JP2019028382A - Optical scanner and image forming apparatus - Google Patents

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Teruki Katayama
皓貴 片山
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Abstract

To provide an optical scanner that can reduce, compared with a prior art, the amount of air entering the inside of the optical scanner from an opening for a deflected and scanned light beam to pass through in association with rotation of deflection and scanning means.SOLUTION: An optical scanner 50 comprises: a semiconductor laser 1; a polygon mirror 4 that deflects and scans a laser beam L emitted from the semiconductor laser 1; and an optical box 9 and a cover 10 that accommodates the polygon mirror 4, the optical box 9 and cover 10 including an opening 11 for the laser beam L deflected and scanned by the polygon mirror 4 to pass through. In the opening 11, a width in a direction orthogonal to a scanning direction of the polygon mirror 4 changes according to a position in the scanning direction.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本発明は、電子写真プロセスを用いて記録媒体に画像を形成する電子写真複写機、レーザビームプリンタなどの画像形成装置に好適な光学走査装置と、この光学走査装置を備える画像形成装置に関する。   The present invention relates to an optical scanning apparatus suitable for an image forming apparatus such as an electrophotographic copying machine or a laser beam printer that forms an image on a recording medium using an electrophotographic process, and an image forming apparatus including the optical scanning apparatus.

電子写真プロセスを有する画像形成装置においては、感光体の表面上で光束を走査して光書き込みを行う光学走査装置が搭載されている。この光学走査装置の多くは、半導体レーザ等の光源から出射された光束を偏向走査するポリゴンミラー(偏向走査手段)や、走査レンズであるfθレンズ等の複数の光学部材を光学箱に収容している。   An image forming apparatus having an electrophotographic process is equipped with an optical scanning device that performs optical writing by scanning a light beam on the surface of a photoreceptor. In many of these optical scanning devices, a plurality of optical members such as a polygon mirror (deflection scanning means) for deflecting and scanning a light beam emitted from a light source such as a semiconductor laser and an fθ lens as a scanning lens are accommodated in an optical box. Yes.

また特許文献1に記載の構成のように、光学走査装置の光学箱には、光束を感光体に照射する際に光束が通過するための開口部が設けられている。   Further, as in the configuration described in Patent Document 1, the optical box of the optical scanning device is provided with an opening through which the light beam passes when the light beam is irradiated onto the photosensitive member.

特開2014−134711号公報JP 2014-134711 A

しかし特許文献1に記載の構成では、ポリゴンミラーが高速回転すると粉塵を含んだ空気が光学箱の開口部から光学走査装置内へと侵入する。この場合、例えば空気中の粉塵がポリゴンミラーの反射面に付着すると反射面の反射率が低下し、またfθレンズに付着すると光束の透過率が低下する。これにより、感光体に照射される光束の光量が低下して、画像の濃度ムラなどの画像不良を招来するおそれがある。   However, in the configuration described in Patent Document 1, when the polygon mirror rotates at high speed, air containing dust enters the optical scanning device from the opening of the optical box. In this case, for example, if dust in the air adheres to the reflection surface of the polygon mirror, the reflectance of the reflection surface decreases, and if it adheres to the fθ lens, the light transmittance decreases. As a result, the light amount of the light beam applied to the photoconductor is reduced, which may cause image defects such as uneven density of the image.

そこで本発明はこのような現状に鑑みてなされたものであり、偏向走査手段の回転に伴って、偏向走査された光束が通過するための開口部から光学走査装置内に侵入する空気の量を従来よりも減少させることができる光学走査装置を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made in view of such a current situation, and the amount of air that enters the optical scanning device from the opening through which the deflected and scanned light beam passes with the rotation of the deflection scanning means. An object of the present invention is to provide an optical scanning device that can be reduced as compared with the prior art.

上記目的を達成するための本発明に係る光学走査装置の代表的な構成は、光源と、前記光源から出射された光束を偏向走査する偏向走査手段と、前記偏向走査手段を収容する収容部材であって、前記偏向走査手段により偏向走査された光束が通過するための開口部を備える収容部材と、を備え、前記開口部において、前記偏向走査手段の走査方向と直交する方向の幅は、該走査方向の位置に応じて変化することを特徴とする。   In order to achieve the above object, a typical configuration of an optical scanning device according to the present invention includes a light source, a deflection scanning unit that deflects and scans a light beam emitted from the light source, and a housing member that houses the deflection scanning unit. A receiving member having an opening through which the light beam deflected and scanned by the deflection scanning unit passes, wherein the width of the opening in a direction perpendicular to the scanning direction of the deflection scanning unit is It changes depending on the position in the scanning direction.

上記の構成によれば、光学走査装置において、偏向走査手段の回転に伴って、偏向走査された光束が通過するための開口部から光学走査装置内に侵入する空気の量を従来よりも減少させることができる。   According to the above configuration, in the optical scanning device, the amount of air that enters the optical scanning device from the opening through which the deflected and scanned light beam passes is reduced as compared with the prior art as the deflection scanning unit rotates. be able to.

画像形成装置の断面概略図である。1 is a schematic cross-sectional view of an image forming apparatus. 光学走査装置の斜視図である。It is a perspective view of an optical scanning device. 半導体レーザを位置調整する工具を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the tool which adjusts the position of a semiconductor laser. ポリゴンミラーの走査線の傾きを説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the inclination of the scanning line of a polygon mirror. 光学走査装置の正面図である。It is a front view of an optical scanning device. 光学走査装置の断面図である。It is sectional drawing of an optical scanning device.

(第1実施形態)
<画像形成装置>
以下、まず本発明の第1実施形態に係る光学走査装置を備える画像形成装置Aの全体構成を画像形成時の動作とともに図面を参照しながら説明する。
(First embodiment)
<Image forming apparatus>
First, the overall configuration of the image forming apparatus A including the optical scanning device according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings together with the operation during image formation.

図1に示す様に、画像形成装置Aはシートにトナー像を転写する画像形成部と、画像形成部に向けてシートを供給するシート給送部と、シートにトナー像を定着させる定着部と、を備える。   As shown in FIG. 1, the image forming apparatus A includes an image forming unit that transfers a toner image onto a sheet, a sheet feeding unit that supplies the sheet toward the image forming unit, and a fixing unit that fixes the toner image on the sheet. .

画像形成部は、画像形成装置A本体に着脱可能なプロセスカートリッジP、光学走査装置50、転写ローラ85を備える。またプロセスカートリッジPは、回転可能な感光体ドラム81(感光体)、帯電ローラ82、現像装置84などを備える。またプロセスカートリッジPの対向部には画像形成装置Aの筐体の一部として光学台83が設けられ、光学走査装置50は光学台83の上に設置されている。   The image forming unit includes a process cartridge P that can be attached to and detached from the image forming apparatus A main body, an optical scanning device 50, and a transfer roller 85. The process cartridge P includes a rotatable photosensitive drum 81 (photosensitive member), a charging roller 82, a developing device 84, and the like. In addition, an optical bench 83 is provided as a part of the casing of the image forming apparatus A at the opposed portion of the process cartridge P, and the optical scanning device 50 is installed on the optical bench 83.

画像形成に際しては、不図示の制御部が画像形成ジョブ信号を受信すると、給送ローラ87、搬送ローラ88によってシート積載部86に積載収納されたシートSが画像形成部に送り出される。   At the time of image formation, when a control unit (not shown) receives an image forming job signal, the sheet S stacked and stored in the sheet stacking unit 86 by the feeding roller 87 and the conveying roller 88 is sent out to the image forming unit.

一方、画像形成部においては、帯電ローラ82にバイアスが印加されることで、帯電ローラ82と接触する感光体ドラム81の表面が帯電させられる。その後、光学走査装置50が内部に備える半導体レーザ1(図3参照)からレーザ光束Lを出射し、画像情報に応じてレーザ光束Lを感光体ドラム81に照射する。これにより感光体ドラム81の電位が部分的に低下して画像情報に応じた静電潜像が感光体ドラム81の表面上に形成される。   On the other hand, in the image forming unit, a bias is applied to the charging roller 82, whereby the surface of the photosensitive drum 81 in contact with the charging roller 82 is charged. Thereafter, a laser beam L is emitted from a semiconductor laser 1 (see FIG. 3) provided in the optical scanning device 50, and the photosensitive drum 81 is irradiated with the laser beam L according to image information. As a result, the potential of the photosensitive drum 81 is partially reduced, and an electrostatic latent image corresponding to the image information is formed on the surface of the photosensitive drum 81.

その後、現像装置84が備える現像スリーブ92にバイアスが印加されることで現像スリーブ92から感光体ドラム81表面に形成された静電潜像にトナーを付着させてトナー像が形成される。   Thereafter, a bias is applied to the developing sleeve 92 provided in the developing device 84, whereby toner is attached to the electrostatic latent image formed on the surface of the photosensitive drum 81 from the developing sleeve 92, thereby forming a toner image.

次に、感光体ドラム81表面に形成されたトナー像は、感光体ドラム81と転写ローラ85との間に形成された転写ニップ部に送り込まれる。トナー像が転写ニップ部に到着すると、転写ローラ85にトナーの帯電極性と逆極性のバイアスが印加されてトナー像がシートSに転写される。   Next, the toner image formed on the surface of the photosensitive drum 81 is sent to a transfer nip portion formed between the photosensitive drum 81 and the transfer roller 85. When the toner image arrives at the transfer nip portion, a bias having a polarity opposite to the toner charging polarity is applied to the transfer roller 85, and the toner image is transferred to the sheet S.

その後、トナー像が転写されたシートSは定着装置89に送られ、定着装置89の加熱部と加圧部との間に形成された定着ニップ部において加熱・加圧され、トナー像がシートSに定着される。その後、シートSは排出ローラ90によって排出トレイ91に排出される。   Thereafter, the sheet S to which the toner image has been transferred is sent to the fixing device 89, where it is heated and pressurized at the fixing nip formed between the heating portion and the pressure portion of the fixing device 89, and the toner image is transferred to the sheet S. To be established. Thereafter, the sheet S is discharged to the discharge tray 91 by the discharge roller 90.

<光学走査装置>
次に、光学走査装置50の構成について説明する。
<Optical scanning device>
Next, the configuration of the optical scanning device 50 will be described.

図2は、カバー10が取り外された状態の光学走査装置50の斜視図である。図2に示す様に、光学走査装置50は、半導体レーザ1(図3参照)、半導体レーザ1を支持するレーザ支持体12、コリメータレンズとシリンドリカルレンズを一体に成形したアナモフィックレンズ2を有する。また開口絞り3、ポリゴンミラー4(偏向走査手段)、ポリゴンミラー4を回転駆動させる偏向器5、BDセンサ6(同期信号検知手段)、fθレンズ7を有する。   FIG. 2 is a perspective view of the optical scanning device 50 with the cover 10 removed. As shown in FIG. 2, the optical scanning device 50 includes a semiconductor laser 1 (see FIG. 3), a laser support 12 that supports the semiconductor laser 1, and an anamorphic lens 2 in which a collimator lens and a cylindrical lens are integrally formed. Further, it has an aperture stop 3, a polygon mirror 4 (deflection scanning means), a deflector 5 for rotationally driving the polygon mirror 4, a BD sensor 6 (synchronization signal detection means), and an fθ lens 7.

これらの光学部材は、光学箱9に収容されている。また光学箱9の上面には、防塵等の観点から、カバー10が取り付けられる。つまり光学箱9とカバー10は、上述した光学部材を収容する収容部材である。また光学箱9とカバー10により、レーザ光束Lが感光体ドラム81に照射される際に通過するための開口部11が形成される。なお、開口部11は、光学箱9とカバー10のいずれか一方に形成してもよい。   These optical members are accommodated in the optical box 9. A cover 10 is attached to the upper surface of the optical box 9 from the viewpoint of dust prevention and the like. That is, the optical box 9 and the cover 10 are storage members that store the optical members described above. Further, the optical box 9 and the cover 10 form an opening 11 through which the laser beam L passes when the photosensitive drum 81 is irradiated. The opening 11 may be formed in either the optical box 9 or the cover 10.

次に、光学走査装置50の基本動作について説明する。まず半導体レーザ1がレーザ光束Lを出射すると、レーザ光束Lはアナモフィックレンズ2によって感光体ドラム81の回転軸線方向である主走査方向では略平行光または収束光とされ、主走査方向と直交する副走査方向では収束光とされる。   Next, the basic operation of the optical scanning device 50 will be described. First, when the semiconductor laser 1 emits a laser beam L, the laser beam L is converted into substantially parallel light or convergent light in the main scanning direction, which is the rotational axis direction of the photosensitive drum 81, by the anamorphic lens 2, and the sub beam orthogonal to the main scanning direction. In the scanning direction, the light is converged light.

次に、レーザ光束Lは、開口絞り3を通って光束幅が制限されて、ポリゴンミラー4の反射面4a上において主走査方向に長く伸びた焦線状に結像する。次に、偏向器5によってポリゴンミラー4が回転されることで、レーザ光束Lは、反射面4aに反射されながら偏向走査される。   Next, the laser beam L passes through the aperture stop 3 and is limited in its beam width, and forms an image on the reflecting surface 4a of the polygon mirror 4 in a focal line shape extending in the main scanning direction. Next, when the polygon mirror 4 is rotated by the deflector 5, the laser beam L is deflected and scanned while being reflected by the reflecting surface 4a.

ポリゴンミラー4によって偏向走査されたレーザ光束Lは、まずBDセンサ6に入射する。このとき、BDセンサ6から出力された信号を基準として、感光体ドラム81に対する画像の書き出しタイミングを決定する。   The laser beam L deflected and scanned by the polygon mirror 4 first enters the BD sensor 6. At this time, the image writing timing to the photosensitive drum 81 is determined based on the signal output from the BD sensor 6.

次に、偏向走査されたレーザ光束Lは、fθレンズ7に入射する。fθレンズ7は、レーザ光束Lを感光体ドラム81上に結像させるためのレンズであり、レーザ光束Lを感光体ドラム81上でスポットを形成するように集光し、且つ、スポットの走査速度が等速に保たれるように設計されている。このような特性を得るために、fθレンズ7は非球面レンズで形成されている。fθレンズ7を通過したレーザ光束Lは、光学箱9とカバー10により形成された開口部11を通過し、感光体ドラム81上に結像走査される。   Next, the deflection-scanned laser beam L enters the fθ lens 7. The fθ lens 7 is a lens for forming an image of the laser beam L on the photosensitive drum 81, condenses the laser beam L so as to form a spot on the photosensitive drum 81, and scans the spot. Is designed to be kept at a constant speed. In order to obtain such characteristics, the fθ lens 7 is formed of an aspheric lens. The laser beam L that has passed through the fθ lens 7 passes through the opening 11 formed by the optical box 9 and the cover 10 and is imaged and scanned on the photosensitive drum 81.

次に、ポリゴンミラー4がさらに回転することで、感光体ドラム81上でレーザ光束Lの主走査方向の走査が行われる。また感光体ドラム81が回転駆動することで、レーザ光束Lの副走査方向の走査が行われる。このようにして感光体ドラム81の表面に静電潜像が形成される。   Next, when the polygon mirror 4 is further rotated, the laser beam L is scanned on the photosensitive drum 81 in the main scanning direction. Further, the photosensitive drum 81 is rotationally driven, whereby the laser beam L is scanned in the sub-scanning direction. In this way, an electrostatic latent image is formed on the surface of the photosensitive drum 81.

<半導体レーザの位置調整方法>
次に、半導体レーザ1の位置調整方法について説明する。
<Position adjustment method of semiconductor laser>
Next, a method for adjusting the position of the semiconductor laser 1 will be described.

図3は、半導体レーザ1を位置調整する工具を示す模式図である。ここで図3(a)は半導体レーザ1を矢印y方向からみた図であり、図3(b)は半導体レーザ1を矢印z方向からみた図である。   FIG. 3 is a schematic diagram showing a tool for adjusting the position of the semiconductor laser 1. Here, FIG. 3A is a diagram of the semiconductor laser 1 viewed from the direction of the arrow y, and FIG. 3B is a diagram of the semiconductor laser 1 viewed from the direction of the arrow z.

図3に示す様に、半導体レーザ1を位置調整する工具としては、CCDカメラ等のスポット観測系13、チャック14、ライトガイド15が用いられる。   As shown in FIG. 3, as a tool for adjusting the position of the semiconductor laser 1, a spot observation system 13, such as a CCD camera, a chuck 14, and a light guide 15 are used.

チャック14は、半導体レーザ1が圧入されたレーザ支持体12を保持する。またチャック14は不図示の三軸ステージにより矢印x、y、zの三方向に位置変位可能に構成されている。つまりチャック14は、三軸ステージによってレーザ支持体12を移動させることで、半導体レーザ1の位置を移動させることができる。   The chuck 14 holds the laser support 12 into which the semiconductor laser 1 is press-fitted. The chuck 14 is configured to be displaceable in three directions indicated by arrows x, y, and z by a three-axis stage (not shown). That is, the chuck 14 can move the position of the semiconductor laser 1 by moving the laser support 12 by the three-axis stage.

ライトガイド15は、照明光源(不図示)に接続されており、光硬化型接着剤を硬化させるための紫外線UVを出射する。   The light guide 15 is connected to an illumination light source (not shown), and emits ultraviolet rays UV for curing the photocurable adhesive.

次に、上述した位置調整用工具を用いて半導体レーザ1を位置調整する方法について説明する。   Next, a method for adjusting the position of the semiconductor laser 1 using the above-described position adjusting tool will be described.

まず始めに、半導体レーザ1がチャック14の三軸ステージによって所定の位置にセットされる。次に、不図示の半導体レーザ発光回路によって、半導体レーザ1からレーザ光束Lを出射させる。   First, the semiconductor laser 1 is set at a predetermined position by the three-axis stage of the chuck 14. Next, a laser beam L is emitted from the semiconductor laser 1 by a semiconductor laser light emitting circuit (not shown).

半導体レーザ1から出射されたレーザ光束Lは、アナモフィックレンズ2などの光学部材を通過し、ポリゴンミラー4に偏向走査されて、スポット観測系13上に結像される。このスポット観測系13上のレーザスポットの結像状態を観測しながら、チャック14の三軸ステージを動かして半導体レーザ1を移動させることで、スポット観測系13上のレーザ光束Lの副走査方向の照射位置調整を行う。   The laser beam L emitted from the semiconductor laser 1 passes through an optical member such as the anamorphic lens 2, is deflected and scanned by the polygon mirror 4, and forms an image on the spot observation system 13. While observing the image formation state of the laser spot on the spot observation system 13, the semiconductor laser 1 is moved by moving the three-axis stage of the chuck 14, so that the laser beam L on the spot observation system 13 in the sub-scanning direction. Adjust the irradiation position.

照射位置の調整終了後、不図示の光硬化型接着剤を塗布し、ライトガイド15により紫外線UVを照射して光硬化型接着剤を硬化させて、レーザ支持体12を光学箱9に固定する。このようにして半導体レーザ1の位置調整が行われる。   After adjustment of the irradiation position, a photo-curing adhesive (not shown) is applied, and the light guide 15 is irradiated with ultraviolet rays UV to cure the photo-curing adhesive, and the laser support 12 is fixed to the optical box 9. . In this way, the position of the semiconductor laser 1 is adjusted.

このように各々の光学部材を光学箱9に実装した状態で半導体レーザ1の位置調整を行うことで、光学箱9を含む各光学部材の製造誤差等を加味した上で、位置調整時の位置におけるレーザ光束Lの副走査方向の照射位置を調整することができる。   By adjusting the position of the semiconductor laser 1 in a state where each optical member is mounted on the optical box 9 in this manner, the position at the time of position adjustment is taken into account in consideration of manufacturing errors and the like of each optical member including the optical box 9. The irradiation position of the laser light beam L in the sub-scanning direction can be adjusted.

<ポリゴンミラーの走査線の傾きについて>
次に、fθレンズ7や光学箱9が副走査方向に傾くことなどを原因として発生する、ポリゴンミラー4の走査線の傾きについて説明する。
<Inclination of polygon mirror scanning line>
Next, the inclination of the scanning line of the polygon mirror 4 caused by the fθ lens 7 and the optical box 9 being inclined in the sub-scanning direction will be described.

図4は、ポリゴンミラー4の走査線の傾きを説明するための模式図である。ここで図4において、上述した半導体レーザ1の位置調整を行った位置C(0mm像高)におけるレーザ光束Lの副走査方向の照射位置を基準として傾きがない走査線をL2とし、副走査方向に傾きのある走査線をL2´とする。   FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the inclination of the scanning line of the polygon mirror 4. Here, in FIG. 4, a scanning line having no inclination with reference to the irradiation position in the sub-scanning direction of the laser beam L at the position C (0 mm image height) where the position adjustment of the semiconductor laser 1 is performed is defined as L2, and the sub-scanning direction. Let L2 ′ be a scanning line with a slope.

なお、本実施形態では、ポリゴンミラー4の走査方向(主走査方向)において、上述した半導体レーザ1の位置調整を行った位置Cは、感光体ドラム81上の画像領域の中央部と対応する位置であり、且つ、開口部11の中央部と対応する位置である。   In the present embodiment, in the scanning direction (main scanning direction) of the polygon mirror 4, the position C where the position adjustment of the semiconductor laser 1 described above is performed corresponds to the central portion of the image area on the photosensitive drum 81. And a position corresponding to the central portion of the opening 11.

図4に示す様に、半導体レーザ1の位置調整を行った位置C(0mm像高)においては、傾きのない走査線L2と傾きのある走査線L2´との間で、副走査方向の位置は同じとなる。これに対し、半導体レーザ1の位置調整を行った位置Cから主走査方向に±100mmずれた位置z1、z2(+100mm像高、−100mm像高)では、傾きのない走査線L2と傾きのある走査線L2´の間で、副走査方向の位置に差(x1、x2)が生じる。   As shown in FIG. 4, at the position C (0 mm image height) where the position of the semiconductor laser 1 is adjusted, the position in the sub-scanning direction is between the scan line L2 having no tilt and the scan line L2 ′ having the tilt. Are the same. On the other hand, at positions z1 and z2 (+100 mm image height, −100 mm image height) shifted by ± 100 mm in the main scanning direction from the position C where the position of the semiconductor laser 1 is adjusted, there is an inclination with the scan line L2 having no inclination. A difference (x1, x2) occurs in the position in the sub-scanning direction between the scanning lines L2 ′.

つまり主走査方向における半導体レーザ1の位置調整を行った位置C(0mm像高)以外の位置では、傾きのある走査線L2´の副走査方向の位置は、傾きのない走査線L2の副走査方向の位置に対してズレが生じる。またそのズレの大きさは、半導体レーザ1の位置調整を行った位置Cから離れるにつれて大きくなる。   That is, at positions other than the position C (0 mm image height) at which the position of the semiconductor laser 1 is adjusted in the main scanning direction, the position in the sub-scanning direction of the scanning line L2 ′ with inclination is the sub-scanning of the scanning line L2 with no inclination. Deviation occurs with respect to the position in the direction. Further, the amount of deviation increases as the distance from the position C where the position of the semiconductor laser 1 is adjusted increases.

従って、半導体レーザ1の位置調整を行った位置Cにおいては、レーザ光束Lが通過する開口部11の副走査方向の幅は、位置調整時のバラつきを含めた副走査方向の照射位置規格を満足する開口幅とすればよい。これに対し、主走査方向における半導体レーザ1の位置調整を行った位置C以外の位置における開口部11の副走査方向の幅は、ポリゴンミラー4の走査線の傾きによるズレを考慮して、半導体レーザ1の位置調整を行った位置Cより開口幅を大きくする必要がある。   Accordingly, at the position C where the position of the semiconductor laser 1 is adjusted, the width in the sub-scanning direction of the opening 11 through which the laser beam L passes satisfies the irradiation position standard in the sub-scanning direction including variations at the time of position adjustment. What is necessary is just to set it as the opening width to do. On the other hand, the width in the sub-scanning direction of the opening 11 at a position other than the position C where the position of the semiconductor laser 1 is adjusted in the main scanning direction is determined in consideration of the shift due to the inclination of the scanning line of the polygon mirror 4. It is necessary to make the opening width larger than the position C where the position of the laser 1 is adjusted.

<開口部>
そこで本実施形態では、光学箱9とカバー10により形成された開口部11の副走査方向の幅を、次のように設定する。
<Opening>
Therefore, in this embodiment, the width in the sub-scanning direction of the opening 11 formed by the optical box 9 and the cover 10 is set as follows.

図5は、光学走査装置50の正面図である。図5に示す様に、本実施形態では、開口部11における副走査方向の幅を、半導体レーザ1の位置調整を行った位置Cに対応する主走査方向の中央部を小さく、中央部から端部に向かって大きくなるように設定する。つまり開口部11において、ポリゴンミラー4の走査方向と直交する方向の幅を、走査方向の中央部から端部に向かって大きくなるように、走査方向の位置に応じて変化させている。すなわち、開口部11の主走査方向の中央部における副走査方向の幅W1は、主走査方向の端部における副走査方向の幅W2よりも小さくなる。   FIG. 5 is a front view of the optical scanning device 50. As shown in FIG. 5, in this embodiment, the width of the opening 11 in the sub-scanning direction is set so that the central portion in the main scanning direction corresponding to the position C where the position of the semiconductor laser 1 has been adjusted is small, and from the central portion to the end. Set to increase toward the part. In other words, the width of the opening 11 in the direction orthogonal to the scanning direction of the polygon mirror 4 is changed according to the position in the scanning direction so as to increase from the center to the end in the scanning direction. That is, the width W1 in the sub-scanning direction at the center of the opening 11 in the main scanning direction is smaller than the width W2 in the sub-scanning direction at the end in the main scanning direction.

これにより、開口部11の副走査方向の開口幅が主走査方向で一定の従来の構成と比較して、開口部11の開口面積を、感光体ドラム81へのレーザ光束Lの照射に際してレーザ光束Lが通過するのに必要な最小面積に近づけることができる。   As a result, the opening area of the opening 11 is set to be smaller than that of the conventional configuration in which the opening width of the opening 11 in the sub-scanning direction is constant in the main scanning direction. It is possible to approach the minimum area required for L to pass.

<粉塵について>
次に、ポリゴンミラー4の回転に伴って光学走査装置50内に侵入する粉塵について説明する。
<About dust>
Next, dust that enters the optical scanning device 50 as the polygon mirror 4 rotates will be described.

図6は、図2に示すG−G断面で切断したときの光学走査装置50の断面図である。図6に示す様に、ポリゴンミラー4が高速回転すると、開口部11を介して粉塵を含んだ空気が光学走査装置50内に侵入し、矢印Vの経路を通って各々の光学部材に達する。この空気に含まれる粉塵がポリゴンミラー4やfθレンズ7に付着すると、上述した通り、感光体ドラム81に照射されるレーザ光束Lの光量が低下して画像に濃度ムラが発生するおそれがある。   FIG. 6 is a cross-sectional view of the optical scanning device 50 taken along the line GG shown in FIG. As shown in FIG. 6, when the polygon mirror 4 rotates at high speed, air containing dust enters the optical scanning device 50 through the opening 11 and reaches each optical member through the path indicated by the arrow V. When dust contained in the air adheres to the polygon mirror 4 or the fθ lens 7, as described above, the amount of the laser beam L irradiated to the photosensitive drum 81 may decrease, and density unevenness may occur in the image.

ここで本実施形態では、上述した通り、開口部11の副走査方向の幅を、主走査方向の位置に応じて変化させ、従来の構成と比較して、開口部11の開口面積をレーザ光束Lが通過するのに必要な最小面積に近づけている。これによりポリゴンミラー4の回転時において、開口部11を介して光学走査装置50内に侵入する空気の量が減少する。従って、粉塵を含む空気がポリゴンミラー4やfθレンズ7等の光学部材に達することが抑制され、これらの光学部材に粉塵が付着しにくくなる。このため、感光体ドラム81に照射されるレーザ光束Lの光量が低下して画像不良が発生することを抑制することができる。   Here, in the present embodiment, as described above, the width of the opening 11 in the sub-scanning direction is changed according to the position in the main scanning direction, and the opening area of the opening 11 is changed to a laser beam compared to the conventional configuration. It is close to the minimum area required for L to pass. Thereby, when the polygon mirror 4 is rotated, the amount of air entering the optical scanning device 50 through the opening 11 is reduced. Accordingly, the air containing dust is prevented from reaching the optical members such as the polygon mirror 4 and the fθ lens 7, and the dust is less likely to adhere to these optical members. For this reason, it is possible to suppress the occurrence of image defects due to a decrease in the amount of the laser beam L irradiated onto the photosensitive drum 81.

また従来の構成と比較して開口部11の開口面積を小さくできるため、ポリゴンミラー4の回転に伴って発生するモータ音が開口部11を介して光学走査装置50の外側へ漏れることを、従来よりも抑制することができる。従って、光学走査装置50や画像形成装置A全体の静音化を図ることができる。   Further, since the opening area of the opening 11 can be reduced as compared with the conventional configuration, it is known that the motor sound generated with the rotation of the polygon mirror 4 leaks to the outside of the optical scanning device 50 through the opening 11. Than can be suppressed. Accordingly, it is possible to reduce the noise of the entire optical scanning device 50 and the image forming apparatus A.

1…半導体レーザ(光源)
4…ポリゴンミラー(偏向走査手段)
9…光学箱(収用部材)
10…カバー(収用部材)
11…開口部
50…光学走査装置
81…感光体ドラム(感光体)
A…画像形成装置
1. Semiconductor laser (light source)
4. Polygon mirror (deflection scanning means)
9 ... Optical box (collection member)
10 ... Cover (collection member)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Opening part 50 ... Optical scanning device 81 ... Photosensitive drum (photosensitive body)
A: Image forming apparatus

Claims (3)

光源と、
前記光源から出射された光束を偏向走査する偏向走査手段と、
前記偏向走査手段を収容する収容部材であって、前記偏向走査手段により偏向走査された光束が通過するための開口部を備える収容部材と、
を備え、
前記開口部において、前記偏向走査手段の走査方向と直交する方向の幅は、該走査方向の位置に応じて変化することを特徴とする光学走査装置。
A light source;
Deflection scanning means for deflecting and scanning a light beam emitted from the light source;
A housing member for housing the deflection scanning means, and a housing member provided with an opening through which a light beam deflected and scanned by the deflection scanning means passes;
With
The optical scanning device according to claim 1, wherein the width of the opening in a direction perpendicular to the scanning direction of the deflection scanning unit changes according to the position in the scanning direction.
前記開口部の前記走査方向と直交する方向の幅は、前記走査方向の中央部から端部に向かって大きくなることを特徴とする請求項1に記載の光学走査装置。   2. The optical scanning device according to claim 1, wherein a width of the opening in a direction orthogonal to the scanning direction increases from a central portion to an end in the scanning direction. 感光体に光束を走査して静電潜像を形成し、該静電潜像を現像して画像を形成する画像形成装置において、
前記感光体に光束を走査する装置として、請求項1又は2に記載の光学走査装置を備えることを特徴とする画像形成装置。
In an image forming apparatus that forms a latent image by scanning a photosensitive member with a light beam, and develops the latent image to form an image.
An image forming apparatus comprising the optical scanning device according to claim 1 or 2 as a device for scanning the photosensitive member with a light beam.
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