JP2018142462A - Ceramic insulation member and electron tube - Google Patents

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諭史 清田
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邦英 四方
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a ceramic insulation member in which adsorption of an alkali metal is small, and a reflection rate is low in a wide wavelength range.SOLUTION: A ceramic insulation member to be disclosed is made of an alumina ceramic including an oxidation of titanium of which a composition formula is expressed by TiO(1≤x<2), and a total content amount of Fe, Ni, Co, Mn, and Cr is 260 mass ppm or less. An electron tube to be disclosed comprises: a container including an incident window having a photoelectric surface; a plurality of electrode bodies positioned in the container; and a ceramic insulation member positioned in the container and nipping the plurality of electrode bodies.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本開示は、セラミック絶縁部材および電子管に関する。   The present disclosure relates to a ceramic insulating member and an electron tube.

セラミック絶縁部材は広く用いられている。例えば、セラミック絶縁部材は、光電子増倍管の電子管における各電極体同士の絶縁を取りつつ各電極体を支持する部材に用いられている。   Ceramic insulating members are widely used. For example, a ceramic insulating member is used as a member that supports each electrode body while insulating each electrode body in an electron tube of a photomultiplier tube.

ここで、光電子増倍管は、主に検出器として用いられるものであり、検出精度の要求はますます高まっている。光電子増倍管において、セラミック絶縁部材の表面で反射が生じた場合、反射光はノイズとして検出される。そのため、光電子増倍管に用いられるセラミック絶縁部材としては、反射が少ないように黒色を呈することが求められている。   Here, the photomultiplier tube is mainly used as a detector, and the demand for detection accuracy is increasing. In the photomultiplier tube, when reflection occurs on the surface of the ceramic insulating member, the reflected light is detected as noise. Therefore, a ceramic insulating member used for a photomultiplier tube is required to exhibit a black color so as to reduce reflection.

例えば特許文献1には、光電子増倍管用のセラミック絶縁部材の一例が開示され、黒色にするための着色材として、Fe、Cr、Co、Mn、Ni、Cuなどが使われることが記載されている。   For example, Patent Document 1 discloses an example of a ceramic insulating member for a photomultiplier tube, and describes that Fe, Cr, Co, Mn, Ni, Cu, or the like is used as a colorant for blackening. Yes.

特開平8−17388号公報JP-A-8-17388

光電子増倍管では、光電面にアルカリ金属が主に用いられているが、特許文献1で提案されたセラミック絶縁部材のように、Naよりも標準自由生成エネルギーの小さい、Fe、Ni、Cr、Mn等を合計で数質量%のオーダーで含んでいるときには、アルカリ金属を多く吸着してしまうこととなる。   In the photomultiplier tube, alkali metal is mainly used for the photocathode. However, like the ceramic insulating member proposed in Patent Document 1, Fe, Ni, Cr, When Mn or the like is contained in the order of several mass% in total, a large amount of alkali metal is adsorbed.

光電面におけるアルカリ金属の含有割合は、光から電子への変換量に大きく影響する。光電子増倍管については、検出精度の高度化に併せて、検出精度の変化が小さいことが求められている。そのため、光電子増倍管に用いられるセラミック絶縁部材としては、黒色を呈するとともに、アルカリ金属の吸着が少ないことが求められる。   The content ratio of the alkali metal on the photocathode greatly affects the amount of conversion from light to electrons. As for photomultiplier tubes, a change in detection accuracy is required to be small as detection accuracy increases. For this reason, the ceramic insulating member used in the photomultiplier tube is required to exhibit black color and to have little alkali metal adsorption.

また、セラミック絶縁部材において、見た目が黒色であっても、長波長領域で反射率が高めとなり、ノイズとして検出されるという問題があった。   In addition, the ceramic insulating member has a problem that even if it looks black, the reflectance is increased in the long wavelength region and is detected as noise.

本開示は、このような事情に鑑みて案出されたものであり、アルカリ金属の吸着が少なく、広い波長範囲にわたって反射率が低いセラミック絶縁部材を提供する。   The present disclosure has been devised in view of such circumstances, and provides a ceramic insulating member that has low alkali metal adsorption and low reflectance over a wide wavelength range.

本開示のセラミック絶縁部材は、組成式がTiO2−x(1≦x<2)として示されるチタンの酸化物を含む酸化アルミニウム質セラミックスからなり、Fe、Ni、Co、MnおよびCrの合計の含有量が260質量ppm以下である。 The ceramic insulating member of the present disclosure is made of an aluminum oxide ceramic including a titanium oxide represented by a composition formula of TiO 2-x (1 ≦ x <2), and is a total of Fe, Ni, Co, Mn, and Cr. Content is 260 mass ppm or less.

本開示の電子管は、光電面を備える入射窓を有する容器と、該容器内に位置する複数の電極体と、前記容器内に位置し、複数の前記電極体を支持する上記セラミック絶縁部材とを備える。   An electron tube of the present disclosure includes a container having an incident window provided with a photocathode, a plurality of electrode bodies positioned in the container, and the ceramic insulating member that is positioned in the container and supports the plurality of electrode bodies. Prepare.

本開示のセラミック絶縁部材は、アルカリ金属の吸着が少なく、広い波長領域にわたって反射率が低い。   The ceramic insulating member of the present disclosure has little alkali metal adsorption and low reflectance over a wide wavelength region.

本開示の電子管は、検出精度が高く、検出精度の変化が小さいため、高い信頼性を有する。   The electron tube of the present disclosure has high reliability because it has high detection accuracy and a small change in detection accuracy.

本開示の電子管の一実施形態である光電子増倍管の要部の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the principal part of the photomultiplier tube which is one Embodiment of the electron tube of this indication. 本開示のセラミック絶縁部材の反射率の測定結果を示すグラフである。It is a graph which shows the measurement result of the reflectance of the ceramic insulation member of this indication.

以下、本開示のセラミック絶縁部材および電子管の実施形態について、図面を参照して説明する。図1は、本開示の電子管の一実施形態である、光電子増倍管10の要部の構成を示す模式図である。   Hereinafter, embodiments of the ceramic insulating member and the electron tube of the present disclosure will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a main part of a photomultiplier tube 10 which is an embodiment of the electron tube of the present disclosure.

光電子増倍管10は、入射した光を電子に変換しつつ、その電子を所定の増幅割合で増幅させて、電気信号として取り出すための装置であり、入射光の有無や光量を計測するために用いられる。   The photomultiplier tube 10 is a device for converting incident light into electrons, amplifying the electrons at a predetermined amplification rate, and taking them out as an electrical signal. In order to measure the presence or absence of incident light and the amount of light Used.

光電子増倍管10は、入射窓12から入射する光を受けて光電子を放出する光電面13を備える容器11と、容器11内に位置する複数の電極体16と、容器11内において複数の電極体11を支持するセラミック絶縁部材17とを備える。また、光電子増倍管10は、光電面13から放出された光電子を二次電子放出作用により増倍する電子増倍部14および電子増倍部14で増倍された電子を取り出すアノード15を備える。   The photomultiplier tube 10 includes a container 11 including a photocathode 13 that receives light incident from an incident window 12 and emits photoelectrons, a plurality of electrode bodies 16 located in the container 11, and a plurality of electrodes in the container 11. And a ceramic insulating member 17 that supports the body 11. The photomultiplier tube 10 also includes an electron multiplier 14 that multiplies photoelectrons emitted from the photocathode 13 by a secondary electron emission action, and an anode 15 that extracts the electrons multiplied by the electron multiplier 14. .

電子増倍部14は、ボックス型のダイノード14aを多段に配置してなり、平板状の電極体16によって、各段のダイノード14aを個々に支持している。ダイノード14aとそれを支持する電極体16とは、個別に電気的に接続されている。複数の電極体16は、セラミック絶縁部材17によって挟持されている。   The electron multiplying unit 14 includes box-shaped dynodes 14 a arranged in multiple stages, and the dynodes 14 a at each stage are individually supported by a plate-like electrode body 16. The dynode 14a and the electrode body 16 that supports the dynode 14a are individually electrically connected. The plurality of electrode bodies 16 are sandwiched between ceramic insulating members 17.

光電面13は、アルカリ金属を含む光電子放出材料、例えば、SbとCsとからなる金属間化合物からなる。アルカリ金属は、仕事関数が小さく、金属単体では安定し難くい。そのため、容器11の中は、アルカリ金属蒸気が含まれている状態となっている。光電子増倍管10では、光電面13に含まれるアルカリ金属の含有割合と、容器11内のアルカリ金属蒸気との含有割合とが共存し、これらの含有割合が一定の割合でバランスを取っている状態となっている。このバランスが変動すると、入射光に対する光電面13からの電子の放出量の割合も変動し、入射光の有無を検出する精度や、光量の測定精度に影響を与える。また、入射光の一部は光電面13を透過して容器11内に入射することがある。この入射光がセラミック絶縁部材17等で乱反射して、光電面13に再照射される迷光等が生じた場合、この迷光が光検出におけるノイズとなる。   The photocathode 13 is made of a photoelectron emitting material containing an alkali metal, for example, an intermetallic compound composed of Sb and Cs. Alkali metals have a low work function and are difficult to stabilize with a single metal. Therefore, the container 11 is in a state containing alkali metal vapor. In the photomultiplier tube 10, the content ratio of the alkali metal contained in the photocathode 13 and the content ratio of the alkali metal vapor in the container 11 coexist, and these content ratios are balanced at a constant ratio. It is in a state. When this balance fluctuates, the ratio of the amount of electrons emitted from the photocathode 13 with respect to the incident light also fluctuates, which affects the accuracy of detecting the presence or absence of incident light and the measurement accuracy of the light amount. Further, a part of the incident light may pass through the photocathode 13 and enter the container 11. When this incident light is irregularly reflected by the ceramic insulating member 17 or the like and stray light or the like re-irradiated on the photocathode 13 is generated, this stray light becomes noise in light detection.

本実施形態のセラミック絶縁部材17は、組成式がTiO2−x(1≦x<2)として示されるチタンの酸化物を含む酸化アルミニウム質セラミックスからなり、Fe、Ni、Co、MnおよびCrの合計の含有量が260質量ppm以下である。 The ceramic insulating member 17 of this embodiment is made of an aluminum oxide ceramic containing a titanium oxide represented by a composition formula of TiO 2-x (1 ≦ x <2), and is made of Fe, Ni, Co, Mn, and Cr. The total content is 260 mass ppm or less.

ここで、酸化アルミニウム質セラミックスとは、セラミックスを構成する全成分100質量%のうち、AlをAlに換算した酸化アルミニウムの含有量が90質量%以上
であるセラミックスのことである。また、組成式がTiO2−x(1≦x<2)として示されるチタンの酸化物とは、酸化チタン(TiO)が還元されたものである。チタンの酸化物の結晶相は、ルチル型酸化チタンであってもよい。
Here, the aluminum oxide ceramics refers to ceramics in which the content of aluminum oxide in which Al is converted to Al 2 O 3 is 90% by mass or more out of 100% by mass of all components constituting the ceramics. In addition, the titanium oxide having a composition formula of TiO 2-x (1 ≦ x < 2 ) is obtained by reducing titanium oxide (TiO 2 ). The crystalline phase of the titanium oxide may be rutile titanium oxide.

本実施形態のセラミック絶縁部材17は、比較的広い波長範囲の光に対して反射率が十分に低い黒色を呈する。具体的には、CIE1976L*a*b*色空間における明度指数L*が40以下であり、クロマティクネス指数a*,b*がそれぞれ0以上5以下、−10以上0以下である。CIE1976L*a*b*色空間における明度指数L*の値,クロマティクネス指数a*およびb*の値は、JIS Z 8722:2009に準拠して求めることができる。例えば、分光色差計(日本電色工業(株)製NF777またはその後継機種)を用い、測定条件としては、光源をCIE標準光源D65、視野角度を2°に設定すればよい。   The ceramic insulating member 17 of the present embodiment exhibits a black color having a sufficiently low reflectance with respect to light in a relatively wide wavelength range. Specifically, the lightness index L * in the CIE 1976 L * a * b * color space is 40 or less, and the chromaticness indices a * and b * are 0 or more and 5 or less, and −10 or more and 0 or less, respectively. The value of the brightness index L * and the value of the chromaticness index a * and b * in the CIE 1976 L * a * b * color space can be determined in accordance with JIS Z 8722: 2009. For example, a spectral color difference meter (NF77 manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd. or its successor model) is used, and the measurement conditions may be set to a CIE standard light source D65 and a viewing angle of 2 °.

本実施形態のセラミック絶縁部材17は、波長250nm〜2500nmにわたる反射率の最大値Rmaxが24%以下であり、最大値Rmaxと最小値Rminとの差であるΔRが15.3%以下である。すなわち、本実施形態のセラミック絶縁部材17は、波長250nm〜2500nmの範囲において、反射率が低く、照射光に対する反射光の光強度の波長分布のばらつきが小さい。本実施形態のセラミック絶縁部材17は、このように広い波長範囲にわたって反射率が一様に低くなっており、様々な種類の入射光が光電面13に入射するような条件下でも、光の検出精度および測定精度が比較的高い。 In the ceramic insulating member 17 of this embodiment, the maximum value R max of reflectance over a wavelength range of 250 nm to 2500 nm is 24% or less, and ΔR, which is the difference between the maximum value R max and the minimum value R min , is 15.3% or less. It is. That is, the ceramic insulating member 17 of the present embodiment has a low reflectance in the wavelength range of 250 nm to 2500 nm, and the dispersion of the wavelength distribution of the light intensity of the reflected light with respect to the irradiated light is small. The ceramic insulating member 17 of the present embodiment has a uniform low reflectance over such a wide wavelength range, and can detect light even under conditions where various types of incident light are incident on the photocathode 13. Accuracy and measurement accuracy are relatively high.

Fe、Ni、Co、MnおよびCrは、標準自由生成エネルギーが小さく、アルカリ金属を含む部材から発するアルカリ蒸気を吸着しやすいものの、本実施形態のセラミック絶縁部材17は、Fe、Ni、Co、MnおよびCrの合計の含有量が260質量ppm以下であることから、アルカリ金属の吸着が少ない。このため、セラミック絶縁部材17を用いて構成された光電子増倍管10は、容器11内の雰囲気中のアルカリ金属蒸気の吸着が少ない。また、容器11内のアルカリ金属蒸気圧の変動が少ないため、このアルカリ金属蒸気圧の変動にともなう、光電面13からのアルカリ金属の蒸発量が少ない。このように、本実施形態のセラミック絶縁部材17を用いた場合、雰囲気中および光電面13におけるアルカリ金属の含有量の変動が少ない。   Although Fe, Ni, Co, Mn, and Cr have a small standard free generation energy and easily adsorb alkali vapor emitted from a member containing an alkali metal, the ceramic insulating member 17 of the present embodiment has Fe, Ni, Co, Mn Since the total content of Cr and Cr is 260 mass ppm or less, there is little adsorption of alkali metal. For this reason, the photomultiplier tube 10 configured using the ceramic insulating member 17 has little adsorption of alkali metal vapor in the atmosphere in the container 11. Moreover, since there is little fluctuation | variation of the alkali metal vapor pressure in the container 11, there is little evaporation amount of the alkali metal from the photocathode 13 with this fluctuation | variation of alkali metal vapor pressure. Thus, when the ceramic insulating member 17 of the present embodiment is used, there is little variation in the content of alkali metal in the atmosphere and on the photocathode 13.

このように本実施形態のセラミック絶縁部材17は、アルカリ金属の吸着が少なく、広い波長範囲にわたって光反射が十分に少ない。このようなセラミック絶縁部材17を有して構成された光電子増倍管10は、入射光の有無の検出や光量の測定精度が高く、かつ検出精度および測定精度の変動が少ない。   Thus, the ceramic insulating member 17 of the present embodiment has little alkali metal adsorption and sufficiently low light reflection over a wide wavelength range. The photomultiplier tube 10 configured to include such a ceramic insulating member 17 has high detection accuracy of incident light and measurement accuracy of light quantity, and has little fluctuation in detection accuracy and measurement accuracy.

本実施形態のセラミック絶縁部材17において、組成式がTiO2−x(1≦x<2)として示されるチタンの酸化物の含有量は、セラミックスを構成する全成分100質量%のうち、例えば、0.5質量%以上4質量%以下である。チタンの酸化物の含有量が前述した範囲であるときには、彩度が十分に抑制された反射率の低い黒色の色味とすることができるとともに、室温における体積固有抵抗が1012Ω・m以上との電気的絶縁性を有する。ここで、体積固有抵抗は、JIS C 2141:1992に準拠して求めることができる。 In the ceramic insulating member 17 of the present embodiment, the content of the oxide of titanium whose composition formula is expressed as TiO 2-x (1 ≦ x <2) is, for example, 100% by mass of the total components constituting the ceramic, It is 0.5 mass% or more and 4 mass% or less. When the content of the oxide of titanium is in the above-described range, it is possible to obtain a black color with a sufficiently low saturation and a low reflectance, and a volume resistivity at room temperature of 10 12 Ω · m or more. And electrical insulation. Here, the volume resistivity can be determined in accordance with JIS C 2141: 1992.

セラミック絶縁部材17は、チタン酸アルミニウムを含んでいないことが好適である。これは、チタン酸アルミニウムは酸化アルミニウムに対する線膨張係数の差が大きく、昇温および冷却を繰り返すと、微小なクラックが発生しやすくなるからである。セラミック絶縁部材17がチタン酸アルミニウムを含んでいるか否かは、X線回折装置(XRD)を用いて得られるX線チャートを、JCPDSカード(No.00−041−0258)と照合すればよい。   The ceramic insulating member 17 preferably does not contain aluminum titanate. This is because aluminum titanate has a large difference in linear expansion coefficient with respect to aluminum oxide, and minute cracks are likely to occur when heating and cooling are repeated. Whether or not the ceramic insulating member 17 contains aluminum titanate may be collated with an X-ray chart obtained using an X-ray diffractometer (XRD) with a JCPDS card (No. 00-04-1258).

本実施形態のセラミック絶縁部材17は、Fe、Ni、Co、MnおよびCrの合計の含有量が260質量ppm以下、すなわちCr単独の含有量が最大でも260質量ppmである。アルミナにCrを含有させた際には、波長が700nm以上780nm未満の領域の光(以降、短波長領域光ともいう)や、波長が780nm以上1590nm未満の領域の光(以降、長波長領域光ともいう)の反射率が大きくなりやすいが、本実施形態のセラミック絶縁部材17は、Crの含有量が少ないことから、短波長領域および長波長領域における反射率が小さい。   In the ceramic insulating member 17 of the present embodiment, the total content of Fe, Ni, Co, Mn and Cr is 260 mass ppm or less, that is, the content of Cr alone is 260 mass ppm at the maximum. When Cr is contained in alumina, light having a wavelength of 700 nm or more and less than 780 nm (hereinafter also referred to as short wavelength light) or light having a wavelength of 780 nm or more and less than 1590 nm (hereinafter, long wavelength light) The ceramic insulating member 17 of this embodiment has a low Cr content, and therefore has a low reflectance in the short wavelength region and the long wavelength region.

セラミック絶縁部材17においてCrの含有量が40質量ppm以下であれば、比較的広い波長範囲の光に対する反射率が十分に低く、セラミック絶縁部材17における入射光の反射が抑制されるため、光検出精度が高まる。   If the content of Cr in the ceramic insulating member 17 is 40 mass ppm or less, the reflectance with respect to light in a relatively wide wavelength range is sufficiently low, and reflection of incident light in the ceramic insulating member 17 is suppressed, so that light detection is possible. Increases accuracy.

また、セラミック絶縁部材17におけるFeの含有量が100質量ppm以下であれば、変色による反射率の増加をより抑制することができるため、可視光線領域や赤外線領域での反射率がより低くなる。   Further, if the Fe content in the ceramic insulating member 17 is 100 mass ppm or less, an increase in reflectance due to discoloration can be further suppressed, and therefore the reflectance in the visible light region and the infrared region is further lowered.

また、セラミック絶縁部材17における、Niの含有量が10質量ppm以下、Coの含有量が5質量ppm以下またはMnの含有量が100質量ppm以下であれば、アルカリ金属蒸気に晒されても機械的強度や電気特性の変化が小さくなる。   Further, if the Ni content in the ceramic insulating member 17 is 10 ppm by mass or less, the Co content is 5 ppm by mass or less, or the Mn content is 100 ppm by mass or less, the machine is exposed to alkali metal vapor. Changes in mechanical strength and electrical characteristics are reduced.

セラミック絶縁部材17は、酸化アルミニウムの結晶粒子同士を結合する粒界相に、珪素、カルシウムおよびマグネシウムの酸化物を含んでいてもよい。ここで、珪素、カルシウムおよびマグネシウムの酸化物の含有量の合計は、セラミックスを構成する全成分100質量%のうち、例えば、2質量%以上4質量%以下である。また、珪素、カルシウムおよびマグネシウムの酸化物の含有量の合計を100質量%としたとき、カルシウムの酸化物およびマグネシウムの酸化物の含有量はそれぞれ10質量%以上30質量%以下であり、残部が珪素の酸化物であってもよい。珪素、カルシウムおよびマグネシウムの酸化物の含有量が上記範囲である場合、セラミック焼結体は、室温における体積固有抵抗が1012Ω・m以上となり、電気的絶縁性が十分に維持される。 The ceramic insulating member 17 may contain silicon, calcium, and magnesium oxides in the grain boundary phase that joins the aluminum oxide crystal particles together. Here, the total content of oxides of silicon, calcium and magnesium is, for example, 2% by mass or more and 4% by mass or less, out of 100% by mass of all components constituting the ceramic. Further, when the total content of silicon, calcium and magnesium oxide is 100% by mass, the content of calcium oxide and magnesium oxide is 10% by mass or more and 30% by mass or less, respectively, and the balance is It may be an oxide of silicon. When the content of oxides of silicon, calcium and magnesium is within the above range, the ceramic sintered body has a volume resistivity of 10 12 Ω · m or more at room temperature, and the electrical insulation is sufficiently maintained.

なお、セラミック絶縁部材17におけるチタンの酸化物の結晶相は、XRDによって同定することができ、xの値については、透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて求めればよい。   The crystal phase of the titanium oxide in the ceramic insulating member 17 can be identified by XRD, and the value of x may be obtained using a transmission electron microscope (TEM).

また、アルミニウム、珪素、カルシウム,マグネシウムおよびチタンをそれぞれ酸化物に換算した含有量は、蛍光X線分析装置(XRF)またはICP(Inductively Coupled Plasma)発光分光分析装置(ICP)を用いて、各元素の含有量を求め、それぞれAl、SiO、CaO,MgOおよびTiO2−x(1≦x<2)に換算することで求められる。Fe、Ni、Co、MnおよびCrの含有量は、グロー放電質量分析装置(GDMS)を用いて求めればよい。 In addition, the contents of aluminum, silicon, calcium, magnesium and titanium converted into oxides are determined by using an X-ray fluorescence analyzer (XRF) or an ICP (Inductively Coupled Plasma) emission spectroscopic analyzer (ICP). Is obtained and converted into Al 2 O 3 , SiO 2 , CaO, MgO and TiO 2-x (1 ≦ x <2), respectively. The contents of Fe, Ni, Co, Mn, and Cr may be determined using a glow discharge mass spectrometer (GDMS).

本実施形態のセラミック絶縁部材17は、容器11との対向面に、スキューネスRskの平均値が0.04以上0.45以下である部分を有していてもよい。光電面13で変換されずに透過した光や、容器11の外部から侵入した光、またこれらの光が容器11内で反射した光などが到達することがあるが、セラミック絶縁部材17がこのような部分を有しているときには、反射率が低くなる。ここで、容器11との対向面とは、言い換えれば、容器11内の雰囲気に露出している面ということである。なお、容器11との対向面のすべてのスキューネスRskの平均値が0.04以上0.45以下であってもよい。   The ceramic insulating member 17 of the present embodiment may have a portion on the surface facing the container 11 where the average value of the skewness Rsk is 0.04 or more and 0.45 or less. Light that has been transmitted without being converted by the photocathode 13, light that has entered from the outside of the container 11, light that has been reflected inside the container 11, or the like may reach the ceramic insulating member 17. When having such a portion, the reflectance is low. Here, the surface facing the container 11 is, in other words, the surface exposed to the atmosphere in the container 11. The average value of all skewness Rsk on the surface facing the container 11 may be 0.04 or more and 0.45 or less.

また、本実施形態のセラミック絶縁部材17は、容器11との対向面に、クルトシスRkuの平均値が4.1以上6.5以下である部分を有していてもよい。セラミック絶縁部材17がこのような部分を有しているときには、反射率が低くなる。なお、容器11との対向面のすべてのクルトシスRkuの平均値が4.1以上6.5以下であってもよい。   Further, the ceramic insulating member 17 of the present embodiment may have a portion on the surface facing the container 11 where the average value of the kurtosis Rku is 4.1 or more and 6.5 or less. When the ceramic insulating member 17 has such a portion, the reflectance is low. The average value of all kurtosis Rku on the surface facing the container 11 may be 4.1 or more and 6.5 or less.

さらに、本実施形態のセラミック絶縁部材17は、容器11との対向面に、算術平均粗さRaの平均値が1μm以上2μm以下である部分を有していてもよい。セラミック絶縁部材17がこのような部分を有しているときには、反射率が低くなる。なお、容器11との対向面のすべての算術平均粗さRaの平均値が1μm以上2μm以下であるであってもよい。   Furthermore, the ceramic insulating member 17 of the present embodiment may have a portion on the surface facing the container 11 where the average value of the arithmetic average roughness Ra is not less than 1 μm and not more than 2 μm. When the ceramic insulating member 17 has such a portion, the reflectance is low. In addition, the average value of all arithmetic average roughness Ra of the surface facing the container 11 may be 1 μm or more and 2 μm or less.

クルトシスRku、スキューネスRskおよび算術平均粗さRaは、JIS B 0601:2001に準拠し、例えば、レーザー顕微鏡((株)キーエンス社製(VK−9510))を用いて求めることができる。測定条件は、測定モードをカラー超深度、測定倍率を400倍、測定範囲を698μm×522μm、測定ピッチを0.05μm、λs輪郭曲線フィルタを2.5μm、λc輪郭曲線フィルタを0.08mmとし、上記測定範囲8箇所から得られる測定値の平均値を、スキューネスRsk、クルトシスRkuおよび算術平均粗さRaのそれぞれの平均値とすればよい。   The kurtosis Rku, the skewness Rsk, and the arithmetic average roughness Ra can be determined using, for example, a laser microscope (manufactured by Keyence Corporation (VK-9510)) in accordance with JIS B 0601: 2001. The measurement conditions are as follows: measurement mode is color depth, measurement magnification is 400 times, measurement range is 698 μm × 522 μm, measurement pitch is 0.05 μm, λs contour curve filter is 2.5 μm, λc contour curve filter is 0.08 mm, The average value of the measurement values obtained from the eight measurement ranges may be the average value of the skewness Rsk, the kurtosis Rku, and the arithmetic average roughness Ra.

上述した本実施形態のセラミック絶縁部材17は、可視光線領域や赤外線領域での反射率が低いことから、例えば、電子管内に配置された電極の挟持部材や電子部品を吸着するための吸着ノズルとして用いることができる。   Since the ceramic insulating member 17 of the present embodiment described above has a low reflectance in the visible light region and the infrared region, for example, as a suction nozzle for sucking an electrode clamping member or an electronic component disposed in the electron tube. Can be used.

次に、本実施形態のセラミック絶縁部材の製造方法の一例を説明する。   Next, an example of the manufacturing method of the ceramic insulating member of this embodiment is demonstrated.

まず、酸化アルミニウム、酸化珪素、炭酸カルシウム、水酸化マグネシウムおよび酸化チタンの各粉末を準備する。   First, powders of aluminum oxide, silicon oxide, calcium carbonate, magnesium hydroxide and titanium oxide are prepared.

炭酸カルシウム、水酸化マグネシウムおよび酸化珪素の粉末の含有量の合計は、上記粉末の合計100質量%のうち、例えば、6.5質量%以上12.9質量%以下である。そして、炭酸カルシウム、水酸化マグネシウムおよび酸化珪素の粉末の含有量は、これら粉末の合計100質量%のうち、炭酸カルシウムの粉末の含有量は17.8質量%以上53.4質量%以下であり、水酸化マグネシウムの粉末の含有量は14.4質量%以上43.2質量%以下であり、残部が酸化珪素の粉末である。   The total content of the powders of calcium carbonate, magnesium hydroxide and silicon oxide is, for example, 6.5% by mass or more and 12.9% by mass or less, out of the total 100% by mass of the powder. And the content of the powder of calcium carbonate, magnesium hydroxide and silicon oxide is 17.8 mass% or more and 53.4 mass% or less among the total 100 mass% of these powders. The content of magnesium hydroxide powder is 14.4 mass% or more and 43.2 mass% or less, and the balance is silicon oxide powder.

酸化チタンの粉末の含有量は、酸化アルミニウム、酸化珪素、炭酸カルシウム、水酸化マグネシウムおよび酸化チタンの各粉末の合計100質量%のうち、例えば、0.5質量%以上4質量%以下であり、残部が酸化アルミニウムの粉末である。   The content of the titanium oxide powder is, for example, 0.5% by mass or more and 4% by mass or less of the total 100% by mass of each powder of aluminum oxide, silicon oxide, calcium carbonate, magnesium hydroxide, and titanium oxide, The balance is aluminum oxide powder.

そして、これら粉末をバレルミル、回転ミル、振動ミル、ビーズミル、アジテーターミル、アトマイザー、アトライター等の粉砕機によって湿式混合して粉砕し、スラリーを得る。なお、上記粉砕にあたっては、溶媒、この溶媒100質量部に対して1質量部以上1.5質量部以下のポリビニルアルコール(PVA)などの有機結合剤、溶媒100質量部に対して0.1質量部以上0.5質量部以下の分散剤を併せて粉砕機内に投入する。次に、得られたスラリーを脱磁処理した後、噴霧乾燥して、顆粒を得る。脱磁処理によって、強磁性金属であるFe、NiおよびCoは除去される。   These powders are wet-mixed and pulverized by a pulverizer such as a barrel mill, a rotary mill, a vibration mill, a bead mill, an agitator mill, an atomizer, or an attritor to obtain a slurry. In the above pulverization, the solvent, an organic binder such as polyvinyl alcohol (PVA) of 1 part by weight to 1.5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the solvent, and 0.1 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the solvent. More than 0.5 parts by weight and less than 0.5 parts by weight of the dispersant is added to the pulverizer. Next, the obtained slurry is demagnetized and then spray-dried to obtain granules. The ferromagnetic metals Fe, Ni and Co are removed by the demagnetization process.

また、セラミック絶縁部材におけるFe、Ni、Co、MnおよびCrの含有量は、粉砕機に用いられるステンレス製部材の磨耗の影響を受ける。長期間の使用によって磨耗するステンレス製部材は、例えば、表面に不動態膜を形成しやすいチタン製部品に置換する
か、TiN、TiCN、TiC、TiAlN、TiAlCN、TiAlO等チタン系の膜あるいは非晶質硬質炭素(DLC)をステンレス製部材の表面に被覆すればよい。脱磁処理に加え、このようなステンレス製部材の置換あるいは被覆により、Fe、Ni、Co、MnおよびCrの合計の含有量が260質量ppm以下であるセラミック絶縁部材を得ることができる。
Further, the contents of Fe, Ni, Co, Mn and Cr in the ceramic insulating member are affected by the wear of the stainless steel member used in the pulverizer. For example, a stainless steel member that wears out over a long period of time can be replaced with a titanium component that easily forms a passive film on the surface, or a titanium-based film such as TiN, TiCN, TiC, TiAlN, TiAlCN, or TiAlO, or amorphous. The surface of the stainless steel member may be coated with hard carbon (DLC). In addition to the demagnetization treatment, a ceramic insulating member having a total content of Fe, Ni, Co, Mn, and Cr of 260 mass ppm or less can be obtained by replacing or covering the stainless steel member.

そして、この顆粒を用いて乾式加圧成形法により成形体としたり、冷間等方圧加圧法(CIP)により成形した後に切削加工を施して成形体を得る。その後、得られた成形体を大気(酸化)雰囲気中、温度を1500℃以上1700℃以下として所定時間保持して焼成することによって焼結体を得ることができる。   Then, the granules are formed into a molded body by a dry pressure molding method or molded by a cold isostatic pressing method (CIP) and then subjected to cutting to obtain a molded body. Then, a sintered body can be obtained by firing the obtained compact in an air (oxidation) atmosphere at a temperature of 1500 ° C. or higher and 1700 ° C. or lower for a predetermined time.

なお、焼成後においては、研削加工を行なってもよい。また、必要に応じて振動バレル研磨機を用いて、研磨材、振動数および研磨時間を調整した研磨を行なって、所定の表面性状としてもよい。   In addition, you may grind after baking. Moreover, it is good also as a predetermined | prescribed surface property by performing grinding | polishing which adjusted the abrasive | polishing material, the frequency, and grinding | polishing time using a vibration barrel grinder as needed.

そして、上述した方法によって得られた焼結体を還元雰囲気として、例えば、窒素:水素の比率が87〜90体積%:10〜13体積%である混合ガス中において、1300℃以上1400℃以下の温度で1時間以上2時間以下保持することによって、本実施形態のセラミック絶縁部材を得ることができる。   Then, using the sintered body obtained by the above-described method as a reducing atmosphere, for example, in a mixed gas in which the ratio of nitrogen: hydrogen is 87 to 90% by volume: 10 to 13% by volume, the temperature is 1300 ° C. or higher and 1400 ° C. or lower. The ceramic insulating member of the present embodiment can be obtained by maintaining the temperature at 1 to 2 hours.

上述した製造方法によって得られるセラミック絶縁部材は、可視光線領域や赤外線領域の反射率が低く、しかも、アルカリ金属の吸着が少ないことから、電子管内に配置された電極を挟持する部材やチップ状の電子部品を回路基板に実装するための電子部品装着機に用いられる吸着ノズル等に用いることができる。   The ceramic insulating member obtained by the manufacturing method described above has low reflectance in the visible light region and infrared region, and also has little adsorption of alkali metal, so that the member or chip-like member that sandwiches the electrode disposed in the electron tube It can be used for a suction nozzle used in an electronic component mounting machine for mounting electronic components on a circuit board.

まず、酸化アルミニウム、酸化珪素、炭酸カルシウム、水酸化マグネシウムおよび酸化チタンの各粉末を準備した。   First, powders of aluminum oxide, silicon oxide, calcium carbonate, magnesium hydroxide and titanium oxide were prepared.

なお、酸化アルミニウム、酸化珪素、炭酸カルシウム、水酸化マグネシウムおよび酸化チタンの各粉末の含有量は、セラミック絶縁部材である焼結体を構成する成分が表1に示す値になるように調整した。   The content of each powder of aluminum oxide, silicon oxide, calcium carbonate, magnesium hydroxide, and titanium oxide was adjusted so that the components constituting the sintered body, which is a ceramic insulating member, had the values shown in Table 1.

そして、これら粉末をバレルミルで湿式混合して粉砕し、スラリーを得た。なお、砕にあたっては、溶媒、溶媒100質量部に対して1.25質量部のポリビニルアルコール(PVA)、溶媒100質量部に対して0.3質量部の分散剤も併せて粉砕機内に投入した。次に、得られたスラリーを脱磁処理によって、セラミック絶縁部材におけるFe、Ni、Co、MnおよびCrの合計の含有量が表1に示す値になるように調整した後、噴霧乾燥して、顆粒を得た。なお、粉砕機に用いるステンレス製部材には、予めTiN膜を被覆した後、粉末を粉砕した。   These powders were wet-mixed with a barrel mill and pulverized to obtain a slurry. In crushing, 1.25 parts by mass of polyvinyl alcohol (PVA) with respect to 100 parts by mass of the solvent and the solvent, and 0.3 parts by mass of the dispersant with respect to 100 parts by mass of the solvent were also put into the pulverizer. . Next, after adjusting the obtained slurry so that the total content of Fe, Ni, Co, Mn and Cr in the ceramic insulating member becomes the value shown in Table 1 by demagnetization treatment, spray drying, Granules were obtained. The stainless steel member used in the pulverizer was preliminarily coated with a TiN film, and then the powder was pulverized.

そして、顆粒を用いて冷間等方圧加圧法(CIP)により成形した後に切削加工を施して成形体を得た。その後、得られた成形体を大気(酸化)雰囲気中、温度を1570℃として所定時間保持することによって焼結体を得た。次に、振動バレル研磨機を用いて、焼結体の表面を研磨した。   And it shape | molded by the cold isostatic pressing method (CIP) using the granule, Then, cutting was given and the molded object was obtained. Thereafter, the obtained molded body was held in the atmosphere (oxidation) atmosphere at a temperature of 1570 ° C. for a predetermined time to obtain a sintered body. Next, the surface of the sintered body was polished using a vibration barrel polishing machine.

そして、上述した方法によって得られた焼結体を還元雰囲気中(窒素:水素の比率が88.5体積%:11.5体積%の混合ガス)、1350℃の温度で1時間30分保持することによって、試料No.1〜4を得た。   And the sintered compact obtained by the method mentioned above is hold | maintained at the temperature of 1350 degreeC for 1 hour 30 minutes in reducing atmosphere (The ratio of nitrogen: hydrogen is 88.5 volume%: 11.5 volume%). Sample no. 1-4 were obtained.

得られた各試料につき、XRDを用いて同定を行なった。なお、TiO2−xにおけるxの値は、透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて求めた。また、各試料を構成する元素の含有量をXRFを用いて求め、それぞれ同定された成分に換算した。さらに、微量成分であるFe、Ni、Co、MnおよびCrの含有量は、グロー放電質量分析装置(GDMS)を用いて求めた。これらの結果を表1に示す。なお、表1に示されていない成分として、不可避不純物を含んでいる。 Each sample obtained was identified using XRD. In addition, the value of x in TiO 2-x was determined using a transmission electron microscope (TEM). In addition, the content of the elements constituting each sample was determined using XRF and converted to the identified components. Furthermore, the contents of trace components Fe, Ni, Co, Mn and Cr were determined using a glow discharge mass spectrometer (GDMS). These results are shown in Table 1. In addition, as a component not shown in Table 1, inevitable impurities are included.

また、各試料につき、250nm〜2500nmの波長における領域の反射率を、紫外可視近赤外分光光度計(日本分光(株)製、V−670)を用いて求め、その測定値をグラフとして図2に示した。また、各試料の上記領域における反射率の最小値Rminおよび最大値RmaxからΔRを算出した。反射率の最小値Rmin、最大値RmaxおよびΔRを表1に示す。 In addition, for each sample, the reflectance of the region at a wavelength of 250 nm to 2500 nm is obtained using an ultraviolet-visible near-infrared spectrophotometer (manufactured by JASCO Corporation, V-670), and the measured values are shown as graphs It was shown in 2. Further, ΔR was calculated from the minimum value R min and the maximum value R max of the reflectance in the above region of each sample. Table 1 shows the minimum value R min , the maximum value R max and ΔR of the reflectance.

ここで、反射率の測定に用いる積分球ユニットはISN−723、基準光源は、波長が250nm〜360nmにおける領域を重水素ランプ、波長が360nm〜2500nmにおける領域をハロゲンランプとし、測定条件は、測定モードを全反射率、データ取込間隔を1.0nm、UV/Visバンド幅を5.0nm、NIRバンド幅を20.0nmとした。   Here, the integrating sphere unit used for the reflectance measurement is ISN-723, the reference light source is a deuterium lamp in the region with a wavelength of 250 nm to 360 nm, and a halogen lamp in the region with a wavelength of 360 nm to 2500 nm. The mode was total reflectance, the data acquisition interval was 1.0 nm, the UV / Vis bandwidth was 5.0 nm, and the NIR bandwidth was 20.0 nm.

また、各試料のアルカリ蒸気の吸着量を調べるために、容器の内部に各試料を収容した後、K、RbおよびCsをアルカリ蒸気として封入した。その後、容器の内部を真空雰囲気とした後、密封した。   Further, in order to examine the amount of adsorption of alkali vapor of each sample, each sample was accommodated in the container, and then K, Rb, and Cs were sealed as alkali vapor. Thereafter, the inside of the container was vacuumed and then sealed.

各試料を容器から取り出し、各試料の表面におけるアルカリ蒸気の吸着量をXRFによって測定した結果、試料No.4より試料No.1〜3は、いずれもアルカリ蒸気の吸着量が少ないことがわかった。   Each sample was removed from the container, and the amount of alkali vapor adsorbed on the surface of each sample was measured by XRF. From sample 4, sample no. 1 to 3 were all found to have a small amount of alkali vapor adsorption.

表1および図1に示す通り、試料No.1〜3は、試料No.4よりもRmaxおよびΔRの値が小さかった。この結果より、組成式がTiO2−x(1≦x<2)として示されるチタンの酸化物を含む酸化アルミニウム質セラミックスからなり、Fe、Ni、Co、MnおよびCrの合計の含有量が260質量ppm以下であれば波長250nm〜2500nmの範囲において、反射率が低く、照射光に対する反射光の光強度の波長分布のばらつきが小さいことがわかった。 As shown in Table 1 and FIG. 1-3 are sample numbers. The values of R max and ΔR were smaller than 4. From this result, it consists of the aluminum oxide ceramics containing the oxide of titanium shown by a composition formula as TiO 2-x (1 ≦ x <2), and the total content of Fe, Ni, Co, Mn and Cr is 260. It was found that when the mass ppm or less, the reflectance is low in the wavelength range of 250 nm to 2500 nm, and the variation in the wavelength distribution of the light intensity of the reflected light with respect to the irradiated light is small.

特に、試料No.1は、上記領域の反射率の差ΔRが6.2%であることから、上述のような使用では、より好適である。   In particular, sample no. No. 1 is more suitable for use as described above because the difference ΔR in reflectance between the regions is 6.2%.

以上、本発明の実施例について説明したが、本発明の要旨を超えない限り、上記実施例に限定されるものではない。   As mentioned above, although the Example of this invention was described, unless it exceeds the summary of this invention, it is not limited to the said Example.

10 光電子増倍管(電子管)
11 容器
12 入射窓
13 光電面
14 電子増倍部
15 アノード
16 電極体
17 セラミック絶縁部材
10 Photomultiplier tubes (electron tubes)
11 Container 12 Incident Window 13 Photocathode 14 Electron Multiplier 15 Anode 16 Electrode 17 Ceramic Insulating Member

Claims (4)

組成式がTiO2−x(1≦x<2)として示されるチタンの酸化物を含む酸化アルミニウム質セラミックスからなり、
Fe、Ni、Co、MnおよびCrの合計の含有量が260質量ppm以下であるセラミック絶縁部材。
It consists of an aluminum oxide ceramic containing an oxide of titanium whose composition formula is shown as TiO 2-x (1 ≦ x <2),
A ceramic insulating member having a total content of Fe, Ni, Co, Mn and Cr of 260 mass ppm or less.
光電面を備える入射窓を有する容器と、
該容器内に位置する複数の電極体と、
前記容器内に位置し、複数の前記電極体を挟持する、請求項1に記載のセラミック絶縁部材とを備える、電子管。
A container having an entrance window with a photocathode;
A plurality of electrode bodies located in the container;
An electron tube comprising: the ceramic insulating member according to claim 1, which is located in the container and sandwiches the plurality of electrode bodies.
前記セラミック絶縁部材は、
前記容器との対向面に、スキューネスRskの平均値が0.04以上0.45以下である部分を有する、請求項2に記載の電子管。
The ceramic insulating member is
3. The electron tube according to claim 2, wherein a portion having an average skewness Rsk of 0.04 or more and 0.45 or less is provided on a surface facing the container.
前記セラミック絶縁部材は、
前記容器との対向面に、クルトシスRkuの平均値が4.1以上6.5以下である部分を有する、請求項2または3のいずれかに記載の電子管。
The ceramic insulating member is
4. The electron tube according to claim 2, wherein a portion having an average value of Kurtosis Rku of 4.1 or more and 6.5 or less is provided on a surface facing the container.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020032035A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 京セラ株式会社 Substrate
WO2020032037A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 京セラ株式会社 Optical-component retaining member
WO2020032034A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 京セラ株式会社 Light-blocking member
WO2020032036A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 京セラ株式会社 Housing
JP7445098B1 (en) 2023-03-14 2024-03-06 浜松ホトニクス株式会社 electron tube

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51113197A (en) * 1975-03-28 1976-10-06 Hitachi Chem Co Ltd Black ceramics for electronic parts
JPH0817388A (en) * 1994-06-29 1996-01-19 Hamamatsu Photonics Kk Electron tube

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51113197A (en) * 1975-03-28 1976-10-06 Hitachi Chem Co Ltd Black ceramics for electronic parts
JPH0817388A (en) * 1994-06-29 1996-01-19 Hamamatsu Photonics Kk Electron tube

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020032035A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 京セラ株式会社 Substrate
WO2020032037A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 京セラ株式会社 Optical-component retaining member
WO2020032034A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 京セラ株式会社 Light-blocking member
WO2020032036A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 京セラ株式会社 Housing
US11987529B2 (en) 2018-08-08 2024-05-21 Kyocera Corporation Light shielding member
JP7445098B1 (en) 2023-03-14 2024-03-06 浜松ホトニクス株式会社 electron tube

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