JP2018115878A - Measuring apparatus, system and product manufacturing method - Google Patents
Measuring apparatus, system and product manufacturing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018115878A JP2018115878A JP2017005267A JP2017005267A JP2018115878A JP 2018115878 A JP2018115878 A JP 2018115878A JP 2017005267 A JP2017005267 A JP 2017005267A JP 2017005267 A JP2017005267 A JP 2017005267A JP 2018115878 A JP2018115878 A JP 2018115878A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- result information
- evaluation result
- optical
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、計測装置、システムおよび物品製造方法に関する。 The present invention relates to a measuring device, a system, and an article manufacturing method.
従来からカメラやプロジェクタなどの光学ユニットを2台備えた形状計測装置は存在するが、近年光学ユニットを3台以上備えた形状計測装置が存在している。例えば、プロジェクタを有するパターン投影方式の場合、被検物に既知のパタ−ンを投影して撮像し、その撮像結果から被検物の三次元形状を計測する。ここでは、パターン投影方式の形状計測装置について、従来技術を説明する。 Conventionally, there are shape measuring apparatuses provided with two optical units such as cameras and projectors, but in recent years there are shape measuring apparatuses provided with three or more optical units. For example, in the case of a pattern projection system having a projector, a known pattern is projected onto an object and imaged, and the three-dimensional shape of the object is measured from the imaged result. Here, a conventional technique will be described for a pattern projection type shape measuring apparatus.
特許文献1には、1つのプロジェクタと、複数の撮像手段とを有する3次元計測装置が記載されている。特許文献1の3次元計測装置では、プロジェクタによってパターン光が投光された被検物を複数の撮像手段によって撮像し、撮像された画像に基づいて3次元点群を得て、これらを統合する。この統合の際に、輝度の振幅が大きい値が、信頼度が高いものとして選択される。
特許文献2には、2つの投光手段と、共通の撮像手段とを有し、これらによって2つの計測系が構成された三次元画像処理装置が記載されている。特許文献2に記載された三次元画像処理装置では、2つの計測系のそれぞれによって距離画像を得て、これらの距離画像を比較することによって三次元画像処理装置の状態の度合いを判定する。そして、状態変化の度合いが所定の閾値を越えた場合に、三次元画像処理装置のキャリブレーションが促される。
特許文献1に記載された3次元計測装置では、輝度の振幅が大きい値を出力した撮像手段が劣化した撮像手段である場合に、当該撮像手段によって得られた値に基づいて最終的な3次元点群が決定される。よって、輝度の振幅が大きい値を出力した撮像手段が劣化した撮像手段である場合には、正しい計測を行うことができない。
In the three-dimensional measuring apparatus described in
特許文献2に記載された三次元画像処理装置では、状態変化の度合いが所定の閾値を越えた場合にそのことは認識されるが、2つの投光手段および共通の撮像手段のいずれに問題が生じたかを特定することができない。
In the three-dimensional image processing apparatus described in
本発明は、例えば、複数の光学ユニットを有する計測装置において異常な光学ユニットを特定するのに有利な技術を提供することを目的とする。 For example, an object of the present invention is to provide a technique that is advantageous for specifying an abnormal optical unit in a measurement apparatus having a plurality of optical units.
本発明の1つの側面は、三角測量法に基づいて距離を計測するための複数の光学ユニットを使って物体の位置を計測する計測装置に係り、前記計測装置は、前記複数の光学ユニットを使って計測された前記物体の位置に関する複数の計測結果を評価して得られた複数の評価結果を含む評価結果情報群に基づいて、前記複数の光学ユニットのうち異常な光学ユニットを特定する制御部を備える。 One aspect of the present invention relates to a measuring device that measures the position of an object using a plurality of optical units for measuring a distance based on a triangulation method, and the measuring device uses the plurality of optical units. A control unit that identifies an abnormal optical unit among the plurality of optical units based on an evaluation result information group including a plurality of evaluation results obtained by evaluating a plurality of measurement results related to the position of the object measured Is provided.
本発明によれば、例えば、複数の光学ユニットを有する計測装置において異常な光学ユニットを特定するのに有利な技術が提供される。 According to the present invention, for example, a technique advantageous for specifying an abnormal optical unit in a measurement apparatus having a plurality of optical units is provided.
以下、添付図面を参照しながら本発明をその例示的な実施形態を通して説明する。
[第1実施形態]
図1には、本発明の1つの実施形態の計測装置50の構成が示されている。計測装置50は、三角測量法に基づいて距離を計測するための複数(N個)の光学ユニット1−j(j:1〜N)(Nは4以上)と、制御部9とを含む。制御部9は、例えば、FPGA(Field Programmable Gate Arrayの略。)などのPLD(Programmable Logic Deviceの略。)、又は、ASIC(Application Specific Integrated Circuitの略。)、又は、プログラムが組み込まれた汎用コンピュータ、又は、これらの全部または一部の組み合わせによって構成されうる。
Hereinafter, the present invention will be described through exemplary embodiments thereof with reference to the accompanying drawings.
[First Embodiment]
FIG. 1 shows the configuration of a
光学ユニット1−jは、レンズ6−jと、ユニット7−jとを含む。光学ユニット1−jが撮像ユニットである場合、ユニット7−jは、イメージセンサを含みうる。光学ユニット1−jが投影ユニットである場合、ユニット7−jは光源を含みうる。光学ユニット1−1〜1−Nの相対位置関係は、校正器などを用いて予め校正されており、既知である。制御部9は、複数の光学ユニット1−jを制御する他、複数の光学ユニット1−jから取得した信号を処理する。図1では、複数の光学ユニット1−jがXZ平面上に配置されているが、複数の光学ユニット1−jの全部または一部は、Y方向の位置が互いに異なっていてもよい。
The optical unit 1-j includes a lens 6-j and a unit 7-j. When the optical unit 1-j is an imaging unit, the unit 7-j can include an image sensor. When the optical unit 1-j is a projection unit, the unit 7-j may include a light source. The relative positional relationship between the optical units 1-1 to 1-N is calibrated in advance using a calibrator or the like and is known. In addition to controlling the plurality of optical units 1-j, the
以下の説明では、具体例を提供するために、計測装置50がアクティブステレオ方式の計測装置として構成され、1つの光学ユニット1−1が投影ユニットであり、残りの光学ユニット1−2〜1−Nが撮像ユニットであるものとする。また、光学ユニットが正常状態から逸脱した状態を異常状態という。異常状態は、光学ユニットの位置および姿勢の少なくとも一方が正常状態から逸脱した状態でありうる。あるいは、異常状態は、光学ユニットのレンズに曇りなどの不具合が発生した状態でありうる。異常状態の光学ユニットは、異常を有する光学ユニットとも表現される。
In the following description, in order to provide a specific example, the
以下の説明において、複数の光学ユニット1−jのうちの1つのみが異常状態になりうるものとする。これは、同時に複数の光学ユニットが異常状態になることは極めて稀であるためである。仮に複数のユニット1−jのうちの少なくとも2つの光学ユニットが異常状態になった場合、投影ユニットが異常状態になった場合と似た状況となりうる。したがって、投影ユニットが異常状態になったと判定された場合、制御部9は、「投影ユニット、または、少なくとも2つの撮像ユニットが異常状態になった可能性がある」という趣旨のメッセージを出力してもよい。
In the following description, it is assumed that only one of the plurality of optical units 1-j can be in an abnormal state. This is because it is extremely rare for a plurality of optical units to be in an abnormal state at the same time. If at least two optical units of the plurality of units 1-j are in an abnormal state, the situation can be similar to the case where the projection unit is in an abnormal state. Therefore, when it is determined that the projection unit is in an abnormal state, the
図3には、複数の光学ユニット1−jのうちの1つが異常状態になった場合の計測装置50の動作が例示されている。図3に示される動作は、制御部9によって制御される。まず、工程S11では、制御部9は、まず、投影ユニットである光学ユニット1−1にパターン光を被検物(物体)8に投影させ、撮像ユニットである光学ユニット1−2〜1−Nに被検物8を撮像させる。これにより、制御部9は、光学ユニット1−2〜1−Nのそれぞれから、被検物8に投影されたパターン光を撮像した画像(画像データ)を得る。工程S11では、次いで、制御部9は、光学ユニット1−2〜1−Nのそれぞれから得た画像に基づいて距離画像を得る。ここで、距離画像は、基準位置から被検物8の複数の個所の位置までの距離を示す情報が画素値としてマッチングされた画像でありうる。該距離が、基準位置に対する相対位置を示すので、該距離は、被検物8の各箇所の位置を示す情報と等価である。よって、距離画像は、被検物8の複数の箇所の位置、即ち、被検物8の形状を示す。つまり、距離画像を求めることは、被検物8の形状を計測することに相当する。
FIG. 3 illustrates the operation of the
ここで、距離画像の取得方法を例示的に説明する。例えば、投光ユニットとしての光学ユニット1−1からグレーコードパターン光のようなパターン光を被検物8に投影し、撮像ユニットとしての光学ユニット1−2〜1−Nで被検物8に投影されたパターン光を撮像する。これによって、(N−1)枚の画像が得られる。次いで、撮像によって得られた画像に基づいて、光学ユニット1−1のパターン設定素子(例えば、DMD、液晶)の番地と、光学ユニット1−j(j=2〜N)のユニット(イメージセンサ)7−jの番地とを空間符号化法によって対応付ける。投影ユニットとしての光学ユニット1−1と撮像ユニットとしての光学ユニット1−j(j=2〜N)との相対位置は既知であるので、三角測量に基づいて被検物8の各箇所の位置(基準位置からの距離)を示す距離画像を得ることができる。 Here, a method for acquiring a distance image will be described as an example. For example, pattern light such as gray code pattern light is projected onto the test object 8 from the optical unit 1-1 as the light projecting unit, and is applied to the test object 8 by the optical units 1-2 to 1-N as the imaging unit. The projected pattern light is imaged. As a result, (N-1) images are obtained. Next, based on the image obtained by imaging, the address of the pattern setting element (for example, DMD, liquid crystal) of the optical unit 1-1 and the unit (image sensor) of the optical unit 1-j (j = 2 to N) The address 7-j is associated with the spatial coding method. Since the relative positions of the optical unit 1-1 as the projection unit and the optical unit 1-j (j = 2 to N) as the imaging unit are known, the position of each part of the test object 8 based on triangulation A distance image indicating (distance from the reference position) can be obtained.
制御部9は、被検物8の形状情報(例えば、CAD情報などの設計情報)と距離画像とに基づいて被検物8を認識し、被検物8の位置(X,Y,Z)を示す位置情報を取得することができる。制御部9は、1個の投影ユニットと(N−1)個の撮像ユニットとを用いて、被検物8の位置の計測結果として、(N−1)個の計測結果を得ることができる。複数の被検物8が存在する場合には、制御部9は、各距離画像に基づいて複数の被検物8の位置を示す情報を得ることができる。
The
以上のように、複数の光学ユニット1−1〜1−Nを用いることによって、1つの被検物8の位置(X,Y,Z)を示す計測結果として複数の計測結果を得ることができる。複数の光学ユニット1−1〜1−Nの状態が計測装置50の校正時の状態から変化しなければ、複数の計測結果は、計測の再現性の範囲内で等しいはずである。しかし、複数の光学ユニット1−1〜1−Nのいずれかの状態が計測装置50の校正時の状態から変化している場合、複数の計測結果は相互に一致しなくなる。
As described above, by using the plurality of optical units 1-1 to 1-N, a plurality of measurement results can be obtained as measurement results indicating the position (X, Y, Z) of one test object 8. . If the states of the plurality of optical units 1-1 to 1-N do not change from the calibration state of the measuring
工程S12では、制御部9は、複数の光学ユニット1−1〜1−Nを使って計測された被検物8の位置に関する複数の位置計測結果を対象として複数の評価を行い、評価によって得られた複数の評価結果を示す評価結果情報群を生成する。制御部9は、例えば、複数の位置計測結果の相互の類似性に基づいて評価を行うことができる。より具体的な例を挙げると、制御部9は、複数の計測結果の相互の差分が閾値に収まっているかどうかに応じて評価を行うことができ、評価結果情報群は、このような評価に応じて決定された評価結果情報の集合でありうる。あるいは、制御部9は、複数の計測結果からなる集合から得られる複数の部分集合をそれぞれ構成する2つの計測結果の差分が閾値に収まっているかどうかに応じて評価を行うことができる。評価結果情報群は、このような評価に応じて決定された評価結果情報の集合でありうる。ここで、差分が閾値に収まっていることは、比較対象の2つの計測結果が類似していることを示していて、制御部9は、合格として判定することができる。一方、差分が閾値に収まっていないことは、比較対象の2つの計測結果が類似していないことを示していて、制御部9は、不合格として判定することができる。
In step S12, the
以下、工程S12における複数の計測結果の評価(評価結果情報群の生成)について詳述する。なお、以下では、説明の簡単化のために、被検物8の位置(X,Y,Z)を位置Zとして説明する。ここで、被検物8の位置Zは、ある光学ユニット1−jに対する相対的な位置として表現されるものとする。図5(a)には、ある光学ユニット1−jを使って被検物8の位置Zを複数回にわたって計測した場合に得られる結果の分布が例示されている。図5(a)において、横軸は、計測によって得られる位置を示し、縦軸は、確立あるいは頻度を示している。計測時のノイズがランダム成分である場合、複数回にわたって計測を行うと、計測結果の分布は、曲線20のようなガウス分布となる。曲線20の範囲21(例:±3σ)は、計測結果の再現性を示す指標となりうる。制御部9は、被検物8の位置を光学ユニット1−1〜1−Nを使って計測し、これによって得られた位置計測結果の分布に基づいて位置計測結果の信頼性を評価することができる。信頼性が所定基準に達していない場合は、照明条件等が変更されうる。
Hereinafter, evaluation of a plurality of measurement results in step S12 (generation of evaluation result information group) will be described in detail. In the following description, the position (X, Y, Z) of the test object 8 will be described as the position Z for simplification of description. Here, the position Z of the test object 8 is expressed as a relative position with respect to a certain optical unit 1-j. FIG. 5A illustrates the distribution of results obtained when the position Z of the test object 8 is measured a plurality of times using a certain optical unit 1-j. In FIG. 5A, the horizontal axis indicates a position obtained by measurement, and the vertical axis indicates establishment or frequency. When noise at the time of measurement is a random component, if measurement is performed a plurality of times, the distribution of measurement results becomes a Gaussian distribution like the
次に、任意の位置に配置された被検物8を計測した結果が図5(b)における位置計測結果Zaであった場合、位置計測結果Zaは、曲線20における左端又は右端に対応する可能性がある。したがって、位置計測結果Zaが得られた被検物8が実際に存在する可能性がある範囲として、複数回にわたって計測を行った場合の再現性の範囲21の2倍の範囲を想定する必要がある。位置計測結果Zbであった場合にも同様である。位置計測結果ZaとZbの値が一致しなくなるためには、ZaとZbとが範囲21の2倍(例:±6σ)以上離れなければならない。そこで、2つの位置計測結果が互いに異なると判定するための閾値22は、範囲21の2倍とされうる。
Next, when the measurement result of the test object 8 arranged at an arbitrary position is the position measurement result Za in FIG. 5B, the position measurement result Za can correspond to the left end or the right end in the
2つの光学ユニットによってそれぞれ計測された位置のZa、Zbの差が閾値22に収まっていない場合、制御部9は、当該2つの光学ユニットを不合格として判定することができる。一方、図5(c)のように、2つの光学ユニットによってそれぞれ計測された位置のZa、Zbの差分が閾値22に収まっている場合、両者が一致する可能性があるため、制御部9は、当該2つの光学ユニットを合格として判定することができる。なお、この明細書において、「差分」は絶対値として扱われている。
When the difference between the positions Za and Zb measured by the two optical units does not fall within the
曲線20または閾値22は、被検物を複数回にわたって実際に計測することによって事前に決定されてもよいし、センサのショットノイズ係数などに基づいて事前に決定されてもよい。また、実際の計測時は、計測毎、計測対象の被検物8毎、光学ユニット1−j毎に、画像の明るさ、パタ−ン光のコントラスト等が変化しうる。そこで、閾値は、計測毎に、あるいは、光学ユニット毎に調整あるいは再設定されてもよい。閾値は、制御部9によって設定されうる。閾値は、複数の差分に基づいて決定されうる。また、閾値は、複数の差分の平均値に基づいて決定されうる。ここで、閾値は、当該平均値そのものとされうる。
The
図6には、光学ユニット1−2、1−3による位置計測結果Z2、Z3が例示されている。例えば、光学ユニット1−2で取得した画像の明るさが、図5に示される曲線20を取得した時よりも明るい場合を考える。この場合、光学ユニット1−2のSN比が改善され、図6のように、計測再現性を表す曲線20−2の範囲21−2は、図5の曲線20の範囲21と比べて狭くなることが予測される。逆に、光学ユニット1−3の位置計測結果Z3の画像が暗い場合、曲線20−3の範囲21−3が広くなることが予測される。この場合、両者の類似性を判定するための閾値として、21−2と21−3とを加算した値とすることができる。このように、計測毎あるいは光学ユニット毎の計測結果に応じて再現性が変化するため、制御部9は、計測毎あるいは光学ユニット毎の計測結果に応じて閾値を設定し直してもよい。
FIG. 6 illustrates position measurement results Z2 and Z3 by the optical units 1-2 and 1-3. For example, consider a case where the brightness of the image acquired by the optical unit 1-2 is brighter than when the
上記の例では、再現性に基づいて閾値が決定されたが、計測装置50の校正誤差によって、同じ被検物8を同時に計測しても、複数の計測結果の絶対値に若干の差が発生しうる。2個の計測結果の類似性を判定する際に、校正誤差の差を閾値に加えて設定してもよい。あるいは、計測装置50に要求される必要精度に応じて閾値を決定してもよい。
In the above example, the threshold value is determined based on reproducibility. However, even if the same test object 8 is simultaneously measured due to the calibration error of the measuring
次に、位置計測結果の評価方法について説明する。図4(a)には、撮像ユニットとしての光学ユニット1−2〜1−Nによって撮像された画像を制御部9が処理することによって得られた複数の位置計測結果Z2〜ZNが例示されている。図4(b)には、図4(a)の複数の位置計測結果Z2〜ZNを制御部9が評価した結果(評価結果情報群(評価結果情報パターン))が例示されている。図4(b)において、複数の計測結果Z2〜ZNからなる集合から得られる複数の部分集合をそれぞれ構成する2つの計測結果の差分(Z2−Z3、Z2−Z4等)が閾値に収まっている場合(類似している場合)は〇で示されている。また、図4(b)において、複数の計測結果Z2〜ZNからなる集合から得られる複数の部分集合をそれぞれ構成する2つの計測結果の差分(Z2−Z3、Z2−Z4等)が閾値に収まっていない場合(類似していない場合)は×で示されている。例えば、Z2とZ3〜Znとは類似しておらず、Z3〜ZNは、相互に類似している。よって、制御部9は、Z2は不合格、Z3〜Z4は合格として判定する。一例において、〇(合格)は評価結果情報=”1”として、×(不合格)は評価結果情報=”0”として記録されて、これらによって評価結果情報群が構成されうる。
Next, a method for evaluating the position measurement result will be described. FIG. 4A illustrates a plurality of position measurement results Z2 to ZN obtained by the
以下、図3に元って説明を続けると、工程S13では、制御部9は、全ての被検物8について工程S12を終了したかどうかを判定し、全ての被検物8について工程S12を終了していない場合、工程S12に戻る。そして、まだ工程S12を行っていない被検物8について工程S12を行う。一方、全ての被検物8について工程S12を終了した場合には、工程S14に進む。
Hereinafter, if it continues description based on FIG. 3, in process S13, the
工程S14では、制御部9は、直前の工程S13までで得られた評価結果情報群に基づいて、再計測が必要であるかどうかを判定する。具体的には、制御部9は、直前の工程S13までで得られた評価結果情報群では、工程S15において異常状態の光学ユニットを特定できないと判定した場合には、再計測が必要であると判定し、工程S11に戻る。この場合、工程S11では、例えば、投影ユニットとしての光学ユニット1−1の光量を調整した上で、光学ユニット1−1にパターン光を被検物としての被検物8に投影させ、撮像ユニットである光学ユニット1−2〜1−Nに被検物8を撮像させる。より具体的には、光学ユニット1−3で取得した画像の明るさが暗い場合、図6の計測再現性を表す曲線20−3は幅が拡大することが予測される。このような場合、工程S11において、制御部9は、光学ユニット1−3で取得した画像に基づく位置の計算を実行しない場合がある。この場合、図4に例示された評価結果情報群の一部又は全部が欠落しうる。このような場合、制御部9は、再計測が必要であると判定しうる。
In step S14, the
次に、工程S15では、制御部9は、工程S12で得られた評価結果情報群に基づいて、複数の光学ユニット1−1〜1−Nのうち異常を有する光学ユニットを特定する。ここで、投影ユニットは、全ての位置計測結果Z2〜ZNに影響を与えるので、仮に投影ユニットが異常状態である場合、Z2〜ZNのうちの1つだけが異常状態であることを示す評価結果情報群(評価結果情報パターン)は発生しない。したがって、図4(b)のように、Z2〜Z4のうちZ2のみに関して不合格であることを示す評価結果情報群は、Z2と関係がある投影ユニットとしての光学ユニット1−1および撮像ユニットとしての光学ユニット1−2が異常状態であることを示している。
Next, in step S15, the
次に、ステップ16では、制御部9は、工程S15の結果に基づいて後処理を実施する。例えば、光学ユニット1−2が異常状態の光学ユニットとして特定された場合、制御部9は、光学ユニット1−2が異常状態であることを不図示の表示部に表示するように構成されうる。その後は、光学ユニット1−2によって撮像された画像を使用しないこととして、計測装置50による被検物8の位置の計測がなされてもよい。このような場合、光学ユニット1−3〜1−Nによって撮像された画像から被検物8の正しい位置を示す情報を得ることができる。被検物8の位置は、例えば、位置計測結果Z3〜Nの平均に基づいて決定されてもよいし、最も信頼性が高い位置計測結果に基づいて決定されてもよい。また、予め設定されていた光学ユニット1−2の校正パラメ−タを、位置計測結果Z3〜Nに対して位置計測結果Z2が一致するように更新することによって、光学ユニット1−2を正常状態に復帰させてもよい
図3に示される処理は、被検物8を処理するために計測装置50が被検物8の位置を計測する処理と並行して実施されてもよいし、計測装置50の試験モードにおいて実施されてもよい。
Next, in step 16, the
以下、第1実施形態の実施例1−1、1−2、1−3を説明する。
[実施例1−1]
実施例1−1では、図2のように、投影ユニットとして構成された1つの光学ユニット1−1と、撮像ユニットとして構成された4つの光学ユニット1−2〜1−5を有する計測装置50について説明する。実施例1−1では、4つの光学ユニット1−2〜1−5によって撮像された画像は、適切な光量で撮像された画像であるものとする。
Hereinafter, Examples 1-1, 1-2, and 1-3 of the first embodiment will be described.
[Example 1-1]
In Example 1-1, as shown in FIG. 2, a measuring
まず、工程S11では、制御部9は、撮像ユニットとして構成された4つの光学ユニット1−2〜1−5に被検物8を撮像させることによって4つの画像を得て、それぞれの画像に基づいて4つの位置計測結果Z2〜Z5を得る。次に、工程S12では、制御部9は、被検物8の位置計測結果Z2〜Z5における相互の差分が閾値に収まっているかどうかを判定(位置計測結果Z2〜Z5の類似性を判定)することによって位置計測結果Z2〜Z5を評価する。実施例1−1では、評価のための閾値として、閾値22(±6σの範囲)が設定されている。
First, in step S11, the
図7(a)には、実施例1−1の位置計測結果Z2〜Z5および評価のための閾値Tが例示されている。図7(b)には、図7(a)の位置計測結果Z2〜Z5の評価結果情報群が示されている。複数の位置計測結果Z2〜Z5からなる集合から得られる複数の部分集合をそれぞれ構成する2つの計測結果の差分(つまり、Z2とZ3との差分、Z2とZ4との差分、Z2とZ5との差分、Z3とZ4との差分、Z3とZ5との差分、Z4とZ5との差分。)が閾値Tに収まっている場合は〇である。複数の位置計測結果Z2〜Z5からなる集合から得られる複数の部分集合をそれぞれ構成する2つの計測結果の差分が閾値Tに収まっていることは、複数の位置計測結果Z2〜Z5が相互に類似していることを意味する。また、位置計測結果Z2〜Z5からなる集合から得られる複数の部分集合をそれぞれ構成する2つの計測結果の差分(つまり、Z2とZ3との差分、Z2とZ4との差分、Z2とZ5との差分、Z3とZ4との差分、Z3とZ5との差分、Z4とZ5との差分。)が閾値Tに収まっていない場合は×である。複数の位置計測結果Z2〜Z5からなる集合から得られる複数の部分集合をそれぞれ構成する2つの計測結果の差分が閾値Tに収まっていないことは、複数の位置計測結果Z2〜Z5が相互に類似していないことを意味する。 FIG. 7A illustrates the position measurement results Z2 to Z5 and the threshold value T for evaluation in Example 1-1. FIG. 7B shows an evaluation result information group of the position measurement results Z2 to Z5 in FIG. Differences between two measurement results (ie, differences between Z2 and Z3, differences between Z2 and Z4, and differences between Z2 and Z5) that respectively constitute a plurality of subsets obtained from a set consisting of a plurality of position measurement results Z2 to Z5 The difference, the difference between Z3 and Z4, the difference between Z3 and Z5, the difference between Z4 and Z5) is within the threshold value T. The difference between the two measurement results constituting each of the plurality of subsets obtained from the set of the plurality of position measurement results Z2 to Z5 is within the threshold T. The plurality of position measurement results Z2 to Z5 are similar to each other. Means that In addition, the difference between two measurement results constituting a plurality of subsets obtained from the set of position measurement results Z2 to Z5 (that is, the difference between Z2 and Z3, the difference between Z2 and Z4, the difference between Z2 and Z5, (Difference, difference between Z3 and Z4, difference between Z3 and Z5, difference between Z4 and Z5) is not within the threshold value T. The difference between the two measurement results constituting each of the plurality of subsets obtained from the set of the plurality of position measurement results Z2 to Z5 does not fall within the threshold T. The plurality of position measurement results Z2 to Z5 are similar to each other. Means not.
図7(b)は、評価結果情報群を視覚的に示したものであり、位置計測結果Z2は不合格であり、位置計測結果Z3、Z4、Z5が合格であることを示している。評価結果情報群(評価結果情報パターン)は、4行4列の2次元配列として制御部9の記憶領域に格納され、例えば、〇は”1”で示され、×は”0”で示されうる。
FIG. 7B visually shows the evaluation result information group. The position measurement result Z2 is rejected, and the position measurement results Z3, Z4, and Z5 are acceptable. The evaluation result information group (evaluation result information pattern) is stored in the storage area of the
実施例1−1では、被検物8が1個であるので、工程S13は通過する。工程S14では、再計測が不要であると判定されるものとする。工程S14では、制御部9は、工程S12で生成した評価結果情報群に基づいて、位置計測結果Z2に影響を与えうる光学ユニット1−2が異常状態であると判定する。
In Example 1-1, since there is one test object 8, step S13 passes. In step S14, it is determined that re-measurement is unnecessary. In step S14, the
ここで、投影ユニットである光学ユニット1−1が異常状態である場合にも位置計測結果Z2が影響を受けうるが、光学ユニット1−1が異常状態である場合には、評価結果情報群は、図7(b)に示されるものとは異なるものになる。以下において、この点については説明する。 Here, the position measurement result Z2 can also be affected when the optical unit 1-1, which is the projection unit, is in an abnormal state, but when the optical unit 1-1 is in an abnormal state, the evaluation result information group is This is different from that shown in FIG. This point will be described below.
ここでは、図2に示された計測装置50の光学ユニット1−1〜1−5の配置を上からみた状態(Z軸を負側から正方向を見た状態)が図8に示されたような配置を有すると仮定する。図8において、符号xは、光学ユニット1−xを示している。例えば、符号1は、光学ユニット1−1を示している。光学ユニット1−1の位置が変化した状態として、(状態A)ある撮像ユニットに近付いた状態、(状態B)2個の撮像ユニットの中間位置に近付いた状態、(状態C)前記(A)と(B)との間の状態の3つが考えられる。
Here, FIG. 8 shows a state in which the arrangement of the optical units 1-1 to 1-5 of the measuring
まず、(状態A)では、図9(a)のように、光学ユニット1−1が光学ユニット1−4の方向に近づき、光学ユニット1−1と光学ユニット1−4との基線長は短くなるが、逆に光学ユニット1−1と光学ユニット1−2との基線長が長くなる。そのため、位置計測結果は図9(d)のようになり、評価結果情報群は図9(g)のようになる。次に、(状態B)では、図9(b)のように、光学ユニット1−1が光学ユニット1−3と光学ユニット1−4の中間位置に近づき、光学ユニット1−1と光学ユニット1−3/1−4との基線長は短くなる。一方、光学ユニット1−1と光学ユニット1−2/1−5との基線長は長くなる。そのため、位置計測結果は図9(e)のようになり、評価結果情報群は図9(h)のようになる。最後に、(状態C)では、(状態A)と(状態B)の中間のため、光学ユニット1−1とその他の光学ユニット1−2〜1−5との間の基線長は相互に異なり、位置計測結果は図9(f)のようになり、評価結果情報群は図9(i)のようになる。図9(i)における△は、光学ユニット1−1の位置の変化方向(状態A)と(状態B)のどちらに近いかによって○か×になる。あるいは、再現性が悪いと、計測毎に○と×が変化しすぐには決められず、複数回の計測が必要になる可能性があることを表している。
First, in (State A), as shown in FIG. 9A, the optical unit 1-1 approaches the direction of the optical unit 1-4, and the base line length between the optical unit 1-1 and the optical unit 1-4 is short. On the contrary, the base line length of the optical unit 1-1 and the optical unit 1-2 becomes longer. Therefore, the position measurement result is as shown in FIG. 9D, and the evaluation result information group is as shown in FIG. Next, in (state B), as shown in FIG. 9B, the optical unit 1-1 approaches the intermediate position between the optical unit 1-3 and the optical unit 1-4, and the optical unit 1-1 and the
図9(g)、(h)、(i)において、Z2とZ4との組み合わせが×、Z2とZ5との組み合わせが〇、Z3とZ4との組み合わせが○となっている。図9(d)、(e)、(f)において、位置計測結果Z2、Z4の相互の差分値が常に大きく、位置計測結果Z3、Z5の相互の差分値が常に小さい。そのため、投影ユニットの位置が変化した場合、対角位置に配置された撮像ユニットによる位置計測結果Z2、Z4が×となる。また、隣り合った位置に配置された撮像ユニットによる位置計測結果Z2、Z5が〇となり、隣り合った位置に配置された撮像ユニットによる位置計測結果Z3、Z4が〇となる。よって、複数回にわたって計測を行うと、対角位置に配置された撮像ユニットによる位置計測結果が×、隣り合った位置に配置された撮像ユニットによる位置計測結果が〇という傾向を有する結果が蓄積される。よって、投影ユニットの位置が変化した場合、以上のような傾向を有する結果の蓄積に基づいて、投影ユニットのそのような異常状態を特定することができる。したがって、図7(b)のような評価結果情報群が得られた場合には、光学ユニット1−2が異常状態であることを特定することができる。 9 (g), (h), and (i), the combination of Z2 and Z4 is x, the combination of Z2 and Z5 is ◯, and the combination of Z3 and Z4 is ◯. 9D, 9E, and 9F, the difference value between the position measurement results Z2 and Z4 is always large, and the difference value between the position measurement results Z3 and Z5 is always small. Therefore, when the position of the projection unit changes, the position measurement results Z2 and Z4 by the imaging units arranged at the diagonal positions are x. Further, the position measurement results Z2 and Z5 by the image pickup units arranged at the adjacent positions become ◯, and the position measurement results Z3 and Z4 by the image pickup units arranged at the adjacent positions become ◯. Therefore, when measurement is performed a plurality of times, the result of the position measurement by the image pickup unit arranged at the diagonal position is x, and the result of the position measurement result by the image pickup unit arranged at the adjacent position is ◯ is accumulated. The Therefore, when the position of the projection unit changes, such an abnormal state of the projection unit can be identified based on the accumulation of results having the above-described tendency. Therefore, when the evaluation result information group as shown in FIG. 7B is obtained, it can be specified that the optical unit 1-2 is in an abnormal state.
ここでは、光学ユニット1−1の位置が変化することによって基線長が変化する場合について説明した。同様の原理により、光学ユニット1−1の姿勢が変化することによって輻輳角が変化する場合についても、評価結果情報群に基づいて異常状態の光学ユニットを特定することができる。 Here, the case where the baseline length is changed by changing the position of the optical unit 1-1 has been described. Based on the same principle, an abnormal optical unit can be identified based on the evaluation result information group even when the convergence angle changes due to a change in the attitude of the optical unit 1-1.
以下、異常状態の光学ユニットを特定するための制御部9の構成例および制御部9の動作例を説明する。ここでは、異常状態の光学ユニットを特定するためのテンプレ−トを準備しておき、表結果情報群(評価結果情報パターン)とテンプレートとのパターンマッチングによって異常状態の光学ユニットを特定する方法を説明する。図16には、制御部9の構成例が示されている。
Hereinafter, a configuration example of the
制御部9は、例えば、位置計算部91、評価部92、テンプレート生成部93、テンプレート格納部90、ユニット特定部94、後処理部95を含む。テンプレート生成部93は、複数の光学ユニット1−1〜1−5のうちいずれが異常状態になったかと特定するためにユニット特定部94が参照するための複数のテンプレートTMPを生成し、テンプレート格納部90に格納する。テンプレートTMPは、例えば、図7(b)、図9(g)、(h)、(i)に例示さされたような評価結果情報群(評価結果情報パターン)と同様の情報を、該評価結果情報群と比較可能な形式で含む。テンプレートTMPは、計測装置50の外部装置で生成され、計測装置50の制御部9に提供され、テンプレート格納部90に格納されてもよい。
The
位置計算部91は、図3の工程S11を実行する構成要素であり、光学ユニット1−2〜105から提供される複数の画像のそれぞれに基づいて被検物8の位置を計算し、複数の計測結果を出力する。評価部92は、図3の工程S12を実行する構成要素であり、位置計算部91から提供される複数の計測結果を評価し、その結果を示す評価結果情報群を生成する。ユニット特定部94は、図3の工程S15を実行する構成要素であり、評価部92によって生成された評価結果情報群とテンプレート格納部90に格納された複数のテンプレートTMPとの比較(パターンマッチング)によって、異常状態の光学ユニットを特定する。後処理部95は、図3の工程S16を実行する構成要素である。
The
ここで、ユニット特定部94による異常状態の光学ユニットの特定精度をたかめるために、位置計算部91による位置の計算および評価部92による評価(評価結果情報群の生成)を複数回にわたって繰り返して行ってもよい。
Here, in order to increase the accuracy of identifying an abnormal optical unit by the
次に、工程S15における後処理について説明する。工程S15では、制御部9は、例えば、異常状態の光学ユニットを不図示の表示部等の出力部を通して作業者に通知する。ここでは、図7に例示されるように光学ユニット1−2が異常状態になった場合に工程S15で実行されうる処理を例示的に説明する。光学ユニット1−2が異常状態になった場合は、光学ユニット1−2の画像を使って得られる被検物8の位置計測結果Z2は正しくないため、光学ユニット1−2は使用しない。一方、残りの光学ユニット1−3〜1−5の画像を使って得られる被検物8の位置計測結果は正しいため、光学ユニット1−3〜1−5の画像を使って得られる被検物8の位置計測結果の平均値を最終的な被検物8の位置計測結果として出力することができる。ここで、平均値ではなく、例えば、光学ユニット1−3〜1−5によって得られた複数の位置計測結果のうち最も信頼性が高い位置計測結果を出力してもよい。
Next, post-processing in step S15 will be described. In step S15, for example, the
また、光学ユニット1−2による位置計測結果と他の光学ユニット1−3〜1−5による位置計測結果との相違量は判明している。そこで、予め校正していた光学ユニット1−2のパラメ−タを補正(再校正)し、他の光学ユニット1−3〜1−5の出力と一致するように光学ユニット1−2を再校正することも可能である。ただし、補正のための計算時間が余分に発生してタクトに影響を与えうるので、このような補正を行う機能を有効にするかどうかを選択可能にしてもよい。 In addition, the amount of difference between the position measurement result by the optical unit 1-2 and the position measurement result by the other optical units 1-3 to 1-5 has been found. Therefore, the parameters of the optical unit 1-2 that have been calibrated in advance are corrected (recalibrated), and the optical unit 1-2 is recalibrated to match the outputs of the other optical units 1-3 to 1-5. It is also possible to do. However, an extra calculation time for correction may occur and affect the tact, so it may be possible to select whether or not to enable the function for performing such correction.
以上のようにして、実施例1−1によれば、撮像ユニットとしての光学ユニット1−2が異常状態になった場合は、制御部9は、異常状態が発生したことを通知した後に、残りの光学ユニット1−3〜1−5を用いて被検物8の位置の計測を続けることができる。また、光学ユニット1−2のパラメ−タを補正することができる場合には、光学ユニット1−2〜1−5を用いて被検物8の位置の計測を続行可能である。もちろん、制御部9は、計測を終了させて、光学ユニット1−2の調整を行うように作業者に通知を出してもよい。
As described above, according to Example 1-1, when the optical unit 1-2 as the imaging unit is in an abnormal state, the
投影ユニットとしての光学ユニット1−1が異常状態になった場合は、被検物8についての複数の位置計測結果のすべてが正しくなくなる。したがって、この場合は、制御部9は、投影ユニットとしての光学ユニット1−1が異常状態であることを作業者に通知して、計測を終了させる。ただし、図9を参照して説明したように、投影ユニットの位置が変化した場合、2個の位置計測結果が正負逆側に変化するため、全ての位置計測結果の平均を出力してもよい。また、全ての位置計測結果が一致するように光学ユニット1−1の再校正が可能である場合には、再校正の後に計測を続行することができる。
When the optical unit 1-1 as the projection unit is in an abnormal state, all of the plurality of position measurement results for the test object 8 are not correct. Therefore, in this case, the
曲線20の範囲21(再現性を示す指標)は、任意に定めることができ、上記の3σの他、例えば、2σ、6σのような範囲を定めることができる。
The range 21 (index indicating reproducibility) of the
[実施例1−2]
実施例1−2では、図10(a)、(d)のように、位置計測結果の差分と閾値との差が小さいために、1回の計測では異常状態にある光学ユニットを特定することができない場合について説明する。ここで、図10(a)は位置計測結果を示し、図10(d)は図10(a)の位置計測結果に基づいて図3の工程S12で生成された評価結果情報群を示している。図10(d)の例において、Z2とZ5との差分の絶対値が閾値に収まっておらず、不合格(×)と判定され、それ以外は合格(〇)と判定されている。
[Example 1-2]
In Example 1-2, as shown in FIGS. 10A and 10D, the difference between the position measurement result and the threshold value is small, so that an optical unit that is in an abnormal state is identified in one measurement. The case where it is not possible will be described. Here, FIG. 10A shows the position measurement result, and FIG. 10D shows the evaluation result information group generated in step S12 of FIG. 3 based on the position measurement result of FIG. . In the example of FIG. 10D, the absolute value of the difference between Z2 and Z5 does not fall within the threshold value, and is determined to be rejected (x), and otherwise, it is determined to be passed (O).
図3の工程S11で図10(a)のような位置計測結果が得られ、工程S12で図10(d)のような評価結果情報群が得られた場合、このような評価結果情報群だけに基づいて工程S15において異常状態の光学ユニットを特定することはできない。そこで、工程S14において、再計測が必要であると判定し、工程S11に戻る。なお、工程S14を設ける代わりに、工程S15において異常状態の光学ユニットを特定することができなかった場合に、工程S11に戻るように手順が変更されてもよい。 When the position measurement result as shown in FIG. 10A is obtained in step S11 of FIG. 3 and the evaluation result information group as shown in FIG. 10D is obtained in step S12, only such evaluation result information group is obtained. In step S15, the optical unit in the abnormal state cannot be specified. Therefore, in step S14, it is determined that remeasurement is necessary, and the process returns to step S11. Instead of providing step S14, the procedure may be changed to return to step S11 when the optical unit in an abnormal state cannot be specified in step S15.
実施例1−2では、上記のように、工程S14において既に準備された評価結果情報群だけでは異常状態の光学ユニットを特定することができない場合、即ち、データ数が不足している場合に再計測のために工程S11に戻る。再計測のために工程S11に戻る他の例としては、評価結果情報群の正確性が不十分である場合を挙げることができる。例えば、予め正確性を判定する判定閾値を決めておき、図7(a)の位置計測結果から予測される計測正確性が、該判定閾値を下回る場合である。この正確性を判定するための判定閾値は、例えば、画像の明るさやパターン光のコントラストから予測される計測再現性に基づいて決定することができる。 In Example 1-2, as described above, when the optical unit in the abnormal state cannot be specified only by the evaluation result information group already prepared in step S14, that is, when the number of data is insufficient, the processing is repeated. The process returns to step S11 for measurement. As another example of returning to step S11 for remeasurement, a case where the accuracy of the evaluation result information group is insufficient can be cited. For example, a determination threshold value for determining accuracy is determined in advance, and the measurement accuracy predicted from the position measurement result in FIG. 7A is lower than the determination threshold value. The determination threshold value for determining the accuracy can be determined based on, for example, measurement reproducibility predicted from image brightness and pattern light contrast.
再計測のために工程S11に戻った場合、既に計測を行った被検物8を再計測してもよいし、別の被検物8を計測してもよい。ここで、既に計測を行った被検物8を更に複数回にわたって計測をするものとして説明する。 When returning to step S11 for re-measurement, the test object 8 that has already been measured may be re-measured, or another test object 8 may be measured. Here, description will be made assuming that the test object 8 that has already been measured is further measured multiple times.
複数回にわたって被検物8の位置を計測した場合、位置計測結果は、再現性の範囲で変動しうる。例えば、図10(b)、(c)に示すような位置計測結果が図10(a)に示す位置計測結果に加えて得られる。図10(b)、(c)の位置計測結果を工程S12で評価すると、図10(e)、(f)のような評価結果情報群が得られる。図10(c)、(e)、(f)の評価結果情報群において、位置計測結果Z2のみが他の位置計測結果Z3、Z4、Z5と類似しておらず、不合格として判定されている。換言すると、位置計測結果Z2を1つの要素として2つの要素で構成される部分集合のみが不合格として判定されている。 When the position of the test object 8 is measured a plurality of times, the position measurement result can vary within the range of reproducibility. For example, position measurement results as shown in FIGS. 10B and 10C are obtained in addition to the position measurement results shown in FIG. When the position measurement results of FIGS. 10B and 10C are evaluated in step S12, an evaluation result information group as shown in FIGS. 10E and 10F is obtained. In the evaluation result information group of FIGS. 10C, 10E, and 10F, only the position measurement result Z2 is not similar to the other position measurement results Z3, Z4, and Z5, and is determined as rejected. . In other words, only a subset composed of two elements with the position measurement result Z2 as one element is determined as rejected.
複数回にわたって計測および評価によって複数の評価結果情報群が得られた場合、複数の評価結果情報群を合成し、合成された評価結果情報群に基づいて異常状態の光学ユニットを特定することができる。複数の評価結果情報群を合成する方法としては、例えば、合格が“1”、不合格が“0”である場合、図10(d)、(e)、(f)の対応する欄同士の値をAND演算することによって合成された評価結果情報群を得る方法がある。図10(g)には、このような方法で生成された評価結果情報群の例が示されている。図10(g)に示されるように異常状態の光学ユニットを特定可能な評価結果情報群が得られたら、制御部9は、再計測を終了する。ただし、再計測を繰り返しても異常状態の光学ユニットを特定可能な評価結果情報群が得られない可能性もあるので、再計測の回数が予め設定された回数を達した時点で再計測を停止してもよい。
When multiple evaluation result information groups are obtained by measurement and evaluation multiple times, a plurality of evaluation result information groups can be combined, and an optical unit in an abnormal state can be identified based on the combined evaluation result information group . As a method of synthesizing a plurality of evaluation result information groups, for example, when the pass is “1” and the reject is “0”, the corresponding columns in FIGS. 10 (d), (e), and (f) There is a method of obtaining an evaluation result information group synthesized by ANDing values. FIG. 10G shows an example of the evaluation result information group generated by such a method. When the evaluation result information group that can identify the optical unit in the abnormal state is obtained as shown in FIG. 10G, the
[実施例1−3]
被検物の姿勢や環境光の影響などによって、光学ユニット1−2〜1−5から制御部9に対して距離画像を得ることができる画像が提供されない場合がありうる。その場合、評価結果情報群を得ることができず、データ不足となりうる。このような場合、1個の被検物では全ての光学ユニットから距離画像を得ることができない。そこで、実施例1−3では、複数の被検物を計測すること、または、1個の被検物を光量などの計測条件を変えて複数回にわたって計測することによって、全ての光学ユニットからの位置計測結果を取得し、それらの位置計測結果に基づいて評価結果情報群を取得する。以下では、図11のように、複数の被検物が存在する例を説明する。
[Example 1-3]
There may be a case where an image that can obtain a distance image from the optical units 1-2 to 1-5 to the
以下、図3のフローチャートに基づいて説明する。まず、工程S11について説明する。被検物に光沢がある場合、被検物の表面で拡散する光が減少するため、表面において入射光と同等の反射角を有する正反射光は光量が大きいが、それ以外の角度の反射光は光量が小さくなる。そのため、光沢がある被検物を撮像したとき、一部の撮像ユニットでは適切な光量が取得できない可能性がある。光量が小さいと、SNが悪化し、再現性が必要精度を満たさない可能性がある。例えば、光学ユニット1−3によって撮像された画像において被検物付近に適切な光量が得られなかった場合、被検物の位置を計測できない可能性がある。 Hereinafter, description will be made based on the flowchart of FIG. First, step S11 will be described. When the test object is glossy, the amount of diffused light on the surface of the test object decreases, so the specularly reflected light having the same reflection angle as the incident light on the surface has a large amount of light, but the reflected light at other angles Reduces the amount of light. Therefore, when a glossy test object is imaged, an appropriate amount of light may not be acquired by some imaging units. If the amount of light is small, the SN deteriorates, and the reproducibility may not satisfy the required accuracy. For example, when an appropriate amount of light cannot be obtained in the vicinity of the test object in the image captured by the optical unit 1-3, there is a possibility that the position of the test object cannot be measured.
複数の被検物がある場合、光学ユニット毎に複数の被検物を認識した後、どの被検物が同じであるかを判断する必要がある。図11のように、撮像ユニットとしての光学ユニット1−2〜1−5の4個である場合、4個の距離画像のそれぞれにおいて被検物8−1、8−2を認識することにより、最大で8個の位置計測結果が得られる。そして、8個の位置計測結果を被検物8−1についての位置計測結果と被検物8−2についての位置計測結果とに分類する。 When there are a plurality of specimens, it is necessary to determine which specimen is the same after recognizing the plurality of specimens for each optical unit. As shown in FIG. 11, when there are four optical units 1-2 to 1-5 as imaging units, by recognizing the test objects 8-1 and 8-2 in each of the four distance images, Up to eight position measurement results can be obtained. Then, the eight position measurement results are classified into a position measurement result for the test object 8-1 and a position measurement result for the test object 8-2.
例えば、光学ユニット1−3によって撮像した画像に基づいて被検物8−1の位置を計測することができず、光学ユニット1−5によって撮像した画像に基づいて被検物8−2の位置を計測することができない場合を仮定する。この場合、光学ユニット1−2、1−4は2個の被検物を認識し、光学ユニット1−3、1−5による画像からは被検物が1個ずつしか認識できないことになる。4個の光学ユニット1−2〜105によってそれぞれ認識された被検物を対比することによって被検物の個数が決定されうる。実施例1−3では、2個の被検物が存在し、光学ユニット1−2、1−4の各々の画像に基づいて2個の被検物が認識しているため、工程S12が2回にわたって実行される。 For example, the position of the test object 8-1 cannot be measured based on the image captured by the optical unit 1-3, and the position of the test object 8-2 based on the image captured by the optical unit 1-5. Suppose that cannot be measured. In this case, the optical units 1-2 and 1-4 recognize two objects, and only one object can be recognized from the images of the optical units 1-3 and 1-5. The number of test objects can be determined by comparing the test objects respectively recognized by the four optical units 1-2 to 105. In Example 1-3, there are two specimens, and the two specimens are recognized based on the images of the optical units 1-2 and 1-4. Executed over and over.
上記の例では、光量が小さい場合に被検物の位置を認識できない場合が説明されている。それ以外にも、被検物のCAD情報と距離画像との差分が大きい場合、投影されるパターン光のコントラストが適正範囲でない場合においても、被検物の位置を認識できない場合がある。 In the above example, the case where the position of the test object cannot be recognized when the amount of light is small is described. In addition to this, when the difference between the CAD information of the test object and the distance image is large, the position of the test object may not be recognized even when the contrast of the projected pattern light is not in the proper range.
工程S11において図12(a)に示す位置計測結果が得られ、工程S12において図12(c)に示す評価結果情報群が得られたものとする。図12(c)において、位置計測結果Z2、Z4、Z5の相互の差分と閾値Tとに基づいて評価がなされている。図12(c)において、空欄(“ ”)は、位置計測結果Z3が存在しないことによって、評価が不能であったことを示している。工程S13で全被検物の計測がなされていないと判定され、2回目に実行される工程S12において、2個目の被検物についての図12(b)に示す位置計測結果に基づいて、図12(d)に示す評価結果情報群が得られる。 Assume that the position measurement result shown in FIG. 12A is obtained in step S11, and the evaluation result information group shown in FIG. 12C is obtained in step S12. In FIG. 12C, the evaluation is performed based on the mutual difference between the position measurement results Z2, Z4, and Z5 and the threshold value T. In FIG. 12C, a blank (“”) indicates that the evaluation was impossible due to the absence of the position measurement result Z3. In step S13, it is determined that measurement of all the specimens has not been performed, and in step S12 executed for the second time, based on the position measurement result shown in FIG. 12B for the second specimen, The evaluation result information group shown in FIG.
次の工程S14において、これまでに得られた図12(c)、(d)に示される評価結果情報群に基づいて、制御部9は、合成された評価結果情報群を生成する。ここで、合格(〇)と空欄(“ ”)を“1”、不合格を“0”として、図12(c)、(d)の対応する欄同士の値をAND演算することによって合成された評価結果情報群を得ることができる。図12(e)には、このような方法で生成された評価結果情報群の例が示されている。以下、工程S15において、制御部9は、合成された評価結果情報群に基づいて異常状態の光学ユニットを特定し、工程S16において、制御部9は、後処理を実行する。
In the next step S14, the
実施例1−2、1−3では、工程S12で評価結果情報群を生成し、工程S14で2つの評価結果情報群を合成している。これに代えて、工程S12では部分集合における2つの位置計測結果の差分量を記録し、工程S14において、2回の工程S12で記録された差分量を平均化して、平均化された差分量に基づいて評価を行ってもよい。 In Examples 1-2 and 1-3, an evaluation result information group is generated in step S12, and two evaluation result information groups are synthesized in step S14. Instead, in step S12, the difference amount between the two position measurement results in the subset is recorded, and in step S14, the difference amount recorded in the two steps S12 is averaged to obtain the averaged difference amount. An evaluation may be performed based on this.
実施例1−2、1−3において、工程S13、S14でそれぞれ構成されるル−プにより、複数の評価結果情報群を生成する例を説明した。工程S13で構成されるル−プは、工程S11の1回の計測で同時に複数の被検物が認識される場合に複数回にわたって評価結果情報群を生成する。工程S14で構成されるル−プは、1回の計測で同時に認識される被検物の個数とは関係なく、複数回にわたる計測による評価結果情報群を生成する。 In Example 1-2, 1-3, the example which produces | generates several evaluation result information groups by the loop respectively comprised by process S13, S14 was demonstrated. The loop configured in step S13 generates an evaluation result information group over a plurality of times when a plurality of test objects are simultaneously recognized by one measurement in step S11. The loop configured in step S14 generates an evaluation result information group based on a plurality of measurements irrespective of the number of objects to be simultaneously recognized by one measurement.
実施例1−1、1−2、1−3を通して、評価結果情報群に基づいて異常状態の光学ユニットを特定する方法を説明した。アクティブステレオ方式の場合、図13(a)のように、特定の位置計測結果を構成要素とする複数の部分集合の全てが不合格(非類似)であることを示している場合、当該特定の位置計測結果を提供した光学ユニットが異常状態である。換言すると、図13(a)は、複数の撮像ユニットのうちの1つの撮像ユニットによる計測結果と他の撮像ユニットによる計測結果とが類似せず、該他の撮像ユニットによる計測結果同士が類似していることを評価結果情報群が示している場合を例示している。このような場合、制御部9は、異常な光学ユニットとして、当該1つの撮像ユニットを特定することができる。
Through Examples 1-1, 1-2, and 1-3, the method for specifying an optical unit in an abnormal state based on the evaluation result information group has been described. In the case of the active stereo method, as shown in FIG. 13A, when all of the plurality of subsets having a specific position measurement result as a constituent element indicate failure (dissimilarity), The optical unit that provided the position measurement result is in an abnormal state. In other words, in FIG. 13A, the measurement result by one imaging unit of the plurality of imaging units is not similar to the measurement result by another imaging unit, and the measurement results by the other imaging units are similar. The case where the evaluation result information group indicates that the In such a case, the
一方、図13(b)に例示されるように、特定の2つの位置計測結果からなる部分集合のみが不合格(非類似)であることを示している場合、投影ユニットが異常状態である。換言すると、図13(b)は、複数の撮像ユニットのうち1つの撮像ユニットによる計測結果と他の1つの撮像ユニットによる計測結果のみとが類似していないことを評価結果情報群が示している場合を例示している。このような場合、制御部9は、異常な光学ユニットとして投影ユニットを特定することができる。
[第2実施形態]
以下、図1を参照しながら本発明の第2実施形態の計測装置50について説明する。第1実施形態として言及しない事項は、第1実施形態に従いうる。第2実施形態では、計測装置50が複数の光学ユニット1−1〜1−N(Nは4以上)の全てが撮像ユニットで構成されたパッシブステレオ方式の計測装置として構成されている。パッシブステレオ方式では、光学ユニット1−1〜1−Nで画像が撮像された後、制御部9が各画像における被検物上の特徴部を特定する。パッシブステレオ方式による位置の計測は、光学ユニット1−1と1−2のそれぞれによる画像Aと画像Bとに同一の特徴部が存在することを前提とする。この前提において、画像Aにおける特徴部の番地(位置)、画像Bにおける特徴部の番地(位置)、および、光学ユニット1−1、1−2の相対位置に基づいて特徴部の位置(基準位置からの距離)を求めることができる。パッシブステレオ方式では、N個の光学ユニットを用いて最大でN(N−1)/2個の位置計測結果を得ることができる。
On the other hand, as illustrated in FIG. 13B, when only a subset of two specific position measurement results indicates failure (dissimilarity), the projection unit is in an abnormal state. In other words, FIG. 13B shows the evaluation result information group that the measurement result by one imaging unit among the plurality of imaging units is not similar only to the measurement result by the other imaging unit. The case is illustrated. In such a case, the
[Second Embodiment]
Hereinafter, a measuring
N個の光学ユニットの全てが正常状態である場合、N(N−1)/2個の位置計測結果が得られ、これらの位置計測結果の相互の差分は閾値Tに収まる。一方、1つの光学ユニットが異常状態になった場合を考える。この場合、他の正常状態の光学ユニットによって(N−1)(N−2)/2個の位置計測結果が得られ、これらの相互の差分は閾値Tに収まり、合格であると判定される。これに対して、異常状態の光学ユニットの画像を用いて(N−1)個の位置計測結果が得られ、これらの相互の差分が閾値Tに収まらず、不合格であると判定されうる。よって、制御部9は、不合格であるとの判定結果に基づいて、異常状態の光学ユニットを特定することができる。
When all of the N optical units are in the normal state, N (N−1) / 2 position measurement results are obtained, and the difference between these position measurement results falls within the threshold T. On the other hand, consider a case where one optical unit is in an abnormal state. In this case, (N−1) (N−2) / 2 position measurement results are obtained by another normal optical unit, and the difference between them falls within the threshold value T, and is determined to be acceptable. . On the other hand, (N−1) position measurement results are obtained using the image of the optical unit in the abnormal state, and the difference between them does not fall within the threshold value T, and it can be determined that the result is unacceptable. Therefore, the
[実施例2−1]
図2、図3を参照しながら第2実施形態の実施例2−1について説明する。実施例2−1では、図2のように、それぞれ撮像ユニットとして構成された5つの光学ユニット1−1〜1−5を有する計測装置50について説明する。5つの光学ユニット1−1〜1−5を使うと、工程S11において、10個の位置計測結果が得られる。工程S12〜S14は、第1実施形態の実施例1−1、1−2、1−3と同様である。
[Example 2-1]
Example 2-1 of the second embodiment will be described with reference to FIGS. In Example 2-1, a measuring
工程S15では、制御部9は、異常状態の光学ユニットを特定する。これを具体的に説明する。まず、工程S14の後、図14(a)のような位置計測結果が取得できたとする。横軸が被検物8の位置計測結果Zを表し、「Zmn」は光学ユニット1−mと1−nによる画像から得られた位置計測結果を表している。図14(c)は、図14(a)の位置計測結果を評価して得られた評価結果情報群である。図14(c)を見ると、光学ユニット1−5との組み合わせによって得られた位置計測結果にのみ不合格が存在している。よって、制御部9は、図14(c)の評価結果情報群と不図示のテンプレートとのテンプレートマッチングによって、光学ユニット1−5が異常情報であることを特定することができる。
In step S15, the
一方、図14(b)の位置計測結果に基づいて生成された図14(d)の評価結果情報群では、光学ユニット1−4との組み合わせによって得られた位置計測結果および光学ユニット1−5との組み合わせによって得られた位置計測結果に不合格が存在する。よって、制御部9は、異常状態が光学ユニット1−4、1−5のいずれに発生しているのかを特定することができない。そこで、制御部9は、工程S14において再計測が必要であると判定し、複数の被検物を計測すること、または、1個の被検物を光量などの計測条件を変えて複数回にわたって計測することによって、異常状態を有する光学ユニットを特定可能な評価結果情報群を得る。その後は、制御部9は、新たな評価結果情報群に基づいて異常状態の光学ユニットを特定する。
[第3実施形態]
第1、第2実施形態では、複数の位置計測結果の互いの差分を閾値と比較することによって類似性を判定するが、第3実施形態は、各位置計測結果と指標との差分を閾値と比較することによって評価結果情報群を生成する。指標は、例えば、複数の位置計測結果の平均値である。閾値は、例えば、計測再現性に基づいて決定されうる。
On the other hand, in the evaluation result information group in FIG. 14D generated based on the position measurement result in FIG. 14B, the position measurement result obtained by the combination with the optical unit 1-4 and the optical unit 1-5. There is a failure in the position measurement result obtained by the combination. Therefore, the
[Third Embodiment]
In the first and second embodiments, similarity is determined by comparing the difference between a plurality of position measurement results with a threshold value. In the third embodiment, the difference between each position measurement result and an index is set as a threshold value. An evaluation result information group is generated by comparison. The index is, for example, an average value of a plurality of position measurement results. The threshold value can be determined based on, for example, measurement reproducibility.
アクティブステレオ方式の場合、撮像ユニットが異常状態である場合は、特定の位置計測結果のみが、複数の位置計測結果の平均値との差が大きくなる。例えば、図7の例では、位置計測結果Z2のみが、平均値との差分が他の位置計測結果と比べて大きくなる。一方、投影ユニットが異常状態である場合は、特定の2組の位置計測結果のみが、平均値との差が大きくなる。例えば、図9の例では、位置計測結果Z2、Z4のみが、平均値との差分が他の位置計測結果と比べて大きくなる。 In the case of the active stereo method, when the imaging unit is in an abnormal state, only a specific position measurement result has a large difference from an average value of a plurality of position measurement results. For example, in the example of FIG. 7, only the position measurement result Z2 has a difference from the average value larger than the other position measurement results. On the other hand, when the projection unit is in an abnormal state, only the two specific sets of position measurement results have a large difference from the average value. For example, in the example of FIG. 9, only the position measurement results Z2 and Z4 have a difference from the average value larger than the other position measurement results.
以上のように、撮像ユニットが異常状態である場合は特定の位置計測結果が閾値に収まらず、また、投影ユニットが異常状態である場合は特定の2組の位置計測結果のみが閾値に収まらない可能性が高い。よって、これを利用して評価結果情報群を生成し、その評価結果情報群に基づいて異常状態の光学ユニットを特定することができる。 As described above, when the imaging unit is in the abnormal state, the specific position measurement result does not fall within the threshold value, and when the projection unit is in the abnormal state, only the specific two sets of position measurement results do not fall within the threshold value. Probability is high. Therefore, an evaluation result information group can be generated using this, and an optical unit in an abnormal state can be specified based on the evaluation result information group.
第2実施形態でもデータの蓄積後に複数の評価結果情報群を合成してもよいが、差分量を蓄積した後に差分量を平均化してもよい。まず、複数回にわたって計測を実施し、または、複数個の被検物について計測を実施し、得られた位置計測結果と指標との差分量を蓄積する。そして、蓄積した複数個の差分量を位置計測結果毎に平均した値は、平均化効果により、差分量の精度が高まる。例えば、図15の差分量Zの複数回計測のバラツキが曲線30のようなガウス分布でその再現性が範囲31とする。このとき、計測回数がNの結果を平均化すると範囲31の(N)−1/2で差分量Zの存在確率の範囲が狭まり取得できる差分量の精度が高まり、正確性の高い評価結果情報群を取得できる。
In the second embodiment, a plurality of evaluation result information groups may be combined after data accumulation, but the difference amounts may be averaged after the difference amounts are accumulated. First, measurement is performed a plurality of times, or measurement is performed on a plurality of test objects, and a difference amount between the obtained position measurement result and the index is accumulated. And the value which averaged the accumulated some difference amount for every position measurement result increases the precision of difference amount by the averaging effect. For example, it is assumed that the variation of the multiple measurement of the difference amount Z in FIG. At this time, if the results of the number of measurements N are averaged, the range of the probability of existence of the difference amount Z is narrowed by (N) −1/2 of the
上記では指標として複数の位置計測結果の平均値を用いた。しかし、図3の工程S11において、ある光学ユニットの出力の信頼性が低く、この出力に基づいて位置計測結果を取得できない場合において、平均値が大きく変化してしまう。その場合、以下の方法でデータを蓄積しても良い。まず、光量などの計測条件を、特定の基準撮像ユニットに基づいて決定し、必ずこの基準撮像ユニットによる計測結果の信頼性を確保する。そして、この計測結果を第1指標として、その他の計測結果との差分を蓄積する方式が考えられる。ただし、基準撮像ユニットがずれている可能性があるため、評価の前に、蓄積した全差分量の平均値を第2指標として、この第2指標と全差分量の差分を第2差分量とし、この第2差分量から類似性を判定することが望ましい。 In the above, an average value of a plurality of position measurement results is used as an index. However, in step S11 of FIG. 3, when the reliability of the output of a certain optical unit is low and the position measurement result cannot be obtained based on this output, the average value changes greatly. In that case, data may be accumulated by the following method. First, measurement conditions such as the amount of light are determined based on a specific reference imaging unit, and the reliability of the measurement results obtained by this reference imaging unit is always ensured. And the method of accumulating the difference with other measurement results can be considered using this measurement result as the first index. However, since there is a possibility that the reference imaging unit is shifted, before the evaluation, the average value of the accumulated total difference amounts is set as the second index, and the difference between the second index and the total difference amount is set as the second difference amount. It is desirable to determine the similarity from the second difference amount.
[第1乃至第3実施形態の補足]
本発明において、撮像ユニットおよび投影ユニットのような光学ユニットとして、4個以上の光学ユニットが用いられうる。光学ユニットが3個の場合、アクティブステレオ方式では計測装置の出力結果の数が2個である。そのため2個の値が異なる場合、どちらが正しいか判別不能である。パッシブステレオ方式の場合、計測装置の出力結果の数は3個であるが、出力結果の3個中2個は光学ユニット1個の出力に基づいて計算される。そのため異常な光学ユニットが1個でも存在すると、3個の出力結果の値が全て異なる可能性があり、やはりどれが正しいか判別不能である。そのため光学ユニットが4個以上必要となる。
[Supplement to the first to third embodiments]
In the present invention, four or more optical units can be used as an optical unit such as an imaging unit and a projection unit. When there are three optical units, the number of output results of the measuring device is two in the active stereo method. Therefore, when the two values are different, it is impossible to determine which is correct. In the case of the passive stereo method, the number of output results of the measurement apparatus is three, but two of the three output results are calculated based on the output of one optical unit. Therefore, if there is even one abnormal optical unit, the values of the three output results may all be different, and it is impossible to determine which one is correct. Therefore, four or more optical units are required.
[第4実施形態]
上述の計測装置50は、ある支持部材に支持された状態で使用されうる。本実施形態では、一例として、図17のようにロボットアーム300(把持装置)に備え付けられて使用されるシステムおよび該システムによる物品製造方法について説明する。計測装置100は、支持台350に置かれた被検物210にパターン光を投影して撮像し、画像を取得する。そして、計測装置100の制御部が、又は、計測装置100の制御部から画像データを取得した制御部310が、被検物210の位置および姿勢を求め、求められた位置および姿勢の情報を制御部310が取得する。制御部310は、その位置および姿勢の情報に基づいて、ロボットアーム300に駆動指令を送ってロボットアーム300を制御する。ロボットアーム300は先端のロボットハンドなど(把持部)で被検物210を保持して、並進や回転などの移動をさせる。さらに、ロボットアーム300によって被検物210を他の部品に組み付けることにより、複数の部品で構成された物品、例えば電子回路基板や機械などを製造することができる。また、移動された被検物210を加工することにより、物品を製造することができる。制御部310は、CPUなどの演算装置やメモリなどの記憶装置を有する。なお、ロボットを制御する制御部を制御部310の外部に設けても良い。また、計測装置100により計測された計測データや得られた画像をディスプレイなどの表示部320に表示してもよい。
[Fourth Embodiment]
The above-described
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。 As mentioned above, although preferable embodiment of this invention was described, this invention is not limited to these embodiment, A various deformation | transformation and change are possible within the range of the summary.
50:計測装置、1−1〜1−5:光学ユニット、8:被検物、9:制御部 50: Measuring device, 1-1 to 1-5: Optical unit, 8: Test object, 9: Control unit
Claims (15)
前記複数の光学ユニットを使って計測された前記物体の位置に関する複数の計測結果を評価して得られた複数の評価結果を含む評価結果情報群に基づいて、前記複数の光学ユニットのうち異常な光学ユニットを特定する制御部を備える、
ことを特徴とする計測装置。 A measuring device that measures the position of an object using a plurality of optical units for measuring distance based on triangulation,
Based on an evaluation result information group including a plurality of evaluation results obtained by evaluating a plurality of measurement results related to the position of the object measured using the plurality of optical units, the abnormal among the plurality of optical units. A control unit that identifies the optical unit;
A measuring device characterized by that.
ことを特徴とする請求項1に記載の計測装置。 The evaluation result information group is a set of evaluation result information determined according to the difference between the plurality of measurement results.
The measuring apparatus according to claim 1.
ことを特徴とする請求項2に記載の計測装置。 The evaluation result information group is a set of evaluation result information determined according to a difference between two measurement results that respectively constitute a plurality of subsets obtained from the set of the plurality of measurement results.
The measuring apparatus according to claim 2.
ことを特徴とする請求項1に記載の計測装置。 The evaluation result information group is a set of evaluation result information determined according to the difference between each of the plurality of measurement results and the index.
The measuring apparatus according to claim 1.
ことを特徴とする請求項2乃至4のうちいずれか1項に記載の計測装置。 The evaluation result information group is a set of evaluation result information determined by comparing the difference with a threshold value.
The measuring apparatus according to any one of claims 2 to 4, wherein the measuring apparatus is characterized in that
ことを特徴とする請求項5に記載の計測装置。 The threshold is determined based on a plurality of measurement results measured using the plurality of optical units.
The measuring apparatus according to claim 5.
前記制御部は、前記複数の撮像ユニットのうち1つの撮像ユニットによる計測結果と他の1つの撮像ユニットによる計測結果のみとが類似していないことを前記評価結果情報群が示している場合に、前記異常な光学ユニットとして前記投影ユニットを特定する、
ことを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の計測装置。 The plurality of optical units includes a projection unit that projects pattern light onto the object, and a plurality of imaging units.
When the evaluation result information group indicates that the measurement result by one imaging unit of the plurality of imaging units and only the measurement result by another one imaging unit are not similar, Identifying the projection unit as the abnormal optical unit;
The measuring apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein
前記制御部は、前記複数の撮像ユニットのうちの1つの撮像ユニットによる計測結果と他の撮像ユニットによる計測結果とが類似せず、前記他の撮像ユニットによる計測結果同士が類似していることを前記評価結果情報群が示している場合に、前記異常な光学ユニットとして前記1つの撮像ユニットを特定する、
ことを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の計測装置。 The plurality of optical units includes a projection unit that projects pattern light onto the object, and a plurality of imaging units.
The control unit is configured such that the measurement result by one imaging unit of the plurality of imaging units is not similar to the measurement result by another imaging unit, and the measurement results by the other imaging units are similar to each other. When the evaluation result information group indicates, the one imaging unit is specified as the abnormal optical unit.
The measuring apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein
前記制御部は、前記複数回にわたる計測によって得られた前記評価結果情報群に基づいて前記異常な光学ユニットを特定する、
ことを特徴とする請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載の計測装置。 The measurement by the plurality of optical units is performed a plurality of times,
The control unit identifies the abnormal optical unit based on the evaluation result information group obtained by the measurement over the plurality of times.
The measuring apparatus according to claim 1, wherein the measuring apparatus is one of the following.
前記制御部は、前記複数の物体に対する計測によって得られた前記評価結果情報群に基づいて前記異常な光学ユニットを特定する、
ことを特徴とする請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載の計測装置。 Measurements by the plurality of optical units are performed on a plurality of objects,
The control unit identifies the abnormal optical unit based on the evaluation result information group obtained by measuring the plurality of objects.
The measuring apparatus according to claim 1, wherein the measuring apparatus is one of the following.
ことを特徴とする請求項5に記載の計測装置。 The control unit determines the threshold based on a plurality of the differences.
The measuring apparatus according to claim 5.
ことを特徴とする請求項5に記載の計測装置。 The control unit determines the threshold based on an average value of a plurality of the differences.
The measuring apparatus according to claim 5.
ことを特徴とする請求項4に記載の計測装置。 The control unit determines the index based on the plurality of measurement results.
The measuring apparatus according to claim 4.
前記計測装置による計測結果に基づいて前記被検物を保持して移動させるロボットと、
を有することを特徴とするシステム。 The measurement apparatus according to any one of claims 1 to 12, which measures the position of a test object;
A robot that holds and moves the test object based on the measurement result of the measurement device;
The system characterized by having.
前記計測装置による計測結果に基づいて前記物体を処理して物品を製造する工程と、
を有することを特徴とする物品製造方法。 A step of measuring the position of the object using the measuring device according to claim 1;
A step of manufacturing the article by processing the object based on a measurement result by the measurement device;
A method for producing an article, comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017005267A JP2018115878A (en) | 2017-01-16 | 2017-01-16 | Measuring apparatus, system and product manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017005267A JP2018115878A (en) | 2017-01-16 | 2017-01-16 | Measuring apparatus, system and product manufacturing method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018115878A true JP2018115878A (en) | 2018-07-26 |
Family
ID=62985263
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017005267A Ceased JP2018115878A (en) | 2017-01-16 | 2017-01-16 | Measuring apparatus, system and product manufacturing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2018115878A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020052018A (en) * | 2018-09-28 | 2020-04-02 | 株式会社Subaru | Stereo camera device for vehicles |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11177964A (en) * | 1997-12-09 | 1999-07-02 | Omron Corp | Image processing method and device |
JP2008196891A (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Mitsubishi Precision Co Ltd | Multi-eye camera |
JP2015206798A (en) * | 2015-06-25 | 2015-11-19 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | distance calculation device |
-
2017
- 2017-01-16 JP JP2017005267A patent/JP2018115878A/en not_active Ceased
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11177964A (en) * | 1997-12-09 | 1999-07-02 | Omron Corp | Image processing method and device |
JP2008196891A (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Mitsubishi Precision Co Ltd | Multi-eye camera |
JP2015206798A (en) * | 2015-06-25 | 2015-11-19 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | distance calculation device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020052018A (en) * | 2018-09-28 | 2020-04-02 | 株式会社Subaru | Stereo camera device for vehicles |
JP7202123B2 (en) | 2018-09-28 | 2023-01-11 | 株式会社Subaru | Vehicle stereo camera device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6967715B2 (en) | Camera calibration method, camera calibration program and camera calibration device | |
US8619144B1 (en) | Automatic camera calibration | |
US10234844B2 (en) | Information processing apparatus, control method thereof, information processing system, and non-transitory computer-readable storage medium | |
US20170116462A1 (en) | Measurement apparatus and method, program, article manufacturing method, calibration mark member, processing apparatus, and processing system | |
US7711182B2 (en) | Method and system for sensing 3D shapes of objects with specular and hybrid specular-diffuse surfaces | |
KR102577448B1 (en) | Hand eye calibration method and system | |
CN106052591B (en) | Measuring device, measurement method, system and article production method | |
CN107702695B (en) | Method for testing relative position of camera module lens and image sensor | |
US20150346471A1 (en) | Method for the image-based calibration of multi-camera systems with adjustable focus and/or zoom | |
US20160267668A1 (en) | Measurement apparatus | |
US10242438B2 (en) | Information processing apparatus, control method of information processing apparatus, and storage medium for image recognition of the assembly of an object | |
US9551571B2 (en) | Method and device for measuring a decentration and tilt of faces of an optical element | |
US9910371B2 (en) | Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method | |
US20230179732A1 (en) | Image capturing apparatus, image processing apparatus, image processing method, image capturing apparatus calibration method, robot apparatus, method for manufacturing article using robot apparatus, and recording medium | |
CN107534715B (en) | Camera production method and advanced driving assistance system | |
US20180051983A1 (en) | Measurement system and method for configuring the measurement system | |
US20130342659A1 (en) | Three-dimensional position/attitude recognition apparatus, three-dimensional position/attitude recognition method, and three-dimensional position/attitude recognition program | |
JP2018115878A (en) | Measuring apparatus, system and product manufacturing method | |
US20170109876A1 (en) | Measuring apparatus, measuring method, and article manufacturing method | |
CN109313811B (en) | Automatic correction method, device and system based on vibration displacement of vision system | |
CN113379837A (en) | Angle correction method of detection device, device and computer readable storage medium | |
JP2019039846A (en) | Inspection system and method of correcting image for inspection | |
CN116147477A (en) | Joint calibration method, hole site detection method, electronic device and storage medium | |
CN115103124A (en) | Active alignment method for camera module | |
JP7191632B2 (en) | Eccentricity measurement method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200115 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201015 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201026 |
|
A045 | Written measure of dismissal of application [lapsed due to lack of payment] |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A045 Effective date: 20210322 |