JP2018194478A

JP2018194478A - Sample slicer

Info

Publication number: JP2018194478A
Application number: JP2017099403A
Authority: JP
Inventors: 孝郎中川; Takao Nakagawa; 浩二増谷; Koji Masutani; 俊幸冬木; Toshiyuki Fuyuki
Original assignee: ST Japan Inc
Current assignee: ST Japan Inc
Priority date: 2017-05-19
Filing date: 2017-05-19
Publication date: 2018-12-06
Anticipated expiration: 2037-05-19
Also published as: JP6858449B2

Abstract

To reduce deviation of a cutting position of a thin film compared to a case in which a sample in a condition protruding from a sample holder is cut.SOLUTION: A sample slicer comprises: a stage 21 supporting one side surface of a sample S; a pressing member 49 which can support the sample S at the other side surface thereof opposite to the stage 21 with the sample S interposed between the stage 21 and the pressing member 49 from a direction inclined to the normal direction of the surface of the stage 21; and a cutting member 48 which is supported movably along the inclination direction of the pressing member 49 and can cut the sample S at a cutting position 22a close to a pressing position 22b where the pressing member 49 comes in contact with and presses the sample S.SELECTED DRAWING: Figure 9

Description

本発明は、顕微分析対象の試料から薄膜状の切片を切り出す試料スライサーに関し、特に、紐状や棒状、帯状等の長さを有する試料を長手方向に対して斜めに切断して切片を切り出し可能な試料スライサーに関する。 The present invention relates to a sample slicer that cuts out a thin film-like section from a sample to be analyzed, and in particular, a specimen having a length such as a string, rod, or strip can be cut obliquely with respect to the longitudinal direction to cut out a section. Sample slicer.

光学顕微鏡や電子顕微鏡を使用した観察や、赤外分光測定やラマン分光測定等の顕微分析において、試料の薄い切片を作成する方法として、特許文献１に記載の技術が従来公知である。
特許文献１としての特開２００５−１６４５４７号公報には、試料ホルダ（１１４ａ，１１４ｂ）が薄膜（１２０）の先端部を斜めに突出させ、切断刃部（１１６）を水平方向移動させることで、薄膜（１２０）を斜め方向に切断する技術が記載されている。特許文献１では、試料ホルダ（１１４ａ，１１４ｂ）から突出された薄膜（１２０）は、切断刃部（１１６）が接触する側とは反対側の面がブロック部（１４８）の角で支持された状態で、切断刃部（１１６）で切断される。 As a method for creating a thin section of a sample in observation using an optical microscope or an electron microscope, or microscopic analysis such as infrared spectroscopic measurement or Raman spectroscopic measurement, the technique described in Patent Document 1 is conventionally known.
In JP-A-2005-164547 as Patent Document 1, the sample holder (114a, 114b) projects the tip of the thin film (120) obliquely, and the cutting blade (116) is moved in the horizontal direction. A technique for cutting the thin film (120) in an oblique direction is described. In Patent Document 1, the surface of the thin film (120) protruding from the sample holder (114a, 114b) is supported by the corner of the block portion (148) on the side opposite to the side where the cutting blade portion (116) contacts. In the state, it is cut by the cutting blade (116).

特開２００５−１６４５４７号公報（「００２０」〜「００２７」、図３〜図５）JP 2005-164547 A ("0020" to "0027", FIGS. 3 to 5)

（従来技術の問題点）
図１０は従来技術の問題点の説明図であり、図１０Ａは切断刃が試料に接触した状態の説明図、図１０Ｂは図１０Ａの状態から切断刃が進行した状態の説明図、図１０Ｃは切断刃で切除された後の状態の説明図である。
試料が試料ホルダから突出する方向（送り出し方向）に対して垂直な方向から切断される場合には、試料は大きな問題なく切断される。しかしながら、特許文献１に記載されているような構成では、図１０Ａに示すように、試料０１の送り出し方向に対して斜め方向から切断刃０２が接触する場合、試料０１には、切断刃０２から、切断刃０２の移動方向に沿った力０３が作用する。この力０３は、試料０１を厚み方向に押そうとする成分０３ａと、試料０１を送り出し方向に引っ張り出そうとする成分０３ｂとを有する。 (Problems of conventional technology)
FIG. 10 is an explanatory diagram of problems in the prior art, FIG. 10A is an explanatory diagram of a state where the cutting blade is in contact with the sample, FIG. 10B is an explanatory diagram of a state where the cutting blade has advanced from the state of FIG. 10A, and FIG. It is explanatory drawing of the state after excising with the cutting blade.
When the sample is cut from a direction perpendicular to the direction in which the sample protrudes from the sample holder (feeding direction), the sample is cut without any major problem. However, in the configuration described in Patent Document 1, when the cutting blade 02 comes into contact with the sample 01 from an oblique direction with respect to the feeding direction of the sample 01 as shown in FIG. A force 03 along the moving direction of the cutting blade 02 acts. The force 03 includes a component 03a that tries to push the sample 01 in the thickness direction and a component 03b that tries to pull the sample 01 in the delivery direction.

したがって、特許文献１に記載の構成のように、試料がホルダから片持ち状に突出し、且つ、ブロック部０４で切断刃０２の反対側で支持されている構成では、図１０Ｂに示すように、力０３の厚み方向成分０３ａにより試料０１が矢印０６方向に撓むとともに、力０３の送り出し方向成分０３ｂにより試料０１が矢印０７方向に伸び縮みしたり、移動したりする。したがって、図１０Ｃに示すように、試料０１から切片０８が目的通りに切り出せない問題がある。
特に、試料０１が髪の毛や繊維片の様に、薄かったり細かったりすると問題が顕著に発生しやすく、特許文献１に記載の構成では、１００μm以下のオーダで切片を切り出すことは極めて困難であるという問題がある。 Therefore, as shown in FIG. 10B, in the configuration in which the sample protrudes from the holder in a cantilever manner and is supported on the opposite side of the cutting blade 02 by the block portion 04, as shown in FIG. The sample 01 is bent in the direction of the arrow 06 by the thickness direction component 03a of the force 03, and the sample 01 is expanded and contracted in the direction of the arrow 07 or moved by the delivery direction component 03b of the force 03. Therefore, as shown in FIG. 10C, there is a problem that the section 08 cannot be cut out from the sample 01 as intended.
In particular, if the sample 01 is thin or thin like hair or a fiber piece, the problem is likely to occur remarkably. With the configuration described in Patent Document 1, it is extremely difficult to cut out a section with an order of 100 μm or less. There's a problem.

本発明は、試料ホルダから突出した状態の試料を切断する場合に比べて、薄膜の切断位置のズレを低減することを技術的課題とする。 This invention makes it a technical subject to reduce the shift | offset | difference of the cutting position of a thin film compared with the case where the sample of the state which protruded from the sample holder is cut | disconnected.

前記技術的課題を解決するために、請求項１に記載の発明の試料スライサーは、
試料の一側面を支持するステージと、
前記試料を挟んで前記ステージと対向する他側を支持する押さえ部材であって、前記ステージの面の法線方向に対して傾斜する方向から前記試料を挟んで支持可能な前記押さえ部材と、
前記押さえ部材の傾斜方向に沿って移動可能に支持され、前記押さえ部材が前記試料に接触して押さえる押さえ位置に近接する切断位置において前記試料を切断可能な切断部材と、
を備えたことを特徴とする。 In order to solve the technical problem, the sample slicer of the invention according to claim 1 comprises:
A stage that supports one side of the sample;
A pressing member that supports the other side facing the stage across the sample, the pressing member capable of supporting the sample from a direction inclined with respect to the normal direction of the surface of the stage; and
A cutting member that is supported so as to be movable along the inclination direction of the pressing member, and that can cut the sample at a cutting position close to a pressing position where the pressing member contacts and presses the sample;
It is provided with.

請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の試料スライサーにおいて、
前記試料に接触する先端部に近づくに連れて厚さが薄く形成された前記押さえ部材、
を備えたことを特徴とする。 The invention according to claim 2 is the sample slicer according to claim 1,
The pressing member formed to be thinner as it approaches the tip that contacts the sample,
It is provided with.

請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の試料スライサーにおいて、
前記先端部に近づくに連れて前記切断部材側に傾斜して形成された前記押さえ部材、
を備えたことを特徴とする。 The invention according to claim 3 is the sample slicer according to claim 2,
The pressing member formed to be inclined toward the cutting member as it approaches the tip.
It is provided with.

請求項４に記載の発明は、請求項１ないし３のいずれかに記載の試料スライサーにおいて、
前記押さえ部材と前記切断部材とを有し、前記押さえ部材が前記試料に接触する接触位置と、前記押さえ部材が前記試料から離間する離間位置と、の間で移動可能な移動体、
を備えたことを特徴とする。 The invention according to claim 4 is the sample slicer according to any one of claims 1 to 3,
A movable body that has the pressing member and the cutting member and is movable between a contact position where the pressing member contacts the sample and a spaced position where the pressing member separates from the sample;
It is provided with.

請求項５に記載の発明は、請求項１ないし４のいずれかに記載の試料スライサーにおいて、
前記切断位置を回転中心として、傾斜可能に支持された前記ステージ、
を備えたことを特徴とする。 The invention according to claim 5 is the sample slicer according to any one of claims 1 to 4,
The stage supported to be tiltable with the cutting position as a rotation center,
It is provided with.

請求項６に記載の発明は、請求項１ないし５のいずれかに記載の試料スライサーにおいて、
前記試料の幅方向に移動可能に支持された前記切断部材、
を備えたことを特徴とする。 The invention according to claim 6 is the sample slicer according to any one of claims 1 to 5,
The cutting member supported to be movable in the width direction of the sample;
It is provided with.

請求項１に記載の発明によれば、試料ホルダから突出した状態の試料を切断する場合に比べて、薄膜の切断位置のズレを低減することができる。
請求項２に記載の発明によれば、先端部に近づくに連れて厚さが薄く形成されていない場合に比べて、押さえる力を強くすることができる。また、請求項２に記載の発明によれば、ステージが傾斜可能な場合に、ステージの傾斜の妨げになることが低減され、ステージが傾斜しても試料を保持しやすい。
請求項３に記載の発明によれば、切断部材側に傾斜して形成されていない場合に比べて、切断位置により近い位置で試料を押さえることができる。 According to the first aspect of the present invention, the displacement of the cutting position of the thin film can be reduced as compared with the case of cutting the sample protruding from the sample holder.
According to the second aspect of the present invention, it is possible to increase the pressing force as compared with the case where the thickness is not reduced as the tip portion is approached. According to the second aspect of the present invention, when the stage can be tilted, the obstruction of the stage is prevented from being disturbed, and the sample can be easily held even when the stage is tilted.
According to invention of Claim 3, compared with the case where it is not inclined and formed in the cutting member side, a sample can be pressed at a position nearer to a cutting position.

請求項４に記載の発明によれば、押さえ部材と切断部材とを試料に対して接触、離間させることができ、試料の状態の確認や切断位置の確認、試料の移動等を容易に行うことができる。
請求項５に記載の発明によれば、ステージを傾斜させることで、試料の切断面の傾斜角を変更することができ、目的の切断面に沿って切断することが可能である。
請求項６に記載の発明によれば、幅方向に切断部材が移動不能な構成に比べて、試料を容易に切断することができる。 According to the invention described in claim 4, the pressing member and the cutting member can be brought into contact with and separated from the sample, and the confirmation of the state of the sample, the confirmation of the cutting position, the movement of the sample, etc. can be easily performed. Can do.
According to the fifth aspect of the present invention, the tilt angle of the cut surface of the sample can be changed by tilting the stage, and it is possible to cut along the target cut surface.
According to the invention described in claim 6, the sample can be easily cut as compared with the configuration in which the cutting member cannot move in the width direction.

図１は本発明の実施例１の試料スライサーの斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a sample slicer according to a first embodiment of the present invention. 図２は実施例１の試料スライサーを側面からみた部分透過図であり、図２Ａは押さえ部材が接触位置に移動した状態の説明図、図２Ｂは押さえ部材が離間位置に移動した状態の説明図である。2 is a partially transparent view of the sample slicer according to the first embodiment as viewed from the side, FIG. 2A is an explanatory view showing a state where the pressing member has moved to the contact position, and FIG. 2B is an explanatory view showing a state where the pressing member has moved to the separated position. It is. 図３は実施例のステージ機構の部品の説明図であり、図３Ａはジンバルアームの説明図、図３Ｂはジンバルプレートの平面図、図３Ｃはジンバルプレートの側面図、図３Ｄはステージ調整部の側面図、図３Ｅはステージ調整部の平面図、図３Ｆはステージ本体の平面図、図３Ｇはステージ本体の側面図である。FIG. 3 is an explanatory view of parts of the stage mechanism of the embodiment, FIG. 3A is an explanatory view of the gimbal arm, FIG. 3B is a plan view of the gimbal plate, FIG. 3C is a side view of the gimbal plate, and FIG. 3E is a plan view of the stage adjustment unit, FIG. 3F is a plan view of the stage main body, and FIG. 3G is a side view of the stage main body. 図４は実施例の押し付け切断機構の部分透過説明図である。FIG. 4 is a partially transparent explanatory view of the pressing and cutting mechanism of the embodiment. 図５は図４から押さえ部材と切断部材が取り外された状態の説明図であり、図５Ａは平面図、図５Ｂは側面図である。5 is an explanatory view showing a state in which the pressing member and the cutting member are removed from FIG. 4, FIG. 5A is a plan view, and FIG. 5B is a side view. 図６は実施例の操作支持部材の説明図であり、図６Ａは平面図、図６Ｂは側面図である。FIG. 6 is an explanatory view of the operation support member of the embodiment, FIG. 6A is a plan view, and FIG. 6B is a side view. 図７は実施例の切断部材保持体の説明図であり、図７Ａは平面図、図７Ｂは側面図である。FIG. 7 is an explanatory view of the cutting member holding body of the embodiment, FIG. 7A is a plan view, and FIG. 7B is a side view. 図８は実施例の押さえ部材の説明図であり、図８Ａは平面図、図８Ｂは側面図である。FIG. 8 is an explanatory view of the pressing member of the embodiment, FIG. 8A is a plan view, and FIG. 8B is a side view. 図９は実施例１の作用説明図であり、図９Ａは側面図、図９Ｂは正面図である。FIG. 9 is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, FIG. 9A is a side view, and FIG. 9B is a front view. 図１０は従来技術の問題点の説明図であり、図１０Ａは切断刃が試料に接触した状態の説明図、図１０Ｂは図１０Ａの状態から切断刃が進行した状態の説明図、図１０Ｃは切断刃で切除された後の状態の説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram of problems in the prior art, FIG. 10A is an explanatory diagram of a state where the cutting blade is in contact with the sample, FIG. 10B is an explanatory diagram of a state where the cutting blade has advanced from the state of FIG. 10A, and FIG. It is explanatory drawing of the state after excising with the cutting blade.

次に図面を参照しながら、本発明の実施の形態の具体例としての実施例を説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
なお、以後の説明の理解を容易にするために、図面において、前後方向をＸ軸方向、左右方向をＹ軸方向、上下方向をＺ軸方向とし、矢印Ｘ，−Ｘ，Ｙ，−Ｙ，Ｚ，−Ｚで示す方向または示す側をそれぞれ、前方、後方、右方、左方、上方、下方、または、前側、後側、右側、左側、上側、下側とする。
また、図中、「○」の中に「・」が記載されたものは紙面の裏から表に向かう矢印を意味し、「○」の中に「×」が記載されたものは紙面の表から裏に向かう矢印を意味するものとする。
なお、以下の図面を使用した説明において、理解の容易のために説明に必要な部材以外の図示は適宜省略されている。 Next, examples as specific examples of embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following examples.
In order to facilitate understanding of the following description, in the drawings, the front-rear direction is the X-axis direction, the left-right direction is the Y-axis direction, the up-down direction is the Z-axis direction, and arrows X, -X, Y, -Y, The direction indicated by Z and -Z or the indicated side is defined as the front side, the rear side, the right side, the left side, the upper side, the lower side, or the front side, the rear side, the right side, the left side, the upper side, and the lower side, respectively.
In the figure, “•” in “○” means an arrow heading from the back of the page to the front, and “×” in “○” is the front of the page. It means an arrow pointing from the back to the back.
In the following description using the drawings, illustrations other than members necessary for the description are omitted as appropriate for easy understanding.

図１は本発明の実施例１の試料スライサーの斜視図である。
図２は実施例１の試料スライサーを側面からみた部分透過図であり、図２Ａは押さえ部材が接触位置に移動した状態の説明図、図２Ｂは押さえ部材が離間位置に移動した状態の説明図である。
図１、図２において、本発明の実施例１の試料スライサー１は、左右一対のサイドフレーム２を有する。各サイドフレーム２の底部には、前後一対のフット３が支持されている。サイドフレーム２どうしは、前側下部、後側下部、後側上部に配置された３本のタイバー４で連結されている。サイドフレーム２の外側面の下部には、下側のタイバー４を固定するネジを隠す目隠し蓋６が支持されている。 FIG. 1 is a perspective view of a sample slicer according to a first embodiment of the present invention.
2 is a partially transparent view of the sample slicer according to the first embodiment as viewed from the side, FIG. 2A is an explanatory view showing a state where the pressing member has moved to the contact position, and FIG. 2B is an explanatory view showing a state where the pressing member has moved to the separated position. It is.
1 and 2, the sample slicer 1 according to the first embodiment of the present invention has a pair of left and right side frames 2. A pair of front and rear feet 3 are supported on the bottom of each side frame 2. The side frames 2 are connected to each other by three tie bars 4 arranged at the front lower part, the rear lower part, and the rear upper part. On the lower part of the outer side surface of the side frame 2, a blind cover 6 for supporting a screw for fixing the lower tie bar 4 is supported.

図３は実施例のステージ機構の部品の説明図であり、図３Ａはジンバルアームの説明図、図３Ｂはジンバルプレートの平面図、図３Ｃはジンバルプレートの側面図、図３Ｄはステージ調整部の側面図、図３Ｅはステージ調整部の平面図、図３Ｆはステージ本体の平面図、図３Ｇはステージ本体の側面図である。
サイドフレーム２の間には、ステージ機構１１が支持されている。ステージ機構１１は、左右一対のジンバルアーム１２を有する。ジンバルアーム１２は、上端のジンバル軸（回転中心）１２ａを中心として、サイドフレーム２に回転可能に支持されている。ジンバルアーム１２の下端には、ジンバルプレート１３が固定支持されている。ジンバルプレート１３は左右方向に延びる板状に形成されている。ジンバルプレート１３の右側面には、ネジ１３ａを装着可能なネジ孔１３ｂが形成されている。ネジ１３ａのネジ部が右サイドフレーム２に形成された弧状孔２ａを貫通している。なお、弧状孔２ａは、ジンバル軸１２ａを中心とする円弧に沿って形成されている。したがって、ネジ１３ａを緩めることで、ステージ機構１１は、ジンバル軸１２ａを中心として回転可能となり、ネジ１３ａを締めることで、ステージ機構１１は任意の回転位置で停止した状態で保持される。 FIG. 3 is an explanatory view of parts of the stage mechanism of the embodiment, FIG. 3A is an explanatory view of the gimbal arm, FIG. 3B is a plan view of the gimbal plate, FIG. 3C is a side view of the gimbal plate, and FIG. 3E is a plan view of the stage adjustment unit, FIG. 3F is a plan view of the stage main body, and FIG. 3G is a side view of the stage main body.
A stage mechanism 11 is supported between the side frames 2. The stage mechanism 11 has a pair of left and right gimbal arms 12. The gimbal arm 12 is rotatably supported by the side frame 2 around a gimbal shaft (rotation center) 12a at the upper end. A gimbal plate 13 is fixedly supported at the lower end of the gimbal arm 12. The gimbal plate 13 is formed in a plate shape extending in the left-right direction. On the right side surface of the gimbal plate 13, a screw hole 13b in which a screw 13a can be attached is formed. The screw portion of the screw 13a passes through the arcuate hole 2a formed in the right side frame 2. The arc-shaped hole 2a is formed along an arc centered on the gimbal shaft 12a. Therefore, by loosening the screw 13a, the stage mechanism 11 can rotate about the gimbal shaft 12a, and by tightening the screw 13a, the stage mechanism 11 is held in a stopped state at an arbitrary rotational position.

ジンバルプレート１３の上面には、ステージ調整部１４が支持されている。ステージ調整部１４は、ジンバルプレート１３に固定される固定ブロック１６を有する。固定ブロック１６の上部には、スライドブロック１７が支持されている。スライドブロック１７は、ステージ調整部１４に内蔵された図示しないリニアガイド（摺動ガイド）にガイドされ、固定ブロック１６に対して前後方向にスライド移動可能に支持されている。スライドブロック１７の前端には、マイクロメータ１９が支持されている。マイクロメータ１９は、使用者が手動でハンドル部１９ａを回転させることで、固定ブロック１６に接触するロッド部１９ｂが伸縮し、スライドブロック１７が前後方向に移動する。なお、ステージ調整部１４には、ロッド部１９ｂに固定ブロック１６の前面を押し付ける図示しないバネ等の弾性部材が設けられている。 A stage adjustment unit 14 is supported on the upper surface of the gimbal plate 13. The stage adjustment unit 14 includes a fixed block 16 that is fixed to the gimbal plate 13. A slide block 17 is supported on the upper portion of the fixed block 16. The slide block 17 is guided by a linear guide (sliding guide) (not shown) built in the stage adjustment unit 14 and supported so as to be slidable in the front-rear direction with respect to the fixed block 16. A micrometer 19 is supported at the front end of the slide block 17. When the user manually rotates the handle portion 19a of the micrometer 19, the rod portion 19b that contacts the fixed block 16 expands and contracts, and the slide block 17 moves in the front-rear direction. The stage adjusting unit 14 is provided with an elastic member such as a spring (not shown) that presses the front surface of the fixed block 16 against the rod portion 19b.

前記ステージ調整部１４のスライドブロック１７の上面には、ステージ本体２１が支持されている。実施例のステージ本体２１は、水平方向に延びる板状に形成されている。実施例のステージ本体２１は、磁性材料の一例としての鉄で構成されている。ステージ本体２１の上面の前部には、左右方向に延びる凹部２１ａが形成されている。凹部２１ａには、弾性部材の一例としてのゴム板２２が支持される。なお、ゴム板２２の表面は、ステージ本体２１の上面と面一となるように設定されている。また、ゴム板２２の表面に設定された切断位置２２ａは、ジンバル軸１２ａの中心に一致するように設定されており、ステージ機構１１がジンバル軸１２ａを中心として回転しても、切断位置２２ａは変動しないように設定されている。 A stage main body 21 is supported on the upper surface of the slide block 17 of the stage adjusting unit 14. The stage body 21 of the embodiment is formed in a plate shape extending in the horizontal direction. The stage main body 21 of the embodiment is made of iron as an example of a magnetic material. A recess 21 a extending in the left-right direction is formed in the front portion of the upper surface of the stage body 21. A rubber plate 22 as an example of an elastic member is supported in the recess 21a. The surface of the rubber plate 22 is set so as to be flush with the upper surface of the stage main body 21. The cutting position 22a set on the surface of the rubber plate 22 is set so as to coincide with the center of the gimbal shaft 12a. Even when the stage mechanism 11 rotates about the gimbal shaft 12a, the cutting position 22a is It is set not to fluctuate.

図４は実施例の押し付け切断機構の部分透過説明図である。
図５は図４から押さえ部材と切断部材が取り外された状態の説明図であり、図５Ａは平面図、図５Ｂは側面図である。
ステージ機構１１の後斜め上方には、押し付け切断機構３１が支持されている。押し付け切断機構３１は、下ブロック３２を有する。下ブロック３２は、側面視で、左右方向に延びる略三角柱状に形成されている。下ブロック３２の左右方向の両端部の前面３２ａには、図２Ａに示す接触位置において下ブロック３２を上下方向に貫通する貫通孔３２ｂが形成されている。貫通孔３２ｂには、固定ネジ３３が着脱可能に支持され、固定ネジ３３は、サイドフレーム２に固定されたネジ止め部３５に、手動でネジ止めされて、押し付け切断機構３１を図２Ａに示す接触位置に保持可能に構成されている。 FIG. 4 is a partially transparent explanatory view of the pressing and cutting mechanism of the embodiment.
5 is an explanatory view showing a state in which the pressing member and the cutting member are removed from FIG. 4, FIG. 5A is a plan view, and FIG. 5B is a side view.
A pressing and cutting mechanism 31 is supported obliquely above the stage mechanism 11. The pressing and cutting mechanism 31 has a lower block 32. The lower block 32 is formed in a substantially triangular prism shape extending in the left-right direction in a side view. Through holes 32b are formed in front surfaces 32a at both ends in the left-right direction of the lower block 32 so as to penetrate the lower block 32 in the vertical direction at the contact position shown in FIG. 2A. A fixing screw 33 is detachably supported in the through hole 32b. The fixing screw 33 is manually screwed to a screwing portion 35 fixed to the side frame 2, and the pressing and cutting mechanism 31 is shown in FIG. 2A. It is configured to be held at the contact position.

下ブロック３２の上面３２ｃには、幅方向（左右方向）の両端部に、回転アーム３４が支持されている。回転アーム３４は、左右のサイドフレーム２に対して、回転軸３４ａを中心として回転可能に支持されている。よって、移動体の一例としての押し付け切断機構３１は、回転軸３４ａを中心として、図２Ａに示す接触位置と、図２Ｂに示す離間位置との間で移動可能に構成されている。 On the upper surface 32c of the lower block 32, rotating arms 34 are supported at both ends in the width direction (left-right direction). The rotating arm 34 is supported to the left and right side frames 2 so as to be rotatable about a rotating shaft 34a. Therefore, the pressing and cutting mechanism 31 as an example of the moving body is configured to be movable between the contact position shown in FIG. 2A and the separated position shown in FIG. 2B around the rotation shaft 34a.

図６は実施例の操作支持部材の説明図であり、図６Ａは平面図、図６Ｂは側面図である。
下ブロック３２の上面３２ｃには、左右方向に延びる第１のガイドレール（案内部材）３７が支持されている。第１のガイドレール３７には、第１のスライダ（被案内部材）３８が第１のガイドレール３７に沿って左右方向に移動可能に支持されている。第１のスライダ３８の上面には、バネ収容ブロック３９が支持されている。バネ収容ブロック３９の内部には、ガイド孔３９ａが形成されている。ガイド孔３９ａは、上下方向、すなわち、後述する切断刃が試料に接近、離間する方向に沿って、バネ収容ブロック３９を貫通して形成されている。 FIG. 6 is an explanatory view of the operation support member of the embodiment, FIG. 6A is a plan view, and FIG. 6B is a side view.
A first guide rail (guide member) 37 extending in the left-right direction is supported on the upper surface 32 c of the lower block 32. A first slider (guided member) 38 is supported on the first guide rail 37 so as to be movable in the left-right direction along the first guide rail 37. A spring accommodating block 39 is supported on the upper surface of the first slider 38. A guide hole 39 a is formed inside the spring housing block 39. The guide hole 39a is formed through the spring accommodating block 39 in the vertical direction, that is, in a direction in which a cutting blade described later approaches and separates from the sample.

図４、図５において、バネ収容ブロック３９の前面には、第２のガイドレール４０ａが支持されている。第２のガイドレール４０ａは、後述する切断刃（４８）が試料に対して接近、離間する方向に沿って延びている。第２のガイドレール４０ａには、第２のスライダ４０ｂが、第２のガイドレール４０ａに沿って移動可能に支持されている。図４〜図６において、第２のスライダ４０ｂにはノブ支持プレート４４が支持されている。ノブ支持プレート４４には、連結アーム４３の外端（一端）が支持されている。連結アーム４３の内端（他端）にはスライダブロック４１が連結されている。スライダブロック４１は第２のスライダ４０ｂの移動によりバネ収容ブロック３９のガイド孔３９ａに沿って移動可能である。 4 and 5, the second guide rail 40 a is supported on the front surface of the spring housing block 39. The second guide rail 40a extends along a direction in which a cutting blade (48) described later approaches and separates from the sample. A second slider 40b is supported on the second guide rail 40a so as to be movable along the second guide rail 40a. 4 to 6, a knob support plate 44 is supported on the second slider 40b. The knob support plate 44 supports the outer end (one end) of the connecting arm 43. A slider block 41 is connected to the inner end (the other end) of the connecting arm 43. The slider block 41 is movable along the guide hole 39a of the spring accommodating block 39 by the movement of the second slider 40b.

スライダブロック４１と第１のスライダ３８との間には、弾性部材の一例としてのバネ４２が収容されている。バネ４２は、スライダブロック４１を上方、すなわち、後述する切断刃が試料から離間する方向に押す弾性力を作用させている。
バネ収容ブロック３９の後面には、上ブロック３６が支持されている。上ブロック３６は、内部に収容空間が形成され且つ下ブロック３２側および前方が開放された箱型に形成されている。第１のガイドレール３７は、上ブロック３６を左右方向に貫通して、左右方向に延びている。
ノブ支持プレート４４の外表面には、作業者が手で掴んで操作が可能なノブ（操作部）４６が支持されている。 A spring 42 as an example of an elastic member is accommodated between the slider block 41 and the first slider 38. The spring 42 applies an elastic force that pushes the slider block 41 upward, that is, in a direction in which a cutting blade described later is separated from the sample.
An upper block 36 is supported on the rear surface of the spring housing block 39. The upper block 36 is formed in a box shape in which a housing space is formed and the lower block 32 side and the front are opened. The first guide rail 37 penetrates the upper block 36 in the left-right direction and extends in the left-right direction.
On the outer surface of the knob support plate 44, a knob (operation unit) 46 that can be grasped and operated by an operator is supported.

図７は実施例の切断部材保持体の説明図であり、図７Ａは平面図、図７Ｂは側面図である。
ノブ支持プレート４４の前端部（下端部）には、切断刃の保持体の一例としての切断刃ホルダ４７が支持されている。図７において、切断刃ホルダ４７の後端部には、略円板状の凹部４７ａが形成されており、凹部４７ａには、円板状の切断刃（切断部材）４８が支持されている。なお、切断刃４８の下端は、切断刃ホルダ４７の下端よりも下方に突出している。なお、実施例の切断刃４８は、切断刃ホルダ４７に対して回転不能に支持されているが、回転可能に支持することも可能である。 FIG. 7 is an explanatory view of the cutting member holding body of the embodiment, FIG. 7A is a plan view, and FIG. 7B is a side view.
A cutting blade holder 47 as an example of a cutting blade holder is supported on the front end (lower end) of the knob support plate 44. In FIG. 7, a substantially disc-shaped recess 47a is formed at the rear end of the cutting blade holder 47, and a disc-shaped cutting blade (cutting member) 48 is supported in the recess 47a. Note that the lower end of the cutting blade 48 protrudes below the lower end of the cutting blade holder 47. In addition, although the cutting blade 48 of an Example is supported with respect to the cutting blade holder 47 so that rotation is impossible, it is also possible to support so that rotation is possible.

図８は実施例の押さえ部材の説明図であり、図８Ａは平面図、図８Ｂは側面図である。
下ブロック３２の前面３２ａの幅方向の中央部には、押さえ部材の一例としての保持板４９が、切断刃４８に近接して支持されている。図８において、保持板４９の先端部（下端）４９ａは、切断刃４８側に向けて傾斜し且つ先端側に行くに連れて薄く形成されている。図２Ａに示す接触位置において、保持板４９の先端部４９ａの位置は、切断位置２２ａに隣接、近接する押さえ位置でゴム板２２の表面に接触するように設定されている。保持板４９の中央部には、切断刃４８を切断刃ホルダ４７に固定するネジ（図示せず）が通過するための開口４９ｂが形成されている。 FIG. 8 is an explanatory view of the pressing member of the embodiment, FIG. 8A is a plan view, and FIG. 8B is a side view.
A holding plate 49 as an example of a pressing member is supported in the vicinity of the cutting blade 48 at the center in the width direction of the front surface 32 a of the lower block 32. In FIG. 8, the front end portion (lower end) 49a of the holding plate 49 is inclined toward the cutting blade 48 side, and is formed thinner toward the front end side. In the contact position shown in FIG. 2A, the position of the tip 49a of the holding plate 49 is set so as to contact the surface of the rubber plate 22 at a pressing position adjacent to and close to the cutting position 22a. In the central portion of the holding plate 49, an opening 49b is formed through which a screw (not shown) for fixing the cutting blade 48 to the cutting blade holder 47 passes.

したがって、実施例１では、図２Ａに示す接触位置において、作業者がノブ４６を把持して、後上方から前下方に押すことで、第２のスライダ４０ｂが第２のガイドレール４０ａにガイドされつつ、バネ４２が弾性圧縮されて、スライダブロック４１、連結アーム４３、ノブ支持プレート４４、切断刃ホルダ４７および切断刃４８が、ゴム板２２（およびゴム板２２に支持された試料）に接近する方向に移動可能である。なお、ノブ４６から作業者が手を離すと、バネ４２の弾性力で切断刃４８がゴム板２２（およびゴム板に支持された試料）から離間する方向に移動する。
また、作業者がノブ４６を把持して幅方向に移動させることで、第１のスライダ３８が第１のガイドレール３７に沿ってガイドされて、スライダ３８、上ブロック３６、バネ収容ブロック３９、バネ４２、スライダブロック４１、連結アーム４３、ノブ支持プレート４４、切断刃ホルダ４７および切断刃４８が幅方向（左右方向）に移動する。 Therefore, in the first embodiment, at the contact position shown in FIG. 2A, the operator grasps the knob 46 and pushes it from the rear upper side to the front lower side, whereby the second slider 40b is guided by the second guide rail 40a. Meanwhile, the spring 42 is elastically compressed, and the slider block 41, the connecting arm 43, the knob support plate 44, the cutting blade holder 47, and the cutting blade 48 approach the rubber plate 22 (and the sample supported by the rubber plate 22). It can move in the direction. When the operator releases the hand from the knob 46, the cutting blade 48 is moved away from the rubber plate 22 (and the sample supported by the rubber plate) by the elastic force of the spring 42.
Further, when the operator holds the knob 46 and moves it in the width direction, the first slider 38 is guided along the first guide rail 37, and the slider 38, the upper block 36, the spring accommodating block 39, The spring 42, slider block 41, connecting arm 43, knob support plate 44, cutting blade holder 47, and cutting blade 48 move in the width direction (left-right direction).

（実施例１の作用）
図９は実施例１の作用説明図であり、図９Ａは側面図、図９Ｂは正面図である。
図９において、前記構成を備えた実施例１の試料スライサー１では、ステージ本体２１やゴム板２２上に薄膜状の試料Ｓが載せられた状態で、第２の押さえ部材の一例としてのマグネットラバー２６で押さえられている。板状のマグネットラバー２６は、磁力でステージ本体２１に貼り付いており、マグネットラバー２６とステージ本体２１とで挟まれて試料Ｓが保持されている。この状態において、押し付け切断機構３１が接触位置に移動すると、図９Ａに示すように、保持板４９の先端部４９ａが試料Ｓの上面に接触する。よって、試料Ｓは、切断位置２２ａに近接する押さえ位置２２ｂにおいて保持板４９で押さえられる。なお、ここで、固定ネジ３３を締めることで、試料Ｓが保持板４９で押さえられた状態で保持することも可能である。そして、ノブ４６が操作されて、切断刃４８が試料Ｓに接触して、試料Ｓが切断される。 (Operation of Example 1)
FIG. 9 is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, FIG. 9A is a side view, and FIG. 9B is a front view.
9, in the sample slicer 1 of the first embodiment having the above-described configuration, a magnet rubber as an example of a second pressing member in a state where the thin film sample S is placed on the stage main body 21 or the rubber plate 22. 26. The plate-like magnet rubber 26 is stuck to the stage main body 21 by magnetic force, and the sample S is held between the magnet rubber 26 and the stage main body 21. In this state, when the pressing and cutting mechanism 31 moves to the contact position, the tip end portion 49a of the holding plate 49 contacts the upper surface of the sample S as shown in FIG. 9A. Therefore, the sample S is pressed by the holding plate 49 at the pressing position 22b close to the cutting position 22a. Here, it is also possible to hold the sample S in a state of being pressed by the holding plate 49 by tightening the fixing screw 33. Then, the knob 46 is operated, the cutting blade 48 comes into contact with the sample S, and the sample S is cut.

ここで、ジンバル軸１２ａを中心とした回転により、ステージ本体２１と切断刃４８とが傾斜している場合には、試料Ｓが長さ方向に対して斜めに切断される。従来技術では、図１０に示すように、試料０１は、片持ち状態の自由端部分が切断されているような状態であったため、切断刃０２が斜めに接触して進行すると、試料０１が撓んだり、引き出されたりして、目的の断面形状に切断できない問題があった。これに対して、実施例では、試料Ｓの下面がゴム板２２で保持されると共に、切断位置２２ａの近傍の押さえ位置２２ｂにおいて保持板４９で試料Ｓが押さえられている。したがって、切断位置２２ａにおいて、切断刃４８で切断される際に、従来の構成に比べて、試料Ｓが撓んだり、試料Ｓが前方に引き出されることが低減される。したがって、従来の構成に比べて、精度良く、試料Ｓを斜めに切断することが可能であり、斜めに切断された試料Ｓの切片の観察、分析が可能である。 Here, when the stage main body 21 and the cutting blade 48 are inclined by rotation about the gimbal shaft 12a, the sample S is cut obliquely with respect to the length direction. In the prior art, as shown in FIG. 10, since the sample 01 is in a state where the free end portion in a cantilever state is cut, the sample 01 bends when the cutting blade 02 makes an oblique contact and advances. There was a problem that it could not be cut into the desired cross-sectional shape because it was pulled out or pulled out. In contrast, in the embodiment, the lower surface of the sample S is held by the rubber plate 22, and the sample S is pressed by the holding plate 49 at the pressing position 22b in the vicinity of the cutting position 22a. Therefore, when cutting with the cutting blade 48 at the cutting position 22a, it is possible to reduce the bending of the sample S or the pulling of the sample S forward as compared with the conventional configuration. Therefore, it is possible to cut the sample S obliquely with higher accuracy than in the conventional configuration, and it is possible to observe and analyze the slice of the sample S cut obliquely.

特に、実施例１では切断刃４８が試料Ｓに接触する方向に利用者が押す際に、押し付け切断機構３１に力がかかる。よって、押し付け切断機構３１全体が回転軸３４ａを中心として試料Ｓ側に押し付けられる方向に回転し、試料Ｓやゴム板２２を加圧圧縮して、試料Ｓをよりしっかり保持することができる。
これに伴って、保持板４９も試料Ｓを押さえる方向に押される。よって、切断刃４８が試料Ｓを切断しようと操作すると、自然に保持板４９が試料Ｓを押さえる力が強くなり、試料Ｓがしっかりと保持されやすい。したがって、目的の断面に沿って試料Ｓを切断することができる。 In particular, in the first embodiment, when the user presses the cutting blade 48 in the direction in which the cutting blade 48 contacts the sample S, a force is applied to the pressing and cutting mechanism 31. Therefore, the entire pressing and cutting mechanism 31 rotates about the rotation shaft 34a in the direction in which it is pressed toward the sample S side, and the sample S and the rubber plate 22 are pressurized and compressed to hold the sample S more firmly.
Along with this, the holding plate 49 is also pushed in the direction of holding the sample S. Therefore, when the cutting blade 48 is operated to cut the sample S, the force that the holding plate 49 naturally holds the sample S becomes strong, and the sample S is easily held firmly. Therefore, the sample S can be cut along the target cross section.

特に、実施例１では、切断刃４８が試料Ｓの厚み方向（上下方向）だけでなく、試料Ｓの幅方向（左右方向）にも移動可能に構成されている。切断刃４８が試料Ｓの厚み方向からのみ進行して切断することも可能であるが、厚み方向のみの切断に比べて、試料Ｓを切断しやすい。よって、試料Ｓを目的の面で切断し易く、切断の精度が向上する。
さらに、実施例１では、切断位置２２ａや押さえ位置２２ｂに対応してゴム板２２を配置しており、試料Ｓの厚みが厚かったり、保持板４９の部品精度等でずれがあったりしても、ゴム板２２の弾性変形で吸収することが可能である。 In particular, in the first embodiment, the cutting blade 48 is configured to be movable not only in the thickness direction (vertical direction) of the sample S but also in the width direction (horizontal direction) of the sample S. Although it is possible for the cutting blade 48 to advance and cut only from the thickness direction of the sample S, it is easier to cut the sample S than cutting only in the thickness direction. Therefore, it is easy to cut the sample S on the target surface, and the cutting accuracy is improved.
Furthermore, in the first embodiment, the rubber plate 22 is arranged corresponding to the cutting position 22a and the pressing position 22b, and even if the thickness of the sample S is thick or there is a deviation due to the component accuracy of the holding plate 49, etc. It can be absorbed by elastic deformation of the rubber plate 22.

また、実施例１では、マイクロメータ１９を操作することで、ステージ本体２１を前後方向に精密に移動させることができ、試料Ｓの断面を観察したい位置を切断位置２２ａに精度よく合わせることが可能であり、切断することが可能である。なお、このとき、押し付け切断機構３１が離間位置に移動可能であるため、試料Ｓの状態や切断位置２２ａの確認等を容易に行うことができる。
さらに、実施例１では、ステージ機構１１がジンバル軸１２ａを中心として傾斜可能に構成されている。したがって、ステージ機構１１の傾斜角を変更することで、試料Ｓの切断面の傾斜角（マイクロメータ１９での送り方向に対する角度）を、利用者の目的に応じて任意に変更することが可能である。 In the first embodiment, by operating the micrometer 19, the stage main body 21 can be accurately moved in the front-rear direction, and the position where the section of the sample S is to be observed can be accurately aligned with the cutting position 22a. And can be cut. At this time, since the pressing and cutting mechanism 31 can be moved to the separation position, it is possible to easily check the state of the sample S, the cutting position 22a, and the like.
Further, in the first embodiment, the stage mechanism 11 is configured to be tiltable about the gimbal shaft 12a. Therefore, by changing the inclination angle of the stage mechanism 11, the inclination angle of the cut surface of the sample S (the angle with respect to the feeding direction by the micrometer 19) can be arbitrarily changed according to the purpose of the user. is there.

特に、実施例１では、保持板４９の先端部４９ａが先端に行くほど薄く形成されている。保持板４９の押さえ位置２２ｂが切断位置２２ａに対して近接しているが、少しずれている（厳密に一致していない）ため、ステージ機構１１を傾斜させると、ゴム板２２に保持板４９が接触する位置が少しずつずれていく。したがって、保持板４９の先端部４９ａの厚みが厚い場合、保持板４９の先端部４９ａがゴム板２２に引っかかったりすることがあり、試料Ｓの切断位置２２ａに対して押さえ位置２２ｂが微小に離れて試料Ｓの押さえが不十分になったり、ステージ機構１１の傾斜の妨げになる恐れもある。これに対して、実施例１では、保持板４９の先端部４９ａが先端に行くほど薄く形成されており、ステージ機構１１が傾斜しても、ゴム板２２に引っかかりにくく、試料Ｓを確実に保持することが可能である。
また、保持板４９の先端部４９ａは、先端に行くほど切断刃４８側に傾斜しており、逆側に傾斜している場合に比べて、押さえ位置２２ｂが切断位置２２ａに近い。すなわち、切断位置２２ａと押さえ位置２２ｂとのズレがより少なくなっている。よって、保持板４９は切断刃４８のより近くで押さえることができ、目的の切断面を精度良く得ることができるとともに、ステージ機構１１が傾斜しても試料Ｓを確実に保持しやすくなっている。 In particular, in the first embodiment, the distal end portion 49a of the holding plate 49 is formed thinner toward the distal end. Although the pressing position 22b of the holding plate 49 is close to the cutting position 22a, it is slightly shifted (not exactly coincident), so that when the stage mechanism 11 is tilted, the holding plate 49 is placed on the rubber plate 22. The contact position gradually shifts. Therefore, when the tip 49a of the holding plate 49 is thick, the tip 49a of the holding plate 49 may be caught by the rubber plate 22, and the pressing position 22b is slightly separated from the cutting position 22a of the sample S. Therefore, the sample S may not be sufficiently pressed, or the stage mechanism 11 may be prevented from tilting. On the other hand, in the first embodiment, the tip 49a of the holding plate 49 is formed so thin that it goes to the tip, and even if the stage mechanism 11 is inclined, it is difficult to be caught by the rubber plate 22, and the sample S is securely held. Is possible.
Further, the tip 49a of the holding plate 49 is inclined toward the cutting blade 48 toward the tip, and the pressing position 22b is closer to the cutting position 22a as compared to the case where it is inclined to the opposite side. That is, the deviation between the cutting position 22a and the pressing position 22b is smaller. Therefore, the holding plate 49 can be pressed closer to the cutting blade 48, the target cutting surface can be obtained with high accuracy, and the sample S is easily held reliably even when the stage mechanism 11 is inclined. .

（変更例）
以上、本発明の実施例を詳述したが、本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で、種々の変更を行うことが可能である。本発明の変更実施例を下記に例示する。
（Ｈ01）前記実施例において、ステージ機構１１の傾斜角が変更可能な構成を採用することが望ましいが、固定とすることも可能である。また、ステージ機構１１を傾斜させる構成を、切断刃４８や保持板４９を傾斜させる構成に適用して、切断刃４８等の傾斜角を変更する構成とすることも可能である。 (Example of change)
As mentioned above, although the Example of this invention was explained in full detail, this invention is not limited to the said Example, A various change is performed within the range of the summary of this invention described in the claim. It is possible. Modified embodiments of the present invention are illustrated below.
(H01) In the above-described embodiment, it is desirable to adopt a configuration in which the tilt angle of the stage mechanism 11 can be changed, but it may be fixed. In addition, the configuration in which the stage mechanism 11 is tilted may be applied to the configuration in which the cutting blade 48 and the holding plate 49 are tilted to change the tilt angle of the cutting blade 48 and the like.

（Ｈ02）前記実施例において、切断刃４８を幅方向に移動させる構成を設けることが望ましいが、設けない構成とすることも可能である。
（Ｈ03）前記実施例において、ステージ機構１１の傾斜角度や、押し付け切断機構３１の接触位置と離間位置の移動、マイクロメータ１９による試料Ｓの送り出し、切断刃４８の試料Ｓの厚み方向や幅方向の移動は、利用者が手動で行う構成を例示したがこれに限定されない。モータやソレノイド等の駆動源を利用して、これらの動きを制御部（コントローラ、制御回路）を使用して自動的に制御する構成とすることも可能である。 (H02) In the above-described embodiment, it is desirable to provide a configuration for moving the cutting blade 48 in the width direction, but a configuration in which the cutting blade 48 is not provided is also possible.
(H03) In the above embodiment, the tilt angle of the stage mechanism 11, the movement of the contact position and the separation position of the pressing cutting mechanism 31, the feeding of the sample S by the micrometer 19, the thickness direction and the width direction of the sample S of the cutting blade 48 However, the present invention is not limited to this. It is also possible to use a drive source such as a motor or solenoid to automatically control these movements using a control unit (controller, control circuit).

（Ｈ04）前記実施例において、試料Ｓを押さえるためにマグネットラバー２６を使用する構成を例示したが、これに限定されない。挟み込みプレートのように、試料Ｓを押さえることが可能な任意の構成を採用可能である。また、マグネットラバー２６のような押さえる部材を使用することが望ましいが、使用しない構成とすることも可能である。
（Ｈ05）前記実施例において、切断刃４８として、片刃（片面切削刃）の切断部材を例示したが、これに限定されず、両刃（両面切削刃）の切断部材を使用することも可能である。また、円板状の切断部材に限定されず、直刃状や反りのある直刃状、鋸歯状等、切断部材の材質や切断対象の試料Ｓの材質、目的等に応じて、変更可能である。 (H04) In the above embodiment, the configuration in which the magnet rubber 26 is used to hold the sample S is illustrated, but the present invention is not limited to this. Any configuration that can hold the sample S like a sandwiching plate can be adopted. In addition, it is desirable to use a pressing member such as the magnet rubber 26, but a configuration in which it is not used is also possible.
(H05) In the above-described embodiment, the cutting member of a single blade (single-sided cutting blade) is exemplified as the cutting blade 48. However, the cutting member is not limited to this, and a cutting member of a double-edged (double-sided cutting blade) can also be used. . Moreover, it is not limited to a disk-shaped cutting member, and can be changed according to the material of the cutting member, the material of the sample S to be cut, the purpose, etc., such as a straight blade shape, a straight blade shape with warping, or a sawtooth shape. is there.

（Ｈ06）前記実施例において、保持板４９の先端部は厚みを薄くすることで、接触時の応力が集中して、大きな保持力が得られやすく好ましいが、厚みを薄くしていない構成とすることも可能である。
（Ｈ07）前記実施例において、押し付け切断機構３１を接触位置に固定ネジ３３で固定することで、保持板４９が試料Ｓを押さえた状態で保持する構成を例示したが、これに限定されない。固定ネジ３３に替えて、クランプ機構やロック機構のように押し付け切断機構３１の位置を一時的に固定する機構を設けることも可能である。また、切断刃４８を押す際に、試料Ｓを押さえる方向に保持板４９が自然に押されるため、固定ネジ３３で接触位置に固定する構成を設けないようにすることも可能である。 (H06) In the above-described embodiment, it is preferable to reduce the thickness of the tip of the holding plate 49 so that the stress at the time of contact is concentrated and a large holding force can be easily obtained, but the thickness is not reduced. It is also possible.
(H07) In the above-described embodiment, the configuration in which the holding plate 49 holds the sample S in a pressed state by fixing the pressing and cutting mechanism 31 to the contact position with the fixing screw 33 is exemplified, but the present invention is not limited thereto. Instead of the fixing screw 33, a mechanism for temporarily fixing the position of the pressing and cutting mechanism 31 such as a clamp mechanism or a lock mechanism may be provided. Further, when the cutting blade 48 is pressed, the holding plate 49 is naturally pressed in the direction in which the sample S is pressed, so that it is possible not to provide a configuration for fixing to the contact position with the fixing screw 33.

（Ｈ08）前記実施例において、ステージ本体２１の上面にゴム板２２を設ける構成とすることが望ましいが、ゴム板２２を設けない構成とすることも可能である。
また、ステージ本体２１に試料面内（図２Ａでの水平面内）で回転可能な機能（ターンテーブル機構）を持たせた構成を追加することも可能である。ターンテーブル機構を設けることで、試料Ｓを厚さ方向に傾斜する切断面で切断するだけでなく、長さ方向や幅方向に傾斜する切断面で切断することも可能となり、観察、分析を行いたい任意の断面で試料Ｓを切断して観察、分析を行うことが可能である。また、試料Ｓを一度切断した後に、試料Ｓを送り出し且つターンテーブルで傾斜させた後に切断することで、切断ラインに沿って厚みが異なる試料片（例えば、くさび型の試料片）を作成することも可能である。よって、使用目的に応じた厚みの試料を用意することも可能になる。 (H08) In the embodiment, it is desirable to provide the rubber plate 22 on the upper surface of the stage main body 21, but it is also possible to adopt a configuration in which the rubber plate 22 is not provided.
It is also possible to add a configuration in which the stage body 21 has a function (turntable mechanism) that can rotate within the sample plane (within the horizontal plane in FIG. 2A). By providing a turntable mechanism, it is possible not only to cut the sample S with a cutting surface inclined in the thickness direction, but also to cut with a cutting surface inclined in the length direction or the width direction, for observation and analysis. The sample S can be cut and observed and analyzed at any desired cross section. In addition, after the sample S is cut once, the sample S is sent out and tilted by the turntable and then cut, thereby creating sample pieces (for example, wedge-shaped sample pieces) having different thicknesses along the cutting line. Is also possible. Therefore, it is possible to prepare a sample having a thickness according to the purpose of use.

１…試料スライサー、
１２ａ…回転中心、
２１…ステージ、
２２ａ…切断位置、
２２ｂ…押さえ位置、
３１…移動体、
４８…切断部材、
４９…押さえ部材、
Ｓ…試料。 1 ... Sample slicer,
12a ... center of rotation,
21 ... Stage,
22a ... cutting position,
22b ... holding position,
31 ... a moving body,
48 ... cutting member,
49. Holding member,
S: Sample.

Claims

A stage that supports one side of the sample;
A pressing member that supports the other side facing the stage across the sample, the pressing member capable of supporting the sample from a direction inclined with respect to the normal direction of the surface of the stage; and
A cutting member that is supported so as to be movable along the inclination direction of the pressing member, and that can cut the sample at a cutting position close to a pressing position where the pressing member contacts and presses the sample;
A sample slicer comprising:

The pressing member formed to be thinner as it approaches the tip that contacts the sample,
The sample slicer according to claim 1, comprising:

The pressing member formed to be inclined toward the cutting member as it approaches the tip.
The sample slicer according to claim 2, further comprising:

A movable body that has the pressing member and the cutting member and is movable between a contact position where the pressing member contacts the sample and a spaced position where the pressing member separates from the sample;
The sample slicer according to any one of claims 1 to 3, further comprising:

The stage supported to be tiltable with the cutting position as a rotation center,
The sample slicer according to any one of claims 1 to 4, further comprising:

The cutting member supported to be movable in the width direction of the sample;
The sample slicer according to any one of claims 1 to 5, further comprising: