaction vessel in which pure water is stirred, and then adding a silver complexing agent to obtain a silver complex solution. .
Examples of the silver compound include silver nitrate, silver carbonate, and silver acetate.
Examples of the silver complexing agent include ammonia water, ammonium salts, chelate compounds such as EDTA, and the like.
Here, the pH at 25 ° C. of the silver complex solution is preferably in the range of 9-13. The pH can be measured, for example, at 25 ° C. using a pH meter (device name: PH meter HM-30G, manufactured by Toa DKK Corporation).

<還元工程>
前記還元工程は、鉛テルルガラス粉を、銀錯体溶液に添加した後、還元剤を添加して表面に銀被覆層を形成させる工程である。
前記還元剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、アスコルビン酸、亜硫酸塩、アルカノールアミン、過酸化水素水、ギ酸、ギ酸アンモニウム、ギ酸ナトリウム、グリオキサール、酒石酸、次亜燐酸ナトリウム、水素化ホウ素ナトリウム、ヒドロキノン、ヒドラジン、ヒドラジン誘導体、ピロガロール、ぶどう糖、没食子酸、ホルマリン、無水亜硫酸ナトリウム、ロンガリットなどが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、アスコルビン酸、アルカノールアミン、水素化ホウ素ナトリウム、ヒドロキノン、ヒドラジン、ホルマリンが好ましく、安価な点から、ホルマリン、ヒドラジン、水素化ホウ素ナトリウムがより好ましい。
前記還元剤の添加量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<Reduction process>
In the reduction step, lead tellurium glass powder is added to the silver complex solution, and then a reducing agent is added to form a silver coating layer on the surface.
The reducing agent is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose.For example, ascorbic acid, sulfite, alkanolamine, aqueous hydrogen peroxide, formic acid, ammonium formate, sodium formate, glyoxal, tartaric acid, Examples include sodium hypophosphite, sodium borohydride, hydroquinone, hydrazine, hydrazine derivatives, pyrogallol, glucose, gallic acid, formalin, anhydrous sodium sulfite, Rongalite and the like. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together. Among these, ascorbic acid, alkanolamine, sodium borohydride, hydroquinone, hydrazine, and formalin are preferable, and formalin, hydrazine, and sodium borohydride are more preferable from an inexpensive point.
There is no restriction | limiting in particular as addition amount of the said reducing agent, According to the objective, it can select suitably.

前記還元剤と併せて、還元助剤を用いてもよい。
前記還元助剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、水素化ホウ素ナトリウム、コロイド粒子が好ましい。前記コロイド粒子が分散した液を添加することにより、ナノサイズの粒子が核となり、銀が析出する場を増やすため、未還元銀をなくすことが可能である。前記コロイド粒子としては、導電性の観点から、ナノサイズの金属のコロイド粒子を用いることが好ましく、銀コロイド液が特に好ましい。
A reducing aid may be used in combination with the reducing agent.
There is no restriction | limiting in particular as said reduction | restoration adjuvant, Although it can select suitably according to the objective, Sodium borohydride and colloidal particle are preferable. By adding the liquid in which the colloidal particles are dispersed, the nano-sized particles become nuclei and the number of places where silver precipitates is increased, so that unreduced silver can be eliminated. As the colloidal particles, it is preferable to use nanosized metal colloidal particles, and a silver colloidal liquid is particularly preferable from the viewpoint of conductivity.

前記還元剤添加後、銀錯体溶液中の未反応の銀が無くなるまで撹拌を継続することが好ましい。前記還元工程の液温としては、10℃以上50℃以下が好ましい。   After the reducing agent is added, stirring is preferably continued until there is no unreacted silver in the silver complex solution. The liquid temperature in the reduction step is preferably 10 ° C or higher and 50 ° C or lower.

前記還元剤の添加前、添加後、未反応の銀が無くなった頃、のいずれかにおいて、脂肪酸や界面活性剤などの表面処理剤を添加してもよい。これにより、粉末が凝集することを抑制することができる。   A surface treatment agent such as a fatty acid or a surfactant may be added before or after the addition of the reducing agent and when the unreacted silver disappears. Thereby, it can suppress that powder aggregates.

<ろ過工程、洗浄工程、乾燥工程、解砕工程、および分級工程>
前記分散工程で得られる銀被覆鉛テルルガラス粉含有スラリーを吸引ろ過し、水洗することによって、流動性がほとんどない塊状のケーキが得られる。ケーキの乾燥を早める、乾燥時の凝集を防ぐ、などの目的で、ケーキ中の水を低級アルコールやポリオールなどで置換してもよい。前記ケーキを強制循環式大気乾燥機、真空乾燥機、気流乾燥装置等の乾燥機によって乾燥することにより、銀テルル被覆ガラス粉が得られる。乾燥後または乾燥中に解砕を行ってもよい。粒子を機械的に流動化させることができる装置に銀被覆鉛テルルガラス粉を投入して、粒子同士を機械的に衝突させることによって、銀被覆鉛テルルガラス粉の表面の凹凸や角張った部分を滑らかにする表面平滑化処理を行ってもよい。さらに分級処理を行ってもよい。乾燥、解砕、および分級を行うことができる一体型の装置を用いてもよい。
<Filtering step, washing step, drying step, crushing step, and classification step>
The silver-coated lead tellurium glass powder-containing slurry obtained in the dispersion step is subjected to suction filtration and washed with water, whereby a cake having almost no fluidity is obtained. For the purpose of accelerating the drying of the cake or preventing aggregation at the time of drying, the water in the cake may be replaced with a lower alcohol or a polyol. Silver tellurium-coated glass powder is obtained by drying the cake with a dryer such as a forced circulation air dryer, vacuum dryer, airflow dryer or the like. Crushing may be performed after drying or during drying. By introducing silver-coated lead tellurium glass powder into a device that can fluidize the particles mechanically and colliding the particles mechanically, the surface irregularities and angular parts of the silver-coated lead tellurium glass powder are removed. You may perform the surface smoothing process which makes it smooth. Further, classification processing may be performed. An integrated device that can perform drying, crushing, and classification may be used.

(導電性ペースト)
本発明の導電性ペーストは、本発明の銀被覆鉛テルルガラス粉を含有し、銀粉等の導電粉、樹脂、および有機溶媒を含有することが好ましく、さらに必要に応じてその他の成分を含有する。なお、前記銀被覆鉛テルルガラス粉以外のガラスフリットをさらに含有していてもよい。
(Conductive paste)
The conductive paste of the present invention contains the silver-coated lead tellurium glass powder of the present invention, preferably contains conductive powder such as silver powder, a resin, and an organic solvent, and further contains other components as necessary. . In addition, you may further contain glass frit other than the said silver covering lead tellurium glass powder.

本発明の銀被覆鉛テルルガラス粉を含有した前記導電性ペーストは、従来の導電性ペーストと比較して、焼成型の太陽電池の電極、種々の電子部品の電極や回路などを形成するための導電性ペーストとして、好適に利用可能である。   The conductive paste containing the silver-coated lead tellurium glass powder of the present invention is used for forming electrodes of fired solar cells, electrodes and circuits of various electronic components, as compared with conventional conductive pastes. It can be suitably used as a conductive paste.

以下、本発明の実施例を説明するが、本発明は、これらの実施例に何ら限定されるものではない。   Examples of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to these examples.

(実施例1−1)
<鉛テルルガラス粉の作製>
酸化物粉として、TeO(30mol%)、PbO(35mol%)、Li(15mol%)、ZnO(10mol%)、SiO(5mol%)、およびAl(5mol%)を秤量し、混合して溶融、冷却、粉砕することにより実施例1−1の鉛テルルガラス粉(累積50%粒子径(D50)=3.8μm)10gを得た。
(Example 1-1)
<Preparation of lead tellurium glass powder>
TeO 2 (30 mol%), PbO (35 mol%), Li 2 O 3 (15 mol%), ZnO (10 mol%), SiO 2 (5 mol%), and Al 2 O 3 (5 mol%) are used as the oxide powder. 10 g of lead tellurium glass powder (cumulative 50% particle diameter (D 50 ) = 3.8 μm) of Example 1-1 was obtained by weighing, mixing, melting, cooling, and pulverizing.

図1に、実施例1−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回折による定性分析データを示す。粉末X線回折は、全自動水平型多目的X線回折装置(装置名:SmartLab、株式会社リガク製)を用い、X線源をCuKα(電圧45kV、電流200mA)とし、ステップ:0.01°、測定範囲:20°〜80°、測定速度:6°/分間の条件で測定した。
図1からは結晶性のピークが観察され、統合粉末X線解析ソフトウェア(PDXL、リガク株式会社製)を用いて、平滑化処理(平滑化条件は、平滑化パラメーター:10.0、平滑化点数:11、X閾値:1.50)の後、バックグラウンドの除去(ピーク閾値:1.00、強度閾値:10.0)、Kα2除去(強度比:0.4970)を行った上で、2次微分法(σカット値:4.5)による自動ピークサーチを行った。
FIG. 1 shows qualitative analysis data by powder X-ray diffraction of the lead tellurium glass powder of Example 1-1. For powder X-ray diffraction, a fully automatic horizontal multipurpose X-ray diffractometer (device name: SmartLab, manufactured by Rigaku Corporation) was used, the X-ray source was CuKα (voltage 45 kV, current 200 mA), step: 0.01 °, The measurement range was 20 ° to 80 °, and the measurement speed was 6 ° / min.
From FIG. 1, a crystalline peak is observed, and smoothing processing (smoothing conditions are smoothing parameters: 10.0, smoothing points) using integrated powder X-ray analysis software (PDXL, manufactured by Rigaku Corporation). : 11, X threshold: 1.50), background removal (peak threshold: 1.00, intensity threshold: 10.0), Kα2 removal (intensity ratio: 0.4970), and 2 An automatic peak search was performed by a second derivative method (σ cut value: 4.5).

自動ピークサーチによって得られた各ピークは、定性分析によって、亜鉛−アルミニウムの複合酸化物(ZnAl)、リチウム−アルミニウム−ケイ素複合酸化物(LiAlSiO)、酸化ケイ素(SiO)によるものと同定された。鉛を含む酸化物によるピークは検出されなかった。すなわち、鉛テルルガラス粉は、リチウム、亜鉛、シリコン、およびアルミニウムから選ばれる2つ以上を含む結晶性を有する酸化物と、鉛を含む非晶質のガラスとを含むことが分かる。 Each peak obtained by the automatic peak search is based on zinc-aluminum complex oxide (ZnAl 2 O 4 ), lithium-aluminum-silicon complex oxide (LiAlSiO 4 ), and silicon oxide (SiO 2 ) by qualitative analysis. Was identified. Peaks due to oxides containing lead were not detected. That is, it can be seen that the lead tellurium glass powder contains an oxide having crystallinity including two or more selected from lithium, zinc, silicon, and aluminum, and amorphous glass containing lead.

<銀被覆鉛テルルガラス粉の作製>
銀32質量%の硝酸銀水溶液3.47gを純水787gが撹拌されている状態の1Lビーカーに混合して希釈し、銀を1.11g含む硝酸銀水溶液とした。引き続き、このビーカー中へ錯体化剤としての28質量%のアンモニア水2.5gを添加し、銀アンミン錯塩水溶液を得た(25℃におけるpH:11)。
<Preparation of silver-coated lead tellurium glass powder>
A silver nitrate aqueous solution containing 1.11 g of silver was prepared by mixing 3.47 g of a silver nitrate aqueous solution containing 32% by mass of silver with a 1 L beaker in which 787 g of pure water was being stirred. Subsequently, 2.5 g of 28% by mass of ammonia water as a complexing agent was added to the beaker to obtain a silver ammine complex salt aqueous solution (pH at 25 ° C .: 11).

この銀アンミン錯塩水溶液の液温を30℃とした後、実施例1−1の鉛テルルガラス粉を10g投入し、その直後に、還元剤としてのヒドラジン0.3g、銀コロイド[溶媒:純水、含有するナノ粒子銀のTEM粒径:5nm〜40nm、ナノ粒子銀の含有量:0.01g(水溶液中の銀量に対して0.001倍)]10.3g、および純水20gを予め混合したものを投入し、熟成時間(未還元銀が液中に残らないようにする待ち時間)を5分間として、銀を主成分とする被覆層を鉛テルルガラス粉表面に形成させた。前記吸引ろ過時のろ液の25℃におけるpHは9.6であり、ろ液についてICP発光分析(SPS5100、SII社製)したところ、テルルの含有量が81ppmであった。鉛テルルガラス粉中のテルルは溶出しやすい成分であり、銀被覆層中にも含有されることが推測される。   After the liquid temperature of this silver ammine complex salt aqueous solution was set to 30 ° C., 10 g of lead tellurium glass powder of Example 1-1 was added, and immediately after that, 0.3 g of hydrazine as a reducing agent, silver colloid [solvent: pure water , TEM particle size of nanoparticle silver contained: 5 nm to 40 nm, content of nanoparticle silver: 0.01 g (0.001 times the amount of silver in the aqueous solution)] 10.3 g, and pure water 20 g in advance The mixture was added, and the ripening time (waiting time so that unreduced silver did not remain in the liquid) was set to 5 minutes to form a coating layer mainly composed of silver on the surface of the lead tellurium glass powder. The pH at 25 ° C. of the filtrate during the suction filtration was 9.6, and when the filtrate was subjected to ICP emission analysis (SPS5100, manufactured by SII), the tellurium content was 81 ppm. It is presumed that tellurium in the lead tellurium glass powder is an easily eluted component and is also contained in the silver coating layer.

還元剤投入から5分間後に、銀被覆ガラス粉含有スラリーを吸引濾過し、純水を用いて洗浄後液の電位が0.5mS/m以下となるまで水洗して、ケーキを得た。得られたケーキを75℃の真空乾燥機で10時間乾燥させ、実施例1−1の銀被覆鉛テルルガラス粉を得た。
図2に、実施例1−1の銀被覆鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によるX線分析データを示す。図2中、*は、銀(Ag)を示す。
Five minutes after the addition of the reducing agent, the silver-coated glass powder-containing slurry was suction filtered and washed with pure water until the potential of the solution after washing was 0.5 mS / m or less to obtain a cake. The obtained cake was dried with a 75 ° C. vacuum dryer for 10 hours to obtain a silver-coated lead tellurium glass powder of Example 1-1.
FIG. 2 shows X-ray analysis data obtained by powder X-ray diffraction of the silver-coated lead tellurium glass powder of Example 1-1. In FIG. 2, * indicates silver (Ag).

図2と、銀被覆前の鉛テルルガラス粉のX線分析結果である図1とを比較すると、銀(Ag)のピークがある以外はピーク位置が同じであり、内部の鉛テルルガラス粉を構成する組成に変化が無いことが分かる。したがって、銀被覆鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によっても、銀被覆前の鉛テルルガラス粉の粉末X線回折と同様に、酸化物のピークの検出の有無を評価できることが分かる。
得られた銀被覆鉛テルルガラス粉について、さらに以下の分析を行った。
Comparing FIG. 2 with FIG. 1 which is an X-ray analysis result of lead tellurium glass powder before silver coating, the peak position is the same except for the peak of silver (Ag), and the inner lead tellurium glass powder is It can be seen that there is no change in the composition. Therefore, it can be seen that the presence or absence of detection of an oxide peak can be evaluated by powder X-ray diffraction of silver-coated lead tellurium glass powder as well as powder X-ray diffraction of lead tellurium glass powder before silver coating.
The obtained silver-coated lead tellurium glass powder was further analyzed as follows.

[オージェ分光分析]
オージェ分光分析装置(JAMP−9500F、日本電子株式会社製)により銀被覆鉛テルルガラスの最表面の定性分析を行うと、銀以外にテルルおよび亜鉛のピークが観察された。鉛テルルガラスからのテルルの一部溶解によって銀被覆層には銀以外にテルルおよび亜鉛が含まれていることが分かる。
また、深さ方向の定量分析を行うと、最表面(深さ0nmから10nmまで)におけるAgは78質量%、Teは12質量%、Znは4質量%であった。
[Auger spectroscopic analysis]
When qualitative analysis of the outermost surface of the silver-coated lead tellurium glass was performed using an Auger spectrometer (JAMP-9500F, manufactured by JEOL Ltd.), tellurium and zinc peaks were observed in addition to silver. It can be seen that tellurium and zinc are contained in the silver coating layer in addition to silver by partial dissolution of tellurium from the lead tellurium glass.
Further, when quantitative analysis in the depth direction was performed, Ag on the outermost surface (depth 0 nm to 10 nm) was 78 mass%, Te was 12 mass%, and Zn was 4 mass%.

[ICP分析による組成分析]
鉛テルルガラスについて試料0.04g〜0.05gを硝酸(精密分析用試薬(UGR)、60質量%〜61質量%、関東化学株式会社)5mLと蒸留水10mL以下とを用いて加熱溶解し、放冷した後、ろ紙(No.5C、ADVANTEC社製)を通過させ、ろ液を50mL定容し、ICP(SPS5100、SII社製)により第1の測定を行った。
ろ紙上の残渣を蒸留水で石英ビーカーに移し、塩酸(精密分析用試薬(UGR)、35質量%〜37質量%、関東化学株式会社)5mLと、硫酸(精密分析用試薬(UGR)、96質量%、関東化学株式会社)2mLを入れて加熱溶解すると硫酸白煙を発して乾固した。次に、純水10mL以下と塩酸5mLとを添加して加熱溶解し、放冷後50mL定容し、ICPで第2の測定を行った。
第1の測定および第2の測定の測定値を合計して、銀被覆鉛テルルガラスに含まれる元素の定性と定量を行った。結果を表1に示す。鉛テルルガラス粉に含まれる元素の定性と定量についても同様にして行うことができる。
[Composition analysis by ICP analysis]
For lead tellurium glass, 0.04 g to 0.05 g of a sample was dissolved by heating with 5 mL of nitric acid (reagent for precision analysis (UGR), 60% by mass to 61% by mass, Kanto Chemical Co., Ltd.) and 10 mL or less of distilled water, After allowing to cool, a filter paper (No. 5C, manufactured by ADVANTEC) was passed through, 50 mL of the filtrate was fixed, and the first measurement was performed with ICP (SPS5100, manufactured by SII).
The residue on the filter paper is transferred to a quartz beaker with distilled water, and 5 mL of hydrochloric acid (precision reagent (UGR), 35% to 37% by weight, Kanto Chemical Co., Inc.) and sulfuric acid (precision reagent (UGR), 96 (Mass%, Kanto Chemical Co., Inc.) 2 mL was added and dissolved by heating. Next, 10 mL or less of pure water and 5 mL of hydrochloric acid were added and dissolved by heating. After standing to cool, the volume was adjusted to 50 mL, and a second measurement was performed by ICP.
The measurement values of the first measurement and the second measurement were summed to qualify and quantify the elements contained in the silver-coated lead tellurium glass. The results are shown in Table 1. The qualitative and quantitative determination of the elements contained in the lead tellurium glass powder can be performed in the same manner.

[粒度分布]
銀被覆鉛テルルガラス粉の体積基準の粒度分布としては、銀被覆鉛テルルガラス粉1gを2−プロパノール(一級2−プロパノール、和光純薬工業株式会社製)40mL中で超音波ホモジナイザー(超音波US−150T、株式会社日本精機製作所製、チップ:直径20mm、AUTPUT ADJ9、V−LEVEL:300μA〜350μAで分散させ、レーザー回折式粒度分布装置(株式会社日機装株式会社製のマイクロトラック粒度分布測定装置(MT3300EXII、Microtrac社製))により測定して、累積10%粒子径(D10)、累積50%粒子径(D50)、および累積90%粒子径(D90)を求めた。結果を表1に示した。
[Particle size distribution]
As the volume-based particle size distribution of the silver-coated lead tellurium glass powder, 1 g of silver-coated lead tellurium glass powder was ultrasonically homogenized (ultrasonic US) in 40 mL of 2-propanol (primary 2-propanol, manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.). -150T, manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., chip: diameter 20 mm, AUTPUT ADJ9, V-LEVEL: 300 μA to 350 μA, dispersed by laser diffraction type particle size distribution device (Microtrack particle size distribution measurement device manufactured by Nikkiso Co., Ltd. MT3300EXII (manufactured by Microtrac)) to determine a cumulative 10% particle size (D 10 ), a cumulative 50% particle size (D 50 ), and a cumulative 90% particle size (D 90 ). It was shown to.

(比較例1−1)
実施例1−1で使用した鉛テルルガラス粉をそのまま用い、銀被覆しなかったこと以外は、実施例1と同様にして比較例1−1の鉛テルルガラス粉を得た。実施例1−1と同様にして、粒度分布および組成分析を行った。結果を表1に示した。
(Comparative Example 1-1)
The lead tellurium glass powder of Comparative Example 1-1 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the lead tellurium glass powder used in Example 1-1 was used as it was and was not coated with silver. Particle size distribution and composition analysis were performed in the same manner as Example 1-1. The results are shown in Table 1.

(実施例2−1)
実施例1−1の鉛テルルガラス粉を乾式ボールミル(装置名:ボールミル架台、伊藤製作所製、メディアの材質:Al、直径:10mmと20mmの混合)により粉砕し、累積50%粒子径(D50)を3.8μmから1.5μmまで小さくして実施例2−1の鉛テルルガラス粉を得、これを使用したこと以外は、実施例1−1と同様にして実施例2−1の銀被覆鉛テルルガラス粉を得た。実施例1−1と同様にして、粒度分布および組成分析を行った。結果を表1に示した。
(Example 2-1)
The lead tellurium glass powder of Example 1-1 was pulverized by a dry ball mill (device name: ball mill mount, manufactured by Ito Seisakusho, media material: Al 2 O 3 , diameter: mixed of 10 mm and 20 mm), and the cumulative 50% particle size The lead tellurium glass powder of Example 2-1 was obtained by reducing (D 50 ) from 3.8 μm to 1.5 μm, and Example 2- was used in the same manner as Example 1-1 except that this was used. 1 silver-coated lead tellurium glass powder was obtained. Particle size distribution and composition analysis were performed in the same manner as Example 1-1. The results are shown in Table 1.

(比較例2−1)
実施例2−1の鉛テルルガラス粉をそのまま用い、銀被覆しなかったこと以外は、実施例2−1と同様にして比較例2−1の鉛テルルガラス粉を得た。実施例1−1と同様にして、粒度分布および組成分析を行った。結果を表1に示した。
(Comparative Example 2-1)
The lead tellurium glass powder of Comparative Example 2-1 was obtained in the same manner as in Example 2-1, except that the lead tellurium glass powder of Example 2-1 was used as it was and was not coated with silver. Particle size distribution and composition analysis were performed in the same manner as Example 1-1. The results are shown in Table 1.

(実施例3−1)
酸化物粉として、TeO(24mol%)、PbO(41.5mol%)、Bi(7.5mol%)、SiO(9mol%)、Li(8mol%)、ZnO(6mol%)、WO(3mol%)、およびSb(1mol%)を秤量し、混合して溶融、冷却、粉砕することにより実施例3−1の鉛テルルガラス粉(累積50%粒子径(D50)=3.8μm)10gを得た。
(Example 3-1)
As the oxide powder, TeO 2 (24mol%), PbO (41.5mol%), Bi 2 O 3 (7.5mol%), SiO 2 (9mol%), Li 2 O 3 (8mol%), ZnO (6mol %), WO 3 (3 mol%), and Sb 2 O 3 (1 mol%) are weighed, mixed, melted, cooled, and pulverized to produce lead tellurium glass powder of Example 3-1 (cumulative 50% particle size) 10 g of (D 50 ) = 3.8 μm) was obtained.

実施例1−1と同様にして測定した、実施例3−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回析によるX線分析データを図3に示す。
自動ピークサーチによって得られた各ピーク(図3中、◆で示す。)は、定性分析によって、ビスマス−テルルの複合酸化物(Bi3.2Te0.86.4)であると同定された。鉛を含む酸化物によるピークは検出されなかった。すなわち、ビスマスを含む結晶性を有する酸化物と、鉛を含む非晶質のガラスとを含むことが分かる。なお、表1の実施例3−1の鉛テルルガラス粉(比較例3−1)のICP分析値より、全てのビスマスが複合酸化物となっていた場合でもテルルは大半が非晶質のガラスとして存在していることは明らかである。
FIG. 3 shows X-ray analysis data obtained by powder X-ray diffraction of the lead tellurium glass powder of Example 3-1, measured in the same manner as in Example 1-1.
Each peak (indicated by ♦ in FIG. 3) obtained by the automatic peak search is identified as a bismuth-tellurium complex oxide (Bi 3.2 Te 0.8 O 6.4 ) by qualitative analysis. It was done. Peaks due to oxides containing lead were not detected. That is, it can be seen that a crystalline oxide containing bismuth and amorphous glass containing lead are included. From the ICP analysis values of the lead tellurium glass powder of Example 3-1 (Comparative Example 3-1) in Table 1, tellurium is mostly amorphous glass even when all bismuth is a complex oxide. It is clear that it exists.

次いで、実施例1−1において、実施例1−1の鉛テルルガラス粉に代えて、実施例3−1の鉛テルルガラス粉を用いたこと以外は、実施例1−1と同様にして実施例3−1の銀被覆鉛テルルガラス粉を得た。実施例1−1と同様にして、粒度分布および組成分析を行った。結果を表1に示した。   Next, in Example 1-1, the same procedure as in Example 1-1 was performed except that the lead tellurium glass powder of Example 3-1 was used instead of the lead tellurium glass powder of Example 1-1. The silver-coated lead tellurium glass powder of Example 3-1 was obtained. Particle size distribution and composition analysis were performed in the same manner as Example 1-1. The results are shown in Table 1.

実施例3−1の銀被覆鉛テルルガラス粉の粉末X線回折によるX線分析データを図4に示す。図4中、◆は、ビスマス−テルルの複合酸化物(Bi3.2Te0.86.4)を示し、*は、銀(Ag)を示す。
図4と、銀被覆前の鉛テルルガラス粉のX線分析結果である図3とを比較すると、銀(Ag)のピークがある以外はピーク位置が同じであり、内部の鉛テルルガラス粉を構成する組成に変化が無いことが分かる。
FIG. 4 shows X-ray analysis data obtained by powder X-ray diffraction of the silver-coated lead tellurium glass powder of Example 3-1. In FIG. 4, ♦ indicates a bismuth-tellurium complex oxide (Bi 3.2 Te 0.8 O 6.4 ), and * indicates silver (Ag).
Comparing FIG. 4 with FIG. 3 which is an X-ray analysis result of the lead tellurium glass powder before silver coating, the peak position is the same except for the silver (Ag) peak, and the lead tellurium glass powder inside It can be seen that there is no change in the composition.

(比較例3−1)
実施例3−1の鉛テルルガラス粉をそのまま用い、銀被覆しなかったこと以外は、実施例3−1と同様にして比較例3−1の鉛テルルガラス粉を得た。実施例1−1と同様にして、粒度分布および組成分析を行った。結果を表1に示した。
(Comparative Example 3-1)
The lead tellurium glass powder of Comparative Example 3-1 was obtained in the same manner as in Example 3-1, except that the lead tellurium glass powder of Example 3-1 was used as it was and was not coated with silver. Particle size distribution and composition analysis were performed in the same manner as Example 1-1. The results are shown in Table 1.

(比較例4−1)
酸化物粉として、TeO(40mol%)、PbO(25mol%)、Li(15mol%)、ZnO(10mol%)、SiO(5mol%)、およびAl(5mol%)を秤量し、混合して溶融、冷却、粉砕することにより比較例4−1の鉛テルルガラス粉(累積50%粒子径(D50)=3.3μm)10gを得た。鉛テルルガラス粉をそのまま用い、銀被覆しなかった。実施例1−1と同様にして、粒度分布および組成分析を行った。結果を表1に示した。
(Comparative Example 4-1)
TeO 2 (40 mol%), PbO (25 mol%), Li 2 O 3 (15 mol%), ZnO (10 mol%), SiO 2 (5 mol%), and Al 2 O 3 (5 mol%) are used as oxide powders. 10 g of lead tellurium glass powder (cumulative 50% particle diameter (D 50 ) = 3.3 μm) of Comparative Example 4-1 was obtained by weighing, mixing, melting, cooling, and pulverizing. The lead tellurium glass powder was used as it was and was not coated with silver. Particle size distribution and composition analysis were performed in the same manner as Example 1-1. The results are shown in Table 1.

実施例1−1と同様にして測定した、比較例4−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回析によるX線分析データを図5に示した。
自動ピークサーチによって得られた各ピークは、定性分析によって、亜鉛−アルミニウムの複合酸化物(ZnAl)、リチウム−アルミニウム−ケイ素複合酸化物(LiAlSiO)、酸化ケイ素(SiO)によるものと同定された。鉛を含む酸化物によるピークは検出されなかった。
また、実施例1−1の図1と比較し、強度比は異なるものの、同じピーク位置(組成)であった。
FIG. 5 shows X-ray analysis data obtained by powder X-ray diffraction of the lead tellurium glass powder of Comparative Example 4-1, measured in the same manner as in Example 1-1.
Each peak obtained by the automatic peak search is based on zinc-aluminum complex oxide (ZnAl 2 O 4 ), lithium-aluminum-silicon complex oxide (LiAlSiO 4 ), and silicon oxide (SiO 2 ) by qualitative analysis. Was identified. Peaks due to oxides containing lead were not detected.
Moreover, compared with FIG. 1 of Example 1-1, although it was different in intensity ratio, it was the same peak position (composition).

(比較例5−1)
実施例2−1の鉛テルルガラス粉(累積50%粒子径(D50)=1.6μm)を、350℃1時間熱処理を行って比較例5の鉛テルルガラス粉を得た後、実施例2−1と同様に銀被覆を行って比較例5−1の銀被覆鉛テルルガラス粉を得た。
実施例1−1と同様にして測定した、比較例5−1の鉛テルルガラス粉の粉末X線回析によるX線分析データを図6に示した。
熱処理後の比較例5の鉛テルルガラス粉のX線回折結果を見ると、結晶性のピークが多く観察された。自動ピークサーチによって得られた各ピークは、定性分析によって、PbTeO、ZnAl、PbTe、SiO(α−SiO)、LiAlSi10、LiAl、およびSiOによるものと同定された。したがって、鉛を含む酸化物によるピークが検出された。
(Comparative Example 5-1)
The lead tellurium glass powder of Example 2-1 (cumulative 50% particle size (D 50 ) = 1.6 μm) was heat-treated at 350 ° C. for 1 hour to obtain the lead tellurium glass powder of Comparative Example 5, and then Example Silver coating was performed in the same manner as in 2-1, to obtain a silver-coated lead tellurium glass powder of Comparative Example 5-1.
FIG. 6 shows X-ray analysis data obtained by powder X-ray diffraction of the lead tellurium glass powder of Comparative Example 5-1, measured in the same manner as in Example 1-1.
When the X-ray diffraction result of the lead tellurium glass powder of Comparative Example 5 after the heat treatment was observed, many crystallinity peaks were observed. Each peak obtained by the automatic peak search is analyzed by PbTeO 3 , ZnAl 2 O 4 , Pb 2 Te 3 O 8 , SiO 2 (α-SiO 2 ), Li 2 Al 2 Si 3 O 10 , LiAl 2 by qualitative analysis. It was identified as due to O 4 and SiO 2 . Therefore, a peak due to an oxide containing lead was detected.

次に、実施例1−1〜3−1の銀被覆鉛テルルガラス粉、比較例1−1〜4−1の鉛テルルガラス粉および比較例5−1の銀被覆鉛テルルガラス粉を用い、以下のようにして、導電性ペーストを作製した。   Next, using the silver-coated lead tellurium glass powder of Examples 1-1 to 31-1, the lead tellurium glass powder of Comparative Examples 1-1 to 4-1 and the silver-coated lead tellurium glass powder of Comparative Example 5-1, A conductive paste was produced as follows.

(実施例1−2)
<導電性ペーストの作製>
実施例1−1の銀被覆鉛テルルガラス粉(銀含有量7.1質量%)1.8質量%、銀粉(AG−2.5−8F、DOWAハイテック株式会社製)89.1質量%、樹脂1(エチルセルロース10cps、和光純薬工業株式会社製、30質量%ブチルカルビトールアセテート溶液)0.4質量%、樹脂2(EU−5638、アクリル樹脂の46.1質量%ブチルカルビトールアセテート溶液、日本カーバイド工業株式会社製)2.4質量%、溶剤1(商品名:CS−12、化合物:テキサノール、JNC株式会社製)1.6質量%、溶剤2(テキサノールとブチルカルビトールアセテートを1:1(質量比)で混合)4.0質量%、ステアリン酸マグネシウム(和光純薬工業株式会社製)0.2質量%、およびオレイン酸(和光純薬工業株式会社製)0.5質量%となるように秤量し、自公転式真空撹拌脱泡装置(あわとり練太郎、株式会社シンキー製)により混合(予備混練)した後、3本ロール(M−80S、EXAKT社製)により混練することにより、実施例1−2の導電性ペーストを得た。
得られた導電性ペーストについて、25℃において粘度計(ブルックフィールド社製、HBDV−III ULTRA)にCPE−52のコーンプレートを用いて1rpmの5分値と5rpmの1分値を測定し、25℃における粘度を測定した。結果を表2に示した。
(Example 1-2)
<Preparation of conductive paste>
Silver coated lead tellurium glass powder of Example 1-1 (silver content 7.1 mass%) 1.8 mass%, silver powder (AG-2.5-8F, manufactured by DOWA Hightech Co., Ltd.) 89.1 mass%, Resin 1 (ethyl cellulose 10 cps, manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., 30% by mass butyl carbitol acetate solution) 0.4% by mass, resin 2 (EU-5638, acrylic resin 46.1% by mass butyl carbitol acetate solution, Nippon Carbide Industries Co., Ltd.) 2.4 mass%, Solvent 1 (trade name: CS-12, Compound: Texanol, JNC Co., Ltd.) 1.6 mass%, Solvent 2 (Texanol and butyl carbitol acetate 1: 1 (mixed by mass ratio) 4.0% by mass, magnesium stearate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) 0.2% by mass, and oleic acid (Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) Manufactured) and weighed to 0.5% by mass and mixed (preliminarily kneaded) with a self-revolving vacuum stirring and deaerator (manufactured by Awatori Nerita, manufactured by Shinky Co., Ltd.), then three rolls (M-80S, The conductive paste of Example 1-2 was obtained by kneading by EXAKT).
The obtained conductive paste was measured at 25 ° C. using a CPE-52 cone plate for a viscometer (Brookfield, HBDV-III ULTRA), and a 1 minute value of 5 rpm and a 1 minute value of 5 rpm were measured. The viscosity at 0 ° C. was measured. The results are shown in Table 2.

(実施例2−2)
実施例1−2において、銀被覆鉛テルルガラス粉として実施例2−1の銀被覆鉛テルルガラス粉(銀含有量8.4質量%)1.8質量%を用い、銀粉をAG−3−8FDI(DOWAハイテック株式会社製)91.1質量%に代え、溶剤2(テキサノールとブチルカルビトールアセテートを1:1(質量比)で混合)を2.0質量%とした以外は、実施例1−2と同様にして実施例2−2の導電性ペーストを作製し、25℃における粘度を測定した。結果を表2に示した。
(Example 2-2)
In Example 1-2, 1.8% by mass of the silver-coated lead tellurium glass powder of Example 2-1 (silver content: 8.4% by mass) was used as the silver-coated lead tellurium glass powder, and the silver powder was AG-3- Example 1 except that 8FDI (DOWA Hitech Co., Ltd.) 91.1% by mass was replaced with 2.0% by mass of solvent 2 (mixed with texanol and butyl carbitol acetate at 1: 1 (mass ratio)). -2 was made in the same manner as in Example 2-2, and the viscosity at 25 ° C was measured. The results are shown in Table 2.

(実施例3−2)
実施例1−2において、銀被覆鉛テルルガラス粉として実施例3−1の銀被覆鉛テルルガラス粉(銀含有量10.0質量%)1.8質量%を用い、銀粉をAG−4−8F(DOWAハイテック株式会社製)90.47質量%に代え、ステアリン酸マグネシウムを0.3質量%とし、溶剤2(テキサノールとブチルカルビトールアセテートを1:1(質量比)で混合)を2.0質量%とした以外は、実施例1−2と同様にして実施例3−2の導電性ペーストを作製し、25℃における粘度を測定した。結果を表2に示した。
(Example 3-2)
In Example 1-2, 1.8% by mass of silver-coated lead tellurium glass powder (silver content 10.0% by mass) of Example 3-1 was used as the silver-coated lead tellurium glass powder, and the silver powder was AG-4- Instead of 90.47% by mass of 8F (manufactured by DOWA High-Tech Co., Ltd.), 0.3% by mass of magnesium stearate and solvent 2 (mixed with texanol and butyl carbitol acetate at 1: 1 (mass ratio)) are added. Except having set it as 0 mass%, it carried out similarly to Example 1-2, produced the electrically conductive paste of Example 3-2, and measured the viscosity in 25 degreeC. The results are shown in Table 2.

(比較例1−2)
実施例1−2において、銀被覆鉛テルルガラス粉に代えて比較例1−1の銀被覆していない鉛テルルガラス粉を1.7質量%とし、銀の量を合わせるために銀粉を89.2質量%とした以外は、実施例1−2と同様にして比較例1−2の導電性ペーストを作製し、25℃における粘度を測定した。結果を表2に示した。
(Comparative Example 1-2)
In Example 1-2, in place of the silver-coated lead tellurium glass powder, the lead-tellurium glass powder not subjected to silver coating in Comparative Example 1-1 was 1.7% by mass, and the silver powder was adjusted to 89. A conductive paste of Comparative Example 1-2 was produced in the same manner as Example 1-2 except that the content was 2% by mass, and the viscosity at 25 ° C. was measured. The results are shown in Table 2.

(比較例2−2)
実施例2−2において、銀被覆鉛テルルガラス粉に代えて比較例2−1の銀被覆していない鉛テルルガラス粉を1.7質量%とし、銀の量を合わせるために銀粉を91.2質量%とした以外は、実施例2−2と同様にして比較例2−2の導電性ペーストを作製し、25℃における粘度を測定した。結果を表2に示した。
(Comparative Example 2-2)
In Example 2-2, in place of the silver-coated lead tellurium glass powder, the lead tellurium glass powder that is not silver-coated in Comparative Example 2-1 was 1.7% by mass, and the silver powder was adjusted to 91. A conductive paste of Comparative Example 2-2 was prepared in the same manner as in Example 2-2 except that the content was 2% by mass, and the viscosity at 25 ° C. was measured. The results are shown in Table 2.

(比較例3−2)
実施例3−2において、銀被覆鉛テルルガラス粉に代えて比較例3−1の銀被覆していない鉛テルルガラス粉を1.6質量%とし、銀の量を合わせるために銀粉を91.25質量%とした以外は、実施例3−2と同様にして比較例3−2の導電性ペーストを作製し、25℃における粘度を測定した。結果を表2に示した。
(Comparative Example 3-2)
In Example 3-2, instead of silver-coated lead tellurium glass powder, the lead tellurium glass powder not subjected to silver coating in Comparative Example 3-1 was made 1.6 mass%, and the silver powder was adjusted to 91. Except having set it as 25 mass%, it carried out similarly to Example 3-2, produced the electrically conductive paste of the comparative example 3-2, and measured the viscosity in 25 degreeC. The results are shown in Table 2.

(比較例4−2)
実施例1−2において、銀被覆鉛テルルガラス粉に代えて比較例4−1の銀被覆していない鉛テルルガラス粉を1.7質量%とし、銀の量を合わせるために銀粉を89.2質量%とした以外は、実施例1−2と同様にして比較例4−2の導電性ペーストを作製し、25℃における粘度を測定した。結果を表2に示した。
(Comparative Example 4-2)
In Example 1-2, in place of the silver-coated lead tellurium glass powder, the lead-tellurium glass powder not coated with silver of Comparative Example 4-1 was 1.7% by mass, and the silver powder was adjusted to 89. A conductive paste of Comparative Example 4-2 was prepared in the same manner as Example 1-2 except that the content was 2% by mass, and the viscosity at 25 ° C. was measured. The results are shown in Table 2.

(比較例5−2)
実施例2−2において、銀被覆鉛テルルガラス粉として比較例5−1の銀被覆鉛テルルガラス粉を用いた以外は、実施例2−2と同様にして比較例5−2の導電性ペーストを作製し、25℃における粘度を測定した。結果を表2に示した。
(Comparative Example 5-2)
In Example 2-2, the conductive paste of Comparative Example 5-2 was used in the same manner as Example 2-2 except that the silver-coated lead tellurium glass powder of Comparative Example 5-1 was used as the silver-coated lead tellurium glass powder. And the viscosity at 25 ° C. was measured. The results are shown in Table 2.

表2より、実施例1−2および2−2にて銀被覆された鉛テルルガラスを用いた導電性ペーストは、比較例1−2および2−2の銀被覆していない鉛テルルガラスを用いた場合に比べて、粘度の低い導電性ペーストになることが分かった。
スクリーン印刷機での印刷では粘度が高いと印刷時の版抜け性やライン形状が悪くなり、低すぎるとにじみが発生するため、印刷性を合わせるために粘度を合わせての評価を行うことが必要となる。溶剤2を追添加することにより、全ての導電性ペーストの1rpmの5分値の粘度を、スクリーン印刷機での印刷が最適になる粘度範囲(例えば、300rpm±60rpm)でほぼ同じ値になるように調整した。調整に用いた溶剤の追加量およびその粘度の結果を表3に示した。
From Table 2, the conductive paste using the silver-coated lead tellurium glass in Examples 1-2 and 2-2 uses the lead-free tellurium glass of Comparative Examples 1-2 and 2-2. It became clear that it became a conductive paste with a low viscosity compared with the case where it was.
When printing on a screen printing machine, if the viscosity is high, the slippage and line shape at the time of printing worsen, and if it is too low, bleeding occurs. Therefore, it is necessary to evaluate the viscosity to match the printability. It becomes. By additionally adding solvent 2, the viscosity of all conductive pastes at 1 rpm at 5 minutes is approximately the same in the viscosity range (for example, 300 rpm ± 60 rpm) at which printing on a screen printer is optimal. Adjusted. Table 3 shows the results of the additional amount of the solvent used for the adjustment and the viscosity thereof.

次に、得られた導電性ペーストを用い、以下のようにして、太陽電池を作製した。
(実施例1−3〜3−3および比較例1−3〜5−3)
<太陽電池の作製>
太陽電池用シリコン基板(105Ω/□)上に、スクリーン印刷機(MT−320T、マイクロテック社製)を用いて基板裏面に、アルミニウムペースト(アルソーラー14−7021、東洋アルミニウム株式会社製)を用いて154mm□のベタパターンを形成した。
熱風乾燥機を用いて200℃で10分間乾燥させた。
基板表面に、各導電性ペーストを用いて40μm幅のフィンガーと、1.3mm幅で、3本バスバーで設計したスクリーン版を用いて電極を形成した。
熱風乾燥機を用いて200℃で10分間乾燥させた。
高速焼成IR炉(日本碍子株式会社製)を用いて、ピーク時の温度(焼成温度)を820℃としてin−out 21secにて高速加熱した。以上により、太陽電池を作製した。なお、実施例3と比較例3においては、焼成温度を750℃とした。
Next, using the obtained conductive paste, a solar cell was produced as follows.
(Examples 1-3 to 3-3 and Comparative Examples 1-3 to 5-3)
<Production of solar cell>
On a silicon substrate for solar cells (105Ω / □), using a screen printer (MT-320T, manufactured by Microtech), an aluminum paste (Alsolar 14-7021, manufactured by Toyo Aluminum Co., Ltd.) is used on the back surface of the substrate. A solid pattern of 154 mm □ was formed.
It dried for 10 minutes at 200 degreeC using the hot air dryer.
Electrodes were formed on the surface of the substrate using a 40 μm wide finger using each conductive paste and a 1.3 mm wide screen plate designed with three bus bars.
It dried for 10 minutes at 200 degreeC using the hot air dryer.
Using a high-speed firing IR furnace (manufactured by Nippon Choshi Co., Ltd.), the peak temperature (firing temperature) was set to 820 ° C. and high-speed heating was performed in-out 21 sec. The solar cell was produced by the above. In Example 3 and Comparative Example 3, the firing temperature was 750 ° C.

<太陽電池特性の評価>
作製した太陽電池について、株式会社ワコム電創製ソーラーシミュレーターを用いて太陽電池特性を評価した。結果を表4に示した。
<Evaluation of solar cell characteristics>
About the produced solar cell, the solar cell characteristic was evaluated using the solar simulator by Wacom Denso Corporation. The results are shown in Table 4.

表4より、実施例1−1および実施例2−1の銀被覆鉛テルルガラスを用いた場合、銀被覆を有していない比較例1−1および比較例2−1の鉛テルルガラスに比べてペースト化したときに粘度を低くすることができ、さらに、適度な粘度に合わせる際に導電性ペースト中の銀含有量の低下を避けることができ(実施例1−2および実施例2−2)、太陽電池の変換効率が向上する効果があることが分かった(実施例1−3および実施例2−3)。
また、粘度の低減効果が小さくても、実施例3−3と比較例3−3の比較から明らかなように太陽電池の変換効率が向上する効果があることが分かった。
また、比較例4−3のようにテルルが40質量%を超えて多い場合は、比較例1−3に比べ変換効率が低いことが分かった。
また、比較例5−3のように鉛を含む酸化物のピークが検出される場合には、直列抵抗が悪化して変換効率は16.69%まで減少していた。実施例1−3および実施例2−3との比較から、本発明の銀被覆による変換効率向上の効果は、鉛が結晶性の酸化物の状態で存在する場合には得られず、鉛がガラスの状態で存在することが必要であることが分かった。
From Table 4, when using the silver-coated lead tellurium glass of Example 1-1 and Example 2-1, compared to the lead tellurium glass of Comparative Example 1-1 and Comparative Example 2-1, which did not have a silver coating. When the paste is made into a paste, the viscosity can be lowered, and furthermore, when adjusting to an appropriate viscosity, a decrease in the silver content in the conductive paste can be avoided (Example 1-2 and Example 2-2). ), It was found that there is an effect of improving the conversion efficiency of the solar cell (Example 1-3 and Example 2-3).
Moreover, even if the viscosity reduction effect was small, it turned out that there exists an effect which the conversion efficiency of a solar cell improves as evident from the comparison of Example 3-3 and Comparative Example 3-3.
Moreover, when there was much tellurium exceeding 40 mass% like Comparative Example 4-3, it turned out that conversion efficiency is low compared with Comparative Example 1-3.
Moreover, when the peak of the oxide containing lead was detected as in Comparative Example 5-3, the series resistance deteriorated and the conversion efficiency was reduced to 16.69%. From the comparison with Example 1-3 and Example 2-3, the effect of improving the conversion efficiency by the silver coating of the present invention is not obtained when lead is present in a crystalline oxide state. It was found necessary to exist in the glass state.

本発明の銀被覆鉛テルルガラス粉は、種々の電子部品の電極や回路を形成するための導電性ペースト材料として、利用可能である。特に、太陽電池などの半導体電極用の導電性ペーストとして好適に利用可能である。   The silver-coated lead tellurium glass powder of the present invention can be used as a conductive paste material for forming electrodes and circuits of various electronic components. In particular, it can be suitably used as a conductive paste for semiconductor electrodes such as solar cells.

Claims (6)

鉛、およびテルルを含み、さらに、リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、およびビスマスから選ばれる2つ以上を含む鉛テルルガラス粉の表面に、銀被覆層を有する銀被覆鉛テルルガラス粉であって、
前記鉛テルルガラス粉は、粉末X線回折において、リチウム、亜鉛、シリコン、およびアルミニウムから選ばれる2つ以上を含む酸化物のピークまたはビスマスを含む酸化物のピークが検出され、鉛を含む酸化物のピークが検出されないことを特徴とする銀被覆鉛テルルガラス粉。
A silver-coated lead tellurium glass powder having a silver coating layer on a surface of the lead tellurium glass powder containing lead and tellurium and further including two or more selected from lithium, zinc, silicon, aluminum, and bismuth,
In the lead tellurium glass powder, in powder X-ray diffraction, an oxide peak containing two or more selected from lithium, zinc, silicon, and aluminum or an oxide peak containing bismuth is detected, and an oxide containing lead Silver-coated lead tellurium glass powder, characterized in that no peak is detected.
前記鉛テルルガラス粉が、高周波誘導結合プラズマ(ICP)分析値として、テルルを15質量%〜40質量%、鉛を15質量%〜40質量%含有することを特徴とする請求項1に記載の銀被覆鉛テルルガラス粉。   The said lead tellurium glass powder contains 15 mass%-40 mass% of tellurium and 15 mass%-40 mass% of lead as a high frequency inductively coupled plasma (ICP) analysis value. Silver-coated lead tellurium glass powder. 前記銀被覆層が、テルルを含むことを特徴とする請求項1または2に記載の銀被覆鉛テルルガラス粉。   The silver-coated lead tellurium glass powder according to claim 1 or 2, wherein the silver coating layer contains tellurium. 請求項1から3のいずれかに記載の銀被覆鉛テルルガラス粉を含有することを特徴とする導電性ペースト。   A conductive paste comprising the silver-coated lead tellurium glass powder according to any one of claims 1 to 3. 太陽電池の電極用であることを特徴とする請求項4に記載の導電性ペースト。   The conductive paste according to claim 4, which is for a solar cell electrode. 鉛、テルルを含み、さらに、リチウム、亜鉛、シリコン、アルミニウム、ビスマスから選ばれる2つ以上を含み、粉末X線回折において、リチウム、亜鉛、シリコン、およびアルミニウムから選ばれる2つ以上を含む酸化物のピークまたはビスマスを含む酸化物のピークが検出され、鉛を含む酸化物のピークが検出されない鉛テルルガラス粉を、銀錯体溶液に添加した後、還元剤を添加して表面に銀被覆層を形成させることを特徴とする銀被覆鉛テルルガラス粉の製造方法。   An oxide containing lead and tellurium, and further containing two or more selected from lithium, zinc, silicon, aluminum and bismuth, and two or more selected from lithium, zinc, silicon and aluminum in powder X-ray diffraction The lead tellurium glass powder in which the peak of the oxide containing bismuth or the peak of oxide containing bismuth is not detected is added to the silver complex solution, and then the reducing agent is added to form a silver coating layer on the surface. A method for producing silver-coated lead tellurium glass powder, characterized in that it is formed.
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