JP2018155539A - Determination device - Google Patents
Determination device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018155539A JP2018155539A JP2017051130A JP2017051130A JP2018155539A JP 2018155539 A JP2018155539 A JP 2018155539A JP 2017051130 A JP2017051130 A JP 2017051130A JP 2017051130 A JP2017051130 A JP 2017051130A JP 2018155539 A JP2018155539 A JP 2018155539A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- state
- determination
- unit
- state value
- insulated wire
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
本願明細書に開示される技術は、たとえば、絶縁被覆の皮剥ぎ状態を判定する技術に関するものである。 The technique disclosed in the present specification relates to a technique for determining a peeled state of an insulating coating, for example.
絶縁電線の状態を検査する手法の1つに、絶縁電線の検査対象となる箇所を撮像して、得られた撮像データを画像解析することによって、当該検査を行う方法がある。 One of the methods for inspecting the state of an insulated wire is a method of performing the inspection by imaging a portion to be inspected of the insulated wire and analyzing the obtained imaging data.
たとえば、絶縁電線の端部における絶縁被覆の皮剥ぎ状態に関しても、皮剥ぎされた箇所において露出する芯線の位置、芯線の長さ、および、芯線の太さなどが適切であるか否かについて検査される。 For example, regarding the stripping state of the insulation coating at the end of the insulated wire, it is inspected whether the position of the core wire exposed at the stripped part, the length of the core wire, the thickness of the core wire, etc. are appropriate Is done.
たとえば、特許文献1(特開2014−134409号公報)に例示される場合では、高速移動する絶縁電線の皮剥ぎ部分を2次元CCDセンサーで撮像して、さらに、得られた撮像データを画像解析することによって、皮剥ぎ不良を検出している。 For example, in the case exemplified in Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-134409), a skinned portion of an insulated wire that moves at high speed is imaged with a two-dimensional CCD sensor, and the obtained imaging data is subjected to image analysis. By doing so, a skin peeling defect is detected.
絶縁電線の端部における絶縁被覆の皮剥ぎ状態を検査する場合、皮剥ぎ状態の良否を判定するための基準値が必要となる。従来は、あらかじめ撮像された絶縁電線の複数の撮像データのうちからランダムに選択された撮像データを用いた画像解析によって基準値を測定していた。 When inspecting the skinned state of the insulation coating at the end of the insulated wire, a reference value for determining the quality of the skinned state is required. Conventionally, the reference value is measured by image analysis using imaging data randomly selected from a plurality of imaging data of the insulated wires imaged in advance.
そして、新たに撮像された絶縁電線の撮像データから測定された値が、上記の基準値に公差を加えた範囲内にあるか否かによって、絶縁電線の皮剥ぎ状態の良否を判定していた。 And whether the value measured from the imaged data of the newly-insulated insulated wire is within the range obtained by adding the tolerance to the above-mentioned reference value determines the quality of the insulated wire. .
そのため、ランダムに選択された上記の撮像データから測定される基準値が、実際の良品のばらつき範囲から大きく外れている場合には、絶縁電線の皮剥ぎ状態の良否が適切に判定されないという問題があった。 Therefore, when the reference value measured from the above-mentioned randomly selected imaging data is greatly deviated from the actual variation range of good products, there is a problem that the quality of the peeled state of the insulated wires is not properly determined. there were.
本願明細書に開示される技術は、以上に記載されたような問題を解決するためになされたものであり、絶縁電線の皮剥ぎ状態の良否を適切に判定するための技術に関するものである。 The technology disclosed in the present specification has been made to solve the problems described above, and relates to a technology for appropriately determining the quality of a peeled state of an insulated wire.
本願明細書に開示される技術の第1の態様は、芯線と前記芯線を被覆する絶縁被覆とを備える絶縁電線の、前記絶縁被覆が皮剥ぎされた端部を順次撮像する撮像部と、前記撮像部によって撮像された前記絶縁電線の撮像データに基づいて、前記絶縁電線の端部における前記絶縁被覆の皮剥ぎ状態を示す状態値を取得する状態取得部と、状態取得部によって順次取得された複数の前記状態値に基づいて、判定基準を算出する基準算出部と、前記判定基準に基づいて、新たに取得される前記状態値の良否を判定する判定部とを備える。 According to a first aspect of the technology disclosed in the specification of the present application, an imaging unit that sequentially images an end portion of an insulated wire that includes a core wire and an insulating coating that covers the core wire and the insulating coating is peeled off; and Based on imaging data of the insulated wire imaged by the imaging unit, a state acquisition unit that acquires a state value indicating a peeled state of the insulating coating at an end of the insulated wire, and a state acquisition unit sequentially acquired A reference calculation unit that calculates a determination criterion based on the plurality of state values, and a determination unit that determines whether the state value newly acquired is acceptable based on the determination criterion.
また、本願明細書に開示される技術の第2の態様は、第1の態様に関連し、前記基準算出部は、最後に得られた前記状態値からあらかじめ定められた数だけ前までに得られた前記状態値に基づいて、前記判定基準を算出する。 Further, a second aspect of the technology disclosed in the specification of the present application relates to the first aspect, and the reference calculation unit obtains a predetermined number of times before the state value obtained last. The determination criterion is calculated based on the obtained state value.
また、本願明細書に開示される技術の第3の態様は、第1の態様または第2の態様に関連し、前記状態取得部は、前記状態値として、前記絶縁電線の端部において露出している前記芯線の根元部分の太さ、露出している前記芯線の最大太さ、露出している前記芯線と前記絶縁被覆との境界位置、および、露出している前記芯線の長手方向の長さのうちの少なくとも1つを測定する。 Further, a third aspect of the technology disclosed in the specification of the present application is related to the first aspect or the second aspect, and the state acquisition unit is exposed at the end of the insulated wire as the state value. The thickness of the root portion of the core wire that is exposed, the maximum thickness of the exposed core wire, the boundary position between the exposed core wire and the insulation coating, and the length of the exposed core wire in the longitudinal direction Measure at least one of the parameters.
また、本願明細書に開示される技術の第4の態様は、第1の態様から第3の態様のうちのいずれか1つに関連し、前記基準算出部は、前記状態値のばらつきが正規分布にしたがうと仮定して前記判定基準を算出する。 Further, a fourth aspect of the technology disclosed in the specification of the present application is related to any one of the first aspect to the third aspect, and the reference calculation unit is configured such that the variation in the state value is normal. The determination criterion is calculated on the assumption that the distribution follows.
また、本願明細書に開示される技術の第5の態様は、第1の態様から第4の態様のうちのいずれか1つに関連し、前記基準算出部は、前記状態値が第1の範囲を外れる場合、当該状態値を除いて前記判定基準を算出する。 Further, a fifth aspect of the technology disclosed in the specification of the present application relates to any one of the first to fourth aspects, and the reference calculation unit has the state value of the first state. When out of the range, the determination criterion is calculated by removing the state value.
また、本願明細書に開示される技術の第6の態様は、第1の態様から第5の態様のうちのいずれか1つに関連し、前記判定装置は、さらに、前記判定基準が第2の範囲を外れる場合に報知する報知部を備える。 Further, a sixth aspect of the technology disclosed in the specification of the present application is related to any one of the first aspect to the fifth aspect, and the determination device further includes a second determination criterion. An informing unit for informing when the range is exceeded is provided.
本願明細書に開示される技術の第1の態様によれば、絶縁電線の皮剥ぎ状態の良否を適切に判定することができる。 According to the first aspect of the technology disclosed in the specification of the present application, it is possible to appropriately determine the quality of the peeled state of the insulated wire.
特に、第2の態様によれば、直近に得られた状態値に基づいて判定基準を算出することができる。 In particular, according to the second aspect, the determination criterion can be calculated based on the most recently obtained state value.
特に、第3の態様によれば、測定値に基づいて、絶縁電線の端部における皮剥ぎ状態の良否を判定することができる。 In particular, according to the 3rd aspect, the quality of the peeling state in the edge part of an insulated wire can be determined based on a measured value.
特に、第4の態様によれば、たとえば、標準偏差3σの範囲内に状態値が含まれる場合を、絶縁電線の端部における皮剥ぎ状態が良い状態である場合であるとすることができる。 In particular, according to the fourth aspect, for example, the case where the state value is included in the range of the standard deviation 3σ can be determined to be the case where the peeled state at the end of the insulated wire is in a good state.
特に、第5の態様によれば、測定された状態値が、実際の良品のばらつき範囲から大きく外れる場合であっても、判定基準を適切な値のまま維持することができる。 In particular, according to the fifth aspect, even when the measured state value deviates greatly from the actual variation range of non-defective products, the determination criterion can be maintained at an appropriate value.
特に、第6の態様によれば、判定基準が変動したことを報知によって認識することができる。そして、判定基準の推移を参照することによって、機構全体の経時変化を監視することもできる。 In particular, according to the sixth aspect, it is possible to recognize by notification that the criterion has changed. Then, by referring to the transition of the judgment standard, it is possible to monitor the change over time of the entire mechanism.
本願明細書に開示される技術に関する目的と、特徴と、局面と、利点とは、以下に示される詳細な説明と添付図面とによって、さらに明白となる。 The objectives, features, aspects, and advantages of the technology disclosed in this specification will become more apparent from the detailed description and the accompanying drawings provided below.
以下、添付される図面を参照しながら実施の形態について説明する。 Embodiments will be described below with reference to the accompanying drawings.
なお、図面は概略的に示されるものであり、説明の便宜のため、適宜、構成の省略、または、構成の簡略化がなされるものである。また、異なる図面にそれぞれ示される構成などの大きさおよび位置の相互関係は、必ずしも正確に記載されるものではなく、適宜変更され得るものである。 Note that the drawings are schematically shown, and the configuration is omitted or simplified as appropriate for the convenience of explanation. In addition, the mutual relationships between the sizes and positions of the configurations and the like shown in different drawings are not necessarily accurately described and can be changed as appropriate.
また、以下に示される説明では、同様の構成要素には同じ符号を付して図示し、それらの名称と機能とについても同様のものとする。したがって、それらについての詳細な説明を、重複を避けるために省略する場合がある。 Moreover, in the description shown below, the same code | symbol is attached | subjected and shown in the same component, and it is the same also about those names and functions. Therefore, detailed descriptions thereof may be omitted to avoid duplication.
また、以下に記載される説明において、「第1の」、または、「第2の」などの序数が用いられる場合があっても、これらの用語は、実施の形態の内容を理解することを容易にするために便宜上用いられるものであり、これらの序数によって生じ得る順序などに限定されるものではない。 In addition, in the description described below, even if an ordinal number such as “first” or “second” is used, these terms mean that the contents of the embodiment are understood. It is used for the sake of convenience, and is not limited to the order that can be generated by these ordinal numbers.
<実施の形態>
以下、本実施の形態に関する判定装置について説明する。説明の便宜上、まず、判定対象である絶縁電線について説明する。
<Embodiment>
Hereinafter, the determination apparatus according to the present embodiment will be described. For convenience of explanation, first, an insulated wire that is a determination target will be described.
<絶縁電線の構成について>
図1は、絶縁電線の構成を例示する図である。図1に例示されるように、絶縁電線10は、芯線12と、芯線12を被覆する絶縁被覆14とを備える。
<About the configuration of insulated wires>
FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of an insulated wire. As illustrated in FIG. 1, the insulated
芯線12は、銅またはアルミニウムなどの金属を主成分とする線材である。芯線12は、図1に例示されるように複数本が束ねられて絶縁被覆14に覆われていてもよいし、1本の芯線12が絶縁被覆14に覆われていてもよい。
The
絶縁被覆14は、たとえば、ポリエチレン、塩化ビニルまたはポリアミド系ナイロンなどを主成分とする合成樹脂の部材である。
The insulating
図1に例示される絶縁電線10は、絶縁電線10の端部において絶縁被覆14が皮剥ぎされ、かつ、当該部分において芯線12が露出している。
In the insulated
<判定装置のハードウェア構成について>
次に、本実施の形態に関する判定装置について説明する。図2は、本実施の形態に関する判定装置を実現するためのハードウェア構成を概略的に例示する図である。図2に例示されるように、判定装置は、撮像部22と、判定処理部24とを備える。
<Hardware configuration of determination device>
Next, the determination apparatus according to this embodiment will be described. FIG. 2 is a diagram schematically illustrating a hardware configuration for realizing the determination device according to the present embodiment. As illustrated in FIG. 2, the determination device includes an
撮像部22は、絶縁電線10の端部を撮像する。撮像部22は、たとえば、2次元イメージセンサー、および、結像レンズなどから構成することができる。
The
判定処理部24は、撮像部22が撮像した絶縁電線10の撮像データを解析することによって、絶縁電線10の端部における皮剥ぎ状態を判定する。判定処理部24は、たとえば、中央演算処理装置(central processing unit、すなわち、CPU)201、リードオンリーメモリ(read only memory、すなわち、ROM)202、ランダムアクセスメモリ(random access memory、すなわち、RAM)203、通信部204、および、記憶装置205などが、バスライン206を介して相互接続された一般的なコンピュータによって構成されている。
The
ROM202は基本プログラムなどを格納しており、RAM203はCPU201が所定の処理を行う際の作業領域として用いられる。通信部204は、LANなどの通信回線を介したデータ通信機能を有する。
The
記憶装置205は、たとえば、ハードディスク(Hard disk drive、すなわち、HDD)、フラッシュメモリ、erasable programmable read only memory(EPROM)およびelectrically erasable programmable read−only memory(EEPROM)などの、揮発性または不揮発性の半導体メモリ、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ミニディスクまたはDVDなどを含むメモリ(記憶媒体)などを含むメモリ(記憶媒体)など、あらゆる記憶媒体が該当しうる。
The
記憶装置205にはプログラム300が格納されており、プログラム300に記述された手順にしたがって、主制御部としてのCPU201が演算処理を行うことによって、判定装置の各種機能が実現されるように構成されている。
The
プログラム300は、通常、あらかじめ記憶装置205などのメモリに格納されて使用されるものであるが、CD−ROMまたはDVD−ROM、外部のフラッシュメモリなどの記録媒体に記録された形態で提供され、追加的または交換的に記憶装置205などのメモリに格納されるものであってもよい。もっとも、判定処理部24において実現される一部または全部の機能は、専用の論理回路などでハードウェア的に実現されてもよい。
The
判定処理部24には、さらに、入力装置28、および、表示装置26が接続されている。入力装置28は、たとえば、キーボード、マウス、各種スイッチ、または、タッチパネルなどの少なくとも1つを含む入力デバイスであり、オペレータからの各種の操作(コマンド、または、各種データの入力といった操作)を受け付ける。
An
表示装置26は、液晶表示装置、ランプなどにより構成されており、CPU201による制御の下、各種の情報を表示する。
The
<判定装置のソフトウェア構成について>
図3は、判定処理部において実現される機能ブロック図である。図3に例示されるように、判定処理部24は、撮像制御部32と、記憶部34と、状態取得部36と、基準算出部37と、判定部38とを備える。これらそれぞれの機能部は、上述したとおり、たとえば、CPU201がプログラム300にしたがって所定の演算処理を行うことにより実現される。
<About the software configuration of the judgment device>
FIG. 3 is a functional block diagram realized in the determination processing unit. As illustrated in FIG. 3, the
撮像制御部32は、撮像部22を制御して、絶縁電線10の皮剥ぎされた端部を撮像させる。ただし、絶縁電線10は、その長手方向が定められた軸に沿うような姿勢とされ、撮像部22は、このような姿勢で配置された絶縁電線10の端部を撮像する。撮像部22が取得した撮像データは、たとえば、判定処理部24の制御下で、表示装置26に表示される。
The
記憶部34は、撮像部22によって撮像された絶縁電線10の撮像データを記憶する。
The
状態取得部36は、絶縁電線10の端部における皮剥ぎ状態を示す値である状態値を測定する。基準算出部37は、状態取得部36において測定された状態値のばらつき範囲を判定基準として算出する。具体的な動作については後述する。なお、状態取得部36において測定された状態値、および、基準算出部37において算出された状態値のばらつき範囲は、ともに記憶部34に記憶することができる。
The
判定部38は、基準算出部37において算出された状態値のばらつき範囲に基づいて、新たに得られた状態値の良否を判定する。そして、判定部38は、状態値の良否に基づいて、新たに得られた撮像データにおける絶縁電線10の皮剥ぎ状態の良否を判定する。具体的な判定方法は後述する。
The
<判定装置の動作について>
次に、図4および図5を参照しつつ、本実施の形態に関する判定装置の動作を説明する。図4は、撮像部22によって撮像された絶縁電線10の撮像データを例示する図である。また、図5は、判定装置の動作を例示するフローチャートである。
<About operation of judgment device>
Next, the operation of the determination apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4 is a diagram illustrating imaging data of the
まず、撮像制御部32が、撮像部22を制御して、絶縁電線10の端部を撮像させる(ステップST601を参照)。当該撮像は、異なる絶縁電線10の端部に対して順次行われる。次に、記憶部34が、撮像部22によって撮像された絶縁電線10の撮像データを順次記憶する(ステップST602を参照)。
First, the
次に、状態取得部36が、記憶部34に記憶された撮像データに基づいて、絶縁電線10の端部における皮剥ぎ状態を示す値、すなわち、状態値を順次測定する(ステップST603を参照)。状態値は、順次記憶部34に記憶することができる。
Next, the
図4は、記憶部34に記憶される、絶縁電線10の撮像データを例示する図である。絶縁電線10の撮像データは、濃淡画像であり、かつ、それぞれの画素を0と1との2値に変換した2値データに変換される。
FIG. 4 is a diagram illustrating imaging data of the
絶縁電線10のエッジ、すなわち、絶縁電線10と背景との境界位置は、たとえば、256階調の濃淡画像でしきい値を150とした場合、150以上の部分は1(白)の画像に、それ以外は0(黒)の画像に変換する。したがって、状態取得部36は、絶縁電線10のエッジを特定することができる。
The edge of the
そして、状態取得部36は、図4において点線で区切られた、Y方向に沿う帯状領域ごとに、特定したエッジ間距離を算出する。
And the
状態取得部36は、それぞれの帯状領域について算出されたエッジ間距離を参照することによって、当該帯状領域が絶縁電線10内のどの位置に対応するかを特定することができる。
The
したがって、ある帯状領域に相当する位置に、露出した芯線12が存在している場合、当該帯状領域のエッジ間距離は、小さな値となる。
Therefore, when the exposed
したがって、ある帯状領域に相当する位置に、絶縁被覆14が存在している場合、当該帯状領域のエッジ間距離は、大きな値となる。
Therefore, when the insulating
以上のように、それぞれの帯状領域におけるエッジ間距離を参照することによって、当該帯状領域に相当する位置に露出した芯線12が存在しているのか、または、絶縁被覆14が存在しているのかを特定することができる。したがって、状態取得部36は、芯線12が露出する部分と絶縁被覆14が覆う部分との境界位置を特定することができる。
As described above, by referring to the distance between edges in each band-shaped region, it is determined whether the exposed
図4には、絶縁被覆14の皮剥ぎ状態を示す値として、皮剥ぎ位置102、皮剥ぎ長さ104、全体太さ106、および、根元太さ108が例示される。
FIG. 4 illustrates the
皮剥ぎ位置102は、芯線12が露出する部分と絶縁被覆14が覆う部分との境界位置を示す値である。また、皮剥ぎ長さ104は、芯線12が露出する部分のX方向における長さを示す値である。また、全体太さ106は、芯線12が露出する部分の、Y方向における最大太さを示す値である。また、根元太さ108は、芯線12が露出する部分の、皮剥ぎ位置102付近における太さ、すなわち、芯線12の根元部分の太さを示す値である。
The skinning
上記のように、撮像データから2値化したデータに基づけば、絶縁電線10のエッジ、さらには、芯線12が露出する部分と絶縁被覆14が覆う部分との境界位置を特定することができる。そのため、状態取得部36は、上記の皮剥ぎ位置102、皮剥ぎ長さ104、全体太さ106、および、根元太さ108のいずれについても測定することができる。
As described above, based on the binarized data from the imaging data, it is possible to specify the edge of the
次に、判定部38は、上記のように絶縁電線10の撮像データから測定された状態値が、基準算出部37によってあらかじめ算出されている判定基準であるばらつき範囲に含まれるか否かを判定する(ステップST604を参照)。
Next, the
そして、上記の状態値が、基準算出部37によってあらかじめ算出されたばらつき範囲に含まれる場合、すなわち、ステップST604から分岐する「YES」に対応する場合には、当該状態値が測定された絶縁電線10の皮剥ぎ状態は良い状態であると判定し、ステップST605に進む。 And when said state value is contained in the variation | variation range calculated beforehand by the reference | standard calculation part 37 (ie, when corresponding to "YES" branched from step ST604), the insulated wire from which the said state value was measured It is determined that the peeled state of 10 is a good state, and the process proceeds to step ST605.
一方で、上記の状態値が、基準算出部37によってあらかじめ算出されたばらつき範囲に含まれない場合、すなわち、ステップST604から分岐する「NO」に対応する場合には、当該状態値が測定された絶縁電線10の皮剥ぎ状態は悪い状態であると判定し、ステップST606に進む。
On the other hand, when the above state value is not included in the variation range calculated in advance by the
次に、基準算出部37は、判定部38によって判定された上記の状態値を含む、最後に得られた状態値からあらかじめ定められた数だけ前までに得られた複数の状態値に基づいて、状態値のばらつき範囲を算出する(ステップST607を参照)。
Next, the
具体的には、基準算出部37は、たとえば、複数の状態値のばらつきが正規分布にしたがうと仮定して、想定される状態値のばらつき範囲、たとえば、標準偏差3σの範囲を算出する。
Specifically, the
ここで、ばらつき範囲の算出に際して、良品に対応する状態値が分布すると想定されるあらかじめ定められた数値範囲を外れる状態値は、除外することができる。 Here, when calculating the variation range, state values that deviate from a predetermined numerical range in which state values corresponding to non-defective products are assumed to be distributed can be excluded.
なお、一定数の状態値が記憶部34に蓄積されるまでは、ランダムに選択された1つの撮像データに基づいて測定される状態値、または、ユーザーによって設定された皮剥ぎ状態を示す値に対し、公差の範囲を加えたものをばらつき範囲として用いることができる。
Until a certain number of state values are accumulated in the
一方で、一定数の撮像データが蓄積された後は、記憶部34に記憶された状態値のうち、最後に得られた状態値からあらかじめ定められた数だけ前までに得られた状態値に基づいて、状態値のばらつき範囲を算出することができる。
On the other hand, after a certain number of imaging data is accumulated, the state values stored in the
なお、基準算出部37による、状態値のばらつき範囲の算出は、新たに状態値が得られるたびに行うことができるが、前回ばらつき範囲の算出を行った後に所定の間隔をあけた後に行うことも可能である。
The calculation of the variation range of the state value by the
また、算出されたばらつき範囲の平均値が、あらかじめ定められた数値範囲を外れる場合には、その旨を報知することができる。当該報知は、たとえば、判定処理部24が報知部として機能することによって、CPU201の制御による表示装置26における表示、CPU201の制御による通信部204を介する信号出力などによって実現することができる。
In addition, when the calculated average value of the variation range is out of a predetermined numerical range, it can be notified. The notification can be realized by, for example, display on the
なお、本実施の形態においては、最後に得られた状態値からあらかじめ定められた数だけ前までに得られた状態値に基づいて、状態値のばらつき範囲が算出されるが、状態値のばらつき範囲は、得られた複数の状態値に基づいて算出されればよい。また、状態値のばらつき範囲は、連続して得られた状態値に基づく場合に限られず、たとえば、あるタイミングで撮像された絶縁電線10の撮像データから得られた状態値と、複数の撮像データが得られた後のタイミングで撮像された絶縁電線10の撮像データから得られた状態値とに基づいて、状態値のばらつき範囲が算出されてもよい。
In the present embodiment, the state value variation range is calculated based on the state values obtained up to a predetermined number of times before the last obtained state value. The range may be calculated based on the obtained plurality of state values. Moreover, the variation range of the state value is not limited to the case based on the continuously obtained state value. For example, the state value obtained from the imaging data of the
<以上に記載された実施の形態によって生じる効果について>
次に、以上に記載された実施の形態によって生じる効果を例示する。なお、以下の説明においては、以上に記載された実施の形態に例示された具体的な構成に基づいて当該効果が記載されるが、同様の効果が生じる範囲で、本願明細書に例示される他の具体的な構成と置き換えられてもよい。
<About the effects produced by the embodiment described above>
Next, effects produced by the embodiment described above will be exemplified. In the following description, the effect is described based on the specific configuration exemplified in the above-described embodiment, but is exemplified in the present specification within a range in which the same effect occurs. Other specific configurations may be substituted.
以上に記載された実施の形態によれば、判定装置は、撮像部22と、状態取得部36と、基準算出部37と、判定部38とを備える。撮像部22は、芯線12と芯線12を被覆する絶縁被覆14とを備える絶縁電線10の、絶縁被覆14が皮剥ぎされた端部を順次撮像する。状態取得部36は、撮像部22によって撮像された絶縁電線10の撮像データに基づいて、絶縁電線10の端部における絶縁被覆14の皮剥ぎ状態を示す値である状態値を取得する。基準算出部37は、状態取得部36によって順次取得された複数の状態値に基づいて、判定基準を算出する。ここで、判定基準とは、たとえば、状態値のばらつき範囲である。判定部38は、判定基準に基づいて、新たに取得される状態値の良否を判定する。
According to the embodiment described above, the determination apparatus includes the
このような構成によれば、絶縁電線10の皮剥ぎ状態の良否を適切に判定することができる。すなわち、ランダムに選択された撮像データに基づく基準値を用いて絶縁電線の皮剥ぎ状態の良否を判定する場合には、上記の基準値が実際の良品のばらつき範囲から大きく外れていると適切な判定ができないが、本実施の形態に関する判定装置によれば、判定基準が、順次取得された状態値に基づいて算出されるため、判定基準が実際の良品のばらつき範囲から大きくは外れない。したがって、絶縁電線10の皮剥ぎ状態の良否を適切に判定することができる。
According to such a configuration, the quality of the peeled state of the
なお、これらの構成以外の本願明細書に例示される他の構成については適宜省略することができる。すなわち、少なくともこれらの構成を備えていれば、以上に記載された効果を生じさせることができる。 Other configurations exemplified in the present specification other than these configurations can be omitted as appropriate. That is, if at least these configurations are provided, the effects described above can be produced.
しかしながら、本願明細書に例示される他の構成のうちの少なくとも1つを以上に記載された構成に適宜追加した場合、すなわち、以上に記載された構成としては記載されなかった本願明細書に例示される他の構成を以上に記載された構成に追加した場合でも、同様に以上に記載された効果を生じさせることができる。 However, when at least one of the other configurations exemplified in the present specification is appropriately added to the configuration described above, that is, the configuration described above is not exemplified as the configuration described above. Even when other configurations described above are added to the configurations described above, the effects described above can be similarly produced.
また、以上に記載された実施の形態によれば、基準算出部37は、最後に得られた状態値からあらかじめ定められた数だけ前までに得られた状態値に基づいて、判定基準を算出する。このような構成によれば、直近に得られた状態値に基づいて判定基準を算出することができる。また、判定基準の推移を参照することによって、機構全体の経時変化を監視することもできる。ここでの機構全体とは、皮剥ぎ動作を行う機構、撮像のために移送する機構、絶縁電線10および撮像部22を固定する機構、さらには、撮像部22内部の撮像素子などの動作機構を含む機構である。
Further, according to the embodiment described above, the
また、以上に記載された実施の形態によれば、状態取得部36は、状態値として、絶縁電線10の端部において露出している芯線12の根元太さ108、露出している芯線12の最大太さである全体太さ106、露出している芯線12と絶縁被覆14との境界位置である皮剥ぎ位置102、および、露出している芯線12の長手方向の長さである皮剥ぎ長さ104のうちの少なくとも1つを測定する。このような構成によれば、これらの測定値に基づいて、絶縁電線10の端部における皮剥ぎ状態の良否を判定することができる。
Moreover, according to embodiment described above, the
また、以上に記載された実施の形態によれば、基準算出部37は、状態値のばらつきが正規分布にしたがうと仮定して判定基準を算出する。このような構成によれば、たとえば、標準偏差3σの範囲内に状態値が含まれる場合を、絶縁電線10の端部における皮剥ぎ状態が良い状態である場合であるとすることができる。
Further, according to the embodiment described above, the
また、以上に記載された実施の形態によれば、基準算出部37は、状態値が第1の範囲を外れる場合、当該状態値を除いて判定基準を算出する。ここで、第1の範囲とは、良品に対応する状態値が分布すると想定されるあらかじめ定められた数値範囲である。このような構成によれば、測定された状態値が、実際の良品のばらつき範囲から大きく外れる場合であっても、判定基準を適切な値のまま維持することができる。
Further, according to the embodiment described above, when the state value is out of the first range, the
また、以上に記載された実施の形態によれば、判定装置は、判定基準が第2の範囲を外れる場合に報知する報知部を備える。ここで、報知部は、判定処理部24が機能することによって、CPU201の制御による表示装置26における表示、CPU201の制御による通信部204を介する信号出力などによって実現される。また、第2の範囲とは、良品に対応する状態値が分布すると想定されるあらかじめ定められた数値範囲であるが、上記の第1の範囲とは異なる範囲を想定することもできる。また、判定基準が状態値のばらつき範囲である場合、たとえば、状態値の平均値が第2の範囲内に含まれるか否かによって、報知することも可能である。このような構成によれば、判定基準が変動したことを報知によって認識することができる。そして、判定基準の推移を参照することによって、機構全体の経時変化を監視することもできる。
Moreover, according to embodiment described above, the determination apparatus is provided with the alerting | reporting part which alert | reports when a criterion is outside the 2nd range. Here, the notification unit is realized by the display on the
<以上に記載された実施の形態における変形例について>
以上に記載された実施の形態では、それぞれの構成要素の材質、材料、寸法、形状、相対的配置関係または実施の条件などについても記載する場合があるが、これらはすべての局面において例示であって、本願明細書に記載されたものに限られることはないものとする。
<Modifications in Embodiments Described above>
In the embodiment described above, the material, material, dimension, shape, relative arrangement relationship, or implementation condition of each component may be described, but these are examples in all aspects. Thus, it is not limited to those described in this specification.
したがって、例示されていない無数の変形例、および、均等物が、本願明細書に開示される技術の範囲内において想定される。たとえば、少なくとも1つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合が含まれるものとする。 Accordingly, countless variations and equivalents not illustrated are envisioned within the scope of the technology disclosed in this specification. For example, the case where at least one component is modified, the case where it is added, or the case where it is omitted are included.
また、矛盾が生じない限り、以上に記載された実施の形態において「1つ」備えられるものとして記載された構成要素は、「1つ以上」備えられていてもよいものとする。 In addition, as long as no contradiction arises, “one or more” components described as being provided with “one” in the embodiment described above may be provided.
さらに、以上に記載された実施の形態におけるそれぞれの構成要素は概念的な単位であって、本願明細書に開示される技術の範囲内には、1つの構成要素が複数の構造物から成る場合と、1つの構成要素がある構造物の一部に対応する場合と、さらには、複数の構成要素が1つの構造物に備えられる場合とを含むものとする。 Further, each component in the embodiment described above is a conceptual unit, and one component is composed of a plurality of structures within the scope of the technique disclosed in this specification. In addition, a case where one component corresponds to a part of a structure and a case where a plurality of components are provided in one structure are included.
また、以上に記載された実施の形態におけるそれぞれの構成要素には、同一の機能を発揮する限り、他の構造または形状を有する構造物が含まれるものとする。 In addition, each component in the embodiment described above includes structures having other structures or shapes as long as the same function is exhibited.
また、本願明細書における説明は、本技術に関するすべての目的のために参照され、いずれも、従来技術であると認めるものではない。 Also, the descriptions in the present specification are referred to for all purposes related to the present technology, and none of them is admitted to be prior art.
また、以上に記載された実施の形態で記載されたそれぞれの構成要素は、ソフトウェアまたはファームウェアとしても、それと対応するハードウェアとしても想定され、その双方の概念において、それぞれの構成要素は「部」などと称される。 In addition, each component described in the above-described embodiment is assumed to be software or firmware or hardware corresponding thereto, and in both concepts, each component is a “part”. And so on.
また、本願明細書に開示される技術は、それぞれの構成要素が複数の装置に分散して備えられる場合、すなわち、システムのような態様であってもよいものとする。 In addition, the technology disclosed in the present specification may be an aspect in which each component is distributed and provided in a plurality of devices, that is, a system-like aspect.
10 絶縁電線
12 芯線
14 絶縁被覆
22 撮像部
24 判定処理部
26 表示装置
28 入力装置
32 撮像制御部
34 記憶部
36 状態取得部
37 基準算出部
38 判定部
102 皮剥ぎ位置
104 皮剥ぎ長さ
106 全体太さ
108 根元太さ
201 CPU
202 ROM
203 RAM
204 通信部
205 記憶装置
206 バスライン
300 プログラム
DESCRIPTION OF
202 ROM
203 RAM
204
Claims (6)
前記撮像部によって撮像された前記絶縁電線の撮像データに基づいて、前記絶縁電線の端部における前記絶縁被覆の皮剥ぎ状態を示す状態値を取得する状態取得部と、
状態取得部によって順次取得された複数の前記状態値に基づいて、判定基準を算出する基準算出部と、
前記判定基準に基づいて、新たに取得される前記状態値の良否を判定する判定部とを備える、
判定装置。 An imaging unit that sequentially images the end of the insulated wire provided with a core wire and an insulation coating that covers the core wire, and the insulation coating is peeled off;
Based on imaging data of the insulated wire imaged by the imaging unit, a state acquisition unit that obtains a state value indicating a skinned state of the insulating coating at the end of the insulated wire;
A reference calculation unit that calculates a determination criterion based on the plurality of state values sequentially acquired by the state acquisition unit;
A determination unit that determines the quality of the newly acquired state value based on the determination criterion;
Judgment device.
請求項1に記載の判定装置。 The reference calculation unit calculates the determination criterion based on the state value obtained by a predetermined number of times before the state value obtained last.
The determination apparatus according to claim 1.
前記絶縁電線の端部において露出している前記芯線の根元部分の太さ、露出している前記芯線の最大太さ、露出している前記芯線と前記絶縁被覆との境界位置、および、露出している前記芯線の長手方向の長さのうちの少なくとも1つを測定する、
請求項1または請求項2に記載の判定装置。 The state acquisition unit, as the state value,
The thickness of the root portion of the core wire exposed at the end of the insulated wire, the maximum thickness of the exposed core wire, the exposed boundary position between the core wire and the insulating coating, and the exposed portion Measuring at least one of the longitudinal lengths of said core wires,
The determination apparatus according to claim 1 or 2.
請求項1から請求項3のうちのいずれか1項に記載の判定装置。 The reference calculation unit calculates the determination criterion on the assumption that the variation of the state value follows a normal distribution;
The determination apparatus according to any one of claims 1 to 3.
請求項1から請求項4のうちのいずれか1項に記載の判定装置。 When the state value is out of the first range, the reference calculation unit calculates the determination criterion except for the state value.
The determination apparatus according to any one of claims 1 to 4.
前記判定基準が第2の範囲を外れる場合に報知する報知部を備える、
請求項1から請求項5のうちのいずれか1項に記載の判定装置。 The determination device further includes:
An informing unit for informing when the determination criterion is out of the second range;
The determination apparatus according to any one of claims 1 to 5.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017051130A JP2018155539A (en) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | Determination device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017051130A JP2018155539A (en) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | Determination device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018155539A true JP2018155539A (en) | 2018-10-04 |
Family
ID=63717138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017051130A Pending JP2018155539A (en) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | Determination device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2018155539A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110333245A (en) * | 2019-06-30 | 2019-10-15 | 安徽省宿州市龙华机械制造有限公司 | A kind of testing device for wire ropes and its application method |
-
2017
- 2017-03-16 JP JP2017051130A patent/JP2018155539A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110333245A (en) * | 2019-06-30 | 2019-10-15 | 安徽省宿州市龙华机械制造有限公司 | A kind of testing device for wire ropes and its application method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4484844B2 (en) | Image binarization processing method, image processing apparatus, and computer program | |
JP4908440B2 (en) | Image processing apparatus and method | |
JP6115012B2 (en) | Inspection device, inspection method, and inspection program | |
JP6557183B2 (en) | Cutting tool life judging device, life judging method and program | |
CN112258507B (en) | Target object detection method and device of internet data center and electronic equipment | |
US20140204199A1 (en) | Wiring inspecting method, wiring inspecting apparatus, wiring inspecting program, and recording medium | |
JP2019066265A (en) | Crack detector, crack detection method, and computer program | |
JP2018155539A (en) | Determination device | |
JP2007155578A (en) | Welding quality inspection device, welding quality inspection method, and program | |
JP2011137895A (en) | White-spot detector, image forming apparatus, and white-spot detection program | |
JP2006098217A (en) | Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program | |
CN113920057A (en) | Method, device and system for identifying color of product indicator light | |
JP2009302217A (en) | Pattern inspection method, pattern inspection apparatus and pattern processing apparatus | |
JP4131804B2 (en) | Mounting component inspection method | |
JP4796535B2 (en) | Multi-conductor electric wire tracking method, apparatus and program by image processing, and multi-conductor electric wire abnormality detection method, apparatus and program using the same | |
CN116309397A (en) | Method and device for detecting solder defects, computer equipment and storage medium | |
CN113674238B (en) | Method and device for detecting dead pixel, electronic equipment and storage medium | |
JP7008408B2 (en) | Crack detection method | |
JP2010091360A (en) | Method and device for inspecting image | |
JP6911442B2 (en) | Inspection equipment and inspection method | |
JP6173088B2 (en) | Inspection device, inspection method, program, and recording medium | |
JP2011252770A (en) | Inspection device for printed circuit board and inspection method of the same | |
JP2010127698A (en) | Apparatus and method for estimation of radiated electromagnetic wave frequency | |
JP2004534337A (en) | Optimization of reference marking selection used to predict imager position | |
CN115375022B (en) | Electrode pulse current data processing method and device and computer equipment |