JP2018189492A - Analyzer - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an analyzer with which it is possible to identify the type of sample holder easily.SOLUTION: A plurality of first terminals 31, provided on a sample holder 2, each include a terminal electrically connected to an electrical component equipped to the sample holder 2. A plurality of second terminals 32, provided on a sample stage 3, each come in contact with the plurality of terminals 31 of the sample holder 2 attached to the sample stage 3. A controller 300, provided on the outside of a vacuum chamber, input/output a signal between the plurality of first terminals 31 via the plurality of second terminals 32. Out of the plurality of first terminals 31, a pair of electrically unconnected terminals are shorted together. The controller 300 identifies the type of the sample holder 2 on the basis of a change of electrical conduction state between terminals, out of the plurality of second terminals 32, that come in contact with the pair of terminals when the sample holder 2 is attached to the sample stage 3.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、真空チャンバ内の試料に電子線又はX線を照射することにより分析を行う分析装置に関するものである。   The present invention relates to an analyzer for performing analysis by irradiating a sample in a vacuum chamber with an electron beam or X-ray.

分析装置の一例である電子線マイクロアナライザー(EPMA:Electron Probe Microanalyzer)では、試料に電子線を照射し、この照射によって試料から発生するX線を検出することにより、試料の元素分析を行うことができる。EPMAには、試料を保持するための試料ホルダが着脱可能となっている。試料ホルダは、用途に応じて複数準備されており、用途に適した試料ホルダを試料ステージに搭載して、分析を行うことができるようになっている。   An electron probe microanalyzer (EPMA), which is an example of an analyzer, performs elemental analysis of a sample by irradiating the sample with an electron beam and detecting X-rays generated from the sample by this irradiation. it can. A sample holder for holding a sample can be attached to and detached from the EPMA. A plurality of sample holders are prepared depending on the application, and analysis can be performed by mounting a sample holder suitable for the application on the sample stage.

試料ステージは真空チャンバ内に設けられており、この試料ステージに対して試料ホルダが着脱可能となっている。試料ホルダには、モータなどの複数の電子部品(図示せず)が備えられており、これらの電子部品にそれぞれ電気的に接続された第1端子が、試料ホルダの下面に形成されている。一方、試料ステージの上面には、試料ホルダが取り付けられたときに第1端子に接触する複数の第2端子が形成されている。このような接続端子の接触により電気的な接続を行う構成は、分析装置において一般的に採用されている(例えば、下記特許文献1参照)。   The sample stage is provided in a vacuum chamber, and a sample holder can be attached to and detached from the sample stage. The sample holder is provided with a plurality of electronic components (not shown) such as a motor, and a first terminal electrically connected to each of these electronic components is formed on the lower surface of the sample holder. On the other hand, a plurality of second terminals that come into contact with the first terminals when the sample holder is attached are formed on the upper surface of the sample stage. Such a configuration in which electrical connection is made by contact of connection terminals is generally employed in analyzers (see, for example, Patent Document 1 below).

試料ステージには、コネクタを介して、真空チャンバの外部に設けられたコントローラが接続される。これにより、第1端子及び第2端子を介して試料ホルダに接続されたコントローラから、試料ホルダに備えられた電子部品に対する制御を行うことができる。   A controller provided outside the vacuum chamber is connected to the sample stage via a connector. Thereby, control with respect to the electronic component with which the sample holder was equipped can be performed from the controller connected to the sample holder via the 1st terminal and the 2nd terminal.

特開2015−83989号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2015-83989

用途に応じて準備される複数の試料ホルダには、それぞれ専用のコントローラを接続しなければならない。そのため、試料ホルダを交換する度に、コネクタを着脱して別のコントローラを手動で接続し直す必要があり、作業が煩雑になるという問題があった。   A dedicated controller must be connected to each of the plurality of sample holders prepared according to the application. Therefore, every time the sample holder is replaced, it is necessary to attach and detach the connector and manually connect another controller, which causes a problem that the operation becomes complicated.

また、真空チャンバ内に設置されている試料ステージ上の試料ホルダは、真空チャンバの外部から目視できないため、設置後の試料ホルダの識別を容易に行うことができない。そのため、設置された試料ホルダに対応していないコントローラを誤って接続するおそれがあり、その場合には、試料ホルダ及びコントローラが破損する原因ともなる。   In addition, since the sample holder on the sample stage installed in the vacuum chamber cannot be viewed from the outside of the vacuum chamber, the sample holder after installation cannot be easily identified. For this reason, there is a possibility that a controller that does not correspond to the installed sample holder may be erroneously connected. In this case, the sample holder and the controller may be damaged.

本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、試料ホルダの種類を容易に識別することができる分析装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an analyzer that can easily identify the type of a sample holder.

(1)本発明に係る分析装置は、真空チャンバ内の試料に電子線又はX線を照射することにより分析を行う分析装置であって、試料ホルダと、取付部と、複数の第1端子と、複数の第2端子と、コントローラとを備える。前記試料ホルダは、試料を保持する。前記取付部は、前記真空チャンバ内に設けられ、前記試料ホルダを着脱可能である。前記複数の第1端子は、前記試料ホルダに設けられ、当該試料ホルダに備えられた電気部品にそれぞれ電気的に接続された端子を含む。前記複数の第2端子は、前記取付部に設けられ、当該取付部に取り付けられた前記試料ホルダの前記複数の第1端子にそれぞれ接触する。前記コントローラは、前記真空チャンバの外部に設けられ、前記複数の第2端子を介して前記複数の第1端子との間で信号の入力又は出力を行う。前記複数の第1端子のうち、前記電気部品に接続されていない1対の端子同士が短絡されている。前記コントローラは、前記複数の第2端子のうち、前記取付部に前記試料ホルダを取り付けたときに前記1対の端子に接触する端子間の通電状態の変化に基づいて、前記試料ホルダの種類を識別する。 (1) An analyzer according to the present invention is an analyzer that performs an analysis by irradiating a sample in a vacuum chamber with an electron beam or an X-ray, and includes a sample holder, a mounting portion, and a plurality of first terminals. And a plurality of second terminals and a controller. The sample holder holds a sample. The attachment portion is provided in the vacuum chamber, and the sample holder can be attached and detached. The plurality of first terminals include terminals provided on the sample holder and electrically connected to electrical components provided on the sample holder. The plurality of second terminals are provided in the attachment portion and contact the plurality of first terminals of the sample holder attached to the attachment portion. The controller is provided outside the vacuum chamber, and inputs or outputs a signal with the plurality of first terminals via the plurality of second terminals. Of the plurality of first terminals, a pair of terminals that are not connected to the electrical component are short-circuited. The controller determines the type of the sample holder based on a change in an energization state between the terminals that contact the pair of terminals when the sample holder is attached to the attachment portion among the plurality of second terminals. Identify.

このような構成によれば、試料ホルダに設けられた複数の第1端子のうち、電気部品に接続されていない1対の端子同士を短絡させることにより、取付部に設けられた複数の第2端子のうち、これらの1対の端子に接触する端子間の通電状態の変化に基づいて、試料ホルダの種類を識別することができる。したがって、試料ホルダに設けられた複数の第1端子のうち使用していない端子を用いて、試料ホルダの種類を容易に識別することができる。   According to such a configuration, among the plurality of first terminals provided on the sample holder, a pair of terminals that are not connected to the electrical component are short-circuited, whereby a plurality of second terminals provided on the attachment portion. Of the terminals, the type of the sample holder can be identified based on a change in the energization state between the terminals that are in contact with the pair of terminals. Therefore, it is possible to easily identify the type of the sample holder by using an unused terminal among the plurality of first terminals provided on the sample holder.

(2)前記分析装置は、前記複数の第2端子に対して接続された信号切換え装置をさらに備えていてもよい。この場合、前記信号切換え装置を介して複数種類の前記コントローラが前記複数の第2端子に接続可能となっていてもよい。また、前記信号切換え装置は、前記取付部に前記試料ホルダが取り付けられたときに、当該試料ホルダの種類に応じて配線の切替動作を自動で行うことにより、当該試料ホルダに対応する種類のコントローラを前記複数の第2端子に接続してもよい。 (2) The analyzer may further include a signal switching device connected to the plurality of second terminals. In this case, a plurality of types of the controllers may be connectable to the plurality of second terminals via the signal switching device. In addition, the signal switching device automatically performs a wiring switching operation according to the type of the sample holder when the sample holder is mounted on the mounting portion, so that the controller corresponding to the sample holder is used. May be connected to the plurality of second terminals.

このような構成によれば、信号切換え装置により配線の切替動作を自動で行い、取付部に取り付けられた試料ホルダに対応する種類のコントローラを複数の第2端子に自動的に接続することができる。したがって、試料ホルダに対応するコントローラを手動で接続し直す必要がないため、作業が煩雑になるのを防止することができる。   According to such a configuration, the switching operation of the wiring is automatically performed by the signal switching device, and the controller of the type corresponding to the sample holder attached to the attachment portion can be automatically connected to the plurality of second terminals. . Therefore, since it is not necessary to manually reconnect the controller corresponding to the sample holder, the work can be prevented from becoming complicated.

(3)前記複数の第1端子には、前記電気部品に接続されていない端子が複数対あり、各対の端子同士が短絡されていてもよい。この場合、前記信号切換え装置は、前記複数対の端子に対する配線の接続状態を切り替える切替部を有していてもよい。 (3) The plurality of first terminals may include a plurality of pairs of terminals not connected to the electrical component, and the terminals of each pair may be short-circuited. In this case, the signal switching device may include a switching unit that switches a connection state of wirings to the plurality of pairs of terminals.

このような構成によれば、それぞれ短絡された複数対の端子に対する配線の接続状態を切替部で切り替えることにより、さらに多くの試料ホルダの種類を容易に識別することができる。   According to such a configuration, it is possible to easily identify more types of sample holders by switching the connection state of wirings to a plurality of pairs of short-circuited terminals by the switching unit.

本発明によれば、試料ホルダに設けられた複数の第1端子のうち使用していない端子を用いて、試料ホルダの種類を容易に識別することができる。   According to the present invention, the type of the sample holder can be easily identified using the unused terminal among the plurality of first terminals provided on the sample holder.

本発明の一実施形態に係るEPMAの構成例を示した概略図である。It is the schematic which showed the structural example of EPMA which concerns on one Embodiment of this invention. 試料ホルダに関する電気的構成について説明するための概略図である。It is the schematic for demonstrating the electrical structure regarding a sample holder. 信号切換え装置の一例を示した回路図である。It is the circuit diagram which showed an example of the signal switching apparatus. 試料ホルダの第1実施例を示した回路図である。It is the circuit diagram which showed 1st Example of the sample holder. 図4の試料ホルダが試料ステージに取り付けられたときの回路図である。It is a circuit diagram when the sample holder of FIG. 4 is attached to the sample stage. 試料ホルダの第2実施例を示した回路図である。It is the circuit diagram which showed 2nd Example of the sample holder. 図6の試料ホルダが試料ステージに取り付けられたときの回路図である。It is a circuit diagram when the sample holder of FIG. 6 is attached to the sample stage. 図7の状態からジャンパーピンが切り替えられたときの回路図である。It is a circuit diagram when a jumper pin is switched from the state of FIG.

1.電子線マイクロアナライザーの全体構成
図1は、本発明の一実施形態に係るEPMA100の構成例を示した概略図である。EPMA(電子線マイクロアナライザー)100は、分析装置の一例であり、ハウジング1内に試料Sを設置して電子線を照射することにより、試料Sから発生するX線を検出して分析を行うための装置である。分析時には、ハウジング1内が真空状態とされることにより、ハウジング1が真空チャンバとして機能する。EPMA100には、試料ホルダ2、試料ステージ3、電子線照射部4、EDS5、WDS6、二次電子検出器7などが備えられている。
1. Overall Configuration of Electron Beam Microanalyzer FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration example of an EPMA 100 according to an embodiment of the present invention. An EPMA (electron beam microanalyzer) 100 is an example of an analysis apparatus, and in order to detect and analyze X-rays generated from the sample S by installing the sample S in the housing 1 and irradiating the electron beam. It is a device. At the time of analysis, the inside of the housing 1 is evacuated, so that the housing 1 functions as a vacuum chamber. The EPMA 100 includes a sample holder 2, a sample stage 3, an electron beam irradiation unit 4, an EDS 5, a WDS 6, a secondary electron detector 7, and the like.

試料ホルダ2は、試料を保持するための部材であり、試料ステージ3に対して着脱可能である。試料ステージ3は、ハウジング1内に設けられており、水平面内において互いに直交する2軸(X軸及びY軸)と、鉛直方向のZ軸に沿って変位可能である。試料ホルダ2は、試料ステージ3を着脱可能な取付部を構成している。この試料ステージ3の変位を制御することにより、試料Sの表面上における測定領域(電子線が照射される領域)を調整することができる。   The sample holder 2 is a member for holding a sample and is detachable from the sample stage 3. The sample stage 3 is provided in the housing 1 and can be displaced along two axes (X axis and Y axis) orthogonal to each other in the horizontal plane and the vertical Z axis. The sample holder 2 constitutes an attachment part to which the sample stage 3 can be attached and detached. By controlling the displacement of the sample stage 3, the measurement region (the region irradiated with the electron beam) on the surface of the sample S can be adjusted.

電子線照射部4は、電子源41、コンデンサレンズ42、絞り43、走査コイル44、対物レンズ45などを備えている。電子源41から放出される電子線は、コンデンサレンズ42により集光され、絞り43により光束が絞られた後、対物レンズ45により小さいスポット状となって試料Sの表面に照射される。試料Sの表面に照射される電子線は、走査コイル44により、測定領域内で水平方向(X方向及びY方向)に走査される。電子線が照射された試料Sの表面からは、X線が発生し、そのX線がEDS5及びWDS6に入射する。   The electron beam irradiation unit 4 includes an electron source 41, a condenser lens 42, a diaphragm 43, a scanning coil 44, an objective lens 45, and the like. The electron beam emitted from the electron source 41 is collected by the condenser lens 42, the light beam is narrowed by the diaphragm 43, and then irradiated onto the surface of the sample S in a smaller spot shape on the objective lens 45. The electron beam applied to the surface of the sample S is scanned in the horizontal direction (X direction and Y direction) within the measurement region by the scanning coil 44. X-rays are generated from the surface of the sample S irradiated with the electron beam, and the X-rays enter the EDS 5 and the WDS 6.

EDS5は、X線のエネルギースペクトルを求める分光器(エネルギー分散型X線分光器)であり、図示しない半導体検出器及びマルチチャンネルアナライザを備えている。試料SからのX線は、半導体検出器に入射して電気信号に変換され、入射するX線のエネルギーに比例する高さのパルスがマルチチャンネルアナライザに導かれる。これにより、X線エネルギーに対応させた各チャンネルにパルス個数を積算し、X線スペクトルのデータを取得することができる。EDS5は、ハウジング1の外側から着脱可能であり、本実施形態のようにEPMA100に追加で装備することができるが、省略することも可能である。   The EDS 5 is a spectrometer (energy dispersive X-ray spectrometer) that obtains an X-ray energy spectrum, and includes a semiconductor detector and a multi-channel analyzer (not shown). X-rays from the sample S enter the semiconductor detector and are converted into electrical signals, and pulses having a height proportional to the energy of the incident X-rays are guided to the multichannel analyzer. Thereby, the number of pulses can be integrated to each channel corresponding to the X-ray energy, and X-ray spectrum data can be acquired. The EDS 5 is detachable from the outside of the housing 1 and can be additionally provided in the EPMA 100 as in the present embodiment, but can be omitted.

WDS6は、X線の回折現象を利用する分光器(波長分散型X線分光器)であり、分光結晶61及びX線検出器62を備えている。試料SからのX線は、分光素子としての分光結晶61により分光されてX線検出器62に入射する。このとき、分光結晶61に対するX線の入射角を制御することにより、Braggの回折条件を満たす波長のX線のみをX線検出器62で検出し、X線スペクトルのデータを取得することができる。WDS6は、ハウジング1内に複数設けられている。これにより、WDS6の数と同じ数の元素を同時に分析することができる。   The WDS 6 is a spectrometer (wavelength dispersive X-ray spectrometer) that utilizes an X-ray diffraction phenomenon, and includes a spectral crystal 61 and an X-ray detector 62. X-rays from the sample S are split by a spectroscopic crystal 61 as a spectroscopic element and enter an X-ray detector 62. At this time, by controlling the incident angle of the X-ray with respect to the spectroscopic crystal 61, only the X-ray having a wavelength satisfying the Bragg diffraction condition can be detected by the X-ray detector 62, and X-ray spectrum data can be obtained. . A plurality of WDSs 6 are provided in the housing 1. Thereby, the same number of elements as the number of WDS 6 can be analyzed simultaneously.

測定領域は、試料Sの表面上に設定された矩形の領域であり、X方向及びY方向にマトリックス状に配列された複数の画素(測定位置)からなる。測定領域内の各画素について、選択された元素に対応する波長のX線がWDS6のX線検出器62で検出されることによりスペクトルデータが取得され、各スペクトルデータのX線強度を表すX線強度分布が得られる。なお、X線強度は、X線検出器62により検出されるX線の強度に比例する値であり、例えばX線検出器62における一定時間当たりのX線のカウント値である。   The measurement area is a rectangular area set on the surface of the sample S, and includes a plurality of pixels (measurement positions) arranged in a matrix in the X direction and the Y direction. For each pixel in the measurement region, X-rays having a wavelength corresponding to the selected element are detected by the X-ray detector 62 of the WDS 6 to obtain spectrum data, and X-rays representing the X-ray intensity of each spectrum data. An intensity distribution is obtained. The X-ray intensity is a value proportional to the X-ray intensity detected by the X-ray detector 62, for example, an X-ray count value per certain time in the X-ray detector 62.

二次電子検出器7は、試料Sの表面から生じる二次電子を検出する。この二次電子検出器7からの検出信号に基づいて、二次電子像を得ることができる。   The secondary electron detector 7 detects secondary electrons generated from the surface of the sample S. A secondary electron image can be obtained based on the detection signal from the secondary electron detector 7.

2.試料ホルダに関する電気的構成
図2は、試料ホルダ2に関する電気的構成について説明するための概略図である。試料ホルダ2には、モータ、エンコーダ又はセンサといった各種電気部品が備えられている。これらの電気部品に対して信号の入力又は出力を行うために、試料ホルダ2には複数の第1端子31が設けられている。複数の第1端子31の少なくとも一部は、試料ホルダ2に備えられた電気部品に対して電気的に接続されている。
2. FIG. 2 is a schematic diagram for explaining an electrical configuration related to the sample holder 2. The sample holder 2 is provided with various electric parts such as a motor, an encoder or a sensor. In order to input or output signals to these electrical components, the sample holder 2 is provided with a plurality of first terminals 31. At least some of the plurality of first terminals 31 are electrically connected to the electrical components provided in the sample holder 2.

試料ステージ3には、複数の第2端子32が設けられている。第2端子32の数は、例えば第1端子31の数と同数である。試料ホルダ2を試料ステージ3に取り付けたときには、試料ホルダ2の複数の第1端子31が、試料ステージ3の複数の第2端子32に対して、それぞれ1対1で接触するようになっている。   The sample stage 3 is provided with a plurality of second terminals 32. The number of second terminals 32 is the same as the number of first terminals 31, for example. When the sample holder 2 is attached to the sample stage 3, the plurality of first terminals 31 of the sample holder 2 are in contact with the plurality of second terminals 32 of the sample stage 3 on a one-to-one basis. .

試料ステージ3の複数の第2端子32には配線が接続されており、その配線がコネクタ10を介して信号切換え装置200に接続されている。コネクタ10は、いわゆるフィードスルーコネクタであり、真空チャンバ内(ハウジング1内)と大気中との間での電気的接続を可能とする。この例では、コネクタ10は、第1コネクタ11及び第2コネクタ12の2つで構成されているが、1つのコネクタで構成されていてもよいし、3つ以上のコネクタで構成されていてもよい。   Wiring is connected to the plurality of second terminals 32 of the sample stage 3, and the wiring is connected to the signal switching device 200 via the connector 10. The connector 10 is a so-called feedthrough connector, and enables electrical connection between the vacuum chamber (in the housing 1) and the atmosphere. In this example, the connector 10 is composed of the first connector 11 and the second connector 12, but may be composed of one connector, or may be composed of three or more connectors. Good.

信号切換え装置200には、複数種類のコントローラ300が接続されている。信号切換え装置200は、試料ステージ3の複数の第2端子32に対して、いずれのコントローラ300を接続するかを自動的に切り替えるための装置である。すなわち、複数種類のコントローラ300は、信号切換え装置200による切替動作に伴って、当該信号切換え装置200を介して複数の第2端子32に接続可能となっている。   A plurality of types of controllers 300 are connected to the signal switching device 200. The signal switching device 200 is a device for automatically switching which controller 300 is connected to the plurality of second terminals 32 of the sample stage 3. That is, the plurality of types of controllers 300 can be connected to the plurality of second terminals 32 via the signal switching device 200 in accordance with the switching operation by the signal switching device 200.

各コントローラ300は、ハウジング1の外部に設けられ、信号切換え装置200の切替動作により接続された試料ステージ3の複数の第2端子32を介して、試料ホルダ2の複数の第1端子31との間で信号の入力又は出力を行う。具体的には、各コントローラ300には、試料ホルダ2に備えられたエンコーダ又はセンサなどの電気部品から、第1端子31及び第2端子32を介して信号が入力される。また、各コントローラ300は、試料ホルダ2に備えられたモータなどの電気部品に対して、第2端子32及び第1端子31を介して信号を出力する。   Each controller 300 is provided outside the housing 1 and connected to the plurality of first terminals 31 of the sample holder 2 via the plurality of second terminals 32 of the sample stage 3 connected by the switching operation of the signal switching device 200. Input or output signals between. Specifically, a signal is input to each controller 300 from an electrical component such as an encoder or a sensor provided in the sample holder 2 via the first terminal 31 and the second terminal 32. Each controller 300 outputs a signal to the electric component such as a motor provided in the sample holder 2 via the second terminal 32 and the first terminal 31.

3.信号切換え装置の回路図
図3は、信号切換え装置200の一例を示した回路図である。この例では、コントローラ300として、XコントローラとYコントローラの2つが信号切換え装置200に接続されている場合について説明する。
3. Circuit Diagram of Signal Switching Device FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of the signal switching device 200. In this example, a case where two controllers, an X controller and a Y controller, are connected to the signal switching device 200 will be described.

信号切換え装置200には、Xコントローラに接続された第1接続部201と、Yコントローラに接続された第2接続部202とが備えられている。第1接続部201及び第2接続部202は、リレー203を介してコネクタ10(第1コネクタ11及び第2コネクタ12)に接続されている。すなわち、リレー203の切替によって、第1接続部201に接続されたXコントローラ、又は、第2接続部202に接続されたYコントローラのいずれかをコネクタ10に接続することができるようになっている。   The signal switching device 200 includes a first connection unit 201 connected to the X controller and a second connection unit 202 connected to the Y controller. The first connection unit 201 and the second connection unit 202 are connected to the connector 10 (the first connector 11 and the second connector 12) via the relay 203. That is, by switching the relay 203, either the X controller connected to the first connection unit 201 or the Y controller connected to the second connection unit 202 can be connected to the connector 10. .

信号切換え装置200には、通電状態をオン又はオフに切り替えるためのフォトカプラ211,212,213が備えられている。フォトカプラ211は、オン状態のときにコネクタ10(第2コネクタ12)と第1接続部201とを電気的に接続する。フォトカプラ212は、オン状態のときにコネクタ10(第2コネクタ12)と第2接続部202とを電気的に接続する。フォトカプラ213は、オン状態のときにリレー203を通電させ、当該リレー203を切り替える。また、信号切換え装置200には、フォトカプラ212及びフォトカプラ213に対する配線の接続状態を切り替えるためのジャンパーピン220が備えられている。   The signal switching device 200 is provided with photocouplers 211, 212, and 213 for switching the energized state to on or off. The photocoupler 211 electrically connects the connector 10 (second connector 12) and the first connection unit 201 when in the on state. The photocoupler 212 electrically connects the connector 10 (second connector 12) and the second connection unit 202 when in the on state. The photocoupler 213 energizes the relay 203 when in the on state, and switches the relay 203. Further, the signal switching device 200 is provided with a jumper pin 220 for switching the connection state of the wiring to the photocoupler 212 and the photocoupler 213.

4.試料ホルダの第1実施例
図4は、試料ホルダ2の第1実施例を示した回路図である。この第1実施例における試料ホルダ2(試料ホルダ2A)には、「1」〜「12」の番号が割り当てられた12個の第1端子31が備えられている。
4). First Example of Sample Holder FIG. 4 is a circuit diagram showing a first example of the sample holder 2. The sample holder 2 (sample holder 2A) in the first embodiment is provided with twelve first terminals 31 to which numbers “1” to “12” are assigned.

この試料ホルダ2Aは、DCモータ、エンコーダなどの電気部品を備えており、これらの電気部品が一部の第1端子31に接続されている。また、電気部品が接続されていない残りの第1端子31の少なくとも一部が、互いに短絡されている。この例では、「9」と「11」の番号に対応する1対の第1端子31同士が、配線などで接続されることにより短絡されている。   The sample holder 2 </ b> A includes electrical components such as a DC motor and an encoder, and these electrical components are connected to some first terminals 31. Further, at least a part of the remaining first terminals 31 to which no electrical component is connected are short-circuited to each other. In this example, a pair of first terminals 31 corresponding to the numbers “9” and “11” are short-circuited by being connected by wiring or the like.

5.第1実施例の試料ホルダを取り付けた場合の回路図
図5は、図4の試料ホルダ2Aが試料ステージ3に取り付けられたときの回路図である。
5. FIG. 5 is a circuit diagram when the sample holder 2 </ b> A of FIG. 4 is attached to the sample stage 3.

コネクタ10(第1コネクタ11及び第2コネクタ12)には、試料ホルダ2Aの複数の第1端子31に対して1対1に対応付けられた端子が備えられている。具体的には、第1コネクタ11には、「1」〜「7」の番号が割り当てられた7個の端子が備えられており、第2コネクタ12には、「1」〜「7」の番号が割り当てられた7個の端子が割り当てられている。図5では、試料ステージ3からコネクタ10までの配線を省略して示しているが、コネクタ10の上記端子は、試料ステージ3に備えられた複数の第2端子32に対して1対1に対応付けられている。   The connector 10 (the first connector 11 and the second connector 12) is provided with terminals that are associated one-to-one with the plurality of first terminals 31 of the sample holder 2A. Specifically, the first connector 11 includes seven terminals assigned numbers “1” to “7”, and the second connector 12 includes “1” to “7”. Seven terminals to which numbers are assigned are assigned. In FIG. 5, wiring from the sample stage 3 to the connector 10 is omitted, but the terminals of the connector 10 correspond one-to-one with the plurality of second terminals 32 provided in the sample stage 3. It is attached.

試料ホルダ2Aが試料ステージ3に取り付けられた状態では、図5に示すように、試料ホルダ2Aの互いに短絡した1対の第1端子31(「9」及び「11」)が、第2コネクタ12の対応する端子(「3」及び「5」)に接続される。これにより、第2コネクタ12の端子「3」に接続されたフォトカプラ211が通電され、オン状態となる。その結果、第2コネクタ12がフォトカプラ211及び第1接続部201を介してXコントローラに接続された状態となるため、試料ホルダ2Aが試料ステージ3に取り付けられたことをXコントローラにおいて確認することができる。すなわち、Xコントローラは、互いに短絡した1対の第1端子31(「9」及び「11」)に接触する第2端子32間の通電状態の変化(非通電から通電への変化)に基づいて、試料ホルダ2の種類がXコントローラに対応する試料ホルダ2Aであることを識別することができる。   In the state where the sample holder 2A is attached to the sample stage 3, as shown in FIG. 5, the pair of first terminals 31 (“9” and “11”) short-circuited to each other of the sample holder 2A are connected to the second connector 12. Are connected to corresponding terminals ("3" and "5"). As a result, the photocoupler 211 connected to the terminal “3” of the second connector 12 is energized and turned on. As a result, since the second connector 12 is connected to the X controller via the photocoupler 211 and the first connection unit 201, the X controller confirms that the sample holder 2A is attached to the sample stage 3. Can do. That is, the X controller is based on a change in energization state (change from non-energization to energization) between the second terminals 32 that are in contact with the pair of first terminals 31 ("9" and "11") that are short-circuited with each other. It can be identified that the type of the sample holder 2 is the sample holder 2A corresponding to the X controller.

この状態では、コネクタ10がリレー203を介して第1接続部201に接続されることにより、試料ホルダ2Aの各電気部品がXコントローラに接続されている。したがって、Xコントローラは、試料ホルダ2Aの各電気部品との間で信号の入力又は出力を行うことができる。   In this state, the connector 10 is connected to the first connection portion 201 via the relay 203, whereby each electrical component of the sample holder 2A is connected to the X controller. Therefore, the X controller can input or output a signal with each electric component of the sample holder 2A.

6.試料ホルダの第2実施例
図6は、試料ホルダ2の第2実施例を示した回路図である。この第2実施例における試料ホルダ2(試料ホルダ2B)には、「1」〜「12」の番号が割り当てられた12個の第1端子31が備えられている。
6). Second Example of Sample Holder FIG. 6 is a circuit diagram showing a second example of the sample holder 2. The sample holder 2 (sample holder 2B) in the second embodiment is provided with twelve first terminals 31 to which numbers “1” to “12” are assigned.

この試料ホルダ2Bは、DCモータ、位置センサなどの電気部品を備えており、これらの電気部品が一部の第1端子31に接続されている。また、電気部品が接続されていない残りの第1端子31の少なくとも一部が、互いに短絡されている。この例では、「11」と「12」の番号に対応する1対の第1端子31同士が短絡されるとともに、「7」と「8」の番号に対応する1対の第1端子31同士が短絡されている。   The sample holder 2 </ b> B includes electrical components such as a DC motor and a position sensor, and these electrical components are connected to some first terminals 31. Further, at least a part of the remaining first terminals 31 to which no electrical component is connected are short-circuited to each other. In this example, a pair of first terminals 31 corresponding to the numbers “11” and “12” are short-circuited, and a pair of first terminals 31 corresponding to the numbers “7” and “8” are connected to each other. Is short-circuited.

すなわち、この第2実施例における試料ホルダ2Bの複数の第1端子31には、電気部品に接続されていない端子が複数対(例えば2対)あり、各対の端子同士が短絡されている。信号切換え装置200に備えられたジャンパーピン220は、電気部品に接続されていない複数対の第1端子31に対する配線の接続状態を切り替えるための切替部として機能する。   That is, in the plurality of first terminals 31 of the sample holder 2B in the second embodiment, there are a plurality of pairs (for example, two pairs) of terminals that are not connected to electrical components, and the terminals of each pair are short-circuited. The jumper pin 220 provided in the signal switching device 200 functions as a switching unit for switching the connection state of the wiring to the plurality of pairs of first terminals 31 not connected to the electrical component.

7.第2実施例の試料ホルダを取り付けた場合の回路図
図7は、図6の試料ホルダ2Bが試料ステージ3に取り付けられたときの回路図である。
7). FIG. 7 is a circuit diagram when the sample holder 2 </ b> B of FIG. 6 is attached to the sample stage 3.

試料ホルダ2Bが試料ステージ3に取り付けられた状態では、図7に示すように、試料ホルダ2Bの互いに短絡した1対の第1端子31(「11」及び「12」)が、第2コネクタ12の対応する端子(「5」及び「6」)に接続される。また、試料ホルダ2Bの互いに短絡した別の1対の第1端子31(「7」及び「8」)が、第2コネクタ12の対応する端子(「1」及び「2」)に接続される。   In a state where the sample holder 2B is attached to the sample stage 3, as shown in FIG. 7, a pair of first terminals 31 ("11" and "12") short-circuited to each other of the sample holder 2B are connected to the second connector 12. Are connected to corresponding terminals ("5" and "6"). Further, another pair of first terminals 31 (“7” and “8”) that are short-circuited with each other in the sample holder 2B are connected to corresponding terminals (“1” and “2”) of the second connector 12. .

図7の状態では、ジャンパーピン220により、フォトカプラ212及びフォトカプラ213が第2コネクタ12の端子「6」に接続され、フォトカプラ212及びフォトカプラ213がいずれも通電されてオン状態となる。その結果、第2コネクタ12がフォトカプラ212及び第2接続部202を介してYコントローラに接続された状態となるため、試料ホルダ2Bが試料ステージ3に取り付けられたことをYコントローラにおいて確認することができる。すなわち、Yコントローラは、互いに短絡した1対の第1端子31(「11」及び「12」)に接触する第2端子32間の通電状態の変化(非通電から通電への変化)に基づいて、試料ホルダ2の種類がYコントローラに対応する試料ホルダ2Bであることを識別することができる。   In the state of FIG. 7, the photocoupler 212 and the photocoupler 213 are connected to the terminal “6” of the second connector 12 by the jumper pin 220, and both the photocoupler 212 and the photocoupler 213 are energized and turned on. As a result, since the second connector 12 is connected to the Y controller via the photocoupler 212 and the second connecting portion 202, the Y controller confirms that the sample holder 2B is attached to the sample stage 3. Can do. That is, the Y controller is based on a change in energization state (change from non-energization to energization) between the second terminals 32 contacting the pair of first terminals 31 ("11" and "12") that are short-circuited with each other. It can be identified that the type of the sample holder 2 is the sample holder 2B corresponding to the Y controller.

この状態では、フォトカプラ213がオン状態となることにより、リレー203が通電され、図7に示すように当該リレー203が切り替えられる。これにより、コネクタ10がリレー203を介して第2接続部202に接続され、試料ホルダ2Bの各電気部品がYコントローラに接続された状態となる。したがって、Yコントローラは、試料ホルダ2Bの各電気部品との間で信号の入力又は出力を行うことができる。   In this state, when the photocoupler 213 is turned on, the relay 203 is energized, and the relay 203 is switched as shown in FIG. As a result, the connector 10 is connected to the second connection portion 202 via the relay 203, and each electrical component of the sample holder 2B is connected to the Y controller. Therefore, the Y controller can input or output signals to / from each electrical component of the sample holder 2B.

このように、信号切換え装置200は、Xコントローラに対応する試料ホルダ2Aが試料ステージ3に取り付けられたときと、Yコントローラに対応する試料ホルダ2Bが試料ステージ3に取り付けられたときとで、配線の切替動作を自動で行う。すなわち、試料ステージ3に試料ホルダ2が取り付けられたときに、その試料ホルダ2の種類(試料ホルダ2A又は試料ホルダ2B)に応じて、信号切換え装置200がリレー203による配線の切替動作を自動で行うことにより、試料ホルダ2に対応する種類のコントローラ(Xコントローラ又はYコントローラ)が試料ステージ3の複数の第2端子32に接続される。   As described above, the signal switching device 200 performs wiring between when the sample holder 2A corresponding to the X controller is attached to the sample stage 3 and when the sample holder 2B corresponding to the Y controller is attached to the sample stage 3. The switching operation is automatically performed. That is, when the sample holder 2 is attached to the sample stage 3, the signal switching device 200 automatically switches the wiring by the relay 203 in accordance with the type of the sample holder 2 (sample holder 2A or sample holder 2B). By doing so, a type of controller (X controller or Y controller) corresponding to the sample holder 2 is connected to the plurality of second terminals 32 of the sample stage 3.

8.ジャンパーピンの切替
図8は、図7の状態からジャンパーピン220が切り替えられたときの回路図である。例えば、コントローラ300として、Yコントローラとは異なるZコントローラを第2接続部202に接続した場合、ジャンパーピン220を切り替えることにより、Zコントローラに対応する試料ホルダ2をZコントローラにおいて識別することができる。なお、図8の例では、1つの試料ホルダ2Bが、Yコントローラ及びZコントローラに共用できるような構成となっている。
8). Switching of Jumper Pin FIG. 8 is a circuit diagram when the jumper pin 220 is switched from the state of FIG. For example, when a Z controller different from the Y controller is connected to the second connection unit 202 as the controller 300, the sample holder 2 corresponding to the Z controller can be identified in the Z controller by switching the jumper pin 220. In the example of FIG. 8, one sample holder 2B is configured to be shared by the Y controller and the Z controller.

図8の状態では、ジャンパーピン220により、フォトカプラ212及びフォトカプラ213が第2コネクタ12の端子「1」に接続され、フォトカプラ212及びフォトカプラ213がいずれも通電されてオン状態となる。その結果、第2コネクタ12がフォトカプラ212及び第2接続部202を介してZコントローラに接続された状態となるため、試料ホルダ2Bが試料ステージ3に取り付けられたことをZコントローラにおいて確認することができる。すなわち、Zコントローラは、互いに短絡した1対の第1端子31(「7」及び「8」)に接触する第2端子32間の通電状態の変化(非通電から通電への変化)に基づいて、試料ホルダ2の種類がZコントローラに対応する試料ホルダ2Bであることを識別することができる。   In the state of FIG. 8, the jumper pin 220 connects the photocoupler 212 and the photocoupler 213 to the terminal “1” of the second connector 12, and both the photocoupler 212 and the photocoupler 213 are energized and turned on. As a result, since the second connector 12 is connected to the Z controller via the photocoupler 212 and the second connecting portion 202, the Z controller confirms that the sample holder 2B is attached to the sample stage 3. Can do. That is, the Z controller is based on a change in energization state (change from non-energization to energization) between the second terminals 32 that are in contact with the pair of first terminals 31 ("7" and "8") that are short-circuited with each other. It can be identified that the type of the sample holder 2 is the sample holder 2B corresponding to the Z controller.

この状態では、フォトカプラ213がオン状態となることにより、リレー203が通電され、図8に示すように当該リレー203が切り替えられる。これにより、コネクタ10がリレー203を介して第2接続部202に接続され、試料ホルダ2Bの各電気部品がZコントローラに接続された状態となる。したがって、Zコントローラは、試料ホルダ2Bの各電気部品との間で信号の入力又は出力を行うことができる。   In this state, when the photocoupler 213 is turned on, the relay 203 is energized, and the relay 203 is switched as shown in FIG. As a result, the connector 10 is connected to the second connection portion 202 via the relay 203, and each electrical component of the sample holder 2B is connected to the Z controller. Therefore, the Z controller can input or output signals to / from each electrical component of the sample holder 2B.

図8の例では、1つの試料ホルダ2Bが、Yコントローラ及びZコントローラに共用できるような構成について説明したが、Yコントローラ用とZコントローラ用とで別の試料ホルダ2を用いてもよい。この場合、Yコントローラ用の試料ホルダ2では、「11」と「12」の番号に対応する1対の第1端子31同士が短絡されており、Zコントローラ用の試料ホルダ2では、「7」と「8」の番号に対応する1対の第1端子31同士が短絡されていればよい。   In the example of FIG. 8, the configuration in which one sample holder 2B can be shared by the Y controller and the Z controller has been described. However, different sample holders 2 may be used for the Y controller and the Z controller. In this case, in the sample holder 2 for the Y controller, the pair of first terminals 31 corresponding to the numbers “11” and “12” are short-circuited, and in the sample holder 2 for the Z controller, “7”. And the pair of first terminals 31 corresponding to the numbers “8” may be short-circuited.

9.作用効果
(1)本実施形態では、試料ホルダ2に設けられた複数の第1端子31のうち、電気部品に接続されていない1対の端子同士を短絡させることにより、試料ステージ3に設けられた複数の第2端子32のうち、これらの1対の端子に接触する端子間の通電状態の変化に基づいて、試料ホルダ2の種類を識別することができる。したがって、試料ホルダ2に設けられた複数の第1端子31のうち使用していない端子を用いて、試料ホルダ2の種類を容易に識別することができる。
9. Effect (1) In this embodiment, it is provided in the sample stage 3 by short-circuiting a pair of terminals which are not connected to the electrical component among the plurality of first terminals 31 provided in the sample holder 2. The type of the sample holder 2 can be identified based on the change in the energization state between the terminals that are in contact with the pair of terminals among the plurality of second terminals 32. Therefore, it is possible to easily identify the type of the sample holder 2 by using an unused terminal among the plurality of first terminals 31 provided on the sample holder 2.

(2)また、本実施形態では、信号切換え装置200により配線の切替動作を自動で行い、試料ステージ3に取り付けられた試料ホルダ2に対応する種類のコントローラ300を複数の第2端子32に自動的に接続することができる。したがって、試料ホルダ2に対応するコントローラ300を手動で接続し直す必要がないため、作業が煩雑になるのを防止することができる。 (2) In this embodiment, the signal switching device 200 automatically performs the wiring switching operation, and the controller 300 of the type corresponding to the sample holder 2 attached to the sample stage 3 is automatically applied to the plurality of second terminals 32. Can be connected. Therefore, since it is not necessary to manually reconnect the controller 300 corresponding to the sample holder 2, the work can be prevented from becoming complicated.

(3)また、本実施形態では、それぞれ短絡された複数対の端子に対する配線の接続状態をジャンパーピン220で切り替えることにより、さらに多くの試料ホルダ2の種類を容易に識別することができる。 (3) Further, in this embodiment, by switching the connection state of the wirings to a plurality of pairs of short-circuited terminals with the jumper pins 220, more types of sample holders 2 can be easily identified.

10.変形例
試料ホルダ2が取り付けられる取付部は、X方向、Y方向及びZ方向に変位可能な試料ステージ3に限らず、X方向、Y方向及びZ方向のいずれか1方向又は2方向にのみ変位可能な試料ステージであってもよいし、単に試料ホルダ2が取り付けられるだけの取付部であってもよい。また回転や傾斜が可能なステージであってもよい。
10. Modification The mounting portion to which the sample holder 2 is mounted is not limited to the sample stage 3 that can be displaced in the X direction, Y direction, and Z direction, but can be displaced only in one direction or two directions of the X direction, Y direction, and Z direction. It may be a possible sample stage, or may be an attachment portion to which the sample holder 2 is simply attached. Moreover, the stage which can be rotated or inclined may be used.

本発明は、EDS5を備えていないEPMAにも適用可能である。また、本発明は、EPMA以外の分析装置にも適用可能である。例えば、電子線が照射された試料から生じる二次電子を検出して試料表面を観察するための走査型電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)の他、試料にX線を照射することにより分析を行う分析装置などにも、本発明を適用することができる。   The present invention is also applicable to EPMA that does not include EDS5. The present invention can also be applied to analyzers other than EPMA. For example, in addition to a scanning electron microscope (SEM) for detecting secondary electrons generated from a sample irradiated with an electron beam and observing the sample surface, analysis is performed by irradiating the sample with X-rays. The present invention can also be applied to an analysis apparatus to be performed.

1 ハウジング
2,2A,2B 試料ホルダ
3 試料ステージ
4 電子線照射部
5 EDS(エネルギー分散型X線分光器)
6 WDS(波長分散型X線分光器)
7 二次電子検出器
10 コネクタ
31 第1端子
32 第2端子
100 EPMA(電子線マイクロアナライザー)
200 信号切換え装置
201 第1接続部
202 第2接続部
203 リレー
211,212,213 フォトカプラ
220 ジャンパーピン
300 コントローラ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Housing 2, 2A, 2B Sample holder 3 Sample stage 4 Electron beam irradiation part 5 EDS (energy dispersive X-ray spectrometer)
6 WDS (wavelength dispersive X-ray spectrometer)
7 Secondary Electron Detector 10 Connector 31 First Terminal 32 Second Terminal 100 EPMA (Electron Beam Microanalyzer)
200 Signal Switching Device 201 First Connection Unit 202 Second Connection Unit 203 Relay 211, 212, 213 Photocoupler 220 Jumper Pin 300 Controller

Claims (3)

真空チャンバ内の試料に電子線又はX線を照射することにより分析を行う分析装置であって、
試料を保持する試料ホルダと、
前記真空チャンバ内に設けられ、前記試料ホルダを着脱可能な取付部と、
前記試料ホルダに設けられ、当該試料ホルダに備えられた電気部品にそれぞれ電気的に接続された端子を含む複数の第1端子と、
前記取付部に設けられ、当該取付部に取り付けられた前記試料ホルダの前記複数の第1端子にそれぞれ接触する複数の第2端子と、
前記真空チャンバの外部に設けられ、前記複数の第2端子を介して前記複数の第1端子との間で信号の入力又は出力を行うコントローラとを備え、
前記複数の第1端子のうち、前記電気部品に接続されていない1対の端子同士が短絡されており、
前記コントローラは、前記複数の第2端子のうち、前記取付部に前記試料ホルダを取り付けたときに前記1対の端子に接触する端子間の通電状態の変化に基づいて、前記試料ホルダの種類を識別することを特徴とする分析装置。
An analyzer that performs analysis by irradiating an electron beam or X-rays to a sample in a vacuum chamber,
A sample holder for holding the sample;
A mounting portion provided in the vacuum chamber, to which the sample holder can be attached and detached;
A plurality of first terminals including terminals provided on the sample holder and electrically connected to electrical components provided on the sample holder;
A plurality of second terminals that are provided in the mounting portion and respectively contact the plurality of first terminals of the sample holder attached to the mounting portion;
A controller that is provided outside the vacuum chamber and that inputs or outputs a signal to or from the plurality of first terminals via the plurality of second terminals,
Of the plurality of first terminals, a pair of terminals not connected to the electrical component are short-circuited,
The controller determines the type of the sample holder based on a change in an energization state between the terminals that contact the pair of terminals when the sample holder is attached to the attachment portion among the plurality of second terminals. An analyzer characterized by identifying.
前記複数の第2端子に対して接続された信号切換え装置をさらに備え、
前記信号切換え装置を介して複数種類の前記コントローラが前記複数の第2端子に接続可能となっており、
前記信号切換え装置は、前記取付部に前記試料ホルダが取り付けられたときに、当該試料ホルダの種類に応じて配線の切替動作を自動で行うことにより、当該試料ホルダに対応する種類のコントローラを前記複数の第2端子に接続することを特徴とする請求項1に記載の分析装置。
A signal switching device connected to the plurality of second terminals;
A plurality of types of the controllers can be connected to the plurality of second terminals via the signal switching device,
When the sample holder is attached to the attachment portion, the signal switching device automatically performs a wiring switching operation in accordance with the type of the sample holder, so that the type of controller corresponding to the sample holder is The analyzer according to claim 1, wherein the analyzer is connected to a plurality of second terminals.
前記複数の第1端子には、前記電気部品に接続されていない端子が複数対あり、各対の端子同士が短絡されており、
前記信号切換え装置は、前記複数対の端子に対する配線の接続状態を切り替える切替部を有することを特徴とする請求項2に記載の分析装置。
The plurality of first terminals have a plurality of pairs of terminals not connected to the electrical component, and the terminals of each pair are short-circuited,
The analysis apparatus according to claim 2, wherein the signal switching device includes a switching unit that switches a connection state of wirings to the plurality of pairs of terminals.
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