JP2019028205A - Driving device and electronic apparatus - Google Patents

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Abstract

To provide a driving device capable of accurately matching a distance between counter members with a target value, and an electronic apparatus.SOLUTION: A driving device comprises: a pair of counter members facing each other; a capacity detection part detecting electrostatic capacitance between the pair of counter members; a gap change part changing a distance between the pair of counter members on the basis of an input signal; a distance maintenance part maintaining the distance between the pair of counter members to a reference distance; and a feedback control part executing feedback control of the input signal on the basis of a first detection value being the electrostatic capacitance detected by the capacity detection part. When the distance between the pair of counter members becomes the reference distance, the feedback control part corrects the first detection value on the basis of a difference between a second detection value being the electrostatic capacitance detected by the capacity detection part and an ideal value of the electrostatic capacitance between the pair of counter members when the distance between the pair of counter members becomes the reference distance, and executes the feedback control.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、駆動装置及び電子機器に関する。   The present invention relates to a drive device and an electronic apparatus.

従来、互いに対向する一対の基板と、各基板にそれぞれ配置されて互いに対向する反射膜と、各基板にそれぞれ配置されて互いに対向する電極と、を備えた波長可変干渉フィルターが知られている(例えば、特許文献1参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, a wavelength variable interference filter including a pair of substrates facing each other, reflective films disposed on each substrate and facing each other, and electrodes disposed on each substrate and facing each other is known ( For example, see Patent Document 1).

特許文献1に記載の波長可変干渉フィルターでは、各基板に、それぞれ、互いに対向する静電力印加用電極(静電アクチュエーター)を配置している。このような波長可変干渉フィルターでは、電圧制御部により静電アクチュエーターに電圧を印加させることで、反射膜間のギャップ量(間隔寸法)が変化する。また、反射膜間の静電容量をギャップ検出器で検出し、検出された静電容量に基づいて、電圧制御部から静電アクチュエーターに印加する電圧を微調整(フィードバック制御)することで、反射膜間ギャップの寸法を所望の目標値に設定することができる。   In the variable wavelength interference filter described in Patent Document 1, electrostatic force application electrodes (electrostatic actuators) that face each other are arranged on each substrate. In such a wavelength tunable interference filter, the voltage controller applies a voltage to the electrostatic actuator to change the gap amount (interval size) between the reflective films. In addition, the gap between the reflective films is detected by a gap detector, and the voltage applied from the voltage control unit to the electrostatic actuator is finely adjusted (feedback controlled) based on the detected capacitance. The dimension of the intermembrane gap can be set to a desired target value.

特開2015−225148号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2015-225148

ところで、上記特許文献1に記載のような波長可変干渉フィルターでは、反射膜又は反射膜に接続された配線への異物の付着や、経時変化や、電源変動等により、反射膜や反射膜に接続された配線の寄生容量が変化すると、ギャップ検出器で検出される静電容量が変化するため、フィードバック制御を高い精度で実施できないという問題がある。   By the way, in the wavelength variable interference filter as described in the above-mentioned Patent Document 1, it is connected to the reflection film or the reflection film due to the adhesion of foreign matter to the reflection film or the wiring connected to the reflection film, a change with time, a power supply fluctuation or the like. When the parasitic capacitance of the connected wiring changes, the capacitance detected by the gap detector changes, which causes a problem that feedback control cannot be performed with high accuracy.

本発明は、対向部材間の距離を目標値に精度良く合わせることが可能な駆動装置及び電子機器を提供することを目的とする。   An object of this invention is to provide the drive device and electronic device which can adjust the distance between opposing members to a target value accurately.

本発明の一適用例に係る駆動装置は、互いに対向する一対の対向部材と、前記一対の対向部材の間の静電容量を検出する容量検出部と、入力信号に基づいて、前記一対の対向部材の間の距離を変更するギャップ変更部と、前記一対の対向部材の間の距離を基準距離に維持する距離維持部と、前記容量検出部により検出される前記静電容量である第一検出値に基づいて、前記入力信号のフィードバック制御を実施するフィードバック制御部と、を備え、前記フィードバック制御部は、前記一対の対向部材の間の距離が前記基準距離となった際に前記容量検出部により検出される前記静電容量である第二検出値と、前記一対の対向部材の間の距離が前記基準距離となる場合の前記一対の対向部材の間の前記静電容量の理想値との差に基づいて、前記第一検出値を補正して、前記フィードバック制御を実施することを特徴とする。   A driving apparatus according to an application example of the invention includes a pair of facing members facing each other, a capacitance detection unit that detects a capacitance between the pair of facing members, and the pair of facing members based on an input signal. A gap changing unit that changes the distance between the members, a distance maintaining unit that maintains a distance between the pair of opposing members at a reference distance, and a first detection that is the capacitance detected by the capacitance detecting unit A feedback control unit that performs feedback control of the input signal based on a value, and the feedback control unit detects the capacitance detection unit when a distance between the pair of opposed members becomes the reference distance. And the ideal value of the capacitance between the pair of opposing members when the distance between the pair of opposing members is the reference distance. Based on the difference before By correcting the first detection value, which comprises carrying out the feedback control.

本適用例によれば、対向部材間の距離が基準距離となる場合の第二検出値と理想値との差により寄生容量の変化量を検出できる。このため、当該寄生容量の変化量に基づいて第一検出値を補正し、補正した第一検出値に基づいてフィードバック制御を実施することで、寄生容量が変化した場合でも、精度の高いフィードバック制御を実施でき、対向部材間の距離を目標値に精度良く合わせることができる。   According to this application example, the amount of change in the parasitic capacitance can be detected based on the difference between the second detection value and the ideal value when the distance between the opposing members is the reference distance. For this reason, the first detection value is corrected based on the amount of change in the parasitic capacitance, and feedback control is performed based on the corrected first detection value, so that even when the parasitic capacitance changes, highly accurate feedback control And the distance between the opposing members can be accurately adjusted to the target value.

本適用例の駆動装置において、前記基準距離は、前記ギャップ変更部により変更可能な前記一対の対向部材の間の距離の最小距離であり、前記一対の対向部材の間の距離を前記基準距離に変更した後、当該距離を順次増加させることが好ましい。   In the driving device according to this application example, the reference distance is a minimum distance between the pair of opposing members that can be changed by the gap changing unit, and the distance between the pair of opposing members is the reference distance. After changing, it is preferable to increase the distance sequentially.

本適用例によれば、最初に対向部材間の距離を基準距離に設定した際に、寄生容量の変化量を検出できるので、以降、対向部材間の距離を各目標値に設定する際は、寄生容量の変化量で第一検出値を補正し、補正した第一検出値に基づいてフィードバック制御を実施できる。このため、対向部材間の距離を各目標値に精度良く合わせることができる。
また、本適用例によれば、対向部材間の距離を各目標値に設定する一連の駆動処理を繰り返し行う場合、当該駆動処理を行う毎に寄生容量の変化量を検出することができるため、例えば電源投入時のみ寄生容量の変化量を検出する場合に比べて、対向部材間の距離を各目標値に精度良く合わせることができる。
According to this application example, when the distance between the opposing members is initially set as the reference distance, the amount of change in the parasitic capacitance can be detected, and thereafter, when setting the distance between the opposing members to each target value, The first detection value is corrected by the amount of change in parasitic capacitance, and feedback control can be performed based on the corrected first detection value. For this reason, the distance between opposing members can be accurately adjusted to each target value.
Further, according to this application example, when a series of driving processes for setting the distance between the opposing members to each target value is repeated, the amount of change in parasitic capacitance can be detected each time the driving process is performed. For example, the distance between the opposing members can be accurately adjusted to each target value as compared with the case where the amount of change in the parasitic capacitance is detected only when the power is turned on.

本適用例の駆動装置において、前記一対の対向部材の間の前記静電容量と、前記一対の対向部材の間の距離との関係を示す関係データを記憶する記憶部を備え、前記フィードバック制御部は、前記第二検出値と前記理想値との差に基づいて前記関係データを補正し、補正された前記関係データに基づいて前記フィードバック制御を実施することが好ましい。   In the driving device according to this application example, the feedback control unit includes a storage unit that stores relationship data indicating a relationship between the capacitance between the pair of opposing members and a distance between the pair of opposing members. Preferably, the relation data is corrected based on a difference between the second detection value and the ideal value, and the feedback control is performed based on the corrected relation data.

本適用例では、関係データを補正することで、対向部材間の距離の目標値に対する静電容量を正確に把握できる。   In this application example, it is possible to accurately grasp the capacitance with respect to the target value of the distance between the opposing members by correcting the relationship data.

本適用例の駆動装置において、第一ミラーが設けられる第一基板と、前記第一ミラーに対向する第二ミラーが設けられて前記第一基板に対向する第二基板とを備え、前記一対の対向部材は、前記第一ミラー及び前記第二ミラーであることが好ましい。   In the driving device according to the application example, the first substrate on which the first mirror is provided, and the second substrate on which the second mirror facing the first mirror is provided and facing the first substrate, The opposing members are preferably the first mirror and the second mirror.

本適用例では、一対のミラーにより、駆動装置をエタロン(ファブリーペローエタロン)として機能させることができ、ミラー間の距離を目標値に設定することで、目的波長の光が出力される。
本適用例によれば、出力される光の波長を決めるミラー間の距離を直接検出して、フィードバック制御を実施できるため、目的波長の光をより高精度で出力させることができる。
In this application example, the drive device can function as an etalon (Fabry-Perot etalon) by a pair of mirrors, and light having a target wavelength is output by setting the distance between the mirrors to a target value.
According to this application example, the distance between the mirrors that determines the wavelength of the output light can be directly detected and feedback control can be performed, so that light of the target wavelength can be output with higher accuracy.

本適用例の駆動装置において、前記一対の対向部材の一方が設けられる第一基板と、前記一対の対向部材の他方が設けられて前記第一基板に対向する第二基板とを備え、前記距離維持部は、前記第一基板及び前記第二基板の少なくともいずれか一方に設けられ、前記一対の対向部材間の距離が前記基準距離となった際に、前記第一基板及び前記第二基板のいずれか他方に当接する突出部であることが好ましい。   In the driving device according to this application example, the distance includes a first substrate on which one of the pair of opposing members is provided, and a second substrate on which the other of the pair of opposing members is provided and faces the first substrate, and the distance The maintenance unit is provided on at least one of the first substrate and the second substrate, and when the distance between the pair of opposing members becomes the reference distance, the first substrate and the second substrate It is preferable that it is a protrusion part which contact | abuts either one.

本適用例によれば、突出部が第一基板及び第二基板のいずれか他方に当接するまで、ギャップ変更部によって対向部材間の距離を短くすることで、対向部材間の距離を基準距離に容易に設定できる。   According to this application example, the distance between the opposing members is shortened by the gap changing portion until the protruding portion contacts either one of the first substrate and the second substrate, so that the distance between the opposing members becomes the reference distance. Easy to set.

本発明の一適用例に係る電子機器は、上記駆動装置と、前記駆動装置を制御する制御部と、を備えることを特徴とする。   An electronic apparatus according to an application example of the invention includes the drive device and a control unit that controls the drive device.

上記駆動装置によれば、対向部材間の距離を精度良く制御できるので、当該駆動装置を備える電子機器では、当該制御に伴う各種処理の精度を高めることができる。例えば、波長可変干渉フィルターでは、高精度な波長制御を行うことができ、波長可変干渉フィルターを制御することで出射光を検出する分光測定装置では、目的波長の光の光量を高精度に検出できる。   According to the above drive device, the distance between the facing members can be controlled with high accuracy, and therefore the accuracy of various processes associated with the control can be increased in an electronic device including the drive device. For example, a wavelength tunable interference filter can perform highly accurate wavelength control, and a spectroscopic measurement device that detects emitted light by controlling the wavelength tunable interference filter can detect the amount of light of a target wavelength with high accuracy. .

本発明に係る第一実施形態の分光測定装置の概略構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing a schematic configuration of a spectrometer according to a first embodiment of the present invention. 第一実施形態の光学モジュールの概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the optical module of 1st embodiment. 第一実施形態の波長可変干渉フィルターの断面図。Sectional drawing of the wavelength variable interference filter of 1st embodiment. 第一実施形態の波長可変干渉フィルターの平面図。The top view of the wavelength variable interference filter of 1st embodiment. 第一実施形態の電圧制御部におけるクローズドループシステムの概念図。The conceptual diagram of the closed loop system in the voltage control part of 1st embodiment. 反射膜間の静電容量とピーク波長との関係を示すグラフ。The graph which shows the relationship between the electrostatic capacitance between reflecting films, and a peak wavelength. 第一実施形態の測定処理を示すフローチャート。The flowchart which shows the measurement process of 1st embodiment. 第一実施形態の測定処理における反射膜間の距離の遷移図。The transition diagram of the distance between the reflecting films in the measurement process of 1st embodiment. 第一実施形態の測定処理における波長可変フィルターの動作を示す図。The figure which shows operation | movement of the wavelength tunable filter in the measurement process of 1st embodiment. 本発明に係る第二実施形態のプリンターの外観の構成例を示す図。The figure which shows the structural example of the external appearance of the printer of 2nd embodiment which concerns on this invention. 第二実施形態のプリンターの概略構成を示すブロック図。The block diagram which shows schematic structure of the printer of 2nd embodiment.

[第一実施形態]
以下、本発明に係る第一実施形態の分光測定装置1について、図面に基づいて説明する。
[分光測定装置の構成]
図1は、本発明に係る第一実施形態の分光測定装置1の概略構成を示すブロック図である。
分光測定装置1は、本発明の電子機器であり、測定対象Xで反射された測定対象光における所定波長の光強度を分析し、分光スペクトルを測定する装置である。なお、本実施形態では、測定対象Xで反射した測定対象光を測定する例を示すが、測定対象Xとして、例えば液晶ディスプレイ等の発光体を用いる場合、当該発光体から発光された光を測定対象光としてもよい。
この分光測定装置1は、図1に示すように、光学モジュール10と、ディテクター11(検出部)と、I−V変換器12と、アンプ13と、A/D変換器14と、制御部20と、を備えている。また、光学モジュール10は、本発明の駆動装置に相当し、波長可変干渉フィルター5と、電圧制御部15とを備えて構成されている。
[First embodiment]
Hereinafter, a spectrometer 1 according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[Configuration of Spectrometer]
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a spectrometer 1 according to the first embodiment of the present invention.
The spectroscopic measurement apparatus 1 is an electronic apparatus of the present invention, and is an apparatus that analyzes a light intensity of a predetermined wavelength in measurement target light reflected by the measurement target X and measures a spectral spectrum. In this embodiment, an example of measuring the measurement target light reflected by the measurement target X is shown. However, when a light emitter such as a liquid crystal display is used as the measurement target X, the light emitted from the light emitter is measured. The target light may be used.
As shown in FIG. 1, the spectrometer 1 includes an optical module 10, a detector 11 (detection unit), an IV converter 12, an amplifier 13, an A / D converter 14, and a control unit 20. And. The optical module 10 corresponds to the drive device of the present invention, and includes the variable wavelength interference filter 5 and the voltage control unit 15.

ディテクター11は、光学モジュール10の波長可変干渉フィルター5を透過した光を受光し、受光した光の光強度に応じた検出信号(電流)を出力する。
I−V変換器12は、ディテクター11から入力された検出信号を電圧値に変換し、アンプ13に出力する。
アンプ13は、I−V変換器12から入力された検出信号に応じた電圧(検出電圧)を増幅する。
A/D変換器14は、アンプ13から入力された検出電圧(アナログ信号)をデジタル信号に変換し、制御部20に出力する。
電圧制御部15は、制御部20の制御に基づいて、波長可変干渉フィルター5を駆動させ、波長可変干渉フィルター5から所定の目的波長の光を透過させる。
The detector 11 receives the light transmitted through the wavelength variable interference filter 5 of the optical module 10 and outputs a detection signal (current) corresponding to the light intensity of the received light.
The IV converter 12 converts the detection signal input from the detector 11 into a voltage value and outputs the voltage value to the amplifier 13.
The amplifier 13 amplifies a voltage (detection voltage) corresponding to the detection signal input from the IV converter 12.
The A / D converter 14 converts the detection voltage (analog signal) input from the amplifier 13 into a digital signal and outputs it to the control unit 20.
Based on the control of the control unit 20, the voltage control unit 15 drives the wavelength variable interference filter 5 and transmits light having a predetermined target wavelength from the wavelength variable interference filter 5.

[光学モジュールの構成]
次に、光学モジュール10の構成について、以下に説明する。
図2は、光学モジュール10の概略構成を示すブロック図である。
光学モジュール10は、上記のように、波長可変干渉フィルター5と、電圧制御部15とを備えて構成される。
[Configuration of optical module]
Next, the configuration of the optical module 10 will be described below.
FIG. 2 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the optical module 10.
As described above, the optical module 10 includes the variable wavelength interference filter 5 and the voltage control unit 15.

[波長可変干渉フィルターの構成]
光学モジュール10の波長可変干渉フィルター5について、以下説明する。図3は、波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す断面図である。図4は、波長可変干渉フィルター5の概略構成を示す平面図である。
波長可変干渉フィルター5は、図3及び図4に示すように、例えば矩形板状の光学部材であり、固定基板51(第一基板)及び可動基板52(第二基板)を備えている。これらの固定基板51及び可動基板52は、例えば各種ガラスや水晶等の絶縁性素材により形成され、例えばシロキサンを主成分とするプラズマ重合膜などにより構成された接合膜53(図3参照)により接合されることで、一体的に構成されている。
[Configuration of wavelength tunable interference filter]
The wavelength variable interference filter 5 of the optical module 10 will be described below. FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of the wavelength variable interference filter 5. FIG. 4 is a plan view showing a schematic configuration of the variable wavelength interference filter 5.
As shown in FIGS. 3 and 4, the variable wavelength interference filter 5 is a rectangular plate-shaped optical member, for example, and includes a fixed substrate 51 (first substrate) and a movable substrate 52 (second substrate). The fixed substrate 51 and the movable substrate 52 are formed of an insulating material such as various types of glass or quartz, and are bonded by a bonding film 53 (see FIG. 3) formed of, for example, a plasma polymerized film mainly containing siloxane. By doing so, it is configured integrally.

固定基板51には、固定反射膜54(第一ミラー)が設けられ、可動基板52には、可動反射膜55(第二ミラー)が設けられている。これらの固定反射膜54及び可動反射膜55は、ギャップG1(図3参照)を介して対向配置されている。すなわち、固定反射膜54及び可動反射膜55は、本発明の一対の対向部材に相当する。
また、固定基板51には、固定電極561が設けられ、可動基板52には、可動電極562が設けられている。これらの固定電極561及び可動電極562は、所定のギャップを介して対向配置されている。これらの固定電極561及び可動電極562は、本発明のギャップ変更部である静電アクチュエーター56を構成する。
なお、以降の説明に当たり、固定基板51又は可動基板52の基板厚み方向から見た平面視、つまり、固定基板51、接合膜53、及び可動基板52の積層方向から波長可変干渉フィルター5を見た平面視をフィルター平面視と称する。また、本実施形態では、フィルター平面視において、固定反射膜54の中心点及び可動反射膜55の中心点は、一致し、平面視におけるこれらの反射膜の中心点をフィルター中心点Oと称し、これらの反射膜の中心点を通る直線を中心軸と称する。
The fixed substrate 51 is provided with a fixed reflective film 54 (first mirror), and the movable substrate 52 is provided with a movable reflective film 55 (second mirror). The fixed reflection film 54 and the movable reflection film 55 are disposed to face each other via a gap G1 (see FIG. 3). That is, the fixed reflective film 54 and the movable reflective film 55 correspond to a pair of opposing members of the present invention.
The fixed substrate 51 is provided with a fixed electrode 561, and the movable substrate 52 is provided with a movable electrode 562. The fixed electrode 561 and the movable electrode 562 are arranged to face each other with a predetermined gap. These fixed electrode 561 and movable electrode 562 constitute an electrostatic actuator 56 which is a gap changing portion of the present invention.
In the following description, the wavelength tunable interference filter 5 was seen from a plan view seen from the thickness direction of the fixed substrate 51 or the movable substrate 52, that is, from the stacking direction of the fixed substrate 51, the bonding film 53, and the movable substrate 52. The plan view is referred to as a filter plan view. In the present embodiment, the center point of the fixed reflection film 54 and the center point of the movable reflection film 55 coincide with each other in the filter plan view, and the center point of these reflection films in the plan view is referred to as a filter center point O. A straight line passing through the center point of these reflective films is referred to as a central axis.

(固定基板の構成)
固定基板51は、図3に示すように、例えばエッチング等により形成された電極配置溝511及び反射膜設置部512を備える。また、固定基板51の一端側(図4における辺C1−C2)は、可動基板52の基板端縁(図4における辺C5−C6)よりも外側に突出しており、第一端子取出部514を構成している。
(Configuration of fixed substrate)
As shown in FIG. 3, the fixed substrate 51 includes an electrode arrangement groove 511 and a reflective film installation portion 512 formed by, for example, etching. Moreover, one end side (side C1-C2 in FIG. 4) of the fixed substrate 51 protrudes outward from the substrate edge (side C5-C6 in FIG. 4) of the movable substrate 52, and the first terminal extraction portion 514 is formed. It is composed.

電極配置溝511は、フィルター平面視で、固定基板51のフィルター中心点Oを中心とした環状に形成されている。反射膜設置部512は、フィルター平面視において、電極配置溝511の中心部から可動基板52側に突出して形成されている。この電極配置溝511の溝底面511Aには、静電アクチュエーター56の固定電極561、及び、ギャップG1の距離を基準距離に維持する距離維持部の一部を構成する第一ピラー部571が設けられている。また、反射膜設置部512の突出先端面には、固定反射膜54が設けられている。
また、固定基板51には、電極配置溝511から、固定基板51の外周縁に向かって延出する電極引出溝(図示略)が設けられている。
The electrode arrangement groove 511 is formed in an annular shape centering on the filter center point O of the fixed substrate 51 in the filter plan view. The reflection film installation part 512 is formed so as to protrude from the center part of the electrode arrangement groove 511 toward the movable substrate 52 in the filter plan view. On the groove bottom surface 511A of the electrode arrangement groove 511, a fixed electrode 561 of the electrostatic actuator 56 and a first pillar portion 571 constituting a part of a distance maintaining portion that maintains the distance of the gap G1 at the reference distance are provided. ing. In addition, a fixed reflective film 54 is provided on the protruding front end surface of the reflective film installation portion 512.
The fixed substrate 51 is provided with an electrode lead groove (not shown) extending from the electrode placement groove 511 toward the outer peripheral edge of the fixed substrate 51.

固定電極561は、例えば円弧状(略C字状)に形成されており、図4に示すように、辺C1−C2に近接する一部にC字開口部が設けられる。また、固定電極561上に、可動電極562との間の絶縁性を確保するための絶縁膜が積層される構成としてもよい。
そして、固定電極561は、電極引出溝に沿って第一端子取出部514まで延出する固定引出電極563を備えている。この固定引出電極563の延出先端部は、例えばリード線やFPC(Flexible printed circuits)等により電圧制御部15に接続されている。
The fixed electrode 561 is formed, for example, in an arc shape (substantially C shape), and as shown in FIG. 4, a C-shaped opening is provided in a part close to the side C1-C2. In addition, an insulating film for ensuring insulation between the movable electrode 562 and the fixed electrode 561 may be stacked.
The fixed electrode 561 includes a fixed extraction electrode 563 extending to the first terminal extraction portion 514 along the electrode extraction groove. The extended leading end portion of the fixed extraction electrode 563 is connected to the voltage control unit 15 by, for example, a lead wire or FPC (Flexible printed circuits).

反射膜設置部512の突出先端面に設けられる固定反射膜54は、例えばAg等の金属膜や、Ag合金等、導電性を有する反射膜素材により構成される。なお、固定反射膜54として、例えば高屈折層をTiO、低屈折層をSiOとした誘電体多層膜を用いてもよい。固定反射膜54として誘電体多層膜を用いる場合では、当該誘電体多層膜の最下層又は最上層(表層)に導電性膜を積層することで導電性を持たせる。この導電性膜として広波長域に対して高反射率特性を有する、例えばAg合金等の反射膜を用いてもよい。この場合、導電性膜により、波長可変干渉フィルター5の測定対象波長域を広げることができ、広い波長帯域に対して所望の目的波長を取り出すことが可能となり、かつ、誘電体多層膜により、高分解能で目的波長の光を取り出すことが可能となる。また、導電性膜と反射膜設置部512との間や、導電性膜と誘電体多層膜との間に、密着性を向上させるために透明接着層を更に介在させてもよい。 The fixed reflective film 54 provided on the protruding front end surface of the reflective film installation part 512 is made of a conductive reflective film material such as a metal film such as Ag or an Ag alloy. As the fixed reflective film 54, for example, a dielectric multilayer film in which the high refractive layer is TiO 2 and the low refractive layer is SiO 2 may be used. In the case where a dielectric multilayer film is used as the fixed reflective film 54, conductivity is imparted by laminating a conductive film on the lowermost layer or the uppermost layer (surface layer) of the dielectric multilayer film. As this conductive film, for example, a reflective film such as an Ag alloy having a high reflectance characteristic with respect to a wide wavelength range may be used. In this case, the conductive film can widen the wavelength range to be measured of the wavelength tunable interference filter 5, it is possible to take out a desired target wavelength with respect to a wide wavelength band, and the dielectric multilayer film increases the wavelength. It becomes possible to extract light of a target wavelength with resolution. In addition, a transparent adhesive layer may be further interposed between the conductive film and the reflective film installation portion 512 or between the conductive film and the dielectric multilayer film in order to improve adhesion.

そして、固定基板51には、図4に示すように、固定反射膜54の外周縁に接続され、固定電極561のC字開口部を通り、第一端子取出部514に向かって延出する第一ミラー電極541が設けられている。この第一ミラー電極541は、固定反射膜54の形成時に、同時に成膜されることで形成されている。
そして、第一ミラー電極541は、第一端子取出部514上で電圧制御部15に接続される。
As shown in FIG. 4, the fixed substrate 51 is connected to the outer peripheral edge of the fixed reflection film 54, passes through the C-shaped opening of the fixed electrode 561, and extends toward the first terminal extraction portion 514. One mirror electrode 541 is provided. The first mirror electrode 541 is formed by being formed simultaneously with the formation of the fixed reflective film 54.
The first mirror electrode 541 is connected to the voltage control unit 15 on the first terminal extraction unit 514.

第一ピラー部571(本発明の突出部)は、フィルター平面視において、電極配置溝511における固定反射膜54の外で、固定電極561よりフィルター中心点O側に設けられており、フィルター中心点Oを中心とする仮想円の円周上で一定間隔に配置されている。なお、第一ピラー部571は、例えば、フィルター中心点Oを中心とした環状に設けられていてもよい。
そして、図3に示すように、第一ピラー部571の電極配置溝511の溝底面511Aからの高さ寸法は、反射膜設置部512及び固定反射膜54を合わせた厚み寸法よりも大きく形成されている。
第一ピラー部571の形成素材としては特に限定されず、例えば固定基板51と同じ材料や、SiO等により構成されていればよい。本実施形態では、第一ピラー部571の一部である基端部571Aは、固定基板51と一体形成され、残りの部分である先端部571Bは、SiO等により構成されている。この場合、固定基板51に対して2段階のエッチング処理を実施することで、電極配置溝511と、反射膜設置部512及び基端部571Aとを形成し、基端部571AにSiO等の層を形成して先端部571Bを設けることで、第一ピラー部571を形成できる。
The first pillar portion 571 (the protruding portion of the present invention) is provided on the filter center point O side of the fixed electrode 561 outside the fixed reflection film 54 in the electrode arrangement groove 511 in the filter plan view, and the filter center point They are arranged at regular intervals on the circumference of a virtual circle centered on O. The first pillar portion 571 may be provided in an annular shape with the filter center point O as the center, for example.
As shown in FIG. 3, the height dimension from the groove bottom surface 511 </ b> A of the electrode arrangement groove 511 of the first pillar part 571 is formed to be larger than the combined thickness dimension of the reflective film installation part 512 and the fixed reflective film 54. ing.
The material for forming the first pillar portion 571 is not particularly limited, and may be made of, for example, the same material as that of the fixed substrate 51 or SiO 2 . In the present embodiment, the base end portion 571A that is a part of the first pillar portion 571 is integrally formed with the fixed substrate 51, and the tip end portion 571B that is the remaining portion is made of SiO 2 or the like. In this case, the electrode placement groove 511, the reflective film installation part 512, and the base end part 571A are formed by performing a two-stage etching process on the fixed substrate 51, and SiO 2 or the like is formed on the base end part 571A. The first pillar portion 571 can be formed by forming the layer and providing the tip portion 571B.

固定基板51のうち、電極配置溝511、反射膜設置部512、及び電極引出溝が形成されない領域は、接合膜53により、可動基板52に接合される。   Of the fixed substrate 51, the electrode placement groove 511, the reflective film installation portion 512, and the region where the electrode lead-out groove is not formed are bonded to the movable substrate 52 by the bonding film 53.

(可動基板の構成)
可動基板52は、図4に示すようなフィルター平面視において、フィルター中心点Oを中心とした円形状の可動部521と、可動部521と同軸であり可動部521を保持する保持部522と、保持部522の外側に設けられた基板外周部525と、を備えている。
また、可動基板52では、図4に示すように、一端側(辺C7−C8)は、固定基板51の基板端縁(辺C3−C4)よりも外側に突出しており、第二端子取出部524を構成している。
(Configuration of movable substrate)
The movable substrate 52 includes a circular movable portion 521 centered on the filter center point O in the filter plan view as shown in FIG. 4, a holding portion 522 that is coaxial with the movable portion 521 and holds the movable portion 521, A substrate outer peripheral portion 525 provided outside the holding portion 522.
Moreover, in the movable substrate 52, as shown in FIG. 4, one end side (side C7-C8) protrudes outward from the substrate edge (side C3-C4) of the fixed substrate 51, and the second terminal extraction portion 524 is configured.

可動部521は、保持部522よりも厚み寸法が大きく形成され、例えば、本実施形態では、可動基板52の厚み寸法と同一寸法に形成されている。この可動部521は、フィルター平面視において、少なくとも反射膜設置部512の外周縁の径寸法よりも大きい径寸法に形成されている。そして、この可動部521の固定基板51に対向する可動面521Aには、可動反射膜55、可動電極562、及び距離維持部の一部を構成する第二ピラー部572が設けられている。   The movable part 521 is formed to have a thickness dimension larger than that of the holding part 522. For example, in this embodiment, the movable part 521 is formed to have the same dimension as the thickness dimension of the movable substrate 52. The movable portion 521 is formed to have a diameter that is larger than at least the diameter of the outer peripheral edge of the reflective film installation portion 512 in the filter plan view. The movable surface 521A of the movable portion 521 facing the fixed substrate 51 is provided with a movable reflective film 55, a movable electrode 562, and a second pillar portion 572 that constitutes a part of the distance maintaining portion.

可動電極562は、フィルター平面視において、可動反射膜55の外周側に設けられ、固定電極561に対してギャップを介して対向配置されている。この可動電極562は、円弧状(略C字状)に形成されており、図4に示すように、辺C7−C8に近接する一部にC字開口部が設けられている。また、固定電極561と同様に、可動電極562上に絶縁膜が積層される構成としてもよい。
ここで、図4に示すように、フィルター平面視において、可動電極562と固定電極561とが重なる円弧領域(図4において右上がり斜線部で示される領域)により、静電アクチュエーター56が構成されている。この静電アクチュエーター56は、図4に示すように、フィルター平面視において、フィルター中心点Oに対して互いに点対称となる形状及び配置となる。したがって、静電アクチュエーター56に電圧を印加した際に発生する静電引力も、フィルター中心点Oに対して点対称となる位置に作用し、バランスよく可動部521を固定基板51側に変位させることが可能となる。
The movable electrode 562 is provided on the outer peripheral side of the movable reflective film 55 in the plan view of the filter, and is disposed to face the fixed electrode 561 with a gap. The movable electrode 562 is formed in an arc shape (substantially C shape), and as shown in FIG. 4, a C-shaped opening is provided in a part close to the sides C7 to C8. Similarly to the fixed electrode 561, an insulating film may be stacked over the movable electrode 562.
Here, as shown in FIG. 4, the electrostatic actuator 56 is configured by an arc region where the movable electrode 562 and the fixed electrode 561 overlap with each other in the filter plan view (a region indicated by a hatched portion rising to the right in FIG. 4). Yes. As shown in FIG. 4, the electrostatic actuator 56 has a shape and an arrangement that are symmetrical with respect to the filter center point O in the filter plan view. Therefore, the electrostatic attractive force generated when a voltage is applied to the electrostatic actuator 56 also acts on a position that is point-symmetric with respect to the filter center point O, and displaces the movable portion 521 toward the fixed substrate 51 in a balanced manner. Is possible.

また、図4に示すように、可動電極562は、第二端子取出部524に向かって延出する可動引出電極564が設けられている。この可動引出電極564は、固定基板51に設けられた電極引出溝に対向する位置に沿って配置される。また、可動引出電極564の延出先端部は、例えばFPCやリード線等により電圧制御部15に接続されている。   Further, as shown in FIG. 4, the movable electrode 562 is provided with a movable extraction electrode 564 extending toward the second terminal extraction portion 524. The movable extraction electrode 564 is disposed along a position facing the electrode extraction groove provided on the fixed substrate 51. In addition, the extended leading end portion of the movable extraction electrode 564 is connected to the voltage control unit 15 by, for example, an FPC or a lead wire.

可動反射膜55は、可動部521の可動面521Aの中心部に、固定反射膜54とギャップG1を介して対向して設けられる。この可動反射膜55としては、上述した固定反射膜54と同一の構成の反射膜が用いられる。なお、本実施形態では、反射膜54,55間のギャップG1は、電極561,562間のギャップよりも小さくなる。
また、可動基板52には、図4に示すように、可動反射膜55の外周縁に接続され、可動電極562のC字開口部を通り、第二端子取出部524に向かって延出する第二ミラー電極551が設けられている。
また、可動反射膜55として、誘電体多層膜及び導電性膜の積層体により構成される場合では、第二ミラー電極551は、導電性膜と同時に形成され、この導電性膜に接続される。
そして、この第二ミラー電極551は、第二端子取出部524上において例えばFPCやリード線等により電圧制御部15に接続されている。
The movable reflective film 55 is provided in the central part of the movable surface 521A of the movable part 521 so as to face the fixed reflective film 54 via the gap G1. As the movable reflective film 55, a reflective film having the same configuration as that of the fixed reflective film 54 described above is used. In the present embodiment, the gap G1 between the reflective films 54 and 55 is smaller than the gap between the electrodes 561 and 562.
Further, as shown in FIG. 4, the movable substrate 52 is connected to the outer peripheral edge of the movable reflective film 55, passes through the C-shaped opening of the movable electrode 562, and extends toward the second terminal extraction portion 524. Two mirror electrodes 551 are provided.
In the case where the movable reflective film 55 is composed of a laminate of a dielectric multilayer film and a conductive film, the second mirror electrode 551 is formed at the same time as the conductive film and is connected to the conductive film.
The second mirror electrode 551 is connected to the voltage control unit 15 on the second terminal extraction unit 524 by, for example, an FPC or a lead wire.

第二ピラー部572(本発明の突出部)は、フィルター平面視において、可動反射膜55の外で、可動電極562よりフィルター中心点O側に設けられ、第一ピラー部571と対向する。
第二ピラー部572は、第一ピラー部571と同様、フィルター平面視において、フィルター中心点Oを中心とした仮想円の円周上で等間隔に配置されている。なお、第二ピラー部572は、環状に形成されていてもよい。
そして、第二ピラー部572は、可動部521の固定基板51に対向する可動面521Aからの高さ寸法が、可動反射膜55の膜厚寸法よりも大きく形成されている。つまり、反射膜54,55間のギャップG1の寸法よりも、第一ピラー部571及び第二ピラー部572のギャップG2の寸法が小さくなる。
第二ピラー部572の形成素材としては、特に限定されず、例えば可動基板52と同じ材料や、SiO等により構成されていればよい。本実施形態では、第二ピラー部572は、SiOにより構成されている。
The second pillar portion 572 (protruding portion of the present invention) is provided on the filter center point O side of the movable electrode 562 outside the movable reflective film 55 in the filter plan view, and faces the first pillar portion 571.
Similar to the first pillar portion 571, the second pillar portions 572 are arranged at equal intervals on the circumference of a virtual circle centered on the filter center point O in the filter plan view. Note that the second pillar portion 572 may be formed in an annular shape.
The second pillar portion 572 is formed such that the height dimension from the movable surface 521A facing the fixed substrate 51 of the movable section 521 is larger than the film thickness dimension of the movable reflective film 55. That is, the size of the gap G2 between the first pillar portion 571 and the second pillar portion 572 is smaller than the size of the gap G1 between the reflective films 54 and 55.
A material for forming the second pillar portion 572 is not particularly limited, and may be made of, for example, the same material as the movable substrate 52 or SiO 2 . In the present embodiment, the second pillar portion 572 is constituted by SiO 2.

保持部522は、可動部521の周囲を囲うダイヤフラムであり、可動部521よりも厚み寸法が小さく形成されている。このような保持部522は、可動部521よりも撓みやすく、僅かな静電引力により、可動部521を固定基板51側に変位させることが可能となる。この際、可動部521が保持部522よりも厚み寸法が大きく、剛性が大きくなるため、保持部522が静電引力により固定基板51側に引っ張られた場合でも、可動部521の形状変化が抑制される。したがって、可動部521に設けられた可動反射膜55の撓みも発生しにくく、固定反射膜54及び可動反射膜55を常に平行状態に維持することが可能となる。
なお、本実施形態では、ダイヤフラム状の保持部522を例示するが、これに限定されず、例えば、フィルター中心点Oを中心として、等角度間隔で配置された梁状の保持部が設けられる構成などとしてもよい。
The holding part 522 is a diaphragm that surrounds the periphery of the movable part 521, and has a thickness dimension smaller than that of the movable part 521. Such a holding part 522 is easier to bend than the movable part 521, and the movable part 521 can be displaced toward the fixed substrate 51 by a slight electrostatic attraction. At this time, since the movable portion 521 has a thickness dimension larger than that of the holding portion 522 and rigidity, the shape change of the movable portion 521 is suppressed even when the holding portion 522 is pulled toward the fixed substrate 51 by electrostatic attraction. Is done. Therefore, the movable reflective film 55 provided on the movable portion 521 is hardly bent, and the fixed reflective film 54 and the movable reflective film 55 can be always maintained in a parallel state.
In this embodiment, the diaphragm-like holding part 522 is illustrated, but the present invention is not limited to this. For example, a configuration in which beam-like holding parts arranged at equiangular intervals around the filter center point O are provided. And so on.

基板外周部525は、上述したように、フィルター平面視において保持部522の外側に設けられる。基板外周部525の固定基板51に対向する面は、接合膜53を介して固定基板51に接合される。   As described above, the substrate outer peripheral portion 525 is provided outside the holding portion 522 in the filter plan view. The surface of the substrate outer peripheral portion 525 that faces the fixed substrate 51 is bonded to the fixed substrate 51 through the bonding film 53.

[電圧制御部の構成]
電圧制御部15は、図2に示すように、ギャップ検出器151(本発明における容量検出部)と、フィルター駆動部152と、マイコン(マイクロコントローラー)16とを備えて構成されている。電圧制御部15は、制御部20からの制御信号に応じて静電アクチュエーター56に駆動電圧を印加し、反射膜間のギャップG1の寸法を所望の値に設定する。
以下、電圧制御部15の構成について、詳細に説明する。
[Configuration of voltage controller]
As shown in FIG. 2, the voltage control unit 15 includes a gap detector 151 (capacitance detection unit in the present invention), a filter driving unit 152, and a microcomputer (microcontroller) 16. The voltage control unit 15 applies a driving voltage to the electrostatic actuator 56 in accordance with a control signal from the control unit 20, and sets the dimension of the gap G1 between the reflective films to a desired value.
Hereinafter, the configuration of the voltage control unit 15 will be described in detail.

図5は、電圧制御部15を用いたフィードバックループの概念図である。
電圧制御部15は、図5に示すように、波長可変干渉フィルター5の静電アクチュエーター56、ギャップ検出器151、及びフィルター駆動部152により、クローズドループシステム15L(フィードバックループ)を構成する。そして、本実施形態では、マイコン16は、静電アクチュエーター56の駆動特性に基づいて、このクローズドループシステム15Lのゲインを設定することで、フィードバック制御時の制御状態を好適に維持する。
FIG. 5 is a conceptual diagram of a feedback loop using the voltage control unit 15.
As shown in FIG. 5, the voltage control unit 15 includes a closed loop system 15 </ b> L (feedback loop) by the electrostatic actuator 56, the gap detector 151, and the filter driving unit 152 of the variable wavelength interference filter 5. In the present embodiment, the microcomputer 16 suitably maintains the control state during the feedback control by setting the gain of the closed loop system 15L based on the drive characteristics of the electrostatic actuator 56.

ギャップ検出器151は、波長可変干渉フィルター5の第一ミラー電極541及び第二ミラー電極551に接続されている。このギャップ検出器151は、静電アクチュエーター56の駆動により変動する、反射膜54,55間のギャップG1の寸法を検出し、検出信号を出力する。このギャップG1の寸法を検出することで、静電アクチュエーター56の駆動量も容易に算出できる。
このギャップ検出器151は、例えば、反射膜54,55間の静電容量を検出し、検出値(第一検出値)を電圧信号(検出信号)としてフィルター駆動部152及びマイコン16に出力する。
なお、ギャップ検出器151は、検出信号として、アナログ信号を出力してもよく、デジタル信号を出力してもよい。デジタル信号を出力する場合、検出信号(アナログ信号)をADC(Analog to Digital Converter)に入力し、デジタル値に変換する。
The gap detector 151 is connected to the first mirror electrode 541 and the second mirror electrode 551 of the wavelength variable interference filter 5. The gap detector 151 detects the size of the gap G1 between the reflective films 54 and 55, which varies depending on the driving of the electrostatic actuator 56, and outputs a detection signal. By detecting the size of the gap G1, the driving amount of the electrostatic actuator 56 can be easily calculated.
For example, the gap detector 151 detects the electrostatic capacitance between the reflection films 54 and 55 and outputs the detection value (first detection value) to the filter driving unit 152 and the microcomputer 16 as a voltage signal (detection signal).
The gap detector 151 may output an analog signal or a digital signal as a detection signal. In the case of outputting a digital signal, a detection signal (analog signal) is input to an ADC (Analog to Digital Converter) and converted into a digital value.

フィルター駆動部152は、波長可変干渉フィルター5の固定引出電極563及び可動引出電極564に接続されている。そして、フィルター駆動部152は、マイコン16から入力されたギャップG1を所定の目標値に設定する旨の目標信号に基づき、静電アクチュエーター56に対して駆動電圧(入力信号)を印加する。
この際、フィルター駆動部152は、ギャップ検出器151から出力された静電容量を、静電容量とギャップG1の寸法との関係を示すギャップ相関データ(関係データ)を参照してギャップG1の寸法に変換する。ギャップ相関データは、後述するマイコン16のメモリー161に記憶されている。そして、フィルター駆動部152は、変換したギャップG1の寸法と、マイコン16から入力された目標信号が示すギャップG1の寸法との偏差が所定閾値以下となるように、静電アクチュエーター56に対する駆動電圧を増減して制御する。すなわち、フィルター駆動部152は、検出信号及び目標信号に基づいて、フィードバック制御を実施する。つまり、当該フィルター駆動部152と、検出信号を出力するギャップ検出器151と、目標信号を出力するマイコン16とにより、本発明のフィードバック制御部が構成される。
The filter driving unit 152 is connected to the fixed extraction electrode 563 and the movable extraction electrode 564 of the variable wavelength interference filter 5. The filter driving unit 152 applies a driving voltage (input signal) to the electrostatic actuator 56 based on a target signal for setting the gap G1 input from the microcomputer 16 to a predetermined target value.
At this time, the filter driving unit 152 refers to the gap correlation data (relation data) indicating the relationship between the capacitance and the size of the gap G1 with respect to the capacitance output from the gap detector 151. Convert to The gap correlation data is stored in the memory 161 of the microcomputer 16 described later. Then, the filter drive unit 152 sets the drive voltage for the electrostatic actuator 56 so that the deviation between the converted size of the gap G1 and the size of the gap G1 indicated by the target signal input from the microcomputer 16 is equal to or less than a predetermined threshold value. Increase and decrease to control. That is, the filter driving unit 152 performs feedback control based on the detection signal and the target signal. That is, the filter drive unit 152, the gap detector 151 that outputs the detection signal, and the microcomputer 16 that outputs the target signal constitute the feedback control unit of the present invention.

図2に戻り、マイコン16は、記憶部としてのメモリー161を備え、当該メモリー161には、上述したようにギャップ検出器151で検出される静電容量とギャップG1の寸法との関係を示すギャップ相関データが記憶されている。   Returning to FIG. 2, the microcomputer 16 includes a memory 161 as a storage unit, and the memory 161 includes a gap indicating the relationship between the capacitance detected by the gap detector 151 and the size of the gap G1, as described above. Correlation data is stored.

ここで、例えば、反射膜54,55や反射膜54,55に接続された配線への異物の付着や、経時変化や、電源変動等により、反射膜54,55や反射膜54,55に接続された配線の寄生容量が変化し、ギャップ検出器151で検出される静電容量とギャップG1の寸法との関係が変化する場合がある。この場合、フィードバック制御が適切に行われず、波長可変干渉フィルター5が出力する光のピーク波長を、目的波長に設定できない場合がある。
図6は、寄生容量が基準値の場合と、寄生容量が基準値から変動した場合における、前記静電容量と前記ピーク波長との関係を示したグラフである。曲線P1は、寄生容量が基準値の場合の前記関係を示し、曲線P2は、寄生容量が基準値から変動した場合の前記関係を示す。図6に示すように、前記静電容量が同じでも、寄生容量が基準値から変動した場合は、寄生容量が基準値の場合と比べて、前記ピーク波長が長くなる。
このため、本実施形態では、マイコン16は、上記ギャップ相関データを補正する補正部162を備えている。なお、補正部162によるギャップ相関データの補正方法については後述する。
Here, for example, the reflection films 54 and 55 and the reflection films 54 and 55 are connected to the reflection films 54 and 55 due to adhesion of foreign matters to the reflection films 54 and 55 and wiring connected to the reflection films 54 and 55, changes with time, power fluctuations, and the like. In some cases, the parasitic capacitance of the connected wiring changes, and the relationship between the capacitance detected by the gap detector 151 and the size of the gap G1 changes. In this case, feedback control is not appropriately performed, and the peak wavelength of the light output from the wavelength variable interference filter 5 may not be set as the target wavelength.
FIG. 6 is a graph showing the relationship between the capacitance and the peak wavelength when the parasitic capacitance is a reference value and when the parasitic capacitance varies from the reference value. A curve P1 shows the relationship when the parasitic capacitance is a reference value, and a curve P2 shows the relationship when the parasitic capacitance varies from the reference value. As shown in FIG. 6, even when the capacitance is the same, when the parasitic capacitance varies from the reference value, the peak wavelength is longer than when the parasitic capacitance is the reference value.
For this reason, in this embodiment, the microcomputer 16 includes a correction unit 162 that corrects the gap correlation data. A method for correcting the gap correlation data by the correction unit 162 will be described later.

また、マイコン16は、図2に示すように、駆動制御部163として機能する。
駆動制御部163は、制御部20から目的波長に関する波長設定指令が制御信号として入力されると、目的波長に対応するギャップG1の寸法(目標値)を算出し、フィルター駆動部152に目標信号を出力する。
Further, the microcomputer 16 functions as a drive control unit 163 as shown in FIG.
When the wavelength setting command related to the target wavelength is input as a control signal from the control unit 20, the drive control unit 163 calculates the size (target value) of the gap G 1 corresponding to the target wavelength, and sends the target signal to the filter driving unit 152. Output.

[制御部の構成]
図1に戻り、分光測定装置1の制御部20について、説明する。
制御部20は、例えばCPUやメモリー等が組み合わされることで構成され、分光測定装置1の全体動作を制御する。この制御部20は、図1に示すように、フィルター制御部21と、光量取得部22と、分光測定部23と、記憶部30と、を備えている。
記憶部30には、分光測定装置1を制御するための各種プログラムや、各種データが記録されている。
[Configuration of control unit]
Returning to FIG. 1, the control unit 20 of the spectroscopic measurement apparatus 1 will be described.
The control unit 20 is configured by combining a CPU, a memory, and the like, for example, and controls the overall operation of the spectroscopic measurement apparatus 1. As shown in FIG. 1, the control unit 20 includes a filter control unit 21, a light amount acquisition unit 22, a spectroscopic measurement unit 23, and a storage unit 30.
The storage unit 30 stores various programs for controlling the spectroscopic measurement apparatus 1 and various data.

フィルター制御部21は、ギャップ相関データを補正させるための制御信号を電圧制御部15に出力する。
また、フィルター制御部21は、波長可変干渉フィルター5により取り出す光の目的波長を設定し、ギャップG1の寸法を、設定した目的波長に対応するギャップG1の寸法に設定させるための制御信号を、電圧制御部15に出力する。
The filter control unit 21 outputs a control signal for correcting the gap correlation data to the voltage control unit 15.
Further, the filter control unit 21 sets a target wavelength of light extracted by the variable wavelength interference filter 5 and outputs a control signal for setting the size of the gap G1 to the size of the gap G1 corresponding to the set target wavelength. Output to the control unit 15.

光量取得部22は、ディテクター11により取得された光量に基づいて、波長可変干渉フィルター5を透過した目的波長の光の光量を取得する。
分光測定部23は、光量取得部22により取得された光量に基づいて、測定対象光のスペクトル特性を測定する。
The light quantity acquisition unit 22 acquires the light quantity of the target wavelength light transmitted through the wavelength variable interference filter 5 based on the light quantity acquired by the detector 11.
The spectroscopic measurement unit 23 measures the spectral characteristics of the light to be measured based on the light amount acquired by the light amount acquisition unit 22.

[分光測定処理]
次に、本実施形態の分光測定装置1を用いた分光測定処理について、図面に基づいて説明する。
図7は、本実施形態の分光測定処理を示すフローチャートである。図8は、本実施形態の分光測定処理におけるギャップG1の寸法の遷移図である。
例えば、測定者の操作により分光測定処理が開始されると、制御部20のフィルター制御部21は、ギャップ相関データを補正させるための制御信号をマイコン16に出力する。
[Spectral measurement processing]
Next, a spectroscopic measurement process using the spectroscopic measurement apparatus 1 of the present embodiment will be described based on the drawings.
FIG. 7 is a flowchart showing the spectroscopic measurement process of the present embodiment. FIG. 8 is a transition diagram of the dimension of the gap G1 in the spectroscopic measurement process of the present embodiment.
For example, when the spectroscopic measurement process is started by an operation of the measurer, the filter control unit 21 of the control unit 20 outputs a control signal for correcting the gap correlation data to the microcomputer 16.

当該制御信号が入力されると、マイコン16の補正部162は、フィルター駆動部152を制御して、所定電圧を静電アクチュエーター56に印加させ、図9に示すように、第一ピラー部571に第二ピラー部572を当接させる。これにより、ギャップG1の距離が、基準距離に設定される(ステップS1)。つまり、本実施形態では、基準距離は、ギャップG1の最小距離に設定されている。
なお、本実施形態では、当該基準距離は、目的波長のうち最短の波長に対応するギャップG1の距離よりも小さい距離に設定されているが、例えば、基準距離は、前記最短の波長に対応するギャップG1の距離と同じであってもよい。
また、前記所定電圧が静電アクチュエーター56に印加された際、可動基板52が固定基板51に近づく方向に移動した後、第一ピラー部571に第二ピラー部572が当接することで、可動部521は振動することなく直ちに停止する。これにより、ギャップG1を基準距離に迅速に設定できる。
When the control signal is input, the correction unit 162 of the microcomputer 16 controls the filter driving unit 152 to apply a predetermined voltage to the electrostatic actuator 56, and as shown in FIG. The second pillar portion 572 is brought into contact. Thereby, the distance of the gap G1 is set to the reference distance (step S1). That is, in this embodiment, the reference distance is set to the minimum distance of the gap G1.
In the present embodiment, the reference distance is set to a distance smaller than the distance of the gap G1 corresponding to the shortest wavelength among the target wavelengths. For example, the reference distance corresponds to the shortest wavelength. It may be the same as the distance of the gap G1.
Further, when the predetermined voltage is applied to the electrostatic actuator 56, the movable substrate 52 moves in a direction approaching the fixed substrate 51, and then the second pillar portion 572 comes into contact with the first pillar portion 571, so that the movable portion 521 stops immediately without vibrating. Thereby, the gap G1 can be quickly set to the reference distance.

次に、ギャップG1の距離が基準距離に維持された状態で、ギャップ検出器151が反射膜54,55間の静電容量を検出し、補正部162が検出された静電容量(第二検出値)を取得する(ステップS2)。そして、補正部162は、取得した第二検出値と、理想値との差を算出する(ステップS3)。理想値は、例えば出荷時などに測定された、ギャップG1の距離が基準距離の場合の静電容量の値(基準値)であり、例えばメモリー161に記憶されている。   Next, in a state where the distance of the gap G1 is maintained at the reference distance, the gap detector 151 detects the capacitance between the reflection films 54 and 55, and the correction unit 162 detects the detected capacitance (second detection). Value) is acquired (step S2). Then, the correction unit 162 calculates the difference between the acquired second detection value and the ideal value (step S3). The ideal value is a capacitance value (reference value) when the distance of the gap G1 is a reference distance measured at the time of shipment, for example, and is stored in the memory 161, for example.

次に、補正部162は、第二検出値と理想値との差(第二検出値−理想値)に基づいて、メモリー161に記憶されているギャップ相関データを補正する(ステップS4)。具体的には、補正部162は、静電容量の初期値に、前記差を加えた値を算出し、算出した値で、ギャップ相関データにおける各静電容量を更新する。これにより、ギャップ相関データを、寄生容量の変化を反映した値に補正できる。   Next, the correction unit 162 corrects the gap correlation data stored in the memory 161 based on the difference between the second detection value and the ideal value (second detection value−ideal value) (step S4). Specifically, the correction unit 162 calculates a value obtained by adding the difference to the initial value of the capacitance, and updates each capacitance in the gap correlation data with the calculated value. As a result, the gap correlation data can be corrected to a value reflecting the change in parasitic capacitance.

次に、フィルター制御部21は、目的波長のうち、最短の波長(例えば400nm)を設定する指令を、マイコン16に出力する。これにより、駆動制御部163は、前記最短の波長に対応するギャップG1の寸法を目標値とした目標信号を、フィルター駆動部152に出力する。
そして、フィルター駆動部152は、ギャップ検出器151から出力された検出信号と、駆動制御部163から入力された目標信号との偏差が所定閾値以下となるように、静電アクチュエーター56に対する駆動電圧を増減して制御する。このとき、フィルター駆動部152は、ギャップ検出器151が検出した反射膜54,55間の静電容量(第一検出値)を、補正されたギャップ相関データを参照してギャップG1の寸法に変換し、目標信号と比較する。つまり、これによれば、寄生容量の変化量に基づいて第一検出値を補正して、フィードバック制御を実施できる。
これにより、ギャップG1が、前記最短の波長に対応した寸法に高い精度で設定され(ステップS5)、波長可変干渉フィルター5から前記最短の波長の光が透過され、ディテクター11で受光される。
Next, the filter control unit 21 outputs a command for setting the shortest wavelength (for example, 400 nm) among the target wavelengths to the microcomputer 16. As a result, the drive control unit 163 outputs a target signal with the dimension of the gap G1 corresponding to the shortest wavelength as a target value to the filter drive unit 152.
Then, the filter drive unit 152 sets the drive voltage for the electrostatic actuator 56 so that the deviation between the detection signal output from the gap detector 151 and the target signal input from the drive control unit 163 is equal to or less than a predetermined threshold. Increase and decrease to control. At this time, the filter driving unit 152 converts the capacitance (first detection value) between the reflective films 54 and 55 detected by the gap detector 151 into the size of the gap G1 with reference to the corrected gap correlation data. And compare with the target signal. That is, according to this, feedback control can be implemented by correcting the first detection value based on the amount of change in parasitic capacitance.
As a result, the gap G1 is set to a dimension corresponding to the shortest wavelength with high accuracy (step S5), and the light having the shortest wavelength is transmitted from the wavelength variable interference filter 5 and received by the detector 11.

次に、制御部20の光量取得部22は、ディテクター11で受光された光の光量を測定光量として取得し、例えば記憶部30に記憶させる(ステップS6)。
この後、制御部20は、全ての目的波長の光の測定光量が取得されたか否かを判断する(ステップS7)。
Next, the light quantity acquisition unit 22 of the control unit 20 acquires the light quantity of the light received by the detector 11 as the measurement light quantity, and stores it in the storage unit 30 (step S6).
Thereafter, the control unit 20 determines whether or not the measurement light amounts of light of all target wavelengths have been acquired (step S7).

ステップS7でNOと判定された場合、フィルター制御部21は、目的波長のうち次に長い波長を設定する指令を、マイコン16に出力する。これにより、駆動制御部163及びフィルター駆動部152によって、ギャップG1が、次に長い波長に対応した寸法に設定され(ステップS8)、波長可変干渉フィルター5から次に長い波長の光が透過され、ディテクター11で受光される。
そして、処理がステップS6に戻され、光量取得部22は、ディテクター11で受光された光の光量を測定光量として取得し、記憶部30に記憶させる。
このようにして、ステップS6−S8の処理は、ステップS7で全ての目的波長の光の測定光量が取得されたと判定されるまで繰り返し実行される。すなわち、ギャップG1の寸法が順次増加され、ギャップG1の寸法が増加される毎に、波長可変干渉フィルター5から透過した光の光量が測定され、記憶部30に記憶される。
When it is determined NO in step S <b> 7, the filter control unit 21 outputs a command to set the next longest wavelength among the target wavelengths to the microcomputer 16. Accordingly, the gap G1 is set to a size corresponding to the next longest wavelength by the drive control unit 163 and the filter drive unit 152 (step S8), and the light having the next longest wavelength is transmitted from the wavelength variable interference filter 5, The light is received by the detector 11.
Then, the process returns to step S <b> 6, and the light amount acquisition unit 22 acquires the light amount of the light received by the detector 11 as the measurement light amount and stores it in the storage unit 30.
In this way, the processes in steps S6 to S8 are repeatedly executed until it is determined in step S7 that the measurement light quantities of the light of all target wavelengths have been acquired. That is, the size of the gap G1 is sequentially increased, and the amount of light transmitted from the wavelength variable interference filter 5 is measured and stored in the storage unit 30 each time the size of the gap G1 is increased.

そして、目的波長のうち最長の波長(例えば700nm)の測定が終了すると、ステップS7でYESと判定され、制御部20の分光測定部23は、光量取得部22により取得された光量に基づいて、測定対象光のスペクトル特性を測定する(ステップS9)。   Then, when the measurement of the longest wavelength (for example, 700 nm) among the target wavelengths is completed, YES is determined in step S7, and the spectroscopic measurement unit 23 of the control unit 20 is based on the light amount acquired by the light amount acquisition unit 22. The spectral characteristic of the measurement target light is measured (step S9).

[第一実施形態の作用効果]
本実施形態では、補正部162が、ギャップG1の距離が基準距離となる場合の静電容量(第二検出値)と理想値との差により、ギャップ相関データを補正するため、ギャップ検出器151で検出される静電容量を、寄生容量の変化量に基づいて補正できる。このため、寄生容量が変化した場合でも、精度の高いフィードバック制御を実施でき、ギャップG1の寸法を目標値に精度良く合わせることができる。これにより、目的波長の光の光量を高精度に検出できる。
[Operational effects of the first embodiment]
In the present embodiment, the correction unit 162 corrects the gap correlation data based on the difference between the capacitance (second detection value) and the ideal value when the distance of the gap G1 is the reference distance. Can be corrected based on the amount of change in parasitic capacitance. Therefore, even when the parasitic capacitance changes, highly accurate feedback control can be performed, and the size of the gap G1 can be accurately adjusted to the target value. Thereby, the light quantity of the light of the target wavelength can be detected with high accuracy.

本実施形態では、分光測定処理において、最初にギャップG1の距離を基準距離に設定した際に、寄生容量の変化量を検出し、以降、ギャップG1の距離を順次増加させて各目標値に設定する際は、寄生容量の変化量で第一検出値を補正し、補正した第一検出値に基づいてフィードバック制御を実施できる。このため、ギャップG1の寸法を各目標値に精度良く合わせることができる。   In the present embodiment, when the distance of the gap G1 is first set as the reference distance in the spectroscopic measurement process, the amount of change in the parasitic capacitance is detected, and thereafter, the distance of the gap G1 is sequentially increased and set to each target value. In this case, the first detection value can be corrected with the change amount of the parasitic capacitance, and feedback control can be performed based on the corrected first detection value. For this reason, the dimension of the gap G1 can be accurately adjusted to each target value.

本実施形態では、出力される光の波長を決める反射膜54,55間の距離であるギャップG1の寸法を直接検出して、フィードバック制御を実施するため、目的波長の光をより高精度で出力させることができる。   In the present embodiment, since the size of the gap G1, which is the distance between the reflective films 54 and 55 that determines the wavelength of the output light, is directly detected and feedback control is performed, the light of the target wavelength is output with higher accuracy. Can be made.

本実施形態では、第一ピラー部571に第二ピラー部572が当接するまで、静電アクチュエーター56によってギャップG1の寸法を短くすることで、当該ギャップG1の距離を基準距離に容易に設定できる。   In the present embodiment, the distance of the gap G1 can be easily set to the reference distance by shortening the dimension of the gap G1 by the electrostatic actuator 56 until the second pillar 572 contacts the first pillar 571.

[第二実施形態]
次に、第一実施形態の分光測定装置1を、プリンター6(インクジェットプリンター)に搭載した実施形態を、第二実施形態として以下説明する。
[Second Embodiment]
Next, an embodiment in which the spectrometer 1 of the first embodiment is mounted on a printer 6 (inkjet printer) will be described below as a second embodiment.

[プリンターの概略構成]
図10は、本実施形態のプリンター6の外観の構成例を示す図である。図11は、本実施形態のプリンター6の概略構成を示すブロック図である。
図10、図11に示すように、プリンター6は、供給ユニット61、搬送ユニット62と、キャリッジ63と、キャリッジ移動ユニット64と、制御ユニット65(図11参照)と、を備えている。このプリンター6は、例えばパーソナルコンピューター等の外部機器70から入力された印刷データに基づいて、各ユニット61,62,64、及びキャリッジ63を制御し、対象物としてのメディアAの一面(以降メディア面A1と称す)上に画像を印刷する。また、本実施形態のプリンター6は、予め設定された校正用印刷データに基づいてメディア面A1の所定位置に測色用のカラーパッチを形成し、かつ当該カラーパッチに対する分光測定を行う。これにより、プリンター6は、カラーパッチに対する実測値と、校正用印刷データとを比較して、印刷されたカラーに色ずれがあるか否か判定し、色ずれがある場合は、実測値に基づいて色補正を行う。
以下、プリンター6の各構成について具体的に説明する。
[Schematic configuration of printer]
FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration example of the appearance of the printer 6 according to the present embodiment. FIG. 11 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the printer 6 according to the present embodiment.
10 and 11, the printer 6 includes a supply unit 61, a transport unit 62, a carriage 63, a carriage moving unit 64, and a control unit 65 (see FIG. 11). The printer 6 controls each unit 61, 62, 64 and the carriage 63 based on print data input from an external device 70 such as a personal computer, for example. An image is printed on top (referred to as A1). Further, the printer 6 of the present embodiment forms a color patch for color measurement at a predetermined position on the media surface A1 based on preset calibration print data, and performs spectral measurement on the color patch. As a result, the printer 6 compares the actual measurement value for the color patch with the calibration print data to determine whether or not the printed color has color misregistration. To correct the color.
Hereinafter, each configuration of the printer 6 will be specifically described.

供給ユニット61は、画像形成対象となるメディアA(本実施形態では、紙面を例示)を、画像形成位置に供給するユニットである。この供給ユニット61は、例えばメディアAが巻装されたロール体611(図10参照)、ロール駆動モーター(図示略)、及びロール駆動輪列(図示略)等を備える。そして、制御ユニット65からの指令に基づいて、ロール駆動モーターが回転駆動され、ロール駆動モーターの回転力がロール駆動輪列を介してロール体611に伝達される。これにより、ロール体611が回転し、ロール体611に巻装された紙面がY方向(副走査方向)における下流側(+Y方向)に供給される。
なお、本実施形態では、ロール体611に巻装された紙面を供給する例を示すがこれに限定されない。例えば、トレイ等に積載された紙面等のメディアAをローラー等によって例えば1枚ずつ供給する等、如何なる供給方法によってメディアAが供給されてもよい。
The supply unit 61 is a unit that supplies the medium A that is an image formation target (in this embodiment, a paper surface is exemplified) to the image formation position. The supply unit 61 includes, for example, a roll body 611 (see FIG. 10) around which the medium A is wound, a roll drive motor (not shown), a roll drive wheel train (not shown), and the like. The roll drive motor is rotationally driven based on a command from the control unit 65, and the rotational force of the roll drive motor is transmitted to the roll body 611 via the roll drive wheel train. Thereby, the roll body 611 rotates and the paper surface wound around the roll body 611 is supplied to the downstream side (+ Y direction) in the Y direction (sub-scanning direction).
In the present embodiment, an example in which the paper surface wound around the roll body 611 is supplied is shown, but the present invention is not limited to this. For example, the medium A may be supplied by any supply method such as supplying the medium A such as a sheet of paper loaded on a tray or the like one by one with a roller or the like.

搬送ユニット62は、供給ユニット61から供給されたメディアAを、Y方向に沿って搬送する。この搬送ユニット62は、搬送ローラー621と、搬送ローラー621とメディアAを挟んで配置され、搬送ローラー621に従動する従動ローラー(図示略)と、プラテン622と、を含んで構成されている。
搬送ローラー621は、図示略の搬送モーターからの駆動力が伝達され、制御ユニット65の制御により搬送モーターが駆動されると、その回転力により回転駆動されて、従動ローラーとの間にメディアAを挟み込んだ状態でY方向に沿って搬送する。また、搬送ローラー621のY方向の下流側(+Y側)には、キャリッジ63に対向するプラテン622が設けられている。このプラテン622は、副走査方向(Y方向)に搬送されたメディアAのメディア面A1とは反対側の面と当接し、メディアAを保持する。
The transport unit 62 transports the medium A supplied from the supply unit 61 along the Y direction. The transport unit 62 includes a transport roller 621, a driven roller (not shown) that is disposed with the transport roller 621 and the medium A interposed therebetween, and a platen 622.
The conveyance roller 621 receives a driving force from a conveyance motor (not shown), and when the conveyance motor is driven by the control of the control unit 65, the conveyance roller 621 is rotated by the rotation force, and the medium A is moved between the conveyance roller 621 and the driven roller. It is transported along the Y direction while being sandwiched. A platen 622 that faces the carriage 63 is provided on the downstream side (+ Y side) in the Y direction of the transport roller 621. The platen 622 contacts the surface of the medium A that is conveyed in the sub-scanning direction (Y direction) opposite to the medium surface A1, and holds the medium A.

キャリッジ63は、メディアAのメディア面A1に対して画像を印刷する印刷部66と、メディア面A1の所定の測定位置の分光測定を行う分光測定装置1とを備えている。
このキャリッジ63は、キャリッジ移動ユニット64によって、Y方向と交差する主走査方向(X方向)に沿って移動可能に設けられている。
また、キャリッジ63は、フレキシブル回路631により制御ユニット65に接続され、制御ユニット65からの指令に基づいて、印刷部66による印刷処理(メディア面A1に対する画像形成処理)及び、分光測定装置1による分光測定を実施する。
なお、キャリッジ63の詳細な構成については後述する。
The carriage 63 includes a printing unit 66 that prints an image on the medium surface A1 of the medium A, and the spectroscopic measurement device 1 that performs spectroscopic measurement at a predetermined measurement position on the medium surface A1.
The carriage 63 is provided so as to be movable along a main scanning direction (X direction) intersecting the Y direction by a carriage moving unit 64.
Further, the carriage 63 is connected to the control unit 65 by a flexible circuit 631, and based on a command from the control unit 65, printing processing by the printing unit 66 (image formation processing on the media surface A 1) and spectral measurement by the spectroscopic measurement apparatus 1. Perform the measurement.
The detailed configuration of the carriage 63 will be described later.

キャリッジ移動ユニット64は、制御ユニット65からの指令に基づいて、キャリッジ63をX方向に沿って往復移動させる。
このキャリッジ移動ユニット64は、例えば、キャリッジガイド軸641と、キャリッジモーター642と、タイミングベルト643と、を含んで構成されている。
キャリッジガイド軸641は、X方向に沿って配置され、両端部がプリンター6の例えば筐体に固定されている。キャリッジモーター642は、タイミングベルト643を駆動させる。タイミングベルト643は、キャリッジガイド軸641と略平行に支持され、キャリッジ63の一部が固定されている。そして、制御ユニット65の指令に基づいてキャリッジモーター642が駆動されると、タイミングベルト643が正逆走行され、タイミングベルト643に固定されたキャリッジ63がキャリッジガイド軸641にガイドされて往復移動する。
The carriage moving unit 64 reciprocates the carriage 63 along the X direction based on a command from the control unit 65.
The carriage moving unit 64 includes, for example, a carriage guide shaft 641, a carriage motor 642, and a timing belt 643.
The carriage guide shaft 641 is disposed along the X direction, and both ends are fixed to the housing of the printer 6, for example. The carriage motor 642 drives the timing belt 643. The timing belt 643 is supported substantially in parallel with the carriage guide shaft 641 and a part of the carriage 63 is fixed. When the carriage motor 642 is driven based on a command from the control unit 65, the timing belt 643 travels forward and backward, and the carriage 63 fixed to the timing belt 643 is guided by the carriage guide shaft 641 and reciprocates.

次に、キャリッジ63に設けられる印刷部66及び分光測定装置1について説明する。
印刷部66は、画像形成部であり、メディアAと対向して設けられ、複数色のインクをそれぞれ個別にメディア面A1に吐出して画像を形成する。
この印刷部66は、複数色のインクに対応したインクカートリッジ661が着脱自在に装着されており、各インクカートリッジ661からインクタンク(図示略)にチューブ(図示略)を介してインクが供給される。また、印刷部66の下面(メディア面A1に対向する位置)には、インク滴を吐出するノズル(図示略)が、各色に対応して設けられている。これらのノズルには、例えばピエゾ素子が配置されており、ピエゾ素子を駆動させることで、インクタンクから供給されたインク滴が吐出されてメディア面A1に着弾し、ドットが形成される。
Next, the printing unit 66 and the spectroscopic measurement apparatus 1 provided on the carriage 63 will be described.
The printing unit 66 is an image forming unit and is provided to face the medium A, and forms an image by individually ejecting a plurality of colors of ink onto the medium surface A1.
The printing unit 66 is detachably mounted with ink cartridges 661 corresponding to a plurality of colors of ink, and ink is supplied from each ink cartridge 661 to an ink tank (not shown) via a tube (not shown). . In addition, nozzles (not shown) for ejecting ink droplets are provided for the respective colors on the lower surface of the printing unit 66 (position facing the media surface A1). For example, piezo elements are disposed in these nozzles, and by driving the piezo elements, ink droplets supplied from the ink tank are ejected and land on the media surface A1 to form dots.

分光測定装置1は、第1実施形態と同様の構成である。
本実施形態では、カラーパッチはメディア面A1上に複数印刷され、分光測定装置1は、各カラーパッチに対して、分光測定処理を実行する。すなわち、分光測定装置1は、カラーパッチを測定する毎に、波長可変干渉フィルター5のギャップG1の距離を基準距離に設定し、寄生容量の変化量を検出した後に、ギャップG1を順次増加させて、各目的波長の光の光量を測定する。
なお、分光測定は、同じカラーパッチに対して複数回実施されてもよい。この場合、例えば測定値の平均値が、測定光量として記憶部30に記憶される。
The spectrometer 1 has the same configuration as that of the first embodiment.
In the present embodiment, a plurality of color patches are printed on the media surface A1, and the spectroscopic measurement apparatus 1 executes spectroscopic measurement processing for each color patch. That is, every time a color patch is measured, the spectroscopic measurement apparatus 1 sets the distance of the gap G1 of the wavelength tunable interference filter 5 as a reference distance, detects the amount of change in parasitic capacitance, and then increases the gap G1 sequentially. Measure the amount of light of each target wavelength.
The spectroscopic measurement may be performed a plurality of times for the same color patch. In this case, for example, the average value of the measured values is stored in the storage unit 30 as the measured light amount.

制御ユニット65は、図11に示すように、I/F651と、ユニット制御回路652と、メモリー653と、CPU654と、を含んで構成されている。
I/F651は、外部機器70から入力される印刷データをCPU654に入力する。
ユニット制御回路652は、供給ユニット61、搬送ユニット62、印刷部66、分光測定装置1、及びキャリッジ移動ユニット64をそれぞれ制御する制御回路を備えており、CPU654からの指令信号に基づいて、各ユニットの動作を制御する。なお、各ユニットの制御回路が、制御ユニット65とは別体に設けられ、制御ユニット65に接続されていてもよい。
メモリー653は、プリンター6の動作を制御する各種プログラムや各種データが記憶されている。
As illustrated in FIG. 11, the control unit 65 includes an I / F 651, a unit control circuit 652, a memory 653, and a CPU 654.
The I / F 651 inputs print data input from the external device 70 to the CPU 654.
The unit control circuit 652 includes control circuits that respectively control the supply unit 61, the transport unit 62, the printing unit 66, the spectroscopic measurement device 1, and the carriage movement unit 64, and each unit is based on a command signal from the CPU 654. To control the operation. The control circuit of each unit may be provided separately from the control unit 65 and connected to the control unit 65.
The memory 653 stores various programs and various data for controlling the operation of the printer 6.

[第二実施形態の作用効果]
本実施形態によれば、カラーパッチに対する分光測定を行う際、目的波長の光の光量を高精度に検出できるため、高精度で色補正を行うことができる。
また、本実施形態のように分光測定装置1が連続して測定処理を行う場合、電源変動等により波長可変干渉フィルター5に発生する寄生容量が測定中に変化する場合がある。本実施形態では、ギャップG1の寸法を、目的波長のうち最短の波長に対応する寸法から最長の波長に対応する寸法まで変化させる一連の駆動処理を行う毎に、寄生容量の変化量を検出するため、例えば電源投入時のみ寄生容量の変化量を検出する場合に比べて、ギャップG1の距離を各目的波長に対応する値(目標値)に精度良く合わせることができる。
[Operational effects of the second embodiment]
According to the present embodiment, when performing spectroscopic measurement on a color patch, the amount of light having a target wavelength can be detected with high accuracy, so that color correction can be performed with high accuracy.
Further, when the spectroscopic measurement apparatus 1 performs measurement processing continuously as in the present embodiment, the parasitic capacitance generated in the wavelength tunable interference filter 5 may change during measurement due to power supply fluctuation or the like. In the present embodiment, the amount of change in parasitic capacitance is detected every time a series of driving processes for changing the dimension of the gap G1 from the dimension corresponding to the shortest wavelength among the target wavelengths to the dimension corresponding to the longest wavelength is performed. Therefore, for example, the distance of the gap G1 can be accurately adjusted to a value (target value) corresponding to each target wavelength as compared with the case where the amount of change in the parasitic capacitance is detected only when the power is turned on.

[その他の実施形態]
なお、本発明は前述の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、上記各実施形態では、光学モジュール10は、ギャップ検出器151で反射膜54,55間の静電容量を検出して、フィードバック制御を実施しているが、これに限定されない。
例えば、ギャップ検出器151で固定電極561及び可動電極562間の静電容量を検出して、フィードバック制御を実施してもよい。この場合、固定電極561及び可動電極562が本発明の一対の対向部材を構成する。この構成では、固定電極561及び可動電極562間の距離が基準距離となる場合の静電容量と理想値との差により、ギャップ検出器151で検出される静電容量が補正される。
又は、固定基板51及び可動基板52に、互いに対向する容量検出用電極を設け、ギャップ検出器151で当該容量検出用電極間の静電容量を検出して、フィードバック制御を実施してもよい。
[Other Embodiments]
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements, and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
For example, in each of the above embodiments, the optical module 10 detects the electrostatic capacitance between the reflective films 54 and 55 by the gap detector 151 and performs feedback control. However, the present invention is not limited to this.
For example, the gap detector 151 may detect the electrostatic capacitance between the fixed electrode 561 and the movable electrode 562 and perform feedback control. In this case, the fixed electrode 561 and the movable electrode 562 constitute a pair of opposing members of the present invention. In this configuration, the capacitance detected by the gap detector 151 is corrected by the difference between the capacitance and the ideal value when the distance between the fixed electrode 561 and the movable electrode 562 is the reference distance.
Alternatively, the capacitance detection electrodes facing each other may be provided on the fixed substrate 51 and the movable substrate 52, and the capacitance between the capacitance detection electrodes may be detected by the gap detector 151 to perform feedback control.

上記各実施形態では、ギャップG1の距離を基準距離に維持する距離維持部は、第一ピラー部571及び第二ピラー部572により構成されているが、これに限定されない。
例えば、距離維持部は、固定基板51及び可動基板52のいずれか一方に設けられたピラーにより構成されていてもよい。この場合、当該ピラーの高さは、第一ピラー部571及び第二ピラー部572を合わせた高さ寸法に設定すればよい。
また、例えば、固定電極561及び可動電極562が、距離維持部としても機能する構成としてもよい。この場合、固定電極561及び可動電極562の少なくとも一方に絶縁層を設け、固定電極561及び可動電極562が当該絶縁層を介して当接した際、ギャップG1の距離が基準距離となるように構成する。
また、距離維持部は、例えば、モーター等が発生する駆動力により、可動部521を固定基板51側とは反対側から、一定量押し込んだり引き込んだりすることで、ギャップG1の寸法を基準距離に維持する機構によって構成されていてもよい。
In each said embodiment, although the distance maintenance part which maintains the distance of the gap G1 at a reference distance is comprised by the 1st pillar part 571 and the 2nd pillar part 572, it is not limited to this.
For example, the distance maintaining unit may be configured by a pillar provided on one of the fixed substrate 51 and the movable substrate 52. In this case, the height of the pillar may be set to a height dimension that combines the first pillar portion 571 and the second pillar portion 572.
Further, for example, the fixed electrode 561 and the movable electrode 562 may be configured to function as a distance maintaining unit. In this case, an insulating layer is provided on at least one of the fixed electrode 561 and the movable electrode 562, and the distance of the gap G1 becomes the reference distance when the fixed electrode 561 and the movable electrode 562 come into contact with each other through the insulating layer. To do.
In addition, the distance maintaining unit pushes the movable unit 521 from the side opposite to the fixed substrate 51 side by a driving force generated by, for example, a motor or the like to pull the size of the gap G1 to the reference distance. You may be comprised by the mechanism to maintain.

上記各実施形態において、波長可変干渉フィルター5は、電圧印加により反射膜54,55間のギャップ寸法を変動させる静電アクチュエーター56を備える構成としたが、これに限定されない。
例えば、固定電極561の代わりに、第一誘電コイルを配置し、可動電極562の代わりに第二誘電コイル又は永久磁石を配置した誘電アクチュエーターを用いる構成としてもよい。
また、静電アクチュエーター56の代わりに圧電アクチュエーターを用いる構成としてもよい。この場合、例えば保持部522に下部電極層、圧電膜、及び上部電極層を積層配置させ、下部電極層及び上部電極層の間に印加する電圧を入力値として可変させることで、圧電膜を伸縮させて保持部522を撓ませることができる。
In each of the embodiments described above, the wavelength variable interference filter 5 includes the electrostatic actuator 56 that varies the gap dimension between the reflective films 54 and 55 by applying a voltage, but the present invention is not limited to this.
For example, a configuration may be used in which a first dielectric coil is disposed instead of the fixed electrode 561 and a dielectric actuator in which a second dielectric coil or a permanent magnet is disposed instead of the movable electrode 562.
Further, a piezoelectric actuator may be used instead of the electrostatic actuator 56. In this case, for example, the lower electrode layer, the piezoelectric film, and the upper electrode layer are stacked on the holding unit 522, and the voltage applied between the lower electrode layer and the upper electrode layer is varied as an input value, thereby expanding and contracting the piezoelectric film. Thus, the holding portion 522 can be bent.

上記各実施形態では、ギャップ相関データを補正する際に設定される基準距離は、ギャップG1の距離の最小距離に設定されているが、これに限定されない。
例えば、基準距離は、ギャップG1の距離の最大距離に設定されていてもよい。この場合、距離維持部は、例えば、モーター等が発生する駆動力により、可動部521を固定基板51側とは反対側から、一定量引き込むことで、ギャップG1の寸法を基準距離に維持する機構によって構成する。そして、ギャップG1の距離を基準距離に変更した後、当該距離を順次低減させて、各目的波長の光の光量を測定する。
In each of the above embodiments, the reference distance set when correcting the gap correlation data is set to the minimum distance of the gap G1, but is not limited thereto.
For example, the reference distance may be set to the maximum distance of the gap G1. In this case, the distance maintaining unit, for example, a mechanism that maintains the size of the gap G1 at the reference distance by pulling the movable unit 521 from the side opposite to the fixed substrate 51 side by a driving force generated by a motor or the like. Consists of. Then, after changing the distance of the gap G1 to the reference distance, the distance is sequentially reduced, and the amount of light of each target wavelength is measured.

上記各実施形態では、分光測定処理において、補正部162が第二検出値と理想値との差に基づいてギャップ相関データを補正し、フィルター駆動部152が、ギャップ検出器151で検出された静電容量を、補正されたギャップ相関データを参照してギャップG1の寸法に変換しているが、これに限定されない。
例えば、ギャップ相関データは変更せず、前記差をメモリー161等に記憶させておき、フィルター駆動部152が、ギャップ検出器151により静電容量が検出される毎に、検出された静電容量に前記差を読み出して加算し、加算した値を、ギャップ相関データを参照してギャップG1の寸法に変換する構成としてもよい。
In each of the above-described embodiments, in the spectroscopic measurement process, the correction unit 162 corrects the gap correlation data based on the difference between the second detection value and the ideal value, and the filter driving unit 152 detects the static value detected by the gap detector 151. The electric capacity is converted into the size of the gap G1 with reference to the corrected gap correlation data, but is not limited to this.
For example, the gap correlation data is not changed, and the difference is stored in the memory 161 or the like, and every time the filter driving unit 152 detects the capacitance by the gap detector 151, the detected capacitance is set. The difference may be read and added, and the added value may be converted to the size of the gap G1 with reference to the gap correlation data.

上記各実施形態では、駆動制御部163は、目標信号としてギャップG1の寸法を出力し、フィルター駆動部152は、ギャップ検出器151で検出された静電容量を、ギャップ相関データを参照してギャップG1の寸法に変換し、目標信号と比較してフィードバック制御を行っているが、これに限定されない。
例えば、駆動制御部163が、ギャップG1の寸法と静電容量との関係を示す関係データを参照し、ギャップG1の寸法を静電容量に変換して目標信号として出力し、フィルター駆動部152が、ギャップ検出器151で検出された静電容量を、目標信号と比較してフィードバック制御を行ってもよい。この場合、補正部162が、第二検出値と理想値との差に基づいて、前記関係データを補正することで、寄生容量の変化量で目標信号を補正できる。すなわち、目標信号を補正することで、第一検出値の補正を行う。これにより、補正した第一検出値に基づいてフィードバック制御を実施できる。
In each of the above embodiments, the drive control unit 163 outputs the dimension of the gap G1 as a target signal, and the filter drive unit 152 refers to the gap correlation data with respect to the capacitance detected by the gap detector 151. Although it converts into the dimension of G1 and performs feedback control compared with a target signal, it is not limited to this.
For example, the drive control unit 163 refers to relationship data indicating the relationship between the size of the gap G1 and the capacitance, converts the size of the gap G1 into capacitance, and outputs the target signal, and the filter drive unit 152 The electrostatic capacitance detected by the gap detector 151 may be compared with a target signal to perform feedback control. In this case, the correction unit 162 corrects the relationship data based on the difference between the second detection value and the ideal value, thereby correcting the target signal with the amount of change in parasitic capacitance. That is, the first detection value is corrected by correcting the target signal. Thereby, feedback control can be performed based on the corrected first detection value.

上記各実施形態では、波長可変干渉フィルター5を駆動して、反射膜54,55間の距離を目標値に設定する駆動装置を例示しているが、本発明は、これ以外の駆動装置にも適用できる。すなわち、一対の対向部材の間の距離を目標値に設定する駆動装置に広く適用できる。例えば、静電容量によってミラーの角度を変化させるミラーデバイスに適用できる。   In each of the above embodiments, the drive device that drives the variable wavelength interference filter 5 and sets the distance between the reflective films 54 and 55 to the target value is exemplified, but the present invention may be applied to other drive devices. Applicable. That is, the present invention can be widely applied to a drive device that sets the distance between a pair of opposing members to a target value. For example, the present invention can be applied to a mirror device that changes the angle of a mirror by electrostatic capacitance.

1…分光測定装置、5…波長可変干渉フィルター、10…光学モジュール(駆動装置)、15…電圧制御部、16…マイコン、51…固定基板(第一基板)、52…可動基板(第二基板)、53…接合膜、54…固定反射膜(第一ミラー)、55…可動反射膜(第二ミラー)、56…静電アクチュエーター、151…ギャップ検出器(容量検出部)、152…フィルター駆動部、161…メモリー、162…補正部、163…駆動制御部、511…電極配置溝、511A…溝底面、512…反射膜設置部、521…可動部、521A…可動面、522…保持部、525…基板外周部、561…固定電極、562…可動電極、571…第一ピラー部(距離維持部の一部である突出部)、571A…基端部、571B…先端部、572…第二ピラー部(距離維持部の一部である突出部)、G1,G2…ギャップ。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Spectrometer, 5 ... Wavelength variable interference filter, 10 ... Optical module (drive device), 15 ... Voltage control part, 16 ... Microcomputer, 51 ... Fixed substrate (first substrate), 52 ... Movable substrate (second substrate) ), 53 ... Bonding film, 54 ... Fixed reflection film (first mirror), 55 ... Movable reflection film (second mirror), 56 ... Electrostatic actuator, 151 ... Gap detector (capacitance detection unit), 152 ... Filter drive 161, memory, 162, correction unit, 163, drive control unit, 511, electrode placement groove, 511A, groove bottom surface, 512, reflective film installation unit, 521, movable unit, 521A, movable surface, 522, holding unit, 525 ... Substrate outer periphery, 561 ... Fixed electrode, 562 ... Movable electrode, 571 ... First pillar part (protrusion part that is a part of the distance maintaining part), 571A ... Base end part, 571B ... Tip part, 572 ... Second Pila Parts (that is part protruding portion of the distance maintaining portion), G1, G2 ... gap.

Claims (6)

互いに対向する一対の対向部材と、
前記一対の対向部材の間の静電容量を検出する容量検出部と、
入力信号に基づいて、前記一対の対向部材の間の距離を変更するギャップ変更部と、
前記一対の対向部材の間の距離を基準距離に維持する距離維持部と、
前記容量検出部により検出される前記静電容量である第一検出値に基づいて、前記入力信号のフィードバック制御を実施するフィードバック制御部と、を備え、
前記フィードバック制御部は、前記一対の対向部材の間の距離が前記基準距離となった際に前記容量検出部により検出される前記静電容量である第二検出値と、前記一対の対向部材の間の距離が前記基準距離となる場合の前記一対の対向部材の間の前記静電容量の理想値との差に基づいて、前記第一検出値を補正して、前記フィードバック制御を実施する
ことを特徴とする駆動装置。
A pair of opposing members facing each other;
A capacitance detection unit for detecting a capacitance between the pair of opposing members;
A gap changing unit that changes a distance between the pair of opposing members based on an input signal;
A distance maintaining unit that maintains a distance between the pair of opposing members at a reference distance;
A feedback control unit that performs feedback control of the input signal based on a first detection value that is the capacitance detected by the capacitance detection unit;
The feedback control unit includes a second detection value that is the capacitance detected by the capacitance detection unit when a distance between the pair of opposing members becomes the reference distance, and the pair of opposing members. Performing the feedback control by correcting the first detection value based on a difference from an ideal value of the capacitance between the pair of opposing members when the distance between the reference members is the reference distance. A drive device characterized by the above.
請求項1に記載の駆動装置において、
前記基準距離は、前記ギャップ変更部により変更可能な前記一対の対向部材の間の距離の最小距離であり、
前記一対の対向部材の間の距離を前記基準距離に変更した後、当該距離を順次増加させる
ことを特徴とする駆動装置。
The drive device according to claim 1,
The reference distance is a minimum distance between the pair of opposing members that can be changed by the gap changing unit,
After the distance between the pair of opposing members is changed to the reference distance, the distance is sequentially increased.
請求項1又は請求項2に記載の駆動装置において、
前記一対の対向部材の間の前記静電容量と、前記一対の対向部材の間の距離との関係を示す関係データを記憶する記憶部を備え、
前記フィードバック制御部は、前記第二検出値と前記理想値との差に基づいて前記関係データを補正し、補正された前記関係データに基づいて前記フィードバック制御を実施する
ことを特徴とする駆動装置。
The drive device according to claim 1 or 2,
A storage unit that stores relationship data indicating a relationship between the capacitance between the pair of opposing members and a distance between the pair of opposing members;
The feedback control unit corrects the relational data based on a difference between the second detection value and the ideal value, and performs the feedback control based on the corrected relational data. .
請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の駆動装置において、
第一ミラーが設けられる第一基板と、前記第一ミラーに対向する第二ミラーが設けられて前記第一基板に対向する第二基板とを備え、
前記一対の対向部材は、前記第一ミラー及び前記第二ミラーである
ことを特徴とする駆動装置。
In the drive device according to any one of claims 1 to 3,
A first substrate provided with a first mirror, and a second substrate provided with a second mirror facing the first mirror and facing the first substrate,
The pair of opposing members are the first mirror and the second mirror.
請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の駆動装置において、
前記一対の対向部材の一方が設けられる第一基板と、前記一対の対向部材の他方が設けられて前記第一基板に対向する第二基板とを備え、
前記距離維持部は、前記第一基板及び前記第二基板の少なくともいずれか一方に設けられ、前記一対の対向部材間の距離が前記基準距離となった際に、前記第一基板及び前記第二基板のいずれか他方に当接する突出部である
ことを特徴とする駆動装置。
In the drive device according to any one of claims 1 to 3,
A first substrate on which one of the pair of opposing members is provided, and a second substrate on which the other of the pair of opposing members is provided and facing the first substrate,
The distance maintaining unit is provided on at least one of the first substrate and the second substrate, and when the distance between the pair of opposing members becomes the reference distance, the first substrate and the second substrate A driving device, characterized in that the driving device is a projecting portion that comes into contact with either one of the substrates.
請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の駆動装置と、
前記駆動装置を制御する制御部と、を備えることを特徴とする電子機器。
The driving device according to any one of claims 1 to 5,
An electronic apparatus comprising: a control unit that controls the driving device.
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